校正设备和方法、校正设备制造方法和集成电路构造方法
Номер патента: CN107807511B
Опубликовано: 21-09-2021
Автор(ы): 姚智伟, 陆永辉
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 21-09-2021
Автор(ы): 姚智伟, 陆永辉
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Apparatuses and methods for delaying signals using a delay line with homogenous architecture and integrated measure initialization circuitry
Номер патента: US20140333359A1. Автор: Yantao Ma. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2014-11-13.