Measurement method and device.

Measurement method and device

Номер патента: US20220116128A1
Опубликовано: 14-04-2022
Автор(ы): Fei Wang, Guangyi Liu, Hanning WANG, Jing Jin, Qixing Wang, Yan Li, Yi Zheng
Принадлежит: China Mobile Communications Group Co Ltd, China Mobile Communications Ltd Research Institute
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: US20230421273A1. Автор: Lei Chen,Xi Zhang,Fengwei Liu,Shitong YUAN,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: EP4287691A1. Автор: Lei Chen,Xi Zhang,Fengwei Liu,Shitong YUAN,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: US20220060266A1. Автор: Bo Gao,Zhaohua Lu,Chuangxin JIANG,Shujuan Zhang,Huahua Xiao. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-24.

Beam measurement method, network-side device, terminal device, and storage medium

Номер патента: US12052190B2. Автор: Yu Yang,Xueming PAN,Peng Sun. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Interference measurement method and apparatus for use in distributed antenna system

Номер патента: US09510225B2. Автор: Younsun KIM,Hyoungju JI,Joonyoung Cho,Youngbum Kim,Hyojin Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-11-29.

Interference measurement method and apparatus for use in distributed antenna system

Номер патента: RU2660935C2. Автор: Янсун КИМ,Хиодзин ЛИ,Хиоунгдзу ДЗИ,Дзоонянг ЧО,Янгбум КИМ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2018-07-11.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4135385A1. Автор: Bo Dai,Li Niu,Xiubin Sha. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-02-15.

Interference measurement method, interference processing method, and apparatuses therefor

Номер патента: US20240259845A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Methods and apparatuses for measuring pilot

Номер патента: US09510221B2. Автор: Yunfeng Sun,Senbao Guo,Chenchen Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Quality measurement method, user equipment, and network-side device

Номер патента: US09531486B2. Автор: Peng Zhang,Zongjie Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Measurement method and apparatus, terminal device and network device

Номер патента: US20230080009A1. Автор: Shukun Wang. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-03-16.

Method and apparatus for random interference measurement resource pattern determination

Номер патента: US09426684B2. Автор: Hyo Jin Lee,Youn Sun Kim,Ju Ho Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Perception measurement method, perception measurement indication method, terminal, and network side device

Номер патента: EP4436242A1. Автор: HAO LIU,Jian Yao,Dajie Jiang,Pucong WANG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Interference measurement method, network-side device and terminal device for improving the interference measurement effect and thus the demodulation performance of data and control channels

Номер патента: US09923649B2. Автор: Junfeng Zhang,Yunfeng Sun,Yuhong Gong. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Interference Measurement Method and Device

Номер патента: US20240333407A1. Автор: HAO LIU,Jin Liu,Dajie Jiang,Pu YUAN,Bule SUN,Sihao Shi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-03.

Interference measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4451580A1. Автор: HAO LIU,Jin Liu,Dajie Jiang,Pu YUAN,Bule SUN,Sihao Shi. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Interference measurement indication method, interference measurement method, related device, and communication system

Номер патента: US09735941B2. Автор: Jingyuan Sun,Yongxing Zhou,Liang Xia,Mingyu Zhou,Xiaotao Ren. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Beam measurement method and device, and storage medium

Номер патента: EP4239917A1. Автор: Wei Hong. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-06.

Measuring method, terminal and network side device

Номер патента: AU2019247007B2. Автор: Qian Zheng,Xiaodong Yang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-06.

Sensing measurement method, sensing measurement indication method, terminal, and network side device

Номер патента: US20240314735A1. Автор: HAO LIU,Jian Yao,Dajie Jiang,Pucong WANG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Measurement method, user equipment, base station, and wireless communications system

Номер патента: US09756521B2. Автор: Jing HAN,Dengkun Xiao,Anjian Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Channel measurement method, base station, and ue

Номер патента: EP3654717A1. Автор: Qiang Wu,Kunpeng Liu,Leiming Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-20.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: AU2021283545B2. Автор: Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: US12143839B2. Автор: FENG Ye,Fengwei Liu,Xiaoyong Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: EP4391699A1. Автор: Ting Wang,Jianglei Ma,Yongxia Lyu,Dongdong WEI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Interference measurement method and apparatus for new carrier type

Номер патента: US09520974B2. Автор: Younsun KIM,Seunghoon Choi,Hyojin Lee,Hyoungyoul Yu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-12-13.

Timing measurement method and related device

Номер патента: US12015470B2. Автор: Yuzhou Wang,Fan Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Measurement configuration method, measurement method, network device and terminal

Номер патента: EP4231694A1. Автор: REN Da,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Channel state information measurement method and device, and signal transmission method and device

Номер патента: US09941984B2. Автор: Xin Su,Chuanjun Li. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2018-04-10.

Channel measurement method and device

Номер патента: US12021776B2. Автор: LI SHEN,FENG Qian,Jian Wang,Xiaocui Li,Yifan Xue. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Interference measurement method and apparatus thereof

Номер патента: US20240292256A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Channel measurement method and communication device

Номер патента: EP4027531A1. Автор: Li Fan,Yong Liu,Xiaoyan Bi,Shibin GE,Huangping JIN,Zhimeng ZHONG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

Channel state information measurement method and device, and signal transmission method and device

Номер патента: US20170180064A1. Автор: Xin Su,Chuanjun Li. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2017-06-22.

Channel measurement method and device

Номер патента: EP3926845A1. Автор: LI SHEN,FENG Qian,Jian Wang,Xiaocui Li,Yifan Xue. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-22.

Beam measurement method, measurement configuration method, and apparatus, terminal and network device

Номер патента: EP4412098A1. Автор: HUI Li,Qiubin Gao,Yajuan Luo. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: US20240259118A1. Автор: Han Zhang,Fengyong QIAN,Changqing GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: CA3230606A1. Автор: Han Zhang,Fengyong QIAN,Changqing GENG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-03-09.

Method for controlling inter-cell interference in wireless communication system, and device therefor

Номер патента: US20210111823A1. Автор: Kilbom LEE,Kukheon CHOI,Kyuseok Kim,Minki AHN. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2021-04-15.

Radio resource measurement method, radio resource selection method, and apparatus

Номер патента: US12003993B2. Автор: Qinghai Zeng,Tingting GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Interference measurement method, base station and user equipment

Номер патента: US09774432B2. Автор: Jingyuan Sun,Yongxing Zhou,Liang Xia,David Jean-Marie Mazzarese. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4447530A1. Автор: Peng Sun,Ang Yang,Yuanyuan Wang,Chenglu Jia. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Measurement method and apparatus using multiple frequency partial band in wireless communication system

Номер патента: US12028721B2. Автор: ANIL Agiwal,Jaehyuk JANG,Byounghoon JUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-02.

Radio resource management measurement method and apparatus

Номер патента: US20240356593A1. Автор: Yanhua Li,Rao SHI. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Measurement method and apparatus, and devices

Номер патента: EP4117249A1. Автор: Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-01-11.

Quality of service measurement method and device, and user plane function

Номер патента: EP4050933A1. Автор: Peng Chen,SONG Zhao,Qi Bi. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Inter-cell interference measurement method and device in flexible duplex system

Номер патента: US20180184315A1. Автор: Youn-Sun Kim,Sang-Won Park,Chung-Yong Lee,Hyoung-Ju JI,Sang-Geun Lee. Владелец: University Industry Foundation UIF of Yonsei University. Дата публикации: 2018-06-28.

SSB measurement method and apparatus

Номер патента: US12120559B2. Автор: Jia Liu,Qinghai Zeng,Lili Zheng,Hongping Zhang,Jingxin Wei. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Positioning measurement method, communication apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4383859A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Measurement method and apparatus, related device and storage medium

Номер патента: AU2023219456A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-08-08.

Method and system for measuring interference signal in carrier signal

Номер патента: US09693245B2. Автор: Lei Cao,Ye Zhao,Xiaodong Chen,Shangkun Xiong,Henghua Lin. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Measurement method and apparatus, related device and storage medium

Номер патента: EP4456600A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-10-30.

Cell measurement method and apparatus, devices, and medium

Номер патента: US20240251269A1. Автор: Yi Xiong. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Channel Measurement Method and User Equipment

Номер патента: US20190268795A1. Автор: YE Wu,Xiaobo Chen,Xiaoyan Bi,Huangping JIN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-29.

Signal measurement method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: EP4319244A1. Автор: Ziquan HU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Channel measurement method and apparatus therefor

Номер патента: EP4436278A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Channel state information csi measurement method, terminal, and network-side device

Номер патента: US20240275551A1. Автор: Rakesh Tamrakar,Qianyao REN,Jiangwei YUAN,Kaili ZHENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Channel state information (csi) measurement method, terminal, and network side device

Номер патента: EP4422249A1. Автор: Rakesh Tamrakar,Qianyao REN,Jiangwei YUAN,Kaili ZHENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Ssb measurement method and device

Номер патента: EP4002917A1. Автор: Jia Liu,Qinghai Zeng,Lili Zheng,Hongping Zhang,Jingxin Wei. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-25.

Measurement method and device

Номер патента: US20200322827A1. Автор: Jian Wang,Haibo Xu,Yiru KUANG,Chuting YAO,Delai ZHENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Quality of service measurement method and device, and user plane function entity

Номер патента: US12022314B2. Автор: Peng Chen,SONG Zhao,Qi Bi. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Transmission delay measurement method, positioning method, terminal, base station and storage medium

Номер патента: EP4354986A1. Автор: Jie Li,Xiaojiang Guo. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Measurement method and device, information interchange method and device, and residence method and device

Номер патента: US09967765B2. Автор: BO Lin,Hao Bi,Jie Shi,Yajuan LI,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Minimization of drive test (mdt) configuration method and device, and mdt measurement method and device

Номер патента: EP3716676A1. Автор: Xiaodong Yang,Boubacar KIMBA DIT ADAMOU. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-30.

Measurement method and device

Номер патента: US12069499B2. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US20180184316A1. Автор: Lili Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Measurement method and apparatus, and communications node

Номер патента: US09980164B2. Автор: BO Lin,Jie Shi,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Channel state information measurement method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240243826A1. Автор: Qin MU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Non-public network measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: CA3182422A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Jiajun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Non-public network measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US20230199892A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Jiajun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Method and apparatus for measuring sidelink

Номер патента: US12052738B2. Автор: XING Yang. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US12028728B2. Автор: Rui Wang,Qinghai Zeng,Hongping Zhang,Tingting GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Time slot-free measurement method and apparatus

Номер патента: EP4117337A1. Автор: Le Jin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Radar measurement method and apparatus

Номер патента: US20220066018A1. Автор: Li Yan,Xiao Han,YAN Long,Jian Yu,Rui Du,Chenchen LIU,Meihong ZHANG,Cailian DENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-03.

Gap-free measurement method and apparatus

Номер патента: US20230247460A1. Автор: Le Jin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Method of measurement, method of cell measurement, communication device and communication node

Номер патента: RU2669795C1. Автор: Бо ЛИНЬ,Цзе ШИ,Ли ЧАЙ. Владелец: Хуавей Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-10-16.

Measurement method, terminal device, and network side device

Номер патента: EP4132071A1. Автор: Yumin Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Measurement method, terminal device, and network side device

Номер патента: US20230019838A1. Автор: Yumin Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Measurement method, device, and storage medium

Номер патента: EP4266735A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2023-10-25.

Measurement method, device and storage medium

Номер патента: US20240056860A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-02-15.

Measurement method and device

Номер патента: US20210345152A1. Автор: Xiaodong Yang,Boubacar KIMBA DIT ADAMOU. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Measurement method and device

Номер патента: EP3913956A1. Автор: Xiaodong Yang,Boubacar KIMBA DIT ADAMOU. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-24.

Measuring method and device in dc operation

Номер патента: EP3902318A1. Автор: Min Xu. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-27.

Channel state information reference resource indication and measurement method and device

Номер патента: US09655109B2. Автор: Ying Peng,Qiubin Gao,Hao Ni. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2017-05-16.

Reference signal measurement method and terminal devices

Номер патента: EP3883275A1. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-22.

Method and node for interference measurement via inter-cell cooperation

Номер патента: US09838189B2. Автор: Yong Zheng,Yu Ngok Li,Yunfeng Sun. Владелец: Xian Zhongxing New Software Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Reference signal measurement method and terminal device

Номер патента: US12035344B2. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Method for managing radio resource in multi-cell wireless communication system and device therefor

Номер патента: US09775066B2. Автор: Hanbyul Seo,Seungmin Lee,Inkwon Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-09-26.

Measuring method and apparatus in wireless communication system

Номер патента: US09781002B2. Автор: Hanbyul Seo,Hakseong Kim,Inkwon Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-10-03.

Measuring method and apparatus in wireless communication system

Номер патента: US20140313925A1. Автор: Hanbyul Seo,Hakseong Kim,Inkwon Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2014-10-23.

Positioning measurement method and apparatus therefor

Номер патента: US20240314729A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Congestion measurement method and network node

Номер патента: EP3975483A1. Автор: LIANG Cheng,Dongfeng Li,Hongliang Gao,Xiaogang LU,Juanna Dang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-30.

Channel quality measurement method and apparatus

Номер патента: US12058729B2. Автор: Jun Li,Zhe Jin,Zhihu LUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Measurement gap parameter configuration method, reference signal measurement method, and device

Номер патента: EP3972328A1. Автор: Nathan Edward Tenny,Bingzhao Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Cell measurement method and apparatus

Номер патента: US12058550B2. Автор: Qinghai Zeng,Lili Zheng,Hongping Zhang,Xingxing HU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Measuring method, network device, and terminal device

Номер патента: EP3726910A1. Автор: Cong Shi. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2020-10-21.

Cqi measurement method, apparatus, and wireless communications system

Номер патента: US20190097781A1. Автор: Hao Tang,Zhengwei Gong. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-28.

Measurement method, terminal device, and network device

Номер патента: US20220167370A1. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-26.

Measurement gap parameter configuration method, reference signal measurement method, and device

Номер патента: US11800470B2. Автор: Nathan Edward Tenny,Bingzhao Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Wireless communication method and device

Номер патента: RU2710207C1. Автор: Хай ТАН. Владелец: Гуандун Оппо Мобайл Телекоммьюникейшнз Корп., Лтд.. Дата публикации: 2019-12-25.

Measurement method and device

Номер патента: EP3840457A1. Автор: Dajie Jiang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-23.

Measurement method and device, user equipment, network side equipment, and storage medium

Номер патента: EP4451730A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Measurement method, measurement configuration method, and related communication apparatus

Номер патента: EP4408070A1. Автор: Hong Li,LI ZHANG,Jing HAN,Zhongyi SHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Measurement method and apparatus, device, and readable storage medium

Номер патента: EP4456599A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US20240323741A1. Автор: Peng Sun,Ang Yang,Yuanyuan Wang,Chenglu Jia. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Signal resource measurement method and terminal

Номер патента: US12063557B2. Автор: Li Chen,Xueming PAN,Kai Wu,Xiaodong Shen,Dajie Jiang,Qianyao REN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Radio resource measurement method and apparatus

Номер патента: EP4401457A1. Автор: LI ZHANG,Weidong He,Pan Liu,Bo HAO,Yubo Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Radio resource measurement method and apparatus

Номер патента: US20240244463A1. Автор: LI ZHANG,Weidong He,Pan Liu,Bo HAO,Yubo Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Measurement method for ue, terminal device and network device

Номер патента: US20230088518A1. Автор: Rongyi HU. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-03-23.

RSSI Measurement Method, Network Device, and Terminal Device

Номер патента: US20190081714A1. Автор: Lei Huang,Jin Liu,Jun Luo,Zhengzheng XIANG,Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-14.

Measurement method, terminal device, and network device

Номер патента: EP4236429A1. Автор: Jiangsheng FAN. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-08-30.

Electronic apparatus in wireless communication system, and mobility measurement method

Номер патента: US12058756B2. Автор: Zhongbin Qin. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Measurement method and device

Номер патента: US11923912B2. Автор: Dajie Jiang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Measurement method, terminal device, and network device

Номер патента: US20230308924A1. Автор: Jiangsheng FAN. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-28.

Measurement Method And Device For Wireless Network Communication System

Номер патента: US20120120810A1. Автор: Yan Wang,Xiaodong Yang,Jinbo Zhao,Meili Liu. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2012-05-17.

Method and device for measuring reference signal

Номер патента: EP3927004A1. Автор: Jian Wang,Haibo Xu,Chuting YAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-22.

Reference Signal Measurement Method and Device

Номер патента: US20220191754A1. Автор: Jian Wang,Haibo Xu,Chuting YAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-16.

Method and device for minimizing drive test logging measurement

Номер патента: US09973954B2. Автор: LEI Jin,Ying Huang,Hongzhuo Zhang,Dongmei Zhang,Johan Johansson. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Measurement method and apparatus, measurement configuration method and apparatus, terminal, and network side device

Номер патента: EP4404621A1. Автор: Xiaodong Yang,Yangyang Wang,Wei Bao,Xuanbing Liu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Sensing measurement method and related apparatus

Номер патента: EP4412296A1. Автор: Xun Yang,Chenchen LIU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Measurement method and apparatus, and terminal

Номер патента: US20240349213A1. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Error measurement and compensation methods, and apparatus

Номер патента: EP4383862A1. Автор: REN Da,Zhenyu Zhang,Xiaotao Ren,Bin Ren,Rongyi FANG. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Intra-frequency intra-system measurement method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240323792A1. Автор: Xiaoxin HU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Method and apparatus for efficiently controlling inter-cell interference power in a wireless communication system

Номер патента: US09730054B2. Автор: Gert Jan Van Lieshout,Soeng Hun Kim,Kyeong In Jeong,Sang Bum Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-08.

Method and measuring system for the measurement and testing of a mobile-telephone device

Номер патента: US09629001B2. Автор: Adrian Schumacher,Andreas Michl. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-04-18.

Measurements method and device

Номер патента: RU2663183C1. Автор: Чжэньсин ХУ,Вэй ЦЮАНЬ,Цзянь Чжан,Сяодун Ян,Бинчжао ЛИ,Цзиньхуа МЯО. Владелец: Хуавей Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-08-02.

Measurement method, measurement configuration method, terminal, and base station

Номер патента: EP4422263A2. Автор: Li Chen,Xueming PAN,YU Ding,Kai Wu,Xiaodong Shen,Dajie Jiang,Fei Qin. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Measurement method, measurement configuration method, terminal, and base station

Номер патента: EP4422263A3. Автор: Li Chen,Xueming PAN,YU Ding,Kai Wu,Xiaodong Shen,Dajie Jiang,Fei Qin. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-13.

Measurement method, base station, and user equipment

Номер патента: US09900900B2. Автор: Juan Zheng,Sha Ma,Zhiyu Yan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Measurement method, user equipment, and network side device

Номер патента: US12101654B2. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Measurement method, measurement indication method, and device

Номер патента: EP4009690A1. Автор: Li Chen,Kai Wu,Yanliang SUN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-08.

Method and device in nodes used for wireless communication

Номер патента: US20240298342A1. Автор: QI JIANG,Xiaobo Zhang. Владелец: Shanghai Langbo Communication Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Channel measurement method and apparatus, and electronic device and computer readable storage medium

Номер патента: EP4050820A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-08-31.

Channel measurement method and apparatus, electronic device and computer-readable storage medium

Номер патента: US20220393912A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Directional measurement method and device

Номер патента: US20220337304A1. Автор: Liang Qiao,Weiwei Fan,Jiayin Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-20.

Directional measurement method and device

Номер патента: EP4075681A1. Автор: Liang Qiao,Weiwei Fan,Jiayin Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-19.

Cell measurement method and apparatus, and device and storage medium

Номер патента: EP4054235A1. Автор: Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2022-09-07.

Measurement method and apparatus, and device

Номер патента: US12082005B2. Автор: Jianqin Liu,Xiaolei Tie,Zhanzhan ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Multi-antenna noise power measuring method and apparatus

Номер патента: US09967041B1. Автор: Yan-Neng Chang. Владелец: Ambit Microsystems Shanghai Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Positionining measurement method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: US20240288570A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Location measuring method and apparatus using access point for wireless local area network service and method for estimating location coordinate of access point

Номер патента: US09918297B2. Автор: Seung-Hyuk JEONG. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Location measuring method and apparatus using access point for wireless local area network service and method for estimating location coordinate of access point

Номер патента: US09661600B2. Автор: Seung-Hyuk JEONG. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Sidelink positioning signal scheduling method and apparatus, terminal, and network side device

Номер патента: EP4456644A1. Автор: YE Si,Huaming Wu,Zixun ZHUANG,Yuanyuan Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Cell measurement method and related apparatus

Номер патента: US20230300701A1. Автор: Quan Zhou,Yanchun Wang,Guojun Yue. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Positioning measurement method and apparatus

Номер патента: US20230370995A1. Автор: Yinghao JIN,Jinping HAO,Yinghao GUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Video streaming method and device

Номер патента: RU2492588C2. Автор: Срисакул ТАКОЛСРИ,Вольфганг КЕЛЛЕРЕР. Владелец: Нтт Докомо, Инк.. Дата публикации: 2013-09-10.

Method and device for application settings upload

Номер патента: RU2346408C2. Автор: Йохан КАРЛБЕРГ. Владелец: Сони Эрикссон Мобайл Коммьюникейшнз Аб. Дата публикации: 2009-02-10.

Evm measurement method, transmitter and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240364444A1. Автор: Kun Niu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Measurement method using synchronization signal block, terminal device, and base station

Номер патента: US12069599B2. Автор: Lei Chen,Hong Wang,Bin Xu,Zonghui XIE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Positioning sensing method and apparatus, sensing measurement method and apparatus, and terminal and network-side device

Номер патента: EP4456625A1. Автор: Jian Yao,Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Information measurement method and apparatus

Номер патента: EP4436124A1. Автор: Xiangyang Zhu,Jinghai YU,Yufang HAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Positioning sensing method and apparatus, sensing measurement method and apparatus, terminal, and network-side device

Номер патента: US20240353523A1. Автор: Jian Yao,Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Mobility measurement method and apparatus

Номер патента: EP4187958A1. Автор: Tingting GENG,Yedan WU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-31.

Network traffic marking and measurement methods and node

Номер патента: US11252266B2. Автор: Zhe Chen,Chuang WANG,Delei Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Performance measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US12120008B2. Автор: Zheng Zhang,Min Xiao,Jun Guo,Quan XIONG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Cell measurement method, cell measurement configuration method and apparatus, device, and medium

Номер патента: US20240292295A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Communication-quality measuring apparatus, communications terminal device, communication-quality measuring method, and computer program

Номер патента: US20090185504A1. Автор: Masanobu Morinaga,Noriyuki Fukuyama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-07-23.

Performance measurement method, device, and system

Номер патента: EP4221129A1. Автор: Yali Wang,Tianran ZHOU,Jingrong Xie. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

Carrier selection method for positioning measurement, positioning measurement method, positioning processing apparatus, and terminal

Номер патента: US09451534B2. Автор: Jie Cui,Dengkun Xiao,Yuanfeng Du. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Packet measurement method, device, and system

Номер патента: US12021741B2. Автор: WEI Xue,JinMing Huang,Weidong SHAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Cell measurement method, radio communication apparatus and storage medium

Номер патента: EP4250816A1. Автор: Jun Liu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-27.

Cell measurement method, user equipment and base station

Номер патента: US09648553B2. Автор: Yuhua Chen,Wei Quan,Lixia Xue,Pengyu JI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Communication device, voltage measurement method and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4403940A1. Автор: Han Li,Zheng Liu,Chao Lin,Dian Xu,Quan HU,Lingui XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Label-based measurement method, apparatus, and system

Номер патента: US09584396B2. Автор: Guoyi Chen,Lianshu Zheng. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Channel measurement method and apparatus, lbt failure reporting method and apparatus, and device

Номер патента: EP4247098A1. Автор: Jinhua Liu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Cloud-connected smart sensing and measurement method for resource dispensers

Номер патента: US20230166962A1. Автор: Kevin FERENC,Arindam Chakraborty,Kevin Brockman,Brandon Feil,Brian Olmstead. Владелец: Zurn Industries LLC. Дата публикации: 2023-06-01.

Throughput measuring method, computer readable medium, and apparatus

Номер патента: US20160261479A1. Автор: Yuji Nomura,Sumiyo Okada,Naoyoshi OHKAWA,Fumiyuki lizuka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-09-08.

Methods and device to reduce the requirements for memory for software applications in the process control systems

Номер патента: RU2634220C2. Автор: Дэвид Кёртис ИНГРЭМ. Владелец: ФИШЕР КОНТРОЛЗ ИНТЕРНЕШНЕЛ ЛЛС. Дата публикации: 2017-10-24.

Method and device for analysis of social relations

Номер патента: RU2656694C1. Автор: Хайбинь ВЭН,Хучэн ХУАН,Хуэй ГЭН. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2018-06-06.

Method and device for reception and removal of information concerning objects of digital rights

Номер патента: RU2347266C2. Автор: Биунг-рае ЛИ,Тае-Сунг КИМ,Киунг-им ДЗУНГ,Юн-санг ОХ,Шин-хан КИМ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2009-02-20.

Measuring method and device

Номер патента: EP3780276A1. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Automatic measuring method and apparatus for measuring connecting lines

Номер патента: US20130066580A1. Автор: Chang-Yi Chen,Shih-Tung Lin,Chen-Yung Lin. Владелец: Taiwan Luxshare Precision Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Optical fiber length measurement method and apparatus

Номер патента: US09945659B2. Автор: FAN He,Jian Yin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Beam measurement method and apparatus, user equipment, network device and storage medium

Номер патента: EP4436070A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Optical signal-to-noise ratio measurement method and apparatus, and computer storage medium

Номер патента: US20240235672A1. Автор: Hu Shi,Yinqiu JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Chromatic dispersion measurement method and device and digital coherent receiver

Номер патента: US09929801B2. Автор: Yi Cai,Zhensheng JIA,Yangzhong Yao,Yunpeng Li,Weiqin Zhou. Владелец: Sanechips Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Power measurement method and apparatus, and storage medium and program product

Номер патента: EP4447344A1. Автор: Dong Zhou,Liyuan ZHONG,Jiangtao Chen,Longming Zhu,Dao TIAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20220029718A1. Автор: Florian Ramian,Florian GERBL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-27.

Distance measurement method and distance measurement apparatus

Номер патента: US12146937B2. Автор: Genming Ding,Yanong HE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Intelligent real-time full-field measurement method and system for high-repetition-rate femtosecond pulse

Номер патента: US12095501B2. Автор: Zhongmin Yang,Xiaoming Wei,Xiaoxiao WEN,Yueyi Sun. Владелец: South China University of Technology SCUT. Дата публикации: 2024-09-17.

Raman gain measuring method and apparatus

Номер патента: US20040207909A1. Автор: Yasuyuki Nagao,Takayuki Miyakawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-10-21.

Method and system for extraction of noise parameters of nonlinear devices

Номер патента: US09929757B2. Автор: Michael Himmelfarb,Leo BELOSTOTSKI. Владелец: UTI LP. Дата публикации: 2018-03-27.

Measurement method and device

Номер патента: US11933828B2. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Actuator ring characteristic measurement method

Номер патента: US09716833B2. Автор: Shoichiro Sengoku. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

On-machine real-time measurement method and system for full-closed loop five-axis computer numerical control (cnc) machine tool

Номер патента: US20240338004A1. Автор: Hang Gao,Yuwen SUN,Xiaolong Yin,Jinting XU. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2024-10-10.

On-machine real-time measurement method and system for full-closed loop five-axis computer numerical control (CNC) machine tool

Номер патента: US12117793B1. Автор: Hang Gao,Yuwen SUN,Xiaolong Yin,Jinting XU. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2024-10-15.

Optical measuring method and optical measuring apparatus

Номер патента: US12025427B2. Автор: Peter Fritz,Konrad Klein,Anders ADAMSON. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Physiological signal measurement system, physiological signal measurement method, and mobile device protective case

Номер патента: US20240115151A1. Автор: Chun Liu,Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-11.

Quality measurement method and quality measurement device for long sheet material

Номер патента: US20210223171A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-07-22.

Quality measuring method and quality measuring device for long sheet material

Номер патента: EP3805733A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-04-14.

Device, method and system for generating dynamic projection patterns in a camera

Номер патента: EP4372447A3. Автор: Michael Tewes. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-06-26.

Method and apparatus for measuring depth of field

Номер патента: US20120114182A1. Автор: Yung-Hsin Liu. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2012-05-10.

Method and apparatus for determining location by correcting global navigation satellite system based location and electronic device thereof

Номер патента: US12025714B2. Автор: Young Su Kang. Владелец: Thinkware Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Wearable electronic apparatus, body temperature measurement method, and wearable electronic device

Номер патента: US20240315569A1. Автор: Yi Liu,Chenlong Li,Chao Yao,Lipeng QI. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Method and apparatus for determining location by correcting global navigation satellite system based location and electronic device thereof

Номер патента: US20240345261A1. Автор: Young Su Kang. Владелец: Thinkware Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Physical properties measuring method and apparatus

Номер патента: US20110304724A1. Автор: Takashi Yamazaki,Takeshi Soeda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-12-15.

Physical properties measuring method and apparatus

Номер патента: US8780193B2. Автор: Takashi Yamazaki,Takeshi Soeda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-07-15.

Workpiece measurement method in machine tool and machine tool

Номер патента: US20240342806A1. Автор: Hideki Nagasue. Владелец: DMG Mori Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Sensor device for reading information on a golf throw and a measurement method using a system

Номер патента: RU2736259C1. Автор: Джи Хван КВОН,Донг Джин ХУР. Владелец: Голфзон Ко., Лтд.. Дата публикации: 2020-11-12.

Measurement Method And System

Номер патента: US20230161155A1. Автор: Eric Teller. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-05-25.

Measurement method and system

Номер патента: US09952427B2. Автор: Eric Teller. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2018-04-24.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Measurement Method of MEMS In-plane Vibration Characteristics Based on Polarization Imaging

Номер патента: AU2021104717A4. Автор: Jie Dong,Mei SANG,Minhui Yu. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-09-30.

Track deviation measuring method and track deviation measuring apparatus

Номер патента: US5822491A. Автор: Toyotaka Machida,Masamichi Sasaki,Osamu Samuta. Владелец: Victor Company of Japan Ltd. Дата публикации: 1998-10-13.

Resolution measurement method, resolution measurement system, and program

Номер патента: US20240121380A1. Автор: Kouichi Toda. Владелец: Leader Electronics Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20190175034A1. Автор: Asao Hirano. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product for a stereoscopic display

Номер патента: US20140160469A1. Автор: Yu-Han Chen,Kuen Lee,Kuo-Chung Huang,Ching-Chiu Liao,Wen-Hui Chang,Hoang-Yan Lin,Lang-Chin Lin,Yi-Heng Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-06-12.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20190391237A1. Автор: Katsuya Ikezawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Single-camera system for measuring a vehicle distance and measurement method thereof

Номер патента: US09964406B2. Автор: Songwei Lin,Gang LONG. Владелец: Protruly Vision Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Sea surface temperature measurement method

Номер патента: AU2021106031A4. Автор: Bin Tian,Wenbo BO,Hao CHA,Dongli DENG,Mengda CUI. Владелец: Pla Naval Engineering Univ. Дата публикации: 2021-10-28.

Method and device for capturing images

Номер патента: RU2658116C2. Автор: Илья САФОНОВ. Владелец: Нокиа Текнолоджиз Ой. Дата публикации: 2018-06-19.

Electronic device controlling method and device and terminal

Номер патента: RU2669575C2. Автор: Цзыгуан ГАО,Сяо ЧЖАН,Юнли СУНЬ. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2018-10-12.

Position measuring apparatus, position measuring method, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US20150219438A1. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans,Richard Johannes Franciscus Van Haren,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Justin Lloyd KREUZER,Gerrit Johannes Nijmeijer,J. Christian Swindal. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2015-08-06.

Position measuring apparatus, position measuring method, lithographic apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: JP6095786B2. Автор: ボーフ，アリーデン,クロイツァー，ジャスティン,マタイセン，サイモン，ガイスベルト，ヨセフス,ナイマイアー，ゲリット，ヨハネス,スウィンダル，ジェイ．クリスチャン,アロイシウスヤコブスティネマンズ，パトリシウス,アロイシウスヤコブスティネマンズ，パトリシウス,ハレン，リチャードヴァン. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2017-03-15.

Position measuring apparatus, position measuring method, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: WO2014053334A1. Автор: Arie Den Boef,Richard Van Haren,Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Gerrit Johannes Nijmeijer,Justin Kreuzer,J. Christian Swindal. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2014-04-10.

Position measuring apparatus, position measuring method, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US9506743B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans,Richard Johannes Franciscus Van Haren,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Justin Lloyd KREUZER,Gerrit Johannes Nijmeijer,J. Christian Swindal. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2016-11-29.

Measuring method, measuring apparatus and device manufacturing method

Номер патента: CN108431692B. Автор: A·J·登鲍埃夫,理查德·金塔尼利亚. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-06-18.

Surface position measuriing apparatus, surface position measuring method, exposure apparatus and device fabrication method

Номер патента: TWI464541B. Автор: 日高康弘,石川元英. Владелец: 尼康股份有限公司. Дата публикации: 2014-12-11.

The measurement method of planeness and device of fluorescent wheel in a kind of laser light source

Номер патента: CN105300325B. Автор: 赵飞,刘显荣. Владелец: Hisense Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

A method and a device for injecting a high frequency current vector which has a fixed angle with respect to the measured current vector flowing in a machine

Номер патента: EP4120551A1. Автор: Nicolas Voyer,Guilherme BUENO MARIANI,Gianmario PELLEGRINO,Anantaram Varatharajan. Владелец: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe BV Netherlands. Дата публикации: 2023-01-18.

Method and device for injecting high frequency current vector

Номер патента: WO2023286497A1. Автор: Nicolas Voyer,Guilherme BUENO MARIANI,Gianmario PELLEGRINO,Anantaram Varatharajan. Владелец: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V.. Дата публикации: 2023-01-19.

Induction cooker temperature measuring method and device and readable storage medium

Номер патента: EP3693668A1. Автор: Wei Chen,Shuai Wang,Zhao Wang,Xiaohui Li,Shaohua HE. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Measurement method and device of light source parameters, illumination system and terminal apparatus

Номер патента: US12058794B2. Автор: Wei Wang,Jun Wu,Yalong Liu,Zhixian ZHOU. Владелец: Suzhou Op Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Capacitance value measurement method and device

Номер патента: US20190064240A1. Автор: Yongqian Li,Xuehuan Feng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Device for measuring the variation of a capacitance and associated measuring method

Номер патента: US09689907B2. Автор: Xavier Hourne. Владелец: Continental Automotive France SAS. Дата публикации: 2017-06-27.

Distance measurement method, apparatus, and device, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4235092A1. Автор: Yufeng Zheng,Zhigang Guo,Houming ZHAI,Mingsong SHAO,Qiulai GUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Temperature measurement circuit, temperature and light intensity measurement circuit, temperature measurement method and temperature and light intensity measurement method

Номер патента: US12123788B2. Автор: Fulin Li,Haixiang Wang,Chuanlin LI. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240280383A1. Автор: Hikaru Fujiwara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Overlay measurement method, semiconductor device manufacturing method using the same, and overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230074537A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Base station antenna and measurement method and measurement device for azimuth angle thereof, medium, and base station

Номер патента: EP4386418A1. Автор: Jinye HE,Shangmin CHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US20150221482A1. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Plasma measurement method and plasma processing apparatus

Номер патента: US20240274417A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Plasma Measuring Method and Plasma Processing Apparatus

Номер патента: US20240290589A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Measurement method and measurement unit for delta-sigma type data converter

Номер патента: US09705528B2. Автор: Mitsutoshi Sugawara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US09412565B2. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Breakdown voltage measuring method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09799506B2. Автор: Mitsuhiko Sakai. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Substrate measurement method and substrate measurement control apparatus

Номер патента: US20240219297A1. Автор: Hark Ryong KIM,Dong Seop JUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Measurement method and apparatus for semiconductor features with increased throughput

Номер патента: EP4453654A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Oliver Malki,Alex Buxbaum,Johannes Persch,Alexander Freytag,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-10-30.

Method and circuit for operation of capacitance micro electromechanical transducer with analog recovery

Номер патента: RU2431150C2. Автор: Гюнтер ШПАХЛИНГЕР. Владелец: Норсроп Груман Литеф Гмбх. Дата публикации: 2011-10-10.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Frequency measuring method and frequency measuring device

Номер патента: EP3715875A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Lidar measuring method and device with sub-pulses produced by birefringence in the laser resonator

Номер патента: US20240353541A1. Автор: Jens Ebbecke. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-10-24.

Method and system of measuring semiconductor device and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US9991174B2. Автор: Jihye Lee,Choonshik Leem,Deokyong KIM,Soobok CHIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-06-05.

Electronic component thickness measurement method, method for manufacturing a series of electronic components using the measurement method, a series of electronic components manufactured by the manufacturing method, and electronic component inspection apparatus

Номер патента: US09404732B2. Автор: Yoshinao Nishioka,Masayoshi HARUKI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Shape measurement method, and system therefor

Номер патента: US09354049B2. Автор: Atsushi Miyamoto,Maki Tanaka,Manabu Yano,Akira Hamamatsu,Chie Shishido. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Thin films measurement method and system

Номер патента: US7595896B2. Автор: Moshe Finarov,Yoel Cohen,Klara Vinokur. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2009-09-29.

Thin films measurement method and system

Номер патента: US7327476B2. Автор: Moshe Finarov,Yoel Cohen,Klara Vinokur. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2008-02-05.

Overlay measurement method and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20240219845A1. Автор: Jeongjin Lee,Jinsun KIM,Seunghak Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-04.

Device for measuring shaft voltage of generator, measuring method and application

Номер патента: NL2031482B1. Автор: Wang Yang,XU Mingxing,LEI Huan,He Yuling. Владелец: North China Electric Power Univ Baoding. Дата публикации: 2023-03-23.

Thin films measurement method and system

Номер патента: US20080204721A1. Автор: Moshe Finarov,Yoel Cohen,Klara Vinokur. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-08-28.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20210262987A1. Автор: Tong Wu,Satoshi Nomura,Takayuki Hatanaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-08-26.

Probe apparatus, and measurement method and measurement system of junction resistance of superconducting qubit

Номер патента: US20240329162A1. Автор: Fu Zhang,HUI Zhang,Yao Liu,Yongjie Zhao,Xiansheng JIN. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Measuring method and semiconductor structure forming method

Номер патента: US11747131B2. Автор: Che-Hui Lee,Pradip Girdhar Chaudhari. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Particulate contamination measurement method and apparatus

Номер патента: US09638643B2. Автор: Jacques Cor Johan Van der Donck,Antonius Martinus Cornelis Petrus De Jong. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-05-02.

Method and apparatus for coherence enhancement of sweep velocity locked lasers via all-electronic upconversion

Номер патента: US20190027897A1. Автор: Tao Wei,Zhen Chen,Gerald Hefferman. Владелец: Rhode Island Board of Education. Дата публикации: 2019-01-24.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240085355A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240099059A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240243017A1. Автор: Satoru Tomita,Noriyuki Hirata. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Temperature measurement and temperature calibration methods and temperature measurement system

Номер патента: US12007289B2. Автор: ShihChieh LIN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Overlay measuring method and system, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US09455206B2. Автор: Yu-Sin Yang,Chung-Sam Jun,Woo-Seok Ko,Sang-Kil Lee,Seong-Jin Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-27.

Method of manufacturing circuit pattern structure and measurement method

Номер патента: US20240170345A1. Автор: Chih-Cheng LEE,Yu-Kai Lin. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Method and ring oscillator for evaluating dynamic circuits

Номер патента: US20030071692A1. Автор: Nghia Van Phan,Todd Alan Christensen,Anthony Gus Aipperspach,Peter Thomas Freiburger,David Michael Friend. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-04-17.

Optic measuring system, and measuring method of critical size of nanostructures on flat surface

Номер патента: RU2481555C1. Автор: Михаил Николаевич Рычагов,Максим Владимирович Рябко,Сергей Николаевич Коптяев. Владелец: Корпорация "САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС Ко., Лтд.". Дата публикации: 2013-05-10.

Measurement method of subcell photocurrents and their matching degree of a multi-junction photovoltaic cell

Номер патента: US20220311381A1. Автор: Jianrong Dong,Yurun SUN,Shuzhen YU,Ancheng WANG,Jiajing YIN. Владелец: Suzhou Institute of Nano Tech and Nano Bionics of CAS. Дата публикации: 2022-09-29.

Measurement method, manufacturing method of device, and measurement system

Номер патента: US09972547B2. Автор: Koutarou Sho. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Film thickness measurement method, film thickness measurement device, and film formation system

Номер патента: US12018928B2. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Semiconductor device measurement method

Номер патента: US20220077004A1. Автор: Hongxiang Li. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-03-10.

Measurement method and apparatus for tab

Номер патента: EP4443527A1. Автор: Yang Lei,Wen Chang,Jun Hu,Qing Wu,Pengfei Duan,Dajun NI,Canbin CHEN,Shiping FENG,Qiuhui ZHENG,Haoran LU,Baiquan ZHAO. Владелец: Contemporary Amperex Technology Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Single-resistor measurement method, electric motor control method, electric motor controller, and electric motor control system

Номер патента: EP4443737A1. Автор: Hong Bin,Kai Zhang,Xiaoan Zhao,Haijin YANG. Владелец: Guangdong Welling Motor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Power transmission line dip measurement method

Номер патента: EP2194623B1. Автор: Seon Ung O,Chul Won Seo,Baek Seob Sim. Владелец: KPS Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-22.

Swept light source and drive data generation method and optical deflector for swept light source

Номер патента: US11721948B2. Автор: Takashi Sakamoto,Masahiro Ueno,Seiji Toyoda,Tadashi Sakamoto,Yuzo Sasaki,Joji Yamaguchi,Yuichi Akage,Meishin Chin,Shoko Tatsumi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Single-resistor measurement method, motor control method, controller, and control system

Номер патента: US20240322715A1. Автор: Hong Bin,Kai Zhang,Xiaoan Zhao,Haijin YANG. Владелец: Guangdong Welling Motor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Battery insulation resistance measurement methods, insulation resistance measurement methods, insulation resistance determination apparatuses, and articles of manufacture

Номер патента: US09581652B2. Автор: Aaron Klijn. Владелец: VALENCE TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-02-28.

Wafer measuring method and device, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20220327682A1. Автор: Sheng-Tsung Tsao. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-10-13.

Measurement method for solar cell module

Номер патента: EP4191867A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-06-07.

Measurement method for photovoltaic module

Номер патента: US20230299716A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Overlay mark forming Moire pattern, overlay measurement method using same, overlay measurement apparatus using same, and manufacturing method of semiconductor device using same

Номер патента: US12107052B2. Автор: Hyun Chul Lee,Hyun Jin Chang. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

SiC WAFER DEFECT MEASURING METHOD, REFERENCE SAMPLE, AND METHOD OF MANUFACTURING SiC EPITAXIAL WAFER

Номер патента: US20190331603A1. Автор: Koji Kamei. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2019-10-31.

Pattern Measuring Method, Pattern Measuring Tool and Computer Readable Medium

Номер патента: US20190378679A1. Автор: Makoto Suzuki,Shunsuke Mizutani,Uki Ikeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Battery controller and battery level measurement method thereof

Номер патента: US11750005B2. Автор: Chin-Ming Chen,Mu-Min LIN,Cheng-Chien Huang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Measuring method

Номер патента: US20230243639A1. Автор: Yasukuni NOMURA. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (VCSEL) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US11482830B2. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-25.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (vcsel) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US20210075185A1. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Method and device for measuring semiconductor multilayer structure based on second harmonic

Номер патента: US20240038600A1. Автор: Weiwei Zhao,Chongji Huang,Puxi ZHOU. Владелец: Shanghai Aspiring Semiconductor Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Measurement method, measurement device, and measurement program

Номер патента: US20150106045A1. Автор: Masahiro Morooka,Jusuke Shimura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-04-16.

Adhesion strength measurement system for wet electrode specimen and adhesion strength measurement method for wet electrode specimen using the same

Номер патента: US20240219291A1. Автор: Sung Soo Yoon,Je Gwon Lee,Young Seok Kim,Woo Ha Kim,Joo Yong Park,Ji Hee YOON,Hye Jin Sim,Hyeon Jeong Kang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Curved battery cell thickness measuring device including low measuring pressure calipers and curved battery cell thickness measuring method using same

Номер патента: EP4450915A1. Автор: Min Jung Kim,Dong Hun SONG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Measuring method and device for measuring deflections at stator end windings

Номер патента: AU2016201822A1. Автор: Peter Ullrich Arend. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2016-10-13.

Gigahertz transverse electromagnetic (gtem) cell for measuring insertion loss and insertion loss measurement method using the gtem cell

Номер патента: US20180188303A1. Автор: Jong Hwa Kwon,Jung Hwan Hwang. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2018-07-05.

Mark position measuring method and apparatus

Номер патента: US20080030733A1. Автор: Yukihiro Yokota,Nozomu Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2008-02-07.

TFT device for measuring contact resistance and measurement method for contact resistance

Номер патента: US09970978B1. Автор: Bo Sun,Xiaoling Zou. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: US20210344056A1. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: EP3855551A1. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-07-28.

Measurement method, measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20170278233A1. Автор: Takuro Tsujikawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Measuring method, data processing apparatus and electron microscope using same

Номер патента: US20140246585A1. Автор: Junichi Tanaka,Tomoko Sekiguchi,Hiroki Kawada,Takeyoshi Ohashi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-09-04.

Error measurement device of linear stage and error measurement method of linear stage

Номер патента: US20210335643A1. Автор: Chien-sheng Liu,Jie-Yu ZENG. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2021-10-28.

Measurement method, conveyance method, article manufacturing method, conveyance apparatus, and lithography apparatus

Номер патента: US20240282642A1. Автор: Koichi Tamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Secondary battery internal pressure measurement method

Номер патента: US20240347780A1. Автор: Sang Jun Park. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Secondary battery internal pressure measurement method

Номер патента: US12051784B2. Автор: Sang Jun Park. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Temperature measuring method, substrate processing system and component to be provided in substrate processing apparatus of the substrate processing system

Номер патента: US09952032B2. Автор: Chishio Koshimizu,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Measuring device for property of photovoltaic device and measuring method using the same

Номер патента: US09866171B2. Автор: Teng-Chun Wu,Yean-San Long,Min-An TSAI,Shu-Tsung Hsu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-01-09.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product

Номер патента: US09448121B2. Автор: Sheng-Tsai Wu,Ming-Ji Dai,Heng-Chieh Chien,Jing-Yi Huang,Huey-Lin Hsieh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-09-20.

Overhang measurement method and apparatus for battery electrode plate, and device and storage medium

Номер патента: EP4379893A1. Автор: Yang Lei,QI Chen,Pengfei Duan,Ya Dai,Jianlei Wang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Semiconductor device measurement method using x-ray scattering and semiconductor device manufacturing method including the measurement method

Номер патента: US20230380783A1. Автор: Hidong Kwak,Jaeyong Lee,Minjung Shin,Chuhee LEE,Seungryeol Oh,Byunghyun HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Photoemission electron microscopy and measuring method using the microscopy

Номер патента: US20050067566A1. Автор: Masami Taguchi,Takashi Ikuta,Takanori Koshikawa,Tsuneo Yasue,Ibuki Tanaka. Владелец: Ulvac PHI Inc. Дата публикации: 2005-03-31.

Image based overlay mark and image based overlay measuring method using the same

Номер патента: US20240142884A1. Автор: Joon Seuk LEE. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Distance measuring methods

Номер патента: US09605955B2. Автор: Richard Day,Auguste D'aligny,Yuri P. Gusev. Владелец: Trimble 3D Scanning. Дата публикации: 2017-03-28.

Control method and device of equipment energy efficiency parameters

Номер патента: RU2534457C2. Автор: Минмин ЛЮ,Яньни МЭН,Линцяо ТЕН,Юаохан ЧЖОУ,Шуван ВЭЙ. Владелец: ЗетТиИ Корпорейшн. Дата публикации: 2014-11-27.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Wavefront aberration measuring apparatus, wavefront aberration measuring method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: TW200947161A. Автор: Kazuki Yamamoto. Владелец: Canon Kk. Дата публикации: 2009-11-16.

Measuring method, measuring device and device manufacturing method

Номер патента: KR102010941B1. Автор: 리챠드 퀸타닐라,세르히 대닐류크. Владелец: 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이.. Дата публикации: 2019-08-14.

Position Measuring Apparatus, Position Measuring Method, Lithographic Apparatus and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20150261097A1. Автор: Den Boef Arie Jeffrey,MATHIJSSEN Simon Gijsbert Josephus. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2015-09-17.

Measuring method, measuring apparatus and device manufacturing method

Номер патента: CN107430352B. Автор: R·奎因塔尼拉,S·达尼卢克. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-01-21.

Position measuring apparatus, position measuring method, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: WO2014019846A2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2014-02-06.

Position measuring apparatus, position measuring method, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US9606442B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-03-28.

Wavefront aberration measuring apparatus, wavefront aberration measuring method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US8373866B2. Автор: Kazuki Yamamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-02-12.

Position measuring apparatus, position measuring method, lithographic apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: JP5992103B2. Автор: マタイセン，サイモン，ガイスベルト，ヨセフス,ボーフ，アリー，ジェフリーデン. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-09-14.

Measuring apparatus, measuring method, exposure apparatus and device manufacturing method

Номер патента: JP5111225B2. Автор: 彰律大久保. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-09.

Measurement method, patterning device and device manufacturing method

Номер патента: IL275045B1. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-11-01.

Measurement method, patterning device and device manufacturing method

Номер патента: IL275045B2. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-03-01.

Surface position measuring method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20070017110A1. Автор: Satoru Oishi,Hideki Ina. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-25.

A kind of part dimension measurement method in place and device

Номер патента: CN109506571A. Автор: 何江涛,惠宏超,魏东辰. Владелец: China Aerospace Times Electronics Corp. Дата публикации: 2019-03-22.

Distance measuring method, and device for its implementation (versions)

Номер патента: RU2481554C2. Автор: Марат Хаджи-Муратович Абдуев,Аслан Хаджимуратович Абдуев,Имангазали Юнусович Нураев. Владелец: Имангазали Юнусович Нураев. Дата публикации: 2013-05-10.

Method and device for determining properties of crushed material

Номер патента: RU2592557C2. Автор: Бенгт Олоф ЧЕЛЬ,Кристиан ОТТЕРГРЕН. Владелец: САНДВИК ИНТЕЛЛЕКЧУАЛ ПРОПЕРТИ АБ. Дата публикации: 2016-07-27.

Measuring method for measuring heat distribution of specific space using sthm probe, method and device for detecting beam spot of light source

Номер патента: US20210373046A1. Автор: Sang-il Park,Ahjin Jo,Byoung-Woon Ahn,Soobong Choi. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2021-12-02.

Measuring method for measuring heat distribution of specific space using SThM probe, method and device for detecting beam spot of light source

Номер патента: US12038455B2. Автор: Sang-il Park,Ahjin Jo,Byoung-Woon Ahn,Soobong Choi. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Method and device for continuous monitoring of process channel pipe bend

Номер патента: RU2545521C2. Автор: Владимир Аминович Подгорнов,Семён Владимирович Подгорнов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный Ядерный Центр-Всероссийский Научно-Исследовательский Институт Технической Физики имени академика Е.И. Забабахина" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИТФ им. академ. Е.И. Забабахина"). Дата публикации: 2015-04-10.

System frequency measurement method, synchrophasor measurement method and device thereof

Номер патента: US09658259B2. Автор: Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2017-05-23.

Measurement method and device of near-eye display

Номер патента: US20240310626A1. Автор: QIAN LI,Li Song,Jiangen PAN. Владелец: Hangzhou Everfine Photo E Info Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Method and device for pipe internal dimensions optical measurement

Номер патента: RU2606901C2. Автор: Манфред КОЛЬБЕ,Йохен ФОХЗЕН,Александер Шульце,Манфред ТОПЮТ,Михаэль КРАУХАУЗЕН,Хайнрих ОБЕРВЕЛЛАНД,Рюдигер НОЙГЕБАУЭР,Норберт ПЕШ. Владелец: Смс Груп Гмбх. Дата публикации: 2017-01-10.

Method and device for positioning coal charger servicing units on charging holes of coke furnace

Номер патента: RU2484120C2. Автор: Ральф КНОХ,Франц-Йозеф ШЮКЕР. Владелец: Тиссенкрупп Уде Гмбх. Дата публикации: 2013-06-10.

Two-dimensional photoelectric autocollimation method and device based on wavefront measurement and correction

Номер патента: US12055710B2. Автор: Yang Yu,Jian Shi,Jiubin Tan. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-08-06.

Method and device for measuring concentration of substance in fluid

Номер патента: US09970894B2. Автор: Jie Han,Yiping Han,Lijun Shen,Ray Xie. Владелец: Sunvou Medical Electronics Co ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Vessel speed measuring method by the doppler log

Номер патента: RU2672464C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Сергей Васильевич Жуменков,Виталий Николаевич Тимофеев,Павел Валерьевич Юхта. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2018-11-14.

Method and device for contactless determination of molten metal temperature

Номер патента: RU2499983C2. Автор: Маркус АБЕЛЬ,Александр МЮЛЛЕР,Доменико НАРДАККЬОНЕ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2013-11-27.

Water level measuring method and device

Номер патента: US20120174666A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F RUIJTENBERG HOLDING BV. Дата публикации: 2012-07-12.

Water level measuring method and device

Номер патента: WO2011016715A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F. RUIJTENBERG HOLDING B.V.. Дата публикации: 2011-02-10.

Method and device for measuring the following of a path under load

Номер патента: US20180038748A1. Автор: Sébastien GARNIER,Benoit Furet. Владелец: UNIVERSITE DE NANTES. Дата публикации: 2018-02-08.

Infrared thermal imaging temperature measurement method and device, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20240344890A1. Автор: Zhaozao Li. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Blood pressure measurement method, electronic device, and medium

Номер патента: US20240335126A1. Автор: ZHENG Jia,Jie Zhou,Yan Zeng,Hongbao LI,Jiabing YAN,Jiahui PENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Aircraft engine rotor assembly method and device

Номер патента: US09724791B2. Автор: Lei Wang,Bo Zhao,Jiubin Tan,Chuanzhi SUN. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2017-08-08.

Trailer angle measurement method and device, and vehicle

Номер патента: AU2019399430A1. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Method and device for measuring sulfur compound and/or ammonia based on a sensory unit coated with at least one novel peptide

Номер патента: US7267989B2. Автор: Yuh-Jiuan Lin,Wen-Hsun Kuo,Pei-Shin Jiang,Pei-Ching Shih. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2007-09-11.

Pcr measuring method and measurement device

Номер патента: US20190352699A1. Автор: Yoshinobu Kohara,Masao Kamahori,Takahide Yokoi,Junko Tanaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

Spatiotemporally resolved far-field pulse contrast measuring method and device

Номер патента: US09574946B2. Автор: Peng Yuan,Jing Wang,Guoqiang Xie,Dianyuan Fan,Jingui Ma,Yongzhi Wang,Liejia Qian. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2017-02-21.

Measurement method and device for determination of state of electric igniter of gas turbine burner, as well as ignition device for gas turbine burner

Номер патента: RU2477509C2. Автор: Йорг ГОНДЕР. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2013-03-10.

Measuring method, adjustment method for stage movement characteristics, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: US8072579B2. Автор: Yusuke Tokuyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-12-06.

Ship speed measurement method with doppler log

Номер патента: RU2702696C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Виталий Николаевич Тимофеев. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2019-10-09.

Measurement method and device, in particular for the high-frequency measurement of electric components

Номер патента: US20030173948A1. Автор: Georg Sillner. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-09-18.

Method and device for measuring a vacuum pressure using a measuring cell arrangement

Номер патента: US09791339B2. Автор: Martin Wuest,Felix Mullis. Владелец: INFICON AG. Дата публикации: 2017-10-17.

Anti-8-hydroxy-2'-deoxyguanosine antibody or antibody fragment thereof, production method, kit, measuring method, and device for measurement

Номер патента: US20220372119A1. Автор: Toshiaki Maruyama,Takeshi Sakamoto,Shigeru CJ OKUMURA,Hiroko Yanagisawa. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Radar measurement method and device

Номер патента: EP3919936A1. Автор: Lei Wan,Yong Wu,Sha Ma,Mingxia Xu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-08.

Method and device of measuring breakdown status of equipment

Номер патента: US20170146432A1. Автор: Sen-Chia Chang,Tsung-Jung Hsieh,Yao-Chung HSU. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-05-25.

Six-degrees-of-freedom displacement measurement method and apparatus

Номер патента: EP4411316A1. Автор: Lili Shi,Mingli Dong,Sijin WU,Weixian Li. Владелец: Beijing Information Science and Technology University. Дата публикации: 2024-08-07.

Vessel speed measuring method by the doppler log

Номер патента: RU2659710C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Сергей Васильевич Жуменков,Виталий Николаевич Тимофеев,Павел Валерьевич Юхта. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2018-07-03.

Size measuring method and device

Номер патента: US20040098221A1. Автор: Shozo Katamachi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-20.

Optical measurement method and device

Номер патента: US09739993B2. Автор: Louis Philippe Braitbart,Gabriel Y. Sirat. Владелец: Bioaxial SAS. Дата публикации: 2017-08-22.

Fibre concentration ratio measuring method and related device for implementation thereof

Номер патента: RU2362989C2. Автор: Бенгт ОКЕРБЛОМ. Владелец: Дапрокс Аб. Дата публикации: 2009-07-27.

Measuring method of volumetric flow rate of conducting fluids through vessel

Номер патента: RU2488779C2. Автор: Томас КЕЛЕР,Уве ЛАНГ,Колин ХЕНДЕРСОН,Штефан ХОТЕР,Стив БУКБИНДЕР. Владелец: Брита Гмбх. Дата публикации: 2013-07-27.

Measuring method and device

Номер патента: US20240324945A1. Автор: Robert Ellis,Peter John Kelly. Владелец: Koneksa Health Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Capacitance measurement method and its application

Номер патента: RU2564516C2. Автор: Йоаким ЛАРССОН,Бо МАТТИАССОН,Мартин ХЕДСТРЕМ,Даг ЭРЛАНДССОН. Владелец: КапСензе ХБ. Дата публикации: 2015-10-10.

Grain granulometry measurement system and method and calibration method for a grain granulometry measurement system

Номер патента: EP4300074A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Method and device of measuring wavefront aberration, method of manufacturing optical system, and recording medium

Номер патента: US9170171B2. Автор: Yasuyuki Unno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-27.

Movement measuring method and device

Номер патента: EP4447802A1. Автор: Robert Ellis,Peter John Kelly. Владелец: Koneksa Health Inc. Дата публикации: 2024-10-23.

Method and system for measuring electromagnetic field and antenna parameters under temperature effects on measurement object

Номер патента: RU2766055C1. Автор: Станислав Константинович Крылов,Максим Сергеевич Милосердов. Владелец: Станислав Константинович Крылов. Дата публикации: 2022-02-07.

Trailer angle measurement method and device, and vehicle

Номер патента: US12099121B2. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Contact force measurement method, and contact force measurement device

Номер патента: RU2519589C1. Автор: Такамаса ФУДЗИСАВА,Мицуру ИКЕДА,Казутака МАЦУБАРА. Владелец: Рэйлвэй Текникал Рисёрч Инститьют. Дата публикации: 2014-06-20.

Method and system of distance measurement based on surface excitation using earthed well and auxiliary earthing device

Номер патента: RU2677732C1. Автор: Сюй-сян У,КАЛАТЕХ АХМАД Акрам АХМАДИ. Владелец: ХЭЛЛИБЕРТОН ЭНЕРДЖИ СЕРВИСИЗ, ИНК.. Дата публикации: 2019-01-21.

Method for determining measured values by means of at least two different measuring methods and use thereof

Номер патента: US11754398B2. Автор: Florian Ries,Frank Schuster,Martin Haueis. Владелец: Mercedes Benz Group AG. Дата публикации: 2023-09-12.

Method and apparatus for ultrasonic measurement of temperature field inside cable

Номер патента: ZA202401820B. Автор: Rui Liu,Qian Wang,Tao Wang,Jiawei Zhang,Huan LIAN,Sichen Qin,Junwei Zha. Владелец: Xian Univ Of Technology. Дата публикации: 2024-09-25.

Sensor calibration method, apparatus, and device, data measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: US12117356B2. Автор: Cheng Zhou,Zhengyou Zhang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Methods and systems for calibration and use of camera for determination of analyte in sample

Номер патента: RU2754208C1. Автор: Бернд ЛИМБУРГ,Макс БЕРГ,Фредрик ХАЙЛЕР. Владелец: Ф. Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2021-08-30.

Device with improved light source and detector for gravimeter and measuring method

Номер патента: RU2473102C2. Автор: Рокко Дифоджио. Владелец: Бейкер Хьюз Инкорпорейтед. Дата публикации: 2013-01-20.

Velocity measurement method, system, device and apparatus and storage medium, as well as velocity field measurement method and system

Номер патента: US20240221184A1. Автор: Jinjun Wang,Shaofei Wang,Chong Pan. Владелец: Ningbo Institute Of Technology Beihang University. Дата публикации: 2024-07-04.

Strain measurement method and strain measurement apparatus

Номер патента: US11204240B2. Автор: Kuo-Hua Tseng,Yu-Lin Hsu,Hung-Hsien Ko,I-Hung Chiang,Cheng-Ta Pan. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-12-21.

Spectrum measurement system, spectrum measurement device, optical measurement method and optical calibration method

Номер патента: US10197443B2. Автор: Chien-Hsiang Hung,Hsu-Feng Cheng,Sheng-Wang Lin. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2019-02-05.

Blood pressure measurement method, and electronic device and medium thereof

Номер патента: EP4431012A1. Автор: ZHENG Jia,Jie Zhou,Yan Zeng,Hongbao LI,Jiabing YAN,Jiahui PENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Method and device for repairing an aircraft and/or gas turbine component

Номер патента: US09902024B2. Автор: Michael Ernst,Thiemo Ullrich. Владелец: Lufthansa Technik AG. Дата публикации: 2018-02-27.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

Oil tank measurement method and system based on laser point cloud analysis

Номер патента: NL2028854A. Автор: LI Cunjun,HAO Huadong,CHEN Xianlei,REN Feiming,SHI Haolei,WU Zenan. Владелец: Zhoushan Institute Of Calibration And Testing For Quality And Tech Supervision. Дата публикации: 2021-09-16.

Measurement method and measurement device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test apparatus for coated metal material

Номер патента: US12066374B2. Автор: Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

X-ray fluorescence analysis measurement method and x-ray fluorescence analysis measurement device

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Shinji Ishimaru. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Visible cephalometric measurement method, system and computer processing device

Номер патента: US20190073771A1. Автор: Jing Lei,Minfeng CHEN. Владелец: Fussen Technology Co ltd. Дата публикации: 2019-03-07.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240230505A9. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240133790A1. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-04-25.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: EP4411410A1. Автор: YUAN Shen,Xiaoxian Li,Zhenguo DU,Bowen Wang,Xinyou Qiu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Method and apparatus of full-field vibration measurement via microwave sensing

Номер патента: US12117371B2. Автор: Yuyong XIONG,Zhike PENG,Guang MENG. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-10-15.

Method for measuring outflow rate of water molecules across cell membranes, uses of outflow rate of water molecules across cell membranes, and method and system for measuring glioma magnetic resonance imaging markers

Номер патента: EP4455654A1. Автор: Yingchao LIU,Ruiliang Bai,Guangxu Han,Yinhang Jia. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-10-30.

Distance measurement method and apparatus, and distance measurement sensor and distance measurement sensing array

Номер патента: US12123978B2. Автор: Shuyu Lei. Владелец: Ningbo Abax Sensing Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Dimensional measurement method based on deep learning

Номер патента: US20230061004A1. Автор: Kedao Wang. Владелец: Unitx Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Colorimeter measurement method and colorimeter for implementing the method

Номер патента: US20150276584A1. Автор: LI Wang,Rui Xu,Weiwei Zhang,Xiaobo He,Jingming Wu,Honghui Zhu,Xueli Ao. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-01.

Precision three-dimensional pavement faulting measurement method and apparatus

Номер патента: AU2022418482A1. Автор: Hong Lin,HUI Li,Yi Lu,Min Cao,Xinlin Wang,Xuan QU,Xiuwen HU. Владелец: Wuhan Optics Valley Zoyon Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Precision three-dimensional pavement faulting measurement method and apparatus

Номер патента: CA3238222A1. Автор: Hong Lin,HUI Li,Yi Lu,Min Cao,Xinlin Wang,Xuan QU,Xiuwen HU. Владелец: Wuhan Optics Valley Zoyon Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Thz measurement method and thz measurement device for surveying a measurement object, in particular a pipe

Номер патента: US20230251083A1. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-08-10.

Concentration measuring method, and concentration measuring device

Номер патента: US12078590B2. Автор: Nobukazu Ikeda,Yoshihiro Deguchi,Kouji Nishino,Masaaki Nagase. Владелец: University of Tokushima NUC. Дата публикации: 2024-09-03.

Body temperature measurement method and apparatus, robot and storage medium

Номер патента: EP4134210A1. Автор: Zhetao Xu. Владелец: Jingdong Technology Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: US20240319060A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2024-09-26.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09797719B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: CA3224131A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2023-01-05.

Mode field diameter measuring method and mode field diameter measuring device

Номер патента: US20240183746A1. Автор: Atsushi Nakamura,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Tissue composition measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427656A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Thermophysical property measurement method and thermophysical property measurement apparatus

Номер патента: US10876983B2. Автор: Hiroyuki Fujiki,Takeshi Shimazaki,Yasutaka AMAGAI. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-12-29.

Weight measuring method and system

Номер патента: EP1241455B1. Автор: Pentti Sauli Asikainen. Владелец: Tamtron Oy. Дата публикации: 2005-08-10.

Power coupling coefficient measuring method and power coupling coefficient measuring device

Номер патента: US20230288287A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Tomokazu Oda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Device for determining thermal properties of solid bodies and device for realising said method

Номер патента: RU2403561C1. Автор: Сергей Сергеевич САФОНОВ,Валерий Васильевич Шако,Антон Владимирович Паршин,Юрий Анатолиевич Попов. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2010-11-10.

Method and apparatus for measuring synthetic reception pattern of adaptive array antenna

Номер патента: US9658340B2. Автор: Dong Hoon Shin,Inho Hwang,Jinchun Wang,Dae Heon LEE,Woong Hee KIM,Hae Yong Yang,Chun Soo Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-05-23.

Dielectric characteristic measurement method and dielectric characteristic measurement system using open resonator

Номер патента: US20240168071A1. Автор: Atsushi Hattori,Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: Em Labs Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Automatic efficiency tracing method and its apparatus

Номер патента: US4761555A. Автор: Hiroaki Ishikawa. Владелец: ISHIKAWA IND CO Ltd. Дата публикации: 1988-08-02.

Volume measurement method and an apparatus based on a depth camera, and a computer-readable medium

Номер патента: EP4330622A1. Автор: Shenhui Wang,Song Zhang,JIANG Yin,Chao FANG,Zhenyu Dai,Hongqing SONG,Conghan CAO,Fenping QIAN,Huanbing CHENG. Владелец: Mettler Toledo Changzhou Precision Instruments Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Backlash measuring method, wind turbine diagnosing method, and backlash measuring apparatus

Номер патента: EP4293221A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2023-12-20.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US20170218423A1. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US10619179B2. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-14.

Self-reference point setting type blood component measuring method and apparatus

Номер патента: US12082925B2. Автор: Sung Chul Lee,Won Ki Park,Cheol Koo HAHN. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2024-09-10.

Pretreatment method for nitrogen and oxygen isotope measurement with chemical conversion method and measurement method

Номер патента: AU2020312536A1. Автор: FANG Yang,Ning An,Wenjuan Ma,Runyu Zhang,Jianyang Guo,Fengchang Wu,Weiying FENG,Haiqing Liao,Rui CEN. Владелец: CHINESE RESEARCH ACADEMY OF ENVIRONMENTAL SCIENCES. Дата публикации: 2022-03-10.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09885693B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-02-06.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09719781B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Glucose dehydrogenase having modified electron transfer properties, and glucose measurement method

Номер патента: US20180340211A1. Автор: Seiichi Hara,Yosuke MASAKARI. Владелец: Kikkoman Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Optical displacement measuring instrument, adjustment method and measuring method of optical displacement measuring instrument

Номер патента: US20180259319A1. Автор: Kentaro Tamura,Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-09-13.

Wet Gas Flow Measuring Method and Apparatus

Номер патента: US20150247749A1. Автор: Jige Chen. Владелец: LANZHOU HAIMO TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-03.

Thz measurement method and thz measurement device for measuring a measurement object

Номер патента: US20230288189A1. Автор: Marius Thiel,Ralph Klose. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-09-14.

Overlay correction method and semiconductor device manufacturing method comprising the overlay correction method

Номер патента: US20240310720A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-19.

Multi-angle spectral imaging measurement method and apparatus

Номер патента: US09823130B2. Автор: Masayuki Osumi. Владелец: Office Color Science Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Method and system for measuring lens distortion

Номер патента: US09810602B2. Автор: Jianjun Xu,Xingyi Chen,Xiliang Niu. Владелец: Qingdao Goertek Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US09704237B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Method and measuring device for measuring the distance of a surface, thickness and optical properties of an object

Номер патента: US09476707B2. Автор: Heimo Keranen. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2016-10-25.

Method and apparatus for in-line control of dimensions of industrial products

Номер патента: RU2768110C2. Автор: Лоран КОСНО,Оливье КОЛЛЬ. Владелец: Тиама. Дата публикации: 2022-03-23.

Particle measuring method, sample processing method, and particle imaging apparatus

Номер патента: US20190178782A1. Автор: Yusuke Konishi,Takanori Maekawa. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Luminescence measurement method and luminescence measurement system

Номер патента: US20100209949A1. Автор: Hirobumi Suzuki,Ryutaro Akiyoshi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

Model afm probe for oxidized mineral collector, preparation method and application thereof

Номер патента: AU2020100499A4. Автор: Jian Cao,Wei Sun,Zhiyong Gao,Haisheng HAN,Yuehua Hu,Mengjie TIAN. Владелец: CENTRAL SOUTH UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-05-14.

Oxytocin purifying method and measuring method and kit

Номер патента: US20240230684A9. Автор: Masaaki Kojima,Fumie AKUTSU. Владелец: Fujifilm Wako Pure Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring method and measuring station to determine the volume of liquid product contained in a disposable cartridge for smoking articles

Номер патента: EP3746751A1. Автор: Luca Federici,Gianpietro LAMBORGHINI. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2020-12-09.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220117497A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Epidermal electric potential measuring device, epidermal electric potential measuring method, cosmetic method, and probe

Номер патента: US20190090805A1. Автор: Matsuhiko Nishizawa,Kuniaki Nagamine,Kenshi Yamasaki,Yuina ABE. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2019-03-28.

Optical property measurement method and optical property calculation apparatus

Номер патента: US12025556B2. Автор: Tomoko Sato. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Viscoelasticity measurement method and viscoelasticity measurement device

Номер патента: US12098989B2. Автор: Shinsuke Miura,Tsutomu Odagiri,Taku Nakamoto. Владелец: A&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Method and system for measuring fine bubble dispersion liquid

Номер патента: EP4336167A1. Автор: Takeshi Ohdaira. Владелец: Ohdaira Laboratory Co. Дата публикации: 2024-03-13.

Method and system for measuring fine bubble dispersion liquid

Номер патента: US20240295483A1. Автор: Takeshi Ohdaira. Владелец: Ohdaira Laboratory Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Method and system for measuring lesion features of hypertensive retinopathy

Номер патента: EP4420598A1. Автор: Bin Xia,Juan Wang,Xiaoming Duan,Jianghuai Xiang,Suping Chen. Владелец: Shenzhen Sibionics Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Method and system of measuring surface temperature

Номер патента: US09689746B2. Автор: Yoshiro Yamada,Juntaro Ishii. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-06-27.

Flare-measuring mask, flare-measuring method, and exposure method

Номер патента: US09529251B2. Автор: Masayuki Shiraishi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Method and hollow core forming apparatus for casting concrete products

Номер патента: RU2663853C2. Автор: Тармо САХАЛА,Ласси ЯРВИНЕН,Леена РАУКОЛА. Владелец: Элематик Ойй. Дата публикации: 2018-08-10.

Antibody measurement method using antigen-carrying insoluble carrier particles on which antigen is immobilized by different methods, and reagent for antibody measurement

Номер патента: AU2017321642B2. Автор: Yusuke Murakami,Yusuke Ueno,Tatsunori Kikuchi. Владелец: Eiken Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Tissue component measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427505A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US20240219175A1. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Obstacle distance measurement method and apparatus, and vehicle and medium

Номер патента: EP4397942A1. Автор: Yongguan LUO. Владелец: Huizhou Desay SV Automotive Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Measuring method and system for structured light 3d scanning

Номер патента: LU503375B1. Автор: QIN Qin,Long CAO,Wenchen Li,Zimei Tu. Владелец: Univ Shanghai Polytech. Дата публикации: 2023-07-19.

Wire voltage measurement method and apparatus based on electric field sensor

Номер патента: US11774484B1. Автор: Xu Yin,Peng Li,Zhiming Wang,Bing Tian,Qiancheng Lv,Renze CHEN,Zejie Tan,Zhenheng Xu,Licheng Li,Shaoxiong Nie. Владелец: Digital Grid Research Inst China South Pwr Grid. Дата публикации: 2023-10-03.

Optical measuring method, and optical measuring device

Номер патента: EP4414687A1. Автор: Go Yamada. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Ultrasound viscoelasticity measurement method and apparatus and storage medium

Номер патента: US20230131340A1. Автор: Shuangshuang LI,Jinyang Li. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

Method and Apparatus For Measuring Dimension Of Circuit Pattern Formed On Substrate By Using Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20110127429A1. Автор: Atsushi Miyamoto,Tomofumi Nishiura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-06-02.

Measurement method and system based on image electroencephalogram sensitivity data for built environment dominant color

Номер патента: US20240335156A1. Автор: Zheng Zhou,Ying Gao,Xiao Han,Zhe Li,Jie Li,Liya Wang,Futian YUAN,Tongyi ZHU,Ruoxuan HUANG,Yinyin CAO,Hengyi ZHAO. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-10-10.

Set cement mechanical properties parameter measurement method and apparatus based on image recognition technology

Номер патента: US20240288348A1. Автор: Zhao HUANG,Jianzhou Jin,Yongjin YU,Fengzhong Qi,Hongfei Ji,Xiujian Xia,Jiyun Shen,Huiting LIU,Congfeng Qu,Xueli Guo,Zhengyang Zhao,Yongqin CHENG,Pengyang JIA. Владелец: CNPC Engineering Technology R&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Trusted measurement method and apparatus, computer device, and readable medium

Номер патента: EP4418115A1. Автор: Liang Wang,Jianjun Liu,Min Zhang,Jia Zhou,Hu TAN,Zhihong XUE,Qu CAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Method and apparatus for determining the content of a foreign gas in a process liquid

Номер патента: US12123837B2. Автор: Josef Bloder. Владелец: ANTON PAAR GMBH. Дата публикации: 2024-10-22.

Stress history measurement method and stress sensor

Номер патента: US09835611B2. Автор: Hide Sakaguchi,Arito Sakaguchi. Владелец: Japan Agency for Marine Earth Science and Technology. Дата публикации: 2017-12-05.

Position measuring method, misplacement map generating method, and inspection system

Номер патента: US09645488B2. Автор: Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Battery power measuring method, measuring device and battery-powered equipment

Номер патента: US09645200B2. Автор: Feng Yu,Xiaodong Huang,Hejinsheng Cao. Владелец: Hangzhou Silergy Semiconductor Technology LTD. Дата публикации: 2017-05-09.

Light measurement apparatus for reaction vessel and light measurement method

Номер патента: US09556477B2. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2017-01-31.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

Human Body Composition Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20240008760A1. Автор: Bin Yang,Shanshan Ma,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jianhua Guo,Lian WU,Jilong YE,Junjin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Concentration measurement method and concentration measurement apparatus

Номер патента: US20120242979A1. Автор: Koichi Shimizu,Kazuhiko Amano,Kazuhiro Nishida. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2012-09-27.

Non-invasive temperature measurement method and apparatus

Номер патента: EP1171758A4. Автор: Yoram Palti. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-02.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20100228519A1. Автор: Yuki Oshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-09-09.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US20170138853A1. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

Volume measurement method and an apparatus based on a depth camera, and a computer-readable medium

Номер патента: US20240362812A1. Автор: Shenhui Wang,Song Zhang,JIANG Yin,Chao FANG,Zhenyu Dai,Hongqing SONG,Conghan CAO,Fenping QIAN,Huanbing CHENG. Владелец: Mettler Toledo Changzhou Precision Instruments Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Ultrasonic measurement method and ultrasonic measurement apparatus

Номер патента: US09683838B2. Автор: Takafumi Ozeki,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Method and arrangement for tactile-optical determination of the geometry of a measurement object

Номер патента: US09599456B2. Автор: Ralf Christoph,Ingomar Schmidt,Benjamin Hopp,Matthias Andraes,Markus Hechler. Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-03-21.

Physiological signal measuring method and system thereof

Номер патента: US20240164649A1. Автор: Chuan-Yu Chang,Yen-Qun GAO. Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2024-05-23.

Process Quantity Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20080105061A1. Автор: Junichi Okada,Shuichi Umezawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-05-08.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and biological information measurement program

Номер патента: US20220175288A1. Автор: Takuro Matsuda,Yoshinari Uehara,Yukiya TANOUE. Владелец: Fukuoka University. Дата публикации: 2022-06-09.

Granular-substance component measuring method and granular-substance component measuring instrument

Номер патента: EP4246128A1. Автор: Yasuhito Haijima,Shun YAMAUCHI. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Wind field information measurement method and nacelle-based lidar

Номер патента: AU2022263477A1. Автор: Jun Zhou,Hailong Zhu,Zengli XIAO,Anqing TANG. Владелец: Nanjing Movelaser Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Grayscale measurement method and apparatus

Номер патента: GB2614973A. Автор: ZHANG Yue,Yang Cheng,CONG Hongchun. Владелец: Xian Novastar Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US10935661B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2021-03-02.

Measuring method and system for measuring particle size and shape of powdery or grain like particles

Номер патента: US20090091755A1. Автор: Niklas Sandler,Jouko Yliruusi,Osmo Antikainen. Владелец: Intelligent Pharmaceutics Ltd Oy. Дата публикации: 2009-04-09.

Hardness measurement method, and fouling prevention method for hardness-measuring device

Номер патента: US10718746B2. Автор: Junichi Takahashi. Владелец: Kurita Water Industries ltd. Дата публикации: 2020-07-21.

Neutron dose measurement method and apparatus

Номер патента: US20240252842A1. Автор: Chao Wang,Yuan-hao LIU. Владелец: Neuboron Therapy System Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Measuring method and system for measuring particle size and shape of powdery or grain like particles

Номер патента: WO2006117429A1. Автор: Niklas Sandler,Jouko Yliruusi,Osmo Antikainen. Владелец: Intelligent Pharmaceutics Ltd Oy. Дата публикации: 2006-11-09.

User feature value measurement method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: US20240298973A1. Автор: Xun Zhang,Xiaoran SUN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Shear wave parameter measurement method and ultrasonic wave device

Номер патента: EP4437969A1. Автор: Sung Bae Park,Sun Yeob CHANG,Chul Hee Yun. Владелец: Alpinion Medical Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US09977129B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Measurement target measuring program, measurement target measuring method, and magnifying observation device

Номер патента: US09970745B2. Автор: Shinya Takahashi,Kazuki Natori. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Ultraviolet index measuring method and apparatus

Номер патента: US09952093B2. Автор: Dong-Hoon Lee,Seongchong Park,Dong-Joo Shin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-04-24.

Method and apparatus for measuring biosignal

Номер патента: US09877685B2. Автор: Ui Kun Kwon,Jong Wook Lee,Sang Joon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-30.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US09857304B2. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Method for measuring the thickness of a layer of material, galvanizing method and related measuring device

Номер патента: US09797709B2. Автор: Jean Inard-Charvin,Geoffrey BRUNO. Владелец: ENOVASENSE. Дата публикации: 2017-10-24.

Distance measuring method and equipment using optical signal

Номер патента: US09709669B2. Автор: Tae Min Kim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-18.

Distance measurement methods and apparatus

Номер патента: EP2890998A1. Автор: Yuri Gusev. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2015-07-08.

Optical Rotating Power Measurement Method And Optical Rotating Power Measurement Apparatus

Номер патента: US20080204751A1. Автор: Atsushi Yamada,Yuji Fujisawa,Tomoyuki Fukazawa,Hisashi Masago,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Three-dimensional measuring method and system

Номер патента: US20020118274A1. Автор: Akira Yahashi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-29.

Method and apparatus for measuring the temperature of a semiconductor substrate by means of a resonant circuit

Номер патента: WO2001065224A1. Автор: Chishio Koshimizu. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2001-09-07.

Particle measuring method and particle measuring apparatus

Номер патента: US20080239283A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

Measurement method and apparatus for electrode sheet

Номер патента: EP4411354A1. Автор: Jingdong Zhang,Qian Wu,Weigang Chen,Liangjie YAN,Qiangjun WANG,Bingyang ZHAN,Zhihui ZHEN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Distance Measurement Methods and Apparatus

Номер патента: US20140063482A1. Автор: Yuri P. Gusev. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2014-03-06.

Turbidity measurement method and turbidimeter

Номер патента: US20200278292A1. Автор: Hikaru Shimizu,Megumi GOTO,Takeshi KUWAGATA,Saori Handa. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-09-03.

Fetus electrocardiogram signal measuring method and its device

Номер патента: US20100076330A1. Автор: Yoshitaka Kimura,Takuya Ito,Mitsuyuki Nakao,Kazunari Ohwada. Владелец: Tohoku Techno Arch Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-25.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20240280628A1. Автор: Shigeru Nakajima,Takuma Hara,Tatsuya Ohguro,Katsura Miyashita,Yasuhisa OOMURO. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Time-of-flight ranging method and related system

Номер патента: EP3958018A1. Автор: Chung-Te Li,Meng-Ta Yang,Hao-Jen Wang. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-23.

Temperature measurement method and apparatus based on passive rfid tag

Номер патента: US20240295446A1. Автор: Xu Zhang,Jia Liu,Xingyu Chen,Lijun Chen,Fuxing Wang. Владелец: Jiangsu Tooker Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Optical phase measurement method and system

Номер патента: US09897553B2. Автор: Gilad Barak,Dror Shafir,Shahar Gov,Yanir HAINICK. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Optical measurement method and apparatus for fuel cell components

Номер патента: US09618458B2. Автор: Stephen Couse,Tulin Akin. Владелец: Bloom Energy Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Shape measuring method and shape measureing device

Номер патента: US09506748B2. Автор: Yoshitaka Ohta. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Circular dichroism measuring method and circular dichroism measuring device

Номер патента: US20170191928A1. Автор: Hiroshi Satozono. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-06.

Non-invasive blood component measuring device, non-invasive blood component measuring method, and a computer program product

Номер патента: US20090203976A1. Автор: Toshiyuki Ozawa,Yasuhito Ohnishi. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2009-08-13.

Planar elongational viscosity measuring method and planar elongational viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20100228504A1. Автор: Tsutomu Takahashi,Toshihiro Kawano,Masataka Shirakashi. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2010-09-09.

Measurement method and system based on interferometric synthetic aperture radar

Номер патента: WO2024175129A1. Автор: FENG Yang,WEI Liu,Weijia REN,Chaomin Chen,Shancong Zhang,Xiaoru SANG. Владелец: Beijing Palebluers Co., Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Remaining printing material measurement method and additive manufacturing apparatus

Номер патента: US20240308140A1. Автор: xinqiao Deng. Владелец: Shenzhen Anycubic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Ultrasonic dual-wave high-reliability measurement method and apparatus for bolt stress

Номер патента: EP4439029A1. Автор: YANG Zhao,LONG Yang,Kun Li,Yisheng Jin,Mingming XIE,Xinzong ZHOU,Xuxiang Zhu,Yuping Shen. Владелец: SUZHOU PHASERISE TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Method and system for measuring non-verbal behavior of teacher

Номер патента: ZA202311033B. Автор: Wei Zhang,Shengming Wang,Zhicheng DAI,Zengzhao CHEN,Xiuling HE,Baolin YI. Владелец: Univ Central China Normal. Дата публикации: 2024-07-31.

Inner layer measurement method and inner layer measurement device

Номер патента: US09977229B2. Автор: Hirotoshi Oikaze,Yohei Takechi,Yasuhiro Kabetani,Tomotaka Furuta. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Photoelectric type pulse signal measuring method and apparatus

Номер патента: US09949695B2. Автор: Song Liu,Bo Li,Shasha Lou. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Torsional vibration resonance frequency measurement method for estimating stability of dental implant and novel amplitude transformer

Номер патента: US09949644B2. Автор: Dehua Li,Bing Li,Yulong Tang. Владелец: Fourth Military Medical University FMMU. Дата публикации: 2018-04-24.

Blood pressure measurement method and apparatus, and electronic device and storage medium

Номер патента: EP4179965A1. Автор: Kongqiao Wang. Владелец: Anhui Huami Health Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-17.

Three-dimensional measurement method and related apparatus

Номер патента: US11823405B1. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Zhuojun Zheng,Haixiang DENG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-11-21.

Measuring Method and Measuring Apparatus

Номер патента: US20190056347A1. Автор: Hisashi Kaneda,Ayano Nakatani. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-02-21.

Current measuring method and current measuring apparatus

Номер патента: US20020041190A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

Three-dimensional measurement method and related apparatus

Номер патента: US20230401730A1. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Zhuojun Zheng,Haixiang DENG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-12-14.

Charge amount measurement method and charge amount measurement system

Номер патента: US20240328984A1. Автор: Masaru Inoue,Noriaki Oyabu. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Micro Focal-Length Collimation Based Micro-Cavity Measuring Method And Detecting Equipment Thereof

Номер патента: US20120019839A1. Автор: Fei Wang,Jiubin Tan,Jiwen Cui. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2012-01-26.

Method and apparatus for precision measurements on a touch screen

Номер патента: US09928570B2. Автор: Kenneth Todd Reed,Jonathan Neil Draper. Владелец: Calgary Scientific Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Viscosity measuring method and viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09835536B2. Автор: Takayoshi Hoshino. Владелец: Aohata Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Measuring method and system for body-shaped data

Номер патента: US20240202931A1. Автор: Ming-Yen Chen,Yu-Chi LU,Cheng-Hsuan Cheng,Po Hsuan HSIAO,Chang Hong LIN,Hsin-Yeh Yang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20220375066A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

Dual-beam fmcw distance measuring method having compensation of a velocity-dependent distance measurement error

Номер патента: US20190377089A1. Автор: Marcel Rohner. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2019-12-12.

Maturity measurement method and maturity measurement device for glass fiber reinforced concretes

Номер патента: EP4386380A1. Автор: Muhammed Marasli,Serkan Subasi,Sefa Guntepe,Mert Cevirmen,Volkan Ozdal. Владелец: Fibrobeton Yapi Elemanlari Sanayi Insaat Ve Ticaret AS. Дата публикации: 2024-06-19.

Blood glucose measurement apparatus and blood glucose measurement method thereof

Номер патента: EP3294132A1. Автор: Kwang-Bok Kim,Sun-Tae Jung,Hyoung-Seon Choi,Chul-Ho Cho,Seong-Je Cho,Seung-Min Lee,Jae-Geol Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-21.

Non-destructive measurement method and apparatus for the turn-to-turn resistivity distribution in non-insulation superconducting coils

Номер патента: US20240302417A1. Автор: Wei Wu,Li Lu,Jianghong WAN. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-09-12.

Automatic analyzer and optical measurement method for obtaining measurement signals from liquid media

Номер патента: US12097491B2. Автор: Herfried Huemer,Arnold Bartel,Reinhard MARIK,Patrick KRAUS-FÜREDER,Robert SCHOLZ-MAREICH,Wolfgang Sprengers,Michael Bergbaur. Владелец: Meon Medical Solutions and Co KG GmbH. Дата публикации: 2024-09-24.

Upper limb multi-joint impedance measurement method and apparatus using the same

Номер патента: US12127841B2. Автор: Sang Hoon KANG,Hyunah Kang,Sung Shin Kim. Владелец: UNIST Academy Industry Research Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Electrophysiology measurement and training and remote databased and data analysis measurement method and system

Номер патента: US09629568B2. Автор: David W Hagedorn,James W. G. Thompson. Владелец: Evoke Neuroscience Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Load measurement method and apparatus, railcar provided with load measurement apparatus, and load management system

Номер патента: US09476802B2. Автор: Yoshi SATO. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-10-25.

Vehicle speed measurement method and system

Номер патента: RU2543947C2. Автор: Алан КЛУКАС,Брайан Дэвид Винсент СМИТ. Владелец: ЗМ ИННОВЭЙТИВ ПРОПЕРТИЗ КОМПАНИ. Дата публикации: 2015-03-10.

Flow rate measurement method and apparatus

Номер патента: US20150112614A1. Автор: Yoshiki Yoshida,Shusuke Hori,Hiroki Kannan,Hideaki Nanri,Masaharu Uchiumi. Владелец: Japan Aerospace Exploration Agency JAXA. Дата публикации: 2015-04-23.

Measurement method and apparatus for global navigation satellite system (gnss)

Номер патента: EP4451015A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Light wavelength measurement method and light wavelength measurement apparatus

Номер патента: US09846081B2. Автор: Tsuyoshi Konishi,Tomotaka Nagashima,Takema SATOH. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-12-19.

Phase distribution measurement method and phase distribution measurement apparatus

Номер патента: US09594941B2. Автор: Hiroshi Ishiwata. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Electronic Computer, Moisture Content Measurement Method, and Moisture Content Measurement System

Номер патента: US20240102925A1. Автор: Jun Tanaka,Kotaro Kitamura,Yusuke Kaga,Takuya Kambayashi,Makiko Udagawa,Shunsuke Kono,Yasuko Kobayashi,Hiroki MIYAKAWA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Measurement method and non-contact displacement detection apparatus thereof

Номер патента: US20240255639A1. Автор: Shih-Ying Hsu,Min HSU. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and apparatus for measuring blood pressure using radar

Номер патента: US20230389809A1. Автор: Byung Jang Jeong,Hyung Ju Kim,Sung Jin Yoo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-12-07.

Sensor strip cartridge, and biometric information measuring method and apparatus using the same

Номер патента: US09739764B2. Автор: Chul-Ho Cho,Seong-Je Cho,Min-Hyoung Lee,In-Geol Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-22.

Optical coherence tomography lumen morphology and vascular resistance measurements methods for blood vessel evaluations

Номер патента: US09572495B2. Автор: Christopher Petroff,Joseph M. Schmitt,Joel M. Friedman,Amr Elbasiony. Владелец: LightLab Imaging Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Flow sensor and flow rate measurement method

Номер патента: RU2768159C2. Автор: Марк Томас ДЖОНСОН,Дан Антон ВАН ДЕН ЭНДЕ,Корнелис Петрус ХЕНДРИКС,Арьен ВАН ДЕР ХОРСТ,Ахим ХИЛЬГЕРС,Рональд Антони ХОВЕНКАМП. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2022-03-23.

Total organic carbon measurement method and total organic carbon measurement device

Номер патента: US20230011100A1. Автор: Masahito Yahata,Yoshiaki Nieda. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Method and system for determining confidence level of a person using electroencephalogram

Номер патента: US20200163568A1. Автор: Aniruddha Sinha,Debatri CHATTERJEE,Rahul Dasharath GAVAS,Sanjoy Kumar Saha,Anirban Chowdhury. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20200286249A1. Автор: Hiroshi Ohno,Kiminori Toya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Distance measurement method and distance measurement system

Номер патента: US11768072B2. Автор: Xin Shi,David Xing. Владелец: Northwest Instrument Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Blood pressure measuring method and system

Номер патента: US20170039702A1. Автор: XIN Wang,Xiaoli Jin,Xuelin Han. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-09.

Blood pressure measuring method and system

Номер патента: US09922420B2. Автор: XIN Wang,Xiaoli Jin,Xuelin Han. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Optical rotation measurement method and optical rotation measurement apparatus

Номер патента: US09713441B2. Автор: Akira Ikeda,Kazuhiro Nishida. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Magnetic field sensing module, measurement method, and manufacturing method of a magnetic field sensing module

Номер патента: US09562953B2. Автор: Fu-Te Yuan,Meng-Huang Lai,Jen-Tzong Jeng. Владелец: Isentek Inc. Дата публикации: 2017-02-07.

Method and apparatus for measuring distance

Номер патента: US20190049569A1. Автор: Donghan Kim,Sungdo Choi,Jong-sok KIM,Jaesup Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-02-14.

Point cloud intensity-based tunnel brightness measurement method

Номер патента: LU505803B1. Автор: Shiyong He. Владелец: Univ Chongqing Jiaotong. Дата публикации: 2024-06-17.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method and program

Номер патента: US09576370B2. Автор: Keiichiro Ishihara,Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Ultrasonic measuring device and fluid medium flow rate measuring method

Номер патента: RU2545358C2. Автор: Торальф ДИТЦ,Герри ШРЕТЕР,Андреас ГУРР. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2015-03-27.

Solar radiation characteristics measuring method by the multi-element sensor

Номер патента: RU2677075C1. Автор: Сергей Викторович Зуев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт мониторинга климатических и экологических систем Сибирского отделения Российской академии наук. Дата публикации: 2019-01-15.

Impedance measurement method and impedance measurement device

Номер патента: US8253421B2. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-08-28.

Method and apparatus for measuring coaxial relation between two mechanical parts

Номер патента: US20050053272A1. Автор: Kazunori Mizutori,Tatsuya Nakagi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2005-03-10.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: WO2009136149A1. Автор: Wayne Rudd,Laurie Linnett. Владелец: Laurie Linnett. Дата публикации: 2009-11-12.

Data measurement methods and systems

Номер патента: EP2321659A2. Автор: Gary R. Simpson. Владелец: Maury Microwave Inc. Дата публикации: 2011-05-18.

Measuring method and measuring apparatus

Номер патента: US12072273B2. Автор: Takeshi Higuchi,Kasumi Okabe. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: EP2283381A1. Автор: Wayne Rudd,Laurie Linnett. Владелец: RUDD Wayne. Дата публикации: 2011-02-16.

Radar high-speed single-target measurement method based on double-sideband lfmcw waveform

Номер патента: LU507050B1. Автор: LI YANG,Huan ZHANG,Haiyang DONG,Jihong YAN,Jianshu ZHAI,Shunxiang WANG,Yulin Luo. Владелец: Yangtze Delta Region Institute Quzhou Univ Of Electronic Science And Technology Of China. Дата публикации: 2024-06-26.

Optical measuring method, and optical measuring system

Номер патента: EP4431888A1. Автор: Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Lithographic method and apparatus

Номер патента: US09989864B2. Автор: Johannes Jacobus Matheus Baselmans,Wilhelmus Petrus De Boeij. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-06-05.

Photometric analysis method and photometric analysis device using microchip, microchip for photometric analysis device, and processing device for photometric analysis

Номер патента: US09863878B2. Автор: Yuji Oki,Kinichi Morita. Владелец: Kyushu University NUC. Дата публикации: 2018-01-09.

Pulse wave velocity measurement method

Номер патента: US09854976B2. Автор: Akira Tanaka,Tetsuya Takamori,Makoto Abe,Makoto Yoshizawa,Noriyasu Homma,Norihiro Sugita. Владелец: Fukushima University NUC. Дата публикации: 2018-01-02.

Distance measurement methods and apparatus

Номер патента: US09689970B2. Автор: Auguste D'aligny. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2017-06-27.

Atmosphere optical characteristics measuring method

Номер патента: RU2674560C1. Автор: Андрей Николаевич Павлов,Евгений Сергеевич Зубко,Олег Григорьевич Константинов. Владелец: Олег Григорьевич Константинов. Дата публикации: 2018-12-11.

Ambient air temperature measurement method

Номер патента: RU2661459C2. Автор: Рафкат Абдулхаевич Кантюков,Рашад Карибуллович Гимранов,Андрей Владимирович Воронин,Сергей Геннадьевич Тимофеев,Рашит Гимадетдинович Шарафиев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Газпром трансгаз Казань". Дата публикации: 2018-07-16.

A transpulmonary pressure measuring method and system

Номер патента: WO2024158337A1. Автор: Anatoliy SERGIYENKO,Rafael SAIFULIN. Владелец: Bark Technology Pte. Ltd.. Дата публикации: 2024-08-02.

NMR measurement method and apparatus for same

Номер патента: US20060158186A1. Автор: Shuya Hagiwara,Minseok Park,Hideta Habara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-07-20.

Level measurement method and apparatus

Номер патента: US09891091B2. Автор: Kenneth James,Stephen John Roe,Edgar Ramon SANCHEZ GALICIA. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2018-02-13.

Integrating sphere photometer spectral response measurement method and system

Номер патента: US20230408330A1. Автор: QIAN LI,Yan Huang,Jiangen PAN,Zhijiang MAO. Владелец: Hangzhou Everfine Photo E Info Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Fast 3d height measurement method and system

Номер патента: WO2004046645B1. Автор: Michel Cantin,Alexandre Nikitine,Benoit Quirion. Владелец: Solvision. Дата публикации: 2004-11-11.

Fast 3d height measurement method and system

Номер патента: WO2004046645A3. Автор: Michel Cantin,Alexandre Nikitine,Benoit Quirion. Владелец: Solvision. Дата публикации: 2004-09-02.

Light-measuring method and structure for cameras

Номер патента: US3810202A. Автор: N Uno,T Sakazaki. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1974-05-07.

Surface shape measurement method, surface shape measurement device, and belt management method

Номер патента: EP4421004A1. Автор: Seiji Enoeda,Yoshiaki Nishina,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Method and apparatus for contactless mixing of liquids

Номер патента: US09987604B2. Автор: Philipp Baaske,Stefan Duhr. Владелец: NanoTemper Technologies GmbH. Дата публикации: 2018-06-05.

Method and apparatus for indication of the electric state of polymer insulators

Номер патента: RU2755924C1. Автор: Николай Алексеевич Карасев,Евгений Алексеевич Юданов,Ен Дар Ким,Алексей Юрьевич Ефимов,Ян Евгеньевич Коростелев. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Форэнерго-Инжиниринг" (Ооо "Форэнерго-Инжиниринг"). Дата публикации: 2021-09-23.

Ultrasonic-wave propagation-time measuring method and gas concentration sensor

Номер патента: EP1233266A3. Автор: Noboru C/O Ngk Spark Plug Co. Ltd. Ishida,Takafumi C/O Ngk Spark Plug Co. Ltd. Oshima,Keigo c/o NGK Spark Plug Co. Ltd. Banno,Hideki c/o NGK Spark Plug Co. Ltd. Ishikawa,Yoshikuni c/o NGK Spark Plug Co. Ltd. Sato. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2005-08-03.

Volume measurement method and apparatus based on time-of-flight depth camera

Номер патента: EP4141380A1. Автор: Chi Zhang,Hongfeng Zhang,Zenghui LIU,Weizhong Zhang,Cuimei Yuan. Владелец: Weihai Innovation Institute Qingdao University. Дата публикации: 2023-03-01.

Method and apparatus for measuring blood pressure using skin images

Номер патента: US20210121084A1. Автор: Jin Soo Park,Kwang Seok Hong,Sang Il JO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2021-04-29.

Method and apparatus for measuring perfusion of biological tissue by blood

Номер патента: WO2000015107A1. Автор: Robert H. Rubin,Richard J. Cohen,Derin A. Sherman. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2000-03-23.

Neutron measuring method and neutron measuring device

Номер патента: US20240255654A1. Автор: Chun-Kai Huang. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and apparatus for measuring perfusion of biological tissue by blood

Номер патента: WO2000015107A9. Автор: Richard J Cohen,Robert H Rubin,Derin A Sherman. Владелец: Massachusetts Inst Technology. Дата публикации: 2000-08-17.

Feather Down Washing and Feeding Method and Feeding and Washing Machine Thereof

Номер патента: NL2029453B1. Автор: HU Juan,LI Lingang,Yu Xueyong,Xie Chenggen,ZHU Yelong. Владелец: The Sea Feather Ltd Company Of Luan. Дата публикации: 2023-05-16.

Method for measuring light physical constants and device for estimating light physical constants

Номер патента: US09778138B2. Автор: Koji Takahashi,Tsuyoshi Konishi,Kentaro KAWANISHI. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-10-03.

Method and apparatus for determining the edge strength of plate-shaped elements made of brittle-fracture material

Номер патента: US09664603B2. Автор: Clemens Ottermann,Kurt Nattermann,Markus Heiss-Chouquet. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2017-05-30.

Method and device for ultrasonic flow method measurement and layout device for controlling ultrasonic flow measurements by practical method

Номер патента: RU2660011C1. Автор: Бернхард ФУНК. Владелец: Флексим Флексибл Индустримесстехник Гмбх. Дата публикации: 2018-07-04.

Deformations measuring method

Номер патента: RU2723921C1. Автор: Андрей Анатольевич Паньков. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Пермский национальный исследовательский политехнический университет". Дата публикации: 2020-06-18.

Measuring method in real time mode of film thickness of coating not containing chrome on surface of strip steel

Номер патента: RU2498215C1. Автор: Чжичен ВАН,Чуньго ЛВ,Юнцян ЛУ. Владелец: Баошань Айрон Энд Стил Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-11-10.

Indirect rotation angles measurement method in operator's joints

Номер патента: RU2700118C1. Автор: Вячеслав Иванович Петренко,Фариза Биляловна Тебуева,Андрей Сергеевич Павлов,Михаил Михайлович Гурчинский,Владимир Олегович Антонов,Сергей Сергеевич Рябцев. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Кавказский федеральный университет". Дата публикации: 2019-09-12.

Electromagnetic wave in the shf devices slowing structures film local absorbers differential attenuation discrete measurement method with long-term interaction

Номер патента: RU2665357C1. Автор: Владимир Игоревич Роговин,Марина Анатольевна Носова,Дмитрий Николаевич Золотых. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Алмаз" (АО "НПП "Алмаз"). Дата публикации: 2018-08-29.

Multiphase flowmeter and fluid film measurement method

Номер патента: RU2542587C2. Автор: Эндрю Бэйкер,Александр ЛЮПО,Себастьен КАДАЛЕН,Бенуа ФУРНЬЕ. Владелец: Прэд Рисерч Энд Дивелопмент Лимитед. Дата публикации: 2015-02-20.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: WO2003075099A3. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: David Scheiner. Дата публикации: 2004-03-18.

Self-attention-based speech quality measuring method and system for real-time air traffic control

Номер патента: US12051440B1. Автор: Xuan Wang,Jian Zhang,Weijun Pan,Yidi Wang,Zixuan Wang,Tian LUAN,Qinghai Zuo,Rundong Wang,Peiyuan Jiang,Qianlan Jiang. Владелец: Civil Aviation Flight University of China. Дата публикации: 2024-07-30.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: WO2003075099A8. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: David Scheiner. Дата публикации: 2005-02-17.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330A. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-05-23.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330B1. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-06-28.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: EP1576422A2. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2005-09-21.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: WO2003075099A2. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.. Дата публикации: 2003-09-12.

Shear wave elasticity measurement method and shear wave elasticity imaging system

Номер патента: US20240285257A1. Автор: Shuangshuang LI. Владелец: Shenzhen Mindray Scientific Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Measurement method, measuring device, and measurement program

Номер патента: US12019009B2. Автор: Yuji Masuda,Konobu KIMURA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Transfer function measuring method and active noise reduction device

Номер патента: US11830470B2. Автор: Yoshiyuki Hayashi,Taiki KODATSU. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Measurement method, imprint apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20240272545A1. Автор: Shinichi Shudo,Masataka Yasukawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Distance-measuring method and endoscopic system

Номер патента: US12023204B2. Автор: Kazunori Tokiwa,Katsuhiko Yoshimura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Optical measuring methods and system

Номер патента: US09417180B2. Автор: Dong-Min Seo,Jang-Ik Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-08-16.

Measurement method to determine level of river pollution with sewage water

Номер патента: RU2269775C2. Автор: Петр Матвеевич Мазуркин,Татьяна Петровна Иванова,Тать на Петровна Иванова,Людмила Георгиевна Андреева,Екатерина Владимировна Абрамова,Аклима Мингазовна Сибагатуллина,Жанна Аркадьевна Гончарова,Тать на Александровна Моисеева,Татьяна Александровна Моисеева. Владелец: Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2006-02-10.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20060125495A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-15.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7009411B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-03-07.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20040256553A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-23.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20030020015A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-30.

High-precision continuous rapid subgrade moisture measurement method and system without damage to pavement

Номер патента: EP4375653A1. Автор: Chen Zhang,KUN Zhu,Jing Zhang,Bin He,Yun Wang,Wei Fu,Hang Zhang,Xing Liu,Shuai LIU,Yanbin RUAN,Lizhou GU. Владелец: CCCC Second Highway Consultants Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Method for measuring bearing cup gap in universal joint and method for manufacturing universal joint to which the measuring method is applied

Номер патента: US20160146261A1. Автор: Hiroaki Yamaishi. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2016-05-26.

Unmanned aerial vehicle platform based vision measurement method for static rigid object

Номер патента: US20220198695A1. Автор: Lu Li,BO LIU,Xiaofeng Shi,Xiaoyan LUO,Chengxi WU. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-06-23.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7321232B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-01-22.

Board-warping measuring apparatus and board-warping measuring method thereof

Номер патента: US09423242B2. Автор: Liang-Pin Yu,Chi-Yang Lin,Ying-Lin PAN. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Method and device for ultrasonic measurement and visualization of biological tissues elasticity in real time

Номер патента: RU2723753C1. Автор: Евгений Александрович Баранник,Юрий Петрович Бойченко,Алексей Валерьевич Князев,Анна Владимировна Линская,Анатолий Илларионович Марусенко,Виктор Иванович Пупченко. Владелец: Акционерное Общество "Научно-Производственная Фирма "Биосс". Дата публикации: 2020-06-17.

Non-invasive method and device for determination of stages of superficial and deep sleep

Номер патента: RU2548791C2. Автор: Сара ГЕРШКОВИЧИ-КОЭН,Яков ШЕФФИ. Владелец: Итамар Медикал Лтд.. Дата публикации: 2015-04-20.

Method and device for measuring pollutants contained in engine exhaust

Номер патента: RU2679688C2. Автор: Надин Алис Элен АРИВЕЛЬ,Жан-Люк Вернио. Владелец: Сафран Эркрафт Энджинз. Дата публикации: 2019-02-12.

Method of measuring specific thermal resistance and device for implementation thereof

Номер патента: RU2722088C1. Автор: Анатолий Николаевич Балалаев,Мария Анатольевна Паренюк,Дмитрий Михайлович Тимкин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный университет путей сообщения" (СамГУПС). Дата публикации: 2020-05-26.

Aircraft ground speed and the crab angle measuring method

Номер патента: RU2662803C1. Автор: Дмитрий Владиленович Хаблов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук. Дата публикации: 2018-07-31.

Measurement method of harmonic distortion of fm signal generated by the direct digital synthesis method

Номер патента: RU2614191C1. Автор: Алексей Вячеславович Зенькович,Виктор Львович Балло,Валентин Борисович Добровольский. Владелец: Открытое акционерное общество "Корпорация космических систем специального назначения "Комета". Дата публикации: 2017-03-23.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Snapshot type overlay error measuring device and measuring method

Номер патента: US11619883B2. Автор: Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-04-04.

Spin measurement method and apparatus

Номер патента: CA2589745A1. Автор: Brian Francis Mooney. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-15.

Capacitive sensor measurement method for discrete time sampled system for in-circuit test

Номер патента: US20060076959A1. Автор: Curtis Tesdahl,Ronald Peiffer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-13.

Radar speed measurement method, radar, radar speed measurement device

Номер патента: US20240272296A1. Автор: Yanfeng DANG,Erxin ZHAO. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Microscopic non-destructive measurement method of microstructure linewidth based on translation difference

Номер патента: US20240265520A1. Автор: Shumin Wang,Yifeng Sun,Xiaoxin Fan,Xiao Huo,Qun Yuan,Zhishan GAO,Jianqiu MA,Jiale ZHANG. Владелец: Nanjing University of Science and Technology. Дата публикации: 2024-08-08.

Spin measurement method and apparatus

Номер патента: EP1828784A1. Автор: Brian Francis Mooney. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-05.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Kit for quantitatively determining tacrolimus in whole blood by low-resistance latex-enhanced immune competition method, and use thereof

Номер патента: EP4459286A1. Автор: Weijing Lin,Xiaochan SONG,Linjuan QIN. Владелец: SHANGHAI GENEXT MEDICAL TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

High-temperature gas pressure measuring method

Номер патента: US09983080B2. Автор: Wen-Chueh Pan,Ming-June Lin,Jen-Chieh Li,Tsan-Tung Chen,Yih-Hsing Wang,Tien-Fu Wu. Владелец: National Chung Shan Institute of Science and Technology NCSIST. Дата публикации: 2018-05-29.

Immunochromatography reagent comprising a nonionic surfactant, bicine, and casein, and measurement method using the same

Номер патента: US09952207B2. Автор: Satoru Nakajima,Hisahiko Iwamoto,Yuhiro Sakakibara. Владелец: Tanaka Kikinzoku Kogyo KK. Дата публикации: 2018-04-24.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09915636B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-03-13.

Wavefront aberration measuring method, wavefront aberration measuring apparatus and optical element manufacturing method

Номер патента: US09557241B2. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Method and apparatus for measuring trace and ultra-trace oil content

Номер патента: EP4339596A1. Автор: QIANG LI,Linghui GONG,Zhongjun HU,Bingming WANG. Владелец: Technical Institute of Physics and Chemistry of CAS. Дата публикации: 2024-03-20.

Measurement method for non-destructive inspection, measurement device, non-destructive inspection method, information processing device of non-destructive inspection, and recording medium

Номер патента: US12044654B2. Автор: Hiroshi Morita,Yoshiyuki Hashimoto,Mitsuru Mimori,Katsunori Teshima,Motonori Takakura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-23.

Converter gas component soft measuring method based on gas heat value and flue gas components

Номер патента: MY192529A. Автор: Lin Ma,Hongming Wang,Yujie Wang,Yalan Ye,Xiang An,Yicui Wang. Владелец: Jiangsu Maritime Vocational Inst. Дата публикации: 2022-08-26.

Measurement structure, method of manufacturing same, and measuring method using same

Номер патента: US20140021353A1. Автор: Takashi Kondo,Seiji Kamba. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Temperature measurement method, temperature measurement probe, and temperature measurement device

Номер патента: US20220316962A1. Автор: Peiyong Wang,Xingyou LI,Qinghuang HUANG. Владелец: Xiamen Kaiyun Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Filtration membrane fouling index measuring method

Номер патента: US20150323442A1. Автор: Jung Won Kim,Yong Xun JIN,Young Gil Ju,Seung Kwan HONG. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-12.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US20160077073A1. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2016-03-17.

Temperature measurement method, temperature measurement device, medical device system, and laser treatment method

Номер патента: US20230392996A1. Автор: Mitsuru Namiki,Ikutoshi Fukushima. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Pressure measurement method, control method, pressure measurement device, and analyzer

Номер патента: US20240167900A1. Автор: Atsushi Nakamura,Naohide Miyamoto,Eikichi SHIBATA,Kiyomi Seii. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Measuring method for measuring overlay shift and non-transient computer readable storage medium

Номер патента: US20240319616A1. Автор: Tsu-Wen HUANG,Chun Yen WEI. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Six-degree-of-freedom displacement measurement method for exposure region on silicon wafer stage

Номер патента: US09995569B2. Автор: Feng Liu,Ming Zhang,Yu Zhu,Dengfeng Xu,Rong Cheng,Kaiming Yang,Jinchun Hu,Haihua Mu,Chuxiong Hu,Fan ZHI,Yujing SONG,Anlin CHEN. Владелец: Beijing U Precision Tech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Measurement method of initial missile velocity

Номер патента: RU2406959C1. Автор: Генри ФРИК. Владелец: Рейнметалл Эйр Дифенс Аг. Дата публикации: 2010-12-20.

Measurement method of nuclear reactor reactivity

Номер патента: RU2475873C1. Автор: Сергей Павлович Дашук,Валерий Фёдорович Борисов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова". Дата публикации: 2013-02-20.

Railway wheels flange wear measuring method

Номер патента: RU2666043C1. Автор: Йосиюки СИМОКАВА,Осаму КОНДО. Владелец: Ниппон Стил Энд Сумитомо Метал Корпорейшн. Дата публикации: 2018-09-05.

Image measurement method, image measurement program, image measurement device, and object manufacture method

Номер патента: US20190139247A1. Автор: Junichi Kubota,Motoi Murakami. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2019-05-09.

Method and arrangement for recording molecular binding phenomena

Номер патента: CA2917270C. Автор: Yixin Zhang,Robert Wieduwild,Francesco Reddavide,Weilin LIN,Jana Herrmann,Luca MANNOCCI. Владелец: DYNABIND GMBH. Дата публикации: 2022-05-24.

Infrared absorption measurement method, infrared absorption measurement device, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20040200963A1. Автор: Isamu Namose. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2004-10-14.

Management method, measuring method, measuring device, crystal oscillator sensor, and set

Номер патента: US20220326184A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-10-13.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Radiotherapy apparatus control apparatus and specific site position measuring method

Номер патента: US20110087061A1. Автор: Takanobu Handa,Shuji Kaneko. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-14.

A measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: EP3845914A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Tech Solutions S L. Дата публикации: 2021-07-07.

Measurement method for characterization of a photodetector

Номер патента: US20240247977A1. Автор: Gerd Plechinger. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-07-25.

Method for training binding affinity measurement model, and binding affinity measurement method

Номер патента: EP4401008A1. Автор: Shaoyong XU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Method and System of Recording Data from Borescopic Inspection

Номер патента: US20190172277A1. Автор: LIN Cheng. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-06-06.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: US20240288313A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-08-29.

Measuring method of sensor using interdigitated array electrode, measuring apparatus and computer readable medium storing measuring program

Номер патента: US20170045469A1. Автор: Koji Sode,Yasuhide Kusaka,Hisashi Kaneda. Владелец: Ultizyme International Ltd. Дата публикации: 2017-02-16.

Noninvasive blood sugar level measuring method

Номер патента: US20080261320A1. Автор: Nobuaki Noguchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-23.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: EP4425134A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-09-04.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: FI20235241A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-08-29.

Micro biosensor and measuring method thereof

Номер патента: US12097025B2. Автор: Chien-Chung Chen,Chun-Mu Huang,Chieh-Hsing Chen,Heng-Chia Chang,Chi-Hao Chen. Владелец: Bionime Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Noninvasive blood sugar level measuring method

Номер патента: US7863049B2. Автор: Nobuaki Noguchi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-04.

Measurement method for measuring an external magnetic field and manufacturing method of a magnetic field sensing module

Номер патента: US09983271B2. Автор: Fu-Te Yuan,Meng-Huang Lai,Jen-Tzong Jeng. Владелец: Isentek Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Ultrasonic measurement system and measurement method thereof

Номер патента: US09976885B2. Автор: Shuguang Zhang,Jinhui Huang,Xiongbing Kang. Владелец: AUDIOWELL ELECTRONICS (GUANGDONG) Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Biomagnetic resonance device and measuring method therefor

Номер патента: US09921280B2. Автор: Yong-Ho Lee,Kiwoong Kim,Seong-Joo Lee,Kwon-Kyu Yu. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Refractive index distribution measuring method, refractive index distribution measuring apparatus, and method for manufacturing optical element

Номер патента: US09625350B2. Автор: Tomohiro Sugimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Material dielectric properties measuring method and device for its implementation

Номер патента: RU2665593C1. Автор: Виталий Петрович Крылов,Иван Васильевич Подольхов,Виктор Александрович Минкин. Владелец: Акционерное общество "Обнинское научно-производственное предприятие "Технология" им. А.Г. Ромашина". Дата публикации: 2018-08-31.

Measuring method and device for trace and ultra-trace oil content

Номер патента: US20240035938A1. Автор: QIANG LI,Linghui GONG,Zhongjun HU,Bingming WANG. Владелец: Technical Institute of Physics and Chemistry of CAS. Дата публикации: 2024-02-01.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

Measuring method, measuring apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240085327A1. Автор: Norishige Kakegawa,Takahiro Masumura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220218225A1. Автор: Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Infrared thermometer and forehead temperature correction and measurement method

Номер патента: US20230061946A1. Автор: Sean R. Jackson,Shengzhou YANG. Владелец: Shenzhen Youngme Information Communication System Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: US20210396881A1. Автор: Shunji Maeda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Groundwater level elevation measurement method, groundwater storage measurement system, and application

Номер патента: US12044610B1. Автор: XU Wang,Hongyue Sun. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-23.

Light Measurement Apparatus for Reaction Vessel and Light Measurement Method

Номер патента: US20150218618A1. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2015-08-06.

Measurement method

Номер патента: US20130103346A1. Автор: Yasushi Iwasaki,Masaki Hosoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-04-25.

Method and arrangement for detecting binding events of molecules

Номер патента: US20160377608A1. Автор: Yixin Zhang,Robert Wieduwild,Francesco Reddavide,Weilin LIN,Jana Herrmann,Luca MANNOCCI. Владелец: TECHNISCHE UNIVERSITAET DRESDEN. Дата публикации: 2016-12-29.

Nonlinearity measuring method, nonlinearity measuring unit, magnetic recording/regenerating unit and LSI for magnetic recording/regenerating

Номер патента: US20050190471A1. Автор: Hiroaki Ueno. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2005-09-01.

Neutron measuring system and neutron measuring method

Номер патента: US20240272318A1. Автор: Tzung-Yi Lin,Wen-Chyi Tsai. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Test apparatus and target measurement method using the same

Номер патента: US20140193921A1. Автор: TAKAYUKI Taguchi,Sung Hwa Lee,Hye Kyung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-07-10.

Test apparatus and target measurement method using the same

Номер патента: US20170350904A1. Автор: TAKAYUKI Taguchi,Sung Hwa Lee,Hye Kyung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-12-07.

Measurement system for micro-mixing and measurement method thereof

Номер патента: US20240310289A1. Автор: ZHENG Li,Jie Chen,Chao Yang,Xin Feng,Weipeng Zhang,Yuanyuan Li,Minghui Xie,Zaisha MAO,Xiaoxia DUAN,Dingwang HUANG. Владелец: Nanjing Jiuzhang Chemical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Fin tip position measurement method, fin tip position measurement system, and jig for measuring fin tip position

Номер патента: US12044629B2. Автор: Satoshi Kumagai,Koji Ishibashi,Shunsuke Mizumi,Masaru Sekihara,Juichi KODERA,Jose Carlos KUROKI RAMIREZ. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Antenna attitude measurement sensor and antenna attitude measurement method

Номер патента: US09945663B2. Автор: Shijie Bi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-04-17.

Optical fiber leakage loss measurement method

Номер патента: US09933331B2. Автор: Tetsuya Hayashi,Tetsuya Nakanishi. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Nucleic acid sequence measuring method, nucleic acid sequence measuring device, manufacturing method for nucleic acid sequence measuring device, and nucleic acid sequence measuring apparatus

Номер патента: US09797003B2. Автор: Takeo Tanaami,Tomoyuki Taguchi,Takashi TADENUMA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Measuring method of longitudinal distribution of bending loss of optical fiber, measuring method of longitudinal distribution of actual bending loss value of optical fiber, test method of optical line, manufacturing method of optical fiber cable, manufacturing method of optical fiber cord, and manufacturing method of optical fiber

Номер патента: US09562827B2. Автор: Tomoya Shimizu,Kazuhide Nakajima,Takashi Matsui,Yukihiro Goto,Shoji Tanigawa,Shoichiro Matsuo,Toshio Kurashima,Itaru ISHIDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

Measurement device and measurement method for measuring the thickness of a panel-shaped object

Номер патента: US09528811B2. Автор: Alfred Haselboeck,Thomas Denkmeier,Michael Auzinger. Владелец: Trumpf Maschinen Austria GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-12-27.

Method for ascertaining and monitoring fill level of a medium in a container by means of a fill-level measuring device using a travel time measuring method

Номер патента: US09442000B2. Автор: Edgar Schmitt,Klaus Feisst,Stefan Gorenflo,Alexey Malinovskiy,Dietmar Spanke. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2016-09-13.

Thickness measuring method and device

Номер патента: EP4344614A1. Автор: Jae Seung Oh,Seon Hwan Choi. Владелец: Huvitz Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Immunochromatography measuring method, auxiliary agent for immunochromatography measurement, immunochromatography chip, and immunochromatography measurement kit

Номер патента: EP4145131A1. Автор: Hideya Kawasaki,Takahiko Hariyama. Владелец: Nanosuit Inc. Дата публикации: 2023-03-08.

Immunochromatography measurement method, auxiliary liquid for immunochromatography measurement, immunochromatography chip, and immunochromatography measurement kit

Номер патента: US20230258632A1. Автор: Hideya Kawasaki,Takahiko Hariyama. Владелец: Nanosuit Inc. Дата публикации: 2023-08-17.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Capacitance measurement method, system and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230305046A1. Автор: QIAN Xu,Xinyu Huang,BO Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Full-path circuit delay measurement device for field-programmable gate array (FPGA) and measurement method

Номер патента: US11762015B2. Автор: Yajun Ha,Weixiong JIANG. Владелец: ShanghaiTech University. Дата публикации: 2023-09-19.

Resonance-frequency measuring method determining a resonance frequency by counting the number of off-track occurrences

Номер патента: US20040196053A1. Автор: Tatsuhiko Kosugi,Shuichi Hashimoto,Yoshiyuki Kagami,Ryuki Kubohara,Takeyori Hara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2004-10-07.

Spectral confocal measurement device and measurement method

Номер патента: EP4006483A1. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Physical Property Measuring Method for TFT Liquid Crystal Panel and Physical Property Measuring Apparatus for TFT Liquid Crystal Panel

Номер патента: US20120242353A1. Автор: Takashi Kurihara,Kunihiko Sasaki,Masaru Inoue,Yasuhiro Kume. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2012-09-27.

Length measurement method for conical workpiece based on dual displacement sensors

Номер патента: US12050097B2. Автор: Lei Yan,Tian Bai,Xiaosan Wang,Yinxiao MIAO,Fengju SUN,Qigang HUANG,Ruidong HUO,Yilin DAI,Junhong TIAN. Владелец: Beijing Aerospace Institute for Metrology and Measurement Technology. Дата публикации: 2024-07-30.

Lectin-binding substance measurement method, lectin-binding substance measurement kit, and capture carrier for use in these

Номер патента: US12038440B2. Автор: Kazunori Okada,Shintaro Yagi,Katsumi Aoyagi,Kumiko Iida. Владелец: FUJIREBIO INC. Дата публикации: 2024-07-16.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220011167A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2022-01-13.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20190360867A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2019-11-28.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20230258504A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-17.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11733103B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-22.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11169031B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2021-11-09.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Capacitance measurement method, system and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US12044716B2. Автор: QIAN Xu,Xinyu Huang,BO Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Resonance-frequency measuring method determining a resonance frequency by counting the number of off-track occurrences

Номер патента: US20030057935A1. Автор: Susumu Yoshida,Tatsuhiko Kosugi,Shuichi Hashimoto,Yoshiyuki Kagami,Ryuki Kubohara,Takeyori Hara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-03-27.

Resonance-frequency measuring method determining a resonance frequency by counting the number of off-track occurrences

Номер патента: US6774615B2. Автор: Susumu Yoshida,Tatsuhiko Kosugi,Shuichi Hashimoto,Yoshiyuki Kagami,Ryuki Kubohara,Takeyori Hara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2004-08-10.

Resonance-frequency measuring method determining a resonance frequency by counting the number of off-track occurrences

Номер патента: US7164261B2. Автор: Tatsuhiko Kosugi,Shuichi Hashimoto,Yoshiyuki Kagami,Ryuki Kubohara,Takeyori Hara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-01-16.

Self-Adaptive Horizontal Attitude Measurement Method based on Motion State Monitoring

Номер патента: US20220326017A1. Автор: QIAN LI,Yifan Zhou,Lei Wu,Yuxin Zhao,Jiancheng Wang,Shuaiyang LI,Yueyang Ben,Guangtao Zhou,Xinle Zang,Tingxiao Wei. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2022-10-13.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: US20070120079A1. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: E>C>H> WILL GmbH. Дата публикации: 2007-05-31.

Dose measuring device for the measurement of a radiation dose and measurement method for determining the radiation dose applied during pasteurization and/or sterilization of particulate material

Номер патента: US20240004089A1. Автор: Georgios AKEPSIMAIDIS. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2024-01-04.

Optical fiber measurement system, optical fiber measurement method, control arithmetic device, and program

Номер патента: US20230332980A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Tomokazu Oda,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Quality control sample measurement method, sample analyzer, and supply device

Номер патента: US20230168262A1. Автор: Atsushi Kumagai,Noriyuki Nakanishi,Junya IKUTA,Syunsuke Yao. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Spectral confocal measurement device and measurement method thereof

Номер патента: US12085501B2. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Portable internal friction measuring apparatus and internal friction measurement method

Номер патента: EP4443128A1. Автор: Jian Yin,Wenqing Jia,Yuanfei Li,Xiangbing LIU,Chaoliang XU,Qiwei QUAN,Wangjie QIAN. Владелец: Suzhou Nuclear Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Self-adaptive horizontal attitude measurement method based on motion state monitoring

Номер патента: US12061086B2. Автор: QIAN LI,Yifan Zhou,Lei Wu,Yuxin Zhao,Jiancheng Wang,Shuaiyang LI,Yueyang Ben,Guangtao Zhou,Xinle Zang,Tingxiao Wei. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2024-08-13.

Measurement method, measurement device, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20190226941A1. Автор: Fumihiko Ito,Nobuo Kuwaki,Ryo Maruyama. Владелец: Shimane University NUC. Дата публикации: 2019-07-25.

Measurement system, calibration and measurement method for bulk radiation wastes

Номер патента: US09841516B1. Автор: Ping-Ji Huang,Ming-Chen Yuan,Chin-Hsien Yeh,Wun-Jhih Huang. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2017-12-12.

Pressure sensor, measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09841336B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-12-12.

Matrix device, measurement method of characteristics thereof, and driving method thereof

Номер патента: US09797931B2. Автор: Hiroyuki Miyake,Yasuhiko Takemura. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Lens power measurement device and measurement method

Номер патента: US09778136B2. Автор: Hiroaki Suzuki,Atsushi Kobayashi. Владелец: Menicon Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Interferometric distance measuring method for measuring surfaces, and such a measuring arrangement

Номер патента: US09677870B2. Автор: Thomas Jensen. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-06-13.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US09629577B2. Автор: Eriko Yoshioka,Susumu Tatemoto. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Wavefront measurement method, shape measurement method, optical element manufacturing method, optical apparatus manufacturing method, program, and wavefront measurement apparatus

Номер патента: US09574967B2. Автор: Atsushi Maeda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Surface temperature measuring apparatus and surface temperature measuring method

Номер патента: US09523611B2. Автор: Chihiro Uematsu,Yutaka Wakasu,Tatsuro Honda. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Ultrasonic measuring device, and ultrasonic measuring method of flow rate

Номер патента: RU2488836C2. Автор: Торальф ДИЦ,Ларс ЭМИХЕН,Джон ЛЭНСИНГ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2013-07-27.

Filling capacity measurement method

Номер патента: RU2541148C1. Автор: Норио КАЦУЯМА,Хироси ЮАСА. Владелец: Джапан Тобакко Инк.. Дата публикации: 2015-02-10.

Flow speed measuring module and respective measuring method

Номер патента: RU2321880C2. Автор: Брюс Фредерик ГРУМСТРУП,Пол Роберт АДАМС. Владелец: Фишер Контролз Интернэшнл Ллс. Дата публикации: 2008-04-10.

Method and device for non-invasive and selective determination of biomechanical, contractile and viscoelastic properties of surface skeletal muscles

Номер патента: WO2012005701A2. Автор: Saso Tomazic,Srdan Dordevic. Владелец: TMG-BMC D.O.O.. Дата публикации: 2012-01-12.

Human tissue quasi-elastic coefficient and elasticity measurement methods and device

Номер патента: CA3076160A1. Автор: Xiliang Nie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-03-21.

Three-dimensional measuring system, and three-dimensional measuring method

Номер патента: US20210293519A1. Автор: Hitoshi Tamura,Yoichi Togawa,Kento Kurihara,Tomotaka Yamagata. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Body temperature measurement method, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230263399A1. Автор: Xiaofang Wu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Lectin-binding substance measurement method, lectin-binding substance measurement kit, and blocked labeled lectin for use in these

Номер патента: US11988666B2. Автор: Kazunori Okada,Shintaro Yagi,Naoki Ishikawa,Katsumi Aoyagi,Kumiko Iida,Tomonori Nishii. Владелец: FUJIREBIO INC. Дата публикации: 2024-05-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240241227A1. Автор: Takuya Yokoyama,Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Accuracy measurement method of autonomous mobile vehicle, calculating device, and autonomous mobile vehicle

Номер патента: EP4372514A1. Автор: Po-Cheng Chen,Liang-Chin Wang,Kao-Pin Lin. Владелец: Axiomtek Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Accuracy measurement method of autonomous mobile vehicle, calculating device, and autonomous mobile vehicle

Номер патента: US20240168484A1. Автор: Po-Cheng Chen,Liang-Chin Wang,Kao-Pin Lin. Владелец: Axiomtek Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Temperature measurement method of honeycomb formed body, and temperature measurement device

Номер патента: US20180257289A1. Автор: Takeshi Tokunaga. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Measurement Method, Sensor Device, And Inertial Measurement Device

Номер патента: US20230243865A1. Автор: Yoshiyuki Matsuura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Refractive-index distribution measuring method, refractive-index distribution measuring apparatus, method of manufacturing optical element, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20150260605A1. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-09-17.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Contour accuracy measuring system and contour accuracy measuring method

Номер патента: US20200326185A1. Автор: Yu-Sheng Tseng,Tsung-Yu Yang,Chien-Yi Lee,Po-Hsun Wu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-10-15.

Coupled physiological signal measurement method, coupled physiological signal measurement system and graphic user interface

Номер патента: US20230082564A1. Автор: Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Min-Hsuan Lee,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2023-03-16.

Geoid measurement method, geoid measurement apparatus, geoid estimation device, and geoid calculation data collection device

Номер патента: US20210199435A1. Автор: Atsushi Tanaka,Toshiyuki Hosoya,Ryotaro INOUE,Mikio KOZUMA. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2021-07-01.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: US20220026197A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2022-01-27.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: CA2540801A1. Автор: Olaf Boese,Lorenz Ring. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-14.

Geoid measurement method, geoid measurement apparatus, geoid estimation device, and geoid calculation data collection device

Номер патента: EP3786579A1. Автор: Atsushi Tanaka,Toshiyuki Hosoya,Ryotaro INOUE,Mikio KOZUMA. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2021-03-03.

Neutron measuring system and neutron measuring method

Номер патента: EP4414750A1. Автор: Tzung-Yi Lin,Wen-Chyi Tsai. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Blood pressure measurement method, apparatus, device and readable storage medium

Номер патента: US20240366099A1. Автор: Yongjie Gao. Владелец: Shenzhen AOJ Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Stress measuring method, stress measuring member, and stress measuring set

Номер патента: US09897496B2. Автор: Takahiro Hayashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Animal urinary function measuring device and animal urinary function measuring method

Номер патента: US09877460B2. Автор: Hiroaki Fukuda,Ryoji Mizumachi. Владелец: LSI Medience Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Neurogenic baroreflex sensitivity measurement device, neurogenic baroreflex sensitivity measurement program and neurogenic baroreflex sensitivity measurement method

Номер патента: US09826909B2. Автор: Yuichi Kato. Владелец: SAPPORO MEDICAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-11-28.

Measuring method of low off-state current of transistor

Номер патента: US09817040B2. Автор: Atsushi Hirose,Toshihiko Takeuchi,Masashi TSUBUKU,Kazuma Furutani. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Real-time measurement method of laboratory space wave based on visual edge detection

Номер патента: ZA202402277B. Автор: XU Zhao,Cheng Peng,Yingqi Wang,Hanbao Chen,Songgui Chen,Huaqing ZHANG,Zhiwei Ren,Yina Wang,Chuanqi HU. Владелец: Tianjin Research Institute For Water Transp Engineering Ministry Of Transp. Дата публикации: 2024-10-30.

Cross-sectional profile measuring method

Номер патента: US09739607B2. Автор: Hirokazu Michiwaki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Contour measurement apparatus and contour measurement method for measuring contour of poultry carcass, and deboning device for poultry carcass

Номер патента: US09700060B2. Автор: Noriyuki Inoue,Noriyuki Takahashi,Shinji HANE,Kenichi Oka,Koji TAKANASHI,Naoki Toyoda,Hiroyuki SAKURAYAMA. Владелец: Mayekawa Manufacturing Co. Дата публикации: 2017-07-11.

Temperature measurement method for ultraviolet light transmittance member, temperature measurement device for ultraviolet light transmittance member, and light source device

Номер патента: US09671290B2. Автор: Masafumi Mizuguchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Profile gauge, measuring device equipped with the profile gauge, and measurement method

Номер патента: US09575483B2. Автор: Edgar WEPPELMANN,Juergen Kreschel. Владелец: Gleason Pfauter Maschinenfabrik GmbH. Дата публикации: 2017-02-21.

Force torque sensor, force torque sensor frame, and force torque measurement method

Номер патента: US09448128B2. Автор: Taekeun KIM,Junghoon Hwang,Bongseok KIM,Changwoo PARK,Seungyun Choi. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2016-09-20.

Vessel speed measuring method by doppler log

Номер патента: RU2677102C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Сергей Васильевич Жуменков,Виталий Анатольевич Гучмазов,Виталий Николаевич Тимофеев,Павел Валерьевич Юхта. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2019-01-15.

Optical radiation power measuring with metal bolometer method and device

Номер патента: RU2677831C1. Автор: Павел Викторович Выборнов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт мониторинга климатических и экологических систем Сибирского отделения Российской академии наук. Дата публикации: 2019-01-21.

Human tissue quasi-elastic coefficient and elasticity measurement methods and device

Номер патента: EP3698721A2. Автор: Xiliang Nie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-26.

Laser distance measuring method, focusing method, laser distance measuring system, focusing system, and auto-focusing analysis device

Номер патента: EP4273581A1. Автор: Yifei Wu,Xiaojia Zhang,Puwen LUO. Владелец: Shanghai Ruiyu Biotech Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Method and device for non-invasive and selective determination of biomechanical, contractile and viscoelastic properties of surface skeletal muscles

Номер патента: WO2012005701A9. Автор: Saso Tomazic,Srdan Dordevic. Владелец: TMG-BMC D.O.O.. Дата публикации: 2013-03-14.

Method and device for non-invasive and selective determination of biomechanical, contractile and viscoelastic properties of surface skeletal muscles

Номер патента: EP2590557A2. Автор: Srdan Dordevic,Saso TOMAZ IC. Владелец: Tmg-Bmc d o o. Дата публикации: 2013-05-15.

Chromaticity Measurement Method and Device for Calibration of Tiled LED Display Screen

Номер патента: US20230314223A1. Автор: FAN Zhong,Zhou Wang,Kai Chen,Ronghua Liu,Xiaofan Feng,Yafei SHEN,Luning Liu,Zengqiang Zheng,Changdong OU,Shiwen Luo,Zhikun Hong. Владелец: Wuhan Jingli Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Dot position measurement method, dot position measurement apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20100079518A1. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2010-04-01.

Fabrication method of conductive fabric, multi-pressure sensor for fiber type and measuring method of multi-pressure

Номер патента: US20210156752A1. Автор: Seong Jin Jang,Jae Hoon Ko,Jee Young Lim,Seung Ju LIM. Владелец: Korea Institute of Industrial Technology KITECH. Дата публикации: 2021-05-27.

Temperature measuring method using micro temperature sensing element

Номер патента: EP1640695B1. Автор: Yoshio Nat. Inst. for Materials Science BANDO,Yihua c/o Nat. Inst. for Materials Science GAO,Zongwen Nat. Inst. for Materials Science LIU,Dmitri Nat. Inst. for Materials Science GOLBERG. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2011-08-10.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Ultrasonic online nondestructive measurement method for melt density during molding

Номер патента: US20240227267A1. Автор: PENG Zhao,JianFeng Zhang,Jianzhong Fu,Kaipeng Ji,Zhengyang Dong,Ruoxiang Gao. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-11.

Single-beam photothermal measurement apparatus and measurement method for absorptive defects

Номер патента: US12099002B2. Автор: QI Lu,Weiwei Wang,Shijie Liu,Jianda SHAO,Tianzhu Xu,Kaizao Ni,Yingjia Li. Владелец: Shanghai Hengyi Optics And Fine Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Measuring system and measuring method of antenna pattern based on near field to far field transformation

Номер патента: US20240329108A1. Автор: Chang-Fa Yang,Wen-Jiao Liao,Chang-Lun Liao,yuan-chang Hou,Bo-Cheng YOU,You-Hua Lin,Jiahn-Wei Lin,De-Xian Song,Tswen-Jiann Huang. Владелец: Chunghwa Telecom Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Sheet resistance measuring method

Номер патента: US09632048B2. Автор: Shi Shu,Yue Shi,Bin Zhang,Bing Sun,Zhijun LV,Kexin Lu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Measurement method of the brillouin scattering frequency shift on the optical fiber length

Номер патента: RU2624801C1. Автор: Владимир Александрович Бурдин,Михаил Викторович Дашков,Олег Геннадьевич Морозов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Поволжский государственный университет телекоммуникаций и информатики" (ФГБОУ ВО ПГУТИ). Дата публикации: 2017-07-06.

Method and device for one-shot measurement of the transient birefringence induced by a perturbation lying within the terahertz frequency range

Номер патента: US8847164B2. Автор: Ulrich Schmidhammer,Vincent De Waele. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 2014-09-30.

High-precision Measuring Device for Pre-breakdown Current of Vacuum Chamber and Measuring Method

Номер патента: NL2026660B1. Автор: Yang Wei,WU Fangfang,Li Shimin,Du Zhaoqi,Zhang Chaohai. Владелец: Zhejiang Huadian Equipment Testing Inst Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-01.

Measurement method, measurement device, and recording medium

Номер патента: US20200265635A1. Автор: Naofumi ENDO. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-08-20.

Measurement method of flatband voltage of power semiconductor module

Номер патента: WO2023181444A1. Автор: Nicolas Degrenne,Julio BRANDELERO. Владелец: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V.. Дата публикации: 2023-09-28.

Optical measuring system and optical measuring method

Номер патента: EP1708612A1. Автор: Christoph Hauger,Peter Reimer. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-10-11.

Measuring method of liquid mixture purity and apparatus for measuring liquid mixture purity

Номер патента: US20240077392A1. Автор: Kuo-Liang Yeh,Wen-Ting Huang,Jung-Kuei Peng,Ya-Ju Chang,Sheng-Tang Chang,Min-Wen WENG. Владелец: 3s Silicon Tech Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

Scale thickness measuring method

Номер патента: US20240255268A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno,Yuji KOHASHI,Hajime KUMATANI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Stroke information measuring apparatus and stroke information measuring method

Номер патента: EP1398060B1. Автор: Takahiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. MURAKOSHI,Yuuichi c/o Hamamatsu Photonics K.K. KIMURA,Takehiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. KURONO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-08-03.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: EP3853553A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2021-07-28.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US20070203654A1. Автор: Toshihide Ezoe. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Micro-displacement measurement system having picometer scale resolution and measurement method

Номер патента: US20240151558A1. Автор: XIN Ran,Wei Zhou,Fangfang Liu,Xinyang Liu,Hongli Li,Haojie Xia. Владелец: Hefei University of Technology. Дата публикации: 2024-05-09.

Measurement method, shaping device, simulator, measurement device, and storage medium

Номер патента: US20240262021A1. Автор: Yoshihiro Shiode. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Dielectric constant measurement method, dielectric measurement device and dielectric measurement program

Номер патента: US12025642B2. Автор: Hiroshi Hamada,Hideyuki Nosaka,Teruo Jo. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Interferometric measurement method for angular misalignment, fiber core concentricity and end face polish angle of single fiber connectors and ferrules

Номер патента: US09983364B2. Автор: Farhad Towfiq,Anton Korniienko,Yurii Yenko. Владелец: Sumix Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Noninvasive measuring method for rapid temperature variation under DC excitation magnetic field

Номер патента: US09958342B2. Автор: Pu Zhang,Wenbiao XU,Wenzhong Liu,Chuliang RUAN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-05-01.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09933404B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-04-03.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09880103B2. Автор: Karsten Hiltawsky,Hans-Ullrich Hansmann,Arne TRÖLLSCH,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-01-30.

Device for measuring the angular positions of a rotorcraft blade element relative to a rotor hub, an associated rotor, and a corresponding measurement method

Номер патента: US09784572B2. Автор: Julien HOCQUETTE. Владелец: Airbus Helicopters SAS. Дата публикации: 2017-10-10.

Planar motor rotor displacement measuring device and its measuring method

Номер патента: US09766054B2. Автор: Ming Zhang,Zhao Liu,Yu Zhu,Dengfeng Xu,Kaiming Yang,Wensheng Yin,Jinchun Hu,Haihua Mu,Chuxiong Hu,Longmin Chen. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Semiconductor device and measurement method

Номер патента: US09606007B2. Автор: Yosuke IWASA. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Method and device for measuring trailer included angle, and vehicle

Номер патента: AU2019382367A1. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-08.

A solution for measurement of trehalase in urine and measurement method using this solution

Номер патента: EP4267966A1. Автор: Bülent BIDI,Abdullah Olgun. Владелец: ARGERON MEDIKAL ARASTIRMA SANAYI VE TICARET AS. Дата публикации: 2023-11-01.

A Solution for Measurement of Trehalase in Urine and Measurement Method Using this Solution

Номер патента: US20240102076A1. Автор: Bülent BIDI,Abdullah Olgun. Владелец: ARGERON MEDIKAL ARASTIRMA SANAYI VE TICARET AS. Дата публикации: 2024-03-28.

Temperature sensor, wearable device comprising temperature sensor, core temperature measurement method using temperature sensor

Номер патента: EP4265176A1. Автор: Sung Jun Hong,Byung Jun Park,Min Suk Lee,Seung Rag Lee,Byung Yeun KIM. Владелец: OSONG MEDICAL INNOVATION FOUNDATION. Дата публикации: 2023-10-25.

Temperature sensor, wearable device comprising temperature sensor, core temperature measurement method using temperature sensor

Номер патента: US20230414108A1. Автор: Sung Jun Hong,Byung Jun Park,Min Suk Lee,Seung Rag Lee,Byung Yeun KIM. Владелец: OSONG MEDICAL INNOVATION FOUNDATION. Дата публикации: 2023-12-28.

Measurement method of nozzle overlapping width, and inkjet recording apparatus

Номер патента: US20220212465A1. Автор: Masaaki Nishihara. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2022-07-07.

Measurement method of nozzle overlapping width, and inkjet recording apparatus

Номер патента: US11673386B2. Автор: Masaaki Nishihara. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2023-06-13.

Measurement method, measurement device, and nontransitory computer-readable medium

Номер патента: US20240241047A1. Автор: Shigeru Nakamura,John Kenji CLARK. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Power supply noise measuring circuit and power supply noise measuring method

Номер патента: US20080218195A1. Автор: Mikihiro Kajita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-11.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11761812B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

F-p sensor probe, absolute distance measurement device, and absolute distance measurement method

Номер патента: US20240264285A1. Автор: Xiangang Luo,Yanqin WANG,Chengwei ZHAO,Changtao WANG,Tiancheng GONG,Guiyuan JIA,Yanwu CHU. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2024-08-08.

Force measurement method, force measurement device, force measurement system, force measurement program, and recording medium

Номер патента: US20200333202A1. Автор: Yasushi Okada,Kumiko Hayashi. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2020-10-22.

Optical wavelength measuring device using absorption-type optical fiber-based multiple optical fiber filter module, optical sensor system having the same, and optical measurement method

Номер патента: US20240280412A1. Автор: Chang Won Lee,Bok Hyeon KIM. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-08-22.

Measuring device of internal dimensions of wheel rims for mounting disk brake callipers, kit for measuring and relative measuring method

Номер патента: WO2009040835A1. Автор: Alessandro Zanini,Andrea Matti. Владелец: FRENI BREMBO, S.p.A.. Дата публикации: 2009-04-02.

Measurement method for steam valve and measurement device for steam valve

Номер патента: US20240344631A1. Автор: Kazuo Hirota,Fumiyuki Suzuki,Shingo Nishida,Masaki Hata. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Bio information measurement device and bio information measurement method

Номер патента: US20210228091A1. Автор: Seung Wan Kang,Dae Keung KIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-29.

New energy vehicle, vehicle-mounted charging device, temperature measurement circuit, and temperature measurement method

Номер патента: EP4443121A1. Автор: Chao Wang. Владелец: Changchun Jetty Automotive Parts Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Measuring method of life activity, measuring device of life activity, transmission method of life activity detection signal, or service based on life activity information

Номер патента: US09743837B2. Автор: Hideo Ando. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-29.

Measuring system and measuring method for analyzing knee joint motion trajectory during cycling

Номер патента: US09592423B2. Автор: Yu-Shin Chang,Po-Shin Li,Keh-Tao Liu,Sai-Wei Yang. Владелец: Global Action Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Method of determining parameters of impedance of a two-terminal device and device for its implementation

Номер патента: RU2698072C1. Автор: Валерий Львович Ким,Семён Алексеевич Андреев. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет". Дата публикации: 2019-08-21.

Method and device for processing material in pneumatic system for processing and transportation of materials

Номер патента: RU2585047C2. Автор: Геран СУНДХОЛЬМ. Владелец: Марикап Ой. Дата публикации: 2016-05-27.

Method and device for treatment of material in pneumatic system of treatment and transportation of materials

Номер патента: RU2549285C2. Автор: Геран СУНДХОЛЬМ. Владелец: Марикап Ой. Дата публикации: 2015-04-27.

Method and device for applying coating on one and/or both sides of metal substrate in form of strip

Номер патента: RU2743076C1. Автор: Лутц КЮММЕЛЬ,Маттиас КРЕЧМЕР,Генри ГЁРЦ. Владелец: Смс Груп Гмбх. Дата публикации: 2021-02-15.

System, method and device for tracking characteristics of fire-fighting, smoke-fighting, thermal or anti-water barrier device

Номер патента: RU2755460C2. Автор: Лукас АКЕРМАН,Акил КЕДЖРИВАЛ. Владелец: Хильти Акциенгезельшафт. Дата публикации: 2021-09-16.

Method and device of smoke and steam trapping and removal for closed kitchen furnaces (josper, grill-furnace, coal grill, closed brazier, combi steamer, oven and other similar ones)

Номер патента: RU2745964C1. Автор: Александр Владимирович Стегленко. Владелец: Александр Владимирович Стегленко. Дата публикации: 2021-04-05.

Method for increasing pressure in internal fire water supply pipeline (versions) and device for its implementation (versions)

Номер патента: RU2715255C1. Автор: Леонид Мунеевич Мешман,Владимир Александрович Былинкин. Владелец: ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ВСЕРОССИЙСКИЙ ОРДЕНА "ЗНАК ПОЧЕТА" НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ПРОТИВОПОЖАРНОЙ ОБОРОНЫ МИНИСТЕРСТВА РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ПО ДЕЛАМ ГРАЖДАНСКОЙ ОБОРОНЫ, ЧРЕЗВЫЧАЙНЫМ СИТУАЦИЯМ И ЛИКВИДАЦИИ ПОСЛЕДСТВИЙ СТИХИЙНЫХ БЕДСТВИЙ" (ФГБУ ВНИИПО МЧС России). Дата публикации: 2020-02-26.

Flow measuring method and device

Номер патента: CA2511748C. Автор: Nils Arne Braaten. Владелец: Roxar AS. Дата публикации: 2014-01-28.

Measurement method and device for thread parameters

Номер патента: CA2746712C. Автор: Nicolas Hernan Bonadeo,Sebastian Berra,Javier Ignacio Etcheverry. Владелец: Tenaris Connections Ltd. Дата публикации: 2014-10-14.

Respiratory rate measurement method and apparatus, and electronic device and readable medium

Номер патента: EP4327737A1. Автор: Qiaoyan Chen,Chuanlong MA. Владелец: Beijing Choice Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-28.

Tissue elasticity measurement method and device

Номер патента: CA3152565C. Автор: Jinhua Shao,Jin Sun,Houli Duan,Qiong HE. Владелец: Wuxi Hisky Medical Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Issue elasticity measurement method and device

Номер патента: AU2020354000A1. Автор: Jinhua Shao,Jin Sun,Houli Duan,Qiong HE. Владелец: Wuxi Hisky Medical Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Methods and apparatus to determine strain on an optical core based on tracked change in phase

Номер патента: US09784569B2. Автор: Mark E. Froggatt,Dawn K. Gifford,Justin W. Klein,Stephen Tod Kreger. Владелец: Intuitive Surgical Operations Inc. Дата публикации: 2017-10-10.

Method and device for increasing load on drive rear wheels of tractors during cultivation of soil

Номер патента: RU2709672C1. Автор: Франтишек БАУЭР,Иржи КУПЕРА,Мартин ФАЙМАН,Марек ЗАК,Адам ПОЛКАР. Владелец: Менделова Универзита В Брне. Дата публикации: 2019-12-19.

Method and device for eliminating electrode drift

Номер патента: US5766432A. Автор: Raymond M. Dunn,Robert Harrington,Robert Peura,Stevan Kun. Владелец: University of Massachusetts UMass. Дата публикации: 1998-06-16.

Improved oxidation methods and reactor

Номер патента: RU2577839C2. Автор: Фрэнк Р. ФИТЧ,Нареш САЧЕК,Чжисюн ТА. Владелец: Линде Акциенгезелльшафт. Дата публикации: 2016-03-20.

Method and device for correction of winding in device for contactless transportation of strip material

Номер патента: RU2739082C1. Автор: Хирокадзу КОБАЯСИ,Юхэй ИВАМИ,Сухей НАРИТА,Масанори ХОСИНО. Владелец: ДжФЕ СТИЛ КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2020-12-21.

Method and device for processing material in pneumatic system for processing and transportation of materials

Номер патента: RU2587044C2. Автор: Геран СУНДХОЛЬМ. Владелец: Марикап Ой. Дата публикации: 2016-06-10.

Methods and devices for treating sinus diseases

Номер патента: RU2538235C2. Автор: Джошуа МАКОВЕР,Джон Й. ЧАНГ,Эрик А. ГОЛДФАРБ,Мина В.б. ЧОУ,Джон У. УАЙТ,Мэй Й. ПАДЕР,Джессика М. ЛИБЕРАТОРЕ,Радит ТАНТИСИРА,Серена Свей ЛОХ,Хунг ВО,Исидро М. ГАНДИОНКО,Майкл Дж. ГОТТСМАН. Владелец: Аккларент, Инк.. Дата публикации: 2015-01-10.

Method and device for drying and milling wet material

Номер патента: RU2680240C2. Автор: Жан-Марк МАРШАЛЬ. Владелец: Бруайёр Пуатемиль Енженьери. Дата публикации: 2019-02-18.

Underwater situation illumination method and device for its implementation

Номер патента: RU2709059C1. Автор: Александр Владимирович Иванов,Александр Владимирович Новиков. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Крыловский государственный научный центр". Дата публикации: 2019-12-13.

Geophysical survey method and device for recording parametres of earth's natural pulsed electromagnetic field

Номер патента: RU2414726C2. Автор: Юрий Петрович Малышков,Василий Федорович Гордеев,Сергей Юрьевич Малышков,Сергей Георгиевич Шталин,Виталий Игоревич Поливач. Владелец: Виталий Игоревич Поливач. Дата публикации: 2011-03-20.

Method and device for state switching

Номер патента: RU2649971C1. Автор: Вэй Сунь,Чжэньфэй ЛЭЙ,Сяндун ВАН. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2018-04-06.

Method and device for determining parametres of particles and working performance of processor in bituminous coal and minerals processing system

Номер патента: RU2376580C2. Автор: Эндрю ВИНС,Брюс Эндрю ФИРТ,Шэнгэнь ХУ. Владелец: Би Эм Эллайенс Коул Оперэйшнз Пти Лтд. Дата публикации: 2009-12-20.

Method of and device for remote control of lift

Номер патента: RU2321533C2. Автор: Джон МЕАРНС,Тапио ТЮНИ,Пекка ПЕРАЛА,Нильс-Роберт РОСШИЕР. Владелец: Коне Корпорейшн. Дата публикации: 2008-04-10.

Method of in-place diagnostics of ship's steering units technical condition changes as a result of the ice loads impact and device for its implementation

Номер патента: RU2655611C2. Автор: Александр Владимирович Углов,Ольга Петровна Куркова,Юлия Николаевна Углова,Ольга Николаевна Горовая,Геннадий Олегович Мокрый. Владелец: Открытое акционерное общество "Авангард". Дата публикации: 2018-05-29.

Method and device for interrelation between piloting bodies, piloting unit and aircraft

Номер патента: RU2693516C2. Автор: Седрик АНТРЕЖЮ. Владелец: Ратье Фижак. Дата публикации: 2019-07-03.

Method and device for dressing gravels of placer deposits of precious metals

Номер патента: RU2736020C1. Автор: Дмитрий Юрьевич Анохин. Владелец: Дмитрий Юрьевич Анохин. Дата публикации: 2020-11-11.

Method and device for winding metal strips onto holder

Номер патента: RU2391167C1. Автор: Маттиас ТУШХОФФ,Петер ЗУДАУ,Маттиас КИППИНГ,Томас ХОЛЬЦХАУЕР,Андреас КАСТНЕР,Хельмут ХЕФЕР. Владелец: Смс Зимаг Акциенгезелльшафт. Дата публикации: 2010-06-10.

Method and device for production of roll from dough semi-product and separating sheet

Номер патента: RU2739953C2. Автор: Удо БЕРНХАРДТ. Владелец: Фрич Бейкери Текнолоджиз Гмбх Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2020-12-30.

Temperature regulating method and device of internal combustion engine

Номер патента: RU2411373C2. Автор: Франк ПЕНТО,Паскаль РЕЙ,Кристоф МУНТУ,Эмманюэль ПРЕМЬЕ. Владелец: Рено С.А.С. Дата публикации: 2011-02-10.

Electric energy obtaining method and device

Номер патента: RU2446362C2. Автор: Николай Васильевич Малютин,Георгий Михайлович Межлумов. Владелец: Георгий Михайлович Межлумов. Дата публикации: 2012-03-27.

Method for decontaminating infected medical waste by microwave radiation and device for implementation thereof

Номер патента: RU2666513C1. Автор: Николай Николаевич Кузьма,Вячеслав Борисович Тарабан. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "КБ НИТАР". Дата публикации: 2018-09-07.

Method of long-dimensional object state monitoring and device for its implementation

Номер патента: RU2698106C1. Автор: Валерий Николаевич Земеров. Владелец: Валерий Николаевич Земеров. Дата публикации: 2019-08-22.

Method and device (variants) for forming the detonation front and the initiation device

Номер патента: RU2649997C1. Автор: Юрий Валентинович Власов,Александр Сергеевич Борискин,Василий Александрович Демидов,Сергей Аркадьевич Казаков,Сергей Николаевич Голосов,Антон Анатольевич Агапов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный ядерный центр-Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ"). Дата публикации: 2018-04-06.

Method and device for calibration of inertial measurement modules

Номер патента: RU2602736C1. Автор: Владимир Борисович Никишин,Андрей Иванович Синев,Виталий Сергеевич Шорин,Михаил Николаевич Карпов,Вероника Мударисовна Сафина,Екатерина Мударисовна Сафина. Владелец: ФГБОУ ВПО "Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А.". Дата публикации: 2016-11-20.

Photoeletric type measuring method and device

Номер патента: US4778271A. Автор: Hiroyoshi Hamada,Yoshiharu Kuwabara,Masayuki Kuwata. Владелец: Mitutoyo Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1988-10-18.

Methods and devices for treatment of skin lesions

Номер патента: RU2368347C2. Автор: Роберт КОНРАД,Чарльз КОНРАД. Владелец: Тирелл, Инк.. Дата публикации: 2009-09-27.

Method for indirect heat drying of disperse material, method of producing cleaned coal, device for indirect heat drying, and device for producing cleaned coal

Номер патента: RU2603209C1. Автор: Сигеру КИНОСИТА,Еити ТАКАХАСИ,Хироки ВАТАНАБЕ,Синити КАЦУСИМА. Владелец: Кабусики Кайся Кобе Сейко Се (Кобе Стил, Лтд.). Дата публикации: 2016-11-27.

Heart rate measurement method and device, and wearable apparatus

Номер патента: WO2018036474A1. Автор: Sen Lin,Quanzhong Wang. Владелец: Beijing Boe Multimedia Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2018-03-01.

Heart rate measurement method and device, and wearable apparatus

Номер патента: EP3503796A1. Автор: Sen Lin,Quanzhong Wang. Владелец: Beijing BOE Multimedia Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-03.

Measurement method and device for multiphase flow mixed transportation

Номер патента: EP4273510A1. Автор: Tianri GUAN. Владелец: G & F Pump Pte Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Tobacco leaf thickness measurement method and device

Номер патента: LU505074B1. Автор: Ke Zhang,Xiaowei Zhang,Jie Long,Yukui Li,Jiwu Zhang,Ling Xia,Yunfang ZHANG,Xingyi DUAN,Haowei Sun,Da Zong,Yueting Huang,Zhouzhou Li,Xiaolei Gai. Владелец: Yunnan Tobacco Quality Supervision And Testing Station. Дата публикации: 2024-03-11.

ABERRATION MEASUREMENT METHOD, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20120206701A1. Автор: MAEDA Hironori. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-08-16.

A kind of electric excitation synchronous motor measurement method of parameters and device

Номер патента: CN104022713B. Автор: 南永辉,冯江华,刘可安,尚敬,许峻峰,张朝阳,何亚屏,郑汉锋,罗凌波. Владелец: CSR Zhuzou Institute Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-05.

Current-energization measuring method by probe and device thereof

Номер патента: JPH1130648A. Автор: Koichi Sasaki,浩一佐々木. Владелец: NEC Ibaraki Ltd. Дата публикации: 1999-02-02.

The cable strain measuring method of elevator and device

Номер патента: CN103359565B. Автор: 田利军,平田智之,新井晋治,金子元树,户川宽太. Владелец: Fujitec Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-06.

Capacitance-voltage measurement method of transistor and device thereof

Номер патента: TWI222524B. Автор: Yung-Shun Chen,Shien-Yang Wu,Hung-Der Su,Sun-Jay Chang,Kuan-Yao Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2004-10-21.

HARD PARTICLE CONCENTRATION DETECTING METHOD, PARTICLE CONCENTRATION DETECTING METHOD, AND DEVICE THEREFOR

Номер патента: US20120001619A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Insulation resistance measurement method and device therefor

Номер патента: RU2585965C1. Автор: Вячеслав Иванович Лачин,Кирилл Юрьевич Соломенцев,Куок Уи Нгуен,Игорь Геннадиевич Балабан. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) имени М.И. Платова". Дата публикации: 2016-06-10.

Medium movement velocity measurement method and device for its implementation

Номер патента: RU2420745C1. Автор: Асим Мустафаевич Касимов,Александр Иванович Попов,Леонид Тимофеевич Чернявский. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН. Дата публикации: 2011-06-10.

Phase shift measurement method and device for its realization

Номер патента: RU2099721C1. Автор: В.Н. Авсиевич,А.В. Гребенников,М.К. Чмых,В.Б. Новиков. Владелец: Красноярский государственный технический университет. Дата публикации: 1997-12-20.

Water flow velocity measurement method and device

Номер патента: RU2533751C1. Автор: Игорь Евгеньевич Зайцев,Александр Александрович Гришин,Руслан Витальевич Стороженко. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Метеоприбор". Дата публикации: 2014-11-20.

Method and device for carrying out humerus osteosynthesis

Номер патента: RU2163090C1. Автор: А.В. Калинин,Б.Б. Бохов,Е.Ю. Гущина. Владелец: Гущина Елена Юрьевна. Дата публикации: 2001-02-20.

Method of testing beamless framed building floor panel and device for its implementation

Номер патента: RU2324911C1. Автор: Игорь Николаевич Шардаков,Владимир Александрович Годовалов,Ольга Ивановна Кириенко,Евгений Петрович Клигман,Елена Витальевна Созинова,Олег Александрович Шадрин,Екатерина Николаевна Субботина,Эльвира Шамилевна Кривелёва. Владелец: Открытое акционерное общество "Оргтехстрой". Дата публикации: 2008-05-20.

Method for reflection coefficient measurement and device for method application

Номер патента: RU2362176C1. Автор: Александр Петрович Мартынов,Владимир Ильич Игнатьев,Дмитрий Николаевич Покусин,Игорь Юрьевич Субботин,Владимир Александрович Теселкин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный научно-исследовательский радиотехнический институт имени академика А.И. Берга". Дата публикации: 2009-07-20.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Resonant measuring method of rotation frequency of object and device implementing this method

Номер патента: RU2562149C2. Автор: Борис Михайлович Петров. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южный федеральный университет" (Южный федеральный университет). Дата публикации: 2015-09-10.

Method to measure harmonic distortions of electric signal (versions) and device for its realisation

Номер патента: RU2547166C1. Автор: Людмила Сергеевна Тихонова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет кино и телевидения" (СПбГУКиТ). Дата публикации: 2015-04-10.

Screening method, composition containing substance selected by the screening method, and binding substance

Номер патента: US20120003673A1. Автор: Yodoi Junji,Horibe Tomohisa,KATO Noriko,Kondo Norihiko,Son Aoi,Hara Tomijiro. Владелец: REDOX BIOSCIENCE, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and apparatus for measuring transient thermal characteristics of light-emitting diodes

Номер патента: RU2523731C1. Автор: Алексей Аркадьевич Черторийский,Вячеслав Андреевич Сергеев,Алексей Валентинович Беринцев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. Дата публикации: 2014-07-20.

Method for measuring deformations of items from nonmagnetic materials and device for its implementation

Номер патента: RU2518616C2. Автор: Михаил Андреевич Марценюк,Павел Владимирович Архангельский,Сергей Викторович Машкин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пермский государственный национальный исследовательский университет". Дата публикации: 2014-06-10.

Density and viscosity measurement method and related device

Номер патента: RU2349897C2. Автор: Андрей Юрьевич Мишин,Иван Владимирович Хавронин,Александр Михайлович Павельев,Юрий Константинович Исаев. Владелец: Закрытое акционерное общество "АВИАТЕХ" (ЗАО "АВИАТЕХ"). Дата публикации: 2009-03-20.

Distance-to-object measuring method and device intended for its realization

Номер патента: RU2109251C1. Автор: А.Г. Костин,В.Н. Куликов. Владелец: Муниципальное предприятие "Водоканал". Дата публикации: 1998-04-20.

Method of and device for plotting spatial trajectory of vehicle movement by recorded data

Номер патента: RU2193989C1. Автор: В.А. Лукин,А.С. Белицкий,В.В. Клюкинских,Ю.Б. Зонов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Специализированное Техническое Бюро "ТЕХСЕРВИС". Дата публикации: 2002-12-10.

Measurement method of pulse pressure, and device for its implementation

Номер патента: RU2484436C1. Автор: Александр Михайлович Петренко. Владелец: Государственное Научное Учреждение "Институт Физики Имени Б.И. Степанова Национальной Академии Наук Беларуси". Дата публикации: 2013-06-10.

Bearing measurement method and apparatus for realising said method

Номер патента: RU2520074C1. Автор: Виктор Сергеевич Щербаков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "ПРИМА". Дата публикации: 2014-06-20.

Measuring method of geometrical parameters of non-spherical particles in liquid as per depolarised dynamic light scattering and device for its implementation

Номер патента: RU2556285C1. Автор: Александр Давидович Левин,Екатерина Александровна Шмыткова. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ"). Дата публикации: 2015-07-10.

Method and apparatus for atomic emission spectral analysis of nano-objects

Номер патента: RU2573717C2. Автор: Владимир Владимирович Чесноков,Дмитрий Владимирович Чесноков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (ФГБОУ ВО "СГУГИТ"). Дата публикации: 2016-01-27.

Welding current measurement method

Номер патента: RU2424096C1. Автор: Алексей Сергеевич Климов,Виталий Сергеевич Климов,Алексей Николаевич Анциборов,Андрей Константинович Кудинов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тольяттинский государственный университет". Дата публикации: 2011-07-20.

Measuring method of liquid or gaseous measured medium

Номер патента: RU2495382C2. Автор: Василий Радионович Рассомагин,Юрий Федорович Рубцов,Денис Юрьевич Рубцов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Рубин". Дата публикации: 2013-10-10.

Measurement method of life cycle of minor charge carriers in silicon

Номер патента: RU2484551C1. Автор: Виктор Иванович Попов,Алексей Валентинович Алексеев,Виктор Сергеевич Белоусов,Андрей Геннадьевич Каминский,Вера Евгеньевна Каминская,Ирина Владимировна Грибова,Сергей Александрович Климов. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "ТЕЛЕКОМ-СТВ". Дата публикации: 2013-06-10.

Vortex measurement method of flowing substance volume

Номер патента: RU2478916C2. Автор: Евгений Александрович Дерденков,Валерий Александрович Чернышев,Юрий Борисович Горбаткин,Сергей Львович Михайлов. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение измерительной техники". Дата публикации: 2013-04-10.

Measuring method of pressure difference with sensor with frequency-modulated output signal and sensor for method's implementation

Номер патента: RU2548582C1. Автор: Николай Павлович Меткин,Антон Владимирович Бардин,Олег Михайлович Филонов,Павел Александрович Окин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения". Дата публикации: 2015-04-20.

Super high frequency aerial measurement method

Номер патента: RU2284535C2. Автор: Павел Васильевич Миляев,Анатолий Павлович Миляев,Всеволод Леонидович Морев,Юрий Николаевич Калинин,ев Павел Васильевич Мил,ев Анатолий Павлович Мил. Владелец: Ооо Нпп "Трим". Дата публикации: 2006-09-27.

Measurement method of influence of sun exposure angle on productivity of lawn grass

Номер патента: RU2535753C1. Автор: Петр Матвеевич Мазуркин,Светлана Ивановна Михайлова,Любовь Анатольевна Россыгина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Поволжский государственный технологический университет". Дата публикации: 2014-12-20.

Measuring method of systematic errors of angular encoders

Номер патента: RU2558000C1. Автор: Юрий Ефимович Дукаревич. Владелец: Юрий Ефимович Дукаревич. Дата публикации: 2015-07-27.

Measuring method of thermal fields of electric radio items

Номер патента: RU2564053C2. Автор: Сергей Борисович Сунцов,Валерий Александрович Деревянко,Егор Александрович Морозов,Александр Васильевич Макуха,Екатерина Федоровна Смолякова. Владелец: Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2015-09-27.

Measuring method of refraction index of gaseous media

Номер патента: RU2495387C2. Автор: Александр Капитонович Дмитриев,Николай Николаевич Головин,Камил Абдуллович Бикмухаметов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Новосибирский государственный технический университет". Дата публикации: 2013-10-10.

Measuring method of very low flight altitude of plane, mainly hydroplane above water surface and sea disturbance parameters

Номер патента: RU2557999C1. Автор: Виктор Сергеевич Аносов,Владимир Васильевич Чернявец,Николай Николаевич Жильцов,Антон Владимирович Чернявец,Нина Владимировна Червякова,Анатолий Петрович Ванаев,Сергей Петрович Мелюшенок. Владелец: Сергей Петрович Мелюшенок. Дата публикации: 2015-07-27.

Measuring method of residual stresses in rims of all-rolled railway wheels

Номер патента: RU2497108C1. Автор: Григорий Яковлевич Дымкин,Александр Владимирович Шевелев,Станислав Андреевич Краснобрыжий. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт мостов и дефектоскопии Федерального агентства железнодорожного транспорта". Дата публикации: 2013-10-27.

Aircraft altitude and vertical speed measurement method

Номер патента: RU2563607C1. Автор: Валерий Григорьевич Вильнер,Артем Сергеевич Рябокуль,Александр Иванович Ларюшин. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт "Полюс" им. М.Ф. Стельмаха". Дата публикации: 2015-09-20.

Method and device to measure refraction index

Номер патента: RU2563543C2. Автор: Михаил Иванович Филатов,Ринад Исмагилович Волков. Владелец: Акционерное общество "Швабе - Технологическая лаборатория" (АО "Швабе-Технологическая лаборатория"). Дата публикации: 2015-09-20.

Measurement method for parameters of groove on shaft end face

Номер патента: RU2496097C1. Автор: Анатолий Павлович Архаров,Кирилл Сергеевич Любимов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тверской государственный технический университет". Дата публикации: 2013-10-20.

Measurement method for detecting a mechanical force acting on an object, and measuring device having a fibre-optic sensor unit

Номер патента: AU2023264255A1. Автор: Kai SCHICKER,Rainer Klemm,Thomas Grob. Владелец: Hitachi Rail Gts Deutschland GmbH. Дата публикации: 2024-11-14.

Vessel volume measurement method, and device for its implementation

Номер патента: RU2494352C1. Автор: Вячеслав Вячеславович Казаков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт прикладной физики Российской академии наук (ИПФ РАН). Дата публикации: 2013-09-27.

Measurement method for flatness deviation

Номер патента: RU2362119C1. Автор: Анатолий Гаврилович Астафьев,Сергей Николаевич Пидгурский,Владимир Николаевич Зюзиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственная корпорация "Иркут" (ОАО "Корпорация "Иркут"). Дата публикации: 2009-07-20.

Drilling pressure measurement method

Номер патента: RU2271447C2. Автор: Василий Прокопьевич Чупров,Альберт Амирзянович Шакиров,Альберт Амирз нович Шакиров. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственная фирма "ВНИИГИС-Забойные телеметрические системы" (ООО НПФ "ВНИИГИС-ЗТС"). Дата публикации: 2006-03-10.

Measuring method of refrigerating capacity of refrigerating system

Номер патента: RU2467267C1. Автор: Владимир Александрович Мельников,Борис Алексеевич Оболенский,Владимир Валерьевич Пальцев. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Тепломер". Дата публикации: 2012-11-20.

Measuring method of magnetic and charge components of signal at measurements of magnetic component of internal electromagnetic pulse

Номер патента: RU2495439C1. Автор: Андрей Иванович Потапенко,Игорь Константинович Пашкович,Евгений Александрович Фесик. Владелец: Федеральное бюджетное учреждение "12 Центральный научно-исследовательский институт Министерства обороны Российской Федерации". Дата публикации: 2013-10-10.

Measuring method of time interval between two aperiodic pulses of irregular shape

Номер патента: RU2461856C1. Автор: Борис Владимирович Скворцов,Дмитрий Игоревич Блинов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ). Дата публикации: 2012-09-20.

Borehole depth measurement method

Номер патента: RU2272130C1. Автор: Владимир Алексеевич Чесноков,Виктор Алексеевич Напольский. Владелец: Акционерное открытое общество НПФ "Геофизика". Дата публикации: 2006-03-20.

Measurement methods and devices for filtration potentials and determination of characteristics of underground formation

Номер патента: RU2402048C2. Автор: Минь-И ЧЭНЬ,Бхавани Рагхураман,Ян БРАЙАНТ,Майкл Г. САПП,Хосе НАВАРРО. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2010-10-20.

Thermoanemometric measurement method

Номер патента: RU2427843C2. Автор: Николай Иванович Дудкин,Михаил Николаевич Дудкин,Игорь Станиславович Адаев,Николай Иванович Дудкин (RU),Михаил Николаевич Дудкин (RU),Игорь Станиславович Адаев (RU). Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное отделение "ЭКО-ИНТЕХ". Дата публикации: 2011-08-27.

Measurement method of voltages on earthing device

Номер патента: RU2452968C1. Автор: Юрий Михайлович Силаев. Владелец: Юрий Михайлович Силаев. Дата публикации: 2012-06-10.

Measuring method of magnetisation current of asynchronous motor with phase rotor, which operates under load

Номер патента: RU2566394C2. Автор: Дмитрий Васильевич Гуков,Андрей Константинович Васильев,Иван Владимирович Колесник,Антон Валентинович Вендт. Владелец: федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулева" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2015-10-27.

Method for measuring linear displacement of object and device for realization of said method

Номер патента: RU2252395C1. Автор: В.Н. Васильев,В.Н. Денисов,И.Ю. Дмитриев,А.С. Гридин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие Научно-исследовательский институт комплексных испытаний оптико-электронных приборов и систем (ФГУП НИИКИ ОЭП). Дата публикации: 2005-05-20.

Beam deflection measurement method

Номер патента: RU2533343C1. Автор: Владимир Сергеевич Уткин,Андрей Николаевич Булычев. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Вологодский государственный университет" (ВоГУ). Дата публикации: 2014-11-20.

Angular velocity measurement method

Номер патента: RU2392626C1. Автор: Дмитрий Павлович Лукьянов,Юрий Владимирович Филатов,Михаил Михайлович Шевелько,Сергей Юрьевич Шевченко,Александр Николаевич Перегудов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ". Дата публикации: 2010-06-20.

A weight measurement method utilizing image processing for an automated electronic sow-feeding system

Номер патента: PH22019000394U1. Автор: John Vincent R Alladin,Christian Dominic F Allurin,James Theodor E Iglesias,Miguel Antonio G Valdellon. Владелец: Tech Institute Of The Philippines Quezon City. Дата публикации: 2022-02-23.

Measuring device of ice thickness and measuring method thereof

Номер патента: AU2021100702A4. Автор: WEI Liu,Wenting Wang,Mingxin Wang,Di Liu,Junfeng Xue,Zhifu Zhang,Tenglin DENG. Владелец: Inst Of Water Resources For Pastoral Area. Дата публикации: 2021-04-22.

Linear displacement measurement method and apparatus

Номер патента: CA2584531A1. Автор: Clark E. Robison. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-07-21.

METHOD AND APPARATUS FOR DISCHARGING A CONTROLLED AMOUNT OF CRYOGEN ONTO WORK SURFACES IN A COLD ROLL MILL

Номер патента: US20120000213A1. Автор: Plicht Guido,Lanyi Michael Dennis,Lin Minfa,Edwards Robert James,Schillak Harald,Bennewitz Detlef. Владелец: AIR PRODUCTS AND CHEMICALS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and device for providing blood constituents

Номер патента: US20120000299A1. Автор: . Владелец: ROCHE DIAGNOSTICS OPERATIONS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM, METHOD, AND APPARATUS FOR TRIGGERING AN ALARM

Номер патента: US20120001756A1. Автор: Eckert Lee H.,MERCIER MICHAEL,SHAFER Gary Mark. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Apparatus for Implementing a Multiple Display Mode

Номер патента: US20120001829A1. Автор: JUNG Younghee,Anttila Akseli,Tanaka Yumiko. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR PACKAGING A SUBSTRATE

Номер патента: US20120002266A1. Автор: . Владелец: QUALCOMM MEMS Technologies, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS AND APPARATUSES FOR DEVICE COMMUNICATIONS

Номер патента: US20120002571A1. Автор: Saal Nathaniel Mark,Lovy Daniel,Arfin David M.,Lovy Elliot,Sesek Edward M.,Schwarzenbach Steven J.,Godin Seth. Владелец: CISCO TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Methods and Systems for Providing a Logical Network Layer for Delivery of Input/Output Data

Номер патента: US20120002668A1. Автор: Lariviere Robert,Chenard Sylvain Joseph Henri,Waines Gregory,Baker Brian Neil,Mousseau Guy. Владелец: ROCKSTAR BIDCO LP. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR PROGRESSIVELY DELETING MEDIA OBJECTS FROM STORAGE

Номер патента: US20120002951A1. Автор: REISMAN Richard R.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND MOULDING DEVICES FOR MOULDING THREE-DIMENSIONAL PRODUCTS

Номер патента: US20120003374A1. Автор: Van Der Eerden Hendricus Franciscus Jacobus Maria,Meskendahl Dirk,Beijaard Barend Jacobus Emmanuel,Verhoeven Cornelis Laurentius Bernardus. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR DATA SESSION ESTABLISHMENT

Номер патента: US20120003958A1. Автор: Hossain Asif,Lu Lan,CHAN Kwong Hang Kevin,Ma David P.. Владелец: RESEARCH IN MOTION LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Apparatus for Sharing Information from a Communication Device

Номер патента: US20120003988A1. Автор: Sherkin Alexander,Bondar Yevgeny,FRITSCH Laura Brindusa,Leica Marcel F.. Владелец: RESEARCH IN MOTION LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

Methods and Systems for Determining Physiologic Characteristics for Treatment of the Esophagus

Номер патента: US20120004654A1. Автор: Jackson Jerome,Utley David S.,Stern Roger A.. Владелец: BARRX Medical, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.