Determination of cd and/or md variations from scanning measurements of a sheet of material
Номер патента: US20180073196A1
Опубликовано: 15-03-2018
Автор(ы): Shih-Chin Chen
Принадлежит: ABB Schweiz AG
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 15-03-2018
Автор(ы): Shih-Chin Chen
Принадлежит: ABB Schweiz AG
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Determination of CD and/or MD variations from scanning measurements of a sheet of material
Номер патента: US09783929B2. Автор: Shih-Chin Chen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2017-10-10.