System and method for accelerating ageing of interconnections used for interconnecting power semiconductors
Номер патента: WO2021192562A1
Опубликовано: 30-09-2021
Автор(ы): Merouane OUHAB, Nicolas Degrenne, Stefan Mollov
Принадлежит: Mitsubishi Electric Corporation, Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 30-09-2021
Автор(ы): Merouane OUHAB, Nicolas Degrenne, Stefan Mollov
Принадлежит: Mitsubishi Electric Corporation, Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Aging test system and aging test method for thermal interface material and electronic device testing apparatus having the system
Номер патента: US20230375615A1. Автор: I-Shih Tseng,Xin-Yi Wu,Chin-Yi Ouyang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-11-23.