FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND FILM THICKNESS MEASURING APPARATUS.

FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND FILM THICKNESS MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20180274904A1
Опубликовано: 27-09-2018
Автор(ы): MIURA Masanori, TAKAYANAGI Jun
Принадлежит: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US8885173B2. Автор: Motoyuki Watanabe,Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-11-11.

Infrared multilayer film thickness measuring method and apparatus

Номер патента: US4243882A. Автор: Naoyuki Shiratori,Akitaka Yasujima,Shingo Ishikawa. Владелец: Asahi Dow Ltd. Дата публикации: 1981-01-06.

Optical film thickness monitor

Номер патента: US3744916A. Автор: P Bey,R Patten. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1973-07-10.

Measurement apparatus, measurement method, and computer readable medium

Номер патента: US10982949B2. Автор: Hitoshi Hara,Kazufumi Nishida,Kazuki SETSUDA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

Permittivity measuring device and thickness measuring device

Номер патента: US20230236005A1. Автор: Yukihiro Goto,Hiroyuki Oshida,Masaki Nakamori. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Permittivity measuring device and thickness measuring device

Номер патента: US12117285B2. Автор: Yukihiro Goto,Hiroyuki Oshida,Masaki Nakamori. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Film thickness measuring apparatus, film thickness measuring method, film thickness measuring program, and recording medium for recording film thickness measuring program

Номер патента: JP6487579B1. Автор: 賢一大塚. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-03-20.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: KR20200105475A. Автор: 겐이치 오츠카. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2020-09-07.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: TW201930818A. Автор: 大塚賢一. Владелец: 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司. Дата публикации: 2019-08-01.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: WO2019138614A1. Автор: 賢一大塚. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2019-07-18.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: TWI766116B. Автор: 大塚賢一. Владелец: 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司. Дата публикации: 2022-06-01.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20210080250A1. Автор: Ohtsuka Kenichi. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2021-03-18.

Liquid film thickness measuring method, measuring device, and film manufacturing method

Номер патента: JP7255481B2. Автор: 健太中島,展寛内藤. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2023-04-11.

Method for measuring epitaxial film thickness of multilayer epitaxial wafer

Номер патента: US6025596A. Автор: Toshio Abe,Hiroshi Shirai,Kenji Akai,Katsuyuki Iwata,Chikara Tojima. Владелец: Toshiba Ceramics Co Ltd. Дата публикации: 2000-02-15.

Liquid film thickness measuring method, measuring device, and film manufacturing method

Номер патента: JPWO2019230632A1. Автор: 健太中島,展寛内藤. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2021-04-22.

Improved method and apparatus for film-thickness measurements

Номер патента: EP1044362B1. Автор: Martin Fuchs,Matt Banet,Michael Joffee. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2006-10-25.

THIN FILM THICKNESS GAUGING METHOD USING CsI(Tl) SCINTILATOR, INTEGRATED THIN FILM THICKNESS GAUGE AND METHOD FOR THE GAUGE

Номер патента: KR100497715B1. Автор: 박세환,문병수,홍석붕,김용균,김정복,한상효,이우교,정종은. Владелец: 한국원자력연구소. Дата публикации: 2005-06-28.

A film thickness of wafer measuring apparatus

Номер патента: KR200361868Y1. Автор: 정효상,윤인환. Владелец: 주식회사 프로탑. Дата публикации: 2004-09-13.

SHEL for measuring film thickness divides displacement measurement method

Номер патента: CN107246844A. Автор: 李洋,刘庆纲,秦自瑞,岳翀,郎垚璞. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-10-13.

Tobacco leaf thickness measurement method and device

Номер патента: LU505074B1. Автор: Ke Zhang,Xiaowei Zhang,Jie Long,Yukui Li,Jiwu Zhang,Ling Xia,Yunfang ZHANG,Xingyi DUAN,Haowei Sun,Da Zong,Yueting Huang,Zhouzhou Li,Xiaolei Gai. Владелец: Yunnan Tobacco Quality Supervision And Testing Station. Дата публикации: 2024-03-11.

Film thickness measurement method and film thickness measurement device

Номер патента: US09846028B2. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-12-19.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20240240933A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US09841272B2. Автор: Hideyuki Aikyo,Hideyuki Ohtake,Jun Takayanagi,Atsuo Nabeshima,Yasunari Fujisawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Methods and systems for blown film thickness measurement

Номер патента: US12123700B2. Автор: Christopher J. Rother,David L. Hofeldt,Jay M. Krieger,Paul C. Thomas,Thomas J. STREY,Gregory J. McGill. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2024-10-22.

Measuring method in real time mode of film thickness of coating not containing chrome on surface of strip steel

Номер патента: RU2498215C1. Автор: Чжичен ВАН,Чуньго ЛВ,Юнцян ЛУ. Владелец: Баошань Айрон Энд Стил Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-11-10.

Film thickness measuring apparatus, film thickness measuring method and wafer polishing system measuring a film thickness in conjunction with a liquid tank

Номер патента: US5657123A. Автор: Osamu Endo,Katsumi Mogi. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 1997-08-12.

Film thickness measuring apparatus employing microprojector of spectral reflection measurement

Номер патента: US4673294A. Автор: Nobuo Adachi,Yoshihiro Mochida,Ichiro Shirahama. Владелец: Orc Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1987-06-16.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: EP4343274A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-27.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: US20210140758A1. Автор: Shiro Kawaguchi,Kazuya Nakajima. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Thin film thickness and optimal focus measuring using reflectivity

Номер патента: US5982496A. Автор: David H. Ziger. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 1999-11-09.

Method of detecting abnormality in measuring of film thickness of workpiece, optical film-thickness measuring apparatus, and storage medium storing program

Номер патента: US20240102791A1. Автор: Akira Nakamura. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20180045506A1. Автор: Katsuichi Kitagawa,Masafumi Otsuki. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Film thickness measuring device with signal averaging to compensate for roller eccentricity

Номер патента: US4748331A. Автор: Yoshiaki Ida,Toshishige Nagao,Masayuki Ariki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1988-05-31.

Method and apparatus for performing film thickness measurements using white light scanning interferometry

Номер патента: US20120218560A1. Автор: Ki-Nam JOO. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2012-08-30.

Use of full-size matrix image sensor for measurement of film thickness in real time on film making equipment

Номер патента: RU2717384C2. Автор: Пол С. БОНИНО,Роберт П. ГЕРЛОСКИ,Джейсон М. ЛЕФЕВР. Владелец: Зирокс Корпорейшн. Дата публикации: 2020-03-23.

Method of measuring film thickness

Номер патента: US20200363192A1. Автор: Tatsuji Nagaoka,Hiroyuki Nishinaka,Masahiro Yoshimoto. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2020-11-19.

Development of film thickness measuring device with configuration of ball-on-cup for simulating artificial joint lubrication

Номер патента: NL2029676B1. Автор: Guo Feng,LI Xinming,YANG Shuyan,Song Luping. Владелец: Univ Qingdao Technology. Дата публикации: 2022-10-21.

Device and method for measuring oxide film thickness

Номер патента: US11761752B2. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Masahiro Inui,Ryota Nakanishi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Oxide film thickness measurement device and method

Номер патента: US11852458B2. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Masahiro Inui,Ryota Nakanishi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Method and apparatus for increasing signal to noise ratio in a photoacoustic film thickness measurement system

Номер патента: EP1417450A4. Автор: Christopher Morath,Robert J Stoner. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2009-06-10.

Wavelength determining apparatus, method and program for thin film thickness monitoring light

Номер патента: US20070223008A1. Автор: Takahiro Itoh,You Mimura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-27.

Deposition system and film thickness monitoring device thereof

Номер патента: US7321129B2. Автор: Sean Chang,Shing-Dar Tang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2008-01-22.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Use of a full width array imaging sensor to measure real time film thicknesses on film manufacturing equipment

Номер патента: US09702689B2. Автор: Jason M. LeFevre,Robert P. Herloski,Paul S. Bonino. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Optical characteristic measuring apparatus and optical characteristic measuring method

Номер патента: US8582124B2. Автор: Yusuke Yamazaki,Sota Okamoto. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-11-12.

Method and apparatus for measuring the thickness of a layer on a substrate

Номер патента: US5091647A. Автор: Dennis Schuetzle,Keith R. Carduner,Roscoe O. Carter, III,Michael J. Decello. Владелец: Ford Motor Co. Дата публикации: 1992-02-25.

Electronic component thickness measurement method, method for manufacturing a series of electronic components using the measurement method, a series of electronic components manufactured by the manufacturing method, and electronic component inspection apparatus

Номер патента: US09404732B2. Автор: Yoshinao Nishioka,Masayoshi HARUKI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Method and system for the thickness data determination of ultrathin optical films in-situ

Номер патента: WO2011045477A1. Автор: Jarkko Antila. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2011-04-21.

Method and system for the thickness data determination of ultrathin optical films in-situ

Номер патента: EP2488824A1. Автор: Jarkko Antila. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2012-08-22.

Device for measuring frictional force and film thickness of lubricating oil film in different surface velocity directions

Номер патента: US11768149B2. Автор: Feng Guo,Jianjun Zhang,Chenglong LIU,Jiahao Zhang,Qinglun CHE,Hewei LU,Zhaogang JING. Владелец: QINGDAO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-09-26.

Thin film thickness monitor

Номер патента: US4355903A. Автор: John R. Sandercock. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1982-10-26.

Device for measuring ink film thickness

Номер патента: US4149802A. Автор: Peter Schramm,Alfred Dorn,Klaus Wolf,Gunther Schniggenfittig,Edgar F. Schoneberger. Владелец: Roland Offsetmaschinenfabrik Faber and Schleicher AG. Дата публикации: 1979-04-17.

Deposition system and film thickness monitoring device thereof

Номер патента: US20060033057A1. Автор: Sean Chang,Shing-Dar Tang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2006-02-16.

Thickness measuring apparatus, thickness measuring method, and wet etching apparatus and wet etching method utilizing them

Номер патента: EP1258916A1. Автор: Hidenori Takahashi,Teruo c/o Hamamatsu Photonics K.K. TAKAHASHI,Motoyuki C/O Hamamatsu Photonics K.K. Watanabe. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2002-11-20.

Dielectric film thickness monitoring and control system and method

Номер патента: US3612692A. Автор: Robert W Kruppa,Ernest S Ward. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1971-10-12.

Target material thickness measuring apparatus

Номер патента: US09778024B2. Автор: Liang Peng,Daeyoung Choi,Deyong Wang,Yefa Li,Congqi Zheng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Method and device for measuring optical thickness

Номер патента: US20240377186A1. Автор: Christoph Dietz,Stephan Weiss,Tobias Beck,Philipp Nimtsch. Владелец: PRECITEC OPTRONIK GMBH. Дата публикации: 2024-11-14.

Apparatus to characterize substrates and films

Номер патента: WO2024020136A1. Автор: Jian Ding,Ju Jin,Nathan UNRUH,Nazar ORISHCHIN. Владелец: Onto Innovation Inc.. Дата публикации: 2024-01-25.

Apparatus to characterize substrates and films

Номер патента: US20240027186A1. Автор: Jian Ding,Ju Jin,Nathan UNRUH,Nazar ORISHCHIN. Владелец: Onto Innovation Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring method

Номер патента: US20230243639A1. Автор: Yasukuni NOMURA. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Method and apparatus for process control of material emitting radiation

Номер патента: CA2085143C. Автор: Kazuo Arai,Tomohiro Marui. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 1997-03-04.

Thin-flim characteristic measuring method using spectroellipsometer

Номер патента: US20040207844A1. Автор: Nataliya Nabatova-Gabain,Yoko Wasai. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2004-10-21.

Film thickness monitor

Номер патента: WO2013090631A2. Автор: Mei Sun,Earl Jensen,Kevin O'Brien,Farhat Quli. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-20.

Methods and apparatus for spectral luminescence measurement

Номер патента: US09410890B2. Автор: Romain Sappey. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-08-09.

Terahertz measuring apparatus and a terahertz measuring method for measuring test objects

Номер патента: CA3068741C. Автор: Marius Thiel. Владелец: Inoex GmbH. Дата публикации: 2022-05-03.

Multivariable measuring ellipsometer method and system

Номер патента: US6002485A. Автор: Katsuya Masao. Владелец: Heureka Co Ltd. Дата публикации: 1999-12-14.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200208962A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Method and apparatus for remote detection and thickness measurement of solid or liquid layer

Номер патента: WO1995020771A1. Автор: Robert E. Gagnon. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 1995-08-03.

Testing device, testing method, and non-transitory storage medium storing testing program

Номер патента: US20240142495A1. Автор: Kosuke Fujii,Koichi Koyama. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Method of measuring thickness of long sheet material and thickness measuring system

Номер патента: CA3020509C. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-06-15.

Method of authenticating a polymer film by thickness measurement with a white light interferometer

Номер патента: US09739597B2. Автор: Robert Laird Stewart. Владелец: Innovia Films Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Wafer thickness measurement device and method for same

Номер патента: EP4431866A1. Автор: Kazuhiko Tahara,Ryo USAKI. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2024-09-18.

Thickness measuring apparatus and grinding apparatus including the same

Номер патента: US20200096318A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru,Taiki Sawabe. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

Coating thickness measurement apparatus and method

Номер патента: EP4332498A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Method for measuring the thickness of a layer of material, galvanizing method and related measuring device

Номер патента: US09797709B2. Автор: Jean Inard-Charvin,Geoffrey BRUNO. Владелец: ENOVASENSE. Дата публикации: 2017-10-24.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: EP3853581A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2021-07-28.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: US20210341282A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2021-11-04.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: AU2019341495A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2021-03-18.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: CA3111691A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2020-03-26.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: AU2019341495B2. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2024-08-22.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: WO2020058140A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: EUROPEAN MOLECULAR BIOLOGY LABORATORY. Дата публикации: 2020-03-26.

Terahertz measuring apparatus and terahertz measurement method for measuring a test object by means of a time-of-flight measurement

Номер патента: US20190331594A1. Автор: Ralph Klose. Владелец: INOEX GmbH INNOVATIONEN und AUSRUESTUNGEN fur DIE EXTRUSIONSTECHNIK. Дата публикации: 2019-10-31.

Gap measurement device and gap measurement method

Номер патента: EP3370035A1. Автор: Takahiro Kubota,Takuya Goto,Yuichi Sasano,Kei Yoshitomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-09-05.

Thz measurement method and thz measurement device for surveying a measurement object, in particular a pipe

Номер патента: US20230251083A1. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-08-10.

A method for calibrating the log thickness measurement device of a forest harvester and an apparatus for measuring the diameter of a tree

Номер патента: WO2024033571A1. Автор: Pasi Kuosmanen. Владелец: Pjk Forest Tech Oy. Дата публикации: 2024-02-15.

Method and apparatus for non-contact thickness measurement

Номер патента: US6961133B2. Автор: Lindsey M. Caton,Edward G. Sergoyan. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2005-11-01.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160054117A1. Автор: Takahiro Yamamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-02-25.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US09664604B2. Автор: Yasushi Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Apparatus, method and computer program for three-dimensional measurement

Номер патента: EP2831537A1. Автор: Hiroshi Miyagawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-02-04.

Contact force measurement method, and contact force measurement device

Номер патента: RU2519589C1. Автор: Такамаса ФУДЗИСАВА,Мицуру ИКЕДА,Казутака МАЦУБАРА. Владелец: Рэйлвэй Текникал Рисёрч Инститьют. Дата публикации: 2014-06-20.

Optical fiber length measurement method and apparatus

Номер патента: US09945659B2. Автор: FAN He,Jian Yin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Method and apparatus for detecting defect in transparent body

Номер патента: US09885673B2. Автор: Shinji Fukuda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Sheet thickness measuring apparatus with magnetic and optical sensors

Номер патента: US5075622A. Автор: Shigeru Ichikawa,Kohei Hasegawa,Eitaro Konii,Yoshinori Tabara. Владелец: Meisan Co Ltd. Дата публикации: 1991-12-24.

Volume measurement method and an apparatus based on a depth camera, and a computer-readable medium

Номер патента: EP4330622A1. Автор: Shenhui Wang,Song Zhang,JIANG Yin,Chao FANG,Zhenyu Dai,Hongqing SONG,Conghan CAO,Fenping QIAN,Huanbing CHENG. Владелец: Mettler Toledo Changzhou Precision Instruments Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Weight measuring method and system

Номер патента: EP1241455B1. Автор: Pentti Sauli Asikainen. Владелец: Tamtron Oy. Дата публикации: 2005-08-10.

Measuring method, adjustment method for stage movement characteristics, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: US8072579B2. Автор: Yusuke Tokuyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-12-06.

Method and arrangement for tactile-optical determination of the geometry of a measurement object

Номер патента: US09599456B2. Автор: Ralf Christoph,Ingomar Schmidt,Benjamin Hopp,Matthias Andraes,Markus Hechler. Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-03-21.

Optical displacement measuring instrument, adjustment method and measuring method of optical displacement measuring instrument

Номер патента: US20180259319A1. Автор: Kentaro Tamura,Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-09-13.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09595107B2. Автор: Satoshi Nishimura. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Optical measuring and/or presetting method and optical tool presetting and/or tool measuring apparatus

Номер патента: US20210370420A1. Автор: Alexander Zoller. Владелец: E Zoller GmbH and Co KG Einstell und Messgeraete. Дата публикации: 2021-12-02.

Optical measuring and/or presetting method and optical tool presetting and/or tool measuring apparatus

Номер патента: CA3119335A1. Автор: Alexander Zoller. Владелец: E Zoller GmbH and Co KG Einstell und Messgeraete. Дата публикации: 2021-11-27.

Optical measuring and/or presetting method and optical tool presetting and/or tool measuring apparatus

Номер патента: CA3119335C. Автор: Alexander Zoller. Владелец: E Zoller GmbH and Co KG Einstell und Messgeraete. Дата публикации: 2024-05-21.

Method and apparatus for film thickness measurement

Номер патента: US20050220267A1. Автор: Akihiro Himeda,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2005-10-06.

Method and apparatus for film thickness measurement

Номер патента: EP1559993A3. Автор: Akihiro Himeda,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-03-12.

Methods and systems for semiconductor structure thickness measurement

Номер патента: US20210295496A1. Автор: Olmez Fatih. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US8988668B2. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-03-24.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US20140192349A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-07-10.

Measurement apparatus

Номер патента: US11874103B2. Автор: Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Stefan Carolus Jacobus Antonius Keij,Petrus Franciscus VAN GILS,Thomas Augustus Mattaar,Junichi Kanehara. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-01-16.

Measurement apparatus

Номер патента: US20240151520A1. Автор: Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Stefan Carolus Jacobus Antonius Keij,Petrus Franciscus VAN GILS,Thomas Augustus Mattaar,Junichi Kanehara. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-05-09.

Surface measurement apparatus

Номер патента: US09823065B2. Автор: Masaaki Ito,Takanori Kondo,Takahiro Jingu,Masami Ikota. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: EP4400804A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and program

Номер патента: EP3754296A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-12-23.

Measurement apparatus, exposure apparatus, measurement method, and recording medium

Номер патента: US09910363B2. Автор: Takaki Hashimoto,Ai Furubayashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Strain measurement apparatus, linear expansion coefficient measurement method, and correction coefficient measurement method for temperature distribution detector

Номер патента: US09410798B2. Автор: Osamu Maeda,Satoshi Ohya. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-08-09.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20210358147A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Optical measuring apparatus, optical measuring method, and optical measurement processing program

Номер патента: US7948642B2. Автор: Masanobu Kataoka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20100228519A1. Автор: Yuki Oshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-09-09.

Shape measuring device, shape measuring method, and method for manufacturing glass plate

Номер патента: US20130094714A1. Автор: Kimiaki Ohto. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-18.

Shape measurement device, structure production system, shape measurement method, structure production method, and shape measurement program

Номер патента: US09952038B2. Автор: Kenta Kanto. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Ink droplet volume measuring apparatus and ink droplet volume measuring method using the same, and thin film layer forming apparatus using the measuring apparatus, and manufacturing method of display apparatus using the thin film layer forming apparatus

Номер патента: US20240251648A1. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Three-dimensional measurement apparatus, processing method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US09841271B2. Автор: Kazuhiko Kobayashi,Yusuke Nakazato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Bending measurement apparatus, imaging apparatus, projection apparatus and projection imaging apparatus using the same, and bending measurement method

Номер патента: US20200141768A1. Автор: Yoshihito IGUCHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Trailer angle measurement method and device, and vehicle

Номер патента: AU2019399430A1. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Two-dimensional photoelectric autocollimation method and device based on wavefront measurement and correction

Номер патента: US12055710B2. Автор: Yang Yu,Jian Shi,Jiubin Tan. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-08-06.

Orientation characteristic measurement method, orientation characteristic measurement program, and orientation characteristic measurement device

Номер патента: US11920921B2. Автор: Kiyotada HOSOKAWA,Shigeru EURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-05.

Colorimeter measurement method and colorimeter for implementing the method

Номер патента: US20150276584A1. Автор: LI Wang,Rui Xu,Weiwei Zhang,Xiaobo He,Jingming Wu,Honghui Zhu,Xueli Ao. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-01.

Method and device for pipe internal dimensions optical measurement

Номер патента: RU2606901C2. Автор: Манфред КОЛЬБЕ,Йохен ФОХЗЕН,Александер Шульце,Манфред ТОПЮТ,Михаэль КРАУХАУЗЕН,Хайнрих ОБЕРВЕЛЛАНД,Рюдигер НОЙГЕБАУЭР,Норберт ПЕШ. Владелец: Смс Груп Гмбх. Дата публикации: 2017-01-10.

Obstacle distance measurement method and apparatus, and vehicle and medium

Номер патента: EP4397942A1. Автор: Yongguan LUO. Владелец: Huizhou Desay SV Automotive Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Method and arrangement for measuring internal threads of a workpiece with an optical sensor

Номер патента: US09879982B2. Автор: Bernd Spruck,Frank Hoeller. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2018-01-30.

Measuring apparatus, movable apparatus, robot, electronic device, fabricating apparatus, and measuring method

Номер патента: US12030243B2. Автор: Kazuhiro Yoneda,Naoki Fukuoka,Yoshihiko Miki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Flight parameter measuring apparatus and flight parameter measuring method

Номер патента: SG11201910034RA. Автор: Hideaki Kawamoto,Viet Manh Do,Hong Quan Luong. Владелец: Gpro Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Shape measuring apparatus and shape measuring method

Номер патента: US10156435B1. Автор: Rikiya Taniguchi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-12-18.

Trailer angle measurement method and device, and vehicle

Номер патента: US12099121B2. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: PH12016501789A1. Автор: NISHIDA Hidetaka. Владелец: Chugoku Electric Power. Дата публикации: 2017-01-09.

Axle-load measuring apparatus and axle-load measuring method

Номер патента: US10982951B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus and depth measurement method that calculate depth information of a target pixel using a color plane of which a correlation value is at most a threshold

Номер патента: US09928598B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Optical measurement method and apparatus for fuel cell components

Номер патента: US09618458B2. Автор: Stephen Couse,Tulin Akin. Владелец: Bloom Energy Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Three-dimensional measurement method and related apparatus

Номер патента: US11823405B1. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Zhuojun Zheng,Haixiang DENG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-11-21.

Three-dimensional measurement method and related apparatus

Номер патента: US20230401730A1. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Zhuojun Zheng,Haixiang DENG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-12-14.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US20240125589A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichi Ohtsuka,Kazuya Iguchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-18.

Optical film thickness measuring device and thin film forming apparatus using the optical film thickness measuring device

Номер патента: US20140016139A1. Автор: Kenji Ozawa,Yousong Jiang,Kyokuyo Sai. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-16.

Film thickness measuring device, film forming system, and film thickness measuring method

Номер патента: US20220260362A1. Автор: Yusuke Kikuchi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-08-18.

Method and apparatus for film thickness measurement

Номер патента: EP1559993B1. Автор: Akihiro Himeda,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2009-04-01.

Optical measurement system, multilayer film manufacturing apparatus, and optical measurement method capable of measuring the film thickness of each layer at a higher speed in a manufacturing process in which a plurality of layers is sequentially laminated

Номер патента: TW202146841A. Автор: 山崎雄介,岡本宗大. Владелец: 日商大塚電子股份有限公司. Дата публикации: 2021-12-16.

A kind of method and device detecting film thickness

Номер патента: CN110017798A. Автор: 俞峰,季振国,周海龙,丁靓,张永夫,蔡好. Владелец: Top Zhejiang Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-16.

Testing method and device for film thickness

Номер патента: CN103278124A. Автор: 王灿. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-04.

Unmanned aerial vehicle with wall thickness measurement sensor, corresponding wall thickness measurement method and retrofit kit with wall thickness measurement sensor for an unmanned aerial vehicle

Номер патента: EP3710779B1. Автор: Saad A. Al-Jabr. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2022-02-09.

Photovoltaic rolled glass on-line automatic thickness measuring device and photovoltaic rolled glass on-line automatic thickness measuring method

Номер патента: CN105091821A. Автор: 陈和平,杨建新,陈向飞,秦文生,王庆勇,潘新征,邱崇宝,成新利. Владелец: Henan Ancai Hi Tech Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-25.

PIPE THICKNESS MEASURING DEVICE AND METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20130163809A1. Автор: MATSUMOTO Yoshikazu,Nagashima Makiko,Yamaguchi Kouji. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2013-06-27.

Pipe thickness measuring device and method, and recording medium

Номер патента: US8737682B2. Автор: Kouji Yamaguchi,Yoshikazu Matsumoto,Makiko Nagashima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-05-27.

Calibrating method and device for online membrane thickness measuring system

Номер патента: CN102445144A. Автор: 路新春,王同庆,赵乾,孟永钢,曲子濂. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-05-09.

Method and system for semiconductor structure thickness measurement

Номер патента: CN111492200B. Автор: F·厄尔梅茨. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-14.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: US20210354262A1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Film thickness measurement method, film thickness measurement device, and film formation system

Номер патента: US12018928B2. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Substrate inspection system, substrate inspection method and recording medium

Номер патента: US20200386538A1. Автор: Hiroshi Nakamura,Toyohisa Tsuruda,Yasuaki Noda. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-12-10.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method, and film forming system and film forming method

Номер патента: US11939665B2. Автор: Naoyuki Suzuki,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,Tamaki Takeyama,Hiroaki Chihaya,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Film Thickness Measurement Device and Method

Номер патента: US20240044637A1. Автор: Soichi Oka,Azusa Ishii,Yurina Tanaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Abnormality detection method for preset spectrum data for use in measuring film thickness, and optical film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20240255440A1. Автор: Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US09879971B2. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Film-thickness measuring method and film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20230204342A1. Автор: Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2023-06-29.

Contactless film thickness measuring device for plastic film blowing machine

Номер патента: EP3964347A1. Автор: Jui-Chien Yang. Владелец: Nano Trend Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-03-09.

Optical film thickness measurement method, film formation method, and semiconductor laser fabrication method

Номер патента: US5724145A. Автор: Takeo Kaneko,Katsumi Mori,Takayuki Kondo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 1998-03-03.

Halfway cutter changing method for large-area microstructure cutting based on in-situation film thickness measurement

Номер патента: US20200023441A1. Автор: Li Jiao,Jia Zhou,Zhiqiang Liang,Zhibing Liu,Lijing Xie,Xibin Wang,Tianfeng ZHOU,Benshuai RUAN,Longlong TANG,Pei YA N. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2020-01-23.

FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, AND FILM FORMATION SYSTEM

Номер патента: US20230011226A1. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-01-12.

Optical film-thickness measuring apparatus and polishing apparatus

Номер патента: US11951588B2. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Yoshikazu Kato. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Optical metrology models for in-line film thickness measurements

Номер патента: US12062583B2. Автор: Todd J. Egan,Edward Budiarto,Eric Chin Hong Ng,Sergey STARIK. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Method and system for in-situ determination of a chemical composition of films during growth process

Номер патента: US09651369B1. Автор: Jeonggoo Kim,Steven L. Garrahan,Solomon Kolagani,Mikhail Strikovski. Владелец: NEOCERA LLC. Дата публикации: 2017-05-16.

Lubrication film thickness measuring system and method

Номер патента: CA1304129C. Автор: Dennis W. Smith. Владелец: Honeywell Inc. Дата публикации: 1992-06-23.

Method and apparatus for improved x-ray reflection measurement

Номер патента: WO2003040714A1. Автор: Gary Janik,Jeffrey Moore. Владелец: KLA-TENCOR TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2003-05-15.

Secure semiconductor wafer inspection utilizing film thickness

Номер патента: US20220228995A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Secure semiconductor wafer inspection utilizing film thickness

Номер патента: US20210148834A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

Plating apparatus and film thickness measuring method for substrate

Номер патента: US11906299B2. Автор: Masaki Tomita,Masaya Seki,Shao Hua CHANG. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Method and apparatus for producing transparent gas barrier film

Номер патента: US20240002620A1. Автор: Kiyoshi Iseki. Владелец: Toyobo Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Method and system for monitoring the film thickness of a lubricant within a lubricated bearing

Номер патента: US20230251075A1. Автор: Robert Jan Meijer,Pieter Martin Lugt,Jude Asuelimen Osara,Pramod Shetty. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2023-08-10.

Apparatus and method of using impedance resonance sensor for thickness measurement

Номер патента: US09528814B2. Автор: Yury Nikolenko,Matthew Fauss. Владелец: NeoVision LLC. Дата публикации: 2016-12-27.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US20170074633A1. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

Thickness measurement using afm for next generation lithography

Номер патента: EP1269112A1. Автор: Bharath Rangarajan,Bhanwar Singh,Khoi A. Phan. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-01-02.

Protective film thickness measuring method

Номер патента: US11892282B2. Автор: Kunimitsu Takahashi,Nobuyasu Kitahara,Hiroto Yoshida,Joel Koerwer,Kuo Wei Wu,Naoki Murazawa. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Film thickness measurement device and method

Номер патента: CA2630129C. Автор: Yoshiyuki Saito,Takehito Yagi,Tsuyoshi Terauchi,Hidetoshi Takimoto. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2011-01-11.

Methods and apparatus for thin metal film thickness measurement

Номер патента: US8128278B2. Автор: Yehiel Gotkis,Mikhail Korolik. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2012-03-06.

Method for calculating film thickness of grain boundary oxide layer, method for determining platability, method for producing plated steel sheet, and apparatus for calculating film thickness

Номер патента: EP4407063A1. Автор: Kazushi Hayashi,Masanori Kobayashi,Koji Sasaki,Masahiro Inui,Koki Fukushima. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Method of producing a model for estimating film thickness of workpiece, method of estimating film thickness of workpiece using such a model, and computer readable storage medium storing program for causing computer to perform the methods

Номер патента: US20220316863A1. Автор: Akira Nakamura,Keita Yagi,Nachiketa Chauhan,Rohit KAWDE. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Optical metrology models for in-line film thickness measurements

Номер патента: WO2022191969A1. Автор: Todd J. Egan,Edward Budiarto,Eric Chin Hong Ng,Sergey STARIK. Владелец: Applied Materials Isreal Ltd.. Дата публикации: 2022-09-15.

Body to be plated, method of determining plated film thickness, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US7875468B2. Автор: Yoshiharu Kaneda. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-01-25.

Body to be plated, method of determining plated film thickness, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20090309200A1. Автор: Yoshiharu Kaneda. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-12-17.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US20240219175A1. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Vapor phase growth rate measuring apparatus, vapor phase growth apparatus, and growth rate detection method

Номер патента: US20180224268A1. Автор: Yasushi Iyechika. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-08-09.

Method and apparatus for producing transparent gas barrier film

Номер патента: EP4257722A1. Автор: Kiyoshi Iseki. Владелец: Toyobo Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-11.

Ultrasonic method and system for simultaneously measuring lubrication film thickness and liner wear of sliding bearing

Номер патента: US20230273158A1. Автор: PENG Zheng,Tonghai WU,Yaguo LEI,Junyi CAO,Wenzhuo ZHAO,Pan DOU,Yaping JIA. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2023-08-31.

Method for measuring film thickness of semiconductor device

Номер патента: US20220307818A1. Автор: Yongshang SHENG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-09-29.

Method for measuring film thickness of semiconductor device

Номер патента: US11867497B2. Автор: Yongshang SHENG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Curved battery cell thickness measuring device including low measuring pressure calipers and curved battery cell thickness measuring method using same

Номер патента: EP4450915A1. Автор: Min Jung Kim,Dong Hun SONG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Film thickness test apparatus and method and vapor deposition device

Номер патента: US11092429B2. Автор: Chihwei SU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-17.

Method and apparatus for improved x-ray reflection measurement

Номер патента: US20030086533A1. Автор: Gary Janik,Jeffrey Moore. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2003-05-08.

Film thickness test apparatus and method and vapor deposition device

Номер патента: US20190025045A1. Автор: Chihwei SU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-24.

Polishing method and polishing apparatus using the same

Номер патента: US6093081A. Автор: Mikichi Ban,Kazuo Takahashi,Masaru Nyui. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2000-07-25.

Device and Method for Detecting Film Thickness

Номер патента: US20200318941A1. Автор: LI Jiang,Mingfeng SUN,Yonghui LIN,Xiumei QI. Владелец: Weihai Hualing Opto Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Measurement of film thickness by inelastic electron scattering

Номер патента: AU5759400A. Автор: Robert Linder,Sergey Borodyansky,Charles E. Bryson Iii,Dmitri Ki Yachko,Leonid A. Vasilyev. Владелец: Surface Interface Inc. Дата публикации: 2001-01-30.

Film thickness sensor and manufacturing method thereof

Номер патента: US20160252347A1. Автор: Ang Xiao. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-01.

Measurement of film thickness by inelastic electron scattering

Номер патента: EP1192416A1. Автор: Robert Linder,Charles E. Bryson, III,Sergey Borodyansky,Dmitri Ki Yachko,Leonid A. Vasilyev. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2002-04-03.

Electrodeposition characteristic measuring device, evaluation method, and control method

Номер патента: US20050023143A1. Автор: Kenichi Nobuto,Toyoto Nakaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Electrodeposition characteristic measuring device, evaluation method, and control method

Номер патента: EP1503169A3. Автор: Kenichi Nobuto,Toyoto Nakaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-18.

Electrodeposition characteristic measuring device, evaluation method, and control method

Номер патента: US20050023142A1. Автор: Kenichi Nobuto,Toyoto Nakaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Radiometer for determining oil film thickness

Номер патента: US5672007A. Автор: Elliott R. Brown,Gregory G. Hogan,Gerald M. Daniels. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 1997-09-30.

Fluid film thickness sensor

Номер патента: GB1471196A. Автор: . Владелец: Multigraphics Inc. Дата публикации: 1977-04-21.

Method and apparatus for measuring characteristics of materials with improved accuracy

Номер патента: WO2004072664A1. Автор: Leonid Velikov,Boris Kesil,Yuri Vorobyev. Владелец: Multimetrixs, Llc.. Дата публикации: 2004-08-26.

Estimation apparatus for water film thickness on road surface

Номер патента: EP4378786A1. Автор: Naoki Morita,Yusuke Maeda,Kazuma TOKUDA. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Method and system for monitoring deposition process

Номер патента: US20240167814A1. Автор: Srinivasan Rangarajan,Heath A. Pois,Laxmi WARAD. Владелец: Nova Measuring Instruments Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Thickness measurement apparatus and method thereof

Номер патента: US09625273B2. Автор: Yoshihiro Yamashita,Hidehiko Kuroda,Akio Sumita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Film thickness gauge

Номер патента: GB2112518A. Автор: Toshiyuki Koga. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1983-07-20.

Method and system for monitoring deposition process

Номер патента: US11852467B2. Автор: Srinivasan Rangarajan,Heath A. Pois,Laxmi WARAD. Владелец: Nova Measuring Instruments Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Estimation apparatus for water film thickness on road surface

Номер патента: US20240175679A1. Автор: Naoki Morita,Yusuke Maeda,Kazuma TOKUDA. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Method for measuring film thickness distribution of wafer with thin films

Номер патента: US11965730B2. Автор: Philippe Gastaldo,Susumu Kuwabara,Kevin QUINQUINET. Владелец: Unity Semiconductor SAS. Дата публикации: 2024-04-23.

System and method for measuring substrate and film thickness distribution

Номер патента: SG11201906425RA. Автор: Dengpeng Chen,Andrew Zeng. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-08-27.

Corrosion environment diagnosis system, corrosion prevention system, corrosion environment diagnosis method, and corrosion prevention method

Номер патента: US10436701B2. Автор: Rintarou Minamitani. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-10-08.

Strain measurement method and strain measurement apparatus

Номер патента: US11204240B2. Автор: Kuo-Hua Tseng,Yu-Lin Hsu,Hung-Hsien Ko,I-Hung Chiang,Cheng-Ta Pan. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-12-21.

Coating Thickness Measuring Apparatus and Method

Номер патента: US20240344822A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Method of determining when a critical film thickness will be reached in a grease-lubricated seal

Номер патента: EP2734755A1. Автор: Pieter BAART,Piet Lugt,Marco VAN ZOELEN. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2014-05-28.

Method of determining when a critical film thickness will be reached in a grease-lubricated seal

Номер патента: WO2013011086A1. Автор: Pieter BAART,Piet Lugt,Marco VAN ZOELEN. Владелец: AKTIEBOLAGET SKF. Дата публикации: 2013-01-24.

Backlash measuring method, wind turbine diagnosing method, and backlash measuring apparatus

Номер патента: EP4293221A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2023-12-20.

Deterioration state estimation device, deterioration state estimation method, and program

Номер патента: EP4397986A1. Автор: Juichi Arai,Hiroshi Imoto,Ken Ogata. Владелец: Terawatt Technology KK. Дата публикации: 2024-07-10.

Deterioration state estimation device, deterioration state estimation method, and program

Номер патента: US20240210488A1. Автор: Juichi Arai,Hiroshi Imoto,Ken Ogata. Владелец: Terawatt Technology KK. Дата публикации: 2024-06-27.

Scale thickness measuring method

Номер патента: US20240255268A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno,Yuji KOHASHI,Hajime KUMATANI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200103220A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Interferometric thickness measuring apparatus using multiple light sources coupled with a selecting means

Номер патента: US10890433B2. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Method and apparatus for using cepstrum and wavelet based algorithms for wall thickness measurement

Номер патента: US09851201B2. Автор: Michael A. Davis,Mark A. Foss. Владелец: Cidra Corporated Services LLC. Дата публикации: 2017-12-26.

Ultrasonic measurement method and ultrasonic measurement apparatus

Номер патента: US09683838B2. Автор: Takafumi Ozeki,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Fluorescent x-ray film thickness gauge for very small areas

Номер патента: CA1195438A. Автор: Hiroshi Ishijima,Toshiyuki Koga. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-10-15.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20230273017A1. Автор: Masahiro Hato,Seiichi OHMORI,Tomohiko Shiota. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Method and apparatus for removal of the double indication of defects in remote eddy current inspection of pipes

Номер патента: US09476857B2. Автор: Emmanuel Legendre,Gerald N. Minerbo,Richard A. Rosthal,Thilo M Brill. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Thickness measurer for metal sheet and relative measuring method

Номер патента: EP2277003A1. Автор: Lorenzo Ciani. Владелец: DANIELI AUTOMATION SPA. Дата публикации: 2011-01-26.

Thickness measurer for metal sheet and relative measuring method

Номер патента: WO2009121916A1. Автор: Lorenzo Ciani. Владелец: DANIELI AUTOMATION SPA. Дата публикации: 2009-10-08.

Method and apparatus for measuring diameters of cylindrical measuring pins

Номер патента: US20210041217A1. Автор: Reginald Galestien. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-02-11.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US09746322B2. Автор: Dorian Cretin. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Method for producing prepared slide for fiber length measurement, method for adjusting dispersion liquid for fiber length measurement, method for measuring fiber length, prepared slide for fiber length measurement, device for measuring fiber length, and program that controls device for measuring fiber length

Номер патента: EP3693719A1. Автор: Koji Shiraki,Yuji Hotta,Atsuhiko Yamanaka,Yukitane Kimoto,Daisuke Shimamoto,Mariko Terada. Владелец: Kyowa Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Method and device for testing a composite material using laser ultrasonics

Номер патента: US09335156B2. Автор: Benjamin Campagne,Franck Bentouhami. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2016-05-10.

Method and system of operating overlay measuring

Номер патента: US20230273590A1. Автор: Chien-Hsien Liu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US11965735B2. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12072175B2. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Measuring apparatus, method, and program

Номер патента: US20100272321A1. Автор: Isao Kimura,Atsushi Takeuchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-10-28.

Overlay mark forming Moire pattern, overlay measurement method using same, overlay measurement apparatus using same, and manufacturing method of semiconductor device using same

Номер патента: US12107052B2. Автор: Hyun Chul Lee,Hyun Jin Chang. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20240369347A1. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Contour measurement apparatus and contour measurement method for measuring contour of poultry carcass, and deboning device for poultry carcass

Номер патента: US09700060B2. Автор: Noriyuki Inoue,Noriyuki Takahashi,Shinji HANE,Kenichi Oka,Koji TAKANASHI,Naoki Toyoda,Hiroyuki SAKURAYAMA. Владелец: Mayekawa Manufacturing Co. Дата публикации: 2017-07-11.

Method and apparatus for three-dimensional measurement and image processing device

Номер патента: US9197880B2. Автор: Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-11-24.

Matter wave treatment method and non-invasive inspection apparatus

Номер патента: EP3436769A1. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-02-06.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Extended focal region measuring apparatus and method

Номер патента: EP1694199A1. Автор: Daniel John Daly,Graeme Lawrence Clark. Владелец: Lein Applied Diagnostics Ltd. Дата публикации: 2006-08-30.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Method and apparatus for inspecting workpieces

Номер патента: US09989347B2. Автор: Kevyn B Jonas,Ingrid M ÖSTIN. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2018-06-05.

Measuring apparatus, method, and program

Номер патента: US09846027B2. Автор: Isao Kimura,Atsushi Takeuchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Method and apparatus for in-line control of dimensions of industrial products

Номер патента: RU2768110C2. Автор: Лоран КОСНО,Оливье КОЛЛЬ. Владелец: Тиама. Дата публикации: 2022-03-23.

Measuring apparatus

Номер патента: CA1172846A. Автор: Paul Williams. Владелец: Accuray Corp. Дата публикации: 1984-08-21.

Self calibrating ultrasonic thickness measuring apparatus

Номер патента: GB1247768A. Автор: . Владелец: AMF Inc. Дата публикации: 1971-09-29.

Self-calibrating ultrasonic thickness-measuring apparatus

Номер патента: US3599478A. Автор: Hillel Weinbaum. Владелец: AMF Inc. Дата публикации: 1971-08-17.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US11845158B2. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Method and apparatus for measuring thickness of electrolyte membrane

Номер патента: US20190101386A1. Автор: Shohei Yoshida,Satoshi Hasegawa,Shigeto Akahori,Mai Yokoi,Tomoko Tamai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-04.

Measurement method and system based on interferometric synthetic aperture radar

Номер патента: WO2024175129A1. Автор: FENG Yang,WEI Liu,Weijia REN,Chaomin Chen,Shancong Zhang,Xiaoru SANG. Владелец: Beijing Palebluers Co., Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200379112A1. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240280383A1. Автор: Hikaru Fujiwara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Measuring method and semiconductor structure forming method

Номер патента: US11747131B2. Автор: Che-Hui Lee,Pradip Girdhar Chaudhari. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Thickness measurement device

Номер патента: US20230218273A1. Автор: Yoshio Arai,Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Measurement method and apparatus for tab

Номер патента: EP4443527A1. Автор: Yang Lei,Wen Chang,Jun Hu,Qing Wu,Pengfei Duan,Dajun NI,Canbin CHEN,Shiping FENG,Qiuhui ZHENG,Haoran LU,Baiquan ZHAO. Владелец: Contemporary Amperex Technology Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Aircraft engine rotor assembly method and device

Номер патента: US09724791B2. Автор: Lei Wang,Bo Zhao,Jiubin Tan,Chuanzhi SUN. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2017-08-08.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09544558B2. Автор: Hideo Takizawa,Hiroto Nozawa,Koyo TADA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Thickness measurement apparatus, method and system, storage medium and processor

Номер патента: EP3919856A1. Автор: Tao QU,Kai Zhang,Yonghui LIN,Xiaofeng Sun,Rongxin SONG. Владелец: Weihai Hualing Opto Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-08.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: EP4067842A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-10-05.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: US20230066638A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-02.

Swept light source and drive data generation method and optical deflector for swept light source

Номер патента: US11721948B2. Автор: Takashi Sakamoto,Masahiro Ueno,Seiji Toyoda,Tadashi Sakamoto,Yuzo Sasaki,Joji Yamaguchi,Yuichi Akage,Meishin Chin,Shoko Tatsumi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Coating thickness measuring instrument and methods

Номер патента: US09927233B2. Автор: Michael Carrington Sellars,Joseph J. Walker. Владелец: Elcometer Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Method and apparatus for measuring the wavefront of an ophthalmic device

Номер патента: US09459204B2. Автор: Michael Widman,I Naveen Agarwal. Владелец: Johnson and Johnson Vision Care Inc. Дата публикации: 2016-10-04.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US09441950B2. Автор: Daisuke Tomita,Kentaro Osawa,Masaki MUKO. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Appliance for lubricating media boundary layers thickness measurement

Номер патента: RU2630545C1. Автор: Василий Геннадьевич Конесев,Фарит Наилович Янгиров,Артур Рамилевич Яхин,Дамир Фаткулбаянович Ибатуллин,Олег Борисович Трушкин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уфимский государственный нефтяной технический университет". Дата публикации: 2017-09-11.

Railroad car wheel measuring apparatus

Номер патента: CA1111240A. Автор: Peter M. Noble. Владелец: Westinghouse Air Brake Co. Дата публикации: 1981-10-27.

Large-panel ultrasonic on-machine non-contact scanning thickness measurement equipment and thickness measurement method

Номер патента: US20210072195A1. Автор: Yongqing Wang,Te Li,Kuo LIU,Haibo LIU,Meng Lian,Zhenyuan JIA. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2021-03-11.

Method and system of measuring semiconductor device and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US9991174B2. Автор: Jihye Lee,Choonshik Leem,Deokyong KIM,Soobok CHIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-06-05.

Film thickness measurement method, epitaxial wafer production process and epitaxial wafer

Номер патента: US20090305021A1. Автор: Kazuhiro Ohkubo. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2009-12-10.

Double-layer oil film lubrication analysis method and system based on floating bushing

Номер патента: US12092263B1. Автор: Bin Zhao,Hongliang Li,Xuan MA,Donghua Wang,Yibin Guo,Xiqun LU,Wanyou LI,Hanzhang XU,Xiujiang SHI,Zhijun SHUAI,Lieyi DONG,Huaiqian Guo. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2024-09-17.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Light intensity measurement value correction method, and time gate optical path reference concentration measurement apparatus

Номер патента: EP3783338A1. Автор: Jun He,Kexin Xu,Guang Han. Владелец: TIANJIN SUNRISE TECHNOLOGIES DEVELOPMENT Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-24.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: EP4332570A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-03-06.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: AU2022401334A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2023-12-14.

Light intensity measurement value correction method, and time gate optical path reference concentration measurement apparatus

Номер патента: EP3783338B1. Автор: Jun He,Kexin Xu,Guang Han. Владелец: TIANJIN SUNRISE TECHNOLOGIES DEVELOPMENT Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-18.

Method and measuring device for ultrasonic thickness measurement

Номер патента: DE2350888B2. Автор: Toyohiko Sagamihara Kanagawa Kitada (Japan). Владелец: KK Tokyo Keiki Tokio. Дата публикации: 1975-11-20.

Load measuring method and apparatus, railway vehicle equipped with load measuring apparatus, and load management system

Номер патента: JP5959378B2. Автор: 與志佐藤. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-08-02.

Distance measuring method and apparatus, and vehicle equipped with distance measuring apparatus

Номер патента: JP5092613B2. Автор: 秀和西内. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-05.

Specific coupling reaction measuring method and reagent kit and specific coupling reaction measuring apparatus for use in the same

Номер патента: US20060281195A1. Автор: Akihito Kamei,Nobuyuki Shigetoh,Tatsurou Kawamura. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-14.

Specific coupling reaction measuring method and reagent kit and specific coupling reaction measuring apparatus for use in the same

Номер патента: US7105359B2. Автор: Akihito Kamei,Nobuyuki Shigetoh,Tatsurou Kawamura. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-09-12.

Inspection method and inspection apparatus for compound eye distance measuring apparatus and chart used therefor

Номер патента: JPWO2009107365A1. Автор: 典広今村,今村　典広. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-06-30.

Transmitted wavefront measuring method, refractive-index distribution measuring method, method of manufacturing optical element, and transmitted wavefront measuring apparatus

Номер патента: EP2233905A3. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-05-25.

Torsional vibration generation and measurement method using magnetic deformation, and torsional vibration generation and measurement apparatus using the same

Номер патента: JP4182121B2. Автор: 潤榮金,承鉉 ▲曹▼,舜愚韓,▲燦▼ 一朴. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY INDUSTRY FOUNDATION. Дата публикации: 2008-11-19.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method and substrate polishing device

Номер патента: US20240353344A1. Автор: Keita Yagi,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Taro Takahashi,Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Calculation method for local film stress measurements using local film thickness values

Номер патента: US09625823B1. Автор: Leonid Poslavsky,Torsten R. Kaack,Yu Tay. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Paste transfer unit, electronic component mounting device, and transferred film thickness measuring method

Номер патента: US9285204B2. Автор: Masanori Ikeda,Masahiro Taniguchi,Michinori Tomomatsu,Satoshi Furuichi,Yousuke Hassaku. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-15.

Multiphase flowmeter and fluid film measurement method

Номер патента: RU2542587C2. Автор: Эндрю Бэйкер,Александр ЛЮПО,Себастьен КАДАЛЕН,Бенуа ФУРНЬЕ. Владелец: Прэд Рисерч Энд Дивелопмент Лимитед. Дата публикации: 2015-02-20.

Method and Device for Obtaining Microscopic Occurrence Characteristics of Oil Stored in a Shale

Номер патента: US20230146357A1. Автор: Wei Dang,Xiaoliang Wei. Владелец: Xian Shiyou University. Дата публикации: 2023-05-11.

Method and smart device to determine the substrate optical constant and the film thickness of absorbing-film-absorbing-substrate systems in an absorbing medium using a closed-form formula and reflection ellipsometry

Номер патента: US20070024851A1. Автор: Yasser Zaghloul,Mervat Zaghloul,A R Zaghloul. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-02-01.

Methods and systems for determining a property of an insulating film

Номер патента: US7012438B1. Автор: Amin Samsavar,Thomas G. Miller,Zhiwei Xu,Gregory S. Horner,Patrick Stevens. Владелец: KLA Tencor Technologies Corp. Дата публикации: 2006-03-14.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240230505A9. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Cmp apparatus and method for estimating film thickness

Номер патента: US20190157170A1. Автор: Hsun-Chung KUANG,Sheng-Chau Chen,Yu-Min Chen,Chin-Wei Liang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-05-23.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: SE1951544A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2021-06-21.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: CA3165249A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2021-06-24.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: EP4077801A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2022-10-26.

Automatic measuring method and apparatus for measuring connecting lines

Номер патента: US20130066580A1. Автор: Chang-Yi Chen,Shih-Tung Lin,Chen-Yung Lin. Владелец: Taiwan Luxshare Precision Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240133790A1. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-04-25.

Measuring apparatus, measuring method, and processing apparatus thereof that obtain displacement amount of an object using clock in synchronization with data request signal

Номер патента: US09488501B2. Автор: Yoshiyuki Okada,Takafumi Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

Method and device for in vivo wetting determinations

Номер патента: US4747683A. Автор: Marshall G. Doane. Владелец: Eye Research Institute of the Retina Foundation. Дата публикации: 1988-05-31.

Method and device for in vivo wetting determinations

Номер патента: CA1269755A. Автор: Marshall G. Doane. Владелец: Eye Research Institute of the Retina Foundation. Дата публикации: 1990-05-29.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: CA3182555A1. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12099033B2. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12092609B2. Автор: Yutaka Matsui,Takafumi Ozeki,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Vibration measurement system, vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20210029297A1. Автор: Kazuhito Murata,Masahiko Ohta,Gaku Nakano,Asuka ISHII. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

Thermophysical property measurement method and thermophysical property measurement apparatus

Номер патента: US10876983B2. Автор: Hiroyuki Fujiki,Takeshi Shimazaki,Yasutaka AMAGAI. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-12-29.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US10935661B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2021-03-02.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US09977129B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Flow rate measurement apparatus, antigen concentration measurement apparatus, flow cell, flow rate measurement method, and antigen concentration measurement method

Номер патента: US09880101B2. Автор: Toru Miura,Tsutomu Horiuchi,Tsuneyuki Haga,Tsuyoshi Hayashi,Yuzuru Iwasaki,Michiko Seyama,Jun-ichi Takahashi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Sensor strip cartridge, and biometric information measuring method and apparatus using the same

Номер патента: US09739764B2. Автор: Chul-Ho Cho,Seong-Je Cho,Min-Hyoung Lee,In-Geol Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-22.

Light measurement apparatus for reaction vessel and light measurement method

Номер патента: US09556477B2. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2017-01-31.

Method and apparatus for measuring distance

Номер патента: US20190049569A1. Автор: Donghan Kim,Sungdo Choi,Jong-sok KIM,Jaesup Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-02-14.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: CA1086870A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1980-09-30.

Standard sample film, method for producing standard sample film, standard sample, sample set, quantitative analysis method, and transfer film

Номер патента: EP4382902A1. Автор: Kaoru Iwato,Takafumi Hirata,Takuro SUGIYAMA,Yuko TERAO,Yasuhiko HIRANA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2024-06-12.

Standard sample film, method for producing standard sample film, standard sample, sample set, quantitative analysis method, and transfer film

Номер патента: US20240170272A1. Автор: Kaoru Iwato,Takafumi Hirata,Takuro SUGIYAMA,Yuko TERAO,Yasuhiko HIRANA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2024-05-23.

Standard sample film, manufacturing method for standard sample film, standard sample, sample set, quantitative analysis method, and transfer film

Номер патента: EP4102541A1. Автор: Takafumi Hirata,Akinori SUGISHIMA,Takuro SUGIYAMA,Tetsuro Otsuka,Yuko TERAO,Yasuharu SHIRAISHI,Yoshiki Makino,Yasuhiko HIRANA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-12-14.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Wet Gas Flow Measuring Method and Apparatus

Номер патента: US20150247749A1. Автор: Jige Chen. Владелец: LANZHOU HAIMO TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-03.

Planar elongational viscosity measuring method and planar elongational viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20100228504A1. Автор: Tsutomu Takahashi,Toshihiro Kawano,Masataka Shirakashi. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2010-09-09.

Distance measurement method and distance measurement apparatus

Номер патента: US12146937B2. Автор: Genming Ding,Yanong HE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Optical Rotating Power Measurement Method And Optical Rotating Power Measurement Apparatus

Номер патента: US20080204751A1. Автор: Atsushi Yamada,Yuji Fujisawa,Tomoyuki Fukazawa,Hisashi Masago,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Electrical characteristic measurement apparatus, electrical characteristic measurement system, electrical characteristic measurement method, and program for electrical characteristic measurement for causing computer to implement the method

Номер патента: US20180031503A1. Автор: Isao Hidaka. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-01.

Load measurement method and apparatus, railcar provided with load measurement apparatus, and load management system

Номер патента: US09476802B2. Автор: Yoshi SATO. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-10-25.

Method and device for obtaining microscopic occurrence characteristics of oil stored in a shale

Номер патента: US11874211B2. Автор: Wei Dang,Xiaoliang Wei. Владелец: Xian Shiyou University. Дата публикации: 2024-01-16.

Gas measurement apparatus, gas measurement system, gas measurement method, and gas measurement program

Номер патента: US09863932B2. Автор: Yasuhiro Kasahara,Miyuki Kodama,Naotaka Minagawa,Ayumi Sano. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Viscosity measuring method and viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09835536B2. Автор: Takayoshi Hoshino. Владелец: Aohata Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Pulse width measurement method and apparatus

Номер патента: US09778305B2. Автор: William David Stewart,Giovanni De Sanctis,Stephen John Robb. Владелец: Schrader Electronics Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Measuring apparatus, measuring method, and parameter setting method

Номер патента: US09566005B2. Автор: Hideo Kawabe,Tatsuya Suzuki,Hirokazu Imai,Masatoshi Ueno,Kenichi Kabasawa,Yoichi Toriumi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Measuring apparatus, measuring method, and ion-sensitive semiconductor device

Номер патента: US20230097075A1. Автор: Masao Okihara. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Stereo distance measuring apparatus, stereo distance measuring method, and computer readable medium

Номер патента: US20180105286A1. Автор: Akihiro Yamane,Akitoshi SAKAGUCHI,Yoichi Onomura. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2018-04-19.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: US20240210334A1. Автор: Akira Hamaguchi,Kazuhiro Nojima,Yuki Abe,Takaki Hashimoto,Kaori FUMITA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Battery measurement method and apparatus

Номер патента: US20240230770A9. Автор: Masaaki Kitagawa,Isao Ishibe,Shun MIYAUCHI. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Optical measuring method and optical measuring apparatus

Номер патента: US12025427B2. Автор: Peter Fritz,Konrad Klein,Anders ADAMSON. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Measuring apparatus, measuring method and measuring program

Номер патента: EP4006297A1. Автор: Hiroyuki Takahashi,Yusuke Inoue,Keita HAMAKAWA,Takazumi YAMADA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Concentration measurement method and concentration measurement apparatus

Номер патента: US20120242979A1. Автор: Koichi Shimizu,Kazuhiko Amano,Kazuhiro Nishida. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2012-09-27.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US8462351B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-11.

Fluid measurement apparatus, fluid measurement method, and program

Номер патента: US20210041274A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20110043809A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US20220170245A1. Автор: Hiroyuki Takahashi,Yusuke Inoue,Keita HAMAKAWA,Takazumi YAMADA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2022-06-02.

Measurement apparatus, measurement method, and absolute encoder

Номер патента: US09423276B2. Автор: Makiko Ogasawara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Atmospheric environment measuring apparatus, atmospheric environment measuring method and atmospheric environment measuring system

Номер патента: US09395334B2. Автор: Ryozo Takasu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-07-19.

Frequency measuring method and frequency measuring device

Номер патента: EP3715875A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Phase distribution measurement method and phase distribution measurement apparatus

Номер патента: US09594941B2. Автор: Hiroshi Ishiwata. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Distance measurement apparatus, distance measurement method, and camera

Номер патента: US09354056B2. Автор: Daisuke Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-05-31.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20200286249A1. Автор: Hiroshi Ohno,Kiminori Toya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Partial discharge measurement apparatus, partial discharge measurement method, and partial discharge measurement system

Номер патента: US20230408570A1. Автор: Akira Fujimoto,Takashi Harakawa,Makoto Takanezawa,Hirotaka TSUBAKIHARA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Particle measuring method and particle measuring apparatus

Номер патента: US20080239283A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

Surface temperature measuring apparatus, surface temperature measuring method, and optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20240280408A1. Автор: Takashi Kawasaki,Hidehiko Fujii,Hitoshi Nagasawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-22.

Measurement apparatus, information processing apparatus, data specifying method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20230036969A1. Автор: Akira Tsuji,Junichi Abe,Yoshimasa Ono,Jiro Abe. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Measuring Method and Measuring Apparatus

Номер патента: US20190056347A1. Автор: Hisashi Kaneda,Ayano Nakatani. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-02-21.

Current measuring method and current measuring apparatus

Номер патента: US20020041190A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

Magnetic field measuring apparatus, magnetic field measuring method and recording medium with magnetic field measuring program recorded thereon

Номер патента: US11774518B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake,Makoto Kataoka,Seiichi Kato. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Optical measuring method, and optical measuring device

Номер патента: EP4414687A1. Автор: Go Yamada. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Measurement apparatus, measurement method and computer readable medium

Номер патента: US12055570B2. Автор: Mitsuo Matsumoto,Shinya Sato,Masayuki Kawabata,Masakatsu Suda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Radio measurement method and radio measurement apparatus using multi-antenna channel multiplex

Номер патента: US09548806B2. Автор: Yong-Seok Choi,Sang Tae Kim,Haeng Sook Ro,Gwangmoon PARK,Mi-Kyung SUK,Seong Yun LEE. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-01-17.

Differential capacitive sensor for in-situ film thickness and dielectric constant measurement

Номер патента: US20240002999A1. Автор: Yaoling Pan,Leonard M. Tedeschi,Patrick Tae. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Differential capacitive sensors for in-situ film thickness and dielectric constant measurement

Номер патента: US11781214B2. Автор: Yaoling Pan,Leonard M. Tedeschi,Patrick Tae. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-10-10.

Measurement apparatus, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220049981A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-17.

A method and apparatus for managing a flow out from a wellbore during drilling

Номер патента: GB2609563A. Автор: Cayeux Eric. Владелец: Norce Innovation As. Дата публикации: 2023-02-08.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US12038488B2. Автор: Shigeki Okatake,Hideyuki Tsuji,Masashi Yamada. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Electronic Computer, Moisture Content Measurement Method, and Moisture Content Measurement System

Номер патента: US20240102925A1. Автор: Jun Tanaka,Kotaro Kitamura,Yusuke Kaga,Takuya Kambayashi,Makiko Udagawa,Shunsuke Kono,Yasuko Kobayashi,Hiroki MIYAKAWA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Foot pressure measurement apparatus, method, and non-transitory tangible machine-readable medium thereof

Номер патента: US20210145315A1. Автор: Chih-Hao Hsu,yan-tong Liu. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2021-05-20.

Method and apparatus for measuring and monitoring salt accumulation in concrete structures

Номер патента: WO2002079777A1. Автор: Thomas Osterberg. Владелец: Vagverket. Дата публикации: 2002-10-10.

Method for calibrating the time axis in time - domain terahertz wave measuring apparatus

Номер патента: EP2545350A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-16.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Method and apparatus for estimating time delay of GPS receiver in hybrid navigation system

Номер патента: US7124026B2. Автор: Hyun-Su Hong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-10-17.

Fluid measurement device, fluid measurement method, and program

Номер патента: EP3745097A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

Measuring method and measuring apparatus

Номер патента: US12072273B2. Автор: Takeshi Higuchi,Kasumi Okabe. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Method and apparatus for detecting position of battery swapping device, battery swapping device, and battery swapping station

Номер патента: EP4400361A1. Автор: Can Chen,Shibiao QUE. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Light wavelength measurement apparatus and method, and light wavelength control device and light-emitting system

Номер патента: EP4414672A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Light wavelength measurement method and light wavelength measurement apparatus

Номер патента: US09846081B2. Автор: Tsuyoshi Konishi,Tomotaka Nagashima,Takema SATOH. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-12-19.

Position and orientation calibration method and apparatus

Номер патента: US09733339B2. Автор: Shinji Uchiyama,Daisuke Kotake. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Capacitance measurement method and its application

Номер патента: RU2564516C2. Автор: Йоаким ЛАРССОН,Бо МАТТИАССОН,Мартин ХЕДСТРЕМ,Даг ЭРЛАНДССОН. Владелец: КапСензе ХБ. Дата публикации: 2015-10-10.

Measuring apparatus for a liquid handling apparatus for measuring pipetting container, article for said measuring apparatus and corresponding measuring method

Номер патента: US12044691B2. Автор: Burkhardt Reichmuth,Markus Lapczyna,Uwe Dunker,Maik Radke. Владелец: Eppendorf SE. Дата публикации: 2024-07-23.

Method and apparatus for acoustic assessment from the interior of fluid conduits

Номер патента: EP3090258A1. Автор: Yan Pailhas,Steve Mayo,Nigel Money,Chris Capus. Владелец: HYDRASON SOLUTIONS Ltd. Дата публикации: 2016-11-09.

Observation apparatus, observation method, and distance measurement system

Номер патента: US20230046614A1. Автор: Yasunori Tsukuda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-02-16.

Shielding apparatus, shielding method and demagnetizing for measuring magnetic field

Номер патента: US20160011278A1. Автор: Yong Ho Lee,Ki Woong Kim,Seong-Joo Lee,Kwon Kyu Yu. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2016-01-14.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Fibre concentration ratio measuring method and related device for implementation thereof

Номер патента: RU2362989C2. Автор: Бенгт ОКЕРБЛОМ. Владелец: Дапрокс Аб. Дата публикации: 2009-07-27.

Measurement method, non-transitory computer-readable medium and measurement apparatus

Номер патента: US20200271708A1. Автор: Kazuhiko Kobayashi. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Method and apparatus for assessing gas exchange of plants

Номер патента: EP4200607A1. Автор: Bakhtier Rasulov,Roman Leinus,Hannes Kollist. Владелец: Tartu Ülikool (University Of Tartu). Дата публикации: 2023-06-28.

A measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: EP3845914A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Tech Solutions S L. Дата публикации: 2021-07-07.

Method and apparatus for acoustic assessment from the interior of fluid conduits

Номер патента: WO2015101788A1. Автор: Yan Pailhas,Steve Mayo,Nigel Money,Chris Capus. Владелец: Hydrason Solutions Limited. Дата публикации: 2015-07-09.

Range measuring device, model generation device, information generation device, information generation method, and program

Номер патента: EP4435470A1. Автор: Kenichiro Hosoi. Владелец: Pioneer Smart Sensing Innovations Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Signal processing apparatus, signal processing method, and program

Номер патента: US20240319376A1. Автор: Toshihisa Miyake. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Methods and systems for calibration and use of camera for determination of analyte in sample

Номер патента: RU2754208C1. Автор: Бернд ЛИМБУРГ,Макс БЕРГ,Фредрик ХАЙЛЕР. Владелец: Ф. Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2021-08-30.

Measuring method of volumetric flow rate of conducting fluids through vessel

Номер патента: RU2488779C2. Автор: Томас КЕЛЕР,Уве ЛАНГ,Колин ХЕНДЕРСОН,Штефан ХОТЕР,Стив БУКБИНДЕР. Владелец: Брита Гмбх. Дата публикации: 2013-07-27.

Method and system of distance measurement based on surface excitation using earthed well and auxiliary earthing device

Номер патента: RU2677732C1. Автор: Сюй-сян У,КАЛАТЕХ АХМАД Акрам АХМАДИ. Владелец: ХЭЛЛИБЕРТОН ЭНЕРДЖИ СЕРВИСИЗ, ИНК.. Дата публикации: 2019-01-21.

Grain granulometry measurement system and method and calibration method for a grain granulometry measurement system

Номер патента: EP4300074A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Measuring method for measuring heat distribution of specific space using sthm probe, method and device for detecting beam spot of light source

Номер патента: US20210373046A1. Автор: Sang-il Park,Ahjin Jo,Byoung-Woon Ahn,Soobong Choi. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2021-12-02.

Oxytocin purifying method and measuring method and kit

Номер патента: US20240230684A9. Автор: Masaaki Kojima,Fumie AKUTSU. Владелец: Fujifilm Wako Pure Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Method and apparatus for establishing reflection properties of a surface

Номер патента: WO2007060181A9. Автор: Marc Frankinet. Владелец: Marc Frankinet. Дата публикации: 2007-07-26.

Measuring method for measuring heat distribution of specific space using SThM probe, method and device for detecting beam spot of light source

Номер патента: US12038455B2. Автор: Sang-il Park,Ahjin Jo,Byoung-Woon Ahn,Soobong Choi. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Method and device to measure multiphase flow

Номер патента: US12050118B2. Автор: Gerald Morrison,Abhay R. Patil,Joshua A. Vandervort. Владелец: TEXAS A&M UNIVERSITY SYSTEM. Дата публикации: 2024-07-30.

Method and apparatus for characterizing an acoustic impedance

Номер патента: US20030221488A1. Автор: Jeffrey Goldmeer,Simon Sanderson. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2003-12-04.

Method and apparatus for monitoring oxygen concentration in a beverage production process

Номер патента: US20040107763A1. Автор: Daisaku Kurokawa,Satoshi Sekibata,Mitsushiro Saito,Rikiya Goto. Владелец: Sapporo Breweries Ltd. Дата публикации: 2004-06-10.

Method and apparatus for establishing reflection properties of a surface

Номер патента: EP1952126A1. Автор: Marc Frankinet. Владелец: Schreder SA. Дата публикации: 2008-08-06.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Method and apparatus for measuring viewing angle characteristic and positional characteristic of luminance

Номер патента: US20020008868A1. Автор: Hiroshi Kubota,Satoshi Hirose,Tomoaki Furuse,Yoshiya Egashira. Владелец: Kumamoto Technopolis Foundation. Дата публикации: 2002-01-24.

Information processing apparatus, information processing method and storage medium

Номер патента: US11373326B2. Автор: Kazuhiko Kobayashi,Tomokazu Tsuchimoto,Tomoaki Higo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-06-28.

Method and apparatus for calibrating wood testing machine

Номер патента: US20100036633A1. Автор: James D. Logan,James R. Allen,Tony L. Lee. Владелец: METRIGUARD INC. Дата публикации: 2010-02-11.

Ranging device, determining device, determining method, and program

Номер патента: EP4451008A1. Автор: Kenichiro Hosoi,Shogo Miyanabe,Tsuyoshi Hasebe. Владелец: Pioneer Smart Sensing Innovations Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Portable internal friction measuring apparatus and internal friction measurement method

Номер патента: EP4443128A1. Автор: Jian Yin,Wenqing Jia,Yuanfei Li,Xiangbing LIU,Chaoliang XU,Qiwei QUAN,Wangjie QIAN. Владелец: Suzhou Nuclear Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Method for measuring outflow rate of water molecules across cell membranes, uses of outflow rate of water molecules across cell membranes, and method and system for measuring glioma magnetic resonance imaging markers

Номер патента: EP4455654A1. Автор: Yingchao LIU,Ruiliang Bai,Guangxu Han,Yinhang Jia. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (VCSEL) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US11482830B2. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-25.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic imaging apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09910140B2. Автор: Masaki Hayashi,Kenji Murakami,Kazuyuki Kano,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Physical amount measurement apparatus mounted integrally with flow rate measurement apparatus, and physical amount measurement method

Номер патента: US09869573B2. Автор: Koji Tanimoto,Yuji Ariyoshi,Masahiro Kawai,Shinichiro Hidaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

System frequency measurement method, synchrophasor measurement method and device thereof

Номер патента: US09658259B2. Автор: Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2017-05-23.

Position measuring apparatus and driving method thereof

Номер патента: US09612692B2. Автор: Sung-soo Park,Yu-Sheop Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-04.

Wavefront measurement method, shape measurement method, optical element manufacturing method, optical apparatus manufacturing method, program, and wavefront measurement apparatus

Номер патента: US09574967B2. Автор: Atsushi Maeda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (vcsel) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US20210075185A1. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Method and apparatus for indication of the electric state of polymer insulators

Номер патента: RU2755924C1. Автор: Николай Алексеевич Карасев,Евгений Алексеевич Юданов,Ен Дар Ким,Алексей Юрьевич Ефимов,Ян Евгеньевич Коростелев. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Форэнерго-Инжиниринг" (Ооо "Форэнерго-Инжиниринг"). Дата публикации: 2021-09-23.

Method and system for measuring electromagnetic field and antenna parameters under temperature effects on measurement object

Номер патента: RU2766055C1. Автор: Станислав Константинович Крылов,Максим Сергеевич Милосердов. Владелец: Станислав Константинович Крылов. Дата публикации: 2022-02-07.

Distance measuring method, and device for its implementation (versions)

Номер патента: RU2481554C2. Автор: Марат Хаджи-Муратович Абдуев,Аслан Хаджимуратович Абдуев,Имангазали Юнусович Нураев. Владелец: Имангазали Юнусович Нураев. Дата публикации: 2013-05-10.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Velocity measurement method, system, device and apparatus and storage medium, as well as velocity field measurement method and system

Номер патента: US20240221184A1. Автор: Jinjun Wang,Shaofei Wang,Chong Pan. Владелец: Ningbo Institute Of Technology Beihang University. Дата публикации: 2024-07-04.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: EP4357767A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-24.

Measurement device, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: EP3851810A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-07-21.

Light Measurement Apparatus for Reaction Vessel and Light Measurement Method

Номер патента: US20150218618A1. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2015-08-06.

Wave-leakage measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US5138253A. Автор: Tamio Fukui,Isao Momoji. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1992-08-11.

Measuring apparatus, signal outputting method and storage medium

Номер патента: US20010037188A1. Автор: Masashi Tsuboi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2001-11-01.

Inertial measurement apparatus and method with improved thermal and noise performance

Номер патента: US20210080334A1. Автор: Mike Horton,Shu Wang. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Metrology measuring apparatus

Номер патента: US20180128756A1. Автор: Colin Smith,Doron REINIS,Michael Geffen,Roni PERETZ. Владелец: XWINSYS Ltd. Дата публикации: 2018-05-10.

Single-beam photothermal measurement apparatus and measurement method for absorptive defects

Номер патента: US12099002B2. Автор: QI Lu,Weiwei Wang,Shijie Liu,Jianda SHAO,Tianzhu Xu,Kaizao Ni,Yingjia Li. Владелец: Shanghai Hengyi Optics And Fine Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Positioning sensing method and apparatus, sensing measurement method and apparatus, and terminal and network-side device

Номер патента: EP4456625A1. Автор: Jian Yao,Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US09995783B2. Автор: Adrian Kiermasz. Владелец: Metryx Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Pretreatment method for nitrogen and oxygen isotope measurement with chemical conversion method and measurement method

Номер патента: AU2020312536A1. Автор: FANG Yang,Ning An,Wenjuan Ma,Runyu Zhang,Jianyang Guo,Fengchang Wu,Weiying FENG,Haiqing Liao,Rui CEN. Владелец: CHINESE RESEARCH ACADEMY OF ENVIRONMENTAL SCIENCES. Дата публикации: 2022-03-10.

Method and device for measuring concentration of substance in fluid

Номер патента: US09970894B2. Автор: Jie Han,Yiping Han,Lijun Shen,Ray Xie. Владелец: Sunvou Medical Electronics Co ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Measuring apparatus and method for detecting ferromagnetic particles

Номер патента: US09575023B2. Автор: Rudolf Lueck,Peter Hoehne. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2017-02-21.

Vessel speed measuring method by the doppler log

Номер патента: RU2672464C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Сергей Васильевич Жуменков,Виталий Николаевич Тимофеев,Павел Валерьевич Юхта. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2018-11-14.

Method and circuit for operation of capacitance micro electromechanical transducer with analog recovery

Номер патента: RU2431150C2. Автор: Гюнтер ШПАХЛИНГЕР. Владелец: Норсроп Груман Литеф Гмбх. Дата публикации: 2011-10-10.

Device with improved light source and detector for gravimeter and measuring method

Номер патента: RU2473102C2. Автор: Рокко Дифоджио. Владелец: Бейкер Хьюз Инкорпорейтед. Дата публикации: 2013-01-20.

Particle measuring method, sample processing method, and particle imaging apparatus

Номер патента: US20190178782A1. Автор: Yusuke Konishi,Takanori Maekawa. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Method and apparatus for measuring properties of a moving fiber web

Номер патента: WO2000052264A1. Автор: John Shakespeare. Владелец: Metso Paper Automation Oy. Дата публикации: 2000-09-08.

Method and apparatus for measuring corrosion of mobile body

Номер патента: US20170010183A1. Автор: Yoshiharu Sugimoto,Nobutoshi Konagai,Satoru Ando,Sachiko Suzuki,Yuya Ito,Ruri Nakada,Kouta SAKO. Владелец: Suzuki Motor Corp. Дата публикации: 2017-01-12.

Automatic efficiency tracing method and its apparatus

Номер патента: US4761555A. Автор: Hiroaki Ishikawa. Владелец: ISHIKAWA IND CO Ltd. Дата публикации: 1988-08-02.

Base station antenna and measurement method and measurement device for azimuth angle thereof, medium, and base station

Номер патента: EP4386418A1. Автор: Jinye HE,Shangmin CHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Cell analysis method and cell analysis device

Номер патента: EP4215902A1. Автор: Kenichiro Suzuki,Masamichi Tanaka,Shoichiro Asada,Konobu KIMURA,Kohei NANGO. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-07-26.

Radar measurement method and device

Номер патента: EP3919936A1. Автор: Lei Wan,Yong Wu,Sha Ma,Mingxia Xu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-08.

Measurement method and measurement device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test apparatus for coated metal material

Номер патента: US12066374B2. Автор: Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Method and apparatus for determining the absorption in a blank

Номер патента: EP2729788A1. Автор: Eric Eva. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2014-05-14.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Method and apparatus for coherence enhancement of sweep velocity locked lasers via all-electronic upconversion

Номер патента: US20190027897A1. Автор: Tao Wei,Zhen Chen,Gerald Hefferman. Владелец: Rhode Island Board of Education. Дата публикации: 2019-01-24.

Method for determining measured values by means of at least two different measuring methods and use thereof

Номер патента: US11754398B2. Автор: Florian Ries,Frank Schuster,Martin Haueis. Владелец: Mercedes Benz Group AG. Дата публикации: 2023-09-12.

Cell analysis method and cell analyzer

Номер патента: US20230221238A1. Автор: Kenichiro Suzuki,Masamichi Tanaka,Shoichiro Asada,Konobu KIMURA,Kohei NANGO. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Body temperature measurement method and apparatus, robot and storage medium

Номер патента: EP4134210A1. Автор: Zhetao Xu. Владелец: Jingdong Technology Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

Process measurement apparatus and method

Номер патента: US20230350438A1. Автор: Yong Jun Seo,Sang Hyun Son,Sang Min HA,Dong Ok AHN,Hyeong Jun CHO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: US20240319060A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2024-09-26.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: EP4411410A1. Автор: YUAN Shen,Xiaoxian Li,Zhenguo DU,Bowen Wang,Xinyou Qiu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Method and apparatus for ultrasonic measurement of temperature field inside cable

Номер патента: ZA202401820B. Автор: Rui Liu,Qian Wang,Tao Wang,Jiawei Zhang,Huan LIAN,Sichen Qin,Junwei Zha. Владелец: Xian Univ Of Technology. Дата публикации: 2024-09-25.

Positioning sensing method and apparatus, sensing measurement method and apparatus, terminal, and network-side device

Номер патента: US20240353523A1. Автор: Jian Yao,Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Method and apparatus for measuring parameters of optical anisotropy

Номер патента: US09989454B2. Автор: Yang Zou,Matthew H. Smith. Владелец: Axometrics Inc. Дата публикации: 2018-06-05.

Method and apparatus for measuring corrosion of mobile body

Номер патента: US09880071B2. Автор: Yoshiharu Sugimoto,Nobutoshi Konagai,Satoru Ando,Sachiko Suzuki,Yuya Ito,Ruri Nakada,Kouta SAKO. Владелец: Suzuki Motor Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Method and apparatus for measuring corrosion of mobile body

Номер патента: US09476799B2. Автор: Yoshiharu Sugimoto,Nobutoshi Konagai,Satoru Ando,Sachiko Suzuki,Yuya Ito,Ruri Nakada,Kouta SAKO. Владелец: Suzuki Motor Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Measurement method and device for determination of state of electric igniter of gas turbine burner, as well as ignition device for gas turbine burner

Номер патента: RU2477509C2. Автор: Йорг ГОНДЕР. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2013-03-10.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: CA3224131A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2023-01-05.

Mode field diameter measuring method and mode field diameter measuring device

Номер патента: US20240183746A1. Автор: Atsushi Nakamura,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

High-precision continuous rapid subgrade moisture measurement method and system without damage to pavement

Номер патента: EP4375653A1. Автор: Chen Zhang,KUN Zhu,Jing Zhang,Bin He,Yun Wang,Wei Fu,Hang Zhang,Xing Liu,Shuai LIU,Yanbin RUAN,Lizhou GU. Владелец: CCCC Second Highway Consultants Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Model afm probe for oxidized mineral collector, preparation method and application thereof

Номер патента: AU2020100499A4. Автор: Jian Cao,Wei Sun,Zhiyong Gao,Haisheng HAN,Yuehua Hu,Mengjie TIAN. Владелец: CENTRAL SOUTH UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-05-14.

Method and Apparatus for Electrocatalytic Amplification on Pre-Oxidized Measuring Electrode

Номер патента: US20120043225A1. Автор: Hongjun Zhou,Allen J. Bard,Fu-Ren F. Fan. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 2012-02-23.

Oil tank measurement method and system based on laser point cloud analysis

Номер патента: NL2028854A. Автор: LI Cunjun,HAO Huadong,CHEN Xianlei,REN Feiming,SHI Haolei,WU Zenan. Владелец: Zhoushan Institute Of Calibration And Testing For Quality And Tech Supervision. Дата публикации: 2021-09-16.

Anti-8-hydroxy-2'-deoxyguanosine antibody or antibody fragment thereof, production method, kit, measuring method, and device for measurement

Номер патента: US20220372119A1. Автор: Toshiaki Maruyama,Takeshi Sakamoto,Shigeru CJ OKUMURA,Hiroko Yanagisawa. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Non-invasive temperature measurement method and apparatus

Номер патента: EP1171758A4. Автор: Yoram Palti. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-02.

Method and apparatus for measuring spin-orbit torque

Номер патента: US20230076199A1. Автор: Jung-Hyun Park,Sug-bong Choe. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Induction cooker temperature measuring method and device and readable storage medium

Номер патента: EP3693668A1. Автор: Wei Chen,Shuai Wang,Zhao Wang,Xiaohui Li,Shaohua HE. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Particle measuring apparatus, ultrapure water production apparatus having the same, and particle measuring method

Номер патента: US20240255411A1. Автор: Hiroshi Sugawara,Fumio Sudo,Tsukasa Kondo,Fumitaka ICHIHARA. Владелец: Organo Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and apparatus for measuring synthetic reception pattern of adaptive array antenna

Номер патента: US9658340B2. Автор: Dong Hoon Shin,Inho Hwang,Jinchun Wang,Dae Heon LEE,Woong Hee KIM,Hae Yong Yang,Chun Soo Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-05-23.

Ultrasound viscoelasticity measurement method and apparatus and storage medium

Номер патента: US20230131340A1. Автор: Shuangshuang LI,Jinyang Li. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

Spectrum measurement system, spectrum measurement device, optical measurement method and optical calibration method

Номер патента: US10197443B2. Автор: Chien-Hsiang Hung,Hsu-Feng Cheng,Sheng-Wang Lin. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2019-02-05.

Methods and apparatus for media level measurement

Номер патента: US20050262938A1. Автор: David Smith,Gerard Carlson,Douglas Guillory. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-01.

Control method and color measurement apparatus

Номер патента: US20240302215A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Temperature measurement method and apparatus based on passive rfid tag

Номер патента: US20240295446A1. Автор: Xu Zhang,Jia Liu,Xingyu Chen,Lijun Chen,Fuxing Wang. Владелец: Jiangsu Tooker Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Set cement mechanical properties parameter measurement method and apparatus based on image recognition technology

Номер патента: US20240288348A1. Автор: Zhao HUANG,Jianzhou Jin,Yongjin YU,Fengzhong Qi,Hongfei Ji,Xiujian Xia,Jiyun Shen,Huiting LIU,Congfeng Qu,Xueli Guo,Zhengyang Zhao,Yongqin CHENG,Pengyang JIA. Владелец: CNPC Engineering Technology R&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Method and apparatus of full-field vibration measurement via microwave sensing

Номер патента: US12117371B2. Автор: Yuyong XIONG,Zhike PENG,Guang MENG. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-10-15.

Distance measurement method and apparatus, and distance measurement sensor and distance measurement sensing array

Номер патента: US12123978B2. Автор: Shuyu Lei. Владелец: Ningbo Abax Sensing Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Temperature measurement circuit, temperature and light intensity measurement circuit, temperature measurement method and temperature and light intensity measurement method

Номер патента: US12123788B2. Автор: Fulin Li,Haixiang Wang,Chuanlin LI. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Channel light measurement apparatus having reduced signal-to-noise ratio

Номер патента: US09945774B2. Автор: Frank Krufka. Владелец: Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Method and system for measuring lens distortion

Номер патента: US09810602B2. Автор: Jianjun Xu,Xingyi Chen,Xiliang Niu. Владелец: Qingdao Goertek Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Load measuring apparatus and load measuring method

Номер патента: US09719869B2. Автор: Hideaki Tanaka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Method and device to determine adsorption capacity for air entraining agents

Номер патента: US09651497B2. Автор: Rafic Y. Minkara,Crystal A. Dixon,Jennifer M. Kelley,Richard J. Nordman,Michael J. Ponstingl. Владелец: Headwaters Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Test system, test method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12146910B2. Автор: Kazuhiko Nakahara. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Flare-measuring mask, flare-measuring method, and exposure method

Номер патента: US09529251B2. Автор: Masayuki Shiraishi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Method and device for contactless determination of molten metal temperature

Номер патента: RU2499983C2. Автор: Маркус АБЕЛЬ,Александр МЮЛЛЕР,Доменико НАРДАККЬОНЕ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2013-11-27.

Antibody measurement method using antigen-carrying insoluble carrier particles on which antigen is immobilized by different methods, and reagent for antibody measurement

Номер патента: AU2017321642B2. Автор: Yusuke Murakami,Yusuke Ueno,Tatsunori Kikuchi. Владелец: Eiken Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Shock measurement apparatus and shock measurement method

Номер патента: US20020043114A1. Автор: Takane Fujino,Keishi Takahashi,Kazutaka Okasaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Glucose dehydrogenase having modified electron transfer properties, and glucose measurement method

Номер патента: US20180340211A1. Автор: Seiichi Hara,Yosuke MASAKARI. Владелец: Kikkoman Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Strain measurement apparatus and method for measuring mechanical strain

Номер патента: WO2023213647A1. Автор: Peter Fratzl,Shahrouz Amini. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E. V.. Дата публикации: 2023-11-09.

Loop impedance measuring apparatus and method for subscriber loop interface circuits

Номер патента: EP1079591A3. Автор: Christopher Ludeman. Владелец: Intersil Corp. Дата публикации: 2003-06-04.

Method and device for measuring sulfur compound and/or ammonia based on a sensory unit coated with at least one novel peptide

Номер патента: US7267989B2. Автор: Yuh-Jiuan Lin,Wen-Hsun Kuo,Pei-Shin Jiang,Pei-Ching Shih. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2007-09-11.

Measuring method and device

Номер патента: EP3780276A1. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Wind field information measurement method and nacelle-based lidar

Номер патента: AU2022263477A1. Автор: Jun Zhou,Hailong Zhu,Zengli XIAO,Anqing TANG. Владелец: Nanjing Movelaser Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Method and apparatus for analyzing gaseous samples

Номер патента: US11774350B2. Автор: Albert MANNINEN,Teemu KÄÄRIÄINEN. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2023-10-03.

Error measurement and compensation methods, and apparatus

Номер патента: EP4383862A1. Автор: REN Da,Zhenyu Zhang,Xiaotao Ren,Bin Ren,Rongyi FANG. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Measurement method and device of light source parameters, illumination system and terminal apparatus

Номер патента: US12058794B2. Автор: Wei Wang,Jun Wu,Yalong Liu,Zhixian ZHOU. Владелец: Suzhou Op Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Fluorescence measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US20120286171A1. Автор: Kazuteru Hoshishima. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-15.

Hardness measurement apparatus and hardness measurement method

Номер патента: US20190162686A1. Автор: Chien-Chang Chen,Yii-Der WU,Szu-Hua YANG. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2019-05-30.

Image-capturing apparatus, distance-measuring apparatus, distance-measuring system, and distance-measuring method

Номер патента: WO2024157141A1. Автор: Yuu YAMADA,Takefumi TAKIZAWA. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2024-08-02.

Diffractive optical element, distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20120050717A1. Автор: Hideaki Inoue. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Distance measurement method and distance measurement system

Номер патента: US11768072B2. Автор: Xin Shi,David Xing. Владелец: Northwest Instrument Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Power coupling coefficient measuring method and power coupling coefficient measuring device

Номер патента: US20230288287A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Tomokazu Oda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

X-ray fluorescence analysis measurement method and x-ray fluorescence analysis measurement device

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Shinji Ishimaru. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product for a stereoscopic display

Номер патента: US20140160469A1. Автор: Yu-Han Chen,Kuen Lee,Kuo-Chung Huang,Ching-Chiu Liao,Wen-Hui Chang,Hoang-Yan Lin,Lang-Chin Lin,Yi-Heng Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-06-12.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Apparatus, method and program for spatial position measurement

Номер патента: US20170363710A1. Автор: Yohei INADA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Hardness measurement method, and fouling prevention method for hardness-measuring device

Номер патента: US10718746B2. Автор: Junichi Takahashi. Владелец: Kurita Water Industries ltd. Дата публикации: 2020-07-21.

Light measuring apparatus, light measuring system, light measurement method, display adjustment system, and adjustment method

Номер патента: US20240242653A1. Автор: Tomohiro Murata,Tomohiro Kiriyama,Tomohiro Fukamizu. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-18.

Plasma measurement method and plasma processing apparatus

Номер патента: US20240274417A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Intelligent real-time full-field measurement method and system for high-repetition-rate femtosecond pulse

Номер патента: US12095501B2. Автор: Zhongmin Yang,Xiaoming Wei,Xiaoxiao WEN,Yueyi Sun. Владелец: South China University of Technology SCUT. Дата публикации: 2024-09-17.

Point cloud intensity-based tunnel brightness measurement method

Номер патента: LU505803B1. Автор: Shiyong He. Владелец: Univ Chongqing Jiaotong. Дата публикации: 2024-06-17.

Infrared thermal imaging temperature measurement method and device, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20240344890A1. Автор: Zhaozao Li. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Kit for quantitatively determining tacrolimus in whole blood by low-resistance latex-enhanced immune competition method, and use thereof

Номер патента: EP4459286A1. Автор: Weijing Lin,Xiaochan SONG,Linjuan QIN. Владелец: SHANGHAI GENEXT MEDICAL TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Immunochromatography reagent comprising a nonionic surfactant, bicine, and casein, and measurement method using the same

Номер патента: US09952207B2. Автор: Satoru Nakajima,Hisahiko Iwamoto,Yuhiro Sakakibara. Владелец: Tanaka Kikinzoku Kogyo KK. Дата публикации: 2018-04-24.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Multi-angle spectral imaging measurement method and apparatus

Номер патента: US09823130B2. Автор: Masayuki Osumi. Владелец: Office Color Science Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Apparatus, method and program for spatial position measurement

Номер патента: US09817104B2. Автор: Yohei INADA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Method and apparatus for measuring aerosol particles suspended in gas

Номер патента: US09791360B2. Автор: Ville NIEMELÄ,Leo Holma,Sami LUNDAHL,Tyler Beck. Владелец: Dekati Oy. Дата публикации: 2017-10-17.

Absolute position measurement method, absolute position measurement apparatus and scale

Номер патента: US09651403B2. Автор: Jae-Wan Kim,Tae-Bong Eom,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-05-16.

Battery power measuring method, measuring device and battery-powered equipment

Номер патента: US09645200B2. Автор: Feng Yu,Xiaodong Huang,Hejinsheng Cao. Владелец: Hangzhou Silergy Semiconductor Technology LTD. Дата публикации: 2017-05-09.

Magnetic field sensing module, measurement method, and manufacturing method of a magnetic field sensing module

Номер патента: US09562953B2. Автор: Fu-Te Yuan,Meng-Huang Lai,Jen-Tzong Jeng. Владелец: Isentek Inc. Дата публикации: 2017-02-07.

Surface temperature measuring apparatus and surface temperature measuring method

Номер патента: US09523611B2. Автор: Chihiro Uematsu,Yutaka Wakasu,Tatsuro Honda. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product

Номер патента: US09448121B2. Автор: Sheng-Tsai Wu,Ming-Ji Dai,Heng-Chieh Chien,Jing-Yi Huang,Huey-Lin Hsieh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-09-20.

Vessel speed measuring method by the doppler log

Номер патента: RU2659710C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Сергей Васильевич Жуменков,Виталий Николаевич Тимофеев,Павел Валерьевич Юхта. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2018-07-03.

Ship speed measurement method with doppler log

Номер патента: RU2702696C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Виталий Николаевич Тимофеев. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2019-10-09.

Measurement apparatus, detection apparatus, and measurement method

Номер патента: US12032049B2. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Concentration measurement apparatus and concentration measurement method

Номер патента: US20230168192A1. Автор: Takenobu Nakamura,Kakeru ICHIMURA. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

Luminescence measurement method and luminescence measurement system

Номер патента: US20100209949A1. Автор: Hirobumi Suzuki,Ryutaro Akiyoshi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

Luminous body measurement apparatus and luminous body measurement method

Номер патента: US20200300693A1. Автор: Hiroyuki Sano,Yoshihiko Nishida. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic diagnostic apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20160124088A1. Автор: Hiroyuki Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-05.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: WO2009136149A1. Автор: Wayne Rudd,Laurie Linnett. Владелец: Laurie Linnett. Дата публикации: 2009-11-12.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US20150221482A1. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Method and apparatus for analyzing biological samples

Номер патента: US12061136B2. Автор: Antti Roine,Markus KARJALAINEN,Niku OKSALA,Anton KONTUNEN,Sampo Saari. Владелец: Olfactomics Oy. Дата публикации: 2024-08-13.

Measurement method and apparatus for electrode sheet

Номер патента: EP4411354A1. Автор: Jingdong Zhang,Qian Wu,Weigang Chen,Liangjie YAN,Qiangjun WANG,Bingyang ZHAN,Zhihui ZHEN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US20150292946A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-15.

Positionining measurement method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: US20240288570A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Water level measuring method and device

Номер патента: US20120174666A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F RUIJTENBERG HOLDING BV. Дата публикации: 2012-07-12.

Method and measuring apparatus for investigating the hydrogen permeability of a test object

Номер патента: US20230175946A1. Автор: Armin Manhard,Malte Stienecker,Udo VON TOUSSAINT. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2023-06-08.

Resolution measurement apparatus and resolution measurement method using the same

Номер патента: US12072259B2. Автор: Jinwook Lee,Sanghui Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Concentration measuring method, and concentration measuring device

Номер патента: US12078590B2. Автор: Nobukazu Ikeda,Yoshihiro Deguchi,Kouji Nishino,Masaaki Nagase. Владелец: University of Tokushima NUC. Дата публикации: 2024-09-03.

Method of manufacturing circuit pattern structure and measurement method

Номер патента: US20240170345A1. Автор: Chih-Cheng LEE,Yu-Kai Lin. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: EP2283381A1. Автор: Wayne Rudd,Laurie Linnett. Владелец: RUDD Wayne. Дата публикации: 2011-02-16.

Radar high-speed single-target measurement method based on double-sideband lfmcw waveform

Номер патента: LU507050B1. Автор: LI YANG,Huan ZHANG,Haiyang DONG,Jihong YAN,Jianshu ZHAI,Shunxiang WANG,Yulin Luo. Владелец: Yangtze Delta Region Institute Quzhou Univ Of Electronic Science And Technology Of China. Дата публикации: 2024-06-26.

Time-of-flight ranging method and related system

Номер патента: EP3958018A1. Автор: Chung-Te Li,Meng-Ta Yang,Hao-Jen Wang. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-23.

Water level measuring method and device

Номер патента: WO2011016715A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F. RUIJTENBERG HOLDING B.V.. Дата публикации: 2011-02-10.

Non-destructive measurement method and apparatus for the turn-to-turn resistivity distribution in non-insulation superconducting coils

Номер патента: US20240302417A1. Автор: Wei Wu,Li Lu,Jianghong WAN. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-09-12.

Method and apparatus for determining the content of a foreign gas in a process liquid

Номер патента: US12123837B2. Автор: Josef Bloder. Владелец: ANTON PAAR GMBH. Дата публикации: 2024-10-22.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20220299641A1. Автор: Naoki Shinoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-22.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4455722A1. Автор: Kenichiro Hosoi,Shogo Miyanabe. Владелец: Pioneer Smart Sensing Innovations Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Capacitance value measurement method and device

Номер патента: US20190064240A1. Автор: Yongqian Li,Xuehuan Feng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Medical image measuring apparatus, method, and medium

Номер патента: US09968278B2. Автор: Yoshinori Itai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Ultraviolet index measuring method and apparatus

Номер патента: US09952093B2. Автор: Dong-Hoon Lee,Seongchong Park,Dong-Joo Shin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-04-24.

Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method

Номер патента: US09869626B2. Автор: Tetsuji Yamaguchi,Tetsuya Mori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic image apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09867594B2. Автор: Masaki Hayashi,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09866980B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Photometric analysis method and photometric analysis device using microchip, microchip for photometric analysis device, and processing device for photometric analysis

Номер патента: US09863878B2. Автор: Yuji Oki,Kinichi Morita. Владелец: Kyushu University NUC. Дата публикации: 2018-01-09.

Method and device for monitoring a cryopreserved biological sample

Номер патента: US09851304B2. Автор: Heiko Zimmermann,Guenter R. Fuhr,Frank Stracke,Daniel Doerr. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2017-12-26.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09797719B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09766132B2. Автор: Yasuhiro Takase,Hidetoshi Nakanishi,Motohiro Kono,Kazuo Kinose. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Measuring apparatus, measurement method, information processing apparatus, and measurement program

Номер патента: US09747681B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09740661B2. Автор: Norihiko Mikoshiba,Munehiro Kitaura. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Neutron measurement apparatus, neutron calculation apparatus, and neutron measurement method

Номер патента: US09702987B2. Автор: Daijiro Ito,Shigehiro Kono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Device for measuring the variation of a capacitance and associated measuring method

Номер патента: US09689907B2. Автор: Xavier Hourne. Владелец: Continental Automotive France SAS. Дата публикации: 2017-06-27.

Ozone water concentration measurement apparatus and ozone water concentration measurement method

Номер патента: US09625405B2. Автор: Shigeo Sekiguchi,Kazutaka Murata,Yasuaki Einaga,Yuya Ishii,Ivandini TRIBIDASARIANGGRANINGRUM. Владелец: Nikka Micron Co Ltd . Дата публикации: 2017-04-18.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09618385B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Method and apparatus for monitoring particle laden pneumatic abrasive flow in an abrasive fluid jet cutting system

Номер патента: US09586306B2. Автор: Axel Henning,Scott Veenhuizen,Shijin Zhang. Владелец: Omax Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US09448113B2. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US09412565B2. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200217641A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Distance measurement methods and apparatus

Номер патента: EP2890998A1. Автор: Yuri Gusev. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2015-07-08.

Device, method and system for generating dynamic projection patterns in a camera

Номер патента: EP4372447A3. Автор: Michael Tewes. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-06-26.

Integrating sphere photometer spectral response measurement method and system

Номер патента: US20230408330A1. Автор: QIAN LI,Yan Huang,Jiangen PAN,Zhijiang MAO. Владелец: Hangzhou Everfine Photo E Info Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Process Quantity Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20080105061A1. Автор: Junichi Okada,Shuichi Umezawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-05-08.

Method and arrangement for recording molecular binding phenomena

Номер патента: CA2917270C. Автор: Yixin Zhang,Robert Wieduwild,Francesco Reddavide,Weilin LIN,Jana Herrmann,Luca MANNOCCI. Владелец: DYNABIND GMBH. Дата публикации: 2022-05-24.

Measuring method and measuring station to determine the volume of liquid product contained in a disposable cartridge for smoking articles

Номер патента: EP3746751A1. Автор: Luca Federici,Gianpietro LAMBORGHINI. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2020-12-09.

Measurement method and non-contact displacement detection apparatus thereof

Номер патента: US20240255639A1. Автор: Shih-Ying Hsu,Min HSU. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Wire voltage measurement method and apparatus based on electric field sensor

Номер патента: US11774484B1. Автор: Xu Yin,Peng Li,Zhiming Wang,Bing Tian,Qiancheng Lv,Renze CHEN,Zejie Tan,Zhenheng Xu,Licheng Li,Shaoxiong Nie. Владелец: Digital Grid Research Inst China South Pwr Grid. Дата публикации: 2023-10-03.

Method and device of measuring wavefront aberration, method of manufacturing optical system, and recording medium

Номер патента: US9170171B2. Автор: Yasuyuki Unno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-27.

Method and arrangement for detecting binding events of molecules

Номер патента: US20160377608A1. Автор: Yixin Zhang,Robert Wieduwild,Francesco Reddavide,Weilin LIN,Jana Herrmann,Luca MANNOCCI. Владелец: TECHNISCHE UNIVERSITAET DRESDEN. Дата публикации: 2016-12-29.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US20170218423A1. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US10619179B2. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-14.

Distance Measurement Methods and Apparatus

Номер патента: US20140063482A1. Автор: Yuri P. Gusev. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2014-03-06.

Measuring method and system for measuring particle size and shape of powdery or grain like particles

Номер патента: US20090091755A1. Автор: Niklas Sandler,Jouko Yliruusi,Osmo Antikainen. Владелец: Intelligent Pharmaceutics Ltd Oy. Дата публикации: 2009-04-09.

Flow rate measurement method and apparatus

Номер патента: US20150112614A1. Автор: Yoshiki Yoshida,Shusuke Hori,Hiroki Kannan,Hideaki Nanri,Masaharu Uchiumi. Владелец: Japan Aerospace Exploration Agency JAXA. Дата публикации: 2015-04-23.

Physical Property Measuring Method for TFT Liquid Crystal Panel and Physical Property Measuring Apparatus for TFT Liquid Crystal Panel

Номер патента: US20120242353A1. Автор: Takashi Kurihara,Kunihiko Sasaki,Masaru Inoue,Yasuhiro Kume. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2012-09-27.

METHOD AND APPARATUS FOR RELATIVE POSITIONING OF OPTICAL MEASURING APPARATUS AND EYEGLASS MOUNT

Номер патента: FR2474177A1. Автор: Jean-Claude Hennequin. Владелец: Essilor International Compagnie Generale dOptique SA. Дата публикации: 1981-07-24.

Method and apparatus for synchronization of test and measurement apparatuses

Номер патента: US9026402B2. Автор: Roger Delbue,Asres Seyoum. Владелец: Teledyne LeCroy Inc. Дата публикации: 2015-05-05.

Physical Property Measuring Method for TFT Liquid Crystal Panel and Physical Property Measuring Apparatus for TFT Liquid Crystal Panel

Physical property measuring method for TFT liquid crystal panel and physical property measuring apparatus for TFT liquid crystal panel

Номер патента: US8212582B2. Автор: Takashi Kurihara,Kunihiko Sasaki,Masaru Inoue,Yasuhiro Kume. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2012-07-03.

Physical Property Measuring Method for TFT Liquid Crystal Panel and Physical Property Measuring Apparatus for TFT Liquid Crystal Panel

Номер патента: US20110121854A1. Автор: Takashi Kurihara,Kunihiko Sasaki,Masaru Inoue,Yasuhiro Kume. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2011-05-26.

Method and system for in-situ optimization for semiconductor wafers in a chemical mechanical polishing process

Номер патента: US6159075A. Автор: Liming Zhang. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 2000-12-12.

Method and system relating to flux distribution and film deposition

Номер патента: WO2001040539A3. Автор: Christopher Walton,Claude Montcalm,James A Folta. Владелец: Univ California. Дата публикации: 2002-02-14.

Film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: WO2022005916A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2022-01-06.

Method and apparatus for scanning exposure having thickness measurements of a film surface

Номер патента: US5744814A. Автор: Takayuki Uchiyama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1998-04-28.

Film forming method,multilayer film reflector manufacturing method, and film forming device

Номер патента: US20030129325A1. Автор: Noriaki Kandaka. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2003-07-10.

Method and program for predicting warpage in optical products

Номер патента: EP3896498A1. Автор: Koichi Tamura,Takuro Yoshida,Muneo Sugiura. Владелец: Tokai Optical Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-20.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Method and coating system for coating substrates for optical components

Номер патента: US20030082298A1. Автор: Christoph Zaczek,Patrick Scheible,Hans-Jochen Paul,Harry Bauer,Matthias Heller,Jens Ullmann. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2003-05-01.

Semiconductor substrate manufacturing method and composition

Номер патента: US20240105451A1. Автор: Eiji Yoneda,Takayoshi Abe,Hiroyuki Miyauchi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Method and coating system for coating substrates for optical components

Номер патента: US6863398B2. Автор: Christoph Zaczek,Patrick Scheible,Hans-Jochen Paul,Harry Bauer,Matthias Heller,Jens Ullmann. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2005-03-08.

Plasma processing method and plasma processing apparatus

Номер патента: US12051595B2. Автор: Masahiro Tabata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

System using film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US20240062364A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US11836913B2. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

System using film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US11847776B2. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-19.

Coating film forming method and coating film forming apparatus

Номер патента: US12036573B2. Автор: Shougo Inaba. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Lookup table creation method, display panel manufacturing method, and display device

Номер патента: US11435725B2. Автор: Huai Liang He. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-06.

Polishing method and polishing apparatus

Номер патента: US20210170544A1. Автор: Keita Yagi,Yoichi Shiokawa,Toshimitsu Sasaki,Yuki Watanabe,Nachiketa Chauhan. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-06-10.

Polishing method and polishing apparatus

Номер патента: US11759913B2. Автор: Keita Yagi,Yoichi Shiokawa,Toshimitsu Sasaki,Yuki Watanabe,Nachiketa Chauhan. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Magnetic thin film head, the fabrication method, and magnetic disk

Номер патента: US20010036043A1. Автор: Akira Kondo,Noriyuki Saiki,Harunobu Saito,Shuichi Kojima,Gen Oikawa,Hiromi Shiina,Masayasu Kagawa,Kenji Ishikake. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-11-01.

Exposure method, mask data producing method, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US8142960B2. Автор: Satoshi Nagai,Kazuya Fukuhara. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-03-27.

Magnetic thin film head, the fabrication method, and magnetic disk

Номер патента: US20050168876A1. Автор: Akira Kondo,Noriyuki Saiki,Harunobu Saito,Shuichi Kojima,Gen Oikawa,Hiromi Shiina,Masayasu Kagawa,Kenji Ishikake. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-08-04.

Method for determining film thickness by white light interferometry

Номер патента: RU2634328C1. Автор: Виктор Владимирович Сысоев,Илья Викторович КИСЕЛЕВ,Егор Ильич Киселев,Екатерина Владимировна Ушакова,Илья Викторович Беляев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А." (СГТУ имени Гагарина Ю.А.). Дата публикации: 2017-10-25.

Resist film forming method and resist coating apparatus

Номер патента: US6410194B1. Автор: Kosuke Yoshihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2002-06-25.

Substrate processing apparatus, substrate processing method, and storage medium thereof

Номер патента: US20240087926A1. Автор: Youngtai KANG. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Overlay measurement method, semiconductor device manufacturing method using the same, and overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230074537A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Semiconductor film thickness prediction using machine-learning

Номер патента: US20240185058A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Nojan Motamedi,Kiran L. Shrestha. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

Semiconductor film thickness prediction using machine-learning

Номер патента: WO2024123635A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Nojan Motamedi,Kiran L. Shrestha. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-06-13.

Liquid Crystal Display panel Manufacturing Method and Liquid Crystal Display Panel

Номер патента: US20080074573A1. Автор: Yoshikazu Yoshimoto. Владелец: Future Vision Inc. Дата публикации: 2008-03-27.

Method for estimating remaining film thickness distribution, method for designing patterning mask using the method for estimating remaining film thickness distribution, and method for manufacturing semiconductor devices by using patterning mask designed by using the method for estimating remaining film thickness distribution

Номер патента: US20040019871A1. Автор: Takeshi Morita. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-29.

Method for estimating remaining film thickness distribution, method for designing patterning mask using the method for estimating remaining film thickness distribution, and method for manufacturing semiconductor devices by using patterning mask designed by using the method for estimating remaining film thickness distribution

Номер патента: US6905966B2. Автор: Takeshi Morita. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-14.

Carrier, developer, image forming method, and process cartridge

Номер патента: US20230205108A1. Автор: Tomomi Suzuki,Minoru Masuda,Kento Takeuchi,Masashi Nagayama,Hiroyuki Kishida,Tohru Suganuma,Kaede Masuko. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Imprint method and apparatus

Номер патента: EP3000120A1. Автор: Hitoshi Sato,Takashi Yoshida,Toshiki Ito,Akiko Iimura,Keiji Yamashita,Youji Kawasaki,Takehiko Ueno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-03-30.

Trusted measurement method and apparatus, computer device, and readable medium

Номер патента: EP4418115A1. Автор: Liang Wang,Jianjun Liu,Min Zhang,Jia Zhou,Hu TAN,Zhihong XUE,Qu CAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Object motion measurement apparatus, object motion measurement method, and imaging apparatus

Номер патента: US20240303829A1. Автор: Kazuya Okamoto,Kazuhiko Fukutani,Ryuichi Nanaumi. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Thin film transistor fabrication method, active matrix substrate fabrication method, and liquid crystal display device

Номер патента: US6150283A. Автор: Hideto Ishiguro. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2000-11-21.

Polishing apparatus, information processing system, polishing method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US11897078B2. Автор: Akira Nakamura,Hisanori Matsuo,Yuta Suzuki,Tsuneo Torikoshi,Takahito Kagoshima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Exposure system, exposure method and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US7629092B2. Автор: Keiji Yamada. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2009-12-08.

Optical disk with a uniform film thickness by having different angles of inclination for the side surfaces of grooves

Номер патента: US6108297A. Автор: Masahiro Furuta,Teruyuki Ohta. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2000-08-22.

Non-linear optical silica thin film manufacturing method and non-linear optical silica element

Номер патента: CA2279806A1. Автор: Hiroshi Hasegawa,Osamu Komeda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2000-02-07.

Thickness compensation by modulation of number of deposition cycles as a function of chamber accumulation for wafer to wafer film thickness matching

Номер патента: US20190085448A1. Автор: Richard Phillips,Chloe Baldasseroni,Nishanth Manjunath. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2019-03-21.

Optical Device Manufacturing Method and Manufacturing Apparatus Using Local Etching

Номер патента: US20230341768A1. Автор: Tomoyuki Yamada,Yoshinori Hibino,Masahiro Yanagisawa,Manabu Oguma,Mikihiro KUROSAWA. Владелец: NTT Electronics Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method and program

Номер патента: US09576370B2. Автор: Keiichiro Ishihara,Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method, and program

Номер патента: US09508153B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Pattern data generation method, pattern verification method, and optical image calculation method

Номер патента: US9576100B2. Автор: Seiro Miyoshi,Tetsuaki Matsunawa,Toshiya Kotani,Chikaaki Kodama,Taiki KIMURA,Hiromitsu Mashita,Fumiharu Nakajima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Learning device, information processing apparatus, substrate processing device, substrate processing system, learning method, recipe determination method and non-transitory computer-readable medium storing learning program

Номер патента: US20230090836A1. Автор: Yuta Sasaki,Yosuke Hanawa,Shogo Kunieda. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

Polishing method and polishing apparatus

Номер патента: US20230381919A1. Автор: Keita Yagi,Yoichi Shiokawa,Toshimitsu Sasaki,Yuki Watanabe,Nachiketa Chauhan. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Lookup table creation method, display panel manufacturing method, and display device

Номер патента: US20210373534A1. Автор: Huai Liang He. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-02.

Measurement apparatus, system, measurement method, determination method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20170169581A1. Автор: Akihiro Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-15.

Position measuring method, misplacement map generating method, and inspection system

Номер патента: US09645488B2. Автор: Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, resist film, pattern forming method, and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US11835849B2. Автор: Tsutomu Yoshimura,Yoichi Nishida,Yasunori Yonekuta,Kohei Higashi,Naoya HATAKEYAMA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Method and device for control of the thickness of extruded film

Номер патента: AU2003290010A1. Автор: Lothar KÖNIG,Bartholomeus Trommelen. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 2004-07-29.

Plasma processing method and plasma processing apparatus

Номер патента: US5849455A. Автор: Shigenori Ueda,Junichiro Hashizume,Shinji Tsuchida. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1998-12-15.

Biological information measurement apparatus, biological information measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US09978144B2. Автор: Munenori Fukunishi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Pattern measuring apparatus, pattern measuring method, and computer-readable recording medium on which a pattern measuring program is recorded

Номер патента: US09521372B2. Автор: Yuji Takagi,Koichi Hamada,Hideyuki Kazumi,Yoshinori Momonoi,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Methods and apparatus for precise measurement of time delay between two signals

Номер патента: WO2004027448A3. Автор: Ernst Scherer. Владелец: Axcelis Tech Inc. Дата публикации: 2004-09-30.

Methods and apparatus for precise measurement of time delay between two signals

Номер патента: EP1547122A2. Автор: Ernst Scherer. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2005-06-29.

Methods and apparatus for precise measurement of time delay between two signals

Номер патента: WO2004027448A2. Автор: Ernst Scherer. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2004-04-01.

Exercise information measurement apparatus, exercise management method, and exercise management program

Номер патента: US20180021658A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-01-25.

Method and apparatus for media thickness measurement in an image production device

Номер патента: US20100111548A1. Автор: Ruddy Castillo,Paul J. Degruchy,Peter J. Knausdorf,Steven Robert Moore. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2010-05-06.

Image measurement apparatus, image measurement method and image measurement system

Номер патента: US09418414B2. Автор: Hideto Motomura,Yoshikuni Sato. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Optical information recording medium and method of manufacturing thereof, manufacturing apparatus, recording/reproducing method, and recording/reproducing apparatus

Номер патента: EP1505589A3. Автор: Kenichi Nishiuchi,Kenichi Nagata,Noboru Yamada,Hideo Kusada,Hideki Kitaura,Rie Kojima. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-10-03.

Solid-state imaging device, production method, and electronic apparatus

Номер патента: US20170090075A1. Автор: Hikaru IWATA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-03-30.

Solid-state imaging device, production method, and electronic apparatus

Номер патента: US20200025980A1. Автор: Hikaru IWATA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-01-23.

Solid-state imaging device, production method, and electronic apparatus

Номер патента: US10451775B2. Автор: Hikaru IWATA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2019-10-22.

Solid-state imaging device, production method, and electronic apparatus

Номер патента: US10871598B2. Автор: Hikaru IWATA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-12-22.

Solid-state imaging device, production method, and electronic apparatus

Номер патента: US20210072430A1. Автор: Hikaru IWATA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2021-03-11.

Manufacturing method and optical deflector

Номер патента: EP3985426A1. Автор: Hirofumi Chiba. Владелец: Stanley Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-20.

Laser repair method and laser repair device

Номер патента: US20220184729A1. Автор: Michinobu Mizumura. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-16.

Manufacturing method and optical deflector

Номер патента: US20220308336A1. Автор: Hirofumi Chiba. Владелец: Stanley Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Access performance adjusting method and storage apparatus

Номер патента: US20050190484A1. Автор: Michio Yamamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2005-09-01.

Access performance adjusting method and storage apparatus

Номер патента: US20060238913A1. Автор: Michio Yamamoto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-26.

Access performance adjusting method and storage apparatus

Номер патента: US7280309B2. Автор: Michio Yamamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-10-09.

Access performance adjusting method and storage apparatus

Номер патента: EP1569205A3. Автор: Michio c/o Fujitsu Limited Yamamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-12-20.

Fault-tolerant monitoring apparatus, method and system

Номер патента: US20150032877A1. Автор: Michael Li. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-01-29.

Method and system for providing feedback automatically on physiological measurements to a user

Номер патента: EP3102296A1. Автор: Joni Kettunen,Satu TUOMINEN,Kaisa HÄMÄLÄINEN,Ilkka YLIKULJU. Владелец: Firstbeat Technologies Oy. Дата публикации: 2016-12-14.

Operation information measurement apparatus, function control method, and program

Номер патента: US20170128829A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-05-11.

Measurement method and system of undeformed chip thickness in micro-milling

Номер патента: US20240029229A1. Автор: Kedong Zhang,Tongshun Liu,Chengdong Wang,Xuhong Guo. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-01-25.

Measurement method and system of undeformed chip thickness in micro-milling

Номер патента: US11869180B1. Автор: Kedong Zhang,Tongshun Liu,Chengdong Wang,Xuhong Guo. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-01-09.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Power measurement apparatus and power measurement method

Номер патента: US09753829B2. Автор: Haruhiko Ueno,Mari Masuda,Atsushi Takami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09665018B2. Автор: Masatoshi Endo,Takanori Morooka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09606461B2. Автор: Tadaki MIYAZAKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Printing method and apparatus for reflecting layer of backlight plate

Номер патента: EP4307038A1. Автор: XIANG Ji,Enyi XU,Libo RU,Lvxun LU,Hangchao CAO. Владелец: Enovate3d Hangzhou Technology Development Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Painting robot operation program generation system, operation program generation method, and teaching point generation apparatus

Номер патента: EP4273649A1. Автор: Naoto Watanabe,Michisuke Sakamoto,Yusuke EBINA,Hiroki MAGATA,Mitsutoshi SAKAKIBARA. Владелец: Suzuki Motor Corp. Дата публикации: 2023-11-08.

Composition and film

Номер патента: US10723909B2. Автор: Takeshi Osaki,Risa WADA. Владелец: Toyo Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-28.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US6826002B2. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-11-30.

Stroke information measuring apparatus and stroke information measuring method

Номер патента: EP1398060B1. Автор: Takahiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. MURAKOSHI,Yuuichi c/o Hamamatsu Photonics K.K. KIMURA,Takehiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. KURONO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-08-03.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US20020135913A1. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-09-26.

Activity information measuring apparatus, and method and program for assisting prevention of forgotten attachment of the same

Номер патента: US09972192B2. Автор: Naoki Takeishi. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-05-15.

Resist coating method and resist coating apparatus

Номер патента: US20110146572A1. Автор: Kousuke Yoshihara,Tomohiro Iseki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-06-23.

Precision three-dimensional pavement faulting measurement method and apparatus

Номер патента: AU2022418482A1. Автор: Hong Lin,HUI Li,Yi Lu,Min Cao,Xinlin Wang,Xuan QU,Xiuwen HU. Владелец: Wuhan Optics Valley Zoyon Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Precision three-dimensional pavement faulting measurement method and apparatus

Номер патента: CA3238222A1. Автор: Hong Lin,HUI Li,Yi Lu,Min Cao,Xinlin Wang,Xuan QU,Xiuwen HU. Владелец: Wuhan Optics Valley Zoyon Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Measurement method, measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20170278233A1. Автор: Takuro Tsujikawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Visible cephalometric measurement method, system and computer processing device

Номер патента: US20190073771A1. Автор: Jing Lei,Minfeng CHEN. Владелец: Fussen Technology Co ltd. Дата публикации: 2019-03-07.

Methods and apparatus to associate audience members with over-the-top device media impressions

Номер патента: US20240276044A1. Автор: Steven J. Splaine,Kevin K. Gaynor,Narasimha Reddy Goli,Gangadhar Jakkula,Kumar RAO,Chris NICOTRA,Harith Gandhi. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2024-08-15.

Experiment support apparatus, experiment support system, experiment support method, and computer-readable medium

Номер патента: US20240111945A1. Автор: Takayuki Komiya,Takahiro Furukawa,Hirofumi Hori,Yosuke Tani,Tsukasa NITTONO. Владелец: Evident Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Measurement method and device of near-eye display

Номер патента: US20240310626A1. Автор: QIAN LI,Li Song,Jiangen PAN. Владелец: Hangzhou Everfine Photo E Info Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Measurement method and apparatus for semiconductor features with increased throughput

Номер патента: EP4453654A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Oliver Malki,Alex Buxbaum,Johannes Persch,Alexander Freytag,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-10-30.

Non-contact laser-induced protrusion measurement apparatus and method

Номер патента: US09940959B1. Автор: Michael Thomas Johnson,Steven Douglas Granz. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2018-04-10.

Electrophysiology measurement and training and remote databased and data analysis measurement method and system

Номер патента: US09629568B2. Автор: David W Hagedorn,James W. G. Thompson. Владелец: Evoke Neuroscience Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Overlay correction method and semiconductor device manufacturing method comprising the overlay correction method

Номер патента: US20240310720A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-19.

Measurement system, measurement apparatus, measurement data processing method, and measurement data processing program

Номер патента: US20240355479A1. Автор: Takeshi Tanaka,Daisuke Fukui,Hiromitsu Nakagawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Non-contact laser-induced protrusion measurement apparatus and method

Номер патента: US09685182B1. Автор: Michael Thomas Johnson,Steven Douglas Granz. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2017-06-20.

Overlay measurement method and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20240219845A1. Автор: Jeongjin Lee,Jinsun KIM,Seunghak Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and system for determining confidence level of a person using electroencephalogram

Номер патента: US20200163568A1. Автор: Aniruddha Sinha,Debatri CHATTERJEE,Rahul Dasharath GAVAS,Sanjoy Kumar Saha,Anirban Chowdhury. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

Blood pressure measuring method and system

Номер патента: US20170039702A1. Автор: XIN Wang,Xiaoli Jin,Xuelin Han. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-09.

Measurement method and system based on image electroencephalogram sensitivity data for built environment dominant color

Номер патента: US20240335156A1. Автор: Zheng Zhou,Ying Gao,Xiao Han,Zhe Li,Jie Li,Liya Wang,Futian YUAN,Tongyi ZHU,Ruoxuan HUANG,Yinyin CAO,Hengyi ZHAO. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-10-10.

Method and system for measuring lesion features of hypertensive retinopathy

Номер патента: EP4420598A1. Автор: Bin Xia,Juan Wang,Xiaoming Duan,Jianghuai Xiang,Suping Chen. Владелец: Shenzhen Sibionics Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Method and system for measuring non-verbal behavior of teacher

Номер патента: ZA202311033B. Автор: Wei Zhang,Shengming Wang,Zhicheng DAI,Zengzhao CHEN,Xiuling HE,Baolin YI. Владелец: Univ Central China Normal. Дата публикации: 2024-07-31.

Blood pressure measuring method and system

Номер патента: US09922420B2. Автор: XIN Wang,Xiaoli Jin,Xuelin Han. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Method and device for repairing an aircraft and/or gas turbine component

Номер патента: US09902024B2. Автор: Michael Ernst,Thiemo Ullrich. Владелец: Lufthansa Technik AG. Дата публикации: 2018-02-27.

Measuring method and system for body-shaped data

Номер патента: US20240202931A1. Автор: Ming-Yen Chen,Yu-Chi LU,Cheng-Hsuan Cheng,Po Hsuan HSIAO,Chang Hong LIN,Hsin-Yeh Yang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Method and System of Recording Data from Borescopic Inspection

Номер патента: US20190172277A1. Автор: LIN Cheng. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-06-06.

Physiological signal measurement system, physiological signal measurement method, and mobile device protective case

Номер патента: US20240115151A1. Автор: Chun Liu,Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-11.

Production support system, production support method, and production support program

Номер патента: US9760085B2. Автор: Yuuji Fujita,Akira Soga,Muneyoshi Yamada,Atsushi Itoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Production support system, production support method, and production support program

Номер патента: US20150081241A1. Автор: Yuuji Fujita,Akira Soga,Muneyoshi Yamada,Atsushi Itoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-03-19.

Production support system, production support method, and production support program

Номер патента: US09760085B2. Автор: Yuuji Fujita,Akira Soga,Muneyoshi Yamada,Atsushi Itoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Measuring method and system for structured light 3d scanning

Номер патента: LU503375B1. Автор: QIN Qin,Long CAO,Wenchen Li,Zimei Tu. Владелец: Univ Shanghai Polytech. Дата публикации: 2023-07-19.

Grayscale measurement method and apparatus

Номер патента: GB2614973A. Автор: ZHANG Yue,Yang Cheng,CONG Hongchun. Владелец: Xian Novastar Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Light-measuring method and structure for cameras

Номер патента: US3810202A. Автор: N Uno,T Sakazaki. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1974-05-07.

Measurement Method And System

Номер патента: US20230161155A1. Автор: Eric Teller. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-05-25.

Method and apparatus for film thickness adjustment

Номер патента: US20090236312A1. Автор: Sergey Mishin. Владелец: Advanced Modular System Inc. Дата публикации: 2009-09-24.

Semiconductor device fabrication method and semiconductor device fabrication system

Номер патента: US20050014377A1. Автор: Hiroyuki Kamada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-01-20.

Apparatus and method for improving film thickness uniformity

Номер патента: US20210043483A1. Автор: Xiaoxu KANG,Xiaolan ZHONG. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-11.

Apparatus and method for improving film thickness uniformity

Номер патента: US11769679B2. Автор: Xiaoxu KANG,Xiaolan ZHONG. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Measurement apparatus, measurement method, and electronic device provided with measurement apparatus

Номер патента: US20170127954A1. Автор: Tomoyuki Tougasaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-05-11.

BIO-INFORMATION MEASURING APPARATUS, BIO-INFORMATION MEASURING METHOD, AND CASE APPARATUS FOR THE BIO-INFORMATION MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20190125198A1. Автор: KANG Jae Min,KWON Yong Joo,PARK Sang Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2019-05-02.

Measuring apparatus of full-charge capacity of battery, measuring method thereof, control apparatus of vehicle loaded with the measuring apparatus, and control method thereof

Номер патента: JP2003244805A. Автор: 誠本野,Makoto Motono. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2003-08-29.

Measurement method, user equipment, network side device, and measurement apparatus

Номер патента: US20180184317A1. Автор: QIANG LI,Juan Zheng,Lei GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

METHOD AND DEVICE FOR MONITORING AN AIR MASS MEASURING APPARATUS

Номер патента: FR2842568A1. Автор: Michael Baeuerle,Guido Porten,Carsten Reisinger. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2004-01-23.

Axis determination apparatus, film-thickness measurement apparatus, deposition apparatus, axis determination method, and film-thickness measurement method

Номер патента: US20020071129A1. Автор: Kai Chen,Shizuo Nakamura,Fumihiko Omura,Akihito Minamitsu. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2002-06-13.

Film thickness regulator and manufacturing method thereof, film thickness regulating method and evaporation apparatus

Номер патента: US09930787B2. Автор: Zhongyuan Sun,Xiaohu Li. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Method and device for determining local mechanical stress in film on substrate

Номер патента: RU2679760C1. Автор: Николай Алексеевич Дюжев,Евгений Эдуардович Гусев. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники". Дата публикации: 2019-02-12.

Light intensity adjustment method for optical film thickness measuring device and polishing apparatus

Номер патента: US20240207997A1. Автор: Masaki Kinoshita. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Thin film formation method and manufacturing method for semiconductor device

Номер патента: US20090253264A1. Автор: Junichi Horie. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2009-10-08.

Film thickness signal processing apparatus, polishing apparatus, film thickness signal processing method, and polishing method

Номер патента: US09555517B2. Автор: Akira Nakamura,Hidetaka Nakao,Taro Takahashi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Polishing apparatus, polishing method and method for outputting visualization information of film thickness distribution on substrate

Номер патента: US12083646B2. Автор: Taro Takahashi,Toshiki Miyakawa,Hiroaki Shibue. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Polishing method and polishing apparatus

Номер патента: US20240278380A1. Автор: Masahiro Hatakeyama,Shinro Ota. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Film forming position misalignment correction method and film forming system

Номер патента: US20240011148A1. Автор: Atsushi Gomi,Atsushi Takeuchi,Kanto Nakamura,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Method of manufacturing semiconductor apparatus including measuring a film thickness of an SOG film

Номер патента: US11037840B2. Автор: Yuji Kawasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-06-15.

Polishing method and polishing apparatus

Номер патента: US20190118333A1. Автор: Keita Yagi,Toshimitsu Sasaki,Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Film forming method and film forming apparatus

Номер патента: US20200058504A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Rui KANEMURA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

Method and apparatus for forming amorphous silicon film

Номер патента: US20140342534A1. Автор: Kazumasa Igarashi,Satoshi Takagi,Akinobu Kakimoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-11-20.

Substrate processing apparatus, substrate processing method and recording medium

Номер патента: US20190139791A1. Автор: Hiromi Kiyose. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Method and apparatus for forming a thin film on an outer surface of a display screen of a cathode ray tube

Номер патента: US4908232A. Автор: Takeo Itou,Hidemi Matsuda,Norihisa Takiura,Sakae Kamitani. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1990-03-13.

Coating method and coating apparatus

Номер патента: US09553007B2. Автор: Yukihiko Inagaki,Tomohiro Goto. Владелец: Screen Semiconductor Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Film forming apparatus and film forming method

Номер патента: US20240117486A1. Автор: Yasunobu Suzuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device manufacturing apparatus

Номер патента: US20100003831A1. Автор: Satoshi Yasuda,Shin-Ichi Imai. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-01-07.

Device for controlling film formation, film forming device, and film forming method

Номер патента: EP4431632A1. Автор: Takeshi Yamaguchi,Mitsuhiro Miyauchi,Takayuki Matsudaira,Yoshiyuki OHTAKI. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Method of controlling the film thickness of flat films produced in flat film extruder installations

Номер патента: US4426239A. Автор: Hartmut Upmeier. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 1984-01-17.

Method and apparatus for producing an electrode for nonaqueous electrolyte secondary batteries

Номер патента: US12046740B2. Автор: Tomofumi HIRUKAWA. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Selective epitaxial growth method and film forming apparatus

Номер патента: US09797067B2. Автор: Daisuke Suzuki,Satoshi Onodera,Akinobu Kakimoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Imide molybdenum oxide cluster-based organic-inorganic hybrid material and preparation method and use thereof

Номер патента: GB2625168A. Автор: Li Weiwei,FANG Jie,Xie Qian,ZHANG YUEFENG,Zhao Chaowei,You Shengyong,Xia Dongdong. Владелец: Institute of Applied Chemistry Jiangxi Academy of Sciences. Дата публикации: 2024-06-12.

Ink Jet Recording Method And Method Of Packaging Packaged Object

Номер патента: US20230080685A1. Автор: Chigusa Sato,Emi TAKEUCHI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Electronic component mounting machine including a film thickness gauge

Номер патента: US09961818B2. Автор: Yoshinori Nagata. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Ink jet recording method and method of packaging packaged object

Номер патента: US12059888B2. Автор: Chigusa Sato,Emi TAKEUCHI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Polishing method and polishing apparatus

Номер патента: US09524913B2. Автор: Tsuneo Torikoshi,Hirofumi OTAKI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Method and corresponding reactor for preparing metal nitrides with adjustable metal contents

Номер патента: US20190330737A1. Автор: Wei Zhang,Yongping Wang,Shijin Ding,Anan Zuo. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-10-31.

Composition for treatment of metal surface, method of surface treatment of metals using it, and film obtained by surface treatment of metals using it

Номер патента: RU2496925C2. Автор: Ресуке КАВАГОСИ,Косеи ЯБЕ. Владелец: Нихон Паркерайзинг Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-10-27.

Polishing method, and polishing apparatus

Номер патента: US20240181594A1. Автор: Keita Yagi,Yoichi Shiokawa,Toshimitsu Sasaki,Yuki Watanabe,Nachiketa Chauhan,Masashi KABASAWA. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US20020024095A1. Автор: Katsuomi Shiozawa,Yasuyoshi Itoh,Syuichi Ueno. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-02-28.

Bonding method and bonding device for metal member

Номер патента: US20170291259A1. Автор: Yoshinori Imoto,Takaya NAGAHAMA,Koichi SHIIBA. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2017-10-12.

Method of cleaning an optical film-thickness measuring system

Номер патента: US11919048B2. Автор: Nobuyuki Takahashi,Toru Maruyama,Taichi Yokoyama,Zhongxin WEN. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Substrate processing control system, substrate processing control method, and program

Номер патента: US12036634B2. Автор: Hozumi Yasuda,Koichi Takeda,Kunio Oishi,Katsuhide Watanabe,Yu Ishii,Tsuneo Torikoshi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Substrate processing control system, substrate processing control method, and program

Номер патента: US20240316720A1. Автор: Hozumi Yasuda,Koichi Takeda,Kunio Oishi,Katsuhide Watanabe,Yu Ishii,Tsuneo Torikoshi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Plasma control method and plasma control apparatus

Номер патента: US20060110933A1. Автор: Makoto Shimosawa. Владелец: Fuji Electric Holdings Ltd. Дата публикации: 2006-05-25.

Apparatus for supporting substrate, apparatus for measuring surface potential, apparatus for measuring film thickness, and apparatus for inspecting substrate

Номер патента: US7869062B2. Автор: Takamasa Sakai,Yoshiyuki Nakazawa. Владелец: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-11.

Apparatus for supporting substrate, apparatus for measuring surface potential, apparatus for measuring film thickness, and apparatus for inspecting substrate

Номер патента: US20080174637A1. Автор: Takamasa Sakai,Yoshiyuki Nakazawa. Владелец: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2008-07-24.

Method of depositing a film, recording medium, and film deposition apparatus

Номер патента: US09777369B2. Автор: Hitoshi Kato,Masahiro Murata,Shigehiro Miura,Kentaro Oshimo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Plating method and plating apparatus

Номер патента: EP1191128A3. Автор: Koji Mishima,Tetsuo Matsuda,Hiroaki Inoue,Kenji Nakamura,Natsuki Makino,Junji Kunisawa,Hisashi Haneko,Toshiyuki C-516 Toshiba-Hiyoshiryou MORITA. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2004-08-25.

Plating method and plating apparatus

Номер патента: US20020056647A1. Автор: Koji Mishima,Tetsuo Matsuda,Hisashi Kaneko,Hiroaki Inoue,Kenji Nakamura,Toshiyuki Morita,Natsuki Makino,Junji Kunisawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-16.

Film forming method and film forming apparatus

Номер патента: US20240052483A1. Автор: Junya Suzuki,Yoshihiro Kato,Kazuki Goto,Yuji Otsuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Substrate treatment method and substrate treatment device

Номер патента: US20240178012A1. Автор: Yukifumi Yoshida,Katsuya Akiyama. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Etching method and etching apparatus

Номер патента: US20210159084A1. Автор: Yoshihide Kihara,Sho Kumakura,Maju TOMURA,Hironari SASAGAWA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-05-27.

Etching method and etching apparatus

Номер патента: US11380555B2. Автор: Yoshihide Kihara,Sho Kumakura,Maju TOMURA,Hironari SASAGAWA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-07-05.

Silicon film forming method and substrate processing apparatus

Номер патента: US20210090887A1. Автор: Mitsuhiro Okada,Keisuke Fujita,Tatsuya Miyahara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-03-25.

Charged particle beam drawing method and charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US20180033592A1. Автор: Tomoo Motosugi,Rumi ITO. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-02-01.

Polishing method and polishing apparatus

Номер патента: US12076830B2. Автор: Masashi KABASAWA. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Variable cycle and time RF activation method for film thickness matching in a multi-station deposition system

Номер патента: US12077859B2. Автор: Adrien Lavoie,Jun Qian,Ishtak Karim,Purushottam Kumar,Kiyong Cho,Jaswinder Guliani. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Polishing method and polishing apparatus

Номер патента: US20170190020A1. Автор: Yoichi Kobayashi,Keita Yagi,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-07-06.

Gold plating method and plating film

Номер патента: US20200340120A1. Автор: Yohei Kaneko,Tsuyoshi Maeda,Katsuhisa Tanabe,Naoshi Nishimura. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-29.

Method for producing gallium oxide semiconductor film and film formation device

Номер патента: EP4180557A1. Автор: Takenori Watabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-17.

Multimodal polyethylene composition and film including it

Номер патента: RU2759997C2. Автор: Варахад КЛОМКАМОЛ,Ватчари ЧИВАСРИРУНГРЫАНГ,Саранья ТРАЙСИЛАНУН,Арунсри МАТТАЯН. Владелец: ЭсСиДжи КЕМИКАЛЗ КО., ЛТД.. Дата публикации: 2021-11-22.

Tissue composition measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427656A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

An electron beam evaporator with prolonged inter-maintenance periods and greater film thickness monitoring stability

Номер патента: GB201117595D0. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2011-11-23.

Metal oxide film formation method and apparatus

Номер патента: US20100323512A1. Автор: Hitoshi Itoh,Hiroshi Sato,Hidenori Miyoshi,Kenji Matsumoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-12-23.

Polyethylene composition and film having high stiffness, outstanding sealability and high permeability

Номер патента: WO2020012300A3. Автор: Peter Zoricak,XiaoChuan Wang,Qinyan Wang,Norman AUBEE,Brian Molloy,Lawrence VanAsseldonk. Владелец: NOVA CHEMICALS (INTERNATIONAL) S.A.. Дата публикации: 2020-04-30.

Coating operation management device, coating operation management method, and program

Номер патента: GB2620833A. Автор: Baba Shuichi,YAMAOKA Yasuhiro,Katsumura Nobuhito,Uhara Osamu,Yasumori Daisuke. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-01-24.

System and method for controlling film thickness, and film deposition system and method using same

Номер патента: EP4222291A1. Автор: Andrew Campbell,Paul Clarke,Mike Miller,Erik Smith,Timothy Brenner,Jonathan Boulanger,David PITTS,Craig Reynolds. Владелец: Angstrom Engineering Inc. Дата публикации: 2023-08-09.

Parameter setting method and substrate processing apparatus

Номер патента: US20240011161A1. Автор: Hiroyuki Karasawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

System and method for controlling film thickness, and film deposition system and method using same

Номер патента: CA3188407A1. Автор: Andrew Campbell,Paul Clarke,Mike Miller,Erik Smith,Timothy Brenner,Jonathan Boulanger,David PITTS,Craig Reynolds. Владелец: Angstrom Engineering Inc. Дата публикации: 2022-04-07.

Polishing method and polishing apparatus for workpiece

Номер патента: US20230311267A1. Автор: Toshifumi Kimba. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Novel liquid matrix impregnation method and apparatus for composite prepreg production

Номер патента: EP4323433A1. Автор: Kuang-Ting Hsiao,Sebastian KIRMSE. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH ALABAMA. Дата публикации: 2024-02-21.

Novel Liquid Matrix Impregnation Method and Apparatus for Composite Prepreg Production

Номер патента: US20240149541A1. Автор: Kuang-Ting Hsiao,Sebastian KIRMSE. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH ALABAMA. Дата публикации: 2024-05-09.

Test pattern group and a method of measuring an insulation film thickness utilizing the same

Номер патента: US5801538A. Автор: Oh Jung Kwon. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1998-09-01.

Heat treatment apparatus, control method, and storage medium

Номер патента: US20230175137A1. Автор: Takuya Higuchi,Hideomi Hane,Morihito Inagaki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Film thickness uniformity improvement using edge ring and bias electrode geometry

Номер патента: US20220028656A1. Автор: WEI Liu,JACOB Abraham,Kin Pong Lo,Theresa Kramer Guarini,Malcolm J. Bevan,Vladimir Nagorny,Bernard L. Hwang,Swayambhu Prasad BEHERA. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-01-27.

Film thickness uniformity improvement using edge ring and bias electrode geometry

Номер патента: EP4189723A1. Автор: WEI Liu,JACOB Abraham,Kin Pong Lo,Theresa Kramer Guarini,Malcolm J. Bevan,Vladimir Nagorny,Bernard L. Hwang,Swayambhu Prasad BEHERA. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-06-07.

Mechanical debonding method and system

Номер патента: US9368376B2. Автор: FENG Jiang,Daquan Yu. Владелец: National Center for Advanced Packaging Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-14.

Measurement apparatus, measurement method, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160379902A1. Автор: Nobuhiro Komine,Yoshinori Hagio. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Method and apparatus for measuring biosignal

Номер патента: US09877685B2. Автор: Ui Kun Kwon,Jong Wook Lee,Sang Joon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-30.

Ink supply method and ink supply device

Номер патента: US09662874B2. Автор: Masahiro Hirano,Yoshihito Nakamura. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2017-05-30.

Film formation apparatus and film formation method

Номер патента: EP3396016A1. Автор: Ryoji Matsuda,Hidetaka Jidai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-10-31.

Upper limb multi-joint impedance measurement method and apparatus using the same

Номер патента: US12127841B2. Автор: Sang Hoon KANG,Hyunah Kang,Sung Shin Kim. Владелец: UNIST Academy Industry Research Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Semiconductor device having electrode film in which film thickness of periphery is thinner than film thickness of center

Номер патента: US20090057836A1. Автор: Tadahiro Okazaki. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2009-03-05.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Method and corresponding reactor for preparing metal nitrides with adjustable metal contents

Номер патента: US10612140B2. Автор: Wei Zhang,Yongping Wang,Shijin Ding,Anan Zuo. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-04-07.

Biological information measurement method and apparatus with variable loop filter

Номер патента: US09717462B2. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Method and apparatus for packaging articles

Номер патента: GB950101A. Автор: . Владелец: MARVIN ELLSWORTH WALLIS. Дата публикации: 1964-02-19.

Process for electrophoretic film deposition achieving increased film thickness

Номер патента: CA1212352A. Автор: Rene J. Al,John W. Krise, Jr.. Владелец: Dresser Industries Inc. Дата публикации: 1986-10-07.

Method and apparatus for adjusting the thickness of a plastic film produced by cast extrusion process

Номер патента: EP4399082A1. Автор: Paolo Rizzotti,Gabriele Caccia,Enrico NAPPA,Fabiano Sarnari. Владелец: Syncro Srl. Дата публикации: 2024-07-17.

Electrode manufacturing method and apparatus

Номер патента: US20180277854A1. Автор: Junichi Nakano,Yuji Narita. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-27.

Biological information measurement method and apparatus with variable cutoff frequency low pass filter

Номер патента: US09717463B2. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Wafer boat and film formation method

Номер патента: US6156121A. Автор: Kazuhide Hasebe,Kenji Tago,Atsumi Ito. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2000-12-05.

Chemical mechanical polishing method and chemical mechanical polishing device

Номер патента: EP2079106A3. Автор: Masanori Miyata,Kenji Nishihara,Tetsuya Okada,Akinori Suzuki,Tadao Uehara,Koichi Sogawa,Tohru Haruki,Taro Usami,Shisyo Chin,Hiroaki Teratani,Yuuichi Kohno. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-07.

Method and apparatus for deposition of insoluble monolayers and complex langmuir films on continuous substrate webs

Номер патента: WO1993022069A1. Автор: Alan D. Pendley. Владелец: Pendley Alan D. Дата публикации: 1993-11-11.

Method and apparatus for measuring blood pressure using radar

Номер патента: US20230389809A1. Автор: Byung Jang Jeong,Hyung Ju Kim,Sung Jin Yoo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-12-07.

Method and apparatus for endpoint detection for chemical mechanical polishing

Номер патента: US6106662A. Автор: John A. Adams,Christopher E. Barns,Thomas Frederick Allen Bibby, Jr.,Robert A. Eaton,Charles Hannes. Владелец: Speedfam IPEC Corp. Дата публикации: 2000-08-22.

Etching method and plasma processing apparatus

Номер патента: US11842900B2. Автор: Ryuichi Asako. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-12-12.

Film forming method for forming metal film and film forming apparatus for forming metal film

Номер патента: US11718923B2. Автор: Yuki Sato. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Blood glucose measurement apparatus and blood glucose measurement method thereof

Номер патента: EP3294132A1. Автор: Kwang-Bok Kim,Sun-Tae Jung,Hyoung-Seon Choi,Chul-Ho Cho,Seong-Je Cho,Seung-Min Lee,Jae-Geol Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-21.

Living body optical measurement apparatus, living body optical measurement method, and engagement member for mobile position sensor

Номер патента: US09883825B2. Автор: Takashi Ishizuka,Hirokazu Asaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-02-06.

Method and apparatus for controlling a stretch-reducing mill in order to compensate for the wall thickness

Номер патента: RU2758745C1. Автор: Александр ГОР,Петер ТИФЕН. Владелец: Смс Груп Гмбх. Дата публикации: 2021-11-01.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US20020045333A1. Автор: Kiyoshi Mori. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-04-18.

Film forming method for forming metal film and film forming apparatus for forming metal film

Номер патента: US20220380923A1. Автор: Yuki Sato. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Communication-quality measuring apparatus, communications terminal device, communication-quality measuring method, and computer program

Номер патента: US20090185504A1. Автор: Masanobu Morinaga,Noriyuki Fukuyama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-07-23.

Method and apparatus for hermetic coating of optical fibers

Номер патента: US4863576A. Автор: George J. Collins,John R. McNeil. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-09-05.

Methods and Materials for Splicing Tubular Food Casings

Номер патента: CA2106537A1. Автор: Ronald S. Kearby,Mark Lee Fox,Mark David Kelley. Владелец: Teepak Inc. Дата публикации: 1994-07-26.

Heartbeat measuring apparatus, heartbeat measuring method, and recording medium

Номер патента: US09693738B2. Автор: Takeshi Fukuda,Toru Sato,Takuya Sakamoto,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Devices for measuring and controlling fluid film thickness of a hydrostatic or hydrodynamic bearing

Номер патента: EP2113055A1. Автор: Johan Larsson,Anna Lind. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2009-11-04.

Film forming apparatus and film forming method

Номер патента: US20100236918A1. Автор: Hiroki Yamamoto,Shinya Nakamura,Tadashi Morita,Naoki Morimoto,Kenichi Imakita,Ayao Nabeya. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2010-09-23.

Gain profile measuring method and system and gain profile controlling method and system

Номер патента: US7009693B2. Автор: Koji Goto,Toshio Kawazawa,Kiyoaki Takashina. Владелец: KDDI Submarine Cable Systems Inc. Дата публикации: 2006-03-07.

Irrigation water amount measurement apparatus, irrigation water amount measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11937558B2. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Breast thickness measurement device and breast thickness measurement method

Номер патента: US09675277B2. Автор: Tomoki Inoue,Takahisa Arai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Method and structure for reducing short circuits between overlapping conductors

Номер патента: US5751019A. Автор: James A. Fair. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1998-05-12.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

Optical rotation measurement method and optical rotation measurement apparatus

Номер патента: US09713441B2. Автор: Akira Ikeda,Kazuhiro Nishida. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4190233A1. Автор: Takayuki Sugahara,Shohei Odan. Владелец: JVCKenwood Corp. Дата публикации: 2023-06-07.

Biological data measurement device, biological data measurement method, and program

Номер патента: EP3949852A1. Автор: Masayoshi Takahashi. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Method and apparatus for measuring a wellbore

Номер патента: US20240151135A1. Автор: David A. Switzer,Christopher S. Thompson,Rodney M. Wingerter,Jawad A. Alsadah. Владелец: Geonomic Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-09.

Time-division multiplexing-based multi-channel electrocardiogram measurement apparatus robust against power line interference and electrocardiogram measurement method using the same

Номер патента: US20240120938A1. Автор: Jae Yoon Sim,Kyu Jin Choi. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2024-04-11.

Measuring apparatus and method and apparatus for determining a leakage of an injection valve

Номер патента: WO2012069317A1. Автор: Cristiano Mannucci. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2012-05-31.

Method and device for determining properties of crushed material

Номер патента: RU2592557C2. Автор: Бенгт Олоф ЧЕЛЬ,Кристиан ОТТЕРГРЕН. Владелец: САНДВИК ИНТЕЛЛЕКЧУАЛ ПРОПЕРТИ АБ. Дата публикации: 2016-07-27.

Uv stable polyetherester copolymer composition and film therefrom

Номер патента: CA2333462A1. Автор: Pieter Gijsman,Krijn Dijkstra. Владелец: Krijn Dijkstra. Дата публикации: 1999-12-09.

Dot position measurement method, dot position measurement apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20100079518A1. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2010-04-01.

Semiconductor device fabrication method and semiconductor device fabrication system

Номер патента: US20080081384A1. Автор: Masanori Terahara,Junji Oh. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-04-03.

Measurement method and device, information interchange method and device, and residence method and device

Номер патента: US09967765B2. Автор: BO Lin,Hao Bi,Jie Shi,Yajuan LI,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Planetary roller speed changer and assembly method and mounting method for the same

Номер патента: US09797476B2. Автор: Hajime Watanabe. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Method and device for positioning coal charger servicing units on charging holes of coke furnace

Номер патента: RU2484120C2. Автор: Ральф КНОХ,Франц-Йозеф ШЮКЕР. Владелец: Тиссенкрупп Уде Гмбх. Дата публикации: 2013-06-10.

Thickness measuring method and device

Номер патента: EP4344614A1. Автор: Jae Seung Oh,Seon Hwan Choi. Владелец: Huvitz Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Laser processing method and laser processing apparatus using ultra-short pulse laser

Номер патента: EP1531962A1. Автор: Xinbing Liu,Chen-Hsiung Cheng,Yosuke Toyofuku,Yosuke Mizuyama. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2005-05-25.

A frame loss measurement apparatus and method for multicast service traffic

Номер патента: WO2008050929A1. Автор: Jeong-Dong Ryoo,Yoo-Kyoung Lee,Kyung-Mook Lim,Tae-Sik Cheung. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2008-05-02.

Method and device for continuous monitoring of process channel pipe bend

Номер патента: RU2545521C2. Автор: Владимир Аминович Подгорнов,Семён Владимирович Подгорнов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный Ядерный Центр-Всероссийский Научно-Исследовательский Институт Технической Физики имени академика Е.И. Забабахина" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИТФ им. академ. Е.И. Забабахина"). Дата публикации: 2015-04-10.

Coating method and coating device

Номер патента: AU2016291905B2. Автор: Takuya Mori,Keisuke NYUU,Tomoyuki Miyazaki,Kouhei Endo,Taketoshi Manou. Владелец: Toyo Seikan Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-20.

Ink jet recording method and recorded matter

Номер патента: US20140127482A1. Автор: Naoki Koike,Takayoshi Kagata,Atsushi Denda,Maki Nariai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-05-08.

Measurement method and apparatus, measurement configuration method and apparatus, terminal, and network side device

Номер патента: EP4404621A1. Автор: Xiaodong Yang,Yangyang Wang,Wei Bao,Xuanbing Liu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200127776A1. Автор: Hidetoshi Suzuki,Lilei Wang,Shotaro MAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2020-04-23.

Feather Down Washing and Feeding Method and Feeding and Washing Machine Thereof

Номер патента: NL2029453B1. Автор: HU Juan,LI Lingang,Yu Xueyong,Xie Chenggen,ZHU Yelong. Владелец: The Sea Feather Ltd Company Of Luan. Дата публикации: 2023-05-16.

Method and apparatus for extraction of baseband waveform from amplitude modulated signal via time domain sampling

Номер патента: US09537690B1. Автор: Daniel P. Timm,Steven J. PELELO. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Coating structure, impeller, compressor, metal part manufacturing method, impeller manufacturing method, and compressor manufacturing method

Номер патента: US20180171483A1. Автор: Takashi Arai,Byeongil An,Takashi NAMBU. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-06-21.