Method and apparatus for automated adhesive wash-off quality control and root-cause analysis using artificial intelligence
Номер патента: US11842478B2
Опубликовано: 12-12-2023
Автор(ы): Ahmad Mojdehi, Christopher Weller, David John Hill
Принадлежит: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 12-12-2023
Автор(ы): Ahmad Mojdehi, Christopher Weller, David John Hill
Принадлежит: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Wafer Bin Map Based Root Cause Analysis
Номер патента: US20210342993A1. Автор: David Jeffrey Drue,Keleher Michael,Zhu Qing,Burch Richard,Honda Tomonori,Cheong Lin Lee. Владелец: PDF Solutions, Inc.. Дата публикации: 2021-11-04.