Methods of Examining an Item of Luggage by Means of an X-Ray Diffraction Method
Номер патента: US20090016487A1
Опубликовано: 15-01-2009
Автор(ы): Armin Schmiegel, Gabriel Zienert, Helmut Strecker
Принадлежит: GE Homeland Protection Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 15-01-2009
Автор(ы): Armin Schmiegel, Gabriel Zienert, Helmut Strecker
Принадлежит: GE Homeland Protection Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
X-ray inspection system and control architecture for an x-ray inspection system
Номер патента: EP4359829A1. Автор: Jean-Michel FAUGIER,Thibaut BERTHELLIER. Владелец: Smiths Detection France SAS. Дата публикации: 2024-05-01.