Measurement device
Номер патента: US11859969B2
Опубликовано: 02-01-2024
Автор(ы): Hideki Morii, Takuya Inoue
Принадлежит: Tokyo Seimitsu Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 02-01-2024
Автор(ы): Hideki Morii, Takuya Inoue
Принадлежит: Tokyo Seimitsu Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Surface measuring device
Номер патента: US20180038716A1. Автор: Raimund Volk. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2018-02-08.