Data integrity check within a data processing system
Номер патента: EP3098816A3
Опубликовано: 18-01-2017
Автор(ы): Jeff Cunningham, Ross SCOULLER
Принадлежит: NXP USA Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 18-01-2017
Автор(ы): Jeff Cunningham, Ross SCOULLER
Принадлежит: NXP USA Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Read count scaling factor for data integrity scan
Номер патента: US20210034274A1. Автор: Ashutosh Malshe,Kishore Kumar Muchherla,Vamsi Pavan Rayaprolu,Harish R. Singidi,Gianni S. Alsasua. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-02-04.