Optimized Scan Chain Diagnostic Pattern Generation for Reversible Scan Architecture
Номер патента: US20200333398A1
Опубликовано: 22-10-2020
Автор(ы): Manish Sharma, Szczepan Urban, Wu-Tung Cheng, YU HUANG
Принадлежит: Mentor Graphics Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 22-10-2020
Автор(ы): Manish Sharma, Szczepan Urban, Wu-Tung Cheng, YU HUANG
Принадлежит: Mentor Graphics Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Generating test sets for diagnosing scan chain failures
Номер патента: US09977080B2. Автор: YU HUANG,Wu-Tung Cheng,Ruifeng Guo. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2018-05-22.