Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Corneal shape measuring apparatus

Номер патента: US5668623A
Опубликовано: 16-09-1997
Автор(ы): Akio Sakurai, Minoru Kamiya, Takeyuki Kato
Принадлежит: Topcon Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Ophthalmic measuring apparatus

Номер патента: US4878750A. Автор: Kyoji Sekiguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1989-11-07.

Corneal shape measuring apparatus

Номер патента: US5300965A. Автор: Nobuaki Kitajima. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 1994-04-05.

Ophthalmic measurement apparatus and ophthalmic measurement program

Номер патента: US09480396B2. Автор: Michihiro Takii,Noriji Kawai. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: US20240215819A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: EP4348171A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Optical measurement apparatus and method of measuring an axial length

Номер патента: US20240271922A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Eye refractive power measuring apparatus

Номер патента: US4744648A. Автор: Yasuo Kato,Yasufumi Fukuma,Kiwami Horiguchi,Kiichi Kamiyama. Владелец: Tokyo Kogaku Kikai KK. Дата публикации: 1988-05-17.

Blood flow measurement apparatus

Номер патента: US20200029809A1. Автор: Masahiro Akiba. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Measurement apparatus

Номер патента: US20170202456A1. Автор: Hideo Nakayama,Hideaki Ozawa,Kazutaka Takeda,Sho KIMURA,Kohei Yukawa,Kazuyuki Matsushita,Taku Kinoshita,Saori NISHIZAKI. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-20.

Ophthalmic measurement apparatus

Номер патента: US20060192920A1. Автор: Masanao Fujieda,Yukinobu Ban. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-31.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000363A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000364A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Optical measurement apparatus and light irradiation/reception method

Номер патента: US09936874B2. Автор: Hideo Nakayama,Hideaki Ozawa,Kazutaka Takeda,Sho KIMURA,Kohei Yukawa,Kazuyuki Matsushita,Taku Kinoshita,Saori NISHIZAKI. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Corneal-shaping electrode

Номер патента: US4326529A. Автор: James D. Doss,Richard L. Hutson. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1982-04-27.

Shape measuring cylindrical flexible body apparatus

Номер патента: US20180317751A1. Автор: Masaya Takahashi,Toru Kuboi,Tetsuya Morishima. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Exercise information measurement apparatus, exercise management method, and exercise management program

Номер патента: US20180021658A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-01-25.

Film-type biomedical signal measuring apparatus, blood pressure measuring apparatus using the same, cardiopulmonary fitness estimating apparatus, and personal authentication apparatus

Номер патента: US20200107744A1. Автор: Hee Chan Kim,Seung Woo NOH,Chi Yul YOON. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2020-04-09.

Eyeglass frame shape measurement device

Номер патента: US20130067754A1. Автор: Yoshinori Matsuyama,Takayasu Yamamoto,Yasumasa Iida. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-21.

Biological information measuring apparatus

Номер патента: US20160066796A1. Автор: Hisahiro Matsuhashi,Ryo SHINOZAKI,Katsuaki Sakata,Makoto ANEZAKI. Владелец: UNION TOOL Co. Дата публикации: 2016-03-10.

Foot pressure measurement apparatus, method, and non-transitory tangible machine-readable medium thereof

Номер патента: US20210145315A1. Автор: Chih-Hao Hsu,yan-tong Liu. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2021-05-20.

Pressure measurement apparatus for inspecting therapeutic energy waves

Номер патента: US5357805A. Автор: Satoshi Aida,Katsuhiko Fujimoto,Nobuki Kudo,Masamichi Oyanagi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1994-10-25.

Medical measurement apparatus

Номер патента: US20240285364A1. Автор: Takahiko Shiraishi,Tatsushi CHIHARA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-29.

Composition for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, ultrasonic endoscope, and method for manufacturing acoustic wave probe

Номер патента: US20240279472A1. Автор: Yoshihiro Nakai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Resin material for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, and ultrasound endoscope

Номер патента: US20190380680A1. Автор: Yuzo Nagata,Yoshihiro Nakai,Shigeki Uehira,Toshihide Yoshitani. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-12-19.

Exercise information measurement apparatus, control method for exercise information measurement apparatus, control program for exercise information measurement apparatus

Номер патента: US20170296873A1. Автор: Yumi Kitamura. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-10-19.

Composition for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, ultrasonic endoscope, and method for manufacturing acoustic wave probe

Номер патента: US20240327640A1. Автор: Yoshihiro Nakai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Composition for acoustic wave probe, silicone resin for acoustic wave probe, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, and ultrasound endoscope

Номер патента: US12109335B2. Автор: Nobuaki Matsumoto,Yoshihiro Nakai,Shigeki Uehira,Taichi Kitagawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Biological measurement apparatus and biological stimulation apparatus

Номер патента: US09820910B2. Автор: Yukinori Nagatani. Владелец: Okayama Prefectural Government. Дата публикации: 2017-11-21.

Wearable Blood Pressure Measurement Apparatus and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220110531A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

A blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2001037727B1. Автор: Jozsef Beres,Miklos Illyes Jr. Владелец: Miklos Illyes Jr. Дата публикации: 2001-10-25.

Detection apparatus and measuring apparatus

Номер патента: US20230288320A1. Автор: Takashi Tajiri. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Current peak value measurement apparatus, high voltage generator, and therapeutic device for vascular calcification

Номер патента: EP4397254A1. Автор: Chuang Li,Zhihuang TANG. Владелец: Jiangsu Polylive Medtech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic head unit, ultrasonic probe, and ultrasonic imaging apparatus

Номер патента: US09788814B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Biological information measurement apparatus, information processing apparatus, and biological information measurement system

Номер патента: US09757070B2. Автор: Yuichi Takano. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic head unit, ultrasonic probe, and ultrasonic imaging apparatus

Номер патента: US09513263B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Diagnostic measuring apparatus with integrated spectrometer

Номер патента: US09480423B2. Автор: Ok-Kyung Cho,Yoon Ok Kim. Владелец: INGO FLORE. Дата публикации: 2016-11-01.

Urine measurement apparatus

Номер патента: RU2539534C2. Автор: Микаэль ШАРЛЕЗ,Микаэль ЛЕФГРЕН. Владелец: Обзерв Медикал Апс. Дата публикации: 2015-01-20.

Blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US20190090758A1. Автор: Kazumasa Ito,Yoshinori Ueda,Takashi Usuda. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2019-03-28.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020027439A1. Автор: Fumie Shibata,Tamaki Shoji. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-03-07.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: EP3600021A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2020-02-05.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2018180787A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corporation. Дата публикации: 2018-10-04.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: WO2010137453A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-12-02.

Measurement apparatus

Номер патента: US20150359518A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Blood pressure measurement apparatus, method of controlling blood pressure measurement apparatus, and program

Номер патента: US11324454B2. Автор: Hirotaka Wada,Masaaki Kasai,Eriko Kan,Keiichi Obayashi,Ayako Kokubo. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2022-05-10.

Vibration measuring apparatus

Номер патента: WO2019243808A1. Автор: Michael James Jones. Владелец: Jones Michael James. Дата публикации: 2019-12-26.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: EP2435850A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-04-04.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic imaging apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09910140B2. Автор: Masaki Hayashi,Kenji Murakami,Kazuyuki Kano,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Physiological information measuring apparatus

Номер патента: US09788727B2. Автор: Atsushi Narusawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Coordinate measuring apparatus and method for measuring an object

Номер патента: US09625257B2. Автор: Ralf Christoph,Wolfgang Rauh. Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-04-18.

Reconfigurable measuring apparatus and method for controlling apparatus

Номер патента: US09545212B2. Автор: Jong Pal Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-17.

Biological information measuring apparatus, biological information measuring system, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20210068767A1. Автор: Kiichiro Arikawa,Tadashi SUTO. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Biological information measurement apparatus

Номер патента: US20220071542A1. Автор: Yuki Yagishita,Mao Katsuhara,Kazunari Yoshifuji,Takeshi Ohkawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Pulsebeat measurement apparatus

Номер патента: US20180317790A1. Автор: Masahiro Suzuki,Tomoaki Ueda. Владелец: KDDI Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Biological information measurement apparatus

Номер патента: US20160199005A1. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-14.

Resinous cover for use in bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020072687A1. Автор: Yoshikazu Yoshida,Ikuo Hakomori. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-06-13.

Time-division multiplexing-based multi-channel electrocardiogram measurement apparatus robust against power line interference and electrocardiogram measurement method using the same

Номер патента: US20240120938A1. Автор: Jae Yoon Sim,Kyu Jin Choi. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2024-04-11.

A blood flow measuring apparatus

Номер патента: EP1397071A1. Автор: Hans Strandberg. Владелец: St Jude Medical AB. Дата публикации: 2004-03-17.

Portable skin condition measuring apparatus, skin condition care system including the same, and skin condition care method

Номер патента: US20220401014A1. Автор: Chang Hee Han,Deug Ki LEE. Владелец: Gpower Inc. Дата публикации: 2022-12-22.

Acoustic wave measuring apparatus and control method of acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US20180078145A1. Автор: Akira Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-22.

Blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US20100069764A1. Автор: Hee-Jung Kang. Владелец: Daeyomedi Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-18.

Bio-signal measuring apparatus and bio-signal measuring method

Номер патента: US20190167144A1. Автор: Kak Namkoong,Myoung Hoon Jung,Yeol Ho Lee,Won Jong Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-06.

Measurement apparatus and method for controlling measurement apparatus

Номер патента: US20220400964A1. Автор: Hitoshi Tominaga,Shunsuke Imai,Takamasa Ando. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

Biomagnetic measurement apparatus

Номер патента: US20030231016A1. Автор: Masahiro Murakami,Hitoshi Sasabuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2003-12-18.

Pulse measurement apparatus, a method therefor, and a vehicle system therefor

Номер патента: US12127823B2. Автор: Sang Won Lee,Ho Jin Lee,Sang Bum Kim,Nam Woong Hur,Seul Ki Jeon,Gyun Ha Kim,Eung Hwan Kim. Владелец: Nidec Mobility Korea Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Activity information measuring apparatus, and method and program for assisting prevention of forgotten attachment of the same

Номер патента: US09972192B2. Автор: Naoki Takeishi. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-05-15.

Transmitted light detection type measurement apparatus for skin autofluorescence

Номер патента: US09955871B2. Автор: Uk Kang,Soo Jin Bae,Garry V Papayan,Dae Sic Lee,Guang Hoon Kim,Il Hyung SHIN. Владелец: Korea Electrotechnology Research Institute KERI. Дата публикации: 2018-05-01.

Ear model, head model, and measuring apparatus and measuring method employing same

Номер патента: US09949670B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic image apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09867594B2. Автор: Masaki Hayashi,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Acoustic wave measuring apparatus and control method of acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US09867545B2. Автор: Akira Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

Biosignal measuring apparatus and method of measuring biosignal

Номер патента: US09662032B2. Автор: Byung-Hoon Ko,Tak-Hyung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-30.

Biosignal measurement apparatus

Номер патента: US09655541B2. Автор: Seiji Wada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Utensil for evaluating length measurement error in X-ray CT device for three-dimensional shape measurement

Номер патента: US11998382B2. Автор: Makoto Sato,Hiroyuki Fujimoto,Makoto Abe,Toshiyuki Takatsuji,Taketo Kishi. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2024-06-04.

Photoacoustic measurement apparatus and probe

Номер патента: US20170360304A1. Автор: Atsushi Hashimoto,Kaku Irisawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Photoacoustic tomography measuring apparatus

Номер патента: WO2011135821A1. Автор: Koichi Suzuki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2011-11-03.

Neurotransmitter concentration measuring apparatus for providing second derivative-based neurotransmitter concentration measurement result of fast-scan cyclic voltammetry data and method thereof

Номер патента: US20230375502A1. Автор: YUN Ho Jeong,Ji Woong Choi,Yong Seok Oh,Seong Tak Kang,Jeong Rak PARK. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-11-23.

Joint motion measurement apparatus and method of use

Номер патента: WO2021158956A1. Автор: James L. Cook,James P. Stannard,Trent M. Guess,Jamie B. HALL. Владелец: The Curators of the University of Missouri. Дата публикации: 2021-08-12.

Measuring apparatus

Номер патента: WO2016038361A1. Автор: Andrew Barr,Michael Grace. Владелец: Capaltec Limited. Дата публикации: 2016-03-17.

Biological information measuring apparatus

Номер патента: US20240008756A1. Автор: Hiroshi Masuda. Владелец: La View Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Minimally invasive skin patch, method of manufacturing same, and blood glucose measuring apparatus using same

Номер патента: US20220125351A1. Автор: Kwang Soo CHO,Hoe Sung Yang,Kang Bok Lee,Kyu Won HAN. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2022-04-28.

Resin composition for acoustic matching layer, cured product, acoustic matching sheet, acoustic wave probe, acoustic wave measuring apparatus, method for manufacturing acoustic wave probe, and material set for acoustic matching layer

Номер патента: US20200253582A1. Автор: Yoshihiro Nakai,Kazuhiro Hamada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2020-08-13.

Measuring apparatus

Номер патента: WO2012093650A1. Автор: Takao Nakajima,Yasufumi Asao. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-07-12.

Non-contact angle measuring apparatus

Номер патента: US20200397391A1. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-12-24.

Non-contact angle measuring apparatus

Номер патента: US11903755B2. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-20.

Electric potential measuring apparatus

Номер патента: US20130271110A1. Автор: Kazunori Yamanaka,Kazuaki Kurihara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-10-17.

Brain measurement apparatus

Номер патента: US20220386888A1. Автор: Tetsuo Kobayashi,Motohiro Suyama,Akinori Saito,Takahiro Moriya,Takenori OIDA. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2022-12-08.

Array type skin-conformal sensor for heart rate and body temperature measurement and heart rate and body temperature measurement apparatus

Номер патента: US20220409067A1. Автор: Kunnyun KIM. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2022-12-29.

Magnetic field measuring apparatus, magnetic field measuring method and recording medium with magnetic field measuring program recorded thereon

Номер патента: US11774518B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake,Makoto Kataoka,Seiichi Kato. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Biosignal measurement apparatus and method

Номер патента: EP3890601A1. Автор: Teemu Myllylä,Aleksandra ZIENKIEWICZ. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-13.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20230305084A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Measuring apparatus

Номер патента: EP3191792A1. Автор: Andrew Barr,Michael Grace. Владелец: CAPALTEC Ltd. Дата публикации: 2017-07-19.

Fluid measurement apparatus, fluid measurement method, and program

Номер патента: US20210041274A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Body impedance measurement apparatus

Номер патента: US20120296231A1. Автор: Masahiro Kitagawa,Tsutomu Yamasawa,Nobuhiko OSOEGAWA. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2012-11-22.

Acoustic-wave measuring apparatus and method

Номер патента: US20150335253A1. Автор: Ryuichi Nanaumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-11-26.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: WO2013168652A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

Bodily information measurement apparatus

Номер патента: US20180192947A1. Автор: Yuma Adachi,Kengo Nishiyama,Masayuki Fukutsuka,Yoshihide Tokko,Sunao Ouchida. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-07-12.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20120194203A1. Автор: Masato Osawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Blood vessel diameter measuring apparatus

Номер патента: US20170007210A1. Автор: Yoshinobu Ono,Kohji Masuda,Takashi KAIAMI,Tsuneo TAKAYANAGI,Shinya Onogi. Владелец: Tokyo University of Agriculture and Technology NUC. Дата публикации: 2017-01-12.

Measuring apparatus and measuring system

Номер патента: US20170086688A1. Автор: Yuji Masuda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-03-30.

Biological sample measurement apparatus

Номер патента: US20130323124A1. Автор: Akio Nagao,Hiroyuki Hamamoto,Masumi Aono. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US12038488B2. Автор: Shigeki Okatake,Hideyuki Tsuji,Masashi Yamada. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Component measurement apparatus

Номер патента: US20110216308A1. Автор: Hitoshi Hara,Shin-ichiro Tezuka. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2011-09-08.

Thyroid uptake measurement apparatus

Номер патента: US20110213246A1. Автор: Seung Jae Lee,Yong Kown Kim,Jin Hun Joung. Владелец: Nucare Medical Systems Inc. Дата публикации: 2011-09-01.

Physiological signal measurement apparatus

Номер патента: US20240268689A1. Автор: Chin-Tang Chuang,Jung-Teng Pan,Yuan Tsai Lin,Wen Ching Kao. Владелец: AUO Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20150238163A1. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: EP2847575A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-03-18.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240310279A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240306917A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Blood pressure measurement apparatus and methods of use thereof

Номер патента: US20240306925A1. Автор: Aditya Rajagopal,Dominic YURK,Yaser Abu-Mostafa,Alaina Ann Brinley Rajagopal. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2024-09-19.

Measurement system, measurement apparatus, measurement data processing method, and measurement data processing program

Номер патента: US20240355479A1. Автор: Takeshi Tanaka,Daisuke Fukui,Hiromitsu Nakagawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Biological information measuring apparatus, non-transitory computer-readable recording medium having stored therein a program for causing a computer to execute a process for measuring biological information, and method for measuring biological information

Номер патента: US12114964B2. Автор: Makoto Yoshizawa,Norihiro Sugita. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2024-10-15.

Biological component measurement apparatus

Номер патента: US12111256B2. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Myopotential measurement apparatus and myopotential measurement wearable equipment

Номер патента: US20220354412A1. Автор: Hisashi Kaneda. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Magnetic field measuring apparatus and magnetic field measuring method

Номер патента: US12066508B2. Автор: Takashi Yasui. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Venous pressure measurement apparatus

Номер патента: US12064220B2. Автор: Naoki Kobayashi,Haruka Morimoto. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Medical image measuring apparatus, method, and medium

Номер патента: US09968278B2. Автор: Yoshinori Itai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Method of measuring biological sample properties and biological sample property measuring apparatus

Номер патента: US09952169B2. Автор: Moon Chul Lee,Duck Hwan Kim,In Sang Song,Jea Shik Shin,Sang Uk Son,Ho Soo Park,Seong Chan Jun. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2018-04-24.

Disease diagnosis and skin age measurement apparatus using laser irradiation device and detachable handpiece used in the same

Номер патента: US09907472B2. Автор: Sung Hyun Pyun,Wanki MIN. Владелец: Speclipse Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Blood pressure measurement apparatus and control method for the same

Номер патента: US09895084B2. Автор: Toshihiko Ogura,Hironori Sato,Hiroyuki Kinoshita. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Body impedance measuring apparatus and body composition analysis system including the same

Номер патента: US09895078B2. Автор: Kak Namkoong,Seongho CHO,Kunsun EOM,Yeolho LEE,Jungmok Bae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Living body optical measurement apparatus, living body optical measurement method, and engagement member for mobile position sensor

Номер патента: US09883825B2. Автор: Takashi Ishizuka,Hirokazu Asaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-02-06.

Method and device for inflating a cuff of a non-invasive blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US09833153B2. Автор: Sufang Ma. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2017-12-05.

Gas measuring apparatus

Номер патента: US09829432B2. Автор: Hiroshi Hasegawa,Shigeyuki Takagi,Akira Maekawa,Yasutomo Shiomi,Tsutomu Kakuno,Miyuki Kusaba. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Bio signal measuring apparatus and user monitoring system including the same

Номер патента: US09775537B2. Автор: Tae Wook Kim,Honggul Han. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2017-10-03.

Retainer for photoelectric sensor and photoelectric pulse wave measuring apparatus including the same

Номер патента: US09772222B2. Автор: Naoyuki Takada,Takahiro Tokumiya,Yosuke Aoyagi,Wen Xi CHEN,Takeshi Nagahiro. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-26.

System and method for voice control of measurement apparatus

Номер патента: US09770174B2. Автор: Mohammed N. Islam. Владелец: Omni Medsci Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Peak expiratory flow rate measurement apparatus

Номер патента: US09700235B2. Автор: Jeff Baker,Mark Bunker,Paul van der Pol. Владелец: Noble International LLC. Дата публикации: 2017-07-11.

Photoacoustic measuring apparatus

Номер патента: US09700214B2. Автор: Shuichi Kobayashi,Yukio Furukawa,Shigeru Ichihara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-11.

Heartbeat measuring apparatus, heartbeat measuring method, and recording medium

Номер патента: US09693738B2. Автор: Takeshi Fukuda,Toru Sato,Takuya Sakamoto,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Photobiological measurement apparatus

Номер патента: US09675260B2. Автор: Yoshihiro Inoue,Yoshinori Masuda,Akihiro Ishikawa,Satoru Kohno,Takashi Amita,Haruhide Udagawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Magnetic field measuring apparatus and cell array

Номер патента: US09642553B2. Автор: Ryuji HOKARI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Electrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US09636038B2. Автор: Yukio Nonaka. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Blood pressure measuring apparatus and blood pressure measuring method

Номер патента: US09622667B2. Автор: Hideaki Hirahara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Optical image measuring apparatus

Номер патента: US09600886B2. Автор: Takashi Fujimura,Hitoshi Shimizu. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09585630B2. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Measuring apparatus, measuring method, and parameter setting method

Номер патента: US09566005B2. Автор: Hideo Kawabe,Tatsuya Suzuki,Hirokazu Imai,Masatoshi Ueno,Kenichi Kabasawa,Yoichi Toriumi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Biological signal measuring apparatus and biological signal measuring method

Номер патента: US09526444B2. Автор: Kazumasa Ito,Naoki Kobayashi,Hideaki Hirahara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Electrocardiographic waveform measuring apparatus

Номер патента: US09468388B2. Автор: Kazuhiro Sakai,Katsuyoshi Nishii. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Coil arrangement for a magnetic induction impedance measurement apparatus comprising a partly compensated magnetic excitation field in the detection coil

Номер патента: US09448205B2. Автор: Claudia Hannelore Igney,Matthias Hamsch,Francisco Javier ROSELL FERRER. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2016-09-20.

Fat mass measurement apparatus

Номер патента: US09408553B2. Автор: Takehiro Hamaguchi,Hiromichi Karo,Yasuaki Murakawa,Kazuhisa Tanabe. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2016-08-09.

Height measuring apparatus and method thereof

Номер патента: US09360303B2. Автор: Yao-Tsung Chang,Chia-Hsien Li,Pai-Yang Lin,Shun-Chi Chung. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2016-06-07.

Magnetic field measurement apparatus

Номер патента: US09351651B2. Автор: Kimio Nagasaka. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Bio-signal measurement apparatus, docking apparatus and methods of their coupling

Номер патента: US11241181B2. Автор: Juha MYLLYKANGAS,Sami Hynynen. Владелец: Bittum Biosignals Oy. Дата публикации: 2022-02-08.

Bio-signal measurement apparatus, docking apparatus and methods of their coupling

Номер патента: EP3824789A1. Автор: Juha MYLLYKANGAS,Sami Hynynen. Владелец: Bittum Biosignals Oy. Дата публикации: 2021-05-26.

Implant for modifying corneal shape and method of preparing the same

Номер патента: EP3973924A1. Автор: Aylin KILIC. Владелец: Lions VisionGift. Дата публикации: 2022-03-30.

Measuring apparatus for the online measurement of at least one property of process liquids at at least two different flow rates for the production of a medical liquid

Номер патента: US20240241069A1. Автор: Patrick BEßLER,Stefan EBERLEIN,Jürgen Schwerdhöfer. Владелец: Vivonic GmbH. Дата публикации: 2024-07-18.

State quantity distribution measuring apparatus and method of measuring state quantity distribution of sample

Номер патента: US20130174652A1. Автор: Hisataka Nanaumi,Teruko Kawamoto,Misayo Arimura,Yukiko Bitou. Владелец: Unicharm Corp. Дата публикации: 2013-07-11.

Intraperitoneal pressure ("ipp") measurement apparatuses and systems

Номер патента: AU2021373621A9. Автор: Sukhraaj Basati,John Sterling Norman,Jorge Augusto Del Castillo,Joanna Rita Yanaga,Chris John Grivas. Владелец: Baxter International Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2022-03-03.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887B2. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2020201075A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Mass measurement apparatus for automatic processing machines and mass measurement method

Номер патента: EP3969855A1. Автор: Marco Minardi. Владелец: IMA Industria Macchine Automatiche SpA. Дата публикации: 2022-03-23.

Voxel type block phantom for a multifunctional radiation measurement apparatus

Номер патента: US09895558B2. Автор: JOO Young Jung,Tae Suk Suh,Do Kun Yoon. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Catholic University of Korea. Дата публикации: 2018-02-20.

Flow measuring apparatus and inhalation apparatus comprising the same

Номер патента: CA2826516C. Автор: Thierry Poree. Владелец: Protecsom Amerique Du Nord Inc. Дата публикации: 2020-09-22.

Optical flow measuring apparatus and inhalation apparatus comprising the same

Номер патента: CA2982987C. Автор: Romuald VERJUS,Thierry Poree,Yannick GUHEL,Bertrand POUDEROUX,Bertrand BOUDART,Jean-Regis ANGILELLA. Владелец: Protecsom Amerique Du Nord Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Sensor for aerosol generation apparatus, aerosol generation apparatus and temperature measurement apparatus

Номер патента: EP4223161A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Foot shape measurement system and foot shape measurement method

Номер патента: US20240255275A1. Автор: Nozomu Seike,Motohide Arayama. Владелец: Wacoal Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Susceptor for vapor generation apparatus, vapor generation apparatus, and temperature measurement apparatus

Номер патента: US20230363463A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Operation information measurement apparatus, function control method, and program

Номер патента: US20170128829A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-05-11.

Measuring apparatus for determining length of compact part of water stream from fire hydrant

Номер патента: RU2749579C1. Автор: Олег Валерьевич Амчеславский,Петр Сергеевич Крюков. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Волгоградский государственный аграрный университет" (ФГБОУ ВО Волгоградский ГАУ). Дата публикации: 2021-06-15.

Dosage unit for delayed release of insecticide, measuring apparatus and device for thereof, and method of its manufacturing

Номер патента: RU2501219C2. Автор: ГУЭЛЬ Эдуард МОНСОНИС,БАРЕА Хорди КОРТЕС,АРНАЛЬ Фредерик ДАЛЬМАУ. Владелец: Эс.Си.ДЖОНСОН ЭНД САН, ИНК.. Дата публикации: 2013-12-20.

Ball measuring apparatus

Номер патента: US20070075891A1. Автор: Takahiro Sajima. Владелец: SRI Sports Ltd. Дата публикации: 2007-04-05.

Golf simulator or measurement apparatus

Номер патента: EP1575678A2. Автор: Brian Mooney,James Hourihan. Владелец: MONTAGUE KENYON Ltd. Дата публикации: 2005-09-21.

Stroke information measuring apparatus and stroke information measuring method

Номер патента: EP1398060B1. Автор: Takahiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. MURAKOSHI,Yuuichi c/o Hamamatsu Photonics K.K. KIMURA,Takehiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. KURONO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-08-03.

An ultrasonic measuring apparatus for inline measuring the homogenizing degree of a fluid product in a dispersing unit

Номер патента: EP4441484A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: GEA Mechanical Equipment Italia SpA. Дата публикации: 2024-10-09.

Contour measurement apparatus and contour measurement method for measuring contour of poultry carcass, and deboning device for poultry carcass

Номер патента: US09700060B2. Автор: Noriyuki Inoue,Noriyuki Takahashi,Shinji HANE,Kenichi Oka,Koji TAKANASHI,Naoki Toyoda,Hiroyuki SAKURAYAMA. Владелец: Mayekawa Manufacturing Co. Дата публикации: 2017-07-11.

Foot shape measurement system and foot shape measurement method

Номер патента: EP4349205A1. Автор: Nozomu Seike,Motohide Arayama. Владелец: Wacoal Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Flight parameter measuring apparatus and flight parameter measuring method

Номер патента: SG11201910034RA. Автор: Hideaki Kawamoto,Viet Manh Do,Hong Quan Luong. Владелец: Gpro Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Battery property measurement apparatus

Номер патента: US20210018566A1. Автор: Jin Hyun Lee,Young Joong Kim,Young Su SON. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Measurement apparatus, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220049981A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-17.

Stationary exercise machine with a power measurement apparatus

Номер патента: EP3562564A1. Автор: Joshua S. Smith,Benjamin A. Browning. Владелец: Nautilus Inc. Дата публикации: 2019-11-06.

Noise quantity measuring apparatus

Номер патента: US7920153B2. Автор: Takayuki Satou,Hidetsugu Takahashi. Владелец: Oki Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2011-04-05.

Measurement apparatus, measurement method, program, and information recording medium

Номер патента: US20190041424A1. Автор: Ryutaro Himeno,Shigeho Noda. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2019-02-07.

Stationary exercise machine with a power measurement apparatus

Номер патента: US20180185691A1. Автор: Joshua S. Smith,Benjamin A. Browning. Владелец: Nautilus Inc. Дата публикации: 2018-07-05.

Irrigation water amount measurement apparatus, irrigation water amount measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11937558B2. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Method of correcting measurement error of shape measuring apparatus, and shape measuring apparatus

Номер патента: US09683839B2. Автор: Nobuhiro Ishikawa,Hideyuki Nakagawa. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Shape measuring apparatus and control method of shape measuring apparatus

Номер патента: US09448052B2. Автор: Takashi Noda,Hiromi Deguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US20190078865A1. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US10859365B2. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-08.

Shape measuring apparatus and shape measuring method

Номер патента: US10156435B1. Автор: Rikiya Taniguchi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-12-18.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12013229B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12072177B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12078474B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Three-dimensional shape measuring device capable of measuring color information

Номер патента: US09696144B2. Автор: Seong Ryong Kim,Heui Jae Pahk,Sang Soo Kang,Young Min Hwang,Tae Yong Jo. Владелец: SNU PRECISION CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Three-dimensional shape measurement apparatus and control method thereof

Номер патента: US09599462B2. Автор: Toshihiro Kobayashi,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Shape measurement apparatus and method

Номер патента: US09791266B2. Автор: Joong-Ki Jeong,Min-Young Kim,Seung-Jun Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-10-17.

Shape measurement apparatus and method

Номер патента: US09739605B2. Автор: Joong-Ki Jeong,Min-Young Kim,Seung-Jun Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-08-22.

Eyeglass frame shape measuring apparatus

Номер патента: US09535269B2. Автор: Tomoji Tanaka,Ryoji Shibata. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Shape measurement device, structure production system, shape measurement method, structure production method, and shape measurement program

Номер патента: US09952038B2. Автор: Kenta Kanto. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US09915516B2. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Oven wall shape measuring apparatus, oven wall shape measuring system, and oven wall shape measuring method

Номер патента: US09638516B2. Автор: Toshifumi Kodama,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: US20180283850A1. Автор: Yusuke Konno,Toshio Akagi,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Tomohiro KUROIWA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2018-10-04.

Shape measuring apparatus

Номер патента: US09829303B2. Автор: Yasuhiro Yamauchi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: CA2982101C. Автор: Hironao Yamaji,Jun Umemura. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-09-24.

Shape measuring device, shape measuring method, and method for manufacturing glass plate

Номер патента: US20130094714A1. Автор: Kimiaki Ohto. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-18.

Shape measuring apparatus

Номер патента: US09989356B2. Автор: Tadashi Iwamoto,Kentaro Nemoto,Eisuke Moriuchi,Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Shape measuring apparatus

Номер патента: US09702688B2. Автор: Osamu Saito,Ichiro Taniguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Three-dimensional-shape measurement apparatus, three-dimensional-shape measurement method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US09557167B2. Автор: Toshihiro Kobayashi,Masayoshi Yamasaki,Tomoaki Higo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Shape Measuring Apparatus for Eyeglasses

Номер патента: EP2105252A1. Автор: Toshihiro Koyama. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2009-09-30.

Probe for three-dimensional shape measuring apparatus and three-dimensional shape measuring apparatus.

Номер патента: EP2251635A3. Автор: Takanori Funabashi,Takahisa Araki,Motoo Youkaichiya. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-19.

Shape measuring device

Номер патента: US20240060772A1. Автор: Keisuke Uchida,Naoaki Kato,Munenori Takumi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-22.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: CA2981970C. Автор: Yusuke Konno,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Tomohiro KUROIWA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-08-06.

Three-dimensional shape measuring apparatus

Номер патента: US12013230B2. Автор: Shinya Takahashi,Takashi Suzuki. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09541380B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-01-10.

Surface shape measurement method, surface shape measurement device, and belt management method

Номер патента: EP4421004A1. Автор: Seiji Enoeda,Yoshiaki Nishina,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Shape Measuring System and Shape Measuring Method

Номер патента: US20220178680A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi,Kenji Maruno,Akio Yazaki,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-06-09.

Shape measurement system

Номер патента: EP4246086A1. Автор: Yoshitaka Miyatani,Tatsuji Ashitani,Ryuta Okamoto. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Positioning device for a rod-shaped measuring apparatus

Номер патента: CA2677261C. Автор: Markus Reifferscheid,Josef Deussen,Matthias Arzberger. Владелец: Sms Siemag AG. Дата публикации: 2011-09-06.

Shape measuring method

Номер патента: US20220034650A1. Автор: Hideyuki Arai,Lukasz REDLARSKI. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-02-03.

Shape measuring apparatus

Номер патента: US20010024280A1. Автор: Masahiro Fukuda,Hitoshi Kamezawa,Kyouichi Hirouchi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2001-09-27.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: US8310536B2. Автор: Hidehisa Hashizume,Masaru Akamatsu,Yasuhide Nakai. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2012-11-13.

Shape measuring method

Номер патента: US11530914B2. Автор: Hideyuki Arai,Lukasz REDLARSKI. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-12-20.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09733066B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-08-15.

Shape measuring device using frequency scanning interferometer

Номер патента: US09835444B2. Автор: Hong-Ki Kim,Jang-Il Ser. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-12-05.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: US10527410B2. Автор: Yusuke Konno,Takayuki Sonoda,Toshio Akagi,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-01-07.

Three-dimensional shape measuring apparatus

Номер патента: US20210041229A1. Автор: Kazuki Natori. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Three-dimensional shape measurement system and three-dimensional shape measurement method

Номер патента: US20200246979A1. Автор: Jun Wada. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2020-08-06.

Shape Measuring Device for Hose Connector Fitting, Shape Measuring Method for Hose Connector Fitting and Shape Measuring Program for Hose Connector Fitting

Номер патента: US20200271440A1. Автор: Takayuki Saito. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Shape measurement system and shape measurement method

Номер патента: EP4455617A1. Автор: Kazuhide Nakajima,Takashi Matsui,Hideaki Murayama,Nobutomo Hanzawa,Ryota Wada,Makito Kobayashi. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2024-10-30.

Shape Measuring Device

Номер патента: US20180100732A1. Автор: Yuji Akishiba,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-04-12.

Lens shape measurement device

Номер патента: US09714824B2. Автор: Nobuhiko Takeda,Masahiko Samukawa,Takashi Daimaru. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Object-forming machine, cross-section measurement apparatus, and cross-section measurement method

Номер патента: US20190255776A1. Автор: Masato Kon,Gyokubu Cho,Hidemitsu Asano. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Object-forming machine, cross-section measurement apparatus, and cross-section measurement method

Номер патента: US10343334B2. Автор: Masato Kon,Gyokubu Cho,Hidemitsu Asano. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-09.

Shape measuring method and shape measureing device

Номер патента: US09506748B2. Автор: Yoshitaka Ohta. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Eyeglass frame shape measuring apparatus

Номер патента: EP2012085A1. Автор: Ryoji Shibata. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2009-01-07.

Foot shape measurement apparatus and computer program

Номер патента: EP4270317A1. Автор: Masayuki Tsutsui,Mai Nakaya. Владелец: Asics Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Tool shape measurement apparatus and machine tool

Номер патента: US20180015585A1. Автор: Kenichi Ohata,Tadashi Kasahara. Владелец: Makino Milling Machine Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-18.

Foot shape measurement apparatus and computer program

Номер патента: US20230342964A1. Автор: Masayuki Tsutsui,Mai Nakaya. Владелец: Asics Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Three-dimensional shape measuring method and three-dimensional shape measuring apparatus

Номер патента: US20230175840A1. Автор: Koichi Hashimoto,Yoshihiro Inagaki,Daichi Suzuki,Shingo Kagami,Yoshiyuki Toso,Hidechika Ito. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2023-06-08.

Scanning Electron Microscope and Three-Dimensional Shape Measuring Device That Used It

Номер патента: US20080283747A1. Автор: Yoshinobu Hoshino,Shigeru Kawamata,Asako Kaneko. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-11-20.

Optical system for shape measuring device

Номер патента: EP4400806A1. Автор: Kohei Nishiyama,Yohei Furuta,Takao Kawarada. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Shape measuring device

Номер патента: US20240255278A1. Автор: Hiroyuki Kawano,Keita Mochizuki,Yuya Arai. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Systems, methods, and media for performing shape measurement

Номер патента: US09857168B2. Автор: Mohit Gupta,Shree K Nayar. Владелец: Columbia University in the City of New York. Дата публикации: 2018-01-02.

Information processing apparatus that performs three-dimensional shape measurement, information processing method, and storage medium

Номер патента: US09605961B2. Автор: Daisuke Kotake. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Three-dimensional shape measuring device, method for acquiring hologram image, and method for measuring three-dimensional shape

Номер патента: US09494411B2. Автор: Hideyoshi Horimai,Taizo Umezaki. Владелец: 3DRAGONS LLC. Дата публикации: 2016-11-15.

Measurement apparatus, information processing apparatus, data specifying method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20230036969A1. Автор: Akira Tsuji,Junichi Abe,Yoshimasa Ono,Jiro Abe. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Image forming apparatus capable of providing location-based service and location information measuring apparatus for providing location information

Номер патента: US20190356808A1. Автор: Sung-Joon Park,Youn SEO. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2019-11-21.

Vibration measurement system, vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20210029297A1. Автор: Kazuhito Murata,Masahiko Ohta,Gaku Nakano,Asuka ISHII. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

Substrate weight measurement apparatus, a substrate processing apparatus including the same, and a method of processing a substrate using the substrate processing apparatus

Номер патента: US20230384681A1. Автор: Kuntack Lee,Ji Hwan Park,Sangjine Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

Power measurement apparatus and power measurement method

Номер патента: US09753829B2. Автор: Haruhiko Ueno,Mari Masuda,Atsushi Takami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Tire shape measurement device and method

Номер патента: US20240240936A1. Автор: Satoru Nishio,Naoki Akiyama. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Housing for enclosing measuring apparatus for recording apparatus, provided with air blowing means including high efficiency particulate air filter

Номер патента: US20020089824A1. Автор: Eiji Ishimoto,Norio Nakano,Hiroshi Kaminaga. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-07-11.

Shape measuring system and shape measuring method

Номер патента: AU2021201894A1. Автор: Taiki Sugawara,Hiroyoshi Yamaguchi,Shun Kawamoto. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2021-04-22.

Transmitter with a wave shape measurement stage

Номер патента: US20240250856A1. Автор: Christian Röck,Andreas Schröck,Stefan Heibl. Владелец: Renesas Design Austria GmbH. Дата публикации: 2024-07-25.

Transmitter with a wave shape measurement stage

Номер патента: US12095602B2. Автор: Christian Röck,Andreas Schröck,Stefan Heibl. Владелец: Renesas Design Austria GmbH. Дата публикации: 2024-09-17.

Pattern shape measurement method, pattern shape measurement device, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240310167A1. Автор: Kazuki HAGIHARA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Coordinate measuring apparatus for measuring input position of a touch and a coordinate indicating apparatus and method thereof

Номер патента: US09927938B2. Автор: Sung-soo Park,Byung-Jik Kim,Gwan-Hyung Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-27.

Method of calibrating and using a measuring apparatus that performs measurements using a spectrum of light

Номер патента: US09897486B2. Автор: Young-Joo Lee,Chang-Hoon Choi,Tae-Yong Jo,Jong-Jeong KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Physical amount measurement apparatus mounted integrally with flow rate measurement apparatus, and physical amount measurement method

Номер патента: US09869573B2. Автор: Koji Tanimoto,Yuji Ariyoshi,Masahiro Kawai,Shinichiro Hidaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Measuring apparatus

Номер патента: US09811896B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Shape measurement system, image capture apparatus, and shape measurement method

Номер патента: US09792690B2. Автор: Akira Kinoshita,Atsuo Kawaguchi,Kazuki Tokoyoda,Shogo Ishida. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Current transmission device for a force measuring apparatus, in particular a weighing apparatus

Номер патента: US20240369400A1. Автор: Alexander Schulzki,Jan Gottfriedsen,Tobias Stellwagen,Bernd Zinke. Владелец: Wipotec GmbH. Дата публикации: 2024-11-07.

Shape measuring device, program installed into this device, and recording medium storing this program

Номер патента: US09404739B2. Автор: Takashi Nakatsukasa. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2016-08-02.

Optical measuring apparatus for a vehicle, driver assistance device having such a measuring apparatus, and vehicle having a corresponding measuring apparatus

Номер патента: US09395439B2. Автор: Heiner Bayha,Jens Nicolai,Peter Horvath. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2016-07-19.

Shape measuring device, shape measuring method, and shape measuring program

Номер патента: US8743374B2. Автор: Takashi Nakatsukasa. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2014-06-03.

Sample shape measuring apparatus for calculating a shape of a sample disposed between an illumination optical system and an observation optical system

Номер патента: US10697764B2. Автор: Yoshimasa Suzuki,Mayumi ODAIRA. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-06-30.

Shape measurement device

Номер патента: US20200370875A1. Автор: Jae Eun Hwang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-11-26.

Surface shape measurement device, surface shape measurement method, and conveyor belt management method

Номер патента: EP4354080A1. Автор: Yoshihiro Akechi,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: EP4182671A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-05-24.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: WO2022013578A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Bending measurement apparatus, imaging apparatus, projection apparatus and projection imaging apparatus using the same, and bending measurement method

Номер патента: US20200141768A1. Автор: Yoshihito IGUCHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: US11856304B2. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

System and method for managing measurement apparatuses

Номер патента: US20040024783A1. Автор: Chih-Kuang Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Wave-leakage measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US5138253A. Автор: Tamio Fukui,Isao Momoji. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1992-08-11.

Stock tank water level measuring apparatus and system for monitoring the apparatuses

Номер патента: US20210325229A1. Автор: David Cliff,Curt Goble. Владелец: Wellbot LLC. Дата публикации: 2021-10-21.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20230089647A1. Автор: Hiroshi Nakatsuka,Riyoko Miyahara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200127776A1. Автор: Hidetoshi Suzuki,Lilei Wang,Shotaro MAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2020-04-23.

Single body quadruple cylinder tritium measuring apparatus

Номер патента: US20180335414A1. Автор: Xiaowei Zhang,Sabatino Nacson,Jiangrong WU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-11-22.

Spherical shape measurement method and apparatus for rotating a sphere about first rotation axis and rotating a sphere hold mechanism about second rotation axis orthogonal to first rotation axis

Номер патента: US10444008B2. Автор: Yutaka Kuriyama,Takeshi Hagino,Yuichiro Yokoyama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-10-15.

Micro force measurement device, micro force measurement method, and micro surface shape measurement probe

Номер патента: US7685733B2. Автор: Yutaka Watanabe,Hitoshi Ohmori,Shinya Morita,Weimin Lin,Yoshihiro Uehara,Kazutoshi Katahira. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2010-03-30.

Image analysis device, analysis device, shape measurement device, image analysis method, measurement condition determination method, shape measurement method, and program

Номер патента: EP3760970A1. Автор: Makoto Kondo,Sumito Nakano. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2021-01-06.

Three-dimensional shape measurement system and software for controlling the same

Номер патента: US20150000148A1. Автор: Shinsaku ABE. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2015-01-01.

Shape measuring system and shape measuring method

Номер патента: CA3127579C. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi,Kenji Maruno,Akio Yazaki,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-08-01.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US20220206134A1. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-30.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: US20210354262A1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Ink droplet volume measuring apparatus and ink droplet volume measuring method using the same, and thin film layer forming apparatus using the measuring apparatus, and manufacturing method of display apparatus using the thin film layer forming apparatus

Номер патента: US20240251648A1. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Measuring apparatus for a liquid handling apparatus for measuring pipetting container, article for said measuring apparatus and corresponding measuring method

Номер патента: US12044691B2. Автор: Burkhardt Reichmuth,Markus Lapczyna,Uwe Dunker,Maik Radke. Владелец: Eppendorf SE. Дата публикации: 2024-07-23.

Color measuring apparatus

Номер патента: US12025493B2. Автор: Tatsuya Shirane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US20140025300A1. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Measurement apparatus applicable to two-dimensional reconstruction of gas in combustion flow field

Номер патента: US20180245988A1. Автор: Guangyu Wang,Wei Rao,Yanji HONG,Junling SONG. Владелец: Space Engineering University. Дата публикации: 2018-08-30.

Method of adjusting plating apparatus, and measuring apparatus

Номер патента: US20180371636A1. Автор: Yuji Araki,Masashi Shimoyama,Jumpei Fujikata,Mizuki Nagai. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-12-27.

Overlay measurement method, semiconductor device manufacturing method using the same, and overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230074537A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US12085633B2. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Sample measuring apparatus, information reading apparatus, and information reading method

Номер патента: EP4439381A1. Автор: Masato Hayashi,Rentaro TAKENAKA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Position measuring apparatus

Номер патента: US09696152B2. Автор: Yukiharu Tomita,Ryosuke Oikawa,Kenzo Yamanouchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Method for data transmission between measuring apparatuses and a data processing device in a measured data recording system

Номер патента: US09693121B2. Автор: Johannes Müller,Andreas MÖBUSZ. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-06-27.

Grain measurement apparatus

Номер патента: US09671273B2. Автор: Steven L. Harris,Matthew T. Emerick. Владелец: Juniper Systems Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Vehicle optical measuring apparatus having a deflection mirror arrangement, driver assistance device having such a measuring apparatus, and vehicle having a corresponding measuring apparatus

Номер патента: US09575181B2. Автор: Heiner Bayha,Jens Nicolai,Peter Horvath. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2017-02-21.

Optical distance measuring apparatus and electronic apparatus

Номер патента: US09568596B2. Автор: Hideo Wada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US09513271B2. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: US10704899B2. Автор: Shinya Takahashi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2020-07-07.

Three-dimensional shape measurement system and software for controlling the same

Номер патента: US9267780B2. Автор: Shinsaku ABE. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-02-23.

Measurement method of surface shape and surface shape measurement device

Номер патента: US20230324168A1. Автор: Yoshiaki Kato,Yumiko Mori. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: WO2014118625A1. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-08-07.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-05.

Measuring apparatus and method for positioning and aligning retroreflectors in a distribution of retroreflectors of a measuring apparatus

Номер патента: US20200225026A1. Автор: Wolfgang Hoegele,Christian Hoerr. Владелец: Carl Zeiss Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2020-07-16.

Contact terminal for measurement, measurement apparatus, probe card set, wafer probe apparatus, and testing apparatus

Номер патента: US7474109B2. Автор: Tadao Saito,Shigeru Matsumura,Shin Sakiyama,Tetsuya Kuitani. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-01-06.

Overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230324811A1. Автор: Jin Woo Park,Hyeon Gi Shin,Bo Kyung RYU,Jung Sun KO. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Measuring apparatus and method and apparatus for determining a leakage of an injection valve

Номер патента: WO2012069317A1. Автор: Cristiano Mannucci. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2012-05-31.

Image processing apparatus and distance-measurement apparatus

Номер патента: US20230258807A1. Автор: Hiroki Okada,Yoshiteru Takayama. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12038329B2. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Distance measurement apparatus and biometric authentication apparatus

Номер патента: US20220309692A1. Автор: Katsuji Kimura,Youji Sakioka,Mitsuhiro Iwama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Method for calibrating the time axis in time - domain terahertz wave measuring apparatus

Номер патента: EP2545350A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-16.

Particle measuring apparatus, ultrapure water production apparatus having the same, and particle measuring method

Номер патента: US20240255411A1. Автор: Hiroshi Sugawara,Fumio Sudo,Tsukasa Kondo,Fumitaka ICHIHARA. Владелец: Organo Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Light receiving apparatus and distance measuring apparatus

Номер патента: US12061292B2. Автор: Kenta Makimoto. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Electromagnetic-wave detection apparatus and distance-measurement apparatus

Номер патента: US20230288565A1. Автор: Hiroki Okada. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Measuring apparatus for figures

Номер патента: US5708592A. Автор: Katsumi Kaji. Владелец: Ushikata Mfg Co Ltd. Дата публикации: 1998-01-13.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240272003A1. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20230288306A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20020092189A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-18.

Measurement apparatus, method for operating a mask-metrology measurement apparatus, and computer program product

Номер патента: US20240255857A1. Автор: Thomas Frank,Ulrich Matejka,Jan Reisloehner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-01.

Ultrasonic vibration unit for sediment removal in small-scale irrigation channel flow measuring apparatus

Номер патента: AU2020101456A4. Автор: Xin Zhang,Nan Ye,Hanwen Zhang,Xueqi Ding,Miaoyuan Liang,Xiaoxing YU. Владелец: Nanjing Jinma Intelligence Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Load measuring apparatus, for vehicle, measuring load supported by axle, method for same, and lift axle control system equipped with load measuring apparatus

Номер патента: EP4253105A1. Автор: Seong Tae Kim,Pil Won Heo,Chang Yul Kim,Gwang Min Gu. Владелец: Autovision Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Distance measurement apparatus and setting method of transmission condition

Номер патента: US20240295650A1. Автор: Yukimitsu Yamada. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Object motion measurement apparatus, object motion measurement method, and imaging apparatus

Номер патента: US20240303829A1. Автор: Kazuya Okamoto,Kazuhiko Fukutani,Ryuichi Nanaumi. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Fastening assembly for fastening a test device holder to a force-measuring apparatus, force-measuring apparatus having a fastening assembly of this type, test device holder, and slide part for a force-measuring apparatus

Номер патента: US12061175B2. Автор: Michael Wolff. Владелец: Vetter Pharma Fertigung GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-08-13.

Current measuring apparatus, image forming apparatus, conveyance apparatus and method for measuring current

Номер патента: US09939469B2. Автор: Takeo Seki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Load measuring apparatus and load measuring method

Номер патента: US09719869B2. Автор: Hideaki Tanaka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Measuring apparatus that generates positional deviation distribution of a pattern on a target object

Номер патента: US09659361B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: US09651510B2. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Measuring apparatus and measuring device for measuring a target object in a multidimensional manner

Номер патента: US09638520B2. Автор: Andreas Eisele,Bernd Schmidtke,Ulrich Kallmann. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-05-02.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US09541489B2. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Measuring apparatus, measuring method, and processing apparatus thereof that obtain displacement amount of an object using clock in synchronization with data request signal

Номер патента: US09488501B2. Автор: Yoshiyuki Okada,Takafumi Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

Liquid containment and measurement apparatus and method

Номер патента: US09435677B1. Автор: David Soble,Scott Soble,Derek Grace,Brian L. Ashinger. Владелец: Diamond Shine Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Shape measuring system

Номер патента: US20240019244A1. Автор: Yoshitaka Miyatani,Tatsuji Ashitani,Ryuta Okamoto. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Shape measurement method and shape measurement device

Номер патента: US20190086197A1. Автор: Kaoru Minoshima. Владелец: University of Electro Communications NUC. Дата публикации: 2019-03-21.

Real-time three-dimensional shape measurement system and shape measurement method using diagonal line pattern irradiation method

Номер патента: US20230358532A1. Автор: Hyug-Gyo Rhee,Young-Sik GHIM,The Manh NGUYEN. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2023-11-09.

Structural light 360-degree three-dimensional surface shape measurement method based on feature phase constraints

Номер патента: AU2020103301A4. Автор: HAN Yuan,Guoying Feng. Владелец: Sichuan University. Дата публикации: 2021-01-14.

Shape measuring device, system with fabricating unit and shape measuring device, and method

Номер патента: EP4062125A1. Автор: Yasuaki Yorozu,Yoichi Kakuta. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-28.

Flow measurement apparatus

Номер патента: RU2760627C1. Автор: Эрик ШТАРКЕ,Кристиан ШУЛЬЦ,Маркус КЛЕММ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2021-11-29.

System providing testing and verification of a weight measurement apparatus, method for testing and verification of a weight measurement apparatus

Номер патента: RU2763123C1. Автор: Михаил Александрович Малыгин,Сергей Викторович Медведевских,Денис Сергеевич Замятин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И.Менделеева». Дата публикации: 2021-12-27.

Heating device for spectrometry measurement apparatus

Номер патента: RU2658126C2. Автор: Гийом НЕЗА,Грегори ДЮБУА,Этьенн ФЛЕШ,Лионель ПАФЮМИ,Жан-Пьер ТЬЕРРИ. Владелец: Олит. Дата публикации: 2018-06-19.

Three-dimensional shape measuring method and its device

Номер патента: EP1580523A1. Автор: Hiroshi Kawasaki,Ryo Furukawa. Владелец: Technodream21 Inc. Дата публикации: 2005-09-28.

Shape Measuring Device

Номер патента: US20190113335A1. Автор: Hiroyuki Satoyoshi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2019-04-18.

Shape measuring device, system with fabricating unit and shape measuring device, and method

Номер патента: WO2021099883A1. Автор: Yasuaki Yorozu,Yoichi Kakuta. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2021-05-27.

Measuring apparatus, movable apparatus, robot, electronic device, fabricating apparatus, and measuring method

Номер патента: US12030243B2. Автор: Kazuhiro Yoneda,Naoki Fukuoka,Yoshihiko Miki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Shock measurement apparatus and shock measurement method

Номер патента: US20020043114A1. Автор: Takane Fujino,Keishi Takahashi,Kazutaka Okasaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200379112A1. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Part program generating apparatus and program for image measuring apparatus

Номер патента: US20030039334A1. Автор: Akira Takada,Koichi Komatsu,Masato Shimizu,Kozo Ariga. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2003-02-27.

Method to infer and estimate reticle temperature based on reticle shape measurements

Номер патента: WO2024132326A1. Автор: Raaja Ganapathy SUBRAMANIAN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Magnetic field measuring apparatus and apparatus for measuring spatial resolution of magnetic field detector

Номер патента: US6144196A. Автор: Naoya Tamaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-11-07.

Communication terminal measurement system, communication terminal measurement apparatus, and communication terminal test method

Номер патента: US20210243759A1. Автор: Daiki Kano,Yuki Naruse,Toru Yamasaki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20210131791A1. Автор: Masahiro Kawai,Yoshitaka Tsuboi,Shohei Tsukamoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12044572B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20210208683A1. Автор: Shigeto Hattori. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-07-08.

Access area measurement apparatus

Номер патента: US5212890A. Автор: Glen W. White,R. Mark Mathews. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-05-25.

Measurement Apparatus Having Display Device

Номер патента: US20090165316A1. Автор: Kee-Weng Lai,Shan-Nan Chen. Владелец: Grenergy Opto Inc. Дата публикации: 2009-07-02.

Measurement apparatus, measurement method, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160379902A1. Автор: Nobuhiro Komine,Yoshinori Hagio. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Measurement apparatus

Номер патента: US10656086B2. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-05-19.

Method and apparatus for performing calibration-based absolute shape measurement using phase-shifting projected fringe profilometry

Номер патента: WO2001007864A3. Автор: Benjamin A. Bard,Hongyu Liu. Владелец: Bard Benjamin A. Дата публикации: 2009-11-19.

Fluorescence measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US20120286171A1. Автор: Kazuteru Hoshishima. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-15.

Image-capturing apparatus, distance-measuring apparatus, distance-measuring system, and distance-measuring method

Номер патента: WO2024157141A1. Автор: Yuu YAMADA,Takefumi TAKIZAWA. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2024-08-02.

Gas concentration measuring apparatus with failure monitor

Номер патента: EP1582726A3. Автор: Tomoo Kawase,Eiichi Kurokawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2011-08-17.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Force measuring apparatus

Номер патента: US20080190216A1. Автор: Hideo Morimoto. Владелец: Nitta Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A3. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-11-10.

Wafer carrier measuring apparatus

Номер патента: US20240186163A1. Автор: Kuo-Hua Lee,Ming-Chien Chiu,Chia-Ho CHUANG,En-Nien Shen,Jyun-Ming Lyu,Xin-Yuan Huang. Владелец: Gudeng Precision Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Specific gravity measuring apparatus

Номер патента: US20130086984A1. Автор: Sadanori Kondo. Владелец: Alfa Mirage Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-11.

Method for Operating a Surface Measurement Apparatus

Номер патента: US20200200519A1. Автор: Adelbert Leber. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2020-06-25.

Optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20090079984A1. Автор: Shinji Shimizu,Yoshiyuki Nagashima,Katsutoshi Tsurutani,Tomohiro Fukamizu. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2009-03-26.

Light wavelength measurement apparatus and method, and light wavelength control device and light-emitting system

Номер патента: EP4414672A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Measurement apparatus

Номер патента: US20190369018A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-12-05.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US6128083A. Автор: Asahiko Nogami. Владелец: Sony Precision Technology Inc. Дата публикации: 2000-10-03.

Heating resistor type fluid rate measuring apparatus and control device of internal combustion engine having the tlow measuring apparatus

Номер патента: US20060277983A1. Автор: Shinya Igarashi,Kiichi Otaka,Takeshi Morino,Yasunobu Kojima,Yasuji Nishi,Chihiro Kobaysahhi. Владелец: Hitachi Car Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-14.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240230505A9. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240133790A1. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-04-25.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12085449B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: EP2507813A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,Dale Stubbs. Владелец: Gigle Networks Ltd. Дата публикации: 2012-10-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-06-09.

Flow measurement apparatus

Номер патента: US20240302194A1. Автор: Andreas Ehrlich,Mario Künzelmann,Gerry Schroeter. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2024-09-12.

Portable internal friction measuring apparatus and internal friction measurement method

Номер патента: EP4443128A1. Автор: Jian Yin,Wenqing Jia,Yuanfei Li,Xiangbing LIU,Chaoliang XU,Qiwei QUAN,Wangjie QIAN. Владелец: Suzhou Nuclear Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Stepped copper-bar current measurement apparatus

Номер патента: EP4455686A1. Автор: Songsheng Xue,Mingfeng LIU,Ran Shi. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus

Номер патента: US20140362262A1. Автор: Akinari Takagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-12-11.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09984453B2. Автор: Toru Sugiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Deflection mirror arrangement for optical measurement apparatus having drive unit between parallel transmitting mirrors and corresponding optical measurement apparatus

Номер патента: US09964758B2. Автор: Heiner Bayha,Thomas Schuler,Peter Horvath. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2018-05-08.

Measuring apparatus for the filling level of a container

Номер патента: US09885598B2. Автор: Petr Tesar,Jan Nekula,Martin Kalas. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-02-06.

Distance measuring apparatus, vehicle and method of calibration in distance measuring apparatus

Номер патента: US09866819B2. Автор: Shuichi Suzuki,Mitsuru Nakajima,Motoyasu Murai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Tool length measurement apparatus

Номер патента: US09863765B2. Автор: Akira Kimura,Ken Onoe. Владелец: DMG Mori Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09665018B2. Автор: Masatoshi Endo,Takanori Morooka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Scintillator plate, radiation measuring apparatus, radiation imaging apparatus, and scintillator plate manufacturing method

Номер патента: US09625586B2. Автор: Junichi Kaneko,Mikio Higuchi,Kenji Izaki,Takehiro Shimaoka,Youichi Tsubota. Владелец: JAPAN ATOMIC ENERGY AGENCY. Дата публикации: 2017-04-18.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09606461B2. Автор: Tadaki MIYAZAKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09553462B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Fuel-level measuring apparatus

Номер патента: US09551605B2. Автор: Takeshi Watanabe,Akihiro Taguchi,Kotaro Tanaka,Naoki Ogiwara,Masaki Wakao. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

XRF measurement apparatus for detecting contaminations on the bevel of a wafer

Номер патента: US09541511B2. Автор: Assunta Vigliante. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2017-01-10.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: RU2330252C2. Автор: Томас ФЕССЕЛЕ,Ханс-Мартин ХОХЕНБЕРГЕР,Винфрид КУНТ,Томас ФЕССЕЛЕ (DE),Ханс-Мартин ХОХЕНБЕРГЕР (DE),Винфрид КУНТ (DE). Владелец: Роберт Бош Гмбх. Дата публикации: 2008-07-27.

Three-dimensional shape measurement device, robot system, and three-dimensional shape measurement method

Номер патента: US11118902B2. Автор: Kentaro Tsukamoto,Tomoki Harada. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-09-14.

Multiphase current measuring apparatus and method for multiphase current measurement

Номер патента: US20210109132A1. Автор: Claudia Glenske,Matthias Brusius. Владелец: SENSITEC GMBH. Дата публикации: 2021-04-15.

Measurement apparatus, detection apparatus, and measurement method

Номер патента: US12032049B2. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

A measuring apparatus for measuring properties of a surface

Номер патента: WO2016189327A1. Автор: Professor Stuart ROBSON,Ben SARGEANT,Abdul Rahman EL-NOUNU. Владелец: UNIVERSITY COLLEGE LONDON. Дата публикации: 2016-12-01.

Enhanced substrate temperature measurement apparatus, system and method

Номер патента: WO2020242732A1. Автор: Qin Chen,Lyudmila Stone,Dale K. Stone,Dawei Sun,Ron Serisky,Steven Anella,Jeffrey D. Lischer,Chi-Yang Cheng. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2020-12-03.

Torque measuring apparatus using magnetic bodies

Номер патента: US20150053024A1. Автор: Tae Hun KANG,Jeon II MOON. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2015-02-26.

Measurement apparatus, control apparatus, and control method

Номер патента: EP4224204A1. Автор: Emiko Shiraishi,Yohei Morita,Kei Takeyama,Junichiro Hayakawa,Kaho Oi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-08-09.

Measuring apparatus for solar cell

Номер патента: US20180123510A1. Автор: Teng-Chun Wu,Cho-Fan Hsieh,Hung-Sen Wu,Yean-San Long,Min-An TSAI,Ren-Chin Shr,En-Yun Wang,Chin Lien. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-05-03.

Optical measuring and/or presetting method and optical tool presetting and/or tool measuring apparatus

Номер патента: US20210370420A1. Автор: Alexander Zoller. Владелец: E Zoller GmbH and Co KG Einstell und Messgeraete. Дата публикации: 2021-12-02.

Optical measuring and/or presetting method and optical tool presetting and/or tool measuring apparatus

Номер патента: CA3119335A1. Автор: Alexander Zoller. Владелец: E Zoller GmbH and Co KG Einstell und Messgeraete. Дата публикации: 2021-11-27.

Inertial measurement apparatus and mechanical device

Номер патента: EP3816580A1. Автор: Faquan CHEN. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-05.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: WO2018016782A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2018-01-25.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: US20180024037A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-01-25.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: PH12016501789A1. Автор: NISHIDA Hidetaka. Владелец: Chugoku Electric Power. Дата публикации: 2017-01-09.

Fine particle measurement apparatus with exhaust purification function

Номер патента: US20070216895A1. Автор: Kenji Watanabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-09-20.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240230312A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US6826002B2. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-11-30.

Simulating measurement apparatus and method

Номер патента: US20100127917A1. Автор: Li-Kuang Chen,Chunn-Yenn Lin,Josephs D.S. Deng,Hsien-Kwei Ho. Владелец: National Chung Shan Institute of Science and Technology NCSIST. Дата публикации: 2010-05-27.

Pattern measuring apparatus

Номер патента: US20140021350A1. Автор: Susumu Koyama,Tatsuya Maeda,Mitsuji Ikeda,Hiroshi Nishihama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Pattern measuring apparatus

Номер патента: US20140021349A1. Автор: Susumu Koyama,Tatsuya Maeda,Mitsuji Ikeda,Hiroshi Nishihama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Concentration measurement apparatus and concentration measurement method

Номер патента: US20230168192A1. Автор: Takenobu Nakamura,Kakeru ICHIMURA. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20200132797A1. Автор: Yusuke Ito,Masahiro Kawai,Takayuki Yanagisawa,Shumpei Kameyama,Masaharu Imaki,Yosuke Tsuzaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Electrostatic deflection control circuit and method of electronic beam measuring apparatus

Номер патента: US20070063146A1. Автор: Hiroshi Sasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-03-22.

Measurement apparatus, storage medium, system and method of manufacturing article

Номер патента: US20230196605A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

A measuring apparatus for measuring properties of a surface

Номер патента: EP3303989A1. Автор: Stuart Robson,Ben SARGEANT,Abdul Rahman EL-NOUNU. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2018-04-11.

Measuring apparatus and method for same

Номер патента: EP3080548A1. Автор: Owen PEARCEY. Владелец: HATCH ASSOCIATES PTY LTD. Дата публикации: 2016-10-19.

Partial discharge measurement apparatus, partial discharge measurement method, and partial discharge measurement system

Номер патента: US20230408570A1. Автор: Akira Fujimoto,Takashi Harakawa,Makoto Takanezawa,Hirotaka TSUBAKIHARA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Gas volume measurement apparatus

Номер патента: EP4361592A1. Автор: Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20100289895A1. Автор: Norihiro Imamura. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-11-18.

Measurement apparatus for corrosion inspection

Номер патента: EP4354116A2. Автор: Akihiro Kobayashi,Yuji Nakanishi,Akihide Takami,Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki,Tatsuya Ezaki,Masatoshi Shinomori,Raiki KABUCHI. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: CA3182555A1. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Overlay measuring apparatus

Номер патента: US20230273530A1. Автор: Chien-Hsien Liu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Frequency measurement apparatus, microcontroller, and electronic apparatus

Номер патента: US20210405099A1. Автор: Keisuke Hashimoto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-12-30.

Measuring apparatus and method for measuring the temperature of a molten metal bath with an optical device

Номер патента: AU2022332552A1. Автор: Michel Van Vlierberghe,Gert JANSSEN,Luc Vranckx. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2024-03-07.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20150101400A1. Автор: Rentaro Kuroki,Sho Tomita. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-04-16.

Subsea measurement apparatus, method of compressing measurement data and method of providing inter-compatibility between apparatus

Номер патента: AU2022410229A1. Автор: Darryl Newborough,Thomas CULVERHOUSE. Владелец: Sonardyne International Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Subsea measurement apparatus, method of compressing measurement data and method of providing inter-compatibility between apparatus

Номер патента: GB2613652A. Автор: NEWBOROUGH Darryl,Louis Culverhouse Thomas. Владелец: Sonardyne International Ltd. Дата публикации: 2023-06-14.

Luminous body measurement apparatus and luminous body measurement method

Номер патента: US20200300693A1. Автор: Hiroyuki Sano,Yoshihiko Nishida. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Measurement apparatus and method for measuring an energy quantity flow transported by means of a liquefied natural gas flow

Номер патента: US20240240999A1. Автор: Martin OBERLÄNDER,Andreas Ehrlich,Sebastian Friedrich. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2024-07-18.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and program

Номер патента: EP3754296A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-12-23.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: EP1017969A1. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-07-12.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: WO1999015859A2. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Wusterbarth Michael A. Дата публикации: 1999-04-01.

Measurement apparatus for corrosion inspection

Номер патента: EP4354115A1. Автор: Akihiro Kobayashi,Yuji Nakanishi,Akihide Takami,Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki,Tatsuya Ezaki,Masatoshi Shinomori,Raiki KABUCHI. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US20220252436A1. Автор: Masataka Yamamuro. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Color-Measuring Apparatus, Print Control Apparatus, And Print Control Method

Номер патента: US20160142589A1. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-19.

Signal measuring apparatus

Номер патента: US20230258695A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Light scattering measuring apparatus and measuring jig

Номер патента: US20220155203A1. Автор: Hiroya Nagasawa,Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

Optical gas concentration measurement apparatus

Номер патента: US20220236173A1. Автор: Stefan Warnke,Eric Wertz,Alex S. Nikittin. Владелец: Advanced Energy Industries Inc. Дата публикации: 2022-07-28.

Fine particle measuring apparatus

Номер патента: US20150253247A1. Автор: Nao Nitta. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20130010278A1. Автор: Hitoshi Ohmuro. Владелец: Nikon Vision Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-10.

A measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: EP3845914A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Tech Solutions S L. Дата публикации: 2021-07-07.

Measurement apparatus, control method for measurement apparatus, and measurement system

Номер патента: US20220373618A1. Автор: Yu Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US20170059316A1. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-02.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic diagnostic apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20160124088A1. Автор: Hiroyuki Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-05.

Light Measurement Apparatus for Reaction Vessel and Light Measurement Method

Номер патента: US20150218618A1. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2015-08-06.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US20140347677A1. Автор: Hyunjoon Kim,Jeonguk LEE,Sungjin CHO,Hyunseok Shin,Gyeongeon Lee,Sunghoon Cha. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2014-11-27.

Measurement apparatus and driving apparatus

Номер патента: US20190128916A1. Автор: Takayuki Uozumi,Takefumi Ota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-05-02.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US20020135913A1. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-09-26.

Flow measurement apparatus and method of use

Номер патента: WO2019243789A1. Автор: Victor Gawski,Gavin MUNRO. Владелец: Gm Flow Measurement Services Limited. Дата публикации: 2019-12-26.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: EP3111198A1. Автор: Chulwoo PARK,Yeekyeong JUNG,Sunghwa Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-01-04.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: US20170059466A1. Автор: Chulwoo PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-03-02.

Distance measuring apparatus using sensor cover

Номер патента: US20230034798A1. Автор: Jungwon Choi,Yongkeun JEE,Hyeonghwan CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-02-02.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20200096333A1. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Irradiation strength distribution measuring apparatus and method of measuring

Номер патента: WO2008089898A1. Автор: Rolf Freimann. Владелец: Carl Zeiss Smt Ag. Дата публикации: 2008-07-31.

Noise eliminating apparatus, weight measurement apparatus, method of eliminating noise, and method of designing digital filter

Номер патента: EP1783906A3. Автор: Yukio c/o Ishida Co. Ltd. Wakasa,Naoyuki Aikawa,Makoto c/o Ishida Co. Ltd. Nakatani. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-04.

Measurement apparatus and exposure apparatus

Номер патента: US8184263B2. Автор: Yasunori Furukawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-05-22.

Measurement apparatus

Номер патента: US20240264262A1. Автор: Yuki Kondo,Takashi Iwase,Chunqing LIANG. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20210239497A1. Автор: Harutsugu Fukumoto. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Laser measuring apparatus for measuring distances, method for operating a laser measuring apparatus for measuring distances

Номер патента: US20220381882A1. Автор: Olaf Schrey,Christian Nitta,Jan Haase,Andre Buchner,Moritz ESSIG. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2022-12-01.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US20150292946A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-15.

Signal measuring apparatus

Номер патента: GB2597059A. Автор: White Scott,Price Richard,Ramsdale Catherine,ALKHALIL Feras,SOU Antony. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Axle-load measuring apparatus and axle-load measuring method

Номер патента: US10982951B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Measuring apparatus, signal outputting method and storage medium

Номер патента: US20010037188A1. Автор: Masashi Tsuboi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2001-11-01.

Light measuring apparatus capable of measuring ambient light and flash light

Номер патента: US5589934A. Автор: Yoshihiko Azuma,Susumu Shirai,Takehiro Katoh,Kenichiro Hibi,Yoshihiro Okui,Norihisa Hosoi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 1996-12-31.

Measuring apparatus and method of wafer geometry

Номер патента: US12072176B2. Автор: An Andrew Zeng. Владелец: Nanjing Zhongan Semiconductor Equipment Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Inertial measurement apparatus and method with improved thermal and noise performance

Номер патента: US20210080334A1. Автор: Mike Horton,Shu Wang. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12072175B2. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Temperature measuring apparatus and microwave oven having the same

Номер патента: US20140061190A1. Автор: Jeong-Su Han,Yong Jong Park,Jun hoe Choi,Yeon A. Hwang,Tae Gyoon Noh,Kee Hwan Ka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: EP4067842A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-10-05.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: US20230066638A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-02.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Resolution measurement apparatus and resolution measurement method using the same

Номер патента: US12072259B2. Автор: Jinwook Lee,Sanghui Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Measurement Apparatus for Measuring a Volume of a Desired Solid Component in a Sample Volume of a Solid-Liquid Slurry

Номер патента: US20180223389A1. Автор: Mark Robert HUBBLE,William John MCCALLUM,Teresa Diane Hayward MCGRATH,William Patrick STAUNTON. Владелец: CURTIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-08-09.

Signal measuring apparatus

Номер патента: EP4176235A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-05-10.

Signal measuring apparatus

Номер патента: WO2022008904A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Limited. Дата публикации: 2022-01-13.

Terahertz measuring apparatus and terahertz measurement method for measuring a test object by means of a time-of-flight measurement

Номер патента: US20190331594A1. Автор: Ralph Klose. Владелец: INOEX GmbH INNOVATIONEN und AUSRUESTUNGEN fur DIE EXTRUSIONSTECHNIK. Дата публикации: 2019-10-31.

Optical Wavelength Measurement Apparatus and Method, Optical Wavelength Control Device, and Light Emitting System

Номер патента: US20240295437A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Enhanced substrate temperature measurement apparatus, system and method

Номер патента: US20200378837A1. Автор: Qin Chen,D. Jeffrey Lischer,Lyudmila Stone,Dale K. Stone,Dawei Sun,Ron Serisky,Steven Anella,Chi-Yang Cheng. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-12-03.

Current measuring apparatus with redundant current measurement

Номер патента: US20230266368A1. Автор: Jan Marien,Benedikt Kramm. Владелец: IsabellenHuette Heusler GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-08-24.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US8502984B2. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-06.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20120019831A1. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-26.

Sequence similarity measuring apparatus and control method thereof

Номер патента: US20090287755A1. Автор: Dong Hoon Lee,Jung Hoon Kim,Jae Kwang Kim,Kwang Ho Yoon,Jee Hyong Lee,Kun Su Kim,Seung Hoo Lee,Tae Bok Yoon,Dong Moon Kim,Je Hee Jung. Владелец: Sungkyunkwan University Foundation For Corporate Collaboration. Дата публикации: 2009-11-19.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US9823069B2. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-21.

Measurement apparatus, control apparatus, and control method

Номер патента: US12078478B2. Автор: Tsutomu Ichimura,Kazuhiko Hidaka,Tomoyuki Miyazaki,Naoki Mitsutani,Hideki Mishima,Yoshinori Shirakawa,Tomohiro Kiire. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Tool holder with measuring apparatus

Номер патента: US20220118529A1. Автор: Thomas Grosch. Владелец: HAIMER GMBH. Дата публикации: 2022-04-21.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US9764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Grain gloss measurement apparatus

Номер патента: US20210192713A1. Автор: Hisashi Sakamoto,Koshiro Kajiyama. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Measuring apparatus

Номер патента: US20200006990A1. Автор: Yuki Yamamoto,Natsuki MIYASHITA,Tomohide TSUKASAKI. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

Measuring apparatus

Номер патента: US20110011173A1. Автор: Bing-Jun Zhang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Light measurement apparatus

Номер патента: US20150124249A1. Автор: Naoharu Yanagawa. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US20020091497A1. Автор: Otto Ruck. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2002-07-11.

Fuel cell measurement apparatus

Номер патента: US20100253356A1. Автор: Chang-Sing Hwang,Chun-Huang Tsai. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2010-10-07.

Beam scanner and surface measurement apparatus

Номер патента: US20100201993A1. Автор: Bae Kyun Kim,Tak Gyum Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-08-12.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20030108345A1. Автор: Hideo Yoshida,Yoshikazu Mihara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-06-12.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20010015094A1. Автор: Yasunori Konaka. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2001-08-23.

Water vapor distribution measurement apparatus

Номер патента: US20240151641A1. Автор: Takayoshi Kaneko,Shintaro Ozawa,Naoto Kakuta,Rintaro TAKAGI. Владелец: Tokyo Metropolitan Public University Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240280435A1. Автор: Seung Woo Lee,Jin Woo Ahn,Tae Joong Kim,Seung Ryeol Lee,Myung Jun Lee,Ye Eun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-22.

Surface temperature measuring apparatus, surface temperature measuring method, and optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20240280408A1. Автор: Takashi Kawasaki,Hidehiko Fujii,Hitoshi Nagasawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-22.

Color measuring system, backing plate, and color measuring apparatus

Номер патента: US20230194340A1. Автор: Katsumi Yamada,So YOKOTA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Piston ring tension measurement apparatus

Номер патента: US20120006121A1. Автор: Atsuko Miyamoto. Владелец: Teikoku Piston Ring Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-12.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US12085413B2. Автор: Graham Richard Ferguson,Benjamin Jason Merrifield. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-09-10.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240310519A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Radiation intensity measurement apparatus for nucleonic level or density gauge

Номер патента: WO2017199027A1. Автор: Stephen John Roe,Benjamin Metcalfe,Paul Bryan STOREY. Владелец: JOHNSON MATTHEY PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2017-11-23.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: EP1362217A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audio Development Informationsteknik I Malmo AB. Дата публикации: 2003-11-19.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: WO2002070986A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audiodev Aktiebolag. Дата публикации: 2002-09-12.

Fringe information measuring apparatus and substrate treating system including the same

Номер патента: US12097696B2. Автор: Han Lim KANG,Won Yong JIN,Jae Duck Lee,Suk Won Jang. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12092609B2. Автор: Yutaka Matsui,Takafumi Ozeki,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12099033B2. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Single-beam photothermal measurement apparatus and measurement method for absorptive defects

Номер патента: US12099002B2. Автор: QI Lu,Weiwei Wang,Shijie Liu,Jianda SHAO,Tianzhu Xu,Kaizao Ni,Yingjia Li. Владелец: Shanghai Hengyi Optics And Fine Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Magnetostrictive path measuring apparatus and method of manufacturing a measuring probe of a magnetostrictive path measuring apparatus

Номер патента: US20180052016A1. Автор: Roland Holder,Torsten Beutler. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2018-02-22.

Coating Thickness Measuring Apparatus and Method

Номер патента: US20240344822A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on vortex dichroism

Номер патента: US20240329377A1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-10-03.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Differential dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on polarized vector light beam

Номер патента: US12111453B1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua,Chongliang Zou. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-10-08.

Differential dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on polarized vector light beam

Номер патента: US20240310613A1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua,Chongliang Zou. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-09-19.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Sample extracting device and residual solvent measuring apparatus including the same

Номер патента: US20210001328A1. Автор: Sanguk Son,Donghwa LEE,Jaeyong Choi,Daigeon YOON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Sample measuring apparatus, reagent container, and method of measuring sample

Номер патента: US12130300B2. Автор: Tomohiro KUROIWA,Yutaka Kawamoto,Shingo KAIDA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Gas measurement apparatus

Номер патента: US20240361236A1. Автор: Yumiko Sugiyama,Yasuo Sakamaki,Saki KOBAKO,Kentaro Tezuka,Shigeo Uneme. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20170212173A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20170212172A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20160282417A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-29.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20180011147A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-11.

Intelligent measuring apparatus

Номер патента: US12111065B2. Автор: Ulrich Demuth,Manfred Ulrich,Michael Oswald. Владелец: REFCO MANUFACTURING LTD. Дата публикации: 2024-10-08.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20220299641A1. Автор: Naoki Shinoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-22.

Electric reaction measuring apparatus, electric reaction processing method, and recording medium

Номер патента: US11932836B2. Автор: Yumiko Kato,Kiyotaka Tsuji. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20240369347A1. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Color measurement apparatus and printing apparatus

Номер патента: US09992383B2. Автор: Nozomu HIROKUBO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Pattern-measuring apparatus and semiconductor-measuring system

Номер патента: US09990708B2. Автор: Takeshi Kato,Hiroyuki Shindo,Norio Hasegawa,Yutaka Hojo,Yasutaka Toyoda,Hitoshi SUGAHARA,Daisuke HIBINO. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Optical velocity measuring apparatus and moving object

Номер патента: US09977044B2. Автор: Azusa Amino,Ryosuke Nakamura,Taishi Ueda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-05-22.

Method for measuring level of material level measuring apparatus

Номер патента: US09958309B2. Автор: I-Chu Lin,Liang-Chi CHANG,Chun-Han HUANG. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Correction device and correction method for optical measuring apparatus

Номер патента: US09958263B2. Автор: Ichiro Taniguchi,Ryoichi Imaizumi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus and depth measurement method that calculate depth information of a target pixel using a color plane of which a correlation value is at most a threshold

Номер патента: US09928598B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Position/orientation measurement apparatus, measurement processing method thereof, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US09927222B2. Автор: Masahiro Suzuki,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Microchip-type optical measuring apparatus and optical position adjusting method thereof

Номер патента: US09915935B2. Автор: Yosuke Muraki,Fumitaka OTSUKA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Measurement apparatus, exposure apparatus, measurement method, and recording medium

Номер патента: US09910363B2. Автор: Takaki Hashimoto,Ai Furubayashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Grounding resistance measurement apparatus and method of operating the same

Номер патента: US09910079B2. Автор: Tsung-Yuan Wu. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Flow rate measurement apparatus, antigen concentration measurement apparatus, flow cell, flow rate measurement method, and antigen concentration measurement method

Номер патента: US09880101B2. Автор: Toru Miura,Tsutomu Horiuchi,Tsuneyuki Haga,Tsuyoshi Hayashi,Yuzuru Iwasaki,Michiko Seyama,Jun-ichi Takahashi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Trace gas measurement apparatus for electrical equipment

Номер патента: US09874497B2. Автор: David Peter Robinson,Christopher Raymond CALVERT,Aidan Owens,Martin Duffy. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-01-23.

Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method

Номер патента: US09869626B2. Автор: Tetsuji Yamaguchi,Tetsuya Mori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09866980B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Gas measurement apparatus, gas measurement system, gas measurement method, and gas measurement program

Номер патента: US09863932B2. Автор: Yasuhiro Kasahara,Miyuki Kodama,Naotaka Minagawa,Ayumi Sano. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Minute object characteristics measuring apparatus

Номер патента: US09857216B2. Автор: Daichi Yamaguchi,Shuusuke SOMENO. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Light measurement apparatus, method, program and recording medium

Номер патента: US09846120B2. Автор: Masaichi Hashimoto,Akiyoshi Irisawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Interfacial adhesion strength measuring apparatus and method of a gas diffusion layer for fuel cells

Номер патента: US09846113B2. Автор: Bo Ki Hong,Taek Soo Kim,Byeong Heon Jeong,Sanwi Kim. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2017-12-19.

Three-dimensional measurement apparatus, processing method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US09841271B2. Автор: Kazuhiko Kobayashi,Yusuke Nakazato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Solar cell measuring apparatus

Номер патента: US09825585B2. Автор: Jaewon Chang,Heejin NAM,Hyunjung PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-11-21.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US09823069B2. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-21.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09804229B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09804228B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

End play measurement apparatus

Номер патента: US09791349B2. Автор: Michinori Hashimoto,Hideo Terasawa,Shinsaku Maeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09766132B2. Автор: Yasuhiro Takase,Hidetoshi Nakanishi,Motohiro Kono,Kazuo Kinose. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US09764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Measurement apparatus

Номер патента: US09753127B2. Автор: Hirofumi Yamamoto,Akira Miki,Shinichirou Taguchi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09752971B2. Автор: Rentaro Kuroki,Sho Tomita. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Measuring apparatus, measurement method, information processing apparatus, and measurement program

Номер патента: US09747681B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09740661B2. Автор: Norihiko Mikoshiba,Munehiro Kitaura. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09733578B2. Автор: Satoshi Maruyama,Akihito Hashimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Three dimensional measurement apparatus, control method therefor, information processing apparatus, control method therefor, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US09733072B2. Автор: Nobuaki Kuwabara,Tetsuri Sonoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Neutron measurement apparatus, neutron calculation apparatus, and neutron measurement method

Номер патента: US09702987B2. Автор: Daijiro Ito,Shigehiro Kono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09651876B2. Автор: Kenji Noda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Electric capacity measurement apparatus with temperature compensation and temperature compensation method thereof

Номер патента: US09651626B2. Автор: Kuo-Liang Teng,Jih-Liang Juang. Владелец: uPI Semiconductor Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09645201B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09645199B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Sample introduction system and particle size distribution measuring apparatus

Номер патента: US09645059B2. Автор: Akihiro Katanishi,Takashi KIMBA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Measurement apparatus and method of measuring signal light quality

Номер патента: US09638574B2. Автор: Shoichiro Oda,Tomohiro Yamauchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Ozone water concentration measurement apparatus and ozone water concentration measurement method

Номер патента: US09625405B2. Автор: Shigeo Sekiguchi,Kazutaka Murata,Yasuaki Einaga,Yuya Ishii,Ivandini TRIBIDASARIANGGRANINGRUM. Владелец: Nikka Micron Co Ltd . Дата публикации: 2017-04-18.

Thickness measurement apparatus and method thereof

Номер патента: US09625273B2. Автор: Yoshihiro Yamashita,Hidehiko Kuroda,Akio Sumita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09618385B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Position measuring apparatus and driving method thereof

Номер патента: US09612692B2. Автор: Sung-soo Park,Yu-Sheop Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-04.

Grain appearance measuring apparatus

Номер патента: US09607368B2. Автор: Hiroaki Takeuchi,Hideaki Matsushima,Hiroki Ishizuki. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09595107B2. Автор: Satoshi Nishimura. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Temperature measuring apparatus and microwave oven having the same

Номер патента: US09591699B2. Автор: Jeong Su Han,Yong Jong Park,Jun hoe Choi,Tae Gyoon Noh,Yeon A Hwang,Kee Hwan Ka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-07.

Roundness measuring apparatus

Номер патента: US09581424B2. Автор: Ryo Takanashi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Measuring apparatus and method for detecting ferromagnetic particles

Номер патента: US09575023B2. Автор: Rudolf Lueck,Peter Hoehne. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2017-02-21.

Deposition rate measuring apparatus

Номер патента: US09562798B2. Автор: Hee Dok Choi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Chlorine dioxide gas concentration measuring apparatus

Номер патента: US09551652B2. Автор: Masateru Takimoto,Katsuji HOTTA. Владелец: CSD Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Gas measurement apparatus

Номер патента: EP4455638A1. Автор: Yumiko Sugiyama,Yasuo Sakamaki,Saki KOBAKO,Kentaro Tezuka,Shigeo Uneme. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement apparatus and wood processing system with such a measurement apparatus

Номер патента: US09541569B2. Автор: Hans Hundegger. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-10.

Quantitative texture measurement apparatus and method

Номер патента: US09541537B1. Автор: Wilfred Marcellien Bourg, Jr.,Shahmeer Ali Mirza,Scott Fagan,Ou BAI,Enrique Michel-Sanchez,Scott G. Richardson,Chen C. Shao. Владелец: Frito Lay North America Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Muzzle velocity measuring apparatus and method

Номер патента: US09513308B2. Автор: Sung-Min Lee,Jung-Yun Kim,Kyu-Chae JUNG,De-Rac SON,Jun-Goo SHIN. Владелец: Hanwha Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method, and program

Номер патента: US09508153B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Granule measurement apparatus

Номер патента: US09500509B2. Автор: Daniel Allen EGNOR, JR.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-11-22.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US09453743B2. Автор: Wansoo LEE,Euncheol LEE,Taeksoo LEE. Владелец: Hitachi LG Data Storage Korea Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US09448113B2. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Light measurement apparatus

Номер патента: US09442010B2. Автор: Naoharu Yanagawa. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US09441950B2. Автор: Daisuke Tomita,Kentaro Osawa,Masaki MUKO. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US09429420B2. Автор: Hyunjoon Kim,Jeonguk LEE,Sungjin CHO,Hyunseok Shin,Gyeongeon Lee,Sunghoon Cha. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2016-08-30.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US09354041B2. Автор: Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Real-time shape measuring method and system

Номер патента: EP2921817A1. Автор: Vitor Hugo Simao Do Vale Rocha,Pedro Moura Pinto,Elsa De Sá Caetano,Pedro Gil Marques De Queirós Ferreira. Владелец: Stmv - Sistema De Monitorizacao De Velas Lda. Дата публикации: 2015-09-23.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: US10746539B2. Автор: Masaki Fujiwara,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2020-08-18.

Method and apparatus for posture, dimension and shape measurements of objects in 3d scenes

Номер патента: WO2021189521A1. Автор: Xueyan Tang,MENG CHEN,Hoifai YU. Владелец: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited. Дата публикации: 2021-09-30.

Three-dimensional shape measuring method and three-dimensional shape measuring device

Номер патента: US11906288B2. Автор: Hiroshi Hasegawa,Hirosada Horiguchi,Shuji Narimatsu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Shape measuring method, shape measuring device, and program

Номер патента: US11835334B2. Автор: Kazuki HAGIHARA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Three-dimensional shape measuring method and three-dimensional shape measuring device

Номер патента: US11610324B2. Автор: Hiroshi Hasegawa,Hirosada Horiguchi,Shuji Narimatsu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-03-21.

Rod Shaped Measuring Electrode for a Magnetic Inductive Flow Meter

Номер патента: US20210096008A1. Автор: Carsten Schuh,Friedrich Lupp,Stefan Denneler,Pascal Aitbraham,Baljinder Singh,Marjorie Veit,Christophe Bersweiler,Wei-Dong KANG,Frederic Lienhart,Baptiste Meyer. Владелец: Siemens SAS. Дата публикации: 2021-04-01.

Three-dimensional shape measuring system

Номер патента: US20240127467A1. Автор: Akihito KATAOKA. Владелец: Okuma Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Rail transportation system, method for controlling rail transportation system, and trackside facility shape measurement system

Номер патента: US20230415800A1. Автор: Yukihiko Ono,Jun Koike,Kenji Imamoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-12-28.

Three-Dimensional Shape Measuring Method And Three-Dimensional Shape Measuring Device

Номер патента: US20220082373A1. Автор: Hiroshi Hasegawa,Hirosada Horiguchi,Shuji Narimatsu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Transmitter with a wave shape measurement stage

Номер патента: EP4092916A1. Автор: Christian Röck,Andreas Schröck,Stefan Heibl. Владелец: PANTHRONICS AG. Дата публикации: 2022-11-23.

Rail transportation system, method for controlling rail transportation system, and trackside facility shape measurement system

Номер патента: AU2021371394B2. Автор: Yukihiko Ono,Jun Koike,Kenji Imamoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

Transmitter with a wave shape measurement stage

Номер патента: EP4342090A1. Автор: Christian Röck,Andreas Schröck,Stefan Heibl. Владелец: Renesas Design Austria GmbH. Дата публикации: 2024-03-27.

Linear drive mechanism and shape measuring machine

Номер патента: EP3708950A1. Автор: Takahiro Okano. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-16.

Three-Dimensional Shape Measuring Method And Three-Dimensional Shape Measuring Device

Номер патента: US20220076435A1. Автор: Hiroshi Hasegawa,Hirosada Horiguchi,Shuji Narimatsu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Method and apparatus for posture, dimension and shape measurements of objects in 3d scenes

Номер патента: US20210303822A1. Автор: Xueyan Tang,MENG CHEN,Hoi Fai YU. Владелец: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute ASTRI. Дата публикации: 2021-09-30.

Shape Measuring Device for Hose Connector Fitting

Номер патента: US20200263975A1. Автор: Takayuki Saito,Akira Onodera. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-20.

Rail transportation system, method for controlling rail transportation system, and trackside facility shape measurement system

Номер патента: AU2021371394A1. Автор: Yukihiko Ono,Jun Koike,Kenji Imamoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Rail transportation system, method for controlling rail transportation system, and trackside facility shape measurement system

Номер патента: EP4238852A1. Автор: Yukihiko Ono,Jun Koike,Kenji Imamoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-09-06.

Transmitter with a wave shape measurement stage

Номер патента: WO2022243174A1. Автор: Christian Röck,Andreas Schröck,Stefan Heibl. Владелец: PANTHRONICS AG. Дата публикации: 2022-11-24.

Measuring apparatus for measuring scattering cross-section of radar targets models

Номер патента: RU2600492C1. Автор: Георгий Галиуллович Валеев. Владелец: Георгий Галиуллович Валеев. Дата публикации: 2016-10-20.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US20210181081A1. Автор: Tatsushi Ohyama,Mariko Miyashita. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: EP3994448A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2022-05-11.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: WO2021001277A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2021-01-07.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US20170219432A1. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US10175108B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-01-08.

Light measuring apparatus

Номер патента: US20190154583A1. Автор: Kakuro HIRAI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-05-23.

Light measuring apparatus

Номер патента: US10386304B2. Автор: Kakuro HIRAI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-08-20.

Length Measuring Apparatus

Номер патента: US20240060763A1. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Charged-particle trajectory measurement apparatus and charged-particle trajectory measurement method

Номер патента: US11977192B2. Автор: Masataka Suga,Yuki Nakai,Naoto Kume,Tsukasa SUGITA,Takuro Fujimaki,Haruo Miyadera,Kohei NOBE. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

X-Ray Fluorescence Measurement Apparatus

Номер патента: US20210018453A1. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US11846605B2. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Universal communication system for measurement apparatuses, method of communication relating thereto

Номер патента: US20180077593A1. Автор: Cedric Neveu,Damien PELLETIER,Fabio FURLAN. Владелец: ECOMESURE. Дата публикации: 2018-03-15.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: EP4367471A1. Автор: Peter Qiu,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: WO2023281270A1. Автор: Peter Qiu,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: OXFORD UNIVERSITY INNOVATION LIMITED. Дата публикации: 2023-01-12.

Eyeglass frame measurement apparatus

Номер патента: US7436523B2. Автор: Yoshinori Matsuyama,Motoshi Tanaka. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2008-10-14.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: FI130163B. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2023-03-23.

Press load measuring apparatus and method for press machine

Номер патента: US20200307138A1. Автор: Yasuyuki Kohno,Kazuki Honjo. Владелец: Aida Engineering Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Battery cell internal pressure measurement apparatus

Номер патента: US20240230444A9. Автор: Kyung-Min Lee,In-Seob HWANG,Chang-Hyun HWANG,Bong-Hyun Jeong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20220317056A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20100201987A1. Автор: Takanori IWAWAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-08-12.

Force measurement apparatus for pile

Номер патента: US20240218856A1. Автор: Tzung-Ching Lee,Chao-Ta Huang,Yu-Hsuan SHIH,Che-Kai Yeh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-07-04.

Terahertz signal measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20240230528A1. Автор: Wontae Kim,Namil Koo,Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sungyoon Ryu,Ingi KIM,Sunhong JUN,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Eunhyuk Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP4097446A1. Автор: Makoto Higuchi,Tatsuya Hamada,Hironaga GENDA,Tatsuhiro ESAKI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Atmospheric pressure measuring apparatus and method of measuring atmospheric pressure

Номер патента: US20090288491A1. Автор: Yoshitaka Suzuki,Takahiro Imamura,Shinji Koganezawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-11-26.

Dispersion measurement apparatus

Номер патента: US20120045160A1. Автор: Motoyoshi Sekiya,Yusaku Yamamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-02-23.

Current measurement apparatus for measurement value acquisition, current sensor, and current measurement transducer

Номер патента: US20230349954A1. Автор: Wolfgang Hoeft. Владелец: Phoenix Contact GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-11-02.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: EP4400804A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240201072A1. Автор: Hiroshi Ono,Masayuki Tanaka,Kohei Noda,Moritsugu Sakamoto. Владелец: Opt Gate Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Attenuated total reflection measuring apparatus capable of Raman spectral measurement

Номер патента: US11898908B2. Автор: Yoshiko Kubo,Tsutomu Inoue,Kento Aizawa,Masateru USUKI,Daisuke Dogomi. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: EP3910308A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2021-11-17.

Weight measurement apparatus, method of eliminating noise and method of designing digital filter

Номер патента: EP1416631A3. Автор: Tohru Morichi,Yukio Wakasa,Naoyuki Aikawa. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-20.

Optical Rotating Power Measurement Method And Optical Rotating Power Measurement Apparatus

Номер патента: US20080204751A1. Автор: Atsushi Yamada,Yuji Fujisawa,Tomoyuki Fukazawa,Hisashi Masago,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240241041A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Optical outer diameter measurement apparatus

Номер патента: US10401151B2. Автор: Ryoichi Imaizumi,Ichirou Taniguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-09-03.

Measuring apparatus

Номер патента: US20150362549A1. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Takayuki SHIROTORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-12-17.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: EP4227737A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Soichi Inoue,Hiroyuki Tanizaki,Kentaro Kasa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Measurement apparatus, program, recording medium, and measurement method

Номер патента: US20110022341A1. Автор: Koji Asami. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Surface profile measuring apparatus, method of measuring surface profile, and method of manufacturing optical element

Номер патента: US8472030B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-25.

Semiconductor measurement apparatus

Номер патента: US20240230314A9. Автор: Jinyong Kim,Sungho Jang,Wookrae Kim,Garam CHOI,Jinseob KIM,Daehoon Han,Younguk JIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Brightness measurement apparatus, brightness measurement method, brightness measurement program, and camera system

Номер патента: US20240244331A1. Автор: Ikuko Komura. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Ultrasound measuring apparatus and method for measuring the flow rate of a fluid

Номер патента: US10260919B2. Автор: Toralf Dietz,Arnd Schlicke,Henri Kirmse. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2019-04-16.

Alternating current loss measuring apparatus

Номер патента: US20160341778A1. Автор: Takeshi Kawamura,Manabu Aoki,Yukinobu Imamura,Tatsuhiko Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-11-24.

Measuring apparatus, measuring method and measuring program

Номер патента: EP4006297A1. Автор: Hiroyuki Takahashi,Yusuke Inoue,Keita HAMAKAWA,Takazumi YAMADA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Gas volume measurement apparatus

Номер патента: US20240085231A1. Автор: Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Strain measurement apparatus and method for measuring mechanical strain

Номер патента: WO2023213647A1. Автор: Peter Fratzl,Shahrouz Amini. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E. V.. Дата публикации: 2023-11-09.

Snow quality measuring apparatus and snow quality measuring method

Номер патента: US20170176587A1. Автор: Yutaka Aoki,Ryuji Murata,Ryuichi Sunagawa,Jin MIKATA. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2017-06-22.

Infrared circular dichroism measurement apparatus

Номер патента: US20230333006A1. Автор: Masaru Shimizu,Jun Koshobu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Optical outer diameter measurement apparatus

Номер патента: US20180299257A1. Автор: Ryoichi Imaizumi,Ichirou Taniguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Flow rate measuring apparatus

Номер патента: US20010010031A1. Автор: Satoshi Arai,Kazuyoshi Shimizu,Akira Yamasaki,Masaki Takamoto,Kenzo Hosoi. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2001-07-26.

Dampening water quantity measuring apparatus and dampening water adjusting method

Номер патента: US20070186792A1. Автор: Shigeru Murata,Masaji Mizuta. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2007-08-16.

Flexural-rigidity measuring apparatus and method for measuring flexural rigidity

Номер патента: US20230032653A1. Автор: Masao Omori. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-02-02.

Measurement apparatus, system, measurement method, determination method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20170169581A1. Автор: Akihiro Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-15.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20210358147A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Neutron flux measurement apparatus

Номер патента: US20240145107A1. Автор: Tetsushi AZUMA,Makoto SASANO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Optical interference measuring apparatus and optical interference measuring method

Номер патента: US20220228850A1. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Flow amount measuring apparatus, material mixing system and non transitory computer readable medium performing material mixing method

Номер патента: US20180306612A1. Автор: Yen-Min Chang,Feng-Chi Liu. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-10-25.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: EP3882660A1. Автор: Hideki Sakamoto. Владелец: Alpine Electronics Inc. Дата публикации: 2021-09-22.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240248208A1. Автор: Takahiro Inoue,Hideki Sato,Takayuki Shimizu,Tetsuro Ikeda,Isamu Kawabe. Владелец: Sharp Semiconductor Innovation Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Tilt angle measuring apparatus

Номер патента: US20040060357A1. Автор: Takashi Ohsawa,Akiharu Fukuda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2004-04-01.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160054117A1. Автор: Takahiro Yamamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-02-25.

Rainfall measuring apparatus using fiber bragg grating sensor

Номер патента: US20220091301A1. Автор: Geum Suk Lee,Geum Jun LEE. Владелец: FBG Korea Inc. Дата публикации: 2022-03-24.

A weight measuring apparatus

Номер патента: EP4403887A1. Автор: Yu-Min Tsao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-24.

Length measurement apparatus

Номер патента: US20110148397A1. Автор: Josef Siraky,Florian Grieshaber. Владелец: SICK STEGMANN GMBH. Дата публикации: 2011-06-23.

Gas measuring apparatus with a compact design

Номер патента: US20230133140A1. Автор: Holger Frank. Владелец: OPUS INSPECTION Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

Measurement apparatus

Номер патента: US20200033292A1. Автор: Nobuei Washizu. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Oil level measurement apparatus

Номер патента: EP1452839A3. Автор: Angel c/o Nissan Technical Centre EU S.A. Palomo,Fernando c/o Nissan Technical Centre Trapero. Владелец: Nissan Technical Centre Europe Ltd. Дата публикации: 2005-10-19.

Measuring Apparatus

Номер патента: US20180173851A1. Автор: Francesco Visinoni,Matteo Minuti,Michele Martinelli. Владелец: Milestone SRL. Дата публикации: 2018-06-21.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US8462351B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-11.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US10816319B2. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada,Osamu YASUHIKO,Hisayuki MATSUI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-27.

Measurement apparatus, measurement method, and computer readable medium

Номер патента: US10982949B2. Автор: Hitoshi Hara,Kazufumi Nishida,Kazuki SETSUDA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

On-chip signal waveform measurement apparatus for measuring signal waveforms at detection points on IC chip

Номер патента: US7609100B2. Автор: Makoto Nagata. Владелец: Semiconductor Technology Academic Research Center. Дата публикации: 2009-10-27.

On-chip signal waveform measurement apparatus for measuring signal waveforms at detection points on IC chip

Номер патента: US20070262799A1. Автор: Makoto Nagata. Владелец: Semiconductor Technology Academic Research Center. Дата публикации: 2007-11-15.

Material property measuring apparatus

Номер патента: US20150090885A1. Автор: Yasushi Ichizawa,Naomichi Chida,Kazuki SETSUDA,Kumiko Horikoshi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2015-04-02.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US20210356368A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2021-11-18.

X-ray ct measuring apparatus and interference prevention method thereof

Номер патента: US20190227004A1. Автор: Kozo Ariga,Masato Kon,Gyokubu Cho,Hidemitsu Asano. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Length Measuring Apparatus

Номер патента: US20220170728A1. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2022-06-02.

Length measuring apparatus

Номер патента: US11852469B2. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Blood Measuring Apparatus

Номер патента: US20120146619A1. Автор: Yoshihiro Niiyama. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Optical measuring apparatus, optical measuring method, and optical measurement processing program

Номер патента: US7948642B2. Автор: Masanobu Kataoka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20100245799A1. Автор: Boris KIRILLOV,Dong Ik Shin,Hong Ki Kim,Jung Eun Noh,Back Kue Lee,Joo Hong Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-30.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US20220381738A1. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-12-01.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200103220A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Interferometric thickness measuring apparatus using multiple light sources coupled with a selecting means

Номер патента: US10890433B2. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

Radiometric measuring apparatus

Номер патента: US11029422B2. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-08.

Arrangement Having a Measuring Apparatus for a Scanning Probe Microscope, Scanning Probe Microscope, and Method for Operating

Номер патента: US20220244287A1. Автор: Torsten Jähnke,Frederik BÜCHAU-VENDER,Marian SCHÜCKER. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2022-08-04.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Mist flow rate measuring apparatus, ultrasonic atomization system, and mist flow rate measuring method

Номер патента: US20240102841A1. Автор: Takahiro Hiramatsu,Hiroyuki Orita. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US20190011351A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-10.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US10788412B2. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-29.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US10048062B2. Автор: Hidetaka Nishida. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2018-08-14.

Laser measuring apparatus

Номер патента: US5058119A. Автор: Masamichi Suzuki,Masaki Tomiya,Yoshiharu Kuwabara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 1991-10-15.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US12000804B2. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-06-04.

Universal communication system for measurement apparatuses, method of communication relating thereto

Номер патента: US10064083B2. Автор: Cedric Neveu,Damien PELLETIER,Fabio FURLAN. Владелец: ECOMESURE. Дата публикации: 2018-08-28.

Measurement apparatus, calculation method, system, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160346882A1. Автор: Tsuyoshi Yamazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-12-01.

Measuring apparatus, measuring method, and ion-sensitive semiconductor device

Номер патента: US20230097075A1. Автор: Masao Okihara. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Collision reaction force measurement apparatus

Номер патента: US20060070431A1. Автор: Shigeo Ishikawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-04-06.

Flatness-measuring apparatus for measuring the flatness of a metal strip

Номер патента: US12036592B2. Автор: Andreas Kastner,Frank Gorgels. Владелец: SMS group GmbH. Дата публикации: 2024-07-16.

Optical displacement measuring apparatus

Номер патента: EP1985973A3. Автор: Tadashi Iwamoto. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

Three dimensional measurement apparatus and three dimensional measurement method

Номер патента: US20120154540A1. Автор: Motomi Tsuyuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-21.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20210065484A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: EP3786659A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-03.

Deformation measuring apparatus and method of evaluating deformation using therof

Номер патента: US20180128758A1. Автор: Yoo Seong Yang,Young Hoon Lee,Young Suk Jung,Ga Hee KIM,Hyun Mi Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-10.

Refrigerant storage device for magnetic field measurement apparatus

Номер патента: WO2024106848A1. Автор: Yong-Ho Lee,Bo-Kyung Kim,Jin-Mok Kim,Kwon-Kyu Yu. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science. Дата публикации: 2024-05-23.

Radiation measurement apparatus

Номер патента: US20140231646A1. Автор: Toru Onodera,Shunichiro Makino,Naoto Kume,Yoshinori Satoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Switch overcurrent measuring apparatus

Номер патента: US20240267039A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Atsuki Asano. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Measurement apparatus

Номер патента: GB2604069A. Автор: Uemura Hiroaki. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-24.

Fuel cell potential measuring apparatus and manufacturing method therefor

Номер патента: US20100021781A1. Автор: Masahiko Sato,Toshifumi Suzuki,Hiromichi Yoshida. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-28.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US8988668B2. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-03-24.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US20140192349A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-07-10.

Hardness measurement apparatus and hardness measurement method

Номер патента: US20190162686A1. Автор: Chien-Chang Chen,Yii-Der WU,Szu-Hua YANG. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2019-05-30.

Electron beam length-measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20030052270A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

Surface profile measuring apparatus, method of measuring surface profile, and method of manufacturing optical element

Номер патента: US20110141482A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-16.

Tooth flank profile measuring apparatus containing a feeler for determining the surface roughness of a tooth flank

Номер патента: US4552014A. Автор: Nikolaus Berchtold. Владелец: Maag Gear Wheel and Machine Co Ltd. Дата публикации: 1985-11-12.

Semiconductor measurement apparatus

Номер патента: US20240288265A1. Автор: YASUHIRO Hidaka,Jinyong Kim,Wookrae Kim,Ingi KIM,Jinseob KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-29.

Stereo distance measuring apparatus, stereo distance measuring method, and computer readable medium

Номер патента: US20180105286A1. Автор: Akihiro Yamane,Akitoshi SAKAGUCHI,Yoichi Onomura. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2018-04-19.

Alternating current loss measuring apparatus

Номер патента: US9817051B2. Автор: Takeshi Kawamura,Manabu Aoki,Yukinobu Imamura,Tatsuhiko Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-11-14.

Position measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US11715660B2. Автор: Manabu Takakuwa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-01.

Diffractive optical element, distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20120050717A1. Автор: Hideaki Inoue. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Electrical characteristic measurement apparatus, electrical characteristic measurement system, electrical characteristic measurement method, and program for electrical characteristic measurement for causing computer to implement the method

Номер патента: US20180031503A1. Автор: Isao Hidaka. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-01.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200208962A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240272560A1. Автор: Seong Yun CHOI,Hyo Sik HAM. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US7024333B2. Автор: Rudolf Rögele,Dieter Kalmbach. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-04-04.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US20230258779A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Dampening water quantity measuring apparatus and dampening water adjusting method

Номер патента: EP1818176A3. Автор: Masaji Mizuta,Shigeru c/o National Univ. Corp. Kyoto Murata. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2010-12-01.

Automatic measuring apparatus and control method for the same

Номер патента: US20240263932A1. Автор: Masashi Yamaji. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Volume change measuring apparatus for frozen porous media

Номер патента: WO2023277853A2. Автор: Burak EVIRGEN,Mustafa TUNCAN,Onur UZUN,Selahattin ATTEPE. Владелец: Eskisehir Teknik Universitesi. Дата публикации: 2023-01-05.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20110049362A1. Автор: Jun Matsumoto,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Fiber network events measurement apparatus

Номер патента: US20130322871A1. Автор: Ching-Wen Hsiao,Yu-Shu Chen,Hsuan-Hung Wu,Fu-Chun Hung,Chun-Hung Su,Ching-Lin Wu,Shih-Tien Lin. Владелец: Polarlink Tech Ltd. Дата публикации: 2013-12-05.

Gradient measuring apparatus and system

Номер патента: US20150377619A1. Автор: John C. Miller. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-31.

Method and measuring apparatus for investigating the hydrogen permeability of a test object

Номер патента: US20230175946A1. Автор: Armin Manhard,Malte Stienecker,Udo VON TOUSSAINT. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2023-06-08.

Optical Measuring Apparatuses

Номер патента: US20120105859A1. Автор: Kwang Soo Kim,Chang Hoon Choi,Tae Joong Kim,Young Heo,Byung Seon CHUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-05-03.

Measuring apparatus and method for determining the degree of bacterial contamination of process liquids

Номер патента: US20190242793A1. Автор: Thomas Wimmer,Ulrich Berner,Michael Maus,Frank Josupeit. Владелец: Advatech Projects & CoKg GmbH. Дата публикации: 2019-08-08.

Protective device for a measuring apparatus

Номер патента: US11733073B2. Автор: Ralf Siegler,Ralph Lohner. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2023-08-22.

Protective Device for a Measuring Apparatus

Номер патента: US20210318148A1. Автор: Ralf Siegler,Ralph Lohner. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2021-10-14.

Weight measuring apparatus

Номер патента: AU2023285855A1. Автор: Yu-Min Tsao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-08.

Inertial measurement apparatus, electronic instrument, and moving object

Номер патента: US20210123736A1. Автор: Ryohei OZAWA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Flow measuring apparatus

Номер патента: WO1996030724A1. Автор: Cyril Ward Nugent. Владелец: Umeco Systems Limited. Дата публикации: 1996-10-03.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Optical physical quantity measuring apparatus

Номер патента: US20240295493A1. Автор: Daiki Yasuda,Shota ISSHIKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Sample measuring apparatus and sample measuring method

Номер патента: US20190265264A1. Автор: Yoshinori Nakamura,Jun Inagaki,Takashi Yamato,Shunsuke Saito. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

Rainfall measuring apparatus using fiber bragg grating sensor

Номер патента: EP3974874A1. Автор: Geum Suk Lee,Geum Jun LEE. Владелец: FBG Korea Inc. Дата публикации: 2022-03-30.

Gas constituent measuring apparatus

Номер патента: US12061184B2. Автор: Kunihiko Nakamura. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Raman scattering measuring apparatus and raman scattering measuring method

Номер патента: US20140253918A1. Автор: Keisuke Nose,Yasuyuki Ozeki,Kazuyoshi Itoh. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Automatic electrophysiological measuring apparatus/method

Номер патента: US6539244B2. Автор: Sakae Saito,Hirokazu Kato,Tomoko Takeshita,Jun Otomo,Sayuri Nomura,Shokichi Matsunami,Noboru Moriya. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-03-25.

Optical comb measuring apparatus

Номер патента: US20240255423A1. Автор: Takao Sakurai. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20220270274A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20200334844A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Measurement apparatus

Номер патента: US20190219424A1. Автор: Hirokazu Kobayashi,Akio Kawai. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Measuring apparatus with tape measure and pendulum for plumbing

Номер патента: EP1540267A1. Автор: Andrew Webb,Michael Meagor. Владелец: Markerite Trading Ltd. Дата публикации: 2005-06-15.

Measuring apparatus

Номер патента: US20230213331A1. Автор: Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-07-06.

Overhead wire mutual separating situation measuring apparatus and overhead wire mutual separating situation measuring method

Номер патента: US20200378750A1. Автор: Masaki Araki,Masahisa Watanabe,Shusaku UTSUGI,Toshio EIFUKU. Владелец: Hitachi High Tech Fine Systems Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Semiconductor type differential pressure measurement apparatus and method for manufacturing the same

Номер патента: US5375473A. Автор: Tetsuya Watanabe,Hideo Tsukamoto,Kyoichi Ikeda,Satoshi Fukuhara,Takahiro Kudo,Kouji Nagai. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 1994-12-27.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20110043809A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Near-field polarized-light measurement apparatus

Номер патента: EP1715322A3. Автор: Tsutomu Inoue,Fuminori Sato,Yoshihito Narita,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2007-04-11.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Measuring apparatus, method, and program

Номер патента: US20100272321A1. Автор: Isao Kimura,Atsushi Takeuchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-10-28.

Current measurement apparatus

Номер патента: EP1740960A1. Автор: Desmond Ebenezer,Albert Zwolinski. Владелец: Lem Heme Ltd. Дата публикации: 2007-01-10.

Current measurement apparatus

Номер патента: WO2005106507A1. Автор: Desmond Ebenezer,Albert Zwolinski. Владелец: Lem Heme Limited. Дата публикации: 2005-11-10.

Mist flow rate measuring apparatus

Номер патента: US20240085230A1. Автор: Takahiro Hiramatsu,Hiroyuki Orita. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product for a stereoscopic display

Номер патента: US20140160469A1. Автор: Yu-Han Chen,Kuen Lee,Kuo-Chung Huang,Ching-Chiu Liao,Wen-Hui Chang,Hoang-Yan Lin,Lang-Chin Lin,Yi-Heng Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-06-12.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US11703592B2. Автор: Hirokazu Takenaka. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US20220170245A1. Автор: Hiroyuki Takahashi,Yusuke Inoue,Keita HAMAKAWA,Takazumi YAMADA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2022-06-02.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: AU2007216862A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: US20080068585A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-03-20.

A fiber concentration profile measuring apparatus

Номер патента: SE1851372A1. Автор: Bengt Akerblom. Владелец: Daprox AB. Дата публикации: 2020-05-06.

Rotatable Display for Test and Measurement Apparatus

Номер патента: US20110115470A1. Автор: Anthony Cake,Yann Oeffner,Tyler Cox,James Annichiarico,Daniel Monopoli,Chrsitopher K. Schroeder. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2011-05-19.

Communication quality measuring apparatus and communication quality measuring method

Номер патента: US20140135043A1. Автор: Katsuyuki Masuda,Takahiro Kawaguchi,Yutaka Hamada,Hiromitsu Kawai,Yuki Shinada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-05-15.

Ultrasound flow rate measurement apparatus and manufacturing method for same

Номер патента: US20180156651A1. Автор: Torsten Schmidt,Jörg Schneider,Christian Schulz. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2018-06-07.

Radiometric Measuring Apparatus

Номер патента: US20200183021A1. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-06-11.

Measurment apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US20190293410A1. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Measurement apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US10866085B2. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-12-15.

Volume measuring apparatus with multiple buttons

Номер патента: US20210372770A1. Автор: Shu-Ying Huang,Kuo-Chun WANG. Владелец: Champtek Inc. Дата публикации: 2021-12-02.

Mapping-measurement apparatus

Номер патента: US20050088656A1. Автор: Hiroshi Tsukada,Noriaki Soga,Jun Koshoubu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2005-04-28.

Inner Diameter Measurement Apparatus

Номер патента: MY196233A. Автор: ABE Shuji,My Tien Phan. Владелец: Synztec Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-24.

Nanopipette provided with membrane containing saturated ion-sensitive material, method for preparing same, and ion measuring apparatus comprising same

Номер патента: US20170028396A1. Автор: Eun Ji KANG,Tomohide Takami,Bae Ho Park,Jong Wan SON. Владелец: University Industry Cooperation Corporation of Konkuk University. Дата публикации: 2017-02-02.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US20240035943A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-02-01.

Portable measuring apparatus having groove for fitting cap

Номер патента: US20020029636A1. Автор: Toru Matsumoto,Akio Ohashi,Hiroshi Kohashi,Akiyoshi Fujitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-03-14.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20030084582A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-08.

Optical sampling measurement apparatus and optical sampling measurement method

Номер патента: US20030223765A1. Автор: Masatoshi Kanzaki,Yoshiki Yanagisawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-04.

Single-axial precision measuring apparatus

Номер патента: US20050022607A1. Автор: Cheng-Fu Hsiao. Владелец: Barmu Tech Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Measurement apparatus for FET characteristics

Номер патента: US20070279081A1. Автор: Yasushi Okawa. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-12-06.

Transmissive disk, manufacturing method thereof, and levitation measurement apparatus using transmissive disk

Номер патента: US20080130011A1. Автор: Daisuke Kimura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-06-05.

Method for X-ray wavelength measurement and X-ray wavelength measurement apparatus

Номер патента: US20080240354A1. Автор: Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20080316495A1. Автор: Minoru Maeda,Takaaki Hirata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-12-25.

Beam position measuring apparatus and method

Номер патента: US20110149301A1. Автор: Vladimir Protopopov,Oui Serg Kim,Dong Seok BAEK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-06-23.

Air impurity measurement apparatus and method

Номер патента: US20050169806A1. Автор: Kazuhiro Nishiki,Makiko Katano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-08-04.

Chromatic dispersion distribution measurement apparatus and method for the same

Номер патента: US20020113956A1. Автор: Akio Ichikawa,Shoichi Aoki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-22.

Chromatic dispersion distribution measurement apparatus and method for the same

Номер патента: US20020107655A1. Автор: Akio Ichikawa,Shoichi Aoki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-08.

Magnetic field measuring apparatus

Номер патента: US20210132161A1. Автор: Takashi Yasui. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-06.

Measurement apparatus

Номер патента: US20230140458A1. Автор: Yoshiyuki Suzuki,Junichiro Hayakawa. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-05-04.

Light measuring apparatus, light measuring system, light measurement method, display adjustment system, and adjustment method

Номер патента: US20240242653A1. Автор: Tomohiro Murata,Tomohiro Kiriyama,Tomohiro Fukamizu. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-18.

MEASUREMENT APPARATUS AND Non-PSC CONNECTION METHOD THEREFOR

Номер патента: US20240276328A1. Автор: Kazuyuki Koike,Yasuko Uda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US9779493B2. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

Wafer measurement apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240248051A1. Автор: Younghoon Sohn,Souk Kim,Joonseo Song,Jaehyung Ahn,Inseok PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-25.

Photonically Multiplexed Optical Measurement Apparatus and Performing Optical Multiplexing

Номер патента: US20230360817A1. Автор: Stephen Paul Eckel,Daniel Schaeder Barker. Владелец: US Department of Commerce. Дата публикации: 2023-11-09.

Measurement Apparatus

Номер патента: US20230236116A1. Автор: Hideki Tomita,Tatsuya IKEHARA,Koji Tojo,Tetsuo Furumiya. Владелец: Tokai National Higher Education and Research System NUC. Дата публикации: 2023-07-27.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US20170046828A1. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-16.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: EP4428506A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Frequency characteristic measurement apparatus and frequency characteristic measurement method

Номер патента: EP4425789A1. Автор: Hiroshi Fujiwara,Toru Tazawa,Yuta SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

3-dimensional measurement apparatus and 3-dimensional measurement method

Номер патента: EP4417936A1. Автор: Daisuke SENGA. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240296547A1. Автор: Ji Hoon Kang,Ji Yun JUNG. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Process measurement apparatus and method

Номер патента: US20230350438A1. Автор: Yong Jun Seo,Sang Hyun Son,Sang Min HA,Dong Ok AHN,Hyeong Jun CHO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Volume change measuring apparatus for frozen porous media

Номер патента: WO2023277853A3. Автор: Burak EVIRGEN,Mustafa TUNCAN,Onur UZUN,Selahattin ATTEPE. Владелец: Eskisehir Teknik Universitesi. Дата публикации: 2023-03-02.

Distance Measuring Apparatus, Distance Measuring Method, Distance Measurement Program And Computer Readable Recording Medium

Номер патента: US20120257219A1. Автор: Michisato Toyoda,Toshio Tashima. Владелец: MSI Tokyo Inc. Дата публикации: 2012-10-11.

Thermal conductivity measurement apparatus and thermal conductivity measurement method

Номер патента: US20180299391A1. Автор: Dai Nakajima,Haruna Tada,Yasuyuki Sanda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240302211A1. Автор: Masaki Ito,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Radiation detector, radiation measuring apparatus, and method for setting radiation detector

Номер патента: EP4421536A1. Автор: Takuto Sakumura,Yasukazu Nakaye,Yasutaka SAKUMA,Kunitoshi YANAGIHARA,Tomonao INOUE. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: AU2023214108A1. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2024-08-29.

Tool measurement apparatus for a machine tool

Номер патента: EP4433257A1. Автор: William David Stockill. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-09-25.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240302208A1. Автор: Masaki Ito,Katsumi Yamada,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Control method and color measurement apparatus

Номер патента: US20240302215A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: US20240302209A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20240272300A1. Автор: Shuji Uehara,Yoshinori Muramatsu,Kazuhiko Muraoka. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Overlay mark forming Moire pattern, overlay measurement method using same, overlay measurement apparatus using same, and manufacturing method of semiconductor device using same

Номер патента: US12107052B2. Автор: Hyun Chul Lee,Hyun Jin Chang. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Electric field measuring apparatus and method of measuring electric field using the same

Номер патента: US12105132B2. Автор: Sungjin Kim,Sunghwi CHO,Sungyeol KIM,Masahiko Yamabe,Sungyong LIM,Meehyun Lim,Jinyeong Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: US20240310158A1. Автор: Peter Qui,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Outer Diameter Measurement Apparatus and Outer Diameter Measurement Method of Electrode Assembly

Номер патента: US20240302162A1. Автор: Min Ki Kim,Hyeok Soon Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: US20240302160A1. Автор: Markus Adam ECKHARDT. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Neurotransmitter concentration measuring apparatus for simultaneously providing long time measuring results of concentration for various neurotransmitter based on fast-scan cyclic voltammetry and method thereof

Номер патента: US20240296962A1. Автор: YUN Ho Jeong,Eun Ho Kim,Ji Woong Choi,Seong Tak Kang. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-09-05.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240329204A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Color measurement apparatus

Номер патента: EP4428507A1. Автор: Masaki Ito,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12111146B2. Автор: Kunikazu Taguchi,Suguru Irie. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Measurement apparatus and measurement method using the same

Номер патента: US20240295490A1. Автор: Jaeho Kim,Younghoon Sohn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-05.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US20170030761A1. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

New adaptive trigger piv measuring apparatus and method

Номер патента: NL2035928A. Автор: Xu Yang,Wang Jinjun,Wang Hanbin,Fan Di,Guo Qinfeng. Владелец: Univ Beihang. Дата публикации: 2024-05-28.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: EP4439071A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: US20240329070A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Optical concentration measuring apparatus

Номер патента: US20240310276A1. Автор: Hans Martin,Takaaki Furuya,Shota ISSHIKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Distance measuring apparatus and light emitting device for distance measurement

Номер патента: US20240345222A1. Автор: Daisuke Iguchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-17.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: GB2629247A. Автор: Adam Eckhardt Markus. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-10-23.

Capacitance measurement apparatus

Номер патента: US12092671B2. Автор: CHEN CHEN. Владелец: Chipone Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Optical measurement apparatus, optical measurement adapter and method of optical measurement

Номер патента: US20240353261A1. Автор: Chao-Ching Chen,Hsiao I LIN,Yi Hsueh LIN. Владелец: Amtran Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Measuring apparatus and method for measuring the temperature of a molten metal bath with an optical device

Номер патента: US20240361190A1. Автор: Michel Van Vlierberghe,Gert JANSSEN,Luc Vranckx. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2024-10-31.

Image projection measuring apparatus

Номер патента: US12066284B2. Автор: Takatoshi SUGAWARA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement apparatus, measurement method and computer readable medium

Номер патента: US12055570B2. Автор: Mitsuo Matsumoto,Shinya Sato,Masayuki Kawabata,Masakatsu Suda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Multi-head measuring apparatus and measuring point automatic allocation method thereof

Номер патента: US11300401B2. Автор: Min Li,Min Qiu,Zhiwei Yu. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-12.

Linear displacement measuring apparatus

Номер патента: US09989345B2. Автор: Kazushi Kikuchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Position measurement apparatus

Номер патента: US09983310B2. Автор: Yutaka Miki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09982993B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Biological information measurement apparatus, biological information measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US09978144B2. Автор: Munenori Fukunishi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Vibration measuring apparatus using parametric speaker and two-dimensional scanning mirror

Номер патента: US09976990B2. Автор: Kenichi Komiya,Daisuke Ishikawa. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Automatic angle-measured apparatus and method using the same

Номер патента: US09970789B2. Автор: Chia-Ching Lin,Ming-Chun Ho,Chin-Hui Chen,Shu-Yu Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-05-15.

Magnetic field measurement apparatus, magnetic field measurement system and magnetic field measurement method

Номер патента: US09958514B2. Автор: Ryuji HOKARI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Optical measurement apparatus and method of manufacturing the same

Номер патента: US09952394B2. Автор: James Reynolds,Simon Meadowcroft,Robin Taylor. Владелец: Lein Applied Diagnostics Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09945887B2. Автор: Hiroshi Imai,Keiki Matsuura,Hiroyuki Tokusaki,Yasukazu Ohno. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09927516B2. Автор: Hirokazu SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Spectroscopic measurement apparatus

Номер патента: US09927298B2. Автор: Yoshiyuki Shimizu,Yoichi Kawada,Toyohiko Yamauchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2018-03-27.

Acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US09921301B2. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Surface property measuring apparatus and method for controlling the same

Номер патента: US09921044B2. Автор: Tatsuki Nakayama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring apparatus for measuring the trajectory of a target object

Номер патента: US09910146B2. Автор: Rudolf Protz. Владелец: MBDA Deutschland GmbH. Дата публикации: 2018-03-06.

Preparation device for preparing a sample of textile fibers, in particular cotton fibers, applicable to analysis and/or measuring apparatuses for analyzing and/or measuring characteristics of the textile fibers forming said sample

Номер патента: US09909965B2. Автор: Fabrizio MUSESTI. Владелец: Mesdan SpA. Дата публикации: 2018-03-06.

Profile measuring apparatus, structure manufacturing system, method for measuring profile, method for manufacturing structure, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09897437B2. Автор: Masaya Yamaguchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Profile measuring apparatus, structure manufacturing system, method for measuring profile, method for manufacturing structure, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09891043B2. Автор: Hiroshi Aoki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Particle measuring apparatus and particle measuring method

Номер патента: US09885649B2. Автор: Kenichi Otsuka,Masaki Hirano,Yuichi Kuroda. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Characteristic-measuring apparatus and characteristic-measuring method for multi-core fiber

Номер патента: US20180246008A1. Автор: Katsuhiro Takenaga,Shota Saito. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2018-08-30.

Environmental measurement apparatus and environmental measurement method

Номер патента: US09880132B2. Автор: Mitsuo Ozaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Measurement apparatus

Номер патента: US09863757B1. Автор: Hiroyuki Hotta. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Laser heterodyne interferometric straightness measurement apparatus and method with six DOFs determination

Номер патента: US09863753B2. Автор: Bin Xu,Liping Yan,Benyong Chen,Enzheng Zhang. Владелец: Zhejiang Sci Tech University ZSTU. Дата публикации: 2018-01-09.

Measuring apparatus for three-dimensional profilometry and method thereof

Номер патента: US09858671B2. Автор: Liang-Chia Chen,Chung-An Hsieh,Ming-Xuan WENG. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2018-01-02.

Measuring apparatus

Номер патента: US09851194B2. Автор: Chun-Jen Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Measuring apparatus, method, and program

Номер патента: US09846027B2. Автор: Isao Kimura,Atsushi Takeuchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Pressure measurement apparatus, assemblies and methods

Номер патента: US09841340B1. Автор: Christopher John Harthan,Blair Randall Chalpin. Владелец: Scanivalve Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Analytical device, method for manufacturing the same, and measuring apparatus using the same

Номер патента: US09835579B2. Автор: Yoshiharu Sato. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Absolute distance measurement apparatus and method using laser interferometric wavelength leverage

Номер патента: US09835441B2. Автор: Liping Yan,Benyong Chen,Shihua Zhang. Владелец: Zhejiang Sci Tech University ZSTU. Дата публикации: 2017-12-05.

Distance measuring apparatus and method

Номер патента: US09835438B2. Автор: Hiroyuki Ohsawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Blood measuring apparatus

Номер патента: US09823173B2. Автор: Satoshi Suzuki,Koji Masuda,Yoshihiro Niiyama. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US09823110B2. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US09817124B2. Автор: Kenji Aizawa,Shota Takemura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Alternating current loss measuring apparatus

Номер патента: US09817051B2. Автор: Takeshi Kawamura,Manabu Aoki,Yukinobu Imamura,Tatsuhiko Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-11-14.

Microparticle measuring apparatus

Номер патента: US09816913B2. Автор: Shingo Imanishi,Taichi Takeuchi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Contact angle measurement apparatus

Номер патента: US09816909B2. Автор: Bernd Friedrich,Florian WESER,Carsten SCHEITHAUER. Владелец: Kruess GmbH Wissenschaftliche Laborgeraete. Дата публикации: 2017-11-14.

Flow rate measuring apparatus

Номер патента: US09810561B2. Автор: Yuji Ariyoshi,Masahiro Kawai,Shinichiro Hidaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Measuring apparatus and support mechanism of columnar work piece

Номер патента: US09810516B2. Автор: Tomomitsu SUGAWARA,Hirotada Anzai,Monya FUJIWARA. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Measurement circuit and measurement apparatus for wireless power transmission system

Номер патента: US09806538B2. Автор: Hironobu Takahashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Pressure detection device and intake pressure measurement apparatus using the same

Номер патента: US09804049B2. Автор: Hiroshi Ishida,Yasuhiro Suda,Hideki Kamimura,Hisanobu Okawa. Владелец: Alps Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Temperature distribution measurement apparatus and temperature distribution measurement method

Номер патента: US09797782B2. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Measuring apparatus and method of manufacturing article

Номер патента: US09797717B2. Автор: Masaki Nakajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Adsorption characteristic measuring apparatus

Номер патента: US09784637B2. Автор: Satoshi Taniguchi,Akira Endo,Masayuki Yoshida,Makoto Okawa,Kazuyuki Nakai,Marie SHIMOMURA. Владелец: MicrotracBEL Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US09779493B2. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

Target material thickness measuring apparatus

Номер патента: US09778024B2. Автор: Liang Peng,Daeyoung Choi,Deyong Wang,Yefa Li,Congqi Zheng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Distance measuring apparatus using laser light

Номер патента: US09753125B2. Автор: Makoto Masuda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-05.

Measurement apparatus configured to control the on/off state of illumination source

Номер патента: US09746656B2. Автор: Yoshiki Okamoto,Masaaki Hara,Terumasa Ito. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-08-29.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09736460B2. Автор: Jun Kanetake,Osafumi Nakayama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Measurement apparatus

Номер патента: US09726595B2. Автор: Hiroshi Tsuchiya,Kimiko Kazumura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-08-08.

Magnetic field measurement apparatus

Номер патента: US09720058B2. Автор: Kimio Nagasaka,Hitoshi Ueno. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Interferometer and phase shift amount measuring apparatus with diffraction gratings to produce two diffraction beams

Номер патента: US09719859B2. Автор: Kiwamu Takehisa,Haruhiko Kusunose. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Three-dimensional measurement apparatus and robot system

Номер патента: US09715730B2. Автор: Hideaki Suzuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Wiring length measurement apparatus and recording media

Номер патента: US09715568B2. Автор: Katsuhiko Iwase,Shinichi Maeda. Владелец: Liquid Design Systems Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Transmit power measurement apparatus having programmable filter device that is set at least based on frequency response of transmit power detection path and related transmit power measurement method thereof

Номер патента: US09712169B2. Автор: Bing Xu,Chi-Hsueh Wang,Hsiang-Hui Chang,Li-Shin Lai. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Electromagnetically force-compensating force-measuring apparatus

Номер патента: US09702752B2. Автор: Heinrich Feldotte,Heyko Holst. Владелец: Sartorius Lab Instruments GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-07-11.

Radiation measurement apparatus and radiation measurement method

Номер патента: US09696433B2. Автор: Koji Yasui. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Dimension measurement apparatus calibration standard and method for forming the same

Номер патента: US09691587B2. Автор: Shiang-Bau Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Hall-effect measurement apparatus

Номер патента: US09689935B2. Автор: Ming-Cheng Lin,Che-Hung Liu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Multi-joint arm type measurement apparatus

Номер патента: US09689663B2. Автор: Kentaro Nemoto,Yuichi NAGATAKI. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Measuring apparatus

Номер патента: US09684027B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Takayuki SHIROTORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Measuring apparatus and measuring method utilizing insulating liquid

Номер патента: US09684015B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Kosuke Hatozaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Ring laser measurement apparatus and method

Номер патента: US09683831B2. Автор: John W. Palmateer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-06-20.

Three-dimensional measurement apparatus and robot system

Номер патента: US09679385B2. Автор: Hideaki Suzuki,Tadashi Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Irradiation module for a measuring apparatus

Номер патента: US09678436B2. Автор: Dietmar Schnier. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2017-06-13.

Polarization velocity vector measuring apparatus and polarization velocity vector measuring method

Номер патента: US09677943B2. Автор: Yoshihiro Kanda. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Contour line measurement apparatus and robot system

Номер патента: US09672630B2. Автор: Yuuta Namiki,Fumikazu Warashina. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US09664604B2. Автор: Yasushi Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Measuring apparatus for measuring the optical properties of a medium using a light source and light receiver as well as a dispersing element

Номер патента: US09658103B2. Автор: Ralf Bernhard. Владелец: Endress and Hauser Conducta GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-05-23.

Optical measuring apparatus

Номер патента: US09658054B2. Автор: Koichi Watanabe,Daisuke Tomita,Kentaro Osawa. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Marking implement for measuring apparatus

Номер патента: US09658046B2. Автор: Adam S Fulton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-05-23.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US09651663B2. Автор: Kenichi Komiya,Daisuke Ishikawa. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Absolute position measurement method, absolute position measurement apparatus and scale

Номер патента: US09651403B2. Автор: Jae-Wan Kim,Tae-Bong Eom,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-05-16.

Object characteristics measurement apparatus

Номер патента: US09645116B2. Автор: Hiromi Yatsuda,Naoyuki Yoshimura. Владелец: Japan Radio Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Adsorption characteristic measuring apparatus

Номер патента: US09645069B2. Автор: Masahiko Matsukata,Masayuki Yoshida,Kazuyuki Nakai. Владелец: MicrotracBEL Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Ultrasonic pipe measurement apparatus

Номер патента: US09632062B2. Автор: Hiroaki Tanaka,Satoshi Kato,Yoshiaki Tanaka,Sho Fujita,Nobuo Okabe,Kazunori Miyazawa,Yukiyo Akisada,Yosuke Ishii,Minako TERAO,Ken'ichi Kamada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Rotation angle measurement apparatus

Номер патента: US09625278B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Static gel strength measurement apparatus and method

Номер патента: US09612232B2. Автор: David Hoffman,Grafton Montgomery,Guadalupe Hernandez Serafin. Владелец: OFI Testing Equipment Inc. Дата публикации: 2017-04-04.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09612108B2. Автор: Toru Mikami. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09594023B2. Автор: Sakuya Tamada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Measurement apparatus and method of measurement

Номер патента: US09588072B2. Автор: Tetsuya Takahashi,Yuki Kawamuro,Nobuhisa Handa. Владелец: Hioki Denki KK. Дата публикации: 2017-03-07.

Airflow measuring apparatus including a ventilation hole between a connector part and a circuit chamber

Номер патента: US09587970B2. Автор: Noboru Tokuyasu,Ryosuke Doi,Keiji Hanzawa,Shinobu Tashiro,Takeshi Morino. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2017-03-07.

Flow rate measuring apparatus

Номер патента: US09562797B2. Автор: Toshikuni Kurokawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

Image measurement apparatus and image measurement method for determining a proportion of positive cell nuclei among cell nuclei included in a pathologic examination specimen

Номер патента: US09558551B2. Автор: Hideto Motomura,Yoshikuni Sato. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-31.

Radio measurement method and radio measurement apparatus using multi-antenna channel multiplex

Номер патента: US09548806B2. Автор: Yong-Seok Choi,Sang Tae Kim,Haeng Sook Ro,Gwangmoon PARK,Mi-Kyung SUK,Seong Yun LEE. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-01-17.

Three-dimensional measuring apparatus and control method therefor

Номер патента: US09546863B2. Автор: Hiroshi Yoshikawa,Shiki Takabayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09544558B2. Автор: Hideo Takizawa,Hiroto Nozawa,Koyo TADA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Measuring apparatus and method

Номер патента: US09544211B2. Автор: Masashi Ito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US09535007B2. Автор: Toshiyuki Hattori. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Laser output measuring apparatus

Номер патента: US09534953B2. Автор: Shuhei Yamamoto,Tetsuya Nishimura,Yoko Inoue,Tetsuo Funakura,Takayuki Yanagisawa,Mitoru Yabe,Fumio SHODA,Hidenori FUKAHORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Alternating current power measuring apparatus

Номер патента: US09529024B2. Автор: Akio Ito,Hirotaka Oshima,Takayuki Ambe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Reflection characteristic measuring apparatus

Номер патента: US09528934B2. Автор: Shigeki Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Surface temperature measuring apparatus and surface temperature measuring method

Номер патента: US09523611B2. Автор: Chihiro Uematsu,Yutaka Wakasu,Tatsuro Honda. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Rotation angle measurement apparatus

Номер патента: US09523589B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Pattern measuring apparatus, pattern measuring method, and computer-readable recording medium on which a pattern measuring program is recorded

Номер патента: US09521372B2. Автор: Yuji Takagi,Koichi Hamada,Hideyuki Kazumi,Yoshinori Momonoi,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Magnetic signal measuring apparatus and magnetic signal measuring method

Номер патента: US09518957B2. Автор: Keiji Enpuku,Akihiko Kandori,Takako Mizoguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-12-13.

Particle measuring apparatus

Номер патента: US09513206B2. Автор: Takeshi Yamamoto,Kazuhiro Yamada. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Temperature measurement apparatus and method

Номер патента: US09500537B2. Автор: Jun Abe,Chishio Koshimizu,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US09500520B2. Автор: Kazuaki Ohkubo,Hisashi Shiraiwa. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Optical measuring apparatus and method for the analysis of samples contained in liquid drops

Номер патента: US09488579B2. Автор: Torleif Ove Bjornson,Thomas Geiges. Владелец: TECAN TRADING AG. Дата публикации: 2016-11-08.

Targeting device for electro-optical measuring apparatuses

Номер патента: US09482531B2. Автор: Frank Schroeder,Canpolat Orman. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2016-11-01.

Coordinate measuring apparatus for measuring a workpiece

Номер патента: US09476688B2. Автор: Berthold Matzkovits. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2016-10-25.

Tape measure apparatus with a rotating and sliding catch

Номер патента: US09470500B2. Автор: Paul Ricalde. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-18.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09467616B2. Автор: Takashi Kawamura,Kozo Ezawa,Shunsuke Yasugi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Volumetric-flow measuring apparatus having a foldable flow straightener

Номер патента: US09453746B2. Автор: Simon Brugger,Martin Rombach. Владелец: Testo SE and Co KGaA. Дата публикации: 2016-09-27.

Curvature measurement apparatus and method

Номер патента: US09453721B2. Автор: Yasushi Iyechika,Masato Akita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Measurement apparatus, program, and measurement method

Номер патента: US09449388B2. Автор: Shin Hasegawa,Hiroaki Morikawa,Eiichi Tanaka,Eriko Matsui,Suguru Dowaki,Tomohiro Hayakawa,Tatsuya Minakawa,Hirokazu Tatsuta,Masanobu Tamai. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product

Номер патента: US09448121B2. Автор: Sheng-Tsai Wu,Ming-Ji Dai,Heng-Chieh Chien,Jing-Yi Huang,Huey-Lin Hsieh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-09-20.

Optical measuring apparatus and method of stereoscopic display device

Номер патента: US09441953B2. Автор: Jae Hong Kim,Kyong Ho Lim,Dong Gyou Lee. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Depth measurement apparatus and controlling method thereof

Номер патента: US09438887B2. Автор: Makoto Oigawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Microparticle measuring apparatus

Номер патента: US09429508B2. Автор: Shingo Imanishi,Taichi Takeuchi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Particle size distribution measuring apparatus

Номер патента: US09429505B2. Автор: Shinichiro Totoki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Measurement apparatus, measurement method, and absolute encoder

Номер патента: US09423276B2. Автор: Makiko Ogasawara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Optical measuring apparatus

Номер патента: US09423241B2. Автор: Shinji Fukuda,Ryoichi Imaizumi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Image measurement apparatus, image measurement method and image measurement system

Номер патента: US09418414B2. Автор: Hideto Motomura,Yoshikuni Sato. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Strain measurement apparatus, linear expansion coefficient measurement method, and correction coefficient measurement method for temperature distribution detector

Номер патента: US09410798B2. Автор: Osamu Maeda,Satoshi Ohya. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-08-09.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US09410786B2. Автор: Chih-Kuang Chang,Sheng-Qiang Shen,Jun-Song Xu,Jun-Hua Li. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Atmospheric environment measuring apparatus, atmospheric environment measuring method and atmospheric environment measuring system

Номер патента: US09395334B2. Автор: Ryozo Takasu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-07-19.

Electrical resistance measurement apparatus and electrical resistance measurement method

Номер патента: US09372215B2. Автор: Akihide Hamano. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-21.

Image measuring apparatus

Номер патента: US09354433B2. Автор: Hiroyuki Yoshida. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Distance measurement apparatus, distance measurement method, and camera

Номер патента: US09354056B2. Автор: Daisuke Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-05-31.

Spherical-form measuring apparatus

Номер патента: US09297631B2. Автор: Yutaka Kuriyama,Takeshi Hagino,Yuichiro Yokoyama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-03-29.

Shape measurement sensor

Номер патента: US20200217647A1. Автор: Kazuhiro Nakamura,Kazutaka Suzuki,Yoshinori Matsui,Keisuke Uchida,Haruyoshi Toyoda,Munenori Takumi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-07-09.

Shape measurement device, control method, and recording medium

Номер патента: US20200211212A1. Автор: Takuya Ishibashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-07-02.

Shape measurement device, control method, and recording medium

Номер патента: US11295464B2. Автор: Takuya Ishibashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-04-05.

System and method for on-site measurement apparatus calibration

Номер патента: CA2969523A1. Автор: John Anthony Vogel,Glen William Brooksby,John Brandon Laflen,Steven William WIK,Yakov Polishchuk. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-06-23.

Measurement apparatus

Номер патента: US11874103B2. Автор: Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Stefan Carolus Jacobus Antonius Keij,Petrus Franciscus VAN GILS,Thomas Augustus Mattaar,Junichi Kanehara. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-01-16.

Management apparatus, measurement apparatus, service providing apparatus, computer program product, transfer system, and transfer method

Номер патента: US10516535B2. Автор: Takahiro Yamada,Takeshi Saito,Naoki Ogura,Yoshikazu HANATANI,Toru Kambayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-12-24.

Measurement apparatus

Номер патента: US20240151520A1. Автор: Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Stefan Carolus Jacobus Antonius Keij,Petrus Franciscus VAN GILS,Thomas Augustus Mattaar,Junichi Kanehara. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-05-09.

Measuring apparatus

Номер патента: RU2769074C1. Автор: Виктор Викторович Лещенко,Тимофей Викторович Лещенко,Виталий Анатольевич Носков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью «НТЦ «Нефтегаздиагностика». Дата публикации: 2022-03-28.

Ink jet break-off length measurement apparatus and method

Номер патента: US20090027459A1. Автор: Stephen F. Pond,Gilbert A. Hawkins,Michael J. Piatt,John C. Brazas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-01-29.

Ink jet break-off length measurement apparatus and method

Номер патента: US8226199B2. Автор: Stephen F. Pond,Gilbert A. Hawkins,Michael J. Piatt,John C. Brazas. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2012-07-24.

Optical measuring apparatus and wide-band light source device adaptable to same

Номер патента: EP1923692A1. Автор: Toshiaki Okuno. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2008-05-21.

Distance measurement method and apparatus, and relative position measurement apparatus

Номер патента: CA2030851A1. Автор: Tomoaki Ueda,Koei Obata. Владелец: Koei Obata. Дата публикации: 1991-05-25.

Two-terminal circuit element measuring apparatus for performing contact checks

Номер патента: US5321363A. Автор: Hideki Wakamatsu,Hideshi Tanaka,Nobuo Nakata,Yohichi Kuboyama. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1994-06-14.

Surface measuring apparatus

Номер патента: US10760891B2. Автор: Philipp Steuer. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2020-09-01.

Method for intraoperative correction of corneal shape in cataract extraction using small and very small incision technique and implantation of intraocular lens through self-sealing tunnel incision

Номер патента: RU2536047C2. Автор: Александр Николаевич Епихин,Николай Александрович Епихин. Владелец: Николай Александрович Епихин. Дата публикации: 2014-12-20.

Method and apparatus for analysis of corneal shape

Номер патента: CA1170877A. Автор: William E. Humphrey. Владелец: Humphrey Instruments Inc. Дата публикации: 1984-07-17.

FLOW RATE MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20120000280A1. Автор: KISHIKAWA Naoyuki,URAMACHI Hiroyuki,HIDAKA Shinichiro,Ariyoshi Yuji,TANIMOTO Koji,KAWAI Masahiro. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND SPECIMEN DISCRIMINATING AND DISPENSING APPARATUS

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Takahashi Toru,Tsukii Ken,Xu Jie. Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Generating a Trigger Signal by an EKG Signal as Well as an EKG Measuring Apparatus and a Magnetic Resonance Device

Номер патента: US20120004569A1. Автор: Frank Michael,Rößler Jürgen. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

General-purpose measuring apparatus for animals

Номер патента: RU2307622C1. Автор: Александр Иванович Суров,Василий Васильевич Абонеев. Владелец: Государственное научное учреждение Ставропольский научно-исследовательский институт животноводства и кормопроизводства. Дата публикации: 2007-10-10.

Improvements in or relating to Combined Electric Regulating and Measuring Apparatus.

Номер патента: GB190413483A. Автор: Emile Fauvin,Eugene Amiot,Edoaurd Cheneaux. Владелец: Individual. Дата публикации: 1905-02-02.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: CA156793S. Автор: . Владелец: Huntleigh Technology Ltd. Дата публикации: 2015-01-28.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: AU356604S. Автор: . Владелец: Huntleigh Technology Ltd. Дата публикации: 2014-07-28.

Sliding flip stop measuring apparatus

Номер патента: AU321976S. Автор: . Владелец: Elumatec Australia Pty Ltd. Дата публикации: 2008-11-10.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.