• Главная
  • X-ray diffraction method for generating mineralogy record of whole core

X-ray diffraction method for generating mineralogy record of whole core

Реферат: A mineralogical record of whole core is produced by translating whole core relative to a X-ray diffraction source and detector and summing the resulting X-ray diffraction spectra from various surface portions of the core over an interval of the core. GMB:jlm/cm/vjh 88221ART0095

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Source productivity assay integrating pyrolysis data and x-ray diffraction data

Номер патента: US20230184737A1. Автор: David Jacobi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-06-15.

Source productivity assay integrating pyrolysis data and X-ray diffraction data

Номер патента: US11885790B2. Автор: David Jacobi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-01-30.

Determining weathering indices by x-ray diffraction

Номер патента: US20230105649A1. Автор: Mohamed Soua. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-04-06.

Method for preparing reference samples for determining residual austenite by x-ray diffraction

Номер патента: EP3988927A1. Автор: Luca SERALESSANDRI,Alice ELIA. Владелец: Gnr Srl. Дата публикации: 2022-04-27.

Method for quantitative analysis of earth samples

Номер патента: US5741707A. Автор: Michael M. Herron,Michael Supp,Abigail Matteson. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 1998-04-21.

AN ENERGY DISPERSIVE X-RAY DIFFRACTION ANALYSER HAVING AN IMPROVED REFLECTION GEOMETRY

Номер патента: US20220057343A1. Автор: TICKNER James Richard,"ODWYER Joel". Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: CA3181654A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2021-12-16.

X-ray diffraction apparatus and x-ray diffraction method

Номер патента: RU2449262C2. Автор: Хидео ТОРАЯ. Владелец: Ригаку Корпорейшн. Дата публикации: 2012-04-27.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: EP4162261A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2023-04-12.

Systems and methods for X-ray diffraction

Номер патента: US09976971B2. Автор: David U. Furrer,Iuliana Cernatescu. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

X-ray diffraction analysis method and X-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: US10712294B2. Автор: Shuuichi DOI. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-07-14.

Methods of identifying original and counterfeit articles using micro x-ray diffraction mapping

Номер патента: WO2012174232A3. Автор: Michael Ward,Chunhua Hu,Daniele MUSUMECI. Владелец: New York University. Дата публикации: 2013-03-21.

Measurement of crystallite size distribution in polycrystalline materials using two-dimensional x-ray diffraction

Номер патента: EP3771904A3. Автор: Bob Baoping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2021-03-24.

Measurement of crystallite size distribution in polycrystalline materials using two-dimensional x-ray diffraction

Номер патента: US20210033546A1. Автор: Bob Baoping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2021-02-04.

Apparatus and method for measuring a layer of a semiconductor device using x-ray diffraction

Номер патента: US20240241067A1. Автор: Seungchul Lee,Younghoon Sohn. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-18.

X-ray diffraction device and method to measure stress with 2d detector and single sample tilt

Номер патента: US20180372658A1. Автор: Bob Baoping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2018-12-27.

X-ray diffraction-based defective pixel correction method using an active pixel array sensor

Номер патента: EP3019857A1. Автор: Joerg KAERCHER,John L. Chambers. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2016-05-18.

X-ray diffraction-based defective pixel correction method using an active pixel array sensor

Номер патента: US20150016594A1. Автор: Joerg KAERCHER,John L. Chambers. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2015-01-15.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1739413A2. Автор: Takeyoshi Rigaku Corporation Taguchi,Masaru Rigaku Corporation Kuribayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2007-01-03.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: WO2004013683A3. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P Rose. Владелец: John P Rose. Дата публикации: 2004-04-29.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: EP1529236A2. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P. Rose. Владелец: University of Georgia Research Foundation Inc UGARF. Дата публикации: 2005-05-11.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: US20110317813A1. Автор: Takuto Sakumura,Yuji Tsuji,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama,Kimiko Hasegawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2011-12-29.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: US20120269322A1. Автор: Takuto Sakumura,Yuji Tsuji,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama,Kimiko Hasegawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

X-ray diffraction instrument

Номер патента: GB1390710A. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 1975-04-16.

Systems and methods for x-ray diffraction virtual spectroscopy

Номер патента: US20200326290A1. Автор: Michael Ayukawa,Krzysztof Iniewski,Conny HANSSON. Владелец: Redlen Technologies Inc. Дата публикации: 2020-10-15.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: US20060067470A1. Автор: John Rose,Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-30.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: US3852594A. Автор: F Paolini. Владелец: Pepi Inc. Дата публикации: 1974-12-03.

Improvements in or relating to x-ray diffraction apparatus

Номер патента: GB739345A. Автор: . Владелец: Philips Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1955-10-26.

Method and apparatus for simultaneous phase composition and residual stress measurement by x-ray diffraction

Номер патента: US5148458A. Автор: Clayton Ruud. Владелец: Clayton Ruud. Дата публикации: 1992-09-15.

Mounting system and sample holder for x-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA3033090A1. Автор: Vedran Nicholas VUKOTIC,William BOYER,Mohammed Belassel,Alec ISKRA. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

METHOD OF AUTHENTICATING AN OBJECT WITH X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20200256810A1. Автор: Fournee Vincent,Kenzari Samuel. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-13.

X-ray diffraction method

Номер патента: WO2003062805A3. Автор: Alexander M Korsunsky. Владелец: Alexander M Korsunsky. Дата публикации: 2003-11-27.

X-ray diffraction method

Номер патента: EP1468276A2. Автор: Alexander M. Dpt.of Engineering Science KORSUNSKY. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2004-10-20.

X-ray diffraction method

Номер патента: EP1468276B1. Автор: Alexander M. Dpt.of Engineering Science KORSUNSKY. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2009-09-02.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1365231A3. Автор: Damian Kucharczyk. Владелец: Oxford Diffraction Ltd. Дата публикации: 2004-01-14.

X-ray diffraction instrument for measuring an object larger than the x-ray detector

Номер патента: EP2559993A3. Автор: Yun Wang,Toshikazu Kikuchi,Hisamitu Hatou. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-10-23.

X-Ray Diffraction Method

Номер патента: US20070071170A1. Автор: Michael Brauss. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

X-ray diffraction method

Номер патента: US7283612B2. Автор: Michael Brausss. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2007-10-16.

Methods and apparatus for X-ray diffraction

Номер патента: US09952165B2. Автор: Graeme Mark HANSFORD. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2018-04-24.

X-ray diffraction imaging system with integrated supermirror

Номер патента: US20150276628A1. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2015-10-01.

X-ray diffraction system and method

Номер патента: WO2004083815A2. Автор: Michael Brauss. Владелец: Proto Manufacturing Llc.. Дата публикации: 2004-09-30.

Method and apparatus for x-ray diffraction analysis

Номер патента: EP1720006A1. Автор: Michael Hennig,Urs Schwitter,Remo Hochstrasser,Olaf Grassman. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2006-11-08.

X-ray source for x-ray diffraction apparatus, related apparatus and method

Номер патента: CA3204404A1. Автор: Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Stanislav VEINBERG. Владелец: Proto Patents Ltd. Дата публикации: 2022-07-14.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: WO2000058718A9. Автор: Michael Brauss. Владелец: XRD TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2002-08-01.

X-ray diffraction system and method

Номер патента: WO2004083815A3. Автор: Michael Brauss. Владелец: Proto Mfg Llc. Дата публикации: 2005-02-03.

X-ray diffraction imaging system using debye ring envelopes

Номер патента: US09921173B2. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-03-20.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser having an improved reflection geometry

Номер патента: SE545585C2. Автор: James Richard Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2023-10-31.

X-ray source for x-ray diffraction apparatus, related apparatus and method

Номер патента: WO2022147623A1. Автор: Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Stanislav VEINBERG. Владелец: Proto Manufacturing Ltd.. Дата публикации: 2022-07-14.

Determining atomic coordinates from x-ray diffraction data

Номер патента: US20210302332A1. Автор: David Hurwitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-30.

Method of conducting an x-ray diffraction-based crystallography analysis

Номер патента: WO2015114613A1. Автор: Michael Ruf,Joerg KAERCHER,Bruce NOLL. Владелец: Bruker AXS, Inc. Дата публикации: 2015-08-06.

An x-ray diffraction camera

Номер патента: GB727282A. Автор: . Владелец: Licentia Patent Verwaltungs GmbH. Дата публикации: 1955-03-30.

Method of conducting an x-ray diffraction-based crystallography analysis

Номер патента: EP3100033A1. Автор: Michael Ruf,Joerg KAERCHER,Bruce NOLL. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2016-12-07.

X-ray diffraction apparatus, x-ray diffraction measuring method, and control program

Номер патента: US20140314206A1. Автор: Shoichi Yasukawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: WO2022043340A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical B.V.. Дата публикации: 2022-03-03.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: EP3961199A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-03-02.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: EP4111184A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-01-04.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: US20230296538A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-21.

X-RAY diffraction apparatus, X-RAY diffraction measuring method, and control program

Номер патента: US9347895B2. Автор: Shoichi Yasukawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-05-24.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1495311A2. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2005-01-12.

X-ray diffraction camera

Номер патента: CA1151779A. Автор: Vincent J. Manners. Владелец: Commonwealth of Australia. Дата публикации: 1983-08-09.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: WO2003087795A3. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Paul Frederick Fewster. Дата публикации: 2004-02-12.

Method of dynamically displaying a scattering vector of X-ray diffraction

Номер патента: EP1482303A3. Автор: Susumu Yamaguchi,Tetsuya Ozawa,Kohji Kakefuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2005-12-21.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: US20050226379A1. Автор: Paul Fewster. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-13.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: WO2003087795A2. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: PANALYTICAL B.V.. Дата публикации: 2003-10-23.

X-ray diffraction imaging system using debye ring envelopes

Номер патента: WO2014111684A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: Cranfield University. Дата публикации: 2014-07-24.

X-ray diffraction imaging system using debye ring envelopes

Номер патента: EP2946201A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-11-25.

X-ray source for x-ray diffraction apparatus, related apparatus and method

Номер патента: US20240060911A1. Автор: Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Stanislav VEINBERG. Владелец: Proto Patents Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Methods and apparatus for x-ray diffraction

Номер патента: EP2839269A1. Автор: Graeme Mark HANSFORD. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2015-02-25.

Identifying charge sharing in x-ray diffraction

Номер патента: US20230293127A1. Автор: Roelof De Vries,Vladimir Jovanovic. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-21.

Determining atomic coordinates from X-ray diffraction data

Номер патента: US11860114B2. Автор: David Hurwitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-02.

Methods and apparatus for X-ray diffraction

Номер патента: GB201214344D0. Автор: . Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2012-09-26.

Identifying charge sharing in x-ray diffraction

Номер патента: WO2022043313A1. Автор: Roelof De Vries,Vladimir Jovanovic. Владелец: Malvern Panalytical B.V.. Дата публикации: 2022-03-03.

Apparatus and method of converting x-ray diffraction-patterns

Номер патента: GB829040A. Автор: John Edward Lloyd. Владелец: Esso Research and Engineering Co. Дата публикации: 1960-02-24.

X-Ray diffraction camera

Номер патента: US4413354A. Автор: Vincent J. Manners. Владелец: Commonwealth of Australia. Дата публикации: 1983-11-01.

Method for measuring an amount of strain of a bonded strained wafer

Номер патента: US20070166845A1. Автор: Isao Yokokawa. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-19.

X-ray diffraction method and portable x-ray diffraction apparatus using same

Номер патента: GB201301244D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-03-06.

X-ray diffraction device and X-ray diffraction measurement method

Номер патента: CN105960590B. Автор: 野吕寿人,山田克己,青山朋弘. Владелец: NKK Corp. Дата публикации: 2018-12-21.

X-ray diffraction apparatus and x-ray diffraction method

Номер патента: EP2306179B1. Автор: Toraya Hideo. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-06-05.

Airtight box for x-ray diffraction measurements

Номер патента: EP4134664A2. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-02-15.

Method for identifying molecular structure

Номер патента: US11815475B2. Автор: Makoto Fujita,Hiroki Takezawa,Daishi Fujita,Yuya Domoto. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2023-11-14.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS AND METHOD OF MEASURING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20150146861A1. Автор: Kobayashi Shintaro,MITSUNAGA Toru,KAJIYOSHI Koichi,ARAI Kazuyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-28.

X-ray diffraction apparatus and X-ray diffraction measurement method

Номер патента: US9074992B2. Автор: Ryuji Matsuo,Katsuhiko Inaba,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-07-07.

X-ray diffraction apparatus and X-ray diffraction measuring method

Номер патента: DE102011087537B4. Автор: Ryuji Matsuo,Katsuhiko Inaba,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-05-04.

X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS METHOD AND X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20180356354A1. Автор: DOI Shuuichi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-12-13.

X-ray diffraction measurement device and X-ray diffraction measurement system

Номер патента: JP5708582B2. Автор: 洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

Method for measuring residual stress of curved-surface bulk material

Номер патента: US20220196496A1. Автор: Hsiu-An Tsai,Zong-Rong LIU. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2022-06-23.

X-ray diffraction device

Номер патента: CN110308168A. Автор: 刑部刚,光永彻. Владелец: Corporate Sociology. Дата публикации: 2019-10-08.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE

Номер патента: US20140119512A1. Автор: Kuribayashi Masaru,MATSUSHITA Kazuyuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-01.

Soller slit, X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: CN109709118B. Автор: 拉迪斯拉洛·皮娜,阿道夫·茵内曼,表和彦,小林信太郎. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-04-26.

Soller slits, X-ray diffraction device and method

Номер патента: CN109709118A. Автор: 拉迪斯拉洛·皮娜,阿道夫·茵内曼,表和彦,小林信太郎. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-03.

X-ray diffraction stress determinating method

Номер патента: CN1487285A. Автор: ,ɽ��һ��,横山亮一,远藤上久. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2004-04-07.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: AU2003265275A1. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P. Rose. Владелец: University of Georgia. Дата публикации: 2004-02-23.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP3285065B1. Автор: Tetsuya Ozawa,Takeshi Osakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-10-06.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: EP2778666B1. Автор: E. Michael Brass. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Analysis method for x-ray diffraction measurement data

Номер патента: US20130077754A1. Автор: Akito Sasaki,Hiroki Yoshida,Akihiro Himeda,Keiichi Morikawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-03-28.

SYSTEMS AND METHODS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20150253262A1. Автор: Cernatescu Iuliana,Furrer David U.. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-10.

SYSTEMS AND METHODS FOR X-RAY DIFFRACTION VIRTUAL SPECTROSCOPY

Номер патента: US20200326290A1. Автор: INIEWSKI Krzysztof,HANSSON Conny,AYUKAWA Michael. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-15.

Apparatus and method for obtaining x-ray diffraction patterns

Номер патента: US3509336A. Автор: Zigmond W Wilchinsky,Thomas C Menzel. Владелец: Exxon Research and Engineering Co. Дата публикации: 1970-04-28.

Method for displaying measurement results from x-ray diffraction measurement

Номер патента: US10801976B2. Автор: Akito Sasaki,Akihiro Himeda,Yukiko Ikeda,Keigo Nagao. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-10-13.

Apparatus and method for identification of crystals by in-situ x-ray diffraction

Номер патента: CA2424893A1. Автор: Janet Newman,Eric De La Fortelle. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-25.

X-ray diffraction method and apparatus

Номер патента: US2887585A. Автор: Parrish William,Wolff Pieter Maarten De. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1959-05-19.

Method for evaluating rotor-mast fatigue damage

Номер патента: EP4012389A1. Автор: Steve CATES,Caydn WHITE,Kevin BROOKER. Владелец: Bell Textron Inc. Дата публикации: 2022-06-15.

METHOD FOR DISPLAYING MEASUREMENT RESULTS FROM X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT

Номер патента: US20190064083A1. Автор: SASAKI Akito,HIMEDA Akihiro,Nagao Keigo,IKEDA Yukiko. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-02-28.

Methods of Identifying Original and Counterfeit Articles using Micro X-Ray Diffraction Mapping

Номер патента: US20140119511A1. Автор: Ward Michael,Musumeci Daniele,Hu Chunhua. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-01.

MEASUREMENT OF CRYSTALLITE SIZE DISTRIBUTION IN POLYCRYSTALLINE MATERIALS USING TWO-DIMENSIONAL X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20210033546A1. Автор: HE Bob Baoping. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-04.

MOUNTING SYSTEM AND SAMPLE HOLDER FOR X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20210055236A1. Автор: VUKOTIC Vedran Nicholas,BOYER William,BELASSEL Mohammed,ISKRA Alec. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20180052121A1. Автор: Ozawa Tetsuya,OSAKABE Takeshi. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

METHODS AND APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20150092921A1. Автор: Hansford Graeme Mark. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2015-04-02.

MEASURING AND ANALYZING RESIDUAL STRESSES AND THEIR GRADIENTS IN MATERIALS USING HIGH RESOLUTION GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20190094158A1. Автор: Sunder Madhana. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

MEASURING AND ANALYZING RESIDUAL STRESSES AND THEIR GRADIENTS IN MATERIALS USING HIGH RESOLUTION GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20190094159A1. Автор: Sunder Madhana. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

MEASURING AND ANALYZING RESIDUAL STRESSES AND THEIR GRADIENTS IN MATERIALS USING HIGH RESOLUTION GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20190094160A1. Автор: Sunder Madhana. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

X-RAY DIFFRACTION BASED CRYSTAL CENTERING METHOD USING AN ACTIVE PIXEL ARRAY SENSOR IN ROLLING SHUTTER MODE

Номер патента: US20150103980A1. Автор: KAERCHER Joerg. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-16.

SINGLE CRYSTAL QUARTZ CHIPS FOR PROTEIN CRYSTALLIZATION AND X-RAY DIFFRACTION DATA COLLECTION AND RELATED METHODS

Номер патента: US20150117611A1. Автор: Ren Zhong. Владелец: RENZ RESEARCH, INC.. Дата публикации: 2015-04-30.

X-RAY DIFFRACTION IMAGING OF MATERIAL MICROSTRUCTURES

Номер патента: US20180120244A1. Автор: Varga Laszlo,CALO Victor,VARGA Bonbien. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-03.

SOLLER SLIT, X-RAY DIFFRACTION APPARATUS, AND METHOD

Номер патента: US20190122782A1. Автор: Kobayashi Shintaro,OMOTE Kazuhiko,PINA LADISLAV,INNEMAN ADOLF. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-04-25.

STRUCTURE FOR BATTERY ANALYSIS AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE

Номер патента: US20220278381A1. Автор: Sasaki Suguru,Ito Koichiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-01.

X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20220307995A1. Автор: Sato Kenji,KUWABARA Junji,TAMAI Atsushi. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

X-Ray Diffraction Apparatus And Method

Номер патента: US20140270090A1. Автор: Brauss E. Michael. Владелец: Proto Manufacturing Ltd.. Дата публикации: 2014-09-18.

MOUNTING SYSTEM AND SAMPLE HOLDER FOR X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20190178823A1. Автор: VUKOTIC Vedran Nicholas,BOYER William,BELASSEL Mohammed,ISKRA Alec. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-13.

X-ray diffraction measurement method and apparatus

Номер патента: US20180202948A1. Автор: Kenji Sato,Kazuhito Nakao. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-19.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20190293575A1. Автор: MITSUNAGA Toru,OSAKABE Takeshi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-26.

TECHNIQUE FOR PROCESSING X-RAY DIFFRACTION DATA

Номер патента: US20190325635A1. Автор: Meyer Mathias. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-24.

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND METHOD TO MEASURE STRESS WITH 2D DETECTOR AND SINGLE SAMPLE TILT

Номер патента: US20180372658A1. Автор: HE Bob Baoping. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

Crystallite size analysis method and apparatus using powder X-ray diffraction

Номер патента: US8111807B2. Автор: Takashi Ida,Licai Jiang. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-02-07.

Apparatus for x-ray diffraction

Номер патента: JPS5712354A. Автор: Nobuo Otsuki. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1982-01-22.

Procedure and measuring apparatus based on x-ray diffraction for measuring stresses

Номер патента: US5125016B1. Автор: Matti Korhonen,Veikko Lindroos. Владелец: Stresstech OY. Дата публикации: 1998-02-24.

X-ray diffraction system

Номер патента: US2870337A. Автор: Neff Hans. Владелец: Siemens Reiniger Werke AG. Дата публикации: 1959-01-20.

Technique for processing x-ray diffraction data

Номер патента: EP3561496A1. Автор: Mathias Meyer. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-10-30.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: EP2778666A3. Автор: E. Michael Brass. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2014-12-03.

X-ray diffraction and computed tomography

Номер патента: US8477904B2. Автор: Gabriel Blaj. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2013-07-02.

X-ray diffraction measurement method and apparatus

Номер патента: JP6383018B2. Автор: 健児 佐藤,和人 中尾,佐藤 健児. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-29.

X-Ray diffraction and fluorescence

Номер патента: EP2315009B1. Автор: Roger Meier,Alexander Kharchenko,Walter van den Hoogenhof. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2017-07-12.

X-ray diffraction meter

Номер патента: CH336204A. Автор: Maarten De Wolff Pieter. Владелец: Philips Nv. Дата публикации: 1959-02-15.

X-ray diffraction device

Номер патента: CH338617A. Автор: Brown Walter. Владелец: Philips Nv. Дата публикации: 1959-05-31.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA1016669A. Автор: Frank R. Paolini. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1977-08-30.

Technique for processing x-ray diffraction data

Номер патента: EP3561496B1. Автор: Mathias Meyer. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-10-06.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1739413B1. Автор: Takeyoshi Rigaku Corporation Taguchi,Masaru Rigaku Corporation Kuribayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-09-18.

Divergent beam two-dimensional x-ray diffraction

Номер патента: EP3599459B1. Автор: Jonathan GIENCKE. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2022-08-31.

Device for x-ray diffraction

Номер патента: FR1139227A. Автор: . Владелец: Siemens Reiniger Werke AG. Дата публикации: 1957-06-26.

X-ray diffraction device

Номер патента: JP2017223539A. Автор: Katsuhiko Inaba,信太郎 小林,克彦 稲葉,Shintaro Kobayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

In-situ X-ray diffraction for screening crystals

Номер патента: EP1353166B1. Автор: Bob Baoping He,Roger D. Durst. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2010-06-09.

X-ray diffraction divice

Номер патента: JPS55104747A. Автор: Shigeru Ozaki. Владелец: RIGAKU DENKI KK. Дата публикации: 1980-08-11.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP3285065A1. Автор: Tetsuya Ozawa,Takeshi Osakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-02-21.

Airtight box for x-ray diffraction measurements

Номер патента: EP3828533A3. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-09-22.

X-ray diffraction (Xrd) means for identifying the content in a volume of interest and a method thereof

Номер патента: US7620148B2. Автор: Ze'ev Harel,Zeev Burshtein,Asaf ZUK. Владелец: Xurity Ltd. Дата публикации: 2009-11-17.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: FR1146426A. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1957-11-12.

Airtight box for x-ray diffraction measurements

Номер патента: EP3828533A2. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-06-02.

X-ray diffraction system

Номер патента: US3051835A. Автор: Uchida Hiroshi,Shimula Yoshihiro. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 1962-08-28.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: GB201110936D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2011-08-10.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: GB2481700B. Автор: Takuto Sakumura,Yuji Tsuji,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama,Kimiko Hasegawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-06-11.

X-ray diffraction device and method to measure stress with 2d detector and single sample tilt

Номер патента: EP3425378B1. Автор: Bob Boaping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2019-12-25.

An online energy dispersive x-ray diffraction analyser

Номер патента: CA2701670C. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2018-01-16.

Detector stand and x-ray diffraction apparatus

Номер патента: US20240255446A1. Автор: Atsushi Kuji,Yuji SHIRAMATA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Method for X-ray diffractometry analysis at differing wavelengths without exchanging the X-ray source

Номер патента: US20120106706A1. Автор: Joachim Lange,Rolf Schipper. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2012-05-03.

X-RAY DIFFRACTION METHOD AND PORTABLE X-RAY DIFFRACTION APPARATUS USING SAME

Номер патента: US20130129051A1. Автор: Nakano Asao,Ueji Yoshinori. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-23.

Apparatus and method for texture analysis on semiconductor wafers

Номер патента: WO2001009925A3. Автор: Paul R Moran,David S Kurtz,Krzysztof J Kozaczek. Владелец: Hypernex Inc. Дата публикации: 2001-05-31.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS, X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD, AND CONTROL PROGRAM

Номер патента: US20140314206A1. Автор: YASUKAWA Shoichi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-23.

X-Ray diffraction apparatus, x-ray diffraction measuring method and control program

Номер патента: GB201403709D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-04-16.

X-ray diffraction analysis method and X-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: JP4581126B2. Автор: 健次 桜井. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2010-11-17.

X-ray diffraction method of determining an effective atomic number and a relative molecular interference function

Номер патента: EP2447711B1. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2014-06-18.

Laboratory crystallographic x-ray diffraction analysis system

Номер патента: US20240219328A1. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Christian Holzner,Peter Reischig. Владелец: Carl Zeiss X Ray Microscopy Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Angle-dependent X-ray diffraction imaging system and method of operating the same

Номер патента: CN106062540A. Автор: G.哈丁,H.R.O.斯特雷克. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2016-10-26.

X-RAY DIFFRACTIVE GRATING AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER

Номер патента: US20170125134A1. Автор: Handa Soichiro. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

X-ray diffraction grating and X-ray Talbot interferometer

Номер патента: JP6608246B2. Автор: 宗一郎 半田. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-11-20.

Method and apparatus for x-ray diffraction analysis

Номер патента: CN1858583A. Автор: O·格拉斯曼,M·亨尼格,R·A·霍彻特拉瑟尔,U·施维特. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2006-11-08.

Large sample X-ray diffraction material phase analysis support

Номер патента: CN106918608A. Автор: 李刚,邓淞文,潘艳伟. Владелец: Dalian Institute of Chemical Physics of CAS. Дата публикации: 2017-07-04.

X-ray detector and X-ray diffraction device

Номер патента: DE102013222196A1. Автор: Masaru Kuribayashi,Kazuyuki Matsushita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-04-30.

X-ray camera for X-ray diffraction analysis according to Guinier

Номер патента: DE1902628A1. Автор: Gunnar Haegg. Владелец: Incentive Research and Development AB. Дата публикации: 1970-08-13.

Single crystal stress detection method based on monochromatic X-ray diffraction

Номер патента: CN110609047A. Автор: 陈凯,沈昊,朱文欣,寇嘉伟. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2019-12-24.

Electrolytic cell device suitable for in-situ X-ray diffraction test

Номер патента: CN112485310B. Автор: 漆俊,崔志洋,关明辉,杨纯臻,赖悦诚,杨铭铎. Владелец: Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2022-04-05.

Laboratory crystallographic x-ray diffraction analysis system

Номер патента: EP4356118A2. Автор: Christian Holzner,Peter Reischig,Erik Lauridsen. Владелец: Carl Zeiss X Ray Microscopy Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Laboratory crystallographic x-ray diffraction analysis system

Номер патента: WO2023113862A3. Автор: Christian Holzner,Peter Reischig,Erik Lauridsen. Владелец: Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc.. Дата публикации: 2023-11-16.

Automatic plotting of X-ray diffraction pole figures

Номер патента: US3117226A. Автор: Eichhorn Robert Milne,Addis Gilbert Irving. Владелец: Union Carbide Corp. Дата публикации: 1964-01-07.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: EP3652526B1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 2021-08-25.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: AU4503400A. Автор: Michael Brauss. Владелец: XRD TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2000-10-16.

Method of comparing x-ray diffraction patterns using the fundamental parameter method

Номер патента: IL166619A0. Автор: . Владелец: SSCI Inc. Дата публикации: 2006-01-15.

X-ray diffraction system

Номер патента: EP1608957B1. Автор: Michael Brauss. Владелец: Proto Manufacturing LLC. Дата публикации: 2015-09-30.

System and method for correcting x-ray diffraction profiles

Номер патента: US20120263275A1. Автор: Geoffrey Harding,Gabriel Zienert. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2012-10-18.

High resolution X-ray Diffraction Method and Apparatus

Номер патента: US20180259464A1. Автор: Beckers Detlef,Gateshki Milen,Kharchenko Alexander,Reuvekamp Eugene. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-13.

System and method for using x-ray diffraction to detect subsurface crystallographic structure

Номер патента: CA2250748A1. Автор: Paul John Zombo,Der-Yan Frank Roan. Владелец: Der-Yan Frank Roan. Дата публикации: 1997-10-09.

High resolution x-ray diffraction method and apparatus

Номер патента: EP3372994B1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki,Eugene REUVEKAMP. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2020-04-22.

Method for evaluating residual fatigue life of mechanical parts

Номер патента: US4709383A. Автор: Takashi Konishi,Touru Goto. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 1987-11-24.

System and method for x-ray diffraction imaging

Номер патента: EP2344909B1. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2017-07-19.

Hardness measuring method for hardened steel by X-ray diffraction using Gaussian curve

Номер патента: JPH0797089B2. Автор: 政則 栗田. Владелец: 政則 栗田. Дата публикации: 1995-10-18.

System and method for X-ray diffraction imaging

Номер патента: ES2643993T3. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2017-11-27.

Method for evaluating residual fatigue life of mechanical parts

Номер патента: CA1244151A. Автор: Takashi Konishi,Touru Goto. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 1988-11-01.

System and method for X-ray diffraction imaging

Номер патента: US7835495B2. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-11-16.

METHOD AND ITS APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20130129052A1. Автор: Toraya Hideo,Munekawa Shigeru. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-23.

ANGLE-DEPENDENT X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM AND METHOD OF OPERATING THE SAME

Номер патента: US20150085983A1. Автор: Harding Geoffrey,Strecker Helmut Rudolf Otto. Владелец: Morpho Detection, Inc.. Дата публикации: 2015-03-26.

STRUCTURE FOR PRESSURIZATION ANALYSIS, X-RAY DIFFRACTION APPARATUS AND PRESSURIZATION ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20220099603A1. Автор: Ito Koichiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2022-03-31.

METHODS AND APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20180202950A1. Автор: Hansford Graeme Mark. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2018-07-19.

Determining atomic coordinates from x-ray diffraction data

Номер патента: US20210302332A1. Автор: David Hurwitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-30.

X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM WITH INTEGRATED SUPERMIRROR

Номер патента: US20150276628A1. Автор: Harding Geoffrey. Владелец: Morpho Detection, LLC. Дата публикации: 2015-10-01.

METHOD OF CONDUCTING AN X-RAY DIFFRACTION-BASED CRYSTALLOGRAPHY ANALYSIS

Номер патента: US20150276629A1. Автор: KAERCHER Joerg,RUF Michael,NOLL Bruce C.. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-01.

X-Ray Diffraction Imaging System Using Debye Ring Envelopes

Номер патента: US20150362443A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: Cranfield University. Дата публикации: 2015-12-17.

Transmission mode X-ray diffraction screening system

Номер патента: US6859520B2. Автор: Bob Baoping He,Ryan C. Bollig,Hans Mathias Lutz Brügemann. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2005-02-22.

Method and system for crystallization and x-ray diffraction screening

Номер патента: US20090147918A1. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Method and system for crystallization and x-ray diffraction screening

Номер патента: WO2008141183A2. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corporation. Дата публикации: 2008-11-20.

Method and system for crystallization and X-ray diffraction screening

Номер патента: US7974380B2. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corp. Дата публикации: 2011-07-05.

Method and system for crystallization and X-ray diffraction screening

Номер патента: US8422632B2. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corp. Дата публикации: 2013-04-16.

X-ray diffraction microscope camera for spherical-wave section topograph

Номер патента: JPS5576943A. Автор: Shigeru Oki. Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-06-10.

X-ray diffraction screening system convertible between reflection and transmission modes

Номер патента: US20060023838A1. Автор: Bob He,Ryan Bollig. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2006-02-02.

High throughput x-ray diffraction filter sample holder

Номер патента: AU2003234725A1. Автор: Joseph Nolfo,Victor W. Rosso,John J. Venit,Imre M. Vitez,Glen Young. Владелец: Bristol Myers Squibb Co. Дата публикации: 2003-10-27.

X-ray diffraction analyzer and analyzing method

Номер патента: WO2006095468A1. Автор: Kenji Sakurai. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2006-09-14.

Thin film x-ray diffraction sample cell device and method

Номер патента: WO2020220081A1. Автор: John Daniels. Владелец: Critus Pty Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

Method and apparatus for x-ray diffraction analysis

Номер патента: CA2544907A1. Автор: Michael Hennig,Olaf Grassmann,Urs Schwitter,Remo Anton Hochstrasser. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2006-11-02.

An online energy dispersive x-ray diffraction analyser

Номер патента: ZA201002520B. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2012-09-26.

Transmission mode x-ray diffraction screening system

Номер патента: WO2003081221A3. Автор: Bob Baoping He,Ryan C Bollig,Hans Mathias Lutz Bruegemann. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2004-01-22.

Sample die for x-ray diffraction analysis

Номер патента: KR0128554Y1. Автор: 서종현,박신화. Владелец: 재단법인산업과학기술연구소. Дата публикации: 1998-12-01.

Online energy dispersive X-ray diffraction analyser

Номер патента: US8311183B2. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2012-11-13.

Imaging plate x-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1102060A4. Автор: Yuji Ohashi,Yutaka Yokozawa,Kutsunari Sasaki. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2003-07-09.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser having an improved reflection geometry

Номер патента: FI20215587A1. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2021-05-18.

Apparatus for evaluating X-ray diffraction records

Номер патента: US3113381A. Автор: Khol Frantisek. Владелец: Individual. Дата публикации: 1963-12-10.

Combinatorial contraband detection using energy dispersive x-ray diffraction

Номер патента: WO2003065077A2. Автор: William E. Mayo. Владелец: Rutgers, the State University. Дата публикации: 2003-08-07.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: WO2019011986A1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: Centre National De La Recherche Scientifique. Дата публикации: 2019-01-17.

Transmission mode x-ray diffraction screening system

Номер патента: WO2003081221A2. Автор: Bob Baoping He,Ryan C. Bollig,Hans Mathias Lutz Brügemann. Владелец: BRUKER AXS, INC.. Дата публикации: 2003-10-02.

High temperature x-ray diffraction camera

Номер патента: US2479471A. Автор: Edmund F Champaygne. Владелец: American Cyanamid Co. Дата публикации: 1949-08-16.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: US20200256810A1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 2020-08-13.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: EP3652526A1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 2020-05-20.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: US1546349A. Автор: Albert W Hull,Wheeler P Davey. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1925-07-14.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: AU2003223145A8. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2003-10-27.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: AU2003223145A1. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2003-10-27.

X-ray diffraction device

Номер патента: US2645720A. Автор: Siegfried T Gross. Владелец: General Aniline and Film Corp. Дата публикации: 1953-07-14.

Energy dispersion type x-ray diffraction/spectral device

Номер патента: EP1650558B1. Автор: Masayuki School of Science and Engineering Uda. Владелец: WASEDA UNIVERSITY. Дата публикации: 2010-09-08.

Energy dispersion type x-ray diffraction/spectral device

Номер патента: EP1650558A1. Автор: Masayuki School of Science and Engineering Uda. Владелец: WASEDA UNIVERSITY. Дата публикации: 2006-04-26.

Structure for pressurization analysis, x-ray diffraction apparatus and pressurization analysis system

Номер патента: EP3974820A1. Автор: Koichiro Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-03-30.

Structure for pressurization analysis, X-ray diffraction apparatus and pressurization analysis system

Номер патента: US11913891B2. Автор: Koichiro Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-02-27.

Method for determining properties of a formation

Номер патента: US11788408B2. Автор: Mokhles M. Mezghani,Leyla Ismailova. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-10-17.

Methods of Examining an Item of Luggage by Means of an X-Ray Diffraction Method

Номер патента: US20090016487A1. Автор: Helmut Strecker,Gabriel Zienert,Armin Schmiegel. Владелец: GE Homeland Protection Inc. Дата публикации: 2009-01-15.

Apparatus for measuring surface stress by X-ray diffraction

Номер патента: US3934138A. Автор: Jeans Bens. Владелец: Compagnie Generale de Radiologie SA. Дата публикации: 1976-01-20.

Powder mixture for iron-based powder metallurgy, and method for manufacturing sintered compact using same

Номер патента: US20190283126A1. Автор: Nobuaki Akagi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2019-09-19.

Method for correcting respiratory influences on magnetic resonance recordings of an examination object

Номер патента: US09918660B2. Автор: Mario Zeller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-03-20.

X-ray fluorescence analyzer and a method for performing X-ray fluorescence analysis

Номер патента: FI131090B1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Finland Oy. Дата публикации: 2024-09-24.

Graphene-based electro-microfluidic devices and methods for protein structural analysis

Номер патента: US20190383764A1. Автор: Sarah L. Perry,Shou Sui. Владелец: University of Massachusetts UMass. Дата публикации: 2019-12-19.

System and method for x-ray imaging and classification of volume defects

Номер патента: WO2019005646A1. Автор: Steven R. Lange,Oleg KHODYKIN,Bosheng Zhang,Richard SOLARZ. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-01-03.

Non-destructive method for detecting failure of cell

Номер патента: US20240310454A1. Автор: Daesoo Kim,Youngdeok Kim,Joonhyeon KANG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Piezoceramic composition and method for manufacturing the same

Номер патента: US20140367605A1. Автор: Kenji Nagareda,Dunzhuo Dong. Владелец: Honda Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-18.

Sulfide solid electrolyte, precursor, all solid state battery and method for producing sulfide solid electrolyte

Номер патента: US20220231327A1. Автор: Keiichi Minami. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Structure for battery analysis and X-ray diffraction device

Номер патента: US12080858B2. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Method for measuring and extending the service life of fatigue-limited metal components

Номер патента: CA2190354C. Автор: Stanley G. Berkley. Владелец: Fatigue Management Associates LLC. Дата публикации: 1999-09-21.

Method for measuring and extending the service life of fatigue-limited metal components

Номер патента: AU2373395A. Автор: Stanley G Berkley. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 1995-12-05.

Method for measuring and extending the service life of metal components

Номер патента: IL113421A. Автор: . Владелец: Fatigue Management Ass. Дата публикации: 1996-12-05.

Method for manufacturing spring and spring

Номер патента: CA3099466C. Автор: Yoshizumi Fukuda,Yuji Soda,Tomohiro Yamazaki,Fumihiro Kino. Владелец: Mitsubishi Steel Mfg Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Method for manufacturing spring and spring

Номер патента: US11965571B2. Автор: Yoshizumi Fukuda,Yuji Soda,Tomohiro Yamazaki,Fumihiro Kino. Владелец: Mitsubishi Steel Mfg Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Method for diagnosing cause of degradation of lithium secondary battery

Номер патента: EP4009041A1. Автор: So Young Kim,Eun Ju LEE,Hyo Jung Yoon. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2022-06-08.

CAPACITANCE MONITORING USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20180096904A1. Автор: MURRAY Conal E.,KWON Oh-Jung,MADAN ANITA,Kang Donghun,Kohli Kriteshwar K.. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

CAPACITANCE MONITORING USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20160178679A1. Автор: MURRAY Conal E.,KWON Oh-Jung,MADAN ANITA,Kang Donghun,Kohli Kriteshwar K.. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-23.

X-ray diffraction-based scanning system

Номер патента: US20040174959A1. Автор: Michael Green. Владелец: Varian Medical Systems Technologies Inc. Дата публикации: 2004-09-09.

Rapid X-ray diffraction screening method of polymorph libraries created in multi-well plates

Номер патента: US6507636B1. Автор: Christian W. Lehmann. Владелец: STUDIENGESELLSCHAFT KOHLE MBH. Дата публикации: 2003-01-14.

X-ray diffraction-based scanning system

Номер патента: US20060193434A1. Автор: Michael Green. Владелец: Green Michael C. Дата публикации: 2006-08-31.

Capacitance monitoring using x-ray diffraction

Номер патента: US10008421B2. Автор: Conal E. Murray,Oh-Jung Kwon,Anita Madan,Kriteshwar K. Kohli,DongHun Kang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-06-26.

Sample holder for high temperature x-ray diffraction analysis

Номер патента: KR200160944Y1. Автор: 서종현,박신화,유길열. Владелец: 재단법인포항산업과학연구원. Дата публикации: 1999-11-15.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft x-ray diffraction

Номер патента: IL271730B2. Автор: . Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Structure for battery analysis and x-ray diffraction device

Номер патента: US20220278381A1. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft X-ray diffraction

Номер патента: IL271730A. Автор: . Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-02-27.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft x-ray diffraction

Номер патента: IL271730B1. Автор: . Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-07-01.

Structure for battery analysis and x-ray diffraction device

Номер патента: EP4024035A4. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Structure for battery analysis and x-ray diffraction device

Номер патента: EP4024035A1. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-07-06.

Macroview and microview video record of core

Номер патента: US4899219A. Автор: II Houston B. Mount. Владелец: BP Corp North America Inc. Дата публикации: 1990-02-06.

Strain sensor, functional film, and method for manufacturing same

Номер патента: US20240003762A1. Автор: Kazuhiro Nakajima,Satoshi Yasui,Katsunori Shibuya. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Single crystal or directional crystal detection system based on monochromatic X-ray diffraction

Номер патента: CN110608827A. Автор: 陈凯,沈昊,朱文欣,寇嘉伟. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2019-12-24.

Device for precision recording of x-ray diffraction patterns

Номер патента: US2490674A. Автор: Charles L Christ,Champaygne Edmund Francis. Владелец: American Cyanamid Co. Дата публикации: 1949-12-06.

X-RAY DIFFRACTION-BASED DEFECTIVE PIXEL CORRECTION METHOD USING AN ACTIVE PIXEL ARRAY SENSOR

Номер патента: US20150016594A1. Автор: KAERCHER Joerg,Chambers John L.. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-15.

Method for correcting respiratory influences on magnetic resonance recordings of an examination object

Номер патента: US20160081588A1. Автор: Mario Zeller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2016-03-24.

Method of producing x-ray diffraction grating

Номер патента: US3776995A. Автор: W Little. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1973-12-04.

Long wave-length X-ray diffraction crystal and method of manufacturing the same

Номер патента: US4084089A. Автор: William P. Zingaro,Albert Sicignano. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1978-04-11.

Long wave-length x-ray diffraction crystal and method of manufacturing the same

Номер патента: CA1084175A. Автор: William P. Zingaro,Albert Sicignano. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1980-08-19.

X-ray diffraction and imaging software and computer-implemented systems

Номер патента: US20230122469A1. Автор: Guichuan Yu,Javier Garcia Barriocanal. Владелец: University of Minnesota. Дата публикации: 2023-04-20.

Ultraviolet ray transmissive filter and method for producing same

Номер патента: US20220043196A1. Автор: Hiroto Ito,Tomonori Enyo,Daiki Sano. Владелец: Optical Coatings Japan. Дата публикации: 2022-02-10.

Ultraviolet ray transmissive filter and method for producing same

Номер патента: US11762139B2. Автор: Hiroto Ito,Tomonori Enyo,Daiki Sano. Владелец: Optical Coatings Japan. Дата публикации: 2023-09-19.

Inorganic ion adsorbent and method for producing same

Номер патента: US20160082428A1. Автор: Yasuharu Ono,Kentarou MIYAMURA. Владелец: TOAGOSEI CO LTD. Дата публикации: 2016-03-24.

Method and apparatus for obtaining parallel x-ray beam and x-ray diffraction apparatus related thereto

Номер патента: EP1403882A3. Автор: Go Fujinawa,Hitoshi Okanda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2004-06-16.

Composition and Method for Making Picocrystalline Artificial Borane Atoms

Номер патента: US20170076942A1. Автор: Patrick Curran. Владелец: Seminuclear Inc. Дата публикации: 2017-03-16.

Composition and method for making picocrystalline artificial borane atoms

Номер патента: US09972489B2. Автор: Patrick Curran. Владелец: Seminuclear Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Composition and Method for Making Picocrystalline Artificial Borane Atoms

Номер патента: US20180247811A1. Автор: Patrick Curran. Владелец: Seminuclear Inc. Дата публикации: 2018-08-30.

Dimension calculation method for a semiconductor device

Номер патента: US20150228065A1. Автор: Sajal Biring. Владелец: MATERIALS ANALYSIS Tech Inc. Дата публикации: 2015-08-13.

High aspect-ratio X-ray diffractive structure stabilization methods and systems

Номер патента: US7864426B2. Автор: Yan Feng,Alan Francis Lyon,Wenbing Yun. Владелец: Xradia Inc. Дата публикации: 2011-01-04.

A method of producing x-ray diffracting gratings

Номер патента: DE3068298D1. Автор: Dale C Flanders. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 1984-07-26.

Method for Producing an XUV and X-Ray Diffractive Optic

Номер патента: US20200398509A1. Автор: Sitti Metin,SANLI Umut Tunca,CEYLAN Hakan,SCHÜTZ Gisela,KESKINBORA Kahraman. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

LONG WAVELENGTH X-RAY DIFFRACTION CRYSTAL, AND METHOD FOR THE MANUFACTURE OF SUCH A CRYSTAL

Номер патента: FR2374654A1. Автор: . Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1978-07-13.

Crystalline phosphatase and method for use thereof

Номер патента: WO2006081543A3. Автор: Peter Benjamin Rupert. Владелец: Peter Benjamin Rupert. Дата публикации: 2009-05-07.

Crystalline phosphatase and method for use thereof

Номер патента: US20060173633A1. Автор: Peter Rupert. Владелец: Ceptyr Inc. Дата публикации: 2006-08-03.

Crystalline phosphatase and method for use thereof

Номер патента: WO2006081543A2. Автор: Peter Benjamin Rupert. Владелец: Ceptyr, Inc.. Дата публикации: 2006-08-03.

Method of Manufacture of X-Ray Diffraction Gratings

Номер патента: US20130335825A1. Автор: Abbamonte Peter,MacLaren Scott. Владелец: The Board of Trustees of the University of Illinois. Дата публикации: 2013-12-19.

Method for producing acknowledged transaction data and corresponding device

Номер патента: US20130042109A1. Автор: Michael Baldischweiler,Helmut Scherzer,Hans-Jürgen Roth. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-02-14.

SYSTEM AND METHOD FOR ACTIVATING A DEVICE BASED ON A RECORD OF PHYSICAL ACTIVITY

Номер патента: US20140141865A1. Автор: Tropper Seth A.,Batour Amado. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-22.

Method for making soluble arabinoxylans as co-product of fermentation of whole-grain cereals

Номер патента: CA2653709C. Автор: Willem Broekaert,Jan Delcour,Christophe Courtin. Владелец: Cargill Inc. Дата публикации: 2016-05-10.

Systems and methods for processing whole slide images using machine-learning

Номер патента: US20240362865A1. Автор: Samuel Seymour. Владелец: Paige AI Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Method for generating random numbers

Номер патента: US20220116202A1. Автор: Marcus Zinn,Alexander HIESER. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-04-14.

A system for generation and verification of identity and a method thereof

Номер патента: GB2594392A. Автор: Dhanraj Hatti Ajitkumar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-27.

System And Method For Optimizing Fixed Rate Whole Loan Trading

Номер патента: US20140188692A1. Автор: Harsha Nagesh,Rajan Godse. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-07-03.

Method for Generating Sales

Номер патента: US20080059320A1. Автор: Nicholas Anthony Ezzo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-03-06.

System and method for efficiently managing a containment hierarchy

Номер патента: US09934141B1. Автор: Patrick Soquet. Владелец: Marvell International Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Device and Method for Generating an Image of an Object

Номер патента: US20080252945A1. Автор: Ralf Wolleschensky,Michael Kempe. Владелец: CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH. Дата публикации: 2008-10-16.

Systems and methods for generating graphs

Номер патента: US20240256583A1. Автор: Ron Zass. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-01.

System and method for generating 'snapshot's of learning objects

Номер патента: US20090138442A1. Автор: Tsun Ku,Yi-Chi Chen,Chien-Huei Yang. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2009-05-28.

System and method for generating 'snapshot's of learning objects

Номер патента: US7930298B2. Автор: Tsun Ku,Yi-Chi Chen,Chien-Huei Yang. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2011-04-19.

System And Method For Optimizing Fixed Rate Whole Loan Trading

Номер патента: US20100057635A1. Автор: Harsha Nagesh,Rajan Godse. Владелец: Credit Suisse Securities USA LLC. Дата публикации: 2010-03-04.

Method for generating tomographical recordings of a partially cyclically moving examination object

Номер патента: US20080130826A1. Автор: Holger Kunze,Wolfgang Härer. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2008-06-05.

Systems and methods for generating non-fungible tokens corresponding to recordings of live events

Номер патента: US20230421827A1. Автор: Max GRATTON. Владелец: DISH Network LLC. Дата публикации: 2023-12-28.

Solid lubricant material, sliding member and method for forming solid lubricant material

Номер патента: EP4435139A1. Автор: Yoshihide Miyagawa,Issei TAKENAKA. Владелец: Idemitsu Kosan Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Lithium sulfide and method for producing same, and method for producing sulfide solid electrolyte

Номер патента: EP4438554A1. Автор: Takeru KAWAMURA. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Method for producing lithium sulfide

Номер патента: EP4438555A1. Автор: Takeru KAWAMURA. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Tantalum carbide-covered carbon material and method for manufacturing thereof

Номер патента: RU2576406C2. Автор: Мика КОНДО. Владелец: Тойо Тансо Ко., Лтд.. Дата публикации: 2016-03-10.

Method for preparing surface-modified nickel powder

Номер патента: US20030118723A1. Автор: Takayuki Araki,Takashi Mukuno. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2003-06-26.

Method for preparing surface-modified nickel powder

Номер патента: US6682776B2. Автор: Takayuki Araki,Takashi Mukuno. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-27.

Copper alloy sheet and method for producing same

Номер патента: US09994933B2. Автор: Akira Sugawara,Hiroto Narieda,Weilin Gao,Tomotsugu Aoyama,Hisashi Suda,Akifumi Onodera. Владелец: Dowa Metaltech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Liquid-crystal polyester fibers and method for producing liquid-crystal polyester fibers

Номер патента: US20230257911A1. Автор: Shinji Ohtomo,Toshihiko Nishida. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

I-and ii-type crystals of l-a-glyceryl phosphoryl choline, and method for preparing same

Номер патента: US20150065741A1. Автор: Ki-nam Kim,Min-Keun Oh,Ki-Hyeong Seo,Dae-Gil Kwon. Владелец: Hanseochem co Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

Copper alloy plate and method for producing same

Номер патента: US12049690B2. Автор: Hiroto Narieda,Kazuki Yoshida,Tomotsugu Aoyama,Takanobu Sugimoto. Владелец: Dowa Metaltech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Oxygen carrier, method for producing oxygen carrier, and method for producing gas

Номер патента: EP4219403A1. Автор: Koji Takizawa,Eisuke Baba,Kenichi Shinmei. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

Li ion conductor and method for producing same

Номер патента: US20220359098A1. Автор: Ken Saito,Kazuaki Kanai. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2022-11-10.

Powder for dust cores, method for producing same, dust core and method for producing dust core

Номер патента: US20190006069A1. Автор: Ken Matsubara,Jung Hwan Hwang,Seishi Utsuno. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Method for producing rare-earth magnet, and rare-earth magnet

Номер патента: US20180330853A1. Автор: Toru Maeda,Shigeki Egashira,Kazunari Shimauchi. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2018-11-15.

Solid electrolyte and method for producing same

Номер патента: EP4307319A1. Автор: Tsukasa Takahashi,Katsuya ICHIKI. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Phenylmethylpyrazolone compound having a novel crystal form, and method for producing same

Номер патента: US20220242827A1. Автор: Mykola GUMENIUK. Владелец: Sia Emteko Holding. Дата публикации: 2022-08-04.

Piezoelectric body film, piezoelectric element, and method for manufacturing piezoelectric element

Номер патента: US11793082B2. Автор: Naoki Murakami,Daigo Sawaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Solid electrolyte and method for producing same

Номер патента: US20240128495A1. Автор: Tsukasa Takahashi,Katsuya ICHIKI. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Polycrystalline sic article and method for manufacturing same

Номер патента: US20220344452A1. Автор: Seiichi Okuyama,Takaomi Sugihara,Yuji Ushijima. Владелец: Tokai Carbon Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Polycrystalline sic molded body and method for manufacturing same

Номер патента: EP4036284A1. Автор: Seiichi Okuyama,Takaomi Sugihara,Yuji Ushijima. Владелец: Tokai Carbon Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-03.

Sulfide solid electrolyte and method for manufacturing same

Номер патента: EP4230579A1. Автор: Hideaki Hayashi,Naoki Fujii,Manabu Nishizawa,Kosho AKATSUKA. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Copper alloy sheet and method for producing same

Номер патента: US20120049130A1. Автор: Akira Sugawara,Tomotsugu Aoyama. Владелец: Dowa Metaltech Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Lithium-containing chloride and method for producing same, solid electrolyte, and battery

Номер патента: US20240317600A1. Автор: Hiroshi Kageyama,Atsunori DOI,Cedric TASSEL. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2024-09-26.

Nickel-cobalt-manganese composite hydroxide and method for producing same

Номер патента: US09941515B2. Автор: Hiroyuki Toya,Yasutaka Kamata. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2018-04-10.

Piezoelectric film, piezoelectric element, and method for manufacturing piezoelectric film

Номер патента: US20190097121A1. Автор: Naoki Murakami,Daigo Sawaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-03-28.

Method for producing plasma display panel

Номер патента: US20130017751A1. Автор: Masanori Miura,Hideji Kawarazaki,Masashi Gotou,Takuji Tsujita,Keiji Horikawa,Chiharu Koshio,Kanako Okumura. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-01-17.

Coated cutting tool and method for producing the same

Номер патента: US20110135822A1. Автор: Jun Watanabe,Yohei Sone. Владелец: Tungaloy Corp. Дата публикации: 2011-06-09.

Lithium-containing chloride, method for producing same, solid electrolyte and battery

Номер патента: EP4389708A1. Автор: Hiroshi Kageyama,Atsunori DOI,Cedric TASSEL. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2024-06-26.

Coated cutting tool and method for producing the same

Номер патента: US20080057280A1. Автор: Jun Watanabe,Yohei Sone. Владелец: TANGALOY Corp. Дата публикации: 2008-03-06.

Phenylmethylpyrazolone compound having a novel crystal form, and method for producing same

Номер патента: EP3957628A1. Автор: Mykola GUMENIUK. Владелец: Sia Emteko Holding. Дата публикации: 2022-02-23.

Method for producing positive electrode active material

Номер патента: US20240327240A1. Автор: Yuji Yamamoto,Shoji Nonaka,Shunya TAKAMORI. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Polyethylene naphthalate fibers and method for producing the same

Номер патента: US20110015326A1. Автор: Fuyuki Terasaka,Shintaro Shimada. Владелец: Teijin Fibers Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Silicon-based material, method for producing the same and applications thereof

Номер патента: US20220344652A1. Автор: Hsiao-Hsuan SHEN. Владелец: Eternal Materials Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Method for producing sulfide solid electrolyte material

Номер патента: US20180233775A1. Автор: Naoki Osada,Tomoya Suzuki,Shigenori Hama. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2018-08-16.

Large-area blank for prosthesis fabrication and method for manufacturing same

Номер патента: AU2023212622A1. Автор: Yong su Kim,Hyung bong Lim,Si Won SON,Seong Eun Lee. Владелец: HASS CO Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Method for producing positive electrode active material

Номер патента: EP4438564A1. Автор: Yuji Yamamoto,Shoji Nonaka,Shunya TAKAMORI. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Solid electrolyte, all solid state battery, and method for producing solid electrolyte

Номер патента: US20190348708A1. Автор: Masahiro Iwasaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Stable crystal form of tipiracil hydrochloride and crystallization method for the same

Номер патента: AU2017208215C1. Автор: Hideki Kazuno,Tomonobu MUTSUMI. Владелец: Taiho Pharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Copper particles and method for manufacturing same

Номер патента: EP4316697A1. Автор: Takafumi Sasaki,Hitohiko Ide,Mizuki AKIZAWA. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Copper particles and method for manufacturing same

Номер патента: US20240139804A1. Автор: Takafumi Sasaki,Hitohiko Ide,Mizuki AKIZAWA. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Method for increasing the solubility of a transcriptase inhibitor composition

Номер патента: US20130039987A1. Автор: Wilna Liebenberg,Nicole Stieger. Владелец: NORTH WEST UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-02-14.

Active material for battery, battery, and method for production of active material for battery

Номер патента: US20130052540A1. Автор: Hideki Oki,Takeshi Tojigamori. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2013-02-28.

Method for producing electrodes for all-solid state batteries

Номер патента: US20200243900A1. Автор: Yuki KATOH. Владелец: Toyota Motor Europe NV SA. Дата публикации: 2020-07-30.

Method for producing electrodes for all-solid state batteries

Номер патента: EP3662523A1. Автор: Yuki KATOH. Владелец: Toyota Motor Europe NV SA. Дата публикации: 2020-06-10.

Catalyst for solid polymer fuel cell and method for manufacturing the same

Номер патента: US09960431B2. Автор: Minoru Ishida,Hitoshi Nakajima,Koichi Matsutani. Владелец: Tanaka Kikinzoku Kogyo KK. Дата публикации: 2018-05-01.

ScAIMgO4 single crystal substrate and method for producing the same

Номер патента: US10767277B2. Автор: Masaki Nobuoka,Kentaro Miyano,Naoya Ryoki,Takehiro Asahi,Naoto YANAGITA. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2020-09-08.

Electrolytic manganese dioxide, and method for its production and its application

Номер патента: US20130146475A1. Автор: Hiroshi Miura,Shin Kumagai,Kazumasa Suetsugu. Владелец: Tosoh Corp. Дата публикации: 2013-06-13.

Method for producing oxidized compound

Номер патента: US20110282082A1. Автор: Tomonori Kawabata,Tetsuro Yonemoto. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-17.

Electroconductive silicon nitride based composite sintered body and method for preparation thereof

Номер патента: EP1361202A4. Автор: Masashi Yoshimura. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2004-07-28.

Cured guayule rubber containing compositions and method for preparing same

Номер патента: US09890268B2. Автор: Sheel Agarwal,Yingyi Huang. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Ethylene-tetrafluoroethylene copolymer film and method for producing same

Номер патента: US20190085107A1. Автор: Kengo Kawahara,Wataru Kasai. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-21.

Electroconductive silicon nitride based composite sintered body and method for preparation thereof

Номер патента: US20040046153A1. Автор: Masashi Yoshimura. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2004-03-11.

Non-oriented electromagnetic steel sheet and method for manufacturing same

Номер патента: EP4261293A1. Автор: Kazutoshi Takeda,Hiroyasu Fujii,Jun Maki,Akira Akagi,Yuya Fujii. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2023-10-18.

Method for producing noble metal nanocomposites

Номер патента: US20170298518A1. Автор: Jegan Athinarayanan,Ali A. Alshatwi,Vaiyapuri Subbarayan Periasamy. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-10-19.

Method for producing noble metal nanocomposites

Номер патента: US20180282872A1. Автор: Jegan Athinarayanan,Ali A. Alshatwi,Vaiyapuri Subbarayan Periasamy. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-10-04.

Method for producing noble metal nanocomposites

Номер патента: US10619249B2. Автор: Jegan Athinarayanan,Ali A. Alshatwi,Vaiyapuri Subbarayan Periasamy. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-04-14.

Method for producing noble metal nanocomposites

Номер патента: US20200115802A1. Автор: Jegan Athinarayanan,Ali A. Alshatwi,Vaiyapuri Subbarayan Periasamy. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-04-16.

Non-oriented electrical steel sheet and method for producing same

Номер патента: US20230395291A1. Автор: Kazutoshi Takeda,Hiroyasu Fujii,Jun Maki,Akira Akagi,Yuya Fujii. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Non-oriented electrical steel sheet and method for producing same

Номер патента: US11948710B2. Автор: Kazutoshi Takeda,Hiroyasu Fujii,Jun Maki,Akira Akagi,Yuya Fujii. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2024-04-02.

Sulfide solid electrolyte and method for manufacturing same

Номер патента: US20230246227A1. Автор: Hideaki Hayashi,Naoki Fujii,Manabu Nishizawa,Kosho AKATSUKA. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Substrate for epitaxially growing diamond crystal and method for manufacturing diamond crystal

Номер патента: EP4269666A1. Автор: Koji Koyama,SeongWoo Kim. Владелец: Orbray Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-01.

Copper alloy plate and method for producing same

Номер патента: US20120279618A1. Автор: Akira Sugawara,Hiroto Narieda,Weilin Gao,Hisashi Suda. Владелец: Dowa Metaltech Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-08.

Sulfide solid electrolyte and method for manufacturing same

Номер патента: EP4084123A1. Автор: Takahiro Ito,Tsukasa Takahashi,Yuki Nakayama,Teruaki Yagi. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-02.

Electrode material and method for manufacturing electrode material

Номер патента: US20180240612A1. Автор: Kosuke Hasegawa,Keita Ishikawa,Shota Hayashi,Kenta Yamamura,Takaaki Furuhata. Владелец: Meidensha Corp. Дата публикации: 2018-08-23.

Semiconductor supercapacitor system, method for making same and articles produced therefrom

Номер патента: WO1998007167A3. Автор: Yuichi Masaki,Harry Eugen Ruda,Mark R R Farrell. Владелец: Energenius Inc. Дата публикации: 1998-03-19.

Diamond-silicon carbide composite and method for preparation thereof

Номер патента: US20040242399A1. Автор: JIANG Qian,Yusheng Zhao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Hydrocarbon oxidation catalyst, method for producing same and hydrocarbon processing method

Номер патента: EP4424417A1. Автор: Susumu Hikazudani,Emi SHONO,Koichi Fujioka. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Spherical alumina particles, method for producing same, and resin composition

Номер патента: US20240308867A1. Автор: Motoharu Fukazawa,Takuto Okabe. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Solid electrolyte and method for producing same

Номер патента: EP4307318A1. Автор: Takahiro Ito,Katsuya ICHIKI. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Casting and method for manufacturing casting

Номер патента: US20200147681A1. Автор: Hiroshi Inazawa,Hiroki Yanaga,Hirofumi Tashiro,Toshikazu Ooge. Владелец: Toyo Kohan Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-14.

Solid electrolyte and method for producing same

Номер патента: US20240136568A1. Автор: Takahiro Ito,Katsuya ICHIKI. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Lithium-containing chloride and method for producing same, solid electrolyte, and battery

Номер патента: EP4375238A1. Автор: Hiroshi Kageyama,Atsunori DOI,Cedric TASSEL. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2024-05-29.

Method for increasing intrinsic viscosity of syndiotactic polypropylene

Номер патента: US5200439A. Автор: Tadashi Asanuma. Владелец: Mitsui Toatsu Chemicals Inc. Дата публикации: 1993-04-06.

Taxane derivative crystal and method for preparing the same

Номер патента: CA2468953A1. Автор: Seishiro Uchida,Makoto Ono,Yoshihiro Takayanagi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-06-05.

Method for increasing molecular weight of syndiotactic polypropylene

Номер патента: CA2040226C. Автор: Tadashi Asanuma. Владелец: Mitsui Toatsu Chemicals Inc. Дата публикации: 1995-05-02.

Method for producing titanium-niobium composite oxide

Номер патента: CA3176681A1. Автор: Kenji Higashi. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2021-11-25.

Carbon fiber, method for producing the same and electrode for cell

Номер патента: AU3328200A. Автор: Morinobu Endo,Kunio Nishimura. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2000-10-16.

Stable crystal form of tipiracil hydrochloride and crystallization method for the same

Номер патента: US10138223B2. Автор: Hideki Kazuno,Tomonobu MUTSUMI. Владелец: Taiho Pharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-27.

Stable crystal form of tipiracil hydrochloride and crystallization method for the same

Номер патента: MY173410A. Автор: Hideki Kazuno,Tomonobu MUTSUMI. Владелец: Taiho Pharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-22.

Method for preparing SiAlON ceramic material

Номер патента: US6824727B2. Автор: David Allan,Robert Donald Roy. Владелец: Indexable Cutting Tools of Canada Ltd. Дата публикации: 2004-11-30.

Amorpheous fe100-a-bpamb foil, method for its preparation and use

Номер патента: CA2576752A1. Автор: Julian Cave,Estelle Potvin,François Allaire,Robert Lacasse,Michel Trudeau. Владелец: HYDRO QUEBEC. Дата публикации: 2008-08-02.

X-ray diffraction imaging system

Номер патента: KR20060087249A. Автор: 제정호,이재목,호우광. Владелец: 학교법인 포항공과대학교. Дата публикации: 2006-08-02.

Method for preparing amorphous silicon powder for anode material of lithium ion battery

Номер патента: US11834339B2. Автор: Guo Chen,Xuelin Yang,Lulu Zhang. Владелец: OCELL NEW ENERGY TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

Phosphor, light-emitting device, and method for producing phosphor

Номер патента: US20160083649A1. Автор: Masahiro Kato,Iwao Mitsuishi,Yasushi Hattori,Yumi Fukuda,Keiko Albessard. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-03-24.

Electromechanical conversion element, method for manufacturing same, and liquid discharge head

Номер патента: US20240081151A1. Автор: Shintaro Hara,Hideki Mashima. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-03-07.

Conductive film, particulate matter, slurry, and method for producing conductive film

Номер патента: US20230217635A1. Автор: Yoshito SODA. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-06.

Hot stamped component and method for manufacturing same

Номер патента: US20230107817A1. Автор: Jin Ho Lee,Hye Jin Kim,Kyu Yeon Hwang,Hyun Yeong Jung,Seung Pill Jung. Владелец: Hyundai Steel Co. Дата публикации: 2023-04-06.

Composition and method for making picocrystalline artificial borane atoms

Номер патента: CA3043998C. Автор: Patrick Curran. Владелец: Seminuclear Inc. Дата публикации: 2024-05-14.

Electrode, method for preparing said electrode, and electrochemical device using said electrode

Номер патента: EP4246670A1. Автор: Masatsugu Morimitsu. Владелец: Doshisha Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Methods for Producing Small Particles Having Super Pore Surface Via Nano Engraving Process

Номер патента: US20180237304A1. Автор: Nguyen Khe,Hoai V. Linh. Владелец: HK INVESTMENT PRODUCTION TRADING. Дата публикации: 2018-08-23.

Hot-stamped component and method for manufacturing same

Номер патента: EP4268986A1. Автор: Jin Ho Lee,Hye Jin Kim,Kyu Yeon Hwang,Hyun Yeong Jung,Seung Pill Jung. Владелец: Hyundai Steel Co. Дата публикации: 2023-11-01.

Stable crystal form of tipiracil hydrochloride and crystallization method for the same

Номер патента: AU2018219967C1. Автор: Hideki Kazuno,Tomonobu MUTSUMI. Владелец: Taiho Pharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Stable crystal form of tipiracil hydrochloride and crystallization method for the same

Номер патента: AU2014282281C1. Автор: Hideki Kazuno,Tomonobu MUTSUMI. Владелец: Taiho Pharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Polypivalolactone Fibres and a method for their manufacture

Номер патента: GB1174311A. Автор: . Владелец: Kanegafuchi Spinning Co Ltd. Дата публикации: 1969-12-17.

Method for producing separator for power storage device

Номер патента: EP4243181A2. Автор: Xun Zhang,Hayato Matsuyama,Tetsushi NAKAO. Владелец: Asahi Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Method for manufacturing piezoelectric element and method for manufacturing ink jet head

Номер патента: US20190210368A1. Автор: Hideyuki Eguchi. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-07-11.

Dental bulk block and method for manufacturing same

Номер патента: AU2021458440A1. Автор: Yong su Kim,Hyung bong Lim. Владелец: HASS CO Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Method for producing zirconium tungsten phosphate

Номер патента: US20180265358A1. Автор: Junya Fukazawa. Владелец: Nippon Chemical Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-20.

Separator and method for manufacturing separator

Номер патента: US11652218B2. Автор: Hitoshi Tanino,Takashi Aisaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-05-16.

Dental bulk block and method for manufacturing same

Номер патента: CA3226623A1. Автор: Yong su Kim,Hyung bong Lim. Владелец: HASS CO Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Method for producing separator for power storage device

Номер патента: EP4243181A3. Автор: Xun Zhang,Hayato Matsuyama,Tetsushi NAKAO. Владелец: Asahi Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-15.

Electrolytic manganese dioxide and method for its production, and its application

Номер патента: US20190119124A1. Автор: Hiroshi Miura,Takayuki Shoji,Kazumasa Suetsugu. Владелец: Tosoh Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Method for producing ceramic sintered body, ceramic sintered body, and light emitting device

Номер патента: US20220106523A1. Автор: Shoji Hosokawa,Hirofumi OOGURI. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2022-04-07.

Method for producing ceramic sintered body, ceramic sintered body, and light emitting device

Номер патента: US20200172804A1. Автор: Shoji Hosokawa,Hirofumi OOGURI. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2020-06-04.

Method for producing ceramic sintered body, ceramic sintered body, and light emitting device

Номер патента: US11230666B2. Автор: Shoji Hosokawa,Hirofumi OOGURI. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2022-01-25.

Method for evaluating hardenability of steel by x-ray diffraction

Номер патента: JPS6126721A. Автор: Masanori Kurita,政則 栗田,Ikuo Ihara,郁夫 井原. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 1986-02-06.

Flexible Metal Laminate and Method for Preparing the Same

Номер патента: KR20220107832A. Автор: 이용근,손봉수,변현용. Владелец: 동우 화인켐 주식회사. Дата публикации: 2022-08-02.

Method for making a synthetic meixnerite product

Номер патента: US5514361A. Автор: Edward S. Martin,Alan Pearson. Владелец: Aluminum Company Of America. Дата публикации: 1996-05-07.

Crystallised solid izm-3 and method for preparing same

Номер патента: ZA201002540B. Автор: Antoine Fecant,Nicolas Bats. Владелец: Ifp Energies Now. Дата публикации: 2011-04-28.

SiC material and method for manufacturing same

Номер патента: US11658060B2. Автор: Sang Chul Lee. Владелец: Tokai Carbon Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-23.

Grain-oriented electrical steel sheet and method for manufacturing same

Номер патента: EP3239321A1. Автор: Hirotaka Inoue,Yukihiro Shingaki,Tomoyuki Okubo. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-11-01.

Nitride phosphor, method for manufacturing the same, and light emitting device

Номер патента: US11891556B2. Автор: Hiroyuki Watanabe,Shigeyuki Suzuki,Shoji Hosokawa. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Method for removing sulfur from a carbon material

Номер патента: SE545789C2. Автор: STEPHAN Walter,Vilhelm Olsson,Mario Wachtler,Katarzyna Dobrzynska. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2024-02-06.

Method for lubricating internal combustion engine

Номер патента: US20190233758A1. Автор: Shigeki Takeshima. Владелец: JXTG Nippon Oil and Energy Corp. Дата публикации: 2019-08-01.

Methods for reducing oil and / or fat uptake of fried foods

Номер патента: EP2900081A1. Автор: Jing Guo,Jorg THEUERKAUF. Владелец: Dow Global Technologies LLC. Дата публикации: 2015-08-05.

Methods for reducing oil and/or fat uptake of fried foods

Номер патента: US20150230500A1. Автор: Jing Guo,Jorg THEUERKAUF. Владелец: Dow Global Technologies LLC. Дата публикации: 2015-08-20.

Methods for reducing oil and / or fat uptake of fried foods

Номер патента: WO2014052217A1. Автор: Jing Guo,Jorg THEUERKAUF. Владелец: Dow Global Technologies LLC. Дата публикации: 2014-04-03.

Crystal film, method for manufacturing crystal film, vapor deposition apparatus and multi-chamber apparatus

Номер патента: US20150030846A1. Автор: Takeshi Kijima,Yuuji Honda. Владелец: Youtec Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-29.

Semiconductor device, and method for producing the same

Номер патента: US9685517B2. Автор: Ryohei Kitao. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Separator and method for manufacturing separator

Номер патента: US20220123326A1. Автор: Hitoshi Tanino,Takashi Aisaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Nanoplatelet-Type Zirconium Phosphate and Method for Preparing Same

Номер патента: US20130330539A1. Автор: Jin Tae Kim,Jong Sang Kim,Bongwoo HA,Yang-Ho Choi. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Platelet-Type Zirconium Phosphate and Method for Preparing Same

Номер патента: US20160244886A1. Автор: Jin Tae Kim,Jong Sang Kim,Bongwoo HA,Yang-Ho Choi. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-25.

Method for producing oxidized compound

Номер патента: WO2010032879A3. Автор: Tomonori Kawabata,Tetsuro Yonemoto. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2011-08-18.

Method for lubricating internal combustion engine

Номер патента: US11111453B2. Автор: Shigeki Takeshima. Владелец: Eneos Corp. Дата публикации: 2021-09-07.

Spherical alumina particles, method for producing same, and resin composition

Номер патента: EP4286336A1. Автор: Motoharu Fukazawa,Takuto Okabe. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Insulated electric wire, coil and producing method for same coil

Номер патента: US20200373049A1. Автор: Shohei Hata,Hiromitsu Kuroda,Keisuke Fujito,Takayuki TUJI. Владелец: Hitachi Metals Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Insulated electric wire, coil and producing method for same coil

Номер патента: US11476024B2. Автор: Shohei Hata,Hiromitsu Kuroda,Keisuke Fujito,Takayuki TUJI. Владелец: Hitachi Metals Ltd. Дата публикации: 2022-10-18.

Method for producing oxidized compound

Номер патента: WO2010032879A2. Автор: Tomonori Kawabata,Tetsuro Yonemoto. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2010-03-25.

Piezoelectric element, liquid jetting head, and method for manufacturing thereof

Номер патента: EP1333507A3. Автор: Murai Masami. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2005-12-07.

Thin film transistor and manufacturing method for the same

Номер патента: US20230223479A1. Автор: Jin Jang,Hae Su Hong. Владелец: ADRC Co. Дата публикации: 2023-07-13.

Method for producing ceramic sintered body, ceramic sintered body, and light emitting device

Номер патента: US11976228B2. Автор: Shoji Hosokawa,Hirofumi OOGURI. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Method for removing sulfur from a carbon material

Номер патента: WO2023218334A1. Автор: STEPHAN Walter,Vilhelm Olsson,Mario Wachtler,Katarzyna Dobrzynska. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2023-11-16.

Method for removing sulfur from a carbon material

Номер патента: SE2230138A1. Автор: STEPHAN Walter,Vilhelm Olsson,Mario Wachtler,Katarzyna Dobrzynska. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2023-11-10.

Nitride phosphor, method for manufacturing the same, and light emitting device

Номер патента: US20230250335A1. Автор: Hiroyuki Watanabe,Shigeyuki Suzuki,Shoji Hosokawa. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Phosphor composition and method for producing same

Номер патента: EP4155365A1. Автор: Hiroyuki Watanabe,Shigeki Yoshida,Shoji Hosokawa. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2023-03-29.

Method for producing oxidized compound

Номер патента: EP2328680A2. Автор: Tomonori Kawabata,Tetsuro Yonemoto. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-08.

Method for producing ceramic sintered body, ceramic sintered body, and light emitting device

Номер патента: EP3660126A1. Автор: Shoji Hosokawa,Hirofumi OOGURI. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2020-06-03.

High-silicon steel sheet and method for manufacturing the same

Номер патента: CA2992966C. Автор: Yoshihiko Oda,Hiroaki Nakajima,Tatsuhiko Hiratani,Tomoyuki Okubo. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2020-04-28.

Photoelectric conversion element and method for producing the element

Номер патента: US6515219B2. Автор: Takaharu Kondo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2003-02-04.

Specimen stand for x-ray diffraction apparatus

Номер патента: JPH01142443A. Автор: Teruo Okada,荘一郎 松嶋,Masahiko Inagaki,照夫 岡田,雅彦 稲垣,Soichiro Matsushima. Владелец: Tomy Seiko Co Ltd. Дата публикации: 1989-06-05.

A social networking service for sharing recordings of phone calls

Номер патента: WO2021001817A1. Автор: Assaf BIVAS. Владелец: Bivas Assaf. Дата публикации: 2021-01-07.

Social Networking Service for Sharing Recordings of Phone Calls

Номер патента: US20210006530A1. Автор: Assaf BIVAS. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-01-07.

A social networking service for sharing recordings of phone calls

Номер патента: EP3994873A1. Автор: Assaf BIVAS. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-05-11.

Method for making soluble arabinoxylans as co-product of fermentation of whole-grain cereals

Номер патента: EP2041277B1. Автор: Willem Broekaert,Jan Delcour,Christophe Courtin. Владелец: Cargill Inc. Дата публикации: 2014-03-12.

System and method for mdas assisted gst configuration

Номер патента: US20230262502A1. Автор: Deepanshu Gautam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-17.

METHOD FOR GENERATING A PET IMAGE DATA RECORD OF A MOVED EXAMINATION OBJECT AND FACILITY THEREFOR

Номер патента: US20140081122A1. Автор: Schmidt Sebastian. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2014-03-20.

Managing firewall flow records of a virtual infrastructure

Номер патента: US20180176183A1. Автор: Sunitha KRISHNA,Uday MASUREKAR,Shadab Shah,Kaushal Bansal,Jerry PEREIRA. Владелец: Nicira Inc. Дата публикации: 2018-06-21.

System and method for improved paging and location updating of mobile subscribers

Номер патента: CA2269733C. Автор: Javor Petrov Kolev. Владелец: Ericsson Inc. Дата публикации: 2008-12-30.

SYSTEM AND METHOD FOR SHARED SECRET ENCRYPTION AND VERIFICATION OF RECORDINGS OF MEETING PROCEEDINGS

Номер патента: US20200396079A1. Автор: Dekant Henning,Horlacher Scott. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-17.

Method for compression of a call-number data-record of a switching system and a switching system provided therewith

Номер патента: EP0954186B1. Автор: Wilfried Roemer. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2007-11-07.

System and method for automated separation of whole blood

Номер патента: EP2704789A1. Автор: Michael Ragusa,Dominique Uhlmann,Shiven RUPAREL. Владелец: Haemonetics Corp. Дата публикации: 2014-03-12.

UZM-5, UZM-5P, AND UZM-6 CRYSTALLINE ALUMINOSILICATE ZEOLITES AND METHODS FOR PREPARING THE SAME

Номер патента: US20120004485A1. Автор: . Владелец: UOP LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR PRODUCING PROPYLENE

Номер патента: US20120004490A1. Автор: Takamatsu Yoshikazu,Miyazaki Ryusuke. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for determining the quantitative composition of a powder sample

Номер патента: US20120002787A1. Автор: Kern Arnt. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSPARENT ELECTRICALLY CONDUCTIVE LAYER AND METHOD FOR FORMING SAME

Номер патента: US20120000519A1. Автор: FREY Jonathan Mack. Владелец: PRIMESTAR SOLAR. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR MANUFACTURING SCANDIUM ALUMINUM NITRIDE FILM

Номер патента: US20120000766A1. Автор: Kano Kazuhiko,Nishikubo Keiko,TESHIGAHARA Akihiko,AKIYAMA Morito,Tabaru Tatsuo. Владелец: Denso Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

COMPOUNDS, COMPOSITIONS AND METHODS FOR REDUCING LIPID LEVELS

Номер патента: US20120004223A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR MAKING HETEROGENOUS CATALYSTS

Номер патента: US20120004468A1. Автор: "Trejo-OReilly Jose Antonio",Tate James. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003820A1. Автор: FURUYA Akira,Kitamura Takamitsu,Nakata Ken,Makabe Isao,Yui Keiichi. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003821A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

DUST CORE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001719A1. Автор: Oshima Yasuo,Handa Susumu,Akaiwa Kota. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

NITRIDE CRYSTAL AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120003446A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Tricalcium Phosphate Coarse Particle Compositions and Methods for Making the Same

Номер патента: US20120000394A1. Автор: Delaney David C.,Jalota Sahil,Yetkinler Duran N.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

FLAME-RETARDANT POLY LACTIC ACID-CONTAINING FILM OR SHEET, AND METHOD FOR MANUFACTURING THEREOF

Номер патента: US20120003459A1. Автор: . Владелец: NITTO DENKO CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120140890A1. Автор: Ozawa Tetsuya,Matsuo Ryuji,Inaba Katsuhiko. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-07.

Diffraction X-ray detection method and X-ray diffraction apparatus

Номер патента: JP5492173B2. Автор: 克彦 稲葉,徹 光永,和彦 表. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-05-14.

X-ray diffraction microscope and X-ray diffraction microscope

Номер патента: JP2904191B2. Автор: 滋 木村. Владелец: Nippon Electric Co Ltd. Дата публикации: 1999-06-14.

Battery in situ X-ray diffraction diffraction testing auxiliary device

Номер патента: CN209656593U. Автор: 石磊,唐永炳,蒋春磊,刘齐荣. Владелец: Shenzhen Institute of Advanced Technology of CAS. Дата публикации: 2019-11-19.

X-ray diffraction methods

Номер патента: CA479545A. Автор: Parrish William,A. Hamacher Edward. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1951-12-18.

Semiconductor supercapacitor system,method for making same and articles produced therefrom

Номер патента: MY125454A. Автор: Mark Farrell,Yuichi Masaki,Harry E Ruda. Владелец: Energenius Inc. Дата публикации: 2006-08-30.

Device and method for measuring multi-wavelength characteristic X ray diffraction

Номер патента: CN104634799A. Автор: 郑琪,赵春玲. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-05-20.

Device for precision recording of x-ray diffraction patterns

Номер патента: CA489578A. Автор: Louis Christ Charles,Francis Champaygne Edmund. Владелец: American Cyanamid Co. Дата публикации: 1953-01-13.

Noncoherent X ray diffraction imaging device

Номер патента: CN102353689B. Автор: 韩申生,喻虹,谢红兰,朱文选. Владелец: Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS. Дата публикации: 2013-05-08.

Method for manufacturing X-ray diffraction optical element

Номер патента: CN102508411A. Автор: 刘明,方磊,李冬梅,谢常青,朱效立. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-06-20.

Method for manufacturing X-ray diffraction optical element

Номер патента: CN102402118A. Автор: 刘明,方磊,李冬梅,谢常青,朱效立. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-04-04.

X-ray diffraction oriented cutting method for wire cutting crystal

Номер патента: CN102490279B. Автор: 陈屹立,荆旭华. Владелец: EMEI SEMICONDUCTOR MATERIAL INSTITUTE. Дата публикации: 2014-05-28.

Method of driving X-ray generator and method of driving X-ray diffraction apparatus

Номер патента: JP3531837B2. Автор: 渉 林田,一 伊沢. Владелец: 理学電機株式会社. Дата публикации: 2004-05-31.

Method for producing X-ray diffraction grating in high height-to-width ratio

Номер патента: CN102289015A. Автор: 刘明,方磊,李冬梅,谢常青,朱效立. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2011-12-21.

Battery X-ray diffraction testing arrangement

Номер патента: CN217007074U. Автор: 景晓建. Владелец: Beijing Chehejia Automobile Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-19.

Multi-purpose synchronous radiation coherence X-ray diffraction microimaging device

Номер патента: CN203069533U. Автор: 张剑,刘宏,江怀东,范家东,姚圣坤. Владелец: Shandong University. Дата публикации: 2013-07-17.

A kind of clamping device of block sample X-ray diffraction

Номер патента: CN207163938U. Автор: 薛峰,孙岩,王程明,邢承亮,孙晓冉. Владелец: Hebei Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-30.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA606134A. Автор: A. Hamacher Edward. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1960-10-04.

One-axis macroscupic tension eveluating by x-ray diffraction

Номер патента: CS182854B1. Автор: Rudolf Fiedler,Miroslav Hnilicka. Владелец: Miroslav Hnilicka. Дата публикации: 1978-05-31.

Three-dimensional monochromatic X-ray diffraction orientation finder

Номер патента: CN203870042U. Автор: 徐兰兰,张学锋. Владелец: DAQING JIACHANG JINGNENG INFORMATION MATERIALS Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-08.

X-ray diffraction data analysis system

Номер патента: CN109725013B. Автор: 马健,刘阳,王炎,张万超,刘雪涛,温书豪,赖力鹏,雷焱森. Владелец: Shenzhen Jingtai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-13.

Electrochemical X-ray diffraction in-situ test spectrum pool

Номер патента: CN209878629U. Автор: 陈兴,黄伟峰. Владелец: Huayan Environmental Science (beijing) Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-31.

Stress analysis by x-ray diffraction

Номер патента: CA448162A. Автор: George Firth Francis. Владелец: Philips Lamps Ltd. Дата публикации: 1948-04-27.

X-ray diffraction sample cell device and method

Номер патента: AU2019900953A0. Автор: John Daniels. Владелец: Critus Pty Ltd. Дата публикации: 2019-04-11.

Automatic plotting of x-ray diffraction pole figures

Номер патента: CA684898A. Автор: I. Addis Gilbert,M. Eichhorn Robert. Владелец: Union Carbide Corp. Дата публикации: 1964-04-21.

A kind of X-ray diffraction test fiber specimen holder

Номер патента: CN103487298B. Автор: 梁少锋,卓坚锐. Владелец: Lian Xin (kaiping) High Performance Fiber Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-28.

Angle measuring instrument with adjustable scan circle for X ray diffraction instrument

Номер патента: CN201348614Y. Автор: 卢顺魁. Владелец: Beijing Purkinje General Instrument Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-18.

Methods for the design, quality control, and management of fatigue-limited metal components

Номер патента: CA2234269A1. Автор: Stanley G. Berkley. Владелец: Individual. Дата публикации: 1997-04-17.

Sample preparation method for powder X-ray diffraction analysis

Номер патента: JP6642078B2. Автор: 光 近藤,近藤 光,公二 中村,大河 塩谷. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2020-02-05.

Method for determining front and back of single crystal plate by X-ray diffraction

Номер патента: JP2770232B2. Автор: 芳郎 町谷. Владелец: 理学電機株式会社. Дата публикации: 1998-06-25.

METHOD AND SYSTEM FOR CRYSTALLIZATION AND X-RAY DIFFRACTION SCREENING

Номер патента: US20120021523A1. Автор: Fowler Brian,May Andrew. Владелец: Fluidigm Corporation. Дата публикации: 2012-01-26.

Simulated X-Ray Diffraction Spectra for Analysis of Crystalline Materials

Номер патента: US20120130694A1. Автор: LI JUN,Srivastava Deepak,Yang Sang. Владелец: Nanoexa Corporation. Дата публикации: 2012-05-24.

X-RAY DIFFRACTION INSTRUMENT

Номер патента: US20120140888A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-06-07.

OBJECT IMAGING SYSTEM AND X-RAY DIFFRACTION IMAGING DEVICE FOR A SECURITY SYSTEM

Номер патента: US20120177182A1. Автор: Olesinski Stephan,Harding Geoffrey,Kosciesza Dirk,Strecker Helmut. Владелец: . Дата публикации: 2012-07-12.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20120195406A1. Автор: Asano Sigematsu,Tobita Ichiro,Ohbuchi Atsushi,Konya Takayuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-02.

WAVELENGTH-CLASSIFYING TYPE X-RAY DIFFRACTION DEVICE

Номер патента: US20120269322A1. Автор: . Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-10-25.

High-Resolution X-Ray Diffraction Measurement with Enhanced Sensitivity

Номер патента: US20120281814A1. Автор: . Владелец: JORDAN VALLEY SEMICONDUCTORS LTD. Дата публикации: 2012-11-08.

TEST PATTERN FOR MEASURING SEMICONDUCTOR ALLOYS USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20130026464A1. Автор: CHIEN Chin-Cheng,Hsuan Teng-Chun,Liao Chin-I,Lai I-Ming. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

X-Ray Diffraction Instrument

Номер патента: US20130044864A1. Автор: Wang Yun,HATOU Hisamitu,Kikuchi Toshikazu. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2013-02-21.

METHODS AND APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20130279653A1. Автор: Hansford Graeme Mark. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-24.

Slit structure for X-ray diffraction analysis

Номер патента: JP2526425B2. Автор: 晴男 関口. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1996-08-21.

X-ray diffraction goniometer setting method

Номер патента: JP2948249B2. Автор: 藤之 樋川,仁 桜井. Владелец: RIGAKU DENKI KK. Дата публикации: 1999-09-13.

X-ray diffraction spectroscopy

Номер патента: JPS6262257A. Автор: Yukio Takano,Yoichi Nishino,洋一 西野,高野 幸男. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1987-03-18.

Goniometer for X-ray diffraction

Номер патента: JP2976380B2. Автор: 和夫 小柳. Владелец: Shimazu Seisakusho KK. Дата публикации: 1999-11-10.

X-ray diffraction measurement device

Номер патента: JP5861841B2. Автор: 洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-16.

X-ray diffraction measurement apparatus and imaging plate management method

Номер патента: JP5803353B2. Автор: 洋一 丸山,晴久 伊藤. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-04.

Quantitative analysis method of x-ray diffraction

Номер патента: JPH01172741A. Автор: Takashi Takishima,俊 滝島,Toshio Nakagishi,利夫 仲岸. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-07.

X-ray diffraction of the intrapelvic area in large farm animals and device for implementing the method

Номер патента: SU98241A1. Автор: Т.И. Нехно. Владелец: Т.И. Нехно. Дата публикации: 1953-11-30.

X-ray diffraction sample rotation jig and sample holding device

Номер патента: JP3376073B2. Автор: 登 大沢. Владелец: 理学電機株式会社. Дата публикации: 2003-02-10.

X-ray diffraction topographic installation

Номер патента: SU1187038A1. Автор: Lyudmila L Gavrilova,Viktor N Ingal,Nikolaj I Komyak,Yurij G Myasnikov. Владелец: Le N Proizv Ob Burevestnik. Дата публикации: 1985-10-23.

X-ray diffraction device

Номер патента: JPH1048398A. Автор: Yuji Kobayashi,勇二 小林,Akihide Doshiyou,明秀 土性. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 1998-02-20.

X-ray diffraction measuring device

Номер патента: JP6844103B1. Автор: 洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-17.

X-ray diffraction system

Номер патента: JPH10339707A. Автор: Tadayuki Fujiwara,忠幸 藤原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1998-12-22.

Film thickness measurement method using X-ray diffraction

Номер патента: JP3000892B2. Автор: 裕 菅野. Владелец: 株式会社新潟鉄工所. Дата публикации: 2000-01-17.

Back reflection X-ray diffraction image observation device

Номер патента: JP4589882B2. Автор: 哲夫 菊池. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-12-01.

X-ray diffraction device

Номер патента: JPH10185844A. Автор: Tadayuki Fujiwara,忠幸 藤原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1998-07-14.

X-ray diffraction qualitative analyzer

Номер патента: JP2666872B2. Автор: 浩 新井. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1997-10-22.

X-ray diffraction arc exposure equipment

Номер патента: JP3090801B2. Автор: 宏一 川崎. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2000-09-25.

Slit device of x-ray diffraction instrument

Номер патента: JPH102998A. Автор: Toshiyuki Kato,等 大神田,Hitoshi Okanda,寿之 加藤. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 1998-01-06.

X-ray diffraction measurement device

Номер патента: JP2021185342A. Автор: Yoichi Maruyama,洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA232940A. Автор: W. Hull Albert,P. Davey Wheeler. Владелец: Canadian General Electric Co Ltd. Дата публикации: 1923-07-24.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA589944A. Автор: R. Rose Lloyd. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1959-12-29.

Methods for the manufacture of the seasoning material by decomposition of whole yeast cells

Номер патента: CA747893A. Автор: Sugimoto Hiroshi,Iwasa Takashi,Yokotsuka Tamotsu. Владелец: Kikkoman Shoyu KK. Дата публикации: 1966-12-06.

METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING AND DISTRIBUTING CUSTOM VOICE RECORDINGS OF PRINTED TEXT

Номер патента: US20120046948A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-02-23.

METHODS FOR TREATING OR PREVENTING IL-1BETA RELATED DISEASES

Номер патента: US20120003226A1. Автор: Scannon Patrick J.,Solinger Alan M.,Bauer Robert J.. Владелец: XOMA TECHNOLOGY LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR CONSTRUCTING MUTAGENESIS LIBRARIES IN SITU

Номер патента: US20120004142A1. Автор: Shao Weilan,Le Yilin,Pei Jianjun. Владелец: Nanjing Normal University. Дата публикации: 2012-01-05.

Adjusting Method For Recording Condition And Optical Disc Device

Номер патента: US20120002527A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD FOR TRACKING OF MAIL USING A UNIVERSAL CODING SYSTEM

Номер патента: US20120004765A1. Автор: Hamilton Daryl. Владелец: United States Postal Service. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR DETERMINING A BREEDING VALUE BASED ON A PLURALITY OF GENETIC MARKERS

Номер патента: US20120004112A1. Автор: Lund Mogens Sandø,Su Guosheng,Guldbrandtsen Bernt. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ISOLATED EGG PROTEIN AND EGG LIPID MATERIALS, AND METHODS FOR PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120004399A1. Автор: Mason David. Владелец: Rembrandt Enterprises, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR THE DIAGNOSIS OF AGE-ASSOCIATED VASCULAR DISORDERS

Номер патента: US20120004133A1. Автор: Lakatta Edward G.,Wang Mingyi,Fu Zongming,Van Eyk Jennifer. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for production of oat kvass

Номер патента: RU2597128C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2016-09-10.

System and Method for Ground Material Characterization in a Grinding System

Номер патента: US20120002037A1. Автор: Dübendorfer Urs,Heine Martin,Pierri Dario. Владелец: Buhler AG. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR EVALUATING PRE-TREATMENT

Номер патента: US20120003664A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for producing of milk hardtacks and milk hardtacks produced by method

Номер патента: RU2259736C1. Автор: . Владелец: Федосеев Андрей Владимирович. Дата публикации: 2005-09-10.

DEVICE AND METHOD FOR DIGITIZING A SIGNAL

Номер патента: US20120001783A1. Автор: Eklund Jan-Erik,Rosenbaum Linnéa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Generating Alternating Current

Номер патента: US20120001491A1. Автор: Greizer Frank,Laschinski Joachim,Engel Bernd,Cramer Guenther. Владелец: SMA Solar Technology AG. Дата публикации: 2012-01-05.

Systems and Methods for Minimizing Static Leakage of an Integrated Circuit

Номер патента: US20120001684A1. Автор: Caplan Randy J.,Schwake Steven J.. Владелец: MOSAID TECHNOLOGIES INCORPORATED. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Apparatus for Generating Mood-Based Haptic Feedback

Номер патента: US20120001749A1. Автор: . Владелец: IMMERSION CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR PROVIDING 3D AUGMENTED REALITY

Номер патента: US20120001901A1. Автор: PARK Sun-Hyung. Владелец: Pantech Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD FOR CREATING, MANAGING, SHARING AND DISPLAYING PERSONALIZED FONTS ON A CLIENT-SERVER ARCHITECTURE

Номер патента: US20120001921A1. Автор: Escher Marc,Hoffman Franz. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DRIVING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120001946A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MULTI-SPECTRAL SYSTEM AND METHOD FOR GENERATING MULTI-DIMENSIONAL TEMPERATURE DATA

Номер патента: US20120002035A1. Автор: Nirmalan Nirm Velumylum,Li Hejie. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

VIDEO ENCODER WITH VIDEO DECODER REUSE AND METHOD FOR USE THEREWITH

Номер патента: US20120002720A1. Автор: . Владелец: VIXS SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD FOR PROCESSING DATA SIGNALS

Номер патента: US20120002854A1. Автор: Hardy Christopher Judson,Khare Kedar Bhalchandra,King Kevin Franklin,Marinelli Luca. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR GENERATING DEPTH SIGNAL

Номер патента: US20120002862A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD FOR REDUCING NOISE IN AN IMAGE

Номер патента: US20120002896A1. Автор: Kim Yeong-Taeg,Lertrattanapanich Surapong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

COMPOSITIONS AND METHODS FOR MODULATING VASCULAR DEVELOPMENT

Номер патента: US20120003208A1. Автор: Ye Weilan,Parker,Schmidt Maike,Filvaroff Ellen,IV Leon H.,Hongo Jo-Anne S.. Владелец: Genentech, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR APCDD1 MEDIATED REGULATION OF HAIR GROWTH AND PIGMENTATION AND MUTANTS THEREOF

Номер патента: US20120003244A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.