Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Tunable extraction assembly for wide angle ion beam

Номер патента: WO2022015432A1
Опубликовано: 20-01-2022
Автор(ы): Costel Biloiu, Jay R. Wallace, Kevin M. Daniels
Принадлежит: Applied Materials, Inc.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Multi-source ion beam etch system

Номер патента: US20210104374A1. Автор: Ellie Yieh,Qiwei Liang,Srinivas D. Nemani,Douglas Buchberger,Chentsau Chris Ying. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-04-08.

Multi-source ion beam etch system

Номер патента: WO2021071586A1. Автор: Ellie Yieh,Qiwei Liang,Srinivas D. Nemani,Douglas Buchberger,Chentsau Chris Ying. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2021-04-15.

Inductively coupled plasma ion source with multiple antennas for wide ion beam

Номер патента: US20140042337A1. Автор: Joseph C. Olson,Costel Biloiu,Manny Sieradzki,Edward W. Bell. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2014-02-13.

Focused ion beam systems and methods of operation

Номер патента: US09576767B2. Автор: Sudeep Bhattacharjee,Jose Vettiyankal MATHEW. Владелец: INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY KANPUR. Дата публикации: 2017-02-21.

Apparatus and method for generating high current negative hydrogen ion beam

Номер патента: US09773636B2. Автор: W. Davis Lee,Anthony Renau,Neil Bassom. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Negative ribbon ion beams from pulsed plasmas

Номер патента: US09734991B2. Автор: Daniel Distaso,Svetlana B. Radovanov,Joseph P. Dzengeleski. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Device manufacturing apparatus and manufacturing method of magnetic device using structure to pass ion beam

Номер патента: US9799482B2. Автор: Junichi Ito,Yuichi Ohsawa,Akio Ui,Chikayoshi Kamata,Saori Kashiwada,Megumi Yakabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Ion beam device

Номер патента: US20140197329A1. Автор: Yoshimi Kawanami,Hiroyuki Muto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

Integral sweep in ion beam system

Номер патента: US11784025B1. Автор: Sarpangala Hariharakeshava HEGDE,Armin Baur,Wei-Hua Hsiao. Владелец: Plasma Therm NES LLC. Дата публикации: 2023-10-10.

Apparatus and method for generating high current negative hydrogen ion beam

Номер патента: US20170053776A1. Автор: W. Davis Lee,Anthony Renau,Neil Bassom. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-02-23.

Ion beam irradiation apparatus and method

Номер патента: US20240030004A1. Автор: Yuya Hirai,Yuta Iwanami,Surguru ITOI. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Ion beam guide tube

Номер патента: US20080054193A1. Автор: Richard Goldberg. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-03-06.

System and method for neutralizing an ion beam using water vapor

Номер патента: US5814819A. Автор: Frank Sinclair,Victor Benveniste,Jiong Chen. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 1998-09-29.

Ion beam current monitoring

Номер патента: US7342240B2. Автор: Steven R. Walther,Morgan Evans. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2008-03-11.

Focused ion beam apparatus and liquid metal ion source

Номер патента: US7435972B2. Автор: Shigeru Izawa,Yuichi Madokoro,Kaoru Umemura,Hiroyasu Kaga. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-10-14.

System and method for removing contaminant particles relative to an ion beam

Номер патента: EP1314180A2. Автор: Michael Anthony Graf,Victor Maurice Benveniste,Robert Day Rathmell,Eric Ryan Harrington. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2003-05-28.

Gas injection system for ion beam device

Номер патента: WO2018118263A1. Автор: Richard J. Hertel,Ernest E. Allen,Alexander C. Kontos,Shurong Liang,Jay R. Wallace,Tyler Rockwell,Jeffrey E. Krampert. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2018-06-28.

Gas injection system for ion beam device

Номер патента: US09865433B1. Автор: Richard J. Hertel,Jay Wallace,Ernest E. Allen,Alexander C. Kontos,Shurong Liang,Tyler Rockwell,Jeffrey E. Krampert. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-01-09.

Lower dose rate ion implantation using a wider ion beam

Номер патента: US09748072B2. Автор: Xiao Bai,Zhimin Wan,Ger-Pin Lin,Kourosh Saadatmand,Ching-I Li,Rekha Padmanabhan,Gary N. Cai,David Hoglund,Shao-Yu HU,Robert E. Kaim. Владелец: Advanced Ion Beam Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

Ion beam blanking apparatus and method

Номер патента: WO1992019006A1. Автор: Billy W. Ward,David Edwards, Jr.. Владелец: Micrion Corporation. Дата публикации: 1992-10-29.

Apparatus and method for controlling ion beam properties using electrostatic filter

Номер патента: US20200144017A1. Автор: Frank Sinclair,Shengwu Chang,Alexandre Likhanskii. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-05-07.

High voltage feedthrough assembly for high vacuum environments of gas cluster ion beam system

Номер патента: KR102452041B1. Автор: 복민갑,구동진. Владелец: (주)와이엔디케이. Дата публикации: 2022-10-07.

Ion beam angle calibration and emittance measurement system for ribbon beams

Номер патента: WO2010085351A1. Автор: Marvin Farley,Takao Sakase,Geoffrey Ryding,Theodore Smick,Edward Eisner,Mark Lambert,Paul Eide,Donovan Beckel,Ronald Horner,Donald Polner,Brian Freer. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2010-07-29.

Ion beam angle calibration and emittance measurement system for ribbon beams

Номер патента: EP2389679A1. Автор: Marvin Farley,Takao Sakase,Geoffrey Ryding,Theodore Smick,Edward Eisner,Mark Lambert,Paul Eide,Donovan Beckel,Ronald Horner,Donald Polner,Brian Freer. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2011-11-30.

Focused ion beam system

Номер патента: US20240242924A1. Автор: Michinobu Mizumura. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Ion extraction assembly having variable electrode thickness for beam uniformity control

Номер патента: US12125680B2. Автор: Dmitry Lubomirsky,Alexandre Likhanskii,Alan V. Hayes. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-22.

Focused ion beam apparatus

Номер патента: US7956336B2. Автор: Hiroyasu Kaga. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-07.

Method of operating an ion beam source, ion beam source and computer program

Номер патента: US20240266139A1. Автор: Ramu Pradip. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2024-08-08.

Focused ION Beam Apparatus

Номер патента: US20080023641A1. Автор: Koichiro Takeuchi,Tohru Ishitani. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-01-31.

Focused ion beam system and method of making focal adjustment of ion beam

Номер патента: US09646805B2. Автор: Tomohiro Mihira. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Focused ion beam apparatus and control method thereof

Номер патента: US20240282548A1. Автор: Donghoon Kwon,Yeoseon CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-22.

Focused Ion Beam System and Method of Correcting Deviation of Field of View of Ion Beam

Номер патента: US20230230801A1. Автор: Keiji Tajima,Yuichiro Ohori. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Focused ion beam apparatus

Номер патента: EP4333021A2. Автор: Yusuke KAGAYA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Scanning systems and methods for providing ions from an ion beam to a workpiece

Номер патента: US20060033046A1. Автор: Michael Graf,Joseph Ferrara,Bo Vanderberg. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-16.

Ion beam extraction electrode, ion source and extraction electrode structure

Номер патента: US20240290576A1. Автор: Yuya Hirai,Weijang ZHAO. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Techniques and apparatus for manipulating an ion beam

Номер патента: US09793087B2. Автор: Frank Sinclair,Victor Benveniste,James S. Buff. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Grid surface conditioning for ion beam system

Номер патента: US20240203683A1. Автор: Mohammad SAGHAYEZHIAN,Kirill Gutsol,Binyamin Rubin. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2024-06-20.

Grid surface conditioning for ion beam system

Номер патента: WO2024129423A1. Автор: Mohammad SAGHAYEZHIAN,Kirill Gutsol,Binyamin Rubin. Владелец: VEECO INSTRUMENTS INC.. Дата публикации: 2024-06-20.

Mass analyzing electromagnet and ion beam irradiation apparatus

Номер патента: US9728390B2. Автор: Junichi Tatemichi,Ippei Nishimura,Shojiro Dohi. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Ion beam device and cleaning method for gas field ion source

Номер патента: US20200294776A1. Автор: Shinichi Matsubara,Hiroyasu Shichi,Yoshimi Kawanami,Tomihiro Hashizume,Atsushi Kobaru. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Apparatus and method for contamination control in ion beam apparatus

Номер патента: US09685298B1. Автор: William Davis Lee,Alexandre Likhanskii,Jay T. Scheuer. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Multiple nozzle gas cluster ion beam system

Номер патента: US20100193701A1. Автор: Michael Graf,Robert K. Becker,Avrum Freytsis,Martin D. Tabat,Matthew C. Gwinn. Владелец: TEL Epion Inc. Дата публикации: 2010-08-05.

Ribbon-shaped ion beam with mass separation

Номер патента: WO2005031787A3. Автор: Victor Benveniste. Владелец: Axcelis Tech Inc. Дата публикации: 2005-08-25.

Sample holder and focused ion beam apparatus

Номер патента: US09947506B2. Автор: Toshiyuki Iwahori,Tsuyoshi OONISHI. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Determining ion beam parallelism using refraction method

Номер патента: US7397049B2. Автор: David Olson,Raymond Callahan,Wilhelm P. Platow,Stanislav S. Todorov. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2008-07-08.

Ion beam apparatus and method for aligning same

Номер патента: EP1830385A1. Автор: Helmut Banzhof,Jürgen Frosien,Thomas Jasinski. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2007-09-05.

Ion beam lithography process and apparatus using step-and-repeat exposure

Номер патента: US4310743A. Автор: Robert L. Seliger. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1982-01-12.

Ion beam uniformity control using ion beam blockers

Номер патента: US20150270099A1. Автор: Joseph C. Olson. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2015-09-24.

Focused ion beam system and method of correcting deviation of field of view of ion beam

Номер патента: EP4216255A1. Автор: Keiji Tajima,Yuichiro Ohori. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Apparatus and techniques for beam mapping in ion beam system

Номер патента: US20190139740A1. Автор: Daniel Tieger,Eric D. Wilson,George M. Gammel,Sruthi Chennadi,Shane Conley. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2019-05-09.

Tuning apparatus for minimum divergence ion beam

Номер патента: WO2021257689A1. Автор: Shu Satoh,Wilhelm Platow. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2021-12-23.

Focused ion beam system and method

Номер патента: EP4297062A1. Автор: Alexander Henstra,Galen Gledhill. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-12-27.

Automated ion-beam alignment for dual-beam instrument

Номер патента: US20230377830A1. Автор: Jeremy Graham. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-11-23.

Focused ion beam system and method

Номер патента: US20230420213A1. Автор: Alexander Henstra,Galen Gledhill. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-12-28.

Ion beam scanning control methods and systems for ion implantation uniformity

Номер патента: US20060145096A1. Автор: Victor Benveniste,William DiVergilio,Peter Kellerman. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2006-07-06.

Ion beam scanning control methods and systems for ion implantation

Номер патента: EP1836717A2. Автор: Victor Benveniste,William DiVergilio,Peter Kellerman. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2007-09-26.

Ion beam scanning methods and system for ion implantation

Номер патента: WO2006074200A2. Автор: Victor Benveniste,William DiVergilio,Peter Kellerman. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2006-07-13.

Gas cluster ion beam apparatus and analyzing apparatus

Номер патента: US20200312604A1. Автор: Katsumi Watanabe,Daisuke Sakai,Mauo SOGOU,Hiromichi Yamazui. Владелец: Ulvac PHI Inc. Дата публикации: 2020-10-01.

Ion beam irradiation apparatus

Номер патента: US20220359184A1. Автор: Hiroaki Kai,Yuya UCHIDA. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

Mixed gas cluster ion beam generator and mass spectrometer including the same

Номер патента: US20220157554A1. Автор: Chang Min Choi,Myoung Choul Choi,Sang Ju Lee,Ji Young BAEK,Aram HONG. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2022-05-19.

Ion Beam Device

Номер патента: US20190295802A1. Автор: Shinichi Matsubara,Hiroyasu Shichi,Yoshimi Kawanami,Hiroyuki Muto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Mismatched optics for angular control of extracted ion beam

Номер патента: EP4423787A1. Автор: Alexandre Likhanskii,Jay T. Scheuer,Nevin Clay,Sudhakar Mahalingam. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-09-04.

Plasma source for a focused ion beam system

Номер патента: US09640367B2. Автор: Noel Smith,Lawrence Scipioni,Christine Charles,John Keller,Roderick Boswell,Orson Sutherland. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-05-02.

Ion beam device

Номер патента: US09508521B2. Автор: Shinichi Matsubara,Norihide Saho,Hiroyasu Shichi,Noriaki Arai,Masahiro Yamaoka. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Ion beam extraction by discrete ion focusing

Номер патента: US09318297B2. Автор: Eugen Stamate. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2016-04-19.

Low-voltage source for narrow electron/ion beams

Номер патента: US4954711A. Автор: Heinz Schmid,Hans-Werner Fink,Roger Morin,Werner Stocker. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1990-09-04.

Low-voltage source for narrow electron/ion beams

Номер патента: CA1311863C. Автор: Heinz Schmid,Hans-Werner Fink,Roger Morin,Werner Stocker. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1992-12-22.

Apparatus and method to control ion beam current

Номер патента: US9396903B1. Автор: Shengwu Chang,William Leavitt,Kristen S. Rounds,Michael St. Peter. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2016-07-19.

Focused Ion Beam Apparatus

Номер патента: US20240071718A1. Автор: Yusuke KAGAYA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Processing method and apparatus using focused ion beam generating means

Номер патента: US5825035A. Автор: Yoshimi Kawanami,Akira Shimase,Kaoru Umemura,Takashi Kamimura,Fumikazu Itoh,Michinobu Mizumura,Yuuichi Hamamura,Junzou Azuma,Yuuichi Madokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-10-20.

Magnetic system and method for uniformly scanning heavy ion beams

Номер патента: US5481116A. Автор: Hilton F. Glavish,Michael A. Guerra, deceased. Владелец: Ibis Technology Corp. Дата публикации: 1996-01-02.

Focused ion beam apparatus and method of adjusting ion beam optics

Номер патента: US8822911B2. Автор: Toshio Doi,Hiroshi Oba,Yasuhiko Sugiyama,Tatsuya Asahata. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2014-09-02.

Dual beam systems and methods for decoupling the working distance of a charged particle beam device from focused ion beam geometry induced constraints

Номер патента: WO2023232282A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Alex Buxbaum,Dmitry Klochkov,Ramani Pichumani. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-12-07.

Mass analyzing electromagnet and ion beam irradiation apparatus

Номер патента: US20160126082A1. Автор: Junichi Tatemichi,Ippei Nishimura,Shojiro Dohi. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-05.

Method And Apparatus for Uniformly Implanting A Wafer With An Ion Beam

Номер патента: US20110037000A1. Автор: Cheng-Hui Shen,Don Berrian. Владелец: Advanced Ion Beam Technology Inc. Дата публикации: 2011-02-17.

Techniques and apparatus for manipulating an ion beam

Номер патента: US20170076908A1. Автор: Frank Sinclair,Victor Benveniste,James S. Buff. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-03-16.

Focused ion beam apparatus and method of adjusting ion beam optics

Номер патента: US20130240720A1. Автор: Toshio Doi,Hiroshi Oba,Yasuhiko Sugiyama,Tatsuya Asahata. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-09-19.

Focused ion beam apparatus

Номер патента: EP4333021A3. Автор: Yusuke KAGAYA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-03-13.

Imaging integrated circuits with focused ion beam

Номер патента: US7036109B1. Автор: Chun-Cheng Tsao,William Thompson,Erwan Le Roy,Theodore R. Lundquist,Eugene A. Delenia. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2006-04-25.

Ion beam device and emitter tip milling method

Номер патента: US20240203682A1. Автор: Shinichi Matsubara,Noriaki Arai. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Ion beam accelerating apparatus with electrodes mounted in a movable mount

Номер патента: EP2111630A1. Автор: Mervyn Howard Davis,Andrew James Timothy Holmes. Владелец: Nordiko Technical Services Ltd. Дата публикации: 2009-10-28.

Fluorine based molecular co-gas when running dimethylaluminum chloride as a source material to generate an aluminum ion beam

Номер патента: US12051561B2. Автор: Edward Moore,Neil K. Colvin,Neil Bassom. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Ion beam processing method

Номер патента: US20060097194A1. Автор: Tomokazu Kozakai,Osamu Takaoka,Kazuo Aita. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2006-05-11.

Ion beam accelerating apparatus with electrodes mounted in a movable mount

Номер патента: WO2008099218A1. Автор: Mervyn Howard Davis,Andrew James Timothy Holmes. Владелец: Nordiko Technical Services Limited. Дата публикации: 2008-08-21.

Apparatus for assisting backside focused ion beam device modification

Номер патента: US20030015671A1. Автор: Theodore Levin,David Lackey,Leah Pastel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-01-23.

Method of improving ion beam quality in an implant system

Номер патента: WO2014164441A1. Автор: Timothy J. Miller,Bon-Woong Koo,Svetlana B. Radovanov,Christopher J. Leavitt,Peter F. Kurunczi. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2014-10-09.

Emitter structure, gas ion source and focused ion beam system

Номер патента: US09640361B2. Автор: Hiroshi Oba,Anto Yasaka,Yasuhiko Sugiyama. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Ion beam uniformity control

Номер патента: US09520259B2. Автор: Bon-Woong Koo,Svetlana B. Radovanov,Alexandre Likhanskii. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2016-12-13.

Energy Filter Assembly for Ion Implantation System with at least one coupling element

Номер патента: US20240047168A1. Автор: Florian Krippendorf,Constantin Csato,André Zowalla. Владелец: MI2 Factory GmbH. Дата публикации: 2024-02-08.

Energy filter assembly for ion implantation system with at least one coupling element

Номер патента: EP4238121A1. Автор: Florian Krippendorf,Constantin Csato,André Zowalla. Владелец: MI2 Factory GmbH. Дата публикации: 2023-09-06.

Ion beam source

Номер патента: US4467240A. Автор: Masaaki Futamoto,Isamu Yuito,Ushio Kawabe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-08-21.

Ion beam generating apparatus

Номер патента: US4638209A. Автор: Takao Kato,Tatsuo Asamaki. Владелец: Anelva Corp. Дата публикации: 1987-01-20.

Mismatched optics for angular control of extracted ion beam

Номер патента: WO2023075969A1. Автор: Alexandre Likhanskii,Jay T. Scheuer,Nevin Clay,Sudhakar Mahalingam. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-05-04.

Mismatched Optics for Angular Control of Extracted Ion Beam

Номер патента: US20230131410A1. Автор: Alexandre Likhanskii,Jay T. Scheuer,Nevin Clay,Sudhakar Mahalingam. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-04-27.

Mismatched optics for angular control of extracted ion beam

Номер патента: WO2023075969A8. Автор: Alexandre Likhanskii,Jay T. Scheuer,Nevin Clay,Sudhakar Mahalingam. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-10-19.

Ion beam scanning methods and system for ion implantation

Номер патента: WO2006074200A3. Автор: Victor Benveniste,William DiVergilio,Peter Kellerman. Владелец: Peter Kellerman. Дата публикации: 2007-11-08.

Arc quenching circuit to mitigate ion beam disruption

Номер патента: WO2007106395A3. Автор: John Ye,David Tao,Yongzhang Huang,Que Weiguo. Владелец: Que Weiguo. Дата публикации: 2007-12-13.

Mixed gas cluster ion beam generator and mass spectrometer including the same

Номер патента: EP4002424A1. Автор: Chang Min Choi,Myoung Choul Choi,Sang Ju Lee,Ji Young BAEK,Aram HONG. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2022-05-25.

Ion beam apparatus and a method for neutralising space charge in an ion beam

Номер патента: GB2337632A. Автор: Stephen Moffatt,Jonathan Gerald England,Andrew James Timothy Holmes,David George Armour,Den Berg Jaap Van. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 1999-11-24.

Ion beam charge neutralizer and method therefor

Номер патента: US20030183780A1. Автор: Michiro Sugitani,Makoto Sano. Владелец: Sumitomo Eaton Nova Corp. Дата публикации: 2003-10-02.

Techniques for commensurate cusp-field for effective ion beam neutralization

Номер патента: US20090095894A1. Автор: Frank Sinclair,Bon Woong Koo. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2009-04-16.

Apparatus and method for controlling ion beam properties using energy filter

Номер патента: WO2019125860A1. Автор: Svetlana Radovanov,Frank Sinclair,Shengwu Chang,Peter Kellerman,Ana SAMOLOV. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2019-06-27.

Combined aperture holder, beam blanker and vacuum feed through for electron beam, ion beam charged particle devices

Номер патента: US20070069149A1. Автор: Earl Weltmer. Владелец: SCANSERVICE Corp. Дата публикации: 2007-03-29.

Ion beam species filter and blanker

Номер патента: US4649316A. Автор: Haroon Ahmed,John R. A. Cleaver. Владелец: Dubilier Scientific Ltd. Дата публикации: 1987-03-10.

Primary ion beam raster gating technique for secondary ion mass spectrometer system

Номер патента: US4661702A. Автор: David G. Welkie. Владелец: Perkin Elmer Corp. Дата публикации: 1987-04-28.

Focused ion beam processing method

Номер патента: US20070158590A1. Автор: Ryoji Hagiwara,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-07-12.

Ion beam processing apparatus and specimen replacing method for the same

Номер патента: US5247181A. Автор: Isao Hashimoto,Shotaro Ooishi,Hisao Oonuki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1993-09-21.

Method and apparatus for ion beam centroid location

Номер патента: WO1988004103A1. Автор: Reuel Liebert. Владелец: Varian Associates, Inc.. Дата публикации: 1988-06-02.

Apparatus and method to control an ion beam

Номер патента: US09972475B2. Автор: W. Davis Lee,James S. Buff,Edward W. Bell. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Focused ion beam low kV enhancement

Номер патента: US09443692B2. Автор: Mostafa Maazouz. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-09-13.

Method and apparatus for ion beam centroid location

Номер патента: US4724324A. Автор: Reuel B. Liebert. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1988-02-09.

Focused ion beam low kv enhancement

Номер патента: EP2772930A3. Автор: Mostafa Maazouz. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-04-19.

Ion beam etching devices

Номер патента: US20170092465A1. Автор: Hyuk Kim,Jongchul Park,Jong-Kyu Kim,Han-Na Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-30.

Apparatus and system having extraction assembly for wide angle ion beam

Номер патента: WO2021021345A1. Автор: Christopher Campbell,Frank Sinclair,Costel Biloiu,Tyler Rockwell,Appu Naveen THOMAS. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2021-02-04.

Method and apparatus for ion beam scanning in an ion implanter

Номер патента: EP1027718A1. Автор: Andrew Holmes,Jonathan Gerald England. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2000-08-16.

Innovative source assembly for ion beam production

Номер патента: US09941094B1. Автор: Gerard Nicolaas Anne Van Veen,Leon van Kouwen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-04-10.

Source housing assembly for controlling ion beam extraction stability and ion beam current

Номер патента: US09934928B2. Автор: Frank Sinclair,Shengwu Chang,William Leavitt,Joe Olson,Jeff Burgess,Michael St Peter,Matt Mosher. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Method and apparatus for ion beam scanning in an ion implanter

Номер патента: EP1235252A3. Автор: Andrew Holmes,Jonathan Gerald England. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2003-03-26.

Method and apparatus for ion beam scanning in an ion implanter

Номер патента: WO1999023685A1. Автор: Andrew Holmes,Jonathan Gerald England. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 1999-05-14.

Ion beam processing method and ion beam processing apparatus

Номер патента: US20150303028A1. Автор: Yasushi Kamiya,Hiroshi Akasaka,Yuta Konno. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2015-10-22.

Ion beam processing method and ion beam processing apparatus

Номер патента: US09852879B2. Автор: Yasushi Kamiya,Hiroshi Akasaka,Yuta Konno. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Ion beam device and emitter tip adjustment method

Номер патента: US09761407B2. Автор: Shinichi Matsubara,Hiroyasu Shichi,Yoshimi Kawanami,Hiroyuki Muto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US09583299B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Ion source, ion beam irradiation apparatus, and operating method for ion source

Номер патента: US20190318904A1. Автор: Tetsuro Yamamoto. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-17.

Focused ion beam apparatus

Номер патента: US20180233319A1. Автор: Yoshimi Kawanami. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-08-16.

Apparatus and methods of forming a gas cluster ion beam using a low-pressure source

Номер патента: WO2008118738A2. Автор: Scott Lane. Владелец: Tokyo Electron America, Inc.. Дата публикации: 2008-10-02.

Source housing assembly for controlling ion beam extraction stability and ion beam current

Номер патента: US20160336138A1. Автор: Frank Sinclair,Shengwu Chang,William Leavitt,Joe Olson,Jeff Burgess,Michael St Peter,Matt Mosher. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2016-11-17.

Ion source, ion beam processing/observation apparatus, charged particle beam apparatus, and method for observing cross section of sample

Номер патента: US20130284593A1. Автор: Hiroyasu Shichi,Kaoru Umemura,Satoshi Tomimatsu,Koji Ishiguro,Noriyuki Kaneoka. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-31.

Directed multi-deflected ion beam milling of a work piece and determining and controlling extent thereof

Номер патента: EP1787310A2. Автор: Colin Smith,Dimitri Boguslavsky,Valentin Cherepin. Владелец: Sela Semiconductor Engineering Laboratories Ltd. Дата публикации: 2007-05-23.

Method and apparatus for supplying ion beam in ion implantation process

Номер патента: US20170243719A1. Автор: Tai-Kun Kao,Tsung-Min Lin,Jen-Chung Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-08-24.

Method and apparatus for supplying ion beam in ion implantation process

Номер патента: US09741537B1. Автор: Tai-Kun Kao,Tsung-Min Lin,Jen-Chung Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Control of ion angular distribution of ion beams with hidden deflection electrode

Номер патента: US09514912B2. Автор: Vikram Singh,Christopher Campbell,Svetlana Radovanov,Costel Biloiu,Peter F. Kurunczi,Tyler Rockwell. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2016-12-06.

Electron beam-excited ion beam source

Номер патента: CA1252581A. Автор: Tamio Hara,Manabu Hamagaki,Yoshinobu Aoyagi,Susumu Namba. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 1989-04-11.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US9773634B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Blocking apparatus and method utilizing a low-energy ion beam

Номер патента: US3622782A. Автор: David P Smith,James W Salo. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1971-11-23.

Ion beam chamber fluid delivery apparatus and method and ion beam etcher using same

Номер патента: EP4102537A1. Автор: Paul Gagnon,Ian Jones,Christopher Pawlowicz,Alexander Sorkin,Trevor FRENCH. Владелец: TechInsights Inc. Дата публикации: 2022-12-14.

Focused ion beam processing apparatus

Номер патента: US11721517B2. Автор: Hiroshi Oba,Koji Nagahara,Yoshitomo Nakagawa,Yasuhiko Sugiyama. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Focused ion beam processing apparatus

Номер патента: US20210296080A1. Автор: Hiroshi Oba,Koji Nagahara,Yoshitomo Nakagawa,Yasuhiko Sugiyama. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Ion source, ion beam irradiation apparatus, and operating method for ion source

Номер патента: US10763073B2. Автор: Tetsuro Yamamoto. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-01.

System and method for spatially resolved optical metrology of an ion beam

Номер патента: US20200152417A1. Автор: Gang Shu,Shurong Liang,Glen Gilchrist. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-05-14.

Ion beam irradiation apparatus and program therefor

Номер патента: US20220301817A1. Автор: Shinya Takemura. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-22.

Ion beam irradiation apparatus and program therefor

Номер патента: US11955311B2. Автор: Shinya Takemura. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Ion beam processing apparatus and method for controlling operation thereof

Номер патента: US11929238B2. Автор: Tatsuhito Kimura,Munehiro Kozuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-03-12.

Ion beam etch system and method

Номер патента: US20240355597A1. Автор: Chih-Yang Chang,Seokmin Yun,Raphael Casaes,Anurag Kumar Mishra,Shih-Yuan Cheng,Chih-Min Lin,Shuogang Huang. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

High brightness ion beam extraction using bias electrodes and magnets proximate the extraction aperture

Номер патента: US09922795B2. Автор: Bon-Woong Koo,Anthony Renau,Svetlana B. Radovanov,Alexandre Likhanskii. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Hall ion generator for working surfaces with a low energy high intensity ion beam

Номер патента: US4541890A. Автор: Jerome J. Cuomo,Harold R. Kaufman. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1985-09-17.

Production of ion beams by chemically enhanced sputtering of solids

Номер патента: US5089746A. Автор: Kenneth J. Doniger,Stephen S. Rosenblum. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1992-02-18.

Plasma source of linear ion beam

Номер патента: WO2001022465A1. Автор: Elena Alexandrovna Kralkina,Vladimir Borisovich Pavlov,Gleb Elmirovich Bugrov,Sergei Gennadievich Kondranin. Владелец: Plasma Tech Co., Ltd.. Дата публикации: 2001-03-29.

Method of manufacturing semiconductor device, method of manufacturing stacked wiring structure, and ion beam irradiation apparatus

Номер патента: US20220285170A1. Автор: Toshiyuki Sasaki,Junichi Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-09-08.

Device and method for generating organic molecular cluster ion beam

Номер патента: US10699868B2. Автор: Jeong Jin Kim,Chang Min Choi,Myoung Choul Choi,Sang Ju Lee,Ji Young BAEK. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2020-06-30.

Device and method for generating organic molecular cluster ion beam

Номер патента: US20190355542A1. Автор: Jeong Jin Kim,Chang Min Choi,Myoung Choul Choi,Sang Ju Lee,Ji Young BAEK. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2019-11-21.

Method for transmitting a broadband ion beam and ion implanter

Номер патента: US20150069261A1. Автор: Libo Peng,Huiyue Long,Junyu Xie. Владелец: Beijing Zhongkexin Electronic Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-12.

High-current ion implanter and method for controlling ion beam using high-current ion implanter

Номер патента: WO2021011156A1. Автор: Christopher Campbell,Frank Sinclair,Shengwu Chang,Alexandre Likhanskii,Antonella Cucchetti,Eric D. Hermanson. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2021-01-21.

Adjustable implantation angle workpiece support structure for an ion beam implanter utilizing a linear scan motor

Номер патента: WO2004077480A3. Автор: Robert Mitchell. Владелец: Axcelis Tech Inc. Дата публикации: 2005-01-20.

Adjustable implantation angle workpiece support structure for an ion beam implanter utilizing a linear scan motor

Номер патента: EP1611592A2. Автор: Robert Mitchell. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2006-01-04.

Adjustable implantation angle workpiece support structure for an ion beam implanter utilizing a linear scan motor

Номер патента: WO2004077480A2. Автор: Robert Mitchell. Владелец: Axcelis Technologies Inc.. Дата публикации: 2004-09-10.

Ion beam scanning systems and methods for improved ion implantation uniformity

Номер патента: EP1766654A1. Автор: Kevin Wenzel,Bo Vanderberg,Andrew Ray. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2007-03-28.

Enhanced low energy ion beam transport in ion implantation

Номер патента: EP2389680A1. Автор: William DiVergilio,Bo Vanderberg. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2011-11-30.

Virtual shutter in ion beam system

Номер патента: US20230343557A1. Автор: Russell Westerman,Sarpangala Hariharakeshava HEGDE,Armin Baur,Wei-Hua Hsiao. Владелец: Plasma Therm NES LLC. Дата публикации: 2023-10-26.

Ion beam processing system and ion beam processing method

Номер патента: US7288173B2. Автор: Akio Fukushima,Kojiro Yagami. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2007-10-30.

Ion beam line

Номер патента: US09502213B2. Автор: Tetsuro Yamamoto,Sami K. Hahto. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Ion beam generator and ion beam plasma processing apparatus

Номер патента: US09422623B2. Автор: Yasushi Kamiya,Einstein Noel Abarra,Yuta Konno. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Ion beam irradiating apparatus including ion neutralizer

Номер патента: US4886971A. Автор: Shigeo Sasaki,Yasushi Matsumura,Akira Shuhara,Kazumi Fukumoto,Hitoshi Takeya. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-12-12.

Converged ion beam apparatus

Номер патента: US5063294A. Автор: Makoto Kimura,Sunao Takahashi,Akira Kobayashi,Koji Inoue,Norio Suzuki,Hirofumi Fukuyama,Kaneo Yamada,Akio Arai,Kiyotaka Ishibashi,Shigeto Adachi,Yutaka Kawata,Ken-ichi Inoue,Keizo Tokushige,Yukito Furukawa. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 1991-11-05.

Apparatus for enhanced neutralization of positively charged ion beam

Номер патента: GB2084792A. Автор: . Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1982-04-15.

Ion-implanter having variable ion beam angle control

Номер патента: US5696382A. Автор: Chang-Heon Kwon. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1997-12-09.

Apparatus and method for neutralizing ion beams

Номер патента: US4419203A. Автор: James M. E. Harper,Harold R. Kaufman,Mordehai Heiblum. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1983-12-06.

Irradiation system with ion beam/charged particle beam

Номер патента: EP1662542A2. Автор: Masaki Ishikawa,Michiro Sugitani,Junichi Murakami,Mitsukuni Tsukihara,Takashi Nishi,Tetsuya Kudo,Mitsuaki Kabasawa,Takanori Yagita. Владелец: SEN Corp. Дата публикации: 2006-05-31.

Enhanced low energy ion beam transport in ion implantation

Номер патента: US20100181499A1. Автор: William F. Divergilio,Bo H. Vanderberg. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2010-07-22.

Magnetic field reduction apparatus and magnetic plasma flood system for ion beam processing

Номер патента: US20130113378A1. Автор: Michael C. Vella. Владелец: E/G ELECTROGRAPH Inc. Дата публикации: 2013-05-09.

Apparatus and method for fabricating semiconductor device by using focused ion beam and scanning electron microscope supported by electron diffraction pattern

Номер патента: US20240203688A1. Автор: Kunsu KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

Focused ion beam processing

Номер патента: US4639301A. Автор: Billy W. Ward,John A. Doherty,David C. Shaver. Владелец: Micrion LP. Дата публикации: 1987-01-27.

Focused ion beam etching apparatus

Номер патента: US5518595A. Автор: Yasuhiro Yamakage. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1996-05-21.

Parallel ion beam ion generator

Номер патента: GB2298083A. Автор: James Harry Freeman. Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1996-08-21.

Technique for shaping a ribbon-shaped ion beam

Номер патента: WO2007059197A2. Автор: Victor M. Benveniste,Anthony Renau,Peter L. Kellerman,James S. Buff,Svetlana B. Radovanov,Kenneth H. Purser,Robert C. Lindberg,Tyler B. Rockwell. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2007-05-24.

Apparatus for treating ion beam

Номер патента: US20140110596A1. Автор: Shengwu Chang. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2014-04-24.

Ion beam irradiation device and method for suppressing ion beam divergence

Номер патента: US20120085918A1. Автор: Shigeki Sakai,Junzo Ishikawa,Dan Nicolaescu,Yasuhito Gotoh. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2012-04-12.

Ion beam guide tube

Номер патента: US20090095916A1. Автор: Robert Mitchell,Marvin Farley,Geoffrey Ryding,Lee Spraggon,Gregory Robert Alcott,Martin Hilkene,Matthew Castle. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2009-04-16.

Generator of ribbon-shaped ion beam

Номер патента: US5959303A. Автор: James Harry Freeman. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-09-28.

Slit Disk for Modified Faraday Cup Diagnostic for Determing Power Density of Electron and Ion Beams

Номер патента: US20100032562A1. Автор: John W. Elmer,Alan T. Teruya,Todd A. Palmer. Владелец: Lawrence Livermore National Security LLC. Дата публикации: 2010-02-11.

Ion beam measuring device and method of measuring ion beam

Номер патента: US09564292B2. Автор: Kazuhiro Watanabe,Kouji Inada,Noriyasu Ido. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Improved uniformity of a scanned ion beam

Номер патента: WO2013028227A3. Автор: William Davis Lee. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2013-05-10.

Apparatus for measuring a position of an ion beam profiler and a method for its use

Номер патента: US20070023688A1. Автор: Jung-Su Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-02-01.

System and method to improve productivity of hybrid scan ion beam implanters

Номер патента: US09711329B2. Автор: Bo H. Vanderberg,Andy M. Ray. Владелец: Axelis Technologies Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Beam profile determination method and ion beam irradiation apparatus

Номер патента: US20210035774A1. Автор: Yutaka Inouchi. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Ion beam incident angle detection assembly and method

Номер патента: US20110073777A1. Автор: Thomas A. Pandolfi. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2011-03-31.

System and method to improve productivity of hybrid scan ion beam implanters

Номер патента: WO2016106421A2. Автор: Andy Ray,Bo Vanderberg. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2016-06-30.

System and method to improve productivity of hybrid scan ion beam implanters

Номер патента: US20160189928A1. Автор: Bo H. Vanderberg,Andy M. Ray. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2016-06-30.

Ion beam incident angle detection assembly and method

Номер патента: US20130035897A1. Автор: Thomas A. Pandolfi. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2013-02-07.

Improved uniformity of a scanned ion beam

Номер патента: WO2013028227A2. Автор: William Davis Lee. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2013-02-28.

Method for directional deposition using a gas cluster ion beam

Номер патента: WO2009042484A1. Автор: John J. Hautala. Владелец: TEL EPION INC.. Дата публикации: 2009-04-02.

Surface profile adjustment using gas cluster ion beam processing

Номер патента: US20130075366A1. Автор: John J. Hautala. Владелец: TEL Epion Inc. Дата публикации: 2013-03-28.

Method and system for sterilizing objects by the application of gas-cluster ion-beam technology

Номер патента: EP2323699A2. Автор: Richard C. Svrluga,Sean R. Kirkpatrick. Владелец: Exogenesis Corp. Дата публикации: 2011-05-25.

Method and apparatus for producing bright high resolution ion beams

Номер патента: US4139773A. Автор: Lynwood W. Swanson. Владелец: OREGON GRADUATE CENTER. Дата публикации: 1979-02-13.

Methods, apparatus, and systems involving ion beam generation

Номер патента: US6777699B1. Автор: George H. Miley,Yasser R. Shaban. Владелец: Yasser R. Shaban. Дата публикации: 2004-08-17.

Multi-aperture extraction system for angled ion beam

Номер патента: US09478399B2. Автор: William Davis Lee,Svetlana B. Radovanov,Alexandre Likhanskii. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2016-10-25.

Multi-aperture extraction system for angled ion beam

Номер патента: WO2016160339A1. Автор: William Davis Lee,Svetlana B. Radovanov,Alexandre Likhanskii. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2016-10-06.

High density helicon plasma source for wide ribbon ion beam generation

Номер патента: WO2010025099A2. Автор: Alexander S. Perel,Costel Biloiu,Jay T. Scheuer. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates. Дата публикации: 2010-03-04.

Jet impingement cooling assembly for plasma windows positioned in a beam accelerator system

Номер патента: US20240297017A1. Автор: Tye Gribb,Preston Barrows. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2024-09-05.

Jet impingement cooling assembly for plasma windows positioned in a beam accelerator system

Номер патента: WO2024182644A1. Автор: Tye Gribb,Preston Barrows. Владелец: Shine Technologies, Llc. Дата публикации: 2024-09-06.

Methods and apparatus for glitch recovery in stationary-beam ion implantation process using east ion beam control

Номер патента: WO2006107797A2. Автор: Jonathan England,Joseph C. Olson,Russell J. Low,James R. Mclane,David R. Timberlake,Mark D. Saunders,James J. Cummings,Thomas B. Callahan. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2006-10-12.

Methods and apparatus for glitch recovery in stationary-beam ion implantation process using fast ion beam control

Номер патента: US20060219954A1. Автор: Mark Saunders,Joseph Olson,Thomas Callahan,Jonathan England,James Cummings,Russell Low,David Timberlake,James McLane. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2006-10-05.

Method and system for aligning images of sample layers obtained using a scanning electron microscope with a focused ion beam

Номер патента: RU2743231C1. Автор: Илья Владимирович Сафонов,Иван Викторович Якимчук,Ирина Анатольевна Реймерс. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2021-02-16.

Ion beam irradiating apparatus and method of adjusting uniformity of a beam

Номер патента: US7541601B2. Автор: Tadashi Ikejiri. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-02.

Systems for controlling a high power ion beam

Номер патента: US09887066B2. Автор: Takao Sakase,Geoffrey Ryding,Theodore Smick. Владелец: Neutron Therapeutics Inc. Дата публикации: 2018-02-06.

Controlling an ion beam in a wide beam current operation range

Номер патента: US09679745B2. Автор: Daniel Brosnan,Shengwu Chang,William Leavitt,Kristen Rounds. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Apparatus, system and method for energy spread ion beam

Номер патента: US20240029997A1. Автор: Jun Lu,Frank Sinclair,Anthony Renau,Daniel Tieger,Paul J. Murphy. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Virtual shutter in ion beam system

Номер патента: WO2023204912A2. Автор: Russell Westerman,Sarpangala Hariharakeshava HEGDE,Armin Baur,Wei-Hua Hsiao. Владелец: Plasma-Therm Nes, Llc. Дата публикации: 2023-10-26.

Umbilical cord facilities connection for an ion beam implanter

Номер патента: WO2005057632A1. Автор: Robert Mitchell,Kevin Ryan. Владелец: Axcelis Technologies Inc.. Дата публикации: 2005-06-23.

Method and apparatus for scanning a workpiece in a vacuum chamber of an ion beam implanter

Номер патента: US20070001129A1. Автор: Joseph Ferrara. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2007-01-04.

Ion beam profiling system and related methods

Номер патента: US20210396894A1. Автор: Chase N. Taylor. Владелец: Battelle Energy Alliance Llc. Дата публикации: 2021-12-23.

Apparatus, system and techniques for mass analyzed ion beam

Номер патента: US20240339287A1. Автор: Frank Sinclair,Anthony Renau,Joseph C. Olson,Alexandre Likhanskii,Peter F. Kurunczi,Nirbhav Singh Chopra. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Apparatus, system and techniques for mass analyzed ion beam

Номер патента: WO2024211191A1. Автор: Frank Sinclair,Anthony Renau,Joseph C. Olson,Alexandre Likhanskii,Peter F. Kurunczi,Nirbhav Singh Chopra. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-10-10.

Ion beam etching apparatus

Номер патента: US11120975B2. Автор: Jin Woo Park,Ki Hyun Kim,Ki Seok Kim,Geun Young Yeom,Kyung Chae YANG,Da In SUNG,Doo San KIM,You Jin JI,Jong Sik OH,Won Oh Lee,Mu Kyeom MUN,Ji Soo OH. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2021-09-14.

Selective processing of a workpiece using ion beam implantation and workpiece rotation

Номер патента: US09899188B2. Автор: Mark R. Amato,Jillian Reno,William Davis Lee. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Ion beam apparatus generating ion beams of bilateral symmetry

Номер патента: US09871194B2. Автор: Jongchul Park,Hyungjoon Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-16.

Method of forming a pattern using ion beams of bilateral symmetry, a method of forming a magnetic memory device using the same, and an ion beam apparatus generating ion beams of bilateral symmetry

Номер патента: US09627610B2. Автор: Jongchul Park,Hyungjoon Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-18.

Apparatus for surface modification of polymer, metal and ceramic materials using ion beam

Номер патента: EP1296353A3. Автор: Won Kook Choi,Hyung Jin Jung,Seok-Keun Koh,Jung Cho. Владелец: Korea Institute of Science and Technology KIST. Дата публикации: 2008-05-07.

Ion beam etching method and ion beam etching apparatus

Номер патента: US09966092B2. Автор: Kiyotaka Sakamoto,Yasushi Kamiya,Hiroshi Akasaka. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Techniques for measuring and controlling ion beam angle and density uniformity

Номер патента: WO2009064871A3. Автор: Victor M Benveniste,Svetlana Radovanov,Frank Sinclair,John Slocum,Peter L Kellerman,Kenneth Purser. Владелец: Kenneth Purser. Дата публикации: 2009-07-02.

Apparatus for Measuring Ion Beam Current, Sample Preparation Apparatus, and Method of Computing Ion Beam Current

Номер патента: US20200266028A1. Автор: Munehiro Kozuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-20.

Particle-induced x-ray emission (PIXE) using hydrogen and multi-species focused ion beams

Номер патента: US12061159B2. Автор: Aurelien Philippe Jean Maclou Botman,Milos Toth,Daniel Totonjian. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-08-13.

Deposition method and focused ion beam system

Номер патента: US09824856B2. Автор: Misumi Kadoi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Multi-source plasma focused ion beam system

Номер патента: US09401262B2. Автор: Noel Smith,Clive D. Chandler,Mark W. Utlaut,Paul P. Tesch,David William Tuggle. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-07-26.

Methods and apparatus for glitch recovery in stationary-beam ion implantation process using east ion beam control

Номер патента: WO2006107797A3. Автор: Jonathan England,Joseph C Olson,Russell J Low,James R Mclane,David R Timberlake,Mark D Saunders,James J Cummings,Thomas B Callahan. Владелец: Varian Semiconductor Equipment. Дата публикации: 2007-06-14.

Ion beam angle measurement systems and methods employing varied angle slot arrays for ion implantation systems

Номер патента: EP1964149A2. Автор: Brian Freer. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2008-09-03.

Focused ion beam system

Номер патента: US20230307205A1. Автор: Michinobu Mizumura. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Ion beam processing apparatus and method of operating ion source therefor

Номер патента: US20030030009A1. Автор: Shigeru Tanaka,Isao Hashimoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-02-13.

Ion beam angle measurement systems and methods employing varied angle slot arrays for ion implantation systems

Номер патента: WO2007075970A2. Автор: Brian Freer. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2007-07-05.

Ion beam angle measurement systems and methods employing varied angle slot arrays for ion implantation systems

Номер патента: WO2007075970A3. Автор: Brian Freer. Владелец: Brian Freer. Дата публикации: 2007-10-04.

Angular control of ion beam for vertical surface treatment

Номер патента: WO2020041019A1. Автор: Gang Shu,Shurong Liang,Glen Gilchrist. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2020-02-27.

Symmetrical shaper for an ion beam deposition and etching apparatus

Номер патента: US20080179535A1. Автор: Cherngye Hwang,Jorge A. Goitia,Peter M. Dang,Eduardo T. Mireles. Владелец: Hitachi Global Storage Technologies Netherlands BV. Дата публикации: 2008-07-31.

Apparatus and method for ion beam cross section polishing of extended sample regions

Номер патента: WO2024168045A1. Автор: Steven Thomas Coyle. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 2024-08-15.

Method of improving ion beam quality in an implant system

Номер патента: US09524849B2. Автор: John W. Graff,Timothy J. Miller,Bon-Woong Koo,Nicholas Pt Bateman,Vikram M. Bhosle,John A. Frontiero. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Ion-implantation system using split ion beams

Номер патента: US5767522A. Автор: Shuichi Kodama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1998-06-16.

Methods and apparatus for scanning and focusing an ion beam

Номер патента: WO1999066528A1. Автор: Joseph C. Olson. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 1999-12-23.

Microstructure manufacturing method and ION beam apparatus

Номер патента: US20180244517A1. Автор: Keiji Watanabe,Daisuke Ryuzaki,Hiroyasu Shichi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-08-30.

In situ ion beam current monitoring and control in scanned ion implantation systems

Номер патента: WO2018048889A1. Автор: Alfred Halling. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2018-03-15.

Irradiation system with ion beam/charged particle beam

Номер патента: US7423276B2. Автор: Takanori Yagita. Владелец: SEN Corp. Дата публикации: 2008-09-09.

Ion beam dimension control for ion implantation process and apparatus, and advanced process control

Номер патента: US20130295753A1. Автор: Chi-Ming Yang,Chin-Hsiang Lin,Chun-Lin Chang,Nai-Han Cheng,Chih-Hong Hwang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-11-07.

Ion beam irradiating apparatus and method of adjusting uniformity of a beam

Номер патента: US20080073581A1. Автор: Tadashi Ikejiri. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2008-03-27.

Controlling an ion beam in a wide beam current operation range

Номер патента: US20170110286A1. Автор: Daniel Brosnan,Shengwu Chang,William Leavitt,Kristen Rounds. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-04-20.

Controlling an ion beam in a wide beam current operation range

Номер патента: WO2017066023A1. Автор: Daniel Brosnan,Shengwu Chang,William Leavitt,Kristen Rounds. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2017-04-20.

Ion beam diagnostics

Номер патента: WO2008053138A1. Автор: Marvin Farley,Theodore H. Smick,Takao Sakase,Geoffrey Ryding. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2008-05-08.

Architecture for ribbon ion beam ion implanter system

Номер патента: WO2007089468A3. Автор: Kourosh Saadatmand,Peter L Kellerman. Владелец: Peter L Kellerman. Дата публикации: 2007-10-04.

Architecture for ribbon ion beam ion implanter system

Номер патента: WO2007089468A2. Автор: Peter L. Kellerman,Kourosh Saadatmand. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2007-08-09.

Ion implantation system and method suitable for low energy ion beam implantation

Номер патента: US6191427B1. Автор: Masataka Kase,Yoshiyuki Niwa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2001-02-20.

Systems for controlling a high power ion beam

Номер патента: US20170178859A1. Автор: Takao Sakase,Geoffrey Ryding,Theodore Smick. Владелец: Neutron Therapeutics Inc. Дата публикации: 2017-06-22.

Reduced Spatial/Temporal Overlaps to Increase Temporal Overlaps to Increase Precision in Focused Ion Beam FIB Instruments for Milling And Imaging and Focused Ion Beams for Lithography

Номер патента: US20230011739A1. Автор: Daniel Nicholls,Nigel D Browning. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-01-12.

Ion beam dimension control for ion implantation process and apparatus, and advanced process control

Номер патента: US20150270103A1. Автор: Chi-Ming Yang,Chin-Hsiang Lin,Chun-Lin Chang,Nai-Han Cheng,Chih-Hong Hwang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-09-24.

Ion beam dimension control for ion implantation process and apparatus, and advanced process control

Номер патента: US9805913B2. Автор: Chi-Ming Yang,Chin-Hsiang Lin,Chun-Lin Chang,Nai-Han Cheng,Chih-Hong Hwang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Ion beam specimen machining device and information provision method

Номер патента: EP4099360A2. Автор: Tsutomu Negishi,Hisashi Kawahara,Tatsuhito Kimura,Munehiro Kozuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-12-07.

Rock sample preparation method by using focused ion beam for minimizing curtain effect

Номер патента: US20190234889A1. Автор: Dong kyu Cha,Ali Abdallah Al-Yousef,Sultan Enezi,Mohammed Al Otaibi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2019-08-01.

Rock sample preparation method by using focused ion beam for minimizing curtain effect

Номер патента: CA3050924C. Автор: Mohammed Al-Otaibi,Dong kyu Cha,Ali Abdallah Al-Yousef,Sultan Enezi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-01-31.

Rock sample preparation method by using focused ion beam for minimizing curtain effect

Номер патента: EP3583410A1. Автор: Mohammed Al-Otaibi,Dong kyu Cha,Ali Abdallah Al-Yousef,Sultan Enezi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2019-12-25.

Rock sample preparation method by using focused ion beam for minimizing curtain effect

Номер патента: WO2018152308A1. Автор: Mohammed Al-Otaibi,Dong kyu Cha,Ali Abdallah Al-Yousef,Sultan Enezi. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2018-08-23.

Focused ion beam apparatus, method for observing cross-section of sample by using the same, and storage medium

Номер патента: US09934938B2. Автор: Tatsuya Asahata,Xin Man,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Focused ion beam imaging and process control

Номер патента: US4874947A. Автор: Billy W. Ward,Michael L. Ward. Владелец: Micrion Corp. Дата публикации: 1989-10-17.

Systems and methods for ion beam focusing

Номер патента: US7019314B1. Автор: Victor M. Benveniste,Peter L. Kellerman. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2006-03-28.

Reducing space charge effects in ion beams using cusp-type magnetic fields

Номер патента: GB2378313A. Автор: Michiro Sugitani,Mitsukuni Tsukihara,Hiroshi Matsushita,Mitsuaki Kabasawa,Hiroki Murooka. Владелец: Sumitomo Eaton Nova Corp. Дата публикации: 2003-02-05.

Method of and apparatus for deflecting an ion beam of an ion implantater onto an ion absorbing target

Номер патента: GB2098793A. Автор: . Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1982-11-24.

Ion beam implanter control system

Номер патента: CA1251287A. Автор: Jerald P. Dykstra,Andrew M. Ray,Monroe L. King. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 1989-03-14.

Wide angle isotope separator

Номер патента: US3940615A. Автор: Arthur Kantrowitz. Владелец: Jersey Nuclear Avco Isotopes Inc. Дата публикации: 1976-02-24.

Ion beam implantation display method and apparatus

Номер патента: CA1266923A. Автор: Douglas D. Myron. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 1990-03-20.

Virtual shutter in ion beam system

Номер патента: WO2023204912A3. Автор: Russell Westerman,Sarpangala Hariharakeshava HEGDE,Armin Baur,Wei-Hua Hsiao. Владелец: Plasma-Therm Nes, Llc. Дата публикации: 2024-03-14.

Ion beam deposition apparatus and ion beam deposition method using the same

Номер патента: US20240071712A1. Автор: Jaehong Park,Dohyung Kim,Dong-Chan Lim,Seungwan YOO,Jeongyeon LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-29.

Apparatus and methods for two-dimensional ion beam profiling

Номер патента: WO2006052622A2. Автор: Gordon C. Angel,Edward D. MacIntosh,Thomas A. Schaefer. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2006-05-18.

Ion beam apparatuses and methods for forming patterns using the same, and methods for manufacturing magnetic memory devices using the same.

Номер патента: US20180069176A1. Автор: Jongchul Park,Jong-Kyu Kim,Jongsoon Park,Sang-Kuk Kim,Woohyun LEE,Yil-hyung LEE,Hyeji YOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-08.

Apparatus, system and method for energy spread ion beam

Номер патента: US20220319806A1. Автор: Jun Lu,Frank Sinclair,Anthony Renau,Daniel Tieger,Paul J. Murphy. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-10-06.

Apparatus, system and method for energy spread ion beam

Номер патента: WO2022211910A1. Автор: Jun Lu,Frank Sinclair,Anthony Renau,Daniel Tieger,Paul J. Murphy. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2022-10-06.

Technique for ion beam angle process control

Номер патента: WO2006133310A2. Автор: Atul Gupta,Joseph C. Olson. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2006-12-14.

Ion beam sample preparation and coating apparatus and methods

Номер патента: US10731246B2. Автор: Steven Thomas Coyle,John Andrew Hunt,Michael Patrick Hassel-Shearer,Thijs C Hosman. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2020-08-04.

Mask repair using an optimized focused ion beam system

Номер патента: GB2215908A. Автор: Norman William Parker,William Preston Robinson,Robert Libero Piccioni. Владелец: MicroBeam Inc. Дата публикации: 1989-09-27.

Dual stage scanner for ion beam control

Номер патента: WO2015061104A1. Автор: Christopher Campbell,Frank Sinclair,Joseph C. Olson,Kenneth H. Purser,Robert C. Lindberg. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2015-04-30.

Ion beam sample preparation apparatus and methods

Номер патента: US8445874B2. Автор: Steven Thomas Coyle,John Andrew Hunt. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2013-05-21.

Ion beam lithography system

Номер патента: US4710639A. Автор: Hiroshi Sawaragi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1987-12-01.

Analyzing chamber including a leakage ion beam detector and mass analyzer including the same

Номер патента: US20070018093A1. Автор: Young-dae Kim,Hyun-Sub Earm,Seung-Se Lee,Gon-Su Kang,Sung-Yeul An. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-01-25.

Focused ion beam system

Номер патента: US5945677A. Автор: Qing Ji,Ka-Ngo Leung,Yung-Hee Yvette Lee,Richard A. Gough. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 1999-08-31.

Ion beam apparatus and method of modifying substrate

Номер патента: US4924104A. Автор: Gerhard Stengl,Hans Loschner. Владелец: Oesterreichische Investitionskredit AG. Дата публикации: 1990-05-08.

Focused ion beam column

Номер патента: US4929839A. Автор: Norman W. Parker,William P. Robinson. Владелец: MicroBeam Inc. Дата публикации: 1990-05-29.

Method and apparatus for in-situ sample quality inspection in cryogenic focused ion beam milling

Номер патента: NL2032641B1. Автор: Pieter Hoogenboom Jacob,Benjamin Boltje Daan,Skoupý Radim,Jakobi Arjen-Joachim. Владелец: Univ Delft Tech. Дата публикации: 2024-02-06.

Electrostatic discharge prevention in ion beam system

Номер патента: US20230343727A1. Автор: Russell Westerman,Sarpangala Hariharakeshava HEGDE,Armin Baur,Wei-Hua Hsiao,Jerome Michael Buckley. Владелец: Plasma Therm NES LLC. Дата публикации: 2023-10-26.

Implantation Apparatus with Ion Beam Directing Unit, Semiconductor Device and Method of Manufacturing

Номер патента: US20150228446A1. Автор: Hans-Joachim Schulze,Werner Schustereder,Stephan Voss,Alexander Breymesser. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2015-08-13.

Ion Implantation Apparatus with Ion Beam Directing Unit

Номер патента: US20160305012A1. Автор: Hans-Joachim Schulze,Werner Schustereder,Stephan Voss,Alexander Breymesser. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2016-10-20.

Ion implantation apparatus with ion beam directing unit

Номер патента: US9809877B2. Автор: Hans-Joachim Schulze,Werner Schustereder,Stephan Voss,Alexander Breymesser. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-11-07.

Method to accurately and repeatably setup an ion beam for an ion implantation system in reduced setup time to increase productivity

Номер патента: US20040244692A1. Автор: Jiong Chen,Simeon Ma. Владелец: Advanced Ion Beam Technology Inc. Дата публикации: 2004-12-09.

Particle-induced x-ray emission (pixe) using hydrogen and multi-species focused ion beams

Номер патента: US20230341341A1. Автор: Aurelien Philippe Jean Maclou Botman,Milos Toth,Daniel Totonjian. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-10-26.

Device for reducing ice contamination of a sample, focused ion beam milling apparatus and method for focused ion beam milling of a sample

Номер патента: US20230215681A1. Автор: Stefan Raunser,Sebastian Tacke. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2023-07-06.

Method and apparatus for in-situ sample quality inspection in cryogenic focused ion beam milling

Номер патента: WO2024025413A1. Автор: Jacob Pieter Hoogenboom,Radim SKOUPÝ,Daan Benjamin BOLTJE,Arjen-Joachim JAKOBI. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2024-02-01.

Techniques for measuring and controlling ion beam angle and density uniformity

Номер патента: WO2009064871A2. Автор: Victor M. Benveniste,Svetlana Radovanov,Frank Sinclair,Peter L. Kellerman,John Slocum,Kenneth Purser. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2009-05-22.

Apparatus for surface modification of polymer, metal and ceramic materials using ion beam

Номер патента: EP1036210A1. Автор: Won Kook Choi,Hyung Jin Jung,Jung Cho,Seok Keun Koh. Владелец: Korea Institute of Science and Technology KIST. Дата публикации: 2000-09-20.

Method and fine-control collimator for accurate collimation and precise parallel alignment of scanned ion beams

Номер патента: WO2005104172A1. Автор: Nicholas R. White. Владелец: White Nicholas R. Дата публикации: 2005-11-03.

Ion beam current measurement device and ion beam implantation system

Номер патента: US20240194444A1. Автор: Axel König,Moriz Jelinek,Bernhard Leitl. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-06-13.

Techniques for optical ion beam metrology

Номер патента: WO2009042462A3. Автор: Frank Sinclair,Wilhelm P Platow,Craig R Chaney,Alexander S Perel,Tyler Rockwell. Владелец: Tyler Rockwell. Дата публикации: 2009-06-11.

Ion beam line

Номер патента: US20140261171A1. Автор: Sami K. Hahto,Tetsuya Igo,Nariaki Hamamoto. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-18.

Method and apparatus for electrostatic deflection of high current ion beams in scanning apparatus

Номер патента: CA1054726A. Автор: John H. Keller,Dennis K. Coultas,James R. Winnard. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1979-05-15.

Apparatus and method for dynamic control of ion beam energy and angle

Номер патента: US9336998B2. Автор: Yu Liu,Ludovic Godet,Daniel Distaso,Tristan MA,Nini Munoz. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2016-05-10.

Ion beam implanter scan control system

Номер патента: CA1275742C. Автор: Douglas D. Myron. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 1990-10-30.

Variable reduction ratio spherical aberration correction electrostatic lens, wide angle energy analyzer, and two-dimensional electron spectrometer

Номер патента: US11791148B2. Автор: Hiroyuki Matsuda,Hiroshi Daimon,Laszlo Toth. Владелец: University Corp National Nara Institute Of Science And Technology. Дата публикации: 2023-10-17.

Method Of Improving Ion Beam Quality In an Implant System

Номер патента: US20190027341A1. Автор: John W. Graff,Timothy J. Miller,Bon-Woong Koo,Nicholas P.T. Bateman,John A. Frontiero,Vikram M. Bholse. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2019-01-24.

Method and apparatus for a coaxial optical microscope with focused ion beam

Номер патента: EP1151464A1. Автор: Jørgen Rasmussen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2001-11-07.

Method of improving ion beam quality in an implant system

Номер патента: WO2015009975A1. Автор: John W. Graff,Timothy J. Miller,Bon-Woong Koo,Nicholas Pt Bateman,Vikram M. Bhosle,John A. Frontiero. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2015-01-22.

Non-contact polishing of a crystalline layer or substrate by ion beam etching

Номер патента: EP3830321A1. Автор: Niels QUACK,Teodoro GRAZIOSI,Adrien TOROS,Sichen MI. Владелец: Ecole Polytechnique Federale de Lausanne EPFL. Дата публикации: 2021-06-09.

Fixed mask design for improving alignment with respect to an ion beam

Номер патента: WO2013095811A1. Автор: Benjamin B. Riordon,George M. Gammel. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2013-06-27.

Particle-induced x-ray emission (pixe) using hydrogen and multi-species focused ion beams

Номер патента: EP4269992A1. Автор: Aurelien Philippe Jean Maclou Botman,Milos Toth,Daniel Totonjian. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-11-01.

Apparatus for measuring ion beam current, sample preparation apparatus, and method of computing ion beam current

Номер патента: EP3703098A1. Автор: Munehiro Kozuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-09-02.

Focused ion beam apparatus

Номер патента: US20150270102A1. Автор: Makoto Sato,Hidekazu Suzuki,Tatsuya Asahata. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-09-24.

Uniformity of a Scanned Ion Beam

Номер патента: US20120248326A1. Автор: Bo H. Vanderberg,Edward C. Eisner,Andy Ray. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2012-10-04.

Method Of Improving Ion Beam Quality In An Implant System

Номер патента: US20170062182A1. Автор: John W. Graff,Timothy J. Miller,Bon-Woong Koo,Nicholas Pt Bateman,Vikram M. Bhosle,John A. Frontiero. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

Manufacturing method of semiconductor device, method for controlling ion beam, and ion implantation apparatus

Номер патента: US20110012034A1. Автор: Katsunari Nishikawa. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Process for verifying the energy of an ion beam

Номер патента: US4870276A. Автор: Werner Lindinger. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-09-26.

Ion beam etching machine and lower electrode structure thereof

Номер патента: EP4404236A1. Автор: XIANG Yu,Xiaoli Shi,Yaoyao ZHANG,Dongdong HU,Shiran CHENG,Kaidong Xu,Huaidong ZHANG,Chaoquan YANG. Владелец: Jiangsu Leuven Instruments Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Novel apparatus and techniques for generating bunched ion beam

Номер патента: WO2020041034A1. Автор: Frank Sinclair. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2020-02-27.

Ion beam mill etch depth monitoring with nanometer-scale resolution

Номер патента: US20180053626A1. Автор: Shane A. Cybart,Robert C. Dynes. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2018-02-22.

Adaptive geometry for optimal focused ion beam etching

Номер патента: WO2021221850A1. Автор: Ilya Blayvas,Alon Litman,Yehuda Zur,Alexander Mairov,Gal Bruner,Ron Davidescu,Kfir Dotan. Владелец: Applied Materials Israel Ltd.. Дата публикации: 2021-11-04.

Method and apparatus for micromachining a sample using a focused ion beam

Номер патента: US20230298855A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Sander Vincent DEN HOEDT. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2023-09-21.

Orientation imaging using wide angle convergent beam diffraction in transmission electron microscopy

Номер патента: US9171696B2. Автор: Vineet Kumar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-10-27.

Focused ion beam apparatus and method

Номер патента: US5574280A. Автор: Tatsuya Adachi,Toshiaki Fujii. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1996-11-12.

Chemically-assisted ion beam milling system for the preparation of transmission electron microscope specimens

Номер патента: US5009743A. Автор: Peter R. Swann. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 1991-04-23.

Focused ion beam apparatus for specimen fabrication

Номер патента: US7525108B2. Автор: Yoshimi Kawanami,Yuichi Madokoro,Kaoru Umemura,Satoshi Tomimatsu,Yasunori Doi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2009-04-28.

Focused ion beam column

Номер патента: CA1214577A. Автор: Charles M. Mckenna,Robert L. Seliger,William M. Clark, Jr.. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1986-11-25.

Cold cathode ion beam deposition apparatus with segregated gas flow

Номер патента: WO2002019366A3. Автор: Rudolph H Petrmichl. Владелец: Rudolph H Petrmichl. Дата публикации: 2003-03-13.

Ion beam measurement systems and methods for ion implant dose and uniformity control

Номер патента: EP1779404A2. Автор: Klaus Becker,Joseph Ferrara,Klaus Petry. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2007-05-02.

A method of ion beam control for glitch recovery

Номер патента: WO2007111822A3. Автор: John Ye,David Tao,Yongzhang Huang,Patrick Splinter,Que Weiguo. Владелец: Que Weiguo. Дата публикации: 2008-04-03.

Ion beam irradiation apparatus and program therefor

Номер патента: US20200312616A1. Автор: Shinya Takemura. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Ion beam source

Номер патента: US20160049277A1. Автор: Yun sung HUH,Yun Seok Hwang. Владелец: FINE SOLUTION Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-18.

Techniques for processing a polycrystalline layer using an angled ion beam

Номер патента: US20180122650A1. Автор: Morgan Evans,John Hautala,Tristan Y. Ma,Kevin Anglin,Robert J. Masci. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-05-03.

Ion beam source for optical device fabrication using a segmented ion source having one or more angled surfaces

Номер патента: US11810755B2. Автор: Ludovic Godet,Rutger MEYER TIMMERMAN THIJSSEN,Joseph C. Olson. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

Techniques and apparatus for elongation patterning using angled ion beams

Номер патента: US20190355581A1. Автор: Simon Ruffell,Kevin R. Anglin. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2019-11-21.

High-current source of ion beams based on of electron-cyclotron resonance discharge plasma held in open magnetic trap

Номер патента: RU2660677C1. Автор: Сергей Владимирович Голубев,Иван Владимирович Изотов,Сергей Владимирович Разин,Александр Васильевич Сидоров,Вадим Александрович Скалыга. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН). Дата публикации: 2018-07-09.

Source of intense ion beams based on ecr discharge plasma, held in open magnetic trap

Номер патента: RU2726143C1. Автор: Иван Владимирович Изотов,Александр Васильевич Сидоров,Вадим Александрович Скалыга,Сергей Сергеевич Выбин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН). Дата публикации: 2020-07-09.

Techniques and apparatus for unidirectional hole elongation using angled ion beams

Номер патента: WO2020123253A1. Автор: Simon Ruffell,Kevin Anglin. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2020-06-18.

Techniques and apparatus for unidirectional hole elongation using angled ion beams

Номер патента: US20200194271A1. Автор: Simon Ruffell,Kevin Anglin. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-06-18.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: WO2023150026A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2023-08-10.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: EP4377682A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-06-05.

Ion beam sputtering apparatus and method

Номер патента: EP4398283A2. Автор: Richard John Futter,John Vedamuthu Kennedy,Jerome LEVENEUR,Ryan James DAVIDSON. Владелец: Institute Of Geological And Nuclear Sciences Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Device and method for formation of multicharged ion beams

Номер патента: RU2716825C1. Автор: Дмитрий Владимирович Суворов,Геннадий Петрович Гололобов,Александр Борисович Толстогузов,Сергей Игоревич Гусев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2020-03-17.

Source of high-current ion beams based on ecr discharge plasma, held in open magnetic trap

Номер патента: RU2725615C1. Автор: Сергей Владимирович Голубев,Иван Владимирович Изотов,Сергей Владимирович Разин,Александр Васильевич Сидоров,Вадим Александрович Скалыга. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН). Дата публикации: 2020-07-03.

Ion beam sputtering apparatus and method

Номер патента: AU2018391532B2. Автор: Richard John Futter,John Vedamuthu Kennedy,Jerome LEVENEUR,Ryan James DAVIDSON. Владелец: Institute Of Geological And Nuclear Sciences Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Source of ion beam based on electron-cyclotron resonant discharge plasma, held in open magnetic trap

Номер патента: RU2650876C1. Автор: Сергей Владимирович Голубев,Иван Владимирович Изотов,Сергей Владимирович Разин,Александр Васильевич Сидоров,Вадим Александрович Скалыга. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН). Дата публикации: 2018-04-18.

Grid structures of ion beam etching (IBE) systems

Номер патента: US11961706B2. Автор: Chan-Lon Yang,Perng-Fei Yuh,Keh-Jeng Chang,Chansyun David Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Grid Structures Of Ion Beam Etching (IBE) Systems

Номер патента: US20240222071A1. Автор: Chan-Lon Yang,Perng-Fei Yuh,Keh-Jeng Chang,Chansyun David Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Combined laser processing system and focused ion beam system

Номер патента: US09793122B2. Автор: Carl Kuebler. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2017-10-17.

Deflector gates for ion beam intensity modulation

Номер патента: EP4409619A1. Автор: William Loyd,Robert HAUFLER. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2024-08-07.

Mirror lens for directing an ion beam

Номер патента: US20170047216A1. Автор: Gerhard Jung,Johannes Schwieters. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-02-16.

Ion beam delayering system and method, and endpoint monitoring system and method therefor

Номер патента: EP3914897A1. Автор: Christopher Pawlowicz. Владелец: TechInsights Inc. Дата публикации: 2021-12-01.

Ion beam processing method and ion beam processing apparatus

Номер патента: US09984854B2. Автор: Isao Takeuchi,Yoshimitsu Kodaira,Mihoko Nakamura. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Mirror lens for directing an ion beam

Номер патента: US09818591B2. Автор: Gerhard Jung,Johannes Schwieters. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-11-14.

Method and apparatus for beam deflection in a gas cluster ion beam system

Номер патента: US09540725B2. Автор: Robert K. Becker,Yan Shao,Christopher K. Olsen,Kenneth Regan. Владелец: TEL Epion Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Increased dynamic range for the attenuation of an ion beam

Номер патента: US12027357B2. Автор: Pascal Martin,Bruce Collings. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2024-07-02.

Method of manufacturing semiconductor device and ion beam irradiation apparatus

Номер патента: US12040155B2. Автор: Toshiyuki Sasaki,Junichi Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Apparatus for high-throughput ion beam assisted deposition (ibad)

Номер патента: WO2005002020A3. Автор: Venkat Selvamanickam,Srinivas Sathiraju. Владелец: Superpower Inc. Дата публикации: 2005-05-12.

Ion beam delayering system and method, topographically enhanced delayered sample produced thereby, and imaging methods and systems related thereto

Номер патента: EP3884264A1. Автор: Christopher Pawlowicz,Alexander Sorkin. Владелец: TechInsights Inc. Дата публикации: 2021-09-29.

Pulsed ion beam source for electrospray mass spectrometry

Номер патента: US09524859B2. Автор: Chen-Yu Hsieh,Jung-Lee Lin,Chung-Hsuan Chen. Владелец: Academia Sinica. Дата публикации: 2016-12-20.

Linear ion beam bonding apparatus and array structure thereof

Номер патента: US09406495B2. Автор: Wenjian Sun,Gongyu Jiang. Владелец: Shimadzu Research Laboratory Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Method for increasing the cluster ion beam current

Номер патента: RU2760276C1. Автор: Владимир Иванович Турчин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Институт теоретической и экспериментальной физики имени А.И. Алиханова Национального исследовательского центра "Курчатовский институт". Дата публикации: 2021-11-23.

Ion beam treatment apparatus

Номер патента: US20180361173A1. Автор: Moon Youn Jung,Dong Hoon SONG. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2018-12-20.

Method and system for plasma-assisted ion beam processing

Номер патента: US20140234554A1. Автор: Ludovic Godet,Bon-Woong Koo,Svetlana B. Radovanov. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2014-08-21.

Method and system for plasma-assisted ion beam processing

Номер патента: WO2014130510A1. Автор: Ludovic Godet,Bon-Woong Koo,Svetlana B. Radovanov. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2014-08-28.

A method for providing an ion beam

Номер патента: AU1822897A. Автор: Gregory C. Eiden,Charles J. Barinaga,David W. Koppenaal. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 1997-08-01.

A method for a repetitive ion beam processing with a by carbon containing ion beam

Номер патента: EP1161309A4. Автор: Alan V Hayes,Boris L Druz,Kurt E Williams. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2008-04-16.

Ion beam lithography and nanoengineering

Номер патента: US20240222073A1. Автор: Kevin O'Brien,Shida Tan,Uygar Avci,Kirby MAXEY,Brandon Holybee,Mahmut Sami KAVRIK. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and apparatus for neutral beam processing based on gas cluster ion beam technology

Номер патента: US20180299771A1. Автор: Rangarajan Jagannathan,Sean R. Kirkpatrick. Владелец: Exogenesis Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Circuit tracing using a focused ion beam

Номер патента: US09915628B2. Автор: Michael W. Phaneuf,Christopher Pawlowicz,Alexander Krechmer,Alexander Sorkin,Ken G. Lagarec. Владелец: TechInsights Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Gas injection system with precursor for planar deprocessing of semiconductor devices using a focused ion beam

Номер патента: US09761467B2. Автор: Chad Rue,Clive D. Chandler. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-09-12.

Method and system for ion beam delayering of a sample and control thereof

Номер патента: US09534299B2. Автор: Ian Jones,Jason Abt,Robert K. Foster,Christopher Pawlowicz,Heinz Josef Nentwich. Владелец: TechInsights Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: US20230245933A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Selective ion source for high intensity focused and collimated ion beams - coupling with high resolution cycloidal path sector

Номер патента: US20030094570A1. Автор: Robert Evrard. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-22.

Method, device and system for the treatment of biological cryogenic samples by plasma focused ion beams

Номер патента: US11735404B2. Автор: Chad Rue,Joseph Christian,Steven Randolph,Matthias Langhorst,Alex DE MARCO,Sergey Gorelick,Kenny Mani. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-08-22.

Methods for forming a semiconductor device using tilted reactive ion beam

Номер патента: US20190295848A1. Автор: Anton Mauder,Hans-Joachim Schulze,Johannes Georg Laven,Werner Schustereder. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2019-09-26.

Atomic layer etch and ion beam etch patterning

Номер патента: US12080562B2. Автор: YANG Pan,Girish Dixit,Samantha SiamHwa Tan,Wenbing Yang,Tamal Mukherjee. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

High power ion beam generator systems and methods

Номер патента: AU2024204247A1. Автор: JIN LEE,Michael Taylor,Mark Thomas,Tye Gribb,Arne Kobernik,Carl Sherven,Casey LAMERS,Chris Seyfert,Evan SENGBUSCH,Gabriel Becerra,Logan CAMPBELL,Preston Barrows,Ross RADEL. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

High power ion beam generator systems and methods

Номер патента: AU2022218508B2. Автор: JIN LEE,Michael Taylor,Mark Thomas,Tye Gribb,Arne Kobernik,Carl Sherven,Casey LAMERS,Chris Seyfert,Evan SENGBUSCH,Gabriel Becerra,Logan CAMPBELL,Preston Barrows,Ross RADEL. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2024-08-15.

Circuit tracing using a focused ion beam

Номер патента: US09529040B2. Автор: Christopher Pawlowicz,Alexander Krechmer,Alexander Sorkin. Владелец: TechInsights Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Ion beam intensity control with pulsed beam deflection and synchronized ion source blanking

Номер патента: US3600573A. Автор: Eiji Watanabe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1971-08-17.

Process for channeling ion beams

Номер патента: US4158141A. Автор: Paul A. Sullivan,Robert L. Seliger. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1979-06-12.

Combined laser and broad ion beam (bib) systems for more efficient processing of multiple samples

Номер патента: US20230420216A1. Автор: Michal Hrouzek,Libor Novak,Krishna Kanth Neelisetty,Ondrej KLVAC,Petr WANDROL,Yakub FAM. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-12-28.

Ion beam focus adjustment

Номер патента: US11764045B2. Автор: Michael Angelo,David Stumbo,Harris Fienberg,Rachel Finck. Владелец: Ionpath Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Defect repair apparatus and method for EUV mask using a hydrogen ion beam

Номер патента: US8460842B2. Автор: TAKASHI Ogawa,Hiroshi Oba,Anto Yasaka,Fumio Aramaki. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-06-11.

Method of processing ion beam based on optical microscopy imaging

Номер патента: EP4345440A1. Автор: Ke Xiao,WEI Ji,Jing Lu,Tao Xu,Weixing Li. Владелец: Institute of Biophysics of CAS. Дата публикации: 2024-04-03.

Method of processing ion beam based on optical microscopy imaging

Номер патента: US20240112880A1. Автор: Ke Xiao,WEI Ji,Jing Lu,Tao Xu,Weixing Li. Владелец: Institute of Biophysics of CAS. Дата публикации: 2024-04-04.

Low kev ion beam image restoration by machine learning for object localization

Номер патента: EP3806131A2. Автор: Pavel Potocek,Ondrej Machek,Maurice PEEMEN,Remco Johannes Petrus Geurts. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-04-14.

Combined laser and broad ion beam (bib) systems for more efficient processing of multiple samples

Номер патента: EP4283653A1. Автор: Michal Hrouzek,Libor Novak,Krishna Kanth Neelisetty,Ondrej KLVAC,Petr WANDROL,Yakub FAM. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-11-29.

Improvements in or relating to ion beam separators

Номер патента: GB1280011A. Автор: James Harry Freeman. Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1972-07-05.

Systems and methods for providing an ion beam

Номер патента: US20190108968A1. Автор: Sagi Brink-Danan,Shmuel EISENMANN,Evgeny Papeer,Assaf Shaham,Yair Ferber,Ynon Hefets,Omer Shavit,Boaz Weinfeld. Владелец: Hil Applied Medical Ltd. Дата публикации: 2019-04-11.

Mass spectrometer and methods of increasing dispersion between ion beams

Номер патента: WO2006130149A2. Автор: John E. Olson,Anthony D. Appelhans,James E. Delmore. Владелец: BATTELLE ENERGY ALLIANCE, LLC. Дата публикации: 2006-12-07.

Increased dynamic range for the attenuation of an ion beam

Номер патента: EP4004967A1. Автор: Pascal Martin,Bruce Collings. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2022-06-01.

Broad ion beam (bib) systems for more efficient processing of multiple samples

Номер патента: US20230375445A1. Автор: Michal Hrouzek,Libor Novak,Krishna Kanth Neelisetty,Petr WANDROL. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-11-23.

Low kev ion beam image restoration by machine learning for object localization

Номер патента: EP3806131A3. Автор: Pavel Potocek,Ondrej Machek,Maurice PEEMEN,Remco Johannes Petrus Geurts. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-06-23.

Broad ion beam (bib) systems for more efficient processing of multiple samples

Номер патента: EP4279900A1. Автор: Michal Hrouzek,Libor Novak,Krishna Kanth Neelisetty,Petr WANDROL. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-11-22.

Methods, mediums, and systems for identifying tunable domains for ion beam shape matching

Номер патента: WO2023287561A1. Автор: Richard White,Eric Donald WILSON,Nilay A. Pradhan,Richard Allen Sprenkle,Shane Conley,Ana SAMOLOV. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-01-19.

Increased dynamic range for the attenuation of an ion beam

Номер патента: WO2021014390A1. Автор: Pascal Martin,Bruce Collings. Владелец: DH Technologies Development Pte. Ltd.. Дата публикации: 2021-01-28.

Ion Beam Detector

Номер патента: US20100237239A1. Автор: Satoru Yamada,SHU NAKAMURA,Akira Noda,Hiroyuki Daido,Yoshihisa Iwashita. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2010-09-23.

Method of depositing an insulating film and a focusing ion beam apparatus

Номер патента: US5083033A. Автор: Haruki Komano,Tadahiro Takigawa,Toshihiko Hamasaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1992-01-21.

Method and system for ion beam delayering of a sample and control thereof

Номер патента: CA2791249C. Автор: Ian Jones,Jason Abt,Robert K. Foster,Christopher Pawlowicz,Heinz Nentwich. Владелец: Semiconductor Insights Inc. Дата публикации: 2014-02-25.

Low energy ion beam etch

Номер патента: US9443697B2. Автор: Chad Rue. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-09-13.

Method and apparatus for altering material using ion beams

Номер патента: USRE36760E. Автор: Douglas D. Bloomquist,Rudy Buchheit,John B. Greenly,Dale C. McIntyre,Eugene L. Neau,Regan W. Stinnett. Владелец: Sandia Corp. Дата публикации: 2000-07-04.

Ion beam irradiation device

Номер патента: US20040124371A1. Автор: Yun Lee,Yong Ham. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2004-07-01.

Ion beam deposition target life enhancement

Номер патента: US11901167B2. Автор: Joseph Barraco,Vincent C. Lee,Sarpangala Hariharakeshava HEGDE,Wei-Hua Hsiao. Владелец: Plasma Therm NES LLC. Дата публикации: 2024-02-13.

Ion beam scanning of biological samples

Номер патента: US20190339285A1. Автор: David Stumbo,Rachel Finck. Владелец: Ionpath Inc. Дата публикации: 2019-11-07.

Circuit tracing using a focused ion beam

Номер патента: US20160282287A1. Автор: Michael W. Phaneuf,Christopher Pawlowicz,Alexander Krechmer,Alexander Sorkin,Ken G. Lagarec. Владелец: TechInsights Inc. Дата публикации: 2016-09-29.

Circuit tracing using a focused ion beam

Номер патента: US20140319343A1. Автор: Michael W. Phaneuf,Alexander Krechmer,Alexander Sorkin,Chris Pawlowicz,Ken G. Lagarec. Владелец: Ken G. Lagarec. Дата публикации: 2014-10-30.

Method of manufacturing semiconductor device and ion beam irradiation apparatus

Номер патента: US20220301809A1. Автор: Toshiyuki Sasaki,Junichi Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Ion beam scanning of biological samples

Номер патента: EP3729099A1. Автор: David Stumbo,Rachel Finck. Владелец: Ionpath Inc. Дата публикации: 2020-10-28.

Gas cluster ion beam etch profile control using beam divergence

Номер патента: US20130059449A1. Автор: Michael Graf,John J. Hautala. Владелец: TEL Epion Inc. Дата публикации: 2013-03-07.

Ion beam implantation method and semiconductor device

Номер патента: US20240145247A1. Автор: Hans-Joachim Schulze,Moriz Jelinek,Michael Hell,Caspar Leendertz,Kristijan Luka Mletschnig. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-05-02.

Ion beam deposition target life enhancement

Номер патента: WO2023204896A1. Автор: Joseph Barraco,Vincent C. Lee,Sarpangala Hariharakeshava HEGDE,Wei-Hua Hsiao. Владелец: Plasma-Therm Nes, Llc. Дата публикации: 2023-10-26.

Ion beam deposition target life enhancement

Номер патента: US20230335383A1. Автор: Joseph Barraco,Vincent C. Lee,Sarpangala Hariharakeshava HEGDE,Wei-Hua Hsiao. Владелец: Plasma Therm NES LLC. Дата публикации: 2023-10-19.

Ion beam implantation method and semiconductor device

Номер патента: US11908694B2. Автор: Hans-Joachim Schulze,Moriz Jelinek,Michael Hell,Caspar Leendertz,Kristijan Luka Mletschnig. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-02-20.

Ion beam implantation method and semiconductor device

Номер патента: US20210193435A1. Автор: Hans-Joachim Schulze,Moriz Jelinek,Michael Hell,Caspar Leendertz,Kristijan Luka Mletschnig. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2021-06-24.

Method of sample preparation using dual ion beam trenching

Номер патента: US20200098554A1. Автор: Deepak Goyal,Purushotham Kaushik Muthur Srinath,Richard Kenneth BREWER. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

A method for a repetitive ion beam processing with a by carbon containing ion beam

Номер патента: EP1161309A1. Автор: Alan V. Hayes,Boris L. Druz,Kurt E. Williams. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2001-12-12.

Encoding of precursor ion beam to aid product ion assignment

Номер патента: US10403485B2. Автор: Jason Lee Wildgoose,Kevin Giles,Martin Raymond Green,Keith Richardson. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2019-09-03.

Method and apparatus for multiplexing plural ion beams to a mass spectrometer

Номер патента: US7528366B1. Автор: James G. Boyle,Robert A. Valley. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2009-05-05.

Method of processing a substrate using an ion beam and apparatus for performing the same

Номер патента: US20190272979A1. Автор: Jong-Kyu Kim,Seok-Woo Nam,Kyoung-sub Shin,Yil-hyung LEE,Yoo-Chul Kong,Jong-Soon Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-09-05.

High power ion beam generator systems and methods

Номер патента: US12101870B2. Автор: JIN LEE,Michael Taylor,Mark Thomas,Tye Gribb,Arne Kobernik,Carl Sherven,Casey LAMERS,Chris Seyfert,Evan SENGBUSCH,Gabriel Becerra,Logan CAMPBELL,Preston Barrows,Ross RADEL. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2024-09-24.

High power ion beam generator systems and methods

Номер патента: US20240357728A1. Автор: JIN LEE,Michael Taylor,Mark Thomas,Tye Gribb,Arne Kobernik,Carl Sherven,Casey LAMERS,Chris Seyfert,Evan SENGBUSCH,Gabriel Becerra,Logan CAMPBELL,Preston Barrows,Ross RADEL. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2024-10-24.

High power ion beam generator systems and methods

Номер патента: US12075555B2. Автор: JIN LEE,Michael Taylor,Mark Thomas,Tye Gribb,Arne Kobernik,Carl Sherven,Casey LAMERS,Chris Seyfert,Evan SENGBUSCH,Gabriel Becerra,Logan CAMPBELL,Preston Barrows,Ross RADEL. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2024-08-27.

Ion beam sputtering with ion assisted deposition for coatings on chamber components

Номер патента: US09725799B2. Автор: Ying Zhang,Vedapuram S. Achutharaman,Jennifer Y. Sun,Tom K. Cho,Vahid Firouzdor,Biraja Prasad Kanungo. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Use of ion beam etching to generate gate-all-around structure

Номер патента: US09536748B2. Автор: Thorsten Lill,Ivan L. Berry, III. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Ion beam generator

Номер патента: US4692627A. Автор: Yoshihiro Ueda,Shigeto Fujita,Kouichi Ono,Tatsuo Oomori. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1987-09-08.

Method of making an ion beam sputter-etched ventricular catheter for hydrocephalus shunt

Номер патента: US4432853A. Автор: Bruce A. Banks. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 1984-02-21.

Means for obtaining a metal ion beam from a heavy-ion cyclotron source

Номер патента: US3898496A. Автор: Ed D Hudson,Merrit L Mallory. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1975-08-05.

Direct ion deposition method using ion beam sputtering and device for the same

Номер патента: KR100642584B1. Автор: 송석균. Владелец: 송석균. Дата публикации: 2006-11-10.

Method of Positional Control of Ion Beams in Mass Spectrometers.

Номер патента: GB1176128A. Автор: Robert Boyer. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 1970-01-01.

Uniform broad ion beam deposition

Номер патента: US20060231759A1. Автор: Mervyn Davis. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-19.

Ion beam electron transfer dissociation

Номер патента: WO2023233255A1. Автор: Takashi Baba,Kaoru KARASAWA. Владелец: DH Technologies Development Pte. Ltd.. Дата публикации: 2023-12-07.

Surface Hydration with an Ion Beam

Номер патента: US20230282470A1. Автор: Michael Scott Westphall,Joshua Jacques COON. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2023-09-07.

Circuit tracing using a focused ion beam

Номер патента: US20160187419A1. Автор: Christopher Pawlowicz,Alexander Krechmer,Alexander Sorkin. Владелец: TechInsights Inc. Дата публикации: 2016-06-30.

Uniform broad ion beam deposition

Номер патента: WO2002097850A3. Автор: Mervyn Howard Davis,Gary Proudfoot. Владелец: Nordiko Ltd. Дата публикации: 2003-10-16.

Uniform broad ion beam deposition

Номер патента: WO2002097850A2. Автор: Mervyn Howard Davis,Gary Proudfoot. Владелец: Nordiko Limited. Дата публикации: 2002-12-05.

Surface hydration with an ion beam

Номер патента: WO2023168406A2. Автор: Joshua Coon,Michael Westphall. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2023-09-07.

Ion beam etching chamber with etching by-product redistributor

Номер патента: US20230369024A1. Автор: Lee-Chuan Tseng,Te-Hsien Hsieh. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Method for modifying the wettability and/or other biocompatibility characteristics of a surface of a biological material by the application of gas cluster ion beam technology and biological materials made thereby

Номер патента: WO2010105056A1. Автор: Joseph Khoury,Richard C. Svrluga,Laurence B. Tarrant,Sean R. Kirkpatrick. Владелец: EXOGENESIS CORPORATION. Дата публикации: 2010-09-16.

Method of manufacturing a semiconductor device by using ion beam technique

Номер патента: US11043384B2. Автор: Hans-Joachim Schulze,Moriz Jelinek,Werner Schustereder,Christian Krueger,Michael Kokot. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2021-06-22.

Multilayer printed circular polarized phased antenna array with wide-angle scanning (options)

Номер патента: RU2761777C1. Автор: Юрий Борисович Корчемкин,Руслан Артурович Колесников. Владелец: Публичное акционерное общество "Радиофизика". Дата публикации: 2021-12-13.

Bevel metal removal using ion beam etch

Номер патента: US20210226120A1. Автор: Daniel C. Edelstein,Michael RIZZOLO,Theodorus E. Standaert,Ashim Dutta,Saba Zare. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-07-22.

Phased array antenna employing linear scan for wide angle orbital arc coverage

Номер патента: CA1185365A. Автор: Noach Amitay,Michael J. Gans. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1985-04-09.

Two layer matching dielectrics for radomes and lenses for wide angles of incidence

Номер патента: CA2024118C. Автор: Te-Kao Wu. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1995-07-04.

Photovoltaic cell module heat extraction assembly

Номер патента: US09793428B2. Автор: John Beavis Lasich. Владелец: Reygen Resources Pty Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Hdd pattern apparatus using laser, e-beam, or focused ion beam

Номер патента: WO2010120725A3. Автор: Stephen Moffatt,Majeed A. Foad. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2011-01-13.

Hdd pattern apparatus using laser, e-beam, or focused ion beam

Номер патента: WO2010120725A4. Автор: Stephen Moffatt,Majeed A. Foad. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2011-03-03.

Methods of Forming an Anode and a Cathode of a Substrate Diode by Performing Angled Ion Implantation Processes

Номер патента: US20130049164A1. Автор: Peter Baars,Thilo Scheiper. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2013-02-28.

3d semiconductor structure for wide-bandgap semiconductor devices

Номер патента: US20240014176A1. Автор: Jiun-Lei Yu,Chun-Lin Tsai,Man-Ho Kwan,Ting-Fu Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Applying inert ion beam etching for improving a profile and repairing sidewall damage for phase change memory devices

Номер патента: US20230165169A1. Автор: Robert L. Bruce,Sebastian Ulrich Engelmann,Luxherta Buzi,Lynne Marie Gignac,Thitima Suwannasiri. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Ultra-thin film formation using gas cluster ion beam processing

Номер патента: WO2010101688A1. Автор: Noel Russell,Edmund Burke,Gregory Herdt,John J. Hautala. Владелец: TEL EPION INC.. Дата публикации: 2010-09-10.

Gate all around device and method of formation using angled ions

Номер патента: US20200185228A1. Автор: Sony Varghese,Anthony Renau,Min Gyu Sung,Joseph C. Olson,Morgan Evans. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-06-11.

Gate devices and methods of formation using angled ions

Номер патента: US10903211B1. Автор: Sony Varghese,Anthony Renau,Min Gyu Sung,Morgan Evans,Naushad K. Variam,Tassie Andersen. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-01-26.

Gate all around device and method of formation using angled ions

Номер патента: US10930735B2. Автор: Sony Varghese,Anthony Renau,Min Gyu Sung,Joseph C. Olson,Morgan Evans. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-02-23.

Fabrication method of nanocrystals using a focused-ion beam

Номер патента: US20020081848A1. Автор: Young Park,Tae Kim,Seung Kang,Eun Kim,Jae Shim,Dong Choo. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2002-06-27.

Gate devices and methods of formation using angled ions

Номер патента: US20210050349A1. Автор: Sony Varghese,Anthony Renau,Min Gyu Sung,Morgan Evans,Naushad K. Variam,Tassie Andersen. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-02-18.

Fabrication of novel devices using ion beams

Номер патента: US20240222126A1. Автор: Kevin O'Brien,Shida Tan,Uygar Avci,Brandon Holybee,Mahmut Sami KAVRIK,Jennifer Lux. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Focused ion beam process for selective and clean etching of copper

Номер патента: EP2470688A1. Автор: Vladimir V. Makarov. Владелец: Tiza Lab LLC. Дата публикации: 2012-07-04.

Focused ion beam process for selective and clean etching of copper

Номер патента: WO2011025770A1. Автор: Vladimir V. Makarov. Владелец: Tiza Lab, L.L.C.. Дата публикации: 2011-03-03.

Focused ion beam process for selective and clean etching of copper

Номер патента: SG178505A1. Автор: Vladimir V Makarov. Владелец: Tiza Lab L L C. Дата публикации: 2012-03-29.

Circuit tracing using a focused ion beam

Номер патента: CA2898767C. Автор: Christopher Pawlowicz,Alexander Krechmer,Alexander Sorkin. Владелец: TechInsights Inc. Дата публикации: 2023-02-14.

Focused ion beam metal deposition

Номер патента: US20020086508A1. Автор: Ilan Gavish,Yuval Greenzweig. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2002-07-04.

Focused ion beam deposition

Номер патента: US20020192947A1. Автор: Ilan Gavish,Yuval Greenzweig. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-19.

Method of accessing semiconductor circuits from the backside using ion-beam and gas-etch

Номер патента: US20090302431A1. Автор: Steven B. Herschbein,George Y. Gu,Carmelo F. Scrudato,Loren L. Hahn. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-12-10.

Ion Beam Etching Process Design to Minimize Sidewall Re-Deposition

Номер патента: US20210083180A1. Автор: Yi Yang,Yu-Jen Wang,Guenole Jan,Dongna Shen,Vignesh SUNDAR. Владелец: Headway Technologies Inc. Дата публикации: 2021-03-18.

Circuit for electrostatic discharge protection for wide frequency range multi-band interfaces

Номер патента: US20210044104A1. Автор: Harald Gossner,Krzysztof Domański,David Johnsson,Jenia ELKIND. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Arrangement for wide band coupling of a coaxial line to a hollow conductor

Номер патента: US3764942A. Автор: E Schmid,S Keim. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1973-10-09.

Backside thinning using ion-beam figuring

Номер патента: US5969368A. Автор: Dennis A. Thompson,Bryan L. Howe. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1999-10-19.

Low energy ion beam oxidation process

Номер патента: CA1156603A. Автор: Jerome J. Cuomo,James M. E. Harper. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1983-11-08.

Ion beam micromachining method

Номер патента: US3988564A. Автор: Hugh L. Garvin,Hayden M. Leedy,Richard S. Iwasaki. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1976-10-26.

Light Emitting Display with Improved Wide Angle Color Viewing

Номер патента: US20220189932A1. Автор: Jorge Perez-Bravo. Владелец: Nanolumens Acquisition Inc. Дата публикации: 2022-06-16.

Wide-angle emitting LED driven by built-in power and assembly method thereof

Номер патента: US09752764B2. Автор: Hui Chen,Wei Tan,Maojun Cao. Владелец: NINGBO YAMAO LIGHTING ELECTRIC APPLIANCE Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Nanorod arrays formed by ion beam implantation

Номер патента: EP1896636A2. Автор: Xuemei Wang,Li-Wei Tu,Wei-Kan Chu,Hye-Won Seo,Quark Y. Chen,Ching-Lien Hsaio,Xen-Jie Tu. Владелец: University of Houston. Дата публикации: 2008-03-12.

Method for fabricating superconducting devices using a focused ion beam

Номер патента: US20190288178A1. Автор: Shane A. Cybart,Travis J. Wong,Robert C. Dynes,Ethan Y. Cho. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2019-09-19.

Method for preparing a light-emitting device using gas cluster ion beam processing

Номер патента: US20110312106A1. Автор: John J. Hautala. Владелец: TEL Epion Inc. Дата публикации: 2011-12-22.

Sidewall spacer patterning method using gas cluster ion beam

Номер патента: US20160222521A1. Автор: Noel Russell,Soo Doo Chae,Youngdon Chang,Il-seok Song. Владелец: TEL Epion Inc. Дата публикации: 2016-08-04.

Charge-coupled device with focused ion beam fabrication

Номер патента: WO1988009059A1. Автор: Mark W. Utlaut,William M. Clark, Jr.,Robert H. Walden. Владелец: Hughes Aircraft Company. Дата публикации: 1988-11-17.

Ion beam dual damascene process

Номер патента: US6620729B1. Автор: Charles E. May. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2003-09-16.

Nanoscale resolution, spatially-controlled conductivity modulation of dielectric materials using a focused ion beam

Номер патента: US20220020635A1. Автор: Hooman Mohseni,Simone Bianconi. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2022-01-20.

Formation of shallow junctions by diffusion from a dielectric doped by cluster or molecular ion beams

Номер патента: US20110312168A1. Автор: Amitabh Jain. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-12-22.

Formation of shallow junctions by diffusion from a dielectric doped by cluster or molecular ion beams

Номер патента: WO2009023768A2. Автор: Amitabh Jain. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2009-02-19.

Electronic and photonic devices having ultra-micro structures fabricated with a focused ion beam

Номер патента: EP1204184A3. Автор: Takashi Katoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-15.

Ion beam dual damascene process

Номер патента: US20030203620A1. Автор: Charles May. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2003-10-30.

Method for forming trench isolation using a gas cluster ion beam growth process

Номер патента: WO2010090903A2. Автор: John J. Hautala. Владелец: TEL EPION INC.. Дата публикации: 2010-08-12.

Processing materials with ion beams

Номер патента: US09937478B2. Автор: Marshall Medoff. Владелец: Xyleco Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Method of surface profile correction using gas cluster ion beam

Номер патента: US09875947B2. Автор: Noel Russell,Soo Doo Chae,Vincent Gizzo,Joshua LaRose,Nicholas Joy. Владелец: TEL Epion Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Formation of work-function layers for gate electrode using a gas cluster ion beam

Номер патента: US09748392B1. Автор: Hui Zang,Yanzhen Wang,Jidong Huang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

Processing materials with ion beams

Номер патента: US09687810B2. Автор: Marshall Medoff. Владелец: Xyleco Inc. Дата публикации: 2017-06-27.

Ion beam activated directional deposition

Номер патента: US09520284B1. Автор: Mark Saly,Tsung-Liang Chen. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2016-12-13.

Sidewall spacer patterning method using gas cluster ion beam

Номер патента: US09500946B2. Автор: Noel Russell,Soo Doo Chae,Youngdon Chang,Il-seok Song. Владелец: TEL Epion Inc. Дата публикации: 2016-11-22.

Focused ion beam deep nano- patterning method

Номер патента: WO2008132734A3. Автор: Meir Orenstein,Alex Hayat,Alex Lahav. Владелец: Alex Lahav. Дата публикации: 2009-01-15.

Device For Wide Range Continuous Wavelength Sweeping on a Set of Tunable Laser Sources

Номер патента: US20080267230A1. Автор: Eric Ducloux. Владелец: Anritsu Instruments SAS. Дата публикации: 2008-10-30.

Circuit for electrostatic discharge protection for wide frequency range multi-band interfaces

Номер патента: WO2020005420A1. Автор: Harald Gossner,Krzysztof Domański,David Johnsson,Jenia ELKIND. Владелец: Intel IP Corporation. Дата публикации: 2020-01-02.

Device for wide range continuous wavelength sweeping on a set of tunable laser sources

Номер патента: WO2006089802A1. Автор: Eric Ducloux. Владелец: Anritsu Instruments SAS. Дата публикации: 2006-08-31.

Device for wide range continuous wavelength sweeping on a set of tunable laser sources

Номер патента: CA2599288A1. Автор: Eric Ducloux. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-08-31.

Wide-angle impedance-matching device for radiating-element array antenna and method of designing such a device

Номер патента: US20240213664A1. Автор: Herve Legay,Maria GARCIA VIGUERAS,Raphael Gillard,Diego Bermudez-Martin. Владелец: INSTITUT NATIONAL DES SCIENCES APPLIQUEES DE RENNES. Дата публикации: 2024-06-27.

Wide-angle impedance-matching device for radiating-element array antenna and method of designing such a device

Номер патента: CA3223986A1. Автор: Herve Legay,Maria GARCIA VIGUERAS,Raphael Gillard,Diego Bermudez-Martin. Владелец: INSTITUT NATIONAL DES SCIENCES APPLIQUEES DE RENNES. Дата публикации: 2024-06-22.

A higb-gain, wide-angle, multi-beam, multi-frequency beamforming lens antenna

Номер патента: WO2021108449A1. Автор: Shawn Rogers,Soumitra BISWAS,Howard JETMUNDSEN,Harold Thomas Cox. Владелец: Envistacom, Llc. Дата публикации: 2021-06-03.

Wideband and wide angle sidelobe cancellation technique

Номер патента: US5652591A. Автор: James S. Ajioka,Raymond Tang,Sien-chang Charles Liu,Donald J. Gibson,Nam S. Wong. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1997-07-29.

Asymmetric wide-angle radar module

Номер патента: US20240012101A1. Автор: Jeong Pyo Kim. Владелец: Atcodi Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Light emitting display with improved wide angle color viewing

Номер патента: US11908842B2. Автор: Jorge Perez-Bravo. Владелец: Nanolumens Acquisition Inc. Дата публикации: 2024-02-20.

Focused ion beam deep nano- patterning method

Номер патента: WO2008132734A9. Автор: Meir Orenstein,Alex Hayat,Alex Lahav. Владелец: Alex Lahav. Дата публикации: 2009-04-16.

Process for fabricating non-volatile memory by tilt-angle ion implantation

Номер патента: US20060019441A1. Автор: Erik Jeng,Wu-Ching Chou,Chien-Chen Li,Li-Kang Wu. Владелец: CHUNG YUAN CHRISTIAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2006-01-26.

Techniques for selective deposition using angled ions

Номер патента: US20190256966A1. Автор: Maureen Petterson,Kevin Anglin. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2019-08-22.

Fin and finfet formation by angled ion implantation

Номер патента: EP2396813A1. Автор: Kangguo Cheng,Geng Wang,Bruce Doris. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-12-21.

Directions for wide angle intra prediction

Номер патента: US12132907B2. Автор: Fabrice Urban,Gagan Rath,Fabien Racape. Владелец: InterDigital Madison Patent Holdings SAS. Дата публикации: 2024-10-29.

Ion beam target assemblies for neutron generation

Номер патента: WO2019236537A3. Автор: Tye Gribb,Ross RADEL. Владелец: Phoenix Llc. Дата публикации: 2020-02-13.

Optical arrangement for wide angle imaging lens with front entrance pupil

Номер патента: US11442267B2. Автор: Igor Vinogradov,Vladimir Gurevich. Владелец: Zebra Technologies Corp. Дата публикации: 2022-09-13.

Automated security provisioning protocol for wide area network communication devices in open device environment

Номер патента: US09590961B2. Автор: Harish Viswanathan,Ganapathy S. Sundaram. Владелец: Alcatel Lucent SAS. Дата публикации: 2017-03-07.

Cooling plate assembly for plasma windows positioned in a beam accelerator system

Номер патента: WO2024064345A3. Автор: Tye Gribb,Preston Barrows. Владелец: Shine Technologies, Llc. Дата публикации: 2024-07-18.

Ion beam delivery equipment and method

Номер патента: EP1684313A3. Автор: Alfred Smith,Wayne Newhauser,Kazuo c/o Hitachi Ltd. I.P. Office Hiramoto,Hiroshi c/o Hitachi Ltd. I.P. Office Akiyama,Masaki c/o Hitachi Ltd. I.P. Office Yanagisawa,Hisataka c/o Hitachi Ltd. I.P. Office Fujimaki. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 2009-11-18.

Fast distortion correction for wide field of view (FOV) cameras

Номер патента: US11887283B2. Автор: Jianping Zhou,Ali-Amir ALDAN,Sebastien X. Beysserie. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-01-30.

Content-aware wide-angle images

Номер патента: US09742994B2. Автор: Aseem O. Agarwala,Robert E. Carroll. Владелец: Adobe Systems Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Ion beam target assemblies for neutron generation

Номер патента: US11903117B2. Автор: Tye Gribb,Ross RADEL. Владелец: Phoenix Neutron Imaging LLC. Дата публикации: 2024-02-13.

Ion beam target assemblies for neutron generation

Номер патента: CA3225455A1. Автор: Tye Gribb,Ross RADEL. Владелец: Phoenix Neutron Imaging LLC. Дата публикации: 2019-12-12.

Ion beam target assemblies for neutron generation

Номер патента: US20190380195A1. Автор: Tye Gribb,Ross RADEL. Владелец: Phoenix Llc. Дата публикации: 2019-12-12.

Ion beam target assemblies for neutron generation

Номер патента: EP3804475A2. Автор: Tye Gribb,Ross RADEL. Владелец: Phoenix Neutron Imaging LLC. Дата публикации: 2021-04-14.

Ion beam target assemblies for neutron generation

Номер патента: US20240179827A1. Автор: Tye Gribb,Ross RADEL. Владелец: Phoenix Neutron Imaging LLC. Дата публикации: 2024-05-30.

Fast Distortion Correction for Wide Field of View (FOV) Cameras

Номер патента: US20220335579A1. Автор: Jianping Zhou,Ali-Amir ALDAN,Sebastien X. Beysserie. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2022-10-20.

Ltf and stf transmission for wide bandwidth 240mhz with more dc tones in wireless communications

Номер патента: EP4387181A3. Автор: Ching-Wen Hsiao,Jianhan Liu,Thomas Edward Pare Jr.,Shengquan Hu. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-08-14.

Capturing and transforming wide-angle video information

Номер патента: WO2020190893A1. Автор: Richard Rey,Andrew Vick,Bettina Martin. Владелец: STX Financing, LLC. Дата публикации: 2020-09-24.

Method and device for wide-range monophonic sound reproduction

Номер патента: RU2330390C2. Автор: Сун-Мин КИМ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2008-07-27.

Charger for wide input/output voltage regulation

Номер патента: WO2023193914A1. Автор: Grover Victor TORRICO-BASCOPÉ,Abidemi ELEYELE,Shuyu OU. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2023-10-12.

Modified pi-sigma-delta-modulator based digital signal processing system for wide-band applications

Номер патента: WO2020088619A1. Автор: LAN Hu,Sai Mohan Kilambi. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-05-07.

External wide-angle lens for imagers in electronic devices

Номер патента: US12019224B2. Автор: Tsung-Dar Cheng,Shan Fu Huang,Calvin Kyaw Wong,Chen Cheng Lee. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-06-25.

Method and apparatus for an improved wide-angle display system

Номер патента: WO2000070874A8. Автор: Amit Mehta,Robert D Bordovsky,Richard B Hughs,Neil M Wheatley. Владелец: Redifun Stimulation Inc. Дата публикации: 2001-09-07.

Method and apparatus for an improved wide-angle display system

Номер патента: EP1210820A2. Автор: Amit Mehta,Robert D. Bordovsky,Richard B. Hughs,Neil M. Wheatley. Владелец: Redifun Stimulation Inc. Дата публикации: 2002-06-05.

External Wide-Angle Lens for Imagers in Electronic Devices

Номер патента: US20240012227A1. Автор: Tsung-Dar Cheng,Shan Fu Huang,Calvin Kyaw Wong,Chen Cheng Lee. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-01-11.

Auto-tracking imaging apparatus including wide-angle and telephoto optical systems

Номер патента: US09924084B2. Автор: Shuji Ono. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Position dependent intra prediction combination with wide angle intra prediction

Номер патента: ZA202101015B. Автор: Adarsh Krishnan RAMASUBRAMONIAN,Marta Karczewicz,Der Auwera Geert Van. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-25.

Wide-angle camera using achromatic doublet prism array and method of manufacturing the same

Номер патента: US09438779B2. Автор: Chuen-Yi Yin,Jau-Jan Deng. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Tokamak plasma heating with intense, pulsed ion beams

Номер патента: US4421713A. Автор: Niels K. Winsor,Wallace M. Manheimer. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1983-12-20.

Ion beam exclusion paths on the target surface to optimize neutron beam performance

Номер патента: WO2023167873A1. Автор: Alexander Dunaevsky,Jedediah STYRON,Charles Leon Lee,Gregory Luke SNITCHLER,Harrison Beam EGGERS. Владелец: Tae Technologies, Inc.. Дата публикации: 2023-09-07.

Ion beam control apparatus and method

Номер патента: US20100133445A1. Автор: SHU NAKAMURA,Akira Noda,Toshiyuki Shirai,Kouji Noda,Masahiro Ikegami,Hiroyuki Daido. Владелец: NATIONAL INSTITUTE OF RADIOLOGICAL SCIENCES. Дата публикации: 2010-06-03.

Ion beam exclusion paths on the target surface to optimize neutron beam performance

Номер патента: US20230284368A1. Автор: Alexander Dunaevsky,Jedediah STYRON,Charles Leon Lee,Gregory Luke SNITCHLER,Harrison Beam EGGERS. Владелец: TAE Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Particle accelerator for radiotherapy by means of ion beams

Номер патента: CA2570399A1. Автор: Bernhard Franczak,Klaus Blasche. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-29.

Method and apparatus for choosing a desired field of view from a wide-angle image or video

Номер патента: EP2507667A2. Автор: Manuel Oliver,Daniel J. Sadler,Joseph W. Bostaph. Владелец: Motorola Solutions Inc. Дата публикации: 2012-10-10.

Method and apparatus for choosing a desired field of view from a wide-angle image or video

Номер патента: WO2011075235A2. Автор: Manuel Oliver,Daniel J. Sadler,Joseph W. Bostaph. Владелец: Motorola, Solutions, Inc.. Дата публикации: 2011-06-23.

Method, device and system for correcting distortion of wide-angle lens

Номер патента: US20190236760A1. Автор: Zhuo Wang,Xuming Liu,Jiyong Zeng. Владелец: Jiangxi Lianchuang Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-01.

Wide-angle lens calibration system and method thereof

Номер патента: US09756240B2. Автор: Wei-Cheng Liu,Yu-Chung Chen. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-09-05.

Wide-angle image pickup unit and measuring device

Номер патента: US09733080B2. Автор: Fumio Ohtomo,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Multiple view and multiple object processing in wide-angle video camera

Номер патента: US09398214B2. Автор: Yavuz Ahiska. Владелец: Grandeye Ltd. Дата публикации: 2016-07-19.

Ion beam focusing lens method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8093564B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2012-01-10.

Re-shaping of signals for wide dynamic range signals

Номер патента: RU2693687C1. Автор: Пэн ИНЬ,Таожань Лу,Робин АТКИНС,Жаклин Энн ПИТЛАРЦ. Владелец: Долби Лэборетериз Лайсенсинг Корпорейшн. Дата публикации: 2019-07-03.

Plural foils shaping intensity profile of ion beams

Номер патента: CA2389501A1. Автор: William Z. Gelbart. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-05-17.

Providing control using a wide angle image capture means

Номер патента: GB2440993A. Автор: Colin Jonathan Hughes. Владелец: Sony Computer Entertainment Europe Ltd. Дата публикации: 2008-02-20.

Method, system and terminal for wide-area acoustic indoor positioning based on RF enhancement

Номер патента: US11808848B1. Автор: FENG Ye,Ruizhi Chen,Guangyi Guo. Владелец: Zhejiang Deqing Zhilu Navigation Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-11-07.

Rotary charge stripping film in charge stripping device of ion beam and charge stripping method of ion beam

Номер патента: US20190237212A1. Автор: Mutsuaki Murakami,Hiroo Hasebe,Masamitsu Tachibana,Atsushi TATAMI. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2019-08-01.

Coding tool parameter selection by mapping wide angle intra prediction modes to non-wide intra prediction modes

Номер патента: US20230061507A1. Автор: Xiang Li,Liang Zhao,XIN ZHAO,Shan Liu. Владелец: Tencent America LLC. Дата публикации: 2023-03-02.

LTF And STF Transmission For Wide Bandwidth 240MHz With More DC Tones In Wireless Communications

Номер патента: US20240171438A1. Автор: Ching-Wen Hsiao,Jianhan Liu,Shengquan Hu,Thomas Edward Pare, Jr.. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Filter management for wide output beams at coverage enhancing devices

Номер патента: WO2023094531A1. Автор: Erik Bengtsson,Olof Zander,Chaitanya TUMULA,Fredrik RUSEK,Jose Flordelis. Владелец: Sony Europe B.V.. Дата публикации: 2023-06-01.

Ltf and stf transmission for wide bandwidth 240mhz with more dc tones in wireless communications

Номер патента: EP4387181A2. Автор: Ching-Wen Hsiao,Jianhan Liu,Thomas Edward Pare Jr.,Shengquan Hu. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-06-19.

Image display method for video conferencing system with wide-angle webcam

Номер патента: US20220060660A1. Автор: Chen-Wei Chou,Chien-Chou YANG. Владелец: Aspeed Technology Inc. Дата публикации: 2022-02-24.

Image processing apparatus for generating wide-angle image by compositing plural images, image processing method, storage medium storing image processing program, and image pickup apparatus

Номер патента: US20160044241A1. Автор: Hironori Kaida. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-02-11.

Wide-angle lens, camera module and vehicle camera

Номер патента: US12054104B2. Автор: Xuming Liu,Jiyong Zeng,Yumin BAO. Владелец: Jiangxi Lianchuang Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Video and image coding with wide-angle intra prediction

Номер патента: EP4383704A3. Автор: Jani Lainema. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-08-21.

Image processing apparatus for generating wide-angle image by compositing plural images, image processing method, storage medium storing image processing program, and image pickup apparatus

Номер патента: US09973693B2. Автор: Hironori Kaida. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Wide angle imaging directional backlights

Номер патента: US09678267B2. Автор: Jonathan Harrold,Michael G. Robinson,Graham J. Woodgate,Miller H. Schuck. Владелец: RealD Spark LLC. Дата публикации: 2017-06-13.

Stacked synthesizer for wide local oscillator generation using a dynamic divider

Номер патента: US09571112B2. Автор: Tirdad Sowlati,Seunghwan Yoon,Shaul Klein,Igal Kushnir,Wei-Hong Chen,Chin-Ming Chien,Hung-Ming Chien,Kobi STURKOVICH,Moche Cohen,Theodoros Chalvatzis. Владелец: MaxLinear Asia Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Wide-angle lens and imaging device

Номер патента: US09453991B2. Автор: Toru Harada,Hirokazu Takenaka,HIROYUKI Satoh,Hideaki Yamamoto,Tomonori Tanaka,Kensuke Masuda,Noriyuki Terao,Yoshiaki Irino,Nozomi Imae,Satoshi Sawaguchi,Daisuke Bessho. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Digital multi-level envelope tracking for wide-bandwidth signals

Номер патента: US09438172B2. Автор: Emanuel Cohen. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Linear accelerator for accelerating an ion beam

Номер патента: RU2316157C2. Автор: Уго АМАЛЬДИ,Массимо КРЕШЕНТИ,Риккардо ЦЕННАРО. Владелец: Фондационе Пер Адротерапия Онколоджика-Тэра. Дата публикации: 2008-01-27.

Electronic imaging system and sensor for correcting the distortion in a wide-angle lens

Номер патента: US5489940A. Автор: Bruce E. Stuckman,Charles P. Richardson. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1996-02-06.

Systems and methods employing interchangeable ion beam targets

Номер патента: EP4329435A2. Автор: Tye Gribb,Evan SENGBUSCH,Preston Barrows,Ross RADEL,Eli Moll,Lucas Jacobson. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2024-02-28.

Cooling plate assembly for plasma windows positioned in a beam accelerator system

Номер патента: US20240107653A1. Автор: Tye Gribb,Preston Barrows. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2024-03-28.

Systems and methods employing interchangeable ion beam targets

Номер патента: US20230132458A1. Автор: Tye Gribb,Evan SENGBUSCH,Preston Barrows,Ross RADEL,Eli Moll,Lucas Jacobson. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2023-05-04.

Systems and methods employing interchangeable ion beam targets

Номер патента: US20230326622A1. Автор: Tye Gribb,Evan SENGBUSCH,Preston Barrows,Ross RADEL,Eli Moll,Lucas Jacobson. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2023-10-12.

Systems and methods employing interchangeable ion beam targets

Номер патента: EP4329435A3. Автор: Tye Gribb,Evan SENGBUSCH,Preston Barrows,Ross RADEL,Eli Moll,Lucas Jacobson. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2024-06-05.

Position dependent intra prediction combination with wide angle intra prediction

Номер патента: CA3105383C. Автор: Adarsh Krishnan RAMASUBRAMONIAN,Marta Karczewicz,Geert Van der Auwera. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-04-30.

Cooling plate assembly for plasma windows positioned in a beam accelerator system

Номер патента: WO2024064345A2. Автор: Tye Gribb,Preston Barrows. Владелец: Shine Technologies, Llc. Дата публикации: 2024-03-28.

Splitting of a wide angle view

Номер патента: US20190149747A1. Автор: Song Yuan,Axel Keskikangas. Владелец: AXIS AB. Дата публикации: 2019-05-16.

Distortion calibration method for ultra-wide angle imaging apparatus, system and photographing device including same

Номер патента: US12142006B2. Автор: Wenxue Li. Владелец: Black Sesame Technologies Inc. Дата публикации: 2024-11-12.

Multiple view and multiple object processing in wide-angle video camera

Номер патента: US8427538B2. Автор: Yavuz Ahiska. Владелец: Oncam Grandeye. Дата публикации: 2013-04-23.

Multiple View and Multiple Object Processing in Wide-Angle Video Camera

Номер патента: US20100002071A1. Автор: Yavuz Ahiska. Владелец: Grandeye Ltd. Дата публикации: 2010-01-07.

Method of displaying wide-angle image, image display system, and information processing apparatus

Номер патента: US11140324B2. Автор: Takayuki Hara,Osamu Ogawara,Yohei Fujita. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-05.

Automatically expanding the zoom capability of a wide-angle video camera

Номер патента: GB2431312A. Автор: Mark Kenneth Davey. Владелец: Grandeye Ltd. Дата публикации: 2007-04-18.

Wide-angle intra prediction

Номер патента: US11930167B2. Автор: Xiang Li,Liang Zhao,XIN ZHAO,Shan Liu. Владелец: Tencent America LLC. Дата публикации: 2024-03-12.

Portable device for generating wide angle images

Номер патента: US20170302835A1. Автор: Kuo-Ching Chiang. Владелец: Zeppelin Inc. Дата публикации: 2017-10-19.

Ion beam etching with sidewall cleaning

Номер патента: US12029133B2. Автор: Thorsten Lill,Ivan L. Berry, III. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Method of forming memory cell using gas cluster ion beams

Номер патента: US20120235108A1. Автор: John Smythe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-09-20.

Method of forming memory cell using gas cluster ion beams

Номер патента: EP2393957A1. Автор: John Smythe. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2011-12-14.

Method of forming memory cell using gas cluster ion beams

Номер патента: WO2010090900A1. Автор: John Smythe. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2010-08-12.

Method of forming memory cell using gas cluster ion beams

Номер патента: US20100288994A1. Автор: John Smythe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-11-18.

Ion beam etching with sidewall cleaning

Номер патента: US20240315141A1. Автор: Thorsten Lill,Ivan L. Berry, III. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Video coding and coding of images with wide-angle internal prediction

Номер патента: RU2732996C1. Автор: Яни ЛАЙНЕМА. Владелец: Нокиа Текнолоджиз Ой. Дата публикации: 2020-09-28.

STF Sequence Design For Wide Bandwidths In Wireless Communications

Номер патента: US20240089160A1. Автор: Jianhan Liu,Shengquan Hu,Thomas Edward Pare, Jr.. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Stacked Synthesizer For Wide Local Oscillator Generation Using A Dynamic Divider

Номер патента: US20180175869A9. Автор: Tirdad Sowlati,Seunghwan Yoon,Shaul Klein,Igal Kushnir,Wei-Hong Chen,Chin-Ming Chien,Hung-Ming Chien,Kobi STURKOVICH,Moche Cohen,Theodoros Chalvatzis. Владелец: MaxLinear Asia Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2018-06-21.

FrAImWork – consolidations of DETPAT invention (block chain processing ...) helping ensure AI is applied safely & can be effectively regulated for wide use in distributed information system processing of any kind. Extra consumer protection models & levels of data standardization & verifiability are included to better support AI making support AI making better trans-economy & trans-industry productivity improvements, & enable a controlled environment for AI-enhanced activities related to confidential information including related to health risk prevention & confidence in emissions verity.

Номер патента: AU2023204365A1. Автор: Julianne Mary Cripps Clark. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-27.

Flexible touch sensors and methods for wide-field imaging of atom or ion trap

Номер патента: US11146271B2. Автор: Jaime David WONG-CAMPOS,Kai HUDEK,Jason Madjdi AMINI,Phillip Douglas SOLOMON. Владелец: Ionq Inc. Дата публикации: 2021-10-12.

Stf sequence design for wide bandwidths in wireless communications

Номер патента: EP4340309A1. Автор: Jianhan Liu,Shengquan Hu,Jr. Thomas Edward Pare. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-03-20.

Center ru996 tone plan designs for wide bandwidth 240mhz in wireless communications

Номер патента: EP4362375A1. Автор: Ching-Wen Hsiao,Jianhan Liu,Shengquan Hu,Jr. Thomas Edward Pare. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-05-01.

Distributed-tone resource unit designs for wide distribution bandwidth 160mhz in wireless communications

Номер патента: EP4344117A1. Автор: Jianhan Liu,Shengquan Hu,Jr. Thomas Edward Pare. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-03-27.

Center RU996 Tone Plan Designs For Wide Bandwidth 240MHz In Wireless Communications

Номер патента: US20240129081A1. Автор: Ching-Wen Hsiao,Jianhan Liu,Shengquan Hu,Thomas Edward Pare, Jr.. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

4x ltf sequence design for wide bandwidths in wireless communications

Номер патента: WO2024055989A1. Автор: Jianhan Liu,Thomas Edward Pare Jr.,Shengquan Hu. Владелец: MEDIATEK INC.. Дата публикации: 2024-03-21.

Distributed-Tone Resource Unit Designs For Wide Distribution Bandwidth 160MHz In Wireless Communications

Номер патента: US20240106615A1. Автор: Jianhan Liu,Shengquan Hu,Thomas Edward Pare, Jr.. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Distributed-Tone Resource Unit Operation For Wide Bandwidths In Next-Generation WLAN Systems

Номер патента: US20240107381A1. Автор: Jianhan Liu,Shengquan Hu,Thomas Edward Pare, Jr.. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Stacked Synthesizer for Wide Local Oscillator Generation Using a Dynamic Divider

Номер патента: US20150222281A1. Автор: Tirdad Sowlati,Seunghwan Yoon,Shaul Klein,Igal Kushnir,Wei-Hong Chen,Chin-Ming Chien,Hung-Ming Chien,Kobi STURKOVICH,Moche Cohen,Theodoros Chalvatzis. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Distributed-tone resource unit operation for wide bandwidths in next-generation wlan systems

Номер патента: EP4346150A1. Автор: Jianhan Liu,Shengquan Hu,Jr. Thomas Edward Pare. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-04-03.

The SoupSauce specification is an extension to the invention for block chain processing for consistent asynchronous, non-linear, localized, state-driven and/or condition-based procedurality in distributed systems (and enabling safer application of AI learning) for distributed information system processing for wide regulatory purposes related to digital technologies.

Номер патента: AU2023203325A1. Автор: Julianne Mary Cripps Clark,Julianne Cripps Clark. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-06.

Flexible touch sensors and methods for wide-field imaging of atom or ion trap

Номер патента: US20200220546A1. Автор: Jaime David WONG-CAMPOS,Kai HUDEK,Jason Madjdi AMINI,Phillip Douglas SOLOMON. Владелец: Ionq Inc. Дата публикации: 2020-07-09.

Super wide angle zoom lens

Номер патента: US20190339496A1. Автор: Hyun Soo Lee,Jae Myung RYU,Yong hee Won. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-07.

Image coding method and device on basis of wide-angle intra prediction and transform

Номер патента: US20230199189A1. Автор: Jaehyun LIM,Moonmo KOO,Seunghwan Kim,Junghak NAM. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2023-06-22.

Image coding method and device on basis of wide-angle intra prediction and transform

Номер патента: US20220150504A1. Автор: Jaehyun LIM,Moonmo KOO,Seunghwan Kim,Junghak NAM. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2022-05-12.

Wide-angle, high-resolution distance measurement device

Номер патента: US11982805B2. Автор: Myungsik Kim,Minsu HWANGBO,HyunSeok Hong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-14.

Method to design ultra-wide angle miniature lenses

Номер патента: EP4396621A1. Автор: Patrice Roulet,Simon Thibault,Jocelyn PARENT,Xavier Dallaire,Zhenfeng ZHUANG. Владелец: Immervision Inc. Дата публикации: 2024-07-10.

Wide-angle lens and imaging unit

Номер патента: US20170293117A1. Автор: Hiroshi Koizumi,Kouji Katou,Naoki Miyagawa,Kota Omiya. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-10-12.

Wide angle intra prediction with sub-partitions

Номер патента: US12063351B2. Автор: Fabrice Urban,Gagan Rath,Fabien Racape. Владелец: InterDigital Madison Patent Holdings SAS. Дата публикации: 2024-08-13.

Wide angle lens module and rear view camera having the same

Номер патента: US20140063324A1. Автор: Tae Young Kim,Bok Sun An. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-06.

Image coding method and device on basis of wide-angle intra prediction and transform

Номер патента: US12081763B2. Автор: Jaehyun LIM,Moonmo KOO,Seunghwan Kim,Junghak NAM. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-09-03.

Interactive wide-angle video server

Номер патента: WO2007060497A3. Автор: Yavuz Ahiska,Bartu Ahiska,Mark K Davey. Владелец: Mark K Davey. Дата публикации: 2008-01-03.

Real-Time Wide-Angle Video Communication System

Номер патента: US20230217022A1. Автор: Sheng Zhong,Zesen Zhuang,Zhonghou Zheng. Владелец: Agora Lab Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Method and system for adaptive perspective correction of ultra wide-angle lens images

Номер патента: US09998659B2. Автор: Zorawar Singh Bassi. Владелец: Geo Semiconductor Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Method and apparatus for obtaining rectilinear images using rotationally symmetric wide-angle lens

Номер патента: US09762795B2. Автор: Gyeongil Kweon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-12.

Wide-angle lens system and imaging apparatus employing the same

Номер патента: US09541742B2. Автор: Yong-Jae Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-10.

Wide-angle depth imaging lens construction

Номер патента: US09459430B2. Автор: Zhiqiang Liu. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2016-10-04.

Automated determination of system behavior or user experience by recording, sharing and processing information associated with wide-angle image

Номер патента: RU2689136C2. Автор: Симон ТИБО,Пьер КОНАН,Паскаль НИНИ,Жослен ПАРАН,Патрис РУЛЕ,Ху ЧЖАН,Мари-Эв ГОССЛЕН,Валантен БАТАЙ,Сяоцзюнь ДУ. Владелец: 6115187 КЭНАДА ИНК. д/б/а ИММЕРВИЖН, ИНК.. Дата публикации: 2019-05-24.

Video and image coding with wide-angle intra prediction

Номер патента: CA3048115C. Автор: Jani Lainema. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2021-11-09.

Imaging system and method for displaying and/or recording undistorted wide-angle image data

Номер патента: CA2465087C. Автор: Lawrence R. Mills,Thomas Berkey,Daniel P. Fuoco. Владелец: Sensormatic Electronics LLC. Дата публикации: 2015-07-07.

High energy polyenergetic ion beam systems

Номер патента: WO2004109717A3. Автор: Chang-Ming Ma. Владелец: Chang-Ming Ma. Дата публикации: 2006-12-28.

Wide-angle streaming multi-camera system

Номер патента: US11838653B2. Автор: G. Balasubramaniyam. Владелец: eCon Systems India Pvt Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

Wide-angle lens, camera module and vehicle camera

Номер патента: US20200254941A1. Автор: Xuming Liu,Jiyong Zeng,Yumin BAO. Владелец: Jiangxi Lianchuang Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-13.

Vehicular exterior rearview mirror assembly with a mirror reflective element assembly having a main reflective element and an auxiliary wide angle reflective element

Номер патента: US11833965B2. Автор: Niall R. Lynam,Keith D. Foote,Kevin P. Benthem. Владелец: Donnelly Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Ion beam etching of stt-ram structures

Номер патента: WO2017075282A1. Автор: Narasimhan Srinivasan,Boris Druz,Katrina Rook,Ajit PRANJPE. Владелец: VEECO INSTRUMENTS INC.. Дата публикации: 2017-05-04.

Ion beam etching of stt-ram structures

Номер патента: EP3369119A1. Автор: Narasimhan Srinivasan,Boris Druz,Katrina Rook,Ajit PRANJPE. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2018-09-05.

Very wide-angle viewing accessory for infrared detector

Номер патента: US11892355B2. Автор: Christophe MARTINSONS,Pierre LEPRETRE. Владелец: Centre Scientifique et Technique du Batiment CSTB. Дата публикации: 2024-02-06.

Wide-angle lens, imaging module and camera

Номер патента: US20210055510A1. Автор: Wenzhe WEI,Xuming Liu,Jiyong Zeng. Владелец: Jiangxi Lianchuang Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-25.

Wide-Angle Streaming Multi-Camera System

Номер патента: US20230247310A1. Автор: G. Balasubramaniyam. Владелец: eCon Systems India Pvt Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Wide angle camera

Номер патента: US11272101B2. Автор: Shih-Chieh Yen. Владелец: Guangzhou Luxvisions Innovation Technology Ltd. Дата публикации: 2022-03-08.

Video and image coding with wide-angle intra prediction

Номер патента: EP4383704A2. Автор: Jani Lainema. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-06-12.

Wide angle camera

Номер патента: US20210185226A1. Автор: Shih-Chieh Yen. Владелец: Guangzhou Luxvisions Innovation Technology Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Cinematic image framing for wide field of view (FOV) cameras

Номер патента: US12106534B2. Автор: Ali-Amir ALDAN,Brandon J. Corey,Sudhakar Valluru,Siva Kiran V. Yellamraju. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Wide angle apparatus for examination of the eye

Номер патента: US5966196A. Автор: Eduardo Svetliza,Dov Freiman,Zvi Paltiel. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-10-12.

Dichroic Cut Filter for Wide-Angle Imaging

Номер патента: US20090201360A1. Автор: Iain Richard Tyrone Mcclatchie. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2009-08-13.

Homokinetic double joint for wide bending angles

Номер патента: CA1095733A. Автор: Paul Herchenbach. Владелец: GKN Walterscheid GmbH. Дата публикации: 1981-02-17.

Measuring mechanism for wide-angle moving coil systems and method for its assembly

Номер патента: US4330747A. Автор: Karl H. Rivoir. Владелец: Individual. Дата публикации: 1982-05-18.

Method for mounting insulation boards for wide-angle sloping roof

Номер патента: ZA202305353B. Автор: Xiao Liu,Rui Zhao,Qi Cui,Lilei Feng,Lianshuang Song,Jinghe Zhang. Владелец: The Second Construction Eng Company Ltd Of China Construction Second Eng Bureau. Дата публикации: 2023-12-20.

Measuring mechanism having a positive locking arrangment for wide-angle moving coil systems and method for its assembly

Номер патента: US4208628A. Автор: Karl H. Rivoir. Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-06-17.

Imaging unit for wide-angle and telephoto zooming and imaging apparatus incorporating the same

Номер патента: US8675117B2. Автор: Hiroki Yamano. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-03-18.

Systems and methods for wide-angle LiDAR using non-uniform magnification optics

Номер патента: US11402510B2. Автор: Pierre Olivier,Robert BARIBAULT. Владелец: Leddartech Inc. Дата публикации: 2022-08-02.

Systems and methods for wide-angle lidar using non-uniform magnification optics

Номер патента: CA3230192A1. Автор: Pierre Olivier,Robert BARIBAULT. Владелец: Leddartech Inc. Дата публикации: 2021-10-10.

Variable viewfinder for wide angle shots

Номер патента: US20020131777A1. Автор: Bernd Harand,Antje Brethauer. Владелец: Leica Camera AG. Дата публикации: 2002-09-19.

Systems and methods for wide-angle lidar using non-uniform magnification optics

Номер патента: CA3125716C. Автор: Pierre Olivier,Robert BARIBAULT. Владелец: Leddartech Inc. Дата публикации: 2024-04-09.

Cabin air extraction assembly and method for a vehicle

Номер патента: US12128738B2. Автор: Sachin Suryanarayana Bharadwaj. Владелец: Rivian IP Holdings LLC. Дата публикации: 2024-10-29.

Beam devices, system and complex of ion-beam nano-invasive low-energy action on biological tissues and agglomerates of cells, with functions of injection and monitoring

Номер патента: RU2724865C1. Автор: Сергей Евгеньевич Теркин,Валерий Владимирович Полянский,Александр Сергеевич Ермилов,Владислав Сергеевич Теркин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Специальное конструкторское бюро "Инновационно-аналитические разработки". Дата публикации: 2020-06-25.

Apparatus for and method of imaging targets with wide angle, athermalized, achromatic, hybrid imaging lens assembly

Номер патента: WO2013074290A1. Автор: Igor Vinogradov,Vladimir Gurevich,David Tsi-Shi. Владелец: Symbol Technologies, Inc.. Дата публикации: 2013-05-23.

Fast, high-rate, position-sensitive absolute dosimeter for ion beam therapy

Номер патента: US09739892B2. Автор: John M. Cameron,Alexander V. Klyachko,Keith A. Solberg,Steven E. Vigdor. Владелец: PHENIX MEDICAL LLC. Дата публикации: 2017-08-22.

Sealing unit for wide-neck vessel

Номер патента: RU2307055C2. Автор: Роджер Милнер КИНГ. Владелец: Бисан Энд Санз Лимитед. Дата публикации: 2007-09-27.

Tdlas architecture for widely spaced wavelengths

Номер патента: RU2682061C2. Автор: Эндрю Д. СЭППИ,Бернард Патрик МАСТЕРСОН. Владелец: Джон Цинк Компани, ЛЛК. Дата публикации: 2019-03-14.

An optical microscope for wide-field microscopies

Номер патента: GB2628556A. Автор: Alan Brozik James,Joe Martinez Michael,Lewis Taylor Evan,James Thompson Andrew,Peter Rogers Mark. Владелец: SMI Drug Discovery Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Method of manufacture of thermally processed and cured by trailing/milling ion beams of coated products with using protective film from diamond like carbon (dlc)

Номер патента: RU2635312C2. Автор: Жан-Марк ЛЕММЕР,Цзянпин ВАН,Рудольф Хьюго ПЕТРМИЧЛ. Владелец: Гардиан Индастриз Корп.. Дата публикации: 2017-11-10.

Multiple spindle drilling machine for wide flange beams

Номер патента: US4179229A. Автор: Toshikatsu Kitagawa. Владелец: Miyakawa Ind Co Ltd. Дата публикации: 1979-12-18.

Movable wide-angle ophthalmic surgical system

Номер патента: RU2692950C2. Автор: Линфэн ЮЙ. Владелец: НОВАРТИС АГ. Дата публикации: 2019-06-28.

A method and apparatus for determining an energy deposition of an ion beam

Номер патента: WO2016009042A1. Автор: Katia Parodi,Vasilis Ntziachristos,Walter Assmann,Stephan KELLNBERGER,Günther Dollinger. Владелец: UNIVERSITAT DER BUNDESWEHR MUNCHEN. Дата публикации: 2016-01-21.

Wide-angle zoom lens

Номер патента: US20020048090A1. Автор: Kazuya Nishimura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-25.

Real-time fluorescence monitoring system for cryo-focused ion beam milling device and method

Номер патента: US20240288370A1. Автор: Fei Sun,Gang Ji,Shuoguo LI. Владелец: Institute of Biophysics of CAS. Дата публикации: 2024-08-29.

Wide-angle lens

Номер патента: US09523838B2. Автор: Chun-Yang Huang,Fu-Ping Shih. Владелец: COXON PRECISE INDUSTRIAL Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Surgical wide-angle lamp

Номер патента: RU2415657C2. Автор: Рональд Т. СМИТ. Владелец: Алькон, Инк.. Дата публикации: 2011-04-10.

Wide-angle lens system

Номер патента: US20040150894A1. Автор: Masakazu Saori. Владелец: Pentax Corp. Дата публикации: 2004-08-05.

3d reconstruction using wide-angle imaging devices

Номер патента: US20210390729A1. Автор: Qi Pan,Edward James Rosten,Richard McCormack,Patrick Fox-Roberts. Владелец: Snap Inc. Дата публикации: 2021-12-16.

3d reconstruction using wide-angle imaging devices

Номер патента: WO2021252201A2. Автор: Qi Pan,Edward James Rosten,Richard McCormack,Patrick Fox-Roberts. Владелец: Snap Inc.. Дата публикации: 2021-12-16.

Wide-angle diving lens

Номер патента: US20070091250A1. Автор: Wen-Tong Hwang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-04-26.

Wide-range motor for wide application

Номер патента: RU2706997C2. Автор: Йорг ЛЕР. Владелец: Бейкер Хьюз Инкорпорейтед. Дата публикации: 2019-11-21.

Thermal resistant composition of aerosol fire extinguishing for wide temperature storage conditions and applications in fire extinguishing generators of different weights and dimensions, methods for manufacture of charges and new fields of application of fire extinguishing generators

Номер патента: RU2656701C2. Автор: Владимир Александрович Соловьев,Владимир Давыдович Фельдман,Николай Иванович Шишов,Борис Петрович Перепеченко,Татьяна Павловна Коробенина,Галина Григорьевна Шахрай,Елизавета Дмитриевна Перепеченко,Зиновий Петрович Пак. Владелец: Борис Петрович Перепеченко. Дата публикации: 2018-06-06.

Carbon ion beam growth of isotopically-enriched graphene and isotope-junctions

Номер патента: US20110031104A1. Автор: Delmar L. Barker,William R. Owens,John Warren Beck. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2011-02-10.

Ion beam blocking component and ion beam blocking device having the same

Номер патента: US20080265184A1. Автор: Chih-Ming Yang,Cheng-Hung Chang,Jui-Fang Chen,Chung-jung Chen,Chien-Kuo Ko. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2008-10-30.

Wide-angle auxiliary mirror structure

Номер патента: US20200384922A1. Автор: Kevin Huang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-12-10.

Wide-angle lens, camera module and camera

Номер патента: US12055695B2. Автор: Wenzhe WEI,Xuming Liu,Jiyong Zeng. Владелец: Jiangxi Lianchuang Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Wide angle zoom lens

Номер патента: US20100134899A1. Автор: Chang-Han Kim. Владелец: Samsung Digital Imaging Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-03.

Method of treating powder made from cerium oxide using an ion beam

Номер патента: US09981249B2. Автор: Denis Busardo,Frederic Guernalec. Владелец: Ionics France SA. Дата публикации: 2018-05-29.

Wide angle lens system and imaging device having the same

Номер патента: US09939616B2. Автор: Jong Jin Lee,Chan Goo Kang,Seong Hee Bae. Владелец: Kolen Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Wide-angle camera using achromatic doublet prism array and method of manufacturing the same

Номер патента: US09902120B2. Автор: Wei-Ping Chen,Tsung-Wei Wan,Chuen-Yi Yin,Jau-Jan Deng. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2018-02-27.

Wide angle lens

Номер патента: US09759891B2. Автор: Yuan-Long Cai. Владелец: Calin Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Vehicle mirror assembly with wide angle element

Номер патента: US20100079881A1. Автор: Hamid Habibi,Niall R. Lynam,Donald S. Rawlings,Keith D. Foote,Michael J. Baur,Mitchell D. Burkhert,Tyson P. DeJonge. Владелец: Magna Mirrors of America Inc. Дата публикации: 2010-04-01.

Irradiation system for ion beam scanning of moving targets

Номер патента: EP2146354A1. Автор: Dr. Oliver Jäkel. Владелец: Deutsches Krebsforschungszentrum DKFZ. Дата публикации: 2010-01-20.

Trochoidal analysis of scattered electrons in a merged electron-ion beam geometry

Номер патента: US4818868A. Автор: Ara Chutjian. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 1989-04-04.

Wide-angle flat, conical and axisymmetric ring diffusers

Номер патента: RU2763634C1. Автор: Аркадий Ефимович Зарянкин,Иван Павлович Лавырев,Михаил Андреевич Черкасов. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "МЭИ" (ФГБОУ ВО "НИУ "МЭИ"). Дата публикации: 2021-12-30.

Method for checking beam steering in an ion beam therapy system

Номер патента: AU2801100A. Автор: Eugen Badura,Hartmut Eickhoff,Thomas Haberer,Klaus Poppensieker. Владелец: GSI Gesellschaft fuer Schwerionenforschung mbH. Дата публикации: 2000-09-04.

Reflective wide-angle lens

Номер патента: EP3683610A1. Автор: Chienping KUNG. Владелец: Fujian Ruichi Intelligent Technology Research Institute Co ltd. Дата публикации: 2020-07-22.

Wide-angle lens

Номер патента: US20210191088A1. Автор: Tadashi Komiyama,Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Detector and method for tracking an arrival time of single particles in an ion beam

Номер патента: US20200316404A1. Автор: Michael Seimetz,Joao Seco,Paulo Jorge MAGALHÃES MARTINS,Riccardo Dal Bello. Владелец: Deutsches Krebsforschungszentrum DKFZ. Дата публикации: 2020-10-08.

Reflective wide-angle lens

Номер патента: US20200012083A1. Автор: Chienping KUNG. Владелец: Fujian Ruichi Intelligent Technology Research Institute Co ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

Wide-angle lens assembly and imaging device

Номер патента: US20190121106A1. Автор: Jian Yang. Владелец: Zhejiang Sunny Optics Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-25.

Wide-angle lens including seven lenses of—+++-+ refractive powers

Номер патента: US11808921B2. Автор: Tadashi Komiyama,Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Wide-angle lens

Номер патента: US20210181485A1. Автор: Tadashi Komiyama,Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Wide-angle lens including seven lenses of --+++-+ refractive powers

Номер патента: US11796767B2. Автор: Tadashi Komiyama,Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Container extraction assembly

Номер патента: US20210122572A1. Автор: Paul Cornelis VLAMING. Владелец: Safran Cabin Netherlands NV. Дата публикации: 2021-04-29.

Container extraction assembly

Номер патента: EP3823499A1. Автор: Paul Cornelis VALMING. Владелец: Safran Cabin Netherlands NV. Дата публикации: 2021-05-26.

Wide Angle Projection Lens

Номер патента: US20140118838A1. Автор: Ya-Ling Hsu,Zhan-Yu Liu. Владелец: Young Optics Inc. Дата публикации: 2014-05-01.

Respiratory guidance device and method applied in respiratory-gated ion beam irradiation

Номер патента: US20170106209A1. Автор: QIANG LI,Yuanyuan Ma,Xinguo Liu,Ting Zhao,Pengbo HE,Zhongying DAI,Tingyan FU,Guosheng SHEN,Qiyan HUANG,Yuanlin YAN. Владелец: Institute of Modern Physics of CAS. Дата публикации: 2017-04-20.

Respiratory guidance device and method applied in respiratory-gated ion beam irradiation

Номер патента: US10300301B2. Автор: QIANG LI,Yuanyuan Ma,Xinguo Liu,Ting Zhao,Pengbo HE,Zhongying DAI,Tingyan FU,Guosheng SHEN,Qiyan HUANG,Yuanlin YAN. Владелец: Institute of Modern Physics of CAS. Дата публикации: 2019-05-28.

Wide angle imaging lens assembly

Номер патента: US20180314038A1. Автор: Tien-Liang Hsieh. Владелец: Senyun Precision Optical Corp. Дата публикации: 2018-11-01.

Wide angle display device

Номер патента: WO2008065509A3. Автор: Milan Momcilo Popovich,Antoine Yvon Messiou. Владелец: Milan Momcilo Popovich. Дата публикации: 2008-07-24.

Wide angle display device

Номер патента: EP2097780A2. Автор: Antoine Yvon Messiou. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-09-09.

Wide angle display device

Номер патента: WO2008065509A2. Автор: Milan Momcilo Popovich,Antoine Yvon Messiou. Владелец: Milan Momcilo Popovich. Дата публикации: 2008-06-05.

Disparity estimation from a wide angle image

Номер патента: EP3877952A1. Автор: Christiaan Varekamp. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2021-09-15.

Disparity estimation from a wide angle image

Номер патента: US20210407037A1. Автор: Christiaan Varekamp. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2021-12-30.

Disparity estimation from a wide angle image

Номер патента: WO2020094575A1. Автор: Christiaan Varekamp. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.. Дата публикации: 2020-05-14.

Ion beam device and method for generating heat and power

Номер патента: PH12020551951A1. Автор: Russell Blake. Владелец: Quantum Spring Res Pty Ltd. Дата публикации: 2021-08-16.

Wide-angle lens

Номер патента: US12072552B2. Автор: Tsukasa TSUCHIYA. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Wide-angle lens, imaging apparatus, and method for manufacturing wide-angle lens

Номер патента: US20140192421A1. Автор: Haruo Sato. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2014-07-10.

Retrofocus wide-angle lens system and optical instrument provided with the same

Номер патента: US20120044575A1. Автор: Masakazu Saori. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2012-02-23.

Wide-angle lens

Номер патента: US20110051262A1. Автор: Takuya Imaoka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Wide-angle optical system

Номер патента: US7227705B2. Автор: Michael Gross,Dirk Krogmann,Hans Dieter Tholl. Владелец: Diehl BGT Defence GmbH and Co KG. Дата публикации: 2007-06-05.

System and method for dose verification and gamma ray imaging in ion beam therapy

Номер патента: US09849307B2. Автор: Lucian Mihailescu. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2017-12-26.

Apparatus and method for generating wide-angle coherent light and display apparatus using wide-angle coherent light

Номер патента: US09836023B2. Автор: Seok Lee,Dong Kyung Nam,Ho Cheon Wey. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-12-05.

Wide angle zoom lens

Номер патента: US09726863B2. Автор: Takayuki Noda,Seigou Nakai,Takahiro Mitsuhashi. Владелец: Tamron Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Device for simulating high energy heavy ion beams of mixed radiation fields for the purposes of experimental radiobiology

Номер патента: RU2761376C1. Автор: Геннадий Николаевич Тимошенко,Иван Сергеевич Гордеев. Владелец: Объединенный институт ядерных исследований (ИОЯИ). Дата публикации: 2021-12-07.

Method of producing coated article, involving ion beam treatment of metal oxide protective film

Номер патента: RU2471732C2. Автор: Рудольф Хьюго ПЕТРМИХЛЬ,Цзянпин ВАН,Нестор П. МЕРФИ,Максимо ФРАТИ. Владелец: Гардиан Индастриз Корп.. Дата публикации: 2013-01-10.

Ion beam therapy system and its couch positioning method

Номер патента: US7193227B2. Автор: Hiroshi Akiyama,Kazuo Hiramoto,Yoshihiko Nagamine,Alfred Smith,Wayne Newhauser. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 2007-03-20.

Wide angle optical viewer

Номер патента: US4730911A. Автор: Stephen C. Wood,Paul F. Thompson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1988-03-15.

Surgical variable wide-angle illuminator

Номер патента: CA2827751C. Автор: Ronald T. Smith. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2015-12-29.

Device for wide-band auscultation

Номер патента: RU2685813C2. Автор: Райан КОПТ,Джозеф БАТЕРА III,Роберт Дж.III САММЕРС. Владелец: Бонджови Акустик Ллк.. Дата публикации: 2019-04-23.

Flexibility for wide swath agricultural implements

Номер патента: CA1238511A. Автор: Cecil Machnee. Владелец: MORRIS ROD WEEDER CO Ltd. Дата публикации: 1988-06-28.

Track unit extension for wide track crawler vehicles

Номер патента: CA1201145A. Автор: Joseph J. Smith,Paul K. Erickson. Владелец: Deere and Co. Дата публикации: 1986-02-25.

Processing materials with ion beams

Номер патента: NZ628758A. Автор: Marshall Medoff. Владелец: Xyleco Inc. Дата публикации: 2015-08-28.

Wide angle infinity image visual display

Номер патента: US3709581A. Автор: Glasson F Mc. Владелец: Singer Co. Дата публикации: 1973-01-09.

Reactive ion beam etching method and a thin film head fabricated using the method

Номер патента: AU4047500A. Автор: Boris L. Druz,Danielle S. Hines,John F. Londono,Kurt E. Williams. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2000-10-16.

Processing materials with ion beams

Номер патента: NZ716191A. Автор: Marshall Medoff. Владелец: Xyleco Inc. Дата публикации: 2016-10-28.

Wide angle zoom lens and image pickup device using the same

Номер патента: US7969661B2. Автор: Yasuharu Yamada,Takeshi Hosoya. Владелец: Olympus Imaging Corp. Дата публикации: 2011-06-28.

Super wide angle lens arrangement for infrared applications

Номер патента: US20130271852A1. Автор: Norbert Schuster. Владелец: Umicore NV SA. Дата публикации: 2013-10-17.

Wide-angle lens system

Номер патента: US20080106809A1. Автор: Hiroyuki Hirano. Владелец: Pentax Corp. Дата публикации: 2008-05-08.

Wide angle zoom lens and image pickup device using the same

Номер патента: US20100202063A1. Автор: Yasuharu Yamada,Takeshi Hosoya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-08-12.

Apparatus and method for calibration between wide angle-narrow angle lenses through dual-charuco board

Номер патента: US20240185459A1. Автор: Hyun Joo Kim,Joong Yong CHOI,Hyung Keun Jee,Ah Reum OH. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2024-06-06.

Wide-angle lens

Номер патента: US20210191087A1. Автор: Tadashi Komiyama,Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Wide-angle lens including seven lenses of −−+++−+ refractive powers

Номер патента: US11789240B2. Автор: Tadashi Komiyama,Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

High resolution miniature wide-angle lens

Номер патента: WO2021152502A1. Автор: Patrice Roulet,Simon Thibault,Jocelyn PARENT,Xavier Dallaire,Zhenfeng ZHUANG. Владелец: Immervision Inc.. Дата публикации: 2021-08-05.

Wide-Angle Lens Assembly

Номер патента: US20180329177A1. Автор: Chien-Hung Chen,Hsi-Ling Chang,Ming-Huang Tseng,Yuan-Chen Chen. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-15.

Pre-flotation high efficiency slurry conditioning device for wide-particle-grade flotation

Номер патента: US20230138748A1. Автор: Min Liu,Xiahui GUI,Yaowen XING,Yijun CAO,Jiongtian Liu,Shihao DING,Mengdi XU,Youfei ZHANG,Tao CHE,Liyong Wei,Fancai Meng. Владелец: China University of Mining and Technology CUMT. Дата публикации: 2023-05-04.

Pre-flotation high efficiency slurry conditioning device for wide-particle-grade flotation

Номер патента: CA3171813A1. Автор: Min Liu,Xiahui GUI,Yaowen XING,Yijun CAO,Jiongtian Liu,Shihao DING,Mengdi XU,Youfei ZHANG,Tao CHE,Liyong Wei,Fancai Meng. Владелец: China University of Mining and Technology CUMT. Дата публикации: 2021-12-30.

Wide-Angle Lens Assembly

Номер патента: US20210072512A1. Автор: Rong-Shun Syu. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Wide-angle lens assembly including six lenses of -+-++-refractive powers, or five lenses of --++-refractive powers

Номер патента: US11768355B2. Автор: Rong-Shun Syu. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Endoscope having a wide-angle lens and a working channel

Номер патента: EP3606398A1. Автор: Thomas Viebach,Tilman Schröter. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2020-02-12.

Zoom lens system with wide angle of view

Номер патента: US20120268832A1. Автор: Su-Due Chen. Владелец: Zoom Precision Optical Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-25.

Wide-angle retrofocus lens system

Номер патента: US4235520A. Автор: Tadashi Kimura. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1980-11-25.

Wide angle photographic objective of the retrofocus type

Номер патента: US3682529A. Автор: Toru Fujii. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1972-08-08.

Compact retrofocus-type wide-angle photographic lens system

Номер патента: US3992086A. Автор: Nobuo Yamashita. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1976-11-16.

Thin-type wide-angle imaging lens assembly with four lenses

Номер патента: US20140313598A1. Автор: Kuo-Yu Liao. Владелец: Ability Opto Electronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-23.

Disparity estimation from a wide angle image

Номер патента: US12067691B2. Автор: Christiaan Varekamp. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2024-08-20.

Wide-angle lens system

Номер патента: US20010007512A1. Автор: Takayuki Sensui. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2001-07-12.

Wide-angle optical system and image pickup apparatus using the same

Номер патента: US12085707B2. Автор: Takashi Fujikura,Shinichi Mihara,Yoshihiro Uchida,Keisuke Ichikawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US20220390722A1. Автор: Yan-jie Syu. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Wide angle lens

Номер патента: US3630600A. Автор: Ludwig Bertele. Владелец: Individual. Дата публикации: 1971-12-28.

Eye model for wide field fundus imaging

Номер патента: US12062298B2. Автор: Ming Lai,Paul A. Yates,Ta-Wei Yi. Владелец: Retivue LLC. Дата публикации: 2024-08-13.

Method for fast camera pose refinement for wide area motion imagery

Номер патента: US09959625B2. Автор: Hadi Ali Akbarpour,Kannappan Palaniappan,Gunasekaran Seetharaman. Владелец: US Air Force. Дата публикации: 2018-05-01.

Systems, apparatuses and methods for material flow control for wide-width paving

Номер патента: US09932714B2. Автор: Ryan T. Thiesse,Toby A. Frelich,Luke E. Graham,Rick L. Mings. Владелец: Caterpillar Paving Products Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Wide-angle projection system

Номер патента: US09784956B2. Автор: Ya-Ling Hsu,Yi-Hsueh Chen,Li-Chiu Tsai,Chi-Chang Tien. Владелец: Young Optics Inc. Дата публикации: 2017-10-10.

Wide-angle lens

Номер патента: US09696520B2. Автор: Tsan-Haw Lee,Yuan-Fan Liang. Владелец: AO Ether Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Lens for wide lateral-angle distribution

Номер патента: US09541258B2. Автор: Mario Alberto Castillo. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Wide angle lens and imaging apparatus

Номер патента: US09488800B2. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Wide-angle lens

Номер патента: US09482851B2. Автор: Satoshi Do,C. S. Cheng. Владелец: SIRTEC INTERNATIONAL (SUZHOU) Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Wide angle lens, imaging optical device and digital equipment

Номер патента: US09459431B2. Автор: Masatoshi Hirose. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2016-10-04.

Hydrophilic dlc on substrate with ion beam treatment

Номер патента: US20040067362A1. Автор: Scott Thomsen,Vijayen Veerasamy. Владелец: Guardian Industries Corp. Дата публикации: 2004-04-08.

Wide-angle joint

Номер патента: CA1068500A. Автор: Hubert Geisthoff. Владелец: GKN Walterscheid GmbH. Дата публикации: 1979-12-25.

Fabrication of digital media using ion beam

Номер патента: WO2006029123A3. Автор: Charles Marshall. Владелец: Charles Marshall. Дата публикации: 2009-04-16.

Integrated automotive system, compact, low-profile nozzle assembly and compact fluidic circuit for cleaning a wide-angle image sensor's exterior surface

Номер патента: CA2982271C. Автор: Russell Hester,Nicholas Bryce Watkins,Praveen Pai,Chunling ZHAO. Владелец: DlhBowles Inc. Дата публикации: 2021-08-24.

Wide-angle lens system

Номер патента: US20030117721A1. Автор: Yasuhiro Kondo,Kazuyoshi Yamada. Владелец: Elmo Co Ltd. Дата публикации: 2003-06-26.

Method for monitoring an emergency switch-off of an ion-beam therapy system

Номер патента: AU2906300A. Автор: Holger Brand,Wolfgang Ott,Eugen Badura,Hans-Georg Essel,Thomas Haberer,Klaus Poppensieker,Wolfgang Becher. Владелец: GSI Gesellschaft fuer Schwerionenforschung mbH. Дата публикации: 2000-09-04.

3D reconstruction using wide-angle imaging devices

Номер патента: US11810316B2. Автор: Qi Pan,Edward James Rosten,Richard McCormack,Patrick Fox-Roberts. Владелец: Snap Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

Luminescence-based method for precise delivery of ion beam therapy

Номер патента: US11857806B1. Автор: Ross S. Fontenot,William A. HOLLERMAN,Noel A. Guardala. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2024-01-02.

Wide-angle zoom lens system

Номер патента: US20070002459A1. Автор: Masakazu Saori. Владелец: Pentax Corp. Дата публикации: 2007-01-04.

Method of ion beam milling a glass substrate prior to depositing a coating system thereon, and corresponding system for carrying out the same

Номер патента: EP1337489A2. Автор: Vijayen S. Veerasamy,Rudolph H. Petrmichl. Владелец: Guardian Industries Corp. Дата публикации: 2003-08-27.

High resolution miniature wide-angle lens

Номер патента: EP4097528A1. Автор: Patrice Roulet,Simon Thibault,Jocelyn PARENT,Xavier Dallaire,Zhenfeng ZHUANG. Владелец: Immervision Inc. Дата публикации: 2022-12-07.

Endoscope having a wide-angle lens and a working channel

Номер патента: US20200008659A1. Автор: Thomas Viebach,Tilman SCHROETER. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2020-01-09.

Wide-angle lens system and a focusing method thereof

Номер патента: US20020060860A1. Автор: Takayuki Ito,Masyuki Murata. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2002-05-23.

Wide-angle lens

Номер патента: EP3006977A3. Автор: Tsan-Haw Lee,Yuan-Fan Liang. Владелец: AO Ether Corp. Дата публикации: 2016-06-22.

Wide-angle lens

Номер патента: US12072467B2. Автор: Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Ultra-wide angle camera lens

Номер патента: US20180335618A1. Автор: LIN Huang,Fujian Dai. Владелец: Zhejiang Sunny Optics Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-22.

Zoom lens ranging to wide angles

Номер патента: US5867325A. Автор: Motoyuki Ohtake,Akihiko Obama. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1999-02-02.

Wide-angle optical system and image pickup apparatus using the same

Номер патента: US12117602B2. Автор: Takashi Fujikura,Shinichi Mihara,Keisuke Ichikawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Wide-angle orthoscopic lens

Номер патента: RU2737028C1. Автор: Илья Анатольевич Левин. Владелец: Публичное акционерное общество "Красногорский завод им. С.А. Зверева", ПАО КМЗ. Дата публикации: 2020-11-24.

Retro-focus type wide angle lens

Номер патента: CA1202509A. Автор: Yusuke Nanjo. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1986-04-01.

Super-wide-angle photographic lens assembly

Номер патента: GB1427808A. Автор: . Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1976-03-10.

Compact wide angle two group zoom lens system

Номер патента: GB2316764A. Автор: Geon-mo Kang. Владелец: Samsung Aerospace Industries Ltd. Дата публикации: 1998-03-04.

Wide-angle projection lens and a projection-type image display device

Номер патента: US20020060859A1. Автор: Kazuya Yoneyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-23.

Wide angle projection system

Номер патента: US4427274A. Автор: Marvin L. Pund,John A. VanHoogstrate, Jr.. Владелец: McDonnell Douglas Corp. Дата публикации: 1984-01-24.

Method of forming thin oxidation layer by cluster ion beam

Номер патента: US6800565B2. Автор: Ming Mao,Chih-Ching Hu,Chih-Ling Lee,Jacques C. S. Kools,Adrian J. Devasahayam,Patricia L. Cox. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2004-10-05.

Apparatus for and method of continuous hts tape buffer layer deposition using large scale ion beam assisted deposition

Номер патента: WO2005006351A3. Автор: Venkat Selvamanickam,Srinivas Sathiraju. Владелец: Superpower Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Wide-angle lens having aspheric surface

Номер патента: US6825993B2. Автор: Takayuki Noda. Владелец: Fuji Photo Optical Co Ltd. Дата публикации: 2004-11-30.

Method of forming thin oxidation layer by cluster ion beam

Номер патента: US20040137645A1. Автор: Ming Mao,Chih-Ching Hu,Jacques Kools,Chih-Ling Lee,Adrian Devasahayam,Patricia Cox. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2004-07-15.

Large aperture wide-angle lens and camera including large aperture wide-angle lens

Номер патента: US20050280900A1. Автор: Nobuaki Toyama. Владелец: Fujinon Corp. Дата публикации: 2005-12-22.

Wide angle imaging lens assembly

Номер патента: US10571659B2. Автор: Tien-Liang Hsieh. Владелец: Senyun Precision Optical Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Cabin air extraction assembly and method for a vehicle

Номер патента: US20230278397A1. Автор: Sachin Suryanarayana Bharadwaj. Владелец: Rivian IP Holdings LLC. Дата публикации: 2023-09-07.

Wide-angle lens

Номер патента: US20220146797A1. Автор: Tsukasa TSUCHIYA. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2022-05-12.

Wide-angle lens assembly including nine lenses of −−+++−++− or −−+++−+−+, or ten lenses of −−+++−−+++ or −−−+++−+−+ refractive powers

Номер патента: US11815666B2. Автор: Po-Yuan Shih,An-Kai Chang. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US10690887B2. Автор: Chien-Hsiung Tseng,Shu-Chuan HSU. Владелец: Calin Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-23.

Wide angle lens and photographing apparatus including the same

Номер патента: US20140029118A1. Автор: Ji-yeong YOO. Владелец: Samsung Techwin Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-30.

Wide-angle lens assembly and imaging device

Номер патента: US10816779B2. Автор: Jian Yang. Владелец: Zhejiang Sunny Optics Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-27.

Filtration container assembly and extraction assembly for same

Номер патента: WO2023225127A1. Автор: Travis MERRIGAN,Scott Rolfson,Patrick Crosby,Cheng Kuo Lin,Kai Chuan CHUANG. Владелец: GRAYL INC.. Дата публикации: 2023-11-23.

Matched filter in ionoacoustic signal processing for ion beam range determination and dosimetry

Номер патента: US20230277875A1. Автор: Katia Parodi,Vasilis Ntziachristos,Heinrich Ruser,Jannis SCHAUER,Günther Dollinger,Yuanhui Huang,Hans Peter WIESER. Владелец: Universitaet der Bundeswehr Muenchen. Дата публикации: 2023-09-07.

Wide-angle zoom lens system

Номер патента: US20070002458A1. Автор: Masakazu Saori. Владелец: Pentax Corp. Дата публикации: 2007-01-04.

Wide-angle zoom lens system

Номер патента: US20070002457A1. Автор: Masakazu Saori. Владелец: Pentax Corp. Дата публикации: 2007-01-04.

Filtration container assembly and extraction assembly for same

Номер патента: US20230371732A1. Автор: Travis MERRIGAN,Scott Rolfson,Patrick Crosby,Cheng Kuo Lin,Kai Chuan CHUANG. Владелец: Grayl Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Extended macro to wide angle conversion lens

Номер патента: WO2020207879A4. Автор: Yuk Shing Lai. Владелец: Nauticam Holdings Limited. Дата публикации: 2020-12-17.

Extended macro to wide angle conversion lens

Номер патента: EP3953764A1. Автор: Yuk Shing Lai. Владелец: Nauticam Holdings Ltd. Дата публикации: 2022-02-16.

Apparatus for and method of imaging targets with wide angle, athermalized, achromatic, hybrid imaging lens assembly

Номер патента: US20130128084A1. Автор: Igor Vinogradov,Vladimir Gurevich,David Tsi-Shi. Владелец: Symbol Technologies LLC. Дата публикации: 2013-05-23.

Wide angle six-piece lens

Номер патента: US20170336603A1. Автор: See-Ying Chen. Владелец: Kinko Optical Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-23.

Matched filter in ionoacoustic signal processing for ion beam range determination and dosimetry

Номер патента: EP4238610A1. Автор: Katia Parodi,Vasilis Ntziachristos,Heinrich Ruser,Jannis SCHAUER,Günther Dollinger,Yuanhui Huang,Hans Peter WIESER. Владелец: Universitaet der Bundeswehr Muenchen. Дата публикации: 2023-09-06.

Wide-angle zoom lens and camera module using same

Номер патента: US20120169839A1. Автор: Xiao-Na Liu,Fang-Ying Peng,Hai-Jo Huang,An-Tze Lee,Sheng-An Wang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-05.

Ion beam deposition targets having an interlocking interface and a replaceable insert

Номер патента: EP1332512A2. Автор: Robert Acker,Henry L. Grohman,Matthew T. Wilsson. Владелец: Williams Advanced Materials Inc. Дата публикации: 2003-08-06.

Wide-Angle Lens

Номер патента: US20220066173A1. Автор: Chen Yao,Lei Zhang,Jianwei He. Владелец: Dongguan Yutong Optical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-03.

Extraction assembly of a core from a log, converting line having said assembly and method for producing a coreless log

Номер патента: US20210147169A1. Автор: Paolo LAZZARESCHI. Владелец: Gambini Spa. Дата публикации: 2021-05-20.

Determining a distribution of spots of varying sizes for ion beam therapy using optimization

Номер патента: EP3645114A1. Автор: Martin Janson,Erik Engwall,Lars GLIMELIUS. Владелец: RaySearch Laboratories AB. Дата публикации: 2020-05-06.

Thermal energy extraction assembly

Номер патента: EP4090889A1. Автор: Bengt Lindoff,Per Rosén,Jacob Skogstrom,Fredrik ROSENQVIST,Helen Carlström. Владелец: EOn Sverige AB. Дата публикации: 2022-11-23.

Method and apparatus for micromachining a sample using a focused ion beam

Номер патента: EP4359731A1. Автор: Daan Benjamin BOLTJE,Mart Guus Ferdinand LAST,Marit Rosa SMEETS,Caspar Theodorus Hugo JONKER,Marcin Stefan ZIELINSKI. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2024-05-01.

Method and apparatus for micromachining a sample using a focused ion beam

Номер патента: US20240280357A1. Автор: Daan Benjamin BOLTJE,Mart Guus Ferdinand LAST,Marit Rosa SMEETS,Caspar Theodorus Hugo JONKER,Marcin Stefan ZIELINSKI. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2024-08-22.

Extraction assembly

Номер патента: US4048900A. Автор: William E. Lock,Charles J. Churillo. Владелец: Individual. Дата публикации: 1977-09-20.

Structured diamond tool made by focused ion beam nanomachining

Номер патента: WO2006098828A3. Автор: Xinbing Liu. Владелец: Xinbing Liu. Дата публикации: 2007-09-27.

Structured Diamond Tool Made by Focused Ion Beam Nanomachining

Номер патента: US20080149474A1. Автор: Xinbing Liu. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-06-26.

Image and data storage by focused ion beam recordation and method thereof

Номер патента: US20040022161A1. Автор: William Wood. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Detector for measuring scanning ion beams in radiation therapy

Номер патента: US09884207B2. Автор: Chih-Hsun Lin,Ping-Kun Teng,Augustine Ei-Fong CHEN. Владелец: Academia Sinica. Дата публикации: 2018-02-06.

Method and device for computing physical and/or radiobiological quantities induced by an ion beam in a volume

Номер патента: US09878181B2. Автор: Germano Russo,Andrea Attili,Flavio Pietro Marchetto,Damien Bertrand,Faiza Bourhaleb. Владелец: Internet-Simulation Evaluation Envision Srl. Дата публикации: 2018-01-30.

Reducing background fluorescence in MEMS materials by low energy ion beam treatment

Номер патента: US09651539B2. Автор: Martin Huber,Bason E. Clancy,Adam R. Hall. Владелец: Quantapore Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Apochromatic objective for wide spectrum area

Номер патента: RU2752813C1. Автор: Ольга Владимировна Чичаева,Руслан Алексеевич Дмитерко,Андрей Александрович Страхов. Владелец: ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ КАЗЕННОЕ ВОЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "Военная академия Ракетных войск стратегического назначения имени Петра Великого" МИНИСТЕРСТВА ОБОРОНЫ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ. Дата публикации: 2021-08-06.

Method of production of plates from sparingly-alloy steel with high cold resistance and weldability for wide application, including in arctic conditions

Номер патента: RU2643030C1. Автор: Алексей Сергеевич Орыщенко,Михаил Валентинович Ковальчук,Виктор Андреевич Малышевский,Михаил Григорьевич Шарапов,Алексей Витальевич Ильин,Евгений Алексеевич Шумилов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов "Прометей"имени И.В.Горынина Национального исследовательского центра "Курчатовский институт"(НИЦ"Курчатовский институт"-ЦНИИ КМ"Прометей". Дата публикации: 2018-01-29.

Extra wide-angle lens

Номер патента: RU2767011C1. Автор: Татьяна Николаевна Хацевич,Дарья Евгеньевна Деева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Сибирский государственный университет геосистем и технологий». Дата публикации: 2022-03-16.

Set of single-use absorbing products, suitable for wide range of users

Номер патента: RU2641084C2. Автор: Брет Даррен СЕЙТЗ,Гари Дин ЛАВОН. Владелец: Дзе Проктер Энд Гэмбл Компани. Дата публикации: 2018-01-15.

Wide-angle lens

Номер патента: RU2628372C1. Автор: Александр Владимирович Медведев,Александр Васильевич Гринкевич. Владелец: Публичное акционерное общество "Ростовский оптико-механический завод" (ПАО "РОМЗ"). Дата публикации: 2017-08-16.

Wide-angle aggregate “catamaran”

Номер патента: RU2645919C2. Автор: Владимир Александрович Милюткин,Николай Федорович Стребков,Игорь Васильевич Бородулин,Александр Александрович Милюткин. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Эковолга". Дата публикации: 2018-02-28.

High-power wide-angle lens

Номер патента: RU2754719C1. Автор: Сергей Николаевич Скляров,Элина Вячеславовна Тимирёва,Расима Мухаметдиновна Черкашина. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по космической деятельности "РОСКОСМОС". Дата публикации: 2021-09-06.

Wide-angle high-power object lens

Номер патента: RU2745899C1. Автор: Илья Анатольевич Левин. Владелец: Публичное акционерное общество "Красногорский завод им. С.А. Зверева", ПАО КМЗ. Дата публикации: 2021-04-02.

Wide angle athermalized infrared lens with large back

Номер патента: RU2762997C1. Автор: Александр Иванович Белоусов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Главное управление специальных программ Президента Российской Федерации (ГУСП). Дата публикации: 2021-12-24.

Ion beam deflection system

Номер патента: US3604209A. Автор: Harry J King,James W Ward. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1971-09-14.

Feed mechanism for wide format flexible substrates

Номер патента: US6102597A. Автор: Boris Liberman. Владелец: Scitex Vision International Ltd. Дата публикации: 2000-08-15.

Sheet handling device for wide format sheets

Номер патента: US20060181012A1. Автор: Pieter Kruijt. Владелец: Oce Technologies BV. Дата публикации: 2006-08-17.

System and method for wide-area mine clearance

Номер патента: USH162H. Автор: John D. Sullivan, Jr.,Charles N. Kingery. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 1986-11-04.

Compressor control system and air conditioner for wide-range temperature adjustment

Номер патента: US20210254854A1. Автор: Min Wu. Владелец: WUYI UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-08-19.

Compressor control system and air conditioner for wide-range temperature adjustment

Номер патента: US11268733B2. Автор: Min Wu. Владелец: WUYI UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-03-08.

Retrofocus wide-angle lens system and optical instrument provided with the same

Номер патента: US8422143B2. Автор: Masakazu Saori. Владелец: Ricoh Imaging Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-16.

Screw closure for wide-necked containers, with tamperproof device

Номер патента: AU6285090A. Автор: Matthias Roder. Владелец: Nestle SA. Дата публикации: 1991-03-11.

Wide-angle zoom lens system

Номер патента: US20070002456A1. Автор: Masakazu Saori. Владелец: Pentax Corp. Дата публикации: 2007-01-04.

MWIR lens system for wide area motion imagery

Номер патента: US11960064B2. Автор: Daniel Engheben,Shawn C. Reven,Jacinto E. Malabuyoc. Владелец: BAE Systems Information and Electronic Systems Integration Inc. Дата публикации: 2024-04-16.

Extended macro to wide angle conversion lens

Номер патента: US20200319454A1. Автор: Yuk Shing Lai. Владелец: Nauticam Holdings Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Wide-angle lens system

Номер патента: US20050237627A1. Автор: Jun Hirakawa. Владелец: Pentax Corp. Дата публикации: 2005-10-27.

Wide-angle zoom lens system

Номер патента: US20070091461A1. Автор: Masakazu Saori. Владелец: Pentax Corp. Дата публикации: 2007-04-26.

Wide angle zoom lens system

Номер патента: US4452512A. Автор: Hiroshi Takase. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1984-06-05.

Wide angle lens assembly and camera objective

Номер патента: EP3430458A1. Автор: Youngse CHUN. Владелец: TH Swiss AG. Дата публикации: 2019-01-23.

Wide angle lens assembly and camera objective

Номер патента: WO2017157812A1. Автор: Youngse CHUN. Владелец: TH Swiss AG. Дата публикации: 2017-09-21.

Wide angle lens assembly and camera objective

Номер патента: US20190086648A1. Автор: Youngse CHUN. Владелец: TH Swiss AG. Дата публикации: 2019-03-21.

Wide angle lens

Номер патента: US3567310A. Автор: Ludwig Bertele. Владелец: Individual. Дата публикации: 1971-03-02.

A wide-angle lens optical system

Номер патента: WO2023010240A1. Автор: Sota Miyatani,Atsushi Horidan,Masahiko Koyanagi,Takuya Anzawa,Qing Tong. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2023-02-09.

Filter System for Ultra Wide Angle Lenses

Номер патента: US20190137722A1. Автор: James Patrick Hennessy. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-05-09.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US20230341660A1. Автор: Xiao Song,Weichao LIANG,Yongmao Ying,Wenbin Zou. Владелец: Sunny Optics Zhongshan Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Anti-ballistic wide angle one-way door viewer

Номер патента: WO2003062581A1. Автор: Stephen Squires. Владелец: Usdr Aerospace Ltd.. Дата публикации: 2003-07-31.

Wide-Angle Lens Assembly

Номер патента: US20200081226A1. Автор: Tsan-Haw Lee. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-12.

Super-wide-angle optical system and image pickup device

Номер патента: US7301578B2. Автор: Soh Ohzawa,Keiji Matsusaka. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2007-11-27.

Wide-angle lens

Номер патента: US20190258035A1. Автор: Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Inverted telephoto type wide angle lens system

Номер патента: US4449793A. Автор: Akiyoshi Nakamura,Hisashi Tokumaru. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 1984-05-22.

Small-sized, large-aperture, wide-angle zoom lens

Номер патента: US20010033427A1. Автор: Nobuaki Toyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-10-25.

Wide-angle image taking lens system

Номер патента: US9235031B2. Автор: Feng-Chao Chung,Kun-Ti Liu. Владелец: Glory Science Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-12.

Wide angle lens module and vehicle vision system

Номер патента: US20100284095A1. Автор: Chun-Ling Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-11.

Wide angle lens module and vehicle vision system

Номер патента: US7944626B2. Автор: Chun-Ling Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2011-05-17.

Wide-angle photographic objective

Номер патента: US20220066176A1. Автор: Stefan Roth,Kathrin Keller. Владелец: Leica Camera AG. Дата публикации: 2022-03-03.

Retrofocus-type ultra-wide angle photographic lens system

Номер патента: US3976366A. Автор: Nobuo Yamashita. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1976-08-24.

Wide-angle LED lamp with obliquely-placed LED boards and manufacturing process thereof

Номер патента: US9200786B2. Автор: Daisung MOON,Sangpil MOON. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-01.

Ultra-wide-angle and large-aperture optical lens assembly with high image quality

Номер патента: US20180074288A1. Автор: ZhengChao Yuan,Liangjun DENG,Xiaoyi LIN. Владелец: Guangdong Xuye Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-15.

High-resolution wide angle lens system

Номер патента: US20200183130A1. Автор: Soon Cheol Choi,Ki Youn Noh,Sung Nyun Kim. Владелец: Sekonix Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-11.

Fast Folded Wide Angle Large Reflective Unobscured System

Номер патента: CA2110968A1. Автор: Lacy G. Cook. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-06-12.

Wide-angle optical system, and imaging apparatus incorporating the same

Номер патента: US20120033311A1. Автор: Ryosuke Uemura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-02-09.

Large aperture semi-wide angle lens

Номер патента: US3926503A. Автор: Yasuo Takahashi,Michiro Oishi. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1975-12-16.

Extreme wide angle, very large aperture, compact, uv imaging lens

Номер патента: WO1995035521A1. Автор: Warren L. Clark,John H. Hirs,Anthony M. Nicoli. Владелец: Loral Infrared & Imaging Systems, Inc.. Дата публикации: 1995-12-28.

Single focus wide-angle lens module

Номер патента: US20120154905A1. Автор: Fei-Hsin Tsai. Владелец: Newmax Technology Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-21.

Wide-angle optical system including three lens units of −++ refractive powers, and image pickup apparatus using the same

Номер патента: US12066603B2. Автор: Takashi Fujikura,Shinichi Mihara,Keisuke Ichikawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Wide-angle lens

Номер патента: US20160187617A1. Автор: Tadashi Komiyama. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2016-06-30.

Wide angle objective lens

Номер патента: US3994575A. Автор: Lawrence H. Conrad. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1976-11-30.

Bioptic data reader with wide-angle field-of-view

Номер патента: US20200202085A1. Автор: Alan Shearin. Владелец: Datalogic USA Inc. Дата публикации: 2020-06-25.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US12055791B2. Автор: Chia-Hung Sun,Jian-Wei Lee. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Wide-angle zoom lens

Номер патента: US20050057818A1. Автор: Kenichi Sato. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-03-17.

Wide angle imaging lens

Номер патента: US20060187557A1. Автор: Hiromitsu Yamakawa. Владелец: Fujinon Corp. Дата публикации: 2006-08-24.

Wide-angle imaging lens

Номер патента: US20070279761A1. Автор: Yoko Yamamoto. Владелец: Fujinon Corp. Дата публикации: 2007-12-06.

Surround-view imaging system with integrated wide angle illuminator

Номер патента: WO2024170080A1. Автор: Andreas Bock. Владелец: Jabil Optics Germany GmbH. Дата публикации: 2024-08-22.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US12105355B2. Автор: Chia-Hung Sun,Shu-Hung Lin,Tsan-Haw Lee,Yu-Wen Tai. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Wide-angle lens with freeform surface

Номер патента: US12111461B2. Автор: Patrice Roulet,Simon Thibault,Pierre Konen,Xiaojun Du,Jocelyn PARENT,Xavier Dallaire,Zhenfeng ZHUANG. Владелец: Immervision Inc. Дата публикации: 2024-10-08.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US20240310610A1. Автор: An-Kai Chang. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Thin-film broadband and wide-angle devices for generating and sampling polarization states

Номер патента: US20200025990A1. Автор: Wei-Liang Hsu,Stanley Pau. Владелец: University of Arizona. Дата публикации: 2020-01-23.

Six-piece wide-angle lens module

Номер патента: US09958647B2. Автор: Sze-Ying Chen. Владелец: Kinko Optical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Chromatic-difference-free wide-angle camera for head-mounted device, and head-mounted device

Номер патента: US09952450B2. Автор: Chun Yang,Yuanpeng WANG. Владелец: Qingdao Goertek Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Wide-angle lens

Номер патента: US09904033B2. Автор: Tadashi Komiyama. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Wide angle lens and imaging apparatus

Номер патента: US09835833B2. Автор: Taiga Noda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Wide angle optical system

Номер патента: US09810886B2. Автор: Masayuki Mizusawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Super wide angle lens module

Номер патента: US09791675B2. Автор: Tae Young Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Wide angle lens and image pickup apparatus using the same

Номер патента: US09753250B2. Автор: Koji Nakagawa,Masahiro Imamura,Tomoyuki Satori,Akinori Nishio. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Wide-angle lens

Номер патента: US09703072B2. Автор: Alexander Martin. Владелец: Leica Camera AG. Дата публикации: 2017-07-11.

Wide-angle projection lens

Номер патента: US09690082B2. Автор: Tsan-Haw Lee. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Wide angle lens

Номер патента: US09690080B2. Автор: Tadashi Komiyama. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Wide-angle lens system and imaging apparatus

Номер патента: US09632290B2. Автор: Naoto Nishimura,Isamu Izuhara. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Wide angle viewing device

Номер патента: US09612447B2. Автор: Jezekiel Ben-Arie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-04-04.

Wide angle lens and imaging apparatus

Номер патента: US09606334B2. Автор: Kazunori Ono. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Wide-angle optical system and endoscope

Номер патента: US09563040B2. Автор: Masayuki Mizusawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

Wide angle optical system for LED array

Номер патента: US09528679B2. Автор: Kyle Shimoda. Владелец: Whelen Engineering Co Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Wide-angle lens

Номер патента: US09459432B2. Автор: Tadashi Komiyama. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US09429739B2. Автор: Yu-Min Chang. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

Exterior mirror element with wide angle portion

Номер патента: US8267535B2. Автор: Mingtang Zhao. Владелец: Donnelly Corp. Дата публикации: 2012-09-18.

Wide-angle lens comprising eight components

Номер патента: GB1201990A. Автор: Eberhard Dietzsch,Ernst Rumpoldin. Владелец: Carl Zeiss Jena GmbH. Дата публикации: 1970-08-12.

Wide angle zoom lens system

Номер патента: US5331463A. Автор: Takanori Yamanashi. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1994-07-19.

Wide-angle optical door viewer

Номер патента: US4269474A. Автор: Yasushi Kamimura. Владелец: Individual. Дата публикации: 1981-05-26.

Retrofocus type wide angle lens

Номер патента: US4690517A. Автор: Daijiro Fujie. Владелец: Nippon Kogaku KK. Дата публикации: 1987-09-01.

Surgical wide-angle illuminator

Номер патента: AU2006308686A1. Автор: Ronald T. Smith. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2007-05-10.

Coated article having low-e coating with ion beam treated ir reflecting layer and corresponding method

Номер патента: CA2565444C. Автор: Vijayen Veerasamy. Владелец: Guardian Industries Corp. Дата публикации: 2012-05-22.

Wide angle zoom lens system

Номер патента: US4198128A. Автор: Shuji Ogino. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 1980-04-15.

Compact wide-angle zoom lens

Номер патента: US4406523A. Автор: Sadao Okudaira,Sigetada Sato. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1983-09-27.

Focused ion beam processing with charge control

Номер патента: US5357116A. Автор: Christopher G. Talbot,Thomas M. Trexler. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 1994-10-18.

Wide angle immersive display system

Номер патента: CA2674214C. Автор: Michel Doucet. Владелец: Institut National dOptique. Дата публикации: 2013-10-01.

Internal focus wide-angle lens system and electronic apparatus including the same

Номер патента: WO2020230915A1. Автор: Moon Kyung Kim. Владелец: Samyang Optics Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-11-19.

Wide-angle zoom lens system having a high vari-focal ratio

Номер патента: US5504626A. Автор: Minoru Oshikiri. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1996-04-02.

Wide angle laser seeker

Номер патента: US4070573A. Автор: William C. Fitzgerald,Edwin M. Allen,Marino S. Melsted. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1978-01-24.

Wide-angle lens

Номер патента: US20040008426A1. Автор: Yasuhiko Abe. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2004-01-15.

Wide angle universal joint

Номер патента: US5415588A. Автор: Francis L. Wier. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-05-16.

Retro-focus type wide angle lens

Номер патента: US4310222A. Автор: Keiji Ikemori. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1982-01-12.

Dual ion beam assisted deposition of biaxially textured template layers

Номер патента: US20050205014A1. Автор: James Groves,Robert Hammond,Paul Arendt. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2005-09-22.

Rear-screen wide-angle on-axis projection system

Номер патента: US3895861A. Автор: John W Herndon. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1975-07-22.

Wide-Angle Lens

Номер патента: US20090080089A1. Автор: Masatoshi Hirose. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2009-03-26.

Wide angle photographic lens system

Номер патента: US3731989A. Автор: Y Shimizu. Владелец: Nippon Kogaku KK. Дата публикации: 1973-05-08.

Ion beam device and method for generating heat and power

Номер патента: AU2019271312A1. Автор: Russell Blake. Владелец: Quantum Spring Res Pty Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Wide-Angle Lens Assembly

Номер патента: US20180329183A1. Автор: Wei-Ting Chiu. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-15.

Ion beam device and method for generating heat and power

Номер патента: CA3139856A1. Автор: Russell Blake. Владелец: Quantum Spring Research Pty Ltd. Дата публикации: 2019-11-21.

Wide-angle view eyeglasses

Номер патента: US6254233B1. Автор: Anthony Prestandrea,Paul Ruben. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-07-03.

Wide-angle lens, imaging module and camera including eight lenses of −−+−++−+ refractive powers

Номер патента: US11829005B2. Автор: Wenzhe WEI,Xuming Liu,Jiyong Zeng. Владелец: Jiangxi Lianchuang Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Wide-angle lens, camera module and camera

Номер патента: US20210055527A1. Автор: Wenzhe WEI,Xuming Liu,Jiyong Zeng. Владелец: JIANGXI LIANCHUANG ELECTRONICS CO Ltd. Дата публикации: 2021-02-25.

Small-size wide angle lens and camera including the lens

Номер патента: US8587880B2. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-11-19.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US11714261B2. Автор: Yuan-Fan Liang. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-01.

Miniaturized semi-wide-angle photographic lens

Номер патента: US4154509A. Автор: Yasuo Takahashi. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1979-05-15.

Wide-angle image lens with high resolution and short overall length

Номер патента: US20140146400A1. Автор: Chun-Cheng Ko. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

Wide-angle optical system and image pickup apparatus using the same

Номер патента: US20210255440A1. Автор: Takashi Fujikura,Shinichi Mihara,Yoshihiro Uchida,Keisuke Ichikawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Wide-angle lens

Номер патента: US20220260812A1. Автор: Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2022-08-18.

Super wide-angle optical system

Номер патента: US20180203211A1. Автор: Jin-woo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-07-19.

Wide angle lens

Номер патента: US20180095245A1. Автор: Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2018-04-05.

Wide-Angle Lens Assembly

Номер патента: US20230296867A1. Автор: Yuan-Chen Chen. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Wide-angle lens

Номер патента: US9304302B2. Автор: Tadashi Komiyama. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2016-04-05.

Five-piece wide-angle lens module

Номер патента: US20150077862A1. Автор: Yi-Zhi Lin. Владелец: Kinko Optical Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-19.

Super wide-angle lens system and shooting device using the same

Номер патента: US20030103275A1. Автор: Haruo Sato. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2003-06-05.

Super wide-angle optical system

Номер патента: US10564405B2. Автор: Jin-woo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-02-18.

Wide angle lens assembly having low distortion

Номер патента: US20190094491A1. Автор: Tzu-Yuan Lin,Sheng-Lung Lin,Leit Ho. Владелец: Sunny Optical Overseas Ltd. Дата публикации: 2019-03-28.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US20180335611A1. Автор: Chien-Hung Chen,Hsi-Ling Chang,Yuan-Fan Liang. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-22.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US10656384B2. Автор: Chien-Hung Chen,Hsi-Ling Chang,Yuan-Fan Liang. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-19.

Wide angle lens and camera system for peripheral field of view imaging

Номер патента: CA3215968A1. Автор: Maksim MAKEEV,Mark S. Schnittman,Sara Nagelberg,Susan Rico,Thomas W. Bushman. Владелец: Owl Labs Inc. Дата публикации: 2022-10-27.

Universal attachment assembly for clamping and bracing covers over openings

Номер патента: US20050091923A1. Автор: Frank Pleasants. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-05.

Wide angle lens and camera system for peripheral field of view imaging

Номер патента: AU2022263347A1. Автор: Maksim MAKEEV,Mark S. Schnittman,Sara Nagelberg,Susan Rico,Thomas W. Bushman. Владелец: Owl Labs Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Wide-angle lens

Номер патента: EP4328644A1. Автор: Yutaka Suenaga. Владелец: Yokohama Leading Design Co LP. Дата публикации: 2024-02-28.

System and method for attaining target dose conformity in ion beam treatment

Номер патента: US10843008B2. Автор: Martha Hultqvist,Terese Nordström. Владелец: RaySearch Laboratories AB. Дата публикации: 2020-11-24.

System and method for attaining target dose conformity in ion beam treatment

Номер патента: WO2018115094A1. Автор: Martha Hultqvist,Terese Nordström. Владелец: RaySearch Laboratories AB. Дата публикации: 2018-06-28.

Wide-angle lighting display device

Номер патента: US20160076716A1. Автор: Su-Fang Ho. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-03-17.

Ion beam deposition of ruthenium thin films

Номер патента: US20240102150A1. Автор: Robert Caldwell,Frank Cerio,Rutvik J. Mehta,Yuejing Wang. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Wide-angle lens and image capturing apparatus

Номер патента: US20090122422A1. Автор: Toshiyuki Kawasaki,Yasushi Takahashi,Ryosuke Kasahara,Hayato Yoshida,Issei Abe,Naoki Moniwa,Yukiko Hamano. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-14.

Wide-angle lens

Номер патента: US7751128B2. Автор: Masatoshi Hirose. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2010-07-06.

Wide-angle lens assembly

Номер патента: US10606028B2. Автор: Chien-Hung Chen,Hsi-Ling Chang,Ming-Huang Tseng,Yuan-Chen Chen. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-31.

Vehicle wide-angle rearview mirror frame with storage box

Номер патента: US20030095348A1. Автор: Ying-Tu Kuo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-22.

Wide-Angle Lens Assembly

Номер патента: US20200326515A1. Автор: Yuan-Fan Liang. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-15.

Wide-angle projection system

Номер патента: US20150185452A1. Автор: Ya-Ling Hsu,Yi-Hsueh Chen,Li-Chiu Tsai,Chi- Chang Tien. Владелец: Young Optics Inc. Дата публикации: 2015-07-02.

Wide Angle Lens

Номер патента: US20210041668A1. Автор: Kenji Oinuma,Lei Zhang. Владелец: AAC Optics Solutions Pte Ltd. Дата публикации: 2021-02-11.

Retrofocus-type wide angle lens and camera including the lens

Номер патента: US20120063011A1. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-03-15.

Wide-angle lens

Номер патента: US20200341244A1. Автор: Yosuke Kanzaki. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2020-10-29.

Wide-angle lens assembly including five lenses of -+++-, or six lenses of -++-+- refractive powers

Номер патента: US11686925B2. Автор: Yuan-Chen Chen. Владелец: Sintai Optical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-27.

Chart for testing resolution of wide-angle lens and method for testing resolution

Номер патента: US20220252480A1. Автор: Po-Chou Chen,Chun-Cheng Ko. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Wide-angle lens

Номер патента: US20140293456A1. Автор: Tadashi Komiyama. Владелец: Nidec Sankyo Corp. Дата публикации: 2014-10-02.

Wide-angle lens, projection display device, and imaging apparatus

Номер патента: US20180059380A1. Автор: Yukiko Nagatoshi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-01.

Wide-angle zoom lens

Номер патента: US20100259834A1. Автор: Hiroshi Yamamoto,Dayong Li,Hiroki Harada. Владелец: Tamron Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-14.

Ion beam device and method for generating heat and power

Номер патента: EP3794612A1. Автор: Russell Blake. Владелец: Quantum Spring Research Pty Ltd. Дата публикации: 2021-03-24.

System and method for attaining target dose conformity in ion beam treatment

Номер патента: US20200038682A1. Автор: Martha Hultqvist,Terese Nordström. Владелец: RaySearch Laboratories AB. Дата публикации: 2020-02-06.

Beverage extraction assembly for extracting a beverage from a particulate substance contained in a cartridge

Номер патента: CA2560846C. Автор: Furio Suggi Liverani,Luca Mastropasqua,Frans Van Eeden,Bruno Dellapietra. Владелец: Illycaffe SpA. Дата публикации: 2013-07-16.

An extraction assembly for extracting the contents of a sachet

Номер патента: GB2486711A. Автор: Robert John Crawford,Nicholas John Dulake,Christopher Loxley,Mark Rowland Phillips,Andrew Stanton,Matthew Willox. Владелец: UNILEVER PLC. Дата публикации: 2012-06-27.

Moisture extraction assembly having a cellular structure with interconnected cells

Номер патента: US20190126180A1. Автор: Ronghui Zhang,Christopher DEVEREUX. Владелец: Chrius Technologies Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Moisture extraction assembly having a cellular structure with interconnected cells

Номер патента: EP3442682A1. Автор: Ronghui Zhang,Christopher DEVEREUX. Владелец: Omnidex Ltd. Дата публикации: 2019-02-20.

Pitch and roll motion optical system for wide angle display

Номер патента: CA1156747A. Автор: Daniel R. Lobb. Владелец: Thales Training and Simulation Ltd. Дата публикации: 1983-11-08.

Objective with discrete changes in focus length for wide spectral range

Номер патента: RU2063058C1. Автор: С.Н. Бездидько,Л.И. Гришина,Е.Ф. Чистов,В.Ю. Чередниченко. Владелец: Акционерное общество открытого типа "Красногорский завод им.С.А.Зверева". Дата публикации: 1996-06-27.

Source of wide-aperture ion beams

Номер патента: RU2370848C1. Автор: Николай Васильевич Гаврилов,Даниил Рафаилович Емлин,Олег Александрович Буреев. Владелец: Институт электрофизики Уральского отделения РАН. Дата публикации: 2009-10-20.

Method of search for wide-band signal ( variants ) and device for its implementation

Номер патента: RU2178620C2. Автор: А.В. Гармонов,А.Ю. Савинков,Г.С. Кравцова. Владелец: Корпорация "Самсунг Электроникс". Дата публикации: 2002-01-20.

Method for electromagnetic focusing of ion beam in plasma accelerators with azimuthal electron drift

Номер патента: RU2465749C2. Автор: Дмитрий Владимирович Духопельников,Михаил Константинович Марахтанов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный технический университет имени Н.Э.Баумана". Дата публикации: 2012-10-27.

Method to create reinforced ice bridge for wide ponds

Номер патента: RU2569694C2. Автор: Петр Егорович Никитин,Мария Петровна Никитина. Владелец: Петр Егорович Никитин. Дата публикации: 2015-11-27.

Method of forming objects on surface of materials using focused ion beam

Номер патента: RU2457573C1. Автор: Евгений Владиславович Пустовалов,Владимир Сергеевич Плотников,Борис Николаевич Грудин,Алексей Петрович Глухов,Алексей Валерьевич Кириллов. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дальневосточный федеральный университет". Дата публикации: 2012-07-27.

High-frequency accelerating structure for ion beams extracted from laser plasma

Номер патента: RU2533194C2. Автор: Владимир Иванович Турчин,Сергей Валентинович Плотников,Александр Николаевич Балабаев,Юрий Алексеевич Сатов,Александр Викторович Шумшуров,Сергей Михайлович Савин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Государственный научный центр Российской Федерации - Институт Теоретической и Экспериментальной Физики". Дата публикации: 2014-11-20.

Fast high-speed wide-angle optical axis bent lens

Номер патента: RU2248599C2. Автор: И.П. Полякова,А.Э. Пуйша,кова И.П. Пол. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие ВНЦ "ГОИ им. С.И. Вавилова". Дата публикации: 2005-03-20.

Wide-angle collimating indicator

Номер патента: RU2358304C1. Автор: Павел Андреевич Благов,Евгений Викторович Цивилев,Лариса Ивановна Лесман. Владелец: Закрытое акционерное общество "Фазотрон-ЗОМЗ-АВИА". Дата публикации: 2009-06-10.

Method for pulse-periodic ion-beam cleaning of surface of articles made of dielectric material or conducting material with dielectric inclusions

Номер патента: RU2526654C2. Автор: Игорь Борисович Степанов,Денис Олегович Сивин,Александр Ильич Рябчиков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессинального образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет". Дата публикации: 2014-08-27.

Low-energy ion beams source for nano electronics technologies

Номер патента: RU2353017C1. Автор: Виктор Львович Варенцов. Владелец: Виктор Львович Варенцов. Дата публикации: 2009-04-20.

Wide-angle virtual helmet with possibility of combination of real and virtual space

Номер патента: RU2301436C2. Автор: Олег Леонидович Головков. Владелец: Олег Леонидович Головков. Дата публикации: 2007-06-20.

Wide-angle eyepiece

Номер патента: RU2548745C1. Автор: Анатолий Степанович Агеев,Лев Вальтерович Парко. Владелец: Акционерное общество "Швабе-Оборона и Защита". Дата публикации: 2015-04-20.

Helmet-mounted wide-angle collimating optical display system

Номер патента: RU2586097C1. Автор: Михаил Наумович Сокольский,Анатолий Александрович Строганов,Александр Михайлович Савицкий,Анатолий Владимирович Шукалов,Александр Исаакович Эфрос,Марина Валентиновна Воронова. Владелец: Открытое акционерное общество "ЛОМО". Дата публикации: 2016-06-10.

Source of intense ion beams

Номер патента: RU2075132C1. Автор: И.М. Ройфе. Владелец: Научно-исследовательский институт электрофизической аппаратуры им.Д.В.Ефремова. Дата публикации: 1997-03-10.

Device for measuring angular distribution of ion beam

Номер патента: RU2129318C1. Автор: Г.Д. Ведьманов,И.Р. Мухаметдинов,К.О. Хохлов. Владелец: Мухаметдинов Игорь Раитович. Дата публикации: 1999-04-20.

Ion beam generation process

Номер патента: RU2219618C2. Автор: Е.Н. Ивашов,Б.Г. Львов,С.В. Степанчиков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский государственный институт электроники и математики (технический университет). Дата публикации: 2003-12-20.

Device for remote getting of images within wide angle of view (versions)

Номер патента: RU2298214C1. Автор: Юрий Михайлович Гектин,Николай Петрович Акимов,Николай Петрович Акимов (RU),Юрий Михайлович Гектин (RU). Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский научно-исследовательский институт космического приборостроения". Дата публикации: 2007-04-27.

Method of defining indications for selective laser trabeculoplasty for primary wide-angle glaucoma

Номер патента: RU2332158C1. Автор: Елена Николаевна Осипова,Галина Ивановна Должич,Ирина Игоревна Чугунова. Владелец: Ирина Игоревна Чугунова. Дата публикации: 2008-08-27.

Method of ion-beam treatment

Номер патента: RU2433081C1. Автор: Юрий Петрович Маишев,Сергей Леонидович Шевчук,Юрий Петрович Терентьев. Владелец: Российская академия наук Учреждение Российской академии наук Физико-технологический институт РАН (ФТИАН). Дата публикации: 2011-11-10.

Method to produce high-charge ion beam

Номер патента: RU2448387C2. Автор: Сергей Николаевич Доля,Александр Дмитриевич Коваленко,Клара Андреевна Решетникова,Сергей Николаевич Доля (RU),Александр Дмитриевич Коваленко (RU),Клара Андреевна Решетникова (RU). Владелец: Объединенный Институт Ядерных Исследований. Дата публикации: 2012-04-20.

Wide angle rear view mirror

Номер патента: CA118315S. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-08-21.

Ion beam formation method and device intended for its realization

Номер патента: RU2096856C1. Автор: Б.Н. Машковцев. Владелец: Акционерное общество закрытого типа "Римос". Дата публикации: 1997-11-20.

Simulation methods of vacuum ion-beam treatment processes (versions), and specimen for their implementation

Номер патента: RU2485212C1. Автор: Виталий Валентинович Плихунов. Владелец: Открытое акционерное общество "Национальный институт авиационных технологий". Дата публикации: 2013-06-20.

Soybean mutation breeding box with heavy ion beam concentration structure

Номер патента: ZA202401519B. Автор: QI Wu,Fengyi Zhang,Chunlei Zhang,XueYang Wang,Honglei Ren,Bixian Zhang,Xiulin Liu,Kezhen Zhao,Rongqiang Yuan. Владелец: Soybean Res Institute Of Heilongjiang Academy Of Agricultural Sciences. Дата публикации: 2024-09-25.

Polypeptide vaccines for wide protection against rows of meningococcus generations with increased virulence

Номер патента: RU2333007C2. Автор: Марияграция ПИЦЦА. Владелец: Новартис Вэксинес Энд Дайэгностикс С.Р.Л.. Дата публикации: 2008-09-10.

Method for direct current load supply in autonomous power supply systems of spacecrafts for wide range of load power and autonomous power supply system for implementation thereof

Номер патента: RU2705537C2. Автор: Александр Владимирович Анкудинов,Виктор Владимирович Коротких,Михаил Владленович Нестеришин,Сергей Иванович Опенько,Николай Васильевич Стадухин,Геннадий Владимирович Дербинев. Владелец: Акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2019-11-08.

Heat-insulating shield of mill for wide beam (rail) rolling

Номер патента: RU2480298C1. Автор: Виктор Николаевич Хлопонин,Илья Сергеевич Новожилов. Владелец: Виктор Николаевич Хлопонин. Дата публикации: 2013-04-27.

Method for making intraosseous dental implant with ion-beam modification of plasma-deposited multilayer bioactive coating

Номер патента: RU2458707C1. Автор: Владимир Николаевич Лясников,Ирина Владимировна Перинская,Владимир Владимирович Перинский,Орынгали Джулдгалиевич Муктаров. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный технический университет" (СГТУ). Дата публикации: 2012-08-20.

Television wide-angle lens with remote entrance pupil and extended rear focal length

Номер патента: RU2127892C1. Автор: Л.В. Калинин,И.А. Блюмина,Г.М. Бережнова,Г.Ю. Матвеева. Владелец: Блюмина Изабелла Александровна. Дата публикации: 1999-03-20.

Wide-angle fast lens

Номер патента: RU2123713C1. Автор: М.Р. Фридман. Владелец: Фридман Марк Рафаилович. Дата публикации: 1998-12-20.

Wide-angle collimating indicator

Номер патента: RU2358303C1. Автор: Гиви Ивлианович Джанджгава,Владимир Валентинович Кавинский,Павел Андреевич Благов,Алексей Анатольевич Гарбузов,Лариса Ивановна Лесман,Юрий Николаевич Косяков,Юрий Евгеньевич Назаревский. Владелец: Закрытое акционерное общество "Фазотрон-ЗОМЗ-АВИА". Дата публикации: 2009-06-10.

Wide-angle high-speed lens

Номер патента: RU2176096C2. Автор: А.В. Медведев,А.В. Гринкевич,А.В. Щепилов,С.С. Маркозов. Владелец: ОАО "Ростовский оптико-механический завод". Дата публикации: 2001-11-20.

Fast wide-angle lens

Номер патента: RU2041479C1. Автор: В.И. Савоскин,Г.Г. Березенцева,Л.Г. Березенцева,Л.И. Самсонова. Владелец: Малое государственное предприятие "РОТАН". Дата публикации: 1995-08-09.

Wide-angled lens of fish eye type

Номер патента: RU2379722C1. Автор: Владимир Николаевич Васильев,Игорь Григорьевич Бронштейн,Сергей Анатольевич Михайличенко,Михаил Борисович Сергеев,Ирина Леонидовна Лившиц,Василий Юрьевич Мамаев,Владимир Валентинович Снопов,Сергей Владимирович Руфанов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ, МЕХАНИКИ и ОПТИКИ" (ГОУВП "СПбГУИТМО"). Дата публикации: 2010-01-20.

High-speed wide-angle lens with outside entrance pupil

Номер патента: RU2024038C1. Автор: Ирина Леонидовна Анитропова,Игорь Григорьевич Бронштейн. Владелец: Игорь Григорьевич Бронштейн. Дата публикации: 1994-11-30.

Wide-angle lens with remote entrance pupil

Номер патента: RU2133488C1. Автор: И.Л. Анитропова-Лившиц,И.Г. Бронштейн. Владелец: Анитропова-Лившиц Ирина Леонидовна. Дата публикации: 1999-07-20.

Wide-angle slot aerophotographic apparatus

Номер патента: RU2036500C1. Автор: А.С. Чичигин,Б.С. Белицкий,А.И. Шафаревич. Владелец: Акционерное общество открытого типа "Красногорский завод". Дата публикации: 1995-05-27.

Ocular wide-angled system

Номер патента: RU2164701C2. Автор: Д.Н. Фролов,Н.Л. Фрейдберг,А.Г. Табачков. Владелец: Открытое акционерное общество "ЛОМО". Дата публикации: 2001-03-27.

Wide-angle-reflective cube-corner retroreflective sheeting

Номер патента: CA1292903C. Автор: Gerald M. Benson. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1991-12-10.

Wide-angle fast lens

Номер патента: RU2123712C1. Автор: М.Р. Фридман. Владелец: Фридман Марк Рафаилович. Дата публикации: 1998-12-20.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.