Camera testing device and method for testing focusing characteristic of camera
Номер патента: US12075025B2
Опубликовано: 27-08-2024
Автор(ы): Hun Kim, Jong Heon Kim, Woo Young Choi
Принадлежит: SK hynix Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 27-08-2024
Автор(ы): Hun Kim, Jong Heon Kim, Woo Young Choi
Принадлежит: SK hynix Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Testing device and testing method for detecting stitching defect of panoramic camera
Номер патента: US20230164306A1. Автор: Chieh-Cheng Liao. Владелец: Aspeed Technology Inc. Дата публикации: 2023-05-25.