Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Test apparatus

Номер патента: US20050134287A1
Опубликовано: 23-06-2005
Автор(ы): Hiroshi Satou
Принадлежит: Advantest Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Semiconductor test apparatus

Номер патента: US7199574B2. Автор: Takashi Naito. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2007-04-03.

Semiconductor test apparatus

Номер патента: US20050077891A1. Автор: Takashi Naito. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2005-04-14.

Test apparatus and manufacturing method

Номер патента: US8892381B2. Автор: Daisuke Watanabe,Toshiyuki Okayasu. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2014-11-18.

Semiconductor test apparatus and semiconductor test method

Номер патента: US20240219426A1. Автор: Takaya Noguchi,Yoshiyuki Ueda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Semiconductor test apparatus and semiconductor test method

Номер патента: US20220244292A1. Автор: Takaya Noguchi,Yoshiyuki Ueda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-08-04.

Semiconductor test apparatus and semiconductor test method

Номер патента: US12007414B2. Автор: Takaya Noguchi,Yoshiyuki Ueda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Test apparatus and testing method using the same

Номер патента: US20210311105A1. Автор: Harry-Hak-Lay Chuang,Chih-Yang Chang,Chia Yu Wang,Chia-Hsiang Chen,Tien-Wei Chiang,Ching-Huang Wang,Meng-Chun Shih,Chih-Hui Weng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-10-07.

High-frequency signal switching apparatus, and testing apparatus having the same

Номер патента: US20230207230A1. Автор: Jin'an XIE. Владелец: Bizlink Kunshan Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Method for manufacturing silicon carbide semiconductor apparatus, and energization test apparatus

Номер патента: US09874596B2. Автор: Akihiro Koyama,Shigehisa Yamamoto,Yukiyasu Nakao,Kazuya Konishi,Shoyu Watanabe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Method for manufacturing electronic apparatus, adhesive film for manufacturing electronic apparatus, and electronic component testing apparatus

Номер патента: US11747388B2. Автор: Eiji Hayashishita. Владелец: Mitsui Chemicals Tohcello Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Electronic device test apparatus

Номер патента: US20110248734A1. Автор: Hiroyuki Nagai,Tatsuya Yamada,Yasuhide Takeda,Yoji OGINO. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-10-13.

Testing apparatus, testing method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240110969A1. Автор: Koji Miyauchi,Kotaro Hasegawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Test apparatus and method for testing a semiconductor device

Номер патента: US20210239753A1. Автор: Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati,Henrik Asendorf,Nicolas Lamielle. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2021-08-05.

Method for manufacturing electronic apparatus, adhesive film for manufacturing electronic apparatus, and electronic component testing apparatus

Номер патента: US20190285687A1. Автор: Eiji Hayashishita. Владелец: Mitsui Chemicals Tohcello Inc. Дата публикации: 2019-09-19.

Test apparatus for power supply unit

Номер патента: US20120146622A1. Автор: Jin Sung Kim,Jin Woo Bae,Kyu Cheol Kang,Choul Ho Lee,Jong Yang Choo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-06-14.

Test apparatuses for testing semiconductor packages and manufacturing systems for manufacturing semiconductor packages having the same and methods of manufacturing the semiconductor packages using the same

Номер патента: US20210141014A1. Автор: Junyoung Ko,Jiyeon HAN,Jinduck Park,Chansik Kwon,Jongkeun Moon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-05-13.

Test apparatus for semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20240345156A1. Автор: Takuya Yoshimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Multiphase thermal interface component, method of forming the same and electronic device testing apparatus provided with the same

Номер патента: US20240192268A1. Автор: Yu-Wei Chuang,Xin-Yi Wu,Jui-Che Chou. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Test apparatus and methods for arc mitigation device

Номер патента: WO2019129381A1. Автор: David A. Metcalf,Robert J. Burns,Dan E. Hrncir. Владелец: Eaton Intelligent Power Limited. Дата публикации: 2019-07-04.

Method for controlling test apparatus and test apparatus

Номер патента: US20210088588A1. Автор: Tomoya Endo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-03-25.

Charge/discharge test apparatus, battery test system, and battery production system

Номер патента: EP4450977A2. Автор: BO LIU,Haiyang Li,Lixin Guo,Shaoteng Ren,Keyu RUAN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Charge/discharge test apparatus, battery test system, and battery production system

Номер патента: EP4450977A3. Автор: BO LIU,Haiyang Li,Lixin Guo,Shaoteng Ren,Keyu RUAN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Semiconductor wafer testing apparatus, semiconductor wafer testing system, flatness measuring device, and method of adjusting flatness of wiring board

Номер патента: US20240302411A1. Автор: Yuto MORI. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Base, voltage sampling assembly, and voltage testing apparatus

Номер патента: US20230344024A1. Автор: Rongji ZHANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Secondary Battery Cell Insulation Test Apparatus and Method Using the Same

Номер патента: US20240302425A1. Автор: Jeong Joo Lee,Ja Sung Yun,Ha Chul JEONG,Soo Hwan Jo,Tak Kyung Yoo. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Secondary Battery Cell Insulation Test Apparatus and Method Using the Same

Номер патента: US20240302437A1. Автор: Jeong Joo Lee,Tak Kyung Yoo. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Cell test apparatus

Номер патента: GB2616627A. Автор: Moore Benjamin,Kerr Alexander. Владелец: Jaguar Land Rover Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Test apparatus for testing semiconductor packages and automatic test equipment having the same

Номер патента: US11614483B2. Автор: Jaehyun Kim,Dahm YU,Hyunmin Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-28.

Test apparatus for testing semiconductor packages and automatic test equipment having the same

Номер патента: US20210325450A1. Автор: Jaehyun Kim,Dahm YU,Hyunmin Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-10-21.

Method for setting up test apparatus and test apparatus

Номер патента: US20240118338A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Battery testing apparatus

Номер патента: US20180210035A1. Автор: Li Qian,Yang Wu,Yu-Quan Wang,Xue-Wei Guo,Li-Yong Ma,Fu-Jun Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-26.

Flexible film electrical-test substrates with conductive coupling post(s) for integrated circuit (ic) bump(s) electrical testing, and related methods and testing apparatuses

Номер патента: WO2016048626A1. Автор: Seung Hyuk KANG,Chin-Kwan Kim,Dong Wook Kim,Jae Sik Lee,Hong Bok We,Young Kyu Song,Kyu-Pyung Hwang. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2016-03-31.

Testing apparatus for singulated semiconductor dies with sliding layer

Номер патента: US20210134632A1. Автор: Christoph Reith. Владелец: ams AG. Дата публикации: 2021-05-06.

Testing apparatus for singulated semiconductor dies with sliding layer

Номер патента: WO2019197295A1. Автор: Christoph Reith. Владелец: ams AG. Дата публикации: 2019-10-17.

Fixture assembly for testing edge-emitting laser diodes and testing apparatus having the same

Номер патента: US20200303895A1. Автор: James E. Hopkins. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2020-09-24.

Fixture assembly for testing surface emitting laser diodes and testing apparatus having the same

Номер патента: US20200303894A1. Автор: James E. Hopkins. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2020-09-24.

Pressing assembly and chip testing apparatus

Номер патента: US20220128600A1. Автор: Chen-Lung Tsai,Gene Rosenthal. Владелец: One Test Systems. Дата публикации: 2022-04-28.

Testing apparatus and method for determining an etch bias associated with a semiconductor-processing step

Номер патента: WO2005033720A2. Автор: James Chingwei Li,Richard L. Pierson, Jr.,Berinder S. Brar. Владелец: Rockwell Scientific Licensing, Llc. Дата публикации: 2005-04-14.

Testing apparatus and method of using the same

Номер патента: US20230067209A1. Автор: Jian-Ting CHEN,Cheng-Han Huang,Kuang-Hua Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Testing apparatus and method of using the same

Номер патента: US20240345130A1. Автор: Jian-Ting CHEN,Cheng-Han Huang,Kuang-Hua Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Testing apparatus and method of using the same

Номер патента: US12066457B2. Автор: Jian-Ting CHEN,Cheng-Han Huang,Kuang-Hua Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Test apparatuses for semiconductor devices

Номер патента: US20220146571A1. Автор: Jae Hong Kim,Hyung Il Kim,Se-Hyun Seo,Byeong Min YU,Sang Jae Rhee,Young Chyel LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-05-12.

Test apparatuses for semiconductor devices

Номер патента: US11604220B2. Автор: Jae Hong Kim,Hyung Il Kim,Se-Hyun Seo,Byeong Min YU,Sang Jae Rhee,Young Chyel LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-14.

Integrated circuit with antenna in package testing apparatus

Номер патента: US11119139B2. Автор: Wei-Cheng Wang,Shin-tsung CHEN. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-14.

Integrated circuit with antenna in package testing apparatus

Номер патента: US20210011069A1. Автор: Wei-Cheng Wang,Shin-tsung CHEN. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-14.

Testing apparatus and method of using the same

Номер патента: US20230280370A1. Автор: Jian-Ting CHEN,Cheng-Han Huang,Kuang-Hua Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Wave shaping circuit of semiconductor testing apparatus

Номер патента: US5955901A. Автор: Makoto Kikuchi,Kiyotaka Mizuno. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 1999-09-21.

Test apparatus and driver circuit

Номер патента: US20100244884A1. Автор: Naoki Matsumoto,Yuji Kuwana,Yasuhiro Urabe. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-09-30.

Test apparatus and method for testing cable assembly

Номер патента: US12085627B2. Автор: Jian Chen,Haomai (Ivan) YIN,Lvhai (Samuel) Hu,An (Joshua) Yang,Xuexiong (Ricky) Jiang,Jinxian (Tony) Wang. Владелец: Tyco Electronics Technology SIP Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Load testing apparatus and coupling switch unit for load testing apparatus

Номер патента: US09488694B2. Автор: Toyoshi Kondo. Владелец: Tatsumi Ryoki Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Test apparatus and test method thereof

Номер патента: US20220404395A1. Автор: Hoon Kim,Seungbum Hong,Younghoon Sohn,Yusin Yang,Souk Kim,Sungyoon Ryu,Kwangeun KIM,Seokjung Yun,Jiwon YEOM. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2022-12-22.

Semiconductor test apparatus having pogo pins coated with conduction films

Номер патента: US09915681B2. Автор: Taehwan Kim,Sunghoon Jang,Byungho Choi,Minsuk Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-13.

Test apparatus

Номер патента: US11828798B2. Автор: Shigeyuki Sato,Naoyoshi Watanabe,Ryoichi Utsumi. Владелец: Toei Scientific Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Testing apparatus and connection method for the testing apparatus

Номер патента: US5594357A. Автор: Hisashi Nakajima. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1997-01-14.

Load testing apparatus and coupling switch unit for load testing apparatus

Номер патента: CA2931080C. Автор: Toyoshi Kondo. Владелец: Tatsumi Ryoki Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-17.

Testing unit and a connector testing apparatus using the same

Номер патента: US20020045379A1. Автор: Nobuhiro Suzuki. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2002-04-18.

Semiconductor device and test apparatus and method thereof

Номер патента: US11887901B2. Автор: Jae Won Kim,Wan Tae Kim,Jin A Kim,Yong Jun BAN,Soo Chul JEON. Владелец: Silicon Works Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-30.

Protective structures for bond wires, methods for forming same, and test apparatus including such structures

Номер патента: US20020031847A1. Автор: Salman Akram. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-03-14.

Signal capture system and test apparatus including the same

Номер патента: US20110109318A1. Автор: Min-Sung Kim,Jae-Il Lee,Sung-Yeol Kim,In-Ho Choi,In-su Yang,Jong-Pill Park,Ho-sun Yoo,Woon-Sup Choi,Jeong-gon Lee,Seung-jun Chee,Chul-Woong Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-05-12.

Test apparatus for semiconductor package

Номер патента: US20210302468A1. Автор: Bo Hyun Kim,Chang Su Oh. Владелец: TSE Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Semiconductor device testing apparatus and semiconductor device manufacturing method using it

Номер патента: US20020033707A1. Автор: Hideo Miura,Masatoshi Kanamaru,Ryuji Kohno,Naoto Ban,Hiroya Shimizu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-03-21.

Electronic device pick-and-place system and electronic device testing apparatus having the same

Номер патента: US12103789B2. Автор: Chien-Ming Chen,Jui-Hsiung CHEN,Yi-Sheng Xu. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Multiphase thermal interface component, its method of manufacturing, and electronic device testing apparatus

Номер патента: EP4386398A1. Автор: Yu-Wei Chuang,Xin-Yi Wu,Jui-Che Chou. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2024-06-19.

Test apparatus and test method

Номер патента: MY131932A. Автор: Seiji Ichiyoshi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2007-09-28.

Test apparatus and electronic device

Номер патента: US20080235498A1. Автор: Tatsuya Yamada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2008-09-25.

Semiconductor test apparatus capable of inducing reduction of power consumption

Номер патента: US20230420068A1. Автор: Yong Hyun Kim,Hyo Sang Jo,Jae Hoon Joo,Wan Soon PARK. Владелец: YIK Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Method and apparatus comprising a semiconductor device and test apparatus

Номер патента: US20210239754A1. Автор: Antonius Johannes Matheus De Graauw,Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati,Maristella Spella,Giorgio Carluccio,Waqas Hassan SYED,Henrik Asendorf. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2021-08-05.

Testing apparatus and relative method

Номер патента: EP2473862A1. Автор: Michele Vazzoler. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2012-07-11.

Temperature control and method for devices under test and image sensor-testing apparatus having the system

Номер патента: US11932498B2. Автор: Chin-Yi Ouyang,Chin-Yuan KUO,Chang-Jyun HE,Yung-Fan CHU. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2024-03-19.

GRPC-Based Chip Test Method, GRPC-Based Chip Test Apparatus, and Storage Medium

Номер патента: US20240103075A1. Автор: Yufeng Peng,Ligang Yuan,Zeliang Xie,Zuhua Shi,Huichuang Ma. Владелец: Guangzhou Transa Semi Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Test apparatus for testing a circuit unit

Номер патента: US20080222452A1. Автор: Hans-Gerd Kirchhoff. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2008-09-11.

Solar cell testing apparatus and solar cell testing method

Номер патента: US09831828B1. Автор: Masao Higuchi,Fumio Tokutake. Владелец: Hioki Denki KK. Дата публикации: 2017-11-28.

Power-Semiconductor-Device Test Apparatus Facilitating Test-Connection Changes

Номер патента: US20240310426A1. Автор: Hiroshi Takahara,Seiichiro Kihara,Shigeo Sakata,Takahiro Kajinishi. Владелец: Qualtec Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Solar cell testing apparatus and solar cell testing method

Номер патента: US09762179B2. Автор: Masao Higuchi,Fumio Tokutake. Владелец: Hioki Denki KK. Дата публикации: 2017-09-12.

Test apparatus and test system

Номер патента: US20140288871A1. Автор: Tsutomu Unesaki,Masayuki Shibaoka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-09-25.

Test apparatus of display, method and computer readable medium

Номер патента: US9437126B2. Автор: Woo-Jung Shin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Test apparatus of display, method and computer readable medium

Номер патента: US09437126B2. Автор: Woo-Jung Shin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Test apparatus, test method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US12130324B2. Автор: Kotaro Hasegawa,Kouji Miyauchi,Go UTAMARU. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Assembly for test apparatus with cooling and venting assemblies

Номер патента: US09455608B2. Автор: Paul M. Krueger,Tyler B. Kuhlmann,Bradley Dean Schulz,Richard Leo Taylor. Владелец: MTS Systems Corp. Дата публикации: 2016-09-27.

Circuit testing apparatus

Номер патента: CA1235527A. Автор: John W. Bailey,Paul A. Hayter,Brian R. Mason,Graham N. Turner. Владелец: Individual. Дата публикации: 1988-04-19.

Solar cell testing apparatus and solar cell testing method

Номер патента: US20170338770A1. Автор: Masao Higuchi,Fumio Tokutake. Владелец: Hioki Denki KK. Дата публикации: 2017-11-23.

Solar cell testing apparatus and solar cell testing method

Номер патента: US20160329863A1. Автор: Masao Higuchi,Fumio Tokutake. Владелец: Hioki Denki KK. Дата публикации: 2016-11-10.

Battery testing apparatus and testing method

Номер патента: EP4372360A1. Автор: Lixin Guo,Shaoteng Ren,Guolong LIAO. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Testing apparatus having tips of different heights

Номер патента: US8159246B2. Автор: Tao-Ming Lee,Yoang-Coang Wen,Xin-Xion Liang,Shan-Yu Yu. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2012-04-17.

Test apparatus for generating reference scan chain test data and test system

Номер патента: US09885752B2. Автор: Michael Braun,Markus Seuring. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Battery test apparatus and test method

Номер патента: US20240106014A1. Автор: Lixin Guo,Shaoteng Ren,Guolong LIAO. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Battery Testing Apparatus And Battery Testing System

Номер патента: US20240283039A1. Автор: Sang Hoon Lee,Ji Won Hwang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Ground connector in an integrated circuit testing apparatus

Номер патента: US11821916B2. Автор: Wei Kuong Foong,Eng Kiat Lee,Kok Sing Goh,Shamal Mundiyath,Fadzhirul Ridhzwan Azry Bin SULAIMAN. Владелец: JF Microtechnology Sdn Bhd. Дата публикации: 2023-11-21.

Short contact in a testing apparatus for wireless integrated circuits

Номер патента: PH12015000314A1. Автор: FOONG Wei Kuong,GOH Kok Sing,MUNDIYATH Shamal,LEE Eng Kiat. Владелец: JF Microtechnology Sdn Bhd. Дата публикации: 2017-03-27.

Short contact in a testing apparatus for wireless integrated circuits

Номер патента: PH12015000314B1. Автор: Wei Kuong Foong,Eng Kiat Lee,Kok Sing Goh,Shamal Mundiyath. Владелец: JF Microtechnology Sdn Bhd. Дата публикации: 2017-03-27.

Test apparatus, test signal supply apparatus, test method, and computer readable medium

Номер патента: US20170102429A1. Автор: Koji Takahashi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-04-13.

ZIF connector and semiconductor-testing apparatus using the same

Номер патента: US20050142918A1. Автор: Akihiko Otsu,Keiichi Azuma. Владелец: JST Mfg Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-30.

Load testing apparatus

Номер патента: US09500718B2. Автор: Toyoshi Kondo. Владелец: Tatsumi Ryoki Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Self-test apparatuses involving distributed self-test controller circuits and methods thereof

Номер патента: US20200124662A1. Автор: Tao Chen,Lei Ma,Xiankun Jin,Jan-Peter Schat. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2020-04-23.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20060161829A1. Автор: Shinichi Kobayashi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-07-20.

Charge/discharge test apparatus, battery test system, and battery production system

Номер патента: US20240145795A1. Автор: BO LIU,Haiyang Li,Lixin Guo,Shaoteng Ren,Keyu RUAN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

High-Frequency Magnetoimpedance Testing Apparatus and Method

Номер патента: US20220137000A1. Автор: Rui Liu,Ze Li,Jingshun LIU,Guanyu Cao,Shuqin XIAO. Владелец: Inner Mongolia University of Technology. Дата публикации: 2022-05-05.

Switch apparatus, test apparatus and method for operating a switch apparatus for a measuring device for a transformer

Номер патента: CA2985127C. Автор: Horst Schedler,Michael Freiburg,Felix Feustel,Dmitry Atlas. Владелец: OMICRON Electronics GmbH. Дата публикации: 2022-09-06.

Plugging force test apparatus

Номер патента: GB2616076A. Автор: Manterys Marek,Jakub Godlewski Marcin. Владелец: Aptiv Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Dynamo electric machine permanent magnet flux test apparatus which simulates actual flux conditions of the motor

Номер патента: US4056770A. Автор: Wolfgang Sohn,Georg Strobl,Adolf Mohr. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 1977-11-01.

Battery charge and discharge test apparatus

Номер патента: US20240145796A1. Автор: Lixin Guo,Shaoteng Ren,Keyu RUAN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Testing apparatus

Номер патента: US20240106013A1. Автор: FAN YANG,Lixin Guo,Hongyu Zheng,Shaoteng Ren,Keyu RUAN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Load testing apparatus

Номер патента: CA2937291C. Автор: Toyoshi Kondo. Владелец: Tatsumi Ryoki Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

Plugging force test apparatus

Номер патента: US20230273075A1. Автор: Marek Manterys,Marcin Jakub Godlewski. Владелец: Aptiv Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Plugging force test apparatus

Номер патента: EP4235129A1. Автор: Marek Manterys,Jakub Marcin GODLEWSKI. Владелец: Aptiv Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Test apparatus, pattern generator, test method and pattern generating method

Номер патента: US20080319700A1. Автор: Eiji Harada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2008-12-25.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices with improved thermal management

Номер патента: WO2024132800A1. Автор: Stefano Felici,Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Semiconductor test apparatus and test method for semiconductor device

Номер патента: US20100237893A1. Автор: Norifumi Kobayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2010-09-23.

Semiconductor wafer test system for controlling supply of power to semiconductor wafer test apparatus and method of controlling supply of power to semiconductor wafer test apparatus

Номер патента: US20230417824A1. Автор: Yong Hyun Kim,Hyo Sang Jo,Jae Hoon Joo,Ki Young JEON. Владелец: YIK Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Guide device and test apparatus for electronic devices

Номер патента: MY144399A. Автор: Alexander Waldauf,Alfred Langer. Владелец: RASCO GmbH. Дата публикации: 2011-09-15.

Flash memory testing apparatus

Номер патента: US5539699A. Автор: Shinya Sato,Hiromi Ohshima. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 1996-07-23.

Semiconductor device testing apparatus having presence or absence detectors issuing an alarm when an error occurs

Номер патента: US6111246A. Автор: Hiroto Nakamura,Yutaka Watanabe,Toshio Yabe,Michirou Chiba. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2000-08-29.

Fabricating method and testing method of semiconductor device and mechanical integrity testing apparatus

Номер патента: US20120135547A1. Автор: Ra-Min Tain,Ming-Che Hsieh,John H. Lau. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2012-05-31.

Test apparatus and driver circuit

Номер патента: US20100244880A1. Автор: Naoki Matsumoto,Yuji Kuwana,Yasuhiro Urabe. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-09-30.

Test apparatus and jumper thereof

Номер патента: US11828789B2. Автор: Choon Leong Lou,Yi Ming Lau. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Test apparatus for image sensor package

Номер патента: US20240151769A1. Автор: Min Cheol Kim,Sol Lee. Владелец: TSE Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Test apparatus and jumper thereof

Номер патента: US20230123340A1. Автор: Choon Leong Lou,Yi Ming Lau. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2023-04-20.

Test apparatus and method for operating the same

Номер патента: US10753973B2. Автор: Zi-Ning MAO. Владелец: ASE Test Inc. Дата публикации: 2020-08-25.

Semiconductor test apparatus using fpga and memory control method for semiconductor test

Номер патента: US20240003964A1. Автор: Wan Soon PARK. Владелец: YIK Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Testing apparatus for electronic device

Номер патента: US09607536B2. Автор: Chun-Sheng Chen,Zhen-Sheng Wang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Wuhan Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Substrate test apparatus and method

Номер патента: US20240110879A1. Автор: Gyunam PARK. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Zone selective interlocking test apparatus

Номер патента: US09864009B1. Автор: Alec Dane BURKLE. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Film thickness test apparatus and method and vapor deposition device

Номер патента: US11092429B2. Автор: Chihwei SU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-17.

Film thickness test apparatus and method and vapor deposition device

Номер патента: US20190025045A1. Автор: Chihwei SU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-24.

Interconnect delay fault test controller and test apparatus using the same

Номер патента: US7673203B2. Автор: Chang Won Park,Young Hwan Kim,Ki Man Jeon,Jae Gi Son,Hyun Bean Yi,Sung Ju Park. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2010-03-02.

Chemical test apparatus and substrate processing apparatus

Номер патента: US20240118216A1. Автор: Seong Hyeon Kim,Sangwoo Park,Seungtae YANG,Gi Hun CHOI. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Testing apparatus usable in switchgear cabinet

Номер патента: US9671425B1. Автор: Timothy Fair,Daniel Edward Hrncir. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Test method and test apparatus for testing a plurality of blocks in a circuit

Номер патента: US09664741B2. Автор: Fei Dong,Shu Gong,Hai Long Li,Yin Peng Lv,Liu Di Wang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-05-30.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20110087934A1. Автор: Takahiro Yasui. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-04-14.

2ND level power fault testing apparatus for testing telecommunications equipment

Номер патента: EP1223731B1. Автор: Gary L. Swale. Владелец: Alcatel USA Sourcing Inc. Дата публикации: 2005-08-03.

Load testing apparatus

Номер патента: US09857433B2. Автор: Toyoshi Kondo. Владелец: Tatsumi Ryoki Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

LSI testing apparatus

Номер патента: US7075326B2. Автор: Yasuo Furukawa,Masahiro Ichinomiya,Masaki Hashidume,Takeomi Tamesada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-07-11.

Test apparatus for semiconductor package

Номер патента: US20140062496A1. Автор: Jun-young Ko,Jae-Ho Choi,Chan-Sik KWON,Seok-Won JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

Testing apparatus and testing method for semiconductor integrated circuit

Номер патента: US6593765B1. Автор: Takahiro Yamaguchi,Masahiro Ishida,Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-07-15.

Test apparatus and measurement circuit

Номер патента: US20080234961A1. Автор: Koichi Tanaka. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2008-09-25.

Electronic component pressing apparatus and electronic component testing apparatus

Номер патента: US20220082613A1. Автор: Yasuyuki Kato,Natsuki Shiota. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

1ST Level power fault testing apparatus for testing telecommunications equipment

Номер патента: EP1223730A3. Автор: Gary L. Swale. Владелец: Alcatel USA Sourcing Inc. Дата публикации: 2003-05-07.

Testing apparatus and folded probe card testing system

Номер патента: US20190258537A1. Автор: Min-Chung Chou. Владелец: Elite Semiconductor Memory Technology Inc. Дата публикации: 2019-08-22.

Telecommunications wiring test apparatus and method

Номер патента: CA1315858C. Автор: David Douglas Clegg. Владелец: Northern Telecom Ltd. Дата публикации: 1993-04-06.

Testing method and testing apparatus

Номер патента: US20070091698A1. Автор: Takao Watanabe,Shigenobu Ishihara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-04-26.

Shock Test Apparatus for Pouch-Shaped Battery Cells and Shock Test Method for Pouch-Shaped Battery Cells Using the Same

Номер патента: US20240255376A1. Автор: Hyun Tae Kim,Jeong Hee Han,Kyu Sang Cho. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Test apparatus

Номер патента: US20090164167A1. Автор: Norio Kumaki. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-06-25.

Test apparatus, test method, calibration device, and calibration method

Номер патента: US09791512B2. Автор: Hideo Hara,Shin Masuda,Tsuyoshi Ataka. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Semiconductor test apparatus, and method of testing semiconductor device

Номер патента: US20020106817A1. Автор: Shinji Yamada,Teruhiko Funakura,Hisaya Mori. Владелец: MITSUBISHI DENKI AND RYODEN SEMICONDUCTOR SYSTEM ENGINEERING Corp KK. Дата публикации: 2002-08-08.

Test apparatus and program for testing a dut

Номер патента: US20060168498A1. Автор: Masaki Fujiwara. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-07-27.

Fault test apparatus and method for testing semiconductor device under test using fault excitation function

Номер патента: US7983858B2. Автор: Hiroshi Takahashi,Takashi Aikyo,Michinobu Nakao,Hideo Ohmae,Yuzo Takamatsu,Yoshinobu Higami,Michiaki Emori. Владелец: Semiconductor Technology Academic Research Center. Дата публикации: 2011-07-19.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20070022346A1. Автор: Takeo Miura,Hirokatsu Niijima,Hiroaki Nishimine. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2007-01-25.

Test apparatus for electronic equipment

Номер патента: US4794599A. Автор: Francis A. Purcell,William G. Fenton,Matthew M. Collins. Владелец: Individual. Дата публикации: 1988-12-27.

Circuit testing apparatus

Номер патента: US20080063212A1. Автор: Jack Lin,Cheng-Yung Teng,Li-Ying Chang,Yi-Chang Hsu,Wei-Fen Chiang. Владелец: Princeton Technology Corp. Дата публикации: 2008-03-13.

Testing apparatus and testing method

Номер патента: US7779313B2. Автор: Kiyoshi Murata,Tomoyuki Sugaya,Sami Akhtar. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-08-17.

Weighted random pattern testing apparatus and method

Номер патента: CA1234599A. Автор: Franco Motika,John A. Waicukauski. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1988-03-29.

Test apparatus, test method, measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20090261807A1. Автор: Yuichi Miyaji,Atsuo Sawara. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-10-22.

Test apparatus and calibration method

Номер патента: US20090150733A1. Автор: Shigeki Takizawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Fault test apparatus and method for testing semiconductor device under test using fault excitation function

Номер патента: US20090063062A1. Автор: Hiroshi Takahashi,Takashi Aikyo,Michinobu Nakao,Hideo Ohmae,Yuzo Takamatsu,Yoshinobu Higami,Michiaki Emori. Владелец: Semiconductor Technology Academic Research Center. Дата публикации: 2009-03-05.

Side penetration test apparatus for battery cells and battery cell penetration test method using the same

Номер патента: US20240154190A1. Автор: Tae Gyu Lee. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Semiconductor testing apparatus and method for optimizing a wait time until stabilization of semiconductor device output signal

Номер патента: US6895548B2. Автор: Masatsugu Kitada,Motoyuki Katayama,Akiyoshi Kuramoto,Tatsuhisa Nii. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2005-05-17.

Portable testing apparatus for computer peripherals

Номер патента: GB2210184A. Автор: Alan Mcpherson Wallace,Reginald Cameron Gordo Killean. Владелец: Rodime PLC. Дата публикации: 1989-06-01.

Semiconductor testing apparatus

Номер патента: US6198699B1. Автор: Morihiro Yamabe. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2001-03-06.

Method for operating a test apparatus and a test apparatus

Номер патента: US20180017620A1. Автор: Wolfgang Horn. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2018-01-18.

Load testing apparatus and cap for load testing apparatus

Номер патента: US09885756B2. Автор: Toyoshi Kondo. Владелец: Tatsumi Ryoki Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Motor testing apparatus utilizing inertial loading

Номер патента: US5291128A. Автор: Manoj M. Shekar,Charles R. Eimers,Daniel P. Welker. Владелец: Motors Liquidation Co. Дата публикации: 1994-03-01.

Semiconductor chip test apparatus and testing method

Номер патента: US20090167340A1. Автор: Sang Yoon YIM. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2009-07-02.

Testing apparatus embedded in scribe line and a method thereof

Номер патента: US6809541B2. Автор: Lin-Kai Bu,Kun-Cheng Hung. Владелец: Himax Technologies Ltd. Дата публикации: 2004-10-26.

Test apparatus, test method, and device interface

Номер патента: US8659750B2. Автор: Shin Masuda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2014-02-25.

Test apparatus, test method, and device interface

Номер патента: US20110279811A1. Автор: Shin Masuda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-11-17.

Charging test apparatus and method

Номер патента: US20240219483A1. Автор: Longlong MENG. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Tuning a testing apparatus for measuring skew

Номер патента: US20170023646A1. Автор: Layne A. Berge,Benjamin A. Fox,Wesley D. Martin,George R. Zettles, IV,David W. Siljenberg. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-26.

Test apparatus for testing a mobile ap

Номер патента: US20230236941A1. Автор: Min Cheol Kim,Sol Lee. Владелец: TSE Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Radio terminal test apparatus and radio terminal test method

Номер патента: US20230254055A1. Автор: Nozomu Hikino,Takasumi IKEBE. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Battery testing apparatus and device

Номер патента: US20240219474A1. Автор: Haiyang Li,Lixin Guo,Shaoteng Ren. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Photovoltaic device test method and test apparatus

Номер патента: US20240048099A1. Автор: Derk BÄTZNER,Gilles Arnoux,Nicolas Bassi,Nicolas Frick. Владелец: Pasan Sa. Дата публикации: 2024-02-08.

Photovoltaic device test method and test apparatus

Номер патента: US12040746B2. Автор: Derk BÄTZNER,Gilles Arnoux,Nicolas Bassi,Nicolas Frick. Владелец: Pasan Sa. Дата публикации: 2024-07-16.

Test Apparatus Based on Binary Vector

Номер патента: US20170337988A1. Автор: Moon-Ho Lee,Joosung Yun,Seongseob SHIN,Woonsup CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-11-23.

Test apparatus based on binary vector

Номер патента: US10163525B2. Автор: Moon-Ho Lee,Joosung Yun,Seongseob SHIN,Woonsup CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-12-25.

Semiconductor testing apparatus

Номер патента: US20020043979A1. Автор: Nobuaki Takeuchi. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-04-18.

Bond test apparatus, cartridge for a bond test apparatus and method of measuring a force in a bond test apparatus

Номер патента: EP4280259A3. Автор: Martin Bugg,Robert DEARDS. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2024-02-28.

Bond test apparatus, cartridge for a bond test apparatus and method of measuring a force in a bond test apparatus

Номер патента: EP4280259A2. Автор: Martin Bugg,Robert DEARDS. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2023-11-22.

Circuit test apparatus

Номер патента: US20090302861A1. Автор: Cheng-Yung Teng,Li-Ying Chang. Владелец: Princeton Technology Corp. Дата публикации: 2009-12-10.

Test apparatus and test method

Номер патента: US11921140B2. Автор: Hiroshi Hasegawa,Tomohiko Maruo. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Heater drive controlling apparatus, electronic component handling apparatus, electronic component testing apparatus, and heater drive controlling method

Номер патента: US20230393189A1. Автор: Hirotaka Sasaki,Keisuke Nitta,Takuro Ashizawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Clock signal test apparatus and method

Номер патента: US20100313057A1. Автор: Ting-Chung Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Test apparatus and method

Номер патента: US20240264104A1. Автор: Dan Yang,Na MEI,Niuyi SUN,Tuobei Sun. Владелец: Sanechips Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Testing apparatus, and testing method

Номер патента: US20060255828A1. Автор: Yasuo Furukawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-11-16.

Burn-in test apparatus

Номер патента: US20080291761A1. Автор: Sang Kwon Lee,Bong Seok Han. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2008-11-27.

Burn-in test apparatus

Номер патента: US8041531B2. Автор: Sang Kwon Lee,Bong Seok Han. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2011-10-18.

Intelligent circuit enable portable testing apparatus for servo motor

Номер патента: AU2021101296A4. Автор: Biswaranjan Acharya,Puja Das,Asik Rahaman Jamader,Alivarani Mohapatra,Arjyadhara Pradhan,Satyabrata Sahoo,Babita Panda,Srikanta Mohapatra,Lipika Nanda. Владелец: Nanda Lipika Dr. Дата публикации: 2021-05-06.

Wafer test apparatus

Номер патента: US09696369B2. Автор: In-Seok Hwang,Woo-Kyu Lee,In-Ki Kim,Jong-Koo Kil. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Semiconductor device testing apparatus

Номер патента: US20140167806A1. Автор: Jae Kyoung Mun,Eun Soo Nam,Dong Min Kang,Sang-Heung Lee,Hyung Sup Yoon,Jong-Won Lim,Chul Won Ju,Seong-Il Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2014-06-19.

Testing apparatus for providing per pin level setting

Номер патента: US09562947B2. Автор: Hsin-Hao Chen,Po-Shen KUO. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-02-07.

Testing apparatus

Номер патента: US20240219448A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Semiconductor testing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20240295599A1. Автор: Takuya Yoshimura,Noritsugu NOMURA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Testing apparatus for light emitting diodes

Номер патента: US09429617B2. Автор: Hsu-Ting CHENG,Jeff Lee,I-Shih Tseng,Chih-Yu Cheng,Tien-Teng Chang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Automotive battery test apparatus

Номер патента: CA1191201A. Автор: Joseph A. Marino,Sydney J. Roth. Владелец: Bear Automotive Service Equipment Co. Дата публикации: 1985-07-30.

Battery testing apparatus with overload protective means

Номер патента: US4297639A. Автор: Tillman W. Branham. Владелец: Individual. Дата публикации: 1981-10-27.

Automotive battery test apparatus

Номер патента: US4423378A. Автор: Joseph A. Marino,Sydney J. Roth. Владелец: Bear Automotive Service Equipment Co. Дата публикации: 1983-12-27.

Test apparatus

Номер патента: US20120153977A1. Автор: Seiji Amanuma. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-06-21.

Method for testing semiconductor dies and a test apparatus

Номер патента: US9435849B2. Автор: Stefan KRAMP,Erwin Thalmann,Christian Musshoff,Michael Leutschacher. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2016-09-06.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: WO2013006768A3. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,Michael Palumbo. Владелец: CELADON SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2013-03-14.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: US20140239996A1. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee,Michael Palumbo. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2014-08-28.

Test apparatus

Номер патента: US20120268138A1. Автор: Kenji Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

Load testing apparatus

Номер патента: CA2888376C. Автор: Toyoshi Kondo. Владелец: Tatsumi Ryoki Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-28.

Test apparatus, test method and recording medium

Номер патента: US11714106B2. Автор: Kazuhiro Sakaguchi. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2023-08-01.

A semiconductor components delivery system associated with a turret type testing apparatus

Номер патента: PH12014501299B1. Автор: Heng Lee Lee. Владелец: EXIS TECH SDN BHD. Дата публикации: 2014-09-15.

Test apparatus, test method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US11788885B2. Автор: Kotaro Hasegawa,Kouji Miyauchi,Go UTAMARU. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

A semiconductor components delivery system associated with a turret type testing apparatus

Номер патента: PH12014501299A1. Автор: LEE HENG LEE. Владелец: EXIS TECH SDN BHD. Дата публикации: 2014-09-15.

Load test apparatus

Номер патента: US11828804B2. Автор: Toyoshi Kondo,Nobuhide HAMANO. Владелец: Tatsumi Ryoki Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Testing apparatus and method of controlling testing apparatus

Номер патента: US20210311094A1. Автор: Tomoya Endo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-10-07.

Test apparatus that tests a device under test and connecting apparatus that connects a first apparatus and a second apparatus

Номер патента: US7728615B2. Автор: Tetsuya Koishi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Test apparatus and test method

Номер патента: US7945826B2. Автор: Shinya Sato,Masaru Doi,Satoshi KAMEDA. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-05-17.

Electronic device testing apparatus, electronic device housing apparatus, electronic device retrieving apparatus, and electronic device testing method

Номер патента: US20150130493A1. Автор: Yoshinari Kogure. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2015-05-14.

Test apparatus and connecting apparatus

Номер патента: US20090066340A1. Автор: Tetsuya Koishi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-03-12.

Test board and test apparatus for testing electronic apparatuses having semiconductor devices

Номер патента: US20210172979A1. Автор: Hyeju KIM,Youngchul Lee,Jaecheong Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-10.

Testing apparatus, control device system, and testing method

Номер патента: US12038466B2. Автор: Andreas Schmidtlein,Simeon Lange. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-07-16.

Testing apparatus for testing electrical circuit board having electrical connectors thereon

Номер патента: US09817055B2. Автор: Yu-Ching Liu,Jie-Peng Kang,Fu-Chi YANG,Po-Lin Su,Wei-Da Yang,Zhi-Jun Wang,Shun-Tung Chen,Li-Quan Zhang. Владелец: Hongfujin Precision Electronics Zhengzhou Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Computer chip packaging test apparatus

Номер патента: LU501977B1. Автор: CHENG Fei. Владелец: Suzhou Ebins Information Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-31.

Testing apparatus and method

Номер патента: US09341647B2. Автор: Hsin-Hung Lee,Kuang-Ching Fan,Tzu-Yuan Huang,Chun-Hsun Lin,Hsuan-Hao Yang. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-17.

Probe Structure for Radio Frequency Testing, and Radio Frequency Test Apparatus and System

Номер патента: US20240219441A1. Автор: CHENG Jiang,Wei ZHAI. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Cross-bar unit for a test apparatus for circuit boards, and test apparatus containing the former

Номер патента: US09989583B2. Автор: Victor Romanov,Bernd-Ulrich OTT. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Touch testing apparatus for touch detection module and method for testing the same

Номер патента: US12038475B2. Автор: Kee Yong Kim,Jae Woo Choi,Jun Young Ko,Jun Seong LEE,Eun Sol SEO,Jung Hun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

A method of controlling test probes in a testing apparatus for electronic printed circuit boards, and an apparatus for performing the method

Номер патента: EP1018030A1. Автор: Mikael Hauschultz. Владелец: Tellabs Denmark AS. Дата публикации: 2000-07-12.

Chip testing apparatus

Номер патента: US11630148B2. Автор: Chen-Lung Tsai,Gene Rosenthal. Владелец: One Test Systems. Дата публикации: 2023-04-18.

Multistory electronic device testing apparatus

Номер патента: US11740283B2. Автор: Chien-Ming Chen,Xin-Yi Wu,Chin-Yi Ouyang,Wei-Cheng Kuo,Iching TSAI. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-08-29.

Electronic component testing apparatus, socket, and carrier

Номер патента: US12130327B2. Автор: Akihiko Ito,Takashi Kawashima,Naoto Imaizumi,Masanori Nagashima,Sungywen Kim. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Wafer testing apparatus

Номер патента: US20030218474A1. Автор: Masaru Sanada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2003-11-27.

Test apparatus with dry environment

Номер патента: US09470749B2. Автор: Chien-Ming Chen,Xin-Yi Wu,Hsuan-Jen SHEN,Chin-Yi Ou Yang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2016-10-18.

Test apparatus and movable test chamber thereof

Номер патента: US09523734B2. Автор: Ming Xia,Chao Xie,Chi-Lung Hsiao,Tzu-Chiang Chou. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Test method of semiconductor device and semiconductor test apparatus

Номер патента: US20140133254A1. Автор: Zhiliang Xia,Sung Hee Lee,Chiho Kim,Nara KIM,Dae Sin KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-05-15.

Environmental Testing Apparatus

Номер патента: US20130025382A1. Автор: Kun-Ta Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-01-31.

Semiconductor package test apparatus and method

Номер патента: US12072370B2. Автор: Jae Hyun Kim,Sung Ok Kim,Min Woo Kim,Dahm YU,Ho Gyung KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-27.

Testing apparatus and its element pickup module

Номер патента: US20220291256A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Semiconductor package testing apparatus

Номер патента: US20150331012A1. Автор: Chak Tong SZE,Pei Wei Tsai,Cho Hin CHEUK,Si Ming CHAN,Kam Sing LEE. Владелец: ASM TECHNOLOGY SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2015-11-19.

Semiconductor package testing apparatus

Номер патента: US09846193B2. Автор: Chak Tong SZE,Pei Wei Tsai,Cho Hin CHEUK,Si Ming CHAN,Kam Sing LEE. Владелец: ASM TECHNOLOGY SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2017-12-19.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: SG11201909342TA. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-11-28.

Method for determining maintenance time for contacts, and testing apparatus

Номер патента: US09678134B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Semiconductor chip testing apparatus for picking up and testing a semiconductor chip

Номер патента: US09664706B2. Автор: Woo-Yoel Jeong,Duk-Soon Choi,Dong-Shin Kim,In-Seol HWANG,Seong-Han PARK,In-Seob KWON. Владелец: SEMICORE Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Method of testing an integrated circuit and an integrated circuit test apparatus

Номер патента: US20050099202A1. Автор: Theodore Houston,Bryan Sheffield. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2005-05-12.

Chip tray kit and chip testing apparatus

Номер патента: US20220128626A1. Автор: Chen-Lung Tsai,Gene Rosenthal. Владелец: One Test Systems. Дата публикации: 2022-04-28.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: WO2024132831A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Temperature test apparatus and temperature test method

Номер патента: US11754609B2. Автор: Takeshi Kobayashi,Tomohiko Maruo,Yasuhiko NAGO,Marco Angelo Del Pilar SAMONTE. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: MY200160A. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-12-09.

Test apparatus and pallet for parallel rf testing of printed circuit boards

Номер патента: US20130002286A1. Автор: Arkady Ivannikov,Marc Adam Kennedy,Michael Andrew Carney. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2013-01-03.

Probe card test apparatus

Номер патента: US20210364551A1. Автор: Jinwoo Jung,Taejun KIM,Joonsu JI,Serim LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-11-25.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: EP3615949A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-03-04.

Test apparatus and pallet for parallel RF testing of printed circuit boards

Номер патента: US9121895B2. Автор: Arkady Ivannikov,Marc Adam Kennedy,Michael Andrew Carney. Владелец: BlackBerry Ltd. Дата публикации: 2015-09-01.

Test apparatus and pallet for parallel rf testing of printed circuit boards

Номер патента: US20110175621A1. Автор: Arkady Ivannikov,Marc Adam Kennedy,Michael Andrew Carney. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-07-21.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US20200057095A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-02-20.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US20220099703A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-03-31.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: PH12019502351A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-12-07.

Testing apparatus for data storage devices

Номер патента: WO2023027789A1. Автор: Ba Duong Phan,Alireza Daneshgar. Владелец: WESTERN DIGITAL TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2023-03-02.

Wafer testing apparatus and control method thereof

Номер патента: US20240319229A1. Автор: Cheolkyu LIM,Chunghyun KIM,Byungwook JEONG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Method and testing apparatus related to wafer testing

Номер патента: US12013431B2. Автор: Ting Wei Yu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Testing apparatus for expansion card

Номер патента: US09459313B2. Автор: Guang-Wen He,Fu-Qiang Jing. Владелец: Hongfujin Precision Industry Wuhan Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-04.

Semiconductor testing apparatus for wafer probing testing and final packaged IC testing

Номер патента: US11835574B2. Автор: Shun-Bon Ho. Владелец: Test21 Taiwan Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Electronic component testing apparatus, sockets, and replacement parts for electronic component testing apparatus

Номер патента: US11802904B2. Автор: Hiroyuki Mineo,Natsuki Shiota. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Modular low level contact resistance testing apparatus for processor sockets

Номер патента: US20240133945A1. Автор: David Shia,Ralph V. MIELE,Mohanraj Prabhugoud,Lejie Liu,Silver Alfonso Rodriguez Estrada,Min Pei,Caleb Million Tessema. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-25.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20100042878A1. Автор: Hiroshi Kanasugi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-02-18.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20110196640A1. Автор: Naoyoshi Watanabe,Kuniyuki KANEKO. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-08-11.

Test apparatus and test method

Номер патента: US8880375B2. Автор: Naoyoshi Watanabe,Kuniyuki KANEKO. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2014-11-04.

Touch testing apparatus for touch detection module and method for testing the same

Номер патента: US20230035999A1. Автор: Kee Yong Kim,Jae Woo Choi,Jun Young Ko,Jun Seong LEE,Eun Sol SEO,Jung Hun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Testing apparatus for temperature testing of electronic devices

Номер патента: US11828793B2. Автор: Ba Duong Phan,Alireza Daneshgar. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Testing apparatus for temperature testing of electronic devices

Номер патента: US20230060664A1. Автор: Ba Duong Phan,Alireza Daneshgar. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Method and program for operating test apparatus

Номер патента: US8319514B2. Автор: Shinji Kojima,Satoshi Sano. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-11-27.

Testing apparatus for temperature testing of electronic devices

Номер патента: WO2023027788A1. Автор: Alireza Daneshgar,Ba Doung PHAN. Владелец: WESTERN DIGITAL TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2023-03-02.

Electronic component testing apparatus, sockets, and replacement parts for electronic component testing apparatus

Номер патента: US20240027519A1. Автор: Hiroyuki Mineo,Natsuki Shiota. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Temperature control system and method for electronic device-testing apparatus

Номер патента: US20230400506A1. Автор: Xin-Yi Wu,Chin-Yi Ouyang,I-Ching Tsai,Yan-Lin WU. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Chip testing apparatus

Номер патента: US20230048515A1. Автор: Chen-Lung Tsai,Gene Rosenthal. Владелец: One Test Systems. Дата публикации: 2023-02-16.

Electronic component testing apparatus, sockets, and replacement parts for electronic component testing apparatus

Номер патента: US12025654B2. Автор: Hiroyuki Mineo,Natsuki Shiota. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Test apparatus with physical separation feature

Номер патента: US20140070816A1. Автор: Jie Zhang,Zhiyong Zhang,Jianhua Qi,Shouyin Ye. Владелец: Sino IC Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-13.

Testing apparatus and testing method for display panel

Номер патента: US20200035135A1. Автор: Meihong Wang,Peiqian TONG. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-30.

Test apparatus for semiconductor chips with fine-pitch bumps

Номер патента: US11828792B2. Автор: Du Chul Kim,Wan Gu Lee. Владелец: AMT Co Ltd Korea. Дата публикации: 2023-11-28.

Testing apparatus for testing electronic system with 5-wire resistive touch panel and the method therefor

Номер патента: US20100127713A1. Автор: Chang-Yi Chen. Владелец: IdeaCom Technology Corp. Дата публикации: 2010-05-27.

Testing apparatus for electronic or electro-mechanical feedback devices

Номер патента: US11906329B2. Автор: Clint Switzer,Nishant Pathak. Владелец: Octava Engineering LLC. Дата публикации: 2024-02-20.

Burn-in testing apparatus

Номер патента: US20120326740A1. Автор: Li-Hsun Chen,Chi-Ren Chen,Chiang-Cheng FAN. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2012-12-27.

Burn-in testing apparatus

Номер патента: US8779788B2. Автор: Li-Hsun Chen,Chi-Ren Chen,Chiang-Cheng FAN. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2014-07-15.

Aging test system and aging test method for thermal interface material and electronic device testing apparatus having the system

Номер патента: US20230375615A1. Автор: I-Shih Tseng,Xin-Yi Wu,Chin-Yi Ouyang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Test apparatus for semiconductor package

Номер патента: US11994554B2. Автор: Min Cheol Kim,Sol Lee. Владелец: TSE Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Test apparatus

Номер патента: EP4379403A1. Автор: Yuquan Liang,Qijie Zhang,Guozhi Qiu. Владелец: Hangzhou Changchuan Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

High-pressure burn-in test apparatus

Номер патента: US20210356506A1. Автор: Yi-Ming Hung. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-11-18.

High-pressure burn-in test apparatus

Номер патента: US11385275B2. Автор: Yi-Ming Hung. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-07-12.

Wedged contact fingers for integrated circuit testing apparatus

Номер патента: PH12020050134A1. Автор: Wei Kuong Foong,Eng Kiat Lee,Kok Sing Goh,Shamal Mundiyath,Mei Chen Chin,Muhamad Izzat Bin Roslee. Владелец: JF Microtechnology Sdn Bhd. Дата публикации: 2021-09-01.

Testing apparatus and method using same

Номер патента: US20130321014A1. Автор: Qi-Long Yu. Владелец: Futaihua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-05.

Liquid cooling system, liquid cooling method and electronic device-testing apparatus having the system

Номер патента: US20230400478A1. Автор: I-Shih Tseng,Xin-Yi Wu,Chin-Yi Ouyang,I-Ching Tsai,Yan-Lin WU. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Range hood and testing method and testing apparatus therefor

Номер патента: EP4318000A1. Автор: Xueping Yan. Владелец: Foshan Shunde Midea Washing Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Length adjustable arm and mems position detection equipment rotation test apparatus

Номер патента: US20180299505A1. Автор: Yang-Han Lee,Ching-Chang Wong,An-Sung Wang. Владелец: Leap Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Semiconductor device testing apparatus

Номер патента: US20020036514A1. Автор: Kouji Matsunaga,Takahiro Kimura,Hirobumi Inoue,Toru Taura,Michinobu Tanioka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-03-28.

Contact assembly in a testing apparatus for integrated circuits

Номер патента: US20160178692A1. Автор: Wei Kuong Foong,Eng Kiat Lee,Kok Sing Goh,Shamal Mundiyath. Владелец: JF Microtechnology Sdn Bhd. Дата публикации: 2016-06-23.

Printed circuit board testing apparatus

Номер патента: US20020180456A1. Автор: CHANG WEI,Lee Ta. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2002-12-05.

Calibration method of modulation power for dvb-h test apparatus

Номер патента: WO2012036353A1. Автор: Jongmin Kim,Jinsoup Joung,Myunggu Kang,Changbok Yang. Владелец: INNOWIRELESS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-03-22.

Calibration method of modulation power for dvb-h test apparatus

Номер патента: US20130173195A1. Автор: Jongmin Kim,Jinsoup Joung,Myunggu Kang,Changbok Yang. Владелец: Innowireless Co Ltd. Дата публикации: 2013-07-04.

Calibration method of modulation power for DVB-H test apparatus

Номер патента: US09625289B2. Автор: Jongmin Kim,Jinsoup Joung,Myunggu Kang,Changbok Yang. Владелец: Innowireless Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Optical fiber test apparatus with combined light measurement and fault detection

Номер патента: WO2018111445A1. Автор: Scott Prescott,Seán Patrick ADAM,Dale Channing EDDY. Владелец: AFL TELECOMMUNICATIONS LLC. Дата публикации: 2018-06-21.

Optical fiber test apparatus with combined light measurement and fault detection

Номер патента: US09880069B1. Автор: Scott Prescott,Seán Patrick ADAM,Dale Channing EDDY. Владелец: AFL TELECOMMUNICATIONS LLC. Дата публикации: 2018-01-30.

Dissolution testing apparatus for pharmaceutical preparations

Номер патента: US20110048145A1. Автор: Akira Hattori,Youichi Kaneko. Владелец: UNIFLEX CO Ltd. Дата публикации: 2011-03-03.

Overheat testing apparatus for optical fiber

Номер патента: EP3742141A1. Автор: LEI Liu,Darryl J. DeWitt. Владелец: Kidde Technologies Inc. Дата публикации: 2020-11-25.

Dropping test apparatus for mobile communication terminal

Номер патента: US6907767B2. Автор: Yong Ho Seung. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2005-06-21.

Testing apparatus for smart wearable devices

Номер патента: US20240272030A1. Автор: ZHOU Cheng,Ming-Tsung Su,Hao-Hsiu HUANG,Chun Hung Liu. Владелец: Plume Design Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Overheat testing apparatus for optical fiber

Номер патента: EP3742140A1. Автор: LEI Liu,Darryl J. DeWitt. Владелец: Kidde Technologies Inc. Дата публикации: 2020-11-25.

Optical test apparatus

Номер патента: US09658043B2. Автор: Mariko Sato,Shojiro Furuya,Yukito Hata,Daichi Miyoshi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Automatic carbon-replacing weather resistance testing apparatus

Номер патента: US4912365A. Автор: Hiroshi Ozawa. Владелец: Suga Test Instruments Co Ltd. Дата публикации: 1990-03-27.

Test apparatus and method for synthetically testing at least one switch device for a high-voltage battery of a vehicle

Номер патента: US11733299B2. Автор: Wladislaw Waag,Florian Pritscher,Suljo Hajdarbasic,Andre Ribeiro. Владелец: Bayerische Motoren Werke AG. Дата публикации: 2023-08-22.

Optical fiber test apparatus

Номер патента: US20180172552A1. Автор: Scott Prescott,Seán Patrick ADAM,Dale Channing EDDY. Владелец: AFL TELECOMMUNICATIONS LLC. Дата публикации: 2018-06-21.

Optical fiber test apparatus with combined light measurement and fault detection

Номер патента: EP3556029A1. Автор: Scott Prescott,Seán Patrick ADAM,Dale Channing EDDY. Владелец: AFL TELECOMMUNICATIONS LLC. Дата публикации: 2019-10-23.

Image test apparatus, image forming system and recording medium

Номер патента: US20190394355A1. Автор: Keisuke Morita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-12-26.

Dropping test apparatus for mobile communication terminal

Номер патента: US20040007047A1. Автор: Yong Seung. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2004-01-15.

Vehicle test apparatus and method

Номер патента: US09658134B2. Автор: Ian Smith,Alexandros Mouzakitis. Владелец: Jaguar Land Rover Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Reliability test apparatus coupling electromagnetic environment and stress environment

Номер патента: EP4455692A1. Автор: Jie Liu,Bo Wu,Weiling LI,Hongtao Ning,Chenghuan PANG,Shuting Wang,Haibo SHAO. Владелец: National Industrial Innovation Center Of Polymer Materials Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Testing apparatus and method for detecting a contact deficiency of an electrically conductive connection

Номер патента: WO2007140795A1. Автор: Wolfgang Erdmann,Eckehard ZÜNDORF. Владелец: AIRBUS DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2007-12-13.

Method for manufacturing tested apparatus and method for manufacturing system including tested apparatus

Номер патента: US09502314B2. Автор: Toru Ishikawa,Tetsuji Takahashi,Kazuya Takakura. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-22.

Testing apparatus and method for detecting a contact deficiency of an electrically conductive connection

Номер патента: WO2007140795A8. Автор: Wolfgang Erdmann,Eckehard Zuendorf. Владелец: Eckehard Zuendorf. Дата публикации: 2009-01-29.

Improved test apparatus for testing capacitance

Номер патента: WO2018033709A1. Автор: Sunil R NIRMALE,Manoj MULAJKAR. Владелец: Megger Instruments Ltd. Дата публикации: 2018-02-22.

Automated test apparatus for aircraft flight controls

Номер патента: US5023791A. Автор: Garry G. Herzberg,Robert C. Reynolds. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 1991-06-11.

Testing Apparatus for Vehicles and Trailers

Номер патента: US20090009304A1. Автор: Claude Lacasse. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-01-08.

Testing apparatus and method for operating the testing apparatus

Номер патента: WO2022156985A1. Автор: Shinichiro Nishizawa,Martin Lauersdorf,Remi Pleven. Владелец: Tdk Europe GmbH. Дата публикации: 2022-07-28.

Monitoring method for testing apparatus

Номер патента: US20130036842A1. Автор: DONG Chen. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-14.

Test apparatus and method for testing an electrical property of a fluid

Номер патента: US20180113089A1. Автор: Simon Haynes,Stanislaw Zurek,Anthony Courtney. Владелец: Megger Instruments Ltd. Дата публикации: 2018-04-26.

Test apparatus and method for testing an electrical property of a fluid

Номер патента: EP3314243A1. Автор: Simon Haynes,Stanislaw Zurek,Anthony Courtney. Владелец: Megger Instruments Ltd. Дата публикации: 2018-05-02.

Cable testing apparatus and method

Номер патента: US4384249A. Автор: Alvaro Medina. Владелец: Individual. Дата публикации: 1983-05-17.

Test apparatus for circuit board racks

Номер патента: US4443755A. Автор: James F. Wooten. Владелец: Individual. Дата публикации: 1984-04-17.

Testing apparatus and testing method of vaporizers of electronic cigarettes

Номер патента: US10955454B2. Автор: Oscar Slurink,Mark Leendert MEIJER,Lambert Wijnand Breman,Abraham VAN DEN BERG. Владелец: Sluis Cigar Machinery BV. Дата публикации: 2021-03-23.

Testing apparatus and testing method of vaporizers electronic cigarettes.

Номер патента: NL2014943A. Автор: Slurink Oscar,VAN DEN BERG Abraham,Wijnand Breman Lambert,Leendert Meijer Mark. Владелец: Sluis Cigar Machinery BV. Дата публикации: 2016-12-12.

Testing apparatus and testing method of vaporizers of electronic cigarettes

Номер патента: EP3307093A1. Автор: Oscar Slurink,Mark Leendert MEIJER,Lambert Wijnand Breman,Abraham VAN DEN BERG. Владелец: Sluis Cigar Machinery BV. Дата публикации: 2018-04-18.

Testing apparatus and testing method of vaporizers of electronic cigarettes

Номер патента: US20180299501A1. Автор: Oscar Slurink,Mark Leendert MEIJER,Lambert Wijnand Breman,Abraham VAN DEN BERG. Владелец: Sluis Cigar Machinery BV. Дата публикации: 2018-10-18.

Test apparatus

Номер патента: US4087046A. Автор: Eugene W. Borucki,Peter P. Zaloga. Владелец: Individual. Дата публикации: 1978-05-02.

Wire insulation testing apparatus with means indicating insulation faults per predetermined incremental length

Номер патента: US3823370A. Автор: R Thompson,W Pendleton. Владелец: Anaconda Wire and Cable Co. Дата публикации: 1974-07-09.

Test apparatus for use with a heating system

Номер патента: US3970929A. Автор: Eugene W. Borucki,Peter P. Zaloga. Владелец: Individual. Дата публикации: 1976-07-20.

Test apparatus for detecting reverse insertion of a capacitor on a test board

Номер патента: US5450014A. Автор: Jea C. Lee. Владелец: LG Industrial Systems Co Ltd. Дата публикации: 1995-09-12.

Condom testing apparatus

Номер патента: EP1766382A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: Agri Dynamics Inc dba Industrial Manufacturing. Дата публикации: 2007-03-28.

Test apparatus for evaluating voltage regulators

Номер патента: WO2004102299A3. Автор: Philip M Harris. Владелец: Philip M Harris. Дата публикации: 2005-10-13.

Test apparatus for evaluating voltage regulators

Номер патента: WO2004102299A2. Автор: Philip M. Harris. Владелец: Incep Technologies, Inc.. Дата публикации: 2004-11-25.

Mat testing apparatus

Номер патента: US4247814A. Автор: Clifford A. Landsness,Henry K. Schmitt. Владелец: BF Goodrich Corp. Дата публикации: 1981-01-27.

Testing apparatus for light emitting diodes and method therefor

Номер патента: US3742356A. Автор: L Brock. Владелец: KERANT ELECTRONICS Ltd. Дата публикации: 1973-06-26.

Array test apparatus and method

Номер патента: US11107866B2. Автор: Hee Seon KIM,Joon Geol KIM,Si Joon Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-31.

Signal test apparatus and method

Номер патента: US20110264955A1. Автор: Huang-Ching Lu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-27.

Testing apparatus for testing display apparatus and method of testing the same

Номер патента: US09940859B2. Автор: Dae Won Kim,Inho Hwang,Hanki PARK,Chanhyung YOO,Wookjae LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Testing probe and testing apparatus for ensuring good contact between testing probe and surface of test sample

Номер патента: US09903886B2. Автор: Jing Wang,Jianyang Yu. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Testing apparatus for flash memory chip

Номер патента: US09470714B2. Автор: Hua-An YANG. Владелец: Silicon Motion Inc. Дата публикации: 2016-10-18.

Method and test apparatus for determining a deviation in homogeneity of a magnetic field of a magnetic resonance scanner

Номер патента: US09910116B2. Автор: Stephan Biber. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2018-03-06.

Test apparatus for testing electronic device

Номер патента: US20190361047A1. Автор: Chien-Ming Chen,Yung-Chih Chen,Meng-Kung Lu. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

Contact assembly in a testing apparatus for integrated circuits

Номер патента: US09658253B2. Автор: Wei Kuong Foong,Eng Kiat Lee,Kok Sing Goh,Shamal Mundiyath. Владелец: JF Microtechnology Sdn Bhd. Дата публикации: 2017-05-23.

Liquid crystal alignment test apparatus and method

Номер патента: US09443456B2. Автор: Shengpeng Mo,Wen-Pin Chiang,Zhengxing Xu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Portable appliance testing apparatus

Номер патента: US20180275007A1. Автор: Dustin Jones. Владелец: ATU Inc. Дата публикации: 2018-09-27.

Auxiliary test apparatus for electromagnetic compatibility and test method using the same

Номер патента: US20140239976A1. Автор: jian-wei Luo,Chun-Chieh Tsen. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-28.

Dual loop type temperature control module and electronic device testing apparatus provided with the same

Номер патента: US09983259B2. Автор: Xin-Yi Wu,Chien-Hung Lo. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Ground contact of an integrated circuit testing apparatus

Номер патента: PH12013000304B1. Автор: Wei Kuong Foong,Eng Kiat Lee,Kok Sing Goh,Shamal Mundiyath. Владелец: JF Microtechnology Sdn Bhd. Дата публикации: 2015-04-20.

Ground contact of an integrated circuit testing apparatus

Номер патента: US09658248B2. Автор: FOONG Wei Kuong,GOH Kok Sing,Shamal Mundiyath. Владелец: JF Microtechnology Sdn Bhd. Дата публикации: 2017-05-23.

Dual power-source communication testing apparatus and communication testing method thereof

Номер патента: US9529015B2. Автор: Will Wang. Владелец: Inventec Appliances Pudong Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Dual power-source communication testing apparatus and communication testing method thereof

Номер патента: US20130234751A1. Автор: Will Wang. Владелец: Inventec Appliances Pudong Corp. Дата публикации: 2013-09-12.

Pen probe with non-precious metal wire for use in precious metal testing apparatus

Номер патента: US20240142494A1. Автор: Jarrett Schaffer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-05-02.

Portable test apparatus and method of testing rf/microwave treatment system

Номер патента: EP3998979A1. Автор: Gary Beale,Eamon Mcerlean. Владелец: Emblation Ltd. Дата публикации: 2022-05-25.

Portable test apparatus and method of testing rf/microwave treatment system

Номер патента: US20220357391A1. Автор: Gary Beale,Eamon Mcerlean. Владелец: Emblation Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

Portable test apparatus and method of testing RF/microwave treatment system

Номер патента: AU2020312708A1. Автор: Gary Beale,Eamon Mcerlean. Владелец: Emblation Ltd. Дата публикации: 2022-02-24.

Overvoltage detection test apparatus for military aircraft weapons systems

Номер патента: US4996520A. Автор: Robert A. Williams,Stephen Tye. Владелец: Williams Instruments Inc. Дата публикации: 1991-02-26.

Performance board, test apparatus, board for diagnosis, and diagnosis method

Номер патента: US20070069758A1. Автор: Atsunori Shibuya. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2007-03-29.

Diagnosis board electrically connected with a test apparatus for testing a device under test

Номер патента: US20090206858A1. Автор: Atsunori Shibuya. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-08-20.

Analyzer and method for reading detection result of test apparatus

Номер патента: EP4283281A1. Автор: Wei Fang,Shengqiang LIU,Tao Shang,Linyong TANG,Yongchao WEI. Владелец: Leadway HK Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Analyzer and method for reading detection result of test apparatus

Номер патента: US20240103028A1. Автор: Wei Fang,Shengqiang LIU,Tao Shang,Linyong TANG,Yongchao WEI. Владелец: Leadway HK Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Testing apparatus having an air permeable interface panel spaced from a test head

Номер патента: US5315238A. Автор: Colin G. Barker. Владелец: Innovate Ltd. Дата публикации: 1994-05-24.

Circuit board testing apparatus

Номер патента: CA1085926A. Автор: Jonathon H. Katz. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 1980-09-16.

Dry load test apparatus

Номер патента: AU781869B2. Автор: Toyoshi Kondo. Владелец: Tatsumi Corp. Дата публикации: 2005-06-16.

Double-balance electronic test apparatus and measuring inductance, capacitance, and resistance

Номер патента: US20230349961A1. Автор: Stephan Schlamminger,Yicheng Wang,Bryan Christopher Waltrip. Владелец: US Department of Commerce. Дата публикации: 2023-11-02.

Testing apparatus and method

Номер патента: WO2021217205A1. Автор: Kyle Damon Slater. Владелец: Seer Medical Pty Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Testing apparatus and method

Номер патента: US20230194597A1. Автор: Kyle Damon Slater. Владелец: Seer Medical Pty Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Method for testing interaction points of vehicle components by means of a vehicle test apparatus and such test apparatus

Номер патента: US20210088413A1. Автор: Magnus Svensson. Владелец: Volvo Truck Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

A method for testing interaction points of vehicle components by means of a vehicle test apparatus and such test apparatus

Номер патента: EP3785007A1. Автор: Magnus Svensson. Владелец: Volvo Truck Corp. Дата публикации: 2021-03-03.

Bond test apparatus and method

Номер патента: WO2018102476A1. Автор: Ian Christopher Mayes. Владелец: Nordson Corporation. Дата публикации: 2018-06-07.

Automated test apparatus for testing risk and integrity of pharmaceutical filtration membranes and method thereof

Номер патента: US09707521B2. Автор: Te-Wei Lee,Chih-Hsien Chang,Ming-Hsin Li,Shu-Pei Chiu. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2017-07-18.

Bond test apparatus and bond test cartridge with integrated illumination system

Номер патента: US20180224363A1. Автор: Martin Bugg. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2018-08-09.

Conductive deposit test apparatus and method

Номер патента: US20240328923A1. Автор: John V. Bucci,Gunther Mueller,Douglas J. Wirsing,Gregory C. Miller,Sarah R. Nuss-Warren,Jessica L. HOYE,Rico PELZ,William VAN BERGEN,Egon BRUGGEMAN. Владелец: Tannas Co. Дата публикации: 2024-10-03.

Conductive deposit test apparatus and method

Номер патента: WO2023033860A4. Автор: John V. Bucci,Gunther Mueller,Douglas J. Wirsing,Gregory C. Miller,Sarah R. Nuss-Warren,Jessica L. HOYE,Rico PELZ,William VAN BERGEN,Egon BRUGGEMAN. Владелец: Tannas Company. Дата публикации: 2023-06-29.

Disposal container for testing apparatus and testing apparatus

Номер патента: US12013409B2. Автор: Hiroki Koike,Toru Nishikawa,Nobuya Tamura. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Test apparatus and method for testing a first and/or a second electrical machine

Номер патента: US09689775B2. Автор: Matthias DEICKE. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2017-06-27.

Sealing testing apparatus with legs with anchoring

Номер патента: RU2632247C1. Автор: Маттиас ШТЕНДЕР,Марк ФИШЕР,Оливер ПАЗЕМАНН. Владелец: Детвилер Силинг Текнолоджис Дойтчланд Гмбх. Дата публикации: 2017-10-03.

Friction testing apparatus

Номер патента: US20060272401A1. Автор: Mark Devlin,Jeremy Senn. Владелец: Afton Chemical Corp. Дата публикации: 2006-12-07.

Testing apparatus, in particular tire testing apparatus

Номер патента: US20230304898A1. Автор: Bernhard Leitner,André Kayser. Владелец: Italmatic Srl. Дата публикации: 2023-09-28.

Acoustic Testing Apparatus For Testing A Laminate Material And An Acoustic Testing Method For Testing A Laminate Material

Номер патента: US20070199381A1. Автор: Arno Volker. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2007-08-30.

Tone wheel testing apparatus and its test method

Номер патента: US20050012643A1. Автор: Masanori Tomioka. Владелец: Uchiyama Manufacturing Corp. Дата публикации: 2005-01-20.

Tire chip and tear test apparatus and method

Номер патента: EP2673613A2. Автор: Martin A. Yurjevich,David O. Stalnaker. Владелец: Bridgestone Americas Tire Operations LLC. Дата публикации: 2013-12-18.

Gemstone testing apparatus

Номер патента: US20200400646A1. Автор: Kui Lim Tam. Владелец: Jubilee Diamond Instrument(s) Pte Ltd. Дата публикации: 2020-12-24.

Eddy current testing apparatus and related methods

Номер патента: US20240151688A1. Автор: Brian Farnsworth. Владелец: Holtec International Inc. Дата публикации: 2024-05-09.

Test apparatus and pressurizing assembly thereof

Номер патента: US09995743B2. Автор: Fu-cheng FAN,Yi-Chin Tsai,Ming-Tien Lin,Shih-Jen Lu. Владелец: HTC Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Method of determining testing parameters of a melt flow rate testing apparatus

Номер патента: US20230014561A1. Автор: Marco BRONZONI. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-01-19.

Eddy current testing apparatus and related methods

Номер патента: WO2024097412A3. Автор: Brian Farnsworth. Владелец: HOLTEC INTERNATIONAL. Дата публикации: 2024-06-13.

Eddy current testing apparatus and related methods

Номер патента: WO2024097412A2. Автор: Brian Farnsworth. Владелец: HOLTEC INTERNATIONAL. Дата публикации: 2024-05-10.

Flexural testing apparatus for materials and method of testing materials

Номер патента: US09739696B2. Автор: Dale N. Memering,Victor Luzzato. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Method of determining testing parameters of a melt flow rate testing apparatus

Номер патента: EP4119920A1. Автор: Marco BRONZONI. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-01-18.

Test apparatus for x-ray inspection

Номер патента: US20200232936A1. Автор: Richard PARMEE. Владелец: Cheyney Design and Development Ltd. Дата публикации: 2020-07-23.

Field test apparatus for monitoring water and soil erosion and ecological restoration effect

Номер патента: LU102182B1. Автор: Ming Luo,Shiwen Zhang,Pengfei Zhou,Hongbin WEI,Zhongyuan Bu. Владелец: Univ Anhui Sci & Technology. Дата публикации: 2021-05-12.

Testing apparatus

Номер патента: US09423329B2. Автор: Norio Takeda,Tadaoki Takii,Shohei Watanabe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Automated light testing apparatus and method

Номер патента: US20240044702A1. Автор: Fang Lu. Владелец: Fjp Solution LLC. Дата публикации: 2024-02-08.

Connection test apparatus

Номер патента: US20220003646A1. Автор: Gus Costas. Владелец: Green Monster Offshore Pty Ltd. Дата публикации: 2022-01-06.

Connection test apparatus

Номер патента: GB2596672A. Автор: Costas Gus. Владелец: Green Monster Offshore Pty Ltd. Дата публикации: 2022-01-05.

Connection test apparatus

Номер патента: AU2020242917A1. Автор: Gus Costas. Владелец: Green Monster Offshore Pty Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Indentation test method and indentation test apparatus

Номер патента: US20120022802A1. Автор: Atsushi Sakuma,Mitsuhiro Tani. Владелец: Tokyo University of Agriculture and Technology NUC. Дата публикации: 2012-01-26.

Locomotive performance testing apparatus

Номер патента: US8082811B2. Автор: Kenro Udono. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-27.

Triaxial testing apparatus with multiple measuring cells

Номер патента: WO2023037133A3. Автор: Peter Hudacsek. Владелец: Szechenyi Istvan Egyetem. Дата публикации: 2023-06-29.

Triaxial testing apparatus with multiple measuring cells

Номер патента: WO2023037133A2. Автор: Peter Hudacsek. Владелец: Szechenyi Istvan Egyetem. Дата публикации: 2023-03-16.

Triaxial testing apparatus with multiple measuring cells

Номер патента: EP4377668A2. Автор: Peter Hudacsek. Владелец: Szechenyi Istvan Egyetem. Дата публикации: 2024-06-05.

Tire testing apparatus and method for testing a tire

Номер патента: US09671313B2. Автор: Rainer Huber,Marcus Steinbichler. Владелец: Steinbichler Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2017-06-06.

Universal debonding test apparatus for carbon fiber reinforced polymer – concrete system and method for sequential multi-testing

Номер патента: US20210033522A1. Автор: Faisal M. MUKHTAR. Владелец: KING FAHD UNIVERSITY OF PETROLEUM AND MINERALS. Дата публикации: 2021-02-04.

Testing apparatus and methods for measuring forces between objects

Номер патента: US20240019601A1. Автор: Benjamin Peters,Kevin Stephens,Evan Laske,Phillip Scott Lentz. Владелец: Unspace LLC. Дата публикации: 2024-01-18.

Biomaterial test apparatus and method of controlling the same

Номер патента: WO2015083965A1. Автор: Jong Cheol Kim,Jung Tae Lee,Chung Ung Kim,Jin Beom HONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2015-06-11.

Water quality testing method and water quality testing apparatus

Номер патента: US20240288414A1. Автор: Yan Jin,Shiqiang Wang,Junjie Feng,Bing Sun,Anshan XIAO,Haozhi WANG,Huiyun JIANG. Владелец: Sinopec Research Institute of Safety Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Service life test apparatus for production of diaphragm of diaphragm compressor

Номер патента: US20240360825A1. Автор: Li Ren,Fei Wang,Yunlong Pan,Junxuan WANG. Владелец: Zhongding Hengsheng Gas Equipment (wuhu) Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Airtight test apparatus and airtight test method using the same

Номер патента: US09835517B2. Автор: Yen-Pang Lee. Владелец: Pegatron Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Biomaterial test apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US09707559B2. Автор: Jong Cheol Kim,Jung Tae Lee,Chung Ung Kim,Jin Beom HONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-18.

Impact testing apparatuses and methods for drug delivery devices

Номер патента: US20240197996A1. Автор: Christopher R. Folk,Julian JAZAYERI,Joshua TAMSKY,Seam Fitzgibbon. Владелец: AMGEN INC. Дата публикации: 2024-06-20.

Visual test apparatus and method for improving double-loop infiltration process

Номер патента: NL2029973B1. Автор: Zhang Cheng,LU Chenggang,Wu Guizhi,Liu Yaohui. Владелец: Univ Qingdao Technology. Дата публикации: 2023-06-19.

Vibration test apparatus

Номер патента: EP2516986A1. Автор: Jesper Boesen Nielsen. Владелец: Vibrationmaster Tech Center Sarl. Дата публикации: 2012-10-31.

Reaction vessel handling apparatus, testing apparatus, and methods using same

Номер патента: EP3131651A1. Автор: Beri Cohen,Nicolae Dumitrescu. Владелец: Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Дата публикации: 2017-02-22.

Sample testing apparatus and method

Номер патента: EP3365658A1. Автор: Anthony Peter Foord,Stuart Lucas LUNT. Владелец: Parker Hannifin Manufacturing Ltd. Дата публикации: 2018-08-29.

Image calibrating method and device of testing apparatus for thin film transistor substrate

Номер патента: US20160033327A1. Автор: Zijin Lin,Haitao Ma,Haisheng ZHAO,Xiaoguang PEI,Chaoyang DENG. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-04.

Test platform, test apparatus and control method thereof

Номер патента: US09482680B2. Автор: Ki Ju Lee,Young Goun Lee,Suk Yong LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-11-01.

Ultrasonic-resilience value testing apparatus for inorganic non-metal plate

Номер патента: US12092614B2. Автор: Jianping Huang,Zhongmin Li,Hailong Yu,Yuezeng XIE,Kehui LIN. Владелец: Guangdong Jiamei Ceramics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Erosion test apparatus, accelerator and erosion test method

Номер патента: US09989450B2. Автор: Koji Takahashi,Yasuhiko Tsuru,Masahiko Mega,Masamitsu Kuwabara,Taiji Torigoe,Eisaku Ito,Daisuke Kudo,Yoshitaka Uemura,Keizo Tsukagoshi,Junichiro Masada,Shigenari Horie,Yoshifumi Okajima,Shuji TANIGAWA,Naotoshi Okaya. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2018-06-05.

Blood testing apparatus and blood testing method thereof

Номер патента: US09964553B2. Автор: Chung-ung Kim,Ki-Ju Lee,Jong-Cheol Kim,Im-ho SHIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-08.

Testing apparatus

Номер патента: US20100320999A1. Автор: Bing-Jun Zhang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-23.

Test method, test apparatus, test system, and storage medium

Номер патента: US20240230451A9. Автор: Hongyu Zheng,Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Panel testing apparatus

Номер патента: US6826963B2. Автор: Tai-Sheng Liu,Chi-An Wu. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2004-12-07.

Penetration testing apparatus

Номер патента: WO2018101843A1. Автор: Stacy Lee GOLDSWORTHY,Gavin Richard MILLER,Jason Charles Gordon STAMP,Danny Robert WYATT. Владелец: CRP Developments Limited. Дата публикации: 2018-06-07.

Test apparatus for x-ray inspection

Номер патента: WO2018215802A1. Автор: Richard PARMEE. Владелец: Cheyney Design & Development Ltd.. Дата публикации: 2018-11-29.

Testing apparatus

Номер патента: US09903857B2. Автор: Neil Polwart,Anthony Peter Ashbrook,Graham Tyrie. Владелец: Norarum Dx Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Multi-functional precious stone testing apparatus and method thereof

Номер патента: US09453808B2. Автор: Xiuling Zhu,Gary Bruce Peckham. Владелец: Shenzhen DiKai Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Panel testing apparatus

Номер патента: US20040065155A1. Автор: Tai-Sheng Liu,Chi-An Wu. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2004-04-08.

Fluid permeation testing apparatus employing mass spectrometry

Номер патента: WO2008030712A1. Автор: Mark A. Roehrig,Mark E. Mueller,Fred L. DeRoos. Владелец: 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY. Дата публикации: 2008-03-13.

Multi-functional precious stone testing apparatus and method thereof

Номер патента: US8947111B2. Автор: Xiuling Zhu,Gary Bruce Peckham. Владелец: Shenzhen DiKai Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-03.

Microorganism testing apparatus, method and program

Номер патента: US09695456B2. Автор: Hajime Teramura,Ikuo Sato,Hiromi Osawa,Ryuzo Kimura. Владелец: JNC Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Guarded flat plate cryogenic test apparatus and calorimeter

Номер патента: US09678025B1. Автор: James E. Fesmire,Wesley L. Johnson. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 2017-06-13.

Robot visual recognition and target tracking testing apparatus

Номер патента: NL2036474A. Автор: Li Jie,YU HUI,Zhao Xinyue,Gong Lan,Zhang Zhenzhen,Yu Yadong,Xue Yaxu. Владелец: Univ Pingdingshan. Дата публикации: 2024-03-25.

Suspension damper test apparatus, control system and method of controlling a suspension damper test apparatus

Номер патента: US09752963B2. Автор: Jinghong Yu,Kirk Rhoades,Keith Malarik. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Test apparatus for early landslide detection fully-connected with pore water pressure, surface displacement and shear surface

Номер патента: US09488561B2. Автор: Kyeong-Su Kim,Young-suk Song,Byung-Gon Chae,Sueng Won Jeong,Choon Oh Lee,Junghae CHOI. Владелец: Korea Institute of Geoscience and Mineral Resources KIGAM. Дата публикации: 2016-11-08.

Test apparatus and method for determining whether infection is present using ratio of color change of reagent

Номер патента: US20240226873A1. Автор: Jeong Ho Park,Jeong In Bag,Seong Soo Hong,Joo Won Rhee,So Hyeon Baek. Владелец: 1drop Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Testing apparatus

Номер патента: WO2023174712A1. Автор: Stefan Dircks,Natasa Dekovic,Hicham Bennani Kemmoun. Владелец: Siemens Gamesa Renewable Energy A/S. Дата публикации: 2023-09-21.

Portable hydraulic brinell testing apparatus

Номер патента: WO2016134153A1. Автор: Giancarlo Mazzoleni. Владелец: Giancarlo Mazzoleni. Дата публикации: 2016-08-25.

Liveness test method and liveness test apparatus

Номер патента: US11776239B2. Автор: SeungJu HAN,Sungdo Choi,Byung Kwan KIM,Jong-sok KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-03.

Fibre testing apparatus comprising rollers, scale, pad

Номер патента: WO2019211869A1. Автор: N. Parthassarathy. Владелец: Parthassarathy N. Дата публикации: 2019-11-07.

Pressure Testing Apparatus

Номер патента: US20160041060A1. Автор: Keith Sand. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-02-11.

Aerator power efficiency test apparatus and test method

Номер патента: LU502770B1. Автор: WEI ZHONG,Jianjun Cao,Haitao GU,Mengxia HAN,Qipeng Song. Владелец: Fishery Machinery & Instrument Res Inst Cafs. Дата публикации: 2023-03-07.

Portable hydraulic brinell testing apparatus

Номер патента: US09921142B2. Автор: Giancarlo Mazzoleni. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-20.

Engine testing apparatus, and engine testing method

Номер патента: US09778140B2. Автор: Takao Akiyama,Yasuaki Suzuki,Nobuhiko Asakura,Yoshimasa Sawada,Yoshinao SATO,Shinya Nagao,Masato Hayasaka,Yoshiharu Kido,Takuya Kusakabe,Sou Shimizu. Владелец: Meidensha Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Bearing test apparatus for testing durability of bearing

Номер патента: US09714883B2. Автор: Yong Bok Lee,Jeon Kook Lee,Byoungkuk Lee,Bokseong Choe,Sol-Ji RYU. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2017-07-25.

Pressure testing apparatus

Номер патента: US09500557B2. Автор: Keith Sand. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-11-22.

Testing apparatus and testing method

Номер патента: US20230010092A1. Автор: Makoto Kobayashi. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Roller ski wheel test apparatus

Номер патента: WO2024184553A1. Автор: Henrik Georg Lindhagen. Владелец: Ff Rollerskis As. Дата публикации: 2024-09-12.

Body fluid testing apparatus

Номер патента: US09535054B2. Автор: John Wan,Qinghai XIA,Chunhua Yuan. Владелец: WHPM Bioresearch and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Two-point bend testing apparatuses and methods of using the same

Номер патента: US20240288350A1. Автор: YU Cheng,Suresh Thakordas Gulati,Samuel Odei Owusu,Peter Joseph Lezzi,Kurt Edward Gerber,Jamie Todd Westbrook,Weirong JIANG,Fang-Yu Hsu,Arpita Mitra,Ryan Christopher Sutton,Rachid Gafsi,Timothy Paul Smith,Douglas Miles Noni,Nicholas Robert Bonham,Paul M Giglio,Te Heng Hung,Cheng Yu Lai,Jody Paul Markley, JR.. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Multi-functional precious stone testing apparatus and method thereof

Номер патента: EP4202422A1. Автор: Xiuling Zhu,Gary Bruce Peckham. Владелец: Shenzhen DiKai Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-28.

Multi-functional precious stone testing apparatus and method thereof

Номер патента: US12130238B2. Автор: Xiuling Zhu,Gary Bruce Peckham. Владелец: Shenzhen DiKai Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Vehicle drive system testing apparatus

Номер патента: US09841350B2. Автор: Sho Abe,Hiroyuki Ikeda,Mineyuki Komada. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Testing apparatus for auxiliary belt system and testing system provided with the same

Номер патента: US09658131B2. Автор: Jong Won Lee,Yong Woo Kim,Key Chun PARK,Eui Chul Choi,Jae Ik AHN. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Test apparatus of fluidic sample and control method thereof

Номер патента: US09568398B2. Автор: Hyun Suk Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-14.

Tire testing apparatus

Номер патента: US20170307479A1. Автор: Yukihisa Ito,Kazuki KIDO,Masaaki BANNO,Tatsuo Ichige. Владелец: A&D Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-26.

Two-point bend testing apparatuses and methods of using the same

Номер патента: WO2024182202A1. Автор: YU Cheng,Suresh Thakordas Gulati,Samuel Odei Owusu,Peter Joseph Lezzi,Kurt Edward Gerber,Jamie Todd Westbrook,Jody Paul Markley,Weirong JIANG,Fang-Yu Hsu,Arpita Mitra,Ryan Christopher Sutton,Rachid Gafsi,Timothy Paul Smith,Nicholas Robert Bonham,Te Heng Hung,Cheng Yu Lai,Paul M. GIGLIO,Douglas Miles Noni Jr.. Владелец: CORNING INCORPORATED. Дата публикации: 2024-09-06.

Pure tone test apparatus and method for controlling the same

Номер патента: US20130251160A1. Автор: Sun Kim,Young Kwan Lee. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-26.

Leak testing apparatus and method

Номер патента: US09857264B2. Автор: Tsutomu Hara,Naohiko Maruno,Takaaki Watanabe. Владелец: Fukuda Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Bond Surface Testing Apparatus and Method

Номер патента: US20140053643A1. Автор: Eugene A. Dan-Jumbo,Joel Patrick BALDWIN. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2014-02-27.

Portable biochemical testing apparatus operating method

Номер патента: US9121822B2. Автор: William Wang,Chung-Cheng Chou. Владелец: Crystalvue Medical Corp. Дата публикации: 2015-09-01.

Condom nipple testing apparatus

Номер патента: WO2004061442A1. Автор: Ken Thompson,Daniel Underwood. Владелец: Agri Dynamics, Inc., Dba Industrial Manufacturing. Дата публикации: 2004-07-22.

Portable biochemical testing apparatus operating method

Номер патента: US20130313114A1. Автор: William Wang,Chung-Cheng Chou. Владелец: Crystalvue Medical Corp. Дата публикации: 2013-11-28.

Portable biochemical testing apparatus and operating method thereof

Номер патента: US8562912B2. Автор: William Wang,Chung-Cheng Chou. Владелец: Crystalvue Medical Corp. Дата публикации: 2013-10-22.

Test apparatus

Номер патента: WO2020165582A1. Автор: Robert Beardmore,Ivana BEARDMORE,Kai LONGSHAW,Carlos REDING. Владелец: University of Exeter. Дата публикации: 2020-08-20.

Engine piston and fatigue testing apparatus for engine piston

Номер патента: US11761853B2. Автор: Lei Li,Fei Ma,Haijun LIU,Baoyu Liu,Ninglu WANG. Владелец: Weichai Heavy Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Solderability testing apparatus and solderability testing method

Номер патента: US20020157486A1. Автор: Yutaka Shinozaki,Tamiharu Masatoki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2002-10-31.

Airtightness testing apparatus and airtightness testing method

Номер патента: US20240272034A1. Автор: Makoto Saito,Yasutaka Ochiai,Katsuya Taniguchi,Naohiro ICHIKAWA,Yusei ONO,Yoshihiro DOHGAN. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Advanced corrosion bioreactor testing apparatus

Номер патента: US20230314303A1. Автор: Jeongmin Ahn,Thomas Welles. Владелец: SYRACUSE UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-10-05.

Micro-impact testing apparatus

Номер патента: EP1846746A2. Автор: Ee Hua Wong,Ranjan Rajoo,Kuo Tsing Tsai. Владелец: Agency for Science Technology and Research Singapore. Дата публикации: 2007-10-24.

Rotary seal testing apparatus

Номер патента: US12130225B2. Автор: Nathaniel Barrett Herse,Wesley Newhouse. Владелец: GM Cruise Holdings LLC. Дата публикации: 2024-10-29.

Test apparatus for fluidic sample

Номер патента: US09968934B2. Автор: Dong Young Kim,Seung Woo Han,Hyun-Suk Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-15.

Tire performance testing apparatus

Номер патента: US09958359B2. Автор: Koichi Usami. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Testing apparatus, systems and methods for statically determining free play of aircraft control surfaces

Номер патента: US09568383B2. Автор: Alexandre ALVES,Rômulo Vinícius VERA,Decio Oliveira. Владелец: Embraer SA. Дата публикации: 2017-02-14.

Turf testing apparatus and methods

Номер патента: US09464980B2. Автор: Paul W Yngve. Владелец: Apt Acquisition Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Portable diagnostic test apparatus

Номер патента: US09459227B2. Автор: Na Hui Kim,Jeong Je Park,In Duk Hwang,Chul Ho Yun,Yeon Moo Chung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-04.

Test apparatus with detector that rotates in alignment with microfluidic device and control method thereof

Номер патента: US09410942B2. Автор: Dong Young Kim,Jin Beom HONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-08-09.

Snow environment test apparatus and snow environment test method

Номер патента: EP4332469A1. Автор: Hiroyuki Enoki,Haruki SETO. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Testing apparatus and method for testing containers

Номер патента: US20240201135A1. Автор: Michael Kronawitter. Владелец: Uhlmann Pac Systeme GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-20.

Testing apparatus and testing method of vaporizers of electronic cigarettes

Номер патента: WO2016039625A1. Автор: Oscar Slurink,Lambert Wijnand Breman,Abraham VAN DEN BERG. Владелец: Sluis Cigar Machinery B.V.. Дата публикации: 2016-03-17.

Testing apparatus and testing method

Номер патента: US20160245743A1. Автор: Minoru MIZUBATA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-25.

Weathering test apparatus with real-time color measurement

Номер патента: EP2144048A3. Автор: Christopher Waas,Kurt P. Scott. Владелец: Atlas Material Testing Technology LLC. Дата публикации: 2011-08-03.

Pointing bar fatigue testing apparatus

Номер патента: US20020174726A1. Автор: Chia-Hung Liu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-28.

Pretension and tensile impact test apparatus capable of simulating full-sea-depth environment

Номер патента: US20230273104A1. Автор: Yongping JIN,Deshun Liu,Fenfei PENG. Владелец: Hunan University of Science and Technology. Дата публикации: 2023-08-31.

Leak test apparatus and leak test method

Номер патента: WO2014009785A2. Автор: So KAWASAKI. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-01-16.

Decoupling mechanism and testing apparatus for large-displacement vibration tests

Номер патента: US20240328893A1. Автор: Bin Zhao,Jiangfeng Zhu,Yugang WU. Владелец: Suzhou Sushi Testing Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Reactor, test apparatus, and test method

Номер патента: US09891174B2. Автор: Kui Hyun Kim,Sang Bum PARK,Joo Hee PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-13.

Method of determining an internal volume of a filter or bag device, computer program product and a testing apparatus for performing the method

Номер патента: US09810564B2. Автор: Magnus Andreas Stering. Владелец: SARTORIUS STEDIM BIOTECH GMBH. Дата публикации: 2017-11-07.

Leak test apparatus and leak test method

Номер патента: US09541466B2. Автор: So KAWASAKI. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Dissolution testing apparatus calibrator and method

Номер патента: US20070276612A1. Автор: Gabriel Lam,Hitoshi Masui,Joel Cheng,Yiu-Chung Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-29.

Gas flow test apparatus and method

Номер патента: US09714852B2. Автор: Hermann Herrlich,G. Gregory Penza,Ray Moore,Mike McGrade,Serafino Catapano,Robert Kodadek, III,Griffin Reames,Joseph M. Vitelli, JR.. Владелец: National Grid USA Service Co Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Portable appliance testing apparatus

Номер патента: WO2018182764A1. Автор: Dustin Jones. Владелец: A.T.U., Inc.. Дата публикации: 2018-10-04.

Bathtub drain and overflow testing apparatus

Номер патента: US4111037A. Автор: John T. Fisher. Владелец: Individual. Дата публикации: 1978-09-05.

Urine sample testing apparatus and apparatus for processing measurement result of urine sample

Номер патента: US09651540B2. Автор: Takayoshi Izumi,Toru Mizumoto,Keisuke Tsutsumida. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Titration module, test apparatus and method for measuring titration contact angles

Номер патента: US20220229031A1. Автор: Kuang-Hsiang Liu,Chieh-Wen LU,Yu-Hao CIOU,Po-Ting LAI. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-21.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20240272063A1. Автор: Takayuki Mori,Seiya Hiramatsu. Владелец: Japan Steel Works Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Elastic material vibration test apparatus

Номер патента: US11656148B2. Автор: Chang Hoon Lee,Myung Sung Kang,Byungguk Lim,Ji Young Yeom. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-05-23.

Optical test apparatus and optical test method

Номер патента: US20180372625A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Yoshinori Honguh,Hiroya Kano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-12-27.

Bending test apparatus and bending test method using the same

Номер патента: US11740164B2. Автор: SUNG Su Hong,Kyoung Tae Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Shoe testing apparatus

Номер патента: US09560897B2. Автор: Dennis Willie,Cat Le. Владелец: FLEXTRONICS AP LLC. Дата публикации: 2017-02-07.

Testing apparatus, testing method, and phantom

Номер патента: US12025755B2. Автор: Eiji Kasahara. Владелец: Fujifilm Healthcare Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Test apparatus

Номер патента: US20230204453A1. Автор: Gabtae Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Shock testing apparatus and method

Номер патента: AU2018333032B2. Автор: Phillip R. Thompson,Alexander Whatley,Gavin COLLIAR,Stuart HUTCHISON. Владелец: Thornton Tomasetti Defence Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Batch test apparatus

Номер патента: IE913769A1. Автор: . Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1992-05-22.

Propellant test apparatus and method

Номер патента: WO2003087565A2. Автор: Farid M. Khadduri,Guy Bruce Spear. Владелец: Atlantic Research Corporation. Дата публикации: 2003-10-23.

Elastic material vibration test apparatus

Номер патента: US20210356353A1. Автор: Chang Hoon Lee,Myung Sung Kang,Byungguk Lim,Ji Young Yeom. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Shock testing apparatus and method

Номер патента: US12092554B2. Автор: Alexander Whatley,Phillip R THOMPSON,Gavin COLLIAR,Stuart HUTCHISON. Владелец: Thornton Tomasetti Defence Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Colorimetric oil testing apparatus and system

Номер патента: US09442102B2. Автор: Richard C. Harpman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-09-13.

Vibration-centrifugation composite test apparatus and control method thereof

Номер патента: US12085484B2. Автор: Bin Zhao,Jiangfeng Zhu,Yugang WU,Pengfei Ge. Владелец: Suzhou Sushi Testing Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

One-dimensional soil column test apparatus for seepage and internal erosion in geotechnical centrifuge

Номер патента: US12111242B2. Автор: Yu Zhao,Bo Huang,Yao Tang,Chang GUO,Wenyue Zhang,Daosheng LING,Linfeng CAO. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-10-08.

Eight-Drive Six-Degrees-of-Freedom Electrodynamic Vibration Testing Apparatus Having Adjustable Spatial Pose

Номер патента: US20240369445A1. Автор: Yang Li,Jun Liu,Lifeng Xu,Shujie XIA,Kuihua Zhang,Kejie Song,Xiaobo CAO,Hongyan DI. Владелец: ETS SOLUTIONS (BEIJING) Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Inertia test apparatus for model ship

Номер патента: US09714880B2. Автор: Young-Sik Kim,Jin Ha Kim,Sung Kwon CHOI,In Bo Park,Yeonguk Won,Hong Gun Sung,Sa Young Hong,Jang Pyo Hong,Suk Kyu Cho. Владелец: Korea Institute of Ocean Science and Technology KIOST. Дата публикации: 2017-07-25.

Test apparatus for the dynamic measurement of moisture transport and storage properties of porous materials

Номер патента: EP4421475A1. Автор: José Antonio MILLÁN GARCÍA,Alexander MARTÍN GARÍN. Владелец: Euskal Herriko Unibertsitatea. Дата публикации: 2024-08-28.

Test apparatus and method of accelerated photo-degradation using plasma light source

Номер патента: US20150017731A1. Автор: Doo Jin Byun. Владелец: Korea Research Institute of Chemical Technology KRICT. Дата публикации: 2015-01-15.

Tire testing apparatus

Номер патента: US09594003B2. Автор: Yoshinori Miyamoto,Makoto Tachibana,Tatsuya Ueda,Jiro Agawa,Morihiro IMAMURA. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Machinery Technology Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Gravure coater testing apparatus and gravure coater thereof

Номер патента: EP4112187A1. Автор: Seung Hun Yang,Sungjong SEO,Keu Yeun PARK,Seungmo LEE. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2023-01-04.

Outside heat exchanger thaw and freeze test apparatus

Номер патента: US12000751B2. Автор: Alex Krajcirovic,Mike Kowalski,Martin Kubasinski,Bill Turnbul. Владелец: Hanon Systems Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Reciprocating friction and wear test apparatus

Номер патента: US20240151619A1. Автор: Chau-Chang Chou. Владелец: National Taiwan Ocean University NTOU. Дата публикации: 2024-05-09.

Tensile testing apparatus

Номер патента: US20230075936A1. Автор: Connor Lane Coward. Владелец: Product Innovation And Engineering LLC. Дата публикации: 2023-03-09.

Test apparatus

Номер патента: US20200182759A1. Автор: Yoshinobu Saito. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Gravure coater test apparatus and gravure coater

Номер патента: US12042814B2. Автор: Seung Hun Yang,Sungjong SEO,Keu Yeun PARK,Seungmo LEE. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Outside heat exchanger thaw and freeze test apparatus

Номер патента: US20230332972A1. Автор: Alex Krajcirovic,Mike Kowalski,Martin Kubasinski,Bill Turnbul. Владелец: Hanon Systems Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Tire testing apparatus

Номер патента: US20190226945A1. Автор: John Hsu,Donald AKIYAMA,Robert TYREE. Владелец: Nissan North America Inc. Дата публикации: 2019-07-25.

Testing apparatus

Номер патента: US20130145855A1. Автор: Yu-Lin Liu,Yu-Lan Liu,wei-min Qin. Владелец: Hongfujin Precision Industry Wuhan Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-13.

Arrow shaft test apparatus

Номер патента: US20200240761A1. Автор: Yun Il SONG,Yun Sub Song,Yoon Jae Song. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-07-30.

Flight control system loading test apparatus and method

Номер патента: US20140318266A1. Автор: Toshiaki Fujii,Hiroshi Yamanouchi,Pascal Brisson. Владелец: Honda Patents and Technologies North America LLC. Дата публикации: 2014-10-30.

A novel pressure measuring test apparatus for conventional and technical textile products

Номер патента: WO2017160255A1. Автор: Osman Babaarslan,Nazi̇me Seyrek Kurban,Recep YILMAZ. Владелец: Calik Denim Tekstil Sanayi Ve Ticaret Anonim Sirketi. Дата публикации: 2017-09-21.

Dual-direction synchronous loading method for true-triaxial test apparatus

Номер патента: US20240248018A1. Автор: Jie Wang,Hongpu Li,Xiating FENG,Mian TIAN,Zhibin Yao,Benguo HE,Rongli ZHEN. Владелец: NORTHEASTERN UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-07-25.

Test apparatus and target measurement method using the same

Номер патента: US20140193921A1. Автор: TAKAYUKI Taguchi,Sung Hwa Lee,Hye Kyung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-07-10.

Egg testing apparatus and method

Номер патента: WO2006083992A3. Автор: Patricia J Horst. Владелец: Patricia J Horst. Дата публикации: 2007-03-15.

Egg testing apparatus and method

Номер патента: WO2006083992A2. Автор: Patricia J. Horst. Владелец: Horst Patricia J. Дата публикации: 2006-08-10.

Test apparatus and target measurement method using the same

Номер патента: US20170350904A1. Автор: TAKAYUKI Taguchi,Sung Hwa Lee,Hye Kyung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-12-07.

Non-invasive time-based sag testing apparatus

Номер патента: EP4409110A1. Автор: Eliah M EVERHARD. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2024-08-07.

Testing apparatus of utility pole

Номер патента: US12117373B2. Автор: Ryoichi Kaneko,Masaki Waki,Hiroaki Tanioka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Lateral flow diagnostic testing apparatus

Номер патента: EP3907505A2. Автор: Soohong Kim. Владелец: Pebble I Inc. Дата публикации: 2021-11-10.

Test apparatus for flexible screen

Номер патента: US12061176B2. Автор: Yuexing MA,Shuanzhu DONG. Владелец: Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Portable brinell testing apparatus

Номер патента: US09921143B2. Автор: Giancarlo Mazzoleni. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-20.

Controlled rain and fog testing apparatus

Номер патента: US09739711B2. Автор: JOHN S HAMILTON. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2017-08-22.

Resonance testing apparatus and articulation assembly

Номер патента: US09695867B2. Автор: Jon Johnson,Graham Morley. Владелец: Johnson and Allen Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Ultrasonic testing apparatus for pipe or tube end portion and method of setting initial position of probe holder

Номер патента: US09442096B2. Автор: Kenji Fujiwara,Hiroshi Kubota,Masaki Yamano,Tomoyuki Obata. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Test apparatus for a flexible device

Номер патента: US09354150B2. Автор: Sang Wol Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-31.

Low water sensor testing apparatus

Номер патента: US20180224320A1. Автор: Craig W. Billings. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-08-09.

Seat belt test apparatus

Номер патента: US20130233050A1. Автор: Jiri Kral,Stephen J. Cassatta,Mark A. Morra,Theresa M. Kondel. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2013-09-12.

Egg testing apparatus and method

Номер патента: US20060174694A1. Автор: Patricia Horst. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-08-10.

Lateral flow diagnostic testing apparatus

Номер патента: US20210349034A1. Автор: Soohong Kim. Владелец: Pebble I Inc. Дата публикации: 2021-11-11.

Controlled rain and fog testing apparatus

Номер патента: US09739712B2. Автор: John S. Hamilton. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2017-08-22.

Nacelle test apparatus

Номер патента: US9404830B2. Автор: Jens Bomholt Jensen. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2016-08-02.

Nacelle test apparatus

Номер патента: EP2674618A1. Автор: Jens Bomholt Jensen. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2013-12-18.

Method and apparatus for controlling an engine test apparatus using lead-lag control

Номер патента: US5521824A. Автор: Thomas E. Eagan,William R. Larson,Durwin D. Nigus. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 1996-05-28.

Fiber-optic harness testing apparatus and related methods

Номер патента: US20100051791A1. Автор: Richard C. Jones. Владелец: Lokheed Martin Corp. Дата публикации: 2010-03-04.

Turntable-using testing apparatus

Номер патента: CA1333098C. Автор: Toshihiko Kato,Takeshi Matsui,Takashi Iijima,Kenji Horio,Shigeru Kaneto. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 1994-11-15.

Sealed housing evaporative determination testing apparatus and method

Номер патента: US5592372A. Автор: Hassan A. Artail,Dennis M. Blumke. Владелец: Chrysler Corp. Дата публикации: 1997-01-07.

Conductive deposit test apparatus and method

Номер патента: WO2023033860A1. Автор: John V. Bucci,Gunther Mueller,Douglas J. Wirsing,Gregory C. Miller,Sarah R. Nuss-Warren,Jessica L. HOYE,Rico PELZ,William VAN BERGEN,Egon BRUGGEMAN. Владелец: Tannas Company. Дата публикации: 2023-03-09.

Leak testing apparatus and method

Номер патента: EP4264219A1. Автор: Görkem Özvural. Владелец: Vestel Elektronik Sanayi ve Ticaret AS. Дата публикации: 2023-10-25.

Quality Assurance and Reliability Testing Apparatus for RFID Tags

Номер патента: US20130074607A1. Автор: Yong Hyun Lee,Sung Ryol JIN. Владелец: HANA MICRON AMERICA Inc. Дата публикации: 2013-03-28.

Test apparatus for measuring particle plugging of a simulated fracture

Номер патента: US11761274B2. Автор: Dale E. Jamison,James R. Jones,Andrew Vos. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Saliva Test Apparatus

Номер патента: US20210223239A1. Автор: Jordan Jacek de Haan,William Jackson Bowen, III,William George Norman Coon,Shane Kawika Vogt. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-22.

Analysis of porous material using laboratory calibrated test apparatus and sample data

Номер патента: US20190226969A1. Автор: Dennis M. Anderson,Stephan R-K Fuelling,Dave B. Straley,Willian Ehni. Владелец: Willian Ehni. Дата публикации: 2019-07-25.

Analysis of porous material using laboratory calibrated test apparatus and sample data

Номер патента: AU2019212212B2. Автор: Dennis M. Anderson,Stephan R-K Fuelling,Dave B. Straley,Willian Ehni. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-05-02.

Optical analyzing means for automatic chemical testing apparatus

Номер патента: US3711206A. Автор: J Moran. Владелец: Hycel Inc. Дата публикации: 1973-01-16.

Medical testing apparatus

Номер патента: US11626202B2. Автор: William Jackson Bowen, III,Jordan Jacek deHaan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-04-11.

Analysis of porous material using laboratory calibrated test apparatus and sample data

Номер патента: EP3698127A1. Автор: Dennis M. Anderson,Stephan R-K Fuelling,Dave B. Straley,Willian Ehni. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-26.

Seat belt test apparatus

Номер патента: US20200141848A1. Автор: Jiri Kral,Russell J. Mihm. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2020-05-07.

Ultrasonic testing apparatus with couplant delivery system

Номер патента: WO2021087045A1. Автор: Jacques L. Brignac,George R. Rowland,JR. Glenn G. HART. Владелец: WESTINGHOUSE ELECTRIC COMPANY LLC. Дата публикации: 2021-05-06.

Colorimetric analytical test apparatus

Номер патента: CA1113279A. Автор: Douglas I. Mcgregor. Владелец: Canada, AS REPRESENTED BY MINISTE R OF AGRICULTURE. Дата публикации: 1981-12-01.

Heat recovery test apparatus and method for making and testing the same

Номер патента: WO2006004818A2. Автор: Lani G. Ache. Владелец: Deltak, Llc. Дата публикации: 2006-01-12.

Precious Metal Testing Apparatus with Calibration System

Номер патента: US20130030716A1. Автор: Brent Miller,Jarrett Schaffer,Aaron Muller. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-01-31.

Gemstone testing apparatus

Номер патента: WO2020256632A1. Автор: Kui Lim Tam. Владелец: Jubilee Diamond Instrument(S) Pte. Ltd.. Дата публикации: 2020-12-24.

Optical testing apparatus and method of testing optical measuring instrument

Номер патента: US11762072B2. Автор: Takao Sakurai,Toshihiro Sugawara. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Testing apparatus with environmentally-controlled vibrator compartment

Номер патента: EP1352223A1. Автор: Clinton A. Peterson,Christopher J. Essenburg. Владелец: Venturedyne Ltd. Дата публикации: 2003-10-15.

Testing apparatus with environmentally-controlled vibrator compartment

Номер патента: EP1352223A4. Автор: Clinton A Peterson,Christopher J Essenburg. Владелец: Venturedyne Ltd. Дата публикации: 2007-06-27.

Testing apparatus with environmentally-controlled vibrator compartment

Номер патента: EP1352223B1. Автор: Clinton A. Peterson,Christopher J. Essenburg. Владелец: Venturedyne Ltd. Дата публикации: 2010-04-07.

Contact force testing apparatus, use of such a contact force testing apparatus and method for producing such a contact force testing apparatus

Номер патента: US20180067002A1. Автор: ROLF THIEL,Reinhard Staub,Claudio Cavalloni,Paul Furter,Giovanni Mastrogiacomo,Sandro Brandenberger. Владелец: KISTLER HOLDING AG. Дата публикации: 2018-03-08.

Integral clamping steel strand drawing test apparatus, and method for using same

Номер патента: CA3058031C. Автор: Nong Zhang,Zhengzheng Xie,Zhe Xiang,Junyao ZHOU,Xinyue Li. Владелец: China University of Mining and Technology CUMT. Дата публикации: 2021-07-20.

Flexural testing apparatus for materials and method of testing materials

Номер патента: US20170059463A1. Автор: Dale N. Memering,Victor Luzzato. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

Load testing apparatus

Номер патента: US4217775A. Автор: Kazuo Hikari. Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-08-19.

Test apparatus for evaluating solid particle movement during hydrocarbon production, and method therof

Номер патента: GB2539314A. Автор: Thomas Maurice Patey Ian,Louise Collins Gemma. Владелец: COREX UK Ltd. Дата публикации: 2016-12-14.

Test apparatus for testing filters or containers

Номер патента: US20140283924A1. Автор: Martin Dahlberg,Hartmut Langer,Jens Meyer,Sven-Oliver Otto. Владелец: SARTORIUS STEDIM BIOTECH GMBH. Дата публикации: 2014-09-25.

Test apparatus of gases

Номер патента: US20140216178A1. Автор: Jonathan Yang. Владелец: JUSUN INSTRUMENTS CO Ltd. Дата публикации: 2014-08-07.

Portable field testing apparatus and method

Номер патента: US11982682B2. Автор: Andrew Trivett. Владелец: University of Prince Edward Island (UPEI). Дата публикации: 2024-05-14.

Test apparatus, injection method, and microchannel device

Номер патента: US11992841B2. Автор: Ippei Takeuchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

High pressure drum testing apparatus and method

Номер патента: US4852392A. Автор: Robert G. Evans. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-08-01.

Test apparatus

Номер патента: US20240033731A1. Автор: Kengo Fushiya,Dai SUWAMA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-02-01.

Eddy Current Testing Method and Eddy Current Testing Apparatus

Номер патента: US20100148767A1. Автор: Yoshiyuki Nakao,Shigetoshi Hyodo. Владелец: Sumitomo Metal Industries Ltd. Дата публикации: 2010-06-17.

Water quality testing method and water quality testing apparatus

Номер патента: EP4343307A1. Автор: Yan Jin,Shiqiang Wang,Junjie Feng,Bing Sun,Anshan XIAO,Haozhi WANG,Huiyun JIANG. Владелец: Sinopec Research Institute of Safety Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-27.

Combustion-testing apparatuses and methods of using same

Номер патента: WO2024108565A1. Автор: Biao Xu,Xianjie WANG,Jiwei LIANG. Владелец: Ses (Shanghai) Co. Ltd.. Дата публикации: 2024-05-30.

On-line air filter integrity testing apparatus

Номер патента: US5488811A. Автор: Jianjun Wang,Douglas D. Osborn,Billy D. Cornelius,Douglas A. Harp. Владелец: ABBOTT LABORATORIES. Дата публикации: 1996-02-06.

Dissolution test apparatus

Номер патента: WO2002071033A3. Автор: Paul Shoytush,Stephen D Dean,James E Swon,C J Anthony Fernando. Владелец: Varian Inc. Дата публикации: 2003-10-09.

Sonic wood testing apparatus and method

Номер патента: CA1273100A. Автор: John Francis Holland. Владелец: American Energy Services Inc. Дата публикации: 1990-08-21.

Nucleic acid amplification test apparatus, and automatic sample analysis system having same

Номер патента: US20230372945A1. Автор: Jong Kab Kim,Han Oh Park,Hanee Park,Jin Il Lee,Eun Yeong Kwon. Владелец: Bioneer Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Encircled flux compliant test apparatus

Номер патента: EP3398002A1. Автор: Bin Liu,Scott Prescott,Xiujiang Huang. Владелец: AFL TELECOMMUNICATIONS LLC. Дата публикации: 2018-11-07.

Gemstone Testing Apparatus

Номер патента: US20230341331A1. Автор: Kui Lim Tam. Владелец: Jubilee Diamond Instrument. Дата публикации: 2023-10-26.

Testing apparatus for prosthetic device

Номер патента: US11786374B2. Автор: Salvador Marquez,Lynn T. Dang,Emily Cheng Zhou,Javier A. Sanguinetti,Gary Alan BREITBACH. Владелец: Edwards Lifesciences Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Testing apparatus for prosthetic device

Номер патента: EP3914191A1. Автор: Salvador Marquez,Lynn T. Dang,Emily Cheng Zhou,Javier A. Sanguinetti,Gary Alan BREITBACH. Владелец: Edwards Lifesciences Corp. Дата публикации: 2021-12-01.

Testing apparatus for prosthetic device

Номер патента: US20200237515A1. Автор: Salvador Marquez,Lynn T. Dang,Emily Cheng Zhou,Javier A. Sanguinetti,Gary Alan BREITBACH. Владелец: Edwards Lifesciences Corp. Дата публикации: 2020-07-30.

Testing apparatus for prosthetic device

Номер патента: CA3125239A1. Автор: Salvador Marquez,Lynn T. Dang,Emily Cheng Zhou,Javier A. Sanguinetti,Gary Alan BREITBACH. Владелец: Edwards Lifesciences Corp. Дата публикации: 2020-07-30.

Testing apparatus for prosthetic device

Номер патента: US20230414359A1. Автор: Salvador Marquez,Lynn T. Dang,Emily Cheng Zhou,Javier A. Sanguinetti,Gary Alan BREITBACH. Владелец: Edwards Lifesciences Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Testing apparatus for prosthetic device

Номер патента: CA3125239C. Автор: Salvador Marquez,Lynn T. Dang,Emily Cheng Zhou,Javier A. Sanguinetti,Gary Alan BREITBACH. Владелец: Edwards Lifesciences Corp. Дата публикации: 2023-04-04.

Testing apparatus for prosthetic device

Номер патента: EP4040425A1. Автор: Salvador Marquez,Lynn T. Dang,Emily Cheng Zhou,Javier A. Sanguinetti,Gary Alan BREITBACH. Владелец: Edwards Lifesciences Corp. Дата публикации: 2022-08-10.

Durability testing apparatus for water drainage flap, and testing method using the durability testing apparatus for water drainage flap

Номер патента: US20240175503A1. Автор: Xiaogang Tao,Jiangfeng Zhu. Владелец: Suzhou Sushi Testing Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Blood sensor and blood test apparatus having the same

Номер патента: CA2640969C. Автор: Masaki Fujiwara,Yoshinori Amano. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-12-13.

Power transmission part testing apparatus

Номер патента: CA1148382A. Автор: Werner H. Grobler. Владелец: Deere and Co. Дата публикации: 1983-06-21.

Dissolution testing apparatus

Номер патента: CA2161224C. Автор: Alan Gutwillig,Gerald Brinker,Peter Hladik. Владелец: Distek Inc. Дата публикации: 1999-02-02.

Viscosity testing apparatus

Номер патента: US4942759A. Автор: Howard L. Beers. Владелец: HF Scientific LLC. Дата публикации: 1990-07-24.

Eddy current testing apparatus, eddy current testing probe, and eddy current testing method

Номер патента: CA2833655C. Автор: Jun Matsumoto,Akira Nishimizu,Atsushi Ishihara,Takayuki Kawanaka. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

Engine testing apparatus

Номер патента: EP1338882A2. Автор: Hideki c/o Horiba Ltd. Nakanishi,Shinji c/o Horiba Ltd. Noguchi,Yasuhiro c/o Horiba Ltd. Ogawa. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2003-08-27.

Debonding test apparatus for measuring bond strength to concrete

Номер патента: US11719621B2. Автор: Faisal M. MUKHTAR. Владелец: KING FAHD UNIVERSITY OF PETROLEUM AND MINERALS. Дата публикации: 2023-08-08.

Biomaterial test apparatus and method of controlling the same

Номер патента: EP3077829A1. Автор: Jong Cheol Kim,Jung Tae Lee,Chung Ung Kim,Jin Beom HONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-12.

Leak Testing Apparatus and Method

Номер патента: US20240027299A1. Автор: Görkem Özvural. Владелец: Vestel Elektronik Sanayi ve Ticaret AS. Дата публикации: 2024-01-25.

Surface testing apparatus

Номер патента: GB2624893A. Автор: Frank Smith James,David Beake Benjamin,Goodes Stephen. Владелец: MICRO MATERIALS LTD. Дата публикации: 2024-06-05.

Multi-Functional Precious Stone Testing Apparatus and Method Thereof

Номер патента: US20190120812A1. Автор: Xiuling Zhu,Gary Bruce Peckham. Владелец: Shenzhen DiKai Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-25.

Impact testing apparatuses and methods for drug delivery devices

Номер патента: US11938304B2. Автор: Christopher R. Folk,Sean FITZGIBBON,Julian JAZAYERI,Joshua TAMSKY. Владелец: AMGEN INC. Дата публикации: 2024-03-26.

Multi-functional precious stone testing apparatus and method thereof

Номер патента: US10539510B2. Автор: Xiuling Zhu,Gary Bruce Peckham. Владелец: Shenzhen DiKai Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-21.

Test method, test apparatus, test system, and storage medium

Номер патента: US20240133764A1. Автор: Hongyu Zheng,Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Test method, test apparatus, test system and storage medium

Номер патента: EP4382879A1. Автор: Hongyu Zheng,Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Initializing a test apparatus for proving operation of gas meters

Номер патента: US10908012B2. Автор: Mihir Subhash Bawal,Cristina Alfonso Lancelot,Jason Lee Mamaloukas,Jeff Thomas Martin. Владелец: Natural Gas Solutions North America LLC. Дата публикации: 2021-02-02.

Optical component focus testing apparatus and method

Номер патента: EP2189778A2. Автор: Colin Mcgarry,Gilles Dufaure De La Jarte. Владелец: STMicroelectronics Research and Development Ltd. Дата публикации: 2010-05-26.

Material testing apparatus and method with temperature monitoring

Номер патента: GB2497804A. Автор: Andrew John Smith,Steven R Squires,Benjamin P Jeppesen. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2013-06-26.

Impact test apparatus

Номер патента: US4696182A. Автор: Avraham A. Meir. Владелец: SETI Inc. Дата публикации: 1987-09-29.

Testing apparatus and method for testing the thermal behavior of an axlebox

Номер патента: EP3279632A1. Автор: Miklos Kremer. Владелец: Knorr Bremse Systeme fuer Schienenfahrzeuge GmbH. Дата публикации: 2018-02-07.

Road testing apparatus

Номер патента: CA1195141A. Автор: Stephen P. Scrivener,Wallace D. Smith,Neville D. Campbell,Mark L. Mansell. Владелец: Commissioner For Main Roads. Дата публикации: 1985-10-15.

Test apparatus for a waste water treatment system

Номер патента: WO2018033423A1. Автор: Sean DOBBS. Владелец: CDEnviro Limited. Дата публикации: 2018-02-22.

Multi-functional precious stone testing apparatus and method thereof

Номер патента: US10203288B2. Автор: Xiuling Zhu,Gary Bruce Peckham. Владелец: Shenzhen DiKai Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-12.

Electrolytic multi-cell testing apparatus

Номер патента: CA1201479A. Автор: Mohamed I. Ismail. Владелец: Individual. Дата публикации: 1986-03-04.

Environmental test apparatus

Номер патента: EP4300007A1. Автор: Masaki Yamamoto,Takumi Usui,Katsuhiko Watabe,Yuta Moriyama,Haruki SETO,Tetsuya Okadome. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2024-01-03.

Environmental test apparatus

Номер патента: US20230417632A1. Автор: Masaki Yamamoto,Takumi Usui,Katsuhiko Watabe,Yuta Moriyama,Haruki SETO,Tetsuya Okadome. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Synthetic turf testing apparatus

Номер патента: NZ749168B. Автор: Stephan Sick,Ivo LOHR,Dirk Sander,Bernd Jansen,Pascal Haxaire,Loic DREAU,Roberto ARMENI,Blan Aurelien Le. Владелец: Polytex Sportbeläge Produktionsgmbh. Дата публикации: 2020-12-01.

Gradient stress load testing apparatus and method for accurate measurement of load power

Номер патента: RU2769395C1. Автор: Вейяо ГУО,Сюебин ГУ,Тунбин ЖАО,Юньлиан ТАН. Владелец: Шандунь Юниверсити Оф Сайенс Энд Текнолоджи. Дата публикации: 2022-03-31.

Humidity testing apparatus

Номер патента: US4667522A. Автор: Masaru Kawahara. Владелец: EXPRESS TEST CORP. Дата публикации: 1987-05-26.

Method for testing the reliability of a testing apparatus, specially an empty bottle inspecting device

Номер патента: CA2269129A1. Автор: Bernhard Heuft. Владелец: Bernhard Heuft. Дата публикации: 1998-05-22.

Lateral flow test apparatus

Номер патента: GB2606135A. Автор: David Farmer Matthew. Владелец: OWEN MUMFORD LTD. Дата публикации: 2022-11-02.

Liveness test method and liveness test apparatus

Номер патента: US20230401823A1. Автор: SeungJu HAN,Sungdo Choi,Byung Kwan KIM,Jong-sok KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-12-14.

Testing apparatus for friction and wear

Номер патента: US20240219279A1. Автор: Xiang Zhao,Ying Liu,Yongjian LI,Hongju Li,Fei Guo,Weifeng Huang,Zhurong LIANG,Haoran LIAO,Anqi HUANG. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-07-04.

Glass container testing apparatus

Номер патента: US3885421A. Автор: Rikuzo Nakamura,Hiromu Kishigami. Владелец: NITTOKU METAL INDUSTRY CO Ltd. Дата публикации: 1975-05-27.

Test apparatus

Номер патента: GB1393599A. Автор: . Владелец: Carl Schenck AG. Дата публикации: 1975-05-07.

Wheel alignment testing apparatus

Номер патента: US4099333A. Автор: Brian Michael Forster. Владелец: GKN Transmissions Ltd. Дата публикации: 1978-07-11.

Method of determining the boundaries of a measuring path of a gear flank testing apparatus and gear flank testing apparatus for performance of the method

Номер патента: US4356556A. Автор: Armin Sterki. Владелец: Maag Gear Wheel and Machine Co Ltd. Дата публикации: 1982-10-26.

Collision simulation test apparatus and impact test apparatus

Номер патента: US20240118173A1. Автор: Hiroshi Miyashita,Sigeru Matsumoto,Kazuhiro Murauchi,Kiyoaki Haneishi. Владелец: Kokusai Keisokuki KK. Дата публикации: 2024-04-11.

Condom testing apparatus

Номер патента: WO2000040954A1. Автор: Daniel S. Underwood,Barry W. Bass. Владелец: Agri Dynamics, Inc., Dba Industrial Manufacturing. Дата публикации: 2000-07-13.

Collision simulation test apparatus and impact test apparatus

Номер патента: US11892371B2. Автор: Hiroshi Miyashita,Sigeru Matsumoto,Kazuhiro Murauchi,Kiyoaki Haneishi. Владелец: Kokusai Keisokuki KK. Дата публикации: 2024-02-06.

An automatic liquid tank jacket testing apparatus

Номер патента: EP4300066A1. Автор: Paul Sheehan. Владелец: Unison Engineering Services Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Testing apparatus

Номер патента: EP4246116A1. Автор: Stefan Dircks,Natasa Dekovic,Hicham Bennani Kemmoun. Владелец: Siemens Gamesa Renewable Energy AS. Дата публикации: 2023-09-20.

Synthetic turf testing apparatus

Номер патента: EP3485253A1. Автор: Stephan Sick,Ivo LOHR,Dirk Sander,Bernd Jansen,Pascal Haxaire,Loic DREAU,Roberto ARMENI,Aurélien LE BLAN. Владелец: Labosport International. Дата публикации: 2019-05-22.

Subassembly having a flange and a test apparatus

Номер патента: EP3023681A1. Автор: Jens Weber. Владелец: Valeo Klimasysteme GmbH. Дата публикации: 2016-05-25.

Improved testing apparatus for total single-flank composite error in cylindrical gears

Номер патента: GB1224963A. Автор: . Владелец: Maag Zahnrader und Maschinen AG. Дата публикации: 1971-03-10.

Environmental Test Apparatus

Номер патента: CA2105366A1. Автор: Ichiro Ueda,Masanori Ishizuka. Владелец: Nippon Yusen KK. Дата публикации: 1994-03-10.

Panel-testing apparatus

Номер патента: US5426862A. Автор: Chung-Sik Ham,Ho-Sung Lee,Jong-Duk Kim. Владелец: Samsung Corning Co Ltd. Дата публикации: 1995-06-27.

Lens-testing apparatus and lens-testing method having a plurality of combinations of object distances

Номер патента: US20100165329A1. Автор: Wen Wen Teng,Chang Yuan Lee,Chungying Kuo. Владелец: UMA Tech Inc. Дата публикации: 2010-07-01.

Environmental test apparatus

Номер патента: US5610344A. Автор: Ichiro Ueda,Masanori Ishizuka. Владелец: Nippon Yusen KK. Дата публикации: 1997-03-11.

Universal penetration test apparatus and method

Номер патента: US5633453A. Автор: Phillip W. Johnson. Владелец: Mayo Foundation for Medical Education and Research. Дата публикации: 1997-05-27.

Testing apparatus with improved follower mechanism

Номер патента: US4672844A. Автор: Walter E. Meyer. Владелец: Schenck Pegasus Corp. Дата публикации: 1987-06-16.

Electrostatic spark ignition sensitivity test apparatus and method

Номер патента: US3760262A. Автор: J Chovanec,F Hildebrant. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 1973-09-18.

Testing apparatus for cured liners used in pipeline rehabilitation

Номер патента: US20170100879A1. Автор: David Samuel Pleasants,William Donald Pleasants, JR.. Владелец: Reline America Inc. Дата публикации: 2017-04-13.

A method for configuring a set comprising at least one phased array transducer in an ultrasonic test apparatus for examining a metal object.

Номер патента: NL2015900B1. Автор: Van Der Ent Jan,Theodorus Van Kessel Edwin. Владелец: Röntgen Technische Dienst B V. Дата публикации: 2017-06-14.

Mattress Testing Apparatus And Method

Номер патента: US20140096588A1. Автор: Richard H. Wolkin,James Hewatt. Владелец: Colgate Atlanta Mattress Corp. Дата публикации: 2014-04-10.

Sealing quality testing apparatus for determining the quality of a sealing band, packaging plant having a sealing quality testing apparatus, method for determining the quality of a sealing band and method for producing composite packages

Номер патента: WO2023144093A1. Автор: Antonio Melandri,Fabrizio Rimondi,Paolo Scarabelli,Giorgio PICCININI,Jose' Manuel GORDILLO LOPEZ,Alice SAVOIA,Elia FAGGI,Giulia BELLONI,Riccardo RONCAGLIA. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2023-08-03.

Blood test apparatus, blood test method, and blood test program

Номер патента: EP4253961A1. Автор: Nobuo Watanabe,Makoto Higuchi. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Synthetic turf testing apparatus

Номер патента: US20190302003A1. Автор: Stephan Sick,Ivo LOHR,Dirk Sander,Bernd Jansen,Pascal Haxaire,Loic DREAU,Roberto ARMENI,Aurélien LE BLAN. Владелец: Labosport International. Дата публикации: 2019-10-03.

Synthetic turf testing apparatus

Номер патента: NZ749168A. Автор: Stephan Sick,Ivo LOHR,Dirk Sander,Bernd Jansen,Pascal Haxaire,Loic DREAU,Roberto ARMENI,Blan Aurelien Le. Владелец: Polytex Sportbelaege Produktions Gmbh. Дата публикации: 2020-08-28.

Synthetic turf testing apparatus

Номер патента: US10983037B2. Автор: Stephan Sick,Ivo LOHR,Dirk Sander,Bernd Jansen,Pascal Haxaire,Loic DREAU,Roberto ARMENI,Aurélien LE BLAN. Владелец: Labosport International. Дата публикации: 2021-04-20.

Test apparatus and control method thereof

Номер патента: US20170227407A1. Автор: Yeong Bae Yeo,Sil PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-10.

Test apparatus and method for determining whether infection is present using ratio of color change of reagent

Номер патента: EP4215903A1. Автор: Jeong Ho Park,Jeong In Bag,Seong Soo Hong,Joo Won Rhee,So Hyeon Baek. Владелец: 1drop Inc. Дата публикации: 2023-07-26.

Automatic liquid tank jacket testing apparatus

Номер патента: US20240003776A1. Автор: Paul Sheehan. Владелец: Unison Engineering Services Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Blood test apparatus

Номер патента: CA2635980C. Автор: Masaki Fujiwara,Yoshinori Amano,Toshihiro Akiyama. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-09-27.

Erosive wear testing apparatus and method

Номер патента: GB2524036A. Автор: Jonathan Housden,Junia Avelar Batista Wilson,Laurent Espitalier,Mark Glaze. Владелец: WALLWORK CAMBRIDGE Ltd. Дата публикации: 2015-09-16.

Blood test apparatus

Номер патента: CA2635980A1. Автор: Masaki Fujiwara,Yoshinori Amano,Toshihiro Akiyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-12.

Diffusion test apparatus and method

Номер патента: US5490415A. Автор: Vivien H. W. Mak,Michael L. Francoeur. Владелец: PharMetrix Corp. Дата публикации: 1996-02-13.

Test apparatus for a syringe driver

Номер патента: GB2311866A. Автор: David Williams. Владелец: Individual. Дата публикации: 1997-10-08.

Lubricant testing apparatus

Номер патента: GB1450685A. Автор: . Владелец: International Research and Development Co Ltd. Дата публикации: 1976-09-22.

Vibration testing apparatus and a method of vibration testing

Номер патента: EP1598653A3. Автор: Matthew David Fletcher. Владелец: Ling Dynamic Systems Inc. Дата публикации: 2006-07-05.

Multi-Functional Precious Stone Testing Apparatus and Method Thereof

Номер патента: US20200110040A1. Автор: Xiuling Zhu,Gary Bruce Peckham. Владелец: Shenzhen DiKai Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-09.

Supersonic sensor head for supersonic non-destructive test apparatus

Номер патента: US7210355B2. Автор: Shinya Kawabata. Владелец: Fuji Jukogyo KK. Дата публикации: 2007-05-01.

Terahertz nondestructive testing apparatus and method

Номер патента: WO2023250409A2. Автор: George Youssef,Nha Uyen HUYNH,Gregory SAWVELLE. Владелец: San Diego State University (SDSU) Foundation, dba San Diego State University Research Foundation. Дата публикации: 2023-12-28.

Weather resistance testing apparatus and weather resistance testing method

Номер патента: US20240068929A1. Автор: Shinichi Miyamoto,Kenji Nose,Kae Tochigi,Megumi Kashiwame. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Pipe testing apparatus and method

Номер патента: WO2016178012A1. Автор: Graham Murray. Владелец: DOOSAN BABCOCK LIMITED. Дата публикации: 2016-11-10.

Multi color printability testing apparatus

Номер патента: US5415054A. Автор: Ferdinand A. de Vos, Sr.,Leon A. de Vos,Aaron L. Black. Владелец: Research North America Inc. Дата публикации: 1995-05-16.

Drop test apparatus

Номер патента: US20120227464A1. Автор: Yu-Lin Liu,Ming-Hui Luo,chang-jun Li,Meng-Bin Yu. Владелец: Hongfujin Precision Industry Wuhan Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-13.

Weather resistance testing apparatus, and weather resistance testing method

Номер патента: EP4343305A1. Автор: Shinichi Miyamoto,Kenji Nose,Kae Tochigi,Megumi Kashiwame. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2024-03-27.

Inhaler testing apparatus

Номер патента: US20240017055A1. Автор: Benjamin Bradley,Mark Andrew COPLEY. Владелец: Copley Scientific Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Vehicle door lock closure testing apparatus

Номер патента: WO2002014829A1. Автор: Peter Cheung,Carl Gifford,Timothy Stieler,Jurek Bekieszczuk,Duane Drew. Владелец: Atoma International Corp.. Дата публикации: 2002-02-21.

Leak testing apparatus and a method of testing

Номер патента: DK181333B1. Автор: NIELSEN Frank,Hessler Ibsen Claus. Владелец: VESTAS AIRCOIL AS. Дата публикации: 2023-08-16.

Test apparatus for pile-soil interface shear mechanical properties

Номер патента: LU101104B1. Автор: Junsheng Yang,Jiaqi Guo,Hongzhong Liu,shifan Qiao,Dongrui Li,Ritong Liu,Pengke Ju. Владелец: Univ Central South. Дата публикации: 2019-12-09.

Chain link testing apparatus and method

Номер патента: WO2012026826A1. Автор: Harald Pallesen. Владелец: Argus Remote System AS. Дата публикации: 2012-03-01.

Terahertz nondestructive testing apparatus and method

Номер патента: WO2023250409A3. Автор: George Youssef,Nha Uyen HUYNH,Gregory SAWVELLE. Владелец: San Diego State University (SDSU) Foundation, dba San Diego State University Research Foundation. Дата публикации: 2024-02-29.

Test apparatus, compliance mechanism, and related method

Номер патента: US20130333480A1. Автор: Patrick KESSLER,Michael A. Damianakis. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2013-12-19.

Impact testing apparatus

Номер патента: CA1267548A. Автор: Ronald F. Garritano,John J. O'connor,Manuel E. Papayanopulos. Владелец: Rheometrics Inc. Дата публикации: 1990-04-10.

Automatic gear testing apparatus

Номер патента: US4610091A. Автор: Hans-Ulrich Bertz,Peter Golder. Владелец: Individual. Дата публикации: 1986-09-09.

Test probe for materials testing apparatus

Номер патента: GB2494467B. Автор: James Frank Smith,Adrian Harris,Simon Hostettler. Владелец: MICRO MATERIALS LTD. Дата публикации: 2013-08-07.

Snow environment test apparatus and snow environment test method

Номер патента: EP4332548A1. Автор: Hiroyuki Enoki,Haruki SETO,Hemant Subhas Ningaraddi. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Snow environment test apparatus and snow environment test method

Номер патента: US20240068930A1. Автор: Hiroyuki Enoki,Haruki SETO,Hemant Subhas Ningaraddi. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Drop test apparatus

Номер патента: US20140182355A1. Автор: Fu-Ming Liu. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-03.

Side collision test apparatus and side collision test condition determination method for center pillar of automobile

Номер патента: EP3964814A1. Автор: Kentaro Sato,Tsuyoshi Shiozaki,Hideaki Kobiki. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2022-03-09.

Side crash test apparatus and side crash test condition determination method for center pillar of automobile

Номер патента: US20220090989A1. Автор: Kentaro Sato,Tsuyoshi Shiozaki,Hideaki Kobiki. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Pipe testing apparatus

Номер патента: US6581642B1. Автор: Sandy Ritchie,John Horn. Владелец: Hedley Purvis Ltd. Дата публикации: 2003-06-24.

X-ray testing apparatus

Номер патента: GB1072397A. Автор: Vasily Grigorjevich Kuznetsov,Leonid Ivanovich Tajukin,Viktor Petrovich Bychkov,Vladimir Georgievich Brodov,Julia Nikolaevna Rjurikova. Владелец: INST OBSCHCHEI I NEORGANICHESK. Дата публикации: 1967-06-14.

Lens testing apparatus and a lens adjusting apparatus

Номер патента: US5999251A. Автор: Tetsuya Arimoto,Tougo Teramoto. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 1999-12-07.

Model test apparatus and method for shield tunnel post-wall grouting and tube sheet uplift under high water pressure conditions

Номер патента: US20230333279A1. Автор: Tao Liu,Rui Fan,Hao Kong,Fei SHA,Mingshuai Xi,Shijiu Gu,Meng Bu. Владелец: OCEAN UNIVERSITY OF CHINA. Дата публикации: 2023-10-19.

Ultra micro indentation testing apparatus

Номер патента: US20030070475A1. Автор: Nobuo Nagashima,Saburo Matsuoka,Kensuke Miyahara. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2003-04-17.

Tooth flank testing apparatus and method of testing tooth flanks of gears

Номер патента: US4285133A. Автор: Armin Sterki,Gerd R. Sommer. Владелец: Maag Gear Wheel and Machine Co Ltd. Дата публикации: 1981-08-25.

Kinetofrictional force testing apparatus

Номер патента: US5212657A. Автор: Hiroshi Uchikawa,Hiroyuki Motohashi,Mutsuo Munekata. Владелец: Koyo Precision Instruments Inc. Дата публикации: 1993-05-18.

Test apparatus for pressurized container and method

Номер патента: CA1050299A. Автор: Frank M. Kelly,Wilburn C. Willis,William L. Denhart,Joseph A. Clements. Владелец: Aluminum Company Of America. Дата публикации: 1979-03-13.

Testing apparatus and testing method of vaporizers of electronic cigarettes

Номер патента: US20170241906A1. Автор: Oscar Slurink,Lambert Wijnand Breman,Abraham VAN DEN BERG. Владелец: Sluis Cigar Machinery BV. Дата публикации: 2017-08-24.

Snow environment test apparatus and snow environment test method

Номер патента: US20240068729A1. Автор: Hiroyuki Enoki,Haruki SETO. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Testing apparatus for intrusion detectors

Номер патента: US4743886A. Автор: Peter Steiner,David Siegwart,Rudolf Genahr. Владелец: Cerberus AG. Дата публикации: 1988-05-10.

Lens module testing apparatus

Номер патента: US5966209A. Автор: Ming Tsung Cheng,Jih-Yung Lu. Владелец: Acer Peripherals Inc. Дата публикации: 1999-10-12.

Test apparatus and methods

Номер патента: WO2006018612A1. Автор: Barry Mcmahon. Владелец: Burnden Holdings (Uk) Limited. Дата публикации: 2006-02-23.

Automatic ultrasonic testing apparatus for detecting flaws of structural balls

Номер патента: US5184513A. Автор: Shigeo Nishioka,Koji Fushimi. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 1993-02-09.

Testing apparatus for quantitatively measuring creepability of liquids

Номер патента: US4534211A. Автор: Orlando G. Molina. Владелец: US Air Force. Дата публикации: 1985-08-13.

Foundry coke test apparatus

Номер патента: US4474050A. Автор: Seymour Katz,Craig F. Landefeld. Владелец: Motors Liquidation Co. Дата публикации: 1984-10-02.

Bolt and nut fastening test apparatus

Номер патента: US10571364B2. Автор: Hyung Soo Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Friability testing apparatus

Номер патента: US5140857A. Автор: Douglas J. Reid. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-08-25.

Test apparatus for a vehicle

Номер патента: US20230175928A1. Автор: Timothy Pistole,Mark Thomas Weston. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2023-06-08.

Testing apparatus and testing method of vaporizers of electronic cigarettes

Номер патента: EP3190908A1. Автор: Oscar Slurink,Lambert Wijnand Breman,Abraham VAN DEN BERG. Владелец: Sluis Cigar Machinery BV. Дата публикации: 2017-07-19.

Vehicle test apparatus

Номер патента: US20210063272A1. Автор: Michael Geist. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2021-03-04.

Rotary seal testing apparatus

Номер патента: US20230366807A1. Автор: Nathaniel Barrett Herse,Wesley Newhouse. Владелец: Gm Cruise Holdings C/o Polsinelli Pc LLC. Дата публикации: 2023-11-16.

Rotary ultrasonic testing apparatus with hydraulic lifting units

Номер патента: EP2912449A2. Автор: Hua Zhou,Kai Fan,Xun YU. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2015-09-02.

Rotary ultrasonic testing apparatus with hydraulic lifting units

Номер патента: US20140109676A1. Автор: Hua Zhou,Kai Fan,Xun YU. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-04-24.

Rotary ultrasonic testing apparatus with hydraulic lifting units

Номер патента: WO2014066640A2. Автор: Hua Zhou,Kai Fan,Xun YU. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2014-05-01.

Testing apparatus and testing method of vaporizers of electronic cigarettes

Номер патента: US9970871B2. Автор: Oscar Slurink,Lambert Wijnand Breman,Abraham VAN DEN BERG. Владелец: Sluis Cigar Machinery BV. Дата публикации: 2018-05-15.

Optical testing apparatus

Номер патента: US20230048446A1. Автор: Takao Sakurai,Toshihiro Sugawara. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-02-16.

Crash test apparatus

Номер патента: US20120103056A1. Автор: Isamu Kurokawa,Yoshitsugu Kuriyama. Владелец: VOLVO GROUP SWEDEN AB. Дата публикации: 2012-05-03.

Test apparatus for simulating off-road conditions for vehicle

Номер патента: US11898935B2. Автор: Timothy Pistole,Mark Thomas Weston. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2024-02-13.

Observable micro-nano mechanical testing apparatus and method

Номер патента: US11781956B2. Автор: Kun Sun,Zengsheng Ma,Yichun ZHOU. Владелец: XIANGTAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-10-10.

Testing apparatus and method for testing a sensor, sensor system

Номер патента: US20230296470A1. Автор: Juergen Mueller,Dominik Messner. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2023-09-21.

Test apparatus and method of measuring mar resistance of film or coating

Номер патента: EP1092142A1. Автор: Li Lin. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2001-04-18.

Tank testing apparatus and method

Номер патента: EP3513160A1. Автор: Peter Wagner. Владелец: Leighton OBrien Technology Pty Ltd. Дата публикации: 2019-07-24.

Collision test apparatus, vehicle design method, and vehicle

Номер патента: EP2663850A1. Автор: Isao Kobayashi,Shunichi Katsumata,Taisuke Fujiwara. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2013-11-20.

Collision test apparatus, vehicle design method, and vehicle

Номер патента: US20130283902A1. Автор: Isao Kobayashi,Shunichi Katsumata,Taisuke Fujiwara. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2013-10-31.

Side crash test apparatus and side crash test condition determination method for center pillar of automobile

Номер патента: US11946828B2. Автор: Kentaro Sato,Tsuyoshi Shiozaki,Hideaki Kobiki. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-04-02.

Portable diagnostic test apparatus

Номер патента: US20150072406A1. Автор: Na Hui Kim,Jeong Je Park,In Duk Hwang,Chul Ho Yun,Yeon Moo Chung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-03-12.

Geometric and radiometric calibration and test apparatus for electro-optical thermal-ir instruments and designed to simulate different angularly-extending thermal-ir sources with different geometries and with thermal-ir emissions containing different hot-cold transitions

Номер патента: EP3665454A1. Автор: Marco Barilli,Stefano BROGI. Владелец: Leonardo SpA. Дата публикации: 2020-06-17.

Geometric and Radiometric Calibration and Test apparatus for Electro-Optical Thermal-IR Instruments and Designed To Simulate Different Angularly-Extending Thermal-IR Sources with Different Geometries and with Thermal-IR Emissions Containing Different Hot-Cold Transitions

Номер патента: US20200256736A1. Автор: Marco Barilli,Stefano BROGI. Владелец: Leonardo SpA. Дата публикации: 2020-08-13.

Geometric and radiometric calibration and test apparatus for electro-optical thermal-IR instruments and designed to simulate different angularly-extending thermal-IR sources with different geometries and with thermal-IR emissions containing different hot-cold transitions

Номер патента: US11187588B2. Автор: Marco Barilli,Stefano BROGI. Владелец: Leonardo SpA. Дата публикации: 2021-11-30.

Leak testing apparatus

Номер патента: WO2022228627A1. Автор: Frank Nielsen,Claus Hessler IBSEN. Владелец: Vestas Aircoil A/S. Дата публикации: 2022-11-03.

Testing apparatus, systems and methods for statically determining free play of aircraft control surfaces

Номер патента: EP3180247A1. Автор: Alexandre ALVES,Rômulo Vinícius VERA,Decio Oliveira. Владелец: Embraer SA. Дата публикации: 2017-06-21.

Portable biochemical testing apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20120028365A1. Автор: William Wang,Chung-Cheng Chou. Владелец: Crystalvue Medical Corp. Дата публикации: 2012-02-02.

Borehole pressure-shear test apparatus capable of measuring horizontal displacement by borehole wall pressing configuration using wedge element

Номер патента: US20210115790A1. Автор: Seung Hwan Lee,Young Woo Song,Jae Gyu Kim,Won Chan LEE,Choong-Ki CHUNG,Bae Lee. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2021-04-22.

Leak testing apparatus

Номер патента: DK202170187A1. Автор: NIELSEN Frank,Hessler Ibsen Claus. Владелец: VESTAS AIRCOIL AS. Дата публикации: 2022-11-16.

Fluid-test apparatus

Номер патента: US4092865A. Автор: Richard V. Strybel. Владелец: Gould Inc. Дата публикации: 1978-06-06.

Improved brake testing apparatus

Номер патента: AU2013284344A1. Автор: Dan CLEARY,Stephen Withington. Владелец: Nepean Eng & Innovation Pty Ltd. Дата публикации: 2014-12-18.

Bend test apparatus for a hydraulic hose

Номер патента: US20220341828A1. Автор: Gökhan ÖZCAN,Mustafa Ercan ERGUR,Temel OZTURK,Mithat IVRINDILIOGLU,Serdar DURSUN. Владелец: Danfoss Power Solutions II Technology AS. Дата публикации: 2022-10-27.

Bend test apparatus for a hydraulic hose

Номер патента: EP4025889A1. Автор: Gökhan ÖZCAN,Mustafa Ercan ERGUR,Temel OZTURK,Mithat IVRINDILIOGLU,Serdar DURSUN. Владелец: Danfoss Power Solutions II Technology AS. Дата публикации: 2022-07-13.

Bend test apparatus for a hydraulic hose

Номер патента: WO2021043937A1. Автор: Gökhan ÖZCAN,Mustafa Ercan ERGUR,Temel OZTURK,Mithat IVRINDILIOGLU,Serdar DURSUN. Владелец: Eaton Intelligent Power Limited. Дата публикации: 2021-03-11.

Multiple injector flow through dissolution cell for dissolution testing apparatus

Номер патента: US4279860A. Автор: Victor F. Smolen. Владелец: Individual. Дата публикации: 1981-07-21.

Weathering test apparatus having a long-arc type air-cooled vertical metal halide lamp

Номер патента: US6591701B2. Автор: Nagaichi Suga. Владелец: Suga Test Instruments Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-15.

High pressure testing apparatus

Номер патента: GB838139A. Автор: William Percival Baker. Владелец: Metropolitan Vickers Electrical Co Ltd. Дата публикации: 1960-06-22.

Valve test apparatus / method comprising actuator to apply load to valve stem

Номер патента: GB2469530A. Автор: Fiona Mairi Michel. Владелец: Qinetiq Ltd. Дата публикации: 2010-10-20.

Test and repair system, product manufacturing system, member test apparatus, data processing apparatus, member repair apparatus, and information storage medium

Номер патента: US6507186B1. Автор: Yutaka Sugikawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-01-14.

Camera module test apparatus, camera module test method and image generating device

Номер патента: US11729374B2. Автор: Young Jun Choi,Deok Ha Shin,Eun Ji Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-15.

Wireless automation test apparatus and method for mobile device

Номер патента: US09521564B2. Автор: JIN Wu,WEI Ding,Hui Zhao. Владелец: BORQS WIRELESS Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Test apparatus and test method based on DFDAU

Номер патента: US09639997B2. Автор: Tang Li,Dechao Zhong,Qixiang Li,Weixi Chai,Xueliang WU,Chengli Ouyang,Yuanbin Li,Wenjing Bi. Владелец: Air China Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Testing system, vehicle simulation apparatus, testing apparatus and testing method

Номер патента: EP4293518A1. Автор: Jiawei Wang,Rui Miao,Sidong Chu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Test system, vehicle simulation apparatus, test apparatus, and test method

Номер патента: US20240015046A1. Автор: Jiawei Wang,Rui Miao,Sidong Chu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Visual field testing method, system, and testing apparatus based on head-mounted testing equipment

Номер патента: US20200214552A1. Автор: Cong Zhang,Yi ZHEN,Weihong Zheng. Владелец: Zhuhai Wiifine Medinformation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-09.

Camera test apparatus

Номер патента: US09451247B2. Автор: FAN He,Paul W. Brazis, Jr.. Владелец: UL LLC. Дата публикации: 2016-09-20.

Fuzz testing apparatus and fuzz testing method

Номер патента: EP4002768A1. Автор: Chih-Wei Chen,Pei-Yi Lin,Chia-Wei Tien,Chin-Wei Tien. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2022-05-25.

Camera module test apparatus, camera module test method and image generating device

Номер патента: US20220329778A1. Автор: Young Jun Choi,Deok Ha Shin,Eun Ji Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-13.

Camera module test apparatus, camera module test method and image generating device

Номер патента: US20220150467A1. Автор: Young Jun Choi,Deok Ha Shin,Eun Ji Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-05-12.

Electronic control system, electronic-control-system testing apparatus, and electronic-control-system testing method

Номер патента: US20220291647A1. Автор: Kentaro Ishihara. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Plant facilities testing apparatus

Номер патента: US20160079808A1. Автор: Shinichiro Tsudaka,Natsuko Maeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Compliance test apparatus and method for a communication node

Номер патента: US20180331793A9. Автор: Sung Ho Choi,Seong Jin Park,Woo Sub Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-11-15.

Test apparatus and method

Номер патента: US4034195A. Автор: Danny E. Bates. Владелец: Phillips Petroleum Co. Дата публикации: 1977-07-05.

Test apparatus and test method having a plurality of combinations of object distances

Номер патента: US20100141962A1. Автор: Wen Wen Teng,Chang Yuan Lee. Владелец: UMA Tech Inc. Дата публикации: 2010-06-10.

System for manufacturing display panel, method to be used in same, and testing apparatus therefor

Номер патента: US20060028231A1. Автор: Hideyuki Norimatsu,Akito Kishida. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2006-02-09.

System architecture for a test apparatus having primary and dependent processors

Номер патента: US4841437A. Автор: Andre Lubarsky,Richard E. Pospisil. Владелец: LP Com. Дата публикации: 1989-06-20.

Testing apparatus for embedded RFID tags

Номер патента: US8063742B2. Автор: John Michael Fenkanyn,Richard Nicholas Crano. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2011-11-22.

Test apparatus of solar cell, and photovoltaic system including the same

Номер патента: US11588440B2. Автор: Jaehoon Lee,Kyongpil Tae,Bohyun JUNG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2023-02-21.

Test apparatus of solar cell, and photovoltaic system including the same

Номер патента: US20210083622A1. Автор: Jaehoon Lee,Kyongpil Tae,Bohyun JUNG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2021-03-18.

Display test apparatus and method of fabricating display device(s)

Номер патента: US11928995B2. Автор: Joo Hyuk YUM,Deok Soo Park,Byoung-Ju Song. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-12.

Test apparatus and plasma processing apparatus

Номер патента: US09673027B2. Автор: Takashi Yamamoto,Junichi Shimada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Method for determining a bonding connection in a component arrangement and test apparatus

Номер патента: US09793179B2. Автор: Andreas Middendorf,Torsten Nowak,Sergei Janzen. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2017-10-17.

Pad conditioner test apparatus and method

Номер патента: US20060094337A1. Автор: Sung-Choul Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-05-04.

Potential induced degradation test apparatus for solar cell and the method thereof

Номер патента: US10734945B1. Автор: Jun Hee Kim,Soo Min KIM,Sang Hoon Jung. Владелец: Gumi Electronics & Information Technology Research Institute. Дата публикации: 2020-08-04.

A medical testing apparatus

Номер патента: FI20195846A1. Автор: Tomas Danska. Владелец: Danska Oy. Дата публикации: 2021-04-05.

A medical testing apparatus

Номер патента: EP4037570A1. Автор: Tomas Danska. Владелец: Danska Oy. Дата публикации: 2022-08-10.

Charge-and-discharge test apparatus and control method thereof

Номер патента: US20240260224A1. Автор: Dong Keun Yang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Test apparatus for wiring harness body clip

Номер патента: GB2607296A. Автор: Carrolo Nuno,Barata Antonio,Filipe Nabais Figueira De Almeida Ricardo. Владелец: Aptiv Technologies Ltd. Дата публикации: 2022-12-07.

Personality testing apparatus

Номер патента: RU2510071C2. Автор: Суити МАКИ,Тадайо ХАТА. Владелец: Зайданходзин Син-Ириозайдан. Дата публикации: 2014-03-20.

Test apparatus and test module

Номер патента: US20130231886A1. Автор: Toshiaki Adachi,Takahiro Nakajima,Takeshi Yaguchi,Hajime Sugimura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2013-09-05.

Display panel, display test apparatus and method of testing display panel

Номер патента: US10948749B2. Автор: Zhiqiang Wang,Shuang Hu,Shicheng Sun,Jianfei TIAN,Peirong Huo. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-16.

Display panel, display test apparatus and method of testing display panel

Номер патента: US20190285917A1. Автор: Zhiqiang Wang,Shuang Hu,Shicheng Sun,Jianfei TIAN,Peirong Huo. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-19.

Software test apparatus, software test method and computer readable medium thereof

Номер патента: US09454457B1. Автор: Kai-Yuan JAN. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2016-09-27.

Communication test apparatus and method

Номер патента: US20130091390A1. Автор: Young Su Kim,Sueng Wan Yang,Jung Suk Oh,Hae Young Kwon,Seung Yeun Jang,Byoung Ju CHOI,Joo Young SEO. Владелец: Industry Collaboration Foundation of Ewha University. Дата публикации: 2013-04-11.

Testing apparatus and method for testing a semiconductor devices array

Номер патента: US20100156452A1. Автор: Chih Hui YEH. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2010-06-24.

Electronic circuit, test-apparatus assembly, and method for outputting a data item

Номер патента: US20020015343A1. Автор: Martin Rieger. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2002-02-07.

Testing apparatus and method for testing a semiconductor devices array

Номер патента: US8164356B2. Автор: Chih Hui YEH. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2012-04-24.

Test method and test apparatus for transparent display device

Номер патента: US09530337B2. Автор: Wang Hu,Zhigang Zhang,Xinli MA,Chunfang Zhang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Automatic testing apparatus for embedded software, automatic testing method thereof and test scenario composing method

Номер патента: US20140123117A1. Автор: Byeong-hu Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-05-01.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20140188436A1. Автор: Takahiro Yamaguchi,Masahiro Ishida. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2014-07-03.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20080229162A1. Автор: Shinya Sato,Masahiko Hata. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2008-09-18.

Semiconductor test method, semiconductor test apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20110055645A1. Автор: Atsushi Inoue,Tsunehiro Sato. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Testing apparatus

Номер патента: AU2023255605A1. Автор: Amit Kumar,Steven Bennett,Faruk Meah,Vishal BHOSALE,Manoj Mohan OJHA. Владелец: Johnson Controls Tyco IP Holdings LLP. Дата публикации: 2024-10-10.

Testing apparatuses, servers and methods for controlling a testing apparatus

Номер патента: EP2901329A1. Автор: Rongshan Yu,Wenyu Jiang. Владелец: Agency for Science Technology and Research Singapore. Дата публикации: 2015-08-05.

Testing apparatuses, servers and methods for controlling a testing apparatus

Номер патента: WO2014021785A9. Автор: Rongshan Yu,Wenyu Jiang. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2015-04-30.

Test apparatus of a direct-light-type backlight module

Номер патента: US09740033B2. Автор: Mingjun Li,Changjia FU,Yunlong Tian. Владелец: Beijing BOE Vision Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Coded testing apparatus

Номер патента: US20020110929A1. Автор: Michael Wandell,Richard Quattrocchi. Владелец: Home Access Health Corp. Дата публикации: 2002-08-15.

Test apparatus for flip-chip micro-light emitting diode (led) devices

Номер патента: WO2023107882A1. Автор: Srinivasa Banna,Yeow Meng Teo,Wee-Hong Ng,Wali ZHANG. Владелец: LUMILEDS LLC. Дата публикации: 2023-06-15.

Test apparatus

Номер патента: US20140359358A1. Автор: Chun-Hao Chu. Владелец: Inventec Pudong Technology Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Testing apparatus or other similar apparatus

Номер патента: WO1996035193A1. Автор: Nuno Ryberg Mousinho De Figueiredo. Владелец: Ryberg Mousinho De Figueiredo. Дата публикации: 1996-11-07.

Software test apparatus and software test method

Номер патента: US11914507B2. Автор: Naoto Sato,Makoto Ishikawa,Tomoyuki Myojin,Hideto Ogawa,Hironobu Kuruma. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-02-27.

Test apparatus, test method, and integrated circuit

Номер патента: US20090300443A1. Автор: Takeshi Nagase,Chikahiro Deguchi,Yutaka Sekino,Shinkichi Gama,Shogo Shibazaki,Hideyuki Negi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-12-03.

Software test apparatus and software test method

Номер патента: US20220391315A1. Автор: Naoto Sato,Makoto Ishikawa,Tomoyuki Myojin,Hideto Ogawa,Hironobu Kuruma. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-12-08.

Testing apparatus and testing method

Номер патента: US20140325281A1. Автор: Koichi Asano,Hidetoshi Yazaki,Takehisa Takahashi,Tami Wakabayashi. Владелец: NTT DOCOMO INC. Дата публикации: 2014-10-30.

Motherboard testing apparatus

Номер патента: US20120221282A1. Автор: Yu-Lin Liu,Xiang-Biao Chen,Hong-Lang Lu. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2012-08-30.

Method of circuit simulation, test apparatus, electronic device, and medium

Номер патента: US20230342527A1. Автор: Teng Shi,Yu Li. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-26.

Lens assembly and test apparatus

Номер патента: US09823487B2. Автор: Cheng-Shiun Wu. Владелец: Miics and Partners Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Work capacities testing apparatus and method

Номер патента: US09439594B2. Автор: Robert Akins,John Banks,Mark Means. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-09-13.

Driving simulation test apparatus

Номер патента: US20170200385A1. Автор: Atsushi Tada,Masaaki Mitsuzono. Владелец: Toshiba Machine Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-13.

Method of verifying defect management area information of disc and test apparatus for performing the same

Номер патента: CA2342408C. Автор: Jung-Wan Ko,Hyun-Kwon Chung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-08-05.

Method of verifying defect management area information of disc upon reinitialization with clearing of a defect list and test apparatus for performing same

Номер патента: CA2342553C. Автор: Jung-Wan Ko,Hyun-Kwon Chung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-06-22.

Head test apparatus and head test analysis system

Номер патента: US20090097148A1. Автор: Eiji Takada,Tetsuya Mukunoki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-04-16.

Coin testing apparatus

Номер патента: CA1198211A. Автор: Robert Dean,Frederic P. Heiman,Peter J. Reyner. Владелец: Mars Inc. Дата публикации: 1985-12-17.

Test apparatus and semiconductor chip

Номер патента: US10566073B2. Автор: Jong Ho Jung. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2020-02-18.

Test apparatus and semiconductor chip

Номер патента: US20170249997A1. Автор: Jong Ho Jung. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-08-31.

Test apparatus and semiconductor chip

Номер патента: US20180233214A1. Автор: Jong Ho Jung. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-08-16.

Memory testing apparatus

Номер патента: US20020046373A1. Автор: Shao-Yu Chou,Yue-Der Chih. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2002-04-18.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20120300826A1. Автор: Hiromi Oshima,Kazumichi Yoshiba. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-11-29.

Digital Component test Apparatus, an apparatus for testing electronic assemblies and a method for remotely testing a peripheral device having an electronic assembly

Номер патента: US6578167B2. Автор: Kenneth F. Boorom,Jonathan L. Dodge. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2003-06-10.

Method of verifying defect management area information of disc and test apparatus for performing the same

Номер патента: MY126979A. Автор: CHUNG Hyun-Kwon,KO Jung-wan. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-11-30.

Magnetic head testing apparatus and method of testing a magnetic head

Номер патента: US20070188166A1. Автор: Song Suk. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-08-16.

Testing apparatus and testing method for lcd

Номер патента: US20110068816A1. Автор: Sangjig LEE,Young Man KWON. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-24.

Memory test method, memory test apparatus, device and storage medium

Номер патента: US11860748B2. Автор: XIAOFENG Xu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Memory test method, memory test apparatus, device and storage medium

Номер патента: US20230236942A1. Автор: XIAOFENG Xu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Test apparatus

Номер патента: WO2017216538A1. Автор: David John ROWAN,James Andrew ELVIDGE. Владелец: BAE SYSTEMS plc. Дата публикации: 2017-12-21.

Memory test method and memory test apparatus

Номер патента: US11862276B2. Автор: Wei Huang,Chi-Shian WU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Test apparatus

Номер патента: EP3469485A1. Автор: David John ROWAN,James Andrew ELVIDGE. Владелец: BAE SYSTEMS plc. Дата публикации: 2019-04-17.

Memory test method and memory test apparatus

Номер патента: US20230092554A1. Автор: Wei Huang,Chi-Shian WU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-03-23.

Memory test apparatus and testing method thereof

Номер патента: US20210249096A1. Автор: Hong-Mook Choi,Ji-su Kang,Hyun Il Kim,Hye Soo Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-08-12.

Testing apparatus

Номер патента: WO2023205583A1. Автор: Amit Kumar,Steven Bennett,Faruk Meah,Vishal BHOSALE,Manoj Mohan OJHA. Владелец: Johnson Controls Tyco IP Holdings LLP. Дата публикации: 2023-10-26.

Wafer defect test apparatus, wafer defect test system, wafer test method and fabrication method of a wafer

Номер патента: US20230055058A1. Автор: Sung Hee Lee,Jae Hoon Jeong,Jae Yoon Kim,Jung Hwan Moon,Jung Hoon Bak,KYU-BAlK CHANG,Min Kyoung Joo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-02-23.

Semiconductor memory test apparatus with error classification means and related test method

Номер патента: WO2007063784A1. Автор: Shinya Sato,Hirokatsu Niijima. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2007-06-07.

Test apparatus of a direct-light-type backlight module

Номер патента: US20160266419A1. Автор: Mingjun Li,Changjia FU,Yunlong Tian. Владелец: Beijing BOE Vision Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-15.

Testing method, testing system, and testing apparatus for semiconductor chip

Номер патента: US11929132B2. Автор: Cheng-Jer Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Testing method, testing system, and testing apparatus for semiconductor chip

Номер патента: US20220399068A1. Автор: Cheng-Jer Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-12-15.

Work test apparatus and method

Номер патента: US20230326008A1. Автор: Yoshihiro Sato,Takafumi TERAHAI,Kai Yamashita. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20130086423A1. Автор: Takeshi Kawakami. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2013-04-04.

Coin testing apparatus

Номер патента: US4625851A. Автор: Derek Hutchinson,Robert Dean,Peter R. Johnson,Peter J. Reyner. Владелец: Mars Inc. Дата публикации: 1986-12-02.

Apparatus and a method for receiving and positioning a read/write head to a disk in a test apparatus

Номер патента: MY143888A. Автор: Ian Stanley Warn. Владелец: Xyratex Tech Ltd. Дата публикации: 2011-07-15.

Signal testing apparatus

Номер патента: US20100164522A1. Автор: Fa-Sheng Huang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2010-07-01.

Computer startup test apparatus

Номер патента: US20120047400A1. Автор: ling-yu Xie,Xing-Ping Xie. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2012-02-23.

Semiconductor memory apparatus, test apparatus therefor and method for relieving semiconductor memory apparatus from short circuit

Номер патента: US5343431A. Автор: Shozo Shirota,Takahiro Ohtsuka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1994-08-30.

Testing apparatus or other similar apparatus

Номер патента: AU5661596A. Автор: Nuno Ryberg Mousinho De Figueiredo. Владелец: Nuno Ryberg Mousinho De Figuei. Дата публикации: 1996-11-21.

Coin testing apparatus

Номер патента: GB1525888A. Автор: . Владелец: Mars Inc. Дата публикации: 1978-09-20.

Coin testing apparatus

Номер патента: CA2064729C. Автор: Timothy Peter Waite. Владелец: Mars Inc. Дата публикации: 1999-10-05.

Testing apparatus and testing method for telephone apparatus

Номер патента: US20140072110A1. Автор: Hsin-Chun Lee,Pei-Lin Chen,Shou-Jung Chang,Chia-Chien Feng. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2014-03-13.

Test apparatus

Номер патента: WO2009108095A1. Автор: Marinus Kristensen. Владелец: TELEFONAKTIEBOLAGET L M ERICSSON (PUBL). Дата публикации: 2009-09-03.

Test apparatus, radio communication test apparatus, method for testing and computer program product

Номер патента: US09860774B2. Автор: Uwe Bader,Andreas Roessler,Sandra Merkel,Pirmin Seebacher. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-01-02.

Test apparatus and method for testing IP-based mobile communications terminals

Номер патента: US09485680B2. Автор: Stefan Diebenbusch,Klaus Degner. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-11-01.

Client suitability test apparatus and method for a substation automating system

Номер патента: US09461871B2. Автор: Nam-Ho Lee,Byung-Tae Jang. Владелец: Korea Electric Power Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Mobile terminal test apparatus, mobile terminal test system, and control method for mobile terminal test apparatus

Номер патента: US20220239388A1. Автор: Masato Takeuchi,Daisuke Nakagawa,Takumi Nakamura,Daiki Kano. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-07-28.

Interactivity test apparatus and method for blocking ip application spam

Номер патента: US20110138002A1. Автор: So Yung Park. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2011-06-09.

Mobile terminal test apparatus, mobile terminal test system, and control method for mobile terminal test apparatus

Номер патента: US20210337407A1. Автор: Daiki Kano,Yuki Naruse,Keiichi MINEDA. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-10-28.

Image testing method of image pickup device and image testing apparatus using such method

Номер патента: US20120013747A1. Автор: Szu-Hao Lyu,Chien-Nan Yu. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2012-01-19.

Mobile terminal test apparatus and parameter replacement method for use in mobile terminal test apparatus

Номер патента: US09585035B2. Автор: Takayuki Awano,Yuki Higuchi,Daiki Kano. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Testing method and testing apparatus for tv system

Номер патента: US20130147967A1. Автор: Yu-Fen TSAI,Ching-Chun Huang. Владелец: MStar Semiconductor Inc Taiwan. Дата публикации: 2013-06-13.

Mobile terminal test apparatus and mobile terminal test method

Номер патента: US9538393B2. Автор: Kazunori Aoki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

A portable testing apparatus and method

Номер патента: NZ629774A. Автор: Radford Cameron,Devine Stephen. Владелец: REGENERSIS GLENROTHES Ltd. Дата публикации: 2015-02-27.

Mobile terminal test apparatus and mobile terminal test method

Номер патента: US20140092750A1. Автор: Kazunori Aoki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2014-04-03.

Method for emulating a terminal and test apparatus for testing a telecommunication network

Номер патента: US20020128811A1. Автор: Holger Hoffmann. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2002-09-12.

Testing apparatus and method

Номер патента: US09699448B2. Автор: Paul Mcclay,Cameron Radford,Stephen Devine. Владелец: Regenersis (Glenrothes) Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Mobile terminal test apparatus and mobile terminal test method

Номер патента: US09538393B2. Автор: Kazunori Aoki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Mobile terminal testing apparatus and interference state simulating method for use in the same

Номер патента: US09485682B2. Автор: Satoshi Wakasa,Keiichiro Samejima,Takayuki Koguchi. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Operational status testing apparatus and method for ethernet-based automatic protection switching process

Номер патента: US20080298260A1. Автор: Hae Won Jung,Byungjun Ahn,Kyeong Ho Lee,Tae Sik Cheung. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2008-12-04.

Test apparatus for binaurally-coupled acoustic devices

Номер патента: US09860652B2. Автор: William A. Cole,John W. Cole,Jacobus A. Jonkman,Jonathan M. Pietrobon. Владелец: Etymonic Design Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Test apparatus for binaurally-coupled acoustic devices

Номер патента: US09961455B2. Автор: William A. Cole,John W. Cole,Jacobus A. Jonkman,Jonathan M. Pietrobon. Владелец: Etymonic Design Inc. Дата публикации: 2018-05-01.

Mobile communication terminal test apparatus and test result display method

Номер патента: US20110141934A1. Автор: Kazunori Aoki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Mobile communication terminal test apparatus and test result display method

Номер патента: US8422378B2. Автор: Kazunori Aoki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2013-04-16.

Test apparatus

Номер патента: US12030311B2. Автор: Mark Smith,Dave MOULE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Mobile terminal testing apparatus and cell use method for use in the same

Номер патента: US20160277949A1. Автор: Satoshi Wakasa,Keiichiro Samejima,Takayuki Koguchi. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Mosfet drive circuit, programmable power supply and semiconductor test apparatus

Номер патента: WO2005124377A1. Автор: Nobuhiro Sato. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2005-12-29.

Mobile terminal testing apparatus and cell use method for use in the same

Номер патента: US09973948B2. Автор: Satoshi Wakasa,Keiichiro Samejima,Takayuki Koguchi. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Signal testing apparatus and methods for verifying signals in satellite systems

Номер патента: US09762312B2. Автор: Jason Hsu,Rouh T. Bow. Владелец: Aerospace Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Image test apparatus and image test system

Номер патента: US20140270396A1. Автор: Takahiro FUKASE,Hiromitsu MIYAGAWA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-18.

Test apparatus and test method

Номер патента: US09699753B1. Автор: Feng Xie,Jia You,Claudiu Krakowski,Karsten Friedrich,Henry Gropp. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-07-04.

Network test apparatus and network test method

Номер патента: US11671200B2. Автор: Tomohiro Ito,Akinobu TSUYUKI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-06-06.

Test apparatus for a telecommunication network and method for testing a telecommunication network

Номер патента: CA2945908C. Автор: Paolo Marini,Lodovico Binda,Enrico Bendinelli,Luigi TRAVAGLINI. Владелец: Keysight Technologies Singapore Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2023-08-15.

Network test apparatus and network test method

Номер патента: US20210273745A1. Автор: Tomohiro Ito,Akinobu TSUYUKI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Mobile terminal test apparatus and position correction method of mobile terminal

Номер патента: US20230308922A1. Автор: Ryota Chinbe,Dan Osone,Ryuso Kasai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Talk line multiple communication and test apparatus

Номер патента: US3944758A. Автор: William V. Carney,Paul V. DeLuca. Владелец: Porta Systems Corp. Дата публикации: 1976-03-16.

Pdu testing apparatus

Номер патента: US20120062273A1. Автор: Ming-Yuan Hsu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-15.

Built-in-self-test apparatus and method for analog-to-digital converter

Номер патента: US20050093723A1. Автор: Chun Wei Lin. Владелец: Spirox Corp. Дата публикации: 2005-05-05.

High speed automatic test apparatus especially electronic directory terminals

Номер патента: CA1241470A. Автор: Michel Rault,Claude Heno. Владелец: Individual. Дата публикации: 1988-08-30.

Test apparatus

Номер патента: CA2092296C. Автор: Donald Eric Arthur Clarke,Jeremy Brian Chuter,Michael Anthony Hale. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 1997-11-11.

Audio stream testing apparatus and a method thereof

Номер патента: GB2445993A. Автор: Martyn Wyatt. Владелец: Cabot Communications Ltd. Дата публикации: 2008-07-30.

Image test apparatus, image test system, and image test method

Номер патента: US20140226189A1. Автор: Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-14.

Image test apparatus, image test system, and image test method

Номер патента: US9185240B2. Автор: Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-10.

Mobile terminal test apparatus, mobile terminal test system, and control method for mobile terminal test apparatus

Номер патента: US11792663B2. Автор: Daiki Kano,Yuki Naruse,Keiichi MINEDA. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Radio frequency testing apparatus with voltage standing wave ratio adjustment and corresponding method

Номер патента: US20240204888A1. Автор: Alexander Roth,Florian Ramian,Christian Kuhn. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-20.

Method for calibrating a testing apparatus

Номер патента: US20010008832A1. Автор: Rolf Kaindl. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-07-19.

Mobile terminal testing apparatus and method of controlling out-of-service test of the same

Номер патента: US20210227408A1. Автор: Tsuyoshi Sato,Kenji Fujita,Nami TAKIGUCHI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-07-22.

Mobile terminal testing apparatus and method of controlling out-of-service test of the same

Номер патента: US11310683B2. Автор: Tsuyoshi Sato,Kenji Fujita,Nami TAKIGUCHI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-04-19.

Centralized test apparatus for ATM exchange system

Номер патента: US5887000A. Автор: Hiroshi Adachi,Hiroyuki Kudo,Nobuhiko Eguchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1999-03-23.

Television receivers and test apparatus for use in combination therewith

Номер патента: GB1474493A. Автор: . Владелец: Grundig EMV Elektromechanische Versuchsanstalt Max Grundig GmbH. Дата публикации: 1977-05-25.

Mobile terminal testing apparatus and testing method

Номер патента: US20210297879A1. Автор: Kenji Goto,Takayuki Awano. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Mobile terminal testing apparatus and testing method

Номер патента: US11463897B2. Автор: Kenji Goto,Takayuki Awano. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-10-04.

Mobile terminal test apparatus, mobile terminal test system, and control method for mobile terminal test apparatus

Номер патента: US20210328689A1. Автор: Zhihui Wu,Reiji OMOTO. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-10-21.

A testing apparatus and method

Номер патента: CA2809201C. Автор: Paul Mcclay,Cameron Radford,Stephen Devine. Владелец: Regenersis (Glenrothes) Ltd. Дата публикации: 2020-06-30.

Test apparatus for binaurally-coupled acoustic devices

Номер патента: US20180063649A1. Автор: William A. Cole,John W. Cole,Jacobus A. Jonkman,Jonathan M. Pietrobon. Владелец: Etymonic Design Inc. Дата публикации: 2018-03-01.

Test apparatus for binaurally-coupled acoustic devices

Номер патента: CA2885980C. Автор: William A. Cole,John W. Cole,Jacobus A. Jonkman,Jonathan M. Pietrobon. Владелец: Rhinometrics As. Дата публикации: 2022-07-19.

Test apparatus for binaurally-coupled acoustic devices

Номер патента: US20180270589A1. Автор: William A. Cole,John W. Cole,Jacobus A. Jonkman,Jonathan M. Pietrobon. Владелец: Etymonic Design Inc. Дата публикации: 2018-09-20.

Communication system and test apparatus

Номер патента: US20130244568A1. Автор: Kazumoto Tamura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2013-09-19.

Test apparatus for binaurally-coupled acoustic devices

Номер патента: CA3157583A1. Автор: William A. Cole,John W. Cole,Jacobus A. Jonkman,Jonathan M. Pietrobon. Владелец: Rhinometrics As. Дата публикации: 2016-09-23.

Test apparatus for binaurally-coupled acoustic devices

Номер патента: CA3157585A1. Автор: William A. Cole,John W. Cole,Jacobus A. Jonkman,Jonathan M. Pietrobon. Владелец: Rhinometrics As. Дата публикации: 2016-09-23.

Test apparatus for binaurally-coupled acoustic devices

Номер патента: CA3157583C. Автор: William A. Cole,John W. Cole,Jacobus A. Jonkman,Jonathan M. Pietrobon. Владелец: Interacoustics AS. Дата публикации: 2024-05-07.

Mobile terminal testing apparatus and scenario information setting method for use in mobile terminal testing apparatus

Номер патента: US9775062B2. Автор: Junya Tanaka,Taro Ishida,Yasuyuki Matsuyama. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Mobile terminal testing apparatus, mobile terminal testing system, and control method for mobile terminal testing apparatus

Номер патента: US20210266080A1. Автор: Naoki Inoue. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-08-26.

Testing apparatus, testing method and computer-readable storage medium

Номер патента: US20120158895A1. Автор: Yuji Nomura,Taichi Sugiyama,Takeshi Yasuie. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-06-21.

Line testing apparatus and method

Номер патента: EP1606928A2. Автор: Mark Andrew Fletcher,Michael Davey Hoy,David Aufenast. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 2005-12-21.

Solder material test apparatus, and method of controlling the same

Номер патента: EP1801565A3. Автор: Yasuhiro C/O 801 Minamifudodo-cho Onishi,Masanobu C/O 801 Minamifudodo-cho Horino,Katsumi C/O 801 Minamifudodo-cho Ohashi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2010-03-03.

Solar cell testing apparatus

Номер патента: US20090278546A1. Автор: Yi-Chan Chen. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2009-11-12.

Line testing apparatus and method

Номер патента: WO2004086738A2. Автор: Mark Andrew Fletcher,Michael Davey Hoy,David Aufenast. Владелец: BRITISH TELECOMMUNICATIONS PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2004-10-07.

Solder material test apparatus, and method of controlling the same

Номер патента: US7660643B2. Автор: Yasuhiro Onishi,Katsumi Ohashi,Masanobu Horino. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2010-02-09.

Token ring local area network testing apparatus for obtaining beacon domain information

Номер патента: US5363366A. Автор: Thomas S. Wisdom, Jr.,David G. Fish. Владелец: Forte Networks Inc. Дата публикации: 1994-11-08.

Network test apparatus and network test method

Номер патента: US11784748B2. Автор: Tomohiro Ito,Akinobu TSUYUKI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Test apparatus

Номер патента: EP4107002A1. Автор: Mark Smith,Dave MOULE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-28.

Test apparatus

Номер патента: WO2021166867A1. Автор: Mark Smith,Dave MOULE. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2021-08-26.

Testing apparatus for steering apparatus

Номер патента: US20080243399A1. Автор: Hiroshi Obata. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Vision testing apparatus and method

Номер патента: US20160270652A1. Автор: LI YANG,Yefei Dong. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-22.

Vision testing apparatus and method

Номер патента: US09693680B2. Автор: LI YANG,Yefei Dong. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Testing apparatus and safety arrangement

Номер патента: US09580273B2. Автор: Ari Kattainen,Antti Hovi. Владелец: Kone Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Vision testing apparatus

Номер патента: WO2020118347A1. Автор: Benjamin ARMITAGE. Владелец: Armitage Optometry Pty Ltd. Дата публикации: 2020-06-18.

Vision testing apparatus

Номер патента: AU2019396123A1. Автор: Benjamin ARMITAGE. Владелец: Armitage Optometry Pty Ltd. Дата публикации: 2021-07-29.

Washing test apparatus

Номер патента: US09480985B2. Автор: Richard Bancroft. Владелец: Albert Browne Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Vision testing apparatus

Номер патента: WO2006118797A2. Автор: Michael Clemons,Philip Remedios. Владелец: Titmus Optical, Inc.. Дата публикации: 2006-11-09.

Nozzle testing apparatus, nozzle testing method, and test program

Номер патента: US20080018692A1. Автор: Hironori Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2008-01-24.

Test apparatus for mitral and tricuspid valve prosthetic ring annuloplasty surgeries

Номер патента: WO2021194453A1. Автор: Merih Yilmaz. Владелец: Yilmaz Meri̇h. Дата публикации: 2021-09-30.

Adjustable testing apparatus for an orthopaedic specimen such as a knee implant prosthesis

Номер патента: US09730812B2. Автор: A. Seth Greenwald,Majid Rashidi,Alon Katz,Paul D. Postak. Владелец: Orthopaedic Research Laboratories. Дата публикации: 2017-08-15.

Visual Field Testing Apparatus

Номер патента: US20230023605A1. Автор: Teruo Aibara. Владелец: Findex Inc. Дата публикации: 2023-01-26.

Magnification test apparatus

Номер патента: US6260969B1. Автор: Carlisle Charles Frederick Gasper. Владелец: Carl Gasper and Assoc Pty Ltd. Дата публикации: 2001-07-17.

Movable foundation static load test apparatus

Номер патента: US20240301648A1. Автор: Ming Xiao,Mei Yang,Xuejun Zhang,Wenlong Lv,Chaohua Li,Guangping Li,Shaoxiang Chen,Zhonghua PANG,Zuoping ZHANG,Shicong WEN,Sinan DAI,Yongqiao XIE. Владелец: Guangdong Construction Engineering Quality & Safety Testing Head Station Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Test apparatus for the air bellows suspension in a vehicle having a curvilinear responsive control system

Номер патента: US3618375A. Автор: Franz Meir,Hans Pollinger. Владелец: Knorr Bremse GmbH. Дата публикации: 1971-11-09.

Audiologic test apparatus with dual probe system

Номер патента: US09468400B2. Автор: Johannes Lantz. Владелец: GN Otometrics AS. Дата публикации: 2016-10-18.

Portable vision testing apparatus

Номер патента: US20200015673A1. Автор: John Church,James Stephenson,Brian Everett,Joseph Kevin WHITE,Michael Swiney. Владелец: Global Vision 2020 Inc. Дата публикации: 2020-01-16.

Portable vision testing apparatus

Номер патента: US11395587B2. Автор: John Church,James Stephenson,Brian Everett,Joseph Kevin WHITE,Michael Swiney. Владелец: Global Vision 2020 Inc. Дата публикации: 2022-07-26.

Antimicrobial susceptibility testing apparatus, antimicrobial susceptibility testing method thereof, and system comprising same

Номер патента: GB2615667A. Автор: Il Choi Jung,Jae Hwang Sun. Владелец: Quantamatrix Inc. Дата публикации: 2023-08-16.

Performance testing apparatus for heat pipes

Номер патента: US20070286257A1. Автор: Chuen-Shu Hou,Tay-Jian Liu,Chao-Nien Tung,Xiao-Long Li. Владелец: Foxconn Technology Co Ltd. Дата публикации: 2007-12-13.

Test apparatus

Номер патента: WO1993007758A1. Автор: Peter John Kettlewell,Mark Edward Russell Paice,William Charles Whetlor,Julian Mark Sparrey. Владелец: British Technology Group Limited. Дата публикации: 1993-04-29.

Bacteriological test apparatus

Номер патента: GB8812111D0. Автор: . Владелец: Sta Te Spa. Дата публикации: 1988-06-29.

Medical testing apparatus and method of use

Номер патента: US12036031B2. Автор: Amber M. Patterson,Benjamin A. Patterson,Meagan W. Shepherd,Jay A. Shepherd. Владелец: Research Institute At Nationwide Children's Hospital Ohio State Innovation Foundation. Дата публикации: 2024-07-16.

Performance testing apparatus for heat pipes

Номер патента: US20070286258A1. Автор: Chuen-Shu Hou,Tay-Jian Liu,Chao-Nien Tung,Xiao-Long Li. Владелец: Foxconn Technology Co Ltd. Дата публикации: 2007-12-13.

Kinesiology testing apparatus

Номер патента: US5855539A. Автор: Raymond Wise. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-01-05.

Hand-held dexterity testing apparatus

Номер патента: US20190104970A1. Автор: Hunter Cronin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-04-11.

Periodontal disease testing apparatus and image processing program used therein

Номер патента: US20180317866A1. Автор: Tatsuro Hayashi,Hironobu Tsuji,Yosuke Tsuji. Владелец: Media Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-08.

Test Apparatus for Liquid Drop Emission Apparatus

Номер патента: US20130187975A1. Автор: Koji Kitazawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-07-25.

Testing microchip and testing apparatus using the same

Номер патента: US20060216201A1. Автор: Akihisa Nakajima,Yasuhiro Sando,Kusunoki Higashino. Владелец: Konica Minolta Medical and Graphic Inc. Дата публикации: 2006-09-28.

Closed circulation system test apparatus for blood purification device using whole blood

Номер патента: EP4129358A1. Автор: Teruhiko Oishi,Hiroshi Umeno,Hitomi Araki. Владелец: Asahi Kasei Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Cassette stand, reaction unit, and genetic testing apparatus

Номер патента: US20230347352A1. Автор: Masashi Shibahara,Hayato Shimizu,Toshiki Yamagata,Yoko Makino,Bohao Cheng. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Robotic knee testing apparatus and patient and apparatus set-up methods

Номер патента: CA2968167C. Автор: Thomas P. Branch,T. Christopher Madden,Shaun K. Stinton,Edward. Dittmar,Nathaniel K. Dejarnette. Владелец: RoboDiagnostics LLC. Дата публикации: 2024-02-13.

View port for eye test apparatus

Номер патента: US5838424A. Автор: Marcia J. Wawro,William R. Witkowski. Владелец: Welch Allyn Inc. Дата публикации: 1998-11-17.

Inhaler testing apparatus and method

Номер патента: WO2024081896A1. Автор: Luke Lee,Seth Michael ENDY. Владелец: Logan Instruments Corporation. Дата публикации: 2024-04-18.

Inhaler Testing Apparatus and Method

Номер патента: US20240165349A1. Автор: Luke Lee,Seth Michael ENDY. Владелец: Logan Instruments Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Drill stem testing apparatus with multiple pressure sensing ports

Номер патента: CA1229242A. Автор: James Upchurch. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 1987-11-17.

Valve block test apparatus

Номер патента: CA1268350A. Автор: Wilbur Leonard Mccoy,Leonard Dean Steffan. Владелец: Owens Illinois Inc. Дата публикации: 1990-05-01.

Multi-plane force transducer head for an isometric muscle testing apparatus

Номер патента: US5029592A. Автор: David R. Schultz. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-07-09.

Dementia test apparatus, dementia test server, dementia test client and dementia test system

Номер патента: EP1205146A3. Автор: Mitsuo Kaneko,Takaki c/o Tokai University Shimura,Sohta c/o Tokai University Shimizu,Yuichi c/o Tokai University Iguchi. Владелец: Tokyo Medical and Dental University NUC. Дата публикации: 2004-01-02.

Robotic joint testing apparatus and coordinate systems for joint evaluation and testing

Номер патента: US12011285B2. Автор: Thomas P. Branch,Edward Dittmar,T. Christopher Madden,Shaun K. Stinton,Nathaniel K. Dejarnette. Владелец: RoboDiagnostics LLC. Дата публикации: 2024-06-18.

Remotely operated ground testing apparatus and method

Номер патента: WO2024074243A1. Автор: Peter Looijen,Peter Salome. Владелец: FNV IP B.V.. Дата публикации: 2024-04-11.

Well testing apparatus

Номер патента: US4790378A. Автор: Carlos E. Montgomery,Craig L. Zitterich,Ricky M. Holloman. Владелец: Otis Engineering Corp. Дата публикации: 1988-12-13.

Testing apparatus

Номер патента: GB2575779A. Автор: P Lyle Anthony. Владелец: Delphi Technologies IP Ltd. Дата публикации: 2020-01-29.

Washing test apparatus

Номер патента: US8465695B2. Автор: Richard Bancroft. Владелец: Albert Browne Ltd. Дата публикации: 2013-06-18.

Ophthalmic test apparatus having magnification compensation

Номер патента: CA1160877A. Автор: David L. Guyton. Владелец: Individual. Дата публикации: 1984-01-24.

Multi-well sample testing apparatus and methods of sample testing using the same

Номер патента: US11905546B2. Автор: David L. White,Brian M. Swalla,Daniel H. Broder,Lawrence G. Chapper,Veronica L. Newport,Julie E. Rollins,Scott W. Wagner. Владелец: Idexx Laboratories Inc. Дата публикации: 2024-02-20.

Remotely operated ground testing apparatus and method

Номер патента: NL2033255B1. Автор: LOOIJEN Peter,Salome Peter. Владелец: FNV IP BV. Дата публикации: 2024-04-19.

Multi-well sample testing apparatus and methods of sample testing using the same

Номер патента: CA2959327C. Автор: David White,Daniel BRODER,Lawrence CHAPPER,Veronica NEWPORT,Julie ROLLINS,Brian SWALLA,Scott Wagner. Владелец: Idexx Laboratories Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Injector cleaning/testing apparatus

Номер патента: CA2000323A1. Автор: Robert Hartopp. Владелец: AUTOMATED ENGINEERING SYSTEMS LIMITED. Дата публикации: 1990-04-08.

Environmental testing apparatus

Номер патента: EP4306217A1. Автор: Toshiaki Makino. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2024-01-17.

Evaporative emissions test apparatus and method

Номер патента: US5507176A. Автор: David A. Kammeraad,Peter R. Chirco. Владелец: K Line Industries Inc. Дата публикации: 1996-04-16.

Skin Resistance Testing Apparatus

Номер патента: GB1150571A. Автор: Godfrey Brooke,Terence Keith Cowell. Владелец: Individual. Дата публикации: 1969-04-30.

Solid oxide electrolysis cell with test apparatus

Номер патента: US20170335475A1. Автор: Szu-Han Wu,Yung-Neng Cheng,Ruey-Yi Lee,Shih-Wei Cheng,Jing-Kai Lin,Hung-Hsiang Lin,Wei-Hong SHIU,Tzeng-Guang Chung. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-23.

Occupant detection sensor testing apparatus and method

Номер патента: US20120098548A1. Автор: Takashi Inoue,Hideyuki Hayakawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2012-04-26.

Vision testing apparatus

Номер патента: US20060244915A1. Автор: Michael Clemons,Philip Remedios. Владелец: Philip Remedios. Дата публикации: 2006-11-02.

Eyesight testing apparatus

Номер патента: US20120081669A1. Автор: Rainer Kirchhuebel,Carsten Feiertag. Владелец: OCULUS OPTIKGERAETE GMBH. Дата публикации: 2012-04-05.

Testing apparatus for respirators and method of using the same

Номер патента: US20230364451A1. Автор: David E. Cowgill,Robert Nickell Moran,Francisco Elias Hernandez. Владелец: Ator Labs Inc. Дата публикации: 2023-11-16.

Test apparatus and method of observing biopsy specimen sampled by using test apparatus

Номер патента: US20140354987A1. Автор: Hiroyuki Hashimoto,Shuya Satoh. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-12-04.

Test apparatus and method of observing biopsy specimen sampled by using test apparatus

Номер патента: US9107651B2. Автор: Hiroyuki Hashimoto,Shuya Satoh. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-08-18.

Bop stump test apparatus

Номер патента: US20220049567A1. Автор: Scott Sherman,James Barnes,Shayne Musseau. Владелец: Nexus Energy Technologies Inc. Дата публикации: 2022-02-17.

Improvements in or relating to Sight Testing Apparatus.

Номер патента: GB191324248A. Автор: Charles Richardson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1914-10-22.

Wireline well test apparatus and method

Номер патента: CA1275303C. Автор: Kelly D. Ireland,Richard A. Meador,Robert R. Green. Владелец: Baker Hughes Inc. Дата публикации: 1990-10-16.

Well head isolation tool sealing nipple testing apparatus and method of pressure testing isolation tool sealing nipple seals when in position on a well

Номер патента: US5396956A. Автор: Bruce Cherewyk,Roderick D. Mcleod,Albert Roesch. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-03-14.

Audiologic test apparatus with dual probe system

Номер патента: US20150342504A1. Автор: Johannes Lantz. Владелец: GN Otometrics AS. Дата публикации: 2015-12-03.

Stereotypy test apparatus and methods

Номер патента: EP1458291A2. Автор: Paul Adriaan Jan Janssen,Paulus Joannes Lewi,Roger François Leonarda ROSIERS. Владелец: Janssen Pharmaceutica NV. Дата публикации: 2004-09-22.

Testing apparatus for collecting particles in a vapor or smoke delivered by a vaping or smoking device

Номер патента: EP4333651A1. Автор: Stefan Wibihal,Juraj LEHOCKY. Владелец: JT INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2024-03-13.

Stereotypy test apparatus and methods

Номер патента: WO2003053245A3. Автор: Paul Adriaan Jan Janssen,Paulus Joannes Lewi,Roger Francois Leonard Rosiers. Владелец: Roger Francois Leonard Rosiers. Дата публикации: 2003-12-18.

Portable vision testing apparatus

Номер патента: US20180020911A1. Автор: John Church,James Stephenson,Brian Everett,Joseph Kevin WHITE,Michael Swiney. Владелец: Global Vision 2020 Inc. Дата публикации: 2018-01-25.

Improvements in Subjective Sight-testing Apparatus.

Номер патента: GB191302858A. Автор: Emil Moevius. Владелец: Individual. Дата публикации: 1913-07-24.

Improvements relating to colour-perception testing apparatus

Номер патента: GB740365A. Автор: . Владелец: REGINALD PAUL QUELCH. Дата публикации: 1955-11-09.

Well packer and testing apparatus

Номер патента: US3826307A. Автор: C Brown,C Cochran. Владелец: Brown Oil Tools Inc. Дата публикации: 1974-07-30.

A ram testing apparatus

Номер патента: GB2256231A. Автор: Joseph * Byrne Patrick. Владелец: BURNSIDE RESEARCH. Дата публикации: 1992-12-02.

Fuel filter testing apparatus

Номер патента: US3824823A. Автор: A Pontello. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1974-07-23.

Reagent holder, testing apparatus assembly, aqueous humor collection device and aqueous humor collection method

Номер патента: US20220354468A1. Автор: Chaoran Xia,Yueguang Sun. Владелец: Beijing Sightnovo Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

Reagent holder, testing apparatus assembly, aqueous humor collection device and aqueous humor collection method

Номер патента: EP3995215A1. Автор: Chaoran Xia,Yueguang Sun. Владелец: Beijing Sightnovo Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-11.

Differential thermal testing apparatus and method

Номер патента: CA1207452A. Автор: Charles Laudadio. Владелец: PFIZER INC. Дата публикации: 1986-07-08.

DELIVERY DEVICE FOR DISPENSING PHARMACEUTICAL DOSAGE FORMS INTO DISSOLUTION TESTING APPARATUS

Номер патента: US20120000275A1. Автор: Gilbert Daryl E.,Wright Donald F.,Hughes Lyn. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor device testing apparatus having presence or absense detectors issuing an alarm when an error occurs

Номер патента: MY117726A. Автор: Hiroto Nakamura,Yutaka Watanabe,Toshio Yabe,Michirou Chiba. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2004-07-31.

Mountain rock testing apparatus

Номер патента: RU2293964C1. Автор: Сергей Ефимович Чирков,Сергей Ефимович Чирков (RU). Владелец: Сергей Ефимович Чирков. Дата публикации: 2007-02-20.

Improvements in Opthalmoscopes, Sight-testing Apparatus, and Microscopes

Номер патента: GB190322740A. Автор: Erhardt Hofmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 1904-10-20.

Soil testing apparatus

Номер патента: MY180017A. Автор: Ahmed Hafez Mohamed,Zainab Bt Mohamed Hajah. Владелец: Univ Teknologi Mara. Дата публикации: 2020-11-19.

Sample optical test apparatus

Номер патента: CA121644S. Автор: . Владелец: SEKATECH Ltd. Дата публикации: 2008-08-22.

Weighted random pattern testing apparatus and method

Номер патента: CA1241375A. Автор: Edward B. Eichelberger,Roger N. Langmaid,Eric Lindbloom,Franco Motika,John L. Sinchak,John A. Waicukauski. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1988-08-30.

Material testing apparatus having vibration mitigation

Номер патента: CA3220686A1. Автор: Kent Vilendrer. Владелец: St3 Development Corp. Дата публикации: 2024-05-22.

In-pipe testing apparatus motion control method and device to this effect

Номер патента: RU2329432C1. Автор: Борис Владимирович Козырев,Александр Евгеньевич Скворцов,Николай Борисович Козырев,Виталий Иванович Петров. Владелец: Александр Евгеньевич Скворцов. Дата публикации: 2008-07-20.

Semiautomatic testing apparatus

Номер патента: CA131096S. Автор: . Владелец: Precision Biosystems LLC. Дата публикации: 2010-12-06.

Housing for a water testing apparatus

Номер патента: CA183598S. Автор: . Владелец: Canadian Tire Corp Ltd. Дата публикации: 2019-10-10.

Improvements in Sight-testing Apparatus.

Номер патента: GB190302395A. Автор: George Johnston. Владелец: Individual. Дата публикации: 1904-01-07.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.