Test system for measuring propagation delay time of transmission line
Номер патента: US10304708B2
Опубликовано: 28-05-2019
Автор(ы): Gyuyeol KIM, Shin-Ho Kang
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 28-05-2019
Автор(ы): Gyuyeol KIM, Shin-Ho Kang
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for open-loop or closed-loop control of the temperature of a chuck for a wafer, temperature adjustment device, and wafer testing system
Номер патента: US11821941B2. Автор: Markus Eibl. Владелец: Att Advanced Temperature Test System GmbH. Дата публикации: 2023-11-21.