Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Leak measurement system, semiconductor manufacturing system, and leak measurement method

Leak measurement system, semiconductor manufacturing system, and leak measurement method

Номер патента: US12014942B2
Опубликовано: 18-06-2024
Автор(ы): Yuta KUNITAKE
Принадлежит: Tokyo Electron Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Leak measurement system, semiconductor manufacturing system, and leak measurement method

Номер патента: US20210104422A1. Автор: Yuta KUNITAKE. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-04-08.

Wafer measurement apparatus, wafer measurement system, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20190229023A1. Автор: Je-Hyun Lee,Sung-Bo Shim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-07-25.

Wafer measurement apparatus, wafer measurement system, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US10790200B2. Автор: Je-Hyun Lee,Sung-Bo Shim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-09-29.

Detecting defects of semiconductor manufacturing assemblies

Номер патента: WO2024107370A1. Автор: Chih-Yang Chang,Yao-Hung Yang,Shannon WANG. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-05-23.

Measuring systems, processing systems, and related apparatus and methods, including band gap materials

Номер патента: WO2024226128A1. Автор: TAO Sheng,Ala Moradian,Ashur J. Atanos,Zuoming Zhu,Zhepeng Cong,Khokan C. PAUL. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-10-31.

Measuring systems, processing systems, and related apparatus and methods, including band gap materials

Номер патента: US20240363448A1. Автор: TAO Sheng,Ala Moradian,Ashur J. Atanos,Zuoming Zhu,Zhepeng Cong,Khokan C. PAUL. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Diagnostic device, semiconductor manufacturing equipment system, semiconductor equipment manufacturing system, and diagnostic method

Номер патента: US20240321608A1. Автор: Masahiro Sumiya,Ryoji ASAKURA,Pushe ZHAO. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

System and method for managing semiconductor manufacturing defects

Номер патента: US09880892B2. Автор: Baozhen Li,Jeanne P. S. Bickford,Nazmul Habib,Pascal A. Nsame. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

A non-invasive system and method for diagnosing potential malfunctions of semiconductor equipment components

Номер патента: EP1192421A4. Автор: Roger L Bottemfield. Владелец: SIGNALYSIS LLC. Дата публикации: 2006-04-19.

A non-invasive system and method for diagnosing potential malfunctions of semiconductor equipment components

Номер патента: EP1192421A1. Автор: Roger L. Bottemfield. Владелец: SIGNALYSIS LLC. Дата публикации: 2002-04-03.

A non-invasive system and method for diagnosing potential malfunctions of semiconductor equipment components

Номер патента: WO2000047953A1. Автор: Roger L. Bottemfield. Владелец: Signalysis, L.L.C.. Дата публикации: 2000-08-17.

Optical path improvement, focus length change compensation, and stray light reduction for temperature measurement system of rtp tool

Номер патента: US20040037347A1. Автор: David Tao,Robert Meadows,Douglas Brown,Mathias Koch. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2004-02-26.

Optical path improvement, focus length change compensation, and stray light reduction for temperature measurement system of rtp tool

Номер патента: EP1532666A2. Автор: David Tao,Douglas Brown,Mathias Koch,Robert David Meadows. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2005-05-25.

Optical path improvement, focus length change compensation, and stray light reduction for temperature measurement system of rtp tool

Номер патента: WO2004019386A2. Автор: David Tao,Douglas Brown,Mathias Koch,Robert David Meadows. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2004-03-04.

Measuring system and method of measuring static charges

Номер патента: US20240304480A1. Автор: Chi Wen Kuo,Chwen Yu,Tzu-Sou Chuang,En Tian LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Temperature measurement and temperature calibration methods and temperature measurement system

Номер патента: US12007289B2. Автор: ShihChieh LIN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20210262987A1. Автор: Tong Wu,Satoshi Nomura,Takayuki Hatanaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-08-26.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US11906466B2. Автор: Tong Wu,Satoshi Nomura,Takayuki Hatanaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US09915519B2. Автор: Qiang Wu,Yuntao Jiang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Measurement system and method of measuring a device under test

Номер патента: US20220155369A1. Автор: Sascha Kunisch,Philipp Weigell. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-05-19.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240280383A1. Автор: Hikaru Fujiwara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Measurement method, manufacturing method of device, and measurement system

Номер патента: US09972547B2. Автор: Koutarou Sho. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Multi-head optical inspection systems and techniques for semiconductor manufacturing

Номер патента: US20240248046A1. Автор: Chi-Ming Tsai,Ron Naftali,Tal Kuzniz,Keith Wells,Elad EIZNER. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

Measuring system, measuring device, and measuring method

Номер патента: US20230375371A1. Автор: Takayuki Hatanaka,Norihiko Amikura,Kimihiro Yokoyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Spectrometer optical system, semiconductor inspection apparatus including the same and method of manufacturing semiconductor device using the apparatus

Номер патента: US20200149961A1. Автор: YASUHIRO Hidaka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-05-14.

MACHINE LEARNING-BASED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING YIELD PREDICTION SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20190286983A1. Автор: PARK Jun Taek,SON Myung Seung,JUNG Hang Duk,MOON Yong Sik,LEE Min Hwan. Владелец: SK Holdings Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-09-19.

Information processing apparatus, information processing system, and part ordering method

Номер патента: US20220207492A1. Автор: Masakazu Yamamoto,Tadashi Enomoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Force measurement system and force measurement method

Номер патента: US12066345B2. Автор: Wei Pei,Zhengxian Zhang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Yield rate prediction method, yield rate prediction system and model training device of semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20220076146A1. Автор: Shih-Fang Hong. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Particle-measuring system and particle-measuring method

Номер патента: US7511814B2. Автор: Hayashi Otsuki,Tsukasa Matsuda,Kyoko Ikeda. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-03-31.

Semiconductor device manufacturing system, semiconductor device inspection device, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US12051629B2. Автор: Younghwan Kim,Youngsu Ryu,Seunghwa Hyun,Hwayoung Park,Yusang Cheon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-30.

Sensor system for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US09892947B2. Автор: Ronald Vern Schauer,Raphael Dascoli,Shivan Bhargava. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2018-02-13.

Quartz member for semiconductor manufacturing equipment and method for metal analysis in quartz member

Номер патента: EP1261761A1. Автор: Yoshinori Tokyo Electron Limited MARUMO,Kaname Tokyo Electron Limited SUZUKI,Teruyuki Tokyo Electron Limited HAYASHI,Takashi Tokyo Electron Tohoku Limited TANAHASHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2002-12-04.

Method to detect wafer arcing in semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20130245969A1. Автор: Michael Johnson,Tony Davis,Kommisetti SUBRAHMANYAM,Scott Singlevich. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2013-09-19.

Method to detect wafer arcing in semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US09508612B2. Автор: Michael Johnson,Tony Davis,Kommisetti SUBRAHMANYAM,Scott Singlevich. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Measuring method, stage apparatus, and exposure apparatus

Номер патента: US09804506B2. Автор: Dai Arai. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Measuring method, stage apparatus, and exposure apparatus

Номер патента: US09372410B2. Автор: Dai Arai. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-06-21.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US11125587B2. Автор: Markus GALLHAUSER,Nino VOSS,Werner Perndl,Christian Benisch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-09-21.

Failure detection system and failure detection method

Номер патента: US20210124341A1. Автор: Masashi Takahashi,Tomohiro Saito,Yuka NAKASATO,Miki OUCHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-04-29.

Temperature control system, semiconductor manufacturing device, and temperature control method

Номер патента: US09984908B2. Автор: Atsushi Kobayashi,Keiichi Nishikawa,Takahiro Minatani,Yasuhisa Hirose,Hideki Wakai,Kazutoshi Itoh,Atsuhiko Tabuchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

System and method for controlling semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20210343561A1. Автор: Feng-Ju Tsai,Shyue-Ru Doong. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Airflow control system and airflow control method

Номер патента: US20240222148A1. Автор: MOON Hyung Bae,Cheol Park,Tae Young Kim,Sang Yong Eom,Ickkyun KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and priority system for inventory management in semiconductor manufacturing

Номер патента: US09618929B2. Автор: Philip Yu,Robert Hood,Philip HUNTER,Masreth SIDDIQUI,Maria GONCHOROFF,Andy BROGAN. Владелец: WaferTech LLC. Дата публикации: 2017-04-11.

Temperature control system and temperature control method for semiconductor manufacturing device

Номер патента: US20240192712A1. Автор: Minsu Lee,Jonghwa Kim,Hyeonjun Yun,Sangsu Yeh,Jooyeop Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Optical apparatus and distance measuring system

Номер патента: US20200300610A1. Автор: Takehiro Nishimori. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

System and method for producing and controlling production of viscous material such as battery paste for industrial application

Номер патента: CA3239574A1. Автор: Jan MARTI,Valentin DOLDER. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2023-06-29.

Measurement system and method for determining a status of a power system in a vehicle using the measurement system

Номер патента: US12055594B2. Автор: Mats Nyström. Владелец: Volvo Truck Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Substrate Processing System and Operation Inspecting Method

Номер патента: US20100223277A1. Автор: Mitsuhiro Matsuda,Yoshitaka Koyama,Hideto Yamaguchi,Yasuhiro Joho. Владелец: HITACHI KOKUSAI ELECTRIC INC. Дата публикации: 2010-09-02.

Radome measuring system and method

Номер патента: EP4398420A2. Автор: Florian Pfeiffer. Владелец: Perisens Gmbh. Дата публикации: 2024-07-10.

Stage system and stage driving method for use in exposure apparatus

Номер патента: EP1965411A3. Автор: Nobushige Korenaga,Ryuichi Ebinuma. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-08-08.

Systems and methods to capture and utilize temperature information in a battery system

Номер патента: US09417270B2. Автор: Ramesh Rebba,Sudhakar INGUVA,John T. GUERIN,Rashed S. Rabaa,Sanjay K. Mahajan. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2016-08-16.

Electric power generation system and gas measuring system

Номер патента: EP2571086A3. Автор: Yasuharu Ooishi. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2013-04-10.

Electric power generation system and gas measuring system

Номер патента: US20130065146A1. Автор: Yasuharu Ooishi. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2013-03-14.

Radome measuring system and method

Номер патента: EP4398420A3. Автор: Florian Pfeiffer. Владелец: Perisens Gmbh. Дата публикации: 2024-09-25.

Water-containing simulated lunar soil preparation and water content measurement system and method

Номер патента: US20240242952A1. Автор: Fei Su,Jiannan LI,Ziheng LIU,Huaiyu He. Владелец: Institute of Geology and Geophysics of CAS. Дата публикации: 2024-07-18.

Water-containing simulated lunar soil preparation and water content measurement system and method

Номер патента: US12080538B2. Автор: Fei Su,Jiannan LI,Ziheng LIU,Huaiyu He. Владелец: Institute of Geology and Geophysics of CAS. Дата публикации: 2024-09-03.

System and method for measuring patterns

Номер патента: US20190148108A1. Автор: Wei Sun,Yasunari Sohda,Taku Ninomiya,Yasunori Goto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-05-16.

Adhesion strength measurement system for wet electrode specimen and adhesion strength measurement method for wet electrode specimen using the same

Номер патента: US20240219291A1. Автор: Sung Soo Yoon,Je Gwon Lee,Young Seok Kim,Woo Ha Kim,Joo Yong Park,Ji Hee YOON,Hye Jin Sim,Hyeon Jeong Kang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Measuring method and device

Номер патента: EP3780276A1. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Radome measuring system and method

Номер патента: US12050240B2. Автор: Florian Pfeiffer. Владелец: Perisens Gmbh. Дата публикации: 2024-07-30.

Measurement system and method for testing a device under test

Номер патента: US11762018B2. Автор: Corbett Rowell,Vincent Abadie. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-09-19.

Over-the-air measurement system and method of testing a device under test over-the-air

Номер патента: US20220236310A1. Автор: Corbett Rowell. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-07-28.

Depth Measurement Device, Depth Measurement System, and Depth Index Calculation Method

Номер патента: US20240240937A1. Автор: Ayumi Doi,Makoto Suzuki,Aoi YAMAUCHI,Shuuichirou TAKAHASHI,Masaki SUGIE. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Semiconductor manufacturing apparatus and processing method of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20230170235A1. Автор: Hiromichi Fujii,Takashi KUNIEDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Semiconductor workpiece temperature measurement system

Номер патента: US09933314B2. Автор: Jason M. Schaller,Ala Moradian,Morgan D. Evans,Klaus Petry. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

System and method for equipment monitoring using a group candidate baseline and probabilistic model

Номер патента: US09915932B2. Автор: Roger Steele Cornell,Paul Alexander Llanos. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Gas saver for semiconductor manufacturing

Номер патента: WO2008020715A1. Автор: Jong-Ha Park. Владелец: Jong-Ha Park. Дата публикации: 2008-02-21.

Method of Dispositioning and Control of a Semiconductor Manufacturing Process

Номер патента: US20240258066A1. Автор: Michael E. Adel,Chris Mack. Владелец: Fractilia LLC. Дата публикации: 2024-08-01.

Temperature measuring method, substrate processing system and component to be provided in substrate processing apparatus of the substrate processing system

Номер патента: US09952032B2. Автор: Chishio Koshimizu,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

High dynamic range measurement system for process monitoring

Номер патента: US09801265B2. Автор: Mike Whelan,John D. Corless,Larry Arlos Bullock,Mark Anthony Meloni. Владелец: Verity Instruments Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Method of determining a correction for at least one control parameter in a semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20240310738A1. Автор: Roy Werkman,Sarathi ROY. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-09-19.

Measurement system, rotary machine and measurement method for the same

Номер патента: US20200313286A1. Автор: Naoki Oyama,Kenji Iizuka,Jun Yasui. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Temperature controller for semiconductor manufacturing equipment, method for calculating PID constants in semiconductor manufacturing, and method for operating temperature controller for semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US09484231B2. Автор: Kazuhiro Mimura. Владелец: Kelk Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Semiconductor manufacturing facility management system and its statistical process control method

Номер патента: KR100928205B1. Автор: 이호영,김형선,이현철,최상욱,동승훈. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2009-11-25.

Optic measuring system, and measuring method of critical size of nanostructures on flat surface

Номер патента: RU2481555C1. Автор: Михаил Николаевич Рычагов,Максим Владимирович Рябко,Сергей Николаевич Коптяев. Владелец: Корпорация "САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС Ко., Лтд.". Дата публикации: 2013-05-10.

Process gas flow control method in semiconductor manufacturing, flow control system, and semiconductor manufacturing apparatus provided with flow control system

Номер патента: JP4564223B2. Автор: オリバー、ルイス. Владелец: パーカー・ハニフィン・コーポレーション. Дата публикации: 2010-10-20.

System for holding an object in a semiconductor manufacturing process, lithographic apparatus provided with said system and method

Номер патента: EP4220302A1. Автор: Marcus Adrianus Van De Kerkhof,Sjoerd Nicolaas Lambertus Donders,Paul VAN DONGEN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-08-02.

Apparatus diagnostic system, apparatus diagnostic apparatus, semiconductor device manufacturing system, and apparatus diagnostic method

Номер патента: US20240310827A1. Автор: Akira Kagoshima,Satoru Matsukura,Yuji Nagatani,Masahiro Sumiya,Nanako TAMARI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Power supply system for semiconductor manufacturing system group

Номер патента: US20240222969A1. Автор: Naoki Matsumoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Wafer edge protective-film-forming composition for semiconductor manufacturing

Номер патента: EP4398035A1. Автор: Rikimaru Sakamoto,Satoshi Takeda,Takahiro Kishioka,Hayato Hattori,Shunsuke MORIYA. Владелец: Nissan Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Semiconductor manufacturing process prediction method and semiconductor manufacturing process prediction device

Номер патента: US20230238262A1. Автор: Ming-Wei Chen,Chia-Wei Chen,Ching-Pei Lin,Chung-Yi Chiu,Hsiao-Ying Yang,Te-Hsuan Chen,Wen-Shan Huang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20110042588A1. Автор: Sung Jin Lee,Satoshi Takahashi,George Barbastathis,Jose Antonio Dominguez-Caballero. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-02-24.

Machine learning model for semiconductor manufacturing processes

Номер патента: US20240332092A1. Автор: Zhiqiang Huang,Roger Alan Lindley,Li Ming Tan,Olivia Fatma KOENTJORO,Joanna Kejun LOH. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Machine learning model for semiconductor manufacturing processes

Номер патента: WO2024205774A1. Автор: Zhiqiang Huang,Roger Alan Lindley,Li Ming Tan,Olivia Fatma KOENTJORO,Joanna Kejun LOH. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-10-03.

Optical fiber temperature distribution measurement system and optical fiber temperature distribution measurement method

Номер патента: US20170248495A1. Автор: Hideo Shida. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-08-31.

Position measurement system, apparatus for providing position information, apparatus for managing position information and position measurement method

Номер патента: RU2543952C1. Автор: Такаси СУЗУКИ,Томохару АОКИ,Михо КИККАВА. Владелец: Нтт Докомо, Инк.. Дата публикации: 2015-03-10.

Fibre-optic measurement system, method of adaptation of the communication optical fibre into a measurement system, and fibre-optic measurement and communication system

Номер патента: US12068779B2. Автор: Marek Napierala,Lukasz Szostkiewicz,Tomasz Nasilowski,Jakub KACZOROWSKI,Krzystof Markiewicz,Alejandro Dominguez-Lopez. Владелец: Inphotech Sp zoo. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement system and method to measure changes of material properties

Номер патента: RU2488088C2. Автор: Каришма ДЖАЙН,Кристофер Р. ЛОУИ,Квентин ТЕННОК,Эдриан СТЕВЕНСОН. Владелец: Парамата Лимитед. Дата публикации: 2013-07-20.

Systems and methods for adaptive troubleshooting of semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20240353812A1. Автор: Prashanth Kumar,Milind Jayram Gadre. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Semiconductor manufacturing method and associated semiconductor manufacturing system

Номер патента: US09704820B1. Автор: Ping-Yin Liu,Xin-Hua Huang,Chia-Shiung Tsai,Yung-Lung Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Semiconductor manufacturing-and-inspection system, and semiconductor device

Номер патента: US20020067182A1. Автор: Osamu Hashimoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-06-06.

In-oil gas concentration measuring system and in-oil gas concentration measuring method using same system

Номер патента: US9003865B2. Автор: Kiyoshi Takamoto,Yoshiyuki Oura. Владелец: Kanden Engineering Corp. Дата публикации: 2015-04-14.

Resolution measurement method, resolution measurement system, and program

Номер патента: US20240121380A1. Автор: Kouichi Toda. Владелец: Leader Electronics Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Periodic pressure field measurement system and method based on superposed lifetime of pressure sensitive paint

Номер патента: US20240121534A1. Автор: Lei Wang,Ning Ge,Bo Ouyang,Limin Gao,Xiangfu Lei. Владелец: Northwestern Polytechnical University. Дата публикации: 2024-04-11.

Optical fiber connection measurement system and method

Номер патента: CA3174650A1. Автор: Enrico François Hubert BERBERS. Владелец: Berbers Optical Network Service BV. Дата публикации: 2021-10-21.

Optical fiber connection measurement system and method

Номер патента: EP4136780A1. Автор: Enrico François Hubert BERBERS. Владелец: Berbers Optical Netwerk Service BV. Дата публикации: 2023-02-22.

Optical fiber connection measurement system and method

Номер патента: NL2025348B1. Автор: François Hubert Berbers Enrico. Владелец: Berbers Optical Netwerk Service B V. Дата публикации: 2021-10-26.

Optical fiber connection measurement system and method

Номер патента: WO2021209569A1. Автор: Enrico François Hubert BERBERS. Владелец: Berbers Optical Netwerk Service B.V.. Дата публикации: 2021-10-21.

Protecting a measurement system from unauthorized changes

Номер патента: US20230177222A1. Автор: Roland Friedrich,Bernd Beterke,Piotr SKWIERAWSKI,Petra FUNKE. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

System and method of dithering a sensor assembly

Номер патента: WO2018093720A1. Автор: David J. Falabella. Владелец: LOCKHEED MARTIN CORPORATION. Дата публикации: 2018-05-24.

Measurement system and method for measuring a quantity

Номер патента: US09788086B2. Автор: Andreas Clemens Van Der Ham,Gerard McGoogan,Frank Bartl,Joseph ERSKINE. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2017-10-10.

Measurement system and method of use

Номер патента: US20220373367A9. Автор: Neil J Goldfine,Todd M Dunford,Mark Windoloski,Stuart D Chaplan,Yanko K Sheiretov,Scott A Denenberg,Kevin P Dixon,Saber Bahranifard. Владелец: Jentek Sensors Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

Measurement system and method of use

Номер патента: US20210080297A1. Автор: Neil J Goldfine,Todd M Dunford,Mark Windoloski,Stuart D Chaplan,Yanko K Sheiretov,Scott A Denenberg,Kevin P Dixon,Saber Bahranifard. Владелец: Jentek Sensors Inc. Дата публикации: 2021-03-18.

Measurement system and method of use

Номер патента: US11841245B2. Автор: Neil J Goldfine,Todd M Dunford,Mark Windoloski,Stuart D Chaplan,Yanko K Sheiretov,Scott A Denenberg,Kevin P Dixon,Saber Bahranifard. Владелец: Jentek Sensors Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Cable measurement system and cutter apparatus

Номер патента: US11981041B2. Автор: Joseph David Barnes. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-05-14.

Measurement system and method of use

Номер патента: US20240255323A1. Автор: Neil J Goldfine,Todd M Dunford,Mark Windoloski,Stuart D Chaplan,Yanko K Sheiretov,Scott A Denenberg,Kevin P Dixon,Saber Bahranifard. Владелец: Jentek Sensors Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Cable Measurement System and Cutter Apparatus

Номер патента: US20220143855A1. Автор: Joseph David Barnes. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-05-12.

Converter device and measurement system

Номер патента: EP4236213A1. Автор: Janne HOKKANEN. Владелец: Iotflow Oy. Дата публикации: 2023-08-30.

Angle measurement system based on magnetic method and measurement method therefor

Номер патента: US12085420B2. Автор: Kyoung Soo Kwon,Chae Dong GO,Je Kook Kim,Suk Jung LEE. Владелец: SNA CO Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Semiconductor manufacturing apparatus and method for controlling operation of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240203768A1. Автор: Kazuma Ideguchi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20240230548A9. Автор: Fumito Hiramura,Alexander Turner. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Power loss measuring system for measuring power loss at harmonic filter included in high voltage direct current (hvdc) transmission system, and power loss measuring method thereof

Номер патента: US20170030978A1. Автор: Yong Kil CHOI. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

Shape measuring system and shape measuring method

Номер патента: AU2021201894A1. Автор: Taiki Sugawara,Hiroyoshi Yamaguchi,Shun Kawamoto. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2021-04-22.

Optical waveform measurement system and optical waveform measurement method

Номер патента: US7877017B2. Автор: Shigeki Watanabe,Fumio Futami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-01-25.

Temperature measurement system and temperature measurement method

Номер патента: US8342746B2. Автор: Atsushi Furuya,Yuji Ohba,Junichi Ishimine. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-01-01.

Measuring system and measuring method for a road construction machine

Номер патента: US09891036B2. Автор: Achim Eul. Владелец: JOSEPH VOEGELE AG. Дата публикации: 2018-02-13.

Partial discharge measurement system and partial discharge measurement method

Номер патента: AU2022222030A1. Автор: Akira Fujimoto,Satoshi HIROSHIMA,Takashi Harakawa,Makoto Takanezawa. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Partial discharge measurement system and partial discharge measurement method

Номер патента: AU2022222030B2. Автор: Akira Fujimoto,Satoshi HIROSHIMA,Takashi Harakawa,Makoto Takanezawa. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Method for communication of energy consumption-specific measurement data elements between a smart meter device and a computer system of a utility company and/or operator of a measuring system

Номер патента: US09491172B2. Автор: Manfred Paeschke,Frank Dietrich. Владелец: BUNDESDRUCKEREI GMBH. Дата публикации: 2016-11-08.

Stereoscopic measuring system and method

Номер патента: RU2471147C2. Автор: Уоррен РЕДДЕН,Джордж Б. СТИВЕНС,Грейди А. КЛИНДЕНИНГ,Уиндфлауэр УОТЕРС,Стивен ВЕЙНТРАУБ,Карл РЕДДЕН,Роберт В. СРЭК,Дженет М. СРЭК. Владелец: МАТРИКС ЭЛЕКТРОНИК МЕЖЕРИНГ ПРОПЕРТИЗ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2012-12-27.

Integrated measurement systems and methods for synchronous, accurate materials property measurement

Номер патента: US11762050B2. Автор: Houston Fortney,Noah Faust. Владелец: Lake Shore Cryotronics Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

System and method for improving chemical efficiency of a battery in a flow measurement system

Номер патента: EP2932575A1. Автор: Reza Kassayan. Владелец: Badger Meter Inc. Дата публикации: 2015-10-21.

System and method for improving chemical efficiency of a battery in a flow measurement system

Номер патента: US09910094B2. Автор: Reza Kassayan. Владелец: Badger Meter Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Measuring system and method for marking a known target point in a coordinate system

Номер патента: US09903715B2. Автор: Norbert Kotzur,Jürgen Mayer. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2018-02-27.

System and method for inferring operational specifications of a fleet of photovoltaic power generation systems with the aid of a digital computer

Номер патента: US09740803B2. Автор: Thomas E. HOFF. Владелец: Clean Power Research LLC. Дата публикации: 2017-08-22.

Communication systems and methods for distributed power system measurement

Номер патента: US09667408B2. Автор: Donald Jeffrey DIONNE,Jennifer Marie Mccann. Владелец: Smart Energy Instruments Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Ketone measurement system capable of detecting correlations between measurements and user behaviors

Номер патента: US09341632B1. Автор: Zachary Smith,Lubna M. Ahmad,Salman A. Ahmad. Владелец: Invoy Technologies LLC. Дата публикации: 2016-05-17.

Radio frequency measurement system and a method for recording baseband and positioning data

Номер патента: US20230076938A1. Автор: Corbett Rowell,Christoph Hausl,Joachim Stegmaier,Frédéric Pierre Denis Boulay. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-03-09.

A radio frequency measurement system and a method for recording baseband and positioning data

Номер патента: EP4145711A1. Автор: Corbett Rowell,Christoph Hausl,Joachim Stegmaier,Frédéric Pierre Denis Boulay. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-03-08.

System and method for processing stereoscopic vehicle information

Номер патента: WO2014015268A3. Автор: Robert Bailey,George Stevens,Robert Srack,Janet Srack,Thomas Srack,Mark Anzalone. Владелец: MATRIX ELECTRONIC MEASURING PROPERTIES, LLC. Дата публикации: 2014-05-30.

Force and/or motion measurement system and a method of testing a subject

Номер патента: US09526443B1. Автор: Necip Berme,Scott Zerkle Barnes,Lewis Michael Nashner. Владелец: Bertec Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Level measurement system and wireless operator device

Номер патента: US20240167868A1. Автор: Christoffer WIDAHL,Nicolas PREISIG. Владелец: ROSEMOUNT TANK RADAR AB. Дата публикации: 2024-05-23.

Method, central test control unit, measurement system

Номер патента: US20240241175A1. Автор: Florian Lang,Thomas Braunstorfinger,Bjoern Schmid,Sebastian ROEGLINGER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-18.

Method, central test control unit, measurement system

Номер патента: EP4404483A1. Автор: Florian Lang,Björn Schmid,Thomas Braunstorfinger,Sebastian ROEGLINGER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-24.

High-resolution surface measurement systems and methods

Номер патента: US09538056B2. Автор: Edward H. Adelson,Micah K. Johnson. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2017-01-03.

Optical measuring system and method for optically measuring an object in a three-dimensional manner

Номер патента: US20160296304A1. Автор: Mark Weber,Georg Wiora,Lukas Wewer. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2016-10-13.

Bubble measurement system and method

Номер патента: US12039748B2. Автор: Du Wen,LEI Zhou,Shu Wang,Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Michael Ritchie,Michael Pedrick,Philip Amante. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Acceleration measurement system

Номер патента: AU2022419401A1. Автор: James Rabeau. Владелец: UNIVERSITY OF SYDNEY. Дата публикации: 2024-07-11.

Acceleration measurement system

Номер патента: WO2023115126A1. Автор: James Rabeau. Владелец: THE UNIVERSITY OF SYDNEY. Дата публикации: 2023-06-29.

Measurement method and apparatus for semiconductor features with increased throughput

Номер патента: EP4453654A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Oliver Malki,Alex Buxbaum,Johannes Persch,Alexander Freytag,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-10-30.

Method and arrangement for the control of measuring systems, corresponding computer program and corresponding computer-readable storage medium

Номер патента: US09818588B2. Автор: Andreas Kuhn,Katja Tham,Johann-Christoph Freytag,Stephan Werner Heymann,Michael W. Linscheid. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-11-14.

Systems and methods of object measurement in an automated data reader

Номер патента: US09651363B2. Автор: Bryan L. Olmstead,Alan Shearin,WenLiang Gao. Владелец: Datalogic USA Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

System and method for removal of frequency-dependent timing distortion

Номер патента: US20090045863A1. Автор: Steve Mccoy,John David Hamre. Владелец: Wavecrest Corp. Дата публикации: 2009-02-19.

Measuring system and operating method thereof

Номер патента: US09995577B2. Автор: Qiwei Zhou,Guigong Ni. Владелец: Chevron HK Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Measuring system and operating method thereof

Номер патента: US09714830B2. Автор: Qiwei Zhou,Guigong Ni. Владелец: Chevron HK Ltd. Дата публикации: 2017-07-25.

Vehicle damage detection system and method of manufacturing the same

Номер патента: US09430189B2. Автор: Matthew R. Walsh,Alexander M. Soles,Eric B. Scott. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2016-08-30.

Power measurement methods and systems for hot pluggable solid-state drives in servers

Номер патента: US20240159806A1. Автор: Wenwei Wang,XiaoFang Chen. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Ring size measurement system and method for digitally measuring ring size

Номер патента: US20200013182A1. Автор: Mehul Sompura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-01-09.

System and method for measuring distance using acoustic signal

Номер патента: EP3974866A1. Автор: Sungchan Kang,Cheheung KIM,Daehyuk SON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-03-30.

Time-of-flight sensor, distance measurement system, and electronic apparatus

Номер патента: EP4043926A1. Автор: Meng-Ta Yang,Yu-An Liang. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-17.

Measurement method and device of light source parameters, illumination system and terminal apparatus

Номер патента: US12058794B2. Автор: Wei Wang,Jun Wu,Yalong Liu,Zhixian ZHOU. Владелец: Suzhou Op Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US20130315276A1. Автор: Inder Singh,Kent Suzuki,Edo Segal,Michael Fusaro,Dmitro Panin. Владелец: Kinsa Inc. Дата публикации: 2013-11-28.

Main measurement device, secondary measurement device, measurement system and method

Номер патента: US20220231769A1. Автор: Andreas Ziegler,Michael Grimm,Detlef Schlager,Thomas Kuhwald,Andrew Schaefer,Jens Naumann,Sebastian Petzsch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-07-21.

Switch tube junction temperature measurement method, electric motor controller, electric motor control system, and medium

Номер патента: EP4439973A1. Автор: Hong Bin,Kai Zhang,Xiaoan Zhao,Yunsong SHEN. Владелец: Guangdong Welling Motor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Sea surface temperature measurement method

Номер патента: AU2021106031A4. Автор: Bin Tian,Wenbo BO,Hao CHA,Dongli DENG,Mengda CUI. Владелец: Pla Naval Engineering Univ. Дата публикации: 2021-10-28.

Switch tube junction temperature measurement method, electric motor controller, electric motor control system, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240361188A1. Автор: Hong Bin,Kai Zhang,Xiaoan Zhao,Yunsong SHEN. Владелец: Guangdong Welling Motor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US09593985B2. Автор: Inder Singh,Kent Suzuki,Edo Segal,Michael Fusaro,Dmitro Panin. Владелец: Kinsa Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Artificial intelligence and vision-based broiler body weight measurement system and process

Номер патента: EP4395539A1. Автор: Michael T. Kidd,Thi Hoang Ngan Le,Khoa Ho Viet VO. Владелец: University of Arkansas. Дата публикации: 2024-07-10.

Ranging systems and methods for decreasing transitive effects in multi-range materials measurements

Номер патента: US20240255599A1. Автор: Houston Fortney. Владелец: Lake Shore Cryotronics Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Techniques for Characterizing a Nonlinearity of a Time-to-Digital Converter in an Optical Measurement System

Номер патента: US20210290146A1. Автор: Sebastian SORGENFREI,Ryan Field,Katherine Perdue,Isai Olvera,Viswanath Ambalapuzha Gopalakrishnan. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2021-09-23.

Color measuring system and program

Номер патента: US20220268630A1. Автор: YUKA Kobayashi,Ayako Kobayashi,Yasuo KOYAUCHI,Marina MINENO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Accessibility measurement system

Номер патента: US20240283889A1. Автор: Ortal Yahdav,Hilary Catherine Sun,Aishwarya Nirmal. Владелец: Airbnb Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Probe apparatus, and measurement method and measurement system of junction resistance of superconducting qubit

Номер патента: US20240329162A1. Автор: Fu Zhang,HUI Zhang,Yao Liu,Yongjie Zhao,Xiansheng JIN. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Supplying-end module of induction type power supply system and voltage measurement method thereof

Номер патента: US09960639B2. Автор: Ming-Chiu TSAI,Chi-Che Chan. Владелец: Fu Da Tong Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Switching frequency extended range geiger detection system and method

Номер патента: US09864069B2. Автор: Ryan Shyffer,Eric Matthew Amendt. Владелец: Leidos Inc. Дата публикации: 2018-01-09.

Supercontinuum light source, a system and a method of measuring

Номер патента: US09504374B2. Автор: Carsten L. Thomsen,Thomas Vestergaard Andersen,Thomas Feuchter. Владелец: NKT PHOTONICS AS. Дата публикации: 2016-11-29.

Direct digital synthesizer module, measurement system, and method of operating a direct digital synthesizer module

Номер патента: EP4391385A1. Автор: Julius Seeger. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-26.

Method of dispositioning and control of a semiconductor manufacturing process

Номер патента: WO2024178198A1. Автор: Michael E. Adel,Chris Mack. Владелец: FRACTILIA, LLC. Дата публикации: 2024-08-29.

Optical micro-projection system and projection method

Номер патента: US09912923B2. Автор: Lucio Kilcher,Faouzi Khechana. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Measurement system and a method

Номер патента: US20180041289A1. Автор: Alexander Pabst. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-08.

Vibration measurement system, vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20210029297A1. Автор: Kazuhito Murata,Masahiko Ohta,Gaku Nakano,Asuka ISHII. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

Shape measurement system, image capture apparatus, and shape measurement method

Номер патента: US09792690B2. Автор: Akira Kinoshita,Atsuo Kawaguchi,Kazuki Tokoyoda,Shogo Ishida. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Semiconductor processing system, method for precleaning substrate, semiconductor processing anhydrous hydrogen fluoride delivery system, semiconductor processing water vapor delivery system, and method for forming passivating film

Номер патента: TW202243755A. Автор: 王非,辛宇正,金曲,林興,魏創,阿迪亞 喬杜里,普拉拉德 庫爾卡尼,孫孝達,布貝西 巴卜 喬希斯瓦蘭,阿迪亞 瓦林貝,拉吉夫 雷迪 科西雷迪,傅彥君,阿明 阿齊米. Владелец: 荷蘭商Ａｓｍ Ｉｐ私人控股有限公司. Дата публикации: 2022-11-16.

Rotational flow generator, piping system, semiconductor manufacturing apparatus, and heat exchanger

Номер патента: US12038023B2. Автор: Toyohiko Shindo. Владелец: Contamination Control services Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

System and Method of Cleaning and Inspecting Semiconductor Die Carrier

Номер патента: US20230058682A1. Автор: TAO Hu,Hua Hong Tan,Wing Keung Lam,Zong Xiang Cai,Wei Ming Xian,Yao Hong Wu. Владелец: UTAC Headquarters Pte Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Gas tube, gas supply system and manufacturing method of semiconductor device using the same

Номер патента: US12037687B2. Автор: Cheng-Yi Huang,Shou-Wen Kuo,Yi-Shiung Chen,Chih-shen Yang,Po-Wen Chai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Systems and methods for reducing vibration of apparatuses

Номер патента: US20230287952A1. Автор: Chien Ting Lin,Ker-Hsun LIAO,Wei-Ming Wang,Chih Ping Liao,Yi Chen Ho,Chi-Hsun Lin,Jie-Ying YANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Apparatus for integrated monitoring of wafers and for process control in semiconductor manufacturing and a method for use thereof

Номер патента: US20020179841A1. Автор: Moshe Finarov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-05.

Overlay measuring method and system, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US09455206B2. Автор: Yu-Sin Yang,Chung-Sam Jun,Woo-Seok Ko,Sang-Kil Lee,Seong-Jin Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-27.

Semiconductor manufacturing system, controller, semiconductor manufacturing system control method, and processing liquid collection method

Номер патента: US7853347B2. Автор: Atsushi Osada,Tetsu Tomine. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-12-14.

Holder manufacturing method for loading substrate of semiconductor manufacturing device, batch type boat having holder, loading/unloading method of semiconductor substrate using the same, and semiconductor manufacturing device having the same

Номер патента: US20060239799A1. Автор: Byoung Lee,Taek Jang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-26.

Component carrier for semiconductor manufacturing and component transport system using same

Номер патента: US20230411196A1. Автор: Jae Won Shin. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Methods for reducing vibration of semiconductor manufacturing apparatuses and semiconductor manufacturing apparatuses

Номер патента: US20240247700A1. Автор: Chien Ting Lin,Ker-Hsun LIAO,Wei-Ming Wang,Yi-Chen Ho,Chih Ping Liao,Chi-Hsun Lin,Jie-Ying YANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Method for manufacturing semiconductor device, semiconductor manufacturing apparatus, and wafer lift pin-hole cleaning jig

Номер патента: US09721910B2. Автор: Yohei Hamaguchi. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Semiconductor manufacturing apparatuses comprising bonding heads

Номер патента: US09508577B2. Автор: YOSHIAKI Yukimori,MASATO Kajinami,Sang-Yoon Kim,Hui-Jae KIM,Jae Bong Shin,Byung Joon Lee,Byeong Kap CHOI,Seung Dae Seok,Byeong-kuk Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-11-29.

Semiconductor manufacturing method and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240258115A1. Автор: Yoshihide Yamaguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11935775B2. Автор: Satoshi Usui,Satoshi Nagai,Manabu Takakuwa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing a semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240258134A1. Автор: Masayuki Nishiyama,Naoki Yoshimatsu,Rei YONEYAMA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Ceramic heater for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: EP4435836A1. Автор: Bo Sung Kim,Yun Ho Kim,Joo Hwan Kim,Hwan Young Park. Владелец: KSM Component Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Method for manufacturing semiconductor package structure and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US12100686B2. Автор: Yun Di HONG. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Semiconductor carrier storage system, semiconductor fabrication system including the same, and semiconductor fabrication method using the same

Номер патента: US20230326777A1. Автор: Hyunwoo Lee,Sangmin Kim,Youngwook Kim,Sangkyung Lee,Chul-jun Park,Yong-Jun Ahn,Hyunjae KANG,Junhyuk CHANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-12.

OPTICAL FIBER TEMPERATURE DISTRIBUTION MEASUREMENT SYSTEM AND OPTICAL FIBER TEMPERATURE DISTRIBUTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170248495A1. Автор: SHIDA Hideo. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-31.

Semiconductor manufacturing equipment control system and equipment control method through

Номер патента: KR100464173B1. Автор: 박범천,장태원. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2005-04-06.

Schlieren optical system and two-dimensional density distribution measuring method of flow field to be measured

Номер патента: CN114199721B. Автор: 杨立军,张玥,田雨,李敬轩,梁炫烨. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-04-26.

Method and apparatus for manufacturing semiconductor manufacturing parts by using jig

Номер патента: US20200111661A1. Автор: Ki Won Kim. Владелец: Tokai Carbon Korea Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-09.

Acoustic building infiltration measurement system

Номер патента: US09939343B2. Автор: Ganesh Raman,Ralph T. Muehleisen. Владелец: UChicago Argonne LLC. Дата публикации: 2018-04-10.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US09418885B2. Автор: Jung Hyun Kim,Chang Geun Ahn,Ki Bum Sung,Jo Young Lee,Mhan Joong Kim. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Semiconductor manufacturing-and-inspection system, and semiconductor device

Номер патента: TW521362B. Автор: Osamu Hashimoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-02-21.

Measurement system for wheel alignment of vehicles with two or more axles and related measurement method

Номер патента: EP4141382C0. Автор: Felice Aimino. Владелец: Green Gem Srl. Дата публикации: 2024-06-19.

Measurement system for wheel alignment of vehicles with two or more axles and related measurement method

Номер патента: EP4141382B1. Автор: Felice Aimino. Владелец: Green Gem Srl. Дата публикации: 2024-06-19.

Hybrid body temperature measurement system and method thereof

Номер патента: US20220330835A1. Автор: Kuo-Hsien LU,Chih-Hao Chiu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Speed measurement and distance measurement system and speed measurement and distance measurement method based on pseudo-random code phase modulation and heterodyne detection

Номер патента: CN105629258A. Автор: 钟平,姜萌,詹亚歌,张弘扬,叶星辰,杨馥,邱子胜,周鸿颖. Владелец: DONGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-06-01.

In-oil gas concentration measuring system and in-oil gas concentration measuring method using same system

Номер патента: WO2011070669A1. Автор: 清 高本,嘉幸 大浦. Владелец: 株式会社かんでんエンジニアリング. Дата публикации: 2011-06-16.

STRAY-LIGHT TOLERANT LIDAR MEASUREMENT SYSTEM AND STRAY-LIGHT TOLERANT LIDAR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180100924A1. Автор: BRINKMEYER Ernst. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-12.

Contact lens, aqueous humor raman spectroscopic measurement device, aqueous humor raman spectroscopic measurement system, and aqueous humor raman spectroscopic measurement method

Номер патента: WO2020195199A1. Автор: 卓 木下,慎 久保田. Владелец: 株式会社シード. Дата публикации: 2020-10-01.

Multi-pulse laser range measuring system and multi-pulse laser range measuring method based on wavelength division

Номер патента: CN105445749A. Автор: 李静,刘建平,王晓莉,闫海,曹原,李建勋,李光伟,才长帅,石海天,高其嘉,陈京平,冀鑫炜. Владелец: INSTITUTE OF RADAR AND ELECTRONIC COUNTERMEASURE OF CHINESE PLA AIR FORCE EQUIPM. Дата публикации: 2016-03-30.

System and method for measuring material added to a vessel under a vacuum

Номер патента: US20050207269A1. Автор: John Heaton,Jason Bivens. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2005-09-22.

System and method for measuring material added to a vessel under a vacuum

Номер патента: US20050159910A1. Автор: John Heaton,Jason Bivens. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2005-07-21.

System and method for measuring material added to a vessel under a vacuum

Номер патента: WO2005068948A1. Автор: John G. Heaton,Jason D. Bivens. Владелец: Wain, Christopher, Paul. Дата публикации: 2005-07-28.

RADIATION THERMOMETER, RADIATION TEMPERATURE MEASUREMENT SYSTEM, STORAGE MEDIUM HAVING PROGRAM FOR RADIATION THERMOMETER STORED THEREIN, AND RADIATION TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170138794A1. Автор: MINAMI Masakazu,FUJINO Sho,BANDO Naoto. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

The measurement system of a kind of carbon fiber composite structure part springback angle and measuring method

Номер патента: CN106152973A. Автор: 王继辉,倪爱清,武佳男,胡海晓,谭艺蓓. Владелец: Wuhan University of Technology WUT. Дата публикации: 2016-11-23.

Infrared radiation temperature measuring system with error source radiance optical filtering system and method using the same

Номер патента: WO2007046574A1. Автор: Ki-Hong Kim,Seong-Wan Kim,Deok-Hong Kang. Владелец: RESEARCH INSTITUTE OF INDUSTRIAL SCIENCE & TECHNOLOGY. Дата публикации: 2007-04-26.

OPTICAL AMPLIFIER, OPTICAL TRANSMISSION SYSTEM, AND OPTICAL CABLE FAILURE PART MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210257803A1. Автор: SAITO Kohei,KUBO Tsutomu,KOTANIGAWA Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-19.

Semiconductor manufacturing using artificial intelligence

Номер патента: US20210090859A1. Автор: Imran Ahmed Bhutta. Владелец: Reno Technologies Inc. Дата публикации: 2021-03-25.

Semiconductor manufacturing system and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US20160358762A1. Автор: Seiichi Omoto,Kazuaki Nakajima,Takayuki Beppu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-08.

Semiconductor manufacturing system and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09695512B2. Автор: Kazuhiro Matsuo,Fumiki Aiso. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Ion beam angle measurement systems and methods employing varied angle slot arrays for ion implantation systems

Номер патента: EP1964149A2. Автор: Brian Freer. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2008-09-03.

Ion beam angle measurement systems and methods employing varied angle slot arrays for ion implantation systems

Номер патента: WO2007075970A2. Автор: Brian Freer. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2007-07-05.

Ion beam angle measurement systems and methods employing varied angle slot arrays for ion implantation systems

Номер патента: WO2007075970A3. Автор: Brian Freer. Владелец: Brian Freer. Дата публикации: 2007-10-04.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor device manufacturing method using the same

Номер патента: US09564298B2. Автор: Ik-Soo Kim,Myoung-woon Kim,Su-Ho Lee,Ju-Hee Lee,Jae-Beom Park,Won-hyuk Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-07.

Semiconductor manufacturing apparatus, semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20230069666A1. Автор: Takayuki Ito. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20180274092A1. Автор: Masayuki Kitamura,Atsuko Sakata,Satoshi Wakatsuki. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-09-27.

Air filtering device and cleaning system of semiconductor manufacturing apparatus with the same

Номер патента: US20090025565A1. Автор: Ji-Young Kim,Joo-Young Kim,Yo-han Ahn,Dong-Seok Ham,Chang-Min Cho,Hyung-Seok Choi,Ju-A Ryu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-01-29.

Method of manufacturing semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US09779978B2. Автор: Junichi Wada,Masayuki Kitamura,Atsuko Sakata,Takeshi Ishizaki,Satoshi Wakatsuki,Shinya Okuda,Kei Watanabe,Daisuke Ikeno,Hirotaka Ogihara. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09754781B2. Автор: Hidekazu Hayashi,Shinya Okuda,Kei Watanabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Leak testing systems and methods thereof

Номер патента: US20230258711A1. Автор: Steven White,Richard Brine. Владелец: Sciemetric Instruments Inc. Дата публикации: 2023-08-17.

Measurement system and measurement method for measuring video processing quality

Номер патента: US09723302B2. Автор: Chun Guan TAY,Rajashekar DURAI. Владелец: Rohde & Schwarz Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Measuring system and method of delay measurement

Номер патента: RU2639671C2. Автор: Уильям Брендан БЛАНТОН,Роберт Креншоу АЛЛЕН,Томас Альфред ДЮБУА. Владелец: Зе Боинг Компани. Дата публикации: 2017-12-21.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11761812B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

System and method for scalable, high accuracy, sensor and ID based audience measurement system based on distributed computing architecture

Номер патента: US09635405B2. Автор: Arthur Vaysman,Eduard Zaslavsky. Владелец: WebTuner Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

System and method for remote measurement of optical focus

Номер патента: RU2612500C2. Автор: БРЮЭЙН Фредерик Ян ДЕ,Харолд Агнес Вильхельмус ШМАЙТЦ,Руд ВЛЮТТЕРС,Томмазо ГРИТТИ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2017-03-09.

Methods, systems and devices for spinal surgery position optimization

Номер патента: US09491415B2. Автор: Adam Deitz,Richard K. Grant. Владелец: Ortho Kinematics Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

Media usage monitoring and measurement system and method

Номер патента: US12040883B2. Автор: Jonathan S. Steuer,Christopher W. Otto. Владелец: Anonymous Media Research Holdings LLC. Дата публикации: 2024-07-16.

Optical measurement system and method for measuring critical dimension of nanostructure

Номер патента: US09995648B2. Автор: Maksim RIABKO,Anton MEDVEDEV,Alexey SHCHEKIN,Sergey KOPTYAEV. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-06-12.

Sensor device for reading information on a golf throw and a measurement method using a system

Номер патента: RU2736259C1. Автор: Джи Хван КВОН,Донг Джин ХУР. Владелец: Голфзон Ко., Лтд.. Дата публикации: 2020-11-12.

System and method for improving and adjusting pcm digital signals to provide health benefits to listeners

Номер патента: US20240188824A1. Автор: Mark Levinson. Владелец: Daniel Hertz SA. Дата публикации: 2024-06-13.

Measurement system for micro-mixing and measurement method thereof

Номер патента: US20240310289A1. Автор: ZHENG Li,Jie Chen,Chao Yang,Xin Feng,Weipeng Zhang,Yuanyuan Li,Minghui Xie,Zaisha MAO,Xiaoxia DUAN,Dingwang HUANG. Владелец: Nanjing Jiuzhang Chemical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Systems and methods to encode mobile device testing results in machine-readable symbols displayable by a mobile device

Номер патента: US09686026B1. Автор: Philip E. Brown,David K. Reed,Mark Knasiak,Nicholas J. Dollinger. Владелец: Mobile Experience Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Camera system, colour measuring system, and offset printing press

Номер патента: US09531936B2. Автор: Menno Jansen,Erik Andreas Van Holten. Владелец: Q I Press Controls Holding BV. Дата публикации: 2016-12-27.

System and method for processing stereoscopic vehicle information

Номер патента: US09449378B2. Автор: George B. Stevens,Robert W. Srack,Janet M. Srack,Robert D. Bailey,Thomas L. SRACK,Mark A. ANZALONE. Владелец: Matrix Electronic Measuring Properties LLC. Дата публикации: 2016-09-20.

On-tool wavefront aberrations measurement system and method

Номер патента: US09395266B2. Автор: Haim Feldman,Boris Golberg,Amir Moshe Sagiv,Adam Baer,Uriel Malul. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-07-19.

Camera, colour measuring system, and offset printing press

Номер патента: WO2014073962A8. Автор: Menno Jansen,Erik Andreas Van Holten. Владелец: Q.I. Press Controls Holding B.V.. Дата публикации: 2014-06-19.

Measuring system repeatable bandwidth for simulation testing

Номер патента: WO2000028802A3. Автор: Roger G Brown,Douglas S Mann,Richard A Lund. Владелец: Mts System Corp. Дата публикации: 2000-07-20.

Measuring system repeatable bandwidth for simulation testing

Номер патента: EP1138018A2. Автор: Richard A. Lund,Roger G. Brown,Douglas S. Mann. Владелец: MTS Systems Corp. Дата публикации: 2001-10-04.

Measuring system repeatable bandwidth for simulation testing

Номер патента: EP1138018A4. Автор: Roger G Brown,Douglas S Mann,Richard A Lund. Владелец: MTS Systems Corp. Дата публикации: 2008-04-30.

Systems and methods for identifying paved surface features and estimating repairs

Номер патента: US20240218613A1. Автор: Austin Van Putten,Jarod Hanko. Владелец: Crafco Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Continuous flow structural health monitoring system and method

Номер патента: EP2245437A1. Автор: John Davies,Martin Doyle. Владелец: Structural Monitoring Systems Ltd. Дата публикации: 2010-11-03.

Systems and methods for identifying paved surface features and estimating repairs

Номер патента: WO2024148118A3. Автор: Austin Van Putten,Jarod Hanko. Владелец: Crafco, Inc.. Дата публикации: 2024-08-29.

Systems and methods for identifying paved surface features and estimating repairs

Номер патента: WO2024148118A2. Автор: Austin Van Putten,Jarod Hanko. Владелец: Crafco, Inc.. Дата публикации: 2024-07-11.

A wind turbine system and a method for providing measurement data

Номер патента: EP4426936A1. Автор: Tommy JANSSON,Daniel Neri,Henrik Thuvander,Mattias Skog,Johan FINSTEEN GJØDVAD. Владелец: Sigicom Ab. Дата публикации: 2024-09-11.

Fiber inspection microscope and power measurement system, fiber inspection tip and method using same

Номер патента: US09915790B2. Автор: Robert BARIBAULT. Владелец: Exfo Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Systems and methods to improve sensor sensitivity and range in an electronic computing device

Номер патента: US09730367B1. Автор: Zhibin Zhang,Haleigh Alessandro Vierra. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Rail measuring system

Номер патента: RU2672772C2. Автор: Матиас Мюллер,Мартин ГЛЮК. Владелец: Талес Дойчланд ГмбХ. Дата публикации: 2018-11-19.

Methods and systems for clock correction and/or synchronization for audio media measurement systems

Номер патента: EP2910015A1. Автор: John Stavropoulos,Alan Neuhauser,Wendell Lynch,David Gish,Vladimir Kuznetsov,Anand Jain,Jack Crystal. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2015-08-26.

Aeromechanical identification systems and methods

Номер патента: US12038011B2. Автор: Allison Clark Nicklous,Steven Tyler Englerth. Владелец: RTX Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Measurement system and testing method of testing a device under test

Номер патента: US20240142345A1. Автор: Paul Gareth Lloyd. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-05-02.

Rotor assembly system and method

Номер патента: WO2009088696A8. Автор: Karl Lee Borneman,Jeffrey John Eschenbach,Craig Ronald Ziegler,Gregory Patrick Foley. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2010-08-12.

Rotor assembly system and method

Номер патента: WO2009088696A3. Автор: Karl Lee Borneman,Jeffrey John Eschenbach,Craig Ronald Ziegler,Gregory Patrick Foley. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2009-09-03.

Physiological signal measurement system, physiological signal measurement method, and mobile device protective case

Номер патента: US20240115151A1. Автор: Chun Liu,Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-11.

Optical fiber measurement system, optical fiber measurement method, control arithmetic device, and program

Номер патента: US20230332980A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Tomokazu Oda,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Dual laser frequency sweep interferometry system and method

Номер патента: WO2015198044A1. Автор: Nigel Joseph Copner,Edward Benjamin Hughes,Matthew Stuard Warden,Juan Jose MARTINEZ,Michael Aloysius CAMPBELL. Владелец: The Secretary of State For Business, Innovation & Skills. Дата публикации: 2015-12-30.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

Dual laser frequency sweep interferometry system and method

Номер патента: EP3161408A1. Автор: Nigel Joseph Copner,Edward Benjamin Hughes,Matthew Stuard Warden,Juan Jose MARTINEZ,Michael Aloysius CAMPBELL. Владелец: Sec Dep For Business Innovation & Skills. Дата публикации: 2017-05-03.

Pressure measurement system and method for operating same

Номер патента: US20230054983A1. Автор: Christian Bissonnette,Patrice Remy,Frederic Doucet,Luc Archambault. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

System and method for evaluating surface finish of tire retread

Номер патента: EP2449360A1. Автор: Bruce E. Carney. Владелец: Michelin Recherche et Technique SA Switzerland. Дата публикации: 2012-05-09.

Measurement system and method therefore

Номер патента: WO2019105870A1. Автор: James Molloy,Robert Douglas Burchesky. Владелец: GE HEALTHCARE BIO-SCIENCES CORP.. Дата публикации: 2019-06-06.

Method for transmitting or receiving biometric information in continuous blood glucose measurement system

Номер патента: AU2021225709A1. Автор: Choong Beom You,Hyo Seon Park. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2022-08-25.

Systems and methods for distributed measurement

Номер патента: US09869607B2. Автор: Majid Nayeri,Susanne Madeline Lee,Sachin Narahari Dekate,Sudeep Mandal. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-01-16.

Tire inspection apparatus, tire inspection system, and method for inspecting tires

Номер патента: US09658135B2. Автор: Rainer Huber,Marcus Steinbichler,Matthias Prams,Junli Sun,Emanuel Fuchs,Stefan Otte,Tobias Huber,Berndhart Leitner. Владелец: Steinbichler Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2017-05-23.

Distributed audience measurement systems and methods

Номер патента: US09437214B2. Автор: Alan Neuhauser,Wendell Lynch,Anand Jain,Taymoor Arshi. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2016-09-06.

System and method to determine bearing condition

Номер патента: RU2529644C2. Автор: Карстен ПРОБОЛЬ,Йорг ХАССЕЛЬ,Ханс ТИШМАХЕР,Томас ФРУ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2014-09-27.

Method and device of measuring wavefront aberration, method of manufacturing optical system, and recording medium

Номер патента: US9170171B2. Автор: Yasuyuki Unno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-27.

Systems and methods for measurement of a vehicle load

Номер патента: US20230236060A1. Автор: Thomas H. Johnson,Kevin Detert,Andrew Sukalski. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-07-27.

Global pressure acquisition system and method for rotating model

Номер патента: US20240118148A1. Автор: Lei Wang,Ning Ge,Bo Ouyang,Limin Gao,Xiangfu Lei. Владелец: Northwestern Polytechnical University. Дата публикации: 2024-04-11.

Pressure sensor, measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09841336B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-12-12.

Media data usage measurement and reporting systems and methods

Номер патента: US09426240B2. Автор: John W. Hebeler, Jr.,Prasad V. Kunchakarra,Thomas L. Dietz, III. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2016-08-23.

Combustion chamber measurement system

Номер патента: US09423317B2. Автор: Jonathan A. Frost. Владелец: Inventus Holdings LLC. Дата публикации: 2016-08-23.

Communications and measurement systems for characterizing radio propagation channels

Номер патента: US12035155B2. Автор: Nathan West,Timothy J. O'shea,Ben Hilburn,Tamoghna Roy. Владелец: DeepSig Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

System and method for measuring a motion picture response time of a liquid crystal display

Номер патента: US20210278711A1. Автор: Wei-Chih Lin,Yung-Chih Chen,Po-An Chen,Jui-Te Wei. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

System and method for emitting and especially controlling an audio signal in an environment using an objective intelligibility measure

Номер патента: US09659571B2. Автор: Richard Hendriks,Richard Heusdens,Hans Van Der Schaar,Oosterom HAN. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-05-23.

Fluid measurement system and method for operating same

Номер патента: CA3188899A1. Автор: Christian Bissonnette,Patrice Remy. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-08-04.

Fluid measurement system and method for operating same

Номер патента: EP4223984A1. Автор: Christian Bissonnette,Patrice Remy. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-08-09.

Pressure measurement system

Номер патента: US20030046989A1. Автор: John Jaye. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-03-13.

Digital measurement systems

Номер патента: US20240346676A1. Автор: Zack Raboin. Владелец: Inversion Solutions LLC. Дата публикации: 2024-10-17.

Digital measurement systems

Номер патента: WO2024215358A1. Автор: Zack Raboin. Владелец: Inversion Solutions LLC. Дата публикации: 2024-10-17.

System and method for improving equipment communication in semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20050261796A1. Автор: Hsueh Shen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2005-11-24.

Optical measurement method and system and optical device manufacturing system

Номер патента: US11841288B2. Автор: Shunyi TAN. Владелец: Shanghai Intelight Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-12.

Measuring system and method of determining the measuring value

Номер патента: RU2641512C2. Автор: Михаэль ДАХАЙМ. Владелец: Кроне Месстехник Гмбх. Дата публикации: 2018-01-17.

Macro-micro composite grating ruler measuring system and measuring method using same comprising a macro-scale reading module, a micro-scale reading module and a measuring reference line

Номер патента: US09945698B2. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Meng Wang,Zhijun Yang,Youdun Bai,Haidong YANG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-04-17.

Position measurement system and respective method of measurement for determination of marked position of linear mobile guiding element

Номер патента: RU2553718C2. Автор: Маркус РЕЙМАНН. Владелец: Арефа Гмбх. Дата публикации: 2015-06-20.

Systems and methods for determining a valid state of measurement systems

Номер патента: US20230186042A1. Автор: Roland Friedrich,Bernd Beterke,Piotr SKWIERAWSKI,Petra FUNKE. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Multi-dimensional approach to imaging, monitoring, or measuring systems and processes utilizing capacitance sensors

Номер патента: US20190310217A1. Автор: Benjamin Straiton,Qussai Marashdeh,Christopher Zuccarelli. Владелец: Tech4Imaging LLC. Дата публикации: 2019-10-10.

Shape measurement system and shape measurement method

Номер патента: EP4455617A1. Автор: Kazuhide Nakajima,Takashi Matsui,Hideaki Murayama,Nobutomo Hanzawa,Ryota Wada,Makito Kobayashi. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2024-10-30.

Method for performing a function test of a position measuring system and position measuring system for executing the method

Номер патента: US20060136159A1. Автор: Erich Strasser. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2006-06-22.

System and method for process measurement

Номер патента: US20060076948A1. Автор: Francisco Gutierrez. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-13.

System and method for process measurement

Номер патента: CA2583181A1. Автор: Francisco M. Gutierrez. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

System and method for process measurement

Номер патента: WO2006044229A2. Автор: Francisco M. Gutierrez. Владелец: Dresser, Inc.. Дата публикации: 2006-04-27.

System and method for process measurement

Номер патента: EP1802944A2. Автор: Francisco M. Gutierrez. Владелец: Dresser LLC. Дата публикации: 2007-07-04.

Measuring system and drive system

Номер патента: US10119840B2. Автор: Stefan Albrecht,Yan BONDAR. Владелец: TDK Micronas GmbH. Дата публикации: 2018-11-06.

System and method for calibrating an optical fiber measurement system

Номер патента: US20200271487A1. Автор: James Davis,Bernard Willem Been,Dominic Isopi,Kees Waagmeester,Todd Vernaz. Владелец: Humanetics Innovative Solutions Inc. Дата публикации: 2020-08-27.

Method for introducing a structure into an element, in particular an element of an angle measuring system

Номер патента: US20160178405A1. Автор: Randolf Karl HOCHE. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-06-23.

Angular displacement measuring arrangement, angular displacement measuring system and electric motor

Номер патента: US12111183B2. Автор: Michael Loeken,Carmen Alejandro Sanchez Gonzalez. Владелец: Fraba BV. Дата публикации: 2024-10-08.

Position measurement system, grating for a position measurement system and method

Номер патента: US09651877B2. Автор: Willem Herman Gertruda Anna Koenen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-05-16.

Measuring system, slide valve comprising such a measuring system, and method for measuring the position of a slide valve

Номер патента: US20220082179A1. Автор: Alexander Braun,Holger BREUER,Andreas RÜHE. Владелец: Z&J Technologies GmbH. Дата публикации: 2022-03-17.

Smart measurement system

Номер патента: WO2015042068A1. Автор: Thomas Madden,Thomas Neilson,Donald R. Hammill,Daniel Brent Baxter. Владелец: Cameron International Corporation. Дата публикации: 2015-03-26.

Micro-displacement measurement system having picometer scale resolution and measurement method

Номер патента: US20240151558A1. Автор: XIN Ran,Wei Zhou,Fangfang Liu,Xinyang Liu,Hongli Li,Haojie Xia. Владелец: Hefei University of Technology. Дата публикации: 2024-05-09.

Measuring system, slide valve comprising such a measuring system, and method for measuring the position of a slide valve

Номер патента: US12085190B2. Автор: Alexander Braun,Holger BREUER,Andreas RÜHE. Владелец: Z&J Technologies GmbH. Дата публикации: 2024-09-10.

Position measuring system and method for assembly

Номер патента: US20120000269A1. Автор: Wolfgang Pucher,Markus Kühler. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2012-01-05.

Capacitance measurement method, system and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230305046A1. Автор: QIAN Xu,Xinyu Huang,BO Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Torque measurement system

Номер патента: WO2009087476A2. Автор: Sean McCarthy. Владелец: Steorn Limited. Дата публикации: 2009-07-16.

System and method to combine and weight multiple sensors with overlapping sensing range to create a measurement system utilized in a high integrity or safety environment

Номер патента: WO2007101132A2. Автор: Richard Galera,James E. Dogul,George E. Rollins,Derek W. Jones,George K. Schuster,Suresh R. Nair,Ray C. Delcher. Владелец: ROCKWELL AUTOMATION TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2007-09-07.

Capacitance measurement method, system and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US12044716B2. Автор: QIAN Xu,Xinyu Huang,BO Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Torque measurement system

Номер патента: WO2009087476A3. Автор: Sean McCarthy. Владелец: Steorn Limited. Дата публикации: 2009-10-22.

Measuring system and pressure medium cylinder comprising a measuring system

Номер патента: US20230265869A1. Автор: Leo Caspers. Владелец: Van Halteren Technologies Boxtel BV. Дата публикации: 2023-08-24.

Measuring system having electromechanical resonators, method for manufacturing such a system, and method for reading at least two electromechanical resonators

Номер патента: US09470576B2. Автор: Laurent Duraffourg,Sébastien Hentz,Philippe Andreucci,Eric Colinet. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2016-10-18.

Sensor, magnetic field position measuring system and method for determining position

Номер патента: US20230184852A1. Автор: Ulrich Ritter,Matthias Niethammer,Christoph Boeckenhoff. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2023-06-15.

Capacitive measurement system and method

Номер патента: US09835663B2. Автор: Michael Mueck,Ronald F. Cormier. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Optical linear measurement system and method

Номер патента: US09470559B2. Автор: Peter Roider,Markus Stich. Владелец: Avago Technologies General IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2016-10-18.

Angle measuring method and angle measuring system

Номер патента: US20160265947A1. Автор: Toru Shimizu. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-15.

Multi-sensor measuring method and system

Номер патента: US09842087B2. Автор: Serge LE GONIDEC,Jonathan Houel. Владелец: SNECMA SAS. Дата публикации: 2017-12-12.

Angle measuring method and angle measuring system

Номер патента: US09574908B2. Автор: Toru Shimizu. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Grain granulometry measurement system and method and calibration method for a grain granulometry measurement system

Номер патента: EP4300074A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: US20240133787A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-04-25.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: US20240230500A9. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: CA3209370A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Agricultural grain granulometer, system and method for collecting, moving and measuring grain granulometry

Номер патента: EP4300075A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Lidar measuring system and lidar measuring method

Номер патента: US09702975B2. Автор: Ernst Brinkmeyer,Thomas Waterholter. Владелец: Technische Universitaet Hamburg TUHH. Дата публикации: 2017-07-11.

Measuring system and measuring method of antenna pattern based on near field to far field transformation

Номер патента: US20240329108A1. Автор: Chang-Fa Yang,Wen-Jiao Liao,Chang-Lun Liao,yuan-chang Hou,Bo-Cheng YOU,You-Hua Lin,Jiahn-Wei Lin,De-Xian Song,Tswen-Jiann Huang. Владелец: Chunghwa Telecom Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Analyte measurement method and system

Номер патента: US09500618B2. Автор: Michael Malecha,Adam Craggs. Владелец: LifeScan Scotland Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Analyte measurement method and system with hematocrit compensation

Номер патента: US09476088B2. Автор: Michael Malecha,Adam Craggs,Steve Blythe. Владелец: LifeScan Scotland Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Solid body density measuring system and method

Номер патента: WO2024144645A1. Автор: Tarkan KOCA. Владелец: İnönü Üni̇versi̇tesi̇ Rektörlüğü. Дата публикации: 2024-07-04.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US20150338206A1. Автор: Sang-hyun Park,Sangwook Park,Taekyu SON,Sangdon Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-11-26.

Ultrasonic measurement system and measurement method thereof

Номер патента: US09976885B2. Автор: Shuguang Zhang,Jinhui Huang,Xiongbing Kang. Владелец: AUDIOWELL ELECTRONICS (GUANGDONG) Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US09874435B2. Автор: Sang-hyun Park,Sangwook Park,Taekyu SON,Sangdon Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-23.

Groundwater level elevation measurement method, groundwater storage measurement system, and application

Номер патента: US12044610B1. Автор: XU Wang,Hongyue Sun. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-23.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B1. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292A. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2023-06-29.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B9. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-02-23.

Position measurement system and position measurement method

Номер патента: US12025422B2. Автор: Haruki Mori,Junpei Yamaguchi,Masanobu TSUTSUI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Measurement system and measurement method for measuring detection performance of human body safety inspection equipment

Номер патента: US20230375743A1. Автор: Caixia Liu,Fangyi Xie. Владелец: Third Research Institute of the Ministry of Public Security. Дата публикации: 2023-11-23.

Shape Measurement System and Shape Measurement Method

Номер патента: US20180306573A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-10-25.

Contour accuracy measuring system and contour accuracy measuring method

Номер патента: US20200326185A1. Автор: Yu-Sheng Tseng,Tsung-Yu Yang,Chien-Yi Lee,Po-Hsun Wu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-10-15.

Polyacrylamide-containing indirect negative cavity water pressure measurement system and method

Номер патента: WO2024058745A1. Автор: Asli Senem Acikel,Mehmet Onder Pekcan,Bengu Ozugur Uysal. Владелец: Kadir Has Universitesi. Дата публикации: 2024-03-21.

Measurement system, calibration and measurement method for bulk radiation wastes

Номер патента: US09841516B1. Автор: Ping-Ji Huang,Ming-Chen Yuan,Chin-Hsien Yeh,Wun-Jhih Huang. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2017-12-12.

Reaction carrier, measuring system and measuring method for determining gas and particle concentrations, and optical flow sensor

Номер патента: US09759702B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-09-12.

Oil concentration measurement system and oil concentration measurement method

Номер патента: US09739707B2. Автор: Kazuhisa Ogasawara. Владелец: Act Five Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Optical measurement method and measurement system for determining 3D coordinates on a measurement object surface

Номер патента: US09683837B2. Автор: Knut Siercks. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2017-06-20.

Magnetic field probe, magnetic field measurement system and magnetic field measurement method

Номер патента: US09606198B2. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-03-28.

Optical measurement system and optical measurement method

Номер патента: WO2024106517A1. Автор: Peter Seitz. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2024-05-23.

Shape Measuring System and Shape Measuring Method

Номер патента: US20220178680A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi,Kenji Maruno,Akio Yazaki,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-06-09.

Light intensity measurement system, raman scattered light spectroscopic measurement system, and light intensity measurement method

Номер патента: US20240288373A1. Автор: Toshihide KURIHARA,Taku Kinoshita,Mio SAWADA,Ari SHINOJIMA. Владелец: Seed Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Distance measurement method and apparatus, and distance measurement sensor and distance measurement sensing array

Номер патента: US12123978B2. Автор: Shuyu Lei. Владелец: Ningbo Abax Sensing Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Environment measurement system and environment measurement method

Номер патента: US20150309173A1. Автор: Hisashi Shiba. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-10-29.

Optical measurement system and optical measurement method

Номер патента: EP4404004A1. Автор: Tsutomu Mizuguchi,Hiroyuki Sano,Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Neutron measuring system and neutron measuring method

Номер патента: EP4414750A1. Автор: Tzung-Yi Lin,Wen-Chyi Tsai. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

Transistor-type viscosity sensor, and viscosity measurement system and viscosity measuring method using the same

Номер патента: US09752972B2. Автор: Jen-Inn Chyi,Yu-Lin Wang,Jung-Ying Fang. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2017-09-05.

Environment measurement system and environment measurement method

Номер патента: US09702973B2. Автор: Hisashi Shiba. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

System and method of determining state of container filling with flowing medium in system of treatment by reduced pressure

Номер патента: RU2433838C2. Автор: Тимоти Марк РОБИНСОН,Кристофер Брайан ЛОКК,Дэвид Робсон БЛЭНДФОРД. Владелец: КейСиАй Лайсензинг Инк.. Дата публикации: 2011-11-20.

Calibration method of measurement system

Номер патента: RU2479832C2. Автор: Хельмут ПРАДЕЛЬ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-04-20.

Optical measuring system and optical measuring method

Номер патента: EP1708612A1. Автор: Christoph Hauger,Peter Reimer. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-10-11.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20240200935A1. Автор: Chung-Lun Kuo,Chih-Hsiang Liu,Hsiang-Chun Wei,Chun-Wei Lo. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Water quality measurement system and water quality measurement method

Номер патента: US20230295018A1. Автор: Yukio Noguchi,Akira Tanji. Владелец: Nomura Micro Science Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Neutron measuring system and neutron measuring method

Номер патента: US20240272318A1. Автор: Tzung-Yi Lin,Wen-Chyi Tsai. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Distance measurement system and distance measurement method

Номер патента: CA3146353A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi,Kenji Maruno,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-02-11.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09885693B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-02-06.

System and method of measuring concentration of radiopharmaceutical agents

Номер патента: RU2599866C2. Автор: Марк А. МАБИ,Ларри А. МАККАТЧЕН,Чад Е. БУТОН,Джеймс Е. ДВОРСКИ. Владелец: Байер Медикал Кэа Инк.,. Дата публикации: 2016-10-20.

Measuring system and measurement method

Номер патента: US20240240926A1. Автор: Kazuhiko Hidaka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Real-time measurement system and measurement method for mechanical parameters of rock slag during excavation

Номер патента: US12092616B2. Автор: Tao Yang,Quansheng Liu,Xuhai Tang. Владелец: Wuhan University WHU. Дата публикации: 2024-09-17.

Method for increasing the accuracy of determining the coordinates of an object by a radio engineering range measuring system

Номер патента: RU2762999C1. Автор: Анатолий Борисович Шаповалов,Игорь Леонидович Ажгиревич,Александр Викторович Измайлов-Перкин,Георгий Алексеевич Кветкин,Вадим Вячеславович Костюков,Андрей Владимирович Свиязов,Виктор Викторович Щербинин. Владелец: АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "Центральный научно-исследовательский институт автоматики и гидравлики", (АО "ЦНИИАГ"). Дата публикации: 2021-12-24.

System of electric power measurement, transformer point containing such system, and method for measuring electric power using such system

Номер патента: RU2617283C2. Автор: Паскаль Убр,Франсуа ВЕНСАН,Оливье КУТЛУ. Владелец: ШНЕЙДЕР ЭЛЕКТРИК ЭНДЮСТРИ САС. Дата публикации: 2017-04-24.

Analytical system and method of measurement and control over glass production process

Номер патента: RU2332655C2. Автор: Йоп ДАЛСТРА. Владелец: Сентрюм Вор Технише Информатика Б.В.. Дата публикации: 2008-08-27.

Method of controlling mass fraction of uranium-235 isotope in gas phase of uranium hexafluoride and measuring system for implementation of the method

Номер патента: RU2256963C2. Автор: Д.В. Дорофеев,В.И. Рощупкин,В.В. Водолазских,В.И. Мазин,Ю.Б. Торгунаков,Б.М. Зимин,А.В. Абрамович,В.Е. Горохов,Ю.В. Жилейко,В.М. Илюхин,Н.Н. Сидоренко. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Сибирский химический комбинат" Министерства Российской Федерации по атомной энергии. Дата публикации: 2005-07-20.

Sensor head, calibration system and measurement system for reagent in form of dry powder

Номер патента: RU2424019C1. Автор: Скотт ЭЕРС,Брайен ПОУВЕЛЛ. Владелец: Кидде Текнолоджиз, Инк.. Дата публикации: 2011-07-20.

Three-dimensional shape measurement system and three-dimensional shape measurement method

Номер патента: US20200246979A1. Автор: Jun Wada. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2020-08-06.

Foot shape measurement system and foot shape measurement method

Номер патента: US20240255275A1. Автор: Nozomu Seike,Motohide Arayama. Владелец: Wacoal Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Radio frequency remote head front-end circuitry systems and methods

Номер патента: US12068533B2. Автор: Berke Cetinoneri,Qishan Yu,Samia EL AMRANI. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement system and method of electric permittivity at 0 hz

Номер патента: US20240272109A1. Автор: Giovanni DE BELLIS. Владелец: Universita degli Studi di Roma La Sapienza. Дата публикации: 2024-08-15.

Marine vessel measuring system and method

Номер патента: WO2024168402A1. Автор: Ayrton SUE,Scott Vincent Wovodich. Владелец: Scott Vincent Wovodich. Дата публикации: 2024-08-22.

Measuring System

Номер патента: US20160049081A1. Автор: Fumio Ohtomo,Kazuki Osaragi,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2016-02-18.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20190392193A1. Автор: Toyoo Iida,Hitoshi Nakatsuka. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Radio Frequency Remote Head Front-End Circuitry Systems and Methods

Номер патента: US20240363999A1. Автор: Berke Cetinoneri,Qishan Yu,Samia EL AMRANI. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Fin tip position measurement method, fin tip position measurement system, and jig for measuring fin tip position

Номер патента: US12044629B2. Автор: Satoshi Kumagai,Koji Ishibashi,Shunsuke Mizumi,Masaru Sekihara,Juichi KODERA,Jose Carlos KUROKI RAMIREZ. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Method of generating received spatial-time signal reflected from observed multipoint target during operation of radar system, and bench simulating test space-time signals reflected from observed multipoint target, for testing sample of radar system

Номер патента: RU2738249C1. Автор: Владимир Иванович Шапошников,Сергей Борисович Медведев. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский институт точных приборов" (АО "НИИ ТП"). Дата публикации: 2020-12-11.

Measuring system for determination of traction characteristics of transport and tractor units

Номер патента: RU2735160C1. Автор: Юрий Дмитриевич Смирнов,Эльдар Абдоллович Кремчеев,Динара Абдолловна Кремчеева,Яна Алексеевна Лунтовская. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский горный университет". Дата публикации: 2020-10-28.

System and method for measuring multi-phase stream

Номер патента: RU2270981C2. Автор: Роберт Е. ДАТТОН,Чад СТИЛ. Владелец: Майкро Моушн, Инк.. Дата публикации: 2006-02-27.

Non-intrusive process fluid pressure measurement system

Номер патента: RU2769409C1. Автор: Чарльз Р. УИЛЛКОКС. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2022-03-31.

Relative humidity sensor, method of relative humidity measuring and relative humidity measurement system

Номер патента: RU2668947C2. Автор: Андрей Борисович Борткевич. Владелец: Андрей Борисович Борткевич. Дата публикации: 2018-10-05.

Sensor head, calibration system and measurement system for reagent, such as dry powder

Номер патента: RU2449841C1. Автор: Скотт ЭЙЕРС,Дармендр ЛЕН,Адитиананд ГИРДАРИ. Владелец: Кидде Текнолоджиз, Инк.. Дата публикации: 2012-05-10.

A system and method for fault detection and calibration of an electro‐magnetic measuring system

Номер патента: WO2024136673A1. Автор: Philip Heelan. Владелец: Argeo Robotics As. Дата публикации: 2024-06-27.

Three-dimensional measuring system, and three-dimensional measuring method

Номер патента: US20210293519A1. Автор: Hitoshi Tamura,Yoichi Togawa,Kento Kurihara,Tomotaka Yamagata. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Maturity measurement method and maturity measurement device for glass fiber reinforced concretes

Номер патента: EP4386380A1. Автор: Muhammed Marasli,Serkan Subasi,Sefa Guntepe,Mert Cevirmen,Volkan Ozdal. Владелец: Fibrobeton Yapi Elemanlari Sanayi Insaat Ve Ticaret AS. Дата публикации: 2024-06-19.

System and method for characterizing three-dimensional structures

Номер патента: WO2004046655A9. Автор: Mehrdad Nikoohahad. Владелец: Mehrdad Nikoohahad. Дата публикации: 2004-10-28.

A drilling mud management system and method

Номер патента: AU2018328759B2. Автор: Frans Christiaan Havenga,Storm Kyle Burnham,Shaun David Wilson. Владелец: Australian Mud Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Measurement system for a drug delivery device, drug delivery device with such a measurement system and method for measuring the dose dispensed and/or dose set of a drug delivery device

Номер патента: EP4405644A1. Автор: Paul Richard Draper,Anthony Paul MORRIS,Ronald Smith,Hester Jane CORNE. Владелец: SANOFI SA. Дата публикации: 2024-07-31.

Method for performing emc immunity measurements and vehicle emc immunity measurement system

Номер патента: EP4431954A1. Автор: Robert MOESTAM. Владелец: Ningbo Geely Automobile Research and Development Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Method for performing emc immunity measurements and vehicle emc immunity measurement system

Номер патента: WO2024188040A1. Автор: Robert MOESTAM. Владелец: Ningbo Geely Automobile Research & Development Co., Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Micrometeoroids spatial density and space debris particles measuring system

Номер патента: RU2658072C2. Автор: Михаил Павлович Калаев,Дмитрий Михайлович Рязанов. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева". Дата публикации: 2018-06-19.

System and method for determining hematocrit insensitive glucose concentrations

Номер патента: RU2684938C2. Автор: Майкл МАЛЕЧА. Владелец: Цилаг Гмбх Интернэшнл. Дата публикации: 2019-04-16.

Method of measuring, system and sensor for continuous casting machine

Номер патента: RU2703606C2. Автор: МОНТЕ Стефано ДЕ,Стефано СПАНЬЮЛ,Изабелла МАЦЦА. Владелец: Эрголайнз Лэб С.Р.Л.. Дата публикации: 2019-10-21.

System of measurements and method of measurement as per weight deviations of appropriate separated parts of body and system and method of their use

Номер патента: RU2546848C2. Автор: Тадао КУРАТА,Сумико КУРАТА,Норико КУРАТА. Владелец: Норико КУРАТА. Дата публикации: 2015-04-10.

System and method for a directable countermeasure with divergent laser

Номер патента: US20170205496A1. Автор: Philip Soletsky,Jan Stephan LUNDQUIST. Владелец: ELBIT SYSTEMS OF AMERICA LLC. Дата публикации: 2017-07-20.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

Systems and methods for analyzing a rail

Номер патента: US11787452B2. Автор: Jeffrey Bloom,Anthony Kim,David G. Ford. Владелец: Ensco Inc. Дата публикации: 2023-10-17.

Foam layer measuring system

Номер патента: WO2024044645A3. Автор: Mark Thomas Smith,Ronald Abraham MARTIN,Joshua Lynn ADAMS. Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2024-04-11.

Water vapor differential minimization systems and methods for gas exchange measurements of aqueous or water saturated samples

Номер патента: US11761893B2. Автор: Mark JOHNSON,Jason Hupp,Bob Eckles,Douglas Lynch. Владелец: Li Cor Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Inertial position target measuring systems and methods

Номер патента: US20050178876A1. Автор: James Negro,Richard Brunson,James Dillow. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2005-08-18.

Systems and methods for analyzing a rail

Номер патента: US20230174122A1. Автор: Jeffrey Bloom,Anthony Kim,David G. Ford. Владелец: Ensco Inc. Дата публикации: 2023-06-08.

Hybrid systems and methods for characterizing stress in chemically strengthened transparent substrates

Номер патента: US20200300615A1. Автор: Nathaniel David Wetmore,Rostislav Vatchev Roussev,Babak Robert Raj,Ryan Claude Andrews,Pierre Michel Bouzi,William John Furnas,Jeremiah Robert Jacobson,Evan Lewis Olson,Glenn Abram NEWCOMER,Viktor STEPANOV. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2020-09-24.

Probe extension system, measurement system and probe extension method

Номер патента: US20220146551A1. Автор: Alexander Kunze,Martin Peschke,Stefan Ketzer,Benedikt LIPPERT. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-05-12.

Distance measuring systems and methods thereof

Номер патента: WO2004031688A3. Автор: James F Munro. Владелец: James F Munro. Дата публикации: 2004-07-29.

Slide measuring system for filling pouches and associated method

Номер патента: US11744275B2. Автор: Travis M. Garthaffner,James D. Evans,Tamika S. MURRELL,Jeremy J. Straight,Jarrod W. Chalkley,Leah A. Meyers,Herbert C. Longest. Владелец: Altria Client Services LLC. Дата публикации: 2023-09-05.

Inertial position target measuring systems and methods

Номер патента: US20060266878A1. Автор: James Negro,Richard Brunson,James Dillow. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2006-11-30.

Parallel sensing camera based metrology systems and methods

Номер патента: WO2024193929A1. Автор: Simon Reinald HUISMAN,Twan Van Lippen. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-09-26.

Raman scattered light measuring system and raman scattered light measuring method

Номер патента: EP4431918A1. Автор: Hidemi Shigekawa,Yusuke ARASHIDA. Владелец: Bio Xcelerator Inc. Дата публикации: 2024-09-18.

Strain distribution measurement system and strain distribution measurement method that measure strain distribution based on distribution of reflectance or polarization characteristic

Номер патента: US12055382B2. Автор: Norio Hirayama,Yukimitsu Iwanaga,Tomotaka Nagashima. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Measuring system, and portable radio transceiver and measurement pole used in measuring system

Номер патента: US09989632B2. Автор: Satoshi Yanobe. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Allocation measurement systems and methods

Номер патента: US09895630B2. Автор: Steven Thomas Croft,Jeffrey Adler,Jared Micah Lanig. Владелец: VALIN CORP. Дата публикации: 2018-02-20.

Measuring system

Номер патента: US09773420B2. Автор: Fumio Ohtomo,Kazuki Osaragi,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Distance measurement system and distance measurement method

Номер патента: US09766058B2. Автор: Hidetaka Nishida,Hideo Matsumura,Tatsuya KENZUME,Daisuke ARAKAWA. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Fluid transport system including a flow measurement system and a purge system

Номер патента: US09752905B2. Автор: Christian Aalburg,Andreas Herrig,Erik MELE,Carsten Michael Schneider. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-09-05.

System and method for measuring product flow to an agricultural implement

Номер патента: US09739654B2. Автор: Jim Henry,Pana Binsirawanich,Scott David Noble. Владелец: CNH Industrial Canada Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

System and method for a directable countermeasure with divergent laser

Номер патента: US09709670B1. Автор: Philip Soletsky,Jan Stephan LUNDQUIST. Владелец: ELBIT SYSTEMS OF AMERICA LLC. Дата публикации: 2017-07-18.

System and method for detection of wire breakage

Номер патента: US09599652B2. Автор: Bjarne Funch Skipper. Владелец: PR Electronics AS. Дата публикации: 2017-03-21.

Systems and methods of production, infusion input and control of radioactive isotope delivery

Номер патента: RU2741629C2. Автор: Эндрю ШИММЕЛЛЕР,Клиф МОЙЕРС,Адриан НАНН,Брайан ЧЕРУНДОЛО,Тарах БОЛАС. Владелец: Бракко Дайэгностикс Инк.. Дата публикации: 2021-01-28.

Method and system to measure and represent the measured value of a limit in terms of another measurement in a signal measurement system

Номер патента: EP2256509A3. Автор: Mark L. Guenther,V. Anuradha,Manisha Ajgaonkar,Krishna N.H. Sri. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2010-12-15.

Method and System to Measure and Represent the Measured Value of a Limit in Terms of Another Measurement in a Signal Measurement System

Номер патента: US20110119688A1. Автор: Mark L. Guenther,Pechluck Pongched,G R N Prasanth,Raghavendran N,Krishna N. H. Sri,Manisha D. Ajgaonkar,Anuradha V. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2011-05-19.

Method and system to measure and represent the measured value of a limit in terms of another measurement in a signal measurement system

Номер патента: EP2253965A3. Автор: Mark L. Guenther,Manisha Ajgaonkar,Krishna N.H. Sri,Prasanth Grn,Pechluck Pongched,N. Raghavendran. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2010-12-15.

Bubble measurement system and method

Номер патента: WO2023131880A1. Автор: Du Wen,Shu Wang,Roberto Francisco-Yi Lu,Jiankun Zhou. Владелец: TE Connectivity Solutions GMBH. Дата публикации: 2023-07-13.

Radar velocity measurement system and method and radar device thereof

Номер патента: US20230086601A1. Автор: Hong-Lun CHEN,Yu-Wang HU. Владелец: Cubtek Inc. Дата публикации: 2023-03-23.

An x-ray measurement system and a cooling method for cooling a ge x-ray detector

Номер патента: WO2023242464A1. Автор: Heikki Sipila. Владелец: HEIKKI SIPILA OY. Дата публикации: 2023-12-21.

Thermography measurement system for conducting thermal characterization of integrated circuits

Номер патента: EP2074436A2. Автор: Peter E. Raad. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-07-01.

Thermography measurement system for conducting thermal characterization of integrated circuits

Номер патента: WO2008039621A2. Автор: Peter E. Raad. Владелец: Raad Peter E. Дата публикации: 2008-04-03.

Build plane measurement systems and related methods

Номер патента: US11987005B2. Автор: Mackenzie Ryan REDDING,Fabian Zeulner,Rachel Wyn Levine. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-05-21.

System and Method for Collecting Measurement Data of Shaped Cooling Holes of CMC Components

Номер патента: US20200326180A1. Автор: Sean Allen Campion,Cody Daniel Burbank,Joshua Ryan Wilson. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2020-10-15.

System and method for performing laser-induced breakdown spectroscopy measurements on molten metal samples

Номер патента: EP4399509A2. Автор: Kristján LEÓSSON,Sveinn Hinrik GUDMUNDSSON. Владелец: Dte Ehf. Дата публикации: 2024-07-17.

Bubble measurement system and method

Номер патента: US20230215032A1. Автор: Du Wen,Shu Wang,Roberto Francisco-Yi Lu,Jiankun Zhou. Владелец: TE Connectivity Solutions GMBH. Дата публикации: 2023-07-06.

Fiber optic rotary joint and antenna, antenna measurement system, and wireless communication system

Номер патента: WO2010050662A3. Автор: Je-Hoon Yun,In-Kui Cho,Sung-Woong Choi. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2010-07-15.

Fiber optic rotary joint and antenna, antenna measurement system, and wireless communication system

Номер патента: WO2010050662A2. Автор: Je-Hoon Yun,In-Kui Cho,Sung-Woong Choi. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2010-05-06.

System and method/process for in-field measurements of plant crops

Номер патента: EP4416525A1. Автор: German Carlos Spangenberg,Bikram Pratap BANERJEE,Surya Kant. Владелец: AGRICULTURE VICTORIA SERVICES PTY LTD. Дата публикации: 2024-08-21.

Build plane measurement systems and related methods

Номер патента: US20240262040A1. Автор: Mackenzie Ryan REDDING,Fabian Zeulner,Rachel Wyn Levine. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-08-08.

Conveyor system and measuring device for determining water content of a construction material

Номер патента: EP2909610A1. Автор: Robert Ernest Troxler,W. H. Linus DEP. Владелец: Troxler Electronic Laboratories Inc. Дата публикации: 2015-08-26.

Optical metrology system and method

Номер патента: US20240264538A1. Автор: Gilad Barak,Amir Shayari. Владелец: Nova Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Build plane measurement system and related additive manufacturing method

Номер патента: EP3839422A1. Автор: Mackenzie Ryan REDDING,Fabian Zeulner,Rachel Wyn Levine. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2021-06-23.

Systems and methods for downhole determination of drilling characteristics

Номер патента: EP3724447A1. Автор: Holger Mathiszik. Владелец: Baker Hughes Holdings LLC. Дата публикации: 2020-10-21.

Measurement, coating and monitoring system and method

Номер патента: EP2005108A2. Автор: Michael James Fraser,Jörg Peter Feist,Andrew Lawrence Heyes,John Raymond Nicholls. Владелец: Southside Thermal Sciences Sts Ltd. Дата публикации: 2008-12-24.

System and method for measuring a flow of gas through a channel

Номер патента: WO2021130308A1. Автор: Patrick Reissner. Владелец: Belimo Holding AG. Дата публикации: 2021-07-01.

System and method for measuring electrical properties of materials

Номер патента: US11009525B1. Автор: Jay Mody,Hemant Dixit. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2021-05-18.

JAK measuring system and method of use

Номер патента: US20040117997A1. Автор: John Anthony Karageorge. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-06-24.

Regularity measurement system and method for seat arrangement

Номер патента: US20220319150A1. Автор: Aili Zhou. Владелец: Ningbo Juzhong Machinery Co ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Long-Term Benthic Incubation and Measuring System and Method

Номер патента: US20240230613A1. Автор: Jordon Beckler,Csaba Vaczo. Владелец: Florida Atlantic University. Дата публикации: 2024-07-11.

Body impact evaluation system and wearable measurement system therefor

Номер патента: WO2024180172A1. Автор: Kamiar Aminian,Christophe Guberan,Mathieu Pascal FALBRIARD,Tom-Alexandre BERTRAND,Harshal Arun SONAR. Владелец: ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL). Дата публикации: 2024-09-06.

Temperature measurement system for an aerosol-generating device, aerosol-generating device comprising the temperature measurement system and method for measuring a temperature in an aerosol-generating device

Номер патента: EP4426146A1. Автор: Pier Paolo Monticone,Layth Sliman BOUCHUIGUIR. Владелец: JT INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2024-09-11.

System and method for refining coordinate-based three-dimensional images obtained from a three-dimensional measurement system

Номер патента: US09933522B2. Автор: Richard L. Sebastian,Anatoley T. Zheleznyak. Владелец: Digital Signal Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Systems and methods for measuring torque on rotating shaft

Номер патента: US09933323B2. Автор: Michael Schulz,Pascal Schweizer,Christophe Le Moing,Remy Chaumont,Stefan Simon,Andy Mark Nicol. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

System and method for controlling an unmanned air vehicle

Номер патента: US09758239B2. Автор: Knut Siercks,Bernhard Metzler. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-09-12.

Signal measurement systems and methods

Номер патента: US09709654B2. Автор: Gary R. Simpson. Владелец: Maury Microwave Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Systems and methods for wafer surface feature detection and quantification

Номер патента: US09702829B1. Автор: Haiguang Chen,Jaydeep Sinha,Sergey Kamensky,Shouhong Tang,Enrique Chavez,Mark Plemmons. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

System and method for prepolarizing magnetic resonance- or relaxation-based measurements

Номер патента: US09684051B2. Автор: Risto Ilmoniemi,Jaakko Nieminen,Cornelis ZEVENHOVEN,Panu Vesanen. Владелец: Aalto Korkeakoulusäätiö sr. Дата публикации: 2017-06-20.

Projection apparatus for measurement system based on exit pupil positions

Номер патента: US09658056B2. Автор: Masakazu Tohara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Systems and methods related to near-field electromagnetic scanners

Номер патента: US09506968B2. Автор: Hoang Mong Nguyen,Guohao Zhang,Dinhphuoc Vu Hoang,Howard E. CHEN,Dean Kazuo ENOMOTO. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

System and method for a directable countermeasure with divergent laser

Номер патента: US09465100B2. Автор: Philip Soletsky,Jan Stephan LUNDQUIST. Владелец: ELBIT SYSTEMS OF AMERICA LLC. Дата публикации: 2016-10-11.

System and method for obtaining nuclear magnetic resonance measurements on reservoir fluids for prediction of fluid properties

Номер патента: US09459330B2. Автор: Robert Freedman,Krishnamurthy Ganesan,Douglas W. Grant,Vivek Anand,Payam Tabrizi,Daniel Catina,Ricardo Y. Torres. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Systems and methods for attitude fault detection based on air data and aircraft control settings

Номер патента: US09435661B2. Автор: Mats Anders Brenner,Danny Thomas Kimmel,John R. Morrison,Jay Joseph Hansen. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

System and method for determining hematocrit insensitive glucose concentration

Номер патента: RU2661608C2. Автор: Майкл МАЛЕЧА. Владелец: Цилаг Гмбх Интернэшнл. Дата публикации: 2018-07-17.

Drone-based water measurement system

Номер патента: US20240127701A1. Автор: Thomas Robert Swanson,Harrison PHAM. Владелец: X Development LLC. Дата публикации: 2024-04-18.

Sensing chip, measuring chip, measurement system and methods and computer program products thereof

Номер патента: EP4372336A1. Автор: Tsai-Chung Yu,Nan-Huei Lee. Владелец: Joy Express Investment Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Level measurement system and wireless operator device

Номер патента: EP4372328A1. Автор: Christoffer WIDAHL,Nicolas PREISIG. Владелец: ROSEMOUNT TANK RADAR AB. Дата публикации: 2024-05-22.

Level measurement system and wireless operator device

Номер патента: US20240167867A1. Автор: Christoffer WIDAHL,Nicolas PREISIG. Владелец: ROSEMOUNT TANK RADAR AB. Дата публикации: 2024-05-23.

Distance measurement system and solid-state imaging sensor used therefor

Номер патента: US20190072673A1. Автор: Junji Ito,Tohru Yamada,Toshiya Fujii. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-07.

System and method for measuring rotation of a wire feed mechanism

Номер патента: EP3215856A1. Автор: Marc Lee Denis. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2017-09-13.

System and method for measuring rotation of a wire feed mechanism

Номер патента: WO2016073092A1. Автор: Marc Lee Denis. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC.. Дата публикации: 2016-05-12.

Adapter and external support structure for biosignal measurement system, biosignal measurement system and connection method

Номер патента: US20200305749A1. Автор: Juha MYLLYKANGAS,Arto Remes. Владелец: Bittum Biosignals Oy. Дата публикации: 2020-10-01.

Optical systems and methods for measuring turbine blade tip clearance

Номер патента: US12060865B2. Автор: Russell E. Altieri,Lewis J. Boyd. Владелец: Parker Hannifin Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Apparatuses, systems, and methods for determining gas emssion rate detection sensitivity and gas flow speed using remote gas concentration measurements

Номер патента: US20230221219A1. Автор: Michael James THORPE,Aaron Thomas KREITINGER. Владелец: Bridger Photonics Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Hybrid fluorescence-absorbance measurement system and method for sub-microliter and sub-nanoliter volume measurement

Номер патента: WO2024144798A1. Автор: Richard Curtis,John Thomas Bradshaw,Gail Johnson,Heather Macken,Jordyn LAWRENCE. Владелец: ARTEL, INC.. Дата публикации: 2024-07-04.

Human motion identification and measurement system and method

Номер патента: EP1651927A1. Автор: Wayne A. Soehren,Charles T Bye. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2006-05-03.

Cartridge device for a measuring system for measuring viscoelastic characteristics of a sample liquid, a corresponding measuring system, and a corresponding method

Номер патента: US11768211B2. Автор: Axel Schubert,Max Kessler,Jose J. Romero-Galeano. Владелец: CA Casyso AG. Дата публикации: 2023-09-26.

Body impact evaluation system and wearable measurement system therefor

Номер патента: WO2024180171A1. Автор: Kamiar Aminian,Christophe Guberan,Mathieu Pascal FALBRIARD,Tom-Alexandre BERTRAND,Harshal Arun SONAR. Владелец: ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL). Дата публикации: 2024-09-06.

An integrated system and method for measuring deformations and/or stresses in one-dimensional elements

Номер патента: EP3545275A2. Автор: Di Torino Politecnico. Владелец: POLITECNICO DI TORINO. Дата публикации: 2019-10-02.

Apparatuses, systems, and methods for determining gas emssion rate detection sensitivity and gas flow speed using remote gas concentration measurements

Номер патента: CA3241188A1. Автор: Michael James THORPE,Aaron Thomas KREITINGER. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-13.

Apparatuses, systems, and methods for determining gas emssion rate detection sensitivity and gas flow speed using remote gas concentration measurements

Номер патента: AU2022431237A1. Автор: Michael James THORPE,Aaron Thomas KREITINGER. Владелец: Bridger Photonics Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Method and measurement system for carrying out and/or displaying a measurement process

Номер патента: US20240241623A1. Автор: Hannes Loferer,Thomas Wisspeintner,Andreas Liebl. Владелец: Micro Epsilon Messtechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-18.

System and method for bump height measurement

Номер патента: WO2004044831A1. Автор: Charles Harris,Weerakiat Wahawisan,Gerald Brown,Chuah Sim Hak,Richard Goedeken. Владелец: Semiconductor Technologies & Instruments, Inc.. Дата публикации: 2004-05-27.

Hybrid fluorescence-absorbance measurement system and method for sub-microliter and sub-nanoliter volume measurement

Номер патента: WO2024144798A9. Автор: Richard Curtis,John Thomas Bradshaw,Gail Johnson,Heather Macken,Jordyn LAWRENCE. Владелец: ARTEL, INC.. Дата публикации: 2024-08-15.

Apparent resistivity measuring system and method using semi-airborne electromagnetic method

Номер патента: US20240295670A1. Автор: Zhongxing WANG,Lili Kang,Tianxin ZHANG,Zhiyao LIU. Владелец: Institute of Geology and Geophysics of CAS. Дата публикации: 2024-09-05.

Measurement system, measurement method, injector, and method for injecting biomolecule-containing solution into to-be-injected cell using same

Номер патента: US20240325648A1. Автор: HIROSHI Miyazaki,Toru Kitaguchi,Yuko Sakaguchi. Владелец: Daicel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Water detection and measurement system and method

Номер патента: US12104486B2. Автор: Christophe Marie Blaise VIELLIARD. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Igcc fuel component analysis and calorific value measurement system

Номер патента: US20240345009A1. Автор: Jian Wang,Zhiqiang Li,Jianbo DING,Hang Guo,Jiye TAO,Xiangping Wang,Guangli Zhou,Haipeng Qi,Yuntao Ai. Владелец: Huaneng Tianjin Coal Gasification Power Generation Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Specimen measurement system and specimen measurement method

Номер патента: EP4455678A2. Автор: Takaaki Nagai,Tomohiro Tsuji,Hideki Hirayama,Hiroo Tatsutani. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Cartridge device for a measuring system for measuring viscoelastic characteristics of a sample liquid, a corresponding measuring system, and a corresponding method

Номер патента: US12105103B2. Автор: Axel Schubert,Max Kessler,Jose J. Romero-Galeano. Владелец: CA Casyso AG. Дата публикации: 2024-10-01.

Measurement system for radio frequency mos device modeling and modeling method for radio frequency mos device

Номер патента: US20240369612A1. Автор: QUAN Wang,Linlin Liu,Yueyi FENG. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

System and method for manufacturing cementitious boards with on-line board measurement

Номер патента: US09964942B2. Автор: Robert Nelson,Andrew Rowe,Charles Whittington,Christopher Mark Pauly. Владелец: United States Gypsum Co. Дата публикации: 2018-05-08.

Water detection and measurement system and method

Номер патента: US20240360756A1. Автор: Christophe Marie Blaise VIELLIARD. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Sensor assembly, method, and measuring system for capturing the distribution of at least one variable of an object

Номер патента: US09759660B2. Автор: Achim Stangelmayer. Владелец: PreSens Precision Sensing GmbH. Дата публикации: 2017-09-12.

Cartridge device for a measuring system for measuring viscoelastic characteristics of a sample liquid, a corresponding measuring system, and a corresponding method

Номер патента: US09739789B2. Автор: Axel Schubert,Max Kessler,Jose J. Romero-Galeano. Владелец: CA Casyso AG. Дата публикации: 2017-08-22.

Radiation measurement system and method with synchronous high speed tracking laser based position measurement

Номер патента: US09726704B2. Автор: Jeffrey Fordham,Martin Mannion,Charles P. B. Pinson,Marion Baggett. Владелец: NSI MI Technologies LLC. Дата публикации: 2017-08-08.

Radiopharmaceutical concentration measurement system and method

Номер патента: US09715020B2. Автор: Chad E. Bouton,Larry McCutchan,James E. Dvorsky,Marc A. Mabie. Владелец: Bayer HealthCare LLC. Дата публикации: 2017-07-25.

Systems and methods for attitude fault detection based on integrated GNSS/inertial hybrid filter residuals

Номер патента: US09593962B2. Автор: Mark A. Ahlbrecht,Mats Anders Brenner,John R. Morrison. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Precision hydrostatic level and flatness measuring device, system and method

Номер патента: US09587940B2. Автор: Frank Olshefsky. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-07.

System and method for optical measurement of a target

Номер патента: US09581499B2. Автор: Heikki Saari,Christer Holmlund,Uula Kantojarvi,Rami Mannila,Antti Lamminpaa,Pekka Teppola. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2017-02-28.

Endoscopic measurement system and method

Номер патента: US09545220B2. Автор: Avishay Sidlesky. Владелец: VTM (virtual Tape Measure) Technologies Ltd. Дата публикации: 2017-01-17.

Stereoscopic measurement system and method

Номер патента: US09482515B2. Автор: Warren Redden,Windflower Waters,Steven Weintraub,Carl Redden,George B. Stevens,Grady A. Clendening,Robert W. Srack,Janet M. Srack. Владелец: Matrix Electronic Measuring Properties LLC. Дата публикации: 2016-11-01.

Optical measuring system and gas detecting method

Номер патента: US09377359B1. Автор: Urs Boegli,Andreas Wittmann,Marc-Oliver Zufferey,Kai Hassler. Владелец: AXETRIS AG. Дата публикации: 2016-06-28.

Measuring system and method for determining a force and/or a torque on a torque-transmitting shaft

Номер патента: US12013301B2. Автор: Helmut Kokal,Alexander Schricker,Franz DREISIEBNER,Mario PROPST,Michael Hirschler. Владелец: PIEZOCRYST ADVANCED SENSORICS GMBH. Дата публикации: 2024-06-18.

System and method for measuring transformer hot-spot temperature

Номер патента: US12000906B2. Автор: HAN Liu,Qingquan LI,Dongxin HE,Qingjing ZANG,Wenjie GONG,Xinyan FENG. Владелец: Shandong University. Дата публикации: 2024-06-04.

Improved position measurement system and method using cone math calibration

Номер патента: EP1337872A2. Автор: Thomas M. Arc Second Inc. HEDGES,Hiro Arc Second Inc. TAKAGI,Timothy Arc Second Inc. PRATT,Michael J. Arc Second Inc. SOBEL. Владелец: Arc Second Inc. Дата публикации: 2003-08-27.

Measurement system and method of use

Номер патента: US10416118B1. Автор: Neil J Goldfine,Todd M Dunford,Mark D Windoloski,Stuart D Chaplan,Yanko K Sheiretov,Scott A Denenberg,Kevin P Dixon,Saber Bahranifard. Владелец: Jentek Sensors Inc. Дата публикации: 2019-09-17.

Gas concentration measurement system and airway adapter thereof

Номер патента: US20220187192A1. Автор: Yi-Sung Kuo. Владелец: Comdek Industrial Corp. Дата публикации: 2022-06-16.

Accurate turbidity measurement system and method, using speckle pattern

Номер патента: US20240230531A9. Автор: Young Dug Kim,Kyoung Man Cho. Владелец: Wave Talk Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Rivet Measurement System

Номер патента: US20180341725A1. Автор: Kelsea Cox,Robert Michael Lawton,Lindsay Leigh Waite Jones,Ivan V. Kwok. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-11-29.

Pneumatic level measurement system and method for measurement of powder material

Номер патента: WO2021177837A1. Автор: Bjørn Olav Leikvang. Владелец: Thorium Holding As. Дата публикации: 2021-09-10.

System and method for measuring downhole mud flow density

Номер патента: GB2624324A. Автор: Peters Volker. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2024-05-15.

Systems and methods for detecting toxins in a sample

Номер патента: EP2150622A2. Автор: Scott Gallager. Владелец: Woods Hole Oceanographic Institute WHOI. Дата публикации: 2010-02-10.

Wakeboat draft measuring system and methods

Номер патента: CA2937537C. Автор: Richard L. Hartman. Владелец: SKIER'S CHOICE Inc. Дата публикации: 2023-10-17.

Wakeboat draft measuring system and methods

Номер патента: US10926848B1. Автор: Richard L. Hartman. Владелец: SKIER'S CHOICE Inc. Дата публикации: 2021-02-23.

Sporting Field Measurement System

Номер патента: US20190025055A1. Автор: Lee Edward Haynes,Byron Lee Robinson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-01-24.

System and method for measuring downhole mud flow density

Номер патента: US20230003628A1. Автор: Volker Peters. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2023-01-05.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US11674978B2. Автор: Bernhard Sterzbach. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-06-13.

Pneumatic level measurement system and method for measurement of powder material

Номер патента: EP4115155A1. Автор: Bjørn Olav Leikvang. Владелец: Thorium Holding As. Дата публикации: 2023-01-11.

Misalignment measurement system, production equipment for welded steel pipe, imaging terminal, imaging system, information processing device, misalignment measurement method, welded steel pipe production method, and quality control method for welded steel pipe

Номер патента: EP4417934A1. Автор: Shinichi Haga,Yusuke Tsukamoto. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Dose measurement system and method

Номер патента: US20230243685A1. Автор: James White,Richard Whalley. Владелец: Bigfoot Biomedical Inc. Дата публикации: 2023-08-03.

Systems and methods for resistivity measurement

Номер патента: WO2004068172A1. Автор: David Beamish,Oliver Kuras,Richard D. Ogilvy,Philip I. Meldrum. Владелец: Natural Environment Research Council. Дата публикации: 2004-08-12.

Laser Radar-based Adaptive Traffic Flow Measurement System and Method

Номер патента: NL2036060B1. Автор: Guo Min,Wang Yingjie,Yang Xiaoxiao,WU Hongbo. Владелец: Hebei Transp Investment Group Company Limited. Дата публикации: 2024-07-12.

Armored vehicle, method, and weapon measurement system for determining barrel elevation

Номер патента: US20200370868A1. Автор: James Hugh Lougheed. Владелец: General Dynamics Mission Systems Inc. Дата публикации: 2020-11-26.

Thickness measuring system and method

Номер патента: WO2020263857A1. Автор: Peter Neumann,Michael Jenkins. Владелец: Michael Jenkins. Дата публикации: 2020-12-30.

Elevator car load measurement system and method for determining a load of an elevator car

Номер патента: EP3601131A1. Автор: Oliver Simmonds,Frank Olivier Roussel. Владелец: INVENTIO AG. Дата публикации: 2020-02-05.

System and method for post-exposure dosimetry using electron paramagnetic resonance spectroscopy of teeth

Номер патента: US20160370446A1. Автор: Harold M. Swartz,Benjamin B. Williams,Sergey V. Petryakov,Wilson A. Schreiber. Владелец: Dartmouth College. Дата публикации: 2016-12-22.

Wakeboat draft measuring system and methods

Номер патента: US10414470B1. Автор: Richard L. Hartman. Владелец: SKIER'S CHOICE Inc. Дата публикации: 2019-09-17.

Temperature measurement method, temperature measurement device, medical device system, and laser treatment method

Номер патента: US20230392996A1. Автор: Mitsuru Namiki,Ikutoshi Fukushima. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Systems and methods for carbon dioxide measurement

Номер патента: US20240255392A1. Автор: Phil Bresnahan,Michael Tydings,Elizabeth Farquhar. Владелец: UNIVERSITY OF NORTH CAROLINA AT WILMINGTON. Дата публикации: 2024-08-01.

Dose measurement system and method

Номер патента: US20240318993A1. Автор: James White,Richard Whalley. Владелец: Bigfoot Biomedical Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Measurement method and apparatus for semiconductor features with increased throughput

Номер патента: US20240311698A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Oliver Malki,Alex Buxbaum,Johannes Persch,Alexander Freytag,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-19.

Calibration method for a flow measurement system, flow measurement system and computer program product

Номер патента: AU2022368950A1. Автор: Wilko Wilkening,Jürgen Kiefer. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-03-14.

Line spectral confocal three-dimensional measurement system and method using linear variable filter

Номер патента: US20240310163A1. Автор: Weimin Shen,Xinhua Chen,Shiyu Ge. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-09-19.

Automatic measuring systems and control method for automatic measuring systems

Номер патента: US20240346694A1. Автор: Seiji Sasaki,Kunio Ueda,Daisuke Sakai. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

System and method for increasing resolution of images obtained from a three-dimensional measurement system

Номер патента: US09983309B2. Автор: Richard L. Sebastian,Anatoley T. Zheleznyak. Владелец: Stereovision Imaging Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

System and methods for intraoperative guidance feedback

Номер патента: US09901409B2. Автор: Victor Xiao Dong Yang,Beau Anthony STANDISH,Adrian Linus Dinesh Mariampillai,Michael Ka Kit LEUNG. Владелец: RYERSON UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-02-27.

Wakeboat draft measuring system and methods

Номер патента: US09873491B2. Автор: Richard L. Hartman. Владелец: SKIER'S CHOICE Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

System and method for diffuse imaging with time-varying illumination intensity

Номер патента: US09759995B2. Автор: Vivek K. Goyal,Ghulam Ahmed Kirmani. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2017-09-12.

System and method of conducting particle monitoring using low cost particle sensors

Номер патента: US09726579B2. Автор: Robert Caldow,James E. Farnsworth,Hee-Siew Han. Владелец: TSI Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

System and method for measuring an analyte in a sample and correcting for interferents

Номер патента: US09709521B2. Автор: Maria Teodorczyk,David Matzinger. Владелец: Cilag GmbH International. Дата публикации: 2017-07-18.

System and method for measuring fluorescence of a sample

Номер патента: US09689799B2. Автор: Vincent J. Riot. Владелец: Lawrence Livermore National Security LLC. Дата публикации: 2017-06-27.

Dose measurement system and method

Номер патента: US09642968B2. Автор: James White,Richard Whalley. Владелец: COMMON SENSING Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

System and method for increasing resolution of images obtained from a three-dimensional measurement system

Номер патента: US09606233B2. Автор: Richard L. Sebastian,Anatoley T. Zheleznyak. Владелец: Digital Signal Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Systems and methods of thermal energy measurement

Номер патента: US09593988B1. Автор: Sergey Liberman,Stanislav Elektrov,Paul Sandberg,Marc Zacharias. Владелец: Calmetrix Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

System and methods for intraoperative guidance feedback

Номер патента: US12137985B2. Автор: Victor Xiao Dong Yang,Beau Anthony STANDISH,Adrian Linus Dinesh Mariampillai,Michael Ka Kit LEUNG. Владелец: 7D Surgical ULC. Дата публикации: 2024-11-12.

System and methods for intraoperative guidance feedback

Номер патента: US09510914B2. Автор: Victor Xiao Dong Yang,Beau Anthony STANDISH,Adrian Linus Dinesh Mariampillai,Michael Ka Kit LEUNG. Владелец: RYERSON UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-12-06.

Dietary measurement system and method of correlating dietary contents information to a defined volume

Номер патента: US09398775B2. Автор: George Alexander Nathanson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-07-26.

Clamping force measurement system and method for head-mounted device

Номер патента: US20240201033A1. Автор: Sheng Cyuan FAN,Chien Kai TSENG,Chuan Hsin CHANG,Han-Ting CHIN. Владелец: Lanto Electronic Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Fire extinguishing agent concentration measuring system and method of measuring a fire extinguishing agent within an environment

Номер патента: US20210404954A1. Автор: Mark P. Fazzio. Владелец: Kidde Technologies Inc. Дата публикации: 2021-12-30.

System and method for optical measurements in a rotary machine

Номер патента: EP3816574A1. Автор: Kurt Kramer Schleif,Andrew David Ellis. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2021-05-05.

Size measurement method and apparatus, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4361555A1. Автор: Fei Chen,Guannan JIANG,Tianhui WU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Dielectrophoresis separator cross-over frequency measurement systems

Номер патента: US20240201130A1. Автор: Yang Lei,Viktor Shkolnikov,Daixi XIN. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2024-06-20.

Systems and methods for predicting soil properties

Номер патента: AU2022410502A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

Distributed measurement system for scanning projects

Номер патента: US20200301885A1. Автор: Oliver Zweigle,Aleksej Frank,Ahmad RAMADNEH,Joao Santos. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2020-09-24.

Automatic measurement system and method for plant features, and recording medium thereof

Номер патента: US20110116688A1. Автор: Szu-Hsuan WANG,Yi-Fang LI. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2011-05-19.

System and method for measuring volume and pressure

Номер патента: EP3368869A1. Автор: Gary Stacey. Владелец: Haemonetics Corp. Дата публикации: 2018-09-05.

Roll firmness measuring system and process

Номер патента: US7204154B2. Автор: Nathan Harris,James Baggot,Steve Wojcik,Kevin Sartain,Rick Urquhart,Mike Daniels. Владелец: Kimberly Clark Worldwide Inc. Дата публикации: 2007-04-17.

System and method for measuring content of a bin

Номер патента: CA2598979A1. Автор: Yossi Zlotnick,Ofir Perl. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-08-31.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: EP3853553A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2021-07-28.

Vital sign detection apparatus and system and data processing method

Номер патента: US20240237905A1. Автор: BO Wang,Zhi Zheng,Yongxin Guo. Владелец: Singapore Suzhou Research Institute, National University of. Дата публикации: 2024-07-18.

Systems and methods for on-chip power management

Номер патента: WO2007117895A3. Автор: Jien-Chung Lo,Chuen-Song Chen. Владелец: Chuen-Song Chen. Дата публикации: 2008-07-24.

Speed measurement method, system, and apparatus of medium and low speed maglev train

Номер патента: US20240219417A1. Автор: Jing Shi,Jia Liu,Hui Yang,Ling Liu,Junfeng Cui,Yating FU,Zhongqi LI,Yanli Zhou,Shuaiqiang DONG. Владелец: CRSC Research and Design Institute Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Multi-material inspection system and velocity measurement method of critically refracted longitudinal wave based on single-angle wedges

Номер патента: US20220268739A1. Автор: Li Lin,Song Zhang,Hong Wang,Zhiyuan Ma,Shijie Jin,Zhongbing Luo. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2022-08-25.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: US20220026197A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2022-01-27.

Measurement system and method for testing an object

Номер патента: US20240241165A1. Автор: Corbett Rowell,Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-18.

Metallic bone measurement system and method

Номер патента: US20240138790A1. Автор: Aaron James Specht,Linda H. Nie. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-05-02.

Continuous Measuring System for High-density Resistivity of Capacitor Electrodes and Measuring Method

Номер патента: LU500628B1. Автор: Zhixin Liu,Zhanguo Lu,Xingang Xu. Владелец: Univ China Mining. Дата публикации: 2022-03-07.

Optical measuring method, and optical measuring system

Номер патента: EP4431888A1. Автор: Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Systems and methods for on-chip power management

Номер патента: WO2007117895A2. Автор: Jien-Chung Lo,Chuen-Song Chen. Владелец: The Board of Governors for Higher Education, State of Rhode Island and Providence Plantations. Дата публикации: 2007-10-18.

An apparatus correcting the frequency response of a current measurement system

Номер патента: EP4396591A2. Автор: Michael O'Brien,Jonathan Ephraim Hurwitz. Владелец: Analog Devices International ULC. Дата публикации: 2024-07-10.

Automatic measuring system and control method for automatic measuring system

Номер патента: US20240345116A1. Автор: Seiji Sasaki,Daisuke Sakai,Kazuhiko Hidaka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Multiphase flow metering system and method

Номер патента: EP4431881A1. Автор: Mengying Wang,Shiwen Chen,Feng Deng,Junfeng SHI,Guanhong CHEN,Chunming Xiong,Xishun Zhang,Ruidong Zhao,Qun LEI. Владелец: Petrochina Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

System and methods to accurately measure dynamic resistance for power devices

Номер патента: US20240353470A1. Автор: Daniel G. Knierim,Joshua J. O'Brien,Krishna N H Sri,Vivek Shivaram,Niranjan R. Hegde,Shubha B,Yogesh M. Pai. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Measuring system and method for operating a measuring system

Номер патента: US12123755B2. Автор: Jan Forster. Владелец: Krohne Messtechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-10-22.

Systems and methods for predicting soil properties

Номер патента: EP4449101A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-10-23.

Systems and methods for predicting soil properties

Номер патента: US20240337599A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Fit for purpose measurement system for drill hole logging

Номер патента: AU2020396915B2. Автор: John Carl JACKSON,Christopher PELL,David Charles Lawie,Erik GUTTERUD,Christopher Thomas Koplan,Cory Bryce WILSON,Frederick BLAINE,Joel HITCHEN. Владелец: Reflex Instruments Asia Pacific Pty Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Method for ascertaining the fill level of a pipe, analysis unit, flow measuring system, and computer program product

Номер патента: AU2023246473A1. Автор: Wilko Wilkening,Mohamed NAIT MEZIANE,Timo Reckwerth. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-10-31.

System and methods to accurately measure dynamic resistance for power devices

Номер патента: WO2024220945A1. Автор: Daniel G. Knierim,Joshua J. O'Brien,Krishna N H Sri,Vivek Shivaram,Yogesh M. Pai,Niranjan R Hegde,Shubha B.. Владелец: TEKTRONIX, INC.. Дата публикации: 2024-10-24.

Magnetic measurement system and apparatus utilizing X-ray to measure comparatively thick magnetic materials

Номер патента: US09835569B2. Автор: Masao Yano,Kanta Ono. Владелец: Inter University Research Institute Corp High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2017-12-05.

Electrochemical test strip, measurement system and method for determining sample content in the reactive region of the electrochemical test strip

Номер патента: US09823213B2. Автор: Ching Yuan Chu,Chun Ming Cheng,Po Min Wang,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Line cycle correlated spectral analysis for power measurement systems

Номер патента: US09759751B1. Автор: Shruti Sethi. Владелец: Cirrus Logic Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

Spectral ellipsometry measurement and data analysis device and related systems and methods

Номер патента: US09733178B2. Автор: Yu-Sin Yang,Chung-Sam Jun,Woo-Seok Ko,Sang-Kil Lee,Sung-Yoon Ryu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-15.

Liquid gas vaporization and measurement system and method

Номер патента: US09625431B2. Автор: Walter F. Gerhold,Kenneth O. Thompson. Владелец: MUSTANG SAMPLING LLC. Дата публикации: 2017-04-18.

Ballonet measurement system

Номер патента: US09611024B2. Автор: Douglas H. Greiner,John P. Morehead,Brian T. Holm-Hansen. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Tracking measurement system and method

Номер патента: US09575183B2. Автор: William T. Edwards,Michael L. Piasse,Craig M. Farniok. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-02-21.

Flare-measuring mask, flare-measuring method, and exposure method

Номер патента: US09529251B2. Автор: Masayuki Shiraishi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Multi-sensory measuring system and method for transportation vehicle operating systems

Номер патента: US12026952B2. Автор: Philipp Nils KUEPPER. Владелец: Dr Ing HCF Porsche AG. Дата публикации: 2024-07-02.

Drilling mud flow metering system and method

Номер патента: US12013273B2. Автор: Sakethraman Mahalingam,Michael Affleck. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-06-18.

Systems and methods for predicting soil carbon content

Номер патента: AU2022403479A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring system and method for measuring soil enzymatic activity

Номер патента: WO2024067953A1. Автор: Keith Gunura,Sonia MELLER,Hélène IVEN. Владелец: Digit Soil Ag. Дата публикации: 2024-04-04.

Gas delivery and nitrogen dioxide measurement system

Номер патента: US20210372979A1. Автор: Khaled Gasmi,Watheq AL-BASHEER,Abdulaziz Aljalal,Sameh Altanany. Владелец: KING FAHD UNIVERSITY OF PETROLEUM AND MINERALS. Дата публикации: 2021-12-02.

Oscillation frequency measuring system and method for a mems sensor

Номер патента: US20150000402A1. Автор: Ferenc Nagy,Massimo Cataldo MAZZILLO,Alfio Russo. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2015-01-01.

Pneumatic plug gauge and measuring system

Номер патента: US10775162B2. Автор: Herbert Beck,Johannes Weickmann,Andreas Schruefer,Christoph Schmidtlein. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-09-15.

Measuring system and method for measuring light sources

Номер патента: US20230244070A1. Автор: Frank Münchow,Stephanie Grabher,Martin Finger. Владелец: Instrument Systems GmbH. Дата публикации: 2023-08-03.

Oscillation frequency measuring system and method for a mems sensor

Номер патента: US20170297910A1. Автор: Ferenc Nagy,Massimo Cataldo MAZZILLO,Alfio Russo. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2017-10-19.

System and method for determining successive single molecular decay

Номер патента: US12050130B2. Автор: J. Paul Robinson,Masanobu Yamamoto,Keegan HERNANDEZ,John Jaiber González Murillo. Владелец: Miftek Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Measuring mechanism for wide-angle moving coil systems and method for its assembly

Номер патента: US4330747A. Автор: Karl H. Rivoir. Владелец: Individual. Дата публикации: 1982-05-18.

Light signal deflecting device for an optical measuring system for detecting objects, measuring system, and method for operating a light signal deflecting device

Номер патента: US20220196808A1. Автор: Ho-Hoai-Duc Nguyen,Thomas Schuler. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2022-06-23.

Electrochemical measurement system and method for monitoring a concrete structure

Номер патента: US20220260548A1. Автор: Ioannis Ignatiadis,Stephane Gaboreau,Stephanie Betelu,Romain RODRIGUES,Julien GANCE. Владелец: BRGM SA. Дата публикации: 2022-08-18.

Water level measuring system and non-condensable gas discharge device for same

Номер патента: US20130276530A1. Автор: Kei Sato,Seiji Kanasaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-10-24.

Airflow measurement system and communication module

Номер патента: EP4001926A1. Автор: Minoru NAGAWATARI. Владелец: MinebeaMitsumi Inc. Дата публикации: 2022-05-25.

Lymphatic pressure-measuring system and method for controlling same

Номер патента: US20120123254A1. Автор: Naoki Unno. Владелец: Hamamatsu University School of Medicine NUC. Дата публикации: 2012-05-17.

Pneumatic plug gauge and measuring system

Номер патента: US20170328707A1. Автор: Herbert Beck,Johannes Weickmann,Andreas Schruefer,Christoph Schmidtlein. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-11-16.

Multi-region optical filters and systems and methods using same

Номер патента: US20230296511A1. Автор: Hanoch Kislev,Alexander RACHMAN,Shahar SOBOL,Yehonatan Evgeniy TILCHIN. Владелец: Maytronics Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Odor sensor, odor measurement system, and method for producing odor sensor

Номер патента: US20230031936A1. Автор: Masahiro Kishida,Kenichi Hashizume,Erika Terada,Kenichi Maeno. Владелец: Aroma Bit Inc. Дата публикации: 2023-02-02.

Odor sensor, odor measurement system, and method for producing odor sensor

Номер патента: EP4083599A1. Автор: Masahiro Kishida,Kenichi Hashizume,Erika Terada,Kenichi Maeno. Владелец: Aroma Bit Inc. Дата публикации: 2022-11-02.

Traversing measurement system for a dryer and associated method

Номер патента: US20050011528A1. Автор: Todd Rae. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-01-20.

Lymphatic Pressure-Measuring System and Method for Controlling Same

Номер патента: US20150238134A1. Автор: Naoki Unno. Владелец: Hamamatsu University School of Medicine NUC. Дата публикации: 2015-08-27.

Distance measuring system and method

Номер патента: US20080031093A1. Автор: Kenji Suzuki,Hiroyuki Kobayashi,Keiji Oura. Владелец: NEC Display Solutions Ltd. Дата публикации: 2008-02-07.

Measurement systems and methods for oxygenated hemoglobin saturation level

Номер патента: US20090115997A1. Автор: Chih-Wei Lu,Chih-Chung Yang,Cheng-Kuang Lee,Meng-Tsan Tsai,Yih-Ming Wang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2009-05-07.

Spectrometer, distance measuring system, and method for operating a spectrometer

Номер патента: US20240255348A1. Автор: Tobias Otto,Christoph GRUEBER,Alexander Haussmann. Владелец: Micro Epsilon Optronic GmbH. Дата публикации: 2024-08-01.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US20240142314A1. Автор: Guillermo Paniagua-Perez,Roberto Felix Nares Alcala,Lakshya Bhatnagar. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-05-02.

Compression sock and foot measuring system having the same

Номер патента: US20240023639A1. Автор: Tsung-E Liao. Владелец: Nesi Trading Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Fruit quantity measurement system and method

Номер патента: US20230401845A1. Автор: Young Ho Song,Seung Heon Han,Ju Hyeon CHOI,Jeong Hwan IN,Seon Hoon Kim,Doo Gun Kim. Владелец: Korea Photonics Technology Institute. Дата публикации: 2023-12-14.

Perceptual-realistic Colored Sparkle Evaluation And Measurement System For Image-based Matching Of Color And Appearance Of Coatings Containing Effect Pigments

Номер патента: US20240310213A1. Автор: Larry E. Steenhoek,Francisco Miguel MARTÍNEZ VERDÚ. Владелец: AXALTA COATING SYSTEMS IP CO LLC. Дата публикации: 2024-09-19.

Interferometric displacement measurement system and method based on phase modulation of polarized light of micro probe

Номер патента: US12078472B1. Автор: Chen Zhang,Pengcheng HU,Yisi Dong. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-09-03.

Perceptual-realistic colored sparkle evaluation and measurement system for image-based matching of color and appearance of coatings containing effect pigments

Номер патента: WO2024192037A1. Автор: Larry E. Steenhoek,Francisco Miguel MARTÍNEZ VERDÚ. Владелец: AXALTA COATING SYSTEMS GMBH. Дата публикации: 2024-09-19.

Material property characterization by acoustic systems and methods

Номер патента: US20240328974A1. Автор: Oliver Smith. Владелец: Innogized Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Systems and methods for predicting soil carbon content

Номер патента: US20240344992A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Seine net position measurement system and method of determining seine net position

Номер патента: US20240324563A1. Автор: David O'Neill,Carles Castro Muniain,John Wescott Carroll,Cooper Van Vranken. Владелец: Caledonia Nets Llc. Дата публикации: 2024-10-03.

Aquatic total alkalinity measurement system and method

Номер патента: WO2024213768A1. Автор: Lane Hoy,Xavier Darok,Sébastien ETTLING COËFFIER,René BRUNIER. Владелец: Pcfr. Дата публикации: 2024-10-17.

Laser measurement system and method for measuring 21 GMEs

Номер патента: US09982997B2. Автор: Bin Zhang,Qibo FENG,Cunxing Cui. Владелец: Beijing Jiaotong University. Дата публикации: 2018-05-29.

Optical detector module, measurement system and method of detecting presence of a substance in a test material

Номер патента: US09976950B2. Автор: LIN Zhang,Mehmet Aytun Erdentug,Zhijun Yan,Kaiming Zhou. Владелец: Aston University. Дата публикации: 2018-05-22.

Systems and methods for time of flight measurement using a single exposure

Номер патента: US09971023B2. Автор: Michael Mark,Markus Dielacher,Martin Flatscher,Josef Prainsack,Hartwig Unterassinger. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-05-15.

Super-resolution thermoreflectance thermal measurement system

Номер патента: US12130228B2. Автор: Brian M. Foley,Devon A. Eichfeld. Владелец: PENN STATE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-10-29.

Subsea measurement system and method of determining a subsea location-related parameter

Номер патента: US09939527B2. Автор: Christopher Pearce,Mikael Larsen,David Lawes. Владелец: Sonardyne International Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Pitch angle measuring system and method for wind turbines

Номер патента: US09896959B2. Автор: Fabio Bertolotti,Christian Bott. Владелец: SSB Wind Systems GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-20.

Measuring system and method using light source and cylindrical mirror

Номер патента: US09885562B2. Автор: Simon Melikian. Владелец: RECOGNITION ROBOTICS Inc. Дата публикации: 2018-02-06.

Tensioner load measurement system

Номер патента: US09857249B2. Автор: Aaron Barr. Владелец: Transocean Sedco Forex Ventures Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Temperature measurement system and abnormality detection method

Номер патента: US09816878B2. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Runway measurement system and method

Номер патента: US09784579B2. Автор: Matti Pekkarinen,Juha Sunio,Jonna Nousiainen. Владелец: Konecranes Global Oy. Дата публикации: 2017-10-10.

Systems and methods for predicting soil carbon content

Номер патента: EP4441748A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Measuring system and method for determining new points

Номер патента: US09772185B2. Автор: Bernhard Metzler. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-09-26.

Oscillation frequency measuring system and method for a MEMS sensor

Номер патента: US09725308B2. Автор: Ferenc Nagy,Massimo Cataldo MAZZILLO,Alfio Russo. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2017-08-08.

Method for determining time differences between signals measured by at least two coupled measuring devices and measurement system and corresponding switching device

Номер патента: US09678153B2. Автор: Kurt Schmidt,Manfred Mueller,Markus Freidhof,Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-06-13.

Optical measurement method and apparatus for fuel cell components

Номер патента: US09618458B2. Автор: Stephen Couse,Tulin Akin. Владелец: Bloom Energy Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Lymphatic pressure-measuring system and method for controlling same

Номер патента: US09597031B2. Автор: Naoki Unno. Владелец: Hamamatsu University School of Medicine NUC. Дата публикации: 2017-03-21.

Systems and methods for pressure and temperature measurement

Номер патента: US09512715B2. Автор: William Albert Challener,Li Airey. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-12-06.

Real time diagnostics for flow controller systems and methods

Номер патента: US09454158B2. Автор: Bhushan Somani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-09-27.

System and method for monitoring a bi-phase fluid

Номер патента: US09441995B2. Автор: Brian Goddard,Brian Eldredge,Wakova Carter. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Hole-measurement systems and methods using a non-rotating chromatic point sensor (CPS) pen

Номер патента: US09329026B2. Автор: Eric Herbert Altendorf. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-05-03.

An extractor for an microcoloum, an alignment method for an extractor aperture to an electon emitter, and a measuring method and an alignment method using thereof

Номер патента: EP1586106A1. Автор: Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Seung Joon Ahn. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2005-10-19.

Test pattern generation systems and methods

Номер патента: US12039247B2. Автор: Hsu-Ting Huang,Ru-Gun Liu,Fu-An Tien. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Measurement device, measurement system and method

Номер патента: US20180335470A1. Автор: Markus Freidhof. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-11-22.

Detector assemblies for a wearable module of an optical measurement system and including spring-loaded light-receiving members

Номер патента: US20240237942A1. Автор: Scott Jeremy Seidman,Ryan Field,Isai Olvera,Jennifer Rines. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-07-18.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Fuel level measurement system for a machine

Номер патента: US20220090953A1. Автор: BALASUBRAMANIAN Ramachandran,Michael Joseph Campagna,Matthew Jordan Engfehr,Joshua Thomas Perko. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2022-03-24.

Measurement system and checking method

Номер патента: US20240019238A1. Автор: Miyuki Hayashi,Yoshikane Tanaami. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Temperature measurement system and method using multimode of an optical resonator

Номер патента: WO2023183064A1. Автор: Mohammad Amin Tadayon,Robert B. Haines. Владелец: FLUKE CORPORATION. Дата публикации: 2023-09-28.

An extractor for an microcoloum, an alignment method for an extractor aperture to an electon emitter, and a measuring method and an alignment method using thereof

Номер патента: AU2003289574A1. Автор: Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Seung Joon Ahn. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2004-07-22.

Measuring mechanism having a positive locking arrangment for wide-angle moving coil systems and method for its assembly

Номер патента: US4208628A. Автор: Karl H. Rivoir. Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-06-17.

Hand held power tool with laser measuring system and interactive display

Номер патента: EP3720638A1. Автор: Andrei Matei. Владелец: Robbox Inc. Дата публикации: 2020-10-14.

Measurement system and probe tip landing method

Номер патента: US20240280605A1. Автор: Hsueh-Cheng Liao. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US20220187221A1. Автор: Michael Krumm,Christoph Sauerwein. Владелец: Rayscan Technologies GmbH. Дата публикации: 2022-06-16.

System and method for improved measurement of a flow of fluid through a channel

Номер патента: EP4081765A1. Автор: Patrick Reissner,Lucien BUCHMANN. Владелец: Belimo Holding AG. Дата публикации: 2022-11-02.

Measurement system and method enabling over-the-air measurements in full-duplex mode for two polarisations

Номер патента: US20240297679A1. Автор: Hendrik Bartko,Adam Tankielun,Thomas Gemmer,Nico Riedmann. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-09-05.

Spectrum measurement system, spectrum measurement device, optical measurement method and optical calibration method

Номер патента: US10197443B2. Автор: Chien-Hsiang Hung,Hsu-Feng Cheng,Sheng-Wang Lin. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2019-02-05.

Ultrasonic tree measurement system

Номер патента: EP4401553A1. Автор: Kevin S. CROWE,James Schnaider,Yuzhe Ouyang (Solomon). Владелец: Topcon Positioning Systems Inc. Дата публикации: 2024-07-24.

Measurement system and controller

Номер патента: CN115917245. Автор: 多米尼克·贝歇尔,托尔斯滕·舍恩巴赫,亚罗什拉夫·尤拉什,阿尔方斯·霍恩,米夏埃尔·法瑟丽,贝恩德·弗利森凯姆佩尔,马丁·扎尼科,多米尼克·霍恩,海科·格罗. Владелец: MOBA Mobile Automation AG. Дата публикации: 2023-04-04.

Test pattern generation systems and methods

Номер патента: US20240338510A1. Автор: Hsu-Ting Huang,Ru-Gun Liu,Fu-An Tien. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Digital measurement system and method

Номер патента: WO2024144473A1. Автор: Ferhat KOVANCI. Владелец: Kovanci Ferhat. Дата публикации: 2024-07-04.

Aquatic total alkalinity measurement system and method

Номер патента: US20240345023A1. Автор: Lane Hoy,Xavier Darok,Sébastien ETTLING COËFFIER,René BRUNIER. Владелец: Pcfr Sas. Дата публикации: 2024-10-17.

Optical fiber distribution measurement system and signal processing method for optical fiber distribution measurement

Номер патента: US12066408B2. Автор: Kinzo Kishida,Ahmad Riza GHAZALI,Mohamad Faizal bin ABD RAHIM. Владелец: Petroliam Nasional Bhd Petronas. Дата публикации: 2024-08-20.

Strapdown inertial navigation heave measurement method using multiple low-pass filter units

Номер патента: US12061087B2. Автор: QIAN LI,Lei Wu,Yuxin Zhao,Qianqian GAO,Shuaiyang LI,Xiaofeng Wei,Yueyang Ben,Guangtao Zhou,Tingxiao Wei. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2024-08-13.

Measurement system

Номер патента: US11506480B2. Автор: Mark Stephens. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-11-22.

System and method for image signal rejection

Номер патента: US09678123B2. Автор: Joel P. Dunsmore,Jean-Pierre Teyssier,James B. Kerr,Jad Faraj. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Pore-space measurement method apparatus and system

Номер патента: US09613253B2. Автор: Chi Vinh LY,Graham Spence. Владелец: CGG SERVICES SAS. Дата публикации: 2017-04-04.

Pool skimmer flow measuring systems

Номер патента: US09581478B1. Автор: Ronnie E. Smith. Владелец: TOTALLY NEW TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2017-02-28.

Spatiotemporally resolved far-field pulse contrast measuring method and device

Номер патента: US09574946B2. Автор: Peng Yuan,Jing Wang,Guoqiang Xie,Dianyuan Fan,Jingui Ma,Yongzhi Wang,Liejia Qian. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2017-02-21.

Detection apparatus, measurement apparatus, exposure apparatus, method of manufacturing article, and measurement method

Номер патента: US09534888B2. Автор: Akio Akamatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Method for calibrating a position-measuring system and position-measuring system

Номер патента: US09528825B2. Автор: Alexander Huebel,Carola Blaesing-Bangert. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2016-12-27.

Illumination apparatus, illumination method, measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US09500474B2. Автор: Toshihisa Takai,Tadashi Iwamoto,Kentaro Nemoto,Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-11-22.

Flow speed measuring module and respective measuring method

Номер патента: RU2321880C2. Автор: Брюс Фредерик ГРУМСТРУП,Пол Роберт АДАМС. Владелец: Фишер Контролз Интернэшнл Ллс. Дата публикации: 2008-04-10.

Magnetic measuring system and magnetic measuring device

Номер патента: EP3881765A1. Автор: Takanobu Osaka,Hironobu Mifune. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-22.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Length measurement system, vehicle coupling system, length measurement method, and program

Номер патента: EP3751535A1. Автор: Makoto Kurihara. Владелец: JVCKenwood Corp. Дата публикации: 2020-12-16.

Fuel measurement system and fuel gauge error reduction method using the same

Номер патента: US20220089020A1. Автор: Dong Hyun Kim,Jung Hoon Park,Keun Soo Kim. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Three dimensional laser measuring system and method

Номер патента: EP3436843A1. Автор: Nikolay V. Khatuntsev. Владелец: Topcon Positioning Systems Inc. Дата публикации: 2019-02-06.

Spindle vibration measuring system, spindle vibration measuring method, and program

Номер патента: US12042895B2. Автор: Satoshi Ikai,Daisuke UENISHI,Yuanming XU. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

System and processing apparatus for measuring surface acoustic wave sensitive area size and method thereof

Номер патента: US20140169137A1. Автор: Shang-Tai Yeh,Teng-Wei Hsieh. Владелец: Egalax Empia Technology Inc. Дата публикации: 2014-06-19.

Shadow-free 3D and 2D measurement system and method

Номер патента: US7340107B2. Автор: Michel Cantin,Louis Berard,Alexandre Nikitine. Владелец: Solvision Inc. Дата публикации: 2008-03-04.

Online measurment method for temperature stability of production layer in oil and gas well, system and storage medium

Номер патента: US20220010663A1. Автор: Yuehua Chen,Shuai GUAN,Zhihua GE,Chuntao SONG,Wuhua ZHOU. Владелец: Guoxing Huijin Shenzhen Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-13.

Dynamic probe, dynamic measurement system and method for probing a dynamic data signal

Номер патента: US20180335476A1. Автор: Alexander Kunze,Martin Peschke. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-11-22.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20160305866A1. Автор: Shinya Nakajima. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2016-10-20.

Cholesterol measurement system and method

Номер патента: WO2007078744A9. Автор: Thomas H Doupe. Владелец: Thomas H Doupe. Дата публикации: 2007-08-23.

Cholesterol measurement system and method

Номер патента: WO2007078744A3. Автор: Thomas H Doupe. Владелец: Thomas H Doupe. Дата публикации: 2008-02-28.

Three dimensional laser measuring system and method

Номер патента: WO2017171964A1. Автор: Nikolay V. Khatuntsev. Владелец: TOPCON POSITIONING SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2017-10-05.

Signal measurement systems and methods

Номер патента: US20060220677A1. Автор: Tanay Karnik,Peter Hazucha,Gerhard Schrom,Vivek De. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2006-10-05.

Optical fiber distribution measurement system and signal processing method for optical fiber distribution measurement

Номер патента: EP4386371A3. Автор: Kinzo Kishida,Ahmad Riza GHAZALI,Mohamad Faizal bin ABD RAHIM. Владелец: Petroliam Nasional Bhd Petronas. Дата публикации: 2024-09-11.

System and method for a MEMS sensor

Номер патента: US09897504B2. Автор: Christian Ebner,Andreas Wiesbauer,Christian Jenkner,Ernesto Romani,Stephan Mechnig,Francesco Polo,Joseph Hufschmitt. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-02-20.

Liquid sample measuring system and measuring device

Номер патента: US09816955B2. Автор: Masataka Nadaoka,Yoshimasa Oda,Teppei Shinno,Noriyoshi Terashima. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Measurement system, measurement method of measurement device, measurement device, and non-transitory storage medium encoded with computer readable control program, capable of completing measurement in simple manner and promptly

Номер патента: US09568353B2. Автор: Takao Sawano,Hirohito Yoshimoto. Владелец: Nintendo Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

System and processing apparatus for measuring surface acoustic wave sensitive area size and method thereof

Номер патента: US09488475B2. Автор: Shang-Tai Yeh,Teng-Wei Hsieh. Владелец: Egalax Empia Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

System and Arrangement for Automatic Distillation Measurements

Номер патента: US20190353603A1. Автор: Frank Zimmermann,Daniel Pergande,Carsten Kindt. Владелец: Anton Paar Provetec GmbH. Дата публикации: 2019-11-21.

Measuring device, measurement station, production line and measuring method for measuring the distance projected in a preferred direction between a measurement plane and a measurement area

Номер патента: US20030061724A1. Автор: Lothar Mueller,Manfred Bodenmueller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2003-04-03.

Online measurment method for temperature stability of production layer in oil and gas well, system and storage medium

Номер патента: US11905822B2. Автор: Yuehua Chen,Shuai GUAN,Zhihua GE,Chuntao SONG,Wuhua ZHOU. Владелец: Guoxing Huijin Shenzhen Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Blood testing system and method

Номер патента: EP4345457A3. Автор: Robert S. Hillman,Michael Gorin,Cory Lee McCluskey,Hubert Martin Schwaiger. Владелец: CA Casyso AG. Дата публикации: 2024-06-12.

Luminescence measurement method and luminescence measurement system

Номер патента: US20100209949A1. Автор: Hirobumi Suzuki,Ryutaro Akiyoshi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

Continuous measurement method for determining no2 concentration

Номер патента: US20210372980A1. Автор: Khaled Gasmi,Watheq AL-BASHEER,Abdulaziz Aljalal,Sameh Altanany. Владелец: KING FAHD UNIVERSITY OF PETROLEUM AND MINERALS. Дата публикации: 2021-12-02.

No2 concentration measurment method using multimode laser beam

Номер патента: US20200182844A1. Автор: Khaled Gasmi,Watheq AL-BASHEER,Abdulaziz Aljalal,Sameh Altanany. Владелец: KING FAHD UNIVERSITY OF PETROLEUM AND MINERALS. Дата публикации: 2020-06-11.

Indirect measurement method and system for monitoring and reporting leakage currents

Номер патента: US20140009299A1. Автор: Craig C. Fahrenkrug,Robert C. Dively. Владелец: International Intelligent Metering LLC. Дата публикации: 2014-01-09.

Plasma-resistant glass, chamber interior parts for semiconductor manufacturing process, and methods for manufacturing same

Номер патента: US20240274410A1. Автор: Kyungmin Lee,Dae Gun Kim,Hye Won SEOK,Hye In Na,Mun Ki Lee. Владелец: Hansol Iones Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Position measuring method, driving control method, driving control system, and marker

Номер патента: US12125288B2. Автор: Hiroshi Nakashima,Shingo Tsukada,Toichiro GOTO. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Biological signal measuring system and biological signal measuring apparatus

Номер патента: US09597025B2. Автор: Naoki Kobayashi,Hideaki Hirabara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Raman-infrared spectroscopic analysis multifunction machine, and measuring method employing raman spectroscopy and infrared spectroscopy

Номер патента: EP4397962A1. Автор: Tomoki Sasayama. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Distance measurement system, distance measurement device, and distance measurement method

Номер патента: US11287519B2. Автор: Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2022-03-29.

Measurement system, analysis program and measurement method

Номер патента: US20240165604A1. Автор: Yutaka Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Distance measurement system, distance measurement device, and distance measurement method

Номер патента: US20200088863A1. Автор: Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Measuring system and controller

Номер патента: US20220364338A1. Автор: Martin Zarniko,Dominik Becher,Alfons Horn,Heiko Groh,Dominik Horn,Jaroslaw Jurasz,Bernd FLESSENKÄMPER,Michael FASEL,Torsten Schönbach. Владелец: MOBA Mobile Automation AG. Дата публикации: 2022-11-17.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Measurement system based on optical interference and measuring method using same

Номер патента: US20210247298A1. Автор: Li-Shing Hou. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-12.

Radiation measuring system based on optimal measurement geometry and radiation measuring method using the same

Номер патента: US20130190620A1. Автор: Tae Young KONG,Hee Geun KIM. Владелец: Korea Hydro and Nuclear Power Co Ltd. Дата публикации: 2013-07-25.

Measurement system, measurement method, and computer program

Номер патента: US20240255480A1. Автор: Hisanori Matsumoto,Masuyoshi Yamada,Yasutaka Serizawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Temperature distribution measurement system, temperature distribution measurement apparatus, and temperature distribution measurement method

Номер патента: US20140153611A1. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-06-05.

Measurement method for measuring the peak flow discharges and the channel bed roughness in a natural or artificial water course and related system

Номер патента: WO2008110909A3. Автор: Tullio Tucciarelli. Владелец: Tullio Tucciarelli. Дата публикации: 2008-11-06.

System for measuring fast neutron fluence for a nuclear reactor, associated installation, measurement method and computer program product

Номер патента: US12111432B2. Автор: Sylvain Magne,Romain Coulon,Jonathan Dumazert,Guillaume Laffont. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2024-10-08.

Blood glucose measurement unit, blood glucose measurement system comprising same

Номер патента: US09957545B2. Автор: Sanghyo Kim. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Gachon University. Дата публикации: 2018-05-01.

Spatial light measuring method and spatial light measuring system

Номер патента: US09719850B2. Автор: Kazunori Sato,Hisashi Isozaki. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Image measuring method, system, device, and program

Номер патента: US09646223B2. Автор: Akari SATO. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Material strain measurement method by means of laser ablation

Номер патента: US09632016B2. Автор: Fernando E. Hernandez. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-04-25.

Temperature distribution measurement system, temperature distribution measurement apparatus, and temperature distribution measurement method

Номер патента: US09488532B2. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Ultrasonic measuring device, and ultrasonic measuring method of flow rate

Номер патента: RU2488836C2. Автор: Торальф ДИЦ,Ларс ЭМИХЕН,Джон ЛЭНСИНГ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2013-07-27.

Multi-frequency modulation method for gas concentration measurement, gas concentration measurement method and system, and apparatus

Номер патента: GB2608554A. Автор: Yang ChunHua,GUI Weihua,QIAN HAO,LIU Zihuai,LUO Qiwu,LAN Lijuan. Владелец: CENTRAL SOUTH UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-01-04.

Dielectric characteristic measurement method and dielectric characteristic measurement system using open resonator

Номер патента: US20240168071A1. Автор: Atsushi Hattori,Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: Em Labs Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Electronic Computer, Moisture Content Measurement Method, and Moisture Content Measurement System

Номер патента: US20240102925A1. Автор: Jun Tanaka,Kotaro Kitamura,Yusuke Kaga,Takuya Kambayashi,Makiko Udagawa,Shunsuke Kono,Yasuko Kobayashi,Hiroki MIYAKAWA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US20170138853A1. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

Force measurement method, force measurement device, force measurement system, force measurement program, and recording medium

Номер патента: US20200333202A1. Автор: Yasushi Okada,Kumiko Hayashi. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2020-10-22.

Charge amount measurement method and charge amount measurement system

Номер патента: US20240328984A1. Автор: Masaru Inoue,Noriaki Oyabu. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US09857304B2. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Method of measurement of the aircraft flight parameters in the phase goniometrical and distance-measuring systems and the device for the implementation of this method

Номер патента: RU2649411C1. Автор: Валерий Владимирович Бутенко,Вячеслав Эннович Веерпалу,Игорь Александрович Гладков,Владимир Васильевич Василенко,Сергей Васильевич Мацыкин,Михаил Михайлович Ступницкий. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие ордена трудового красного знамени научно-исследовательский институт радио (ФГУП НИИР). Дата публикации: 2018-04-03.

Measuring method of machine tool accuracy using a computer aided kinematic transducer link and its apparatus

Номер патента: US5111590A. Автор: Joon-ho Park. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-05-12.

Fuel tank shutoff valve, measurement system for use with fuel system, fuel system and vehicle

Номер патента: RU2730305C2. Автор: Омер ВУЛКАН,Денис КЛЕЙМАН,Владимир ОЛЬШАНЕТСКИ. Владелец: РАВАЛ А.К.С. ЛТД.. Дата публикации: 2020-08-21.

Semiconductor manufacturing resolution enhancement system and method for simultaneously patterning different feature types

Номер патента: US6994939B1. Автор: Kouros Ghandehari,Christopher A. Spence,Jean Y. Yang. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2006-02-07.

Information processing apparatus and method, robot system, measuring system, method of manufacturing article using robot system, and recording medium

Номер патента: CN114536320A. Автор: 泉智洋. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-05-27.

Radio wave propagation environment measurement device, wireless network construction system and radio wave propagation environment measurement method

Номер патента: EP2723007A4. Автор: Tsutomu Yamada,Yoshihito Sato,Hiromichi Endo. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-11-19.

Semiconductor calibration structures, semiconductor calibration wafers, calibration methods of calibrating semiconductor wafer coating systems, semiconductor processing methods of ascertaining layer alignment during processing and calibration methods of calibrating multiple semiconductor wafer coating systems

Номер патента: US20020029608A1. Автор: Lisa Napolitano,Walter Hubbard. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-03-14.

Measuring system and measuring method for analyzing knee joint motion trajectory during cycling

Номер патента: US09592423B2. Автор: Yu-Shin Chang,Po-Shin Li,Keh-Tao Liu,Sai-Wei Yang. Владелец: Global Action Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Ophthalmological measuring device and measurement method

Номер патента: US20110304822A1. Автор: Christian Rathjen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-12-15.

Semiconductor high voltage electrical energy transmission switching system and method

Номер патента: US20030016073A1. Автор: Vitaly Gelman. Владелец: VG CONTROLS. Дата публикации: 2003-01-23.

Biometric data measurement system and biometric data measurement method

Номер патента: US20210127994A1. Автор: Yasuhiro Kawabata,Kenji Fujii,Naomi Matsumura,Reiji Fujita,Akito Ito. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2021-05-06.

Automated test measurement system and method therefor

Номер патента: US7990418B2. Автор: Pai-Chen Liu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-02.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20210234779A1. Автор: Toru Okugawa,Hidetaka NISHIHARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-07-29.

Test-software-supported measuring system and measuring method

Номер патента: US09843493B2. Автор: Ingo Gruber,Uwe Baeder,Holger Jauch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-12-12.

Gripping and locking/unlocking system and its application for handling holders of samples of nuclear materials

Номер патента: RU2642437C2. Автор: Себастьен ГЕ,Нильс ПЕЙР. Владелец: Комиссарья А Л'Энержи Атомик Э Оз Энержи Альтернатив. Дата публикации: 2018-01-25.

Lithographic system and method of storing target position data

Номер патента: RU2583003C2. Автор: БУР Гвидо ДЕ,Алексиус Отто ЛОЭЙЕ,Михел Петер ДАНСБЕРГ,КЕРВИНК Марсел Николас Якобус ВАН. Владелец: МЭППЕР ЛИТОГРАФИ АйПи Б.В.. Дата публикации: 2016-04-27.

Method and system in the maintenance of machines, processes, automation systems and equipment relating to papermaking

Номер патента: EP1719029A2. Автор: Jari Tiitta,Petteri Lannes,Tatu Pitkanen,Kaarlo Lackman,Jouni Pyotsia,Timo M. Pekkarinen. Владелец: Metso Paper Oy. Дата публикации: 2006-11-08.

Automated calibration system and calibration method for flexible robot actuator

Номер патента: US12064884B2. Автор: Aiguo SONG,Huijun Li,Baoguo XU,Hong Zeng,Jianwei LAI. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-20.

Semiconductor manufacturing apparatus and control system and control method therefor

Номер патента: US20110130861A1. Автор: Kazuhiro Watanabe,Kazuhiro Miwa,Akito Mifune. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-06-02.

Semiconductor device, motor drive system, and method of starting motor

Номер патента: US11942890B2. Автор: Minoru Kurosawa,Satoshi Narumi,Takeshi Ohtsuki. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20200042847A1. Автор: Yutaka Kato,Toyoo Iida,Hitoshi Nakatsuka. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Method and system in the maintenance of machines, processes, automation systems and equipment relating to papermaking

Номер патента: WO2005083530A2. Автор: Jari Tiitta,Petteri Lannes,Tatu Pitkanen,Kaarlo Lackman,Jouni Pyotsia,Timo M. Pekkarinen. Владелец: METSO PAPER, INC.. Дата публикации: 2005-09-09.

System and method for discovering unknown problematic patterns in chip design layout for semiconductor manufacturing

Номер патента: US09547745B1. Автор: Shauh-Teh Juang,Jason Zse-Cherng Lin. Владелец: DMO Systems Ltd Taiwan. Дата публикации: 2017-01-17.

Method for planning a semiconductor manufacturing process based on users' demands using a fuzzy system and a genetic algorithm model

Номер патента: US8170964B2. Автор: TSUNG-WEI Lin,Yi Feng Lee,Chun Chi Chen,Yun-Zong Tian,Wei Jun Chen. Владелец: Inotera Memories Inc. Дата публикации: 2012-05-01.

A temperature set point adjusting and a temperature of an environment measuring system for a cooling system, a method of adjusting the temperature set point and measuring the temperature of an environment and a sensing assembly

Номер патента: WO2005052712A1. Автор: Marcos Guilherme Schwarz,Rogerio Romariz Ferreira. Владелец: Empresa Brasileira De Compressores S.A.- Embraco. Дата публикации: 2005-06-09.

Measurement system, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US20200379360A1. Автор: Han-Kwang Nienhuys,Borgert Kruizinga,Günes NAKIBOGLU,Remco Yuri VAN DE MOESDIJK,Frank Johannes Jacobus Van Boxtel,Hermen Folken Pen,Rita Marguerite Albin Lambertine Petit. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-12-03.

A temperature set point adjusting and a temperature of an environment measuring system for a cooling system, a method of adjusting the temperature set point and measuring the temperature of an environment and a sensing assembly

Номер патента: EP1692581A1. Автор: Marcos Guilherme Schwarz,Rogerio Romariz Ferreira. Владелец: Whirlpool SA. Дата публикации: 2006-08-23.

System and method for scheduling manufacturing jobs for a semiconductor manufacturing tool

Номер патента: US20050203654A1. Автор: Hui-Tang Liu,Ko-Pin Chang,Jui-An Shih. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2005-09-15.

Athleticism rating and performance measuring system

Номер патента: US09623316B2. Автор: Adam C. Braun,Rodolfo Chapa, Jr.,Hamid G. Arjomand,Andrew Bark. Владелец: Nike Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

A method and system for detecting operational irregularities in a thermal energy exchange system, and a method of training a machine learning model

Номер патента: WO2023222807A1. Автор: Dirk Vanhoudt,Jad AL KOUSSA. Владелец: VITO NV. Дата публикации: 2023-11-23.

Methods and apparatus to perform identity matching across audience measurement systems

Номер патента: US20200404352A1. Автор: Peter Campbell Doe,Jonathan Sullivan,Edmond Wong. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2020-12-24.

Composite manufacturing system and method

Номер патента: US20230415429A1. Автор: Michael K. Louie,Luis A. Perla,Marcin A. RABIEGA,Ethan G. Sherrard,Todd Rudberg,Brandon Poe,Richard E. Wood. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-12-28.

All-optical timing jitter measurement system and method

Номер патента: WO2003042722A3. Автор: Yung Jui Chen,Jochen Karl Walter Doerring. Владелец: Jochen Karl Walter Doerring. Дата публикации: 2004-07-15.

All-optical timing jitter measurement system and method

Номер патента: US7636524B2. Автор: Yung Jui Chen,Jochen Karl Walter Dorring. Владелец: University of Maryland at Baltimore County UMBC. Дата публикации: 2009-12-22.

All-optical timing jitter measurement system and method

Номер патента: WO2003042722A9. Автор: Yung Jui Chen,Jochen Karl Walter Doerring. Владелец: Jochen Karl Walter Doerring. Дата публикации: 2004-01-08.

System and method for biological feedback measurement from video

Номер патента: US20240216757A1. Автор: Arturas Serackis,Kristina DAUNORAVICIENE,Andzela SESOK,Rytis MASKELIUNAS,Julius GRISKEVICIUS,Darius Plonis. Владелец: Vilnius Gediminas Technical University. Дата публикации: 2024-07-04.

Systems and methods for measuring system performances

Номер патента: US20240296084A1. Автор: Mohammad J. AL MUMEN,Alaa M. ZARBAN. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Referencing pose manipulation system for marker based tracking of position measurement system

Номер патента: US12115652B2. Автор: Rolf Heidemann,Matthias Wolke,Steffen Kappes. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Electrode patch and wireless physiological measurement system and method

Номер патента: US09693732B1. Автор: Matthew D Tarler. Владелец: Orbital Research Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

System and method for cooling dynamoelectric machine

Номер патента: US09473002B2. Автор: Tobias Bathon,Erich KRUCKENHAUSER,Sadhasivam Vallinayagam. Владелец: GE Jenbacher GmbH and Co oHG. Дата публикации: 2016-10-18.

System and method to detect and correct hemodynamic instability in hemodynamic measurements

Номер патента: EP4360543A1. Автор: Rene Martinus Maria Derkx,Jens Muehlsteff,Ralph Wilhelm Christianus Gemma Rosa WIJSHOFF,Maria Estrella Mena Benito,Achim Rudolf HILGERS,Valentina-Geta DAVIDOIU. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2024-05-01.

Lung water content measurement system and calibration method

Номер патента: WO2016130857A1. Автор: Magdy F. Iskander,Ruthsenne R.G. Perron. Владелец: UNIVERSITY OF HAWAII. Дата публикации: 2016-08-18.

System and method to detect and correct hemodynamic instability in hemodynamic measurements

Номер патента: WO2024094505A1. Автор: Rene Martinus Maria Derkx,Jens Muehlsteff,Ralph Wilhelm Christianus Gemma Rosa WIJSHOFF,Maria Estrella Mena Benito,Achim Rudolf HILGERS,Valentina-Geta DAVIDOIU. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.. Дата публикации: 2024-05-10.

Methods and apparatus to perform identity matching across audience measurement systems

Номер патента: US10771829B2. Автор: Peter Campbell Doe,Jonathan Sullivan,Edmond Wong. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2020-09-08.

Systems and methods for gathering viewership statistics and providing viewer-driven mass media content

Номер патента: WO2012075167A3. Автор: FENG DING,Ramachandiran Durai Vaithilingam,Thirugnanam Kaneshalingam,Ding Yanjun,Mark Joseph Gravina,Thajudeen Shahul Hameed,Danny Lee Mabey. Владелец: 121 View Usa. Дата публикации: 2012-07-26.

Method for measuring anchoring strength of liquid crystal and measurement system therefor

Номер патента: US20030150278A1. Автор: Hiroshi Yokoyama. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2003-08-14.

Method, measurement system controller, and measurement system

Номер патента: US20240280945A1. Автор: Florian Lang,Jochen Pliquett,Bjoern Schmid,Sebastian ROEGLINGER,Thomas SCHOUWINK. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-08-22.

Method and apparatus for autonomous tool parameter impact identification system for semiconductor manufacturing

Номер патента: US09746849B2. Автор: Sanjeev Kaushal,Sukesh Janubhai Patel,Wolfgang Polak,Orion Wolfe,Aaron Archer Waterman. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Implantable shunt system and associated pressure sensors

Номер патента: US09713429B2. Автор: Guangqiang Jiang,John C. Gord,Charles L. Byers,Brian R. Dearden,Siegmar Schmidt,Daniel Rodriguez. Владелец: ALFRED E MANN FOUNDATION FOR SCIENTIFIC RESEARCH. Дата публикации: 2017-07-25.

Systems and methods for remote measurement of the eyes and delivering of sunglasses and eyeglasses

Номер патента: US09649032B2. Автор: Junzhong Liang. Владелец: Perfect Vision Tech (HK) Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

A measuring system and a method for determining parameters of a multi-segment rod-like article

Номер патента: US20240338808A1. Автор: Bartosz Cieślikowski. Владелец: International Tobacco Machinery Poland Sp zoo. Дата публикации: 2024-10-10.

Optical designs of miniaturized overlay measurement system

Номер патента: US12140872B2. Автор: Yevgeniy Konstantinovich Shmarev,Tamer Mohamed Tawfik Ahmed Mohamed ELAZHARY,Mohamed Swillam,Stephen Roux. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2024-11-12.

Systems and methods of assisting in parking vehicle

Номер патента: RU2710505C1. Автор: Джамель СИГРЕЙВС,Судипто АИЧ,Кэси Брайан ФЕЛЬДМАН,Йонатан РЕДДА. Владелец: ФОРД ГЛОУБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2019-12-26.

Systems and methods for tuning and measuring a device under test using machine learning

Номер патента: US20240235669A1. Автор: KAN Tan,John J. Pickerd,Heike Tritschler,Evan Douglas Smith,Williams Fabricio Flores Yepez. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

System and method for obtaining accurate measurements and quantification of x-ray image from estimation of key anatomical locations

Номер патента: EP4186429A1. Автор: CHEN Liu,Gopal B. Avinash,Ravi Soni,Gireesha Chinthamani Rao,Zita Herczeg,Poonam Dalal,Molin Zhang. Владелец: GE Precision Healthcare LLC. Дата публикации: 2023-05-31.

Biological Measurement Systems And Methods

Номер патента: US20210282690A1. Автор: Ashitosh Swarup. Владелец: Cuica LLC. Дата публикации: 2021-09-16.

System and method for determining pose data for a vehicle

Номер патента: US09915947B1. Автор: Russell Smith,Craig Lewin Robinson,John Tisdale,Seth Michael LaForge. Владелец: Waymo LLC. Дата публикации: 2018-03-13.

Downrange wind profile measurement system and method of use

Номер патента: US09506724B1. Автор: Lyman Robert Hazelton. Владелец: Lyman Robert Hazelton. Дата публикации: 2016-11-29.

Stereoscopic measurement system and method

Номер патента: US09454822B2. Автор: Warren Redden,Windflower Waters,Steven Weintraub,Carl Redden,George B. Stevens,Grady A. Clendening,Robert W. Srack,Janet M. Srack. Владелец: Matrix Electronic Measuring Properties LLC. Дата публикации: 2016-09-27.

Luminary measurement system and method

Номер патента: US20240233317A9. Автор: Chao Shuan Huang. Владелец: HTC Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Measurement system and method for measuring and analyzing modulated signals

Номер патента: EP4391419A1. Автор: Johan Nilsson,Christian Dr. Kuhn,Darren TIPTON. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-26.

Data input system and key data sending method

Номер патента: WO2024147739A1. Автор: Laurens van de Laar,Theodorus Pieter BRUINSMA. Владелец: van de Laar Laurens. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring method and system for structured light 3d scanning

Номер патента: LU503375B1. Автор: QIN Qin,Long CAO,Wenchen Li,Zimei Tu. Владелец: Univ Shanghai Polytech. Дата публикации: 2023-07-19.

Measurement system and method for measuring and analyzing modulated signals

Номер патента: US20240214084A1. Автор: Johan Nilsson,Christian Kuhn,Darren TIPTON. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-27.

Data input system and key data sending method

Номер патента: NL2033901B1. Автор: van de Laar Laurens. Владелец: van de Laar Laurens. Дата публикации: 2024-07-12.

System and method for determining broadcast dimensionality

Номер патента: US20140337873A1. Автор: William Krug. Владелец: Nielsen Holdings NV. Дата публикации: 2014-11-13.

Measurement system and a method

Номер патента: US20180035312A1. Автор: Philip Mehrgardt. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-01.

System and method for determining broadcast dimensionality

Номер патента: EP2419844A1. Автор: William K. Krug. Владелец: Arbitron Inc. Дата публикации: 2012-02-22.

Wireless measuring system and method for measurement of a device under test with an antenna-array, considering maximum gain direction of the antenna array

Номер патента: US09780890B2. Автор: Meik Kottkamp,Andreas Pauly,Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-10-03.

Computerized pupillary distance measurement system and method

Номер патента: US09603517B2. Автор: Steven P. Lee,Aaron DALLEK. Владелец: Opternative Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

System and Method for Improved Automated Semiconductor Wafer Manufacturing

Номер патента: US20130253681A1. Автор: Wen-Yao Hsieh,Jian-Hung Chen,Che-Yu Chiu,Anwei Peng,Hsueh-Chen Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-09-26.

Network measurement system and method, device and storage medium

Номер патента: EP4024771A1. Автор: Kai Zheng,Yongming Zhang,Junwu Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-06.

Systems and methods for privacy-preserving facemask-compliance-level measurement

Номер патента: US20210117649A1. Автор: Ignacio J. Alvarez,Julio ZAMORA ESQUIVEL,David Gonzalez Aguirre,Javier Felip Leon. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2021-04-22.

Jitter measurement system and method

Номер патента: EP1171961A1. Автор: Thomas H. Rinderknecht,Arnold M. Frisch. Владелец: Fluence Technology Inc. Дата публикации: 2002-01-16.

Performance measurement system for out of home media

Номер патента: US20110173064A1. Автор: Janice Lesiotis. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-07-14.

System and method for evaluation of audio-video desynchronization

Номер патента: EP4203470A1. Автор: Jens Berger. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-06-28.

Blood flow velocity measurement system and method coupling laser speckle and fluorescence imaging

Номер патента: NL2035463B1. Автор: Chen Bin,Li Dong,Sang Xu,Pan Deqing. Владелец: Univ Xi An Jiaotong. Дата публикации: 2024-01-26.

Package dimension measurement system

Номер патента: US20190066395A1. Автор: Nico Ryan James Geguiera Sy. Владелец: NCR Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

Interface wires for a measurement system diagram

Номер патента: US09483304B2. Автор: Matthew C. Curtis,Matthew E. Novacek,Christopher F. Graf,Ariane M. Chan-You,Amanda E. Cruess. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Mobile terminal measurement system and communication management information display method

Номер патента: US20210258810A1. Автор: Makoto Ueda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Guest measurement systems and methods

Номер патента: WO2023239800A1. Автор: Anthony Melo,Dionté Omar Henderson,Angelo PAGLIUCA,Julia Ann Javorsky,Logan Bender. Владелец: Universal City Studios LLC. Дата публикации: 2023-12-14.

Measurement method and apparatus using multiple frequency partial band in wireless communication system

Номер патента: US12028721B2. Автор: ANIL Agiwal,Jaehyuk JANG,Byounghoon JUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-02.

Quantum key distribution systems and associated methods

Номер патента: US20240097794A1. Автор: Daniele Vito Finocchiaro,Alessandro LE PERA,Ivan Ferrario,Bob Petrus Franciscus Dirks. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2024-03-21.

Model eye for calibrating an optical measurement system or a treatment laser system

Номер патента: EP2391260A1. Автор: Gerhard Youssefi,Julia Hoff,Hans-Joachim Polland,Birgit Lutzenberger. Владелец: Bausch and Lomb Inc. Дата публикации: 2011-12-07.

Inspection data filtering systems and methods

Номер патента: US20240264539A1. Автор: BO Wang,Stefan Hunsche,Teng Wang,Yuzhang LIN,Raphael Eric LA GRECA,Lingling LU. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-08.

Control apparatus, robot system, and method of detecting object

Номер патента: US20190278991A1. Автор: Masaki Hayashi,tomonori Mano. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Laser scanning system and method employing corner-projected orthogonal laser scanning patterns

Номер патента: WO2000057348A8. Автор: Ka Man Au,Sankar Ghosh,Thomas Amundsen,George Kolis,LeRoy Dickson,Gennady Germaine,Carl Harry Knowles,Frank Lodge,David M Wilz Sr,Robert E Blake,Stephen J Colavito,Timothy A Good,George B Rockstein,Xiaoxun Zhu Zhu,Ian A Scott,Andrew D Dehennis. Владелец: Andrew D Dehennis. Дата публикации: 2001-04-26.

Optical imaging and measurement systems and methods for cataract surgery and treatment planning

Номер патента: US11730359B2. Автор: Wei Xiong,Daniel Neal,Carmen Canovas Vidal,Richard J. Copland,Thomas D. Raymond,Paul D. Pulaski,Daniel Hamrick,Stephen FARRER. Владелец: AMO DEVELOPMENT LLC. Дата публикации: 2023-08-22.

System and method for statistical measurment validation

Номер патента: US8666911B2. Автор: Steven Srebranig. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2014-03-04.

Automated system and method for identifying and measuring packages transported through an omnidirectional laser scanning tunnel

Номер патента: US20030006289A1. Автор: Xiaoxun Zhu,C. Knowles,Ka Au,Timothy Good,Robert Blake,George Kolis,Stephen Colavito,David Wilz,Andrew DeHennis,George Rockstein. Владелец: Metrologic Instruments Inc. Дата публикации: 2003-01-09.

System and method for compiling documents and tracking technology changes in a semiconductor manufacturing environment using a document generation engine

Номер патента: US20050206957A1. Автор: Chung-Lun Kuo,Yu-Tai Chia,Tse-Lun Tsai,Shiun-Huan Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2005-09-22.

System and method for controlling landing of mobile unit using human flow data

Номер патента: US12125377B2. Автор: Masamichi Asukai,Atsushi Shionozaki. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Method for managing radio resource in multi-cell wireless communication system and device therefor

Номер патента: US09775066B2. Автор: Hanbyul Seo,Seungmin Lee,Inkwon Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-09-26.

Method for calibrating blood glucose value in continuous blood glucose measurement system

Номер патента: EP3932310A1. Автор: David Lee,Young Jea Kang,Jung Hee Seo,Ji Seon Nah. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Method for calibrating blood glucose value in continuous blood glucose measurement system

Номер патента: US20220160266A1. Автор: David Lee,Young Jea Kang,Jung Hee Seo,Ji Seon Nah. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2022-05-26.

Linear displacement measurement system

Номер патента: US12073275B1. Автор: Joseph C. Fiore. Владелец: Metal Goods Manufacturing Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Imaging system having media stack component measuring system

Номер патента: US20040057738A1. Автор: Jeffrey Weaver,Phillip Luque,David Luman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-25.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20220029718A1. Автор: Florian Ramian,Florian GERBL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-27.

Non-invasive glycated hemoglobin or blood glucose measurement system and method which use monte carlo simulation

Номер патента: US20240233961A1. Автор: Ki Doo KIM,Hossain SHIFAT. Владелец: Korea ITS Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory storage medium storing optical measurement program

Номер патента: US20240319486A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Machine learning based model builder and its applications for pattern transferring in semiconductor manufacturing

Номер патента: US12112116B2. Автор: LIN Zhang,Danping Peng,Junjiang Lei,Zhiru YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Machine learning based model builder and its applications for pattern transferring in semiconductor manufacturing

Номер патента: US20240370636A1. Автор: LIN Zhang,Danping Peng,Junjiang Lei,Zhiru YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Network status measuring system and a method for measuring status of a network

Номер патента: US09992073B2. Автор: Staffan Olsson,Ulf Ahlfors,Ted Hartzell,Ralph Myrnäs,Henrik Henriksson,Mikael Ranbro,Erik Jansson,Fredrik Olsson. Владелец: AXIS AB. Дата публикации: 2018-06-05.

Network element clock synchronization systems and methods using optical transport network delay measurement

Номер патента: US09608755B2. Автор: Jeffrey Scott Moynihan. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Variationally optimized measurement method and corresponding clock based on a plurality of controllable quantum systems

Номер патента: WO2023280829A1. Автор: Peter ZÖLLER,Marius Schulte,Raphael Kaubruegger,Denis Vasilyev,Klemens Hammerer. Владелец: Alpine Quantum Technologies GmbH. Дата публикации: 2023-01-12.

Server, communication system, and performance measurement method

Номер патента: US20200169944A1. Автор: I-Hung Lin,Amit Kumar Sharma. Владелец: Groundhog Inc. Дата публикации: 2020-05-28.

Semiconductor manufacturing apparatus, gas supplying method using the same, and semiconductor manufacturing method using the same

Номер патента: US20240124979A1. Автор: Suji Gim,Hanhim Kang,Chan Kyu LIM,Yoonbon Koo,Jongkoo Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-18.

Systems and methods for noise removal in an optical measurement system

Номер патента: US12059270B2. Автор: Julian Kates-Harbeck,Viktoria Rojkova. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-08-13.

Performance measurement method for public relations, advertising and sales events

Номер патента: EP1412889A1. Автор: Lawrence Hotz. Владелец: Right Angle Research LLC. Дата публикации: 2004-04-28.

Performance measurement method for public relations, advertising and sales events

Номер патента: EP1412889A4. Автор: Lawrence Hotz. Владелец: Right Angle Research LLC. Дата публикации: 2005-07-20.

Performance measurement method for public relations, advertising and sales events

Номер патента: WO2002001471A1. Автор: Lawrence Hotz. Владелец: Right Angle Research LLC. Дата публикации: 2002-01-03.

Network connectivity measurement system and method

Номер патента: US20140237107A1. Автор: Kamil Ince,Jeff Aitken,Wes George. Владелец: Time Warner Cable Enterprises LLC. Дата публикации: 2014-08-21.

Method for controlling inter-cell interference in wireless communication system, and device therefor

Номер патента: US20210111823A1. Автор: Kilbom LEE,Kukheon CHOI,Kyuseok Kim,Minki AHN. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2021-04-15.

Systems and methods for evaluating errors and impairments in a digital-to-analog converter

Номер патента: US09985641B1. Автор: Jacky Kin Chi Liu,Sourja Ray. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Solar cell measurement system and solar simulator

Номер патента: US09431954B2. Автор: Ren Chin SHR,Teng Chun Wu,Wei Yun Liang,Si Xian Li,Hung Sen Wu,Chen Wei Chen,Syh Homg Chen. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-08-30.

Method for setting of semiconductor manufacturing parameter and computing device for executing the method

Номер патента: US20220277189A1. Автор: Hyun Chul Choi,Rock Hyun Baek,Jun Sik Yoon,Hyeok YUN. Владелец: POSTECH Research and Business Development Foundation. Дата публикации: 2022-09-01.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US20220107694A1. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US11599206B2. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-03-07.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US20210096664A1. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

Automated anthropometry measurement system for designing improved prosthetics

Номер патента: US20230346575A1. Автор: John-John CABIBIHAN,Aya GABALLA,Mohammed MUDASSIR. Владелец: Qatar University. Дата публикации: 2023-11-02.

Processing system, and processing method

Номер патента: US20240345484A1. Автор: Shinji Kobayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Electronic apparatus in wireless communication system, and mobility measurement method

Номер патента: US12058756B2. Автор: Zhongbin Qin. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Light transmission device and method for semiconductor manufacturing process

Номер патента: US09891529B2. Автор: Yan-Ping LI. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Information displaying method and computer program product for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240231313A1. Автор: Masayuki Fujiki,Kosei Takeuchi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Measurement System, Measurement Method, Measurement Device, and Program

Номер патента: US20240016451A1. Автор: Kenichi Matsunaga,Takayuki Ogasawara,Kei KUWABARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Measurement system, measurement method, measurement device, and program

Номер патента: AU2020480642A1. Автор: Kenichi Matsunaga,Takayuki Ogasawara,Kei KUWABARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-06-29.

Measurement system, measurement method and non-transitory storage medium

Номер патента: US20230062780A1. Автор: Naoki Mitsutani. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US20200064935A1. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US20180164907A1. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-06-14.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US10866653B2. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-12-15.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Method for manufacturing photomask and semiconductor manufacturing method thereof

Номер патента: US20190354006A1. Автор: Chi-Ming Tsai,Chi-Ta Lu,Wei-Chung HU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-11-21.

Measurement system, measurement method, measurement device, and program

Номер патента: AU2020480642A9. Автор: Kenichi Matsunaga,Takayuki Ogasawara,Kei KUWABARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Optical transmission system and electro-optical conversion device

Номер патента: US20220045756A1. Автор: Takeshi Tanaka,Yasuhiro Koike,Satoshi Ito,Atsushi Yamagishi,Yuichi Tsujita,Azusa Inoue,Keita KIYOSHIMA. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Communication signal characteristic measurement system with delay and method of manufacture thereof

Номер патента: WO2009124303A1. Автор: Boris Smychkovich,Jim Harris. Владелец: Sunrise Telecom Incorporated. Дата публикации: 2009-10-08.

Method and measuring system for the measurement and testing of a mobile-telephone device

Номер патента: US09629001B2. Автор: Adrian Schumacher,Andreas Michl. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-04-18.

System and Method for In Vivo Measurement of Biological Parameters

Номер патента: US20090209834A1. Автор: Ilya Fine. Владелец: Elfi Tech Ltd. Дата публикации: 2009-08-20.

Device and method for monitoring process exhaust gas, semiconductor manufacturing device, and system and method for controlling semiconductor manufacturing device

Номер патента: US6942891B2. Автор: Hiroshi Nishikawa,Takahiro Shimoda,Kiyoshi Komiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2005-09-13.

Living-specimen observation and measurement system and living-specimen observation and measurement method

Номер патента: US20070201130A1. Автор: Kayuri Muraki,Akiko Fujinoki. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2007-08-30.

Nonwoven fabrics manufacture system system and depends hereupon and the nonwoven fabrics which is manufactured

Номер патента: KR200434539Y1. Автор: 김성재. Владелец: 김성재. Дата публикации: 2006-12-22.

System and method for measuring physiological parameters

Номер патента: US09339234B2. Автор: Chieh-Hsing Chen,Chih-Lung Yeh. Владелец: Bionime Corp. Дата публикации: 2016-05-17.

Coupled physiological signal measurement method, coupled physiological signal measurement system and graphic user interface

Номер патента: US20230082564A1. Автор: Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Min-Hsuan Lee,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2023-03-16.

Measurement system in the process of drilling near to the bit

Номер патента: RU2682400C1. Автор: Юнцин ИНЬ,Шаоцю ШИ,Бошэн ЯН,Сиюань ВАН,Цзинь ХУ,Личжун ЛУ,Гоцин ЦЮЙ. Владелец: Ориент Энэрджи Энд Текнолоджис Ко., Лтд.. Дата публикации: 2019-03-19.

Analyte measurement system and initialisation method

Номер патента: RU2721934C1. Автор: Херберт ВИДЕР. Владелец: Ф. Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2020-05-25.

Ground station of geostationary spacecraft control and measurement system control system

Номер патента: RU2731822C1. Автор: Анатолий Александрович Алексеев,Владимир Леонидович Быстрицкий,Дмитрий Николаевич Нагорных,Евгений Сергеевич Овчинников,Иван Игоревич Рузяков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2020-09-08.

System and method for optimizing train operations considering rail car parameters

Номер патента: RU2605648C2. Автор: Вольфганг ДАУМ,Гленн Роберт ШЭФФЕР,Джон Эрик ХЕРШИ,Дэвид Майкл Пельтц,Джозеф Форест НОФФСИНГЕР,Джон БОРНТРАЕГЕР,Аджит Кумар. Владелец: Дженерал Электрик Компани. Дата публикации: 2016-12-27.

Ballonet measurement systems and methods

Номер патента: WO2020214552A1. Автор: James Dakota Walker,Louise Kathryn Moores,Clinton Jullens. Владелец: LOCKHEED MARTIN CORPORATION. Дата публикации: 2020-10-22.

Optical ankle-brachial index and blood pressure measurement system and method

Номер патента: US20210393153A1. Автор: Lloyd A. Marks. Владелец: Mgi LLC. Дата публикации: 2021-12-23.

Measurement and control systems and methods for electrosurgical procedures

Номер патента: US09861424B2. Автор: Robert Behnke. Владелец: COVIDIEN LP. Дата публикации: 2018-01-09.

Displacement measurement system and sheet feed system incorporating the same

Номер патента: US20030209657A1. Автор: David Vejtasa. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2003-11-13.

Displacement measurement system and sheet feed system incorporating the same

Номер патента: WO2003095345A1. Автор: David S Vejtasa. Владелец: Hewlett-Packard Development Company, L.P.. Дата публикации: 2003-11-20.

Automated Dewpoint Oxygen Measurement System

Номер патента: US20130177038A1. Автор: Manfried Carl VERCH, Jr.,Peter N. HORNIAK. Владелец: Pratt and Whitney Co Inc. Дата публикации: 2013-07-11.

Gas recycling systems, substrate processing systems, and related apparatus and methods for semiconductor manufacturing

Номер патента: US20240175126A1. Автор: Shu-Kwan LAU,Mukhles SOWWAN. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

Systems and methods for chain wear elongation measurement and drive compensation

Номер патента: US20200130946A1. Автор: Owen Eugene Morey,Scott E. STANG. Владелец: John Bean Technologies Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Gas recycling systems, substrate processing systems, and related apparatus and methods for semiconductor manufacturing

Номер патента: WO2024118117A1. Автор: Shu-Kwan LAU,Mukhles SOWWAN. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-06-06.

Corneal implant systems and methods

Номер патента: US20230277300A1. Автор: David Müller,Michael Mrochen. Владелец: Allotex Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Measurement system for an analyte determination and a method

Номер патента: US09931064B2. Автор: Juergen Rasch-Menges,Uwe Kraemer. Владелец: Roche Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Measurement and treatment system and method

Номер патента: US09872643B2. Автор: John Erik Hershey,Harold Woodruff Tomlinson, Jr.,Glenn Alan Forman,Michael Joseph Mahony,William Eugene Powell, III. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-01-23.

Surgical rod measuring system and method

Номер патента: US09414859B2. Автор: David Mire,William Alan Rezach,Rodney Ballard. Владелец: WARSAW ORTHOPEDIC INC. Дата публикации: 2016-08-16.

Latch position indicator system and method

Номер патента: US09404346B2. Автор: Thomas F. Bailey,Kevin L. Gray,Nicky A. White,James W. Chambers,Jonathan P. Sokol. Владелец: Weatherford Technology Holdings LLC. Дата публикации: 2016-08-02.

Indirect rotation angles measurement method in operator's joints

Номер патента: RU2700118C1. Автор: Вячеслав Иванович Петренко,Фариза Биляловна Тебуева,Андрей Сергеевич Павлов,Михаил Михайлович Гурчинский,Владимир Олегович Антонов,Сергей Сергеевич Рябцев. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Кавказский федеральный университет". Дата публикации: 2019-09-12.

A food product outer layer removal system and method, measurement device, control unit and computer program product

Номер патента: EP3672399A2. Автор: Marinus Jacobus Van Der Hoek,Reinier DE WALL. Владелец: Tecuma BV. Дата публикации: 2020-07-01.

A food product outer layer removal system and method, measurement device, control unit and computer program product

Номер патента: WO2019039940A3. Автор: Marinus Jacobus Van Der Hoek,Reinier DE WALL. Владелец: Tecuma B.V.. Дата публикации: 2019-04-25.

Wearable system and method for determining blood pressure

Номер патента: EP3773152A1. Автор: Martin Proença,Olivier Chetelat,Josep SOLA I CAROS,Jonas RACINE. Владелец: Centre Suisse dElectronique et Microtechnique SA CSEM. Дата публикации: 2021-02-17.

Automated riser recoil control system and method

Номер патента: EP1285146A1. Автор: Larry Russell Jordan. Владелец: Cooper Cameron Corp. Дата публикации: 2003-02-26.

Automated riser recoil control system and method

Номер патента: EP1285146A4. Автор: Larry Russell Jordan. Владелец: Cooper Cameron Corp. Дата публикации: 2004-10-13.

Automated riser recoil control system and method

Номер патента: US20030205383A1. Автор: Larry Jordan. Владелец: Cooper Cameron Corp. Дата публикации: 2003-11-06.

Systems and methods for a talking height measurement system

Номер патента: US20220313115A1. Автор: Martin Poulter. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-10-06.

Systems and methods for non-invasive pulse pressure waveform measurement

Номер патента: EP4384069A1. Автор: Morteza Gharib,Alessio TAMBORINI. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2024-06-19.

Real-time robotic-assisted dimension measurement system

Номер патента: US20220087768A1. Автор: Mary Lynn Gaddis,Yiming Xu,Jianning Mai,Wanning Zhu,Lela DiMonte. Владелец: Verb Surgical Inc. Дата публикации: 2022-03-24.

System and method for cultivating algae

Номер патента: WO2024208632A1. Автор: Marcellinus Petrus Carolus Michael Krijn,Marc Andre De Samber. Владелец: SIGNIFY HOLDING B.V.. Дата публикации: 2024-10-10.

Cough assistance and measurement system and method cross-reference to related applications

Номер патента: EP2852321A1. Автор: Bernard F. Hete,Winslow Kevin Duff,April Stewart Nathan,Michael Howard KISSEL. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2015-04-01.

Systems and methods for determining cross-linking distribution in a cornea and/or structural characteristics of a cornea

Номер патента: US12004811B2. Автор: David Usher,Marc D. Friedman,Mikhail Z. Smirnov,Grace Elizabeth Lytle,Desmond Christopher ADLER,David C. Iannetta,Jun A. Zhang. Владелец: Avedro Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

A measuring system and a method for determining parameters of a multi-segment rod-like article

Номер патента: EP4369956A1. Автор: Bartosz Cieślikowski. Владелец: International Tobacco Machinery Poland Sp zoo. Дата публикации: 2024-05-22.

System and method for measuring bioelectrical signals of a user

Номер патента: EP1890590A1. Автор: J.A.J. C/o Philips I.P. & Standards GmbH THIJS,O. C/o Philips I.P. & Standards GmbH SUCH,J. C/o Philips I.P. & Standards GmbH MUEHLSTEFF,H. C/o Philips I.P. & Standards GmbH REITER. Владелец: Philips Intellectual Property and Standards GmbH. Дата публикации: 2008-02-27.

Interface unit, measurement system and a method in an interface unit

Номер патента: EP2637556A1. Автор: Magnus Samuelsson. Владелец: St Jude Medical Systems Ab. Дата публикации: 2013-09-18.

Elevator safety system, elevator system and method for limiting elevator car travel path

Номер патента: WO2024183880A1. Автор: Ari Kattainen,Juha-Matti Aitamurto. Владелец: KONE CORPORATION. Дата публикации: 2024-09-12.

Dual mode closed-loop system and method for measuring a parameter of the muscular-skeletal system

Номер патента: US09592010B2. Автор: Marc Stein. Владелец: ORTHOSENSOR INC. Дата публикации: 2017-03-14.

Body shape change measurement system and method

Номер патента: WO2024128830A1. Автор: Jeong Ho Shin,Young Sun Cho,Sung Keun Kwak,Min Seong Son,Na Kyung Lee,Ji Hwan Woo. Владелец: Cj Olivenetworks Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-06-20.

Ligament laxity measuring system and method for measuring ligment laxity

Номер патента: US20140343461A1. Автор: Chen-Chou Lin. Владелец: National Taiwan Ocean University NTOU. Дата публикации: 2014-11-20.

Heartbeat and pulse measuring system and method thereof

Номер патента: US20160100767A1. Автор: Cheng-Han Wu,Bo-Jau Kuo,Wei-Yi Li,Vincent I-Te Hsieh. Владелец: Cloud Care Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-14.

Rotary press registration systems and methods

Номер патента: US20060230958A1. Автор: Michael Hart,Carlos Noa,Greg Tabor. Владелец: Pressline Services. Дата публикации: 2006-10-19.

Systems and methods for measuring blood pressure

Номер патента: US20240277240A1. Автор: Massi Joe E. Kiani,Cristiano Dalvi,Jeroen Poeze,Hung The Vo,Marcelo M. Lamego. Владелец: Masimo Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Biological information measurement system and recording medium

Номер патента: US20200100695A1. Автор: Hirofumi Morise,Kiwamu Kudo,Yoshihiro MISAKA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-02.

Vital signs measurement system, detecting method of the vital signs measurement system, and vital signs measurement earphone

Номер патента: US09788737B2. Автор: Cheng Lee,Wen-Bing HSU,Kuo Yang Wu,Hsiang-Ling Chung. Владелец: Cheng Uei Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Optical measurement system and method including blink rate monitor and/or tear film breakup detector

Номер патента: US09706912B2. Автор: Richard J. Copland,John G. DIXSON. Владелец: AMO Wavefront Sciences LLC. Дата публикации: 2017-07-18.

Biological signal measuring system and biological signal measuring apparatus

Номер патента: US09521969B2. Автор: Naoki Kobayashi,Hideaki Hirabara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Spirometry system and disposable volume spirometry apparatus

Номер патента: US09456768B2. Автор: Stefano Soatto,Giuseppe Torresin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-04.

Monitoring system and oxygen measurement system

Номер патента: US12016691B2. Автор: Akihiro Takahashi,Satoru Suehara. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Portable retina measuring device, and ophthalmologic disease measuring system and ophthalmologic disease management method using portable terminal

Номер патента: US20230301512A1. Автор: Eu Na Heo,Eunsim Heo,Woojin Heo. Владелец: Aiforpet. Дата публикации: 2023-09-28.

Gas turbine fluid measurement system and method for operating same

Номер патента: EP4261389A1. Автор: Patrice Remy. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-10-18.

Fluid measurement system and method for operating same

Номер патента: CA3197136A1. Автор: Patrice Remy. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-10-15.

Fluid measurement system and method for operating same

Номер патента: US20230332511A1. Автор: Patrice Remy. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Seine net position measurement system and method of determining seine net position

Номер патента: WO2024107722A1. Автор: David O'Neill,Muniain Carles CASTRO,Carroll John WESCOTT,Vranken Cooper VAN. Владелец: Caledonia Nets Llc. Дата публикации: 2024-05-23.

Dialysis systems and methods including sensor feedback to improve patient experience

Номер патента: US12042589B2. Автор: Sukhraaj Basati,Shantanu Avinash Gadre,Mohammad Ali Jamnia,Lakshmy M. Nair,William J. O'Reilly,Marta Wlodarczyk. Владелец: Baxter International Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Measurement system with controlled pressure ramp

Номер патента: US12042253B2. Автор: Craig Alexander Easson,John Philip Hanks. Владелец: Maxim Integrated Products Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Systems and methods for determining fractional flow reserve without adenosine or other pharmacological agents

Номер патента: EP3068292A1. Автор: Barry O'Connell,Colm Connolly,Allan H. STEINGISSER. Владелец: Medtronic Vascular Galway ULC. Дата публикации: 2016-09-21.

Optical measurement systems and processes with wavefront aberrometer having variable focal length lens

Номер патента: US20190183337A1. Автор: Daniel R. Neal,Richard J. Copland. Владелец: AMO Wavefront Sciences LLC. Дата публикации: 2019-06-20.

Impedance measurement system

Номер патента: US20180199885A1. Автор: David W. Mortara. Владелец: Mortara Instrument LLC. Дата публикации: 2018-07-19.

Sludge flow measuring system

Номер патента: US09926925B2. Автор: Charles M. Wanstrom,Thomas M. Anderson,Shahzad M. Khan,Michael M. Mott. Владелец: Schwing Bioset Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Impedance measurement system

Номер патента: US09913614B2. Автор: David W. Mortara. Владелец: Mortara Instrument LLC. Дата публикации: 2018-03-13.

Systems and methods for determining fractional flow reserve without adenosine or other pharmalogical agent

Номер патента: US09877660B2. Автор: H. Allan Steingisser,Barry O'Connell,Colm Connolly. Владелец: Medtronic Vascular Galway ULC. Дата публикации: 2018-01-30.

Muscle fatigue measuring device and associated systems and methods

Номер патента: US09730627B2. Автор: Damian Andrisani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-15.

Method for correcting biometric signals in continuous biometric information measurement system

Номер патента: AU2023207023A1. Автор: YUN Hee Kang,Young Jea Kang,Jung Hee Seo,Ji Seon Nah,Min Ji Jang. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Orthopedic leg alignment system and method

Номер патента: US20230270568A1. Автор: Gordon Goodchild,Ryan M. Chapman,Doug W. Van Citters. Владелец: ORTHOSENSOR INC. Дата публикации: 2023-08-31.

Ophthalmic laser surgical system and method implementing simultaneous laser treatment and oct measurement

Номер патента: EP3923877A1. Автор: David A. Dewey,Javier G. GONZALEZ,Michael J. Simoneau. Владелец: AMO DEVELOPMENT LLC. Дата публикации: 2021-12-22.

Ophthalmic laser surgical system and method implementing simultaneous laser treatment and oct measurement

Номер патента: US20200261267A1. Автор: David A. Dewey,Javier G. GONZALEZ,Michael J. Simoneau. Владелец: AMO DEVELOPMENT LLC. Дата публикации: 2020-08-20.

Ophthalmic laser surgical system and method implementing simultaneous laser treatment and OCT measurement

Номер патента: AU2020222274A1. Автор: David A. Dewey,Javier G. GONZALEZ,Michael J. Simoneau. Владелец: Optimedica Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Tubular stress measurement system and method

Номер патента: WO2015099973A2. Автор: Douglas Greening,Marinel Mihai,Brian DEWALD,Piew Soe Saw. Владелец: Tesco Corporation. Дата публикации: 2015-07-02.

Electronic device, signal processing method thereof, biological signal measurement system, and non-transitory computer readable recording medium

Номер патента: US20180360388A1. Автор: Jae-Geol Cho,Jea-Hyuck Lee,Chan-Yul Kim,Kwang-Hyun Won,Min-Hyoung Lee,Do-Yoon Kim,Hyung-Soon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-12-20.

Biopotential measurement system with electrode preheating unit

Номер патента: EP4410186A1. Автор: Vanessa Tolosa,Murat Yokus,Ahmet Alpkilic,Muhammed Agcayazi. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2024-08-07.

System and method for determination of dry weight by multi-frequency bioimpedance measurements

Номер патента: US20230061704A1. Автор: Philip Hamski,Robert Rinehart,Dios Aba,Marc O. Griofa. Владелец: Seemedx Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Orthopedic leg alignment system and method

Номер патента: US12097130B2. Автор: Gordon Goodchild,Ryan M. Chapman,Doug W. Van Citters. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Method for correcting biometric signals in continuous biometric information measurement system

Номер патента: EP4437956A1. Автор: YUN Hee Kang,Young Jea Kang,Jung Hee Seo,Ji Seon Nah,Min Ji Jang. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Fluid delivery and measurement systems and methods

Номер патента: US09981083B2. Автор: Robert R. Gonnelli,Steven F. Levesque,David Lipson,Peter F. Marshall. Владелец: Valeritas Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Tubular stress measurement system and method

Номер патента: US09765579B2. Автор: Douglas Greening,Marinel Mihai,Brian DEWALD,Piew Soe Saw. Владелец: Tesco Corp Canada. Дата публикации: 2017-09-19.

Volumetric physiological measuring system and method

Номер патента: US09763593B2. Автор: Morten Eriksen,Erik Eriksen. Владелец: VoluSense AS. Дата публикации: 2017-09-19.

Fluid delivery and measurement systems and methods

Номер патента: US09636451B2. Автор: Robert R. Gonnelli,Steven F. Levesque,David Lipson,Peter F. Marshall. Владелец: Valeritas Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Measuring method, pedestal and measuring system for determining biometric data of human feet

Номер патента: US09603552B2. Автор: Burghard Hoffmann,Ales Jurca,Alejandro Arrieta Alfaro,Udo Bürgel. Владелец: Vitronic Dr Ing Stein Bildverarbeitungssysteme GmbH. Дата публикации: 2017-03-28.

Acetabular component anteversion and abduction measurement system and method

Номер патента: US09561086B2. Автор: J. Benjamin JACKSON, III. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-02-07.

Garment for bioinformation measurement having electrode, bioinformation measurement system and bioinformation measurement device, and device control method

Номер патента: US09433379B2. Автор: Shinya Nagata,Ryuji Nagai. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Systems and methods for measuring tear film osmolarity

Номер патента: WO2005051309A2. Автор: Eric Donsky. Владелец: Ocusense, Inc.. Дата публикации: 2005-06-09.

System and method for measuring freeze dried cake resistance

Номер патента: US20020121099A1. Автор: William Lambert,Zeren Wang. Владелец: Eisai Co Ltd. Дата публикации: 2002-09-05.

Carbon byproduct removal module, carbon byproduct removal system, and operating method thereof

Номер патента: US20240278166A1. Автор: Jae Hyun Kim,Dae Wee Kong,Song Yi Baek,Hwan Soo HEO,Sang Ho Roh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-22.

Paint curing measurement system and method

Номер патента: US20120189765A1. Автор: Chi-Chih Wang,Rui-Jun Wang,zhi-long Li,Yao-Feng Li. Владелец: GDS Software Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-26.

Bio information measurement device and bio information measurement method

Номер патента: US20210228091A1. Автор: Seung Wan Kang,Dae Keung KIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-29.

Optical measurement system and method with target brightness level adjustment

Номер патента: US09757025B2. Автор: Richard J. Copland,Thomas D. Raymond,David J. TANZER. Владелец: AMO Wavefront Sciences LLC. Дата публикации: 2017-09-12.

Mine counter measure system

Номер патента: WO2005099362A3. Автор: Richard M Lloyd. Владелец: Richard M Lloyd. Дата публикации: 2006-11-30.

Mine counter measure system

Номер патента: EP1737728A2. Автор: Richard M. Lloyd. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2007-01-03.

Systems and methods for purifying solvents

Номер патента: US12043592B2. Автор: Eduardo Ramirez ROMERO,David Bollinger. Владелец: Fujifilm Electronic Materials USA Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Aluminum member for semiconductor manufacturing apparatuses, and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240287700A1. Автор: Junji Nunomura. Владелец: UACJ Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Processing system, and processing method

Номер патента: US20240343619A1. Автор: Shinji Kobayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Drill with depth measurement system

Номер патента: US09826984B2. Автор: Shigeru Tanaka,Martin A. Leugers,Joseph C. McGinley,Kevin D. Simmons,Peter A. Privitera,Henry K. Sim,David J. Rinaldis,Graham R. Faulknor. Владелец: McGinley Engineered Solutions LLC. Дата публикации: 2017-11-28.

Bacterium number measuring method and bacterium number measuring system

Номер патента: US20210317503A1. Автор: Hideyuki Noda,Atsushi Matsui,Yuichi UCHIHO,Hideki Niimi,Shunsuke KAWABE. Владелец: University of Toyama NUC. Дата публикации: 2021-10-14.

Systems and methods for purifying solvents

Номер патента: EP4025319A1. Автор: Stephen Earl DYER,Brendan Thomas LANE,Patrick Adams MAHONEY SR.. Владелец: Fujifilm Electronic Materials USA Inc. Дата публикации: 2022-07-13.

Brain response measurement system, brain response measurement method, and brain response measurement program

Номер патента: US20200289008A1. Автор: Hirofumi Morise,Kiwamu Kudo,Yoshihiro MISAKA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Walking state measurement system, walking state measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20220395197A1. Автор: Yoshiaki Kato,Yoshihiro Takiguchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-12-15.

Blood pressure measurement method

Номер патента: US09649054B2. Автор: Massi Joe E. Kiani,Marcelo Lamego,Cristiano Dalvi,Hung Vo,Ken Lam. Владелец: Cercacor Laboratories Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Distributed system and method for measuring flow rates of multiphase and/or multicomponent fluids extracted from oil and gas wells

Номер патента: RU2754408C1. Автор: Бертран Тевени,Иван Витальевич Врабие,Денис Евгеньевич Сыресин,Леонид Евгеньевич Довгилович,Жан-Филипп ХУССЕНЕ,Виктор Викторович Корнеев,Ермек Талгатович КАИПОВ. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2021-09-02.

Respiratory Measurement Method, Respiratory Measurement Device, and Respiratory Measurement System

Номер патента: US20240237914A1. Автор: Shinji Imai,Koichi Murata,Masafumi Furuta. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

IN-OIL GAS CONCENTRATION MEASURING SYSTEM AND IN-OIL GAS CONCENTRATION MEASURING METHOD USING SAME SYSTEM

Номер патента: US20120304734A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-12-06.

Biological data-related index measuring system, information processing system, and biological data-related index measuring method

Номер патента: JP2022174944A. Автор: Hiroki Ohashi,洋登 永吉,洋輝 大橋,Hirotaka Nagayoshi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-11-25.

ULTRASONIC WAVE TRANSMITTER DEVICE, ULTRASONIC WAVE PROPAGATION TIME MEASUREMENT SYSTEM AND ULTRASONIC WAVE PROPAGATION TIME MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120198937A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-08-09.

Foot sole pressure distribution measuring system and foot sole pressure distribution measuring method

Номер патента: JP7132610B2. Автор: 一郎 佐久間,泉澄 細井,卓巳 松本,成虎 張,英津子 小林,▲ち▼ 安. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-09-07.

The part design for Measurability system of EDIF netlist level circuit based on Perl and part design for Measurability method

Номер патента: CN103530479B. Автор: 俞洋,陈诚,刘旺,彭喜元. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2016-09-21.

System and Method for Joint Resurface Repair

Номер патента: US20120004663A1. Автор: . Владелец: ARTHROSURFACE INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

DIFFERENTIAL MOBILITY ANALYZER, PARTICLE MEASURING SYSTEM, AND PARTICLE SORTING SYSTEM

Номер патента: US20120001067A1. Автор: ORII Takaaki,KUDOH Satoshi. Владелец: RIKEN. Дата публикации: 2012-01-05.

CONTROL SYSTEM AND METHOD OF USE FOR CONTROLLING CONCENTRATIONS OF ELECTROLYZED WATER IN CIP APPLICATIONS

Номер патента: US20120000488A1. Автор: Herdt Brandon,Ryther Robert. Владелец: ECOLAB USA INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTIVITY MONITORING SYSTEMS AND METHODS

Номер патента: US20120004883A1. Автор: . Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING RFID DEVICES ON SINGLE-USE CONNECTORS

Номер патента: US20120001731A1. Автор: . Владелец: GE HEALTHCARE BIOSCIENCE BIOPROCESS CORP.. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTIMIZED APERTURE SELECTION IMAGING COMPUTED TOMOGRAPHY SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20120002781A1. Автор: Jaffray David A.,Siewerdsen Jeffrey H.,Graham Sean A.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

System and methods for self-powered, contactless, self-communicating sensor devices

Номер патента: US20120004523A1. Автор: Richter Wolfgang,Zadeh Faranak. Владелец: R2Z INNOVATIONS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Solid-propellant rocket engine start system and pressure intake of solid-propellant rocket engine

Номер патента: RU2482321C1. Автор: Сергей Викторович Лянгузов,Михаил Федорович Иванов,Михаил Алексеевич Налобин. Владелец: Открытое акционерное общество Научно-производственное объединение "Искра". Дата публикации: 2013-05-20.

System and Method for Ground Material Characterization in a Grinding System

Номер патента: US20120002037A1. Автор: Dübendorfer Urs,Heine Martin,Pierri Dario. Владелец: Buhler AG. Дата публикации: 2012-01-05.

Measuring system for contact rail position continuous control

Номер патента: RU2533940C1. Автор: Владимир Михайлович Федоров,Валентин Владимирович Смирнов,Игорь Николаевич Гончаров,Александр Ростиславович Шелохнев. Владелец: Закрытое акционерное общество "ПРОМЫШЛЕННЫЙ СОЮЗ" ЗАО "ПРОМСОЮЗ". Дата публикации: 2014-11-27.

Device for measurement of amplitude and phase of electromagnetic field in working volume of radar measuring system

Номер патента: RU2308043C1. Автор: Виктор Вячеславович Беляев,Галина Николаевна Акиньшина,Виктор Архипович Понькин,Юрий Николаевич Богданов,Алексей Тихонович Маюнов,ев Виктор В чеславович Бел,нов Сергей Владимирович Емель,Сергей Владимирович Емельянов,нов Олег Евгеньевич Кирь,Олег Евгеньевич Кирьянов,Николай Андреевич Мартынов,Сергей Витальевич Зубков. Владелец: Федеральное государственное учреждение "Федеральный государственный научно-исследовательский испытательный центр радиоэлектронной борьбы и оценки эффективности снижения заметности" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2007-10-10.

Measurement system for research of small-scale turbulence in near-surface layer of sea

Номер патента: RU2549250C1. Автор: Валерий Александрович Барабаш,Александр Михайлович Чухарев,Анатолий Сергеевич Самодуров. Владелец: Морской гидрофизический институт. Дата публикации: 2015-04-20.

A weight measurement method utilizing image processing for an automated electronic sow-feeding system

Номер патента: PH22019000394U1. Автор: John Vincent R Alladin,Christian Dominic F Allurin,James Theodor E Iglesias,Miguel Antonio G Valdellon. Владелец: Tech Institute Of The Philippines Quezon City. Дата публикации: 2022-02-23.

Measuring method of thermal fields of electric radio items

Номер патента: RU2564053C2. Автор: Сергей Борисович Сунцов,Валерий Александрович Деревянко,Егор Александрович Морозов,Александр Васильевич Макуха,Екатерина Федоровна Смолякова. Владелец: Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2015-09-27.

Method for directing deflector when constructing assembly of lower portion of drilling column with incline measuring system and device for realization of said method

Номер патента: RU2237806C2. Автор: н В.К. Т,В.К. Тян,А.С. Федечкин. Владелец: Федечкин Александр Сергеевич. Дата публикации: 2004-10-10.

Buffer-based traffic measurement system and method for nominal bit rate (nbr) service

Номер патента: EP1163823A1. Автор: Jussi Ruutu,Matti Kilkki,Sari Saranka. Владелец: Nokia Networks Oy. Дата публикации: 2001-12-19.

A delay measurement method

Номер патента: WO2024216997A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Xiubin Sha,Yingjun Zhou. Владелец: ZTE CORPORATION. Дата публикации: 2024-10-24.

Measuring system for controlling aerodynamic tunnel systems

Номер патента: RU2374612C1. Автор: Юрий Константинович Блокин-Мечталин,Валерий Александрович Судаков,Виктор Михайлович Власенко,Ярослав Александрович Шаныгин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е.Жуковского" (ФГУП "ЦАГИ"). Дата публикации: 2009-11-27.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.