Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • X-RAY DIFFRACTIVE GRATING AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER

X-RAY DIFFRACTIVE GRATING AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER

Номер патента: US20170125134A1
Опубликовано: 04-05-2017
Автор(ы): Handa Soichiro
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

X-ray diffraction grating and X-ray Talbot interferometer

Номер патента: JP6608246B2. Автор: 宗一郎 半田. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-11-20.

X-RAY SHIELD GRATING AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER INCLUDING X-RAY SHIELD GRATING

Номер патента: US20150316494A1. Автор: Teshima Takayuki,NAKAMURA Takashi,Sato Genta. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-05.

X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM WITH INTEGRATED SUPERMIRROR

Номер патента: US20150276628A1. Автор: Harding Geoffrey. Владелец: Morpho Detection, LLC. Дата публикации: 2015-10-01.

X-ray talbot imaging apparatus and x-ray talbot imaging method

Номер патента: EP4455650A1. Автор: Mika MATSUSAKA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-30.

X-ray talbot imaging apparatus and x-ray talbot imaging method

Номер патента: US20240361256A1. Автор: Mika MATSUSAKA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-31.

X-ray talbot capturing apparatus

Номер патента: US10078058B2. Автор: Mitsuharu Kitamura,Yasunori Tsuboi. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-09-18.

X-ray talbot capturing apparatus

Номер патента: US20160349197A1. Автор: Mitsuharu Kitamura,Yasunori Tsuboi. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2016-12-01.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: US09613728B2. Автор: E. Michael Brauss. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1365231A3. Автор: Damian Kucharczyk. Владелец: Oxford Diffraction Ltd. Дата публикации: 2004-01-14.

X-ray diffraction imaging system with integrated supermirror

Номер патента: US20150276628A1. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2015-10-01.

Microcrystal structure analysis device, microcrystal structure analysis method, and x-ray shield device

Номер патента: US20150010132A1. Автор: Fumiko Kimura,Tsunehisa Kimura,Chiaki Tsuboi. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2015-01-08.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser comprising a substatially x-ray transparent member having an improved reflection geometry

Номер патента: ZA202102937B. Автор: James Richard Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2024-01-31.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser having an improved reflection geometry

Номер патента: SE545585C2. Автор: James Richard Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2023-10-31.

X-ray scattering apparatus and x-ray scattering method

Номер патента: EP4348229A1. Автор: Peter Hoghoj,Pierre Panine,Karsten Joensen. Владелец: Xenocs Sas. Дата публикации: 2024-04-10.

X-ray scattering apparatus and x-ray scattering method

Номер патента: WO2022248471A1. Автор: Peter Hoghoj,Pierre Panine,Karsten Joensen. Владелец: Xenocs Sas. Дата публикации: 2022-12-01.

X-ray scattering apparatus and x-ray scattering method

Номер патента: US20240248050A1. Автор: Peter Hoghoj,Pierre Panine,Karsten Joensen. Владелец: Xenocs Sas. Дата публикации: 2024-07-25.

X-RAY TALBOT INTERFEROMETER AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER SYSTEM

Номер патента: US20160356730A1. Автор: Handa Soichiro. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-08.

X-RAY TALBOT INTERFEROMETER

Номер патента: US20170038318A1. Автор: Handa Soichiro. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-09.

Long wave-length X-ray diffraction crystal and method of manufacturing the same

Номер патента: US4084089A. Автор: William P. Zingaro,Albert Sicignano. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1978-04-11.

Long wave-length x-ray diffraction crystal and method of manufacturing the same

Номер патента: CA1084175A. Автор: William P. Zingaro,Albert Sicignano. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1980-08-19.

X-ray diffraction device

Номер патента: CN110308168A. Автор: 刑部刚,光永彻. Владелец: Corporate Sociology. Дата публикации: 2019-10-08.

Soller slits, X-ray diffraction device and method

Номер патента: CN109709118A. Автор: 拉迪斯拉洛·皮娜,阿道夫·茵内曼,表和彦,小林信太郎. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-03.

X-ray detector and X-ray diffraction device

Номер патента: DE102013222196A1. Автор: Masaru Kuribayashi,Kazuyuki Matsushita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-04-30.

Soller slit, X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: CN109709118B. Автор: 拉迪斯拉洛·皮娜,阿道夫·茵内曼,表和彦,小林信太郎. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-04-26.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: EP2778666B1. Автор: E. Michael Brass. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

SOLLER SLIT, X-RAY DIFFRACTION APPARATUS, AND METHOD

Номер патента: US20190122782A1. Автор: Kobayashi Shintaro,OMOTE Kazuhiko,PINA LADISLAV,INNEMAN ADOLF. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-04-25.

X-Ray Diffraction Apparatus And Method

Номер патента: US20140270090A1. Автор: Brauss E. Michael. Владелец: Proto Manufacturing Ltd.. Дата публикации: 2014-09-18.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20190293575A1. Автор: MITSUNAGA Toru,OSAKABE Takeshi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-26.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: EP2778666A3. Автор: E. Michael Brass. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2014-12-03.

Imaging plate x-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1102060A4. Автор: Yuji Ohashi,Yutaka Yokozawa,Kutsunari Sasaki. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2003-07-09.

X-ray scattering measurement device and x-ray scattering measurement method

Номер патента: US20120051518A1. Автор: Licai Jiang,Boris Verman,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-03-01.

BEAM GENERATION UNIT AND X-RAY SMALL-ANGLE SCATTERING APPARATUS

Номер патента: US20170010226A1. Автор: OMOTE Kazuhiko,ITO Kazuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-01-12.

Device comprising a collimator for x-ray diffraction spectrometry and its use

Номер патента: EP3163582A1. Автор: Guillaume Montemont,Caroline Paulus,Fanny MARTICKE. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2017-05-03.

Collimator for x-ray diffraction spectroscopy, associated device and its use

Номер патента: US20170125133A1. Автор: Guillaume Montemont,Caroline Paulus,Fanny MARTICKE. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2017-05-04.

X-ray diffraction device

Номер патента: JP2017223539A. Автор: Katsuhiko Inaba,信太郎 小林,克彦 稲葉,Shintaro Kobayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

MICROCRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS DEVICE, MICROCRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS METHOD, AND X-RAY SHIELD DEVICE

Номер патента: US20150010132A1. Автор: Kimura Tsunehisa,Kimura Fumiko,Tsuboi Chiaki. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

X-ray apparatus, method of using the same and x-ray irradiation method

Номер патента: US20110268252A1. Автор: Ryuji Matsuo,Tetsuya Ozawa,Licai Jiang,Boris Verman,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2011-11-03.

X-ray talbot interferometer

Номер патента: US20170038318A1. Автор: Soichiro Handa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-09.

X-ray diffraction microscope apparatus and X-ray diffraction measurement method using X-ray diffraction microscope apparatus

Номер патента: JP3834652B2. Автор: 健次 桜井,多鶴子 水沢. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2006-10-18.

X-ray talbot interferometer and x-ray talbot interferometer system

Номер патента: EP3105763B1. Автор: Soichiro Handa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-09-11.

X-ray talbot interferometer and x-ray talbot interferometer system

Номер патента: EP3105763A1. Автор: Soichiro Handa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-12-21.

Energy dispersive X-ray diffraction analyser with improved reflection geometry

Номер патента: CN113167747A. Автор: 詹姆斯·理查德·蒂克纳,乔尔·奥德怀尔. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2021-07-23.

Microbeam collimator and method for realizing high-resolution X-ray diffraction using the same

Номер патента: JP2004510156A. Автор: パパイアンヌ，ディミトリオス,スピノ，ジョセルイ. Владелец: ユーラトム. Дата публикации: 2004-04-02.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser having an improved reflection geometry

Номер патента: FI20215587A1. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2021-05-18.

Method of conducting an x-ray diffraction-based crystallography analysis

Номер патента: EP3100033A1. Автор: Michael Ruf,Joerg KAERCHER,Bruce NOLL. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2016-12-07.

Method of conducting an x-ray diffraction-based crystallography analysis

Номер патента: WO2015114613A1. Автор: Michael Ruf,Joerg KAERCHER,Bruce NOLL. Владелец: Bruker AXS, Inc. Дата публикации: 2015-08-06.

Primary collimator and systems for x-ray diffraction imaging, and method for fabricating a primary collimator

Номер патента: WO2010065460A2. Автор: Geoffrey Harding,Helmut Rudolf STRECKER,Johannes Delfs. Владелец: Morpho Detection, Inc.. Дата публикации: 2010-06-10.

Primary collimator and systems for x-ray diffraction imaging, and method for fabricating a primary collimator

Номер патента: WO2010065460A3. Автор: Geoffrey Harding,Helmut Rudolf STRECKER,Johannes Delfs. Владелец: Morpho Detection, Inc.. Дата публикации: 2010-08-19.

Dual neutron and x ray imaging

Номер патента: WO2024018249A1. Автор: Serge Duarte Pinto,Dmitriy Sergeevich TIPIKIN. Владелец: PHOTONIS FRANCE. Дата публикации: 2024-01-25.

Diffraction gratings

Номер патента: US3585121A. Автор: Kevin Lindsey,Albert Franks. Владелец: National Research Development Corp UK. Дата публикации: 1971-06-15.

LONG WAVELENGTH X-RAY DIFFRACTION CRYSTAL, AND METHOD FOR THE MANUFACTURE OF SUCH A CRYSTAL

Номер патента: FR2374654A1. Автор: . Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1978-07-13.

X-ray diffraction apparatus and x-ray diffraction method

Номер патента: RU2449262C2. Автор: Хидео ТОРАЯ. Владелец: Ригаку Корпорейшн. Дата публикации: 2012-04-27.

X-ray diffraction method and portable X-ray diffraction apparatus using same

Номер патента: US09518940B2. Автор: Asao Nakano,Yoshinori Ueji. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

X-ray diffraction instrument for measuring an object larger than the x-ray detector

Номер патента: EP2559993A3. Автор: Yun Wang,Toshikazu Kikuchi,Hisamitu Hatou. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-10-23.

Method and its apparatus for x-ray diffraction

Номер патента: US09417195B2. Автор: Shigeru Munekawa,Hideo Toraya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

X-ray diffraction analysis method and X-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: US10712294B2. Автор: Shuuichi DOI. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-07-14.

X-ray diffraction meter

Номер патента: RU2664774C1. Автор: Кирилл Сергеевич Сметанин,Нариман Смаилович Ибраимов,Андзор Адалгериевич Болотоков,Роман Михайлович Тимаков. Владелец: Андзор Адалгериевич Болотоков. Дата публикации: 2018-08-22.

X-ray diffraction method

Номер патента: WO2003062805A3. Автор: Alexander M Korsunsky. Владелец: Alexander M Korsunsky. Дата публикации: 2003-11-27.

X-ray diffraction method

Номер патента: EP1468276A2. Автор: Alexander M. Dpt.of Engineering Science KORSUNSKY. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2004-10-20.

X-ray diffraction method

Номер патента: EP1468276B1. Автор: Alexander M. Dpt.of Engineering Science KORSUNSKY. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2009-09-02.

X-ray diffraction contrast tomography (dct) system, and an x-ray diffraction contrast tomography (dct) method

Номер патента: US20120008736A1. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Henning Friis Poulsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2012-01-12.

An x-ray diffraction contrast tomography (dct) system, and an x-ray diffraction contrast (dct) method using a first and a secondary x-ray detector

Номер патента: WO2012003839A1. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Henning Friis Poulsen. Владелец: DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET. Дата публикации: 2012-01-12.

An x-ray diffraction contrast tomography (dct) system, and an x-ray diffraction contrast (dct) method using a first and a secondary x-ray detector

Номер патента: EP2591342A1. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Henning Friis Poulsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2013-05-15.

Systems and methods for X-ray diffraction

Номер патента: US09976971B2. Автор: David U. Furrer,Iuliana Cernatescu. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

X-ray diffraction device and method to measure stress with 2d detector and single sample tilt

Номер патента: US20180372658A1. Автор: Bob Baoping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2018-12-27.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: US20240068966A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2024-02-29.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: CA3181654A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2021-12-16.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: EP4162261A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2023-04-12.

Single crystal quartz chips for protein crystallization and X-ray diffraction data collection and related methods

Номер патента: US09632042B2. Автор: ZHONG Ren. Владелец: Renz Research Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Measurement of crystallite size distribution in polycrystalline materials using two-dimensional x-ray diffraction

Номер патента: EP3771904A3. Автор: Bob Baoping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2021-03-24.

Measurement of crystallite size distribution in polycrystalline materials using two-dimensional x-ray diffraction

Номер патента: US20210033546A1. Автор: Bob Baoping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2021-02-04.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1739413A2. Автор: Takeyoshi Rigaku Corporation Taguchi,Masaru Rigaku Corporation Kuribayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2007-01-03.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: US20110317813A1. Автор: Takuto Sakumura,Yuji Tsuji,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama,Kimiko Hasegawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2011-12-29.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: US20120269322A1. Автор: Takuto Sakumura,Yuji Tsuji,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama,Kimiko Hasegawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: WO2004013683A3. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P Rose. Владелец: John P Rose. Дата публикации: 2004-04-29.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: EP1529236A2. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P. Rose. Владелец: University of Georgia Research Foundation Inc UGARF. Дата публикации: 2005-05-11.

X-Ray Diffraction Method

Номер патента: US20070071170A1. Автор: Michael Brauss. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Apparatus and method for measuring a layer of a semiconductor device using x-ray diffraction

Номер патента: US20240241067A1. Автор: Seungchul Lee,Younghoon Sohn. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-18.

Device and method for measuring short-wavelength characteristic X-ray diffraction based on array detection

Номер патента: US12099025B2. Автор: Lin Zheng,JIN Zhang,Xin Chen,Kun Zhou,Fangchao ZHAO,Changguang He,Chengzhang Wang,Shitao DOU,Lunwu ZHANG,Xianhe FENG,Taibin WU,Luchang CHE. Владелец: 59th Institute Of China Ordnance Industry. Дата публикации: 2024-09-24.

Methods of identifying original and counterfeit articles using micro x-ray diffraction mapping

Номер патента: WO2012174232A3. Автор: Michael Ward,Chunhua Hu,Daniele MUSUMECI. Владелец: New York University. Дата публикации: 2013-03-21.

X-ray diffraction method

Номер патента: US7283612B2. Автор: Michael Brausss. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2007-10-16.

X-ray diffraction system and method

Номер патента: WO2004083815A2. Автор: Michael Brauss. Владелец: Proto Manufacturing Llc.. Дата публикации: 2004-09-30.

Protective mark and x-ray device for reading thereof

Номер патента: RU2688240C1. Автор: Александр Георгиевич Турьянский. Владелец: Александр Георгиевич Турьянский. Дата публикации: 2019-05-21.

Measuring strain of epitaxial films using micro x-ray diffraction for in-line metrology

Номер патента: US20100208869A1. Автор: Thomas N. Adam,Anita Madan,Eric C. Harley,Teresa L. Pinto. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: WO2000058718A9. Автор: Michael Brauss. Владелец: XRD TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2002-08-01.

X-ray diffraction system and method

Номер патента: WO2004083815A3. Автор: Michael Brauss. Владелец: Proto Mfg Llc. Дата публикации: 2005-02-03.

X-ray diffraction imaging system using debye ring envelopes

Номер патента: US09921173B2. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-03-20.

Cell for x-ray analysis and x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20190145915A1. Автор: Masao Kimura,Yasuhiro Onishi,Ken'ichi Kimijima,Daiji Asahara. Владелец: Inter University Research Institute Corp High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2019-05-16.

X-ray source for x-ray diffraction apparatus, related apparatus and method

Номер патента: CA3204404A1. Автор: Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Stanislav VEINBERG. Владелец: Proto Patents Ltd. Дата публикации: 2022-07-14.

Method for collecting accurate X-ray diffraction data with a scanning two-dimensional detector

Номер патента: US09897559B2. Автор: Bob Baoping He,Christian Maurer,Christoph Ollinger,Olaf Meding. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

A system and a method for resolving a crystal structure of a crystal at atomic resolution by collecting x-ray diffraction images

Номер патента: EP3380830A1. Автор: Takashi TOMIZAKI,Dr. Soichiro TSUJINO. Владелец: Scherrer Paul Institut. Дата публикации: 2018-10-03.

A system and a method for resolving a crystal structure of a crystal at atomic resolution by collecting x-ray diffraction images

Номер патента: CA3005773C. Автор: Soichiro Tsujino,Takashi TOMIZAKI. Владелец: Scherrer Paul Institut. Дата публикации: 2021-06-01.

X-ray source for x-ray diffraction apparatus, related apparatus and method

Номер патента: WO2022147623A1. Автор: Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Stanislav VEINBERG. Владелец: Proto Manufacturing Ltd.. Дата публикации: 2022-07-14.

Method and apparatus for x-ray diffraction analysis

Номер патента: EP1720006A1. Автор: Michael Hennig,Urs Schwitter,Remo Hochstrasser,Olaf Grassman. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2006-11-08.

Transmission x-ray diffraction apparatus and related method

Номер патента: CA3191201A1. Автор: Vedran Nicholas VUKOTIC,Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Matt Williams,Michael Brauss,Stanislav VEINBERG,Maxime Le Ster,Anton Dmitrienko. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2023-08-25.

Sample holder for x-ray diffraction analysis and x-ray diffraction analysis method using the same

Номер патента: US20240044818A1. Автор: Sang Heon Lee,Yun Sung Kim,Hae Ryoung Kim,Ga Hyeon Im,Kyu Joon Lee,Yoon Kwang LEE,Byeong Hyeon LEE,Jae Pyoung AHN,Hyun Woo Gong. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Determining atomic coordinates from x-ray diffraction data

Номер патента: US20210302332A1. Автор: David Hurwitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-30.

Method for monitoring the crystallographic texture of metallic tubes by use of x-ray diffraction

Номер патента: CA1241460A. Автор: George P. Sabol,Robert J. Comstock. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1988-08-30.

An x-ray diffraction camera

Номер патента: GB727282A. Автор: . Владелец: Licentia Patent Verwaltungs GmbH. Дата публикации: 1955-03-30.

X-Ray Diffraction Measuring Apparatus Having Debye-Scherrer Optical System Therein, and an X-ray Diffraction Measuring Method for the Same

Номер патента: US20090086910A1. Автор: Go Fujinawa,Ryuji Matsuo,Tetsuya Ozawa,Akira Echizenya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2009-04-02.

X-ray diffraction instrument

Номер патента: GB1390710A. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 1975-04-16.

X-ray diffraction apparatus, x-ray diffraction measuring method, and control program

Номер патента: US20140314206A1. Автор: Shoichi Yasukawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: WO2022043340A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical B.V.. Дата публикации: 2022-03-03.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: EP3961199A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-03-02.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: EP4111184A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-01-04.

X-ray detector for x-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: US20230296538A1. Автор: Roelof De Vries,Sander WEIJERS. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-21.

X-RAY diffraction apparatus, X-RAY diffraction measuring method, and control program

Номер патента: US9347895B2. Автор: Shoichi Yasukawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-05-24.

Method for computing crystal shapes from X-ray diffraction data (XRD) of a substance

Номер патента: US20070168130A1. Автор: Daniel Sherwood,Bosco Emmanuel. Владелец: Council of Scientific and Industrial Research CSIR. Дата публикации: 2007-07-19.

Methods and apparatus for X-ray diffraction

Номер патента: US09952165B2. Автор: Graeme Mark HANSFORD. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2018-04-24.

Automated system for use in the determination of subsurface material properties by x-ray diffraction

Номер патента: CA2195710C. Автор: Paul S. Prevey, III,Glenn A. Plunkett. Владелец: Lambda Research Inc. Дата публикации: 2002-08-13.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: WO2003087795A3. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Paul Frederick Fewster. Дата публикации: 2004-02-12.

Method of dynamically displaying a scattering vector of X-ray diffraction

Номер патента: EP1482303A3. Автор: Susumu Yamaguchi,Tetsuya Ozawa,Kohji Kakefuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2005-12-21.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1495311A2. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2005-01-12.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: US20050226379A1. Автор: Paul Fewster. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-13.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: WO2003087795A2. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: PANALYTICAL B.V.. Дата публикации: 2003-10-23.

X-ray diffraction camera

Номер патента: CA1151779A. Автор: Vincent J. Manners. Владелец: Commonwealth of Australia. Дата публикации: 1983-08-09.

Systems and methods for x-ray diffraction virtual spectroscopy

Номер патента: US20200326290A1. Автор: Michael Ayukawa,Krzysztof Iniewski,Conny HANSSON. Владелец: Redlen Technologies Inc. Дата публикации: 2020-10-15.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: US20060067470A1. Автор: John Rose,Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-30.

X-ray diffraction-based defective pixel correction method using an active pixel array sensor

Номер патента: EP3019857A1. Автор: Joerg KAERCHER,John L. Chambers. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2016-05-18.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: US3852594A. Автор: F Paolini. Владелец: Pepi Inc. Дата публикации: 1974-12-03.

X-ray diffraction-based defective pixel correction method using an active pixel array sensor

Номер патента: US20150016594A1. Автор: Joerg KAERCHER,John L. Chambers. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2015-01-15.

X-ray diffraction imaging system using debye ring envelopes

Номер патента: EP2946201A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-11-25.

X-ray diffraction imaging system using debye ring envelopes

Номер патента: WO2014111684A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: Cranfield University. Дата публикации: 2014-07-24.

X-ray source for x-ray diffraction apparatus, related apparatus and method

Номер патента: US20240060911A1. Автор: Mohammed Belassel,Alec ISKRA,Stanislav VEINBERG. Владелец: Proto Patents Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Determining atomic coordinates from X-ray diffraction data

Номер патента: US11860114B2. Автор: David Hurwitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-02.

Identifying charge sharing in x-ray diffraction

Номер патента: WO2022043313A1. Автор: Roelof De Vries,Vladimir Jovanovic. Владелец: Malvern Panalytical B.V.. Дата публикации: 2022-03-03.

Source productivity assay integrating pyrolysis data and x-ray diffraction data

Номер патента: US20230184737A1. Автор: David Jacobi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-06-15.

Process and apparatus for the x-ray diffraction characterization of a material with amorphous phase

Номер патента: EP1260812B1. Автор: Herbert Pollmann,Günther Walenta,Thomas Fullman,Torsten Westphal. Владелец: Lafarge SA. Дата публикации: 2006-11-02.

Improvements in or relating to x-ray diffraction apparatus

Номер патента: GB739345A. Автор: . Владелец: Philips Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1955-10-26.

X-ray diffraction method for generating mineralogy record of whole core

Номер патента: CA1316274C. Автор: David C. Herrick. Владелец: BP Corp North America Inc. Дата публикации: 1993-04-13.

Method for preparing reference samples for determining residual austenite by x-ray diffraction

Номер патента: EP3988927A1. Автор: Luca SERALESSANDRI,Alice ELIA. Владелец: Gnr Srl. Дата публикации: 2022-04-27.

Identifying charge sharing in x-ray diffraction

Номер патента: US20230293127A1. Автор: Roelof De Vries,Vladimir Jovanovic. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-21.

Ball-mapping system comprising a sample stage and a sample holder for receiving ball-shaped sample, and method of operating ball-mapping system for collecting x-ray diffraction data at measurement points located on ball-shaped sample

Номер патента: US11846593B2. Автор: Alec ISKRA,Michael Brauss,James PINEAULT,Bogdan LEVCOVICI. Владелец: Proto Patents Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Method for detecting internal stress distribution of transparent material based on x-ray diffraction (xrd)

Номер патента: US20240345007A1. Автор: Yao Tang,Xiaoping Ouyang,Jiakun Wu,Haikuo WANG. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-10-17.

Methods and apparatus for x-ray diffraction

Номер патента: EP2839269A1. Автор: Graeme Mark HANSFORD. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2015-02-25.

Apparatus and method of converting x-ray diffraction-patterns

Номер патента: GB829040A. Автор: John Edward Lloyd. Владелец: Esso Research and Engineering Co. Дата публикации: 1960-02-24.

Method and apparatus for simultaneous phase composition and residual stress measurement by x-ray diffraction

Номер патента: US5148458A. Автор: Clayton Ruud. Владелец: Clayton Ruud. Дата публикации: 1992-09-15.

Methods and apparatus for X-ray diffraction

Номер патента: GB201214344D0. Автор: . Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2012-09-26.

X-RAY DIFFRACTION CONTRAST TOMOGRAPHY (DCT) SYSTEM, AND X-RAY DIFFRACTION CONTRAST TOMOGRAPHY (DCT) METHOD

Номер патента: US20130101078A1. Автор: Lauridsen Erik Mejdal,POULSEN Henning Friis. Владелец: DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET. Дата публикации: 2013-04-25.

Mounting system and sample holder for x-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA3033090A1. Автор: Vedran Nicholas VUKOTIC,William BOYER,Mohammed Belassel,Alec ISKRA. Владелец: Proto Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

X-Ray diffraction camera

Номер патента: US4413354A. Автор: Vincent J. Manners. Владелец: Commonwealth of Australia. Дата публикации: 1983-11-01.

Source productivity assay integrating pyrolysis data and X-ray diffraction data

Номер патента: US11885790B2. Автор: David Jacobi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-01-30.

X-ray talbot capturing apparatus

Номер патента: US20180348148A1. Автор: Junko Yoshida. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-12-06.

X-RAY WAVEGUIDE AND X-RAY WAVEGUIDE SYSTEM

Номер патента: US20130182827A1. Автор: Okamoto Kohei,Komoto Atsushi,Miyata Hirokatsu,Noma Takashi. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-07-18.

Airtight box for x-ray diffraction measurements

Номер патента: EP4134664A2. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-02-15.

Airtight box for x-ray diffraction measurements

Номер патента: EP3828533A3. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-09-22.

Airtight box for x-ray diffraction measurements

Номер патента: EP3828533A2. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-06-02.

Method for Manufacturing Metal Lattice, Metal Lattice Manufactured by the Method, and X-ray Imaging Device using the Metal Lattice

Номер патента: US20130279651A1. Автор: Mitsuru Yokoyama. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2013-10-24.

METHOD AND X-RAY APPARATUS FOR GENERATING A PROJECTIVE X-RAY REPRESENTATION OF AN EXAMINATION OBJECT

Номер патента: US20180073995A1. Автор: RITSCHL Ludwig,Bartl Peter,SUTTER Sven-Martin,RADICKE MARCUS. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-15.

Diffraction grating for X-ray Talbot interferometer, method of manufacturing the same, and X-ray Talbot interferometer

Номер патента: EP2511912A3. Автор: Atsushi Nagata,Satoshi Nakayama,Takeshi Umemoto,Yoshiharu Shirakawabe,Yoshitomo Nakagawa,Mayu Watanabe. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-11-06.

Film-precoated accurate dosing cells for x-ray diffraction analyser

Номер патента: RU2479836C2. Автор: Джон БУРДЕТТ,Даниэл Л. ДУНХАМ,Джеймс Б. КВИНН. Владелец: Икс-Рей Оптикал Системс, Инк.. Дата публикации: 2013-04-20.

Secondary collimator for an X-ray diffraction device and X-ray diffraction device

Номер патента: DE102004014445B4. Автор: Helmut Dr. Strecker,Geoffrey Dr. Harding,Dirk Dr. Kosciesza,Stephan Olesinski. Владелец: Yxlon International Security GmbH. Дата публикации: 2006-05-18.

Tomographic energy dispersive x-ray diffraction apparatus comprising an array of detectors and associated collimators

Номер патента: EP1629267A1. Автор: Robert Cernik. Владелец: Council for the Central Laboratory of the Research Councils. Дата публикации: 2006-03-01.

X-RAY DIAPHRAGM MECHANISM AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20140079179A1. Автор: Suzuki Tsutomu,Takagaki Norifumi,Mochitate Mikio. Владелец: HITACHI MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2014-03-20.

Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system

Номер патента: US20190011379A1. Автор: Srivatsan Seshadri,Alan Francis Lyon,Wenbing Yun,Janos KIRZ,Benjamin Donald STRIPE,Sylvia Jia Yun LEWIS. Владелец: Sigray Inc. Дата публикации: 2019-01-10.

COMPUTED TOMOGRAPHY DEVICE BASED ON STRAIGHT TRAJECTORY AND X-RAY IMAGING DEVICE

Номер патента: US20150085973A1. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Li Yuanjing,Li Jianmin,Li Mingliang. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-26.

X-RAY APPARATUS AND X-RAY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150160141A1. Автор: Mukaide Taihei,Niinuma Yuto. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

Portable x-ray detector with grid sensing unit and x-ray imaging system for automatic exposure setting for portable x-ray detector

Номер патента: RU2507619C2. Автор: Ханнс-Инго МАК. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2014-02-20.

X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS AND X-RAY BEAM LIMITING CONTROL METHOD

Номер патента: US20130142304A1. Автор: Matsumoto Masanori,SHIRAISHI Kunio,Oohashi Shumpei. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-06.

X-RAY GENERATING APPARATUS AND X-RAY FLUOROSCOPYIMAGING SYSTEM EQUIPPED WITH THE SAME

Номер патента: US20180090294A1. Автор: Chen Huaibi,Tang Chuanxiang,Tang Huaping. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-29.

X-RAY OPTICAL COMPONENT DEVICE AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150098547A1. Автор: Ozawa Tetsuya,WAKASAYA Kenji. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-09.

Method for Producing an XUV and X-Ray Diffractive Optic

Номер патента: US20200398509A1. Автор: Gisela SCHÜTZ,Metin Sitti,Kahraman KESKINBORA,Hakan Ceylan,Umut Tunca SANLI. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2020-12-24.

Method for producing an xuv and x-ray diffractive optic

Номер патента: WO2019170399A1. Автор: Kahraman KESKINBORA,Hakan Ceylan,Umut Tunca SANLI,DR. Metin SITTI,PROF. DR. Gisela SCHÜTZ. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V.. Дата публикации: 2019-09-12.

Equivalent phantom and method of evaluating quality of X-ray talbot imaging apparatus with the same

Номер патента: US09572541B2. Автор: Yoshihide Hoshino. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-02-21.

Equivalent phantom and method of evaluating quality of x-ray talbot imaging apparatus with the same

Номер патента: US20150327834A1. Автор: Yoshihide Hoshino. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2015-11-19.

High aspect-ratio X-ray diffractive structure stabilization methods and systems

Номер патента: US7864426B2. Автор: Yan Feng,Alan Francis Lyon,Wenbing Yun. Владелец: Xradia Inc. Дата публикации: 2011-01-04.

Photoluminescent phosphors and x-ray imaging systems utilizing such phosphors

Номер патента: CA1215212A. Автор: John F. Ackerman. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1986-12-16.

X-ray imaging device and x-ray imaging method

Номер патента: RU2510048C1. Автор: Масатоси ВАТАНАБЕ,Тайхей МУКАЙДЕ,Кадзухиро ТАКАДА,Кадзунори ФУКУДА,Такаси НОМА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2014-03-20.

Scintillator unit comprising absorbing x-rays shell and x-ray detector matrix having such scintillator unit

Номер патента: RU2605520C2. Автор: Симха ЛЕВЕН,ЛАТ Антониус Вильхельмус Мария ДЕ,Рафаэль ГОШЕН,Герардус Францискус Корнелис Мария ЛИЙТЕН,ВЕН Николас Йоханнес Антониус ВАН,Лев ГРЕГОРИАН. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2016-12-20.

X-ray generator and x-ray imaging apparatus

Номер патента: WO2013032019A1. Автор: Kazuyuki Ueda,Yoshihiro Yanagisawa,Ichiro Nomura,Shigeki Matsutani,Miki Tamura,Takao Ogura,Tamayo Hiroki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-03-07.

Novel Objective for EUV Microscopy, EUV Lithography, and X-Ray Imaging

Номер патента: US20150055755A1. Автор: Kenneth W. Hill,Philip Efthimion,Manfred Bitter. Владелец: PRINCETON UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-02-26.

X-ray detector device, glass body for shielding optical detector means of a workpiece measuring device, and X-ray tomography workpiece measuring system

Номер патента: US11953453B2. Автор: Martin Simon,Severin Ebner. Владелец: Intom GmbH. Дата публикации: 2024-04-09.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255443A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

X-ray generator and X-ray imaging apparatus

Номер патента: US09595415B2. Автор: Kazuyuki Ueda,Yoshihiro Yanagisawa,Ichiro Nomura,Shigeki Matsutani,Miki Tamura,Takao Ogura,Tamayo Hiroki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

X-ray shield grating and x-ray talbot interferometer including x-ray shield grating

Номер патента: US20150316494A1. Автор: Takashi Nakamura,Takayuki Teshima,Genta Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-11-05.

X-ray diffraction-based scanning system

Номер патента: US20060193434A1. Автор: Michael Green. Владелец: Green Michael C. Дата публикации: 2006-08-31.

Capacitance monitoring using X-ray diffraction

Номер патента: US09870960B2. Автор: Conal E. Murray,Oh-Jung Kwon,Anita Madan,Kriteshwar K. Kohli,DongHun Kang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Structure for pressurization analysis, x-ray diffraction apparatus and pressurization analysis system

Номер патента: EP3974820A1. Автор: Koichiro Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-03-30.

Structure for pressurization analysis, X-ray diffraction apparatus and pressurization analysis system

Номер патента: US11913891B2. Автор: Koichiro Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-02-27.

X-ray imaging device and x-ray imaging method

Номер патента: RU2491578C1. Автор: Масатоси ВАТАНАБЕ,Тайхей МУКАЙДЕ,Кадзухиро ТАКАДА,Кадзунори ФУКУДА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2013-08-27.

Method for improving ability to recognise materials in x-ray inspection system, and x-ray inspection system

Номер патента: RU2462702C2. Автор: Уве ЗИДЕНБУРГ. Владелец: Смитс Хайманн Гмбх. Дата публикации: 2012-09-27.

Anode and x-ray generating tube, x-ray generating apparatus and radiography system using same

Номер патента: RU2668085C2. Автор: Ясуо ОХАСИ,Кадзуюки УЕДА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-09-26.

Medical imaging system for combined magnetic resonance imaging and x-ray imaging

Номер патента: US20180049708A1. Автор: Yiannis Kyriakou,Dirk Ertel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-02-22.

X-RAY TALBOT INTERFEROMETER AND X-RAY IMAGING SYSTEM INCLUDING TALBOT INTERFEROMETER

Номер патента: US20140270061A1. Автор: Yamaguchi Kimiaki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-09-18.

X-RAY TALBOT INTERFEROMETER AND X-RAY TALBOT IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20140270060A1. Автор: Ouchi Chidane,Sato Genta,Date Takashi. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-09-18.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP3285065B1. Автор: Tetsuya Ozawa,Takeshi Osakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-10-06.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20180052121A1. Автор: Ozawa Tetsuya,OSAKABE Takeshi. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP3285065A1. Автор: Tetsuya Ozawa,Takeshi Osakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-02-21.

X-RAY TALBOT CAPTURING APPARATUS

Номер патента: US20160349197A1. Автор: Kitamura Mitsuharu,Tsuboi Yasunori. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-01.

X-RAY SOURCE, X-RAY IMAGING APPARATUS, AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20130108012A1. Автор: Sato Genta. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-05-02.

MOVABLE DIAPHRAGM UNIT, X-ray GENERATING APPARATUS AND X-RAY IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20150131781A1. Автор: Kazuyuki Ueda,Yasuo Ohashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-05-14.

Radiation to photoneutron converting target and x-ray and photonuetron source

Номер патента: RU2408942C1. Автор: Хайфенг ХУ,Зиран ЖАО,Хуа ПЕНГ,Юанджинг ЛИ,Кеджун КАНГ,Йиганг ЯНГ,Йинонг ЛИУ,Джикианг ЧЕН,Китиан МИАО,Джианпинг ЧЕН,Тиежу ЛИ,Йаохонг ЛИУ,Ванлонг ВУ. Владелец: Нуктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2011-01-10.

Methods of Examining an Item of Luggage by Means of an X-Ray Diffraction Method

Номер патента: US20090016487A1. Автор: Helmut Strecker,Gabriel Zienert,Armin Schmiegel. Владелец: GE Homeland Protection Inc. Дата публикации: 2009-01-15.

Apparatus for measuring surface stress by X-ray diffraction

Номер патента: US3934138A. Автор: Jeans Bens. Владелец: Compagnie Generale de Radiologie SA. Дата публикации: 1976-01-20.

X-ray beam intensity monitoring device and x-ray radiation monitoring system

Номер патента: RU2695099C2. Автор: Юйлань ЛИ,Юаньцзин ЛИ,Яохун ЛЮ,Кэцзюнь КАН,Цзыжань ЧЖАО,Иньон ЛЮ,Шувэй ЛИ,Цинцзюнь ЧЖАНЬ,Вэйбинь ЧЖУ,Сяолинь ЧЖАО,Хуэйшао ХЭ. Владелец: Ньюктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2019-07-19.

Support component for use in imaging by magnetic resonance and x-ray

Номер патента: US20100249575A1. Автор: Labros Petropoulos,Alexander Shvartsberg,Victoria D. M. Hornblower. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-09-30.

Radiography backscatter shields and x-ray imaging systems including backscatter shields

Номер патента: WO2019157179A1. Автор: Paul Benson,Brian GIROUARD,Jason BOURN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC.. Дата публикации: 2019-08-15.

Radiography backscatter shields and x-ray imaging systems including backscatter shields

Номер патента: US20190239830A1. Автор: Paul Benson,Brian GIROUARD,Jason BOURN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2019-08-08.

Radiography backscatter shields and x-ray imaging systems including backscatter shields

Номер патента: CA3090289C. Автор: Paul Benson,Brian GIROUARD,Jason BOURN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-26.

Radiography backscatter shields and x-ray imaging systems including backscatter shields

Номер патента: EP3749984A1. Автор: Paul Benson,Brian GIROUARD,Jason BOURN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2020-12-16.

Analyzing method of phase information, analyzing program of the phase information, storage medium, and x-ray imaging apparatus

Номер патента: US20120294420A1. Автор: Kentaro Nagai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-11-22.

A scintillator, scintillator assembly, x-ray detector and x-ray imaging system and a method for manufacturing a scintillator

Номер патента: US20190004187A1. Автор: Olof Svenonius,Anna SAHLHOLM. Владелец: Scint X AB. Дата публикации: 2019-01-03.

SCINTILLATOR PANEL AND X-RAY DETECTOR USING SAME

Номер патента: US20210173100A1. Автор: Shigeta Kazuki,Miyao Sho,Sakaino Hirotoshi. Владелец: Toray Industries, Inc.. Дата публикации: 2021-06-10.

An online energy dispersive x-ray diffraction analyser

Номер патента: CA2701670C. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2018-01-16.

Method and arrangement for characterizing fat bloom and quality of chocolate containing surfaces by x-ray diffraction

Номер патента: WO2012079800A1. Автор: Peter Laggner,Markus Weygand. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2012-06-21.

Detecting assembly for x-ray diffraction measurements

Номер патента: RU2242748C1. Автор: С.В. Никитина,М.А. Кумахов,А.Е. Булкин,Н.С. Ибраимов,А.В. Лютцау,Е.В. Лихушина. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Институт рентгеновской оптики". Дата публикации: 2004-12-20.

X-ray diffraction based crystal centering method using an active pixel array sensor in rolling shutter mode

Номер патента: US09417196B2. Автор: Joerg KAERCHER. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2016-08-16.

Detector stand and x-ray diffraction apparatus

Номер патента: US20240255446A1. Автор: Atsushi Kuji,Yuji SHIRAMATA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Method for measuring powder x-ray diffraction data using one- or two-dimensional detector

Номер патента: EP1310786A3. Автор: Jimpei Harada,Masaki Takata,Eiji Japan Synchrotron Radiation Nishibori,Makoto Japan Synchrotron Radiation Sakata. Владелец: Japan Atomic Energy Research Institute. Дата публикации: 2003-07-02.

An x-ray diffraction contrast tomography (dct) system, and an x-ray diffraction contrast (dct) method using a first and a secondary x-ray detector

Номер патента: EP2591342A4. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Henning Friis Poulsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2015-04-29.

System and method for in-situ X-ray diffraction-based real-time monitoring of microstructure properties of printing objects

Номер патента: US11933747B2. Автор: Huapeng Huang,Peter Zavalij,Lester W. Schultheis. Владелец: Advanced Analyzer Labs Inc. Дата публикации: 2024-03-19.

Damage measurement method, apparatus and program, and x-ray diffraction apparatus

Номер патента: US20230304948A1. Автор: Daisuke Kobayashi,Kazuhiko Omote,Ryouichi Yokoyama. Владелец: Chubu Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

X-ray diffraction method and portable x-ray diffraction apparatus using same

Номер патента: GB201301244D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-03-06.

X-ray diffraction device and X-ray diffraction measurement method

Номер патента: CN105960590B. Автор: 野吕寿人,山田克己,青山朋弘. Владелец: NKK Corp. Дата публикации: 2018-12-21.

Method for measuring powder x-ray diffraction data using one-or-two-dimensional detector

Номер патента: US6813338B2. Автор: Makoto Sakata,Jimpei Harada,Masaki Takata,Eiji Nishibori. Владелец: JAPAN SYNCHROTRON RADIATION RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2004-11-02.

A method to determine the three-dimensional atomic structure of molecules having an unknown structure by x-ray diffraction at a two dimensional array of the molecules on the surface of known molecular crystal

Номер патента: WO2004074824A3. Автор: Yizhak Yacoby. Владелец: Yizhak Yacoby. Дата публикации: 2004-09-30.

A method to determine the three-dimensional atomic structure of molecules having an unknown structure by x-ray diffraction at a two dimensional array of the molecules on the surface of known molecular crystal

Номер патента: WO2004074824A2. Автор: Yizhak Yacoby. Владелец: YISSUM RESEARCH DEVELOPMENT COMPANY OF THE HEBREW UNIVERSITY OF JERUSALEM. Дата публикации: 2004-09-02.

X-RAY DIFFRACTION METHOD AND PORTABLE X-RAY DIFFRACTION APPARATUS USING SAME

Номер патента: US20130129051A1. Автор: Nakano Asao,Ueji Yoshinori. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-23.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS AND METHOD OF MEASURING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20150146861A1. Автор: Kobayashi Shintaro,MITSUNAGA Toru,KAJIYOSHI Koichi,ARAI Kazuyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-28.

X-RAY DIFFRACTION METHOD OF MAPPING GRAIN STRUCTURES IN A CRYSTALLINE MATERIAL SAMPLE, AND AN X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20140254763A1. Автор: Lauridsen Erik Mejdal,POULSEN Stefan Othmar. Владелец: DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET. Дата публикации: 2014-09-11.

X-RAY DIFFRACTION METHOD OF MAPPING GRAIN STRUCTURES IN A CRYSTALLINE MATERIAL SAMPLE, AND AN X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20140307854A1. Автор: Lauridsen Erik Mejdal,Reischig Peter,POULSEN Stefan Othmar. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-16.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS, X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD, AND CONTROL PROGRAM

Номер патента: US20140314206A1. Автор: YASUKAWA Shoichi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-23.

X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS METHOD AND X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20180356354A1. Автор: DOI Shuuichi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-12-13.

ULTRAFAST X-RAY DIFFRACTION imaging method and system based on flashing X-ray machine

Номер патента: CN105758880B. Автор: 欧阳晓平,唐波,夏惊涛,周海生,马戈,罗剑辉,盛亮,黑东炜,魏福利. Владелец: Northwest Institute of Nuclear Technology. Дата публикации: 2019-02-05.

X-ray diffraction measurement apparatus equipped with a Debye-Scherrer optical system and X-ray diffraction measurement method therefor

Номер патента: JP5081556B2. Автор: 哲也 小澤,剛 藤縄,隆二 松尾,光 越前屋. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-11-28.

X-ray diffraction analysis method and X-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: JP4581126B2. Автор: 健次 桜井. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2010-11-17.

Image plate diffractometer for registering x-ray diffraction diagrams of crystalline material has image plate for exposing x-ray beam diffracted by material that is arranged at distance from material in curvilinear manner

Номер патента: DE19904476A1. Автор: W Kreutz. Владелец: J Schneider Elektrotechnik GmbH. Дата публикации: 2000-09-07.

X-ray diffraction measurement device and X-ray diffraction measurement system

Номер патента: JP5708582B2. Автор: 洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

X-ray diffraction method of mapping grain structures in a crystalline material sample, and an X-ray diffraction apparatus

Номер патента: US9222900B2. Автор: Michael Feser,Erik Mejdal LAURIDSEN,Stefan Othmar POULSEN,Christian Holzner. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2015-12-29.

An x-ray diffraction measuring apparatus having debye-scherrer optical system therein, and an x-ray diffraction measuring method for the same

Номер патента: GB0817504D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-10-29.

Characterizing monocrystalline silicon-germanium zones on monocrystalline silicon substrate, combines x-ray diffraction spectrum measurement and modeling

Номер патента: FR2798195A1. Автор: Didier Dutartre,Jean Claude Oberlin. Владелец: STMICROELECTRONICS SA. Дата публикации: 2001-03-09.

X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS APPARATUS WITH ELECTRONIC PHOTON COUNTER

Номер патента: FR2564589A1. Автор: Rene Yves Fillit,Huguette Bruyas,Fernand Patay. Владелец: Association pour la Recherche et le Developpement des Methodes et Processus Industriels. Дата публикации: 1985-11-22.

X-ray diffraction apparatus and X-ray diffraction measurement method

Номер патента: US9074992B2. Автор: Ryuji Matsuo,Katsuhiko Inaba,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-07-07.

X-ray diffraction apparatus and x-ray diffraction method

Номер патента: EP2306179B1. Автор: Toraya Hideo. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-06-05.

X-ray diffraction apparatus and X-ray diffraction measuring method

Номер патента: DE102011087537B4. Автор: Ryuji Matsuo,Katsuhiko Inaba,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-05-04.

X-Ray diffraction apparatus, x-ray diffraction measuring method and control program

Номер патента: GB201403709D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-04-16.

X-선 회절을 이용한 인-시튜 온도 측정 장치 및 방법(in-situ temperature measurement using x-ray diffraction)

Номер патента: KR970023957A. Автор: 가쯔야 오꾸무라,제임스 가드너 얀,그레고리 브라이언 스테펜손,한스-요에르그 팀메. Владелец: 제프리엘 포멘. Дата публикации: 1997-05-30.

X-ray diffraction (XRD) characterization methods for sigma=3 twin defects in cubic semiconductor (100) wafers

Номер патента: US09835570B2. Автор: Hyun Jung Kim,Yeonjoon Park,Glen C. King,Sang Hyouk Choi,Kunik Lee,Jonathan R. SKUZA. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 2017-12-05.

Laboratory crystallographic x-ray diffraction analysis system

Номер патента: US20240219328A1. Автор: Erik Mejdal LAURIDSEN,Christian Holzner,Peter Reischig. Владелец: Carl Zeiss X Ray Microscopy Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Single exposure X-ray diffraction imaging device and method based on light field high-order spatial correlation

Номер патента: CN112198176B. Автор: 韩申生,喻虹,朱瑞国,谈志杰. Владелец: Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS. Дата публикации: 2022-12-02.

Angle-dependent X-ray diffraction imaging system and method of operating the same

Номер патента: CN106062540A. Автор: G.哈丁,H.R.O.斯特雷克. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2016-10-26.

Novel biopolymer crystallization plate, biopolymer crystallization method using same, and method for directly collecting x-ray diffraction data from the biopolymer crystal generated by same

Номер патента: WO2011010868A3. Автор: 김성건,윤태성,원태웅. Владелец: 한국생명공학연구원. Дата публикации: 2011-04-21.

Non-local modulation of X-ray diffraction imaging device and method based on light field High order correletion

Номер патента: CN108827988A. Автор: 韩申生,喻虹,陆荣华,谈志杰. Владелец: Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS. Дата публикации: 2018-11-16.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE

Номер патента: US20140119512A1. Автор: Kuribayashi Masaru,MATSUSHITA Kazuyuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-01.

X-RAY DIFFRACTION AND X-RAY SPECTROSCOPY METHOD AND RELATED APPARATUS

Номер патента: US20200158667A1. Автор: WANG Hong,Wang Xiao-Ping,XIANG Xiao-dong. Владелец: Ningbo Infinite Materials Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-05-21.

Variable-temperature sample stage device used for X-ray diffraction measurement of liquid

Номер патента: CN105954306A. Автор: 张莉,孙凯,王子军,陈东风,李天富,李玉庆,刘蕴韬,吴立齐,王洪立,刘荣灯. Владелец: China Institute of Atomic of Energy. Дата публикации: 2016-09-21.

Method and apparatus for x-ray diffraction analysis

Номер патента: CN1858583A. Автор: O·格拉斯曼,M·亨尼格,R·A·霍彻特拉瑟尔,U·施维特. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2006-11-08.

High resolution X-ray diffraction method and apparatus

Номер патента: CN108572184B. Автор: D·贝克尔斯,亚历山大·哈尔陈科,米伦·加特什基,尤金·鲁维坎普. Владелец: Malvern Panalytical Ltd. Дата публикации: 2022-02-11.

Apparatus for simultaneous x-ray diffraction and x-ray fluorescence measurements

Номер патента: WO1997013142A1. Автор: Paul Van Der Sluis,Pieter Klaas De Bokx,Bruno Alfred Robert Vrebos. Владелец: Philips Norden Ab. Дата публикации: 1997-04-10.

X=ray source made of iron-55 - used for analysing samples by X-ray diffraction

Номер патента: FR2696548A1. Автор: Thomas Roger,Lespagnol Jacques,Cesbron Fabien. Владелец: Centre National dEtudes Spatiales CNES. Дата публикации: 1994-04-08.

Apparatus for simultaneous X-ray diffraction and X-ray fluorescence measurement

Номер патента: JPH11502025A. Автор: ボクス，ピーター クラース デ,デア スルイス，ポール ファン,アルフレード ロベルト ヴレボス，ブルーノ. Владелец: フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー. Дата публикации: 1999-02-16.

Combined x-ray diffraction and fluorescence spectroscopy apparatus with environmentally controllable chamber

Номер патента: US4263510A. Автор: Michael F. Ciccarelli,Raymond P. Goehner. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1981-04-21.

Large sample X-ray diffraction material phase analysis support

Номер патента: CN106918608A. Автор: 李刚,邓淞文,潘艳伟. Владелец: Dalian Institute of Chemical Physics of CAS. Дата публикации: 2017-07-04.

X-ray diffraction stress determinating method

Номер патента: CN1487285A. Автор: ,ɽ��һ��,横山亮一,远藤上久. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2004-04-07.

X-ray camera for X-ray diffraction analysis according to Guinier

Номер патента: DE1902628A1. Автор: Gunnar Haegg. Владелец: Incentive Research and Development AB. Дата публикации: 1970-08-13.

Quantitative measuring method and apparatus of metal phase using X-ray diffraction method, and method for making plated steel sheet using them

Номер патента: CN1392956A. Автор: 山本公,藤村亨. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 2003-01-22.

Method for measuring alloy phases ratio of galvannealed steel sheets by x-ray diffraction and controlling alloy phases ratio using galvanneal prediction model(ga calc)

Номер патента: KR20090071208A. Автор: 김상준,박광석,진광근,백두진. Владелец: (주) 티알엠. Дата публикации: 2009-07-01.

A kind of high pressure cold bench device and application method suitable for cryogenic high pressure material X-ray diffraction measurement

Номер патента: CN108195858A. Автор: 李栋梁,梁德青,周雪冰. Владелец: Guangzhou Institute of Energy Conversion of CAS. Дата публикации: 2018-06-22.

Single-source angle resolution type X-ray diffraction analysis and tomography coupling device

Номер патента: CN111380882A. Автор: 王欢,陈力,张鹏程,李云,马策,蔡吉庆,罗晋如,陈镐. Владелец: Institute of Materials of CAEP. Дата публикации: 2020-07-07.

Double-source angle resolution type X-ray diffraction analysis and tomography coupling device

Номер патента: CN111380883A. Автор: 唐涛,王鹍,王欢,张鹏程,陈发,蔡吉庆,陈镐,常丁月. Владелец: Institute of Materials of CAEP. Дата публикации: 2020-07-07.

X-ray diffraction method for determining content of cristobalite phase in ZSM-22 molecular sieve

Номер патента: CN111103313A. Автор: 杨晓东,袁宗胜,曲家波,李瑞峰,高善彬,刘彦峰,王伟众,赵吉娜,包世星. Владелец: Petrochina Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-05.

Direct comparison system for different crystal X-ray diffraction efficiencies

Номер патента: CN111443101A. Автор: 王峰,罗靖,杨国洪,孙奥,施军,尚万里,韦敏习,肖沙里,杨家敏,江少恩. Владелец: Laser Fusion Research Center China Academy of Engineering Physics. Дата публикации: 2020-07-24.

X-ray diffraction analysis sample stage with three-electrode electro Chemical test function

Номер патента: CN110361403A. Автор: 邹健莉,曹鲁杰. Владелец: Nanjie Zhihui (shenzhen) Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-22.

Device for clamping and controlling temperature of flat sample for X-ray diffraction

Номер патента: CN111279536A. Автор: 阿明·克莱尔. Владелец: Helmholtz Zentrum Geesthacht Zentrum fuer Material und Kustenforschung GmbH. Дата публикации: 2020-06-12.

Single crystal stress detection method based on monochromatic X-ray diffraction

Номер патента: CN110609047A. Автор: 陈凯,沈昊,朱文欣,寇嘉伟. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2019-12-24.

Electrolytic cell device suitable for in-situ X-ray diffraction test

Номер патента: CN112485310B. Автор: 漆俊,崔志洋,关明辉,杨纯臻,赖悦诚,杨铭铎. Владелец: Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2022-04-05.

Off-line in-situ stretching device for X-ray diffraction experiment

Номер патента: CN113390720B. Автор: 高崇,邹立颖,刘贞山,董学光,范荣辉,周保成,谷宁杰,韦绍林,王眉眉,苏明山. Владелец: Chinalco Materials Application Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-03.

Laboratory crystallographic x-ray diffraction analysis system

Номер патента: EP4356118A2. Автор: Christian Holzner,Peter Reischig,Erik Lauridsen. Владелец: Carl Zeiss X Ray Microscopy Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Laboratory crystallographic x-ray diffraction analysis system

Номер патента: WO2023113862A3. Автор: Christian Holzner,Peter Reischig,Erik Lauridsen. Владелец: Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc.. Дата публикации: 2023-11-16.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: AU2003265275A1. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P. Rose. Владелец: University of Georgia. Дата публикации: 2004-02-23.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: EP3652526B1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 2021-08-25.

X-ray diffraction apparatus and method

Номер патента: AU4503400A. Автор: Michael Brauss. Владелец: XRD TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2000-10-16.

Rotatable sample stage for matching vertical goniometers in x-ray diffraction analysis

Номер патента: ZA202211021B. Автор: Teng GUO,Yibo WANG,Xuchun WANG,Yongxin Du,Jingyong Wu. Владелец: Univ Anhui Science & Tech. Дата публикации: 2022-12-21.

Automatic plotting of X-ray diffraction pole figures

Номер патента: US3117226A. Автор: Eichhorn Robert Milne,Addis Gilbert Irving. Владелец: Union Carbide Corp. Дата публикации: 1964-01-07.

X-ray diffraction method of determining an effective atomic number and a relative molecular interference function

Номер патента: EP2447711B1. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2014-06-18.

Method of comparing x-ray diffraction patterns using the fundamental parameter method

Номер патента: IL166619A0. Автор: . Владелец: SSCI Inc. Дата публикации: 2006-01-15.

X-ray diffraction system

Номер патента: EP1608957B1. Автор: Michael Brauss. Владелец: Proto Manufacturing LLC. Дата публикации: 2015-09-30.

STRUCTURAL BODY AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER INCLUDING THE STRUCTURAL BODY

Номер патента: US20150151527A1. Автор: Teshima Takayuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-04.

System and method for correcting x-ray diffraction profiles

Номер патента: US20120263275A1. Автор: Geoffrey Harding,Gabriel Zienert. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2012-10-18.

Analysis method for x-ray diffraction measurement data

Номер патента: US20130077754A1. Автор: Akito Sasaki,Hiroki Yoshida,Akihiro Himeda,Keiichi Morikawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-03-28.

METHOD AND ITS APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20130129052A1. Автор: Toraya Hideo,Munekawa Shigeru. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-23.

METHODS, DEVICES AND SYSTEMS TO PROCESS X-RAY DIFFRACTION DATA

Номер патента: US20140114602A1. Автор: Billinge Simon,Farrow Christopher,Dykhne Timur,Juhas Pavol. Владелец: The Trustees of Columbia University in the City of New York. Дата публикации: 2014-04-24.

Methods of Identifying Original and Counterfeit Articles using Micro X-Ray Diffraction Mapping

Номер патента: US20140119511A1. Автор: Ward Michael,Musumeci Daniele,Hu Chunhua. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-01.

MEASUREMENT OF CRYSTALLITE SIZE DISTRIBUTION IN POLYCRYSTALLINE MATERIALS USING TWO-DIMENSIONAL X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20210033546A1. Автор: HE Bob Baoping. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-04.

AN ENERGY DISPERSIVE X-RAY DIFFRACTION ANALYSER HAVING AN IMPROVED REFLECTION GEOMETRY

Номер патента: US20220057343A1. Автор: TICKNER James Richard,"ODWYER Joel". Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

MOUNTING SYSTEM AND SAMPLE HOLDER FOR X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20210055236A1. Автор: VUKOTIC Vedran Nicholas,BOYER William,BELASSEL Mohammed,ISKRA Alec. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

METHOD FOR DISPLAYING MEASUREMENT RESULTS FROM X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT

Номер патента: US20190064083A1. Автор: SASAKI Akito,HIMEDA Akihiro,Nagao Keigo,IKEDA Yukiko. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-02-28.

X-ray Diffraction (XRD) Characterization Methods for Sigma=3 Twin Defects in Cubic Semiconductor (100) Wafers

Номер патента: US20150078526A1. Автор: Hyun Jung Kim,Yeonjoon Park,Glen C. King,Sang Hyouk Choi,Kunik Lee,Jonathan R. SKUZA. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 2015-03-19.

IN-SITU COIN CELL SUPPORT DEVICE FOR TRANSMISSION MODE X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS CAPABLE OF CONTROLLING TEMPERATURE

Номер патента: US20190074498A1. Автор: Kim Dong Hyun,CHO Byung Won,CHUNG Kyung Yoon,CHANG Won Young,JEONG Jiwon,CHOI Won Chang,JUNG Hun-Gi,PARK Jaeho,SUSANTO Liau Dieky. Владелец: KOREA INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2019-03-07.

ANGLE-DEPENDENT X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM AND METHOD OF OPERATING THE SAME

Номер патента: US20150085983A1. Автор: Harding Geoffrey,Strecker Helmut Rudolf Otto. Владелец: Morpho Detection, Inc.. Дата публикации: 2015-03-26.

STRUCTURE FOR PRESSURIZATION ANALYSIS, X-RAY DIFFRACTION APPARATUS AND PRESSURIZATION ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20220099603A1. Автор: Ito Koichiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2022-03-31.

METHODS AND APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20150092921A1. Автор: Hansford Graeme Mark. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2015-04-02.

In-situ x-ray diffraction analysis apparatus including peltier-type temperature control unit and analyzing method using the same

Номер патента: US20220140418A1. Автор: Yung-Eun Sung,Jungjin PARK,Chunjoong Kim,Jae-Hyuk Park,Jong Sig LEE,Shin-Yeong Kim. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chungnam National University. Дата публикации: 2022-05-05.

MEASURING AND ANALYZING RESIDUAL STRESSES AND THEIR GRADIENTS IN MATERIALS USING HIGH RESOLUTION GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20190094158A1. Автор: Sunder Madhana. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

MEASURING AND ANALYZING RESIDUAL STRESSES AND THEIR GRADIENTS IN MATERIALS USING HIGH RESOLUTION GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20190094159A1. Автор: Sunder Madhana. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

MEASURING AND ANALYZING RESIDUAL STRESSES AND THEIR GRADIENTS IN MATERIALS USING HIGH RESOLUTION GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20190094160A1. Автор: Sunder Madhana. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

X-RAY DIFFRACTION BASED CRYSTAL CENTERING METHOD USING AN ACTIVE PIXEL ARRAY SENSOR IN ROLLING SHUTTER MODE

Номер патента: US20150103980A1. Автор: KAERCHER Joerg. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-16.

SINGLE CRYSTAL QUARTZ CHIPS FOR PROTEIN CRYSTALLIZATION AND X-RAY DIFFRACTION DATA COLLECTION AND RELATED METHODS

Номер патента: US20150117611A1. Автор: Ren Zhong. Владелец: RENZ RESEARCH, INC.. Дата публикации: 2015-04-30.

METHOD FOR THE DETECTION AND/OR DIAGNOSIS OF EATING DISORDERS AND MALNUTRITION USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20170115240A1. Автор: Herron Steven Richard,Hatch Kent,Marriott Savannah,Spangler Diane. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-27.

X-RAY DIFFRACTION IMAGING OF MATERIAL MICROSTRUCTURES

Номер патента: US20180120244A1. Автор: Varga Laszlo,CALO Victor,VARGA Bonbien. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-03.

STRUCTURE FOR BATTERY ANALYSIS AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE

Номер патента: US20220278381A1. Автор: Sasaki Suguru,Ito Koichiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-01.

X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20220307995A1. Автор: Sato Kenji,KUWABARA Junji,TAMAI Atsushi. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

METHOD FOR COLLECTING ACCURATE X-RAY DIFFRACTION DATA WITH A SCANNING TWO-DIMENSIONAL DETECTOR

Номер патента: US20170176355A1. Автор: MAURER Christian,OLLINGER Christoph,HE Bob Baoping,Meding Olaf. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

Electrochemical Test Cell For Enabling In-Situ X-Ray Diffraction and Scattering Studies of Scale Formation and Microstructural Changes in Materials with Flow Through Solution

Номер патента: US20140270080A1. Автор: Farmer Joseph C.,EL-DASHER Bassem S.,TORRES Sharon G.,TORRES Samuel. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

MOUNTING SYSTEM AND SAMPLE HOLDER FOR X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20190178823A1. Автор: VUKOTIC Vedran Nicholas,BOYER William,BELASSEL Mohammed,ISKRA Alec. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-13.

METHOD FOR ANALYZING AN OBJECT BY X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20170184518A1. Автор: TABARY Joachim,PAULUS Caroline,Barbes Damien. Владелец: Commissariat A L'Energie Atomique Et Aux Energies Alternatives. Дата публикации: 2017-06-29.

X-ray diffraction measurement method and apparatus

Номер патента: US20180202948A1. Автор: Kenji Sato,Kazuhito Nakao. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-19.

METHODS AND APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20180202950A1. Автор: Hansford Graeme Mark. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2018-07-19.

SYSTEMS AND METHODS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20150253262A1. Автор: Cernatescu Iuliana,Furrer David U.. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-10.

Determining atomic coordinates from x-ray diffraction data

Номер патента: US20210302332A1. Автор: David Hurwitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-30.

ANALYSIS APPARATUS INTERLOCKING IN-SITU X-RAY DIFFRACTION AND POTENTIOSTAT AND ANALYZING METHODS USING THE SAME

Номер патента: US20190250112A1. Автор: Kim Chunjoong,Sung Yung-Eun,PARK Jungjin,LEE Jong Sig,PARK Jae-Hyuk. Владелец: The Industry & Academic Cooperation in Chungnam National University (IAC). Дата публикации: 2019-08-15.

High resolution X-ray Diffraction Method and Apparatus

Номер патента: US20180259464A1. Автор: Beckers Detlef,Gateshki Milen,Kharchenko Alexander,Reuvekamp Eugene. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-13.

METHOD OF CONDUCTING AN X-RAY DIFFRACTION-BASED CRYSTALLOGRAPHY ANALYSIS

Номер патента: US20150276629A1. Автор: KAERCHER Joerg,RUF Michael,NOLL Bruce C.. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-01.

METHOD OF AUTHENTICATING AN OBJECT WITH X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20200256810A1. Автор: Fournee Vincent,Kenzari Samuel. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-13.

SYSTEMS AND METHODS FOR X-RAY DIFFRACTION VIRTUAL SPECTROSCOPY

Номер патента: US20200326290A1. Автор: INIEWSKI Krzysztof,HANSSON Conny,AYUKAWA Michael. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-15.

TECHNIQUE FOR PROCESSING X-RAY DIFFRACTION DATA

Номер патента: US20190325635A1. Автор: Meyer Mathias. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-24.

Crystalline Phase Identification Method, Crystalline Phase Identification Device, and X-Ray Diffraction Measurement System

Номер патента: US20170343492A1. Автор: HIMEDA Akihiro,Nagao Keigo,IKEDA Yukiko. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-11-30.

X-Ray Diffraction Imaging System Using Debye Ring Envelopes

Номер патента: US20150362443A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: Cranfield University. Дата публикации: 2015-12-17.

A SYSTEM AND A METHOD FOR RESOLVING A CRYSTAL STRUCTURE OF A CRYSTAL AT ATOMIC RESOLUTION BY COLLECTING X-RAY DIFFRACTION IMAGES

Номер патента: US20180348149A1. Автор: TOMIZAKI TAKASHI,TSUJINO SOICHIRO. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND METHOD TO MEASURE STRESS WITH 2D DETECTOR AND SINGLE SAMPLE TILT

Номер патента: US20180372658A1. Автор: HE Bob Baoping. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SHORT-WAVELENGTH CHARACTERISTIC X-RAY DIFFRACTION BASED ON ARRAY DETECTION

Номер патента: US20220412901A1. Автор: Chen Xin,ZHANG Jin,Zhou Kun,ZHENG Lin,ZHAO Fangchao,CHE Luchang,WU Taibin,ZHANG Lunwu,DOU Shitao,HE Changguang,FENG Xianhe,Wang Chengzhang. Владелец: THE 59TH INSTITUTE OF CHINA ORDNANCE INDUSTRY. Дата публикации: 2022-12-29.

New crystallization plate for biological macromolecule, and method for crystallizing biological macromolecule using the same, and method for collecting directly X-ray diffraction data from biological macromolecule crystal produced thereby

Номер патента: KR101135155B1. Автор: 김성건,윤태성,원태웅. Владелец: 한국생명공학연구원. Дата публикации: 2012-04-16.

Process and apparatus for the x-ray diffraction characterization of a material with amorphous phase

Номер патента: EP1260812A1. Автор: Herbert Pollmann,Günther Walenta,Thomas Fullman,Torsten Westphal. Владелец: Lafarge SA. Дата публикации: 2002-11-27.

Quantitative measuring method and apparatus of metal phase using x-ray diffraction method, and method for making plated steel sheet using them

Номер патента: US6821361B2. Автор: Akira Yamamoto,Toru Fujimura. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2004-11-23.

Transmission mode X-ray diffraction screening system

Номер патента: US6859520B2. Автор: Bob Baoping He,Ryan C. Bollig,Hans Mathias Lutz Brügemann. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2005-02-22.

device for X-Ray diffraction analysis of ores,minerals an concentrates

Номер патента: SU171939A1. Автор: И. В. Митрофанов Г. И. Брыл ков Э. С. Блинов С. Л. Якубович. Владелец: . Дата публикации: 1965-06-22.

Method for Measuring Alloy Phases Ratio of Galvannealed Steel Sheets by X-ray Diffraction and Controlling Alloy Phases Ratio using Galvanneal Prediction ModelGA Calc

Номер патента: KR100916121B1. Автор: 김상준,박광석,진광근,백두진. Владелец: (주) 티알엠. Дата публикации: 2009-09-08.

Method and system for crystallization and x-ray diffraction screening

Номер патента: US20090147918A1. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Method and system for crystallization and x-ray diffraction screening

Номер патента: WO2008141183A2. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corporation. Дата публикации: 2008-11-20.

Method and system for crystallization and X-ray diffraction screening

Номер патента: US7974380B2. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corp. Дата публикации: 2011-07-05.

Method and system for crystallization and X-ray diffraction screening

Номер патента: US8422632B2. Автор: Andrew May,Brian Fowler. Владелец: Fluidigm Corp. Дата публикации: 2013-04-16.

X-ray diffraction-based scanning system

Номер патента: US20040174959A1. Автор: Michael Green. Владелец: Varian Medical Systems Technologies Inc. Дата публикации: 2004-09-09.

X-ray diffraction microscope camera for spherical-wave section topograph

Номер патента: JPS5576943A. Автор: Shigeru Oki. Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-06-10.

X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS APPARATUS WITH ELECTRONIC PHOTON COUNTER

Номер патента: FR2564589B1. Автор: Rene Yves Fillit,Huguette Bruyas,Fernand Patay. Владелец: Association pour la Recherche et le Developpement des Methodes et Processus Industriels. Дата публикации: 1988-01-15.

METHOD FOR MEASURING THE LINE ROUGHNESS OF A LINE ARRAY BY X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: FR3085474A1. Автор: Jérôme RECHE. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2020-03-06.

High-resolution x-ray diffraction measurement with enhanced sensitivity

Номер патента: KR101275528B1. Автор: 보리스 요킨,이삭 마조르,알렉산더 크로말,아모스 그비르츠만,젠나디 오펜젠덴,데이비드 베르만,매튜 워밍톤. Владелец: 조르단 밸리 세미컨덕터즈 리미티드. Дата публикации: 2013-06-20.

Crystallite size analysis method and apparatus using powder X-ray diffraction

Номер патента: US8111807B2. Автор: Takashi Ida,Licai Jiang. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-02-07.

System and method for using x-ray diffraction to detect subsurface crystallographic structure

Номер патента: CA2250748A1. Автор: Paul John Zombo,Der-Yan Frank Roan. Владелец: Der-Yan Frank Roan. Дата публикации: 1997-10-09.

In-situ x-ray diffraction system using sources and detectors at fixed angular positions

Номер патента: WO2005031329A1. Автор: David M. Gibson,Walter M. Gibson,Huapeng Huang. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2005-04-07.

X-ray diffraction screening system convertible between reflection and transmission modes

Номер патента: US20060023838A1. Автор: Bob He,Ryan Bollig. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2006-02-02.

Apparatus for x-ray diffraction

Номер патента: JPS5712354A. Автор: Nobuo Otsuki. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1982-01-22.

Apparatus and method for obtaining x-ray diffraction patterns

Номер патента: US3509336A. Автор: Zigmond W Wilchinsky,Thomas C Menzel. Владелец: Exxon Research and Engineering Co. Дата публикации: 1970-04-28.

System and method for X-ray diffraction imaging

Номер патента: US7835495B2. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-11-16.

High throughput x-ray diffraction filter sample holder

Номер патента: AU2003234725A1. Автор: Joseph Nolfo,Victor W. Rosso,John J. Venit,Imre M. Vitez,Glen Young. Владелец: Bristol Myers Squibb Co. Дата публикации: 2003-10-27.

High resolution x-ray diffraction method and apparatus

Номер патента: EP3372994B1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki,Eugene REUVEKAMP. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2020-04-22.

X-ray diffraction analyzer and analyzing method

Номер патента: WO2006095468A1. Автор: Kenji Sakurai. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2006-09-14.

Quantitative determination of phase of metal material by x-ray diffraction and automatic measuring device therefor

Номер патента: JPS5684538A. Автор: Masayuki Okamoto,Mitsuru Yano. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 1981-07-09.

Thin film x-ray diffraction sample cell device and method

Номер патента: WO2020220081A1. Автор: John Daniels. Владелец: Critus Pty Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

Procedure and measuring apparatus based on x-ray diffraction for measuring stresses

Номер патента: US5125016B1. Автор: Matti Korhonen,Veikko Lindroos. Владелец: Stresstech OY. Дата публикации: 1998-02-24.

X-ray diffraction system

Номер патента: US2870337A. Автор: Neff Hans. Владелец: Siemens Reiniger Werke AG. Дата публикации: 1959-01-20.

Technique for processing x-ray diffraction data

Номер патента: EP3561496A1. Автор: Mathias Meyer. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-10-30.

Quantitative measuring method and apparatus of metal phase using x-ray diffraction method, and method for making plated steel sheet using them

Номер патента: WO2002025257A1. Автор: Akira Yamamoto,Toru Fujimura. Владелец: Kawasaki Steel Corporation. Дата публикации: 2002-03-28.

System and method for x-ray diffraction imaging

Номер патента: EP2344909B1. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2017-07-19.

Crystalline phase identification method, crystalline phase identification device, and x-ray diffraction measurement system

Номер патента: EP3249392A1. Автор: Akihiro Himeda,Yukiko Ikeda,Keigo Nagao. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-11-29.

Sample preparation method of sample for graphene XRD (X-ray diffraction) characterization

Номер патента: CN110596164A. Автор: 鲁娜,王秀娟,杨新伟,张丽娟,卢科伟. Владелец: Xinjiang Allyl Stone Ink Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-20.

X-ray diffraction and computed tomography

Номер патента: US8477904B2. Автор: Gabriel Blaj. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2013-07-02.

Method and apparatus for x-ray diffraction analysis

Номер патента: CA2544907A1. Автор: Michael Hennig,Olaf Grassmann,Urs Schwitter,Remo Anton Hochstrasser. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2006-11-02.

X-ray diffraction measurement method and apparatus

Номер патента: JP6383018B2. Автор: 健児 佐藤,和人 中尾,佐藤　健児. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-29.

Measuring and analyzing residual stresses and their gradients in materials using high resolution grazing incidence X-ray diffraction

Номер патента: US10648932B2. Автор: Madhana Sunder. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-05-12.

Hardness measuring method for hardened steel by X-ray diffraction using Gaussian curve

Номер патента: JPH0797089B2. Автор: 政則 栗田. Владелец: 政則 栗田. Дата публикации: 1995-10-18.

X-Ray diffraction and fluorescence

Номер патента: EP2315009B1. Автор: Roger Meier,Alexander Kharchenko,Walter van den Hoogenhof. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2017-07-12.

An online energy dispersive x-ray diffraction analyser

Номер патента: ZA201002520B. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2012-09-26.

Transmission mode x-ray diffraction screening system

Номер патента: WO2003081221A3. Автор: Bob Baoping He,Ryan C Bollig,Hans Mathias Lutz Bruegemann. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2004-01-22.

System and method for X-ray diffraction imaging

Номер патента: ES2643993T3. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2017-11-27.

Method for x-ray diffraction controlling parts of gas turbine engine

Номер патента: RU2623838C2. Автор: Наталья Александровна Яблокова,Алексей Владимирович Яблоков,Владимир Андреевич Кочетков,Александр Маркович Портер,Артур Иванович Берестевич. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Сатурн". Дата публикации: 2017-06-29.

X-ray diffraction meter

Номер патента: CH336204A. Автор: Maarten De Wolff Pieter. Владелец: Philips Nv. Дата публикации: 1959-02-15.

X-ray diffraction device

Номер патента: CH338617A. Автор: Brown Walter. Владелец: Philips Nv. Дата публикации: 1959-05-31.

Method and system for x-ray diffraction measurements using an aligned source and detector rotating around a sample surface

Номер патента: WO2005010512A1. Автор: David M. Gibson,Walter M. Gibson,Huapeng Huang,Jodi Lynn Reeves. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2005-02-03.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA1016669A. Автор: Frank R. Paolini. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1977-08-30.

Method for displaying measurement results from x-ray diffraction measurement

Номер патента: US10801976B2. Автор: Akito Sasaki,Akihiro Himeda,Yukiko Ikeda,Keigo Nagao. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-10-13.

Sample die for x-ray diffraction analysis

Номер патента: KR0128554Y1. Автор: 서종현,박신화. Владелец: 재단법인산업과학기술연구소. Дата публикации: 1998-12-01.

Method and apparatus for analyzing x-ray diffraction from tilted layers

Номер патента: TWI536014B. Автор: 約翰 沃爾,大衛 賈科斯,伯瑞斯 約辛,亞歷山大 卡莫,保羅 萊恩,李察 百勒威,大衛 柏曼,馬修 沃明頓. Владелец: 喬丹菲利半導體有限公司. Дата публикации: 2016-06-01.

X-ray diffraction wafer mapping method for rhombohedral super-hetero-epitaxy

Номер патента: US20100027746A1. Автор: Yeonjoon Park,Glen C. King,James R. Elliott,Sang Hyouk Choi,Albert L. Dimarcantonio. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 2010-02-04.

High-pressure cooling device and use thereof applicable to x-ray diffraction measurement of material at low temperature and under high pressure

Номер патента: WO2019109417A1. Автор: 李栋梁,梁德青,周雪冰. Владелец: 中国科学院广州能源研究所. Дата публикации: 2019-06-13.

Online energy dispersive X-ray diffraction analyser

Номер патента: US8311183B2. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2012-11-13.

Apparatus and method for identification of crystals by in-situ x-ray diffraction

Номер патента: CA2424893A1. Автор: Janet Newman,Eric De La Fortelle. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-25.

Technique for processing x-ray diffraction data

Номер патента: EP3561496B1. Автор: Mathias Meyer. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-10-06.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: EP1739413B1. Автор: Takeyoshi Rigaku Corporation Taguchi,Masaru Rigaku Corporation Kuribayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-09-18.

Divergent beam two-dimensional x-ray diffraction

Номер патента: EP3599459B1. Автор: Jonathan GIENCKE. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2022-08-31.

Device for x-ray diffraction

Номер патента: FR1139227A. Автор: . Владелец: Siemens Reiniger Werke AG. Дата публикации: 1957-06-26.

Determining weathering indices by x-ray diffraction

Номер патента: US20230105649A1. Автор: Mohamed Soua. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-04-06.

DETECTING ASSEMBLY FOR X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENTS

Номер патента: RU2003125341A. Автор: Мурадин Абубекирович Кумахов,Светлана Васильевна Никитина,Нариман Смаилович Ибраимов,Александр Всеволодович Лютцау,Екатерина Валентиновна Лихушина,Александр Ефимович Булкин,Мурадин Абубекирович Кумахов (RU),Нариман Смаилович Ибраимов (RU),Александр Всеволодович Лютцау (RU),Светлана Васильевна Никитина (RU),Екатерина Валентиновна Лихушина (RU),Александр Ефимович Булкин (RU). Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Институт рентгеновской оптики" (RU). Дата публикации: 2005-02-20.

External standard method of x-ray diffraction analysis for determining the percentage of compounds in cement clinker

Номер патента: US3428802A. Автор: Povindar K Mehta,Manesh J Shah. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1969-02-18.

PHASE ANALYSIS APPARATUS BY X-RAY DIFFRACTION ON TEXTURED OR NON-TEXTURED SAMPLES WITH AN ELECTRONIC PHOTODETECTOR.

Номер патента: ATE47756T1. Автор: Rene Yves Fillit,Huguette Bruyas,Fernand Patay. Владелец: Armines. Дата публикации: 1989-11-15.

Measuring Device for the Shortwavelentgh X Ray Diffraction and a Method Thereof

Номер патента: US20080095311A1. Автор: Lin Zheng,Changguang He,Zhengkun Peng. Владелец: South West Technology and Engineering Institute of China. Дата публикации: 2008-04-24.

Method of measuring surface microstructure, method of data analysis of surface microstructure measurement and X-ray diffraction measuring device

Номер патента: DE112010001894T5. Автор: Yoshiyasu Ito,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

X-ray diffraction method and apparatus

Номер патента: US2887585A. Автор: Parrish William,Wolff Pieter Maarten De. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1959-05-19.

In-situ X-ray diffraction for screening crystals

Номер патента: EP1353166B1. Автор: Bob Baoping He,Roger D. Durst. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2010-06-09.

X-ray diffraction divice

Номер патента: JPS55104747A. Автор: Shigeru Ozaki. Владелец: RIGAKU DENKI KK. Дата публикации: 1980-08-11.

Apparatus for evaluating X-ray diffraction records

Номер патента: US3113381A. Автор: Khol Frantisek. Владелец: Individual. Дата публикации: 1963-12-10.

Combinatorial contraband detection using energy dispersive x-ray diffraction

Номер патента: WO2003065077A2. Автор: William E. Mayo. Владелец: Rutgers, the State University. Дата публикации: 2003-08-07.

Method for determining mineral contents in concrete used during construction of building, involves performing quantitative X-ray diffraction analysis for determining mineral contents in concrete

Номер патента: DE102011055450A1. Автор: Anmelder Gleich. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-05-23.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: WO2019011986A1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: Centre National De La Recherche Scientifique. Дата публикации: 2019-01-17.

Transmission mode x-ray diffraction screening system

Номер патента: WO2003081221A2. Автор: Bob Baoping He,Ryan C. Bollig,Hans Mathias Lutz Brügemann. Владелец: BRUKER AXS, INC.. Дата публикации: 2003-10-02.

A measuring device for the short-wavelength X-ray diffraction and a method thereof

Номер патента: EP2541238B1. Автор: Lin Zheng,Changguang He,Zhengkun Peng. Владелец: Southwest Technology & Engineering Institute Of China. Дата публикации: 2015-12-16.

X-ray diffraction (Xrd) means for identifying the content in a volume of interest and a method thereof

Номер патента: US7620148B2. Автор: Ze'ev Harel,Zeev Burshtein,Asaf ZUK. Владелец: Xurity Ltd. Дата публикации: 2009-11-17.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: FR1146426A. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1957-11-12.

High temperature x-ray diffraction camera

Номер патента: US2479471A. Автор: Edmund F Champaygne. Владелец: American Cyanamid Co. Дата публикации: 1949-08-16.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: US20200256810A1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 2020-08-13.

Method of authenticating an object with x-ray diffraction

Номер патента: EP3652526A1. Автор: Samuel Kenzari,Vincent Fournee. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 2020-05-20.

Multiply-sampled cmos sensor for x-ray diffraction measurements with corrections for non-ideal sensor behavior

Номер патента: US20130108021A1. Автор: Joerg KAERCHER,Roger D. Durst,Gregory A. WACHTER. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2013-05-02.

X-ray diffraction system

Номер патента: US3051835A. Автор: Uchida Hiroshi,Shimula Yoshihiro. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 1962-08-28.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: GB201110936D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2011-08-10.

Wavelength-classifying type x-ray diffraction device

Номер патента: GB2481700B. Автор: Takuto Sakumura,Yuji Tsuji,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama,Kimiko Hasegawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-06-11.

Multiply-sampled cmos sensor for x-ray diffraction measurements with corrections for non-ideal sensor behavior

Номер патента: EP2773949B1. Автор: Joerg KAERCHER,Roger D. Durst,Gregory A. WACHTER. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2017-12-06.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: US1546349A. Автор: Albert W Hull,Wheeler P Davey. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1925-07-14.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: AU2003223145A8. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2003-10-27.

High-resolution x-ray diffraction apparatus

Номер патента: AU2003223145A1. Автор: Paul Frederick Fewster. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2003-10-27.

X-ray diffraction device

Номер патента: US2645720A. Автор: Siegfried T Gross. Владелец: General Aniline and Film Corp. Дата публикации: 1953-07-14.

X-ray diffraction device and method to measure stress with 2d detector and single sample tilt

Номер патента: EP3425378B1. Автор: Bob Boaping He. Владелец: Bruker AXS Inc. Дата публикации: 2019-12-25.

Multiply-sampled cmos sensor for x-ray diffraction measurements with corrections for non-ideal sensor behavior

Номер патента: WO2013066843A1. Автор: Joerg KAERCHER,Roger D. Durst,Gregory A. WACHTER. Владелец: BRUKER AXS, INC.. Дата публикации: 2013-05-10.

X-RAY TALBOT CAPTURING APPARATUS

Номер патента: US20180348148A1. Автор: YOSHIDA Junko. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

X-RAY APPARATUS AND X-RAY MEASURING METHOD

Номер патента: US20130108020A1. Автор: Mukaide Taihei. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-02.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20170003233A1. Автор: YAMAKAWA Keisuke,BABA Rika,YONEYAMA Akio. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-05.

COMPUTING DEVICE, COMPUTING PROGRAM, X-RAY MEASURING SYSTEM AND X-RAY MEASURING METHOD

Номер патента: US20190003991A1. Автор: Mukaide Taihei. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-03.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20180007768A1. Автор: MARUI Takao. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-01-04.

METHOD FOR THE CREATION OF X-RAY IMAGES, AND X-RAY SYSTEM

Номер патента: US20200022662A1. Автор: BERNHARDT Philipp,Stark Michael. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-23.

Porous electrodes for spectroelectrochemistry and x-ray structure analyses

Номер патента: US20180031496A1. Автор: In Soo Kim,Jonathan D. Emery,Gihan Kwon,Alex B. Martinson,David M. Tiede. Владелец: UChicago Argonne LLC. Дата публикации: 2018-02-01.

X-ray imaging apparatus and x-ray imaging system

Номер патента: US20140126690A1. Автор: Kimiaki Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-05-08.

OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150146859A1. Автор: Tobita Ichiro,KAKEFUDA Kouji. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-28.

CELL FOR X-RAY ANALYSIS AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20190145915A1. Автор: Onishi Yasuhiro,Kimura Masao,"Kimijima Kenichi",Asahara Daiji. Владелец: Inter-University Research Institute Corporation High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2019-05-16.

X-ray data processing apparatus, x-ray data processing method, and x-ray data processing program

Номер патента: US20140236523A1. Автор: Takuto Sakumura,Yasukazu Nakaye,Kazuyuki Matsushita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Diffraction grating for X-ray Talbot interferometer, method of manufacturing the same, and X-ray Talbot interferometer

Номер патента: EP2511912B1. Автор: Atsushi Nagata,Satoshi Nakayama,Takeshi Umemoto,Yoshiharu Shirakawabe,Yoshitomo Nakagawa,Mayu Watanabe. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-07-13.

Method and apparatus for obtaining parallel x-ray beam and x-ray diffraction apparatus related thereto

Номер патента: EP1403882A3. Автор: Go Fujinawa,Hitoshi Okanda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2004-06-16.

Diffraction grating, diffraction grating manufacturing method, grating unit, and X-ray imaging apparatus

Номер патента: JPWO2014034033A1. Автор: 光 横山. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2016-08-08.

Diffraction grating unit, grating unit manufacturing method, and x-ray phase image photography device

Номер патента: WO2018066198A1. Автор: 和田　幸久,敏 徳田,貴弘 土岐,信和 林,吉牟田　利典. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2018-04-12.

Method for producing x-ray phase gratings and x-ray gratings produced by the method

Номер патента: US20240018650A1. Автор: Houxun Miao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-18.

Compact, low noise power supply for advanced electronics applications, and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: US20120020463A1. Автор: Igor Ponomarev,Sony Cheriyan,Ernest Cooley,Daniel Dunham,Paul Quantock,Robert C. Tatar. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2012-01-26.

X-RAY WAVEGUIDE AND X-RAY MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20140056414A1. Автор: Okamoto Kohei,Komoto Atsushi. Владелец: . Дата публикации: 2014-02-27.

OPTICAL DESIGN METHOD FOR X-RAY FOCUSING SYSTEM USING ROTATING MIRROR, AND X-RAY FOCUSING SYSTEM

Номер патента: US20160163409A1. Автор: MOTOYAMA Hiroto,MIMURA Hidekazu. Владелец: THE UNIVERSITY OF TOKYO. Дата публикации: 2016-06-09.

X-ray diffraction method for determining carbon content in cast iron and devices for its implementation

Номер патента: RU2621646C2. Автор: Борис Дмитриевич Калинин,Олег Васильевич Родинков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ). Дата публикации: 2017-06-06.

Energy dispersion type x-ray diffraction/spectral device

Номер патента: EP1650558B1. Автор: Masayuki School of Science and Engineering Uda. Владелец: WASEDA UNIVERSITY. Дата публикации: 2010-09-08.

Energy dispersion type x-ray diffraction/spectral device

Номер патента: EP1650558A1. Автор: Masayuki School of Science and Engineering Uda. Владелец: WASEDA UNIVERSITY. Дата публикации: 2006-04-26.

X-ray fluorescence analyzer and x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: US20120051507A1. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Hideki Takiguchi,Yutaka Ikku. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-03-01.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20130101085A1. Автор: Kobayashi Hiroshi,Kita Hiroaki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2013-04-25.

X-Ray Fluorescence Spectrometer and X-Ray Fluorescence Analyzer

Номер патента: US20130170613A1. Автор: MURAOKA Koichi,UTAKA Tadashi. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-04.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS PROGRAM, AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20200003712A1. Автор: Kataoka Yoshiyuki,Kawakyu Kosuke. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2020-01-02.

Sample Plate for X-Ray Analysis and X-Ray Fluorescent Analyzer

Номер патента: US20160011129A1. Автор: SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2016-01-14.

SAMPLE VISCOSITY AND FLOW CONTROL FOR HEAVY SAMPLES, AND X-RAY ANALYSIS APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20160033428A1. Автор: Allen George,SHAKSHOVER Stuart,CHERYIAN Sony. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2016-02-04.

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD, QUANTITATIVE ANALYSIS PROGRAM, AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20220050068A1. Автор: Tanaka Shin. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-17.

Electron source and X-ray fluorescence analyser using an electron source

Номер патента: US20150060663A1. Автор: Sipilä Heikki Johannes,FEDKOV Evgeny,SEREBRIAKOV Aleksandr. Владелец: FENNO-AURUM OY. Дата публикации: 2015-03-05.

SAMPLE HANDLING APPARATUS FOR PRESSURIZED FLUIDS AND X-RAY ANALYZER APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20190056337A1. Автор: Chen Zewu,Dunham Daniel,SPINAZOLA,III Joseph J,BURDETT Jay. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-21.

Analysis Method and X-Ray Photoelectron Spectroscope

Номер патента: US20170067837A1. Автор: Shima Masahide. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-09.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20190072504A1. Автор: Kato Shuichi,Yamada Takashi,Kataoka Yoshiyuki,FUJIMURA Hajime. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-07.

X-Ray Measurement Apparatus and X-Ray Measurement Method

Номер патента: US20220146442A1. Автор: Murano Takanori,Uematsu Fuminori. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-12.

X-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US20170108424A1. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-04-20.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT METHOD AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Ishimaru Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20160146745A1. Автор: TAKAHARA Toshiyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

Method of producing x-ray diffraction grating

Номер патента: US3776995A. Автор: W Little. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1973-12-04.

Bactericidal/permeability-increasing protein: crystallization, x-ray diffraction, three-dimensional structure determination, rational drug design and

Номер патента: EP1007557A1. Автор: Stephen F. Carroll,Lesa J. Beamer,David Elsenberg. Владелец: Xoma Corp. Дата публикации: 2000-06-14.

Bactericidal/permeability-increasing protein: crystallization, x-ray diffraction, three-dimensional structure determination, rational drug design and molecular modeling of related proteins

Номер патента: WO1998058961A1. Автор: Stephen F. Carroll,Lesa J. Beamer,David Elsenberg. Владелец: Xoma Corporation. Дата публикации: 1998-12-30.

X-ray diffraction device, object imaging system, and method for operating a security system

Номер патента: US20100226478A1. Автор: Geoffrey Harding,Stephan Olesinski,Dirk Kosciesza,Helmut Rudolf STRECKER,Jeffrey Seymour Gordon. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-09-09.

X-ray diffraction device, object imaging system, and method for operating a security system

Номер патента: US7813477B2. Автор: Geoffrey Harding,Stephan Olesinski,Dirk Kosciesza,Helmut Rudolf STRECKER,Jeffrey Seymour Gordon. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-10-12.

Objective for EUV microscopy, EUV lithography, and x-ray imaging

Номер патента: US9329487B2. Автор: Kenneth W. Hill,Philip Efthimion,Manfred Bitter. Владелец: PRINCETON UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-05-03.

X-ray imaging device and x-ray imaging method

Номер патента: US20230325993A1. Автор: Won Taek Seo,Choul Woo Shin,Il Woong Choi,Mi Jung JO. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Medical image processing apparatus, X-ray diagnostic apparatus, medical image processing method and X-ray diagnostic method

Номер патента: US09576350B2. Автор: Shingo Abe. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

A method and x-ray system for computer aided detection of structures in x-ray images

Номер патента: EP2976746A2. Автор: Thomas Koehler,Hanns-Ingo Maack,Ewald Roessl,Klaus Erhard,Bjorn Cederstrom,Jon Erik FREDENBERG,Mats Vilhelm LUNDQVIST. Владелец: Philips GmbH. Дата публикации: 2016-01-27.

X-RAY WAVEGUIDE AND X-RAY WAVEGUIDE SYSTEM

Номер патента: US20130142312A1. Автор: Okamoto Kohei,Komoto Atsushi,Miyata Hirokatsu,Kubo Wataru,Noma Takashi. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-06-06.

X-RAY WAVEGUIDE AND X-RAY WAVEGUIDE SYSTEM

Номер патента: US20130156162A1. Автор: Okamoto Kohei,Komoto Atsushi,Miyata Hirokatsu,Kubo Wataru,Noma Takashi. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-06-20.

Method for manufacturing collimator, collimator and x-ray ct apparatus

Номер патента: US20130235972A1. Автор: Yoshiaki Yaoi,Hideshi Nakano,Shuya Nambu,Nobuyoshi Kuroiwa. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2013-09-12.

IRRADIATION FIELD-LIMITING APPARATUS, X-RAY-GENERATING UNIT INCLUDING THE IRRADIATION FIELD-LIMITING APPARATUS, AND X-RAY RADIOGRAPHY SYSTEM INCLUDING THE IRRADIATION FIELD-LIMITING APPARATUS

Номер патента: US20150023469A1. Автор: Ueda Kazuyuki,OHASHI Yasuo,Shiozawa Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-22.

X-RAY COLLIMATOR AND X-RAY IMAGING APPARATUS USING SAME

Номер патента: US20190029614A1. Автор: Choi Sung Il. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-31.

Equivalent phantom and method of evaluating quality of x-ray talbot imaging apparatus with the same

Номер патента: US20150327834A1. Автор: Yoshihide Hoshino. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2015-11-19.

X-ray mirror, method of producing the mirror, and x-ray apparatus

Номер патента: US20120328082A1. Автор: Kohei Okamoto,Hirokatsu Miyata,Wataru Kubo,Atsushi Komoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-12-27.

Intensifying screen for x-ray detector, x-ray detector, and x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20130083891A1. Автор: Akihisa Saito,Yoshitaka Adachi,Kazumitsu Morimoto,Eiji Oyaizu. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-04.

X-RAY INTENSIFYING SCREENS INCLUDING MICRO-PRISM REFLECTIVE LAYER FOR EXPOSING X-RAY FILM, X-RAY FILM CASSETTES, AND X-RAY FILM ASSEMBLIES

Номер патента: US20160125968A1. Автор: Hamilton Geraldine M.. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-05.

Methods and system for external calibration and correction of the diffraction angle theta of an x-ray diffraction imaging system using a standard reference material like polyethylene, sodium chloride or aluminium

Номер патента: WO2010059784A3. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection, Inc.. Дата публикации: 2010-08-05.

Computer tomography medical imaging device incorporates an X- ray diffraction based spectrum measurement arrangement so that conclusions about tissue type can be made

Номер патента: DE10127267A1. Автор: Bjoern Heismann. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2002-12-19.

Scintillator panel for x-ray talbot imaging apparatus, image detecting panel for x-ray talbot imaging apparatus, and x-ray talbot imaging apparatus

Номер патента: US20180106908A1. Автор: Kei Isoda,Mika MATSUSAKA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-04-19.

X-ray imaging apparatus and x-ray imaging method

Номер патента: US20120294421A1. Автор: Takashi Noma,Masatoshi Watanabe,Kazunori Fukuda,Taihei Mukaide,Kazuhiro Takada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-11-22.

HOLDING APPARATUS AND X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20130148783A1. Автор: Kobayashi Masaki,IKAWA Katsuie,YOSHIDA Hajime,YAMASHITA Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-13.

MICRO-FOCUS X-RAY GENERATION APPARATUS AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20130266119A1. Автор: Taniguchi Osamu,Ogura Takao. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-10.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20130294581A1. Автор: Mukaide Taihei,FUKUDA Kazunori,Watanabe Masatoshi,Takada Kazuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-07.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20130336451A1. Автор: Nishii Yuichi. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-19.

X-RAY IMAGING APPARATUS, AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20140003578A1. Автор: OMOTE Kazuhiko,TAKEDA Yoshihiko. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-02.

SOLID-STATE IMAGE PICKUP APPARATUS AND X-RAY INSPECTION SYSTEM

Номер патента: US20140037060A1. Автор: Kyushima Ryuji,Fujita Kazuki,Mori Harumichi. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2014-02-06.

METHOD OF GETTING TOMOGRAM USED BY X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY SYSTEM BASED ON ITS METHOD

Номер патента: US20140079180A1. Автор: NAGUMO Yasushi,SADAOKA Noriyuki. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2014-03-20.

METHOD FOR DIMENSIONAL X-RAY MEASUREMENT, IN PARTICULAR BY COMPUTED TOMOGRAPHY, AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY SCANNER

Номер патента: US20200003704A1. Автор: ILLEMANN Jens,BARTSCHER Markus. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20200011813A1. Автор: HORINOUCHI Minoru,NISHIJIMA Akira. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2020-01-09.

IMAGE RECONSTRUCTION METHOD FOR X-RAY MEASURING DEVICE, STRUCTURE MANUFACTURING METHOD, IMAGE RECONSTRUCTION PROGRAM FOR X-RAY MEASURING DEVICE, AND X-RAY MEASURING DEVICE

Номер патента: US20180024079A1. Автор: Yamada Atsushi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2018-01-25.

X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS AND X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20160033657A1. Автор: Hashimoto Atsushi,Kanemaru Takashi,NISHIJIMA Akira,MATSUDA Keiji,NAMBU Shuya,UMEHARA Takaya,MIYAMA Koichi,SAGOH Tomoe. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

A METHOD AND DEVICE FOR SCANNING OF OBJECTS USING A COMBINATION OF SPECTRAL RANGES WITHIN VISION, NEAR INFRARED LIGHT AND X-RAYS

Номер патента: US20190033227A1. Автор: Christensen Lars Bager. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-31.

DETECTOR APPARATUS AND X-RAY IMAGING APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20160041109A1. Автор: Ham Hyung-Jin,KIM Young-IK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-02-11.

X-RAY TRANSMISSION INSPECTION APPARATUS AND X-RAY TRANSMISSION INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200041425A1. Автор: MATOBA Yoshiki. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-06.

X-RAY DETECTOR DEVICE, GLASS BODY FOR SHIELDING OPTICAL DETECTOR MEANS OF A WORKPIECE MEASURING DEVICE, AND X-RAY TOMOGRAPHY WORKPIECE MEASURING SYSTEM

Номер патента: US20220065800A1. Автор: Simon Martin,Ebner Severin. Владелец: Intom GmbH. Дата публикации: 2022-03-03.

X-RAY CT APPARATUS AND X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20160054454A1. Автор: Nakai Hiroaki,KATO Tooru,HAYASHI Mikihito. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-25.

X-RAY INSPECTION METHOD AND X-RAY INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20150055754A1. Автор: UMEHARA Yasutoshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-26.

Novel Objective for EUV Microscopy, EUV Lithography, and X-Ray Imaging

Номер патента: US20150055755A1. Автор: Efthimion Philip,Hill Kenneth W.,Bitter Manfred. Владелец: THE TRUSTEES OF PRINCETON UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-02-26.

FLAT PANEL TYPE X-RAY GENERATORS AND X-RAY IMAGING SYSTEMS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20150063540A1. Автор: Kim Yong-Chul,PARK Shang-hyeun,KIM Il-hwan,JEONG Tae-won. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

X-RAY GENERATION APPARATUS AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20210063324A1. Автор: Kawase Junya. Владелец: CANON ANELVA CORPORATION. Дата публикации: 2021-03-04.

ORGANIC X-RAY DETECTOR AND X-RAY SYSTEMS

Номер патента: US20160064680A1. Автор: Pickett James Edward,Liu Jie Jerry,Parthasarathy Gautam,An Kwang Hyup. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

ORGANIC X-RAY DETECTOR AND X-RAY SYSTEMS

Номер патента: US20160077221A1. Автор: Liu Jie Jerry,Couture Aaron Judy,An Kwang Hyup. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

X-Ray Scanners and X-Ray Sources Therefor

Номер патента: US20140161220A1. Автор: Morton Edward James. Владелец: Rapiscan Systems, Inc.. Дата публикации: 2014-06-12.

X-RAY GENERATING TUBE, X-RAY GENERATING APPARATUS AND X-RAY IMAGING SYSTEM USING THE SAME

Номер патента: US20160086761A1. Автор: Sato Yasue,Yanagisawa Yoshihiro,Sando Kazuhiro,Ukiyo Noritaka. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-24.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY PHOTOGRAPHING APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20150092918A1. Автор: LEE Sang-min,PARK Sung-Kyu,Kang Ji-Hoon,Cho Min-kook,CROCCO Jerome,OH Jin-hwan. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2015-04-02.

X-RAY APPARATUS AND X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20150098551A1. Автор: KWAK Ho-seong,KOO Ig-mo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2015-04-09.

TARGET STRUCTURE AND X-RAY GENERATING APPARATUS

Номер патента: US20140177800A1. Автор: Ueda Kazuyuki,Sato Yasue,Nomura Ichiro,Ogura Takao. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-06-26.

X-RAY IMAGE SENSOR AND X-RAY IMAGE SENSOR SYSTEM USING THE SAME

Номер патента: US20150103975A1. Автор: Yang Kei-Hsiung. Владелец: NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-04-16.

CHARGE SENSITIVE AMPLIFIERS, DETECTORS AND X-RAY PHOTOGRAPHING APPARATUSES INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20150108355A1. Автор: PARK Jae-chul,KIM Jin-Myoung,LEE Kang-ho. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20210102905A1. Автор: KANTER Marcel,TSCHENTSCHER Malte. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2021-04-08.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20140185762A1. Автор: Han Sang Wook,Sung Young Hun,LEE Jong Ha,LEE Kang Ho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-07-03.

X-RAY DETECTION PANEL, X-RAY IMAGING APPARATUS, AND X-RAY IMAGE GENERATION METHOD

Номер патента: US20140185765A1. Автор: HAN Sang-wook,SUNG Young-hun,Oh Hyun-hwa,Kang Dong-goo,KANG Sung-hoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-07-03.

Structure and resin structure manufacturing method, structure, and x-ray imaging apparatus including structure

Номер патента: US20140185779A1. Автор: Takayuki Teshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-07-03.

Open-type x-ray tube comprising field emission type electron gun and x-ray inspection apparatus using the same

Номер патента: US20170110283A1. Автор: Kenji Oohashi,Katsunori Minami,Kohei Shirota. Владелец: Mars Tohken Solution Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-20.

X-RAY GENERATION APPARATUS AND X-RAY RADIOGRAPHIC APPARATUS

Номер патента: US20140192957A1. Автор: Ueda Kazuyuki,Tamura Miki,Nomura Ichiro,Ogura Takao,Yanagisawa Yoshihiro,Hiroki Tamayo,Matsutani Shigeki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-07-10.

MEDICAL IMAGING SYSTEM AND WORKSTATION AND X-RAY DETECTOR THEREOF

Номер патента: US20150131782A1. Автор: HAN Woo-sup,KIM Sang-Uk,PARK Jong-seo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2015-05-14.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20140211919A1. Автор: Sato Yasue,Ogura Takao. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-07-31.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20170133192A1. Автор: Ueda Kazuyuki,Tamura Miki,Nomura Ichiro,Ogura Takao,Yanagisawa Yoshihiro,Hiroki Tamayo,Matsutani Shigeki. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-11.

X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20220283101A1. Автор: HARADA Daisuke,KEYAKI Yasuyuki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-08.

X-RAY DETECTION SUBMODULE, X-RAY DETECTION MODULE, AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20140233690A1. Автор: Hashimoto Atsushi,NISHIJIMA Akira,NAMBU Shuya,KUDO Yoji,Yamazaki Masahiko,Asada Tomonori. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-21.

TRANSMITTING-TYPE TARGET AND X-RAY GENERATION TUBE PROVIDED WITH TRANSMITTING-TYPE TARGET

Номер патента: US20150162161A1. Автор: Tsukamoto Takeo,Yoshitake Tadayuki,Ogura Takao,Ikarashi Yoichi,Yamada Shuji. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft x-ray diffraction

Номер патента: WO2019014283A1. Автор: Michael Friedmann,Oleg KHODYKIN,Andrei Shchegrov,Alexander Kuznetsov,Daniel Wack,Nikolay ARTEMIEV. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-01-17.

X-ray diffraction imaging system with signal aggregation across voxels containing objects and method of operating the same

Номер патента: US09405990B2. Автор: Geoffrey Harding,Samit Kumar Basu,Sondre Skatter,Matthew Allen Merzbacher,Gabriel Zienert. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2016-08-02.

Structural body and x-ray talbot interferometer including the structural body

Номер патента: US20150151527A1. Автор: Takayuki Teshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-06-04.

Structural body and X-ray talbot interferometer including the structural body

Номер патента: US09506878B2. Автор: Takayuki Teshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Structure for battery analysis and X-ray diffraction device

Номер патента: US12080858B2. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Methods And Systems For Semiconductor Metrology Based On Polychromatic Soft X-Ray Diffraction

Номер патента: US20190017946A1. Автор: Andrei V. Shchegrov,Michael Friedmann,Oleg KHODYKIN,Alexander Kuznetsov,Daniel Wack,Nikolay ARTEMIEV. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

CAPACITANCE MONITORING USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20180096904A1. Автор: MURRAY Conal E.,KWON Oh-Jung,MADAN ANITA,Kang Donghun,Kohli Kriteshwar K.. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

CAPACITANCE MONITORING USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20160178679A1. Автор: MURRAY Conal E.,KWON Oh-Jung,MADAN ANITA,Kang Donghun,Kohli Kriteshwar K.. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-23.

DEVICE, SYSTEM AND METHOD FOR THE ANALYSIS BY X-RAY DIFFRACTION OF AN ELECTRODE OF AN ELECTROCHEMICAL CELL, AT TEMPERATURE AND UNDER CURRENT

Номер патента: FR3064748B1. Автор: Julien VULLIET,Cecile Autret,Christophe Honstettre. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2022-01-14.

X-ray diffraction imaging system with signal aggregation across voxels containing objects and method of operating the same

Номер патента: EP2988117B1. Автор: Geoffrey Harding,Samit Kumar Basu,Sondre Skatter,Matthew Allen Merzbacher,Gabriel Zienert. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2018-04-11.

Rapid X-ray diffraction screening method of polymorph libraries created in multi-well plates

Номер патента: US6507636B1. Автор: Christian W. Lehmann. Владелец: STUDIENGESELLSCHAFT KOHLE MBH. Дата публикации: 2003-01-14.

Capacitance monitoring using x-ray diffraction

Номер патента: US10008421B2. Автор: Conal E. Murray,Oh-Jung Kwon,Anita Madan,Kriteshwar K. Kohli,DongHun Kang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-06-26.

Sample holder for high temperature x-ray diffraction analysis

Номер патента: KR200160944Y1. Автор: 서종현,박신화,유길열. Владелец: 재단법인포항산업과학연구원. Дата публикации: 1999-11-15.

Device, system and method for x-ray diffraction analysis of an electrode of an electrochemical cell, at operating temperature and under current

Номер патента: WO2018178583A1. Автор: Julien VULLIET,Cecile Autret,Christophe Honstettre. Владелец: Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives. Дата публикации: 2018-10-04.

Method and system for semiconductor metrology based on multicolor soft X-ray diffraction

Номер патента: KR102536604B1. Автор: 마이클 프리드만,올레그 코디킨,알렉산더 쿠즈네초프,니콜라이 아르테미에프,안드레이 쉬셰그로프,다니엘 웩. Владелец: 케이엘에이 코포레이션. Дата публикации: 2023-05-24.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft x-ray diffraction

Номер патента: IL271730B2. Автор: . Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Structure for battery analysis and x-ray diffraction device

Номер патента: US20220278381A1. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft X-ray diffraction

Номер патента: IL271730A. Автор: . Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-02-27.

Methods and systems for semiconductor metrology based on polychromatic soft x-ray diffraction

Номер патента: IL271730B1. Автор: . Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-07-01.

Structure for battery analysis and x-ray diffraction device

Номер патента: EP4024035A4. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Structure for battery analysis and x-ray diffraction device

Номер патента: EP4024035A1. Автор: Koichiro Ito,Suguru Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-07-06.

Radiation device installation housing and x-ray generator

Номер патента: US20140050305A1. Автор: Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Zhiqiang Chen,Wanlong Wu,Fuhua DING,Xilei Luo. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-20.

TRANSMISSION-TYPE TARGET FOR X-RAY GENERATING SOURCE, AND X-RAY GENERATOR AND RADIOGRAPHY SYSTEM INCLUDING TRANSMISSION-TYPE TARGET

Номер патента: US20160020061A1. Автор: Tsukamoto Takeo,Yoshitake Tadayuki,Ogura Takao,Ikarashi Yoichi,Yamada Shuji. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-21.

RADIATION DETECTOR, RADIATION DETECTION APPARATUS, AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20140124665A1. Автор: YASUI Kengo,OKAMOTO Kazutaka,TAKADA Shuji. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2014-05-08.

MEDICAL IMAGING SYSTEM FOR COMBINED MAGNETIC RESONANCE IMAGING AND X-RAY IMAGING

Номер патента: US20180049708A1. Автор: Kyriakou Yiannis,Ertel Dirk. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

X-RAY HIGH VOLTAGE APPARATUS, POWER SUPPLY APPARATUS, AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20200068694A1. Автор: ISHIYAMA Fumio. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2020-02-27.

TRI-AXIAL CENTRIFUGE APPARATUS WITH ELECTRICAL SENSOR, ACOUSTIC SENSOR, AND X-RAY INSTRUMENT

Номер патента: US20200070179A1. Автор: Hakimuddin Mustafa. Владелец: Saudi Arabian Oil Company. Дата публикации: 2020-03-05.

ARRAYED X-RAY SOURCE AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20210084739A1. Автор: XU Cong,WANG Shuo,LUO QUN,Tang Chuanxiang,JIN Qingxiu,HUANG Wenhui,SONG Cheng,TAN Chengjun,LIU Donghai,Zhang Luming,WU Peidong,Ding Yunze. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

Phase Revealing Optical and X-Ray Semiconductor Metrology

Номер патента: US20200080836A1. Автор: Veldman Andrei,Hench John. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-12.

X-ray detection method and x-ray detector

Номер патента: US20190086562A1. Автор: LI ZHANG,Liang Li,Yuxiang Xing,Zhiqiang Chen,Le SHEN,Zhi Deng,Xiaoyue GUO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-21.

DETECTOR, PET SYSTEM AND X-RAY CT SYSTEM

Номер патента: US20180090535A1. Автор: Sato Kenichi,Fujii Yoshimaro,Yamamura Kazuhisa,NAGANO Terumasa,TSUCHIYA Ryutaro. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2018-03-29.

METHOD OF PRODUCING THIN FILM TRANSISTOR, THIN FILM TRANSISTOR, DISPLAY DEVICE, IMAGE SENSOR, AND X-RAY SENSOR

Номер патента: US20150103977A1. Автор: ONO Masashi,TAKATA Masahiro,TANAKA Atsushi,SUZUKI Masayuki,IDEUE Toshiya. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-16.

IMAGING PANEL AND X-RAY IMAGING DEVICE PROVIDED THEREWITH

Номер патента: US20170131413A1. Автор: Tomiyasu Kazuhide,Mori Shigeyasu. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2017-05-11.

IMAGING PANEL AND X-RAY IMAGING SYSTEM PROVIDED WITH SAID IMAGING PANEL

Номер патента: US20170148843A1. Автор: Tomiyasu Kazuhide,Mori Shigeyasu. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2017-05-25.

X-ray detection signal processing device and x-ray analyzing apparatus using same

Номер патента: US20170153190A1. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-06-01.

IMAGING PANEL AND X-RAY IMAGING DEVICE PROVIDED THEREWITH

Номер патента: US20170154914A1. Автор: Tomiyasu Kazuhide,Mori Shigeyasu. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2017-06-01.

IMAGING PANEL AND X-RAY IMAGING DEVICE

Номер патента: US20170154915A1. Автор: Tomiyasu Kazuhide,Mori Shigeyasu. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2017-06-01.

Method for generating a contrast medium-assisted x-ray image and x-ray system

Номер патента: US20140005533A1. Автор: Gregor Jost,Michael Grasruck. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2014-01-02.

Cartridge-type x-ray source apparatus and x-ray emission apparatus using same

Номер патента: US20170111984A1. Автор: Tae Woo Kim,In Jae Baek,Soo Bong LEE. Владелец: Vatech Ewoo Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-20.

Five-dimensional multifunctional measuring device applied to X-ray diffraction goniometer

Номер патента: CN111829592A. Автор: 刘川,王军龙,胡婷婷,张所峰. Владелец: Dandong Tongda Science And Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-10-27.

Single crystal or directional crystal detection system based on monochromatic X-ray diffraction

Номер патента: CN110608827A. Автор: 陈凯,沈昊,朱文欣,寇嘉伟. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2019-12-24.

X-RAY DIFFRACTION-BASED DEFECTIVE PIXEL CORRECTION METHOD USING AN ACTIVE PIXEL ARRAY SENSOR

Номер патента: US20150016594A1. Автор: KAERCHER Joerg,Chambers John L.. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-15.

METHOD OF CALIBRATING AN X RAY DIFFRACTION ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20170184739A1. Автор: TABARY Joachim,PAULUS Caroline,Barbes Damien. Владелец: Commissariat A L'Energie Atomique Et Aux Energies Alternatives. Дата публикации: 2017-06-29.

Device for precision recording of x-ray diffraction patterns

Номер патента: US2490674A. Автор: Charles L Christ,Champaygne Edmund Francis. Владелец: American Cyanamid Co. Дата публикации: 1949-12-06.

X-RAY IMAGING APPARATUS, X-RAY IMAGING METHOD, AND X-RAY IMAGING PROGRAM

Номер патента: US20130070893A1. Автор: Den Toru,Nagai Kentaro,Itoh Hidenosuke,Ouchi Chidane. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-03-21.

X-RAY SENSOR, METHOD FOR TESTING THE X-RAY SENSOR, AND X-RAY DIAGNOSTIC DEVICE EQUIPPED WITH THE X-RAY SENSOR

Номер патента: US20130223593A1. Автор: TANIOKA Kenkichi,MIYAKAWA Kazunori,Jouno Masahiro,Koga Keisuke,Ohkawa Yuji,Kubota Misao. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-29.

SOLID IMAGING DEVICE AND X-RAY CT DEVICE INCLUDING THE SOLID IMAGING DEVICE

Номер патента: US20130279649A1. Автор: Kyushima Ryuji,Fujita Kazuki,Mori Harumichi,HONDA Masahiko. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-24.

SOLID-STATE IMAGER AND X-RAY CT APPARATUS INCLUDING SAME

Номер патента: US20130279650A1. Автор: Kyushima Ryuji,Fujita Kazuki,Mori Harumichi,HONDA Masahiko. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-24.

PHOTON COUNTING TYPE IMAGE DETECTOR, X-RAY DIAGNOSIS APPARATUS AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS

Номер патента: US20130287175A1. Автор: NAGAI Seiichirou. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-31.

X-RAY DETECTOR, METHOD FOR DRIVING THE SAME, AND X RAY PHOTOGRAPHING SYSTEM INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20130343522A1. Автор: YOON Kyung Hun,CHO Man Seung. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-26.

ESD PROTECTION SYSTEM AND X-RAY FLAT PANEL DETECTOR

Номер патента: US20140001368A1. Автор: XIA Jun,Huang Zhongshou,XIAO Wenwen,JIN Libo. Владелец: SHANGHAI TIANMA MICRO-ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-01-02.

METHOD FOR DETERMINING A DISTANCE BY X-RAY IMAGING, AND X-RAY DEVICE

Номер патента: US20140016743A1. Автор: Kleinszig Gerhard,EGLI ADRIAN,JOHN ADRIAN. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2014-01-16.

X-RAY ANALYSIS APPARATUS, X-RAY ANALYSIS SYSTEM, X-RAY ANALYSIS METHOD, AND X-RAY ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20140021364A1. Автор: Ueji Yoshinori,ITO Kazuki,NISHI Kunio,KAJIYOSHI Koichi. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-23.

Scintillator, method of fabricating the same and x-ray detector including the scintillator

Номер патента: US20140070105A1. Автор: Kyung Soo Lee,Jang Won Moon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-13.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY DEVICE WITH X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20210011181A1. Автор: Wrege Jan,ERGLER Thorsten,HOSEMANN Michael. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2021-01-14.

ACQUISITION AND PROCESSING OF MEASUREMENT DATA BY A COMBINED MAGNETIC RESONANCE AND X-RAY DEVICE

Номер патента: US20180014805A1. Автор: Kyriakou Yiannis,Ertel Dirk. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-18.

SCINTILLATOR PANEL, X-RAY DETECTOR USING SAME, AND X-RAY FLUOROSCOPY DEVICE

Номер патента: US20220043170A1. Автор: Tanino Takahiro,Miyao Sho,Shinohara Natsumi. Владелец: Toray Industries, Inc.. Дата публикации: 2022-02-10.

METHOD FOR COMBINING THE RESULTS OF ULTRASOUND AND X-RAY AND NEUTRON CEMENT EVALUATION LOGS THROUGH MODALITY MERGING

Номер патента: US20190025455A1. Автор: Stewart Alex,Teague Philip. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20210027472A1. Автор: Kimura Kenji,Morimoto Naoki,SHIRAI Taro,DOKI Takahiro. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

IMAGING DEVICE AND X-RAY IMAGING DEVICE

Номер патента: US20200035745A1. Автор: Nakamura Wataru,Tomiyasu Kazuhide,Nakano Fumiki,Moriwaki Hiroyuki,Nakazawa Makoto,TAKITA RIKIYA. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-30.

X-RAY DETECTOR COVER AND X-RAY DETECTOR HAVING SAME

Номер патента: US20210048543A1. Автор: KIM In Dong. Владелец: Vieworks Co., Ltd.. Дата публикации: 2021-02-18.

CRYSTALS FOR DETECTING NEUTRONS, GAMMA RAYS, AND X RAYS AND PREPARATION METHODS THEREOF

Номер патента: US20210053993A1. Автор: Li Min,Wang Yu,GUAN Weiming. Владелец: MEISHAN BOYA ADVANCED MATERIALS CO., LTD.. Дата публикации: 2021-02-25.

ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, AND X-RAY IMAGING PANEL

Номер патента: US20200057169A1. Автор: Nakano Fumiki,Moriwaki Hiroyuki,Nakazawa Makoto,TAKITA RIKIYA. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-20.

Photon counting detector and x-ray computed tomography apparatus

Номер патента: US20200069266A1. Автор: LIANG CAI,XIAOHUI Zhan,Richard Thompson,Kevin Christopher ZIMMERMAN. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2020-03-05.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY SYSTEM

Номер патента: US20150078525A1. Автор: Hofmann Thomas,SCHLECHTER Thomas,HEBELE Stefan. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-19.

STRUCTURED SURFACE PART FOR RADIATION CAPTURING DEVICES, METHOD OF MANUFACTURING SUCH A PART AND X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20210080597A1. Автор: Jacobs Johannes Wilhelmus Maria,WIMMERS ONNO JAN. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

OPTICAL ELEMENT FOR A RADIATION IMAGING APPARATUS, RADIATION IMAGING APPARATUS, AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20210088677A1. Автор: Kameshima Takashi. Владелец: RIKEN. Дата публикации: 2021-03-25.

IMAGING PANEL AND X-RAY IMAGING DEVICE INCLUDING SAME

Номер патента: US20180097027A1. Автор: Kanzaki Yohsuke,Kaneko Seiji,SAITOH TAKAO,Takamaru Yutaka. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

ACTIVE MATRIX SUBSTRATE AND X-RAY IMAGING PANEL INCLUDING SAME

Номер патента: US20190096876A1. Автор: Nakamura Wataru,Nakano Fumiki,Moriwaki Hiroyuki,Kubota Akinori. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

Organic photodiodes, organic x-ray detectors and x-ray systems

Номер патента: US20160111473A1. Автор: Gautam Parthasarathy,Jie Jerry Liu,Kwang Hyup An. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-04-21.

Simultaneous interior mri and x-ray imaging system (mrx)

Номер патента: US20220175329A1. Автор: Ge Wang,Lars Arne GJESTEBY. Владелец: RENSSELAER POLYTECHNIC INSTITUTE. Дата публикации: 2022-06-09.

APPARATUS AND METHOD OF DETECTING X-RAY, AND X-RAY IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20160116611A1. Автор: KIM Young,Lee Kangho,PARK Jaechul. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-28.

PHOTOELECTRIC CONVERTER AND X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20190115385A1. Автор: Nakamura Wataru,Tomiyasu Kazuhide,Nakano Fumiki,Moriwaki Hiroyuki,Nakazawa Makoto. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-04-18.

DETECTOR MODULE FOR AN X-RAY DETECTOR, X-RAY DETECTOR, AND X-RAY DEVICE

Номер патента: US20180120455A1. Автор: EISMANN Alfons. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2018-05-03.

IMAGING PANEL AND X-RAY IMAGING DEVICE INCLUDING SAME

Номер патента: US20180122842A1. Автор: Kanzaki Yohsuke,Kaneko Seiji,SAITOH TAKAO,Takamaru Yutaka. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-03.

X-ray detector and x-ray imaging apparatus having the same

Номер патента: US20180132806A1. Автор: Jae Wook Lee,Hyun Ho CHOI,Jung Min Kim,Won Jun Choi,Jae Won Yoo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-17.

COMPOSITION FOR REFLECTIVE FILM, REFLECTIVE FILM, AND X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20140217296A1. Автор: Suzuki Akiko,HOMMA Katsuhisa,Kono Tatsuoki,FUJIEDA Shinetsu. Владелец: Toshiba Electron Tubes & Devices Co., Ltd.. Дата публикации: 2014-08-07.

IMAGING PANEL AND X-RAY IMAGING DEVICE

Номер патента: US20170139056A1. Автор: Tomiyasu Kazuhide,Mori Shigeyasu. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2017-05-18.

X-ray detector and x-ray imaging apparatus having the same

Номер патента: US20160154119A1. Автор: Jin-woo Park,Young Ik Kim,Eun Jeong JO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-06-02.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY IMAGING APPARATUS HAVING THE SAME

Номер патента: US20160154125A1. Автор: Park Jin-Woo,KIM Young Ik,JO Eun Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-06-02.

IMAGING PANEL AND X-RAY IMAGING SYSTEM PROVIDED WITH SAID IMAGING PANEL

Номер патента: US20170154916A1. Автор: Tomiyasu Kazuhide,Mori Shigeyasu. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2017-06-01.

Method for Combining the Results of Ultrasound and X-Ray and Neutron Cement Evaluation Logs Through Modality Merging

Номер патента: US20220299669A1. Автор: Stewart Alex,Teague Philip. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-22.

Battery anode comprising carbon and optionally silicon characterized by the carbon domain size estimated by x ray diffraction

Номер патента: EP4399750A1. Автор: Matthew Clark,Gleb Yushin,Adam Kajdos,Timothy Milakovich,Valentin Lulevich,Saujan SIVRAM. Владелец: Sila Nanotechnologies Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Combination of ultrasound and x-ray systems

Номер патента: RU2556783C2. Автор: Рауль ФЛОРАН,Николя П.Б. ГОЖЕН,Паскаль И. Ф. КАТЬЕ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2015-07-20.

Method for positioning a medical instrument for invasive surgery and x-ray contrast grid and stereotactic holder for its implementation

Номер патента: RU2766975C1. Автор: Вячеслав Валерьевич Евтеев,Михаил Анатольевич Черных,Ирина Александровна Ягодкина,Алексей Петрович Гребенников. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Интервенционные радиологические системы" (ООО "ИРС"). Дата публикации: 2022-03-16.

Electronic unsoldered gun for electron flow and x-ray radiation discharge from vacuum region to atmosphere

Номер патента: RU2647489C1. Автор: Игорь Анатольевич Леонтьев,Юрий Михайлович ЯШНОВ,Михаил Петрович Духновский. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Твинн". Дата публикации: 2018-03-16.

X-ray-luminescent separation of minerals and x-ray-luminescent separator to this end

Номер патента: RU2517613C1. Автор: Леонид Васильевич Казаков,Наталья Павловна Колосова,Владимир Иосифович Цветков,Павел Николаевич Кучин. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник". Дата публикации: 2014-05-27.

Method of x-ray luminescent separation of minerals and x-ray luminescent separator therefor

Номер патента: RU2604317C1. Автор: Виктор Николаевич Яковлев,Александр Валентинович Пилюгин,Борис Ильич Димант,Виталий Геннадьевич Ульянов,Алексей Анатольевич Вишневский,Андрей Георгиевич Новоселов. Владелец: Акционерная Компания "АЛРОСА" (публичное акционерное общество) (АК "АЛРОСА" (ПАО)). Дата публикации: 2016-12-10.

Method of simulating dose reduction when collecting x-ray system data, computer system and x-ray system

Номер патента: RU2555122C2. Автор: Барт Пьер Антуан Йозеф ХОРНАРТ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2015-07-10.

Drug for treating and preventing complications associated with chemotherapy and x-ray therapy, as well as conditions associated with high permeability of the intestine

Номер патента: RU2692469C1. Автор: Виктор Вениаминович Тец,Георгий Викторович ТЕЦ,Марианна Юрьевна Смирнова,Михаил Васильевич Соловский. Владелец: ООО "Новые Антибиотики". Дата публикации: 2019-06-25.

Integration of ultrasound and x-ray modalities

Номер патента: RU2676521C2. Автор: Рауль ФЛОРАН,Оливье Пьер НЕМПОН,Паскаль Ив Франсуа КАТЬЕ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2018-12-29.

Diagnostic technique for gunshot wounds of the spinal column using magnetic resonance and x-ray computed tomography

Номер патента: RU2714082C1. Автор: Юрий Александрович Васильев,Алексей Владимирович Петряйкин,Дарья Владимировна Душкова,Юлия Николаевна Васильева,Дмитрий Сергеевич Семенов,Виолетта Алексеевна Ульянова,Александр Владимирович Бажин,Екатерина Сергеевна Ахмад,Кристина Анатольевна Сергунова. Владелец: Государственное бюджетное учреждение здравоохранения города Москвы "Научно-практический клинический центр диагностики и телемедицинских технологий Департамента здравоохранения города Москвы" (ГБУЗ "НПКЦ ДиТ ДЗМ"). Дата публикации: 2020-02-11.

Methods of obtaining, separation and purifying epothilone b and x-ray crystal structures of epothilone b

Номер патента: RU2368661C2. Автор: Брайан Л. ДЭВИС,Дэниел БЕНИГНИ,Роберт СТЭНКАВАЖ,Шу-Джен ЧИАНГ,Ксинг ХУ,Брюс ИГЭН,Деннис ГУ,Дэвид ХУ,Лес МИНЦМАЕР,Томас П. ТАЛЛИ,Иван ХАРГРО,Марк МЭСКАРИ,Гэбриел ГЭЛВИН,Грегори СТЕЙН,Кэри В. МАККОНЛОГ,Фахри Т. КОМЕЗОГЛУ. Владелец: Бристол-Маерс Сквибб Компани. Дата публикации: 2009-09-27.

Diagnostic technique for acute myocardial infarction using combined single-photon emission and x-ray computed tomography

Номер патента: RU2701362C1. Автор: Алексей Аркадьевич Аншелес,Владимир Борисович Сергиенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный медицинский исследовательский центр кардиологии" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБУ "НМИЦ кардиологии" Минздрава России). Дата публикации: 2019-09-25.

X-ray tube assembly and x-ray ct equipment

Номер патента: US20240105415A1. Автор: Kimihiro Nakayama,Yutaro Tanabe,Ren Sonoda. Владелец: Fujifilm Healthcare Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Ultrasound and x-ray video exchange system and method

Номер патента: EP1142316B1. Автор: Donald Masters. Владелец: Boston Scientific Ltd Barbados. Дата публикации: 2005-05-04.

Semiconductor device manufacturing method, x-ray diffraction device and semiconductor pattern transfer system

Номер патента: US20240231234A1. Автор: Yasuhiro Matsuo. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

A method of producing x-ray diffracting gratings

Номер патента: DE3068298D1. Автор: Dale C Flanders. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 1984-07-26.

X-ray diffraction and imaging software and computer-implemented systems

Номер патента: US20230122469A1. Автор: Guichuan Yu,Javier Garcia Barriocanal. Владелец: University of Minnesota. Дата публикации: 2023-04-20.

Method of Manufacture of X-Ray Diffraction Gratings

Номер патента: US20130335825A1. Автор: Abbamonte Peter,MacLaren Scott. Владелец: The Board of Trustees of the University of Illinois. Дата публикации: 2013-12-19.

Simulated X-ray diffraction spectra for analysis of crystalline materials

Номер патента: US09589098B2. Автор: Jun Li,Deepak Srivastava,Sang Yang. Владелец: Eocell Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Bactericidal/permeability-increasing protein: crystallization, x-ray diffraction, three-dimensional structure determination, rational drug design and molecular modeling of related proteins

Номер патента: AU8472298A. Автор: Stephen F. Carroll,Lesa J. Beamer,David Elsenberg. Владелец: Xoma Corp. Дата публикации: 1999-01-04.

X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM WITH SIGNAL AGGREGATION ACROSS VOXELS CONTAINING OBJECTS AND METHOD OF OPERATING THE SAME

Номер патента: US20160055390A1. Автор: Harding Geoffrey,Basu Samit Kumar,Zienert Gabriel,Skatter Sondre,Merzbacher Matthew Allen. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-25.

Method for Producing an XUV and X-Ray Diffractive Optic

Номер патента: US20200398509A1. Автор: Sitti Metin,SANLI Umut Tunca,CEYLAN Hakan,SCHÜTZ Gisela,KESKINBORA Kahraman. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

X-ray imaging apparatus, medical image processing apparatus and x-ray imaging method

Номер патента: US20130137974A1. Автор: Kyojiro Nambu,Takuya Sakaguchi,Ryuji Zaiki,Atsushi Gotoh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-05-30.

MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS, MEDICAL IMAGE PROCESSING METHOD AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20130195343A1. Автор: SHIRAISHI Kunio,Sakaguchi Takuya,NAMBU Kyojiro,Abe Shingo. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-01.

Image Processing Method, Image Processing System, and X-Ray Computed Tomography System

Номер патента: US20130202180A1. Автор: Kubo Takashi,Yaguchi Toshie,Baba Norio,HASHIMOTO Takahito. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-08-08.

MEDICAL APPARATUS AND X-RAY CT SYSTEM

Номер патента: US20130223713A1. Автор: ISHIDA Katsuhiko,YAMASHITA Naoki,Mukumoto Go,HIRAOKA Manabu,FUKANO Atsushi,WATANABE Tatsuya. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-29.

MEDICAL IMAGE DISPLAY APPARATUS AND X-RAY DIAGNOSIS APPARATUS

Номер патента: US20130230136A1. Автор: Matsumoto Nobuyuki,TANAKA Manabu,Sakaguchi Takuya. Владелец: . Дата публикации: 2013-09-05.

IMAGE-PROCESSING APPARATUS AND X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20130243301A1. Автор: Ichihara Takashi,Sakaguchi Takuya,Lima Joao A. C.,George Richard T.,Trost Jeff,YAO Jingwu,YOUSUF Omair Khwaja. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2013-09-19.

METHOD FOR DETERMINING AN ARTIFACT-REDUCED THREE-DIMENSIONAL IMAGE DATA SET AND X-RAY DEVICE

Номер патента: US20130259355A1. Автор: Kyriakou Yiannis. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-03.

Method For Reducing Direct Hit Artifacts And X-Ray Facility

Номер патента: US20130259356A1. Автор: Stowasser Boris. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2013-10-03.

METHOD FOR CORRECTING METAL ARTIFACTS IN X-RAY IMAGING, AND X-RAY DEVICE

Номер патента: US20140023290A1. Автор: GRAUMANN Rainer,Barth Karl. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2014-01-23.

Method and x-ray device to determine a three-dimensional target image data set

Номер патента: US20140050295A1. Автор: Frank Dennerlein,Mathias Hoernig. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-02-20.

METHOD FOR THE DETERMINATION OF DUAL ENERGY IMAGE DATA RECORDS AND X-RAY FACILITY

Номер патента: US20140050302A1. Автор: Dennerlein Frank,Hoernig Mathias. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2014-02-20.

MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS, X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS, MEDICAL IMAGE PROCESSING METHOD AND X-RAY DIAGNOSTIC METHOD

Номер патента: US20150010221A1. Автор: Abe Shingo. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

X-RAY CT SCANNER, X-RAY IMAGE PROCESSOR, AND X-RAY IMAGE DISPLAY

Номер патента: US20200008761A1. Автор: YOSHIMURA TAKAHIRO,Sadakane Tomoyuki. Владелец: J. MORITA MFG. CORP.. Дата публикации: 2020-01-09.

A METHOD AND X-RAY SYSTEM FOR COMPUTER AIDED DETECTION OF STRUCTURES IN X-RAY IMAGES

Номер патента: US20160019432A1. Автор: Koehler Thomas,Roessl Ewald,Erhard Klaus,Maack Hanns-Ingo,FREDENBERG Jon Erik,LUNDQVIST Mats Vilhelm,CEDERSTROM Bjorn. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-21.

IMAGE PROCESSING APPARATUS, IMAGE PROCESSING METHOD, AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20210027430A1. Автор: TAKAHASHI Isao,Yamamoto Mariko,Takahashi Hisashi,YAMAKAWA Keisuke,GOTOU Taiga. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20180035964A1. Автор: Fujisawa Yasuko,FUNABASAMA Shintaro. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2018-02-08.

MEDICAL-INFORMATION PROCESSING APPARATUS AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20180042569A1. Автор: HIROHATA Kenji,Sakaguchi Takuya. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2018-02-15.

X-RAY TUBE HOLDING APPARATUS AND X-RAY IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20220061788A1. Автор: Kobayashi Yoshimasa,IWAI Haruki,OOHASHI Toshikatsu,FUKUZAKI Takehiro,AKIMOTO Masato,TOMARU Takehito. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2022-03-03.

METHOD FOR CREATING A VOLUME IMAGE AND X-RAY IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20190046149A1. Автор: Hornung Oliver,Kowarschik Markus. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-14.

Image analysis device and x-ray diagnostic apparatus

Номер патента: US20180055472A1. Автор: Yoshinori Shimizu,Keisuke Nakamura,Nobuo Kobayashi,Kunio Shiraishi,Ryoichi Nagae. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2018-03-01.

MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS, X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS, AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS

Номер патента: US20150063526A1. Автор: Kobayashi Yoshimasa,KATO Hisanori,OHASHI Shumpei. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

X-RAY IMAGE PROCESSING APPARATUS, X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS, AND X-RAY IMAGE PROCESSING METHOD

Номер патента: US20150063541A1. Автор: Kobayashi Yoshimasa,OHASHI Shumpei. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

IMAGE GENERATION APPARATUS, IMAGE GENERATION METHOD, AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20180061097A1. Автор: Yokoi Kazuma,Tsubota Yushi. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

X-ray dynamic image display apparatus, storage medium, x-ray dynamic image display method, and x-ray dynamic image display system

Номер патента: US20220079538A1. Автор: Akinori Tsunomori. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-03-17.

Method for controlling x-ray image diagnosis apparatus and x-ray generation device

Номер патента: US20150071406A1. Автор: Tadashi Nakamura,Yuji Sakai,Konosuke Temmei. Владелец: Hitachi Medical Corp. Дата публикации: 2015-03-12.

X-RAY GENERATION APPARATUS AND X-RAY PHOTOGRAPHY SYSTEM

Номер патента: US20190069384A1. Автор: Ando Yoichi. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

CBCT and X-Ray Combined Setup with X-Ray Verification of Patient Positioning

Номер патента: US20180071551A1. Автор: Berlinger Kajetan,Knorr Sebastian,Schlossbauer Cornel,Rehs Joerg. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-15.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGE PROCESSING METHOD

Номер патента: US20200069276A1. Автор: YOSHIDA Takanori. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

Reducing Artifacts in an Image Data Set and X-Ray Device

Номер патента: US20150078507A1. Автор: Kyriakou Yiannis. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-19.

X-RAY FLUOROSCOPY DEVICE AND X-RAY FLUOROSCOPY METHOD

Номер патента: US20200069967A1. Автор: TAKAHASHI Wataru,MORI Shinichiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

IMAGE PROCESSING DEVICE AND X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20160078621A1. Автор: Uchida Naoki,WATANABE Yuichiro,Sakaguchi Takuya,SHIMIZU Yoshinori,NAGAE Ryoichi,HAYATSU Yasuto,llJIMA Yoshiaki. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

REAL-TIME TRACKING FOR FUSING ULTRASOUND IMAGERY AND X-RAY IMAGERY

Номер патента: US20220092800A1. Автор: Balicki Marcin Arkadiusz,TOPOREK Grzegorz Andrzej. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-24.

Automatic organ program selection method, storage medium, and x-ray medical device

Номер патента: US20220096040A1. Автор: Wei He. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2022-03-31.

Image processing apparatus, medical image diagnostic apparatus, and x-ray diagnostic apparatus

Номер патента: US20160086319A1. Автор: SHIRAISHI Kunio,Sakaguchi Takuya,HONDA Michitaka. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-24.

Medical image processing apparatus, x-ray diagnostic apparatus, medical image processing method, and x-ray diagnostic method

Номер патента: US20160089097A1. Автор: Yuichiro Watanabe,Satoru Ohishi,Ryoichi Nagae. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2016-03-31.

X-RAY CT APPARATUS, MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS, AND X-RAY CT SYSTEM

Номер патента: US20200082579A1. Автор: TSUKAGOSHI Shinsuke,Sekiya Kotaro,Kuno Hirofumi,Hiyama Takashi,Hashizume Tsubomi,Tsushima So. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-12.

Operation device and x-ray diagnosis system

Номер патента: US20220142596A1. Автор: Hiroshi Yoshida,Hajime Yoshida,Shingo Abe,Yusuke NARABU,Keisuke Sugawara,Akio Tetsuka. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2022-05-12.

X-RAY CT IMAGE RECONSTRUCTION DEVICE, X-RAY CT IMAGE RECONSTRUCTION METHOD, AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20190105002A1. Автор: Yokoi Kazuma. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-11.

METHOD FOR GENERATING TOMOGRAPHIC IMAGE AND X-RAY IMAGING APPARATUS ACCORDING TO SAME

Номер патента: US20210125384A1. Автор: KIM Hyeongseok,LEE Jongha,CHO Seungryong,KIM Namuk,MIN Jonghwan. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-29.

X-RAY CT IMAGE PROCESSING METHOD, X-RAY CT IMAGE PROCESSING PROGRAM, AND X-RAY CT IMAGE DEVICE

Номер патента: US20160120493A1. Автор: Maeda Shinichi,Tanaka Takumi,YOSHIKAWA Daigo,ISHII Shin. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-05.

MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20200118308A1. Автор: NAKANISHI Satoru. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2020-04-16.

X-ray irradiating device including motion sensor and x-ray imaging method using same

Номер патента: US20180132813A1. Автор: Jinpyo CHUN,Hyungkeun LIM. Владелец: Vatech Ewoo Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-17.

IMAGE PROCESSING DEVICE AND X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20160143605A1. Автор: WATANABE Yuichiro,OHISHI Satoru,NAGAE Ryoichi. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

HUMAN VISIBLE AND X-RAY VISIBLE MARKINGS FOR SECURITY SCREENINGS

Номер патента: US20140226796A1. Автор: Eshetu Abiy,Burton Timothy B.. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-14.

MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS, MEDICAL IMAGE PROCESSING METHOD, AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20180144475A1. Автор: Arakita Kazumasa,YAO Jingwu,HOI Yiemeng,Manak Joseph,Begelman James,Gorin Victor. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2018-05-24.

DIAGNOSTIC X-RAY IMAGING EQUIPMENT AND X-RAY IMAGE DISPLAY METHOD

Номер патента: US20140229883A1. Автор: Tsukijishin Kenta,Motoki Kouhei. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-14.

IMAGE ANALYSIS DEVICE AND X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20150161800A1. Автор: Nakamura Keisuke,SHIRAISHI Kunio,KOBAYASHI Nobuo,SHIMIZU Yoshinori,NAGAE Ryoichi. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

DIRECTIONAL AND X-RAY VIEW TECHNIQUES FOR NAVIGATION USING A MOBILE DEVICE

Номер патента: US20140240350A1. Автор: Chen Jiajian,Chao Hui. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-08-28.

Method and x-ray apparatus for interferometric 2D x-ray imaging

Номер патента: US10363005B2. Автор: Thomas Weber,Peter Bartl,Sven-Martin Sutter,Marcus Radicke,Martino Leghissa. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2019-07-30.

Compact multi-focus x-ray source, x-ray diffraction imaging system, and method for fabricating compact multi-focus x-ray source

Номер патента: JP2010190900A. Автор: Geoffrey Harding,ハーディング ジェフリー. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-09-02.

Compact multi-focus x-ray source, x-ray diffraction imaging system, and method for fabricating compact multi-focus x-ray source

Номер патента: EP2221847A2. Автор: Geoffrey Harding. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-08-25.

Peripheral nervous system specific sodium channels, dna encoding therefor, crystallization, x-ray diffraction, computer molecular modeling, rational drug design, drug screening, and methods of making and using thereof

Номер патента: CA2204355C. Автор: Gail Mandel,Simon Halegoua,Laurence A. Borden. Владелец: TROPHIX PHARMACEUTICALS Inc. Дата публикации: 2001-01-16.

X-ray diffraction imaging system

Номер патента: KR20060087249A. Автор: 제정호,이재목,호우광. Владелец: 학교법인 포항공과대학교. Дата публикации: 2006-08-02.

Peripheral nervous system specific sodium channels, dna encoding therefor, crystallization, x-ray diffraction, computer molecular modeling, rational drug design, drug screening, and methods of making and using thereof.

Номер патента: MX9703187A. Автор: Gail Mandel,Simon Halegoua,Laurence A Borden. Владелец: Res Foundation Of State. Дата публикации: 1998-02-28.

MEASUREMENT OF CMOS DEVICE CHANNEL STRAIN BY X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20140159161A1. Автор: Bedell Stephen W.,Adam Thomas N.,MURRAY Conal E.,Holt Judson R.,Harley Eric C.,MADAN ANITA,PINTO TERESA L.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-12.

Peripheral nervous system specific sodium channels, DNA encoding therefor, crystallization, X-ray diffraction, computer molecular modeling, rational drug design, drug screening, and methods of making and using thereof

Номер патента: EP1985703A2. Автор: Gail Mandel,Simon Halegoua,Laurence A. Borden. Владелец: Allelix Neuroscience Inc. Дата публикации: 2008-10-29.

New crystalline solid zeolite for use as adsorbent or catalyst, shows a characteristic X-ray diffraction pattern and is based on silicon and optionally other elements

Номер патента: FR2911866A1. Автор: Johan A Martens,Emmanuelle Guillon,Antoine Fecant,Nicolas Bats. Владелец: IFP Energies Nouvelles IFPEN. Дата публикации: 2008-08-01.

Method for evaluating hardenability of steel by x-ray diffraction

Номер патента: JPS6126721A. Автор: Masanori Kurita,政則 栗田,Ikuo Ihara,郁夫 井原. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 1986-02-06.

Specimen stand for x-ray diffraction apparatus

Номер патента: JPH01142443A. Автор: Teruo Okada,荘一郎 松嶋,Masahiko Inagaki,照夫 岡田,雅彦 稲垣,Soichiro Matsushima. Владелец: Tomy Seiko Co Ltd. Дата публикации: 1989-06-05.

Peripheral nervous system specific sodium channels, dna encoding therefor, crystallization, x-ray diffraction, computer molecular modeling, rational drug design, drug screening, and methods of making and using thereof

Номер патента: CA2204355A1. Автор: Gail Mandel,Simon Halegoua,Laurence A. Borden. Владелец: Trophix Pharmaceuticals, Inc.. Дата публикации: 1996-05-17.

Method of continuously manufacturing alkaline aqueous suspension of fine grain sodium aluminosilicate amorphous by x ray diffraction method

Номер патента: JPS55140713A. Автор: Kurisutofuriimuku Peetaa,Buyusuto Buiri,Yoozefu Karudotsuku Furantsu. Владелец: Henkel AG and Co KGaA. Дата публикации: 1980-11-04.

COMPLEXES OF LANTHANIDES (III) COMPRISING 1,2,3-TRIAZOLE FUNCTIONS: APPLICATIONS TO STRUCTURAL RESOLUTION OF PROTEIN ENTITIES BY X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: FR2991322B1. Автор: Arnaud Gautier,Jean-Louis Canet,Eric Girard,Lionel NAUTON,Romain Talon. Владелец: Ecole Nationale Superieure de Chimie de Clermont Ferrand. Дата публикации: 2014-06-20.

X-RAY TALBOT IMAGING DEVICE

Номер патента: US20160374631A1. Автор: HOSHINO Yoshihide,NISHINO Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-29.

Console, input terminal, and x-ray imaging system

Номер патента: US20120051511A1. Автор: Takeshi Kamiya,Noriaki Ida,Takehisa Ono,Kohei GEMMA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-03-01.

Electron emitting body and x-ray emitting device

Номер патента: US20120194057A1. Автор: Masanori Haba,Ryouichi Suzuki,Yoshihisa Ishiguro. Владелец: Life Technology Research Institute Inc. Дата публикации: 2012-08-02.

X-ray generating device with electron scattering element and x-ray system

Номер патента: US20120207269A1. Автор: Rolf Karl Otto Behling. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2012-08-16.

Low voltage electron source with self aligned gate apertures, fabrication method thereof, and x-ray generator using the electron source

Номер патента: US20120219118A1. Автор: Zhidan Li Tolt. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-08-30.

Radiofrequency Compatible and X-ray Translucent Carbon Fiber And Hybrid Carbon Fiber Structures

Номер патента: US20130078414A1. Автор: COPPENS Daniel D.,COLLURA Nicholas. Владелец: QFIX SYSTEMS, LLC. Дата публикации: 2013-03-28.

PATIENT TABLE AND X-RAY IMAGING SYSTEM HAVING THE SAME

Номер патента: US20130129047A1. Автор: Lim Jae Hyun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-05-23.

X-RAY PROCESSING DEVICE AND X-RAY PROCESSING METHOD

Номер патента: US20130167346A1. Автор: SHIOZAWA Ikuo,SAITO Tsutomu,TOKAIRIN Takeshi,YONEDA Koji. Владелец: SEIKO PRECISION INC.. Дата публикации: 2013-07-04.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY FOCUS POSITION CONTROL METHOD OF X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20130177130A1. Автор: Konno Yasutaka,Ishikawa Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-11.

Drive System for a Head Clamp for Use in Imaging by Magnetic Resonance and X-Ray

Номер патента: US20130190604A1. Автор: Moffatt Steven. Владелец: IMRIS INC.. Дата публикации: 2013-07-25.

MULTI-X-RAY GENERATING APPARATUS AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20130202082A1. Автор: SHIMIZU Satoshi,Tsujii Osamu,Ogura Takashi,Okunuki Masahiko. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-08-08.

X-RAY DIAGNOSTIC SYSTEM AND X-RAY DIAGNOSTIC METHOD

Номер патента: US20130208853A1. Автор: NAKANISHI Satoru,UEBAYASHI Yoshinori. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-15.

ELECTRON EMISSION DEVICE AND X-RAY GENERATOR INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20130230146A1. Автор: Kim Yong-Chul,PARK Shang-hyeun,KIM Il-hwan,KIM Do-yoon,JEONG Tae-won. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-09-05.

ANODE ROTATIONAL DRIVE DEVICE AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20130243161A1. Автор: HISHIKAWA Shingo. Владелец: HITACHI MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2013-09-19.

Electron gun, x-ray generator and x-ray measurement apparatus

Номер патента: US20130259197A1. Автор: Masaru Kuribayashi,Masahiro Nonoguchi,Masashi Kageyama. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

Target for x-ray generator, method of manufacturing the same and x-ray generator

Номер патента: US20130259207A1. Автор: Kazuaki Shimizu,Naohisa Osaka,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

X-RAY TUBE AND X-RAY CT DEVICE

Номер патента: US20130294571A1. Автор: KONDO Gen. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-07.

X-RAY DIAGNOSIS APPARATUS AND X-RAY DIAGNOSIS ASSISTING METHOD

Номер патента: US20130315370A1. Автор: WATANABE Yuichiro,GUNJI Teruomi,TANAKA Manabu. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-28.

Head Clamp for Use in Imaging by Magnetic Resonance and X-Ray

Номер патента: US20130324834A1. Автор: Majewski Jim,Moffat Steven. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-05.

DIGITAL X-RAY DETECTOR, HOUSING AND X-RAY PHOTOGRAPHING APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20130336453A1. Автор: PARK Sang Jin,KIM Yeong Kyun,PARK Se Hee,Park Sang Jo. Владелец: Rayence Co., Ltd.. Дата публикации: 2013-12-19.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20130343521A1. Автор: LEE Duhgoon. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-26.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY IMAGING APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20140029725A1. Автор: Yamazaki Koji,Ueda Kazuyuki,Tamura Miki,Sato Yasue,Nomura Ichiro,Ogura Takao,Aoki Shuji,Yanagisawa Yoshihiro. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-01-30.

X-RAY IMAGING DEVICE AND X-RAY IMAGE FORMING METHOD

Номер патента: US20140064444A1. Автор: Chung Myung Jin,Sung Young Hun,LEE Kang Eui,OH Hyun Hwa. Владелец: . Дата публикации: 2014-03-06.

X-RAY DETECTOR, X-RAY DETECTION SYSTEM HAVING THE SAME, AND X-RAY DETECTION METHOD

Номер патента: US20140072107A1. Автор: CHANG Sung Ho. Владелец: . Дата публикации: 2014-03-13.

X-RAY GENERATING DEVICE AND X-RAY-GENERATING-DEVICE CONTROL

Номер патента: US20140079189A1. Автор: Watanabe Akira,Kamino Yuichiro,ISHII Shinya,MIYAMOTO Akihiro,Aoi Tatsufumi. Владелец: . Дата публикации: 2014-03-20.

X-RAY DETECTOR, X-RAY DETECTOR MODULE, AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20180000433A1. Автор: Yamamoto Kuniaki,Kanemaru Takashi,HORINOUCHI Minoru,NISHIJIMA Akira,TERAMOTO Ryuichi. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2018-01-04.

METHOD FOR RECEIVING ENERGY -SELECTIVE IMAGE DATA, X-RAY DETECTOR AND X-RAY SYSTEM

Номер патента: US20170000431A1. Автор: SPAHN Martin. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-05.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY IMAGING APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20150003585A1. Автор: KIM Jong-Pil,HAN Woo-sup,YOON Kyung-Hun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2015-01-01.

Metal oxide film, method for manufacturing same, thin film transistor, display apparatus, image sensor, and x-ray sensor

Номер патента: US20160005879A1. Автор: Atsushi Tanaka,Masahiro Takata,Masayuki Suzuki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-01-07.

X-ray source and x-ray imaging apparatus

Номер патента: US20210007210A1. Автор: Roger Steadman Booker,Gereon Vogtmeier. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2021-01-07.

X-RAY DETECTOR, AND X-RAY IMAGING APPARATUS HAVING THE SAME

Номер патента: US20180008216A1. Автор: CHOI Jin-ho,Kim Dae Soo,Jang Kyoung Choul,Park Seong Hwa. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-11.

X-RAY APPARATUS AND X-RAY IMAGE DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20150010131A1. Автор: Hibino Atsushi,Sairaiji Tetsuji,Arisaka Kimitaka. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

X-RAY TOMOGRAPHY APPARATUS AND X-RAY TOMOGRAPHY METHOD

Номер патента: US20200008760A1. Автор: NISHIMURA Yuu. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-09.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY IMAGING APPARATUS HAVING THE SAME

Номер патента: US20180014800A1. Автор: CHOI Jin-ho,Kim Dae Soo,Jang Kyoung Choul,Park Seong Hwa. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-18.

RADIATION DETECTOR AND X-RAY CT APPARATUS PROVIDED THEREWITH

Номер патента: US20160015334A1. Автор: Kobayashi Hiroyuki. Владелец: HITACHI MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2016-01-21.

MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS, X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS, MEDICAL IMAGE PROCESSING METHOD AND X-RAY DIAGNOSTIC METHOD

Номер патента: US20160015348A1. Автор: OHISHI Satoru. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-21.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY UTILIZATION SYSTEM

Номер патента: US20210014956A1. Автор: Ishii Atsushi,TANIZAWA Tomoaki. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2021-01-14.

COMPOSITE TARGET AND X-RAY TUBE WITH THE COMPOSITE TARGET

Номер патента: US20170018392A1. Автор: Cheng Chi-Chieh. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-19.

PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND X-RAY IMAGE DETECTOR

Номер патента: US20140103347A1. Автор: ISHINO Takayuki. Владелец: NLT TECHNOLOGIES, LTD.. Дата публикации: 2014-04-17.

MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS, X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS, MEDICAL IMAGE PROCESSING METHOD AND X-RAY DIAGNOSTIC METHOD

Номер патента: US20160022236A1. Автор: OHISHI Satoru. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-28.

C-Arm Mounting Apparatus and X-Ray Imaging Device with Cage Guide

Номер патента: US20150023470A1. Автор: BAUMANN Berthold,Neuber Wolfgang,Schirbl Matthias. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-22.

Pin Diode and Manufacturing Method Thereof, and X-Ray Detector Using Pin Diode and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20160027952A1. Автор: CHOI Sung Jin. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-28.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY IMAGING APPARATUS HAVING THE SAME

Номер патента: US20170025761A1. Автор: Lee Woo Sung,Kim Jung Min,PARK Hoon,Seong Il. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2017-01-26.

Method for manufacturing x-ray flat panel detector and x-ray flat panel detector tft array substrate

Номер патента: US20150028338A1. Автор: Hiroshi Iwata,Mitsushi Ikeda. Владелец: Toshiba Electron Tubes and Devices Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-29.

X-RAY IMAGING DEVICE AND X-RAY IMAGE FORMING METHOD

Номер патента: US20170027534A1. Автор: Chung Myung Jin,Sung Young Hun,LEE Kang Eui,OH Hyun Hwa. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-02.

X-RAY GENERATION MODULE, X-RAY IMAGING APPARATUS, AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20140112434A1. Автор: Lee Jae Hak,Sung Young Hun,JANG Kwang Eun,LEE Jong Ha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-04-24.

X-RAY EMITTING TARGET AND X-RAY EMITTING DEVICE

Номер патента: US20140112450A1. Автор: Ito Nobuhiro,Sato Yasue,Ogura Takao. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-04-24.

X-RAY IRRADIATION DEVICE AND X-RAY RADIATION SOURCE

Номер патента: US20150030131A1. Автор: UJIMA Akiomi,Nakamura Tatsuya,FUJITA Toru,OKADA Tomoyuki,Kosugi Norimasa,Okumura Naoki. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-29.

FIELD EMISSION APPARATUS WITH SUPERIOR STRUCTURAL STABILITY AND X-RAY TUBE COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20210027969A1. Автор: Gihm Se Hoon,CHOI Hong Soo,Kim Sug Chul. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

MEDICAL INSTRUMENT FOR USE WITH A PHASE CONTRAST IMAGING AND X-RAY RECORDING SYSTEM WITH PHASE CONTRAST IMAGING

Номер патента: US20150031986A1. Автор: Nanke Ralf,BERNHARDT Philipp,Mertelmeier Thomas,RADICKE MARCUS,Hoheisel Martin. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-29.

X-RAY DETECTOR, X-RAY CT DEVICE, X-RAY DETECTION METHOD, AND X-RAY DETECTION PROGRAM

Номер патента: US20190029628A1. Автор: Konno Yasutaka. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2019-01-31.

HUB CHUCK, HUB FIXTURE AND X-RAY DETECTING APPARATUS

Номер патента: US20210031320A1. Автор: Liu Rui,LIU Xinghua,Cao Di,ZHANG Zhiliang,LU ZHIQIANG. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-04.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGE GENERATING METHOD

Номер патента: US20140119507A1. Автор: SUNG Young-hun,Lee Kang-eui,Oh Hyun-hwa,CHOI Seo-Young,Chung Myung-Jin. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-01.

SUPPORTING DEVICE AND X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20160038110A1. Автор: Hayashi Yoshiyasu,Sakaguchi Takuya,SAKAUE Kousuke,ISHll Shigeyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-11.

Method for x-ray luminescent separation of minerals and x-ray luminescent separator

Номер патента: US20160038979A1. Автор: Leonid Vasilievich Kazakov,Natalia Pavlovna Kolosova,Pavel Nikolaevich KUCHIN,Vladimir losifovich Tsvetkov. Владелец: RESEARCH AND PRODUCTION ENTERPRISE ?BOUREVESTNIK?. Дата публикации: 2016-02-11.

Photographing sequence determination supporting method, photographing sequence determination supporting program, and x-ray radiographic apparatus equipped therewith

Номер патента: US20200037980A1. Автор: Shuichi Inomata. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

RADIOFREQUENCY COMPATIBLE AND X-RAY TRANSLUCENT CARBON FIBER AND HYBRID CARBON FIBER STRUCTURES

Номер патента: US20140121497A1. Автор: COPPENS Daniel D.,COLLURA Nicholas. Владелец: QFIX SYSTEMS, LLC. Дата публикации: 2014-05-01.

X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS AND X-RAY DIAPHRAGM THEREOF

Номер патента: US20160051210A1. Автор: Sato Yoshiyuki,KOJIMA Tsuyoshi,OOIE Shinsuke,Shinoda Katsuaki. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-25.

X-ray emitting target and x-ray emitting device

Номер патента: US20140126701A1. Автор: Nobuhiro Ito,Yasue Sato,Takao Ogura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-05-08.

COMPONENT OR ELECTRON CAPTURE SLEEVE FOR AN X-RAY TUBE AND X-RAY TUBE HAVING SUCH A DEVICE

Номер патента: US20220068586A1. Автор: Schu André. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-03.

X-Ray Exposure Control Device, X-Ray Image Detection Apparatus, and X-Ray Imaging System

Номер патента: US20150055752A1. Автор: Yamada Masahiko,TAKAHASHI Tomoyuki,AKAHORI Sadato. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-26.

METHOD FOR PRODUCING FIELD EFFECT TRANSISTOR, FIELD EFFECT TRANSISTOR, DISPLAY DEVICE, IMAGE SENSOR, AND X-RAY SENSOR

Номер патента: US20140131696A1. Автор: ONO Masashi,MOCHIZUKI Fumihiko,TAKATA Masahiro,TANAKA Atsushi,SUZUKI Masayuki. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2014-05-15.

THERMIONIC EMISSION DEVICE, FOCUS HEAD, X-RAY TUBE AND X-RAY RADIATOR

Номер патента: US20180053618A1. Автор: FRITZLER ANJA,GEITHNER Peter. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

THERMIONIC EMISSION DEVICE, FOCUS HEAD, X-RAY TUBE AND X-RAY EMITTER

Номер патента: US20180053622A1. Автор: FRITZLER ANJA. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

X-ray imaging apparatus and x-ray imaging method

Номер патента: US20140133626A1. Автор: Jong Ha Lee,Jae hak Lee,Young Hun Sung,Kang Eui Lee,Kwang Eun Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-05-15.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20180055474A1. Автор: Du Pengfei,Gu Shaobo,Yang Jiangiang. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

Method for operating an x-ray device with an articulated arm, and x-ray device with an articulated arm

Номер патента: US20190053774A1. Автор: Weingarten Markus. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-21.

Generation of VUV, EUV, and X-ray Light Using VUV-UV-VIS Lasers

Номер патента: US20150063385A1. Автор: Popmintchev Tenio V.,Popmintchev Dimitar V.,Murnane Margaret M.,Kapteyn Henry C.. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

X-RAY TUBE AND X-RAY GENERATION DEVICE

Номер патента: US20200058462A1. Автор: SUZUKI Kazutaka. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-02-20.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20190059842A1. Автор: Yoshikawa Hideki,Sadakane Tomoyuki,SUGIHARA Yoshito. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

X-RAY HIGH VOLTAGE DEVICE AND X-RAY IMAGE DIAGNOSIS APPARATUS

Номер патента: US20190059844A1. Автор: TANAKA Kimio. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2019-02-28.

X-RAY DETECTING PANEL AND METHOD OF OPERATING THE SAME, AND X-RAY DETECTING DEVICE

Номер патента: US20200058699A1. Автор: Zhang Yong,BAI Lu,Zhang Limin,Lin Jian,Hua Gang,XUE Yanna,BAO Zhiying,FANG Haobo,MI Lei. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-20.

X-RAY CT APPARATUS AND X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20160066876A1. Автор: Yamazaki Masahiko. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-10.

METHOD AND X-RAY SYSTEM FOR DUAL-ENERGY SPECTRA CT SCANNING AND IMAGE RECONSTRUCTION

Номер патента: US20150071400A1. Автор: Popescu Stefan. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-12.

IMAGE PROCESSING APPARATUS AND X-RAY DIAGNOSIS APPARATUS

Номер патента: US20150071520A1. Автор: Takemoto Hisato,Sakaguchi Takuya,HOI Yiemeng. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-12.

X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS AND X-RAY DIAGNOSTIC METHOD

Номер патента: US20160073988A1. Автор: NAGAI Seiichirou. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

X RAY IMAGING METHOD USING VARIABLE IMAGING PLANE PROJECTION AND X RAY IMAGING DEVICE APPLYING THE SAME

Номер патента: US20200069265A1. Автор: KIM Yong-Kwon,Joung Jinhun,Nguyen Manh Hung. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

GRAPHENE SERVING AS CATHODE OF X-RAY TUBE AND X-RAY TUBE THEREOF

Номер патента: US20160079029A1. Автор: LI KUI-YANG. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

X-ray generation device and x-ray generating unit and high voltage generating unit constituting same

Номер патента: US20160081173A1. Автор: Sang-Hyo Kim,Yong-Chul Jung,Jae-Hyun Lee,Dong-Hun Lee,Sang-Min Kim,Su-Young Lee,Sang-Bong Seo,Gang-Young SON. Владелец: SUNJE Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-17.

HOLDING MECHANISM FOR OPERATION DEVICE AND X-RAY IMAGING UNIT

Номер патента: US20180085074A1. Автор: Tobita Kokichi,Furusawa Koichi,KIMURA Masataka. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2018-03-29.

MOBILE BASE AND X-RAY MACHINE MOUNTED ON SUCH A MOBILE BASE

Номер патента: US20170086764A1. Автор: MARTINEZ FERREIRA Carlos,BOUVIER Bernard,GALLONI Bruno,THOMÉ Jean-Luc,CAVEROT Guy Jean Sébastien. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-30.

Carbon nanotube electron emitter, method of manufacturing the same and x-ray source using the same

Номер патента: US20190088437A1. Автор: Sang Heon Lee,Cheol Jin Lee,Jun-Soo Han. Владелец: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION. Дата публикации: 2019-03-21.

X-RAY TUBE AND X-RAY GENERATION DEVICE

Номер патента: US20210092823A1. Автор: Kurisu Hiroki,TAKAHASHI Yoshifumi,KOBA Hiroyuki,MORIYA Jyunichi. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

X-RAY TOMOGRAPHY APPARATUS AND X-RAY TOMOGRAPHY METHOD

Номер патента: US20210093282A1. Автор: Sadakane Tomoyuki,NISHIMURA Yuu. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-01.

X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY IMAGING APPARATUS AND X-RAY TUBE APPARATUS

Номер патента: US20170092457A1. Автор: MIYAZAKI Hiroaki,Harada Sanae. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2017-03-30.

X-RAY CONVERSION TARGET AND X-RAY GENERATOR

Номер патента: US20190090336A1. Автор: Zhang Liang,Zhao Ziran,Zhang Dongsheng,Chen Huaibi,Liu Yaohong,Liu Jinsheng. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-21.

BED APPARATUS AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS

Номер патента: US20170095219A1. Автор: WAKAHARA Masayuki. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2017-04-06.

METHOD FOR DETERMINING AN X-RAY IMAGE DATASET AND X-RAY SYSTEM

Номер патента: US20180098744A1. Автор: Bauer Sebastain. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-12.

STATIONARY ANODE FOR AN X-RAY GENERATOR, AND X-RAY GENERATOR

Номер патента: US20190096625A1. Автор: HEINKE Tobias,LANGGUTH Michael. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2019-03-28.

APERTURE, COLLIMATOR, AND X-RAY TOMOGRAPHIC IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20190099136A1. Автор: Smith Brandon Allan,Ogata Kentaro,YAMAURA Kotaro. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-04.

X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS AND X-RAY HIGH-VOLTAGE GENERATOR

Номер патента: US20190099142A1. Автор: Kojima Katsunori,SATO Daisuke,KOBAYASHI Hiroyoshi,TAKAHASHI Katsuo,MOCHIZUKI Akira,Soya Masaharu,Takahashi Kansei,Tetsuka Akio,Totsuka Yuki,Hayashida Ikuo. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2019-04-04.

X-RAY IMAGING APPARATUS, METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND X-RAY IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20160106384A1. Автор: KIM Ji Hye,Shin Jong Hyun,KIM Sung Nam,LEE Eun Jae,PARK Jong Seo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-04-21.

X-RAY IMAGING APPARATUS, METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND X-RAY IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20160106385A1. Автор: KIM Ji Hye,Shin Jong Hyun,KIM Sung Nam,LEE Eun Jae,PARK Jong Seo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-04-21.

X-RAY APPARATUS AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20160106389A1. Автор: Lee Seong-deok,Lim Jae-guyn,Jang Woo-young,HAN Woo-sup,CHANG Sung-ho,KIM Eung-bum,CHUNG Min-hyung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-04-21.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGE PROCESSING METHOD

Номер патента: US20140185738A1. Автор: Lee Jae Hak,Sung Young Hun,JANG Kwang Eun,LEE Jong Ha,LEE Kang Eui. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-07-03.

X-RAY IMAGING APPARATUS, X-RAY DETECTION DEVICE, AND X-RAY IMAGE GENERATION METHOD

Номер патента: US20140185748A1. Автор: Sung Young Hun,JANG Kwang Eun,LEE Jong Ha,LEE Kang Eui. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-07-03.

X-RAY TUBE AND X-RAY GENERATION DEVICE

Номер патента: US20200098539A1. Автор: SUZUKI Kazutaka. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-03-26.

MOBILE BASE AND X-RAY MACHINE MOUNTED ON SUCH A MOBILE BASE

Номер патента: US20160113605A1. Автор: MARTINEZ FERREIRA Carlos,BOUVIER Bernard,GALLONI Bruno,THOMÉ Jean-Luc,CAVEROT Guy Jean Sébastien. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-28.

METHOD AND X-RAY SYSTEM FOR GENERATING A PHASE CONTRAST IMAGE

Номер патента: US20150117595A1. Автор: FLOHR Thomas,RAUPACH Rainer. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2015-04-30.

X-RAY GENERATION DEVICE AND X-RAY GENERATION METHOD

Номер патента: US20150117616A1. Автор: SUYAMA Motohiro,Ishii Atsushi,Suzuki Naonobu,Yabushita Ryosuke. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

MOBILE X-RAY DETECTOR, X-RAY IMAGING APPARATUS INCLUDING MOBILE X-RAY DETECTOR, AND OPERATING METHOD OF MOBILE X-RAY DETECTOR AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20210137484A1. Автор: Lee Sungwoo,Kim Uncheol. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2021-05-13.

RECEIVING DEVICE AND X-RAY IMAGING APPARATUS HAVING THE SAME

Номер патента: US20160120489A1. Автор: YANG Chang Jin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-05-05.

RECEIVING DEVICE AND X-RAY IMAGING APPARATUS HAVING THE SAME

Номер патента: US20180116618A1. Автор: YANG Chang Jin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2018-05-03.

OPERATION DEVICE, CONTROL METHOD, AND X-RAY IMAGING UNIT

Номер патента: US20180116624A1. Автор: Tobita Kokichi,Furusawa Koichi. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2018-05-03.

ROTATABLE ANODE TARGET FOR X-RAY TUBE, X-RAY TUBE, AND X-RAY INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20170125199A1. Автор: Yamamoto Shinichi. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

INSTALLATION CASE FOR RADIATION DEVICE, OIL-COOLING CIRCULATION SYSTEM AND X-RAY GENERATOR

Номер патента: US20140211923A1. Автор: Chen Zhiqiang,Zhao Ziran,Wu Wanlong,Zheng Zhimin,Luo Xilei,Ding Fuhua. Владелец: . Дата публикации: 2014-07-31.

ANODE AND X-RAY GENERATING TUBE, X-RAY GENERATING APPARATUS, AND RADIOGRAPHY SYSTEM THAT USE THE ANODE

Номер патента: US20160133430A1. Автор: Ito Nobuhiro,Ogura Takao,Yamada Shuji. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-12.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20210161493A1. Автор: Saito Yuta. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

METHOD AND X-RAY IMAGING DEVICE FOR AUTOMATICALLY CONTROLLING THE EXPOSURE IN X-RAY IMAGING

Номер патента: US20190133543A1. Автор: Ertel Dirk. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2019-05-09.

X-ray ct apparatus, x-ray high-voltage device, and x-ray scanning device

Номер патента: US20160143120A1. Автор: Shotaro Shindo. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-05-19.

X-RAY APPARATUS AND X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20160143609A1. Автор: HAN Woo-sup,KIM Sang-Uk,PARK Hye-suk. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-05-26.

MANAGEMENT SYSTEM FOR X-RAY DETECTOR AND X-RAY DIAGNOSIS APPARATUS

Номер патента: US20150146850A1. Автор: NAGAI Seiichirou. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-28.

CURRENT INTRODUCTION TERMINAL, AND PRESSURE HOLDING APPARATUS AND X-RAY IMAGE SENSING APPARATUS THEREWITH

Номер патента: US20210168936A1. Автор: Kameshima Takashi,Matsuda Yuji,Sugata Osami,Tosue Toshiaki. Владелец: RIKEN. Дата публикации: 2021-06-03.

X-RAY GENERATING DEVICE AND X-RAY PHOTOGRAPHY SYSTEM

Номер патента: US20180139828A1. Автор: Ando Yoichi,Kawase Junya. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-17.

DYNAMIC NUCLEAR EMISSION AND X-RAY IMAGING DEVICE AND RESPECTIVE IMAGING METHOD

Номер патента: US20150150525A1. Автор: Wendler Thomas,Navab Nassir. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-04.

Registration for Tracked Medical Tools and X-Ray Systems

Номер патента: US20140228678A1. Автор: Meyer Andreas,Schäfer Sebastian. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-14.

X-Ray Photography Apparatus, Image Processing Device, and X-Ray Photography Method

Номер патента: US20160151027A1. Автор: Hideki Yoshikawa,Tomoyuki Sadakane,Yoshito Sugihara. Владелец: J Morita Manufaturing Corp. Дата публикации: 2016-06-02.

X-RAY IMAGING DEVICE AND X-RAY IMAGE FORMING METHOD

Номер патента: US20190142355A1. Автор: Chung Myung Jin,Sung Young Hun,LEE Kang Eui,OH Hyun Hwa. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-16.

HIGH VOLTAGE GENERATING DEVICE AND X-RAY IMAGE DIAGNOSIS APPARATUS

Номер патента: US20200137862A1. Автор: Kawaguchi Yuki,Ogawa Mina,SHINDO Shotaro,HATSUMI Satoru. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2020-04-30.

3D MODEL GENERATION USING THERMAL IMAGING AND X-RAY

Номер патента: US20200138522A1. Автор: Tikka Vinay. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-07.

THIN FILM TRANSISTOR AND METHOD OF PRODUCING THE SAME, DISPLAY DEVICE, IMAGE SENSOR, X-RAY SENSOR, AND X-RAY DIGITAL IMAGING DEVICE

Номер патента: US20140231798A1. Автор: ONO Masashi,TAKATA Masahiro,TANAKA Atsushi,SUZUKI Masayuki. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2014-08-21.

X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS AND X-RAY DIAGNOSTIC METHOD

Номер патента: US20150157283A1. Автор: YAMASHITA Satoshi,ZAIKI Ryuji. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

MEDICAL APPARATUS AND X-RAY HIGH VOLTAGE APPARATUS

Номер патента: US20140233708A1. Автор: HIROHATA Kenji,ISHIYAMA Fumio. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-21.

PHOTON COUNTING IMAGING APPARATUS AND X-RAY DETECTION APPARATUS

Номер патента: US20170150932A1. Автор: Nakai Hiroaki,KATO Tooru,HAYASHI Mikihito. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2017-06-01.

HIGH-VOLTAGE GENERATION DEVICE AND X-RAY GENERATION DEVICE

Номер патента: US20160156280A1. Автор: Morita Hiroshi,TAKEUCHI Toranosuke,INO Tomoharu,DOMOTO Takuya. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-02.

PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE AND X-RAY IMAGING DEVICE

Номер патента: US20220293648A1. Автор: Nakano Fumiki. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

OPERATION DEVICE AND X-RAY IMAGING UNIT

Номер патента: US20180153499A1. Автор: Wada Makoto,Tobita Kokichi,Furusawa Koichi. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2018-06-07.

X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS, AND X-RAY TUBE

Номер патента: US20200146135A1. Автор: Tetsuka Akio,Totsuka Yuki. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2020-05-07.

METHOD FOR OPERATING A COLLIMATOR OF AN X-RAY DEVICE AND X-RAY DEVICE

Номер патента: US20190150874A1. Автор: MacWILLIAMS Asa,KAGERMEIER Robert,TEN CATE Gerben. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2019-05-23.

MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS

Номер патента: US20150164456A1. Автор: Taguchi Hiroki,TAKAMATSU Yuko. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-18.

REMOTE CONTROLLER, REMOTE CONTROL SYSTEM, AND X-RAY SYSTEM INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20140241510A1. Автор: WANG Zhuying,Jia Yingjie. Владелец: GE MEDICAL SYSTEMS GLOBAL TECHNOLOGY COMPANY, LLC. Дата публикации: 2014-08-28.

X-ray diffraction method of identifying batches of pharmaceutical products

Номер патента: RU2452939C1. Автор: Владимир Александрович Елохин,Валерий Николаевич Соколов,Валерий Иванович Николаев,Сергей Викторович Протопопов,Сергей Николаевич Архипов,Сергей Владимирович Болл,Любовь Алексеевна Пьянкова,Валерий Николаевич Соколов (RU),Владимир Александрович Елохин (RU),Сергей Викторович Протопопов (RU),Валерий Иванович Николаев (RU),Сергей Николаевич Архипов (RU),Сергей Владимирович Болл (RU),Любовь Алексеевна Пьянкова (RU). Владелец: Закрытое акционерное общество "Научные приборы". Дата публикации: 2012-06-10.

X-ray diffraction technique

Номер патента: RU2467525C1. Автор: Владимир Иванович Кондратьев. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения РАН (ИЯФ СО РАН). Дата публикации: 2012-11-20.

Method for x-ray diffraction control of part

Номер патента: RU2488099C1. Автор: Ольга Владимировна Коваленко,Наталья Александровна Яблокова,Алексей Владимирович Яблоков,Александр Иванович Виноградов,Владимир Андреевич Кочетков,Ирина Викторовна Семенова,Александр Маркович Портер. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Сатурн". Дата публикации: 2013-07-20.

Controlled emitting unit of electronic devices with autoelectronic emission and x-ray tube with said unit

Номер патента: RU2581835C1. Автор: Магомет Абубекирович Конов,Юрий Александрович Манкелевич,Павел Владимирович Минаков,Василий Васильевич Сень,Андрей Александрович Пилевский,Александр Юрьевич Поройков,Мухамед Данильевич Бавижев,Алексей Александрович Рахимов,Александр Турсунович Рахимов. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Радий". Дата публикации: 2016-04-20.

Low-energy gamma-ray emission and x-ray radiation registrar

Номер патента: RU2248012C2. Автор: Ю.В. Ефремов,тин Н.И. Зам,Н.И. Замятин,В.А. Скакодуб. Владелец: Институт физико-технических проблем. Дата публикации: 2005-03-10.

Source of electrons with auto electronic emitter and x-ray tube with said electron source

Номер патента: RU2581833C1. Автор: Магомет Абубекирович Конов,Юрий Александрович Манкелевич,Павел Владимирович Минаков,Василий Васильевич Сень,Андрей Александрович Пилевский,Александр Юрьевич Поройков,Мухамед Данильевич Бавижев,Алексей Александрович Рахимов,Александр Турсунович Рахимов. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Радий". Дата публикации: 2016-04-20.

Method of eliminating old, multiply treated and x-ray resistant false keloids

Номер патента: RU2452533C2. Автор: Ольга Михайловна Бурылина,Галина Ивановна Фисенко,Анна Германовна Стенько,Галина Ивановна Фисенко (RU),Ольга Михайловна Бурылина (RU),Анна Германовна Стенько (RU). Владелец: Анна Германовна Стенько. Дата публикации: 2012-06-10.

Composite fibre optic connector and x-rays receiver on its base (versions)

Номер патента: RU2536788C1. Автор: Сергей Иванович Мирошниченко,Андрей Александрович Невгасимый. Владелец: Андрей Александрович Невгасимый. Дата публикации: 2014-12-27.

Method for producing X-ray diffraction grating in high height-to-width ratio

Номер патента: CN102289015A. Автор: 刘明,方磊,李冬梅,谢常青,朱效立. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2011-12-21.

X-ray diffraction measurement apparatus and diffraction image width measurement method using x-ray diffraction measurement apparatus

Номер патента: JP2022113921A. Автор: Yoichi Maruyama,洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-05.

X-RAY DIFFRACTION CONTRAST TOMOGRAPHY (DCT) SYSTEM, AND AN X-RAY DIFFRACTION CONTRAST TOMOGRAPHY (DCT) METHOD

Номер патента: US20120008736A1. Автор: Lauridsen Erik Mejdal,POULSEN Henning Friis. Владелец: DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET. Дата публикации: 2012-01-12.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120140890A1. Автор: Ozawa Tetsuya,Matsuo Ryuji,Inaba Katsuhiko. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-07.

Diffraction X-ray detection method and X-ray diffraction apparatus

Номер патента: JP5492173B2. Автор: 克彦 稲葉,徹 光永,和彦 表. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-05-14.

X-ray diffraction microscope and X-ray diffraction microscope

Номер патента: JP2904191B2. Автор: 滋 木村. Владелец: Nippon Electric Co Ltd. Дата публикации: 1999-06-14.

Battery in situ X-ray diffraction diffraction testing auxiliary device

Номер патента: CN209656593U. Автор: 石磊,唐永炳,蒋春磊,刘齐荣. Владелец: Shenzhen Institute of Advanced Technology of CAS. Дата публикации: 2019-11-19.

Grating production method, diffraction grating device, and radiation imaging apparatus

Номер патента: US20120002785A1. Автор: KANEKO Yasuhisa. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Device and method for measuring multi-wavelength characteristic X ray diffraction

Номер патента: CN104634799A. Автор: 郑琪,赵春玲. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-05-20.

Noncoherent X ray diffraction imaging device

Номер патента: CN102353689B. Автор: 韩申生,喻虹,谢红兰,朱文选. Владелец: Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS. Дата публикации: 2013-05-08.

Device for x-ray diffraction investigation of objects and method of setting full outer reflection mirror in x-ray radiation beam

Номер патента: SU883726A1. Автор: Владимир Сергеевич Герасимов,Владимир Николаевич Корнеев. Владелец: Институт биологической физики АН СССР. Дата публикации: 1981-11-23.

Method of driving X-ray generator and method of driving X-ray diffraction apparatus

Номер патента: JP3531837B2. Автор: 渉 林田,一 伊沢. Владелец: 理学電機株式会社. Дата публикации: 2004-05-31.

Method for obtaining X-ray diffraction spectrum of upper layer material of double-layer composite material

Номер патента: CN103207193A. Автор: 王鹏,朱远志. Владелец: Wuhan University of Science and Engineering WUSE. Дата публикации: 2013-07-17.

A kind of test device that the in-situ synchronization radiation X ray diffraction for putting hydrogen process is inhaled for hydrogen bearing alloy

Номер патента: CN105241902B. Автор: 李康,王宇,程宏辉,秦康生,韩兴博,柳义. Владелец: Yangzhou University. Дата публикации: 2017-12-08.

Multi-purpose synchronous radiation coherence X-ray diffraction microimaging device

Номер патента: CN203069533U. Автор: 张剑,刘宏,江怀东,范家东,姚圣坤. Владелец: Shandong University. Дата публикации: 2013-07-17.

Method for manufacturing X-ray diffraction optical element

Номер патента: CN102508411A. Автор: 刘明,方磊,李冬梅,谢常青,朱效立. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-06-20.

Method for manufacturing X-ray diffraction optical element

Номер патента: CN102402118A. Автор: 刘明,方磊,李冬梅,谢常青,朱效立. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-04-04.

Method for carrying out phase analysis on tin-doped indium oxide powder by adopting X-ray diffraction method

Номер патента: CN109813741B. Автор: 刘平,李凤,李健,罗艳,黄一帆,韦莉,韦猛,周素莲,黄肇敏,林葵,聂小明,黎颖,胡永玫,赖馥馨,何贵香,邓卫利,黎羿合. Владелец: Guangxi Zhuang Autonomous Region Metallurgy Products Quality Testing Station. Дата публикации: 2021-11-19.

X-ray diffraction oriented cutting method for wire cutting crystal

Номер патента: CN102490279B. Автор: 陈屹立,荆旭华. Владелец: EMEI SEMICONDUCTOR MATERIAL INSTITUTE. Дата публикации: 2014-05-28.

Battery X-ray diffraction testing arrangement

Номер патента: CN217007074U. Автор: 景晓建. Владелец: Beijing Chehejia Automobile Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-19.

A kind of clamping device of block sample X-ray diffraction

Номер патента: CN207163938U. Автор: 薛峰,孙岩,王程明,邢承亮,孙晓冉. Владелец: Hebei Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-30.

A kind of direct compression molding mould for X-ray diffraction analysis

Номер патента: CN207172735U. Автор: 杨晓东,王磊,邵伟,赵铁凯,张怀志,李瑞峰,邴淑秋,徐冬梅,王东军,何英华. Владелец: China Petroleum and Natural Gas Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

X-ray diffraction study device

Номер патента: RU2006840C1. Автор: В.Г. Антипанов,В.Н. Урцев,А.В. Капцан,Ф.В. Капцан,М.Т. Величко. Владелец: Акционерное общество открытого типа "Магнитогорский металлургический комбинат". Дата публикации: 1994-01-30.

Electrochemical X-ray diffraction in-situ test spectrum pool

Номер патента: CN209878629U. Автор: 陈兴,黄伟峰. Владелец: Huayan Environmental Science (beijing) Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-31.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA606134A. Автор: A. Hamacher Edward. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1960-10-04.

One-axis macroscupic tension eveluating by x-ray diffraction

Номер патента: CS182854B1. Автор: Rudolf Fiedler,Miroslav Hnilicka. Владелец: Miroslav Hnilicka. Дата публикации: 1978-05-31.

X-ray diffraction sample cell device and method

Номер патента: AU2019900953A0. Автор: John Daniels. Владелец: Critus Pty Ltd. Дата публикации: 2019-04-11.

X-ray diffraction chamber for the study of a single crystal located in a polycrystalline sample

Номер патента: CA700918A. Автор: Anselin Francois,Chenais Jean. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 1964-12-29.

Three-dimensional monochromatic X-ray diffraction orientation finder

Номер патента: CN203870042U. Автор: 徐兰兰,张学锋. Владелец: DAQING JIACHANG JINGNENG INFORMATION MATERIALS Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-08.

X-ray diffraction data analysis system

Номер патента: CN109725013B. Автор: 马健,刘阳,王炎,张万超,刘雪涛,温书豪,赖力鹏,雷焱森. Владелец: Shenzhen Jingtai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-13.

X-ray diffraction methods

Номер патента: CA479545A. Автор: Parrish William,A. Hamacher Edward. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1951-12-18.

Stress analysis by x-ray diffraction

Номер патента: CA448162A. Автор: George Firth Francis. Владелец: Philips Lamps Ltd. Дата публикации: 1948-04-27.

Device for precision recording of x-ray diffraction patterns

Номер патента: CA489578A. Автор: Louis Christ Charles,Francis Champaygne Edmund. Владелец: American Cyanamid Co. Дата публикации: 1953-01-13.

Automatic plotting of x-ray diffraction pole figures

Номер патента: CA684898A. Автор: I. Addis Gilbert,M. Eichhorn Robert. Владелец: Union Carbide Corp. Дата публикации: 1964-04-21.

Angle measuring instrument with adjustable scan circle for X ray diffraction instrument

Номер патента: CN201348614Y. Автор: 卢顺魁. Владелец: Beijing Purkinje General Instrument Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-18.

For the X-ray diffraction in-situ testing device through improving of battery charge and discharge process

Номер патента: CN103900744B. Автор: 张建,夏保佳,谢晓华,娄豫皖,张竞择,杨传铮. Владелец: Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology of CAS. Дата публикации: 2016-02-10.

A kind of X-ray diffraction test fiber specimen holder

Номер патента: CN103487298B. Автор: 梁少锋,卓坚锐. Владелец: Lian Xin (kaiping) High Performance Fiber Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-28.

Positioning device for X-ray diffraction test in residual stress

Номер патента: CN202255711U. Автор: 张勇,王丽霞,李宝明,刘宁昌,樊喜刚. Владелец: Beijing Xinghang Electromechanical Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-30.

METHOD AND SYSTEM FOR CRYSTALLIZATION AND X-RAY DIFFRACTION SCREENING

Номер патента: US20120021523A1. Автор: Fowler Brian,May Andrew. Владелец: Fluidigm Corporation. Дата публикации: 2012-01-26.

Simulated X-Ray Diffraction Spectra for Analysis of Crystalline Materials

Номер патента: US20120130694A1. Автор: LI JUN,Srivastava Deepak,Yang Sang. Владелец: Nanoexa Corporation. Дата публикации: 2012-05-24.

X-RAY DIFFRACTION INSTRUMENT

Номер патента: US20120140888A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-06-07.

FAST MEASUREMENT OF X-RAY DIFFRACTION FROM TILTED LAYERS

Номер патента: US20120140889A1. Автор: Berman David,Wall John,Jacques David,Yokhin Boris,Krokhmal Alexander,Ryan Paul,Bytheway Richard,Wormington Matthew. Владелец: JORDAN VALLEY SEMICONDUCTORS LTD.. Дата публикации: 2012-06-07.

MEASUREMENT OF CMOS DEVICE CHANNEL STRAIN BY X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20120146050A1. Автор: Bedell Stephen W.,Adam Thomas N.,MURRAY Conal E.,Holt Judson R.,Harley Eric C.,MADAN ANITA,PINTO TERESA L.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-14.

OBJECT IMAGING SYSTEM AND X-RAY DIFFRACTION IMAGING DEVICE FOR A SECURITY SYSTEM

Номер патента: US20120177182A1. Автор: Olesinski Stephan,Harding Geoffrey,Kosciesza Dirk,Strecker Helmut. Владелец: . Дата публикации: 2012-07-12.

X-RAY DIFFRACTION APPARATUS

Номер патента: US20120195406A1. Автор: Asano Sigematsu,Tobita Ichiro,Ohbuchi Atsushi,Konya Takayuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-02.

WAVELENGTH-CLASSIFYING TYPE X-RAY DIFFRACTION DEVICE

Номер патента: US20120269322A1. Автор: . Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-10-25.

High-Resolution X-Ray Diffraction Measurement with Enhanced Sensitivity

Номер патента: US20120281814A1. Автор: . Владелец: JORDAN VALLEY SEMICONDUCTORS LTD. Дата публикации: 2012-11-08.

TEST PATTERN FOR MEASURING SEMICONDUCTOR ALLOYS USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20130026464A1. Автор: CHIEN Chin-Cheng,Hsuan Teng-Chun,Liao Chin-I,Lai I-Ming. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

X-Ray Diffraction Instrument

Номер патента: US20130044864A1. Автор: Wang Yun,HATOU Hisamitu,Kikuchi Toshikazu. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2013-02-21.

MULTIPLY-SAMPLED CMOS SENSOR FOR X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENTS WITH CORRECTIONS FOR NON-IDEAL SENSOR BEHAVIOR

Номер патента: US20130108021A1. Автор: DURST Roger D.,WACHTER Gregory A.,KAERCHER Joerg. Владелец: BRUKER AXS, INC.. Дата публикации: 2013-05-02.

METHODS AND APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20130279653A1. Автор: Hansford Graeme Mark. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-24.

Goniometric device for x-ray diffraction investigations of monocrystals

Номер патента: SU1303914A1. Автор: Александр Юрьевич Разумовский,Павел Васильевич Петрашень. Владелец: Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник". Дата публикации: 1987-04-15.

Slit structure for X-ray diffraction analysis

Номер патента: JP2526425B2. Автор: 晴男 関口. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1996-08-21.

X-ray diffraction method of analyzing structure disarrangements in thin near-surface layers of crystals

Номер патента: SU1257482A1. Автор: Александр Михайлович Афанасьев,Станислав Михайлович Афанасьев,Анна Аркадьевна Завьялова,Рафик Мамед Оглы Имамов,Андрей Александрович Ломов,Эльхан Мехрали Оглы Пашаев,Сергей Алексеевич Федюкин,Фаррух Рахимович Хашимов. Владелец: Ордена Трудового Красного Знамени Институт Кристаллографии Им.А.В.Шубникова. Дата публикации: 1986-09-15.

Method of quantitative x-ray diffraction phase analysis

Номер патента: SU1376015A1. Автор: Александр Алексеевич Филиппов,Александр Васильевич Конев,Елена Яковлевна Белецкая,Светлана Николаевна Рубцова. Владелец: Сибирский государственный проектный и научно-исследовательский институт цветной металлургии "Сибцветметниипроект". Дата публикации: 1988-02-23.

Cryogenic attachment to x-ray diffraction meter

Номер патента: RU1784885C. Автор: Юрий Георгиевич Руфанов,Анна Юрьевна Шпортько,Владислав Иустинович Мазур. Владелец: Днепропетровский Металлургический Институт. Дата публикации: 1992-12-30.

Cassette for x-ray diffraction measurements

Номер патента: SU1177791A1. Автор: Игорь Борисович Кузнецов,Виктор Иванович Тиньков. Владелец: Научно-производственное объединение "Атомкотломаш". Дата публикации: 1985-09-07.

Method of performing x-ray diffraction analysis

Номер патента: SU1288563A1. Автор: Валерий Васильевич Петьков,Александр Вольфович Поленур,Анатолий Алексеевич Гавриш,Олег Николаевич Разумов,Роман Романович Карпов. Владелец: Опытное Конструкторско-Технологическое Бюро С Опытным Производством Института Металлофизики Ан Усср. Дата публикации: 1987-02-07.

High temperature chamber attachmentfor x-ray diffraction meter

Номер патента: SU1075128A2. Автор: Валерий Васильевич Петьков,Александр Вольфович Поленур,Георгий Михайлович Богун,Владимир Петрович Подорожный,Нина Алексеевна Горбачева. Владелец: Опытное Конструкторско-Технологическое Бюро С Опытным Производством Института Металлофизики Ан Усср. Дата публикации: 1984-02-23.

Method of producing x-ray diffraction reflection-oriented topograms of monocrystals

Номер патента: SU1138717A1. Автор: Константин Александрович Гусев,Михаил Александрович Чернов,Николай Иванович Комяк,Павел Васильевич Петрашень,Сергей Иванович Дорожкин,Богдан Иосифович Левчук. Владелец: Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник". Дата публикации: 1985-02-07.

Device for high-temperature x-ray diffraction analysis

Номер патента: SU1155924A2. Автор: Валерий Васильевич Петьков,Ольга Владимировна Утенкова,Игорь Владимирович Никишин,Владимир Иванович Шолин. Владелец: Опытное Конструкторско-Технологическое Бюро С Опытным Производством Института Металлофизики Ан Усср. Дата публикации: 1985-05-15.

Method of preparing specimen of carbon material for x-ray diffraction analysis

Номер патента: SU1245967A1. Автор: Рафис Ракипович Вахитов,Рим Хасанович Садыков,Тамара Габдулловна Биктимирова,Виталий Филиппович Новоселов. Владелец: Предприятие П/Я В-2223. Дата публикации: 1986-07-23.

Automatic optical axis adjusting device for goniometer of x-ray diffraction device

Номер патента: JPH01156644A. Автор: Takayuki Sano,Misao Ooshima,慎一郎 伊賀,隆之 佐野,三三夫 大島,Tokuaki Fujita,徳昭 藤田,Shinichiro Iga. Владелец: Zojirushi Corp. Дата публикации: 1989-06-20.

Method of obtaining x-ray diffraction topogram

Номер патента: SU1317342A2. Автор: Александр Юрьевич Разумовский,Михаил Александрович Чернов,Юрий Львович Дегтярев,Иван Александрович Никольский. Владелец: Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник". Дата публикации: 1987-06-15.

Single crystal holder for x-ray diffraction meter

Номер патента: SU1436035A1. Автор: Владимир Афанасьевич Охрименко,Кирилл Георгиевич Бельтек. Владелец: Предприятие П/Я М-5073. Дата публикации: 1988-11-07.

Holder of specimens for x-ray diffraction apparatus

Номер патента: SU968715A1. Автор: Василий Степанович Копань,Сергей Лукич Рево. Владелец: Киевский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Т.Г.Шевченко. Дата публикации: 1982-10-23.

High-temperature chamber attachment to x-ray diffraction meter

Номер патента: SU1081493A1. Автор: Валерий Васильевич Петьков,Евгений Иосифович Берсудский,Владимир Петрович Подорожный,Ирина Борисовна Малышева. Владелец: Опытное Конструкторско-Технологическое Бюро С Опытным Производством Института Металлофизики Ан Усср. Дата публикации: 1984-03-23.

X-ray diffraction goniometer setting method

Номер патента: JP2948249B2. Автор: 藤之 樋川,仁 桜井. Владелец: RIGAKU DENKI KK. Дата публикации: 1999-09-13.

Device for producing monocrystal x-ray diffractional topogram

Номер патента: SU998928A2. Автор: Елена Васильевна Соловьева,Нина Семеновна Мотора,Юрий Николаевич Ведерников,Людмила Леонидовна Гаврилова,Зинаида Федоровна Смирнова,Юрий Гелларьевич Мясников,Владимир Олегович Есин,Вячеслав Михайлович Гундырев. Владелец: Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник". Дата публикации: 1983-02-23.

X-ray diffraction spectroscopy

Номер патента: JPS6262257A. Автор: Yukio Takano,Yoichi Nishino,洋一 西野,高野　幸男. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1987-03-18.

Goniometer for X-ray diffraction

Номер патента: JP2976380B2. Автор: 和夫 小柳. Владелец: Shimazu Seisakusho KK. Дата публикации: 1999-11-10.

Sample preparation method for powder X-ray diffraction analysis

Номер патента: JP6642078B2. Автор: 光 近藤,近藤　光,公二 中村,大河 塩谷. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2020-02-05.

X-ray diffraction measurement device

Номер патента: JP5861841B2. Автор: 洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-16.

Method for determining front and back of single crystal plate by X-ray diffraction

Номер патента: JP2770232B2. Автор: 芳郎 町谷. Владелец: 理学電機株式会社. Дата публикации: 1998-06-25.

X-ray diffraction measurement apparatus and imaging plate management method

Номер патента: JP5803353B2. Автор: 洋一 丸山,晴久 伊藤. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-04.

Method of x-ray diffraction survey of polycrystal materials

Номер патента: SU1733987A1. Автор: Марк Анатольевич Лившиц. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт электротермического оборудования. Дата публикации: 1992-05-15.

Quantitative analysis method of x-ray diffraction

Номер патента: JPH01172741A. Автор: Takashi Takishima,俊 滝島,Toshio Nakagishi,利夫 仲岸. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-07.

X-ray diffraction of the intrapelvic area in large farm animals and device for implementing the method

Номер патента: SU98241A1. Автор: Т.И. Нехно. Владелец: Т.И. Нехно. Дата публикации: 1953-11-30.

Method of obtaining x-ray diffraction topograms

Номер патента: SU752161A2. Автор: Елена Васильевна Соловьева,Нина Семеновна Мотора,Юрий Николаевич Ведерников,Зинаида Федоровна Смирнова,Владимир Олегович Есин,Вячеслав Михайлович Гундырев,Людмила Леонидовна Гавриловаи. Владелец: Институт физики металлов УНЦ АН СССР. Дата публикации: 1980-07-30.

X-ray diffraction method for determination of heterogeneous single crystal film sample deformation gradient

Номер патента: SU1629753A1. Автор: Матвей Нестерович Барашев,Феликс Николаевич Чуховский,Юрий Пшиканович Хапачев,Абдулхамид Кистуевич Шухостанов. Владелец: Предприятие П/Я Г-4727. Дата публикации: 1991-02-23.

Prediction of the strengths of CLINKER or CEMENT, using crystallographic factors of their constituent minerals, determined by means of X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: ES2134680A1. Автор: . Владелец: VARGAS MUNOZ MIGUEL. Дата публикации: 1999-10-01.

X-ray diffraction sample rotation jig and sample holding device

Номер патента: JP3376073B2. Автор: 登 大沢. Владелец: 理学電機株式会社. Дата публикации: 2003-02-10.

Diamond detection using x-ray diffraction

Номер патента: CA2245131A1. Автор: Ulf Anders Staffan Tapper,George William Over,Christopher Bruce Mills,Daniel Jacobus Van Der Merwe,Stephanus Dawid Le Roux. Владелец: De Beers Consolidated Mines Ltd. Дата публикации: 1999-02-13.

X-ray diffraction topographic installation

Номер патента: SU1187038A1. Автор: Lyudmila L Gavrilova,Viktor N Ingal,Nikolaj I Komyak,Yurij G Myasnikov. Владелец: Le N Proizv Ob Burevestnik. Дата публикации: 1985-10-23.

X-ray diffraction device

Номер патента: JPH1048398A. Автор: Yuji Kobayashi,勇二 小林,Akihide Doshiyou,明秀 土性. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 1998-02-20.

X-ray diffraction measuring device

Номер патента: JP6844103B1. Автор: 洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-17.

X-ray diffraction system

Номер патента: JPH10339707A. Автор: Tadayuki Fujiwara,忠幸 藤原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1998-12-22.

Method of x-ray diffraction analysis of amorphous materials

Номер патента: SU1627941A1. Автор: Геннадий Михайлович Воробьев,Олег Борисович Гирин. Владелец: Днепропетровский Металлургический Институт. Дата публикации: 1991-02-15.

Polycrystal specimen x-ray diffraction analysis method

Номер патента: SU976358A1. Автор: Олег Константинович Колеров,Валентин Григорьевич Скрябин,Валентин Дмитриевич Юшин,Анатолий Николаевич Логвинов. Владелец: Куйбышевский Ордена Трудового Красного Знамени Авиационный Институт Им.Акад.С.П.Королева. Дата публикации: 1982-11-23.

Method of layer-to-layer x-ray diffraction analysis of surface layers of polycrystals

Номер патента: SU1318872A1. Автор: Вадим Иванович Тихонович,Виктор Николаевич Почта,Ольга Ивановна Бодрова. Владелец: Днепродзержинский Индустриальный Институт Им.М.И.Арсеничева. Дата публикации: 1987-06-23.

X-ray diffraction measurement container for thin film sample

Номер патента: JP4179941B2. Автор: 晴夫 井上,慎 笹本,好彦 棚村,忠孝 片岡. Владелец: National Institute of Japan Science and Technology Agency. Дата публикации: 2008-11-12.

Film thickness measurement method using X-ray diffraction

Номер патента: JP3000892B2. Автор: 裕 菅野. Владелец: 株式会社新潟鉄工所. Дата публикации: 2000-01-17.

Back reflection X-ray diffraction image observation device

Номер патента: JP4589882B2. Автор: 哲夫 菊池. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-12-01.

Sample container for X-ray diffraction measurement

Номер патента: JP3890412B2. Автор: 秀明 田中,信宏 栗山,信彦 竹市,博 妹尾,哲 清林. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2007-03-07.

X-ray diffraction device

Номер патента: JPH10185844A. Автор: Tadayuki Fujiwara,忠幸 藤原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1998-07-14.

Diamond detection using X-ray diffraction

Номер патента: AU754208B2. Автор: Ulf Anders Staffan Tapper,George William Over,Christopher Bruce Mills,Daniel Jacobus Van Der Merwe,Stephanus Dawid Le Roux. Владелец: De Beers Consolidated Mines Ltd. Дата публикации: 2002-11-07.

X-ray diffraction qualitative analyzer

Номер патента: JP2666872B2. Автор: 浩 新井. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1997-10-22.

X-ray diffraction arc exposure equipment

Номер патента: JP3090801B2. Автор: 宏一 川崎. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2000-09-25.

Slit device of x-ray diffraction instrument

Номер патента: JPH102998A. Автор: Toshiyuki Kato,等 大神田,Hitoshi Okanda,寿之 加藤. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 1998-01-06.

X-ray diffraction measurement device

Номер патента: JP2021185342A. Автор: Yoichi Maruyama,洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA232940A. Автор: W. Hull Albert,P. Davey Wheeler. Владелец: Canadian General Electric Co Ltd. Дата публикации: 1923-07-24.

X-ray diffraction apparatus

Номер патента: CA589944A. Автор: R. Rose Lloyd. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1959-12-29.

X-ray Talbot imaging device

Номер патента: JP6665504B2. Автор: 北村　光晴,光晴 北村,西野　聡,聡 西野,泰憲 坪井. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-03-13.

Light source grating, X-ray phase contrast image imaging apparatus having the light source grating, and X-ray computed tomography system

Номер патента: JP5578868B2. Автор: 玄太 佐藤,高士 中村. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-08-27.

Manufacturing method of X-ray absorption grating and X-ray absorption grating

Номер патента: CN109801733B. Автор: 刘鑫,李冀,雷耀虎,黄建衡. Владелец: SHENZHEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-10-27.

METHOD FOR RECONSTRUCTION OF A THREE-DIMENSIONAL IMAGE DATA SET AND X-RAY DEVICE

Номер патента: US20120008740A1. Автор: Dennerlein Frank,Scholz Bernhard. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-12.

MEDICAL IMAGE DISPLAY APPARATUS AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS

Номер патента: US20120020452A1. Автор: TSUKAGOSHI Shinsuke,Arakita Kazumasa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-26.

ELECTRON DETECTOR INCLUDING AN INTIMATELY-COUPLED SCINTILLATOR-PHOTOMULTIPLIER COMBINATION, AND ELECTRON MICROSCOPE AND X-RAY DETECTOR EMPLOYING SAME

Номер патента: US20120025074A1. Автор: Barbi Nicholas C.,Mott Richard B.,Lopour Filip,Piedmonte Claudio. Владелец: PULSETOR, LLC. Дата публикации: 2012-02-02.

X-Ray Generator and Composite Device Using the Same and X-Ray Generating Method

Номер патента: US20120027181A1. Автор: ISHIDA Toshiyuki,Takai Mikio. Владелец: . Дата публикации: 2012-02-02.

X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS AND X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20120033783A1. Автор: KATAYAMA Shigeru. Владелец: . Дата публикации: 2012-02-09.

X-RAY DETECTOR AND X-RAY COMPUTER TOMOGRAPHY SCANNER

Номер патента: US20120033784A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-02-09.

Detector Arrangement And X-Ray Tomography Device For Performing Phase-Contrast Measurements And Method For Performing A Phase-Contrast Measurement

Номер патента: US20120033785A1. Автор: Bartl Peter,ANTON Gisela,MICHEL Thilo. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2012-02-09.

EXPOSURE CONDITION PROCESSING METHOD OF X-RAY CT APPARATUS AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20120039432A1. Автор: KONDO Gen. Владелец: . Дата публикации: 2012-02-16.

METHOD OF ACQUIRING AN X-RAY IMAGE AND X-RAY IMAGE ACQUISITION DEVICE COMPRISING AUTOMATIC WEDGE POSITIONING

Номер патента: US20120045034A1. Автор: Hummel Erik. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2012-02-23.

X-RAY IMAGING SYSTEM AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20120051498A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-03-01.

METHODS AND SYSTEMS FOR PRODUCING VISIBLE LIGHT AND X-RAY IMAGE DATA

Номер патента: US20120051514A1. Автор: Nelson Michael B.,CABLE Michael D.,Sims Gary R.. Владелец: SPECTRAL INSTRUMENTS IMAGING, LLC. Дата публикации: 2012-03-01.

MOTION CONTROL SYSTEM AND X-RAY MEASUREMENT APPARATUS

Номер патента: US20120053733A1. Автор: OMOTE Kazuhiko,Ogata Kiyoshi,WAKASAYA Kenji,Kani Tetsuo,UEDA Tomoyasu. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-03-01.

METHOD AND X-RAY DEVICE FOR CREATING AN X-RAY PROJECTION IMAGE

Номер патента: US20120069950A1. Автор: Grasruck Michael,Stierstorfer Karl. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2012-03-22.

PORTABLE X-RAY DETECTOR AND X-RAY RADIOGRAPHY METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120076266A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-03-29.

X-RAY IMAGE PHOTOGRAPHING METHOD AND X-RAY IMAGE PHOTOGRAPHING APPARATUS

Номер патента: US20120087470A1. Автор: OMOTE Kazuhiko,KAMBE Makoto,TAKEDA Yoshihiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-04-12.

SURFACE MICROSTRUCTURE MEASUREMENT METHOD, SURFACE MICROSTRUCTURE MEASUREMENT DATA ANALYSIS METHOD AND X-RAY SCATTERING MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20120087473A1. Автор: OMOTE Kazuhiko,Ito Yohiyasu. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-04-12.

X-RAY GENERATING METHOD, AND X-RAY GENERATING APPARATUS

Номер патента: US20120087475A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-04-12.

MEDICAL IMAGE PROCESSING APPARATUS AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS

Номер патента: US20120093278A1. Автор: TSUKAGOSHI Shinsuke,Arakita Kazumasa. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-19.

X-Ray Detector, Method of Controlling the Same, and X-Ray Photographing System

Номер патента: US20120106700A1. Автор: Jung Kwan-Wook. Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-05-03.

Device And Method For Calibrating An X-Ray Detector, Calibration Apparatus And X-Ray Apparatus

Номер патента: US20120128131A1. Автор: Kraft Edgar,Kreisler Björn. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2012-05-24.

SYSTEM FOR MAGNETIC RESONANCE AND X-RAY IMAGING

Номер патента: US20120136239A1. Автор: Scarth Gordon,Robbins Steven,Guyot Brendan. Владелец: . Дата публикации: 2012-05-31.

METHOD FOR OBTAINING A 3D RECONSTRUCTION OF AN OBJECT, AND X-RAY DEVICE

Номер патента: US20120140875A1. Автор: Dennerlein Frank,Rührnschopf Ernst-Peter. Владелец: . Дата публикации: 2012-06-07.

METHOD AND X-RAY DEVICE TO DETERMINE THE VALUE OF THE TUBE VOLTAGE

Номер патента: US20120140894A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-06-07.

HIGH COLLECTION EFFICIENCY X-RAY SPECTROMETER SYSTEM WITH INTEGRATED ELECTRON BEAM STOP, ELECTRON DETECTOR AND X-RAY DETECTOR FOR USE ON ELECTRON-OPTICAL BEAM LINES AND MICROSCOPES

Номер патента: US20120160999A1. Автор: Zaluzec Nestor J.. Владелец: UCHICAGO ARGONNE, LLC. Дата публикации: 2012-06-28.

THIN FILM TRANSISTOR ARRAY SUBSTRATE FOR X-RAY DETECTOR AND X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20120161018A1. Автор: Shin Chul-Woo. Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-06-28.

X-RAY DEVICE AND X-RAY SENSITIVE CAMERA FOR PANORAMIC TOMOGRAPHY AND 3D SHOTS

Номер патента: US20120189096A1. Автор: Erhardt Norbert,Günther Werner. Владелец: SIRONA DENTAL SYSTEMS GMBH. Дата публикации: 2012-07-26.

METHOD AND X-RAY DEVICE FOR ADAPTING GREYSCALE WINDOWING

Номер патента: US20120201344A1. Автор: RAUPACH Rainer,SCHMIDT Bernhard,KLOTZ Ernst,Feuerlein Ute. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-09.

X-RAY GENERATING APPARATUS AND X-RAY IMAGING SYSTEM HAVING THE SAME

Номер патента: US20120201353A1. Автор: KIM Ki Yeo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-08-09.

FILTER FOR AN X-RAY DEVICE, AND X-RAY DEVICE EMBODYING SUCH A FILTER

Номер патента: US20120219106A1. Автор: Stierstorfer Karl. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-30.

METHOD AND X-RAY SYSTEM TO CREATE A DUAL ENERGY X-RAY IMAGE

Номер патента: US20120224668A1. Автор: Hoernig Mathias,Mertelmeier Thomas,Baetz Lothar. Владелец: . Дата публикации: 2012-09-06.

X-RAY IMAGE CAPTURING APPARATUS, X-RAY IMAGING SYSTEM AND X-RAY IMAGE CREATION METHOD

Номер патента: US20120224670A1. Автор: . Владелец: Konica Minolta Medical & Graphic, Inc.. Дата публикации: 2012-09-06.

ALLOY COMPRISING TWO REFRACTORY METALS, PARTICULARLY W AND TA AND X-RAY ANODE COMPRISING SUCH ALLOY AND METHOD FOR PRODUCING SAME

Номер патента: US20120236997A1. Автор: Xu Paul,Kraft Kevin,He Min,Carlson Gerald James. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2012-09-20.

Method For Correcting Detector Data Of An X-Ray Detector And X-Ray Recording System

Номер патента: US20120243660A1. Автор: Schröter Christian,Niederlöhner Daniel,Kraft Edgar,Kappler Steffen,Reichel Thomas,Kippes Johannes,Von Der Haar Thomas. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2012-09-27.

X-RAY IMAGING SYSTEM, METHOD OF CONTROLLING X-RAY IMAGING SYSTEM, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20120243663A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-09-27.

COMBINATION OF ULTRASOUND AND X-RAY SYSTEMS

Номер патента: US20120245458A1. Автор: Florent Raoul,Cathier Pascal Yves Francois,Gogin Nicolas Pierre Bruno. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2012-09-27.

X-RAY METHOD AND X-RAY SYSTEM FOR MERGING X-RAY IMAGES AND DETERMINING THREE-DIMENSIONAL VOLUME DATA

Номер патента: US20120257714A1. Автор: GRAUMANN Rainer,JEREBKO Anna. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2012-10-11.

X-RAY CT DETECTOR AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20120257715A1. Автор: Kobayashi Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2012-10-11.

ELECTRON BEAM GENERATOR AND X-RAY GENERATOR INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120257723A1. Автор: Kim Yong-Chul,PARK Sung-hoon,KIM Il-hwan,HEO Jeong-na,BAE Joon-won. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-10-11.

Sensor Element And X-Ray Detector Comprising A Plurality Of Sensor Elements

Номер патента: US20120261584A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-10-18.

METHOD FOR SIMULATING REDUCTION OF ACQUISITION DOSAGE OF AN X-RAY SYSTEM, COMPUTER SYSTEM AND X-RAY SYSTEM

Номер патента: US20120263367A1. Автор: . Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2012-10-18.

FOLDABLE PRESSING DEVICE AND X-RAY MACHINE

Номер патента: US20120269328A1. Автор: Wang Yun Ping,Guo Can,Han Guo Jun,Rui Wen Ting,Yang Ning Tao. Владелец: . Дата публикации: 2012-10-25.

SAMPLE COOLING APPARATUS FOR X-RAY DIFFRACTOMETER AND X-RAY DIFFRACTOMETER

Номер патента: US20120275567A1. Автор: . Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-11-01.

X-RAY IMAGING METHOD AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20120281811A1. Автор: Kohara Naoki,Itoh Hidenosuke. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-11-08.

X-RAY HOLOGRAPHY LIGHT SOURCE ELEMENT AND X-RAY HOLOGRAPHY SYSTEM

Номер патента: US20120288055A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-11-15.

PANEL SUPPORT PLATE AND DETECTOR AND X-RAY IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20120292515A1. Автор: Zhang Liang,ZHANG Hongye. Владелец: . Дата публикации: 2012-11-22.

POWER CONVERTER, X-RAY CT APPARATUS, AND X-RAY IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20120294428A1. Автор: . Владелец: HITACHI MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2012-11-22.

METHOD FOR PROVIDING AN IMAGE DATA RECORD WITH SUPPRESSED ALIASING ARTIFACTS OVERLAPPING THE FIELD OF VIEW AND X-RAY IMAGE RECORDING APPARATUS

Номер патента: US20120294504A1. Автор: Kyriakou Yiannis. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2012-11-22.

Method for assisting a person performing a minimally invasive intervention with a catheter involving a puncture of a septum and x-ray device

Номер патента: US20120296196A1. Автор: Redel Thomas,John Matthias,BOESE Jan,NÖTTLING Alois. Владелец: . Дата публикации: 2012-11-22.

DISTRIBUTED X-RAY SOURCE AND X-RAY IMAGING SYSTEM COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20120300901A1. Автор: Pietig Rainer,Chrost Wolfgang,Lewalter Astrid. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2012-11-29.

IMAGE PROCESSING APPARATUS AND X-RAY DIAGNOSIS APPARATUS

Номер патента: US20120300903A1. Автор: Sakaguchi Takuya,YAO Jingwu. Владелец: . Дата публикации: 2012-11-29.

COLLIMATOR AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS

Номер патента: US20120307963A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-12-06.

SPECIMEN SUPPORTING MEMBER FOR X-RAY MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION, SPECIMEN CONTAINING CELL FOR X-RAY MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION, AND X-RAY MICROSCOPE

Номер патента: US20120321037A1. Автор: Ogura Toshihiko. Владелец: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2012-12-20.

X-RAY TUBE AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSER UTILIZING SELECTIVE EXCITATION RADIATION

Номер патента: US20120321038A1. Автор: . Владелец: HEIKKI SIPILA OY. Дата публикации: 2012-12-20.

X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY IMAGING METHOD

Номер патента: US20120321042A1. Автор: Mukaide Taihei,FUKUDA Kazunori,Watanabe Masatoshi,Takada Kazuhiro. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-12-20.

DEVICE FOR SUPPORTING ELEMENTS FOR CONNECTING A MOBILE X-RAY MACHINE AND X-RAY MACHINE PROVIDED WITH SUCH A SUPPORTING DEVICE

Номер патента: US20120321050A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-12-20.

X-Ray Scanners and X-Ray Sources Therefor

Номер патента: US20120326029A1. Автор: Morton Edward James. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-27.

MOBILE BASE AND X-RAY MACHINE MOUNTED ON SUCH A MOBILE BASE

Номер патента: US20130003939A1. Автор: . Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2013-01-03.

IMAGE PROCESSING APPARATUS AND X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20130012813A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2013-01-10.

APPARATUS FOR ALIGNMENT OF MULTILAYER FILM MIRRORS FOR MONOCHROMATIC X-RAY GENERATOR AND X-RAY IMAGE DETECTING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20130022171A1. Автор: Kim Jae Hee,Kwon Young Man,Kim Kyong Woo,Ryu Cheol Woo. Владелец: NANO FOCUS RAY CO., LTD. Дата публикации: 2013-01-24.

METHOD AND X-RAY DEVICE FOR TEMPORAL UP-TO-DATE REPRESENTATION OF A MOVING SECTION OF A BODY, COMPUTER PROGRAM PRODUCT AND DATA CARRIER

Номер патента: US20130023766A1. Автор: John Matthias,Han Jing Feng. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-24.

X-RAY IMAGE SENSING DEVICE AND X-RAY IMAGE SENSING MODULE

Номер патента: US20130026373A1. Автор: WU Chih-Hao. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

METHOD FOR DETECTING THE TRUE COINCIDENCE OF TWO CHARGE PULSES ON ADJACENT PICTURE ELEMENTS, X-RAY DETECTOR AND X-RAY IMAGE RECORDING APPARATUS

Номер патента: US20130028382A1. Автор: SPAHN Martin. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

HEAD HOLDER, IMAGING TABLE, AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20130028391A1. Автор: Nakamura Naoki,MATSUMURA Kiyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

RECONSTRUCTION COMPUTING DEVICE, RECONSTRUCTION COMPUTING METHOD, AND X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20130028500A1. Автор: Goto Taiga,Takahashi Hisashi,Hirokawa Koichi. Владелец: HITACHI MEDICAL CORPORATION,. Дата публикации: 2013-01-31.

APPARATUS FOR DETECTING SOFT X-RAY RADIATION AND X-RAY DETECTION SYSTEM INCLUDING SUCH APPARATUS

Номер патента: US20130032726A1. Автор: Totsuka Hirofumi. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-02-07.

X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130034204A1. Автор: MATOBA Yoshiki,SATO Tsuneo,Nakatani Rintaro. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-07.

METHOD FOR PRODUCING AN X-RAY SCATTERED RADIATION GRID AND X-RAY SCATTERED RADIATION GRID

Номер патента: US20130039478A1. Автор: Bechtold Mario,STRATTNER Peter. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2013-02-14.

SAMPLE VISCOSITY AND FLOW CONTROL FOR HEAVY SAMPLES, AND X-RAY ANALYSIS APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20130044858A1. Автор: Allen George,SHAKSHOBER Stuart,CHERIYAN Sony. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2013-02-21.

IMAGE PROCESSING APPARATUS AND METHOD, AND X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20130051527A1. Автор: SHIRAISHI Kunio,Sakaguchi Takuya,NAMBU Kyojiro,TAKAHASHI Tooru. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-28.

X-RAY WAVEGUIDE AND X-RAY WAVEGUIDE SYSTEM

Номер патента: US20130051534A1. Автор: Okamoto Kohei,Miyata Hirokatsu,Kubo Wataru. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-02-28.

X-RAY WAVEGUIDE, PROCESS OF PRODUCING X-RAY WAVEGUIDE, AND X-RAY GUIDING SYSTEM

Номер патента: US20130064352A1. Автор: Okamoto Kohei,Komoto Atsushi,Miyata Hirokatsu,Kubo Wataru,Noma Takashi,Takahashi Masahiko,KITAMURA Shin. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-03-14.

COLLIMATOR, MANUFACTURING METHOD OF COLLIMATOR, AND X-RAY CT DEVICE

Номер патента: US20130070892A1. Автор: Mori Kazuhiko. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2013-03-21.

IMAGE SENSOR AND X-RAY IMAGE SENSING MODULE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20130075608A1. Автор: HAN Sang-wook,KIM Hyun-sik,CHO Gyu-Hyeong,KIM Chang-jung,PARK Jae-chul,SUNG Young-hun,KIM Young,YANG Jun-hyeok. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-28.

METHOD FOR CONTROLLING THE MOVEMENT OF AN X-RAY APPARATUS AND X-RAY SYSTEM

Номер патента: US20130083894A1. Автор: Niebler Christine,Sattler Stefan,Schuster Stefan. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2013-04-04.

DETECTOR AND DAS, AND X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY APPARATUS

Номер патента: US20130101081A1. Автор: Nakayama Michito,Yaoi Yoshiaki,Yamazaki Takayuki,Murai Seiichiro,Taniguchi Akihiko. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-25.

X-RAY INTENSITY CORRECTION METHOD AND X-RAY DIFFRACTOMETER

Номер патента: US20130121460A1. Автор: Inaba Katsuhiko,OMOTE Kazuhiko,MITSUNAGA Toru. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2013-05-16.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY PHOTOGRAPHING APPARATUS

Номер патента: US20130121462A1. Автор: CHOI Byung-sun,Cho Min-kook,Kim Ki-yeo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-05-16.

X-RAY DETECTING DEVICE AND X-RAY IMAGING DEVICE USING THE X-RAY DETECTING DEVICE

Номер патента: US20130243155A1. Автор: RYU Jea Eun. Владелец: . Дата публикации: 2013-09-19.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.