一种igbt芯片的非接触式工作参数测量方法
Номер патента: CN110133472B
Опубликовано: 19-05-2020
Автор(ы): 唐新灵, 崔翔, 彭程, 李学宝, 李金元, 范迦羽, 赵志斌, 顾妙松
Принадлежит: Global Energy Interconnection Research Institute, NORTH CHINA ELECTRIC POWER UNIVERSITY
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 19-05-2020
Автор(ы): 唐新灵, 崔翔, 彭程, 李学宝, 李金元, 范迦羽, 赵志斌, 顾妙松
Принадлежит: Global Energy Interconnection Research Institute, NORTH CHINA ELECTRIC POWER UNIVERSITY
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Non-contact type single side probe
Номер патента: KR100948062B1. Автор: 김성진,이동준,변종환,정누리. Владелец: 마이크로 인스펙션 주식회사. Дата публикации: 2010-03-19.