Systems and methods for detecting faults in analog input/output circuitry
Номер патента: EP4075437A1
Опубликовано: 19-10-2022
Автор(ы): KUMAR ABHISHEK, Srikanth Jagannathan, Xiankun Jin
Принадлежит: NXP USA Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 19-10-2022
Автор(ы): KUMAR ABHISHEK, Srikanth Jagannathan, Xiankun Jin
Принадлежит: NXP USA Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Systems and methods for detecting faults in an analog input/output circuitry
Номер патента: US20220334176A1. Автор: KUMAR ABHISHEK,Xiankun Jin,Srikanth Jagannathan. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2022-10-20.