다광자 현미경, 그리고 이의 시간 게이트 검출 기반 이미징 방법
Номер патента: WO2021210768A1
Опубликовано: 21-10-2021
Автор(ы): 강운교, 강주형, 김우섭, 유홍기
Принадлежит: 한국과학기술원
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 21-10-2021
Автор(ы): 강운교, 강주형, 김우섭, 유홍기
Принадлежит: 한국과학기술원
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Multi-photon microscopy and imaging method, lowering repetition rate to use time-gated detection
Номер патента: US11860101B2. Автор: Hongki Yoo,Wooseop Kim,Juehyung KANG,Ungyo KANG. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2024-01-02.