Procede et dispositif de determination directe du relief d'une surface.
Номер патента: FR2654826A1
Опубликовано: 24-05-1991
Автор(ы): Puech Philippe
Принадлежит: Institut National Polytechnique de Toulouse INPT
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 24-05-1991
Автор(ы): Puech Philippe
Принадлежит: Institut National Polytechnique de Toulouse INPT
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Terahertz measuring method and terahertz measuring device for calculating the layer thickness or interval of the object to be measured
Номер патента: JP6761478B2. Автор: ティール・マリウス,クローゼ・ラルプフ. Владелец: イネックス・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング・イノヴァツイオーネン・ウント・アウスリュストゥンゲン・フュア・ディー・エクストルジオーンステヒニク. Дата публикации: 2020-09-23.