MEASUREMENT APPARATUS, ENERGY STORAGE APPARATUS, MEASUREMENT SYSTEM, AND OFFSET ERROR MEASUREMENT METHOD.

MEASUREMENT APPARATUS, ENERGY STORAGE APPARATUS, MEASUREMENT SYSTEM, AND OFFSET ERROR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200379050A1
Опубликовано: 03-12-2020
Автор(ы): IMANAKA Yuki, IMURA Masayuki, Takai Seiji
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Energy storage type lithium battery pack battery management system and control method

Номер патента: CN111541287A. Автор: 王松,王玉海,李连强,张鹏雷. Владелец: Qingdao Hailing Yuanzhi Technology R & D Co ltd. Дата публикации: 2020-08-14.

Measurement apparatus, energy storage apparatus, measurement system, and offset error measurement method

Номер патента: US10962597B2. Автор: Masayuki Imura,Seiji Takai,Yuki Imanaka. Владелец: GS YUASA INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2021-03-30.

Energy storage apparatus, energy storage system, internal resistance estimation method, and computer program

Номер патента: US20230288488A1. Автор: Shigeki Hattori. Владелец: GS YUASA INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2023-09-14.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09553462B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Battery measurement method and apparatus

Номер патента: US20240230770A9. Автор: Masaaki Kitagawa,Isao Ishibe,Shun MIYAUCHI. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Charge capacity calculation device and method for energy storage system

Номер патента: US20210215767A1. Автор: Bo Mi Lim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-07-15.

Energy storage system and parameter calibration method

Номер патента: EP4148860A3. Автор: LIN Li,HE Zhou,Haibin GUO. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-29.

Systems and methods for series battery charging

Номер патента: US20240274864A1. Автор: Naoki Ota,Taison Tan,Tony L. Taylor. Владелец: 24M Technologies Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Systems and methods for series battery charging and forming

Номер патента: EP4350937A3. Автор: Naoki Ota,Taison Tan,Tony L. Taylor. Владелец: 24M Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09645201B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Control method for energy-storage apparatus, energy-storage apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4376248A3. Автор: Yongfei Zhang,Yingxiong HUANG. Владелец: Shenzhen Hithium Energy Storage Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Control method for energy-storage apparatus, energy-storage apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4376248A2. Автор: Yongfei Zhang,Yingxiong HUANG. Владелец: Shenzhen Hithium Energy Storage Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Control method for energy-storage apparatus, energy-storage apparatus, and storage medium

Номер патента: US11764578B1. Автор: Yongfei Zhang,Yingxiong HUANG. Владелец: Shenzhen Hairun New Energy Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Ground fault monitoring system for an energy storage system

Номер патента: US11879949B2. Автор: Anders Lasson,Fatih AL,Hicham Sadoun,Ustun Saglam. Владелец: Volvo Car Corp. Дата публикации: 2024-01-23.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20170212173A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20170212172A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20160282417A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-29.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20180011147A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-11.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09804229B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09804228B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09645199B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Energy storage device charging state fiber online monitoring system and method

Номер патента: EP3779483A4. Автор: Peng Sun,Tuan Guo,Wenjie MAI,Jiajie LAO. Владелец: University of Jinan. Дата публикации: 2022-05-04.

Systems and methods for utilizing an array of power storage devices, such as batteries

Номер патента: US09837842B2. Автор: Hok-Sum Horace Luke,Matthew Whiting Taylor. Владелец: Gogoro Inc Hong Kong. Дата публикации: 2017-12-05.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Frequency measuring method and frequency measuring device

Номер патента: EP3715875A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Measuring method for an electrochemical energy storage device and measuring apparatus

Номер патента: US20140178720A1. Автор: Jens Meintschel,Claus-Rupert Hohenthanner,Denny Thiemig,Joerg KAISER,Michael Rentzsch. Владелец: Li Tec Battery GmbH. Дата публикации: 2014-06-26.

Solar cell measuring apparatus

Номер патента: US09825585B2. Автор: Jaewon Chang,Heejin NAM,Hyunjung PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-11-21.

Measuring apparatus for solar cell

Номер патента: US20180123510A1. Автор: Teng-Chun Wu,Cho-Fan Hsieh,Hung-Sen Wu,Yean-San Long,Min-An TSAI,Ren-Chin Shr,En-Yun Wang,Chin Lien. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-05-03.

Current measuring apparatus, image forming apparatus, conveyance apparatus and method for measuring current

Номер патента: US09939469B2. Автор: Takeo Seki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

System and Methods for Controlling the Charging and Discharging of an Energy Storage Device

Номер патента: US20230307915A1. Автор: Shai Sabag,Avishai SHATON. Владелец: Solaredge Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Measurement circuit and measurement apparatus for wireless power transmission system

Номер патента: US09806538B2. Автор: Hironobu Takahashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Measurement method, non-transitory computer-readable medium and measurement apparatus

Номер патента: US20200271708A1. Автор: Kazuhiko Kobayashi. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Power cable connector, electrical system and method for assembling power cable connector

Номер патента: CA3069475A1. Автор: QING Yang,Yibo Zhang,Fumei WU. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2020-06-20.

Measuring apparatus

Номер патента: US20200006990A1. Автор: Yuki Yamamoto,Natsuki MIYASHITA,Tomohide TSUKASAKI. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

Method and system for initial setup of energy storage system

Номер патента: US20220285953A1. Автор: Ji Seok JUNG,Eun Cheol RO,Seung Hyeok JANG. Владелец: Hanwha Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-08.

Method and system for initial setup of energy storage system

Номер патента: US11888813B2. Автор: Ji Seok JUNG,Eun Cheol RO,Seung Hyeok JANG. Владелец: Hanwha Solutions Corp. Дата публикации: 2024-01-30.

Measurement apparatus, control method for measurement apparatus, and measurement system

Номер патента: US20220373618A1. Автор: Yu Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A3. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-11-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: EP2507813A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,Dale Stubbs. Владелец: Gigle Networks Ltd. Дата публикации: 2012-10-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-06-09.

An energy storage system for a direct current transmission system and a method for exchanging energy with a direct current transmission system

Номер патента: WO2024121355A1. Автор: Bertil Berggren,Nicklas Johansson,Roberto Alves,Pablo MONTERO ROBINA,Ali Tayyebi,Franz Dijkhuizen. Владелец: Hitachi Energy Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

An energy storage system for a direct current transmission system and a method for exchanging energy with a direct current transmission

Номер патента: EP4383496A1. Автор: Bertil Berggren,Nicklas Johansson,Frans Dijkhuizen,Roberto Alves,Pablo MONTERO ROBINA,Ali Tayyebi. Владелец: Hitachi Energy Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Energy storage system interworking with solar power generation system and electric vehicle charging system and method for operating same

Номер патента: EP4391293A1. Автор: Daesoo Kim,Bonjun Koo. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Energy storage cell impedance measuring apparatus, methods and related systems

Номер патента: CA2991036C. Автор: John L. Morrison,William H. Morrison,Jon P. Christophersen. Владелец: Morrison John L. Дата публикации: 2020-06-30.

System and method for designing and controlling a dual energy storage system

Номер патента: US20230302962A1. Автор: Fabrizio MARTINI,Nicolò Michele Brambilla,Thomas James Couture,Akhilesh Bakshi,Jacob M. Berliner. Владелец: Electra Vehicles Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

System and method for designing and controlling a dual energy storage system

Номер патента: EP3729594A1. Автор: Fabrizio MARTINI,Nicolò Michele Brambilla,Thomas James Couture,Akhilesh Bakshi,Jacob M. Berliner. Владелец: Electra Vehicles Inc. Дата публикации: 2020-10-28.

System and method for designing and controlling a dual energy storage system

Номер патента: WO2019126802A9. Автор: Fabrizio MARTINI,Nicolò Michele Brambilla,Thomas James Couture,Akhilesh Bakshi,Jacob M. Berliner. Владелец: Electra Vehicles, Inc.. Дата публикации: 2019-08-22.

Battery property measurement apparatus

Номер патента: US20210018566A1. Автор: Jin Hyun Lee,Young Joong Kim,Young Su SON. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Device for Compressing at Least a Portion of an Energy Storage Cell, and System and Method for Electrical Safety Testing

Номер патента: US20240288486A1. Автор: Nina Zensen,Hyunchul Roh,Wonsup Han. Владелец: Bayerische Motoren Werke AG. Дата публикации: 2024-08-29.

Advanced electrolyte systems and their use in energy storage devices

Номер патента: US11776765B2. Автор: Riccardo Signorelli,Christopher John Sibbald Deane,James Epstein,Padmanaban Sasthan Kuttipillai,Fabrizio MARTINI,John J. Cooley,Lindsay A. Wilhelmus. Владелец: Fastcap Systems Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Advanced electrolyte systems and their use in energy storage devices

Номер патента: US20240006130A1. Автор: Riccardo Signorelli,Christopher John Sibbald Deane,James Epstein,Padmanaban Sasthan Kuttipillai,Fabrizio MARTINI,John J. Cooley,Lindsay A. Wilhelmus. Владелец: Fastcap Systems Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: FI130163B. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2023-03-23.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: AU2023214108A1. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2024-08-29.

Stock tank water level measuring apparatus and system for monitoring the apparatuses

Номер патента: US20210325229A1. Автор: David Cliff,Curt Goble. Владелец: Wellbot LLC. Дата публикации: 2021-10-21.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: WO2014118625A1. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-08-07.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: US09651510B2. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Energy management apparatus, energy management method and program recording medium

Номер патента: US20170264135A1. Автор: Hitoshi Yano,Koji Kudo,Ryo Hashimoto,Hisato Sakuma,Alexander VIEHWEIDER. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-09-14.

Power conversion system and method

Номер патента: EP3714523A1. Автор: Aaron VANDERZADEN. Владелец: ESS Tech Inc. Дата публикации: 2020-09-30.

Curved battery cell thickness measuring device including low measuring pressure calipers and curved battery cell thickness measuring method using same

Номер патента: EP4450915A1. Автор: Min Jung Kim,Dong Hun SONG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Outer Diameter Measurement Apparatus and Outer Diameter Measurement Method of Electrode Assembly

Номер патента: US20240302162A1. Автор: Min Ki Kim,Hyeok Soon Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Gas volume measurement apparatus

Номер патента: EP4361592A1. Автор: Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Gas volume measurement apparatus

Номер патента: US20240085231A1. Автор: Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Measurement information display apparatus, measurement information display system, and measurement information display method

Номер патента: US09974486B2. Автор: MASAAKI Nonoyama,Yukari Araki,Akira Hatta,Shintaro Nagasaki. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Wafer measurement apparatus, wafer measurement system, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20190229023A1. Автор: Je-Hyun Lee,Sung-Bo Shim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-07-25.

Wafer measurement apparatus, wafer measurement system, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US10790200B2. Автор: Je-Hyun Lee,Sung-Bo Shim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-09-29.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (VCSEL) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US11482830B2. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-25.

Pattern-measuring apparatus and semiconductor-measuring system

Номер патента: US09990708B2. Автор: Takeshi Kato,Hiroyuki Shindo,Norio Hasegawa,Yutaka Hojo,Yasutaka Toyoda,Hitoshi SUGAHARA,Daisuke HIBINO. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Overlay mark forming Moire pattern, overlay measurement method using same, overlay measurement apparatus using same, and manufacturing method of semiconductor device using same

Номер патента: US12107052B2. Автор: Hyun Chul Lee,Hyun Jin Chang. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Surface measurement apparatus

Номер патента: US09823065B2. Автор: Masaaki Ito,Takanori Kondo,Takahiro Jingu,Masami Ikota. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

System and method for delivery of an analyte and a reference

Номер патента: GB2625759A. Автор: HILKERT Andreas,Kuhlbusch Nils. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-07-03.

System and method for delivery of an analyte and a reference

Номер патента: US20240213010A1. Автор: Andreas Hilkert,Nils KUHLBUSCH. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-06-27.

Load measuring apparatus and load measuring method

Номер патента: US09719869B2. Автор: Hideaki Tanaka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Electron beam length-measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20030052270A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

Apparatus, system, and method for measuring the temperature of a substrate

Номер патента: US20230060543A1. Автор: Yee-Chia Yeo,Li-Ting Wang,Wen-Yen Chen,Huicheng Chang,Yi-Chao Wang,Tz-Shian Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Process measurement apparatus and method

Номер патента: US20230350438A1. Автор: Yong Jun Seo,Sang Hyun Son,Sang Min HA,Dong Ok AHN,Hyeong Jun CHO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Snow quality measuring apparatus and snow quality measuring method

Номер патента: US20170176587A1. Автор: Yutaka Aoki,Ryuji Murata,Ryuichi Sunagawa,Jin MIKATA. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2017-06-22.

Substrate weight measurement apparatus, a substrate processing apparatus including the same, and a method of processing a substrate using the substrate processing apparatus

Номер патента: US20230384681A1. Автор: Kuntack Lee,Ji Hwan Park,Sangjine Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

Measurment apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US20190293410A1. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Measurement apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US10866085B2. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-12-15.

Position measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US11715660B2. Автор: Manabu Takakuwa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-01.

Optical measurement apparatus

Номер патента: WO2003058689A1. Автор: Ronald Vern Schauer. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2003-07-17.

Terahertz signal measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20240230528A1. Автор: Wontae Kim,Namil Koo,Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sungyoon Ryu,Ingi KIM,Sunhong JUN,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Eunhyuk Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Wafer carrier measuring apparatus

Номер патента: US20240186163A1. Автор: Kuo-Hua Lee,Ming-Chien Chiu,Chia-Ho CHUANG,En-Nien Shen,Jyun-Ming Lyu,Xin-Yuan Huang. Владелец: Gudeng Precision Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Light wavelength measurement apparatus and method, and light wavelength control device and light-emitting system

Номер патента: EP4414672A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Measuring apparatus and method of wafer geometry

Номер патента: US12072176B2. Автор: An Andrew Zeng. Владелец: Nanjing Zhongan Semiconductor Equipment Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Optical Wavelength Measurement Apparatus and Method, Optical Wavelength Control Device, and Light Emitting System

Номер патента: US20240295437A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Measuring apparatus that generates positional deviation distribution of a pattern on a target object

Номер патента: US09659361B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Semiconductor measurement apparatus

Номер патента: US20240230314A9. Автор: Jinyong Kim,Sungho Jang,Wookrae Kim,Garam CHOI,Jinseob KIM,Daehoon Han,Younguk JIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Beam scanner and surface measurement apparatus

Номер патента: US20100201993A1. Автор: Bae Kyun Kim,Tak Gyum Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-08-12.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US09915519B2. Автор: Qiang Wu,Yuntao Jiang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method, and film forming system and film forming method

Номер патента: US11939665B2. Автор: Naoyuki Suzuki,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,Tamaki Takeyama,Hiroaki Chihaya,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Automatic measuring method and apparatus for measuring connecting lines

Номер патента: US20130066580A1. Автор: Chang-Yi Chen,Shih-Tung Lin,Chen-Yung Lin. Владелец: Taiwan Luxshare Precision Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Broadband measurement system and measurement method for broadband property

Номер патента: US11843423B2. Автор: Han-Ti Chuang,wei-yang Chen,Ssu-Han Liu,Wan-Yu Chu. Владелец: TMY Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Energy storage system and temperature control method for energy storage system

Номер патента: EP4439908A2. Автор: Qi Dang,Chongyue HUANG,Fuwen Chen. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Energy distribution system and method of controlling the distribution of energy

Номер патента: WO2023105455A1. Автор: Piotr Oramus,Kacper Sowa,Tomasz Kuczek,Andrea Bontempelli. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-06-15.

Long-standby electrochemical apparatus, energy storage system, and electric vehicle

Номер патента: EP4270703A1. Автор: Chao Yang,Yulong GE,Qifan Liu. Владелец: Dongguan Poweramp Technology Ltd. Дата публикации: 2023-11-01.

Energy storage and charging station

Номер патента: US20240255196A1. Автор: Zhisheng LIAN,Minggui HU. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Energy storage system and control method thereof

Номер патента: US20230110231A1. Автор: LIN Li,HE Zhou,Haibin GUO. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Communication method for energy storage system, and energy storage system

Номер патента: EP4439912A1. Автор: Zhimin Zheng,Linggang ZHOU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Communication method of energy storage system and energy storage system

Номер патента: US20240356090A1. Автор: Zhimin Zheng,Linggang ZHOU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Control command apparatus, power system control system and control command method

Номер патента: US09762057B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hideyuki Kobayashi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-09-12.

Magnetic field measuring apparatus and magnetic field measuring method

Номер патента: US12066508B2. Автор: Takashi Yasui. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Transmit power measurement apparatus having programmable filter device that is set at least based on frequency response of transmit power detection path and related transmit power measurement method thereof

Номер патента: US09712169B2. Автор: Bing Xu,Chi-Hsueh Wang,Hsiang-Hui Chang,Li-Shin Lai. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Frequency measurement apparatus, microcontroller, and electronic apparatus

Номер патента: US20210405099A1. Автор: Keisuke Hashimoto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-12-30.

A Day ahead Mobile Energy Storage System Scheduling Method for Low Voltage Distribution System

Номер патента: LU503731B1. Автор: He Meng,Tao Xu,Jiadong Zhang,Hongru Wang,Jianhang SUN,Mengchao LI,Shuqi Cai,Zuozheng Liu. Владелец: Univ Tianjin. Дата публикации: 2023-09-25.

Signal measuring apparatus

Номер патента: US20230258695A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Signal measuring apparatus

Номер патента: GB2597059A. Автор: White Scott,Price Richard,Ramsdale Catherine,ALKHALIL Feras,SOU Antony. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Signal measuring apparatus

Номер патента: EP4176235A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-05-10.

Signal measuring apparatus

Номер патента: WO2022008904A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Limited. Дата публикации: 2022-01-13.

Monitoring system and method for megawatt level battery energy storage power plant

Номер патента: US09660450B2. Автор: Dong Hui,PING Wang,Liang Zhang,Xiangjun Li,Xuecui Jia,Yanting Liang,Xiaokang Lai,Liye Wang,Guangchao Guo. Владелец: ZHANGJIAKOU WIND AND SOLAR POWER ENERGY DEMONSTRATION. Дата публикации: 2017-05-23.

Phase frequency detector-based high-precision feedback frequency measurement apparatus and method

Номер патента: US11965919B2. Автор: Lingyun YE,Xinglin Sun,Haojie Wu,Xinyue Tan. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-04-23.

System and method for conserving energy resources through storage and delivery of renewable energy

Номер патента: EP2805397A2. Автор: David Marcus. Владелец: General Compression Inc. Дата публикации: 2014-11-26.

System and method for vehicle system charging

Номер патента: US20230083236A1. Автор: Ajith Kuttannair Kumar,Subhas Chandra Das,Sarit Ratadiya. Владелец: Transportation IP Holdings LLC. Дата публикации: 2023-03-16.

Parallel switching system and related scheduling method for multi-device collaborative work thereof

Номер патента: US11870297B2. Автор: Jian Wang,Liang Tan,Wenbo GONG,Jinghui Shi,Zhicheng Wei. Владелец: Shenzhen One Energy Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

Parallel switching system and related scheduling method for multi-device collaborative work thereof

Номер патента: US20230352968A1. Автор: Jian Wang,Liang Tan,Wenbo GONG,Jinghui Shi,Zhicheng Wei. Владелец: Shenzhen One Energy Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Vibration measurement system, vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20210029297A1. Автор: Kazuhito Murata,Masahiko Ohta,Gaku Nakano,Asuka ISHII. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09866980B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09618385B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Ink droplet volume measuring apparatus and ink droplet volume measuring method using the same, and thin film layer forming apparatus using the measuring apparatus, and manufacturing method of display apparatus using the thin film layer forming apparatus

Номер патента: US20240251648A1. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Measuring apparatus, measurement method, information processing apparatus, and measurement program

Номер патента: US09747681B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product for a stereoscopic display

Номер патента: US20140160469A1. Автор: Yu-Han Chen,Kuen Lee,Kuo-Chung Huang,Ching-Chiu Liao,Wen-Hui Chang,Hoang-Yan Lin,Lang-Chin Lin,Yi-Heng Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-06-12.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Distance measurement method and distance measurement apparatus

Номер патента: US12146937B2. Автор: Genming Ding,Yanong HE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Three dimensional measurement apparatus and three dimensional measurement method

Номер патента: US20120154540A1. Автор: Motomi Tsuyuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-21.

Resolution measurement apparatus and resolution measurement method using the same

Номер патента: US12072259B2. Автор: Jinwook Lee,Sanghui Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

System and method for providing an applied force indication

Номер патента: US09989434B2. Автор: James Collins,Gail Gudmundsen,Steve Iseberg,Jerrold Zdenek. Владелец: Etymotic Research Inc. Дата публикации: 2018-06-05.

Optical measuring method and optical measuring apparatus

Номер патента: US12025427B2. Автор: Peter Fritz,Konrad Klein,Anders ADAMSON. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

One-way phase-based high accuracy distance measurement apparatus and algorithm

Номер патента: US11770678B2. Автор: John M. Khoury. Владелец: Silicon Laboratories Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Stereo distance measuring apparatus, stereo distance measuring method, and computer readable medium

Номер патента: US20180105286A1. Автор: Akihiro Yamane,Akitoshi SAKAGUCHI,Yoichi Onomura. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2018-04-19.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09736460B2. Автор: Jun Kanetake,Osafumi Nakayama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Distance measurement apparatus and setting method of transmission condition

Номер патента: US20240295650A1. Автор: Yukimitsu Yamada. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Heating device for spectrometry measurement apparatus

Номер патента: RU2658126C2. Автор: Гийом НЕЗА,Грегори ДЮБУА,Этьенн ФЛЕШ,Лионель ПАФЮМИ,Жан-Пьер ТЬЕРРИ. Владелец: Олит. Дата публикации: 2018-06-19.

Distance measuring apparatus, vehicle and method of calibration in distance measuring apparatus

Номер патента: US09866819B2. Автор: Shuichi Suzuki,Mitsuru Nakajima,Motoyasu Murai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Data measurement system and presentation method for measurement data

Номер патента: EP4177861A1. Автор: Koichi Murata,Masafumi Furuta,Koki Yoshida,Kahori KISE,Yasuyuki URAOKA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-05-10.

Data Measurement System and Method of Presenting Measurement Data

Номер патента: US20230254610A1. Автор: Koichi Murata,Masafumi Furuta,Koki Yoshida,Kahori KISE,Yasuyuki URAOKA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Inertial measurement apparatus and mechanical device

Номер патента: EP3816580A1. Автор: Faquan CHEN. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-05.

Subsea measurement apparatus, method of compressing measurement data and method of providing inter-compatibility between apparatus

Номер патента: GB2613652A. Автор: NEWBOROUGH Darryl,Louis Culverhouse Thomas. Владелец: Sonardyne International Ltd. Дата публикации: 2023-06-14.

Color-Measuring Apparatus, Print Control Apparatus, And Print Control Method

Номер патента: US20160142589A1. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-19.

Temperature measuring apparatus and microwave oven having the same

Номер патента: US20140061190A1. Автор: Jeong-Su Han,Yong Jong Park,Jun hoe Choi,Yeon A. Hwang,Tae Gyoon Noh,Kee Hwan Ka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US9764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Ultrasonic vibration unit for sediment removal in small-scale irrigation channel flow measuring apparatus

Номер патента: AU2020101456A4. Автор: Xin Zhang,Nan Ye,Hanwen Zhang,Xueqi Ding,Miaoyuan Liang,Xiaoxing YU. Владелец: Nanjing Jinma Intelligence Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Composition for acoustic wave probe, silicone resin for acoustic wave probe, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, and ultrasound endoscope

Номер патента: US12109335B2. Автор: Nobuaki Matsumoto,Yoshihiro Nakai,Shigeki Uehira,Taichi Kitagawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Intelligent measuring apparatus

Номер патента: US12111065B2. Автор: Ulrich Demuth,Manfred Ulrich,Michael Oswald. Владелец: REFCO MANUFACTURING LTD. Дата публикации: 2024-10-08.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US09764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Measurement apparatus and method of measuring signal light quality

Номер патента: US09638574B2. Автор: Shoichiro Oda,Tomohiro Yamauchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Distance measurement apparatus and biometric authentication apparatus

Номер патента: US20220309692A1. Автор: Katsuji Kimura,Youji Sakioka,Mitsuhiro Iwama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: EP4428506A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: US20240302209A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: EP2879406A2. Автор: Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2015-06-03.

Hydraulic device measurement apparatus, hydraulic device measurement system, and hydraulic device measurement method

Номер патента: AU2023200351A1. Автор: Tatsuro Uchida,Masahiko Nakazono. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Subsea measurement apparatus, method of compressing measurement data and method of providing inter-compatibility between apparatus

Номер патента: AU2022410229A1. Автор: Darryl Newborough,Thomas CULVERHOUSE. Владелец: Sonardyne International Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Image projection measuring apparatus

Номер патента: US12066284B2. Автор: Takatoshi SUGAWARA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Color measurement apparatus and printing apparatus

Номер патента: US09992383B2. Автор: Nozomu HIROKUBO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Profile measuring apparatus, structure manufacturing system, method for measuring profile, method for manufacturing structure, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09897437B2. Автор: Masaya Yamaguchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US09817124B2. Автор: Kenji Aizawa,Shota Takemura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Hydraulic device measurement apparatus, hydraulic device measurement system, and hydraulic device measurement method

Номер патента: US20230327782A1. Автор: Tatsuro Uchida,Masahiko Nakazono. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Universal communication system for measurement apparatuses, method of communication relating thereto

Номер патента: US20180077593A1. Автор: Cedric Neveu,Damien PELLETIER,Fabio FURLAN. Владелец: ECOMESURE. Дата публикации: 2018-03-15.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: US11856304B2. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Universal communication system for measurement apparatuses, method of communication relating thereto

Номер патента: US10064083B2. Автор: Cedric Neveu,Damien PELLETIER,Fabio FURLAN. Владелец: ECOMESURE. Дата публикации: 2018-08-28.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240302211A1. Автор: Masaki Ito,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Color measurement apparatus

Номер патента: EP4428507A1. Автор: Masaki Ito,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Motion measuring system, motion measuring apparatus, and motion measuring method

Номер патента: US20180184003A1. Автор: Fumiya Kakoi,Kazuhiko Kogami. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Continuous Measuring System for High-density Resistivity of Capacitor Electrodes and Measuring Method

Номер патента: LU500628B1. Автор: Zhixin Liu,Zhanguo Lu,Xingang Xu. Владелец: Univ China Mining. Дата публикации: 2022-03-07.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: EP4300194A3. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: EP4300194A2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-01-03.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: US20240134294A1. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: US12007702B2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Energy storage system and control method thereof

Номер патента: EP4252865A1. Автор: Shuai LIU,Shijiang YU. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Fire-protection system and method for container-type energy storage device and storage medium

Номер патента: EP4369469A1. Автор: Jiepeng LAI. Владелец: Xiamen Hithium Energy Storage Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

System and method for offset error compensation in comparators

Номер патента: SG87913A1. Автор: Chen Feng. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2002-04-16.

System and method for offset error compensation in comparators

Номер патента: EP1109316A3. Автор: FENG CHEN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-07-12.

Test system and method for parallel modulation error measurement of transceivers

Номер патента: WO2006101627A2. Автор: Peter Mark O'Neill. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2006-09-28.

Test system and method for parallel modulation error measurement of transceivers

Номер патента: WO2006101627A3. Автор: Peter Mark O'Neill. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-01-11.

Energy storage systems

Номер патента: US09705332B2. Автор: Thomas von Hoff,Mehmet Mercangoez,Alexandre Oudalov. Владелец: ABB Research Ltd Switzerland. Дата публикации: 2017-07-11.

Energy storage type vehicle non-contact power supply system and method

Номер патента: CN110789544A. Автор: 陈江,刘华东,黄超,张志学,罗文广,周凌波,罗剑波,梅文庆,乐文韬,漆宇. Владелец: CRRC Zhuzhou Institute Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-14.

Energy storage system control method and apparatus, energy storage system, and energy storage device

Номер патента: EP4401270A1. Автор: Jing Wang,Meng HUANG,Shan ZHANG,Ningning Chen. Владелец: Gree Electric Appliances Inc of Zhuhai. Дата публикации: 2024-07-17.

Control Method for Energy Storage System and Apparatus, Energy Storage System, and Energy Storage Device

Номер патента: US20240275169A1. Автор: Jing Wang,Meng HUANG,Shan ZHANG,Ningning Chen. Владелец: Gree Electric Appliances Inc of Zhuhai. Дата публикации: 2024-08-15.

Measurement information display apparatus, measurement information display system, and measurement information display method

Номер патента: US20150130830A1. Автор: MASAAKI Nonoyama,Yukari Araki,Akira Hatta,Shintaro Nagasaki. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-05-14.

MEASUREMENT INFORMATION DISPLAY APPARATUS, MEASUREMENT INFORMATION DISPLAY SYSTEM, AND MEASUREMENT INFORMATION DISPLAY METHOD

Номер патента: US20170332972A1. Автор: NAGASAKI Shintaro,NONOYAMA Masaaki,Araki Yukari,Hatta Akira. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-23.

Overlay measurement method, semiconductor device manufacturing method using the same, and overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230074537A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Energy management apparatus, energy storage apparatus, and energy management method

Номер патента: US20220094164A1. Автор: Kazutaka Nakamura. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Measurement method, measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20170278233A1. Автор: Takuro Tsujikawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: EP4227737A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Soichi Inoue,Hiroyuki Tanizaki,Kentaro Kasa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20110049362A1. Автор: Jun Matsumoto,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Energy storage system control method and apparatus, energy storage system, and energy storage device

Номер патента: AU2022337487A1. Автор: Jing Wang,Meng HUANG,Shan ZHANG,Ningning Chen. Владелец: Gree Electric Appliances Inc of Zhuhai. Дата публикации: 2023-12-14.

System and method for voice control of measurement apparatus

Номер патента: US09770174B2. Автор: Mohammed N. Islam. Владелец: Omni Medsci Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Optic measuring system, and measuring method of critical size of nanostructures on flat surface

Номер патента: RU2481555C1. Автор: Михаил Николаевич Рычагов,Максим Владимирович Рябко,Сергей Николаевич Коптяев. Владелец: Корпорация "САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС Ко., Лтд.". Дата публикации: 2013-05-10.

Shared energy storage scheduling method and system based on energy frequency modulation and load demand

Номер патента: EP4398438A1. Автор: Peng Li,LIN Cheng,Shujun Liu,Ziyi Zhang,Kelan SUO,Yongshui GUO,Xuyan ZHOU. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

An energy storage segment for an energy storage system and a method for controlling an energy storage system

Номер патента: WO2024165323A1. Автор: Panagiotis Bakas,Zichi ZHANG,Haofeng BAI,Aleksandr Viatkin. Владелец: Hitachi Energy Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Energy storage system

Номер патента: EP4425746A2. Автор: HE Zhou,Xun Wang,Zhaohui Wang,Yanzhong ZHANG. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Energy storage system and control method

Номер патента: US20240128755A1. Автор: Shuji Yamazaki,Takenori Kobayashi,Yukitaka Monden. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Prioritized charging of an energy storage system of a military vehicle

Номер патента: US12030479B1. Автор: Nader Nasr,Mike J. Bolton,Chad Smith,Ryan Crabtree,Rachell Harsh,Bradon Zeitler. Владелец: Oshkosh Defense LLC. Дата публикации: 2024-07-09.

Energy storage system and photovoltaic energy storage system

Номер патента: EP3920361A1. Автор: Xun Wang,Yanzhong ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-08.

Energy storage system and photovoltaic energy storage system

Номер патента: EP4236019A2. Автор: Xun Wang,Yanzhong ZHANG. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Energy storage system and photovoltaic energy storage system

Номер патента: AU2021211051A1. Автор: Xun Wang,Yanzhong ZHANG. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

An energy storage segment for an energy storage system and a method for controlling an energy storage system

Номер патента: EP4415206A1. Автор: Panagiotis Bakas,Zichi ZHANG,Haofeng BAI,Aleksandr Viatkin. Владелец: Hitachi Energy Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Energy storage system and control method and apparatus therefor, electronic device, and storage medium

Номер патента: AU2022468688A1. Автор: Haiyan Zhang,Xiuli SI,Siwei Jiang,Liyan Sun,Xiongjiang LIU,Songhua Zhu. Владелец: Alpha Ess Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Energy storage system

Номер патента: AU2022469423A1. Автор: Haiyan Zhang,Xiuli SI,Siwei Jiang,Liyan Sun,Xiongjiang LIU,Songhua Zhu,Jiaojiao SU. Владелец: Alpha Ess Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Energy storage system and control method and apparatus therefor, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4447406A1. Автор: Haiyan Zhang,Xiuli SI,Siwei Jiang,Liyan Sun,Xiongjiang LIU,Songhua Zhu. Владелец: Alpha Ess Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Energy storage system and control method

Номер патента: US12126174B2. Автор: Shuji Yamazaki,Takenori Kobayashi,Yukitaka Monden. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Method for controlling charging process of electrical energy storage device and matching transfer of electrical energy and thermal energy, and charging device

Номер патента: US12024047B2. Автор: Jan-Christoph Albrecht,Carsten Wachsmuth,Arne-Christian Voigt,Frank Juergen Engler,Jochen WESTHAEUSER. Владелец: VOLKSWAGEN AG. Дата публикации: 2024-07-02.

Simulating measurement apparatus and method

Номер патента: US20100127917A1. Автор: Li-Kuang Chen,Chunn-Yenn Lin,Josephs D.S. Deng,Hsien-Kwei Ho. Владелец: National Chung Shan Institute of Science and Technology NCSIST. Дата публикации: 2010-05-27.

Monitoring system and monitoring method for operation of energy storage system

Номер патента: US11984745B1. Автор: Jing Zhang,Luqin Fan,Benjin Long,Rujing Yan,Peijia Yu. Владелец: GUIZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-05-14.

Optical waveguide, optical waveguide system, light confining structures, light energy storage structure, light energy storage system, and energy storage and/or conversion system

Номер патента: US20240184038A1. Автор: Aluizio M. Cruz. Владелец: Pera Complexity BV. Дата публикации: 2024-06-06.

Energy storage system, energy storage converter, and optimization method for primary frequency modulation

Номер патента: EP4336695A1. Автор: Kai Xin,Mingxuan Dong. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-13.

Energy storage device and system, and power system

Номер патента: US11936220B2. Автор: Chenling Zheng,Yanhua Lu,Jinbo Cai,Bingtuan LUO. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Method and device for energy harvesting and charging rechargeable energy storage devices

Номер патента: US12119663B2. Автор: Julien DE VOS,Geoffroy GOSSET. Владелец: E Peas SA. Дата публикации: 2024-10-15.

Grid tied system controller including logic coupled to a photovoltaic station and an energy storage system

Номер патента: US09843189B2. Автор: Johan H. R. Enslin,Sukumar KAMALASADAN,Sherif Abdelmageed ABDELRAZEK,Daniel Blair SOWDER. Владелец: Duke Energy Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Electrical drive system and energy storage apparatus therefor

Номер патента: US09735724B2. Автор: Oliver Fenker,Wolfgang Schuster,Sven WELSER. Владелец: LIEBHERR COMPONENTS BIBERACH GMBH. Дата публикации: 2017-08-15.

Semiconductor integrated circuit apparatus, measurement result management system, and management server

Номер патента: US7786746B2. Автор: Masayuki Mizuno,Makoto Takamiya. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2010-08-31.

System and method for energy storage and recovery

Номер патента: US20130183597A1. Автор: Uday B. Pal,Srikanth Gopalan. Владелец: Boston University. Дата публикации: 2013-07-18.

System and method for energy storage and recovery

Номер патента: US09979038B2. Автор: Uday B. Pal,Srikanth Gopalan. Владелец: Boston University. Дата публикации: 2018-05-22.

Electronic ticket storage apparatus and electronic ticket checking system and method

Номер патента: US20130126609A1. Автор: ZHENG Li,Zuhui Yue. Владелец: China Mobile Communications Group Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-23.

Energy storage cell impedance measuring apparatus, methods and related systems

Номер патента: US09851414B2. Автор: John L Morrison,William H Morrison,Jon P Christophersen. Владелец: Battelle Energy Alliance Llc. Дата публикации: 2017-12-26.

Electric capacity measurement apparatus with temperature compensation and temperature compensation method thereof

Номер патента: US09651626B2. Автор: Kuo-Liang Teng,Jih-Liang Juang. Владелец: uPI Semiconductor Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Advanced electrolyte systems and their use in energy storage devices

Номер патента: EP2817810A1. Автор: Riccardo Signorelli,Christopher John Sibbald Deane,James Epstein,Padmanaban Sasthan Kuttipillai,Fabrizio MARTINI,John J. Cooley,Lindsay A. Wilhelmus. Владелец: Fastcap Systems Corp. Дата публикации: 2014-12-31.

Digital measurement system for measuring lightning electric field change signal, and measurement method thereof

Номер патента: WO2017016140A1. Автор: 陈坤,黄�俊,李哲,韩冬,陈扬,刘新,曾瑜,徐霞,章涵,万帅,吴大伟,严碧武,许远根,俞坤师,周愚. Владелец: 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司. Дата публикации: 2017-02-02.

Biological information measurement apparatus, information processing apparatus, and biological information measurement system

Номер патента: US09757070B2. Автор: Yuichi Takano. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Measurement apparatus, system, measurement method, determination method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20170169581A1. Автор: Akihiro Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-15.

Image forming apparatus capable of providing location-based service and location information measuring apparatus for providing location information

Номер патента: US20190356808A1. Автор: Sung-Joon Park,Youn SEO. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2019-11-21.

Camera, colour measuring system, and offset printing press

Номер патента: WO2014073962A8. Автор: Menno Jansen,Erik Andreas Van Holten. Владелец: Q.I. Press Controls Holding B.V.. Дата публикации: 2014-06-19.

Housing for enclosing measuring apparatus for recording apparatus, provided with air blowing means including high efficiency particulate air filter

Номер патента: US20020089824A1. Автор: Eiji Ishimoto,Norio Nakano,Hiroshi Kaminaga. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-07-11.

Exercise information measurement apparatus, control method for exercise information measurement apparatus, control program for exercise information measurement apparatus

Номер патента: US20170296873A1. Автор: Yumi Kitamura. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-10-19.

Method for data transmission between measuring apparatuses and a data processing device in a measured data recording system

Номер патента: US09693121B2. Автор: Johannes Müller,Andreas MÖBUSZ. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-06-27.

Operation information measurement apparatus, function control method, and program

Номер патента: US20170128829A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-05-11.

Imaging apparatus and distance measuring apparatus using the same

Номер патента: US09876992B2. Автор: Tsuguhiro Korenaga,Kazufumi Mizusawa,Norihiro Imamura,Kunio Nobori,Takeo Azuma. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Process for increasing the recharging efficiency of an energy storage system

Номер патента: EP4412022A1. Автор: Pierluigi PENTIMALLI. Владелец: Patavium Energia SpA. Дата публикации: 2024-08-07.

Control method of energy storage apparatus, energy storage apparatus, and photovoltaic power generation system

Номер патента: US20240022077A1. Автор: ZHIPENG Wu,Lei Shi,Chunlei Zhang,Shijiang YU,Jianshan LI. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Data measurement system and method for performing data processing of measurement data

Номер патента: EP4231581A1. Автор: Koichi Murata. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-23.

Photovoltaic energy storage power station

Номер патента: US20240079903A1. Автор: Quanling WANG,Miaohong WANG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-07.

Energy collection system and method based on earth atmosphere energy storage, and energy storage device

Номер патента: EP4422029A1. Автор: Bintang Yang. Владелец: Nanjing Lingji Yidong Drive Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Systems and methods for compressed air energy storage and control thereof

Номер патента: US12110877B2. Автор: Kamyar ROUINDEJ. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-08.

Energy storage apparatus, energy storage apparatus control method, and photovoltaic system

Номер патента: US20240136850A1. Автор: YANG Hu,ZHIPENG Wu,HE Zhou,Lei Shi,Shijiang YU. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Energy storage apparatus, energy storage apparatus control method, and photovoltaic system

Номер патента: US20240235252A9. Автор: YANG Hu,ZHIPENG Wu,HE Zhou,Lei Shi,Shijiang YU. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Energy storage and charging station

Номер патента: EP4395098A1. Автор: Zhisheng LIAN,Minggui HU. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Photovoltaic energy storage power station

Номер патента: US12021382B2. Автор: Quanling WANG,Miaohong WANG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-06-25.

System and method for storing energy, and for recovering stored energy by using liquid and gas as pistons

Номер патента: US20240297529A1. Автор: Shay Cohen. Владелец: Storage Drop Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Calibration method and measurement system

Номер патента: US20240282004A1. Автор: Ryosuke Tanaka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Optical storage system and optical storage scheduling method

Номер патента: EP4432507A1. Автор: Wenxue Wu. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Energy storage system and modular communication

Номер патента: US09859711B2. Автор: Christoph Schäfer,Christoph TREPPMANN,Rainer Von Dem Esche. Владелец: Enrichment Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Combined glaze ice melting system and load curve smoothing using energy accumulators based on storage batteries and high-power supercapacitors contained in autonomous power plant assembly

Номер патента: RU2729200C1. Автор: Александр Иванович Федотов,Камиль Равилевич Бахтеев,Ринат Шаукатович Мисбахов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Казанский государственный энергетический университет" (ФГБОУ ВО "КГЭУ"). Дата публикации: 2020-08-05.

Partial discharge measurement apparatus, partial discharge measurement method, and partial discharge measurement system

Номер патента: US20230408570A1. Автор: Akira Fujimoto,Takashi Harakawa,Makoto Takanezawa,Hirotaka TSUBAKIHARA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Current measuring method and current measuring apparatus

Номер патента: US20020041190A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

Measurement result display device, measurement system, and measurement result display processing program

Номер патента: EP4365604A1. Автор: Naoya Kitamura,Junji IIJIMA. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2024-05-08.

Distance measuring method and device

Номер патента: EP4296615A1. Автор: Bin Xu,Xuesong Jiang,Yizhuo ZOU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Measurement Apparatus Having Weight Measurement Function, Display Device, and Weight Measurement System

Номер патента: US20140090444A1. Автор: ONOMATSU Takehiro,YAMAMOTO Tomohiro. Владелец: Funai Electric Co., Ltd. Дата публикации: 2014-04-03.

THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT APPARATUS, NON-TRANSITORY COMPUTER READABLE MEDIUM, AND THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20180274918A1. Автор: KUKIMIYA Ryo. Владелец: FUJI XEROX CO., LTD.. Дата публикации: 2018-09-27.

Barrier range-measurement system and the vehicle with it and TOF measurement method

Номер патента: CN108663682A. Автор: 杨倩倩. Владелец: BYD Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-16.

Test piece storage container continuous processing apparatus, measuring system, test piece storage container continuous processing method, and measuring method

Номер патента: US20190033333A1. Автор: Teiji Tanaka,Satoshi Takai,Hirokazu YAMANAKA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-01-31.

MEASUREMENT DEVICE, LITHOGRAPHY SYSTEM AND EXPOSURE APPARATUS, AND CONTROL METHOD, OVERLAY MEASUREMENT METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180046096A1. Автор: Shibazaki Yuichi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2018-02-15.

MEASUREMENT DEVICE, LITHOGRAPHY SYSTEM AND EXPOSURE APPARATUS, AND CONTROL METHOD, OVERLAY MEASUREMENT METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20200285160A1. Автор: Shibazaki Yuichi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-10.

MEASUREMENT DEVICE, LITHOGRAPHY SYSTEM AND EXPOSURE APPARATUS, AND CONTROL METHOD, OVERLAY MEASUREMENT METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20220365453A1. Автор: Shibazaki Yuichi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2022-11-17.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: US10698326B2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2020-06-30.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, superposition measurement method and device manufacturing method

Номер патента: TWI696042B. Автор: 柴崎祐一. Владелец: 日商尼康股份有限公司. Дата публикации: 2020-06-11.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, superposition measurement method and device manufacturing method

Номер патента: TW202036177A. Автор: 柴崎祐一. Владелец: 日商尼康股份有限公司. Дата публикации: 2020-10-01.

Assembly comprising a wall and a non-contact measurement system of a deformation of the wall, and associated measurement method

Номер патента: FR3111422A1. Автор: Stephane Gaillot,Gilles Gobillot. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2021-12-17.

Bulletproof performance measurement system using 3 dimensional measuring instrument and bulletproof performance measurement method thereby

Номер патента: KR101129259B1. Автор: 박준호,임대영,유의상,김주혜,윤이나,조영숙. Владелец: 한국생산기술연구원. Дата публикации: 2012-03-26.

Sensor device for measuring the speed of a wheel of a vehicle, brake system and vehicle with it and thus feasible measuring method for speed measurement and braking

Номер патента: DE102012012384A1. Автор: Oliver Gründker,Siegfried Höfler,Jürgen Dalisdas. Владелец: WABCO GmbH. Дата публикации: 2013-12-24.

Method for controlling a measuring apparatus

Номер патента: US7430488B2. Автор: Takuya Otani. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2008-09-30.

Frequency characteristic measurement apparatus and frequency characteristic measurement method

Номер патента: EP4425789A1. Автор: Hiroshi Fujiwara,Toru Tazawa,Yuta SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Braking energy recovery system and method for electric motor

Номер патента: RU2710850C2. Автор: Пол Майкл ЛИНДБЕРГ,Норберт ДАБЕРКО. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2020-01-14.

Energy storage systems and methods

Номер патента: AU2022237341A1. Автор: Jereme Kent,Amir Sohrabi MOLLAYOUSEF. Владелец: One Energy Entpr Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Energy Storage Compartment Structure and Use Method For Source-Grid-Load-Storage Photovoltaic Power and Heat Supply System

Номер патента: LU504430B1. Автор: Guofeng Xu,YANG Shen,Xin Chen,Jiabin Wang,Liguo Weng,Xiaomei Huang,Shuiyang Gao,Sichao Chen,Juliang Wang,Deqiang Lian. Владелец: Zhejiang Zhongxin Electric Power Eng Construction Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

A measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: EP3845914A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Tech Solutions S L. Дата публикации: 2021-07-07.

Test system and test method

Номер патента: US20210072308A1. Автор: Kazuhito Hayasaka. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-03-11.

Cabinet of energy storage apparatus, energy storage apparatus, and manufacturing method and device thereof

Номер патента: US20240234903A1. Автор: Hao Luo,Zengzhong Wang,Haoran PENG,Haibin SU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Contact terminal for measurement, measurement apparatus, probe card set, wafer probe apparatus, and testing apparatus

Номер патента: US7474109B2. Автор: Tadao Saito,Shigeru Matsumura,Shin Sakiyama,Tetsuya Kuitani. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-01-06.

Measurement apparatus, measurement method and computer readable medium

Номер патента: US12055570B2. Автор: Mitsuo Matsumoto,Shinya Sato,Masayuki Kawabata,Masakatsu Suda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Disconnection detecting system and disconnection detecting method

Номер патента: US12038487B2. Автор: Izumi Fukasaku. Владелец: Proterial Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Control method, device and apparatus for liquid cooling pipeline of battery energy storage system

Номер патента: AU2023251439A1. Автор: Jing Zhang,Xibin WU,Xiangnan BU,Leijun ZHOU,Deming DAI. Владелец: Cornex New Energy Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Measuring apparatus

Номер патента: US20150362549A1. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Takayuki SHIROTORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-12-17.

Measuring apparatus

Номер патента: US09684027B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Takayuki SHIROTORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Energy storage system and energy storage power station

Номер патента: AU2023204341A1. Автор: Wei Zhang,Meng Zhou,Huadong Li. Владелец: Sungrow Energy Storage Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Energy-storage device, electricity-consumption system, and energy-storage system

Номер патента: US12080866B1. Автор: Zhenhua ZHENG. Владелец: Shenzhen Hithium Energy Storage Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

System and method for cooling a battery

Номер патента: EP2147475A1. Автор: Ajith Kuttannair Kumar. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2010-01-27.

System and method for cooling a battery

Номер патента: WO2008137214A1. Автор: Ajith Kuttannair Kumar. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2008-11-13.

Fuel cell measurement apparatus

Номер патента: US20100253356A1. Автор: Chang-Sing Hwang,Chun-Huang Tsai. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2010-10-07.

Control method, device and apparatus for liquid cooling pipeline of battery energy storage system

Номер патента: US20240332662A1. Автор: Jing Zhang,Xibin WU,Xiangnan BU,Leijun ZHOU,Deming DAI. Владелец: Cornex New Energy Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Control method, device and apparatus for liquid cooling pipeline of battery energy storage system

Номер патента: EP4439793A1. Автор: Jing Zhang,Xibin WU,Xiangnan BU,Leijun ZHOU,Deming DAI. Владелец: Cornex New Energy Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Position measurement apparatus for mobile terminal transferred by subway and position measurement system comprising the same

Номер патента: KR101242047B1. Автор: 전주성. Владелец: 주식회사 케이티. Дата публикации: 2013-03-12.

System and method for offset error compensation in comparators

Номер патента: TW480829B. Автор: FENG CHEN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2002-03-21.

System and method for offset error compensation in comparators

Номер патента: IL139785A0. Автор: . Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2002-02-10.

System and method for offset error compensation in comparators

Номер патента: EP1109316A2. Автор: FENG CHEN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2001-06-20.

Communication apparatus, wave quality measuring system, wave quality measuring method and program

Номер патента: EP2063556A3. Автор: Hidenaru Tanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2013-05-22.

Base station apparatus, mobile station apparatus, mobile communication system and communication method having selectable inter-frequency measurement methods

Номер патента: US8639239B2. Автор: Katsunari Uemura,Waho Oh. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2014-01-28.

Content storage system, storage apparatus for use in the system, and method of controlling storage of contents

Номер патента: CA2594058A1. Автор: Toshiaki Aoki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-01-20.

Magnetic field measurement apparatus, magnetic field measurement system and magnetic field measurement method

Номер патента: US09958514B2. Автор: Ryuji HOKARI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Measurement system, device for deriving conversion fact or, device for measuring voltage

Номер патента: US20240255548A1. Автор: Jun Kato,Masato Maruyama,Naruto ARAI. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Measurement apparatus, measurement method, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160379902A1. Автор: Nobuhiro Komine,Yoshinori Hagio. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Wave-leakage measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US5138253A. Автор: Tamio Fukui,Isao Momoji. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1992-08-11.

Thermophysical property measurement method and thermophysical property measurement apparatus

Номер патента: US10876983B2. Автор: Hiroyuki Fujiki,Takeshi Shimazaki,Yasutaka AMAGAI. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-12-29.

Measurement apparatus, detection apparatus, and measurement method

Номер патента: US12032049B2. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Pulse width measurement method and apparatus

Номер патента: US09778305B2. Автор: William David Stewart,Giovanni De Sanctis,Stephen John Robb. Владелец: Schrader Electronics Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US11846605B2. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US20220381738A1. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-12-01.

Measuring apparatus and measuring method utilizing insulating liquid

Номер патента: US09684015B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Kosuke Hatozaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Magnetic field measuring apparatus, magnetic field measuring method and recording medium with magnetic field measuring program recorded thereon

Номер патента: US11774518B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake,Makoto Kataoka,Seiichi Kato. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20230305084A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US12038488B2. Автор: Shigeki Okatake,Hideyuki Tsuji,Masashi Yamada. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09945887B2. Автор: Hiroshi Imai,Keiki Matsuura,Hiroyuki Tokusaki,Yasukazu Ohno. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09766132B2. Автор: Yasuhiro Takase,Hidetoshi Nakanishi,Motohiro Kono,Kazuo Kinose. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Magnetic field measuring apparatus and apparatus for measuring spatial resolution of magnetic field detector

Номер патента: US6144196A. Автор: Naoya Tamaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-11-07.

Magnetic field measuring method, magnetic field measuring system and magnetic field measuring apparatus

Номер патента: US20230266409A1. Автор: Wei-Yin CHAING,Min-Hsiu HSIEH. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Biomagnetic measurement system and biomagnetic measurement method

Номер патента: US20200281499A1. Автор: Yuki Miyano,Ryoh MAEDA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-10.

Biomagnetic measurement system and biomagnetic measurement method

Номер патента: US11389076B2. Автор: Yuki Miyano,Ryoh MAEDA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-19.

Pattern measuring apparatus

Номер патента: US20140021350A1. Автор: Susumu Koyama,Tatsuya Maeda,Mitsuji Ikeda,Hiroshi Nishihama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Pattern measuring apparatus

Номер патента: US20140021349A1. Автор: Susumu Koyama,Tatsuya Maeda,Mitsuji Ikeda,Hiroshi Nishihama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Method of adjusting plating apparatus, and measuring apparatus

Номер патента: US20180371636A1. Автор: Yuji Araki,Masashi Shimoyama,Jumpei Fujikata,Mizuki Nagai. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-12-27.

Current measuring apparatus with redundant current measurement

Номер патента: US20230266368A1. Автор: Jan Marien,Benedikt Kramm. Владелец: IsabellenHuette Heusler GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-08-24.

Measuring system and measuring method of antenna pattern based on near field to far field transformation

Номер патента: US20240329108A1. Автор: Chang-Fa Yang,Wen-Jiao Liao,Chang-Lun Liao,yuan-chang Hou,Bo-Cheng YOU,You-Hua Lin,Jiahn-Wei Lin,De-Xian Song,Tswen-Jiann Huang. Владелец: Chunghwa Telecom Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Autonomous power supply system with kinetic energy storage

Номер патента: RU2749148C1. Автор: Александр Сергеевич Григорьев,Дмитрий Александрович Мельник,Остап Геннадьевич Лосев,Александр Дмитриевич Мельник. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт". Дата публикации: 2021-06-07.

Measuring apparatus for measuring scattering cross-section of radar targets models

Номер патента: RU2600492C1. Автор: Георгий Галиуллович Валеев. Владелец: Георгий Галиуллович Валеев. Дата публикации: 2016-10-20.

Multiphase current measuring apparatus and method for multiphase current measurement

Номер патента: US20210109132A1. Автор: Claudia Glenske,Matthias Brusius. Владелец: SENSITEC GMBH. Дата публикации: 2021-04-15.

Current measurement apparatus for measurement value acquisition, current sensor, and current measurement transducer

Номер патента: US20230349954A1. Автор: Wolfgang Hoeft. Владелец: Phoenix Contact GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-11-02.

System and method using coupler-resonators for electron paramagnetic resonance spectroscopy

Номер патента: WO2010053609A9. Автор: Harold M. Swartz,Piotr Lesniewski,Hong Bin Li. Владелец: THE TRUSTEES OF DARTMOUTH COLLEGE. Дата публикации: 2010-08-26.

Measurement apparatus

Номер патента: US20240264262A1. Автор: Yuki Kondo,Takashi Iwase,Chunqing LIANG. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Biomagnetic measurement apparatus

Номер патента: US20030231016A1. Автор: Masahiro Murakami,Hitoshi Sasabuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2003-12-18.

Magnetostrictive path measuring apparatus and method of manufacturing a measuring probe of a magnetostrictive path measuring apparatus

Номер патента: US20180052016A1. Автор: Roland Holder,Torsten Beutler. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2018-02-22.

Current peak value measurement apparatus, high voltage generator, and therapeutic device for vascular calcification

Номер патента: EP4397254A1. Автор: Chuang Li,Zhihuang TANG. Владелец: Jiangsu Polylive Medtech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Medical image measuring apparatus, method, and medium

Номер патента: US09968278B2. Автор: Yoshinori Itai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Electric potential measuring apparatus

Номер патента: US20130271110A1. Автор: Kazunori Yamanaka,Kazuaki Kurihara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-10-17.

Capacitance measurement apparatus

Номер патента: US12092671B2. Автор: CHEN CHEN. Владелец: Chipone Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Stepped copper-bar current measurement apparatus

Номер патента: EP4455686A1. Автор: Songsheng Xue,Mingfeng LIU,Ran Shi. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Brain measurement apparatus

Номер патента: US20220386888A1. Автор: Tetsuo Kobayashi,Motohiro Suyama,Akinori Saito,Takahiro Moriya,Takenori OIDA. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2022-12-08.

Grounding resistance measurement apparatus and method of operating the same

Номер патента: US09910079B2. Автор: Tsung-Yuan Wu. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Magnetic field measurement apparatus

Номер патента: US09720058B2. Автор: Kimio Nagasaka,Hitoshi Ueno. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Position measuring apparatus and driving method thereof

Номер патента: US09612692B2. Автор: Sung-soo Park,Yu-Sheop Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-04.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Light measuring apparatus, light measuring system, light measurement method, display adjustment system, and adjustment method

Номер патента: US20240242653A1. Автор: Tomohiro Murata,Tomohiro Kiriyama,Tomohiro Fukamizu. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-18.

Rivet Measurement System

Номер патента: US20180341725A1. Автор: Kelsea Cox,Robert Michael Lawton,Lindsay Leigh Waite Jones,Ivan V. Kwok. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-11-29.

Image-capturing apparatus, distance-measuring apparatus, distance-measuring system, and distance-measuring method

Номер патента: WO2024157141A1. Автор: Yuu YAMADA,Takefumi TAKIZAWA. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2024-08-02.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Temperature measurement system and abnormality detection method

Номер патента: US09816878B2. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Oven wall shape measuring apparatus, oven wall shape measuring system, and oven wall shape measuring method

Номер патента: US09638516B2. Автор: Toshifumi Kodama,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

System providing testing and verification of a weight measurement apparatus, method for testing and verification of a weight measurement apparatus

Номер патента: RU2763123C1. Автор: Михаил Александрович Малыгин,Сергей Викторович Медведевских,Денис Сергеевич Замятин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И.Менделеева». Дата публикации: 2021-12-27.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Electrical characteristic measurement apparatus, electrical characteristic measurement system, electrical characteristic measurement method, and program for electrical characteristic measurement for causing computer to implement the method

Номер патента: US20180031503A1. Автор: Isao Hidaka. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-01.

Method for calibrating the time axis in time - domain terahertz wave measuring apparatus

Номер патента: EP2545350A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-16.

Observation apparatus, observation method, and distance measurement system

Номер патента: US20230046614A1. Автор: Yasunori Tsukuda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-02-16.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240230505A9. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240133790A1. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-04-25.

Gas measurement apparatus, gas measurement system, gas measurement method, and gas measurement program

Номер патента: US09863932B2. Автор: Yasuhiro Kasahara,Miyuki Kodama,Naotaka Minagawa,Ayumi Sano. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Measuring apparatus and measuring device for measuring a target object in a multidimensional manner

Номер патента: US09638520B2. Автор: Andreas Eisele,Bernd Schmidtke,Ulrich Kallmann. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-05-02.

Method for producing prepared slide for fiber length measurement, method for adjusting dispersion liquid for fiber length measurement, method for measuring fiber length, prepared slide for fiber length measurement, device for measuring fiber length, and program that controls device for measuring fiber length

Номер патента: EP3693719A1. Автор: Koji Shiraki,Yuji Hotta,Atsuhiko Yamanaka,Yukitane Kimoto,Daisuke Shimamoto,Mariko Terada. Владелец: Kyowa Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: CA3182555A1. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Measuring apparatus for a liquid handling apparatus for measuring pipetting container, article for said measuring apparatus and corresponding measuring method

Номер патента: US12044691B2. Автор: Burkhardt Reichmuth,Markus Lapczyna,Uwe Dunker,Maik Radke. Владелец: Eppendorf SE. Дата публикации: 2024-07-23.

Temperature distribution measurement system, temperature distribution measurement apparatus, and temperature distribution measurement method

Номер патента: US20140153611A1. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-06-05.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12092609B2. Автор: Yutaka Matsui,Takafumi Ozeki,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12099033B2. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Electronic Computer, Moisture Content Measurement Method, and Moisture Content Measurement System

Номер патента: US20240102925A1. Автор: Jun Tanaka,Kotaro Kitamura,Yusuke Kaga,Takuya Kambayashi,Makiko Udagawa,Shunsuke Kono,Yasuko Kobayashi,Hiroki MIYAKAWA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Acoustic measurement apparatus, kit, and method of use thereof

Номер патента: US20240142299A1. Автор: Paul Charles Downey. Владелец: Pliteq Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Measurement system and float

Номер патента: AU2023210669B2. Автор: Taichi Tanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Fluid sensing, sensor apparatus for fluid sensing, fluid sensing systems and fluid sensing methods

Номер патента: WO2010146367A1. Автор: Sven Kelling,Stephen Elliott,Victor Ostanin. Владелец: Cambridge Enterprise Limited. Дата публикации: 2010-12-23.

Carbon dioxide separating and recovering system and method of controlling the same

Номер патента: US8741028B2. Автор: Satoshi Saito,TAKASHI Ogawa,Hideo Kitamura,Koshito Fujita,Masatoshi Hodotsuka,Daigo Muraoka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-06-03.

Size measurement device and size measurement system

Номер патента: US11744307B2. Автор: Yusaku MAEZAWA. Владелец: Zozo Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Portable gage calibration system and method

Номер патента: US20040260498A1. Автор: Craig Green,Philip Freeman. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2004-12-23.

Color measuring system, backing plate, and color measuring apparatus

Номер патента: US20230194340A1. Автор: Katsumi Yamada,So YOKOTA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Portable internal friction measuring apparatus and internal friction measurement method

Номер патента: EP4443128A1. Автор: Jian Yin,Wenqing Jia,Yuanfei Li,Xiangbing LIU,Chaoliang XU,Qiwei QUAN,Wangjie QIAN. Владелец: Suzhou Nuclear Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Physical amount measurement apparatus mounted integrally with flow rate measurement apparatus, and physical amount measurement method

Номер патента: US09869573B2. Автор: Koji Tanimoto,Yuji Ariyoshi,Masahiro Kawai,Shinichiro Hidaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: EP4357767A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-24.

Measurement apparatus, storage medium, system and method of manufacturing article

Номер патента: US20230196605A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Light Measurement Apparatus for Reaction Vessel and Light Measurement Method

Номер патента: US20150218618A1. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2015-08-06.

Mist flow rate measuring apparatus, ultrasonic atomization system, and mist flow rate measuring method

Номер патента: US20240102841A1. Автор: Takahiro Hiramatsu,Hiroyuki Orita. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Measurement system and float

Номер патента: US20240068960A1. Автор: Taichi Tanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Bending measurement apparatus, imaging apparatus, projection apparatus and projection imaging apparatus using the same, and bending measurement method

Номер патента: US20200141768A1. Автор: Yoshihito IGUCHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Ultrasound measuring apparatus and method for measuring the flow rate of a fluid

Номер патента: US10260919B2. Автор: Toralf Dietz,Arnd Schlicke,Henri Kirmse. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2019-04-16.

Tooth flank profile measuring apparatus containing a feeler for determining the surface roughness of a tooth flank

Номер патента: US4552014A. Автор: Nikolaus Berchtold. Владелец: Maag Gear Wheel and Machine Co Ltd. Дата публикации: 1985-11-12.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US10935661B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2021-03-02.

Single-beam photothermal measurement apparatus and measurement method for absorptive defects

Номер патента: US12099002B2. Автор: QI Lu,Weiwei Wang,Shijie Liu,Jianda SHAO,Tianzhu Xu,Kaizao Ni,Yingjia Li. Владелец: Shanghai Hengyi Optics And Fine Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US09977129B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Flow rate measurement apparatus, antigen concentration measurement apparatus, flow cell, flow rate measurement method, and antigen concentration measurement method

Номер патента: US09880101B2. Автор: Toru Miura,Tsutomu Horiuchi,Tsuneyuki Haga,Tsuyoshi Hayashi,Yuzuru Iwasaki,Michiko Seyama,Jun-ichi Takahashi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Contour measurement apparatus and contour measurement method for measuring contour of poultry carcass, and deboning device for poultry carcass

Номер патента: US09700060B2. Автор: Noriyuki Inoue,Noriyuki Takahashi,Shinji HANE,Kenichi Oka,Koji TAKANASHI,Naoki Toyoda,Hiroyuki SAKURAYAMA. Владелец: Mayekawa Manufacturing Co. Дата публикации: 2017-07-11.

Method and system for controlling gain and offset in radiation measurement apparatus

Номер патента: US5004904A. Автор: Hiroaki Kobayashi,Tsutomu Yamakawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1991-04-02.

Shock measurement apparatus and shock measurement method

Номер патента: US20020043114A1. Автор: Takane Fujino,Keishi Takahashi,Kazutaka Okasaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200379112A1. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Particle measuring apparatus, ultrapure water production apparatus having the same, and particle measuring method

Номер патента: US20240255411A1. Автор: Hiroshi Sugawara,Fumio Sudo,Tsukasa Kondo,Fumitaka ICHIHARA. Владелец: Organo Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Strain measurement method and strain measurement apparatus

Номер патента: US11204240B2. Автор: Kuo-Hua Tseng,Yu-Lin Hsu,Hung-Hsien Ko,I-Hung Chiang,Cheng-Ta Pan. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-12-21.

Fluorescence measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US20120286171A1. Автор: Kazuteru Hoshishima. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-15.

Wet Gas Flow Measuring Method and Apparatus

Номер патента: US20150247749A1. Автор: Jige Chen. Владелец: LANZHOU HAIMO TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-03.

System and Method for Controlling Thickness of Coating

Номер патента: US20180161812A1. Автор: Jin Seok Kim,Haseung SEONG,Moo Woong Choi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-06-14.

Surface temperature measuring apparatus, surface temperature measuring method, and optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20240280408A1. Автор: Takashi Kawasaki,Hidehiko Fujii,Hitoshi Nagasawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-22.

Channel light measurement apparatus having reduced signal-to-noise ratio

Номер патента: US09945774B2. Автор: Frank Krufka. Владелец: Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic imaging apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09910140B2. Автор: Masaki Hayashi,Kenji Murakami,Kazuyuki Kano,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Sample introduction system and particle size distribution measuring apparatus

Номер патента: US09645059B2. Автор: Akihiro Katanishi,Takashi KIMBA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

System and method for measuring alignment errors of axles

Номер патента: EP2167907A1. Автор: Christer Johansson,Christian Jonasson,Jan Wipenmyr. Владелец: ELOS FIXTURLASER AB. Дата публикации: 2010-03-31.

Uv irradiation apparatus for coating systems and quality assurance method

Номер патента: CA3156657A1. Автор: Oliver Meisriemel. Владелец: Robert Buerkle GmbH. Дата публикации: 2022-11-10.

Uv irradiation apparatus for coating systems and quality assurance method

Номер патента: US20220355336A1. Автор: Oliver Meisriemel. Владелец: Robert Buerkle GmbH. Дата публикации: 2022-11-10.

Concentration measurement apparatus and concentration measurement method

Номер патента: US20230168192A1. Автор: Takenobu Nakamura,Kakeru ICHIMURA. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Optical Rotating Power Measurement Method And Optical Rotating Power Measurement Apparatus

Номер патента: US20080204751A1. Автор: Atsushi Yamada,Yuji Fujisawa,Tomoyuki Fukazawa,Hisashi Masago,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Strain measurement apparatus and method for measuring mechanical strain

Номер патента: WO2023213647A1. Автор: Peter Fratzl,Shahrouz Amini. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E. V.. Дата публикации: 2023-11-09.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160054117A1. Автор: Takahiro Yamamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-02-25.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Inertial measurement apparatus and method with improved thermal and noise performance

Номер патента: US20210080334A1. Автор: Mike Horton,Shu Wang. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Terahertz measuring apparatus and terahertz measurement method for measuring a test object by means of a time-of-flight measurement

Номер патента: US20190331594A1. Автор: Ralph Klose. Владелец: INOEX GmbH INNOVATIONEN und AUSRUESTUNGEN fur DIE EXTRUSIONSTECHNIK. Дата публикации: 2019-10-31.

Apparatus, system and method for measurement of diabetes factors

Номер патента: US20230172494A1. Автор: Cher Ming Tan. Владелец: Emm Diagnostics Pte Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

New adaptive trigger piv measuring apparatus and method

Номер патента: NL2035928A. Автор: Xu Yang,Wang Jinjun,Wang Hanbin,Fan Di,Guo Qinfeng. Владелец: Univ Beihang. Дата публикации: 2024-05-28.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20220299641A1. Автор: Naoki Shinoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-22.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Systems and methods for multiple species atom interferometry

Номер патента: US09897448B2. Автор: Richard E. Stoner,David M. S. Johnson,David L. Butts,Tom Thorvaldsen. Владелец: Charles Stark Draper Laboratory Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method

Номер патента: US09869626B2. Автор: Tetsuji Yamaguchi,Tetsuya Mori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Absolute distance measurement apparatus and method using laser interferometric wavelength leverage

Номер патента: US09835441B2. Автор: Liping Yan,Benyong Chen,Shihua Zhang. Владелец: Zhejiang Sci Tech University ZSTU. Дата публикации: 2017-12-05.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US09664604B2. Автор: Yasushi Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: EP4400804A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2022-03-03.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887B2. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2020201075A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: US20240215819A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Luminous body measurement apparatus and luminous body measurement method

Номер патента: US20200300693A1. Автор: Hiroyuki Sano,Yoshihiko Nishida. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and program

Номер патента: EP3754296A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-12-23.

Backlash measuring method, wind turbine diagnosing method, and backlash measuring apparatus

Номер патента: EP4293221A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2023-12-20.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: US20210354262A1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Optical measuring apparatus, optical measuring method, and optical measurement processing program

Номер патента: US7948642B2. Автор: Masanobu Kataoka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20100228519A1. Автор: Yuki Oshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-09-09.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US20190011351A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-10.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US10788412B2. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-29.

Measurement apparatus, calculation method, system, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160346882A1. Автор: Tsuyoshi Yamazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-12-01.

Test system and test method for detecting cement content of cement mixing pile body in real time

Номер патента: US20180023268A1. Автор: QING Chen,Qingsong ZUO,Fuhai Zhang,Saifeng YUAN. Владелец: Hohai University HHU. Дата публикации: 2018-01-25.

Surface measurement device and surface measurement method

Номер патента: EP3951315A1. Автор: Yusuke Konno,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US8988668B2. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-03-24.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US20140192349A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-07-10.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: EP4348171A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Shape measuring apparatus and shape measuring method

Номер патента: US10156435B1. Автор: Rikiya Taniguchi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-12-18.

Measuring method of sensor using interdigitated array electrode, measuring apparatus and computer readable medium storing measuring program

Номер патента: US20170045469A1. Автор: Koji Sode,Yasuhide Kusaka,Hisashi Kaneda. Владелец: Ultizyme International Ltd. Дата публикации: 2017-02-16.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Shape measurement device, structure production system, shape measurement method, structure production method, and shape measurement program

Номер патента: US09952038B2. Автор: Kenta Kanto. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Viscosity measuring method and viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09835536B2. Автор: Takayoshi Hoshino. Владелец: Aohata Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Measuring apparatus and method of manufacturing article

Номер патента: US09797717B2. Автор: Masaki Nakajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09740661B2. Автор: Norihiko Mikoshiba,Munehiro Kitaura. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Ozone water concentration measurement apparatus and ozone water concentration measurement method

Номер патента: US09625405B2. Автор: Shigeo Sekiguchi,Kazutaka Murata,Yasuaki Einaga,Yuya Ishii,Ivandini TRIBIDASARIANGGRANINGRUM. Владелец: Nikka Micron Co Ltd . Дата публикации: 2017-04-18.

Refractive index distribution measuring method, refractive index distribution measuring apparatus, and method for manufacturing optical element

Номер патента: US09625350B2. Автор: Tomohiro Sugimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09594023B2. Автор: Sakuya Tamada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Wavefront aberration measuring method, wavefront aberration measuring apparatus and optical element manufacturing method

Номер патента: US09557241B2. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Measuring apparatus, movable apparatus, robot, electronic device, fabricating apparatus, and measuring method

Номер патента: US12030243B2. Автор: Kazuhiro Yoneda,Naoki Fukuoka,Yoshihiko Miki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Flight parameter measuring apparatus and flight parameter measuring method

Номер патента: SG11201910034RA. Автор: Hideaki Kawamoto,Viet Manh Do,Hong Quan Luong. Владелец: Gpro Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12013229B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: PH12016501789A1. Автор: NISHIDA Hidetaka. Владелец: Chugoku Electric Power. Дата публикации: 2017-01-09.

Measuring method, measuring apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240085327A1. Автор: Norishige Kakegawa,Takahiro Masumura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: US20240241065A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Measuring apparatus, measuring method and measuring program

Номер патента: EP4006297A1. Автор: Hiroyuki Takahashi,Yusuke Inoue,Keita HAMAKAWA,Takazumi YAMADA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Measurement apparatus, information processing apparatus, data specifying method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20230036969A1. Автор: Akira Tsuji,Junichi Abe,Yoshimasa Ono,Jiro Abe. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Measurement method

Номер патента: US20130103346A1. Автор: Yasushi Iwasaki,Masaki Hosoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-04-25.

Hardness measurement apparatus and hardness measurement method

Номер патента: US20190162686A1. Автор: Chien-Chang Chen,Yii-Der WU,Szu-Hua YANG. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2019-05-30.

Axle-load measuring apparatus and axle-load measuring method

Номер патента: US10982951B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Optical measuring method, and optical measuring device

Номер патента: EP4414687A1. Автор: Go Yamada. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Diffractive optical element, distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20120050717A1. Автор: Hideaki Inoue. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12072175B2. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Mass measurement apparatus for automatic processing machines and mass measurement method

Номер патента: EP3969855A1. Автор: Marco Minardi. Владелец: IMA Industria Macchine Automatiche SpA. Дата публикации: 2022-03-23.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12072177B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Overhead wire mutual separating situation measuring apparatus and overhead wire mutual separating situation measuring method

Номер патента: US20200378750A1. Автор: Masaki Araki,Masahisa Watanabe,Shusaku UTSUGI,Toshio EIFUKU. Владелец: Hitachi High Tech Fine Systems Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US20220170245A1. Автор: Hiroyuki Takahashi,Yusuke Inoue,Keita HAMAKAWA,Takazumi YAMADA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2022-06-02.

Planar elongational viscosity measuring method and planar elongational viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20100228504A1. Автор: Tsutomu Takahashi,Toshihiro Kawano,Masataka Shirakashi. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2010-09-09.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12078474B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240296547A1. Автор: Ji Hoon Kang,Ji Yun JUNG. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20240272300A1. Автор: Shuji Uehara,Yoshinori Muramatsu,Kazuhiko Muraoka. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20240369347A1. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Measurement apparatus, exposure apparatus, measurement method, and recording medium

Номер патента: US09910363B2. Автор: Takaki Hashimoto,Ai Furubayashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Shape measuring method, shape measuring apparatus, program, recording medium, method of manufacturing optical element, and optical element

Номер патента: US09857270B2. Автор: Atsushi Maeda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Temperature distribution measurement apparatus and temperature distribution measurement method

Номер патента: US09797782B2. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Sensor strip cartridge, and biometric information measuring method and apparatus using the same

Номер патента: US09739764B2. Автор: Chul-Ho Cho,Seong-Je Cho,Min-Hyoung Lee,In-Geol Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-22.

Absolute position measurement method, absolute position measurement apparatus and scale

Номер патента: US09651403B2. Автор: Jae-Wan Kim,Tae-Bong Eom,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-05-16.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09595107B2. Автор: Satoshi Nishimura. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Automated measuring system and method

Номер патента: US20050049822A1. Автор: Chih-Kuang Chang,Hsin-Pei Chang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-03.

Self-Calibrating Optical Turbidity Measuring Apparatus

Номер патента: US20220120679A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2022-04-21.

Enhanced substrate temperature measurement apparatus, system and method

Номер патента: WO2020242732A1. Автор: Qin Chen,Lyudmila Stone,Dale K. Stone,Dawei Sun,Ron Serisky,Steven Anella,Jeffrey D. Lischer,Chi-Yang Cheng. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2020-12-03.

Grain granulometry measurement system and method and calibration method for a grain granulometry measurement system

Номер патента: EP4300074A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20220317056A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20100201987A1. Автор: Takanori IWAWAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-08-12.

Concentration measurement method and concentration measurement apparatus

Номер патента: US20120242979A1. Автор: Koichi Shimizu,Kazuhiko Amano,Kazuhiro Nishida. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2012-09-27.

Optical interference measuring apparatus and optical interference measuring method

Номер патента: US20220228850A1. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Particle measuring method and particle measuring apparatus

Номер патента: US20080239283A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: US12038378B2. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2024-07-16.

Refractive-index distribution measuring method, refractive-index distribution measuring apparatus, method of manufacturing optical element, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20150260605A1. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-09-17.

Measurement apparatus, measurement method, program, and information recording medium

Номер патента: US20190041424A1. Автор: Ryutaro Himeno,Shigeho Noda. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2019-02-07.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20210065484A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: EP3786659A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-03.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US20150292946A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-15.

Sample measuring apparatus and sample measuring method

Номер патента: US20190265264A1. Автор: Yoshinori Nakamura,Jun Inagaki,Takashi Yamato,Shunsuke Saito. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20220270274A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20200334844A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Enhanced substrate temperature measurement apparatus, system and method

Номер патента: US20200378837A1. Автор: Qin Chen,D. Jeffrey Lischer,Lyudmila Stone,Dale K. Stone,Dawei Sun,Ron Serisky,Steven Anella,Chi-Yang Cheng. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-12-03.

Geoid measurement method, geoid measurement apparatus, geoid estimation device, and geoid calculation data collection device

Номер патента: US20210199435A1. Автор: Atsushi Tanaka,Toshiyuki Hosoya,Ryotaro INOUE,Mikio KOZUMA. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2021-07-01.

Optical sampling measurement apparatus and optical sampling measurement method

Номер патента: US20030223765A1. Автор: Masatoshi Kanzaki,Yoshiki Yanagisawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-04.

Thermal conductivity measurement apparatus and thermal conductivity measurement method

Номер патента: US20180299391A1. Автор: Dai Nakajima,Haruna Tada,Yasuyuki Sanda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Geoid measurement method, geoid measurement apparatus, geoid estimation device, and geoid calculation data collection device

Номер патента: EP3786579A1. Автор: Atsushi Tanaka,Toshiyuki Hosoya,Ryotaro INOUE,Mikio KOZUMA. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2021-03-03.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12111146B2. Автор: Kunikazu Taguchi,Suguru Irie. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4455722A1. Автор: Kenichiro Hosoi,Shogo Miyanabe. Владелец: Pioneer Smart Sensing Innovations Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

System and method of making environmental measurements

Номер патента: US09846253B2. Автор: Michael S. Bittar,Burkay Donderici. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2017-12-19.

Ultrasonic measurement method and ultrasonic measurement apparatus

Номер патента: US09683838B2. Автор: Takafumi Ozeki,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Polarization velocity vector measuring apparatus and polarization velocity vector measuring method

Номер патента: US09677943B2. Автор: Yoshihiro Kanda. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Measurement apparatus and method with adaptive scan rate

Номер патента: US09645169B2. Автор: Sang-il Park,Sang Han Chung,Ju Suk Lee,Yong Sung CHO,Ah Jin Jo. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Defocused optical rotation measurement apparatus, optical rotation measurement method and defocused optical fiber system

Номер патента: US20130128262A1. Автор: Hiroshi Kajioka. Владелец: Global Fiberoptics Ltd. Дата публикации: 2013-05-23.

Measurement system

Номер патента: WO2017198992A1. Автор: Gail Lisa THOMAS,John Niroshan VIMALENDRAN. Владелец: Tw Metals Limited. Дата публикации: 2017-11-23.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US20220206134A1. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-30.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: US20240133787A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-04-25.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: US20240230500A9. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

System and Method for Measuring a Substance Concentration in the Exhaled Breath of a Patient

Номер патента: US20200275883A1. Автор: Erik Weber Jensen,Carmen González Pijuan,Claus Lindner. Владелец: Quantium Medical Slu. Дата публикации: 2020-09-03.

Outer Dimensioning Measurement System for Tubulars

Номер патента: US20200173765A1. Автор: Elliot Morgan Stamey. Владелец: ATT Technology Ltd. Дата публикации: 2020-06-04.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US8462351B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-11.

Measurement apparatus, measurement method, and computer readable medium

Номер патента: US10982949B2. Автор: Hitoshi Hara,Kazufumi Nishida,Kazuki SETSUDA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: CA3209370A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Measuring Method and Measuring Apparatus

Номер патента: US20190056347A1. Автор: Hisashi Kaneda,Ayano Nakatani. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-02-21.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic diagnostic apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20160124088A1. Автор: Hiroyuki Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-05.

A system and method for the determination of an electrical characteristic of a liquid

Номер патента: EP1949094A2. Автор: Nico Magendans. Владелец: Adviesburo Magendans BV. Дата публикации: 2008-07-30.

Shape measuring device, shape measuring method, and method for manufacturing glass plate

Номер патента: US20130094714A1. Автор: Kimiaki Ohto. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-18.

Fluid measurement apparatus, fluid measurement method, and program

Номер патента: US20210041274A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: EP4067842A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-10-05.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: US20230066638A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-02.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US20140025300A1. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Measuring apparatus, method, and program

Номер патента: US20100272321A1. Автор: Isao Kimura,Atsushi Takeuchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-10-28.

A system and method for the determination of an electrical characteristic of a liquid

Номер патента: WO2007045481A3. Автор: Nico Magendans. Владелец: Adviesburo Magendans B V. Дата публикации: 2007-07-19.

Measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US20070203654A1. Автор: Toshihide Ezoe. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US12085633B2. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Measurement apparatus and measurement method using the same

Номер патента: US20240295490A1. Автор: Jaeho Kim,Younghoon Sohn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-05.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: EP4439071A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: US20240329070A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus and depth measurement method that calculate depth information of a target pixel using a color plane of which a correlation value is at most a threshold

Номер патента: US09928598B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Method of calibrating and using a measuring apparatus that performs measurements using a spectrum of light

Номер патента: US09897486B2. Автор: Young-Joo Lee,Chang-Hoon Choi,Tae-Yong Jo,Jong-Jeong KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Particle measuring apparatus and particle measuring method

Номер патента: US09885649B2. Автор: Kenichi Otsuka,Masaki Hirano,Yuichi Kuroda. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic image apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09867594B2. Автор: Masaki Hayashi,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Light wavelength measurement method and light wavelength measurement apparatus

Номер патента: US09846081B2. Автор: Tsuyoshi Konishi,Tomotaka Nagashima,Takema SATOH. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-12-19.

Contact angle measurement apparatus

Номер патента: US09816909B2. Автор: Bernd Friedrich,Florian WESER,Carsten SCHEITHAUER. Владелец: Kruess GmbH Wissenschaftliche Laborgeraete. Дата публикации: 2017-11-14.

Neutron measurement apparatus, neutron calculation apparatus, and neutron measurement method

Номер патента: US09702987B2. Автор: Daijiro Ito,Shigehiro Kono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Position measuring apparatus

Номер патента: US09696152B2. Автор: Yukiharu Tomita,Ryosuke Oikawa,Kenzo Yamanouchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Grain measurement apparatus

Номер патента: US09671273B2. Автор: Steven L. Harris,Matthew T. Emerick. Владелец: Juniper Systems Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Spectral apparatus, detection apparatus, light source apparatus, reaction apparatus, and measurement apparatus

Номер патента: US09594253B2. Автор: Takashi Sukegawa,Akira Ozawa,Mamoru Endo,Yohei Kobayashi,Makoto Gonokami. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2017-03-14.

Flow measurement apparatus

Номер патента: RU2760627C1. Автор: Эрик ШТАРКЕ,Кристиан ШУЛЬЦ,Маркус КЛЕММ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2021-11-29.

Measuring system and method of determining the measuring value

Номер патента: RU2641512C2. Автор: Михаэль ДАХАЙМ. Владелец: Кроне Месстехник Гмбх. Дата публикации: 2018-01-17.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-05.

Charged-particle trajectory measurement apparatus and charged-particle trajectory measurement method

Номер патента: US11977192B2. Автор: Masataka Suga,Yuki Nakai,Naoto Kume,Tsukasa SUGITA,Takuro Fujimaki,Haruo Miyadera,Kohei NOBE. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Molecule Measuring Device and Molecule Measuring Method

Номер патента: US20080289404A1. Автор: Hiroshi Tokumoto,Takaharu Okajima. Владелец: NATIONAL UNVIERSITY Corp HOKKAIDO UNIVERSITY. Дата публикации: 2008-11-27.

Systems and methods for monitoring concentration of a component of a sample fluid

Номер патента: US20240142357A1. Автор: Martin Smith,Anthony Curtis,Angela Beesley,Phoebe Dunn. Владелец: Thermo Environmental Instruments Llc. Дата публикации: 2024-05-02.

Systems and methods for monitoring concentration of a component of a sample fluid

Номер патента: WO2024097764A9. Автор: Martin Smith,Anthony Curtis,Angela Beesley,Phoebe Dunn. Владелец: Thermo Environmental Instruments Llc. Дата публикации: 2024-06-13.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US10048062B2. Автор: Hidetaka Nishida. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2018-08-14.

Measuring apparatus, measuring method, and ion-sensitive semiconductor device

Номер патента: US20230097075A1. Автор: Masao Okihara. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Laser measuring apparatus for measuring distances, method for operating a laser measuring apparatus for measuring distances

Номер патента: US20220381882A1. Автор: Olaf Schrey,Christian Nitta,Jan Haase,Andre Buchner,Moritz ESSIG. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2022-12-01.

Measuring method and measuring apparatus

Номер патента: US12072273B2. Автор: Takeshi Higuchi,Kasumi Okabe. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Measuring apparatus for figures

Номер патента: US5708592A. Автор: Katsumi Kaji. Владелец: Ushikata Mfg Co Ltd. Дата публикации: 1998-01-13.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20110043809A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Measurement device and measurement method

Номер патента: EP4428525A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240310279A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Load measuring apparatus, for vehicle, measuring load supported by axle, method for same, and lift axle control system equipped with load measuring apparatus

Номер патента: EP4253105A1. Автор: Seong Tae Kim,Pil Won Heo,Chang Yul Kim,Gwang Min Gu. Владелец: Autovision Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Distance Measuring Apparatus, Distance Measuring Method, Distance Measurement Program And Computer Readable Recording Medium

Номер патента: US20120257219A1. Автор: Michisato Toyoda,Toshio Tashima. Владелец: MSI Tokyo Inc. Дата публикации: 2012-10-11.

Modulation transfer function measurement apparatus and method for optical devices

Номер патента: WO2024167852A1. Автор: Ludovic Godet,Yangyang Sun,Jinxin FU,Chi-Yuan YANG. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-08-15.

Fastening assembly for fastening a test device holder to a force-measuring apparatus, force-measuring apparatus having a fastening assembly of this type, test device holder, and slide part for a force-measuring apparatus

Номер патента: US12061175B2. Автор: Michael Wolff. Владелец: Vetter Pharma Fertigung GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-08-13.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09982993B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Single body quadruple cylinder tritium measuring apparatus

Номер патента: US20180335414A1. Автор: Xiaowei Zhang,Sabatino Nacson,Jiangrong WU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-11-22.

Speed-of-sound independent fluid level measurement apparatus and method of use

Номер патента: US09933293B2. Автор: Dennis Duncan Earl. Владелец: RESERVOIR MANAGEMENT SERVICES LLC. Дата публикации: 2018-04-03.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US09541489B2. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Urine measurement apparatus

Номер патента: RU2539534C2. Автор: Микаэль ШАРЛЕЗ,Микаэль ЛЕФГРЕН. Владелец: Обзерв Медикал Апс. Дата публикации: 2015-01-20.

Improved air velocity measuring system and method for its calibration

Номер патента: US3688576A. Автор: Alfred A Obermaier,Martin J Pierman. Владелец: ILLINOIS TESTING LAB Inc. Дата публикации: 1972-09-05.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US20170219432A1. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US10175108B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-01-08.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240230312A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP4097446A1. Автор: Makoto Higuchi,Tatsuya Hamada,Hironaga GENDA,Tatsuhiro ESAKI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Measuring apparatus and method for positioning and aligning retroreflectors in a distribution of retroreflectors of a measuring apparatus

Номер патента: US20200225026A1. Автор: Wolfgang Hoegele,Christian Hoerr. Владелец: Carl Zeiss Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2020-07-16.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: US20180283850A1. Автор: Yusuke Konno,Toshio Akagi,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Tomohiro KUROIWA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2018-10-04.

Agricultural grain granulometer, system and method for collecting, moving and measuring grain granulometry

Номер патента: EP4300075A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20240240933A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Measurement apparatus, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220049981A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-17.

Foot pressure measurement apparatus, method, and non-transitory tangible machine-readable medium thereof

Номер патента: US20210145315A1. Автор: Chih-Hao Hsu,yan-tong Liu. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2021-05-20.

Measurement apparatus and method for measuring an energy quantity flow transported by means of a liquefied natural gas flow

Номер патента: US20240240999A1. Автор: Martin OBERLÄNDER,Andreas Ehrlich,Sebastian Friedrich. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2024-07-18.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20210358147A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Light interference measurement device and light interference measurement method

Номер патента: EP3978865A1. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-04-06.

Flow amount measuring apparatus, material mixing system and non transitory computer readable medium performing material mixing method

Номер патента: US20180306612A1. Автор: Yen-Min Chang,Feng-Chi Liu. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-10-25.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US10816319B2. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada,Osamu YASUHIKO,Hisayuki MATSUI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-27.

Optical measurement apparatus and method of measuring an axial length

Номер патента: US20240271922A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Pressure measurement apparatus for inspecting therapeutic energy waves

Номер патента: US5357805A. Автор: Satoshi Aida,Katsuhiko Fujimoto,Nobuki Kudo,Masamichi Oyanagi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1994-10-25.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US20230258779A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: WO2013168652A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

Measurement apparatus applicable to two-dimensional reconstruction of gas in combustion flow field

Номер патента: US20180245988A1. Автор: Guangyu Wang,Wei Rao,Yanji HONG,Junling SONG. Владелец: Space Engineering University. Дата публикации: 2018-08-30.

Raman scattering measuring apparatus and raman scattering measuring method

Номер патента: US20140253918A1. Автор: Keisuke Nose,Yasuyuki Ozeki,Kazuyoshi Itoh. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Method for Operating a Surface Measurement Apparatus

Номер патента: US20200200519A1. Автор: Adelbert Leber. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2020-06-25.

Optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20090079984A1. Автор: Shinji Shimizu,Yoshiyuki Nagashima,Katsutoshi Tsurutani,Tomohiro Fukamizu. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2009-03-26.

Measurement apparatus, control apparatus, and control method

Номер патента: US12078478B2. Автор: Tsutomu Ichimura,Kazuhiko Hidaka,Tomoyuki Miyazaki,Naoki Mitsutani,Hideki Mishima,Yoshinori Shirakawa,Tomohiro Kiire. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US11703592B2. Автор: Hirokazu Takenaka. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20020092189A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-18.

Water vapor distribution measurement apparatus

Номер патента: US20240151641A1. Автор: Takayoshi Kaneko,Shintaro Ozawa,Naoto Kakuta,Rintaro TAKAGI. Владелец: Tokyo Metropolitan Public University Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

3-dimensional measurement apparatus and 3-dimensional measurement method

Номер патента: EP4417936A1. Автор: Daisuke SENGA. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: EP2847575A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-03-18.

Flow measurement apparatus

Номер патента: US20240302194A1. Автор: Andreas Ehrlich,Mario Künzelmann,Gerry Schroeter. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2024-09-12.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US20170030761A1. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09927516B2. Автор: Hirokazu SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Position/orientation measurement apparatus, measurement processing method thereof, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US09927222B2. Автор: Masahiro Suzuki,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Gas measurement apparatus

Номер патента: US09885646B2. Автор: Karl F. Scheucher,Perry BLOSSOM,George DAVET. Владелец: Solon Manufacturing Co. Дата публикации: 2018-02-06.

Measuring apparatus for the filling level of a container

Номер патента: US09885598B2. Автор: Petr Tesar,Jan Nekula,Martin Kalas. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-02-06.

Characteristic-measuring apparatus and characteristic-measuring method for multi-core fiber

Номер патента: US20180246008A1. Автор: Katsuhiro Takenaga,Shota Saito. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2018-08-30.

Environmental measurement apparatus and environmental measurement method

Номер патента: US09880132B2. Автор: Mitsuo Ozaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Tool length measurement apparatus

Номер патента: US09863765B2. Автор: Akira Kimura,Ken Onoe. Владелец: DMG Mori Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US09823110B2. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Measuring apparatus

Номер патента: US09811896B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Lidar measuring system and lidar measuring method

Номер патента: US09702975B2. Автор: Ernst Brinkmeyer,Thomas Waterholter. Владелец: Technische Universitaet Hamburg TUHH. Дата публикации: 2017-07-11.

Radiation measurement apparatus and radiation measurement method

Номер патента: US09696433B2. Автор: Koji Yasui. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Phase distribution measurement method and phase distribution measurement apparatus

Номер патента: US09594941B2. Автор: Hiroshi Ishiwata. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Temperature measurement system and abnormality detection method

Номер патента: CA2889157C. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-10-02.

Film thickness measuring apparatus employing microprojector of spectral reflection measurement

Номер патента: US4673294A. Автор: Nobuo Adachi,Yoshihiro Mochida,Ichiro Shirahama. Владелец: Orc Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1987-06-16.

Optical measuring and/or presetting method and optical tool presetting and/or tool measuring apparatus

Номер патента: US20210370420A1. Автор: Alexander Zoller. Владелец: E Zoller GmbH and Co KG Einstell und Messgeraete. Дата публикации: 2021-12-02.

Optical measuring and/or presetting method and optical tool presetting and/or tool measuring apparatus

Номер патента: CA3119335A1. Автор: Alexander Zoller. Владелец: E Zoller GmbH and Co KG Einstell und Messgeraete. Дата публикации: 2021-11-27.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: WO2018016782A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2018-01-25.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: US20180024037A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-01-25.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20200132797A1. Автор: Yusuke Ito,Masahiro Kawai,Takayuki Yanagisawa,Shumpei Kameyama,Masaharu Imaki,Yosuke Tsuzaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240241041A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20200286249A1. Автор: Hiroshi Ohno,Kiminori Toya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Measurement apparatus for corrosion inspection

Номер патента: EP4354116A2. Автор: Akihiro Kobayashi,Yuji Nakanishi,Akihide Takami,Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki,Tatsuya Ezaki,Masatoshi Shinomori,Raiki KABUCHI. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Optical measurement device, optical measurement method, computer program, and recording medium

Номер патента: EP3686564A1. Автор: Tadashi Kondo,Mitsuru Sato,Kiyoshi Tateishi,Genki Adachi,Tomoya Murakami,Wataru Onodera,Akari Agata. Владелец: Nikkiso Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-29.

Light scattering measuring apparatus and measuring jig

Номер патента: US20220155203A1. Автор: Hiroya Nagasawa,Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12038329B2. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20130010278A1. Автор: Hitoshi Ohmuro. Владелец: Nikon Vision Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-10.

State quantity distribution measuring apparatus and method of measuring state quantity distribution of sample

Номер патента: US20130174652A1. Автор: Hisataka Nanaumi,Teruko Kawamoto,Misayo Arimura,Yukiko Bitou. Владелец: Unicharm Corp. Дата публикации: 2013-07-11.

Measurement Apparatus Having Display Device

Номер патента: US20090165316A1. Автор: Kee-Weng Lai,Shan-Nan Chen. Владелец: Grenergy Opto Inc. Дата публикации: 2009-07-02.

Ball measuring apparatus

Номер патента: US20070075891A1. Автор: Takahiro Sajima. Владелец: SRI Sports Ltd. Дата публикации: 2007-04-05.

Measurement apparatus

Номер патента: US10656086B2. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-05-19.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20200096333A1. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Irradiation strength distribution measuring apparatus and method of measuring

Номер патента: WO2008089898A1. Автор: Rolf Freimann. Владелец: Carl Zeiss Smt Ag. Дата публикации: 2008-07-31.

Fluid measurement device, fluid measurement method, and program

Номер патента: EP3745097A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

Light receiving apparatus and distance measuring apparatus

Номер патента: US12061292B2. Автор: Kenta Makimoto. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Light measuring apparatus capable of measuring ambient light and flash light

Номер патента: US5589934A. Автор: Yoshihiko Azuma,Susumu Shirai,Takehiro Katoh,Kenichiro Hibi,Yoshihiro Okui,Norihisa Hosoi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 1996-12-31.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240272003A1. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Specific gravity measuring apparatus

Номер патента: US20130086984A1. Автор: Sadanori Kondo. Владелец: Alfa Mirage Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-11.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US8502984B2. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-06.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20120019831A1. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-26.

Grain gloss measurement apparatus

Номер патента: US20210192713A1. Автор: Hisashi Sakamoto,Koshiro Kajiyama. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Measurement apparatus

Номер патента: US20190369018A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-12-05.

Measurement apparatus, method for operating a mask-metrology measurement apparatus, and computer program product

Номер патента: US20240255857A1. Автор: Thomas Frank,Ulrich Matejka,Jan Reisloehner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-01.

Piston ring tension measurement apparatus

Номер патента: US20120006121A1. Автор: Atsuko Miyamoto. Владелец: Teikoku Piston Ring Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-12.

Sample measuring apparatus, reagent container, and method of measuring sample

Номер патента: US12130300B2. Автор: Tomohiro KUROIWA,Yutaka Kawamoto,Shingo KAIDA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Surface property measuring apparatus and method for controlling the same

Номер патента: US09921044B2. Автор: Tatsuki Nakayama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Light measurement apparatus, method, program and recording medium

Номер патента: US09846120B2. Автор: Masaichi Hashimoto,Akiyoshi Irisawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12140523B2. Автор: Sunah PARK,Hyunjung Choi,Hyunok KIM,Juhyun Park,Jua Ryu,Deokhyeon Kwon,KiDoo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-11-12.

Measurement apparatus

Номер патента: US09753127B2. Автор: Hirofumi Yamamoto,Akira Miki,Shinichirou Taguchi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Ultrasound based measurement apparatus and method

Номер патента: US09726642B2. Автор: Su Hyun Park,Jung Ho Kim,Kyu Hong Kim,Sung Chan Park,Joo Young KANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-08.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: US09700248B2. Автор: Susumu Suzuki,Takeo Ozaki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-11.

Method of correcting measurement error of shape measuring apparatus, and shape measuring apparatus

Номер патента: US09683839B2. Автор: Nobuhiro Ishikawa,Hideyuki Nakagawa. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Coordinate measuring apparatus and method for measuring an object

Номер патента: US09625257B2. Автор: Ralf Christoph,Wolfgang Rauh. Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-04-18.

A measuring apparatus for measuring properties of a surface

Номер патента: WO2016189327A1. Автор: Professor Stuart ROBSON,Ben SARGEANT,Abdul Rahman EL-NOUNU. Владелец: UNIVERSITY COLLEGE LONDON. Дата публикации: 2016-12-01.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US20190078865A1. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US10859365B2. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-08.

Measuring apparatus for the online measurement of at least one property of process liquids at at least two different flow rates for the production of a medical liquid

Номер патента: US20240241069A1. Автор: Patrick BEßLER,Stefan EBERLEIN,Jürgen Schwerdhöfer. Владелец: Vivonic GmbH. Дата публикации: 2024-07-18.

A measuring apparatus for measuring properties of a surface

Номер патента: EP3303989A1. Автор: Stuart Robson,Ben SARGEANT,Abdul Rahman EL-NOUNU. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2018-04-11.

Measuring apparatus and method for same

Номер патента: EP3080548A1. Автор: Owen PEARCEY. Владелец: HATCH ASSOCIATES PTY LTD. Дата публикации: 2016-10-19.

Measuring apparatus and method for measuring the temperature of a molten metal bath with an optical device

Номер патента: AU2022332552A1. Автор: Michel Van Vlierberghe,Gert JANSSEN,Luc Vranckx. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2024-03-07.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: EP1017969A1. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-07-12.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: WO1999015859A2. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Wusterbarth Michael A. Дата публикации: 1999-04-01.

Measurement apparatus for corrosion inspection

Номер патента: EP4354115A1. Автор: Akihiro Kobayashi,Yuji Nakanishi,Akihide Takami,Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki,Tatsuya Ezaki,Masatoshi Shinomori,Raiki KABUCHI. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20210208683A1. Автор: Shigeto Hattori. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-07-08.

Measurement apparatus and driving apparatus

Номер патента: US20190128916A1. Автор: Takayuki Uozumi,Takefumi Ota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-05-02.

Radiometric measuring apparatus

Номер патента: US11029422B2. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-08.

Optical complex amplitude measurement device and optical complex amplitude measurement method

Номер патента: US20230288182A1. Автор: Kaoru Arai,Ryuta Sugiyama,Katsuya Oguri,Hiroki SAKUMA,Tomoya Akatsuka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Measurement device, distance measurement device, and measurement method

Номер патента: EP3904909A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-11-03.

Measuring apparatus, signal outputting method and storage medium

Номер патента: US20010037188A1. Автор: Masashi Tsuboi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2001-11-01.

Measurement apparatus

Номер патента: US20150359518A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Measurement Apparatus for Measuring a Volume of a Desired Solid Component in a Sample Volume of a Solid-Liquid Slurry

Номер патента: US20180223389A1. Автор: Mark Robert HUBBLE,William John MCCALLUM,Teresa Diane Hayward MCGRATH,William Patrick STAUNTON. Владелец: CURTIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-08-09.

Radiometric Measuring Apparatus

Номер патента: US20200183021A1. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-06-11.

Method for X-ray wavelength measurement and X-ray wavelength measurement apparatus

Номер патента: US20080240354A1. Автор: Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20230089647A1. Автор: Hiroshi Nakatsuka,Riyoko Miyahara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US12085413B2. Автор: Graham Richard Ferguson,Benjamin Jason Merrifield. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-09-10.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: EP2435850A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-04-04.

Control method and color measurement apparatus

Номер патента: US20240302215A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: US20240302160A1. Автор: Markus Adam ECKHARDT. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: GB2629247A. Автор: Adam Eckhardt Markus. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-10-23.

Solid body density measuring system and method

Номер патента: WO2024144645A1. Автор: Tarkan KOCA. Владелец: İnönü Üni̇versi̇tesi̇ Rektörlüğü. Дата публикации: 2024-07-04.

Vibration measuring apparatus using parametric speaker and two-dimensional scanning mirror

Номер патента: US09976990B2. Автор: Kenichi Komiya,Daisuke Ishikawa. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Correction device and correction method for optical measuring apparatus

Номер патента: US09958263B2. Автор: Ichiro Taniguchi,Ryoichi Imaizumi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Minute object characteristics measuring apparatus

Номер патента: US09857216B2. Автор: Daichi Yamaguchi,Shuusuke SOMENO. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Measuring apparatus

Номер патента: US09851194B2. Автор: Chun-Jen Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Fill level measurement system

Номер патента: US09733116B2. Автор: Holger Schmidt,Juergen Kreutzkaemper,Peter Hoppe. Владелец: SKF Lubrication Systems Germany GmbH. Дата публикации: 2017-08-15.

Integrated still image, motion video and speed measurement system

Номер патента: US09691277B2. Автор: Jiyoon Chung. Владелец: Laser Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-27.

Roundness measuring apparatus

Номер патента: US09581424B2. Автор: Ryo Takanashi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Measuring apparatus for determining length of compact part of water stream from fire hydrant

Номер патента: RU2749579C1. Автор: Олег Валерьевич Амчеславский,Петр Сергеевич Крюков. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Волгоградский государственный аграрный университет" (ФГБОУ ВО Волгоградский ГАУ). Дата публикации: 2021-06-15.

Measuring device, position identifying system, measuring system, and monitoring system

Номер патента: EP4306996A1. Автор: Yousuke KOUTSUKA. Владелец: Pioneer Smart Sensing Innovations Corp. Дата публикации: 2024-01-17.

Temperature measuring method and apparatus, device and system

Номер патента: EP4249869A1. Автор: Lin Du,Yuhao Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Vibration measurement system, vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11768102B2. Автор: Kazuhito Murata,Masahiko Ohta,Gaku Nakano,Asuka ISHII. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Length Measuring Apparatus

Номер патента: US20240060763A1. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240118418A1. Автор: Kazuki CHIDA. Владелец: Nikon Vision Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: EP4367471A1. Автор: Peter Qiu,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: WO2023281270A1. Автор: Peter Qiu,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: OXFORD UNIVERSITY INNOVATION LIMITED. Дата публикации: 2023-01-12.

Fine particle measurement apparatus with exhaust purification function

Номер патента: US20070216895A1. Автор: Kenji Watanabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-09-20.

Photoacoustic measurement apparatus and probe

Номер патента: US20170360304A1. Автор: Atsushi Hashimoto,Kaku Irisawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240201072A1. Автор: Hiroshi Ono,Masayuki Tanaka,Kohei Noda,Moritsugu Sakamoto. Владелец: Opt Gate Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Surface profile measuring apparatus, method of measuring surface profile, and method of manufacturing optical element

Номер патента: US8472030B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-25.

Measurement device, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: EP3851810A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-07-21.

Fluorescence measurement device and fluorescence measurement method

Номер патента: US20200333250A1. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-22.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12044572B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Oil level measurement apparatus

Номер патента: EP1452839A3. Автор: Angel c/o Nissan Technical Centre EU S.A. Palomo,Fernando c/o Nissan Technical Centre Trapero. Владелец: Nissan Technical Centre Europe Ltd. Дата публикации: 2005-10-19.

Groundwater level elevation measurement method, groundwater storage measurement system, and application

Номер патента: US12044610B1. Автор: XU Wang,Hongyue Sun. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-23.

Length Measuring Apparatus

Номер патента: US20220170728A1. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2022-06-02.

Length measuring apparatus

Номер патента: US11852469B2. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Arrangement Having a Measuring Apparatus for a Scanning Probe Microscope, Scanning Probe Microscope, and Method for Operating

Номер патента: US20220244287A1. Автор: Torsten Jähnke,Frederik BÜCHAU-VENDER,Marian SCHÜCKER. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2022-08-04.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US20150338206A1. Автор: Sang-hyun Park,Sangwook Park,Taekyu SON,Sangdon Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-11-26.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: EP3111198A1. Автор: Chulwoo PARK,Yeekyeong JUNG,Sunghwa Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-01-04.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: US20170059466A1. Автор: Chulwoo PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-03-02.

Color measuring apparatus

Номер патента: US12025493B2. Автор: Tatsuya Shirane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Surface profile measuring apparatus, method of measuring surface profile, and method of manufacturing optical element

Номер патента: US20110141482A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-16.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: WO2010137453A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-12-02.

Optical comb measuring apparatus

Номер патента: US20240255423A1. Автор: Takao Sakurai. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Semiconductor type differential pressure measurement apparatus and method for manufacturing the same

Номер патента: US5375473A. Автор: Tetsuya Watanabe,Hideo Tsukamoto,Kyoichi Ikeda,Satoshi Fukuhara,Takahiro Kudo,Kouji Nagai. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 1994-12-27.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20030084582A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-08.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12085449B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Fringe information measuring apparatus and substrate treating system including the same

Номер патента: US12097696B2. Автор: Han Lim KANG,Won Yong JIN,Jae Duck Lee,Suk Won Jang. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240302208A1. Автор: Masaki Ito,Katsumi Yamada,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: US20240310158A1. Автор: Peter Qui,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Distance measuring apparatus and light emitting device for distance measurement

Номер патента: US20240345222A1. Автор: Daisuke Iguchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-17.

An ultrasonic measuring apparatus for inline measuring the homogenizing degree of a fluid product in a dispersing unit

Номер патента: EP4441484A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: GEA Mechanical Equipment Italia SpA. Дата публикации: 2024-10-09.

Position measurement system and position measurement method

Номер патента: US12025422B2. Автор: Haruki Mori,Junpei Yamaguchi,Masanobu TSUTSUI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Multi-head measuring apparatus and measuring point automatic allocation method thereof

Номер патента: US11300401B2. Автор: Min Li,Min Qiu,Zhiwei Yu. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-12.

Ultrasonic measurement system and measurement method thereof

Номер патента: US09976885B2. Автор: Shuguang Zhang,Jinhui Huang,Xiongbing Kang. Владелец: AUDIOWELL ELECTRONICS (GUANGDONG) Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Deflection mirror arrangement for optical measurement apparatus having drive unit between parallel transmitting mirrors and corresponding optical measurement apparatus

Номер патента: US09964758B2. Автор: Heiner Bayha,Thomas Schuler,Peter Horvath. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2018-05-08.

Disease diagnosis and skin age measurement apparatus using laser irradiation device and detachable handpiece used in the same

Номер патента: US09907472B2. Автор: Sung Hyun Pyun,Wanki MIN. Владелец: Speclipse Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US09874435B2. Автор: Sang-hyun Park,Sangwook Park,Taekyu SON,Sangdon Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-23.

Shape measurement apparatus and method

Номер патента: US09791266B2. Автор: Joong-Ki Jeong,Min-Young Kim,Seung-Jun Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-10-17.

Target material thickness measuring apparatus

Номер патента: US09778024B2. Автор: Liang Peng,Daeyoung Choi,Deyong Wang,Yefa Li,Congqi Zheng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Shape measurement apparatus and method

Номер патента: US09739605B2. Автор: Joong-Ki Jeong,Min-Young Kim,Seung-Jun Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-08-22.

Measurement apparatus

Номер патента: US09726595B2. Автор: Hiroshi Tsuchiya,Kimiko Kazumura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-08-08.

Ranging measurement apparatus, methods, and systems

Номер патента: US09709693B2. Автор: Burkay Donderici,Akram AHMADI KALATEH AHMAD. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Ring laser measurement apparatus and method

Номер патента: US09683831B2. Автор: John W. Palmateer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-06-20.

Thickness measurement apparatus and method thereof

Номер патента: US09625273B2. Автор: Yoshihiro Yamashita,Hidehiko Kuroda,Akio Sumita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Static gel strength measurement apparatus and method

Номер патента: US09612232B2. Автор: David Hoffman,Grafton Montgomery,Guadalupe Hernandez Serafin. Владелец: OFI Testing Equipment Inc. Дата публикации: 2017-04-04.

Three-dimensional shape measurement apparatus and control method thereof

Номер патента: US09599462B2. Автор: Toshihiro Kobayashi,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: RU2330252C2. Автор: Томас ФЕССЕЛЕ,Ханс-Мартин ХОХЕНБЕРГЕР,Винфрид КУНТ,Томас ФЕССЕЛЕ (DE),Ханс-Мартин ХОХЕНБЕРГЕР (DE),Винфрид КУНТ (DE). Владелец: Роберт Бош Гмбх. Дата публикации: 2008-07-27.

Tread depth measuring system

Номер патента: US9921133B2. Автор: Chia-Yen Lee. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Stress measuring apparatus

Номер патента: US3956926A. Автор: Oliver V. Phillips. Владелец: Individual. Дата публикации: 1976-05-18.

Lubrication film thickness measuring system and method

Номер патента: CA1304129C. Автор: Dennis W. Smith. Владелец: Honeywell Inc. Дата публикации: 1992-06-23.

Light environment measuring system suitable for measuring in the forest

Номер патента: US20050219517A1. Автор: Takafumi Tanaka,Takeshi Ohta. Владелец: Nagoya University NUC. Дата публикации: 2005-10-06.

Reflection characteristic measurement system

Номер патента: US10288564B2. Автор: Shinji Yamamoto,Yasushi Goto,Yasutaka Tanimura,Yusaku Kawahara,Takuma MORIKAWA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-05-14.

Measurement apparatus, measurement instruction apparatus, measurement system, and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US10852750B2. Автор: Takayuki Ishida,Takashi Iwakura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-12-01.

Measurement apparatus, measurement instruction apparatus, measurement system, and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US20190171237A1. Автор: Takayuki Ishida,Takashi Iwakura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Airtight box for measurement, airtight apparatus, measurement system and measurement apparatus

Номер патента: US20210166829A1. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-06-03.

Vacuum measurement system and storage and conveying equipment

Номер патента: AU2022349393A1. Автор: Sheng Huang,Haibin Hu,Fengwei Liu,Yuanxin He,Hai Lu,Zhengxian HUANG,Changle LV,Zhenyan XIONG,Weiguo Xu,Jinhua FEI. Владелец: CRRC Yangtze Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Airtight box for measurement, airtight apparatus, measurement system and measurement apparatus

Номер патента: US11942231B2. Автор: Takeshi Ozawa,Koichiro Ito,Tetsuya Ozawa. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: EP3994448A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2022-05-11.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: WO2021001277A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2021-01-07.

Torque measuring apparatus using magnetic bodies

Номер патента: US20150053024A1. Автор: Tae Hun KANG,Jeon II MOON. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2015-02-26.

Distance measurement methods and apparatus

Номер патента: EP2890998A1. Автор: Yuri Gusev. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2015-07-08.

X-Ray Fluorescence Measurement Apparatus

Номер патента: US20210018453A1. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: EP4182671A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-05-24.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: WO2022013578A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Atmospheric pressure measuring apparatus and method of measuring atmospheric pressure

Номер патента: US20090288491A1. Автор: Yoshitaka Suzuki,Takahiro Imamura,Shinji Koganezawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-11-26.

Neurotransmitter concentration measuring apparatus for providing second derivative-based neurotransmitter concentration measurement result of fast-scan cyclic voltammetry data and method thereof

Номер патента: US20230375502A1. Автор: YUN Ho Jeong,Ji Woong Choi,Yong Seok Oh,Seong Tak Kang,Jeong Rak PARK. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-11-23.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20210131791A1. Автор: Masahiro Kawai,Yoshitaka Tsuboi,Shohei Tsukamoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

A weight measuring apparatus

Номер патента: EP4403887A1. Автор: Yu-Min Tsao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-24.

Length measurement apparatus

Номер патента: US20110148397A1. Автор: Josef Siraky,Florian Grieshaber. Владелец: SICK STEGMANN GMBH. Дата публикации: 2011-06-23.

Material property measuring apparatus

Номер патента: US20150090885A1. Автор: Yasushi Ichizawa,Naomichi Chida,Kazuki SETSUDA,Kumiko Horikoshi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2015-04-02.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US20170059316A1. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-02.

Access area measurement apparatus

Номер патента: US5212890A. Автор: Glen W. White,R. Mark Mathews. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-05-25.

Collision reaction force measurement apparatus

Номер патента: US20060070431A1. Автор: Shigeo Ishikawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-04-06.

Distance Measurement Methods and Apparatus

Номер патента: US20140063482A1. Автор: Yuri P. Gusev. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2014-03-06.

Gas concentration measuring apparatus with failure monitor

Номер патента: EP1582726A3. Автор: Tomoo Kawase,Eiichi Kurokawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2011-08-17.

Force measuring apparatus

Номер патента: US20080190216A1. Автор: Hideo Morimoto. Владелец: Nitta Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Weight measuring apparatus

Номер патента: AU2023285855A1. Автор: Yu-Min Tsao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-08.

Contour accuracy measuring system and contour accuracy measuring method

Номер патента: US20200326185A1. Автор: Yu-Sheng Tseng,Tsung-Yu Yang,Chien-Yi Lee,Po-Hsun Wu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-10-15.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US9823069B2. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-21.

Biological sample measurement apparatus

Номер патента: US20130323124A1. Автор: Akio Nagao,Hiroyuki Hamamoto,Masumi Aono. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: AU2007216862A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: US20080068585A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-03-20.

Mapping-measurement apparatus

Номер патента: US20050088656A1. Автор: Hiroshi Tsukada,Noriaki Soga,Jun Koshoubu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2005-04-28.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US6128083A. Автор: Asahiko Nogami. Владелец: Sony Precision Technology Inc. Дата публикации: 2000-10-03.

Measuring apparatus

Номер патента: US20110011173A1. Автор: Bing-Jun Zhang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Light measurement apparatus

Номер патента: US20150124249A1. Автор: Naoharu Yanagawa. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

Single-axial precision measuring apparatus

Номер патента: US20050022607A1. Автор: Cheng-Fu Hsiao. Владелец: Barmu Tech Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Heating resistor type fluid rate measuring apparatus and control device of internal combustion engine having the tlow measuring apparatus

Номер патента: US20060277983A1. Автор: Shinya Igarashi,Kiichi Otaka,Takeshi Morino,Yasunobu Kojima,Yasuji Nishi,Chihiro Kobaysahhi. Владелец: Hitachi Car Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-14.

Component measurement apparatus

Номер патента: US20110216308A1. Автор: Hitoshi Hara,Shin-ichiro Tezuka. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2011-09-08.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240310519A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Radiation intensity measurement apparatus for nucleonic level or density gauge

Номер патента: WO2017199027A1. Автор: Stephen John Roe,Benjamin Metcalfe,Paul Bryan STOREY. Владелец: JOHNSON MATTHEY PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2017-11-23.

Neurotransmitter concentration measuring apparatus for simultaneously providing long time measuring results of concentration for various neurotransmitter based on fast-scan cyclic voltammetry and method thereof

Номер патента: US20240296962A1. Автор: YUN Ho Jeong,Eun Ho Kim,Ji Woong Choi,Seong Tak Kang. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-09-05.

Gas measurement apparatus

Номер патента: US20240361236A1. Автор: Yumiko Sugiyama,Yasuo Sakamaki,Saki KOBAKO,Kentaro Tezuka,Shigeo Uneme. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Optical measurement apparatus, optical measurement adapter and method of optical measurement

Номер патента: US20240353261A1. Автор: Chao-Ching Chen,Hsiao I LIN,Yi Hsueh LIN. Владелец: Amtran Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B1. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292A. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2023-06-29.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B9. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-02-23.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09984453B2. Автор: Toru Sugiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Position measurement apparatus

Номер патента: US09983310B2. Автор: Yutaka Miki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Method for measuring level of material level measuring apparatus

Номер патента: US09958309B2. Автор: I-Chu Lin,Liang-Chi CHANG,Chun-Han HUANG. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Method of measuring biological sample properties and biological sample property measuring apparatus

Номер патента: US09952169B2. Автор: Moon Chul Lee,Duck Hwan Kim,In Sang Song,Jea Shik Shin,Sang Uk Son,Ho Soo Park,Seong Chan Jun. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2018-04-24.

Macro-micro composite grating ruler measuring system and measuring method using same comprising a macro-scale reading module, a micro-scale reading module and a measuring reference line

Номер патента: US09945698B2. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Meng Wang,Zhijun Yang,Youdun Bai,Haidong YANG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-04-17.

Profile measuring apparatus, structure manufacturing system, method for measuring profile, method for manufacturing structure, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09891043B2. Автор: Hiroshi Aoki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US09823069B2. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-21.

Measuring apparatus and support mechanism of columnar work piece

Номер патента: US09810516B2. Автор: Tomomitsu SUGAWARA,Hirotada Anzai,Monya FUJIWARA. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

End play measurement apparatus

Номер патента: US09791349B2. Автор: Michinori Hashimoto,Hideo Terasawa,Shinsaku Maeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Distance measuring apparatus using laser light

Номер патента: US09753125B2. Автор: Makoto Masuda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-05.

Three dimensional measurement apparatus, control method therefor, information processing apparatus, control method therefor, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US09733072B2. Автор: Nobuaki Kuwabara,Tetsuri Sonoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US09651663B2. Автор: Kenichi Komiya,Daisuke Ishikawa. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Scintillator plate, radiation measuring apparatus, radiation imaging apparatus, and scintillator plate manufacturing method

Номер патента: US09625586B2. Автор: Junichi Kaneko,Mikio Higuchi,Kenji Izaki,Takehiro Shimaoka,Youichi Tsubota. Владелец: JAPAN ATOMIC ENERGY AGENCY. Дата публикации: 2017-04-18.

Measurement apparatus and wood processing system with such a measurement apparatus

Номер патента: US09541569B2. Автор: Hans Hundegger. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-10.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: CA2982101C. Автор: Hironao Yamaji,Jun Umemura. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-09-24.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US11948321B2. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-04-02.

Distance measurement apparatus and distance measurement system

Номер патента: EP4109129A1. Автор: HIROYUKI Satoh,Taku Amada. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-28.

Elongation measuring apparatus, elongation measurement system, and non-transitory medium

Номер патента: US9014482B2. Автор: Kouji Kouno. Владелец: Tsubakimoto Chain Co. Дата публикации: 2015-04-21.

Optical measurement apparatus and optical measurement system

Номер патента: US8842285B2. Автор: Kazuhiro Gono. Владелец: OLYMPUS MEDICAL SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2014-09-23.

Measuring device, position identifying system, measuring system, and monitoring system

Номер патента: US20240151827A1. Автор: Yousuke KOUTSUKA. Владелец: Pioneer Smart Sensing Innovations Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Measuring apparatus and measuring system for measuring and processing environmental conditions of a given region

Номер патента: WO2013136100A2. Автор: Jozsef Kolossa,Tamás PERÉNYI,György HILD. Владелец: BUDAPESTI MUSZAKI ES GAZDASAGTUDOMANYI EGYETEM. Дата публикации: 2013-09-19.

Object-based short range measurement method, device and system, and storage medium

Номер патента: US20220343532A1. Автор: Ran Meng,Haitao Zhu,Zhao Sun,Qiwei Xie,An JIANG,Feng CUI. Владелец: Beijing Smarter Eye Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

ELECTRONIC TICKET STORAGE APPARATUS AND ELECTRONIC TICKET CHECKING SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20130126609A1. Автор: LI Zheng,Yue Zuhui. Владелец: China Mobile Communications Corporation. Дата публикации: 2013-05-23.

STORAGE SYSTEM, STORAGE APPARATUS, CONTROL METHOD OF STORAGE SYSTEM, AND COMPUTER PRODUCT

Номер патента: US20140297947A1. Автор: Tamura Masahisa. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2014-10-02.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20210234779A1. Автор: Toru Okugawa,Hidetaka NISHIHARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-07-29.

Gain profile measuring method and system and gain profile controlling method and system

Номер патента: US7009693B2. Автор: Koji Goto,Toshio Kawazawa,Kiyoaki Takashina. Владелец: KDDI Submarine Cable Systems Inc. Дата публикации: 2006-03-07.

Communication terminal measurement system, communication terminal measurement apparatus, and communication terminal test method

Номер патента: US20210243759A1. Автор: Daiki Kano,Yuki Naruse,Toru Yamasaki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Time-division multiplexing-based multi-channel electrocardiogram measurement apparatus robust against power line interference and electrocardiogram measurement method using the same

Номер патента: US20240120938A1. Автор: Jae Yoon Sim,Kyu Jin Choi. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2024-04-11.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200127776A1. Автор: Hidetoshi Suzuki,Lilei Wang,Shotaro MAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2020-04-23.

Measurement apparatus, program, recording medium, and measurement method

Номер патента: US20110022341A1. Автор: Koji Asami. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Brightness measurement apparatus, brightness measurement method, brightness measurement program, and camera system

Номер патента: US20240244331A1. Автор: Ikuko Komura. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Ear model, head model, and measuring apparatus and measuring method employing same

Номер патента: US09949670B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Communication-quality measuring apparatus, communications terminal device, communication-quality measuring method, and computer program

Номер патента: US20090185504A1. Автор: Masanobu Morinaga,Noriyuki Fukuyama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-07-23.

Communication quality measuring apparatus and communication quality measuring method

Номер патента: US20140135043A1. Автор: Katsuyuki Masuda,Takahiro Kawaguchi,Yutaka Hamada,Hiromitsu Kawai,Yuki Shinada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-05-15.

Biological information measurement method and apparatus with variable cutoff frequency low pass filter

Номер патента: US09717463B2. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Biological information measurement method and apparatus with variable loop filter

Номер патента: US09717462B2. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Systems and methods for gain and offset control

Номер патента: US09647646B2. Автор: Le Nguyen Luong,Rajapaksa Senaratne,Koorosh Akhavan,Eunmo Kang. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Sensor for aerosol generation apparatus, aerosol generation apparatus and temperature measurement apparatus

Номер патента: EP4223161A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

System and method for exchanging data in a real-time data communication system

Номер патента: US20210160098A1. Автор: Jeroen Van Den Keybus. Владелец: National Instruments Belgium NV. Дата публикации: 2021-05-27.

System and method for exchanging data in a real-time data communication system

Номер патента: WO2019201879A1. Автор: Jeroen Van Den Keybus. Владелец: TRIPHASE NV. Дата публикации: 2019-10-24.

Hybrid in-band same frequency full-duplex and offset-frequency full-duplex wireless communication

Номер патента: EP3878133A1. Автор: Assaf Touboul,Gideon Shlomo KUTZ,Haim Mendel Weissman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-09-15.

Hybrid in-band same frequency full-duplex and offset-frequency full-duplex wireless communication

Номер патента: WO2020096764A1. Автор: Assaf Touboul,Gideon Shlomo KUTZ,Haim Mendel Weissman. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2020-05-14.

Clock and data recovery using receiver clock spread spectrum modulation and offset compensation

Номер патента: US09774441B2. Автор: Mark A. Horowitz,Brian S. Leibowitz,Hae-Chang Lee,Jade M. Kizer,Thomas H. Greer, III. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2017-09-26.

Susceptor for vapor generation apparatus, vapor generation apparatus, and temperature measurement apparatus

Номер патента: US20230363463A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

MEASUREMENT APPARATUS AND Non-PSC CONNECTION METHOD THEREFOR

Номер патента: US20240276328A1. Автор: Kazuyuki Koike,Yasuko Uda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus

Номер патента: US20140362262A1. Автор: Akinari Takagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-12-11.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

System and method for managing measurement apparatuses

Номер патента: US20040024783A1. Автор: Chih-Kuang Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory storage medium storing optical measurement program

Номер патента: US20240319486A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Trusted measurement method and apparatus, computer device, and readable medium

Номер патента: EP4418115A1. Автор: Liang Wang,Jianjun Liu,Min Zhang,Jia Zhou,Hu TAN,Zhihong XUE,Qu CAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Measurement apparatus, measurement method and apparatus for generating a data processing model

Номер патента: EP4350604A1. Автор: Thomas Engel,Mark DETHLEFSEN. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2024-04-10.

Measurement apparatus, measurement method and apparatus for generating a data processing model

Номер патента: WO2024074435A1. Автор: Thomas Engel,Mark DETHLEFSEN. Владелец: Siemens Healthineers AG. Дата публикации: 2024-04-11.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US6826002B2. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-11-30.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US20020135913A1. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-09-26.

Stroke information measuring apparatus and stroke information measuring method

Номер патента: EP1398060B1. Автор: Takahiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. MURAKOSHI,Yuuichi c/o Hamamatsu Photonics K.K. KIMURA,Takehiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. KURONO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-08-03.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09665018B2. Автор: Masatoshi Endo,Takanori Morooka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09606461B2. Автор: Tadaki MIYAZAKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Apparatus and method for avoiding a degradation of an optical used surface of a mirror module, projection system, illumination system and projection exposure apparatus

Номер патента: US20240319621A1. Автор: Moritz Becker,Julian Kaller,Arnoldus Jan Storm. Владелец: NEDERLANDSE ORGANISATIE VOORTOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO. Дата публикации: 2024-09-26.

Measurement system, measurement apparatus, measurement data processing method, and measurement data processing program

Номер патента: US20240355479A1. Автор: Takeshi Tanaka,Daisuke Fukui,Hiromitsu Nakagawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Power measurement apparatus and power measurement method

Номер патента: US09753829B2. Автор: Haruhiko Ueno,Mari Masuda,Atsushi Takami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Physical Property Measuring Method for TFT Liquid Crystal Panel and Physical Property Measuring Apparatus for TFT Liquid Crystal Panel

Номер патента: US20120242353A1. Автор: Takashi Kurihara,Kunihiko Sasaki,Masaru Inoue,Yasuhiro Kume. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2012-09-27.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240272560A1. Автор: Seong Yun CHOI,Hyo Sik HAM. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Object motion measurement apparatus, object motion measurement method, and imaging apparatus

Номер патента: US20240303829A1. Автор: Kazuya Okamoto,Kazuhiko Fukutani,Ryuichi Nanaumi. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Exercise information measurement apparatus, exercise management method, and exercise management program

Номер патента: US20180021658A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-01-25.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20150238163A1. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

Position measuring method, misplacement map generating method, and inspection system

Номер патента: US09645488B2. Автор: Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

A system and method for trap address mapping for fault isolation

Номер патента: EP1038227A1. Автор: Vincent J. Zimmer. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2000-09-27.

A system and method for trap address mapping for fault isolation

Номер патента: WO1999031591A1. Автор: Vincent J. Zimmer. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 1999-06-24.

Overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230324811A1. Автор: Jin Woo Park,Hyeon Gi Shin,Bo Kyung RYU,Jung Sun KO. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Device, system and method for determining one or more hemodynamic parameters of a subject

Номер патента: EP4413919A1. Автор: Eduard Gerard Marie Pelssers,Rene Martinus Maria Derkx,Jens Muehlsteff,Ralph Wilhelm Christianus Gemma Rosa WIJSHOFF,Lars Schmitt,Maria Estrella Mena Benito,Valentina-Geta DAVIDOIU. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2024-08-14.

Device, system and method for determining one or more hemodynamic parameters of a subject

Номер патента: WO2024165321A1. Автор: Eduard Gerard Marie Pelssers,Rene Martinus Maria Derkx,Jens Muehlsteff,Lars Schmitt,Maria Estrella Mena Benito,Valentina-Geta DAVIDOIU,Ralph Wilhelm Christianus Gemma WIJSHOFF. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.. Дата публикации: 2024-08-15.

Biological information measurement apparatus, biological information measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US09978144B2. Автор: Munenori Fukunishi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Composition for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, ultrasonic endoscope, and method for manufacturing acoustic wave probe

Номер патента: US20240279472A1. Автор: Yoshihiro Nakai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Resin material for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, and ultrasound endoscope

Номер патента: US20190380680A1. Автор: Yuzo Nagata,Yoshihiro Nakai,Shigeki Uehira,Toshihide Yoshitani. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-12-19.

System and method for determining a structure within a software kernel using an offset and an element

Номер патента: US20040168161A1. Автор: Alan Hargreaves. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2004-08-26.

Composition for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, ultrasonic endoscope, and method for manufacturing acoustic wave probe

Номер патента: US20240327640A1. Автор: Yoshihiro Nakai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Remote control measuring system

Номер патента: US6009381A. Автор: Kenji Ono. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 1999-12-28.

Portable skin condition measuring apparatus, skin condition care system including the same, and skin condition care method

Номер патента: US20220401014A1. Автор: Chang Hee Han,Deug Ki LEE. Владелец: Gpower Inc. Дата публикации: 2022-12-22.

Coordinate offset adjustment system and coordinate offset adjustment method

Номер патента: US20050163022A1. Автор: Toshimitsu Kawasaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2005-07-28.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US7024333B2. Автор: Rudolf Rögele,Dieter Kalmbach. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-04-04.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20030108345A1. Автор: Hideo Yoshida,Yoshikazu Mihara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-06-12.

Coordinate measuring apparatus for measuring input position of a touch and a coordinate indicating apparatus and method thereof

Номер патента: US09927938B2. Автор: Sung-soo Park,Byung-Jik Kim,Gwan-Hyung Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-27.

Methods for configuring and operating a thermal energy storage system and thermal energy storage system

Номер патента: EP4007939A1. Автор: Niels PAGELSEN,Jan Rudolf Eggers,Alexander Zaczek,Sergey Yashchenko,Tom Westermann. Владелец: Siemens Gamesa Renewable Energy GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-06-08.

Methods for configuring and operating a thermal energy storage system and thermal energy storage system

Номер патента: WO2021048118A1. Автор: Niels PAGELSEN,Jan Rudolf Eggers,Alexander Zaczek,Sergey Yashchenko,Tom Westermann. Владелец: Siemens Gamesa Renewable Energy GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2021-03-18.

Sequence similarity measuring apparatus and control method thereof

Номер патента: US20090287755A1. Автор: Dong Hoon Lee,Jung Hoon Kim,Jae Kwang Kim,Kwang Ho Yoon,Jee Hyong Lee,Kun Su Kim,Seung Hoo Lee,Tae Bok Yoon,Dong Moon Kim,Je Hee Jung. Владелец: Sungkyunkwan University Foundation For Corporate Collaboration. Дата публикации: 2009-11-19.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09733578B2. Автор: Satoshi Maruyama,Akihito Hashimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Optical Property Measurement Apparatus and Optical Property Measurement Method, Exposure Apparatus and Exposure Method, and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20080043236A1. Автор: Toru Fujii,Yasushi Mizuno,Koji Kaise. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2008-02-21.

Biological information measurement system

Номер патента: US20220304627A1. Автор: Hirofumi Morise,Kiwamu Kudo,Yoshihiro MISAKA. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-29.

Measurement apparatus and exposure apparatus

Номер патента: US8184263B2. Автор: Yasunori Furukawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-05-22.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US20020091497A1. Автор: Otto Ruck. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2002-07-11.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: EP1362217A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audio Development Informationsteknik I Malmo AB. Дата публикации: 2003-11-19.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: WO2002070986A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audiodev Aktiebolag. Дата публикации: 2002-09-12.

Measurement system, timepiece, measurement result display method, measurement result display program, measuring apparatus, measurement result indication method, and measurement result indication program

Номер патента: US20180188696A1. Автор: Hiroyasu Mimura,Atsushi Kondo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-07-05.

Physiological parameter measuring apparatus and physiological parameter measuring system

Номер патента: US10335071B2. Автор: Kazumasa Ito,Hiroko Hagiwara,Norihiko Sugihara,Rie Muneshima,Osamu Kamataki. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2019-07-02.

Ophthalmological measuring device and measurement method

Номер патента: US20110304822A1. Автор: Christian Rathjen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-12-15.

Cascade type energy storage system, light storage system, wind storage system and wind and light storage system

Номер патента: CN217824284U. Автор: 梁信信,杨春源,谢方南. Владелец: Sungrow Power Supply Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-15.

Blocking energy-storage wall module, cooling and heating circulation system and fabricated structure

Номер патента: CN207262524U. Автор: 宋波,李艳杰. Владелец: National Security (beijing) Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-20.

A kind of solar energy storage based on coal gasification and utilize system and method

Номер патента: CN107201251A. Автор: 张纯,杨玉,高炜,李红智,姚明宇,吴帅帅. Владелец: Xian Thermal Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Bypass energy storage device for electronically controlled hydraulic braking system and control method thereof

Номер патента: US20230211762A1. Автор: Zheng Wu,Jie Ji,Peidong KANG,Zhaoyong LIU,Qindong Gu. Владелец: GLOBAL TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-06.

System and method for measuring the parameters of the flow of a multiphase and/or multicomponent fluid extracted from a petroleum and gas borehole with controlled change therein

Номер патента: RU2764056C1. Автор: Бертран Тевени,Николай Федорович Тарелко,Иван Витальевич Врабие,Денис Евгеньевич Сыресин,Жан-Филипп ХУССЕНЕ,Виктор Викторович Корнеев,Ермек Талгатович КАИПОВ,Хамид ХАДЖУБИ. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2022-01-13.

Biological information measuring apparatus, biological information measuring system, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20210068767A1. Автор: Kiichiro Arikawa,Tadashi SUTO. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

System and method for measuring physiological signal

Номер патента: US20190046060A1. Автор: Chin-Chang Liao. Владелец: Singular Wings Medical Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-14.

Static and dynamic display dispenser for in-line fluid flow with novel accessories, apparatus, system, and a method thereof

Номер патента: US20200156919A1. Автор: Ovid Forest Reichelt,Denis S. Barry. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-05-21.

Tissue composition measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427656A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Dot position measurement method, dot position measurement apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20100079518A1. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2010-04-01.

Eye refractive power measuring apparatus

Номер патента: US4744648A. Автор: Yasuo Kato,Yasufumi Fukuma,Kiwami Horiguchi,Kiichi Kamiyama. Владелец: Tokyo Kogaku Kikai KK. Дата публикации: 1988-05-17.

Measurement system, measurement apparatus, and information processing apparatus

Номер патента: US20220304615A1. Автор: Takanobu Osaka,Hironobu Mifune. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-29.

Pulse measurement apparatus, a method therefor, and a vehicle system therefor

Номер патента: US12127823B2. Автор: Sang Won Lee,Ho Jin Lee,Sang Bum Kim,Nam Woong Hur,Seul Ki Jeon,Gyun Ha Kim,Eung Hwan Kim. Владелец: Nidec Mobility Korea Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Wearable Blood Pressure Measurement Apparatus and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220110531A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Bio-signal measuring apparatus and bio-signal measuring method

Номер патента: US20190167144A1. Автор: Kak Namkoong,Myoung Hoon Jung,Yeol Ho Lee,Won Jong Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-06.

Upper limb multi-joint impedance measurement method and apparatus using the same

Номер патента: US12127841B2. Автор: Sang Hoon KANG,Hyunah Kang,Sung Shin Kim. Владелец: UNIST Academy Industry Research Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Living body optical measurement apparatus, living body optical measurement method, and engagement member for mobile position sensor

Номер патента: US09883825B2. Автор: Takashi Ishizuka,Hirokazu Asaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-02-06.

Rotational intravascular devices, systems, and methods utilizing photoacoustic and ultrasound imaging techniques

Номер патента: US20200297214A1. Автор: Jeremy Stigall,Princeton SAROHA. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2020-09-24.

Rotational intravascular devices, systems, and methods utilizing photoacoustic and ultrasound imaging techniques

Номер патента: WO2017168289A1. Автор: Jeremy Stigall,Princeton SAROHA. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.. Дата публикации: 2017-10-05.

Nucleic acid sequence measuring method, nucleic acid sequence measuring device, manufacturing method for nucleic acid sequence measuring device, and nucleic acid sequence measuring apparatus

Номер патента: US09797003B2. Автор: Takeo Tanaami,Tomoyuki Taguchi,Takashi TADENUMA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Irrigation water amount measurement apparatus, irrigation water amount measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11937558B2. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Biological information measuring apparatus

Номер патента: US20160066796A1. Автор: Hisahiro Matsuhashi,Ryo SHINOZAKI,Katsuaki Sakata,Makoto ANEZAKI. Владелец: UNION TOOL Co. Дата публикации: 2016-03-10.

Phased array intravascular devices, systems, and methods utilizing photoacoustic and ultrasound techniques`

Номер патента: US20230293149A1. Автор: Jeremy Stigall,Princeton SAROHA. Владелец: Philips Image Guided Therapy Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Pantograph-based vehicle guidance system and method

Номер патента: AU2023285875A1. Автор: Timothy Brown,Henry Todd Young,Jeffrey John Wolff,Jennifer Sobierajski,James Ghofulpo,Rekha Doddarangaiah Prasad. Владелец: Transportation IP Holdings LLC. Дата публикации: 2024-08-08.

Ophthalmic measurement apparatus

Номер патента: US20060192920A1. Автор: Masanao Fujieda,Yukinobu Ban. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-31.

Optical rotation measurement method and optical rotation measurement apparatus

Номер патента: US09713441B2. Автор: Akira Ikeda,Kazuhiro Nishida. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Blood pressure measuring apparatus and blood pressure measuring method

Номер патента: US09622667B2. Автор: Hideaki Hirahara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Film-type biomedical signal measuring apparatus, blood pressure measuring apparatus using the same, cardiopulmonary fitness estimating apparatus, and personal authentication apparatus

Номер патента: US20200107744A1. Автор: Hee Chan Kim,Seung Woo NOH,Chi Yul YOON. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2020-04-09.

Biological data measurement device, biological data measurement method, and program

Номер патента: EP3949852A1. Автор: Masayoshi Takahashi. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Measuring apparatus and measuring system

Номер патента: US20170086688A1. Автор: Yuji Masuda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-03-30.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240306917A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Energy storage apparatus, energy storage system, energy storage method, and wind turbine

Номер патента: EP4030053A1. Автор: Feng Wang,Kexin Xu,Yan Liu,Liang BAI,Caisheng ZHANG. Владелец: Xinjiang Goldwind Science and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-20.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000364A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Blood pressure measurement apparatus, method of controlling blood pressure measurement apparatus, and program

Номер патента: US11324454B2. Автор: Hirotaka Wada,Masaaki Kasai,Eriko Kan,Keiichi Obayashi,Ayako Kokubo. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2022-05-10.

Electric reaction measuring apparatus, electric reaction processing method, and recording medium

Номер патента: US11932836B2. Автор: Yumiko Kato,Kiyotaka Tsuji. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Waveform feature value averaging system and methods for the detection of cardiac events

Номер патента: US09943244B2. Автор: Bruce Hopenfeld. Владелец: Angel Medical Systems Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Biological measurement apparatus and biological stimulation apparatus

Номер патента: US09820910B2. Автор: Yukinori Nagatani. Владелец: Okayama Prefectural Government. Дата публикации: 2017-11-21.

Concentration-measurement device and concentration-measurement method

Номер патента: US09808189B2. Автор: Susumu Suzuki,Yasuaki Koyama,Takeo Ozaki. Владелец: St Marianna University School of Medicine. Дата публикации: 2017-11-07.

Heartbeat measuring apparatus, heartbeat measuring method, and recording medium

Номер патента: US09693738B2. Автор: Takeshi Fukuda,Toru Sato,Takuya Sakamoto,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Technique for adjusting measuring system of intra-pipe defectoscope and adjusting device

Номер патента: RU2325635C1. Автор: Александр Максимилианович Попович,Михаил Дмитриевич Косткин,Св тослав Евгеньевич Лисин,Святослав Евгеньевич Лисин. Владелец: Святослав Евгеньевич Лисин. Дата публикации: 2008-05-27.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4190233A1. Автор: Takayuki Sugahara,Shohei Odan. Владелец: JVCKenwood Corp. Дата публикации: 2023-06-07.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020027439A1. Автор: Fumie Shibata,Tamaki Shoji. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-03-07.

A blood flow measuring apparatus

Номер патента: EP1397071A1. Автор: Hans Strandberg. Владелец: St Jude Medical AB. Дата публикации: 2004-03-17.

Measuring apparatus and method and apparatus for determining a leakage of an injection valve

Номер патента: WO2012069317A1. Автор: Cristiano Mannucci. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2012-05-31.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000363A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US20100069764A1. Автор: Hee-Jung Kang. Владелец: Daeyomedi Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-18.

Physiological information measuring apparatus

Номер патента: US09788727B2. Автор: Atsushi Narusawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Biosignal measurement apparatus

Номер патента: US09655541B2. Автор: Seiji Wada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Energy storage apparatus, energy storage system, energy storage method, and wind turbine

Номер патента: AU2020363503B2. Автор: Feng Wang,Kexin Xu,Yan Liu,Liang BAI,Caisheng ZHANG. Владелец: GOLDWIND SCIENCE & TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-09-28.

Energy storage apparatus, energy storage system, energy storage method, and wind turbine

Номер патента: AU2020363503A1. Автор: Feng Wang,Kexin Xu,Yan Liu,Liang BAI,Caisheng ZHANG. Владелец: Xinjiang Goldwind Science and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

Biological information measurement apparatus

Номер патента: US20220071542A1. Автор: Yuki Yagishita,Mao Katsuhara,Kazunari Yoshifuji,Takeshi Ohkawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Golf simulator or measurement apparatus

Номер патента: EP1575678A2. Автор: Brian Mooney,James Hourihan. Владелец: MONTAGUE KENYON Ltd. Дата публикации: 2005-09-21.

Array type skin-conformal sensor for heart rate and body temperature measurement and heart rate and body temperature measurement apparatus

Номер патента: US20220409067A1. Автор: Kunnyun KIM. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2022-12-29.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: EP3600021A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2020-02-05.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2018180787A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corporation. Дата публикации: 2018-10-04.

Flatness-measuring apparatus for measuring the flatness of a metal strip

Номер патента: US12036592B2. Автор: Andreas Kastner,Frank Gorgels. Владелец: SMS group GmbH. Дата публикации: 2024-07-16.

Monitoring apparatus for a motor vehicle, warning device for a vehicle, warning system and method for operating a monitoring apparatus

Номер патента: AU2020357635A1. Автор: Helmut Schroedel,David Wayne Larsen,Mercurio Cicchini. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-05-12.

Dosage unit for delayed release of insecticide, measuring apparatus and device for thereof, and method of its manufacturing

Номер патента: RU2501219C2. Автор: ГУЭЛЬ Эдуард МОНСОНИС,БАРЕА Хорди КОРТЕС,АРНАЛЬ Фредерик ДАЛЬМАУ. Владелец: Эс.Си.ДЖОНСОН ЭНД САН, ИНК.. Дата публикации: 2013-12-20.

Electrocardiogram measurement system comprising patch-type electrocardiogram measurement apparatus

Номер патента: US11872048B2. Автор: Jong Sung Kim,Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,Deok Byeong Chae. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Pulsebeat measurement apparatus

Номер патента: US20180317790A1. Автор: Masahiro Suzuki,Tomoaki Ueda. Владелец: KDDI Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

A blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2001037727B1. Автор: Jozsef Beres,Miklos Illyes Jr. Владелец: Miklos Illyes Jr. Дата публикации: 2001-10-25.

System and method for storing and releasing energy

Номер патента: WO2023212142A1. Автор: Howard S. Mitz. Владелец: Mitz Howard S. Дата публикации: 2023-11-02.

Staged cryogenic storage type supercritical compressed air energy storage system and method

Номер патента: AU2021290222B2. Автор: Haisheng Chen,ZHENG Yang,Liang Wang,Ningning XIE,Xipeng LIN. Владелец: Institute of Engineering Thermophysics of CAS. Дата публикации: 2024-07-11.

Energy storage and retrieval systems and methods

Номер патента: US12037990B2. Автор: Sten Kreuger. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-16.

Tool holder with measuring apparatus

Номер патента: US20220118529A1. Автор: Thomas Grosch. Владелец: HAIMER GMBH. Дата публикации: 2022-04-21.

Intraperitoneal pressure ("ipp") measurement apparatuses and systems

Номер патента: AU2021373621A9. Автор: Sukhraaj Basati,John Sterling Norman,Jorge Augusto Del Castillo,Joanna Rita Yanaga,Chris John Grivas. Владелец: Baxter International Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Blood pressure measurement apparatus and control method for the same

Номер патента: US09895084B2. Автор: Toshihiko Ogura,Hironori Sato,Hiroyuki Kinoshita. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Biosignal measuring apparatus and method of measuring biosignal

Номер патента: US09662032B2. Автор: Byung-Hoon Ko,Tak-Hyung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-30.

Handheld optical measurement apparatus and method of aligning a handheld optical measurement apparatus

Номер патента: GB2619734A. Автор: Taylor Robin,Walaszek Piotr,christopher reynolds James,Jerzy Laszczak Piotr. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Handheld optical measurement apparatus and method of aligning a handheld optical measurement apparatus

Номер патента: WO2023242005A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor,Piotr LASZCZAK,Piotr Walaszek. Владелец: Occuity Limited. Дата публикации: 2023-12-21.

Real-time simultaneous measurement system, real-time simultaneous measurement apparatus, real-time simultaneous measurement method, and storage medium in which program is stored

Номер патента: US8396525B2. Автор: Masaaki Sato,Akihiro Ishikawa,Tatsuya Okabe. Владелец: ATR Advanced Telecommunications Research Institute International. Дата публикации: 2013-03-12.

Electrocardiogram measurement system comprising patch-type electrocardiogram measurement apparatus

Номер патента: US20240099636A1. Автор: Jong Sung Kim,Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,Deok Byeong Chae. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Resinous cover for use in bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020072687A1. Автор: Yoshikazu Yoshida,Ikuo Hakomori. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-06-13.

Thermal energy storage apparatus for an adiabatic compressed air energy storage system and corresponding method of forming this system

Номер патента: EP2507493A1. Автор: Cristina Botero,Matthias Finkenrath,Sebastian W. Freund,Stephanie Marie-Noelle Hoffmann,Miguel Angel Gonzalez Salazar,Clarissa S.K. Belloni. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2012-10-10.

System and method for segregating an energy storage system from piping and cabling on a hybrid energy vehicle

Номер патента: US20080277185A1. Автор: Ajith Kuttannair Kumar,Stephen Pelkowski,Harold Alan Ellsworth. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2008-11-13.

Systems and methods for heat management for cased wellbore compressed air storage

Номер патента: AU2022206018A1. Автор: Sunghyun Park,Roman A. Bilak,Maurice B. Dusseault. Владелец: Cleantech Geomechanics Inc. Дата публикации: 2023-08-17.

Biological information measuring apparatus, non-transitory computer-readable recording medium having stored therein a program for causing a computer to execute a process for measuring biological information, and method for measuring biological information

Номер патента: US12114964B2. Автор: Makoto Yoshizawa,Norihiro Sugita. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2024-10-15.

GAME APPARATUS, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, STORAGE MEDIUM HAVING GAME PROGRAM OR INFORMATION PROCESSING PROGRAM STORED THEREIN, GAME SYSTEM, DELAY MEASUREMENT SYSTEM, IMAGE DISPLAY METHOD, AUDIO OUTPUT METHOD, AND DELAY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120172118A1. Автор: Shimamura Takayuki,Ohta Keizo,Yamazaki Hitoshi. Владелец: NINTENDO CO., LTD.. Дата публикации: 2012-07-05.

Continuous heat-supplying phase change energy storage overlapped type air source heat pump system and operation method thereof

Номер патента: CN104101126A. Автор: 王瑾,曲明璐,王坛. Владелец: UNIVERSITY OF SHANGHAI FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2014-10-15.

Powder metallurgy sintered alloy sample conductivity measurement system and powder metallurgy sintered alloy sample conductivity measurement method

Номер патента: CN104749439A. Автор: 肖文凯,穆迪琨祺,阮学锋,翟显,范桃桃. Владелец: Wuhan University WHU. Дата публикации: 2015-07-01.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND SPECIMEN DISCRIMINATING AND DISPENSING APPARATUS

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Takahashi Toru,Tsukii Ken,Xu Jie. Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

FLOW RATE MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20120000280A1. Автор: KISHIKAWA Naoyuki,URAMACHI Hiroyuki,HIDAKA Shinichiro,Ariyoshi Yuji,TANIMOTO Koji,KAWAI Masahiro. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Generating a Trigger Signal by an EKG Signal as Well as an EKG Measuring Apparatus and a Magnetic Resonance Device

Номер патента: US20120004569A1. Автор: Frank Michael,Rößler Jürgen. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

General-purpose measuring apparatus for animals

Номер патента: RU2307622C1. Автор: Александр Иванович Суров,Василий Васильевич Абонеев. Владелец: Государственное научное учреждение Ставропольский научно-исследовательский институт животноводства и кормопроизводства. Дата публикации: 2007-10-10.

MECHANIC-COMPRESSOR SYSTEM FOR POTENTIAL ENERGY STORAGE, FOR THE ELECTRIC ENERGY GENERATION FOR ELECTRICAL VEHICLES AND/OR WITH COMPRESSED AIR DRIVEN MOTOR, WITHOUT REMOVING POWER FROM THE MOTOR

Номер патента: US20120000722A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Номер патента: US20120001644A1. Автор: Baarman David W.,Stoner,JR. William T.,Schwannecke Joshua K.,VanOss Jeffrey Lee,Gauche Scott A.,Nussbaum Ryan Joseph,VanderStel Nicholas J.. Владелец: ACCESS BUSINESS GROUP INTERNATIONAL LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of measuring linear acceleration in rocket control systems and device to this end

Номер патента: RU2362173C1. Автор: Вадим Иванович Рыбаков,Иван Николаевич Штанов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского". Дата публикации: 2009-07-20.

MEASUREMENT APPARATUS, ENERGY STORAGE APPARATUS, MEASUREMENT SYSTEM, AND OFFSET ERROR MEASUREMENT METHOD

Вам могут быть интересны следующие патенты

Главная

Проекты и услуги

Контакты