Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS PROGRAM, AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS PROGRAM, AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20200003712A1
Опубликовано: 02-01-2020
Автор(ы): Kataoka Yoshiyuki, Kawakyu Kosuke
Принадлежит: RIGAKU CORPORATION
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4425161A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Shin Tanaka,Yasushi Kusakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

The heavy metal in water semi-quantitative analysis method analyzed based on X-ray fluorescence spectra

Номер патента: CN107271469A. Автор: 陈小华,顾海蓉,沈根祥,胡双庆,钱晓雍,赵庆节,汤正泽. Владелец: Shanghai Academy of Environmental Sciences. Дата публикации: 2017-10-20.

X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US10921267B2. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Kosuke Kawakyu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-02-16.

X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and fluorescence X-ray analyzer

Номер патента: JPWO2018168939A1. Автор: 由行 片岡,航介 川久. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

X-ray fluorescence spectrometer and X-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US09746433B2. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-29.

X-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US20170108424A1. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-04-20.

Method for detecting surface impurities by x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US20170122888A1. Автор: Matthias Geistbeck,Georg Wachinger,Thomas Meer,Sebastian Heckner. Владелец: Airbus Defence and Space GmbH. Дата публикации: 2017-05-04.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US09810649B2. Автор: Toshiyuki Takahara,Hiroyuki Noda,Ai Masuda. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Angle calibration for grazing-incidence X-ray fluorescence (GIXRF)

Номер патента: US09551677B2. Автор: Isaac Mazor,Asher Peled. Владелец: Bruker JV Israel Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Apparatus for quantitative in-line X-ray fluorescence analysis of slurries

Номер патента: US4125769A. Автор: Harald Schneider,Rainer Marten. Владелец: Gesellschaft fuer Kernenergieverwertung in Schiffbau und Schiffahrt. Дата публикации: 1978-11-14.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4071465A1. Автор: Hajime Nii. Владелец: Horiba Advanced Techno Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-12.

Multi-element simultaneous x-ray fluorescence analysis device and multi-element simultaneous x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: EP3428630A4. Автор: Yu Aoki,Seiji FUJIMURA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-12-04.

Multiplexing x-ray fluorescence system and method

Номер патента: US20170082562A1. Автор: Robert G. Baker,Keith C. Gendreau,Zaven Arzoumanian,Norman Dobson,Richard Koenecke. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 2017-03-23.

Method for quantifying chemical species in a sample by x-ray fluorescence

Номер патента: EP2850419A1. Автор: Marco Peloi,Edoardo Busetto,Luca Rebuffi,Emmanuel TEFOUET KANA. Владелец: Elettra Sincrotrone Trieste Consortile Per Azioni Soc. Дата публикации: 2015-03-25.

X-ray fluorescence analyzer comprising a measurement device, sample trays, and a transfer device for transferring a sample cell between the measurement device and the sample trays

Номер патента: US11788977B2. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: S Himadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Peak identification analysis program, and x-ray fluorescent spectrometer

Номер патента: US20240337612A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Wataru Matsuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

X-ray fluorescence spectrometer comprising a gas blowing mechanism

Номер патента: US09400255B2. Автор: Noriaki Sakai,Yoshiki Matoba,Toshitada Takeuchi,Hiroaki Nohara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-07-26.

X-ray fluorescence analysis measurement method and x-ray fluorescence analysis measurement device

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Shinji Ishimaru. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Method of analysis using x-ray fluorescence

Номер патента: US20030049859A1. Автор: Alexander Henrich,Konrad Beckenkamp,Oliver Mandal,Matthias Ohm. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2003-03-13.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US09645100B2. Автор: Keiichi Tanaka,Akikazu Odawara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Quantitative analysis method, quantitative analysis program, and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11782000B2. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Yasushi Kusakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20090116613A1. Автор: Noboru Yamashita,Yoshiyuki Kataoka,Makoto Doi,Hisayuki Kohno. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2009-05-07.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20020172322A1. Автор: Kouichi Aoyagi,Naoki Kawahara,Yasujiro Yamada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-21.

X-ray fluorescence analyzer and x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: US20120051507A1. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Hideki Takiguchi,Yutaka Ikku. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-03-01.

Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis of mineral sample

Номер патента: RU2499252C2. Автор: Андерс УЛЛЬБЕРГ,Рагнар КУЛЛЕНБЕРГ,Эрик ОДЕН,Фредрик ДАНИЕЛЬССОН. Владелец: Орэксплоре Аб. Дата публикации: 2013-11-20.

X-ray fluorescence analysis device, and spectrum display method used in same

Номер патента: US20190391091A1. Автор: Hiroaki Furukawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis of a mineral sample

Номер патента: CA2713383A1. Автор: Erik Oden,Ragnar Kullenberg,Anders Ullberg,Fredrik Danielsson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-08-13.

X-ray fluorescence analysis of multilayered samples

Номер патента: CA2381398C. Автор: Alfred Johann Peter Haszler,Hormoz Ghaziary. Владелец: Corus Aluminium Walzprodukte GmbH. Дата публикации: 2006-01-24.

X-ray fluorescence analysis of multilayered samples

Номер патента: WO2001011315A1. Автор: Alfred Johann Peter Haszler,Hormoz Ghaziary. Владелец: Corus Aluminium Walzprodukte GmbH. Дата публикации: 2001-02-15.

Apparatus and method for X-ray fluorescence analysis of a mineral sample

Номер патента: AU2009211833A1. Автор: Erik Oden,Ragnar Kullenberg,Anders Ullberg,Fredrik Danielsson. Владелец: OREXPLORE AB. Дата публикации: 2009-08-13.

Compact x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis

Номер патента: WO2003060496A3. Автор: Leslie J Kirihara,Chester L Shepard,Bary W Wilson,John T Munley,James H Reeves. Владелец: James H Reeves. Дата публикации: 2003-09-25.

Compact x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis

Номер патента: WO2003060496A2. Автор: Chester L. Shepard,James H. Reeves,Bary W. Wilson,Leslie J. Kirihara,John T. Munley. Владелец: BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE. Дата публикации: 2003-07-24.

X-ray fluorescence spectrometer and program used therein

Номер патента: US20090041184A1. Автор: Shinya Hara,Naoki Kawahara. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2009-02-12.

X-ray fluorescence analysis device

Номер патента: EP4286837A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

System and method for determining mass fractions in a test sample with wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: EP4276452A1. Автор: Dominique PORTA,Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2023-11-15.

X-ray fluorescence analysis device

Номер патента: US20240085353A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Method and arrangement for analyzing specimens pursuant to the x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: US5077766A. Автор: Heinrich Schwenke,Harald Schneider,Joachim Knoth,Herbert Rosomm,Ulrich Weisbrod. Владелец: GKSS Forshungszentrum Geesthacht GmbH. Дата публикации: 1991-12-31.

Handheld x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20080192889A1. Автор: Larry Stephen Price,Martin Rohde,Vassili Kobyitchak. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-08-14.

System and method for determining mass fractions in a test sample with wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: US20230366840A1. Автор: Dominique PORTA,Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2023-11-16.

Device and method for mapping the distribution of an x-ray fluorescence marker

Номер патента: WO2005083406A1. Автор: Geoffrey Harding,Gerhard Martens,Hans Barschdorf,Bernd Schweizer. Владелец: Philips Intellectual Property & Standards Gmbh. Дата публикации: 2005-09-09.

X-ray fluorescence spectrometre

Номер патента: RU2390764C2. Автор: Йосиюки КАТАОКА,Эйити ФУРУСАВА,Хисаюки КОХНО. Владелец: Ригаку Корпорейшн. Дата публикации: 2010-05-27.

X-Ray fluorescent analysis with matrix compensation

Номер патента: US4350889A. Автор: Khaim Lisnyansky. Владелец: International Paper Co. Дата публикации: 1982-09-21.

Measuring apparatus for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US4426717A. Автор: Joachim Schwenke,Joachim Knoth,Rainer Marten,Herbert Rosomm. Владелец: Gesellschaft fuer Kernenergieverwertung in Schiffbau und Schiffahrt. Дата публикации: 1984-01-17.

Trace element x-ray fluorescence analyser using dual focusing x-ray monochromators

Номер патента: CA2822382C. Автор: James Tickner,Yves Leon Jozef Van Haarlem. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2020-11-24.

Polarized, energy dispersive x-ray fluorescence system and method

Номер патента: WO2024026158A1. Автор: Zewu Chen,Fuzhong Wei,Joseph J. SPINAZOLA,Zhifan GAO,Yaobiao XIA. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2024-02-01.

Polarized, energy dispersive x-ray fluorescence system and method

Номер патента: US20240035990A1. Автор: Zewu Chen,Fuzhong Wei,Zhifan GAO,Yaobiao XIA,Joseph J. SPINAZOLA, III. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20020018541A1. Автор: Shigeki Yagi. Владелец: Shigeki Yagi. Дата публикации: 2002-02-14.

Method and apparatus for total reflection X-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: US6041096A. Автор: Shoichiro Tonomura,Ichiro Doi. Владелец: Asahi Kasei Kogyo KK. Дата публикации: 2000-03-21.

Exempt source for an x-ray fluorescence device

Номер патента: WO2004089056A3. Автор: Stephen L Price,Donald K Kenning,Bruce J Kaiser. Владелец: Bruce J Kaiser. Дата публикации: 2005-06-09.

Exempt source for an x-ray fluorescence device

Номер патента: EP1609155A2. Автор: Bruce J. Kaiser,Stephen L. Price,Donald K. Kenning. Владелец: KeyMaster Technologies Inc. Дата публикации: 2005-12-28.

X-ray fluorescence imaging of elements

Номер патента: US4987582A. Автор: David B. Chang,Norton L. Moise,Jackie R. Webster,Keith V. Pearson,Victor Vali. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1991-01-22.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: CA1086870A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1980-09-30.

X-ray fluorescence system with apertured sample mask for analyzing patterned surfaces

Номер патента: WO2005015189A2. Автор: Zewu Chen,Shinichi Terada. Владелец: Technos Co., Ltd. Дата публикации: 2005-02-17.

Cone penetrometer utilizing an X-ray fluorescence metals sensor

Номер патента: US6097785A. Автор: William T. Elam. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2000-08-01.

X-ray fluorescence visualizer, imager, or information provider

Номер патента: US20090086905A1. Автор: Roderick A. Hyde,Muriel Y. Ishikawa,Nathan P. Myhrvold,Edward K.Y. Jung,Eric C. Leuthardt,Robert W. Lord,Clarence T. Tegreene,Lowell L. Wood, JR.,Dennis J. Rivet,Victoria Y.H. Wood,Edward S. Boyden,Michael A. Smith,Thomas A. Weaver,Charles Whitmer. Владелец: SEARETE LLC. Дата публикации: 2009-04-02.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20230408428A1. Автор: Yasuyuki Okamoto. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Device and method for mapping the distribution of an x-ray fluorescence marker

Номер патента: EP1718958A1. Автор: Geoffrey Harding,Gerhard Martens,Hans Barschdorf,Bernd Schweizer. Владелец: Philips Intellectual Property and Standards GmbH. Дата публикации: 2006-11-08.

Measurement object and method for verifying a calibration of an x-ray fluorescence device

Номер патента: US20240310308A1. Автор: Martin LEIBFRITZ. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2024-09-19.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: WO2001038861A2. Автор: Neil Loxley,David Keith Bowen,Ladislav Pina. Владелец: Bede Scientific Instruments Ltd. Дата публикации: 2001-05-31.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: WO2001038861A3. Автор: Neil Loxley,David Keith Bowen,Ladislav Pina. Владелец: Bede Scient Instr Ltd. Дата публикации: 2001-12-20.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: EP1236036A2. Автор: Neil Loxley,David Keith Bowen,Ladislav Pina. Владелец: Bede Scientific Instruments Ltd. Дата публикации: 2002-09-04.

Flow method and apparatus for screening chemicals using micro x-ray fluorescence

Номер патента: EP1525458A2. Автор: Benjamin P. Warner,Thomasin C. Miller,George J. Havrilla,Cris L. Lewis,Cynthia A. Mahan,Cyndi A. Wells. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2005-04-27.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US6041095A. Автор: Boris Yokhin. Владелец: Jordan Valley Applied Radiation Ltd. Дата публикации: 2000-03-21.

Detection of dishing and tilting using x-ray fluorescence

Номер патента: US20060227931A1. Автор: Boris Yokhin,Isaac Mazor,Alex Dikopoltsev,Tzachi Rafaeli,Alexander Tokar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-12.

Portable apparatus for analyzing metals by X-ray fluorescence

Номер патента: US4429409A. Автор: Peter F. Berry,Wendell D. Miller,John L. Nethery, Jr.. Владелец: RAMSEY ENGR Co. Дата публикации: 1984-01-31.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: WO2018051353A1. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd.. Дата публикации: 2018-03-22.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: EP3516380A1. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2019-07-31.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: US20210048399A1. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2021-02-18.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: AU2017328259B2. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

X-ray fluorescence analyzer having means for producing lowered pressure, and an X-ray fluorescence measurement method using lowered pressure

Номер патента: EP1852696A2. Автор: Erkki Puusaari,Hannu Rintamäki. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2007-11-07.

X-ray fluorescence analyzer having means for producing lowered pressure, and an X-ray fluorescence measurement method using lowered pressure

Номер патента: US7409037B2. Автор: Hannu Rintamäki,Erkki Tapani Puusaari. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2008-08-05.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP1370851A2. Автор: Lee Grodzins,Hal Grodzins. Владелец: Niton Corp. Дата публикации: 2003-12-17.

Electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: WO2014026932A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson. Владелец: ELEMENT SIX LIMITED. Дата публикации: 2014-02-20.

In-situ electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: WO2014026931A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson. Владелец: ELEMENT SIX LIMITED. Дата публикации: 2014-02-20.

Electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: EP2885632A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson. Владелец: Element Six Technologies Ltd. Дата публикации: 2015-06-24.

X-ray fluorescence analyzer, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: DK181581B1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: Metso Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2024-06-07.

Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US12007380B2. Автор: Youhong Xiao,Bruno Vrebos,Lieven Kempenaers. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-06-11.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP3933391A1. Автор: Jeong Goun Park. Владелец: Isp Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-05.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20220357292A1. Автор: Jeong Goun Park. Владелец: Isp Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

X-ray fluorescence analyzer, and a method for performing X-ray fluorescence analysis

Номер патента: AU2018419252A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2020-12-03.

X-ray fluorescence analyzer, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US20210255123A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2021-08-19.

X-ray fluorescence analyzer and X-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US09810648B2. Автор: Toshiyuki Takahara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Pressed powder sample measurements using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2020264353A1. Автор: Bruno Alfred Robert Vrebos,Dick Kuiper,Saskia Maria Angela Beerkens. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2020-12-03.

Pressed powder sample measurements using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2020264353B2. Автор: Bruno Alfred Robert Vrebos,Dick Kuiper,Saskia Maria Angela Beerkens. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-08-25.

X-Ray Fluorescence Measurement Apparatus

Номер патента: US20210018453A1. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Systems and methods for analyzing core using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2024200635A1. Автор: Peter Kanck,Ry Nathaniel ZAWADZKI. Владелец: Boart Longyear Co. Дата публикации: 2024-02-22.

Systems and methods for analyzing core using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2021212154B2. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Boart Longyear Co. Дата публикации: 2023-11-23.

Method for measuring analyte transport across cell membranes using X-ray fluorescence

Номер патента: US09506931B2. Автор: Benjamin P. Warner,Rebecca L. Miller,Lori J. Peterson,Eva R. Birnbaum,Jennifer A. Berger. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Diffraction analysis device and method for full-field x-ray fluorescence imaging analysis

Номер патента: US11774380B1. Автор: Zhu An,PENG Wang,Ning Huang,Ze He,Yuanjun Xu. Владелец: Sichuan University. Дата публикации: 2023-10-03.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: US4162528A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1979-07-24.

X-ray fluorescence measurement apparatus

Номер патента: US11549896B2. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-10.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: CA3221264A1. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2018-03-15.

Systems And Methods For Analyzing Core Using X-Ray Fluorescence

Номер патента: US20240286541A1. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Veracio Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: CA3099565C. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Steerable X-Ray Fluorescence Inspection Device

Номер патента: US20240085354A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Compact insertable x-ray fluorescence device for pipe inspection

Номер патента: US11796494B2. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Compact Insertable X-Ray Fluorescence Device for Pipe Inspection

Номер патента: US20220381711A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20180095045A1. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2018-04-05.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: EP3278091A1. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2018-02-07.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20200116656A1. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2020-04-16.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US10969351B2. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2021-04-06.

Method and device for carrying out x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2623689C2. Автор: Йенс Кесслер. Владелец: Хельмут Фишер Гмбх Институт Фюр Электроник Унд Месстекник. Дата публикации: 2017-06-28.

METHOD AND DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS

Номер патента: RU2015124496A. Автор: Йенс Кесслер. Владелец: Хельмут Фишер Гмбх Институт Фюр Электроник Унд Месстекник. Дата публикации: 2017-01-11.

Method and device for performing an x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US20150300966A1. Автор: Jens Kessler. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2015-10-22.

Method and device for performing an x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US9513238B2. Автор: Jens Kessler. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2016-12-06.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: TWI729981B. Автор: 亞伊爾 格羅夫. Владелец: 以色列商安全事務股份有限公司. Дата публикации: 2021-06-11.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: IL254806A0. Автор: GROF Yair. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2017-12-31.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: IL254806B. Автор: GROF Yair. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2022-01-01.

Analysis method and x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP3885758A1. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-09-29.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20180095045A1. Автор: GROF Yair. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20200116656A1. Автор: GROF Yair. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-16.

NANOPARTICLE ASSISTED SCANNING FOCUSING X-RAY FLUORESCENCE IMAGING AND ENHANCED TREATMENT

Номер патента: US20160252471A1. Автор: GUO Ting,DAVIDSON R. Andrew. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2016-09-01.

X-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: EP2333529B1. Автор: Kenji Watanabe,Atsushi Morikawa,Yoshiyuki Kataoka,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-10-16.

method of analyzing x-ray fluorescence

Номер патента: BRPI1005172B8. Автор: WATANABE Kenji,Kataoka Yoshiyuki,MORIKAWA Atsushi,YAMADA Yasujiro. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

X-ray fluorescent emission analysis to determine material concentration

Номер патента: CA2355742A1. Автор: Alan P. Quinn. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-06-29.

Electron excited X-ray fluorescence device

Номер патента: US09671355B2. Автор: Carlos Camara. Владелец: Tribogenics Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Electron excited x-ray fluorescence device

Номер патента: WO2014074742A1. Автор: Carlos Camara. Владелец: Tribogenics, Inc.. Дата публикации: 2014-05-15.

X-ray fluorescence spectrometer and X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: DE112015003094B4. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

X-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US20170108424A1. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-04-20.

SIMULTANEOUS MULTI-ELEMENTS ANALYSIS TYPE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER, AND SIMULTANEOUS MULTI-ELEMENTS X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20200378908A1. Автор: Aoki Yu,FUJIMURA Seiji. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2020-12-03.

Simultaneous multi-elements analysis type x-ray fluorescence spectrometer, and simultaneous multi-elements x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: WO2017154505A8. Автор: 青木　悠,聖史 藤村. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2018-06-28.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, AND A METHOD FOR PERFORMING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20210255121A1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-08-19.

A x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: KR20080088057A. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2008-10-02.

Method and apparatus for estimation of heat value using dual energy x-ray transmission measurements and x-ray fluorescence measurements

Номер патента: CA2924956C. Автор: Ragnar Kullenberg,Ralf Torgrip. Владелец: Mantex Ip AB. Дата публикации: 2020-12-15.

X-ray detection apparatus for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US9116106B2. Автор: Yoshiyuki Nakajima,Satoru Goto,Yoshito Komada. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2015-08-25.

A X-ray Fluorescence Spectrometer

Номер патента: KR100862332B1. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2008-10-23.

Method and apparatus for estimation of heat value using dual energy x-ray transmission measurements and x-ray fluorescence measurements

Номер патента: CA2924956A1. Автор: Ragnar Kullenberg,Ralf Torgrip. Владелец: MANTEX AB. Дата публикации: 2015-04-16.

Method and apparatus for calorific value assessment using dual X-ray transmission energy measurements and X-ray fluorescence measurements.

Номер патента: DK3055685T3. Автор: Ragnar Kullenberg,Ralf Torgrip. Владелец: MANTEX AB. Дата публикации: 2017-10-16.

Method for screening data through portable XRF (X-ray fluorescence) in heavy metal contaminated soil

Номер патента: CN114289340A. Автор: 夏天翔,张丽娜,姜林,朱笑盈. Владелец: Beijing Academy Of Ecological And Environmental Protection. Дата публикации: 2022-04-08.

Method for analyzing of fluorine in soil using x-ray fluorescence technique and xrf sample used for the same

Номер патента: KR101305425B1. Автор: 안진성,윤혜온,김주애. Владелец: 한국기초과학지원연구원. Дата публикации: 2013-09-06.

X-ray fluorescence analyzer and method

Номер патента: JP4914514B2. Автор: 広明 喜多,寛 小林. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-04-11.

SYSTEMS AND METHODS FOR ANALYZING CORE USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200070711A1. Автор: KANCK PETER,ZAWADZKI RY. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

SYSTEMS AND METHODS FOR ANALYZING CORE USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20190351804A1. Автор: KANCK PETER,ZAWADSKI RY. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-21.

X-ray fluorescence analyzer and sample display method

Номер патента: KR102296009B1. Автор: 이사오 야기. Владелец: 가부시키가이샤 히다치 하이테크 사이언스. Дата публикации: 2021-08-30.

X-ray fluorescence analyser for determining a sulphur content in liquid hydrocarbons

Номер патента: WO2008007998A1. Автор: Vladimir Alexeevich Gudovskikh,Alexandr Vladimirovich Rudnev,Yury Sergeevich Kreknin,Alexandr Vladimirovich Litinsky,Elena Nikolaevna Maiorova,Anatoly Nikolaevich Mashinsky,Alexandr Evgenievich Prokofiev,Valery Ivanovich Shuvalov. Владелец: Litinsky Alexandr Vladimirovic. Дата публикации: 2008-01-17.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3629539B2. Автор: 隆 御園生,幸雄 迫,幸男 西本,克美 木元. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2005-03-16.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20210270757A1. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Peak identification analysis program, and fluorescent x-ray analysis device

Номер патента: EP4425160A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Wataru Matsuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

X-ray fluorescence spectrometer and program used therein

Номер патента: US20060274882A1. Автор: Makoto Doi,Shinya Hara,Naoki Kawahara. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2006-12-07.

X-ray fluorescence system and x-ray source with electrically insulative target material

Номер патента: WO2023168204A1. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ,Benjamin Donald STRIPE,Sylvia Jia Yun LEWIS,Frances Yenan Su,Vikaram Singh. Владелец: Sigray, Inc.. Дата публикации: 2023-09-07.

Sample analysis using combined x-ray fluorescence and raman spectroscopy

Номер патента: EP2856125A1. Автор: Mark A. Hamilton,Stanislaw Piorek,Richard A. Crocombe. Владелец: Thermo Scientific Portable Analytical Instruments Inc. Дата публикации: 2015-04-08.

Sample analysis using combined x-ray fluorescence and raman spectroscopy

Номер патента: WO2013180922A9. Автор: Mark A. Hamilton,Stanislaw Piorek,Richard A. Crocombe. Владелец: Thermo Scientific Portable Analytical Instruments Inc.. Дата публикации: 2015-04-02.

X-ray fluorescence analysis is with the sample retainer tool and adopt its fluorescent x-ray analysis method and device

Номер патента: CN100552443C. Автор: 森山孝男,井上未知子. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-21.

SAMPLE HOLDER FOR AN X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER, AND SAMPLE HOLDER MANUFACTURING JIG AND METHOD OF PRODUCING A SAMPLE FOR AN X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20190346384A1. Автор: Inoue Minoru,Matsuda Wataru. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

Temperature dependent x-ray fluorescence

Номер патента: US11079287B1. Автор: Steven F. Son,Walter Gill,Enrico C. Quintana,Kathryn N. Gabet Hoffmeister,Eric R. Westphal. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2021-08-03.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT METHOD AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Ishimaru Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

Polarization excitation device for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US3944822A. Автор: Thomas G. Dzubay. Владелец: US Environmental Protection Agency. Дата публикации: 1976-03-16.

X-ray fluorescence analyzer and x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: US20120051507A1. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Hideki Takiguchi,Yutaka Ikku. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-03-01.

X-ray fluorescence analyzer and X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: DE102011105630B4. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Hideki Takiguchi,Yutaka Ikku. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

X-ray fluorescence system and x-ray source with electrically insulative target material

Номер патента: US20230280291A1. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ,Benjamin Donald STRIPE,Sylvia Jia Yun LEWIS,Frances Yenan Su,Vikaram Singh. Владелец: Sigray Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US4016419A. Автор: Yoshinori Hosokawa,Haruo Kotani,Haruyoshi Hirata. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1977-04-05.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: KR20070031231A. Автор: 요시유끼 가따오까,에이이찌 후루사와,히사유끼 고오노. Владелец: 리가꾸 덴끼 고교 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2007-03-19.

System and method for determining mass fractions in a test sample with wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: EP4276452B1. Автор: Dominique PORTA,Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2024-07-03.

Liquid cell for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US3742226A. Автор: A Smallbone. Владелец: Applied Res Lab. Дата публикации: 1973-06-26.

Sample preprocessing system for a fluorescent X-ray analysis and X-ray fluorescence spectrometric system using the same

Номер патента: US20030053589A1. Автор: Akihiro Ikeshita,Motoyuki Yamagami. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-03-20.

X-ray fluorescence analyzer, data processing method, and recording medium

Номер патента: US20230251215A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

A kind of Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis instrument

Номер патента: CN108627530A. Автор: 林晓燕,李玉德,王兴艺. Владелец: Beijing Normal University. Дата публикации: 2018-10-09.

Determination of the measuring spot during x-ray fluorescence analysis

Номер патента: GB9917798D0. Автор: . Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 1999-09-29.

Determining measuring spot during X-ray fluorescence analysis

Номер патента: GB2340599A8. Автор: Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2003-07-22.

Determination of the measuring spot during x-ray fluorescence analysis

Номер патента: GB9919467D0. Автор: . Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 1999-10-20.

Method for detecting element based on total reflection X-ray fluorescence analysis

Номер патента: CN106248710B. Автор: 石平,徐剑飞. Владелец: YIWEN ENVIRONMENTAL SCIENCE TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-26.

ENERGY DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENT SPECTROMETER, EVALUATION METHOD, AND EVALUATION PROGRAM

Номер патента: US20220268717A1. Автор: KIKUTA Shinya. Владелец: . Дата публикации: 2022-08-25.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20190137422A1. Автор: WALDSCHLÄGER Ulrich,Tagle Berdan Roald Alberto. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-09.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20180180563A1. Автор: MATSUO Takashi,Kataoka Yoshiyuki,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro,HONMA Hisashi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2018-06-28.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20190227008A1. Автор: Kato Shuichi,Yamada Takashi,Kataoka Yoshiyuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-07-25.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20210262954A1. Автор: MATSUO Takashi,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2021-08-26.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20190302041A1. Автор: Sako Yukio. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-03.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20170322165A1. Автор: HARA Shinya,Doi Makoto,YAMADA Yasujiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-11-09.

X-ray fluorescent spectrometer

Номер патента: RU94022820A. Автор: К.В. Анисович. Владелец: К.В. Анисович. Дата публикации: 1996-04-10.

Method and device for rapid analysis by X-ray fluorescence of an element present in a low concentration in a material

Номер патента: FR2668263A1. Автор: Guyon Marielle,Benoit Pierre. Владелец: Institut de Recherches de la Siderurgie Francaise IRSID. Дата публикации: 1992-04-24.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20020186812A1. Автор: Koushi Sumii. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2002-12-12.

Dual x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis

Номер патента: US6859517B2. Автор: Chester L. Shepard,Bary W. Wilson. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2005-02-22.

IMPROVEMENTS IN PORTABLE FIELD X-RAY FLUORESCENT SPECTROMETER

Номер патента: MX151134A. Автор: Benton Clyde Clark Iii. Владелец: Martin Marietta Corp. Дата публикации: 1984-10-04.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US6647090B2. Автор: Kouichi Aoyagi,Naoki Kawahara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2003-11-11.

X-ray fluorescence spectrometer vending machine

Номер патента: CH445156A. Автор: Sahores Jean. Владелец: Aquitaine Petrole. Дата публикации: 1967-10-15.

Compact x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis

Номер патента: AU2002357915A8. Автор: Leslie J Kirihara,Chester L Shepard,Bary W Wilson,John T Munley,James H Reeves. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2003-07-30.

Wavelength-dispersive x-ray fluorescence analysis device

Номер патента: CN103415766B. Автор: 片冈由行,川久航介,井上央. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-22.

Blast furnace slag, vessel slag and vacuum refining slag x-ray fluorescence analysis drift correction sample and preparation method thereof

Номер патента: CN109164124A. Автор: 杨波,沈克,周大庆,张兆雄. Владелец: Wuhan Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-08.

X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: JPS60202339A. Автор: Yoshiro Matsumoto,Masakatsu Fujino,松本　義朗,藤野　允克. Владелец: Sumitomo Metal Industries Ltd. Дата публикации: 1985-10-12.

Total reflection X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: DE102005023872B4. Автор: Shoko Ito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2009-11-19.

Arrangement with coated mirror for examining samples using the X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: DE4015275C2. Автор: Heinrich Schwenke,Joachim Knoth,Ulrich Weisbrod. Владелец: GKSS Forshungszentrum Geesthacht GmbH. Дата публикации: 1994-07-21.

X-Ray Fluorescence Analysis Apparatus and Calibration Method Thereof

Номер патента: US20210003520A1. Автор: Kinugasa Genki. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-07.

METHOD FOR DETECTING SURFACE IMPURITIES BY X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20170122888A1. Автор: Wachinger Georg,HECKNER Sebastian,MEER Thomas,GEISTBECK Matthias. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

X-ray fluorescence analysis device, and spectrum display method used in same

Номер патента: US20190391091A1. Автор: Hiroaki Furukawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Scatter spectra method for x-ray fluorescent analysis with optical components

Номер патента: EP1521947B1. Автор: William T. Elam,Joseph A. Nicolosi,Robert B-S Shen,Bruce E. Scruggs. Владелец: Edax Inc. Дата публикации: 2018-05-16.

Portable unit for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU1570658A3. Автор: Клайд Кларк Третий Бентон. Владелец: Мартин Мариетта Корпорейшн (Фирма). Дата публикации: 1990-06-07.

Apparatus for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: FR1291232A. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1962-04-20.

Continuous measurement of slurry contents - using X=ray fluorescence analysis for density, composition and independent measurement

Номер патента: FR2502335A1. Автор: Karl Winkler,Andrzey Lubecki,Kurt Wiese. Владелец: Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH. Дата публикации: 1982-09-24.

Combined X-ray fluorescence analysis and laser-induced breakdown spectroscopy with improved optical signal intensity by use of an inert gas

Номер патента: EP1724570A1. Автор: Heikki Sipila,Tero Eklin,Kai Kuparinen. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2006-11-22.

X-ray fluorescence analysis and apparatus therefor

Номер патента: US20030152191A1. Автор: Motoyuki Yamagami. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2003-08-14.

Automated x-ray fluorescence analysis

Номер патента: WO2009129479A1. Автор: Lee Grodzins,Stephen I. Shefsky,Michael E. Dugas. Владелец: THERMO NITON ANALYZERS LLC. Дата публикации: 2009-10-22.

Sample holder for X-ray fluorescence analysis with a thin liquid-absorbing element

Номер патента: DE602004009082D1. Автор: Michiko Inoue,Takao Moriyama. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2007-10-31.

Energy dispersive x-ray fluorescent analysis device, evaluation method, and evaluation program

Номер патента: WO2021124859A1. Автор: 真也 菊田. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2021-06-24.

X-ray fluorescence analysis using a waveguide connected to the source and to the detector

Номер патента: WO2004008128A1. Автор: Elisabeth KATZ. Владелец: Elisabeth KATZ. Дата публикации: 2004-01-22.

Measurement arrangement for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: DE2632001C3. Автор: Rainer Ing.(Grad.) Marten,Herbert Ng.(Grad.) Rosomm,Heinrich Dipl.-Phys. 2050 Escheburg Schwenke. Владелец: GKSS Forshungszentrum Geesthacht GmbH. Дата публикации: 1980-10-23.

X-ray fluorescent analysis of slurry

Номер патента: AU538253B2. Автор: Karl Winkler,Kurt Wiese,Andrzej Lubecki. Владелец: Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH. Дата публикации: 1984-08-02.

Energy dispersion x-ray fluorescence analysis of chemical substances

Номер патента: WO2000043761A2. Автор: Peter Hoffmann,Alexander Henrich,Hugo Ortner,Hans-Helmut Itzel. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2000-07-27.

Method for micro-X-ray fluorescence analysis of a sample with three-dimensional resolution

Номер патента: DE102006044417B4. Автор: Aniouar Abubovich Bjeoumikhov,Semfira Vladimirovna Bjeoumikhova,Renat Borisovich Gubzhokov,Zaur Chamilovich Margushev. Владелец: IFG-INSTITUTE FOR SCIENTIFIC INSTRUMENTS GmbH. Дата публикации: 2008-06-19.

Method for x ray fluorescence analysis

Номер патента: JPS58223047A. Автор: Yoshiro Matsumoto,Masakatsu Fujino,松本　義朗,藤野　允克. Владелец: Sumitomo Metal Industries Ltd. Дата публикации: 1983-12-24.

Liquid cell for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA957085A. Автор: Allan H. Smallbone. Владелец: APPLIED RESEARCH LABORATORIES. Дата публикации: 1974-10-29.

METHOD FOR IMPLEMENTING MICRO-X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS OF MATERIALS WITH THREE-DIMENSIONAL RESOLUTION

Номер патента: RU2005129192A. Автор: Заур Чамилович Маргушев,Аниуар Абубович Бжеумихов,Земфира Владимировна Бжеумихова,Ренат Борисович Губжоков,Аниуар Абубович Бжеумихов (RU),Земфира Владимировна Бжеумихова (RU),Ренат Борисович Губжоков (RU),Заур Чамилович Маргушев (RU). Владелец: Институт Информатики и Проблем Регионального Управлени КБНЦ РАН (RU). Дата публикации: 2007-03-27.

Method and apparatus for the X-ray fluorescence analysis of samples

Номер патента: EP0372278A2. Автор: Heinrich Schwenke,Harald Schneider,Joachim Knoth,Herbert Rosomm,Ulrich Weisbrod. Владелец: GKSS Forshungszentrum Geesthacht GmbH. Дата публикации: 1990-06-13.

Apparatus and method for X-ray fluorescence analysis of a mineral sample

Номер патента: EP2085772B8. Автор: Erik Oden,Anders Ullberg,Fredrik Danielsson,Ragner Kullenberg. Владелец: OREXPLORE AB. Дата публикации: 2011-01-26.

X-ray fluorescence analysis using a waveguide connected to the source and to the detector

Номер патента: CA2491140A1. Автор: Elisabeth KATZ. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-01-22.

X-ray fluorescence analysis to determine levels of hazardous substances

Номер патента: EP1920240A1. Автор: Yoshiyuki Tani,Hiroshi Iwamoto,Takao c/o Matsushita Electric Ind. Co. Ltd. HISAZUMI,Yukihiro c/o Matsushita Electric Ind. Co. Ltd. IWATA. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-05-14.

X-ray fluorescence analysis to determine levels of hazardous substances

Номер патента: US20090262890A1. Автор: Yoshiyuki Tani,Hiroshi Iwamoto,Takao Hisazumi,Yukihiro Iwata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-10-22.

Adapter and analyzer device for performing X-ray fluorescence analysis on hot surfaces

Номер патента: EP1686369B1. Автор: Heikki Sipila,Erkki Puusaari,Esko Kantonen,Janne Kesälä. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2010-12-29.

Determination of the measuring spot during x-ray fluorescence analysis

Номер патента: GB2340599B. Автор: Volker Roebiger. Владелец: Immobiliengesellschaft Helmut Fischer GmbH and Co KG. Дата публикации: 2003-03-19.

X-ray fluorescence spectrum analysis method for primary and secondary components in rubidium ore

Номер патента: CN105738394A. Автор: 李刚,刘卫,李可及,卢彦,赵改红. Владелец: Institute of Multipurpose Utilization of Mineral Resources Chinese Academy of Geological Sciences. Дата публикации: 2016-07-06.

Apparatus for simultaneous x-ray diffraction and x-ray fluorescence measurements

Номер патента: WO1997013142A1. Автор: Paul Van Der Sluis,Pieter Klaas De Bokx,Bruno Alfred Robert Vrebos. Владелец: Philips Norden Ab. Дата публикации: 1997-04-10.

Apparatus for simultaneous X-ray diffraction and X-ray fluorescence measurement

Номер патента: JPH11502025A. Автор: ボクス，ピーター クラース デ,デア スルイス，ポール ファン,アルフレード ロベルト ヴレボス，ブルーノ. Владелец: フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー. Дата публикации: 1999-02-16.

Method for judging heavy metal detection type of portable X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN106706691A. Автор: 李明,项萌,詹茂华,程寒飞,冉景,朱巧红. Владелец: MCC Huatian Anhui Energy Conservation and Environmental Protection Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-24.

X-ray fluorescence element analyzer

Номер патента: CN1190662C. Автор: 梅尔文·J·劳里拉,克劳斯·C·巴奇曼,阿伯特·P·克莱恩. Владелец: E KATZ. Дата публикации: 2005-02-23.

MgO and SiO in light-burned magnesium and magnesium stone 2 X-ray fluorescence spectrum analysis method of content

Номер патента: CN111855722B. Автор: 赵宁,叶晓晴,吴子红,肖师杰. Владелец: Nanjing Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-24.

A method of utilizing lanthanum content in x-ray fluorescence spectrometry molybdenum product

Номер патента: CN109270101A. Автор: 王培�,廖军,薛林,菅豫梅,罗晓军. Владелец: Zigong Cemented Carbide Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-25.

Method of analysis using x-ray fluorescence

Номер патента: AU2001242390A1. Автор: Alexander Henrich,Konrad Beckenkamp,Oliver Mandal,Matthias Ohm. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2001-09-17.

Sample analysis using combined x-ray fluorescence and raman spectroscopy

Номер патента: EP2856125B1. Автор: Mark A. Hamilton,Stanislaw Piorek,Richard A. Crocombe. Владелец: Thermo Scientific Portable Analytical Instruments Inc. Дата публикации: 2020-07-01.

Transition edge sensor for x-ray fluorescence (tes-xrf) for high resolution material identification

Номер патента: US20170115241A1. Автор: Charles Gentile,Christopher G. Tully. Владелец: PRINCETON UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-04-27.

X-ray fluorescence spectroscopy analysis

Номер патента: US20230128930A1. Автор: Debora CAMPOS DE FARIA,Sergey Mikailovich Makarychev-Mikhailov,Isabelle Atheaux. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Total-reflection x-ray fluorescence apparatus and method using a doubly-curved optic

Номер патента: AU2001276861A1. Автор: Zewu Chen. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2002-04-02.

Portable x-ray fluorescence instrument with tapered absorption collar

Номер патента: CA2650857A1. Автор: Lee Grodzins. Владелец: Lee Grodzins. Дата публикации: 2008-09-04.

Analysis Method and X-Ray Fluorescence Analyzer

Номер патента: US20210302336A1. Автор: Kinugasa Genki. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-30.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: CN101311708A. Автор: C·布罗斯,P·赫格曼,P·布劳沃. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2008-11-26.

Portable X-ray fluorescence metal analysis apparatus using camera module and reflect proximate sensor and metal analysis method

Номер патента: KR100899011B1. Автор: 김도윤. Владелец: (주) 브이에스아이. Дата публикации: 2009-05-21.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3482896B2. Автор: 章二 桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2004-01-06.

X-ray fluorescence visualizing, imaging, or information providing of chemicals, compounds, or biological materials

Номер патента: US7664224B2. Автор: Roderick A. Hyde,Muriel Y. Ishikawa,Nathan P. Myhrvold,Eric C. Leuthardt,Robert W. Lord,Clarence T. Tegreene,Lowell L. Wood, JR.,Edward K. Y. Jung,Dennis J. Rivet,Edward S. Boyden,Michael A. Smith,Thomas A. Weaver,Victoria Y. H. Wood,Charles Whitmer. Владелец: SEARETE LLC. Дата публикации: 2010-02-16.

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF A THIN LAYER BY X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: FR2760833B1. Автор: Karl Heinz Kaiser,Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2000-06-30.

Radioisotope X-ray fluorescence analyzer for elemental analysis of rocks and ores under natural storage conditions

Номер патента: DE1960508A1. Автор: Meier Wladimir A,Sapkow German G,Iljasew Michail I,Poljakow Konstantin K,Briskin Sawelij N,Ljubawin Jurij P,Rosuwanow Anatolij P,Nachabzew Walerij S,Kobyljanzew Leonid W. Владелец: OSOBOJE K BJURO MINISTERSTWA G. Дата публикации: 1971-06-09.

MEASURING DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYZES

Номер патента: FR2358653A1. Автор: . Владелец: KERNENERGIEVERWERT GES fur. Дата публикации: 1978-02-10.

X-ray fluorescence elemental analyzer

Номер патента: WO2000016078A9. Автор: Melvin J Laurila,Claus C Bachmann,Albert P Klein. Владелец: Process Control Inc. Дата публикации: 2000-09-08.

Arrangement for carrying out X-ray fluorescence analyzes

Номер патента: DE10259193B4. Автор: Thomas Dipl.-Phys. Holz. Владелец: AXO DRESDEN GmbH. Дата публикации: 2005-03-24.

Quantitative analysis employing x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JPS61175555A. Автор: Akio Hori,彰男 堀. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1986-08-07.

Portable x-ray fluorescence instrument with tapered absorption collar

Номер патента: EP2025205A2. Автор: Lee Grodzins. Владелец: THERMO NITON ANALYZERS LLC. Дата публикации: 2009-02-18.

FLOW METHOD AND DEVICE FOR SCREENING CHEMICALS USING MICRO X-ray Fluorescence

Номер патента: DK1525458T3. Автор: Benjamin P Warner,Thomasin C Miller,Cynthia A Mahan,George J Havrilla,Cyndi A Wells,Cris L Lewis. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2017-04-24.

X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING SAMPLES

Номер патента: US20210048399A1. Автор: GROF Yair,KISLEV Tzemah,YORAN Nadav,ALON Haggai,KAPLINSKY Mor. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-18.

TRANSITION EDGE SENSOR FOR X-RAY FLUORESCENCE (TES-XRF) FOR HIGH RESOLUTION MATERIAL IDENTIFICATION

Номер патента: US20170115241A1. Автор: Tully Christopher G.,Gentile Charles. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-27.

METHODS OF DETECTION USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200278346A1. Автор: ZAHLER Nathan,THEILE Jonathan. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

Pressed Powder Sample Measurements Using X-ray Fluorescence

Номер патента: US20180348150A1. Автор: VREBOS Bruno Alfred Robert,KUIPER Dick,BEERKENS Saskia Maria Angela. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP2998730B1. Автор: Hiroaki Furukawa,Kanji Kobayashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-05-13.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4902272B2. Автор: 則生 笹山. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-03-21.

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE THICKNESS OF THIN LAYERS BY X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: FR2393266A1. Автор: . Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1978-12-29.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US9244026B2. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2016-01-26.

X-ray fluorescence analytical method and device for examining a sample

Номер патента: DE3230005C2. Автор: Robert Owen Wilmington N.C. Canada,Alfred Julius Zeits. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1986-11-27.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20060153332A1. Автор: Takashi Shoji,Makoto Doi,Hisayuki Kohno. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2006-07-13.

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF A METAL FILM USING AN X-RAY FLUORESCENT SYSTEM.

Номер патента: NL7705443A. Автор: . Владелец: Western Electric Co. Дата публикации: 1977-11-22.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: US7720192B2. Автор: Petra Hegeman,Christian Brons,Peter Brouwer. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2010-05-18.

Process for identifying substances unidentifiable by spectral line analysis uses energy dispersion X-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: DE19921317A1. Автор: Peter Hoffmann,Hanshelmut Itzel,Alexander Henrich,Hugo Ortner. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2000-07-27.

Method and apparatus for x-ray fluorescence gauging of a higher atomic number selected element in a coating on a base

Номер патента: US3417243A. Автор: Robert C Hill. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1968-12-17.

Estimation of heavy elements - using x-ray fluorescence

Номер патента: DE2140794A1. Автор: Herbert Neidl,Karl-Heinz Dr Neeb,Hanns-Joerg Weisse. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1973-02-15.

Radiation shield for portable x-ray fluorescence instruments

Номер патента: CA2514984A1. Автор: Lee Grodzins,Kenneth P. Martin,Anthony Honnellio. Владелец: Niton Llc. Дата публикации: 2005-02-03.

Instrument having X-ray fluorescence and spark emission spectroscopy analysis capabilities

Номер патента: US7430273B2. Автор: Ravisekhar Yellepeddi. Владелец: Thermo Fisher Scientific Inc. Дата публикации: 2008-09-30.

Energy dispersive X-ray fluorescence analyzer, evaluation method and evaluation program

Номер патента: JP6917668B1. Автор: 真也 菊田. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-08-11.

X-ray fluorescence thickness tester

Номер патента: US6522718B2. Автор: Masao Sato. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2003-02-18.

An X-ray fluorescence analyzer with gas-filled chamber

Номер патента: EP2116842A1. Автор: Antti Pelli. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2009-11-11.

X-ray fluorescence system and method

Номер патента: US20020057759A1. Автор: Douglas Holmes,Harvey Stone,Weimin Si,Frank Ferrandino. Владелец: Thermo Noran Inc. Дата публикации: 2002-05-16.

Process for testing used wood comprises homogenizing wooden chips, pressing under high pressure into tablet-like sample bodies with planar surfaces and analyzing using X-ray fluorescence and ion mobility spectroscopy

Номер патента: DE19941124A1. Автор: Joerg Engelhardt,Juergen Leonhardt,Holger Bensch,Walter Katzung. Владелец: IUT INST fur UMWELTTECHNOLOGI. Дата публикации: 2001-03-01.

Instrument having x-ray fluorescence and spark emission spectroscopy analysis capabilities

Номер патента: WO2008103571A1. Автор: Lee Grodzins,Ravisekhar Yellepeddi. Владелец: Thermo Fisher Scientific Inc.. Дата публикации: 2008-08-28.

Calibration standard for use in X-ray fluorescence analyzer, has sample holder that is set for executing calibration in rotation around axis, so that calibration sample is passed-over from measuring spot during calibration of elements

Номер патента: DE102012021484B3. Автор: Martin Brenk. Владелец: Franz Brenk & Co KG GmbH. Дата публикации: 2013-10-17.

Wavelength dispersive X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP5076012B1. Автор: 由行 片岡,央 井上,航介 川久. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-11-21.

Instrument having x-ray fluorescence and spark emission spectroscopy analysis capabilities

Номер патента: US20080205593A1. Автор: Ravisekhar Yellepeddi. Владелец: Thermo Fisher Scientific Inc. Дата публикации: 2008-08-28.

Device for analyzing elements by X-ray fluorescence

Номер патента: DK1114310T3. Автор: Melvin J Laurila,Claus C Bachmann,Albert P Klein. Владелец: Katz Elisabeth. Дата публикации: 2012-06-25.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4908119B2. Автор: 由行 片岡,康治郎 山田,孝 庄司,久征 河野,正次 倉岡. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-04-04.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: WO2022013934A1. Автор: 祐司 森久. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2022-01-20.

Portable x-ray fluorescence using machine source

Номер патента: US20050226373A1. Автор: Timothy Mcclanahan,Jacob Trombka,Samuel Floyd,Jeffrey Schweitzer,Yossi Eisen,Arthur Ruitberg. Владелец: Ruitberg Arthur P. Дата публикации: 2005-10-13.

X-ray fluorescence imaging of elements

Номер патента: EP0423763B1. Автор: David B. Chang,Norton L. Moise,Jackie R. Webster,Keith V. Pearson,Victor Vali. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1994-05-18.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP2998730A4. Автор: Hiroaki Furukawa,Kanji Kobayashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-05-04.

Tunable x-ray fluorescence imager for multi-element analysis

Номер патента: US20070108387A1. Автор: Yuxin Wang,Michael Feser,Srivatsan Seshadri,Wenbing Yun. Владелец: Xradia Inc. Дата публикации: 2007-05-17.

Sample analysis using a combination of X-ray fluorescence and Raman spectroscopy

Номер патента: JP6378173B2. Автор: マーク エイ ハミルトン,マーク エイ ハミルトン,スタニスワフ パイオレック,リチャード エイ クロコーム,リチャード エイ クロコーム. Владелец: サーモ サイエンティフィック ポータブル アナリティカル インスツルメンツ インコーポレイテッド. Дата публикации: 2018-08-22.

X-RAY FLUORESCENCE DEVICE

Номер патента: FR2499245A1. Автор: Hiroshi Ishijima,Toshiyuki Koga. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1982-08-06.

Portable x-ray fluorescence instrument with tapered absorption collar

Номер патента: WO2008105782A3. Автор: Lee Grodzins. Владелец: Lee Grodzins. Дата публикации: 2008-12-24.

Inspection of small features using X-ray fluorescence

Номер патента: TW200846656A. Автор: David Berman,Boris Yokhin,Isaac Mazor,Alexander Tokar. Владелец: Jordan Valley Semiconductors. Дата публикации: 2008-12-01.

Flow method and apparatus for screening chemicals using micro x-ray fluorescence

Номер патента: US20070003008A1. Автор: Benjamin WARNER,George Havrilla,Thomasin Miller,Cris Lewis,Cynthia Mahan,Cyndi Wells. Владелец: ERGENTS OF UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2007-01-04.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4015022B2. Автор: リー グロジンス，,ハル グロジンス，. Владелец: ナイトン コーポレイション. Дата публикации: 2007-11-28.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3603122B2. Автор: 康治郎 山田,直樹 河原,光一 青柳. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2004-12-22.

Flow method and apparatus for screening chemicals using micro x-ray fluorescence

Номер патента: EP1525458B1. Автор: Benjamin P. Warner,Thomasin C. Miller,George J. Havrilla,Cris L. Lewis,Cynthia A. Mahan,Cyndi A. Wells. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2017-03-08.

X-ray fluorescence device calibration

Номер патента: WO2016187471A1. Автор: Eric W. Wong,Carlos Camara,Tianqing He,Mark G. Valentine,Dan CUADRA,German OM,Andy KOTOWSKI,Justen HARPER. Владелец: Tribogenics, Inc.. Дата публикации: 2016-11-24.

Automatic energy dispersive x-ray fluorescence analysing apparatus

Номер патента: DE2966430D1. Автор: Robert Carey,John Christian Russ. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1983-12-29.

Flow method and apparatus for screening chemicals using micro x-ray fluorescence

Номер патента: AU2003267973A8. Автор: Benjamin P Warner,Thomasin C Miller,Cynthia A Mahan,George J Havrilla,Cyndi A Wells,Cris L Lewis. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2004-02-16.

Flow method and apparatus for screening chemicals using micro x-ray fluorescence

Номер патента: AU2003267973A1. Автор: Benjamin P. Warner,Thomasin C. Miller,George J. Havrilla,Cris L. Lewis,Cynthia A. Mahan,Cyndi A. Wells. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2004-02-16.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4184153A4. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

X-ray mapping analysis method

Номер патента: US20020186810A1. Автор: Kiyoshi Hasegawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-12.

X-ray mapping analysis method

Номер патента: US6584169B2. Автор: Kiyoshi Hasegawa. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2003-06-24.

Fluorescent x-ray analysis method and equipment

Номер патента: EP1744151B1. Автор: Hiroshi c/o Matsushita Elec. Ind. Co. Lt IWAMOTO,Yoshiyuki c/o Matsushita Elec. Ind. Co. Lt TANI,Takao c/o Matsushita Elec. Ind. Co. Lt HISAZUMI,Yukihiro c/o Matsushita Elec. Ind. Co. Lt IWATA,Etsuyoshi c/oMatsushita Elec.Ind.Co. Lt SAKAGUCHI. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2012-02-22.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5307504B2. Автор: 範昭 坂井,稔幸 高原,吉毅 的場. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5307503B2. Автор: 吉毅 的場,寛治 長沢. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: US7970101B2. Автор: Toshiyuki Takahara,Noriaki Sakai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2011-06-28.

Method of preparing slag sample for x-ray fluorescence analysis and sampler

Номер патента: EP1045239A1. Автор: Akira Kawasaki Steel Corporation YAMAMOTO,Noriko Kawasaki Steel Corporation MAKIISHI,Wataru Kawasaki Steel Corporation TANIMOTO. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 2000-10-18.

Device for closing the input opening in the sample chamber in an x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20230143497A1. Автор: Wolfgang Gehrlein. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2023-05-11.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20180106736A1. Автор: MATSUO Takashi,Kataoka Yoshiyuki,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro,HONMA Hisashi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2018-04-19.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20220178853A1. Автор: Kataoka Yoshiyuki,MORIYAMA Takao. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2022-06-09.

Wavelength dispersive x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2018061607A8. Автор: 秀一 加藤,片岡　由行,山田　隆. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2019-04-04.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2017038702A8. Автор: 山田　康治郎,真也 原,松尾　尚,片岡　由行,寿 本間. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2018-02-01.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2020202644A8. Автор: 片岡　由行,孝男 森山. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2021-10-14.

Frame accumulation scanning method for energy dispersive x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: KR20140059688A. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2014-05-16.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP3239702A4. Автор: Takashi Matsuo,Yoshiyuki Kataoka,Shinya Hara,Hisashi Honma,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-01-03.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP3951370B1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Takao Moriyama. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4036563B1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-03-20.

Method of preparing slag sample for x-ray fluorescence analysis and sampler

Номер патента: CN1287615A. Автор: 槙石规子,谷本亘,山本公. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 2001-03-14.

Method for the measurement of a measurement object by means of X-ray fluorescence

Номер патента: US09885676B2. Автор: Volker Roessiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2018-02-06.

X-ray fluorescence analyzer with adjustable X-ray irradiation area

Номер патента: KR20220113001A. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2022-08-12.

Combined confocal X-ray fluorescence and X-ray computerised tomographic system and method

Номер патента: US9739729B2. Автор: Michael Feser,Srivatsan Seshadri. Владелец: Carl Zeiss X Ray Microscopy Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Combined confocal x-ray fluorescence and x-ray computerised tomographic system and method

Номер патента: EP2893331A1. Автор: Michael Feser,Srivatsan Seshadri. Владелец: Carl Zeiss X Ray Microscopy Inc. Дата публикации: 2015-07-15.

Diffraction analysis device and method for realizing full-field X-ray fluorescence imaging analysis

Номер патента: CN114720496B. Автор: 王鹏,何�泽,王跃,黄宁,陈子晗,许元军,安竹. Владелец: Sichuan University. Дата публикации: 2022-08-26.

Pressed powder sample measurements using x-ray fluorescence

Номер патента: EP3413038B1. Автор: Bruno Alfred Robert Vrebos,Dick Kuiper,Saskia Maria Angela Beerkens. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2021-03-17.

Electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: GB201314322D0. Автор: . Владелец: Element Six Ltd. Дата публикации: 2013-10-30.

In-situ electrochemical depostion and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: GB201314324D0. Автор: . Владелец: Element Six Ltd. Дата публикации: 2013-09-25.

Noise characteristic analysis method for x-ray fluorescence spectrum

Номер патента: KR101273714B1. Автор: 이재환,박동선,천선일,양상훈. Владелец: 전북대학교산학협력단. Дата публикации: 2013-06-12.

APPARATUS FOR SELECTING PRODUCTS ON THE BASIS OF THEIR COMPOSITION BY X RAY FLUORESCENT SPECTROSCOPY AND CORRESPONDING SELECTION METHOD

Номер патента: US20210063328A1. Автор: "PITTA Giuseppe",AMENDUNI Massimo,ZONA Mauro. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER

Номер патента: US20220357292A1. Автор: PARK Jeong Goun. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-10.

Method for aligning for spectrum module of wavelength dispersive x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: KR101769709B1. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2017-08-18.

X-ray fluorescence analyser for analysing fluid streams using a semiconductor-type detector and focusing means

Номер патента: WO2003048745A3. Автор: Ian Radley,Zewu Chen,Thomas J Bievenue,Brian W Gallagher,Stuart M Shakshober,Michael D Moore,Jr John H Burdett. Владелец: Jr John H Burdett. Дата публикации: 2004-02-12.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: US10800315B2. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Bly IP Inc. Дата публикации: 2020-10-13.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4112376A3. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2023-04-05.

Enhanced chemical characterization of solid matrices using x-ray fluorescence and optical color reflectance

Номер патента: WO2021183183A1. Автор: David C. WEINDORF,Somsubhra CHAKRABORTY. Владелец: Texas Tech University System. Дата публикации: 2021-09-16.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP3933391A4. Автор: Jeong Goun Park. Владелец: Isp Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-14.

X-Ray Fluorescence Measurement Apparatus

Номер патента: US20210018453A1. Автор: Kinugasa Genki. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

Methods for measuring analyte transport across barriers using x-ray fluorescence

Номер патента: US20150198615A1. Автор: Benjamin P. Warner,Rebecca L. Miller,Lori J. Peterson,Eva R. Birnbaum,Jennifer A. Berger. Владелец: Xrpro Sciences Inc. Дата публикации: 2015-07-16.

METHOD AND SYSTEM FOR X-RAY FLUORESCENCE (XRF) ANALYSIS OF EXPLORATION SAMPLES

Номер патента: US20190234890A1. Автор: LINTERN Melvyn. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-01.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP6797421B2. Автор: 康治郎 山田,山田　康治郎,真也 原,松尾　尚,尚 松尾. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-12-09.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JPWO2020008727A1. Автор: 直樹 松嶋,尾形　潔,潔 尾形,和彦 表,正 吉原,秀一 加藤,表　和彦,本野　寛,寛 本野,松嶋　直樹. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-07-08.

High speed sorting of iron ores - using radioactive source to produce X-ray fluorescence due to iron and calcium

Номер патента: FR2271880A1. Автор: . Владелец: Institut de Recherches de la Siderurgie Francaise IRSID. Дата публикации: 1975-12-19.

High speed materials sorting using x-ray fluorescence

Номер патента: WO2001022072A1. Автор: Charles E. Roos,Edward J. Sommer, Jr.,Robert H. Parrish,David B. Spencer. Владелец: SPECTRAMET, LLC. Дата публикации: 2001-03-29.

Sorting of steels by X=ray fluorescence - where emitted radiation is fed into detector producing electric signals analysed in electronic comparator circuit

Номер патента: FR2432898A1. Автор: Maurice Wanin,Christian Barouillet. Владелец: Institut de Recherches de la Siderurgie Francaise IRSID. Дата публикации: 1980-03-07.

SYSTEM AND METHODS FOR COMPUTER-ASSISTED LAMINOGRAM X-RAY FLUORESCENCE IMAGING

Номер патента: DE112020004169T5. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ,Benjamin Donald STRIPE,Jia Yun Lewis Sylvia. Владелец: Sigray Inc. Дата публикации: 2022-05-25.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP7190749B2. Автор: 由行 片岡,泰彦 名越. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-12-16.

In-situ electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: GB2506736B. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson. Владелец: Element Six Ltd. Дата публикации: 2014-09-24.

Method for the measurement of a measurement object by means of X-ray fluorescence

Номер патента: KR102264842B1. Автор: 닥터 볼케르 뢰씨거. Владелец: 헬무트 휘셔 게엠베하 인스티투트 휘어 엘렉트로닉 운트 메쓰테크닉. Дата публикации: 2021-06-16.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP2021188961A. Автор: Kenji Sato,賢治 佐藤. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-12-13.

X-ray analysis system and x-ray analysis method

Номер патента: EP3757557A1. Автор: Hideyuki Takahashi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-12-30.

X-Ray Analysis System and X-Ray Analysis Method

Номер патента: US20200393393A1. Автор: Hideyuki Takahashi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-12-17.

X-ray fluorescence analyzing system

Номер патента: US09989484B2. Автор: Hiroyuki Kawakami,Motoyuki Yamagami. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4063841A1. Автор: Shinya Hara,Yasujiro Yamada,Hisashi HOMMA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-09-28.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20230044361A1. Автор: Shinya Hara,Yasujiro Yamada,Hisashi HOMMA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-02-09.

X-ray fluorescence analyzing system

Номер патента: US20160299089A1. Автор: Hiroyuki Kawakami,Motoyuki Yamagami. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-10-13.

X-ray fluorescence analyzer and method of displaying sample thereof

Номер патента: US09829447B2. Автор: Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

System and method for characterizing a film by x-ray photoelectron and low-energy x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: EP2761284A1. Автор: David A. Reed,Rodney Smedt,Bruno W. Schueler,Jeffrey Thomas FANTON. Владелец: Revera Inc. Дата публикации: 2014-08-06.

Hand tool and mobile device for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2680864C2. Автор: Удо ГАЙЕР,Бернхард НЕНЗЕЛЬ. Владелец: Хельмут Фишер Гмбх Институт Фюр Электроник Унд Месстекник. Дата публикации: 2019-02-28.

X-ray fluorescence analyzer, and control method for x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4166938A1. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-04-19.

X-ray fluorescence spectrometer and control method for x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11698352B2. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-07-11.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20240328971A1. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

X-ray fluorescence analyzer and measurement position adjusting method therefore

Номер патента: US09791392B2. Автор: Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

X-ray Fluorescence Analyzer With Safety Features

Номер патента: US20150085976A1. Автор: Mikko Järvikivi,Jarmo Leino. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2015-03-26.

Apparatus and method for x-ray fluorescence imaging

Номер патента: US20240280519A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Apparatus and method for x-ray fluorescence imaging

Номер патента: EP4430386A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20230296541A1. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Apparatus and method for x-ray fluorescence imaging

Номер патента: WO2023077494A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2023-05-11.

Method and measuring device for measuring objects by means of x-ray fluorescence

Номер патента: US20230127587A1. Автор: Martin LEIBFRITZ. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2023-04-27.

Resolution control in x-ray fluorescence spectroscopy systems

Номер патента: US20170168172A1. Автор: Bryan John CROSBY. Владелец: Thermo Gamma Metrics Pty Ltd. Дата публикации: 2017-06-15.

Sample holder for x-ray diffraction analysis and x-ray diffraction analysis method using the same

Номер патента: US20240044818A1. Автор: Sang Heon Lee,Yun Sung Kim,Hae Ryoung Kim,Ga Hyeon Im,Kyu Joon Lee,Yoon Kwang LEE,Byeong Hyeon LEE,Jae Pyoung AHN,Hyun Woo Gong. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

X-ray scattering apparatus and x-ray scattering method

Номер патента: EP4348229A1. Автор: Peter Hoghoj,Pierre Panine,Karsten Joensen. Владелец: Xenocs Sas. Дата публикации: 2024-04-10.

X-ray scattering apparatus and x-ray scattering method

Номер патента: WO2022248471A1. Автор: Peter Hoghoj,Pierre Panine,Karsten Joensen. Владелец: Xenocs Sas. Дата публикации: 2022-12-01.

X-ray scattering apparatus and x-ray scattering method

Номер патента: US20240248050A1. Автор: Peter Hoghoj,Pierre Panine,Karsten Joensen. Владелец: Xenocs Sas. Дата публикации: 2024-07-25.

X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS METHOD AND X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20180356354A1. Автор: DOI Shuuichi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-12-13.

X-ray diffraction analysis method and X-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: US10712294B2. Автор: Shuuichi DOI. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-07-14.

Source productivity assay integrating pyrolysis data and X-ray diffraction data

Номер патента: US11885790B2. Автор: David Jacobi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-01-30.

Source productivity assay integrating pyrolysis data and x-ray diffraction data

Номер патента: US20230184737A1. Автор: David Jacobi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-06-15.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: US20230280292A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Wavelength dispersive x-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analyzing method using the same

Номер патента: WO2018061608A8. Автор: 一 藤村,秀一 加藤,片岡　由行,山田　隆. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2018-07-26.

Wavelength-dispersive x-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analysing method using the same

Номер патента: EP3521814B1. Автор: Takashi Yamada,Shuichi Kato,Hajime Fujimura,Yoshiyuki Kataoka. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-08-03.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER WITH A PLURALITY OF MEASUREMENT CHANNELS, AND A METHOD FOR PERFORMING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20210255122A1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-08-19.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, AND A METHOD FOR PERFORMING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20210255123A1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-08-19.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4251981A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4224155A1. Автор: Kenji Kodama,Makoto Doi,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-08-09.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20230393084A1. Автор: Kenji Kodama,Makoto Doi,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4224155A4. Автор: Kenji Kodama,Makoto Doi,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11921065B2. Автор: Kenji Kodama,Makoto Doi,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4063841A4. Автор: Shinya Hara,Yasujiro Yamada,Hisashi HOMMA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-01-25.

X-ray fluorescence inspection apparatus and fluorescence x-ray inspection method

Номер патента: JP5553300B2. Автор: 篤士 永田,哲 中山,喜春 白川部,良知 中川,毅 梅基,克巳 夏井,まゆ 渡邉. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2014-07-16.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: TW202221316A. Автор: 曹培炎,劉雨潤. Владелец: 大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司. Дата публикации: 2022-06-01.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4251981A4. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

MULTIPLEXING X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20170082562A1. Автор: GENDREAU KEITH C.,ARZOUMANIAN ZAVEN,BAKER ROBERT G.,DOBSON NORMAN,KOENECKE RICHARD. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP7190751B2. Автор: 康治郎 山田,真也 原,真 堂井,憲治 児玉. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-12-16.

Analysis method for obtaining XPS and AES and elements in each chemical bonding state and X-ray photoelectron spectroscope for same

Номер патента: US09945797B2. Автор: Masahide Shima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

X-ray fluorescence analyzer, and control method for x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4166938B1. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

X-ray fluorescence analysis device

Номер патента: EP4174479A4. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

A X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: KR101716860B1. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2017-03-27.

X-ray fluorescence analyzer, and control method for x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4166938A4. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

Handheld instrument as well as mobile device for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA2898059A1. Автор: Udo Geier,Bernhard Dr. Nensel. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2016-02-01.

Handheld instruments and mobile devices for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: JP6698287B2. Автор: ガイヤー，ウド,ネンゼル，ドクター・ベルンハルト. Владелец: ヘルムート・フィッシャー・ゲーエムベーハー・インスティテュート・フューア・エレクトロニク・ウント・メステクニク. Дата публикации: 2020-05-27.

DETECTOR FOR X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20210255342A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-19.

X-ray fluorescence analyzer with safety features

Номер патента: US9310324B2. Автор: Mikko Järvikivi,Jarmo Leino. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2016-04-12.

Resolution control in x-ray fluorescence spectroscopy systems

Номер патента: US20170168172A1. Автор: Bryan John CROSBY. Владелец: Thermo Gamma Metrics Pty Ltd. Дата публикации: 2017-06-15.

DETECTOR FOR X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200249364A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-06.

X-RAY FLUORESCENCE DEVICE CALIBRATION

Номер патента: US20160341677A1. Автор: Camara Carlos,Valentine Mark G.,Wong Eric W.,He Tianqing,Cuadra Dan,Om German,Kotowski Andy,Harper Justen. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-24.

X-ray fluorescence spectrometer and X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US09448191B2. Автор: Koichi Muraoka,Tadashi Utaka. Владелец: Techno-X Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

X-ray fluorescence analysis method and X-ray fluorescence analysis system

Номер патента: US09945796B2. Автор: Eisaku Terashita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

X-ray fluorescent analysis method with calibration by the one-element samples

Номер патента: RU2682143C1. Автор: Борис Дмитриевич Калинин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ). Дата публикации: 2019-03-14.

Wave dispersive x-ray fluorescence system using focusing optics for stimulation and focusing monochromator for collection

Номер патента: RU2339974C2. Автор: Зеву ЧЕН,Дэвид М. ГИБСОН. Владелец: Икс-Рэй Оптикал Системз, Инк.. Дата публикации: 2008-11-27.

Optical mirror, x-ray fluorescence analysis device and method for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA2899081C. Автор: Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2021-04-06.

Device for waveguide-resonance x-ray fluorescence element analysis

Номер патента: RU2706445C1. Автор: Владимир Александрович Елохин,Валерий Николаевич Соколов,Валерий Иванович Николаев,Алексей Сергеевич Бахвалов. Владелец: Акционерное общество "Научные приборы". Дата публикации: 2019-11-19.

Optical mirror, X-ray fluorescence analysis device, and method for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US9880329B2. Автор: Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2018-01-30.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: CA2789312A1. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2011-08-18.

Total reflection X-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: US11796495B2. Автор: Makoto Doi,Shinya KIKUTA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: US20230288353A1. Автор: Makoto Doi,Shinya KIKUTA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US09612214B2. Автор: Haruo Takahashi,Toshiyuki Takahara,Isao Yagi,Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Surface processing method effected for total-reflection X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US5686314A. Автор: Kunihiro Miyazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1997-11-11.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: CA3200197A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Bly IP Inc. Дата публикации: 2022-06-02.

X-ray fluorescence flux composition

Номер патента: EP1585980A1. Автор: David Brown,Keith Norrish. Владелец: X Ray Flux Pty Ltd. Дата публикации: 2005-10-19.

Method for preparing samples for spectrometric analysis by x-ray fluorescence

Номер патента: EP4361617A1. Автор: Andrea Franciscono,Simona Rollet. Владелец: Cogne Acciai Speciali SpA. Дата публикации: 2024-05-01.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: WO2022115519A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Bly Ip Inc.. Дата публикации: 2022-06-02.

Ammunition detection using x-ray fluorescence

Номер патента: WO2023225329A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corporation. Дата публикации: 2023-11-23.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: US20240019386A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Veracio Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: EP4252267A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2023-10-04.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: AU2021386382A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Boart Longyear Co. Дата публикации: 2023-07-13.

Method of x-ray fluorescent gold determination

Номер патента: RU2662049C1. Автор: Елена Анатольевна Лейтес,Кирилл Сергеевич Колбанцев. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Алтайский государственный университет". Дата публикации: 2018-07-23.

Sample cell for fluid sample and x-ray fluorescence analyzer and analysis method using same

Номер патента: EP4296657A1. Автор: Tsuneo Sato,Masaki Tatsumi,Yuki Kanazawa. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-12-27.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255443A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Standard sample preparation method for x-ray fluorescence analysis of heavy metal in plastic

Номер патента: KR100507752B1. Автор: 권오준,김종선,최미애,박제명. Владелец: 삼성토탈 주식회사. Дата публикации: 2005-08-11.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20230400423A1. Автор: Tsutomu Tada,Hajime Fujimura,Licai Jiang,Masahiro Nonoguchi,Boris Verman,Kazuhiko Omote,Yuriy Platonov,Makoto Kambe,Toshifumi Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11867646B2. Автор: Tsutomu Tada,Hajime Fujimura,Licai Jiang,Masahiro Nonoguchi,Boris Verman,Kazuhiko Omote,Yuriy Platonov,Makoto Kambe,Toshifumi Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-09.

Method for preparing glassy borate disks for instrumental analysis and in particular for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA1312743C. Автор: Georgi Angelov Panayotov. Владелец: Geologicheski Institute. Дата публикации: 1993-01-19.

Method for preparing glassy borate disks for instrumental analysis and in particular for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: AU7593587A. Автор: Georgi Angelov Panayotov. Владелец: Geologicheski Institute. Дата публикации: 1988-02-18.

Method for preparing glassy borate disks for instrumental analysis and in particular for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: AU595347B2. Автор: Georgi Angelov Panayotov. Владелец: Geologicheski Institute. Дата публикации: 1990-03-29.

Total reflection x-ray fluorescence apparatus

Номер патента: CA2028003C. Автор: Kazuo Nishihagi,Michihisa Kyoto,Tetsuya Ohsugi. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 1999-01-26.

Method and system for X-ray fluorescence (XRF) analysis of exploration samples

Номер патента: AU2017245397B2. Автор: Melvyn LINTERN. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2018-10-18.

SYSTEM AND METHOD FOR COMPUTED LAMINOGRAPHY X-RAY FLUORESCENCE IMAGING

Номер патента: US20210080408A1. Автор: Yun Wenbing,Lewis Sylvia Jia Yun,Kirz Janos,Stripe Benjamin Donald. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5998666B2. Автор: 健二 野村,野村　健二. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-09-28.

X-ray fluorescence analyzer and a method for performing an x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US11815480B2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2023-11-14.

Protective mark and x-ray device for reading thereof

Номер патента: RU2688240C1. Автор: Александр Георгиевич Турьянский. Владелец: Александр Георгиевич Турьянский. Дата публикации: 2019-05-21.

X-ray diffraction apparatus and x-ray diffraction method

Номер патента: RU2449262C2. Автор: Хидео ТОРАЯ. Владелец: Ригаку Корпорейшн. Дата публикации: 2012-04-27.

Cell for x-ray analysis and x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20190145915A1. Автор: Masao Kimura,Yasuhiro Onishi,Ken'ichi Kimijima,Daiji Asahara. Владелец: Inter University Research Institute Corp High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2019-05-16.

Single crystal quartz chips for protein crystallization and X-ray diffraction data collection and related methods

Номер патента: US09632042B2. Автор: ZHONG Ren. Владелец: Renz Research Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Microcrystal structure analysis device, microcrystal structure analysis method, and x-ray shield device

Номер патента: US20150010132A1. Автор: Fumiko Kimura,Tsunehisa Kimura,Chiaki Tsuboi. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2015-01-08.

Information processing apparatus, information processing method, nontransitory computer readable media storing program, and x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20230194443A1. Автор: Akihiro Himeda,Takumi Ohta. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

X-ray imaging device and x-ray imaging method

Номер патента: RU2510048C1. Автор: Масатоси ВАТАНАБЕ,Тайхей МУКАЙДЕ,Кадзухиро ТАКАДА,Кадзунори ФУКУДА,Такаси НОМА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2014-03-20.

Scintillator unit comprising absorbing x-rays shell and x-ray detector matrix having such scintillator unit

Номер патента: RU2605520C2. Автор: Симха ЛЕВЕН,ЛАТ Антониус Вильхельмус Мария ДЕ,Рафаэль ГОШЕН,Герардус Францискус Корнелис Мария ЛИЙТЕН,ВЕН Николас Йоханнес Антониус ВАН,Лев ГРЕГОРИАН. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2016-12-20.

Dual neutron and x ray imaging

Номер патента: WO2024018249A1. Автор: Serge Duarte Pinto,Dmitriy Sergeevich TIPIKIN. Владелец: PHOTONIS FRANCE. Дата публикации: 2024-01-25.

X-ray generator and x-ray imaging apparatus

Номер патента: WO2013032019A1. Автор: Kazuyuki Ueda,Yoshihiro Yanagisawa,Ichiro Nomura,Shigeki Matsutani,Miki Tamura,Takao Ogura,Tamayo Hiroki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-03-07.

Novel Objective for EUV Microscopy, EUV Lithography, and X-Ray Imaging

Номер патента: US20150055755A1. Автор: Kenneth W. Hill,Philip Efthimion,Manfred Bitter. Владелец: PRINCETON UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-02-26.

X-ray detector device, glass body for shielding optical detector means of a workpiece measuring device, and X-ray tomography workpiece measuring system

Номер патента: US11953453B2. Автор: Martin Simon,Severin Ebner. Владелец: Intom GmbH. Дата публикации: 2024-04-09.

X-ray generator and X-ray imaging apparatus

Номер патента: US09595415B2. Автор: Kazuyuki Ueda,Yoshihiro Yanagisawa,Ichiro Nomura,Shigeki Matsutani,Miki Tamura,Takao Ogura,Tamayo Hiroki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Quantitative analysis method, quantitative analysis program, and x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4033231B1. Автор: Shin Tanaka. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

X-ray fluorescence analysis method and x-ray fluorescence analysis device

Номер патента: CN105637352A. Автор: 寺下卫作. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-06-01.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND CONTROL METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20220349847A1. Автор: YAMAMOTO Yoshihisa,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-03.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20160258887A1. Автор: TERASHITA Eisaku. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2016-09-08.

Method for calibrating an X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: SE1551044A1. Автор: Johansson Kurt,ERICSSON Kent. Владелец: MULTISCAT AB. Дата публикации: 2017-01-29.

Method for calibrating an x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2017018923A1. Автор: Curt Johansson,Kent ERICSSON. Владелец: MULTISCAT AB. Дата публикации: 2017-02-02.

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD, QUANTITATIVE ANALYSIS PROGRAM, AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20220050068A1. Автор: Tanaka Shin. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-17.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20130101085A1. Автор: Kobayashi Hiroshi,Kita Hiroaki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2013-04-25.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20190072504A1. Автор: Kato Shuichi,Yamada Takashi,Kataoka Yoshiyuki,FUJIMURA Hajime. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-07.

GRAZING INCIDENCE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND GRAZING INCIDENCE X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20170284949A1. Автор: Yamada Takashi,OMOTE Kazuhiko. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-10-05.

OPTICAL MIRROR, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS DEVICE, AND METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20150362639A1. Автор: Rossiger Volker. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-17.

X-ray fluorescence analyzer and x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: WO2017169247A1. Автор: 表　和彦,山田　隆,和明 奥田. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2017-10-05.

X-Ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN104076052A. Автор: 田村浩一,高桥春男,广瀬龙介,的场吉毅. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2014-10-01.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: IL301033B1. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-01.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: IL301033B2. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Method for calibrating and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: SE539014C2. Автор: Johansson Kurt,ERICSSON Kent. Владелец: MULTISCAT AB. Дата публикации: 2017-03-21.

Light-burned magnesium ball high-temperature melting X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: CN112649456A. Автор: 刘秀秀,黄建国,席云荣,邵海秀,何际多. Владелец: Shandong Laigang Yongfeng Steel and Iron Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-13.

Device for x-ray fluorescent analysis of concentrating production pulps

Номер патента: RU2624096C1. Автор: Алексей Владимирович Зимин,Алексей Викторович Седов,Алексей Алексеевич Трушин,Александр Леонидович Поздняков,Владимир Иванович Вишневский,Артур Александрович Германов. Владелец: Совместное предприятие в форме закрытого акционерного общества "Изготовление, внедрение, сервис". Дата публикации: 2017-06-30.

Borate glass used as flux in making beads used in X-ray fluorescence analysis, contains small percentage of germanium oxide

Номер патента: FR2849650A1. Автор: Gérard Lang. Владелец: Gérard Lang. Дата публикации: 2004-07-09.

Device for x-ray-fluorescent analysis of materials with flux generation by flat x-ray waveguide-resonator

Номер патента: RU2555191C1. Автор: Евгений Матвеевич Лукьянченко,Владимир Константинович Егоров,Евгений Владимирович Егоров,Вячеслав Николаевич Руденко. Владелец: Вячеслав Николаевич Руденко. Дата публикации: 2015-07-10.

Device and method for depth resolution of particle-excited X-ray fluorescence analysis

Номер патента: CN110208302B. Автор: 王广甫,仇猛淋. Владелец: Beijing Normal University. Дата публикации: 2021-03-23.

Adjusting unit for an x-ray optical element in an x-ray fluorescence system, and x-ray fluorescence system

Номер патента: WO2023174596A1. Автор: Bruno Schroth. Владелец: Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik. Дата публикации: 2023-09-21.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20130294577A1. Автор: Kataoka Yoshiyuki,Inoue Hisashi,Kawakyu Kosuke. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2013-11-07.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20160116424A1. Автор: Furukawa Hiroaki,KOBAYASHI Kanji. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2016-04-28.

X-Ray Fluorescence Spectrometer

Номер патента: US20140294143A1. Автор: MATOBA Yoshiki,SAKAI Noriaki,TAKEUCHI Toshitada,Nohara Hiroaki. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-02.

X-Ray Fluorescence Spectrometer

Номер патента: US20140294145A1. Автор: Takahashi Haruo,MATOBA Yoshiki,HIROSE Ryusuke,Tamura Koichi. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-02.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: DE2642637C2. Автор: Kliment Vladislavovič Anisovič,Nikolai Ivanovič Leningrad Komyak. Владелец: LE N- PROIZV OB EDINENIE BUREVESTNIK LE. Дата публикации: 1982-02-11.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2020066100A1. Автор: 剛志 秋山. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2020-04-02.

System and method for improved measurement of peak intensities in pulse height spectra obtained by wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: EP4220143B1. Автор: Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2023-12-27.

Automatic change intelligent integral type X ray fluorescence spectrum appearance

Номер патента: CN114935581B. Автор: 陈强,蔡帆,卢志奋,喻奉波,蒋朝蓉,林友福. Владелец: Shenzhen Keyu Instrument Co ltd. Дата публикации: 2023-01-17.

Electrochemical deposition and spectroscopic analysis methods and apparatus using diamond electrodes

Номер патента: EP2710357A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson,Patrick Robert Unwin. Владелец: Element Six Ltd. Дата публикации: 2014-03-26.

Electrochemical deposition and spectroscopic analysis methods and apparatus using diamond electrodes

Номер патента: US20140069815A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson,Patrick Robert Unwin. Владелец: Element Six Ltd. Дата публикации: 2014-03-13.

Electrochemical deposition and spectroscopic analysis methods and apparatus using diamond electrodes

Номер патента: WO2012156307A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson,Patrick Robert Unwin. Владелец: ELEMENT SIX LIMITED. Дата публикации: 2012-11-22.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20160146745A1. Автор: TAKAHARA Toshiyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

HANDHELD INSTRUMENT AS WELL AS MOBILE DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20160033429A1. Автор: Geier Udo,Nensel Bernhard. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20210088459A1. Автор: Kita Hiroaki,KURITA Seiitsu. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20150177167A1. Автор: TANAKA Keiichi,ODAWARA Akikazu. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

Apparatus and Method for X-ray Fluorescence Analysis

Номер патента: US20220365008A1. Автор: Youhong Xiao,Bruno Vrebos,Lieven Kempenaers. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-11-17.

Production device and Production Method of High-purity And High-density Lithium Borate for X-ray Fluorescence Analysis

Номер патента: AU2017202143B1. Автор: Wenjun BAN,Rongfu CAI,Qiang MENG. Владелец: Chengdu Chemphys Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-01.

Method for x-ray fluorescence analysis of concentration of elementary composition of substance

Номер патента: RU2753164C1. Автор: Сергей Владимирович Саркисов,Андрей Анатольевич Гордеев,Роман Витальевич Аниськов,Андрей Аркадьевич Игнатьев,Суад Зухер Черемисин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное объединение "АМБ". Дата публикации: 2021-08-12.

Sample cell for fluid sample and x-ray fluorescence analyzer and analysis method using same

Номер патента: US20230417691A1. Автор: Tsuneo Sato,Masaki Tatsumi,Yuki Kanazawa. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Non-synchrotron radiation micro-X-ray fluorescence CT imaging system and method

Номер патента: CN105842267A. Автор: 何鹏,冯鹏,魏彪,邓露珍,蒋上海,陈绵毅. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2016-08-10.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: CN105277579A. Автор: 高桥春男,八木勇夫,广濑龙介,高原稔幸. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-01-27.

Sample Plate for X-Ray Analysis and X-Ray Fluorescent Analyzer

Номер патента: US20160011129A1. Автор: SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2016-01-14.

COMBINED CONFOCAL X-RAY FLUORESCENCE AND X-RAY COMPUTERISED TOMOGRAPHIC SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20150253263A1. Автор: Seshadri Srivatsan,Feser Michael. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-10.

Detector for X-ray fluorescence

Номер патента: CN111226137A. Автор: 曹培炎,刘雨润. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-02.

A kind of x-ray fluorescence imaging device of on-line measurement strip coating thickness

Номер патента: CN105758345B. Автор: 王兴东,刘钊,孔建益,徐巍,邹光明,刘源炯,刘宗赣. Владелец: Wuhan University of Science and Engineering WUSE. Дата публикации: 2018-06-05.

Table type X ray fluorescent element component detection apparatus

Номер патента: CN106198590B. Автор: 李福生. Владелец: Tec Sonde Energy Technology And Service Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-30.

Method for measuring weight of zinc layer by X-ray fluorescence method

Номер патента: CN114047213A. Автор: 李娟�,王莉,崔晨,李永武,王曼娟. Владелец: Maanshan Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Method for energy chromatic dispersion X-ray fluorescence spectrum detection of sulfur trioxide in cement

Номер патента: CN106053508A. Автор: 王兵,梁峙,吴海娟,姜振军,黄臻,毛敏明,王金砖,夏前峰. Владелец: Nanjing Product Quality Supervision and Inspection Institute. Дата публикации: 2016-10-26.

A kind of X-ray fluorescence spectra analysis method of the noble metal component containing coating

Номер патента: CN110530912A. Автор: 刘建红,胡晓春,林哲琼. Владелец: National Jewelry Testing Center (guangdong) Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-03.

Analysis method for measuring contents of calcium oxide, silicon dioxide and sulfur in granular ash or active ash by utilizing X-ray fluorescent spectrometry method

Номер патента: CN106053507A. Автор: 刘凯,杨红,胡涛,崔隽,沈克,曾莹,贾丽晖,古兵平,关晖. Владелец: Wuhan Iron and Steel Corp. Дата публикации: 2016-10-26.

Self-adaptive background subtraction method for X-ray fluorescence spectrum

Номер патента: CN112801936B. Автор: 李福生,程惠珠,赵彦春,何星华,张智泉. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2022-07-29.

METHOD FOR DETERMINING THE MASS CONCENTRATION OF TOTAL IRON IN FLOW WATER AND WATER OF OIL AND GAS CONDENSATE DEPOSITS BY X-RAY FLUORESCENT METHOD

Номер патента: RU2019143782A. Автор: Алексей Иванович Ларюхин,Людмила Николаевна Еремина,Марина Анатольевна Катаева,Евгений Мирославович Марчук. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Газпром добыча Уренгой". Дата публикации: 2021-06-23.

A method for improving linearity of a Fe element content working curve of flash converting slag measured by X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN106383136A. Автор: 王勇,王纪华,殷昕,唐书天,史光源. Владелец: Jinchuan Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-08.

X-ray fluorescence analyzer.

Номер патента: MX2012009743A. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2013-02-27.

Method and apparatus for detecting boron in x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: AU2003270076A1. Автор: Yuriy Platonov. Владелец: Osmic Inc. Дата публикации: 2004-03-29.

Method and apparatus for detecting boron in x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: EP1535289B1. Автор: Yuriy Platonov. Владелец: Osmic Inc. Дата публикации: 2006-05-03.

Methods of detection using x-ray fluorescence

Номер патента: EP3681504B1. Автор: Nathan ZAHLER,Jonathan THEILE. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2023-08-23.

The method that X-ray fluorescence method determines pit ash

Номер патента: CN106990130A. Автор: 刘玉兵,韩蔚,戴平,田骏,卢娟娟,马振珠,邓赛文. Владелец: China Building Material Test and Certification Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-28.

Method for rapidly delineating titanium deposit based on handheld X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: CN111458363A. Автор: 陈鑫,白杰,郑有业,许荣科. Владелец: China University of Geosciences. Дата публикации: 2020-07-28.

For the submerged arc welding flux standard sample and preparation method of X-ray fluorescence spectra analysis

Номер патента: CN108195865A. Автор: 韩丽,郑永超,蒋春宏,卜兆杰,王晓旋,苏斯燕,陶泽秀. Владелец: Lanzhou Lanshi Detection Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-22.

A kind of method that MTG YBCO bulk-x-ray fluorescence measures alloying element in ferrotianium

Номер патента: CN109358082A. Автор: 王海,赵宁,王长军,孙炜,柳东徽,王一海,汤兰兰,刘素祥,潘宇洁. Владелец: Nanjing Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-19.

Method for measuring thermoplastic ash content by wavelength dispersion X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN110596170A. Автор: 秦超,郭凡,王学智,陈方园,张坤龙,柳盛,王行连. Владелец: Coal Yulin Derived Energy Chemical Co Ltd During Shaanxi Extends. Дата публикации: 2019-12-20.

Sample preparation equipment for X-ray fluorescence spectrum micro powder sample

Номер патента: CN107132243B. Автор: 刘向辉,权北北,季首华,邹龙江,张环月. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2023-07-18.

Utilize the method that landwaste X-ray fluorescence spectra feature carries out being layered card layer

Номер патента: CN106124545A. Автор: 李立,魏建强,罗谋兵,杨廷红. Владелец: CNPC Chuanqing Drilling Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-16.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND MEASUREMENT POSITION ADJUSTING METHOD THEREFORE

Номер патента: US20160069827A1. Автор: YAGI Isao. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-10.

SYSTEM AND METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE WITH FILTERING

Номер патента: US20200072770A1. Автор: Yun Wenbing,Lewis Sylvia Jia Yun,Kirz Janos,Stripe Benjamin Donald. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

ELECTROCHEMICAL DEPOSITION AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY

Номер патента: US20150204805A1. Автор: Mollart Timothy Peter,Newton Mark Edward,MacPherson Julie Victoria. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

LUBRICANT ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20160202194A1. Автор: LEES John,BASSFORD David,BARNETT Anna. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-14.

METHOD FOR ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150276632A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,MORTILLARO Camaron A.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.. Владелец: XRPRO SCIENCES, INC.. Дата публикации: 2015-10-01.

Methods of detection using x-ray fluorescence

Номер патента: WO2019055754A1. Автор: Nathan ZAHLER,Jonathan THEILE. Владелец: ICAGEN, INC.. Дата публикации: 2019-03-21.

System and method for x-ray fluorescence with filtering

Номер патента: WO2020051061A1. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ,Benjamin Donald STRIPE,Sylvia Jia Yun LEWIS. Владелец: Sigray, Inc.. Дата публикации: 2020-03-12.

Element-specific x-ray fluorescence microscope using multiple imaging systems comprising a zone plate

Номер патента: WO2003102564A3. Автор: Wenbing Yun,Kenneth W Nill. Владелец: Kenneth W Nill. Дата публикации: 2004-03-18.

Method and device for analyzing samples using X-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: DE19843229A1. Автор: Juergen Schmalz,Norbert Langhoff. Владелец: IFG INST fur GERAETEBAU GmbH. Дата публикации: 2000-04-20.

In-situ determination of thin film and multilayer structure and chemical composition using x-ray fluorescence induced by grazing incidence electron beams during thin film growth

Номер патента: US20130216022A1. Автор: Myers,Lederman David,II Thomas Hubbard,Chandril Sandeep. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-22.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER

Номер патента: US20180031497A1. Автор: Shannon,JR. Robert Francis,GU Jiyan,Parks Brian Scott,Burton Robert Matthew,Doyle Lance Thompson,Vosman Fredericus,Wheeler Kenneth Dean,Kirsch Michael Scott. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-01.

X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM WITH HIGH FLUX AND HIGH FLUX DENSITY

Номер патента: US20170047191A1. Автор: Yun Wenbing,Lewis Sylvia Jia Yun,Kirz Janos. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-16.

ENHANCED CHEMICAL CHARACTERIZATION OF SOLID MATRICES USING X-RAY FLUORESCENCE AND OPTICAL COLOR REFLECTANCE

Номер патента: US20210080443A1. Автор: Weindorf David,Pearson Delaina,Chakraborty Somsubhra. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

X-ray Fluorescence Analyzer With Safety Features

Номер патента: US20150085976A1. Автор: JARVIKIVI Mikko,LEINO Jarmo. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2015-03-26.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER

Номер патента: US20160161428A1. Автор: Noda Hiroyuki,MASUDA Ai,TAKAHARA Toshiyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-09.

ANGLE CALIBRATION FOR GRAZING-INCIDENCE X-RAY FLUORESCENCE (GIXRF)

Номер патента: US20150204806A1. Автор: PELED Asher,Mazor Isaac. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

IN-SITU ELECTROCHEMICAL DEPOSITION AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY

Номер патента: US20150212042A1. Автор: Mollart Timothy Peter,Newton Mark Edward,MacPherson Julie Victoria. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-30.

PROTECTIVE SHIELD FOR X-RAY FLUORESCENCE (XRF) SYSTEM

Номер патента: US20140301531A1. Автор: JR. James L.,Failla,Clifford David A.,Minter Wayne Allen. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-09.

PROTECTIVE SHIELD FOR X-RAY FLUORESCENCE (XRF) SYSTEM

Номер патента: US20140301532A1. Автор: JR. James L.,Failla,Clifford David A.,Minter Wayne Allen. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-09.

PROTECTIVE SHIELD FOR X-RAY FLUORESCENCE (XRF) SYSTEM

Номер патента: US20140301533A1. Автор: JR. James L.,Failla,Clifford David A.,Minter Wayne Allen. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-09.

SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING HYDROCARBON POTENTIAL IN A ROCK FORMATION USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150233846A1. Автор: Locklair Robert E.,Eakin Autumn,Howald Trevor V.,Horton Brendan K.,Dirkzwager Jozina. Владелец: Chevron U.S.A. INC.. Дата публикации: 2015-08-20.

METHOD FOR THE MEASUREMENT OF A MEASUREMENT OBJECT BY MEANS OF X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150247812A1. Автор: Roessiger Volker. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-03.

METHOD FOR ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150260664A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,MORTILLARO Camaron A.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.. Владелец: XRPRO SCIENCES, INC.. Дата публикации: 2015-09-17.

METHOD FOR ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150276631A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,MORTILLARO Camaron A.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.. Владелец: XRPRO SCIENCES, INC.. Дата публикации: 2015-10-01.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING SYSTEM

Номер патента: US20160299089A1. Автор: Kawakami Hiroyuki,YAMAGAMI Motoyuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2016-10-13.

DEVICE FOR SORTING MATERIALS, IN PARTICULAR SCRAP PARTICLES, BY MEANS OF X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20170328845A1. Автор: Fink Juergen,LOEFFLER Rainer. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

Total reflection of x-rays fluorescence analyzing apparatus

Номер патента: KR950010390B1. Автор: 아쯔고 구보따,노리히꼬 쯔찌야,수이찌 사마따,요시아찌 마쯔시따. Владелец: 아오이 죠이찌. Дата публикации: 1995-09-16.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP6082634B2. Автор: 浩一 田村,春男 高橋,吉毅 的場,龍介 廣瀬,高橋　春男,田村　浩一. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-02-15.

IMPULSE HEIGHT DISTRIBUTION RECORDING DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENCE FILM THICKNESS MEASURING INSTRUMENT

Номер патента: FR2499240A1. Автор: Hiroshi Ishijima,Toshiyuki Koga. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1982-08-06.

High speed materials sorting using x-ray fluorescence

Номер патента: US20030147494A1. Автор: David Spencer,Charles Roos,Edward Sommer,Robert Parrish. Владелец: Sommer Edward J.. Дата публикации: 2003-08-07.

Lubricant analysis using x ray fluorescence

Номер патента: WO2015025160A1. Автор: John Lees,David BASSFORD,Anna BARNETT. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2015-02-26.

High speed materials sorting using x-ray fluorescence

Номер патента: US20100111252A1. Автор: Charles E. Roos,Edward J. Sommer, Jr.,Robert H. Parrish,David B. Spencer. Владелец: Spectramet LLC. Дата публикации: 2010-05-06.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20230057233A1. Автор: Tetsuya Yoneda,Takuro IZUMI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Detector for x-ray fluorescence

Номер патента: EP3701288A4. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

High speed materials sorting using x-ray fluorescence

Номер патента: US20010022830A1. Автор: David Spencer,Charles Roos,Edward Sommer,Robert Parrish. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-09-20.

Method and apparatus for detecting boron in x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: EP1535289A1. Автор: Yuriy Platonov. Владелец: Osmic Inc. Дата публикации: 2005-06-01.

Analysis Method and X-Ray Photoelectron Spectroscope

Номер патента: US20170067837A1. Автор: Shima Masahide. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-09.

Analysis method and X-ray photoelectron spectrometer

Номер патента: JP6576751B2. Автор: 政英 島. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-09-18.

Analysis method and x-ray photoelectron spectroscope

Номер патента: EP3139158B1. Автор: Masahide Shima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

X-Ray Fluorescence Spectrometer and X-Ray Fluorescence Analyzer

Номер патента: US20130170613A1. Автор: MURAOKA Koichi,UTAKA Tadashi. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-04.

Grazing incidence x-ray fluorescence spectrometer and grazing incidence x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: EP3239701A4. Автор: Takashi Yamada,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-08-22.

Grazing incidence x-ray fluorescence spectrometer and grazing incidence x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: EP3239701A1. Автор: Takashi Yamada,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-11-01.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: IL302813A. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-01.

Method of producing samples for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US3546452A. Автор: Popko Reinder Dijksterhuis,Hermanus Arnoldus Verharen. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1970-12-08.

Simultaneous X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: DE19820861B4. Автор: Rainer Golenhofen. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2004-09-16.

Method for making glass-like borate sheets to instrumental analysis first of all to x-ray fluorescent analysis

Номер патента: HUT44339A. Автор: Georgi A Panajotov. Владелец: Geologicheski Inst. Дата публикации: 1988-02-29.

Method and system for x-ray fluorescence analysis (xrf) of scanning samples.

Номер патента: CL2018003874A1. Автор: Melvyn LINTERN. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2019-03-01.

X=ray fluorescence analysis of object surfaces

Номер патента: DE4406421A1. Автор: Heinrich Schwenke,Harald Schneider,Joachim Knoth,Wilhelm Dr Lahmann. Владелец: GKSS Forshungszentrum Geesthacht GmbH. Дата публикации: 1995-08-31.

Grinding aids for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: TW507005B. Автор: Frank Hoffmann,Wolfgang Martens,Manfred Wachsmann. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2002-10-21.

Method and measuring device for X-ray fluorescence measurement

Номер патента: CN110869753B. Автор: C·赫申,F·格吕纳,F·布卢门多夫. Владелец: Eichymerset Co ltd. Дата публикации: 2022-07-26.

Apparatus for preparing samples for x-ray fluorescence tests

Номер патента: CA1099826A. Автор: Gerard Willay,Andre Wittmann. Владелец: Institut de Recherches de la Siderurgie Francaise IRSID. Дата публикации: 1981-04-21.

Enhanced chemical characterization of solid matrices using x-ray fluorescence and optical color reflectance

Номер патента: US20210080443A1. Автор: Somsubhra CHAKRABORTY,David Weindorf,Delaina Pearson. Владелец: Texas Tech University System. Дата публикации: 2021-03-18.

Method and apparatus for multiple sample preparation and simultaneous loss on ignition/gain on ignition analysis, for use in X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: US09546969B2. Автор: Jose Maria Las Navas Garcia. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-17.

Sample preparation method for analyzing chemical components of quartz sandstone by X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN111855719A. Автор: 李欣,吴宏,王长军,杨红岩,韩艳丽. Владелец: Hebei Nanbo Glass Co ltd. Дата публикации: 2020-10-30.

Sample preparation method for analyzing chemical components of quartz sandstone by X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN111855719B. Автор: 李欣,吴宏,王长军,杨红岩,韩艳丽. Владелец: Hebei Nanbo Glass Co ltd. Дата публикации: 2023-03-24.

METHOD AND APPARATUS FOR MULTIPLE SAMPLE PREPARATION AND SIMULTANEOUS LOSS ON IGNITION/GAIN ON IGNITION ANALYSIS, FOR USE IN X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY

Номер патента: US20160011128A1. Автор: Las Navas Garcia Jose Maria. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-14.

Methods for measuring analyte transport across barriers using x-ray fluorescence

Номер патента: US20190064182A1. Автор: Benjamin P. Warner,Lori J. Peterson,Eva R. Birnbaum,Jennifer A. Berger,Rebecca L.E. Miller. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

ELECTRON EXCITED X-RAY FLUORESCENCE DEVICE

Номер патента: US20160341679A1. Автор: Camara Carlos. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-24.

X-Ray Fluorescence Apparatus for Contamination Monitoring

Номер патента: US20180348151A1. Автор: Wormington Matthew,Kasper Nikolai,van der Meer Juliette P.M.,Schwarcz Elad Yaacov. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

Method and system for X-ray fluorescence (XRF) analysis of exploration samples

Номер патента: US11175246B2. Автор: Melvyn LINTERN. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2021-11-16.

Portable X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3582982B2. Автор: 正雄 佐藤. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2004-10-27.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: WO2011100437A2. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2011-08-18.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER

Номер патента: US20130235974A1. Автор: Stock Tore,Ronaes Egil,Hilton Thomas. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2013-09-12.

ELECTRON EXCITED X-RAY FLUORESCENCE DEVICE

Номер патента: US20140126692A1. Автор: Camara Carlos. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-08.

Electron source and X-ray fluorescence analyser using an electron source

Номер патента: US20150060663A1. Автор: Sipilä Heikki Johannes,FEDKOV Evgeny,SEREBRIAKOV Aleksandr. Владелец: FENNO-AURUM OY. Дата публикации: 2015-03-05.

PROTECTIVE SHIELD FOR X-RAY FLUORESCENCE (XRF) SYSTEM

Номер патента: US20140301530A1. Автор: JR. James L.,Failla,Clifford David A.,Minter Wayne Allen. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-09.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20150362445A1. Автор: Haruo Takahashi,Toshiyuki Takahara,Isao Yagi,Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-12-17.

METHOD FOR DETECTION OF SOIL HEAVY METAL POLLUTION USING UNMANNED AERIAL VEHICLE (UAV) AND X-RAY FLUORESCENCE (XRF) TECHNOLOGY

Номер патента: US20220365007A1. Автор: YANG Hao,Huang Fang,PENG Shuying,CHEN Shengyi. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-17.

SAMPLE ENRICHMENT PROCESS FOR X-RAY FLUORESCENCE TRACE ANALYSIS

Номер патента: FR2388271A1. Автор: . Владелец: KERNENERGIEVERWERT GES fur. Дата публикации: 1978-11-17.

Method and system for x-ray fluorescence (xrf) analysis of exploration samples

Номер патента: WO2018000046A1. Автор: Melvyn LINTERN. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation. Дата публикации: 2018-01-04.

Total reflection X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: EP0423803A2. Автор: Kazuo Nishihagi,Michihisa C/O Yokohama Works Of Kyoto,Tetsuya C/O Yokohama Works Of Ohsugi. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 1991-04-24.

The multiple sample preparations analyzed for X-ray fluorescence spectra

Номер патента: CN104903698B. Автор: J·M·L·N·加西亚. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-26.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: AU2011215837A1. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2012-08-30.

Preparation of multiple samples for use in X-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: JP2016503886A. Автор: マリア，ラス ナヴァス ガルシア，ホセ,マリア，ラス ナヴァス ガルシア，ホセ. Владелец: マリア，ラス ナヴァス ガルシア，ホセ. Дата публикации: 2016-02-08.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: WO2011100437A3. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2012-01-19.

Method and system for X-ray fluorescence (XRF) analysis of exploration samples

Номер патента: AU2017245397A1. Автор: Melvyn LINTERN. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2018-01-18.

Method and measuring apparatus for an x-ray fluorescence measurement

Номер патента: EP3610249A1. Автор: Christoph Hoeschen,Florian Grüner,Florian Blumendorf. Владелец: Axiom Insights GmbH. Дата публикации: 2020-02-19.

Method and measuring apparatus for an x-ray fluorescence measurement

Номер патента: IL269909B1. Автор: . Владелец: Axiom Insights GmbH. Дата публикации: 2023-11-01.

Method and measuring apparatus for an x-ray fluorescence measurement

Номер патента: IL269909B2. Автор: . Владелец: Axiom Insights GmbH. Дата публикации: 2024-03-01.

Method for analysis using X-ray fluorescence

Номер патента: US09442085B2. Автор: Benjamin P. Warner,Lori J. Peterson,Cameron A. Mortillaro,Nathan H. Zahler,Pratima Bharti,Chang-Tai HSIEH,Emilia A. Solomon. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

X-ray fluorescence analyzer with a plurality of measurement channels, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA3097467C. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2024-06-25.

X-ray fluorescence analyzer and a method for performing X-ray fluorescence analysis

Номер патента: FI131090B1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Finland Oy. Дата публикации: 2024-09-24.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20230293129A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Eiichi Furusawa,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

A method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: FI20245869A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Finland Oy. Дата публикации: 2024-07-09.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: FI20245499A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2023-03-25.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11832981B2. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Eiichi Furusawa,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4254016A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Eiichi Furusawa,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

X-ray irradiation apparatus, including a spectrally shaping x-ray optic and a spectral filter aperture device, x-ray fluorescence imaging apparatus and applications thereof, in particular in x-ray fluorescence imaging

Номер патента: CA3241967A1. Автор: Florian Grüner,Jonas Baumann,Theresa Staufer,Christopher Philip Schlesiger,Oliver Schmutzler,Christian Kornig. Владелец: UNIVERSITAET HAMBURG. Дата публикации: 2023-06-29.

X-ray fluorescence system with high flux and high flux density

Номер патента: US09570265B1. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ,Sylvia Jia Yun LEWIS. Владелец: Sigray Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: FI131089B1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Finland Oy. Дата публикации: 2024-09-24.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: CA3232838A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2023-03-30.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: WO2023044528A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation. Дата публикации: 2023-03-30.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: AU2022352222A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2024-04-11.

Device for sorting materials, in particular scrap particles, by means of x-ray fluorescence

Номер патента: US20170328845A1. Автор: Juergen Fink,Rainer Loeffler. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2017-11-16.

X-ray fluorescence analyzer system and a method for performing X-ray fluorescence analysis of an element of interest in slurry

Номер патента: US11680913B2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2023-06-20.

X-ray fluorescence analyzer system and a method for performing x-ray fluorescence analysis of an element of interest in slurry

Номер патента: WO2019202201A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2019-10-24.

X-ray fluorescence analyzer system and a method for performing x-ray fluorescence analysis of an element of interest in slurry

Номер патента: ZA202007012B. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2021-10-27.

X-ray-fluorescent measurement plant using polarized exciting radiation and x-ray tube

Номер патента: RU2199112C2. Автор: Хейкки СИПИЛЯ,Хейкки СИПИЛЯ (FI). Владелец: Меторекс Интернешнел Ой. Дата публикации: 2003-02-20.

Nanoparticle assisted scanning focusing x-ray fluorescence imaging and enhanced treatment

Номер патента: US20160252471A1. Автор: Ting Guo,R. Andrew Davidson. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2016-09-01.

Pig including an x-ray fluorescence sensor

Номер патента: CA3140961A1. Автор: Patrik Rosen. Владелец: ROSEN SWISS AG. Дата публикации: 2020-11-26.

X-ray fluorescence measurement arrangement utilizing polarized excitation radiation and X-ray tube

Номер патента: FI102697B. Автор: Heikki Sipilae. Владелец: Metorex Internat Oy. Дата публикации: 1999-01-29.

X-ray imaging device and x-ray imaging method

Номер патента: RU2491578C1. Автор: Масатоси ВАТАНАБЕ,Тайхей МУКАЙДЕ,Кадзухиро ТАКАДА,Кадзунори ФУКУДА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2013-08-27.

Method for improving ability to recognise materials in x-ray inspection system, and x-ray inspection system

Номер патента: RU2462702C2. Автор: Уве ЗИДЕНБУРГ. Владелец: Смитс Хайманн Гмбх. Дата публикации: 2012-09-27.

Anode and x-ray generating tube, x-ray generating apparatus and radiography system using same

Номер патента: RU2668085C2. Автор: Ясуо ОХАСИ,Кадзуюки УЕДА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-09-26.

Medical imaging system for combined magnetic resonance imaging and x-ray imaging

Номер патента: US20180049708A1. Автор: Yiannis Kyriakou,Dirk Ertel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-02-22.

X-ray imaging apparatus and X-ray generation detector for activating the same

Номер патента: US5572566A. Автор: Masakazu Suzuki,Akifumi Tachibana,Keisuke Mori,Takao Makino. Владелец: J Morita Manufaturing Corp. Дата публикации: 1996-11-05.

METHODS FOR MEASURING ANALYTE TRANSPORT ACROSS BARRIERS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20170045530A1. Автор: Birnbaum Eva R.,Warner Benjamin P.,Berger Jennifer A.,Peterson Lori J.,Miller Rebecca L. E.. Владелец: ICAGEN, INC.. Дата публикации: 2017-02-16.

A wavelength dispersive crystal spectrometer, a x-ray fluorescence device and method therein

Номер патента: CA2893877A1. Автор: Heikki Johannes Sipilä. Владелец: FENNO-AURUM OY. Дата публикации: 2015-12-09.

Information processing apparatus, information processing method, non-transitory computer readable media storing program, and x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20230184699A1. Автор: Akihiro Himeda,Takumi Ohta. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Damage measurement method, apparatus and program, and x-ray diffraction apparatus

Номер патента: US20230304948A1. Автор: Daisuke Kobayashi,Kazuhiko Omote,Ryouichi Yokoyama. Владелец: Chubu Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Microcrystal structure analysis device, microcrystal structure analysis method, and x-ray shield device

Номер патента: EP2813842A4. Автор: Fumiko Kimura,Tsunehisa Kimura,Chiaki Tsuboi. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2015-10-28.

Microcrystal structure analysis device, microcrystal structure analysis method, and X-ray shield device

Номер патента: US09500603B2. Автор: Fumiko Kimura,Tsunehisa Kimura,Chiaki Tsuboi. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2016-11-22.

MICROCRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS DEVICE, MICROCRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS METHOD, AND X-RAY SHIELD DEVICE

Номер патента: US20150010132A1. Автор: Kimura Tsunehisa,Kimura Fumiko,Tsuboi Chiaki. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

X-ray diffraction analysis method and X-ray diffraction analysis apparatus

Номер патента: JP4581126B2. Автор: 健次 桜井. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2010-11-17.

X-ray fluorescence thickness measuring device

Номер патента: US4860329A. Автор: Murray Weiser,William Silverman,Zvi Landau,Paul Finer,Cary I. Pincus. Владелец: UPA Tech Inc. Дата публикации: 1989-08-22.

X-ray beam intensity monitoring device and x-ray radiation monitoring system

Номер патента: RU2695099C2. Автор: Юйлань ЛИ,Юаньцзин ЛИ,Яохун ЛЮ,Кэцзюнь КАН,Цзыжань ЧЖАО,Иньон ЛЮ,Шувэй ЛИ,Цинцзюнь ЧЖАНЬ,Вэйбинь ЧЖУ,Сяолинь ЧЖАО,Хуэйшао ХЭ. Владелец: Ньюктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2019-07-19.

Support component for use in imaging by magnetic resonance and x-ray

Номер патента: US20100249575A1. Автор: Labros Petropoulos,Alexander Shvartsberg,Victoria D. M. Hornblower. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-09-30.

Radiography backscatter shields and x-ray imaging systems including backscatter shields

Номер патента: WO2019157179A1. Автор: Paul Benson,Brian GIROUARD,Jason BOURN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC.. Дата публикации: 2019-08-15.

Radiography backscatter shields and x-ray imaging systems including backscatter shields

Номер патента: US20190239830A1. Автор: Paul Benson,Brian GIROUARD,Jason BOURN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2019-08-08.

Radiography backscatter shields and x-ray imaging systems including backscatter shields

Номер патента: CA3090289C. Автор: Paul Benson,Brian GIROUARD,Jason BOURN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-26.

Radiography backscatter shields and x-ray imaging systems including backscatter shields

Номер патента: EP3749984A1. Автор: Paul Benson,Brian GIROUARD,Jason BOURN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2020-12-16.

METHODS FOR IMAGING USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20210262952A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

X-ray inspection apparatus, x-ray inspection method, x-ray inspection program, and x-ray inspection system

Номер патента: EP2365320A3. Автор: Kiyoshi Murakami,Hironori Kasahara. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2014-03-05.

X-ray analyzer and x-ray analysis method

Номер патента: US20220283101A1. Автор: Daisuke Harada,Yasuyuki Keyaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-09-08.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: US11808718B2. Автор: Daisuke Harada,Yasuyuki Keyaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20220283101A1. Автор: HARADA Daisuke,KEYAKI Yasuyuki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-08.

Analysis method of photosensitive composition, production method of photosensitive composition, and manufacturing method of electronic device

Номер патента: US20240280518A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Hideo Nagasaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, AND METHOD TO PERFORM X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: BR112020021461A2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-01-19.

X-ray fluorescence analyzer with a plurality of measurement channels, and a method for performing X-ray fluorescence analysis

Номер патента: AU2018419253B2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2022-03-03.

X-ray fluorescence analyzer with a plurality of measurement channels, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: WO2019202199A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2019-10-24.

X-ray fluorescence analyser, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: ZA202007018B. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2021-10-27.

X-ray fluorescence analyzer with a plurality of measurement channels, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US11199513B2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2021-12-14.

Mammography imaging system using X-ray fluorescence

Номер патента: US12029599B2. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Mammography imaging system using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4110185A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-04.

Biological imaging method using X-ray fluorescence

Номер патента: US11946884B2. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP3480586B1. Автор: Ulrich Waldschläger,Roald Alberto TAGLE BERDAN. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2021-02-24.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4254016A4. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Eiichi Furusawa,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-10.

Mammography imaging system using x-ray fluorescence

Номер патента: US20220330910A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-20.

Methods for imaging using x-ray fluorescence

Номер патента: EP3877782A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-15.

X-ray fluorescence analysis of thin-film coverage defects

Номер патента: US20150185170A1. Автор: Adhiprakasha Edwin. Владелец: Intermolecular Inc.. Дата публикации: 2015-07-02.

Method of preparing solid mineral fuel samples for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2766339C1. Автор: Юрий Дмитриевич Смирнов,Мария Алексеевна Чукаева,Иван Павлович Сверчков. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Санкт-Петербургский горный университет». Дата публикации: 2022-03-15.

X-Ray tube and x-ray fluorescence analyser utilizing selective excitation radiation

Номер патента: AU2012203317A1. Автор: Heikki Johannes Sipilä. Владелец: HEIKKI SIPILA OY. Дата публикации: 2013-01-10.

X-ray fluorescence measuring system making use of polarized excitation radiation, and X-ray tube

Номер патента: EP0887639B1. Автор: Heikki Sipila. Владелец: Metorex International Oy. Дата публикации: 2000-05-24.

X-ray tube and x-ray fluorescence analyser utilizing selective excitation radiation

Номер патента: CA2778477A1. Автор: Heikki Johannes Sipilä. Владелец: HEIKKI SIPILA OY. Дата публикации: 2012-12-15.

X-ray tube and X-ray fluorescence analyser utilizing selective excitation radiation

Номер патента: PL2533267T3. Автор: Heikki Sipila. Владелец: OUTOTEC OYJ. Дата публикации: 2014-09-30.

Biological imaging method using X-ray fluorescence

Номер патента: CN114072674A. Автор: 曹培炎,刘雨润. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-18.

Detector for X ray fluorescent

Номер патента: CN107615095A. Автор: 曹培炎,刘雨润. Владелец: Shenzhen Frame View De Core Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-19.

X-ray fluorescent apparatus with transfer supplementary module

Номер патента: CN106796187A. Автор: 戴尔·福克斯,托马斯·迈克尔·舒尔曼,尤斯滕·李·哈珀. Владелец: Tribogenics Inc. Дата публикации: 2017-05-31.

Grinding-aid additive for analyzing and sample preparation by X-ray fluorescence spectrometry and using method

Номер патента: CN107367490B. Автор: 李奎,高巍,王丽晖,张道光,黄宗仁. Владелец: Angang Steel Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-23.

METHOD FOR ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200011815A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,MORTILLARO Camaron A.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-09.

X-Ray Fluorescence Analyzer

Номер патента: US20140286474A1. Автор: Hasegawa Kiyoshi,MATOBA Yoshiki,SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-25.

Nanoparticle assisted scanning focusing x-ray fluorescence imaging and enhanced treatment

Номер патента: WO2015031675A1. Автор: Ting Guo,R. Andrew Davidson. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2015-03-05.

METHOD FOR ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20190011382A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.,Mortillaro Cameron A.. Владелец: ICAGEN, INC.. Дата публикации: 2019-01-10.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND METHOD OF DISPLAYING SAMPLE THEREOF

Номер патента: US20160061753A1. Автор: YAGI Isao. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

METHOD AND APPARATUS FOR MULTIPLE SAMPLE PREPARATION AND SIMULTANEOUS LOSS OF IGNITION/GAIN ON IGNITION ANALYSIS, FOR USE IN X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY

Номер патента: US20140161150A1. Автор: Las Navas Garcia Jose Maria. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-12.

DETECTOR FOR X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200116876A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-16.

Method for Analysis Using X-Ray Fluorescence

Номер патента: US20160341678A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.,Mortillaro Cameron A.. Владелец: ICAGEN, INC.. Дата публикации: 2016-11-24.

Device for examining material by x-ray fluorescence

Номер патента: CA935568A. Автор: Houtman Eliberthus,G. Siekman Jakob. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1973-10-16.

Rapid analysis of cations in a liquid - by filtering through a cation exchange filter paper and determining the ions collected, eg by X-ray fluorescence

Номер патента: DE2545316A1. Автор: Akira Kobayashi,Takezo Sano. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 1977-04-21.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP3276338A3. Автор: Brian Scott PARKS,Robert Matthew Burton,JR. Robert Francis SHANNON,Jiyan GU,Lance Thompson DOYLE,Fredericus VOSMAN,Kenneth Dean WHEELER,Michael Scott KIRSCH. Владелец: Bruker AXS Handheld LLC. Дата публикации: 2018-03-21.

Biological imaging method using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4004540A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

X-ray fluorescence apparatus for measuring properties of a sample fluid, and method for testing a fluid

Номер патента: BR112012020027A2. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2020-08-18.

Method for analysis using X-ray fluorescence

Номер патента: US9063066B2. Автор: Benjamin P. Warner,Lori J. Peterson,Cameron A. Mortillaro,Nathan H. Zahler,Pratima Bharti,Chang-Tai HSIEH,Emilia A. Solomon. Владелец: Xrpro Sciences Inc. Дата публикации: 2015-06-23.

Rapid analysis of cations in a liquid - by filtering through a cation exchange filter paper and determining the ions collected, eg by X-ray fluorescence

Номер патента: NL7511965A. Автор: . Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 1977-04-13.

Method for analysis using X-ray fluorescence

Номер патента: US9435756B2. Автор: Benjamin P. Warner,Lori J. Peterson,Cameron A. Mortillaro,Nathan H. Zahler,Pratima Bharti,Chang-Tai HSIEH,Emilia A. Solomon. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Mammography imaging system using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4110185A4. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Linear body analysis method and apparatus, and recording medium storing linear body analysis program

Номер патента: JP3733990B2. Автор: 卓也 村上,龍彦 相澤,桂蘭 王,諄二 木原,新次 蔵重. Владелец: Tokyo Rope Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2006-01-11.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US6496565B2. Автор: Mitsuo Naito,Yoshiki Matoba. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-12-17.

X-ray fluorescent luminescent cadmium tungstate compositions

Номер патента: US4115312A. Автор: Gerhard Engel,Manfred Eckle. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 1978-09-19.

Portable x-ray detector with grid sensing unit and x-ray imaging system for automatic exposure setting for portable x-ray detector

Номер патента: RU2507619C2. Автор: Ханнс-Инго МАК. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2014-02-20.

Radiation to photoneutron converting target and x-ray and photonuetron source

Номер патента: RU2408942C1. Автор: Хайфенг ХУ,Зиран ЖАО,Хуа ПЕНГ,Юанджинг ЛИ,Кеджун КАНГ,Йиганг ЯНГ,Йинонг ЛИУ,Джикианг ЧЕН,Китиан МИАО,Джианпинг ЧЕН,Тиежу ЛИ,Йаохонг ЛИУ,Ванлонг ВУ. Владелец: Нуктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2011-01-10.

Photoluminescent phosphors and x-ray imaging systems utilizing such phosphors

Номер патента: CA1215212A. Автор: John F. Ackerman. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1986-12-16.

Objective for EUV microscopy, EUV lithography, and x-ray imaging

Номер патента: US9329487B2. Автор: Kenneth W. Hill,Philip Efthimion,Manfred Bitter. Владелец: PRINCETON UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-05-03.

X-ray imaging device and x-ray imaging method

Номер патента: US20230325993A1. Автор: Won Taek Seo,Choul Woo Shin,Il Woong Choi,Mi Jung JO. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Medical image processing apparatus, X-ray diagnostic apparatus, medical image processing method and X-ray diagnostic method

Номер патента: US09576350B2. Автор: Shingo Abe. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

A method and x-ray system for computer aided detection of structures in x-ray images

Номер патента: EP2976746A2. Автор: Thomas Koehler,Hanns-Ingo Maack,Ewald Roessl,Klaus Erhard,Bjorn Cederstrom,Jon Erik FREDENBERG,Mats Vilhelm LUNDQVIST. Владелец: Philips GmbH. Дата публикации: 2016-01-27.

High speed pulse processing in x-ray fluorescence spectography

Номер патента: CA998782A. Автор: John R. Rhodes,Kermit D. Clausen. Владелец: COLUMBIA SCIENTIFIC INDUSTRIES. Дата публикации: 1976-10-19.

X-RAY FLUORESCENCE MEASURING DEVICE

Номер патента: DE3212845A1. Автор: Hiroshi Ishijima,Toshiyuki Tokyo Koga. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1982-10-21.

Method and apparatus for x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: IL65636A. Автор: . Владелец: Unc Nuclear Ind Inc. Дата публикации: 1987-12-20.

A DETECTOR FOR X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20180081071A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

Measurement of thin contamination layers on materials - is by determination of ratio of intensities from k and l shells in X:ray fluorescent radiation spectra

Номер патента: DE2549735A1. Автор: Paul Dipl Phys Dr Mueller. Владелец: G F PAUL MUELLER INGENIEUR BUE. Дата публикации: 1977-11-03.

Method for x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: PH20139A. Автор: William Charles Boyce,Warren Deal Wittekind,Thomas Edward Hall,Leroy Craig Howard,Maynard Lechelt. Владелец: Unc Nuclear Ind Inc. Дата публикации: 1986-10-02.

X-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: AU8308982A. Автор: Thomas E. Hall,William C. Boyce,Wayne M. Lechelt,Leroy C. Howard,Warren D. Wittekind. Владелец: Unc Nuclear Ind Inc. Дата публикации: 1982-11-11.

Method and apparatus for x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: IL65636A0. Автор: . Владелец: Unc Nuclear Ind Inc. Дата публикации: 1982-07-30.

Method and apparatus for x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: ZW8282A1. Автор: William Charles Boyce,Warren Deal Wittekind,Thomas Edward Hall,Leroy Craig Howard,Wayne Maynard Lechelt. Владелец: Unc Nuclear Ind Inc. Дата публикации: 1982-07-21.

X-ray fluorescence spectroscopy:calibration

Номер патента: NZ200487A. Автор: W C Boyce,W D Wittekind,L C Howard,T E Hall,W M Lechelt. Владелец: Unc Nuclear Ind Inc. Дата публикации: 1985-08-30.

X-ray analysis apparatus, X-ray analysis system, X-ray analysis method, and X-ray analysis program

Номер патента: US9006673B2. Автор: Kazuki Ito,Kunio Nishi,Yoshinori Ueji,Koichi Kajiyoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-04-14.

INSOLATION PROBABILITY DISTRIBUTION ANALYSIS METHOD, INSOLATION PROBABILITY DISTRIBUTION ANALYSIS SYSTEM, INSOLATION PROBABILITY DISTRIBUTION ANALYSIS PROGRAM PRODUCT,INSOLATION NORMALIZATION STATISTICAL ANALYSIS METHOD, INSOLATION NORMALIZATION STATISTICAL ANALYSIS SYSTEM, AND INSOLATION NORMALIZATION STATISTICAL ANALYSIS PROGRAM PRODUCT

Номер патента: US20200394255A1. Автор: Takahashi Hideyuki,Horiuchi Yoshio. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-17.

Motion analysis device, motion analysis method and recording medium

Номер патента: US20210142050A1. Автор: Hirotaka Wada,Masashi Miyazaki. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2021-05-13.

X-RAY ANALYSIS APPARATUS, X-RAY ANALYSIS SYSTEM, X-RAY ANALYSIS METHOD, AND X-RAY ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20140021364A1. Автор: Ueji Yoshinori,ITO Kazuki,NISHI Kunio,KAJIYOSHI Koichi. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-23.

THERMAL ANALYSIS METHOD, THERMAL ANALYSIS DEVICE, AND RECORDING MEDIUM STORING THERMAL ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20170016780A1. Автор: Kobayashi Hiroki,Hashima Masayoshi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2017-01-19.

Crystal Growing Condition Analysis Method, Crystal Growing Condition Analysis System, Crystal Growing Condition Analysis Program, and Data Structure for Crystal Growing Data

Номер патента: US20230130343A1. Автор: Takuya Otsuka,Tomonari Sato,Ryo Nakao. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Detection and Localized Imaging of Cancer Using X-Ray Fluorescent Nanoparticle/Preferential Locator Conjugates

Номер патента: US20090208417A1. Автор: Marlin O. Thurston,Vishwanath V. Subramaniam. Владелец: Actis Ltd. Дата публикации: 2009-08-20.

Functionalizable molecular probe for x-ray fluorescence imaging and multimodal imaging

Номер патента: WO2017005822A1. Автор: François Lambert,Helene Bertrand,Clotilde Policar,Nicolas DELSUC,Anne-Sophie BERNARD,Sarah HOSTACHY. Владелец: Paris Sciences Et Lettres - Quartier Latin. Дата публикации: 2017-01-12.

Method for x-ray fluorescence sorting of ores with a complex material composition

Номер патента: RU2761038C2. Автор: Александр Владимирович Ефимов,Игорь Иульянович Кацер,Александр Игоревич Кацер,Борис Михайлович Шорохов,Валерий Евгеньевич Кропачев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Технология рентгенорадиометрического обогащения и сортировки". Дата публикации: 2021-12-02.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US20010039137A1. Автор: Koichi Tamura,Mitsuo Naito. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-08.

Method of vacuum-tight closure of thin beryllium windows and x-ray tube provided with such a window

Номер патента: US3617788A. Автор: Pieter Van Der Werf,Jan Goorissen. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1971-11-02.

Combination of ultrasound and x-ray systems

Номер патента: RU2556783C2. Автор: Рауль ФЛОРАН,Николя П.Б. ГОЖЕН,Паскаль И. Ф. КАТЬЕ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2015-07-20.

Method for positioning a medical instrument for invasive surgery and x-ray contrast grid and stereotactic holder for its implementation

Номер патента: RU2766975C1. Автор: Вячеслав Валерьевич Евтеев,Михаил Анатольевич Черных,Ирина Александровна Ягодкина,Алексей Петрович Гребенников. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Интервенционные радиологические системы" (ООО "ИРС"). Дата публикации: 2022-03-16.

Electronic unsoldered gun for electron flow and x-ray radiation discharge from vacuum region to atmosphere

Номер патента: RU2647489C1. Автор: Игорь Анатольевич Леонтьев,Юрий Михайлович ЯШНОВ,Михаил Петрович Духновский. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Твинн". Дата публикации: 2018-03-16.

X-ray-luminescent separation of minerals and x-ray-luminescent separator to this end

Номер патента: RU2517613C1. Автор: Леонид Васильевич Казаков,Наталья Павловна Колосова,Владимир Иосифович Цветков,Павел Николаевич Кучин. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник". Дата публикации: 2014-05-27.

Method of x-ray luminescent separation of minerals and x-ray luminescent separator therefor

Номер патента: RU2604317C1. Автор: Виктор Николаевич Яковлев,Александр Валентинович Пилюгин,Борис Ильич Димант,Виталий Геннадьевич Ульянов,Алексей Анатольевич Вишневский,Андрей Георгиевич Новоселов. Владелец: Акционерная Компания "АЛРОСА" (публичное акционерное общество) (АК "АЛРОСА" (ПАО)). Дата публикации: 2016-12-10.

Method of simulating dose reduction when collecting x-ray system data, computer system and x-ray system

Номер патента: RU2555122C2. Автор: Барт Пьер Антуан Йозеф ХОРНАРТ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2015-07-10.

Drug for treating and preventing complications associated with chemotherapy and x-ray therapy, as well as conditions associated with high permeability of the intestine

Номер патента: RU2692469C1. Автор: Виктор Вениаминович Тец,Георгий Викторович ТЕЦ,Марианна Юрьевна Смирнова,Михаил Васильевич Соловский. Владелец: ООО "Новые Антибиотики". Дата публикации: 2019-06-25.

Integration of ultrasound and x-ray modalities

Номер патента: RU2676521C2. Автор: Рауль ФЛОРАН,Оливье Пьер НЕМПОН,Паскаль Ив Франсуа КАТЬЕ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2018-12-29.

Diagnostic technique for gunshot wounds of the spinal column using magnetic resonance and x-ray computed tomography

Номер патента: RU2714082C1. Автор: Юрий Александрович Васильев,Алексей Владимирович Петряйкин,Дарья Владимировна Душкова,Юлия Николаевна Васильева,Дмитрий Сергеевич Семенов,Виолетта Алексеевна Ульянова,Александр Владимирович Бажин,Екатерина Сергеевна Ахмад,Кристина Анатольевна Сергунова. Владелец: Государственное бюджетное учреждение здравоохранения города Москвы "Научно-практический клинический центр диагностики и телемедицинских технологий Департамента здравоохранения города Москвы" (ГБУЗ "НПКЦ ДиТ ДЗМ"). Дата публикации: 2020-02-11.

Methods of obtaining, separation and purifying epothilone b and x-ray crystal structures of epothilone b

Номер патента: RU2368661C2. Автор: Брайан Л. ДЭВИС,Дэниел БЕНИГНИ,Роберт СТЭНКАВАЖ,Шу-Джен ЧИАНГ,Ксинг ХУ,Брюс ИГЭН,Деннис ГУ,Дэвид ХУ,Лес МИНЦМАЕР,Томас П. ТАЛЛИ,Иван ХАРГРО,Марк МЭСКАРИ,Гэбриел ГЭЛВИН,Грегори СТЕЙН,Кэри В. МАККОНЛОГ,Фахри Т. КОМЕЗОГЛУ. Владелец: Бристол-Маерс Сквибб Компани. Дата публикации: 2009-09-27.

Diagnostic technique for acute myocardial infarction using combined single-photon emission and x-ray computed tomography

Номер патента: RU2701362C1. Автор: Алексей Аркадьевич Аншелес,Владимир Борисович Сергиенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный медицинский исследовательский центр кардиологии" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБУ "НМИЦ кардиологии" Минздрава России). Дата публикации: 2019-09-25.

X-ray tube assembly and x-ray ct equipment

Номер патента: US20240105415A1. Автор: Kimihiro Nakayama,Yutaro Tanabe,Ren Sonoda. Владелец: Fujifilm Healthcare Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Ultrasound and x-ray video exchange system and method

Номер патента: EP1142316B1. Автор: Donald Masters. Владелец: Boston Scientific Ltd Barbados. Дата публикации: 2005-05-04.

Method for vapor-depositing a substrate with a needle-shaped x-ray fluorescent material, and x-ray fluorescent material

Номер патента: AU2003250307A1. Автор: Erich Hell,Detlef Mattern,Manfred Fuchs,Peter Rohrer,Wolfgang Knupfer. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2004-03-03.

Magnesium silicide-based multilayer x-ray fluorescence analyzers

Номер патента: EP2248136A1. Автор: Kazuaki Shimizu,Yuriy Y. Platonov. Владелец: Rigaku Innovative Technologies Inc. Дата публикации: 2010-11-10.

Magnesium silicide-based multilayer x-ray fluorescence analyzers

Номер патента: WO2009114363A1. Автор: Kazuaki Shimizu,Yuriy Y. Platonov. Владелец: Rigaku Industrial Corporation. Дата публикации: 2009-09-17.

X-ray fluorescence intensifying screen with a flexible support and a fluorescent layer applied to it

Номер патента: DE2943854C2. Автор: Walter 8000 München Bauer. Владелец: Agfa Gevaert AG. Дата публикации: 1982-04-08.

XR (X-ray fluorescence) technology-based gesture synchronous interactive exhibition hall display system

Номер патента: CN115202485A. Автор: 王亚刚,李元元,程思锦. Владелец: Shenzhen Feidie Virtual Reality Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-10-18.

Needle-shaped x-ray fluorescent material and method for vapor-deposition thereof on a substrate

Номер патента: US20050220999A1. Автор: Erich Hell,Detlef Mattern,Manfred Fuchs,Peter Rohrer,Wolfgang Knupfer. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2005-10-06.

Magnesium silicide-based multilayer x-ray fluorescence analyzers

Номер патента: CA2717935A1. Автор: Kazuaki Shimizu,Yuriy Y. Platonov. Владелец: Rigaku Innovative Technologies Inc. Дата публикации: 2009-09-17.

Mechanism for collimation of X-ray fluorescence and free switching of the optical filter

Номер патента: DE202017103436U1. Автор: . Владелец: Chenglibochuang Technology Chengdu Co ltd. Дата публикации: 2017-07-05.

Mass spectrometry data analysis method, mass spectrometry data analysis apparatus, mass spectrometry data analysis program, and solution providing system

Номер патента: JP3743717B2. Автор: 金也 小林,燦 李,清美 吉成. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-02-08.

ANALYSIS METHOD, ANALYSIS APPARATUS, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20180060156A1. Автор: Hotta Yuuji. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-03-01.

ANALYSIS METHOD, ANALYSIS APPARATUS, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20140195856A1. Автор: Hotta Yuuji. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2014-07-10.

INFORMATION PROCESSING DEVICE, CRYSTALLINE MATERIAL ANALYSIS METHOD, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM RECORDING CRYSTALLINE MATERIAL ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20210241858A1. Автор: KURITA Tomochika,Ohfuchi Mari. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2021-08-05.

ANALYSIS DEVICE, ANALYSIS METHOD, AND NON-TRANSITORY COMPUTER READABLE MEDIUM RECORDING AN ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20190369596A1. Автор: OGAWA Shinichi,Kurokami Noboru,OKAJIMA Yasushi,KAMIGUCHI Masao,MIYAHARA Yuuya. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-05.

Information processing device, crystalline material analysis method, and computer-readable recording medium recording crystalline material analysis program

Номер патента: US20210241858A1. Автор: Mari OHFUCHI,Tomochika Kurita. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2021-08-05.

Medical image processing apparatus and X-ray diagnostic apparatus

Номер патента: US09936928B2. Автор: SATOSHI Wakai. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20210161493A1. Автор: Saito Yuta. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

Method and device for the production of enamel samples for the X-ray fluorescence analysis of cement

Номер патента: DE2242056C3. Автор: Auf Nichtnennung Antrag. Владелец: Italcementi SpA. Дата публикации: 1975-12-18.

X-ray tube whose end window carries two anode layers, and an X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP1821583A1. Автор: Erkki Puusaari. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2007-08-22.

The method of x-ray fluorescence sorting of ores of complex material composition

Номер патента: RU2018123458A. Автор: Александр Владимирович Ефимов,Игорь Иульянович Кацер,Александр Игоревич Кацер,Борис Михайлович Шорохов,Валерий Евгеньевич Кропачев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Технология рентгенорадиометрического обогащения и сортировки". Дата публикации: 2019-12-30.

Manufacturing method for x-ray fluorescent boosting tube

Номер патента: JPS56123645A. Автор: Tomio Yoshida,Norio Harao. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1981-09-28.

Co-deposition of cesium telluride photocathode and X-ray fluorescence controller co-deposition of cesium telluride photocathode

Номер патента: US12033846B2. Автор: John Walsh,John Smedley,Jiajie Cen,John Jay Sinsheimer,Mengjia Gaowei. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 2024-07-09.

A kind of CT tomograph imaging method synchronous with excitation of X-rays fluorescent dual module

Номер патента: CN105796121B. Автор: 刘洋,高鹏,廖琪梅,卢虹冰,刘文磊,戎军艳,见伟平. Владелец: Fourth Military Medical University FMMU. Дата публикации: 2018-12-28.

Imaging system using X-ray fluorescence

Номер патента: CN114945326A. Автор: 曹培炎,刘雨润. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-26.

METHOD AND MEASURING APPARATUS FOR AN X-RAY FLUORESCENCE MEASUREMENT

Номер патента: US20200155088A1. Автор: Gruener Florian,Hoeschen Christoph,BLUMENDORF Florian. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-21.

IMAGING SYSTEM USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20220354444A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-10.

Manufacture of input face of x-ray fluorescent light multiplier tube

Номер патента: JPS56147342A. Автор: Shuji Tanaka,Kimio Yoshimura,Motohisa Tsuda,Tatsuo Hashizume. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1981-11-16.

LEADS WITH X-RAY FLUORESCENT CAPSULES FOR ELECTRODE IDENTIFICATION AND METHODS OF MANUFACTURE AND USE

Номер патента: US20130261684A1. Автор: Howard Joshua Dale. Владелец: BOSTON SCIENTIFIC NEUROMODULATION CORPORATION. Дата публикации: 2013-10-03.

LEADS WITH X-RAY FLUORESCENT CAPSULES FOR ELECTRODE IDENTIFICATION AND METHODS OF MANUFACTURE AND USE

Номер патента: US20140228921A1. Автор: Howard Joshua Dale. Владелец: BOSTON SCIENTIFIC NEUROMODULATION CORPORATION. Дата публикации: 2014-08-14.

Leads with x-ray fluorescent capsules for electrode identification and methods of manufacture and use

Номер патента: WO2013148092A1. Автор: Joshua Dale Howard. Владелец: BOSTON SCIENTIFIC NEUROMODULATION CORPORATION. Дата публикации: 2013-10-03.

Flat-type x-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS598253A. Автор: Kenji Iwasaki,岩崎　賢二. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1984-01-17.

Photoelectric face forming method for x-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS577043A. Автор: Hiroshi Katagawa. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1982-01-14.

Formation of photoelectric surface of x-ray fluorescent multiplying tube

Номер патента: JPS5717537A. Автор: Hideki Matsui. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1982-01-29.

X-ray fluorescent film

Номер патента: JPS53122356A. Автор: Saburo Adaka,Norio Okamura,Kiyohisa Inao,Kanetoshi Tada,Isamu Kimura. Владелец: Hitachi Denshi KK. Дата публикации: 1978-10-25.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4497647B2. Автор: 光男 内藤,浩一 田村. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2010-07-07.

Imaging system using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4110186A4. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer and analysis method using total reflection X-ray fluorescence

Номер патента: JP4143399B2. Автор: 博 内原. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2008-09-03.

Apparatus for underwater x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2542642C1. Автор: Владимир Александрович Елохин,Валерий Иванович Николаев,Алексей Сергеевич Бахвалов,Тимофей Дмитриевич Ершов,Сергей Иванович Коробейников,Андрей Аркадьевич Трусов,Екатерина Викторовна Чижова. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг РФ). Дата публикации: 2015-02-20.

Device for energy-dispersive x-ray fluorescence analysis based on secondary emitters

Номер патента: RU2584066C1. Автор: Борис Дмитриевич Калинин,Роберт Исаакович Плотников,Адиль Абдул Меликович Яфясов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ). Дата публикации: 2016-05-20.

Method for preparing samples of potassium-containing electrolyte of aluminium industry for analysing composition and determining bath ratio by x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2542927C1. Автор: Сергей Дмитриевич Кирик,Игорь Степанович Якимов,Сергей Григорьевич Ружников,Оксана Евгеньевна Пиксина,Юлия Николаевна Зайцева,Петр Сергеевич Дубинин. Владелец: Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Сибирский Федеральный Университет". Дата публикации: 2015-02-27.

Device for x-ray fluorescence analysis of substance

Номер патента: RU2490617C2. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН). Дата публикации: 2013-08-20.

Method of x-ray fluorescence analysis of weld seam

Номер патента: RU2345354C2. Автор: Антонина Никоновна Смагунова,Нина Афанасьевна Нестеренко,Ольга Михайловна Карпукова,Алексей Николаевич Смагунов,Анна В чеславовна Келешева,Анна Вячеславовна Келешева. Владелец: ГОУ ВПО Иркутский государственный университет. Дата публикации: 2009-01-27.

Method of x-ray fluorescence analysis of materials

Номер патента: RU2372611C1. Автор: Евгений Матвеевич Лукьянченко,Роберт Исаакович Плотников. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник". Дата публикации: 2009-11-10.

Method for x-ray fluorescence determination of acid-soluble forms of metals in soil

Номер патента: RU2437083C1. Автор: Михаил Олегович Смирнов,Анатолий Владимирович Пуховский,Виктор Гаврилович Сычев,Татьяна Юрьевна Пуховская. Владелец: Государственное научное учреждение Всероссийский научно-исследовательский институт агрохимии им. Д.Н. Прянишникова. Дата публикации: 2011-12-20.

Sampling device for x-ray fluorescence analysis spectrometers

Номер патента: RU2344410C2. Автор: Валерий Александрович Петров,Евгени Викторовна Петрова,Евгения Викторовна Петрова,Владимир Андреевич Скакодуб,Юрий Валентинович Ефремов. Владелец: Институт физико-технических проблем. Дата публикации: 2009-01-20.

Method for x-ray fluorescent analysis of samples with undefined filler components

Номер патента: RU2594638C1. Автор: Елена Ивановна Молчанова,Елена Николаевна Коржова,Татьяна Викторовна Степанова,Василий Викторович Кузьмин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Иркутский государственный университет путей сообщения". Дата публикации: 2016-08-20.

Method of evaluating value of relative error of experimentally obtained percentage content of element to certified percentage content of said element through x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2375703C1. Автор: Наталья Николаевна Худякова. Владелец: Акционерная компания "АЛРОСА" (Закрытое акционерное общество). Дата публикации: 2009-12-10.

Method for x-ray fluorescence determination of trace elements with preliminary concentration thereof from ultra-small samples of water and aqueous solutions

Номер патента: RU2484452C1. Автор: Мурадин Абубекирович Кумахов,Руслан Хажсетович Хамизов,Александра Николаевна Груздева,Андзор Адалгериевич Болотоков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Ордена Ленина и Ордена Октябрьской революции Институт геохимии и аналитической химии им. В.И. Вернадского Российской академии наук. Дата публикации: 2013-06-10.

Method of x-ray fluorescent analysis

Номер патента: RU2105291C1. Автор: Л.Д. Данилин,А.П. Моровов,В.В. Жмайло. Владелец: Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики. Дата публикации: 1998-02-20.

PROCESS OF MANUFACTURE OF COMPARISON SAMPLES FOR X-RAY FLUORESCENT DETERMINATION OF PLATINUM IN COMPOUNDS WITH EULITINUM STRUCTURE (Bi4MIV3O12)

Номер патента: RU2077711C1. Автор: В.В. Борисова,В.А. Кутвицкий,Л.М. Чернышова,В. Манасрех. Владелец: Кутвицкий Валентин Александрович. Дата публикации: 1997-04-20.

Method for x-ray fluorescence determination of content of impurities of structural materials

Номер патента: RU2584064C1. Автор: Борис Дмитриевич Калинин,Роберт Исаакович Плотников,Адиль Абдул Меликович Яфясов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ). Дата публикации: 2016-05-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate in oil wells

Номер патента: RU2379667C1. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379657C1. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379659C1. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379661C1. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379660C1. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Владиславович Газиев. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

Test assembly for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA1076715A. Автор: Heinrich Schwenke,Rainer Marten,Herbert Rosomm. Владелец: Gesellschaft fuer Kernenergieverwertung in Schiffbau und Schiffahrt. Дата публикации: 1980-04-29.

Method of production of standards for x-ray-fluorescent analysis of thin films of small-component solid solutions and alloys

Номер патента: RU2523757C1. Автор: Владимир Алексеевич Комаров,Владимир Минович Грабов,Евгений Владимирович Демидов,Дмитрийс Маркушевс. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена". Дата публикации: 2014-07-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379664C1. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Владиславович Газиев. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

X-ray fluorescence analyser, and a method for using an x-ray fluorescence analyser

Номер патента: AU2002350756A1. Автор: Heikki Sipila,Unto Paakkinen. Владелец: BS INSTRUMENT TECHNOLOGY Oy. Дата публикации: 2003-01-08.

Controlled emitting unit of electronic devices with autoelectronic emission and x-ray tube with said unit

Номер патента: RU2581835C1. Автор: Магомет Абубекирович Конов,Юрий Александрович Манкелевич,Павел Владимирович Минаков,Василий Васильевич Сень,Андрей Александрович Пилевский,Александр Юрьевич Поройков,Мухамед Данильевич Бавижев,Алексей Александрович Рахимов,Александр Турсунович Рахимов. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Радий". Дата публикации: 2016-04-20.

Low-energy gamma-ray emission and x-ray radiation registrar

Номер патента: RU2248012C2. Автор: Ю.В. Ефремов,тин Н.И. Зам,Н.И. Замятин,В.А. Скакодуб. Владелец: Институт физико-технических проблем. Дата публикации: 2005-03-10.

Source of electrons with auto electronic emitter and x-ray tube with said electron source

Номер патента: RU2581833C1. Автор: Магомет Абубекирович Конов,Юрий Александрович Манкелевич,Павел Владимирович Минаков,Василий Васильевич Сень,Андрей Александрович Пилевский,Александр Юрьевич Поройков,Мухамед Данильевич Бавижев,Алексей Александрович Рахимов,Александр Турсунович Рахимов. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Радий". Дата публикации: 2016-04-20.

Method of eliminating old, multiply treated and x-ray resistant false keloids

Номер патента: RU2452533C2. Автор: Ольга Михайловна Бурылина,Галина Ивановна Фисенко,Анна Германовна Стенько,Галина Ивановна Фисенко (RU),Ольга Михайловна Бурылина (RU),Анна Германовна Стенько (RU). Владелец: Анна Германовна Стенько. Дата публикации: 2012-06-10.

Composite fibre optic connector and x-rays receiver on its base (versions)

Номер патента: RU2536788C1. Автор: Сергей Иванович Мирошниченко,Андрей Александрович Невгасимый. Владелец: Андрей Александрович Невгасимый. Дата публикации: 2014-12-27.

Method for x-ray fluorescent analysis of elemental composition of substance

Номер патента: RU2240543C2. Автор: В.А. Зайцев,Т.А. Макарова,А.В. Бахтиаров. Владелец: Открытое акционерное общество "Горно-металлургическая компания" "Норильский никель". Дата публикации: 2004-11-20.

X-ray fluorescence analysis sample mask, sample holder, and slag fluorescence X-ray analysis method

Номер патента: JP3628516B2. Автор: 規子 槇石,公 山本,秀雄 圓山. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2005-03-16.

X-ray fluorescence intensity correction method in X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: JP2513094B2. Автор: 正之 松尾,俊也 土生. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1996-07-03.

X-ray fluorescence spectrometer sample preparation method

Номер патента: TW201035542A. Автор: Guang-Qian Chen,Ming-Chang Xiao. Владелец: China Steel Corp. Дата публикации: 2010-10-01.

Rotating disc type light-filtering collimating device adapted to vertical optical path X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN201935879U. Автор: 杨李锋,丑毅. Владелец: NAYUR TECHNOLOGY (BEIJING) CO LTD. Дата публикации: 2011-08-17.

Device utilizing x-ray fluorescence spectrometer to measure claddings

Номер патента: CN201434851Y. Автор: 宋涵华. Владелец: ULTRA-TECH (SHANGHAI) CHEMICALS Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-31.

Auxiliary measuring rack device of handheld X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN213022930U. Автор: 金巍,康增桥. Владелец: Beijing Voleuro Century Optical Technologies Co ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

X-ray fluorescence spectrometer with a movable stage

Номер патента: CN200979536Y. Автор: 韩晓朋,丁玉燕. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-21.

Sample chamber and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN203422327U. Автор: 杨宁波. Владелец: SHENZHEN HELEEX ANALYTICAL INSTRUMENT CO Ltd. Дата публикации: 2014-02-05.

Multi-target target disc device for polarized secondary target X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN201666885U. Автор: 杨李锋,张峰,白友兆. Владелец: NAYUR TECHNOLOGY (BEIJING) CO LTD. Дата публикации: 2010-12-08.

X-ray fluorescent analyzer

Номер патента: RU2008658C1. Автор: Г.В. Павлинский,Р.И. Плотников,Д.В. Ившев. Владелец: Научно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете. Дата публикации: 1994-02-28.

Device for x-ray/fluorescent analysis

Номер патента: RU2130604C1. Автор: Б.Ж. Жалсараев. Владелец: Геологический институт СО РАН. Дата публикации: 1999-05-20.

Process of manufacture of glass radiators for x-ray-fluorescent analysis of rocks

Номер патента: RU2098791C1. Автор: Владимир Яковлевич Борходоев. Владелец: Владимир Яковлевич Борходоев. Дата публикации: 1997-12-10.

DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS OF SUBSTANCE

Номер патента: RU2011133132A. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев. Владелец: Учреждение Российской академии наук Геологический институт Сибирского отделения РАН (ГИН СО РАН ). Дата публикации: 2013-02-10.

Fixed element light splitter for co-shaping x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN101149484A. Автор: 杨李锋,刘小东,范真,白友兆. Владелец: Beijing Bandwise Technology Development Co Ltd. Дата публикации: 2008-03-26.

Preparation and the valued methods of calibration sample used are calibrated in x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CN103575756B. Автор: 刘玉兵,韩蔚,张亚珍,戴平,马振珠,闫冉,王忠文,赵鹰立. Владелец: China Building Material Test and Certification Group Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-18.

X-ray fluorescence analysis method and apparatus by quantitative analysis

Номер патента: JP3301729B2. Автор: 由行 片岡,勝久 戸田,繁生 鎌田. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2002-07-15.

Method for measuring content of sulfur in coal by utilizing energy chromatic dispersion X-ray fluorescence analysis

Номер патента: CN104215651B. Автор: 黄丹,马跃,刘宏军,邓玉福,项亚威,谷珊. Владелец: Shenyang Normal University. Дата публикации: 2017-02-01.

X-ray fluorescent analyzer

Номер патента: RU2032169C1. Автор: Д.А. Гоганов,И.С. Анчугов,Е.В. Бляхер,Е.Н. Мочулов,О.Е. Широкоброд. Владелец: Бляхер Евгений Владимирович. Дата публикации: 1995-03-27.

Sample platform and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN203337579U. Автор: 杨宁波. Владелец: SHENZHEN HELEEX ANALYTICAL INSTRUMENT CO Ltd. Дата публикации: 2013-12-11.

Oblique-incidence X-ray fluorescence spectrometer with sample holder

Номер патента: JP4522438B2. Автор: 隆 山田,啓助 小倉,淳哉 植垣. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-08-11.

Sample preparation apparatus for total reflection X-ray fluorescence spectrometer and method of coagulating contamination

Номер патента: JP3399671B2. Автор: 直人 吉高,英敏 末元. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2003-04-21.

Device for determination of coating thickness by x-ray-fluorescent method

Номер патента: RU2112209C1. Автор: В.Ф. Столяров,Г.М. Иванова,С.А. Клянчин,Т.А. Ледовская. Владелец: Закрытое акционерное общество "ЭЛСКОРТ". Дата публикации: 1998-05-27.

X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: JP2645226B2. Автор: 井上　　稔,由行 片岡. Владелец: RIGAKU DENKI KOGYO KK. Дата публикации: 1997-08-25.

Substance atom chemical bond x-ray fluorescent analysis method

Номер патента: SU1057824A1. Автор: Геннадий Андреевич Пшеничный,Алексей Николаевич Жуковский,Андрей Викторович Бахтиаров,Алексей Николаевич Кадочников. Владелец: Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.А.А.Жданова. Дата публикации: 1983-11-30.

X-ray fluorescence analyser using X-ray lens

Номер патента: CN2145381Y. Автор: 颜一鸣. Владелец: Beijing Normal University. Дата публикации: 1993-11-03.

X-ray fluorescence analysis method and apparatus

Номер патента: JP2699134B2. Автор: 尚喜 森田,正信 若狭,正次 田中,達司 脇阪,一夫 西萩,慎一 寺田. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 1998-01-19.

Provocative energy dispersion type X ray fluorescence appearance of single wavelength ray

Номер патента: CN204789414U. Автор: 张磊,宋欣,付晓光,李海建,宋晓琨. Владелец: China Building Material Test and Certification Group Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-18.

X-ray fluorescence analysis method and apparatus

Номер патента: JP3369918B2. Автор: 衛一 古澤,久征 河野. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2003-01-20.

X-ray fluorescence analysis method and apparatus

Номер патента: JP3069305B2. Автор: 由行 片岡,直樹 河原. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2000-07-24.

Wavelength dispersive X-ray fluorescence analysis method and apparatus

Номер патента: JP3394936B2. Автор: 隆 西村,由行 片岡,悦久 山本. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2003-04-07.

X-ray fluorescence analysis method and apparatus

Номер патента: JP3122395B2. Автор: 隆 西村,啓介 八木,悦久 山本. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2001-01-09.

X-ray fluorescence analysis method and apparatus

Номер патента: JP3635337B2. Автор: 直樹 河原. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2005-04-06.

Method and apparatus for correcting bias in X-ray fluorescence analysis

Номер патента: JP2927654B2. Автор: 由行 片岡,広明 喜多. Владелец: RIGAKU DENKI KOGYO KK. Дата публикации: 1999-07-28.

Device for preparing specimens for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU941883A1. Автор: Виктор Константинович Богданов,Александр Иванович Главацкий,Владимир Александрович Сурело,Олег Викторович Бакаев. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1982-07-07.

Method of quantitative x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU1622804A1. Автор: Владимир Владимирович Орлов,Александр Константинович Сиромаха. Владелец: Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности "Гиредмет". Дата публикации: 1991-01-23.

Method of registering absorption characteristics at x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU934330A1. Автор: Алексей Сергеевич Авдонин,Станислав Владимирович Кордюков,Иван Васильевич Сорокин. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский институт минерального сырья. Дата публикации: 1982-06-07.

Apparatus for x-ray fluorescence analysis of substance composition

Номер патента: SU1224689A1. Автор: Юрий Николаевич Бурмистенко,Игорь Александрович Толоконников. Владелец: Московский Геолого-Разведочный Институт Им.Серго Орджоникидзе. Дата публикации: 1986-04-15.

Device for preparing specimens for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU718770A1. Автор: Николай Максимович Кочмола,Николай Яковлевич Константинов. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1980-02-29.

Method of x-ray fluorescent analysis of substance composition

Номер патента: SU1206660A1. Автор: Михаил Борисович Энкер,Александр Николаевич Лезин,Геннадий Ефимович Колесов,Сергей Юрьевич Коломицин,Николай Петрович Пуха. Владелец: Казахский Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1986-01-23.

Method of multielement x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU934331A1. Автор: Владимир Евгеньевич Кованцев. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский институт минерального сырья. Дата публикации: 1982-06-07.

The method of x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU450099A1. Автор: Василий Иванович Мурзинов. Владелец: Предприятие П/Я А-1997. Дата публикации: 1974-11-15.

Method of multi-element x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU855458A1. Автор: Владимир Евгеньевич Кованцев,Соломон Лазаревич Якубович,Станислав Михайлович Пржиялговский,Гарри Николаевич Цамерян. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский институт минерального сырья. Дата публикации: 1981-08-15.

X-ray fluorescent analysis of multicomponent sample containing n elements to be determined

Номер патента: SU1691724A1. Автор: Петр Александрович Верховодов. Владелец: Институт проблем материаловедения АН УССР. Дата публикации: 1991-11-15.

Device for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU911265A1. Автор: Анатолий Николаевич Ивакин,Владимир Викторович Бондаренко,Борис Николаевич Мехедов,Александр Николаевич Шалин,Виталий Ефимович Рисин. Владелец: Воронежский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Ленинского Комсомола. Дата публикации: 1982-03-07.

Device for substance x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU1045094A1. Автор: Валерий Александрович Варлачев,Евгений Семенович Солодовников. Владелец: Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1983-09-30.

Device for x-ray fluorescence analysis of substances

Номер патента: SU1689819A1. Автор: Валерий Александрович Варлачев,Евгений Семенович Солодовников,Юрий Александрович Цибульников. Владелец: Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1991-11-07.

Method of producing emitter samples from aqueous solutions for x-ray fluorescent analysis of metals

Номер патента: SU688438A1. Автор: Федор Иванович Лобанов,Валерий Павлович Гладышев,Владислав Алексеевич Леонов,Нина Николаевна Андреева,Ирина Васильевна Кошевая,Сергей Егорович Сорокин. Владелец: Казахский Ордена Трудового Красного Знамени Университет Им. С.М.Кирова. Дата публикации: 1979-09-30.

Method of determining background in x-ray fluorescence analysis of complex composition media

Номер патента: SU1224688A1. Автор: Михаил Борисович Энкер,Александр Николаевич Лезин,Геннадий Ефимович Колесов,Сергей Юрьевич Коломицин,Николай Петрович Пуха. Владелец: Казанский Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1986-04-15.

Apparatus for x-ray fluorescent analysis of substance composition

Номер патента: SU1179180A1. Автор: Евгений Семенович Солодовников,Юрий Александрович Цибульников. Владелец: Научно-Исследовательский Институт Ядерной Физики,Электроники И Автоматики При Томском Ордена Октябрьской Революции И Ордена Трудового Красного Знамени Политехническом Институте Им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1985-09-15.

Method of producing radiators for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU1599734A1. Автор: Абрам Борисович Бланк,Николай Иванович Шевцов,Ирина Израилевна Миренская,Зоя Михайловна Нартова. Владелец: Предприятие П/Я Р-6496. Дата публикации: 1990-10-15.

Method of preparing samples-radiators for x-ray fluorescent analysis of metals

Номер патента: SU1422074A1. Автор: Николай Васильевич Макаров,Федор Иванович Лобанов,Алия Камидолловна Нуртаева,Гульнара Камидоллаевна Нуртаева,Александр Викторович Стефанов,Леонид Дмитриевич Лондарь. Владелец: Московский технологический институт мясной и молочной промышленности. Дата публикации: 1988-09-07.

Substrate for total reflection x-ray fluorescence analysis and analyzing method using the same

Номер патента: JPH1048160A. Автор: 一郎 土井,Takahiro Hori,隆博 堀,Ichiro Doi. Владелец: Asahi Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 1998-02-20.

Method for x-ray fluorescence analysis of substance

Номер патента: SU1275278A1. Автор: Владимир Григорьевич Кузнецов,Николай Тимофеевич Разгонов. Владелец: Филиал Центрального научно-исследовательского института шерстяной промышленности. Дата публикации: 1986-12-07.

X-ray fluorescence analysis device

Номер патента: SU537290A1. Автор: Василий Иванович Мурзинов. Владелец: Предприятие П/Я А-1997. Дата публикации: 1976-11-30.

Device for dispersionless x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU609080A1. Автор: Юрий Павлович Бетин,Евгений Григорьевич Жабин,Сима Абрамовна Пельц,Игорь Александрович Крампит,Василий Николаевич Смирнов,Фридрих Мордухович Липкин. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский и конструкторский институт "Цветметавтоматика". Дата публикации: 1978-05-30.

Device for x-ray fluorescence analysis of liquids

Номер патента: SU1636748A1. Автор: Светлана Павловна Титова,Григорий Викторович Сироко,Александр Витальевич Шперер,Олег Вадимович Полевич. Владелец: Харьковский государственный университет им.А.М.Горького. Дата публикации: 1991-03-23.

Flow vessel for x-ray fluorescent analysis of solutions and pulps

Номер патента: RU1797707C. Автор: Леонид Давыдович Лифшиц,Александр Петрович Никольский,Леонид Юрьевич Медолазов,Анатолий Михайлович Сатаров. Владелец: Лившиц Леонид Давыдович. Дата публикации: 1993-02-23.

Method of preparing samples for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU1305559A1. Автор: Иван Иванович Ковалишин,Людмила Николаевна Матийко,Валентина Ивановна Попова,Лариса Гиляровна Пришляк,Мария Мирославовна Бойкович,Галина Петровна Романюк. Владелец: Производственное объединение "ХЛОРВИНИЛ" им.60-летия Великой Октябрьской социалистической революции. Дата публикации: 1987-04-23.

Method of producing reference materials for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU1636747A1. Автор: Елена Григорьевна Хомутова,Валентин Александрович Кутвицкий,Евгений Николаевич Осокин,Лариса Михайловна Чернышова,Игорь Викторович Устинов,Андрей Витальевич Козик,Шамиль Абдулхакович Камальдинов. Владелец: Московский институт тонкой химической технологии им.М.В.Ломоносова. Дата публикации: 1991-03-23.

Specimen for carrying x-ray fluorescent analysis of rocks

Номер патента: SU1672325A1. Автор: Султан Таширбаевич Сулейменов,Асильбек Ашимович Мирзаходжаев,Айгуль Сагадибековна Гостева,Эльвира Сиражевна Ибраева,Раушан Аубакировна Актамбаева,Надежда Васильевна Бачилова,Юрий Арунович Гринштейн. Владелец: Алма-Атинский научно-исследовательский и проектный институт строительных материалов. Дата публикации: 1991-08-23.

Apparatus for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU1427987A2. Автор: В.В. Бердиков,Б.С. Иохин,П.А. Гальцев. Владелец: Предприятие П/Я Р-6710. Дата публикации: 1991-05-23.

Method of x-ray fluorescent analysis of substance composition

Номер патента: SU1350572A2. Автор: Владимир Григорьевич Кузнецов,Николай Иванович Гамаюнов,Владимир Игнатьевич Сидорцов. Владелец: Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Овцеводства И Козоводства. Дата публикации: 1987-11-07.

Method for quantitative X-ray fluorescence analysis of three-component media

Номер патента: SU444970A1. Автор: Геннадий Андреевич Пшеничный,Владимир Александрович Мейер,Анатолий Павлович Розуванов,Катерин Стефанович Катеринов. Владелец: Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.Жданова. Дата публикации: 1974-09-30.

Method of x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU855456A1. Автор: Вадим Константинович Христианов,Бронислав Николаевич Корчуганов,Борис Михайлович Андрейчиков. Владелец: За витель. Дата публикации: 1981-08-15.

Method for preparing samples process for vegetable materials for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU1679319A1. Автор: Сергей Анатольевич Володин,Александр Иванович Уваров. Владелец: Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт "Геоцветмет". Дата публикации: 1991-09-23.

Sample holder for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: JP2551757Y2. Автор: 正道 森. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 1997-10-27.

Apparatus for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU1549323A1. Автор: П.А. Гальцев. Владелец: Предприятие П/Я Р-6710. Дата публикации: 1991-01-15.

Method of making standard samples for x ray fluorescence analysis of pulp

Номер патента: SU1728747A1. Автор: Сергей Анатольевич Володин,Александр Иванович Уваров. Владелец: Научно-производственное объединение "Сибцветметавтоматика". Дата публикации: 1992-04-23.

X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS OF THE COMPOSITION AND SPEED OF A GAS-FLUID FLOW

Номер патента: RU2008114085A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

Device for x-ray fluorescence analysis of substance

Номер патента: RU2489708C2. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН ). Дата публикации: 2013-08-10.

Device for x-ray fluorescent analysis with total external reflection of primary radiation

Номер патента: RU2315981C1. Автор: Дмитрий Алексеевич Сарычев,Вадим Павлович Краснолуцкий. Владелец: Закрытое акционерное общество "КОРДОН" (ЗАО "КОРДОН"). Дата публикации: 2008-01-27.

X-ray fluorescence analysis sample preparation method

Номер патента: JP2017058362A. Автор: 敦 加岳井,Atsushi Kagakui,亮平 團上,Ryohei Danjyo. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2017-03-23.

METHOD FOR PRELIMINARY TESTING OF STANDARD SAMPLES FOR MULTI-CELL X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS

Номер патента: RU2008112855A. Автор: Наталья Николаевна Худякова,Наталья Николаевна Худякова (RU). Владелец: АКЦИОНЕРНАЯ КОМПАНИЯ "АЛРОСА" (закрытое акционерное общество) (RU). Дата публикации: 2009-10-10.

Device for x-ray fluorescence analysis of substance

Номер патента: SU1300353A1. Автор: Юрий Николаевич Бурмистенко,Игорь Александрович Толоконников. Владелец: Московский Геологоразведочный Институт Им.Серго Орджоникидзе. Дата публикации: 1987-03-30.

Device for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU1827600C. Автор: Игорь Андреевич Кондуров,Евгений Михайлович Коротких. Владелец: Ленинградский Институт Ядерной Физики Им.Б.П.Константинова. Дата публикации: 1993-07-15.

Apparatus for preparing specimens for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU1497537A2. Автор: Анатолий Иванович Пологович,Николай Максимович Кочмола,Светлана Николаевна Ивашко. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1989-07-30.

The method of x-ray fluorescence analysis of suspensions

Номер патента: SU448374A1. Автор: Роберт Исаакович Плотников,Владимир Павлович Николаев,Гелий Вениаминович Павлинский,Анатолий Николаевич Межевич,Иван Михайлович Рогачев,Юрий Михайлович Гурвич. Владелец: Предприятие П/Я М-5659. Дата публикации: 1974-10-30.

Method of energy-dispersion x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU750352A1. Автор: Николай Яковлевич Константинов. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1980-07-23.

A kind of sequential Wavelength Dispersive-X-Ray fluorescence spectrum intelligent analysis method

Номер патента: CN109829513A. Автор: 高晶,李元香. Владелец: Wuhan University WHU. Дата публикации: 2019-05-31.

METHOD OF X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF COAL

Номер патента: EA202092715A1. Автор: Юрий Пак,Дмитрий Юрьевич Пак,Фарида Муратовна Исатаева,Люсия Исламовна Тогайбаева,Гульназира Сериковна Шаихова,Рима Копбосынкызы Мадишева,Жанибек Муратович Мустафин,Диана Андреевна Ибрагимова. Владелец: Юрий Пак. Дата публикации: 2022-01-13.

Method of x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU913189A1. Автор: Aleksandr V Konev,Natalya E Sukhovolskaya. Владелец: Sibirsk G Pnii Tsvetnoj Metall. Дата публикации: 1982-03-15.

Method for X-ray fluorescence analysis of surface composition of particulate matter

Номер патента: JP4064552B2. Автор: 徳三 小西,健史 名雪. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2008-03-19.

X-ray fluorescent analysis apparatus

Номер патента: CA621193A. Автор: R. Lang Andrew. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1961-05-30.

Portable microbeam X-ray fluorescence spectrophotometer

Номер патента: CN103454299A. Автор: 董文,乐孜纯. Владелец: Zhejiang University of Technology ZJUT. Дата публикации: 2013-12-18.

X -ray fluorescence spectrograph

Номер патента: CN206132672U. Автор: 张爽,刘志国,秦敏,韩悦,易龙涛. Владелец: Beijing Normal University. Дата публикации: 2017-04-26.

X-ray fluorescence excitation detection device

Номер патента: CN101614684B. Автор: 徐宁,赵建军,周俊武,曾荣杰. Владелец: Beijing General Research Institute of Mining and Metallurgy. Дата публикации: 2011-06-29.

X-RAY TUBE AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSER UTILIZING SELECTIVE EXCITATION RADIATION

Номер патента: US20120321038A1. Автор: . Владелец: HEIKKI SIPILA OY. Дата публикации: 2012-12-20.

High Speed, Non-Destructive, Reel-to-Reel Chip/Device Inspection System and Method Utilizing Low Power X-rays/X-ray Fluorescence

Номер патента: US20130022167A1. Автор: White Justin,Cardoso Guilherme,Turqueti Marcos,Lemaster Griffin,Linden Shawn. Владелец: CREATIVE ELECTRON, INC.. Дата публикации: 2013-01-24.

SYSTEM AND METHOD FOR CHARACTERIZING A FILM BY X-RAY PHOTOELECTRON AND LOW-ENERGY X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY

Номер патента: US20130077742A1. Автор: Smedt Rodney,REED David A.,Fanton Jeffrey T.,Schueler Bruno W.. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-28.

A kind of device and method of X-ray fluorescence spectra quantitative test

Номер патента: CN102323284A. Автор: 季振国,席俊华,梁晓勇. Владелец: Hangzhou Dianzi University. Дата публикации: 2012-01-18.

X-ray fluorescence analyzer and X-ray irradiation angle setting method

Номер патента: JP3286010B2. Автор: 一夫 西萩,慎一 寺田. Владелец: 株式会社テクノス研究所. Дата публикации: 2002-05-27.

Combined collimating lens for CCD camera in full-field X-ray fluorescence imaging

Номер патента: CN209803029U. Автор: 张新磊,贾文宝,单卿,邵金发,熊根超. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2019-12-17.

Energy dispersion X-ray fluorescence spectrophotometer

Номер патента: CN202041288U. Автор: 杨剑,杨振,柳春生. Владелец: Suzhou 3v Prevision Instrument Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-16.

Five-axis four-dimensional special-shaped sample detection device utilizing X-ray fluorescence spectrum

Номер патента: CN102323283B. Автор: 刘颖,许涛,袁静,王晓芳,曾远,罗立强,储彬彬,唐力君,伯英. Владелец: STATE GEOLOGY EXPERIMENT AND TEST CENTER. Дата публикации: 2012-12-26.

Method for analyzing vanadium iron ingredients by melt smelting sampling-X-ray fluorescence spectrum process

Номер патента: CN102253068B. Автор: 杨新能,冯宗平,羊绍松. Владелец: Pangang Group Panzhihua Steel and Vanadium Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-25.

Method for detecting contents of chlorine, phosphorus and potassium in compound fertilizer product by energy dispersion X-ray fluorescence spectrum

Номер патента: CN107589140B. Автор: 朱洁,梁峙,张玉洁,吴海娟,赵越,毛敏明,苏晓濛,王金砖. Владелец: Nanjing Product Quality Supervision and Inspection Institute. Дата публикации: 2020-03-17.

Rapid X-ray fluorescence CT method

Номер патента: CN101862200A. Автор: 杨群,邓彪,杜国浩,肖体乔,谢红兰. Владелец: Shanghai Institute of Applied Physics of CAS. Дата публикации: 2010-10-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF FLOW AND COMPOSITION OF GAS-FLUID FLOW COMPONENTS

Номер патента: RU2008114093A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPOSITION AND SPEED OF GAS-LIQUID FLOW OF OIL WELLS

Номер патента: RU2008119313A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-11-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND SPEED OF GAS-FLUID FLOW OF OIL WELLS

Номер патента: RU2008119236A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-11-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPOSITION AND SPEED OF THREE COMPONENT FLOW

Номер патента: RU2008114086A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND SPEED OF THREE-COMPONENT FLOW OF OIL WELLS

Номер патента: RU2008119314A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-11-20.

A kind of method that x-ray fluorescence measures light element in silica sol liquid

Номер патента: CN109738472A. Автор: 郭晓明,苏建平,乔文韬. Владелец: SHANGHAI PROFICIENT SPECTRA SCIENCE AND TECHNOLOGY Ltd. Дата публикации: 2019-05-10.

X-ray fluorescent spectrometry

Номер патента: CA544342A. Автор: Wytzes Sjoerd. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1957-07-30.

Variable viewfield x-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS54125961A. Автор: Hiroshi Katagawa. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1979-09-29.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: GB9825653D0. Автор: . Владелец: Bede Scientific Instruments Ltd. Дата публикации: 1999-01-13.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: AU2002238054A1. Автор: Lee Grodzins,Hal Grodzins. Владелец: Niton Corp. Дата публикации: 2002-08-19.

Method for stabilizing energy dispersion x-ray fluorescence analyzer parameters

Номер патента: RU2237885C2. Автор: нченко Е.М. Лукь,Е.М. Лукьянченко. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник". Дата публикации: 2004-10-10.

Oil well drilling geological X-ray fluorescent debris logging method

Номер патента: CN101082277A. Автор: 刘华,李春山,罗利,朱根庆,朱直箐,刘德伦. Владелец: CHONGQING BRANCH OF BEIJING HONOURIC PETROLEUM TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2007-12-05.

Method for detecting total sulfur content in alkali-free glass mixing material by X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN101713752A. Автор: 陈建良,陆海泉,张毓强,许明初,武永强. Владелец: Jushi Group Co Ltd. Дата публикации: 2010-05-26.

Method for detecting chemical components of alkali-free glass by mixing X-ray fluorescence spectrometry with compression method

Номер патента: CN101713751B. Автор: 陈建良,陆海泉,张毓强,许炳强,仰丽琴. Владелец: Jushi Group Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-07.

Method for measuring chemical compositions in molten iron of blast furnace by X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN102279202A. Автор: 李飞,张东升,王晓峰,崔宏利,李丽军,李张华,王占祥,梁玉东. Владелец: JIANLONG INDUSTRIAL Co Ltd TANGSHAN CITY. Дата публикации: 2011-12-14.

Method for analyzing element contents in high titanium residue by adopting X-ray fluorescence spectrum

Номер патента: CN103234994A. Автор: 郭兵,冯丽丽,管嵩,张庆建,项海波,周忠信,丁仕兵,刘稚. Владелец: Shandong Entry-Exit Inspection And Quarantine Bureau Of People's Republic Of Chi. Дата публикации: 2013-08-07.

Method for rapidly detecting lead serving as heavy metal element in tobacco based on X-ray fluorescence

Номер патента: CN104076054A. Автор: 杜文,钟科军,文建辉. Владелец: China Tobacco Hunan Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-01.

The sample preparation flux of evaporitic rock class sample is analyzed for X-ray fluorescence spectra

Номер патента: CN103344469B. Автор: 洪飞,姜怀坤,袁家义. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-23.

Fast super-resolution X-ray fluorescence computed tomography (CT) imaging and reconstitution system and method

Номер патента: CN103767726A. Автор: 何鹏,冯鹏,魏彪,陈绵毅. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2014-05-07.

Method for analyzing metal content in catalytic cracking catalyst through X ray fluorescence method

Номер патента: CN100498309C. Автор: 高萍,顾若晶. Владелец: Sinopec Research Institute of Petroleum Processing. Дата публикации: 2009-06-10.

High pressure sample preparation technology for X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN104101523A. Автор: 张勤,李文阁,白金峰,李国会,于兆水,薄玮. Владелец: Institute of Geophysical and Geochemical Exploration of CAGS. Дата публикации: 2014-10-15.

A kind of method for X-ray fluorescence spectra background rejection

Номер патента: CN104931518B. Автор: 王爱民,赵奉奎. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-07-28.

X-ray fluorescence spectra analyzes the MTG YBCO bulk method of ferrosilicon, Si-Ca-Ba, silicomanganese, ferro-aluminum or ferro-titanium sample

Номер патента: CN103149073B. Автор: 王娟,杨新能,李小青,周丽菊. Владелец: Pangang Group Panzhihua Steel and Vanadium Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-12.

X-ray fluorescent spectrometry for analyzing contents of 17 elements in organic silicon contact mass

Номер патента: CN102539463A. Автор: 吴云华. Владелец: JIANGXI XINGHUO ORGANIC SILICON PLANT LANXING CHEMICAL NEW MATERIAL CO Ltd. Дата публикации: 2012-07-04.

The hermetically-sealed construction of x-ray fluorescence spectrometry instrument sample cup and vacuum chamber

Номер патента: CN204359715U. Автор: 韩晓朋. Владелец: 韩晓朋. Дата публикации: 2015-05-27.

Method for measuring Mo element in tungstenic ferro-molybdenum alloy through X-ray fluorescence spectrum analysis

Номер патента: CN103076351B. Автор: 杨鹏飞,韩春梅,韩丽华,龚宜勇. Владелец: Tianjin Pipe Group Corp. Дата публикации: 2014-08-27.

Flux for X-ray fluorescence spectrum analysis

Номер патента: CN1800811B. Автор: 白雪冰,吕振生,袁家义. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-04-28.

Iron alloy fusing sample preparation method for X-ray fluorescence spectrum analysis

Номер патента: CN101832891A. Автор: 徐静,刘洁,赵靖,王彬果,商英,李兰群. Владелец: Hebei Iron And Steel Co Ltd Handan Branch. Дата публикации: 2010-09-15.

Reciprocating measurement device suitable for X-ray fluorescence multi-element analyzer measurement

Номер патента: CN202974899U. Автор: 张伟,李剑锋,张建,赵龙,毕然,刘永超,陈树军,佟超,周洪军,于海明,尹兆余,龚亚林,魏晓云,刘业绍. Владелец: Dandong Dongfang Measurement and Control Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-05.

X-ray fluorescence spectra analyzes the MTG YBCO bulk method of molybdenum, manganese, vanadium or ferrochrome sample

Номер патента: CN103149074B. Автор: 杨新能,李小青,刘经程,蒋厚英. Владелец: Pangang Group Panzhihua Steel and Vanadium Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-26.

Gold ornaments X-ray fluorescent detecting method

Номер патента: CN1037713C. Автор: 李景春,沈洪涛,陈风琴,董鼎新,许剑浩. Владелец: DAQING PETROCHEMICAL GENERAL PLANT CHINA PETRO-CHEMICAL CORP. Дата публикации: 1998-03-11.

Method for measuring Mo element in tungstenic ferro-molybdenum alloy through X-ray fluorescence spectrum analysis

Номер патента: CN103076351A. Автор: 杨鹏飞,韩春梅,韩丽华,龚宜勇. Владелец: Tianjin Pipe Group Corp. Дата публикации: 2013-05-01.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3291251B2. Автор: 由行 片岡,啓介 八木. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2002-06-10.

Arrangement for preparing specimens for x-ray fluorescent analisis

Номер патента: SU1594394A1. Автор: Василий Парфениевич Бондаренко,Николай Максимович Кочмола. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1990-09-23.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND GAS-FLUID FLOW SPEED

Номер патента: RU2008114087A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: SU507809A1. Автор: Александр Константинович Стройковский,Николай Илларионович Зайцев,Станислав Леонидович Левитин,Николай Васильевич Югай. Владелец: Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Автоматизации Черной Металлургии, Особое Конструкторское Бюро, Карагандинский Филиал. Дата публикации: 1976-03-25.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND COMPONENT EXPENDITURE OF GAS-FLUID FLOW

Номер патента: RU2008114084A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4279983B2. Автор: 由行 片岡,拓也 中谷. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2009-06-17.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2554104Y2. Автор: 忠 宇高. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 1997-11-12.

Method of x-ray fluorescent dispersion analysis of plants

Номер патента: SU1017984A1. Автор: Сергей Егорович Сорокин,Валентин Алексеевич Большаков. Владелец: Почвенный институт им.В.В.Докучаева. Дата публикации: 1983-05-15.

Amplification tube for x-ray fluorescence

Номер патента: JPS5293265A. Автор: Narimitsu Aramaki. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1977-08-05.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3583485B2. Автор: 慎一 寺田. Владелец: 株式会社テクノス研究所. Дата публикации: 2004-11-04.

X-ray fluorescence sample preparation equipment

Номер патента: JP2596471Y2. Автор: 勇 西脇. Владелец: 日本サーモニクス 株式会社. Дата публикации: 1999-06-14.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3458538B2. Автор: 清爾 川戸,喜弘 工藤,光佑 劉. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2003-10-20.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3488918B2. Автор: 紀生 川田. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2004-01-19.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4514785B2. Автор: 昭弘 池下,河野　　浩,康裕 清水. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-07-28.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2613511B2. Автор: 昭道 吉良. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1997-05-28.

X-ray fluorescent analyser of substance composition

Номер патента: SU1406468A1. Автор: Владимир Николаевич Лосев,Виктор Федорович Волков,Юрий Рудольфович Шмидт,Юрий Иванович Исаев,Камиль Рашидович Галеев,Александр Николаевич Мартынюк. Владелец: Предприятие П/Я Г-4126. Дата публикации: 1988-06-30.

X ray fluorescence multiple tube and its preparation

Номер патента: JPS52136560A. Автор: Tomiya Sonoda,Hiroshi Washida. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1977-11-15.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND SPEED PARAMETERS OF THREE COMPONENT FLOW

Номер патента: RU2008114097A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4330981B2. Автор: 直樹 河原,啓助 小倉. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2009-09-16.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3673849B2. Автор: 忠 宇高. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2005-07-20.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3612586B2. Автор: 由行 片岡,綾子 大石. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2005-01-19.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2940810B2. Автор: 勝久 戸田,康治郎 山田. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1999-08-25.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF SPEED AND COMPOSITION OF GAS-FLUID FLOW COMPONENTS

Номер патента: RU2008114098A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Владиславович Газиев,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU),Евгений Владиславович Газиев (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate in oil wells

Номер патента: RU2379666C1. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

An X-ray fluorescence system

Номер патента: AU2021903067A0. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2021-10-07.

X-ray fluorescent screen

Номер патента: CA520147A. Автор: J. Hushley Walter. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1955-12-27.

An X-ray fluorescence system

Номер патента: AU2018904098A0. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2018-11-15.

Method for analysis using x-ray fluorescence

Номер патента: US20120093286A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,MORTILLARO Camaron A.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-19.

SYSTEMS AND METHODS FOR X-RAY FLUORESCENCE COMPUTED TOMOGRAPHY IMAGING WITH NANOPARTICLES

Номер патента: US20120307962A1. Автор: Cho Sang Hyun. Владелец: Georgia Tech Resarch Corporation. Дата публикации: 2012-12-06.

Apparatus for x-ray fluorescent pulp analysis

Номер патента: SU1193547A1. Автор: Леонид Иосифович Мачульский,Николай Иванович Котлер. Владелец: Центральный научно-исследовательский институт оловянной промышленности. Дата публикации: 1985-11-23.

X-ray fluorescence intensifier

Номер патента: JPS5324769A. Автор: Hiroshi Washida,Hirotaka Nakano. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1978-03-07.

X-ray fluorescent method of the determination of total iron content

Номер патента: SU702281A1. Автор: Владимир Яковлевич Шиян,Лев Константинович Юкса. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1979-12-05.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3208200U. Автор: 隆雄 丸井,博朗 古川. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-12-28.

METHOD FOR STABILIZING PARAMETERS OF AN ENERGY-DISPERSION X-RAY FLUORESCENT ANALYZER

Номер патента: RU2002110021A. Автор: Евгений Матвеевич Лукьянченко,нченко Евгений Матвеевич Лукь. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное предпри тие "Буревестник". Дата публикации: 2004-01-20.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3422980B2. Автор: 悦久 山本. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2003-07-07.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND COMPONENT EXPENDITURE OF THREE COMPONENT FLOW

Номер патента: RU2008114094A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND THREE-COMPONENT FLOW SPEED

Номер патента: RU2008114082A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-ray fluorescent method of determination of an element content

Номер патента: SU1065748A1. Автор: Александр Владимирович Мейер,Геннадий Андреевич Пшеничный. Владелец: Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.А.А.Жданова. Дата публикации: 1984-01-07.

Device for analyzing depth ability of x-ray fluorescent analyzer of ash content of coal

Номер патента: SU1242785A2. Автор: Павел Исаакович Грабов,Александр Борисович Потапов. Владелец: Комплексный Научно-Исследовательский Институт Обогащения Твердых Горючих Ископаемых. Дата публикации: 1986-07-07.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF CONSUMPTION AND COMPOSITION OF THREE COMPONENT FLOW COMPONENTS

Номер патента: RU2008114088A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Владиславович Газиев,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU),Евгений Владиславович Газиев (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF SPEED AND COMPOSITION OF THREE COMPONENT FLOW COMPONENTS

Номер патента: RU2008114096A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Владиславович Газиев,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU),Евгений Владиславович Газиев (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

METHOD FOR X-RAY FLUORESCENT DETERMINATION OF GOLD SAMPLES

Номер патента: RU2061348C1. Автор: В.А. Крылов,В.А. Севрюков,И.В. Безсуднов,Н.Г. Прохорова. Владелец: Научно-производственное предприятие "Наука-Сервис". Дата публикации: 1996-05-27.

X-ray fluorescent separator

Номер патента: SU1391739A1. Автор: Юрий Павлович Бетин,Евгений Григорьевич Жабин,Анатолий Петрович Комов. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский и конструкторский институт "Цветметавтоматика". Дата публикации: 1988-04-30.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3729186B2. Автор: 由行 片岡,康治郎 山田. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2005-12-21.

Device for investigating depth of x-ray fluorescent analyzer of coal ash content

Номер патента: SU1120227A1. Автор: Александр Михайлович Онищенко,Павел Исаакович Грабов,Александр Борисович Потапов. Владелец: Onishchenko Aleksandr M. Дата публикации: 1984-10-23.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3312001B2. Автор: 由行 片岡,紀生 川田,衛一 古澤,浩平 閑歳. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2002-08-05.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4303080B2. Автор: 孝 庄司,幸雄 迫,彰 荒毛. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2009-07-29.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2507934Y2. Автор: 光男 内藤. Владелец: セイコー電子工業株式会社. Дата публикации: 1996-08-21.

X-ray fluorescent pickup

Номер патента: SU823993A1. Автор: Борис Иванович Огородников,Игорь Васильевич Петрянов,Вадим Константинович Христианов,Бронислав Николаевич Корчуганов,Виктор Иванович Скитович. Владелец: Предприятие П/Я А-7629. Дата публикации: 1981-04-23.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP5874108B2. Автор: 由行 片岡,真也 原,松尾　尚,尚 松尾,片岡　由行. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-03-02.

X-ray fluorescence three-dimensional analyzer

Номер патента: JP4694296B2. Автор: 知康 中野,昌 大庭,忍 小野田. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-06-08.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3949850B2. Автор: 清隆 笠井. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2007-07-25.

Radio isotope x-ray fluorescent analyzer pickup

Номер патента: SU1000869A1. Автор: Георгий Александрович Иванюкович,Алексей Роальдович Назаров. Владелец: Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.А.А.Жданова. Дата публикации: 1983-02-28.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2955142B2. Автор: 智也 新井,孝 庄司. Владелец: RIGAKU DENKI KOGYO KK. Дата публикации: 1999-10-04.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3117833B2. Автор: 豊 一宮. Владелец: セイコーインスツルメンツ株式会社. Дата публикации: 2000-12-18.

Collimator of x-ray fluorescent analyzer

Номер патента: SU1744610A1. Автор: Константин Иванович Щекин,Игорь Александрович Толоконников,Валерий Иванович Филатов,Андрей Александрович Медведев,Геннадий Александрович Жохов. Владелец: Московский Геологоразведочный Институт Им.Серго Орджоникидзе. Дата публикации: 1992-06-30.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3584279B2. Автор: 剛 藤田,弘諮 住居. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2004-11-04.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3729341B2. Автор: 章二 桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-12-21.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3811720B2. Автор: 悦久 山本,潔 小堀. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2006-08-23.

X-ray fluorescent redoubling tube

Номер патента: JPS5278359A. Автор: Tadashi Wakatsuki,Tsuneyo Sumita. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1977-07-01.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3823146B2. Автор: 隆 山田. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2006-09-20.

Fixture for XRF (X-ray fluorescence) device and detection method adopting same

Номер патента: CN102538630A. Автор: 苏新虹,朱兴华. Владелец: Peking University Founder Group Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-04.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379663C1. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

The input of x-ray fluorescence intensifying tube

Номер патента: JPS51131264A. Автор: Kenji Kobayashi,Hiroshi Minami,Tadashi Wakatsuki,Tsuneyo Sumita,Mitsuo Ihi. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1976-11-15.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND SPEED PARAMETERS OF GAS-FLUID FLOW

Номер патента: RU2008114095A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP6467684B2. Автор: 康治郎 山田,山田　康治郎,真也 原,真 堂井. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-02-13.

Device for detecting heavy metal in soil on site by rotary bucket type XRF (X-Ray Fluorescence) method

Номер патента: CN104089968A. Автор: 陈保华,张小沁,商照聪,倪晓芳. Владелец: Shanghai Tianke Chemical Detection Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-08.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2686217B2. Автор: 忠 宇高. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1997-12-08.

X-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS5559643A. Автор: Hidemasa Saito,Hisao Ishiwatari,Takeshi Hayato. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1980-05-06.

Method of automatic control of response of x-ray/fluorescent separator

Номер патента: SU611674A1. Автор: Владилен Шулимович Береза,Марк Борисович Белло,Семен Пиневич Фрумкин. Владелец: Предприятие П/Я М-5659. Дата публикации: 1978-06-25.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP5506288B2. Автор: 清 長谷川,哲郎 小澤. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2014-05-28.

XRF (x-ray fluorescence) melting preparation method for sheet glass sample

Номер патента: CN105203384A. Автор: 徐建平,周双清. Владелец: Wuhan University of Science and Engineering WUSE. Дата публикации: 2015-12-30.

X-ray fluorescent analyzer

Номер патента: RU2032168C1. Автор: Д.А. Гоганов,И.С. Анчугов,Е.В. Бляхер,Е.Н. Мочулов,О.Е. Широкоброд. Владелец: Бляхер Евгений Владимирович. Дата публикации: 1995-03-27.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3612701B2. Автор: 章二 桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-01-19.

X-ray fluorescent analyzer pickup

Номер патента: SU828042A1. Автор: Игорь Анатольевич Ершов,Василий Михайлович Бородачев,Яков Исаакович Хавкин,Юрий Афанасьевич Рыжих. Владелец: Предприятие П/Я Г-4312. Дата публикации: 1981-05-07.

X-ray fluorescence analyzer and method

Номер патента: JP3868420B2. Автор: 康 上原. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2007-01-17.

Device for X-ray fluorescence non-dispersive analysis

Номер патента: SU452774A1. Автор: Роберт Исаакович Плотников,Людмила Архиповна Хуцишвили,Владимир Иосифович Шаензон,Валерий Исаакович Столин,Юрий Михайлович Гурвич. Владелец: Предприятие П/Я М-5659. Дата публикации: 1974-12-05.

X-ray fluorescent image multiplying tube

Номер патента: JPH1116524A. Автор: Kentaro Odaka,健太郎 小高. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1999-01-22.

X-ray fluorescent membrane

Номер патента: JPS537589A. Автор: Ryoichi Kubo,Toshio Nishimura,Minoru Watanabe. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1978-01-24.

Method for estimating background component of X-ray fluorescence spectrum

Номер патента: JP2619149B2. Автор: 由行 片岡. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 1997-06-11.

X-ray fluorescent redoubling unit

Номер патента: JPS5255858A. Автор: Michio Takahashi,Hiroshi Minami. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1977-05-07.

X - ray fluorescence analyzer preparation method

Номер патента: TWI409447B. Автор: . Владелец: China Steel Corp. Дата публикации: 2013-09-21.

X-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS5576557A. Автор: Tatsuo Shimizu,Takezo Yasuzuka,Satoru Sano,Hisao Ishiwatari. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1980-06-09.

Sample holder for X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JPH083475B2. Автор: 久貴 竹中,芳一 石井. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 1996-01-17.

Method of producing complexing sorbent (versions) and use thereof for x-ray fluorescence determination of heavy metals in water

Номер патента: RU2472582C1. Автор: Зауаль Ахлоович Темердашев,Валерий Викторович Коншин,Джамиля Наибовна Коншина,Дмитрий Игоревич Салов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Кубанский государственный университет" (ФГБОУ ВПО "КубГУ"). Дата публикации: 2013-01-20.

X-ray-fluorescent spectrometre with complete external reflection

Номер патента: RU2415406C1. Автор: Валерий Олегович Пономаренко,Анатолий Николаевич Мамаев,Дмитрий Алексеевич Сарычев,Вадим Павлович Краснолуцкий,Николай Михайлович Новиковский,Валерий Михайлович Разномазов,Юрий Иванович Величко,Алексей Викторович Блажевич. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Рентгеновские аналитические системы" (ООО "РАС"). Дата публикации: 2011-03-27.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3312002B2. Автор: 由行 片岡,紀生 川田. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2002-08-05.

Sample loading device in X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2592134Y2. Автор: 啓助 小倉,潔 小堀. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 1999-03-17.

Process of x-ray/fluorescent determination of element composition of analyzed material

Номер патента: RU2115111C1. Автор: А.Н. Козин. Владелец: Сибирский химический комбинат. Дата публикации: 1998-07-10.

Apparatus for x-ray fluorescence emission analysis of elements in a pulp or slurry

Номер патента: CA710930A. Автор: G. Moffat Walter,Carson Robert. Владелец: RHOANGLO MINE SERVICES Ltd. Дата публикации: 1965-06-01.

X-ray fluorescence emission analysis of elements in a pulp or slurry

Номер патента: CA712248A. Автор: G. Moffat Walter,Carson Robert. Владелец: RHOANGLO MINE SERVICES Ltd. Дата публикации: 1965-06-22.

An X-ray fluorescence system

Номер патента: AU2019903604A0. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2019-10-10.

An X-ray fluorescence system

Номер патента: AU2020903430A0. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2020-10-15.

Method of preparing samples for x-ray spectral and x-ray radiometric fluorescent analysis

Номер патента: SU998911A1. Автор: Сергей Анатольевич Бибинов,Федор Иванович Лобанов,Валерий Павлович Гладышев,Светлана Владимировна Ковалева,Нина Николаевна Андреева,Сергей Петрович Сиротинкин,Ирина Моисеевна Яновская,Тамара Дмитриевна Якусова,Аркадий Ченхенович Ким. Владелец: Московский Ордена Октябрьской Революции И Ордена Трудового Красного Знамени Институт Стали И Сплавов. Дата публикации: 1983-02-23.

SURFACE MICROSTRUCTURE MEASUREMENT METHOD, SURFACE MICROSTRUCTURE MEASUREMENT DATA ANALYSIS METHOD AND X-RAY SCATTERING MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20120087473A1. Автор: OMOTE Kazuhiko,Ito Yohiyasu. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-04-12.

X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130034204A1. Автор: MATOBA Yoshiki,SATO Tsuneo,Nakatani Rintaro. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-07.

X-ray analysis method and X-ray analyzer

Номер патента: JP6795010B2. Автор: 裕二 田中,田中　裕二,紗未 奥村. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

X-ray analysis method and X-ray analyzer

Номер патента: JP6915374B2. Автор: 健二 野村,野村　健二. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2021-08-04.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.