外观尺寸缺陷检测设备.

外观尺寸缺陷检测设备

Номер патента: CN110961369A
Опубликовано: 07-04-2020
Автор(ы): 沈济鑫, 高强
Принадлежит: Lingshengcheng Technology Jiangsu Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Defect detection method and defect detection system based on machine vision

Номер патента: US20230280281A1. Автор: Chao Cong,Zengzhen MI. Владелец: Chongqing University of Technology. Дата публикации: 2023-09-07.

Defect detection method and defect detection system based on machine vision

Номер патента: CN112577969B. Автор: 刘洁. Владелец: Nantong Shennan Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-01.

Bearing defect detection device and bearing defect detection method

Номер патента: CN111014079B. Автор: 沈文强. Владелец: Ningbo Sannai Machinery Co ltd. Дата публикации: 2020-11-27.

Defect detection in moving fiber-containing structures

Номер патента: EP4232802A1. Автор: Patrick Coffey,Michael IWANSKI. Владелец: Kuraray America Inc. Дата публикации: 2023-08-30.

System and method for detecting appearance size of connecting rod

Номер патента: CN111649674B. Автор: 胡晨,李理,龙江路,何照亮,连泽鹏. Владелец: Zhejiang Yuejin Machinery Co ltd. Дата публикации: 2022-04-08.

System and method for detecting appearance size of connecting rod

Номер патента: CN111649674A. Автор: 胡晨,李理,龙江路,何照亮,连泽鹏. Владелец: Zhejiang Yuejin Machinery Co ltd. Дата публикации: 2020-09-11.

Rolling mill facility with strip shape detection equipment, strip shape detection device, strip shape detection method and rolling method

Номер патента: EP1179374A3. Автор: Takashi Norikura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-03-17.

Fluorescent ink and imaging system for defect detection on printed photosensitive objects

Номер патента: WO2024158935A1. Автор: Mohammad S. Farahat,Carl Weisbecker,Erika REBROSOVA,Srikanth YANAMANAGANDLA. Владелец: SUN CHEMICAL CORPORATION. Дата публикации: 2024-08-02.

Computer-implemented system and method for automated defect detection in sealings of composite packages

Номер патента: WO2024194080A1. Автор: Mattia VERASANI,Giorgio PICCININI,Riccardo RONCAGLIA,Luca Maltoni,Federica BARLETTA,Elena TEDESCO. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2024-09-26.

Computer-implemented system and method for automated defect detection in sealings of composite packages

Номер патента: EP4454863A1. Автор: Mattia VERASANI,Giorgio PICCININI,Riccardo RONCAGLIA,Luca Maltoni,Federica BARLETTA,Elena TEDESCO. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2024-10-30.

Tunnel defect detection and management system based on vibration signal of moving train

Номер патента: US12061170B2. Автор: Biao Zhou,Hongqiao Li,Xiongyao Xie,Yonglai ZHANG. Владелец: TONGJI UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-13.

System and method for dynamic localisation of defect detected in product

Номер патента: RU2605407C2. Автор: Жонатан ЛЕБЛАН. Владелец: Снекма. Дата публикации: 2016-12-20.

Yarn defect detecting device and method and yarn winding machine

Номер патента: EP2644552A3. Автор: Masato Nakai,Satoshi Kawabata. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2014-04-23.

Tire defect detection system

Номер патента: WO2023282921A1. Автор: Gary Box,Brian BRASCH,Anthony RIKE. Владелец: Paul E. Hawkinson Company. Дата публикации: 2023-01-12.

Tire Defect Detection System that Images Localized Cooling at a Defect

Номер патента: US20230400388A1. Автор: Brian B. Brasch,Gary William Box,Anthony S. Rike. Владелец: Paul E Hawkinson Co. Дата публикации: 2023-12-14.

Automatic patrol inspection and intelligent erosion defect detection method and apparatus for flood discharge tunnel

Номер патента: US20240183743A1. Автор: Hao Chen,Haibin XIAO,Haodong CHEN,Bohui Pang,Xuexing CAO,Mai Meng. Владелец: Huaneng Lancang River Hydropower Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Aircraft ice detection equipment with correction for severe conditions

Номер патента: US3838281A. Автор: M Dean,J Keen,G Edgington. Владелец: Lucas Aerospace Ltd. Дата публикации: 1974-09-24.

Length adjustable arm and mems position detection equipment rotation test apparatus

Номер патента: US20180299505A1. Автор: Yang-Han Lee,Ching-Chang Wong,An-Sung Wang. Владелец: Leap Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Automated defect detection for wire rope using image processing techniques

Номер патента: US11906445B2. Автор: Nitin Kumar GOYAL,Basavaraja Kotyal Mahadevappa,Shyam Sundar S. Iyer. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Defect detection for dental appliances

Номер патента: US20240005472A1. Автор: Eduard Kopylov,Elena Pogorelova,Evgeniy Kossov,Igor Olkhovskiy. Владелец: Align Technology Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Automated defect detection for wire rope using image processing techniques

Номер патента: CA3057019A1. Автор: Nitin Kumar GOYAL,Basavaraja Kotyal Mahadevappa,Shyam Sundar Slyer. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2020-04-10.

Defect detection for dental appliances

Номер патента: WO2024006224A1. Автор: Eduard Kopylov,Elena Pogorelova,Evgeniy Kossov,Igor Olkhovskiy. Владелец: Align Technology, Inc.. Дата публикации: 2024-01-04.

Laser machining equipment, thickness detection method and thickness detection equipment

Номер патента: JP7098211B1. Автор: 奨藤原,文広糸魚川,修近田,将太郎安田. Владелец: Nagoya Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2022-07-11.

Plastic optical fiber core diameter measuring method, plastic optical fiber core diameter measuring apparatus used therefor, plastic optical fiber defect detecting method, and plastic optical fiber defect detecting apparatus used therefor

Номер патента: US12025529B2. Автор: Masaru Sakamoto,Ichiro Suehiro. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Defect detection device of corrugated fiberboard flutes

Номер патента: EP2101142A9. Автор: Shinichi Mouri. Владелец: Phonic Co Ltd. Дата публикации: 2010-02-10.

Use of electronic speckle interferometry for defect detection in fabricated devices

Номер патента: WO2003067246A9. Автор: Anthony J Dileo,Michael L Peterson Jr. Владелец: Michael L Peterson Jr. Дата публикации: 2004-10-21.

Use of electronic speckle interferometry for defect detection in fabricated devices

Номер патента: EP1472531A2. Автор: Anthony J. DiLeo,Michael L. Peterson, Jr. Владелец: Peterson Michael L Jr. Дата публикации: 2004-11-03.

Structure analysis and defect detection system

Номер патента: US20040149897A1. Автор: David Wang,John Tsai. Владелец: Fibera Inc. Дата публикации: 2004-08-05.

Card-handling devices with defect detection and related methods

Номер патента: US20240102794A1. Автор: Peter Krenn. Владелец: Shuffle Master GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-03-28.

Card-handling devices with defect detection and related methods

Номер патента: US11898837B2. Автор: Peter Krenn. Владелец: Shuffle Master GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-13.

Singulation and sortation defect detection

Номер патента: US11969760B1. Автор: Ting Xu,Duncan Pratt,Jose Luis De La Rosa. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2024-04-30.

Defect detecting apparatus, defect detecting method, information processing apparatus, information processing method, and program therefor

Номер патента: US20100067780A1. Автор: Hiroshi Kawaragi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-03-18.

A kind of system and detection method for railway train wheel tread defects detection

Номер патента: CN109373958A. Автор: 贺子铭,芮军,马开富,徐见. Владелец: Ma'anshan Lei Shi Rail Transportation Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-22.

Flexible substrate, OLED device and defect detecting method for the same

Номер патента: US09761815B2. Автор: LU LIU,Wei Huang,Mingzhe Xie. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Image recording device, image defect detection device, and image defect detection method

Номер патента: US09946944B2. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Apparatus and method for defect detection in a printing system

Номер патента: US09710203B2. Автор: Catharinus Van Acquoij. Владелец: Oce Technologies BV. Дата публикации: 2017-07-18.

Battery cell appearance defect detection apparatus and detection device

Номер патента: EP4386361A1. Автор: Lin Ma,Zhenhui Wang,Pengju Wang,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Chip defect detection device and detection method

Номер патента: US20200173932A1. Автор: Fan Wang,Pengli Zhang,Hailiang LU. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-04.

Battery cell appearance defect detection apparatus and detection device

Номер патента: US20240196112A1. Автор: Lin Ma,Zhenhui Wang,Pengju Wang,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Defect detection of molds for orthodontic aligners

Номер патента: US20200402222A1. Автор: Alexey Kalinichenko,Andrey Cherkas,Anatoliy Parpara,Paren Indravadan Shah. Владелец: Align Technology Inc. Дата публикации: 2020-12-24.

Manufacturing defect detection method, three-dimensional additive manufacturing system, information processing apparatus, information processing method, and information processing program

Номер патента: US20240134343A1. Автор: Akihiko Chiba,Kenta Aoyagi. Владелец: Technology Research Association for Future Additive Manufacturing (TRAFAM). Дата публикации: 2024-04-25.

Manufacturing defect detection method, three-dimensional additive manufacturing system, information processing apparatus, information processing method, and information processing program

Номер патента: US20240231310A9. Автор: Akihiko Chiba,Kenta Aoyagi. Владелец: Technology Research Association for Future Additive Manufacturing (TRAFAM). Дата публикации: 2024-07-11.

Surface defect detecting method and surface defect detecting apparatus

Номер патента: CA2934796A1. Автор: Hiroaki Ono,Akihiro Ogawa,Toshifumi Kodama,Takahiro Koshihara,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2015-07-02.

Surface scanner, an arrangement and a method for surface defect detection of a cable

Номер патента: US11852594B2. Автор: Jaakko Harjuhahto,Janne Harjuhahto. Владелец: Maillefer SA. Дата публикации: 2023-12-26.

Product defect detection method and apparatus, electronic device and storage medium

Номер патента: US11615524B2. Автор: Feng Huang,Ye SU,Lei Nie,Jianfa Zou. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-28.

Product defect detection method and apparatus, electronic device and storage medium

Номер патента: US20210407062A1. Автор: Feng Huang,Ye SU,Lei Nie,Jianfa Zou. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-30.

Product defect detection method and apparatus, electronic device, storage medium and program

Номер патента: EP3836077A2. Автор: Feng Huang,Ye SU,Lei Nie,Jianfa Zou. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-16.

Interferometric dimensional measurement and defect detection method

Номер патента: US4844616A. Автор: Murlidhar V. Kulkarni,William H. Lancaster, Jr.. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1989-07-04.

Rotatable inspection device for defect detection

Номер патента: WO2020234786A8. Автор: Gilles Santi,Marc Lany,Frederic Monnier,Bernard Revaz,Alain BERTHOUD,Julien HUBLEUR. Владелец: Sensima Inspection Sàrl. Дата публикации: 2021-06-24.

Defect detection method and terminal device

Номер патента: US20240095900A1. Автор: Cheng-Ju Yang,Wan-Hsin Tarng,Tsai-Ping Chu. Владелец: Fulian Precision Electronics Tianjin Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Image-based defect detections in additive manufacturing

Номер патента: EP3987480A1. Автор: Livio Dalloro,Suraj Ravi MUSUVATHY,Omar FERGANI,David Madeley,Elena Arvanitis,Gaurav AMETA,Tom Van 't Erve. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2022-04-27.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: US20230304787A1. Автор: Tomotaka Nagashima,Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Systems and methods for defect detection and quality control

Номер патента: EP4193333A1. Автор: Gilberto MARTINS LOUREIRO,Paulo Ribeiro,Antonio ROCHA,Miguel Boaventura Teixeira GOMES. Владелец: Smartex Europe Unipessoal Lda. Дата публикации: 2023-06-14.

Image-based defect detections in additive manufacturing

Номер патента: US20220270236A1. Автор: Livio Dalloro,Suraj Ravi MUSUVATHY,Omar FERGANI,David Madeley,Elena Arvanitis,Gaurav AMETA,Tom Van 't Erve. Владелец: Siemens Industry Software GmbH Germany. Дата публикации: 2022-08-25.

Systems and methods for defect detection and quality control

Номер патента: US20230360196A1. Автор: Gilberto MARTINS LOUREIRO,Paulo Ribeiro,Antonio ROCHA,Miguel Boaventura Teixeira GOMES. Владелец: Smartex Europe Unipessoal Lda. Дата публикации: 2023-11-09.

3d defect detection method with magnetic flux leakage testing

Номер патента: US20200284760A1. Автор: Jia Yan,Hongmei Li,Ranran Huang. Владелец: Yichang Huateng Pipeline Engineering Co ltd. Дата публикации: 2020-09-10.

3D defect detection method with magnetic flux leakage testing

Номер патента: US11486858B2. Автор: Jia Yan,Hongmei Li,Ranran Huang. Владелец: Yichang Huateng Pipeline Engineering Co ltd. Дата публикации: 2022-11-01.

Interferometric defect detection and classification

Номер патента: WO2009149103A1. Автор: Hwan J. Jeong. Владелец: Jeong Hwan J. Дата публикации: 2009-12-10.

Defect detection and measurement method

Номер патента: US20190130557A1. Автор: Joseph D. Drescher,Kenneth A. Frisk. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2019-05-02.

System, method, and computer-readable storage medium for automated manufacturing defect detection

Номер патента: US20200272137A1. Автор: Raja Shekar KILARU,Joshua Batie. Владелец: Toyota Motor North America Inc. Дата публикации: 2020-08-27.

Defect detection using multi-modality sensor data

Номер патента: US20240185026A1. Автор: Wei Cheng,Yuji Kobayashi,Haifeng Chen,Yuncong Chen,Zhengzhang Chen,LuAn Tang. Владелец: NEC Laboratories America Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

Defect detection using multi-modality sensor data

Номер патента: WO2024091563A1. Автор: Wei Cheng,Yuji Kobayashi,Haifeng Chen,Yuncong Chen,Zhengzhang Chen,LuAn Tang. Владелец: NEC Laboratories America, Inc.. Дата публикации: 2024-05-02.

Machine based three-dimensional (3d) object defect detection

Номер патента: US20220036531A1. Автор: Alexey Kalinichenko,Andrey Cherkas,Anatoliy Parpara,Paren Indravadan Shah. Владелец: Align Technology Inc. Дата публикации: 2022-02-03.

Defect detection method for high-voltage cable, detection system, electronic device, and storage medium

Номер патента: AU2023331396A1. Автор: Wei Guo,Xu Yang,LIN Cheng,Ping Chen,Lifeng Cheng,HUI XU,Jing Zhang,Wen Zhou,Junjie Wu,Zhigang Ren,Hao ZHAN,Nian Chen,Jinghua Liu,Mengna Liu,Ziqiu Luo,Zhengqin Zhou,Qinqing Huang,Chuanxian Luo,Chengde Wan,Yuru CAI,Qingmiao CHEN. Владелец: Wuhan Nari Of State Grid Electric Power Res Institute LLC. Дата публикации: 2024-11-07.

Product defect detection method, device and system

Номер патента: US11748873B2. Автор: Liang Zhang,Jie Liu,Li Ma. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Method of non-destructive defect detection of graphitized carbon products using ultrasound tomograph

Номер патента: RU2668637C1. Автор: Анатолий Владимирович Матвеев,Алексей Александрович Спекторук,Григорий Сергеевич Блескин,Татьяна Валерьевна Бутакова,Алексей Леонидович Кванин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-технологический центр группы "ЭНЕРГОПРОМ". Дата публикации: 2018-10-02.

Mode selection and defect detection training

Номер патента: WO2021236473A1. Автор: Brian Duffy,Jing Zhang,Kris Bhaskar,Yujie Dong,Patrick McBride,Vishank Bhatia. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2021-11-25.

Mode selection and defect detection training

Номер патента: US11769242B2. Автор: Brian Duffy,Jing Zhang,Kris Bhaskar,Yujie Dong,Patrick McBride,Vishank Bhatia. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Defect detection and removal apparatus and method

Номер патента: US20240118222A1. Автор: Ching-Liang Lin,chang-rong Lin. Владелец: PlayNitride Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Defect detection method, apparatus and device, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240319099A1. Автор: Wei Wang,Hai Bi,Wanli Yang,Zhaoming He,Jiangwei Duan. Владелец: Ji Hua Laboratory. Дата публикации: 2024-09-26.

Defect detection method and defect detection device and defect observation device provided with same

Номер патента: US09759666B2. Автор: Masahiro Watanabe,Shunichi Matsumoto,Takehiro TACHIZAKI,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Electron beam irradiation apparatus, electron beam exposure apparatus, and defect detection method

Номер патента: US6784426B2. Автор: Takayuki Sugiura,Hideki Nasuno. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2004-08-31.

Defect detection method, defect detection system, and defect detection program

Номер патента: EP4421731A1. Автор: Shogo Tsujimoto. Владелец: Anamorphosis Networks Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Detection method and system based on battery defect detection system, and storage medium

Номер патента: EP4231007A1. Автор: Peng Fan,De Chen,Qihui Lu. Владелец: Guangdong Lyric Robot Automation Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: US20240282608A1. Автор: Takuya Adachi,Hiroshi Munakata. Владелец: Yamaha Robotics Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: US20240255439A1. Автор: Donghoon Kim,Younghoon Sohn,Sungyoon Ryu,Sunhong JUN,Heeyoon Han. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Radio electronic equipment components dielectric coating continuity defects detection and elimination method

Номер патента: RU2664784C1. Автор: Сергей Анатольевич Попов,Александр Владимирович Батраков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт сильноточной электроники Сибирского отделения Российской академии наук (ИСЭ СО РАН). Дата публикации: 2018-08-22.

System and Method for Power Module Defect Detection

Номер патента: US20240272088A1. Автор: Marco Alfio Torrisi,Salvatore Coffa,Francesco RUNDO,Michele Calabretta,Riccardo Emanuele SARPIETRO. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2024-08-15.

High throughput defect detection

Номер патента: US12092584B2. Автор: Boris Golberg. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Defect detection device, defect detection method, and defect observation apparatus including defect detection device

Номер патента: US11982631B2. Автор: Kazuo Aoki,Shunichi Matsumoto,Yuta Urano,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

Method for improving efficiency of defect detection in images, image defect detection apparatus, and computer readable storage medium employing method

Номер патента: US12039710B2. Автор: Shih-Chao Chien,Chin-Pin Kuo,Tung-Tso Tsai. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Defect detection method and apparatus for cushion layer of cable, device, and storage medium

Номер патента: US20240241168A1. Автор: Yang Yu,LIN Li,Fei Lu,Lei Yang,XIAOGUANG WANG,Wei Fan,Chi Zhang,Chunhui Zhang,Songyuan Li,Chun He,Weibo LI,Haoming Wang,Shengchen Fang,Pengxian Song,Qinghua Tang,Longji LI,Xuliang Zhu,Minghui Duan. Владелец: Electric Power Research Institute of State Grid Tianjin Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Method for evaluating the performance of flaw detection equipment during high-speed inspection of rails

Номер патента: RU2753810C1. Автор: Анатолий Аркадиевич Марков,Екатерина Алексеевна Максимова. Владелец: Открытое акционерное общество "Радиоавионика". Дата публикации: 2021-08-23.

Defect detection method, apparatus, and device for semi-conducting bedding layer of power cable

Номер патента: US12019044B2. Автор: Xu Li,Yang Yu,Lei Yang,Jun Zhang,Wei Fan,Chi Zhang,Ke Xu,Nan Wang,Cheng Sun,Chun He,Xiaohui Zhu,Haoming Wang,Zhengzheng MENG,Fengzheng ZHOU,Shengchen Fang,Pengxian Song,Mingzheng Zhu,Qinghua Tang,Longji LI. Владелец: Electric Power Research Institute of State Grid Tianjin Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Apparatus, method and computer program product for defect detection in work pieces

Номер патента: EP4354162A3. Автор: Carl Truyens,Tom Marivoet,Christophe Wouters. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2024-07-17.

Visual detection light source and tab detection equipment

Номер патента: US20240167963A1. Автор: Ping Jiang,Yong Chen,Zhipeng Zhang,Yuyang Mao. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Adhesion defect detection apparatus and adhesion defect detection method using the same

Номер патента: US20210372934A1. Автор: Tae Jin Hwang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-02.

Image collection apparatus and electrode sheet defect detection system

Номер патента: EP4421479A1. Автор: CHAO Chen,Zhipeng Chen,Yucong XUE. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Defect detection method of display device and defect detection apparatus of display device

Номер патента: US20100256796A1. Автор: Tomohide Hamada,Kei Nara. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-10-07.

Defect inspection apparatus, sensitivity calibration method for the same, substrate for defect detection sensitivity calibration, and manufacturing method thereof

Номер патента: US20070035725A1. Автор: Naohiro Takahashi,Tamihide Yasumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-02-15.

New pollutant detection equipment for environmental science

Номер патента: US20240175856A1. Автор: Xinfeng Zhao,Zihao WU,Shengrui WANG,Wenhui GAN,Xinrui CAI,Xuanzhi MA. Владелец: Beijing Normal University At Zhuhai. Дата публикации: 2024-05-30.

Adhesion defect detection apparatus and adhesion defect detection method using the same

Номер патента: US20200240923A1. Автор: Tae Jin Hwang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-30.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: US12099000B2. Автор: Tomotaka Nagashima,Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Helium detection device and helium detection equipment

Номер патента: US12111231B2. Автор: Song WANG,Jianping Wu,Yizhou Sun. Владелец: Wuxi Lead Intelligent Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

System and method for defect detection and photoluminescence measurement of a sample

Номер патента: US09772289B2. Автор: Romain Sappey. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Baseline restoration methods and apparatuses and medical detecting equipments thereof

Номер патента: US09749606B2. Автор: Pei Wang,Shen Luo,Wenyu Ye. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Defect detection system for extreme ultraviolet lithography mask

Номер патента: US09546964B2. Автор: Ming Liu,Xiaoli Zhu,Dongmei Li,Changqing Xie,Hailiang Li,Lina Shi,Jiebin Niu. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2017-01-17.

Product defect detection method, device and system

Номер патента: US11836907B2. Автор: Jie Liu. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Helium detection device and helium detection equipment

Номер патента: US20240247994A1. Автор: Song WANG,Jianping Wu,Yizhou Sun. Владелец: Wuxi Lead Intelligent Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Circuit pattern defect detection apparatus, circuit pattern defect detection method, and program therefor

Номер патента: US20100321680A1. Автор: Akira Takada. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2010-12-23.

Product defect detection method, device and system

Номер патента: US20210374941A1. Автор: Liang Zhang,Jie Liu,Li Ma. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2021-12-02.

Defect detection device enabling easy removal of magnetic impurities

Номер патента: US20180113177A1. Автор: Ji Su Kim,Jung Min Kim,Myung Chul JUNG,Jin Yi LEE. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chosun National University. Дата публикации: 2018-04-26.

Print check repeater defect detection

Номер патента: US20210342992A1. Автор: Wei Si,HONG Chen,James A. Smith,Michael Cook,Xiaochun Li,Eugene Shifrin,Kenong Wu,Bjorn BRAUER,Ramon Ynzunza,Leon Yu,Qing LUO,Nurmohammed Patwary,Neil Troy. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Wafer defect detection device

Номер патента: US20240175827A1. Автор: Ching-Liang Lin,Yi-Chia Hwang. Владелец: PlayNitride Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Defect detection apparatus and medium

Номер патента: US11893721B2. Автор: Yuichi OHSHIMA. Владелец: Nikon Trimble Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Method for constructing efficient product surface defect detection model based on network collaborative pruning

Номер патента: US20210295165A1. Автор: Jie Zhang,Xin Liu,Junliang WANG,Jinsong BAO. Владелец: DONGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-09-23.

Defect detection task processing method, device, apparatus and storage medium

Номер патента: US11982999B2. Автор: Hong Wang,Yaoping Wang,Meijuan ZHANG,Dong Chai,Zhaoyue LI,Yuanyuan LU,Wangqiang HE. Владелец: Beijing Zhongxiangying Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: US11715542B2. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-01.

Method for constructing efficient product surface defect detection model based on network collaborative pruning

Номер патента: US11966847B2. Автор: Jie Zhang,Xin Liu,Junliang WANG,Jinsong BAO. Владелец: DONGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-04-23.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: US11417408B2. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-08-16.

High sensitivity repeater defect detection

Номер патента: SG11201903715XA. Автор: Eugene Shifrin,Chetana Bhaskar,Santosh Bhattacharyya,Lisheng Gao,Bjorn BRAUER,Hucheng Lee,Ashok Mathew,Benjamin Murray. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: US20220036958A1. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-02-03.

Display defect detection apparatus and detection method, display defect detection system, and electronic device

Номер патента: US20230274411A1. Автор: Xiang Li,Jing Wang,Bo Li,Hui Guo,Bochang WANG,Tanhong ZHAO,Guojian QU,Qiaoke ZHOU. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Display device, panel defect detection circuit and panel defect detection method

Номер патента: US20240219463A1. Автор: Sangyun Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: EP3945330A1. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-02-02.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: US20220328117A1. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-13.

Defect detection apparatus and storage medium readable by computer

Номер патента: US20030178588A1. Автор: Yoshinari Ota. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2003-09-25.

Tire defect detection system and method

Номер патента: EP1299846A1. Автор: Frank J. Heirtzler. Владелец: Foster Miller Inc. Дата публикации: 2003-04-09.

Unit cell including thermochromic polymer and defect detection method using the same

Номер патента: US20230216092A1. Автор: Soo Jung Kim,Duk Hyun Ryu,Min Gi Jeong,Han Saem Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-07-06.

Edge defect detection via image analytics

Номер патента: WO2024064166A1. Автор: Joseph Liu,Yash Chhabra,Abyaya Dhar,Yi Nung WU,Boon Sen CHAN,Sidda Reddy KURAKULA,Chandrasekhar Roy. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-03-28.

Care area based defect detection

Номер патента: US20230258576A1. Автор: Satyajit KAUTKAR,Sambit ROUT,Sunil Kiran ESETTY,Narasimha Murthy Srinivasa CHANDAN. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Tire defect detection system and method

Номер патента: WO2001097159A1. Автор: Frank J. Heirtzler. Владелец: FOSTER-MILLER, INC.. Дата публикации: 2001-12-20.

Defect Detection Method and System Using High Frequency Waves

Номер патента: US20240219355A1. Автор: Saber NASRAOUI,Moez LOUATI,Mohamed Salah GHIDAOUI,Georgios GRIGOROPOULOS. Владелец: Hong Kong University of Science and Technology HKUST. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and System for Defect Detection

Номер патента: US20240201041A1. Автор: Moez LOUATI,Mohamed Salah GHIDAOUI,Muhammad WAQAR. Владелец: Hong Kong University of Science and Technology HKUST. Дата публикации: 2024-06-20.

Method and apparatus for defect detection in composite structures

Номер патента: US09494562B2. Автор: Wei Lin,Lay Siong Goh,Lye Seng Wong,Heng Kiat Jonathan Hey,Ricky Riyadi Chan,Roman Britner. Владелец: Agency for Science Technology and Research Singapore. Дата публикации: 2016-11-15.

Method of defects detecting and defect size determining

Номер патента: RU2650414C2. Автор: Анатолий Аркадиевич Марков,Александр Юрьевич Веревкин. Владелец: Анатолий Аркадиевич Марков. Дата публикации: 2018-04-13.

Temporally Modulated Light Emission for Defect Detection in Light Detection and Ranging (Lidar) Devices and Cameras

Номер патента: US20240085343A1. Автор: Andy Wong,Ralph H. Shepard,Chase Salsbury,Regan Klein. Владелец: Waymo LLC. Дата публикации: 2024-03-14.

Systems and methods for inspection and defect detection

Номер патента: US20200309716A1. Автор: Alyssa Packard,Lindsey Winland,Shannon Gramley. Владелец: Caastle Inc. Дата публикации: 2020-10-01.

Defect detection of a semiconductor specimen

Номер патента: US20230377125A1. Автор: Amir Bar,Assaf Ariel,Lior Katz,Boaz Dudovich,Lior YEHIELI,Chen ITZIKOWITZ,Shiran BEN ISRAEL,Eli Oren JONI,Eyal Rot. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Integrated defect detection and location systems and methods in semiconductor chip devices

Номер патента: US20140013171A1. Автор: Cheow Guan Lim,Giovanni Ferrara. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2014-01-09.

Temporally modulated light emission for defect detection in light detection and ranging (lidar) devices and cameras

Номер патента: EP4336212A1. Автор: Ralph H Shepard,Andy Wong,Chase Salsbury,Regan Klein. Владелец: Waymo LLC. Дата публикации: 2024-03-13.

Defect detection device, defect detection method, and defect observation device

Номер патента: US11802841B2. Автор: Yuji Takagi,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Systems and methods for inspection and defect detection

Номер патента: US20220196568A1. Автор: Alyssa Packard,Lindsey Winland,Shannon Gramley. Владелец: Caastle Inc. Дата публикации: 2022-06-23.

Detection method based on battery defect detection system, system and storage medium

Номер патента: US20240102966A1. Автор: Peng Fan,De Chen,Qihui Lu. Владелец: Guangdong Lyric Robot Automation Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Leather defect detection system

Номер патента: US20230213456A1. Автор: Sze Teng LIONG,Yee Siang GAN,Wen Hong LIN,Che Ming LI. Владелец: FENG CHIA UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-07-06.

High sensitivity repeater defect detection

Номер патента: WO2018089459A1. Автор: Eugene Shifrin,Chetana Bhaskar,Santosh Bhattacharyya,Lisheng Gao,Bjorn BRAUER,Hucheng Lee,Ashok Mathew,Benjamin Murray. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2018-05-17.

Material defect detection device, material defect detection system, material defect detection method, and non-transitory computer readable storage medium

Номер патента: US20190271663A1. Автор: Tetsuya Ishikawa,Hideki Yoshida. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2019-09-05.

Defect detection method of semiconductor wafer patterns

Номер патента: CA1242815A. Автор: Pak K. Leung. Владелец: Northern Telecom Ltd. Дата публикации: 1988-10-04.

Magnetic storage medium defect detection arrangement

Номер патента: GB2333373A. Автор: Byung-Kug Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1999-07-21.

Defect detecting method and apparatus

Номер патента: GB9106933D0. Автор: . Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 1991-05-22.

Wafer backside defect detection method and wafer backside defect detection apparatus

Номер патента: US11821847B2. Автор: Cheng-Hsien Chen,Chia-Feng HSIAO,Chung-Hsuan WU,Nai-Ying Lo,Chen-Hui Huang,Yung-Yu Yang,En-Wei TSUI,Chen-Hsuan Hung. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Hot spot defect detecting method and hot spot defect detecting system

Номер патента: US11900586B2. Автор: Xiaomeng Chen,Wei-Chen Wu,Chien-Huei Chen,Pei-Chao Su,Chan-Ming Chang,Shih-Yung Chen,Hung-Yi Chung,Kuang-Shing Chen,Li-Jou Lee,Yung-Cheng Lin,Shih-Chang Wang,Chien-An Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Flexible probe for microled defect detection and manufacturing method therefor

Номер патента: US20240085493A1. Автор: QING Yang,Xian Huang. Владелец: Institute of Flexible Electronics Technology of THU Zhejiang. Дата публикации: 2024-03-14.

High throughput defect detection

Номер патента: US20230341334A1. Автор: Boris Golberg. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Defect detection of extruded strip

Номер патента: US20240019388A1. Автор: Daniel Duane HAWK,Jacob James Mudger. Владелец: Steelastic Co LLC. Дата публикации: 2024-01-18.

Defect detection structures, semiconductor devices including the same, and methods of detecting defects in semiconductor dies

Номер патента: US11796587B2. Автор: Minjae Lee,Junghyun Roh,Unho Cha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-24.

Defect detection structure of a semiconductor die, semiconductor device including the same and method of detecting defects in semiconductor die

Номер патента: US20210320039A1. Автор: Jeong-Don IHM,Byung-Hoon Jeong,Young-don Choi,Jae-Yong Jeong,Tae-Sung Lee,Min-Jae Lee,Sang-Lok Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-10-14.

Hot spot defect detecting method and hot spot defect detecting system

Номер патента: US20240144467A1. Автор: Xiaomeng Chen,Wei-Chen Wu,Chien-Huei Chen,Pei-Chao Su,Chan-Ming Chang,Shih-Yung Chen,Hung-Yi Chung,Kuang-Shing Chen,Li-Jou Lee,Yung-Cheng Lin,Shih-Chang Wang,Chien-An Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Defect detection structures, semiconductor devices including the same, and methods of detecting defects in semiconductor dies

Номер патента: US20210311104A1. Автор: Minjae Lee,Junghyun Roh,Unho Cha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-10-07.

Optical web defect detection system

Номер патента: US6084681A. Автор: Barry P. Keane. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-07-04.

Loaded-to-frame detection equipment and method for backfill grouting of shield tunnel

Номер патента: US11181633B2. Автор: Biao Zhou,Yifan Chen,Xiongyao Xie,Yunxiang Zhou,Hui Qin. Владелец: TONGJI UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-11-23.

Product defect detection method, device and system

Номер патента: US11741593B2. Автор: Yifan ZHANG,Jie Liu,Jifeng Tian,Fuli XIE,Shunran DI. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2023-08-29.

Mobile railway track defect detection

Номер патента: US11879814B2. Автор: Salvatore Salamone,Korkut Kaynardag. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 2024-01-23.

Defect detecting system of automotive apparatus

Номер патента: EP4280217A3. Автор: Sang Ho Kim,Hyun Seok Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-29.

Substrate defect-detection and comparison

Номер патента: WO2024039785A1. Автор: Jason Paul Remillard. Владелец: Onto Innovation Inc.. Дата публикации: 2024-02-22.

Ultra-micro defect detection apparatus and detection method thereof

Номер патента: US20240119577A1. Автор: Feng Lei,Henan Wujie Zhang,Xiaoyun Lv,Gian Zhang. Владелец: Casi Vision Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Defect detecting system of automotive apparatus

Номер патента: US20230375606A1. Автор: Sang Ho Kim,Hyun Seok Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-23.

Defect detecting system of automotive apparatus

Номер патента: EP4280217A2. Автор: Sang Ho Kim,Hyun Seok Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-22.

Substrate defect-detection and comparison

Номер патента: US20240062361A1. Автор: Jason Paul Remillard. Владелец: Onto Innovation Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Text image defect detection method, computer device, and storage medium

Номер патента: US20230086131A1. Автор: Yen-Yi Lin,Hui-Xian Yang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

Character defect detection method and device

Номер патента: US12002198B2. Автор: Yifan ZHANG,Jifeng Tian,Shiyu Li. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Selecting parameters for defect detection methods

Номер патента: WO2014043035A1. Автор: Yi Liu,Carl Hess,Kenong Wu,Chris W. Lee,Michael VAN RIET. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-03-20.

Cell insulation defect detection system

Номер патента: US20230145111A1. Автор: Kyung Mo Kim. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-05-11.

Defect detecting method and apparatus

Номер патента: US4492476A. Автор: Takashi Miyazawa. Владелец: Kirin Brewery Co Ltd. Дата публикации: 1985-01-08.

Defect detecting method and apparatus

Номер патента: CA1179427A. Автор: Takashi Miyazawa. Владелец: Kirin Brewery Co Ltd. Дата публикации: 1984-12-11.

Electromagnetic (EM) defect detection methods and systems with enhanced inversion options

Номер патента: GB2563522A. Автор: VIASSOLO Daniel,Donderici Burkay,Emilio San Martin Luis,Elsayed Fouda Ahmed. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2018-12-19.

Defect detecting method and apparatus

Номер патента: CA1189951A. Автор: Takashi Miyazawa. Владелец: Kirin Brewery Co Ltd. Дата публикации: 1985-07-02.

Stroboscopic stepped illumination defect detection system

Номер патента: US20240118218A1. Автор: Hao Deng,Chenglin Zhang,Xiaosong Hu,Bing Pian,Wujie Zhang. Владелец: Casi Vision Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Defect detection using ultrasound scan data

Номер патента: WO2018177739A1. Автор: Serban GEORGESCU,Eduarda Mendes Rodrigues. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-10-04.

Apparatus, method and computer program product for defect detection in work pieces

Номер патента: US20230393185A1. Автор: Carl Truyens,Tom Marivoet,Christophe Wouters. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Apparatus, method and computer program product for defect detection in work pieces

Номер патента: US11892493B2. Автор: Carl Truyens,Tom Marivoet,Christophe Wouters. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Display defect detection method, apparatus, and device for display screen

Номер патента: US20180246044A1. Автор: Huiqiang Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-30.

Interpretable deep learning-based defect detection and classification

Номер патента: WO2022066489A1. Автор: Li He,Xu Zhang,Sankar Venkataraman. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2022-03-31.

Apparatus, method and computer program product for defect detection in work pieces

Номер патента: EP4354162A2. Автор: Carl Truyens,Tom Marivoet,Christophe Wouters. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Defect detection using ultrasound scan data

Номер патента: US11467128B2. Автор: Serban GEORGESCU,Eduarda Mendes Rodrigues. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-10-11.

Reverse Decoration for Defect Detection Amplification

Номер патента: US20180025952A1. Автор: Paul Macdonald,Robert Danen,Philip Measor. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-01-25.

Systems and methods for region-adaptive defect detection

Номер патента: SG11201803667RA. Автор: Eliezer Rosengaus,Bjorn BRAUER,Vijay Ramachandran,Laurent Karsenti,John Jordan,Christopher Maher,Roni Miller. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-06-28.

Semiconductor device having defect detection circuit

Номер патента: US20240159823A1. Автор: Young Ock HONG. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Phase filter for enhanced defect detection in multilayer structure

Номер патента: WO2019221938A1. Автор: Robert M. Danen,Dmitri G. STARODUB. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-21.

Defect detection method, apparatus, and device for semi-conducting bedding layer of power cable

Номер патента: US20240175839A1. Автор: Xu Li,Yang Yu,Lei Yang,Jun Zhang,Wei Fan,Chi Zhang,Ke Xu,Nan Wang,Cheng Sun,Chun He,Xiaohui Zhu,Haoming Wang,Zhengzheng MENG,Fengzheng ZHOU,Shengchen Fang,Pengxian Song,Mingzheng Zhu,Qinghua Tang,Longji LI. Владелец: Electric Power Research Institute of State Grid Tianjin Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Defect detection using ultrasound scan data

Номер патента: US20180299412A1. Автор: Eduarda Mendes Rodrigues. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Visual detection equipment and verification method thereof, and camera verification piece

Номер патента: US20240163418A1. Автор: Ping Jiang,Yong Chen,Zhipeng Zhang,Ziyang SHEN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Surface defect detection and confirmation system and method

Номер патента: US4794264A. Автор: Sergey V. Broude,Koichi Nishine,George S. Quackenbos,Jay L. Ormsby,Eric T. Chase. Владелец: QC Optics Inc. Дата публикации: 1988-12-27.

Application-specific repeat defect detection in web manufacturing processes

Номер патента: EP2545360A1. Автор: Steven P. Floeder,James A. Masterman,Carl J. Skeps,Steven R. Dreger,Steven R. Wageman. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2013-01-16.

Defect detection system

Номер патента: US4249081A. Автор: Frederick A. Cole,Ronald L. Deak. Владелец: Sparton Corp. Дата публикации: 1981-02-03.

Defect detecting device for two-layer parts, in particular for solar cells

Номер патента: US5367174A. Автор: Jean-Luc Bazile,Paul Billon,Patrick Mallea. Владелец: AIRBUS GROUP SAS. Дата публикации: 1994-11-22.

Edge defect detection via image analytics

Номер патента: US20240095899A1. Автор: Joseph Liu,Yash Chhabra,Abyaya Dhar,Yi Nung WU,Boon Sen CHAN,Sidda Reddy KURAKULA,Chandrasekhar Roy. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

System and method for image analysis for physical defect detection of a storage medium

Номер патента: US20220405914A1. Автор: Siten Sanghvi. Владелец: Bank of America Corp. Дата публикации: 2022-12-22.

Defect detection apparatus

Номер патента: US20120038911A1. Автор: Takeharu Tani,Hiroshi Sunagawa,Tatsuya YOSHIHIRO,Hisashi Ootsuka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-02-16.

Unit cell including thermochromic polymer and defect detecting method using same

Номер патента: EP4109625A1. Автор: Soo Jung Kim,Duk Hyun Ryu,Min Gi Jeong,Han Saem Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2022-12-28.

Ultrasonic defect detection and classification system using machine learning

Номер патента: US20230306578A1. Автор: John J. Pickerd,Kevin Ryan. Владелец: Sonix Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Care area based defect detection

Номер патента: US11988613B2. Автор: Satyajit KAUTKAR,Sambit ROUT,Sunil Kiran ESETTY,Narasimha Murthy Srinivasa CHANDAN. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Defect detection device

Номер патента: US20230306575A1. Автор: Hiroshi Horikawa,Satoru Sugimoto,Naoto Mishina. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Defect detection apparatus and storage medium readable by computer

Номер патента: US6753542B2. Автор: Yoshinari Ota. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2004-06-22.

Method and system for vision-based defect detection

Номер патента: US20210116293A1. Автор: Meng-Chao Kao,Jie-Ci Yang,Wen-Kuong LIU. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2021-04-22.

Defect detection device and method thereof

Номер патента: US20240127425A1. Автор: Sungwook Hwang,Kibum LEE,Seulgi OK,Tae Soo Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-18.

Sizing defect detection system and sizing defect detection method

Номер патента: US09651500B2. Автор: Masahiko Yamazaki. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Sizing defect detection system and sizing defect detection method

Номер патента: CN105358965A. Автор: 山崎正彦. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-24.

Sizing defect detection system and sizing defect detection method

Номер патента: WO2014208226A1. Автор: 山崎　正彦. Владелец: 吉野石膏株式会社. Дата публикации: 2014-12-31.

Sizing defect detection system and sizing defect detection method

Номер патента: EP3015849A4. Автор: Masahiko Yamazaki. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-08.

Systems and methods for defect detection and correction in additive manufacturing processes

Номер патента: US20240293870A1. Автор: Ziye Liu,Andrew Vechart,Behrooz Jalalahmadi,Jingfu Liu,Xiawa Wu. Владелец: Sentient Science Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Manipulator device based on RTK positioning X-ray transmission line defect detection equipment

Номер патента: CN113942031A. Автор: 赵辉,白洋,魏浩,侯博文,佟明,李万亮,刘克冰,马连瑞,黄博宇,石嫱,龙晓芙,孟令卿. Владелец: Anshan Power Supply Co Of State Grid Liaoning Electric Power Co. Дата публикации: 2022-01-18.

Method and system for weld defect detection

Номер патента: US11839935B2. Автор: Wei Zeng,Hui-Ping Wang,Joshua Lee Solomon,Baixuan Yang,Scott E Parrish. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2023-12-12.

Method and system for weld defect detection

Номер патента: US20230166361A1. Автор: Wei Zeng,Scott E. Parrish,Hui-Ping Wang,Joshua Lee Solomon,Baixuan Yang. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2023-06-01.

Eddy current sensor carried on pipeline cleaner and pipeline defect detection method

Номер патента: GB2615917A. Автор: Su Xin,Dong Bing,Song Huadong,Hu Wenguang,Zeng Yanli,Guo Xiaoting,Xu Yizhong. Владелец: Sinomach Sensing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Pipe manufacturing installation and associated defect detection method

Номер патента: US20060202381A1. Автор: Christian Bach,Eberhard Kertscher. Владелец: Thomas Machines SA. Дата публикации: 2006-09-14.

Systems and methods for defect detection in additively manufactured bodies

Номер патента: US20200064289A1. Автор: Wei Huang,Michael Globig. Владелец: Arconic Inc. Дата публикации: 2020-02-27.

Systems and methods for defect detection and correction in additive manufacturing processes

Номер патента: WO2022051508A1. Автор: Ziye Liu,Andrew Vechart,Behrooz Jalalahmadi,Jingfu Liu,Xiawa Wu. Владелец: Sentient Science Corporation. Дата публикации: 2022-03-10.

System and method for high speed surface and subsurface fod and defect detection

Номер патента: US20180031491A1. Автор: Jeffrey G. Thompson,Morteza Safai. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-02-01.

Wire bonding defect detection apparatus and operation method thereof

Номер патента: US20240159713A1. Автор: Jee Hoon Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Feeding and discharging equipment for water-immersed ultrasonic flaw detection equipment for direct-axis component

Номер патента: CN106395235A. Автор: 陈江,李平川,牛迎春,熊勇军,阮培亮,段怡雄,阳冬鸿. Владелец: Zhuzhou Zhongche Tianli Forging Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-15.

For detecting equipment existing for user and the door handle for vehicle including the equipment

Номер патента: CN104417495B. Автор: X.乌尔内,A.丰塔内,C.罗班. Владелец: Continental Automotive France SAS. Дата публикации: 2019-05-17.

Test tube cleaning mechanism of water quality detection equipment and water quality detection equipment

Номер патента: CN111804690B. Автор: 李�杰. Владелец: Harbin Yueyuan Environmental Protection Equipment Co ltd. Дата публикации: 2022-08-02.

Stirring mechanism of water quality detection equipment and water quality detection equipment

Номер патента: CN111729595B. Автор: 李�杰. Владелец: Harbin Yueyuan Environmental Protection Equipment Co ltd. Дата публикации: 2022-06-24.

Test tube cleaning mechanism of water quality detection equipment and water quality detection equipment

Номер патента: CN111804690A. Автор: 李�杰. Владелец: Harbin Yueyuan Environmental Protection Equipment Co ltd. Дата публикации: 2020-10-23.

INTERNAL DEFECT DETECTION SYSTEM, THREE-DIMENSIONAL ADDITIVE MANUFACTURING DEVICE, INTERNAL DEFECT DETECTION METHOD, METHOD OF MANUFACTURING THREE-DIMENSIONAL ADDITIVE MANUFACTURED PRODUCT, AND THREE-DIMENSIONAL ADDITIVE MANUFACTURED PRODUCT

Номер патента: US20210162508A1. Автор: Narita Ryuichi,KITAMURA Masashi,TANIGAWA Shuji,WATANABE Toshiya,HARAGUCHI Hidetaka,KONDOU Akio,THOMY Claus,KOEHLER Henry. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

Internal defect detection system, three-dimensional additive manufacturing apparatus, internal defect detection method, three-dimensional additive manufactured article manufacturing method, and three-dimensional additive manufactured object

Номер патента: JP6735925B2. Автор: 明生近藤,俊哉渡辺,英剛原口,仁北村,原口　英剛,秀次谷川,竜一成田,渡辺　俊哉,クラウストミー,ヘンリーケーラー. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Internal defect detection system, three-dimensional additive manufacturing apparatus, internal defect detection method, method of manufacturing three-dimensional additive manufacturing object, and three-dimensional additive manufacturing object

Номер патента: JPWO2019030838A1. Автор: 明生近藤,俊哉渡辺,英剛原口,仁北村,原口　英剛,秀次谷川,竜一成田,渡辺　俊哉,クラウストミー,ヘンリーケーラー. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2020-03-26.

Defect detecting device

Номер патента: CA1107834A. Автор: Shuichi Shibata,Noboru Yamaguchi,Ituo Shibata. Владелец: Individual. Дата публикации: 1981-08-25.

Surface or interface defect detection

Номер патента: US11761910B2. Автор: Andrew J LODGE,Akhil MULLOTH. Владелец: Rolls Royce PLC. Дата публикации: 2023-09-19.

Substrate Defect Detection Mechanism

Номер патента: US20150054880A1. Автор: Harry Reese Lewis,Scott Richard Johnson,Casey Ethan Walker. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-26.

Defect detection for print media

Номер патента: EP3523634C0. Автор: Cornelius M F Janssen,Acquoij Catharinus Van. Владелец: Canon Production Printing Holding BV. Дата публикации: 2024-05-15.

Method and device for determining appearance size of dynamic target, medium and electronic equipment

Номер патента: CN114111568A. Автор: 何仕文. Владелец: Suteng Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-01.

Micro Focal-Length Collimation Based Micro-Cavity Measuring Method And Detecting Equipment Thereof

Номер патента: US20120019839A1. Автор: Fei Wang,Jiubin Tan,Jiwen Cui. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2012-01-26.

Defect detection equipment

Номер патента: CN113405989A. Автор: 黄朋辉. Владелец: Peitian Robot Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-17.

Micro focal-length collimation based micro-cavity measuring method and detecting equipment thereof

Номер патента: GB201115277D0. Автор: . Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2011-10-19.

Panoramic vision potato sorts and defect detecting device and its sorting detection method

Номер патента: CN106238342B. Автор: 张涛,马军,张臻,曹阳,姜哲,明五,明五一,都金光,侯俊剑,何文斌,沈娣丽,柳超杰,吕昊威,田继忠. Владелец: Zhengzhou University of Light Industry. Дата публикации: 2018-05-15.

Plastic optical fiber core diameter measuring method, plastic optical fiber core diameter measuring apparatus used therefor, plastic optical fiber defect detecting method, and plastic optical fiber defect detecting apparatus used therefor

Номер патента: US20220146371A1. Автор: Masaru Sakamoto,Ichiro Suehiro. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2022-05-12.

Wire section shape defect detection system and detection method thereof

Номер патента: CN111721229B. Автор: 梁爽,石桂芬,何永辉,彭铁根,宗德祥,杨水山. Владелец: Baoshan Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-21.

Surface defect inspecting apparatus with defect detection optical system and defect-detected image processing

Номер патента: US20090237669A1. Автор: Minoru Yoshida,Shigeru Serikawa,Tatsuo Hariyama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-09-24.

Surface defect detection model training method, and surface defect detection method and system

Номер патента: US20240169510A1. Автор: Shenglin LU,Hongchao GAO. Владелец: Guangdong OPT Machine Vision Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Wordline defect detection circuit, wordline defect detection method, and memory device including the same

Номер патента: EP4398253A2. Автор: Seongjin Kim,Chihyun Kim,Junehong PARK,Jayang Yoon,Hyeongdo CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-10.

Wordline defect detection circuit, wordline defect detection method, and memory device including the same

Номер патента: US20240233850A1. Автор: Seongjin Kim,Chihyun Kim,Junehong PARK,Jayang Yoon,Hyeongdo CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Wordline defect detection circuit, wordline defect detection method, and memory device including the same

Номер патента: EP4398253A3. Автор: Seongjin Kim,Chihyun Kim,Junehong PARK,Jayang Yoon,Hyeongdo CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-07.

Subtle defect detection method based on coarse-to-fine strategy

Номер патента: US11790517B2. Автор: Jun Wang,Dawei Li,Zhongde Shan,Yuxiang Wu,Shuyi JIA. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2023-10-17.

Head-mounted vision detection equipment, vision detection method and electronic device

Номер патента: US11744462B2. Автор: Tao Wu. Владелец: Qingdao Pico Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Method and device for defect detection

Номер патента: US20240265525A1. Автор: Guannan JIANG,Annan Shu,Yongfa LIU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Defect detecting apparatus and method

Номер патента: US20230394651A1. Автор: Kai-lin YANG,Yung-Hui Li,Yi-Rong LIN. Владелец: Foxconn Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Defect detection in memories with time-varying bit error rate

Номер патента: WO2020123446A3. Автор: Zhengang Chen,Tingjun Xie,Zhenlei Shen,Sai Krishna Mylavarapu,Charles S. Kwong. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2021-03-04.

Defect detection method and device

Номер патента: EP4411626A1. Автор: Guannan JIANG,Annan Shu,Yongfa LIU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Fabric defect detection method

Номер патента: US20240193752A1. Автор: Yifei Wu,Hua Zhang,Lingjun Zhang,Yifan Wu. Владелец: Hangzhou Dianzi University. Дата публикации: 2024-06-13.

A mango defect detection method based on multi-scale feature density estimation

Номер патента: ZA202401067B. Автор: Ma Yunfeng,WANG SHICHAO,Wang Renhuan,Cui Hongzhen,Zhang Longhao. Владелец: WANG SHICHAO. Дата публикации: 2024-08-28.

Method and system for surface defect detection based on few-shot learning

Номер патента: US20240362762A1. Автор: Yue Tian,Xingyu Chen,Hongqi Zhang,Liangxi CHEN. Владелец: CETC 38 Research Institute. Дата публикации: 2024-10-31.

Defect detecting device and bag-making machine

Номер патента: EP4174471A1. Автор: Yuji Ohnishi. Владелец: Totani Corp. Дата публикации: 2023-05-03.

Defect detection method and apparatus, and electronic device

Номер патента: US20240296537A1. Автор: Xiaoyu CHI,Zengyuan GAI. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Defect detecting device and bag making apparatus

Номер патента: US12083765B2. Автор: Yuji Ohnishi. Владелец: Totani Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Software defect detection method with effective data processing

Номер патента: LU502262B1. Автор: Ying Ma. Владелец: Univ Xiamen Technology. Дата публикации: 2022-12-13.

Optical film defect detection method and system thereof

Номер патента: US09582872B2. Автор: Chia-Yu Hsu,Kuo-Hua Lai,Chien-Lung Chan,Shih-En Jhong. Владелец: YUAN ZE UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-02-28.

Line defect detection circuit and semiconductor memory device including the same

Номер патента: US9978439B1. Автор: Yong-Deok Cho. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Method and apparatus with defect detection

Номер патента: US20240257329A1. Автор: SeungJu HAN,Hyeon Jeong Park,Je Hyeong HONG,Sanghyuk MOON. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2024-08-01.

Discharge defect detecting method and discharge defect detecting device

Номер патента: US8322813B2. Автор: Hidekuni Moriya,Tsuneo Kasai,Kenji Fukasawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-12-04.

Discharge defect detecting method and discharge defect detecting device

Номер патента: US20100253982A1. Автор: Hidekuni Moriya,Tsuneo Kasai,Kenji Fukawasa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-10-07.

Printing system and method for defect detection in a printing system

Номер патента: EP3204231A1. Автор: Daisuke Kawaguchi,Catharinus Van Acquoij,Ernest J.J. CLEVERS,Roy H.R. JACOBS. Владелец: Oce Technologies BV. Дата публикации: 2017-08-16.

Pixel structure and detection method of promoting defect detection rate

Номер патента: US09523899B2. Автор: Zui Wang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Multimode defect detection

Номер патента: WO2024102378A1. Автор: GE Cong,Eugene Shifrin,Richard Wallingford,Sangbong Park. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-05-16.

System and method for enhanced defect detection with a digital matched filter

Номер патента: WO2016077487A1. Автор: Eugene Shifrin,Pavel Kolchin. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2016-05-19.

Surface defect detection method based on augmentation training of deep neural network

Номер патента: AU2021106389A4. Автор: Ying Zhang,Zesheng Lin,Hongxia Ye. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-11-04.

Defect detection method and system

Номер патента: EP4227900A1. Автор: Chao Yuan,Lili Han,Annan Shu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-16.

Method and system for defect detection

Номер патента: US20230281785A1. Автор: Chao Yuan,Lili Han,Annan Shu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Multimode defect detection

Номер патента: US20240161272A1. Автор: GE Cong,Eugene Shifrin,Richard Wallingford,Sangbong Park. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Memory bus drive defect detection

Номер патента: WO2022093598A1. Автор: Scott E. Schaefer,Melissa I. Uribe. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2022-05-05.

Method for expediting defect detection and burning

Номер патента: US20070006055A1. Автор: Hong-Ching Chen,Ping-Sheng Chen. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2007-01-04.

Workpiece inspection and defect detection system utilizing color channels

Номер патента: US11756186B2. Автор: Mark Lawrence Delaney. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Defect detection during erase operations

Номер патента: US12094549B2. Автор: Jun Xu,Kitae Park. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

System and method for enhanced defect detection with a digital matched filter

Номер патента: US09734422B2. Автор: Eugene Shifrin,Pavel Kolchin. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Defect detection using structural information

Номер патента: US09727047B2. Автор: Shuo Sun,Yan Xiong,Eugene Shifrin,Lisheng Gao,Kenong Wu,Hucheng Lee,Qing LUO. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

System and method for enhancing defect detection in optical characterization systems using a digital filter

Номер патента: WO2024107319A1. Автор: Pavel Kolchin. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-05-23.

Method for defect detection in a semiconductor sample in sample images with distortion

Номер патента: EP4377884A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Sven Meyer,Ulrich Hofmann,Thomas C. CHUST. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-06-05.

Single-pass defect detection for hard-disk drive systems

Номер патента: US20100123962A1. Автор: Richard Rauschmayer,Keenan T. O'Brien. Владелец: Agere Systems LLC. Дата публикации: 2010-05-20.

Defect detection by image processing

Номер патента: WO2023163650A3. Автор: Joo Hwee Lim,Qianli Xu,Fen FANG. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-09-28.

Systems and methods for defect detection on displays

Номер патента: WO2024137200A1. Автор: Stephen Tate DIJOSEPH,Garret YODER. Владелец: Communications Test Design, Inc.. Дата публикации: 2024-06-27.

Object defect detection

Номер патента: US20210012474A1. Автор: PENG Ji,Jun Zhu,Guo Qiang HU,Jing Chang Huang,Yuan Yuan Ding. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-01-14.

Systems and methods for defect detection on displays

Номер патента: US20240212127A1. Автор: Stephen Tate DIJOSEPH,Garret YODER. Владелец: Communications Test Design Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Method for defect detection in a semiconductor sample in sample images with distortion

Номер патента: US20240242334A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Sven Meyer,Ulrich Hofmann,Thomas C. CHUST. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-07-18.

Defect detection system using finite element optimization and mesh analysis

Номер патента: US20160343106A1. Автор: S. Ratnajeevan H. Hoole,Sivamayam Sivasuthan,Victor Karthik Uthayakumar,Paramsothy Jayakumar,Ravi S. Thyagarajan. Владелец: Michigan State University MSU. Дата публикации: 2016-11-24.

Novel detection equipment for tyre adhesive spraying

Номер патента: LU501443B1. Автор: Dian Zhang. Владелец: Univ Qingdao Science & Technology. Дата публикации: 2022-08-10.

An obstacle detection equipment for a railroad vehicle

Номер патента: WO2024147773A1. Автор: Murat BOZANKAYA. Владелец: Bozankaya Otomotiv Makina Imalat Ithalat Ve Ihracat Anonim Sirketi. Дата публикации: 2024-07-11.

Defect detection for semiconductor structures on a wafer

Номер патента: US20230260105A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Philipp Huethwohl. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-08-17.

Defect Detection Prediction with a Compact Set of Prediction Channels

Номер патента: US20240296540A1. Автор: Shimon Cohen. Владелец: Ai Qualisense 2021 Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Motion detection equipment calibration system

Номер патента: US09674492B1. Автор: Thomas K. Wong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-06-06.

Image defect detection method, electronic device and readable storage medium

Номер патента: US20230401691A1. Автор: Chin-Pin Kuo,Chih-Te Lu,Wan-Jhen Lee. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-14.

Defect detection method and apparatus, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4357765A1. Автор: Xi Wang,Zhiyu Wang,Guannan JIANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-24.

Defect detection method and apparatus, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240070840A1. Автор: Xi Wang,Zhiyu Wang,Guannan JIANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Product defect detection method, computing device, and storage medium

Номер патента: US20220207714A1. Автор: Chin-Pin Kuo,Chih-Te Lu,Tzu-Chen Lin,Jung-Hao Yang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Memory block defect detection and management

Номер патента: US20220138043A1. Автор: Ting Luo,Guang Hu. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2022-05-05.

Memory block defect detection and management

Номер патента: WO2022093591A1. Автор: Ting Luo,Guang Hu. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2022-05-05.

Method and apparatus for determining defect detection sensitivity data, control method of defect detection apparatus, and method and apparatus for detecting defect of semiconductor devices

Номер патента: US20040151362A1. Автор: Akira Hamaguchi,Takamitsu Nagai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-08-05.

Display defect detection system and detection method thereof

Номер патента: US11935443B2. Автор: Yeong YU,Jong Ju HONG. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Cross-scale defect detection method based on deep learning

Номер патента: US20230306577A1. Автор: LI Dai,Jun Wang,Dawei Li,Zhongde Shan. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2023-09-28.

Surface defect detection method, apparatus, system, storage medium, and program product

Номер патента: EP4266244A1. Автор: Yingying Zhang,Shiliang PU,Di XIE,Qiaoyong ZHONG. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Nand field use erase plus defect detections

Номер патента: US20200395092A1. Автор: Dongxiang Liao,Dan Linnen,Avi Rajagiri,Yuvaraj Krishnamoorthy,Srikar Peesari,Ashish Ghai. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2020-12-17.

Multi-modality data analysis engine for defect detection

Номер патента: WO2023086533A1. Автор: Wei Cheng,Yuji Kobayashi,Haifeng Chen,Yuncong Chen,Zhengzhang Chen,LuAn Tang. Владелец: NEC Laboratories America, Inc.. Дата публикации: 2023-05-19.

Defect detection circuit and method for light-emitting element, display driving device, display device and defect detection method thereof

Номер патента: US10726754B2. Автор: Lei Wang,Guoqing Zhang,Xiaowei Wang,Weifeng Wang,Ke Zhao,Longfei YANG,Hongxia Yang,Meili Guo,Feiwen TIAN. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-28.

Defect detection method and apparatus

Номер патента: EP4322106A1. Автор: Guannan JIANG,Annan Shu,Qiangwei Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-14.

Defect detection method and apparatus

Номер патента: US11978189B2. Автор: Guannan JIANG,Annan Shu,Qiangwei Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Defect detection method and apparatus

Номер патента: US20240005469A1. Автор: Guannan JIANG,Annan Shu,Qiangwei Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Subtle defect detection method based on coarse-to-fine strategy

Номер патента: US20230260101A1. Автор: Jun Wang,Dawei Li,Zhongde Shan,Yuxiang Wu,Shuyi JIA. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2023-08-17.

Print check repeater defect detection

Номер патента: US20240177294A1. Автор: James A. Smith,Xiaochun Li,Kenong Wu,Hucheng Lee,Nurmohammed Patwary,Heonju SHIN,Jusang Maeng. Владелец: Corporation Kla. Дата публикации: 2024-05-30.

Electronic device including processor executing defect detection module, operating method of electronic device, and method for fabricating semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20230214990A1. Автор: Sooryong Lee,Kyen-Hee Lee,Min-Cheol Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-07-06.

Defect detection in memories with time-varying bit error rate

Номер патента: WO2020123446A2. Автор: Zhengang Chen,Tingjun Xie,Zhenlei Shen,Sai Krishna Mylavarapu,Charles S. Kwong. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2020-06-18.

Print check repeater defect detection

Номер патента: WO2024118350A1. Автор: James A. Smith,Xiaochun Li,Kenong Wu,Hucheng Lee,Nurmohammed Patwary,Heonju SHIN,Jusang Maeng. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-06-06.

Training method and training device for defect detection model of battery cell

Номер патента: EP4343691A1. Автор: Zhiyu Wang,Guannan JIANG,Annan Shu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-27.

System and method for multiple simultaneous automated defect detection

Номер патента: EP2774117A1. Автор: Hongcheng Wang,Paul Raymond Scheid,Richard C. Grant,Ziyou Xiong,Alan Matthew FLINN. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2014-09-10.

Object defect detection

Номер патента: US12079982B2. Автор: Kevin Andrew PERKINS,Ashwini Kumar KOUNDURI. Владелец: Yahoo AD Tech LLC. Дата публикации: 2024-09-03.

System and method for multiple simultaneous automated defect detection

Номер патента: WO2013066912A1. Автор: Hongcheng Wang,Paul Raymond Scheid,Richard C. Grant,Ziyou Xiong,Alan Matthew FLINN. Владелец: UNITED TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-05-10.

Integrated circuit defect detection and repair

Номер патента: US09564245B2. Автор: David J. Zimmerman,Theodore Z. Schoenborn,David G. Ellis,Bruce Querbach,William K. Lui,Christopher W. Hampson,Ifar Wan,Yulan Zhang,Ramakrishna Mallela. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

Method for combination of detection equipment for protection of perimeters and territories of objects

Номер патента: RU2697622C1. Автор: Владимир Эристович Иванов,Вадим Петрович Шевченко,Алексей Валерьевич Прыщак. Владелец: Акционерное общество "Федеральный научно-производственный центр "Производственное объединение "Старт" им. М.В. Проценко" (АО "ФНПЦ ПО "Старт" им. М.В. Проценко"). Дата публикации: 2019-08-15.

Intelligent network of technical detection equipment with possibility of creating virtual detection facilities for combining alarm messages

Номер патента: RU2637400C1. Автор: Владимир Эристович Иванов,Алексей Валерьевич Прыщак,Евгений Владимирович Москалянов,Андрей Юрьевич Янов,Артем Владимирович Буркин,Николай Николаевич Хвесько,Надежда Евгеньевна Богданова. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие федеральный научно-производственный центр "Производственное объединение "Старт" им. М.В. Проценко" (ФГУП ФНПЦ ПО "Старт" им. М.В. Проценко"). Дата публикации: 2017-12-04.

Photomask inspection apparatus and method using corner comparator defect detection algorithm

Номер патента: US4532650A. Автор: Mark J. Wihl,Tim S. Wihl. Владелец: KLA Instruments Corp. Дата публикации: 1985-07-30.

Image defect detection device, image defect detection method, and imaging unit

Номер патента: US9432540B2. Автор: Osamu Kuroda,Katsuto Sumi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Image defect detection device, image defect detection method, and imaging unit

Номер патента: US20150347059A1. Автор: Osamu Kuroda,Katsuto Sumi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-12-03.

Machine learning defect detection using metadata-based data processing

Номер патента: WO2024076385A1. Автор: Michael Griffin,Bennie Alfons HAELEN,Dirk Renick,Drew Thomas GUSTAFSON. Владелец: Insight Direct Usa, Inc.. Дата публикации: 2024-04-11.

Defect detecting device and bag making apparatus

Номер патента: US20230182431A1. Автор: Yuji Ohnishi. Владелец: Totani Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Defect detection of extruded strip

Номер патента: WO2024015442A1. Автор: Daniel Duane HAWK,Jacob James Mudger. Владелец: The Steelastic Company, LLC. Дата публикации: 2024-01-18.

Defect detection method, apparatus and system

Номер патента: EP4280153A1. Автор: Qiangwei Huang,Maolong NIU,Jintan XIE,Yongfa LIU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Method, system and computer programs for the automatic labeling of images for defect detection

Номер патента: EP4300265A1. Автор: José SANTOS OLLOQUI. Владелец: Copysan Communicaciones Sl. Дата публикации: 2024-01-03.

Few-shot defect detection method based on metric learning

Номер патента: US11823425B2. Автор: Jun Wang,Shiyan Hua,Dawei Li,Zhongde Shan. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2023-11-21.

Few-shot defect detection method based on metric learning

Номер патента: US20230281972A1. Автор: Jun Wang,Shiyan Hua,Dawei Li,Zhongde Shan. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2023-09-07.

Defect detection in memories with time-varying bit error rate

Номер патента: US20210304826A1. Автор: Zhengang Chen,Tingjun Xie,Zhenlei Shen,Sai Krishna Mylavarapu,Charles S. Kwong. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-09-30.

Defect detecting device, image sensor device, image sensor module, image processing device, digital image quality tester, and defect detecting method

Номер патента: US7783103B2. Автор: Hideyuki Ichihara,Toshimasa Kuchii. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2010-08-24.

Defect detection method and device for an lcd screen

Номер патента: US20230326006A1. Автор: Xiaoman WANG. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Transfer learning methods and models facilitating defect detection

Номер патента: WO2024050125A1. Автор: Melanie SENN,Aris FOTKATZIKIS. Владелец: Cepheid. Дата публикации: 2024-03-07.

Screen defect detection method, apparatus, and electronic device

Номер патента: US20230368361A1. Автор: Yifan ZHANG,Jie Liu,Xiufeng Song,Wenchao Zhang. Владелец: Goertek Optical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Method and system for defect detection

Номер патента: US11922617B2. Автор: Chao Yuan,Lili Han,Annan Shu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Defect Detection Apparatus, Defect Detection Method and Computer Program

Номер патента: US20090208050A1. Автор: Masato Shimodaira. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2009-08-20.

Vehicle electrical power system with defect detection

Номер патента: US11971002B2. Автор: Ryouta ASAI. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Learnable defect detection for semiconductor applications

Номер патента: US20200327654A1. Автор: Jing Zhang,Kris Bhaskar,Yujie Dong,Zhuoning Yuan. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2020-10-15.

Transfer learning methods and models facilitating defect detection

Номер патента: US20240177288A1. Автор: Melanie SENN,Aristotelis FOTKATZIKIS. Владелец: Cepheid. Дата публикации: 2024-05-30.

Learnable defect detection for semiconductor applications

Номер патента: US20230118839A1. Автор: Jing Zhang,Kris Bhaskar,Yujie Dong,Zhuoning Yuan. Владелец: Corporation Kla. Дата публикации: 2023-04-20.

System and Method for Enhanced Defect Detection with a Digital Matched Filter

Номер патента: US20160140412A1. Автор: Eugene Shifrin,Pavel Kolchin. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-05-19.

Real-time process defect detection automation system and method using machine learning model

Номер патента: US20240193759A1. Автор: Eunseok SEO. Владелец: Crefle Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Image defect detection method, electronic device using the same

Номер патента: US12020421B2. Автор: Shih-Chao Chien,Chin-Pin Kuo,Tung-Tso Tsai,Tzu-Chen Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Integrated circuit defect detection using pattern images

Номер патента: US10755404B2. Автор: Peilin Song,Franco Stellari,Chung-Ching Lin,Thomas McCarroll Shaw,Thomas Anthony Wassick. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-08-25.

Pattern defects detection method and apparatus

Номер патента: US4953224A. Автор: Takanori Ninomiya,Toshiaki Ichinose,Yasuo Nakagawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1990-08-28.

Defect detection based on self-supervised learning

Номер патента: US20230245292A1. Автор: Shimon Cohen. Владелец: Lean Ai Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Method, electronic device, and computer program product for code defect detection

Номер патента: US20230128681A1. Автор: Rong Sheng,Jiacheng Ni,Ke Shan. Владелец: EMC IP Holding Co LLC. Дата публикации: 2023-04-27.

Method for Defect Detection of LED Wick

Номер патента: LU504271B1. Автор: Hao Zhou. Владелец: Suzhou Maichuang Information Tech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-31.

Method, electronic device, and computer program product for code defect detection

Номер патента: US11971802B2. Автор: Rong Sheng,Jiacheng Ni,Ke Shan. Владелец: EMC IP Holding Co LLC. Дата публикации: 2024-04-30.

Image defect detecting system, generation method of image defect detecting system and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20240013369A1. Автор: Ya-Cheng Tsai,Che-Wei Mei. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Defect detection method and device

Номер патента: US20240104717A1. Автор: XIAO Xu,YI LUO,Dakun YANG. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

System and method for enhancing defect detection in optical characterization systems using a digital filter

Номер патента: US20240161270A1. Автор: Pavel Kolchin. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Error reduction in reconstructed images in defect detection method, electronic device and storage medium

Номер патента: US12002197B2. Автор: Shih-Chao Chien,Chin-Pin Kuo,Tung-Tso Tsai. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Defect detection by image processing

Номер патента: WO2023163650A2. Автор: Joo Hwee Lim,Qianli Xu,Fen FANG. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-08-31.

Low contrast non-referential defect detection

Номер патента: EP4374159A1. Автор: Jian Ding,Jatinder Dhaliwal,Roman S. Basistyy. Владелец: Onto Innovation Inc. Дата публикации: 2024-05-29.

Nucleic acid detection chip and the method and detection equipment using the same

Номер патента: US20240011079A1. Автор: Yu-Feng Cheng,Chao-An Jong,Shu-Han Hsu,Wanwipa Siriwatwechakul,Paiboon Sreearunothai,Thilina Rajeendre Katugampalage. Владелец: NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES. Дата публикации: 2024-01-11.

Photomask inspection apparatus and method with improved defect detection

Номер патента: US4579455A. Автор: Kenneth Levy,Mark J. Wihl,Steve Buchholz,William H. Broadbent. Владелец: KLA Instruments Corp. Дата публикации: 1986-04-01.

Integrated circuit for driving pixel of display panel, pixel driving device, and pixel defect detecting method

Номер патента: US11961481B2. Автор: Dong Hwan Kim,Kyoung Tae Kim. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

System and method for defect detection

Номер патента: US20230259760A1. Автор: Shuhui Qu,Janghwan Lee,Qisen CHENG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Method and system for automated defect detection

Номер патента: EP2777016A1. Автор: Hongcheng Wang,Paul Raymond Scheid,Richard C. Grant,Ziyou Xiong,Alan Matthew FLINN. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2014-09-17.

Object defect detection

Номер патента: US20230153987A1. Автор: Kevin Andrew PERKINS,Ashiwini Kumar Kounduri. Владелец: Yahoo AD Tech LLC. Дата публикации: 2023-05-18.

Systems and Methods for Enhanced Media Defect Detection

Номер патента: US20140032982A1. Автор: Ming Jin,Fan Zhang,Haitao Xia,Weijun Tan. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2014-01-30.

Memory and method with in-memory computing defect detection

Номер патента: EP4328915A1. Автор: Jaehyuk Lee,Seok Ju Yun,Seungchul Jung,Sungmeen Myung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-28.

Systems and Methods for Short Media Defect Detection Using Multi-Iteration Soft Data Feedback

Номер патента: US20140115407A1. Автор: Wu Chang,Fan Zhang,Weijun Tan,Shaohua Yang. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2014-04-24.

Defect detection method, device and system

Номер патента: US20230419472A1. Автор: Qiangwei Huang,Maolong NIU,Jintan XIE,Yongfa LIU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Automated machine vision-based defect detection

Номер патента: US11847775B2. Автор: Rajen Bhatt,Shitong Mao,Raviprakash Kandury,Michelle Tai,Geoffrey Newman. Владелец: Qeexo Co. Дата публикации: 2023-12-19.

Defect detection for a memory device

Номер патента: US11257564B1. Автор: Chun Yi Lu. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2022-02-22.

System and method for defect detection

Номер патента: EP4227856A1. Автор: Shuhui Qu,Janghwan Lee,Qisen CHENG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-16.

System and method for defect detection

Номер патента: US20230267599A1. Автор: Shuhui Qu,Janghwan Lee,Qisen CHENG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Computer implemented method for defect detection in an imaging dataset of a wafer, corresponding computer-readable medium, computer program product and systems making use of such methods

Номер патента: WO2024068203A1. Автор: Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Johannes Persch,Anna Alperovich,Niklas Mevenkamp,Abhilash SRIKANTHA,Bjoern BARZ. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-04-04.

Defect detection during an automated production process

Номер патента: US20220283566A1. Автор: Francisco P. Maturana,Mikica Cvijetinovic,Gregory J. Vance,Robert F. Trinnes. Владелец: Rockwell Automation Technologies Inc. Дата публикации: 2022-09-08.

Programmable and Reconfigurable Mask with MEMS Micro-Mirror Array for Defect Detection

Номер патента: US20220066195A1. Автор: Bret Whiteside,Hongxing Yuan,Tim Mahatdejkul. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Defect detection method for 3d chip and system using the same

Номер патента: US20180285493A1. Автор: Shih-Chun Lin,Yu-Jung Huang,Chung-Long Pan,Mei-Hui Guo. Владелец: I Shou University. Дата публикации: 2018-10-04.

System and method for defect detection

Номер патента: EP4235592A1. Автор: Shuhui Qu,Janghwan Lee,Qisen CHENG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Systems and Methods for Short Media Defect Detection Using Non-Binary Coded Information

Номер патента: US20130290798A1. Автор: Wu Chang,Fan Zhang,Haitao Xia,Weijun Tan,Shaohua Yang,Xuebin Wu. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2013-10-31.

Method and apparatus for training cell defect detection model

Номер патента: US11763549B1. Автор: Zhiyu Wang,Guannan JIANG,Annan Shu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Systems and Methods for Improved Short Media Defect Detection

Номер патента: US20140032998A1. Автор: Fan Zhang,Weijun Tan,Shaohua Yang. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2014-01-30.

Image defect detection method, electronic device using the same

Номер патента: US11983866B2. Автор: Shih-Chao Chien,Chin-Pin Kuo,Tung-Tso Tsai. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Systems and Methods for Performing Defect Detection and Data Recovery in a Memory System

Номер патента: US20140281682A1. Автор: Abhijeet Manohar,Jianmin Huang,Chris Avila,Daniel Edward Tuers. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2014-09-18.

Defect detection during an automated production process

Номер патента: US11982995B2. Автор: Francisco P. Maturana,Mikica Cvijetinovic,Gregory J. Vance,Robert F. Trinnes. Владелец: Rockwell Automation Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-14.

Memory and method with in-memory computing defect detection

Номер патента: US20240071548A1. Автор: Jaehyuk Lee,Seok Ju Yun,Seungchul Jung,Sungmeen Myung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-29.

Surface defect detection apparatus

Номер патента: US5278635A. Автор: Hiroshi Ono,Masahiro Kondo. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 1994-01-11.

Workpiece surface defect detection device and detection method, workpiece surface inspection system, and program

Номер патента: CN114450580A. Автор: 植木章太,吉田龙一,矢桥晓,长井庆郎. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-05-06.

Surface defect detection system

Номер патента: US20220058793A1. Автор: Nevroz Sen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2022-02-24.

Use of electronic speckle interferometry for defect detection in fabricated devices

Номер патента: AU2003207846A8. Автор: Anthony J Dileo,Michael L Peterson Jr. Владелец: Millipore Corp. Дата публикации: 2003-09-02.

Used Process and Defect Detection Equipment to Peeled bar used Nondestructive Inspection Equipment

Номер патента: KR100820304B1. Автор: 박정완,서동섭,서동만. Владелец: (주)레이나. Дата публикации: 2008-04-08.

Apparatus, system, method and storage medium for image inspection result determination and verifying false defect detections due to position matching errors

Номер патента: US09524545B2. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Displacement measurement device and defect detection device

Номер патента: US11977032B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

System and method for defect detection using multi-spot scanning

Номер патента: US11385188B1. Автор: Haim Feldman,Amir Shoham,Yoav Berlatzky. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2022-07-12.

Full-automatic machine part visual defect detection equipment and method

Номер патента: CN111804601A. Автор: 周华,李飞飞,叶晓青,吴煜,彭泽. Владелец: TAICANG INSTITUTE OF COMPUTING TECHNOLOGY CHINESE ACADEMY OF SCIENCES. Дата публикации: 2020-10-23.

Soft package cup edge defect detection equipment

Номер патента: CN112090784B. Автор: 张俊,任磊,蔡静,周锦云. Владелец: Changzhou Mingshi Automation Equipment Co ltd. Дата публикации: 2022-04-08.

Additive manufacturing with in situ defect detection

Номер патента: US20220266531A1. Автор: Brendan P. Croom,Steven M. Storck,Robert K. Mueller,Ryan H. Carter,Nathan G. Drenkow. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-08-25.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US20240219175A1. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Additive manufacturing defect detection

Номер патента: US20240070838A1. Автор: Prahalada Rao,Benjamin BEVANS,Ziyad Smoqi,Aniruddha Gaikwad. Владелец: NuTech Ventures Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

System and method for defect detection using multi-spot scanning

Номер патента: US9810643B1. Автор: Haim Feldman,Amir Shoham,Yoav Berlatzky. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Method and system for detecting equipment malfunctions and/or defects in a workpiece

Номер патента: US20220219275A1. Автор: Stefano LINARI. Владелец: Linari Engineering Srl. Дата публикации: 2022-07-14.

Detection equipment is used in electrical equipment cabinet production

Номер патента: CN112517427A. Автор: 姚冬,姚晓辉,闻琦. Владелец: Deqing Chuangying Machinery Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-19.

Packing box detection equipment, manufacturing equipment and packing box detection method

Номер патента: CN113351507A. Автор: 杨虎,万涛. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-07.

Straightness detection equipment for ITO (indium tin oxide) rotary target and use method of straightness detection equipment

Номер патента: CN112097612A. Автор: 文宏福,蔡良,王慧河. Владелец: Shaoguan Oulai Hi Tech Material Co ltd. Дата публикации: 2020-12-18.

CHIP DEFECT DETECTION DEVICE AND DETECTION METHOD

Номер патента: US20200173932A1. Автор: WANG Fan,LU Hailiang,Zhang Pengli. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-04.

DEFECT DETECTING DEVICE, DEFECT DETECTING METHOD, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20190212141A1. Автор: TAKADA Jun. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2019-07-11.

THICKNESS MEASUREMENT METHOD, THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE

Номер патента: US20210364282A1. Автор: Inoue Hirotsugu,IRIE Yousuke,SAKAMOTO Koutaro. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-25.

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION APPARATUS

Номер патента: US20170350690A1. Автор: Takubo Kenji,HATAHORI Takahide. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-12-07.

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE

Номер патента: US20180356205A1. Автор: Takubo Kenji,HATAHORI Takahide,NAGATA Yuya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-12-13.

THICKNESS MEASUREMENT METHOD, THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE

Номер патента: US20180372487A1. Автор: Inoue Hirotsugu,IRIE Yousuke,Niioka Takuya,TOKUNAGA Shogo,KUROKAWA Yu. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

Defect detecting apparatus and defect detecting method

Номер патента: CN101490538B. Автор: 河井章利,远藤一正,持田大作,吉川透,柴田浩匡. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-03-27.

Detection method of surface flaw and surface defect detection apparatus

Номер патента: CN105849534B. Автор: 大野纮明,儿玉俊文,腰原敬弘,小川晃弘,饭塚幸理. Владелец: Jeffrey Steel Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-11.

Defect detecting method and flaw detection apparatus

Номер патента: CN103575737B. Автор: 江川弘一,中田雅博. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2016-04-13.

Defect detection method and defect detection device

Номер патента: CN107462581B. Автор: 畠堀贵秀,田窪健二. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-02-14.

Surface defect detecting method and surface defect detecting apparatus

Номер патента: CA3013438A1. Автор: Hiroaki Ono,Akihiro Ogawa,Toshifumi Kodama,Takahiro Koshihara,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2015-07-02.

Turbocharger impeller blade outer edge defect detection tool and detection method thereof

Номер патента: CN112729069B. Автор: 南海,钱巍,纪志军,肖强伟. Владелец: AECC BEIJING INSTITUTE OF AERONAUTICAL MATERIALS. Дата публикации: 2022-07-12.

Defect detection method and defect detection device

Номер патента: JP6791029B2. Автор: 貴秀畠堀,田窪　健二,健二田窪,侑也長田. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-11-25.

Surface defect detection method and surface defect detection device

Номер патента: KR101832081B1. Автор: 히로아키 오노,아키히로 오가와,도시후미 고다마,다카히로 고시하라,유키노리 이이즈카. Владелец: 제이에프이 스틸 가부시키가이샤. Дата публикации: 2018-02-23.

Defect detecting apparatus and defect detecting method

Номер патента: KR20090038429A. Автор: 가즈마사 엔도,다이사쿠 모치다,도루 요시카와,히로마사 시바타,아키토시 가와이. Владелец: 가부시키가이샤 니콘. Дата публикации: 2009-04-20.

Spot defect detection apparatus and method

Номер патента: US4146135A. Автор: Donald W. Chamberlin,Subhash C. Sarkar. Владелец: FMC Corp. Дата публикации: 1979-03-27.

Thickness measuring method, thickness measuring apparatus, defect detecting method, and defect detecting apparatus

Номер патента: CN113412424A. Автор: 入江庸介,井上裕嗣,坂本耕太郎. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-17.

Steel plate defect detection device and detection device set using same

Номер патента: WO2021015494A1. Автор: 이재혁. Владелец: 이재혁. Дата публикации: 2021-01-28.

Surface defect detection method and surface defect detection device

Номер патента: EP3088874A1. Автор: Hiroaki Ono,Akihiro Ogawa,Toshifumi Kodama,Takahiro Koshihara,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2016-11-02.

Method for generating three-dimensional shape information of object to be measured, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US20220221701A1. Автор: Sang Jin Lee,Ji Hoon Kim,Byung Mok Kim,Mal Eum Sung. Владелец: Naeilhae Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-14.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: EP3410106B1. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Takuya NIIOKA,Shogo TOKUNAGA,Yu KUROKAWA. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Image-based defect detection of dental appliances

Номер патента: US11880973B2. Автор: Andrey Cherkas,Anatoliy Parpara,Danila Chesnokov. Владелец: Align Technology Inc. Дата публикации: 2024-01-23.

Enhanced print defect detection

Номер патента: US20230351583A1. Автор: Scott R. Johnson,Nathan Young,Nikita Gurudath,Ziling Zhang. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US11965735B2. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Image-based defect detection of directly fabricated dental appliances

Номер патента: US20240104737A1. Автор: Andrey Cherkas,Anatoliy Parpara,Danila Chesnokov. Владелец: Align Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Image-based defect detection of dental appliances

Номер патента: US20220172364A1. Автор: Andrey Cherkas,Anatoliy Parpara,Danila Chesnokov. Владелец: Align Technology Inc. Дата публикации: 2022-06-02.

Enhanced print defect detection

Номер патента: EP3835069B1. Автор: Scott R. Johnson,Nathan Young,Nikita Gurudath,Ziling Zhang. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

SIZING DEFECT DETECTION SYSTEM AND SIZING DEFECT DETECTION METHOD

Номер патента: US20160123895A1. Автор: Yamazaki Masahiko. Владелец: YOSHINO GYPSUM CO., LTD.. Дата публикации: 2016-05-05.

Method, device, and system based on air-coupled ultrasound for measuring small-sized defect of carbon fiber reinforced plastic (CFRP) plate

Номер патента: GB2624731A. Автор: Fan Xin,Hu Chen,WU Chuangui,Shan Yimeng,Xuan Shanyong,Liu Yaxing. Владелец: Stated Owned Wuhu Machinery Factory. Дата публикации: 2024-05-29.

Steel wire rope tension defect detection method

Номер патента: EP4198506A1. Автор: Wei Gao,Donglai ZHANG,Xueli Zhu. Владелец: Shenzhen Graduate School Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2023-06-21.

Programmatic time-gap defect detection apparatus and method

Номер патента: US20030070116A1. Автор: Phillip Adams. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-04-10.

Dispositioning defects detected on extreme ultraviolet photomasks

Номер патента: WO2020061241A1. Автор: Masaki Satake,Weston Sousa,Vikram Tolani. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2020-03-26.

Enhanced defect detection in electron beam inspection and review

Номер патента: US09449788B2. Автор: HONG Xiao,Kumar Raja GUVINDAN RAJU,Wade Lenn Jensen,Lorraine Ellen Young,Gary G. FAN. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Semiconductor wafer defect detection equipment and detection method

Номер патента: CN113670935A. Автор: 李波,王建存. Владелец: Wuhan Zhongdao Optoelectronic Equipment Co ltd. Дата публикации: 2021-11-19.

Laser welding defect detection equipment and detection method for lithium battery of mobile phone

Номер патента: CN112730432A. Автор: 孙丰. Владелец: Suzhou Saizhong Automation Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-04-30.

A kind of wind electricity blade defect-detecting equipment detected automatically

Номер патента: CN110261089A. Автор: 方文平. Владелец: Hangzhou Jian Wei Electrical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-20.

Visual detection equipment with pipe defect detection function for pipe production

Номер патента: CN111929321A. Автор: 胡蓓,汪羽,刘敏婷. Владелец: Chongqing Xinyiyuan Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-13.

Panel defect detection equipment and panel defect detection method

Номер патента: CN113176276B. Автор: 谭久彬,王绍凯,黄运,黄新剑. Владелец: Harbin Institute Of Technology Robot (zhongshan) Unmanned Equipment And Artificial Intelligence Research Institute. Дата публикации: 2022-10-21.

Detect strutting arrangement and defect detecting equipment

Номер патента: CN111650214A. Автор: 刘风雷,姜豪,李英坤. Владелец: Zhejiang Crystal Optech Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-11.

Double-layer safety shell surface defect detection equipment and detection method

Номер патента: CN112582085A. Автор: 罗琦,宋翔,李尚科,万志军,华朝旭,胡正春. Владелец: TAISHAN NUCLEAR POWER JOINT VENTURE Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-30.

Panel defect detection equipment and panel defect detection method

Номер патента: CN113176276A. Автор: 谭久彬,王绍凯,黄运,黄新剑. Владелец: Harbin Institute Of Technology Robot (zhongshan) Unmanned Equipment And Artificial Intelligence Research Institute. Дата публикации: 2021-07-27.

Three-dimensional defect detection method and detection equipment

Номер патента: CN115165920A. Автор: 周明辉,马铁中,李瑞青,李心怡,陈菱婧. Владелец: Nanchang Angkun Semiconductor Equipment Co ltd. Дата публикации: 2022-10-11.

Defect detection

Номер патента: EP4139648A1. Автор: Matt Jones. Владелец: Hitachi Rail Ltd. Дата публикации: 2023-03-01.

Artificial intelligence-based material defect detection system and method considering type and distribution of real defect images

Номер патента: EP4414692A1. Автор: Jin Ha Jeong,Hea Yun Lee,Hyun Ji Lee,Moon Soo Ra. Владелец: Lightvision Inc. Дата публикации: 2024-08-14.

Coating defect detection for cut-to-length catheter shafts

Номер патента: WO2014179691A1. Автор: David Carroll,Theodore LANE. Владелец: CLINTON INSTRUMENT COMPANY. Дата публикации: 2014-11-06.

Defect imaging apparatus, defect detection system having the same, and method of detecting defects using the same

Номер патента: US20170076435A1. Автор: Hyung-Suk Cho,Il-suk Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-16.

An a.c. field measurement system for detecting and sizing defects in a conductor

Номер патента: CA2099785C. Автор: David Anthony Topp,Martin Christopher Lugg. Владелец: Technical Software Consultants Ltd. Дата публикации: 1999-08-24.

Defect detection with enhanced dynamic range

Номер патента: EP1432978A1. Автор: Gilad Almogy,Ron Naftali,Boris Goldberg. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2004-06-30.

Defect imaging apparatus, defect detection system having the same, and method of detecting defects using the same

Номер патента: US09831137B2. Автор: Hyung-Suk Cho,Il-suk Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-11-28.

Methods of imaging path polarization control for defect detection sensitivity enhancement

Номер патента: WO2024220335A1. Автор: Rui-Fang Shi,Xin Ye,Heng Zhang,Yun XIE. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-10-24.

Colored defect detection curves

Номер патента: US20210310992A1. Автор: Jiamin Lei,Siva Sankar YADAVALLI. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2021-10-07.

Method and apparatus for real-time tool defect detection

Номер патента: US12066371B2. Автор: Wei-Da KANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Disk surface defect detection

Номер патента: US09881642B2. Автор: XIONG Liu,Lihong Zhang,Samuel Gan. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2018-01-30.

Semiconductor defect detection equipment

Номер патента: CN110779931A. Автор: 黄建文,林伯聪,方志恒. Владелец: Utechzone Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-11.

Intelligent gear defect detection equipment

Номер патента: CN111024727A. Автор: 不公告发明人. Владелец: Chengdu Shuzhilian Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-17.

Defect detection equipment and method

Номер патента: CN110687051A. Автор: 王天民,陈鲁,黄有为,崔高增. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2020-01-14.

A kind of multi-transducer combined ultrasonic guided wave pipeline defect detection equipment

Номер патента: CN109342565A. Автор: 黄腾飞,范凯波. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-02-15.

Defect detection equipment

Номер патента: CN112540088A. Автор: 查韶辉. Владелец: Huaqing Intelligent Technology Suzhou Co ltd. Дата публикации: 2021-03-23.

Ceramic tile defect detection equipment and method

Номер патента: CN110715935A. Автор: 王君,冯华,鱼云岐,屈力,苏润民,贺雄伟,王轶超. Владелец: Foshan Neolithic Robot Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-21.

Defect detection equipment for backlight plate

Номер патента: CN111239149A. Автор: 马伟,闫文泽. Владелец: Suzhou Tianmu Optical Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-06-05.

Appearance defect detection equipment for flake strip-shaped products

Номер патента: CN105606625A. Автор: 王刚,徐小胜,阮豪峰,王楷华. Владелец: NINGBO YUNSHENG INTELLIGENT TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-25.

Defect detection equipment

Номер патента: CN111122609A. Автор: 刘志强,方海峰,金焱立,曹一馨,项旭帅. Владелец: Ningbo Sunny Instruments Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-08.

A kind of cold formed steel structure laser geometric defect detection equipment and method

Номер патента: CN108344744A. Автор: 赵鹏飞,王伟明,高歌,关天定,李干新. Владелец: GUANGDONG CONSTRUCTION VOCATIONAL TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2018-07-31.

Cable buffer layer defect detection equipment and method

Номер патента: CN113030661A. Автор: 张�林,陈腾彪,吕启深,余英,田治仁. Владелец: Shenzhen Power Supply Bureau Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-25.

The defect detection equipment and method of boiler water-wall tube based on low frequency electromagnetic technology

Номер патента: CN105738465B. Автор: 王志强,王鹏,王亮,李梁,贾若飞,秦承鹏. Владелец: Xian Thermal Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-03.

Silicon wafer orientation alignment device and silicon wafer defect detection equipment

Номер патента: CN113793826A. Автор: 曹岩,牛景豪. Владелец: Xian Eswin Material Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-14.

Method, device, and system based on air-coupled ultrasound for measuring small-sized defect of carbon fiber reinforced plastic (cfrp) plate

Номер патента: GB202306019D0. Автор: . Владелец: Stated Owned Wuhu Machinery Factory. Дата публикации: 2023-06-07.

ULTRASONIC DEFECT DETECTION DEVICE, ULTRASOUND CONVERTER AND ULTRASONIC DEFECT DETECTION METHOD

Номер патента: RU2013122839A. Автор: Коити ИНАГАКИ,Мамору ИДЗУМИ,Хирокадзу КАРАСАВА. Владелец: АйЭйчАй КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2014-12-10.

Optical detection device, optical detection method, method for designing optical detection device, sample classification method, and defect detection method

Номер патента: US11933735B2. Автор: Tsuyoshi Konishi. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-03-19.

Detecting equipment defects using lubricant analysis

Номер патента: WO2022082010A1. Автор: Fairouz Al-Dabbagh,Abdulrahman Al-Omair,Ahmed Al-Zahrani,Hasanur Jamal Molla. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2022-04-21.

Detecting equipment defects using lubricant analysis

Номер патента: US12019059B2. Автор: Fairouz Al-Dabbagh,Abdulrahman Al-Omair,Ahmed Al-Zahrani,Hasanur Jamal Molla. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-06-25.

Computer implemented process to enhance edge defect detection and other defects in ophthalmic lenses

Номер патента: US20210264585A1. Автор: Soon Wei Wong,Kundapura Parameshwara Srinivas. Владелец: EMAGE AI PTE LTD. Дата публикации: 2021-08-26.

Defect detecting/degree-of-filling-in measuring apparatus for concrete during placement and method for defect detection/degree of filling-in measurement for the same

Номер патента: TW200728713A. Автор: Takeshi Suzuki,Tadahiro Kakizawa,Hideyasu Yuki,Kenro Mitsui,Shigeki Seko,Hiromi Nakagawa,Daisuke Saegusa,Souichi Kiya. Владелец: Kett Electric Lab. Дата публикации: 2007-08-01.

Defect detection device, defect detection method, wafer, semiconductor chip, die bonder, semiconductor manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: SG11201911669SA. Автор: Yoji Shimizu,Nobuhiro Nagamoto,Haruka TAI,Atsumasa Kambayashi,Yoshikazu Shimokawa. Владелец: Canon Machinery Inc. Дата публикации: 2020-01-30.

Method of defect detection and system thereof

Номер патента: US20190066291A1. Автор: Eyal Neistein,Elad Cohen,Moshe Amzaleg,Limor MARTIN. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Refining defect detection using process window

Номер патента: US11728192B2. Автор: Haizhou Yin,Chenlong Miao,Michael J. Wojtowecz. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2023-08-15.

Wafer defect detection methods and systems

Номер патента: US20070013900A1. Автор: Long-Hui Lin,Li-Yu Chan. Владелец: Powerchip Semiconductor Corp. Дата публикации: 2007-01-18.

Current measurement for defect detection

Номер патента: US20240110966A1. Автор: Robert Mark Englekirk,Tero Tapio Ranta,Ronald E. Reedy. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Display device defect detecting method and display device defect detecting device

Номер патента: TW200925584A. Автор: Tomohide Hamada,Kei Nara. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-06-16.

Device under test (dut) structures in fill regions of product die for voltage contrast (vc) defect detection for improved yield learning

Номер патента: US20240329114A1. Автор: Xiao Wen,Daniel Murray,Manish Sharma,Sairam Subramanian,Amit Paliwal,Dipto THAKURTA. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Camera subassembly dust and defect detection system and method

Номер патента: US09948842B2. Автор: John Jamieson,Robert Johnson. Владелец: KODAK ALARIS INC. Дата публикации: 2018-04-17.

Liquid coupled defect detection systems and methods

Номер патента: US7084402B2. Автор: Jeffrey G. Thompson. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2006-08-01.

Enhanced defect detection in electron beam inspection and review

Номер патента: WO2015048473A1. Автор: HONG Xiao,Lorraine Young,Kumar Raja GUVINDAN RAJU,Gary Fan,Wade Jensen. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-04-02.

Defect detection in partial images capturing an entire inspected infrastructure

Номер патента: EP4296956A1. Автор: Kenji Sugiyama,Atsushi Nogami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-27.

Defect detection in thin transparent sheets

Номер патента: GB2331805A. Автор: Hugues Lefevre. Владелец: Glaverbel Belgium SA. Дата публикации: 1999-06-02.

Defect Detection

Номер патента: US20230258537A1. Автор: Matt Jones. Владелец: Hitachi Rail Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Method for defect detection for rolling elements

Номер патента: US20230408421A1. Автор: Balaji Chandrasekaran,Ray Amerson. Владелец: Schaeffler Technologies AG and Co KG. Дата публикации: 2023-12-21.

Method for defect detection for rolling elements

Номер патента: WO2023244500A1. Автор: Balaji Chandrasekaran,Ray Amerson. Владелец: Schaeffler Group Usa, Inc.. Дата публикации: 2023-12-21.

DIAMOND PROBE HOSTING AN ATOMIC SIZED DEFECT

Номер патента: US20200088762A1. Автор: Xie Ling,Zhou Xu,STOHR Rainer Joachim,YACOBY Amir. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

DETECTION OF SMALL SIZE DEFECTS IN MEDICAL ULTRASONIC IMAGING

Номер патента: FR2849368A1. Автор: Mathias Fink,Claire Prada,Bacrie Claude Cohen,Rob Entrekin. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-07-02.

Defect detection in cylindrical objects

Номер патента: US4817431A. Автор: Friedhelm Schlawne. Владелец: Mannesmann AG. Дата публикации: 1989-04-04.

An a.c. field measurement system for detecting and sizing defects in a conductor

Номер патента: CA2099785A1. Автор: David Anthony Topp,Martin Christopher Lugg. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-07-12.

Optical detection device, optical detection method, method for designing optical detection device, sample classification method, and defect detection method

Номер патента: US20220155237A1. Автор: Tsuyoshi Konishi. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2022-05-19.

Grain size defect capsule selects shell medicine separating mechanism

Номер патента: CN108672264A. Автор: 郑伟哲. Владелец: Hangzhou Hejing Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-19.

Defect detection device, defect detection method, wafer, semiconductor chip, semiconductor device, die bonder, bonding method, semiconductor manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: MY202139A. Автор: Haruka TAI,Atsumasa Kambayashi. Владелец: Canon Machinery Inc. Дата публикации: 2024-04-05.

Vision inspection system for defect detection

Номер патента: US20230237636A1. Автор: LEI Zhou,Tianyi Gao,Dandan Zhang,Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Jiankun Zhou,Angel Alberto Slistan. Владелец: Tyco Electronics Mexico SRL de CV. Дата публикации: 2023-07-27.

Integrated circuit defect detection system

Номер патента: EP1327890A3. Автор: Kang Wu,Susan L. Stirrat. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2003-09-03.

MATERIAL DEFECT DETECTION DEVICE, MATERIAL DEFECT DETECTION SYSTEM, MATERIAL DEFECT DETECTION METHOD, AND NON-TRANSITORY COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20190271663A1. Автор: Ishikawa Tetsuya,Yoshida Hideki. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-05.

System for defect detection

Номер патента: GB1435803A. Автор: . Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 1976-05-19.

Defect-detecting device, defect-detecting method, computer-readable recording medium for recording defect-detecting program

Номер патента: WO2013118306A1. Автор: 山本　修平,慎太郎田畑,秀信中西. Владелец: シャープ株式会社. Дата публикации: 2013-08-15.

Method of detecting defect of power transmission line, defect detecting device, and defect detecting system

Номер патента: CN106646137A. Автор: 王欣,于洋,王楠,王铁军,邹彪,沈建,孟小前. Владелец: SGCC GENERAL AVIATION Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-10.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: US10495581B2. Автор: Hiroyuki Onishi. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-03.

Defect detection system, defect detection method and defect detection program for panel wood

Номер патента: TWI762271B. Автор: 森田晃司. Владелец: 日商名南製作所股份有限公司. Дата публикации: 2022-04-21.

Printed circuit board assembly defect detection

Номер патента: WO2022009009A1. Автор: Matthew Kelly,Sebastien Gilbert,Oswaldo CHACON. Владелец: Ibm (China) Investment Company Ltd.. Дата публикации: 2022-01-13.

Broadband wafer defect detection

Номер патента: US11852593B2. Автор: Nai-Han Cheng,Hsing-Piao Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Broadband wafer defect detection

Номер патента: US20240068957A1. Автор: Nai-Han Cheng,Hsing-Piao Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Battery cell defect detection method and apparatus, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4361950A1. Автор: Xi Wang,Zhiyu Wang,Guannan JIANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Dust detection equipment of mechanical equipment

Номер патента: CN110736496A. Автор: 葛磊. Владелец: Xuzhou Lelai Construction Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-31.

Detection equipment of water purifier and detection method of water purifier adopting detection equipment

Номер патента: CN111458084A. Автор: 李波,李齐俊. Владелец: Upton Automation Systems Kunshan Co ltd. Дата публикации: 2020-07-28.

Centralized control and communication system, equipment and readable storage medium for platform gas detection equipment

Номер патента: CN110535972B. Автор: 张金明,刘建超,曹兴会. Владелец: Qilu Normal University. Дата публикации: 2022-02-08.

Method of air flow monitoring in fire detecting equipment and fire detecting equipment therefor

Номер патента: PL328332A1. Автор: Bernhard Bastian,Lutz Burkhardt,Horst Lewonig. Владелец: Wagner Alarm Sicherung. Дата публикации: 1999-01-18.

Performance evaluation method and device of flaw detection equipment and electronic equipment

Номер патента: CN110618201A. Автор: 黄毅,冯博,张学峰,徐海卫,狄国标,何元春,魏运飞,慕文杰,贾冠,马国金. Владелец: Shougang Jingtang United Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-27.

Convenient detection equipment and method for vibration of electromechanical equipment

Номер патента: CN114964679A. Автор: 李永,姜艳艳,符广涛. Владелец: Xuzhou Kaidi Sauna Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-30.

Gearbox vibration detection equipment for equipment operation

Номер патента: CN115060488B. Автор: 刘冉冉,徐现强,颜玲俐. Владелец: Suzhou Kaimike Intelligent Equipment Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-11-18.

Power supply method, device, equipment and medium based on voltage adjustment of detection equipment

Номер патента: CN115347650B. Автор: 孙海生. Владелец: Weizhun Beijing Electronic Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-12-13.

Magnetic force power switch and water quality detection equipment under pressure-resistant water proof equipment environment

Номер патента: CN109406742A. Автор: 朱剑波,宋翔鹰. Владелец: INESA SCIENTIFIC INSTRUMENT CO Ltd. Дата публикации: 2019-03-01.

A kind of combined local discharge of electrical equipment live detection equipment

Номер патента: CN106841946A. Автор: 王磊,李高峰,吴笃贵,周运良. Владелец: Age Polytron Technologies Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Method of air flow monitoring in fire detecting equipment and fire detecting equipment therefor

Номер патента: PL183251B1. Автор: Bernhard Bastian,Lutz Burkhardt,Horst Lewonig. Владелец: Wagner Alarm Sicherung. Дата публикации: 2002-06-28.

Method and device for compensating machine error of display substrate detection equipment and detection equipment

Номер патента: CN113933025A. Автор: 王蕾,王建翎. Владелец: Shenzhen Fu Rui Linkyoo Precision Products Ltd. Дата публикации: 2022-01-14.

Leak detection equipment and associated control method

Номер патента: FR3127284A1. Автор: Frédéric ROBIN,Cyrille Nomine. Владелец: Pfeiffer Vacuum SAS. Дата публикации: 2023-03-24.

Performance detection method, system and equipment of infrared detection equipment

Номер патента: CN111736135A. Автор: 李平,梁国栋. Владелец: Huizhou Desay SV Automotive Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-02.

Vibration detection equipment for metallurgical equipment

Номер патента: CN113833961A. Автор: 张景军,龚建翰,张现菊,龚凡雨,黄贤霞. Владелец: HEZE SHUANGLONG METALLURGICAL MACHINERY CO Ltd. Дата публикации: 2021-12-24.

METHOD OF MEASURING A SILICON THIN FILM, METHOD OF DETECTING DEFECTS IN A SILICON THIN FILM, AND SILICON THIN FILM DEFECT DETECTION DEVICE

Номер патента: US20130265078A1. Автор: Voronov Alexander,Lee Seok-Ho,Jung Ji-Hunny,Heo Kyung-Hoe,Han Gyoo-Wan. Владелец: Samsung Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2013-10-10.

DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD

Номер патента: US20190011374A1. Автор: Onishi Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-10.

Surface defect detecting method and surface defect detecting apparatus

Номер патента: US20190011375A1. Автор: Hiroaki Ono,Akihiro Ogawa,Toshifumi Kodama,Takahiro Koshihara,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2019-01-10.

DEFECT DETECTION DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210027440A1. Автор: Nagata Yasushi,Onishi Hiroyuki,SAKUYAMA Tsutomu. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT OBSERVATION DEVICE PROVIDED WITH SAME

Номер патента: US20160069816A1. Автор: Watanabe Masahiro,Tachizaki Takehiro,Matsumoto Shunichi,Otani Yuko. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2016-03-10.

DEFECT DETECTION DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20220084183A1. Автор: Nagata Yasushi,Onishi Hiroyuki,SAKUYAMA Tsutomu. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-17.

DEFECT DETECTION SYSTEM FOR AIRCRAFT COMPONENT AND DEFECT DETECTION METHOD FOR AIRCRAFT COMPONENT

Номер патента: US20200096454A1. Автор: Hasegawa Osamu,KONISHI Kozaburo,OKAMOTO Motoko. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-26.

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT OBSERVATION DEVICE PROVIDED WITH SAME

Номер патента: US20150116712A1. Автор: Watanabe Masahiro,Tachizaki Takehiro,Matsumoto Shunichi,Otani Yuko. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

SURFACE DEFECT DETECTING METHOD AND SURFACE DEFECT DETECTING APPARATUS

Номер патента: US20170122878A1. Автор: Kodama Toshifumi,ONO Hiroaki,Koshihara Takahiro,Ogawa Akihiro,Iizuka Yukinori. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

DEFECT DETECTING METHOD, DEFECT DETECTING SYSTEM AND COMPUTER-READABLE MEDIUM

Номер патента: US20190130551A1. Автор: CHEN Chien-Huei. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-05-02.

DEFECT DETECTION DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210190731A1. Автор: Ueda Yoshio,Okamoto Kohei. Владелец: NIPPON STEEL CORPORATION. Дата публикации: 2021-06-24.

DEFECT DETECTING DEVICE AND DEFECT DETECTING METHOD

Номер патента: US20200191723A1. Автор: KURI Ryohei. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2020-06-18.

ADHESION DEFECT DETECTION APPARATUS AND ADHESION DEFECT DETECTION METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20200240923A1. Автор: HWANG Tae Jin. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

DEFECT DETECTION STRUCTURE OF A SEMICONDUCTOR DIE, SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE SAME AND METHOD OF DETECTING DEFECTS IN SEMICONDUCTOR DIE

Номер патента: US20210320039A1. Автор: Jeong Jae-Yong,Choi Young-Don,Jeong Byung-Hoon,IHM JEONG-DON,Kim Sang-Lok,Lee Min-Jae,LEE Tae-Sung. Владелец: . Дата публикации: 2021-10-14.

MOISTURE DETECTION SENSOR, DEFECT DETECTION SENSOR, AND SENSOR ARRAY USING SAME

Номер патента: US20170356893A1. Автор: Kim Hyun Chul,KOO Eun Hae. Владелец: KOREA INSTITUTE OF CERAMIC ENGINEERING AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-12-14.

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT OBSERVATION DEVICE PROVIDED WITH SAME

Номер патента: US20170363547A1. Автор: Watanabe Masahiro,Tachizaki Takehiro,Matsumoto Shunichi,Otani Yuko. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2017-12-21.

Surface defect detection device, surface defect detection method, and steel product manufacturing method

Номер патента: CN107735674B. Автор: 大野纮明,楯真沙美,大重贵彦,儿玉俊文,腰原敬弘,小川晃弘,饭塚幸理. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-09-17.

Substrate surface defects detection means, image distortion correction method and apparatus and substrate surface defects detection device

Номер патента: CN107845583A. Автор: 伍强,李璇,熊威. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Mask graphic defect detection method and mask graphic defect detection system for

Номер патента: CN104317159A. Автор: 赵蓓,郭贵琦. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2015-01-28.

Surface defect detection device and surface defect detection method

Номер патента: JP6079948B1. Автор: 貴彦大重,紘明大野,真沙美楯. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-02-15.

Multi-light-source compensation spring defect detection system and detection method

Номер патента: CN110823909A. Автор: 张洋,刘娟,唐立军,樊伟,吴定祥. Владелец: CHANGSHA UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2020-02-21.

Surface defect acquisition system, surface defect detection method, surface defect detection device and storage medium

Номер патента: CN110243831B. Автор: 胡玮,林荣,姚进发. Владелец: Ruijie Networks Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Automatic scanning detection device applied to chip surface defect detection

Номер патента: CN115112681A. Автор: 张志新,王昊,徐立君,董家昌,叶坚恒,冯颖娜,郭艺姝. Владелец: Suzhou Honghao Photoelectric Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-09-27.

Wind driven generator blade surface defect detection method and detection apparatus

Номер патента: CN106645570A. Автор: 张旭晨. Владелец: Beijing Goldwind Science and Creation Windpower Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-10.

Surface defect detection apparatus, surface defect detection method, and steel material manufacturing method

Номер патента: JP6447637B2. Автор: 幸理飯塚,腰原　敬弘,敬弘腰原,貴彦大重,俊文児玉,紘明大野,真沙美楯,児玉　俊文,晃弘小川,飯塚　幸理. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2019-01-09.

Defect detection device of knocking detection device

Номер патента: KR100361400B1. Автор: 스테판운란트,오스카르토르노,베르너하에밍,울리흐로쓰하르,이반즈르야디,볼프강힐베르트,로베르트스로보다,미첼바오이에르레. Владелец: 로베르트 보쉬 게엠베하. Дата публикации: 2003-06-09.

Endoscope-based product defect detection device and detection method

Номер патента: CN112945974B. Автор: 陈琳,蒋晗,朱跃钊,廖传华,赵清万. Владелец: Nanjing Sanfang Chemical Equipment Supervision Co ltd. Дата публикации: 2023-02-28.

Surface defect detection apparatus and surface defect detection method

Номер патента: KR102073229B1. Автор: 마사미 다테,히로아키 오노,타카히코 오시게. Владелец: 제이에프이 스틸 가부시키가이샤. Дата публикации: 2020-03-02.

Ultrasonic fault detection system, defect detection on ultrasonic basis and airframe body

Номер патента: CN106248795B. Автор: 副岛英树,高桥孝平. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2019-04-19.

Defect detection method and defect detection apparatus for semiconductor integrated circuit

Номер патента: JP4170611B2. Автор: 宏松下,幸広牛久,邦寛光武. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-10-22.

Defect detection device of electronic components and defect detection method thereof

Номер патента: KR20230027599A. Автор: 김성훈,임성훈,엄원석,박흥길. Владелец: 연세대학교 산학협력단. Дата публикации: 2023-02-28.

The flaw detection apparatus of Silicon Wafer and defect detecting method thereof

Номер патента: CN101933130A. Автор: 中村学. Владелец: Nippon Electro Sensory Devices Corp. Дата публикации: 2010-12-29.

Defect detection device, defect detection method, program, and storage medium

Номер патента: CN104350381A. Автор: 永田泰昭,佐藤雄伍. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2015-02-11.

Transparent or translucent object, e.g. phial, defect detection device, has cameras to detect defects in object`s ring and comprising visual axes inclined with respect to ring`s central axis, and light source positioned on central axis

Номер патента: FR2884611A1. Автор: Philippe Volay,Thierry Ougier. Владелец: IRIS INSPECTION MACHINES SA. Дата публикации: 2006-10-20.

Defect detection system, defect model creation program, and defect detection program

Номер патента: JP2019152979A. Автор: Kenichi Fukui,健一福井,福井　健一,正嗣北井,Masatsugu Kitai. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2019-09-12.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: CN111610197A. Автор: 伊凯. Владелец: Shanghai Yuwei Semiconductor Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-09-01.

Defect detection apparatus, defect detection method, and program

Номер патента: EP3418726A1. Автор: Hiroyuki Onishi,Yasushi Nagata,Tsutomu SAKUYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-26.

Defect detection in films on ceramic substrates

Номер патента: CA1233211A. Автор: Alexander L. Flamholz. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1988-02-23.

Track slab defect detection device and detection method thereof

Номер патента: CN112924546B. Автор: 郭春生,贾非,薛亚东,袁钊,方晓正. Владелец: TONGJI UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-08-16.

FM Signal demodulator with defect detection

Номер патента: US4203134A. Автор: Todd J. Christopher,Tsan H. Lin. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1980-05-13.

Defect detection device and bag packaging system equipped with defect detection device

Номер патента: EP1600763A2. Автор: Yuji Yokota,Seisaku Iwasa,Yuichiro Minakuchi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2005-11-30.

Hot spot defect detecting method and hot spot defect detecting system

Номер патента: US10872406B2. Автор: Xiaomeng Chen,Wei-Chen Wu,Chien-Huei Chen,Pei-Chao Su,Chan-Ming Chang,Shih-Yung Chen,Hung-Yi Chung,Kuang-Shing Chen,Li-Jou Lee,Yung-Cheng Lin,Shih-Chang Wang,Chien-An Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-12-22.

Defect detection device and bag packaging system equipped with defect detection device

Номер патента: EP1600763B1. Автор: Yuji Yokota,Seisaku Iwasa,Yuichiro Minakuchi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-30.

A kind of plastic pipe surface defect detection apparatus and its detection method

Номер патента: CN107976454A. Автор: 刘志军,唐振宇,徐虎,毕齐林,赖敏玲,闫奕檏. Владелец: Guangzhou Maritime University. Дата публикации: 2018-05-01.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: JPH0830679B2. Автор: エルナイルンドスティーブン. Владелец: ラム―ウェストンインコーポレーテッド. Дата публикации: 1996-03-27.

Semiconductor substrate defects detection device and method of detection of defects

Номер патента: KR100882252B1. Автор: 다카아키 오니시. Владелец: 올림푸스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2009-02-06.

A kind of polaroid Defect Detection system and its detection method

Номер патента: CN109540902A. Автор: 张专. Владелец: Suzhou Xiangxing Software Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-29.

Defect detection device, defect detection method, and program

Номер патента: CN111373254A. Автор: 冈本康平,上田佳央. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2020-07-03.

High-precision wafer surface defect detection device and detection method thereof

Номер патента: CN111982931B. Автор: 周波,邹伟金,付金宝,徐武建,苏达顺. Владелец: Gaoshi Technology Suzhou Co ltd. Дата публикации: 2022-11-18.

A kind of air spring bar surface defects detection system and detection method thereof

Номер патента: CN106124515A. Автор: 林梅金,苏彩红,詹宁宙. Владелец: Foshan University. Дата публикации: 2016-11-16.

Track slab defect detection device and detection method thereof

Номер патента: CN112924546A. Автор: 郭春生,贾非,薛亚东,袁钊,方晓正. Владелец: TONGJI UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-06-08.

EUV high throughput inspection system for defect detection on patterned EUV masks, mask blanks, and wafers

Номер патента: US9377414B2. Автор: David R. Shafer,David L. Brown,Yung-ho Chuang,Bin-Ming Benjamin Tsai,Richard W. Solarz. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-06-28.

Insulation defect detection by high voltage electrode means

Номер патента: US5416419A. Автор: George C. Witt. Владелец: AT&T Corp. Дата публикации: 1995-05-16.

Fm signal demodulator with defect detection

Номер патента: CA1129094A. Автор: Todd J. Christopher,Tsan H. Lin. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1982-08-03.

Defect detection apparatus, defect detection method, program, and storage medium

Номер патента: JPWO2014007023A1. Автор: 泰昭永田,永田　泰昭,雄伍佐藤. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2016-06-02.

Defect detection system for aircraft component and defect detection method for aircraft component

Номер патента: EP3591612A4. Автор: Osamu Hasegawa,Kozaburo Konishi,Motoko Okamoto. Владелец: Soinn Inc. Дата публикации: 2020-03-25.

Coating defect detection device, coating defect detection method, and method for manufacturing rotating electrical machine

Номер патента: WO2022145269A1. Автор: 貞治高橋,旭涛李,貴浩三澤. Владелец: 三菱電機株式会社. Дата публикации: 2022-07-07.

Internal defect detecting method of ultrasonic flow detection

Номер патента: JPS59148865A. Автор: Akio Suzuki,Masayoshi Iwasaki,紀生鈴木,Hitoshi Uchiumi,Kazuo Miyake,Kenji Yuya,Takehiko Oshiro,Hirosuke Sawara,岩崎　全良,仁内海,三宅　和郎,油谷　憲治,大城　毅彦,佐原　弘祐. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 1984-08-25.

A kind of electrolytic capacitor open defect detection means and detection method

Номер патента: CN107860777A. Автор: 李文杰,王海舰,高兴宇,李明枫,刘冠隆. Владелец: Guilin University of Electronic Technology. Дата публикации: 2018-03-30.

Defect detection method and defect detection device and defect observation device provided with same

Номер патента: US8953156B2. Автор: Masahiro Watanabe,Shunichi Matsumoto,Takehiro TACHIZAKI,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-02-10.

Defect detection method and defect detection apparatus

Номер патента: TW200933141A. Автор: Toshiyuki Okayama. Владелец: Dainippon Screen Mfg. Дата публикации: 2009-08-01.

Defect detection device and detection method for large-thickness composite material structural part

Номер патента: CN111650275A. Автор: 于秀娟,张志毅,曹峰,周庆祥,李广凯,肖君武,李刚卿,邱国云,傅晔. Владелец: CRRC Qingdao Sifang Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-11.

Fibre defect detection

Номер патента: GB2107858A. Автор: Jose Muller,Michael Longree,Helene Galere,Joseph Grignet. Владелец: SCIENT ET TECH de l IND TEXTIL. Дата публикации: 1983-05-05.

Defect detecting device, defect detecting method, and program

Номер патента: EP3605083A1. Автор: Kohei Okamoto,Yoshio Ueda,Noboru Hasegawa,Masaki Yamano,Hiromichi Aoki. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-02-05.

Quality defect detection system and detection method thereof

Номер патента: CN111426693A. Автор: 罗文斌,肖苏华,曹应斌. Владелец: Hunan Hengyue Heavy Steel Steel Structure Engineering Co ltd. Дата публикации: 2020-07-17.

Layered film fabrication method, layered film defect detection method, layered film defect detection device, layered film, and image display device

Номер патента: KR101249119B1. Автор: 다카마사 고바야시,미치히로 하기와라,유우키 야노,고우지 시젠. Владелец: 닛토덴코 가부시키가이샤. Дата публикации: 2013-03-29.

Stator surface defect detection system and detection method based on machine vision

Номер патента: CN110766684A. Автор: 吴静静,戴斌宇. Владелец: JIANGNAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-02-07.

Insulation defect detection method and detection system for magnet wire coating, manufacturing method for electric machine, and electric machine

Номер патента: US20230176105A1. Автор: Teiji Takahashi,Takahiro MISAWA,Xutao LI. Владелец: Mitsubishi Electriic Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Automobile bumper paint defect detection device and detection method thereof

Номер патента: CN116106330B. Автор: 陶峰,童佩,曹秋法. Владелец: Wuhan Mingjie Mould & Plastic Co ltd. Дата публикации: 2023-06-20.

Coating defect detection device, coating defect detection method, and method for manufacturing rotating electrical machine

Номер патента: CN116490936A. Автор: 李旭涛,高桥贞治,三泽贵浩. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-07-25.

Trees defect detecting device and detection method

Номер патента: CN106885846B. Автор: 冯海林,张春晓,李剑,李光辉,方益明. Владелец: Zhejiang A&F University ZAFU. Дата публикации: 2019-04-23.

Structural defect detection

Номер патента: US4436999A. Автор: Werner Kern. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1984-03-13.

A kind of camera mould group, cell silicon chip defect detecting device and detection method

Номер патента: CN110195809A. Автор: 李俊杰,周聪,李小明,谢宏威. Владелец: Dongguan Weisen Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-03.

A kind of cpu heat aluminium extruded forming defect detecting system and detection method

Номер патента: CN106290394A. Автор: 文尚胜,吴玉香,熊晨雨. Владелец: South China University of Technology SCUT. Дата публикации: 2017-01-04.

Defect detection device, defect detection method, program, and storage medium.

Номер патента: MX2014014428A. Автор: Yasuaki Nagata,Yugo Sato. Владелец: Nippon Steel & Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2015-02-12.

Metal sheet surface corrosion defects detection and the microwave detection probe and method assessed

Номер патента: CN106645213B. Автор: 李勇,陈振茂,闫贝,谭建国,李文嘉. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2018-03-16.

Mobile phone cover plate silk-screen defect detection device and detection method based on machine vision

Номер патента: CN110567976B. Автор: 潘健,甘露,刘春江,王玉丹,文国军. Владелец: China University of Geosciences. Дата публикации: 2023-05-26.

A kind of supersonic guide-wave for many defects detections of pipeline is segmented self-focusing detection method

Номер патента: CN107153097A. Автор: 周进节. Владелец: NORTH UNIVERSITY OF CHINA. Дата публикации: 2017-09-12.

Device for illuminating an object for the automatic detection of defects and automatic defect-detection installation comprising one such device

Номер патента: AU2003295001A1. Автор: Philippe Dubois. Владелец: S G C C. Дата публикации: 2004-05-25.

Structural defect detection system and structural defect detection method

Номер патента: WO2020118659A1. Автор: 舒远,王星泽. Владелец: 合刃科技（深圳）有限公司. Дата публикации: 2020-06-18.

Specific defect detection method, specific defect detection system and program

Номер патента: JP5782782B2. Автор: 毅船田. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2015-09-24.

Defect detection apparatus, defect detection method and program

Номер патента: JP6562192B1. Автор: 康平岡本,佳央上田. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-08-21.

A kind of chip pin weld defects detection system and method based on thermal imaging detection

Номер патента: CN108562614A. Автор: 张宏,吴瑞坤,徐鲁雄. Владелец: Fujian Normal University. Дата публикации: 2018-09-21.

Defect detecting device with multiple detection patterns and its method

Номер патента: CN108375586A. Автор: 朱江,邓清勇,刘昊霖,许海霞,裴廷睿,田淑娟,李建奇,印峰,蔡慕尧. Владелец: Hunan University of Arts and Science. Дата публикации: 2018-08-07.

Distribution defect detecting method and distribution flaw detection apparatus

Номер патента: CN103858017B. Автор: 山田荣二. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

A kind of con-rod fracture splitting planar defect detection means and detection method

Номер патента: CN107064161A. Автор: 张冲,关蕾,李志鹏,王冠,陈玲玉. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-08-18.

Mutli-detector defect detection system and a method for detecting defects

Номер патента: AU2003220223A1. Автор: Daniel I. Some,Evgeni Levin,Mirta Perlman. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2003-09-29.

A kind of film surface defect detection apparatus and its detection method

Номер патента: CN107328786A. Автор: 李波,张梁,王国玺,温晔,董玉静. Владелец: In Photoelectric Equipment Ltd By Share Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Defect detecting device, defect detecting method, and program

Номер патента: EP3605083A4. Автор: Kohei Okamoto,Yoshio Ueda,Noboru Hasegawa,Masaki Yamano,Hiromichi Aoki. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

Insulating bearing ceramic coating defect detection device and detection method

Номер патента: CN114062388A. Автор: 贾书海,聂天. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2022-02-18.

The manufacture method of surface defect detection apparatus, detection method of surface flaw and steel

Номер патента: CN107735674A. Автор: 大野纮明,楯真沙美,大重贵彦,儿玉俊文,腰原敬弘,小川晃弘,饭塚幸理. Владелец: NKK Corp. Дата публикации: 2018-02-23.

Improved detection method for environment and lamplight in product appearance defect detection

Номер патента: CN110865083A. Автор: 罗志云,赖延辉. Владелец: Converge Ten Thousand River Plastic Film Co Ltds In Shenzhen. Дата публикации: 2020-03-06.

Panel defect detection device and detection method

Номер патента: CN113533351A. Автор: 杨朝兴. Владелец: Hefei Yuwei Semiconductor Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-10-22.

MiniLED circuit board defect detection system and detection method

Номер патента: CN115452843B. Автор: 吴建明,陈晓东,龙富强,李灶保. Владелец: Huizhou Welgao Electronics Co ltd. Дата публикации: 2023-03-14.

A kind of pavement marker line defect detection device and its detection method

Номер патента: CN105891220B. Автор: 王锐,王栋,韩毅,丁建华,许坤有,刘廷杰,薛万标. Владелец: Kunshan Transportation Engineering Test Center Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-30.

Defect detection device and detection method thereof

Номер патента: CN113310996A. Автор: 庞春,庞智豪. Владелец: Shenzhen Hualiang Hardware Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-08-27.

Straw particle defect detection system and detection method based on machine vision

Номер патента: CN111398294A. Автор: 王伟,李宁,宫元娟,白雪卫,任德志. Владелец: Liaoning Ningyue Agricultural Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-10.

Defect detection system and defect detection method

Номер патента: CN111208144A. Автор: 高建翔. Владелец: Shanghai Yuwei Semiconductor Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-05-29.

A kind of product defects detection system and detection method based on endoscope

Номер патента: CN109613012A. Автор: 陈琳,蒋晗,朱跃钊,廖传华,赵清万. Владелец: Nanjing Three Chemical Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-12.

Wiring defect detection method and wiring defect detection device

Номер патента: WO2013039024A1. Автор: 正和柳瀬. Владелец: シャープ株式会社. Дата публикации: 2013-03-21.

Defect detecting method and defect detecting system

Номер патента: CN108287165A. Автор: 洪嘉嬬,林宽宏,吴柏徵. Владелец: Sumika Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-17.

A kind of defect detecting device and detection method using surface magnetic conductance technology

Номер патента: CN110187001A. Автор: 王康,黄威,赵琴,阮鸥,王子豪,凌威,陆智明,卢永雄,关江浩. Владелец: TOMATO TECHNOLOGY (WUHAN) Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-30.

Defect detection device and bag packaging system equipped with defect detection device

Номер патента: AU2005202277B2. Автор: Yuji Yokota,Seisaku Iwasa,Yuichiro Minakuchi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2011-05-26.

Defect detection apparatus, defect detection method and program product

Номер патента: TW201734442A. Автор: 永田泰史,作山努,大西浩之. Владелец: 斯庫林集團股份有限公司. Дата публикации: 2017-10-01.

Defect detecting/degree-of-filling-in measuring apparatus for concrete during placement and method for defect detection/degree of filling-in measurement for the same

Номер патента: KR101323123B1. Автор: 타케시 스즈키,히데야스 유키,히로미 나카가와,시게키 세코,켄로 미츠이,소우이치 키야,타다히로 카키자와,다이스케 사에구사. Владелец: 가부시키가이샤 게츠토 가가쿠 겐큐쇼. Дата публикации: 2013-10-30.

Defect detection in films on ceramic substrates

Номер патента: US4679938A. Автор: Alexander L. Flamholz. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1987-07-14.

Apparatus and method of vibration testing for manufacturing defect detection in composite insulators

Номер патента: WO2013102020A1. Автор: Andrew John Phillips,Kris KOZAK. Владелец: ELECTRIC POWER RESEARCH INSTITUTE, INC.. Дата публикации: 2013-07-04.

Defect detection method and detection system for curved surface object

Номер патента: WO2020051779A1. Автор: 舒远,王星泽. Владелец: 合刃科技（深圳）有限公司. Дата публикации: 2020-03-19.

Drilling defect detection system based on machine vision and detection method thereof

Номер патента: CN110097548B. Автор: 王喜斌,王俊红,姚晓琼,李宗睿,周泽明,李宏颖,郭向鑫. Владелец: North China Institute of Aerospace Engineering. Дата публикации: 2021-01-15.

Wafer backside defect detection method and wafer backside defect detection apparatus

Номер патента: US20230024259A1. Автор: Cheng-Hsien Chen,Chia-Feng HSIAO,Chung-Hsuan WU,Nai-Ying Lo,Chen-Hui Huang,Yung-Yu Yang,En-Wei TSUI,Chen-Hsuan Hung. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-01-26.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: JPWO2020059743A1. Автор: 淳弘園,園　淳弘. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-02-18.

Defect detecting method and defect detecting device

Номер патента: TWI447380B. Автор: Takeshi Nakajima,Kazuhiro Shimoda,Hiroyuki Yamamoto,Manabu Higuchi,Takeshi Wakita. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-08-01.

Automated septal defect detection in cardiac computed tomography images

Номер патента: US10713789B2. Автор: Chun Lok Wong. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Acoustics-based noninvasive wafer defect detection

Номер патента: US11879868B2. Автор: Dipen N. Sinha,Cristian Pantea,John James Greenhall,Alan Lyman Graham. Владелец: Triad National Security LLC. Дата публикации: 2024-01-23.

Defect detection device, and defect detection method and program

Номер патента: EP3726209B1. Автор: Kohei Okamoto,Yoshio Ueda. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2024-01-31.

Systems and methods of defect detection by voltage contrast imaging

Номер патента: WO2023241870A1. Автор: Chun-Wei Huang,Xuechen ZHU,Datong ZHANG,Wei-Hsin Hsieh,Yew Kong TANG,Lichi WANG. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-12-21.

Systems, methods, and devices for defect detection in capacitive touch panels

Номер патента: US11928284B2. Автор: Viktor Kremin,Vadym Grygorenko,Jens Weber,Oleksandr Pirogov,Taras Kuzo,Oleksii Bukhtii. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Printed circuit board (PCB) interconnect defect detection

Номер патента: US10267846B1. Автор: Jeffrey J. Leblanc,Rohit Mundra,Christopher A. Goonan. Владелец: EMC IP Holding Co LLC. Дата публикации: 2019-04-23.

Systems, methods, and devices for defect detection in capacitive touch panels

Номер патента: US20230289012A1. Автор: Viktor Kremin,Vadym Grygorenko,Jens Weber,Oleksandr Pirogov,Taras Kuzo,Oleksii Bukhtii. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

AC defect detection and failure avoidance power up and diagnostic system

Номер патента: US20030065484A1. Автор: Jody Van Horn,Phillip Nigh. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-04-03.

Defect detecting apparatus and defect detecting method

Номер патента: TW200834062A. Автор: Ryuichi Yamazaki. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2008-08-16.

Defect detection

Номер патента: US7796805B1. Автор: David W. Shortt,Michael D. Kirk,Stephen A. Biellak. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2010-09-14.

Methods and systems for inline parts average testing and latent reliability defect detection

Номер патента: WO2018175214A1. Автор: David W. Price,Robert J. Rathert,Kara L. Sherman,Robert Cappel,Douglas G. Sutherland. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2018-09-27.

Defect detection in manufactured articles using multi-channel images

Номер патента: US20240169514A1. Автор: Xin Song,Longjiang Xiang. Владелец: Onto Innovation Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Learning device, defect detection device, and defect detection method

Номер патента: US20230251167A1. Автор: Yasuhiro Toyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Method and apparatus for automated defect detection

Номер патента: US20230153989A1. Автор: John J. Pickerd,Kevin Ryan,Sam J. Strickling,Jeffrey J. Trgovich. Владелец: Sonix Inc. Дата публикации: 2023-05-18.

Defect detection in manufactured articles using multi-channel images

Номер патента: WO2024112440A1. Автор: Xin Song,Longjiang Xiang. Владелец: Onto Innovation Inc.. Дата публикации: 2024-05-30.

Computer implemented process to enhance edge defect detection and other defects in ophthalmic lenses

Номер патента: US11816824B2. Автор: Soon Wei Wong,Kundapura Parameshwara Srinivas. Владелец: EMAGE AI PTE LTD. Дата публикации: 2023-11-14.

Efficient phase defect detection system and method

Номер патента: WO2002091026A2. Автор: Stanley E. Stokowski,Matthias C. Krantz,Mark Joseph Wihl. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2002-11-14.

Camera subassembly dust and defect detection system and method

Номер патента: US20160381354A1. Автор: John Jamieson,Robert Johnson. Владелец: KODAK ALARIS INC. Дата публикации: 2016-12-29.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: US20230125289A1. Автор: Masuto KITAMURA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Detection method and system based on battery defect detection system, and storage medium

Номер патента: EP4231007A4. Автор: Peng Fan,De Chen,Qihui Lu. Владелец: Guangdong Lyric Robot Automation Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Camera subassembly dust and defect detection system and method

Номер патента: US20180205856A1. Автор: John Jamieson,Robert Johnson. Владелец: KODAK ALARIS INC. Дата публикации: 2018-07-19.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: EP3945330B1. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-08.

Electrical Methods for Structural Defect Detection in Battery Cells

Номер патента: US20240230779A1. Автор: Martin Weiss,Kosta Ilic,Brian Clifford MacCleery. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Colored defect detection curves

Номер патента: EP4127693A4. Автор: Jiamin Lei,Siva Sankar YADAVALLI. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2024-05-08.

Optical web-based defect detection using intrasensor uniformity correction

Номер патента: WO2011084914A3. Автор: Steven P. Floeder,Matthew V. Rundquist. Владелец: 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY. Дата публикации: 2013-02-21.

Optical web-based defect detection using intrasensor uniformity correction

Номер патента: TW201135220A. Автор: Steven Paul Floeder,Matthew Vincent Rundquist. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2011-10-16.

Optical web-based defect detection using intrasensor uniformity correction

Номер патента: WO2011084914A2. Автор: Steven P. Floeder,Matthew V. Rundquist. Владелец: 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY. Дата публикации: 2011-07-14.

Defect detection using synthetic data and machine learning

Номер патента: EP4170587B1. Автор: Edward R. Kernick,Peter Cerreta. Владелец: Johnson and Johnson Vision Care Inc. Дата публикации: 2024-04-17.

Defect detection in high voltage power supply apparatus

Номер патента: WO2020055997A1. Автор: Jin-yun PARK,Jonghwa CHO,Kwang-Hoon CHEON. Владелец: Hewlett-Packard Development Company, L.P.. Дата публикации: 2020-03-19.

Defect detection in high voltage power supply apparatus

Номер патента: US20210356498A1. Автор: Jinyun Park,Kwanghoon CHEON,Jonghwa CHO. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2021-11-18.

Birdswing defect detection for glass containers

Номер патента: AU5374086A. Автор: Paul Frederick Scott,Dale Joshua Brady. Владелец: Emhart Industries Inc. Дата публикации: 1986-09-04.

Insulation defect detection of high voltage generator stator core

Номер патента: EP2807496A1. Автор: Jingdan Zhang,Shaohua Kevin Zhou,Mark W. Fischer,Xuefei GUAN,Waheed A. Abbasi,Scott A. KARSTETTER,Christopher John William ADAMS. Владелец: Siemens Corp. Дата публикации: 2014-12-03.

Insulation defect detection of high voltage generator stator core

Номер патента: WO2013112403A1. Автор: Guan Xuefei,Jingdan Zhang,Shaohua Kevin Zhou,Mark W. Fischer,Waheed A. Abbasi,Scott A. KARSTETTER,Christopher John William ADAMS. Владелец: Siemens Corporation. Дата публикации: 2013-08-01.

Dispositioning defects detected on extreme ultraviolet photomasks

Номер патента: IL281403B2. Автор: . Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-04-01.

Systems and Methods Eliminating False Defect Detections

Номер патента: US20150316489A1. Автор: Chih-Chiang Tu,Chien-Hung Lai,Jong-Yuh Chang,Kuang-Yu Liu,Biow-Hiem Ong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-11-05.

System and method for on-engine component defect detection

Номер патента: EP3707398A1. Автор: Marc E. Smith,Jeffrey T. Galarno,Michael T. STANLEY,Eric C. Proehl,Scott Daniel SAUM. Владелец: Cummins Inc. Дата публикации: 2020-09-16.

System and method for on-engine component defect detection

Номер патента: US20200363293A1. Автор: Marc E. Smith,Scott Saum,Jeffrey T. Galarno,Michael T. STANLEY,Eric C. Proehl. Владелец: Cummins Inc. Дата публикации: 2020-11-19.

Patterning device defect detection systems and methods

Номер патента: EP4399571A1. Автор: Marie-Claire VAN LARE,Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-17.

Automated defect detection of corrosion using SAFT processed lamb wave images

Номер патента: AU2008202249A1. Автор: Grant A. Gordon,Radek Hedl. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2008-12-11.

Hidden defect detection and epe estimation based on the extracted 3d information from e-beam images

Номер патента: IL279994A. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-03-01.

Defect detection device

Номер патента: GB2404029B. Автор: Alan Hobbs,Robert Cooke,Alex Barrett. Владелец: Networksuk Ltd. Дата публикации: 2005-11-09.

Electrical methods for structural defect detection in battery cells

Номер патента: WO2024151644A1. Автор: Martin Weiss,Brian Clifford MacCleery. Владелец: National Instruments Corporation. Дата публикации: 2024-07-18.

Defect detecting/degree-of-filling-in measuring apparatus for concrete during placement method thereof

Номер патента: HK1111216A1. Автор: Takeshi Suzuki,Tadahiro Kakizawa,Hideyasu Yuki,Kenro Mitsui,Shigeki Seko,Hiromi Nakagawa,Daisuke Saegusa,Souichi Kiya. Владелец: Kett Electric Lab. Дата публикации: 2008-08-01.

Mode selection and defect detection training

Номер патента: IL297618A. Автор: . Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Defect detection using an indicator fluid

Номер патента: GB9620772D0. Автор: . Владелец: Young Peter D. Дата публикации: 1996-11-20.

Defect detection using synthetic data and machine learning

Номер патента: US20240257332A1. Автор: Edward R. Kernick,Peter Cerreta. Владелец: Johnson and Johnson Vision Care Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Pixel defect detection and correction device, imaging apparatus, pixel defect detection and correction method, and program

Номер патента: US8508631B2. Автор: Jun Hashizume. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2013-08-13.

Wireless communication system, monitoring station, defect detection method, and wireless communication program

Номер патента: US20230121752A1. Автор: Yasushi Takatori,Koichi Ishihara,Toshiro NAKAHIRA,Hirantha ABEYSEKERA,Shoko Shinohara. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Semiconductor chips having defect detecting circuits

Номер патента: US09698066B2. Автор: Bo-Ra Lee,Jae-Ho Jeong,Kwang-Yong Lee,Nam-Gyu BAEK,Hyo-Seok WOO,Hyun-Sook YOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Wireless communication system, monitoring station, defect detection method, and wireless communication program

Номер патента: US20230035101A1. Автор: Yasushi Takatori,Koichi Ishihara,Toshiro NAKAHIRA,Hirantha ABEYSEKERA,Shoko Shinohara. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Semiconductor device having a peripheral-region defect detection structure

Номер патента: US09716048B2. Автор: Seokhyun Lee,Sundae KIM,Yun-rae Cho,Namgyu BAEK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-25.

Semiconductor processing methods and semiconductor defect detection methods

Номер патента: US20010024836A1. Автор: Garry Mercaldi,Michael Nuttal. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-09-27.

Method and system for nondestructive layer defect detection

Номер патента: US6103539A. Автор: William J. Schaffer,Jenn Y. Liu. Владелец: Xmr Inc. Дата публикации: 2000-08-15.

Semiconductor chips having defect detecting circuits

Номер патента: US20170103929A1. Автор: Bo-Ra Lee,Jae-Ho Jeong,Kwang-Yong Lee,Nam-Gyu BAEK,Hyo-Seok WOO,Hyun-Sook YOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-13.

Hydrogeological drilling-type detection equipment

Номер патента: US20240125181A1. Автор: Guoqiang Zhang,Long Chen,Zhen Zhao,Jianhui Wang,Shengbin Wang,Fenglin WANG,Zexue Qi,Xiaoran CHAI,Youjing YUAN,Haicong KOU,Shanhu XIAO,Shaokang YANG. Владелец: Qinghai Institute Of Geological And Environmental Survey. Дата публикации: 2024-04-18.

Method (embodiments) and compressor recirculation valve defect detection system

Номер патента: RU2711575C2. Автор: Байтао СЯО,Хамид-Реза ОССАРЕХ,Адам Натан БЭНКЕР. Владелец: ФОРД ГЛОБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЛЛК. Дата публикации: 2020-01-17.

Apparatus and system for detecting equipment occupancy

Номер патента: CA2972898C. Автор: Pierre Baptiste Landoin,Yahya EL-IRAKI. Владелец: Myseat Sas. Дата публикации: 2022-07-05.

Image defect detection method, image defect detection device, image defect detection equipment and storage medium

Номер патента: CN114723677A. Автор: 熊伟,王晓琳,吴春兰,谭丽珠,陆华章,周叶笛. Владелец: Gree Electric Appliances Inc of Zhuhai. Дата публикации: 2022-07-08.

System and method for defect detection in a print system

Номер патента: US20180225815A1. Автор: Douglas R. Taylor,Stuart Schweid. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2018-08-09.

Defect detection via gas transfer

Номер патента: US20240261735A1. Автор: Dinesh SABARIRAJAN,Tenzin NANCHUNG,Danielle GOBRON. Владелец: Electric Hydrogen Co. Дата публикации: 2024-08-08.

Defect detection via audio playback

Номер патента: US09930463B2. Автор: Richard Little. Владелец: Sonos Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Defect detection process in a semiconductor manufacturing environment

Номер патента: US20160349735A1. Автор: David F. Cutilli,Matthew J. Hartnett,Keith A. Robishaw,Glenn M. Stefanski. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-12-01.

Defect detection process in a semiconductor manufacturing environment

Номер патента: US09791849B2. Автор: David F. Cutilli,Matthew J. Hartnett,Keith A. Robishaw,Glenn M. Stefanski. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Method and device for winding of metal strip with defect detection in the line of continuous rolling

Номер патента: RU2620222C2. Автор: Эмилия ФОКЕДИ,Андреас КЕППЕ. Владелец: Кокрий Ментенанс Эт Энженьери С.А.. Дата публикации: 2017-05-23.

Defect detection

Номер патента: GB2625607A. Автор: Hodgson Michael,Woolley George. Владелец: Roke Manor Research Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Detecting Equipment State Via Tag-Reader Modulations

Номер патента: US20240220747A1. Автор: Patrick Wall,Julian Bell,Jeffrey Radaker. Владелец: United Parcel Service of America Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Defect detecting method based on dimensionality reduction of data, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20220254148A1. Автор: Chin-Pin Kuo,Tung-Tso Tsai,Tzu-Chen Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Defect detecting method based on dimensionality reduction of data, electronic device, and storage medium

Номер патента: US12112522B2. Автор: Chin-Pin Kuo,Tung-Tso Tsai,Tzu-Chen Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Defect detection method for display panel based on histogram of oriented gradient

Номер патента: US09846932B2. Автор: Jingbo Li,Xiaole LIU. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Defect detection using test cases generated from test models

Номер патента: US09703689B2. Автор: Masaru Yamamoto,Tomio Amano,Hirofumi Matsuzawa,Natsumi KURASHIMA,Rei SUGINAKA. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Select gate defect detection

Номер патента: US09530514B1. Автор: Jayavel Pachamuthu,Jagdish Sabde,Sagar Magia. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2016-12-27.

Light spot monitoring method and system, dark field defect detection equipment and storage medium

Номер патента: CN113256630B. Автор: 张嵩,陈鲁,黄有为,吕肃,方一. Владелец: Shenzhen Zhongke Feice Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-26.

Flexible pick-up rigid positioning conveying device, conveying method and defect detection equipment

Номер патента: CN116040310A. Автор: 王亮,张俊,周明,李润泽,曹葵康,李欢. Владелец: Tztek Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-02.

Apparatus and system for detecting equipment occupancy

Номер патента: EP3241192A1. Автор: Pierre Baptiste Landoin,Yahya EL-IRAKI. Владелец: Myseat Sas. Дата публикации: 2017-11-08.

Electronic substrate defect detection

Номер патента: US20220309637A1. Автор: Neal Checka,Christos Mario Christoudias. Владелец: Minds AI Technologies Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Word line defect detection and handling for a data storage device

Номер патента: EP3014626A1. Автор: Dana Lee,Idan Alrod,Eran Sharon,Seungjune Jeon. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2016-05-04.

Word line defect detection and handling for a data storage device

Номер патента: WO2014209778A1. Автор: Dana Lee,Idan Alrod,Eran Sharon,Seungjune Jeon. Владелец: SANDISK TECHNOLOGIES INC.. Дата публикации: 2014-12-31.

Systems and methods for print head defect detection and print head maintenance

Номер патента: US20070268326A1. Автор: Donald Drake,Jeffrey Folkins. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2007-11-22.

Software defect detection identifying location of diverging paths

Номер патента: US09563541B2. Автор: Michael Spengler. Владелец: SAP SE. Дата публикации: 2017-02-07.

Liquid crystal display device and line defect detection method

Номер патента: US20230107585A1. Автор: Yukihiro Ito,Tsuyoshi Ichiraku. Владелец: Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-06.

Liquid crystal display device and line defect detection method

Номер патента: US11783741B2. Автор: Yukihiro Ito,Tsuyoshi Ichiraku. Владелец: Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Wafer image defect detection and characterization for manufacturing process calibration

Номер патента: US20240070846A1. Автор: Hsin-Wei Wu,Kiarash Ahi,Germain Louis Fenger. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Defect detection via gas transfer

Номер патента: WO2023129430A1. Автор: Dinesh SABARIRAJAN,Tenzin NANCHUNG,Danielle GOBRON. Владелец: Electric Hydrogen Co.. Дата публикации: 2023-07-06.

Method for detecting the alignment of films for automated defect detection

Номер патента: US20070116350A1. Автор: Mark Cheverton. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2007-05-24.

Image defect detection

Номер патента: US20180131815A1. Автор: Avi Malki,Oren Haik,Oded Perry,Alexander Spivakovsky. Владелец: HP Indigo BV. Дата публикации: 2018-05-10.

Defect detection for multi-die masks

Номер патента: EP4327082A1. Автор: Wenfei Gu,Pei-Chun Chiang,Weston Sousa. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-02-28.

Defect detection apparatus, image sensor device, image sensor module, image processing apparatus, digital image quality tester, defect detection method, defect detection program, and computer-readable recording medium

Номер патента: JP4657869B2. Автор: 敏匡口井,英行市原. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2011-03-23.

Detecting method of defects of line and demultiplexer, defect detecting device, and display panel including the defect detecting device

Номер патента: TWI585425B. Автор: 賈智鉉,鄭鎮泰. Владелец: 三星顯示器有限公司. Дата публикации: 2017-06-01.

Signal defect detection and compensation with signal de-emphasis

Номер патента: US4119812A. Автор: Edward Coley Fox. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1978-10-10.

Defect detection in image space

Номер патента: WO2021118463A9. Автор: Wei Xiong,Ying Sun,Wenyu Chen,Jierong CHENG,Ying QUAN,Yusha LI. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2022-07-07.

Deep learning based defect detection

Номер патента: US11776108B2. Автор: GE Cong,Richard Wallingford,Sangbong Park. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Defect detection system

Номер патента: EP4118580A1. Автор: Matthew C. PUTMAN,Vadim Pinskiy,Andrew Sundstrom,Tonislav Ivanov,Denis Babeshko. Владелец: Nanotronics Imaging Inc. Дата публикации: 2023-01-18.

Intrusion detecting system, intrusion detecting method and defectiveness detecting method

Номер патента: TW200727616A. Автор: Takashi Hirai,Noriyuki Miyake,Kenji Inomata,Syuji Aizawa. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2007-07-16.

Defect Detection System

Номер патента: US20210279520A1. Автор: Matthew C. PUTMAN,Vadim Pinskiy,Andrew Sundstrom,Tonislav Ivanov,Denis Babeshko. Владелец: Nanotronics Imaging Inc. Дата публикации: 2021-09-09.

Print defect detection mechanism

Номер патента: US20220101505A1. Автор: Walter F. Kailey,Carl M. Dennison. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Detecting equipment state via tag-reader modulations

Номер патента: EP4394677A1. Автор: Patrick Wall,Julian Bell,Jeffrey Radaker. Владелец: United Parcel Service of America Inc. Дата публикации: 2024-07-03.

Smoke detection equipment

Номер патента: US2969765A. Автор: Pucill Peter Melburn. Владелец: Specialties Development Corp. Дата публикации: 1961-01-31.

Apparatus and system for detecting equipment occupancy

Номер патента: EP3241192B1. Автор: Pierre Baptiste Landoin,Yahya EL-IRAKI. Владелец: Myseat Sas. Дата публикации: 2020-07-29.

Device for testing emergency illumination and detection equipment

Номер патента: US20010048229A1. Автор: Jeffrey Prass. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-12-06.

MOTION-GESTURE DETECTION EQUIPMENT, TREADMILL EQUIPMENT AND MOTION-GESTURE DETECTION METHOD

Номер патента: US20180185703A1. Автор: Yang Qi,GUAN Enhui,GUO Weiqing,YANG Caikun. Владелец: BOE Technology Group Co., Ltd.. Дата публикации: 2018-07-05.

Internet of things equipment state detection method and device and detection equipment

Номер патента: CN111667015A. Автор: 张建伟,王跃,罗伟. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-09-15.

Equipment detection method and detection equipment

Номер патента: CN105630647A. Автор: 张朋. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2016-06-01.

Method, device, equipment and storage medium for detecting equipment performance

Номер патента: CN115206289A. Автор: 李旭,车婷婷,刘志欢. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-18.

Touch screen detection equipment, touch device and portable electronic equipment

Номер патента: CN202548805U. Автор: 杨云,李振刚,黄臣. Владелец: BYD Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-21.

Poor gluing detection equipment, poor gluing detection method and calculation equipment

Номер патента: CN107657611B. Автор: 王建平,刘一,谢非,李俊欢. Владелец: Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-28.

OBD detection equipment calibration method, device, equipment and readable storage medium

Номер патента: CN110568840A. Автор: 董仲举. Владелец: Shenzhen Zhengke Huanyu Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-13.

DISPLAY DEVICE, PANEL DEFECT DETECTION SYSTEM, AND PANEL DEFECT DETECTION METHOD

Номер патента: US20170004773A1. Автор: Kim EungKyu,Park SinKyun. Владелец: LG DISPLAY CO., LTD.. Дата публикации: 2017-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING DEFECT DETECTION CIRCUIT AND METHOD OF DETECTING DEFECTS IN THE SAME

Номер патента: US20220036958A1. Автор: SON JONGPIL. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2022-02-03.

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE

Номер патента: US20190035316A1. Автор: Liu Ze. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-31.

DEFECT IMAGING APPARATUS, DEFECT DETECTION SYSTEM HAVING THE SAME, AND METHOD OF DETECTING DEFECTS USING THE SAME

Номер патента: US20170076435A1. Автор: CHO Hyung-Suk,Park Il-suk. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2017-03-16.

WORKPIECE SURFACE DEFECT DETECTION DEVICE AND DETECTION METHOD, WORKPIECE SURFACE INSPECTION SYSTEM, AND PROGRAM

Номер патента: US20220292665A1. Автор: Yoshida Ryuichi,Nagai Yoshiroh,UEKI SHOTA,YAHASHI AKIRA. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

IMAGE RECORDING DEVICE, IMAGE DEFECT DETECTION DEVICE, AND IMAGE DEFECT DETECTION METHOD

Номер патента: US20170177962A1. Автор: YAMAZAKI YOSHIROU. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

Defect detection circuit and method for light-emitting element, display driving device, display device and defect detection method thereof

Номер патента: US20190236992A1. Автор: Lei Wang,Guoqing Zhang,Xiaowei Wang,Weifeng Wang,Ke Zhao,Longfei YANG,Hongxia Yang,Meili Guo,Feiwen TIAN. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-01.

METHOD FOR GENERATING THREE-DIMENSIONAL SHAPE INFORMATION OF OBJECT TO BE MEASURED, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE

Номер патента: US20200292989A1. Автор: Lee Sang Jin,Kim Ji Hoon,KIM Byung Mok,SUNG Mal Eum. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-17.

HOT SPOT DEFECT DETECTING METHOD AND HOT SPOT DEFECT DETECTING SYSTEM

Номер патента: US20190318471A1. Автор: Wang Shih-Chang,CHEN Chien-Huei,Lin Yung-Cheng,Chen Xiaomeng,WU WEI-CHEN,Su Pei-Chao,Chung Hung-Yi,Lin Chien-An,CHEN Kuang-Shing,Chang Chan-Ming,Chen Shih-Yung,Lee Li-Jou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-10-17.

PIXEL STRUCTURE AND DETECTION METHOD OF PROMOTING DEFECT DETECTION RATE

Номер патента: US20160342051A1. Автор: Wang Zui. Владелец: SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD.. Дата публикации: 2016-11-24.

IMAGE DEFECT DETECTION DEVICE, IMAGE DEFECT DETECTION METHOD, AND IMAGING UNIT

Номер патента: US20150347059A1. Автор: KURODA Osamu,SUMI Katsuto. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2015-12-03.

Hard disk drive, defect type detection method on disk, and defect detection method

Номер патента: JP4564692B2. Автор: 相勳秋,俊錫沈,成煥劉,秀一崔,康錫李. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-10-20.

Defect detection method and defect detection device in industrial quality inspection

Номер патента: CN113763384B. Автор: 郭骏,潘正颐,侯大为,杨企茂. Владелец: Changzhou Weiyizhi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-15.

Method to manufacture bladed integrated disk of gas turbine engine from blank with defects detected during its machining

Номер патента: RU2612108C1. Автор: Сергей Николаевич Козлов,Валерий Александрович Гейкин,Анатолий Яковлевич Денисов,Евгений Валерьевич Родин,Виктор Васильевич Докашев,Евгений Олегович Фомичев,Алексей Валерьевич Соловьев. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России). Дата публикации: 2017-03-02.

Active matrix substrate or active matrix liquid crystal panel defect detection and inspection method and defect detection and inspection device

Номер патента: JP3213472B2. Автор: 入江勝美. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2001-10-02.

Image defect detection apparatus and image defect detection method

Номер патента: US6683974B1. Автор: Hiroyuki Yamagata,Shunsuke Nagasawa,Yasunori Idehara. Владелец: Sharp Takaya Electronic Industry Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-27.

Defect detection device of a print head and method of detecting defect of a print head

Номер патента: US7571975B2. Автор: Jae-Woo Chung,Seung-Mo Lim,Hwa-Sun Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-08-11.

Nonvolatile semiconductor memory device having defect detection circuit and defect detection method of nonvolatile semiconductor memory device

Номер патента: JP5486948B2. Автор: 義和黒田. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2014-05-07.

Process and apparatus for spraying and application to a powder spraying system notably for surface defect detection facility based on penetrant flaw detection

Номер патента: CA2565771A1. Автор: Pascal Didier Beaume. Владелец: Turbomeca SA. Дата публикации: 2007-04-28.

Defect detection method, device, system and computer readable medium

Номер патента: US10642584B2. Автор: Xiao Xiao,Qingkai Shi,Jinguo Zhou,Gang Fan. Владелец: Shenzhen Qianhai Sourcebrella Inc ltd. Дата публикации: 2020-05-05.

Product surface defect detection model and detection method based on deformable convolution

Номер патента: CN111739001A. Автор: 张洁,杨振良,汪俊亮,寇恩溥,徐楚桥. Владелец: DONGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-10-02.

Image defect detection apparatus and image defect detection method

Номер патента: TW516308B. Автор: Hiroyuki Yamagata,Shunsuke Nagasawa,Yasunori Idehara. Владелец: Sharp Takaya Electronic Indust. Дата публикации: 2003-01-01.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: EP1528561A1. Автор: Yukihisa SONY LSI DESIGN INC. HONDA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-05-04.

Small-target detection algorithm-based assembly type building product defect detection method

Номер патента: CN115601363A. Автор: 刘世平,薛亚飞,张高峰,赵亚莉,黄欣莹,周扬迈,林满满,戴雨卉,朱禹诺. Владелец: China Construction Science and Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-13.

Defect detection method, defect detection device, electronic equipment and storage medium

Номер патента: CN110349145B. Автор: 李小龙,郭凯,秦纬,刘伟星,彭宽军,王锐拓. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-16.

Defect detecting device, image sensor device, image sensor module, image precessing device, digital image quality tester, and defect detecting method

Номер патента: KR100779312B1. Автор: 도시마사 구찌이,히데유끼 이찌하라. Владелец: 샤프 가부시키가이샤. Дата публикации: 2007-11-23.

Defect detection method, defect detection apparatus, electronic device, storage medium, and program product

Номер патента: CN115690102B. Автор: 请求不公布姓名. Владелец: Moore Thread Intelligence Technology Shanghai Co ltd. Дата публикации: 2023-04-18.

Display device, panel defect detection system, and panel defect detection method

Номер патента: KR20170003871A. Автор: 김응규,박신균. Владелец: 엘지디스플레이 주식회사. Дата публикации: 2017-01-10.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: CN1565033A. Автор: 本田喜久. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-01-12.

Defect detection method, defect detection device, electronic equipment and storage medium

Номер патента: CN113240673B. Автор: 李培鹏,刘阳兴,郭中原. Владелец: Wuhan TCL Group Industrial Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-17.

Defect detection apparatus and defect detection method

Номер патента: JP4562126B2. Автор: 浩之大西. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-13.

Defect detection method based on target detection

Номер патента: CN110175982B. Автор: 封超,吴明晖,颜晖,李卓蓉. Владелец: Zhejiang University City College ZUCC. Дата публикации: 2021-11-02.

Mass defect detection method and detection device

Номер патента: CN110458791A. Автор: 赵强,刘亚辉,李其昌,沈靖程. Владелец: Shenzhen Pi Software Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-15.

Defect detection method and defect detection device for display panel

Номер патента: CN109636778B. Автор: 曾文斌. Владелец: TCL Huaxing Photoelectric Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-23.

Method, device and medium for detecting uncertain samples in defect detection

Номер патента: CN114092472B. Автор: 张重阳,秦彪,李若琦,张保柱. Владелец: Ningbo Haitang Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-05-03.

A kind of autonomous orbit defect detecting system and detection method

Номер патента: CN107284470A. Автор: 杨辉,王云飞,桂仲成,贺骥,张宪文,王重山. Владелец: Shanghai Robot Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Defect detection method, defect detection device, control device and readable storage medium

Номер патента: CN112435248A. Автор: 张建,邹广华. Владелец: Shenzhen Taiwode Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-03-02.

Defect detection method, defect detection device, computer equipment and storage medium

Номер патента: CN112288723A. Автор: 李�诚,牛临潇. Владелец: Beijing Sensetime Technology Development Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-29.

Defect detection performance limit evaluation method of CT detection system

Номер патента: CN110060293B. Автор: 倪培君,李红伟,郑颖,马兰,左欣,余琼,付康,郭智敏,齐子诚,唐盛明. Владелец: CHINA WEAPON SCIENCE ACADEMY NINGBO BRANCH. Дата публикации: 2022-06-28.

PCB defect detection system and PCB defect detection method

Номер патента: CN114820598B. Автор: 胡冰峰,凡·柯布兰,诺尼·弗依斯沃瑟,阿米尔·卓里. Владелец: Suzhou Kangdai Intelligent Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-05-16.

Industrial welding image defect detection method based on target detection

Номер патента: CN111681231B. Автор: 周伟,周永杰,俞峰,胡丽,朱顺痣,王大寒,王驰明,叶海礼. Владелец: XIAMEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-04-18.

System and method for generating training data sets for specimen defect detection

Номер патента: US11727672B1. Автор: John B. PUTMAN,Jonathan Lee,Anuj Doshi. Владелец: Nanotronics Imaging Inc. Дата публикации: 2023-08-15.

Defect detection apparatus, defect detection method, and computer program

Номер патента: JP4969478B2. Автор: 真達下平. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2012-07-04.

Surface defect detection method, surface defect detection device, electronic equipment and storage medium

Номер патента: CN116091486A. Автор: 刘浩,钟权,张学钢,王骏荣. Владелец: Hefei Lianbao Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-09.

Display defect detection system and detection method thereof

Номер патента: CN116312297A. Автор: 刘宁,洪钟周. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-23.

Defect detection using one or more neural networks

Номер патента: US20230125477A1. Автор: Piyush C. Modi,Prakash Gurumurthy. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Electronic substrate defect detection

Номер патента: US11694318B2. Автор: Neal Checka,Christos Mario Christoudias. Владелец: Minds AI Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-07-04.

Mask defect detection

Номер патента: CA3226512A1. Автор: Yu Cao,Fuming Wang,Marco Jan-Jaco Wieland,Guohong Zhang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-02-16.

Binning-enhanced defect detection method for three-dimensional wafer structures

Номер патента: US11798828B2. Автор: Zhuang Liu,Weifeng ZHOU. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Hierarchical image decomposition for defect detection

Номер патента: GB2602880A. Автор: Michael Scheidegger Florin,Christiano Innocenza Malossi Adelmo. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-07-20.

Systems and Methods for Paint Defect Detection Using Machine Learning

Номер патента: US20240087105A1. Автор: Wenlong Li,Kun Chang,Nevroz Sen,Amber-FengQin Zhu. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2024-03-14.

Systems and methods for paint defect detection using machine learning

Номер патента: EP4285315A1. Автор: Wenlong Li,Kun Chang,Nevroz Sen,Amber-FengQin Zhu. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-12-06.

System and Method for Generating Training Data Sets for Specimen Defect Detection

Номер патента: US20230394801A1. Автор: John B. PUTMAN,Jonathan Lee,Anuj Doshi. Владелец: Nanotronics Imaging Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

System and method for generating training data sets for specimen defect detection

Номер патента: WO2023230408A1. Автор: John B. PUTMAN,Jonathan Lee,Anuj Doshi. Владелец: Nanotronics Imaging, Inc.. Дата публикации: 2023-11-30.

Touch display apparatus, driving circuit and method for automatic defect detection

Номер патента: US20220066586A1. Автор: Yu-Hsiang Lin,Pei-Yuan Hung,Chun-Kai Chuang,Yu-Ming Liao. Владелец: Himax Technologies Ltd. Дата публикации: 2022-03-03.

Defect detection during program verify in a memory sub-system

Номер патента: US12002526B2. Автор: Theodore T. Pekny,Michele Piccardi,James I. Esteves,Arvind Muralidharan,Pinchou Chiang. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Dynamic modeling for substrate defect detection

Номер патента: WO2023114666A1. Автор: Xin Song. Владелец: Onto Innovation Inc.. Дата публикации: 2023-06-22.

Semiconductor memory device, memory system, and defect detection method

Номер патента: US20200258993A1. Автор: Shinya Haraguchi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-13.

Defect detection during program verify in a memory sub-system

Номер патента: US20210343351A1. Автор: Theodore T. Pekny,Michele Piccardi,James I. Esteves,Arvind Muralidharan,Pinchou Chiang. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-11-04.

Mask defect detection

Номер патента: EP4384872A1. Автор: Yu Cao,Fuming Wang,Marco Jan-Jaco Wieland,Guohong Zhang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-06-19.

Nonvolatile semiconductor storage device and row-line short defect detection method

Номер патента: TW200419582A. Автор: Shoichi Tanno. Владелец: Sharp Kk. Дата публикации: 2004-10-01.

Defect detection

Номер патента: GB202219478D0. Автор: . Владелец: Roke Manor Research Ltd. Дата публикации: 2023-02-01.

Machine state and defect detection meta data to execute maintenance routines on a multi-function device

Номер патента: US20220201129A1. Автор: Stuart A. Schweid,David A. VanKouwenberg,Martin L. Frachioni,Christopher Mieney,David M. GURAK. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Time-gap defect detection apparatus and method

Номер патента: US20100185892A1. Автор: Phillip M. Adams. Владелец: AFTG-TG LLC. Дата публикации: 2010-07-22.

Defect detection system

Номер патента: GB2603004B. Автор: Clayton Leslie. Владелец: Jaguar Land Rover Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Unsupervised learning for repeater-defect detection

Номер патента: EP4154303A4. Автор: Boon Kiat Tay,Jheng-Sian Lin. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Apparatus and method for defect detection and program thereof

Номер патента: TW200411169A. Автор: Eiichi Ine. Владелец: Dainippon Screen Mfg. Дата публикации: 2004-07-01.

Apparatus and method for defect detection and program thereof

Номер патента: TWI241405B. Автор: Eiichi Ine. Владелец: Dainippon Screen Mfg. Дата публикации: 2005-10-11.

Enhanced defect detection with planar macrocycle dyes in liquid-crystal films

Номер патента: WO2024047398A1. Автор: Nungavaram S. Viswanathan,Jason Reid,Karla G. Gutierrez Cuevas. Владелец: ORBOTECH LTD.. Дата публикации: 2024-03-07.

Defect detection apparatus for optical disc and method thereof

Номер патента: TW200943284A. Автор: Chin-Huo Chu. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2009-10-16.

Defect detection method, apparatus and system

Номер патента: EP4280153A4. Автор: Qiangwei Huang,Maolong NIU,Jintan XIE,Yongfa LIU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-24.

Defect detection system

Номер патента: EP4118580A4. Автор: Matthew C. PUTMAN,Vadim Pinskiy,Andrew Sundstrom,Tonislav Ivanov,Denis Babeshko. Владелец: Nanotronics Imaging Inc. Дата публикации: 2024-02-28.

Method and apparatus for soft defect detection in a memory

Номер патента: TWI301272B. Автор: W Liston Thomas,N Herr Lawrence. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2008-09-21.

Defect detection in memory based on active monitoring of read operations

Номер патента: US11775388B2. Автор: Wei Wang,Tingjun Xie,Zhenlei Shen,Zhenming Zhou,Frederick Adi. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Automated root cause analysis for defect detection during fabrication processes of semiconductor structures

Номер патента: US12045969B2. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Christian Wojek,Eugen Foca,Ramani Pichumani,Joaquin CORREA,Abhilash SRIKANTHA. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-07-23.

Time-gap defect detection apparatus and method

Номер патента: US20110209005A1. Автор: Phillip M. Adams. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-08-25.

Time-gap defect detection apparatus and method

Номер патента: US20120324291A1. Автор: Phillip M. Adams. Владелец: AFTG TG LLC. Дата публикации: 2012-12-20.

Time-gap defect detection apparatus and method

Номер патента: US7941576B2. Автор: Phillip M. Adams. Владелец: AFTG-TG LLC. Дата публикации: 2011-05-10.

Parallelized defect detection across multiple sub-blocks in a memory device

Номер патента: US20230307053A1. Автор: Eric N. Lee,Kishore Kumar Muchherla,Violante Moschiano,Akira Goda,Junwyn A. Lacsao,Jeffrey S. McNeil,Paing Z. Htet,Sead Zildzic. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Interproximal tooth defects detection

Номер патента: CA2621782A1. Автор: Naim Karazivan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-08.

Correlation detection equipment, reverse spread spectrum equipment and applicable receiver and method for detecting correlation

Номер патента: TW456119B. Автор: Osamu Onishi. Владелец: Nippon Electric Co. Дата публикации: 2001-09-21.

Calibration method of wafer defect detection equipment

Номер патента: CN103531500A. Автор: 倪棋梁,陈宏璘,龙吟. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2014-01-22.

A kind of defect detection equipment of monocrystaline silicon solar cell piece

Номер патента: CN209627321U. Автор: 朱洁,王磊,朱姚培. Владелец: Jiangsu Rongma New Energy Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-12.

Product surface defect detection equipment

Номер патента: CN219496138U. Автор: 毕文波,李光辉. Владелец: Suzhou Suyingshi Image Software Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-08-08.

Solar wafer defect detecting equipment

Номер патента: CN215120730U. Автор: 刘海波,王玉才,袁驰,袁五辉,窦洪康,徐咏. Владелец: Wuhan Aijiang Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-10.

Systems and methods for automated garment application and defect detection along with automated garment removal and contaminant analysis

Номер патента: WO2023086082A1. Автор: Van Clark Gravlee. Владелец: Englover, Llc. Дата публикации: 2023-05-19.

White area defect detection for image based controls applications

Номер патента: US09906654B1. Автор: Eliud Robles Flores,Douglas R. Taylor. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Image processing apparatus, image processing method, defect detection method, semiconductor device manufacturing method, and program

Номер патента: US20110280471A1. Автор: Tadashi Mitsui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-11-17.

Image pickup device without a light shielding device and defect detecting method thereof

Номер патента: US9137465B2. Автор: Tsutomu Nakajima. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-09-15.

Image pickup device without a light shielding device and defect detecting method thereof

Номер патента: US20150350578A1. Автор: Tsutomu Nakajima. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-12-03.

Automatic collection and updating of compliance data for gas detection equipment

Номер патента: US09768976B2. Автор: Steve Worthington,Dale Broemer,Emily Fabes. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Combined defense method for bypass flow detection equipment and terminal protection equipment

Номер патента: CN110719271A. Автор: 杨燕,范渊. Владелец: Hangzhou Dbappsecurity Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-21.

Data matching equipment and method as well as network intrusion detection equipment and method

Номер патента: CN102075511B. Автор: 张涛,韩啸,韩鹏,么刚,程利军. Владелец: NSFOCUS Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-14.

Forwarding information base table item detection method, detection equipment and network equipment

Номер патента: CN112367251A. Автор: 李国平,姚子阳. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-12.

Failure or grounding detection equipment in electric power generation facilities with photovoltaic modules

Номер патента: EP4109745A2. Автор: David PARRA ESTESO. Владелец: Ignis Renovables SL. Дата публикации: 2022-12-28.

DEFECT DETECTION STRUCTURE OF A SEMICONDUCTOR DIE, SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE SAME AND METHOD OF DETECTING DEFECTS IN SEMICONDUCTOR DIE

Номер патента: US20200091021A1. Автор: Jeong Jae-Yong,Choi Young-Don,Jeong Byung-Hoon,IHM JEONG-DON,Kim Sang-Lok,Lee Min-Jae,LEE Tae-Sung. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

Defect detecting method for adjusting detection frequency

Номер патента: CN103887213A. Автор: 倪棋梁,陈宏璘,龙吟. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2014-06-25.

Sprayable surface defect detection composition and method of using same

Номер патента: US6096123A. Автор: Brian W. Ostlie. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2000-08-01.

Surface defect detection method and surface defect detection apparatus

Номер патента: JP6064942B2. Автор: 幸理飯塚,紘明大野,晃弘小川,飯塚　幸理. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-01-25.

Electric short-circuit defect detecting and suppressing system for average or high voltage switch panel, has processing unit processing detected sound signal, and activating unit activating earthing switch, which bypasses defect by closing

Номер патента: FR2925987A1. Автор: Daniel Piccoz,Fabrice Buffa. Владелец: Areva T&D SAS. Дата публикации: 2009-07-03.

Surface defect detecting apparatus for pcb and method for surface defect detecting of pcb using the same

Номер патента: KR100688870B1. Автор: 김기홍,엄재군. Владелец: 삼성전기주식회사. Дата публикации: 2007-03-02.

Pixel defect detecting/correcting device and pixel defect detecting/correcting method

Номер патента: CN1732693A. Автор: 米田丰,小矶学. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2006-02-08.

Apparatus for defect detection of electrode line in FPD and Method fo defect detection using the same

Номер патента: KR100844537B1. Автор: 조영철,정창욱,정대화,최상수,양희구. Владелец: 엘지전자 주식회사. Дата публикации: 2008-07-08.

Spring needle contact detection device for defect detection

Номер патента: CN217639489U. Автор: 谭毅,易银. Владелец: Shenzhen Haichuang Precision Electronic Hardware Co ltd. Дата публикации: 2022-10-21.

Electromagnetically resettable defect detecting sensor means for deactivating mechanically operable sensor switch

Номер патента: US3821499A. Автор: B Marsello,L Matthews. Владелец: Monsanto Co. Дата публикации: 1974-06-28.

Wafer aggregation-like defect detection method and detection system thereof

Номер патента: CN111403309A. Автор: 沈萍. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-10.

Defect detection device and detection method

Номер патента: JP2971313B2. Автор: 好元介三,村勝弥奥. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1999-11-02.

Particle filter's defect detecting method for motor vehicle, involves directly measuring filter loading, and detecting defect of particle filter from difference of distribution between calculated and measured filter loadings

Номер патента: DE102008031646A1. Автор: Rudolf Dr. Bierl,Manfred Weigl. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2010-01-14.

Sprayable surface defect detection composition and method of using same

Номер патента: US5853467A. Автор: Brian W. Ostlie. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1998-12-29.

Defect detecting method for adjusting detection frequency

Номер патента: CN103887213B. Автор: 倪棋梁,陈宏璘,龙吟. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-05-17.

Defect detection system for particles on surface of wafer and working method of defect detection system

Номер патента: CN103489809A. Автор: 顾珍,许向辉,郭贤权. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2014-01-01.

Pixel defect detection correction apparatus and pixel defect detection correction method

Номер патента: JP3747909B2. Автор: 豊米田,学小磯. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2006-02-22.

Capillary heating control and defect detection system and method for detecting defects in a fuel system in an internal combustion engine

Номер патента: JP4503595B2. Автор: リンナ，ヤン‐ローゲル,メロ，ジョン・ポール. Владелец: フィリップ・モリス・ユーエスエイ・インコーポレイテッド. Дата публикации: 2010-07-14.

Image reading apparatus, defect detection method, and storage medium

Номер патента: US20210258433A1. Автор: Soichi OTOMARU. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Knitting machine and defect detection system

Номер патента: EP3926084A1. Автор: Takahiro Kobayashi. Владелец: Shima Seiki Mfg Ltd. Дата публикации: 2021-12-22.

Apparatus for object movement characteristics detection equipped with noise active interference protection

Номер патента: RU2324198C1. Автор: Рудольф Андреевич Колосов. Владелец: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Нижегородский Научно-Исследовательский Институт Радиотехники". Дата публикации: 2008-05-10.

Device for defect detection in welds during welding

Номер патента: RU2572662C2. Автор: Алексей Викторович Гладилин,Михаил Арсеньевич Миронов,Павел Александрович Пятаков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации. Дата публикации: 2016-01-20.

False tooth processing is with grinding appearance size measurement contrast device

Номер патента: CN211540855U. Автор: 王宇龙. Владелец: Luoyang Beilaimei Medical Equipment Co ltd. Дата публикации: 2020-09-22.

Core appearance size measurement equipment

Номер патента: CN210293049U. Автор: 刘毅,黄莉根,曾毓鑫. Владелец: Tsinghua Yuan Engineering Structures Inspection Ltd Shenzhen. Дата публикации: 2020-04-10.

Product appearance size automatically scanning and detecting machine

Номер патента: CN2682381Y. Автор: 洪雄善. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-03-02.

Appearance size detection device is used in reinforced concrete pole production

Номер патента: CN215725795U. Автор: 刘彦荣,厍惠. Владелец: Darat Ruifeng Power Equipment Co ltd. Дата публикации: 2022-02-01.

Refrigerator complete machine appearance size detection device

Номер патента: CN216482604U. Автор: 孙健,孙家良. Владелец: Nanjing Microgal Automation Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-05-10.

Method of eliminating different-size defects of metacarpal bones

Номер патента: RU2028109C1. Автор: А.Л. Гиммельфарб,Г.Г. Неттов,П.И. Лернер. Владелец: Научно-исследовательский центр Татарстана "Восстановительная травматология и ортопедия". Дата публикации: 1995-02-09.

Defect detecting device, defect detecting method, image sensor device, image sensor module, defect detecting program, and computer-readable recording medium

Номер патента: TW200846648A. Автор: Toshimasa Kuchii. Владелец: Sharp Kk. Дата публикации: 2008-12-01.

Car body defect detection equipment

Номер патента: CN208239081U. Автор: 罗昌杰,赵耀,王书付. Владелец: Qian Hangda Science And Technology Ltd Of Shenzhen. Дата публикации: 2018-12-14.

Calibration device for thin strip internal defect detection equipment

Номер патента: CN104515801A. Автор: 梁爽,石桂芬,何永辉,彭铁根,宗德祥,杨水山,吴首民. Владелец: Baoshan Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-15.

Concave-convex defect detection equipment

Номер патента: CN210269641U. Автор: 顾勇,胡亚涛,谢海芹. Владелец: Wuxi Kailing Electronics Co ltd. Дата публикации: 2020-04-07.

Automatic defect detection equipment for electronic components

Номер патента: CN210138854U. Автор: 孙健,孙家良. Владелец: Nanjing Weiga Automation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-13.

Defect detection equipment of communication electronic device

Номер патента: CN217569752U. Автор: 肖鹏飞,徐源盛. Владелец: Guangdong Meika Intelligent Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-10-14.

Wall defect detection equipment for real estate assessment

Номер патента: CN215728147U. Автор: 王丹. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-02-01.

Shadowless light source applied to automatic optical defect detection equipment

Номер патента: CN218974186U. Автор: 兰海燕,李士昌. Владелец: SGS Ningbo Semiconductor Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-05.

Number plate defect detection equipment

Номер патента: CN215066238U. Автор: 马鹏,吴逸,吴超武. Владелец: Hanzhou Yingtian Scientific Instruments Co ltd. Дата публикации: 2021-12-07.

High-precision pipeline defect detection equipment based on magnetic leakage

Номер патента: CN212622394U. Автор: 杨玉. Владелец: Dazhou Detec Testing Equipment Co ltd. Дата публикации: 2021-02-26.

A kind of Real Estate Appraisal wall defect detection equipment

Номер патента: CN208270367U. Автор: 王丽芳. Владелец: Shenzhen Shipeng Asset Evaluation Real Estate Land Valuation Consultant Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

A kind of workpiece surface Defect Detection equipment

Номер патента: CN208187996U. Автор: 徐美琴. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-12-04.

Bearing roller defect detection equipment based on machine vision

Номер патента: CN215507881U. Автор: 王驰,朱勇建,杨新波,陈岁繁,沈传兴,田世轩,淡卫波. Владелец: Zhejiang Lover Health Science and Technology Development Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-14.

Mechanism is raised in a kind of backlight Defect Detection equipment

Номер патента: CN209131695U. Автор: 马伟,闫文泽. Владелец: Suzhou Tianmu Optical Technology Co ltd. Дата публикации: 2019-07-19.

Wall defect detection equipment for Real Estate Appraisal

Номер патента: CN207779934U. Автор: 王祥峰. Владелец: Shenzhen City Cdc Land Real Estate Consultants Ltd. Дата публикации: 2018-08-28.

Plate defect detection equipment

Номер патента: CN211122580U. Автор: 张俊峰,易群生,叶长春,黄家富. Владелец: Guangzhou Supersonic Automation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-28.

Appearance defect detection equipment for annular metal structural part

Номер патента: CN217180947U. Автор: 刘永旺,王郑,王岩松,和江镇,蔡浩然,凡永东. Владелец: Focusight Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-12.

Product appearance defect detecting equipment

Номер патента: CN205388577U. Автор: 彭昊. Владелец: Shenzhen Haotianchen Science & Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-20.

Automatic aluminum profile surface defect detecting equipment based on machine vision

Номер патента: CN104458750A. Автор: 刘振华,吴阳,周晓锋,张宜驰,史海波. Владелец: Wuxi Cas Ui Information Technology Research & Development Center Co ltd. Дата публикации: 2015-03-25.

High-speed appearance defect detection equipment of PCB

Номер патента: CN215640941U. Автор: 薛军帅,杨征军. Владелец: Shenzhen Huasheng Precision Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-01-25.

Intelligent lithium battery surface defect detection equipment

Номер патента: CN114308723A. Автор: 侯晓峰,朱磊,张弛. Владелец: Shanghai Gantu Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-12.

Automatic appearance defect detection equipment for stator and rotor

Номер патента: CN219448454U. Автор: 高寒,金朝龙,曹光辉. Владелец: Zhejiang Tianhong Laser Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-08-01.

Film surface defect detection equipment

Номер патента: CN219285032U. Автор: 徐民,林群. Владелец: Ningbo Yanxin Industrial Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-06-30.

Glass substrate motion state defect detection equipment

Номер патента: CN210982251U. Автор: 刘鹏,胡鹏,李学锋,张占永,闫秀涛,甄向伟. Владелец: Shijiazhuang Dongxu Photoelectricity Equipment Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-07-10.

Sheet metal part defect detection equipment

Номер патента: CN211042163U. Автор: 陈杨,周浩,杜世伟,徐东林,陈利文,蔡俊盛,杨世岚. Владелец: Anhui Dongxuan Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-07-17.

Printed matter defect detection equipment based on machine vision

Номер патента: CN216361777U. Автор: 刘日仙. Владелец: Jinhua Polytechnic. Дата публикации: 2022-04-22.

Defect detection equipment

Номер патента: CN212722645U. Автор: 王伟,马伟华. Владелец: Hangzhou Chaofan Automation Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-03-16.

Surface defects detection equipment

Номер патента: CN207650120U. Автор: 黄庆,董宁,陈益思. Владелец: Centre Testing International Group Co ltd. Дата публикации: 2018-07-24.

Ink jet printing defect detection equipment

Номер патента: CN216978879U. Автор: 刘志军,司越霞. Владелец: Zhengzhou Weiyan Printing Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-07-15.

Paper surface defect detection equipment with flattening mechanism

Номер патента: CN215985786U. Автор: 闫业斌. Владелец: Shanghai Pumid Automation Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-03-08.

Paper container defect detection equipment based on machine vision

Номер патента: CN202256185U. Автор: 杨军,侯文峰,吴盛钧,范昕炜. Владелец: HANGZHOU PINMU TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-30.

DETECTING METHOD OF DEFECTS OF LINE AND DEMULTIPLEXER, DEFECT DETECTING DEVICE, AND DISPLAY PANEL INCLUDING THE DEFECT DETECTING DEVICE

Номер патента: US20130141314A1. Автор: Jeong Jin-Tae,KA Ji-Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-06.

Image feature learning type defect detection method, defect detection apparatus, and defect detection program

Номер патента: JP3741672B2. Автор: 正明渡辺,雄二泉水,明仁星座,義憲辻. Владелец: AdIn Research Inc. Дата публикации: 2006-02-01.

Defect detection device, defect detection method, and defect detection program

Номер патента: JP7261101B2. Автор: 信治伊藤,和矢安田,文江中屋. Владелец: Hitachi Social Information Services Ltd. Дата публикации: 2023-04-19.

Appearance detecting equipment of components

Номер патента: TWM241154U. Автор: Yeong-Shin Tarng,Jung-Chih Su,An-Bang Huang,You-Hung Yen. Владелец: Univ Nat Taiwan Science Tech. Дата публикации: 2004-08-21.

Integrated circuit chip detection equipment

Номер патента: TWM385789U. Автор: Po Zhang. Владелец: Golden Emperor Internat Ltd. Дата публикации: 2010-08-01.

Detection method and detection equipment of inorganic selenium

Номер патента: ZA202110252B. Автор: Xia Tian,Yanxi Shi,Qingzhu Zheng. Владелец: Univ Qingdao Agricultural. Дата публикации: 2022-03-30.

Detection method of optoelectronic component and detection equipment for implementing the method

Номер патента: TW201243369A. Автор: Ping-Yu Hu,yong-qin Liu,jun-ming Li. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2012-11-01.

Detection equipment of smoking detector

Номер патента: TWM294715U. Автор: Wen-Bau Yang. Владелец: Shuen Yi Fire Fighting Entpr C. Дата публикации: 2006-07-21.

Relay assembling and detecting equipment

Номер патента: ZA202101578B. Автор: Yang Xiaobo. Владелец: Univ Xuchang. Дата публикации: 2021-05-26.

Partial discharge detection equipment

Номер патента: TWM568372U. Автор: 蘇經洲. Владелец: 恒揚電機技術顧問股份有限公司. Дата публикации: 2018-10-11.

A detective equipment and the method for detecting

Номер патента: TWI351488B. Автор: Chih Hung Chen,Yan Chyuan Shiau,Chi Shen Huang,Jin Yi Zeng. Владелец: Univ Chung Hua. Дата публикации: 2011-11-01.

Detection equipment and detection method to detect channel state

Номер патента: TW201044807A. Автор: LEI FENG. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2010-12-16.

A detective equipment and the method for detecting

Номер патента: TW200951341A. Автор: Chih-Hung Chen,jin-yi Zeng,Yan-Chyuan Shiau,Chi-Shen Huang. Владелец: Univ Chung Hua. Дата публикации: 2009-12-16.

Brush force detection device, the application of brush force detection device detection equipment and brush force detection method

Номер патента: TWI467152B. Автор: . Владелец: Hon Tech Inc. Дата публикации: 2015-01-01.

Sound wave detection equipment

Номер патента: JPS5354785A. Автор: Riyuuichi Kawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1978-05-18.

Battery pack detection equipment

Номер патента: CN221992610U. Автор: 林世伟. Владелец: Beijing Dingxing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Water detection equipment for air tightness detection

Номер патента: CN221992933U. Автор: 戴维. Владелец: Ningbo Fenghua Ruihui Automobile Plastic Parts Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Detection equipment

Номер патента: CN221991338U. Автор: 王芬,尹丽,袁辉,马媛媛,郝伟,陈玉琴,朱银花,雷淑钦. Владелец: Xinjiang Uygur Autonomous Region Center For Disease Control And Prevention. Дата публикации: 2024-11-12.

Detection equipment for resistor processing

Номер патента: CN221993547U. Автор: 李雪娟,畅江涛. Владелец: Xixian New Area Coase Electronic Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Metering detection method and detection equipment for groove type parabolic reflector surface precision

Номер патента: CN118936359A. Автор: 栾海峰. Владелец: Harbin Qinghefeng Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Deep soil detection equipment for ecological restoration

Номер патента: CN221993076U. Автор: 王敏,宋春辉,邢胜男,赵亚轩. Владелец: Zhongcai Geological Engineering Exploration Academy Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Bearing disc and detection equipment

Номер патента: CN221992630U. Автор: 李华,梁宇辰. Владелец: Shanghai Tanyue Semiconductor Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Composite fiber fabric wear resistance detection equipment

Номер патента: CN118937135A. Автор: 刘海龙,姜苏,侯裕婷. Владелец: Yancheng Ruyi Knitwear Printing And Dyeing Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

High-voltage power transmission and transformation engineering detection equipment

Номер патента: CN221993491U. Автор: 董岩. Владелец: Posco Engineering Technology China Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Full-size detection equipment for die

Номер патента: CN221992576U. Автор: 夏敏,李梦奇,韦延安. Владелец: Anhui Jingte Intelligent Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Automatic control and in-place detection equipment for press fitting of hole shaft in interference fit

Номер патента: CN221984382U. Автор: 周浩,杨平,汪军,金铭,毕胜,刘金鹏,陈光东,刘子沛. Владелец: Wuhan Metro Operation Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Pipetting suction head detection equipment

Номер патента: CN221985770U. Автор: 凌金,李务喜,费春杰. Владелец: Zhejiang Boyu Biotechnology Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Hub bearing unit rigid displacement negative clearance detection equipment

Номер патента: CN221992660U. Автор: 路超,王成龙,乔伟,徐立伟. Владелец: Jinan Haichuan Intelligent Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Engine and drive train performance testing equipment and torque detection equipment

Номер патента: JP3444163B2. Автор: 亨海島田,勝久遠藤. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2003-09-08.

Vibration detection equipment for steel tower installation equipment

Номер патента: JP2505673B2. Автор: 隆雄中村,優宏秋月. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 1996-06-12.

Support structure for loading platform of detection equipment for battery assembly of photoelectric equipment

Номер патента: CN203100761U. Автор: 凤翔,凤慧敏,马良友,张宏水,游基杨,蒋家兵,何友虎,陶志. Владелец: WUHUSHI FENGXIANG EQUIPMENT MANUFACTURE CO Ltd. Дата публикации: 2013-07-31.

Detection equipment for circuit board and conveying mechanism for detection equipment

Номер патента: CN105021614A. Автор: 纪其乐. Владелец: Otima Optical Technology (shenzhen) Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-04.

Shaft attitude detection equipment and shaft excavating equipment

Номер патента: CN210460636U. Автор: 王宁,郑莹,吴伟进,刘飞香,王理,吴宇辉,陈泓璇,赵宗华. Владелец: China Railway Construction Heavy Industry Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-05.

Method for detecting detected part through visual detection equipment and visual detection equipment

Номер патента: CN114359266B. Автор: 陈亮,邱鹏,邱嵩,颜焰,周由. Владелец: Chengdu Chuangxiang Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-06-28.

Method and device for detecting equipment precision, electronic equipment and storage medium

Номер патента: CN114297012B. Автор: 戎迪. Владелец: Shanghai Saimeite Software Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-03-10.

Track shape simulation equipment for precision calibration of track detection equipment

Номер патента: CN203807920U. Автор: 王雪,惠冰,李甜甜,郭鑫鑫,周博闻. Владелец: Changan University. Дата публикации: 2014-09-03.

Light source control device and equipment of automatic optical detection equipment

Номер патента: CN218301719U. Автор: 张创烁. Владелец: Guangzhou Luchen Intelligent Equipment Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-01-13.

Comprehensive control equipment for dynamic detection equipment for railway track

Номер патента: CN202294807U. Автор: 齐清涛. Владелец: BEIJING DINGHAN INSPECTION TECHNOLOGY CO LTD. Дата публикации: 2012-07-04.

Multifunctional carrier for optical detection equipment and optical detection equipment

Номер патента: CN210981305U. Автор: 郑浩. Владелец: Wuhan Jingli Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-10.

Pressure detection equipment for skid-mounted equipment

Номер патента: CN215448438U. Автор: 刘立峰,王铁,赵永楼,文忠良,孟大华,传晓敏. Владелец: Jiangsu Yongcheng Equipment Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-01-07.

Method and device for detecting equipment precision, electronic equipment and storage medium

Номер патента: CN114297012A. Автор: 戎迪. Владелец: Shanghai Saimeite Software Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-04-08.

Power equipment partial discharge detection equipment

Номер патента: CN218441733U. Автор: 陈猛,陈芬,陈慧云,闵莉. Владелец: Nanjing Lutong Power Equipment Co ltd. Дата публикации: 2023-02-03.

Body surface signal acquisition end equipment and body surface myoelectricity detection equipment

Номер патента: CN213345687U. Автор: 蒋郭清. Владелец: Ech Shanghai Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-06-04.

Circuit detection equipment of power equipment

Номер патента: CN217766716U. Автор: 胥俊宝,任维星. Владелец: Shandong Chengtong Electric Power Construction Engineering Co ltd. Дата публикации: 2022-11-08.

Opaque bottle bottom shooting equipment and corresponding detection equipment

Номер патента: CN212964676U. Автор: 乔健,罗邦毅,田立勋. Владелец: Beijing Xianjian Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-04-13.

Mechanical electrical equipment cable tensile strength quality detection equipment

Номер патента: CN216899931U. Автор: 刘德庆. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-07-05.

Nuclear magnetic resonance load dynamic tester auxiliary equipment and nuclear magnetic resonance detection equipment

Номер патента: CN211381348U. Автор: 李海峰,赵斌,宫海波,姚小芬,胡立伟,钟玉敏. Владелец: Ningbo Trandomed Medical Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-09-01.

Detection equipment for equipment installation

Номер патента: CN212432127U. Автор: 熊新峰. Владелец: Wuhan Dedingyuan Equipment Installation Engineering Co ltd. Дата публикации: 2021-01-29.

Article conveying and fixing equipment for visual detection equipment

Номер патента: CN218200799U. Автор: 彭海燕. Владелец: Shanghai Longwei Vision Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-01-03.

Detection equipment feeding system sealing method as well as feeding system, device and detection equipment

Номер патента: CN104034910A. Автор: 马军,徐翔,颜毅坚,刘立秋,徐珩. Владелец: Wuhan Xigan Sci & Tech Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-10.

Manipulator material distribution equipment in airtight detection equipment

Номер патента: CN213079190U. Автор: 胡谦. Владелец: Suzhou Boyute Automation Equipment Co ltd. Дата публикации: 2021-04-30.

Method for detecting equipment state and relatice equipment and system

Номер патента: CN100435523C. Автор: 夏斌,张云,孔令山,蒋智宁. Владелец: Alcatel Lucent Shanghai Bell Co Ltd. Дата публикации: 2008-11-19.

Defect Detection Apparatus, Defect Detection Method, And Computer Program

Номер патента: US20120206593A1. Автор: . Владелец: KEYENCE CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-16.

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT OBSERVATION DEVICE PROVIDED WITH SAME

Номер патента: US20120274931A1. Автор: Watanabe Masahiro,Tachizaki Takehiro,Matsumoto Shunichi,Otani Yuko. Владелец: . Дата публикации: 2012-11-01.

DEFECT DETECTION METHOD OF DISPLAY DEVICE AND DEFECT DETECTION APPARATUS OF DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20130065472A1. Автор: NARA Kei,HAMADA Tomohide. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2013-03-14.

Surface defect detection method and surface defect detection device

Номер патента: JP6658711B2. Автор: 腰原　敬弘,敬弘腰原,貴彦大重,嘉之梅垣. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2020-03-04.

Defect detection component and detecting and producing method thereof

Номер патента: CN100403508C. Автор: 黄兴利,陈彦欣. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2008-07-16.

Mobile phone screen defect detection device and detection method thereof

Номер патента: CN109752317B. Автор: 刘志强. Владелец: Nanjing Yuzhi Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-20.

Surface defect detection method, surface defect detection apparatus, and steel material manufacturing method

Номер патента: JP6394514B2. Автор: 幸理飯塚,腰原　敬弘,敬弘腰原,貴彦大重,俊文児玉,紘明大野,児玉　俊文,晃弘小川,飯塚　幸理. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2018-09-26.

Vision-based steel ball surface defect detection apparatus and detection method

Номер патента: CN102735693B. Автор: 李云利,王仲,栗琳,裴芳莹. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-04-30.

Interface defect detection method and interface defect detection device of metal-dielectric medium thin-layer bonding or coating structure

Номер патента: CN104730110A. Автор: 王成江. Владелец: China Three Gorges University CTGU. Дата публикации: 2015-06-24.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: JP2021148678A. Автор: Satoshi Koyama,一茂大野,Kazushige Ono,聡小山,信輔川合,Shinsuke Kawai. Владелец: Ibiden Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-27.

Large-diameter crystal defect detection method and large-diameter crystal defect detection device

Номер патента: CN103808694A. Автор: 张鹏,梁迎春,卢礼华,孙付仲. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2014-05-21.

A kind of tunnel defect detecting device based on radar detection

Номер патента: CN209280943U. Автор: 张军,文川,刘甫,张宏兵,李义斌,赵晓通,江桂生. Владелец: Changan University. Дата публикации: 2019-08-20.

Reproduction device, defect detection device, defect detection method

Номер патента: JP4419702B2. Автор: 敏章尾崎. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2010-02-24.

Screen defect detection method and apparatus, and screen defect detection program

Номер патента: JP4320990B2. Автор: 誠志渥美. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2009-08-26.

Active-omni-directional-vision-based pipeline inside functional defect detection device and detection method

Номер патента: CN104568983A. Автор: 韩国栋,汤一平,吴挺,陈麒,胡克钢,周伟敏,鲁少辉,韩旺明,王伟羊. Владелец: Zhejiang University of Technology ZJUT. Дата публикации: 2015-04-29.

Magnetic leakage detection device and method for longitudinal and horizontal defect detection and recognition for steel strip

Номер патента: CN102759565A. Автор: 宋凯,孙燕华,康宜华,张丽攀. Владелец: NANCHANG HANGKONG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-10-31.

Defect detection apparatus and defect detection method

Номер патента: JP6515344B2. Автор: 宏尚山地,正樹山野,雄介今野,山地　宏尚,今野　雄介,武男中田. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-05-22.

Defect detection device and defect detection system for additive manufacturing

Номер патента: CN211576985U. Автор: 李岩,冯伟,郭师峰,张艳辉,吴新宇,徐天添,吕高龙. Владелец: Shenzhen Institute of Advanced Technology of CAS. Дата публикации: 2020-09-25.

Bottle cap edge defect detecting method and detecting system

Номер патента: CN103439347A. Автор: 李春丽,黄炜,蒋富强,魏焕东. Владелец: ANHUI KEY INFORMATION TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-11.

Mask image defection detection method and detection system thereof

Номер патента: CN102193302A. Автор: 赵蓓,郭贵琦. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2011-09-21.

Defect detection apparatus and defect detection method

Номер патента: JP5768224B2. Автор: 本田　達也,達也本田,正治杭ノ瀬,杭ノ瀬　正治. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-26.

A optical detection device for product defects detects

Номер патента: CN205562413U. Автор: 吴昌力. Владелец: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute ASTRI. Дата публикации: 2016-09-07.

Defect detection apparatus, defect correction apparatus, and defect detection method

Номер патента: JP6184746B2. Автор: 博明大庭. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2017-08-23.

Machine tools, defect detection methods, and defect detection programs

Номер патента: JP7058210B2. Автор: 静雄西川,謙吾河合. Владелец: DMG Mori Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-21.

Automatic turning-conveying apparatus for magnetic powder defects-detection of work piece to be detected

Номер патента: CN2510867Y. Автор: 孙劲樵. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-11.

Defect detecting device, defect detecting method, die bonder, semiconductor manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: CN109564172B. Автор: 田井悠,上林笃正. Владелец: Canon Machinery Inc. Дата публикации: 2021-08-31.

Defect detection method and defect detection apparatus

Номер патента: JP4650167B2. Автор: 浩司山田,禎明境,裕之卯西. Владелец: JFE Engineering Corp. Дата публикации: 2011-03-16.

Disk peripheral surface defect detection method and detection apparatus

Номер патента: JP5153270B2. Автор: 隆之石黒,滋芹川. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-27.

Longitudinal defect detecting device for oil casing pipe leakage magnetic flaw detecting machine

Номер патента: CN202693522U. Автор: 姚亚平,胡家齐,吴春学,赵齐兵. Владелец: ANQING ANKE PRECISION MACHINERY Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-23.

Online cable surface defect detection device and online cable surface defect detection method

Номер патента: CN103163150B. Автор: 何军,卢力,陈锋,熊壮,黄杰,刘宏超,李闽刚,苏晓帆,杨启. Владелец: Yangtze Optical Fibre and Cable Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-15.

Defect detection method and defect detection circuit in printed matter inspection apparatus

Номер патента: JPH07121582B2. Автор: 敬市岡,愼一鈴木,清隆吉田,潔関口. Владелец: 大蔵省印刷局長. Дата публикации: 1995-12-25.

A defect detection method and a defect detection device for a printed circuit board

Номер патента: CN104749185A. Автор: 汪光夏,陈辉毓. Владелец: Machvision Inc. Дата публикации: 2015-07-01.

Surface defect detection device, surface defect detection method, steel plate manufacturing method, steel plate quality control method, and steel plate manufacturing equipment

Номер патента: JP7207443B2. Автор: 紘明大野,勇介塚本. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-01-18.

Defect detecting method and detecting device of complicated inner cavity of casting

Номер патента: CN104330541A. Автор: 王玉平. Владелец: Suzhou Mingzhi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-04.

For resonance type magnetoelectric transducer and the detection method of ferromagnetic material defects detection

Номер патента: CN103018320B. Автор: 鲍丙好. Владелец: Jiangsu University. Дата публикации: 2015-10-28.

Slab surface defect detection method and slab surface defect detection apparatus

Номер патента: JP5200872B2. Автор: 寧男戸村,義治楠本,昭芳本田. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2013-06-05.

Waterproof sheet or extension sheet, its defect detecting method, and defect detecting method for joint between waterproof sheet and extension sheet

Номер патента: JP2001115607A. Автор: Masaya Sano,真哉佐野,Yoshimi Murano,佳巳村野. Владелец: Lonseal Corp. Дата публикации: 2001-04-24.

High-voltage wire insulator defect detection method and high-voltage wire insulator defect detection system based on deep belief network

Номер патента: CN104483326A. Автор: 孙宏彬. Владелец: Changchun Institute Technology. Дата публикации: 2015-04-01.

Ultrasound vibrating-type defect detection apparatus and wire defect detection system including an ultrasound vibrator, a high-frequency power supply, a camera, and a control unit

Номер патента: TW202312296A. Автор: 麥可柯比,宗像広志,足立卓也. Владелец: 日商雅馬哈智能機器控股股份有限公司. Дата публикации: 2023-03-16.

外观尺寸缺陷检测设备

Вам могут быть интересны следующие патенты

Главная

Проекты и услуги

Контакты