Apparatus and method for testing electrode structure for thin display device using FET function
Номер патента: US20020121917A1
Опубликовано: 05-09-2002
Автор(ы): Shigeo Ueda, Shinichi Murakawa, Takashi Doi, Yoshio Egashira
Принадлежит: Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 05-09-2002
Автор(ы): Shigeo Ueda, Shinichi Murakawa, Takashi Doi, Yoshio Egashira
Принадлежит: Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Display device, method and apparatus for adjusting brightness of the display device, and method and apparatus for testing the display device
Номер патента: US20170278468A1. Автор: Hao Wu,Na An,Xuzhong LIU,Zongwei LUO. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-28.