Current measurement apparatus

Реферат: The current measurement apparatus comprises a Rogowski coil (20) comprising a wire or conductor which forms a coil (22) and returns through the coil (22) as a central conductor. The coil (22) and the central conductor are formed from a single conductor or wire and, therefore, no electrical join (for example, a solder join or crimp) is required at the end of the Rogowski coil. The wire (28) used to form the coil (22) anal the central conductor (24) is insulated prior to forming the Rogowski coil. The insulated coating (30) provides better insulation between individual coils and also helps to provide a more even spacing between the coils.

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Current measurement apparatus

Номер патента: WO2005106507A1. Автор: Desmond Ebenezer,Albert Zwolinski. Владелец: Lem Heme Limited. Дата публикации: 2005-11-10.

Current measurement device

Номер патента: US20230273243A1. Автор: Naoki Noguchi,Kazuma Takenaka,Kotaro Ogawa,Minako TERAO. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Non-contact dc current measurement device with open loop degaussing

Номер патента: EP4446753A1. Автор: Paul A. Ringsrud,Matt Moran,Bryanna D. RAAP,Nicholas W. DINSMORE,Joshua ZOELLICK. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Non-contact dc current measurement device with open loop degaussing

Номер патента: US20240345137A1. Автор: Paul A. Ringsrud,Matt Moran,Bryanna D. RAAP,Nicholas W. DINSMORE,Joshua ZOELLICK. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Temperature compensated current measurement

Номер патента: WO2013114137A1. Автор: Christopher Rene HEWSON,Joanne Marie ABERDEEN,Frederick Charles RAY. Владелец: Power Electronic Measurements Limited. Дата публикации: 2013-08-08.

Temperature compensated current measurement

Номер патента: US09970963B2. Автор: William Frederick Ray,Christopher Rene HEWSON,Joanne Marie ABERDEEN. Владелец: POWER ELECTRONIC MEASUREMENTS LTD. Дата публикации: 2018-05-15.

Temperature compensated current measurement

Номер патента: EP2810088A1. Автор: William Frederick Ray,Christopher Rene HEWSON,Joanne Marie ABERDEEN. Владелец: POWER ELECTRONIC MEASUREMENTS LTD. Дата публикации: 2014-12-10.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: US20240329094A1. Автор: Yusuke Shindo. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

System and method for ground fault detection using current measurement coils

Номер патента: EP3690454A1. Автор: Dennis Mulders. Владелец: Koninklijke Fabriek Inventum BV. Дата публикации: 2020-08-05.

Apparatus and a method of current measurement with compensation capability based on system information

Номер патента: US11555836B2. Автор: Ki Seok Kim,Ki Chul Hong. Владелец: Elexsen Corp. Дата публикации: 2023-01-17.

Sensor and method for electric current measurement

Номер патента: US09989562B2. Автор: Ladislav Gr{hacek over (n)}o. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-06-05.

Methods and systems relating to AC current measurements

Номер патента: US09829512B2. Автор: Tomasz Barczyk. Владелец: Guildline Instruments Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Current measuring apparatus

Номер патента: EP2499503A1. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz. Владелец: Gigle Networks Ltd. Дата публикации: 2012-09-19.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011058375A1. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-05-19.

Self-correcting electrical current measuring devices

Номер патента: EP4402492A1. Автор: Micheal M. Austin. Владелец: Vutility Inc. Дата публикации: 2024-07-24.

Current measurement system

Номер патента: US12146900B2. Автор: Damien Coutellier,Arnaud Labbe,Atef Lekdim,Albert Tournilhac. Владелец: LEM INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2024-11-19.

Electrical current measurement module

Номер патента: US20240272203A1. Автор: Loïc Rondot,Juliette Koch. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2024-08-15.

System and Method for Ground Fault Detection Using Current Measurement Coils

Номер патента: US20200241064A1. Автор: Dennis Mulders. Владелец: Koninklujke Fabriek Inventum BV. Дата публикации: 2020-07-30.

Current measuring device

Номер патента: US5345169A. Автор: Marcel Etter. Владелец: Liaisons Electroniques Mecaniques LEM SA. Дата публикации: 1994-09-06.

Current measuring device and processing unit comprising one such device

Номер патента: CA2666192A1. Автор: Yvan Kalenine. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2009-12-11.

Methods and systems relating to ac current measurements

Номер патента: CA2868663C. Автор: Tomasz Barczyk. Владелец: Guildline Instruments Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Current-measuring device and method for determining an electric current

Номер патента: US10393775B2. Автор: Roland Weiss. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2019-08-27.

Current measuring and magnetic core compensating apparatus and method

Номер патента: CA1286366C. Автор: R. Wendell Goodwin. Владелец: Sangamo Weston Inc. Дата публикации: 1991-07-16.

Self-correcting electrical current measuring devices

Номер патента: CA3232586A1. Автор: Micheal M. Austin. Владелец: Vutility Inc. Дата публикации: 2023-03-23.

Contactless current measurement

Номер патента: US20190178916A1. Автор: Steffen Boettcher,Holger Schwenk. Владелец: Vacuumschmelze GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-06-13.

Self-correcting electrical current measuring devices

Номер патента: AU2022348515A1. Автор: Micheal M. Austin. Владелец: Vutility Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Self-correcting electrical current measuring devices

Номер патента: US20240151798A1. Автор: Micheal Austin. Владелец: Vutility Inc. Дата публикации: 2024-05-09.

Self-correcting electrical current measuring devices

Номер патента: WO2023044107A1. Автор: Micheal M. Austin. Владелец: Vutility, Inc.. Дата публикации: 2023-03-23.

Direct current measurement

Номер патента: US3801907A. Автор: M Lilienstein. Владелец: Individual. Дата публикации: 1974-04-02.

Current measuring circuit

Номер патента: RU2160903C2. Автор: ДЮБЕН Мишель. Владелец: Шлюмберже Эндюстри С. А.. Дата публикации: 2000-12-20.

Position dependent non-contact voltage and current measurement

Номер патента: US20190346529A1. Автор: Ronald Steuer,Ricardo Rodriguez,Christian Karl Schmitzer. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Current measuring apparatus with redundant current measurement

Номер патента: US20230266368A1. Автор: Jan Marien,Benedikt Kramm. Владелец: IsabellenHuette Heusler GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-08-24.

Multiphase current measuring apparatus and method for multiphase current measurement

Номер патента: US20210109132A1. Автор: Claudia Glenske,Matthias Brusius. Владелец: SENSITEC GMBH. Дата публикации: 2021-04-15.

Electric current measuring apparatus

Номер патента: US09588150B2. Автор: Masaru Sasaki,Yoshihiro Konno. Владелец: Adamant Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Current measuring device

Номер патента: RU2650615C2. Автор: Йосихиро КОННО,Масару САСАКИ. Владелец: Адамант Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-04-16.

Current measuring device with hall sensors

Номер патента: US20240272205A1. Автор: Roland Weiss,Florian Zapf,Ingolf Hoffmann,Karl Fleisch,Abderrahim Chahid,Alexander Itzke,Anja Schnieders. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Current measuring apparatus

Номер патента: US4630218A. Автор: James R. Hurley. Владелец: Cooper Industries LLC. Дата публикации: 1986-12-16.

Current measurement device

Номер патента: US20190377010A1. Автор: Yoichi Yanagisawa. Владелец: CVEngineering Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Current measurement sensor and system

Номер патента: US09612262B1. Автор: Jody Nehmeh. Владелец: Neeme Systems Solutions, Inc.. Дата публикации: 2017-04-04.

Electric current measurement apparatus

Номер патента: EP3244218A3. Автор: Hiroaki Tsujimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2018-01-17.

Current measurement device

Номер патента: EP4414718A1. Автор: CHEN Song,Weifeng Shen,Songsheng Xue,Ye Chen,Haiping GUO. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Phase Terminal for Electric Motors for Phase Current Measurement

Номер патента: US20240195256A1. Автор: Florian Bachheibl,Stefan ROSSNER. Владелец: Molabo GmbH. Дата публикации: 2024-06-13.

Current measurement module

Номер патента: US20240345140A1. Автор: Taiga KYOSAKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Current measuring device

Номер патента: US20060028195A1. Автор: Yukihiko Tanizawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2006-02-09.

Device of electric current measurement

Номер патента: RU2536334C2. Автор: Йосихиро КОННО,Масару САСАКИ. Владелец: Адамант Когио Ко., Лтд.. Дата публикации: 2014-12-20.

Method for magnetooptic current measurement and magnetooptic current-measuring device

Номер патента: US5834933A. Автор: Markus Meier. Владелец: ABB Research Ltd Switzerland. Дата публикации: 1998-11-10.

Position-compensated current measuring device

Номер патента: US11885833B2. Автор: Tobias Stadtfelder. Владелец: Phoenix Contact GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-30.

Current Measuring Equipment and Methods

Номер патента: US20180095113A1. Автор: Francisco Javier BENGOECHEA DE LA LLERA,Myriam Consuelo Garcia Carromero. Владелец: Lumiker Aplicaciones Tecnologicas SL. Дата публикации: 2018-04-05.

Current measuring equipment and methods

Номер патента: US10241138B2. Автор: Francisco Javier BENGOECHEA DE LA LLERA,Myriam Consuelo Garcia Carromero. Владелец: Lumiker Aplicaciones Tecnologicas SL. Дата публикации: 2019-03-26.

Current measurement module, current measurement conductor, and current measurement device

Номер патента: US20240077521A1. Автор: Kenji Kuriyama. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Current measurement device

Номер патента: EP4317993A1. Автор: Masaru Sasaki. Владелец: Orbray Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Current measuring system

Номер патента: US11994540B2. Автор: Ahmed Abdelsamie,Viktoras BORODINAS,Brenden Jackson BRADSHAW,Katarzyna IZDEBSKA. Владелец: Ontario Power Generation Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Sensor head for a fiber-optic current measuring device

Номер патента: US5500909A. Автор: Markus Meier. Владелец: ABB Research Ltd Switzerland. Дата публикации: 1996-03-19.

Electric current measurement

Номер патента: CA1295682C. Автор: Gordon R. Jones. Владелец: University of Liverpool. Дата публикации: 1992-02-11.

Current measuring device

Номер патента: US20070052408A1. Автор: Yukihiko Tanizawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2007-03-08.

Current measurement

Номер патента: US09939464B2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,Seyed Amir Ali DANESH,Stephen James Martin WOOD. Владелец: Analog Devices Global ULC. Дата публикации: 2018-04-10.

Current measuring apparatus, image forming apparatus, conveyance apparatus and method for measuring current

Номер патента: US09939469B2. Автор: Takeo Seki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Current measurement

Номер патента: US09933463B2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,Seyed Amir Ali DANESH. Владелец: Analog Devices Global ULC. Дата публикации: 2018-04-03.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A3. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-11-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: EP2507813A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,Dale Stubbs. Владелец: Gigle Networks Ltd. Дата публикации: 2012-10-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-06-09.

Stepped copper-bar current measurement apparatus

Номер патента: EP4455686A1. Автор: Songsheng Xue,Mingfeng LIU,Ran Shi. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Alternating current power measuring apparatus

Номер патента: US09529024B2. Автор: Akio Ito,Hirotaka Oshima,Takayuki Ambe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Current measurement

Номер патента: US09638724B2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,Seyed Amir Ali DANESH,William Michael James Holland. Владелец: Analog Devices Global ULC. Дата публикации: 2017-05-02.

Current measurement device

Номер патента: US12113346B2. Автор: Hyeon-Jin SONG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Current measuring method and current measuring apparatus

Номер патента: US20020041190A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

Current measuring apparatus, test appartaus, current measuring method and test method

Номер патента: US20090021239A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-01-22.

Current measurement apparatus

Номер патента: US20240012030A1. Автор: Sang Min Kim,Jin Qyu Seo. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Current measurement system

Номер патента: US09644995B2. Автор: Cor VERBURG,Robert Mossel,Kaustubh Prabodh Padhye,Eric DE KOK,Willem Jacob Vis. Владелец: Mapper Lithopraphy IP BV. Дата публикации: 2017-05-09.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: US09494622B2. Автор: Hiroyuki Tsubata. Владелец: Fuji Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-11-15.

Current measuring circuit for two phase electromotor

Номер патента: US20080122429A1. Автор: Young Hoon Cho. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2008-05-29.

Systems and methods of input power and current measurement

Номер патента: US09523756B2. Автор: Bosheng Sun. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Current measurement circuit with multiple operation modes

Номер патента: US12085593B2. Автор: Christian Djelassi-Tscheck,Alexander Mayer,Mario Tripolt. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-09-10.

Current measuring circuit for a converter, converter circuit and converter

Номер патента: US12132384B2. Автор: Gerhard Steiner,Florian Kapaun. Владелец: AIRBUS SAS. Дата публикации: 2024-10-29.

Current measuring device with vertical clamping on terminal of an accumulator battery

Номер патента: RU2708903C1. Автор: Инаки БАРРОСО,Фабрис ГИНЯР. Владелец: Рено Сас. Дата публикации: 2019-12-12.

Apparatus for current measurement

Номер патента: US09606152B2. Автор: William F. Ray,Christopher R. HEWSON,Joanne M. Aberdeen. Владелец: POWER ELECTRONIC MEASUREMENTS LTD. Дата публикации: 2017-03-28.

Current measurement apparatus

Номер патента: US20080265871A1. Автор: Stephen D. Umans. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-30.

Low profile current measurement connector and use

Номер патента: US09476919B2. Автор: David R. Pasternak. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Electrical current measuring apparatus and method

Номер патента: CA2865757C. Автор: Michael Jordan Kadonoff. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-06-09.

Current measurement device

Номер патента: US20210190834A1. Автор: Tamotsu Endo. Владелец: Koa Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Current measuring device and energy storage apparatus

Номер патента: US12130332B2. Автор: Yuki Imanaka. Владелец: GS YUASA INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2024-10-29.

Current measurement device

Номер патента: US20150084638A1. Автор: Takashi Yamamoto,Takashi Yamada,Keigo Suematsu,Yuji Ishikawa,Ikuyasu Kato. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-03-26.

Current measurement and control system

Номер патента: US12019101B2. Автор: Vadim Valerievich Ivanov,Srinivas Pulijala,Piyush KASLIKAR. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-06-25.

Electric current measuring arrangement and battery system

Номер патента: US20210382116A1. Автор: RENATO Mandic,Maximilian Hofer,Jürgen FRITZ,Thomas Trathnigg. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Input current compensation during current measurement

Номер патента: US09977057B2. Автор: James R. Toker,Travis J. Guthrie,Narendra B. Kayathi,Brannon C. Harris. Владелец: INTERSIL AMERICAS LLC. Дата публикации: 2018-05-22.

Current measurement

Номер патента: US20170299636A1. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,Seyed Amir Ali DANESH,William Michael James Holland. Владелец: Analog Devices Global ULC. Дата публикации: 2017-10-19.

Circuit topologies for wide dynamic range current measurement

Номер патента: CA3221623A1. Автор: Martin Guthrie,James Hinton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-12-22.

Circuit topologies for wide dynamic range current measurement

Номер патента: US20240272209A1. Автор: Martin Guthrie,Sean Simmons. Владелец: Sistemi Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Disturbance rejection for current-measurement systems

Номер патента: US09989563B2. Автор: Tom Rezachek,Andy Peczalski,Fouad Nusseibeh. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-06-05.

Current measuring relay device

Номер патента: US09840158B2. Автор: Younghwan Kim,Dong Keun KWON,Ju Hyun Kang. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Current measurement device and test device

Номер патента: US20060071682A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-04-06.

Method for determining a gain error of a current measuring device

Номер патента: US11768243B2. Автор: Lei Chen,Gunther Goetting,Yuping CHEN. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2023-09-26.

Electrochemical impedance spectroscopy current measurement system

Номер патента: US20240302443A1. Автор: Atulya Yellepeddi,Brian Harrington,Leah Alexis Garber. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Electrochemical impedance spectroscopy current measurement system

Номер патента: EP4428543A1. Автор: Atulya Yellepeddi,Brian Harrington,Leah Alexis Garber. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2024-09-11.

Current measuring apparatus for battery

Номер патента: US20010033171A1. Автор: David Batson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-10-25.

Current measuring circuit for providing a current flow signal indicative of current flow between terminals

Номер патента: US09465057B2. Автор: Steven Aerts. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2016-10-11.

Inrush current measuring apparatus with instantaneous power interruption device

Номер патента: US4333049A. Автор: Kazuo Otsuka,Masatoshi Yui,Minoru Takeoda. Владелец: Takamisawa Cybernetics Co Ltd. Дата публикации: 1982-06-01.

Current measurement circuit, current measurement method and nanopore sequencing device

Номер патента: US11768231B1. Автор: JIN Wang,Xi Hu,Qiang E. Владелец: Chengdu Qitan Technology Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Current sensor for non-contact current measurement

Номер патента: US11747366B2. Автор: Steffen Boettcher. Владелец: Vacuumschmelze GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-09-05.

Monolithic glass ring and method for optical current measurements

Номер патента: US20220034945A1. Автор: Stefan Schuberth. Владелец: Trench Germany GmbH. Дата публикации: 2022-02-03.

Current measuring device

Номер патента: US20240255547A1. Автор: Jeong Woo LIM. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Monolithic glass ring and method for optical current measurements

Номер патента: CA3114169A1. Автор: Stefan Schuberth. Владелец: Siemens Energy Global GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-04-02.

Monolithic glass ring and method for optical current measurements

Номер патента: CA3114169C. Автор: Stefan Schuberth. Владелец: Siemens Energy Global GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-03-05.

Monolithic glass ring and method for optical current measurements

Номер патента: AU2019345878B2. Автор: Stefan Schuberth. Владелец: HSP Hochspannungsgeraete GmbH. Дата публикации: 2022-08-11.

Current measurement device

Номер патента: US20220214383A1. Автор: Tetsuya Ishikawa,Naoki Noguchi,Kazuma Takenaka,Kotaro Ogawa,Minako TERAO,Saki KOBAKO. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-07-07.

Monolithic glass ring and method for optical current measurements

Номер патента: AU2019345878A1. Автор: Stefan Schuberth. Владелец: Siemens Energy Global GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-04-15.

Current measurement apparatus with shunt resistor and heat sink

Номер патента: WO2009118533A1. Автор: Christopher Biggadike. Владелец: ULTRA ELECTRONICS LIMITED. Дата публикации: 2009-10-01.

Electric current measurement apparatus for a solid state motor controller

Номер патента: CA2068155A1. Автор: Li Chen,Peter J. Unsworth. Владелец: Allen Bradley Co LLC. Дата публикации: 1992-12-11.

RF current measurement in semiconductor processing tool

Номер патента: US12051630B2. Автор: Thomas Frederick,Sunil Kapoor. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Broad-range current measurement using duty cycling

Номер патента: US09891249B2. Автор: Luc Van Dijk,Cornelis Klaas Waardenburg. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2018-02-13.

Resistor, particularly a low-resistance current-measuring resistor

Номер патента: US09437353B2. Автор: Ullrich Hetzler. Владелец: IsabellenHuette Heusler GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-09-06.

Electrical current measurement system, and diagnostic system

Номер патента: US20220308093A1. Автор: Kazutaka Ikeda,Yuta Sato,Hirohide Ichihashi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Battery current measurement in an electrical circuit

Номер патента: WO2024107579A1. Автор: Nadim Khlat,Philippe Gorisse,Christopher Truong Ngo,Jean-Frederic Chiron. Владелец: QORVO US, INC.. Дата публикации: 2024-05-23.

Triode current measuring device for cathode ray tube

Номер патента: MY104670A. Автор: Park Mu-Bu. Владелец: Samsung Electron Devices Co Ltd. Дата публикации: 1994-05-31.

Electrical current measurement circuit

Номер патента: US20200200805A1. Автор: Nadim Khlat,Philippe Gorisse,Christopher Truong Ngo. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2020-06-25.

Power semiconductor device with integrated current measurement

Номер патента: US20200363463A1. Автор: Anton Mauder,Wolfgang Raberg,Thomas Kimmer,Mitja Rebec. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2020-11-19.

Current measuring device

Номер патента: US20200182909A1. Автор: Ullrich Hetzler. Владелец: IsabellenHuette Heusler GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-06-11.

Current measurement for defect detection

Номер патента: US20240110966A1. Автор: Robert Mark Englekirk,Tero Tapio Ranta,Ronald E. Reedy. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Current Measuring Circuit

Номер патента: US20230194595A1. Автор: Christian Djelassi-Tscheck,Michael Nelhiebel,Cristian Mihai Boianceanu. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2023-06-22.

Active current measurement circuit and measurement device

Номер патента: US9423430B2. Автор: HONG Yao,FEI Yang,Yong Yang. Владелец: Fluke Precision Measurement Ltd. Дата публикации: 2016-08-23.

Current Measurement Circuit

Номер патента: US20220099712A1. Автор: Shawn Searles,Michele De Fazio. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2022-03-31.

Current measurement and control system

Номер патента: US20240036076A1. Автор: Vadim Valerievich Ivanov,Srinivas Pulijala,Piyush KASLIKAR. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Terminal block for current measurement and related methods

Номер патента: US20190353687A1. Автор: Jimmy Kjellsson,Francesco Rizzo,Calogero Bona. Владелец: ABB Power Grids Switzerland AG. Дата публикации: 2019-11-21.

Current measurement system

Номер патента: WO2021140226A1. Автор: Damien Coutellier,Arnaud Labbe,Atef Lekdim,Albert Tournilhac. Владелец: LEM INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2021-07-15.

Current measurement system

Номер патента: EP4088123A1. Автор: Damien Coutellier,Arnaud Labbe,Atef Lekdim,Albert Tournilhac. Владелец: LEM INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2022-11-16.

Battery self-discharge current measurement device and operation method thereof

Номер патента: EP4303599A1. Автор: Jae Dong Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Hot switchable voltage bus for iddq current measurements

Номер патента: WO2005047911A1. Автор: Leah M. P. Pastel. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2005-05-26.

Hot switchable voltage bus for iddq current measurements

Номер патента: EP1685417A1. Автор: Leah M. P. Pastel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-08-02.

Hot switchable voltage bus for iddq current measurements

Номер патента: EP1685417A4. Автор: Leah M P Pastel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-01-16.

Hot switchable voltage bus for iddq current measurements

Номер патента: AU2003291737A1. Автор: Leah M. P. Pastel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2004-06-06.

Current measuring device

Номер патента: CA1037122A. Автор: David I. Spalding. Владелец: Applied Power Australia Ltd. Дата публикации: 1978-08-22.

Arrangement and switching device with contactless current measuring capability

Номер патента: US11821923B2. Автор: Adam Gabriel,Jeremy Kramer,Tomas Drabek. Владелец: Eaton Intelligent Power Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Tester and method for ammeter current measurements

Номер патента: RU2136204C1. Автор: Виже Фридолен. Владелец: Асюлаб С.А.. Дата публикации: 1999-09-10.

Load current measurement

Номер патента: US20170264211A1. Автор: Peter Christiaans,Ii Robert Glenn Crosby,Fu Chun Zhan. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2017-09-14.

Current measurement system

Номер патента: US20230029921A1. Автор: Damien Coutellier,Arnaud Labbe,Atef Lekdim,Albert Tournilhac. Владелец: LEM INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2023-02-02.

Systems and methods to sample current measurements in energy storage devices

Номер патента: WO2017030724A1. Автор: Mert Geveci. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2017-02-23.

Current measuring system for a commutated motor

Номер патента: US11531047B2. Автор: Adriano De Rosa. Владелец: TDK Micronas GmbH. Дата публикации: 2022-12-20.

Self-correcting electrical current measuring devices

Номер патента: US11874361B2. Автор: Micheal M. Austin. Владелец: Vutility Inc. Дата публикации: 2024-01-16.

Systems and methods to sample current measurements in energy storage devices

Номер патента: EP3338101A1. Автор: Mert Geveci. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-06-27.

Current measuring system for a commutated motor

Номер патента: US20200225267A1. Автор: Adriano De Rosa. Владелец: TDK Micronas GmbH. Дата публикации: 2020-07-16.

Circuit breaker having a direct current measuring shunt

Номер патента: CA1308148C. Автор: William John Murphy. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1992-09-29.

Method and apparatus for current measurement in polyphase electricity supply

Номер патента: EP3682258A1. Автор: William Holland,Jonathan Hurwitz,Seyed Danesh. Владелец: Analog Devices Global ULC. Дата публикации: 2020-07-22.

Intelligent semiconductor switch with integrated current measurement function

Номер патента: US20230375599A1. Автор: Andrea Baschirotto,Albino Pidutti,Paolo Del Croce. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2023-11-23.

Apparatus and method for embedding current measurement and ringing suppression in multichip modules

Номер патента: US11913974B2. Автор: Andrew N. Lemmon,Ali SHAHABI. Владелец: University of Alabama UA. Дата публикации: 2024-02-27.

Phase current measurement diagnostic

Номер патента: US9802642B2. Автор: Siddharth Ballal,Timothy A. Klinesmith,Dennis B. Skellenger. Владелец: Steering Solutions IP Holding Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Apparatus for enabling corona current measurement

Номер патента: US4340855A. Автор: Kenneth E. Paysen,James M. Petrovick. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1982-07-20.

Device for making current measurements used in determining the charging of a vehicle storage battery

Номер патента: US5378977A. Автор: Robert Eriksson,Urban Kristiansson. Владелец: Volvo AB. Дата публикации: 1995-01-03.

Battery current measuring device and method

Номер патента: US11835585B2. Автор: Won Tae Lee,Chang Bok Lee,Sung Tack Hwang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

Current measuring device in an electrical distribution switchboard or enclosure

Номер патента: US4675598A. Автор: Bernard Boichot-Castagne. Владелец: GERIN. Дата публикации: 1987-06-23.

Shunt assembly for current measurement

Номер патента: CA2226107A1. Автор: David Brady,Keith Robert Amey,Paul Martin Moore. Владелец: Remote Metering Systems Ltd. Дата публикации: 1997-01-23.

Inductor current measurement probe

Номер патента: US20180143264A1. Автор: Istvàn Novak,Peter J. Pupalaikis,Lawrence W. Jacobs. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2018-05-24.

Current measurement

Номер патента: WO2008120017A1. Автор: Michael Joseph Leisten. Владелец: Absl Power Solutions Limited. Дата публикации: 2008-10-09.

Current-measuring device

Номер патента: US4841237A. Автор: Bernard Landre. Владелец: Universal Technic SAS. Дата публикации: 1989-06-20.

Current measurement shunt

Номер патента: CA1253570A. Автор: Gilles Roy,Guy Olivier,Georges-Emile April. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-05-02.

Systems, devices, and methods for a wide dynamic range current measurement with consumption event analysis

Номер патента: US20180045765A1. Автор: Andrew J. Borleske. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-02-15.

Wave-leakage measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US5138253A. Автор: Tamio Fukui,Isao Momoji. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1992-08-11.

Magnetic field measuring apparatus and apparatus for measuring spatial resolution of magnetic field detector

Номер патента: US6144196A. Автор: Naoya Tamaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-11-07.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09553462B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Measurement apparatus, detection apparatus, and measurement method

Номер патента: US12032049B2. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Frequency measurement apparatus, microcontroller, and electronic apparatus

Номер патента: US20210405099A1. Автор: Keisuke Hashimoto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-12-30.

Signal measuring apparatus

Номер патента: US20230258695A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Measurement apparatus, control method for measurement apparatus, and measurement system

Номер патента: US20220373618A1. Автор: Yu Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Measurement apparatus

Номер патента: US20240264262A1. Автор: Yuki Kondo,Takashi Iwase,Chunqing LIANG. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Signal measuring apparatus

Номер патента: GB2597059A. Автор: White Scott,Price Richard,Ramsdale Catherine,ALKHALIL Feras,SOU Antony. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Signal measuring apparatus

Номер патента: EP4176235A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-05-10.

Signal measuring apparatus

Номер патента: WO2022008904A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Limited. Дата публикации: 2022-01-13.

Measuring apparatus

Номер патента: US20200006990A1. Автор: Yuki Yamamoto,Natsuki MIYASHITA,Tomohide TSUKASAKI. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

Biomagnetic measurement apparatus

Номер патента: US20030231016A1. Автор: Masahiro Murakami,Hitoshi Sasabuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2003-12-18.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20170212173A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20170212172A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20160282417A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-29.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20180011147A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-11.

Grounding resistance measurement apparatus and method of operating the same

Номер патента: US09910079B2. Автор: Tsung-Yuan Wu. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Solar cell measuring apparatus

Номер патента: US09825585B2. Автор: Jaewon Chang,Heejin NAM,Hyunjung PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-11-21.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09804229B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09804228B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09766132B2. Автор: Yasuhiro Takase,Hidetoshi Nakanishi,Motohiro Kono,Kazuo Kinose. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09645201B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09645199B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Position measuring apparatus and driving method thereof

Номер патента: US09612692B2. Автор: Sung-soo Park,Yu-Sheop Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-04.

Battery property measurement apparatus

Номер патента: US20210018566A1. Автор: Jin Hyun Lee,Young Joong Kim,Young Su SON. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US11846605B2. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: FI130163B. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2023-03-23.

Measuring apparatus

Номер патента: US20150362549A1. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Takayuki SHIROTORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-12-17.

Alternating current loss measuring apparatus

Номер патента: US20160341778A1. Автор: Takeshi Kawamura,Manabu Aoki,Yukinobu Imamura,Tatsuhiko Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-11-24.

Measurement apparatus

Номер патента: US20200033292A1. Автор: Nobuei Washizu. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Electric potential measuring apparatus

Номер патента: US20130271110A1. Автор: Kazunori Yamanaka,Kazuaki Kurihara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-10-17.

Brain measurement apparatus

Номер патента: US20220386888A1. Автор: Tetsuo Kobayashi,Motohiro Suyama,Akinori Saito,Takahiro Moriya,Takenori OIDA. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2022-12-08.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US20220381738A1. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-12-01.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20230305084A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Alternating current loss measuring apparatus

Номер патента: US9817051B2. Автор: Takeshi Kawamura,Manabu Aoki,Yukinobu Imamura,Tatsuhiko Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-11-14.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US12038488B2. Автор: Shigeki Okatake,Hideyuki Tsuji,Masashi Yamada. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Rotatable Display for Test and Measurement Apparatus

Номер патента: US20110115470A1. Автор: Anthony Cake,Yann Oeffner,Tyler Cox,James Annichiarico,Daniel Monopoli,Chrsitopher K. Schroeder. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2011-05-19.

Measurement apparatus for FET characteristics

Номер патента: US20070279081A1. Автор: Yasushi Okawa. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-12-06.

Magnetic field measuring apparatus

Номер патента: US20210132161A1. Автор: Takashi Yasui. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-06.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: AU2023214108A1. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2024-08-29.

Capacitance measurement apparatus

Номер патента: US12092671B2. Автор: CHEN CHEN. Владелец: Chipone Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Magnetic field measuring apparatus and magnetic field measuring method

Номер патента: US12066508B2. Автор: Takashi Yasui. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement apparatus, measurement method and computer readable medium

Номер патента: US12055570B2. Автор: Mitsuo Matsumoto,Shinya Sato,Masayuki Kawabata,Masakatsu Suda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Current measurement circuit

Номер патента: US09869702B2. Автор: Yasuhide Kuramochi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Eddy current sensor and eddy current measurement method

Номер патента: EP2583092A1. Автор: Tatsuo Hiroshima,Naotaka Ide,Takanari Yamamoto. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2013-04-24.

Eddy current sensor and eddy current measurement method

Номер патента: WO2011158098A1. Автор: Tatsuo Hiroshima,Naotaka Ide,Takanari Yamamoto. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2011-12-22.

Current measurement method

Номер патента: US20220187244A1. Автор: Masateru Taniguchi,Masakazu Sanada,Tadashi Miyagi,Takahito Ohshiro. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2022-06-16.

Ultrasonic dimension measuring apparatus

Номер патента: US4800757A. Автор: Kazuhiro Hashinoki,Kenichi Dairiki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-01-31.

Circuit for ion current measurement in combustion space of an internal combustion engine

Номер патента: US5801534A. Автор: Jens Schirmer,Peter Hohner. Владелец: Temic Telefunken Microelectronic GmbH. Дата публикации: 1998-09-01.

Incorporating mandrel current measurements in electromagnetic ranging inversion

Номер патента: CA3047238C. Автор: Burkay Donderici,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-11-09.

Frequency selection method and hardening depth measurement method of eddy current measurement

Номер патента: US8432161B2. Автор: Takanari Yamamoto. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2013-04-30.

Measuring apparatus

Номер патента: US09811896B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: EP4182671A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-05-24.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: WO2022013578A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: US11856304B2. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Stock tank water level measuring apparatus and system for monitoring the apparatuses

Номер патента: US20210325229A1. Автор: David Cliff,Curt Goble. Владелец: Wellbot LLC. Дата публикации: 2021-10-21.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20230089647A1. Автор: Hiroshi Nakatsuka,Riyoko Miyahara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Single body quadruple cylinder tritium measuring apparatus

Номер патента: US20180335414A1. Автор: Xiaowei Zhang,Sabatino Nacson,Jiangrong WU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-11-22.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US20220206134A1. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-30.

Color measuring apparatus

Номер патента: US12025493B2. Автор: Tatsuya Shirane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Pressure measurement apparatus for inspecting therapeutic energy waves

Номер патента: US5357805A. Автор: Satoshi Aida,Katsuhiko Fujimoto,Nobuki Kudo,Masamichi Oyanagi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1994-10-25.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US20140025300A1. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US12085633B2. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Sample measuring apparatus, information reading apparatus, and information reading method

Номер патента: EP4439381A1. Автор: Masato Hayashi,Rentaro TAKENAKA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Position measuring apparatus

Номер патента: US09696152B2. Автор: Yukiharu Tomita,Ryosuke Oikawa,Kenzo Yamanouchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Grain measurement apparatus

Номер патента: US09671273B2. Автор: Steven L. Harris,Matthew T. Emerick. Владелец: Juniper Systems Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Optical distance measuring apparatus and electronic apparatus

Номер патента: US09568596B2. Автор: Hideo Wada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US09513271B2. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-05.

Image processing apparatus and distance-measurement apparatus

Номер патента: US20230258807A1. Автор: Hiroki Okada,Yoshiteru Takayama. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12038329B2. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Distance measurement apparatus and biometric authentication apparatus

Номер патента: US20220309692A1. Автор: Katsuji Kimura,Youji Sakioka,Mitsuhiro Iwama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Method for calibrating the time axis in time - domain terahertz wave measuring apparatus

Номер патента: EP2545350A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-16.

Light receiving apparatus and distance measuring apparatus

Номер патента: US12061292B2. Автор: Kenta Makimoto. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Electromagnetic-wave detection apparatus and distance-measurement apparatus

Номер патента: US20230288565A1. Автор: Hiroki Okada. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Measuring apparatus for figures

Номер патента: US5708592A. Автор: Katsumi Kaji. Владелец: Ushikata Mfg Co Ltd. Дата публикации: 1998-01-13.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240272003A1. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Detection apparatus and measuring apparatus

Номер патента: US20230288320A1. Автор: Takashi Tajiri. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20230288306A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20020092189A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-18.

Distance measurement apparatus and setting method of transmission condition

Номер патента: US20240295650A1. Автор: Yukimitsu Yamada. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic head unit, ultrasonic probe, and ultrasonic imaging apparatus

Номер патента: US09788814B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Load measuring apparatus and load measuring method

Номер патента: US09719869B2. Автор: Hideaki Tanaka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: US09651510B2. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US09541489B2. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic head unit, ultrasonic probe, and ultrasonic imaging apparatus

Номер патента: US09513263B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Liquid containment and measurement apparatus and method

Номер патента: US09435677B1. Автор: David Soble,Scott Soble,Derek Grace,Brian L. Ashinger. Владелец: Diamond Shine Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Flow measurement apparatus

Номер патента: RU2760627C1. Автор: Эрик ШТАРКЕ,Кристиан ШУЛЬЦ,Маркус КЛЕММ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2021-11-29.

Urine measurement apparatus

Номер патента: RU2539534C2. Автор: Микаэль ШАРЛЕЗ,Микаэль ЛЕФГРЕН. Владелец: Обзерв Медикал Апс. Дата публикации: 2015-01-20.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US20190078865A1. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US10859365B2. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-08.

Shock measurement apparatus and shock measurement method

Номер патента: US20020043114A1. Автор: Takane Fujino,Keishi Takahashi,Kazutaka Okasaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200379112A1. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: US20240215819A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20210131791A1. Автор: Masahiro Kawai,Yoshitaka Tsuboi,Shohei Tsukamoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12044572B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20210208683A1. Автор: Shigeto Hattori. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-07-08.

Access area measurement apparatus

Номер патента: US5212890A. Автор: Glen W. White,R. Mark Mathews. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-05-25.

Measurement Apparatus Having Display Device

Номер патента: US20090165316A1. Автор: Kee-Weng Lai,Shan-Nan Chen. Владелец: Grenergy Opto Inc. Дата публикации: 2009-07-02.

Ball measuring apparatus

Номер патента: US20070075891A1. Автор: Takahiro Sajima. Владелец: SRI Sports Ltd. Дата публикации: 2007-04-05.

Measurement apparatus

Номер патента: US10656086B2. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-05-19.

Fluorescence measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US20120286171A1. Автор: Kazuteru Hoshishima. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-15.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: WO2010137453A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-12-02.

Gas concentration measuring apparatus with failure monitor

Номер патента: EP1582726A3. Автор: Tomoo Kawase,Eiichi Kurokawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2011-08-17.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: EP4348171A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Force measuring apparatus

Номер патента: US20080190216A1. Автор: Hideo Morimoto. Владелец: Nitta Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Wafer carrier measuring apparatus

Номер патента: US20240186163A1. Автор: Kuo-Hua Lee,Ming-Chien Chiu,Chia-Ho CHUANG,En-Nien Shen,Jyun-Ming Lyu,Xin-Yuan Huang. Владелец: Gudeng Precision Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Shape measuring apparatus and shape measuring method

Номер патента: US10156435B1. Автор: Rikiya Taniguchi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-12-18.

Measurement apparatus

Номер патента: US20150359518A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Specific gravity measuring apparatus

Номер патента: US20130086984A1. Автор: Sadanori Kondo. Владелец: Alfa Mirage Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-11.

Method for Operating a Surface Measurement Apparatus

Номер патента: US20200200519A1. Автор: Adelbert Leber. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2020-06-25.

Optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20090079984A1. Автор: Shinji Shimizu,Yoshiyuki Nagashima,Katsutoshi Tsurutani,Tomohiro Fukamizu. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2009-03-26.

Light wavelength measurement apparatus and method, and light wavelength control device and light-emitting system

Номер патента: EP4414672A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Measurement apparatus

Номер патента: US20190369018A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-12-05.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US6128083A. Автор: Asahiko Nogami. Владелец: Sony Precision Technology Inc. Дата публикации: 2000-10-03.

Vibration measuring apparatus

Номер патента: WO2019243808A1. Автор: Michael James Jones. Владелец: Jones Michael James. Дата публикации: 2019-12-26.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12085449B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: EP2435850A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-04-04.

Flow measurement apparatus

Номер патента: US20240302194A1. Автор: Andreas Ehrlich,Mario Künzelmann,Gerry Schroeter. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2024-09-12.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09984453B2. Автор: Toru Sugiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Measuring apparatus for the filling level of a container

Номер патента: US09885598B2. Автор: Petr Tesar,Jan Nekula,Martin Kalas. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-02-06.

Distance measuring apparatus, vehicle and method of calibration in distance measuring apparatus

Номер патента: US09866819B2. Автор: Shuichi Suzuki,Mitsuru Nakajima,Motoyasu Murai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Tool length measurement apparatus

Номер патента: US09863765B2. Автор: Akira Kimura,Ken Onoe. Владелец: DMG Mori Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Coordinate measuring apparatus and method for measuring an object

Номер патента: US09625257B2. Автор: Ralf Christoph,Wolfgang Rauh. Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-04-18.

Fuel-level measuring apparatus

Номер патента: US09551605B2. Автор: Takeshi Watanabe,Akihiro Taguchi,Kotaro Tanaka,Naoki Ogiwara,Masaki Wakao. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

XRF measurement apparatus for detecting contaminations on the bevel of a wafer

Номер патента: US09541511B2. Автор: Assunta Vigliante. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2017-01-10.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

A measuring apparatus for measuring properties of a surface

Номер патента: WO2016189327A1. Автор: Professor Stuart ROBSON,Ben SARGEANT,Abdul Rahman EL-NOUNU. Владелец: UNIVERSITY COLLEGE LONDON. Дата публикации: 2016-12-01.

Torque measuring apparatus using magnetic bodies

Номер патента: US20150053024A1. Автор: Tae Hun KANG,Jeon II MOON. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2015-02-26.

Measurement apparatus, control apparatus, and control method

Номер патента: EP4224204A1. Автор: Emiko Shiraishi,Yohei Morita,Kei Takeyama,Junichiro Hayakawa,Kaho Oi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-08-09.

Inertial measurement apparatus and mechanical device

Номер патента: EP3816580A1. Автор: Faquan CHEN. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-05.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: WO2018016782A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2018-01-25.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: US20180024037A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-01-25.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: PH12016501789A1. Автор: NISHIDA Hidetaka. Владелец: Chugoku Electric Power. Дата публикации: 2017-01-09.

Fine particle measurement apparatus with exhaust purification function

Номер патента: US20070216895A1. Автор: Kenji Watanabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-09-20.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240230312A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Concentration measurement apparatus and concentration measurement method

Номер патента: US20230168192A1. Автор: Takenobu Nakamura,Kakeru ICHIMURA. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20200132797A1. Автор: Yusuke Ito,Masahiro Kawai,Takayuki Yanagisawa,Shumpei Kameyama,Masaharu Imaki,Yosuke Tsuzaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Measurement apparatus, storage medium, system and method of manufacturing article

Номер патента: US20230196605A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

A measuring apparatus for measuring properties of a surface

Номер патента: EP3303989A1. Автор: Stuart Robson,Ben SARGEANT,Abdul Rahman EL-NOUNU. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2018-04-11.

Measuring apparatus and method for same

Номер патента: EP3080548A1. Автор: Owen PEARCEY. Владелец: HATCH ASSOCIATES PTY LTD. Дата публикации: 2016-10-19.

Gas volume measurement apparatus

Номер патента: EP4361592A1. Автор: Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20100289895A1. Автор: Norihiro Imamura. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-11-18.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20150101400A1. Автор: Rentaro Kuroki,Sho Tomita. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-04-16.

Luminous body measurement apparatus and luminous body measurement method

Номер патента: US20200300693A1. Автор: Hiroyuki Sano,Yoshihiko Nishida. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and program

Номер патента: EP3754296A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-12-23.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: EP1017969A1. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-07-12.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: WO1999015859A2. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Wusterbarth Michael A. Дата публикации: 1999-04-01.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US20220252436A1. Автор: Masataka Yamamuro. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Color-Measuring Apparatus, Print Control Apparatus, And Print Control Method

Номер патента: US20160142589A1. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-19.

Light scattering measuring apparatus and measuring jig

Номер патента: US20220155203A1. Автор: Hiroya Nagasawa,Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

Optical gas concentration measurement apparatus

Номер патента: US20220236173A1. Автор: Stefan Warnke,Eric Wertz,Alex S. Nikittin. Владелец: Advanced Energy Industries Inc. Дата публикации: 2022-07-28.

Fine particle measuring apparatus

Номер патента: US20150253247A1. Автор: Nao Nitta. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20130010278A1. Автор: Hitoshi Ohmuro. Владелец: Nikon Vision Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-10.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US20170059316A1. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-02.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic diagnostic apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20160124088A1. Автор: Hiroyuki Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-05.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US20140347677A1. Автор: Hyunjoon Kim,Jeonguk LEE,Sungjin CHO,Hyunseok Shin,Gyeongeon Lee,Sunghoon Cha. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2014-11-27.

Measurement apparatus and driving apparatus

Номер патента: US20190128916A1. Автор: Takayuki Uozumi,Takefumi Ota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-05-02.

Flow measurement apparatus and method of use

Номер патента: WO2019243789A1. Автор: Victor Gawski,Gavin MUNRO. Владелец: Gm Flow Measurement Services Limited. Дата публикации: 2019-12-26.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: EP3111198A1. Автор: Chulwoo PARK,Yeekyeong JUNG,Sunghwa Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-01-04.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: US20170059466A1. Автор: Chulwoo PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-03-02.

Distance measuring apparatus using sensor cover

Номер патента: US20230034798A1. Автор: Jungwon Choi,Yongkeun JEE,Hyeonghwan CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-02-02.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20200096333A1. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Irradiation strength distribution measuring apparatus and method of measuring

Номер патента: WO2008089898A1. Автор: Rolf Freimann. Владелец: Carl Zeiss Smt Ag. Дата публикации: 2008-07-31.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20210239497A1. Автор: Harutsugu Fukumoto. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Optical measurement apparatus and method of measuring an axial length

Номер патента: US20240271922A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US20150292946A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-15.

Axle-load measuring apparatus and axle-load measuring method

Номер патента: US10982951B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Measuring apparatus, signal outputting method and storage medium

Номер патента: US20010037188A1. Автор: Masashi Tsuboi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2001-11-01.

Measuring apparatus and method of wafer geometry

Номер патента: US12072176B2. Автор: An Andrew Zeng. Владелец: Nanjing Zhongan Semiconductor Equipment Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Inertial measurement apparatus and method with improved thermal and noise performance

Номер патента: US20210080334A1. Автор: Mike Horton,Shu Wang. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12072175B2. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: EP4067842A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-10-05.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: US20230066638A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-02.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Resolution measurement apparatus and resolution measurement method using the same

Номер патента: US12072259B2. Автор: Jinwook Lee,Sanghui Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Optical Wavelength Measurement Apparatus and Method, Optical Wavelength Control Device, and Light Emitting System

Номер патента: US20240295437A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US8502984B2. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-06.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20120019831A1. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-26.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US9823069B2. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-21.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US9764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Grain gloss measurement apparatus

Номер патента: US20210192713A1. Автор: Hisashi Sakamoto,Koshiro Kajiyama. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Measuring apparatus

Номер патента: US20110011173A1. Автор: Bing-Jun Zhang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Light measurement apparatus

Номер патента: US20150124249A1. Автор: Naoharu Yanagawa. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

Beam scanner and surface measurement apparatus

Номер патента: US20100201993A1. Автор: Bae Kyun Kim,Tak Gyum Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-08-12.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20010015094A1. Автор: Yasunori Konaka. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2001-08-23.

Water vapor distribution measurement apparatus

Номер патента: US20240151641A1. Автор: Takayoshi Kaneko,Shintaro Ozawa,Naoto Kakuta,Rintaro TAKAGI. Владелец: Tokyo Metropolitan Public University Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240280435A1. Автор: Seung Woo Lee,Jin Woo Ahn,Tae Joong Kim,Seung Ryeol Lee,Myung Jun Lee,Ye Eun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-22.

Color measuring system, backing plate, and color measuring apparatus

Номер патента: US20230194340A1. Автор: Katsumi Yamada,So YOKOTA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Piston ring tension measurement apparatus

Номер патента: US20120006121A1. Автор: Atsuko Miyamoto. Владелец: Teikoku Piston Ring Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-12.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US12085413B2. Автор: Graham Richard Ferguson,Benjamin Jason Merrifield. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-09-10.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240310519A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Fringe information measuring apparatus and substrate treating system including the same

Номер патента: US12097696B2. Автор: Han Lim KANG,Won Yong JIN,Jae Duck Lee,Suk Won Jang. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Coating Thickness Measuring Apparatus and Method

Номер патента: US20240344822A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on vortex dichroism

Номер патента: US20240329377A1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-10-03.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Sample extracting device and residual solvent measuring apparatus including the same

Номер патента: US20210001328A1. Автор: Sanguk Son,Donghwa LEE,Jaeyong Choi,Daigeon YOON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Sample measuring apparatus, reagent container, and method of measuring sample

Номер патента: US12130300B2. Автор: Tomohiro KUROIWA,Yutaka Kawamoto,Shingo KAIDA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Gas measurement apparatus

Номер патента: US20240361236A1. Автор: Yumiko Sugiyama,Yasuo Sakamaki,Saki KOBAKO,Kentaro Tezuka,Shigeo Uneme. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Intelligent measuring apparatus

Номер патента: US12111065B2. Автор: Ulrich Demuth,Manfred Ulrich,Michael Oswald. Владелец: REFCO MANUFACTURING LTD. Дата публикации: 2024-10-08.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20220299641A1. Автор: Naoki Shinoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-22.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20240369347A1. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Color measurement apparatus and printing apparatus

Номер патента: US09992383B2. Автор: Nozomu HIROKUBO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Optical velocity measuring apparatus and moving object

Номер патента: US09977044B2. Автор: Azusa Amino,Ryosuke Nakamura,Taishi Ueda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-05-22.

Method for measuring level of material level measuring apparatus

Номер патента: US09958309B2. Автор: I-Chu Lin,Liang-Chi CHANG,Chun-Han HUANG. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Correction device and correction method for optical measuring apparatus

Номер патента: US09958263B2. Автор: Ichiro Taniguchi,Ryoichi Imaizumi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Microchip-type optical measuring apparatus and optical position adjusting method thereof

Номер патента: US09915935B2. Автор: Yosuke Muraki,Fumitaka OTSUKA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Measurement apparatus, exposure apparatus, measurement method, and recording medium

Номер патента: US09910363B2. Автор: Takaki Hashimoto,Ai Furubayashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Trace gas measurement apparatus for electrical equipment

Номер патента: US09874497B2. Автор: David Peter Robinson,Christopher Raymond CALVERT,Aidan Owens,Martin Duffy. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-01-23.

Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method

Номер патента: US09869626B2. Автор: Tetsuji Yamaguchi,Tetsuya Mori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic image apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09867594B2. Автор: Masaki Hayashi,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09866980B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Minute object characteristics measuring apparatus

Номер патента: US09857216B2. Автор: Daichi Yamaguchi,Shuusuke SOMENO. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Light measurement apparatus, method, program and recording medium

Номер патента: US09846120B2. Автор: Masaichi Hashimoto,Akiyoshi Irisawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US09823069B2. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-21.

End play measurement apparatus

Номер патента: US09791349B2. Автор: Michinori Hashimoto,Hideo Terasawa,Shinsaku Maeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US09764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Measurement apparatus

Номер патента: US09753127B2. Автор: Hirofumi Yamamoto,Akira Miki,Shinichirou Taguchi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09752971B2. Автор: Rentaro Kuroki,Sho Tomita. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Measuring apparatus, measurement method, information processing apparatus, and measurement program

Номер патента: US09747681B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09740661B2. Автор: Norihiko Mikoshiba,Munehiro Kitaura. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Neutron measurement apparatus, neutron calculation apparatus, and neutron measurement method

Номер патента: US09702987B2. Автор: Daijiro Ito,Shigehiro Kono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Method of correcting measurement error of shape measuring apparatus, and shape measuring apparatus

Номер патента: US09683839B2. Автор: Nobuhiro Ishikawa,Hideyuki Nakagawa. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09651876B2. Автор: Kenji Noda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Sample introduction system and particle size distribution measuring apparatus

Номер патента: US09645059B2. Автор: Akihiro Katanishi,Takashi KIMBA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Measurement apparatus and method of measuring signal light quality

Номер патента: US09638574B2. Автор: Shoichiro Oda,Tomohiro Yamauchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Thickness measurement apparatus and method thereof

Номер патента: US09625273B2. Автор: Yoshihiro Yamashita,Hidehiko Kuroda,Akio Sumita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09618385B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Grain appearance measuring apparatus

Номер патента: US09607368B2. Автор: Hiroaki Takeuchi,Hideaki Matsushima,Hiroki Ishizuki. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Three-dimensional shape measurement apparatus and control method thereof

Номер патента: US09599462B2. Автор: Toshihiro Kobayashi,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09595107B2. Автор: Satoshi Nishimura. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Roundness measuring apparatus

Номер патента: US09581424B2. Автор: Ryo Takanashi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Measuring apparatus and method for detecting ferromagnetic particles

Номер патента: US09575023B2. Автор: Rudolf Lueck,Peter Hoehne. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2017-02-21.

Deposition rate measuring apparatus

Номер патента: US09562798B2. Автор: Hee Dok Choi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Chlorine dioxide gas concentration measuring apparatus

Номер патента: US09551652B2. Автор: Masateru Takimoto,Katsuji HOTTA. Владелец: CSD Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Gas measurement apparatus

Номер патента: EP4455638A1. Автор: Yumiko Sugiyama,Yasuo Sakamaki,Saki KOBAKO,Kentaro Tezuka,Shigeo Uneme. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement apparatus and wood processing system with such a measurement apparatus

Номер патента: US09541569B2. Автор: Hans Hundegger. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-10.

Muzzle velocity measuring apparatus and method

Номер патента: US09513308B2. Автор: Sung-Min Lee,Jung-Yun Kim,Kyu-Chae JUNG,De-Rac SON,Jun-Goo SHIN. Владелец: Hanwha Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Granule measurement apparatus

Номер патента: US09500509B2. Автор: Daniel Allen EGNOR, JR.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-11-22.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US09453743B2. Автор: Wansoo LEE,Euncheol LEE,Taeksoo LEE. Владелец: Hitachi LG Data Storage Korea Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US09448113B2. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Shape measuring apparatus and control method of shape measuring apparatus

Номер патента: US09448052B2. Автор: Takashi Noda,Hiromi Deguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Light measurement apparatus

Номер патента: US09442010B2. Автор: Naoharu Yanagawa. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US09441950B2. Автор: Daisuke Tomita,Kentaro Osawa,Masaki MUKO. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US09429420B2. Автор: Hyunjoon Kim,Jeonguk LEE,Sungjin CHO,Hyunseok Shin,Gyeongeon Lee,Sunghoon Cha. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2016-08-30.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US09354041B2. Автор: Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US20210181081A1. Автор: Tatsushi Ohyama,Mariko Miyashita. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: EP3994448A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2022-05-11.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: WO2021001277A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2021-01-07.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US20170219432A1. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US10175108B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-01-08.

Flight parameter measuring apparatus and flight parameter measuring method

Номер патента: SG11201910034RA. Автор: Hideaki Kawamoto,Viet Manh Do,Hong Quan Luong. Владелец: Gpro Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Light measuring apparatus

Номер патента: US20190154583A1. Автор: Kakuro HIRAI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-05-23.

Light measuring apparatus

Номер патента: US10386304B2. Автор: Kakuro HIRAI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-08-20.

Length Measuring Apparatus

Номер патента: US20240060763A1. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12013229B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

X-Ray Fluorescence Measurement Apparatus

Номер патента: US20210018453A1. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Universal communication system for measurement apparatuses, method of communication relating thereto

Номер патента: US20180077593A1. Автор: Cedric Neveu,Damien PELLETIER,Fabio FURLAN. Владелец: ECOMESURE. Дата публикации: 2018-03-15.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: EP4367471A1. Автор: Peter Qiu,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: WO2023281270A1. Автор: Peter Qiu,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: OXFORD UNIVERSITY INNOVATION LIMITED. Дата публикации: 2023-01-12.

Eyeglass frame measurement apparatus

Номер патента: US7436523B2. Автор: Yoshinori Matsuyama,Motoshi Tanaka. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2008-10-14.

Press load measuring apparatus and method for press machine

Номер патента: US20200307138A1. Автор: Yasuyuki Kohno,Kazuki Honjo. Владелец: Aida Engineering Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Battery cell internal pressure measurement apparatus

Номер патента: US20240230444A9. Автор: Kyung-Min Lee,In-Seob HWANG,Chang-Hyun HWANG,Bong-Hyun Jeong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20220317056A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Photoacoustic measurement apparatus and probe

Номер патента: US20170360304A1. Автор: Atsushi Hashimoto,Kaku Irisawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20100201987A1. Автор: Takanori IWAWAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-08-12.

Force measurement apparatus for pile

Номер патента: US20240218856A1. Автор: Tzung-Ching Lee,Chao-Ta Huang,Yu-Hsuan SHIH,Che-Kai Yeh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-07-04.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP4097446A1. Автор: Makoto Higuchi,Tatsuya Hamada,Hironaga GENDA,Tatsuhiro ESAKI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Photoacoustic tomography measuring apparatus

Номер патента: WO2011135821A1. Автор: Koichi Suzuki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2011-11-03.

Atmospheric pressure measuring apparatus and method of measuring atmospheric pressure

Номер патента: US20090288491A1. Автор: Yoshitaka Suzuki,Takahiro Imamura,Shinji Koganezawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-11-26.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: EP4400804A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240201072A1. Автор: Hiroshi Ono,Masayuki Tanaka,Kohei Noda,Moritsugu Sakamoto. Владелец: Opt Gate Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: EP3910308A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2021-11-17.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2022-03-03.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887B2. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2020201075A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Weight measurement apparatus, method of eliminating noise and method of designing digital filter

Номер патента: EP1416631A3. Автор: Tohru Morichi,Yukio Wakasa,Naoyuki Aikawa. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-20.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240241041A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Optical outer diameter measurement apparatus

Номер патента: US10401151B2. Автор: Ryoichi Imaizumi,Ichirou Taniguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-09-03.

Surface profile measuring apparatus, method of measuring surface profile, and method of manufacturing optical element

Номер патента: US8472030B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-25.

Semiconductor measurement apparatus

Номер патента: US20240230314A9. Автор: Jinyong Kim,Sungho Jang,Wookrae Kim,Garam CHOI,Jinseob KIM,Daehoon Han,Younguk JIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring apparatus

Номер патента: WO2016038361A1. Автор: Andrew Barr,Michael Grace. Владелец: Capaltec Limited. Дата публикации: 2016-03-17.

Ultrasound measuring apparatus and method for measuring the flow rate of a fluid

Номер патента: US10260919B2. Автор: Toralf Dietz,Arnd Schlicke,Henri Kirmse. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2019-04-16.

Measurement apparatus, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220049981A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-17.

Gas volume measurement apparatus

Номер патента: US20240085231A1. Автор: Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Snow quality measuring apparatus and snow quality measuring method

Номер патента: US20170176587A1. Автор: Yutaka Aoki,Ryuji Murata,Ryuichi Sunagawa,Jin MIKATA. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2017-06-22.

Infrared circular dichroism measurement apparatus

Номер патента: US20230333006A1. Автор: Masaru Shimizu,Jun Koshobu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Optical outer diameter measurement apparatus

Номер патента: US20180299257A1. Автор: Ryoichi Imaizumi,Ichirou Taniguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Flexural-rigidity measuring apparatus and method for measuring flexural rigidity

Номер патента: US20230032653A1. Автор: Masao Omori. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-02-02.

Neutron flux measurement apparatus

Номер патента: US20240145107A1. Автор: Tetsushi AZUMA,Makoto SASANO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: EP3882660A1. Автор: Hideki Sakamoto. Владелец: Alpine Electronics Inc. Дата публикации: 2021-09-22.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240248208A1. Автор: Takahiro Inoue,Hideki Sato,Takayuki Shimizu,Tetsuro Ikeda,Isamu Kawabe. Владелец: Sharp Semiconductor Innovation Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Tilt angle measuring apparatus

Номер патента: US20040060357A1. Автор: Takashi Ohsawa,Akiharu Fukuda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2004-04-01.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160054117A1. Автор: Takahiro Yamamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-02-25.

Rainfall measuring apparatus using fiber bragg grating sensor

Номер патента: US20220091301A1. Автор: Geum Suk Lee,Geum Jun LEE. Владелец: FBG Korea Inc. Дата публикации: 2022-03-24.

A weight measuring apparatus

Номер патента: EP4403887A1. Автор: Yu-Min Tsao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-24.

Non-contact angle measuring apparatus

Номер патента: US20200397391A1. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-12-24.

Non-contact angle measuring apparatus

Номер патента: US11903755B2. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-20.

Length measurement apparatus

Номер патента: US20110148397A1. Автор: Josef Siraky,Florian Grieshaber. Владелец: SICK STEGMANN GMBH. Дата публикации: 2011-06-23.

Gas measuring apparatus with a compact design

Номер патента: US20230133140A1. Автор: Holger Frank. Владелец: OPUS INSPECTION Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

Measuring Apparatus

Номер патента: US20180173851A1. Автор: Francesco Visinoni,Matteo Minuti,Michele Martinelli. Владелец: Milestone SRL. Дата публикации: 2018-06-21.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US8462351B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-11.

Blood flow measurement apparatus

Номер патента: US20200029809A1. Автор: Masahiro Akiba. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US10816319B2. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada,Osamu YASUHIKO,Hisayuki MATSUI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-27.

Measurement apparatus, measurement method, and computer readable medium

Номер патента: US10982949B2. Автор: Hitoshi Hara,Kazufumi Nishida,Kazuki SETSUDA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

Material property measuring apparatus

Номер патента: US20150090885A1. Автор: Yasushi Ichizawa,Naomichi Chida,Kazuki SETSUDA,Kumiko Horikoshi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2015-04-02.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US20210356368A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2021-11-18.

X-ray ct measuring apparatus and interference prevention method thereof

Номер патента: US20190227004A1. Автор: Kozo Ariga,Masato Kon,Gyokubu Cho,Hidemitsu Asano. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Length Measuring Apparatus

Номер патента: US20220170728A1. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2022-06-02.

Length measuring apparatus

Номер патента: US11852469B2. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Blood Measuring Apparatus

Номер патента: US20120146619A1. Автор: Yoshihiro Niiyama. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Optical measuring apparatus, optical measuring method, and optical measurement processing program

Номер патента: US7948642B2. Автор: Masanobu Kataoka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20100245799A1. Автор: Boris KIRILLOV,Dong Ik Shin,Hong Ki Kim,Jung Eun Noh,Back Kue Lee,Joo Hong Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-30.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200103220A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Interferometric thickness measuring apparatus using multiple light sources coupled with a selecting means

Номер патента: US10890433B2. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

Radiometric measuring apparatus

Номер патента: US11029422B2. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-08.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US20190011351A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-10.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US10788412B2. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-29.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US10048062B2. Автор: Hidetaka Nishida. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2018-08-14.

Laser measuring apparatus

Номер патента: US5058119A. Автор: Masamichi Suzuki,Masaki Tomiya,Yoshiharu Kuwabara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 1991-10-15.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US12000804B2. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-06-04.

Universal communication system for measurement apparatuses, method of communication relating thereto

Номер патента: US10064083B2. Автор: Cedric Neveu,Damien PELLETIER,Fabio FURLAN. Владелец: ECOMESURE. Дата публикации: 2018-08-28.

Measurement apparatus, calculation method, system, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160346882A1. Автор: Tsuyoshi Yamazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-12-01.

Measuring apparatus, measuring method, and ion-sensitive semiconductor device

Номер патента: US20230097075A1. Автор: Masao Okihara. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Collision reaction force measurement apparatus

Номер патента: US20060070431A1. Автор: Shigeo Ishikawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-04-06.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Optical displacement measuring apparatus

Номер патента: EP1985973A3. Автор: Tadashi Iwamoto. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

Three dimensional measurement apparatus and three dimensional measurement method

Номер патента: US20120154540A1. Автор: Motomi Tsuyuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-21.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20210065484A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: EP3786659A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-03.

Radiation measurement apparatus

Номер патента: US20140231646A1. Автор: Toru Onodera,Shunichiro Makino,Naoto Kume,Yoshinori Satoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Measurement apparatus

Номер патента: GB2604069A. Автор: Uemura Hiroaki. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-24.

Hardness measurement apparatus and hardness measurement method

Номер патента: US20190162686A1. Автор: Chien-Chang Chen,Yii-Der WU,Szu-Hua YANG. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2019-05-30.

Electron beam length-measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20030052270A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

Surface profile measuring apparatus, method of measuring surface profile, and method of manufacturing optical element

Номер патента: US20110141482A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-16.

Semiconductor measurement apparatus

Номер патента: US20240288265A1. Автор: YASUHIRO Hidaka,Jinyong Kim,Wookrae Kim,Ingi KIM,Jinseob KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-29.

Measuring apparatus

Номер патента: EP3191792A1. Автор: Andrew Barr,Michael Grace. Владелец: CAPALTEC Ltd. Дата публикации: 2017-07-19.

Fluid measurement apparatus, fluid measurement method, and program

Номер патента: US20210041274A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Position measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US11715660B2. Автор: Manabu Takakuwa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-01.

Diffractive optical element, distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20120050717A1. Автор: Hideaki Inoue. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200208962A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US20230258779A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Automatic measuring apparatus and control method for the same

Номер патента: US20240263932A1. Автор: Masashi Yamaji. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Acoustic-wave measuring apparatus and method

Номер патента: US20150335253A1. Автор: Ryuichi Nanaumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-11-26.

Volume change measuring apparatus for frozen porous media

Номер патента: WO2023277853A2. Автор: Burak EVIRGEN,Mustafa TUNCAN,Onur UZUN,Selahattin ATTEPE. Владелец: Eskisehir Teknik Universitesi. Дата публикации: 2023-01-05.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: WO2013168652A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

Gradient measuring apparatus and system

Номер патента: US20150377619A1. Автор: John C. Miller. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-31.

Optical Measuring Apparatuses

Номер патента: US20120105859A1. Автор: Kwang Soo Kim,Chang Hoon Choi,Tae Joong Kim,Young Heo,Byung Seon CHUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-05-03.

Protective device for a measuring apparatus

Номер патента: US11733073B2. Автор: Ralf Siegler,Ralph Lohner. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2023-08-22.

Protective Device for a Measuring Apparatus

Номер патента: US20210318148A1. Автор: Ralf Siegler,Ralph Lohner. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2021-10-14.

Weight measuring apparatus

Номер патента: AU2023285855A1. Автор: Yu-Min Tsao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-08.

Inertial measurement apparatus, electronic instrument, and moving object

Номер патента: US20210123736A1. Автор: Ryohei OZAWA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Flow measuring apparatus

Номер патента: WO1996030724A1. Автор: Cyril Ward Nugent. Владелец: Umeco Systems Limited. Дата публикации: 1996-10-03.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Optical physical quantity measuring apparatus

Номер патента: US20240295493A1. Автор: Daiki Yasuda,Shota ISSHIKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Mass measurement apparatus for automatic processing machines and mass measurement method

Номер патента: EP3969855A1. Автор: Marco Minardi. Владелец: IMA Industria Macchine Automatiche SpA. Дата публикации: 2022-03-23.

Sample measuring apparatus and sample measuring method

Номер патента: US20190265264A1. Автор: Yoshinori Nakamura,Jun Inagaki,Takashi Yamato,Shunsuke Saito. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12072177B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Rainfall measuring apparatus using fiber bragg grating sensor

Номер патента: EP3974874A1. Автор: Geum Suk Lee,Geum Jun LEE. Владелец: FBG Korea Inc. Дата публикации: 2022-03-30.

Gas constituent measuring apparatus

Номер патента: US12061184B2. Автор: Kunihiko Nakamura. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Raman scattering measuring apparatus and raman scattering measuring method

Номер патента: US20140253918A1. Автор: Keisuke Nose,Yasuyuki Ozeki,Kazuyoshi Itoh. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Optical comb measuring apparatus

Номер патента: US20240255423A1. Автор: Takao Sakurai. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20220270274A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20200334844A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Measurement apparatus

Номер патента: US20190219424A1. Автор: Hirokazu Kobayashi,Akio Kawai. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Measuring apparatus with tape measure and pendulum for plumbing

Номер патента: EP1540267A1. Автор: Andrew Webb,Michael Meagor. Владелец: Markerite Trading Ltd. Дата публикации: 2005-06-15.

Measuring apparatus

Номер патента: US20230213331A1. Автор: Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-07-06.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20110043809A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Near-field polarized-light measurement apparatus

Номер патента: EP1715322A3. Автор: Tsutomu Inoue,Fuminori Sato,Yoshihito Narita,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2007-04-11.

Measuring apparatus, method, and program

Номер патента: US20100272321A1. Автор: Isao Kimura,Atsushi Takeuchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-10-28.

Mist flow rate measuring apparatus

Номер патента: US20240085230A1. Автор: Takahiro Hiramatsu,Hiroyuki Orita. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Biological sample measurement apparatus

Номер патента: US20130323124A1. Автор: Akio Nagao,Hiroyuki Hamamoto,Masumi Aono. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US11703592B2. Автор: Hirokazu Takenaka. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: AU2007216862A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: US20080068585A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-03-20.

A fiber concentration profile measuring apparatus

Номер патента: SE1851372A1. Автор: Bengt Akerblom. Владелец: Daprox AB. Дата публикации: 2020-05-06.

Ultrasound flow rate measurement apparatus and manufacturing method for same

Номер патента: US20180156651A1. Автор: Torsten Schmidt,Jörg Schneider,Christian Schulz. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2018-06-07.

Radiometric Measuring Apparatus

Номер патента: US20200183021A1. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-06-11.

Measurment apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US20190293410A1. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Measurement apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US10866085B2. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-12-15.

Volume measuring apparatus with multiple buttons

Номер патента: US20210372770A1. Автор: Shu-Ying Huang,Kuo-Chun WANG. Владелец: Champtek Inc. Дата публикации: 2021-12-02.

Mapping-measurement apparatus

Номер патента: US20050088656A1. Автор: Hiroshi Tsukada,Noriaki Soga,Jun Koshoubu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2005-04-28.

Inner Diameter Measurement Apparatus

Номер патента: MY196233A. Автор: ABE Shuji,My Tien Phan. Владелец: Synztec Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-24.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US20240035943A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-02-01.

Portable measuring apparatus having groove for fitting cap

Номер патента: US20020029636A1. Автор: Toru Matsumoto,Akio Ohashi,Hiroshi Kohashi,Akiyoshi Fujitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-03-14.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20030084582A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-08.

Optical sampling measurement apparatus and optical sampling measurement method

Номер патента: US20030223765A1. Автор: Masatoshi Kanzaki,Yoshiki Yanagisawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-04.

Single-axial precision measuring apparatus

Номер патента: US20050022607A1. Автор: Cheng-Fu Hsiao. Владелец: Barmu Tech Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Method for X-ray wavelength measurement and X-ray wavelength measurement apparatus

Номер патента: US20080240354A1. Автор: Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20080316495A1. Автор: Minoru Maeda,Takaaki Hirata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-12-25.

Component measurement apparatus

Номер патента: US20110216308A1. Автор: Hitoshi Hara,Shin-ichiro Tezuka. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2011-09-08.

Air impurity measurement apparatus and method

Номер патента: US20050169806A1. Автор: Kazuhiro Nishiki,Makiko Katano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-08-04.

Chromatic dispersion distribution measurement apparatus and method for the same

Номер патента: US20020113956A1. Автор: Akio Ichikawa,Shoichi Aoki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-22.

Chromatic dispersion distribution measurement apparatus and method for the same

Номер патента: US20020107655A1. Автор: Akio Ichikawa,Shoichi Aoki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-08.

Measurement apparatus

Номер патента: US20230140458A1. Автор: Yoshiyuki Suzuki,Junichiro Hayakawa. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-05-04.

Wafer measurement apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240248051A1. Автор: Younghoon Sohn,Souk Kim,Joonseo Song,Jaehyung Ahn,Inseok PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-25.

Measurement Apparatus

Номер патента: US20230236116A1. Автор: Hideki Tomita,Tatsuya IKEHARA,Koji Tojo,Tetsuo Furumiya. Владелец: Tokai National Higher Education and Research System NUC. Дата публикации: 2023-07-27.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12078474B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: EP4428506A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

3-dimensional measurement apparatus and 3-dimensional measurement method

Номер патента: EP4417936A1. Автор: Daisuke SENGA. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240296547A1. Автор: Ji Hoon Kang,Ji Yun JUNG. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Process measurement apparatus and method

Номер патента: US20230350438A1. Автор: Yong Jun Seo,Sang Hyun Son,Sang Min HA,Dong Ok AHN,Hyeong Jun CHO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Volume change measuring apparatus for frozen porous media

Номер патента: WO2023277853A3. Автор: Burak EVIRGEN,Mustafa TUNCAN,Onur UZUN,Selahattin ATTEPE. Владелец: Eskisehir Teknik Universitesi. Дата публикации: 2023-03-02.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: EP2847575A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-03-18.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240310279A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Thermal conductivity measurement apparatus and thermal conductivity measurement method

Номер патента: US20180299391A1. Автор: Dai Nakajima,Haruna Tada,Yasuyuki Sanda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240302211A1. Автор: Masaki Ito,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Tool measurement apparatus for a machine tool

Номер патента: EP4433257A1. Автор: William David Stockill. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-09-25.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240302208A1. Автор: Masaki Ito,Katsumi Yamada,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Control method and color measurement apparatus

Номер патента: US20240302215A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: US20240302209A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20240272300A1. Автор: Shuji Uehara,Yoshinori Muramatsu,Kazuhiko Muraoka. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: US20240310158A1. Автор: Peter Qui,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Outer Diameter Measurement Apparatus and Outer Diameter Measurement Method of Electrode Assembly

Номер патента: US20240302162A1. Автор: Min Ki Kim,Hyeok Soon Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: US20240302160A1. Автор: Markus Adam ECKHARDT. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240329204A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Color measurement apparatus

Номер патента: EP4428507A1. Автор: Masaki Ito,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12111146B2. Автор: Kunikazu Taguchi,Suguru Irie. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Measurement apparatus and measurement method using the same

Номер патента: US20240295490A1. Автор: Jaeho Kim,Younghoon Sohn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-05.

New adaptive trigger piv measuring apparatus and method

Номер патента: NL2035928A. Автор: Xu Yang,Wang Jinjun,Wang Hanbin,Fan Di,Guo Qinfeng. Владелец: Univ Beihang. Дата публикации: 2024-05-28.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: EP4439071A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: US20240329070A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Optical concentration measuring apparatus

Номер патента: US20240310276A1. Автор: Hans Martin,Takaaki Furuya,Shota ISSHIKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Distance measuring apparatus and light emitting device for distance measurement

Номер патента: US20240345222A1. Автор: Daisuke Iguchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-17.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: GB2629247A. Автор: Adam Eckhardt Markus. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-10-23.

Biological component measurement apparatus

Номер патента: US12111256B2. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Image projection measuring apparatus

Номер патента: US12066284B2. Автор: Takatoshi SUGAWARA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Shape measuring apparatus

Номер патента: US09989356B2. Автор: Tadashi Iwamoto,Kentaro Nemoto,Eisuke Moriuchi,Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Linear displacement measuring apparatus

Номер патента: US09989345B2. Автор: Kazushi Kikuchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Position measurement apparatus

Номер патента: US09983310B2. Автор: Yutaka Miki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09982993B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Wide-Range PCIe Power-Measuring Apparatus

Номер патента: US20200285297A1. Автор: Po-Chien Chang,Po-Wen Hsieh,Long-En Lee. Владелец: Goke Taiwan Research Laboratory Ltd. Дата публикации: 2020-09-10.

Current measurement circuit for transformer with high frequency output

Номер патента: US20070003305A1. Автор: Hendrikus Adrianus Verheijen. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2007-01-04.

Power supply with current measurement circuit for transformer with high frequency output

Номер патента: US7411406B2. Автор: Hendrikus Adrianus Anthonius Verheijen. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2008-08-12.

Position-direction measuring apparatus and information processing method

Номер патента: US20030158654A1. Автор: Kenji Morita. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2003-08-21.

Battery, battery controller, and method for the secured digital transmission of current measurement values

Номер патента: US09841798B2. Автор: Sven Bergmann,Stefan Butzmann. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-12-12.

Test mode for IPP current measurement for wordline defect detection

Номер патента: US20070153596A1. Автор: Michael Kilian,Martin Versen,Zach Johnson,Changduk Kim,Grant McNeil. Владелец: Qimonda AG. Дата публикации: 2007-07-05.

Solid state current measuring system for television pre-payment meters

Номер патента: GB2226676A. Автор: Peter Geoffrey Williams,R A J Wilks. Владелец: OMEGA ELECTRIC Ltd. Дата публикации: 1990-07-04.

Exercise information measurement apparatus, exercise management method, and exercise management program

Номер патента: US20180021658A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-01-25.

Power measurement apparatus and power measurement method

Номер патента: US09753829B2. Автор: Haruhiko Ueno,Mari Masuda,Atsushi Takami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

System and method for managing measurement apparatuses

Номер патента: US20040024783A1. Автор: Chih-Kuang Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230324811A1. Автор: Jin Woo Park,Hyeon Gi Shin,Bo Kyung RYU,Jung Sun KO. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Operation information measurement apparatus, function control method, and program

Номер патента: US20170128829A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-05-11.

Part program generating apparatus and program for image measuring apparatus

Номер патента: US20030039334A1. Автор: Akira Takada,Koichi Komatsu,Masato Shimizu,Kozo Ariga. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2003-02-27.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09665018B2. Автор: Masatoshi Endo,Takanori Morooka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09606461B2. Автор: Tadaki MIYAZAKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Overlay measuring apparatus

Номер патента: US20230273530A1. Автор: Chien-Hsien Liu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Measurement apparatus and exposure apparatus

Номер патента: US8184263B2. Автор: Yasunori Furukawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-05-22.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US20020091497A1. Автор: Otto Ruck. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2002-07-11.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20030108345A1. Автор: Hideo Yoshida,Yoshikazu Mihara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-06-12.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: EP1362217A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audio Development Informationsteknik I Malmo AB. Дата публикации: 2003-11-19.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: WO2002070986A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audiodev Aktiebolag. Дата публикации: 2002-09-12.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09733578B2. Автор: Satoshi Maruyama,Akihito Hashimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method, and program

Номер патента: US09508153B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: EP4227737A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Soichi Inoue,Hiroyuki Tanizaki,Kentaro Kasa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Dampening water quantity measuring apparatus and dampening water adjusting method

Номер патента: US20070186792A1. Автор: Shigeru Murata,Masaji Mizuta. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2007-08-16.

Measurement apparatus, system, measurement method, determination method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20170169581A1. Автор: Akihiro Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-15.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240272560A1. Автор: Seong Yun CHOI,Hyo Sik HAM. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US7024333B2. Автор: Rudolf Rögele,Dieter Kalmbach. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-04-04.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20110049362A1. Автор: Jun Matsumoto,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Transmissive disk, manufacturing method thereof, and levitation measurement apparatus using transmissive disk

Номер патента: US20080130011A1. Автор: Daisuke Kimura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-06-05.

Beam position measuring apparatus and method

Номер патента: US20110149301A1. Автор: Vladimir Protopopov,Oui Serg Kim,Dong Seok BAEK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-06-23.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US9779493B2. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US20170046828A1. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-16.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20150238163A1. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

Current measurement apparatus, current measurement program, and current measurement method

Номер патента: US20240195337A1. Автор: Yasuaki Aoki,Kazuki Komiya. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

Current measurement device

Номер патента: US09660283B2. Автор: Takashi Yamamoto,Takashi Yamada,Keigo Suematsu,Yuji Ishikawa,Ikuyasu Kato. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Three-phase motor current measurement

Номер патента: US20240291415A1. Автор: Anton Babushkin,Serhii Korol,Oleksii Dudnyk,Dmytro Sakharov. Владелец: Allegro Microsystems Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Three-phase motor current measurement

Номер патента: EP4422065A1. Автор: Anton Babushkin,Serhii Korol,Oleksii Dudnyk,Dmytro Sakharov. Владелец: Allegro Microsystems Inc. Дата публикации: 2024-08-28.

Apparatus, system, and method of power amplifier (pa) current measurement

Номер патента: WO2024209379A1. Автор: Nati Dinur,Tzvi Maimon. Владелец: Mobileye Vision Technologies Ltd.. Дата публикации: 2024-10-10.

Method for carrying out an ionic current measurement in a combustion engine using a lean fuel mixture

Номер патента: WO1996031695A1. Автор: Jorgen Bengtsson,Lars-Olof Ottosson. Владелец: SEM AB. Дата публикации: 1996-10-10.

Method for carrying out an ionic current measurement in a co mbustion engine using a lean fuel mixture

Номер патента: AU5293196A. Автор: Jorgen Bengtsson,Lars-Olof Ottosson. Владелец: SEM AB. Дата публикации: 1996-10-23.

Ion current measurement device

Номер патента: US20100085033A1. Автор: Cheng-Hung Chang,Chi-Chun Yao,Jui-Fang Chen,Chung-jung Chen,Chien-Kuo Ko. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2010-04-08.

Ion current measurement device

Номер патента: US8093883B2. Автор: Cheng-Hung Chang,Chi-Chun Yao,Jui-Fang Chen,Chung-jung Chen,Chien-Kuo Ko. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2012-01-10.

Current measurement unit and power conversion device

Номер патента: EP4002660A1. Автор: Takayuki Uchida,Tomohiko YANO,Kazuki Tani,Shinichirou WADA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-05-25.

Correction of current measurement in an amplifier

Номер патента: US20180288543A1. Автор: Dan Shen,Lorenzo Crespi,Ketan B. Patel,Davide Cartasegna. Владелец: Synaptics Inc. Дата публикации: 2018-10-04.

Electrical current measurement in a fuel cell

Номер патента: WO2005117186A2. Автор: Bruce J. Clingerman,Victor W. Logan,James W. Dandalides,Scott B. Gonser. Владелец: GENERAL MOTORS CORPORATION. Дата публикации: 2005-12-08.

Voltage transformer circuit and method for ionic current measurement of a spark plug

Номер патента: US20170047713A1. Автор: Dirk Wüstenhagen. Владелец: BorgWarner Ludwigsburg GmbH. Дата публикации: 2017-02-16.

Voltage transformer circuit and method for ionic current measurement of a spark plug

Номер патента: US9985419B2. Автор: Dirk Wüstenhagen. Владелец: BorgWarner Ludwigsburg GmbH. Дата публикации: 2018-05-29.

Apparatus for direct-current measurement at a current rectification circuit arrangement

Номер патента: US3803477A. Автор: B Kind. Владелец: Oerlikon Contraves AG. Дата публикации: 1974-04-09.

Primary charged particle beam current measurement

Номер патента: US11817292B2. Автор: John Breuer,Christian Droese. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2023-11-14.

Primary charged particle beam current measurement

Номер патента: EP4272238A1. Автор: John Breuer,Christian Droese. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2023-11-08.

Inductive load current measuring circuit

Номер патента: CA1068343A. Автор: Norman E. Born,Edwin E. Kolatorowicz. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1979-12-18.

Ion beam current measurement device and ion beam implantation system

Номер патента: US20240194444A1. Автор: Axel König,Moriz Jelinek,Bernhard Leitl. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-06-13.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200127776A1. Автор: Hidetoshi Suzuki,Lilei Wang,Shotaro MAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2020-04-23.

Biological information measuring apparatus

Номер патента: US20160066796A1. Автор: Hisahiro Matsuhashi,Ryo SHINOZAKI,Katsuaki Sakata,Makoto ANEZAKI. Владелец: UNION TOOL Co. Дата публикации: 2016-03-10.

Medical measurement apparatus

Номер патента: US20240285364A1. Автор: Takahiko Shiraishi,Tatsushi CHIHARA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-29.

Method of adjusting plating apparatus, and measuring apparatus

Номер патента: US20180371636A1. Автор: Yuji Araki,Masashi Shimoyama,Jumpei Fujikata,Mizuki Nagai. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-12-27.

Biological measurement apparatus and biological stimulation apparatus

Номер патента: US09820910B2. Автор: Yukinori Nagatani. Владелец: Okayama Prefectural Government. Дата публикации: 2017-11-21.

Wearable Blood Pressure Measurement Apparatus and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220110531A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

A blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2001037727B1. Автор: Jozsef Beres,Miklos Illyes Jr. Владелец: Miklos Illyes Jr. Дата публикации: 2001-10-25.

Measuring apparatus and method and apparatus for determining a leakage of an injection valve

Номер патента: WO2012069317A1. Автор: Cristiano Mannucci. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2012-05-31.

Diagnostic measuring apparatus with integrated spectrometer

Номер патента: US09480423B2. Автор: Ok-Kyung Cho,Yoon Ok Kim. Владелец: INGO FLORE. Дата публикации: 2016-11-01.

Blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US20190090758A1. Автор: Kazumasa Ito,Yoshinori Ueda,Takashi Usuda. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2019-03-28.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020027439A1. Автор: Fumie Shibata,Tamaki Shoji. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-03-07.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000363A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: EP3600021A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2020-02-05.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2018180787A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corporation. Дата публикации: 2018-10-04.

Measurement apparatus, measurement method, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160379902A1. Автор: Nobuhiro Komine,Yoshinori Hagio. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000364A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus

Номер патента: US20140362262A1. Автор: Akinari Takagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-12-11.

Physiological information measuring apparatus

Номер патента: US09788727B2. Автор: Atsushi Narusawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Reconfigurable measuring apparatus and method for controlling apparatus

Номер патента: US09545212B2. Автор: Jong Pal Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-17.

Biological information measurement apparatus

Номер патента: US20220071542A1. Автор: Yuki Yagishita,Mao Katsuhara,Kazunari Yoshifuji,Takeshi Ohkawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Pulsebeat measurement apparatus

Номер патента: US20180317790A1. Автор: Masahiro Suzuki,Tomoaki Ueda. Владелец: KDDI Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Pattern measuring apparatus

Номер патента: US20140021350A1. Автор: Susumu Koyama,Tatsuya Maeda,Mitsuji Ikeda,Hiroshi Nishihama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Pattern measuring apparatus

Номер патента: US20140021349A1. Автор: Susumu Koyama,Tatsuya Maeda,Mitsuji Ikeda,Hiroshi Nishihama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Biological information measurement apparatus

Номер патента: US20160199005A1. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-14.

Golf simulator or measurement apparatus

Номер патента: EP1575678A2. Автор: Brian Mooney,James Hourihan. Владелец: MONTAGUE KENYON Ltd. Дата публикации: 2005-09-21.

Electrostatic deflection control circuit and method of electronic beam measuring apparatus

Номер патента: US20070063146A1. Автор: Hiroshi Sasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-03-22.

Resinous cover for use in bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020072687A1. Автор: Yoshikazu Yoshida,Ikuo Hakomori. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-06-13.

A blood flow measuring apparatus

Номер патента: EP1397071A1. Автор: Hans Strandberg. Владелец: St Jude Medical AB. Дата публикации: 2004-03-17.

Acoustic wave measuring apparatus and control method of acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US20180078145A1. Автор: Akira Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-22.

Blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US20100069764A1. Автор: Hee-Jung Kang. Владелец: Daeyomedi Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-18.

Bio-signal measuring apparatus and bio-signal measuring method

Номер патента: US20190167144A1. Автор: Kak Namkoong,Myoung Hoon Jung,Yeol Ho Lee,Won Jong Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-06.

Tool holder with measuring apparatus

Номер патента: US20220118529A1. Автор: Thomas Grosch. Владелец: HAIMER GMBH. Дата публикации: 2022-04-21.

Eye refractive power measuring apparatus

Номер патента: US4744648A. Автор: Yasuo Kato,Yasufumi Fukuma,Kiwami Horiguchi,Kiichi Kamiyama. Владелец: Tokyo Kogaku Kikai KK. Дата публикации: 1988-05-17.

Fuel cell measurement apparatus

Номер патента: US20100253356A1. Автор: Chang-Sing Hwang,Chun-Huang Tsai. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2010-10-07.

Ear model, head model, and measuring apparatus and measuring method employing same

Номер патента: US09949670B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Acoustic wave measuring apparatus and control method of acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US09867545B2. Автор: Akira Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

Biosignal measuring apparatus and method of measuring biosignal

Номер патента: US09662032B2. Автор: Byung-Hoon Ko,Tak-Hyung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-30.

Biosignal measurement apparatus

Номер патента: US09655541B2. Автор: Seiji Wada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Ophthalmic measurement apparatus and ophthalmic measurement program

Номер патента: US09480396B2. Автор: Michihiro Takii,Noriji Kawai. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Dispersion measurement apparatus

Номер патента: US20120045160A1. Автор: Motoyoshi Sekiya,Yusaku Yamamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-02-23.

Joint motion measurement apparatus and method of use

Номер патента: WO2021158956A1. Автор: James L. Cook,James P. Stannard,Trent M. Guess,Jamie B. HALL. Владелец: The Curators of the University of Missouri. Дата публикации: 2021-08-12.

Measurement apparatus, program, recording medium, and measurement method

Номер патента: US20110022341A1. Автор: Koji Asami. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Brightness measurement apparatus, brightness measurement method, brightness measurement program, and camera system

Номер патента: US20240244331A1. Автор: Ikuko Komura. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Biological information measuring apparatus

Номер патента: US20240008756A1. Автор: Hiroshi Masuda. Владелец: La View Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Stationary exercise machine with a power measurement apparatus

Номер патента: EP3562564A1. Автор: Joshua S. Smith,Benjamin A. Browning. Владелец: Nautilus Inc. Дата публикации: 2019-11-06.

Measuring apparatus

Номер патента: WO2012093650A1. Автор: Takao Nakajima,Yasufumi Asao. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-07-12.

Noise quantity measuring apparatus

Номер патента: US7920153B2. Автор: Takayuki Satou,Hidetsugu Takahashi. Владелец: Oki Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2011-04-05.

Biosignal measurement apparatus and method

Номер патента: EP3890601A1. Автор: Teemu Myllylä,Aleksandra ZIENKIEWICZ. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-13.

Flatness-measuring apparatus for measuring the flatness of a metal strip

Номер патента: US12036592B2. Автор: Andreas Kastner,Frank Gorgels. Владелец: SMS group GmbH. Дата публикации: 2024-07-16.

Measurement apparatus

Номер патента: US20170202456A1. Автор: Hideo Nakayama,Hideaki Ozawa,Kazutaka Takeda,Sho KIMURA,Kohei Yukawa,Kazuyuki Matsushita,Taku Kinoshita,Saori NISHIZAKI. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-20.

Switch overcurrent measuring apparatus

Номер патента: US20240267039A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Atsuki Asano. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Corneal shape measuring apparatus

Номер патента: US5668623A. Автор: Akio Sakurai,Takeyuki Kato,Minoru Kamiya. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 1997-09-16.

Fuel cell potential measuring apparatus and manufacturing method therefor

Номер патента: US20100021781A1. Автор: Masahiko Sato,Toshifumi Suzuki,Hiromichi Yoshida. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-28.

Body impedance measurement apparatus

Номер патента: US20120296231A1. Автор: Masahiro Kitagawa,Tsutomu Yamasawa,Nobuhiko OSOEGAWA. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2012-11-22.

Stationary exercise machine with a power measurement apparatus

Номер патента: US20180185691A1. Автор: Joshua S. Smith,Benjamin A. Browning. Владелец: Nautilus Inc. Дата публикации: 2018-07-05.

Fiber network events measurement apparatus

Номер патента: US20130322871A1. Автор: Ching-Wen Hsiao,Yu-Shu Chen,Hsuan-Hung Wu,Fu-Chun Hung,Chun-Hung Su,Ching-Lin Wu,Shih-Tien Lin. Владелец: Polarlink Tech Ltd. Дата публикации: 2013-12-05.

Bodily information measurement apparatus

Номер патента: US20180192947A1. Автор: Yuma Adachi,Kengo Nishiyama,Masayuki Fukutsuka,Yoshihide Tokko,Sunao Ouchida. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-07-12.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20120194203A1. Автор: Masato Osawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Measuring apparatus and measuring system

Номер патента: US20170086688A1. Автор: Yuji Masuda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-03-30.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Ophthalmic measurement apparatus

Номер патента: US20060192920A1. Автор: Masanao Fujieda,Yukinobu Ban. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-31.

Thyroid uptake measurement apparatus

Номер патента: US20110213246A1. Автор: Seung Jae Lee,Yong Kown Kim,Jin Hun Joung. Владелец: Nucare Medical Systems Inc. Дата публикации: 2011-09-01.

MEASUREMENT APPARATUS AND Non-PSC CONNECTION METHOD THEREFOR

Номер патента: US20240276328A1. Автор: Kazuyuki Koike,Yasuko Uda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Physiological signal measurement apparatus

Номер патента: US20240268689A1. Автор: Chin-Tang Chuang,Jung-Teng Pan,Yuan Tsai Lin,Wen Ching Kao. Владелец: AUO Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240306917A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Myopotential measurement apparatus and myopotential measurement wearable equipment

Номер патента: US20220354412A1. Автор: Hisashi Kaneda. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

Venous pressure measurement apparatus

Номер патента: US12064220B2. Автор: Naoki Kobayashi,Haruka Morimoto. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Current measurement methods and apparatus employing second harmonic scaling

Номер патента: CA2265863C. Автор: Kenneth C. Shuey,Rodney C. Hemminger. Владелец: ABB Power T&D Co Inc. Дата публикации: 2003-01-07.

Low temperature coefficient shunt for current measurement

Номер патента: CA1293994C. Автор: Maurice Joseph Ouellette,Donald Frank Bullock,Warren Ralph Germer. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1992-01-07.

Current measuring transducer

Номер патента: RU2093838C1. Автор: Олег Николаевич Шаромет. Владелец: Олег Николаевич Шаромет. Дата публикации: 1997-10-20.

FLOW RATE MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20120000280A1. Автор: KISHIKAWA Naoyuki,URAMACHI Hiroyuki,HIDAKA Shinichiro,Ariyoshi Yuji,TANIMOTO Koji,KAWAI Masahiro. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND SPECIMEN DISCRIMINATING AND DISPENSING APPARATUS

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Takahashi Toru,Tsukii Ken,Xu Jie. Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Improvements in or relating to Combined Electric Regulating and Measuring Apparatus.

Номер патента: GB190413483A. Автор: Emile Fauvin,Eugene Amiot,Edoaurd Cheneaux. Владелец: Individual. Дата публикации: 1905-02-02.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: CA156793S. Автор: . Владелец: Huntleigh Technology Ltd. Дата публикации: 2015-01-28.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: AU356604S. Автор: . Владелец: Huntleigh Technology Ltd. Дата публикации: 2014-07-28.

Sliding flip stop measuring apparatus

Номер патента: AU321976S. Автор: . Владелец: Elumatec Australia Pty Ltd. Дата публикации: 2008-11-10.