Building of images of specific microresistance at multiple depths of research
Номер патента: RU2502093C1
Опубликовано: 20-12-2013
Автор(ы): Цили ВАН
Принадлежит: Смит Интернэшнл, Инк.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 20-12-2013
Автор(ы): Цили ВАН
Принадлежит: Смит Интернэшнл, Инк.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Apparatus and method for azimuthal mwd resistivity imaging at multiple depths of investigation
Номер патента: WO2009046188A1. Автор: Roland E. Chemali,Tsili Wang,Jack Signorelli. Владелец: BAKER HUGHES INCORPORATED. Дата публикации: 2009-04-09.