Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Measuring system, calibration device and measuring method with uncertainty analysis

Measuring system, calibration device and measuring method with uncertainty analysis

Номер патента: US20170160369A1
Опубликовано: 08-06-2017
Автор(ы): Martin LEIBFRITZ
Принадлежит: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Measuring system, calibration device and measuring method with uncertainty analysis

Номер патента: US09903932B2. Автор: Martin LEIBFRITZ. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-27.

Method, central test control unit, measurement system

Номер патента: US20240241175A1. Автор: Florian Lang,Thomas Braunstorfinger,Bjoern Schmid,Sebastian ROEGLINGER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-18.

Method, central test control unit, measurement system

Номер патента: EP4404483A1. Автор: Florian Lang,Björn Schmid,Thomas Braunstorfinger,Sebastian ROEGLINGER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-24.

Delay measurement system and measurement method

Номер патента: US20230258721A1. Автор: Chung-Chieh Yang,Chih-Chiang Chang,Yung-Chow Peng,Shang Hsien Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

EYE DIAGRAM MEASUREMENT DEVICE AND EYE DIAGRAM MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200014501A1. Автор: KANG Wen-Juh,CHEN Yu-Chu,KAO Hsun-Wei. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-09.

Electrochemical impedance spectroscopy current measurement system calibration

Номер патента: EP4428548A1. Автор: Atulya Yellepeddi,Brian Harrington,Sheila Patricia Seidel,Leah Alexis Garber,Sue Zheng,Kate Danielle Fischl,Evan Merkel. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2024-09-11.

Electrochemical impedance spectroscopy current measurement system calibration

Номер патента: US20240302472A1. Автор: Atulya Yellepeddi,Brian Harrington,Sheila Patricia Seidel,Leah Alexis Garber,Sue Zheng,Kate Danielle Fischl,Evan Merkel. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Device for calibration of power measurement system for power transformers

Номер патента: RU2635833C2. Автор: Томас ШТАЙНЕР,Катрина КОВАЛЬ,Себастьян АУГАТ,Андреас ТИДЕ. Владелец: Машиненфабрик Райнхаузен Гмбх. Дата публикации: 2017-11-16.

Jitter measuring system in high speed data output device and total jitter measuring method

Номер патента: US20040019458A1. Автор: Jin-mo Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-01-29.

Error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: JP2022043738A. Автор: Hiroyuki Inaba,久生 城所,裕之 稲葉,Hisao Kidokoro. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-03-16.

Magnetic flux measuring device and magnetic flux measuring method for stationary induction electrical apparatus, and synchronous switching controlgear for circuit breaker

Номер патента: CA2666733C. Автор: Minoru Saito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-07-29.

Electrostatic measuring system for inner wall of fluid pipeline and measuring method thereof

Номер патента: US10890611B2. Автор: Shi-Yuan Tong,Yu-Ting Huang,Mean-Jue Tung. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-01-12.

Microwave resonator magnetic field measuring device and magnetic field measuring method

Номер патента: US11892528B2. Автор: Eckhard Quandt,Reinhard Knoechel,Sebastian Toxvaerd,Lars Thormaehlen. Владелец: Christian Albrechts Universitaet Kiel. Дата публикации: 2024-02-06.

Measuring device, a calibration device, a measuring system and a method with a dynamic data sheet

Номер патента: US09454510B2. Автор: Thomas Braunstorfinger. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-09-27.

Electric field measuring device and electric field measuring method

Номер патента: US11828782B2. Автор: Tomohiko YANO. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-11-28.

Semiconductor device and battery voltage measuring method that prevents measurement error caused by parametric capacitance

Номер патента: US09966768B2. Автор: Naoaki Sugimura. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Insulation resistance measurement device and insulation resistance measurement method

Номер патента: EP2447725A1. Автор: Takafumi Ishii,Masanobu Yoshidomi. Владелец: YOSHIDOMI ELECTRIC. Дата публикации: 2012-05-02.

BATTERY CAPACITY MEASURING DEVICE AND BATTERY CAPACITY MEASURING METHOD

Номер патента: US20180067169A1. Автор: KOBA Daisuke,NISHI Hiroki,OSAKA Tetsuya. Владелец: PRIMEARTH EV ENERGY CO., LTD.. Дата публикации: 2018-03-08.

Insulation resistance measurement device and insulation resistance measurement method

Номер патента: US20210231719A1. Автор: Ryosuke NAGANO. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-29.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND BATTERY VOLTAGE MEASURING METHOD THAT PREVENTS MEASUREMENT ERROR CAUSED BY PARAMETRIC CAPACITANCE

Номер патента: US20180241226A1. Автор: SUGIMURA Naoaki. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-23.

Insulation resistance measurement device and insulation resistance measurement method

Номер патента: WO2010150601A1. Автор: 隆文 石井,政宣 吉富. Владелец: 株式会社Mti. Дата публикации: 2010-12-29.

Method for determining time differences between signals measured by at least two coupled measuring devices and measurement system and corresponding switching device

Номер патента: US09678153B2. Автор: Kurt Schmidt,Manfred Mueller,Markus Freidhof,Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-06-13.

Electronic Device and Noise Current Measuring Method

Номер патента: US20120119757A1. Автор: Satoshi Nakamura,Takashi Suga,Yutaka Uetmatsu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2012-05-17.

Electromagnetic interference measuring device and electromagnetic interference measuring method

Номер патента: US20140167782A1. Автор: Soon Il Yeo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2014-06-19.

Electromagnetic interference measuring device and electromagnetic interference measuring method

Номер патента: US9494633B2. Автор: Soon Il Yeo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2016-11-15.

Electronic device and noise current measuring method

Номер патента: KR101213614B1. Автор: 사토시 나카무라,다카시 스가,유타카 우에마츠. Владелец: 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼. Дата публикации: 2013-01-09.

Frequency selective measuring device and frequency selective measuring method

Номер патента: US8964823B2. Автор: Thomas Lechner. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2015-02-24.

Frequency-selective measuring device and frequency-selective measuring method

Номер патента: WO2011009504A1. Автор: Thomas Lechner. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2011-01-27.

Electronic device and noise current measuring method

Номер патента: JP5215942B2. Автор: 中村　　聡,卓 須賀,裕 植松. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-06-19.

Workpiece characteristic measuring device and workpiece characteristic measuring method

Номер патента: TWI453422B. Автор: Shuichi Saito,Tomoyuki Kojima,Takayuki Yamauchi. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-21.

Method for implementing electromagnetic anti-interference filter impedance match and measuring system thereof

Номер патента: US09897639B2. Автор: Ming Zhou. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: US20210396881A1. Автор: Shunji Maeda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

F-p sensor probe, absolute distance measurement device, and absolute distance measurement method

Номер патента: US20240264285A1. Автор: Xiangang Luo,Yanqin WANG,Chengwei ZHAO,Changtao WANG,Tiancheng GONG,Guiyuan JIA,Yanwu CHU. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2024-08-08.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US09629577B2. Автор: Eriko Yoshioka,Susumu Tatemoto. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: US20180127795A1. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2018-05-10.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: US09738916B2. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Spectral sensitivity measurement device and spectral sensitivity measurement method

Номер патента: EP4398591A1. Автор: Junichi Miyashita,Soichi Kuwahara,Ryouji TANIGUCHI. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Spectral sensitivity measuring device and spectral sensitivity measuring method

Номер патента: US20240255350A1. Автор: Junichi Miyashita,Soichi Kuwahara,Ryouji TANIGUCHI. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Optical resonance device, force measuring device and method, modulus measuring method and display panel

Номер патента: US20180372565A1. Автор: Dini XIE,Xiaojin Zhang,Chengsheng YU. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-27.

Pressure change measurement device, altitude measurement device, and pressure change measurement method

Номер патента: US20170276563A1. Автор: Manabu Oumi,Takeshi Uchiyama,Masayuki Suda,Yoko Shinohara,Ayako Nobe,Yoshiyuki Kaiho. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Differential pressure measuring device and differential pressure measurement method

Номер патента: US20230408356A1. Автор: Kenji Okita. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Light scattering measurement device and light scattering measurement method

Номер патента: EP4361595A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Noninvesive arteriovenous pressure measurement device and arteriovenous pressure measurement method using the measurement device

Номер патента: US20180242945A1. Автор: Hiroshi Tomoeda. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2018-08-30.

Light scattering measurement device and light scattering measurement method

Номер патента: US20240077399A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Electronic device and ultraviolet light measuring method therefor

Номер патента: US20190346306A1. Автор: Jae-Bong Chun,Haebahremahram Suh,In-Jo JEONG,Jung-Su HA. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-11-14.

Component concentration measurement device and component concentration measurement method

Номер патента: US11839468B2. Автор: Takuro Tajima,Masahito Nakamura,Michiko Seyama. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-12-12.

Sample structure measuring device and sample structure measuring method

Номер патента: US20220196543A1. Автор: Mayumi ODAIRA. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Aperture measuring device and an aperture measuring method

Номер патента: US20190017800A1. Автор: Jie Wang,Haifeng Chen,Dingyuan LI,Ruwang Guo. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

Optical measuring device and method for plasma magnetic field with adjustable sensitivity

Номер патента: US20240077549A1. Автор: Wei Wang,Zhenyu Wang,Jian Wu,Xingwen Li,Zhiyuan JIANG,Ziwei Chen,Xinmiao ZHOU,Huantong SHI. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2024-03-07.

MEASURING SYSTEM WITH POSITIONING SYSTEM FOR BEAMFORMING MEASUREMENTS AND MEASURING METHOD

Номер патента: US20190025358A1. Автор: Abadie Vincent,Rowell Corbett. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

Power consumption measurement system, outlet device, control device, measuring device, and power consumption measuring method

Номер патента: EP2508897B1. Автор: Kazuya Kiuchi,Tadayuki Watanabe,Akinori Iwabuchi,Kaoru Kusafuka,Kazumasa Shichiri. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-01-10.

Measurement system with positioning system for beamforming measurements and measurement method

Номер патента: CN109286453B. Автор: 科比特·罗威尔,文森特·阿巴迪. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-25.

Measuring system with positioning system for beamforming measurements and measuring method

Номер патента: EP3432490A1. Автор: Corbett Rowell,Vincent Abadie. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-01-23.

ELECTROSTATIC MEASURING SYSTEM FOR INNER WALL OF FLUID PIPELINE AND MEASURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20200174054A1. Автор: HUANG Yu-Ting,Tung Mean-Jue,TONG Shi-Yuan. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-04.

Ion movement measuring device and ion movement measuring method

Номер патента: US20230236148A1. Автор: Hiroshi Sakai,Hideki Sakai,Atsushi Sakurai,Tatsuya Hattori,Yuji Isogai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Lightning current measuring device and lightning current measuring method

Номер патента: US09983237B2. Автор: Kiyoshi Kurosawa,Tatsufumi Aoi,Yoichiro Tsumura,Yutaka KIKUCHIHARA. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Magnetic field measurement device and magnetic field measurement method

Номер патента: EP4343353A1. Автор: Norikazu Mizuochi,Yoshiharu Yoshii,Tsutomu Otsuka,Shingo Hamada,Yuki Takemura. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2024-03-27.

Radio communication device and frequency error measurement method

Номер патента: US09621338B2. Автор: Shin Watanabe,Ryosuke Kobayashi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

ELECTRIC CONDUCTIVITY-MEASURING MATERIAL, ELECTRIC CONDUCTIVITY-MEASURING FILM, ELECTRIC CONDUCTIVITY-MEASURING DEVICE, AND ELECTRIC CONDUCTIVITY-MEASURING METHOD, AS WELL AS ELECTRIC RESISTIVITY-MEASURING MATERIAL, ELECTRIC RESISTIVITY-MEASURING FILM, ELECTRIC RESISTIVITY-MEASURING DEVICE, AND ELECTRIC RESISTIVITY-MEASURING METHOD

Номер патента: US20200348238A1. Автор: Kikunaga Kazuya,TERASAKI Nao. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

Material for measuring electrical conductivity, electrical conductivity measuring film, electrical conductivity measuring device, and electrical conductivity measuring method, and material for measuring electrical resistivity, electrical resistivity measuring film, electrical resistivity measuring device, and electrical resistivity measuring method

Номер патента: EP3705874A1. Автор: Nao Terasaki,Kazuya KIKUNAGA. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-09-09.

Magnetic field measurement device and magnetic field measurement method

Номер патента: EP4382943A1. Автор: Norikazu Mizuochi,Yoshiharu Yoshii,Tsutomu Otsuka,Shingo Hamada,Yuki Takemura. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2024-06-12.

Magnetic flux measuring device and magnetic flux measuring method for stationary induction electrical apparatus, and synchronous switching control gear for circuit breaker

Номер патента: US8344557B2. Автор: Minoru Saito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-01-01.

Optical characteristics measuring device and optical characteristics measuring method

Номер патента: US11209374B2. Автор: Ken Hoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-12-28.

Optical characteristics measuring device and optical characteristics measuring method

Номер патента: US20200064279A1. Автор: Ken Hoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-02-27.

LIGHTNING CURRENT MEASURING DEVICE AND LIGHTNING CURRENT MEASURING METHOD

Номер патента: US20160041205A1. Автор: TSUMURA Yoichiro,Aoi Tatsufumi,KUROSAWA Kiyoshi,KIKUCHIHARA Yutaka. Владелец: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD.. Дата публикации: 2016-02-11.

Stress Distribution Measurement Device and Stress Distribution Measurement Method

Номер патента: US20210063255A1. Автор: Hisashi Endo,Hiroshi Yoshikawa,Toshihiro Yamada,Masanori KITAOKA,Nobuhiro KAKENO. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-03-04.

Semiconductor device and battery voltage measuring method

Номер патента: US20160190832A1. Автор: Naoaki Sugimura. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-30.

MICROWAVE RESONATOR MAGNETIC FIELD MEASURING DEVICE AND MAGNETIC FIELD MEASURING METHOD

Номер патента: US20210231757A1. Автор: Knoechel Reinhard,Quandt Eckhard,Toxvaerd Sebastian,Thormaehlen Lars. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

MAGNETIC FIELD MEASUREMENT DEVICE AND MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD BASED ON SOLID-STATE SPINS

Номер патента: US20200393522A1. Автор: Rong Xing,Du Jiangfeng,ZHU Yunbin,Dai Yingqiu. Владелец: UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA. Дата публикации: 2020-12-17.

Brain activity measuring device and brain activity measuring method

Номер патента: JP5418952B1. Автор: 博則 西本,隆紀 河内山,育廣 島田,一郎 藤本. Владелец: ATR Advanced Telecommunications Research Institute International. Дата публикации: 2014-02-19.

Radiation efficiency measuring device and radiation efficiency measuring method

Номер патента: CN101675345A. Автор: 北田浩志. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-17.

Radiation efficiency measuring device and radiation efficiency measuring method

Номер патента: WO2008139832A1. Автор: Hiroshi Kitada. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2008-11-20.

Lightning current measuring device and lightning current measuring method

Номер патента: EP2980593A1. Автор: Kiyoshi Kurosawa,Tatsufumi Aoi,Yoichiro Tsumura,Yutaka KIKUCHIHARA. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2016-02-03.

Brain activity measurement device and brain activity measurement method

Номер патента: EP2977002A4. Автор: Yasuhiro Shimada,Hironori Nishimoto,Takanori Kochiyama,Ichirou Fujimoto. Владелец: ATR Advanced Telecommunications Research Institute International. Дата публикации: 2016-11-09.

Magnetic field measuring device and magnetic field measuring method

Номер патента: JP7194327B2. Автор: 憲和 水落,義治 芳井. Владелец: Sumida Corp. Дата публикации: 2022-12-22.

Frequency characteristic measuring device, control device, and frequency characteristic measuring method

Номер патента: CN111751616A. Автор: 罗威,中村勉. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2020-10-09.

Magnetic field measurement device and magnetic field measurement method based on solid-state spins

Номер патента: WO2019223052A1. Автор: 杜江峰,代映秋,朱云彬,荣星. Владелец: 中国科学技术大学. Дата публикации: 2019-11-28.

Magnetic field measurement device and magnetic field measurement method

Номер патента: WO2022244399A1. Автор: 憲和 水落,義治 芳井,努 大塚,真吾 浜田,祐輝 竹村. Владелец: スミダコーポレーション株式会社. Дата публикации: 2022-11-24.

Radiation measurement system and method with synchronous high speed tracking laser based position measurement

Номер патента: US09726704B2. Автор: Jeffrey Fordham,Martin Mannion,Charles P. B. Pinson,Marion Baggett. Владелец: NSI MI Technologies LLC. Дата публикации: 2017-08-08.

Power loss measuring system for measuring power loss at harmonic filter included in high voltage direct current (hvdc) transmission system, and power loss measuring method thereof

Номер патента: US20170030978A1. Автор: Yong Kil CHOI. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

Measuring method and device

Номер патента: EP3780276A1. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Measuring system, measuring device, and measuring method

Номер патента: US20230375371A1. Автор: Takayuki Hatanaka,Norihiko Amikura,Kimihiro Yokoyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Probe extension system, measurement system and probe extension method

Номер патента: US20220146551A1. Автор: Alexander Kunze,Martin Peschke,Stefan Ketzer,Benedikt LIPPERT. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-05-12.

Measurement system with image capture capabilities

Номер патента: US09551597B2. Автор: Glen Howard Vetter,David Lawrence Epperson. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US11125587B2. Автор: Markus GALLHAUSER,Nino VOSS,Werner Perndl,Christian Benisch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-09-21.

Measuring system and measuring method of antenna pattern based on near field to far field transformation

Номер патента: US20240329108A1. Автор: Chang-Fa Yang,Wen-Jiao Liao,Chang-Lun Liao,yuan-chang Hou,Bo-Cheng YOU,You-Hua Lin,Jiahn-Wei Lin,De-Xian Song,Tswen-Jiann Huang. Владелец: Chunghwa Telecom Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US11674978B2. Автор: Bernhard Sterzbach. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-06-13.

Null detector devices and systems employing same

Номер патента: CA3026123C. Автор: Mark Evans,Richard Timmons,Tomasz Barczyk. Владелец: Guildline Instruments Ltd. Дата публикации: 2021-01-26.

Main measurement device, secondary measurement device, measurement system and method

Номер патента: US20220231769A1. Автор: Andreas Ziegler,Michael Grimm,Detlef Schlager,Thomas Kuhwald,Andrew Schaefer,Jens Naumann,Sebastian Petzsch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-07-21.

Power measurement system and load power monitoring system using the same and operating method thereof

Номер патента: US09787248B2. Автор: Hun Park,Young Gyu Yu. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Measurement system

Номер патента: US09606188B2. Автор: Hitoshi Suzuki,Masaaki Fukumoto,Masafumi Noda,Takuya Umemura. Владелец: Makita Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Contact making and breaking device and system for measuring low current

Номер патента: US5742216A. Автор: Susumu Takagi,Hideyuki Norimatsu,Yuko Iwasaki. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1998-04-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Fluid measurement system

Номер патента: US09719829B2. Автор: Tadahiro Yasuda,Hiroshi Takakura,Kazuhiro Matsuura,Yukimasa Furukawa. Владелец: Horiba Stec Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Brdf measurement system and method, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20240133749A1. Автор: LING Li,Yanfei Wang,Sijie He,Zhifeng WU,Caihong DAI. Владелец: National Institute of Metrology. Дата публикации: 2024-04-25.

Vibronic measuring system

Номер патента: US20230341247A1. Автор: Alfred Rieder,Michael Kirst. Владелец: Endress and Hauser Flowtec AG. Дата публикации: 2023-10-26.

Measurement system, measurement management apparatus, measurement device, and measurement method

Номер патента: EP2913640A1. Автор: Hiroki Yoshino,Naoyuki Fujimoto,Masato Yamaji. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2015-09-02.

Radiation-emitting device, measuring system comprising the radiation-emitting device, and vehicle comprising the measuring system

Номер патента: US20240085563A1. Автор: Ralph Wirth,Simon Lankes,Peter Brick,Reiner Windisch,Farhang Ghasemi Afshar,Martin Hetzl. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-03-14.

A measurement device and a measurement interface having a radio communications module

Номер патента: EP4324102A1. Автор: Paul Anthony Taylor,John Anthony STYLES. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-02-21.

WATER LEVEL MEASUREMENT SYSTEM AND WATER LEVEL CONTROL SYSTEM, AND WATER LEVEL MEASUREMENT METHOD AND WATER LEVEL CONTROL METHOD USING SUCH SYSTEMS

Номер патента: US20180356221A1. Автор: SUGAKI Kiyokazu,ICHIHARA Kazuo,KUSUMOTO Shintaro. Владелец: PRODRONE CO., LTD.. Дата публикации: 2018-12-13.

Thermal radiation measuring system with a radiation measuring device and a shielded reference device

Номер патента: US4687342A. Автор: Peter Betzler,Karl-Friedrich Mast. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 1987-08-18.

Water level measurement system and water level control system, and water level measurement method and water level control method using such systems

Номер патента: US10408617B2. Автор: Kazuo Ichihara,Kiyokazu Sugaki,Shintaro KUSUMOTO. Владелец: Prodrone Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-10.

Method for determining the position of measurement locations in a measurement system

Номер патента: US20160313359A1. Автор: Wolfgang Steinebach. Владелец: SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS PRODUCTS GMBH. Дата публикации: 2016-10-27.

Medical device and oxygen concentration measurement method therefor

Номер патента: EP4425168A1. Автор: Zhiqiang Zheng,Jinglei Liu,Shiming AI,Lijin WU. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Bulletproof performance measurement system using 3 dimensional measuring instrument and bulletproof performance measurement method thereby

Номер патента: KR101129259B1. Автор: 박준호,임대영,유의상,김주혜,윤이나,조영숙. Владелец: 한국생산기술연구원. Дата публикации: 2012-03-26.

Gas measuring system with a gas measuring device and a control device and method for operating a gas measuring device by means of a control device

Номер патента: DE102015015150A1. Автор: Karsten Hiltawsky,Matthias Martens,Hans-Ulrich Hansmann,Kai EINECKE. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-06-01.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: EP4357767A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-24.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Dimension measuring device and method

Номер патента: US20190170504A1. Автор: Choong Soo Lim,Hyeong Jun Huh,Sung Joon Kwak. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-06.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20190391237A1. Автор: Katsuya Ikezawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Error measurement device of linear stage and error measurement method of linear stage

Номер патента: US20210335643A1. Автор: Chien-sheng Liu,Jie-Yu ZENG. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2021-10-28.

Neutron monitor device and neutron measurement method

Номер патента: US09733369B2. Автор: Toshiharu Takahashi,Isao Murata,Shuhei Kuri,Sachiko Doi,Hiroshi Horiike,Eiji Hoashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Mechatronics Systems Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Measuring System of Tube Inner Using Laser Light and Measuring Method Thereof

Номер патента: KR100335685B1. Автор: 고영균. Владелец: 탑전자산업 주식회사. Дата публикации: 2002-05-08.

Assembly comprising a wall and a non-contact measurement system of a deformation of the wall, and associated measurement method

Номер патента: FR3111422A1. Автор: Stephane Gaillot,Gilles Gobillot. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2021-12-17.

Radiation-emitting device, measuring system comprising the radiation-emitting device, and vehicle comprising the measuring system

Номер патента: WO2022152506A1. Автор: Ralph Wirth,Simon Lankes,Peter Brick,Reiner Windisch,Farhang Ghasemi Afshar,Martin Hetzl. Владелец: Ams-Osram International Gmbh. Дата публикации: 2022-07-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240241227A1. Автор: Takuya Yokoyama,Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method

Номер патента: US09921312B2. Автор: Haruka Takano. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring system for grouting-defect of rock-bolt and Measuring method using the same

Номер патента: KR100862028B1. Автор: 이용준,김현배,안동근,이인모. Владелец: 이인모. Дата публикации: 2008-10-07.

Measurement device, measurement system, measurement position alignment method using this, and measurement position alignment program

Номер патента: EP2720015A1. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2014-04-16.

Three coordinate micrometering head measuring system of nanometer based on Bragg grating and measurement method

Номер патента: CN106441095B. Автор: 刘芳芳,陈丽娟,夏豪杰,李红莉,王景凡. Владелец: Hefei University of Technology. Дата публикации: 2018-10-02.

Measurement device, measurement system, measurement position alignment method using this, and measurement position alignment program

Номер патента: WO2012169592A1. Автор: 秀樹 川端,明良 木島. Владелец: 株式会社プロスパークリエイティブ. Дата публикации: 2012-12-13.

Three-dimensional measurement system based on high-speed LED array and measurement method thereof

Номер патента: CN113465545B. Автор: 张蕾,陈文�,李立京,黄宏旭,孙鸣捷. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-09-20.

Molecular concentration measurement device and molecular concentration measurement method

Номер патента: US20140031649A1. Автор: Isamu Nakao. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-01-30.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method

Номер патента: US20200025604A1. Автор: Takeshi Okamoto,Koji Kawakami,Shigeki Uebayashi. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2020-01-23.

Dielectric spectroscopy measuring device and dielectric spectroscopy measuring method

Номер патента: US20240102943A1. Автор: Takuro Tajima,Masahito Nakamura,Michiko Seyama. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Gas flow measuring device and gas flow measuring method

Номер патента: US20050092099A1. Автор: Hiroshi Okuda,Akiko Kuse. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-05.

Sensor, measurement device provided therewith, sensor unit, cell culture analysis device, and liquid sample measurement method

Номер патента: US20230008595A1. Автор: Masaki Yamamoto,Shingo Otani,Seiitirou IKETANI,Masahiro Kouge,Kenta NAKAMAE,Tetsurou Takaoka. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Raman spectroscopy device and raman spectroscopy measurement method

Номер патента: US20240219236A1. Автор: Katsuya Nozawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Inner diameter measuring device and inner diameter measuring method

Номер патента: US09470509B2. Автор: Michiko Baba,Norimasa TAGA,Kouzou HASEGAWA. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: US20240241065A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20240240933A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Light interference measurement device and light interference measurement method

Номер патента: EP3978865A1. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-04-06.

Batch-type multiphase flow rate measurement device and flow rate measurement method

Номер патента: US20130247684A1. Автор: Kenji Ikeda,Michihiro Kawai,Tomoko Suda. Владелец: Japan Oil Gas and Metals National Corp. Дата публикации: 2013-09-26.

Field-deployable multiplexed smapling and monitoring device and bacterial contamination measurement method

Номер патента: EP3589932A2. Автор: Dan E. Angelescu,Andreas Hausot. Владелец: FLUIDION SAS. Дата публикации: 2020-01-08.

Field-deployable multiplexed smapling and monitoring device and bacterial contamination measurement method

Номер патента: WO2018185566A2. Автор: Dan E. Angelescu,Andreas Hausot. Владелец: FLUIDION SAS. Дата публикации: 2018-10-11.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: US20190380634A1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2019-12-19.

Air bubble measurement device and air bubble measurement method

Номер патента: CA3093896C. Автор: Shintaro Ishikawa. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2023-08-22.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US20150153301A1. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-04.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US20170023517A1. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-26.

Distance image measuring device, and distance image measuring method

Номер патента: EP4451006A1. Автор: Shoji Kawahito. Владелец: Shizuoka University NUC. Дата публикации: 2024-10-23.

Biological component measurement device and biological component measurement method

Номер патента: US12044615B2. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US09841272B2. Автор: Hideyuki Aikyo,Hideyuki Ohtake,Jun Takayanagi,Atsuo Nabeshima,Yasunari Fujisawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Photoacoustic imaging device and oxygen saturation measurement method

Номер патента: US09829479B2. Автор: Chul Hong Kim,Chang Ho Lee,Min Yong Jeon,Jee Hyun Kim,Man-Sik Jeon. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2017-11-28.

Eddy current mold level measuring device and mold level measuring method

Номер патента: US09816851B2. Автор: Fumio Koyama. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Biological information measurement device, and biological information measurement method using same

Номер патента: US09804115B2. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Rotation angle measurement device and rotation angle measurement method

Номер патента: US09778075B2. Автор: Takashi Fujita,Toru Shimizu,Nobuyuki Osawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Biological information measurement device, and biological information measurement method using same

Номер патента: US09625442B2. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Vital information measurement device and vital information measurement method employing same

Номер патента: US09482636B2. Автор: Hiroyuki Tokunaga,Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US09410916B2. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Vessel speed measurement device and vessel speed measurement method

Номер патента: EP4254010A1. Автор: Satoshi Kawanami,Masahiko Mushiake. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Ultrasonic time measurement device, and ultrasonic time measurement method

Номер патента: US20240264195A1. Автор: Hideo Kanai,Yasuyuki Masunaga,Akira Morita,Kazuhiro Koizumi,Masami Kishiro,Hojun YAMAUCHI,Shiori YAMASHITA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Conductor length measurement device and conductor length measurement method

Номер патента: US09335150B2. Автор: Toshiyasu Higuma,Naoyuki Hibara,Tomoaki Gyota. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-05-10.

Segment roundness measuring device and segment roundness measuring method

Номер патента: US09500078B2. Автор: Toshiyuki Okada. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2016-11-22.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: EP4212907A4. Автор: Hidemi Noguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Light interference measurement device and light interference measurement method

Номер патента: EP3978865A4. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-07-06.

Light amount measuring device and light amount measuring method

Номер патента: TWI480523B. Автор: Manabu Mochizuki,Shoichi Fujimori. Владелец: Pioneer FA Corp. Дата публикации: 2015-04-11.

Optical characteristic measuring device and optical characteristic measuring method

Номер патента: TW201009307A. Автор: Tsutomu Mizuguchi,Hiroyuki Sano,Hisashi Shiraiwa. Владелец: Otsuka Denshi Kk. Дата публикации: 2010-03-01.

Noninvasive arteriovenous pressure measurement device and arteriovenous pressure measurement method using measurement device

Номер патента: EP3348203A4. Автор: Hiroshi Tomoeda. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2019-04-24.

Surface shape measuring device and surface shape measuring method

Номер патента: EP3438599A4. Автор: Hikaru Masuta. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-27.

Biometric information measurement device and biometric information measurement method using same

Номер патента: EP2860518A4. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-03.

Phase difference measurement device, beam output device, and phase difference measurement method

Номер патента: EP4113759A4. Автор: Koichi Hamamoto,Shingo Nishikata,Tomoya Morioka,Hiroyuki Daigo,Noriaki Miyanaga. Владелец: Institute for Laser Technology. Дата публикации: 2023-08-16.

Optical distance-measuring device and optical distance-measuring method

Номер патента: EP4027166B1. Автор: Hidemi Noguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-07.

Light scattering measurement device and light scattering measurement method

Номер патента: EP4361595A4. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Circular dichroism measurement device and circular dichroism measurement method

Номер патента: EP3940368B1. Автор: Yoshiro Kondo,Yuichi Miyoshi. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2024-10-09.

Run-time measuring device and run-time measuring method with ambiguity solution in real time

Номер патента: CN106353768A. Автор: J·辛格,J·辛德林,雷托·施图茨,R·沃尔格南特,S·贝斯特勒. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-01-25.

High temperature densitometer device and steam quality measurement method and device

Номер патента: WO2016179054A1. Автор: Robert Moore,Brian GLEASON,Robert Peter KERR,Adam OLZICK,Bill DENZEL. Владелец: SCIENTIFIC DRILLING INTERNATIONAL, INC.. Дата публикации: 2016-11-10.

High Temperature Densitometer Device and Steam Quality Measurement Method and Device

Номер патента: US20160320280A1. Автор: Robert Moore,Brian GLEASON,Robert Peter KERR,Adam OLZICK,Bill DENZEL. Владелец: Scientific Drilling International Inc. Дата публикации: 2016-11-03.

TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD FOR PROVIDING LIGHT SPOT MARKS OF DIFFERENT COLORS

Номер патента: US20230007961A1. Автор: Yung-Chang Chang,Feng-Lien Huang. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2023-01-12.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP1486763A1. Автор: Motoya Sakano. Владелец: Zixsys Inc. Дата публикации: 2004-12-15.

Displacement measuring device and speed measuring method of drilling traction robot

Номер патента: US11781420B2. Автор: Jianguo Zhao,Guorong Wang,Qingyou Liu,Haiyan ZHU. Владелец: Chengdu Univeristy of Technology. Дата публикации: 2023-10-10.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11828882B2. Автор: Keitarou Amagawa,Yusuke Moriyama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Thz measuring device and thz measuring method for performing a measurement on a corrugated pipe

Номер патента: US20240027182A1. Автор: Arno Neumeister,Jan Hendrik Petermann. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2024-01-25.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US11835389B2. Автор: Ching-Feng Lee,Ja-Son Hu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-05.

Displacement measuring device and speed measuring method of drilling traction robot

Номер патента: US20220307367A1. Автор: Jianguo Zhao,Guorong Wang,Qingyou Liu,Haiyan ZHU. Владелец: SOUTHWEST PETROLEUM UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-09-29.

Wearable device and temperature measurement method

Номер патента: EP4224126A1. Автор: Ning Zhang,Chenlong Li,Chao Yao. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Wearable device and temperature measurement method

Номер патента: US20240172944A1. Автор: Ning Zhang,Chenlong Li,Chao Yao. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: US20240085298A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Optical resonance device, force measuring device and method, modulus measuring method and display panel

Номер патента: US20180372565A1. Автор: Dini XIE,Xiaojin Zhang,Chengsheng YU. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-27.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US8885173B2. Автор: Motoyuki Watanabe,Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-11-11.

Residual-stress measurement device and residual-stress measurement method

Номер патента: CA2962222C. Автор: Yuji Kobayashi,Akinori Matsui. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2021-06-15.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method, as well as film formation system and film formation method

Номер патента: JP2021144022A. Автор: Naoyuki Suzuki,一修 小野,正人 品田,直行 鈴木,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,環 竹山,Tamaki Takeyama,Kazunao Ono,宏昭 千早,Hiroaki Chihaya,アインシュタイン ノエル アバラ,アインシュタイン ノエル アバラ. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-09-24.

Time delay detection method and device, and fluid speed measurement method and system

Номер патента: CN111351958B. Автор: 杨叶飞. Владелец: Shanghai Huahong Jitong Smart System Co ltd. Дата публикации: 2021-11-02.

Carrier concentration measuring device and carrier concentration measuring method

Номер патента: US8446576B2. Автор: Hiromasa Ito,Seigo Ohno,Akihide Hamano. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-21.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: EP4343274A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-27.

Three-dimensional measurement device and three-dimensional measurement method

Номер патента: US11927435B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Speed measurement device and speed measurement method

Номер патента: US20200003887A1. Автор: Takafumi Matsumura,Masayuki Satou. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2020-01-02.

Component concentration measuring device and component concentration measuring method

Номер патента: US20200292424A1. Автор: Shigenobu Mitsuzawa,Tomoaki Ohashi. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Biological information measurement device, and biological informatoin measurement method using same

Номер патента: US20180128768A1. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2018-05-10.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A3. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-18.

Three-dimensional-measurement device and three-dimensional-measurement method

Номер патента: US20230345142A1. Автор: Fumikazu Warashina. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Tire groove measurement device and tire groove measurement method

Номер патента: US20220343527A1. Автор: Siyi Ren,Takaya MAEKAWA,George Lashkhia. Владелец: Toyo Tire Corp. Дата публикации: 2022-10-27.

Air bubble measuring device and air bubble measurement method

Номер патента: AU2024201964A1. Автор: Shintaro Ishikawa. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2024-04-11.

Phase shift measuring device and phase shift measuring method

Номер патента: US20230366741A1. Автор: Kyung Hyun Park,Dong Woo Park,Il Min LEE,Mugeon KIM,Jun-Hwan SHIN,Eui Su LEE,Da Hye Choi. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-11-16.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US20240125589A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichi Ohtsuka,Kazuya Iguchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-18.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: US20200124514A1. Автор: Yusuke Matsuura,Haruhisa Kato,Kaoru Kondo,Takuya TABUCHI,Kazuna BANDO. Владелец: Rion Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-23.

Radiation temperature measurement device and radiation temperature measurement method

Номер патента: EP4303547A1. Автор: Koji Tominaga,Sho Fujino. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Microscope image measuring device and microscope image measuring method

Номер патента: US11935259B2. Автор: Michinobu Mizumura. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Wire rope measuring device and wire rope measuring method

Номер патента: EP4276407A2. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2023-11-15.

Position measuring device and substrate processing apparatus including the same

Номер патента: US20220194107A1. Автор: Bo Ram Chan Sung,Dong Yun Lee,Eon Seok Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Wire rope measuring device and wire rope measuring method

Номер патента: EP4276407A3. Автор: Mitsuru Kato,Yusuke Watabe,Ryuji Onoda,Yoshiki NOTA. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2024-02-21.

Location measurement device for measuring location of target terminal in wireless communication system and location measurement method thereof

Номер патента: US11997559B2. Автор: Hi Chan Moon. Владелец: Infoseize Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Optical concentration measuring device, module for optical concentration measuring device and optical concentration measuring method

Номер патента: US20220307976A1. Автор: Edson Gomes Camargo,Shota ISSHIKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Dielectric spectroscopic measurement device and dielectric spectroscopic measurement method

Номер патента: EP4290225A1. Автор: Takuro Tajima,Masahito Nakamura,Michiko Seyama. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-12-13.

Biological component measurement device and biological component measurement method

Номер патента: US20240151636A1. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Distance measuring device and method of measuring distance by using the same

Номер патента: US20190187257A1. Автор: TATSUHIRO Otsuka,Jungwoo Kim,Heesun YOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-20.

Radiation temperature measurement device and radiation temperature measurement method

Номер патента: US20240110834A1. Автор: Koji Tominaga,Sho Fujino. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Air bubble measuring device and air bubble measurement method

Номер патента: AU2019242951B2. Автор: Shintaro Ishikawa. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2024-04-18.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method

Номер патента: EP3633327A1. Автор: Yoshinori Otsuki. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2020-04-08.

Electron microscope device and inclined hole measurement method using same

Номер патента: US20190362933A1. Автор: Yuji Takagi,Fumihiko Fukunaga,Yasunori Goto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

REFLECTIVITY MEASURING DEVICE, REFLECTIVITY MEASURING METHOD, MEMBRANE THICKNESS MEASURING DEVICE, AND MEMBRANE THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20130169968A1. Автор: Ohtsuka Kenichi,Nakano Tetsuhisa. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2013-07-04.

Field-deployable Multiplexed Sampling and Monitoring Device and Bacterial Contamination Measurement Method

Номер патента: US20180251713A1. Автор: Dan E. Angelescu,Andreas Hausot. Владелец: FLUIDION SAS. Дата публикации: 2018-09-06.

High Temperature Densitometer Device and Steam Quality Measurement Method and Device

Номер патента: US20160320280A1. Автор: Moore Robert,GLEASON Brian,KERR Robert Peter,OLZICK Adam,DENZEL Bill. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-03.

Reflectivity measuring device, reflectivity measuring method, membrane thickness measuring device and membrane thickness measuring method

Номер патента: DE112011103113T5. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2013-08-08.

Wavefront­aberration measuring device and exposure apparatus including the device, and wavefront - aberration measuring method

Номер патента: KR100817988B1. Автор: 카즈키 야마모토. Владелец: 캐논 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2008-03-31.

Reflectivity measuring device, reflectivity measuring method, membrane thickness measuring device, and membrane thickness measuring method

Номер патента: WO2012036213A1. Автор: 賢一 大塚,中野　哲寿. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2012-03-22.

Field-deployable multiplexed sampling and monitoring device and bacterial contamination measurement method

Номер патента: EP3628999A1. Автор: Dan Angelescu,Andreas Hausot. Владелец: Fluidion. Дата публикации: 2020-04-01.

Reflectivity measuring device, reflectivity measuring method, membrane thickness measuring device, and membrane thickness measuring method

Номер патента: CN103140750A. Автор: 大塚贤一,中野哲寿. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2013-06-05.

Reflectivity measuring device, reflectivity measuring method, membrane thickness measuring device, and membrane thickness measuring method

Номер патента: US8699023B2. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-04-15.

Reflectivity measurement method, membrane thickness measurement device and membrane thickness measurement method

Номер патента: DE112011103113B4. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-11-10.

Circular dichroism measurement device and circular dichroism measurement method

Номер патента: US11879833B2. Автор: Yoshiro Kondo,Yuichi Miyoshi. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2024-01-23.

Liquid viscosity measurement device and liquid viscosity measurement method

Номер патента: US20240027318A1. Автор: Futoshi Hirose,Takeshi Okada,Shinichi Sakurada,Shintaro Kasai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Biological information measurement device and biological information measurement method

Номер патента: US20190088351A1. Автор: Shinichi Takarada,Noriyoshi Terashima. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2019-03-21.

Cylinder position measuring device and cylinder position measuring method

Номер патента: US20150192152A1. Автор: Masato Kageyama,Yuuki Yokoyama. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2015-07-09.

Wind speed measuring device and wind speed measuring method

Номер патента: US11835544B2. Автор: Naoya Haneda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Electrode assembly external diameter measurement device and external diameter measurement method

Номер патента: EP4339555A1. Автор: Min Ki Kim,Hyeok Soon Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-03-20.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: US20230400557A1. Автор: Hidemi Noguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Stress luminescence measurement device and stress luminescence measurement method

Номер патента: US20210356400A1. Автор: Naoya Fujiwara,Hiroaki Tsushima,Momoyo YAMAKAWA,Kenta Adachi,Yusuke Yokoi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Strain change measuring device and strain change measuring method

Номер патента: US20230288191A1. Автор: Shingo Ono,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Yoshifumi Wakisaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Wear amount measuring device and wear amount measuring method

Номер патента: US11162899B2. Автор: Chie Toyoda,Toshiyuki Teshima. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2021-11-02.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20180045506A1. Автор: Katsuichi Kitagawa,Masafumi Otsuki. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Substrate height measuring device and substrate height measuring method

Номер патента: EP4120814A1. Автор: Tomohiro Yamazaki. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2023-01-18.

Wear amount measuring device and wear amount measuring method

Номер патента: US20200300758A1. Автор: Chie Toyoda,Toshiyuki Teshima. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Dryness fraction measuring device and dryness fraction measuring method

Номер патента: US20120147375A1. Автор: Giichi Nishino. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

CONDUCTOR LENGTH MEASUREMENT DEVICE AND CONDUCTOR LENGTH MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130134991A1. Автор: Gyota Tomoaki,Higuma Toshiyasu,Hibara Naoyuki. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2013-05-30.

REFRACTIVE INDEX MEASURING DEVICE AND REFRACTIVE INDEX MEASURING METHOD

Номер патента: US20130182245A1. Автор: Ishida Takeshi,YASUNAGA Hirotoshi,Yamabuchi Koji. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-07-18.

CHROMATIC DISPERSION MEASUREMENT DEVICE AND CHROMATIC DISPERSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20130229662A1. Автор: OGAWA Kensuke. Владелец: FUJIKURA LTD.. Дата публикации: 2013-09-05.

BATCH-TYPE MULTIPHASE FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130247684A1. Автор: Ikeda Kenji,Kawai Michihiro,Suda Tomoko. Владелец: JAPAN OIL, GAS AND METALS NATIONAL CORPORATION. Дата публикации: 2013-09-26.

OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130335740A1. Автор: Ishimaru Ichiro. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KAGAWA UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-12-19.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD FOR FLOW RATE CONTROLLER FOR GAS SUPPLY DEVICE

Номер патента: US20140013838A1. Автор: Ikeda Nobukazu,Sawada Yohei,Nagase Masaaki,Nishino Kouji,Dohi Ryousuke. Владелец: FUJIKIN INCORPORATED. Дата публикации: 2014-01-16.

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20140022564A1. Автор: YAMAMOTO Takeshi,YAMADA Takeo,KAWAI Shingo. Владелец: NIRECO CORPORATION. Дата публикации: 2014-01-23.

PHOTOACOUSTIC IMAGING DEVICE AND OXYGEN SATURATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160003801A1. Автор: LEE Chang Ho,Kim Chul Hong,Kim Jee Hyun,JEON Man-Sik,JEON Min Yong. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-07.

WIRE ROPE MEASURING DEVICE AND WIRE ROPE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200003549A1. Автор: Takeuchi Takashi,KATO Mitsuru,Tanaka Hirotomo,Nota Yoshiki,Watabe Yusuke,Onoda Ryuji. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

Air bubble measurement device and air bubble measurement method

Номер патента: US20210010917A1. Автор: Shintaro Ishikawa. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2021-01-14.

APERTURE MEASURING DEVICE AND AN APERTURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20190017800A1. Автор: WANG JIE,Chen Haifeng,Guo Ruwang,LI Dingyuan. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-17.

Environmental Characteristic Measurement Device and Environmental Characteristic Measurement Method

Номер патента: US20210018343A1. Автор: Takahashi Hiroshi,MANABE Tetsuya,TOGE Kunihiro,Oda Tomokazu. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

BODY TEMPERATURE MEASURING PROBE, BODY TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND BODY TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220039663A1. Автор: Zhang Xu,Ye Jilun. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-10.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20170023517A1. Автор: YOSHIOKA Eriko. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-26.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200025604A1. Автор: Okamoto Takeshi,Kawakami Koji,UEBAYASHI Shigeki. Владелец: SATAKE CORPORATION. Дата публикации: 2020-01-23.

EDDY CURRENT MOLD LEVEL MEASURING DEVICE AND MOLD LEVEL MEASURING METHOD

Номер патента: US20160033318A1. Автор: KOYAMA Fumio. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

Rotation Angle Measurement Device and Rotation Angle Measurement Method

Номер патента: US20150036144A1. Автор: FUJITA Takashi,Shimizu Toru,Osawa Nobuyuki. Владелец: Tokyo Seimitsu Co., Ltd.. Дата публикации: 2015-02-05.

SORPTION EXOTHERMICITY MEASUREMENT DEVICE AND SORPTION EXOTHERMICITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150037894A1. Автор: SAITO Toshinobu,Kuramoto Kanya. Владелец: Kaken Test Center. Дата публикации: 2015-02-05.

SPECTRAL CHARACTERISTICS MEASUREMENT DEVICE AND SPECTRAL CHARACTERISTICS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150043001A1. Автор: Ishimaru Ichiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180045506A1. Автор: KITAGAWA Katsuichi,OTSUKI Masafumi. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-15.

Biological information measurement device, and biological information measurement method using same

Номер патента: US20150059448A1. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220082374A1. Автор: Ohyama Tsuyoshi,Sakaida Norihiko,Okuda Manabu. Владелец: CKD CORPORATION. Дата публикации: 2022-03-17.

OPTICAL PARAMETER MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL PARAMETER MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190063992A1. Автор: Li Xing,WU Zhen,Liu Yingying,LIAO Yongjun,MA Huijun. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

COLOR PARAMETER MEASUREMENT DEVICE AND COLOR PARAMETER MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190063995A1. Автор: Li Xing,WU Zhen,Liu Yingying,LIAO Yongjun,MA Huijun. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20160069673A1. Автор: NABESHIMA Atsuo,TAKAYANAGI Jun,OHTAKE Hideyuki,AIKYO Hideyuki,FUJISAWA Yasunari. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2016-03-10.

OPTICAL CHARACTERISTICS MEASURING DEVICE AND OPTICAL CHARACTERISTICS MEASURING METHOD

Номер патента: US20200064279A1. Автор: Hoshino Ken. Владелец: Toshiba Memory Corporation. Дата публикации: 2020-02-27.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190088351A1. Автор: TERASHIMA Noriyoshi,TAKARADA Shinichi. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-21.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220146524A1. Автор: TERASHIMA Noriyoshi,NADAOKA Masataka. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-12.

ATTACHMENT FOR LIQUID SAMPLE MEASUREMENT, REFRACTIVE INDEX MEASURING DEVICE AND REFRACTIVE INDEX MEASURING METHOD

Номер патента: US20190094138A1. Автор: Nagai Tetsuya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-28.

REFRACTIVE INDEX MEASURING DEVICE AND REFRACTIVE INDEX MEASURING METHOD

Номер патента: US20190094139A1. Автор: Nagai Tetsuya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-28.

Grease property measurement device and grease property measurement method

Номер патента: US20200096427A1. Автор: Hirotaka Yasuda. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: US20160108451A1. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-21.

GAMMA-RAY MEASUREMENT DEVICE AND GAMMA-RAY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170108591A1. Автор: Horiike Hiroshi,Hoashi Eiji,Murata Isao,KURI Shuhei,TAKAHASHI Toshiharu,DOI Sachiko. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-20.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200103265A1. Автор: Otsuki Yoshinori. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2020-04-02.

Inner Diameter Measuring Device and Inner Diameter Measuring Method

Номер патента: US20150131109A1. Автор: Baba Michiko,Hasegawa Kouzou,Taga Norimasa. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-14.

Depth map measuring device and depth map measuring method

Номер патента: US20190120966A1. Автор: Katsuhiko Kimura,Naoya Matsuura,Kazuhiro Todori. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2019-04-25.

BLOOD COMPONENT MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD COMPONENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180127795A1. Автор: FUJIWARA Masaki,YAMAMOTO Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE, AND BIOLOGICAL INFORMATOIN MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20180128768A1. Автор: SHINNO Teppei,HIRONAKA Shouko. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220276037A1. Автор: SEKIMOTO Michihiro. Владелец: Tokyo Seimitsu Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-09-01.

OH RADICAL MEASURING DEVICE AND OH RADICAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20210164909A1. Автор: Takahashi Katsumi,KURATA Takao,HAYAKAWA Tsutomu. Владелец: IHI CORPORATION. Дата публикации: 2021-06-03.

Charged Particle Beam Device and Sample Thickness Measurement Method

Номер патента: US20200132448A1. Автор: Sato Takahiro,Nomaguchi Tsunenori. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

MICROSCOPE IMAGE MEASURING DEVICE AND MICROSCOPE IMAGE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220284614A1. Автор: MIZUMURA Michinobu. Владелец: V TECHNOLOGY CO., LTD.. Дата публикации: 2022-09-08.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20150153301A1. Автор: YOSHIOKA Eriko. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-04.

OPTICAL-CHARACTERISTICS MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL-CHARACTERISTICS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160153903A1. Автор: ONO Shuji. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2016-06-02.

DIFFERENTIAL PRESSURE FLOW METER, EXHAUST GAS ANALYSIS DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180164185A1. Автор: FUKAMI Shun. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2018-06-14.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE, FUEL EFFICIENCY MEASUREMENT DEVICE, PROGRAM FOR FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170167372A1. Автор: Akita Masanobu. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2017-06-15.

OPTICAL CONCENTRATION MEASURING DEVICE, MODULE FOR OPTICAL CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND OPTICAL CONCENTRATION MEASURING METHOD

Номер патента: US20220307976A1. Автор: ISSHIKI Shota,CAMARGO Edson Gomes. Владелец: ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-29.

X-RAY DEVICE AND X-RAY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150179293A1. Автор: Mukaide Taihei. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

CALORIFIC VALUE MEASURING DEVICE AND CALORIFIC VALUE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180180493A1. Автор: KOJIMA Kenichi,Ishiguro Tomoo. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-28.

SCATTERING ABSORBER MEASUREMENT DEVICE AND SCATTERING ABSORBER MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180180539A1. Автор: SUZUKI Hiroaki,Suzuki Toshihiko,Yamaki Etsuko,ODA Motoki,HOMMA Shu. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2018-06-28.

CYLINDER POSITION MEASURING DEVICE AND CYLINDER POSITION MEASURING METHOD

Номер патента: US20150192152A1. Автор: Kageyama Masato,Yokoyama Yuuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-09.

SURFACE FLATNESS MEASURING DEVICE AND SURFACE FLATNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20200200527A1. Автор: ZHANG Jinpeng. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-06-25.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170219400A1. Автор: TANAKA Katsuhiko,TSUKADA Keisuke,UMEZAWA Shuichi,YOKOSAKA Masaki,MIYAUCHI Ryoji,KAWAGUCHI Tatsuya,KIKURA Hiroshige,TSUZUKI Nobuyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

WATER QUALITY MEASUREMENT DEVICE AND WATER QUALITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200207643A1. Автор: YAHATA Masahito,MASUDA Yuichi,KATAOKA Tatsuya. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-02.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200209022A1. Автор: Suzuki Hiroshi,Nakaya Mitsuyoshi,Kobata Iwao. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-02.

THREE-DIMENSIONAL MEASURMENT DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL MEASURMENT METHOD

Номер патента: US20150233699A1. Автор: Huang Yung-Sheng. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method

Номер патента: US20150241564A1. Автор: Haruka Takano. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-27.

Rotation Angle Measurement Device and Rotation Angle Measurement Method

Номер патента: US20160238413A1. Автор: FUJITA Takashi,Shimizu Toru,Osawa Nobuyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-18.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE, AND BIOLOGICAL INFORMATOIN MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20170234824A1. Автор: SHINNO Teppei,HIRONAKA Shouko. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-17.

NONINVESIVE ARTERIOVENOUS PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND ARTERIOVENOUS PRESSURE MEASUREMENT METHOD USING THE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20180242945A1. Автор: Tomoeda Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-30.

OPTICAL ELEMENT, TRANSMISSION PROBE, SAMPLE CONTAINER, OPTICAL DEVICE, AND IMMERSION TRANSMISSION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160266039A1. Автор: SUZUKI Yasuyuki,Nakamura Yukihiro,Namatame Tetsushi. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2016-09-15.

PRESSURE CHANGE MEASUREMENT DEVICE, ALTITUDE MEASUREMENT DEVICE, AND PRESSURE CHANGE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170276563A1. Автор: OUMI Manabu,UCHIYAMA Takeshi,Shinohara Yoko,SUDA Masayuki,KAIHO Yoshiyuki,NOBE Ayako. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-28.

STRESS LUMINESCENCE MEASUREMENT DEVICE AND STRESS LUMINESCENCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210356400A1. Автор: Fujiwara Naoya,TSUSHIMA Hiroaki,YOKOI Yusuke,Adachi Kenta,YAMAKAWA Momoyo. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-18.

Charged Particle Beam Device and Overlay Misalignment Measurement Method

Номер патента: US20150287569A1. Автор: Yamamoto Takuma,TANIMOTO Kenji,Funakoshi Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

TERMINAL POSITION MEASURING DEVICE AND TERMINAL POSITION MEASURING METHOD

Номер патента: US20200267504A1. Автор: KIM Chong Won. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-20.

Ultrasonic Wave Measuring Device And Ultrasonic Wave Measuring Method

Номер патента: US20200271779A1. Автор: ONOGI Tomohide,ARAI Yoshio. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

OPTICAL DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210396881A1. Автор: Maeda Shunji. Владелец: . Дата публикации: 2021-12-23.

DISTANCE IMAGE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE IMAGE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200278194A1. Автор: Kawahito Shoji. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

SEGMENT ROUNDNESS MEASURING DEVICE AND SEGMENT ROUNDNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20150308268A1. Автор: OKADA Toshiyuki. Владелец: HITACHI ZOSEN CORPORATION. Дата публикации: 2015-10-29.

OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE AND OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING METHOD

Номер патента: US20200284717A1. Автор: Ishimaru Ichiro. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KAGAWA UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-09-10.

COMPONENT CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND COMPONENT CONCENTRATION MEASURING METHOD

Номер патента: US20200292424A1. Автор: Mitsuzawa Shigenobu,OHASHI Tomoaki. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-17.

OPTICAL RESPONSE MEASURING DEVICE AND OPTICAL RESPONSE MEASURING METHOD

Номер патента: US20170307515A1. Автор: ITO Hiromasa,QI Feng,Minamide Hiroaki,Nawata Kouji,FAN Shuzhen. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-26.

TOOL SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND TOOL SHAPE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160318145A1. Автор: WATANABE Shintaro,Takahashi Nobuyuki,Domae Yukiyasu,KAWANISHI Ryosuke. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2016-11-03.

WEAR AMOUNT MEASURING DEVICE AND WEAR AMOUNT MEASURING METHOD

Номер патента: US20200300758A1. Автор: TOYODA Chie,TESHIMA Toshiyuki. Владелец: JTEKT CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-24.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD THEREBY

Номер патента: US20200309575A1. Автор: PARK Joon Young,Park Jo Anne. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

TROLLEY-WIRE MEASUREMENT DEVICE AND TROLLEY-WIRE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180328714A1. Автор: KAMEI Katsuyuki,IRIE Megumi. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2018-11-15.

ELECTRONIC DEVICE AND ULTRAVIOLET LIGHT MEASURING METHOD THEREFOR

Номер патента: US20190346306A1. Автор: CHUN Jae-Bong,HA Jung-su,JEONG In-Jo,SUH Haebahremahram. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

BALLAST WATER MEASUREMENT DEVICE AND BALLAST WATER MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190359509A1. Автор: YAGI Minoru,FUKUZAWA Kotaro,HARADA Kaname,TSUNODA Kazuhiko. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-28.

MEDICAL COORDINATE MEASURING DEVICE AND MEDICAL COORDINATE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180368919A1. Автор: Pfeifer Tobias,Broers Holger. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND INCLINED HOLE MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20190362933A1. Автор: Goto Yasunori,Takagi Yuji,FUKUNAGA Fumihiko. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-28.

THERMAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT DEVICE AND THERMAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190369038A1. Автор: Nakajima Dai,SANDA Yasuyuki,TADA Haruna. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2019-12-05.

OH RADICAL DETECTION PROBE, OH RADICAL MEASUREMENT DEVICE, AND OH RADICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190376903A1. Автор: Sakamoto Kazuyuki,Takahashi Katsumi,KURATA Takao. Владелец: IHI CORPORATION. Дата публикации: 2019-12-12.

BRAIN FUNCTION MEASUREMENT DEVICE AND BRAIN FUNCTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190380634A1. Автор: YAMADA Toru. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-19.

Surface Shape Measurement Device and Surface Shape Measurement Method

Номер патента: US20220349699A1. Автор: Sato Kunihiro. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-03.

Trolley wire measuring device and trolley wire measuring method

Номер патента: JP6223601B1. Автор: 恵 入江,克之 亀井. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-01.

Specimen thickness measuring device and Specimen Thickness Measuring Method

Номер патента: KR102075356B9. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2021-09-17.

Tire wear measuring device and tire wear measuring method using the same

Номер патента: CN112590465B. Автор: 金珉泰,李浩宗,崔世凡,郑多率,李种协. Владелец: Hankook Tire and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-16.

A kind of heat exchange pipe head pressure testing device and its pressure-measuring method

Номер патента: CN109163850A. Автор: 李小芹,朱恩荣. Владелец: Jiangsu Jinmen Energy Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-08.

Refractive index measuring device and refractive index measuring method

Номер патента: JP2019060713A. Автор: 徹也 永井,Tetsuya Nagai. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-04-18.

Optical image measuring device and optical image measuring method

Номер патента: JP4597744B2. Автор: 康文 福間,キンプイ チャン,正博 秋葉. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2010-12-15.

Laser ultrasonic measuring device and laser ultrasonic measuring method

Номер патента: KR100994037B1. Автор: 박현철,허형준,임충수,강명구,야수아키 나가타,쇼헤이 하시구찌,나오야 하마다,히로히사 야마다,오기장. Владелец: 니뽄스틸코포레이션. Дата публикации: 2010-11-12.

Light quantity measuring device and light quantity measuring method

Номер патента: JP5108574B2. Автор: 正 千葉. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-26.

Segment roundness measuring device and segment roundness measuring method

Номер патента: KR102039580B1. Автор: 도시유키 오카다. Владелец: 히다치 조센 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-11-01.

Specimen thickness measuring device and Specimen Thickness Measuring Method

Номер патента: KR102075356B1. Автор: 김학성,박동운,오경환. Владелец: 한양대학교 산학협력단. Дата публикации: 2020-02-10.

Refractive index measuring device and refractive index measuring method

Номер патента: JPWO2012036075A1. Автор: 浩二 山渕,壮史 石田,博敏 安永,山渕　浩二. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2014-02-03.

Component concentration measurement device and component concentration measurement method

Номер патента: WO2019203110A1. Автор: 昌人 中村,卓郎 田島,倫子 瀬山. Владелец: 日本電信電話株式会社. Дата публикации: 2019-10-24.

Temperature distribution measuring device and temperature distribution measuring method

Номер патента: JPWO2013024525A1. Автор: 文雄 武井,石鍋　稔,稔 石鍋,和史 宇野,丈夫 笠嶋,宇野　和史,恭子 只木,武井　文雄. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

Physical quantity measuring device and physical quantity measuring method provided integrally with flow measuring device

Номер патента: JP5933782B1. Автор: 有吉　雄二,雄二 有吉,正浩 河合,慎一郎 樋▲高▼,考司 谷本,谷本　考司. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-06-15.

Liquid level measuring device and liquid level measuring method for pressure difference type gas storage

Номер патента: CN111380589B. Автор: 刘昶,陈庆,李红斌,胡皓然,杨思谛,余沐阳. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-07-27.

Segment roundness measuring device and segment roundness measuring method

Номер патента: CN104903679A. Автор: 冈田利幸. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2015-09-09.

Internet of things MEMS (micro-electromechanical systems) thermal mass gas meter system device and gas flow measuring method

Номер патента: CN110672172A. Автор: 韩怀成,初勇,兰玉明. Владелец: Liaoning Scaler Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-10.

Optical rotation measuring device and optical rotation measuring method

Номер патента: JPWO2010100766A1. Автор: 博 梶岡,裕作 鳥取. Владелец: GLOBAL FIBEROPTICS,LTD.. Дата публикации: 2012-09-06.

Circumferential magnetization non-contact torque / power detection device and torque / power measurement method using the same

Номер патента: JP2992351B2. Автор: ジェイ．ガーシェリス イヴァン. Владелец: MAGUNA RASUTEITSUKU DEBAISHIIZU Inc. Дата публикации: 1999-12-20.

SURFACE PROFILE MEASURING DEVICE AND SURFACE PROFILE MEASURING METHOD

Номер патента: JP7231946B2. Автор: 邦弘 佐藤. Владелец: University of Hyogo. Дата публикации: 2023-03-02.

Spherical object position measuring device and launch angle measuring method

Номер патента: JP2626964B2. Автор: 哲司 西山,隆司 寺口. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 1997-07-02.

Physical quantity measurement device and physical quantity measurement method

Номер патента: KR101267163B1. Автор: 도우루 기따무라,노리히꼬 미꼬시바. Владелец: 아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2013-05-24.

Portable optical particle sensor device and corresponding particle measurement method

Номер патента: DE102018214936A1. Автор: Stefan Weiss,Alexander Herrmann,Matthias Michelsburg. Владелец: Trumpf Photonic Components GmbH. Дата публикации: 2020-03-05.

Attachment for liquid sample measurement, refractive index measuring device and refractive index measuring method

Номер патента: US10393651B2. Автор: Tetsuya Nagai. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-08-27.

Optical characteristic measuring device and optical characteristic measuring method

Номер патента: JP6658517B2. Автор: 克敏 ▲鶴▼谷. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-03-04.

Scattering absorber measurement device and scattering absorber measurement method

Номер патента: EP3315943A1. Автор: Hiroaki Suzuki,Toshihiko Suzuki,Etsuko Yamaki,Shu HOMMA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2018-05-02.

Light quantity measuring device and light quantity measuring method

Номер патента: CN109579985B. Автор: 森大辅,谷口二郎. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2021-10-22.

Gas volume measuring device and gas volume measuring method

Номер патента: CN108151821B. Автор: 张鹏,张超,鄢志丹,李怀玉,孙合辉,宋长虹. Владелец: China University of Petroleum East China. Дата публикации: 2019-09-13.

Tool shape measurement device and tool shape measurement method

Номер патента: WO2015111200A1. Автор: 宣行 高橋,信太郎 渡邉,幸康 堂前,亮輔 川西. Владелец: 三菱電機株式会社. Дата публикации: 2015-07-30.

Residual stress measuring device and residual stress measuring method

Номер патента: CN107923857B. Автор: 松井彰则,小林祐次. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2020-05-08.

Intracellular reaction measuring device and intracellular reaction measuring method

Номер патента: JP4429577B2. Автор: 義太郎 中野,隆之 菅,祐治 今泉. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-03-10.

Illumination light path, defect detection device and light intensity measurement method

Номер патента: CN113008798A. Автор: 张雨茜,敖海林. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-06-22.

Heat conduction measuring device and heat conduction measuring method

Номер патента: EP2418477A1. Автор: Hirokazu Tanaka,Tetsuro Ogushi,Takuya Hirata,Yasutoshi Nakagawa. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2012-02-15.

Light quantity measuring device and light quantity measuring method

Номер патента: WO2014020713A1. Автор: 望月　学,昭一 藤森. Владелец: 株式会社パイオニアＦａ. Дата публикации: 2014-02-06.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method thereby

Номер патента: EP3730904A4. Автор: Joon Young Park. Владелец: Yu Hae Soo. Дата публикации: 2021-08-25.

Dew stone runoff collecting device and runoff coefficient measuring method

Номер патента: CN110346363B. Автор: 于洋,秦伟,李柏,殷哲,郭乾坤,单志杰,左长清. Владелец: China Institute of Water Resources and Hydropower Research. Дата публикации: 2020-05-05.

Three-dimensional measuring device, electronic component mounting device, and three-dimensional measuring method

Номер патента: JP7215826B2. Автор: 大輔 千賀. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2023-01-31.

Physical size measuring device mounted integrally with a flow rate measuring device and physical size measuring method

Номер патента: DE102015221958A1. Автор: Koji Tanimoto,Yuji Ariyoshi,Masahiro Kawai,Shinichiro Hidaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Spectral reflectance measuring device, film thickness measuring device, and spectral reflectance measuring method

Номер патента: JP4323991B2. Автор: 教之 近藤,博己 藤本,栄治 西原. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-02.

Ultrasonic flow measuring device and ultrasonic flow measuring method

Номер патента: JP4875780B2. Автор: 清 小谷野. Владелец: Izumi Giken KK. Дата публикации: 2012-02-15.

Eddy current mold level measuring device and mold level measuring method

Номер патента: EP2980538A1. Автор: Fumio Koyama. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2016-02-03.

Infrared moisture measuring device and infrared moisture measuring method

Номер патента: KR970066557A. Автор: 야스오 사이토,겐지 고니시,스스무 우치다,료이치 이시이. Владелец: 니혼 타바코 산교오 가부시키가이샤. Дата публикации: 1997-10-13.

Radar device and position / orientation measurement method

Номер патента: JP6861919B2. Автор: 貴博 橋本,孝行 中西,健矢 清水. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-21.

Tread depth sensing device and tread depth measuring method

Номер патента: EP2009389A1. Автор: Robert Edward Lionetti,Joseph Carmine Lettieri,Anthony William Parsons. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2008-12-31.

Residual stress measuring device and residual stress measuring method

Номер патента: JP6394513B2. Автор: 祐次 小林,彰則 松井. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-09-26.

Torque coefficient measuring device and torque coefficient measuring method

Номер патента: CN113533082B. Автор: 费庆国,李彦斌,张培伟,何顶顶. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-06-02.

Surface shape measuring device, defect determination device, and surface shape measuring method

Номер патента: JP6671938B2. Автор: 正行 西脇. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-03-25.

Material level measuring device and material level measuring method

Номер патента: CN107782403B. Автор: 张建华,林志远,林驰前,张哲平,陈巧娟,苏碧香,罗育敏,李宏桢. Владелец: LONJING ENVIRONMENT TECHNOLOGY CO LTD. Дата публикации: 2020-09-29.

Circumferential clearance measuring device and circumferential clearance measuring method

Номер патента: CN111336978A. Автор: 刘树林,蔡明元,余江里. Владелец: Nanjing Tops Automation Equipment Co ltd. Дата публикации: 2020-06-26.

Three-dimensional measurement device and three-dimensional measurement method

Номер патента: US7009690B2. Автор: Hiroshi Uchino,Toshio Norita,Koichi Kamon. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2006-03-07.

Conductor length measurement device and conductor length measurement method

Номер патента: CN103069248A. Автор: 樋熊利康,樋原直之,行田知晃. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-04-24.

Optical element, transmission probe, sample container, optical device, and immersion transmission measurement method

Номер патента: EP3067686A1. Автор: Yasuyuki Suzuki,Yukihiro Nakamura,Tetsushi Namatame. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2016-09-14.

Optical image measuring device and optical image measuring method

Номер патента: JP4566685B2. Автор: 康文 福間,キンプイ チャン,浩之 大塚,和彦 弓掛,正博 秋葉,央 塚田. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2010-10-20.

Internal temperature measuring device, wrist-mounted device and internal temperature measuring method

Номер патента: JP6763142B2. Автор: 陽 池田,和弘 西田,興子 清水,西田　和弘. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-09-30.

Particle size measuring device and particle size measuring method

Номер патента: WO2011045961A1. Автор: 幹也 荒木,晃暢 江端,尊道 井上,聖一 志賀. Владелец: 国立大学法人群馬大学. Дата публикации: 2011-04-21.

Fine particle measuring device and fine particle measuring method

Номер патента: US11378510B2. Автор: Katsutoshi Tahara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2022-07-05.

Ultrasonic wind measuring device and ultrasonic wind measuring method

Номер патента: CN103995146A. Автор: 王晓敬. Владелец: Beijing Ai Xinde Science And Technology Ltd. Дата публикации: 2014-08-20.

Radar device and target angle measurement method

Номер патента: JPWO2020044442A1. Автор: 聡宏 伊藤. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Spectral characteristics measurement device and spectral characteristics measurement method

Номер патента: US9474476B2. Автор: Ichiro Ishimaru. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2016-10-25.

Environmental characteristic measuring device and environmental characteristic measuring method

Номер патента: JP6888579B2. Автор: 央 高橋,邦弘 戸毛,哲也 真鍋,真鍋　哲也,友和 小田. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-06-16.

A kind of electromagnetic thickness measuring device and its thickness measuring method

Номер патента: CN109253689A. Автор: 李�浩,徐丹,缪斌,陈荣华,张耀丰,瞿峥. Владелец: NANJING JIAYE TESTING ENGINEERING Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-22.

Static pressure measurement device and flow velocity measuring method in a kind of complex flowfield

Номер патента: CN106546374A. Автор: 王迎,张震,闫晓,昝元锋. Владелец: Nuclear Power Institute of China. Дата публикации: 2017-03-29.

Physical amount measuring device and physical amount measuring method

Номер патента: CN101680760A. Автор: 山下昌哉,北村彻. Владелец: Asahi Kasei EMD Corp. Дата публикации: 2010-03-24.

Circular dichroism measurement device and circular dichroism measurement method

Номер патента: US20220155218A1. Автор: Yoshiro Kondo,Yuichi Miyoshi. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2022-05-19.

Laser scanning microscope device and surface profile measuring method thereof

Номер патента: KR101073212B1. Автор: 아끼히로 후지이. Владелец: 올림푸스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2011-10-12.

Vital information measurement device and vital information measurement method employing same

Номер патента: EP2634569A4. Автор: Hiroyuki Tokunaga,Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-27.

Residual-stress measurement device and residual-stress measurement method.

Номер патента: MX2017007480A. Автор: KOBAYASHI Yuji,Matsui Akinori. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-03-28.

Quantum efficiency measuring device and quantum efficiency measuring method

Номер патента: EP2315003B1. Автор: Kazuaki Ohkubo. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-29.

Differential pressure measuring device and differential pressure measuring method for limestone wet desulphurization demister

Номер патента: CN110567635A. Автор: 杨保平,张晶勇. Владелец: Beijing Guodian Longyuan Environmental Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-13.

Radiation temperature measuring device and radiation temperature measuring method

Номер патента: JP5103835B2. Автор: 達樹 岡本,裕之 河野,和夫 高嶋,利郎 中島. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2012-12-19.

Eddy current mold level measuring device and mold level measuring method

Номер патента: TW201606270A. Автор: 小山文雄. Владелец: 尼力克股份有限公司. Дата публикации: 2016-02-16.

Residual-stress measurement device and residual-stress measurement method

Номер патента: CA2962222A1. Автор: Yuji Kobayashi,Akinori Matsui. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2016-12-22.

Inside-diameter measurement device and inside-diameter measurement method

Номер патента: WO2013118918A1. Автор: 幸三 長谷川,道子 馬場,宣昌 多賀. Владелец: 株式会社Ihi. Дата публикации: 2013-08-15.

Texture material measuring device and texture material measuring method

Номер патента: KR101148750B1. Автор: 미츠히코 사노,카즈히로 오하라,히로유키 이마나리,마사시 츠게노,카즈토시 키타고오. Владелец: 도시바 미쓰비시덴키 산교시스템 가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-05-22.

Soil body mutual embedding measuring device and mutual embedding measuring method thereof

Номер патента: CN109001105B. Автор: 胡明涛,张福海,王远航,周天宝,施海建,袁明月,段丽军. Владелец: Hohai University HHU. Дата публикации: 2021-05-25.

Rocket engine thrust vector measuring device and thrust vector measuring method

Номер патента: CN114858334A. Автор: 周闯,蔡国飙,俞南嘉,龚昊杰,师浩然,焦博威. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-08-05.

Tire wear measuring device and tire wear measuring method using the same

Номер патента: CN112590465A. Автор: 金珉泰,李浩宗,崔世凡,郑多率,李种协. Владелец: Hankook Tire and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-02.

Optical frequency measuring device and optical frequency measuring method

Номер патента: JP4500809B2. Автор: 尚治 仁木. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-07-14.

Flow rate measuring device and flow rate measuring method using the same

Номер патента: CN111492207A. Автор: 朴准永. Владелец: Liu Haishou. Дата публикации: 2020-08-04.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: JPWO2004110275A1. Автор: 中山　浩,浩 中山. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2006-07-27.

Light amount measurement device and light amount measurement method

Номер патента: US20070081149A1. Автор: Koji Nakajima,Noboru Kobayashi,Hiroyuki Nagahama,Masayuki Hideshima,Riki Ogawa. Владелец: Advanced Mask Inspection Technology Inc. Дата публикации: 2007-04-12.

Wavelength dispersion measuring device and wavelength dispersion measuring method using same

Номер патента: CN103261868A. Автор: 小川宪介. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2013-08-21.

Optical rotation measuring device and optical rotation measuring method

Номер патента: WO2010100766A1. Автор: 鳥取裕作,梶岡博. Владелец: 有限会社グローバルファイバオプティックス. Дата публикации: 2010-09-10.

Phase difference measurement device, beam output device, and phase difference measurement method

Номер патента: WO2021199737A1. Автор: 浩一 濱本,宮永　憲明,伸吾 西方,朋也 森岡,浩之 醍醐. Владелец: 公益財団法人レーザー技術総合研究所. Дата публикации: 2021-10-07.

Curing degree measuring device and curing degree measuring method

Номер патента: CN105675552B. Автор: 古贺晶子. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2020-03-06.

Measuring device and optical parameter measuring method

Номер патента: CN111678677B. Автор: 李潇,张韦韪,朱建雄. Владелец: Shenzhen Huynew Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-08-05.

Structure height measuring device and structure height measuring method

Номер патента: DE102012101391A1. Автор: Tsutomu Murakawa,Isao Yonekura,Hidemitsu Hakii. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-08-30.

Refractive index measuring device and refractive index measuring method

Номер патента: US8947650B2. Автор: Takeshi Ishida,Hirotoshi Yasunaga,Koji Yamabuchi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2015-02-03.

Water level measuring device and water level measuring method

Номер патента: WO2008038510A1. Автор: Hideki Matsunaga,Shinji Kumazawa,Katsunori Yazawa,Masayuki Motomura. Владелец: NISSAN DIESEL MOTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2008-04-03.

Thermal conductivity measuring device and thermal conductivity measuring method

Номер патента: CN110168356B. Автор: 中岛泰,多田晴菜,三田泰之. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-08-02.

Axle load measuring device and axle load measuring method

Номер патента: CN101900600A. Автор: 川崎洋辅,西田秀志. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2010-12-01.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US8736851B2. Автор: Takeshi Yamamoto,Takeo Yamada,Shingo Kawai. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2014-05-27.

Biological light measurement device and biological light measurement method using the same

Номер патента: JP5567672B2. Автор: 卓成 桂,雅史 木口,倫行 藤原,司 舟根,洋和 敦森,毅 高寺. Владелец: Hitachi Medical Corp. Дата публикации: 2014-08-06.

OH radical detection probe, OH radical measuring device, and OH radical measuring method

Номер патента: JP6816816B2. Автор: 孝男 倉田,和之 坂本,克巳 高橋,坂本　和之,高橋　克巳. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

Spectral reflectivity measuring device and spectral reflectivity measuring method

Номер патента: WO2011142295A1. Автор: 直哉 太田. Владелец: 国立大学法人群馬大学. Дата публикации: 2011-11-17.

Thermal characterization measurement device and thermal characterization measurement method using same

Номер патента: EP3557234A4. Автор: Kunio Mori,Nobumasa Kimura,Takeshi Bessho. Владелец: Sulfur Chemical Laboratory Inc. Дата публикации: 2020-04-29.

Optical distance-measuring device and optical distance-measuring method

Номер патента: EP4027166A4. Автор: Hidemi Noguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-08-31.

Charged particle beam device and overlay misalignment measurement method

Номер патента: KR20150054973A. Автор: 다꾸마 야마모또,도모히로 후나꼬시,겐지 다니모또. Владелец: 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈. Дата публикации: 2015-05-20.

Rotation angle measurement device and rotation angle measurement method

Номер патента: JP5682802B2. Автор: 徹 清水,隆 藤田,清水　徹,藤田　隆,信之 大澤. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-11.

Fixing force measuring device and fixing force measuring method

Номер патента: JP6066195B2. Автор: 鈴木　啓司,義隆 筒井,信昭 中須,啓司 鈴木,満 小野田,中須　信昭,健五 岩重,靖章 景山,晴政 土屋. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2017-01-25.

Flow rate measuring device and flow rate measuring method

Номер патента: JP4059511B2. Автор: 正儀 問山,喜久 新美,佳美 斉藤,達也 正井. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2008-03-12.

Torsional moment measuring device, slip detection device, road friction coefficient measuring device and torsional moment measuring method

Номер патента: DE19514093A1. Автор: Yasuo Naito,Chiaki Fujimoto,Hideki Doi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1996-06-05.

Residual chlorine measuring device and residual chlorine measuring method

Номер патента: JP6579315B2. Автор: 宏光 八谷,裕子 金野. Владелец: DKK TOA Corp. Дата публикации: 2019-09-25.

Physical amount measuring device and physical amount measuring method

Номер патента: CN104081161B. Автор: 御子柴宪彦,北浦崇弘. Владелец: Asahi Kasei EMD Corp. Дата публикации: 2016-02-17.

Rotation angle measurement device and rotation angle measurement method

Номер патента: US9354088B2. Автор: Takashi Fujita,Toru Shimizu,Nobuyuki Osawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-31.

Thermal capacity measuring device and thermal capacity measuring method

Номер патента: TWI686604B. Автор: 山內悟留. Владелец: 日商愛斯佩克股份有限公司. Дата публикации: 2020-03-01.

Ultrasound diagnostic device and shear elasticity measurement method

Номер патента: CN103717144A. Автор: 玉野聪. Владелец: Hitachi Medical Corp. Дата публикации: 2014-04-09.

Optical constant measurement device and optical constant measurement method

Номер патента: WO2018207488A1. Автор: 拓哉 岸本,岸井　典之. Владелец: ソニー株式会社. Дата публикации: 2018-11-15.

Drying-speed measurement device and drying-speed measurement method

Номер патента: KR102107880B1. Автор: 칸야 쿠라모토,츠네오 타카시마. Владелец: 잇빤자이단호진 카켄테스트센터. Дата публикации: 2020-05-07.

Ballast water measurement device and ballast water measurement method

Номер патента: US11053144B2. Автор: Minoru Yagi,Kaname Harada,Kazuhiko Tsunoda,Kotaro Fukuzawa. Владелец: Kurita Water Industries ltd. Дата публикации: 2021-07-06.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: WO2022113438A1. Автор: 恵介 井上,健太郎 西村. Владелец: 北陽電機株式会社. Дата публикации: 2022-06-02.

Liquid level measurement device and liquid level measurement method based on double differential pressure transmitters

Номер патента: CN106352942A. Автор: 陈磊,汉建德,刘建兵,王同尧,严春明,孙海宇,陆本壹. Владелец: Sinopec Ningbo Technology Research Institute. Дата публикации: 2017-01-25.

Dryness distribution measurement device and dryness distribution measurement method

Номер патента: WO2014109228A1. Автор: 康博 五所尾,義一 西野,志功 田邉. Владелец: アズビル株式会社. Дата публикации: 2014-07-17.

Photo-acoustic image device and oxygen saturation measurement method

Номер патента: KR101620458B1. Автор: 김지현,이창호,김철홍,전민용,전만식. Владелец: 포항공과대학교 산학협력단. Дата публикации: 2016-05-24.

Physical quantity measurement device and physical quantity measurement method

Номер патента: CN102224394A. Автор: 御子柴宪彦,北村彻. Владелец: Asahi Kasei EMD Corp. Дата публикации: 2011-10-19.

Residual stress measurement device and residual stress measurement method

Номер патента: WO2011152123A1. Автор: 悠 澁谷,啓介 丸尾. Владелец: ヤマハ発動機株式会社. Дата публикации: 2011-12-08.

Optoelectronic position measurement device and optoelectronic position measurement method

Номер патента: WO2010089280A2. Автор: Heinz Lippuner. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2010-08-12.

Surface shape measuring device, and surface shape measuring method

Номер патента: EP2037211A4. Автор: Yasunari Ishikawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-29.

Powder flow measuring device and powder flow measuring method

Номер патента: KR101124093B1. Автор: 마나부 야마구치,와타루 히사다,미츠오 신타니,요시키 아라마츠. Владелец: 신토고교 가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-03-20.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: TW201118334A. Автор: Motoyuki Watanabe,Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-06-01.

Moisture permeability measuring device and moisture permeability measuring method

Номер патента: JPWO2011132391A1. Автор: 村上　　裕彦,智啓 永田,村上　裕彦,庄太 金井. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2013-07-18.

Particle diameter measurement device, and particle diameter measurement method

Номер патента: CN103069265B. Автор: 岩井俊昭. Владелец: AISTHESIS Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-27.

Ultrasonic measuring device, ultrasound imaging device and ultrasonic wave measuring method

Номер патента: CN104422931B. Автор: 林正树. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-03-08.

Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method

Номер патента: CN112567199B. Автор: 田端伸章. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-08.

Ultrasonic distance measurement device and ultrasonic distance measurement method

Номер патента: WO2019188661A1. Автор: 米澤　良. Владелец: 株式会社ブイ・テクノロジー. Дата публикации: 2019-10-03.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: WO2022244309A1. Автор: 賢一 大塚,邦彦 土屋,諭 荒野. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2022-11-24.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: US11096609B2. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2021-08-24.

Heat conduction measuring device and heat conduction measuring method

Номер патента: WO2010103784A1. Автор: 大串哲朗,田中浩和,中川泰利,平田拓哉. Владелец: エスペック株式会社. Дата публикации: 2010-09-16.

Organism substance-measuring device and organism substance-measuring method

Номер патента: CN110087544A. Автор: 秋山浩一,小川新平,藤泽大介,榎健太郎,篠原弘介. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-08-02.

Surface temperature measurement device and surface temperature measurement method

Номер патента: CN104583739B. Автор: 植松千寻,若洲丰,本田达朗. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Optoelectronic position measurement device and optoelectronic position measurement method

Номер патента: AU2010211097B2. Автор: Heinz Lippuner. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2012-07-26.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: EP3021112A4. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-29.

Overlap amount measurement device and overlap amount measurement method

Номер патента: EP3173731B1. Автор: Takahiro Tsukamoto. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2018-09-12.

Surface shape measuring device and surface shape measuring method

Номер патента: JPWO2020045589A1. Автор: 邦弘 佐藤. Владелец: University of Hyogo. Дата публикации: 2021-08-26.

Sanding nozzle measuring device and sanding nozzle measuring method

Номер патента: CN110081796B. Автор: 韩磊,姚凯,山荣成,孙丰晖,支运龙. Владелец: CRRC Qingdao Sifang Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-07.

Optical pulse measuring device and optical pulse measuring method

Номер патента: TWI672484B. Автор: 劉奕辰,羅志偉,葉恬恬. Владелец: 國立交通大學. Дата публикации: 2019-09-21.

Optical characteristic measurement device and optical characteristic measurement method

Номер патента: JP2015049079A. Автор: Shuji Ono,修司 小野,小野　修司. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-03-16.

Quantum efficiency measuring device and quantum efficiency measuring method

Номер патента: EP2315003A4. Автор: Kazuaki Ohkubo. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-05.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: EP3243444A4. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2018-09-19.

Deglutition movement measurement device and deglutition movement measurement method

Номер патента: JP2017119100A. Автор: Akira Ishikawa,Akio Yamamoto,Takumi Yamaguchi,Hideo Otaka,秀夫 大高,Takeshi Umehara,雅史 太田,Masafumi Ota,大高　秀夫,健 梅原,朗 石川,Yusuke BESSHO,暁生 山本,侑亮 別所,薫 花家,Kaoru Hanaie,卓巳 山口. Владелец: Kobe University NUC. Дата публикации: 2017-07-06.

Filter pollution measurement device and filter pollution measurement method

Номер патента: WO2016035975A1. Автор: 이현영,장지웅. Владелец: 레이트론(주). Дата публикации: 2016-03-10.

Ballast water measurement device and ballast water measurement method

Номер патента: TW201830015A. Автор: 八木稔,福澤耕太郎,原田要,角田和彦. Владелец: 日商栗田工業股份有限公司. Дата публикации: 2018-08-16.

Physical quantity measurement device and physical quantity measurement method

Номер патента: WO2010058594A1. Автор: 北村徹,御子柴憲彦. Владелец: 旭化成エレクトロニクス株式会社. Дата публикации: 2010-05-27.

Contact sensor, gripping device, and slip margin measuring method

Номер патента: JPWO2006030570A1. Автор: 淳 上田,豊 石田,司 小笠原,石田　豊,上田　淳. Владелец: Nara Institute of Science and Technology NUC. Дата публикации: 2008-05-08.

Stator diameter measuring device and stator diameter measuring method

Номер патента: CN115046519A. Автор: 田中阳介,道下治郎. Владелец: Nidec Corp. Дата публикации: 2022-09-13.

Particle characteristic measuring device and particle characteristic measuring method

Номер патента: JP2007322329A. Автор: 泰久 足立,Yasuhisa Adachi,靖之 日下,Yasuyuki Kusaka. Владелец: University of Tsukuba NUC. Дата публикации: 2007-12-13.

Swallowing movement measuring device and swallowing movement measuring method

Номер патента: WO2017111058A1. Автор: 雅史 太田,大高　秀夫,健 梅原,朗 石川,暁生 山本,侑亮 別所,薫 花家,卓巳 山口. Владелец: バンドー化学株式会社. Дата публикации: 2017-06-29.

Evaporation light detection device and evaporation light measurement method based on same

Номер патента: CN107389615B. Автор: 徐晓东,姚冬. Владелец: Suzhou Telford Scientific Instrument Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-24.

Distortion change measuring device and distortion change measuring method

Номер патента: EP4170281A4. Автор: Shingo Ono,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Yoshifumi Wakisaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-03-13.

Optical characteristics measuring device, and optical characteristics measuring method

Номер патента: EP4220135A4. Автор: Kenji Konno,Takushi UDA,Yoshitaka Teraoka. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-03-06.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method thereby

Номер патента: EP3730904C0. Автор: Joon Young Park. Владелец: Robo Asset Grid Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method thereby

Номер патента: EP3730904B1. Автор: Joon Young Park. Владелец: Robo Asset Grid Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Thermal characterization measurement device and thermal characterization measurement method using same

Номер патента: EP3557234B1. Автор: Kunio Mori,Nobumasa Kimura,Takeshi Bessho. Владелец: Sulfur Chemical Laboratory Inc. Дата публикации: 2023-11-08.

Water level measurement device and water level measurement method

Номер патента: EP2071299A4. Автор: Hideki Matsunaga. Владелец: UD Trucks Corp. Дата публикации: 2010-01-13.

Substrate height measuring device and substrate height measuring method

Номер патента: EP4120814A4. Автор: Tomohiro Yamazaki. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2023-03-15.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: EP4067843A4. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-12-20.

Module with a radio transceiver device and an actuator, system, and method with this module and a central unit

Номер патента: EP2186072A1. Автор: Frank Schmidt,Christian Bach,Andreas Schneider. Владелец: EnOcean GmbH. Дата публикации: 2010-05-19.

Bio-signal measuring device and bio-signal measuring method

Номер патента: US12029524B2. Автор: Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,Bang Won Lee. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Module with a Radio Transceiver Device and an Actuator, System, and Method with This Module and a Central Unit

Номер патента: US20110121990A1. Автор: Frank Schmidt,Christian Bach,Andreas Schneider. Владелец: EnOcean GmbH. Дата публикации: 2011-05-26.

Spread spectrum clock generator and spread spectrum clock generation method, pulse pattern generator and pulse pattern generation method, and error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: US20220255542A1. Автор: Tatsuya Iwai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Spread spectrum clock generator and spread spectrum clock generation method, pulse pattern generator and pulse pattern generation method, and error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: US20220021412A1. Автор: Tatsuya Iwai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-01-20.

Portable electronic device and wound-size measuring method using the same

Номер патента: US20230058754A1. Автор: zhe-yu Lin,Ji-yi Yang,Wen Hsin HU,Hui Chi Hsieh,Yin Chi LIN,Chi Lun HUANG. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Portable electronic device and wound-size measuring method using the same

Номер патента: EP4138033A1. Автор: zhe-yu Lin,Ji-yi Yang,Wen Hsin HU,Hui Chi Hsieh,Yin Chi LIN,Chi Lun HUANG. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2023-02-22.

Display device and blood pressure measurement method using the same

Номер патента: US20230346315A1. Автор: Hyeon Jun Lee,Bo Ram CHOI,Gyeong Ub MOON,Jong Yeop AN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Eye point measuring device and eye point measuring method

Номер патента: US20180178678A1. Автор: Takuya Ishikawa. Владелец: Toyota Boshoku Corp. Дата публикации: 2018-06-28.

Calibration method of measurement system

Номер патента: RU2479832C2. Автор: Хельмут ПРАДЕЛЬ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-04-20.

Grain granulometry measurement system and method and calibration method for a grain granulometry measurement system

Номер патента: EP4300074A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: US20240133787A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-04-25.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: US20240230500A9. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: CA3209370A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Calibration device, distance measurement system, calibration method and calibration programme

Номер патента: RU2529594C1. Автор: Син АОКИ. Владелец: РИКОХ КОМПАНИ, ЛТД.. Дата публикации: 2014-09-27.

Measurement system, calibration and measurement method for bulk radiation wastes

Номер патента: US09841516B1. Автор: Ping-Ji Huang,Ming-Chen Yuan,Chin-Hsien Yeh,Wun-Jhih Huang. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2017-12-12.

Relative humidity sensor, method of relative humidity measuring and relative humidity measurement system

Номер патента: RU2668947C2. Автор: Андрей Борисович Борткевич. Владелец: Андрей Борисович Борткевич. Дата публикации: 2018-10-05.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Agricultural grain granulometer, system and method for collecting, moving and measuring grain granulometry

Номер патента: EP4300075A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Externally mounted temperature calibration device for thermal cameras and temperature measurement system using the same

Номер патента: US11910124B2. Автор: Jung Hoon Lee,Joo Sung Lee. Владелец: MESH CO Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Confocal fiber-optic laser device and method for intraocular lens power measurement

Номер патента: EP1864078A2. Автор: Ilko Ilev. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-12-12.

Measurement system for micro-mixing and measurement method thereof

Номер патента: US20240310289A1. Автор: ZHENG Li,Jie Chen,Chao Yang,Xin Feng,Weipeng Zhang,Yuanyuan Li,Minghui Xie,Zaisha MAO,Xiaoxia DUAN,Dingwang HUANG. Владелец: Nanjing Jiuzhang Chemical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Ultrasonic measurement system and measurement method thereof

Номер патента: US09976885B2. Автор: Shuguang Zhang,Jinhui Huang,Xiongbing Kang. Владелец: AUDIOWELL ELECTRONICS (GUANGDONG) Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Optical fiber measurement system, optical fiber measurement method, control arithmetic device, and program

Номер патента: US20230332980A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Tomokazu Oda,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Measuring device, measurement station, production line and measuring method for measuring the distance projected in a preferred direction between a measurement plane and a measurement area

Номер патента: US20030061724A1. Автор: Lothar Mueller,Manfred Bodenmueller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2003-04-03.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B1. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292A. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2023-06-29.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B9. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-02-23.

Pressure sensor, measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09841336B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-12-12.

Temperature control method for heating element, night vision system calibration device and system

Номер патента: US11761818B2. Автор: Yong Chen,Xinguang TANG. Владелец: Autel Intelligent Technology Corp Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Calibration device

Номер патента: RU2693039C1. Автор: Дмитрий Юрьевич Глинкин,Сергей Сергеевич Тимофеев,Олег Григорьевич Чернышов,Сергей Валерьевич Эрмиш. Владелец: Акционерное общество "Транснефть-Диаскан" (АО "Транснефть-Диаскан"). Дата публикации: 2019-07-01.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: US20220026197A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2022-01-27.

Ultrasonic measuring device, and ultrasonic measuring method of flow rate

Номер патента: RU2488836C2. Автор: Торальф ДИЦ,Ларс ЭМИХЕН,Джон ЛЭНСИНГ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2013-07-27.

Level measurement system check

Номер патента: RU2629548C2. Автор: Михаэль ЛАРССОН,Кристоффер ВИДАЛЬ. Владелец: Роузмаунт Танк Радар Аб. Дата публикации: 2017-08-29.

Method of controlling mass fraction of uranium-235 isotope in gas phase of uranium hexafluoride and measuring system for implementation of the method

Номер патента: RU2256963C2. Автор: Д.В. Дорофеев,В.И. Рощупкин,В.В. Водолазских,В.И. Мазин,Ю.Б. Торгунаков,Б.М. Зимин,А.В. Абрамович,В.Е. Горохов,Ю.В. Жилейко,В.М. Илюхин,Н.Н. Сидоренко. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Сибирский химический комбинат" Министерства Российской Федерации по атомной энергии. Дата публикации: 2005-07-20.

Measuring System

Номер патента: US20160049081A1. Автор: Fumio Ohtomo,Kazuki Osaragi,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2016-02-18.

Measurement method, manufacturing method of device, and measurement system

Номер патента: US09972547B2. Автор: Koutarou Sho. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Measurement system, measurement method of measurement device, measurement device, and non-transitory storage medium encoded with computer readable control program, capable of completing measurement in simple manner and promptly

Номер патента: US09568353B2. Автор: Takao Sawano,Hirohito Yoshimoto. Владелец: Nintendo Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Distance measurement system, distance measurement device, and distance measurement method

Номер патента: US11287519B2. Автор: Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2022-03-29.

Distance measurement system, distance measurement device, and distance measurement method

Номер патента: US20200088863A1. Автор: Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Measuring system and method of determining the measuring value

Номер патента: RU2641512C2. Автор: Михаэль ДАХАЙМ. Владелец: Кроне Месстехник Гмбх. Дата публикации: 2018-01-17.

Device and method for measuring irradiance

Номер патента: US20240035881A1. Автор: Jeremy Masson,Bruno Boissenin,Steven DEBEIRE. Владелец: Sencrop. Дата публикации: 2024-02-01.

Distance measurement method and distance measurement system

Номер патента: US11768072B2. Автор: Xin Shi,David Xing. Владелец: Northwest Instrument Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Electric power measurement system, electric power measurement method, and information processing device

Номер патента: US09513141B2. Автор: Yukiko Morioka,Koji Kudo,Hiroo Hongo,Hisato Sakuma. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Method for increasing the accuracy of determining the coordinates of an object by a radio engineering range measuring system

Номер патента: RU2762999C1. Автор: Анатолий Борисович Шаповалов,Игорь Леонидович Ажгиревич,Александр Викторович Измайлов-Перкин,Георгий Алексеевич Кветкин,Вадим Вячеславович Костюков,Андрей Владимирович Свиязов,Виктор Викторович Щербинин. Владелец: АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "Центральный научно-исследовательский институт автоматики и гидравлики", (АО "ЦНИИАГ"). Дата публикации: 2021-12-24.

Aircraft vehicular propulsion system monitoring device and method

Номер патента: WO2004094954A2. Автор: Mark R. Jolly,Askari Badre-Alam,Russell E. Altieri,Steve C. Southward,James F. Kuhn,Leslie P. Fowler. Владелец: LORD Corporation. Дата публикации: 2004-11-04.

Aircraft vehicular propulsion system monitoring device and method

Номер патента: EP1616251A2. Автор: Mark R. Jolly,Askari Badre-Alam,Russell E. Altieri,Steve C. Southward,James F. Kuhn,Leslie P. Fowler. Владелец: Lord Corp. Дата публикации: 2006-01-18.

Measuring system and method for marking a known target point in a coordinate system

Номер патента: US09903715B2. Автор: Norbert Kotzur,Jürgen Mayer. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2018-02-27.

Measuring system

Номер патента: US09773420B2. Автор: Fumio Ohtomo,Kazuki Osaragi,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Lidar measuring system and lidar measuring method

Номер патента: US09702975B2. Автор: Ernst Brinkmeyer,Thomas Waterholter. Владелец: Technische Universitaet Hamburg TUHH. Дата публикации: 2017-07-11.

Method for communication of energy consumption-specific measurement data elements between a smart meter device and a computer system of a utility company and/or operator of a measuring system

Номер патента: US09491172B2. Автор: Manfred Paeschke,Frank Dietrich. Владелец: BUNDESDRUCKEREI GMBH. Дата публикации: 2016-11-08.

Micrometeoroids spatial density and space debris particles measuring system

Номер патента: RU2658072C2. Автор: Михаил Павлович Калаев,Дмитрий Михайлович Рязанов. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева". Дата публикации: 2018-06-19.

Force measurement system and force measurement method

Номер патента: US12066345B2. Автор: Wei Pei,Zhengxian Zhang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Size measurement device and size measurement system

Номер патента: US11744307B2. Автор: Yusaku MAEZAWA. Владелец: Zozo Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Optical standard for calibration of spectral measuring systems

Номер патента: US20150377769A1. Автор: Haishan Zeng,Hequn Wang,Thomas Andrew Braun. Владелец: VERISANTE TECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2015-12-31.

Thermography measurement system for conducting thermal characterization of integrated circuits

Номер патента: EP2074436A2. Автор: Peter E. Raad. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-07-01.

Thermography measurement system for conducting thermal characterization of integrated circuits

Номер патента: WO2008039621A2. Автор: Peter E. Raad. Владелец: Raad Peter E. Дата публикации: 2008-04-03.

Distance measurement device, distance measurement system and distance measurement method

Номер патента: US20180100917A1. Автор: Jun Kawai,Takeshi Morikawa,Koichi Tezuka,Koichi Iida. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-04-12.

Sampling Method and Sampling Device, and LogD Measuring Method and LogD Measuring System

Номер патента: US20070255507A1. Автор: Satomi Horiike,Yukifumi Dohta. Владелец: Banyu Phamaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2007-11-01.

Method and measurement system for carrying out and/or displaying a measurement process

Номер патента: US20240241623A1. Автор: Hannes Loferer,Thomas Wisspeintner,Andreas Liebl. Владелец: Micro Epsilon Messtechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-18.

Measurement condition optimization system, threedimensional data measurement system, measurement condition optimization method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20240249486A1. Автор: Akira Tsuji,Yoshimasa Ono,Jiro Abe. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Device and method for checking the plausibility of measured values of an onboard axle load measuring system

Номер патента: US20240294178A1. Автор: Ralph-Carsten Lülfing,Thomas Dieckmann,Janik Ricke,Arne Ehlers. Владелец: ZF CV Systems Europe BV. Дата публикации: 2024-09-05.

Real-time measurement system and measurement method for mechanical parameters of rock slag during excavation

Номер патента: US12092616B2. Автор: Tao Yang,Quansheng Liu,Xuhai Tang. Владелец: Wuhan University WHU. Дата публикации: 2024-09-17.

Position measurement system and position measurement method

Номер патента: US12025422B2. Автор: Haruki Mori,Junpei Yamaguchi,Masanobu TSUTSUI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Urine measurement device and method

Номер патента: US09931070B2. Автор: Mikael Charlez,Mikael Löfgren. Владелец: Observe Medical ApS. Дата публикации: 2018-04-03.

Optical standard for calibration of spectral measuring systems

Номер патента: US09804083B2. Автор: Haishan Zeng,Hequn Wang,Thomas Andrew Braun. Владелец: VERISANTE TECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Magneto-inductive flow-measuring system

Номер патента: US09766104B2. Автор: Juan Carlos Gonzalez-Pelayo,Christine Perfetti. Владелец: KROHNE AG. Дата публикации: 2017-09-19.

Image measuring method, system, device, and program

Номер патента: US09646223B2. Автор: Akari SATO. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Clamping force measurement system and method for head-mounted device

Номер патента: US20240201033A1. Автор: Sheng Cyuan FAN,Chien Kai TSENG,Chuan Hsin CHANG,Han-Ting CHIN. Владелец: Lanto Electronic Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Ultraviolet measurement system

Номер патента: US20180188416A1. Автор: Reiko Sato. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-07-05.

Contour accuracy measuring system and contour accuracy measuring method

Номер патента: US20200326185A1. Автор: Yu-Sheng Tseng,Tsung-Yu Yang,Chien-Yi Lee,Po-Hsun Wu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-10-15.

Control device and method for improving the measuring accuracy of an on-board vehicle axle load measurement system

Номер патента: US20240262323A1. Автор: Arne Ehlers. Владелец: ZF CV Systems Global GmbH. Дата публикации: 2024-08-08.

Force measurement system that includes a force measurement assembly, a visual display device, and one or more data processing devices

Номер патента: US09916011B1. Автор: Necip Berme,Benjamin Robert Hoffman,Sasan Ghassab,Scott Zerkle Barnes,Jaswandi Tushar Pitale. Владелец: Bertec Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Multi-dimensional measuring system with measuring instrument having 360° angular working range

Номер патента: US09739595B2. Автор: Kam C. Lau. Владелец: Automated Precision Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Flow measuring system having a housing with a flow measurement device and a deflector plate attached over a hole in a riser

Номер патента: US09546891B1. Автор: Ian PADDEN,Tom STOCKTON. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-17.

Measuring tube for magneto-inductive flow-measuring systems

Номер патента: US09534943B2. Автор: Josef Neven,Christine Perfetti. Владелец: KROHNE AG. Дата публикации: 2017-01-03.

Dietary measurement system and method of correlating dietary contents information to a defined volume

Номер патента: US09398775B2. Автор: George Alexander Nathanson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-07-26.

Device and method for measurement of multiphase fluid flow

Номер патента: RU2533758C2. Автор: Степан Александрович Полихов. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2014-11-20.

Bubble measurement system and method

Номер патента: WO2023131880A1. Автор: Du Wen,Shu Wang,Roberto Francisco-Yi Lu,Jiankun Zhou. Владелец: TE Connectivity Solutions GMBH. Дата публикации: 2023-07-13.

Adhesion strength measurement system for wet electrode specimen and adhesion strength measurement method for wet electrode specimen using the same

Номер патента: US20240219291A1. Автор: Sung Soo Yoon,Je Gwon Lee,Young Seok Kim,Woo Ha Kim,Joo Yong Park,Ji Hee YOON,Hye Jin Sim,Hyeon Jeong Kang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Measuring System

Номер патента: US20230184937A1. Автор: Shoji Mochizuki,Masayuki Tsuda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Aircraft vehicular propulsion system monitoring device and method

Номер патента: WO2005019030A2. Автор: Mark R. Jolly,Askari Badre-Alam,Russell E. Altieri,Steve C. Southward,James F. Kuhn,Leslie P. Fowler. Владелец: LORD Corporation. Дата публикации: 2005-03-03.

Groundwater level elevation measurement method, groundwater storage measurement system, and application

Номер патента: US12044610B1. Автор: XU Wang,Hongyue Sun. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-23.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US20150338206A1. Автор: Sang-hyun Park,Sangwook Park,Taekyu SON,Sangdon Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-11-26.

Shape Measurement System and Shape Measurement Method

Номер патента: US20180306573A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-10-25.

Bubble measurement system and method

Номер патента: US20230215032A1. Автор: Du Wen,Shu Wang,Roberto Francisco-Yi Lu,Jiankun Zhou. Владелец: TE Connectivity Solutions GMBH. Дата публикации: 2023-07-06.

Distance measurement system, and distance measurement method

Номер патента: US12055619B2. Автор: Ryozou Fujii. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Spectrum measurement system, spectrum measurement device, optical measurement method and optical calibration method

Номер патента: US10197443B2. Автор: Chien-Hsiang Hung,Hsu-Feng Cheng,Sheng-Wang Lin. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2019-02-05.

Continuous Measuring System for High-density Resistivity of Capacitor Electrodes and Measuring Method

Номер патента: LU500628B1. Автор: Zhixin Liu,Zhanguo Lu,Xingang Xu. Владелец: Univ China Mining. Дата публикации: 2022-03-07.

Measurement system, measurement method, injector, and method for injecting biomolecule-containing solution into to-be-injected cell using same

Номер патента: US20240325648A1. Автор: HIROSHI Miyazaki,Toru Kitaguchi,Yuko Sakaguchi. Владелец: Daicel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US09874435B2. Автор: Sang-hyun Park,Sangwook Park,Taekyu SON,Sangdon Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-23.

Radiopharmaceutical concentration measurement system and method

Номер патента: US09715020B2. Автор: Chad E. Bouton,Larry McCutchan,James E. Dvorsky,Marc A. Mabie. Владелец: Bayer HealthCare LLC. Дата публикации: 2017-07-25.

Tracking measurement system and method

Номер патента: US09575183B2. Автор: William T. Edwards,Michael L. Piasse,Craig M. Farniok. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-02-21.

Calibration of Sensors or Measuring Systems

Номер патента: US20070168145A1. Автор: Ulrich Haueter,Uwe Beyer,Michael Krieftewirth. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-19.

Measuring system for foodstuffs

Номер патента: EP4038362A1. Автор: Frans Emo Diderik Van Halsema. Владелец: Lanvi Patent BV. Дата публикации: 2022-08-10.

Polyacrylamide-containing indirect negative cavity water pressure measurement system and method

Номер патента: WO2024058745A1. Автор: Asli Senem Acikel,Mehmet Onder Pekcan,Bengu Ozugur Uysal. Владелец: Kadir Has Universitesi. Дата публикации: 2024-03-21.

Pneumatic level measurement system and method for measurement of powder material

Номер патента: WO2021177837A1. Автор: Bjørn Olav Leikvang. Владелец: Thorium Holding As. Дата публикации: 2021-09-10.

Relative inertial measurement system with visual correction

Номер патента: US11698258B1. Автор: Arthur Y. Zhang,Sonca Teng. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2023-07-11.

Bubble measurement system and method

Номер патента: US12039748B2. Автор: Du Wen,LEI Zhou,Shu Wang,Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Michael Ritchie,Michael Pedrick,Philip Amante. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Pneumatic level measurement system and method for measurement of powder material

Номер патента: EP4115155A1. Автор: Bjørn Olav Leikvang. Владелец: Thorium Holding As. Дата публикации: 2023-01-11.

Misalignment measurement system, production equipment for welded steel pipe, imaging terminal, imaging system, information processing device, misalignment measurement method, welded steel pipe production method, and quality control method for welded steel pipe

Номер патента: EP4417934A1. Автор: Shinichi Haga,Yusuke Tsukamoto. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240280383A1. Автор: Hikaru Fujiwara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Micro-displacement measurement system having picometer scale resolution and measurement method

Номер патента: US20240151558A1. Автор: XIN Ran,Wei Zhou,Fangfang Liu,Xinyang Liu,Hongli Li,Haojie Xia. Владелец: Hefei University of Technology. Дата публикации: 2024-05-09.

Light intensity measurement system, raman scattered light spectroscopic measurement system, and light intensity measurement method

Номер патента: US20240288373A1. Автор: Toshihide KURIHARA,Taku Kinoshita,Mio SAWADA,Ari SHINOJIMA. Владелец: Seed Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Solid-state imaging device, electronic device, and distance measurement system

Номер патента: US20240363651A1. Автор: Yusuke Sato,Masahiro Tsukamoto,Kanae Ohi. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Solid body density measuring system and method

Номер патента: WO2024144645A1. Автор: Tarkan KOCA. Владелец: İnönü Üni̇versi̇tesi̇ Rektörlüğü. Дата публикации: 2024-07-04.

Macro-micro composite grating ruler measuring system and measuring method using same comprising a macro-scale reading module, a micro-scale reading module and a measuring reference line

Номер патента: US09945698B2. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Meng Wang,Zhijun Yang,Youdun Bai,Haidong YANG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-04-17.

High-resolution surface measurement systems and methods

Номер патента: US09538056B2. Автор: Edward H. Adelson,Micah K. Johnson. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2017-01-03.

Analyte measurement method and system

Номер патента: US09500618B2. Автор: Michael Malecha,Adam Craggs. Владелец: LifeScan Scotland Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Analyte measurement method and system with hematocrit compensation

Номер патента: US09476088B2. Автор: Michael Malecha,Adam Craggs,Steve Blythe. Владелец: LifeScan Scotland Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Device and method for calculating trapping parameters by measuring short-circuit current decay under reverse bias voltage

Номер патента: US20170176387A1. Автор: YUAN Li,LIN Zhao,Peng Lu,Zhimin Li,Guanjun ZHANG,Weizheng Zhang,Furong Liu,Haibao MU,Wenwei Shen,Guojian JI. Владелец: HENAN EPRI ELECTRIC TECHNOLOGY CO LTD. Дата публикации: 2017-06-22.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Shape Measuring System and Shape Measuring Method

Номер патента: US20220178680A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi,Kenji Maruno,Akio Yazaki,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-06-09.

Optical measuring system and optical measuring method

Номер патента: EP1708612A1. Автор: Christoph Hauger,Peter Reimer. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-10-11.

Distributed measurement system for scanning projects

Номер патента: US20200301885A1. Автор: Oliver Zweigle,Aleksej Frank,Ahmad RAMADNEH,Joao Santos. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2020-09-24.

Relative Inertial Measurement System with Visual Correction

Номер патента: US20230296383A1. Автор: Arthur Y. Zhang,Sonca Teng. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2023-09-21.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: EP3853553A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2021-07-28.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20160305866A1. Автор: Shinya Nakajima. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2016-10-20.

Angle measurement system based on magnetic method and measurement method therefor

Номер патента: US12085420B2. Автор: Kyoung Soo Kwon,Chae Dong GO,Je Kook Kim,Suk Jung LEE. Владелец: SNA CO Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Distance measurement method and apparatus, and distance measurement sensor and distance measurement sensing array

Номер патента: US12123978B2. Автор: Shuyu Lei. Владелец: Ningbo Abax Sensing Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Measurement system with a measuring device and a scanning module

Номер патента: US09891320B2. Автор: Knut Siercks,Bernhard Metzler,Burkhard Boeckem. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2018-02-13.

Measuring system and measuring method for a road construction machine

Номер патента: US09891036B2. Автор: Achim Eul. Владелец: JOSEPH VOEGELE AG. Дата публикации: 2018-02-13.

OxyVu-1 hyperspectral tissue oxygenation (HTO) measurement system

Номер патента: US09770173B2. Автор: Kevin Schomacker,Jenny Freeman,Svetlana Panasyuk,Richard Lifsitz. Владелец: Hypermed Imaging Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Measurement system for a construction machine

Номер патента: US12130364B2. Автор: Andreas Wolff,Dominik Becher,Jaroslaw Jurasz,Torsten Schönbach. Владелец: MOBA Mobile Automation AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Oil concentration measurement system and oil concentration measurement method

Номер патента: US09739707B2. Автор: Kazuhisa Ogasawara. Владелец: Act Five Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Measurement system, measurement apparatus, measurement data processing method, and measurement data processing program

Номер патента: US20240355479A1. Автор: Takeshi Tanaka,Daisuke Fukui,Hiromitsu Nakagawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

MEASUREMENT SYSTEM, MEASUREMENT MANAGEMENT APPARATUS, MEASUREMENT DEVICE, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150241871A1. Автор: YAMAJI Masato,YOSHINO Hiroki,FUJIMOTO Naoyuki. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2015-08-27.

Fixing device and image forming apparatus and method with same

Номер патента: US20140056625A1. Автор: Minoru Toyoda,Isamu Kubo,Yoshiharu Takahashi,Hitoshi Fujiwara,Yutaka Naitoh,Tomoya Adachi,Tetsu Morino,Tomohiko Fujii,Yasuharu KAWARASAKI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

IMAGING SYSTEM, MEASUREMENT SYSTEM, PRODUCTION SYSTEM, IMAGING METHOD, RECORDING MEDIUM, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170264883A1. Автор: Hayashi Tadashi. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-14.

Coordinate system calibration method, device, and computer readable medium

Номер патента: US11820024B2. Автор: Dong Liang. Владелец: Siemens Ltd China. Дата публикации: 2023-11-21.

NEUTRON FLUX LEVEL MEASUREMENT SYSTEM, NEUTRON FLUX LEVEL COMPUTING DEVICE AND NEUTRON FLUX LEVEL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150348656A1. Автор: KONO Shigehiro,ITO Daijiro,KITAZONO Hideyuki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2015-12-03.

Optical measurement device and the method using therof

Номер патента: US20170061648A1. Автор: Yi-Ou WANG,Hao-Ting Hung,Ding-Chia KAO,Kuan-Hsien LIU,You-Hung Tsai,Po Hung Huang. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

METHOD OF OPERATING MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT SYSTEM, THREE-DIMENSIONAL SHAPE RESTORATION DEVICE, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20180342074A1. Автор: SAKAMOTO Yohei. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2018-11-29.

Display device and blood pressure measurement method using the same

Номер патента: US20230414119A1. Автор: Chul Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Data storage device and flash memory control method

Номер патента: US09684568B2. Автор: Chia-Chi Liang,Chien-Cheng Lin,Chang-Chieh HUANG,Jie-Hao LEE. Владелец: Silicon Motion Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Overlay-shift measurement system and method for manufacturing semiconductor structure and measuring alignment mark of semiconductor structure

Номер патента: US20190148123A1. Автор: Yu-Ching Lee,Yu-Piao Fang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-05-16.

Data storage device and flash memory control method

Номер патента: US09645894B2. Автор: Chia-Chi Liang,Chien-Cheng Lin,Chang-Chieh HUANG,Jie-Hao LEE. Владелец: Silicon Motion Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Reactivity measurement method based on correction signal uncertainty analysis

Номер патента: CN112967825B. Автор: 徐建军,闫晓,刘才学,汪文聪,阳林锋,邓艾宁,黄礼渊,牛江. Владелец: Nuclear Power Institute of China. Дата публикации: 2023-01-24.

Optical disc eccentric amount measurement device and eccentric amount measurement method using the same

Номер патента: TW200409108A. Автор: Katsumi Ichifuji. Владелец: HAMAMATSU METRIX CO Ltd. Дата публикации: 2004-06-01.

Optical disc eccentric amount measurement device and eccentric amount measurement method using the same

Номер патента: AU2003264509A1. Автор: Katsumi Ichifuji. Владелец: HAMAMATSU METRIX CO Ltd. Дата публикации: 2004-06-18.

Work rate measurement device and work rate measurement method

Номер патента: EP4109362A4. Автор: Yutaka MATSUBAYASHI. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Data storage device and non-volatile memory control method, with security extension

Номер патента: US20200356284A1. Автор: Chih-Yu Lin,Hung-Ting Pan,Sung-Ling Hsu. Владелец: Silicon Motion Inc. Дата публикации: 2020-11-12.

Module with a radio transceiver device and an actuator, system and method with this module

Номер патента: EP2186072B1. Автор: Frank Schmidt,Christian Bach,Andreas Schneider. Владелец: EnOcean GmbH. Дата публикации: 2016-09-07.

FIXING DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD WITH SAME

Номер патента: US20140056625A1. Автор: ADACHI Tomoya,FUJII Tomohiko,NAITOH Yutaka,TOYODA Minoru,FUJIWARA Hitoshi,Morino Tetsu,Takahashi Yoshiharu,Kawarasaki Yasuharu,KUBO Isamu. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2014-02-27.

DATA STORAGE DEVICE AND NON-VOLATILE MEMORY CONTROL METHOD, WITH SECURITY EXTENSION

Номер патента: US20200356284A1. Автор: LIN CHIH-YU,HSU Sung-Ling,PAN Hung-Ting. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-12.

Cell characteristic measuring circuit for a nonvolatile semiconductor memory device and cell characteristic measuring method

Номер патента: US5650961A. Автор: Toshihiko Himeno,Naohiro Matsukawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1997-07-22.

Radio communication device and transmission power measurement method of radio communication device

Номер патента: US20100240324A1. Автор: Kengo Okada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-09-23.

Ophthalmologic measuring device and and its measuring method

Номер патента: JPS54115596A. Автор: Gurooruman Baanaado. Владелец: American Optical Corp. Дата публикации: 1979-09-08.

Blood-pressure measurement device, model setting device, and blood-pressure measurement method

Номер патента: US20220104715A1. Автор: Yoshihisa Adachi,Yoshifumi Iwai,Ryota Tomizawa,Yuki EDO,Rieko Ogawa. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2022-04-07.

Work state measurement device and work state measurement method

Номер патента: US20160232476A1. Автор: Naoki Ueda,Yusuke Sugahara,Tomohito Nakata,Tetsuya Tamaki,Tsubasa Tomoda,Koko Hanada. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-08-11.

Ultrasonic thickness measurement device and ultrasonic thickness measurement method

Номер патента: US20220296217A1. Автор: Masahiro Onoda,Yoshio Arai,Kanechika Kiyose,Mio SASAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

BIO-SIGNAL MEASURING DEVICE AND BIO-SIGNAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20220095917A1. Автор: LEE Chang Ho,Jeong Jong Ook,LEE Bang Won. Владелец: ATSENS CO., LTD.. Дата публикации: 2022-03-31.

Visual line measuring device and visual line measuring method

Номер патента: US20180089508A1. Автор: Hidetoshi Takeda,Soichi Kimura,Shingo Yamazoe. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-29.

ULTRASONIC THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND ULTRASONIC THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220296217A1. Автор: KIYOSE Kanechika,Onoda Masahiro,ARAI Yoshio,SASAKI Mio. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-22.

EYE POINT MEASURING DEVICE AND EYE POINT MEASURING METHOD

Номер патента: US20180178678A1. Автор: ISHIKAWA Takuya. Владелец: TOYOTA BOSHOKU KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2018-06-28.

WORK STATE MEASUREMENT DEVICE AND WORK STATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160232476A1. Автор: Ueda Naoki,NAKATA Tomohito,TAMAKI Tetsuya,TOMODA Tsubasa,SUGAHARA Yusuke,HANADA Koko. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2016-08-11.

Blood rheology measurement device and blood rheology measurement method

Номер патента: JP4662543B2. Автор: 正隆 新荻,敬彦 中村,瑞明 鈴木,文雄 木村. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2011-03-30.

Injection device and corresponding injection measurement method

Номер патента: CN111032127B. Автор: D·比尔,P·特洛伊布纳. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2022-11-01.

Injection device and corresponding injection measurement method

Номер патента: CN111032127A. Автор: D·比尔,P·特洛伊布纳. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-04-17.

Optical monitoring device and light intensity measurement method

Номер патента: WO2022249456A1. Автор: 宜輝 阿部,和典 片山,良 小山. Владелец: 日本電信電話株式会社. Дата публикации: 2022-12-01.

Position measuring device and position deviation measuring method

Номер патента: DE102006052015A1. Автор: Shusuke Numazu Yoshitake,Shuichi Numazu Tamamushi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2007-05-24.

Lithographic apparatus provided with a plurality of position adjustment devices and position adjustment measurement method

Номер патента: JP5571316B2. Автор: ベルナルデュス マリア ファン ビルセン フランシスクス. Владелец: エーエスエムエル ネザーランズ ビー．ブイ．. Дата публикации: 2014-08-13.

Pattern dimension measuring device and pattern area measuring method

Номер патента: KR100933819B1. Автор: 준 마츠모토. Владелец: 주식회사 아도반테스토. Дата публикации: 2009-12-24.

Work rate measurement device and work rate measurement method

Номер патента: US20230068757A1. Автор: Yutaka MATSUBAYASHI. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Clothing amount measuring device and clothing amount measuring method

Номер патента: JP3350721B2. Автор: 陽 吉田,良 井尻,子泉 洪. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2002-11-25.

Blood pressure measurement device, model setting device, and blood pressure measurement method

Номер патента: JP2023060172A. Автор: 佳久 足立,Yoshihisa Adachi,莉絵子 小川,勇樹 江戸,亮太 富澤,Yoshifumi Iwai,敬文 岩井,Ryota Tomizawa,Yuki EDO,Rieko Ogawa. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Warping angle measurement device and warping angle measurement method for optical recording medium

Номер патента: TW200517636A. Автор: Takashi Yamada,Tsuyoshi Komaki. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2005-06-01.

Pattern dimensioning device and pattern area measuring method

Номер патента: DE112007000009B4. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2013-01-17.

Injection device and corresponding injection measuring method

Номер патента: DE102017215035A1. Автор: Philipp Troebner,David Bill. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2019-02-28.

Traffic volume measurement device and traffic volume measurement method

Номер патента: SG11201501581UA. Автор: Yoshiaki Kato,Toru Mabuchi,Yusuke Ogawa. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2015-05-28.

Train location measurement system, onboard device, ground device, and train location measurement method

Номер патента: US20200164905A1. Автор: Daisuke Koshino. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-28.

An ophthalmological measurement system comprisng an ophthalmological measurment device and a device for verification of functionality and/or a state of calibration of the ophthalmological measurement device comprising a magnetic element

Номер патента: EP4356817A1. Автор: Patrick Berghoff,Tobias Buehren,Martina Schneider. Владелец: CARL ZEISS VISION INTERNATIONAL GMBH. Дата публикации: 2024-04-24.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220117497A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Bio information measurement device and bio information measurement method

Номер патента: US20210228091A1. Автор: Seung Wan Kang,Dae Keung KIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-29.

Breast thickness measurement device and breast thickness measurement method

Номер патента: US09675277B2. Автор: Tomoki Inoue,Takahisa Arai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Ultrasound elasticity measuring devices and elasticity comparative measuring methods

Номер патента: US12089994B2. Автор: Shuangshuang LI. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Brain Function Measurement Device and Brain Function Measurement Method

Номер патента: US20200029819A1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-01-30.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: EP3610796A1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-02-19.

Display device and blood pressure measurement method using the same

Номер патента: US20230320597A1. Автор: Hyeon Jun Lee,Bo Ram CHOI,Gyeong Ub MOON,Jong Yeop AN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Method and system for integrated uncertainty analysis

Номер патента: EP1642194A2. Автор: Cheng-Nan Wang,Gregory J. Mcrae. Владелец: REACTION DESIGN LLC. Дата публикации: 2006-04-05.

Ophthalmological measuring device and measurement method

Номер патента: US20110304822A1. Автор: Christian Rathjen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-12-15.

Measuring system and measuring method for analyzing knee joint motion trajectory during cycling

Номер патента: US09592423B2. Автор: Yu-Shin Chang,Po-Shin Li,Keh-Tao Liu,Sai-Wei Yang. Владелец: Global Action Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Optic measuring system, and measuring method of critical size of nanostructures on flat surface

Номер патента: RU2481555C1. Автор: Михаил Николаевич Рычагов,Максим Владимирович Рябко,Сергей Николаевич Коптяев. Владелец: Корпорация "САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС Ко., Лтд.". Дата публикации: 2013-05-10.

Method of measuring optical data media, optical data medium, recording device and reproducing device

Номер патента: RU2501098C2. Автор: Ясумори ХИНО,Йосиаки КОММА,Коусеи САНО. Владелец: ПАНАСОНИК КОРПОРЭЙШН. Дата публикации: 2013-12-10.

Analyte concentration measurement system recording user menu choices

Номер патента: RU2675662C2. Автор: Брайан ГАТРИ,Александер СТРАХАН,Джонатан НЕЛЬСОН,Малколм Д. ХАМЕР,Кимберли А. ГИБСОН. Владелец: Лайфскэн Скотлэнд Лимитед. Дата публикации: 2018-12-21.

Method for measuring anchoring strength of liquid crystal and measurement system therefor

Номер патента: US20030150278A1. Автор: Hiroshi Yokoyama. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2003-08-14.

Electrophotographic measurement system

Номер патента: US20020114636A1. Автор: Quintin Phillips,Matthew Daum. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 2002-08-22.

A measuring system and a method for determining parameters of a multi-segment rod-like article

Номер патента: US20240338808A1. Автор: Bartosz Cieślikowski. Владелец: International Tobacco Machinery Poland Sp zoo. Дата публикации: 2024-10-10.

Measuring method and system for structured light 3d scanning

Номер патента: LU503375B1. Автор: QIN Qin,Long CAO,Wenchen Li,Zimei Tu. Владелец: Univ Shanghai Polytech. Дата публикации: 2023-07-19.

Information conveyance effect measuring system, information conveyance effect measuring method, determination device, determination method, and recording medium

Номер патента: US09401964B2. Автор: Nobuo Iizuka. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-26.

Lithographic apparatus and method to calibrate a position measurement system of a lithographic apparatus

Номер патента: WO2024165259A1. Автор: Tom Van Zutphen. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-08-15.

Measuring and/or control system for optimizing environmental-relevant energy consumption in production processes of plants or industrial sites and/or measuring system for automated measuring of environmental quantification measurands

Номер патента: US20240295863A1. Автор: Jay O'NIEN,Adrian Ribi,Urs Duebendorfer,Alexis Noel,Giulia MANZOLINI. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2024-09-05.

Physiological signal measurement system, physiological signal measurement method, and mobile device protective case

Номер патента: US20240115151A1. Автор: Chun Liu,Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-11.

Measurement system and measurement method for measuring video processing quality

Номер патента: US09723302B2. Автор: Chun Guan TAY,Rajashekar DURAI. Владелец: Rohde & Schwarz Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Biometric data measurement system and biometric data measurement method

Номер патента: US20210127994A1. Автор: Yasuhiro Kawabata,Kenji Fujii,Naomi Matsumura,Reiji Fujita,Akito Ito. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2021-05-06.

Measuring device and system for freight rate optimization

Номер патента: US09747578B2. Автор: Michael Wagner,David Scherer. Владелец: Fida LLC. Дата публикации: 2017-08-29.

Ground station of geostationary spacecraft control and measurement system control system

Номер патента: RU2731822C1. Автор: Анатолий Александрович Алексеев,Владимир Леонидович Быстрицкий,Дмитрий Николаевич Нагорных,Евгений Сергеевич Овчинников,Иван Игоревич Рузяков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2020-09-08.

Measuring system and measuring method for measuring interactivity

Номер патента: US11153187B2. Автор: Jens Berger. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-10-19.

Measuring system and measuring method for measuring interactivity

Номер патента: US20200382398A1. Автор: Jens Berger. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-12-03.

Communication apparatus, wave quality measuring system, wave quality measuring method and program

Номер патента: EP2063556A3. Автор: Hidenaru Tanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2013-05-22.

Track maintenance machine having a track position measuring system

Номер патента: US11802380B2. Автор: Samuel WOLLANEK,Leopold Fruehwirt. Владелец: Plasser und Theurer Export Von Bahnbaumaschinen GmbH. Дата публикации: 2023-10-31.

Real-time simultaneous measurement system, real-time simultaneous measurement apparatus, real-time simultaneous measurement method, and storage medium in which program is stored

Номер патента: US8396525B2. Автор: Masaaki Sato,Akihiro Ishikawa,Tatsuya Okabe. Владелец: ATR Advanced Telecommunications Research Institute International. Дата публикации: 2013-03-12.

Interference measurement method and apparatus thereof

Номер патента: US20240292256A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Wireless telemetry auto tuning for torque measurement system

Номер патента: US8626063B2. Автор: Narayan Singh Rana,Gautham Ramamurthy,Vishal Malhan,Gourango Biswas,Balaji Mahadev. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2014-01-07.

TRAIN LOCATION MEASUREMENT SYSTEM, ONBOARD DEVICE, GROUND DEVICE, AND TRAIN LOCATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200164905A1. Автор: KOSHINO Daisuke. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2020-05-28.

Ecg measurement system having patch-type ecg measurement apparatus and measurement method therefor

Номер патента: KR102414741B1. Автор: 이창호,정종욱,이방원. Владелец: 주식회사 에이티센스. Дата публикации: 2022-06-29.

Ultrasound measuring system capable of adjusting position and angle and measuring method thereof

Номер патента: KR20230072117A. Автор: 류정원,정유찬. Владелец: 주식회사 힐세리온. Дата публикации: 2023-05-24.

Cardiac potential measuring device and cardiac potential measuring method

Номер патента: US20150374251A1. Автор: Jun Ozawa,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-31.

Communication device and orthogonal error measurement method for communication device

Номер патента: US20180183531A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Ichiro Seto,Shigehito Saigusa,Yousuke Hagiwara,Yuki Fujimura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-06-28.

Wrist-wearable body composition measuring device and body composition measuring method using the same

Номер патента: US20190231216A1. Автор: Kak Namkoong,Seongho CHO,Myounghoon JUNG,Kunsun EOM,Yeolho LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-08-01.

Sphygmomanometer, device, and blood pressure measurement method

Номер патента: US11266349B2. Автор: Hirokazu Tanaka,Shinji Mizuno,Tomoyuki Nishida,Noboru KOHARA. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2022-03-08.

Cardiac potential measuring device and cardiac potential measuring method

Номер патента: US09974456B2. Автор: Jun Ozawa,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Wireless communication terminal device and control channel forming method

Номер патента: US09877306B2. Автор: Akihiko Nishio,Ayako Horiuchi,Toru Oizumi. Владелец: Sun Patent Trust Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Measuring device and glucose concentration measurement method of the measuring device

Номер патента: US20140107438A1. Автор: Hyun Woo Song. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2014-04-17.

Wearable device and physiological parameter measurement method

Номер патента: EP4338664A1. Автор: Bin Yang,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jiabing YAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-20.

Brain wave detection electrode, brain wave measurement device, and brain wave measurement method

Номер патента: EP4406479A1. Автор: Masashi Sawada. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Brain wave detection electrode, brain wave measuring device, and brain wave measuring method

Номер патента: EP4406480A1. Автор: Masashi Sawada. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Signal quality measurement device and signal quality measurement method

Номер патента: US20180287698A1. Автор: Shoichiro Oda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-10-04.

Blood pressure measuring device and blood pressure measuring method using the same

Номер патента: US20180070887A1. Автор: Kwangjin Lee,Jongin Kim,Boreom LEE,Dongrae CHO. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-03-15.

Blood pressure measurement device, electronic device, and blood pressure measurement method

Номер патента: US09737218B2. Автор: Kazuhiro Nishida,Sumio Utsunomiya. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Measuring device and glucose concentration measurement method of the measuring device

Номер патента: US09597020B2. Автор: Hyun Woo Song. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-03-21.

OVERLAY-SHIFT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND MEASURING ALIGNMENT MARK OF SEMICONDUCTOR STRUCTURE

Номер патента: US20190148123A1. Автор: Lee Yu-Ching,FANG Yu-Piao. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-16.

Biological information measurement device and biological information measurement method

Номер патента: US20240081709A1. Автор: Kazuhiro Yoshida. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Physiological information measurement device and physiological information measurement method

Номер патента: US20240335124A1. Автор: Takahiro Kuroda,Shogo TOTSUKA. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Industrial robot coordinate system calibration method, system, device and storage medium

Номер патента: CN112264992A. Автор: 廖长春,温济戈,肖仕荅. Владелец: Shenzhen Haoyucheng Automotive Electronics Co ltd. Дата публикации: 2021-01-26.

Wearable device and physiological parameter measurement method

Номер патента: EP4338664A4. Автор: Bin Yang,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jiabing YAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Power supply device and power supply control method

Номер патента: EP3651308A1. Автор: Toshio Hiratsuka. Владелец: Mirai Labo Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-13.

Interference measurement method and apparatus thereof

Номер патента: EP4358572A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-24.

Wireless communication terminal device and control channel forming method

Номер патента: US20180103463A1. Автор: Akihiko Nishio,Ayako Horiuchi,Toru Oizumi. Владелец: Sun Patent Trust Inc. Дата публикации: 2018-04-12.

Wireless communication terminal device and control channel forming method

Номер патента: US10075942B2. Автор: Akihiko Nishio,Ayako Horiuchi,Toru Oizumi. Владелец: Sun Patent Trust Inc. Дата публикации: 2018-09-11.

DEVICE AND METHOD FOR 3D PRINTING METHODS, WITH ACCELERATED EXECUTION

Номер патента: US20160318251A1. Автор: Ederer Ingo,Gunther Daniel. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-03.

Device and method for 3d printing methods, with accelerated execution

Номер патента: CN105848838A. Автор: I·埃德雷尔,D·冈瑟. Владелец: VOXELJET TECHNOLOGY GMBH. Дата публикации: 2016-08-10.

The relevant device and system of change adsorption method with multiple valves

Номер патента: CN108348838A. Автор: A·K·纳格瓦拉普,S·拉姆库马尔,R·F·塔姆梅拉,J·W·弗雷德里克,T·A·福勒,J·W·富尔顿,S·基亚尔沃. Владелец: Exxon Production Research Co. Дата публикации: 2018-07-31.

Crushing efficiency measuring device and Crushing efficiency measuring method and aggregate producing method by use of it

Номер патента: KR101852106B1. Автор: 강수형,민원. Владелец: 민원. Дата публикации: 2018-04-27.

Interference measurement method and device and timing offset measurement method and storage medium

Номер патента: WO2018126792A1. Автор: 杨玲,赵亚军,徐汉青,李新彩. Владелец: 中兴通讯股份有限公司. Дата публикации: 2018-07-12.

A kind of storing up electricity management and control devices and its charge/discharge control method with display device

Номер патента: CN107453432A. Автор: 廖兴,廖媛菲. Владелец: Dongguan Constant Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2017-12-08.

Blood flow measurement device and blood flow measurement method

Номер патента: US20220160246A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO,Young Joo Hong,Seung Tae Kim,Guk Bin LIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2022-05-26.

Protocol delay measuring device and protocol delay measuring method

Номер патента: US20100260062A1. Автор: Satoshi Senga,Kazushige Yamada,Ming-Fong Yeh. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-10-14.

Blood flow measurement device and blood flow measurement method

Номер патента: EP4275613A3. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO,Young Joo Hong,Seung Tae Kim,Guk Bin LIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-12-13.

Blood flow measurement device and blood flow measurement method

Номер патента: EP4275613A2. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO,Young Joo Hong,Seung Tae Kim,Guk Bin LIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-11-15.

Biological Information Measurement Device And Biological Information Measurement Method

Номер патента: US20240148287A1. Автор: Atsushi Matsuo,Akira Ikeda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Biological Information Measurement Device And Biological Information Measurement Method

Номер патента: US20240148288A1. Автор: Akira Ikeda,Tsukasa Eguchi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

COMPOUND AND ORGANIC ELECTRICAL ELEMENT USING SAME, AND ELECTRONIC DEVICE AND HEAT-RESISTANCE MEASURING METHOD THEREWITH

Номер патента: US20130334518A1. Автор: Kim Kiwon,PARK Junghwan,Park Jungcheol,Jung Hwasoon,Park Yongwook,Mun Soungyun,Ji Heesun,Lee Bumsung,Park Jeongkeun. Владелец: DUKSAN HIGH METAL CO., LTD.. Дата публикации: 2013-12-19.

Biological function measurement device, and biological function measurement method, and program

Номер патента: WO2020166091A1. Автор: 俊徳 加藤. Владелец: 俊徳 加藤. Дата публикации: 2020-08-20.

Measurement of bldy temperature probe and body temperature measuring device and body temperature measurement method

Номер патента: CN109549634A. Автор: 张旭,叶继伦. Владелец: SHENZHEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-04-02.

Biological function measurement device, and biological function measurement method, and program

Номер патента: GB202111659D0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-29.

Brain wave measuring device and brain wave measuring method

Номер патента: EP4353154A1. Автор: Yoshiatsu ONO. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Semiconductor device and semiconductor device measuring method

Номер патента: US9824945B2. Автор: Hiroki Shinkawata. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Cardiac output measurement device and cardiac output measurement method

Номер патента: US20220218212A1. Автор: Xiaowei Lu,Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Eyeball optical measuring device and eyeball optical measuring method

Номер патента: US20180098695A1. Автор: Hideo Nakayama,Hideaki Ozawa,Kazutaka Takeda,Kazuyuki Matsushita,Taku Kinoshita,Kouhei YUKAWA. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-12.

Semiconductor device and semiconductor device measuring method

Номер патента: US20180040523A1. Автор: Hiroki Shinkawata. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-02-08.

Brain wave measuring device and brain wave measuring method

Номер патента: US20240225510A1. Автор: Yoshiatsu ONO. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Scanning electron microscope device and pattern dimension measuring method using same

Номер патента: US20120098953A1. Автор: Atsushi Miyamoto,Ryoichi Matsuoka,Go Kotaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-04-26.

VITAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND VITAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD EMPLOYING SAME

Номер патента: US20130204108A1. Автор: Tokunaga Hiroyuki,YOSHIOKA Eriko. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2013-08-08.

MOLECULAR CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND MOLECULAR CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140031649A1. Автор: NAKAO ISAMU. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-30.

BRAIN FUNCTION MEASUREMENT DEVICE AND BRAIN FUNCTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220000383A1. Автор: HIWAKI Osamu. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-06.

MYOELECTRIC POTENTIAL MEASUREMENT DEVICE AND MYOELECTRIC POTENTIAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160007876A1. Автор: OZAWA Jun,YOSHIOKA Mototaka. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-14.

MEASURING DEVICE AND GLUCOSE CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD OF THE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20140107438A1. Автор: SONG Hyun Woo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2014-04-17.

TRANSMISSION DEVICE AND TRAFFIC AMOUNT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170026264A1. Автор: Ishikawa Takashi,Fujiyoshi Shinichi,SUGIMOTO YOSHINARI,Muramatsu Tatsuyuki,OKU Kentarou. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2017-01-26.

Brain Function Measurement Device and Brain Function Measurement Method

Номер патента: US20200029819A1. Автор: YAMADA Toru. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-30.

ULTRASONIC BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20160038117A1. Автор: TAMADA Natsumi. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-11.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: Huang Jui-Yang,Huang I-Chih. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-06.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180040523A1. Автор: Shinkawata Hiroki. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-08.

BLOOD PRESSURE MEASURING APPARATUS, MODEL SETTING DEVICE, AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220061683A1. Автор: ADACHI Yoshihisa,EDO Yuki,OGAWA Rieko,TOMIZAWA Ryota. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-03.

PORTABLE DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190059751A1. Автор: Li Liang,NI Pan,HUANG Zicheng. Владелец: BOE Technology Group Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-02-28.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210068678A1. Автор: ADACHI Yoshihisa,EDO Yuki,OGAWA Rieko,TOMIZAWA Ryota. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-11.

BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20160073905A1. Автор: MIZUKAMI Hiromitsu,MURAI Kiyoaki. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20180070887A1. Автор: KIM Jongin,LEE Boreom,LEE Kwangjin,CHO Dongrae. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-15.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20150087940A1. Автор: YOSHIOKA Eriko,Tatemoto Susumu. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-26.

WRIST-WEARABLE BODY COMPOSITION MEASURING DEVICE AND BODY COMPOSITION MEASURING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20160089053A1. Автор: NAMKOONG Kak,Cho Seongho,LEE Yeolho,EOM Kunsun,JUNG Myounghoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-03-31.

OPHTHALMOLOGIC DEVICE AND PUPIL STATE MEASURING METHOD

Номер патента: US20190090736A1. Автор: Nakajima Masashi. Владелец: TOPCON CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-28.

EYEBALL OPTICAL MEASURING DEVICE AND EYEBALL OPTICAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20180098695A1. Автор: KINOSHITA Taku,TAKEDA Kazutaka,NAKAYAMA Hideo,OZAWA Hideaki,MATSUSHITA Kazuyuki,YUKAWA Kouhei. Владелец: FUJI XEROX CO., LTD.. Дата публикации: 2018-04-12.

BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20150112214A1. Автор: MIZUKAMI Hiromitsu. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

SKIN GAS MEASUREMENT DEVICE AND SKIN GAS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160120458A1. Автор: Itabashi Keiji,Okubo Tatsuya,TAKEUCHI Shoji,Hiyama Satoshi,Yamada Yuuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-05.

MUSCLE ACTIVITY MEASUREMENT DEVICE AND MUSCLE ACTIVITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190125205A1. Автор: Kawabata Shigenori,USHIO Shuta,OKAWA Shuichi. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-02.

COMPONENT CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND COMPONENT CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210161419A1. Автор: TAJIMA Takuro,Seyama Michiko,Nakamura Masahito. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASURING DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASURING METHOD

Номер патента: US20160151007A1. Автор: KAWADA Kenji,Tateda Norihiro,KAMEDA Masanobu. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-02.

Component Concentration Measurement Device and Component Concentration Measurement Method

Номер патента: US20210177310A1. Автор: TAJIMA Takuro,Seyama Michiko,Nakamura Masahito. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2021-06-17.

RECEPTION QUALITY MEASUREMENT DEVICE AND RECEPTION QUALITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140233410A1. Автор: Ishida Kazuhiro,Mikami Satoshi,MIKAMI Junya,Agatsuma Ken. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-21.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160174854A1. Автор: NISHIDA Kazuhiro,UTSUNOMIYA Sumio. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2016-06-23.

COMMUNICATION DEVICE AND ORTHOGONAL ERROR MEASUREMENT METHOD FOR COMMUNICATION DEVICE

Номер патента: US20180183531A1. Автор: Kobayashi Hiroyuki,SAIGUSA Shigehito,SETO Ichiro,HAGIWARA Yousuke,FUJIMURA Yuki. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-28.

BREAST THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND BREAST THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160206229A1. Автор: Inoue Tomoki,ARAI Takahisa. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2016-07-21.

BIO INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIO INFORMATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210228091A1. Автор: KANG Seung Wan,KIM Dae Keung. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

WRIST-WEARABLE BODY COMPOSITION MEASURING DEVICE AND BODY COMPOSITION MEASURING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20190231216A1. Автор: NAMKOONG Kak,Cho Seongho,LEE Yeolho,EOM Kunsun,JUNG Myounghoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2019-08-01.

Electronic device and body composition measuring method of electronic device capable of automatically recognizing body part to be measured

Номер патента: US20160249857A1. Автор: Seong-Wook JO,Young-Hyun Kim,Ah-Young CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-01.

ULTRASOUND ELASTICITY MEASURING DEVICES AND ELASTICITY COMPARATIVE MEASURING METHODS

Номер патента: US20200237343A1. Автор: LI Shuangshuang. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

WRIST-WORN DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD BASED ON THE SAME

Номер патента: US20200245876A1. Автор: Cao Lei,REN Yan,WANG Zifeng. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-06.

INJECTION DEVICE AND CORRESPONDING INJECTION-MEASURING METHOD

Номер патента: US20200246548A1. Автор: Troebner Philipp,Bill David. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-06.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190261865A1. Автор: SAWADO Ayae. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2019-08-29.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MEASURING METHOD

Номер патента: US20160293507A1. Автор: Shinkawata Hiroki. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-06.

SIGNAL QUALITY MEASUREMENT DEVICE AND SIGNAL QUALITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180287698A1. Автор: ODA Shoichiro. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-10-04.

Blood pressure measurement device and blood pressure measurement method

Номер патента: US20190307340A1. Автор: Kenji Fujii,Naoki Matsumoto,Yuki Kato. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2019-10-10.

RADIO COMMUNICATION DEVICE AND FREQUENCY ERROR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160337043A1. Автор: Kobayashi Ryosuke,Watanabe Shin. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2016-11-17.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160345930A1. Автор: UEMURA Kazunori,SUGIMACHI Masaru,MIZUKAMI Hiromitsu. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-01.

BIO INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIO INFORMATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150351641A1. Автор: KIM Dae Keun,KANG Seung Wan. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-10.

SPHYGMOMANOMETER, DEVICE, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190328324A1. Автор: Tanaka Hirokazu,Mizuno Shinji,NISHIDA Tomoyuki,KOHARA Noboru. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-31.

CARDIAC POTENTIAL MEASURING DEVICE AND CARDIAC POTENTIAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20150374251A1. Автор: OZAWA Jun,YOSHIOKA Mototaka. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: JP6597410B2. Автор: 彩映 沢渡,雄太 町田. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-10-30.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASURING DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASURING METHOD

Номер патента: US20220369963A1. Автор: OBA Yoshihiro,Sasaki Toshihide,Kasahara Ryosuke,WADA Yoshio. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-24.

Body composition measuring device and body composition measuring method

Номер патента: JP2009011465A. Автор: Moto Watanabe,素 渡辺. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2009-01-22.

Muscle activity measuring device and muscle activity measuring method

Номер патента: CN109310358B. Автор: 川端茂德,大川秀一,牛尾修太. Владелец: Tokyo Medical and Dental University NUC. Дата публикации: 2022-08-09.

Optical coherence human eye measuring device and human eye measurement method

Номер патента: CN106725285B. Автор: 王毅,冯亮,马振鹤,周红仙. Владелец: Northeastern University Qinhuangdao Branch. Дата публикации: 2019-01-11.

Ear-attaching type electronic device and biological information measuring method in ear-attaching type electronic device

Номер патента: US20050141729A1. Автор: Takashi Kanzaki,Masazumi Niimi. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-30.

Blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: JP5471337B2. Автор: 敏彦 横山,邦章 田中,俊信 櫻井. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-04-16.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: JP2021078536A. Автор: 児玉　美幸,美幸 児玉,Yoshiyuki Kodama,Hiroki Kosaka,弘樹 香坂,克文 上原,Katsufumi Uehara,敏樹 永濱,Toshiki Nagahama,千里 谷田,Chisato Tanida. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

A wireless network node, a wireless device, and a beam measuring method for deriving cell quality performed therein

Номер патента: KR20200015725A. Автор: 헬카-리나 메에태넨,실바 이카로 엘. 제이. 다,프라디파 라마찬드라. Владелец: 텔레폰악티에볼라겟엘엠에릭슨(펍). Дата публикации: 2020-02-12.

Endoscope device and observation time measuring method

Номер патента: CN112804928A. Автор: 小泉雄吾,广瀬未纱. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2021-05-14.

Bio-signal measuring device and bio-signal measuring method

Номер патента: EP3977932A1. Автор: Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,Bang Won Lee. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-06.

Ion implanting device, beam energy measurement device and beam energy measurement method

Номер патента: KR102272806B1. Автор: 히로유키 가리야,가즈히로 와타나베,하루카 사사키. Владелец: 스미도모쥬기가이 이온 테크놀로지 가부시키가이샤. Дата публикации: 2021-07-05.

Network quality measuring device, transmitting device, receiving device, and network quality measuring method

Номер патента: JP5104549B2. Автор: 靖男 武,一生 水田. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-12-19.

Muscle activity measurement device and muscle activity measurement method

Номер патента: EP3469985B1. Автор: Shigenori Kawabata,Shuichi Okawa,Shuta USHIO. Владелец: Tokyo Medical and Dental University NUC. Дата публикации: 2022-08-17.

Blood glucose measuring device and blood glucose measuring method

Номер патента: CN111956233A. Автор: 冯玉涛,胡炳樑,王荃,高驰,范博昭. Владелец: XiAn Institute of Optics and Precision Mechanics of CAS. Дата публикации: 2020-11-20.

Body temperature measuring probe, body temperature measuring device and body temperature measuring method

Номер патента: CN109549634B. Автор: 张旭,叶继伦. Владелец: SHENZHEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-05-12.

Detachable volume measuring device, tissue expanding device comprising volume measuring device and breast volume measuring method using tissue expanding device

Номер патента: CN112261902A. Автор: 洪顺基,金仁浩,柳宝永,曺永昀. Владелец: CG Bio Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-22.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE, BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: DE112017007320T5. Автор: Kazuyoshi Nishikawa,Shuhei OJIRO. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-01-02.

Iq imbalance measuring device and iq imbalance measuring method for optical receiver

Номер патента: KR20140077734A. Автор: 권용환,김덕준,김종회,최중선,남은수,윤천주. Владелец: 한국전자통신연구원. Дата публикации: 2014-06-24.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: EP3042602A1. Автор: Kenji Kawada,Masanobu Kameda,Norihiro Tateda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2016-07-13.

Living organism measuring device and living organism measuring method

Номер патента: CN102368945B. Автор: 五十岚诚,后野和弘. Владелец: OLYMPUS MEDICAL SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2014-05-21.

Breast thickness measurement device and breast thickness measurement method

Номер патента: CN105611876A. Автор: 井上知己,荒井毅久. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-05-25.

Blood pressure measurement device, electronic device, and blood pressure measurement method

Номер патента: EP3033990A1. Автор: Kazuhiro Nishida,Sumio Utsunomiya. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-06-22.

Biological information measurement device and biological information measurement method

Номер патента: WO2021095759A1. Автор: 児玉　美幸,弘樹 香坂,克文 上原,敏樹 永濱,千里 谷田. Владелец: 株式会社タニタ. Дата публикации: 2021-05-20.

Gas flow measuring device and gas flow measuring method

Номер патента: JP4875051B2. Автор: 浩史 奥田,晶子 久世. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2012-02-15.

Light quantity measuring device and light quantity measuring method

Номер патента: JP5567223B2. Автор: 望月　　学,昭一 藤森. Владелец: Pioneer FA Corp. Дата публикации: 2014-08-06.

Gas pressure measuring device and gas pressure measuring method

Номер патента: CN111502641A. Автор: 周伟,马赞,汪峰荣,彭行球,马嘉星,詹绍奇,曹道舜. Владелец: Guizhou Jinsha Longfeng Coal Industry Co ltd. Дата публикации: 2020-08-07.

Lower embedding type concrete slab no-dig technique measuring thickness device and its thickness measuring method

Номер патента: CN107964990A. Автор: 王颖,李宁,辛伟,沈立,谢永健,陈礼萍. Владелец: Shanghai Geotechnical Investigations and Design Institute Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-27.

Brain wave measuring device and brain wave measuring method

Номер патента: WO2022259831A1. Автор: 慈厚 尾野. Владелец: 住友ベークライト株式会社. Дата публикации: 2022-12-15.

Electronic device and biological signal measuring method

Номер патента: JPWO2014184868A1. Автор: 康裕 鹿仁島,隆 須藤. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-02-23.

Blood rheology measurement device and blood rheology measurement method

Номер патента: JP4767551B2. Автор: 正隆 新荻,敬彦 中村,瑞明 鈴木,文雄 木村. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2011-09-07.

Biological information measurement device and biological information measurement method

Номер патента: CN107149469A. Автор: 沢渡彩映,町田雄太. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

A2/ O-BAF nitrosation type denitrification dephosphorization device and Process control measures method

Номер патента: CN110104879A. Автор: 黄魁,马艳红,赵智超,陈永志,黄剑明,邵兆伟,安芳娇. Владелец: Lanzhou Jiaotong University. Дата публикации: 2019-08-09.

Tibial osteotomy navigation device and tibial declination measuring method

Номер патента: CN110960290A. Автор: 吴坚,常涛,蔡振,刘子洋,蔡宏,史冬泉,朱奕胜. Владелец: I Join Medical Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-04-07.

User device and signal power measuring method

Номер патента: WO2009057520A1. Автор: Hiroyuki Ishii. Владелец: NTT DOCOMO, INC.. Дата публикации: 2009-05-07.

Wrist-wearable body composition measuring device and body composition measuring method using the same

Номер патента: US10595743B2. Автор: Kak Namkoong,Seongho CHO,Myounghoon JUNG,Kunsun EOM,Yeolho LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-03-24.

Automatic blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: JP3716017B2. Автор: ジョン・ブース,リチャード・メデロ. Владелец: ジーイー・メディカル・システムズ・インフォメーション・テクノロジーズ・インコーポレーテッド. Дата публикации: 2005-11-16.

Chewing efficiency measuring device and chewing efficiency measuring method using same

Номер патента: KR100873768B1. Автор: 다까시 노꾸비,가즈노리 이께베. Владелец: 고꾸리쯔 다이가꾸 호우징 오사까 다이가꾸. Дата публикации: 2008-12-15.

Blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP1867276A1. Автор: Yoshiyuki c/o TERUMO KABUSHIKI KAISHA HABU,Kouji c/o TERUMO KABUSHIKI KAISHA HAGI,Hitoshi c/o TERUMO KABUSHIKI KAISHA OZAWA,Shoichi NIPPON TEL. &TELEPHONE Corp. HAYASHIDA,Junichi NIPPON TELEGRAPH & TELEPHONE Corp SHIMADA,Hiroshi NIPPON Telegraph & Tel. Corp. KOIZUMI. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2007-12-19.

GAME DEVICE AND MOBILE TIME MEASUREMENT METHOD

Номер патента: JP3403506B2. Автор: 一浩 森. Владелец: Namco Ltd. Дата публикации: 2003-05-06.

Communication device and orthogonal error measurement method for communication device

Номер патента: US10419136B2. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Ichiro Seto,Shigehito Saigusa,Yousuke Hagiwara,Yuki Fujimura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-09-17.

Portable rt-pcr device and rt-pcr measurement method using same

Номер патента: US20230070652A1. Автор: Seong Ho Ryu. Владелец: Gene2us Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Endoscope device and observation time measurement method

Номер патента: WO2020070818A1. Автор: 雄吾 小泉,未紗 廣瀬. Владелец: オリンパス株式会社. Дата публикации: 2020-04-09.

Muscle activity measuring device and muscle activity measuring method

Номер патента: JP6857367B2. Автор: 秀一 大川,茂徳 川端,修太 牛尾. Владелец: Tokyo Medical and Dental University NUC. Дата публикации: 2021-04-14.

Image quality measurement device and image quality measurement method for color display devices

Номер патента: KR970075837A. Автор: 마사루 후지,사토시 다케모토,도키오 다케우치. Владелец: 이데이 노부유키. Дата публикации: 1997-12-10.

Blood flow measurement device and blood flow measurement method

Номер патента: EP3925529B1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO,Young Joo Hong,Seung Tae Kim,Guk Bin LIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-10-11.

Blood flow measurement device and blood flow measurement method

Номер патента: EP3925529C0. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO,Young Joo Hong,Seung Tae Kim,Guk Bin LIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-10-11.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: EP3610796A4. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2021-01-13.

Ion beam measuring device, ion implantation device and ion beam measuring method

Номер патента: TWI626674B. Автор: Kazuhiro Watanabe,Kouji Inada,Noriyasu Ido. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-11.

Physical quantity measuring device and physical quantity measuring method

Номер патента: TWI451083B. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-09-01.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: EP3791793B1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2023-10-04.

Portable rt-pcr device and rt-pcr measurement method using same

Номер патента: EP4129483A4. Автор: Seong Ho Ryu. Владелец: Gene2us Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076B1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Electronic blood pressure measurement device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP1588660B1. Автор: Yoshihiko SANO,Minoru Taniguchi,Yukiya Sawanoi,Takahide Tanaka,Tomonori Inoue,Takefumi Nakanishi,Hiroya Nakanishi. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2015-06-10.

Analyte measurement system and initialisation method

Номер патента: RU2721934C1. Автор: Херберт ВИДЕР. Владелец: Ф. Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2020-05-25.

Bioimpedance measurement system calibration

Номер патента: EP3496599A1. Автор: Donald Bernard Lemersal,Jed WILSON. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2019-06-19.

Bioimpedance measurement system calibration

Номер патента: WO2018031130A1. Автор: Donald Bernard Lemersal,Jed WILSON. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2018-02-15.

Aberration meter provided with vision acuity testing system (versions), device and method of adjustment

Номер патента: RU2268637C2. Автор: Андрей Викторович Ларичев,Никита Георгиевич Ирошников,нский Артем Юрьевич Ресн,Артем Юрьевич Реснянский. Владелец: Андрей Викторович Ларичев. Дата публикации: 2006-01-27.

Measurement System, Measurement Method, Measurement Device, and Program

Номер патента: US20240016451A1. Автор: Kenichi Matsunaga,Takayuki Ogasawara,Kei KUWABARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Measurement system, measurement method, measurement device, and program

Номер патента: AU2020480642A1. Автор: Kenichi Matsunaga,Takayuki Ogasawara,Kei KUWABARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-06-29.

Measurement system, measurement method, measurement device, and program

Номер патента: AU2020480642A9. Автор: Kenichi Matsunaga,Takayuki Ogasawara,Kei KUWABARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Test-software-supported measuring system and measuring method

Номер патента: US09843493B2. Автор: Ingo Gruber,Uwe Baeder,Holger Jauch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-12-12.

A packaging device and sorting system for directional packaging of products, such as vegetables and fruit, and a method therefor

Номер патента: WO2023008998A3. Автор: Wilhelm Jan Nijland. Владелец: De Greef's Wagen-, Carrosserie- En Machinebouw B.V.. Дата публикации: 2023-04-13.

Device and method for processing bevel gears with division error completely compensated

Номер патента: RU2424880C2. Автор: Торстен КЁНИГ,Карл Мартин РИББЕК. Владелец: КЛИНГЕЛЬНБЕРГ ГмбХ. Дата публикации: 2011-07-27.

Respiratory Measurement Method, Respiratory Measurement Device, and Respiratory Measurement System

Номер патента: US20240237914A1. Автор: Shinji Imai,Koichi Murata,Masafumi Furuta. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Network measurement system and method, device and storage medium

Номер патента: EP4024771A1. Автор: Kai Zheng,Yongming Zhang,Junwu Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-06.

Sensor device, processing device, and measurement system for acquiring a biopotential

Номер патента: US20130303871A1. Автор: Rutger Alexander Brest Van Kempen,Alexander Adriaan Huntelerslag. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-11-14.

Adapter and external support structure for biosignal measurement system, biosignal measurement system and connection method

Номер патента: US20200305749A1. Автор: Juha MYLLYKANGAS,Arto Remes. Владелец: Bittum Biosignals Oy. Дата публикации: 2020-10-01.

Wireless measuring system and method for measurement of a device under test with an antenna-array, considering maximum gain direction of the antenna array

Номер патента: US09780890B2. Автор: Meik Kottkamp,Andreas Pauly,Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-10-03.

Sensor device, processing device, and measurement system for acquiring a biopotential

Номер патента: US09775531B2. Автор: Rutger Alexander Brest Van Kempen,Alexander Adriaan Huntelerslag. Владелец: TECHMEDIC DEVELOPMENT INTERNATIONAL BV. Дата публикации: 2017-10-03.

Non-invasive measurement system and method for measuring the concentration of an optically-active substance

Номер патента: EP1824377A2. Автор: Dale E. Winther. Владелец: Q Step Technologies Inc. Дата публикации: 2007-08-29.

Non-invasive measurement system and method for measuring the concentration of an optically-active substance

Номер патента: EP1824377A4. Автор: Dale E Winther. Владелец: Q Step Technologies Inc. Дата публикации: 2009-09-09.

Non-invasive measurement system and method for measuring the concentration of an optically-active substance

Номер патента: WO2006052634A2. Автор: Dale E. Winther. Владелец: Q Step Technologies, Inc.. Дата публикации: 2006-05-18.

Biological information measurement system, biological information measurement recording medium, and biological information measurement device

Номер патента: US20240081659A1. Автор: Kentaro Mori,Takeshi Kubo,Yasuo Asano,Yoshihide Tokko. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2024-03-14.

Portable retina measuring device, and ophthalmologic disease measuring system and ophthalmologic disease management method using portable terminal

Номер патента: US20230301512A1. Автор: Eu Na Heo,Eunsim Heo,Woojin Heo. Владелец: Aiforpet. Дата публикации: 2023-09-28.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20220029718A1. Автор: Florian Ramian,Florian GERBL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-27.

A method and a measurement system for three-dimensional modeling of an elevator shaft

Номер патента: EP4387914A1. Автор: Mikael Haag,Nicolas Veau,Joonas Jokela,Francois DES PALLIÈRES. Владелец: Kone Corp. Дата публикации: 2024-06-26.

Optical measuring system

Номер патента: US09993157B2. Автор: Yoshihiro Inoue,Yoshinori Masuda,Akihiro Ishikawa,Satoru Kohno,Takashi Amita,Haruhide Udagawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Muscle fatigue measuring device and associated systems and methods

Номер патента: US09730627B2. Автор: Damian Andrisani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-15.

Garment for bioinformation measurement having electrode, bioinformation measurement system and bioinformation measurement device, and device control method

Номер патента: US09433379B2. Автор: Shinya Nagata,Ryuji Nagai. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Blood pressure measurement system

Номер патента: EP1272103A2. Автор: Charles Bluth,James Bluth. Владелец: Computerized Screening Inc. Дата публикации: 2003-01-08.

Blood pressure measurement system

Номер патента: WO2001078592A2. Автор: Charles Bluth,James Bluth. Владелец: Computerized Screening, Inc.. Дата публикации: 2001-10-25.

Golf measuring system

Номер патента: AU2023210470A1. Автор: David Hunter. Владелец: Shot Scope Tech Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Blood pressure measurement system

Номер патента: WO2001078592A3. Автор: Charles Bluth,James Bluth. Владелец: Computerized Screening Inc. Дата публикации: 2002-06-27.

Soiling measurement system for photovoltaic arrays

Номер патента: US9800202B2. Автор: Michael Gostein,Lawrence R. Dunn,William Stueve,Stan Faullin. Владелец: ATONOMETRICS. Дата публикации: 2017-10-24.

Electrophysiological signal measurement system, electrophysiological signal adjustment method and electrode assembly

Номер патента: US20230190202A1. Автор: Heng-Yin Chen,Bor-Shyh Lin,Yi-Cheng Lu,Yun-Yi Huang,Min-Hsuan Lee,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2023-06-22.

Blood pressure measurement system

Номер патента: WO2001078592B1. Автор: Charles Bluth,James Bluth. Владелец: Computerized Screening Inc. Дата публикации: 2002-08-01.

Soiling Measurement System for Photovoltaic Arrays

Номер патента: US20170230001A1. Автор: Michael Gostein,Lawrence R. Dunn,William Stueve,Stan Faullin. Владелец: ATONOMETRICS. Дата публикации: 2017-08-10.

Coupled physiological signal measurement method, coupled physiological signal measurement system and graphic user interface

Номер патента: US20230082564A1. Автор: Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Min-Hsuan Lee,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2023-03-16.

GAME APPARATUS, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, STORAGE MEDIUM HAVING GAME PROGRAM OR INFORMATION PROCESSING PROGRAM STORED THEREIN, GAME SYSTEM, DELAY MEASUREMENT SYSTEM, IMAGE DISPLAY METHOD, AUDIO OUTPUT METHOD, AND DELAY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120172118A1. Автор: Shimamura Takayuki,Ohta Keizo,Yamazaki Hitoshi. Владелец: NINTENDO CO., LTD.. Дата публикации: 2012-07-05.

POWER CONSUMPTION MEASUREMENT SYSTEM, OUTLET DEVICE, CONTROL DEVICE, MEASURING DEVICE, AND POWER CONSUMPTION MEASURING METHOD

Номер патента: US20120239959A1. Автор: IWABUCHI Akinori,Kusafuka Kaoru,WATANABE Tadayuki,Kiuchi Kazuya,Shichiri Kazumasa. Владелец: KYOCERA CORPORATION. Дата публикации: 2012-09-20.

Biological data-related index measuring system, information processing system, and biological data-related index measuring method

Номер патента: JP2022174944A. Автор: Hiroki Ohashi,洋登 永吉,洋輝 大橋,Hirotaka Nagayoshi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-11-25.

Real-time measurement system for work position of operation arm and measurement method thereof

Номер патента: CN102914284A. Автор: 杨立新,王刚,李建华,洪开荣,李治国,于少辉,罗占夫,白中坤,张文新,于保亮. Владелец: China Railway Tunnel Group Co Ltd CRTG. Дата публикации: 2013-02-06.

Optical measurement system, carrying structure for configuring the same, and optical measurement method

Номер патента: TW201339550A. Автор: Chien-Hsiang Hung,Jan-Liang Yeh. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2013-10-01.

Optical measurement system, carrying structure for configuring the same, and optical measurement method

Номер патента: TWI468651B. Автор: Chien Hsiang Hung,Jan Liang Yeh. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2015-01-11.

Test measuring system of riverbank lateral erosion collapse rate and measuring method thereof

Номер патента: CN105319050A. Автор: 陈诚,应强,张幸农,假冬冬,陈长英,费晓昕,张新周. Владелец: Nanjing Hydraulic Research Institute of National Energy Administration Ministry of Transport Ministry of Water Resources. Дата публикации: 2016-02-10.

Real-time measurement system for work position of operation arm and measurement method thereof

Номер патента: CN102914284B. Автор: 杨立新,王刚,李建华,洪开荣,李治国,于少辉,罗占夫,白中坤,张文新,于保亮. Владелец: China Railway Tunnel Group Co Ltd CRTG. Дата публикации: 2015-07-08.

Distance measuring system of hand-held electronic device and method thereof

Номер патента: TW201202655A. Автор: Li-Qun Xu. Владелец: Inventec Appliances Corp. Дата публикации: 2012-01-16.

Infrared moisture measuring device and infrared moisture measuring method

Номер патента: TW201018901A. Автор: Guo-Long Wu,He-Min Chen. Владелец: Chi Mei Materials Technology Corp. Дата публикации: 2010-05-16.

A kind of lighting device and its power consumption statistical method with communication function

Номер патента: CN104793051B. Автор: 张祠瑞,毛茂. Владелец: Chengdu Century Photosynthesis Science And Technology Ltd. Дата публикации: 2018-02-02.

Edge position detecting method and device, and edge distance measuring method and device

Номер патента: JP3478387B2. Автор: 昇 菊地,安幸 床井. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2003-12-15.

Tritium radioactivity measurement device and method, radioactivity measurement method by tritium of test subject, pair of exhalation bag and tritium collection device

Номер патента: JP6244489B1. Автор: 剣一 加藤,剛士 伊藤,智彦 川上,慶 今成,悦子 古田. Владелец: OCHANOMIZU UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-12-06.

Spent nuclear fuel storage device, and spent nuclear fuel storage method with it

Номер патента: JPH1082897A. Автор: 雄太郎 谷,Yutaro Tani. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 1998-03-31.

Portable field strength measurement device and field strength measurement method based on DSP and FPGA

Номер патента: CN103954848A. Автор: 陈昊,周永荣,孟玮,戴秀嵩. Владелец: Maintenance Branch of State Grid Jiangsu Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-30.

Water level measuring device and water level measuring method on basis of surveillance videos and laser identifications

Номер патента: CN102768054B. Автор: 李志华,李刘畅. Владелец: Hohai University HHU. Дата публикации: 2013-12-04.

Rotor level measurement device and rotor level measurement method, method of adjustment

Номер патента: CN107588758A. Автор: 樊勇,杨长生. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-01-16.

Variable reduction equalizer, loss compensation method using it, error rate measuring device, and error rate measuring method

Номер патента: JP6876735B2. Автор: 昂孝 南. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-05-26.

OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD SUITABLE FOR SPECTRUM MEASUREMENT

Номер патента: US20120075628A1. Автор: Sano Hiroyuki,Ohkubo Kazuaki,MIZUGUCHI Tsutomu,OKAWAUCHI Makoto,OSHIMA Kosei,SHIMA Shiro. Владелец: Otsuka Electronics Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-03-29.

OPTICAL REACTION MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL REACTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120100624A1. Автор: Hara Takuya,Kato Yoichi. Владелец: KOWA COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2012-04-26.

INSULATION RESISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND INSULATION RESISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120119755A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-05-17.

FREQUENCY SELECTIVE MEASURING DEVICE AND FREQUENCY SELECTIVE MEASURING METHOD

Номер патента: US20120163441A1. Автор: Lechner Thomas. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2012-06-28.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120218561A1. Автор: . Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2012-08-30.

COMPONENT CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND COMPONENT CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130094025A1. Автор: Shimizu Koichi,NISHIDA Kazuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-18.

Magnetic signal measuring device and magnetic signal measuring method

Номер патента: JP5189825B2. Автор: 塚本　　晃,明彦 神鳥,崇子 溝口. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-04-24.

Liquid sample storage device and liquid sample measurement method

Номер патента: JP5140620B2. Автор: 和也 細川,征司 深澤. Владелец: Fujimori Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-06.

Vibration frequency measuring device and vibration frequency measuring method

Номер патента: JP5081776B2. Автор: 達也 上野. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2012-11-28.

Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method for train equipment

Номер патента: JP6699323B2. Автор: 誠 庭川,寛修 深井,庭川　誠. Владелец: Meidensha Corp. Дата публикации: 2020-05-27.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: JP5376910B2. Автор: 隆一 七海. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-12-25.

Pulse wave measuring device and pulse wave measuring method

Номер патента: JP6846626B2. Автор: 順 小澤,小澤　順,健太 村上,元貴 吉岡. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-24.

Moisture content measuring device and moisture content measuring method

Номер патента: JP6928352B2. Автор: 浩介 坂本,宏靖 佐野,美郷 秋山,俊夫 久慈,朋裕 北山,圭亨 中村. Владелец: Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Instititute (TIRI). Дата публикации: 2021-09-01.

Online accurate measuring device and online accurate measuring method for fluid flow

Номер патента: CN105181037A. Автор: 夏磊,陈惺,吴春荣,陈福才. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-23.

Sensor sheet, swallowing activity measuring device, and swallowing activity measuring method

Номер патента: JP6073709B2. Автор: 大森　信行,信行 大森,智啓 村澤,淳平 相澤,和文 岡元. Владелец: NAGANO PREFECTURAL GOVERNMENT. Дата публикации: 2017-02-01.

Intracranial pressure measuring device and intracranial pressure measuring method

Номер патента: JP6081278B2. Автор: 建治 降旗,徳男 小池,智志 安本,順 中野. Владелец: ICHIKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2017-02-15.

Pressure testing device and the pressure-measuring method of pile for prestressed pipe is measured with periphery pile tube component

Номер патента: CN103758161B. Автор: 侯伯贵. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-01-20.

Lamp mercury measuring device and lamp mercury measuring method

Номер патента: JP3614703B2. Автор: 孝二 本田. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2005-01-26.

Rotary speed measuring device and rotary speed measuring method

Номер патента: CN102590543A. Автор: 杨建军,刘双喜,栗国,于镒隆,牟连嵩. Владелец: China Automotive Technology and Research Center Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-18.

Surface temperature measuring device and surface temperature measuring method

Номер патента: JPH11190670A. Автор: Akira Soga,朗 曽我. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1999-07-13.

Pipe joint axial force measuring device and axial force measuring method

Номер патента: JP7127760B2. Автор: 崇浩 郡司,篤史 黒澤. Владелец: Sanoh Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-30.

Wireless terminal measuring device and wireless terminal measuring method

Номер патента: JP6975088B2. Автор: 祥浩 黒岩. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-12-01.

Semiconductor integrated circuit device and clock skew measuring method

Номер патента: JP5018508B2. Автор: 健二 丹羽. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-09-05.

Cyan density simple measuring device and cyan density measuring method

Номер патента: JP5565853B2. Автор: 俊彦 大原,和博 砂田,敏子 橋本. Владелец: HIROSHIMA PREFECTURE. Дата публикации: 2014-08-06.

Riveting spot size detection online rapid measurement device and riveting point measuring method

Номер патента: CN105333844B. Автор: 王佳良,苗玉慧. Владелец: Bosch Huayu Steering Systems Yantai Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-30.

Surface current measurement device and surface current measurement method

Номер патента: JP2010047811A. Автор: Kenji Amaya,賢治 天谷. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2010-03-04.

Buoy type tidal current measuring device and tidal current measuring method

Номер патента: JP6894074B2. Автор: 毅 琴浦,貴一 三國,シバランジャニ ジャヤプラサッド. Владелец: Penta Ocean Construction Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-23.

Interferometric high-resolution radar device and terrain height measuring method using high-resolution radar device

Номер патента: JP3301292B2. Автор: 貴彦 藤坂,雅史 岩本. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-07-15.

Hot displacement measuring device and hot displacement measuring method

Номер патента: JP5683187B2. Автор: 修 吉本,吉本　修. Владелец: Toyo Tanso Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-11.

Moving distance measuring device and moving distance measuring method

Номер патента: JP2007078558A. Автор: Tetsuo Nakagawa,Satoshi Okada,Mitsuaki Shimamura,光明 島村,敏 岡田,哲郎 中川. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-03-29.

End face measuring device and end face measuring method

Номер патента: JP7164058B1. Автор: 茂 大葉. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-01.

A kind of rotation-speed measuring device and rotating speed measurement method

Номер патента: CN104897918B. Автор: 刘鹏,黄胜,郭建,杨广军,周胜洪,魏培平,张玉国,陈晓智,张特,田莉,张龙龙,韩玉章,石璨,姜丽颖,谢庭宣. Владелец: QINGDAO JARI AUTOMATION CO Ltd. Дата публикации: 2018-07-20.

Phase-shifted projection moire device and body shape measurement method using the same

Номер патента: KR19990080363A. Автор: 오정택,김승우,정문식,정창진,유한길,최이배. Владелец: 주식회사 인텍엔지니어링. Дата публикации: 1999-11-05.

Temperature distribution measuring device and temperature distribution measuring method

Номер патента: JP6933613B2. Автор: 義徳 福田,福田　義徳. Владелец: JFE Techno Research Corp. Дата публикации: 2021-09-08.

Height distribution measuring device and height distribution measuring method

Номер патента: JP2022124966A. Автор: 千恵 豊田,Chie Toyoda. Владелец: Toyota Central R&D Labs Inc. Дата публикации: 2022-08-26.

A kind of liquid-cooled suit business device and its flow-measuring method

Номер патента: CN107562155A. Автор: 刚宪秀. Владелец: Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: JP2016052463A. Автор: Yasuhiro Nakamura,温子 國定,康洋 中村,Atsuko Kunisada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2016-04-14.

Electrostatic capacitance measurement device, dielectric constant measurement device, and dielectric constant measurement method

Номер патента: WO2023095303A1. Автор: 良臣 平永,祐喜 糸矢. Владелец: 国立大学法人東北大学. Дата публикации: 2023-06-01.

Calorific value measuring device and calorific value measuring method

Номер патента: JP7080083B2. Автор: 和伸 小林. Владелец: Osaka Gas Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-03.

Exhaust temperature measuring device and exhaust temperature measuring method

Номер патента: JP4784445B2. Автор: 秀治 門岡. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-05.

Gas permeability measuring device and gas permeability measuring method for film material

Номер патента: JP2010190751A. Автор: Hitoshi Asahina,均 朝比奈. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2010-09-02.

Foot pressure measuring device and foot pressure measuring method using the same

Номер патента: JP2014045885A. Автор: Masao Mori,政男 森,Yoshimi Takemoto,良美 竹本,Keiichi Kido,恵一 城戸. Владелец: REIF CO Ltd. Дата публикации: 2014-03-17.

Surface shape measuring device and surface shape measuring method

Номер патента: JP2012112706A. Автор: Yutaka Honda,裕 本田. Владелец: Kosaka Laboratory Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Biological signal detection device and brain wave measurement method

Номер патента: JP2018186934A. Автор: Mitsuo Matsunaga,Hajime Honjo,光央 松永,剛秀 平野,Takehide Hirano,元 本庄,ミン ドンビン,Dong Bin Min. Владелец: SOSO CO Ltd. Дата публикации: 2018-11-29.

Pulse wave sensor, electronic device and pulse wave measuring method

Номер патента: JP7242373B2. Автор: 学 大海,正之 須田,武 内山,陽子 篠原,彩子 野邉. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2023-03-20.

Building limit measuring device and building limit measuring method

Номер патента: JP6829747B2. Автор: 清 鈴木,佳文 永田,実 清水,松本　伸也,伸也 松本,匠 小田原,鈴木　清,友峰 森,祐人 岩瀬,智 安中. Владелец: Tokyu Corp. Дата публикации: 2021-02-10.

Wall thickness measuring device and wall thickness measuring method

Номер патента: JP6978398B2. Автор: 忠雄 鈴木,浩二 田中,裕介 中由,雅夫 吉野. Владелец: Futaba Corp. Дата публикации: 2021-12-08.

Laser distance measurement device and laser distance measurement method

Номер патента: JP2019132597A. Автор: Hidetoshi Shimizu,秀利 清水. Владелец: Shinano Kenshi Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-08.

Body weight measuring device and body weight measuring method

Номер патента: JP2007071664A. Автор: Masayuki Nishimura,正幸 西村,Hideyori Sasaoka,英資 笹岡,Itaru Sakabe,Tomoki Sekiguchi,至 坂部,知樹 関口. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2007-03-22.

Balanced voltage measuring device and balanced voltage measuring method

Номер патента: JP3190429B2. Автор: 邦夫 田村. Владелец: アジレント・テクノロジー株式会社. Дата публикации: 2001-07-23.

Electrolytic current measuring device and electrolytic current measuring method

Номер патента: JP4307055B2. Автор: 真一 赤沢,裕子 立松. Владелец: DKK TOA Corp. Дата публикации: 2009-08-05.

Photocatalytic performance measuring device and photocatalytic performance measuring method

Номер патента: CN105277651A. Автор: 甘林. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-01-27.

Error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: JP7046883B2. Автор: 弘季 大沼,達也 岩井. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-04-04.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: JP6917039B2. Автор: 泰弘 渡辺,孝 中嶋,渡辺　泰弘,中嶋　孝. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-11.

Space temperature measuring device and space temperature measuring method

Номер патента: JP6909604B2. Автор: 重雄 柴田. Владелец: Kyudenko Corp. Дата публикации: 2021-07-28.

Motor control device and correction value measuring method for suppressing torque ripple used in the same

Номер патента: JP3816725B2. Автор: 英俊 池田,正徳 安江,彰 佐竹,尚徳 山崎. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2006-08-30.

Flow rate measuring device and flow rate measuring method

Номер патента: JP6680248B2. Автор: 克行 山本,隆平 後藤,秀之 中尾,憲一 半田. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Coil position measuring device, endoscope insertion shape detecting device, and coil position measuring method

Номер патента: JP3748985B2. Автор: 博一 西村,潤 長谷川,徹緒 野波,克己 平川. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2006-02-22.

Ultrasonic defect height measuring device and defect height measuring method

Номер патента: JP3535417B2. Автор: 晴行 塙,賢治 田山. Владелец: 日立エンジニアリング株式会社. Дата публикации: 2004-06-07.

Water temperature measurement device and water temperature measurement method

Номер патента: JP2020128894A. Автор: Masayoshi Tanaka,Hideki Horiuchi,正吉 田中,秀樹 堀内,田中　正吉. Владелец: Japan Radio Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Encoder device and disk concentricity measuring method thereof

Номер патента: JP4775761B2. Автор: 敦文 渡邉. Владелец: Yaskawa Electric Corp. Дата публикации: 2011-09-21.

Laser Doppler speed measuring device and its speed-measuring method based on rotating grating

Номер патента: CN104833816B. Автор: 周健,何鑫,聂晓明,梁文强,樊振方. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF DEFENSE TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-04-10.

Surface shape measurement device and surface shape measurement method

Номер патента: JP2016004011A. Автор: Haruhisa Ito,晴久 伊藤. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-12.

Rail displacement measurement device and rail displacement measurement method

Номер патента: JP2022191851A. Автор: Hiroshi Ueno,Hiroshi Tsuchiya,Satoyuki Ishikawa,洋 上野,Kosaku Shiono,幸策 塩野,博 土屋,智行 石川,洋友 坪川,Hirotomo Tsubokawa. Владелец: ACT Electronics Corp. Дата публикации: 2022-12-28.

Biological information measuring sensor, biological information measuring device, and biological information measuring method

Номер патента: JP7220598B2. Автор: 茂信 光澤,智昭 大橋. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-10.

Scanning type surface shape measuring device and surface shape measuring method

Номер патента: JP2005055221A. Автор: Kazuhiko Kawasaki,和彦 川▲崎▼. Владелец: Mitsutoyo Kiko Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-03.

Parasitic component measuring device and parasitic component measuring method

Номер патента: JP2010286453A. Автор: Hiroshi Takahashi,洋 高橋. Владелец: Asahi Kasei Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-24.

Flow rate measuring device and flow rate measuring method

Номер патента: JP3654273B2. Автор: 秀二 安倍,裕治 中林. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2005-06-02.

Jet angle measurement device and jet angle measurement method

Номер патента: JP2003269939A. Автор: Hiroshi Yatabe,祐一 佐々野,良夫 江頭,弘 谷田部,Yoshio Egashira,Yuichi Sasano,Takeo Hirasaki,丈尾 平崎,Kiyobumi Inaba,清文 稲葉. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2003-09-25.

Solid-state laser device and appropriate temperature measurement method

Номер патента: JP4650090B2. Автор: 憲秀 野田,一智 門倉. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-03-16.

Gravure cylinder transfer device and gravure cylinder measuring method using the same

Номер патента: JP3418040B2. Автор: 巧 吉田,敬祐 平井,忠司 首藤,善和 松野. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2003-06-16.

Salinity concentration measuring device and salinity concentration measuring method

Номер патента: CN102495024B. Автор: 中岛吉则,雨宫秀行,松丸正宏,井上正清,岩口义和. Владелец: Atago Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-11.

Pulse wave measuring device and pulse wave measuring method

Номер патента: JP5866776B2. Автор: 貴記 岩脇. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-02-17.

TILT MEASURING DEVICE AND TILT ANGLE MEASUREMENT METHOD FOR STEEL CYLINDRICAL BODY

Номер патента: JP7235927B1. Автор: 一弘 奥田,浩一郎 梯. Владелец: Penta Ocean Construction Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-08.

Pulse pressure measuring device and pulse pressure measuring method

Номер патента: JP5552984B2. Автор: 満 宮坂. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-07-16.

Photoelectric temperature sensing device and high temperature measuring method based on photoelectric temperature sensing device

Номер патента: CN102661802A. Автор: 李正义,胡承恩. Владелец: ANHUI BOYUAN AUTOMATION INSTRUMENT Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-12.

Inner diameter measuring device and inner diameter measuring method using the same

Номер патента: JP2021051096A. Автор: Satoshi Okabe,聡志 岡部. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

Radiation temperature measuring device and radiation temperature measuring method

Номер патента: JP3233329B2. Автор: 誠 甲斐,正孝 小沢. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2001-11-26.

Pulse information measurement device and pulse information measurement method

Номер патента: JP2017051342A. Автор: Yasuhiro Kawabata,康大 川端,Yuki YAMASHITA,祐輝 山下,智信 村井,Toshimichi MURAI. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-03-16.

Electric resistance measuring device and electric resistance measuring method

Номер патента: JP3276267B2. Автор: 潔 木村,大典 山田. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2002-04-22.

Revolving shaft system torsional vibration measuring device and torsional vibration measuring method

Номер патента: JP2019203814A. Автор: Tadashi Yoshida,正 吉田,Shuichi Miura,秀一 三浦,由実 阪森,吉田　正,Yumi Sakamori,本郷和義,Kazuyoshi Hongo,和義 本郷,潤也 井手口,Junya Ideguchi. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Fiber amount measuring device and fiber amount measuring method

Номер патента: JP7208078B2. Автор: 俊文 菊地,亮介 齊藤,圭一 ▲高▼橋. Владелец: Shimizu Corp. Дата публикации: 2023-01-18.

Blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: JP5884256B2. Автор: 敏彦 横山,知典 真野,横山　敏彦. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-03-15.

Pressure change measuring device, altitude measuring device, and pressure change measuring method

Номер патента: JP6685766B2. Автор: 学 大海,正之 須田,武 内山,陽子 篠原,内山　武,大海　学,篠原　陽子,彩子 野邉,須田　正之,克享 海法. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2020-04-22.

Wiring board measuring device and wiring board measuring method

Номер патента: CN103096626A. Автор: 盐泽育夫,阿须贺拓. Владелец: Seiko Precision Inc. Дата публикации: 2013-05-08.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: JP7064465B2. Автор: 孝司 近藤. Владелец: JFE Techno Research Corp. Дата публикации: 2022-05-10.

Construction gauge measuring device and construction gauge measuring method

Номер патента: JP2021011240A. Автор: Kiyoshi Suzuki,清 鈴木,Minoru Shimizu,Yoshifumi Nagata,Shinya Matsumoto,佳文 永田,実 清水,松本　伸也,伸也 松本,匠 小田原,鈴木　清,友峰 森,祐人 岩瀬,智 安中,Takumi Odawara,Yuho Mori,Yuto Iwase,Satoru Yasunaka. Владелец: Shutoko Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Relative displacement measuring device and relative displacement measuring method

Номер патента: JP6547181B1. Автор: 嘉二郎 渡邊. Владелец: グローバル精工株式会社. Дата публикации: 2019-07-24.

Error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: JP6818056B2. Автор: 恭男 保坂,一浩 山根. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

Forward voltage measuring device and forward voltage measuring method

Номер патента: JP5575607B2. Автор: 哲也 中村,貴志 平尾,光章 原. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2014-08-20.

Steam flow measuring device and steam flow measuring method

Номер патента: JP6006605B2. Автор: 康博 五所尾,義一 西野,志功 田邉. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2016-10-12.

Oxygen concentration measuring device and oxygen concentration measuring method

Номер патента: JP6952578B2. Автор: 基茂 柳生,愛実 高橋,幸基 岡崎,元気 田中,大仁 羽生. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Pulse wave measuring device and pulse wave measuring method

Номер патента: JP5471736B2. Автор: 貴記 岩脇. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-04-16.

Arithmetic device, arithmetic program, surface shape measuring device, and surface shape measuring method

Номер патента: JP5277986B2. Автор: 秀貴 佐々木. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-08-28.

Coal temperature measuring device and coal temperature measuring method

Номер патента: CN104111116A. Автор: 王翠霞,李成武,刘纪坤. Владелец: Xian University of Science and Technology. Дата публикации: 2014-10-22.

3D shape measuring device and 3D shape measuring method

Номер патента: JP6752468B2. Автор: 亮 古川,洋 川崎. Владелец: Hiroshima City University. Дата публикации: 2020-09-09.

Bottom shape measuring device and bottom shape measuring method

Номер патента: JP7330072B2. Автор: 光男 渋谷. Владелец: Fujita Corp. Дата публикации: 2023-08-21.

Target device and hole verticality measurement method

Номер патента: JP6896584B2. Автор: 純一 日比. Владелец: Kajima Corp. Дата публикации: 2021-06-30.

Biological signal measuring device and biological signal measuring method for detecting abnormal signal section of electrocardiogram data using cardiac sound data related to electrocardiogram data

Номер патента: JP2022167175A. Автор: 李昌浩,Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,鄭鍾旭. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-04.

Substrate floating device and substrate floating measuring method

Номер патента: CN103662694B. Автор: 森俊裕,滨川健史,奥田哲也. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-14.

Sludge component ratio measuring device and component ratio measuring method

Номер патента: JP3134042B2. Автор: 昭雄 青木,英幸 宮本,修郎 猪川,清 宇山. Владелец: JFE Engineering Corp. Дата публикации: 2001-02-13.

Vehicle length measuring device and vehicle length measuring method

Номер патента: JP6845684B2. Автор: 博之 中山,泰弘 山口,山口　　泰弘,中山　博之,伸行 尾張,直哉 山西. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-24.

Immune reaction measuring carrier, immune reaction measuring device and immune reaction measuring method

Номер патента: JP4806358B2. Автор: 直也 大村,和裕 佐々木. Владелец: CENTRAL RESEARCH INSTITUTE OF ELECTRIC POWER INDUSTRY. Дата публикации: 2011-11-02.

Dielectric property measuring jig, dielectric property measuring device and dielectric property measuring method

Номер патента: JP6941482B2. Автор: 哲 馬路. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-29.

Complex permittivity measurement device and complex permittivity measurement method

Номер патента: JP2023095464A. Автор: Naoki Hirayama,直樹 平山. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-07-06.

Surface roughness measuring device and surface roughness measuring method

Номер патента: JPH0660813B2. Автор: 佐藤　　誠,政則 栗田. Владелец: Kyowa Electronic Instruments Co Ltd. Дата публикации: 1994-08-10.

Mobile blood pressure device and blood pressure measurement method

Номер патента: TW201223502A. Автор: Wen-Ching Lee,Chun-Te CHUANG. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 2012-06-16.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

INPUT/OUTPUT DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001874A1. Автор: KUROKAWA Yoshiyuki,IKEDA Takayuki. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DIFFERENTIAL MOBILITY ANALYZER, PARTICLE MEASURING SYSTEM, AND PARTICLE SORTING SYSTEM

Номер патента: US20120001067A1. Автор: ORII Takaaki,KUDOH Satoshi. Владелец: RIKEN. Дата публикации: 2012-01-05.

Radar measurement system

Номер патента: RU2564659C1. Автор: Виктор Вячеславович Беляев,Олег Евгеньевич Кирьянов. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2015-10-10.

Hydroacoustic measurement system

Номер патента: RU2517775C1. Автор: Дмитрий Евгеньевич Лейкин,Ростислав Юрьевич Попов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации. Дата публикации: 2014-05-27.

Measuring method of thermal fields of electric radio items

Номер патента: RU2564053C2. Автор: Сергей Борисович Сунцов,Валерий Александрович Деревянко,Егор Александрович Морозов,Александр Васильевич Макуха,Екатерина Федоровна Смолякова. Владелец: Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2015-09-27.

A weight measurement method utilizing image processing for an automated electronic sow-feeding system

Номер патента: PH22019000394U1. Автор: John Vincent R Alladin,Christian Dominic F Allurin,James Theodor E Iglesias,Miguel Antonio G Valdellon. Владелец: Tech Institute Of The Philippines Quezon City. Дата публикации: 2022-02-23.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.