Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

X射线衍射应力测定法

Номер патента: CN1487285A
Опубликовано: 07-04-2004
Автор(ы): , ɽ��һ��, 横山亮一, 远藤上久
Принадлежит: Rigaku Denki Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Apparatus and method for measuring a layer of a semiconductor device using x-ray diffraction

Номер патента: US20240241067A1. Автор: Seungchul Lee,Younghoon Sohn. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-18.

Systems and methods for X-ray diffraction

Номер патента: US09976971B2. Автор: David U. Furrer,Iuliana Cernatescu. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: US20110317813A1. Автор: Takuto Sakumura,Yuji Tsuji,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama,Kimiko Hasegawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2011-12-29.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: US20120269322A1. Автор: Takuto Sakumura,Yuji Tsuji,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama,Kimiko Hasegawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser comprising a substatially x-ray transparent member having an improved reflection geometry

Номер патента: ZA202102937B. Автор: James Richard Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2024-01-31.

X-ray source for x-ray diffraction apparatus, related apparatus and method

Номер патента: CA3204404A1. Автор: Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Stanislav VEINBERG. Владелец: Proto Patents Ltd. Дата публикации: 2022-07-14.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser having an improved reflection geometry

Номер патента: SE545585C2. Автор: James Richard Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2023-10-31.

X-ray source for x-ray diffraction apparatus, related apparatus and method

Номер патента: WO2022147623A1. Автор: Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Stanislav VEINBERG. Владелец: Proto Manufacturing Ltd.. Дата публикации: 2022-07-14.

X-ray source for x-ray diffraction apparatus, related apparatus and method

Номер патента: US20240060911A1. Автор: Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Stanislav VEINBERG. Владелец: Proto Patents Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

X-선 회절을 이용한 인-시튜 온도 측정 장치 및 방법(in-situ temperature measurement using x-ray diffraction)

Номер патента: KR970023957A. Автор: 가쯔야 오꾸무라,제임스 가드너 얀,그레고리 브라이언 스테펜손,한스-요에르그 팀메. Владелец: 제프리엘 포멘. Дата публикации: 1997-05-30.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: GB201110936D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2011-08-10.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: GB2481700B. Автор: Takuto Sakumura,Yuji Tsuji,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama,Kimiko Hasegawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-06-11.

IN-SITU COIN CELL SUPPORT DEVICE FOR TRANSMISSION MODE X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS CAPABLE OF CONTROLLING TEMPERATURE

Номер патента: US20190074498A1. Автор: Kim Dong Hyun,CHO Byung Won,CHUNG Kyung Yoon,CHANG Won Young,JEONG Jiwon,CHOI Won Chang,JUNG Hun-Gi,PARK Jaeho,SUSANTO Liau Dieky. Владелец: KOREA INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2019-03-07.

STRUCTURE FOR BATTERY ANALYSIS AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE

Номер патента: US20220278381A1. Автор: Sasaki Suguru,Ito Koichiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-01.

Capacitance monitoring using X-ray diffraction

Номер патента: US09870960B2. Автор: Conal E. Murray,Oh-Jung Kwon,Anita Madan,Kriteshwar K. Kohli,DongHun Kang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Energy dispersive X-ray diffraction analyser with improved reflection geometry

Номер патента: CN113167747A. Автор: 詹姆斯·理查德·蒂克纳,乔尔·奥德怀尔. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2021-07-23.

Device for clamping and controlling temperature of flat sample for X-ray diffraction

Номер патента: CN111279536A. Автор: 阿明·克莱尔. Владелец: Helmholtz Zentrum Geesthacht Zentrum fuer Material und Kustenforschung GmbH. Дата публикации: 2020-06-12.

STRUCTURE FOR PRESSURIZATION ANALYSIS, X-RAY DIFFRACTION APPARATUS AND PRESSURIZATION ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20220099603A1. Автор: Ito Koichiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2022-03-31.

In-situ x-ray diffraction analysis apparatus including peltier-type temperature control unit and analyzing method using the same

Номер патента: US20220140418A1. Автор: Yung-Eun Sung,Jungjin PARK,Chunjoong Kim,Jae-Hyuk Park,Jong Sig LEE,Shin-Yeong Kim. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chungnam National University. Дата публикации: 2022-05-05.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser having an improved reflection geometry

Номер патента: FI20215587A1. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2021-05-18.

X-ray diffraction imaging system using debye ring envelopes

Номер патента: US09921173B2. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-03-20.

X-ray diffraction imaging system using debye ring envelopes

Номер патента: EP2946201A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-11-25.

X-ray diffraction imaging system using debye ring envelopes

Номер патента: WO2014111684A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: Cranfield University. Дата публикации: 2014-07-24.

Structure for pressurization analysis, x-ray diffraction apparatus and pressurization analysis system

Номер патента: EP3974820A1. Автор: Koichiro Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-03-30.

Structure for pressurization analysis, X-ray diffraction apparatus and pressurization analysis system

Номер патента: US11913891B2. Автор: Koichiro Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-02-27.

Replacement end time determination method, substrate processing method, and substrate processing apparatus

Номер патента: US20240255404A1. Автор: Noritake SUMI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft x-ray diffraction

Номер патента: WO2019014283A1. Автор: Michael Friedmann,Oleg KHODYKIN,Andrei Shchegrov,Alexander Kuznetsov,Daniel Wack,Nikolay ARTEMIEV. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-01-17.

Method and system for semiconductor metrology based on multicolor soft X-ray diffraction

Номер патента: KR102536604B1. Автор: 마이클 프리드만,올레그 코디킨,알렉산더 쿠즈네초프,니콜라이 아르테미에프,안드레이 쉬셰그로프,다니엘 웩. Владелец: 케이엘에이 코포레이션. Дата публикации: 2023-05-24.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft X-ray diffraction

Номер патента: IL271730A. Автор: . Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-02-27.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft x-ray diffraction

Номер патента: IL271730B1. Автор: . Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-07-01.

Methods And Systems For Semiconductor Metrology Based On Polychromatic Soft X-Ray Diffraction

Номер патента: US20190017946A1. Автор: Andrei V. Shchegrov,Michael Friedmann,Oleg KHODYKIN,Alexander Kuznetsov,Daniel Wack,Nikolay ARTEMIEV. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft x-ray diffraction

Номер патента: IL271730B2. Автор: . Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

X-ray diffraction device and method to measure stress with 2d detector and single sample tilt

Номер патента: US20180372658A1. Автор: Bob Baoping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2018-12-27.

CAPACITANCE MONITORING USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20180096904A1. Автор: MURRAY Conal E.,KWON Oh-Jung,MADAN ANITA,Kang Donghun,Kohli Kriteshwar K.. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

CAPACITANCE MONITORING USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20160178679A1. Автор: MURRAY Conal E.,KWON Oh-Jung,MADAN ANITA,Kang Donghun,Kohli Kriteshwar K.. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-23.

Capacitance monitoring using x-ray diffraction

Номер патента: US10008421B2. Автор: Conal E. Murray,Oh-Jung Kwon,Anita Madan,Kriteshwar K. Kohli,DongHun Kang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-06-26.

X-ray diffraction apparatus and x-ray diffraction method

Номер патента: RU2449262C2. Автор: Хидео ТОРАЯ. Владелец: Ригаку Корпорейшн. Дата публикации: 2012-04-27.

X-ray diffraction analysis method and X-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: US10712294B2. Автор: Shuuichi DOI. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-07-14.

X-ray diffraction contrast tomography (dct) system, and an x-ray diffraction contrast tomography (dct) method

Номер патента: US20120008736A1. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Henning Friis Poulsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2012-01-12.

An x-ray diffraction contrast tomography (dct) system, and an x-ray diffraction contrast (dct) method using a first and a secondary x-ray detector

Номер патента: WO2012003839A1. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Henning Friis Poulsen. Владелец: DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET. Дата публикации: 2012-01-12.

An x-ray diffraction contrast tomography (dct) system, and an x-ray diffraction contrast (dct) method using a first and a secondary x-ray detector

Номер патента: EP2591342A1. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Henning Friis Poulsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2013-05-15.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: CA3181654A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2021-12-16.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: US20240068966A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2024-02-29.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: EP4162261A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2023-04-12.

Measurement of crystallite size distribution in polycrystalline materials using two-dimensional x-ray diffraction

Номер патента: EP3771904A3. Автор: Bob Baoping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2021-03-24.

Measurement of crystallite size distribution in polycrystalline materials using two-dimensional x-ray diffraction

Номер патента: US20210033546A1. Автор: Bob Baoping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2021-02-04.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1739413A2. Автор: Takeyoshi Rigaku Corporation Taguchi,Masaru Rigaku Corporation Kuribayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2007-01-03.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: WO2004013683A3. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P Rose. Владелец: John P Rose. Дата публикации: 2004-04-29.

Device and method for measuring short-wavelength characteristic X-ray diffraction based on array detection

Номер патента: US12099025B2. Автор: Lin Zheng,JIN Zhang,Xin Chen,Kun Zhou,Fangchao ZHAO,Changguang He,Chengzhang Wang,Shitao DOU,Lunwu ZHANG,Xianhe FENG,Taibin WU,Luchang CHE. Владелец: 59th Institute Of China Ordnance Industry. Дата публикации: 2024-09-24.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: EP1529236A2. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P. Rose. Владелец: University of Georgia Research Foundation Inc UGARF. Дата публикации: 2005-05-11.

Methods of identifying original and counterfeit articles using micro x-ray diffraction mapping

Номер патента: WO2012174232A3. Автор: Michael Ward,Chunhua Hu,Daniele MUSUMECI. Владелец: New York University. Дата публикации: 2013-03-21.

Method for collecting accurate X-ray diffraction data with a scanning two-dimensional detector

Номер патента: US09897559B2. Автор: Bob Baoping He,Christian Maurer,Christoph Ollinger,Olaf Meding. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

X-Ray Diffraction Measuring Apparatus Having Debye-Scherrer Optical System Therein, and an X-ray Diffraction Measuring Method for the Same

Номер патента: US20090086910A1. Автор: Go Fujinawa,Ryuji Matsuo,Tetsuya Ozawa,Akira Echizenya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2009-04-02.

Method for monitoring the crystallographic texture of metallic tubes by use of x-ray diffraction

Номер патента: CA1241460A. Автор: George P. Sabol,Robert J. Comstock. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1988-08-30.

X-ray diffraction instrument

Номер патента: GB1390710A. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 1975-04-16.

X-ray diffraction-based defective pixel correction method using an active pixel array sensor

Номер патента: EP3019857A1. Автор: Joerg KAERCHER,John L. Chambers. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2016-05-18.

X-ray diffraction-based defective pixel correction method using an active pixel array sensor

Номер патента: US20150016594A1. Автор: Joerg KAERCHER,John L. Chambers. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2015-01-15.

Systems and methods for x-ray diffraction virtual spectroscopy

Номер патента: US20200326290A1. Автор: Michael Ayukawa,Krzysztof Iniewski,Conny HANSSON. Владелец: Redlen Technologies Inc. Дата публикации: 2020-10-15.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: US20060067470A1. Автор: John Rose,Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-30.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: US3852594A. Автор: F Paolini. Владелец: Pepi Inc. Дата публикации: 1974-12-03.

Source productivity assay integrating pyrolysis data and x-ray diffraction data

Номер патента: US20230184737A1. Автор: David Jacobi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-06-15.

Method for detecting internal stress distribution of transparent material based on x-ray diffraction (xrd)

Номер патента: US20240345007A1. Автор: Yao Tang,Xiaoping Ouyang,Jiakun Wu,Haikuo WANG. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-10-17.

Improvements in or relating to x-ray diffraction apparatus

Номер патента: GB739345A. Автор: . Владелец: Philips Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1955-10-26.

X-ray diffraction method for generating mineralogy record of whole core

Номер патента: CA1316274C. Автор: David C. Herrick. Владелец: BP Corp North America Inc. Дата публикации: 1993-04-13.

Method and apparatus for simultaneous phase composition and residual stress measurement by x-ray diffraction

Номер патента: US5148458A. Автор: Clayton Ruud. Владелец: Clayton Ruud. Дата публикации: 1992-09-15.

Mounting system and sample holder for x-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA3033090A1. Автор: Vedran Nicholas VUKOTIC,William BOYER,Mohammed Belassel,Alec ISKRA. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Source productivity assay integrating pyrolysis data and X-ray diffraction data

Номер патента: US11885790B2. Автор: David Jacobi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-01-30.

X-ray diffraction instrument for measuring an object larger than the x-ray detector

Номер патента: EP2559993A3. Автор: Yun Wang,Toshikazu Kikuchi,Hisamitu Hatou. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-10-23.

X-ray diffraction meter

Номер патента: RU2664774C1. Автор: Кирилл Сергеевич Сметанин,Нариман Смаилович Ибраимов,Андзор Адалгериевич Болотоков,Роман Михайлович Тимаков. Владелец: Андзор Адалгериевич Болотоков. Дата публикации: 2018-08-22.

X-ray diffraction method

Номер патента: WO2003062805A3. Автор: Alexander M Korsunsky. Владелец: Alexander M Korsunsky. Дата публикации: 2003-11-27.

X-ray diffraction method

Номер патента: EP1468276A2. Автор: Alexander M. Dpt.of Engineering Science KORSUNSKY. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2004-10-20.

X-ray diffraction method

Номер патента: EP1468276B1. Автор: Alexander M. Dpt.of Engineering Science KORSUNSKY. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2009-09-02.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1365231A3. Автор: Damian Kucharczyk. Владелец: Oxford Diffraction Ltd. Дата публикации: 2004-01-14.

X-ray diffraction imaging system with integrated supermirror

Номер патента: US20150276628A1. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2015-10-01.

X-Ray Diffraction Method

Номер патента: US20070071170A1. Автор: Michael Brauss. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

X-ray diffraction method

Номер патента: US7283612B2. Автор: Michael Brausss. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2007-10-16.

X-ray diffraction system and method

Номер патента: WO2004083815A2. Автор: Michael Brauss. Владелец: Proto Manufacturing Llc.. Дата публикации: 2004-09-30.

Measuring strain of epitaxial films using micro x-ray diffraction for in-line metrology

Номер патента: US20100208869A1. Автор: Thomas N. Adam,Anita Madan,Eric C. Harley,Teresa L. Pinto. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: WO2000058718A9. Автор: Michael Brauss. Владелец: XRD TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2002-08-01.

X-ray diffraction system and method

Номер патента: WO2004083815A3. Автор: Michael Brauss. Владелец: Proto Mfg Llc. Дата публикации: 2005-02-03.

A system and a method for resolving a crystal structure of a crystal at atomic resolution by collecting x-ray diffraction images

Номер патента: EP3380830A1. Автор: Takashi TOMIZAKI,Dr. Soichiro TSUJINO. Владелец: Scherrer Paul Institut. Дата публикации: 2018-10-03.

A system and a method for resolving a crystal structure of a crystal at atomic resolution by collecting x-ray diffraction images

Номер патента: CA3005773C. Автор: Soichiro Tsujino,Takashi TOMIZAKI. Владелец: Scherrer Paul Institut. Дата публикации: 2021-06-01.

Sample holder for x-ray diffraction analysis and x-ray diffraction analysis method using the same

Номер патента: US20240044818A1. Автор: Sang Heon Lee,Yun Sung Kim,Hae Ryoung Kim,Ga Hyeon Im,Kyu Joon Lee,Yoon Kwang LEE,Byeong Hyeon LEE,Jae Pyoung AHN,Hyun Woo Gong. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Determining atomic coordinates from x-ray diffraction data

Номер патента: US20210302332A1. Автор: David Hurwitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-30.

Method of conducting an x-ray diffraction-based crystallography analysis

Номер патента: WO2015114613A1. Автор: Michael Ruf,Joerg KAERCHER,Bruce NOLL. Владелец: Bruker AXS, Inc. Дата публикации: 2015-08-06.

Method and apparatus for x-ray diffraction analysis

Номер патента: EP1720006A1. Автор: Michael Hennig,Urs Schwitter,Remo Hochstrasser,Olaf Grassman. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2006-11-08.

Transmission x-ray diffraction apparatus and related method

Номер патента: CA3191201A1. Автор: Vedran Nicholas VUKOTIC,Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Matt Williams,Michael Brauss,Stanislav VEINBERG,Maxime Le Ster,Anton Dmitrienko. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2023-08-25.

Method of conducting an x-ray diffraction-based crystallography analysis

Номер патента: EP3100033A1. Автор: Michael Ruf,Joerg KAERCHER,Bruce NOLL. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2016-12-07.

An x-ray diffraction camera

Номер патента: GB727282A. Автор: . Владелец: Licentia Patent Verwaltungs GmbH. Дата публикации: 1955-03-30.

X-ray diffraction apparatus, x-ray diffraction measuring method, and control program

Номер патента: US20140314206A1. Автор: Shoichi Yasukawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: WO2022043340A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical B.V.. Дата публикации: 2022-03-03.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: EP3961199A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-03-02.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: EP4111184A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-01-04.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: US20230296538A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-21.

X-RAY diffraction apparatus, X-RAY diffraction measuring method, and control program

Номер патента: US9347895B2. Автор: Shoichi Yasukawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-05-24.

Method for computing crystal shapes from X-ray diffraction data (XRD) of a substance

Номер патента: US20070168130A1. Автор: Daniel Sherwood,Bosco Emmanuel. Владелец: Council of Scientific and Industrial Research CSIR. Дата публикации: 2007-07-19.

Methods and apparatus for X-ray diffraction

Номер патента: US09952165B2. Автор: Graeme Mark HANSFORD. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2018-04-24.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1495311A2. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2005-01-12.

Automated system for use in the determination of subsurface material properties by x-ray diffraction

Номер патента: CA2195710C. Автор: Paul S. Prevey, III,Glenn A. Plunkett. Владелец: Lambda Research Inc. Дата публикации: 2002-08-13.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: WO2003087795A3. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Paul Frederick Fewster. Дата публикации: 2004-02-12.

Method of dynamically displaying a scattering vector of X-ray diffraction

Номер патента: EP1482303A3. Автор: Susumu Yamaguchi,Tetsuya Ozawa,Kohji Kakefuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2005-12-21.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: US20050226379A1. Автор: Paul Fewster. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-13.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: WO2003087795A2. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: PANALYTICAL B.V.. Дата публикации: 2003-10-23.

X-ray diffraction camera

Номер патента: CA1151779A. Автор: Vincent J. Manners. Владелец: Commonwealth of Australia. Дата публикации: 1983-08-09.

Determining atomic coordinates from X-ray diffraction data

Номер патента: US11860114B2. Автор: David Hurwitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-02.

Process and apparatus for the x-ray diffraction characterization of a material with amorphous phase

Номер патента: EP1260812B1. Автор: Herbert Pollmann,Günther Walenta,Thomas Fullman,Torsten Westphal. Владелец: Lafarge SA. Дата публикации: 2006-11-02.

Method for preparing reference samples for determining residual austenite by x-ray diffraction

Номер патента: EP3988927A1. Автор: Luca SERALESSANDRI,Alice ELIA. Владелец: Gnr Srl. Дата публикации: 2022-04-27.

Identifying charge sharing in x-ray diffraction

Номер патента: US20230293127A1. Автор: Roelof De Vries,Vladimir Jovanovic. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-21.

Ball-mapping system comprising a sample stage and a sample holder for receiving ball-shaped sample, and method of operating ball-mapping system for collecting x-ray diffraction data at measurement points located on ball-shaped sample

Номер патента: US11846593B2. Автор: Alec ISKRA,Michael Brauss,James PINEAULT,Bogdan LEVCOVICI. Владелец: Proto Patents Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Identifying charge sharing in x-ray diffraction

Номер патента: WO2022043313A1. Автор: Roelof De Vries,Vladimir Jovanovic. Владелец: Malvern Panalytical B.V.. Дата публикации: 2022-03-03.

Methods and apparatus for x-ray diffraction

Номер патента: EP2839269A1. Автор: Graeme Mark HANSFORD. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2015-02-25.

Apparatus and method of converting x-ray diffraction-patterns

Номер патента: GB829040A. Автор: John Edward Lloyd. Владелец: Esso Research and Engineering Co. Дата публикации: 1960-02-24.

Methods and apparatus for X-ray diffraction

Номер патента: GB201214344D0. Автор: . Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2012-09-26.

X-Ray diffraction camera

Номер патента: US4413354A. Автор: Vincent J. Manners. Владелец: Commonwealth of Australia. Дата публикации: 1983-11-01.

X-Ray Diffraction Imaging System Using Debye Ring Envelopes

Номер патента: US20150362443A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: Cranfield University. Дата публикации: 2015-12-17.

Structure for battery analysis and X-ray diffraction device

Номер патента: US12080858B2. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

DEVICE, SYSTEM AND METHOD FOR THE ANALYSIS BY X-RAY DIFFRACTION OF AN ELECTRODE OF AN ELECTROCHEMICAL CELL, AT TEMPERATURE AND UNDER CURRENT

Номер патента: FR3064748B1. Автор: Julien VULLIET,Cecile Autret,Christophe Honstettre. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2022-01-14.

Device, system and method for x-ray diffraction analysis of an electrode of an electrochemical cell, at operating temperature and under current

Номер патента: WO2018178583A1. Автор: Julien VULLIET,Cecile Autret,Christophe Honstettre. Владелец: Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives. Дата публикации: 2018-10-04.

Structure for battery analysis and x-ray diffraction device

Номер патента: EP4024035A4. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Structure for battery analysis and x-ray diffraction device

Номер патента: EP4024035A1. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-07-06.

X-ray diffraction-based scanning system

Номер патента: US20040174959A1. Автор: Michael Green. Владелец: Varian Medical Systems Technologies Inc. Дата публикации: 2004-09-09.

X-ray diffraction-based scanning system

Номер патента: US20060193434A1. Автор: Michael Green. Владелец: Green Michael C. Дата публикации: 2006-08-31.

Structure for battery analysis and x-ray diffraction device

Номер патента: US20220278381A1. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Determining method, measuring apparatus, and adhesive tape attaching apparatus

Номер патента: US20180215571A1. Автор: Atsushi Inoue,Hiroyuki Sakaguchi,Kenta Onishi. Владелец: Clm Analogs LLC. Дата публикации: 2018-08-02.

Debris determination method

Номер патента: US20240281960A1. Автор: Tomohiro Saito,Tatsuya Masuda. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Film-precoated accurate dosing cells for x-ray diffraction analyser

Номер патента: RU2479836C2. Автор: Джон БУРДЕТТ,Даниэл Л. ДУНХАМ,Джеймс Б. КВИНН. Владелец: Икс-Рей Оптикал Системс, Инк.. Дата публикации: 2013-04-20.

Semiconductor device manufacturing method, x-ray diffraction device and semiconductor pattern transfer system

Номер патента: US20240231234A1. Автор: Yasuhiro Matsuo. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Laminated iron core elastic matrix determination method and vibration analysis method

Номер патента: CA3117909C. Автор: Misao Namikawa. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Elasticity matrix determination method and vibration analysis method for laminated iron core

Номер патента: EP3745286A1. Автор: Misao Namikawa,Gou Kijima. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

Elastic matrix determination method and vibration analysis method for laminated iron core

Номер патента: CA3089090A1. Автор: Misao Namikawa,Gou Kijima. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2019-08-01.

Elastic matrix determination method and vibration analysis method for laminated iron core

Номер патента: US20200340952A1. Автор: Misao Namikawa,Gou Kijima. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2020-10-29.

Transformer stacked iron core elasticity matrix determination method and vibration analysis method

Номер патента: US20240319143A1. Автор: Misao Namikawa. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Electrode ink quality determination method, and measurement system

Номер патента: US20240151620A1. Автор: Tsuyoshi Kokusho,Nobuyoshi Muromoto,Shinsuke CHOKYU,Kazutoshi MAMEDA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Method and arrangement for characterizing fat bloom and quality of chocolate containing surfaces by x-ray diffraction

Номер патента: WO2012079800A1. Автор: Peter Laggner,Markus Weygand. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2012-06-21.

An x-ray diffraction contrast tomography (dct) system, and an x-ray diffraction contrast (dct) method using a first and a secondary x-ray detector

Номер патента: EP2591342A4. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Henning Friis Poulsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2015-04-29.

Method for measuring powder x-ray diffraction data using one- or two-dimensional detector

Номер патента: EP1310786A3. Автор: Jimpei Harada,Masaki Takata,Eiji Japan Synchrotron Radiation Nishibori,Makoto Japan Synchrotron Radiation Sakata. Владелец: Japan Atomic Energy Research Institute. Дата публикации: 2003-07-02.

System and method for in-situ X-ray diffraction-based real-time monitoring of microstructure properties of printing objects

Номер патента: US11933747B2. Автор: Huapeng Huang,Peter Zavalij,Lester W. Schultheis. Владелец: Advanced Analyzer Labs Inc. Дата публикации: 2024-03-19.

X-ray diffraction method and portable x-ray diffraction apparatus using same

Номер патента: GB201301244D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-03-06.

X-ray diffraction microscope apparatus and X-ray diffraction measurement method using X-ray diffraction microscope apparatus

Номер патента: JP3834652B2. Автор: 健次 桜井,多鶴子 水沢. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2006-10-18.

X-ray diffraction device and X-ray diffraction measurement method

Номер патента: CN105960590B. Автор: 野吕寿人,山田克己,青山朋弘. Владелец: NKK Corp. Дата публикации: 2018-12-21.

Method for measuring powder x-ray diffraction data using one-or-two-dimensional detector

Номер патента: US6813338B2. Автор: Makoto Sakata,Jimpei Harada,Masaki Takata,Eiji Nishibori. Владелец: JAPAN SYNCHROTRON RADIATION RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2004-11-02.

Airtight box for x-ray diffraction measurements

Номер патента: EP4134664A2. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-02-15.

A method to determine the three-dimensional atomic structure of molecules having an unknown structure by x-ray diffraction at a two dimensional array of the molecules on the surface of known molecular crystal

Номер патента: WO2004074824A3. Автор: Yizhak Yacoby. Владелец: Yizhak Yacoby. Дата публикации: 2004-09-30.

A method to determine the three-dimensional atomic structure of molecules having an unknown structure by x-ray diffraction at a two dimensional array of the molecules on the surface of known molecular crystal

Номер патента: WO2004074824A2. Автор: Yizhak Yacoby. Владелец: YISSUM RESEARCH DEVELOPMENT COMPANY OF THE HEBREW UNIVERSITY OF JERUSALEM. Дата публикации: 2004-09-02.

X-RAY DIFFRACTION METHOD OF MAPPING GRAIN STRUCTURES IN A CRYSTALLINE MATERIAL SAMPLE, AND AN X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20140254763A1. Автор: Lauridsen Erik Mejdal,POULSEN Stefan Othmar. Владелец: DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET. Дата публикации: 2014-09-11.

X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS APPARATUS WITH ELECTRONIC PHOTON COUNTER

Номер патента: FR2564589A1. Автор: Rene Yves Fillit,Huguette Bruyas,Fernand Patay. Владелец: Association pour la Recherche et le Developpement des Methodes et Processus Industriels. Дата публикации: 1985-11-22.

X-RAY DIFFRACTION CONTRAST TOMOGRAPHY (DCT) SYSTEM, AND X-RAY DIFFRACTION CONTRAST TOMOGRAPHY (DCT) METHOD

Номер патента: US20130101078A1. Автор: Lauridsen Erik Mejdal,POULSEN Henning Friis. Владелец: DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET. Дата публикации: 2013-04-25.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS AND METHOD OF MEASURING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20150146861A1. Автор: Kobayashi Shintaro,MITSUNAGA Toru,KAJIYOSHI Koichi,ARAI Kazuyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-28.

X-RAY DIFFRACTION METHOD OF MAPPING GRAIN STRUCTURES IN A CRYSTALLINE MATERIAL SAMPLE, AND AN X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20140307854A1. Автор: Lauridsen Erik Mejdal,Reischig Peter,POULSEN Stefan Othmar. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-16.

X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS METHOD AND X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20180356354A1. Автор: DOI Shuuichi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-12-13.

X-ray diffraction measurement apparatus equipped with a Debye-Scherrer optical system and X-ray diffraction measurement method therefor

Номер патента: JP5081556B2. Автор: 哲也 小澤,剛 藤縄,隆二 松尾,光 越前屋. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-11-28.

X-ray diffraction measurement device and X-ray diffraction measurement system

Номер патента: JP5708582B2. Автор: 洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

X-ray diffraction method of mapping grain structures in a crystalline material sample, and an X-ray diffraction apparatus

Номер патента: US9222900B2. Автор: Michael Feser,Erik Mejdal LAURIDSEN,Stefan Othmar POULSEN,Christian Holzner. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2015-12-29.

An x-ray diffraction measuring apparatus having debye-scherrer optical system therein, and an x-ray diffraction measuring method for the same

Номер патента: GB0817504D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-10-29.

X-ray diffraction apparatus and X-ray diffraction measurement method

Номер патента: US9074992B2. Автор: Ryuji Matsuo,Katsuhiko Inaba,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-07-07.

X-ray diffraction apparatus and x-ray diffraction method

Номер патента: EP2306179B1. Автор: Toraya Hideo. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-06-05.

X-ray diffraction apparatus and X-ray diffraction measuring method

Номер патента: DE102011087537B4. Автор: Ryuji Matsuo,Katsuhiko Inaba,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-05-04.

X-ray diffraction device

Номер патента: CN110308168A. Автор: 刑部刚,光永彻. Владелец: Corporate Sociology. Дата публикации: 2019-10-08.

Quantitative measuring method and apparatus of metal phase using X-ray diffraction method, and method for making plated steel sheet using them

Номер патента: CN1392956A. Автор: 山本公,藤村亨. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 2003-01-22.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE

Номер патента: US20140119512A1. Автор: Kuribayashi Masaru,MATSUSHITA Kazuyuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-01.

X-RAY DIFFRACTION AND X-RAY SPECTROSCOPY METHOD AND RELATED APPARATUS

Номер патента: US20200158667A1. Автор: WANG Hong,Wang Xiao-Ping,XIANG Xiao-dong. Владелец: Ningbo Infinite Materials Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-05-21.

Soller slits, X-ray diffraction device and method

Номер патента: CN109709118A. Автор: 拉迪斯拉洛·皮娜,阿道夫·茵内曼,表和彦,小林信太郎. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-03.

Apparatus for simultaneous x-ray diffraction and x-ray fluorescence measurements

Номер патента: WO1997013142A1. Автор: Paul Van Der Sluis,Pieter Klaas De Bokx,Bruno Alfred Robert Vrebos. Владелец: Philips Norden Ab. Дата публикации: 1997-04-10.

X=ray source made of iron-55 - used for analysing samples by X-ray diffraction

Номер патента: FR2696548A1. Автор: Thomas Roger,Lespagnol Jacques,Cesbron Fabien. Владелец: Centre National dEtudes Spatiales CNES. Дата публикации: 1994-04-08.

Apparatus for simultaneous X-ray diffraction and X-ray fluorescence measurement

Номер патента: JPH11502025A. Автор: ボクス，ピーター クラース デ,デア スルイス，ポール ファン,アルフレード ロベルト ヴレボス，ブルーノ. Владелец: フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー. Дата публикации: 1999-02-16.

Combined x-ray diffraction and fluorescence spectroscopy apparatus with environmentally controllable chamber

Номер патента: US4263510A. Автор: Michael F. Ciccarelli,Raymond P. Goehner. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1981-04-21.

Soller slit, X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: CN109709118B. Автор: 拉迪斯拉洛·皮娜,阿道夫·茵内曼,表和彦,小林信太郎. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-04-26.

Method for measuring alloy phases ratio of galvannealed steel sheets by x-ray diffraction and controlling alloy phases ratio using galvanneal prediction model(ga calc)

Номер патента: KR20090071208A. Автор: 김상준,박광석,진광근,백두진. Владелец: (주) 티알엠. Дата публикации: 2009-07-01.

X-ray diffraction analysis sample stage with three-electrode electro Chemical test function

Номер патента: CN110361403A. Автор: 邹健莉,曹鲁杰. Владелец: Nanjie Zhihui (shenzhen) Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-22.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: AU2003265275A1. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P. Rose. Владелец: University of Georgia. Дата публикации: 2004-02-23.

Rotatable sample stage for matching vertical goniometers in x-ray diffraction analysis

Номер патента: ZA202211021B. Автор: Teng GUO,Yibo WANG,Xuchun WANG,Yongxin Du,Jingyong Wu. Владелец: Univ Anhui Science & Tech. Дата публикации: 2022-12-21.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: EP2778666B1. Автор: E. Michael Brass. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Off-line in-situ stretching device for X-ray diffraction experiment

Номер патента: CN113390720B. Автор: 高崇,邹立颖,刘贞山,董学光,范荣辉,周保成,谷宁杰,韦绍林,王眉眉,苏明山. Владелец: Chinalco Materials Application Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-03.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP3285065B1. Автор: Tetsuya Ozawa,Takeshi Osakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-10-06.

Analysis method for x-ray diffraction measurement data

Номер патента: US20130077754A1. Автор: Akito Sasaki,Hiroki Yoshida,Akihiro Himeda,Keiichi Morikawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-03-28.

Methods of Identifying Original and Counterfeit Articles using Micro X-Ray Diffraction Mapping

Номер патента: US20140119511A1. Автор: Ward Michael,Musumeci Daniele,Hu Chunhua. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-01.

MEASUREMENT OF CRYSTALLITE SIZE DISTRIBUTION IN POLYCRYSTALLINE MATERIALS USING TWO-DIMENSIONAL X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20210033546A1. Автор: HE Bob Baoping. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-04.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20180052121A1. Автор: Ozawa Tetsuya,OSAKABE Takeshi. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

X-ray Diffraction (XRD) Characterization Methods for Sigma=3 Twin Defects in Cubic Semiconductor (100) Wafers

Номер патента: US20150078526A1. Автор: Hyun Jung Kim,Yeonjoon Park,Glen C. King,Sang Hyouk Choi,Kunik Lee,Jonathan R. SKUZA. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 2015-03-19.

MEASURING AND ANALYZING RESIDUAL STRESSES AND THEIR GRADIENTS IN MATERIALS USING HIGH RESOLUTION GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20190094158A1. Автор: Sunder Madhana. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

MEASURING AND ANALYZING RESIDUAL STRESSES AND THEIR GRADIENTS IN MATERIALS USING HIGH RESOLUTION GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20190094159A1. Автор: Sunder Madhana. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

MEASURING AND ANALYZING RESIDUAL STRESSES AND THEIR GRADIENTS IN MATERIALS USING HIGH RESOLUTION GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20190094160A1. Автор: Sunder Madhana. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

X-RAY DIFFRACTION IMAGING OF MATERIAL MICROSTRUCTURES

Номер патента: US20180120244A1. Автор: Varga Laszlo,CALO Victor,VARGA Bonbien. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-03.

SOLLER SLIT, X-RAY DIFFRACTION APPARATUS, AND METHOD

Номер патента: US20190122782A1. Автор: Kobayashi Shintaro,OMOTE Kazuhiko,PINA LADISLAV,INNEMAN ADOLF. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-04-25.

X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20220307995A1. Автор: Sato Kenji,KUWABARA Junji,TAMAI Atsushi. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

MOUNTING SYSTEM AND SAMPLE HOLDER FOR X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20190178823A1. Автор: VUKOTIC Vedran Nicholas,BOYER William,BELASSEL Mohammed,ISKRA Alec. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-13.

METHOD FOR ANALYZING AN OBJECT BY X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20170184518A1. Автор: TABARY Joachim,PAULUS Caroline,Barbes Damien. Владелец: Commissariat A L'Energie Atomique Et Aux Energies Alternatives. Дата публикации: 2017-06-29.

X-ray diffraction measurement method and apparatus

Номер патента: US20180202948A1. Автор: Kenji Sato,Kazuhito Nakao. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-19.

ANALYSIS APPARATUS INTERLOCKING IN-SITU X-RAY DIFFRACTION AND POTENTIOSTAT AND ANALYZING METHODS USING THE SAME

Номер патента: US20190250112A1. Автор: Kim Chunjoong,Sung Yung-Eun,PARK Jungjin,LEE Jong Sig,PARK Jae-Hyuk. Владелец: The Industry & Academic Cooperation in Chungnam National University (IAC). Дата публикации: 2019-08-15.

SYSTEMS AND METHODS FOR X-RAY DIFFRACTION VIRTUAL SPECTROSCOPY

Номер патента: US20200326290A1. Автор: INIEWSKI Krzysztof,HANSSON Conny,AYUKAWA Michael. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-15.

TECHNIQUE FOR PROCESSING X-RAY DIFFRACTION DATA

Номер патента: US20190325635A1. Автор: Meyer Mathias. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-24.

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND METHOD TO MEASURE STRESS WITH 2D DETECTOR AND SINGLE SAMPLE TILT

Номер патента: US20180372658A1. Автор: HE Bob Baoping. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

Quantitative measuring method and apparatus of metal phase using x-ray diffraction method, and method for making plated steel sheet using them

Номер патента: US6821361B2. Автор: Akira Yamamoto,Toru Fujimura. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2004-11-23.

device for X-Ray diffraction analysis of ores,minerals an concentrates

Номер патента: SU171939A1. Автор: И. В. Митрофанов Г. И. Брыл ков Э. С. Блинов С. Л. Якубович. Владелец: . Дата публикации: 1965-06-22.

Method for Measuring Alloy Phases Ratio of Galvannealed Steel Sheets by X-ray Diffraction and Controlling Alloy Phases Ratio using Galvanneal Prediction ModelGA Calc

Номер патента: KR100916121B1. Автор: 김상준,박광석,진광근,백두진. Владелец: (주) 티알엠. Дата публикации: 2009-09-08.

Crystallite size analysis method and apparatus using powder X-ray diffraction

Номер патента: US8111807B2. Автор: Takashi Ida,Licai Jiang. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-02-07.

In-situ x-ray diffraction system using sources and detectors at fixed angular positions

Номер патента: WO2005031329A1. Автор: David M. Gibson,Walter M. Gibson,Huapeng Huang. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2005-04-07.

Apparatus for x-ray diffraction

Номер патента: JPS5712354A. Автор: Nobuo Otsuki. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1982-01-22.

Apparatus and method for obtaining x-ray diffraction patterns

Номер патента: US3509336A. Автор: Zigmond W Wilchinsky,Thomas C Menzel. Владелец: Exxon Research and Engineering Co. Дата публикации: 1970-04-28.

Procedure and measuring apparatus based on x-ray diffraction for measuring stresses

Номер патента: US5125016B1. Автор: Matti Korhonen,Veikko Lindroos. Владелец: Stresstech OY. Дата публикации: 1998-02-24.

Quantitative measuring method and apparatus of metal phase using x-ray diffraction method, and method for making plated steel sheet using them

Номер патента: WO2002025257A1. Автор: Akira Yamamoto,Toru Fujimura. Владелец: Kawasaki Steel Corporation. Дата публикации: 2002-03-28.

Crystalline phase identification method, crystalline phase identification device, and x-ray diffraction measurement system

Номер патента: EP3249392A1. Автор: Akihiro Himeda,Yukiko Ikeda,Keigo Nagao. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-11-29.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: EP2778666A3. Автор: E. Michael Brass. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2014-12-03.

Sample preparation method of sample for graphene XRD (X-ray diffraction) characterization

Номер патента: CN110596164A. Автор: 鲁娜,王秀娟,杨新伟,张丽娟,卢科伟. Владелец: Xinjiang Allyl Stone Ink Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-20.

X-ray diffraction and computed tomography

Номер патента: US8477904B2. Автор: Gabriel Blaj. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2013-07-02.

X-ray diffraction measurement method and apparatus

Номер патента: JP6383018B2. Автор: 健児 佐藤,和人 中尾,佐藤　健児. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-29.

X-ray diffraction meter

Номер патента: CH336204A. Автор: Maarten De Wolff Pieter. Владелец: Philips Nv. Дата публикации: 1959-02-15.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA1016669A. Автор: Frank R. Paolini. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1977-08-30.

Method for displaying measurement results from x-ray diffraction measurement

Номер патента: US10801976B2. Автор: Akito Sasaki,Akihiro Himeda,Yukiko Ikeda,Keigo Nagao. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-10-13.

Method and apparatus for analyzing x-ray diffraction from tilted layers

Номер патента: TWI536014B. Автор: 約翰 沃爾,大衛 賈科斯,伯瑞斯 約辛,亞歷山大 卡莫,保羅 萊恩,李察 百勒威,大衛 柏曼,馬修 沃明頓. Владелец: 喬丹菲利半導體有限公司. Дата публикации: 2016-06-01.

X-ray diffraction wafer mapping method for rhombohedral super-hetero-epitaxy

Номер патента: US20100027746A1. Автор: Yeonjoon Park,Glen C. King,James R. Elliott,Sang Hyouk Choi,Albert L. Dimarcantonio. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 2010-02-04.

Apparatus and method for identification of crystals by in-situ x-ray diffraction

Номер патента: CA2424893A1. Автор: Janet Newman,Eric De La Fortelle. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-25.

Technique for processing x-ray diffraction data

Номер патента: EP3561496B1. Автор: Mathias Meyer. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-10-06.

X-ray diffraction device

Номер патента: JP2017223539A. Автор: Katsuhiko Inaba,信太郎 小林,克彦 稲葉,Shintaro Kobayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

PHASE ANALYSIS APPARATUS BY X-RAY DIFFRACTION ON TEXTURED OR NON-TEXTURED SAMPLES WITH AN ELECTRONIC PHOTODETECTOR.

Номер патента: ATE47756T1. Автор: Rene Yves Fillit,Huguette Bruyas,Fernand Patay. Владелец: Armines. Дата публикации: 1989-11-15.

Measuring Device for the Shortwavelentgh X Ray Diffraction and a Method Thereof

Номер патента: US20080095311A1. Автор: Lin Zheng,Changguang He,Zhengkun Peng. Владелец: South West Technology and Engineering Institute of China. Дата публикации: 2008-04-24.

X-ray diffraction method and apparatus

Номер патента: US2887585A. Автор: Parrish William,Wolff Pieter Maarten De. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1959-05-19.

In-situ X-ray diffraction for screening crystals

Номер патента: EP1353166B1. Автор: Bob Baoping He,Roger D. Durst. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2010-06-09.

X-ray diffraction divice

Номер патента: JPS55104747A. Автор: Shigeru Ozaki. Владелец: RIGAKU DENKI KK. Дата публикации: 1980-08-11.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP3285065A1. Автор: Tetsuya Ozawa,Takeshi Osakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-02-21.

Multiply-sampled cmos sensor for x-ray diffraction measurements with corrections for non-ideal sensor behavior

Номер патента: US20130108021A1. Автор: Joerg KAERCHER,Roger D. Durst,Gregory A. WACHTER. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2013-05-02.

X-ray diffraction system

Номер патента: US3051835A. Автор: Uchida Hiroshi,Shimula Yoshihiro. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 1962-08-28.

Multiply-sampled cmos sensor for x-ray diffraction measurements with corrections for non-ideal sensor behavior

Номер патента: EP2773949B1. Автор: Joerg KAERCHER,Roger D. Durst,Gregory A. WACHTER. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2017-12-06.

X-ray diffraction device and method to measure stress with 2d detector and single sample tilt

Номер патента: EP3425378B1. Автор: Bob Boaping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2019-12-25.

Multiply-sampled cmos sensor for x-ray diffraction measurements with corrections for non-ideal sensor behavior

Номер патента: WO2013066843A1. Автор: Joerg KAERCHER,Roger D. Durst,Gregory A. WACHTER. Владелец: BRUKER AXS, INC.. Дата публикации: 2013-05-10.

METHODS, DEVICES AND SYSTEMS TO PROCESS X-RAY DIFFRACTION DATA

Номер патента: US20140114602A1. Автор: Billinge Simon,Farrow Christopher,Dykhne Timur,Juhas Pavol. Владелец: The Trustees of Columbia University in the City of New York. Дата публикации: 2014-04-24.

MOUNTING SYSTEM AND SAMPLE HOLDER FOR X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20210055236A1. Автор: VUKOTIC Vedran Nicholas,BOYER William,BELASSEL Mohammed,ISKRA Alec. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

METHOD FOR DISPLAYING MEASUREMENT RESULTS FROM X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT

Номер патента: US20190064083A1. Автор: SASAKI Akito,HIMEDA Akihiro,Nagao Keigo,IKEDA Yukiko. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-02-28.

METHODS AND APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20150092921A1. Автор: Hansford Graeme Mark. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2015-04-02.

X-RAY DIFFRACTION BASED CRYSTAL CENTERING METHOD USING AN ACTIVE PIXEL ARRAY SENSOR IN ROLLING SHUTTER MODE

Номер патента: US20150103980A1. Автор: KAERCHER Joerg. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-16.

SINGLE CRYSTAL QUARTZ CHIPS FOR PROTEIN CRYSTALLIZATION AND X-RAY DIFFRACTION DATA COLLECTION AND RELATED METHODS

Номер патента: US20150117611A1. Автор: Ren Zhong. Владелец: RENZ RESEARCH, INC.. Дата публикации: 2015-04-30.

METHOD FOR COLLECTING ACCURATE X-RAY DIFFRACTION DATA WITH A SCANNING TWO-DIMENSIONAL DETECTOR

Номер патента: US20170176355A1. Автор: MAURER Christian,OLLINGER Christoph,HE Bob Baoping,Meding Olaf. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

X-Ray Diffraction Apparatus And Method

Номер патента: US20140270090A1. Автор: Brauss E. Michael. Владелец: Proto Manufacturing Ltd.. Дата публикации: 2014-09-18.

SYSTEMS AND METHODS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20150253262A1. Автор: Cernatescu Iuliana,Furrer David U.. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-10.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20190293575A1. Автор: MITSUNAGA Toru,OSAKABE Takeshi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-26.

Crystalline Phase Identification Method, Crystalline Phase Identification Device, and X-Ray Diffraction Measurement System

Номер патента: US20170343492A1. Автор: HIMEDA Akihiro,Nagao Keigo,IKEDA Yukiko. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-11-30.

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SHORT-WAVELENGTH CHARACTERISTIC X-RAY DIFFRACTION BASED ON ARRAY DETECTION

Номер патента: US20220412901A1. Автор: Chen Xin,ZHANG Jin,Zhou Kun,ZHENG Lin,ZHAO Fangchao,CHE Luchang,WU Taibin,ZHANG Lunwu,DOU Shitao,HE Changguang,FENG Xianhe,Wang Chengzhang. Владелец: THE 59TH INSTITUTE OF CHINA ORDNANCE INDUSTRY. Дата публикации: 2022-12-29.

X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS APPARATUS WITH ELECTRONIC PHOTON COUNTER

Номер патента: FR2564589B1. Автор: Rene Yves Fillit,Huguette Bruyas,Fernand Patay. Владелец: Association pour la Recherche et le Developpement des Methodes et Processus Industriels. Дата публикации: 1988-01-15.

High-resolution x-ray diffraction measurement with enhanced sensitivity

Номер патента: KR101275528B1. Автор: 보리스 요킨,이삭 마조르,알렉산더 크로말,아모스 그비르츠만,젠나디 오펜젠덴,데이비드 베르만,매튜 워밍톤. Владелец: 조르단 밸리 세미컨덕터즈 리미티드. Дата публикации: 2013-06-20.

X-ray diffraction system

Номер патента: US2870337A. Автор: Neff Hans. Владелец: Siemens Reiniger Werke AG. Дата публикации: 1959-01-20.

Technique for processing x-ray diffraction data

Номер патента: EP3561496A1. Автор: Mathias Meyer. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-10-30.

Measuring and analyzing residual stresses and their gradients in materials using high resolution grazing incidence X-ray diffraction

Номер патента: US10648932B2. Автор: Madhana Sunder. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-05-12.

X-Ray diffraction and fluorescence

Номер патента: EP2315009B1. Автор: Roger Meier,Alexander Kharchenko,Walter van den Hoogenhof. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2017-07-12.

X-ray diffraction device

Номер патента: CH338617A. Автор: Brown Walter. Владелец: Philips Nv. Дата публикации: 1959-05-31.

Method and system for x-ray diffraction measurements using an aligned source and detector rotating around a sample surface

Номер патента: WO2005010512A1. Автор: David M. Gibson,Walter M. Gibson,Huapeng Huang,Jodi Lynn Reeves. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2005-02-03.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1739413B1. Автор: Takeyoshi Rigaku Corporation Taguchi,Masaru Rigaku Corporation Kuribayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-09-18.

Divergent beam two-dimensional x-ray diffraction

Номер патента: EP3599459B1. Автор: Jonathan GIENCKE. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2022-08-31.

Device for x-ray diffraction

Номер патента: FR1139227A. Автор: . Владелец: Siemens Reiniger Werke AG. Дата публикации: 1957-06-26.

Determining weathering indices by x-ray diffraction

Номер патента: US20230105649A1. Автор: Mohamed Soua. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-04-06.

External standard method of x-ray diffraction analysis for determining the percentage of compounds in cement clinker

Номер патента: US3428802A. Автор: Povindar K Mehta,Manesh J Shah. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1969-02-18.

Airtight box for x-ray diffraction measurements

Номер патента: EP3828533A3. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-09-22.

A measuring device for the short-wavelength X-ray diffraction and a method thereof

Номер патента: EP2541238B1. Автор: Lin Zheng,Changguang He,Zhengkun Peng. Владелец: Southwest Technology & Engineering Institute Of China. Дата публикации: 2015-12-16.

X-ray diffraction (Xrd) means for identifying the content in a volume of interest and a method thereof

Номер патента: US7620148B2. Автор: Ze'ev Harel,Zeev Burshtein,Asaf ZUK. Владелец: Xurity Ltd. Дата публикации: 2009-11-17.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: FR1146426A. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1957-11-12.

Airtight box for x-ray diffraction measurements

Номер патента: EP3828533A2. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-06-02.

Determination method of battery

Номер патента: US20240014666A1. Автор: Keita KOMIYAMA. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Photoelectric printed circuit board and parameter determination method, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4235239A9. Автор: Hao Tian,Yonghui Ren,Xiaolin Chen,Bi YI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-10-18.

Photoelectric printed circuit board and parameter determination method, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4235239A1. Автор: Hao Tian,Yonghui Ren,Xiaolin Chen,Bi YI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-08-30.

Aging determination method of battery, aging determination apparatus of battery, management system of battery, battery-mounted device, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20220381845A1. Автор: Norihiro Yoshinaga,Shuichi Uchikoga,Ryosuke YAGI,Yuta KANAI. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Determination method, determination device, and program

Номер патента: US20240255579A1. Автор: Yusuke Yoshioka. Владелец: GS YUASA INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Battery anode comprising carbon and optionally silicon characterized by the carbon domain size estimated by x ray diffraction

Номер патента: EP4399750A1. Автор: Matthew Clark,Gleb Yushin,Adam Kajdos,Timothy Milakovich,Valentin Lulevich,Saujan SIVRAM. Владелец: Sila Nanotechnologies Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Methods of Examining an Item of Luggage by Means of an X-Ray Diffraction Method

Номер патента: US20090016487A1. Автор: Helmut Strecker,Gabriel Zienert,Armin Schmiegel. Владелец: GE Homeland Protection Inc. Дата публикации: 2009-01-15.

Apparatus for measuring surface stress by X-ray diffraction

Номер патента: US3934138A. Автор: Jeans Bens. Владелец: Compagnie Generale de Radiologie SA. Дата публикации: 1976-01-20.

Primary collimator and systems for x-ray diffraction imaging, and method for fabricating a primary collimator

Номер патента: WO2010065460A2. Автор: Geoffrey Harding,Helmut Rudolf STRECKER,Johannes Delfs. Владелец: Morpho Detection, Inc.. Дата публикации: 2010-06-10.

Primary collimator and systems for x-ray diffraction imaging, and method for fabricating a primary collimator

Номер патента: WO2010065460A3. Автор: Geoffrey Harding,Helmut Rudolf STRECKER,Johannes Delfs. Владелец: Morpho Detection, Inc.. Дата публикации: 2010-08-19.

An online energy dispersive x-ray diffraction analyser

Номер патента: CA2701670C. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2018-01-16.

Detecting assembly for x-ray diffraction measurements

Номер патента: RU2242748C1. Автор: С.В. Никитина,М.А. Кумахов,А.Е. Булкин,Н.С. Ибраимов,А.В. Лютцау,Е.В. Лихушина. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Институт рентгеновской оптики". Дата публикации: 2004-12-20.

Detector stand and x-ray diffraction apparatus

Номер патента: US20240255446A1. Автор: Atsushi Kuji,Yuji SHIRAMATA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Damage measurement method, apparatus and program, and x-ray diffraction apparatus

Номер патента: US20230304948A1. Автор: Daisuke Kobayashi,Kazuhiko Omote,Ryouichi Yokoyama. Владелец: Chubu Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS, X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD, AND CONTROL PROGRAM

Номер патента: US20140314206A1. Автор: YASUKAWA Shoichi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-23.

X-RAY DIFFRACTION METHOD AND PORTABLE X-RAY DIFFRACTION APPARATUS USING SAME

Номер патента: US20130129051A1. Автор: Nakano Asao,Ueji Yoshinori. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-23.

ULTRAFAST X-RAY DIFFRACTION imaging method and system based on flashing X-ray machine

Номер патента: CN105758880B. Автор: 欧阳晓平,唐波,夏惊涛,周海生,马戈,罗剑辉,盛亮,黑东炜,魏福利. Владелец: Northwest Institute of Nuclear Technology. Дата публикации: 2019-02-05.

X-ray diffraction analysis method and X-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: JP4581126B2. Автор: 健次 桜井. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2010-11-17.

Device comprising a collimator for x-ray diffraction spectrometry and its use

Номер патента: EP3163582A1. Автор: Guillaume Montemont,Caroline Paulus,Fanny MARTICKE. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2017-05-03.

Image plate diffractometer for registering x-ray diffraction diagrams of crystalline material has image plate for exposing x-ray beam diffracted by material that is arranged at distance from material in curvilinear manner

Номер патента: DE19904476A1. Автор: W Kreutz. Владелец: J Schneider Elektrotechnik GmbH. Дата публикации: 2000-09-07.

Characterizing monocrystalline silicon-germanium zones on monocrystalline silicon substrate, combines x-ray diffraction spectrum measurement and modeling

Номер патента: FR2798195A1. Автор: Didier Dutartre,Jean Claude Oberlin. Владелец: STMICROELECTRONICS SA. Дата публикации: 2001-03-09.

X-Ray diffraction apparatus, x-ray diffraction measuring method and control program

Номер патента: GB201403709D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-04-16.

Laboratory crystallographic x-ray diffraction analysis system

Номер патента: US20240219328A1. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Christian Holzner,Peter Reischig. Владелец: Carl Zeiss X Ray Microscopy Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Non-local modulation of X-ray diffraction imaging device and method based on light field High order correletion

Номер патента: CN108827988A. Автор: 韩申生,喻虹,陆荣华,谈志杰. Владелец: Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS. Дата публикации: 2018-11-16.

Single exposure X-ray diffraction imaging device and method based on light field high-order spatial correlation

Номер патента: CN112198176B. Автор: 韩申生,喻虹,朱瑞国,谈志杰. Владелец: Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS. Дата публикации: 2022-12-02.

Angle-dependent X-ray diffraction imaging system and method of operating the same

Номер патента: CN106062540A. Автор: G.哈丁,H.R.O.斯特雷克. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2016-10-26.

Novel biopolymer crystallization plate, biopolymer crystallization method using same, and method for directly collecting x-ray diffraction data from the biopolymer crystal generated by same

Номер патента: WO2011010868A3. Автор: 김성건,윤태성,원태웅. Владелец: 한국생명공학연구원. Дата публикации: 2011-04-21.

X-RAY DIFFRACTIVE GRATING AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER

Номер патента: US20170125134A1. Автор: Handa Soichiro. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

Variable-temperature sample stage device used for X-ray diffraction measurement of liquid

Номер патента: CN105954306A. Автор: 张莉,孙凯,王子军,陈东风,李天富,李玉庆,刘蕴韬,吴立齐,王洪立,刘荣灯. Владелец: China Institute of Atomic of Energy. Дата публикации: 2016-09-21.

X-ray diffraction grating and X-ray Talbot interferometer

Номер патента: JP6608246B2. Автор: 宗一郎 半田. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-11-20.

Method and apparatus for x-ray diffraction analysis

Номер патента: CN1858583A. Автор: O·格拉斯曼,M·亨尼格,R·A·霍彻特拉瑟尔,U·施维特. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2006-11-08.

High resolution X-ray diffraction method and apparatus

Номер патента: CN108572184B. Автор: D·贝克尔斯,亚历山大·哈尔陈科,米伦·加特什基,尤金·鲁维坎普. Владелец: Malvern Panalytical Ltd. Дата публикации: 2022-02-11.

Large sample X-ray diffraction material phase analysis support

Номер патента: CN106918608A. Автор: 李刚,邓淞文,潘艳伟. Владелец: Dalian Institute of Chemical Physics of CAS. Дата публикации: 2017-07-04.

X-ray detector and X-ray diffraction device

Номер патента: DE102013222196A1. Автор: Masaru Kuribayashi,Kazuyuki Matsushita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-04-30.

X-ray camera for X-ray diffraction analysis according to Guinier

Номер патента: DE1902628A1. Автор: Gunnar Haegg. Владелец: Incentive Research and Development AB. Дата публикации: 1970-08-13.

A kind of high pressure cold bench device and application method suitable for cryogenic high pressure material X-ray diffraction measurement

Номер патента: CN108195858A. Автор: 李栋梁,梁德青,周雪冰. Владелец: Guangzhou Institute of Energy Conversion of CAS. Дата публикации: 2018-06-22.

Single-source angle resolution type X-ray diffraction analysis and tomography coupling device

Номер патента: CN111380882A. Автор: 王欢,陈力,张鹏程,李云,马策,蔡吉庆,罗晋如,陈镐. Владелец: Institute of Materials of CAEP. Дата публикации: 2020-07-07.

Double-source angle resolution type X-ray diffraction analysis and tomography coupling device

Номер патента: CN111380883A. Автор: 唐涛,王鹍,王欢,张鹏程,陈发,蔡吉庆,陈镐,常丁月. Владелец: Institute of Materials of CAEP. Дата публикации: 2020-07-07.

X-ray diffraction method for determining content of cristobalite phase in ZSM-22 molecular sieve

Номер патента: CN111103313A. Автор: 杨晓东,袁宗胜,曲家波,李瑞峰,高善彬,刘彦峰,王伟众,赵吉娜,包世星. Владелец: Petrochina Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-05.

Direct comparison system for different crystal X-ray diffraction efficiencies

Номер патента: CN111443101A. Автор: 王峰,罗靖,杨国洪,孙奥,施军,尚万里,韦敏习,肖沙里,杨家敏,江少恩. Владелец: Laser Fusion Research Center China Academy of Engineering Physics. Дата публикации: 2020-07-24.

Laboratory crystallographic x-ray diffraction analysis system

Номер патента: EP4356118A2. Автор: Christian Holzner,Peter Reischig,Erik Lauridsen. Владелец: Carl Zeiss X Ray Microscopy Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Laboratory crystallographic x-ray diffraction analysis system

Номер патента: WO2023113862A3. Автор: Christian Holzner,Peter Reischig,Erik Lauridsen. Владелец: Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc.. Дата публикации: 2023-11-16.

Automatic plotting of X-ray diffraction pole figures

Номер патента: US3117226A. Автор: Eichhorn Robert Milne,Addis Gilbert Irving. Владелец: Union Carbide Corp. Дата публикации: 1964-01-07.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: EP3652526B1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 2021-08-25.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: AU4503400A. Автор: Michael Brauss. Владелец: XRD TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2000-10-16.

Single crystal stress detection method based on monochromatic X-ray diffraction

Номер патента: CN110609047A. Автор: 陈凯,沈昊,朱文欣,寇嘉伟. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2019-12-24.

Electrolytic cell device suitable for in-situ X-ray diffraction test

Номер патента: CN112485310B. Автор: 漆俊,崔志洋,关明辉,杨纯臻,赖悦诚,杨铭铎. Владелец: Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2022-04-05.

X-ray diffraction method of determining an effective atomic number and a relative molecular interference function

Номер патента: EP2447711B1. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2014-06-18.

Method of comparing x-ray diffraction patterns using the fundamental parameter method

Номер патента: IL166619A0. Автор: . Владелец: SSCI Inc. Дата публикации: 2006-01-15.

X-ray diffraction system

Номер патента: EP1608957B1. Автор: Michael Brauss. Владелец: Proto Manufacturing LLC. Дата публикации: 2015-09-30.

Collimator for x-ray diffraction spectroscopy, associated device and its use

Номер патента: US20170125133A1. Автор: Guillaume Montemont,Caroline Paulus,Fanny MARTICKE. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2017-05-04.

METHODS AND APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20180202950A1. Автор: Hansford Graeme Mark. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2018-07-19.

High resolution X-ray Diffraction Method and Apparatus

Номер патента: US20180259464A1. Автор: Beckers Detlef,Gateshki Milen,Kharchenko Alexander,Reuvekamp Eugene. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-13.

METHOD OF CONDUCTING AN X-RAY DIFFRACTION-BASED CRYSTALLOGRAPHY ANALYSIS

Номер патента: US20150276629A1. Автор: KAERCHER Joerg,RUF Michael,NOLL Bruce C.. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-01.

METHOD OF AUTHENTICATING AN OBJECT WITH X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20200256810A1. Автор: Fournee Vincent,Kenzari Samuel. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-13.

A SYSTEM AND A METHOD FOR RESOLVING A CRYSTAL STRUCTURE OF A CRYSTAL AT ATOMIC RESOLUTION BY COLLECTING X-RAY DIFFRACTION IMAGES

Номер патента: US20180348149A1. Автор: TOMIZAKI TAKASHI,TSUJINO SOICHIRO. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

Method and system for crystallization and x-ray diffraction screening

Номер патента: US20090147918A1. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Method and system for crystallization and x-ray diffraction screening

Номер патента: WO2008141183A2. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corporation. Дата публикации: 2008-11-20.

Method and system for crystallization and X-ray diffraction screening

Номер патента: US7974380B2. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corp. Дата публикации: 2011-07-05.

METHOD FOR MEASURING THE LINE ROUGHNESS OF A LINE ARRAY BY X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: FR3085474A1. Автор: Jérôme RECHE. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2020-03-06.

X-ray diffraction screening system convertible between reflection and transmission modes

Номер патента: US20060023838A1. Автор: Bob He,Ryan Bollig. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2006-02-02.

High resolution x-ray diffraction method and apparatus

Номер патента: EP3372994B1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki,Eugene REUVEKAMP. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2020-04-22.

X-ray diffraction analyzer and analyzing method

Номер патента: WO2006095468A1. Автор: Kenji Sakurai. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2006-09-14.

Quantitative determination of phase of metal material by x-ray diffraction and automatic measuring device therefor

Номер патента: JPS5684538A. Автор: Masayuki Okamoto,Mitsuru Yano. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 1981-07-09.

Thin film x-ray diffraction sample cell device and method

Номер патента: WO2020220081A1. Автор: John Daniels. Владелец: Critus Pty Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

System and method for x-ray diffraction imaging

Номер патента: EP2344909B1. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2017-07-19.

Method and apparatus for x-ray diffraction analysis

Номер патента: CA2544907A1. Автор: Michael Hennig,Olaf Grassmann,Urs Schwitter,Remo Anton Hochstrasser. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2006-11-02.

Hardness measuring method for hardened steel by X-ray diffraction using Gaussian curve

Номер патента: JPH0797089B2. Автор: 政則 栗田. Владелец: 政則 栗田. Дата публикации: 1995-10-18.

An online energy dispersive x-ray diffraction analyser

Номер патента: ZA201002520B. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2012-09-26.

Transmission mode x-ray diffraction screening system

Номер патента: WO2003081221A3. Автор: Bob Baoping He,Ryan C Bollig,Hans Mathias Lutz Bruegemann. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2004-01-22.

Sample die for x-ray diffraction analysis

Номер патента: KR0128554Y1. Автор: 서종현,박신화. Владелец: 재단법인산업과학기술연구소. Дата публикации: 1998-12-01.

Apparatus for evaluating X-ray diffraction records

Номер патента: US3113381A. Автор: Khol Frantisek. Владелец: Individual. Дата публикации: 1963-12-10.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: WO2019011986A1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: Centre National De La Recherche Scientifique. Дата публикации: 2019-01-17.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: EP3652526A1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 2020-05-20.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: AU2003223145A1. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2003-10-27.

X-ray diffraction device

Номер патента: US2645720A. Автор: Siegfried T Gross. Владелец: General Aniline and Film Corp. Дата публикации: 1953-07-14.

System and method for correcting x-ray diffraction profiles

Номер патента: US20120263275A1. Автор: Geoffrey Harding,Gabriel Zienert. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2012-10-18.

METHOD AND ITS APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20130129052A1. Автор: Toraya Hideo,Munekawa Shigeru. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-23.

AN ENERGY DISPERSIVE X-RAY DIFFRACTION ANALYSER HAVING AN IMPROVED REFLECTION GEOMETRY

Номер патента: US20220057343A1. Автор: TICKNER James Richard,"ODWYER Joel". Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

ANGLE-DEPENDENT X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM AND METHOD OF OPERATING THE SAME

Номер патента: US20150085983A1. Автор: Harding Geoffrey,Strecker Helmut Rudolf Otto. Владелец: Morpho Detection, Inc.. Дата публикации: 2015-03-26.

METHOD FOR THE DETECTION AND/OR DIAGNOSIS OF EATING DISORDERS AND MALNUTRITION USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20170115240A1. Автор: Herron Steven Richard,Hatch Kent,Marriott Savannah,Spangler Diane. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-27.

Electrochemical Test Cell For Enabling In-Situ X-Ray Diffraction and Scattering Studies of Scale Formation and Microstructural Changes in Materials with Flow Through Solution

Номер патента: US20140270080A1. Автор: Farmer Joseph C.,EL-DASHER Bassem S.,TORRES Sharon G.,TORRES Samuel. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

Determining atomic coordinates from x-ray diffraction data

Номер патента: US20210302332A1. Автор: David Hurwitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-30.

X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM WITH INTEGRATED SUPERMIRROR

Номер патента: US20150276628A1. Автор: Harding Geoffrey. Владелец: Morpho Detection, LLC. Дата публикации: 2015-10-01.

New crystallization plate for biological macromolecule, and method for crystallizing biological macromolecule using the same, and method for collecting directly X-ray diffraction data from biological macromolecule crystal produced thereby

Номер патента: KR101135155B1. Автор: 김성건,윤태성,원태웅. Владелец: 한국생명공학연구원. Дата публикации: 2012-04-16.

Process and apparatus for the x-ray diffraction characterization of a material with amorphous phase

Номер патента: EP1260812A1. Автор: Herbert Pollmann,Günther Walenta,Thomas Fullman,Torsten Westphal. Владелец: Lafarge SA. Дата публикации: 2002-11-27.

Transmission mode X-ray diffraction screening system

Номер патента: US6859520B2. Автор: Bob Baoping He,Ryan C. Bollig,Hans Mathias Lutz Brügemann. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2005-02-22.

Method and system for crystallization and X-ray diffraction screening

Номер патента: US8422632B2. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corp. Дата публикации: 2013-04-16.

X-ray diffraction microscope camera for spherical-wave section topograph

Номер патента: JPS5576943A. Автор: Shigeru Oki. Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-06-10.

System and method for using x-ray diffraction to detect subsurface crystallographic structure

Номер патента: CA2250748A1. Автор: Paul John Zombo,Der-Yan Frank Roan. Владелец: Der-Yan Frank Roan. Дата публикации: 1997-10-09.

System and method for X-ray diffraction imaging

Номер патента: US7835495B2. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-11-16.

High throughput x-ray diffraction filter sample holder

Номер патента: AU2003234725A1. Автор: Joseph Nolfo,Victor W. Rosso,John J. Venit,Imre M. Vitez,Glen Young. Владелец: Bristol Myers Squibb Co. Дата публикации: 2003-10-27.

System and method for X-ray diffraction imaging

Номер патента: ES2643993T3. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2017-11-27.

Method for x-ray diffraction controlling parts of gas turbine engine

Номер патента: RU2623838C2. Автор: Наталья Александровна Яблокова,Алексей Владимирович Яблоков,Владимир Андреевич Кочетков,Александр Маркович Портер,Артур Иванович Берестевич. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Сатурн". Дата публикации: 2017-06-29.

High-pressure cooling device and use thereof applicable to x-ray diffraction measurement of material at low temperature and under high pressure

Номер патента: WO2019109417A1. Автор: 李栋梁,梁德青,周雪冰. Владелец: 中国科学院广州能源研究所. Дата публикации: 2019-06-13.

Online energy dispersive X-ray diffraction analyser

Номер патента: US8311183B2. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2012-11-13.

Imaging plate x-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1102060A4. Автор: Yuji Ohashi,Yutaka Yokozawa,Kutsunari Sasaki. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2003-07-09.

DETECTING ASSEMBLY FOR X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENTS

Номер патента: RU2003125341A. Автор: Мурадин Абубекирович Кумахов,Светлана Васильевна Никитина,Нариман Смаилович Ибраимов,Александр Всеволодович Лютцау,Екатерина Валентиновна Лихушина,Александр Ефимович Булкин,Мурадин Абубекирович Кумахов (RU),Нариман Смаилович Ибраимов (RU),Александр Всеволодович Лютцау (RU),Светлана Васильевна Никитина (RU),Екатерина Валентиновна Лихушина (RU),Александр Ефимович Булкин (RU). Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Институт рентгеновской оптики" (RU). Дата публикации: 2005-02-20.

Method of measuring surface microstructure, method of data analysis of surface microstructure measurement and X-ray diffraction measuring device

Номер патента: DE112010001894T5. Автор: Yoshiyasu Ito,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Combinatorial contraband detection using energy dispersive x-ray diffraction

Номер патента: WO2003065077A2. Автор: William E. Mayo. Владелец: Rutgers, the State University. Дата публикации: 2003-08-07.

Method for determining mineral contents in concrete used during construction of building, involves performing quantitative X-ray diffraction analysis for determining mineral contents in concrete

Номер патента: DE102011055450A1. Автор: Anmelder Gleich. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-05-23.

Transmission mode x-ray diffraction screening system

Номер патента: WO2003081221A2. Автор: Bob Baoping He,Ryan C. Bollig,Hans Mathias Lutz Brügemann. Владелец: BRUKER AXS, INC.. Дата публикации: 2003-10-02.

High temperature x-ray diffraction camera

Номер патента: US2479471A. Автор: Edmund F Champaygne. Владелец: American Cyanamid Co. Дата публикации: 1949-08-16.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: US20200256810A1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 2020-08-13.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: US1546349A. Автор: Albert W Hull,Wheeler P Davey. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1925-07-14.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: AU2003223145A8. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2003-10-27.

X-ray diffraction method for determining carbon content in cast iron and devices for its implementation

Номер патента: RU2621646C2. Автор: Борис Дмитриевич Калинин,Олег Васильевич Родинков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ). Дата публикации: 2017-06-06.

Energy dispersion type x-ray diffraction/spectral device

Номер патента: EP1650558A1. Автор: Masayuki School of Science and Engineering Uda. Владелец: WASEDA UNIVERSITY. Дата публикации: 2006-04-26.

Energy dispersion type x-ray diffraction/spectral device

Номер патента: EP1650558B1. Автор: Masayuki School of Science and Engineering Uda. Владелец: WASEDA UNIVERSITY. Дата публикации: 2010-09-08.

Microbeam collimator and method for realizing high-resolution X-ray diffraction using the same

Номер патента: JP2004510156A. Автор: パパイアンヌ，ディミトリオス,スピノ，ジョセルイ. Владелец: ユーラトム. Дата публикации: 2004-04-02.

Photographing condition determining method for metal structure, photographing method for metal structure, phase classification method for metal structure, photographing condition determining device for metal structure, photographing device for metal structure, phase classification device for metal structure, material property estimating method for metal material, and material property estimating device for metal material

Номер патента: US12106466B2. Автор: Shin Ishikawa,Takeshi Nishiyama,Takako Yamashita,Yoshie OBATA,Naoya Kiyokane. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Component arrangement determination method

Номер патента: US09997502B2. Автор: Takuya Yamazaki,Hiroki Sagara,Isato Iwata,Hirokazu Takehara. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Determination method, determination apparatus, and computer readable medium storing determination program

Номер патента: US11521364B2. Автор: Hikari Sato,Tooru Fukuda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-12-06.

Determination method, determination apparatus, and computer readable medium storing determination program

Номер патента: US20210248405A1. Автор: Hikari Sato,Tooru Fukuda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-08-12.

Bactericidal/permeability-increasing protein: crystallization, x-ray diffraction, three-dimensional structure determination, rational drug design and

Номер патента: EP1007557A1. Автор: Stephen F. Carroll,Lesa J. Beamer,David Elsenberg. Владелец: Xoma Corp. Дата публикации: 2000-06-14.

Bactericidal/permeability-increasing protein: crystallization, x-ray diffraction, three-dimensional structure determination, rational drug design and molecular modeling of related proteins

Номер патента: WO1998058961A1. Автор: Stephen F. Carroll,Lesa J. Beamer,David Elsenberg. Владелец: Xoma Corporation. Дата публикации: 1998-12-30.

Method of producing x-ray diffraction grating

Номер патента: US3776995A. Автор: W Little. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1973-12-04.

Long wave-length X-ray diffraction crystal and method of manufacturing the same

Номер патента: US4084089A. Автор: William P. Zingaro,Albert Sicignano. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1978-04-11.

Long wave-length x-ray diffraction crystal and method of manufacturing the same

Номер патента: CA1084175A. Автор: William P. Zingaro,Albert Sicignano. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1980-08-19.

Method for Producing an XUV and X-Ray Diffractive Optic

Номер патента: US20200398509A1. Автор: Gisela SCHÜTZ,Metin Sitti,Kahraman KESKINBORA,Hakan Ceylan,Umut Tunca SANLI. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2020-12-24.

Method for producing an xuv and x-ray diffractive optic

Номер патента: WO2019170399A1. Автор: Kahraman KESKINBORA,Hakan Ceylan,Umut Tunca SANLI,DR. Metin SITTI,PROF. DR. Gisela SCHÜTZ. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V.. Дата публикации: 2019-09-12.

Methods and system for external calibration and correction of the diffraction angle theta of an x-ray diffraction imaging system using a standard reference material like polyethylene, sodium chloride or aluminium

Номер патента: WO2010059784A3. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection, Inc.. Дата публикации: 2010-08-05.

Secondary collimator for an X-ray diffraction device and X-ray diffraction device

Номер патента: DE102004014445B4. Автор: Helmut Dr. Strecker,Geoffrey Dr. Harding,Dirk Dr. Kosciesza,Stephan Olesinski. Владелец: Yxlon International Security GmbH. Дата публикации: 2006-05-18.

Tomographic energy dispersive x-ray diffraction apparatus comprising an array of detectors and associated collimators

Номер патента: EP1629267A1. Автор: Robert Cernik. Владелец: Council for the Central Laboratory of the Research Councils. Дата публикации: 2006-03-01.

Computer tomography medical imaging device incorporates an X- ray diffraction based spectrum measurement arrangement so that conclusions about tissue type can be made

Номер патента: DE10127267A1. Автор: Bjoern Heismann. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2002-12-19.

Anchor terminal determination method, information sending method, communication node, and storage medium

Номер патента: US20240089909A1. Автор: Jie Chen,Youxiong Lu,Weimin XING,Haigang HE. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Logic value determination method and logic value determination program

Номер патента: US20100205491A1. Автор: Xiaoqing Wen,Seiji Kajihara,Kohei Miyase. Владелец: Kyushu Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2010-08-12.

Elastic matrix determination method and vibration analysis method for laminate core of transformer

Номер патента: EP4383289A1. Автор: Misao Namikawa. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-06-12.

Device determining method, electronic device,and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230341543A1. Автор: Cheng Zheng,Zihan Wang,Shaopu SUN. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Threshold value determination method, threshold value determination program, threshold value determination device, photon number identification system, photon number identification method, and photon number identification processing program

Номер патента: EP4422200A1. Автор: Teruo Takahashi,Katsuhiro Nakamoto,Takafumi Higuchi,Mao Nakajima. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-08-28.

Location determination method, device, terminal device, and storage medium

Номер патента: US20240324087A1. Автор: Wenlong Wu,Jianli Ye. Владелец: Shenzhen Intellifusion Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Wireless sensing parameter determination method and apparatus and device

Номер патента: US20240353522A1. Автор: Dajie Jiang,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Wireless sensing parameter determining method and apparatus, and device

Номер патента: US20240345218A1. Автор: Dajie Jiang,Shengli DING. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Transmission power determination method and apparatus, and device

Номер патента: EP4456612A1. Автор: Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Parameter determination method, apparatus, and device for wireless sensing

Номер патента: EP4455715A1. Автор: Dajie Jiang,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Wireless sensing parameter determination method and apparatus, and device

Номер патента: EP4456595A1. Автор: Dajie Jiang,Shengli DING. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Subcarrier determining method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4456491A1. Автор: QUN ZHAO,Su Hu,Zhenyu Zhang,Yumin Wu,Yixuan Huang,Liangang Chi,Zelin HU,QiBin YE. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Color adjustment determination method and information processing apparatus

Номер патента: US20180041664A1. Автор: Yohsuke Konishi,Yoko Ishii. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-08.

Determining method and apparatus for working voltage of isolated neutral system

Номер патента: US20240241160A1. Автор: Fei Wang,Liang Shen,Hai Tao LIAN,Hui Nan MEI. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-07-18.

Transmission timing determination method and device and computer-readable storage medium

Номер патента: EP3860235A1. Автор: Feng Bi,Youxiong Lu,Weimin XING. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2021-08-04.

Jitter determination method and measurement instrument

Номер патента: US20200235830A1. Автор: Bernhard Nitsch,Adrian Ispas. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-07-23.

X-ray diffraction imaging system with signal aggregation across voxels containing objects and method of operating the same

Номер патента: EP2988117B1. Автор: Geoffrey Harding,Samit Kumar Basu,Sondre Skatter,Matthew Allen Merzbacher,Gabriel Zienert. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2018-04-11.

Rapid X-ray diffraction screening method of polymorph libraries created in multi-well plates

Номер патента: US6507636B1. Автор: Christian W. Lehmann. Владелец: STUDIENGESELLSCHAFT KOHLE MBH. Дата публикации: 2003-01-14.

Sample holder for high temperature x-ray diffraction analysis

Номер патента: KR200160944Y1. Автор: 서종현,박신화,유길열. Владелец: 재단법인포항산업과학연구원. Дата публикации: 1999-11-15.

MEASUREMENT OF CMOS DEVICE CHANNEL STRAIN BY X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20140159161A1. Автор: Bedell Stephen W.,Adam Thomas N.,MURRAY Conal E.,Holt Judson R.,Harley Eric C.,MADAN ANITA,PINTO TERESA L.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-12.

Position determining method and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240071826A1. Автор: Takanobu Ono. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Compact multi-focus x-ray source, x-ray diffraction imaging system, and method for fabricating compact multi-focus x-ray source

Номер патента: JP2010190900A. Автор: Geoffrey Harding,ハーディング ジェフリー. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-09-02.

Compact multi-focus x-ray source, x-ray diffraction imaging system, and method for fabricating compact multi-focus x-ray source

Номер патента: EP2221847A2. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-08-25.

Five-dimensional multifunctional measuring device applied to X-ray diffraction goniometer

Номер патента: CN111829592A. Автор: 刘川,王军龙,胡婷婷,张所峰. Владелец: Dandong Tongda Science And Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-10-27.

Single crystal or directional crystal detection system based on monochromatic X-ray diffraction

Номер патента: CN110608827A. Автор: 陈凯,沈昊,朱文欣,寇嘉伟. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2019-12-24.

X-RAY DIFFRACTION-BASED DEFECTIVE PIXEL CORRECTION METHOD USING AN ACTIVE PIXEL ARRAY SENSOR

Номер патента: US20150016594A1. Автор: KAERCHER Joerg,Chambers John L.. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-15.

METHOD OF CALIBRATING AN X RAY DIFFRACTION ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20170184739A1. Автор: TABARY Joachim,PAULUS Caroline,Barbes Damien. Владелец: Commissariat A L'Energie Atomique Et Aux Energies Alternatives. Дата публикации: 2017-06-29.

Device for precision recording of x-ray diffraction patterns

Номер патента: US2490674A. Автор: Charles L Christ,Champaygne Edmund Francis. Владелец: American Cyanamid Co. Дата публикации: 1949-12-06.

Semiconductor wafer placement position determination method and semiconductor epitaxial wafer production method

Номер патента: US20190172739A1. Автор: Keiichi Takanashi,Ikuhiro NAKAMURA. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Semiconductor wafer placement position determination method and semiconductor epitaxial wafer production method

Номер патента: US10903099B2. Автор: Keiichi Takanashi,Ikuhiro NAKAMURA. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2021-01-26.

Virus measuring method, virus measuring device, virus determining program,stress determining method, and stress determining device

Номер патента: US12013365B2. Автор: Masateru Taniguchi,Kohji Nishida,Makusu Tsutsui,Noriyasu Hashida. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-06-18.

Oil shales open porosity and current oil saturation determination method by the thermal analysis method

Номер патента: RU2662055C1. Автор: Антон Васильевич Глотов. Владелец: Открытое акционерное общество "Томский научно-исследовательский и проектный институт нефти и газа". Дата публикации: 2018-07-23.

Steel pipe collapse strength prediction model generation method, steel pipe collapse strength prediction method, steel pipe manufacturing characteristics determination method, and steel pipe manufacturing method

Номер патента: EP4212846A1. Автор: Takahiro SAKIMOTO,Tsunehisa Handa. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Pyridoxin qualitative and quantitative determination method

Номер патента: RU2632629C1. Автор: Ольга Сергеевна Садомцева,Виктория Викторовна Шакирова,Валерия Валерьевна Уранова,Мария Валерьевна Фадеева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Астраханский государственный университет". Дата публикации: 2017-10-06.

Non-volatile compounds content in non-aqueous media determining method

Номер патента: RU2680163C1. Автор: Татьяна Анатольевна Кучменко,Ирина Александровна Грибоедова,Дарья Александровна Порядина. Владелец: Ирина Александровна Грибоедова. Дата публикации: 2019-02-18.

Determination method of viscosity of metal materials

Номер патента: RU2646548C1. Автор: Владислав Альфредович Хотинов,Владимир Михайлович Фарбер,Ольга Николаевна Полухина,Ольга Владимировна Селиванова,Вадим Анатольевич Громов. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина". Дата публикации: 2018-03-05.

Method and system for plant stress determination and irrigation based thereon

Номер патента: EP3846611A1. Автор: David John Aughton,Dongryeol RYU,Andrew William WESTERN,Mark Francis KLEMM. Владелец: University of Melbourne. Дата публикации: 2021-07-14.

Disease type and/or condition determination method and apparatus and drug screening method and apparatus

Номер патента: US20020064882A1. Автор: Tomoya Sato. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-30.

Quantitative determination method for ratio of transparent cemented soil material for visualization model test

Номер патента: NL2035995A. Автор: Fu Jingjing,Xie Jing,Xie Peng,Li Congcong,WANG Zhijia,DUAN Huchen,Yue Zurun,Wen Haijia,Fan Zhanfeng. Владелец: Sichuan Engineering Research Center For Mechanical Properties And Engineering Tech Of Unsaturated So. Дата публикации: 2024-04-18.

Determination method of absorber carry-over during process of gas dehydration

Номер патента: RU2630558C2. Автор: Владимир Владимирович Дмитрук,Андрей Александрович Касьяненко,Елена Владимировна Ерзикова,Олег Анатольевич Курушкин. Владелец: Открытое акционерное общество "Севернефтегазпром". Дата публикации: 2017-09-11.

Method for prurigo severity prediction by blood tryptase concentration determination method

Номер патента: RU2707181C1. Автор: Зарема Римовна Хисматуллина,Екатерина Сергеевна Красильникова,Елена Станиславовна Галимова. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Башкирский государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации. Дата публикации: 2019-11-25.

Structural discrimination indexes of ordovician limestone top filling zones and determination method

Номер патента: RU2671502C2. Автор: Вэньпин ЛИ,Юньчжан ГУАНЬ,Хуэйчань ЧАЙ,Жуйсинь ЛЮ,Вэй ЦЯО,Дунсян ХУ,Цзуншэн ВАН,Цянцян ЛЮ. Владелец: Чайна Юниверсити Оф Майнинг Энд Текнолоджи. Дата публикации: 2018-11-01.

Solvents diffusion coefficient in the sheet capillary-porous materials determining method

Номер патента: RU2682837C1. Автор: Павел Серафимович Беляев,Вадим Павлович Беляев,Максим Павлович Беляев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тамбовский государственный технический университет" (ФГБОУ ВО "ТГТУ"). Дата публикации: 2019-03-21.

Method of manufacturing a substrate, substrate, device provided with a substrate, and determining method

Номер патента: US20100035021A1. Автор: Chiho Ogihara. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-02-11.

Rapid determination method for soluble sugar in Chinese chestnut kernel based on NIR

Номер патента: NL2037990A. Автор: Wu Jian,Yao Jin,Wu Xiaoyun,Wang Yifan,Yang Jinhui,Jiang Xibing,Gong Bangchu,Wu Conglian,Lai Junsheng,Hu Weiyun. Владелец: Res Inst Subtropical Forestry Chinese Academy Forestry. Дата публикации: 2024-08-23.

Recovery coefficient by static loading determining method

Номер патента: RU2685447C1. Автор: Анатолий Иванович Фурин,Надежда Юрьевна Супонина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный лесотехнический университет имени С.М. Кирова". Дата публикации: 2019-04-18.

Diffusion coefficient in sheet orthotropic capillary-porous materials determining method

Номер патента: RU2677259C1. Автор: Павел Серафимович Беляев,Вадим Павлович Беляев,Максим Павлович Беляев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тамбовский государственный технический университет" (ФГБОУ ВО "ТГТУ"). Дата публикации: 2019-01-16.

Building wall humidity conditions determining method

Номер патента: RU2674659C1. Автор: Владимир Геннадьевич Гагарин,Кирилл Павлович Зубарев,Вадим Каюмович Ахметов. Владелец: Кирилл Павлович Зубарев. Дата публикации: 2018-12-12.

Press forming crack determination method, press forming crack determination apparatus, and press forming crack determination program, and press forming crack suppressing method

Номер патента: EP4382223A1. Автор: Kentaro Sato,Yuta Kariyazaki. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-06-12.

Poor blood collection determination method, blood coagulation analysis method, and blood coagulation analysis system

Номер патента: US20240210425A1. Автор: Takeshi Suzuki,Keisuke Nishi,Yuka TABUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Reagent reaction determination method and apparatus, storage medium and test tube

Номер патента: EP4400839A1. Автор: Chia-Chen HSU,Senthil Kumar Sundaram,Shu Wu,Wu-Po Ma,Danny Sheng Wu YEUNG,Yung Ho Peter WONG,Dingge YING,Hoi Ting Janette CHU,Kevin Clark TAN,Allysson Ferreira DOMINGUES,Alex MAUND,William CHUNG-HOW. Владелец: Oxford University Suzhou Science & Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Determination method and system thereof

Номер патента: US20190293658A1. Автор: Hsiao-Chung Tsai,Chi-Chen Yang,Po-Szu GU. Владелец: PROTECTLIFE INTERNATIONAL BIOMEDICAL Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

Reagent reaction determination method and apparatus, storage medium and test tube

Номер патента: US20240280496A1. Автор: Chia-Chen HSU,Senthil Kumar Sundaram,Shu Wu,Wu-Po Ma,Danny Sheng Wu YEUNG,Yung Ho Peter WONG,Dingge YING,Hoi Ting Janette CHU,Kevin Clark TAN,Allysson Ferreira DOMINGUES,Alex MAUND,William CHUNG-HOW. Владелец: Oxford University Suzhou Science & Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Laminated block correctness determining method

Номер патента: US20240280507A1. Автор: Keita Namba. Владелец: Toyota Boshoku Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

A mesoscopic scale determination method and experimental device for visualising spontaneous combustion of the loose coal body

Номер патента: ZA202401928B. Автор: Wang Chen,Deng Jun,Zhang Yanni,SONG Jiajia,Zhao Jingyu,Yang Xiaocheng,Chang Jiaming,HANG Gai,Chi Zhaolong,Shu Chimin. Владелец: Xian Univ Of Science And Technology. Дата публикации: 2024-09-25.

Determination method

Номер патента: US12067713B2. Автор: Sho Onozawa,Sohichiro Nakamura,Ryusuke Osaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Biological substance quantitative determination method, image processing device, pathological diagnosis support system, and computer readable medium

Номер патента: US09972087B2. Автор: Naoko Furusawa,Yasuhiro Watanabe,Takeshi Isoda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-05-15.

Laser machining condition determination method and determination device

Номер патента: US20230390863A1. Автор: Kazuki Fujiwara,Koji Funami,Izuru Nakai. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Determination method for evaluating edible areca catechu l brine

Номер патента: LU500696B1. Автор: Shiping Wang,Xiaoning Kang,Jinshuang Ma,Jianbang Ji,Jiahui Dai,Wenting Dai. Владелец: Agricultural Products Processing Design Res Institute Hainan Academy Of Agricultural Sciences. Дата публикации: 2022-03-30.

Leakage determination method and plating apparatus

Номер патента: US20240247396A1. Автор: Masaki Tomita,Kentaro Yamamoto,Masaya Seki. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Threshold determination method

Номер патента: US20230419483A1. Автор: Hiroshi Ogi,Saya Shibata. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

State determining method, state imparting system, and state determining program

Номер патента: US9201055B2. Автор: Takuya Shirata,Yasuhito IDA,Yoshinori Ohnuma. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2015-12-01.

Crystal form determination method

Номер патента: EP4414689A1. Автор: Kazuhiro Takahashi,Hiroshi Satozono,Kouichiro Akiyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Position determination method, synchronization method, device, apparatus and terminal

Номер патента: US20240306109A1. Автор: PENG Wang,Haijun Zhou,Xiaoxu FENG. Владелец: Datang Gohigh Intelligent and Connected Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Precoding matrix determination method and apparatus, user equipment, base station and storage medium

Номер патента: EP4354754A1. Автор: DONG Chen,Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Ambient Illumination Intensity Determining Method and Apparatus, and Storage Medium

Номер патента: US20240233597A9. Автор: Zhengqi Zhang. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Ambient Illumination Intensity Determining Method and Apparatus, and Storage Medium

Номер патента: US20240135853A1. Автор: Zhengqi Zhang. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Transition type determination method and apparatus, and electronic device and storage medium

Номер патента: EP4155976A1. Автор: Yan Wang,Gen LI,Xiaohui SHEN,Xuchen Song,Xiaojie Jin. Владелец: ByteDance Inc. Дата публикации: 2023-03-29.

Ambient illumination intensity determining method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US12067923B2. Автор: Zhengqi Zhang. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Parameter determination method and related device

Номер патента: EP4411642A1. Автор: Dong Wang,Yingzhao LUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

File storage location determining method and apparatus, and terminal

Номер патента: US20240296144A1. Автор: Wei Zhang,Puliang Luo,Lianbo ZOU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Smart motion detection device and related determining method

Номер патента: US20200228760A1. Автор: Wen-Cheng Yen,wen-han Yao. Владелец: PrimeSensor Technology Inc. Дата публикации: 2020-07-16.

External parameter determination method and image processing device

Номер патента: US20240203091A1. Автор: Chao-Shih Huang,Jian-Wei Lee,Chen-Ju CHENG. Владелец: Acer Inc. Дата публикации: 2024-06-20.

Optical center determination method and apparatus, electronic device, and medium

Номер патента: US20240169591A1. Автор: Guozhen Wang. Владелец: Zhejiang Uniview Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

External parameter determination method and image processing device

Номер патента: EP4386675A1. Автор: Chao-Shih Huang,Jian-Wei Lee,Chen-Ju CHENG. Владелец: Acer Inc. Дата публикации: 2024-06-19.

Responding device determination method, and device and server

Номер патента: EP4398241A1. Автор: Weiming HUO,Congcong XU,Baiyang CHEN,Yirong CHEN,Hongyan XI. Владелец: Foshan Shunde Midea Electric Science and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

White balance abnormality determination method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US12039711B2. Автор: Qiong Xu,Wenping Zhang. Владелец: Zhejiang Uniview Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Determination method, authentication apparatus, and storage medium

Номер патента: US20190220586A1. Автор: Naotoshi Watanabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-07-18.

Residence time determination method and apparatus, edge computing device, and storage medium

Номер патента: AU2021240209B2. Автор: Shuai ZHANG,Xin GAN,Jiacheng Wu,Jinliang Lin,Dongliang Sun. Владелец: Sensetime International Pte Ltd. Дата публикации: 2023-07-13.

Indicator determining method and related device

Номер патента: US20210027173A1. Автор: Wei Song,Zhenwei Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-28.

Node state determination method and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4421652A1. Автор: Tao Hong,Chen Wang,Dian XIONG,Linxuan SHI. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Order information determination method and apparatus

Номер патента: MY190792A. Автор: Jiajia Li,Lei Jiao. Владелец: Advanced New Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

Alarm mining model determination method and apparatus, device and storage medium

Номер патента: EP4149059A1. Автор: SONG Zhao,Jian Chen,Lei Jiang,Ming Yi. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-03-15.

Bit determining method, memory control circuit unit and memory storage device

Номер патента: US20200034232A1. Автор: Wei Lin,Yu-Cheng Hsu,Yu-Siang Yang,An-Cheng Liu. Владелец: Phison Electronics Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Precoding matrix determination methods, user equipment, and base station

Номер патента: US20240283499A1. Автор: DONG Chen,Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Parameter determining method and related device

Номер патента: US20240276095A1. Автор: Dong Wang,Yingzhao LUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Node state determination method and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20240314041A1. Автор: Tao Hong,Chen Wang,Dian XIONG,Linxuan SHI. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Image source determination method and apparatus thereof, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4440096A1. Автор: Tianhui Huang. Владелец: Zhuhai Pantum Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Image blur degree determining method and related device thereof

Номер патента: US20240357234A1. Автор: Ning Wang,Yu Wang,Tiantian Zhang,Congchao Zhu,Zhiqi Li. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Determination method, determination program, and information processing device

Номер патента: EP4266243A1. Автор: Hidetsugu Uchida. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Image source determination method and apparatus thereof, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20240333852A1. Автор: Tianhui Huang. Владелец: Zhuhai Pantum Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Incentive determination method and program thereof

Номер патента: EP4390823A1. Автор: Kenji Nakajima,Takashi Ohno. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Subject determination method, computer program product for determining subject, and camera

Номер патента: US20120014592A1. Автор: Hiroyuki Abe. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2012-01-19.

Target determination method and apparatus, electronic device, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20220335727A1. Автор: Yanyan GAO,Xianjie XU. Владелец: Zhejiang Soterea Technology Group Ltd Co. Дата публикации: 2022-10-20.

Main beam direction determinging device, head-mounted display, main beam direction determining method, and program

Номер патента: US20180287679A1. Автор: Kazuo Miura,Katsuyoshi Onishi,Tatsuto Suetomi,Issei CHIGUSA. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2018-10-04.

Determination method, information processing apparatus, and computer-readable recording medium storing determination program

Номер патента: US20230208966A1. Автор: Jun Takahashi,Toshiyuki Yoshitake,Masayoshi Shimizu,Kentaro Tsuji,Mingxie ZHENG. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Radio control areas determination method

Номер патента: RU2656275C1. Автор: Сергей Александрович Жаворонков,Юрий Иванович Серебряков,Андрей Николаевич Ганиев,Александр Сергеевич Филенков. Владелец: Александр Сергеевич Филенков. Дата публикации: 2018-06-04.

Explosive substance charge explosion in the near zone characteristics determining method and device for its implementation

Номер патента: RU2658080C1. Автор: Александр Васильевич Вагин,Иван Михайлович Сидоров,Владимир Валентинович Колтунов,Николай Михайлович Ватутин,Артем Олегович Пизаев,Владислав Степанович Завьялов,Федор Станиславович Антропов. Владелец: Федеральное казенное предприятие "Научно-исследовательский институт "Геодезия" (ФКП "НИИ "Геодезия"). Дата публикации: 2018-06-19.

Vehicle location automatic determination method by radar reference points

Номер патента: RU2658679C1. Автор: Сергей Сергеевич Губернаторов,Виктор Викторович Афанасьев. Владелец: Виктор Викторович Афанасьев. Дата публикации: 2018-06-22.

Magnesium level and skull characteristics in the titanium reduction reactor determining method

Номер патента: RU2676845C1. Автор: Руслан Ильдусович Халилов,Петр Готлобович Фрик,Франк Стефани,Нико Краутер,Томас Гундрум,Томас Вондрак,Свен Экерт. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Математические модели сплошных сред". Дата публикации: 2019-01-11.

Internal combustion engine cylinder-piston group interface pre-seizure condition determination method

Номер патента: RU2659659C1. Автор: Лев Аронович Финкельберг. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный институт авиационного моторостроения им. П.И. Баранова". Дата публикации: 2018-07-03.

Polarization indication method and apparatus, polarization determination method and apparatus, communication apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4362557A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Two bodies misalignment device and determination method

Номер патента: RU2653771C2. Автор: ХОЛЦЛ Роланд. Владелец: ПРУФТЕХНИК Диетер Буш АГ. Дата публикации: 2018-05-14.

Arms length difference determining method in the double-beam fiber-optical interferometer

Номер патента: RU2678708C1. Автор: Артем Сергеевич Алейник,Михаил Юрьевич Плотников,Александр Юрьевич Кириеенков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации. Дата публикации: 2019-01-31.

Range determination method

Номер патента: RU2687059C1. Автор: Владимир Петрович Панов,Виктор Владимирович Приходько. Владелец: Акционерное общество "Национальное РадиоТехническое Бюро" (АО "НРТБ"). Дата публикации: 2019-05-07.

Pumping system, and also the flow rate in the pumping system determining method

Номер патента: RU2662268C2. Автор: Карстен Сковмосе КАЛЛЕСЕЕ. Владелец: Грундфос Холдинг А/С. Дата публикации: 2018-07-25.

Turbo generator plant condensation turbine operating mode determining method during its operation or bench tests

Номер патента: RU2681058C1. Автор: Георгий Валентинович Жуковский,Сергей Витальевич Котляров. Владелец: Акционерное общество "Завод "Киров-Энергомаш". Дата публикации: 2019-03-01.

Continental shelf profile determining method and apparatus based on non-delta transgression

Номер патента: US20240210592A1. Автор: Tetsuji Muto,Liming Gao,Junhui WANG,Benzhong Xian. Владелец: China University of Petroleum Beijing. Дата публикации: 2024-06-27.

Determination method and system for heterogeneity of surface soil of reclamation land in mining area

Номер патента: LU501494B1. Автор: Yingui Cao. Владелец: Univ China Geosciences Beijing. Дата публикации: 2022-08-16.

Determining method, system, reflector, vertical tank external measurement liquid level meter and mounting method thereof

Номер патента: US20240338494A1. Автор: Rui Wang,Pu Wang,Dinghua Wang. Владелец: XI'AN DINGHUA ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-10.

Management system, maintenance schedule determination method, computer program, and learned model generation method

Номер патента: EP3992602A1. Автор: Kazuya Ito. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2022-05-04.

Radio frequency sources coordinates one-position correlation relative ranging location determination method

Номер патента: RU2686373C2. Автор: Юрий Иванович Логинов,Светлана Юрьевна Портнаго. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Квадрокс". Дата публикации: 2019-04-25.

Method for three-dimensional determination of an aerial image of a measurement object with the aid of a metrology system and metrology system for carrying out the determination method

Номер патента: WO2024115173A1. Автор: Markus Koch,Renzo Capelli,Klaus Gwosch. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-06-06.

Bending angle determining method and determining device

Номер патента: US20240233161A1. Автор: Kazuma Harada,Yasushi IDOMOTO. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Error model determination method and apparatus, electronic device, computer readable storage medium, and computer program product

Номер патента: EP4394450A1. Автор: Jinglan SU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Power supply mode determination method and apparatus, and transmission control system and electronic device

Номер патента: ZA202309783B. Автор: Wei Guo,Yu Wang,Zhibo Chen,Xueming Li,Weiwei GAN,Changyou Wu,Xingyuan Liang. Владелец: Zhuzhou CRRC Times Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Reusability determination method for gear and reusability determination system for gear

Номер патента: US12007299B2. Автор: Masao Hayakawa,Susumu Meguro,Yoshitaka Matsushita,Tomohisa Kanazawa,Mitsuhiro Yoshimoto,Norihito Hata,Takanobu HIROTO. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2024-06-11.

Bending angle determining method and determining device

Номер патента: CA3219452A1. Автор: Kazuma Harada,Yasushi IDOMOTO. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Angle determination method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240176009A1. Автор: Guangjun QIAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Measurement point determination method, non-transitory storage medium, and measurement point determination apparatus

Номер патента: US20200072591A1. Автор: Masayuki Nara,Takeshi Hagino,Yuto Inoue. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-03-05.

Interference point determining method and apparatus, storage medium, and multi-channel lidar

Номер патента: EP4206728A1. Автор: Yan Song. Владелец: Suteng Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Interference point determining method and apparatus, storage medium, and multi-channel lidar

Номер патента: US20230215089A1. Автор: Yan Song. Владелец: Suteng Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-06.

Reusability Determination Method for Gear and Reusability Determination System for Gear

Номер патента: US20220326114A1. Автор: Masao Hayakawa,Susumu Meguro,Yoshitaka Matsushita,Tomohisa Kanazawa,Mitsuhiro Yoshimoto,Norihito Hata,Takanobu HIROTO. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2022-10-13.

Angle determination method and apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4375692A1. Автор: Guangjun QIAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Determination method and apparatus of main shaft bearing state, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20240264040A1. Автор: LI Ye,YU Cui,Qing Li,Yu Gong,Xuan Liu,Huan LIU,Yunyun Chen,Jun Pei,Wenxing Hu,Jialiang YU,Xiaobo Qiu,Bo Wan,Mingxuan YANG,Yaxiong YU,Zhijia Zhai,Kaiwei XU,Weiwei Peng,Hanqiu YAN,Yequan LIANG,Shusheng LUO. Владелец: Csg Power Generation Co Ltd Maintenance And Test Co. Дата публикации: 2024-08-08.

Gear reusability determination method and gear reusability determination system

Номер патента: EP4083595A1. Автор: Masao Hayakawa,Susumu Meguro,Yoshitaka Matsushita,Tomohisa Kanazawa,Mitsuhiro Yoshimoto,Norihito Hata,Takanobu HIROTO. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2022-11-02.

Added value determining method for circulation cooling type initial cooling of superconducting device

Номер патента: US20240274337A1. Автор: Izuru YOKOYA. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Added value determining method for circulation cooling type initial cooling of superconducting device

Номер патента: EP4422382A1. Автор: Izuru YOKOYA. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Interference determination method and interference determination device for machine tool

Номер патента: US09873175B2. Автор: Tadashi Kasahara. Владелец: Makino Milling Machine Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Determination method of value of space charge of clouds

Номер патента: RU2642830C1. Автор: Владимир Михайлович Чекрыжов,Сергей Владимирович Козлов,Павел Николаевич Свиркунов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Научно-производственное объединение "Тайфун". Дата публикации: 2018-01-29.

Motor slip determination method

Номер патента: RU2624986C1. Автор: Сергей Николаевич Литвинов,Андрей Александрович Скоробогатов,Александр Станиславович Страхов,Евгений Михайлович Новоселов,Александр Николаевич Назарычев. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ивановский государственный энергетический университет имени В.И. Ленина" (ИГЭУ). Дата публикации: 2017-07-11.

Mobile objects coordinates and axes position angles determining method by means of installed on objects and observation points atomic clocks

Номер патента: RU2678371C2. Автор: Валерий Дмитриевич Федорищев,Дмитрий Валериевич Федорищев. Владелец: Валерий Дмитриевич Федорищев. Дата публикации: 2019-01-28.

Strip shape determining apparatus for metal strip, rolling mill, and determination method

Номер патента: EP4231232A1. Автор: Shinya Kanemori,Chitoshi Mochizuki. Владелец: Primetals Technologies Japan Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Abnormality Determination Method, Abnormality Determination Device, And Abnormality Determination System

Номер патента: US20220307946A1. Автор: Kenta Sato. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Abnormality determination method, abnormality determination device, and abnormality determination system

Номер патента: US11885721B2. Автор: Kenta Sato. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-01-30.

Flowmeter failure determination method and hydrogen filling device

Номер патента: AU2021293617B2. Автор: Toshio Tezuka,Shinji Oshima,Ai Minoda,Tadashi Seike. Владелец: Eneos Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Flowmeter failure determination method and hydrogen filling device

Номер патента: EP4170223A1. Автор: Toshio Tezuka,Shinji Oshima,Ai Minoda,Tadashi Seike. Владелец: Eneos Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Flowmeter failure determination method and hydrogen filling apparatus

Номер патента: US20230235858A1. Автор: Toshio Tezuka,Shinji Oshima,Ai Minoda,Tadashi Seike. Владелец: Eneos Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Gripping determination system and gripping determination method

Номер патента: US20240182104A1. Автор: Yuki Yamazaki,Yousuke KATO. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-06-06.

Charging connector connection determining method and charging connector connection determining apparatus

Номер патента: US11780347B2. Автор: Takahiro Ueki. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

State of charge determination method and apparatus for battery system

Номер патента: US20240077537A1. Автор: Kui Li,Fangfang Pan,Qiang YUN,Ruijun Ma. Владелец: CALB Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Terminal insertion defect determining method

Номер патента: US20110184682A1. Автор: Akinori Oishi. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2011-07-28.

Dual ultrasonic transducer probe for blood flow measurement, and blood vessel diameter determination method

Номер патента: EP1131002A1. Автор: Eli Levy,Dan Manor,Roni Bibi. Владелец: Biosonix Ltd. Дата публикации: 2001-09-12.

Dual ultrasonic transducer probe for blood flow measurement, and blood vessel diameter determination method

Номер патента: WO2000028899A1. Автор: Eli Levy,Dan Manor,Roni Bibi. Владелец: Biosonix Ltd.. Дата публикации: 2000-05-25.

Determining method and apparatus for obstacles around the parking path and surrounding using ultrasonic waves

Номер патента: EP4191281A1. Автор: Kang Hee KIM. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-07.

Determining method and apparatus for obstacles around the parking path and surrounding using ultrasonic waves

Номер патента: US20230168374A1. Автор: Kang Hee KIM. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Navigation route determining method and related apparatus

Номер патента: US20100286902A1. Автор: Tao Zhang. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2010-11-11.

Determining method and apparatus for obstacles around the parking path and surrounding using ultrasonic waves

Номер патента: US12072415B2. Автор: Kang Hee KIM. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Robot pose determination method and apparatus and robot using the same

Номер патента: US20210060802A1. Автор: Yongsheng Zhao,Youjun Xiong,Zhichao Liu. Владелец: Ubtech Robotics Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Method and apparatus for obtaining parallel x-ray beam and x-ray diffraction apparatus related thereto

Номер патента: EP1403882A3. Автор: Go Fujinawa,Hitoshi Okanda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2004-06-16.

X-ray diffraction and imaging software and computer-implemented systems

Номер патента: US20230122469A1. Автор: Guichuan Yu,Javier Garcia Barriocanal. Владелец: University of Minnesota. Дата публикации: 2023-04-20.

High aspect-ratio X-ray diffractive structure stabilization methods and systems

Номер патента: US7864426B2. Автор: Yan Feng,Alan Francis Lyon,Wenbing Yun. Владелец: Xradia Inc. Дата публикации: 2011-01-04.

A method of producing x-ray diffracting gratings

Номер патента: DE3068298D1. Автор: Dale C Flanders. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 1984-07-26.

Bactericidal/permeability-increasing protein: crystallization, x-ray diffraction, three-dimensional structure determination, rational drug design and molecular modeling of related proteins

Номер патента: AU8472298A. Автор: Stephen F. Carroll,Lesa J. Beamer,David Elsenberg. Владелец: Xoma Corp. Дата публикации: 1999-01-04.

Method of Manufacture of X-Ray Diffraction Gratings

Номер патента: US20130335825A1. Автор: Abbamonte Peter,MacLaren Scott. Владелец: The Board of Trustees of the University of Illinois. Дата публикации: 2013-12-19.

X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM WITH SIGNAL AGGREGATION ACROSS VOXELS CONTAINING OBJECTS AND METHOD OF OPERATING THE SAME

Номер патента: US20160055390A1. Автор: Harding Geoffrey,Basu Samit Kumar,Zienert Gabriel,Skatter Sondre,Merzbacher Matthew Allen. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-25.

Method for Producing an XUV and X-Ray Diffractive Optic

Номер патента: US20200398509A1. Автор: Sitti Metin,SANLI Umut Tunca,CEYLAN Hakan,SCHÜTZ Gisela,KESKINBORA Kahraman. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

X-ray diffraction device, object imaging system, and method for operating a security system

Номер патента: US20100226478A1. Автор: Geoffrey Harding,Stephan Olesinski,Dirk Kosciesza,Helmut Rudolf STRECKER,Jeffrey Seymour Gordon. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-09-09.

X-ray diffraction device, object imaging system, and method for operating a security system

Номер патента: US7813477B2. Автор: Geoffrey Harding,Stephan Olesinski,Dirk Kosciesza,Helmut Rudolf STRECKER,Jeffrey Seymour Gordon. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-10-12.

LONG WAVELENGTH X-RAY DIFFRACTION CRYSTAL, AND METHOD FOR THE MANUFACTURE OF SUCH A CRYSTAL

Номер патента: FR2374654A1. Автор: . Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1978-07-13.

Determining method for bursting-preventing parameter of roadway support for rock burst in coal mine, and system thereof

Номер патента: US11761335B1. Автор: Jun Liu,Yishan PAN,Lianpeng Dai,Aiwen Wang. Владелец: Liaoning University. Дата публикации: 2023-09-19.

System and method for camera-based stress determination

Номер патента: US20230008293A1. Автор: Kang Lee,Pu Zheng,Si Wu. Владелец: Nuralogix Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

System and method for camera-based stress determination

Номер патента: CA3079625C. Автор: Kang Lee,Pu Zheng,Si Wu. Владелец: Nuralogix Corp. Дата публикации: 2023-12-12.

System and method for camera-based stress determination

Номер патента: US11857323B2. Автор: Kang Lee,Pu Zheng,Si Wu. Владелец: Nuralogix Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Determination method of contour lines of aircraft carrier with fore end airplane jumper

Номер патента: RU2693112C1. Автор: Петр Геннадьевич Тенишев,Максим Владимирович Маковецкий. Владелец: Публичное акционерное общество "Невское проектно-конструкторское бюро" (ПАО "Невское ПКБ"). Дата публикации: 2019-07-01.

Encoding mode determining method and device, the audio signals encoding method and device and the audio signals decoding method and device

Номер патента: RU2680352C1. Автор: Антон Викторович Поров,Константин Сергеевич Осипов,Ки-Хиун ЧОО,Нам-сук ЛИ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2019-02-19.

Determination method of protection operating time of conductive contact joints of switching devices from overheat

Номер патента: RU2635385C1. Автор: Валерий Павлович Шерышев,Андрей Анатольевич Болтенков,Ерлан Алиаскарович Сарсенбаев,Максим Владимирович Селиверстов,Амангельды Бекбаев. Владелец: Андрей Анатольевич Болтенков. Дата публикации: 2017-11-13.

Information bit determination method and mapping generation method based on polar coding and modulation, and device

Номер патента: EP4293917A1. Автор: Yifei Yuan,Sen Wang,Kai Niu,Jinsheng DAI,Bolin WU. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2023-12-20.

Context-aware model generating method and important event determining method in e-sports game, and in-game context management server performing the same methods

Номер патента: US20230233945A1. Автор: Seong Il YANG,Sang Kwang Lee. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-07-27.

Control information configuration method and apparatus, control information content determining method and apparatus, and related electronic device

Номер патента: US20230055387A1. Автор: Gen LI,Siqi LIU,Zichao JI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Information indication method, information determining method, carrier frequency information determining method, communication node, terminal, and medium

Номер патента: EP4145743A1. Автор: Bo Gao,Zhaohua Lu,Chuangxin JIANG,Ke YAO,Shujuan Zhang,Meng MEI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-03-08.

Information indication method, information determining method, communication node, terminal, and medium

Номер патента: US20230171065A1. Автор: Bo Gao,Zhaohua Lu,Chuangxin JIANG,Ke YAO,Shujuan Zhang,Meng MEI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Information bit determination method and mapping generation method for polar-coded modulation, and device

Номер патента: US20240146334A1. Автор: Yifei Yuan,Sen Wang,Kai Niu,Jinsheng DAI,Bolin WU. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-05-02.

Information element processing method and apparatus, quasi-colocation information obtaining method and apparatus, and information determining method and apparatus

Номер патента: US20240284459A1. Автор: Hao Wu,Zhen He,Bo Gao,Zhaohua Lu,Yu Ngok Li,Chuangxin JIANG,Shujuan Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Information element processing method and apparatus, quasi-colocation information obtaining method and apparatus, and information determining method and apparatus

Номер патента: EP4380078A3. Автор: Hao Wu,Zhen He,Bo Gao,Zhaohua Lu,Yu Ngok Li,Chuangxin JIANG,Shujuan Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Uplink transmission information determining method, uplink transmission method, and uplink transmission configuration method

Номер патента: US20240284411A1. Автор: Gen LI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Uplink transmission information determination method, uplink transmission method and uplink transmission configuration method

Номер патента: EP4429360A1. Автор: Gen LI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Information determination method and device, information adjustment method, threshold usage method, terminal, and storage medium

Номер патента: US12095706B2. Автор: Peng Hao,Jing Shi,Yu Ngok Li,Xianghui HAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Indication method and determination method for nominal packet padding value, and communication apparatus

Номер патента: AU2024204378A1. Автор: Jian Yu,Ming GAN,Chenchen LIU,Mengshi HU,Ju CAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Pdcch resource configuration method, pdcch resource determining method, network device and user equipment

Номер патента: US20200245332A1. Автор: Xueming PAN,Xiaodong Shen,Zichao JI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-30.

Pdcch resource configuration method, pdcch resource determining method, network device and user equipment

Номер патента: US20210377953A1. Автор: Xueming PAN,Xiaodong Shen,Zichao JI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-02.

Quality of service characteristic parameter determining method and apparatus, data sending method and apparatus, and device

Номер патента: US20240214866A1. Автор: Dajie Jiang,Jianzhi Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Resource determination method, resource configuration method, terminal, and network device

Номер патента: EP4061083A1. Автор: Xueming PAN,NA Li,Xiaodong Shen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-21.

Model training method, apparatus, and device, and data similarity determining method, apparatus, and device

Номер патента: SG11201907257SA. Автор: Nan Jiang,Hongwei Zhao. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2019-09-27.

Channel determination methods, channel transmission methods, electronic devices, and storage mediums

Номер патента: EP4243311A1. Автор: Jing Xu,Yanan Lin. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-13.

Paging carrier determination method and apparatus, paging carrier paging method and apparatus, storage medium, terminal and base station

Номер патента: EP4192161A1. Автор: Zhenzhu LEI. Владелец: Spreadtrum Semiconductor Nanjing Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-07.

Resource indication method, resource determination method, apparatus, network side device, and terminal

Номер патента: EP4002938A1. Автор: Xiaodong Xu,Tuo YANG. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2022-05-25.

Information determination method and device, receiving method and device, communication node, and storage medium

Номер патента: EP4102747A1. Автор: YU PAN,Zhen He,Bo Gao,Zhaohua Lu,Chuangxin JIANG,Ke YAO,Shujuan Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-12-14.

Parameter determination method and device for spread spectrum circuit, and clock spread spectrum method and device

Номер патента: US20210242874A1. Автор: Liming Xiu,Xiangye Wei,Yuhai Ma,Yiming Bai. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-05.

Resource attribute configuration method, resource attribute determination method, communication node and storage medium

Номер патента: EP4319247A1. Автор: Ting Miao,Feng Bi,Youxiong Lu,Weimin XING. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

Data transmission method and apparatus, information determination method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US12048046B2. Автор: Bo Dai,Xu Liu,Xiubin Sha,Ting Lu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Codebook determination method and apparatus, codebook reception method and apparatus, terminal, and network-side device

Номер патента: US20240032033A1. Автор: Chaojun ZENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Information indicating method, information determining method, terminal and base station

Номер патента: US11985610B2. Автор: REN Da,Zheng Zhao,Bin Ren,Fangchen Cheng. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Quality of service characteristic parameter determining method, data sending method, apparatus, and device

Номер патента: US20240205733A1. Автор: Dajie Jiang,Jianzhi Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Resource configuration method, resource determining method, network side device and terminal

Номер патента: US12058684B2. Автор: NA Li,Xiaodong Shen,Zhi Lu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Harq-ack feedback mode determining method, harq-ack feedback mode configuration method, and device

Номер патента: US20230016851A1. Автор: Xueming PAN,NA Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Resource determination method, resource indication method, and device

Номер патента: EP4138484A1. Автор: Gen LI,Siqi LIU,Zichao JI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-22.

Determination method for uplink/downlink transmission configuration, uplink/downlink transmission configuration method, and device

Номер патента: AU2019221922A1. Автор: Xiaodong Xu,Yuhong Huang,Liang Xia,Guangyi Liu,Lijie Hu,Xueying Hou. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2020-09-17.

Determination method for uplink/downlink transmission configuration, uplink/downlink transmission configuration method, and device

Номер патента: AU2019221922B2. Автор: Xiaodong Xu,Yuhong Huang,Liang Xia,Guangyi Liu,Lijie Hu,Xueying Hou. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2021-10-07.

Resource determining method, resource configuration method, terminal, and network device

Номер патента: US20220264606A1. Автор: Xueming PAN,NA Li,Xiaodong Shen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-18.

Quality of service feature parameter determination method and apparatus, data sending method and apparatus, and device

Номер патента: EP4401461A1. Автор: Dajie Jiang,Jianzhi Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Model generation method and apparatus, image perspective determining method and apparatus, device, and medium

Номер патента: EP4131145A1. Автор: Yanli Li,Dongdong Liu. Владелец: Beijing Jingdong Qianshi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Method for training decision-making model parameter, decision determination method, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230032324A1. Автор: Hao Tian,Fan Wang,Hua Wu,Haifeng Wang,Jingzhou HE,Haoyi Xiong. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Information determination method and signal receiving method and apparatus

Номер патента: US20240276259A1. Автор: Zhen He,Bo Gao,Zhaohua Lu,Yu Ngok Li,Chuangxin JIANG,Wenjun Yan,Shujuan Zhang,Huahua Xiao. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Beam configuration method, beam determination method, base station, signal transfer device, and storage medium

Номер патента: EP4408060A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Combinatorial number processing method, sequence determination method and apparatus, and device and storage medium

Номер патента: US20240236952A1. Автор: Yang Song,Qianyao REN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Transmission parameter determining method, resource determining method, device, and storage medium

Номер патента: US20240323949A1. Автор: Yang Song,Rongrong SUN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Combinatorial number processing method and apparatus, sequence determination method and apparatus, and device and storage medium

Номер патента: EP4412302A1. Автор: Yang Song,Qianyao REN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Transmission parameter determination method and device, resource determination method and device, and storage medium

Номер патента: EP4429347A1. Автор: Yang Song,Rongrong SUN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Carbon emission spatial mapping method, density spatial distribution determination method and device

Номер патента: LU500851B1. Автор: Heli Lu,Guifang Liu. Владелец: Univ Henan. Дата публикации: 2022-05-12.

Text quantum circuit determination method, text classification method, and related apparatus

Номер патента: EP4418140A1. Автор: Yuan Fang,Lei Li,Menghan DOU,Xiaofei KONG. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

Random access resource determination method, random access method, communication node, and medium

Номер патента: EP4451765A1. Автор: Bo Dai,Li Niu,Xiubin Sha,Ting Lu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Wake-up signal resource determining method and apparatus, wake-up signal resource configuration method and apparatus, terminal, and base station

Номер патента: US20240334335A1. Автор: Zhengang Pan,Xinghang GAO,Huayu Zhou,Dawei Ma. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Wake-up signal resource determining method and apparatus, wake-up signal resource configuration method and apparatus, terminal, and base station

Номер патента: US12041548B2. Автор: Zhengang Pan,Xinghang GAO,Huayu Zhou,Dawei Ma. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Base station, terminal device, control channel allocation method and area size determination method

Номер патента: RU2501185C2. Автор: Такаси ДАТЕКИ,Акира ИТО. Владелец: Фудзицу Лимитед. Дата публикации: 2013-12-10.

Ion current density onto the contacting with plasma wall determining method and device for its implementation

Номер патента: RU2660465C2. Автор: Валентин Анатольевич Рябый,Павел Евгеньевич Машеров,Артур Федорович Пискунков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет) (МАИ). Дата публикации: 2018-07-06.

Carrier determination method, carrier determination apparatus and storage medium

Номер патента: EP4398648A1. Автор: Qin MU,Xuemei QIAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Resource determining method and apparatus

Номер патента: EP4340507A3. Автор: Ruiqi ZHANG,Xueru Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Determination method, exposure method, method of manufacturing article, information processing apparatus, and exposure apparatus

Номер патента: US20240176250A1. Автор: Atsushi Takagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

Power quality grade determination method and apparatus in power grid, device and storage medium

Номер патента: EP4064496A1. Автор: Tao Jin,Gang Yu,Bing Luo,Wenzhao ZHOU,Yunzhi Lin,Baoxin DOU,Yonglie XU. Владелец: China Railway Electrification Engineering Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-28.

Device wake-up method, apparatus and system, and night watch device determination method and apparatus

Номер патента: EP4017134A1. Автор: Zhengquan Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-22.

Discontinuous reception determining method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: EP4297492A1. Автор: Xiaowei Jiang. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Power determining method, single-sided multilayer optical disk, recording method, computer program product, computer-readable medium, and optical disk apparatus

Номер патента: WO2007043210A1. Автор: Masaki Kato,Michiaki Shinotsuka,Masaru Shinkai,Katsuyuki Yamada,Hiroyoshi Sekiguchi,Eiko Hibino. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2007-04-19.

Content determining method and apparatus for intelligent device

Номер патента: EP3403389A1. Автор: LI ZHANG,Tang Tang,Rui WU,Zhenbo Luo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-11-21.

Carelessness determination method based on analysis of driver's biological state, and smart cruise control association system and method using the same

Номер патента: US11970182B2. Автор: Young Min Jang,Tae Yoon SON. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Initial bit rate determining method and apparatus, electronic device and storage medium

Номер патента: EP4047937A1. Автор: Chao Zhou,Yuxin Liu. Владелец: Beijing Dajia Internet Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-24.

Ecp timeslot determination method, user equipment, and network side device

Номер патента: EP4404661A1. Автор: Junwei Wang. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Production specification determination method, production method, and production specification determination device for metal material

Номер патента: EP3912740A1. Автор: Yukio Takashima,Noriki Fujita. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

Production specification determination method, production method, and production specification determination apparatus for metal material

Номер патента: US20220072593A1. Автор: Yukio Takashima,Noriki Fujita. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Power determining method, single-sided multilayer optical disk, recording method, computer program product, computer-readable medium, and optical disk apparatus

Номер патента: EP1929475A1. Автор: Masaki Kato,Michiaki Shinotsuka,Masaru Shinkai,Katsuyuki Yamada,Hiroyoshi Sekiguchi,Eiko Hibino. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2008-06-11.

Pollution emission determination method and apparatus based on digital watershed space-time model

Номер патента: US20240232456A1. Автор: Chen Zhao,Cao Liu,Wei Li,Hua Jiang,Xiaolin Hou,Xiaoguang Li,Guowen Li,Haisheng LI,Jiaqian Li,Caole LI,Lieyu Zhang,Jianglong CUI,Wensi Wang. Владелец: CHINESE RESEARCH ACADEMY OF ENVIRONMENTAL SCIENCES. Дата публикации: 2024-07-11.

Code coverage rate determination method and system

Номер патента: EP2815319A1. Автор: Qi Zhou,Hua Cai,Tingtao SUN. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2014-12-24.

Code coverage rate determination method and system

Номер патента: WO2013122876A1. Автор: Qi Zhou,Hua Cai,Tingtao SUN. Владелец: ALIBABA GROUP HOLDING LIMITED. Дата публикации: 2013-08-22.

Bandwidth part determination method and apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4426031A1. Автор: Qin MU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Hot live video determining method and device

Номер патента: US10841633B2. Автор: Shen Zhang,Jie Xiong,Qikun WEI,Qiujie FU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-17.

Hot live video determining method and device

Номер патента: US20190110093A1. Автор: Shen Zhang,Jie Xiong,Qikun WEI,Qiujie FU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-11.

Communication connection determination method, communication connection determination device and sensor system

Номер патента: US20240275512A1. Автор: Kenichi Matsunaga,Kento WATANABE. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Production specification determination method, production method, and production specification determination apparatus for metal material

Номер патента: US12083568B2. Автор: Yukio Takashima,Noriki Fujita. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Pei detection method and apparatus, receiving time determining method and apparatus, device and medium

Номер патента: EP4429300A1. Автор: Kai Wu,Xiaodong Shen,Dongru Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Laminated block correctness determining method

Номер патента: US20240289942A1. Автор: Hiroyuki Saiki,Yasunori Sakurai. Владелец: Toyota Boshoku Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Desynchronized base station determination method and server

Номер патента: EP4432741A1. Автор: Ding Ding. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Information determining method and apparatus

Номер патента: US20200111146A1. Автор: Nengneng JIANG. Владелец: Beijing Xiaodu Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-09.

Ffr determination method and apparatus based on multi-modal medical image, device, and medium

Номер патента: EP4403092A1. Автор: Li Ling,Xun Liu,Yingguang LI. Владелец: Suzhou Pulse Rongying Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Threshold determination method and device for contention-free random access (cfra), storage medium, and apparatus

Номер патента: EP4447578A1. Автор: Yumin Wu,Xiaofei Liu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Uplink coordinated trp determination method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240348397A1. Автор: Xueyuan Gao. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Ffr determination method and apparatus based on multi-modal medical image, device, and medium

Номер патента: US20240320831A1. Автор: Li Ling,Xun Liu,Yingguang LI. Владелец: Suzhou Pulse Rongying Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Pathloss reference signal determining method and related apparatus

Номер патента: US20240357513A1. Автор: Hong Li,LI ZHANG,Jing HAN,Zhongyi SHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Path loss reference signal determining method and related apparatus

Номер патента: EP4443798A1. Автор: Hong Li,LI ZHANG,Jing HAN,Zhongyi SHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Deterioration condition determination method and deterioration condition determination device

Номер патента: EP4407544A1. Автор: Taku Yamamoto,Akira Moriguchi. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2024-07-31.

Prediction value determination method, encoder and computer storage medium

Номер патента: US12052425B2. Автор: Fan Liang,Jun Wang,Heng Zhang. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2024-07-30.

Image processing device and method, printing system, halftone process determination method, and program

Номер патента: US09860423B2. Автор: Kimito Katsuyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Wireless resource utilization rate determination method and apparatus, electronic device and storage medium

Номер патента: EP4380222A1. Автор: Yi Li,TIAN Xiao,Fei Li,Yuwei Jia,Guanghai Liu,Yuting Zheng,Yuchao JIN,Xiaomeng ZHU,Yongbei XUE,Xinzhou CHENG. Владелец: China United Network Communications Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Clock frequency determining method and apparatus

Номер патента: US20240137199A1. Автор: JIANJUN WU,Wenliang LIANG,Enbo Wang,Ganghua Yang,Haihua Shen. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Collided position determination method, computer-readable storage medium, and robot

Номер патента: US20240215788A1. Автор: Yongsheng Zhao,Simin Zhang,Jiahao JI,Jichao Jiao. Владелец: Ubtech Robotics Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Transmission path determination method and apparatus

Номер патента: EP4280676A1. Автор: Yishan Xu,Hualin ZHU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Enterprise activation degree determining method and apparatus, electronic device and storage medium

Номер патента: US20240232908A1. Автор: Chen Zhao,Cao Liu,Wei Li,Xiaolin Hou,Xiaoguang Li,Guowen Li,Jiaqian Li,Caole LI,Lieyu Zhang,Jianglong CUI,Yijun Bao,Wensi Wang. Владелец: CHINESE RESEARCH ACADEMY OF ENVIRONMENTAL SCIENCES. Дата публикации: 2024-07-11.

Logistics routing network determination method and apparatus, and electronic device

Номер патента: EP4394669A1. Автор: LIANG YAN,JING Jiang,Shengnan Wu,Xiaolong Su,Xiaotian ZHUANG. Владелец: Beijing Jingdong Zhenshi Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Competition window size determination method and related product

Номер патента: US12022508B2. Автор: Zuomin Wu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2024-06-25.

Video definition grade determining method and apparatus, server, storage medium and system

Номер патента: US20240236395A9. Автор: Bin Wang,Bing Yan,Xiaocheng Li. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Resource determination method, and terminal device and network device

Номер патента: EP4247075A1. Автор: Weijie XU,Chuanfeng He. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-20.

Aqueous composition sensorial impact determination method, aqueous composition ingredient quantity determination method and corresponding systems

Номер патента: US20240185962A1. Автор: Wolfgang FIEBER,Resti MAGTOTO. Владелец: FIRMENICH SA. Дата публикации: 2024-06-06.

Scheduling timing determination method, terminal and network side device

Номер патента: EP3927059A1. Автор: Lei Wang. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-22.

Scheduling timing determination method, terminal and network side device

Номер патента: US20220046655A1. Автор: Lei Wang. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-10.

Constellation-based distributed collaborative remote sensing determination method and apparatus, storage medium and satellite

Номер патента: EP4390860A1. Автор: Lin Hu,Ting Zhang,Kun Fu,Zhirui Wang,Xian Sun,Kaiqiang Chen,Liangjin ZHAO,Peirui CHENG,Shujing DUAN. Владелец: Aerospace Information Research Institute of CAS. Дата публикации: 2024-06-26.

Transmission parameter determination method, terminal device, and network device

Номер патента: US20220386360A1. Автор: Jing Xu,Bin Liang. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2022-12-01.

Transmission parameter determination method, terminal device, and network device

Номер патента: EP4102754A1. Автор: Jing Xu,Bin Liang. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2022-12-14.

Transmission resource determining method and apparatus, and terminal device

Номер патента: US12016026B2. Автор: Weijie XU. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2024-06-18.

Multicast feedback resource determination method and apparatus, storage medium and user equipment

Номер патента: EP3998798A1. Автор: Yun Deng. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-18.

Address similarity determining method, device and computer equipment

Номер патента: CA3164883A1. Автор: Jixuan Wang,Yiyang Hou. Владелец: 10353744 Canada Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

Resource determination method and apparatus, and communication device

Номер патента: EP4280737A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Sidelink resource determining method and apparatus, terminal, and storage medium

Номер патента: EP4383871A1. Автор: Yuming Yang,Siqi LIU,Shuyan PENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Tbs determining method and apparatus

Номер патента: CA3135514C. Автор: Lei GUAN,Jiafeng SHAO,Jinhuan Xia,Hongjian YANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Parameter determining method, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240223747A1. Автор: Tao Hong,JING Yu,Jing Liu,Chunmiao Zhou,Sen Ma,Jinye Zhu,Tianyang HAN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Image-based pose determination method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US12026910B2. Автор: Qian Zhang,Wei SUI,Hongmei Zhu. Владелец: Beijing Horizon Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Dimension tolerance determining method and dimension tolerance determination system thereof

Номер патента: US20210294313A1. Автор: Jhong-Yi Lin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-23.

Waiting duration determination method and apparatus

Номер патента: US20240014895A1. Автор: Zhenzhu LEI. Владелец: Spreadtrum Semiconductor Nanjing Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Resource determining method, apparatus, device, medium, and product

Номер патента: AU2022381586A1. Автор: Kun Liu,Bo Dai,Youjun HU,Wenfeng Liu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Behavior determining method and apparatus, and related device

Номер патента: US20240244631A1. Автор: Rakesh Tamrakar,HAO LIU,Peng Sun,Zhi Lu,Gen LI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Communication resource determining method and communication apparatus

Номер патента: US20240215058A1. Автор: Long Yu,Jing Tu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Random access resource determining method, terminal, and network device

Номер патента: US12041654B2. Автор: YU Ding,Kai Wu,Siqi LIU,Zichao JI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Resource determining method and apparatus

Номер патента: US20240205886A1. Автор: Lei Lu,Ting Wang,Hongjia SU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Resource information determining method and device, storage medium, and user equipment

Номер патента: EP3860270A1. Автор: Zhengang Pan,Huayu Zhou,Xingya SHEN. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-04.

Resource information determining method and device, storage medium, and user equipment

Номер патента: US11974240B2. Автор: Zhengang Pan,Huayu Zhou,Xingya SHEN. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Video bit rate determining method and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4007285A1. Автор: Chao Zhou. Владелец: Beijing Dajia Internet Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Image quality determination method, apparatus, and system

Номер патента: CA3140466A1. Автор: Yuan Wang,Yuliang Li. Владелец: 10353744 Canada Ltd. Дата публикации: 2022-05-25.

Interference determination method and apparatus

Номер патента: EP4401490A1. Автор: Zhou Xu,Liwen Zhang,Shuangshuang JU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Failure determination method and transmission device

Номер патента: US20170155568A1. Автор: Masakatsu Koyanagi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-06-01.

HARQ-ACK codebook determination method and apparatus, terminal, and storage medium

Номер патента: US12028165B2. Автор: Peng Hao,Min Ren,Wei Gou,Chenchen Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Candidate motion information list determination method and apparatus, and electronic device and storage medium

Номер патента: EP4114004A1. Автор: Ye Hu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-04.

Terminal transmitter state determination method, system, base station and terminal

Номер патента: US20240179772A1. Автор: FANG Nan,Xin Zhang,Jianchi Zhu,Xiaoming She,Guiqing Liu. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Transmission direction determination method and apparatus, terminal, and network side device

Номер патента: EP4319397A1. Автор: Xueming PAN,NA Li,Kai Wu,Xiaodong Shen,Gen LI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Subframe position determination method and apparatus, storage medium, and electronic apparatus

Номер патента: EP3952545A1. Автор: Huben Han. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Resource determination method and apparatus, and terminal and readable storage medium

Номер патента: EP4408099A1. Автор: NA Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Resource determination method and apparatus

Номер патента: US20220386300A1. Автор: Xuejuan Gao. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-01.

Transmit power determining method and apparatus

Номер патента: US20230354219A1. Автор: Mao Yan,Yawei Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Information determination method and apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4283902A1. Автор: Lei Wang,Yanping Xing. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Time parameter determination method, device, and storage medium

Номер патента: EP4404647A1. Автор: Jie Chen,Ting Miao,Feng Bi,Youxiong Lu,Weimin XING. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-24.

Focusing position determining apparatus, imaging apparatus and focusing position determining method

Номер патента: US20100054722A1. Автор: Toshiyuki Tanaka,Tsuyoshi Moriya,Toshihiro Hamamura,Yuki Endo,Naoki Takafuji. Владелец: Samsung Digital Imaging Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-04.

Beam determination method and device during data transmission, storage medium, ue, and base station

Номер патента: US20230170978A1. Автор: Xinghang GAO. Владелец: Beijing Ziguang Zhanrui Communication Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Mobile-terminal-based time zone determination method and mobile terminal

Номер патента: US20170257815A1. Автор: Tiancheng Tong. Владелец: Lemobile Information Technology (Beijing) Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-07.

Authenticity determination method, apparatus and program

Номер патента: US20070122022A1. Автор: Kensuke Ito,Tadashi Shimizu,Hajime Sugino. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2007-05-31.

Resource determining method, device, and readable storage medium

Номер патента: US20240244512A1. Автор: Siqi LIU,Zichao JI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Dead time determination method, charging driving circuit and apparatus, and device and medium

Номер патента: EP4395107A1. Автор: Chao Wang. Владелец: Changchun Jetty Automotive Parts Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Residence time determination method and apparatus, edge computing device, and storage medium

Номер патента: WO2023026083A1. Автор: Shuai ZHANG,Xin GAN,Jiacheng Wu,Jinliang Lin,Dongliang Sun. Владелец: Sensetime International Pte. Ltd.. Дата публикации: 2023-03-02.

Power control parameter determining method and device

Номер патента: EP4412338A1. Автор: Junwei Wang. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Download system of app, determination method of installation type and storage medium

Номер патента: US20210326124A1. Автор: Yongwei Zhang,Yuping Zhang,Congan Yang. Владелец: Beijing Digital Union Web Science and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Resource determining method, apparatus, device, medium, and product

Номер патента: US20240284463A1. Автор: Kun Liu,Bo Dai,Youjun HU,Wenfeng Liu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Ro indication and determination method and device, storage medium, base station and terminal

Номер патента: EP3846557A1. Автор: Xiangxin Gu. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-07.

Behavior determination method and apparatus and related device

Номер патента: EP4412132A1. Автор: Rakesh Tamrakar,HAO LIU,Peng Sun,Zhi Lu,Gen LI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Information determining method and apparatus

Номер патента: US12063669B2. Автор: Peng Guan,Xi Zhang,Liuliu JI,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Resource determination method and communication device

Номер патента: EP4044486A1. Автор: Xiaodong Shen,Peng Sun,Xiaohang Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-17.

Resource determining method and communications device

Номер патента: US20220216951A1. Автор: Xiaodong Shen,Peng Sun,Xiaohang Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-07.

Available slot determining method and apparatus, and terminal

Номер патента: US20240283589A1. Автор: Yong Wang,Kai Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Wave beam determination method and device, and storage medium

Номер патента: EP4415281A1. Автор: Jie Chen,Ting Miao,Feng Bi,Youxiong Lu,Weimin XING. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

Feedback resource determination method and apparatus for V2X service, and storage medium and terminal

Номер патента: US12069619B2. Автор: Xin Qu. Владелец: Beijing Ziguang Zhanrui Communication Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Communication beam determining method and corresponding apparatus

Номер патента: US20180278311A1. Автор: Kin Nang Lau,Xiaona Wang,Jing Qiu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-27.

Communication mode determination method and apparatus thereof

Номер патента: EP4422265A1. Автор: Liangang Chi,Siwei JI. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Uplink transmit power determining method and terminal device

Номер патента: US12075360B2. Автор: Yan Chen,Lei Zhang,Zhengwei Gong,Yiqun WU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Video tag determination method, terminal, and storage medium

Номер патента: US20220350842A1. Автор: Han Li,Yi Jiang,Yaqian Li. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2022-11-03.

Paging parameter determination method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: EP4422301A1. Автор: Yanhua Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Time-frequency resource preemption determining method and device, and user equipment

Номер патента: EP3644668A1. Автор: Juejia Zhou. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-29.

Policy determining method and apparatus, and terminal

Номер патента: CA3117244C. Автор: Yang Xu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-07-04.

Mobile device position determining method and determining apparatus, and mobile device

Номер патента: WO2016037577A1. Автор: Weicai HUANG. Владелец: BEIJING ZHIGU TECH CO., LTD.. Дата публикации: 2016-03-17.

Subframe type notification and determination methods and device

Номер патента: EP4250628A2. Автор: Pan Xueming,Gao Xuejuan. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Codebook constraint and codebook parameter determination method and apparatus

Номер патента: EP3910811A1. Автор: HUI Li,Runhua Chen,Qiubin Gao. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-17.

Codebook constraint and codebook parameter determination method and apparatus

Номер патента: US20220085858A1. Автор: HUI Li,Runhua Chen,Qiubin Gao. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-17.

Resource determination method, first terminal device, and second terminal device

Номер патента: EP4247086A1. Автор: Yi Ding,Shichang Zhang,Zhenshan Zhao,Huei-Ming Lin. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-20.

Next Hop Determining Method and Apparatus

Номер патента: US20230269165A1. Автор: Gang Yan,Heng Wang,Jingrong Xie,Fanghong Duan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Luminance determining method, luminance determining device, and video display apparatus

Номер патента: US11308916B2. Автор: Katsuya Otoi. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2022-04-19.

Information determining method and apparatus, terminal, and readable storage medium

Номер патента: US20240284464A1. Автор: Xueming PAN,Lihui Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Camera pose determination method and apparatus, and electronic device

Номер патента: US12062205B2. Автор: Qinrui Yan. Владелец: Nanjing Institute of Advanced Artificial Intelligence Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Resource determination method and apparatus

Номер патента: EP4033685A1. Автор: Xuejuan Gao. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-27.

Guard interval determination method and apparatus, and network node and storage medium

Номер патента: EP4199593A1. Автор: Jinhua Liu,Huan WANG,Shuyan PENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-21.

Cover unit determining method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: US20230315962A1. Автор: Xiaoming SI,Tianlong FAN. Владелец: Sanechips Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Transmission mode determining method and apparatus

Номер патента: US12081475B2. Автор: FAN YANG,Chao Li,Zhe Liu,Junwei Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Transmission configuration indication determination method and apparatus, and terminal and storage medium

Номер патента: EP4426045A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Time-domain resource determining method, apparatus and device, and storage medium

Номер патента: EP4024908A1. Автор: Lei GUAN,Dan Hu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-06.

Determination method and information processing apparatus

Номер патента: US20210224925A1. Автор: Yasushi Takahashi,Takeshi Miyamae,Takuya Sakamoto,Dai Yamamoto,Jun Kogure. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Harq-ack codebook determination method and apparatus, terminal, and storage medium

Номер патента: US20210391956A1. Автор: Peng Hao,Min Ren,Wei Gou,Chenchen Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2021-12-16.

Touch determination method and touch device

Номер патента: US20210325992A1. Автор: Jianpeng Li. Владелец: Shenzhen Royole Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Focusing position determining apparatus, imaging apparatus and focusing position determining method

Номер патента: US8208802B2. Автор: Toshiyuki Tanaka,Tsuyoshi Moriya,Toshihiro Hamamura,Yuki Endo,Naoki Takafuji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-06-26.

Access resource determination method and device, storage medium, and terminal

Номер патента: US12052203B2. Автор: Zhengang Pan,Huayu Zhou,Hualei WANG. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Neural network structure determining method and apparatus

Номер патента: US20230289572A1. Автор: Zhao Zhong,Jian Zhang,Yifan Xiao. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Candidate cell determination method, user equipment and base station

Номер патента: AU2017391402B2. Автор: Chongming Zhang,Renmao Liu. Владелец: FG Innovation Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Access resource determination method and device, storage medium and terminal

Номер патента: EP4017178A1. Автор: Zhengang Pan,Huayu Zhou. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-22.

Access resource determination method and device, storage medium and terminal

Номер патента: US20220330242A1. Автор: Zhengang Pan,Huayu Zhou. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-13.

Codebook determination method, codebook determination apparatus, terminal, base station, and storage medium

Номер патента: EP3855660A1. Автор: Peng Hao,Xing Liu,Wei Gou. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2021-07-28.

Codebook determination method, codebook determination apparatus, terminal, base station, and storage medium

Номер патента: US20220029752A1. Автор: Xing Liu,Wei Gou,Peng Flao. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-01-27.

Policy determining method, system, and apparatus

Номер патента: US11757748B2. Автор: YANG XIN,Xiaobo Wu,Weiwei CHONG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Power control parameter determination method and apparatus, and terminal device

Номер патента: EP4429335A1. Автор: Junwei Wang. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Precoding matrix indicating and determining method and communications apparatus

Номер патента: US12088384B2. Автор: Xiaohan Wang,Xiaoyan Bi,Huangping JIN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Determination method, determination apparatus of calibration information and electronic device

Номер патента: US20240261677A1. Автор: Yitong Wang,Hengkai GUO,Xionghui Wang,Xiangqian Shu. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Time source signal determination method and apparatus, network device, and storage medium

Номер патента: US20240259125A1. Автор: Liuyan Han. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-08-01.

Response determining method and apparatus

Номер патента: US20240256789A1. Автор: Bin He,Yitong LI,Yasheng WANG,Fei MI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Reference device determination method and device, network-side device

Номер патента: US20240244569A1. Автор: REN Da,HUI Li,Xiaotao Ren,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Data amount determination method and apparatus, and threshold configuration method and apparatus

Номер патента: US20240224325A1. Автор: Xiaowei Jiang. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Resource determining method, apparatus, device, medium, and product

Номер патента: EP4429314A1. Автор: Kun Liu,Bo Dai,Youjun HU,Wenfeng Liu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Press apparatus quality determination method, press apparatus quality determination system, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20240184950A1. Автор: Yasunori Shibata,Tetsuta SAKAKURA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Cell reselection evaluation frequency determination method and apparatus, electronic device, and computer readable storage medium

Номер патента: US20230276318A1. Автор: Yuzhen Wei. Владелец: Sanechips Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Bwp determination method and device, and storage medium

Номер патента: EP4429351A1. Автор: Qin MU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Available time slot determination method and apparatus, and terminal

Номер патента: EP4429359A1. Автор: Yong Wang,Kai Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Measurement establishment identifier determination method and related device

Номер патента: AU2022428781A1. Автор: Xiao Han,Xun Yang,Rui Du,Mengshi HU,Gerile NAREN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Distribution route determination method and apparatus, and electronic device and readable storage medium

Номер патента: EP4394674A1. Автор: LU Tong,Zhiqiang Niu,Shengnan Wu,Xiaotian ZHUANG. Владелец: Beijing Jingdong Zhenshi Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Uplink transmit power determining method and terminal device

Номер патента: US20240323860A1. Автор: Yan Chen,Lei Zhang,Zhengwei Gong,Yiqun WU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Beam determination method and apparatus

Номер патента: EP4429303A1. Автор: Xingyi Luo. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Information determination method and device, terminal, and readable storage medium

Номер патента: EP4429152A1. Автор: Xueming PAN,Lihui Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Rrm measurement configuration determining method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: US20240324060A1. Автор: Yanhua Li,Ziquan HU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Path determination method

Номер патента: US12093051B2. Автор: Yuji Hasegawa,Sango MATSUZAKI. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Determination method and determination device for vehicle traffic efficiency, and vehicle

Номер патента: US20240290208A1. Автор: Shujun WEI. Владелец: Momenta Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Time window determination method and apparatus, and terminal and storage medium

Номер патента: EP4412353A1. Автор: Yong Wang,Kai Wu,Lihui Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Resource determination method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4429149A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Power determination method, device and storage medium

Номер патента: US20240323867A1. Автор: Nan Zhang,Jianwu Dou,Yachao YIN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Position information determination method and device, and first terminal and second terminal

Номер патента: US12101686B2. Автор: Cheng Bi,Wei Luo,Zhaohua Lu,Chuangxin JIANG,Boyuan ZHANG,Huahua Xiao,Youxiong Lu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Transmitting power determination method, apparatus and communication device

Номер патента: US12108343B2. Автор: Rui Zhao,Xiaotao Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Resource determination method and apparatus, device, and readable storage medium

Номер патента: US20240340861A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Rsc determining method, terminal, and network side device

Номер патента: US20240334303A1. Автор: Wen Wang,Yizhong Zhang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Model input size determination method, electronic device and storage medium

Номер патента: US12118704B2. Автор: Shih-Chao Chien,Chin-Pin Kuo,Tung-Tso Tsai. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Uplink control information determination method and communication device

Номер патента: AU2018447235B2. Автор: Jing Xu,Yanan Lin. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2024-10-10.

Sidelink resource determining method and terminal

Номер патента: US20240314811A1. Автор: Huan WANG,Yuming Yang,Siqi LIU,Zichao JI,Shuyan PENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Transmission determining method and apparatus, terminal, network-side device, and storage medium

Номер патента: US20240340860A1. Автор: Yong Wang,Kai Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Vehicle passing efficiency determination method and apparatus, and vehicle

Номер патента: EP4446189A1. Автор: Shujun WEI. Владелец: Momenta Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Facial size determination method and apparatus

Номер патента: AU2022209518A9. Автор: Jian Xu,Huiquan Wang,Long He,Zhi ZHUANG,Mingzhao Zhou. Владелец: Bmc Tianjin medical Co ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Information determination method and device, and storage medium

Номер патента: US20240349074A1. Автор: Ting Miao,Feng Bi,Youxiong Lu,Weimin XING. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Resource determination method and communication device

Номер патента: EP4092942A1. Автор: Siqi LIU,Zichao JI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-23.

Access network device determining method

Номер патента: AU2023245225A1. Автор: Yishan Xu,Kang Huang,Fangyuan ZHU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Sequence determining method and apparatus

Номер патента: US12095694B2. Автор: HAO SUN,Bingyu Qu,Mingxin GONG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Power determination method, apparatus and system

Номер патента: EP4451783A1. Автор: Mao Yan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Rsc determination method, terminal, and network side device

Номер патента: EP4451724A1. Автор: Wen Wang,Yizhong Zhang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Power determination method and apparatus

Номер патента: EP4440207A1. Автор: Shengxiang GUO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Path preference determination method, terminal and network side device

Номер патента: EP4451740A1. Автор: Wen Wang,Yizhong Zhang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Quantitative determination method and apparatus for buried hill oil reservoir mode, and medium and device

Номер патента: EP4450751A1. Автор: Xu Liang,Shuo YANG,Lijun Mi,Laiming SONG. Владелец: CNOOC Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Precoding indication manner determining method and apparatus

Номер патента: US20240356592A1. Автор: Jun Xu,Xiaoyu Zhang,Huangping JIN,Jiyong Pang,Hanqing Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Codebook determination method, ue, base station, and storage medium

Номер патента: US20240356682A1. Автор: Peng Hao,Xing Liu,Wei Gou. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Codebook determination method, codebook determination apparatus, terminal, base station, and storage medium

Номер патента: US12107685B2. Автор: Peng Hao,Xing Liu,Wei Gou. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Reference determination method and apparatus, and communication device and readable storage medium

Номер патента: EP4451767A1. Автор: Kai Wu,Dongru Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Cell determination method and apparatus

Номер патента: EP4443979A1. Автор: Zhuoming Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Measurement setup identifier determining method and related apparatus

Номер патента: US20240357675A1. Автор: Xiao Han,Xun Yang,Rui Du,Mengshi HU,Gerile NAREN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Measurement establishment identifier determination method and related device

Номер патента: EP4443994A1. Автор: Xiao Han,Xun Yang,Rui Du,Mengshi HU,Gerile NAREN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Control channel monitoring capability determining methods, user equipment and network device

Номер патента: US12101749B2. Автор: Jing Xu,Yanan Lin. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2024-09-24.

Sidelink resource determination method and terminal

Номер патента: EP4440227A1. Автор: Huan WANG,Yuming Yang,Siqi LIU,Zichao JI,Shuyan PENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Harq-ack codebook determination method, terminal, and storage medium

Номер патента: EP4451601A2. Автор: Peng Hao,Min Ren,Wei Gou,Chenchen Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Resource determination method and device

Номер патента: EP4456639A1. Автор: Lei Lu,Yi Zhang,Hongjia SU,Zhengzheng XIANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Transmission determination method and apparatus, terminal, network side device, and storage medium

Номер патента: EP4456633A1. Автор: Yong Wang,Kai Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Resource determination method and apparatus

Номер патента: EP4451784A1. Автор: Xiaowei Jiang,Xiaofei Liu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Object determining method and apparatus, computer device, and storage medium

Номер патента: US20240339175A1. Автор: Shengyu ZHANG,Lixue Cheng,Ziyi Yang,Benben Liao. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Quasi co-location hypothesis determination method and apparatus, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US12127010B2. Автор: Zhen He,Bo Gao,Zhaohua Lu,Yu Ngok Li,Chuangxin JIANG,Shujuan Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Determination method, determination device, and determination system

Номер патента: US20240324906A1. Автор: Kengo Wada,Ryota Suzuki,Yoshihiro Matsumura,Fumihiro Naruse,Taichi Hamatsuka,Takahiro Aihara,Chie MINAMI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Speed determination method, electronic device and computer storage medium

Номер патента: US12104350B2. Автор: Liangjun ZHANG,Lingfeng QIAN,Pinxin Long. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Summary determination method and related device thereof

Номер патента: EP4459480A1. Автор: Li Yan,Jianqing Gao,Ting Qi,Jingting Sun. Владелец: iFlytek Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Transmission information determination method and device, and terminal

Номер патента: EP4459912A2. Автор: NA Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Feedback information determining method and apparatus, and terminal

Номер патента: US12075281B2. Автор: Jing Xu,Yanan Lin. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2024-08-27.

Contention window size determining method and apparatus

Номер патента: US12074803B2. Автор: YUAN Li,Lei GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Repetition determination method, repetition determination apparatus, terminal, and network side device

Номер патента: US20240373469A1. Автор: Lei Wang,Xuejuan Gao. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Power control parameter determination method and apparatus, and terminal

Номер патента: EP4460130A1. Автор: Chaojun ZENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Fertilized egg development stage determination method, recording medium, imaging method and imaging apparatus

Номер патента: US12136211B2. Автор: Junichi Komiyama,Osamu Okitsu,Ryo HASEBE,Yasushi KUROMI. Владелец: Miyake Clinic. Дата публикации: 2024-11-05.

Determining method and device

Номер патента: US12120562B2. Автор: Yumin Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Data channel transmission bandwidth determination method and apparatus, network side device and terminal

Номер патента: US12133240B2. Автор: Lei Wang,Yanping Xing. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Power determining method, user equipment, and base station

Номер патента: US09913227B2. Автор: YAN Cheng,Zhiyu Yan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Time domain resource determination method and apparatus, and communication device

Номер патента: EP4460126A1. Автор: Yi Zheng,Fei Wang,Xiaoran ZHANG,Chunxia Guo,Yongchang Liu. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-11-06.

Resource determining method and apparatus

Номер патента: US09877331B2. Автор: Xiao Chen,Haiyan Luo,Tianle Deng,Guohua Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

EPDCCH candidate determining method and device

Номер патента: US09860896B2. Автор: Qiang Wu,Jianqin Liu,Jianghua Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Downlink channel time domain position determination method and device

Номер патента: US09860049B2. Автор: Kun Liu,Jing Shi,Bo Dai,Huiying Fang,Shuqiang Xia,Xincai LI. Владелец: Xian Zhongxing New Software Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Link determining method, apparatus, and system for optical packet switching system

Номер патента: US09813787B2. Автор: Huixiao MA,Xiaoling Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Parameter determination method, information processing device, and non-transitory computer-readable storage medium storing program

Номер патента: US20240236471A9. Автор: Hiroki Senshiki. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Time Window Determination Method, Terminal, and Non-Transitory Storage Medium

Номер патента: US20240235779A1. Автор: Yong Wang,Kai Wu,Lihui Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Determination method and determination apparatus

Номер патента: US20180285349A1. Автор: Kazuo Mineno,Nobuko TAKASE,Naohiro Itou. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-10-04.

Determination method and determination apparatus

Номер патента: US10437932B2. Автор: Kazuo Mineno,Nobuko TAKASE,Naohiro Itou. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-10-08.

Semi-persistent resource determination method and apparatus, and communication device

Номер патента: US20240236971A9. Автор: Xiaowei Jiang. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Semi-persistent resource determination method and apparatus, and communication device

Номер патента: EP4297511A1. Автор: Xiaowei Jiang. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Composition solubility in an aqueous environment comprising a surfactant molecule determination method and system

Номер патента: US20230377694A1. Автор: Wolfgang FIEBER. Владелец: FIRMENICH SA. Дата публикации: 2023-11-23.

Parameter determination method, information processing device, and non-transitory computer-readable storage medium storing program

Номер патента: US20240137640A1. Автор: Hiroki Senshiki. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Rating determination system, rating determination method, and program

Номер патента: EP4138023A1. Автор: Takashi Sugawara,Takashi Umeda,Satyen Abrol,Manoj KONDAPAKA. Владелец: Rakuten Group Inc. Дата публикации: 2023-02-22.

Broadcast style determination method and apparatus, device and computer storage medium

Номер патента: US20230067177A1. Автор: Di Wu,Jizhou Huang,Shiqiang DING. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Resource Determining Method, Terminal, and Non-transitory Readable Storage Medium

Номер патента: US20240237001A1. Автор: NA Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Digital frame determination method and apparatus

Номер патента: US20030128788A1. Автор: Michael Rupp,Jon Melnik,Ronald Olsen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-10.

Digital frame determination method and apparatus

Номер патента: EP1468514A1. Автор: Ronald D. Olsen,Jon C. Melnik,Michael E. Rupp. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-10-20.

Digital frame determination method and apparatus

Номер патента: EP1468514B1. Автор: Ronald D. Olsen,Jon Melnik,Michael E. Rupp. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2009-12-02.

Digital frame determination method and apparatus

Номер патента: WO2003061169A1. Автор: Ronald D. Olsen,Jon C. Melnik,Michael E. Rupp. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2003-07-24.

Contrast state determination device, contrast state determination method, and program

Номер патента: US20240193781A1. Автор: Keita OTANI. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

Load balancing policy determining method and apparatus

Номер патента: US20240179568A1. Автор: Yu Zeng,Tingting GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Stability region determining method for distributed power cyber-physical system with multiple time delays

Номер патента: US20220244687A1. Автор: LUO Xu,Qinglai Guo,Hongbin Sun,Wenchuan Wu. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-08-04.

Behavior determining method, behavior determining apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20190236268A1. Автор: Yusuke Doi,Ren KIMURA,Hirochika ASAI. Владелец: Preferred Networks Inc. Дата публикации: 2019-08-01.

DRX Determining Method and Apparatus, Terminal, and Readable Storage Medium

Номер патента: US20230247553A1. Автор: Qian Zheng,Xiaodong Yang,Zichao JI. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Density determination method, density determination apparatus, density determination program, and program recording medium

Номер патента: US20170136777A1. Автор: Satoru Ono. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-05-18.

Occupancy time determination method and apparatus and electronic device

Номер патента: EP4057729A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Xiaomi Communications Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-14.

Recording power determining method, program, computer readable storage medium, recording power detemining device, and optical disk apparatus

Номер патента: EP1522998A3. Автор: Masafumi Ricoh Co. Ltd. Kimura. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2007-11-14.

Lane departure warning determination method using driver state monitoring

Номер патента: US20210001875A1. Автор: Kwang Il Park,Sang Mook Lim,Jin Hyuck Kim. Владелец: AImatics Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Determination method, determination device, and determination program

Номер патента: US20240248986A1. Автор: Daiki CHIBA,Mitsuaki AKIYAMA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

State determination method, state determination device, state determination system, state determination program, and recording medium

Номер патента: EP4070724A1. Автор: Tetsuhiro Katou,Taehyung CHO,Yasuyuki Shirasaka,Yuuta Katsurayama,Ryousuke Takahashi,Yuri HIRONO. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-12.

Composition solubility in an aqueous environment comprising a surfactant molecule determination method and system

Номер патента: WO2023227619A1. Автор: Wolfgang FIEBER. Владелец: FIRMENICH SA. Дата публикации: 2023-11-30.

Abnormal driving behavior determination method, device, vehicle and medium

Номер патента: US20210347366A1. Автор: Keyao Wang. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-11.

Reference signal resource determining method and apparatus

Номер патента: US20240243873A1. Автор: Zheng Yu,Min Zhang,Yongping Zhang,Tie Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Tci state determination method and apparatus

Номер патента: US20230291526A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Delay budget determining method and apparatus

Номер патента: US20240283745A1. Автор: Weichao Chen,Rui Xu,Shengyue DOU,Erkai CHEN,Shuri LIAO,Youlong Cao. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Image processing apparatus, region determining method, and computer-readable, non-transitory medium

Номер патента: US9092869B2. Автор: Kiyoto Kosaka,Hirokazu Kawatani. Владелец: PFU Ltd. Дата публикации: 2015-07-28.

Picture display order determining method and apparatus, and video coding device

Номер патента: US11770522B2. Автор: Haitao Yang,Xiang Ma,Lian Zhang,Huanbang Chen,Yuqun Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Peripheral nervous system specific sodium channels, dna encoding therefor, crystallization, x-ray diffraction, computer molecular modeling, rational drug design, drug screening, and methods of making and using thereof

Номер патента: CA2204355C. Автор: Gail Mandel,Simon Halegoua,Laurence A. Borden. Владелец: TROPHIX PHARMACEUTICALS Inc. Дата публикации: 2001-01-16.

X-ray diffraction imaging system

Номер патента: KR20060087249A. Автор: 제정호,이재목,호우광. Владелец: 학교법인 포항공과대학교. Дата публикации: 2006-08-02.

Peripheral nervous system specific sodium channels, dna encoding therefor, crystallization, x-ray diffraction, computer molecular modeling, rational drug design, drug screening, and methods of making and using thereof.

Номер патента: MX9703187A. Автор: Gail Mandel,Simon Halegoua,Laurence A Borden. Владелец: Res Foundation Of State. Дата публикации: 1998-02-28.

Method for evaluating hardenability of steel by x-ray diffraction

Номер патента: JPS6126721A. Автор: Masanori Kurita,政則 栗田,Ikuo Ihara,郁夫 井原. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 1986-02-06.

Specimen stand for x-ray diffraction apparatus

Номер патента: JPH01142443A. Автор: Teruo Okada,荘一郎 松嶋,Masahiko Inagaki,照夫 岡田,雅彦 稲垣,Soichiro Matsushima. Владелец: Tomy Seiko Co Ltd. Дата публикации: 1989-06-05.

Peripheral nervous system specific sodium channels, dna encoding therefor, crystallization, x-ray diffraction, computer molecular modeling, rational drug design, drug screening, and methods of making and using thereof

Номер патента: CA2204355A1. Автор: Gail Mandel,Simon Halegoua,Laurence A. Borden. Владелец: Trophix Pharmaceuticals, Inc.. Дата публикации: 1996-05-17.

Method of continuously manufacturing alkaline aqueous suspension of fine grain sodium aluminosilicate amorphous by x ray diffraction method

Номер патента: JPS55140713A. Автор: Kurisutofuriimuku Peetaa,Buyusuto Buiri,Yoozefu Karudotsuku Furantsu. Владелец: Henkel AG and Co KGaA. Дата публикации: 1980-11-04.

COMPLEXES OF LANTHANIDES (III) COMPRISING 1,2,3-TRIAZOLE FUNCTIONS: APPLICATIONS TO STRUCTURAL RESOLUTION OF PROTEIN ENTITIES BY X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: FR2991322B1. Автор: Arnaud Gautier,Jean-Louis Canet,Eric Girard,Lionel NAUTON,Romain Talon. Владелец: Ecole Nationale Superieure de Chimie de Clermont Ferrand. Дата публикации: 2014-06-20.

Peripheral nervous system specific sodium channels, DNA encoding therefor, crystallization, X-ray diffraction, computer molecular modeling, rational drug design, drug screening, and methods of making and using thereof

Номер патента: EP1985703A2. Автор: Gail Mandel,Simon Halegoua,Laurence A. Borden. Владелец: Allelix Neuroscience Inc. Дата публикации: 2008-10-29.

New crystalline solid zeolite for use as adsorbent or catalyst, shows a characteristic X-ray diffraction pattern and is based on silicon and optionally other elements

Номер патента: FR2911866A1. Автор: Johan A Martens,Emmanuelle Guillon,Antoine Fecant,Nicolas Bats. Владелец: IFP Energies Nouvelles IFPEN. Дата публикации: 2008-08-01.

Plants drought resistance determining method

Номер патента: RU2649015C2. Автор: Вера Ивановна Никитина,Марина Анатольевна Худенко. Владелец: Краевое государственное автономное учреждение "Красноярский краевой фонд поддержки научной и научно-технической деятельности". Дата публикации: 2018-03-29.

Watercourses flow rates determination method

Номер патента: RU2655213C2. Автор: Николай Васильевич Ухов,Михаил Вилорьевич Ушаков. Владелец: Государственное бюджетное учреждение науки Институт биологических проблем Севера Дальневосточного отделения Российской Академии наук (ИБПС ДВО РАН). Дата публикации: 2018-05-24.

Refrigeration capacity determination method, refrigeration energy efficiency ratio determination method, and failure notification method

Номер патента: EP4027069A1. Автор: Lei Xu,Ming Zhang,Dong Zhang,Xiaodi Zhang,Qiang Gao. Владелец: Qingdao Haier Air Conditioning Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

Continuous casting start timing determination method, continuous casting facility operation method, slab manufacturing method, determining device, continuous casting start determination system, and display terminal device

Номер патента: EP4442387A1. Автор: Ryosuke Masuda,Naoya SHIBUTA,Taiga KORIYAMA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-09.

Carbide cutting plates maximum working capacity temperature determining method

Номер патента: RU2682196C1. Автор: Евгений Владимирович Артамонов,Андрей Михайлович Тверяков,Антон Сергеевич Штин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тюменский индустриальный университет" (ТИУ). Дата публикации: 2019-03-15.

Test image set for testing visual characteristics, test method for visual characteristics, determining method for determining characteristics of correction filter, and correction filter

Номер патента: US20240237892A1. Автор: Masafumi Yano. Владелец: Iris Communication KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Chewing determination kit and chewing determination method

Номер патента: US20090053671A1. Автор: Shinichi Kato,Masao Abiru. Владелец: GC Corp. Дата публикации: 2009-02-26.

Determination method of around field area for welding with melting electrode

Номер патента: RU2648597C1. Автор: Владимир Петрович Сидоров. Владелец: Владимир Петрович Сидоров. Дата публикации: 2018-03-26.

Determination method for exhaust gas treatment device and determination system for exhaust gas treatment device

Номер патента: US20200049045A1. Автор: Yu NINOMIYA,Tetsuo Ohnishi,Yuuta Sakurai,Yuuki Kasaoka,Tatsushi Itou. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2020-02-13.

Left and right wheel determination method, chip and system for monitoring wheel pressure

Номер патента: US20210387487A1. Автор: Tao Zhang. Владелец: AutoChips Wuhan Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-16.

Pump blood flow determination method and apparatus for blood pump, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4424356A1. Автор: Zhiyong Liu,Zhikuan Xue,Dianjia CAO. Владелец: Forqaly Medical Shanghai Co ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Pulse manifestation determining method

Номер патента: US20240138771A1. Автор: Chin-Tang Chuang,Chien Cheng Wang,Jung-Teng Pan. Владелец: AUO Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Determination method for exhaust gas treatment device and determination system for exhaust gas treatment device

Номер патента: US10920648B2. Автор: Yu NINOMIYA,Tetsuo Ohnishi,Yuuta Sakurai,Yuuki Kasaoka,Tatsushi Itou. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2021-02-16.

Left and right wheel determination method, chip and system for monitoring wheel pressure

Номер патента: US12059932B2. Автор: Tao Zhang. Владелец: AutoChips Wuhan Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

State determination method and apparatus for cleaning robot

Номер патента: AU2022425877A1. Автор: Lei Wang,Yansheng NIU. Владелец: Beijing Roborock Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Abnormality determination method for liquid ejecting head, and liquid ejecting apparatus

Номер патента: US20240326409A1. Автор: Akira Miyagishi,Siyuan Xu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Breathing phase determination method and apparatus

Номер патента: EP4427779A1. Автор: FANG Zheng,Xin Tian,Zhi ZHUANG,Xiaochen WANG. Владелец: Bmc Tianjin medical Co ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Blood pressure determining method

Номер патента: RU2697227C1. Автор: Евгений Иванович Глинкин,Фёдор Евгеньевич Карпенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тамбовский государственный технический университет" (ФГБОУ ВО "ТГТУ"). Дата публикации: 2019-08-13.

Lock determination device for variable valve timing mechanism and lock determination method for variable valve timing mechanism

Номер патента: RU2659605C2. Автор: Кендзи АРИГА,Кен СИОДЗАВА,Хидео МИЦУХАСИ,Такахиро АНАДА. Владелец: Ниссан Мотор Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-07-03.

Arterial pressure determining method

Номер патента: RU2698986C1. Автор: Ольга Сергеевна Неверова,Евгений Иванович Глинкин,Фёдор Евгеньевич Карпенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тамбовский государственный технический университет" (ФГБОУ ВО "ТГТУ"). Дата публикации: 2019-09-02.

Morphology determining method and morphology determining system of corneal topography

Номер патента: US20210315454A1. Автор: Po-Jen Shih,Chun-Ju Huang,I-Jong Wang,Jia-Yush YEN,Hsin-Ju LAI. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2021-10-14.

Quality determination method for three-dimensional shaped object and three-dimensional shaping device

Номер патента: US20200338831A1. Автор: Manabu Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-10-29.

Driving Policy Determining Method and Apparatus, Device, and Vehicle

Номер патента: US20240092385A1. Автор: Bin Wang,Wulong LIU,Shixiong KAI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Drive waveform determination method, storage medium, liquid discharge apparatus, and drive waveform determination system

Номер патента: US12070943B2. Автор: Toshiro Murayama,Atsushi TOYOFUKU. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Determination system, determination method, determination device, and determination program

Номер патента: EP4406523A1. Автор: Tetsuhiro Katou,Soichiro Takeuchi,Yasuyuki Shirasaka,Yuuta Katsurayama,Yuri HIRONO. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

X-ray diffraction method of identifying batches of pharmaceutical products

Номер патента: RU2452939C1. Автор: Владимир Александрович Елохин,Валерий Николаевич Соколов,Валерий Иванович Николаев,Сергей Викторович Протопопов,Сергей Николаевич Архипов,Сергей Владимирович Болл,Любовь Алексеевна Пьянкова,Валерий Николаевич Соколов (RU),Владимир Александрович Елохин (RU),Сергей Викторович Протопопов (RU),Валерий Иванович Николаев (RU),Сергей Николаевич Архипов (RU),Сергей Владимирович Болл (RU),Любовь Алексеевна Пьянкова (RU). Владелец: Закрытое акционерное общество "Научные приборы". Дата публикации: 2012-06-10.

X-ray diffraction technique

Номер патента: RU2467525C1. Автор: Владимир Иванович Кондратьев. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения РАН (ИЯФ СО РАН). Дата публикации: 2012-11-20.

Method for x-ray diffraction control of part

Номер патента: RU2488099C1. Автор: Ольга Владимировна Коваленко,Наталья Александровна Яблокова,Алексей Владимирович Яблоков,Александр Иванович Виноградов,Владимир Андреевич Кочетков,Ирина Викторовна Семенова,Александр Маркович Портер. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Сатурн". Дата публикации: 2013-07-20.

X-ray diffraction measurement apparatus and diffraction image width measurement method using x-ray diffraction measurement apparatus

Номер патента: JP2022113921A. Автор: Yoichi Maruyama,洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-05.

Battery in situ X-ray diffraction diffraction testing auxiliary device

Номер патента: CN209656593U. Автор: 石磊,唐永炳,蒋春磊,刘齐荣. Владелец: Shenzhen Institute of Advanced Technology of CAS. Дата публикации: 2019-11-19.

X-RAY DIFFRACTION CONTRAST TOMOGRAPHY (DCT) SYSTEM, AND AN X-RAY DIFFRACTION CONTRAST TOMOGRAPHY (DCT) METHOD

Номер патента: US20120008736A1. Автор: Lauridsen Erik Mejdal,POULSEN Henning Friis. Владелец: DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET. Дата публикации: 2012-01-12.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120140890A1. Автор: Ozawa Tetsuya,Matsuo Ryuji,Inaba Katsuhiko. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-07.

Diffraction X-ray detection method and X-ray diffraction apparatus

Номер патента: JP5492173B2. Автор: 克彦 稲葉,徹 光永,和彦 表. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-05-14.

X-ray diffraction microscope and X-ray diffraction microscope

Номер патента: JP2904191B2. Автор: 滋 木村. Владелец: Nippon Electric Co Ltd. Дата публикации: 1999-06-14.

Device and method for measuring multi-wavelength characteristic X ray diffraction

Номер патента: CN104634799A. Автор: 郑琪,赵春玲. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-05-20.

Noncoherent X ray diffraction imaging device

Номер патента: CN102353689B. Автор: 韩申生,喻虹,谢红兰,朱文选. Владелец: Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS. Дата публикации: 2013-05-08.

Device for x-ray diffraction investigation of objects and method of setting full outer reflection mirror in x-ray radiation beam

Номер патента: SU883726A1. Автор: Владимир Сергеевич Герасимов,Владимир Николаевич Корнеев. Владелец: Институт биологической физики АН СССР. Дата публикации: 1981-11-23.

Method of driving X-ray generator and method of driving X-ray diffraction apparatus

Номер патента: JP3531837B2. Автор: 渉 林田,一 伊沢. Владелец: 理学電機株式会社. Дата публикации: 2004-05-31.

Method for obtaining X-ray diffraction spectrum of upper layer material of double-layer composite material

Номер патента: CN103207193A. Автор: 王鹏,朱远志. Владелец: Wuhan University of Science and Engineering WUSE. Дата публикации: 2013-07-17.

A kind of test device that the in-situ synchronization radiation X ray diffraction for putting hydrogen process is inhaled for hydrogen bearing alloy

Номер патента: CN105241902B. Автор: 李康,王宇,程宏辉,秦康生,韩兴博,柳义. Владелец: Yangzhou University. Дата публикации: 2017-12-08.

Multi-purpose synchronous radiation coherence X-ray diffraction microimaging device

Номер патента: CN203069533U. Автор: 张剑,刘宏,江怀东,范家东,姚圣坤. Владелец: Shandong University. Дата публикации: 2013-07-17.

Method for manufacturing X-ray diffraction optical element

Номер патента: CN102508411A. Автор: 刘明,方磊,李冬梅,谢常青,朱效立. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-06-20.

Method for manufacturing X-ray diffraction optical element

Номер патента: CN102402118A. Автор: 刘明,方磊,李冬梅,谢常青,朱效立. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-04-04.

Method for carrying out phase analysis on tin-doped indium oxide powder by adopting X-ray diffraction method

Номер патента: CN109813741B. Автор: 刘平,李凤,李健,罗艳,黄一帆,韦莉,韦猛,周素莲,黄肇敏,林葵,聂小明,黎颖,胡永玫,赖馥馨,何贵香,邓卫利,黎羿合. Владелец: Guangxi Zhuang Autonomous Region Metallurgy Products Quality Testing Station. Дата публикации: 2021-11-19.

X-ray diffraction oriented cutting method for wire cutting crystal

Номер патента: CN102490279B. Автор: 陈屹立,荆旭华. Владелец: EMEI SEMICONDUCTOR MATERIAL INSTITUTE. Дата публикации: 2014-05-28.

Battery X-ray diffraction testing arrangement

Номер патента: CN217007074U. Автор: 景晓建. Владелец: Beijing Chehejia Automobile Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-19.

A kind of clamping device of block sample X-ray diffraction

Номер патента: CN207163938U. Автор: 薛峰,孙岩,王程明,邢承亮,孙晓冉. Владелец: Hebei Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-30.

X-ray diffraction study device

Номер патента: RU2006840C1. Автор: В.Г. Антипанов,В.Н. Урцев,А.В. Капцан,Ф.В. Капцан,М.Т. Величко. Владелец: Акционерное общество открытого типа "Магнитогорский металлургический комбинат". Дата публикации: 1994-01-30.

A kind of direct compression molding mould for X-ray diffraction analysis

Номер патента: CN207172735U. Автор: 杨晓东,王磊,邵伟,赵铁凯,张怀志,李瑞峰,邴淑秋,徐冬梅,王东军,何英华. Владелец: China Petroleum and Natural Gas Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Stress analysis by x-ray diffraction

Номер патента: CA448162A. Автор: George Firth Francis. Владелец: Philips Lamps Ltd. Дата публикации: 1948-04-27.

Device for precision recording of x-ray diffraction patterns

Номер патента: CA489578A. Автор: Louis Christ Charles,Francis Champaygne Edmund. Владелец: American Cyanamid Co. Дата публикации: 1953-01-13.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA606134A. Автор: A. Hamacher Edward. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1960-10-04.

One-axis macroscupic tension eveluating by x-ray diffraction

Номер патента: CS182854B1. Автор: Rudolf Fiedler,Miroslav Hnilicka. Владелец: Miroslav Hnilicka. Дата публикации: 1978-05-31.

X-ray diffraction sample cell device and method

Номер патента: AU2019900953A0. Автор: John Daniels. Владелец: Critus Pty Ltd. Дата публикации: 2019-04-11.

Automatic plotting of x-ray diffraction pole figures

Номер патента: CA684898A. Автор: I. Addis Gilbert,M. Eichhorn Robert. Владелец: Union Carbide Corp. Дата публикации: 1964-04-21.

X-ray diffraction chamber for the study of a single crystal located in a polycrystalline sample

Номер патента: CA700918A. Автор: Anselin Francois,Chenais Jean. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 1964-12-29.

Three-dimensional monochromatic X-ray diffraction orientation finder

Номер патента: CN203870042U. Автор: 徐兰兰,张学锋. Владелец: DAQING JIACHANG JINGNENG INFORMATION MATERIALS Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-08.

X-ray diffraction data analysis system

Номер патента: CN109725013B. Автор: 马健,刘阳,王炎,张万超,刘雪涛,温书豪,赖力鹏,雷焱森. Владелец: Shenzhen Jingtai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-13.

Method for producing X-ray diffraction grating in high height-to-width ratio

Номер патента: CN102289015A. Автор: 刘明,方磊,李冬梅,谢常青,朱效立. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2011-12-21.

Electrochemical X-ray diffraction in-situ test spectrum pool

Номер патента: CN209878629U. Автор: 陈兴,黄伟峰. Владелец: Huayan Environmental Science (beijing) Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-31.

X-ray diffraction methods

Номер патента: CA479545A. Автор: Parrish William,A. Hamacher Edward. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1951-12-18.

A kind of X-ray diffraction test fiber specimen holder

Номер патента: CN103487298B. Автор: 梁少锋,卓坚锐. Владелец: Lian Xin (kaiping) High Performance Fiber Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-28.

Angle measuring instrument with adjustable scan circle for X ray diffraction instrument

Номер патента: CN201348614Y. Автор: 卢顺魁. Владелец: Beijing Purkinje General Instrument Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-18.

For the X-ray diffraction in-situ testing device through improving of battery charge and discharge process

Номер патента: CN103900744B. Автор: 张建,夏保佳,谢晓华,娄豫皖,张竞择,杨传铮. Владелец: Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology of CAS. Дата публикации: 2016-02-10.

Positioning device for X-ray diffraction test in residual stress

Номер патента: CN202255711U. Автор: 张勇,王丽霞,李宝明,刘宁昌,樊喜刚. Владелец: Beijing Xinghang Electromechanical Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-30.

METHOD AND SYSTEM FOR CRYSTALLIZATION AND X-RAY DIFFRACTION SCREENING

Номер патента: US20120021523A1. Автор: Fowler Brian,May Andrew. Владелец: Fluidigm Corporation. Дата публикации: 2012-01-26.

X-RAY DIFFRACTION INSTRUMENT

Номер патента: US20120140888A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-06-07.

FAST MEASUREMENT OF X-RAY DIFFRACTION FROM TILTED LAYERS

Номер патента: US20120140889A1. Автор: Berman David,Wall John,Jacques David,Yokhin Boris,Krokhmal Alexander,Ryan Paul,Bytheway Richard,Wormington Matthew. Владелец: JORDAN VALLEY SEMICONDUCTORS LTD.. Дата публикации: 2012-06-07.

MEASUREMENT OF CMOS DEVICE CHANNEL STRAIN BY X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20120146050A1. Автор: Bedell Stephen W.,Adam Thomas N.,MURRAY Conal E.,Holt Judson R.,Harley Eric C.,MADAN ANITA,PINTO TERESA L.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-14.

WAVELENGTH-CLASSIFYING TYPE X-RAY DIFFRACTION DEVICE

Номер патента: US20120269322A1. Автор: . Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-10-25.

METHODS AND APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20130279653A1. Автор: Hansford Graeme Mark. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-24.

Goniometric device for x-ray diffraction investigations of monocrystals

Номер патента: SU1303914A1. Автор: Александр Юрьевич Разумовский,Павел Васильевич Петрашень. Владелец: Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник". Дата публикации: 1987-04-15.

Slit structure for X-ray diffraction analysis

Номер патента: JP2526425B2. Автор: 晴男 関口. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1996-08-21.

Method of quantitative x-ray diffraction phase analysis

Номер патента: SU1376015A1. Автор: Александр Алексеевич Филиппов,Александр Васильевич Конев,Елена Яковлевна Белецкая,Светлана Николаевна Рубцова. Владелец: Сибирский государственный проектный и научно-исследовательский институт цветной металлургии "Сибцветметниипроект". Дата публикации: 1988-02-23.

Cassette for x-ray diffraction measurements

Номер патента: SU1177791A1. Автор: Игорь Борисович Кузнецов,Виктор Иванович Тиньков. Владелец: Научно-производственное объединение "Атомкотломаш". Дата публикации: 1985-09-07.

Method of performing x-ray diffraction analysis

Номер патента: SU1288563A1. Автор: Валерий Васильевич Петьков,Александр Вольфович Поленур,Анатолий Алексеевич Гавриш,Олег Николаевич Разумов,Роман Романович Карпов. Владелец: Опытное Конструкторско-Технологическое Бюро С Опытным Производством Института Металлофизики Ан Усср. Дата публикации: 1987-02-07.

Method of producing x-ray diffraction reflection-oriented topograms of monocrystals

Номер патента: SU1138717A1. Автор: Константин Александрович Гусев,Михаил Александрович Чернов,Николай Иванович Комяк,Павел Васильевич Петрашень,Сергей Иванович Дорожкин,Богдан Иосифович Левчук. Владелец: Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник". Дата публикации: 1985-02-07.

Device for high-temperature x-ray diffraction analysis

Номер патента: SU1155924A2. Автор: Валерий Васильевич Петьков,Ольга Владимировна Утенкова,Игорь Владимирович Никишин,Владимир Иванович Шолин. Владелец: Опытное Конструкторско-Технологическое Бюро С Опытным Производством Института Металлофизики Ан Усср. Дата публикации: 1985-05-15.

Method of preparing specimen of carbon material for x-ray diffraction analysis

Номер патента: SU1245967A1. Автор: Рафис Ракипович Вахитов,Рим Хасанович Садыков,Тамара Габдулловна Биктимирова,Виталий Филиппович Новоселов. Владелец: Предприятие П/Я В-2223. Дата публикации: 1986-07-23.

Automatic optical axis adjusting device for goniometer of x-ray diffraction device

Номер патента: JPH01156644A. Автор: Takayuki Sano,Misao Ooshima,慎一郎 伊賀,隆之 佐野,三三夫 大島,Tokuaki Fujita,徳昭 藤田,Shinichiro Iga. Владелец: Zojirushi Corp. Дата публикации: 1989-06-20.

Method of obtaining x-ray diffraction topogram

Номер патента: SU1317342A2. Автор: Александр Юрьевич Разумовский,Михаил Александрович Чернов,Юрий Львович Дегтярев,Иван Александрович Никольский. Владелец: Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник". Дата публикации: 1987-06-15.

Single crystal holder for x-ray diffraction meter

Номер патента: SU1436035A1. Автор: Владимир Афанасьевич Охрименко,Кирилл Георгиевич Бельтек. Владелец: Предприятие П/Я М-5073. Дата публикации: 1988-11-07.

Holder of specimens for x-ray diffraction apparatus

Номер патента: SU968715A1. Автор: Василий Степанович Копань,Сергей Лукич Рево. Владелец: Киевский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Т.Г.Шевченко. Дата публикации: 1982-10-23.

High-temperature chamber attachment to x-ray diffraction meter

Номер патента: SU1081493A1. Автор: Валерий Васильевич Петьков,Евгений Иосифович Берсудский,Владимир Петрович Подорожный,Ирина Борисовна Малышева. Владелец: Опытное Конструкторско-Технологическое Бюро С Опытным Производством Института Металлофизики Ан Усср. Дата публикации: 1984-03-23.

X-ray diffraction goniometer setting method

Номер патента: JP2948249B2. Автор: 藤之 樋川,仁 桜井. Владелец: RIGAKU DENKI KK. Дата публикации: 1999-09-13.

Device for producing monocrystal x-ray diffractional topogram

Номер патента: SU998928A2. Автор: Елена Васильевна Соловьева,Нина Семеновна Мотора,Юрий Николаевич Ведерников,Людмила Леонидовна Гаврилова,Зинаида Федоровна Смирнова,Юрий Гелларьевич Мясников,Владимир Олегович Есин,Вячеслав Михайлович Гундырев. Владелец: Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник". Дата публикации: 1983-02-23.

X-ray diffraction spectroscopy

Номер патента: JPS6262257A. Автор: Yukio Takano,Yoichi Nishino,洋一 西野,高野　幸男. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1987-03-18.

Sample preparation method for powder X-ray diffraction analysis

Номер патента: JP6642078B2. Автор: 光 近藤,近藤　光,公二 中村,大河 塩谷. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2020-02-05.

X-ray diffraction measurement device

Номер патента: JP5861841B2. Автор: 洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-16.

Method for determining front and back of single crystal plate by X-ray diffraction

Номер патента: JP2770232B2. Автор: 芳郎 町谷. Владелец: 理学電機株式会社. Дата публикации: 1998-06-25.

Quantitative analysis method of x-ray diffraction

Номер патента: JPH01172741A. Автор: Takashi Takishima,俊 滝島,Toshio Nakagishi,利夫 仲岸. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-07.

X-ray diffraction of the intrapelvic area in large farm animals and device for implementing the method

Номер патента: SU98241A1. Автор: Т.И. Нехно. Владелец: Т.И. Нехно. Дата публикации: 1953-11-30.

Prediction of the strengths of CLINKER or CEMENT, using crystallographic factors of their constituent minerals, determined by means of X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: ES2134680A1. Автор: . Владелец: VARGAS MUNOZ MIGUEL. Дата публикации: 1999-10-01.

X-ray diffraction sample rotation jig and sample holding device

Номер патента: JP3376073B2. Автор: 登 大沢. Владелец: 理学電機株式会社. Дата публикации: 2003-02-10.

X-ray diffraction topographic installation

Номер патента: SU1187038A1. Автор: Lyudmila L Gavrilova,Viktor N Ingal,Nikolaj I Komyak,Yurij G Myasnikov. Владелец: Le N Proizv Ob Burevestnik. Дата публикации: 1985-10-23.

X-ray diffraction measuring device

Номер патента: JP6844103B1. Автор: 洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-17.

X-ray diffraction system

Номер патента: JPH10339707A. Автор: Tadayuki Fujiwara,忠幸 藤原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1998-12-22.

X-ray diffraction measurement container for thin film sample

Номер патента: JP4179941B2. Автор: 晴夫 井上,慎 笹本,好彦 棚村,忠孝 片岡. Владелец: National Institute of Japan Science and Technology Agency. Дата публикации: 2008-11-12.

Diamond detection using X-ray diffraction

Номер патента: AU754208B2. Автор: Ulf Anders Staffan Tapper,George William Over,Christopher Bruce Mills,Daniel Jacobus Van Der Merwe,Stephanus Dawid Le Roux. Владелец: De Beers Consolidated Mines Ltd. Дата публикации: 2002-11-07.

X-ray diffraction qualitative analyzer

Номер патента: JP2666872B2. Автор: 浩 新井. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1997-10-22.

X-ray diffraction arc exposure equipment

Номер патента: JP3090801B2. Автор: 宏一 川崎. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2000-09-25.

Slit device of x-ray diffraction instrument

Номер патента: JPH102998A. Автор: Toshiyuki Kato,等 大神田,Hitoshi Okanda,寿之 加藤. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 1998-01-06.

X-ray diffraction measurement device

Номер патента: JP2021185342A. Автор: Yoichi Maruyama,洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA589944A. Автор: R. Rose Lloyd. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1959-12-29.

Simulated X-Ray Diffraction Spectra for Analysis of Crystalline Materials

Номер патента: US20120130694A1. Автор: LI JUN,Srivastava Deepak,Yang Sang. Владелец: Nanoexa Corporation. Дата публикации: 2012-05-24.

OBJECT IMAGING SYSTEM AND X-RAY DIFFRACTION IMAGING DEVICE FOR A SECURITY SYSTEM

Номер патента: US20120177182A1. Автор: Olesinski Stephan,Harding Geoffrey,Kosciesza Dirk,Strecker Helmut. Владелец: . Дата публикации: 2012-07-12.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20120195406A1. Автор: Asano Sigematsu,Tobita Ichiro,Ohbuchi Atsushi,Konya Takayuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-02.

High-Resolution X-Ray Diffraction Measurement with Enhanced Sensitivity

Номер патента: US20120281814A1. Автор: . Владелец: JORDAN VALLEY SEMICONDUCTORS LTD. Дата публикации: 2012-11-08.

TEST PATTERN FOR MEASURING SEMICONDUCTOR ALLOYS USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20130026464A1. Автор: CHIEN Chin-Cheng,Hsuan Teng-Chun,Liao Chin-I,Lai I-Ming. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

X-Ray Diffraction Instrument

Номер патента: US20130044864A1. Автор: Wang Yun,HATOU Hisamitu,Kikuchi Toshikazu. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2013-02-21.

MULTIPLY-SAMPLED CMOS SENSOR FOR X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENTS WITH CORRECTIONS FOR NON-IDEAL SENSOR BEHAVIOR

Номер патента: US20130108021A1. Автор: DURST Roger D.,WACHTER Gregory A.,KAERCHER Joerg. Владелец: BRUKER AXS, INC.. Дата публикации: 2013-05-02.

X-ray diffraction method of analyzing structure disarrangements in thin near-surface layers of crystals

Номер патента: SU1257482A1. Автор: Александр Михайлович Афанасьев,Станислав Михайлович Афанасьев,Анна Аркадьевна Завьялова,Рафик Мамед Оглы Имамов,Андрей Александрович Ломов,Эльхан Мехрали Оглы Пашаев,Сергей Алексеевич Федюкин,Фаррух Рахимович Хашимов. Владелец: Ордена Трудового Красного Знамени Институт Кристаллографии Им.А.В.Шубникова. Дата публикации: 1986-09-15.

Cryogenic attachment to x-ray diffraction meter

Номер патента: RU1784885C. Автор: Юрий Георгиевич Руфанов,Анна Юрьевна Шпортько,Владислав Иустинович Мазур. Владелец: Днепропетровский Металлургический Институт. Дата публикации: 1992-12-30.

High temperature chamber attachmentfor x-ray diffraction meter

Номер патента: SU1075128A2. Автор: Валерий Васильевич Петьков,Александр Вольфович Поленур,Георгий Михайлович Богун,Владимир Петрович Подорожный,Нина Алексеевна Горбачева. Владелец: Опытное Конструкторско-Технологическое Бюро С Опытным Производством Института Металлофизики Ан Усср. Дата публикации: 1984-02-23.

Goniometer for X-ray diffraction

Номер патента: JP2976380B2. Автор: 和夫 小柳. Владелец: Shimazu Seisakusho KK. Дата публикации: 1999-11-10.

X-ray diffraction measurement apparatus and imaging plate management method

Номер патента: JP5803353B2. Автор: 洋一 丸山,晴久 伊藤. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-04.

Method of x-ray diffraction survey of polycrystal materials

Номер патента: SU1733987A1. Автор: Марк Анатольевич Лившиц. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт электротермического оборудования. Дата публикации: 1992-05-15.

Method of obtaining x-ray diffraction topograms

Номер патента: SU752161A2. Автор: Елена Васильевна Соловьева,Нина Семеновна Мотора,Юрий Николаевич Ведерников,Зинаида Федоровна Смирнова,Владимир Олегович Есин,Вячеслав Михайлович Гундырев,Людмила Леонидовна Гавриловаи. Владелец: Институт физики металлов УНЦ АН СССР. Дата публикации: 1980-07-30.

X-ray diffraction method for determination of heterogeneous single crystal film sample deformation gradient

Номер патента: SU1629753A1. Автор: Матвей Нестерович Барашев,Феликс Николаевич Чуховский,Юрий Пшиканович Хапачев,Абдулхамид Кистуевич Шухостанов. Владелец: Предприятие П/Я Г-4727. Дата публикации: 1991-02-23.

Diamond detection using x-ray diffraction

Номер патента: CA2245131A1. Автор: Ulf Anders Staffan Tapper,George William Over,Christopher Bruce Mills,Daniel Jacobus Van Der Merwe,Stephanus Dawid Le Roux. Владелец: De Beers Consolidated Mines Ltd. Дата публикации: 1999-02-13.

X-ray diffraction device

Номер патента: JPH1048398A. Автор: Yuji Kobayashi,勇二 小林,Akihide Doshiyou,明秀 土性. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 1998-02-20.

Method of x-ray diffraction analysis of amorphous materials

Номер патента: SU1627941A1. Автор: Геннадий Михайлович Воробьев,Олег Борисович Гирин. Владелец: Днепропетровский Металлургический Институт. Дата публикации: 1991-02-15.

Polycrystal specimen x-ray diffraction analysis method

Номер патента: SU976358A1. Автор: Олег Константинович Колеров,Валентин Григорьевич Скрябин,Валентин Дмитриевич Юшин,Анатолий Николаевич Логвинов. Владелец: Куйбышевский Ордена Трудового Красного Знамени Авиационный Институт Им.Акад.С.П.Королева. Дата публикации: 1982-11-23.

Method of layer-to-layer x-ray diffraction analysis of surface layers of polycrystals

Номер патента: SU1318872A1. Автор: Вадим Иванович Тихонович,Виктор Николаевич Почта,Ольга Ивановна Бодрова. Владелец: Днепродзержинский Индустриальный Институт Им.М.И.Арсеничева. Дата публикации: 1987-06-23.

Film thickness measurement method using X-ray diffraction

Номер патента: JP3000892B2. Автор: 裕 菅野. Владелец: 株式会社新潟鉄工所. Дата публикации: 2000-01-17.

Back reflection X-ray diffraction image observation device

Номер патента: JP4589882B2. Автор: 哲夫 菊池. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-12-01.

Sample container for X-ray diffraction measurement

Номер патента: JP3890412B2. Автор: 秀明 田中,信宏 栗山,信彦 竹市,博 妹尾,哲 清林. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2007-03-07.

X-ray diffraction device

Номер патента: JPH10185844A. Автор: Tadayuki Fujiwara,忠幸 藤原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1998-07-14.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA232940A. Автор: W. Hull Albert,P. Davey Wheeler. Владелец: Canadian General Electric Co Ltd. Дата публикации: 1923-07-24.

MICROSCOPE AND AREA DETERMINATION METHOD

Номер патента: US20120002034A1. Автор: . Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROL BATTERY AND SPECIFICATION DETERMINING METHOD OF BATTERY

Номер патента: US20120004787A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Frequency determining method for three-phase voltage

Номер патента: RU2560145C1. Автор: Рамиль Гамилович Мустафин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Казанский государственный энергетический университет" (ФГБОУ ВПО "КГЭУ"). Дата публикации: 2015-08-20.

Acetylcholine determination method

Номер патента: RU2256920C2. Автор: В.Н. Дроздов,А.Э. Лычкова,И.Е. Трубицына,Л.Б. Лазебник. Владелец: Трубицына Ирина Евгеньевна. Дата публикации: 2005-07-20.

Photometric palladium(ii) determination method

Номер патента: RU2313088C1. Автор: Владимир Николаевич Лосев,Генриетта Всеволодовна Волкова,Сергей Игоревич Метелица. Владелец: Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский федеральный университет". Дата публикации: 2007-12-20.

Overcooled austenite stability determination method

Номер патента: RU2312904C1. Автор: Игорь Юрьевич Пышминцев,Дмитрий Александрович Пумпянский,нский Дмитрий Александрович Пумп,Владислав Альфредович Хотинов,Владимир Михайлович Фарбер,Константин Анатольевич Лаев,Марина Александровна Попова. Владелец: Государственное общеобразовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный технический университет - УПИ". Дата публикации: 2007-12-20.

Water hardness determining method

Номер патента: RU2378648C1. Автор: Александр Николаевич Накоскин,Олег Владимирович Фелистеев,Артем Владимирович Шаров. Владелец: Федеральное государственное учреждение "Российский научный центр "Восстановительная травматология и ортопедия" имени академика Г.А. Илизарова Федерального агентства по высокотехнологичной медицинской помощи". Дата публикации: 2010-01-10.

Resource scheduling method, resource determining method, enodeb, and user equipment

Номер патента: MY181130A. Автор: Suzuki Hidetoshi,WANG LI,Einhaus Michael,Golitschek Edler Von Elbwart Alexander,Hoshino Masayuki,Wang Lilei. Владелец: Panasonic Ip Corp America. Дата публикации: 2020-12-18.

Geographical knowledge mapping quality determination method based on life cycle theory

Номер патента: ZA202304324B. Автор: Peng Peng,Shu Wang,Yan Bai,Yunqiang Zhu,Peiyuan Qiu. Владелец: Inst Geographic Sciences & Natural Resources Res Cas. Дата публикации: 2023-11-29.

Optimal pressure drawdown determination method

Номер патента: RU2538563C1. Автор: Анатолий Федорович Косолапов,Василий Никифорович Пустовит. Владелец: Василий Никифорович Пустовит. Дата публикации: 2015-01-10.

Additional shunting zone determination method

Номер патента: RU2353537C1. Автор: Владимир Сергеевич Лочехин. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точной механики". Дата публикации: 2009-04-27.

Bored pile bearing capacity determining method

Номер патента: RU2349711C2. Автор: Анатолий Иванович Столяренко,Мирослав Владимирович Куценко,ренко Анатолий Иванович Стол. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "Статика Инжиниринг". Дата публикации: 2009-03-20.

Corrosion determination method for concrete poles substructure of power transmission lines and contact system

Номер патента: RU2521730C1. Автор: Василий Андреевич Кандаев,Ксения Васильевна Авдеева,Артем Владимирович Колесник. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Омский государственный университет путей сообщения" (ОмГУПС (ОмИИТ)). Дата публикации: 2014-07-10.

Dc voltage determining method

Номер патента: RU2452969C2. Автор: Евгений Антонович Бобровник,Виктор Николаевич Красинский,Виталий Леонидович Шевчук. Владелец: Виталий Леонидович Шевчук. Дата публикации: 2012-06-10.

Well depth determination method

Номер патента: RU2558563C1. Автор: Сергей Викторович Сластунов,Гиоргий Григолович Каркашадзе,Константин Сергеевич Коликов,Адам Магомет-Баширович Хаутиев. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС". Дата публикации: 2015-08-10.

Closed envelope volume or fluid-tightness degree determining method

Номер патента: RU2292536C1. Автор: Владимир Дмитриевич Горбач,Александр Иванович Воронин,Владислав Михайлович Кузавков,Валентин Валерьевич Штайц. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный научно-исследовательский институт технологии судостроения" (ФГУП "ЦНИИТС"). Дата публикации: 2007-01-27.

Sunflower honey freshness determination method

Номер патента: RU2471182C1. Автор: Юлия Валерьевна Данильчук. Владелец: Юлия Валерьевна Данильчук. Дата публикации: 2012-12-27.

Milk quality determination method

Номер патента: RU2504770C1. Автор: Михаил Сергеевич Павлов,Полина Исаевна Гунькова,Мария Викторовна Кольцова. Владелец: Мария Викторовна Кольцова. Дата публикации: 2014-01-20.

Reservoir conductivity determination method

Номер патента: RU2301886C1. Автор: Анастаси Викторовна Белова,Анастасия Викторовна Белова. Владелец: Анастасия Викторовна Белова. Дата публикации: 2007-06-27.

Concrete strength determination method

Номер патента: RU2247352C1. Автор: С.Г. Зимин. Владелец: Государственное унитарное предприятие "Научно- исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт бетона и железобетона" (ГУП "НИИЖБ"). Дата публикации: 2005-02-27.

Damaged section determination method for sectionalised line of ring network

Номер патента: RU2521968C1. Автор: Леонид Дмитриевич Суров,Игорь Николаевич Фомин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Орловский государственный аграрный университет" (ФГБОУ ВПО ОрелГАУ). Дата публикации: 2014-07-10.

Buckwheat honey identification determination method

Номер патента: RU2472148C1. Автор: Юлия Валерьевна Данильчук. Владелец: Юлия Валерьевна Данильчук. Дата публикации: 2013-01-10.

Rice groats freshness determination method

Номер патента: RU2563128C1. Автор: Юлия Валерьевна Данильчук,Ксения Борисовна Гурьева,Сергей Леонидович Белецкий,Анастасия Леонидовна Мастихина,Юлия Сергеевна Сумелиди. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение Научно-исследовательский институт проблем хранения Федерального агентства по государственным резервам. Дата публикации: 2015-09-20.

Determination method for dynamic parameters of marine movement mathematical model

Номер патента: RU2442718C1. Автор: Юрий Иванович Юдин,Сергей Владимирович Пашенцев. Владелец: Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мурманский государственный технический университет" (ФГОУВПО "МГТУ"). Дата публикации: 2012-02-20.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.