Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Beam scanner and surface measurement apparatus

Номер патента: US20100201993A1
Опубликовано: 12-08-2010
Автор(ы): Bae Kyun Kim, Tak Gyum Kim
Принадлежит: Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Semiconductor measurement apparatus

Номер патента: US20240230314A9. Автор: Jinyong Kim,Sungho Jang,Wookrae Kim,Garam CHOI,Jinseob KIM,Daehoon Han,Younguk JIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring apparatus that generates positional deviation distribution of a pattern on a target object

Номер патента: US09659361B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Terahertz signal measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20240230528A1. Автор: Wontae Kim,Namil Koo,Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sungyoon Ryu,Ingi KIM,Sunhong JUN,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Eunhyuk Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200103220A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Interferometric thickness measuring apparatus using multiple light sources coupled with a selecting means

Номер патента: US10890433B2. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

Optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20080316495A1. Автор: Minoru Maeda,Takaaki Hirata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-12-25.

Resolution measurement apparatus and resolution measurement method using the same

Номер патента: US12072259B2. Автор: Jinwook Lee,Sanghui Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Pattern-measuring apparatus and semiconductor-measuring system

Номер патента: US09990708B2. Автор: Takeshi Kato,Hiroyuki Shindo,Norio Hasegawa,Yutaka Hojo,Yasutaka Toyoda,Hitoshi SUGAHARA,Daisuke HIBINO. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Systems and approaches for semiconductor metrology and surface analysis using secondary ion mass spectrometry

Номер патента: US20210305037A1. Автор: David A. Reed,Rodney Smedt,Chris Bevis,Bruno W. Schueler,Bruce H. Newcome. Владелец: Nova Measuring Instruments Inc. Дата публикации: 2021-09-30.

Systems and approaches for semiconductor metrology and surface analysis using secondary ion mass spectrometry

Номер патента: US20200258733A1. Автор: David A. Reed,Rodney Smedt,Chris Bevis,Bruno W. Schueler,Bruce H. Newcome. Владелец: Nova Measuring Instruments Inc. Дата публикации: 2020-08-13.

Systems and approaches for semiconductor metrology and surface analysis using secondary ion mass spectrometry

Номер патента: US20180025897A1. Автор: David A. Reed,Rodney Smedt,Chris Bevis,Bruno W SCHUELER,Bruce H NEWCOME. Владелец: Revera Inc. Дата публикации: 2018-01-25.

Systems and approaches for semiconductor metrology and surface analysis using secondary ion mass spectrometry

Номер патента: US20190385831A1. Автор: David A. Reed,Rodney Smedt,Chris Bevis,Bruno W. Schueler,Bruce H. Newcome. Владелец: Nova Measuring Instruments Inc. Дата публикации: 2019-12-19.

Systems and approaches for semiconductor metrology and surface analysis using secondary ion mass spectrometry

Номер патента: US20180330935A1. Автор: David A. Reed,Rodney Smedt,Chris Bevis,Bruno W. Schueler,Bruce H. Newcome. Владелец: Nova Measuring Instruments Inc. Дата публикации: 2018-11-15.

Systems and approaches for semiconductor metrology and surface analysis using secondary ion mass spectrometry

Номер патента: US20240087869A1. Автор: David A. Reed,Rodney Smedt,Chris Bevis,Bruno W. Schueler,Bruce H. Newcome. Владелец: Nova Measuring Instruments Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Non-contact angle measuring apparatus

Номер патента: US20200397391A1. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-12-24.

Non-contact angle measuring apparatus

Номер патента: US11903755B2. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-20.

Wafer measurement apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240248051A1. Автор: Younghoon Sohn,Souk Kim,Joonseo Song,Jaehyung Ahn,Inseok PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-25.

Folded-beam, low-obliquity beam scanner

Номер патента: US11774737B2. Автор: Brian Wheelwright,Daniel Guenther Greif,Kieran Connor Kelly. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2023-10-03.

Surface property measuring apparatus for polishing pad, surface property measuring method for polishing pad, and surface property judging method for polishing pad

Номер патента: US20240075579A1. Автор: Toshifumi Kimba,Hisanori Matsuo,Nobuyuki Takada,Kohei Ohshima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Optical measurement apparatus

Номер патента: WO2003058689A1. Автор: Ronald Vern Schauer. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2003-07-17.

Wafer carrier measuring apparatus

Номер патента: US20240186163A1. Автор: Kuo-Hua Lee,Ming-Chien Chiu,Chia-Ho CHUANG,En-Nien Shen,Jyun-Ming Lyu,Xin-Yuan Huang. Владелец: Gudeng Precision Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Gas volume measurement apparatus

Номер патента: EP4361592A1. Автор: Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Measuring apparatus and method of wafer geometry

Номер патента: US12072176B2. Автор: An Andrew Zeng. Владелец: Nanjing Zhongan Semiconductor Equipment Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on vortex dichroism

Номер патента: US20240329377A1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-10-03.

Differential dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on polarized vector light beam

Номер патента: US12111453B1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua,Chongliang Zou. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-10-08.

Differential dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on polarized vector light beam

Номер патента: US20240310613A1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua,Chongliang Zou. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-09-19.

Optical velocity measuring apparatus and moving object

Номер патента: US09977044B2. Автор: Azusa Amino,Ryosuke Nakamura,Taishi Ueda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-05-22.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: FI130163B. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2023-03-23.

Optical outer diameter measurement apparatus

Номер патента: US10401151B2. Автор: Ryoichi Imaizumi,Ichirou Taniguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-09-03.

Gas volume measurement apparatus

Номер патента: US20240085231A1. Автор: Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Optical outer diameter measurement apparatus

Номер патента: US20180299257A1. Автор: Ryoichi Imaizumi,Ichirou Taniguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Position measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US11715660B2. Автор: Manabu Takakuwa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-01.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200208962A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Measuring apparatus

Номер патента: US20230213331A1. Автор: Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-07-06.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: AU2023214108A1. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2024-08-29.

Overlay mark forming Moire pattern, overlay measurement method using same, overlay measurement apparatus using same, and manufacturing method of semiconductor device using same

Номер патента: US12107052B2. Автор: Hyun Chul Lee,Hyun Jin Chang. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Substrate weight measurement apparatus, a substrate processing apparatus including the same, and a method of processing a substrate using the substrate processing apparatus

Номер патента: US20230384681A1. Автор: Kuntack Lee,Ji Hwan Park,Sangjine Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

Distance measurement apparatus and biometric authentication apparatus

Номер патента: US20220309692A1. Автор: Katsuji Kimura,Youji Sakioka,Mitsuhiro Iwama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Load measuring apparatus and load measuring method

Номер патента: US09719869B2. Автор: Hideaki Tanaka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Coating Thickness Measuring Apparatus and Method

Номер патента: US20240344822A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Solar cell measuring apparatus

Номер патента: US09825585B2. Автор: Jaewon Chang,Heejin NAM,Hyunjung PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-11-21.

Deposition rate measuring apparatus

Номер патента: US09562798B2. Автор: Hee Dok Choi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Laser measuring apparatus

Номер патента: US5058119A. Автор: Masamichi Suzuki,Masaki Tomiya,Yoshiharu Kuwabara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 1991-10-15.

Electron beam length-measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20030052270A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

Alternating current loss measuring apparatus

Номер патента: US9817051B2. Автор: Takeshi Kawamura,Manabu Aoki,Yukinobu Imamura,Tatsuhiko Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-11-14.

Measurment apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US20190293410A1. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Measurement apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US10866085B2. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-12-15.

Measurement apparatus

Номер патента: US20230140458A1. Автор: Yoshiyuki Suzuki,Junichiro Hayakawa. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-05-04.

Process measurement apparatus and method

Номер патента: US20230350438A1. Автор: Yong Jun Seo,Sang Hyun Son,Sang Min HA,Dong Ok AHN,Hyeong Jun CHO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Electric field measuring apparatus and method of measuring electric field using the same

Номер патента: US12105132B2. Автор: Sungjin Kim,Sunghwi CHO,Sungyeol KIM,Masahiko Yamabe,Sungyong LIM,Meehyun Lim,Jinyeong Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Outer Diameter Measurement Apparatus and Outer Diameter Measurement Method of Electrode Assembly

Номер патента: US20240302162A1. Автор: Min Ki Kim,Hyeok Soon Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Current transmission device for a force measuring apparatus, in particular a weighing apparatus

Номер патента: US20240369400A1. Автор: Alexander Schulzki,Jan Gottfriedsen,Tobias Stellwagen,Bernd Zinke. Владелец: Wipotec GmbH. Дата публикации: 2024-11-07.

Registered multi-layer underground and surface images in land surveys

Номер патента: US09645237B2. Автор: Larry G. Stolarczyk. Владелец: Stolar Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Light wavelength measurement apparatus and method, and light wavelength control device and light-emitting system

Номер патента: EP4414672A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09553462B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Optical Wavelength Measurement Apparatus and Method, Optical Wavelength Control Device, and Light Emitting System

Номер патента: US20240295437A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20170212173A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20170212172A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20160282417A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-29.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20180011147A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-11.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09804229B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09804228B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09645201B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09645199B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Registered multi-layer underground and surface images in land surveys

Номер патента: US20170097440A1. Автор: Larry G. Stolarczyk. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-04-06.

Battery property measurement apparatus

Номер патента: US20210018566A1. Автор: Jin Hyun Lee,Young Joong Kim,Young Su SON. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Battery cell internal pressure measurement apparatus

Номер патента: US20240230444A9. Автор: Kyung-Min Lee,In-Seob HWANG,Chang-Hyun HWANG,Bong-Hyun Jeong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Snow quality measuring apparatus and snow quality measuring method

Номер патента: US20170176587A1. Автор: Yutaka Aoki,Ryuji Murata,Ryuichi Sunagawa,Jin MIKATA. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2017-06-22.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: EP3882660A1. Автор: Hideki Sakamoto. Владелец: Alpine Electronics Inc. Дата публикации: 2021-09-22.

Heating device for spectrometry measurement apparatus

Номер патента: RU2658126C2. Автор: Гийом НЕЗА,Грегори ДЮБУА,Этьенн ФЛЕШ,Лионель ПАФЮМИ,Жан-Пьер ТЬЕРРИ. Владелец: Олит. Дата публикации: 2018-06-19.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12072175B2. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: EP4067842A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-10-05.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: US20230066638A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-02.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20240369347A1. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: WO2014118625A1. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-08-07.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: US09651510B2. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Surface measurement method, component manufacturing method, component inspection method, and component measurement device

Номер патента: US11781861B2. Автор: Shigenobu Maruyama,Kazushi Miyata,Jeremy JONG. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US8502984B2. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-06.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20120019831A1. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-26.

Measurement apparatus and method for controlling measurement apparatus

Номер патента: US20220400964A1. Автор: Hitoshi Tominaga,Shunsuke Imai,Takamasa Ando. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

Single-beam photothermal measurement apparatus and measurement method for absorptive defects

Номер патента: US12099002B2. Автор: QI Lu,Weiwei Wang,Shijie Liu,Jianda SHAO,Tianzhu Xu,Kaizao Ni,Yingjia Li. Владелец: Shanghai Hengyi Optics And Fine Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Sample extracting device and residual solvent measuring apparatus including the same

Номер патента: US20210001328A1. Автор: Sanguk Son,Donghwa LEE,Jaeyong Choi,Daigeon YOON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Gas measurement apparatus

Номер патента: US20240361236A1. Автор: Yumiko Sugiyama,Yasuo Sakamaki,Saki KOBAKO,Kentaro Tezuka,Shigeo Uneme. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Gas measurement apparatus

Номер патента: EP4455638A1. Автор: Yumiko Sugiyama,Yasuo Sakamaki,Saki KOBAKO,Kentaro Tezuka,Shigeo Uneme. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Universal communication system for measurement apparatuses, method of communication relating thereto

Номер патента: US20180077593A1. Автор: Cedric Neveu,Damien PELLETIER,Fabio FURLAN. Владелец: ECOMESURE. Дата публикации: 2018-03-15.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: EP4227737A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Soichi Inoue,Hiroyuki Tanizaki,Kentaro Kasa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Universal communication system for measurement apparatuses, method of communication relating thereto

Номер патента: US10064083B2. Автор: Cedric Neveu,Damien PELLETIER,Fabio FURLAN. Владелец: ECOMESURE. Дата публикации: 2018-08-28.

A fiber concentration profile measuring apparatus

Номер патента: SE1851372A1. Автор: Bengt Akerblom. Владелец: Daprox AB. Дата публикации: 2020-05-06.

Ink droplet volume measuring apparatus and ink droplet volume measuring method using the same, and thin film layer forming apparatus using the measuring apparatus, and manufacturing method of display apparatus using the thin film layer forming apparatus

Номер патента: US20240251648A1. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Measurement apparatus, method for operating a mask-metrology measurement apparatus, and computer program product

Номер патента: US20240255857A1. Автор: Thomas Frank,Ulrich Matejka,Jan Reisloehner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-01.

Distance measuring apparatus, vehicle and method of calibration in distance measuring apparatus

Номер патента: US09866819B2. Автор: Shuichi Suzuki,Mitsuru Nakajima,Motoyasu Murai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240280435A1. Автор: Seung Woo Lee,Jin Woo Ahn,Tae Joong Kim,Seung Ryeol Lee,Myung Jun Lee,Ye Eun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-22.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Method for conducting automated surface inspection and surface correction

Номер патента: US20050180607A1. Автор: Gunther Pabst,Georg Igl,Klaus Horner. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 2005-08-18.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20220317056A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Three dimensional measurement apparatus and three dimensional measurement method

Номер патента: US20120154540A1. Автор: Motomi Tsuyuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-21.

Volume measuring apparatus with multiple buttons

Номер патента: US20210372770A1. Автор: Shu-Ying Huang,Kuo-Chun WANG. Владелец: Champtek Inc. Дата публикации: 2021-12-02.

Measurement apparatus and measurement method using the same

Номер патента: US20240295490A1. Автор: Jaeho Kim,Younghoon Sohn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-05.

Optical member and surface plasmon resonance measuring apparatus

Номер патента: US8665444B2. Автор: Masashi Hakamata. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-03-04.

Optical member and surface plasmon resonance measuring apparatus

Номер патента: JP5351815B2. Автор: 正志 袴田. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-11-27.

Vibration measurement system, vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20210029297A1. Автор: Kazuhito Murata,Masahiko Ohta,Gaku Nakano,Asuka ISHII. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

Bending measurement apparatus, imaging apparatus, projection apparatus and projection imaging apparatus using the same, and bending measurement method

Номер патента: US20200141768A1. Автор: Yoshihito IGUCHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: US11856304B2. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Stock tank water level measuring apparatus and system for monitoring the apparatuses

Номер патента: US20210325229A1. Автор: David Cliff,Curt Goble. Владелец: Wellbot LLC. Дата публикации: 2021-10-21.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: US20210354262A1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Composition for acoustic wave probe, silicone resin for acoustic wave probe, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, and ultrasound endoscope

Номер патента: US12109335B2. Автор: Nobuaki Matsumoto,Yoshihiro Nakai,Shigeki Uehira,Taichi Kitagawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Ultrasonic vibration unit for sediment removal in small-scale irrigation channel flow measuring apparatus

Номер патента: AU2020101456A4. Автор: Xin Zhang,Nan Ye,Hanwen Zhang,Xueqi Ding,Miaoyuan Liang,Xiaoxing YU. Владелец: Nanjing Jinma Intelligence Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Distance measurement apparatus and setting method of transmission condition

Номер патента: US20240295650A1. Автор: Yukimitsu Yamada. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Current measuring apparatus, image forming apparatus, conveyance apparatus and method for measuring current

Номер патента: US09939469B2. Автор: Takeo Seki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A3. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-11-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: EP2507813A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,Dale Stubbs. Владелец: Gigle Networks Ltd. Дата публикации: 2012-10-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-06-09.

Measuring apparatus for solar cell

Номер патента: US20180123510A1. Автор: Teng-Chun Wu,Cho-Fan Hsieh,Hung-Sen Wu,Yean-San Long,Min-An TSAI,Ren-Chin Shr,En-Yun Wang,Chin Lien. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-05-03.

Inertial measurement apparatus and mechanical device

Номер патента: EP3816580A1. Автор: Faquan CHEN. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-05.

Frequency measurement apparatus, microcontroller, and electronic apparatus

Номер патента: US20210405099A1. Автор: Keisuke Hashimoto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-12-30.

Subsea measurement apparatus, method of compressing measurement data and method of providing inter-compatibility between apparatus

Номер патента: AU2022410229A1. Автор: Darryl Newborough,Thomas CULVERHOUSE. Владелец: Sonardyne International Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Subsea measurement apparatus, method of compressing measurement data and method of providing inter-compatibility between apparatus

Номер патента: GB2613652A. Автор: NEWBOROUGH Darryl,Louis Culverhouse Thomas. Владелец: Sonardyne International Ltd. Дата публикации: 2023-06-14.

Color-Measuring Apparatus, Print Control Apparatus, And Print Control Method

Номер патента: US20160142589A1. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-19.

Signal measuring apparatus

Номер патента: US20230258695A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Measurement apparatus, control method for measurement apparatus, and measurement system

Номер патента: US20220373618A1. Автор: Yu Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Noise eliminating apparatus, weight measurement apparatus, method of eliminating noise, and method of designing digital filter

Номер патента: EP1783906A3. Автор: Yukio c/o Ishida Co. Ltd. Wakasa,Naoyuki Aikawa,Makoto c/o Ishida Co. Ltd. Nakatani. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-04.

Signal measuring apparatus

Номер патента: GB2597059A. Автор: White Scott,Price Richard,Ramsdale Catherine,ALKHALIL Feras,SOU Antony. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Temperature measuring apparatus and microwave oven having the same

Номер патента: US20140061190A1. Автор: Jeong-Su Han,Yong Jong Park,Jun hoe Choi,Yeon A. Hwang,Tae Gyoon Noh,Kee Hwan Ka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

Signal measuring apparatus

Номер патента: EP4176235A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-05-10.

Signal measuring apparatus

Номер патента: WO2022008904A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Limited. Дата публикации: 2022-01-13.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US9764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Measuring apparatus

Номер патента: US20200006990A1. Автор: Yuki Yamamoto,Natsuki MIYASHITA,Tomohide TSUKASAKI. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Intelligent measuring apparatus

Номер патента: US12111065B2. Автор: Ulrich Demuth,Manfred Ulrich,Michael Oswald. Владелец: REFCO MANUFACTURING LTD. Дата публикации: 2024-10-08.

Color measurement apparatus and printing apparatus

Номер патента: US09992383B2. Автор: Nozomu HIROKUBO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09866980B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US09764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Measuring apparatus, measurement method, information processing apparatus, and measurement program

Номер патента: US09747681B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Measurement apparatus and method of measuring signal light quality

Номер патента: US09638574B2. Автор: Shoichiro Oda,Tomohiro Yamauchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09618385B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Temperature measuring apparatus and microwave oven having the same

Номер патента: US09591699B2. Автор: Jeong Su Han,Yong Jong Park,Jun hoe Choi,Tae Gyoon Noh,Yeon A Hwang,Kee Hwan Ka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-07.

Telemetry coding and surface detection for a mud pulser

Номер патента: WO2011014761A3. Автор: Caimu Tang,Mark S. Beattie. Владелец: Smith International, Inc.. Дата публикации: 2011-05-05.

Weight measurement apparatus, method of eliminating noise and method of designing digital filter

Номер патента: EP1416631A3. Автор: Tohru Morichi,Yukio Wakasa,Naoyuki Aikawa. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-20.

Alternating current loss measuring apparatus

Номер патента: US20160341778A1. Автор: Takeshi Kawamura,Manabu Aoki,Yukinobu Imamura,Tatsuhiko Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-11-24.

Measurement apparatus, measurement method, and computer readable medium

Номер патента: US10982949B2. Автор: Hitoshi Hara,Kazufumi Nishida,Kazuki SETSUDA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20100245799A1. Автор: Boris KIRILLOV,Dong Ik Shin,Hong Ki Kim,Jung Eun Noh,Back Kue Lee,Joo Hong Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-30.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Stereo distance measuring apparatus, stereo distance measuring method, and computer readable medium

Номер патента: US20180105286A1. Автор: Akihiro Yamane,Akitoshi SAKAGUCHI,Yoichi Onomura. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2018-04-19.

Optical Measuring Apparatuses

Номер патента: US20120105859A1. Автор: Kwang Soo Kim,Chang Hoon Choi,Tae Joong Kim,Young Heo,Byung Seon CHUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-05-03.

Measuring apparatus, method, and program

Номер патента: US20100272321A1. Автор: Isao Kimura,Atsushi Takeuchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-10-28.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product for a stereoscopic display

Номер патента: US20140160469A1. Автор: Yu-Han Chen,Kuen Lee,Kuo-Chung Huang,Ching-Chiu Liao,Wen-Hui Chang,Hoang-Yan Lin,Lang-Chin Lin,Yi-Heng Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-06-12.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: EP4428506A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240302211A1. Автор: Masaki Ito,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: US20240302209A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Color measurement apparatus

Номер патента: EP4428507A1. Автор: Masaki Ito,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12111146B2. Автор: Kunikazu Taguchi,Suguru Irie. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Doubly Resonant Micromechanical Beam Scanners

Номер патента: US20230266581A1. Автор: Olav Solgaard,Jennifer SOLGAARD. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2023-08-24.

Deflection mirror arrangement for optical measurement apparatus having drive unit between parallel transmitting mirrors and corresponding optical measurement apparatus

Номер патента: US09964758B2. Автор: Heiner Bayha,Thomas Schuler,Peter Horvath. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2018-05-08.

Measurement apparatus, storage medium, system and method of manufacturing article

Номер патента: US20230196605A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20100289895A1. Автор: Norihiro Imamura. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-11-18.

Measuring apparatus and method for measuring the temperature of a molten metal bath with an optical device

Номер патента: AU2022332552A1. Автор: Michel Van Vlierberghe,Gert JANSSEN,Luc Vranckx. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2024-03-07.

Grain gloss measurement apparatus

Номер патента: US20210192713A1. Автор: Hisashi Sakamoto,Koshiro Kajiyama. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09766132B2. Автор: Yasuhiro Takase,Hidetoshi Nakanishi,Motohiro Kono,Kazuo Kinose. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Chlorine dioxide gas concentration measuring apparatus

Номер патента: US09551652B2. Автор: Masateru Takimoto,Katsuji HOTTA. Владелец: CSD Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US8462351B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-11.

Material property measuring apparatus

Номер патента: US20150090885A1. Автор: Yasushi Ichizawa,Naomichi Chida,Kazuki SETSUDA,Kumiko Horikoshi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2015-04-02.

Diffractive optical element, distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20120050717A1. Автор: Hideaki Inoue. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US20230258779A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20110043809A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Measuring apparatus and method for measuring the temperature of a molten metal bath with an optical device

Номер патента: US20240361190A1. Автор: Michel Van Vlierberghe,Gert JANSSEN,Luc Vranckx. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2024-10-31.

Docking station for a surface measuring apparatus

Номер патента: US20200132593A1. Автор: Peter Schwarz. Владелец: BYK Gardner USA Inc. Дата публикации: 2020-04-30.

Docking station for a surface measuring apparatus

Номер патента: US11060966B2. Автор: Peter Schwarz. Владелец: BYK Gardner USA Inc. Дата публикации: 2021-07-13.

Measurement apparatus, exposure apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20200264524A1. Автор: Shinichi Egashira. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-08-20.

A measuring apparatus for measuring properties of a surface

Номер патента: WO2016189327A1. Автор: Professor Stuart ROBSON,Ben SARGEANT,Abdul Rahman EL-NOUNU. Владелец: UNIVERSITY COLLEGE LONDON. Дата публикации: 2016-12-01.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240230312A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

A measuring apparatus for measuring properties of a surface

Номер патента: EP3303989A1. Автор: Stuart Robson,Ben SARGEANT,Abdul Rahman EL-NOUNU. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2018-04-11.

Terahertz measuring apparatus and terahertz measurement method for measuring a test object by means of a time-of-flight measurement

Номер патента: US20190331594A1. Автор: Ralph Klose. Владелец: INOEX GmbH INNOVATIONEN und AUSRUESTUNGEN fur DIE EXTRUSIONSTECHNIK. Дата публикации: 2019-10-31.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US12085413B2. Автор: Graham Richard Ferguson,Benjamin Jason Merrifield. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-09-10.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240241041A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Optical interference measuring apparatus and optical interference measuring method

Номер патента: US20220228850A1. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US10816319B2. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada,Osamu YASUHIKO,Hisayuki MATSUI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-27.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US20190011351A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-10.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US10788412B2. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-29.

Optical beam scanner

Номер патента: CA1318530C. Автор: Youji Houki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1993-06-01.

Laser beam scanner and photographic printer using the same

Номер патента: US20010028389A1. Автор: Kozo Mano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-10-11.

Laser beam scanner and photographic printer using the same

Номер патента: EP1175083A3. Автор: Kozo Manzo. Владелец: Noritsu Koki Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-19.

Beam position sensor for a light beam scanner

Номер патента: WO1991006029A1. Автор: David Kessler,Roger Ernest Baldwin. Владелец: EASTMAN KODAK COMPANY. Дата публикации: 1991-05-02.

Optical beam scanner with detector position adjustment means

Номер патента: US4847492A. Автор: Youji Houki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1989-07-11.

Laser beam scanner having an optical path adjustment system

Номер патента: US6803940B2. Автор: Kozo Mano. Владелец: Noritsu Koki Co Ltd. Дата публикации: 2004-10-12.

Light Beam Scanner

Номер патента: US20150378150A1. Автор: Masatoshi Hirono,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-12-31.

Light beam scanner

Номер патента: US9436001B2. Автор: Masatoshi Hirono,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Uniform pressure type three-dimensional pressure bearing surface measuring instrument structure

Номер патента: US20020178834A1. Автор: Yao-Ching Wu. Владелец: AEROSPACE INDUSTRIAL DEVELOPMENT Co Ltd. Дата публикации: 2002-12-05.

Method of calibrating and using a measuring apparatus that performs measurements using a spectrum of light

Номер патента: US09897486B2. Автор: Young-Joo Lee,Chang-Hoon Choi,Tae-Yong Jo,Jong-Jeong KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Measuring apparatus

Номер патента: US09811896B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Apparatus and methods for simultaneous surface acoustic wave and surface plasmon resonance measurements

Номер патента: EP1636569A1. Автор: Andrew Campitelli,Jean-Michel Friedt,Laurent Francis. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2006-03-22.

Measurement apparatus applicable to two-dimensional reconstruction of gas in combustion flow field

Номер патента: US20180245988A1. Автор: Guangyu Wang,Wei Rao,Yanji HONG,Junling SONG. Владелец: Space Engineering University. Дата публикации: 2018-08-30.

Overlay measurement method, semiconductor device manufacturing method using the same, and overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230074537A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Method for calibrating the time axis in time - domain terahertz wave measuring apparatus

Номер патента: EP2545350A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-16.

Detection apparatus and measuring apparatus

Номер патента: US20230288320A1. Автор: Takashi Tajiri. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Measurement apparatus

Номер патента: US10656086B2. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-05-19.

Fluorescence measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US20120286171A1. Автор: Kazuteru Hoshishima. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-15.

Shape measuring apparatus and shape measuring method

Номер патента: US10156435B1. Автор: Rikiya Taniguchi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-12-18.

Optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20090079984A1. Автор: Shinji Shimizu,Yoshiyuki Nagashima,Katsutoshi Tsurutani,Tomohiro Fukamizu. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2009-03-26.

Measurement apparatus

Номер патента: US20190369018A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-12-05.

Coordinate measuring apparatus and method for measuring an object

Номер патента: US09625257B2. Автор: Ralf Christoph,Wolfgang Rauh. Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-04-18.

XRF measurement apparatus for detecting contaminations on the bevel of a wafer

Номер патента: US09541511B2. Автор: Assunta Vigliante. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2017-01-10.

Substrate for the Generation of Surface Plasmons and Surface Plasmon Polaritons by Means of an Excitation Radiation, Method for the Production of the Substrate, and Uses of the Substrate

Номер патента: US20150042990A1. Автор: Yerzhan Ussembayev. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-02-12.

Substrate for the generation of surface plasmons and surface plasmon polaritons by means of an excitation radiation, method for the production of the substrate, and uses of the substrate

Номер патента: US9551648B2. Автор: Yerzhan Ussembayev. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-24.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: WO2018016782A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2018-01-25.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: US20180024037A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-01-25.

Concentration measurement apparatus and concentration measurement method

Номер патента: US20230168192A1. Автор: Takenobu Nakamura,Kakeru ICHIMURA. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Light scattering measuring apparatus and measuring jig

Номер патента: US20220155203A1. Автор: Hiroya Nagasawa,Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

Optical gas concentration measurement apparatus

Номер патента: US20220236173A1. Автор: Stefan Warnke,Eric Wertz,Alex S. Nikittin. Владелец: Advanced Energy Industries Inc. Дата публикации: 2022-07-28.

Fine particle measuring apparatus

Номер патента: US20150253247A1. Автор: Nao Nitta. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Light Measurement Apparatus for Reaction Vessel and Light Measurement Method

Номер патента: US20150218618A1. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2015-08-06.

Water vapor distribution measurement apparatus

Номер патента: US20240151641A1. Автор: Takayoshi Kaneko,Shintaro Ozawa,Naoto Kakuta,Rintaro TAKAGI. Владелец: Tokyo Metropolitan Public University Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Fringe information measuring apparatus and substrate treating system including the same

Номер патента: US12097696B2. Автор: Han Lim KANG,Won Yong JIN,Jae Duck Lee,Suk Won Jang. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Flow rate measurement apparatus, antigen concentration measurement apparatus, flow cell, flow rate measurement method, and antigen concentration measurement method

Номер патента: US09880101B2. Автор: Toru Miura,Tsutomu Horiuchi,Tsuneyuki Haga,Tsuyoshi Hayashi,Yuzuru Iwasaki,Michiko Seyama,Jun-ichi Takahashi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Trace gas measurement apparatus for electrical equipment

Номер патента: US09874497B2. Автор: David Peter Robinson,Christopher Raymond CALVERT,Aidan Owens,Martin Duffy. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-01-23.

Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method

Номер патента: US09869626B2. Автор: Tetsuji Yamaguchi,Tetsuya Mori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Light measurement apparatus, method, program and recording medium

Номер патента: US09846120B2. Автор: Masaichi Hashimoto,Akiyoshi Irisawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Thickness measurement apparatus and method thereof

Номер патента: US09625273B2. Автор: Yoshihiro Yamashita,Hidehiko Kuroda,Akio Sumita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Quantitative texture measurement apparatus and method

Номер патента: US09541537B1. Автор: Wilfred Marcellien Bourg, Jr.,Shahmeer Ali Mirza,Scott Fagan,Ou BAI,Enrique Michel-Sanchez,Scott G. Richardson,Chen C. Shao. Владелец: Frito Lay North America Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

System and method for separating volumetric and surface scattering of optical component

Номер патента: WO2023177778A1. Автор: Jian Xu. Владелец: Meta Platforms Technologies, LLC. Дата публикации: 2023-09-21.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: EP3994448A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2022-05-11.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: WO2021001277A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2021-01-07.

Light measuring apparatus

Номер патента: US20190154583A1. Автор: Kakuro HIRAI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-05-23.

Light measuring apparatus

Номер патента: US10386304B2. Автор: Kakuro HIRAI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-08-20.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20100201987A1. Автор: Takanori IWAWAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-08-12.

Photoacoustic tomography measuring apparatus

Номер патента: WO2011135821A1. Автор: Koichi Suzuki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2011-11-03.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240201072A1. Автор: Hiroshi Ono,Masayuki Tanaka,Kohei Noda,Moritsugu Sakamoto. Владелец: Opt Gate Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Attenuated total reflection measuring apparatus capable of Raman spectral measurement

Номер патента: US11898908B2. Автор: Yoshiko Kubo,Tsutomu Inoue,Kento Aizawa,Masateru USUKI,Daisuke Dogomi. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Optical Rotating Power Measurement Method And Optical Rotating Power Measurement Apparatus

Номер патента: US20080204751A1. Автор: Atsushi Yamada,Yuji Fujisawa,Tomoyuki Fukazawa,Hisashi Masago,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Infrared circular dichroism measurement apparatus

Номер патента: US20230333006A1. Автор: Masaru Shimizu,Jun Koshobu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Flexural-rigidity measuring apparatus and method for measuring flexural rigidity

Номер патента: US20230032653A1. Автор: Masao Omori. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-02-02.

Measuring Apparatus

Номер патента: US20180173851A1. Автор: Francesco Visinoni,Matteo Minuti,Michele Martinelli. Владелец: Milestone SRL. Дата публикации: 2018-06-21.

X-ray ct measuring apparatus and interference prevention method thereof

Номер патента: US20190227004A1. Автор: Kozo Ariga,Masato Kon,Gyokubu Cho,Hidemitsu Asano. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Deformation measuring apparatus and method of evaluating deformation using therof

Номер патента: US20180128758A1. Автор: Yoo Seong Yang,Young Hoon Lee,Young Suk Jung,Ga Hee KIM,Hyun Mi Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-10.

Acoustic-wave measuring apparatus and method

Номер патента: US20150335253A1. Автор: Ryuichi Nanaumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-11-26.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: WO2013168652A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

Optical physical quantity measuring apparatus

Номер патента: US20240295493A1. Автор: Daiki Yasuda,Shota ISSHIKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Raman scattering measuring apparatus and raman scattering measuring method

Номер патента: US20140253918A1. Автор: Keisuke Nose,Yasuyuki Ozeki,Kazuyoshi Itoh. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Optical comb measuring apparatus

Номер патента: US20240255423A1. Автор: Takao Sakurai. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Near-field polarized-light measurement apparatus

Номер патента: EP1715322A3. Автор: Tsutomu Inoue,Fuminori Sato,Yoshihito Narita,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2007-04-11.

Biological sample measurement apparatus

Номер патента: US20130323124A1. Автор: Akio Nagao,Hiroyuki Hamamoto,Masumi Aono. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Mapping-measurement apparatus

Номер патента: US20050088656A1. Автор: Hiroshi Tsukada,Noriaki Soga,Jun Koshoubu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2005-04-28.

Component measurement apparatus

Номер патента: US20110216308A1. Автор: Hitoshi Hara,Shin-ichiro Tezuka. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2011-09-08.

Measurement Apparatus

Номер патента: US20230236116A1. Автор: Hideki Tomita,Tatsuya IKEHARA,Koji Tojo,Tetsuo Furumiya. Владелец: Tokai National Higher Education and Research System NUC. Дата публикации: 2023-07-27.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: EP2847575A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-03-18.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240310279A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Optical concentration measuring apparatus

Номер патента: US20240310276A1. Автор: Hans Martin,Takaaki Furuya,Shota ISSHIKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Biological component measurement apparatus

Номер патента: US12111256B2. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Beam scanner with deflection plate capacitance feedback for producing linear deflection

Номер патента: US3588717A. Автор: Stanley Harrison. Владелец: Kev Electronics Corp. Дата публикации: 1971-06-28.

Measurement apparatus for corrosion inspection

Номер патента: EP4354115A1. Автор: Akihiro Kobayashi,Yuji Nakanishi,Akihide Takami,Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki,Tatsuya Ezaki,Masatoshi Shinomori,Raiki KABUCHI. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Measurement apparatus for corrosion inspection

Номер патента: EP4354116A2. Автор: Akihiro Kobayashi,Yuji Nakanishi,Akihide Takami,Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki,Tatsuya Ezaki,Masatoshi Shinomori,Raiki KABUCHI. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Measurement apparatus for corrosion inspection

Номер патента: EP4354116A3. Автор: Akihiro Kobayashi,Yuji Nakanishi,Akihide Takami,Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki,Tatsuya Ezaki,Masatoshi Shinomori,Raiki KABUCHI. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-06-19.

Surface property inspection apparatus, surface property inspection system, and surface property inspection method

Номер патента: US09638668B2. Автор: Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Surface treatment method of capillary for droplet formation and surface treated capillary, and production method of droplet for microextraction of chemical using thereof

Номер патента: WO2008030070A1. Автор: Ki Hwan CHOI,Du Soo Chung. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY INDUSTRY FOUNDATION. Дата публикации: 2008-03-13.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: EP4182671A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-05-24.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: WO2022013578A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Single body quadruple cylinder tritium measuring apparatus

Номер патента: US20180335414A1. Автор: Xiaowei Zhang,Sabatino Nacson,Jiangrong WU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-11-22.

Measuring apparatus for a liquid handling apparatus for measuring pipetting container, article for said measuring apparatus and corresponding measuring method

Номер патента: US12044691B2. Автор: Burkhardt Reichmuth,Markus Lapczyna,Uwe Dunker,Maik Radke. Владелец: Eppendorf SE. Дата публикации: 2024-07-23.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US20140025300A1. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Sample measuring apparatus, information reading apparatus, and information reading method

Номер патента: EP4439381A1. Автор: Masato Hayashi,Rentaro TAKENAKA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US09513271B2. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Method and system for determining a quality of an abrasive surface preparation of a composite surface using electrical resistance and surface resistivity

Номер патента: US20210055244A1. Автор: Kay Y. Blohowiak,Tyler J. Zimmerman,Eileen O. Kutscha,II Richard A. Miller. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-02-25.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-05.

Particle measuring apparatus, ultrapure water production apparatus having the same, and particle measuring method

Номер патента: US20240255411A1. Автор: Hiroshi Sugawara,Fumio Sudo,Tsukasa Kondo,Fumitaka ICHIHARA. Владелец: Organo Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Robotic inspection devices for simultaneous surface measurements at multiple orientations

Номер патента: US12061173B2. Автор: CHASE David,José APARICIO,Kevin Y. Low,Juan Roberto Mendoza Mora. Владелец: Gecko Robotics Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20230288306A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Fastening assembly for fastening a test device holder to a force-measuring apparatus, force-measuring apparatus having a fastening assembly of this type, test device holder, and slide part for a force-measuring apparatus

Номер патента: US12061175B2. Автор: Michael Wolff. Владелец: Vetter Pharma Fertigung GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-08-13.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic head unit, ultrasonic probe, and ultrasonic imaging apparatus

Номер патента: US09788814B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US09541489B2. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic head unit, ultrasonic probe, and ultrasonic imaging apparatus

Номер патента: US09513263B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Gas concentration measuring apparatus with failure monitor

Номер патента: EP1582726A3. Автор: Tomoo Kawase,Eiichi Kurokawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2011-08-17.

Specific gravity measuring apparatus

Номер патента: US20130086984A1. Автор: Sadanori Kondo. Владелец: Alfa Mirage Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-11.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240230505A9. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240133790A1. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-04-25.

Portable internal friction measuring apparatus and internal friction measurement method

Номер патента: EP4443128A1. Автор: Jian Yin,Wenqing Jia,Yuanfei Li,Xiangbing LIU,Chaoliang XU,Qiwei QUAN,Wangjie QIAN. Владелец: Suzhou Nuclear Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Fine particle measurement apparatus with exhaust purification function

Номер патента: US20070216895A1. Автор: Kenji Watanabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-09-20.

Simulating measurement apparatus and method

Номер патента: US20100127917A1. Автор: Li-Kuang Chen,Chunn-Yenn Lin,Josephs D.S. Deng,Hsien-Kwei Ho. Владелец: National Chung Shan Institute of Science and Technology NCSIST. Дата публикации: 2010-05-27.

Measuring apparatus for the online measurement of at least one property of process liquids at at least two different flow rates for the production of a medical liquid

Номер патента: US20240241069A1. Автор: Patrick BEßLER,Stefan EBERLEIN,Jürgen Schwerdhöfer. Владелец: Vivonic GmbH. Дата публикации: 2024-07-18.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: CA3182555A1. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20150101400A1. Автор: Rentaro Kuroki,Sho Tomita. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-04-16.

Measurement apparatus and method for measuring an energy quantity flow transported by means of a liquefied natural gas flow

Номер патента: US20240240999A1. Автор: Martin OBERLÄNDER,Andreas Ehrlich,Sebastian Friedrich. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2024-07-18.

State quantity distribution measuring apparatus and method of measuring state quantity distribution of sample

Номер патента: US20130174652A1. Автор: Hisataka Nanaumi,Teruko Kawamoto,Misayo Arimura,Yukiko Bitou. Владелец: Unicharm Corp. Дата публикации: 2013-07-11.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: EP3111198A1. Автор: Chulwoo PARK,Yeekyeong JUNG,Sunghwa Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-01-04.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: US20170059466A1. Автор: Chulwoo PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-03-02.

Measurement Apparatus for Measuring a Volume of a Desired Solid Component in a Sample Volume of a Solid-Liquid Slurry

Номер патента: US20180223389A1. Автор: Mark Robert HUBBLE,William John MCCALLUM,Teresa Diane Hayward MCGRATH,William Patrick STAUNTON. Владелец: CURTIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-08-09.

Measuring apparatus

Номер патента: US20110011173A1. Автор: Bing-Jun Zhang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20010015094A1. Автор: Yasunori Konaka. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2001-08-23.

Radiation intensity measurement apparatus for nucleonic level or density gauge

Номер патента: WO2017199027A1. Автор: Stephen John Roe,Benjamin Metcalfe,Paul Bryan STOREY. Владелец: JOHNSON MATTHEY PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2017-11-23.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12092609B2. Автор: Yutaka Matsui,Takafumi Ozeki,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12099033B2. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Sample measuring apparatus, reagent container, and method of measuring sample

Номер патента: US12130300B2. Автор: Tomohiro KUROIWA,Yutaka Kawamoto,Shingo KAIDA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

An ultrasonic measuring apparatus for inline measuring the homogenizing degree of a fluid product in a dispersing unit

Номер патента: EP4441484A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: GEA Mechanical Equipment Italia SpA. Дата публикации: 2024-10-09.

Microchip-type optical measuring apparatus and optical position adjusting method thereof

Номер патента: US09915935B2. Автор: Yosuke Muraki,Fumitaka OTSUKA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Gas measurement apparatus, gas measurement system, gas measurement method, and gas measurement program

Номер патента: US09863932B2. Автор: Yasuhiro Kasahara,Miyuki Kodama,Naotaka Minagawa,Ayumi Sano. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Interfacial adhesion strength measuring apparatus and method of a gas diffusion layer for fuel cells

Номер патента: US09846113B2. Автор: Bo Ki Hong,Taek Soo Kim,Byeong Heon Jeong,Sanwi Kim. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2017-12-19.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09752971B2. Автор: Rentaro Kuroki,Sho Tomita. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Sample introduction system and particle size distribution measuring apparatus

Номер патента: US09645059B2. Автор: Akihiro Katanishi,Takashi KIMBA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Ozone water concentration measurement apparatus and ozone water concentration measurement method

Номер патента: US09625405B2. Автор: Shigeo Sekiguchi,Kazutaka Murata,Yasuaki Einaga,Yuya Ishii,Ivandini TRIBIDASARIANGGRANINGRUM. Владелец: Nikka Micron Co Ltd . Дата публикации: 2017-04-18.

Grain appearance measuring apparatus

Номер патента: US09607368B2. Автор: Hiroaki Takeuchi,Hideaki Matsushima,Hiroki Ishizuki. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Measuring apparatus and method for detecting ferromagnetic particles

Номер патента: US09575023B2. Автор: Rudolf Lueck,Peter Hoehne. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2017-02-21.

Air-matrix digital microfluidics apparatuses and methods for limiting evaporation and surface fouling

Номер патента: EP3303547A1. Автор: Mais J. Jebrail,Foteini CHRISTODOULOU,Irena Barbulovic-Nad,Lorenzo GUTIERREZ. Владелец: Miroculus Inc. Дата публикации: 2018-04-11.

Air-matrix digital microfluidics apparatuses and methods for limiting evaporation and surface fouling

Номер патента: US20240198343A1. Автор: Mais J. Jebrail,Foteini CHRISTODOULOU,Irena Barbulovic-Nad,Lorenzo GUTIERREZ. Владелец: Miroculus Inc. Дата публикации: 2024-06-20.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US20210181081A1. Автор: Tatsushi Ohyama,Mariko Miyashita. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

X-Ray Fluorescence Measurement Apparatus

Номер патента: US20210018453A1. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US11846605B2. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Photoacoustic measurement apparatus and probe

Номер патента: US20170360304A1. Автор: Atsushi Hashimoto,Kaku Irisawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP4097446A1. Автор: Makoto Higuchi,Tatsuya Hamada,Hironaga GENDA,Tatsuhiro ESAKI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Neurotransmitter concentration measuring apparatus for providing second derivative-based neurotransmitter concentration measurement result of fast-scan cyclic voltammetry data and method thereof

Номер патента: US20230375502A1. Автор: YUN Ho Jeong,Ji Woong Choi,Yong Seok Oh,Seong Tak Kang,Jeong Rak PARK. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-11-23.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: EP3910308A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2021-11-17.

Strain measurement apparatus and method for measuring mechanical strain

Номер патента: WO2023213647A1. Автор: Peter Fratzl,Shahrouz Amini. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E. V.. Дата публикации: 2023-11-09.

Gas measuring apparatus with a compact design

Номер патента: US20230133140A1. Автор: Holger Frank. Владелец: OPUS INSPECTION Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

Measurement apparatus

Номер патента: US20200033292A1. Автор: Nobuei Washizu. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Electric potential measuring apparatus

Номер патента: US20130271110A1. Автор: Kazunori Yamanaka,Kazuaki Kurihara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-10-17.

Blood flow measurement apparatus

Номер патента: US20200029809A1. Автор: Masahiro Akiba. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US20210356368A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2021-11-18.

Blood Measuring Apparatus

Номер патента: US20120146619A1. Автор: Yoshihiro Niiyama. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US20220381738A1. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-12-01.

Radiometric measuring apparatus

Номер патента: US11029422B2. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-08.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US12000804B2. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-06-04.

Measuring apparatus, measuring method, and ion-sensitive semiconductor device

Номер патента: US20230097075A1. Автор: Masao Okihara. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Hardness measurement apparatus and hardness measurement method

Номер патента: US20190162686A1. Автор: Chien-Chang Chen,Yii-Der WU,Szu-Hua YANG. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2019-05-30.

Electrical characteristic measurement apparatus, electrical characteristic measurement system, electrical characteristic measurement method, and program for electrical characteristic measurement for causing computer to implement the method

Номер патента: US20180031503A1. Автор: Isao Hidaka. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-01.

Volume change measuring apparatus for frozen porous media

Номер патента: WO2023277853A2. Автор: Burak EVIRGEN,Mustafa TUNCAN,Onur UZUN,Selahattin ATTEPE. Владелец: Eskisehir Teknik Universitesi. Дата публикации: 2023-01-05.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20110049362A1. Автор: Jun Matsumoto,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Method and measuring apparatus for investigating the hydrogen permeability of a test object

Номер патента: US20230175946A1. Автор: Armin Manhard,Malte Stienecker,Udo VON TOUSSAINT. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2023-06-08.

Measuring apparatus and method for determining the degree of bacterial contamination of process liquids

Номер патента: US20190242793A1. Автор: Thomas Wimmer,Ulrich Berner,Michael Maus,Frank Josupeit. Владелец: Advatech Projects & CoKg GmbH. Дата публикации: 2019-08-08.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Sample measuring apparatus and sample measuring method

Номер патента: US20190265264A1. Автор: Yoshinori Nakamura,Jun Inagaki,Takashi Yamato,Shunsuke Saito. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

Gas constituent measuring apparatus

Номер патента: US12061184B2. Автор: Kunihiko Nakamura. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Automatic electrophysiological measuring apparatus/method

Номер патента: US6539244B2. Автор: Sakae Saito,Hirokazu Kato,Tomoko Takeshita,Jun Otomo,Sayuri Nomura,Shokichi Matsunami,Noboru Moriya. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-03-25.

Mist flow rate measuring apparatus

Номер патента: US20240085230A1. Автор: Takahiro Hiramatsu,Hiroyuki Orita. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Radiometric Measuring Apparatus

Номер патента: US20200183021A1. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-06-11.

Nanopipette provided with membrane containing saturated ion-sensitive material, method for preparing same, and ion measuring apparatus comprising same

Номер патента: US20170028396A1. Автор: Eun Ji KANG,Tomohide Takami,Bae Ho Park,Jong Wan SON. Владелец: University Industry Cooperation Corporation of Konkuk University. Дата публикации: 2017-02-02.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US20240035943A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-02-01.

Portable measuring apparatus having groove for fitting cap

Номер патента: US20020029636A1. Автор: Toru Matsumoto,Akio Ohashi,Hiroshi Kohashi,Akiyoshi Fujitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-03-14.

Method for X-ray wavelength measurement and X-ray wavelength measurement apparatus

Номер патента: US20080240354A1. Автор: Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Air impurity measurement apparatus and method

Номер патента: US20050169806A1. Автор: Kazuhiro Nishiki,Makiko Katano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-08-04.

Volume change measuring apparatus for frozen porous media

Номер патента: WO2023277853A3. Автор: Burak EVIRGEN,Mustafa TUNCAN,Onur UZUN,Selahattin ATTEPE. Владелец: Eskisehir Teknik Universitesi. Дата публикации: 2023-03-02.

Thermal conductivity measurement apparatus and thermal conductivity measurement method

Номер патента: US20180299391A1. Автор: Dai Nakajima,Haruna Tada,Yasuyuki Sanda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Radiation detector, radiation measuring apparatus, and method for setting radiation detector

Номер патента: EP4421536A1. Автор: Takuto Sakumura,Yasukazu Nakaye,Yasutaka SAKUMA,Kunitoshi YANAGIHARA,Tomonao INOUE. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Neurotransmitter concentration measuring apparatus for simultaneously providing long time measuring results of concentration for various neurotransmitter based on fast-scan cyclic voltammetry and method thereof

Номер патента: US20240296962A1. Автор: YUN Ho Jeong,Eun Ho Kim,Ji Woong Choi,Seong Tak Kang. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-09-05.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: EP4439071A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: US20240329070A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Surface measurement device and surface measurement method

Номер патента: EP3951315A1. Автор: Yusuke Konno,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Correction device and correction method for optical measuring apparatus

Номер патента: US09958263B2. Автор: Ichiro Taniguchi,Ryoichi Imaizumi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Method for Operating a Surface Measurement Apparatus

Номер патента: US20200200519A1. Автор: Adelbert Leber. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2020-06-25.

Surface measuring apparatus

Номер патента: US10760891B2. Автор: Philipp Steuer. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2020-09-01.

Measuring apparatus for measuring the roll gap in gauge-controlled roll stands

Номер патента: US4161885A. Автор: Friedrich Nordmeyer,Ernst T. Sack,Emil F. Kersting. Владелец: Sack GmbH. Дата публикации: 1979-07-24.

Surface measurement device and method thereof

Номер патента: US09970754B2. Автор: Kai-Ping Chuang,Yi-Wei Chang,Chia-Hung Cho. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-05-15.

Surface measuring device and method thereof

Номер патента: US20170059310A1. Автор: Kai-Ping Chuang,Chia-Hung Cho,Ming-Cheng Tsai. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-03-02.

Surface measuring device

Номер патента: US20180038716A1. Автор: Raimund Volk. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2018-02-08.

Surface measuring device and method thereof

Номер патента: US09835449B2. Автор: Kai-Ping Chuang,Chia-Hung Cho,Ming-Cheng Tsai. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-12-05.

Optical inner surface measuring device

Номер патента: US09709388B2. Автор: Hiroshi Yamazaki,Takafumi Asada,Eri Fukushima,Kazumi YANAGIURA. Владелец: Namiki Precision Jewel Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Surface measurement apparatus

Номер патента: GB1525697A. Автор: . Владелец: Rank Organization Ltd. Дата публикации: 1978-09-20.

Method, system and apparatus for uniformed surface measurement

Номер патента: US20210372764A1. Автор: Jian-Shian Lin,Hsien-Ming Lee,Chun-Chen Chen,Jen-Chieh Li,Chao-Chang Chen,Ching-Tang Hsueh,Yong-Jie Ciou. Владелец: National Taiwan University of Science and Technology NTUST. Дата публикации: 2021-12-02.

Surface measurement instrument and calibration thereof

Номер патента: EP2542853A1. Автор: Paul J. Scott. Владелец: Taylor Hobson Ltd. Дата публикации: 2013-01-09.

System, apparatus and method for providing 3d surface measurements with precision indication capabilities and use thereof

Номер патента: WO2023225754A1. Автор: Marc Viala,Eric St-Pierre,Jean-Nicolas OUELLET,Mustafa INANOGLU,Sylvain LOISEAU,Louis HAWLEY. Владелец: CREAFORM INC.. Дата публикации: 2023-11-30.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US20220206134A1. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-30.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US12085633B2. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Position measuring apparatus

Номер патента: US09696152B2. Автор: Yukiharu Tomita,Ryosuke Oikawa,Kenzo Yamanouchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Optical inner surface measuring device

Номер патента: US20160341545A1. Автор: Hiroshi Yamazaki,Takafumi Asada,Eri Fukushima,Kazumi YANAGIURA. Владелец: Namiki Precision Jewel Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-24.

Measuring apparatus and method for positioning and aligning retroreflectors in a distribution of retroreflectors of a measuring apparatus

Номер патента: US20200225026A1. Автор: Wolfgang Hoegele,Christian Hoerr. Владелец: Carl Zeiss Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2020-07-16.

Measuring apparatus for figures

Номер патента: US5708592A. Автор: Katsumi Kaji. Владелец: Ushikata Mfg Co Ltd. Дата публикации: 1998-01-13.

Measuring apparatus, movable apparatus, robot, electronic device, fabricating apparatus, and measuring method

Номер патента: US12030243B2. Автор: Kazuhiro Yoneda,Naoki Fukuoka,Yoshihiko Miki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US20190078865A1. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US10859365B2. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-08.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200379112A1. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: US20240215819A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20210131791A1. Автор: Masahiro Kawai,Yoshitaka Tsuboi,Shohei Tsukamoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

Measurement Apparatus Having Display Device

Номер патента: US20090165316A1. Автор: Kee-Weng Lai,Shan-Nan Chen. Владелец: Grenergy Opto Inc. Дата публикации: 2009-07-02.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: EP4348171A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US6128083A. Автор: Asahiko Nogami. Владелец: Sony Precision Technology Inc. Дата публикации: 2000-10-03.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09984453B2. Автор: Toru Sugiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Tool length measurement apparatus

Номер патента: US09863765B2. Автор: Akira Kimura,Ken Onoe. Владелец: DMG Mori Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

High-speed 3-D surface measurement surface inspection and reverse-CAD system

Номер патента: US5175601A. Автор: John M. Fitts. Владелец: Electro Optical Information Systems. Дата публикации: 1992-12-29.

Optical measuring and/or presetting method and optical tool presetting and/or tool measuring apparatus

Номер патента: US20210370420A1. Автор: Alexander Zoller. Владелец: E Zoller GmbH and Co KG Einstell und Messgeraete. Дата публикации: 2021-12-02.

Optical measuring and/or presetting method and optical tool presetting and/or tool measuring apparatus

Номер патента: CA3119335A1. Автор: Alexander Zoller. Владелец: E Zoller GmbH and Co KG Einstell und Messgeraete. Дата публикации: 2021-11-27.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: PH12016501789A1. Автор: NISHIDA Hidetaka. Владелец: Chugoku Electric Power. Дата публикации: 2017-01-09.

Measuring apparatus and method for same

Номер патента: EP3080548A1. Автор: Owen PEARCEY. Владелец: HATCH ASSOCIATES PTY LTD. Дата публикации: 2016-10-19.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and program

Номер патента: EP3754296A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-12-23.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US20220252436A1. Автор: Masataka Yamamuro. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US20170059316A1. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-02.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US20140347677A1. Автор: Hyunjoon Kim,Jeonguk LEE,Sungjin CHO,Hyunseok Shin,Gyeongeon Lee,Sunghoon Cha. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2014-11-27.

Optical measurement apparatus and method of measuring an axial length

Номер патента: US20240271922A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Axle-load measuring apparatus and axle-load measuring method

Номер патента: US10982951B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US9823069B2. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-21.

Measurement apparatus, control apparatus, and control method

Номер патента: US12078478B2. Автор: Tsutomu Ichimura,Kazuhiko Hidaka,Tomoyuki Miyazaki,Naoki Mitsutani,Hideki Mishima,Yoshinori Shirakawa,Tomohiro Kiire. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Magnetostrictive path measuring apparatus and method of manufacturing a measuring probe of a magnetostrictive path measuring apparatus

Номер патента: US20180052016A1. Автор: Roland Holder,Torsten Beutler. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2018-02-22.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus and depth measurement method that calculate depth information of a target pixel using a color plane of which a correlation value is at most a threshold

Номер патента: US09928598B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Position/orientation measurement apparatus, measurement processing method thereof, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US09927222B2. Автор: Masahiro Suzuki,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Measurement apparatus, exposure apparatus, measurement method, and recording medium

Номер патента: US09910363B2. Автор: Takaki Hashimoto,Ai Furubayashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Three-dimensional measurement apparatus, processing method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US09841271B2. Автор: Kazuhiko Kobayashi,Yusuke Nakazato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US09823069B2. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-21.

End play measurement apparatus

Номер патента: US09791349B2. Автор: Michinori Hashimoto,Hideo Terasawa,Shinsaku Maeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Three dimensional measurement apparatus, control method therefor, information processing apparatus, control method therefor, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US09733072B2. Автор: Nobuaki Kuwabara,Tetsuri Sonoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Contour measurement apparatus and contour measurement method for measuring contour of poultry carcass, and deboning device for poultry carcass

Номер патента: US09700060B2. Автор: Noriyuki Inoue,Noriyuki Takahashi,Shinji HANE,Kenichi Oka,Koji TAKANASHI,Naoki Toyoda,Hiroyuki SAKURAYAMA. Владелец: Mayekawa Manufacturing Co. Дата публикации: 2017-07-11.

Method of correcting measurement error of shape measuring apparatus, and shape measuring apparatus

Номер патента: US09683839B2. Автор: Nobuhiro Ishikawa,Hideyuki Nakagawa. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09651876B2. Автор: Kenji Noda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Three-dimensional shape measurement apparatus and control method thereof

Номер патента: US09599462B2. Автор: Toshihiro Kobayashi,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09595107B2. Автор: Satoshi Nishimura. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Roundness measuring apparatus

Номер патента: US09581424B2. Автор: Ryo Takanashi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Shape measuring apparatus and control method of shape measuring apparatus

Номер патента: US09448052B2. Автор: Takashi Noda,Hiromi Deguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US09441950B2. Автор: Daisuke Tomita,Kentaro Osawa,Masaki MUKO. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US09429420B2. Автор: Hyunjoon Kim,Jeonguk LEE,Sungjin CHO,Hyunseok Shin,Gyeongeon Lee,Sunghoon Cha. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2016-08-30.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US09354041B2. Автор: Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Apparatus for testing gear wheel tooth flank profile and tooth flank lines (toot angle) and a method for positioning this apparatus for the measurement apparatus

Номер патента: US4646566A. Автор: Willy Hofler. Владелец: Hoefler Willy. Дата публикации: 1987-03-03.

System and method for simultaneously measuring lubricant thickness and degradation, thin film thickness and wear, and surface roughness

Номер патента: US6031615A. Автор: Steven W. Meeks,Rusmin Kudinar,Ronny Soetarman. Владелец: Candela Instruments Inc. Дата публикации: 2000-02-29.

Flight parameter measuring apparatus and flight parameter measuring method

Номер патента: SG11201910034RA. Автор: Hideaki Kawamoto,Viet Manh Do,Hong Quan Luong. Владелец: Gpro Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Length Measuring Apparatus

Номер патента: US20240060763A1. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12013229B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: EP4367471A1. Автор: Peter Qiu,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: WO2023281270A1. Автор: Peter Qiu,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: OXFORD UNIVERSITY INNOVATION LIMITED. Дата публикации: 2023-01-12.

Eyeglass frame measurement apparatus

Номер патента: US7436523B2. Автор: Yoshinori Matsuyama,Motoshi Tanaka. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2008-10-14.

Force measurement apparatus for pile

Номер патента: US20240218856A1. Автор: Tzung-Ching Lee,Chao-Ta Huang,Yu-Hsuan SHIH,Che-Kai Yeh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-07-04.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: US20180283850A1. Автор: Yusuke Konno,Toshio Akagi,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Tomohiro KUROIWA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2018-10-04.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: EP4400804A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2022-03-03.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887B2. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2020201075A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Surface profile measuring apparatus, method of measuring surface profile, and method of manufacturing optical element

Номер патента: US8472030B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-25.

Measuring apparatus

Номер патента: WO2016038361A1. Автор: Andrew Barr,Michael Grace. Владелец: Capaltec Limited. Дата публикации: 2016-03-17.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20210358147A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160054117A1. Автор: Takahiro Yamamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-02-25.

Length Measuring Apparatus

Номер патента: US20220170728A1. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2022-06-02.

Length measuring apparatus

Номер патента: US11852469B2. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Optical measuring apparatus, optical measuring method, and optical measurement processing program

Номер патента: US7948642B2. Автор: Masanobu Kataoka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US10048062B2. Автор: Hidetaka Nishida. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2018-08-14.

Measurement apparatus, calculation method, system, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160346882A1. Автор: Tsuyoshi Yamazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-12-01.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Measurement apparatus

Номер патента: GB2604069A. Автор: Uemura Hiroaki. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-24.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US8988668B2. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-03-24.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US20140192349A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-07-10.

Surface profile measuring apparatus, method of measuring surface profile, and method of manufacturing optical element

Номер патента: US20110141482A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-16.

Tooth flank profile measuring apparatus containing a feeler for determining the surface roughness of a tooth flank

Номер патента: US4552014A. Автор: Nikolaus Berchtold. Владелец: Maag Gear Wheel and Machine Co Ltd. Дата публикации: 1985-11-12.

Semiconductor measurement apparatus

Номер патента: US20240288265A1. Автор: YASUHIRO Hidaka,Jinyong Kim,Wookrae Kim,Ingi KIM,Jinseob KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-29.

Measuring apparatus

Номер патента: EP3191792A1. Автор: Andrew Barr,Michael Grace. Владелец: CAPALTEC Ltd. Дата публикации: 2017-07-19.

Automatic measuring apparatus and control method for the same

Номер патента: US20240263932A1. Автор: Masashi Yamaji. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12072177B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20220270274A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20200334844A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Measuring apparatus with tape measure and pendulum for plumbing

Номер патента: EP1540267A1. Автор: Andrew Webb,Michael Meagor. Владелец: Markerite Trading Ltd. Дата публикации: 2005-06-15.

Overhead wire mutual separating situation measuring apparatus and overhead wire mutual separating situation measuring method

Номер патента: US20200378750A1. Автор: Masaki Araki,Masahisa Watanabe,Shusaku UTSUGI,Toshio EIFUKU. Владелец: Hitachi High Tech Fine Systems Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Inner Diameter Measurement Apparatus

Номер патента: MY196233A. Автор: ABE Shuji,My Tien Phan. Владелец: Synztec Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-24.

Single-axial precision measuring apparatus

Номер патента: US20050022607A1. Автор: Cheng-Fu Hsiao. Владелец: Barmu Tech Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12078474B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

3-dimensional measurement apparatus and 3-dimensional measurement method

Номер патента: EP4417936A1. Автор: Daisuke SENGA. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240296547A1. Автор: Ji Hoon Kang,Ji Yun JUNG. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Distance Measuring Apparatus, Distance Measuring Method, Distance Measurement Program And Computer Readable Recording Medium

Номер патента: US20120257219A1. Автор: Michisato Toyoda,Toshio Tashima. Владелец: MSI Tokyo Inc. Дата публикации: 2012-10-11.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20240272300A1. Автор: Shuji Uehara,Yoshinori Muramatsu,Kazuhiko Muraoka. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: US20240310158A1. Автор: Peter Qui,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: US20240302160A1. Автор: Markus Adam ECKHARDT. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: GB2629247A. Автор: Adam Eckhardt Markus. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-10-23.

Apparatus and Method for Beam Scanner

Номер патента: US20200081449A1. Автор: Jeffrey A Albelo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-03-12.

Surface temperature measuring apparatus and surface temperature measuring method

Номер патента: US09523611B2. Автор: Chihiro Uematsu,Yutaka Wakasu,Tatsuro Honda. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

System of detection of underwater and surface objects

Номер патента: RU2670176C1. Автор: Виктор Васильевич Никишов,Александр Андреевич Стройков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ОКБ "Эланор". Дата публикации: 2018-10-18.

Measurement apparatus, information processing apparatus, data specifying method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20230036969A1. Автор: Akira Tsuji,Junichi Abe,Yoshimasa Ono,Jiro Abe. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Method of performing surface measurements on a surface of a sample, and scanning probe microscopy system therefore

Номер патента: EP3365689A1. Автор: Aliasghar Keyvani Janbahan,Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-08-29.

Method of performing surface measurements on a surface of a sample, and scanning probe microscopy system therefore

Номер патента: WO2017069622A1. Автор: Hamed Sadeghian Marnani,Janbahan KEYVANI. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2017-04-27.

A Simultaneous Inversion Method of Soil Moisture and Surface Temperature Based on Model-Data Driven and Deep Learning

Номер патента: AU2021105771A4. Автор: FEI Meng,PING Wang,Jun Yang,Chunyu Gao,Shengli Wu,Jiancheng Shi,Xiuzhen Han,Kebiao Mao,Jiancan Tan. Владелец: Institute of Agricultural Resources and Regional Planning of CAAS. Дата публикации: 2021-10-21.

Physical amount measurement apparatus mounted integrally with flow rate measurement apparatus, and physical amount measurement method

Номер патента: US09869573B2. Автор: Koji Tanimoto,Yuji Ariyoshi,Masahiro Kawai,Shinichiro Hidaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Hinge moment of the rejected surface measurement device

Номер патента: RU2681251C1. Автор: Олег Евгеньевич Барышников,Владимир Дмитриевич Вермель,Сергей Викторович Кажичкин,Казбек Федорович Лацоев,Александр Вячеславович Левицкий,Антон Олегович Шардин,Леонид Леонидович Чернышев. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФГУП "ЦАГИ"). Дата публикации: 2019-03-05.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Wave-leakage measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US5138253A. Автор: Tamio Fukui,Isao Momoji. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1992-08-11.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20230089647A1. Автор: Hiroshi Nakatsuka,Riyoko Miyahara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Optical measuring apparatus for a vehicle, driver assistance device having such a measuring apparatus, and vehicle having a corresponding measuring apparatus

Номер патента: US09395439B2. Автор: Heiner Bayha,Jens Nicolai,Peter Horvath. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2016-07-19.

Foot pressure measurement apparatus, method, and non-transitory tangible machine-readable medium thereof

Номер патента: US20210145315A1. Автор: Chih-Hao Hsu,yan-tong Liu. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2021-05-20.

Color measuring apparatus

Номер патента: US12025493B2. Автор: Tatsuya Shirane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Pressure measurement apparatus for inspecting therapeutic energy waves

Номер патента: US5357805A. Автор: Satoshi Aida,Katsuhiko Fujimoto,Nobuki Kudo,Masamichi Oyanagi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1994-10-25.

Grain measurement apparatus

Номер патента: US09671273B2. Автор: Steven L. Harris,Matthew T. Emerick. Владелец: Juniper Systems Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Sensor for measuring water levels of groundwater and surface water using magnetostriction displacement and multi measurement system for groundwater and surface water by using the same

Номер патента: US09618380B2. Автор: Heejun Suk,Dong-Chan KOH,Jang-Hee HAN. Владелец: Korea Institute of Geoscience and Mineral Resources KIGAM. Дата публикации: 2017-04-11.

Vehicle optical measuring apparatus having a deflection mirror arrangement, driver assistance device having such a measuring apparatus, and vehicle having a corresponding measuring apparatus

Номер патента: US09575181B2. Автор: Heiner Bayha,Jens Nicolai,Peter Horvath. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2017-02-21.

Optical distance measuring apparatus and electronic apparatus

Номер патента: US09568596B2. Автор: Hideo Wada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Contact terminal for measurement, measurement apparatus, probe card set, wafer probe apparatus, and testing apparatus

Номер патента: US7474109B2. Автор: Tadao Saito,Shigeru Matsumura,Shin Sakiyama,Tetsuya Kuitani. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-01-06.

Image processing apparatus and distance-measurement apparatus

Номер патента: US20230258807A1. Автор: Hiroki Okada,Yoshiteru Takayama. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12038329B2. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Light receiving apparatus and distance measuring apparatus

Номер патента: US12061292B2. Автор: Kenta Makimoto. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Electromagnetic-wave detection apparatus and distance-measurement apparatus

Номер патента: US20230288565A1. Автор: Hiroki Okada. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240272003A1. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20020092189A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-18.

Load measuring apparatus, for vehicle, measuring load supported by axle, method for same, and lift axle control system equipped with load measuring apparatus

Номер патента: EP4253105A1. Автор: Seong Tae Kim,Pil Won Heo,Chang Yul Kim,Gwang Min Gu. Владелец: Autovision Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Current peak value measurement apparatus, high voltage generator, and therapeutic device for vascular calcification

Номер патента: EP4397254A1. Автор: Chuang Li,Zhihuang TANG. Владелец: Jiangsu Polylive Medtech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Measuring apparatus and measuring device for measuring a target object in a multidimensional manner

Номер патента: US09638520B2. Автор: Andreas Eisele,Bernd Schmidtke,Ulrich Kallmann. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-05-02.

Measuring apparatus, measuring method, and processing apparatus thereof that obtain displacement amount of an object using clock in synchronization with data request signal

Номер патента: US09488501B2. Автор: Yoshiyuki Okada,Takafumi Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

Liquid containment and measurement apparatus and method

Номер патента: US09435677B1. Автор: David Soble,Scott Soble,Derek Grace,Brian L. Ashinger. Владелец: Diamond Shine Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Measuring apparatus for determining length of compact part of water stream from fire hydrant

Номер патента: RU2749579C1. Автор: Олег Валерьевич Амчеславский,Петр Сергеевич Крюков. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Волгоградский государственный аграрный университет" (ФГБОУ ВО Волгоградский ГАУ). Дата публикации: 2021-06-15.

Flow measurement apparatus

Номер патента: RU2760627C1. Автор: Эрик ШТАРКЕ,Кристиан ШУЛЬЦ,Маркус КЛЕММ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2021-11-29.

System providing testing and verification of a weight measurement apparatus, method for testing and verification of a weight measurement apparatus

Номер патента: RU2763123C1. Автор: Михаил Александрович Малыгин,Сергей Викторович Медведевских,Денис Сергеевич Замятин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И.Менделеева». Дата публикации: 2021-12-27.

Urine measurement apparatus

Номер патента: RU2539534C2. Автор: Микаэль ШАРЛЕЗ,Микаэль ЛЕФГРЕН. Владелец: Обзерв Медикал Апс. Дата публикации: 2015-01-20.

Shock measurement apparatus and shock measurement method

Номер патента: US20020043114A1. Автор: Takane Fujino,Keishi Takahashi,Kazutaka Okasaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Magnetic field measuring apparatus and apparatus for measuring spatial resolution of magnetic field detector

Номер патента: US6144196A. Автор: Naoya Tamaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-11-07.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12044572B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20210208683A1. Автор: Shigeto Hattori. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-07-08.

Access area measurement apparatus

Номер патента: US5212890A. Автор: Glen W. White,R. Mark Mathews. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-05-25.

Ball measuring apparatus

Номер патента: US20070075891A1. Автор: Takahiro Sajima. Владелец: SRI Sports Ltd. Дата публикации: 2007-04-05.

Image-capturing apparatus, distance-measuring apparatus, distance-measuring system, and distance-measuring method

Номер патента: WO2024157141A1. Автор: Yuu YAMADA,Takefumi TAKIZAWA. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2024-08-02.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: WO2010137453A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-12-02.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Force measuring apparatus

Номер патента: US20080190216A1. Автор: Hideo Morimoto. Владелец: Nitta Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Measurement apparatus

Номер патента: US20150359518A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Heating resistor type fluid rate measuring apparatus and control device of internal combustion engine having the tlow measuring apparatus

Номер патента: US20060277983A1. Автор: Shinya Igarashi,Kiichi Otaka,Takeshi Morino,Yasunobu Kojima,Yasuji Nishi,Chihiro Kobaysahhi. Владелец: Hitachi Car Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-14.

Vibration measuring apparatus

Номер патента: WO2019243808A1. Автор: Michael James Jones. Владелец: Jones Michael James. Дата публикации: 2019-12-26.

Multi-phase wavefield inversion method considering both body waves and surface waves in half-space of rock media

Номер патента: US20240264322A1. Автор: Gang Li,Hongnan Li,Zhiqian DONG,Yaohui XUE,Dinghao YU. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2024-08-08.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12085449B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: EP2435850A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-04-04.

Flow measurement apparatus

Номер патента: US20240302194A1. Автор: Andreas Ehrlich,Mario Künzelmann,Gerry Schroeter. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2024-09-12.

Stepped copper-bar current measurement apparatus

Номер патента: EP4455686A1. Автор: Songsheng Xue,Mingfeng LIU,Ran Shi. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic imaging apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09910140B2. Автор: Masaki Hayashi,Kenji Murakami,Kazuyuki Kano,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Measuring apparatus for the filling level of a container

Номер патента: US09885598B2. Автор: Petr Tesar,Jan Nekula,Martin Kalas. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-02-06.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Scintillator plate, radiation measuring apparatus, radiation imaging apparatus, and scintillator plate manufacturing method

Номер патента: US09625586B2. Автор: Junichi Kaneko,Mikio Higuchi,Kenji Izaki,Takehiro Shimaoka,Youichi Tsubota. Владелец: JAPAN ATOMIC ENERGY AGENCY. Дата публикации: 2017-04-18.

Fuel-level measuring apparatus

Номер патента: US09551605B2. Автор: Takeshi Watanabe,Akihiro Taguchi,Kotaro Tanaka,Naoki Ogiwara,Masaki Wakao. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: RU2330252C2. Автор: Томас ФЕССЕЛЕ,Ханс-Мартин ХОХЕНБЕРГЕР,Винфрид КУНТ,Томас ФЕССЕЛЕ (DE),Ханс-Мартин ХОХЕНБЕРГЕР (DE),Винфрид КУНТ (DE). Владелец: Роберт Бош Гмбх. Дата публикации: 2008-07-27.

Multiphase current measuring apparatus and method for multiphase current measurement

Номер патента: US20210109132A1. Автор: Claudia Glenske,Matthias Brusius. Владелец: SENSITEC GMBH. Дата публикации: 2021-04-15.

Measurement apparatus, detection apparatus, and measurement method

Номер патента: US12032049B2. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Enhanced substrate temperature measurement apparatus, system and method

Номер патента: WO2020242732A1. Автор: Qin Chen,Lyudmila Stone,Dale K. Stone,Dawei Sun,Ron Serisky,Steven Anella,Jeffrey D. Lischer,Chi-Yang Cheng. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2020-12-03.

Torque measuring apparatus using magnetic bodies

Номер патента: US20150053024A1. Автор: Tae Hun KANG,Jeon II MOON. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2015-02-26.

Measurement apparatus, control apparatus, and control method

Номер патента: EP4224204A1. Автор: Emiko Shiraishi,Yohei Morita,Kei Takeyama,Junichiro Hayakawa,Kaho Oi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-08-09.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20200132797A1. Автор: Yusuke Ito,Masahiro Kawai,Takayuki Yanagisawa,Shumpei Kameyama,Masaharu Imaki,Yosuke Tsuzaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Partial discharge measurement apparatus, partial discharge measurement method, and partial discharge measurement system

Номер патента: US20230408570A1. Автор: Akira Fujimoto,Takashi Harakawa,Makoto Takanezawa,Hirotaka TSUBAKIHARA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Luminous body measurement apparatus and luminous body measurement method

Номер патента: US20200300693A1. Автор: Hiroyuki Sano,Yoshihiko Nishida. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: EP1017969A1. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-07-12.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: WO1999015859A2. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Wusterbarth Michael A. Дата публикации: 1999-04-01.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20130010278A1. Автор: Hitoshi Ohmuro. Владелец: Nikon Vision Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-10.

A measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: EP3845914A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Tech Solutions S L. Дата публикации: 2021-07-07.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic diagnostic apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20160124088A1. Автор: Hiroyuki Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-05.

Measurement apparatus and driving apparatus

Номер патента: US20190128916A1. Автор: Takayuki Uozumi,Takefumi Ota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-05-02.

Flow measurement apparatus and method of use

Номер патента: WO2019243789A1. Автор: Victor Gawski,Gavin MUNRO. Владелец: Gm Flow Measurement Services Limited. Дата публикации: 2019-12-26.

Distance measuring apparatus using sensor cover

Номер патента: US20230034798A1. Автор: Jungwon Choi,Yongkeun JEE,Hyeonghwan CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-02-02.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20200096333A1. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Irradiation strength distribution measuring apparatus and method of measuring

Номер патента: WO2008089898A1. Автор: Rolf Freimann. Владелец: Carl Zeiss Smt Ag. Дата публикации: 2008-07-31.

Measurement apparatus

Номер патента: US20240264262A1. Автор: Yuki Kondo,Takashi Iwase,Chunqing LIANG. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20210239497A1. Автор: Harutsugu Fukumoto. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Laser measuring apparatus for measuring distances, method for operating a laser measuring apparatus for measuring distances

Номер патента: US20220381882A1. Автор: Olaf Schrey,Christian Nitta,Jan Haase,Andre Buchner,Moritz ESSIG. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2022-12-01.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US20150292946A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-15.

Measuring apparatus, signal outputting method and storage medium

Номер патента: US20010037188A1. Автор: Masashi Tsuboi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2001-11-01.

Light measuring apparatus capable of measuring ambient light and flash light

Номер патента: US5589934A. Автор: Yoshihiko Azuma,Susumu Shirai,Takehiro Katoh,Kenichiro Hibi,Yoshihiro Okui,Norihisa Hosoi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 1996-12-31.

Inertial measurement apparatus and method with improved thermal and noise performance

Номер патента: US20210080334A1. Автор: Mike Horton,Shu Wang. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Enhanced substrate temperature measurement apparatus, system and method

Номер патента: US20200378837A1. Автор: Qin Chen,D. Jeffrey Lischer,Lyudmila Stone,Dale K. Stone,Dawei Sun,Ron Serisky,Steven Anella,Chi-Yang Cheng. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-12-03.

Current measuring apparatus with redundant current measurement

Номер патента: US20230266368A1. Автор: Jan Marien,Benedikt Kramm. Владелец: IsabellenHuette Heusler GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-08-24.

Light measurement apparatus

Номер патента: US20150124249A1. Автор: Naoharu Yanagawa. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

Biomagnetic measurement apparatus

Номер патента: US20030231016A1. Автор: Masahiro Murakami,Hitoshi Sasabuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2003-12-18.

Surface temperature measuring apparatus, surface temperature measuring method, and optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20240280408A1. Автор: Takashi Kawasaki,Hidehiko Fujii,Hitoshi Nagasawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-22.

Color measuring system, backing plate, and color measuring apparatus

Номер патента: US20230194340A1. Автор: Katsumi Yamada,So YOKOTA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Piston ring tension measurement apparatus

Номер патента: US20120006121A1. Автор: Atsuko Miyamoto. Владелец: Teikoku Piston Ring Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-12.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240310519A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20220299641A1. Автор: Naoki Shinoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-22.

Method for measuring level of material level measuring apparatus

Номер патента: US09958309B2. Автор: I-Chu Lin,Liang-Chi CHANG,Chun-Han HUANG. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Grounding resistance measurement apparatus and method of operating the same

Номер патента: US09910079B2. Автор: Tsung-Yuan Wu. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic image apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09867594B2. Автор: Masaki Hayashi,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Minute object characteristics measuring apparatus

Номер патента: US09857216B2. Автор: Daichi Yamaguchi,Shuusuke SOMENO. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Measurement apparatus

Номер патента: US09753127B2. Автор: Hirofumi Yamamoto,Akira Miki,Shinichirou Taguchi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09740661B2. Автор: Norihiko Mikoshiba,Munehiro Kitaura. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Neutron measurement apparatus, neutron calculation apparatus, and neutron measurement method

Номер патента: US09702987B2. Автор: Daijiro Ito,Shigehiro Kono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Electric capacity measurement apparatus with temperature compensation and temperature compensation method thereof

Номер патента: US09651626B2. Автор: Kuo-Liang Teng,Jih-Liang Juang. Владелец: uPI Semiconductor Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Position measuring apparatus and driving method thereof

Номер патента: US09612692B2. Автор: Sung-soo Park,Yu-Sheop Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-04.

Measurement apparatus and wood processing system with such a measurement apparatus

Номер патента: US09541569B2. Автор: Hans Hundegger. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-10.

Muzzle velocity measuring apparatus and method

Номер патента: US09513308B2. Автор: Sung-Min Lee,Jung-Yun Kim,Kyu-Chae JUNG,De-Rac SON,Jun-Goo SHIN. Владелец: Hanwha Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Granule measurement apparatus

Номер патента: US09500509B2. Автор: Daniel Allen EGNOR, JR.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-11-22.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US09453743B2. Автор: Wansoo LEE,Euncheol LEE,Taeksoo LEE. Владелец: Hitachi LG Data Storage Korea Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US09448113B2. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Light measurement apparatus

Номер патента: US09442010B2. Автор: Naoharu Yanagawa. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Method and system for eliminating effect of conducting casing columns and well bore and surface irregularity during imaging electromagnetic survey

Номер патента: RU2477871C2. Автор: Эдвард НИКОЛС,Пин ЧЖАН,Дэвид АЛУМБО,Франк МОРРИСОН,Ариа АБУБАКАР,Тарек ХАБАШИ. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2013-03-20.

Systems and methods for far field signature reconstruction using data from near field, mid field, and surface field sensors

Номер патента: US20160231445A1. Автор: Thierry Payen,Yuan Ni. Владелец: CGG SERVICES SAS. Дата публикации: 2016-08-11.

Systems and methods for far field signature reconstruction using data from near field, mid field, and surface field sensors

Номер патента: EP3049830A1. Автор: Thierry Payen,Yuan Ni. Владелец: CGG SERVICES SAS. Дата публикации: 2016-08-03.

Method of performing surface measurements on a surface of a sample, and scanning probe microscopy system therefore

Номер патента: US10697998B2. Автор: Aliasghar Keyvani Janbahan,Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2020-06-30.

Finding oil viscosity and surface tension by means of dielectric spectroscopy

Номер патента: US09581720B2. Автор: Vitaly N. Dorovsky. Владелец: Baker Hughes Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Measuring apparatus for measuring scattering cross-section of radar targets models

Номер патента: RU2600492C1. Автор: Георгий Галиуллович Валеев. Владелец: Георгий Галиуллович Валеев. Дата публикации: 2016-10-20.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US20170219432A1. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US10175108B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-01-08.

Charged-particle trajectory measurement apparatus and charged-particle trajectory measurement method

Номер патента: US11977192B2. Автор: Masataka Suga,Yuki Nakai,Naoto Kume,Tsukasa SUGITA,Takuro Fujimaki,Haruo Miyadera,Kohei NOBE. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Press load measuring apparatus and method for press machine

Номер патента: US20200307138A1. Автор: Yasuyuki Kohno,Kazuki Honjo. Владелец: Aida Engineering Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Atmospheric pressure measuring apparatus and method of measuring atmospheric pressure

Номер патента: US20090288491A1. Автор: Yoshitaka Suzuki,Takahiro Imamura,Shinji Koganezawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-11-26.

Current measurement apparatus for measurement value acquisition, current sensor, and current measurement transducer

Номер патента: US20230349954A1. Автор: Wolfgang Hoeft. Владелец: Phoenix Contact GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-11-02.

Measuring apparatus

Номер патента: US20150362549A1. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Takayuki SHIROTORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-12-17.

Ultrasound measuring apparatus and method for measuring the flow rate of a fluid

Номер патента: US10260919B2. Автор: Toralf Dietz,Arnd Schlicke,Henri Kirmse. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2019-04-16.

Measuring apparatus, measuring method and measuring program

Номер патента: EP4006297A1. Автор: Hiroyuki Takahashi,Yusuke Inoue,Keita HAMAKAWA,Takazumi YAMADA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Measurement apparatus, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220049981A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-17.

Flow rate measuring apparatus

Номер патента: US20010010031A1. Автор: Satoshi Arai,Kazuyoshi Shimizu,Akira Yamasaki,Masaki Takamoto,Kenzo Hosoi. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2001-07-26.

Neutron flux measurement apparatus

Номер патента: US20240145107A1. Автор: Tetsushi AZUMA,Makoto SASANO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Flow amount measuring apparatus, material mixing system and non transitory computer readable medium performing material mixing method

Номер патента: US20180306612A1. Автор: Yen-Min Chang,Feng-Chi Liu. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-10-25.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240248208A1. Автор: Takahiro Inoue,Hideki Sato,Takayuki Shimizu,Tetsuro Ikeda,Isamu Kawabe. Владелец: Sharp Semiconductor Innovation Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Tilt angle measuring apparatus

Номер патента: US20040060357A1. Автор: Takashi Ohsawa,Akiharu Fukuda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2004-04-01.

Rainfall measuring apparatus using fiber bragg grating sensor

Номер патента: US20220091301A1. Автор: Geum Suk Lee,Geum Jun LEE. Владелец: FBG Korea Inc. Дата публикации: 2022-03-24.

A weight measuring apparatus

Номер патента: EP4403887A1. Автор: Yu-Min Tsao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-24.

Length measurement apparatus

Номер патента: US20110148397A1. Автор: Josef Siraky,Florian Grieshaber. Владелец: SICK STEGMANN GMBH. Дата публикации: 2011-06-23.

Oil level measurement apparatus

Номер патента: EP1452839A3. Автор: Angel c/o Nissan Technical Centre EU S.A. Palomo,Fernando c/o Nissan Technical Centre Trapero. Владелец: Nissan Technical Centre Europe Ltd. Дата публикации: 2005-10-19.

Brain measurement apparatus

Номер патента: US20220386888A1. Автор: Tetsuo Kobayashi,Motohiro Suyama,Akinori Saito,Takahiro Moriya,Takenori OIDA. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2022-12-08.

On-chip signal waveform measurement apparatus for measuring signal waveforms at detection points on IC chip

Номер патента: US7609100B2. Автор: Makoto Nagata. Владелец: Semiconductor Technology Academic Research Center. Дата публикации: 2009-10-27.

On-chip signal waveform measurement apparatus for measuring signal waveforms at detection points on IC chip

Номер патента: US20070262799A1. Автор: Makoto Nagata. Владелец: Semiconductor Technology Academic Research Center. Дата публикации: 2007-11-15.

Magnetic field measuring apparatus, magnetic field measuring method and recording medium with magnetic field measuring program recorded thereon

Номер патента: US11774518B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake,Makoto Kataoka,Seiichi Kato. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Arrangement Having a Measuring Apparatus for a Scanning Probe Microscope, Scanning Probe Microscope, and Method for Operating

Номер патента: US20220244287A1. Автор: Torsten Jähnke,Frederik BÜCHAU-VENDER,Marian SCHÜCKER. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2022-08-04.

Mist flow rate measuring apparatus, ultrasonic atomization system, and mist flow rate measuring method

Номер патента: US20240102841A1. Автор: Takahiro Hiramatsu,Hiroyuki Orita. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Measurement apparatus, measurement method, program, and information recording medium

Номер патента: US20190041424A1. Автор: Ryutaro Himeno,Shigeho Noda. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2019-02-07.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20230305084A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Collision reaction force measurement apparatus

Номер патента: US20060070431A1. Автор: Shigeo Ishikawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-04-06.

Optical displacement measuring apparatus

Номер патента: EP1985973A3. Автор: Tadashi Iwamoto. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20210065484A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: EP3786659A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-03.

Refrigerant storage device for magnetic field measurement apparatus

Номер патента: WO2024106848A1. Автор: Yong-Ho Lee,Bo-Kyung Kim,Jin-Mok Kim,Kwon-Kyu Yu. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science. Дата публикации: 2024-05-23.

Radiation measurement apparatus

Номер патента: US20140231646A1. Автор: Toru Onodera,Shunichiro Makino,Naoto Kume,Yoshinori Satoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Fluid measurement apparatus, fluid measurement method, and program

Номер патента: US20210041274A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Gradient measuring apparatus and system

Номер патента: US20150377619A1. Автор: John C. Miller. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-31.

Protective device for a measuring apparatus

Номер патента: US11733073B2. Автор: Ralf Siegler,Ralph Lohner. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2023-08-22.

Protective Device for a Measuring Apparatus

Номер патента: US20210318148A1. Автор: Ralf Siegler,Ralph Lohner. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2021-10-14.

Weight measuring apparatus

Номер патента: AU2023285855A1. Автор: Yu-Min Tsao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-08.

Inertial measurement apparatus, electronic instrument, and moving object

Номер патента: US20210123736A1. Автор: Ryohei OZAWA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Flow measuring apparatus

Номер патента: WO1996030724A1. Автор: Cyril Ward Nugent. Владелец: Umeco Systems Limited. Дата публикации: 1996-10-03.

Mass measurement apparatus for automatic processing machines and mass measurement method

Номер патента: EP3969855A1. Автор: Marco Minardi. Владелец: IMA Industria Macchine Automatiche SpA. Дата публикации: 2022-03-23.

Rainfall measuring apparatus using fiber bragg grating sensor

Номер патента: EP3974874A1. Автор: Geum Suk Lee,Geum Jun LEE. Владелец: FBG Korea Inc. Дата публикации: 2022-03-30.

Measurement apparatus

Номер патента: US20190219424A1. Автор: Hirokazu Kobayashi,Akio Kawai. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Semiconductor type differential pressure measurement apparatus and method for manufacturing the same

Номер патента: US5375473A. Автор: Tetsuya Watanabe,Hideo Tsukamoto,Kyoichi Ikeda,Satoshi Fukuhara,Takahiro Kudo,Kouji Nagai. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 1994-12-27.

Current measurement apparatus

Номер патента: EP1740960A1. Автор: Desmond Ebenezer,Albert Zwolinski. Владелец: Lem Heme Ltd. Дата публикации: 2007-01-10.

Current measurement apparatus

Номер патента: WO2005106507A1. Автор: Desmond Ebenezer,Albert Zwolinski. Владелец: Lem Heme Limited. Дата публикации: 2005-11-10.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US11703592B2. Автор: Hirokazu Takenaka. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US20220170245A1. Автор: Hiroyuki Takahashi,Yusuke Inoue,Keita HAMAKAWA,Takazumi YAMADA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2022-06-02.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: AU2007216862A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: US20080068585A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-03-20.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US12038488B2. Автор: Shigeki Okatake,Hideyuki Tsuji,Masashi Yamada. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Rotatable Display for Test and Measurement Apparatus

Номер патента: US20110115470A1. Автор: Anthony Cake,Yann Oeffner,Tyler Cox,James Annichiarico,Daniel Monopoli,Chrsitopher K. Schroeder. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2011-05-19.

Ultrasound flow rate measurement apparatus and manufacturing method for same

Номер патента: US20180156651A1. Автор: Torsten Schmidt,Jörg Schneider,Christian Schulz. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2018-06-07.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20030084582A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-08.

Optical sampling measurement apparatus and optical sampling measurement method

Номер патента: US20030223765A1. Автор: Masatoshi Kanzaki,Yoshiki Yanagisawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-04.

Measurement apparatus for FET characteristics

Номер патента: US20070279081A1. Автор: Yasushi Okawa. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-12-06.

Chromatic dispersion distribution measurement apparatus and method for the same

Номер патента: US20020113956A1. Автор: Akio Ichikawa,Shoichi Aoki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-22.

Chromatic dispersion distribution measurement apparatus and method for the same

Номер патента: US20020107655A1. Автор: Akio Ichikawa,Shoichi Aoki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-08.

Magnetic field measuring apparatus

Номер патента: US20210132161A1. Автор: Takashi Yasui. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-06.

Light measuring apparatus, light measuring system, light measurement method, display adjustment system, and adjustment method

Номер патента: US20240242653A1. Автор: Tomohiro Murata,Tomohiro Kiriyama,Tomohiro Fukamizu. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-18.

Photonically Multiplexed Optical Measurement Apparatus and Performing Optical Multiplexing

Номер патента: US20230360817A1. Автор: Stephen Paul Eckel,Daniel Schaeder Barker. Владелец: US Department of Commerce. Дата публикации: 2023-11-09.

Tool measurement apparatus for a machine tool

Номер патента: EP4433257A1. Автор: William David Stockill. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-09-25.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240302208A1. Автор: Masaki Ito,Katsumi Yamada,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Control method and color measurement apparatus

Номер патента: US20240302215A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240329204A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US20170030761A1. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

New adaptive trigger piv measuring apparatus and method

Номер патента: NL2035928A. Автор: Xu Yang,Wang Jinjun,Wang Hanbin,Fan Di,Guo Qinfeng. Владелец: Univ Beihang. Дата публикации: 2024-05-28.

Distance measuring apparatus and light emitting device for distance measurement

Номер патента: US20240345222A1. Автор: Daisuke Iguchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-17.

Capacitance measurement apparatus

Номер патента: US12092671B2. Автор: CHEN CHEN. Владелец: Chipone Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Optical measurement apparatus, optical measurement adapter and method of optical measurement

Номер патента: US20240353261A1. Автор: Chao-Ching Chen,Hsiao I LIN,Yi Hsueh LIN. Владелец: Amtran Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Resin composition for acoustic matching layer, cured product, acoustic matching sheet, acoustic wave probe, acoustic wave measuring apparatus, method for manufacturing acoustic wave probe, and material set for acoustic matching layer

Номер патента: US20200253582A1. Автор: Yoshihiro Nakai,Kazuhiro Hamada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2020-08-13.

Image forming apparatus capable of providing location-based service and location information measuring apparatus for providing location information

Номер патента: US20190356808A1. Автор: Sung-Joon Park,Youn SEO. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2019-11-21.

Housing for enclosing measuring apparatus for recording apparatus, provided with air blowing means including high efficiency particulate air filter

Номер патента: US20020089824A1. Автор: Eiji Ishimoto,Norio Nakano,Hiroshi Kaminaga. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-07-11.

Exercise information measurement apparatus, control method for exercise information measurement apparatus, control program for exercise information measurement apparatus

Номер патента: US20170296873A1. Автор: Yumi Kitamura. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-10-19.

Method for data transmission between measuring apparatuses and a data processing device in a measured data recording system

Номер патента: US09693121B2. Автор: Johannes Müller,Andreas MÖBUSZ. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-06-27.

Operation information measurement apparatus, function control method, and program

Номер патента: US20170128829A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-05-11.

Biological information measurement apparatus, information processing apparatus, and biological information measurement system

Номер патента: US09757070B2. Автор: Yuichi Takano. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Systems and methods employing coded light to dock aerial drones, self-driving cars and surface robots

Номер патента: US09904283B2. Автор: Qiong Liu,Sven Kratz,Shang Ma. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Measurement apparatus, system, measurement method, determination method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20170169581A1. Автор: Akihiro Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-15.

Beam scanner with PIC input and display based thereon

Номер патента: US12124029B2. Автор: Babak Amirsolaimani,Alexander Koshelev,Yimin Ding. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2024-10-22.

Beam scanner

Номер патента: EP4441553A1. Автор: Andrii Volkov. Владелец: Trulife Optics Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Laser beam scanner

Номер патента: WO2005006052A1. Автор: Siebe T. De Zwart,Willem L. Ijzerman,Antonius H. M. Holtslag,Oscar H. Willemsen. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2005-01-20.

Laser beam scanner

Номер патента: EP1668397A1. Автор: Siebe T. De Zwart,Willem L. Ijzerman,Antonius H. M. Holtslag,Oscar H. Willemsen. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2006-06-14.

Laser beam scanner and its fabricating method

Номер патента: CA1320855C. Автор: Masayuki Kato,Fumio Yamagishi,Hiroyuki Ikeda,Shin-Ya Hasegawa,Takefumi Inagaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1993-08-03.

Folded beam two-dimensional (2d) beam scanner

Номер патента: EP4414769A1. Автор: Wanli Chi,Wai Sze Tiffany Lam,Brian Wheelwright,Daniel Guenther Greif,Kieran Kelly,Keith Patterson,Kavous Jorabchi. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2024-08-14.

Multi-beam scanner and confocal optical system including the same

Номер патента: US20170097503A1. Автор: KOHEI HASHIMOTO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-06.

Beam scanner

Номер патента: WO2023099099A1. Автор: Andrii Volkov. Владелец: Trulife Optics Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Mems with polarization conversion and optical beam scanner based thereon

Номер патента: EP4308992A1. Автор: Jacques Gollier,Katherine Marie SMYTH. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2024-01-24.

Mems with polarization conversion and optical beam scanner based thereon

Номер патента: WO2022197423A1. Автор: Jacques Gollier,Katherine Marie SMYTH. Владелец: Meta Platforms Technologies, LLC. Дата публикации: 2022-09-22.

Light beam scanner with foreign matter removing feature

Номер патента: US5046797A. Автор: Kiyoshi Suzuki,Akira Kurisu. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1991-09-10.

Stress-optic beam scanner, system and method

Номер патента: EP1051659A1. Автор: George Seaver. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-11-15.

Stress-optic beam scanner, system and method

Номер патента: WO1999039242A1. Автор: George Seaver. Владелец: George Seaver. Дата публикации: 1999-08-05.

Optical beam scanner

Номер патента: CA1136747A. Автор: Walter E. Miller, Jr.. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 1982-11-30.

Circuit for driving a plant such as a mechanical beam scanner and related system and method

Номер патента: US20060265163A1. Автор: John Lewis,Jari Honkanen,Gary Mansouri,Tze Siu,William Standing. Владелец: Microvision Inc. Дата публикации: 2006-11-23.

Laser beam scanner

Номер патента: CA2058669C. Автор: Atsushi Nakazawa. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 1998-11-17.

Laser beam scanner

Номер патента: CA1298499C. Автор: Kozo Yamazaki,Toshiyuki Ichikawa,Fumio Yamagishi,Hiroyuki Ikeda,Hirokazu Aritake,Takefumi Inagaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1992-04-07.

Composition for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, ultrasonic endoscope, and method for manufacturing acoustic wave probe

Номер патента: US20240279472A1. Автор: Yoshihiro Nakai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Exercise information measurement apparatus, exercise management method, and exercise management program

Номер патента: US20180021658A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-01-25.

Power measurement apparatus and power measurement method

Номер патента: US09753829B2. Автор: Haruhiko Ueno,Mari Masuda,Atsushi Takami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Artificial Reality Augments and Surfaces

Номер патента: US20240233292A1. Автор: Todd Harris,Gregory Alt,James TICHENOR,Arthur Zwiegincew,Michal Hlavac,Merlyn Deng,Hayden Schoen,Barrett Fox,Alex MARCOLINA. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

Systems and methods for 3d registration of curves and surfaces using local differential information

Номер патента: EP3596657A1. Автор: João Pedro de Almeida Barreto,Carolina DOS SANTOS RAPOSO. Владелец: UNIVERSIDADE DE COIMBRA. Дата публикации: 2020-01-22.

Artificial realty augments and surfaces

Номер патента: US20220122329A1. Автор: Todd Harris,Gregory Alt,James TICHENOR,Arthur Zwiegincew,Michal Hlavac,Merlyn Deng,Hayden Schoen,Barrett Fox,Alex MARCOLINA. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2022-04-21.

Artificial Reality Augments and Surfaces

Номер патента: US20230162453A1. Автор: Todd Harris,Gregory Alt,James TICHENOR,Arthur Zwiegincew,Michal Hlavac,Merlyn Deng,Hayden Schoen,Barrett Fox,Alex MARCOLINA. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2023-05-25.

System and method for managing measurement apparatuses

Номер патента: US20040024783A1. Автор: Chih-Kuang Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Coordinate measuring apparatus for measuring input position of a touch and a coordinate indicating apparatus and method thereof

Номер патента: US09927938B2. Автор: Sung-soo Park,Byung-Jik Kim,Gwan-Hyung Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-27.

Methods for mapping depth and surface current

Номер патента: EP2596379A1. Автор: Ron Abileah. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-05-29.

Methods for mapping depth and surface current

Номер патента: WO2012012032A1. Автор: Ron Abileah. Владелец: Ron Abileah. Дата публикации: 2012-01-26.

Resin material for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, and ultrasound endoscope

Номер патента: US20190380680A1. Автор: Yuzo Nagata,Yoshihiro Nakai,Shigeki Uehira,Toshihide Yoshitani. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-12-19.

Composition for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, ultrasonic endoscope, and method for manufacturing acoustic wave probe

Номер патента: US20240327640A1. Автор: Yoshihiro Nakai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230324811A1. Автор: Jin Woo Park,Hyeon Gi Shin,Bo Kyung RYU,Jung Sun KO. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Object motion measurement apparatus, object motion measurement method, and imaging apparatus

Номер патента: US20240303829A1. Автор: Kazuya Okamoto,Kazuhiko Fukutani,Ryuichi Nanaumi. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Apparatus and method for scene reconstruction with plane and surface reconstruction

Номер патента: EP4315269A1. Автор: Yingen Xiong,Christopher Peri. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-07.

Apparatus and method for scene reconstruction with plane and surface reconstruction

Номер патента: WO2023043098A1. Автор: Yingen Xiong,Christopher Peri. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2023-03-23.

Part program generating apparatus and program for image measuring apparatus

Номер патента: US20030039334A1. Автор: Akira Takada,Koichi Komatsu,Masato Shimizu,Kozo Ariga. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2003-02-27.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Methods, apparatuses, and systems for creating 3-dimensional representations exhibiting geometric and surface characteristics of brain lesions

Номер патента: AU2022201277B2. Автор: Braeden D. Newton,Darin OKUDA. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 2024-03-07.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09665018B2. Автор: Masatoshi Endo,Takanori Morooka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09606461B2. Автор: Tadaki MIYAZAKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Integrated free space and surface input device

Номер патента: WO2017222858A1. Автор: Quentin Simon Charles Miller,Michael Edward Samples,Sergio Paolantonio,Scott Francis Fullam,Anatolie Gavriliuc,Shawn Crispin WRIGHT,Anthony James Ambrus,Jeffrey Alan Kohler. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2017-12-28.

System and method for scene reconstruction with plane and surface reconstruction

Номер патента: US11961184B2. Автор: Yingen Xiong,Christopher A. Peri. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-16.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US6826002B2. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-11-30.

Overlay measuring apparatus

Номер патента: US20230273530A1. Автор: Chien-Hsien Liu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Portable skin condition measuring apparatus, skin condition care system including the same, and skin condition care method

Номер патента: US20220401014A1. Автор: Chang Hee Han,Deug Ki LEE. Владелец: Gpower Inc. Дата публикации: 2022-12-22.

Stroke information measuring apparatus and stroke information measuring method

Номер патента: EP1398060B1. Автор: Takahiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. MURAKOSHI,Yuuichi c/o Hamamatsu Photonics K.K. KIMURA,Takehiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. KURONO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-08-03.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US20020135913A1. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-09-26.

Measurement apparatus and exposure apparatus

Номер патента: US8184263B2. Автор: Yasunori Furukawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-05-22.

Sequence similarity measuring apparatus and control method thereof

Номер патента: US20090287755A1. Автор: Dong Hoon Lee,Jung Hoon Kim,Jae Kwang Kim,Kwang Ho Yoon,Jee Hyong Lee,Kun Su Kim,Seung Hoo Lee,Tae Bok Yoon,Dong Moon Kim,Je Hee Jung. Владелец: Sungkyunkwan University Foundation For Corporate Collaboration. Дата публикации: 2009-11-19.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US20020091497A1. Автор: Otto Ruck. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2002-07-11.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20030108345A1. Автор: Hideo Yoshida,Yoshikazu Mihara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-06-12.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: EP1362217A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audio Development Informationsteknik I Malmo AB. Дата публикации: 2003-11-19.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: WO2002070986A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audiodev Aktiebolag. Дата публикации: 2002-09-12.

Activity information measuring apparatus, and method and program for assisting prevention of forgotten attachment of the same

Номер патента: US09972192B2. Автор: Naoki Takeishi. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-05-15.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09733578B2. Автор: Satoshi Maruyama,Akihito Hashimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method, and program

Номер патента: US09508153B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Artificial reality augments and surfaces

Номер патента: US11847753B2. Автор: Todd Harris,Gregory Alt,James TICHENOR,Arthur Zwiegincew,Michal Hlavac,Merlyn Deng,Hayden Schoen,Barrett Fox,Alex MARCOLINA. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2023-12-19.

Artificial Reality Augments and Surfaces

Номер патента: US20220068035A1. Автор: Todd Harris,Gregory Alt,James TICHENOR,Arthur Zwiegincew,Michal Hlavac,Merlyn Deng,Hayden Schoen,Barrett Fox,Alex MARCOLINA. Владелец: Facebook Technologies LLC. Дата публикации: 2022-03-03.

Artificial reality augments and surfaces

Номер патента: US11769304B2. Автор: Todd Harris,Gregory Alt,James TICHENOR,Arthur Zwiegincew,Michal Hlavac,Merlyn Deng,Hayden Schoen,Barrett Fox,Alex MARCOLINA. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2023-09-26.

Systems and methods for 3d registration of curves and surfaces using local differential information

Номер патента: US20210134070A1. Автор: João Pedro de Almeida Barreto,Carolina DOS SANTOS RAPOSO. Владелец: UNIVERSIDADE DE COIMBRA. Дата публикации: 2021-05-06.

Adaptive control method and system for upper limb rehabilitation robot based on game theory and surface electromyography (sEMG)

Номер патента: US12057224B2. Автор: XIAO Li,Jianxi ZHANG,Aiguo SONG,Hong Zeng,Qingqing Chen,Yinxin DUAN. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-06.

Method and device for disinfecting spaces and surfaces

Номер патента: US09974876B2. Автор: Giovanni Siccardo. Владелец: 99 Holding SARL. Дата публикации: 2018-05-22.

Air purification and surface sterilization systems integratable into building structures and furniture systems

Номер патента: CA3203226A1. Автор: Anthony L. Wiker,William H. Frantz,Alexandra G. Waltemyer,Meredith G. Baxter. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-07-07.

Air purification and surface sterilization systems integratable into building structures and furniture systems

Номер патента: EP4271946A1. Автор: Anthony L. Wiker,William H. Frantz,Alexandra G. Waltemyer,Meredith G. Baxter. Владелец: Armstrong World Industries Inc. Дата публикации: 2023-11-08.

Methods, Apparatuses, and Systems for Creating 3-Dimensional Representations Exhibiting Geometric and Surface Characteristics of Brain Lesions

Номер патента: US20240161305A1. Автор: Darin T OKUDA,Braeden D NEWTON. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 2024-05-16.

Toner containing pigment and surface modified pyrogenically produced aluminum oxide

Номер патента: US5501933A. Автор: Dieter Kerner,Hans Deusser,Andreas Stubbe,Ju/ rgen Meyer,Gu/ nther Michael. Владелец: Degussa GmbH. Дата публикации: 1996-03-26.

Dampening water quantity measuring apparatus and dampening water adjusting method

Номер патента: US20070186792A1. Автор: Shigeru Murata,Masaji Mizuta. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2007-08-16.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240272560A1. Автор: Seong Yun CHOI,Hyo Sik HAM. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US7024333B2. Автор: Rudolf Rögele,Dieter Kalmbach. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-04-04.

Dampening water quantity measuring apparatus and dampening water adjusting method

Номер патента: EP1818176A3. Автор: Masaji Mizuta,Shigeru c/o National Univ. Corp. Kyoto Murata. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2010-12-01.

Blood vessel diameter measuring apparatus

Номер патента: US20170007210A1. Автор: Yoshinobu Ono,Kohji Masuda,Takashi KAIAMI,Tsuneo TAKAYANAGI,Shinya Onogi. Владелец: Tokyo University of Agriculture and Technology NUC. Дата публикации: 2017-01-12.

Transmissive disk, manufacturing method thereof, and levitation measurement apparatus using transmissive disk

Номер патента: US20080130011A1. Автор: Daisuke Kimura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-06-05.

Beam position measuring apparatus and method

Номер патента: US20110149301A1. Автор: Vladimir Protopopov,Oui Serg Kim,Dong Seok BAEK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-06-23.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US9779493B2. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US20170046828A1. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-16.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20150238163A1. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

Measurement system, measurement apparatus, measurement data processing method, and measurement data processing program

Номер патента: US20240355479A1. Автор: Takeshi Tanaka,Daisuke Fukui,Hiromitsu Nakagawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Method of adjusting plating apparatus, and measuring apparatus

Номер патента: US20180371636A1. Автор: Yuji Araki,Masashi Shimoyama,Jumpei Fujikata,Mizuki Nagai. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-12-27.

Method for moulding and surface processing electronic components and electronic component produced with this method

Номер патента: PH12016500468A1. Автор: Gal Wilhelmus Gerardus Jozef. Владелец: Besi Netherlands Bv. Дата публикации: 2016-05-16.

Method for moulding and surface processing electronic components and electronic component produced with this method

Номер патента: PH12016500468B1. Автор: Wilhelmus Gerardus Jozef Gal. Владелец: Besi Netherlands Bv. Дата публикации: 2016-05-16.

Method for moulding and surface processing electronic components and electronic component produced with this method

Номер патента: MY174762A. Автор: Wilhelmus Gerardus Jozef Gal. Владелец: Besi Netherlands Bv. Дата публикации: 2020-05-13.

Measurement apparatus, measurement method, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160379902A1. Автор: Nobuhiro Komine,Yoshinori Hagio. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Method for moulding and surface processing electronic components and electronic component produced with this method

Номер патента: US09831105B2. Автор: Wilhelmus Gerardus Jozef Gal. Владелец: Besi Netherlands Bv. Дата публикации: 2017-11-28.

Method for Producing Bonded Wafer, Bonded Wafer, and Surface Grinding Machine

Номер патента: US20090233109A1. Автор: Susumu Miyazaki,Tokio Takei,Sigeyuki Yoshizawa,Keiichi Okabe,Yoshikazu Tachikawa. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-17.

Solar roof panel system with edge and surface treatments

Номер патента: CA2828862A1. Автор: Tommy F. Rodrigues,David J. Gennrich,Daniel E. Boss,Sudhir Railkar,Cory Boudreau,Kent J. Kallsen,Daniel Roger Nett. Владелец: Building Materials Investment Corp. Дата публикации: 2014-04-01.

Decreasing the porosity and surface roughness of ceramic substrates

Номер патента: US4230773A. Автор: Peter Bakos. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1980-10-28.

Solar roof panel system with edge and surface treatments

Номер патента: US20240039456A1. Автор: Tommy F. Rodrigues,David J. Gennrich,Daniel E. Boss,Kent J. Kallsen,Daniel R. Nett,Cory R. Boudreau,Sudhir S. Railkar. Владелец: BMIC LLC. Дата публикации: 2024-02-01.

Solar roof panel system with edge and surface treatments

Номер патента: US11824482B2. Автор: Tommy F. Rodrigues,David J. Gennrich,Daniel E. Boss,Kent J. Kallsen,Daniel R. Nett,Cory R. Boudreau,Sudhir S. Railkar. Владелец: BMIC LLC. Дата публикации: 2023-11-21.

Substrate to board interconnect with liquid metal and surface pins

Номер патента: US20230395480A1. Автор: Min Suet LIM,Jeff KU,Tin Poay Chuah,Yew San Lim,Twan Sing Loo. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Method for producing surface-treated metal titanium material or titanium alloy material and surface-treated material

Номер патента: RU2660793C2. Автор: Теруки ТАКАЯСУ,Киндзи ОНОДА,Синго МОРИ. Владелец: Мори Косан Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-07-09.

Bi-Voltage Air and Surface Sanitizer Device

Номер патента: US20240299609A1. Автор: Joshua Shane Felder. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-12.

Grain boundary- and surface-doped lithium-lanthanum-zirconium composite oxide electrolyte, preparation method therefor, and application thereof

Номер патента: US20240363896A1. Автор: Yang Xu,Ning Wang,Xiaowei Huang,Xiaobao Zhang,Qiang ZHONG,Zongyu FENG,Juanyu Yang,Yiyang XIAO. Владелец: Rare Earth Functional Materials Xiong 'an Innovation Center Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Pattern measuring apparatus

Номер патента: US20140021350A1. Автор: Susumu Koyama,Tatsuya Maeda,Mitsuji Ikeda,Hiroshi Nishihama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Pattern measuring apparatus

Номер патента: US20140021349A1. Автор: Susumu Koyama,Tatsuya Maeda,Mitsuji Ikeda,Hiroshi Nishihama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Electrostatic deflection control circuit and method of electronic beam measuring apparatus

Номер патента: US20070063146A1. Автор: Hiroshi Sasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-03-22.

Fuel cell measurement apparatus

Номер патента: US20100253356A1. Автор: Chang-Sing Hwang,Chun-Huang Tsai. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2010-10-07.

Solid electrolyte tube for sodium sulfur cells and surface finishing process thereof

Номер патента: CA2005899C. Автор: Masaaki Ohshima,Akira Kobayashi,Hiromi Shimada,Senji Atsumi. Владелец: TOKYO ELECTRIC CO Inc (THE). Дата публикации: 1994-12-13.

METHOD FOR PRODUCTION OF NON-TEXTURED ELECTRICAL STEEL SHEET WITH MAGNETIC INDUCTION OF ≥ 1,7 T, IRON LOSSES ≤ 5,61 W/kg AND SURFACE WITHOUT WAVINESS DEFECTS

Номер патента: RU2710147C2. Автор: Бо ВАН,Айхуа МА,Фэн ЧЖАН,Яньли СУН,Сюэцзюнь ЛВ,Чанго ХУАН. Владелец: Баошан Айрон Энд Стил Ко., Лтд.. Дата публикации: 2019-12-24.

Carbon-supported and surface-engineered platinum nanocube catalyst, method for preparing the same, and ammonia decomposition device including the same

Номер патента: US20220275525A1. Автор: Sang Il Choi,Hye Jin Lee,Young Min Hong. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of KNU. Дата публикации: 2022-09-01.

Fuel cell potential measuring apparatus and manufacturing method therefor

Номер патента: US20100021781A1. Автор: Masahiko Sato,Toshifumi Suzuki,Hiromichi Yoshida. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-28.

Light beam scanner

Номер патента: US4285012A. Автор: Yuji Ohara,Masahiro Ohnishi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1981-08-18.

Method of high-speed communication channel formation between underwater and surface objects

Номер патента: RU2724978C1. Автор: Александр Владимирович Иванов,Алексей Владимирович Иванов,Борис Михайлович Даринский,Юрий Геннадьевич Пастернак,Дмитрий Сергеевич Алиев,Максим Павлович Беляев,Станислав Романович Войтенко. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2020-06-29.

Sensor for aerosol generation apparatus, aerosol generation apparatus and temperature measurement apparatus

Номер патента: EP4223161A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Susceptor for vapor generation apparatus, vapor generation apparatus, and temperature measurement apparatus

Номер патента: US20230363463A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200127776A1. Автор: Hidetoshi Suzuki,Lilei Wang,Shotaro MAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2020-04-23.

Lighting module with top contact and surface mount leds

Номер патента: WO2024129652A1. Автор: Joseph Hendrik Anna Maria Jacobs,Marc DROEGELER. Владелец: LUMILEDS LLC. Дата публикации: 2024-06-20.

Communication terminal measurement system, communication terminal measurement apparatus, and communication terminal test method

Номер патента: US20210243759A1. Автор: Daiki Kano,Yuki Naruse,Toru Yamasaki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus

Номер патента: US20140362262A1. Автор: Akinari Takagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-12-11.

Reconfigurable measuring apparatus and method for controlling apparatus

Номер патента: US09545212B2. Автор: Jong Pal Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-17.

Biological information measurement apparatus

Номер патента: US20160199005A1. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-14.

Time-division multiplexing-based multi-channel electrocardiogram measurement apparatus robust against power line interference and electrocardiogram measurement method using the same

Номер патента: US20240120938A1. Автор: Jae Yoon Sim,Kyu Jin Choi. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2024-04-11.

Ear model, head model, and measuring apparatus and measuring method employing same

Номер патента: US09949670B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Reducer of lens effect and surface electric gradient in lightning rods

Номер патента: WO2009009847A4. Автор: Deodoro Hilario Da Silva Araujo. Владелец: Araujo Deodoro Hilario Da Silv. Дата публикации: 2009-05-22.

Atmospheric oxygen plasma for disinfecting air and surface by nanotitanium coating

Номер патента: WO2023041962A1. Автор: Mehrdad FOJLALEY,Emmett Imani. Владелец: Emmett Imani. Дата публикации: 2023-03-23.

Dispersion measurement apparatus

Номер патента: US20120045160A1. Автор: Motoyoshi Sekiya,Yusaku Yamamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-02-23.

Measurement apparatus, program, recording medium, and measurement method

Номер патента: US20110022341A1. Автор: Koji Asami. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Brightness measurement apparatus, brightness measurement method, brightness measurement program, and camera system

Номер патента: US20240244331A1. Автор: Ikuko Komura. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Noise quantity measuring apparatus

Номер патента: US7920153B2. Автор: Takayuki Satou,Hidetsugu Takahashi. Владелец: Oki Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2011-04-05.

Switch overcurrent measuring apparatus

Номер патента: US20240267039A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Atsuki Asano. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Fiber network events measurement apparatus

Номер патента: US20130322871A1. Автор: Ching-Wen Hsiao,Yu-Shu Chen,Hsuan-Hung Wu,Fu-Chun Hung,Chun-Hung Su,Ching-Lin Wu,Shih-Tien Lin. Владелец: Polarlink Tech Ltd. Дата публикации: 2013-12-05.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Communication quality measuring apparatus and communication quality measuring method

Номер патента: US20140135043A1. Автор: Katsuyuki Masuda,Takahiro Kawaguchi,Yutaka Hamada,Hiromitsu Kawai,Yuki Shinada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-05-15.

MEASUREMENT APPARATUS AND Non-PSC CONNECTION METHOD THEREFOR

Номер патента: US20240276328A1. Автор: Kazuyuki Koike,Yasuko Uda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Frequency characteristic measurement apparatus and frequency characteristic measurement method

Номер патента: EP4425789A1. Автор: Hiroshi Fujiwara,Toru Tazawa,Yuta SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Method for calibrating at least one beam scanner in a manufacturing device, method for additively manufacturing an object from a powder material, and manufacturing device

Номер патента: WO2024160547A1. Автор: Elia Mantoan,Niccolò Michieli. Владелец: TRUMPF Additive Manufacturing Italia S.r.l.. Дата публикации: 2024-08-08.

Method for calibrating at least one beam scanner in a manufacturing device, method for additively manufacturing an object from a powder material, and manufacturing device

Номер патента: EP4410454A1. Автор: Elia Mantoan,Niccolò Michieli. Владелец: Trumpf Additive Manufacturing Italia Srl. Дата публикации: 2024-08-07.

System and method for downhole and surface meaurements for an electric submersible pump

Номер патента: US20200109619A1. Автор: Emmanuel Coste,Jeffery Anderson. Владелец: Sensia LLC. Дата публикации: 2020-04-09.

Method for installing facing elements on the bearing surface (variants) and surface facing

Номер патента: RU2761224C1. Автор: Алексей Николаевич Петров. Владелец: Яцун Андрей Николаевич. Дата публикации: 2021-12-06.

Surface member forming method and surface member

Номер патента: RU2296674C2. Автор: Раймо ТИККА. Владелец: Тикка-Систем Ой. Дата публикации: 2007-04-10.

Method for combined treatment by turning and surface plastic deformation

Номер патента: RU2728994C1. Автор: Виталий Александрович Непомнящий,Александр Валерьевич Колобков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рыбинский государственный авиационный технический университет имени П.А. Соловьева". Дата публикации: 2020-08-03.

Method for operating surface treatment unit, set of filter modules and surface treatment unit

Номер патента: RU2666854C2. Автор: Юрген РЁКЛЕ,Герберт ШУЛЬЦЕ,Нильс ШМАЙНК. Владелец: Айзенманн Се. Дата публикации: 2018-09-12.

Aerosol-generating product containing heat-conducting element and surface processing

Номер патента: RU2639106C1. Автор: Александр Мальга,Фредерик ЛАВАНШИ. Владелец: ФИЛИП МОРРИС ПРОДАКТС С.А.. Дата публикации: 2017-12-19.

Measuring apparatus for grinding machines for cylinders with structural and surface checking devices

Номер патента: US4807400A. Автор: Paolo Rattazzini,Valeriano Corallo. Владелец: Giustina International Spa. Дата публикации: 1989-02-28.

Device for cyclic immersion and surfacing of sea buoy

Номер патента: RU2733550C1. Автор: Александр Николаевич Греков,Андрей Вартазарович Дологлонян,Иван Николаевич Стаценко,Валерий Сергеевич Терещук. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт машиноведения им. А.А. Благонравова Российской академии наук (ИМАШ РАН). Дата публикации: 2020-10-05.

Surface treatment device and surface treatment method

Номер патента: RU2690060C1. Автор: Кацухиро УСУИ,Такеси НАГАО. Владелец: Ниссан Мотор Ко., Лтд.. Дата публикации: 2019-05-30.

Papermaking belt with bulge area, forming geometric pattern that is repeated in any smaller scale for production of irregular figures and surfaces

Номер патента: RU2544157C2. Автор: Пол Деннис ТРОКХАН,Осман ПОЛАТ. Владелец: Дзе Проктер Энд Гэмбл Компани. Дата публикации: 2015-03-10.

Method for cleaning livestock drainage and surface waters and device for its implementation

Номер патента: RU2630791C1. Автор: Михаил Иванович Голубенко. Владелец: Михаил Иванович Голубенко. Дата публикации: 2017-09-13.

Mobile boring and surfacing complex

Номер патента: RU2753849C1. Автор: Александр Валерьевич Луппов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ПРЕДПРИЯТИЕ "САРМАТ". Дата публикации: 2021-08-24.

Polymer composition, use thereof and surface sizing

Номер патента: RU2733729C2. Автор: Аско КАРППИ,Матти ХИЕТАНИЕМИ,Роса КАРСЕЛЬЕР. Владелец: Кемира Ойй. Дата публикации: 2020-10-06.

Water filters and methods containing activated carbon particles and surface carbon nanofibers

Номер патента: RU2386468C2. Автор: Димитрис Иоаннис КОЛЛИАС,Майкл Донован МИТЧЕЛЛ. Владелец: Пюр Уотер Пьюрификейшн Продактс Инк.. Дата публикации: 2010-04-20.

Multifunctional module of operational transport interconnection of underwater / under-ice and surface objects

Номер патента: RU2746183C1. Автор: Олег Иванович Ефимов,Ольга Владимировна Гудкова,Владислав Сергеевич Назаренко,Андрей Викторович Шалдыбин,Михаил Александрович Медянников,Эдуард Михайлович Баранов. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-Морского Флота "Военно-морская академия им. Адмирала Флота Советского Союза Н.Г. Кузнецова". Дата публикации: 2021-04-08.

Combined profile with bearing element out of material on base of light metal and surface mounted band, also method of fabrication of this combined profile

Номер патента: RU2384426C2. Автор: Дитхельм ВЁМПНЕР,Тимо НЕТЦЕЛЬ,Дитхельм ВЁМПНЕР (DE),Тимо НЕТЦЕЛЬ (DE). Владелец: Алкан Технолоджи Энд Мэниджмент Лтд.. Дата публикации: 2010-03-20.

Device for cyclic immersion and surfacing of sea buoy

Номер патента: RU2701293C1. Автор: Александр Николаевич Греков,Андрей Константинович Сухов,Андрей Вартазарович Дологлонян,Иван Николаевич Стаценко,Валерий Сергеевич Терещук. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт машиноведения им. А.А. Благонравова Российской академии наук (ИМАШ РАН). Дата публикации: 2019-09-25.

Method and plant for manufacturing slabs made of stone or stone-like agglomerate material and having veins and surface chromatic effects and slab so obtained

Номер патента: WO2024154027A1. Автор: Luca Toncelli. Владелец: Luca Toncelli. Дата публикации: 2024-07-25.

Surface treatment method of metal powder and surface passivated metal powder

Номер патента: US20240300013A1. Автор: Yuping Li,Yuntao Jiang,Yongyang SUN,Yunyi ZHANG,Changzheng GUO. Владелец: Hengdian Group DMEGC Magnetics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Film-type biomedical signal measuring apparatus, blood pressure measuring apparatus using the same, cardiopulmonary fitness estimating apparatus, and personal authentication apparatus

Номер патента: US20200107744A1. Автор: Hee Chan Kim,Seung Woo NOH,Chi Yul YOON. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2020-04-09.

Device for disinfecting and deodorizing air and surfaces of premises

Номер патента: RU2270696C2. Автор: Валерий Петрович Фоканов,Александр Владимирович Шалларь. Владелец: Александр Владимирович Шалларь. Дата публикации: 2006-02-27.

Stable emulsion, method of preparing thereof, and surface active addition agent for preparing thereof

Номер патента: RU2142498C1. Автор: Ривас Эрсилио,Гутьеррес Ксиомара,Э.Карденас Антонио,Морлес Аманда. Владелец: Интевеп, С.А.. Дата публикации: 1999-12-10.

Biological information measuring apparatus

Номер патента: US20160066796A1. Автор: Hisahiro Matsuhashi,Ryo SHINOZAKI,Katsuaki Sakata,Makoto ANEZAKI. Владелец: UNION TOOL Co. Дата публикации: 2016-03-10.

Methods for preparing and compositions including untreated and surface-treated alkaline earth metal carbonates

Номер патента: US12031010B2. Автор: Allison Anne Calhoun,Charles Michael Blevins. Владелец: Incoa Performance Minerals LLC. Дата публикации: 2024-07-09.

Coating and surface repair method

Номер патента: WO2016003522A2. Автор: Michael F. Mullen,Tapas K. Mukherji,Ibibia ALTRAIDE. Владелец: SIKORSKY AIRCRAFT CORPORATION. Дата публикации: 2016-01-07.

MR conditional needle and surface electrodes

Номер патента: US8682409B1. Автор: Alfred A. Iversen,Eric Caille,Wade FREDRICKSON,Benjamin J. Osa,Joseph Copley. Владелец: PMT Corp USA. Дата публикации: 2014-03-25.

Medical measurement apparatus

Номер патента: US20240285364A1. Автор: Takahiko Shiraishi,Tatsushi CHIHARA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-29.

V-n microalloyed steel and method for producing v-n microalloyed and surface-crack-free continuous casting blank

Номер патента: US20240327963A1. Автор: Wei Ning,Kang He,Yue Liu,Lifeng Zhao,Zhongxue WANG,Xiaoxin HUO,Linxiu DU,Heng Ma,Aijiao CHEN,Chuanzhi DU,Hongyan WU. Владелец: Laiwu Steel Group Yinshan Section Steel Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Grain boundary and surface doped rare earth manganese-zirconium composite compound as well as preparation method therefor and use thereof

Номер патента: EP4450157A1. Автор: Zheng Zhao,Xiaowei Huang,Qiang ZHONG,Yongke Hou,Xinlin Peng,Yongqi Zhang,Zhizhe ZHAI,Weixin Zhao. Владелец: Rare Earth Functional Materials Xiong'an Innovation Center Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Grain-boundary- and surface-doped rare-earth zirconium-based ceramic material, preparation method therefor, and use thereof

Номер патента: EP4450477A1. Автор: He Zhang,Lei Du,Ning Wang,Xiaowei Huang,Zongyu FENG,Juanyu Yang,Yuanyuan ZHENG,Yanxiao Liu. Владелец: Rare Earth Functional Materials Xiong'an Innovation Center Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Particulate aggregating and surface modification with improved hydrocarbon fluid flow through the aggregated particulates and over solid surface reagents and methods for making and using same

Номер патента: US09938453B2. Автор: Raynard Veldman,Arthur Thomas GILMER,Mohammad Zaki Hasra SHAFIE,Norazlam NORBI. Владелец: Sumisaujana TCM Chemicals Sdn Bhd. Дата публикации: 2018-04-10.

Particulate aggregating and surface modification with improved hydrocarbon fluid flow through the aggregated particulates and over solid surface reagents and methods for making and using same

Номер патента: US09932520B2. Автор: Raynard Veldman,Arthur Thomas GILMER,Mohammad Zaki Hasra SHAFIE,Norazlam NORBI. Владелец: Sumisaujana TCM Chemicals Sdn Bhd. Дата публикации: 2018-04-03.

Dual-purpose viscosifier and surface active additives and methods of use

Номер патента: US09834715B2. Автор: Jim Weaver,Michael Mccabe. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Biological measurement apparatus and biological stimulation apparatus

Номер патента: US09820910B2. Автор: Yukinori Nagatani. Владелец: Okayama Prefectural Government. Дата публикации: 2017-11-21.

Water-preserved-mining roof-contacted filling method for controlling fissure of overlying strata and surface subsidence

Номер патента: US09689258B2. Автор: Fei Wang,Hai Sun,Liqiang MA,Xiaomin YU,Zhiyuan JIN. Владелец: China University of Mining and Technology CUMT. Дата публикации: 2017-06-27.

Particulate aggregating and surface modification with improved hydrocarbon fluid flow through the aggregated particulates and over solid surface reagents and methods for making and using same

Номер патента: US09550938B2. Автор: Raynard Veldman,Arthur Thomas GILMER,Mohammad Zaki Hasra SHAFIE,Norazlam NORBI. Владелец: Sumisaujana TCM Chemicals Sdn Bhd. Дата публикации: 2017-01-24.

Wearable Blood Pressure Measurement Apparatus and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220110531A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

A blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2001037727B1. Автор: Jozsef Beres,Miklos Illyes Jr. Владелец: Miklos Illyes Jr. Дата публикации: 2001-10-25.

Measuring apparatus and method and apparatus for determining a leakage of an injection valve

Номер патента: WO2012069317A1. Автор: Cristiano Mannucci. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2012-05-31.

Diagnostic measuring apparatus with integrated spectrometer

Номер патента: US09480423B2. Автор: Ok-Kyung Cho,Yoon Ok Kim. Владелец: INGO FLORE. Дата публикации: 2016-11-01.

Flux for mechanized welding and surfacing of steels

Номер патента: RU2749735C1. Автор: Николай Анатольевич Козырев,Вячеслав Владимирович Павлов,Роман Евгеньевич Крюков,Алексей Романович Михно,Павел Павлович Лазаревский. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Регионстрой". Дата публикации: 2021-06-16.

Aquatic facility for surface treatment of metallic material, treatment method of surface and surface-treated metallic material

Номер патента: RU2378416C2. Автор: Хидехиро ЯМАГУТИ,Синдзи НОМУРА,Ёсихиро ИВАСАКИ. Владелец: Нихон Паркирайзинг Ко., Лтд.. Дата публикации: 2010-01-10.

Preparation of vaccines containing hepatitis type b virus surface antigen and surface-active material

Номер патента: RU2444374C2. Автор: Марио Конторни. Владелец: Новартис Вэксинес Энд Дайэгностикс Срл. Дата публикации: 2012-03-10.

Microwave unit for processing articles from dielectric materials with large volumes and surfaces

Номер патента: RU2742147C1. Автор: Николай Валерьевич Бекренев,Ирина Владимировна Злобина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А." (СГТУ имени Гагарина Ю.А.). Дата публикации: 2021-02-03.

Coating composition for grain treatment and surface sterilization

Номер патента: RU2655961C1. Автор: Окан ДЕМИР,Зейнеп УСТАОГЛУ,Фикреттин САХИН. Владелец: Едитепе Университеси. Дата публикации: 2018-05-30.

Dosage unit for delayed release of insecticide, measuring apparatus and device for thereof, and method of its manufacturing

Номер патента: RU2501219C2. Автор: ГУЭЛЬ Эдуард МОНСОНИС,БАРЕА Хорди КОРТЕС,АРНАЛЬ Фредерик ДАЛЬМАУ. Владелец: Эс.Си.ДЖОНСОН ЭНД САН, ИНК.. Дата публикации: 2013-12-20.

Flux for steel mechanized welding and surfacing

Номер патента: RU2682730C1. Автор: Николай Анатольевич Козырев,Евгений Валентинович Протопопов,Роман Евгеньевич Крюков,Александр Александрович Усольцев,Алексей Романович Михно,Валентина Евгеньевна Хомичева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный индустриальный университет", ФГБОУ ВО "СибГИУ". Дата публикации: 2019-03-21.

Transient air and surface contact vehicle

Номер патента: US4685641A. Автор: Michael Sturm,M. Alan Kopsco,Jerome Kirsch,Edward Markow. Владелец: Grumman Aerospace Corp. Дата публикации: 1987-08-11.

Method and apparatus for cleaning carpets and surfaces using cleaning fluid

Номер патента: CA1082406A. Автор: John J. Sundheim. Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-07-29.

Method for measuring distance between lower end surface of heat shielding member and surface of raw material melt, method for controlling distance between lower end surface of heat shielding member and surface of raw material melt and method for manufacturing silicon single crystal

Номер патента: US20240026565A1. Автор: Masahiro Akiba,Katsuyuki Kitagawa,Kosei Sugawara,Takaki IMAI. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US20190090758A1. Автор: Kazumasa Ito,Yoshinori Ueda,Takashi Usuda. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2019-03-28.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020027439A1. Автор: Fumie Shibata,Tamaki Shoji. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-03-07.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000363A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: EP3600021A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2020-02-05.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2018180787A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corporation. Дата публикации: 2018-10-04.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000364A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Process for manufacturing a non-degumming seamless and surface-laminated basketball

Номер патента: US20180147456A1. Автор: Junwei Yao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-31.

Multiblock copolypeptides of elastin-based polypeptides and mussel foot proteins with stimuli-responsiveness and surface-adhesive, methods of preparing thereof and use thereof

Номер патента: US12049491B2. Автор: Jae Hee Lee,Jae Sang LEE,Dong Woo Lim. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2024-07-30.

System and method for suppressing the formation of oxygen inclusions and surface blisters in glass sheets and the resulting glass sheets

Номер патента: WO2005030661A3. Автор: Thomas D Ketcham,Paul R Grzesik,David M Lineman,Randy D Ziegenhagen. Владелец: Randy D Ziegenhagen. Дата публикации: 2005-08-04.

System and method for suppressing the formation of oxygen inclusions and surface blisters in glass sheets and the resulting glass sheets

Номер патента: US20060086146A1. Автор: Thomas Ketcham,David Lineman,Paul Grzesik,Randy Ziegenhagen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

System and method for suppressing the formation of oxygen inclusions and surface blisters in glass sheets and the resulting glass sheets

Номер патента: WO2005030661A2. Автор: Thomas D Ketcham,Paul R Grzesik,David M Lineman,Randy D Ziegenhagen. Владелец: CORNING INCORPORATED. Дата публикации: 2005-04-07.

Blood pressure measurement apparatus, method of controlling blood pressure measurement apparatus, and program

Номер патента: US11324454B2. Автор: Hirotaka Wada,Masaaki Kasai,Eriko Kan,Keiichi Obayashi,Ayako Kokubo. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2022-05-10.

Single-step heat treating and surface coating on self-piercing rivets

Номер патента: US20030207037A1. Автор: Huimin Liu. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2003-11-06.

Flexible cover window with improved strength and surface hardness

Номер патента: US20240140072A1. Автор: Kukhyun Sunwoo,Tea Joo Ha,Jae Suk Oh. Владелец: UTI INC. Дата публикации: 2024-05-02.

An odor removal, stain removal, and surface cleaning composition

Номер патента: WO2024167480A1. Автор: Elias ELIAS HASROUNI. Владелец: The Shat Ink LLC. Дата публикации: 2024-08-15.

System used to permanently fix a plastic object to an object made of different material with higher toughness and surface hardness

Номер патента: WO2008087683A2. Автор: Pierluigi Pettinari,Carlo Perini. Владелец: V.I.C. - Viterie Italia Centrale S.R.L.. Дата публикации: 2008-07-24.

System used to permanently fix a plastic object to an object made of different material with higher toughness and surface hardness

Номер патента: EP2104758A2. Автор: Pierluigi Pettinari,Carlo Perini. Владелец: Vic - Viterie Italia Centrale Srl. Дата публикации: 2009-09-30.

Grain boundary and surface-loaded noble metal catalyst as well as preparation method and application thereof

Номер патента: US20240359164A1. Автор: Yang Xu,Zheng Zhao,Xiaowei Huang,Yongke Hou,Zongyu FENG,Yongqi Zhang,Weixin Zhao. Владелец: Rare Earth Functional Materials Xiong 'an Innovation Center Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Grain boundary and surface-supported noble metal catalyst, and preparation method therefor and application thereof

Номер патента: EP4450158A1. Автор: Yang Xu,Zheng Zhao,Xiaowei Huang,Yuxin Zhao,Yongke Hou,Zongyu FENG,Yongqi Zhang. Владелец: Rare Earth Functional Materials Xiong'an Innovation Center Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Physiological information measuring apparatus

Номер патента: US09788727B2. Автор: Atsushi Narusawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Flux for mechanized welding and surfacing of steels

Номер патента: RU2753346C1. Автор: Николай Анатольевич Козырев,Вячеслав Владимирович Павлов,Алексей Романович Михно,Павел Павлович Лазаревский. Владелец: ООО "Регионстрой". Дата публикации: 2021-08-13.

Surface treatment for metal, process for surface treatment of metallic substances and surface-treated metallic substances

Номер патента: CA2451471A1. Автор: Ryosuke Sako,Keiichi Ueno,Ryu Hasegawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-03.

Apparatus, system and method to treat air and surfaces using light

Номер патента: US11759539B2. Автор: Brian Astl,Sean Van Doorselaer. Владелец: LIND EQUIPMENT Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Method and device for purifying ambient air and surfaces

Номер патента: WO2009017725A1. Автор: Neal Morris,Allen Johnston,James Normark. Владелец: Ecoquest International, Inc.. Дата публикации: 2009-02-05.

Biological information measuring apparatus, biological information measuring system, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20210068767A1. Автор: Kiichiro Arikawa,Tadashi SUTO. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Biological information measurement apparatus

Номер патента: US20220071542A1. Автор: Yuki Yagishita,Mao Katsuhara,Kazunari Yoshifuji,Takeshi Ohkawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Pulsebeat measurement apparatus

Номер патента: US20180317790A1. Автор: Masahiro Suzuki,Tomoaki Ueda. Владелец: KDDI Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Golf simulator or measurement apparatus

Номер патента: EP1575678A2. Автор: Brian Mooney,James Hourihan. Владелец: MONTAGUE KENYON Ltd. Дата публикации: 2005-09-21.

Resinous cover for use in bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020072687A1. Автор: Yoshikazu Yoshida,Ikuo Hakomori. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-06-13.

A blood flow measuring apparatus

Номер патента: EP1397071A1. Автор: Hans Strandberg. Владелец: St Jude Medical AB. Дата публикации: 2004-03-17.

Acoustic wave measuring apparatus and control method of acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US20180078145A1. Автор: Akira Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-22.

Blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US20100069764A1. Автор: Hee-Jung Kang. Владелец: Daeyomedi Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-18.

Bio-signal measuring apparatus and bio-signal measuring method

Номер патента: US20190167144A1. Автор: Kak Namkoong,Myoung Hoon Jung,Yeol Ho Lee,Won Jong Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-06.

Tool holder with measuring apparatus

Номер патента: US20220118529A1. Автор: Thomas Grosch. Владелец: HAIMER GMBH. Дата публикации: 2022-04-21.

Eye refractive power measuring apparatus

Номер патента: US4744648A. Автор: Yasuo Kato,Yasufumi Fukuma,Kiwami Horiguchi,Kiichi Kamiyama. Владелец: Tokyo Kogaku Kikai KK. Дата публикации: 1988-05-17.

Intraperitoneal pressure ("ipp") measurement apparatuses and systems

Номер патента: AU2021373621A9. Автор: Sukhraaj Basati,John Sterling Norman,Jorge Augusto Del Castillo,Joanna Rita Yanaga,Chris John Grivas. Владелец: Baxter International Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Pulse measurement apparatus, a method therefor, and a vehicle system therefor

Номер патента: US12127823B2. Автор: Sang Won Lee,Ho Jin Lee,Sang Bum Kim,Nam Woong Hur,Seul Ki Jeon,Gyun Ha Kim,Eung Hwan Kim. Владелец: Nidec Mobility Korea Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Electric reaction measuring apparatus, electric reaction processing method, and recording medium

Номер патента: US11932836B2. Автор: Yumiko Kato,Kiyotaka Tsuji. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Transmitted light detection type measurement apparatus for skin autofluorescence

Номер патента: US09955871B2. Автор: Uk Kang,Soo Jin Bae,Garry V Papayan,Dae Sic Lee,Guang Hoon Kim,Il Hyung SHIN. Владелец: Korea Electrotechnology Research Institute KERI. Дата публикации: 2018-05-01.

Acoustic wave measuring apparatus and control method of acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US09867545B2. Автор: Akira Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

Biosignal measuring apparatus and method of measuring biosignal

Номер патента: US09662032B2. Автор: Byung-Hoon Ko,Tak-Hyung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-30.

Biosignal measurement apparatus

Номер патента: US09655541B2. Автор: Seiji Wada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Ophthalmic measurement apparatus and ophthalmic measurement program

Номер патента: US09480396B2. Автор: Michihiro Takii,Noriji Kawai. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Substrate coating containing complex of ionic fluoropolymer and surface-charged nanoparticles

Номер патента: RU2471823C2. Автор: Вольфганг БЮРГЕР,Рудольф ШТЕФФЛЬ. Владелец: В.Л. Гор Энд Ассошиэйтс Гмбх. Дата публикации: 2013-01-10.

Heading-and-surface miner

Номер патента: RU2753306C1. Автор: Виктор Яковлевич Прушак,Александр Сергеевич Кучик,Вячеслав Дмитриевич Михаленя,Сергей Николаевич Мыслейко. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "Солигорский Институт Проблем Ресурсосбережения С Опытным Производством". Дата публикации: 2021-08-13.

Skin composition, including vitamin d analogue and mixture of solvent and surface-active substances

Номер патента: RU2560677C2. Автор: Карстен ПЕТЕРССОН. Владелец: Лео Фарма А/С. Дата публикации: 2015-08-20.

Flux for steel mechanized welding and surfacing

Номер патента: RU2683164C1. Автор: Николай Анатольевич Козырев,Роман Евгеньевич Крюков,Ольга Анатольевна Козырева,Александр Александрович Усольцев,Алексей Романович Михно. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный индустриальный университет", ФГБОУ ВО "СибГИУ". Дата публикации: 2019-03-26.

Method of making electrode and surface processing by electrode discharge

Номер патента: RU2490095C2. Автор: Хироюки ОТИАИ,Мицутоси ВАТАНАБЕ,Юкихиро СИМОДА,Хироки ЙОСИДЗАВА,Кеухеи НОМУРА. Владелец: АйЭйчАй КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2013-08-20.

Method of determination of metacentric height of underwater and surface objects and device of electronic goniometer therefor

Номер патента: RU2670319C1. Автор: Алексей Николаевич Тихомиров,Андрей Юрьевич Каверинский,Михаил Александрович Мурашов,Дмитрий Олегович Веретенников,Сергей Александрович Белянский,Родион Олегович Кашкарев,Павел Васильевич Прудников,Андрей Витальевич Любимов. Владелец: Акционерное общество "Центральное конструкторское бюро морской техники "Рубин". Дата публикации: 2018-10-22.

Method of producing branched olefins, method of producing surface active substance, method of producing alcohol sulphates, composition of branched olefins, isoparaffin composition and surface active substance

Номер патента: RU2358959C2. Автор: Лоран Ален ФЕНУЙ,Пол Мари ЭЮБ,Брендан Дермот МЮРРЕЙ. Владелец: Шелл Интернэшнл Рисерч Маатсхаппий Б.В.. Дата публикации: 2009-06-20.

Mobile boring and surfacing machine

Номер патента: RU2760350C1. Автор: Александр Валерьевич Луппов,Михаил Сергеевич Шишов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ПРЕДПРИЯТИЕ "САРМАТ". Дата публикации: 2021-11-24.

Functionalised acrylic processing additive for glossing and surface finishing

Номер патента: RU2768496C2. Автор: Джейсон М. ЛАЙОНЗ,Кевин Р. ЙОККА,Дэвид Э. МАУНТЗ. Владелец: Аркема, Инк.. Дата публикации: 2022-03-24.

Soft layered web containing high concentrations of superabsorbent material, cellulose fiber and surface-applied binder

Номер патента: RU2644902C2. Автор: Хеннинг Рёттгер,Ральф ЭМКЕ,Рено ФОЛЬКМЕР. Владелец: Глэтфелтер Фалькенхаген Гмбх. Дата публикации: 2018-02-14.

Austenitic stainless steel having excellent processability and surface characteristics, and manufacturing method therefor

Номер патента: US11542569B2. Автор: Sang Jin Lee,Jae-hong Shim,Jong-Jin Jeon,Hyung-Gu KANG,Yong-Heon Lee. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-03.

Lubricant and surface conditioner suitable for conversion coated metal surfaces

Номер патента: CA2237907A1. Автор: Timm L. Kelly,Gary L. Rochfort. Владелец: Gary L. Rochfort. Дата публикации: 1997-06-12.

Chemical mechanical machining and surface finishing

Номер патента: IL157290A. Автор: . Владелец: Rem Technologies. Дата публикации: 2007-06-03.

Lubricant and surface conditioner for formed metal surfaces

Номер патента: US20070184202A1. Автор: Andrew Hatch,Gary Rochfort,Richard Banaszak. Владелец: Henkel AG and Co KGaA. Дата публикации: 2007-08-09.

Single step milling and surface coating process for preparing stable nanodispersions

Номер патента: US20090180976A1. Автор: William A. Yuill,Charles E. Seeney,Donald D. Gibson. Владелец: NanoBioMagnetics Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Surface veil and surface film integrated prepreg layer and processes for making the same

Номер патента: US11772357B2. Автор: Elif ERDOGAN. Владелец: Kordsa Teknik Tekstil AS. Дата публикации: 2023-10-03.

Antimicrobial surface and surface coats

Номер патента: WO2011081899A1. Автор: Ronald Edwin Lisec. Владелец: Hillcrest Financial Partners, LLC. Дата публикации: 2011-07-07.

Antimicrobial surface and surface coats

Номер патента: US20110160334A1. Автор: Ronald Edwin Lisec. Владелец: Hillcrest Financial Partners LLC. Дата публикации: 2011-06-30.

Single Step Milling and Surface Coating Process for Preparing Stable Nanodispersions

Номер патента: US20130121936A1. Автор: William A. Yuill,Charles E. Seeney,Donald D. Gibson. Владелец: Nanomateriales de C V SA. Дата публикации: 2013-05-16.

Surface treatment method for metal powder, and surface-passivated metal powder

Номер патента: EP4205883A1. Автор: Yuping Li,Yuntao Jiang,Yongyang SUN,Yunyi ZHANG,Changzheng GUO. Владелец: Hengdian Group DMEGC Magnetics Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Portable direct and indirect air and surface disinfection

Номер патента: US20240148920A1. Автор: Kristopher Douglas Rupay,Arash Mahinakbarzadeh,Payam Peter Bahraini. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-05-09.

Composite saline-alkali soil improvement method for double-layer salinity control with straws and surface mesembryanthemum crystallinum desalination

Номер патента: NL2029713B1. Автор: Li Bing,Li Yan,ZHANG KAI,Liu Zhaohui,WANG Yanqin,Bo Luji,Zhang Rongquan,Ma Ronghui. Владелец: Shandong Acad Of Agricultural Sciences. Дата публикации: 2022-11-15.

Photocatalytic gate especially for air and surface disinfection

Номер патента: WO2023223113A1. Автор: Piotr Czech. Владелец: Piotr Czech. Дата публикации: 2023-11-23.

Composition of active ingredients, for care and surface modification of human hair

Номер патента: US20220008321A1. Автор: Torsten Lechner,Erik Schulze Zur Wiesche,Rene Krohn. Владелец: Henkel AG and Co KGaA. Дата публикации: 2022-01-13.

Fabric and surface care formulations containing tertiary amino modified cellulose derivatives

Номер патента: US09499771B2. Автор: Emmett M. Partain, III,Jan E. Shulman,Josephine ELDREDGE. Владелец: Rohm and Haas Co. Дата публикации: 2016-11-22.

Ultrasound tool for straining of welds and surfaces

Номер патента: RU2540230C2. Автор: Юрий КУДРЯВЦЕВ,Якоб КЛЕЙМАН,Олександр ЛУГОВСЬКИЙ,Андрей МОВЧАНЮК. Владелец: Стракчерел Интегрити Текнолоджиз Инк.. Дата публикации: 2015-02-10.

Breath refresher for disinfecting oral cavity and containing magnolia bark extract and surface active substance

Номер патента: RU2388457C2. Автор: Майкл Дж. ГРИНБЕРГ,Джеймс Рой МАКСВЕЛЛ,Минмин ТИАН,Майкл Вильям Джеймс ДОДДЗ,Ребека Анн АУМАНН. Владелец: Вм. Ригли Дж. Компани. Дата публикации: 2010-05-10.

Oxidizing alkaline biodecontamination gel and surface biodecontamination method using said gel

Номер патента: RU2669932C2. Автор: Амели ЛЮДВИГ,Фредерик Гёттманн,Фабиен ФРАНС,Шарлин ЛЕГОФ,Валери ТАНШУ. Владелец: Коммиссариат А Л'Энержи Атомик Э Оз Энержи Альтернатив. Дата публикации: 2018-10-17.

Flux for steel mechanized welding and surfacing

Номер патента: RU2682515C1. Автор: Николай Анатольевич Козырев,Роман Евгеньевич Крюков,Ольга Анатольевна Козырева,Александр Александрович Усольцев,Алексей Романович Михно,Александр Александрович Уманский,Любовь Валерьевна Думова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный индустриальный университет", ФГБОУ ВО "СибГИУ". Дата публикации: 2019-03-19.

Methods for preparing and compositions including untreated and surface-treated alkaline earth metal carbonates

Номер патента: EP3710147A1. Автор: Allison Anne Calhoun,Charles Michael Blevins. Владелец: Incoa Partners LLC. Дата публикации: 2020-09-23.

Methods for preparing and compositions including untreated and surface-treated alkaline earth metal carbonates

Номер патента: CA3082355A1. Автор: Allison Anne Calhoun,Charles Michael Blevins. Владелец: Incoa Performance Minerals LLC. Дата публикации: 2019-05-23.

Systems and methods for quantifying and monitoring hydrocarbon volumes and surface gas emissions for wireline formation testing

Номер патента: WO2023183641A1. Автор: HUA Yu,Thomas Pfeiffer,Yifei Wu,Richard Jackson,Youxiang Zuo,Adriaan Gisolf,Kang Wang,Hadrien Dumont,Simon Edmundson. Владелец: Schlumberger Technology B.V.. Дата публикации: 2023-09-28.

Extensible support for the connection between underground pipelines and surface irrigators of irrigation systems

Номер патента: EP1778003A1. Автор: Gian Domenico Dorigo. Владелец: Prato Verde Spa. Дата публикации: 2007-05-02.

Extensible support for the connection between underground pipelines and surface irrigators of irrigation systems

Номер патента: WO2006013592A1. Автор: Gian Domenico Dorigo. Владелец: Prato Verde Spa. Дата публикации: 2006-02-09.

Coating and surface repair method

Номер патента: EP3154714A2. Автор: Michael F. Mullen,Tapas K. Mukherji,Ibibia ALTRAIDE. Владелец: Sikorsky Aircraft Corp. Дата публикации: 2017-04-19.

Through-floor combination tub and surface drain

Номер патента: CA3214937A1. Автор: Warren Bregman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-10-27.

Plated steel sheet having excellent corrosion resistance and surface appearance and method for manufacturing same

Номер патента: EP4411015A1. Автор: Il-Ryoung Sohn,Myung-Soo Kim,Tae-Chul Kim,Sung-Joo Kim,Bong-Hwan Yoo,Yong-Kyun Cho. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Method and device for disinfecting and perfuming of spaces and surfaces

Номер патента: EP2991690A2. Автор: Gian Luca Malaguti Simoni,Giovanni Siccardo. Владелец: 99 Holding SARL. Дата публикации: 2016-03-09.

Diffuser method and device for disinfection of spaces and surfaces

Номер патента: WO2014177976A2. Автор: Gian Luca Malaguti,Giovanni Siccardo. Владелец: 99 Holding S.A.R.L.. Дата публикации: 2014-11-06.

Adhesive elastin and suckerin-based multiblock copolypeptide with stimulus responsiveness and surface adhesion, self-assembled structure thereof, and application of injectable hydrogel as bioadhesive

Номер патента: US20230174597A1. Автор: Jae Hee Lee,Dong Woo Lim,Aamna BASHEER. Владелец: Industry University Cooperation Foundation Hanyang University Erica Campus Erica Campus. Дата публикации: 2023-06-08.

System, recorder and surface electromyography method

Номер патента: RU2732344C2. Автор: ДЕ ЛАР Якоб ВАН,Рене Мартинус Мария ДЕРКС,Алан Джеймс ДЕЙВИ,Сандрин Магали Лаура ДЕВО. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2020-09-15.

Torque thrust and surface sensing device

Номер патента: US4944643A. Автор: Robert A. Lehmkuhl. Владелец: Individual. Дата публикации: 1990-07-31.

Vapor phase and surface contact rust preventive composition

Номер патента: CA1274679A. Автор: Joseph Francis Anzenberger Sr.. Владелец: Akzo America Inc. Дата публикации: 1990-10-02.

Scraping device for floor and surface cleaning machines

Номер патента: CA1307375C. Автор: Sergio Zoni. Владелец: DULEVO SpA. Дата публикации: 1992-09-15.

Grinding machine for cylinders with devices for tracing and dimensional and surface checking

Номер патента: CA1312731C. Автор: Valeriano Corallo. Владелец: Giustina International Spa. Дата публикации: 1993-01-19.

Biodegradable thermoplastic resin composition comprising cellulose derivatives and surface-treated natural fiber

Номер патента: US20110073008A1. Автор: Young Kwan Lee,Chang Kyu Lee,Mi Suk Cho. Владелец: Sungkyunkwan University Foundation For Corporate Collaboration. Дата публикации: 2011-03-31.

Using reactive block copolymers as chain extenders and surface modifiers

Номер патента: WO2010140041A8. Автор: Leticia Flores Santos,Alfonso Gonzalez Montiel,Pablo ESPARZA HERNÁNDEZ. Владелец: Cid Centro De Investigacion Y Desarrollo Tecnologico, S.A. De C.V.. Дата публикации: 2012-01-19.

Odor removal, stain removal, and surface cleaning composition

Номер патента: US20240166976A1. Автор: Elias Hasrouni. Владелец: Shat Ink LLC. Дата публикации: 2024-05-23.

Steel for resistance to complex corrosion from hydrochloric acid and sulfuric acid, having excellent wear resistance and surface qualities, and method of manufacturing the same

Номер патента: EP3044344A1. Автор: Jeong-Bong Yoon,Jong-Hwa Kim,Byoung-Ho Lee. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-20.

System for sterilization of spaces and surfaces from consequences of bioterrorism

Номер патента: US20050022443A1. Автор: Steven Brown,Eugene Ettlinger,Shirley Basso. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-02-03.

System for sterilization of spaces and surfaces from consequences of bioterrorism

Номер патента: US7147829B2. Автор: Steven Brown,Eugene Ettlinger,Shirley Basso. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-12-12.

Joint motion measurement apparatus and method of use

Номер патента: WO2021158956A1. Автор: James L. Cook,James P. Stannard,Trent M. Guess,Jamie B. HALL. Владелец: The Curators of the University of Missouri. Дата публикации: 2021-08-12.

Biological information measuring apparatus

Номер патента: US20240008756A1. Автор: Hiroshi Masuda. Владелец: La View Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Minimally invasive skin patch, method of manufacturing same, and blood glucose measuring apparatus using same

Номер патента: US20220125351A1. Автор: Kwang Soo CHO,Hoe Sung Yang,Kang Bok Lee,Kyu Won HAN. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2022-04-28.

Stationary exercise machine with a power measurement apparatus

Номер патента: EP3562564A1. Автор: Joshua S. Smith,Benjamin A. Browning. Владелец: Nautilus Inc. Дата публикации: 2019-11-06.

Measuring apparatus

Номер патента: WO2012093650A1. Автор: Takao Nakajima,Yasufumi Asao. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-07-12.

Array type skin-conformal sensor for heart rate and body temperature measurement and heart rate and body temperature measurement apparatus

Номер патента: US20220409067A1. Автор: Kunnyun KIM. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2022-12-29.

Biosignal measurement apparatus and method

Номер патента: EP3890601A1. Автор: Teemu Myllylä,Aleksandra ZIENKIEWICZ. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-13.

Flatness-measuring apparatus for measuring the flatness of a metal strip

Номер патента: US12036592B2. Автор: Andreas Kastner,Frank Gorgels. Владелец: SMS group GmbH. Дата публикации: 2024-07-16.

Measurement apparatus

Номер патента: US20170202456A1. Автор: Hideo Nakayama,Hideaki Ozawa,Kazutaka Takeda,Sho KIMURA,Kohei Yukawa,Kazuyuki Matsushita,Taku Kinoshita,Saori NISHIZAKI. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-20.

Corneal shape measuring apparatus

Номер патента: US5668623A. Автор: Akio Sakurai,Takeyuki Kato,Minoru Kamiya. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 1997-09-16.

Body impedance measurement apparatus

Номер патента: US20120296231A1. Автор: Masahiro Kitagawa,Tsutomu Yamasawa,Nobuhiko OSOEGAWA. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2012-11-22.

Stationary exercise machine with a power measurement apparatus

Номер патента: US20180185691A1. Автор: Joshua S. Smith,Benjamin A. Browning. Владелец: Nautilus Inc. Дата публикации: 2018-07-05.

Bodily information measurement apparatus

Номер патента: US20180192947A1. Автор: Yuma Adachi,Kengo Nishiyama,Masayuki Fukutsuka,Yoshihide Tokko,Sunao Ouchida. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-07-12.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20120194203A1. Автор: Masato Osawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Measuring apparatus and measuring system

Номер патента: US20170086688A1. Автор: Yuji Masuda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-03-30.

Ophthalmic measurement apparatus

Номер патента: US20060192920A1. Автор: Masanao Fujieda,Yukinobu Ban. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-31.

Thyroid uptake measurement apparatus

Номер патента: US20110213246A1. Автор: Seung Jae Lee,Yong Kown Kim,Jin Hun Joung. Владелец: Nucare Medical Systems Inc. Дата публикации: 2011-09-01.

Physiological signal measurement apparatus

Номер патента: US20240268689A1. Автор: Chin-Tang Chuang,Jung-Teng Pan,Yuan Tsai Lin,Wen Ching Kao. Владелец: AUO Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240306917A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Blood pressure measurement apparatus and methods of use thereof

Номер патента: US20240306925A1. Автор: Aditya Rajagopal,Dominic YURK,Yaser Abu-Mostafa,Alaina Ann Brinley Rajagopal. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2024-09-19.

Biological information measuring apparatus, non-transitory computer-readable recording medium having stored therein a program for causing a computer to execute a process for measuring biological information, and method for measuring biological information

Номер патента: US12114964B2. Автор: Makoto Yoshizawa,Norihiro Sugita. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2024-10-15.

Myopotential measurement apparatus and myopotential measurement wearable equipment

Номер патента: US20220354412A1. Автор: Hisashi Kaneda. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

MOLDED ELASTOMERIC FLEXURAL ELEMENTS FOR USE IN A LASER SCANNING ASSEMBLIES AND SCANNERS, AND METHODS OF MANUFACTURING, TUNING AND ADJUSTING THE SAME

Номер патента: US20120002259A1. Автор: Plesko George. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Laser beams scanner

Номер патента: RU2265997C2. Автор: М.Н. Мамукаев,Т.А. Тохтиев,И.П. Гутиев,В.А. Арсагов. Владелец: Горский государственный аграрный университет (ГГАУ). Дата публикации: 2005-12-20.

Surface of body for reduction of friction and surface of body for intensification of heat exchange

Номер патента: RU2425260C2. Автор: Геннадий Ираклиевич Кикнадзе,Иван Александрович Гачечиладзе. Владелец: Иван Александрович Гачечиладзе. Дата публикации: 2011-07-27.

FLOW RATE MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20120000280A1. Автор: KISHIKAWA Naoyuki,URAMACHI Hiroyuki,HIDAKA Shinichiro,Ariyoshi Yuji,TANIMOTO Koji,KAWAI Masahiro. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND SPECIMEN DISCRIMINATING AND DISPENSING APPARATUS

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Takahashi Toru,Tsukii Ken,Xu Jie. Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Generating a Trigger Signal by an EKG Signal as Well as an EKG Measuring Apparatus and a Magnetic Resonance Device

Номер патента: US20120004569A1. Автор: Frank Michael,Rößler Jürgen. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

General method for air, fluid and surface cleansing with biocompatible microporous silicon for decontamination of viruses in household use, medicine and industries

Номер патента: RU2499610C2. Автор: Сергей Владимирович Бацев,Геннадий Тихонович Сухих,Виктор Юрьевич Тимошенко,Муса Рахимович Хаитов,Игорь Петрович Шиловский,Любовь Андреевна Осминкина,Галина Владимировна Корнилаева,Эдуард Владимирович Карамов,Ажа Халидовна Гайдарова. Владелец: Ажа Халидовна Гайдарова. Дата публикации: 2013-11-27.

Arrangement of mixed bases and surfaces by method of wedging

Номер патента: RU2407848C2. Автор: Александр Пантелеевич Курбатский. Владелец: Александр Пантелеевич Курбатский. Дата публикации: 2010-12-27.

Method of producing liposome with encapsulated doxycycline hydrochloride and surface localised monoclonal antibodies

Номер патента: RU2582969C1. Автор: Наталья Петровна Храпова,Ирина Игоревна Корсакова,Светлана Ивановна Жукова,Константин Александрович Ротов,Евгений Александрович Снатенков,Наталья Генадьевна Плеханова,Дмитрий Николаевич Лучинин. Владелец: Федеральное казенное учреждение здравоохранения "Волгоградский научно-исследовательский противочумный институт" Федеральной службы по надзору в сфере защиты прав потребителей и благополучия человека. Дата публикации: 2016-04-27.

Method of combined processing by grinding and surface plastic deformation

Номер патента: RU2464155C1. Автор: Евгений Степанович Киселев,Евгений Николаевич Лексин,Олег Валерьевич Благовский. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2012-10-20.

Mode of observation for air objects and surface on the base of an airborne radar

Номер патента: RU2292060C1. Автор: Владимир Константинович Клочко. Владелец: Рязанская государственная радиотехническая академия. Дата публикации: 2007-01-20.

Method of diamond-abrasive working and surface plastic deforming of openings

Номер патента: RU2239536C1. Автор: Ю.С. Степанов,Б.И. Афанасьев,Д.С. Фомин,А.В. Киричек,И.А. Юричев. Владелец: Орловский государственный технический университет. Дата публикации: 2004-11-10.

Method for heterogeneous catalytic decomposition of complexons and surface-active substances in technological solutions of radiochemical productions on nickel-ferricyanide catalyst

Номер патента: RU2569374C1. Автор: Глеб Алексеевич Апальков,Андрей Юрьевич Жабин,Игорь Геннадьевич Ефремов,Геннадий Геннадьевич Кокарев. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "ГОРНО - ХИМИЧЕСКИЙ КОМБИНАТ". Дата публикации: 2015-11-27.

Improvements in Grinding Machine adapted for the Grinding of Glass Bottle-necks and Surfaces of other Articles.

Номер патента: GB190819875A. Автор: Harold Joseph Charle Forrester. Владелец: Individual. Дата публикации: 1909-04-01.

Method of combined processing by turning and surface plastic deformation

Номер патента: RU2503532C1. Автор: Евгений Степанович Киселев,Олег Валерьевич Благовский,Руслан Сергеевич Кабиров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2014-01-10.

Installation for electroslag refining, welding and surfacing metals

Номер патента: RU2247163C2. Автор: М.А. Тетерин,Н.В. Шепелев. Владелец: Тетерин Михаил Анатольевич. Дата публикации: 2005-02-27.

Method to manufacture building material and method to erect motor road beds and surface structures on its basis

Номер патента: RU2455414C1. Автор: Всеволод Анатольевич Мымрин. Владелец: Всеволод Анатольевич Мымрин. Дата публикации: 2012-07-10.

Method and device for protection of electric equipment against breakdown, having insulation gap and surfaces of electrodes isolated from each other by liquid dielectric

Номер патента: RU2441303C2. Автор: Андрей Александрович Виноградов,Алексей Васильевич Шурупов,Алексей Васильевич Шурупов (RU),Андрей Александрович Виноградов (RU). Владелец: Алексей Васильевич Шурупов. Дата публикации: 2012-01-27.

General-purpose measuring apparatus for animals

Номер патента: RU2307622C1. Автор: Александр Иванович Суров,Василий Васильевич Абонеев. Владелец: Государственное научное учреждение Ставропольский научно-исследовательский институт животноводства и кормопроизводства. Дата публикации: 2007-10-10.

BACTERIUM Pseudomonas putida STRAIN USEFUL IN PURIFICATION OF SOILS, GROUND WATER AND SURFACE WATER FROM TRINITROTOLUENE

Номер патента: RU2292391C2. Автор: Сергей Анатольевич Марченко,Алексей Владимирович Воробьев,Ольга Александровна Руднева,Роман Владимирович Боровик,Зинаида Михайловна Ермоленко. Владелец: Научно-исследовательский центр токсикологии и гигиенической регламентации биопрепаратов (НИЦ ТБП). Дата публикации: 2007-01-27.

A method of reducing moisture and surface roughness in oil palm stem veneer and an apparatus therefor

Номер патента: MY143318A. Автор: Edi Suhaimi BAKAR,Zaidon ASHAARI,Paridah Mohd Tahir,Khalina Abdan,Adrian Choo Cheng Yong,Loh Yueh Feng. Владелец: Univ Putra Malaysia. Дата публикации: 2011-04-15.

Procedure for welding and surfacing low alloyed steel for seismic-resistant building structures

Номер патента: RU2400336C1. Автор: Александр Викентьевич Козлов. Владелец: Александр Викентьевич Козлов. Дата публикации: 2010-09-27.

Channel-drain prefabricated pavement of airfield runways, method of its heating and surface signalling accent lighting

Номер патента: RU2495182C1. Автор: Борис Александрович Булахтин,Евгений Борисович Пронин. Владелец: Борис Александрович Булахтин. Дата публикации: 2013-10-10.

Method of seadrome preparation for boatplane takeoff and surfacing

Номер патента: RU2464205C1. Автор: Вадим Юрьевич Волощенко,Александр Петрович Волощенко,Валерий Георгиевич Ли. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "ЮЖНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ". Дата публикации: 2012-10-20.

Combination apparatus for grinding and surface plastic deforming

Номер патента: RU2319595C1. Автор: Юрий Сергеевич Степанов,Андрей Викторович Киричек,Борис Иванович Афанасьев,Дмитрий Сергеевич Фомин,Николай Николаевич Самойлов,Дмитрий Львович Соловьев,Константин Федорович Селеменев,Андрей Николаевич Афонин,Алексей Владимирович Поляков,ков Алексей Владимирович Пол. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Орловский государственный технический университет" (ОрелГТУ). Дата публикации: 2008-03-20.

Method of combined processing by grinding and surface plastic deformation

Номер патента: RU2423220C1. Автор: Евгений Степанович Киселев,Евгений Николаевич Лексин,Олег Валерьевич Благовский,Сергей Александрович Романов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2011-07-10.

Technique establishing physical-mechanical properties of multilayer and surface-strengthened materials

Номер патента: RU2219518C1. Автор: А.В. Конаков,нов Е.Н. Емель,Е.Н. Емельянов. Владелец: Закрытое акционерное общество "Дальневосточная технология". Дата публикации: 2003-12-20.

Strain of bacterium pseudomonas stutzeri mev-s1 used for treatment of soil, ground and surface water from petroleum and products of its processing

Номер патента: RU2228952C2. Автор: А.В. Воробьев,Г.А. Жариков,Р.В. Боровик,А.И. Марченко,В.Н. Алдобаев,В.В. Капранов. Владелец: Научно-исследовательский центр токсикологии и гигиенической регламентации биопрепаратов. Дата публикации: 2004-05-20.

Method of sewage treatment from dye-stuffs and surface-active agents

Номер патента: RU2049531C1. Автор: С.П. Савельев,А.А. Поворов,А.С. Семенихин,Х.А. Руфель,Н.В. Корнилова. Владелец: Поворов Александр Александрович. Дата публикации: 1995-12-10.

Welding head for gas-shield welding and surfacing articles

Номер патента: RU2194598C2. Автор: В.В. Башкатов. Владелец: Открытое акционерное общество "Уралхиммаш". Дата публикации: 2002-12-20.

Improvements in or relating to Combined Electric Regulating and Measuring Apparatus.

Номер патента: GB190413483A. Автор: Emile Fauvin,Eugene Amiot,Edoaurd Cheneaux. Владелец: Individual. Дата публикации: 1905-02-02.

Mult-channel optoelectronic device of ship air defense system for detection and tracking of air and surface targets (versions)

Номер патента: RU2406056C2. Автор: Сергей Владиленович Петровых,Александр Михайлович Морозов,Сергей Андреевич Миронов,Эдуард Дмитриевич Ануфриков,Сергей Дмитриевич Байков,Алексей Юрьевич Котов,Алексей Владимирович Сафронов. Владелец: Открытое акционерное общество "Морской научно-исследовательский институт радиоэлектроники "Альтаир" (ОАО "МНИИРЭ "Альтаир"). Дата публикации: 2010-12-10.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: CA156793S. Автор: . Владелец: Huntleigh Technology Ltd. Дата публикации: 2015-01-28.

Method for ground water draining and surface water accumulation in territory to be underworked

Номер патента: RU2278208C1. Автор: Анатолий Сергеевич Ведяшкин,шкин Анатолий Сергеевич Вед. Владелец: Калининградский государственный технический университет. Дата публикации: 2006-06-20.

Method of combined processing by grinding and surface plastic deformation

Номер патента: RU2495741C1. Автор: Евгений Степанович Киселев,Олег Валерьевич Благовский,Руслан Сергеевич Кабиров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2013-10-20.

Flux for steel mechanised welding and surfacing

Номер патента: RU2579412C2. Автор: Николай Анатольевич Козырев,Роман Евгеньевич Крюков,Ольга Евгеньевна Козырева,Николай Егорович Крюков,Евгений Николаевич Крюков. Владелец: Открытое акционерное общество "Новокузнецкий завод резервуарных металлоконструкций" им. Н.Е. Крюкова. Дата публикации: 2016-04-10.

Mixing apparatus comprising sub-surface froth generator with radial flow enhancers and surface-skimmers

Номер патента: CA1061327A. Автор: Theodore H. O'cheskey,Hugh T. Edwards (Jr.),Carroll C. Bunker. Владелец: United States Filter Corp. Дата публикации: 1979-08-28.

Improved Combination Jet and Surface Condenser, Feed Water Heater, Economiser, and Separator.

Номер патента: GB189717960A. Автор: William Deighton. Владелец: Individual. Дата публикации: 1898-07-30.

Spring device for consecutive grinding and surface plastic deformation

Номер патента: RU2328367C2. Автор: Юрий Сергеевич Степанов,Андрей Викторович Киричек,Борис Иванович Афанасьев,Дмитрий Сергеевич Фомин,Николай Николаевич Самойлов,Юрий Валерьевич Василенко,Константин Федорович Селеменев,Максим Геннадиевич Подзолков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Орловский государственный технический университет" (ОрелГТУ). Дата публикации: 2008-07-10.

BACTERIUM Pseudomonas alcaligence STRAIN USEFUL IN PURIFICATION OF SOILS, GROUND WATER AND SURFACE WATER FROM TRINITROTOLUENE

Номер патента: RU2292392C2. Автор: Анатолий Иванович Марченко,Алексей Владимирович Воробьев,Ольга Александровна Руднева,дищев Николай Романович Д,Николай Романович Дядищев. Владелец: Научно-исследовательский центр токсикологии и гигиенической регламентации биопрепаратов (НИЦ ТБП). Дата публикации: 2007-01-27.

Combined method for grinding and surface plastic deformation

Номер патента: RU2325261C2. Автор: Юрий Сергеевич Степанов,Андрей Викторович Киричек,Борис Иванович Афанасьев,Дмитрий Сергеевич Фомин,Николай Николаевич Самойлов,Дмитрий Львович Соловьев,Константин Федорович Селеменев,Андрей Николаевич Афонин,Алексей Владимирович Поляков,ков Алексей Владимирович Пол. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Орловский государственный технический университет" (ОрелГТУ). Дата публикации: 2008-05-27.

Method of measuring relative deformation and displacement of underground and surface structures

Номер патента: RU2453809C2. Автор: Александр Евгеньевич Балек,Андрей Алексеевич Панжин,Александр Евгеньевич Балек (RU),Андрей Алексеевич Панжин (RU). Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт горного дела УрО РАН (ИГД УрО РАН). Дата публикации: 2012-06-20.

Localisation of evaporations and dust formation at emergent spillage and emission of chemically aggressive substances, storage, transportation and application of dust-forming substances and surfaces, solutions of foaming preparations and plant to this end

Номер патента: RU2565190C2. Автор: Сергей Михайлович Лепешкин,Николай Гавриилович Шахворостов,Яха Яхъяевна Хаджиева,Андрей Васильевич Рода,Виктор Васильевич Шутенков,Сергей Григорьевич Архипов. Владелец: Общество с Ограниченной Ответственностью "Научно-технический центр "Версия". Дата публикации: 2015-10-20.

Device for pulsed milling and surface hardening

Номер патента: RU2366556C1. Автор: Юрий Сергеевич Степанов,Андрей Викторович Киричек,Борис Иванович Афанасьев,Дмитрий Сергеевич Фомин,Владимир Ильич Сотников,Николай Николаевич Самойлов,Юрий Валерьевич Василенко,Андрей Вениаминович Степанов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Орловский государственный технический университет" (ОрелГТУ). Дата публикации: 2009-09-10.

Method of determining physical and mechanical properties of multilayer and surface-strengthened materials

Номер патента: RU2227281C1. Автор: А.В. Конаков,нов Е.Н. Емель,Е.Н. Емельянов. Владелец: Закрытое акционерное общество "Дальневосточная технология". Дата публикации: 2004-04-20.

Method of defining intercrystalline corrosion and surface damages of underground and underwater pipelines caused by corrosion

Номер патента: RU2457465C1. Автор: Павел Сергеевич Орлов,Любовь Александровна Голдобина,Екатерина Сергеевна Попова. Владелец: Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования (ФГОУ ВПО) "Санкт-Петербургский государственный университет сервиса и экономики (СПбГУСЭ)". Дата публикации: 2012-07-27.

Method for recovering radiation-hazardous compartments of underwater and surface craft

Номер патента: RU2273902C2. Автор: Юрий Васильевич Черногоров. Владелец: Закрытое акционерное общество Научно-производственная фирма "Центральное конструкторское бюро арматуростроения". Дата публикации: 2006-04-10.

Consumable electrode for electric arc welding and surfacing

Номер патента: RU2082577C1. Автор: В.А. Аникаев,С.И. Чернышев,Г.А. Колесников,М.А. Лойферман,А.И. Уршанский. Владелец: Научно-исследовательский институт металлургической технологии. Дата публикации: 1997-06-27.

Strain of bacterium pseudomonas alcaligenes mev used for treatment of soil, ground and surface water from petroleum and products of its processing

Номер патента: RU2228953C2. Автор: А.В. Воробьев,В.А. Блохин,Н.Р. Дядищев,А.И. Марченко,дищев Н.Р. Д,С.П. Рыбалкин,С.А. Марченко. Владелец: Научно-исследовательский центр токсикологии и гигиенической регламентации биопрепаратов. Дата публикации: 2004-05-20.

Wire electrode for welding and surfacing

Номер патента: RU2100165C1. Автор: В.А. Коротков,А.И. Рымкевич. Владелец: Научно-Производственное Объединение По Технологии Машиностроения "Цниитмаш". Дата публикации: 1997-12-27.

Activating material for welding and surfacing

Номер патента: RU2226144C1. Автор: С.Г. Паршин,С.С. Паршин. Владелец: Паршин Сергей Георгиевич. Дата публикации: 2004-03-27.

Structural and surface properties tester for paper

Номер патента: CA1230499A. Автор: Yuri A. Bery. Владелец: Weyerhaeuser Co. Дата публикации: 1987-12-22.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: AU356604S. Автор: . Владелец: Huntleigh Technology Ltd. Дата публикации: 2014-07-28.

Sliding flip stop measuring apparatus

Номер патента: AU321976S. Автор: . Владелец: Elumatec Australia Pty Ltd. Дата публикации: 2008-11-10.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.