Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Mammography imaging system using X-ray fluorescence

Номер патента: US12029599B2
Опубликовано: 09-07-2024
Автор(ы): Peiyan CAO, Yurun LIU
Принадлежит: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Mammography imaging system using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4110185A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-04.

Mammography imaging system using x-ray fluorescence

Номер патента: US20220330910A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-20.

Mammography imaging system using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4110185A4. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20230293129A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Eiichi Furusawa,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11832981B2. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Eiichi Furusawa,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4254016A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Eiichi Furusawa,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Apparatus and Method for Detecting Lymphedema Using X-Ray Scans

Номер патента: US20130308752A1. Автор: Kevin Wilson,Thomas L. Kelly. Владелец: Hologic Inc. Дата публикации: 2013-11-21.

Fast 3D radiography using X-ray flexible curved panel detector with motion compensated multiple pulsed X-ray sources

Номер патента: US11730439B2. Автор: Jianqiang Liu,Chwen-Yuan Ku,Manat Maolinbay,Linbo Yang. Владелец: Aixscan Inc. Дата публикации: 2023-08-22.

Fast 3d radiography using x-ray flexible curved panel detector with motion compensated multiple pulsed x-ray sources

Номер патента: EP4312778A1. Автор: Jianqiang Liu,Chwen-Yuan Ku,Manat Maolinbay,Linbo Yang. Владелец: Aixscan Inc. Дата публикации: 2024-02-07.

X-ray irradiation apparatus, including a spectrally shaping x-ray optic and a spectral filter aperture device, x-ray fluorescence imaging apparatus and applications thereof, in particular in x-ray fluorescence imaging

Номер патента: CA3241967A1. Автор: Florian Grüner,Jonas Baumann,Theresa Staufer,Christopher Philip Schlesiger,Oliver Schmutzler,Christian Kornig. Владелец: UNIVERSITAET HAMBURG. Дата публикации: 2023-06-29.

Nanoparticle assisted scanning focusing x-ray fluorescence imaging and enhanced treatment

Номер патента: US20160252471A1. Автор: Ting Guo,R. Andrew Davidson. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2016-09-01.

Fast 3D Radiography Using X-ray Flexible Curved Panel Detector with Motion Compensated Multiple Pulsed X-ray Sources

Номер патента: US20220313184A1. Автор: Jianqiang Liu,Chwen-Yuan Ku,Manat Maolinbay,Linbo Yang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-10-06.

Bone density measurement using X-rays

Номер патента: DE69532551T2. Автор: Noah Berger,Tom Richardson,Russell J. Gershman,Eric Von Stetten,Howard P. Weiss,Thomas L. Kelly,Jay A. Framingham Stein,Steven Billerica Teta,Donald Norwood Barry,Richard E. Tewksbury Cabral,Tracy L. Amherst Ramsdell,Tina Woonsocket Lefebvre. Владелец: Hologic Inc. Дата публикации: 2004-12-23.

Apparatus and method for analysis using x-rays

Номер патента: US5040199A. Автор: Jay A. Stein. Владелец: Hologic Inc. Дата публикации: 1991-08-13.

Apparatus and method for analysis using x-rays

Номер патента: AU5283990A. Автор: Jay A. Stein. Владелец: Hologic Inc. Дата публикации: 1990-10-09.

APPARATUS AND METHOD OF PHOTOGRAPHING USING X-ray

Номер патента: KR101477543B1. Автор: 성영훈,이종하,이강의,장광은. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2014-12-31.

Apparatus and method of determining fraction of fluid phase using x-ray beams

Номер патента: RU2432570C2. Автор: Этьенн ВАЛЛЕ,Питер РЕЙТ,Джоэл ГРОУВЗ. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2011-10-27.

Methods for calibrating a spectral X-ray imaging system to perform material decomposition

Номер патента: US11864942B2. Автор: Jay S. Schildkraut,Vincent LOUSTAUNEAU,Krishnamoorthy Subramanyan,Jean-Marc Inglese. Владелец: Carestream Dental LLC. Дата публикации: 2024-01-09.

Semiconductor device measurement method using x-ray scattering and semiconductor device manufacturing method including the measurement method

Номер патента: US20230380783A1. Автор: Hidong Kwak,Jaeyong Lee,Minjung Shin,Chuhee LEE,Seungryeol Oh,Byunghyun HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP3480586B1. Автор: Ulrich Waldschläger,Roald Alberto TAGLE BERDAN. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2021-02-24.

Biological imaging method using X-ray fluorescence

Номер патента: US11946884B2. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

Biological imaging method using X-ray fluorescence

Номер патента: CN114072674A. Автор: 曹培炎,刘雨润. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-18.

METHOD FOR ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20190011382A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.,Mortillaro Cameron A.. Владелец: ICAGEN, INC.. Дата публикации: 2019-01-10.

METHOD FOR ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200011815A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,MORTILLARO Camaron A.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-09.

Method for Analysis Using X-Ray Fluorescence

Номер патента: US20160341678A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.,Mortillaro Cameron A.. Владелец: ICAGEN, INC.. Дата публикации: 2016-11-24.

Biological imaging method using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4004540A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Method for analysis using X-ray fluorescence

Номер патента: US9063066B2. Автор: Benjamin P. Warner,Lori J. Peterson,Cameron A. Mortillaro,Nathan H. Zahler,Pratima Bharti,Chang-Tai HSIEH,Emilia A. Solomon. Владелец: Xrpro Sciences Inc. Дата публикации: 2015-06-23.

Method for analysis using X-ray fluorescence

Номер патента: US9435756B2. Автор: Benjamin P. Warner,Lori J. Peterson,Cameron A. Mortillaro,Nathan H. Zahler,Pratima Bharti,Chang-Tai HSIEH,Emilia A. Solomon. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Medical sectional imaging using X-ray computer tomography, nuclear spin tomography, etc., whereby an object function is determined using multiple projections with an iterative reconstruction algorithm

Номер патента: DE10211485A1. Автор: Thomas Koehler. Владелец: Philips Intellectual Property and Standards GmbH. Дата публикации: 2003-09-25.

X-ray diagnostic apparatus for analyzing scattered X-rays by using X-ray shield member

Номер патента: US4741009A. Автор: Katsuya Kikuchi,Hitoshi Yamagata. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1988-04-26.

X-ray Detector and Method for Using X-ray Detector to Capture Image

Номер патента: US20200187890A1. Автор: Che-Yu Chuang. Владелец: Hannstouch Solution Inc. Дата публикации: 2020-06-18.

Computerized tomography device using x rays and image processing method

Номер патента: CA2558653C. Автор: Masaki Kobayashi. Владелец: Hitachi Aloka Medical Ltd. Дата публикации: 2012-12-18.

X-ray Detector and Method for Using X-ray Detector to Capture Image

Номер патента: US20200187890A1. Автор: Chuang Che-Yu. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-18.

System and method for measuring visceral fat using x-ray

Номер патента: KR101945856B1. Автор: 구준범,구수연. Владелец: 구준범. Дата публикации: 2019-02-08.

Computerized tomography device using X rays and image processing method

Номер патента: US7526061B2. Автор: Masaki Kobayashi. Владелец: Aloka Co Ltd. Дата публикации: 2009-04-28.

Computerized tomography device using X rays and image processing method

Номер патента: US20070053485A1. Автор: Masaki Kobayashi. Владелец: Aloka Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-08.

Method for measurement of bone mineral density using X-ray image

Номер патента: KR100479207B1. Автор: 김승환,박선희,정지욱,이수열. Владелец: 한국전자통신연구원. Дата публикации: 2005-03-28.

Method for assessing bone age using x-ray image of hand, device, computer apparatus, and storage medium

Номер патента: WO2019214052A1. Автор: 马进,王健宗,肖京,刘新卉,刘莉红,吴天博. Владелец: 平安科技（深圳）有限公司. Дата публикации: 2019-11-14.

Calibrating 3D motion capture system for skeletal alignment using x-ray data

Номер патента: US11694360B2. Автор: Sang J. Kim,Laszlo Kustra. Владелец: Ssam Sports Inc. Дата публикации: 2023-07-04.

Imaging system using X-ray fluorescence

Номер патента: CN114945326A. Автор: 曹培炎,刘雨润. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-26.

Methods for imaging using x-ray fluorescence

Номер патента: EP3877782A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-15.

Apparatus, method and computer-readable medium analyzing components using X-ray

Номер патента: US20110110489A1. Автор: Jong Ha Lee,Sung Su Kim,Young Hun Sung,Dong-goo Kang,Seok Min Han,Kwang Eun Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-05-12.

Imaging system using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4110186A4. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

System and method for detecting internal load by using x-ray image of container

Номер патента: US20230210481A1. Автор: Ji Wook Jeong. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-07-06.

System and method for in vivo estimation of brain amyloid burden using x-rays

Номер патента: WO2023096869A1. Автор: Bahaa Ghammraoui,Jerome Carson Smith,Aldo Badano,Eshan DAHAL. Владелец: Dahal Eshan. Дата публикации: 2023-06-01.

Method for locating object(s) in particular for optimal lower limb surgery planning using x-ray images

Номер патента: EP4312852A1. Автор: Sylvain Fontaine,Vivien DELMON,Marie-Anne CHANRION. Владелец: OSTESYS. Дата публикации: 2024-02-07.

Method for Locating Object(s) in Particular for Optimal Lower Limb Surgery Planning Using X-Ray Images

Номер патента: US20240173081A1. Автор: Sylvain Fontaine,Vivien DELMON,Marie-Anne CHANRION. Владелец: OSTESYS. Дата публикации: 2024-05-30.

Method for locating object(s) in particular for optimal lower limb surgery planning using x-ray images

Номер патента: WO2022200306A1. Автор: Sylvain Fontaine,Vivien DELMON,Marie-Anne CHANRION. Владелец: Minmaxmedical. Дата публикации: 2022-09-29.

Tomography using x-ray

Номер патента: KR880000085B1. Автор: 히로시 니시무라,이사오 호리바,히로유끼 다께우찌. Владелец: 기무라 히로가즈. Дата публикации: 1988-02-23.

Arrangement and method for projective and/or tomographic phase-contrast imaging using x-ray radiation

Номер патента: US20100177864A1. Автор: Christian David,Stefan Popescu,Martin Hoheisel,Franz Pfeiffer,Eckhard Hempel,Tilman Donath. Владелец: Scherrer Paul Institut. Дата публикации: 2010-07-15.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20210161493A1. Автор: Saito Yuta. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

Device for examining a body using X-rays

Номер патента: DE2442009C3. Автор: Godfrey Newbold Newark Nottinghamshire Hounsfield. Владелец: EMI Ltd HAYES MIDDLESEX GB. Дата публикации: 1985-07-18.

Cardiac tomography and tomogram using x-ray ct apparatus

Номер патента: WO2003045247A1. Автор: Osamu Miyazaki,Tetsuo Nakazawa,Hiroto Kokubun. Владелец: HITACHI MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2003-06-05.

A system for diagnosing pathologic change of vessel using x-ray microscopic imaging of unmonochromatized synchrotron radiation

Номер патента: KR100778369B1. Автор: 김진원,서홍석,제정호,오칠환. Владелец: 고려대학교 산학협력단. Дата публикации: 2007-11-22.

A device for determining the location of a malignant neoplasm and its radiotherapy using X-ray beams

Номер патента: KR100490155B1. Автор: 아부베케로비츠 쿠마크호브 무라딘. Владелец: 아부베케로비츠 쿠마크호브 무라딘. Дата публикации: 2005-05-17.

Sample preparation method for analyzing chemical components of quartz sandstone by X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN111855719A. Автор: 李欣,吴宏,王长军,杨红岩,韩艳丽. Владелец: Hebei Nanbo Glass Co ltd. Дата публикации: 2020-10-30.

Patient specific instrumentation (PSI) for orthopedic surgery and systems and methods for using X-rays to produce same

Номер патента: US09924950B2. Автор: Pierre Couture,Trong Tin Nguyen,Jean-Sebastien Merette,Anselm Jakob NEUROHR. Владелец: Zimmer Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Patient specific instrumentation (psi) for orthopedic surgery and systems and methods for using x-rays to produce same

Номер патента: CA2925299C. Автор: Pierre Couture,Trong Tin Nguyen,Jean-Sebastien Merette,Anselm Jakob NEUROHR. Владелец: Zimmer Inc. Дата публикации: 2022-07-26.

Soft tissue chemical anomaly and/or conspicuousness detecting method for e.g. human body, involves determining data point of voxels of object area, and using x-ray attenuation values during spectral distributions of x-ray radiation

Номер патента: DE102006015452A1. Автор: Bernhard Dr. Krauß. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2007-10-11.

Axial transverse X=ray tomographic scanner with digital filter - uses X=ray source rotated round body to produce views of transverse section from discrete sequence produced from detector array

Номер патента: FR2496934A1. Автор: Henri Rougeot,Jean Ricodeau. Владелец: Thomson CSF SA. Дата публикации: 1982-06-25.

Patient's particular instrument for orthomorphia（PSI）And the system and method for using X-ray making it

Номер патента: CN105705117B. Автор: P·卡顿尔,T·T·阮,J-S·梅蕾特,A·J·诺罗尔. Владелец: ZIMMER GMBH. Дата публикации: 2018-07-24.

Bone densitometry using X-ray imaging systems

Номер патента: AU737665B2. Автор: Jay A. Stein,Richard E Cabral,Howard P Weiss,Kevin E. Wilson,John A. Shepherd,Joel Weinstein,Vincent E. Quinn. Владелец: Hologic Inc. Дата публикации: 2001-08-30.

Bone densitometry using x-ray imaging systems

Номер патента: CA2278783A1. Автор: Richard E. Cabral,Jay A. Stein,Howard P. Weiss,Kevin E. Wilson,John A. Shepherd,Joel Weinstein,Vincent E. Quinn. Владелец: Vincent E. Quinn. Дата публикации: 1998-08-06.

System for 3D Visualization of Radio-Opaque Embolic Materials Using X-ray Imaging

Номер патента: US20130190615A1. Автор: Bender Frederik,Royalty Kevin,Sarmiento Maria Lydia. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-25.

PATIENT SPECIFIC INSTRUMENTATION (PSI) FOR ORTHOPEDIC SURGERY AND SYSTEMS AND METHODS FOR USING X-RAYS TO PRODUCE SAME

Номер патента: US20160089153A1. Автор: Merette Jean-Sebastien,COUTURE Pierre,Nguyen Trong Tin,NEUROHR Anselm Jakob. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-31.

DEEP INSPIRATION BREATH-HOLD SETUP USING X-RAY IMAGING

Номер патента: US20190366124A1. Автор: Berlinger Kajetan. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-05.

Method for evaluating trabecular bone using X-ray image

Номер патента: KR100419573B1. Автор: 김승환,표현봉,박선희,이상경,이수열. Владелец: 한국전자통신연구원. Дата публикации: 2004-02-19.

Image acquisition of deployment of endo-vascular prosthesis (stent) into an artery uses X ray radiography with zoom and enlargement functions

Номер патента: FR2826760A1. Автор: Jean Lienard,Regis Vaillant,Francisco Sureda. Владелец: GE Medical Systems Global Technology Co LLC. Дата публикации: 2003-01-03.

Workplace for examining patients using X-rays

Номер патента: DE2351542B2. Автор: Alfred Hahn,Wolfgang Ing.(Grad.) Braether. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1980-04-30.

Deep inspiration breath-hold setup using x-ray imaging

Номер патента: EP3586309A1. Автор: Kajetan Berlinger. Владелец: BRAINLAB AG. Дата публикации: 2020-01-01.

Detection and Localized Imaging of Cancer Using X-Ray Fluorescent Nanoparticle/Preferential Locator Conjugates

Номер патента: US20090208417A1. Автор: Marlin O. Thurston,Vishwanath V. Subramaniam. Владелец: Actis Ltd. Дата публикации: 2009-08-20.

Radiotherapy method using x-rays

Номер патента: WO2004022152A3. Автор: Chia-Gee Wang. Владелец: NANODAYNAMICS Inc. Дата публикации: 2005-09-29.

Radiotherapy method using x-rays

Номер патента: WO2004022152A9. Автор: Chia-Gee Wang. Владелец: NANODAYNAMICS Inc. Дата публикации: 2004-06-17.

Radiotherapy method using x-rays

Номер патента: WO2004022152A2. Автор: Chia-Gee Wang. Владелец: Nanodaynamics, Inc.. Дата публикации: 2004-03-18.

IMAGING SYSTEM USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20220354444A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-10.

X-ray diagnosis apparatus and disinfection method using x-ray diagnosis apparatus

Номер патента: US20220401047A1. Автор: Daisuke Takahashi,Nobuo Kobayashi,Seiichiro Nagai,Atsushi Kotani,Yusuke Okumura,Junji MASAHASHI,Norimitsu Kosugi. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2022-12-22.

Functionalizable molecular probe for x-ray fluorescence imaging and multimodal imaging

Номер патента: WO2017005822A1. Автор: François Lambert,Helene Bertrand,Clotilde Policar,Nicolas DELSUC,Anne-Sophie BERNARD,Sarah HOSTACHY. Владелец: Paris Sciences Et Lettres - Quartier Latin. Дата публикации: 2017-01-12.

Wideband non-contact data link using X-ray sources to excite scintillating material receiving device

Номер патента: US5978438A. Автор: Rodney A. Mattson,David A. WILCOX,Theodore A. Resnick. Владелец: Picker International Inc. Дата публикации: 1999-11-02.

Method for planning X-ray imaging by using X-ray imaging device for imaging examination zone of e.g. heart of human patient for treatment of heart disease, involves determining irradiated region of object based on attitude parameters

Номер патента: DE102012201798A1. Автор: Andreas Maier,Dr. Hoheisel Martin,Rosemarie Banckwitz. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2013-08-08.

Apparatus for radiological treatment of pathological material using x-ray beam modification

Номер патента: KR100203954B1. Автор: 루벤아브라홈 시룰니크. Владелец: 루벤아브라홈 시룰니크. Дата публикации: 1999-06-15.

Medical imaging technique using x-ray to near-infrared downconverting nanopowder

Номер патента: US20210353778A1. Автор: Jifeng Liu,Shudong Jiang,Xiaoxin Wang. Владелец: Dartmouth College. Дата публикации: 2021-11-18.

X-ray imaging method using x-ray ct imaging apparatus and x-ray ct imaging apparatus

Номер патента: KR102206089B1. Автор: 임성환,안병준,최성일. Владелец: (주)바텍이우홀딩스. Дата публикации: 2021-01-21.

X-ray imaging device and panoramic image creation method using x-ray imaging device

Номер патента: WO2017135532A1. Автор: 박병욱,전진환,조규정,이창윤,황찬우. Владелец: (주)제노레이. Дата публикации: 2017-08-10.

MATERIAL DECOMPOSITION TECHNIQUE USING X-RAY PHASE CONTRAST IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20160095562A1. Автор: Shafer Mark E.,Baturin Pavlo. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-07.

Material decomposition technique using x-ray phase contrast imaging system

Номер патента: US9907524B2. Автор: Mark E. Shafer,Pavlo BATURIN. Владелец: Carestream Health Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Systems and methods using x-ray tube spectra for computed tomography applications

Номер патента: WO2007057841A3. Автор: Christoph Herrmann,Christian Baeumer,Ewald Roessl,Roland Proska,Guenter Zeitler,Klaus J Engel. Владелец: Klaus J Engel. Дата публикации: 2007-10-25.

METHOD AND MEASURING APPARATUS FOR AN X-RAY FLUORESCENCE MEASUREMENT

Номер патента: US20200155088A1. Автор: Gruener Florian,Hoeschen Christoph,BLUMENDORF Florian. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-21.

Local X=ray absorption monitoring system - uses X=ray source with anode plate having large dimension in one or two directions

Номер патента: FR2393323A1. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1978-12-29.

PROCESS FOR MAKING TOMOGRAPHS USING X-RAYS OR SIMILAR PENETRANT RAYS

Номер патента: FR2368259A1. Автор: . Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1978-05-19.

Radiation dose and distribution measuring equipment and method using x-ray acoustic imaging system

Номер патента: KR101769333B1. Автор: 김병철,김지수,김인중,김철홍,김중현,박은영,이철영,정유한. Владелец: 포항공과대학교 산학협력단. Дата публикации: 2017-08-18.

METHOD AND DEVICE FOR IMAGING SOFT BODY TISSUE USING X-RAY PROJECTION AND OPTICAL TOMOGRAPHY

Номер патента: US20140288420A1. Автор: Koehler Thomas,HEESE Harald Sepp,Goossen Andre. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.. Дата публикации: 2014-09-25.

SYSTEMS AND METHODS FOR USING X-RAY FIELD EMISSION TO DETERMINE INSTRUMENT POSITION AND ORIENTATION

Номер патента: US20150223765A1. Автор: Chopra Prashant. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-13.

SYSTEMS AND METHODS FOR USING X-RAY FIELD EMISSION TO DETERMINE INSTRUMENT POSITION AND ORIENTATION

Номер патента: US20190239831A1. Автор: Chopra Prashant. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-08.

DEVICE FOR EXAMINING AN OBJECT USING X-RAYS PRODUCED BY PULSE, AT HIGH SPEED

Номер патента: FR2333403A1. Автор: . Владелец: ARTRONIX Inc. Дата публикации: 1977-06-24.

Wave dispersive x-ray fluorescence system using focusing optics for stimulation and focusing monochromator for collection

Номер патента: RU2339974C2. Автор: Зеву ЧЕН,Дэвид М. ГИБСОН. Владелец: Икс-Рэй Оптикал Системз, Инк.. Дата публикации: 2008-11-27.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: FI20245499A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2023-03-25.

X-ray fluorescence analyzer with a plurality of measurement channels, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA3097467C. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2024-06-25.

X-ray fluorescence analyzer and a method for performing X-ray fluorescence analysis

Номер патента: FI131090B1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Finland Oy. Дата публикации: 2024-09-24.

X-ray fluorescence analyzer, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: DK181581B1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: Metso Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2024-06-07.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: CA3232838A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2023-03-30.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: WO2023044528A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation. Дата публикации: 2023-03-30.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: AU2022352222A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2024-04-11.

A method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: FI20245869A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Finland Oy. Дата публикации: 2024-07-09.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US09810649B2. Автор: Toshiyuki Takahara,Hiroyuki Noda,Ai Masuda. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Polarized, energy dispersive x-ray fluorescence system and method

Номер патента: WO2024026158A1. Автор: Zewu Chen,Fuzhong Wei,Joseph J. SPINAZOLA,Zhifan GAO,Yaobiao XIA. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2024-02-01.

Polarized, energy dispersive x-ray fluorescence system and method

Номер патента: US20240035990A1. Автор: Zewu Chen,Fuzhong Wei,Zhifan GAO,Yaobiao XIA,Joseph J. SPINAZOLA, III. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

X-ray fluorescence analyzer and a method for performing an x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US11815480B2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2023-11-14.

X-ray fluorescence analyzer, and a method for performing X-ray fluorescence analysis

Номер патента: AU2018419252A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2020-12-03.

X-ray fluorescence analyzer, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US20210255123A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2021-08-19.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US09612214B2. Автор: Haruo Takahashi,Toshiyuki Takahara,Isao Yagi,Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

System and method for characterizing a film by x-ray photoelectron and low-energy x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: EP2761284A1. Автор: David A. Reed,Rodney Smedt,Bruno W. Schueler,Jeffrey Thomas FANTON. Владелец: Revera Inc. Дата публикации: 2014-08-06.

Marking device with metallic element for use x-ray guided surgery

Номер патента: EP3457944A1. Автор: Eli Halpert. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-03-27.

Apparatus and Method for Detecting Lymphedema Using X-Ray Scans

Номер патента: US20130308752A1. Автор: Wilson Kevin,Kelly Thomas L.. Владелец: Hologic, Inc.. Дата публикации: 2013-11-21.

PATIENT SPECIFIC INSTRUMENTATION (PSI) FOR ORTHOPEDIC SURGERY AND SYSTEMS AND METHODS FOR USING X-RAYS TO PRODUCE SAME

Номер патента: US20180193035A1. Автор: Merette Jean-Sebastien,COUTURE Pierre,Nguyen Trong Tin,NEUROHR Anselm Jakob. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-12.

PATIENT SPECIFIC INSTRUMENTATION (PSI) FOR ORTHOPEDIC SURGERY AND SYSTEMS AND METHODS FOR USING X-RAYS TO PRODUCE SAME

Номер патента: US20200315634A1. Автор: Merette Jean-Sebastien,COUTURE Pierre,Nguyen Trong Tin,NEUROHR Anselm. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-08.

Device for position detection using X-rays in a therapeutic pressure wave device

Номер патента: DE19512956C2. Автор: Ulrich Hagelauer,Norbert Stoetzner. Владелец: Storz Medical AG. Дата публикации: 2001-07-05.

Method of analysis using x-ray fluorescence

Номер патента: US20030049859A1. Автор: Alexander Henrich,Konrad Beckenkamp,Oliver Mandal,Matthias Ohm. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2003-03-13.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: CA3200197A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Bly IP Inc. Дата публикации: 2022-06-02.

X-ray fluorescent analysis method with calibration by the one-element samples

Номер патента: RU2682143C1. Автор: Борис Дмитриевич Калинин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ). Дата публикации: 2019-03-14.

Pressed powder sample measurements using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2020264353B2. Автор: Bruno Alfred Robert Vrebos,Dick Kuiper,Saskia Maria Angela Beerkens. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-08-25.

Pressed powder sample measurements using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2020264353A1. Автор: Bruno Alfred Robert Vrebos,Dick Kuiper,Saskia Maria Angela Beerkens. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2020-12-03.

Systems and methods for analyzing core using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2024200635A1. Автор: Peter Kanck,Ry Nathaniel ZAWADZKI. Владелец: Boart Longyear Co. Дата публикации: 2024-02-22.

Systems and methods for analyzing core using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2021212154B2. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Boart Longyear Co. Дата публикации: 2023-11-23.

Method for preparing samples for spectrometric analysis by x-ray fluorescence

Номер патента: EP4361617A1. Автор: Andrea Franciscono,Simona Rollet. Владелец: Cogne Acciai Speciali SpA. Дата публикации: 2024-05-01.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: WO2022115519A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Bly Ip Inc.. Дата публикации: 2022-06-02.

Ammunition detection using x-ray fluorescence

Номер патента: WO2023225329A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corporation. Дата публикации: 2023-11-23.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: US20240019386A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Veracio Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: EP4252267A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2023-10-04.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: AU2021386382A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Boart Longyear Co. Дата публикации: 2023-07-13.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: CA3221264A1. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2018-03-15.

Systems And Methods For Analyzing Core Using X-Ray Fluorescence

Номер патента: US20240286541A1. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Veracio Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Method for determining chemical content of complex structures using x-ray microanalysis

Номер патента: GB2438093A. Автор: Steven M Scheifers,Michael Riess,William L Olson. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2007-11-14.

Apparatus for solid surface analysis using X-ray spectroscopy

Номер патента: US5369275A. Автор: Masayuki Kamei,Yuji Aoki,Toshio Usui,Tadataka Morishita. Владелец: Showa Electric Wire and Cable Co. Дата публикации: 1994-11-29.

Detection of dishing and tilting using x-ray fluorescence

Номер патента: US20060227931A1. Автор: Boris Yokhin,Isaac Mazor,Alex Dikopoltsev,Tzachi Rafaeli,Alexander Tokar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-12.

Method of creating signature for gemstone using x-ray imaging

Номер патента: RU2690707C2. Автор: Петер РЕИШЧИГ. Владелец: Петер РЕИШЧИГ. Дата публикации: 2019-06-05.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: CA3099565C. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

A method of generating a fingerprint for a gemstone using x-ray imaging

Номер патента: CA2970430C. Автор: Peter Reischig. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-13.

Method of estimating effective atomic number and volume density of rock samples using x-ray computed tomography on two energy levels

Номер патента: RU2595646C2. Автор: Наум ДЕРЖИ. Владелец: Ингрейн, Инк.. Дата публикации: 2016-08-27.

Measurement device using x-ray reflection

Номер патента: US20190285559A1. Автор: Hiroshi Uchida,Ryusuke Nakanishi,Takashi Emura,Junichi Ogawa. Владелец: Earthnix-M Inc. Дата публикации: 2019-09-19.

A method of generating a fingerprint for a gemstone using x-ray imaging

Номер патента: EP3230733A1. Автор: Peter Reischig. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-18.

Battery measurement apparatus using x-rays

Номер патента: EP3805743A1. Автор: So Young Kim,Japil KOO. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-04-14.

Method of bright-field imaging using x-rays

Номер патента: US20090290681A1. Автор: Jung Ho Je,Jae Mok Yi. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2009-11-26.

Method of bright-field imaging using X-rays

Номер патента: US7903785B2. Автор: Jung Ho Je,Jae Mok Yi. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2011-03-08.

A method of bright-field imaging using x-rays

Номер патента: WO2008007817A1. Автор: Jung Ho Je,Jae Mok Yi. Владелец: Postech Foundation. Дата публикации: 2008-01-17.

Equipment using X-ray for security detection

Номер патента: US20200132879A1. Автор: Jiabin Dong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-04-30.

Method and apparatus for measuring thin film thickness using x-ray

Номер патента: US09644956B2. Автор: Shi Surk KIM,Sang Bong Lee,Seong Uk LEE,Joo Hye Kim. Владелец: Nano CMS Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Method and System to Automatically Inspect Parts Using X-Rays

Номер патента: US20190219525A1. Автор: Guilherme Cardoso. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-07-18.

Hand tool and mobile device for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2680864C2. Автор: Удо ГАЙЕР,Бернхард НЕНЗЕЛЬ. Владелец: Хельмут Фишер Гмбх Институт Фюр Электроник Унд Месстекник. Дата публикации: 2019-02-28.

Device for waveguide-resonance x-ray fluorescence element analysis

Номер патента: RU2706445C1. Автор: Владимир Александрович Елохин,Валерий Николаевич Соколов,Валерий Иванович Николаев,Алексей Сергеевич Бахвалов. Владелец: Акционерное общество "Научные приборы". Дата публикации: 2019-11-19.

Testing a semiconductor device using x-rays

Номер патента: US20240103072A1. Автор: Kevin Johnson,Charles A. Peterson,Shuai ZHAO,Sanchari Sen,May Ling Oh,Xianghong Tong,Amir Raveh,Patrick Pardy,Kimberlee CELIO,Joshua W. KEVEK,Evgeny Gregory Nisenboim,Boris SIMKHOVICH,Martin Eric Gostasson VON HAARTMAN,Eli ABU AYOB. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP3933391A1. Автор: Jeong Goun Park. Владелец: Isp Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-05.

Electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: WO2014026932A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson. Владелец: ELEMENT SIX LIMITED. Дата публикации: 2014-02-20.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20220357292A1. Автор: Jeong Goun Park. Владелец: Isp Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

X-ray fluorescence analysis measurement method and x-ray fluorescence analysis measurement device

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Shinji Ishimaru. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

X-ray fluorescence spectrometer and X-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US09746433B2. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-29.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20230400423A1. Автор: Tsutomu Tada,Hajime Fujimura,Licai Jiang,Masahiro Nonoguchi,Boris Verman,Kazuhiko Omote,Yuriy Platonov,Makoto Kambe,Toshifumi Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

X-ray Fluorescence Analyzer With Safety Features

Номер патента: US20150085976A1. Автор: Mikko Järvikivi,Jarmo Leino. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2015-03-26.

In-situ electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: WO2014026931A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson. Владелец: ELEMENT SIX LIMITED. Дата публикации: 2014-02-20.

X-ray fluorescence spectrometre

Номер патента: RU2390764C2. Автор: Йосиюки КАТАОКА,Эйити ФУРУСАВА,Хисаюки КОХНО. Владелец: Ригаку Корпорейшн. Дата публикации: 2010-05-27.

X-ray fluorescence analyzer and x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: US20120051507A1. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Hideki Takiguchi,Yutaka Ikku. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-03-01.

Electron excited X-ray fluorescence device

Номер патента: US09671355B2. Автор: Carlos Camara. Владелец: Tribogenics Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis of mineral sample

Номер патента: RU2499252C2. Автор: Андерс УЛЛЬБЕРГ,Рагнар КУЛЛЕНБЕРГ,Эрик ОДЕН,Фредрик ДАНИЕЛЬССОН. Владелец: Орэксплоре Аб. Дата публикации: 2013-11-20.

X-ray fluorescence analyzer, and control method for x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4166938A1. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-04-19.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4071465A1. Автор: Hajime Nii. Владелец: Horiba Advanced Techno Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-12.

X-Ray Fluorescence Measurement Apparatus

Номер патента: US20210018453A1. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Device and method for mapping the distribution of an x-ray fluorescence marker

Номер патента: WO2005083406A1. Автор: Geoffrey Harding,Gerhard Martens,Hans Barschdorf,Bernd Schweizer. Владелец: Philips Intellectual Property & Standards Gmbh. Дата публикации: 2005-09-09.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4425161A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Shin Tanaka,Yasushi Kusakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Peak identification analysis program, and x-ray fluorescent spectrometer

Номер патента: US20240337612A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Wataru Matsuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20240328971A1. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

X-ray fluorescence analyzing system

Номер патента: US09989484B2. Автор: Hiroyuki Kawakami,Motoyuki Yamagami. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

X-ray fluorescence analysis method and X-ray fluorescence analysis system

Номер патента: US09945796B2. Автор: Eisaku Terashita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

X-ray fluorescence analyzer and method of displaying sample thereof

Номер патента: US09829447B2. Автор: Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

X-ray fluorescence analyzer and X-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US09810648B2. Автор: Toshiyuki Takahara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

X-ray fluorescence analyzer and measurement position adjusting method therefore

Номер патента: US09791392B2. Автор: Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

X-ray fluorescence analysis of multilayered samples

Номер патента: CA2381398C. Автор: Alfred Johann Peter Haszler,Hormoz Ghaziary. Владелец: Corus Aluminium Walzprodukte GmbH. Дата публикации: 2006-01-24.

X-ray fluorescence analysis of multilayered samples

Номер патента: WO2001011315A1. Автор: Alfred Johann Peter Haszler,Hormoz Ghaziary. Владелец: Corus Aluminium Walzprodukte GmbH. Дата публикации: 2001-02-15.

Method for detecting surface impurities by x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US20170122888A1. Автор: Matthias Geistbeck,Georg Wachinger,Thomas Meer,Sebastian Heckner. Владелец: Airbus Defence and Space GmbH. Дата публикации: 2017-05-04.

X-ray fluorescence spectrometer and control method for x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11698352B2. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-07-11.

Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US12007380B2. Автор: Youhong Xiao,Bruno Vrebos,Lieven Kempenaers. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-06-11.

Electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: EP2885632A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson. Владелец: Element Six Technologies Ltd. Дата публикации: 2015-06-24.

Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis of a mineral sample

Номер патента: CA2713383A1. Автор: Erik Oden,Ragnar Kullenberg,Anders Ullberg,Fredrik Danielsson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-08-13.

X-ray fluorescence visualizer, imager, or information provider

Номер патента: US20090086905A1. Автор: Roderick A. Hyde,Muriel Y. Ishikawa,Nathan P. Myhrvold,Edward K.Y. Jung,Eric C. Leuthardt,Robert W. Lord,Clarence T. Tegreene,Lowell L. Wood, JR.,Dennis J. Rivet,Victoria Y.H. Wood,Edward S. Boyden,Michael A. Smith,Thomas A. Weaver,Charles Whitmer. Владелец: SEARETE LLC. Дата публикации: 2009-04-02.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: CA1086870A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1980-09-30.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20020172322A1. Автор: Kouichi Aoyagi,Naoki Kawahara,Yasujiro Yamada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-21.

Trace element x-ray fluorescence analyser using dual focusing x-ray monochromators

Номер патента: CA2822382C. Автор: James Tickner,Yves Leon Jozef Van Haarlem. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2020-11-24.

Apparatus and method for X-ray fluorescence analysis of a mineral sample

Номер патента: AU2009211833A1. Автор: Erik Oden,Ragnar Kullenberg,Anders Ullberg,Fredrik Danielsson. Владелец: OREXPLORE AB. Дата публикации: 2009-08-13.

X-ray fluorescence analysis device, and spectrum display method used in same

Номер патента: US20190391091A1. Автор: Hiroaki Furukawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20020018541A1. Автор: Shigeki Yagi. Владелец: Shigeki Yagi. Дата публикации: 2002-02-14.

X-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US20170108424A1. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-04-20.

Optical mirror, x-ray fluorescence analysis device and method for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA2899081C. Автор: Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2021-04-06.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: US4162528A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1979-07-24.

X-Ray fluorescent analysis with matrix compensation

Номер патента: US4350889A. Автор: Khaim Lisnyansky. Владелец: International Paper Co. Дата публикации: 1982-09-21.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: CA2789312A1. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2011-08-18.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20090116613A1. Автор: Noboru Yamashita,Yoshiyuki Kataoka,Makoto Doi,Hisayuki Kohno. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2009-05-07.

Apparatus for quantitative in-line X-ray fluorescence analysis of slurries

Номер патента: US4125769A. Автор: Harald Schneider,Rainer Marten. Владелец: Gesellschaft fuer Kernenergieverwertung in Schiffbau und Schiffahrt. Дата публикации: 1978-11-14.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11867646B2. Автор: Tsutomu Tada,Hajime Fujimura,Licai Jiang,Masahiro Nonoguchi,Boris Verman,Kazuhiko Omote,Yuriy Platonov,Makoto Kambe,Toshifumi Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-09.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20230408428A1. Автор: Yasuyuki Okamoto. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

X-ray fluorescence analysis device

Номер патента: EP4286837A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

Compact x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis

Номер патента: WO2003060496A3. Автор: Leslie J Kirihara,Chester L Shepard,Bary W Wilson,John T Munley,James H Reeves. Владелец: James H Reeves. Дата публикации: 2003-09-25.

Optical mirror, X-ray fluorescence analysis device, and method for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US9880329B2. Автор: Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2018-01-30.

X-ray fluorescence analysis device

Номер патента: US20240085353A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Compact x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis

Номер патента: WO2003060496A2. Автор: Chester L. Shepard,James H. Reeves,Bary W. Wilson,Leslie J. Kirihara,John T. Munley. Владелец: BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE. Дата публикации: 2003-07-24.

Apparatus and method for x-ray fluorescence imaging

Номер патента: US20240280519A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

X-ray fluorescence system with apertured sample mask for analyzing patterned surfaces

Номер патента: WO2005015189A2. Автор: Zewu Chen,Shinichi Terada. Владелец: Technos Co., Ltd. Дата публикации: 2005-02-17.

Multiplexing x-ray fluorescence system and method

Номер патента: US20170082562A1. Автор: Robert G. Baker,Keith C. Gendreau,Zaven Arzoumanian,Norman Dobson,Richard Koenecke. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 2017-03-23.

Device for sorting materials, in particular scrap particles, by means of x-ray fluorescence

Номер патента: US20170328845A1. Автор: Juergen Fink,Rainer Loeffler. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2017-11-16.

Method for quantifying chemical species in a sample by x-ray fluorescence

Номер патента: EP2850419A1. Автор: Marco Peloi,Edoardo Busetto,Luca Rebuffi,Emmanuel TEFOUET KANA. Владелец: Elettra Sincrotrone Trieste Consortile Per Azioni Soc. Дата публикации: 2015-03-25.

X-ray fluorescence flux composition

Номер патента: EP1585980A1. Автор: David Brown,Keith Norrish. Владелец: X Ray Flux Pty Ltd. Дата публикации: 2005-10-19.

Method and measuring device for measuring objects by means of x-ray fluorescence

Номер патента: US20230127587A1. Автор: Martin LEIBFRITZ. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2023-04-27.

Measurement object and method for verifying a calibration of an x-ray fluorescence device

Номер патента: US20240310308A1. Автор: Martin LEIBFRITZ. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2024-09-19.

Apparatus and method for x-ray fluorescence imaging

Номер патента: EP4430386A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US09645100B2. Автор: Keiichi Tanaka,Akikazu Odawara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Method of x-ray fluorescent gold determination

Номер патента: RU2662049C1. Автор: Елена Анатольевна Лейтес,Кирилл Сергеевич Колбанцев. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Алтайский государственный университет". Дата публикации: 2018-07-23.

Cone penetrometer utilizing an X-ray fluorescence metals sensor

Номер патента: US6097785A. Автор: William T. Elam. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2000-08-01.

Electron excited x-ray fluorescence device

Номер патента: WO2014074742A1. Автор: Carlos Camara. Владелец: Tribogenics, Inc.. Дата публикации: 2014-05-15.

Surface processing method effected for total-reflection X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US5686314A. Автор: Kunihiro Miyazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1997-11-11.

X-ray fluorescence imaging of elements

Номер патента: US4987582A. Автор: David B. Chang,Norton L. Moise,Jackie R. Webster,Keith V. Pearson,Victor Vali. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1991-01-22.

Method and apparatus for total reflection X-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: US6041096A. Автор: Shoichiro Tonomura,Ichiro Doi. Владелец: Asahi Kasei Kogyo KK. Дата публикации: 2000-03-21.

Total reflection x-ray fluorescence apparatus

Номер патента: CA2028003C. Автор: Kazuo Nishihagi,Michihisa Kyoto,Tetsuya Ohsugi. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 1999-01-26.

Exempt source for an x-ray fluorescence device

Номер патента: WO2004089056A3. Автор: Stephen L Price,Donald K Kenning,Bruce J Kaiser. Владелец: Bruce J Kaiser. Дата публикации: 2005-06-09.

Device and method for mapping the distribution of an x-ray fluorescence marker

Номер патента: EP1718958A1. Автор: Geoffrey Harding,Gerhard Martens,Hans Barschdorf,Bernd Schweizer. Владелец: Philips Intellectual Property and Standards GmbH. Дата публикации: 2006-11-08.

Total reflection X-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: US11796495B2. Автор: Makoto Doi,Shinya KIKUTA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Resolution control in x-ray fluorescence spectroscopy systems

Номер патента: US20170168172A1. Автор: Bryan John CROSBY. Владелец: Thermo Gamma Metrics Pty Ltd. Дата публикации: 2017-06-15.

Diffraction analysis device and method for full-field x-ray fluorescence imaging analysis

Номер патента: US11774380B1. Автор: Zhu An,PENG Wang,Ning Huang,Ze He,Yuanjun Xu. Владелец: Sichuan University. Дата публикации: 2023-10-03.

Quantitative analysis method, quantitative analysis program, and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11782000B2. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Yasushi Kusakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

System and method for determining mass fractions in a test sample with wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: EP4276452A1. Автор: Dominique PORTA,Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2023-11-15.

Exempt source for an x-ray fluorescence device

Номер патента: EP1609155A2. Автор: Bruce J. Kaiser,Stephen L. Price,Donald K. Kenning. Владелец: KeyMaster Technologies Inc. Дата публикации: 2005-12-28.

Flow method and apparatus for screening chemicals using micro x-ray fluorescence

Номер патента: EP1525458A2. Автор: Benjamin P. Warner,Thomasin C. Miller,George J. Havrilla,Cris L. Lewis,Cynthia A. Mahan,Cyndi A. Wells. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2005-04-27.

System and method for determining mass fractions in a test sample with wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: US20230366840A1. Автор: Dominique PORTA,Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2023-11-16.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: US20230288353A1. Автор: Makoto Doi,Shinya KIKUTA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

X-ray fluorescence measurement apparatus

Номер патента: US11549896B2. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-10.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20230296541A1. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

X-ray fluorescence analyzing system

Номер патента: US20160299089A1. Автор: Hiroyuki Kawakami,Motoyuki Yamagami. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-10-13.

Measuring apparatus for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US4426717A. Автор: Joachim Schwenke,Joachim Knoth,Rainer Marten,Herbert Rosomm. Владелец: Gesellschaft fuer Kernenergieverwertung in Schiffbau und Schiffahrt. Дата публикации: 1984-01-17.

Method and arrangement for analyzing specimens pursuant to the x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: US5077766A. Автор: Heinrich Schwenke,Harald Schneider,Joachim Knoth,Herbert Rosomm,Ulrich Weisbrod. Владелец: GKSS Forshungszentrum Geesthacht GmbH. Дата публикации: 1991-12-31.

Method and system for X-ray fluorescence (XRF) analysis of exploration samples

Номер патента: AU2017245397B2. Автор: Melvyn LINTERN. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2018-10-18.

Portable apparatus for analyzing metals by X-ray fluorescence

Номер патента: US4429409A. Автор: Peter F. Berry,Wendell D. Miller,John L. Nethery, Jr.. Владелец: RAMSEY ENGR Co. Дата публикации: 1984-01-31.

X-ray fluorescence spectrometer and program used therein

Номер патента: US20090041184A1. Автор: Shinya Hara,Naoki Kawahara. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2009-02-12.

Handheld x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20080192889A1. Автор: Larry Stephen Price,Martin Rohde,Vassili Kobyitchak. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-08-14.

Apparatus and method for x-ray fluorescence imaging

Номер патента: WO2023077494A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2023-05-11.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: WO2018051353A1. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd.. Дата публикации: 2018-03-22.

Method for preparing glassy borate disks for instrumental analysis and in particular for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA1312743C. Автор: Georgi Angelov Panayotov. Владелец: Geologicheski Institute. Дата публикации: 1993-01-19.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP1370851A2. Автор: Lee Grodzins,Hal Grodzins. Владелец: Niton Corp. Дата публикации: 2003-12-17.

X-ray fluorescence analyzer comprising a measurement device, sample trays, and a transfer device for transferring a sample cell between the measurement device and the sample trays

Номер патента: US11788977B2. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: S Himadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Method for preparing glassy borate disks for instrumental analysis and in particular for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: AU7593587A. Автор: Georgi Angelov Panayotov. Владелец: Geologicheski Institute. Дата публикации: 1988-02-18.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: EP3516380A1. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2019-07-31.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: US20210048399A1. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2021-02-18.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: AU2017328259B2. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: WO2001038861A2. Автор: Neil Loxley,David Keith Bowen,Ladislav Pina. Владелец: Bede Scientific Instruments Ltd. Дата публикации: 2001-05-31.

Pig including an x-ray fluorescence sensor

Номер патента: CA3140961A1. Автор: Patrik Rosen. Владелец: ROSEN SWISS AG. Дата публикации: 2020-11-26.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: WO2001038861A3. Автор: Neil Loxley,David Keith Bowen,Ladislav Pina. Владелец: Bede Scient Instr Ltd. Дата публикации: 2001-12-20.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20230044361A1. Автор: Shinya Hara,Yasujiro Yamada,Hisashi HOMMA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-02-09.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: EP1236036A2. Автор: Neil Loxley,David Keith Bowen,Ladislav Pina. Владелец: Bede Scientific Instruments Ltd. Дата публикации: 2002-09-04.

Method for preparing glassy borate disks for instrumental analysis and in particular for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: AU595347B2. Автор: Georgi Angelov Panayotov. Владелец: Geologicheski Institute. Дата публикации: 1990-03-29.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4063841A1. Автор: Shinya Hara,Yasujiro Yamada,Hisashi HOMMA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-09-28.

Sample cell for fluid sample and x-ray fluorescence analyzer and analysis method using same

Номер патента: EP4296657A1. Автор: Tsuneo Sato,Masaki Tatsumi,Yuki Kanazawa. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-12-27.

X-ray fluorescence thickness measuring device

Номер патента: US4860329A. Автор: Murray Weiser,William Silverman,Zvi Landau,Paul Finer,Cary I. Pincus. Владелец: UPA Tech Inc. Дата публикации: 1989-08-22.

Method and device to detect smuggled goods using x-ray radiation and photoneutrons

Номер патента: RU2415404C1. Автор: Хайфенг ХУ,Зиран ЖАО,Хуа ПЕНГ,Юанджинг ЛИ,Кеджун КАНГ,Йиганг ЯНГ,Йинонг ЛИУ,Джикианг ЧЕН,Китиан МИАО,Джианпинг ЧЕН,Тиежу ЛИ,Йаохонг ЛИУ,Ванлонг ВУ. Владелец: Нуктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2011-03-27.

X-ray fluorescent luminescent cadmium tungstate compositions

Номер патента: US4115312A. Автор: Gerhard Engel,Manfred Eckle. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 1978-09-19.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US6496565B2. Автор: Mitsuo Naito,Yoshiki Matoba. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-12-17.

X-ray Tube System Using X-ray Tube Based on Carbon Nanotube for Keloid and Skin Cancer Treatment X-ray Brachytherapy Apparatus

Номер патента: KR101837599B1. Автор: 김현진,김현남,조성오,박한범. Владелец: 한국과학기술원. Дата публикации: 2018-03-14.

Chemical processor using x-rays

Номер патента: EP4419247A1. Автор: Curtis Birnbach,William Joyce. Владелец: ADVANCED FUSION SYSTEMS LLC. Дата публикации: 2024-08-28.

Chemical processor using x-rays

Номер патента: CA3234719A1. Автор: Curtis Birnbach,William Joyce. Владелец: ADVANCED FUSION SYSTEMS LLC. Дата публикации: 2023-04-27.

Method for treating damaged peripheral nerves using x-ray microbeam irradiation

Номер патента: US20200276457A1. Автор: F. Avraham Dilmanian. Владелец: Research Foundation of State University of New York. Дата публикации: 2020-09-03.

Chemical processor using x-rays

Номер патента: AU2022369907A1. Автор: Curtis Birnbach,William Joyce. Владелец: ADVANCED FUSION SYSTEMS LLC. Дата публикации: 2024-05-02.

Chemical processor using x-rays

Номер патента: WO2023069318A1. Автор: Curtis Birnbach,William Joyce. Владелец: ADVANCED FUSION SYSTEMS LLC. Дата публикации: 2023-04-27.

Noninvasive deep brain stimulation (dbs) using x-ray-excited optical luminescent (xeol) nanomaterials (nanoscintillators)

Номер патента: US20210060164A1. Автор: Elena A. ROZHKOVA,Zhaowei Chen,Vassiliy Tsytsarev. Владелец: UChicago Argonne LLC. Дата публикации: 2021-03-04.

Devices processed using x-rays

Номер патента: US09607724B2. Автор: David Lewis Adler. Владелец: SVXR Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Device using x-rays to highlight soft-tissue parts in medical radiotherapy

Номер патента: US20130034208A1. Автор: Oliver Heid,Jurgen Heller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2013-02-07.

NONINVASIVE DEEP BRAIN STIMULATION (DBS) USING X-RAY-EXCITED OPTICAL LUMINESCENT (XEOL) NANOMATERIALS (NANOSCINTILLATORS)

Номер патента: US20210060164A1. Автор: ROZHKOVA Elena A.,CHEN Zhaowei,Tsytsarev Vassiliy. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

METHOD FOR TREATING DAMAGED PERIPHERAL NERVES USING X-RAY MICROBEAM IRRADIATION

Номер патента: US20200276457A1. Автор: Dilmanian F. Avraham. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

CONTRAST COMPOSITIONS FOR USEFUL X-RAYS IN IMAGE DIAGNOSIS.

Номер патента: ES2139586T3. Автор: John Bishop,Gary Liversidge,Gregory Mcintire,Eugene Cooper,Kenneth Cundy,J Michael Shaw. Владелец: Elan Pharma International Ltd. Дата публикации: 2000-02-16.

Computer tomographic method for distinguishing malignant tumors from benign tumors using X-rays, comprises adding contrast agent of tumor selective adsorbate

Номер патента: DE102013001005A1. Автор: Auf Nichtnennung Antrag. Владелец: Horst Kisch. Дата публикации: 2014-07-24.

Radiotherapy method using x-rays

Номер патента: AU2003263004A8. Автор: Chia-Gee Wang. Владелец: NANODAYNAMICS Inc. Дата публикации: 2004-03-29.

Methods for treating cancer using x-ray-induced near infrared photoimmunotherapy

Номер патента: WO2020251975A1. Автор: Peter L. Choyke,Stephen Edward Saddow,Marco Vittorio NARDI. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH FLORIDA. Дата публикации: 2020-12-17.

Chemical processor using x-rays

Номер патента: IL312240A. Автор: . Владелец: ADVANCED FUSION SYSTEMS LLC. Дата публикации: 2024-06-01.

LEADS WITH X-RAY FLUORESCENT CAPSULES FOR ELECTRODE IDENTIFICATION AND METHODS OF MANUFACTURE AND USE

Номер патента: US20130261684A1. Автор: Howard Joshua Dale. Владелец: BOSTON SCIENTIFIC NEUROMODULATION CORPORATION. Дата публикации: 2013-10-03.

LEADS WITH X-RAY FLUORESCENT CAPSULES FOR ELECTRODE IDENTIFICATION AND METHODS OF MANUFACTURE AND USE

Номер патента: US20140228921A1. Автор: Howard Joshua Dale. Владелец: BOSTON SCIENTIFIC NEUROMODULATION CORPORATION. Дата публикации: 2014-08-14.

Method and device for analysing a region of interest in an object using x-rays

Номер патента: US09767550B2. Автор: Thomas Koehler,Rafael Wiemker,Gerhard Martens,Ewald RÖSSL,Ingwer-Curt Carlsen. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2017-09-19.

Seed analysis using x-ray imaging

Номер патента: EP3749079A2. Автор: Hsin-Chen Chen,Johnny KOTYK. Владелец: MONSANTO TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2020-12-16.

Method of manufacturing lower panel for plasma display panel using X-Rays

Номер патента: EP1939919A3. Автор: Jong-Seo Choi,Seung-Min Ryu,Kwi-Seok Choi,Beom-Wook Lee,Dong-Yol Yang,Suk-Hee Park. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-20.

Method for x-ray fluorescence sorting of ores with a complex material composition

Номер патента: RU2761038C2. Автор: Александр Владимирович Ефимов,Игорь Иульянович Кацер,Александр Игоревич Кацер,Борис Михайлович Шорохов,Валерий Евгеньевич Кропачев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Технология рентгенорадиометрического обогащения и сортировки". Дата публикации: 2021-12-02.

Method of making innerlayer panels and printed wiring boards using X-ray identification of fiducials

Номер патента: US20060101639A1. Автор: William Borland,Saul Ferguson,Diptarka Majumdar,Matthew Snogren,Richard Snogren. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-05-18.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US20010039137A1. Автор: Koichi Tamura,Mitsuo Naito. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-08.

X-ray diffraction microscope apparatus and X-ray diffraction measurement method using X-ray diffraction microscope apparatus

Номер патента: JP3834652B2. Автор: 健次 桜井,多鶴子 水沢. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2006-10-18.

Wavelength dispersive xrf system using focusing optic for excitation and a focusing monochromator for collection

Номер патента: CA2489646C. Автор: Zewu Chen,David M. Gibson. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2010-02-09.

Method for obtaining a picture of the internal structure of an object using x-ray radiation and device for the implementation thereof

Номер патента: KR20010110739A. Автор: 무라딘 아부베키로비치 꾸마코프. Владелец: 무라딘 아부베키로비치 꾸마코프. Дата публикации: 2001-12-13.

DEVICES PROCESSED USING X-RAYS

Номер патента: US20150270023A1. Автор: Adler David Lewis. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-24.

Method for obtaining a picture of the internal structure of an object using x-ray radiation and device for the implementation thereof

Номер патента: HK1043403B. Автор: 姆拉丁‧阿布比奇羅維奇‧庫馬科夫. Владелец: 姆拉丁‧阿布比奇羅維奇‧庫馬科夫. Дата публикации: 2005-06-10.

Method for obtaining a picture of the internal structure of an object using x-ray radiation and device for the implementation thereof

Номер патента: WO2001059439A1. Автор: Muradin Abubekirovich Kumakhov. Владелец: Muradin Abubekirovich Kumakhov. Дата публикации: 2001-08-16.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, AND A METHOD FOR PERFORMING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20210255121A1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-08-19.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER WITH A PLURALITY OF MEASUREMENT CHANNELS, AND A METHOD FOR PERFORMING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20210255122A1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-08-19.

GRAZING INCIDENCE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND GRAZING INCIDENCE X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20170284949A1. Автор: Yamada Takashi,OMOTE Kazuhiko. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-10-05.

Polarization excitation device for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US3944822A. Автор: Thomas G. Dzubay. Владелец: US Environmental Protection Agency. Дата публикации: 1976-03-16.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, AND METHOD TO PERFORM X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: BR112020021461A2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-01-19.

X-ray fluorescence analyzer with a plurality of measurement channels, and a method for performing X-ray fluorescence analysis

Номер патента: AU2018419253B2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2022-03-03.

X-ray fluorescence analyzer with a plurality of measurement channels, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: WO2019202199A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2019-10-24.

Grazing incidence x-ray fluorescence spectrometer and grazing incidence x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: EP3239701A4. Автор: Takashi Yamada,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-08-22.

X-ray fluorescence analyzer with a plurality of measurement channels, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US11199513B2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2021-12-14.

X-ray fluorescence analyzer system and a method for performing X-ray fluorescence analysis of an element of interest in slurry

Номер патента: US11680913B2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2023-06-20.

X-ray fluorescence analyzer system and a method for performing x-ray fluorescence analysis of an element of interest in slurry

Номер патента: WO2019202201A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2019-10-24.

X-ray fluorescence analyzer system and a method for performing x-ray fluorescence analysis of an element of interest in slurry

Номер патента: ZA202007012B. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2021-10-27.

Grazing incidence x-ray fluorescence spectrometer and grazing incidence x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: EP3239701A1. Автор: Takashi Yamada,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-11-01.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, AND A METHOD FOR PERFORMING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20210255123A1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-08-19.

Element-specific x-ray fluorescence microscope using multiple imaging systems comprising a zone plate

Номер патента: WO2003102564A3. Автор: Wenbing Yun,Kenneth W Nill. Владелец: Kenneth W Nill. Дата публикации: 2004-03-18.

X-ray fluorescence analyser, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: ZA202007018B. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2021-10-27.

Method and apparatus for detecting boron in x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: AU2003270076A1. Автор: Yuriy Platonov. Владелец: Osmic Inc. Дата публикации: 2004-03-29.

Method and apparatus for detecting boron in x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: EP1535289B1. Автор: Yuriy Platonov. Владелец: Osmic Inc. Дата публикации: 2006-05-03.

SYSTEM AND METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE WITH FILTERING

Номер патента: US20200072770A1. Автор: Yun Wenbing,Lewis Sylvia Jia Yun,Kirz Janos,Stripe Benjamin Donald. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER

Номер патента: US20160161428A1. Автор: Noda Hiroyuki,MASUDA Ai,TAKAHARA Toshiyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-09.

PROTECTIVE SHIELD FOR X-RAY FLUORESCENCE (XRF) SYSTEM

Номер патента: US20140301530A1. Автор: JR. James L.,Failla,Clifford David A.,Minter Wayne Allen. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-09.

PROTECTIVE SHIELD FOR X-RAY FLUORESCENCE (XRF) SYSTEM

Номер патента: US20140301531A1. Автор: JR. James L.,Failla,Clifford David A.,Minter Wayne Allen. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-09.

PROTECTIVE SHIELD FOR X-RAY FLUORESCENCE (XRF) SYSTEM

Номер патента: US20140301533A1. Автор: JR. James L.,Failla,Clifford David A.,Minter Wayne Allen. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-09.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20150362445A1. Автор: Haruo Takahashi,Toshiyuki Takahara,Isao Yagi,Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-12-17.

Scatter spectra method for x-ray fluorescent analysis with optical components

Номер патента: EP1521947B1. Автор: William T. Elam,Joseph A. Nicolosi,Robert B-S Shen,Bruce E. Scruggs. Владелец: Edax Inc. Дата публикации: 2018-05-16.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20060153332A1. Автор: Takashi Shoji,Makoto Doi,Hisayuki Kohno. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2006-07-13.

A wavelength dispersive crystal spectrometer, a x-ray fluorescence device and method therein

Номер патента: CA2893877A1. Автор: Heikki Johannes Sipilä. Владелец: FENNO-AURUM OY. Дата публикации: 2015-12-09.

System and method for x-ray fluorescence with filtering

Номер патента: WO2020051061A1. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ,Benjamin Donald STRIPE,Sylvia Jia Yun LEWIS. Владелец: Sigray, Inc.. Дата публикации: 2020-03-12.

High speed pulse processing in x-ray fluorescence spectography

Номер патента: CA998782A. Автор: John R. Rhodes,Kermit D. Clausen. Владелец: COLUMBIA SCIENTIFIC INDUSTRIES. Дата публикации: 1976-10-19.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: US20230280292A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4251981A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Methods and means for measuring multiple casing wall thicknesses using x-ray radiation in a wellbore environment

Номер патента: CA3099746C. Автор: Philip Teague. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-26.

Methods and means for measuring multiple casing wall thicknesses using x-ray radiation in a wellbore environment

Номер патента: AU2019269715A1. Автор: Philip Teague. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-01-07.

Methods and means for measuring multiple casing wall thicknesses using x-ray radiation in a wellbore environment

Номер патента: EP3794383A1. Автор: Philip Teague. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-03-24.

Methods and apparatus for measuring semiconductor device overlay using X-ray metrology

Номер патента: US09885962B2. Автор: Andrei V. Shchegrov,Andrei Veldman,Walter D. Mieher,Michael S. Bakeman. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Capacitance monitoring using X-ray diffraction

Номер патента: US09870960B2. Автор: Conal E. Murray,Oh-Jung Kwon,Anita Madan,Kriteshwar K. Kohli,DongHun Kang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

System and method for measuring an object using x-ray projections

Номер патента: EP3201564A1. Автор: Jonathan J. O'hare. Владелец: Hexagon Metrology Inc. Дата публикации: 2017-08-09.

System and method for measuring an object using X-ray projections

Номер патента: US09709513B2. Автор: Jonathan J. O'hare. Владелец: Hexagon Metrology Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: TW202221316A. Автор: 曹培炎,劉雨潤. Владелец: 大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司. Дата публикации: 2022-06-01.

Methods and means for determining the existence of cement debonding within a cased borehole using x-ray techniques

Номер патента: CA3083464C. Автор: Philip Teague. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-06-25.

Inspection method for soldered joints using x-ray imaging and apparatus therefor

Номер патента: US5463667A. Автор: Takanori Ninomiya,Toshiaki Ichinose,Toshihiko Ayabe,Toshimitsu Hamada,Asahiro Kuni,Kozo Nakahata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1995-10-31.

System and method for inspecting defects of structure by using X-ray

Номер патента: US11821854B2. Автор: Myoung Chan Na. Владелец: Neuf Inc. Дата публикации: 2023-11-21.

System and method for inspecting defects of structure by using x-ray

Номер патента: US20240102949A1. Автор: Myoung Chan Na. Владелец: Neuf Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Apparatus and method for measuring a layer of a semiconductor device using x-ray diffraction

Номер патента: US20240241067A1. Автор: Seungchul Lee,Younghoon Sohn. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-18.

Pressed powder sample measurements using x-ray fluorescence

Номер патента: EP3413038B1. Автор: Bruno Alfred Robert Vrebos,Dick Kuiper,Saskia Maria Angela Beerkens. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2021-03-17.

Method of analysis using x-ray fluorescence

Номер патента: AU2001242390A1. Автор: Alexander Henrich,Konrad Beckenkamp,Oliver Mandal,Matthias Ohm. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2001-09-17.

Enhanced chemical characterization of solid matrices using x-ray fluorescence and optical color reflectance

Номер патента: US20210080443A1. Автор: Somsubhra CHAKRABORTY,David Weindorf,Delaina Pearson. Владелец: Texas Tech University System. Дата публикации: 2021-03-18.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4251981A4. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Methods of detection using x-ray fluorescence

Номер патента: EP3681504B1. Автор: Nathan ZAHLER,Jonathan THEILE. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2023-08-23.

Device and method for determining fluid intended for servicing well using x-ray radiation

Номер патента: RU2415405C2. Автор: Род ШАМПАЙН,Джоэл Л. ГРОУВЗ,Энтони ДЮРКОВСКИ,Этьенн ВАЛЛЕ,Питер РЕЙТ. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2011-03-27.

Determination of material parameters using x-ray scattering

Номер патента: EP1405061A2. Автор: Paul F. Fewster,Gareth A. Tye. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2004-04-07.

Determination of material parameters using x-ray scattering

Номер патента: WO2003006972A2. Автор: Paul F. Fewster,Gareth A. Tye. Владелец: PANALYTICAL B.V.. Дата публикации: 2003-01-23.

Method and device using x-rays to measure thickness and composition of thin films

Номер патента: EP1279032A2. Автор: Keith A. Nelson. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2003-01-29.

Methods and means for determining the existence of cement debonding within a cased borehole using x-ray techniques

Номер патента: AU2022201246A1. Автор: Philip Teague. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-03-17.

Coordinate measuring and object scanning system uses X-ray source and X-ray sensors for primary scan and tactile and/or optical secondary mechanism movable in X, Y and Z directions for secondary scan

Номер патента: DE102004026357A1. Автор: . Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2005-12-22.

Systems and method for constraining 3D fracture model properties using X-ray micro-computed tomography of core plugs for naturally fractured reservoirs

Номер патента: US11952891B2. Автор: Otto Meza Camargo,Karla Patricia Olvera Carranza,Ivan Deshenenkov. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-04-09.

Systems and Method for Constraining 3D Fracture Model Properties Using X-Ray Micro-Computed Tomography of Core Plugs for Naturally Fractured Reservoirs

Номер патента: US20240060418A1. Автор: Otto Meza Camargo,Karla Patricia Olvera Carranza,Ivan Deshenenkov. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-02-22.

Systems and method for constraining 3d fracture model properties using x-ray micro-computed tomography of core plugs for naturally fractured reservoirs

Номер патента: WO2024044198A1. Автор: Otto Meza Camargo,Karla Patricia Olvera Carranza,Ivan Deshenenkov. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2024-02-29.

Artificial intelligence anomaly detection using x-ray computed tomography scan data

Номер патента: WO2024086302A1. Автор: Andreas Linas Bastian,Daniel Pipe-Mazo,Carlos Samuel RUIZ-VARGAS,Anne Winnefeld SANDMAN. Владелец: Lumafield, Inc.. Дата публикации: 2024-04-25.

In-situ determination of thin film and multilayer structure and chemical composition using x-ray fluorescence induced by grazing incidence electron beams during thin film growth

Номер патента: US20130216022A1. Автор: Myers,Lederman David,II Thomas Hubbard,Chandril Sandeep. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-22.

METHODS FOR MEASURING ANALYTE TRANSPORT ACROSS BARRIERS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20170045530A1. Автор: Birnbaum Eva R.,Warner Benjamin P.,Berger Jennifer A.,Peterson Lori J.,Miller Rebecca L. E.. Владелец: ICAGEN, INC.. Дата публикации: 2017-02-16.

Methods for measuring analyte transport across barriers using x-ray fluorescence

Номер патента: US20190064182A1. Автор: Benjamin P. Warner,Lori J. Peterson,Eva R. Birnbaum,Jennifer A. Berger,Rebecca L.E. Miller. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

SYSTEMS AND METHODS FOR ANALYZING CORE USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200070711A1. Автор: KANCK PETER,ZAWADZKI RY. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

ENHANCED CHEMICAL CHARACTERIZATION OF SOLID MATRICES USING X-RAY FLUORESCENCE AND OPTICAL COLOR REFLECTANCE

Номер патента: US20210080443A1. Автор: Weindorf David,Pearson Delaina,Chakraborty Somsubhra. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

Methods for measuring analyte transport across barriers using x-ray fluorescence

Номер патента: US20150198615A1. Автор: Benjamin P. Warner,Rebecca L. Miller,Lori J. Peterson,Eva R. Birnbaum,Jennifer A. Berger. Владелец: Xrpro Sciences Inc. Дата публикации: 2015-07-16.

LUBRICANT ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20160202194A1. Автор: LEES John,BASSFORD David,BARNETT Anna. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-14.

SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING HYDROCARBON POTENTIAL IN A ROCK FORMATION USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150233846A1. Автор: Locklair Robert E.,Eakin Autumn,Howald Trevor V.,Horton Brendan K.,Dirkzwager Jozina. Владелец: Chevron U.S.A. INC.. Дата публикации: 2015-08-20.

METHODS FOR IMAGING USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20210262952A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

METHOD FOR ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150260664A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,MORTILLARO Camaron A.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.. Владелец: XRPRO SCIENCES, INC.. Дата публикации: 2015-09-17.

METHOD FOR ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150276631A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,MORTILLARO Camaron A.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.. Владелец: XRPRO SCIENCES, INC.. Дата публикации: 2015-10-01.

METHOD FOR ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150276632A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,MORTILLARO Camaron A.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.. Владелец: XRPRO SCIENCES, INC.. Дата публикации: 2015-10-01.

METHODS OF DETECTION USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200278346A1. Автор: ZAHLER Nathan,THEILE Jonathan. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

Pressed Powder Sample Measurements Using X-ray Fluorescence

Номер патента: US20180348150A1. Автор: VREBOS Bruno Alfred Robert,KUIPER Dick,BEERKENS Saskia Maria Angela. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

SYSTEMS AND METHODS FOR ANALYZING CORE USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20190351804A1. Автор: KANCK PETER,ZAWADSKI RY. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-21.

Method for analyzing of fluorine in soil using x-ray fluorescence technique and xrf sample used for the same

Номер патента: KR101305425B1. Автор: 안진성,윤혜온,김주애. Владелец: 한국기초과학지원연구원. Дата публикации: 2013-09-06.

Continuous measurement of slurry contents - using X=ray fluorescence analysis for density, composition and independent measurement

Номер патента: FR2502335A1. Автор: Karl Winkler,Andrzey Lubecki,Kurt Wiese. Владелец: Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH. Дата публикации: 1982-09-24.

Methods of detection using x-ray fluorescence

Номер патента: WO2019055754A1. Автор: Nathan ZAHLER,Jonathan THEILE. Владелец: ICAGEN, INC.. Дата публикации: 2019-03-21.

Estimation of heavy elements - using x-ray fluorescence

Номер патента: DE2140794A1. Автор: Herbert Neidl,Karl-Heinz Dr Neeb,Hanns-Joerg Weisse. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1973-02-15.

High speed materials sorting using x-ray fluorescence

Номер патента: WO2001022072A1. Автор: Charles E. Roos,Edward J. Sommer, Jr.,Robert H. Parrish,David B. Spencer. Владелец: SPECTRAMET, LLC. Дата публикации: 2001-03-29.

Process for testing used wood comprises homogenizing wooden chips, pressing under high pressure into tablet-like sample bodies with planar surfaces and analyzing using X-ray fluorescence and ion mobility spectroscopy

Номер патента: DE19941124A1. Автор: Joerg Engelhardt,Juergen Leonhardt,Holger Bensch,Walter Katzung. Владелец: IUT INST fur UMWELTTECHNOLOGI. Дата публикации: 2001-03-01.

High speed materials sorting using x-ray fluorescence

Номер патента: US20030147494A1. Автор: David Spencer,Charles Roos,Edward Sommer,Robert Parrish. Владелец: Sommer Edward J.. Дата публикации: 2003-08-07.

Lubricant analysis using x ray fluorescence

Номер патента: WO2015025160A1. Автор: John Lees,David BASSFORD,Anna BARNETT. Владелец: University of Leicester. Дата публикации: 2015-02-26.

High speed materials sorting using x-ray fluorescence

Номер патента: US20100111252A1. Автор: Charles E. Roos,Edward J. Sommer, Jr.,Robert H. Parrish,David B. Spencer. Владелец: Spectramet LLC. Дата публикации: 2010-05-06.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: US10800315B2. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Bly IP Inc. Дата публикации: 2020-10-13.

High speed materials sorting using x-ray fluorescence

Номер патента: US20010022830A1. Автор: David Spencer,Charles Roos,Edward Sommer,Robert Parrish. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-09-20.

Inspection of small features using X-ray fluorescence

Номер патента: TW200846656A. Автор: David Berman,Boris Yokhin,Isaac Mazor,Alexander Tokar. Владелец: Jordan Valley Semiconductors. Дата публикации: 2008-12-01.

Method and device for analyzing samples using X-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: DE19843229A1. Автор: Juergen Schmalz,Norbert Langhoff. Владелец: IFG INST fur GERAETEBAU GmbH. Дата публикации: 2000-04-20.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4112376A3. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2023-04-05.

Enhanced chemical characterization of solid matrices using x-ray fluorescence and optical color reflectance

Номер патента: WO2021183183A1. Автор: David C. WEINDORF,Somsubhra CHAKRABORTY. Владелец: Texas Tech University System. Дата публикации: 2021-09-16.

Material identification using x-rays

Номер патента: US5524133A. Автор: William W. Neale,John G. Rushbrooke,Richard E. Ansorge. Владелец: Cambridge Imaging Ltd. Дата публикации: 1996-06-04.

Synthesis and screening of ligands using x-ray crystallography

Номер патента: US20060159226A1. Автор: Paul Wyatt,Marc O'reilly,Harren Jhoti,Miles Congreve. Владелец: ASTEX THERAPEUTICS LTD. Дата публикации: 2006-07-20.

Synthesis and screening of ligands using x-ray crystallography

Номер патента: EP1576375A1. Автор: Paul Graham Wyatt,Miles Stuart Congreve,Marc O'reilly,Harren Jhoti. Владелец: Astex Technology Ltd. Дата публикации: 2005-09-21.

X-선 회절을 이용한 인-시튜 온도 측정 장치 및 방법(in-situ temperature measurement using x-ray diffraction)

Номер патента: KR970023957A. Автор: 가쯔야 오꾸무라,제임스 가드너 얀,그레고리 브라이언 스테펜손,한스-요에르그 팀메. Владелец: 제프리엘 포멘. Дата публикации: 1997-05-30.

Soldering state inspection device and method using X-ray

Номер патента: KR950030753A. Автор: 권대갑,조영빈,오형렬. Владелец: 주식회사 삼 정. Дата публикации: 1995-11-24.

FLUID VOLUME MEASUREMENT METHOD USING X-ray RADIOGRAPHY

Номер патента: KR101287548B1. Автор: 김태주,김무환,제준호,김종록,도승우. Владелец: 포항공과대학교 산학협력단. Дата публикации: 2013-07-18.

Quantitative measuring method and apparatus of metal phase using X-ray diffraction method, and method for making plated steel sheet using them

Номер патента: CN1392956A. Автор: 山本公,藤村亨. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 2003-01-22.

Using x-ray analysis during reflow thermal cycle for solder joints

Номер патента: US20220111471A1. Автор: Keith Fries,Vineethkumar Nair. Владелец: LOON LLC. Дата публикации: 2022-04-14.

COIN CELL BATTERY ANALYZED WITH IN-SITU X-RAY ANALYSIS, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF ANALYZING THE SAME USING X-RAY

Номер патента: US20160036011A1. Автор: Kim Kihong,Jung HeeChul,Jung Changhoon,JEON Woosung. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

Battery measuring apparatus using X-ray

Номер патента: CN112384791A. Автор: 金素英,具滋弼. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-02-19.

Automatic X-ray determination of solder joint and view delta Z values from a laser mapped reference surface for circuit board inspection using X-ray laminography

Номер патента: US20020015520A1. Автор: Paul Roder. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-02-07.

Methods and systems for process monitoring using X-ray emission

Номер патента: CN1720446A. Автор: 德罗尔·舍梅什. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2006-01-11.

METHOD AND SYSTEM USING X-RAY PINHOLE CAMERA FOR IN-SITU MONITORING OF ELECTRON BEAM MANUFACTURING PROCESS

Номер патента: US20190302043A1. Автор: JR. David Charles,Bogdan,Ivan Adrian,Lobastov Vladimir Anatolievich. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

Security checking system using x-rays and neutrons

Номер патента: GB2506297B. Автор: Ha Jang Kyu,Cheol Lee Byung,Gui Li Yong,Hyun Lee Sang,Nam Kim Byung,Yung Kang Hee. Владелец: Korea Atomic Energy Research Institute KAERI. Дата публикации: 2016-09-21.

Inspection system using x-ray

Номер патента: KR100956873B1. Автор: 이재학,김동훈,이창우,송준엽,하태호. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2010-05-11.

Temperature dependent x-ray fluorescence

Номер патента: US11079287B1. Автор: Steven F. Son,Walter Gill,Enrico C. Quintana,Kathryn N. Gabet Hoffmeister,Eric R. Westphal. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2021-08-03.

Sample preprocessing system for a fluorescent X-ray analysis and X-ray fluorescence spectrometric system using the same

Номер патента: US20030053589A1. Автор: Akihiro Ikeshita,Motoyuki Yamagami. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-03-20.

Methods and systems for process monitoring using X-ray emission

Номер патента: CN1720445B. Автор: 德罗尔·舍梅什. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2010-06-16.

Methods and apparatus for measuring semiconductor device overlay using x-ray metrology

Номер патента: IL245316A0. Автор: . Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-06-30.

Sample analysis using combined x-ray fluorescence and raman spectroscopy

Номер патента: EP2856125A1. Автор: Mark A. Hamilton,Stanislaw Piorek,Richard A. Crocombe. Владелец: Thermo Scientific Portable Analytical Instruments Inc. Дата публикации: 2015-04-08.

Sample analysis using combined x-ray fluorescence and raman spectroscopy

Номер патента: WO2013180922A9. Автор: Mark A. Hamilton,Stanislaw Piorek,Richard A. Crocombe. Владелец: Thermo Scientific Portable Analytical Instruments Inc.. Дата публикации: 2015-04-02.

Compact insertable x-ray fluorescence device for pipe inspection

Номер патента: US11796494B2. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Compact Insertable X-Ray Fluorescence Device for Pipe Inspection

Номер патента: US20220381711A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

X-ray fluorescence system and x-ray source with electrically insulative target material

Номер патента: WO2023168204A1. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ,Benjamin Donald STRIPE,Sylvia Jia Yun LEWIS,Frances Yenan Su,Vikaram Singh. Владелец: Sigray, Inc.. Дата публикации: 2023-09-07.

X-ray fluorescence spectrometer and program used therein

Номер патента: US20060274882A1. Автор: Makoto Doi,Shinya Hara,Naoki Kawahara. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2006-12-07.

Steerable X-Ray Fluorescence Inspection Device

Номер патента: US20240085354A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

METHOD FOR ANALYZING INTERNAL DENSITY OF MATERIAL BY USING X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY

Номер патента: US20130202078A1. Автор: LEE Jae Yeol. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-08.

Method and instrument for identifying jewelry with plated element using x-ray florescence

Номер патента: US20130322595A1. Автор: Brendan Connors. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-12-05.

Methods and Systems for Defects Detection and Classification Using X-rays

Номер патента: US20210010953A1. Автор: Adler David Lewis,Babian Freddie Erich. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-14.

Method to Automatically Inspect Parts Using X-Rays

Номер патента: US20210055235A1. Автор: Cardoso Guilherme. Владелец: CREATIVE ELECTRON, INC.. Дата публикации: 2021-02-25.

METHODS AND MEANS FOR DETERMINING THE EXISTENCE OF CEMENT DEBONDING WITHIN A CASED BOREHOLE USING X-RAY TECHNIQUES

Номер патента: US20190063209A1. Автор: Teague Philip. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

SYSTEM AND METHOD USING X-RAYS FOR DEPTH-RESOLVING METROLOGY AND ANALYSIS

Номер патента: US20220082515A1. Автор: Yun Wenbing,Lewis Sylvia Jia Yun,Kirz Janos,Stripe Benjamin Donald. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-17.

In-Situ 3D printing and Non-Destructive Testing with Computer Tomography Using X-ray Flexible Detector

Номер патента: US20220099602A1. Автор: Yang Jakko H. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-31.

SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING AN OBJECT USING X-RAY PROJECTIONS

Номер патента: US20160091439A1. Автор: OHare Jonathan J.. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-31.

CAPACITANCE MONITORING USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20180096904A1. Автор: MURRAY Conal E.,KWON Oh-Jung,MADAN ANITA,Kang Donghun,Kohli Kriteshwar K.. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

METHODS AND APPARATUS FOR DETERMINING INFORMATION REGARDING CHEMICAL COMPOSITION USING X-RAY RADIATION

Номер патента: US20210123873A1. Автор: Silver Eric H.. Владелец: Imagine Scientific, Inc.. Дата публикации: 2021-04-29.

METHODS AND APPARATUS FOR MEASURING SEMICONDUCTOR DEVICE OVERLAY USING X-RAY METROLOGY

Номер патента: US20150117610A1. Автор: Shchegrov Andrei V.,Bakeman Michael S.,Veldman Andrei,Mieher Walter D.. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-04-30.

METHOD FOR THE DETECTION AND/OR DIAGNOSIS OF EATING DISORDERS AND MALNUTRITION USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20170115240A1. Автор: Herron Steven Richard,Hatch Kent,Marriott Savannah,Spangler Diane. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-27.

Equipment using X-ray for security detection

Номер патента: US20200132879A1. Автор: Dong Jiabin. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

CAPACITANCE MONITORING USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20160178679A1. Автор: MURRAY Conal E.,KWON Oh-Jung,MADAN ANITA,Kang Donghun,Kohli Kriteshwar K.. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-23.

Devices Processed Using X-Rays

Номер патента: US20170200524A1. Автор: David Lewis Adler. Владелец: SVXR Inc. Дата публикации: 2017-07-13.

HIGH THROUGHPUT METHODS OF ANALYZING SEED COTTON USING X-RAY IMAGING

Номер патента: US20180217072A1. Автор: Gupta Anju,White Brad D.,Chaudhary Govind,Sheetz Richard H.,Rader Randall K.,Joy Kolbyn S.,Kotyk John J.. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-02.

Method and System to Automatically Inspect Parts Using X-Rays

Номер патента: US20190219525A1. Автор: Cardoso Guilherme. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-18.

MEASUREMENT OF CRITICAL DIMENSIONS OF NANOSTRUCTURES USING X-RAY GRAZING INCIDENCE IN-PLANE DIFFRACTION

Номер патента: US20160266056A1. Автор: Ruth Ronald D.,Loewen Roderick J.,Gifford Martin A.. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-15.

Apparatus and Method for Fluid Phase Fraction Determination Using X-Rays

Номер патента: US20140355737A1. Автор: Zhdaneev Oleg,Zakharov Lev,KORKIN Roman Vladimirovich. Владелец: SCHLUMBERGER TECHNOLOGY CORPORATION. Дата публикации: 2014-12-04.

METHODS AND MEANS FOR MEASURING MULTIPLE CASING WALL THICKNESSES USING X-RAY RADIATION IN A WELLBORE ENVIRONMENT

Номер патента: US20190271794A1. Автор: Teague Philip. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-05.

METHODS AND APPARATUS FOR DETERMINING INFORMATION REGARDING CHEMICAL COMPOSITION USING X-RAY RADIATION

Номер патента: US20180284036A1. Автор: Silver Eric H.. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-04.

MEASUREMENT DEVICE USING X-RAY REFLECTION

Номер патента: US20190285559A1. Автор: Uchida Hiroshi,Ogawa Junichi,Emura Takashi,NAKANISHI Ryusuke. Владелец: Earthnix-M, Inc.. Дата публикации: 2019-09-19.

METHODS FOR PREDICTING CORROSION RATE OF CRUDE OIL DERIVED SAMPLES USING X-RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY

Номер патента: US20160349198A1. Автор: Barney Monica Michele,Nissan Andrew B.,George Graham N.. Владелец: Chevron U.S.A. INC.. Дата публикации: 2016-12-01.

A METHOD OF GENERATING A FINGERPRINT FOR A GEMSTONE USING X-RAY IMAGING

Номер патента: US20170343493A1. Автор: Reischig Peter. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-30.

METHODS AND APPARATUS FOR DETERMINING INFORMATION REGARDING CHEMICAL COMPOSITION USING X-RAY RADIATION

Номер патента: US20150369758A1. Автор: Silver Eric H.. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

METHOD OF ANALYZING FINES MIGRATION IN MULTIPHASE FLOW IN SEDIMENT LAYER USING X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY IMAGE

Номер патента: US20190360948A1. Автор: Lee Joo-Yong,KWON Tae-Hyuk,Lee Min-Hui,Han Gyeol. Владелец: KOREA INSTITUTE OF GEOSCIENCE AND MINERAL RESOURCES. Дата публикации: 2019-11-28.

Maximum detecting method of fluorometic analysis using x-ray and xrf using thereof

Номер патента: KR101417635B1. Автор: 박정권,박철암,정진균. Владелец: 전북대학교산학협력단. Дата публикации: 2014-07-21.

Apparatus for Correction of Object Classification Algorism Using X-ray Computed Tomography

Номер патента: KR101425530B1. Автор: 이윤정,이병철,이지석,조승룡. Владелец: 한국과학기술원. Дата публикации: 2014-08-05.

Moisture content analysis method using X-ray

Номер патента: KR100997091B1. Автор: 최용석,김종윤,박용준,송규석. Владелец: 한국원자력연구원. Дата публикации: 2010-11-30.

Quantitative measuring method and apparatus of metal phase using x-ray diffraction method, and method for making plated steel sheet using them

Номер патента: US6821361B2. Автор: Akira Yamamoto,Toru Fujimura. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2004-11-23.

Analyzing steel sample using x-rays

Номер патента: JPS567045A. Автор: Hiroshi Soga,Koichi Kitamura. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 1981-01-24.

System and method for detecting flaws of circuit elements using x-ray

Номер патента: KR101437125B1. Автор: 김선택. Владелец: (주)시스트. Дата публикации: 2014-09-02.

Cargo inspection device using x-ray and nutron beam simultaneously

Номер патента: KR101304104B1. Автор: 이상현,이병철,김병남,강희영,장규하,리용귀. Владелец: 한국원자력연구원. Дата публикации: 2013-09-05.

Electron spectroscopic analyzer using X-ray

Номер патента: KR100382760B1. Автор: 이재철,임창빈,유리엔.유리예프. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2003-05-01.

Phosphorus quantitative analysis method in zinc coated steel plate using x-ray

Номер патента: KR970010978B1. Автор: 이윤주,민광태. Владелец: 조말수. Дата публикации: 1997-07-05.

A method for analysis technique of fines migration in sediments with multiphase flow, using x-ray images

Номер патента: KR101888872B1. Автор: 권태혁,이민희,이주용,한결. Владелец: 한국지질자원연구원. Дата публикации: 2018-08-16.

Apparatus for photographing image using x-ray

Номер патента: KR102018514B1. Автор: 이상설,박재연,임준. Владелец: 포항공과대학교 산학협력단. Дата публикации: 2019-09-05.

Void Ratio Measuring Method using X-ray CT Scan

Номер патента: KR101110787B1. Автор: 배규진,김광염,신휴성. Владелец: 한국건설기술연구원. Дата публикации: 2012-02-16.

Apparatus for measuring cell using x-ray

Номер патента: KR102395889B1. Автор: 김소영,구자필. Владелец: 주식회사 엘지에너지솔루션. Дата публикации: 2022-05-09.

Method and apparatus for detecting state of blood sample contained in test tube, using x rays

Номер патента: KR100727704B1. Автор: 데루아키 이토. Владелец: 가부시키가이샤 아이디에스. Дата публикации: 2007-06-13.

Apparatus and method for well services fluid evaluation using x-rays

Номер патента: CA2661887A1. Автор: Rod Shampine,Peter Wraight,Anthony Durkowski,Joel L. Groves,Etienne Vallee. Владелец: Etienne Vallee. Дата публикации: 2008-03-20.

Battery measurement apparatus using x-rays

Номер патента: EP3805743A4. Автор: So Young Kim,Japil KOO. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-09-22.

System and method for using x-ray diffraction to detect subsurface crystallographic structure

Номер патента: CA2250748A1. Автор: Paul John Zombo,Der-Yan Frank Roan. Владелец: Der-Yan Frank Roan. Дата публикации: 1997-10-09.

Measuring content of an element using x-rays

Номер патента: AU531074B2. Автор: Nils Johannes Baecklund. Владелец: BAECKLUND NJ. Дата публикации: 1983-08-11.

A method for analyzing the internal density of materials using X-ray tomography

Номер патента: JP5508598B2. Автор: ジェヨル イ. Владелец: Agency for Defence Development. Дата публикации: 2014-06-04.

Method for Detecting Flat Orientation of Silicon Ingot Using X-ray Goniometer

Номер патента: KR100921151B1. Автор: 박미정,이성도,박일준. Владелец: 주식회사 실트론. Дата публикации: 2009-10-12.

Method for determining chemical content of complex structures using X-ray microanalysis

Номер патента: US7197110B2. Автор: William L. Olson,Steven M. Scheifers,Michael Riess. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2007-03-27.

Apparatus and method for fluid phase fraction determination using x-rays optimized for wet gas

Номер патента: WO2009079311A2. Автор: Peter Wraight,Joel L. Groves,Etienne Vallee. Владелец: Schlumberger Holdings Limited. Дата публикации: 2009-06-25.

Sintering material granulation method using x-ray ct

Номер патента: WO2010073718A1. Автор: 河内慎治,笠間俊次. Владелец: 新日本製鐵株式会社. Дата публикации: 2010-07-01.

Morphology and spectroscopy of nanoscale regions using x-rays generated by laser produced plasma

Номер патента: WO2005094318A3. Автор: Harry Rieger,Scott H Bloom. Владелец: Jmar Res Inc. Дата публикации: 2006-12-07.

Device for surface analysis using X-ray spectroscopy

Номер патента: DE69232214D1. Автор: Masayuki Kamei,Yuji Aoki,Toshio Usui,Tadataka Morishita. Владелец: SWCC Shova Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2002-01-03.

Quantitative measuring method and apparatus of metal phase using x-ray diffraction method, and method for making plated steel sheet using them

Номер патента: WO2002025257A1. Автор: Akira Yamamoto,Toru Fujimura. Владелец: Kawasaki Steel Corporation. Дата публикации: 2002-03-28.

Method of analyzing fines migration in multiphase flow in sediment layer using X-ray computed tomography image

Номер патента: US10508997B1. Автор: Joo-Yong Lee,Min-Hui Lee,Gyeol Han,Tae-hyuk Kwon. Владелец: Korea Institute of Geoscience and Mineral Resources KIGAM. Дата публикации: 2019-12-17.

DYNAMIC DOSE REDUCTION DURING EXAMINATION USING X-RAYS

Номер патента: RU2015123316A. Автор: Дэн-Кристиан ДИНКА,Мартин РОММЕЛ,ЛЬЮ Сет ВАН,Александр САВЕРСКИЙ. Владелец: Американ Сайенс Энд Инжиниринг, Инк.. Дата публикации: 2017-02-09.

Electron spectroscopic analyzer using X-rays

Номер патента: EP1191329A3. Автор: Chang-bin Lim,Jae-cheol 104-905 Samcheonri 1-cha Apt. Lee,Yury N. c/o Samsung Advanced Institute of Yuryev. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-10-22.

Apparatus and method for estimating formation lithology using X-ray flourescence

Номер патента: US9708907B2. Автор: Fusheng Li. Владелец: Baker Hughes Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Apparatus and method for characterizing libraries of different materials using x-ray scattering

Номер патента: EP1149282A2. Автор: James Bennett,Rakesh Jain,Damian Hajduk. Владелец: Symyx Technologies Inc. Дата публикации: 2001-10-31.

Leak detection of sealed objects using x-ray imaging

Номер патента: US20060126785A1. Автор: Kiong Chng,Cheng Wong. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2006-06-15.

Statistical method for micro-scale rock damage quantification and characterisation using x-ray micro-tomography

Номер патента: WO2016168882A1. Автор: Penelope Clair STEWART. Владелец: Stewart Penelope Clair. Дата публикации: 2016-10-27.

Measuring contact angles beteween a solid-fluid pair using x-ray imaging of the solid-fluid-fluid interface inside a capillary

Номер патента: WO2018039038A1. Автор: Philip C. Bennett,Meinhard Bayani R. CARDENAS,Kuldeep CHAUDHARY,Eric J. GUILTINAN. Владелец: BOARD OF REGENTS, THE UNIVERSITY OF TEXAS SYSTEM. Дата публикации: 2018-03-01.

Arrangement for structural testing using X-rays

Номер патента: DE3501974A1. Автор: Peter Dipl.-Phys. 8520 Erlangen Glasow,Gert Dipl.-Chem. Dr. 8551 Hemhofen Mages. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1986-07-24.

Apparatus and method for suppressing insignificant variations in measured sample composition data, including data measured from dynamically changing samples using x-ray analysis techniques

Номер патента: US20050086275A1. Автор: Ian Radley,Michael Moore,John Burdett,Stuart Shakshober. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2005-04-21.

Thin film measuring device using X-ray

Номер патента: KR101057285B1. Автор: 박규창. Владелец: 경희대학교 산학협력단. Дата публикации: 2011-08-16.

Capacitance monitoring using x-ray diffraction

Номер патента: US10008421B2. Автор: Conal E. Murray,Oh-Jung Kwon,Anita Madan,Kriteshwar K. Kohli,DongHun Kang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-06-26.

System and method for inspecting defects of structure by using x-ray

Номер патента: US11585768B1. Автор: Myoung Chan Na. Владелец: Neuf Inc. Дата публикации: 2023-02-21.

Apparatus and method for determining fractions of phases of fluid medium using x-ray beams, optimised for wet gas

Номер патента: RU2479835C2. Автор: Джоэл Л. ГРОУВЗ,Этьенн ВАЛЛЕ,Питер РЕЙТ. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2013-04-20.

Devices processed using x-rays

Номер патента: US10559396B2. Автор: David Lewis Adler. Владелец: SVXR Inc. Дата публикации: 2020-02-11.

System and method for measuring an object using x-ray projections. computer program product.

Номер патента: EP3201564B1. Автор: Jonathan J. O'hare. Владелец: Hexagon Metrology Inc. Дата публикации: 2020-05-20.

Methods and means for measuring multiple casing wall thicknesses using x-ray radiation in a wellbore environment

Номер патента: CA3099746A1. Автор: Philip Teague. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-11-21.

A method of generating a fingerprint for a gemstone using x-ray imaging

Номер патента: CA2970430A1. Автор: Peter Reischig. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-06-16.

An apparatus for measuring the distance between bragg's planes of a crystal using X-ray

Номер патента: KR200418412Y1. Автор: 김이경,조한철. Владелец: 코스텍기술(주). Дата публикации: 2006-06-13.

3d material analysis device and analysis method using x-ray energy

Номер патента: KR102420237B1. Автор: 이성호,진경찬,우성철,은영기. Владелец: 한국생산기술연구원. Дата публикации: 2022-07-14.

High throughput methods of analyzing seed cotton using X-ray imaging

Номер патента: US10557805B2. Автор: Govind CHAUDHARY,Brad D. White,Anju Gupta,Randall K. Rader,John J. Kotyk,Kolbyn S. Joy,Richard H. Sheetz. Владелец: MONSANTO TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2020-02-11.

Methods and means for determining the existence of cement debonding within a cased borehole using x-ray techniques

Номер патента: AU2018355216A1. Автор: Philip Teague. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-06-04.

Methods and means for measuring multiple casing wall thicknesses using x-ray radiation in a wellbore environment

Номер патента: US20220011463A1. Автор: Philip Teague. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-01-13.

Method and instrument for identifying jewelry with plated element using x-ray florescence

Номер патента: US20130322595A1. Автор: Brendan Connors. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-12-05.

Measurement of critical dimensions using X-rays

Номер патента: TW500921B. Автор: Boris Yokhin,Isaac Mazor,Amos Gvirtzman. Владелец: Jordan Valley Applied Radiation Ltd. Дата публикации: 2002-09-01.

X-ray fluorescence analyzer, and control method for x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4166938B1. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS PROGRAM, AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20200003712A1. Автор: Kataoka Yoshiyuki,Kawakyu Kosuke. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2020-01-02.

Method and device for rapid analysis by X-ray fluorescence of an element present in a low concentration in a material

Номер патента: FR2668263A1. Автор: Guyon Marielle,Benoit Pierre. Владелец: Institut de Recherches de la Siderurgie Francaise IRSID. Дата публикации: 1992-04-24.

X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US10921267B2. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Kosuke Kawakyu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-02-16.

Method and apparatus for estimation of heat value using dual energy x-ray transmission measurements and x-ray fluorescence measurements

Номер патента: CA2924956C. Автор: Ragnar Kullenberg,Ralf Torgrip. Владелец: Mantex Ip AB. Дата публикации: 2020-12-15.

Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US4016419A. Автор: Yoshinori Hosokawa,Haruo Kotani,Haruyoshi Hirata. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1977-04-05.

X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and fluorescence X-ray analyzer

Номер патента: JPWO2018168939A1. Автор: 由行 片岡,航介 川久. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20130101085A1. Автор: Kobayashi Hiroshi,Kita Hiroaki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2013-04-25.

X-Ray Fluorescence Spectrometer and X-Ray Fluorescence Analyzer

Номер патента: US20130170613A1. Автор: MURAOKA Koichi,UTAKA Tadashi. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-04.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20190072504A1. Автор: Kato Shuichi,Yamada Takashi,Kataoka Yoshiyuki,FUJIMURA Hajime. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-07.

X-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US20170108424A1. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-04-20.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT METHOD AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Ishimaru Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20160146745A1. Автор: TAKAHARA Toshiyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20160258887A1. Автор: TERASHITA Eisaku. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2016-09-08.

OPTICAL MIRROR, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS DEVICE, AND METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20150362639A1. Автор: Rossiger Volker. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-17.

SAMPLE HOLDER FOR AN X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER, AND SAMPLE HOLDER MANUFACTURING JIG AND METHOD OF PRODUCING A SAMPLE FOR AN X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20190346384A1. Автор: Inoue Minoru,Matsuda Wataru. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

SIMULTANEOUS MULTI-ELEMENTS ANALYSIS TYPE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER, AND SIMULTANEOUS MULTI-ELEMENTS X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20200378908A1. Автор: Aoki Yu,FUJIMURA Seiji. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2020-12-03.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND CONTROL METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20220349847A1. Автор: YAMAMOTO Yoshihisa,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-03.

Method of preparing slag sample for x-ray fluorescence analysis and sampler

Номер патента: EP1045239A1. Автор: Akira Kawasaki Steel Corporation YAMAMOTO,Noriko Kawasaki Steel Corporation MAKIISHI,Wataru Kawasaki Steel Corporation TANIMOTO. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 2000-10-18.

X-ray fluorescence analyzer and x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: WO2017169247A1. Автор: 表　和彦,山田　隆,和明 奥田. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2017-10-05.

Borate glass used as flux in making beads used in X-ray fluorescence analysis, contains small percentage of germanium oxide

Номер патента: FR2849650A1. Автор: Gérard Lang. Владелец: Gérard Lang. Дата публикации: 2004-07-09.

X-ray fluorescence analysis method and x-ray fluorescence analysis device

Номер патента: CN105637352A. Автор: 寺下卫作. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-06-01.

X-ray fluorescence analyzer having means for producing lowered pressure, and an X-ray fluorescence measurement method using lowered pressure

Номер патента: EP1852696A2. Автор: Erkki Puusaari,Hannu Rintamäki. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2007-11-07.

Wavelength dispersive x-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analyzing method using the same

Номер патента: WO2018061608A8. Автор: 一 藤村,秀一 加藤,片岡　由行,山田　隆. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2018-07-26.

Simultaneous multi-elements analysis type x-ray fluorescence spectrometer, and simultaneous multi-elements x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: WO2017154505A8. Автор: 青木　悠,聖史 藤村. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2018-06-28.

Portable x-ray fluorescence instrument with tapered absorption collar

Номер патента: CA2650857A1. Автор: Lee Grodzins. Владелец: Lee Grodzins. Дата публикации: 2008-09-04.

Multi-element simultaneous x-ray fluorescence analysis device and multi-element simultaneous x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: EP3428630A4. Автор: Yu Aoki,Seiji FUJIMURA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-12-04.

Apparatus for preparing samples for x-ray fluorescence tests

Номер патента: CA1099826A. Автор: Gerard Willay,Andre Wittmann. Владелец: Institut de Recherches de la Siderurgie Francaise IRSID. Дата публикации: 1981-04-21.

X-ray fluorescence analyzer and X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: DE102011105630B4. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Hideki Takiguchi,Yutaka Ikku. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Wavelength-dispersive x-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analysing method using the same

Номер патента: EP3521814B1. Автор: Takashi Yamada,Shuichi Kato,Hajime Fujimura,Yoshiyuki Kataoka. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-08-03.

X-ray fluorescence inspection apparatus and fluorescence x-ray inspection method

Номер патента: JP5553300B2. Автор: 篤士 永田,哲 中山,喜春 白川部,良知 中川,毅 梅基,克巳 夏井,まゆ 渡邉. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2014-07-16.

X-ray fluorescence analyzer having means for producing lowered pressure, and an X-ray fluorescence measurement method using lowered pressure

Номер патента: US7409037B2. Автор: Hannu Rintamäki,Erkki Tapani Puusaari. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2008-08-05.

Adjusting unit for an x-ray optical element in an x-ray fluorescence system, and x-ray fluorescence system

Номер патента: WO2023174596A1. Автор: Bruno Schroth. Владелец: Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik. Дата публикации: 2023-09-21.

X-ray fluorescence spectrometer and X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: DE112015003094B4. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

X-ray fluorescence analysis is with the sample retainer tool and adopt its fluorescent x-ray analysis method and device

Номер патента: CN100552443C. Автор: 森山孝男,井上未知子. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-21.

X-ray fluorescence system and x-ray source with electrically insulative target material

Номер патента: US20230280291A1. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ,Benjamin Donald STRIPE,Sylvia Jia Yun LEWIS,Frances Yenan Su,Vikaram Singh. Владелец: Sigray Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

X-ray fluorescence analyzer and x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: US20120051507A1. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Hideki Takiguchi,Yutaka Ikku. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-03-01.

Non-synchrotron radiation micro-X-ray fluorescence CT imaging system and method

Номер патента: CN105842267A. Автор: 何鹏,冯鹏,魏彪,邓露珍,蒋上海,陈绵毅. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2016-08-10.

X-ray fluorescence analyzer, and control method for x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4166938A4. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

X-ray-fluorescent measurement plant using polarized exciting radiation and x-ray tube

Номер патента: RU2199112C2. Автор: Хейкки СИПИЛЯ,Хейкки СИПИЛЯ (FI). Владелец: Меторекс Интернешнел Ой. Дата публикации: 2003-02-20.

METHOD FOR DETERMINING THE MASS CONCENTRATION OF TOTAL IRON IN FLOW WATER AND WATER OF OIL AND GAS CONDENSATE DEPOSITS BY X-RAY FLUORESCENT METHOD

Номер патента: RU2019143782A. Автор: Алексей Иванович Ларюхин,Людмила Николаевна Еремина,Марина Анатольевна Катаева,Евгений Мирославович Марчук. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Газпром добыча Уренгой". Дата публикации: 2021-06-23.

METHOD AND DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS

Номер патента: RU2015124496A. Автор: Йенс Кесслер. Владелец: Хельмут Фишер Гмбх Институт Фюр Электроник Унд Месстекник. Дата публикации: 2017-01-11.

Device for x-ray fluorescent analysis of concentrating production pulps

Номер патента: RU2624096C1. Автор: Алексей Владимирович Зимин,Алексей Викторович Седов,Алексей Алексеевич Трушин,Александр Леонидович Поздняков,Владимир Иванович Вишневский,Артур Александрович Германов. Владелец: Совместное предприятие в форме закрытого акционерного общества "Изготовление, внедрение, сервис". Дата публикации: 2017-06-30.

System and method for determining mass fractions in a test sample with wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: EP4276452B1. Автор: Dominique PORTA,Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2024-07-03.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: IL301033B1. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-01.

Method for calibrating an X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: SE1551044A1. Автор: Johansson Kurt,ERICSSON Kent. Владелец: MULTISCAT AB. Дата публикации: 2017-01-29.

Electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: GB201314322D0. Автор: . Владелец: Element Six Ltd. Дата публикации: 2013-10-30.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: IL302813A. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-01.

Determination of the measuring spot during x-ray fluorescence analysis

Номер патента: GB9917798D0. Автор: . Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 1999-09-29.

Determining measuring spot during X-ray fluorescence analysis

Номер патента: GB2340599A8. Автор: Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2003-07-22.

Determination of the measuring spot during x-ray fluorescence analysis

Номер патента: GB9919467D0. Автор: . Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 1999-10-20.

X-ray fluorescence analyzer, data processing method, and recording medium

Номер патента: US20230251215A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

X-ray fluorescence analysis device

Номер патента: EP4174479A4. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

Sample analysis using combined x-ray fluorescence and raman spectroscopy

Номер патента: EP2856125B1. Автор: Mark A. Hamilton,Stanislaw Piorek,Richard A. Crocombe. Владелец: Thermo Scientific Portable Analytical Instruments Inc. Дата публикации: 2020-07-01.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20180095045A1. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2018-04-05.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: IL254806A0. Автор: GROF Yair. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2017-12-31.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: EP3278091A1. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2018-02-07.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20200116656A1. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2020-04-16.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US10969351B2. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2021-04-06.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: IL254806B. Автор: GROF Yair. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2022-01-01.

Transition edge sensor for x-ray fluorescence (tes-xrf) for high resolution material identification

Номер патента: US20170115241A1. Автор: Charles Gentile,Christopher G. Tully. Владелец: PRINCETON UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-04-27.

In-situ electrochemical depostion and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: GB201314324D0. Автор: . Владелец: Element Six Ltd. Дата публикации: 2013-09-25.

Method for calibrating an x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2017018923A1. Автор: Curt Johansson,Kent ERICSSON. Владелец: MULTISCAT AB. Дата публикации: 2017-02-02.

Quantitative analysis method, quantitative analysis program, and x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4033231B1. Автор: Shin Tanaka. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

X-ray fluorescence spectroscopy analysis

Номер патента: US20230128930A1. Автор: Debora CAMPOS DE FARIA,Sergey Mikailovich Makarychev-Mikhailov,Isabelle Atheaux. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Total-reflection x-ray fluorescence apparatus and method using a doubly-curved optic

Номер патента: AU2001276861A1. Автор: Zewu Chen. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2002-04-02.

Method of producing samples for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US3546452A. Автор: Popko Reinder Dijksterhuis,Hermanus Arnoldus Verharen. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1970-12-08.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: IL301033B2. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Method for the measurement of a measurement object by means of X-ray fluorescence

Номер патента: US09885676B2. Автор: Volker Roessiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2018-02-06.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20130294577A1. Автор: Kataoka Yoshiyuki,Inoue Hisashi,Kawakyu Kosuke. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2013-11-07.

METHOD AND APPARATUS FOR MULTIPLE SAMPLE PREPARATION AND SIMULTANEOUS LOSS ON IGNITION/GAIN ON IGNITION ANALYSIS, FOR USE IN X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY

Номер патента: US20160011128A1. Автор: Las Navas Garcia Jose Maria. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-14.

Sample Plate for X-Ray Analysis and X-Ray Fluorescent Analyzer

Номер патента: US20160011129A1. Автор: SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2016-01-14.

HANDHELD INSTRUMENT AS WELL AS MOBILE DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20160033429A1. Автор: Geier Udo,Nensel Bernhard. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER

Номер патента: US20180031497A1. Автор: Shannon,JR. Robert Francis,GU Jiyan,Parks Brian Scott,Burton Robert Matthew,Doyle Lance Thompson,Vosman Fredericus,Wheeler Kenneth Dean,Kirsch Michael Scott. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-01.

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD, QUANTITATIVE ANALYSIS PROGRAM, AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20220050068A1. Автор: Tanaka Shin. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-17.

X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING SAMPLES

Номер патента: US20210048399A1. Автор: GROF Yair,KISLEV Tzemah,YORAN Nadav,ALON Haggai,KAPLINSKY Mor. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-18.

X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM WITH HIGH FLUX AND HIGH FLUX DENSITY

Номер патента: US20170047191A1. Автор: Yun Wenbing,Lewis Sylvia Jia Yun,Kirz Janos. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-16.

ELECTRON EXCITED X-RAY FLUORESCENCE DEVICE

Номер патента: US20140126692A1. Автор: Camara Carlos. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-08.

Electron source and X-ray fluorescence analyser using an electron source

Номер патента: US20150060663A1. Автор: Sipilä Heikki Johannes,FEDKOV Evgeny,SEREBRIAKOV Aleksandr. Владелец: FENNO-AURUM OY. Дата публикации: 2015-03-05.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND METHOD OF DISPLAYING SAMPLE THEREOF

Номер патента: US20160061753A1. Автор: YAGI Isao. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

APPARATUS FOR SELECTING PRODUCTS ON THE BASIS OF THEIR COMPOSITION BY X RAY FLUORESCENT SPECTROSCOPY AND CORRESPONDING SELECTION METHOD

Номер патента: US20210063328A1. Автор: "PITTA Giuseppe",AMENDUNI Massimo,ZONA Mauro. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND MEASUREMENT POSITION ADJUSTING METHOD THEREFORE

Номер патента: US20160069827A1. Автор: YAGI Isao. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-10.

SYSTEM AND METHOD FOR COMPUTED LAMINOGRAPHY X-RAY FLUORESCENCE IMAGING

Номер патента: US20210080408A1. Автор: Yun Wenbing,Lewis Sylvia Jia Yun,Kirz Janos,Stripe Benjamin Donald. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

X-ray Fluorescence Analyzer With Safety Features

Номер патента: US20150085976A1. Автор: JARVIKIVI Mikko,LEINO Jarmo. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2015-03-26.

METHOD AND APPARATUS FOR MULTIPLE SAMPLE PREPARATION AND SIMULTANEOUS LOSS OF IGNITION/GAIN ON IGNITION ANALYSIS, FOR USE IN X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY

Номер патента: US20140161150A1. Автор: Las Navas Garcia Jose Maria. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-12.

MULTIPLEXING X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20170082562A1. Автор: GENDREAU KEITH C.,ARZOUMANIAN ZAVEN,BAKER ROBERT G.,DOBSON NORMAN,KOENECKE RICHARD. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20210088459A1. Автор: Kita Hiroaki,KURITA Seiitsu. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20180095045A1. Автор: GROF Yair. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20180106736A1. Автор: MATSUO Takashi,Kataoka Yoshiyuki,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro,HONMA Hisashi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2018-04-19.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20160116424A1. Автор: Furukawa Hiroaki,KOBAYASHI Kanji. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2016-04-28.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20220178853A1. Автор: Kataoka Yoshiyuki,MORIYAMA Takao. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2022-06-09.

METHOD FOR DETECTING SURFACE IMPURITIES BY X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20170122888A1. Автор: Wachinger Georg,HECKNER Sebastian,MEER Thomas,GEISTBECK Matthias. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

ENERGY DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENT SPECTROMETER, EVALUATION METHOD, AND EVALUATION PROGRAM

Номер патента: US20220268717A1. Автор: KIKUTA Shinya. Владелец: . Дата публикации: 2022-08-25.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20200116656A1. Автор: GROF Yair. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-16.

DETECTOR FOR X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200116876A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-16.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20190137422A1. Автор: WALDSCHLÄGER Ulrich,Tagle Berdan Roald Alberto. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-09.

Resolution control in x-ray fluorescence spectroscopy systems

Номер патента: US20170168172A1. Автор: Bryan John CROSBY. Владелец: Thermo Gamma Metrics Pty Ltd. Дата публикации: 2017-06-15.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20150177167A1. Автор: TANAKA Keiichi,ODAWARA Akikazu. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

X-ray fluorescence analysis of thin-film coverage defects

Номер патента: US20150185170A1. Автор: Adhiprakasha Edwin. Владелец: Intermolecular Inc.. Дата публикации: 2015-07-02.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20180180563A1. Автор: MATSUO Takashi,Kataoka Yoshiyuki,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro,HONMA Hisashi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2018-06-28.

ELECTROCHEMICAL DEPOSITION AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY

Номер патента: US20150204805A1. Автор: Mollart Timothy Peter,Newton Mark Edward,MacPherson Julie Victoria. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

ANGLE CALIBRATION FOR GRAZING-INCIDENCE X-RAY FLUORESCENCE (GIXRF)

Номер патента: US20150204806A1. Автор: PELED Asher,Mazor Isaac. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

X-Ray Fluorescence Analyzer

Номер патента: US20140286474A1. Автор: Hasegawa Kiyoshi,MATOBA Yoshiki,SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-25.

IN-SITU ELECTROCHEMICAL DEPOSITION AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY

Номер патента: US20150212042A1. Автор: Mollart Timothy Peter,Newton Mark Edward,MacPherson Julie Victoria. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-30.

X-Ray Fluorescence Spectrometer

Номер патента: US20140294143A1. Автор: MATOBA Yoshiki,SAKAI Noriaki,TAKEUCHI Toshitada,Nohara Hiroaki. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-02.

X-Ray Fluorescence Spectrometer

Номер патента: US20140294145A1. Автор: Takahashi Haruo,MATOBA Yoshiki,HIROSE Ryusuke,Tamura Koichi. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-02.

DETECTOR FOR X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20210255342A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-19.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20190227008A1. Автор: Kato Shuichi,Yamada Takashi,Kataoka Yoshiyuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-07-25.

METHOD FOR THE MEASUREMENT OF A MEASUREMENT OBJECT BY MEANS OF X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150247812A1. Автор: Roessiger Volker. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-03.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20210262954A1. Автор: MATSUO Takashi,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2021-08-26.

METHOD AND SYSTEM FOR X-RAY FLUORESCENCE (XRF) ANALYSIS OF EXPLORATION SAMPLES

Номер патента: US20190234890A1. Автор: LINTERN Melvyn. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-01.

NANOPARTICLE ASSISTED SCANNING FOCUSING X-RAY FLUORESCENCE IMAGING AND ENHANCED TREATMENT

Номер патента: US20160252471A1. Автор: GUO Ting,DAVIDSON R. Andrew. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2016-09-01.

Analysis Method and X-Ray Fluorescence Analyzer

Номер патента: US20210302336A1. Автор: Kinugasa Genki. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-30.

DETECTOR FOR X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200249364A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-06.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING SYSTEM

Номер патента: US20160299089A1. Автор: Kawakami Hiroyuki,YAMAGAMI Motoyuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2016-10-13.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20190302041A1. Автор: Sako Yukio. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-03.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20170322165A1. Автор: HARA Shinya,Doi Makoto,YAMADA Yasujiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-11-09.

DEVICE FOR SORTING MATERIALS, IN PARTICULAR SCRAP PARTICLES, BY MEANS OF X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20170328845A1. Автор: Fink Juergen,LOEFFLER Rainer. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

X-RAY FLUORESCENCE DEVICE CALIBRATION

Номер патента: US20160341677A1. Автор: Camara Carlos,Valentine Mark G.,Wong Eric W.,He Tianqing,Cuadra Dan,Om German,Kotowski Andy,Harper Justen. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-24.

ELECTRON EXCITED X-RAY FLUORESCENCE DEVICE

Номер патента: US20160341679A1. Автор: Camara Carlos. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-24.

X-Ray Fluorescence Apparatus for Contamination Monitoring

Номер патента: US20180348151A1. Автор: Wormington Matthew,Kasper Nikolai,van der Meer Juliette P.M.,Schwarcz Elad Yaacov. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

X-ray fluorescence analysis device, and spectrum display method used in same

Номер патента: US20190391091A1. Автор: Hiroaki Furukawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER

Номер патента: US20220357292A1. Автор: PARK Jeong Goun. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-10.

METHOD FOR DETECTION OF SOIL HEAVY METAL POLLUTION USING UNMANNED AERIAL VEHICLE (UAV) AND X-RAY FLUORESCENCE (XRF) TECHNOLOGY

Номер патента: US20220365007A1. Автор: YANG Hao,Huang Fang,PENG Shuying,CHEN Shengyi. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-17.

Apparatus and Method for X-ray Fluorescence Analysis

Номер патента: US20220365008A1. Автор: Youhong Xiao,Bruno Vrebos,Lieven Kempenaers. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-11-17.

A X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: KR101716860B1. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2017-03-27.

Method and device for carrying out x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2623689C2. Автор: Йенс Кесслер. Владелец: Хельмут Фишер Гмбх Институт Фюр Электроник Унд Месстекник. Дата публикации: 2017-06-28.

Standard sample preparation method for x-ray fluorescence analysis of heavy metal in plastic

Номер патента: KR100507752B1. Автор: 권오준,김종선,최미애,박제명. Владелец: 삼성토탈 주식회사. Дата публикации: 2005-08-11.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP2998730B1. Автор: Hiroaki Furukawa,Kanji Kobayashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-05-13.

The method that X-ray fluorescence method determines pit ash

Номер патента: CN106990130A. Автор: 刘玉兵,韩蔚,戴平,田骏,卢娟娟,马振珠,邓赛文. Владелец: China Building Material Test and Certification Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-28.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: KR20070031231A. Автор: 요시유끼 가따오까,에이이찌 후루사와,히사유끼 고오노. Владелец: 리가꾸 덴끼 고교 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2007-03-19.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3482896B2. Автор: 章二 桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2004-01-06.

Method for rapidly delineating titanium deposit based on handheld X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: CN111458363A. Автор: 陈鑫,白杰,郑有业,许荣科. Владелец: China University of Geosciences. Дата публикации: 2020-07-28.

Detector for X-ray fluorescence

Номер патента: CN111226137A. Автор: 曹培炎,刘雨润. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-02.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP6797421B2. Автор: 康治郎 山田,山田　康治郎,真也 原,松尾　尚,尚 松尾. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-12-09.

A kind of x-ray fluorescence imaging device of on-line measurement strip coating thickness

Номер патента: CN105758345B. Автор: 王兴东,刘钊,孔建益,徐巍,邹光明,刘源炯,刘宗赣. Владелец: Wuhan University of Science and Engineering WUSE. Дата публикации: 2018-06-05.

X-ray fluorescent spectrometer

Номер патента: RU94022820A. Автор: К.В. Анисович. Владелец: К.В. Анисович. Дата публикации: 1996-04-10.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4902272B2. Автор: 則生 笹山. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-03-21.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP6082634B2. Автор: 浩一 田村,春男 高橋,吉毅 的場,龍介 廣瀬,高橋　春男,田村　浩一. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-02-15.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JPWO2020008727A1. Автор: 直樹 松嶋,尾形　潔,潔 尾形,和彦 表,正 吉原,秀一 加藤,表　和彦,本野　寛,寛 本野,松嶋　直樹. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-07-08.

Table type X ray fluorescent element component detection apparatus

Номер патента: CN106198590B. Автор: 李福生. Владелец: Tec Sonde Energy Technology And Service Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-30.

X-ray fluorescence analyzer and sample display method

Номер патента: KR102296009B1. Автор: 이사오 야기. Владелец: 가부시키가이샤 히다치 하이테크 사이언스. Дата публикации: 2021-08-30.

Portable unit for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU1570658A3. Автор: Клайд Кларк Третий Бентон. Владелец: Мартин Мариетта Корпорейшн (Фирма). Дата публикации: 1990-06-07.

X-ray fluorescence visualizing, imaging, or information providing of chemicals, compounds, or biological materials

Номер патента: US7664224B2. Автор: Roderick A. Hyde,Muriel Y. Ishikawa,Nathan P. Myhrvold,Eric C. Leuthardt,Robert W. Lord,Clarence T. Tegreene,Lowell L. Wood, JR.,Edward K. Y. Jung,Dennis J. Rivet,Edward S. Boyden,Michael A. Smith,Thomas A. Weaver,Victoria Y. H. Wood,Charles Whitmer. Владелец: SEARETE LLC. Дата публикации: 2010-02-16.

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE THICKNESS OF THIN LAYERS BY X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: FR2393266A1. Автор: . Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1978-12-29.

High speed sorting of iron ores - using radioactive source to produce X-ray fluorescence due to iron and calcium

Номер патента: FR2271880A1. Автор: . Владелец: Institut de Recherches de la Siderurgie Francaise IRSID. Дата публикации: 1975-12-19.

IMPULSE HEIGHT DISTRIBUTION RECORDING DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENCE FILM THICKNESS MEASURING INSTRUMENT

Номер патента: FR2499240A1. Автор: Hiroshi Ishijima,Toshiyuki Koga. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1982-08-06.

Apparatus for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: FR1291232A. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1962-04-20.

Analysis method for measuring contents of calcium oxide, silicon dioxide and sulfur in granular ash or active ash by utilizing X-ray fluorescent spectrometry method

Номер патента: CN106053507A. Автор: 刘凯,杨红,胡涛,崔隽,沈克,曾莹,贾丽晖,古兵平,关晖. Владелец: Wuhan Iron and Steel Corp. Дата публикации: 2016-10-26.

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF A THIN LAYER BY X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: FR2760833B1. Автор: Karl Heinz Kaiser,Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2000-06-30.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US9244026B2. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2016-01-26.

SAMPLE ENRICHMENT PROCESS FOR X-RAY FLUORESCENCE TRACE ANALYSIS

Номер патента: FR2388271A1. Автор: . Владелец: KERNENERGIEVERWERT GES fur. Дата публикации: 1978-11-17.

Apparatus for simultaneous x-ray diffraction and x-ray fluorescence measurements

Номер патента: WO1997013142A1. Автор: Paul Van Der Sluis,Pieter Klaas De Bokx,Bruno Alfred Robert Vrebos. Владелец: Philips Norden Ab. Дата публикации: 1997-04-10.

X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: JPS60202339A. Автор: Yoshiro Matsumoto,Masakatsu Fujino,松本　義朗,藤野　允克. Владелец: Sumitomo Metal Industries Ltd. Дата публикации: 1985-10-12.

X-ray fluorescence analytical method and device for examining a sample

Номер патента: DE3230005C2. Автор: Robert Owen Wilmington N.C. Canada,Alfred Julius Zeits. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1986-11-27.

Radioisotope X-ray fluorescence analyzer for elemental analysis of rocks and ores under natural storage conditions

Номер патента: DE1960508A1. Автор: Meier Wladimir A,Sapkow German G,Iljasew Michail I,Poljakow Konstantin K,Briskin Sawelij N,Ljubawin Jurij P,Rosuwanow Anatolij P,Nachabzew Walerij S,Kobyljanzew Leonid W. Владелец: OSOBOJE K BJURO MINISTERSTWA G. Дата публикации: 1971-06-09.

Rapid analysis of cations in a liquid - by filtering through a cation exchange filter paper and determining the ions collected, eg by X-ray fluorescence

Номер патента: DE2545316A1. Автор: Akira Kobayashi,Takezo Sano. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 1977-04-21.

MEASURING DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYZES

Номер патента: FR2358653A1. Автор: . Владелец: KERNENERGIEVERWERT GES fur. Дата публикации: 1978-02-10.

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF A METAL FILM USING AN X-RAY FLUORESCENT SYSTEM.

Номер патента: NL7705443A. Автор: . Владелец: Western Electric Co. Дата публикации: 1977-11-22.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: US7720192B2. Автор: Petra Hegeman,Christian Brons,Peter Brouwer. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2010-05-18.

Combined confocal x-ray fluorescence and x-ray computerised tomographic system and method

Номер патента: EP2893331A1. Автор: Michael Feser,Srivatsan Seshadri. Владелец: Carl Zeiss X Ray Microscopy Inc. Дата публикации: 2015-07-15.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: DE2642637C2. Автор: Kliment Vladislavovič Anisovič,Nikolai Ivanovič Leningrad Komyak. Владелец: LE N- PROIZV OB EDINENIE BUREVESTNIK LE. Дата публикации: 1982-02-11.

Process for identifying substances unidentifiable by spectral line analysis uses energy dispersion X-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: DE19921317A1. Автор: Peter Hoffmann,Hanshelmut Itzel,Alexander Henrich,Hugo Ortner. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2000-07-27.

Production device and Production Method of High-purity And High-density Lithium Borate for X-ray Fluorescence Analysis

Номер патента: AU2017202143B1. Автор: Wenjun BAN,Rongfu CAI,Qiang MENG. Владелец: Chengdu Chemphys Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-01.

Method and apparatus for estimation of heat value using dual energy x-ray transmission measurements and x-ray fluorescence measurements

Номер патента: CA2924956A1. Автор: Ragnar Kullenberg,Ralf Torgrip. Владелец: MANTEX AB. Дата публикации: 2015-04-16.

A x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: KR20080088057A. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2008-10-02.

Self-adaptive background subtraction method for X-ray fluorescence spectrum

Номер патента: CN112801936B. Автор: 李福生,程惠珠,赵彦春,何星华,张智泉. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2022-07-29.

Apparatus for simultaneous X-ray diffraction and X-ray fluorescence measurement

Номер патента: JPH11502025A. Автор: ボクス，ピーター クラース デ,デア スルイス，ポール ファン,アルフレード ロベルト ヴレボス，ブルーノ. Владелец: フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー. Дата публикации: 1999-02-16.

For the submerged arc welding flux standard sample and preparation method of X-ray fluorescence spectra analysis

Номер патента: CN108195865A. Автор: 韩丽,郑永超,蒋春宏,卜兆杰,王晓旋,苏斯燕,陶泽秀. Владелец: Lanzhou Lanshi Detection Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-22.

X-ray fluorescence analyzer and method

Номер патента: JP4914514B2. Автор: 広明 喜多,寛 小林. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-04-11.

The heavy metal in water semi-quantitative analysis method analyzed based on X-ray fluorescence spectra

Номер патента: CN107271469A. Автор: 陈小华,顾海蓉,沈根祥,胡双庆,钱晓雍,赵庆节,汤正泽. Владелец: Shanghai Academy of Environmental Sciences. Дата публикации: 2017-10-20.

Method and apparatus for x-ray fluorescence gauging of a higher atomic number selected element in a coating on a base

Номер патента: US3417243A. Автор: Robert C Hill. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1968-12-17.

Total reflection X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: DE102005023872B4. Автор: Shoko Ito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2009-11-19.

Radiation shield for portable x-ray fluorescence instruments

Номер патента: CA2514984A1. Автор: Lee Grodzins,Kenneth P. Martin,Anthony Honnellio. Владелец: Niton Llc. Дата публикации: 2005-02-03.

X-ray fluorescence element analyzer

Номер патента: CN1190662C. Автор: 梅尔文·J·劳里拉,克劳斯·C·巴奇曼,阿伯特·P·克莱恩. Владелец: E KATZ. Дата публикации: 2005-02-23.

Instrument having X-ray fluorescence and spark emission spectroscopy analysis capabilities

Номер патента: US7430273B2. Автор: Ravisekhar Yellepeddi. Владелец: Thermo Fisher Scientific Inc. Дата публикации: 2008-09-30.

X-Ray tube and x-ray fluorescence analyser utilizing selective excitation radiation

Номер патента: AU2012203317A1. Автор: Heikki Johannes Sipilä. Владелец: HEIKKI SIPILA OY. Дата публикации: 2013-01-10.

X-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: EP2333529B1. Автор: Kenji Watanabe,Atsushi Morikawa,Yoshiyuki Kataoka,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-10-16.

A kind of method that MTG YBCO bulk-x-ray fluorescence measures alloying element in ferrotianium

Номер патента: CN109358082A. Автор: 王海,赵宁,王长军,孙炜,柳东徽,王一海,汤兰兰,刘素祥,潘宇洁. Владелец: Nanjing Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-19.

Method and system for X-ray fluorescence (XRF) analysis of exploration samples

Номер патента: US11175246B2. Автор: Melvyn LINTERN. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2021-11-16.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2020066100A1. Автор: 剛志 秋山. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2020-04-02.

Method and system for x-ray fluorescence (xrf) analysis of exploration samples

Номер патента: WO2018000046A1. Автор: Melvyn LINTERN. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation. Дата публикации: 2018-01-04.

Sorting of steels by X=ray fluorescence - where emitted radiation is fed into detector producing electric signals analysed in electronic comparator circuit

Номер патента: FR2432898A1. Автор: Maurice Wanin,Christian Barouillet. Владелец: Institut de Recherches de la Siderurgie Francaise IRSID. Дата публикации: 1980-03-07.

Handheld instrument as well as mobile device for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA2898059A1. Автор: Udo Geier,Bernhard Dr. Nensel. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2016-02-01.

X-ray fluorescence thickness tester

Номер патента: US6522718B2. Автор: Masao Sato. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2003-02-18.

A X-ray Fluorescence Spectrometer

Номер патента: KR100862332B1. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2008-10-23.

Wavelength dispersive x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2018061607A8. Автор: 秀一 加藤,片岡　由行,山田　隆. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2019-04-04.

MgO and SiO in light-burned magnesium and magnesium stone 2 X-ray fluorescence spectrum analysis method of content

Номер патента: CN111855722B. Автор: 赵宁,叶晓晴,吴子红,肖师杰. Владелец: Nanjing Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-24.

An X-ray fluorescence analyzer with gas-filled chamber

Номер патента: EP2116842A1. Автор: Antti Pelli. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2009-11-11.

X-ray fluorescence system and method

Номер патента: US20020057759A1. Автор: Douglas Holmes,Harvey Stone,Weimin Si,Frank Ferrandino. Владелец: Thermo Noran Inc. Дата публикации: 2002-05-16.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20020186812A1. Автор: Koushi Sumii. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2002-12-12.

Diffraction analysis device and method for realizing full-field X-ray fluorescence imaging analysis

Номер патента: CN114720496B. Автор: 王鹏,何�泽,王跃,黄宁,陈子晗,许元军,安竹. Владелец: Sichuan University. Дата публикации: 2022-08-26.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US6041095A. Автор: Boris Yokhin. Владелец: Jordan Valley Applied Radiation Ltd. Дата публикации: 2000-03-21.

X-Ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN104076052A. Автор: 田村浩一,高桥春男,广瀬龙介,的场吉毅. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2014-10-01.

method of analyzing x-ray fluorescence

Номер патента: BRPI1005172B8. Автор: WATANABE Kenji,Kataoka Yoshiyuki,MORIKAWA Atsushi,YAMADA Yasujiro. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

X-ray fluorescence elemental analyzer

Номер патента: WO2000016078A9. Автор: Melvin J Laurila,Claus C Bachmann,Albert P Klein. Владелец: Process Control Inc. Дата публикации: 2000-09-08.

Method for aligning for spectrum module of wavelength dispersive x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: KR101769709B1. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2017-08-18.

Method for measuring weight of zinc layer by X-ray fluorescence method

Номер патента: CN114047213A. Автор: 李娟�,王莉,崔晨,李永武,王曼娟. Владелец: Maanshan Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Instrument having x-ray fluorescence and spark emission spectroscopy analysis capabilities

Номер патента: WO2008103571A1. Автор: Lee Grodzins,Ravisekhar Yellepeddi. Владелец: Thermo Fisher Scientific Inc.. Дата публикации: 2008-08-28.

Light-burned magnesium ball high-temperature melting X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: CN112649456A. Автор: 刘秀秀,黄建国,席云荣,邵海秀,何际多. Владелец: Shandong Laigang Yongfeng Steel and Iron Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-13.

Combined X-ray fluorescence analysis and laser-induced breakdown spectroscopy with improved optical signal intensity by use of an inert gas

Номер патента: EP1724570A1. Автор: Heikki Sipila,Tero Eklin,Kai Kuparinen. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2006-11-22.

A method of utilizing lanthanum content in x-ray fluorescence spectrometry molybdenum product

Номер патента: CN109270101A. Автор: 王培�,廖军,薛林,菅豫梅,罗晓军. Владелец: Zigong Cemented Carbide Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-25.

Calibration standard for use in X-ray fluorescence analyzer, has sample holder that is set for executing calibration in rotation around axis, so that calibration sample is passed-over from measuring spot during calibration of elements

Номер патента: DE102012021484B3. Автор: Martin Brenk. Владелец: Franz Brenk & Co KG GmbH. Дата публикации: 2013-10-17.

X-ray fluorescence analyser for analysing fluid streams using a semiconductor-type detector and focusing means

Номер патента: WO2003048745A3. Автор: Ian Radley,Zewu Chen,Thomas J Bievenue,Brian W Gallagher,Stuart M Shakshober,Michael D Moore,Jr John H Burdett. Владелец: Jr John H Burdett. Дата публикации: 2004-02-12.

Wavelength-dispersive x-ray fluorescence analysis device

Номер патента: CN103415766B. Автор: 片冈由行,川久航介,井上央. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-22.

Dual x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis

Номер патента: US6859517B2. Автор: Chester L. Shepard,Bary W. Wilson. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2005-02-22.

X-ray fluorescence apparatus for measuring properties of a sample fluid, and method for testing a fluid

Номер патента: BR112012020027A2. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2020-08-18.

X-ray fluorescent emission analysis to determine material concentration

Номер патента: CA2355742A1. Автор: Alan P. Quinn. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-06-29.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2017038702A8. Автор: 山田　康治郎,真也 原,松尾　尚,片岡　由行,寿 本間. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2018-02-01.

IMPROVEMENTS IN PORTABLE FIELD X-RAY FLUORESCENT SPECTROMETER

Номер патента: MX151134A. Автор: Benton Clyde Clark Iii. Владелец: Martin Marietta Corp. Дата публикации: 1984-10-04.

A method for improving linearity of a Fe element content working curve of flash converting slag measured by X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN106383136A. Автор: 王勇,王纪华,殷昕,唐书天,史光源. Владелец: Jinchuan Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-08.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP7190751B2. Автор: 康治郎 山田,真也 原,真 堂井,憲治 児玉. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-12-16.

Method for measuring thermoplastic ash content by wavelength dispersion X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN110596170A. Автор: 秦超,郭凡,王学智,陈方园,张坤龙,柳盛,王行连. Владелец: Coal Yulin Derived Energy Chemical Co Ltd During Shaanxi Extends. Дата публикации: 2019-12-20.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3629539B2. Автор: 隆 御園生,幸雄 迫,幸男 西本,克美 木元. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2005-03-16.

Arrangement for carrying out X-ray fluorescence analyzes

Номер патента: DE10259193B4. Автор: Thomas Dipl.-Phys. Holz. Владелец: AXO DRESDEN GmbH. Дата публикации: 2005-03-24.

Total reflection X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: EP0423803A2. Автор: Kazuo Nishihagi,Michihisa C/O Yokohama Works Of Kyoto,Tetsuya C/O Yokohama Works Of Ohsugi. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 1991-04-24.

Instrument having x-ray fluorescence and spark emission spectroscopy analysis capabilities

Номер патента: US20080205593A1. Автор: Ravisekhar Yellepeddi. Владелец: Thermo Fisher Scientific Inc. Дата публикации: 2008-08-28.

X-ray fluorescence analysis and apparatus therefor

Номер патента: US20030152191A1. Автор: Motoyuki Yamagami. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2003-08-14.

Method and system for x-ray fluorescence analysis (xrf) of scanning samples.

Номер патента: CL2018003874A1. Автор: Melvyn LINTERN. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2019-03-01.

Automated x-ray fluorescence analysis

Номер патента: WO2009129479A1. Автор: Lee Grodzins,Stephen I. Shefsky,Michael E. Dugas. Владелец: THERMO NITON ANALYZERS LLC. Дата публикации: 2009-10-22.

The multiple sample preparations analyzed for X-ray fluorescence spectra

Номер патента: CN104903698B. Автор: J·M·L·N·加西亚. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-26.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: CN101311708A. Автор: C·布罗斯,P·赫格曼,P·布劳沃. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2008-11-26.

X-ray fluorescence analyzer.

Номер патента: MX2012009743A. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2013-02-27.

X-ray image converter, device and method for recording, processing and illustrating images using X-rays

Номер патента: US20030133535A1. Автор: Markus Müller. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-17.

X-ray image converter, device and method for recording, processing and illustrating images using x-rays and other rays

Номер патента: EP1381887A2. Автор: Markus R. MÜLLER. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-01-21.

X-ray image converter, device and method for recording, processing and illustrating images using X-rays

Номер патента: US6804322B2. Автор: Markus Robert Müller. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-10-12.

X-ray apparatus for inspecting luggage using x-ray sources emitting a plurality of fan-shaped beams

Номер патента: WO2009143169A8. Автор: Bruce Lee,Peter Conway,Richard Bijjani,William Aitkenhead,Michael P. Ellenbogen,Michael Litchfield. Владелец: Reveal Imaging Technoligies, Inc. Дата публикации: 2011-02-17.

Coordinate measuring and object scanning system uses X-ray source and X-ray sensors for primary scan and tactile and/or optical secondary mechanism movable in X, Y and Z directions for secondary scan

Номер патента: DE102004050257A1. Автор: . Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2006-04-27.

Image processing appts. for medical X-rays - uses X-ray sensor to produce fluorescent image which is converted to electrical signal for processing

Номер патента: FR2696922A1. Автор: MORI Keisuke,YAMAMOTO Koei,MAKINO Takao,MIYAGUCHI Kazuhisa,Tachibana Akifumi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 1994-04-22.

Apparatus and method for detecting the size of a circular tube using X-ray imaging techniques

Номер патента: CN113124790A. Автор: 冯俊敏,刘旭昇,冯攸. Владелец: Hangzhou Comboon Machinery Co ltd. Дата публикации: 2021-07-16.

X=ray analysis apparatus e.g. for integrated circuit wafer sample, uses x=ray sensitive CCD array as energy-dispersive detector

Номер патента: DE10063451A1. Автор: Waltherus Wilhelmus Hoogenhof,Johannes Cornelis Jans,Marinus Willem Dirken. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2001-07-05.

Method and device for testing calibration light source by using X-ray pulse detector

Номер патента: CN104165639A. Автор: 刘永安,陈琛,李林森,周雁楠,代锦飞,盛立志,赵宝升. Владелец: XiAn Institute of Optics and Precision Mechanics of CAS. Дата публикации: 2014-11-26.

Methods and apparatus for detecting objects in baggage using x-rays

Номер патента: WO2005010561B1. Автор: Yaghoub Mahdavieh. Владелец: Yaghoub Mahdavieh. Дата публикации: 2005-08-11.

SECURITY CHECKING SYSTEM USING X-RAYS AND NEUTRONS

Номер патента: US20140112436A1. Автор: Lee Sang Hyun,LEE Byung Cheol,Jang Kyu Ha,Li Yong Gui,Kim Byung Nam,Kang Hee Yung. Владелец: KOREA ATOMIC ENERGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2014-04-24.

Examining large loads using x-ray apparatus

Номер патента: GB9617675D0. Автор: . Владелец: Heimann Systems GmbH. Дата публикации: 1996-10-02.

Deboning method and apparatus for meat with bone using x-ray

Номер патента: US20120295527A1. Автор: Osamu Goto,Tatsuya Umino,Kazuhiro Hattori,Kenichiro Kimura,Hiroaki Muranami. Владелец: Mayekawa Manufacturing Co. Дата публикации: 2012-11-22.

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THIN FILM THICKNESS USING X-RAY

Номер патента: US20140119513A1. Автор: Kim Shi Surk,Kim Joo Hye,Lee Sang Bong,Lee Seong Uk. Владелец: NANO CMS Co., Ltd. Дата публикации: 2014-05-01.

WATER DOSIMETRY DEVICE USING X-RAY INDUCED ULTRASONIC WAVES

Номер патента: US20190383952A1. Автор: KIM Joong Hyun,Kim Chul Hong,KIM Byoung Chul,Kim In Jung,Kim Jeesu,PARK Eun Yeong,YI Chul Yong,JUNG Yuhan. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-19.

Apparatus and method for scanning circuit elements using x-ray

Номер патента: KR101467478B1. Автор: 김선택. Владелец: (주)시스트. Дата публикации: 2014-12-01.

Trailer for the system to inspect a big object in auto-scanning type using X-ray

Номер патента: KR100598654B1. Автор: 리지안민,가오원후안,리우이농,수지안준,리닝,쉔완추안,리우롱수안. Владелец: 칭화대학교. Дата публикации: 2006-07-07.

Image processing for material detection using X-rays

Номер патента: DE19812055C2. Автор: Dirk Naumann,Rainer Henkel,Kurt Beneke. Владелец: Heimann Systems GmbH. Дата публикации: 2002-08-08.

Apparatus for measuring thickness of material using x-ray

Номер патента: KR102170972B1. Автор: 이상설,임준. Владелец: 주식회사 자비스옵틱스. Дата публикации: 2020-10-28.

Apparatus for measuring thickness of material using x-ray

Номер патента: KR20190113562A. Автор: 이상설,임준. Владелец: 포항공과대학교 산학협력단. Дата публикации: 2019-10-08.

apparatus and method for boning meat with bone using x-ray.

Номер патента: BR112012019756A2. Автор: Osamu Goto,Tatsuya Umino,Kazuhiro Hattori,Kenichiro Kimura,Hiroaki Muranami. Владелец: Maekawa Seisakusho Kk. Дата публикации: 2016-06-28.

DEVICE FOR TESTING LUGGAGE USING X-RAY RADIATION

Номер патента: FR2399645A1. Автор: . Владелец: Heimann GmbH. Дата публикации: 1979-03-02.

System for visualizing flow and measuring velocity field using X-ray particle image velocimetry

Номер патента: US7227621B2. Автор: Sang Joon Lee,Guk Bae Kim. Владелец: Pohang University of Science and Technology Foundation POSTECH. Дата публикации: 2007-06-05.

Apparatus for measuring thickness of plating using x-ray

Номер патента: KR102278675B9. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2021-09-17.

Methods and apparatus for detecting objects in baggage using x-rays

Номер патента: WO2005010561A2. Автор: Yaghoub Mahdavieh. Владелец: L-3 Communications Security and Detection Systems Corporation. Дата публикации: 2005-02-03.

A DETECTOR FOR X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20180081071A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

X-RAY FLUORESCENCE MEASURING DEVICE

Номер патента: DE3212845A1. Автор: Hiroshi Ishijima,Toshiyuki Tokyo Koga. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1982-10-21.

Irradiator apparatus and system and method for irradiating a sample using x-rays

Номер патента: EP3692552A1. Автор: Wlodzimierz S. Kaszuba,Angela L. Sanders,Jeffery D. Gulis. Владелец: Best Theratronics Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Irradiator apparatus and system and method for irradiating a sample using x-rays

Номер патента: US20190108925A1. Автор: Wlodzimierz S. Kaszuba,Angela L. Sanders,Jeffery D. Gulis. Владелец: Best Theratronics Ltd. Дата публикации: 2019-04-11.

Irradiator apparatus and system and method for irradiating a sample using x-rays

Номер патента: WO2019068181A1. Автор: Wlodzimierz S. Kaszuba,Angela L. Sanders,Jeffery D. Gulis. Владелец: BEST THERATRONICS LTD.. Дата публикации: 2019-04-11.

IRRADIATOR APPARATUS AND SYSTEM AND METHOD FOR IRRADIATING A SAMPLE USING X-RAYS

Номер патента: US20190108925A1. Автор: KASZUBA WLODZIMIERZ S.,SANDERS ANGELA L.,GULIS JEFFERY D.. Владелец: BEST THERATRONICS LTD.. Дата публикации: 2019-04-11.

Observation device using X-ray

Номер патента: JP2921038B2. Автор: 豊 渡辺,雅美 林田,正人 新部,隆 飯塚,恵明 福田. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1999-07-19.

Method for vapor-depositing a substrate with a needle-shaped x-ray fluorescent material, and x-ray fluorescent material

Номер патента: AU2003250307A1. Автор: Erich Hell,Detlef Mattern,Manfred Fuchs,Peter Rohrer,Wolfgang Knupfer. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2004-03-03.

Magnesium silicide-based multilayer x-ray fluorescence analyzers

Номер патента: EP2248136A1. Автор: Kazuaki Shimizu,Yuriy Y. Platonov. Владелец: Rigaku Innovative Technologies Inc. Дата публикации: 2010-11-10.

Magnesium silicide-based multilayer x-ray fluorescence analyzers

Номер патента: WO2009114363A1. Автор: Kazuaki Shimizu,Yuriy Y. Platonov. Владелец: Rigaku Industrial Corporation. Дата публикации: 2009-09-17.

Needle-shaped x-ray fluorescent material and method for vapor-deposition thereof on a substrate

Номер патента: US20050220999A1. Автор: Erich Hell,Detlef Mattern,Manfred Fuchs,Peter Rohrer,Wolfgang Knupfer. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2005-10-06.

Method for manufacturing micro structure using x-ray exposure

Номер патента: US20110254195A1. Автор: Dong Sung Kim,Bong-Kee Lee,Tai-Hun Kwon. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2011-10-20.

Method for manufacturing micro structure using X-ray exposure

Номер патента: US9217927B2. Автор: Dong Sung Kim,Bong-Kee Lee,Tai-Hun Kwon. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2015-12-22.

Systems and methods for inspecting honeycomb ceramic structures using x-ray ct imaging

Номер патента: EP4327281A1. Автор: Robert John Locker,Patrick Garret CIGNO,Jeffrey Thomas DRAKE,Jerry Lee Hepburn,Corey Thomas JANISCH,David John Worthey. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2024-02-28.

Method for manufacturing micro structure using x-ray exposure

Номер патента: EP2355136A4. Автор: Dong Sung Kim,Bong-Kee Lee,Tai-Hun Kwon. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2013-01-23.

METHOD AND DEVICE FOR ANALYSING A REGION OF INTEREST IN AN OBJECT USING X-RAYS

Номер патента: US20130236079A1. Автор: Carlsen Ingwer-Curt,Koehler Thomas,Wiemker Rafael,Martens Gerhard,Rossl Ewald. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2013-09-12.

Method for 3d inspection of an object using x-rays

Номер патента: US20130315469A1. Автор: Satpal Singh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-11-28.

Methods and Systems for Detecting Defects in Devices Using X-rays

Номер патента: US20210012499A1. Автор: Adler David Lewis,Jewler Scott Joseph,Babian Freddie Erich. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-14.

Overlay metrology using X-rays

Номер патента: US20070224518A1. Автор: Boris Yokhin,Isaac Mazor,Sean Jameson,Alex Dikopoltsev. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-27.

Shape reconstruction using x-ray images

Номер патента: US20080018643A1. Автор: Thomas Feilkas,Guoyan Zheng. Владелец: AO TECHNOLOGY AG. Дата публикации: 2008-01-24.

Shape reconstruction using X-ray images

Номер патента: US8055046B2. Автор: Thomas Feilkas,Guoyan Zheng. Владелец: AO TECHNOLOGY AG. Дата публикации: 2011-11-08.

Shipment evaluation using X-ray imaging

Номер патента: US9686481B1. Автор: James Christopher Curlander,Jules Cook Graybill,Marshall Friend Tappen. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Method and apparatus of examining 3-dimensioanl shape of object using X-ray

Номер патента: KR101199977B1. Автор: 구승범. Владелец: 중앙대학교 산학협력단. Дата публикации: 2012-11-12.

3D inspection of an object using x-rays

Номер патента: US20090136089A1. Автор: Satpal Singh. Владелец: Satpal Singh. Дата публикации: 2009-05-28.

Electrostatic imaging process using x-ray radiation

Номер патента: GB1490615A. Автор: . Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 1977-11-02.

Systems and methods for inspecting honeycomb ceramic structures using x-ray ct imaging

Номер патента: WO2023287591A1. Автор: Robert John Locker,Patrick Garret CIGNO,Jeffrey Thomas DRAKE,Jerry Lee Hepburn,Corey Thomas JANISCH,David John Worthey. Владелец: CORNING INCORPORATED. Дата публикации: 2023-01-19.

METHOD FOR RESTORING AN IMAGE USING X-RAY 3D VOLUME PHOTOGRAPHY

Номер патента: RU2010144360A. Автор: Цзя ШУ,Цзя ШУ (CN). Владелец: Цзя ШУ (CN). Дата публикации: 2012-04-27.

X-ray fluorescence intensifying screen with a flexible support and a fluorescent layer applied to it

Номер патента: DE2943854C2. Автор: Walter 8000 München Bauer. Владелец: Agfa Gevaert AG. Дата публикации: 1982-04-08.

XR (X-ray fluorescence) technology-based gesture synchronous interactive exhibition hall display system

Номер патента: CN115202485A. Автор: 王亚刚,李元元,程思锦. Владелец: Shenzhen Feidie Virtual Reality Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-10-18.

X-ray tube device and method for using X-ray tube device

Номер патента: US09887061B2. Автор: Takumi Kobayashi,Masaaki Ukita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

X-ray generating apparatus, method of adjusting target, and method of using x-ray generating apparatus

Номер патента: US20230352260A1. Автор: Yoichi Ando. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

X-ray generating apparatus, method of adjusting target, and method of using X-ray generating apparatus

Номер патента: US11823860B1. Автор: Yoichi Ando. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

X-ray generation device, target adjusting method, and method for using x-ray generation device

Номер патента: EP4394838A1. Автор: Yoichi Ando. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-07-03.

X-ray tube device and method for using x-ray tube device

Номер патента: CN104620350A. Автор: 小林巧,浮田昌昭. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2015-05-13.

X-RAY TUBE DEVICE AND METHOD FOR USING X-RAY TUBE DEVICE

Номер патента: US20150262782A1. Автор: KOBAYASHI Takumi,Ukita Masaaki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-17.

X-ray tube device and method for using x-ray tube device

Номер патента: WO2014041639A1. Автор: 小林　巧,浮田　昌昭. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2014-03-20.

Gas ion generating device and method using X-ray and various devices and structure using same

Номер патента: KR950703269A. Автор: 타다히로 오미,히또시 이나바,도모유끼 이께도. Владелец: 하마마쯔 포토닉스 가부시끼가이샤. Дата публикации: 1995-08-23.

Method of making innerlayer panels and printed wiring boards using X-ray identification of fiducials

Номер патента: CN1652665A. Автор: D·马居达,W·J·伯兰德,S·弗古逊,M·C·斯诺格林,R·H·斯诺格林. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2005-08-10.

Method of creation of defects using X-ray radiation and electric field and its application

Номер патента: US9530650B2. Автор: Romaldas Purlys,Vitalij Balandin,Mindaugas Viliūnas,Saulius Balakauskas,Andrius Poškus,Arvydas Juozapas Janavicius. Владелец: VILNIAUS UNIVERSITETAS. Дата публикации: 2016-12-27.

Method of manufacturing lower panel for plasma display panel using X-Rays

Номер патента: EP1939919B1. Автор: Jong-Seo Choi,Seung-Min Ryu,Kwi-Seok Choi,Beom-Wook Lee,Dong-Yol Yang,Suk-Hee Park. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-29.

New method of creation of defects using x-ray radiation and electric field and its application

Номер патента: US20150262821A1. Автор: Romaldas Purlys,Vitalij Balandin,Mindaugas Viliūnas,Saulius Balakauskas,Andrius Poškus,Arvydas Juozapas Janavicius. Владелец: VILNIUS UNVERSITY. Дата публикации: 2015-09-17.

A new method of creation of defects using x-ray radiation and electric field and its use

Номер патента: WO2014062045A1. Автор: Romaldas Purlys,Vitalij Balandin,Mindaugas Viliūnas,Saulius Balakauskas,Andrius Poškus,Arvydas Juozapas Janavicius. Владелец: Vilnius University. Дата публикации: 2014-04-24.

NEW METHOD OF CREATION OF DEFECTS USING X-RAY RADIATION AND ELECTRIC FIELD AND ITS APPLICATION

Номер патента: US20150262821A1. Автор: Purlys Romaldas,Janavicius Arvydas Juozapas,Balandin Vitalij,Viliunas Mindaugas,Balakauskas Saulius,Poskus Andrius. Владелец: VILNIUS UNVERSITY. Дата публикации: 2015-09-17.

Method for using X=ray tube for material examination

Номер патента: DE19745998A1. Автор: Peter Dr Schardt,Erich Dr Hell. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1999-03-04.

Positioning device for analyzing a double seam cross-section and the double seam pleat formation using x-rays

Номер патента: WO2010048914A1. Автор: Michael Lenko. Владелец: Cmc Kuhnke Gmbh. Дата публикации: 2010-05-06.

position control for electron beam welder - uses X=rays emitted during special measurement interval by beam travelling closed path intersecting weld direction

Номер патента: DE2937094A1. Автор: Dipl.-Phys. Clauspeter 8082 Grafrath Mönch. Владелец: Steigerwald Strahltecknik GmbH. Дата публикации: 1981-04-02.

Positioning device for analyzing a double seam cross-section and the double seam pleat formation using x-rays

Номер патента: ZA201103060B. Автор: Michael Lenko. Владелец: Cmc Kuhnke Gmbh. Дата публикации: 2012-04-18.

Finishing rolls of polymer textiles - using X-rays produced by electron bombardment of surrounding metal target

Номер патента: FR2262144A1. Автор: . Владелец: Textilkombinat VEB. Дата публикации: 1975-09-19.

Device for making short-term recordings using X-rays.

Номер патента: CH258429A. Автор: Gloeilampenfabrieken N Philips. Владелец: Philips Nv. Дата публикации: 1948-11-30.

Method for two-dimensional measurement using X-rays on electrodes

Номер патента: JP6001604B2. Автор: 木村　宏,宏 木村,照央 高橋,仁志 福満,遥介 東. Владелец: Sumika Chemical Analysis Service Ltd. Дата публикации: 2016-10-05.

Method for cross sectional inspection of PCB using X-ray

Номер патента: KR100339008B1. Автор: 손영탁,남상운. Владелец: 엘지전자주식회사. Дата публикации: 2002-05-31.

Method of manufacturing lower panel for plasma display panel using x-rays

Номер патента: US20080303437A1. Автор: Jong-Seo Choi,Seung-Min Ryu,Kwi-Seok Choi,Beom-Wook Lee,Dong-Yol Yang,Suk-Hee Park. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-11.

Single use x-ray source

Номер патента: GB2018507B. Автор: . Владелец: Neratoom BV. Дата публикации: 1982-05-06.

Method and apparatus for improving defective solder joint detection using x-ray inspection of printed assemblies

Номер патента: TW200515248A. Автор: Glen E Leinbach. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2005-05-01.

Method and apparatus for improving defective solder joint detection using x-ray inspection of printed assemblies

Номер патента: SG121887A1. Автор: Glen E Leinbach. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2006-05-26.

The method of x-ray fluorescence sorting of ores of complex material composition

Номер патента: RU2018123458A. Автор: Александр Владимирович Ефимов,Игорь Иульянович Кацер,Александр Игоревич Кацер,Борис Михайлович Шорохов,Валерий Евгеньевич Кропачев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Технология рентгенорадиометрического обогащения и сортировки". Дата публикации: 2019-12-30.

Manufacturing method for x-ray fluorescent boosting tube

Номер патента: JPS56123645A. Автор: Tomio Yoshida,Norio Harao. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1981-09-28.

Co-deposition of cesium telluride photocathode and X-ray fluorescence controller co-deposition of cesium telluride photocathode

Номер патента: US12033846B2. Автор: John Walsh,John Smedley,Jiajie Cen,John Jay Sinsheimer,Mengjia Gaowei. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 2024-07-09.

Flat-type x-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS598253A. Автор: Kenji Iwasaki,岩崎　賢二. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1984-01-17.

Photoelectric face forming method for x-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS577043A. Автор: Hiroshi Katagawa. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1982-01-14.

Method and device for the production of enamel samples for the X-ray fluorescence analysis of cement

Номер патента: DE2242056C3. Автор: Auf Nichtnennung Antrag. Владелец: Italcementi SpA. Дата публикации: 1975-12-18.

Formation of photoelectric surface of x-ray fluorescent multiplying tube

Номер патента: JPS5717537A. Автор: Hideki Matsui. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1982-01-29.

X-ray tube whose end window carries two anode layers, and an X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP1821583A1. Автор: Erkki Puusaari. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2007-08-22.

Apparatus for underwater x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2542642C1. Автор: Владимир Александрович Елохин,Валерий Иванович Николаев,Алексей Сергеевич Бахвалов,Тимофей Дмитриевич Ершов,Сергей Иванович Коробейников,Андрей Аркадьевич Трусов,Екатерина Викторовна Чижова. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг РФ). Дата публикации: 2015-02-20.

Method for preparing samples of potassium-containing electrolyte of aluminium industry for analysing composition and determining bath ratio by x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2542927C1. Автор: Сергей Дмитриевич Кирик,Игорь Степанович Якимов,Сергей Григорьевич Ружников,Оксана Евгеньевна Пиксина,Юлия Николаевна Зайцева,Петр Сергеевич Дубинин. Владелец: Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Сибирский Федеральный Университет". Дата публикации: 2015-02-27.

Method for x-ray fluorescence determination of trace elements with preliminary concentration thereof from ultra-small samples of water and aqueous solutions

Номер патента: RU2484452C1. Автор: Мурадин Абубекирович Кумахов,Руслан Хажсетович Хамизов,Александра Николаевна Груздева,Андзор Адалгериевич Болотоков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Ордена Ленина и Ордена Октябрьской революции Институт геохимии и аналитической химии им. В.И. Вернадского Российской академии наук. Дата публикации: 2013-06-10.

Device for energy-dispersive x-ray fluorescence analysis based on secondary emitters

Номер патента: RU2584066C1. Автор: Борис Дмитриевич Калинин,Роберт Исаакович Плотников,Адиль Абдул Меликович Яфясов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ). Дата публикации: 2016-05-20.

Method for x-ray fluorescence determination of content of impurities of structural materials

Номер патента: RU2584064C1. Автор: Борис Дмитриевич Калинин,Роберт Исаакович Плотников,Адиль Абдул Меликович Яфясов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ). Дата публикации: 2016-05-20.

Method of x-ray fluorescence analysis of materials

Номер патента: RU2372611C1. Автор: Евгений Матвеевич Лукьянченко,Роберт Исаакович Плотников. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник". Дата публикации: 2009-11-10.

Device for x-ray fluorescence analysis of substance

Номер патента: RU2490617C2. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН). Дата публикации: 2013-08-20.

Method of x-ray fluorescence analysis of weld seam

Номер патента: RU2345354C2. Автор: Антонина Никоновна Смагунова,Нина Афанасьевна Нестеренко,Ольга Михайловна Карпукова,Алексей Николаевич Смагунов,Анна В чеславовна Келешева,Анна Вячеславовна Келешева. Владелец: ГОУ ВПО Иркутский государственный университет. Дата публикации: 2009-01-27.

Method of evaluating value of relative error of experimentally obtained percentage content of element to certified percentage content of said element through x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU2375703C1. Автор: Наталья Николаевна Худякова. Владелец: Акционерная компания "АЛРОСА" (Закрытое акционерное общество). Дата публикации: 2009-12-10.

Method for x-ray fluorescence determination of acid-soluble forms of metals in soil

Номер патента: RU2437083C1. Автор: Михаил Олегович Смирнов,Анатолий Владимирович Пуховский,Виктор Гаврилович Сычев,Татьяна Юрьевна Пуховская. Владелец: Государственное научное учреждение Всероссийский научно-исследовательский институт агрохимии им. Д.Н. Прянишникова. Дата публикации: 2011-12-20.

Sampling device for x-ray fluorescence analysis spectrometers

Номер патента: RU2344410C2. Автор: Валерий Александрович Петров,Евгени Викторовна Петрова,Евгения Викторовна Петрова,Владимир Андреевич Скакодуб,Юрий Валентинович Ефремов. Владелец: Институт физико-технических проблем. Дата публикации: 2009-01-20.

Method for x-ray fluorescent analysis of samples with undefined filler components

Номер патента: RU2594638C1. Автор: Елена Ивановна Молчанова,Елена Николаевна Коржова,Татьяна Викторовна Степанова,Василий Викторович Кузьмин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Иркутский государственный университет путей сообщения". Дата публикации: 2016-08-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379657C1. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

PROCESS OF MANUFACTURE OF COMPARISON SAMPLES FOR X-RAY FLUORESCENT DETERMINATION OF PLATINUM IN COMPOUNDS WITH EULITINUM STRUCTURE (Bi4MIV3O12)

Номер патента: RU2077711C1. Автор: В.В. Борисова,В.А. Кутвицкий,Л.М. Чернышова,В. Манасрех. Владелец: Кутвицкий Валентин Александрович. Дата публикации: 1997-04-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate in oil wells

Номер патента: RU2379667C1. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379660C1. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Владиславович Газиев. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379659C1. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379661C1. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

Method of x-ray fluorescent analysis

Номер патента: RU2105291C1. Автор: Л.Д. Данилин,А.П. Моровов,В.В. Жмайло. Владелец: Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики. Дата публикации: 1998-02-20.

Method of production of standards for x-ray-fluorescent analysis of thin films of small-component solid solutions and alloys

Номер патента: RU2523757C1. Автор: Владимир Алексеевич Комаров,Владимир Минович Грабов,Евгений Владимирович Демидов,Дмитрийс Маркушевс. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена". Дата публикации: 2014-07-20.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379664C1. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Владиславович Газиев. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

Test assembly for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA1076715A. Автор: Heinrich Schwenke,Rainer Marten,Herbert Rosomm. Владелец: Gesellschaft fuer Kernenergieverwertung in Schiffbau und Schiffahrt. Дата публикации: 1980-04-29.

NONDESTRUCTIVE INSPECTION SYSTEM USING NUCLEAR RESONANCE FLUORESCENCE

Номер патента: US20120002783A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

X-ray fluorescence analyser using X-ray lens

Номер патента: CN2145381Y. Автор: 颜一鸣. Владелец: Beijing Normal University. Дата публикации: 1993-11-03.

Method of diagnostics and treatment of esophagus perforations using x-ray contrast composition

Номер патента: RU2335241C1. Автор: Юрий Александрович Пархисенко,Виктор Викторович Булынин,нов Валерий Валентинович Смоль,Валерий Валентинович Смольянов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежская государственная медицинская академия им. Н.Н. Бурденко Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию". Дата публикации: 2008-10-10.

Method for analysis using x-ray fluorescence

Номер патента: US20120093286A1. Автор: Warner Benjamin P.,Peterson Lori J.,MORTILLARO Camaron A.,ZAHLER Nathan H.,BHARTI Pratima,HSIEH Chang-Tai,SOLOMON Emilia A.. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-19.

Stereo imaging device and method using X-ray apparatus

Номер патента: CN103190926A. Автор: 王宝良,王卫真. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-07-10.

Device for detecting multilayer PCB (Printed Circuit Board) by using X-ray technology

Номер патента: CN202854066U. Автор: 杨铭,胡振华,宋瑞,陈雪芳,刘华珠,廖永红. Владелец: DONGGUAN KAIJIA CHIP ELECTRONIC TECHNOLOGY CO LTD. Дата публикации: 2013-04-03.

Method for adjusting imaging control in automatic inspection apparatus using X-ray and automatic inspection apparatus using X-ray

Номер патента: JP5303911B2. Автор: 克起 中島,佳秀 太田. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

Position measuring method using X-ray CT apparatus, X-ray CT apparatus having position measuring function, and flat pad

Номер патента: JP4130024B2. Автор: 正司 舞田. Владелец: ジーイー横河メディカルシステム株式会社. Дата публикации: 2008-08-06.

X-ray diffraction measurement apparatus and diffraction image width measurement method using x-ray diffraction measurement apparatus

Номер патента: JP2022113921A. Автор: Yoichi Maruyama,洋一 丸山. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-05.

Convexity measuring device using X-ray

Номер патента: CN1962102A. Автор: 邹凯,杨双成,李献国. Владелец: SUZHOU NON-FERROUS METALS PROCESSING RESEARCH INST. Дата публикации: 2007-05-16.

Method and device for detecting foreign bodies in foods by using X rays

Номер патента: CN102004112A. Автор: 周洪钧. Владелец: WUXI DYNA VISION TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2011-04-06.

Drilling method and X-ray drilling device using X-ray

Номер патента: JP2985045B2. Автор: 真一 加藤,正俊 荒木. Владелец: Seiko Precision Inc. Дата публикации: 1999-11-29.

The grid cover goods which is using x-ray imaging system

Номер патента: KR200284751Y1. Автор: 김삼조. Владелец: 정원정밀공업 주식회사. Дата публикации: 2002-08-13.

Improvements in and relating to material identification using x-rays

Номер патента: GB9920479D0. Автор: . Владелец: Cambridge Imaging Ltd. Дата публикации: 1999-11-03.

Positioning structure of dental-use X-ray sheet

Номер патента: TWM404001U. Автор: jia-qing Chen. Владелец: jia-qing Chen. Дата публикации: 2011-05-21.

Improvements in and relating to material identification using x-rays

Номер патента: GB9717114D0. Автор: . Владелец: Cambridge Imaging Ltd. Дата публикации: 1997-10-22.

Improvements in and relating to material identification using X-rays

Номер патента: GB9818837D0. Автор: . Владелец: Cambridge Imaging Ltd. Дата публикации: 1998-10-21.

X-ray fluorescent analyzer

Номер патента: RU2008658C1. Автор: Г.В. Павлинский,Р.И. Плотников,Д.В. Ившев. Владелец: Научно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете. Дата публикации: 1994-02-28.

X-ray fluorescence analyser, and a method for using an x-ray fluorescence analyser

Номер патента: AU2002350756A1. Автор: Heikki Sipila,Unto Paakkinen. Владелец: BS INSTRUMENT TECHNOLOGY Oy. Дата публикации: 2003-01-08.

APPARATUS FOR MATERIALS TESTING OF TEST OBJECTS USING X-RAYS

Номер патента: US20120045033A1. Автор: Stuke Ingo,Guenzler Til Florian,Wuestenbecker Michael,Kraemer Jan,Lux Holger. Владелец: . Дата публикации: 2012-02-23.

SYSTEM AND METHOD FOR BREAST IMAGING USING X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY

Номер патента: US20120128120A1. Автор: MULLER Serge Louis Wilfrid,De Man Bruno Kristiann Bernard. Владелец: . Дата публикации: 2012-05-24.

TEST PATTERN FOR MEASURING SEMICONDUCTOR ALLOYS USING X-RAY DIFFRACTION

Номер патента: US20130026464A1. Автор: CHIEN Chin-Cheng,Hsuan Teng-Chun,Liao Chin-I,Lai I-Ming. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

APPARATUS AND METHOD FOR ESTIMATING FORMATION LITHOLOGY USING X-RAY FLOURESCENCE

Номер патента: US20130066605A1. Автор: Li Fusheng. Владелец: BAKER HUGHES INCORPORATED. Дата публикации: 2013-03-14.

METHOD FOR PHOTOPOLYMERIZING HYDROGEL USING X-RAY IRRADIATION

Номер патента: US20130131151A1. Автор: HWU YEU KUANG,TSENG S JA. Владелец: INSTITUTE OF PHYSICS, ACADEMIA SINICA. Дата публикации: 2013-05-23.

Board inspection equipment using X-rays

Номер патента: JP5396751B2. Автор: 克起 中島,佳秀 太田. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2014-01-22.

Apparatus for the quantitative study of vision functions using X-ray phosphor

Номер патента: SU127357A1. Автор: Г.К. Гуртовой. Владелец: Г.К. Гуртовой. Дата публикации: 1959-11-30.

Method for the diagnosis of malignant lung tumors using x-ray

Номер патента: SU76705A1. Автор: Я.Г. Диллон. Владелец: Я.Г. Диллон. Дата публикации: 1948-11-30.

The method to assess the cleanness of inclusions in stainless steels using X-ray microscpe

Номер патента: KR100681663B1. Автор: 장창환,신광수,윤화식. Владелец: 재단법인 포항산업과학연구원. Дата публикации: 2007-02-09.

Readout of electrostatically charged image pattern - uses X:ray source with chamber and electrode in upper section

Номер патента: IT1058128B. Автор: . Владелец: Xonics Inc. Дата публикации: 1982-04-10.

Method of studying dilatometric irregularities in single crystals using x-ray interferometry

Номер патента: SU1679313A1. Автор: Петрос Акопович Безирганян,Арсен Оганесович Абоян,Андраник Александрович Хзарджян,Сирануш Еноковна Безирганян. Владелец: Ереванский государственный университет. Дата публикации: 1991-09-23.

Diamond detection using x-ray diffraction

Номер патента: CA2245131A1. Автор: Ulf Anders Staffan Tapper,George William Over,Christopher Bruce Mills,Daniel Jacobus Van Der Merwe,Stephanus Dawid Le Roux. Владелец: De Beers Consolidated Mines Ltd. Дата публикации: 1999-02-13.

Film thickness measurement method using X-ray diffraction

Номер патента: JP3000892B2. Автор: 裕 菅野. Владелец: 株式会社新潟鉄工所. Дата публикации: 2000-01-17.

The method of research material using x-ray sources

Номер патента: UA103405U. Автор: Oleg Stanislavovych Kshevetskyi. Владелец: Oleg Stanislavovych Kshevetskyi. Дата публикации: 2015-12-10.

A medical endoscope for killing the cells for cancer by using X-Ray

Номер патента: GB201816466D0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-11-28.

Patient table for medical examinations using X-rays

Номер патента: AT184995B. Автор: . Владелец: Philips Nv. Дата публикации: 1956-03-10.

Diamond detection using X-ray diffraction

Номер патента: AU754208B2. Автор: Ulf Anders Staffan Tapper,George William Over,Christopher Bruce Mills,Daniel Jacobus Van Der Merwe,Stephanus Dawid Le Roux. Владелец: De Beers Consolidated Mines Ltd. Дата публикации: 2002-11-07.

An effective method of treating the patients of covid 19 by using x-ray inside the ling

Номер патента: GB202014367D0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-10-28.

An effective and safe method for treating the patients of covid 19 by using x-ray with lung endoscope

Номер патента: GB202014366D0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-10-28.

Method for stabilizing energy dispersion x-ray fluorescence analyzer parameters

Номер патента: RU2237885C2. Автор: нченко Е.М. Лукь,Е.М. Лукьянченко. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник". Дата публикации: 2004-10-10.

X-ray fluorescence intensity correction method in X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: JP2513094B2. Автор: 正之 松尾,俊也 土生. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1996-07-03.

X-ray fluorescence analysis sample mask, sample holder, and slag fluorescence X-ray analysis method

Номер патента: JP3628516B2. Автор: 規子 槇石,公 山本,秀雄 圓山. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2005-03-16.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer and analysis method using total reflection X-ray fluorescence

Номер патента: JP4143399B2. Автор: 博 内原. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2008-09-03.

Device for x-ray/fluorescent analysis

Номер патента: RU2130604C1. Автор: Б.Ж. Жалсараев. Владелец: Геологический институт СО РАН. Дата публикации: 1999-05-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF FLOW AND COMPOSITION OF GAS-FLUID FLOW COMPONENTS

Номер патента: RU2008114093A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPOSITION AND SPEED OF GAS-LIQUID FLOW OF OIL WELLS

Номер патента: RU2008119313A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-11-20.

Device for determination of coating thickness by x-ray-fluorescent method

Номер патента: RU2112209C1. Автор: В.Ф. Столяров,Г.М. Иванова,С.А. Клянчин,Т.А. Ледовская. Владелец: Закрытое акционерное общество "ЭЛСКОРТ". Дата публикации: 1998-05-27.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND SPEED OF GAS-FLUID FLOW OF OIL WELLS

Номер патента: RU2008119236A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-11-20.

Process of manufacture of glass radiators for x-ray-fluorescent analysis of rocks

Номер патента: RU2098791C1. Автор: Владимир Яковлевич Борходоев. Владелец: Владимир Яковлевич Борходоев. Дата публикации: 1997-12-10.

DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS OF SUBSTANCE

Номер патента: RU2011133132A. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев. Владелец: Учреждение Российской академии наук Геологический институт Сибирского отделения РАН (ГИН СО РАН ). Дата публикации: 2013-02-10.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPOSITION AND SPEED OF THREE COMPONENT FLOW

Номер патента: RU2008114086A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND SPEED OF THREE-COMPONENT FLOW OF OIL WELLS

Номер патента: RU2008119314A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-11-20.

X-ray fluorescent analyzer

Номер патента: RU2032169C1. Автор: Д.А. Гоганов,И.С. Анчугов,Е.В. Бляхер,Е.Н. Мочулов,О.Е. Широкоброд. Владелец: Бляхер Евгений Владимирович. Дата публикации: 1995-03-27.

X-ray fluorescent spectrometry

Номер патента: CA544342A. Автор: Wytzes Sjoerd. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1957-07-30.

Variable viewfield x-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS54125961A. Автор: Hiroshi Katagawa. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1979-09-29.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: GB9825653D0. Автор: . Владелец: Bede Scientific Instruments Ltd. Дата публикации: 1999-01-13.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: AU2002238054A1. Автор: Lee Grodzins,Hal Grodzins. Владелец: Niton Corp. Дата публикации: 2002-08-19.

X-ray fluorescence spectrometer sample preparation method

Номер патента: TW201035542A. Автор: Guang-Qian Chen,Ming-Chang Xiao. Владелец: China Steel Corp. Дата публикации: 2010-10-01.

SYSTEMS AND METHODS FOR X-RAY FLUORESCENCE COMPUTED TOMOGRAPHY IMAGING WITH NANOPARTICLES

Номер патента: US20120307962A1. Автор: Cho Sang Hyun. Владелец: Georgia Tech Resarch Corporation. Дата публикации: 2012-12-06.

X-RAY TUBE AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSER UTILIZING SELECTIVE EXCITATION RADIATION

Номер патента: US20120321038A1. Автор: . Владелец: HEIKKI SIPILA OY. Дата публикации: 2012-12-20.

High Speed, Non-Destructive, Reel-to-Reel Chip/Device Inspection System and Method Utilizing Low Power X-rays/X-ray Fluorescence

Номер патента: US20130022167A1. Автор: White Justin,Cardoso Guilherme,Turqueti Marcos,Lemaster Griffin,Linden Shawn. Владелец: CREATIVE ELECTRON, INC.. Дата публикации: 2013-01-24.

SYSTEM AND METHOD FOR CHARACTERIZING A FILM BY X-RAY PHOTOELECTRON AND LOW-ENERGY X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY

Номер патента: US20130077742A1. Автор: Smedt Rodney,REED David A.,Fanton Jeffrey T.,Schueler Bruno W.. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-28.

Apparatus for x-ray fluorescent pulp analysis

Номер патента: SU1193547A1. Автор: Леонид Иосифович Мачульский,Николай Иванович Котлер. Владелец: Центральный научно-исследовательский институт оловянной промышленности. Дата публикации: 1985-11-23.

Method and apparatus for correcting bias in X-ray fluorescence analysis

Номер патента: JP2927654B2. Автор: 由行 片岡,広明 喜多. Владелец: RIGAKU DENKI KOGYO KK. Дата публикации: 1999-07-28.

X-ray fluorescence spectra analyzes the MTG YBCO bulk method of ferrosilicon, Si-Ca-Ba, silicomanganese, ferro-aluminum or ferro-titanium sample

Номер патента: CN103149073B. Автор: 王娟,杨新能,李小青,周丽菊. Владелец: Pangang Group Panzhihua Steel and Vanadium Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-12.

X-ray fluorescent method of the determination of total iron content

Номер патента: SU702281A1. Автор: Владимир Яковлевич Шиян,Лев Константинович Юкса. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1979-12-05.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3291251B2. Автор: 由行 片岡,啓介 八木. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2002-06-10.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3208200U. Автор: 隆雄 丸井,博朗 古川. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-12-28.

Method of quantitative x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU1622804A1. Автор: Владимир Владимирович Орлов,Александр Константинович Сиромаха. Владелец: Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности "Гиредмет". Дата публикации: 1991-01-23.

Arrangement for preparing specimens for x-ray fluorescent analisis

Номер патента: SU1594394A1. Автор: Василий Парфениевич Бондаренко,Николай Максимович Кочмола. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1990-09-23.

Method of registering absorption characteristics at x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU934330A1. Автор: Алексей Сергеевич Авдонин,Станислав Владимирович Кордюков,Иван Васильевич Сорокин. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский институт минерального сырья. Дата публикации: 1982-06-07.

Apparatus for x-ray fluorescence analysis of substance composition

Номер патента: SU1224689A1. Автор: Юрий Николаевич Бурмистенко,Игорь Александрович Толоконников. Владелец: Московский Геолого-Разведочный Институт Им.Серго Орджоникидзе. Дата публикации: 1986-04-15.

Device for preparing specimens for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU718770A1. Автор: Николай Максимович Кочмола,Николай Яковлевич Константинов. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1980-02-29.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3422980B2. Автор: 悦久 山本. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2003-07-07.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND COMPONENT EXPENDITURE OF THREE COMPONENT FLOW

Номер патента: RU2008114094A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

Method of x-ray fluorescent analysis of substance composition

Номер патента: SU1206660A1. Автор: Михаил Борисович Энкер,Александр Николаевич Лезин,Геннадий Ефимович Колесов,Сергей Юрьевич Коломицин,Николай Петрович Пуха. Владелец: Казахский Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1986-01-23.

X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: JP2645226B2. Автор: 井上　　稔,由行 片岡. Владелец: RIGAKU DENKI KOGYO KK. Дата публикации: 1997-08-25.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND THREE-COMPONENT FLOW SPEED

Номер патента: RU2008114082A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X -ray fluorescence spectrograph

Номер патента: CN206132672U. Автор: 张爽,刘志国,秦敏,韩悦,易龙涛. Владелец: Beijing Normal University. Дата публикации: 2017-04-26.

Method of multielement x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU934331A1. Автор: Владимир Евгеньевич Кованцев. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский институт минерального сырья. Дата публикации: 1982-06-07.

The method of x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU450099A1. Автор: Василий Иванович Мурзинов. Владелец: Предприятие П/Я А-1997. Дата публикации: 1974-11-15.

Method of multi-element x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU855458A1. Автор: Владимир Евгеньевич Кованцев,Соломон Лазаревич Якубович,Станислав Михайлович Пржиялговский,Гарри Николаевич Цамерян. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский институт минерального сырья. Дата публикации: 1981-08-15.

X-ray fluorescent analysis of multicomponent sample containing n elements to be determined

Номер патента: SU1691724A1. Автор: Петр Александрович Верховодов. Владелец: Институт проблем материаловедения АН УССР. Дата публикации: 1991-11-15.

Device for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU911265A1. Автор: Анатолий Николаевич Ивакин,Владимир Викторович Бондаренко,Борис Николаевич Мехедов,Александр Николаевич Шалин,Виталий Ефимович Рисин. Владелец: Воронежский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Ленинского Комсомола. Дата публикации: 1982-03-07.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND GAS-FLUID FLOW SPEED

Номер патента: RU2008114087A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: SU507809A1. Автор: Александр Константинович Стройковский,Николай Илларионович Зайцев,Станислав Леонидович Левитин,Николай Васильевич Югай. Владелец: Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Автоматизации Черной Металлургии, Особое Конструкторское Бюро, Карагандинский Филиал. Дата публикации: 1976-03-25.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND COMPONENT EXPENDITURE OF GAS-FLUID FLOW

Номер патента: RU2008114084A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-ray fluorescent method of determination of an element content

Номер патента: SU1065748A1. Автор: Александр Владимирович Мейер,Геннадий Андреевич Пшеничный. Владелец: Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.А.А.Жданова. Дата публикации: 1984-01-07.

Device for substance x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU1045094A1. Автор: Валерий Александрович Варлачев,Евгений Семенович Солодовников. Владелец: Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1983-09-30.

Device for x-ray fluorescence analysis of substances

Номер патента: SU1689819A1. Автор: Валерий Александрович Варлачев,Евгений Семенович Солодовников,Юрий Александрович Цибульников. Владелец: Научно-исследовательский институт ядерной физики при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1991-11-07.

Method of producing emitter samples from aqueous solutions for x-ray fluorescent analysis of metals

Номер патента: SU688438A1. Автор: Федор Иванович Лобанов,Валерий Павлович Гладышев,Владислав Алексеевич Леонов,Нина Николаевна Андреева,Ирина Васильевна Кошевая,Сергей Егорович Сорокин. Владелец: Казахский Ордена Трудового Красного Знамени Университет Им. С.М.Кирова. Дата публикации: 1979-09-30.

Method of determining background in x-ray fluorescence analysis of complex composition media

Номер патента: SU1224688A1. Автор: Михаил Борисович Энкер,Александр Николаевич Лезин,Геннадий Ефимович Колесов,Сергей Юрьевич Коломицин,Николай Петрович Пуха. Владелец: Казанский Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1986-04-15.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF CONSUMPTION AND COMPOSITION OF THREE COMPONENT FLOW COMPONENTS

Номер патента: RU2008114088A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Владиславович Газиев,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU),Евгений Владиславович Газиев (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF SPEED AND COMPOSITION OF THREE COMPONENT FLOW COMPONENTS

Номер патента: RU2008114096A. Автор: Виктор Михайлович Петров,Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Владиславович Газиев,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU),Виктор Михайлович Петров (RU),Евгений Владиславович Газиев (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

The hermetically-sealed construction of x-ray fluorescence spectrometry instrument sample cup and vacuum chamber

Номер патента: CN204359715U. Автор: 韩晓朋. Владелец: 韩晓朋. Дата публикации: 2015-05-27.

METHOD FOR X-RAY FLUORESCENT DETERMINATION OF GOLD SAMPLES

Номер патента: RU2061348C1. Автор: В.А. Крылов,В.А. Севрюков,И.В. Безсуднов,Н.Г. Прохорова. Владелец: Научно-производственное предприятие "Наука-Сервис". Дата публикации: 1996-05-27.

X-ray fluorescent separator

Номер патента: SU1391739A1. Автор: Юрий Павлович Бетин,Евгений Григорьевич Жабин,Анатолий Петрович Комов. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский и конструкторский институт "Цветметавтоматика". Дата публикации: 1988-04-30.

Oil well drilling geological X-ray fluorescent debris logging method

Номер патента: CN101082277A. Автор: 刘华,李春山,罗利,朱根庆,朱直箐,刘德伦. Владелец: CHONGQING BRANCH OF BEIJING HONOURIC PETROLEUM TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2007-12-05.

Apparatus for x-ray fluorescent analysis of substance composition

Номер патента: SU1179180A1. Автор: Евгений Семенович Солодовников,Юрий Александрович Цибульников. Владелец: Научно-Исследовательский Институт Ядерной Физики,Электроники И Автоматики При Томском Ордена Октябрьской Революции И Ордена Трудового Красного Знамени Политехническом Институте Им.С.М.Кирова. Дата публикации: 1985-09-15.

Method of producing radiators for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU1599734A1. Автор: Абрам Борисович Бланк,Николай Иванович Шевцов,Ирина Израилевна Миренская,Зоя Михайловна Нартова. Владелец: Предприятие П/Я Р-6496. Дата публикации: 1990-10-15.

Device for investigating depth of x-ray fluorescent analyzer of coal ash content

Номер патента: SU1120227A1. Автор: Александр Михайлович Онищенко,Павел Исаакович Грабов,Александр Борисович Потапов. Владелец: Onishchenko Aleksandr M. Дата публикации: 1984-10-23.

Method for analyzing vanadium iron ingredients by melt smelting sampling-X-ray fluorescence spectrum process

Номер патента: CN102253068B. Автор: 杨新能,冯宗平,羊绍松. Владелец: Pangang Group Panzhihua Steel and Vanadium Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-25.

Method of preparing samples-radiators for x-ray fluorescent analysis of metals

Номер патента: SU1422074A1. Автор: Николай Васильевич Макаров,Федор Иванович Лобанов,Алия Камидолловна Нуртаева,Гульнара Камидоллаевна Нуртаева,Александр Викторович Стефанов,Леонид Дмитриевич Лондарь. Владелец: Московский технологический институт мясной и молочной промышленности. Дата публикации: 1988-09-07.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3312001B2. Автор: 由行 片岡,紀生 川田,衛一 古澤,浩平 閑歳. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2002-08-05.

Substrate for total reflection x-ray fluorescence analysis and analyzing method using the same

Номер патента: JPH1048160A. Автор: 一郎 土井,Takahiro Hori,隆博 堀,Ichiro Doi. Владелец: Asahi Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 1998-02-20.

Method for x-ray fluorescence analysis of substance

Номер патента: SU1275278A1. Автор: Владимир Григорьевич Кузнецов,Николай Тимофеевич Разгонов. Владелец: Филиал Центрального научно-исследовательского института шерстяной промышленности. Дата публикации: 1986-12-07.

Method for measuring content of sulfur in coal by utilizing energy chromatic dispersion X-ray fluorescence analysis

Номер патента: CN104215651B. Автор: 黄丹,马跃,刘宏军,邓玉福,项亚威,谷珊. Владелец: Shenyang Normal University. Дата публикации: 2017-02-01.

Device for dispersionless x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU609080A1. Автор: Юрий Павлович Бетин,Евгений Григорьевич Жабин,Сима Абрамовна Пельц,Игорь Александрович Крампит,Василий Николаевич Смирнов,Фридрих Мордухович Липкин. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский и конструкторский институт "Цветметавтоматика". Дата публикации: 1978-05-30.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2507934Y2. Автор: 光男 内藤. Владелец: セイコー電子工業株式会社. Дата публикации: 1996-08-21.

Device for x-ray fluorescence analysis of liquids

Номер патента: SU1636748A1. Автор: Светлана Павловна Титова,Григорий Викторович Сироко,Александр Витальевич Шперер,Олег Вадимович Полевич. Владелец: Харьковский государственный университет им.А.М.Горького. Дата публикации: 1991-03-23.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP5874108B2. Автор: 由行 片岡,真也 原,松尾　尚,尚 松尾,片岡　由行. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-03-02.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4279983B2. Автор: 由行 片岡,拓也 中谷. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2009-06-17.

X-ray fluorescence three-dimensional analyzer

Номер патента: JP4694296B2. Автор: 知康 中野,昌 大庭,忍 小野田. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-06-08.

Flow vessel for x-ray fluorescent analysis of solutions and pulps

Номер патента: RU1797707C. Автор: Леонид Давыдович Лифшиц,Александр Петрович Никольский,Леонид Юрьевич Медолазов,Анатолий Михайлович Сатаров. Владелец: Лившиц Леонид Давыдович. Дата публикации: 1993-02-23.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2554104Y2. Автор: 忠 宇高. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 1997-11-12.

Method of preparing samples for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU1305559A1. Автор: Иван Иванович Ковалишин,Людмила Николаевна Матийко,Валентина Ивановна Попова,Лариса Гиляровна Пришляк,Мария Мирославовна Бойкович,Галина Петровна Романюк. Владелец: Производственное объединение "ХЛОРВИНИЛ" им.60-летия Великой Октябрьской социалистической революции. Дата публикации: 1987-04-23.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3949850B2. Автор: 清隆 笠井. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2007-07-25.

Method of producing reference materials for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU1636747A1. Автор: Елена Григорьевна Хомутова,Валентин Александрович Кутвицкий,Евгений Николаевич Осокин,Лариса Михайловна Чернышова,Игорь Викторович Устинов,Андрей Витальевич Козик,Шамиль Абдулхакович Камальдинов. Владелец: Московский институт тонкой химической технологии им.М.В.Ломоносова. Дата публикации: 1991-03-23.

Method of x-ray fluorescent dispersion analysis of plants

Номер патента: SU1017984A1. Автор: Сергей Егорович Сорокин,Валентин Алексеевич Большаков. Владелец: Почвенный институт им.В.В.Докучаева. Дата публикации: 1983-05-15.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2955142B2. Автор: 智也 新井,孝 庄司. Владелец: RIGAKU DENKI KOGYO KK. Дата публикации: 1999-10-04.

Specimen for carrying x-ray fluorescent analysis of rocks

Номер патента: SU1672325A1. Автор: Султан Таширбаевич Сулейменов,Асильбек Ашимович Мирзаходжаев,Айгуль Сагадибековна Гостева,Эльвира Сиражевна Ибраева,Раушан Аубакировна Актамбаева,Надежда Васильевна Бачилова,Юрий Арунович Гринштейн. Владелец: Алма-Атинский научно-исследовательский и проектный институт строительных материалов. Дата публикации: 1991-08-23.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3117833B2. Автор: 豊 一宮. Владелец: セイコーインスツルメンツ株式会社. Дата публикации: 2000-12-18.

Amplification tube for x-ray fluorescence

Номер патента: JPS5293265A. Автор: Narimitsu Aramaki. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1977-08-05.

Rotating disc type light-filtering collimating device adapted to vertical optical path X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN201935879U. Автор: 杨李锋,丑毅. Владелец: NAYUR TECHNOLOGY (BEIJING) CO LTD. Дата публикации: 2011-08-17.

Collimator of x-ray fluorescent analyzer

Номер патента: SU1744610A1. Автор: Константин Иванович Щекин,Игорь Александрович Толоконников,Валерий Иванович Филатов,Андрей Александрович Медведев,Геннадий Александрович Жохов. Владелец: Московский Геологоразведочный Институт Им.Серго Орджоникидзе. Дата публикации: 1992-06-30.

Method for measuring Mo element in tungstenic ferro-molybdenum alloy through X-ray fluorescence spectrum analysis

Номер патента: CN103076351B. Автор: 杨鹏飞,韩春梅,韩丽华,龚宜勇. Владелец: Tianjin Pipe Group Corp. Дата публикации: 2014-08-27.

Apparatus for x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU1427987A2. Автор: В.В. Бердиков,Б.С. Иохин,П.А. Гальцев. Владелец: Предприятие П/Я Р-6710. Дата публикации: 1991-05-23.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3583485B2. Автор: 慎一 寺田. Владелец: 株式会社テクノス研究所. Дата публикации: 2004-11-04.

A kind of device and method of X-ray fluorescence spectra quantitative test

Номер патента: CN102323284A. Автор: 季振国,席俊华,梁晓勇. Владелец: Hangzhou Dianzi University. Дата публикации: 2012-01-18.

Fixed element light splitter for co-shaping x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN101149484A. Автор: 杨李锋,刘小东,范真,白友兆. Владелец: Beijing Bandwise Technology Development Co Ltd. Дата публикации: 2008-03-26.

Method of x-ray fluorescent analysis of substance composition

Номер патента: SU1350572A2. Автор: Владимир Григорьевич Кузнецов,Николай Иванович Гамаюнов,Владимир Игнатьевич Сидорцов. Владелец: Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Овцеводства И Козоводства. Дата публикации: 1987-11-07.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3584279B2. Автор: 剛 藤田,弘諮 住居. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2004-11-04.

Method for quantitative X-ray fluorescence analysis of three-component media

Номер патента: SU444970A1. Автор: Геннадий Андреевич Пшеничный,Владимир Александрович Мейер,Анатолий Павлович Розуванов,Катерин Стефанович Катеринов. Владелец: Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.Жданова. Дата публикации: 1974-09-30.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3729341B2. Автор: 章二 桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-12-21.

Device utilizing x-ray fluorescence spectrometer to measure claddings

Номер патента: CN201434851Y. Автор: 宋涵华. Владелец: ULTRA-TECH (SHANGHAI) CHEMICALS Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-31.

Method for detecting total sulfur content in alkali-free glass mixing material by X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN101713752A. Автор: 陈建良,陆海泉,张毓强,许明初,武永强. Владелец: Jushi Group Co Ltd. Дата публикации: 2010-05-26.

X-ray fluorescence sample preparation equipment

Номер патента: JP2596471Y2. Автор: 勇 西脇. Владелец: 日本サーモニクス 株式会社. Дата публикации: 1999-06-14.

Method for detecting chemical components of alkali-free glass by mixing X-ray fluorescence spectrometry with compression method

Номер патента: CN101713751B. Автор: 陈建良,陆海泉,张毓强,许炳强,仰丽琴. Владелец: Jushi Group Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-07.

Method for preparing samples process for vegetable materials for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU1679319A1. Автор: Сергей Анатольевич Володин,Александр Иванович Уваров. Владелец: Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт "Геоцветмет". Дата публикации: 1991-09-23.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3458538B2. Автор: 清爾 川戸,喜弘 工藤,光佑 劉. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2003-10-20.

Sample platform and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN203337579U. Автор: 杨宁波. Владелец: SHENZHEN HELEEX ANALYTICAL INSTRUMENT CO Ltd. Дата публикации: 2013-12-11.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3811720B2. Автор: 悦久 山本,潔 小堀. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2006-08-23.

X-ray fluorescence spectrometer with a movable stage

Номер патента: CN200979536Y. Автор: 韩晓朋,丁玉燕. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-21.

Method for measuring chemical compositions in molten iron of blast furnace by X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN102279202A. Автор: 李飞,张东升,王晓峰,崔宏利,李丽军,李张华,王占祥,梁玉东. Владелец: JIANLONG INDUSTRIAL Co Ltd TANGSHAN CITY. Дата публикации: 2011-12-14.

Sample holder for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: JP2551757Y2. Автор: 正道 森. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 1997-10-27.

X-ray fluorescence analyzer and X-ray irradiation angle setting method

Номер патента: JP3286010B2. Автор: 一夫 西萩,慎一 寺田. Владелец: 株式会社テクノス研究所. Дата публикации: 2002-05-27.

X-ray fluorescent redoubling tube

Номер патента: JPS5278359A. Автор: Tadashi Wakatsuki,Tsuneyo Sumita. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1977-07-01.

X-ray fluorescence analysis method and apparatus

Номер патента: JP2699134B2. Автор: 尚喜 森田,正信 若狭,正次 田中,達司 脇阪,一夫 西萩,慎一 寺田. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 1998-01-19.

A kind of method that x-ray fluorescence measures light element in silica sol liquid

Номер патента: CN109738472A. Автор: 郭晓明,苏建平,乔文韬. Владелец: SHANGHAI PROFICIENT SPECTRA SCIENCE AND TECHNOLOGY Ltd. Дата публикации: 2019-05-10.

Apparatus for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU1549323A1. Автор: П.А. Гальцев. Владелец: Предприятие П/Я Р-6710. Дата публикации: 1991-01-15.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP3488918B2. Автор: 紀生 川田. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2004-01-19.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP4514785B2. Автор: 昭弘 池下,河野　　浩,康裕 清水. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-07-28.

Method of making standard samples for x ray fluorescence analysis of pulp

Номер патента: SU1728747A1. Автор: Сергей Анатольевич Володин,Александр Иванович Уваров. Владелец: Научно-производственное объединение "Сибцветметавтоматика". Дата публикации: 1992-04-23.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2613511B2. Автор: 昭道 吉良. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1997-05-28.

Flux for X-ray fluorescence spectrum analysis

Номер патента: CN1800811B. Автор: 白雪冰,吕振生,袁家义. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-04-28.

Iron alloy fusing sample preparation method for X-ray fluorescence spectrum analysis

Номер патента: CN101832891A. Автор: 徐静,刘洁,赵靖,王彬果,商英,李兰群. Владелец: Hebei Iron And Steel Co Ltd Handan Branch. Дата публикации: 2010-09-15.

X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS OF THE COMPOSITION AND SPEED OF A GAS-FLUID FLOW

Номер патента: RU2008114085A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

Device for x-ray fluorescence analysis of substance

Номер патента: RU2489708C2. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН ). Дата публикации: 2013-08-10.

Sample chamber and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: CN203422327U. Автор: 杨宁波. Владелец: SHENZHEN HELEEX ANALYTICAL INSTRUMENT CO Ltd. Дата публикации: 2014-02-05.

Fixture for XRF (X-ray fluorescence) device and detection method adopting same

Номер патента: CN102538630A. Автор: 苏新虹,朱兴华. Владелец: Peking University Founder Group Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-04.

X-ray-fluorescence analyzer of gas-fluid flow component composition and component-by-component flow rate

Номер патента: RU2379663C1. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор". Дата публикации: 2010-01-20.

The input of x-ray fluorescence intensifying tube

Номер патента: JPS51131264A. Автор: Kenji Kobayashi,Hiroshi Minami,Tadashi Wakatsuki,Tsuneyo Sumita,Mitsuo Ihi. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1976-11-15.

Device for x-ray fluorescent analysis with total external reflection of primary radiation

Номер патента: RU2315981C1. Автор: Дмитрий Алексеевич Сарычев,Вадим Павлович Краснолуцкий. Владелец: Закрытое акционерное общество "КОРДОН" (ЗАО "КОРДОН"). Дата публикации: 2008-01-27.

X-RAY FLUORESCENT ANALYZER OF COMPONENT COMPOSITION AND SPEED PARAMETERS OF GAS-FLUID FLOW

Номер патента: RU2008114095A. Автор: Евгений Федорович Фурмаков,Олег Федорович Петров,Юрий Викторович Маслов,Андрей Юрьевич Новиков,Евгений Федорович Фурмаков (RU),Олег Федорович Петров (RU),Юрий Викторович Маслов (RU),Андрей Юрьевич Новиков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Техприбор" (RU). Дата публикации: 2009-10-20.

X-ray fluorescence analysis sample preparation method

Номер патента: JP2017058362A. Автор: 敦 加岳井,Atsushi Kagakui,亮平 團上,Ryohei Danjyo. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2017-03-23.

Oblique-incidence X-ray fluorescence spectrometer with sample holder

Номер патента: JP4522438B2. Автор: 隆 山田,啓助 小倉,淳哉 植垣. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-08-11.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP6467684B2. Автор: 康治郎 山田,山田　康治郎,真也 原,真 堂井. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-02-13.

Device for detecting heavy metal in soil on site by rotary bucket type XRF (X-Ray Fluorescence) method

Номер патента: CN104089968A. Автор: 陈保华,张小沁,商照聪,倪晓芳. Владелец: Shanghai Tianke Chemical Detection Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-08.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP2686217B2. Автор: 忠 宇高. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1997-12-08.

X-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS5559643A. Автор: Hidemasa Saito,Hisao Ishiwatari,Takeshi Hayato. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1980-05-06.

METHOD FOR PRELIMINARY TESTING OF STANDARD SAMPLES FOR MULTI-CELL X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS

Номер патента: RU2008112855A. Автор: Наталья Николаевна Худякова,Наталья Николаевна Худякова (RU). Владелец: АКЦИОНЕРНАЯ КОМПАНИЯ "АЛРОСА" (закрытое акционерное общество) (RU). Дата публикации: 2009-10-10.

Preparation and the valued methods of calibration sample used are calibrated in x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CN103575756B. Автор: 刘玉兵,韩蔚,张亚珍,戴平,马振珠,闫冉,王忠文,赵鹰立. Владелец: China Building Material Test and Certification Group Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-18.

Provocative energy dispersion type X ray fluorescence appearance of single wavelength ray

Номер патента: CN204789414U. Автор: 张磊,宋欣,付晓光,李海建,宋晓琨. Владелец: China Building Material Test and Certification Group Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-18.

Method for analyzing element contents in high titanium residue by adopting X-ray fluorescence spectrum

Номер патента: CN103234994A. Автор: 郭兵,冯丽丽,管嵩,张庆建,项海波,周忠信,丁仕兵,刘稚. Владелец: Shandong Entry-Exit Inspection And Quarantine Bureau Of People's Republic Of Chi. Дата публикации: 2013-08-07.

X-ray fluorescent analyser of substance composition

Номер патента: SU1406468A1. Автор: Владимир Николаевич Лосев,Виктор Федорович Волков,Юрий Рудольфович Шмидт,Юрий Иванович Исаев,Камиль Рашидович Галеев,Александр Николаевич Мартынюк. Владелец: Предприятие П/Я Г-4126. Дата публикации: 1988-06-30.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP5506288B2. Автор: 清 長谷川,哲郎 小澤. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2014-05-28.

XRF (x-ray fluorescence) melting preparation method for sheet glass sample

Номер патента: CN105203384A. Автор: 徐建平,周双清. Владелец: Wuhan University of Science and Engineering WUSE. Дата публикации: 2015-12-30.

Device for x-ray fluorescence analysis of substance

Номер патента: SU1300353A1. Автор: Юрий Николаевич Бурмистенко,Игорь Александрович Толоконников. Владелец: Московский Геологоразведочный Институт Им.Серго Орджоникидзе. Дата публикации: 1987-03-30.

Device for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: RU1827600C. Автор: Игорь Андреевич Кондуров,Евгений Михайлович Коротких. Владелец: Ленинградский Институт Ядерной Физики Им.Б.П.Константинова. Дата публикации: 1993-07-15.

Apparatus for preparing specimens for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: SU1497537A2. Автор: Анатолий Иванович Пологович,Николай Максимович Кочмола,Светлана Николаевна Ивашко. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1989-07-30.

Sample preparation apparatus for total reflection X-ray fluorescence spectrometer and method of coagulating contamination

Номер патента: JP3399671B2. Автор: 直人 吉高,英敏 末元. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2003-04-21.

The method of x-ray fluorescence analysis of suspensions

Номер патента: SU448374A1. Автор: Роберт Исаакович Плотников,Владимир Павлович Николаев,Гелий Вениаминович Павлинский,Анатолий Николаевич Межевич,Иван Михайлович Рогачев,Юрий Михайлович Гурвич. Владелец: Предприятие П/Я М-5659. Дата публикации: 1974-10-30.

Method of energy-dispersion x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU750352A1. Автор: Николай Яковлевич Константинов. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1980-07-23.

A kind of sequential Wavelength Dispersive-X-Ray fluorescence spectrum intelligent analysis method

Номер патента: CN109829513A. Автор: 高晶,李元香. Владелец: Wuhan University WHU. Дата публикации: 2019-05-31.

Portable microbeam X-ray fluorescence spectrophotometer

Номер патента: CN103454299A. Автор: 董文,乐孜纯. Владелец: Zhejiang University of Technology ZJUT. Дата публикации: 2013-12-18.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.