Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • THICKNESS MEASUREMENT METHOD, THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE

THICKNESS MEASUREMENT METHOD, THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE

Номер патента: US20210364282A1
Опубликовано: 25-11-2021
Автор(ы): Inoue Hirotsugu, IRIE Yousuke, SAKAMOTO Koutaro
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US20240219175A1. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US11965735B2. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US11835389B2. Автор: Ching-Feng Lee,Ja-Son Hu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-05.

Method and device for measurement with an ir imaging device

Номер патента: US20120318984A1. Автор: Emmanuel Vanneau. Владелец: Flir Systems Inc. Дата публикации: 2012-12-20.

Optical waveform measurement device and measurement method thereof, complex refractive index measurement device and measurement method thereof, and computer program recording medium containing the program

Номер патента: EP1640709A1. Автор: Shingo NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. SAITO,Masaru NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. IIDA,Masaaki NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. ASHIDA. Владелец: National Institute of Information and Communications Technology. Дата публикации: 2006-03-29.

Information processing method and system, portable terminal, infrared detection device, and recording medium

Номер патента: CN108613744B. Автор: 孝桥靖雄,渡边一弘,杉本博子,池田洋一. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-28.

Gas sensor, gas detection device, gas detection method and device prvovided with gas detection device

Номер патента: GB2563519A. Автор: NOJIRI Toshiyuki,CHENG Dezhi. Владелец: Semitec Corp. Дата публикации: 2018-12-19.

Oxide film thickness measurement device and method

Номер патента: US11852458B2. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Masahiro Inui,Ryota Nakanishi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US09879971B2. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Defect removal device, defect removal method, pattern forming method, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: US20230395366A1. Автор: Ryo Saito,Masahiro Yoshidome,Akihiko Ohtsu,Yukihisa KAWADA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US20170074633A1. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

Method and apparatus for defect detection in composite structures

Номер патента: US09494562B2. Автор: Wei Lin,Lay Siong Goh,Lye Seng Wong,Heng Kiat Jonathan Hey,Ricky Riyadi Chan,Roman Britner. Владелец: Agency for Science Technology and Research Singapore. Дата публикации: 2016-11-15.

Method and System for Defect Detection

Номер патента: US20240201041A1. Автор: Moez LOUATI,Mohamed Salah GHIDAOUI,Muhammad WAQAR. Владелец: Hong Kong University of Science and Technology HKUST. Дата публикации: 2024-06-20.

Measurement method for non-destructive inspection, measurement device, non-destructive inspection method, information processing device of non-destructive inspection, and recording medium

Номер патента: US12044654B2. Автор: Hiroshi Morita,Yoshiyuki Hashimoto,Mitsuru Mimori,Katsunori Teshima,Motonori Takakura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-23.

Image measurement method, image measurement program, image measurement device, and object manufacture method

Номер патента: US20190139247A1. Автор: Junichi Kubota,Motoi Murakami. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2019-05-09.

Hot spot defect detecting method and hot spot defect detecting system

Номер патента: US11900586B2. Автор: Xiaomeng Chen,Wei-Chen Wu,Chien-Huei Chen,Pei-Chao Su,Chan-Ming Chang,Shih-Yung Chen,Hung-Yi Chung,Kuang-Shing Chen,Li-Jou Lee,Yung-Cheng Lin,Shih-Chang Wang,Chien-An Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Hot spot defect detecting method and hot spot defect detecting system

Номер патента: US20240144467A1. Автор: Xiaomeng Chen,Wei-Chen Wu,Chien-Huei Chen,Pei-Chao Su,Chan-Ming Chang,Shih-Yung Chen,Hung-Yi Chung,Kuang-Shing Chen,Li-Jou Lee,Yung-Cheng Lin,Shih-Chang Wang,Chien-An Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Wafer backside defect detection method and wafer backside defect detection apparatus

Номер патента: US11821847B2. Автор: Cheng-Hsien Chen,Chia-Feng HSIAO,Chung-Hsuan WU,Nai-Ying Lo,Chen-Hui Huang,Yung-Yu Yang,En-Wei TSUI,Chen-Hsuan Hung. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Two-phase optical inspection method and apparatus for defect detection

Номер патента: US5699447A. Автор: Ehud Tirosh,David Alumot,Gad Neumann,Rivka Sherman. Владелец: Orbot Instruments Ltd. Дата публикации: 1997-12-16.

Detection device to identify markers dissolved in a liquid by means of a measurement of resistivity variation, detection method and use of marker and detection device

Номер патента: US10175221B2. Автор: Davide Ciampini. Владелец: SICPA HOLDING SA. Дата публикации: 2019-01-08.

Detection device to identify markers dissolved in a liquid by means of a measurement of resistivity variation, detection method and use of marker and detection device

Номер патента: EP3201615A1. Автор: Davide Ciampini. Владелец: SICPA HOLDING SA. Дата публикации: 2017-08-09.

Detection device to identify markers dissolved in a liquid by means of a measurement of resistivity variation, detection method and use of marker and detection device

Номер патента: US20170219556A1. Автор: Davide Ciampini. Владелец: SICPA HOLDING SA. Дата публикации: 2017-08-03.

Virus detection method using well array, well array, and detection device

Номер патента: EP4290221A1. Автор: Makoto Fujimaki,Hiroki Ashiba. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2023-12-13.

Virus detection method using well array, well array, and detection device

Номер патента: US20240168023A1. Автор: Makoto Fujimaki,Hiroki Ashiba. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2024-05-23.

Oxygen detection method, air leakage determination method, gas component detection device, and vacuum processing apparatus

Номер патента: US20110315872A1. Автор: Hideki Yoshizawa,Takeshi Miyashita,Yasushi Nagata,Yasufumi Uchida,Toyoaki Nakajima. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2011-12-29.

Measurement Method, Sensor Device, And Inertial Measurement Device

Номер патента: US20230243865A1. Автор: Yoshiyuki Matsuura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Systems, methods, and devices for defect detection in capacitive touch panels

Номер патента: US11928284B2. Автор: Viktor Kremin,Vadym Grygorenko,Jens Weber,Oleksandr Pirogov,Taras Kuzo,Oleksii Bukhtii. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Systems, methods, and devices for defect detection in capacitive touch panels

Номер патента: US20230289012A1. Автор: Viktor Kremin,Vadym Grygorenko,Jens Weber,Oleksandr Pirogov,Taras Kuzo,Oleksii Bukhtii. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Molten iron slag height detection method and molten iron slag height detection device

Номер патента: EP4286539A1. Автор: Kazuhira ICHIKAWA,Ryotaro Matsunaga,Kota Moriya. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: US20210140758A1. Автор: Shiro Kawaguchi,Kazuya Nakajima. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Circular dichroism measuring method and circular dichroism measuring device

Номер патента: US20170191928A1. Автор: Hiroshi Satozono. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-06.

Circular dichroism measuring method and circular dichroism measuring device

Номер патента: US20190271639A1. Автор: Hiroshi Satozono. Владелец: (dc) Drinker Biddle & Reath. Дата публикации: 2019-09-05.

Optical waveform measurement device and measurement method thereof, complex refractive index measurement device and measurement method thereof, and computer program recording medium containing the program

Номер патента: WO2004113885A1. Автор: Masaru Iida,Shingo Saito,Masaaki Ashida. Владелец: National Institute of Information and Communications Technology. Дата публикации: 2004-12-29.

Optical waveform measuring device and measuring method thereof, complex refractive index measuring device and measuring method thereof, and computer program recording medium recording the program

Номер патента: JPWO2004113885A1. Автор: 勝 飯田,慎吾 齋藤,昌明 芦田,飯田　勝. Владелец: National Institute of Information and Communications Technology. Дата публикации: 2006-08-03.

Coating thickness measuring device and coating device comprising same

Номер патента: EP4382854A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Defect detection parameter optimization method and optimization system based on POD quantitative analysis

Номер патента: CN113204868A. Автор: 单清群,孙福庆,刘彬,李亮亮,刘贤军,鲍宏,石国德,宋少龙,张京梅,林正帅. Владелец: CRRC Qingdao Sifang Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-03.

Height measuring method, height measuring program, height measuring device

Номер патента: JP5397537B2. Автор: 康夫 鈴木,雅哉 山口. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2014-01-22.

Coefficient-of-thermal-expansion measurement method of dimension reference gauge, measuring device for coefficient of thermal expansion and reference gauge

Номер патента: US10352678B2. Автор: Yutaka Kuriyama,Takeshi Hagino,Yuichiro Yokoyama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-16.

A soil layer thickness measuring device

Номер патента: LU503772B1. Автор: Xiaoli Liu,Guangcheng Xiong,Qingxiang Meng,Tiange Li. Владелец: Henan Provincial Inst Of Natural Resources Monitoring And Land Consolidation. Дата публикации: 2023-09-29.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: US20210341282A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2021-11-04.

Optical wavelength measuring device using absorption-type optical fiber-based multiple optical fiber filter module, optical sensor system having the same, and optical measurement method

Номер патента: US20240280412A1. Автор: Chang Won Lee,Bok Hyeon KIM. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-08-22.

Method and apparatus for detecting defect of insulating coating of battery electrode plate, and computer device

Номер патента: EP4383398A1. Автор: Wen Chang,Jun Hu,Dajun NI,Baiquan ZHAO,Xianfeng XIE. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Temperature anomaly defect detection and positioning method and system

Номер патента: CN110942458B. Автор: 吴涛,徐媛媛,包能胜,李超平,陈贤碧,江惠宇. Владелец: Shantou University. Дата публикации: 2023-05-16.

Height measuring method for three dimensional shape measuring device

Номер патента: CN105823438A. Автор: 郑仲基,洪德和. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2016-08-03.

Height measuring method for three dimensional shape measuring device

Номер патента: WO2013176482A1. Автор: 정중기,홍덕화. Владелец: 주식회사 고영테크놀러지. Дата публикации: 2013-11-28.

Multi-layer substrate measurement method, multi-layer substrate, and measurement device

Номер патента: WO2016158785A1. Автор: 健司 笠原,武継 山本,大貴 山本. Владелец: 住友化学株式会社. Дата публикации: 2016-10-06.

Detection device and method

Номер патента: US20150323470A1. Автор: Zengbiao Sun,Liping Luo,Huishuang Liu,Huali Yao,Chaoqin Xu,Shaoshuai Mu. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-12.

Detection device and method

Номер патента: US09435634B2. Автор: Zengbiao Sun,Liping Luo,Huishuang Liu,Huali Yao,Chaoqin Xu,Shaoshuai Mu. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Colorimeter measurement method and colorimeter for implementing the method

Номер патента: US20150276584A1. Автор: LI Wang,Rui Xu,Weiwei Zhang,Xiaobo He,Jingming Wu,Honghui Zhu,Xueli Ao. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-01.

Detection device, detection method, and recording medium

Номер патента: US20220283104A1. Автор: Tetsuro Kubota. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2022-09-08.

GAS SENSOR, GAS DETECTION DEVICE, GAS DETECTION METHOD AND DEVICE PROVIDED WITH GAS DETECTION DEVICE

Номер патента: US20190049398A1. Автор: NOJIRI Toshiyuki,CHENG Dezhi. Владелец: SEMITEC Corporation. Дата публикации: 2019-02-14.

Gas sensor, gas detection device, gas detection method and device prvovided with gas detection device

Номер патента: GB201813549D0. Автор: . Владелец: Semitec Corp. Дата публикации: 2018-10-03.

Thickness measurement apparatus and method thereof

Номер патента: US09625273B2. Автор: Yoshihiro Yamashita,Hidehiko Kuroda,Akio Sumita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Sheet thickness measurement device

Номер патента: US11796303B2. Автор: Shigeru Ichikawa. Владелец: MAYSUN CORP. Дата публикации: 2023-10-24.

Method and apparatus for detecting mailpiece thickness in an inserter system

Номер патента: US20110137610A1. Автор: John W. Sussmeier,John E. Richter. Владелец: Pitney Bowes Inc. Дата публикации: 2011-06-09.

Sheet thickness measuring apparatus with magnetic and optical sensors

Номер патента: US5075622A. Автор: Shigeru Ichikawa,Kohei Hasegawa,Eitaro Konii,Yoshinori Tabara. Владелец: Meisan Co Ltd. Дата публикации: 1991-12-24.

Flexible method and apparatus for thickness measurement

Номер патента: US11774230B2. Автор: YANG LU,Shuying QU,Jianglong WU. Владелец: Yantai Unversity. Дата публикации: 2023-10-03.

Automation of thickness measurements for noisy ultrasonic signals

Номер патента: EP3935377A1. Автор: Matthias Goldammer,Alexandr Sadovoy. Владелец: Siemens Energy Global GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-12.

Automation of thickness measurements for noisy ultrasonic signals

Номер патента: WO2020224855A1. Автор: Matthias Goldammer,Alexandr Sadovoy. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2020-11-12.

Products continuity automated spatial control method and device for its implementation

Номер патента: RU2676857C1. Автор: Александр Алексеевич Кульков,Олег Николаевич Будадин,Алексей Николаевич Рыков,Софья Олеговна Козельская,Александр Сергеевич Богачев,Вячеслав Владимирович Борисенко. Владелец: Акционерное общество "Центральный научно-исследовательский институт специального машиностроения" (АО "ЦНИИСМ"). Дата публикации: 2019-01-11.

Method for measuring the thickness of a layer of material, galvanizing method and related measuring device

Номер патента: US09797709B2. Автор: Jean Inard-Charvin,Geoffrey BRUNO. Владелец: ENOVASENSE. Дата публикации: 2017-10-24.

Method and system for detecting defects in an insulation panel

Номер патента: WO2020147061A1. Автор: Chunlei Zheng,Liqiang LI,Jianwu GAO,Huilin GAO. Владелец: Covestro Deutschland AG. Дата публикации: 2020-07-23.

Multi-mode thickness measurement device and methods

Номер патента: WO2024030726A2. Автор: Sr. Mark F. Zanella. Владелец: AGR International, Inc.. Дата публикации: 2024-02-08.

Multi-mode thickness measurement device and methods

Номер патента: WO2024030726A3. Автор: Sr. Mark F. Zanella. Владелец: AGR International, Inc.. Дата публикации: 2024-03-14.

Contact force measurement method, and contact force measurement device

Номер патента: RU2519589C1. Автор: Такамаса ФУДЗИСАВА,Мицуру ИКЕДА,Казутака МАЦУБАРА. Владелец: Рэйлвэй Текникал Рисёрч Инститьют. Дата публикации: 2014-06-20.

Substrate film thickness measuring method, substrate film thickness measuring apparatus, substrate processing method, and substrate processing apparatus

Номер патента: JP3854056B2. Автор: 俊輔 中井,利文 金馬. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2006-12-06.

Concentration measuring method, and concentration measuring device

Номер патента: US12078590B2. Автор: Nobukazu Ikeda,Yoshihiro Deguchi,Kouji Nishino,Masaaki Nagase. Владелец: University of Tokushima NUC. Дата публикации: 2024-09-03.

Detection method and system based on battery defect detection system, and storage medium

Номер патента: EP4231007A1. Автор: Peng Fan,De Chen,Qihui Lu. Владелец: Guangdong Lyric Robot Automation Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Method and device for detecting defects on the tire surface

Номер патента: RU2657648C1. Автор: Винченцо БОФФА,Валериано БАЛЛАРДИНИ,Фабио РЕГОЛИ,ПЬОВАН Алессандро ГИДОТТИ,СТЕФАНО Луиджи ДИ. Владелец: ПИРЕЛЛИ ТАЙР С.П.А.. Дата публикации: 2018-06-14.

Subcutaneous fat thickness measuring method, subcutaneous fat thickness measuring apparatus, program and recording medium

Номер патента: US20050107707A1. Автор: Shinji Uchida,Kazuya Kondoh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-19.

Substrate film thickness measurement method, substrate film thickness measurement apparatus and substrate processing apparatus

Номер патента: US20040223166A1. Автор: Toshifumi Kimba,Shunsuke Nakai. Владелец: Shunsuke Nakai. Дата публикации: 2004-11-11.

Substrate film thickness measurement method, substrate film thickness measurement apparatus and substrate processing apparatus

Номер патента: US7428064B2. Автор: Toshifumi Kimba,Shunsuke Nakai. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2008-09-23.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US20170074633A1. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

DEFECT ANALYSIS DEVICE, DEFECT ANALYSIS SYSTEM, DEFECT ANALYSIS METHOD, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20180045687A1. Автор: Tominaga Shin,Takahashi Masatake,MIYAKE Kanta. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2018-02-15.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Plastic optical fiber core diameter measuring method, plastic optical fiber core diameter measuring apparatus used therefor, plastic optical fiber defect detecting method, and plastic optical fiber defect detecting apparatus used therefor

Номер патента: US12025529B2. Автор: Masaru Sakamoto,Ichiro Suehiro. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Defect detection apparatus and medium

Номер патента: US11893721B2. Автор: Yuichi OHSHIMA. Владелец: Nikon Trimble Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Detection method based on battery defect detection system, system and storage medium

Номер патента: US20240102966A1. Автор: Peng Fan,De Chen,Qihui Lu. Владелец: Guangdong Lyric Robot Automation Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Mask graphic defect detection method and mask graphic defect detection system for

Номер патента: CN104317159A. Автор: 赵蓓,郭贵琦. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2015-01-28.

Hot spot defect detecting method and hot spot defect detecting system

Номер патента: US10872406B2. Автор: Xiaomeng Chen,Wei-Chen Wu,Chien-Huei Chen,Pei-Chao Su,Chan-Ming Chang,Shih-Yung Chen,Hung-Yi Chung,Kuang-Shing Chen,Li-Jou Lee,Yung-Cheng Lin,Shih-Chang Wang,Chien-An Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-12-22.

Wafer backside defect detection method and wafer backside defect detection apparatus

Номер патента: US20230024259A1. Автор: Cheng-Hsien Chen,Chia-Feng HSIAO,Chung-Hsuan WU,Nai-Ying Lo,Chen-Hui Huang,Yung-Yu Yang,En-Wei TSUI,Chen-Hsuan Hung. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-01-26.

Signal process method and apparatus for defect inspection

Номер патента: US5796475A. Автор: Toyoki Kanzaki,Dainichiro Kinoshita. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1998-08-18.

DEFECT DETECTION SYSTEM FOR AIRCRAFT COMPONENT AND DEFECT DETECTION METHOD FOR AIRCRAFT COMPONENT

Номер патента: US20200096454A1. Автор: Hasegawa Osamu,KONISHI Kozaburo,OKAMOTO Motoko. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-26.

Defect detection system for aircraft component and defect detection method for aircraft component

Номер патента: EP3591612A4. Автор: Osamu Hasegawa,Kozaburo Konishi,Motoko Okamoto. Владелец: Soinn Inc. Дата публикации: 2020-03-25.

Method and apparatus for defect detection in composite structures

Номер патента: US20130338941A1. Автор: Wei Lin,Lay Siong Goh,Lye Seng Wong,Heng Kiat Jonathan Hey,Ricky Riyadi Chan,Roman Britner. Владелец: Agency for Science Technology and Research Singapore. Дата публикации: 2013-12-19.

Methods and Systems for Defects Detection and Classification Using X-rays

Номер патента: US20210010953A1. Автор: Adler David Lewis,Babian Freddie Erich. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-14.

OPTICAL METHOD AND SYSTEM FOR DEFECTS DETECTION IN THREE-DIMENSIONAL STRUCTURES

Номер патента: US20170138868A1. Автор: Barak Gilad,DOTAN Elad,BELLELI Alon. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

Method and apparatus for defect detection

Номер патента: IL211518A0. Автор: . Владелец: Tgt Entpr Ltd. Дата публикации: 2011-05-31.

method and device for defect detection in a packaging laminate

Номер патента: BR112013015409A2. Автор: Hans Hallstadius,Philippe Lingois. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE. Дата публикации: 2016-09-20.

Pack Defect Detecting System and Method, and Apparatus thereof

Номер патента: KR101363861B1. Автор: 박홍주. Владелец: (주)화인인터코리아. Дата публикации: 2014-02-18.

Method and system for defect detection

Номер патента: CN101451963B. Автор: 迈克尔·本-伊谢,史密尔·曼根,鲍里斯·戈德堡,伊谢·施瓦茨班德,翁·哈伦,阿米尔·萨吉弗. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2013-02-20.

Method and apparatus for defect detection

Номер патента: SG34319A1. Автор: Ron R Soyland. Владелец: Tuboscope Vetco Int. Дата публикации: 1996-12-06.

Method and apparatus for defect detection in a cold plate

Номер патента: US20090238235A1. Автор: Prabjit Singh,Levi A. Campbell,Michael J. Ellsworth, Jr.,Michael J. Domitrovits. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-09-24.

Method and apparatus for defect detection in optical disc drives

Номер патента: TWI229849B. Автор: Chih-Yuan Chen. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2005-03-21.

A kind of rotary laser contour measuring method, storage device and its measuring device

Номер патента: CN108007353A. Автор: 李大望,邢锋,韩宁旭,王险峰,李陶然,李龙元. Владелец: SHENZHEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-05-08.

IMAGE MEASUREMENT METHOD, IMAGE MEASUREMENT PROGRAM, IMAGE MEASUREMENT DEVICE, AND OBJECT MANUFACTURE METHOD

Номер патента: US20190139247A1. Автор: Kubota Junichi,MURAKAMI Motoi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2019-05-09.

Flatness measuring method for plate material, flatness measuring device for plate material, and method for manufacturing steel plate

Номер патента: JPWO2014185478A1. Автор: 伊勢居　良仁,良仁 伊勢居,朋也 加藤,康宏 相原. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2017-02-23.

Image measurement method, image measurement program, image measurement device, and object manufacture method

Номер патента: EP3460754B1. Автор: Junichi Kubota,Motoi Murakami. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

MEASURING METHOD FOR BIOLOGICAL SUBSTANCE AND MEASURING DEVICE THEREFOR

Номер патента: US20150021208A1. Автор: Tokumitsu Shuzo,Nomura Takaiki,Hato Kazuhito,Nukina Yasuyuki. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2015-01-22.

Coefficient-Of-Thermal-Expansion Measurement Method Of Dimension Reference Gauge, Measuring Device For Coefficient Of Thermal Expansion And Reference Gauge

Номер патента: US20170089683A1. Автор: HAGINO Takeshi,YOKOYAMA Yuichiro,KURIYAMA Yutaka. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2017-03-30.

SURFACE-PLASMON ENHANCED FLUORESCENCE MEASUREMENT METHOD, SURFACE-PLASMON ENHANCED FLUORESCENCE MEASUREMENT DEVICE, AND ANALYTICAL CHIP

Номер патента: US20170153182A1. Автор: Hirayama Hiroshi,Noda Tetsuya,MATSUO Masataka,OKUMURA Yoshihiro,HAMANO Yoshimasa. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2017-06-01.

Surface-plasmon enhanced fluorescence measurement method, surface-plasmon enhanced fluorescence measurement device, and analytical chip

Номер патента: EP3153845A1. Автор: Tetsuya Noda,Yoshimasa Hamano,Masataka Matsuo,Yoshihiro Okumura,Hiroshi Hirayama. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-04-12.

Continuous measurement method TRO(Total Residual Oxidant) measuring devices

Номер патента: KR101303349B1. Автор: 이광호,박규원,김성태,이해돈,박용석,문현주. Владелец: (주) 테크로스. Дата публикации: 2013-09-03.

Water quality measuring device and system based on ai learning method and floating object vector information

Номер патента: KR102467523B1. Автор: 이동욱. Владелец: 주식회사 에스엠티. Дата публикации: 2022-11-15.

Measuring method for sulfur dioxide and measuring device thereof

Номер патента: JPS56157854A. Автор: Yuichi Sato,Masayoshi Okamoto,Tetsuya Katayama. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1981-12-05.

DETECTION DEVICE TO IDENTIFY MARKERS DISSOLVED IN A LIQUID BY MEANS OF A MEASUREMENT OF RESISTIVITY VARIATION, DETECTION METHOD AND USE OF MARKER AND DETECTION DEVICE

Номер патента: US20170219556A1. Автор: Ciampini Davide. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

Lateral flow quantitative assay method and strip, laser-induced epifluorescence detection device and small scanner therefor

Номер патента: EP1550872A2. Автор: Jae Hoon Kim,Kie Bong Nahm,Eui Yul Choi. Владелец: Bio Med Photonics Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-06.

Cable sheath damage position detection method and cable sheath damage position detection device

Номер патента: JP5994002B1. Автор: 信博 佐々木. Владелец: Nippon Steel Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-21.

Cable cover damage location detection method and cable cover damage location detection device

Номер патента: WO2017039017A1. Автор: 信博 佐々木. Владелец: 新日鉄住金エンジニアリング株式会社. Дата публикации: 2017-03-09.

Airborne antenna installation precision detection method and airborne antenna installation precision detection device

Номер патента: CN106017317A. Автор: 谢鹏,陈晓刚,邱峰,李海龙,张典平. Владелец: Xian Aircraft Design and Research Institute of AVIC. Дата публикации: 2016-10-12.

Air pollution monitoring method and system based on mobile detection device

Номер патента: CN108931615B. Автор: 李爱芝. Владелец: Hebei Zeqing Environmental Protection Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-12-01.

Turntable radius and the indexable increment of coordinate detection method of setting-up eccentricity four and detection device

Номер патента: CN109238157A. Автор: 耿佳钰. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-01-18.

Detection method of in-service pulse eddy current detection device for damage of mining hoisting steel wire rope

Номер патента: CN110108790B. Автор: 李威,范孟豹,曹丙花,杨雪锋,王禹桥,许少毅,闻东东,薛志安,沙经纬. Владелец: China University of Mining and Technology CUMT. Дата публикации: 2022-11-08.

Detection method of base number of petroleum product, detection device and application thereof

Номер патента: CN111707779A. Автор: 谢静,贺石中,王永安,邓新,张静茹,庞晋山,石新发,丘晖饶,张琳颖,车超萍,朱懋冠,韦琪玲. Владелец: Guangzhou Mechanical Engineering Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-25.

Ultrasonic flaw detection method for cast stick and ultrasonic flaw detection device

Номер патента: CN101960304A. Автор: 小田岛康秀. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2011-01-26.

Virus detection method using well array, well array, and detection device

Номер патента: WO2022202217A1. Автор: 真 藤巻,裕樹 芦葉. Владелец: 国立研究開発法人産業技術総合研究所. Дата публикации: 2022-09-29.

Nanowire Field Effect Transistor Detection Device and the Detection Method thereof

Номер патента: US20190206990A1. Автор: Chii Dong CHEN,Li Chu TSAI,Chia Jung CHU,Ying Pin WU. Владелец: Academia Sinica. Дата публикации: 2019-07-04.

Nanowire field effect transistor detection device and the detection method thereof

Номер патента: US10784343B2. Автор: Chii Dong CHEN,Li Chu TSAI,Chia Jung CHU,Ying Pin WU. Владелец: Academia Sinica. Дата публикации: 2020-09-22.

In-situ detection device for detecting water and fertilizer content in crop cultivation substrate and detection method thereof

Номер патента: US11874219B2. Автор: Bin Liang,Baogang XU,Lianfa XU. Владелец: Shandong Huijinhai Wisdom Agricultural Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Gas concentration detecting device and detecting method thereof

Номер патента: US20190128861A1. Автор: Yingyi LI. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Wafer-grade led detection device and method

Номер патента: US20210108987A1. Автор: Chun-An Lu,Chien-Shou Liao,Te-Fu Chang. Владелец: Asti Global Inc Taiwan. Дата публикации: 2021-04-15.

Utilization of wall thickness measurement in combination with thermal imaging of containers

Номер патента: EP2873652A1. Автор: Jonathan S. Simon. Владелец: Emhart Glass SA. Дата публикации: 2015-05-20.

Optical measuring method, and optical measuring device

Номер патента: EP4414687A1. Автор: Go Yamada. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Gas concentration measuring device, gas concentration measuring method, and program

Номер патента: EP4446717A1. Автор: Motohiro Asano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-16.

Terahertz wave measuring device, measuring method, and measuring rig

Номер патента: US09784610B2. Автор: Hirohisa Uchida. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2017-10-10.

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING SPECTRAL LINE OF CARBON AT 193 nm BY MEANS OF OPTICAL EMISSION SPECTROSCOPY

Номер патента: RU2319937C2. Автор: Теро ЭКЛИН,Микко КРАПУ. Владелец: Оксфорд Инструментс Аналитикал Ой. Дата публикации: 2008-03-20.

Non-spatial measurement calibration methods and associated systems and devices

Номер патента: WO2021087256A1. Автор: Jens J. JENSEN. Владелец: Radiant Vision Systems, LLC. Дата публикации: 2021-05-06.

Fire-measuring device, method, and application of electric vehicles in garage

Номер патента: US20240230411A9. Автор: Shenshi HUANG,Ruichao WEI. Владелец: Shenzhen Polytechnic. Дата публикации: 2024-07-11.

Fire-measuring device, method, and application of electric vehicles in garage

Номер патента: US20240133744A1. Автор: Shenshi HUANG,Ruichao WEI. Владелец: Shenzhen Polytechnic. Дата публикации: 2024-04-25.

Fire-measuring device, method, and application of electric vehicles in garage

Номер патента: US12130183B2. Автор: Shenshi HUANG,Ruichao WEI. Владелец: Shenzhen Polytechnic. Дата публикации: 2024-10-29.

Method and device for investigating the visual appearance of a sample surface

Номер патента: EP4435391A1. Автор: Denoth Schimun,Timo Kaldewey. Владелец: X Rite Europe GmbH. Дата публикации: 2024-09-25.

Method and device for investigating the visual appearance of a sample surface

Номер патента: WO2024201257A1. Автор: Schimun Denoth,Timo Kaldewey. Владелец: X-Rite Europe GmbH. Дата публикации: 2024-10-03.

Coating thickness measuring device and coating device including the same

Номер патента: CA3231328A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Coating Thickness Measuring Apparatus and Method

Номер патента: US20240344822A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Thickness measurement apparatus, method and system, storage medium and processor

Номер патента: EP3919856A1. Автор: Tao QU,Kai Zhang,Yonghui LIN,Xiaofeng Sun,Rongxin SONG. Владелец: Weihai Hualing Opto Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-08.

Coating thickness measurement apparatus and method

Номер патента: EP4332498A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Threaded shaft measuring device, threaded shaft measuring method, and adjustment jig

Номер патента: US20190049229A1. Автор: Yoshiyuki Omori. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

Method and device for structure dimensions measuring

Номер патента: RU2515961C2. Автор: Йонас БЭКМАН. Владелец: Элайнмент Системз Аб. Дата публикации: 2014-05-20.

Method and device for highly-precise measurement of surfaces

Номер патента: US09772182B2. Автор: Christian AM WEG,Thilo MAY,Ralf Nicolaus,Jürgen Petter,Gernot Berger. Владелец: LUPHOS GMBH. Дата публикации: 2017-09-26.

Human Body Composition Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20240008760A1. Автор: Bin Yang,Shanshan Ma,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jianhua Guo,Lian WU,Jilong YE,Junjin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Termination element for fill level measuring device and fill level measuring device

Номер патента: US09698456B2. Автор: Vincent Pichot. Владелец: Krohne SAS. Дата публикации: 2017-07-04.

Dose measuring device for the measurement of a radiation dose and measurement method for determining the radiation dose applied during pasteurization and/or sterilization of particulate material

Номер патента: US20240004089A1. Автор: Georgios AKEPSIMAIDIS. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2024-01-04.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: US11715542B2. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-01.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: US11417408B2. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-08-16.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: US20220036958A1. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-02-03.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: EP3945330A1. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-02-02.

Semiconductor device including defect detection circuit and method of detecting defects in the same

Номер патента: US20220328117A1. Автор: Jongpil Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-13.

Tire ground contact characteristic measuring method, tire ground contact characteristic measuring device, and tire ground contact characteristic measuring system

Номер патента: EP3892978A4. Автор: Takahisa KAMIKURA. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2022-09-07.

Body composition measurement method and apparatus

Номер патента: EP4215110A1. Автор: Bin Yang,Shanshan Ma,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jianhua Guo,Lian WU,Jilong YE,Junjin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Underwater environment detection device and method, fishing rod, and storage medium

Номер патента: US20240134067A1. Автор: Haotian NIU. Владелец: Guangdong Coros Sports Technology Joint Stock Co. Дата публикации: 2024-04-25.

Termination element for fill level measuring device and fill level measuring device

Номер патента: US20150340750A1. Автор: Vincent Pichot. Владелец: Krohne SAS. Дата публикации: 2015-11-26.

Location measurement device for measuring location of target terminal in wireless communication system and location measurement method thereof

Номер патента: US11997559B2. Автор: Hi Chan Moon. Владелец: Infoseize Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Microwave resonator magnetic field measuring device and magnetic field measuring method

Номер патента: US11892528B2. Автор: Eckhard Quandt,Reinhard Knoechel,Sebastian Toxvaerd,Lars Thormaehlen. Владелец: Christian Albrechts Universitaet Kiel. Дата публикации: 2024-02-06.

Location measuring method of mobile device, location measuring device and electronic device

Номер патента: KR20200076628A. Автор: 슈아이 양. Владелец: 베이징 호라이즌 로보틱스 테크놀로지 리서치 앤드 디벨롭먼트 컴퍼니 리미티드. Дата публикации: 2020-06-29.

Physical quantity measuring device and physical quantity measuring method provided integrally with flow measuring device

Номер патента: JP5933782B1. Автор: 有吉　雄二,雄二 有吉,正浩 河合,慎一郎 樋▲高▼,考司 谷本,谷本　考司. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-06-15.

Molten iron slag height detection method and molten iron slag height detection device

Номер патента: EP4286539A4. Автор: Kazuhira ICHIKAWA,Ryotaro Matsunaga,Kota Moriya. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Range doppler angle detection method and range doppler angle detection device

Номер патента: US20220299625A1. Автор: Chih-Wei Chen,Yu-Feng Wu,Mike Chun-Hung Wang,Chun-Hsuan Kuo,Wen-Sheng Cheng,Khoi Duc Le,Chieh Wu,Guan-Sian Wu,Wen-Jyi HWANG. Владелец: Kaikutek Inc. Дата публикации: 2022-09-22.

Switch detection method and device and switch function detection device

Номер патента: CN110779697B. Автор: 马伟,缪磊,冯小平,杜高峰,雷禹,吴加富. Владелец: Suzhou RS Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-24.

Object detection device, object detection method, and design method of object detection device

Номер патента: JP6519033B1. Автор: 志輝 段. Владелец: Dolphin Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-29.

Two-dimensional/three-dimensional angular velocity detection devices as well as angular velocity detection methods and attitude sensing devices of detection devices

Номер патента: CN102419174A. Автор: 龙江,龙涛,刘正东,严松,唐元浩. Владелец: Jiangsu Huitong Group Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-18.

Position detecting device, position detecting device with correction function, position detecting method, and correcting method for position detecting device

Номер патента: JP3143310B2. Автор: 喜充 佐藤. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2001-03-07.

Storage battery charge state detection method and storage battery charge state detection device

Номер патента: JP5356465B2. Автор: 敏幸 佐藤,勇一 渡辺,崇 飯島,貴史 木村,史和 岩花. Владелец: THE FURUKAW ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2013-12-04.

TERMINAL DISPLACEMENT AMOUNT DETECTION METHOD, TERMINAL INSERTION METHOD, TERMINAL DISPLACEMENT AMOUNT DETECTION DEVICE, AND TERMINAL INSERTION DEVICE

Номер патента: US20200067253A1. Автор: MABUCHI Miyoshi. Владелец: Yazaki Corporation. Дата публикации: 2020-02-27.

A kind of detection method of automobile-used HUD global functions detection device

Номер патента: CN108132156A. Автор: 王虎,刘素平,张瑞刚,汤宗杰,沈先敏. Владелец: Anhui Jun Shang Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-08.

Terminal displacement amount detection method, terminal insertion method, terminal displacement amount detection device, and terminal insertion device

Номер патента: CN110741515A. Автор: 间渕实良. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2020-01-31.

Film thickness measurement method and film thickness measurement device

Номер патента: US09846028B2. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-12-19.

Corrosion environment diagnosis system, corrosion prevention system, corrosion environment diagnosis method, and corrosion prevention method

Номер патента: US10436701B2. Автор: Rintarou Minamitani. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-10-08.

Film thickness measurement method, film thickness measurement device, and film formation system

Номер патента: US12018928B2. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20240240933A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Scale thickness measuring method

Номер патента: US20240255268A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno,Yuji KOHASHI,Hajime KUMATANI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Permittivity measuring device and thickness measuring device

Номер патента: US20230236005A1. Автор: Yukihiro Goto,Hiroyuki Oshida,Masaki Nakamori. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Permittivity measuring device and thickness measuring device

Номер патента: US12117285B2. Автор: Yukihiro Goto,Hiroyuki Oshida,Masaki Nakamori. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Methods and apparatus for spectral luminescence measurement

Номер патента: US09410890B2. Автор: Romain Sappey. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-08-09.

Method of measuring thickness of long sheet material and thickness measuring system

Номер патента: CA3020509C. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-06-15.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: EP3853581A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2021-07-28.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: AU2019341495A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2021-03-18.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: CA3111691A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2020-03-26.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: AU2019341495B2. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2024-08-22.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: WO2020058140A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: EUROPEAN MOLECULAR BIOLOGY LABORATORY. Дата публикации: 2020-03-26.

FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, AND FILM FORMATION SYSTEM

Номер патента: US20230011226A1. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-01-12.

Method and apparatus for removal of the double indication of defects in remote eddy current inspection of pipes

Номер патента: US09476857B2. Автор: Emmanuel Legendre,Gerald N. Minerbo,Richard A. Rosthal,Thilo M Brill. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Large-panel ultrasonic on-machine non-contact scanning thickness measurement equipment and thickness measurement method

Номер патента: US20210072195A1. Автор: Yongqing Wang,Te Li,Kuo LIU,Haibo LIU,Meng Lian,Zhenyuan JIA. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2021-03-11.

Thickness measuring device using eddy currents and corresponding measurement method

Номер патента: EP4296611A1. Автор: Giulia Di Capua,Luigi Ferrigno,Marco Laracca,Alessandro Sardellitti,Antonello Tamburrino,Salvatore Ventre. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-27.

Method of authenticating a polymer film by thickness measurement with a white light interferometer

Номер патента: US09739597B2. Автор: Robert Laird Stewart. Владелец: Innovia Films Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Method and device for testing a composite material using laser ultrasonics

Номер патента: US09335156B2. Автор: Benjamin Campagne,Franck Bentouhami. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2016-05-10.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US20240125589A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichi Ohtsuka,Kazuya Iguchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-18.

Infrared multilayer film thickness measuring method and apparatus

Номер патента: US4243882A. Автор: Naoyuki Shiratori,Akitaka Yasujima,Shingo Ishikawa. Владелец: Asahi Dow Ltd. Дата публикации: 1981-01-06.

Terahertz measuring apparatus and a terahertz measuring method for measuring test objects

Номер патента: CA3068741C. Автор: Marius Thiel. Владелец: Inoex GmbH. Дата публикации: 2022-05-03.

Culture vessel, measurement device, culture method, and culture device

Номер патента: US20170355941A1. Автор: Masaharu Kiyama,Guangbin Zhou,Yumiko Igarashi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-12-14.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200103220A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Interferometric thickness measuring apparatus using multiple light sources coupled with a selecting means

Номер патента: US10890433B2. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: EP4343274A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-27.

Scale thickness measuring method

Номер патента: EP4336137A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno,Yuji KOHASHI,Hajime KUMATANI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-03-13.

Optical metrology models for in-line film thickness measurements

Номер патента: US12062583B2. Автор: Todd J. Egan,Edward Budiarto,Eric Chin Hong Ng,Sergey STARIK. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Abnormality detection method for preset spectrum data for use in measuring film thickness, and optical film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20240255440A1. Автор: Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Real-time preform material thickness measurement

Номер патента: US20240068807A1. Автор: John S. Linck,Samuel Moore,Cameron L. Martinez. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Methods and apparatus for spectral luminescence measurement

Номер патента: EP2828628A1. Автор: Romain Sappey. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2015-01-28.

Methods and apparatus for spectral luminescence measurement

Номер патента: US20130242300A1. Автор: Romain Sappey. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2013-09-19.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

Tubular part wall thickness measuring device

Номер патента: US4695729A. Автор: Kiyoo Watanabe,Kazuyuki Kaneko,Asao Monno. Владелец: FUJI FACOM Corp AND KAWASAKI STEEL CORPORATION. Дата публикации: 1987-09-22.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US11845158B2. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Spectrum measurement system, spectrum measurement device, optical measurement method and optical calibration method

Номер патента: US10197443B2. Автор: Chien-Hsiang Hung,Hsu-Feng Cheng,Sheng-Wang Lin. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2019-02-05.

Self calibrating ultrasonic thickness measuring apparatus

Номер патента: GB1247768A. Автор: . Владелец: AMF Inc. Дата публикации: 1971-09-29.

Self-calibrating ultrasonic thickness-measuring apparatus

Номер патента: US3599478A. Автор: Hillel Weinbaum. Владелец: AMF Inc. Дата публикации: 1971-08-17.

Porosity deriving method and porosity deriving device

Номер патента: US11796442B2. Автор: Takehiro Fukushima,Yuichi Tajiri,Rio KOYAMA,Yasuro Katsuyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Method for non-destructive thickness measurement of small diameter thin-walled pipes

Номер патента: WO2023156964A1. Автор: Zbyněk Hlaváč,Ondřej Pašta,Leoš Assmann,Marcin KOPEĆ. Владелец: Centrum Výzkumu Řež S.R.O.. Дата публикации: 2023-08-24.

Method and apparatus for measuring thickness of electrolyte membrane

Номер патента: US20190101386A1. Автор: Shohei Yoshida,Satoshi Hasegawa,Shigeto Akahori,Mai Yokoi,Tomoko Tamai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-04.

Protective film thickness measuring method

Номер патента: US11892282B2. Автор: Kunimitsu Takahashi,Nobuyasu Kitahara,Hiroto Yoshida,Joel Koerwer,Kuo Wei Wu,Naoki Murazawa. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Method and apparatus for monitoring wall thickness of blow-molded plastic containers

Номер патента: CA2421444C. Автор: Sudha Christy Jebadurai,Craig Alan Birckbichler,Georg V. Wolfe,Ronald A. Puvak,William E. Schmidt. Владелец: AGR International Inc. Дата публикации: 2015-02-03.

Optical film-thickness measuring apparatus and polishing apparatus

Номер патента: US11951588B2. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Yoshikazu Kato. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Method of electromagnetic defectoscopy-thickness measurement in multi-column wells

Номер патента: RU2636064C1. Автор: Александр Петрович Потапов. Владелец: Александр Петрович Потапов. Дата публикации: 2017-11-20.

Web thickness measurement device

Номер патента: CA2884632C. Автор: Ake Hellstrom,Rambod Naimi,Michael O' Hora. Владелец: ABB Ltd Ireland. Дата публикации: 2016-10-25.

Web thickness measurement device

Номер патента: CA2697543C. Автор: Ake Hellstrom,Rambod Naimi,Michael O'hora. Владелец: ABB Ltd Ireland. Дата публикации: 2016-01-26.

Method and apparatus for removal of the double indication of defects in remote eddy current inspection of pipes

Номер патента: CA2765293A1. Автор: Emmanuel Legendre,Thilo Brill,Gerald N. Minerbo,Richard Rosthal. Владелец: Schlumberger Canada Ltd. Дата публикации: 2011-01-06.

Spatiotemporally resolved far-field pulse contrast measuring method and device

Номер патента: US09574946B2. Автор: Peng Yuan,Jing Wang,Guoqiang Xie,Dianyuan Fan,Jingui Ma,Yongzhi Wang,Liejia Qian. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2017-02-21.

Method and measuring device for measuring the distance of a surface, thickness and optical properties of an object

Номер патента: US09476707B2. Автор: Heimo Keranen. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2016-10-25.

Optical metrology models for in-line film thickness measurements

Номер патента: WO2022191969A1. Автор: Todd J. Egan,Edward Budiarto,Eric Chin Hong Ng,Sergey STARIK. Владелец: Applied Materials Isreal Ltd.. Дата публикации: 2022-09-15.

Method and apparatus for detecting defect on insulation coating on battery electrode plate, and computer device

Номер патента: US20240249402A1. Автор: Wen Chang,Jun Hu,Dajun NI,Baiquan ZHAO,Xianfeng XIE. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Measuring device, measuring method, and vacuum processing apparatus

Номер патента: US20240290591A1. Автор: Atsushi Sawachi,Takuya Nishijima,Ichiro SONE,Suguru Sato. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Displacement measurement device and defect detection device

Номер патента: US11977032B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Thz measurement method and thz measurement device for surveying a measurement object, in particular a pipe

Номер патента: US20230251083A1. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-08-10.

Thz measurement method and thz measurement device for measuring a measurement object

Номер патента: US20230288189A1. Автор: Marius Thiel,Ralph Klose. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-09-14.

Ultrasonic wall thickness measurement system having a high temperature ultrasonic transducer for monitoring the condition of a structural asset

Номер патента: EP4264251A1. Автор: Ke Wang,Sascha Schieke,Dumitru ROSCA. Владелец: MOLEX LLC. Дата публикации: 2023-10-25.

Ultrasonic wall thickness measurement system having a high temperature ultrasonic transducer for monitoring the condition of a structural asset

Номер патента: US20240036012A1. Автор: Ke Wang,Sascha Schieke,Dumitru ROSCA. Владелец: MOLEX LLC. Дата публикации: 2024-02-01.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240085355A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Six-degree-of-freedom error correction method and apparatus

Номер патента: EP4354187A1. Автор: Yu-Hsuan Lin,Ming-Long Lee,Tsung-I Lin,Cheng Chih Hsieh,Tien Chi WU,Chien-Hao Ma. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2024-04-17.

Defect detection in moving fiber-containing structures

Номер патента: EP4232802A1. Автор: Patrick Coffey,Michael IWANSKI. Владелец: Kuraray America Inc. Дата публикации: 2023-08-30.

Method and device for measuring plating ring assembly dimensions

Номер патента: US09891039B1. Автор: Sven Heiko Grünzig. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-02-13.

Methods and apparatus for determining the location of a shaft within a vessel

Номер патента: US20010052269A1. Автор: C.J. Fernando,Gregory Duckett,Michael Haw. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-12-20.

Method and apparatus for calibrating a display-coupled color measuring device

Номер патента: WO2009073558A1. Автор: Cormic K. Merle,Colman Shannon,Brian Levey,Michael H. Brill. Владелец: Datacolor Holding AG. Дата публикации: 2009-06-11.

Methods and apparatus for determining the location of a shaft within a vessel

Номер патента: US20020189378A1. Автор: C.J. Fernando,Gregory Duckett,Michael Haw. Владелец: Varian Inc. Дата публикации: 2002-12-19.

Method and system for color calibration of an imaging device

Номер патента: US12019239B2. Автор: Lei Zhang,Eric C. Browy,Jason Schaefer,Kazunori Tanaka,Marshall Charles Capps,Zhiheng Jia,John MONOS,Etienne Gregoire GROSSMANN,Robert Zito,Grace Vesom,Nicholas Ihle MORLEY,Nukul Sanjay SHAH,Miller Harry SCHUCK, III,Ohad Zohar. Владелец: Magic Leap Inc. Дата публикации: 2024-06-25.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Method and apparatus for measuring the shape of a wave-front of an optical radiation field

Номер патента: US09442006B2. Автор: Thomas OBERDOERSTER. Владелец: Berliner Glas KGaA Herbert Kubatz GmbH and Co. Дата публикации: 2016-09-13.

Method and device for measuring wavefront, and exposure method and device

Номер патента: US20190219451A1. Автор: Katsura Otaki,Takashi Gemma,Katsumi Sugisaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Gap measurement device and gap measurement method

Номер патента: EP3370035A1. Автор: Takahiro Kubota,Takuya Goto,Yuichi Sasano,Kei Yoshitomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-09-05.

Separation measurement method and separation measurement device

Номер патента: US09714823B2. Автор: Andreas MÜLLER,Peter POLESKY,Katrin TRITSCH,Rolf-Dieter Woitscheck. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2017-07-25.

Surface shape measurement method, surface shape measurement device, and belt management method

Номер патента: EP4421004A1. Автор: Seiji Enoeda,Yoshiaki Nishina,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Method and device for determining a characteristic value that is representative of the condition of a gas

Номер патента: AU2003287960A1. Автор: Kees C. J. M. N. Brekelmans,Jan Willem J. W. Van Rijswijk. Владелец: EMERSON ELECTRIC CO. Дата публикации: 2004-05-04.

Method and measuring device for determining specific parameters for gas properties

Номер патента: RU2690099C2. Автор: Филипп ПРЕТР. Владелец: Мемс Аг. Дата публикации: 2019-05-30.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method and substrate polishing device

Номер патента: US20240353344A1. Автор: Keita Yagi,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Taro Takahashi,Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Method and device for measuring optical thickness

Номер патента: US20240377186A1. Автор: Christoph Dietz,Stephan Weiss,Tobias Beck,Philipp Nimtsch. Владелец: PRECITEC OPTRONIK GMBH. Дата публикации: 2024-11-14.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20230273017A1. Автор: Masahiro Hato,Seiichi OHMORI,Tomohiko Shiota. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Curved battery cell thickness measuring device including low measuring pressure calipers and curved battery cell thickness measuring method using same

Номер патента: EP4450915A1. Автор: Min Jung Kim,Dong Hun SONG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US09746322B2. Автор: Dorian Cretin. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Electronic component thickness measurement method, method for manufacturing a series of electronic components using the measurement method, a series of electronic components manufactured by the manufacturing method, and electronic component inspection apparatus

Номер патента: US09404732B2. Автор: Yoshinao Nishioka,Masayoshi HARUKI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Thickness measurement device

Номер патента: US20230218273A1. Автор: Yoshio Arai,Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Paint thickness measuring device and computer-implemented method for measuring paint thickness

Номер патента: WO2023043379A3. Автор: LIN Ke,HONG Liu,Nan Zhang,Qing Yang Steve Wu,Chun Yong Andrew NGO,Hai Sheng Leong,Sergey GORELIK. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-06-01.

Paint thickness measuring device and computer-implemented method for measuring paint thickness

Номер патента: WO2023043379A2. Автор: LIN Ke,HONG Liu,Nan Zhang,Qing Yang Steve Wu,Chun Yong Andrew NGO,Hai Sheng Leong,Sergey GORELIK. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-03-23.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US09841272B2. Автор: Hideyuki Aikyo,Hideyuki Ohtake,Jun Takayanagi,Atsuo Nabeshima,Yasunari Fujisawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Measuring method

Номер патента: US20230243639A1. Автор: Yasukuni NOMURA. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Paint thickness measuring device and computer-implemented method for measuring paint thickness

Номер патента: US20240271927A1. Автор: LIN Ke,HONG Liu,Nan Zhang,Qing Yang Steve Wu,Chun Yong Andrew NGO,Hai Sheng Leong,Sergey GORELIK. Владелец: Agency for Science Technology and Research Singapore. Дата публикации: 2024-08-15.

Thickness measurement device and method for measuring thickness of first layer of plant leaf

Номер патента: US20220282966A1. Автор: Yukihiro Takahashi,Tumendemberel BEGZSUREN. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2022-09-08.

Wafer thickness measurement device and method for same

Номер патента: EP4431866A1. Автор: Kazuhiko Tahara,Ryo USAKI. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2024-09-18.

Defect detection device, defect detection method, and defect observation apparatus including defect detection device

Номер патента: US11982631B2. Автор: Kazuo Aoki,Shunichi Matsumoto,Yuta Urano,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

Substrate inspection system, substrate inspection method and recording medium

Номер патента: US20200386538A1. Автор: Hiroshi Nakamura,Toyohisa Tsuruda,Yasuaki Noda. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-12-10.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Deterioration state estimation device, deterioration state estimation method, and program

Номер патента: EP4397986A1. Автор: Juichi Arai,Hiroshi Imoto,Ken Ogata. Владелец: Terawatt Technology KK. Дата публикации: 2024-07-10.

Deterioration state estimation device, deterioration state estimation method, and program

Номер патента: US20240210488A1. Автор: Juichi Arai,Hiroshi Imoto,Ken Ogata. Владелец: Terawatt Technology KK. Дата публикации: 2024-06-27.

Contactless film thickness measuring device for plastic film blowing machine

Номер патента: EP3964347A1. Автор: Jui-Chien Yang. Владелец: Nano Trend Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-03-09.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US8988668B2. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-03-24.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US20140192349A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-07-10.

Film Thickness Measurement Device and Method

Номер патента: US20240044637A1. Автор: Soichi Oka,Azusa Ishii,Yurina Tanaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Method and apparatus for using cepstrum and wavelet based algorithms for wall thickness measurement

Номер патента: US09851201B2. Автор: Michael A. Davis,Mark A. Foss. Владелец: Cidra Corporated Services LLC. Дата публикации: 2017-12-26.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: US20210354262A1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Tobacco leaf thickness measurement method and device

Номер патента: LU505074B1. Автор: Ke Zhang,Xiaowei Zhang,Jie Long,Yukui Li,Jiwu Zhang,Ling Xia,Yunfang ZHANG,Xingyi DUAN,Haowei Sun,Da Zong,Yueting Huang,Zhouzhou Li,Xiaolei Gai. Владелец: Yunnan Tobacco Quality Supervision And Testing Station. Дата публикации: 2024-03-11.

Method and apparatus for remote detection and thickness measurement of solid or liquid layer

Номер патента: WO1995020771A1. Автор: Robert E. Gagnon. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 1995-08-03.

Methods and systems for semiconductor structure thickness measurement

Номер патента: US20210295496A1. Автор: Olmez Fatih. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Thickness measurer for metal sheet and relative measuring method

Номер патента: EP2277003A1. Автор: Lorenzo Ciani. Владелец: DANIELI AUTOMATION SPA. Дата публикации: 2011-01-26.

Thickness measurer for metal sheet and relative measuring method

Номер патента: WO2009121916A1. Автор: Lorenzo Ciani. Владелец: DANIELI AUTOMATION SPA. Дата публикации: 2009-10-08.

Thickness measuring apparatus, thickness measuring method, and wet etching apparatus and wet etching method utilizing them

Номер патента: EP1258916A1. Автор: Hidenori Takahashi,Teruo c/o Hamamatsu Photonics K.K. TAKAHASHI,Motoyuki C/O Hamamatsu Photonics K.K. Watanabe. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2002-11-20.

Thickness measuring device

Номер патента: US12055378B2. Автор: Dong Woon Park,Hak Sung Kim,Gyung Hwan OH,Heon Su KIM. Владелец: Actro Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Testing device, testing method, and non-transitory storage medium storing testing program

Номер патента: US20240142495A1. Автор: Kosuke Fujii,Koichi Koyama. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Methods and systems for blown film thickness measurement

Номер патента: US12123700B2. Автор: Christopher J. Rother,David L. Hofeldt,Jay M. Krieger,Paul C. Thomas,Thomas J. STREY,Gregory J. McGill. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2024-10-22.

Coating thickness measuring instrument and methods

Номер патента: US09927233B2. Автор: Michael Carrington Sellars,Joseph J. Walker. Владелец: Elcometer Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Coating thickness measuring device

Номер патента: RU2647180C1. Автор: Гурам Николаевич Ахобадзе. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук. Дата публикации: 2018-03-14.

A method for calibrating the log thickness measurement device of a forest harvester and an apparatus for measuring the diameter of a tree

Номер патента: WO2024033571A1. Автор: Pasi Kuosmanen. Владелец: Pjk Forest Tech Oy. Дата публикации: 2024-02-15.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US20230341224A1. Автор: Takeshi Tamura,Tomohiro Kaneko,Munehisa Kodama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Target material thickness measuring apparatus

Номер патента: US09778024B2. Автор: Liang Peng,Daeyoung Choi,Deyong Wang,Yefa Li,Congqi Zheng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Device and method (versions) for slag thickness measuring

Номер патента: RU2604543C2. Автор: Мишель ДЮССЮ,Фабьен ДЕЖАН. Владелец: Авемис С.А.С.. Дата публикации: 2016-12-10.

Optical film thickness measurement method, film formation method, and semiconductor laser fabrication method

Номер патента: US5724145A. Автор: Takeo Kaneko,Katsumi Mori,Takayuki Kondo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 1998-03-03.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method, and film forming system and film forming method

Номер патента: US11939665B2. Автор: Naoyuki Suzuki,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,Tamaki Takeyama,Hiroaki Chihaya,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Plating apparatus and film thickness measuring method for substrate

Номер патента: US11906299B2. Автор: Masaki Tomita,Masaya Seki,Shao Hua CHANG. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Thickness measuring device

Номер патента: US20140268182A1. Автор: Cheng-Hsin Tsai. Владелец: JETEAZY SYSTEM CO Ltd. Дата публикации: 2014-09-18.

Thickness measuring device

Номер патента: US8953177B2. Автор: Cheng-Hsin Tsai. Владелец: JETEAZY SYSTEM CO Ltd. Дата публикации: 2015-02-10.

Defect detection device, defect detection method, and defect observation device

Номер патента: US11802841B2. Автор: Yuji Takagi,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Film-thickness measuring method and film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20230204342A1. Автор: Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2023-06-29.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US8885173B2. Автор: Motoyuki Watanabe,Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-11-11.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20170307358A1. Автор: Yoshio MOTOWAKI. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Film thickness measuring apparatus, film thickness measuring method and wafer polishing system measuring a film thickness in conjunction with a liquid tank

Номер патента: US5657123A. Автор: Osamu Endo,Katsumi Mogi. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 1997-08-12.

Optical film thickness measuring device and thin film forming apparatus using the optical film thickness measuring device

Номер патента: US20140016139A1. Автор: Kenji Ozawa,Yousong Jiang,Kyokuyo Sai. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-16.

Apparatus for real-time non-contact non-destructive thickness measurement using terahertz wave

Номер патента: US09541377B1. Автор: Dae-Su Yee,Ji Sang Yahng. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-01-10.

Ultrasonic thickness measuring apparatus and method

Номер патента: US4398421A. Автор: Dennis A. White. Владелец: Hartford Steam Boiler Inspection and Insurance Co. Дата публикации: 1983-08-16.

Ultrasonic thickness measuring apparatus and method

Номер патента: CA1176367A. Автор: Dennis A. White. Владелец: BOILER INSPECTION AND INSURANCE Co OF CANADA. Дата публикации: 1984-10-16.

Film thickness measuring device with signal averaging to compensate for roller eccentricity

Номер патента: US4748331A. Автор: Yoshiaki Ida,Toshishige Nagao,Masayuki Ariki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1988-05-31.

Resonance method of ultrasonic thickness measurement

Номер патента: RU2664785C1. Автор: Владимир Климентьевич Качанов,Игорь Вячеславович Соколов,Сергей Владимирович Лебедев,Сергей Анатольевич Федоренко. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "МЭИ" (ФГБОУ ВО "НИУ "МЭИ"). Дата публикации: 2018-08-22.

Development of film thickness measuring device with configuration of ball-on-cup for simulating artificial joint lubrication

Номер патента: NL2029676B1. Автор: Guo Feng,LI Xinming,YANG Shuyan,Song Luping. Владелец: Univ Qingdao Technology. Дата публикации: 2022-10-21.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20180045506A1. Автор: Katsuichi Kitagawa,Masafumi Otsuki. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Thickness measurement system

Номер патента: US20240003669A1. Автор: Mete Bakir,Abdullah GOZUM,Elif Gaye ERKI,Oguzhan AKGOL. Владелец: Tusas Turk Havacilik Ve Uzay Sanayii AS. Дата публикации: 2024-01-04.

Method and device for measuring the thickness of a metal deposit on an insulating support

Номер патента: GB1310167A. Автор: . Владелец: Cellophane SA France. Дата публикации: 1973-03-14.

Method and device for determining whether or not a single use mold is acceptable

Номер патента: EP3672789A1. Автор: Thomas Tonn. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2020-07-01.

Defect detection device, defect detection method, wafer, semiconductor chip, semiconductor device, die bonder, bonding method, semiconductor manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: MY202139A. Автор: Haruka TAI,Atsumasa Kambayashi. Владелец: Canon Machinery Inc. Дата публикации: 2024-04-05.

Methods, apparatuses and systems for conductive film layer thickness measurements

Номер патента: WO2019245780A1. Автор: Kun Xu,Kai Wu,Paul Ma,Todd J. Egan,Peiqi Wang,Edward Budiarto,Wei Min Chan. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2019-12-26.

Halfway cutter changing method for large-area microstructure cutting based on in-situation film thickness measurement

Номер патента: US20200023441A1. Автор: Li Jiao,Jia Zhou,Zhiqiang Liang,Zhibing Liu,Lijing Xie,Xibin Wang,Tianfeng ZHOU,Benshuai RUAN,Longlong TANG,Pei YA N. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2020-01-23.

Fountain solution thickness measurement using phase shifted light interference in a digital lithography printing system

Номер патента: US20220203671A1. Автор: Paul J. McConville,Chu-heng Liu,Douglas K. Herrmann,Jason M. LeFevre,Seemit Praharaj. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2022-06-30.

Appliance for lubricating media boundary layers thickness measurement

Номер патента: RU2630545C1. Автор: Василий Геннадьевич Конесев,Фарит Наилович Янгиров,Артур Рамилевич Яхин,Дамир Фаткулбаянович Ибатуллин,Олег Борисович Трушкин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уфимский государственный нефтяной технический университет". Дата публикации: 2017-09-11.

Film thickness measurement device and method

Номер патента: CA2630129C. Автор: Yoshiyuki Saito,Takehito Yagi,Tsuyoshi Terauchi,Hidetoshi Takimoto. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2011-01-11.

Method and device for determining whether or not a single use mold is acceptable

Номер патента: US10933566B2. Автор: Thomas Tonn. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2021-03-02.

Method and apparatus for improved x-ray reflection measurement

Номер патента: WO2003040714A1. Автор: Gary Janik,Jeffrey Moore. Владелец: KLA-TENCOR TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2003-05-15.

Grain granulometry measurement system and method and calibration method for a grain granulometry measurement system

Номер патента: EP4300074A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200208962A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Coating thickness measurement system and method of measuring a coating thickness

Номер патента: US6052191A. Автор: Thomas H. Brayden, Jr.,Thomas D. Winters, Jr.. Владелец: Northrop Grumman Corp. Дата публикации: 2000-04-18.

Film thickness measuring apparatus employing microprojector of spectral reflection measurement

Номер патента: US4673294A. Автор: Nobuo Adachi,Yoshihiro Mochida,Ichiro Shirahama. Владелец: Orc Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1987-06-16.

Thickness measurement gauge

Номер патента: US5666394A. Автор: Frank R. Swanson, deceased. Владелец: Northrop Grumman Corp. Дата публикации: 1997-09-09.

Thickness measurement system and method

Номер патента: US20200091013A1. Автор: Yan-Hong Liu,Che-Fu Chen,Chien-Chih Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

Optical fiber length measurement method and apparatus

Номер патента: US09945659B2. Автор: FAN He,Jian Yin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Thickness measurement

Номер патента: GB2321709A. Автор: David Snell,Junzheng Cao,Gholan Hussein Shirkoohi,Philip Beckley,Hugh John Stanbury. Владелец: British Steel PLC. Дата публикации: 1998-08-05.

Method and apparatus for using cepstrum and wavelet based algorithms for wall thickness measurement

Номер патента: US20130247673A1. Автор: Michael A. Davis,Mark A. Foss. Владелец: Cidra Corporated Services LLC. Дата публикации: 2013-09-26.

X-ray fluorescence thickness measuring device

Номер патента: US4860329A. Автор: Murray Weiser,William Silverman,Zvi Landau,Paul Finer,Cary I. Pincus. Владелец: UPA Tech Inc. Дата публикации: 1989-08-22.

Thickness measurement device

Номер патента: US20230400294A1. Автор: Seohyeon JO,Daecheol LIM. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2023-12-14.

Measuring Method and Measuring Assembly

Номер патента: US20230009318A1. Автор: Andreas Isenmann,Clemens Hengstler,Florian Burgert. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2023-01-12.

Measuring Method and Measuring Assembly

Номер патента: US20240337572A1. Автор: Andreas Isenmann,Clemens Hengstler,Florian Burgert. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2024-10-10.

Aircraft engine rotor assembly method and device

Номер патента: US09724791B2. Автор: Lei Wang,Bo Zhao,Jiubin Tan,Chuanzhi SUN. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2017-08-08.

Tube wall thickness measurement

Номер патента: CA1169588A. Автор: Masami Shimizu,Asao Monno,Yutaka Funyu,Tadashi Okumura. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 1984-06-19.

Measuring system for non-destructive thickness measurement of electrically non-conductive coating on electrically conductive bodies

Номер патента: GB1406644A. Автор: I Szasz. Владелец: Paratronic Ag. Дата публикации: 1975-09-17.

Method for contactless capacitive thickness measurements

Номер патента: CA2689060C. Автор: Markus Stein,Stefan Konermann. Владелец: Plast Control GmbH. Дата публикации: 2012-10-23.

System and method for thickness measurement in tortilla production

Номер патента: US20210164773A1. Автор: Brian E. Bartlett,Douglas W. Cotton. Владелец: Premier Innovations LLC. Дата публикации: 2021-06-03.

Surgical tissue thickness measuring instrument

Номер патента: CA1148352A. Автор: Robert G. Rothfuss,Edwin L. Stith, Jr.. Владелец: Senco Products Inc. Дата публикации: 1983-06-21.

Wall thickness measuring head for non-metallic coatings

Номер патента: CA1037563A. Автор: Peter Murphy,Louis G. Millette,Georges M. Miller. Владелец: Northern Telecom Ltd. Дата публикации: 1978-08-29.

Coating thickness measurement instrument

Номер патента: US11946740B2. Автор: Alan James Dodd,Philip Anthony May,Simon Trevena Coulton,Maria Isabel Jimenez-Lopez. Владелец: Elcometer Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

System and method for thickness measurement in tortilla production

Номер патента: US20200318947A1. Автор: Brian E. Bartlett,Douglas W. Cotton. Владелец: Premier Innovations LLC. Дата публикации: 2020-10-08.

System and method for thickness measurement in tortilla production

Номер патента: US11236989B2. Автор: Brian E. Bartlett,Douglas W. Cotton. Владелец: Premier Innovations LLC. Дата публикации: 2022-02-01.

Method and apparatus for performing film thickness measurements using white light scanning interferometry

Номер патента: US20120218560A1. Автор: Ki-Nam JOO. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2012-08-30.

Coating thickness measurement instrument

Номер патента: US20220163315A1. Автор: Alan James Dodd,Philip Anthony May,Simon Trevena Coulton,Maria Isabel Jimenez-Lopez. Владелец: Elcometer Ltd. Дата публикации: 2022-05-26.

Probe assembly for a thickness-measuring arrangement

Номер патента: GB1361381A. Автор: . Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1974-07-24.

Lubrication film thickness measuring system and method

Номер патента: CA1304129C. Автор: Dennis W. Smith. Владелец: Honeywell Inc. Дата публикации: 1992-06-23.

Techniques for Using Oxide Thickness Measurements for Predicting Crack Formation and Growth History in High-Temperature Metallic Components

Номер патента: US20180340897A1. Автор: Ashok Saxena,Ralph E. Huneycutt, IV,Kee Bong Yoon. Владелец: University of Arkansas. Дата публикации: 2018-11-29.

Dual mode coating thickness measuring instrument

Номер патента: US20020008511A1. Автор: Colin Davies. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-24.

Thickness measuring apparatus and grinding apparatus including the same

Номер патента: US20200096318A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru,Taiki Sawabe. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

X-ray fluorescence analysis measurement method and x-ray fluorescence analysis measurement device

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Shinji Ishimaru. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Hardness measurement method, and fouling prevention method for hardness-measuring device

Номер патента: US10718746B2. Автор: Junichi Takahashi. Владелец: Kurita Water Industries ltd. Дата публикации: 2020-07-21.

Viscoelasticity measurement method and viscoelasticity measurement device

Номер патента: US12098989B2. Автор: Shinsuke Miura,Tsutomu Odagiri,Taku Nakamoto. Владелец: A&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Method and system for measuring fine bubble dispersion liquid

Номер патента: EP4336167A1. Автор: Takeshi Ohdaira. Владелец: Ohdaira Laboratory Co. Дата публикации: 2024-03-13.

Method and system for measuring fine bubble dispersion liquid

Номер патента: US20240295483A1. Автор: Takeshi Ohdaira. Владелец: Ohdaira Laboratory Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09733066B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-08-15.

Thickness measuring device

Номер патента: US11549796B2. Автор: Yu-Jen Chang,Chien-Ying Chen,Ken-Te Chou. Владелец: Teco Image Systems Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-10.

Thickness measuring device

Номер патента: US20220113123A1. Автор: Yu-Jen Chang,Chien-Ying Chen,Ken-Te Chou. Владелец: Teco Image Systems Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US10619179B2. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-14.

Surgical tissue thickness measuring instrument

Номер патента: US4312363A. Автор: Robert G. Rothfuss,Edwin L. Stith, Jr.. Владелец: Senco Products Inc. Дата публикации: 1982-01-26.

Formalization of retinal nerve fiber layer thickness measurements made by time domain-optical coherence tomography

Номер патента: WO2011063220A2. Автор: Hiroshi Ishikawa,Joel S. Schuman,Jong S. Kim,Gadi Wollstein. Владелец: University of Pittsburgh - of the Commonwealth System of Higher Education. Дата публикации: 2011-05-26.

Method for objective and accurate thickness measurement of thin films on a microscopic scale

Номер патента: US20030222215A1. Автор: Heiko Stegmann,Hans-Jürgen Engelmann,Quentin de Robillard,Holger Saage. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-04.

Non-destructive bond line thickness measurement of thermal interface material on silicon packages

Номер патента: US20210123729A1. Автор: Yu Luo,Hongqing Zhang,David J. Lewison,Jay A. Bunt,Joyce Molinelli Acocella. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Metrology system and measurement method using the same

Номер патента: US20170221739A1. Автор: Yi-Hung Lin,Ming-Hua Yu,Jet-Rung Chang,Ying-Chieh Hung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Measurement method and measurement device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test apparatus for coated metal material

Номер патента: US12066374B2. Автор: Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US20170218423A1. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Optical measurement method and device

Номер патента: US09739993B2. Автор: Louis Philippe Braitbart,Gabriel Y. Sirat. Владелец: Bioaxial SAS. Дата публикации: 2017-08-22.

Method and apparatus for detecting peripheral circuit of display screen, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20200380899A1. Автор: Xu Li,Yulin Xu,Minghao Liu,Jiangliang Guo,Yawei Wen,Jiabing Leng. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Defect detection method and defect detection device and defect observation device provided with same

Номер патента: US09759666B2. Автор: Masahiro Watanabe,Shunichi Matsumoto,Takehiro TACHIZAKI,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US09704237B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09541380B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-01-10.

Method and apparatus for remote thickness measurement of a sheet or layer

Номер патента: CA2179847C. Автор: Robert E. Gagnon. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 2006-04-18.

Method and diagram of device for radiographic control of macrostructure of axially symmetric annular welded joints of welded tubular elements

Номер патента: RU2700364C1. Автор: Сергей Владимирович Михайлов,Тенгиз Константинович Лобжанидзе,Андрей Семенович Декопов. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский институт технической физики и автоматизации" (АО "НИИТФА"). Дата публикации: 2019-09-16.

Method and apparatus for remote thickness measurement of a sheet or layer

Номер патента: CA2179847A1. Автор: Robert E. Gagnon. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 1996-12-27.

Thickness measurement of substrate using color metrology

Номер патента: US11776109B2. Автор: Dominic J. Benvegnu,Boguslaw A. Swedek,Nojan Motamedi,Martin A. JOSEFOWICZ. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4130652A1. Автор: Yosuke Muraki. Владелец: XTIA Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Maturity measurement method and maturity measurement device for glass fiber reinforced concretes

Номер патента: EP4386380A1. Автор: Muhammed Marasli,Serkan Subasi,Sefa Guntepe,Mert Cevirmen,Volkan Ozdal. Владелец: Fibrobeton Yapi Elemanlari Sanayi Insaat Ve Ticaret AS. Дата публикации: 2024-06-19.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: US12044778B2. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Defect detection method and apparatus for cushion layer of cable, device, and storage medium

Номер патента: US20240241168A1. Автор: Yang Yu,LIN Li,Fei Lu,Lei Yang,XIAOGUANG WANG,Wei Fan,Chi Zhang,Chunhui Zhang,Songyuan Li,Chun He,Weibo LI,Haoming Wang,Shengchen Fang,Pengxian Song,Qinghua Tang,Longji LI,Xuliang Zhu,Minghui Duan. Владелец: Electric Power Research Institute of State Grid Tianjin Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Dimension measurement device, dimension measurement method, and program

Номер патента: EP4403872A1. Автор: Toru Matsunobu,Masaki Fukuda. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Particle size distribution measurement device, particle size distribution measurement method, and program for particle size distribution measurement device

Номер патента: US20240310264A1. Автор: Tetsuji Yamaguchi. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Measuring device and method for measuring multi-grade portable articles for tobacco industry

Номер патента: RU2684388C2. Автор: Роберт СТАНИКОВСКИЙ. Владелец: Интернэшнл Тобакко Машинери Поланд Сп. з о.о.. Дата публикации: 2019-04-08.

Total organic carbon measurement method and total organic carbon measurement device

Номер патента: US20230011100A1. Автор: Masahito Yahata,Yoshiaki Nieda. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20220375066A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Light measurement apparatus for reaction vessel and light measurement method

Номер патента: US09556477B2. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2017-01-31.

Defect inspection device, defect inspection method, and program, and printing device and method of manufacturing printed matter

Номер патента: US20230103391A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-06.

Dispositioning defects detected on extreme ultraviolet photomasks

Номер патента: WO2020061241A1. Автор: Masaki Satake,Weston Sousa,Vikram Tolani. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2020-03-26.

Brake dust measurement device, brake dust measurement method, and brake dust measurement program instructions

Номер патента: US20240035934A1. Автор: Yoshinori Otsuki,Joel Danzer,Dmytro Lugovyy. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Quality measurement method and quality measurement device for long sheet material

Номер патента: US20210223171A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-07-22.

Methods and apparatuses for microscopy and spectroscopy in semiconductor systems

Номер патента: WO2023034532A1. Автор: Trevor A. NORMAN,Robert Mamazza,Francisco Xavier MACHUCA. Владелец: Axiomatique Technologies, Inc.. Дата публикации: 2023-03-09.

Surface property measuring method and surface property measuring device

Номер патента: US20200132429A1. Автор: Tatsuki Nakayama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Quality measuring method and quality measuring device for long sheet material

Номер патента: EP3805733A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-04-14.

Impurity measuring device

Номер патента: US6190520B1. Автор: Makiko Tamaoki,Yumi Sasaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-02-20.

Electrical characteristic measurement apparatus, electrical characteristic measurement system, electrical characteristic measurement method, and program for electrical characteristic measurement for causing computer to implement the method

Номер патента: US20180031503A1. Автор: Isao Hidaka. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-01.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and program

Номер патента: US20200386537A1. Автор: Akira Nishiyama. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2020-12-10.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and program

Номер патента: US11156451B2. Автор: Akira Nishiyama. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2021-10-26.

Inner layer measurement method and inner layer measurement device

Номер патента: US09977229B2. Автор: Hirotoshi Oikaze,Yohei Takechi,Yasuhiro Kabetani,Tomotaka Furuta. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Measurement method and device, for determining degree of engine oil dilution by FAME

Номер патента: US09829476B2. Автор: Kay Kian Hee,Kamaruddin Kudumpor,Beverly Kah Waynee,Siti Norbaria Sally Bt. Pick Thall Tan,Aaron Willinton William. Владелец: Yanmar Malaysia. Дата публикации: 2017-11-28.

Measuring device, measuring method, and computer program product

Номер патента: US09513114B2. Автор: Satoshi Ito,Ryuzo Okada,Hideaki Uchiyama,Masaki Yamazaki,Akihito Seki,Yuta Itoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Shape measuring method and shape measureing device

Номер патента: US09506748B2. Автор: Yoshitaka Ohta. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Method and device for measuring longitudinal forces applied to couplers of freight trains

Номер патента: RU2742528C1. Автор: Максим Юрьевич Кейно. Владелец: Максим Юрьевич Кейно. Дата публикации: 2021-02-08.

Method and device to determine characteristic ratio and parameter affecting said ratio for multiphase fluid

Номер патента: RU2426978C2. Автор: Жилль РУ,Филипп ШЕВАЛЬЕ. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Бв. Дата публикации: 2011-08-20.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Measuring device, measuring method, and program

Номер патента: EP4394355A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka,Hidehito SATO. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-03.

Chain intelligent pretension and chain length detection method and device

Номер патента: US20210041224A1. Автор: Bin Ye,Bin Sun,Lili Wang,Hongjun Wang,Jiguang LU,Jiancong Zhang,Bihua XUAN. Владелец: Hangzhou Donghua Chain Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-11.

Apparatus, method and computer program product for defect detection in work pieces

Номер патента: EP4354162A3. Автор: Carl Truyens,Tom Marivoet,Christophe Wouters. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2024-07-17.

THz MEASURING AND THz MEASURING DEVICE FOR MEASURING A CORRUGATED PIPE

Номер патента: US20230194243A1. Автор: Jan Hendrik Petermann. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-06-22.

Methods of imaging path polarization control for defect detection sensitivity enhancement

Номер патента: WO2024220335A1. Автор: Rui-Fang Shi,Xin Ye,Heng Zhang,Yun XIE. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-10-24.

Method and device for measuring quality of compounds in articles of tobacco industry

Номер патента: RU2684502C2. Автор: Михаэль РИДЕЛЬ. Владелец: Интернэшнл Тобакко Машинери Поланд Сп. з о.о.. Дата публикации: 2019-04-09.

Analytical method and apparatus

Номер патента: US20020023849A1. Автор: Pankaj Vadgama,Ian Christie. Владелец: Sensalyse Holdings Ltd. Дата публикации: 2002-02-28.

Method and device for indication and function control of a screw joint

Номер патента: EP3676559A1. Автор: Magnus Gustafsson. Владелец: Ledarskruv AB. Дата публикации: 2020-07-08.

Method and device for indication and function control of a screw joint

Номер патента: WO2019045627A1. Автор: Magnus Gustafsson. Владелец: Aktiebolaget Ledarskruv. Дата публикации: 2019-03-07.

Battery failure detection device, method, and system

Номер патента: EP4459268A1. Автор: Jung Han Kim,Tae Jin Noh,Eun Gyu YI. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Water absorption test method and water absorption test device for concrete surface

Номер патента: US09459192B2. Автор: Kazuhiko Hayashi,Akira Hosoda. Владелец: Yokohama National University NUC. Дата публикации: 2016-10-04.

Capacitance measurement method and its application

Номер патента: RU2564516C2. Автор: Йоаким ЛАРССОН,Бо МАТТИАССОН,Мартин ХЕДСТРЕМ,Даг ЭРЛАНДССОН. Владелец: КапСензе ХБ. Дата публикации: 2015-10-10.

Method and apparatus for improved x-ray reflection measurement

Номер патента: US20030086533A1. Автор: Gary Janik,Jeffrey Moore. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2003-05-08.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4394354A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-03.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Method and device for automatically measuring transfer and handoff platform on drive chip

Номер патента: US20190078874A1. Автор: Guanghui Zhang. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-14.

Device for measuring physicochemical properties of a deformable matrix, implementation method and uses

Номер патента: CA3178231A1. Автор: Antoine Lejeune,Tiphaine Lucas,David Grenier,Yves Diascorn. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-11-28.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: US20070120079A1. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: E>C>H> WILL GmbH. Дата публикации: 2007-05-31.

Measuring device, measuring system, measuring method, and program

Номер патента: US20240272036A1. Автор: Yosuke Takeuchi,Yosuke Okamura,Hisatoshi KASAHARA,Junichiro Tamamatsu. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Measuring device and method for verifying the cut quality of a sheet using image scanning

Номер патента: US7473920B2. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: ECH Will GmbH and Co. Дата публикации: 2009-01-06.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: US20240353386A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Electronic emulation of material impedance for standardization and calibration of electromagnetic measuring device

Номер патента: US09805146B2. Автор: Frank H. Lipowitz. Владелец: TransTech Systems Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Method and apparatus for determining the edge strength of plate-shaped elements made of brittle-fracture material

Номер патента: US09664603B2. Автор: Clemens Ottermann,Kurt Nattermann,Markus Heiss-Chouquet. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2017-05-30.

Fibre concentration ratio measuring method and related device for implementation thereof

Номер патента: RU2362989C2. Автор: Бенгт ОКЕРБЛОМ. Владелец: Дапрокс Аб. Дата публикации: 2009-07-27.

Method and device for scanning flaw detection of internal protective-insulating coatings of pipelines

Номер патента: RU2702408C1. Автор: Анатолий Николаевич Наянзин. Владелец: Анатолий Николаевич Наянзин. Дата публикации: 2019-10-08.

Methods and systems for calibration and use of camera for determination of analyte in sample

Номер патента: RU2754208C1. Автор: Бернд ЛИМБУРГ,Макс БЕРГ,Фредрик ХАЙЛЕР. Владелец: Ф. Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2021-08-30.

Yarn defect detecting device and method and yarn winding machine

Номер патента: EP2644552A3. Автор: Masato Nakai,Satoshi Kawabata. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2014-04-23.

Oxytocin purifying method and measuring method and kit

Номер патента: US20240230684A9. Автор: Masaaki Kojima,Fumie AKUTSU. Владелец: Fujifilm Wako Pure Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Methods and devices for calibrating and/or monitoring optical measurement devices

Номер патента: EP4372366A3. Автор: David Opalsky,Byron J. Knight,George T. Walker,Norbert Hagen. Владелец: Gen Probe Inc. Дата публикации: 2024-07-24.

Method for localising patterns in a signal of a position sensor, and position sensor or position measuring device using the method

Номер патента: US20240133721A1. Автор: Zoltán Kántor,Attila Szabo,Tobias KÖNIG. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2024-04-25.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Method and apparatus for determining the cell activation of a target cell by an activator

Номер патента: US20100035277A1. Автор: Yan Shi,Matthias Amrein. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-02-11.

Method and measuring device for detecting measurement signals

Номер патента: US20240230490A1. Автор: Tanja Haas,Henry Thiele. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2024-07-11.

Method and apparatus for determining the cell activation of a target cell by an activator

Номер патента: US9018018B2. Автор: Yan Shi,Matthias Amrein. Владелец: Jpk Instruments Ag. Дата публикации: 2015-04-28.

Method for measuring outflow rate of water molecules across cell membranes, uses of outflow rate of water molecules across cell membranes, and method and system for measuring glioma magnetic resonance imaging markers

Номер патента: EP4455654A1. Автор: Yingchao LIU,Ruiliang Bai,Guangxu Han,Yinhang Jia. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-10-30.

Aero engine rotor assembling method and device based on concentricity and verticality measurement

Номер патента: US09709392B2. Автор: Lei Wang,Bo Zhao,Jiubin Tan,Chuanzhi SUN. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2017-07-18.

Density measuring device and method of measurement

Номер патента: RU2182703C2. Автор: Андерс УЛЛЬБЕРГ,Рагнар КУЛЛЕНБЕРГ. Владелец: Рагнар КУЛЛЕНБЕРГ. Дата публикации: 2002-05-20.

Atmosphere optical characteristics measuring method

Номер патента: RU2674560C1. Автор: Андрей Николаевич Павлов,Евгений Сергеевич Зубко,Олег Григорьевич Константинов. Владелец: Олег Григорьевич Константинов. Дата публикации: 2018-12-11.

Electrodeposition characteristic measuring device, evaluation method, and control method

Номер патента: US20050023143A1. Автор: Kenichi Nobuto,Toyoto Nakaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Method and apparatus for determining gas flux

Номер патента: WO2011130320A3. Автор: Tyler G. Anderson,George Burba,Dayle Mcdermitt,Anatoly Komissarov,Liukang Xu,Bradley A. Riensche. Владелец: LI-COR, INC.. Дата публикации: 2012-02-23.

Management method, measuring method, measuring device, crystal oscillator sensor, and set

Номер патента: US20220326184A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-10-13.

Ventilation measurement devices, methods and computer program product

Номер патента: EP3270782A2. Автор: Arne LAUGSTØL. Владелец: Sweetzpot As. Дата публикации: 2018-01-24.

Trailer angle measurement method and device, and vehicle

Номер патента: AU2019399430A1. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Electrodeposition characteristic measuring device, evaluation method, and control method

Номер патента: EP1503169A3. Автор: Kenichi Nobuto,Toyoto Nakaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-18.

Electrodeposition characteristic measuring device, evaluation method, and control method

Номер патента: US20050023142A1. Автор: Kenichi Nobuto,Toyoto Nakaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Two-dimensional photoelectric autocollimation method and device based on wavefront measurement and correction

Номер патента: US12055710B2. Автор: Yang Yu,Jian Shi,Jiubin Tan. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-08-06.

Overlay measurement device and method and method of forming overlay pattern

Номер патента: US20160025484A1. Автор: Kwang-sub Yoon,Tae-Sun Kim,Jae-Kyung Seo,Bum-Joon Youn,Ki-Man Lee,Bi-Zheng WANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-01-28.

Cross-Instrument Method and System for Cell Population Discrimination

Номер патента: US20170010204A1. Автор: Cheng Qian,John S. Riley,William H. Gutierrez. Владелец: Beckman Coulter Inc. Дата публикации: 2017-01-12.

Cross-instrument method and system for cell population discrimination

Номер патента: EP2404156A1. Автор: Cheng Qian,John S. Riley,William H. Gutierrez. Владелец: Beckman Coulter Inc. Дата публикации: 2012-01-11.

Method and System for the Analysis of Biological Material and Use of Such a System

Номер патента: US20240264103A1. Автор: Rebekka Taubmann. Владелец: Netzsch Geraetebau GmbH. Дата публикации: 2024-08-08.

Defect Detection Method and System Using High Frequency Waves

Номер патента: US20240219355A1. Автор: Saber NASRAOUI,Moez LOUATI,Mohamed Salah GHIDAOUI,Georgios GRIGOROPOULOS. Владелец: Hong Kong University of Science and Technology HKUST. Дата публикации: 2024-07-04.

Information processing apparatus, information processing method, and information processing program

Номер патента: US20230184538A1. Автор: Kazunori Kamio,Toshiyuki Sasaki,Satoshi Kawata,Yuta Sakurai. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Pretreatment method for nitrogen and oxygen isotope measurement with chemical conversion method and measurement method

Номер патента: AU2020312536A1. Автор: FANG Yang,Ning An,Wenjuan Ma,Runyu Zhang,Jianyang Guo,Fengchang Wu,Weiying FENG,Haiqing Liao,Rui CEN. Владелец: CHINESE RESEARCH ACADEMY OF ENVIRONMENTAL SCIENCES. Дата публикации: 2022-03-10.

Method and device for measuring concentration of substance in fluid

Номер патента: US09970894B2. Автор: Jie Han,Yiping Han,Lijun Shen,Ray Xie. Владелец: Sunvou Medical Electronics Co ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Height measuring device

Номер патента: US09964400B1. Автор: Mark Conrad Jones. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-08.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09933404B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-04-03.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09915636B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-03-13.

Signal processing device of scanning-type distance measurement device, signal processing method, and scanning-type distance measurement device

Номер патента: US09797711B2. Автор: Kazuo Takai,Tsuyoshi Hosoda. Владелец: Hokuyo Automatic Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Cross-instrument method and system for cell population discrimination

Номер патента: US09464978B2. Автор: Cheng Qian,John S. Riley,William H. Gutierrez. Владелец: Beckman Coulter Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Method and apparatus for in-line control of dimensions of industrial products

Номер патента: RU2768110C2. Автор: Лоран КОСНО,Оливье КОЛЛЬ. Владелец: Тиама. Дата публикации: 2022-03-23.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: CA3218147A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2022-11-10.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: CA3224131A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2023-01-05.

Tunnel excavator, measurement method, and measurement system

Номер патента: EP3951135A1. Автор: Shinichi Terada,Rui Fukui,Eiichi MORIOKA,Yudai YAMADA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-02-09.

Tunnel boring machine, measurement method, and measurement system

Номер патента: US20220220849A1. Автор: Shinichi Terada,Rui Fukui,Eiichi MORIOKA,Yudai YAMADA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-07-14.

Tunnel boring machine, measurement method, and measurement system

Номер патента: AU2020282990A1. Автор: Shinichi Terada,Rui Fukui,Eiichi MORIOKA,Yudai YAMADA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2021-11-25.

Particle measuring method, sample processing method, and particle imaging apparatus

Номер патента: US20190178782A1. Автор: Yusuke Konishi,Takanori Maekawa. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Measuring device, measurement station, production line and measuring method for measuring the distance projected in a preferred direction between a measurement plane and a measurement area

Номер патента: US20030061724A1. Автор: Lothar Mueller,Manfred Bodenmueller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2003-04-03.

Film thickness measurement method, epitaxial wafer production process and epitaxial wafer

Номер патента: US20090305021A1. Автор: Kazuhiro Ohkubo. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2009-12-10.

Paste transfer unit, electronic component mounting device, and transferred film thickness measuring method

Номер патента: US9285204B2. Автор: Masanori Ikeda,Masahiro Taniguchi,Michinori Tomomatsu,Satoshi Furuichi,Yousuke Hassaku. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-15.

Measuring method of volumetric flow rate of conducting fluids through vessel

Номер патента: RU2488779C2. Автор: Томас КЕЛЕР,Уве ЛАНГ,Колин ХЕНДЕРСОН,Штефан ХОТЕР,Стив БУКБИНДЕР. Владелец: Брита Гмбх. Дата публикации: 2013-07-27.

Method and system for measuring electromagnetic field and antenna parameters under temperature effects on measurement object

Номер патента: RU2766055C1. Автор: Станислав Константинович Крылов,Максим Сергеевич Милосердов. Владелец: Станислав Константинович Крылов. Дата публикации: 2022-02-07.

Defect coordinates measurement device, defect coordinates measurement method, mask manufacturing method, and reference mask

Номер патента: US9638739B2. Автор: Haruhiko Kusunose,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Water level measuring method and device

Номер патента: US20120174666A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F RUIJTENBERG HOLDING BV. Дата публикации: 2012-07-12.

Water level measuring method and device

Номер патента: WO2011016715A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F. RUIJTENBERG HOLDING B.V.. Дата публикации: 2011-02-10.

Acoustic pulse-echo wall thickness method and apparatus

Номер патента: CA1175545A. Автор: Norman E. Flournoy. Владелец: Texaco Development Corp. Дата публикации: 1984-10-02.

Froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method, and flotation device and flotation method using froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method

Номер патента: AU2020284965A1. Автор: Jun Sugihara. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2021-12-16.

Froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method, and flotation device and flotation method using froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method

Номер патента: CA3141290A1. Автор: Jun Sugihara. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2020-12-03.

Mode field diameter measuring method and mode field diameter measuring device

Номер патента: US20240183746A1. Автор: Atsushi Nakamura,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

Oil tank measurement method and system based on laser point cloud analysis

Номер патента: NL2028854A. Автор: LI Cunjun,HAO Huadong,CHEN Xianlei,REN Feiming,SHI Haolei,WU Zenan. Владелец: Zhoushan Institute Of Calibration And Testing For Quality And Tech Supervision. Дата публикации: 2021-09-16.

Induction cooker temperature measuring method and device and readable storage medium

Номер патента: EP3693668A1. Автор: Wei Chen,Shuai Wang,Zhao Wang,Xiaohui Li,Shaohua HE. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Power coupling coefficient measuring method and power coupling coefficient measuring device

Номер патента: US20230288287A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Tomokazu Oda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Three-dimensional measuring method and surveying system

Номер патента: US09958268B2. Автор: Fumio Ohtomo,Kazuki Osaragi,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Battery power measuring method, measuring device and battery-powered equipment

Номер патента: US09645200B2. Автор: Feng Yu,Xiaodong Huang,Hejinsheng Cao. Владелец: Hangzhou Silergy Semiconductor Technology LTD. Дата публикации: 2017-05-09.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200217641A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Measurement Device, Measurement Method, and Storage Medium

Номер патента: US20220373580A1. Автор: Hiroki Kobayashi,Shinya Takiguchi. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Capacitance value measurement method and device

Номер патента: US20190064240A1. Автор: Yongqian Li,Xuehuan Feng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Distance measuring device, distance measuring method, and speed measuring device

Номер патента: US12025705B2. Автор: Hiroshi Kubota,Nobu Matsumoto. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Base station antenna and measurement method and measurement device for azimuth angle thereof, medium, and base station

Номер патента: EP4386418A1. Автор: Jinye HE,Shangmin CHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Method and device of measuring breakdown status of equipment

Номер патента: US20170146432A1. Автор: Sen-Chia Chang,Tsung-Jung Hsieh,Yao-Chung HSU. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-05-25.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20240280628A1. Автор: Shigeru Nakajima,Takuma Hara,Tatsuya Ohguro,Katsura Miyashita,Yasuhisa OOMURO. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Distance measuring device, distance measuring system, distance measuring method, and program

Номер патента: US12013459B2. Автор: Shigeru Saitou,Motonori Ishii,Shinzo Koyama,Masato Takemoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Angle measuring device, angle measuring method, and in-vehicle device

Номер патента: US12032053B2. Автор: Kei Suwa,Satoshi KAGEME,Yu Shimizu. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Temperature measurement device, temperature measurement method, and temperature attenuation measurement method

Номер патента: US20230296447A1. Автор: Takashi Nonaka,Takahiro Okabe,Shigenao Maruyama,Toshinori Nakajima,Masaya Higashi,Yasushi Hosokawa,Manabu Orito,Yuya Iseki,Takuma Kogawa,Yutaro Tabata,Tadashi Matsudate. Владелец: Semitec Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: US20190163200A1. Автор: Masahiro Kato. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Radio electronic equipment components dielectric coating continuity defects detection and elimination method

Номер патента: RU2664784C1. Автор: Сергей Анатольевич Попов,Александр Владимирович Батраков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт сильноточной электроники Сибирского отделения Российской академии наук (ИСЭ СО РАН). Дата публикации: 2018-08-22.

Three-dimensional measuring method and system

Номер патента: US20020118274A1. Автор: Akira Yahashi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-29.

System, method and device for tracking characteristics of fire-fighting, smoke-fighting, thermal or anti-water barrier device

Номер патента: RU2755460C2. Автор: Лукас АКЕРМАН,Акил КЕДЖРИВАЛ. Владелец: Хильти Акциенгезельшафт. Дата публикации: 2021-09-16.

Control method and device of equipment energy efficiency parameters

Номер патента: RU2534457C2. Автор: Минмин ЛЮ,Яньни МЭН,Линцяо ТЕН,Юаохан ЧЖОУ,Шуван ВЭЙ. Владелец: ЗетТиИ Корпорейшн. Дата публикации: 2014-11-27.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: US20200103234A1. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP3637054A1. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Frequency measuring method and frequency measuring device

Номер патента: EP3715875A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Wet Gas Flow Measuring Method and Apparatus

Номер патента: US20150247749A1. Автор: Jige Chen. Владелец: LANZHOU HAIMO TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-03.

Distance measuring device, distance measuring method, and distance measuring sensor

Номер патента: US20240264307A1. Автор: Yutaka Nakada. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Measurement device, measurement method, and recording medium

Номер патента: US20240248114A1. Автор: Naoya Matsumoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4403876A1. Автор: Naoya Matsumoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US09995825B2. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Method and device for predicting the service cycle of the splice

Номер патента: RU2747611C2. Автор: Доуглас С. ХИРШ,Мичаел МУЭХЛЕМАНН. Владелец: Смарткабле, Ллц. Дата публикации: 2021-05-11.

Method and a device for measuring pressure with correction of the dynamic measurement error

Номер патента: RU2745106C1. Автор: Александр Леонидович Шестаков,Григорий Михайлович Грудцинов. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет)" ФГАОУ ВО "ЮУрГУ (НИУ)". Дата публикации: 2021-03-19.

Ultrasonic measuring device and fluid medium flow rate measuring method

Номер патента: RU2545358C2. Автор: Торальф ДИТЦ,Герри ШРЕТЕР,Андреас ГУРР. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2015-03-27.

Current measurement device and method

Номер патента: RU2521715C2. Автор: Джеймс Дуглас ЛИНТ,Фусюе ЦЗИНЬ,Франциско МИХЕЛЬ,Виктор АЛЬДАКО. Владелец: Палс Электроникс, Инк.. Дата публикации: 2014-07-10.

Method and device for monitoring of torsional oscillations of rotary shaft of turbine engine

Номер патента: RU2559131C2. Автор: Валерио ЖЕРЕ,Жюльен Кристиан Паскаль ГРИФФАТОН,Эдуар Жозеф ЯДЧАК. Владелец: Снекма. Дата публикации: 2015-08-10.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US20230161037A1. Автор: Tsuyoshi OGO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US12041351B2. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US20210396875A1. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Rolling resistance measurement device, rolling resistance measurement method, and program

Номер патента: US20230184631A1. Автор: Makoto Tachibana,Tatsuya Ueda. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-15.

Measurement device, measurement method, and computer program product

Номер патента: US20230014620A1. Автор: Shigeaki Sakurazawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Measurement device, measurement method, and computer-readable medium

Номер патента: US20230017166A1. Автор: Shigeaki Sakurazawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Magnetic field measurement device, magnetic field measurement method, and recording medium having magnetic field measurement program recorded thereon

Номер патента: US12082915B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake,Makoto Kataoka. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US20240323528A1. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4403878A1. Автор: Naoya Matsumoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Method and apparatus for reproducing and transmitting a temperature unit at high temperatures

Номер патента: RU2739731C1. Автор: Вячеслав Петрович Ходунков. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева". Дата публикации: 2020-12-28.

Measurement device, measurement method, and storage medium

Номер патента: US20230288486A1. Автор: Tadashi Kaga,Yuki Tominaga,Mao Hori. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Electronic circuit, automated test equipment, method and computer program for mitigating an influence of a mismatch loss in a measurement setup

Номер патента: WO2023104314A1. Автор: Matthias Burczyk,Andy RICHTER. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2023-06-15.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: EP3637053A1. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Measuring device, measuring system, measuring method, and computer readable recording medium

Номер патента: US20170134035A1. Автор: Yasuhiro Sasaki,Shohei Kinoshita,Shigeki Shinoda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-05-11.

Elevator balance coefficient detection method and device

Номер патента: US09963323B2. Автор: Pei Liu. Владелец: TIANJIN HAOYA TECHNOLOGY DEVELOPMENT Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Method for determining time differences between signals measured by at least two coupled measuring devices and measurement system and corresponding switching device

Номер патента: US09678153B2. Автор: Kurt Schmidt,Manfred Mueller,Markus Freidhof,Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-06-13.

Impedance measurement method and impedance measurement device

Номер патента: US8253421B2. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-08-28.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection apparatus

Номер патента: EP4148438A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Shigeru EURA,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-15.

A target determining method and system

Номер патента: EP3132284A1. Автор: Jonas Dehlin,Patrick Mollbrink. Владелец: Saab Vricon System AB. Дата публикации: 2017-02-22.

Method and system for measuring broadband impedance of renewable energy power generation device

Номер патента: US12117473B1. Автор: Yu Lei,Caiyun Gao,Liping Gao,Keke Liu,Guanghui Li,Weisheng Wang,Zixuan GUO,Guoqing HE,Fangfang YU,Junhua Ma,Ni ZHEN,Yuntao Xiao,Shuanglei FENG,Yuye Li,Yuqi Duan. Владелец: China Electric Power Research Institute Co Ltd CEPRI. Дата публикации: 2024-10-15.

Method and device of control of dynamic condition of interaction of locomotive engine elements

Номер патента: RU2691461C2. Автор: Сергей Викторович Елисеев,Алексей Иванович Орленко,Роман Сергеевич Большаков,Андрей Владимирович Елисеев,Евгений Витальевич Каимов,ВанТоан Нго. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Иркутский государственный университет путей сообщения (ФГБОУ ВО ИрГУПС). Дата публикации: 2019-06-14.

Multiphase flowmeter and fluid film measurement method

Номер патента: RU2542587C2. Автор: Эндрю Бэйкер,Александр ЛЮПО,Себастьен КАДАЛЕН,Бенуа ФУРНЬЕ. Владелец: Прэд Рисерч Энд Дивелопмент Лимитед. Дата публикации: 2015-02-20.

Method of adjusting the position of the instrumentation and shipboard equipment sites relative to the afloat ship's base control site and the measuring device

Номер патента: RU2705759C1. Автор: Антон Валентинович Красильников,Валентин Андреевич Синицкий,Алексей Александрович Шебаршин,Евгений Владимирович Кипреев,Константин Владимирович Цветков. Владелец: Акционерное общество "Центр технологии судостроения и судоремонта" (АО "ЦТСС"). Дата публикации: 2019-11-11.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: US20240271992A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka,Noribumi Shibayama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection apparatus

Номер патента: US20230184827A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Shigeru EURA,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Temperature measurement method, temperature measurement device, medical device system, and laser treatment method

Номер патента: US20230392996A1. Автор: Mitsuru Namiki,Ikutoshi Fukushima. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Neutron measuring method and neutron measuring device

Номер патента: US20240255654A1. Автор: Chun-Kai Huang. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Measuring device, measuring method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20240337560A1. Автор: Yoshihiro Kumagai. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Method and apparatus for testing operation of an optical liquid crystal device

Номер патента: US09874774B2. Автор: Tigran Galstian,Michael J. Nystrom,Peter P Clark,Vladimir Presniakov,Karen Asatryan,Armen Zohrabyan,Sergei Yakovenko,Bahram Afshari. Владелец: Lensvector Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Measuring device, measuring method, and measuring program

Номер патента: EP4446706A1. Автор: Yoshihiro Kumagai. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Target determining method and system

Номер патента: US09689673B2. Автор: Leif Haglund,Johan Bejeryd,Jonas Dehlin,Manne Anliot. Владелец: Saab Vricon System AB. Дата публикации: 2017-06-27.

Quick-acting gas flow temperature measurement device

Номер патента: RU2604573C1. Автор: Владимир Дмитриевич Ковшов,Виль Файзулович Галиакбаров,Эмилия Вильевна Галиакбарова,Артур Игоревич Гулин,Жанна Артуровна Сухинец,Марат Сабирович Каримов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный нефтяной технический университет". Дата публикации: 2016-12-10.

Method and system of distance measurement based on surface excitation using earthed well and auxiliary earthing device

Номер патента: RU2677732C1. Автор: Сюй-сян У,КАЛАТЕХ АХМАД Акрам АХМАДИ. Владелец: ХЭЛЛИБЕРТОН ЭНЕРДЖИ СЕРВИСИЗ, ИНК.. Дата публикации: 2019-01-21.

Method and system for determining a pose for a laser instrument

Номер патента: EP4394320A1. Автор: Thomas Gloor,Clemens Arth,Fernando Reyes-Aviles. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2024-07-03.

Measuring method for measuring heat distribution of specific space using sthm probe, method and device for detecting beam spot of light source

Номер патента: US20210373046A1. Автор: Sang-il Park,Ahjin Jo,Byoung-Woon Ahn,Soobong Choi. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2021-12-02.

Battery monitoring system, battery monitoring device, measurement device, battery monitoring method, and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US20240230786A9. Автор: Hiroshi Ohtani,Shogo Shigemori. Владелец: Denso Ten Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring method for measuring heat distribution of specific space using SThM probe, method and device for detecting beam spot of light source

Номер патента: US12038455B2. Автор: Sang-il Park,Ahjin Jo,Byoung-Woon Ahn,Soobong Choi. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Method and device for monitoring severity of vibration in overhead power lines

Номер патента: US20240167909A1. Автор: Bertrand Godard. Владелец: AMPACIMON SA. Дата публикации: 2024-05-23.

Method and system for evaluating a pose for a laser instrument

Номер патента: EP4394316A1. Автор: Thomas Gloor,Clemens Arth,Fernando Reyes-Aviles. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2024-07-03.

Method and system for determining a pose for a laser instrument

Номер патента: EP4394319A1. Автор: Thomas Gloor,Clemens Arth,Fernando Reyes-Aviles. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2024-07-03.

Method and system for evaluating a pose for a laser instrument

Номер патента: WO2024141427A1. Автор: Thomas Gloor,Clemens Arth,Fernando Reyes-Aviles. Владелец: Hilti Aktiengesellschaft. Дата публикации: 2024-07-04.

Battery monitoring system, battery monitoring device, measurement device, battery monitoring method, and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US20240133974A1. Автор: Hiroshi Ohtani,Shogo Shigemori. Владелец: Denso Ten Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Method and system for determining a pose for a laser instrument

Номер патента: WO2024141425A1. Автор: Thomas Gloor,Clemens Arth,Fernando Reyes-Aviles. Владелец: Hilti Aktiengesellschaft. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and device for testing haptic devices

Номер патента: WO2024130378A1. Автор: Neil Olien,Robert D. Hrehor, Jr.,Priyank Jatin Gajiwala. Владелец: Innovobot Labs Inc.. Дата публикации: 2024-06-27.

Method and system for aligning test environments

Номер патента: US20230093058A1. Автор: Yan Wu,Shuang Zhang,Jianwei Zhang,Deqiang Li,Jianfei XIAO,Xinqiu Wang,Lingfei FAN. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

Light source control device, light source control method, and distance measuring device

Номер патента: US20240272285A1. Автор: Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Method and arrangement for charging a vehicle battery

Номер патента: US20170334303A1. Автор: Thomas Kristof. Владелец: Dr Ing HCF Porsche AG. Дата публикации: 2017-11-23.

Method and system for determining a pose for a laser instrument

Номер патента: WO2024141424A1. Автор: Thomas Gloor,Clemens Arth,Fernando Reyes-Aviles. Владелец: Hilti Aktiengesellschaft. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and system for evaluating a pose for a laser instrument

Номер патента: WO2024141426A1. Автор: Thomas Gloor,Clemens Arth,Fernando Reyes-Aviles. Владелец: Hilti Aktiengesellschaft. Дата публикации: 2024-07-04.

System, method, and device for measuring optical fiber channel loss in photonic communication

Номер патента: WO2017075283A1. Автор: Peng Yuan,Zhiqiang Wang,Shaojie LIU. Владелец: ALIBABA GROUP HOLDING LIMITED. Дата публикации: 2017-05-04.

Method and means to address and make use of multiple electrodes for measurements and electrical stimulation in neurons and other cells including brain and heart

Номер патента: US20120203299A1. Автор: Chong Il Lee,Sergio Lara Pereira Monteiro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-08-09.

Method and apparatus for orienting a measuring device

Номер патента: US09989401B2. Автор: Franco Ferraro,Steffen Markoni,Harald Faber. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2018-06-05.

System, method and device for providing a stable power source without the use of direct connection to an AC or DC source

Номер патента: US09876388B2. Автор: Mischa Steiner-Jovic,Rick SLAMKA. Владелец: AWESENSE WIRELESS Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

System frequency measurement method, synchrophasor measurement method and device thereof

Номер патента: US09658259B2. Автор: Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2017-05-23.

Personal golfing assistant and method and system for graphically displaying golf related information and for collection, processing and distribution of golf related data

Номер патента: US09656134B2. Автор: Richard C. Edmonson,James W. Meadows,Richard L. Root,Ii Dallas L. Nash. Владелец: Skyhawke Technologies LLC. Дата публикации: 2017-05-23.

Method and measuring device for suppressing interference signals

Номер патента: US09558154B2. Автор: Alexander Roth,Gregor Feldhaus. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-01-31.

Ultrasonic measuring device, and ultrasonic measuring method of flow rate

Номер патента: RU2488836C2. Автор: Торальф ДИЦ,Ларс ЭМИХЕН,Джон ЛЭНСИНГ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2013-07-27.

Method and apparatus for indication of the electric state of polymer insulators

Номер патента: RU2755924C1. Автор: Николай Алексеевич Карасев,Евгений Алексеевич Юданов,Ен Дар Ким,Алексей Юрьевич Ефимов,Ян Евгеньевич Коростелев. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Форэнерго-Инжиниринг" (Ооо "Форэнерго-Инжиниринг"). Дата публикации: 2021-09-23.

Method and device for pressure measurement with use of filling pipe

Номер патента: RU2511629C2. Автор: Чарльз Р. ВИЛЛКОКС,Роберт К. ХЕДТКЕ,Лян-цзю ЛУ. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2014-04-10.

Distance measuring method, and device for its implementation (versions)

Номер патента: RU2481554C2. Автор: Марат Хаджи-Муратович Абдуев,Аслан Хаджимуратович Абдуев,Имангазали Юнусович Нураев. Владелец: Имангазали Юнусович Нураев. Дата публикации: 2013-05-10.

Device with improved light source and detector for gravimeter and measuring method

Номер патента: RU2473102C2. Автор: Рокко Дифоджио. Владелец: Бейкер Хьюз Инкорпорейтед. Дата публикации: 2013-01-20.

Semiconductor device defect type determination method and structure

Номер патента: US20090179661A1. Автор: Katsunori Onishi,Ishtiaq Ahsan,Keith Howard Tabakman,Andrew Alexander McKnight. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-07-16.

Method and device for measuring the vision of a person

Номер патента: EP4366601A1. Автор: Alexander Leube,Eric Nehrbass,Simon STAUDENMAIER. Владелец: CARL ZEISS VISION INTERNATIONAL GMBH. Дата публикации: 2024-05-15.

Method and device for measuring the vision of a person

Номер патента: US20240206724A1. Автор: Alexander Leube,Eric Nehrbass,Simon STAUDENMAIER. Владелец: CARL ZEISS VISION INTERNATIONAL GMBH. Дата публикации: 2024-06-27.

Method and device for measuring the vision of a person

Номер патента: WO2023072847A1. Автор: Alexander Leube,Eric Nehrbass,Simon STAUDENMAIER. Владелец: CARL ZEISS VISION INTERNATIONAL GMBH. Дата публикации: 2023-05-04.

A method and an arrangement for aligning elevator guide rails

Номер патента: EP4341193A1. Автор: Markku HÄIVÄLÄ,Harri Mäkinen,Mikael Haag,Joonas Jokela,Ville MALMIALA. Владелец: Kone Corp. Дата публикации: 2024-03-27.

Velocity measurement method, system, device and apparatus and storage medium, as well as velocity field measurement method and system

Номер патента: US20240221184A1. Автор: Jinjun Wang,Shaofei Wang,Chong Pan. Владелец: Ningbo Institute Of Technology Beihang University. Дата публикации: 2024-07-04.

Temperature measurement method of honeycomb formed body, and temperature measurement device

Номер патента: US20180257289A1. Автор: Takeshi Tokunaga. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Method and system for updating a pose for a laser instrument

Номер патента: EP4394315A1. Автор: Thomas Gloor,Clemens Arth,Fernando Reyes-Aviles. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2024-07-03.

Method and system for updating a pose for a laser instrument

Номер патента: WO2024141430A1. Автор: Thomas Gloor,Clemens Arth,Fernando Reyes-Aviles. Владелец: Hilti Aktiengesellschaft. Дата публикации: 2024-07-04.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Temperature measurement method, temperature measurement probe, and temperature measurement device

Номер патента: US20220316962A1. Автор: Peiyong Wang,Xingyou LI,Qinghuang HUANG. Владелец: Xiamen Kaiyun Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330A. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-05-23.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330B1. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-06-28.

Method and system for updating a pose for a laser instrument

Номер патента: WO2024141428A1. Автор: Thomas Gloor,Clemens Arth,Fernando Reyes-Aviles. Владелец: Hilti Aktiengesellschaft. Дата публикации: 2024-07-04.

Apparatus, method, and computer software for detection of topology changes in electrical networks

Номер патента: EP2572165A1. Автор: Michael Metzger,Joachim Bamberger,Clemens Hoffmann,Clemens Otte. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2013-03-27.

Method and device for detecting position of battery swap apparatus, battery swap apparatus, and battery swap station

Номер патента: US20240280697A1. Автор: Can Chen,Shibiao QUE. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Non-invasive method and system to measure the surface velocity of a fluid flowing in a river, open channel or in an underground pipe

Номер патента: US20240310196A1. Автор: Jean-Marie Sevar. Владелец: Flow-Tronic SA. Дата публикации: 2024-09-19.

Method and device for determining the rotational angle of the polarisation axis of an optical waveguide or fiber

Номер патента: WO2004065921A1. Автор: Timo Aalto. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2004-08-05.

Positioning sensing method and apparatus, sensing measurement method and apparatus, and terminal and network-side device

Номер патента: EP4456625A1. Автор: Jian Yao,Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Ear model unit, artificial head, and measurement device and method using said ear model unit and artificial head

Номер патента: US09992594B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Method and device for measuring current at a converter

Номер патента: US09835656B2. Автор: Christian Brendel. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-12-05.

Pressure measurement devices, methods, and systems

Номер патента: US09551625B2. Автор: Jeffrey H. Burbank,James M. Brugger,William J. Schnell,Dennis M. Treu,Scott W. Newell,Kenneth E. Buckler. Владелец: Nxstage Medical Inc. Дата публикации: 2017-01-24.

Information processing apparatus, information processing method, and medium

Номер патента: US09529350B2. Автор: Hironori SAKAKIHARA. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Method and apparatus for installing and removing a flow restrictor from a differential pressure measurement device

Номер патента: US09527171B2. Автор: Derold CLARK. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-12-27.

Vessel speed measuring method by the doppler log

Номер патента: RU2672464C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Сергей Васильевич Жуменков,Виталий Николаевич Тимофеев,Павел Валерьевич Юхта. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2018-11-14.

Electronic measuring device and unit for diagnostics of electric system

Номер патента: RU2178892C2. Автор: Форрест У. Бриз,Чарлз Крейг ХАЙДЕР,Кой Стивен ЛОУ,Джон Марри ШЛАРБ,Кристоф Жан Андреа ФУКЕ. Владелец: Шлумбергер Индастриз, Инк.. Дата публикации: 2002-01-27.

Method and circuit for operation of capacitance micro electromechanical transducer with analog recovery

Номер патента: RU2431150C2. Автор: Гюнтер ШПАХЛИНГЕР. Владелец: Норсроп Груман Литеф Гмбх. Дата публикации: 2011-10-10.

Method and system for automatically controlled active protection of objects on side of aquatic environment

Номер патента: RU2577089C1. Автор: Игорь Федорович Кадыков. Владелец: Акционерное общество "Федеральный центр науки и высоких технологий "Специальное научно-производственное объединение "Элерон" (АО "ФЦНИВТ "СНПО "Элерон". Дата публикации: 2016-03-10.

Self-calibrating inertial measurement system method and apparatus

Номер патента: WO2003040656A1. Автор: Joel G. Hanse. Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2003-05-15.

Surface defect detection model training method, and surface defect detection method and system

Номер патента: US20240169510A1. Автор: Shenglin LU,Hongchao GAO. Владелец: Guangdong OPT Machine Vision Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Method and device for defect detection

Номер патента: US20240265525A1. Автор: Guannan JIANG,Annan Shu,Yongfa LIU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Method and system for defect detection

Номер патента: US20230281785A1. Автор: Chao Yuan,Lili Han,Annan Shu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Method and apparatus with defect detection

Номер патента: US20240257329A1. Автор: SeungJu HAN,Hyeon Jeong Park,Je Hyeong HONG,Sanghyuk MOON. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and apparatus for determining defect detection sensitivity data, control method of defect detection apparatus, and method and apparatus for detecting defect of semiconductor devices

Номер патента: US20040151362A1. Автор: Akira Hamaguchi,Takamitsu Nagai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-08-05.

Transfer learning methods and models facilitating defect detection

Номер патента: WO2024050125A1. Автор: Melanie SENN,Aris FOTKATZIKIS. Владелец: Cepheid. Дата публикации: 2024-03-07.

Method and system for defect detection

Номер патента: US11922617B2. Автор: Chao Yuan,Lili Han,Annan Shu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Transfer learning methods and models facilitating defect detection

Номер патента: US20240177288A1. Автор: Melanie SENN,Aristotelis FOTKATZIKIS. Владелец: Cepheid. Дата публикации: 2024-05-30.

Detection method and apparatus for display panel, detection device and storage medium

Номер патента: US20190259317A1. Автор: Jun Zhang,PENG Sui,Tao Wang,Zhidong Yuan,Sheng Zhu,Zhengyuan ZHANG,Qiao Zhu. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-22.

Control rod drop time measurement method integrated with rod position measurement device

Номер патента: EP4258288A1. Автор: Ye Tian,Minghui Zhang,Shaohua Xu,Yiming Ma,Ning Tao,Yuan Huang,ShengFeng XU,Zihua YANG,Weijian ZHU,Bo Chao,Xinxin LIU,Qichao Wang,Zhengke CHANG,Desong LANG. Владелец: Nuclear Power Operations Research Institute Npri. Дата публикации: 2023-10-11.

Signal Detection Device, Signal Detection Method, and Method of Manufacturing Signal Detection Device

Номер патента: US20110213578A1. Автор: Takashi Imamura,Tetsuo Miyake,Zhong Zhang. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2011-09-01.

Nail region detection method, program, storage medium, and nail region detection device

Номер патента: US9239962B2. Автор: Kiyoshi Hoshino. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-01-19.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Defect detection method and device

Номер патента: EP4411626A1. Автор: Guannan JIANG,Annan Shu,Yongfa LIU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Defect detection method and system

Номер патента: EP4227900A1. Автор: Chao Yuan,Lili Han,Annan Shu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-16.

Defect detection by image processing

Номер патента: WO2023163650A3. Автор: Joo Hwee Lim,Qianli Xu,Fen FANG. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-09-28.

Defect detecting apparatus and method

Номер патента: US20230394651A1. Автор: Kai-lin YANG,Yung-Hui Li,Yi-Rong LIN. Владелец: Foxconn Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Defect detection in memories with time-varying bit error rate

Номер патента: WO2020123446A3. Автор: Zhengang Chen,Tingjun Xie,Zhenlei Shen,Sai Krishna Mylavarapu,Charles S. Kwong. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2021-03-04.

Pixel structure and detection method of promoting defect detection rate

Номер патента: US09523899B2. Автор: Zui Wang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Method and apparatus for defect detection and disc verification method

Номер патента: TW200820230A. Автор: Chun-Ying Chiang,Chin-Huo Chu. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2008-05-01.

Defect detection during erase operations

Номер патента: US12094549B2. Автор: Jun Xu,Kitae Park. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Defect detection by image processing

Номер патента: WO2023163650A2. Автор: Joo Hwee Lim,Qianli Xu,Fen FANG. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-08-31.

Defect detection in memories with time-varying bit error rate

Номер патента: WO2020123446A2. Автор: Zhengang Chen,Tingjun Xie,Zhenlei Shen,Sai Krishna Mylavarapu,Charles S. Kwong. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2020-06-18.

Control rod drop time measurement method integrated with rod position measurement device

Номер патента: EP4258288A4. Автор: Ye Tian,Minghui Zhang,Shaohua Xu,Yiming Ma,Ning Tao,Yuan Huang,ShengFeng XU,Zihua YANG,Weijian ZHU,Bo Chao,Xinxin LIU,Qichao Wang,Zhengke CHANG,Desong LANG. Владелец: Nuclear Power Operations Res Institute Npri. Дата публикации: 2024-10-16.

Active matrix substrate or active matrix liquid crystal panel defect detection and inspection method and defect detection and inspection device

Номер патента: JP3213472B2. Автор: 入江勝美. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2001-10-02.

Defect detection using multi-modality sensor data

Номер патента: US20240185026A1. Автор: Wei Cheng,Yuji Kobayashi,Haifeng Chen,Yuncong Chen,Zhengzhang Chen,LuAn Tang. Владелец: NEC Laboratories America Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

Defect detection using multi-modality sensor data

Номер патента: WO2024091563A1. Автор: Wei Cheng,Yuji Kobayashi,Haifeng Chen,Yuncong Chen,Zhengzhang Chen,LuAn Tang. Владелец: NEC Laboratories America, Inc.. Дата публикации: 2024-05-02.

HOT SPOT DEFECT DETECTING METHOD AND HOT SPOT DEFECT DETECTING SYSTEM

Номер патента: US20190318471A1. Автор: Wang Shih-Chang,CHEN Chien-Huei,Lin Yung-Cheng,Chen Xiaomeng,WU WEI-CHEN,Su Pei-Chao,Chung Hung-Yi,Lin Chien-An,CHEN Kuang-Shing,Chang Chan-Ming,Chen Shih-Yung,Lee Li-Jou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-10-17.

Measuring method and a measuring device

Номер патента: US20230032791A1. Автор: Benedikt Köhler,Simon Haag,Lukas Buschle,Jasmin Keuser. Владелец: Karl Storz SE and Co KG. Дата публикации: 2023-02-02.

Image compensation correction method and banknote recognition and detection device

Номер патента: US09685022B2. Автор: Guoqiang Huang,Mengtao Liu. Владелец: GRG Banking Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

Hard disk drive, defect type detection method on disk, and defect detection method

Номер патента: JP4564692B2. Автор: 相勳 秋,俊錫 沈,成煥 劉,秀一 崔,康錫 李. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-10-20.

Defect detection and classification method and device, electronic equipment and storage medium

Номер патента: CN114764768A. Автор: 简士超,郭锦斌,蔡东佐,林子甄. Владелец: Futaihua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-19.

Method and system for defect detection in image data of a target coating

Номер патента: CA3132115C. Автор: Guido Bischoff. Владелец: BASF COATINGS GMBH. Дата публикации: 2023-12-19.

Method and device with defect detection

Номер патента: US20240153070A1. Автор: SeungJu HAN,Jongin Lim,Youngdong Kim,Byungjai KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-09.

Method and device with defect detection

Номер патента: EP4365834A1. Автор: SeungJu HAN,Jongin Lim,Youngdong Kim,Byungjai KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-08.

Defect detection and positioning method and system based on cross-image local feature alignment

Номер патента: CN114170478A. Автор: 苏勤亮,胡枭. Владелец: Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2022-03-11.

Method and system for defect detection in image data of a target coating

Номер патента: US20220189030A1. Автор: Guido Bischoff. Владелец: BASF COATINGS GMBH. Дата публикации: 2022-06-16.

Method and system for defect detection in image data of a target coating

Номер патента: CA3132115A1. Автор: Guido Bischoff. Владелец: BASF COATINGS GMBH. Дата публикации: 2020-10-01.

Method and device for defect detection and / or correction in digital image processing

Номер патента: DE10029826C1. Автор: Thomas Schuhrke,Tobias Damm,Gudrun Taresch. Владелец: Agfa Gevaert AG. Дата публикации: 2001-08-02.

Plastic product surface defect detection and identification method and system

Номер патента: CN114972356A. Автор: 王利军. Владелец: Haimen Tengfei Rubber And Plastic Factory. Дата публикации: 2022-08-30.

Image defect detection and classification method and system based on deep learning algorithm

Номер патента: CN115147363A. Автор: 许杰,朱保明. Владелец: Shenzhen Nanovision Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-10-04.

Multi-source feature-based magnetic core defect detection model training method and system

Номер патента: CN115082434A. Автор: 李军,邹凡,鲁杰,吴显德,雷明根. Владелец: Zhejiang Whyis Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-09-20.

Appearance defect detection model modeling method and device

Номер патента: CN109409424B. Автор: 廉迎战,郑富豪,李刘明,蔡二梦,郭杰鹏. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-09-17.

Method and system for defect detection

Номер патента: US7970201B2. Автор: Ophir Gvirtzer,Michael Ben-Yishay. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2011-06-28.

Multi-source feature-based magnetic core defect detection model training method and system

Номер патента: CN115082434B. Автор: 李军,邹凡,鲁杰,吴显德,雷明根. Владелец: Zhejiang Whyis Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-12-09.

Laser chip defect detection and classification method and system based on SSD algorithm

Номер патента: CN113077430A. Автор: 李灯熬,赵菊敏,窦伦伦. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-07-06.

Method and system for defect detection in manufacturing integrated circuits

Номер патента: US20100004775A1. Автор: Paul Kuang-Chi Lin,Sophia Zhang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2010-01-07.

Method and assembly for calibrating parallel kinematics

Номер патента: US20230347526A1. Автор: Erik Mankin. Владелец: Physik Instrumente PI GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-11-02.

Noise reduction method and system for touch detection device

Номер патента: US09946378B2. Автор: Xiaoxiang Chen,Gengchun Deng. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Electron beam position fluctuation measurement method, electron beam position fluctuation measurement device, and electron beam recording device

Номер патента: EP1755001A1. Автор: Yoshiaki c/o Sougoukenkyusho Pioneer C. KOJIMA. Владелец: Pioneer Design Corp. Дата публикации: 2007-02-21.

Biological information measurement device, PID personal identification device, person recognition method and personal recognizer

Номер патента: CN108712883A. Автор: 和田洋贵,笠井诚朗,小久保绫子,太田雄也. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-10-26.

Control rod drop time measurement method integrated with rod position measurement device

Номер патента: WO2022116367A1. Автор: 田野,马一鸣,黄远,陶宁,许少华,杨子华,张明晖,徐胜峰,昌正科,祝伟健,晁博,刘信信,郎德嵩,王棋超. Владелец: 核电运行研究(上海)有限公司. Дата публикации: 2022-06-09.

Binocular vision function measurement method, binocular vision function measurement program, spectacle lens designing method, spectacle lens manufacturing method, and binocular vision function measurement system

Номер патента: EP4039170A4. Автор: Eiichiro Yamaguchi,Ayumu Ito,Toshiaki SONEHARA,Nagisa Ishihara. Владелец: Hoya Lens Thailand Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Method and system using biological information detection device using second light from target onto which dots formed by first light are projected to detect status of living body

Номер патента: US20230346238A1. Автор: Hisashi Watanabe. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

DETECTION METHOD AND APPARATUS FOR DISPLAY PANEL, DETECTION DEVICE AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20190259317A1. Автор: WANG TAO,ZHANG JUN,Zhu Sheng,Yuan Zhidong,ZHANG Zhengyuan,Sui Peng,Zhu Qiao. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-22.

EXTRACTING DEVICE, EXTRACTING METHOD AND STORAGE MEDIUM, AND ABNORMALITY DETECTING DEVICE AND ABNORMALITY DETECTING METHOD

Номер патента: US20190384771A1. Автор: KURITA Moyuru. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2019-12-19.

Workpiece circular hole feature detection method and workpiece circular hole feature detection device

Номер патента: CN113689397A. Автор: 高志锐,李煌. Владелец: Hunan Shibite Robot Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-23.

Net list conversion method, net list conversion device, still-state leak current detection method, and still-state leak current detection device

Номер патента: CN1875363A. Автор: 中顺一,冈浩二. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-06.

FOCUS DETECTION DEVICE, ITS CONTROL METHOD, AND IMAGING DEVICE HAVING FOCUS DETECTION DEVICE

Номер патента: JP5808124B2. Автор: 昌大 瓦田,瓦田　昌大. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-11-10.

The level of residual image detection method and level of residual image detection device of display panel

Номер патента: CN108922463A. Автор: 刘希燕,孙光岩. Владелец: Fuzhou BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-30.

Temperature control method and device for nucleic acid detection device

Номер патента: CN113377140B. Автор: 周伟,陈晓玉,谢瑜,李庆阁,谢路生,王任鹏,凌伟松. Владелец: XIAMEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-10-04.

Net list conversion method, net list conversion device, still-state leak current detection method, and still-state leak current detection device

Номер патента: US20070006110A1. Автор: Koji Oka,Junichi Naka. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-01-04.

Nail Region Detection Method, Program, Storage Medium, and Nail Region Detection Device

Номер патента: US20140003665A1. Автор: Hoshino Kiyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-02.

Digital watermark embedding method, digital watermark detection method, digital watermark embedding device, digital watermark detection device, program, and computer-readable recording medium

Номер патента: JPWO2009040951A1. Автор: 整 劉. Владелец: SBI Net Systems Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-13.

Text watermark embedding method, text tampering detection method, text watermark embedding device, text tampering detection device and electronic equipment

Номер патента: CN113656825A. Автор: 刘超,李鸿飞,郭丽娜,车文彬. Владелец: Beijing Kairuishujia Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-11-16.

Image feature extraction method, image target detection method, image feature extraction device, image target detection device, convolution device, CNN network device and terminal

Номер патента: CN111368850B. Автор: 林福辉,刘阳,罗小伟. Владелец: Spreadtrum Communications Tianjin Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-25.

Skew correction method, skew angle detection method, skew correction device, and skew angle detection device

Номер патента: JP3308032B2. Автор: 公一 江尻,エフ． カレン ジョン. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2002-07-29.

Digital watermark embedding method, digital watermark detection method, digital watermark embedding device, digital watermark detection device, program, and computer-readable recording medium

Номер патента: JPWO2009025019A1. Автор: 整 劉. Владелец: SBI Net Systems Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-18.

Three-dimensional gesture detection device and three-dimensional gesture detection method

Номер патента: US20230097355A1. Автор: Shih-Ting Huang,Chao-Shih Huang. Владелец: Acer Inc. Дата публикации: 2023-03-30.

Pixel defect detection and correction device, imaging apparatus, pixel defect detection and correction method, and program

Номер патента: US8508631B2. Автор: Jun Hashizume. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2013-08-13.

Safe driving management system, sleep shortage determination device, sleep data measurement device, user identification information input device, control method and storage medium

Номер патента: US09878617B2. Автор: Kei MOCHIZUKI. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Measurement method for steam valve and measurement device for steam valve

Номер патента: US20240344631A1. Автор: Kazuo Hirota,Fumiyuki Suzuki,Shingo Nishida,Masaki Hata. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Signal detection device, signal detection method, and method of manufacturing signal detection device

Номер патента: US20160007927A1. Автор: Takayasu Sakurai,Makoto Takamiya,Takao Someya,Tsuyoshi Sekitani,Hiroshi FUKETA. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2016-01-14.

Detection chip, preparation method and use method thereof, and detection device

Номер патента: US11964272B2. Автор: Jing Zhao,Yufan ZHANG,Chenyu Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Detection device, detection method, and exhaust purification device with detection device

Номер патента: US11959407B2. Автор: Hitoshi Sato,Naofumi Ochi,Takanobu Ogawa,Akira Matsutani,Daiki Ishii,Yuta KAGEYAMA. Владелец: Isuzu Motors Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Motor shaft state detection method, motor control method, motor shaft state detection device, motor control device, vehicle height adjustment device, saddle-type vehicle

Номер патента: US12017496B2. Автор: Masato TOKUHARA. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Motor shaft state detection method, motor control method, motor shaft state detection device, motor control device, vehicle height adjustment device, saddle-type vehicle

Номер патента: US20220203795A1. Автор: Masato TOKUHARA. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Pacemaker signal detecting method, pacemaker signal detecting system and electrocardial detecting device

Номер патента: US09687657B2. Автор: Xiao-Wen Cheng,Ze-Hui Sun,Ming-Shi Ding,Qi-Ling Liu. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Method and device for control of the thickness of extruded film

Номер патента: AU2003290010A1. Автор: Lothar KÖNIG,Bartholomeus Trommelen. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 2004-07-29.

Method and apparatus for media thickness measurement in an image production device

Номер патента: US20100111548A1. Автор: Ruddy Castillo,Paul J. Degruchy,Peter J. Knausdorf,Steven Robert Moore. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2010-05-06.

Method and apparatus for improving critical dimension variation

Номер патента: US20240295831A1. Автор: Chi-Hung Liao,Jhun Hua CHEN,Ming-Hsun LIN,Yu-Hsiang HO,Teng Kuei CHUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Thickness measurement device for sheet-type medium

Номер патента: US09592981B2. Автор: Wenqing Wu,Qi Xie,Xing Hu,Tianrui Li. Владелец: GRG Banking Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

Image forming apparatus, sheet type determination method and program in the apparatus

Номер патента: US11099511B2. Автор: Atsushi Kawai,Akira Murakawa,Mie Kawabata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-08-24.

Image forming apparatus, sheet type determination method and program in the apparatus

Номер патента: US20210048770A1. Автор: Atsushi Kawai,Akira Murakawa,Mie Kawabata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-02-18.

Image forming apparatus, sheet type determination method and program in the apparatus

Номер патента: US20210048771A1. Автор: Atsushi Kawai,Akira Murakawa,Mie Kawabata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-02-18.

Measurement method and system of undeformed chip thickness in micro-milling

Номер патента: US20240029229A1. Автор: Kedong Zhang,Tongshun Liu,Chengdong Wang,Xuhong Guo. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-01-25.

Measurement method and system of undeformed chip thickness in micro-milling

Номер патента: US11869180B1. Автор: Kedong Zhang,Tongshun Liu,Chengdong Wang,Xuhong Guo. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-01-09.

Ultrasonic thickness measurement device and ultrasonic thickness measurement method

Номер патента: US20220296217A1. Автор: Masahiro Onoda,Yoshio Arai,Kanechika Kiyose,Mio SASAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Method and system for in-situ optimization for semiconductor wafers in a chemical mechanical polishing process

Номер патента: US6159075A. Автор: Liming Zhang. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 2000-12-12.

Method and system for data analysis of retinal nerve fibrous layer

Номер патента: US11744459B1. Автор: Zhiqiang Guan,Mingzhi Zhang,Kunliang Qiu. Владелец: Jount Shantou International Eye Center Of Shantou University And Chinese University Of Hong Kong. Дата публикации: 2023-09-05.

Semiconductor device defect inspection method and system thereof

Номер патента: US9153020B2. Автор: Yuji Takagi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-10-06.

Defect analysis device, defect analysis method, non-transitory computer-readable medium, and learning device

Номер патента: US20240046441A1. Автор: Hiroshi Takemoto. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

A method and apparatus for measuring the thickness of adipose tissue

Номер патента: AU2011284300A1. Автор: Genady Nahshon,Avner Rosenberg,Edward Kantarovich. Владелец: SYNERON MEDICAL LTD. Дата публикации: 2013-03-14.

Method and apparatus for improving critical dimension variation

Номер патента: US20230195000A1. Автор: Chi-Hung Liao,Jhun Hua CHEN,Ming-Hsun LIN,Yu-Hsiang HO,Teng Kuei CHUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Method and apparatus for improving critical dimension variation

Номер патента: US11988972B2. Автор: Chi-Hung Liao,Jhun Hua CHEN,Ming-Hsun LIN,Yu-Hsiang HO,Teng Kuei CHUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Defect detection method and apparatus, and electronic device

Номер патента: US20240296537A1. Автор: Xiaoyu CHI,Zengyuan GAI. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Method and system for surface defect detection based on few-shot learning

Номер патента: US20240362762A1. Автор: Yue Tian,Xingyu Chen,Hongqi Zhang,Liangxi CHEN. Владелец: CETC 38 Research Institute. Дата публикации: 2024-10-31.

Method and apparatus for rapidly classifying defects in subcomponents of manufactured component

Номер патента: WO2020242763A1. Автор: Edward R. Ratner,Andrew George Reid. Владелец: SVXR, INC.. Дата публикации: 2020-12-03.

Wordline defect detection circuit, wordline defect detection method, and memory device including the same

Номер патента: EP4398253A2. Автор: Seongjin Kim,Chihyun Kim,Junehong PARK,Jayang Yoon,Hyeongdo CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-10.

Multimode defect detection

Номер патента: WO2024102378A1. Автор: GE Cong,Eugene Shifrin,Richard Wallingford,Sangbong Park. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-05-16.

Multimode defect detection

Номер патента: US20240161272A1. Автор: GE Cong,Eugene Shifrin,Richard Wallingford,Sangbong Park. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Pulse measurement device, biological information estimation device, pulse measurement method, and recording medium

Номер патента: US20240277273A1. Автор: Hiroyuki Endoh,Kazuki Ihara. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Wordline defect detection circuit, wordline defect detection method, and memory device including the same

Номер патента: US20240233850A1. Автор: Seongjin Kim,Chihyun Kim,Junehong PARK,Jayang Yoon,Hyeongdo CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Wordline defect detection circuit, wordline defect detection method, and memory device including the same

Номер патента: EP4398253A3. Автор: Seongjin Kim,Chihyun Kim,Junehong PARK,Jayang Yoon,Hyeongdo CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-07.

Optical film defect detection method and system thereof

Номер патента: US09582872B2. Автор: Chia-Yu Hsu,Kuo-Hua Lai,Chien-Lung Chan,Shih-En Jhong. Владелец: YUAN ZE UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-02-28.

Image processing apparatus, image processing method, and program

Номер патента: US09582863B2. Автор: Hirotaka Shinozaki. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Apparatus, system, method and storage medium for image inspection result determination and verifying false defect detections due to position matching errors

Номер патента: US09524545B2. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210256676A1. Автор: Hideaki Okano,Takeshi Morino,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Measurement device, measurement method, and transitory computer readable medium

Номер патента: US20190313921A1. Автор: Toshihiko Ogura,Hideo Utsuno,Yukiya Sawanoi,Shigeo Ichihashi,Kimihiko KICHIKAWA,Miki Imamura,Shinichi Iwakoshi. Владелец: Nara Medical University PUC. Дата публикации: 2019-10-17.

Method and apparatus for removing defects in an image sequence

Номер патента: WO2002086819A1. Автор: Alexander Kobilansky. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-10-31.

Method and apparatus for remooving defects in an image sequence

Номер патента: US20020154827A1. Автор: Alexander Kobilansky. Владелец: Philips Electronics North America Corp. Дата публикации: 2002-10-24.

Method and apparatus for removing defects in an image sequence

Номер патента: EP1382015A1. Автор: Alexander Kobilansky. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-01-21.

Cycloduction measurement device, cycloduction measurement method, and cycloduction measurement program

Номер патента: US09433345B2. Автор: Kiyoshi Hoshino,Hiroyuki Nakagomi. Владелец: University of Tsukuba NUC. Дата публикации: 2016-09-06.

Method and device for controlling braking system of railway vehicle braking equipment

Номер патента: RU2586911C2. Автор: Торстен ШТЮТЦЛЕ,Вернер БРОЙЕР,Ларс ЛЕВЕНШТАЙН,Александер РАМБЕТИУС,Вольфганг РУЛЬКА. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2016-06-10.

Substrate processing apparatus, substrate processing method, and storage medium thereof

Номер патента: US20240087926A1. Автор: Youngtai KANG. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Method for detecting defects in images, apparatus applying method, and non-transitory computer-readable storage medium applying method

Номер патента: US20220230291A1. Автор: Wei-Chun Wang,Chin-Pin Kuo. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-21.

Measurement device, optical sensor, biological data measurement system, biological information estimation system, measurement method, and storage medium

Номер патента: US20240374155A1. Автор: Hiroyuki Endoh. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-11-14.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240099059A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240243017A1. Автор: Satoru Tomita,Noriyuki Hirata. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210272256A1. Автор: Hideaki Okano,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Model evaluation method and apparatus

Номер патента: EP4206987A1. Автор: Shuigen Yang,Yinghao JIN,Dongrun QIN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Output device, output method, and recording medium

Номер патента: US20170007128A1. Автор: Kosei Takano,Masayoshi Hoshiya,Masatsugu Isogai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-01-12.

Tuning method and apparatus for color gamut mapping device

Номер патента: US20220165233A1. Автор: Ji Won Lee,Ji Min Lee,Hyun Kyu Jeon,Ji Hong YUK,Seul Gi Lee,Chang Young BAE. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-26.

Method and apparatus for managing measurement device based on blockchain

Номер патента: EP3855371A2. Автор: Feng Dai,QING Chen,Jean-Christophe Emery,Michael HEIDINGSFELDER,Eugen Schibli,Guo Jun Xie. Владелец: Mettler Toledo Changzhou Precision Instruments Ltd. Дата публикации: 2021-07-28.

Pole piece labeling control method and device, electronic equipment, and storage medium

Номер патента: US20240199267A1. Автор: Ping Jiang,Lin Ma,Hongyuan LI,Gaofeng Lu,Chunxu WU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Training method and training device for defect detection model of battery cell

Номер патента: EP4343691A1. Автор: Zhiyu Wang,Guannan JIANG,Annan Shu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-27.

Monitoring method and monitoring system

Номер патента: EP4400032A1. Автор: Xinsheng Li,Qiling Liu,Zhonghua Liu,Jian CEN,Liya Li,Hanyuan LUO,Xiangying FENG. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Veneer sorting control device, veneer sorting control method, and program for veneer sorting control

Номер патента: CA3138255A1. Автор: Koji Morita. Владелец: Meinan Machinery Works Inc. Дата публикации: 2021-05-06.

Robustness measurement device, robustness measurement method, and storage medium

Номер патента: US20240185585A1. Автор: Tomoya Tsuruyama,Hidetaka Ohira. Владелец: Toshiba Digital Solutions Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Pole piece labeling control method and apparatus, and electronic device and storage medium

Номер патента: EP4411634A1. Автор: Ping Jiang,Lin Ma,Hongyuan LI,Gaofeng Lu,Chunxu WU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Method and apparatus for managing measurement device based on blockchain

Номер патента: US12056761B2. Автор: Guojun Xie,Jianqiang Yang. Владелец: Mettler Toledo Measurement Technology Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Veneer sorting control device, veneer sorting control method, and program for veneer sorting control

Номер патента: US12067706B2. Автор: Koji Morita. Владелец: Meinan Machinery Works Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Method and apparatus for managing measurement device based on blockchain

Номер патента: US20210248671A1. Автор: Guojun Xie,Jianqiang Yang. Владелец: Mettler Toledo Changzhou Precision Instruments Ltd. Дата публикации: 2021-08-12.

Image processing device, image processing method, and program

Номер патента: US20240203021A1. Автор: Akira Umayabara. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Optical measurement device and the method using therof

Номер патента: US20170061648A1. Автор: Yi-Ou WANG,Hao-Ting Hung,Ding-Chia KAO,Kuan-Hsien LIU,You-Hung Tsai,Po Hung Huang. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

Density measuring device, density measuring method, and computer program product

Номер патента: US09619729B2. Автор: Quoc Viet Pham. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Test method and test apparatus for transparent display device

Номер патента: US09530337B2. Автор: Wang Hu,Zhigang Zhang,Xinli MA,Chunfang Zhang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Defect inspection method and system for solar cell

Номер патента: US20190173423A1. Автор: Yu-Ting Yen,Yean-San Long,Ren-Chin Shr,En-Yun Wang,Hsiang-Ying Cheng. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2019-06-06.

Image processing device, encoding device, decoding device, image processing method, program, encoding method, and decoding method

Номер патента: EP3759683A1. Автор: Junichi Tanaka,Hisako Sugano. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2021-01-06.

Image processing device, encoding device, decoding device, image processing method, program, encoding method, and decoding method

Номер патента: US20200410754A1. Автор: Junichi Tanaka,Hisako Sugano. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-12-31.

Image processing device, encoding device, decoding device, image processing method, program, encoding method, and decoding method

Номер патента: WO2019167300A1. Автор: Junichi Tanaka,Hisako Sugano. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-06.

Regional coordinated voltage control method and apparatus for distribution network, and electronic device

Номер патента: AU2021229237A1. Автор: LIN Zhang,ZHENG Zhu,Shu Liu,Chao Lu,Jianping Yang,Bing Shen,Wei Xie,Yize Li,Zhixiong SHI,Chengbin ZHAO. Владелец: State Grid Shanghai Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Image recording apparatus, image recording method, and calibration system of image recording apparatuses

Номер патента: US20020067494A1. Автор: Hiroyuki Furuya. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2002-06-06.

Method and system for configuring an alarm system

Номер патента: US20210160637A1. Автор: Alexandre Gouin. Владелец: Johnson Controls Fire Protection LP. Дата публикации: 2021-05-27.

Methods and systems for generating behavioral insights using survey instruments and diabetes treatment information

Номер патента: AU2024204375A1. Автор: Lawrence Fisher,Rhett Guy ALDEN,Jennal Lynn JOHNSON,Stephanie Smith EDWARDS,Danielle Marie-Hessler JONES,William Howard POLONSKY,Howard Allan WOLPERT. Владелец: Eli Lilly and Co. Дата публикации: 2024-07-11.

Manufacturing defect detection method, three-dimensional additive manufacturing system, information processing apparatus, information processing method, and information processing program

Номер патента: US20240134343A1. Автор: Akihiko Chiba,Kenta Aoyagi. Владелец: Technology Research Association for Future Additive Manufacturing (TRAFAM). Дата публикации: 2024-04-25.

Model evaluation method and apparatus

Номер патента: US20230245000A1. Автор: Shuigen Yang,Yinghao JIN,Dongrun QIN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Information processing device, information processing method, and program

Номер патента: US20230245340A1. Автор: Takaaki Kato,Yuya YAMAGUCHI,Jun GOMITA. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Manufacturing defect detection method, three-dimensional additive manufacturing system, information processing apparatus, information processing method, and information processing program

Номер патента: US20240231310A9. Автор: Akihiko Chiba,Kenta Aoyagi. Владелец: Technology Research Association for Future Additive Manufacturing (TRAFAM). Дата публикации: 2024-07-11.

Image formation system, image formation method, and image formation program for estimating state of image forming device

Номер патента: US20240273403A1. Автор: Naoya MIYAJI. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Location identifying device, location identifying method, and program therefor

Номер патента: US20180174290A1. Автор: Tsuyoshi Yoshida,Noriko Saito. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2018-06-21.

Biometric apparatus, biometric system, biometric method, and biometric program

Номер патента: EP3711661A1. Автор: Kazuma Goto. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-23.

Defect inspection method and disk drive using same

Номер патента: US20090252012A1. Автор: Se-Hyun Kim,Seung-youl Jeong,Jae-Deog Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-10-08.

Defect management apparatus, method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12094098B2. Автор: Tsukasa Ike,Kazunori Imoto,Tomohiro Nakai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Methods and systems and apparatus to support reduced energy and water usage

Номер патента: US12123656B2. Автор: Peter KONOWALCZYK. Владелец: Octopus Energy Heating Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Image forming apparatus and method and information processing system

Номер патента: US09857769B2. Автор: Yoshiyuki Ono,Akira Tateishi,Haruo Harada,Hiromitsu OHASHI. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Information processing apparatus, portable communication terminal, and control methods and control programs thereof

Номер патента: US09517011B2. Автор: Yoshikazu Kobayashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Movable body system, movable body drive method, pattern formation apparatus, pattern formation method, exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: US09436102B2. Автор: Yuho Kanaya. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Method and milking device for milking a dairy animal

Номер патента: EP4072275A1. Автор: Pieter Gerlof De Groot,Peter Leonardus Hendricus JENNEN. Владелец: Lely Patent NV. Дата публикации: 2022-10-19.

Method and milking device for milking a dairy animal

Номер патента: CA3161957A1. Автор: Pieter Gerlof De Groot,Peter Leonardus Hendricus JENNEN. Владелец: Lely Patent NV. Дата публикации: 2021-06-17.

Method and milking device for milking a dairy animal

Номер патента: WO2021118342A1. Автор: Pieter Gerlof De Groot,Peter Leonardus Hendricus JENNEN. Владелец: LELY PATENT N.V.. Дата публикации: 2021-06-17.

Precision three-dimensional pavement faulting measurement method and apparatus

Номер патента: AU2022418482A1. Автор: Hong Lin,HUI Li,Yi Lu,Min Cao,Xinlin Wang,Xuan QU,Xiuwen HU. Владелец: Wuhan Optics Valley Zoyon Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Precision three-dimensional pavement faulting measurement method and apparatus

Номер патента: CA3238222A1. Автор: Hong Lin,HUI Li,Yi Lu,Min Cao,Xinlin Wang,Xuan QU,Xiuwen HU. Владелец: Wuhan Optics Valley Zoyon Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Method and apparatus for taking biomechanical measurements

Номер патента: US20050197598A1. Автор: Peter Von Rogov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-09-08.

Vehicle electrical power system with defect detection

Номер патента: US11971002B2. Автор: Ryouta ASAI. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Blood pressure measuring method, device and blood pressure measurement device

Номер патента: CN108836292A. Автор: 孙勋悦. Владелец: Guangdong Transtek Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-20.

SAFE DRIVING MANAGEMENT SYSTEM, SLEEP SHORTAGE DETERMINATION DEVICE, SLEEP DATA MEASUREMENT DEVICE, USER IDENTIFICATION INFORMATION INPUT DEVICE, CONTROL METHOD AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20160193918A1. Автор: MOCHIZUKI Kei. Владелец: TANITA CORPORATION. Дата публикации: 2016-07-07.

DELAY MEASUREMENT SYSTEM AND DELAY MEASUREMENT METHOD, AS WELL AS DELAY MEASUREMENT DEVICE AND DELAY MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20130170390A1. Автор: Takagi Kazuo,Umayabashi Masaki,Cui Zhenlong. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2013-07-04.

PERFORMANCE MEASUREMENT METHOD, STORAGE MEDIUM, AND PERFORMANCE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20150012644A1. Автор: Kubota Atsushi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2015-01-08.

The blood pressure measuring device and method estimated based on oscillographic method and cumulative distribution function

Номер патента: CN109363655A. Автор: 王凯,王亚刚,姚强. Владелец: UNIVERSITY OF SHANGHAI FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2019-02-22.

Signal detection device, signal detection method and method for manufacturing signal detection device

Номер патента: EP2957228A4. Автор: Takayasu Sakurai,Makoto Takamiya,Takao Someya,Tsuyoshi Sekitani,Hiroshi FUKETA. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2016-10-05.

Detection Chip, Preparation Method and Use Method Thereof, and Detection Device

Номер патента: US20220062889A1. Автор: Jing Zhao,Yufan ZHANG,Chenyu Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-03.

PATH DETECTION METHOD AND DEVICE, AND SPHERE DECODING DETECTION DEVICE

Номер патента: US20170214450A1. Автор: Wu Gang. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-27.

A urine and feces detecting sensor of a electric capacity type with many electrodes, Making method and a urine and feces detecting device

Номер патента: KR101260997B1. Автор: 배윤섭. Владелец: (주)아이티헬스. Дата публикации: 2013-05-29.

Snow point image detection method and device and video quality detection device and system

Номер патента: CN105554494A. Автор: 陈育萌,李彬焮. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2016-05-04.

Rotating electrical machine interlayer short-circuit detection device and method, and interlayer electrical short-circuit detection device

Номер патента: JP4232810B2. Автор: 亮一 塩原,慎吾 稲村,正己 助田. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2009-03-04.

Path detection method and device, and sphere decoding detection device

Номер патента: EP3174232A4. Автор: Gang Wu. Владелец: Sanechips Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-16.

SIGNAL DETECTION DEVICE, SIGNAL DETECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SIGNAL DETECTION DEVICE

Номер патента: US20160007927A1. Автор: TAKAMIYA Makoto,SAKURAI Takayasu,SEKITANI Tsuyoshi,Fuketa Hiroshi,SOMEYA Takao. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2016-01-14.

Detection device, detection method, and exhaust purification device with detection device

Номер патента: US20220082039A1. Автор: Hitoshi Sato,Naofumi Ochi,Takanobu Ogawa,Akira Matsutani,Daiki Ishii,Yuta KAGEYAMA. Владелец: Isuzu Motors Ltd. Дата публикации: 2022-03-17.

IN-VIVO SIGNAL SOURCE DETECTION METHOD AND IN-VIVO SIGNAL SOURCE DETECTION DEVICE

Номер патента: US20190175046A1. Автор: MAKIKAWA Masaaki,INAKA Chisa,Okada Tatsuya,YOSHIWAKI Masayasu,SAKAUE Yusuke. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-13.

Methods and apparatus for an analyte detecting device

Номер патента: US20070123802A1. Автор: Dominique Freeman. Владелец: Pelikan Technologies Inc. Дата публикации: 2007-05-31.

Methods and apparatus for an analyte detecting device

Номер патента: US20110034829A9. Автор: Dominique Freeman. Владелец: Pelikan Technologies Inc. Дата публикации: 2011-02-10.

Substrate heat processing apparatus, substrate heat treatment method and condition of heat treatment detection device

Номер патента: CN105470165B. Автор: 东广大,三坂晋一朗,三坂晋朗. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-04-19.

Method and system for remotely operating detection device

Номер патента: JP2005520229A. Автор: フロスト，ニコラス，ジェームズ,ハンロン，ジェーソン，ジュリアン,ルイス，アンドリュー，ビガースタッフ,リドリー，ステファン，イー．,モーガン，ミカエル，ジェイ．,ベーカー，マーカス,ヒスコックス，ギャリー，ピー．,ピアソン，リチャード，デービッド. Владелец: Radiodetection Ltd. Дата публикации: 2005-07-07.

Vehicle coupling control system, vehicle coupling control method, and vehicle control system fault detection device

Номер патента: WO2015132944A1. Автор: 勝田　敬一,健二 今本,貴広 池田. Владелец: 株式会社日立製作所. Дата публикации: 2015-09-11.

Method and apparatus for an analyte detecting device

Номер патента: EP1945093A4. Автор: Dominique M Freeman. Владелец: Pelikan Technologies Inc. Дата публикации: 2010-07-21.

In-vivo signal source detection method and in-vivo signal source detection device

Номер патента: JP6770266B2. Автор: 千草 井中,方昭 牧川,達弥 岡田,牧川　方昭,友介 坂上,正泰 吉脇. Владелец: Ritsumeikan Trust. Дата публикации: 2020-10-14.

Detection device, detection method, and exhaust purification device with detection device

Номер патента: WO2020138180A1. Автор: 大貴 石井,越智　直文,隆信 小川,遊大 景山,佐藤　等,映 松谷. Владелец: いすゞ自動車株式会社. Дата публикации: 2020-07-02.

Ion detection device for mass spectrometry, ion detection method, and method of manufacturing ion detection device

Номер патента: JP5175388B2. Автор: 善郎 塩川,恵 中村,強 彭. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2013-04-03.

PACEMAKER SIGNAL DETECTING METHOD, PACEMAKER SIGNAL DETECTING SYSTEM AND ELECTROCARDIAL DETECTING DEVICE

Номер патента: US20150283387A1. Автор: Cheng Xiao-Wen,SUN ZE-HUI,DING MING-SHI,LIU QI-LING. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

Disk holding device and defective foreign object detection device

Номер патента: JP5175743B2. Автор: 光良 宗像. Владелец: Is Tech Japan Inc. Дата публикации: 2013-04-03.

The detection method of disposable paper pulp service plate detection device based on machine vision

Номер патента: CN110090816A. Автор: 阮金刚. Владелец: Home Depot Of Zhejiang Polytron Technologies Inc. Дата публикации: 2019-08-06.

Breathing detection device and method for detecting asynchronous or arrested breathing

Номер патента: CA2665651C. Автор: Ahmed Aoude. Владелец: RESPITECH MEDICAL Inc. Дата публикации: 2012-06-19.

Hrv change detection method for health evaluation and hrv change detection device for health evaluation

Номер патента: WO2011061865A1. Автор: 万成 佐藤. Владелец: 医療法人社団 万燦会. Дата публикации: 2011-05-26.

Method and apparatus for adjusting the thickness of a plastic film produced by cast extrusion process

Номер патента: EP4399082A1. Автор: Paolo Rizzotti,Gabriele Caccia,Enrico NAPPA,Fabiano Sarnari. Владелец: Syncro Srl. Дата публикации: 2024-07-17.

Electrode manufacturing method and apparatus

Номер патента: US20180277854A1. Автор: Junichi Nakano,Yuji Narita. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-27.

Breast thickness measurement device and breast thickness measurement method

Номер патента: US09675277B2. Автор: Tomoki Inoue,Takahisa Arai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Thickness measuring method and device

Номер патента: EP4344614A1. Автор: Jae Seung Oh,Seon Hwan Choi. Владелец: Huvitz Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Light intensity adjustment method for optical film thickness measuring device and polishing apparatus

Номер патента: US20240207997A1. Автор: Masaki Kinoshita. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Stop member having panel thickness measuring device for use with positioning conveyor which horizontally aligns panels

Номер патента: US6430837B1. Автор: Wilfried Strothmann. Владелец: Wilfried Strothmann GmbH and Co KG Maschinenbau und Handhabungstechnik. Дата публикации: 2002-08-13.

Semiconductor device fabrication method and semiconductor device fabrication system

Номер патента: US20080081384A1. Автор: Masanori Terahara,Junji Oh. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-04-03.

Method and apparatus for an anticipatory thickness control in foil rolling

Номер патента: CA2173049C. Автор: Hans-Georg Hartung. Владелец: Sms Schloemann Siemag AG. Дата публикации: 2007-06-12.

Method and apparatus for an anticipatory thickness control in foil rolling

Номер патента: CA2173049A1. Автор: Hans-Georg Hartung. Владелец: Sms Schloemann Siemag AG. Дата публикации: 1996-10-01.

Method and apparatus for controlling a stretch-reducing mill in order to compensate for the wall thickness

Номер патента: RU2758745C1. Автор: Александр ГОР,Петер ТИФЕН. Владелец: Смс Груп Гмбх. Дата публикации: 2021-11-01.

Method and apparatus for the force-fitting connection of glass-like components to metals

Номер патента: CA2744632C. Автор: Wolfgang Friedl,Stephan Leitenmeier,Egbert Wenninger,Franz Bachmeir. Владелец: Grenzebach Maschinenbau GmbH. Дата публикации: 2014-03-18.

Film forming position misalignment correction method and film forming system

Номер патента: US20240011148A1. Автор: Atsushi Gomi,Atsushi Takeuchi,Kanto Nakamura,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Method and apparatus for measuring thickness of fat using infrared light

Номер патента: US5014713A. Автор: Keith O. Johnson,Alan Roper. Владелец: Tarris Enterprises Inc. Дата публикации: 1991-05-14.

Axis determination apparatus, film-thickness measurement apparatus, deposition apparatus, axis determination method, and film-thickness measurement method

Номер патента: US20020071129A1. Автор: Kai Chen,Shizuo Nakamura,Fumihiko Omura,Akihito Minamitsu. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2002-06-13.

Polishing method, and polishing apparatus

Номер патента: US20240181594A1. Автор: Keita Yagi,Yoichi Shiokawa,Toshimitsu Sasaki,Yuki Watanabe,Nachiketa Chauhan,Masashi KABASAWA. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Polishing method and polishing apparatus

Номер патента: US20190118333A1. Автор: Keita Yagi,Toshimitsu Sasaki,Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Calf Stretcher and Measuring Device

Номер патента: US20230240930A1. Автор: Roger Stroh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-03.

Polishing method and apparatus

Номер патента: GB2384910A. Автор: Shinichiro Kakita. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2003-08-06.

Epidermal electric potential measuring device, epidermal electric potential measuring method, cosmetic method, and probe

Номер патента: US20190090805A1. Автор: Matsuhiko Nishizawa,Kuniaki Nagamine,Kenshi Yamasaki,Yuina ABE. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2019-03-28.

Channel state information measurement method and device, and signal transmission method and device

Номер патента: US09941984B2. Автор: Xin Su,Chuanjun Li. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2018-04-10.

Mechanical debonding method and system

Номер патента: US9368376B2. Автор: FENG Jiang,Daquan Yu. Владелец: National Center for Advanced Packaging Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-14.

Method and apparatus employing integrated metrology for improved dielectric etch efficiency

Номер патента: WO2004044974A3. Автор: Dimitris Lymberopoulos,Gary Hsueh,Sukesh Mohan. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2004-06-17.

Pcr measuring method and measurement device

Номер патента: US20190352699A1. Автор: Yoshinobu Kohara,Masao Kamahori,Takahide Yokoi,Junko Tanaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

Fetus electrocardiogram signal measuring method and its device

Номер патента: US20100076330A1. Автор: Yoshitaka Kimura,Takuya Ito,Mitsuyuki Nakao,Kazunari Ohwada. Владелец: Tohoku Techno Arch Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-25.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and biological information measurement program

Номер патента: US20220175288A1. Автор: Takuro Matsuda,Yoshinari Uehara,Yukiya TANOUE. Владелец: Fukuoka University. Дата публикации: 2022-06-09.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Biological measurement device, biological measurement method, and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US20230301536A1. Автор: Hitoshi Tominaga,Hiroto Yanagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220117497A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Non-invasive blood component measuring device, non-invasive blood component measuring method, and a computer program product

Номер патента: US20090203976A1. Автор: Toshiyuki Ozawa,Yasuhito Ohnishi. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2009-08-13.

Body composition measurement device, body composition measurement method, and correction method in body composition measurement

Номер патента: US09795317B2. Автор: Tatsuya Takahashi,Hiroaki Fukuda,Kazuhiro Ochi,Jakusei Kiyosaki. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Method of cleaning an optical film-thickness measuring system

Номер патента: US11919048B2. Автор: Nobuyuki Takahashi,Toru Maruyama,Taichi Yokoyama,Zhongxin WEN. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Measurement device, measurement method, and recording medium storing a measurement program

Номер патента: US20140257117A1. Автор: Toshihiko Ogura,Hironori Sato,Hideo Utsuno,Keisuke Yamada,Hiroshi Matsuhisa. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2014-09-11.

Measurement device, measurement method, and recording medium storing a measurement program

Номер патента: US10085650B2. Автор: Toshihiko Ogura,Hironori Sato,Hideo Utsuno,Keisuke Yamada,Hiroshi Matsuhisa. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-10-02.

Method and measuring system for the measurement and testing of a mobile-telephone device

Номер патента: US09629001B2. Автор: Adrian Schumacher,Andreas Michl. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-04-18.

Step width measurement device, measurement system, step width measurement method, and program

Номер патента: US20240090798A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Step width measurement device, measurement system, step width measurement method, and program

Номер патента: US20220240813A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-08-04.

Network delay measuring system, network delay measuring method and network delay measuring device

Номер патента: US20240259285A1. Автор: Keita Nishimoto,Hiroshi O,Kota Asaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Methods and systems for detecting defects in serial link transceivers

Номер патента: US20090074110A1. Автор: Pieter Vorenkamp. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2009-03-19.

Substance concentration measuring device, substance concentration measuring method and human condition monitoring system

Номер патента: US20230218207A1. Автор: Chih-Hao Wang,Chien-Yi Kao,Hsin-Yi Lin,Shih-Jen Lu,Yang-Ming Chou. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Methods and systems for detecting defects in serial link transceivers

Номер патента: US7706472B2. Автор: Pieter Vorenkamp. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2010-04-27.

Method and device for applying coating on one and/or both sides of metal substrate in form of strip

Номер патента: RU2743076C1. Автор: Лутц КЮММЕЛЬ,Маттиас КРЕЧМЕР,Генри ГЁРЦ. Владелец: Смс Груп Гмбх. Дата публикации: 2021-02-15.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and biological information measurement system

Номер патента: US20240206753A1. Автор: Hiroki Kobayashi,Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Wireless communication system, monitoring station, defect detection method, and wireless communication program

Номер патента: US20230121752A1. Автор: Yasushi Takatori,Koichi Ishihara,Toshiro NAKAHIRA,Hirantha ABEYSEKERA,Shoko Shinohara. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Communication status measurement device, communication status measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20150263924A1. Автор: Roshan Thapliya. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-17.

Photoelectric type pulse signal measuring method and apparatus

Номер патента: US09949695B2. Автор: Song Liu,Bo Li,Shasha Lou. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Communication status measurement device, communication status measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09847923B2. Автор: Roshan Thapliya. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Method and device for registration of vascular structure during medical influence

Номер патента: RU2480160C2. Автор: Рауль ФЛОРАН. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2013-04-27.

Gait measurement device, estimation system, gait measurement method, and recording medium

Номер патента: US20240245320A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

System, method, and computer software code for detecting a physical defect along a mission route

Номер патента: WO2010147724A1. Автор: Ajith Kuttannair Kumar,Wolfgang Daum,Glenn Robert Shaffer,Christopher Mcnally. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2010-12-23.

Discharge defect detecting method and discharge defect detecting device

Номер патента: US8322813B2. Автор: Hidekuni Moriya,Tsuneo Kasai,Kenji Fukasawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-12-04.

Discharge defect detecting method and discharge defect detecting device

Номер патента: US20100253982A1. Автор: Hidekuni Moriya,Tsuneo Kasai,Kenji Fukawasa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-10-07.

Bandwidth measuring device, bandwidth measuring method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09621447B2. Автор: Roshan Thapliya. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Control method and device of protection function sensitivity

Номер патента: RU2496201C2. Автор: Торд Бенгтссон,Стефан РОКСЕНБОРГ,Хенрик ЙОХАНССОН,Стефан ТОРБУРН. Владелец: АББ Рисерч ЛТД. Дата публикации: 2013-10-20.

Cornea thickness measuring ultrasonic probe

Номер патента: US4823801A. Автор: Toshio Sakane. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1989-04-25.

Methods and apparatus to increase rigidity of printed circuit boards

Номер патента: US20230108868A1. Автор: Juha Paavola,Tin Poay Chuah,Jia Yan Go,Twan Sing Loo,Sami Heinisuo,Kari Mansukoski. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-04-06.

Rejection control method and apparatus for battery electrode plate, and device

Номер патента: EP4287340A1. Автор: Wen Chang,Jun Hu,Qing Wu,Canbin CHEN,Shiping FENG,Qiuhui ZHENG,Haoran LU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Band measurement device, band measurement method and computer program

Номер патента: EP1838046A3. Автор: Yasuhiro Mizukoshi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2009-09-16.

Method and device for evaluating electrical characteristics of accumulator cells for assembling them in storage batteries

Номер патента: RU2246155C2. Автор: Е.В. Пугачев,В.И. Вавиловский,С.А. Мельчуков,А.С. Тимофеев,Т.А. Бич. Владелец: Сибирский государственный индустриальный университет. Дата публикации: 2005-02-10.

Method and device for controlling operation of timber loading device in working machine and logging machine

Номер патента: RU2755264C2. Автор: Юкка ТОССАВАЙНЕН,Терхо ТАНСКАНЕН. Владелец: Понссе Ойй. Дата публикации: 2021-09-14.

Method and device for processing photoplethysmographic signals

Номер патента: RU2567266C2. Автор: Йенс МЮЛЬСТЕФФ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2015-11-10.

Wireless communication system, monitoring station, defect detection method, and wireless communication program

Номер патента: US20230035101A1. Автор: Yasushi Takatori,Koichi Ishihara,Toshiro NAKAHIRA,Hirantha ABEYSEKERA,Shoko Shinohara. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Method and system for calibrating an additive manufacturing system

Номер патента: US20240227015A1. Автор: Per Viklund,Ville-Pekka MATILAINEN. Владелец: Sandvik Machining Solutions AB. Дата публикации: 2024-07-11.

Method and device for pipes manufacturing by cold pilger rolling method

Номер патента: RU2505366C1. Автор: Марк ХАВЕРКАМП,Мартин ЗАУЭРЛАНД,Михаэль БЕНШ. Владелец: СМС МЕЕР ГМБХ. Дата публикации: 2014-01-27.

Scale inhibition method and geothermal power generating device

Номер патента: NZ615602B2. Автор: Yoshitaka Kawahara,Kuniyuki Takahashi. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-28.

Method and device for intermittent, pulsating proportioning of a dialysis liquid mixture

Номер патента: WO2020043779A1. Автор: Silvie Krause,Waldemar Janik,Eugen Schiller. Владелец: B. Braun Avitum AG. Дата публикации: 2020-03-05.

Biological treatment apparatus, biological treatment method, and program

Номер патента: SG10201801585UA. Автор: Oda Masato,MIZUTANI Hiroshi,Hagimoto Toshiki. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Environmental & Chemical Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-28.

System, method, and device for measuring optical fiber channel loss in photonic communication

Номер патента: US20170126316A1. Автор: Peng Yuan,Zhiqiang Wang,Shaojie LIU. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2017-05-04.

Semiconductor processing methods and semiconductor defect detection methods

Номер патента: US20010024836A1. Автор: Garry Mercaldi,Michael Nuttal. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-09-27.

Physiological information measurement device, physiological information measurement method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20240335125A1. Автор: Shogo TOTSUKA. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Measuring device, measurement method, and transmission system

Номер патента: US09647793B2. Автор: Takehiro Fujita. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Method and device for protection against electrochemical corrosion of welded metal structure

Номер патента: RU2734884C1. Автор: Валерий Иванович Веревкин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Калининградский государственный технический университет". Дата публикации: 2020-10-26.

Method and device for positioning coal charger servicing units on charging holes of coke furnace

Номер патента: RU2484120C2. Автор: Ральф КНОХ,Франц-Йозеф ШЮКЕР. Владелец: Тиссенкрупп Уде Гмбх. Дата публикации: 2013-06-10.

Method and system for safe start of gas turbine

Номер патента: RU2756018C2. Автор: Клаудио БОТАРЕЛЛИ,Эудженио КВАРТИЕРИ,Никола ВАННИ,Даниеле БРУНИ,Андреа КАРНЬЕРИ,Бруно ДЖУНТА. Владелец: Нуово Пиньоне Текнолоджи - С.Р.Л. Дата публикации: 2021-09-24.

Method and device for determining properties of crushed material

Номер патента: RU2592557C2. Автор: Бенгт Олоф ЧЕЛЬ,Кристиан ОТТЕРГРЕН. Владелец: САНДВИК ИНТЕЛЛЕКЧУАЛ ПРОПЕРТИ АБ. Дата публикации: 2016-07-27.

Method and appartus for the preservation of beverages with pump venting

Номер патента: US20240218869A1. Автор: Erasmus Vogl,Jonas Burgholz,Gerhard Sartorius,Axel Kubatz. Владелец: LANXESS DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and measuring device for determining an error rate without incremental redundancy

Номер патента: US20070165671A1. Автор: Ralf Plaumann,Johannes Fassrainer,Max Winkhofer. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2007-07-19.

Method and vision testing system for testing the eyes

Номер патента: US11723533B2. Автор: Andreas Steinmueller. Владелец: OCULUS OPTIKGERAETE GMBH. Дата публикации: 2023-08-15.

Method and device for measuring a shaft such as an elevator shaft

Номер патента: EP4421015A1. Автор: Malcolm Mielle,Mariam Hassan. Владелец: INVENTIO AG. Дата публикации: 2024-08-28.

System, method, and device for measuring optical fiber channel loss in photonic communication

Номер патента: US20190149233A1. Автор: Peng Yuan,Zhiqiang Wang,Shaojie LIU. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2019-05-16.

Position determination timing selection device, wireless communication system, position determination timing selection method, and recording medium

Номер патента: US20240163839A1. Автор: Takeo Hidaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Control information reception device and method, signal measurement devices, and location measurement server and method

Номер патента: US12101626B2. Автор: Hi Chan Moon. Владелец: Infoseize Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Measurement method and device, information interchange method and device, and residence method and device

Номер патента: US09967765B2. Автор: BO Lin,Hao Bi,Jie Shi,Yajuan LI,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Methods and devices for ostium measurements

Номер патента: US09615775B2. Автор: John Morriss. Владелец: Acclarent Inc. Дата публикации: 2017-04-11.

Patient-probe-operator tracking method and apparatus for ultrasound imaging systems

Номер патента: US09474505B2. Автор: Christopher J. Sanders,Zoran Banjanin. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Method and device for continuous monitoring of process channel pipe bend

Номер патента: RU2545521C2. Автор: Владимир Аминович Подгорнов,Семён Владимирович Подгорнов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный Ядерный Центр-Всероссийский Научно-Исследовательский Институт Технической Физики имени академика Е.И. Забабахина" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИТФ им. академ. Е.И. Забабахина"). Дата публикации: 2015-04-10.

Method and apparatus for identifying and/or dispensing medicinal treatment in the form of a substance, such as powder, paste or liquid, to a wild animal

Номер патента: WO1990006675A1. Автор: Hans Kieldsen. Владелец: Hans Kieldsen. Дата публикации: 1990-06-28.

Height correction device, and height correction method and blood pressure measurement system using height correction device

Номер патента: US20190387978A1. Автор: Takahide Tanaka,Shingo Yamashita,Yumi Kitamura. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2019-12-26.

Scale inhibition method and geothermal power generating device

Номер патента: NZ615602A. Автор: Yoshitaka Kawahara,Kuniyuki Takahashi. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-27.

Measurement method and apparatus, measurement configuration method and apparatus, terminal, and network side device

Номер патента: EP4404621A1. Автор: Xiaodong Yang,Yangyang Wang,Wei Bao,Xuanbing Liu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Endoscope system, processor device, operation method, and distance measurement device

Номер патента: US10463240B2. Автор: Yasushi Shiraishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-11-05.

Method and system for securely controlling a remote measurement device

Номер патента: US20230319010A1. Автор: Bjoern Schmid. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-10-05.

Method and apparatus for bit-rate and format insensitive performance monitoring of lightwave signals

Номер патента: WO2002029897A1. Автор: David B. Lidsky,Bharat Dave,Julio Martinez,Jithamithra Sarathy,Ronald Simprini,Boris Stefanov,Tan Thai,Gaurav Naik,Chinnabbu Ekambaram. Владелец: Alphion Corporation. Дата публикации: 2002-04-11.

Method and device for three-dimensional measurement of a dental model

Номер патента: WO2010061362A3. Автор: Michael Stolper,Uwe Bielfeldt,Reiner Engelmohr,Dirk Markgraf. Владелец: Braun GmbH. Дата публикации: 2010-07-22.

Submarine optical communication control device, control method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: EP3780420A1. Автор: Hitoshi Takeshita,Shinsuke Fujisawa,Shigeyuki Yanagimachi,Taillandier De Gabory Emmanuel Le. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-02-17.

Method and system for thermally connecting a heat source of a battery system to a heat sink of a battery system

Номер патента: US20210359334A1. Автор: Alexander Hahn,Stefan Seidl. Владелец: Lisa Draexlmaier GmbH. Дата публикации: 2021-11-18.

Method and apparatus for bit-rate and format insensitive performance monitoring of lightwave signals

Номер патента: US20020053677A1. Автор: Bharat Dave,Julio Martinez,Jithamithra Sarathy,Ronald Simprini,Tan Thai,Gaurav Naik,David Lidsky,Chinnabbu Ekambaram,Boris Stefanow. Владелец: Alphion Corp. Дата публикации: 2002-05-09.

Method and device arrangement for measuring physical exercise promoting cholesterol metabolism

Номер патента: WO2008071840A1. Автор: Juhani LEPPÄLUOTO,Anneli Rinta-Paavola,Ari JÄMSEN,Timo Jämsä,Erkki VIHRIÄLÄ. Владелец: Newtest Oy. Дата публикации: 2008-06-19.

Method and device for measuring multiple strands of material dospensed form a single spool

Номер патента: US20010030258A1. Автор: Gary Miller,William Webb,La Rhonda Lenski. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-10-18.

Physiological measurement device, method and program

Номер патента: US20240225555A1. Автор: Christoph Florian FRANCK. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2024-07-11.

Physiological measurement device, method and program

Номер патента: EP4362799A1. Автор: Christoph Florian FRANCK. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2024-05-08.

Physiological measurement device, method and program

Номер патента: WO2023274921A1. Автор: Christoph Florian FRANCK. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.. Дата публикации: 2023-01-05.

Feather Down Washing and Feeding Method and Feeding and Washing Machine Thereof

Номер патента: NL2029453B1. Автор: HU Juan,LI Lingang,Yu Xueyong,Xie Chenggen,ZHU Yelong. Владелец: The Sea Feather Ltd Company Of Luan. Дата публикации: 2023-05-16.

Positioning method and positioning apparatus

Номер патента: EP4451759A1. Автор: Xiaodong Hu,Zaifeng Zong,Wenfu Wu,Runze ZHOU,Jianxin JIA. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Method and device for determining the position angle of a rotor in an electric synchronous machine

Номер патента: US20200059175A1. Автор: Alexander Maass,Gholamabas Esteghlal. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-02-20.

Electronic apparatus in wireless communication system, and mobility measurement method

Номер патента: US12058756B2. Автор: Zhongbin Qin. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

White area defect detection for image based controls applications

Номер патента: US09906654B1. Автор: Eliud Robles Flores,Douglas R. Taylor. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Method and apparatus for determining the voltage at the electrodes of a spot welding gun

Номер патента: US09889520B2. Автор: Helmut Ennsbrunner,Thomas Gschmeidler. Владелец: FRONIUS INTERNATIONAL GMBH. Дата публикации: 2018-02-13.

Measuring device for property of photovoltaic device and measuring method using the same

Номер патента: US09866171B2. Автор: Teng-Chun Wu,Yean-San Long,Min-An TSAI,Shu-Tsung Hsu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-01-09.

Nucleic acid sequence measuring method, nucleic acid sequence measuring device, manufacturing method for nucleic acid sequence measuring device, and nucleic acid sequence measuring apparatus

Номер патента: US09797003B2. Автор: Takeo Tanaami,Tomoyuki Taguchi,Takashi TADENUMA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Packaging aid, packing method and packing workplace

Номер патента: US09789985B2. Автор: Max Winkler,Elmar Issing. Владелец: SSI SCHAEFER PEEM GMBH. Дата публикации: 2017-10-17.

Method and hollow core forming apparatus for casting concrete products

Номер патента: RU2663853C2. Автор: Тармо САХАЛА,Ласси ЯРВИНЕН,Леена РАУКОЛА. Владелец: Элематик Ойй. Дата публикации: 2018-08-10.

Method and device for pipe production by cold pilger rolling

Номер патента: RU2507015C1. Автор: Вольфганг КРЕБС,Михаэль БЕНШ,Верена ТОМЕ,Георг ШИРЕН,Оливер ШТРЕЛАУ. Владелец: СМС МЕЕР ГМБХ. Дата публикации: 2014-02-20.

Temperature estimation and control systems, methods, and devices for a battery pack charger

Номер патента: EP3900151A1. Автор: Donald J. Truettner,Vasil Zhmendak,Allen Lukowitz. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2021-10-27.

Detection device to identity markers dissolved in a liquid by means of a measurement of resistivity variation, detection method and use of marker and detection device.

Номер патента: OA17871A. Автор: Davide Ciampini. Владелец: SICPA HOLDING SA. Дата публикации: 2018-02-16.

Method and Apparatus For Inspecting Defect Of Pattern Formed On Semiconductor Device

Номер патента: US20120002861A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Thin film thickness measuring apparatus and thin film thickness measuring method

Номер патента: JP4049458B2. Автор: 慎一郎 税所. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2008-02-20.

Lens middle-thickness measuring instrument and lens middle-thickness measuring method

Номер патента: JP2002310620A. Автор: Atsushi Kawamura,淳 河村. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2002-10-23.

Method and system for defect detection of 3D optical film

Номер патента: TW201250235A. Автор: Shin-Min Chao. Владелец: BenQ Materials Corp. Дата публикации: 2012-12-16.

Method and apparatus for defect detection

Номер патента: AU2008904265A0. Автор: Ian Andrew Maxwell,Thorsten Trupke,Robert A. Bardos. Владелец: BT IMAGING PTY LTD. Дата публикации: 2008-09-04.

Slab surface defect detection method and slab surface defect detection apparatus

Номер патента: JP5200872B2. Автор: 寧男 戸村,義治 楠本,昭芳 本田. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2013-06-05.

Displacement or distortion measuring method and device, speed measuring method, elastic modulus/viscoelastic modulus measuring device, and ultrasonic diagnostic apparatus

Номер патента: JP2007152074A. Автор: 親良 炭,Chikayoshi Sumi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-06-21.

Defect detection apparatus, defect correction apparatus, and defect detection method

Номер патента: JP6184746B2. Автор: 博明 大庭. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2017-08-23.

Image defect detection apparatus and method, and program

Номер патента: JP6293027B2. Автор: 善朗 山崎. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-14.

Method and device for defect detection in protection films of resistance strain gauges

Номер патента: SU1636743A1. Автор: Николай Павлович Бажанов,Виктор Филиппович Мизонов. Владелец: Предприятие П/Я А-1891. Дата публикации: 1991-03-23.

Medium defect detection and registration method and device using the same

Номер патента: JPH10134524A. Автор: Katsuhiro Tokida,Motoi Aoi,基 青井,Yasutaka Nishida,靖孝 西田,勝啓 常田,Chikashi Yoshida,史 吉田. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-05-22.

The method and device of defects detection is carried out to program source file

Номер патента: CN109857641A. Автор: 徐亮. Владелец: Beijing Qihu Ceteng Security Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-07.

Solar ray angle measuring device of photovoltaic tracking system and measuring method of solar ray angle measuring device

Номер патента: CN102607507B. Автор: 杨鹏,陈国林,徐爱斌,史旺旺. Владелец: YANGZHOU BELLSTONE TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-14.

Measuring device for laser beam size and its method, and laser beam machining device

Номер патента: JPH10267753A. Автор: Keiichi Hirose,恵一 広瀬,Ikuo Hikima,郁雄 引間. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1998-10-09.

Measurement method of motor rotational inertia, measurement device of motor rotational inertia and motor control system

Номер патента: CN104980078A. Автор: 张国柱,陈毅东. Владелец: Guangdong Midea Refrigeration Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-14.

Measuring method for sheet material, and measuring device

Номер патента: JP2005203661A. Автор: Hiroyuki Mochizuki,博之 望月,Yasuki Oku,康樹 奥. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-28.

Measuring method of interface slippage and measuring device

Номер патента: CN104848777A. Автор: 马荣全,苗冬梅,牛辉,郭志鑫,范新海,陈丝琳. Владелец: China Construction Eighth Engineering Division Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-19.

Optical cable laying environment measuring method, optical cable laying environment measuring device, and optical cable laying environment measuring system

Номер патента: JP5298043B2. Автор: 裕司 東,則幸 荒木,奈月 本田,雅晶 井上. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2013-09-25.

The measuring method of driver move distance in a kind of device and its application method and the device for measuring micro-nano metallic fiber surface topography

Номер патента: CN104880578B. Автор: 边义祥,夏咸龙. Владелец: Yangzhou University. Дата публикации: 2017-06-16.

Measuring method of radioactive gas and measuring device

Номер патента: JPS5672377A. Автор: Masaru Iwai. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1981-06-16.

Noise measuring method of digital signal and measuring device thereof

Номер патента: TW200945816A. Автор: Yan-Chang Chen,tian-yi Lin. Владелец: Chun Chien Cable Television Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-01.

Vehicle annual inspection information detecting method and system and vehicle and detecting device

Номер патента: CN103106797A. Автор: 刘若鹏,刘敏,栾琳,许伟成. Владелец: Kuang Chi Institute of Advanced Technology. Дата публикации: 2013-05-15.

Gas leak detection device and method, and controller for gas leak detection device

Номер патента: JP5563202B2. Автор: 清 丸山,廣純 中村,加藤　　明,守 鈴木,一高 浅野,圭史 川口,和男 久保,宏 石田,三男 難波,卓久 大谷,賢知 小林,龍志 岩本,雄一 平山,龍雄 藤本,望 長井,祥子 甲野,尚 齋藤,仁朗 石野,充彦 坂巻,剛 森永. Владелец: High Pressure Gas Safety Institute of Japan. Дата публикации: 2014-07-30.

Methods and apparatus for an analyte detecting device

Номер патента: US20120296233A9. Автор: Freeman Dominique. Владелец: . Дата публикации: 2012-11-22.

Correction method and device for vehicle running detection device

Номер патента: JP2659455B2. Автор: 英史 柬理. Владелец: Yazaki Sogyo KK. Дата публикации: 1997-09-30.

Moving speed detecting method and device, vehicle slip angle detecting device

Номер патента: JP3169213B2. Автор: 通保 田野,浩平 東城,浩樹 佐竹. Владелец: 株式会社データ・テック. Дата публикации: 2001-05-21.

Vehicle road surface state detection device, vehicle road surface state detection method, and vehicle road surface state detection device control program

Номер патента: JP4183542B2. Автор: 宗男 山田,勇夫 堀場,浩次 上田,香織 中村,徹也 谷嵜. Владелец: Nagoya Electric Works Co Ltd. Дата публикации: 2008-11-19.

Dry gas holder seal material wear amount detection method and seal material wear amount detection device

Номер патента: JP5098287B2. Автор: 徳彦 坂本,浩海 大林,正典 栗原. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2012-12-12.

FOCUS DETECTION DEVICE, ITS CONTROL METHOD, AND IMAGING DEVICE HAVING FOCUS DETECTION DEVICE

Номер патента: JP5904714B2. Автор: 昌大 瓦田,瓦田　昌大. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-04-20.

A kind of self-discharge of battery detection method and self-discharge of battery detection device

Номер патента: CN108663627A. Автор: 徐超. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-16.

Capsule detection method and high-speed fully-automatic detection device

Номер патента: CN104634790A. Автор: 孙庆海,晏毓. Владелец: HANGZHOU QOGORI TECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2015-05-20.

TOUCH DETECTION METHOD FOR CAPACITIVE TOUCH SCREENS AND TOUCH DETECTION DEVICE

Номер патента: US20130120309A1. Автор: Mo Lianghua. Владелец: FOCALTECH SYSTEMS, LTD.. Дата публикации: 2013-05-16.

Automatic detection method of magnetic loop surface quality and detection device thereof

Номер патента: CN101275915A. Автор: 邱宇,陈靖,邬曙国,兰力. Владелец: SANTUO IDENTIFICATION TECH Co Ltd GUANGZHOU. Дата публикации: 2008-10-01.

Introduce the detection method of the nuclear magnetic resonance directional detection device of artificial magnetic field

Номер патента: CN103344995B. Автор: 尚新磊,侯二娜. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2016-03-02.

Circuit board detecting method based on artificial intelligence and its detection device

Номер патента: CN106153639B. Автор: 张虎,钱方杰,程东阳. Владелец: International Technology Development Corp. Дата публикации: 2018-10-19.

Coordinate detection device, coordinate detection method thereof, and evaluation method of coordinate detection device

Номер патента: JP4152144B2. Автор: 誠 金川. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 2008-09-17.

The detection method of optical element refractive index and detection device thereof

Номер патента: CN103776801B. Автор: 吴志强,周佺佺. Владелец: Chengdu Guangming Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-21.

Origin position detection method of operation mechanism and origin position detection device

Номер патента: JP6679426B2. Автор: 明彦 宝田. Владелец: Oriental Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-15.

Anomaly detecting method of wheel speed sensor, wheel speed detecting device, and wheel skid control device

Номер патента: JPH10300766A. Автор: Masanori Hirose,正典 ▲廣▼瀬. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 1998-11-13.

Detection method for scratches and defects on surfaces of metal components

Номер патента: CN103175844A. Автор: 高宏伟,姜月秋,仇维. Владелец: Shenyang Ligong University. Дата публикации: 2013-06-26.

The sealing property detecting method of floating bearing and sealing property detection device

Номер патента: CN103983405B. Автор: 曹海,宁潞林,张洪溢,丁学军,肖长远,陶斯伽. Владелец: CSIC (CHONGQING) HAIZHUANG WINDPOWER EQUIPMENT Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-24.

Alignment mark, the detection method of alignment mark and alignment mark detection device

Номер патента: CN104795383B. Автор: 岳力挽,伍强. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-11-03.

METHOD AND SYSTEM FOR TREATING PHOTOAGED TISSUE

Номер патента: US20120004549A1. Автор: . Владелец: GUIDED THERAPY SYSTEMS, L.L.C.. Дата публикации: 2012-01-05.

Analyser-measuring device for determining state of water/ice layer with impurities on road surface

Номер патента: RU2464580C1. Автор: Павел Сергеевич Зименков. Владелец: Государственное учреждение "Главная геофизическая обсерватория им. А.И. Воейкова" (ГУ "ГГО"). Дата публикации: 2012-10-20.

INFORMATION STORAGE/READOUT DEVICE FOR USE IN CONTINUOUSLY MANUFACTURING SYSTEM FOR LIQUID-CRYSTAL DISPLAY ELEMENTS, AND METHOD AND SYSTEM FOR PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120002154A1. Автор: Kitada Kazuo,Yura Tomokazu,Koshio Satoru,Nakazono Takuya,KIMURA Kouji,SHIMANOE Fumihito. Владелец: NITTO DENKO CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Resonance method of ultrasonic thickness measurement

Номер патента: RU2354932C2. Автор: Владимир Климентьевич Качанов,Игорь Вячеславович Соколов,Сергей Леонидович Авраменко. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский энергетический институт (технический университет)" (ГОУВПО "МЭИ (ТУ)"). Дата публикации: 2009-05-10.

Measurement method of thickness of non-ferromagnetic electrically conducting coating of steel

Номер патента: RU2532858C2. Автор: Владимир Александрович Сясько,Антон Евгеньевич Ивкин,Павел Валентинович Соломенчук,Алексей Владимирович СЯСЬКО. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "КОНСТАНТА". Дата публикации: 2014-11-10.

Measurement Device and Method Utilizing the Same

Номер патента: US20120000796A1. Автор: . Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2012-01-05.

Film thickness measuring device

Номер патента: RU2016376C1. Автор: Д.А. Усанов,В.С. Панченко,В.Д. Тупикин,В.В. Писарев. Владелец: Центральный научно-исследовательский институт измерительной аппаратуры. Дата публикации: 1994-07-15.

Method of ultrasound echo-pulse thickness measurement

Номер патента: RU2422769C1. Автор: Владимир Климентьевич Качанов,Игорь Вячеславович Соколов,Алексей Алексеевич Синицын,Алексей Борисович Родин,Дмитрий Валерьевич Тимофеев,Михаил Михайлович Конов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский энергетический институт (технический университет)" (ГОУВПО "МЭИ(ТУ)"). Дата публикации: 2011-06-27.

Ice thickness measuring method

Номер патента: RU2559159C1. Автор: Валерий Григорьевич Тимошенков,Станислав Алексеевич Смирнов. Владелец: Открытое акционерное общество "Концерн "Океанприбор". Дата публикации: 2015-08-10.

ARC FLASH DETECTION METHOD

Номер патента: US20120002195A1. Автор: Xia Hua,Chen Qin,Wu Juntao,Deveaux Robert,Mao Zhihong,Allcock David John. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

Thickness measuring gauge

Номер патента: RU2131110C1. Автор: М.А. Аксельрод,Д.Г. Безлуцкий. Владелец: Аксельрод Моисей Абрамович. Дата публикации: 1999-05-27.

Medium movement velocity measurement method and device for its implementation

Номер патента: RU2420745C1. Автор: Асим Мустафаевич Касимов,Александр Иванович Попов,Леонид Тимофеевич Чернявский. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН. Дата публикации: 2011-06-10.

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERNS FORMED ON A SUBSTRATE

Номер патента: US20120002860A1. Автор: Sakai Kaoru,Shibuya Hisae,Maeda Shunji,Nishiyama Hidetoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device for thickness measurements of loose materials layer in process tanks

Номер патента: RU2557600C1. Автор: Николай Петрович Тишанинов,Александр Витальевич Анашкин. Владелец: Государственное научное учреждение Всероссийский научно-исследовательский институт использования техники и нефтепродуктов Российской академии сельскохозяйственных наук (ГНУ ВНИИТиН Россельхозакадемии). Дата публикации: 2015-07-27.

Unsupervised thickness measurement for non-destructive testing

Номер патента: WO2024197385A1. Автор: Alain LE DUFF. Владелец: Evident Canada, Inc.. Дата публикации: 2024-10-03.

Tube wall thickness measurement

Номер патента: CA1171557A. Автор: Masami Shimizu,Asao Monno,Yutaka Funyu,Tadashi Okumura. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 1984-07-24.

METHOD AND APPARATUS FOR DISCHARGING A CONTROLLED AMOUNT OF CRYOGEN ONTO WORK SURFACES IN A COLD ROLL MILL

Номер патента: US20120000213A1. Автор: Plicht Guido,Lanyi Michael Dennis,Lin Minfa,Edwards Robert James,Schillak Harald,Bennewitz Detlef. Владелец: AIR PRODUCTS AND CHEMICALS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and device for providing blood constituents

Номер патента: US20120000299A1. Автор: . Владелец: ROCHE DIAGNOSTICS OPERATIONS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Automated Soil Measurement Device

Номер патента: US20120002192A1. Автор: . Владелец: SOLUM, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR CONNECTING TUBES MADE OUT OF THERMOPLASTIC MATERIAL

Номер патента: US20120003411A1. Автор: Strübin Pierre,Chuat René,Grosjean Yoland. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS AND DEVICES FOR THE SELECTIVE DETECTION OF MICROORGANISMS

Номер патента: US20120003661A1. Автор: . Владелец: C3 JIAN, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM TO CONTROL MOVABLE ENTITIES

Номер патента: US20120003992A1. Автор: . Владелец: WIRELESSWERX INTERNATIONAL, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR MONITORING A PHOTOVOLTAIC UNIT

Номер патента: US20120004870A1. Автор: Ney Jörg-Werner. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR THE CONTINUOUS OR SEMI-CONTINUOUS PRODUCTION OF FLAVORED ICE

Номер патента: US20120000206A1. Автор: Erbs Daryl G.,Pierskalla Cary J.,Myers John P.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND MEANS FOR COLLECTING CORD BLOOD

Номер патента: US20120004635A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Resonant measuring method of rotation frequency of object and device implementing this method

Номер патента: RU2562149C2. Автор: Борис Михайлович Петров. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южный федеральный университет" (Южный федеральный университет). Дата публикации: 2015-09-10.

CUFF FOR BLOOD PRESSURE INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE INFORMATION MEASUREMENT DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME

Номер патента: US20120004560A1. Автор: KAWANO Atsushi,SANO Yoshihiko,FUJITA Reiji,Nishioka Takanori,Tanaka Takahide. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and device to measure well production rate

Номер патента: RU2321745C1. Автор: Владимир Николаевич Устинов,знов Олег Владимирович Гр,Олег Владимирович Грязнов,Анатолий Владимирович Семенихин. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Интротест-Комплексные системы". Дата публикации: 2008-04-10.

HARD PARTICLE CONCENTRATION DETECTING METHOD, PARTICLE CONCENTRATION DETECTING METHOD, AND DEVICE THEREFOR

Номер патента: US20120001619A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Screening method, composition containing substance selected by the screening method, and binding substance

Номер патента: US20120003673A1. Автор: Yodoi Junji,Horibe Tomohisa,KATO Noriko,Kondo Norihiko,Son Aoi,Hara Tomijiro. Владелец: REDOX BIOSCIENCE, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and device for measuring of liquid level

Номер патента: RU2319114C1. Автор: Валерий Антонович Шубарев,Игорь Иванович Гончар,Лев Николаевич Киселев,Владислав Викторович Синицын. Владелец: Открытое акционерное общество "Авангард". Дата публикации: 2008-03-10.

Method and device for validation of setting scale parallel installation in horizontal plane with regard to axis of bottom front roller of cleaving machine

Номер патента: RU2341368C1. Автор: Михаил Владимирович Боярский,Ольга Германовна Тарасова,рский Михаил Владимирович Бо. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2008-12-20.

Method and device for determining volume of stack of round timber located on vehicle

Номер патента: RU2492477C1. Автор: Павел Николаевич Рог,Виктор Сергеевич Черноглазов,Андрей Анатольевич Воронин,Антон Анатольевич Симоненко,Леонид Борисович Смирнов. Владелец: Закрытое акционерное общество "Научно-производственный центр "Инновационная техника и технологии". Дата публикации: 2013-09-10.

Method and device for electric machine torque moment measurement

Номер патента: RU2339012C1. Автор: Игорь Григорьевич Стрижков,Иосиф Андреевич Потапенко,Евгений Николаевич Чеснюк,Александр Николаевич Трубин,Евгений Александрович Хорьков,Анна Вадимовна Шакирова. Владелец: Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Кубанский государственный аграрный университет". Дата публикации: 2008-11-20.

Method and device for measurement of tension of taper thread

Номер патента: RU2272986C1. Автор: Вячеслав Александрович Павлов,Олег Борисович Калинин,В чеслав Александрович Павлов,Виктор Николаевич Горобец. Владелец: Закрытое Акционерное Общество Научно-Производственное Предприятие "Нефтетрубосервис". Дата публикации: 2006-03-27.

Method and apparatus for measuring transient thermal characteristics of light-emitting diodes

Номер патента: RU2523731C1. Автор: Алексей Аркадьевич Черторийский,Вячеслав Андреевич Сергеев,Алексей Валентинович Беринцев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. Дата публикации: 2014-07-20.

Method and Means for Detecting the Activity of Osteoclasts

Номер патента: US20120003684A1. Автор: Dieter Peter,Lutter Anne-Helen,Hempel Ute. Владелец: TECHNISCHE UNIVERSITAET DRESDEN. Дата публикации: 2012-01-05.

Density and viscosity measurement method and related device

Номер патента: RU2349897C2. Автор: Андрей Юрьевич Мишин,Иван Владимирович Хавронин,Александр Михайлович Павельев,Юрий Константинович Исаев. Владелец: Закрытое акционерное общество "АВИАТЕХ" (ЗАО "АВИАТЕХ"). Дата публикации: 2009-03-20.

Insulation resistance measurement method and device therefor

Номер патента: RU2585965C1. Автор: Вячеслав Иванович Лачин,Кирилл Юрьевич Соломенцев,Куок Уи Нгуен,Игорь Геннадиевич Балабан. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) имени М.И. Платова". Дата публикации: 2016-06-10.

Measuring device of scattering parameters of four-pole at ultra-high frequency

Номер патента: RU2494408C1. Автор: Александр Карпович Балыко,Александр Николаевич Королев,Виталий Юрьевич Мякиньков,Елена Олеговна Сафонова,Елена Васильевна Бувайлик. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственное предприятие "Исток" (ФГУП НПП "Исток"). Дата публикации: 2013-09-27.

Method and apparatus for atomic emission spectral analysis of nano-objects

Номер патента: RU2573717C2. Автор: Владимир Владимирович Чесноков,Дмитрий Владимирович Чесноков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (ФГБОУ ВО "СГУГИТ"). Дата публикации: 2016-01-27.

Method and device for determining data transfer resources available for network connections

Номер патента: RU2273958C2. Автор: Фредерик ПИТУ,Фредерик ПИТУ (CH). Владелец: Свисском Фикснет Аг. Дата публикации: 2006-04-10.

Method and apparatus for controlling amounts of honey in hive

Номер патента: RU2163758C2. Автор: И.С. Захаров,В.Э. Дрейзин,А.Ф. Рыбочкин. Владелец: Курский государственный технический университет. Дата публикации: 2001-03-10.

Method and apparatus for longitudinal sawing of logs and complex of devices for measuring parameters of logs and timber

Номер патента: RU2086407C1. Автор: Владимир Иванович Фролов. Владелец: Владимир Иванович Фролов. Дата публикации: 1997-08-10.

Water flow velocity measurement method and device

Номер патента: RU2533751C1. Автор: Игорь Евгеньевич Зайцев,Александр Александрович Гришин,Руслан Витальевич Стороженко. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Метеоприбор". Дата публикации: 2014-11-20.

Method and device for controlling low extremity shape

Номер патента: RU2192804C1. Автор: М.С. Некрасов,О.Г. Тетерин,М.Ф. Егоров,К.В. Гунин,Ф.М. Егоров. Владелец: Тетерин Олег Геннадьевич. Дата публикации: 2002-11-20.

Method and device for determining error of measuring bridge for large values of direct current

Номер патента: RU2271018C1. Автор: Илья Борисович Болотин,Иль Борисович Болотин,Марк Даниилович Клионский,Ирина Алексеевна Пузырева. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский и проектно-конструкторский институт высоковольтного аппаратостроения" (ОАО "НИВА"). Дата публикации: 2006-02-27.

Bearing measurement method and apparatus for realising said method

Номер патента: RU2520074C1. Автор: Виктор Сергеевич Щербаков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "ПРИМА". Дата публикации: 2014-06-20.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.