Method and apparatus for interconnect diagnosis
Номер патента: US20070115004A1
Опубликовано: 24-05-2007
Автор(ы): Howard Davidson, Russell Mirov
Принадлежит: Sun Microsystems Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 24-05-2007
Автор(ы): Howard Davidson, Russell Mirov
Принадлежит: Sun Microsystems Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Defect detection method and defect detection apparatus for semiconductor integrated circuit
Номер патента: JP4170611B2. Автор: 宏 松下,幸広 牛久,邦寛 光武. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-10-22.