一种x射线荧光法测定锌层重量的方法

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Method for preparing samples for spectrometric analysis by x-ray fluorescence

Номер патента: EP4361617A1. Автор: Andrea Franciscono,Simona Rollet. Владелец: Cogne Acciai Speciali SpA. Дата публикации: 2024-05-01.

Measurement object and method for verifying a calibration of an x-ray fluorescence device

Номер патента: US20240310308A1. Автор: Martin LEIBFRITZ. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2024-09-19.

X-ray fluorescence analysis measurement method and x-ray fluorescence analysis measurement device

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Shinji Ishimaru. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

X-ray fluorescence analysis of multilayered samples

Номер патента: CA2381398C. Автор: Alfred Johann Peter Haszler,Hormoz Ghaziary. Владелец: Corus Aluminium Walzprodukte GmbH. Дата публикации: 2006-01-24.

X-ray fluorescence analysis of multilayered samples

Номер патента: WO2001011315A1. Автор: Alfred Johann Peter Haszler,Hormoz Ghaziary. Владелец: Corus Aluminium Walzprodukte GmbH. Дата публикации: 2001-02-15.

X-Ray fluorescent analysis with matrix compensation

Номер патента: US4350889A. Автор: Khaim Lisnyansky. Владелец: International Paper Co. Дата публикации: 1982-09-21.

Cone penetrometer utilizing an X-ray fluorescence metals sensor

Номер патента: US6097785A. Автор: William T. Elam. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2000-08-01.

Portable apparatus for analyzing metals by X-ray fluorescence

Номер патента: US4429409A. Автор: Peter F. Berry,Wendell D. Miller,John L. Nethery, Jr.. Владелец: RAMSEY ENGR Co. Дата публикации: 1984-01-31.

Method of analysis using x-ray fluorescence

Номер патента: US20030049859A1. Автор: Alexander Henrich,Konrad Beckenkamp,Oliver Mandal,Matthias Ohm. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2003-03-13.

Method and measuring device for measuring objects by means of x-ray fluorescence

Номер патента: US20230127587A1. Автор: Martin LEIBFRITZ. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2023-04-27.

X-ray fluorescence analyzer, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: DK181581B1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: Metso Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2024-06-07.

Systems and methods for analyzing core using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2024200635A1. Автор: Peter Kanck,Ry Nathaniel ZAWADZKI. Владелец: Boart Longyear Co. Дата публикации: 2024-02-22.

Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis of a mineral sample

Номер патента: CA2713383A1. Автор: Erik Oden,Ragnar Kullenberg,Anders Ullberg,Fredrik Danielsson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-08-13.

Apparatus and method for X-ray fluorescence analysis of a mineral sample

Номер патента: AU2009211833A1. Автор: Erik Oden,Ragnar Kullenberg,Anders Ullberg,Fredrik Danielsson. Владелец: OREXPLORE AB. Дата публикации: 2009-08-13.

Systems and methods for analyzing core using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2021212154B2. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Boart Longyear Co. Дата публикации: 2023-11-23.

X-ray fluorescence spectrometre

Номер патента: RU2390764C2. Автор: Йосиюки КАТАОКА,Эйити ФУРУСАВА,Хисаюки КОХНО. Владелец: Ригаку Корпорейшн. Дата публикации: 2010-05-27.

Optical mirror, x-ray fluorescence analysis device and method for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: CA2899081C. Автор: Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2021-04-06.

Optical mirror, X-ray fluorescence analysis device, and method for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US9880329B2. Автор: Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2018-01-30.

Apparatus and method for x-ray fluorescence imaging

Номер патента: US20240280519A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Apparatus and method for x-ray fluorescence imaging

Номер патента: EP4430386A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20230408428A1. Автор: Yasuyuki Okamoto. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: CA3221264A1. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2018-03-15.

Systems And Methods For Analyzing Core Using X-Ray Fluorescence

Номер патента: US20240286541A1. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Veracio Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

X-ray fluorescence analyzer, and control method for x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4166938A1. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-04-19.

X-ray fluorescence spectrometer and control method for x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11698352B2. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-07-11.

Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US12007380B2. Автор: Youhong Xiao,Bruno Vrebos,Lieven Kempenaers. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-06-11.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: CA2789312A1. Автор: Egil Ronaes,Tore Stock,Thomas Hilton. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2011-08-18.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20090116613A1. Автор: Noboru Yamashita,Yoshiyuki Kataoka,Makoto Doi,Hisayuki Kohno. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2009-05-07.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP3933391A1. Автор: Jeong Goun Park. Владелец: Isp Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-05.

Electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: WO2014026932A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson. Владелец: ELEMENT SIX LIMITED. Дата публикации: 2014-02-20.

X-ray fluorescence analyzer, and a method for performing X-ray fluorescence analysis

Номер патента: AU2018419252A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2020-12-03.

X-ray fluorescence analyzer, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US20210255123A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2021-08-19.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20220357292A1. Автор: Jeong Goun Park. Владелец: Isp Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

X-ray fluorescence spectrometer and X-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US09746433B2. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-29.

Diffraction analysis device and method for full-field x-ray fluorescence imaging analysis

Номер патента: US11774380B1. Автор: Zhu An,PENG Wang,Ning Huang,Ze He,Yuanjun Xu. Владелец: Sichuan University. Дата публикации: 2023-10-03.

X-ray Fluorescence Analyzer With Safety Features

Номер патента: US20150085976A1. Автор: Mikko Järvikivi,Jarmo Leino. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2015-03-26.

Exempt source for an x-ray fluorescence device

Номер патента: WO2004089056A3. Автор: Stephen L Price,Donald K Kenning,Bruce J Kaiser. Владелец: Bruce J Kaiser. Дата публикации: 2005-06-09.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: WO2018051353A1. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd.. Дата публикации: 2018-03-22.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: EP3516380A1. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2019-07-31.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: US20210048399A1. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2021-02-18.

X-ray fluorescence system and method for identifying samples

Номер патента: AU2017328259B2. Автор: Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Nadav YORAN,Yair Grof,Tzemah KISLEV. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Exempt source for an x-ray fluorescence device

Номер патента: EP1609155A2. Автор: Bruce J. Kaiser,Stephen L. Price,Donald K. Kenning. Владелец: KeyMaster Technologies Inc. Дата публикации: 2005-12-28.

Detection of dishing and tilting using x-ray fluorescence

Номер патента: US20060227931A1. Автор: Boris Yokhin,Isaac Mazor,Alex Dikopoltsev,Tzachi Rafaeli,Alexander Tokar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-12.

Apparatus and method for x-ray fluorescence imaging

Номер патента: WO2023077494A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2023-05-11.

Resolution control in x-ray fluorescence spectroscopy systems

Номер патента: US20170168172A1. Автор: Bryan John CROSBY. Владелец: Thermo Gamma Metrics Pty Ltd. Дата публикации: 2017-06-15.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4071465A1. Автор: Hajime Nii. Владелец: Horiba Advanced Techno Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-12.

Pressed powder sample measurements using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2020264353A1. Автор: Bruno Alfred Robert Vrebos,Dick Kuiper,Saskia Maria Angela Beerkens. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2020-12-03.

Pressed powder sample measurements using X-ray fluorescence

Номер патента: AU2020264353B2. Автор: Bruno Alfred Robert Vrebos,Dick Kuiper,Saskia Maria Angela Beerkens. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-08-25.

X-Ray Fluorescence Measurement Apparatus

Номер патента: US20210018453A1. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

X-ray fluorescence analyzer and x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: US20120051507A1. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Hideki Takiguchi,Yutaka Ikku. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-03-01.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4425161A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Shin Tanaka,Yasushi Kusakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Peak identification analysis program, and x-ray fluorescent spectrometer

Номер патента: US20240337612A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Wataru Matsuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20240328971A1. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

X-ray fluorescence analyzing system

Номер патента: US09989484B2. Автор: Hiroyuki Kawakami,Motoyuki Yamagami. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

X-ray fluorescence analysis method and X-ray fluorescence analysis system

Номер патента: US09945796B2. Автор: Eisaku Terashita. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

X-ray fluorescence analyzer and method of displaying sample thereof

Номер патента: US09829447B2. Автор: Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US09810649B2. Автор: Toshiyuki Takahara,Hiroyuki Noda,Ai Masuda. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

X-ray fluorescence analyzer and X-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US09810648B2. Автор: Toshiyuki Takahara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

X-ray fluorescence analyzer and measurement position adjusting method therefore

Номер патента: US09791392B2. Автор: Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: CA1086870A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1980-09-30.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20020172322A1. Автор: Kouichi Aoyagi,Naoki Kawahara,Yasujiro Yamada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-21.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: CA3099565C. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Polarized, energy dispersive x-ray fluorescence system and method

Номер патента: WO2024026158A1. Автор: Zewu Chen,Fuzhong Wei,Joseph J. SPINAZOLA,Zhifan GAO,Yaobiao XIA. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2024-02-01.

X-ray fluorescence analysis device, and spectrum display method used in same

Номер патента: US20190391091A1. Автор: Hiroaki Furukawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20020018541A1. Автор: Shigeki Yagi. Владелец: Shigeki Yagi. Дата публикации: 2002-02-14.

X-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US20170108424A1. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-04-20.

Electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: EP2885632A1. Автор: Mark Edward Newton,Timothy Peter Mollart,Julie Victoria Macpherson. Владелец: Element Six Technologies Ltd. Дата публикации: 2015-06-24.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: US4162528A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1979-07-24.

X-ray fluorescence analysis device

Номер патента: EP4286837A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

X-ray fluorescence analysis device

Номер патента: US20240085353A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: CA3200197A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Bly IP Inc. Дата публикации: 2022-06-02.

X-ray fluorescence flux composition

Номер патента: EP1585980A1. Автор: David Brown,Keith Norrish. Владелец: X Ray Flux Pty Ltd. Дата публикации: 2005-10-19.

X-ray fluorescence system with apertured sample mask for analyzing patterned surfaces

Номер патента: WO2005015189A2. Автор: Zewu Chen,Shinichi Terada. Владелец: Technos Co., Ltd. Дата публикации: 2005-02-17.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US09645100B2. Автор: Keiichi Tanaka,Akikazu Odawara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US09612214B2. Автор: Haruo Takahashi,Toshiyuki Takahara,Isao Yagi,Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Surface processing method effected for total-reflection X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US5686314A. Автор: Kunihiro Miyazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1997-11-11.

Method and apparatus for total reflection X-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: US6041096A. Автор: Shoichiro Tonomura,Ichiro Doi. Владелец: Asahi Kasei Kogyo KK. Дата публикации: 2000-03-21.

Total reflection X-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: US11796495B2. Автор: Makoto Doi,Shinya KIKUTA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Quantitative analysis method, quantitative analysis program, and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11782000B2. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Yasushi Kusakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: US20230288353A1. Автор: Makoto Doi,Shinya KIKUTA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

X-ray fluorescence measurement apparatus

Номер патента: US11549896B2. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-10.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US20230296541A1. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

X-ray fluorescence analyzing system

Номер патента: US20160299089A1. Автор: Hiroyuki Kawakami,Motoyuki Yamagami. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-10-13.

X-ray fluorescence imaging of elements

Номер патента: US4987582A. Автор: David B. Chang,Norton L. Moise,Jackie R. Webster,Keith V. Pearson,Victor Vali. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1991-01-22.

X-ray fluorescence spectrometer and program used therein

Номер патента: US20090041184A1. Автор: Shinya Hara,Naoki Kawahara. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2009-02-12.

Handheld x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20080192889A1. Автор: Larry Stephen Price,Martin Rohde,Vassili Kobyitchak. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-08-14.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: WO2022115519A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Bly Ip Inc.. Дата публикации: 2022-06-02.

Ammunition detection using x-ray fluorescence

Номер патента: WO2023225329A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corporation. Дата публикации: 2023-11-23.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP1370851A2. Автор: Lee Grodzins,Hal Grodzins. Владелец: Niton Corp. Дата публикации: 2003-12-17.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: US20240019386A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Veracio Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: WO2001038861A2. Автор: Neil Loxley,David Keith Bowen,Ladislav Pina. Владелец: Bede Scientific Instruments Ltd. Дата публикации: 2001-05-31.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: EP4252267A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2023-10-04.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: WO2001038861A3. Автор: Neil Loxley,David Keith Bowen,Ladislav Pina. Владелец: Bede Scient Instr Ltd. Дата публикации: 2001-12-20.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20230044361A1. Автор: Shinya Hara,Yasujiro Yamada,Hisashi HOMMA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-02-09.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: EP1236036A2. Автор: Neil Loxley,David Keith Bowen,Ladislav Pina. Владелец: Bede Scientific Instruments Ltd. Дата публикации: 2002-09-04.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4063841A1. Автор: Shinya Hara,Yasujiro Yamada,Hisashi HOMMA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-09-28.

X-ray fluorescence with heavy element target and methods of use thereof

Номер патента: AU2021386382A1. Автор: Bruce Kaiser,Sasa KRNETA. Владелец: Boart Longyear Co. Дата публикации: 2023-07-13.

Method for the measurement of a measurement object by means of X-ray fluorescence

Номер патента: US09885676B2. Автор: Volker Roessiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2018-02-06.

Method for calibrating an X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: SE1551044A1. Автор: Johansson Kurt,ERICSSON Kent. Владелец: MULTISCAT AB. Дата публикации: 2017-01-29.

Method for calibrating an x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2017018923A1. Автор: Curt Johansson,Kent ERICSSON. Владелец: MULTISCAT AB. Дата публикации: 2017-02-02.

Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US4016419A. Автор: Yoshinori Hosokawa,Haruo Kotani,Haruyoshi Hirata. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1977-04-05.

Portable x-ray fluorescence instrument with tapered absorption collar

Номер патента: CA2650857A1. Автор: Lee Grodzins. Владелец: Lee Grodzins. Дата публикации: 2008-09-04.

Method for calibrating and X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: SE539014C2. Автор: Johansson Kurt,ERICSSON Kent. Владелец: MULTISCAT AB. Дата публикации: 2017-03-21.

Electron excited X-ray fluorescence device

Номер патента: US09671355B2. Автор: Carlos Camara. Владелец: Tribogenics Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Electron excited x-ray fluorescence device

Номер патента: WO2014074742A1. Автор: Carlos Camara. Владелец: Tribogenics, Inc.. Дата публикации: 2014-05-15.

Total reflection x-ray fluorescence apparatus

Номер патента: CA2028003C. Автор: Kazuo Nishihagi,Michihisa Kyoto,Tetsuya Ohsugi. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 1999-01-26.

Method and apparatus for measuring metallic impurities contained within a fluid

Номер патента: US6012325A. Автор: Ce Ma. Владелец: Boc Group Inc. Дата публикации: 2000-01-11.

Method for examining biological fluid

Номер патента: US11885756B2. Автор: Yoshitane Kojima. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-30.

Method for examining biological fluid

Номер патента: US20210325322A1. Автор: Yoshitane Kojima. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-21.

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE THICKNESS OF THIN LAYERS BY X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: FR2393266A1. Автор: . Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1978-12-29.

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF A THIN LAYER BY X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: FR2760833B1. Автор: Karl Heinz Kaiser,Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2000-06-30.

Device and method for detecting deposits on an inner surface of a passage

Номер патента: EP2271918A2. Автор: Darrell Lynn Gallup,Christopher Henry Spurrell. Владелец: Chevron USA Inc. Дата публикации: 2011-01-12.

Device and method for detecting deposits on an inner surface of a passage

Номер патента: WO2009151672A2. Автор: Darrell Lynn Gallup,Christopher Henry Spurrell. Владелец: Chevron U.S.A. INC.. Дата публикации: 2009-12-17.

METHOD FOR DETECTING SURFACE IMPURITIES BY X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20170122888A1. Автор: Wachinger Georg,HECKNER Sebastian,MEER Thomas,GEISTBECK Matthias. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

Determination of vapor coating rate by x-rays

Номер патента: GB1126001A. Автор: . Владелец: United States Steel Corp. Дата публикации: 1968-09-05.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20180095045A1. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2018-04-05.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: EP3278091A1. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2018-02-07.

X-ray fluorescence analyzer, and control method for x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4166938B1. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

Device for analyzing elements by X-ray fluorescence

Номер патента: DK1114310T3. Автор: Melvin J Laurila,Claus C Bachmann,Albert P Klein. Владелец: Katz Elisabeth. Дата публикации: 2012-06-25.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20200116656A1. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2020-04-16.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US10969351B2. Автор: Yair Grof. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2021-04-06.

Method for making quantitative analysis of nickel

Номер патента: US20030123607A1. Автор: Binn Kim,Kyu Park,Hyun Kwon. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-03.

Method for making quantitative analysis of nickel

Номер патента: US6829328B2. Автор: Binn Kim,Kyu Ho Park,Hyun Ja Kwon. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2004-12-07.

INSTRUMENT FOR MEASURING THE FLUORESCENCE PRODUCED IN A SAMPLE EXCITED BY X-RAYS

Номер патента: FR2577675B1. Автор: Koichiro Oba. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 1990-05-04.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: IL254806A0. Автор: GROF Yair. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2017-12-31.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: IL254806B. Автор: GROF Yair. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2022-01-01.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: US20230280292A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4251981A4. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Method for determining chemical content of complex structures using x-ray microanalysis

Номер патента: GB2438093A. Автор: Steven M Scheifers,Michael Riess,William L Olson. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2007-11-14.

System and method for manufacturing a component

Номер патента: EP3978167A1. Автор: David Poole. Владелец: Rolls Royce PLC. Дата публикации: 2022-04-06.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, AND A METHOD FOR PERFORMING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20210255121A1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-08-19.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, AND A METHOD FOR PERFORMING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20210255123A1. Автор: Koskinen Tommi,Pelli Antti,Sipilä Heikki. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-08-19.

OPTICAL MIRROR, X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS DEVICE, AND METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20150362639A1. Автор: Rossiger Volker. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-17.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND CONTROL METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20220349847A1. Автор: YAMAMOTO Yoshihisa,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-03.

Compact insertable x-ray fluorescence device for pipe inspection

Номер патента: US11796494B2. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Compact Insertable X-Ray Fluorescence Device for Pipe Inspection

Номер патента: US20220381711A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

X-ray fluorescence analyzer, and control method for x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: EP4166938A4. Автор: Yoshihisa Yamamoto,Shinya Hara,Yasujiro Yamada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

X-ray fluorescence spectrometer and program used therein

Номер патента: US20060274882A1. Автор: Makoto Doi,Shinya Hara,Naoki Kawahara. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2006-12-07.

Steerable X-Ray Fluorescence Inspection Device

Номер патента: US20240085354A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF A METAL FILM USING AN X-RAY FLUORESCENT SYSTEM.

Номер патента: NL7705443A. Автор: . Владелец: Western Electric Co. Дата публикации: 1977-11-22.

Determining weathering indices by x-ray diffraction

Номер патента: US20230105649A1. Автор: Mohamed Soua. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-04-06.

X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and fluorescence X-ray analyzer

Номер патента: JPWO2018168939A1. Автор: 由行 片岡,航介 川久. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

System and method for identifying an object

Номер патента: US20170205362A1. Автор: Jeffrey La Belle. Владелец: Arizona State University ASU. Дата публикации: 2017-07-20.

Method for detection of corrosion attack in metal surfaces

Номер патента: WO1992007246A1. Автор: Dag Brune. Владелец: Dag Brune. Дата публикации: 1992-04-30.

System and method for soil characterization

Номер патента: US20220412944A1. Автор: Roozbeh Ravansari. Владелец: X Centric Sciences Inc. Дата публикации: 2022-12-29.

Device and method for performing x-ray analysis

Номер патента: US20110058648A1. Автор: Petronella Emerentiana Hegeman,Gustaaf Christian Simon Brons. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2011-03-10.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20130101085A1. Автор: Kobayashi Hiroshi,Kita Hiroaki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2013-04-25.

X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING SAMPLES

Номер патента: US20210048399A1. Автор: GROF Yair,KISLEV Tzemah,YORAN Nadav,ALON Haggai,KAPLINSKY Mor. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-18.

SYSTEMS AND METHODS FOR ANALYZING CORE USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200070711A1. Автор: KANCK PETER,ZAWADZKI RY. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

SYSTEM AND METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE WITH FILTERING

Номер патента: US20200072770A1. Автор: Yun Wenbing,Lewis Sylvia Jia Yun,Kirz Janos,Stripe Benjamin Donald. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20180095045A1. Автор: GROF Yair. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

X-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: US20170108424A1. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-04-20.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: US20200116656A1. Автор: GROF Yair. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-16.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT METHOD AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Ishimaru Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20160146745A1. Автор: TAKAHARA Toshiyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

METHOD FOR THE MEASUREMENT OF A MEASUREMENT OBJECT BY MEANS OF X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20150247812A1. Автор: Roessiger Volker. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-03.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20160258887A1. Автор: TERASHITA Eisaku. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2016-09-08.

SYSTEMS AND METHODS FOR ANALYZING CORE USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20190351804A1. Автор: KANCK PETER,ZAWADSKI RY. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-21.

Apparatus and Method for X-ray Fluorescence Analysis

Номер патента: US20220365008A1. Автор: Youhong Xiao,Bruno Vrebos,Lieven Kempenaers. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-11-17.

Scatter spectra method for x-ray fluorescent analysis with optical components

Номер патента: EP1521947B1. Автор: William T. Elam,Joseph A. Nicolosi,Robert B-S Shen,Bruce E. Scruggs. Владелец: Edax Inc. Дата публикации: 2018-05-16.

Polarization excitation device for X-ray fluorescence analysis

Номер патента: US3944822A. Автор: Thomas G. Dzubay. Владелец: US Environmental Protection Agency. Дата публикации: 1976-03-16.

System and method for x-ray fluorescence with filtering

Номер патента: WO2020051061A1. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ,Benjamin Donald STRIPE,Sylvia Jia Yun LEWIS. Владелец: Sigray, Inc.. Дата публикации: 2020-03-12.

X-ray fluorescence analyzer and x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: WO2017169247A1. Автор: 表 和彦,山田 隆,和明 奥田. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2017-10-05.

Borate glass used as flux in making beads used in X-ray fluorescence analysis, contains small percentage of germanium oxide

Номер патента: FR2849650A1. Автор: Gérard Lang. Владелец: Gérard Lang. Дата публикации: 2004-07-09.

Method for aligning for spectrum module of wavelength dispersive x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: KR101769709B1. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2017-08-18.

X-ray fluorescence analysis method and x-ray fluorescence analysis device

Номер патента: CN105637352A. Автор: 寺下卫作. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-06-01.

Dual x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis

Номер патента: US6859517B2. Автор: Chester L. Shepard,Bary W. Wilson. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2005-02-22.

Frame accumulation scanning method for energy dispersive x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: KR20140059688A. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2014-05-16.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: US10800315B2. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Bly IP Inc. Дата публикации: 2020-10-13.

Method for x ray fluorescence analysis

Номер патента: JPS58223047A. Автор: Yoshiro Matsumoto,Masakatsu Fujino,松本 義朗,藤野 允克. Владелец: Sumitomo Metal Industries Ltd. Дата публикации: 1983-12-24.

Device and method for depth resolution of particle-excited X-ray fluorescence analysis

Номер патента: CN110208302B. Автор: 王广甫,仇猛淋. Владелец: Beijing Normal University. Дата публикации: 2021-03-23.

X-ray fluorescence analyzer and X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: DE102011105630B4. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Hideki Takiguchi,Yutaka Ikku. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: TW202221316A. Автор: 曹培炎,劉雨潤. Владелец: 大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司. Дата публикации: 2022-06-01.

Apparatus and method for X-ray fluorescence analysis of a mineral sample

Номер патента: EP2085772B8. Автор: Erik Oden,Anders Ullberg,Fredrik Danielsson,Ragner Kullenberg. Владелец: OREXPLORE AB. Дата публикации: 2011-01-26.

Noise characteristic analysis method for x-ray fluorescence spectrum

Номер патента: KR101273714B1. Автор: 이재환,박동선,천선일,양상훈. Владелец: 전북대학교산학협력단. Дата публикации: 2013-06-12.

System and method for reading x-ray-fluorescence marking

Номер патента: TWI729981B. Автор: 亞伊爾 格羅夫. Владелец: 以色列商安全事務股份有限公司. Дата публикации: 2021-06-11.

Systems and methods for analyzing core using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4112376A3. Автор: Peter Kanck,Ry Zawadzki. Владелец: Longyear Tm Inc. Дата публикации: 2023-04-05.

X-ray fluorescence spectrometer and X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: DE112015003094B4. Автор: Takashi Yamada,Yuichiro Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Method for detecting element based on total reflection X-ray fluorescence analysis

Номер патента: CN106248710B. Автор: 石平,徐剑飞. Владелец: YIWEN ENVIRONMENTAL SCIENCE TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-26.

Apparatus and method for biological analyte studying using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4251981A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

X-ray fluorescence analyzer and x-ray fluorescence analysis method

Номер патента: US20120051507A1. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Hideki Takiguchi,Yutaka Ikku. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-03-01.

Pressed powder sample measurements using x-ray fluorescence

Номер патента: EP3413038B1. Автор: Bruno Alfred Robert Vrebos,Dick Kuiper,Saskia Maria Angela Beerkens. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2021-03-17.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: IL301033B1. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-01.

Method and apparatus for detecting boron in x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: AU2003270076A1. Автор: Yuriy Platonov. Владелец: Osmic Inc. Дата публикации: 2004-03-29.

Electrochemical deposition and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: GB201314322D0. Автор: . Владелец: Element Six Ltd. Дата публикации: 2013-10-30.

Method of analysis using x-ray fluorescence

Номер патента: AU2001242390A1. Автор: Alexander Henrich,Konrad Beckenkamp,Oliver Mandal,Matthias Ohm. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2001-09-17.

Determination of the measuring spot during x-ray fluorescence analysis

Номер патента: GB9917798D0. Автор: . Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 1999-09-29.

Determining measuring spot during X-ray fluorescence analysis

Номер патента: GB2340599A8. Автор: Volker Rossiger. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2003-07-22.

Determination of the measuring spot during x-ray fluorescence analysis

Номер патента: GB9919467D0. Автор: . Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 1999-10-20.

Method and apparatus for detecting boron in x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: EP1535289B1. Автор: Yuriy Platonov. Владелец: Osmic Inc. Дата публикации: 2006-05-03.

X-ray fluorescence analyzer, data processing method, and recording medium

Номер патента: US20230251215A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

X-ray fluorescence analysis device

Номер патента: EP4174479A4. Автор: Yuji Morihisa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

In-situ electrochemical depostion and x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: GB201314324D0. Автор: . Владелец: Element Six Ltd. Дата публикации: 2013-09-25.

Quantitative analysis method, quantitative analysis program, and x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4033231B1. Автор: Shin Tanaka. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

X-ray fluorescence spectroscopy analysis

Номер патента: US20230128930A1. Автор: Debora CAMPOS DE FARIA,Sergey Mikailovich Makarychev-Mikhailov,Isabelle Atheaux. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Total-reflection x-ray fluorescence apparatus and method using a doubly-curved optic

Номер патента: AU2001276861A1. Автор: Zewu Chen. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2002-04-02.

Methods of detection using x-ray fluorescence

Номер патента: EP3681504B1. Автор: Nathan ZAHLER,Jonathan THEILE. Владелец: Icagen Inc. Дата публикации: 2023-08-23.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer and estimation method

Номер патента: IL301033B2. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20130294577A1. Автор: Kataoka Yoshiyuki,Inoue Hisashi,Kawakyu Kosuke. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2013-11-07.

X-Ray Fluorescence Analysis Apparatus and Calibration Method Thereof

Номер патента: US20210003520A1. Автор: Kinugasa Genki. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-07.

Sample Plate for X-Ray Analysis and X-Ray Fluorescent Analyzer

Номер патента: US20160011129A1. Автор: SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2016-01-14.

X-Ray Fluorescence Measurement Apparatus

Номер патента: US20210018453A1. Автор: Kinugasa Genki. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

HANDHELD INSTRUMENT AS WELL AS MOBILE DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: US20160033429A1. Автор: Geier Udo,Nensel Bernhard. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD, QUANTITATIVE ANALYSIS PROGRAM, AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20220050068A1. Автор: Tanaka Shin. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-17.

X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM WITH HIGH FLUX AND HIGH FLUX DENSITY

Номер патента: US20170047191A1. Автор: Yun Wenbing,Lewis Sylvia Jia Yun,Kirz Janos. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-16.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND MEASUREMENT POSITION ADJUSTING METHOD THEREFORE

Номер патента: US20160069827A1. Автор: YAGI Isao. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-10.

X-ray Fluorescence Analyzer With Safety Features

Номер патента: US20150085976A1. Автор: JARVIKIVI Mikko,LEINO Jarmo. Владелец: Oxford Instruments Analytical Oy. Дата публикации: 2015-03-26.

MULTIPLEXING X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20170082562A1. Автор: GENDREAU KEITH C.,ARZOUMANIAN ZAVEN,BAKER ROBERT G.,DOBSON NORMAN,KOENECKE RICHARD. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20210088459A1. Автор: Kita Hiroaki,KURITA Seiitsu. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20180106736A1. Автор: MATSUO Takashi,Kataoka Yoshiyuki,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro,HONMA Hisashi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2018-04-19.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20160116424A1. Автор: Furukawa Hiroaki,KOBAYASHI Kanji. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2016-04-28.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20220178853A1. Автор: Kataoka Yoshiyuki,MORIYAMA Takao. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2022-06-09.

TRANSITION EDGE SENSOR FOR X-RAY FLUORESCENCE (TES-XRF) FOR HIGH RESOLUTION MATERIAL IDENTIFICATION

Номер патента: US20170115241A1. Автор: Tully Christopher G.,Gentile Charles. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-27.

ENERGY DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENT SPECTROMETER, EVALUATION METHOD, AND EVALUATION PROGRAM

Номер патента: US20220268717A1. Автор: KIKUTA Shinya. Владелец: . Дата публикации: 2022-08-25.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20190137422A1. Автор: WALDSCHLÄGER Ulrich,Tagle Berdan Roald Alberto. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-09.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER

Номер патента: US20160161428A1. Автор: Noda Hiroyuki,MASUDA Ai,TAKAHARA Toshiyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-09.

Resolution control in x-ray fluorescence spectroscopy systems

Номер патента: US20170168172A1. Автор: Bryan John CROSBY. Владелец: Thermo Gamma Metrics Pty Ltd. Дата публикации: 2017-06-15.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20150177167A1. Автор: TANAKA Keiichi,ODAWARA Akikazu. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20180180563A1. Автор: MATSUO Takashi,Kataoka Yoshiyuki,HARA Shinya,YAMADA Yasujiro,HONMA Hisashi. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2018-06-28.

ELECTROCHEMICAL DEPOSITION AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY

Номер патента: US20150204805A1. Автор: Mollart Timothy Peter,Newton Mark Edward,MacPherson Julie Victoria. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

ANGLE CALIBRATION FOR GRAZING-INCIDENCE X-RAY FLUORESCENCE (GIXRF)

Номер патента: US20150204806A1. Автор: PELED Asher,Mazor Isaac. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

LUBRICANT ANALYSIS USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20160202194A1. Автор: LEES John,BASSFORD David,BARNETT Anna. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-14.

IN-SITU ELECTROCHEMICAL DEPOSITION AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY

Номер патента: US20150212042A1. Автор: Mollart Timothy Peter,Newton Mark Edward,MacPherson Julie Victoria. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-30.

X-Ray Fluorescence Spectrometer

Номер патента: US20140294143A1. Автор: MATOBA Yoshiki,SAKAI Noriaki,TAKEUCHI Toshitada,Nohara Hiroaki. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-02.

Apparatus and method for producing analysis samples

Номер патента: US09651463B2. Автор: Rainer Schramm. Владелец: Fluxana GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-05-16.

Real-time online monitoring and source apportionment method for atmospheric heavy metal particulate

Номер патента: AU2019101631A4. Автор: Mei Li,Mengxi WU,Chunlei CHENG. Владелец: University of Jinan. Дата публикации: 2020-01-23.

Analysis method by x-ray spectrometer

Номер патента: JPS55129737A. Автор: Tadashi Watanabe,Yoshitaka Nagatsuka,Jiyun Suzumi. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1980-10-07.

Arrangement and method for producing analysis samples

Номер патента: CA2886103C. Автор: Rainer Schramm. Владелец: Fluxana GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-03-05.

X-Ray Fluorescence Spectrometer and X-Ray Fluorescence Analyzer

Номер патента: US20130170613A1. Автор: MURAOKA Koichi,UTAKA Tadashi. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-04.

Grazing incidence x-ray fluorescence spectrometer and grazing incidence x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: EP3239701A4. Автор: Takashi Yamada,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-08-22.

Apparatus for preparing samples for x-ray fluorescence tests

Номер патента: CA1099826A. Автор: Gerard Willay,Andre Wittmann. Владелец: Institut de Recherches de la Siderurgie Francaise IRSID. Дата публикации: 1981-04-21.

Grazing incidence x-ray fluorescence spectrometer and grazing incidence x-ray fluorescence analyzing method

Номер патента: EP3239701A1. Автор: Takashi Yamada,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-11-01.

Method for making glass-like borate sheets to instrumental analysis first of all to x-ray fluorescent analysis

Номер патента: HUT44339A. Автор: Georgi A Panajotov. Владелец: Geologicheski Inst. Дата публикации: 1988-02-29.

Total reflection x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: IL302813A. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-01.

Method of producing samples for x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US3546452A. Автор: Popko Reinder Dijksterhuis,Hermanus Arnoldus Verharen. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1970-12-08.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER

Номер патента: US20130235974A1. Автор: Stock Tore,Ronaes Egil,Hilton Thomas. Владелец: SCHLUMBERGER NORGE AS. Дата публикации: 2013-09-12.

ELECTRON EXCITED X-RAY FLUORESCENCE DEVICE

Номер патента: US20140126692A1. Автор: Camara Carlos. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-08.

Electron source and X-ray fluorescence analyser using an electron source

Номер патента: US20150060663A1. Автор: Sipilä Heikki Johannes,FEDKOV Evgeny,SEREBRIAKOV Aleksandr. Владелец: FENNO-AURUM OY. Дата публикации: 2015-03-05.

Method for preparing reference samples for determining residual austenite by x-ray diffraction

Номер патента: EP3988927A1. Автор: Luca SERALESSANDRI,Alice ELIA. Владелец: Gnr Srl. Дата публикации: 2022-04-27.

Stress measurement by x-ray diffractometry

Номер патента: CA1195786A. Автор: Crighton M. Mitchell. Владелец: Canada Minister of Energy Mines and Resources. Дата публикации: 1985-10-22.

Stress measurement by X-ray diffractometry

Номер патента: US4561062A. Автор: Crighton M. Mitchell. Владелец: Canada Minister of Energy Mines and Resources. Дата публикации: 1985-12-24.

Method for identifying the molecular configuration of ganoderic acid A from Ganoderma lucidum

Номер патента: US10998085B2. Автор: Tian-Jye Hsieh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-05-04.

Method for quantitative analysis of earth samples

Номер патента: US5741707A. Автор: Michael M. Herron,Michael Supp,Abigail Matteson. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 1998-04-21.

Method for identifying the molecular configuration of ganoderic acid A from Ganoderma lucidum

Номер патента: US20190303538A1. Автор: Tian-Jye Hsieh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-10-03.

Method and apparatus for simultaneous phase composition and residual stress measurement by x-ray diffraction

Номер патента: US5148458A. Автор: Clayton Ruud. Владелец: Clayton Ruud. Дата публикации: 1992-09-15.

Foreknowing method for remaining life by x-rays

Номер патента: JPS5687849A. Автор: Makoto Hayashi,Tasuku Shimizu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1981-07-16.

Hardness measuring method for hardened steel by X-ray diffraction using Gaussian curve

Номер патента: JPH0797089B2. Автор: 政則 栗田. Владелец: 政則 栗田. Дата публикации: 1995-10-18.

Stress measuring device by x-rays

Номер патента: JPS5919848A. Автор: Toshihiko Sakai,俊彦 酒井,Toshio Shiraiwa,Yoshiyasu Sakamoto,阪本 喜保,白岩 俊男. Владелец: Sumitomo Metal Industries Ltd. Дата публикации: 1984-02-01.

Stress measurement by x-ray diffractometry

Номер патента: EP0117293B1. Автор: Crighton M. Mitchell. Владелец: Canada Minister of Energy Mines and Resources. Дата публикации: 1989-03-08.

Analysis of materials by x-rays

Номер патента: US2890344A. Автор: Frederick A Behr. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1959-06-09.

Stress measuring device by x-ray

Номер патента: JPS53138778A. Автор: Yoshio Fukuda,Masato Nagao. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1978-12-04.

Ligand screening and design by x-ray crystallography

Номер патента: CA2321968A1. Автор: Daniel W. Norbeck,Jonathan Greer,Vicki L. Nienaber,Celerino Abad-Zapatero. Владелец: Celerino Abad-Zapatero. Дата публикации: 1999-09-10.

Stress measurement by x-ray diffractometry

Номер патента: EP0117293A3. Автор: Crighton M. Mitchell. Владелец: Canada Minister of Energy Mines and Resources. Дата публикации: 1985-01-23.

Ligand screening and design by X-ray crystallography

Номер патента: US20040219607A1. Автор: Jonathan Greer,Daniel Norbeck,Vicki Nienaber,Celerino Abad-Zapatero. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-11-04.

SYSTEM AND METHOD FOR COMPUTED LAMINOGRAPHY X-RAY FLUORESCENCE IMAGING

Номер патента: US20210080408A1. Автор: Yun Wenbing,Lewis Sylvia Jia Yun,Kirz Janos,Stripe Benjamin Donald. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

Imaging optical arrangement to image an object illuminated by X-rays

Номер патента: US12040103B2. Автор: Heiko Feldmann,Johannes Ruoff. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-07-16.

Determination of paper ash content by X-ray absorption analysis

Номер патента: US3904876A. Автор: Frank P Arendt. Владелец: Consolidated Papers Inc. Дата публикации: 1975-09-09.

X-ray fluorescence analyzer and a method for performing X-ray fluorescence analysis

Номер патента: FI131090B1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Finland Oy. Дата публикации: 2024-09-24.

A method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: FI20245869A1. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Metso Finland Oy. Дата публикации: 2024-07-09.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: FI20245499A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2023-03-25.

X-ray fluorescence analyzer and a method for performing an x-ray fluorescence analysis

Номер патента: US11815480B2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2023-11-14.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: CA3232838A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2023-03-30.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: WO2023044528A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation. Дата публикации: 2023-03-30.

An x-ray fluorescence system

Номер патента: AU2022352222A1. Автор: James Tickner,Brianna Ganly. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2024-04-11.

Nanoparticle assisted scanning focusing x-ray fluorescence imaging and enhanced treatment

Номер патента: US20160252471A1. Автор: Ting Guo,R. Andrew Davidson. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2016-09-01.

Device for sorting materials, in particular scrap particles, by means of x-ray fluorescence

Номер патента: US20170328845A1. Автор: Juergen Fink,Rainer Loeffler. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2017-11-16.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US20230293129A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Eiichi Furusawa,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: US11832981B2. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Eiichi Furusawa,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

X-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: EP4254016A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Eiichi Furusawa,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Pig including an x-ray fluorescence sensor

Номер патента: CA3140961A1. Автор: Patrik Rosen. Владелец: ROSEN SWISS AG. Дата публикации: 2020-11-26.

Electro-optical analyzer for measuring percentage by weight of fat, protein and lactose in milk

Номер патента: US4310763A. Автор: John Shields. Владелец: John Shields. Дата публикации: 1982-01-12.

Method for determining information about molecular weight of polymers

Номер патента: WO2014083035A1. Автор: Olivier Lavastre,Kevin Fouyer. Владелец: TOTAL RESEARCH & TECHNOLOGY FELUY. Дата публикации: 2014-06-05.

Method for inspecting textile articles

Номер патента: US20200400561A1. Автор: Wilhelm Bringewatt,Engelbert Heinz. Владелец: Herbert Kannegiesser GmbH and Co. Дата публикации: 2020-12-24.

Apparatus for examining moving products, in particular moving piece goods, by x-ray

Номер патента: US09746578B2. Автор: Werner Thomas,Torben Schuff. Владелец: Wipotec Wiege und Positioniersysteme GmbH. Дата публикации: 2017-08-29.

Method for measuring dimension using projection image obtained by X-ray CT apparatus

Номер патента: CN110686624A. Автор: 后藤智德,伊藤翼,大竹丰,今正人. Владелец: Sanfeng Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-14.

Method for identifying liquid dangerous goods by X-ray inspection system

Номер патента: CN106353342A. Автор: 朱卫国,陈彬,夏亦平. Владелец: ANHUI JOYFULL INFORMATION TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-25.

Powder mixture for iron-based powder metallurgy, and method for manufacturing sintered compact using same

Номер патента: US20190283126A1. Автор: Nobuaki Akagi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2019-09-19.

Method for controlling metal chips and / or fragments to eliminate inclusions which are more absorbent by X-rays.

Номер патента: FR2707111B1. Автор: Gachet Maurice,Ancillon Thierry. Владелец: CEZUS. Дата публикации: 1995-08-18.

DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING PROJECTION IMAGE OBTAINED BY X-RAY CT APPARATUS

Номер патента: US20200011662A1. Автор: Ohtake Yutaka,KON Masato,Goto Tomonori,ITO Tasuku. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-09.

GRAIN SIZE INSPECTION OF A GAS TURBINE COMPONENT BY X-RAY REFRACTION

Номер патента: US20140270072A1. Автор: Young Joseph,HART ADAM L.,MCCORMICK ROBERT L.. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

Particle size determination by x-ray absorption analy - sis

Номер патента: FR2044490A5. Автор: . Владелец: Freeport Sulphur Co. Дата публикации: 1971-02-19.

Device for holding composite parts or fiber preforms for inspection by X-ray tomography

Номер патента: FR3107354B1. Автор: Lionel Christian Jean-Loic GAY,Nicolas Cochennec. Владелец: Safran SA. Дата публикации: 2022-01-28.

Device for holding composite parts or fiber preforms for inspection by X-ray tomography

Номер патента: FR3107354A1. Автор: Lionel Christian Jean-Loic GAY,Nicolas Cochennec. Владелец: Safran SA. Дата публикации: 2021-08-20.

PROCEDURE FOR EXPLORATION OF BODIES BY X-RAY AND APPARATUS FOR PRACTICE.

Номер патента: ES2306666T3. Автор: Vladimir N. Linev,Anatoly I. Semenikov. Владелец: NP CHASTNOE UNITARNOE PREDPR A. Дата публикации: 2008-11-16.

Apparatus and process for determining particle size by x-ray absorption analysis

Номер патента: US3449567A. Автор: James Peter Olivier,George K Hickin. Владелец: Freeport Sulphur Co. Дата публикации: 1969-06-10.

DEVICE FOR OPACITY TESTING OF TESTS, IN PARTICULAR BY X-RAYS

Номер патента: DE2640359A1. Автор: Jay A Stein,Martin Annis. Владелец: American Science and Engineering Inc. Дата публикации: 1977-03-10.

Process and device for testing parts by X rays

Номер патента: US20040037389A1. Автор: Marie-Anne De Smet. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2004-02-26.

Imaging optical arrangement to image an object illuminated by x-rays

Номер патента: US20230050439A1. Автор: Heiko Feldmann,Johannes Ruoff. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-02-16.

Characterization of three-dimensional distribution of defects by X-ray topography

Номер патента: US7620149B2. Автор: Jung Ho Je,Jae Mok Yi. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2009-11-17.

METHODS FOR IMAGING USING X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20210262952A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

Microscopic infrared analysis by x-ray or electron radiation

Номер патента: US20100320388A1. Автор: Richard A. Rosenberg. Владелец: UChicago Argonne LLC. Дата публикации: 2010-12-23.

Process for making a skin marker for diagnosis by x-ray tomography and nuclear magnetic rasonance imaging

Номер патента: CA1290244C. Автор: Nobuichi Makino,Masao Nambu. Владелец: Nippon Oil Corp. Дата публикации: 1991-10-08.

X-ray fluorescence thickness measuring device

Номер патента: US4860329A. Автор: Murray Weiser,William Silverman,Zvi Landau,Paul Finer,Cary I. Pincus. Владелец: UPA Tech Inc. Дата публикации: 1989-08-22.

Apparatus for measuring surface stress by X-ray diffraction

Номер патента: US3934138A. Автор: Jeans Bens. Владелец: Compagnie Generale de Radiologie SA. Дата публикации: 1976-01-20.

System For Measuring Reduction In Weight Of Food Waste

Номер патента: US20230251126A1. Автор: Sam Hyun Ko. Владелец: Gl Plus Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Method for controlling the thickness or weight of extruded stock

Номер патента: US4233255A. Автор: William S. Moon. Владелец: Measurex Corp. Дата публикации: 1980-11-11.

Method for manufacturing a stable freestanding pure water film

Номер патента: US20090155450A1. Автор: Jung Ho Je,Byung Mook Weon. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2009-06-18.

Panel for Flexible Digital X-Ray Detector and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20190179039A1. Автор: Jinpil Kim,Minseok YUN. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-13.

Catalyst for solid polymer fuel cell and method for selecting catalyst for solid polymer fuel cell

Номер патента: US20210328230A1. Автор: Minoru Ishida. Владелец: Tanaka Kikinzoku Kogyo KK. Дата публикации: 2021-10-21.

Catalyst for solid polymer fuel cell and method for selecting catalyst for solid polymer fuel cell

Номер патента: US12015161B2. Автор: Minoru Ishida. Владелец: Tanaka Kikinzoku Kogyo KK. Дата публикации: 2024-06-18.

System and method for synthesizing a projection image

Номер патента: US20210118201A1. Автор: QI Yin,Jonathan Maltz. Владелец: Shanghai United Imaging Healthcare Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

System and method for synthesizing a projection image

Номер патента: US11875430B2. Автор: QI Yin,Jonathan Maltz. Владелец: Shanghai United Imaging Healthcare Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Non-destructive testing method for brazed butt joints in metallic articles and metallic articles tested thereby

Номер патента: IE48325B1. Автор: . Владелец: Euratom. Дата публикации: 1984-12-12.

Method for determining a distance by X-ray imaging, and X-ray device

Номер патента: CN103519834A. Автор: G.克莱因斯齐格,A.埃格利,A.约翰. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2014-01-22.

Method for testing at least one battery cell stack with regard to the position of battery cell layers

Номер патента: US20240154194A1. Автор: Steffen Masuch. Владелец: VOLKSWAGEN AG. Дата публикации: 2024-05-09.

Device for examining material by x-ray fluorescence

Номер патента: CA935568A. Автор: Houtman Eliberthus,G. Siekman Jakob. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1973-10-16.

Apparatus for examining a substance by x-ray fluorescenece

Номер патента: GB1330948A. Автор: . Владелец: Philips Electronic and Associated Industries Ltd. Дата публикации: 1973-09-19.

Detection system for chemical analysis of zinc phosphate coating solutions

Номер патента: CA1315422C. Автор: Michael J. Decello,Leroy C. Westwood. Владелец: Ford Motor Company of Canada Ltd. Дата публикации: 1993-03-30.

X-ray method for the measurement, characterization, and analysis of periodic structures

Номер патента: US09874531B2. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ,Sylvia Jia Yun LEWIS. Владелец: Sigray Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Nondestructive method for analyzing total porosity of thin sections

Номер патента: CA1285665C. Автор: Michael P. Smith. Владелец: BP Corp North America Inc. Дата публикации: 1991-07-02.

Method for analyzing composition of object to be measured by X-ray

Номер патента: JPH071241B2. Автор: 幸夫 香村,久 小相沢. Владелец: THE FURUKAW ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 1995-01-11.

X-ray fluorescence analyser, and a method for performing x-ray fluorescence analysis

Номер патента: ZA202007018B. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: Outotec Finland Oy. Дата публикации: 2021-10-27.

Analytical method for optimizing efficiency of hydrogen sulfide scavengers

Номер патента: CA2946637C. Автор: David Horton,Jeffrey SODERBERG,Wes SUHAI. Владелец: Canadian Energy Services LP. Дата публикации: 2023-10-03.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER, AND METHOD TO PERFORM X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS

Номер патента: BR112020021461A2. Автор: Heikki Sipila,Antti Pelli,Tommi Koskinen. Владелец: OUTOTEC (FINLAND) OY. Дата публикации: 2021-01-19.

Methods for imaging using x-ray fluorescence

Номер патента: EP3877782A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-15.

Mammography imaging system using X-ray fluorescence

Номер патента: US12029599B2. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Mammography imaging system using x-ray fluorescence

Номер патента: EP4110185A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-04.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND METHOD OF DISPLAYING SAMPLE THEREOF

Номер патента: US20160061753A1. Автор: YAGI Isao. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

DETECTOR FOR X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20200116876A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-16.

X-ray fluorescence analysis of thin-film coverage defects

Номер патента: US20150185170A1. Автор: Adhiprakasha Edwin. Владелец: Intermolecular Inc.. Дата публикации: 2015-07-02.

X-Ray Fluorescence Analyzer

Номер патента: US20140286474A1. Автор: Hasegawa Kiyoshi,MATOBA Yoshiki,SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-25.

Method for checking a battery element stack with regard to the position of battery element layers

Номер патента: US20240318955A1. Автор: Steffen Masuch. Владелец: VOLKSWAGEN AG. Дата публикации: 2024-09-26.

Method for measuring the wall thickness of a plastic sheathing for an electrical core or cable, in particular a power cable

Номер патента: US20080043907A1. Автор: Harald Sikora. Владелец: Sikora AG. Дата публикации: 2008-02-21.

Apparatus and method for measuring the body weight

Номер патента: US20080115592A1. Автор: Suzanne Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-05-22.

Optical arrangement and method for electronically detecting an X-ray image

Номер патента: US6038286A. Автор: Peter Wägli,Ruedi G. Laupper. Владелец: Teleray AG. Дата публикации: 2000-03-14.

METHOD FOR DETERMINING A DISTANCE BY X-RAY IMAGING, AND X-RAY DEVICE

Номер патента: US20140016743A1. Автор: Kleinszig Gerhard,EGLI ADRIAN,JOHN ADRIAN. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2014-01-16.

Guide unit for measurement and micro-weight measuring system using same

Номер патента: US09638571B2. Автор: Young Woo Kim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-05-02.

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING DIMENSIONS BY X-RAYS, ON EMPTY GLASS CONTAINERS RUNNING IN A LINE

Номер патента: US20200333133A1. Автор: Colle Olivier,COSNEAU Laurent. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-22.

Head device for measuring plating thickness by x rays

Номер патента: JPS57172205A. Автор: Nobuo Nakano,Yoshio Uto. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1982-10-23.

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING DIMENSIONS BY X-RAYS, ON EMPTY GLASS CONTAINERS RUNNING IN LINE

Номер патента: FR3073044B1. Автор: Laurent Cosneau,Olivier Colle. Владелец: Tiama SA. Дата публикации: 2020-10-02.

Procedure and device for measuring dimensions by X-rays in empty glass containers that move in line

Номер патента: ES2913782T3. Автор: Laurent Cosneau,Olivier Colle. Владелец: Tiama SA. Дата публикации: 2022-06-06.

APPARATUS AND METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL INSPECTION OF AN OBJET BY X-RAYS

Номер патента: US20190139244A1. Автор: PRAS Philippe,ROSSE Bertrand,RAYBAUT Pierre. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-09.

Measuring method for plating thickness by x rays

Номер патента: JPS57172207A. Автор: Kazuo Sasaki,Yoshio Uto,Susumu Hiradate. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1982-10-23.

METHOD FOR RECORDING AN IMAGE PRODUCED BY X-RAYS

Номер патента: FR2514908A1. Автор: Nobuyoshi Nakajima,Takao Komaki,Hirosi Tanaka. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1983-04-22.

DEVICE FOR PARTIAL SCANNING BY X-RAY RADIATION

Номер патента: DE69421610D1. Автор: Jixing Chen,Joseph Bisek. Владелец: GE Lunar Corp. Дата публикации: 1999-12-16.

AUTOMATIC CAR FOR THE RADIOGRAPHY OF THE SOURCES OF THE PAYPLAYS BY THE IC OF THE PAYPLAYS BY X-RAYS AND RELATED DEVICES

Номер патента: TR17179A. Автор: . Владелец: Snam Progetti. Дата публикации: 1974-04-25.

Method of processing images for material recognition by X-rays

Номер патента: US6198795B1. Автор: Dirk Naumann,Knut Beneke,Rainer Henkel. Владелец: Heimann Systems GmbH. Дата публикации: 2001-03-06.

Method and apparatus for examining luggage by x-ray scanning

Номер патента: US6301327B1. Автор: Gerhard Martens,Horst Peemöller,Bernd Geistmann,Hans-Detlef Dau. Владелец: Yxlon International X Ray GmbH. Дата публикации: 2001-10-09.

Method for x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: PH20139A. Автор: William Charles Boyce,Warren Deal Wittekind,Thomas Edward Hall,Leroy Craig Howard,Maynard Lechelt. Владелец: Unc Nuclear Ind Inc. Дата публикации: 1986-10-02.

Apparatus and method for measuring lift axle weight of vehicle

Номер патента: KR101478760B1. Автор: 김종우,박성훈,정영우,조윤범,한성도,이영혁. Владелец: 주식회사 유디코. Дата публикации: 2015-01-05.

High speed pulse processing in x-ray fluorescence spectography

Номер патента: CA998782A. Автор: John R. Rhodes,Kermit D. Clausen. Владелец: COLUMBIA SCIENTIFIC INDUSTRIES. Дата публикации: 1976-10-19.

Method for producing three-dimensional molded object and lamination molding apparatus

Номер патента: US11833746B2. Автор: Yasuyuki Miyashita. Владелец: Sodick Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

A DETECTOR FOR X-RAY FLUORESCENCE

Номер патента: US20180081071A1. Автор: CAO Peiyan,LIU Yurun. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

Detector rotation, controlled by x-ray radiation collimation

Номер патента: RU2701123C2. Автор: Ханнс-Инго МАК. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2019-09-24.

Radiation mask for producing structural configurations in photo-sensitive resists by X-ray exposure

Номер патента: US4268563A. Автор: Dietrich Widmann. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1981-05-19.

X-ray fluorescent luminescent cadmium tungstate compositions

Номер патента: US4115312A. Автор: Gerhard Engel,Manfred Eckle. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 1978-09-19.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US6496565B2. Автор: Mitsuo Naito,Yoshiki Matoba. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-12-17.

Method for reducing direct hit artifacts and x-ray facility

Номер патента: US9430826B2. Автор: Boris Stowasser. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2016-08-30.

Composition and Method for Making Picocrystalline Artificial Borane Atoms

Номер патента: US20170076942A1. Автор: Patrick Curran. Владелец: Seminuclear Inc. Дата публикации: 2017-03-16.

Composition and Method for Making Picocrystalline Artificial Borane Atoms

Номер патента: US20180247811A1. Автор: Patrick Curran. Владелец: Seminuclear Inc. Дата публикации: 2018-08-30.

Composition and method for making picocrystalline artificial borane atoms

Номер патента: US09972489B2. Автор: Patrick Curran. Владелец: Seminuclear Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Metal complex pigment-containing toner for electrophotography and method for producing the same

Номер патента: US20130189613A1. Автор: Satoshi Araki. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2013-07-25.

Mask blank, phase shift mask, and method for producing semiconductor device

Номер патента: US20240337919A1. Автор: Hitoshi Maeda,Osamu Nozawa,Ryo Ohkubo,Kenta Tsukagoshi. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Transparent conductive film and method for producing same

Номер патента: US09657386B2. Автор: Takashi Kuchiyama,Hironori Hayakawa. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Method and device for automatically estimating the body weight of a person

Номер патента: US20230306776A1. Автор: Christian Strauss,Thomas Klaehn. Владелец: Gestigon GmbH. Дата публикации: 2023-09-28.

X-ray INSPECTION SYSTEM BY X-ray IMAGE OPTIMIZATION

Номер патента: KR102221711B1. Автор: 김수용,이두식,오태현. Владелец: 주식회사 아임클라우드. Дата публикации: 2021-03-02.

X-ray INSPECTION SYSTEM BY X-ray IMAGE OPTIMIZATION

Номер патента: KR102317343B1. Автор: 김수용,이두식,오태현. Владелец: 주식회사 아임클라우드. Дата публикации: 2021-10-27.

System and method for detecting and removing or disabling RFID tags

Номер патента: US20060152363A1. Автор: Clifford Kraft. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-07-13.

Method for preparing toner containing carbon black pigment with low surface sulfur levels

Номер патента: CA2772942C. Автор: Thomas P. Debies,Timothy L. Lincoln,Kevin F. Marcell. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2014-08-12.

Crystalline phosphatase and method for use thereof

Номер патента: WO2006081543A3. Автор: Peter Benjamin Rupert. Владелец: Peter Benjamin Rupert. Дата публикации: 2009-05-07.

Crystalline phosphatase and method for use thereof

Номер патента: US20060173633A1. Автор: Peter Rupert. Владелец: Ceptyr Inc. Дата публикации: 2006-08-03.

Crystalline phosphatase and method for use thereof

Номер патента: WO2006081543A2. Автор: Peter Benjamin Rupert. Владелец: Ceptyr, Inc.. Дата публикации: 2006-08-03.

System and methods for automated dosing control by X-ray imaging

Номер патента: DK3154434T3. Автор: Martti Kalke,Esa Eronen,Markus Rintamäki. Владелец: PaloDEx Group Oy. Дата публикации: 2021-03-22.

Titanium oxide powder and method for manufacturing same

Номер патента: US20220064016A1. Автор: Kazuya Shibata,Kazumasa EJIRI,Yuka HASHIZUME. Владелец: Tayca Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Titanium oxide powder and method for manufacturing same

Номер патента: EP3971140A1. Автор: Kazuya Shibata,Kazumasa EJIRI,Yuka HASHIZUME. Владелец: Tayca Corp. Дата публикации: 2022-03-23.

DETECTOR TURN CONTROLLED BY X-RAY COLLIMATION

Номер патента: RU2017116529A. Автор: Ханнс-Инго МАК. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2018-11-15.

DETECTOR ROTATION CONTROLLED BY X-RAY COLLIMATION

Номер патента: US20170303879A1. Автор: Maack Hanns-Ingo. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-26.

Method and apparatus for displaying an image obtained by X-rays

Номер патента: FR2718547A1. Автор: MORI Keisuke,Suzuki Masakazu,Tachibana Akifumi,Ration,Ion,Poration. Владелец: J Morita Manufaturing Corp. Дата публикации: 1995-10-13.

Radiation mask for producing structural configurations in photo-sensitive resists by x-ray exposure

Номер патента: CA1031470A. Автор: Dietrich Widmann. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1978-05-16.

Fabrication of structures of metal/semiconductor compound by x-ray/euv projection lithography

Номер патента: CA2433076A1. Автор: Dominique Drouin,Jacques Beauvais,Eric Lavallee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-15.

Pattern forming method by x-ray exposure

Номер патента: JPS57113222A. Автор: Koichi Kobayashi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1982-07-14.

IMPROVEMENTS INTRODUCED IN FLUOROSCOPIC TABLES FOR EXAMINING PATIENTS BY X-RAYS OR OTHER SIMILAR RADIATION.

Номер патента: ES486196A0. Автор: . Владелец: Machlett Laboratories Inc. Дата публикации: 1980-12-01.

Method of reconstruction by X-ray tomography and associated device

Номер патента: FR3108760B1. Автор: Sylvaine Picard,Camille Jocelyn Roger Chapdelaine. Владелец: Safran SA. Дата публикации: 2022-02-18.

Process for the preparation of photoresist layers for micro-electroforming by x-rays

Номер патента: DE3171170D1. Автор: Walter Glashauser,Peter Dr Rer Nat Tischer. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1985-08-08.

X-ray fluorescence intensifying screen with a flexible support and a fluorescent layer applied to it

Номер патента: DE2943854C2. Автор: Walter 8000 München Bauer. Владелец: Agfa Gevaert AG. Дата публикации: 1982-04-08.

Simulation method for developing a production process

Номер патента: US20180071868A1. Автор: Thomas Goehler,Tobias Maiwald-Immer,Andreas Fischersworring-Bunk. Владелец: MTU Aero Engines AG. Дата публикации: 2018-03-15.

Magnesium silicide-based multilayer x-ray fluorescence analyzers

Номер патента: EP2248136A1. Автор: Kazuaki Shimizu,Yuriy Y. Platonov. Владелец: Rigaku Innovative Technologies Inc. Дата публикации: 2010-11-10.

Magnesium silicide-based multilayer x-ray fluorescence analyzers

Номер патента: WO2009114363A1. Автор: Kazuaki Shimizu,Yuriy Y. Platonov. Владелец: Rigaku Industrial Corporation. Дата публикации: 2009-09-17.

Geometry enhancement of nanoscale energy deposition by X-rays

Номер патента: US09764305B2. Автор: Ting Guo. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2017-09-19.

Material detectable by x-rays

Номер патента: CA1105688A. Автор: Graham Jones,Geoffrey Unwin. Владелец: Johnson and Johnson. Дата публикации: 1981-07-28.

X-ray fluorescence analysis apparatus

Номер патента: US20010039137A1. Автор: Koichi Tamura,Mitsuo Naito. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-08.

Method for producing manganese(ⅱ) sulfate monohydrate from byproduct of zinc refining process

Номер патента: AU2023222912A1. Автор: Min Ji Kim,Sang Chil Park. Владелец: Korea Zinc Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Method for galvanizing and galvannealing employing a bath of zinc and aluminum

Номер патента: CA2351337C. Автор: Ramchandra S. Patil,Pertti Sippola. Владелец: Isg Technologies Inc. Дата публикации: 2009-01-20.

Method for producing manganese(ⅱ) sulfate monohydrate from byproduct of zinc refining process

Номер патента: AU2023222912B2. Автор: Min Ji Kim,Sang Chil Park. Владелец: Korea Zinc Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Method for detecting and controlling load weight of vehicle by means of tire pressure of vehicle and device thereof

Номер патента: US20170184034A1. Автор: Fu CHAI,Fang-Jun CHAI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-06-29.

Preparation method for lithographic printing plate

Номер патента: EP1170149B1. Автор: Atsushi Sakamoto,Hisashi Hotta. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2005-10-19.

Method and computational unit for measuring the flow rate of a contrast agent in a vessel of a patient

Номер патента: US20090086882A1. Автор: Bernhard Schmidt,Michael Grasruck. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2009-04-02.

Method for manufacturing lithium titanate for lithium secondary battery active material

Номер патента: US20110121226A1. Автор: Hidekazu Awano. Владелец: Nippon Chemical Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2011-05-26.

Layered-double-hydroxide-oriented film and method for producing same

Номер патента: US09793529B2. Автор: Naohito Yamada,Naomi Saito,Megumi Fujisaki. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Zn—Sn—O based oxide sintered body and method for producing the same

Номер патента: US09834838B2. Автор: Makoto Ozawa,Kentaro Sogabe. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2017-12-05.

Preparation method for lithographic printing plate

Номер патента: EP1170149A3. Автор: Atsushi Sakamoto,Hisashi Hotta. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2003-06-18.

Carbon fiber and method for producing the same

Номер патента: US20120058337A1. Автор: Hiroshi Sakurai,Hiroshi Hara,Shoichi Takagi. Владелец: Teijin Ltd. Дата публикации: 2012-03-08.

Anion exchange membrane and manufacturing method for same

Номер патента: EP4397409A1. Автор: Nobuhiko Ohmura,Kazuo Mizuguchi,Masayuki Kishino,Michihito Nakatani. Владелец: Astom Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Conductive film, electrode, and method for producing conductive film

Номер патента: US20240321475A1. Автор: Takeshi Torita,Kosuke Sugiura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Reduced graphene oxide-graphite composite material, method for producing same, and lithium ion secondary battery using same

Номер патента: US12113219B2. Автор: Katsumi Maeda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Cured guayule rubber containing compositions and method for preparing same

Номер патента: US09890268B2. Автор: Sheel Agarwal,Yingyi Huang. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Method for producing barium titanate powder

Номер патента: US09771274B2. Автор: Minoru Yoneda,Yuji Baba,Shinji Ogama,Yukihiro Kuniyoshi,Kazumi YAMANAKA. Владелец: Sakai Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Method for producing barium titanate powder

Номер патента: US09695061B2. Автор: Minoru Yoneda,Yuji Baba,Shinji Ogama,Yukihiro Kuniyoshi,Kazumi YAMANAKA. Владелец: Sakai Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Method and apparatus producing plural images of different contrast range by x-ray scanning

Номер патента: US4032787A. Автор: Richard D. Albert. Владелец: Individual. Дата публикации: 1977-06-28.

Titanium oxide powder and method for producing same

Номер патента: US20240246832A1. Автор: Kazuya Shibata,Kazumasa EJIRI. Владелец: Tayca Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Active material for battery, battery, and method for production of active material for battery

Номер патента: US20130052540A1. Автор: Hideki Oki,Takeshi Tojigamori. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2013-02-28.

System and Method for Determining Tongue Weight

Номер патента: US20240140152A1. Автор: Michael Hall,Thomas Corie,Chandler Flinders,Jacob Ovard. Владелец: Hall Logic Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Method and apparatus producing plural images of different contrast range by X-ray scanning

Номер патента: US4149076A. Автор: Richard D. Albert. Владелец: Individual. Дата публикации: 1979-04-10.

Positive electrode layer, method for manufacturing positive electrode layer, and all solid-state battery

Номер патента: US20230231185A1. Автор: Heidy Hodex Visbal Mendoza. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Composite particle, positive electrode, all-solid-state battery, and method for producing composite particle

Номер патента: US20230299292A1. Автор: Masaru Kubota. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Oxide composite particles, method for producing same, and resin composition

Номер патента: US20240317597A1. Автор: Motoharu Fukazawa,Takuto Okabe,Toshihiko TSUNEYOSHI. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Oxide composite particles, method for producing same, and resin composition

Номер патента: US20240317975A1. Автор: Motoharu Fukazawa,Takuto Okabe,Toshihiko TSUNEYOSHI. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Spherical alumina particles, method for producing same, and resin composition

Номер патента: US20240308867A1. Автор: Motoharu Fukazawa,Takuto Okabe. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Electrode, method for manufacturing the same, and secondary battery

Номер патента: US09859595B2. Автор: Seiichiro Tabata,Shinichiro Yamada,Shun Yamanoi,Hironori Iida. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Sulfide solid electrolyte material, battery, and method for producing sulfide solid electrolyte material

Номер патента: US10305140B2. Автор: Yuki Kato,Takamasa Ohtomo. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-05-28.

Thermosetting polyester foams and method for production thereof

Номер патента: RU2716417C2. Автор: Эдуар Обер,Мари САВОННЕ. Владелец: СЭН-ГОБЭН ИЗОВЕР. Дата публикации: 2020-03-11.

Catalyst layer for fuel cell, method for producing same, and fuel cell provided with same

Номер патента: EP4009404A1. Автор: Joji Miki,Takuya Kitabatake. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-08.

Catalyst layer for fuel cell, method for producing same, and fuel cell provided with same

Номер патента: US20220271299A1. Автор: Joji Miki,Takuya Kitabatake. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-25.

Method for increasing molecular weight of syndiotactic polypropylene

Номер патента: CA2040226C. Автор: Tadashi Asanuma. Владелец: Mitsui Toatsu Chemicals Inc. Дата публикации: 1995-05-02.

Conductive film, particulate matter, slurry, and method for producing conductive film

Номер патента: US20230217635A1. Автор: Yoshito SODA. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-06.

Composition and method for making picocrystalline artificial borane atoms

Номер патента: CA3043998C. Автор: Patrick Curran. Владелец: Seminuclear Inc. Дата публикации: 2024-05-14.

Method for producing monocrystalline metallic wire

Номер патента: EP1445340A4. Автор: Gennadij A Markov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-23.

Method for producing ceramic sintered body, ceramic sintered body, and light emitting device

Номер патента: US11976228B2. Автор: Shoji Hosokawa,Hirofumi OOGURI. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

System and method for radiographic imaging of tissue

Номер патента: EP1126788A2. Автор: Jesse Salb. Владелец: Veritas Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2001-08-29.

Method for producing ceramic sintered body, ceramic sintered body, and light emitting device

Номер патента: US20220106523A1. Автор: Shoji Hosokawa,Hirofumi OOGURI. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2022-04-07.

Method for producing ceramic sintered body, ceramic sintered body, and light emitting device

Номер патента: US20200172804A1. Автор: Shoji Hosokawa,Hirofumi OOGURI. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2020-06-04.

Method for producing ceramic sintered body, ceramic sintered body, and light emitting device

Номер патента: US11230666B2. Автор: Shoji Hosokawa,Hirofumi OOGURI. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2022-01-25.

Method for producing ceramic sintered body, ceramic sintered body, and light emitting device

Номер патента: EP3660126A1. Автор: Shoji Hosokawa,Hirofumi OOGURI. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2020-06-03.

Method for increasing intrinsic viscosity of syndiotactic polypropylene

Номер патента: US5200439A. Автор: Tadashi Asanuma. Владелец: Mitsui Toatsu Chemicals Inc. Дата публикации: 1993-04-06.

Welded member and method for manufacturing same

Номер патента: NZ753840A. Автор: Kazuaki Hosomi,Takefumi Nakako,Tomokazu Nobutoki. Владелец: Nippon Steel Nisshin Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-29.

An improved method for the synthesis of sucrose-6-esters

Номер патента: GB2365424B. Автор: Jason D Clark,Jr Richard R Lemay. Владелец: Tate and Lyle PLC. Дата публикации: 2002-06-26.

Carbon fibers and method for producing same

Номер патента: US4814157A. Автор: Fujio Nakao,Hajime Asai,Hirofumi Uno. Владелец: Mitsubishi Rayon Co Ltd. Дата публикации: 1989-03-21.

Lithium ion secondary battery and method for producing the same

Номер патента: US20180102540A1. Автор: Yoichi Koike,Yohei Shindo. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2018-04-12.

Forward osmosis membrane and method for producing same

Номер патента: EP4364828A1. Автор: Daisuke HOTTA. Владелец: Asahi Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Initiator integrated poly(dimethylsiloxane) and methods for making the same and its application

Номер патента: US8252881B2. Автор: Xiongming Ma. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-08-28.

Polymer film with adhesive layer, laminate, and method for producing laminate

Номер патента: US20230392053A1. Автор: Hirotaka Kitagawa,Genya Tanaka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Methods for manufacturing laminated plate and heat generator, and defroster

Номер патента: US20240123722A1. Автор: Toshiyuki Shimizu,Makoto Hosokawa. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Methods for manufacturing laminated plate and heat generator, and defroster

Номер патента: EP4296052A1. Автор: Toshiyuki Shimizu,Makoto Hosokawa. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Manufacturing method for x-ray fluorescent boosting tube

Номер патента: JPS56123645A. Автор: Tomio Yoshida,Norio Harao. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1981-09-28.

Method for post-treating and a post-treatment system

Номер патента: US11738528B2. Автор: Florian Pfefferkorn. Владелец: EOS GmbH. Дата публикации: 2023-08-29.

Lithium ion secondary battery and method for producing the same

Номер патента: US10629907B2. Автор: Yoichi Koike,Yohei Shindo. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2020-04-21.

Insulated electric wire, coil and producing method for same coil

Номер патента: US20200373049A1. Автор: Shohei Hata,Hiromitsu Kuroda,Keisuke Fujito,Takayuki TUJI. Владелец: Hitachi Metals Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Insulated electric wire, coil and producing method for same coil

Номер патента: US11476024B2. Автор: Shohei Hata,Hiromitsu Kuroda,Keisuke Fujito,Takayuki TUJI. Владелец: Hitachi Metals Ltd. Дата публикации: 2022-10-18.

Titanium oxide powder and method for producing same

Номер патента: EP4342848A1. Автор: Kazuya Shibata,Kazumasa EJIRI. Владелец: Tayca Corp. Дата публикации: 2024-03-27.

METHOD FOR SEPARATING MINERAL IMPURITIES FROM CALCIUM CARBONATE-CONTAINING ROCKS BY X-RAY SORTING

Номер патента: US20130306764A1. Автор: Tavakkoli Bahman,Mangelberger Thomas,Reisinger Matthias. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-21.

Method for evaluating hardenability of steel by x-ray diffraction

Номер патента: JPS6126721A. Автор: Masanori Kurita,政則 栗田,Ikuo Ihara,郁夫 井原. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 1986-02-06.

Compositions and methods for diagnosis of tumors by X-ray imaging

Номер патента: IL121084A0. Автор: . Владелец: Yeda Res & Dev. Дата публикации: 1997-11-20.

Casting and method for manufacturing casting

Номер патента: US20200147681A1. Автор: Hiroshi Inazawa,Hiroki Yanaga,Hirofumi Tashiro,Toshikazu Ooge. Владелец: Toyo Kohan Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-14.

Composite particle, positive electrode, all-solid-state battery, and method for producing composite particle

Номер патента: EP4246617A1. Автор: Masaru Kubota. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Oxide composite particles, method for producing same and resin composition

Номер патента: EP4269343A1. Автор: Motoharu Fukazawa,Toshihiko TSUNEYOSHI. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-01.

Crystal film, method for manufacturing crystal film, vapor deposition apparatus and multi-chamber apparatus

Номер патента: US20150030846A1. Автор: Takeshi Kijima,Yuuji Honda. Владелец: Youtec Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-29.

Gas-barrier laminate and method for manufacturing gas-barrier laminate

Номер патента: EP4289891A3. Автор: Toshiya Ishii. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-13.

Spherical alumina particles, method for producing same, and resin composition

Номер патента: EP4286336A1. Автор: Motoharu Fukazawa,Takuto Okabe. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Titanium material and method for manufacturing titanium material

Номер патента: US20230357893A1. Автор: Kazuhiro Takahashi,Minami MATSUMOTO. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

Oxide composite particles, method for producing same, and resin composition

Номер патента: EP4353681A1. Автор: Motoharu Fukazawa,Takuto Okabe,Toshihiko TSUNEYOSHI. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Oxide composite particles, method for producing same and resin composition

Номер патента: US20240076470A1. Автор: Motoharu Fukazawa,Toshihiko TSUNEYOSHI. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Oxide composite particles, method for producing same, and resin composition

Номер патента: EP4371937A1. Автор: Motoharu Fukazawa,Takuto Okabe,Toshihiko TSUNEYOSHI. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Electrode, method for manufacturing the same, and secondary battery

Номер патента: US20160028135A1. Автор: Seiichiro Tabata,Shinichiro Yamada,Shun Yamanoi,Hironori Iida. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-01-28.

Gas-barrier laminate and method for manufacturing gas-barrier laminate

Номер патента: EP4289891A2. Автор: Toshiya Ishii. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-13.

Apparatus for and method of localizing and measuring by x-ray

Номер патента: US1902558A. Автор: Clayton R Johnson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1933-03-21.

Geometry enhancement of nanoscale energy deposition by x-rays

Номер патента: US20150083579A1. Автор: Ting Guo. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2015-03-26.

U-arm stand and apparatus for radiography by x-ray therefor

Номер патента: KR100934711B1. Автор: 안판순. Владелец: (주)메디엔인터내셔날. Дата публикации: 2009-12-30.

Stand and apparatus for photographing by x-ray therefor

Номер патента: KR100977878B1. Автор: 안판순. Владелец: (주)메디엔인터내셔날. Дата публикации: 2010-08-25.

Cushion of pressings - impenetrable by X-rays during stomach operations

Номер патента: FR2239256A1. Автор: . Владелец: Kendall Co. Дата публикации: 1975-02-28.

HYDRATES OF 4,4'-DI-TRIAZINYLAMINE-2,2'-DI-SULFOSTILBENE COMPOUNDS WHICH ARE CHARACTERIZED BY X-RAY DIFFERATION GRAPHICS.

Номер патента: AR012734A1. Автор: . Владелец: Ciba SC Holding AG. Дата публикации: 2000-11-08.

DEVICE FOR IRRADIATING BY X-RAYS OF INTERNAL SURFACES OF BODIES

Номер патента: DE69638174D1. Автор: Donald O Smith. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2010-06-10.

Sorting diamonds by x-ray flourescence

Номер патента: AU553934B2. Автор: Albert Peter Hawkins,Nigel Patrick Gordon Wyatt,Hilton Paul Gordon. Владелец: Anglo American Corp of South Africa Ltd. Дата публикации: 1986-07-31.

Rail system and apparatus for photographing by x-ray system

Номер патента: KR100946999B1. Автор: 안판순. Владелец: (주)메디엔인터내셔날. Дата публикации: 2010-03-10.

Hydrosilylation reaction activated by X-ray irradiation

Номер патента: JP5384524B2. Автор: ケルンベルガー アンドレアス. Владелец: Wacker Chemie AG. Дата публикации: 2014-01-08.

Method and system to induce chemical reactions by X-ray irradiation

Номер патента: ES2625692T3. Автор: Curtis A. Birnbach,William H. Joyce,Mark L. Manewitz. Владелец: ADVANCED FUSION SYSTEMS LLC. Дата публикации: 2017-07-20.

Method and system for inducing chemical reactions by x -ray irradiation

Номер патента: IL223049A. Автор: . Владелец: ADVANCED FUSION SYSTEMS LLC. Дата публикации: 2016-07-31.

Detection device for detecting an object by x-ray radiation in different detecting directions

Номер патента: US20080130827A1. Автор: Klaus Klingenbeck-Regn. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2008-06-05.

Method and system for inducing chemical reactions by x-ray irradiation

Номер патента: HUE034585T2. Автор: Curtis A Birnbach,Mark L Manewitz,William H Joyce. Владелец: ADVANCED FUSION SYSTEMS LLC. Дата публикации: 2018-02-28.

Apparatus and method for sorting articles

Номер патента: CA1110996A. Автор: Michael Sayer,Reginald H. Clark,John D. Macarthur,William D. Wilder. Владелец: RESOURCE RECOVERY Ltd. Дата публикации: 1981-10-20.

A method for control of the surface weight of a mineral wool mat

Номер патента: DE2862212D1. Автор: Ulf Aberg,Stellan Dahlberg,Hans Brelen. Владелец: Rockwool AB. Дата публикации: 1983-05-05.

X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20210161493A1. Автор: Saito Yuta. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

Method for manufacturing high-performance composite active material of zinc oxide powder

Номер патента: US20200354227A1. Автор: Zhu-Ting Chen,Shu-Wei Lu. Владелец: Star Mate Ltd. Дата публикации: 2020-11-12.

Photoelectric face forming method for x-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS577043A. Автор: Hiroshi Katagawa. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1982-01-14.

Method for galvanizing and galvannealing employing a bath of zinc and aluminum

Номер патента: CA2351337A1. Автор: Ramchandra S. Patil,Pertti Sippola. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-06-02.

Method for preparing diamino selenone compound under catalysis of zinc acetate

Номер патента: CN110981777A. Автор: 贾姗姗. Владелец: Hangzhou Heteng Biotechnology Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-10.

METHOD AND MEASURING APPARATUS FOR AN X-RAY FLUORESCENCE MEASUREMENT

Номер патента: US20200155088A1. Автор: Gruener Florian,Hoeschen Christoph,BLUMENDORF Florian. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-21.

Electro-optical analyzer for measuring percentage by weight of fat, protein and lactose in milk

Номер патента: CA1147161A. Автор: John Shields. Владелец: Individual. Дата публикации: 1983-05-31.

Novel composition and methods for the treatment of psoriasis

Номер патента: US20120003246A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COMPOUNDS, COMPOSITIONS AND METHODS FOR REDUCING LIPID LEVELS

Номер патента: US20120004223A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003820A1. Автор: FURUYA Akira,Kitamura Takamitsu,Nakata Ken,Makabe Isao,Yui Keiichi. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR MAKING HETEROGENOUS CATALYSTS

Номер патента: US20120004468A1. Автор: "Trejo-OReilly Jose Antonio",Tate James. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003821A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for determining the quantitative composition of a powder sample

Номер патента: US20120002787A1. Автор: Kern Arnt. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2012-01-05.

SUSPENSION OF CELLULOSE FIBERS AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120000392A1. Автор: Isogai Akira,Mukai Kenta,Kumamoto Yoshiaki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR PRODUCING PROPYLENE

Номер патента: US20120004490A1. Автор: Takamatsu Yoshikazu,Miyazaki Ryusuke. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard

Номер патента: CA1218168A. Автор: Pertti Puumalainen. Владелец: Enso Gutzeit Oy. Дата публикации: 1987-02-17.

Method for measuring pcb by x-ray

Номер патента: TWI352209B. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2011-11-11.

Method for measuring PCB by X-ray

Номер патента: TW200935077A. Автор: cheng-hong Zheng. Владелец: Ome Technology Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-16.

METHOD FOR MANUFACTURING SCANDIUM ALUMINUM NITRIDE FILM

Номер патента: US20120000766A1. Автор: Kano Kazuhiko,Nishikubo Keiko,TESHIGAHARA Akihiko,AKIYAMA Morito,Tabaru Tatsuo. Владелец: Denso Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Measuring method for thin plate by x-rays

Номер патента: JPS55109928A. Автор: Katsuhiro Onuki,Kojiro Nakada. Владелец: SHIZUOKAKEN. Дата публикации: 1980-08-23.

X-ray intensity detection device emitted by x-ray tube

Номер патента: CN211478660U. Автор: 李舒,李智文. Владелец: Shanghai Keyway Electron Co ltd. Дата публикации: 2020-09-11.

X-ray fluorescence analyser, and a method for using an x-ray fluorescence analyser

Номер патента: AU2002350756A1. Автор: Heikki Sipila,Unto Paakkinen. Владелец: BS INSTRUMENT TECHNOLOGY Oy. Дата публикации: 2003-01-08.

Method and apparatus for measurement of stress by x-rays

Номер патента: JPH11258186A. Автор: Hiroshi Furuta,啓 古田. Владелец: KANSAI SHINGIJUTSU KENKYUSHO K. Дата публикации: 1999-09-24.

Inspection method by x rays and x-ray inspection device

Номер патента: JPH11304726A. Автор: Hideaki Kitamura,Yoshio Mito,美生 三戸,英明 北村. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1999-11-05.

Method for purifying the electrolyte inthe electrolytic production of zinc

Номер патента: AU2928830B. Автор: Skogmo Clarence Clay Spohn Sivert. Владелец: Norske Zinkkompani AS. Дата публикации: 1931-10-08.

Detecting medical operation dressing by X-ray

Номер патента: CN2236832Y. Автор: 丁永华,阎傲霜. Владелец: Individual. Дата публикации: 1996-10-09.

Method for gamma-analysis

Номер патента: RU2058027C1. Автор: В.Е. Радько. Владелец: Радько Валерий Евгеньевич. Дата публикации: 1996-04-10.

Method for determining front and back of single crystal plate by X-ray diffraction

Номер патента: JP2770232B2. Автор: 芳郎 町谷. Владелец: 理学電機株式会社. Дата публикации: 1998-06-25.

Nondestructive measuring method for body to be measured by x-rays

Номер патента: JPS6426133A. Автор: Yuichi Suzuki. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 1989-01-27.

Stress analysis by x-ray diffraction

Номер патента: CA448162A. Автор: George Firth Francis. Владелец: Philips Lamps Ltd. Дата публикации: 1948-04-27.

One-axis macroscupic tension eveluating by x-ray diffraction

Номер патента: CS182854B1. Автор: Rudolf Fiedler,Miroslav Hnilicka. Владелец: Miroslav Hnilicka. Дата публикации: 1978-05-31.

Determination of vapor coating rate by x-rays

Номер патента: CA803000A. Автор: F. Cilyo Frank. Владелец: United States Steel Corp. Дата публикации: 1968-12-31.

Determination of vapor coating rate by x-rays

Номер патента: AU6791665A. Автор: Frederick Goyo Frank. Владелец: United States Steel Corp. Дата публикации: 1967-06-15.

Determination of vapor coating rate by x-rays

Номер патента: AU287676B2. Автор: Frederick Goyo Frank. Владелец: United States Steel Corp. Дата публикации: 1967-06-15.

Tracer for visualizing convection of melt by x-ray radiographic method

Номер патента: JPS6461657A. Автор: Koichi Kakimoto,Hisao Watanabe,Minoru Eguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1989-03-08.

Non-destructive measurement for object to be measured by x-rays

Номер патента: JPS62103552A. Автор: Yukio Komura,幸夫 香村. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 1987-05-14.

Device for examining materials, especially welded products, by X-rays

Номер патента: SU40467A1. Автор: С.Т. Назаров. Владелец: С.Т. Назаров. Дата публикации: 1934-12-31.

Inspection device for inspecting foreign matter by x-ray

Номер патента: JP2004020297A. Автор: Kunihiro Totani,戸谷 邦博. Владелец: CHUBU MEDICAL KK. Дата публикации: 2004-01-22.

Apparatus for examining serial parts produced by X-rays

Номер патента: SU48880A1. Автор: Ц.Я. Руссо. Владелец: Ц.Я. Руссо. Дата публикации: 1936-08-31.

Connecting device by X-ray tube.

Номер патента: DK27503C. Автор: . Владелец: Fabrikanter Af Elektromedicins. Дата публикации: 1921-04-25.

SYSTEMS AND METHODS FOR X-RAY FLUORESCENCE COMPUTED TOMOGRAPHY IMAGING WITH NANOPARTICLES

Номер патента: US20120307962A1. Автор: Cho Sang Hyun. Владелец: Georgia Tech Resarch Corporation. Дата публикации: 2012-12-06.

X-ray fluorescence intensity correction method in X-ray fluorescence analysis method

Номер патента: JP2513094B2. Автор: 正之 松尾,俊也 土生. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1996-07-03.

X-ray fluorescence analysis sample mask, sample holder, and slag fluorescence X-ray analysis method

Номер патента: JP3628516B2. Автор: 規子 槇石,公 山本,秀雄 圓山. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2005-03-16.

XRF (x-ray fluorescence) melting preparation method for sheet glass sample

Номер патента: CN105203384A. Автор: 徐建平,周双清. Владелец: Wuhan University of Science and Engineering WUSE. Дата публикации: 2015-12-30.

Method for estimating background component of X-ray fluorescence spectrum

Номер патента: JP2619149B2. Автор: 由行 片岡. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 1997-06-11.

Total reflection X-ray fluorescence analyzer and analysis method using total reflection X-ray fluorescence

Номер патента: JP4143399B2. Автор: 博 内原. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2008-09-03.

A kind of method for X-ray fluorescence spectra background rejection

Номер патента: CN104931518B. Автор: 王爱民,赵奉奎. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-07-28.

Method for X-ray fluorescence analysis of surface composition of particulate matter

Номер патента: JP4064552B2. Автор: 徳三 小西,健史 名雪. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2008-03-19.

Device for x-ray/fluorescent analysis

Номер патента: RU2130604C1. Автор: Б.Ж. Жалсараев. Владелец: Геологический институт СО РАН. Дата публикации: 1999-05-20.

X-ray fluorescent spectrometry

Номер патента: CA544342A. Автор: Wytzes Sjoerd. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1957-07-30.

Variable viewfield x-ray fluorescent multiplier tube

Номер патента: JPS54125961A. Автор: Hiroshi Katagawa. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1979-09-29.

X-ray fluorescence apparatus

Номер патента: GB9825653D0. Автор: . Владелец: Bede Scientific Instruments Ltd. Дата публикации: 1999-01-13.

X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: AU2002238054A1. Автор: Lee Grodzins,Hal Grodzins. Владелец: Niton Corp. Дата публикации: 2002-08-19.

X-ray fluorescence spectrometer sample preparation method

Номер патента: TW201035542A. Автор: Guang-Qian Chen,Ming-Chang Xiao. Владелец: China Steel Corp. Дата публикации: 2010-10-01.

X-RAY TUBE AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSER UTILIZING SELECTIVE EXCITATION RADIATION

Номер патента: US20120321038A1. Автор: . Владелец: HEIKKI SIPILA OY. Дата публикации: 2012-12-20.