• Главная
  • CHEMICALLY AMPLIFIED NEGATIVE RESIST COMPOSITION, PHOTO-CURABLE DRY FILM, MAKING METHOD, PATTERN FORMING PROCESS, AND ELECTRIC/ELECTRONIC PART PROTECTING FILM

CHEMICALLY AMPLIFIED NEGATIVE RESIST COMPOSITION, PHOTO-CURABLE DRY FILM, MAKING METHOD, PATTERN FORMING PROCESS, AND ELECTRIC/ELECTRONIC PART PROTECTING FILM

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

PHOTO-CURABLE RESIN COMPOSITION, PHOTO-CURABLE DRY FILM, PATTERNING PROCESS, PROTECTIVE FILM, AND ELECTRIC/ELECTRONIC PART

Номер патента: US20140220483A1. Автор: ASAI Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-07.

PHOTO-CURABLE RESIN COMPOSITION AND PHOTO-CURABLE DRY FILM USING THE SAME

Номер патента: US20160357105A1. Автор: KATO Hideto,SOGA Kyoko,ASAI Satoshi. Владелец: SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD.. Дата публикации: 2016-12-08.

Positive resist composition and pattern-forming method using the same

Номер патента: EP2040122A2. Автор: Hiromi Kanda,Shinichi Kanna,Haruki Inabe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-03-25.

Negative resist material

Номер патента: US4826943A. Автор: Toshio Ito,Miwa Sakata,Yoshio Yamashima. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 1989-05-02.

Positive resist composition and pattern-forming method using the same

Номер патента: US7611820B2. Автор: Hiromi Kanda,Shinichi Kanna,Haruki Inabe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-11-03.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US20240118619A1. Автор: Tomotaka Yamada,Keiichi IBATA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Resist composition

Номер патента: EP1810084A1. Автор: Sheng Wang,Sanlin Hu,Eric Scott Moyer,Sina Maghsoodi. Владелец: Dow Corning Corp. Дата публикации: 2007-07-25.

Chemically amplified positive resist composition and patterning process

Номер патента: EP2479611A3. Автор: Katsuya Takemura,Noriyuki Koike,Hiroyuki Yasudo. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-09.

Resist compositions

Номер патента: US6709799B2. Автор: Kazuhiko Hashimoto. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2004-03-23.

Photosensitive polymer containing silicon and a resist composition using the same

Номер патента: US6849382B2. Автор: Sang-jun Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-02-01.

Positive resist composition and pattern forming process

Номер патента: US09513550B2. Автор: Hideyoshi Yanagisawa,Yoshinori Hirano. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Resist composition and method for forming pattern

Номер патента: US9354517B2. Автор: Yoshihiro Nakata,Junichi Kon. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-05-31.

Chemically amplified negative resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: EP4443240A3. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Chemically amplified negative resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: EP4443240A2. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Chemically amplified negative resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: US20240337935A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Patterning process and chemically amplified negative resist composition

Номер патента: US09910358B2. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Chemically amplified negative resist composition and patterning process

Номер патента: US20140329183A1. Автор: Satoshi Watanabe,Daisuke Domon,Keiichi Masunaga. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-06.

Onium salt, chemically amplified positive resist composition, and resist pattern forming process

Номер патента: US20240337927A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Composition for forming fine resist pattern and pattern forming method using same

Номер патента: US09448485B2. Автор: Masahiro Ishii,Takashi Sekito,Tetsuo Okayasu. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2016-09-20.

Onium salt, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US20240361688A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Negative chemically-amplified photoresist and imaging method thereof

Номер патента: US09766542B2. Автор: Jia Sun,Xin Chen,Haibo Li,Bing Li,Roger Sinta,Cuimei Diao,Xiantao Han. Владелец: KEMPUR MICROELECTRONICS Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Chemically amplified positive resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: EP4443239A2. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Chemically amplified positive resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: EP4443239A3. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Chemically amplified positive resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: US20240337939A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Onium salt, resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240310723A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Onium salt, chemically amplified positive resist composition, and resist pattern forming process

Номер патента: EP4446812A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Critical dimension control in photo-sensitized chemically-amplified resist

Номер патента: US09645495B2. Автор: Anton J. deVilliers. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Negative resist composition and pattern forming process

Номер патента: US09645493B2. Автор: Satoshi Watanabe,Daisuke Domon,Keiichi Masunaga. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Negative resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230116747A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240329529A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20230418157A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Onium salt, chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20220127225A1. Автор: Takayuki Fujiwara,Satoshi Watanabe,Kousuke Ohyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-28.

Shrink material and pattern forming process

Номер патента: EP3032333A3. Автор: Jun Hatakeyama,Satoshi Watanabe,Daisuke Domon,Kentaro Kumaki. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-07.

Shrink material and pattern forming process

Номер патента: US09904172B2. Автор: Kenji Yamada,Satoshi Watanabe,Koji Hasegawa,Daisuke Domon,Kentaro Kumaki. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Shrink material and pattern forming process

Номер патента: US09632417B2. Автор: Jun Hatakeyama,Satoshi Watanabe,Daisuke Domon,Kentaro Kumaki. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Chemical amplifying type positive resist composition

Номер патента: EP1225479A3. Автор: Yasunori Uetani,Junji Nakanishi,Katsuhiko Namba. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2005-01-05.

Chemically Amplified Resist Composition and Patterning Process

Номер патента: US20180136558A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-17.

Chemically amplified positive resist composition

Номер патента: US20100010129A1. Автор: Akira Kamabuchi,Takayuki Miyagawa,Junji Shigematsu,Kunishige Edamatsu. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-14.

Pattern-forming method

Номер патента: US09971247B2. Автор: Tomoki Nagai,Akihiro Oshima,Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka,Seiji Nagahara,Seiichi Tagawa. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2018-05-15.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US09939729B2. Автор: Tomoki Nagai,Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US09523914B2. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Chemically amplified resist composition

Номер патента: US6114086A. Автор: Toshiyuki Ota,Makoto Murata,Akira Tsuji,Eiichi Kobayashi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2000-09-05.

Negative-acting chemically amplified photoresist composition

Номер патента: EP1297386A1. Автор: Ping-Hung Lu,Ralph R. Dammel,Pingyong Xu. Владелец: Clariant Finance BVI Ltd. Дата публикации: 2003-04-02.

Chemical amplification type positive resist compositions and sulfonium salts

Номер патента: US20020006582A1. Автор: Yasunori Uetani,Hiroki Inoue. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2002-01-17.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240310725A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Chemically amplified resist composition and method for manufacturing resist film using the same

Номер патента: EP4204901A1. Автор: Rui Zhang,Hiroshi Hitokawa,Tomohide Katayama. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2023-07-05.

Pattern forming process and shrink agent

Номер патента: US09618850B2. Автор: Kazuhiro Katayama,Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Kenji Funatsu. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Pattern-forming method

Номер патента: US20170052450A1. Автор: Tomoki Nagai,Akihiro Oshima,Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka,Seiji Nagahara,Seiichi Tagawa. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-02-23.

Positive resist composition and patterning process

Номер патента: US20160147149A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-26.

Chemically-amplified-type negative-type photoresist composition

Номер патента: US20190137871A1. Автор: Seung Hyun Lee,Su Jin Lee,Seung Hun Lee,Young Cheol Choi. Владелец: Youngchang Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Onium salt monomer, polymer, chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20240329527A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Positive resist composition and patterning process

Номер патента: US09551929B2. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Chemically amplified positive-type photosensitive resin composition for thick-film application

Номер патента: US09448478B2. Автор: Makiko Irie,Yuta Yamamoto,Aya Momozawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Chemically amplified positive resist composition

Номер патента: US20010046641A1. Автор: Yasunori Uetani,Hiroaki Fujishima,Yoshiyuki Takata. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2001-11-29.

Chemically amplifying type positive resist composition

Номер патента: EP1207423A1. Автор: Kenji Ohashi,Yasunori Uetani,Hiroshi Moriuma. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2002-05-22.

Chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US11846884B2. Автор: Jun Hatakeyama,Takeshi Nagata,Chuanwen Lin. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20230137472A1. Автор: Kazuhiro Katayama,Masaki Ohashi,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Compound and chemically amplified resist composition containing the same

Номер патента: US20100151379A1. Автор: Ichiki Takemoto,Nobuo Ando. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-17.

Negative resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230105986A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-06.

Negative resist composition and pattern forming process

Номер патента: US11994799B2. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20240027902A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Polymer, chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US12032289B2. Автор: Masahiro Fukushima,Emiko Ono,Masayoshi Sagehashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Acid-labile polymer and resist composition

Номер патента: EP1254915A3. Автор: Seong-Ju Kim,Dong-Chul Seo,Hyun-Sang Joo,Young-Taek Lim,Joo-Hyeon Park,Seong-Duk Cho. Владелец: Korea Kumho Petrochemical Co Ltd. Дата публикации: 2007-09-19.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240310727A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Polymer, chemically amplified positive resist composition and patterning process

Номер патента: US09810983B2. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Masayoshi Sagehashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Positive-tone, chemically amplified, aqueous-developable, permanent dielectric

Номер патента: US09740096B2. Автор: Paul A. Kohl,Brennen Karl Mueller. Владелец: Georgia Tech Research Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Chemically amplified resist composition and process for forming resist pattern using same

Номер патента: US5506088A. Автор: Satoshi Takechi,Yuko Kaimoto,Koji Nozaki,Ryosuke Tokutomi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1996-04-09.

Method for measuring diffusion of photogenerated catalyst in chemically amplified resists

Номер патента: WO2001079932A1. Автор: Robert D. Grober,Gilbert D. Feke. Владелец: YALE UNIVERSITY. Дата публикации: 2001-10-25.

Method for measuring diffusion of photogenerated catalyst in chemically amplified resists

Номер патента: US20020001768A1. Автор: Gilbert Feke,Robert Grober. Владелец: YALE UNIVERSITY. Дата публикации: 2002-01-03.

Method for measuring diffusion of photogenerated catalyst in chemically amplified resists

Номер патента: EP1277085A1. Автор: Robert D. Grober,Gilbert D. Feke. Владелец: YALE UNIVERSITY. Дата публикации: 2003-01-22.

Chemically amplified positive-type photosensitive resin composition for thick film

Номер патента: US09977328B2. Автор: Yuta Yamamoto,Yasushi Kuroiwa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US09720324B2. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Chemically amplified positive-type photosensitive resin composition

Номер патента: US09557651B2. Автор: Yasushi Washio,Takahiro Shimizu,Shota Katayama. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-31.

Chemically amplified positive resist composition

Номер патента: US5750309A. Автор: Jun Hatakeyama,Takeshi Nagata,Toshinobu Ishihara,Shigehiro Nagura,Kiyoshi Motomi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-12.

Method and apparatus for modeling chemically amplified resists

Номер патента: US20110029118A1. Автор: Yongfa Fan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2011-02-03.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240272550A1. Автор: Masaki Ohashi,Seiichiro Tachibana,Shun Kikuchi,Ryunosuke HANDA. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Onium salt compound, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US09989847B2. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-05.

Fabrication method for pattern-formed structure

Номер патента: US09568827B2. Автор: Makoto Abe,Kazuaki Baba,Masaaki Kurihara. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2017-02-14.

Chemically amplified photoresist composition and method for forming pattern

Номер патента: US20100203446A1. Автор: Koji Ichikawa,Masako Sugihara,Yusuke Fuji. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-08-12.

Photosensitive polymer having cyclic backbone and resist composition comprising the same

Номер патента: MY129169A. Автор: Sang-jun Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-03-30.

Molecular resist composition and patterning process

Номер патента: US11940728B2. Автор: Kazuhiro Katayama,Masaki Ohashi,Masahiro Fukushima,Shun Kikuchi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Polymer, chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20210096465A1. Автор: Masahiro Fukushima,Emiko Ono,Masayoshi Sagehashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

Image forming methods, pattern forming methods, pattern forming material and planographic printing plate

Номер патента: EP1475230A3. Автор: Koichi Kawamura,Takeyoshi Kano. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-03-25.

Chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20230288804A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20230350296A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240160101A1. Автор: Jun Hatakeyama,Yuki Suda,Tatsuya Yamahira. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230359119A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Positive resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US7338744B2. Автор: Hideaki Tsubaki,Shinji Tarutani. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-03-04.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230305393A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230288800A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230251572A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US12072628B2. Автор: Jun Hatakeyama,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Sulfonium salt, resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240302740A1. Автор: Jun Hatakeyama,Takayuki Fujiwara,Yuki Suda,Tatsuya Yamahira. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Negative resist pattern-forming method, and composition for upper layer film formation

Номер патента: US20190004426A1. Автор: Sosuke OSAWA,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Negative resist pattern-forming method, and composition for upper layer film formation

Номер патента: US20160299432A1. Автор: Sosuke OSAWA,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-10-13.

Onium salt, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US20200102271A1. Автор: Masaki Ohashi,Yuki Suka,Kazuya HONDA,Yuki Kera. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-02.

Positive resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230023593A1. Автор: Jun Hatakeyama,Takayuki Fujiwara. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Polymer, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US20170226250A1. Автор: Jun Hatakeyama,Kenji Funatsu,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Polymer, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US20160168296A1. Автор: Jun Hatakeyama,Kenji Funatsu,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-16.

Positive resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20220252983A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Onium salt, resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230400766A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-14.

Positive resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230314944A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Positive resist composition and pattern forming process

Номер патента: US11914294B2. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Positive resist composition and pattern forming process

Номер патента: US11953832B2. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Positive resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20200192221A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-18.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20220390846A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Onium Salt, Resist Composition, And Patterning Process

Номер патента: US20240176237A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240111212A1. Автор: Jun Hatakeyama,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240210830A1. Автор: Kazuhiro Katayama,Masaki Ohashi,Kousuke Ohyama,Yutaro OTOMO,Tatsuya Yamahira. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240118615A1. Автор: Jun Hatakeyama,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Positive resist composition for electron beam, x-ray or euv and pattern forming method using the same

Номер патента: US20090246685A1. Автор: Katsuhiro Yamashita. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-10-01.

Resist composition, resist pattern forming method, and polymer

Номер патента: US20240295814A1. Автор: Tomotaka Yamada,Takuya Uehara,Keiichi IBATA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Positive resist composition and pattern forming method using the resist composition

Номер патента: EP1693705B1. Автор: Yasutomo Kawanishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-01-22.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230393462A1. Автор: Jun Hatakeyama,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230393463A1. Автор: Jun Hatakeyama,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230288801A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device using same

Номер патента: US20170146908A1. Автор: Keita Kato,Michihiro Shirakawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-05-25.

Negative resist composition and patterning process

Номер патента: EP2345934A3. Автор: Satoshi Watanabe,Akinobu Tanaka,Daisuke Domon,Keiichi Masunaga. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-12.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US10534264B2. Автор: Tsuyoshi Nakamura,Kazuishi Tanno,Junyeob Lee. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-14.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20220350243A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-03.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US20180224742A1. Автор: Tsuyoshi Nakamura,Kazuishi Tanno,Junyeob Lee. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-09.

Positive resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US20060194148A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Shinji Tarutani. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-31.

Dry film resist sheet and method of manufacturing the same

Номер патента: US20140106278A1. Автор: Hye Jin Cho,Suk Jin Ham,Kyoung Soon Park,Sung Hee LIM. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2014-04-17.

Resist Composition and Resist Pattern Forming Method

Номер патента: US20200201176A1. Автор: Seiji Nagahara,Gousuke Shiraishi,Congque DINH. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Resist pattern-forming method and substrate-treating method

Номер патента: US20200218161A1. Автор: Ryuichi Serizawa,Tomoaki Seko,Nozomi SATOU,Yuusuke OOTSUBO,Tomoya TAJI,Souta NISHIMURA. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Dry film formulation

Номер патента: US20210011382A1. Автор: Sean T. Weaver. Владелец: Funai Electric Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-14.

Pattern forming method

Номер патента: US09465295B2. Автор: Eiji Yoneda,Kentaro Matsunaga,Masashi Terao. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Resist composition

Номер патента: US6010826A. Автор: Hideyuki Tanaka,Tatsuya Sugimoto,Nobunori Abe,Shugo Matsuno,Yasumasa Wada. Владелец: Nippon Zeon Co Ltd. Дата публикации: 2000-01-04.

Pattern forming method, kit, and resist composition

Номер патента: US20230350290A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Satomi Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230305394A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20190033715A1. Автор: Kazuhiro Katayama,Ryosuke Taniguchi,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-31.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240176235A1. Автор: Jun Hatakeyama,Takayuki Fujiwara,Yuki Suda,Tatsuya Yamahira. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230251573A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Pattern forming method and pattern structural body

Номер патента: US20170168388A1. Автор: Masahiko Akiyama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-15.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240053678A1. Автор: Tomohiro Kobayashi,Yutaro OTOMO. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230236503A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240168382A1. Автор: Jun Hatakeyama,Yuki Suda,Tatsuya Yamahira. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230324798A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US20080081282A1. Автор: Kenji Wada,Sou Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US20230205084A1. Автор: Masatoshi Arai,Makoto Sakata,Takatoshi INARI. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Resist composition

Номер патента: US09785048B2. Автор: Masaaki Takasuka,Masatoshi Echigo,Yu Okada,Yumi Ochiai. Владелец: Mitsubishi Gas Chemical Co Inc. Дата публикации: 2017-10-10.

Resist composition for electron beam, x-ray, or euv, and pattern-forming method using the same

Номер патента: EP2020616A2. Автор: Katsuhiro Yamashita,Yasutomo Kawanishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-02-04.

Formation of a negative resist pattern utilize water-soluble polymeric material and photoacid generator

Номер патента: US5017461A. Автор: Naomichi Abe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1991-05-21.

Polyethylene film and dry film resist

Номер патента: US11914297B2. Автор: Hitoshi Nakamura,Toshiaki Hagiwara,Shinichi Oya. Владелец: Tamapoly Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Chemical liquid, pattern forming method, and kit

Номер патента: US20190258165A1. Автор: Takashi Nakamura,Tetsuya Kamimura,Satomi Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Chemical liquid, chemical liquid storage body, pattern forming method, and kit

Номер патента: US11747727B2. Автор: Tetsuya Kamimura,Satomi Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Positive resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: EP1770441A3. Автор: Kazuyoshi c/o Fuji Photo Co. Ltd. Mizutani. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2011-08-31.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US20210397086A1. Автор: Yosuke Suzuki,Tsuyoshi Nakamura,Junyeob Lee. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-23.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US20230367211A1. Автор: Masaki Ohashi,Seiichiro Tachibana,Shun Kikuchi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Pattern forming method, template manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20230420291A1. Автор: Masatoshi Terayama. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Electron beam resist composition

Номер патента: EP3177966A1. Автор: Stephen Yeates,Scott Lewis,Richard WINPENNY. Владелец: University of Manchester. Дата публикации: 2017-06-14.

Electron beam resist composition

Номер патента: US20170235227A1. Автор: Stephen Yeates,Scott Lewis,Richard WINPENNY. Владелец: University of Manchester. Дата публикации: 2017-08-17.

Electron beam resist composition

Номер патента: US20190324370A1. Автор: Stephen Yeates,Scott Lewis,Richard WINPENNY. Владелец: University of Manchester. Дата публикации: 2019-10-24.

Pattern forming method

Номер патента: US9437477B1. Автор: Makoto Aida. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Positive resist composition and patterning process

Номер патента: US20140045122A1. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-13.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20150050600A9. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-02-19.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20170322492A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-11-09.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20140134544A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-05-15.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20160320705A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-11-03.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20160097978A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-04-07.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20150160556A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-06-11.

Pattern forming method

Номер патента: US20170068162A1. Автор: Yusuke KASAHARA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-09.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US12050402B2. Автор: Takayuki Fujiwara,Masaki Ohashi,Kenichi Oikawa,Tomohiro Kobayashi,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Method of forming nanopattern and substrate having pattern formed using the method

Номер патента: EP1999513A1. Автор: Seung-Tae Oh,Sang-Choll Han,Deok-Joo Kim,Matthias Henyk. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2008-12-10.

Negative resist formulation for producing undercut pattern profiles

Номер патента: SG11201908415XA. Автор: Medhat A Toukhy,Anupama Mukherjee. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2019-11-28.

Positive resist composition and patterning process

Номер патента: US20150212416A1. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-30.

Fine pattern forming method and stamper

Номер патента: US20090017266A1. Автор: Kyosuke Deguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-01-15.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20210191262A1. Автор: Yasuhiro Yoshii,Yosuke Suzuki,Takahiro Kojima,Yoichi Hori,Mari MURATA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-24.

Pattern forming method

Номер патента: US20100021850A1. Автор: Hiroko Nakamura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-01-28.

Radiation-sensitive negative-type resist composition for pattern formation and pattern formation method

Номер патента: WO2004023213A1. Автор: Kentaro Tada,Nobuji Sakai. Владелец: TOYO GOSEI CO., LTD.. Дата публикации: 2004-03-18.

Pattern forming method using contrast enhanced material

Номер патента: US4849323A. Автор: Kazufumi Ogawa,Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-18.

Graft pattern forming method and conductive pattern forming method

Номер патента: MY142216A. Автор: Koichi Kawamura,Yasuaki Matsushita. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-15.

Pattern forming method, template manufacturing method, and photomask manufacturing method

Номер патента: US20220091499A1. Автор: Yoshinori Kagawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Imprint pattern forming method

Номер патента: US8444889B2. Автор: Ikuo Yoneda,Ryoichi Inanami,Hiroshi Tokue. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-05-21.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US20200249571A1. Автор: Takayuki Fujiwara,Masaki Ohashi,Kenichi Oikawa,Tomohiro Kobayashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

Pattern forming method

Номер патента: US20160060410A1. Автор: Hitoshi Kubota,Katsutoshi Kobayashi,Yusuke KASAHARA,Ayako KAWANISHI,Hiroki YONEMITSU. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-03-03.

Molecular resist composition and patterning process

Номер патента: US20240345480A1. Автор: Masaki Ohashi,Seiichiro Tachibana,Shun Kikuchi,Ryunosuke HANDA. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09921479B2. Автор: Kenji Yamada,Satoshi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Pattern forming method and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US09897918B2. Автор: Shinichi Ito,Hirokazu Kato,Tomoyuki Takeishi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Pattern forming method capable of minimizing deviation of an inversion pattern

Номер патента: US09887099B2. Автор: Hiroyuki Nagai. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09869931B2. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Pattern-forming method

Номер патента: US09847232B1. Автор: Kristin Schmidt,Chi-chun Liu,Hitoshi Osaki. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09709890B2. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Masayoshi Sagehashi,Daisuke Domon. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Pattern forming method

Номер патента: US09696628B2. Автор: Hideki Kanai,Yusuke KASAHARA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Carboxylate, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US12124167B2. Автор: Koji Ichikawa,Masahiko Shimada. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Pattern forming method and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US09601331B2. Автор: Shinichi Ito,Hirokazu Kato,Tomoyuki Takeishi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Multilayer dry-film positive-acting photoresist

Номер патента: CA1242917A. Автор: Peter M. Koelsch,John P. Vikesland. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1988-10-11.

Multilayer dry-film positive-acting photoresist

Номер патента: CA1265696A. Автор: John P. Vikesland. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1990-02-13.

Photosensitive dry film and uses of the same

Номер патента: US20180210342A1. Автор: Chang-Hong Ho,Ming-Jhe Li,Tsung-Hsiu TSAI. Владелец: Eternal Materials Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-26.

Photosensitive dry film and uses of the same

Номер патента: US11353791B2. Автор: Chang-Hong Ho,Ming-Jhe Li,Tsung-Hsiu TSAI. Владелец: Eternal Materials Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-07.

Pattern forming method

Номер патента: US20170125262A1. Автор: Hiroyuki Nagai. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-05-04.

Manufacturing method of pattern formed body and pattern formed body manufacturing apparatus

Номер патента: US20090168033A1. Автор: Takashi Sawada,Hironori Kobayashi,Kaori Yamashita. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-07-02.

Black resist composition and method for forming black pattern by near-infrared photolithography

Номер патента: EP4339701A1. Автор: Akihiko Igawa,Hidekazu Shioda. Владелец: Echem Solutions Japan Inc. Дата публикации: 2024-03-20.

Process for preparing of semiconductor device and pattern-forming coating solution used for this process

Номер патента: US5087551A. Автор: Satoshi Takechi,Yuko Nakamura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1992-02-11.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20220206384A1. Автор: Takuya Ikeda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Positive resist composition and patterning process

Номер патента: US20210003917A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Pattern forming method

Номер патента: US20170184958A1. Автор: Koji Matsuo,Daisuke Kawamura,Masanobu Baba,Taishi ISHIKURA,Tatsuro SHINOZAKI. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US20030175617A1. Автор: Yoshinori Hirano,Hideto Kato,Toshihiko Fujii,Hiromasa Yamaguchi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2003-09-18.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US6866982B2. Автор: Yoshinori Hirano,Hideto Kato,Toshihiko Fujii,Hiromasa Yamaguchi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-15.

Pattern forming method and template manufacturing method

Номер патента: US20210088906A1. Автор: Hideaki Sakurai,Noriko Sakurai,Takeharu Motokawa,Ryu Komatsu. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Resist pattern-forming method, and radiation-sensitive composition and production method thereof

Номер патента: US20200333707A1. Автор: Ken Maruyama,Miki TAMADA,Sousuke OOSAWA. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20240231226A1. Автор: Koji Ichikawa,Shohei Terahigashi,Haruka Homma. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Chemical liquid, chemical liquid storage body, and pattern forming method

Номер патента: US20190346764A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Gap filling composition and pattern forming method using composition containing polymer

Номер патента: US20200319556A1. Автор: Tatsuro Nagahara,Xiaowei Wang. Владелец: AZ Electronic Materials SARL. Дата публикации: 2020-10-08.

Chemically amplified resist and a resist composition

Номер патента: US20030181629A1. Автор: Yong-Joon Choi,Hyeon-Jin Kim,Yoon-Sik Chung,Deog- Bae Kim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-09-25.

Positive resist composition and positive resist base material using the same

Номер патента: US6649322B2. Автор: Hiroto Yukawa,Satoshi Kumon. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2003-11-18.

Chemically amplified positive resist composition and patterning process

Номер патента: EP2955576A1. Автор: Yoshinori Hirano,Katsuya Takemura. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-16.

Simulator for the post-exposure bake of chemically amplified resists

Номер патента: US6295637B1. Автор: Tsung-Lung Li. Владелец: TSMC Acer Semiconductor Manufacturing Inc. Дата публикации: 2001-09-25.

Rinse solution for pattern formation and pattern forming process

Номер патента: US09798242B2. Автор: Tsutomu Ogihara,Jun Hatakeyama,Daisuke Kori. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Rinse solution for pattern formation and pattern forming process

Номер патента: US09632416B2. Автор: Tsutomu Ogihara,Jun Hatakeyama,Daisuke Kori. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Negative resist compositions

Номер патента: CA1325353C. Автор: Jean M. J. Frechet,Robert David Allen,Carlton Grant Willson,Robert James Twieg. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1993-12-21.

Patterning process and resist composition

Номер патента: US09551932B2. Автор: Koji Hasegawa,Tomohiro Kobayashi,Akihiro Seki,Kenji Funatsu,Kentaro Kumaki. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Negative resist composition

Номер патента: US7432034B2. Автор: Shoichiro Yasunami,Koji Shirakawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-10-07.

Rinse solution for pattern formation and pattern forming process

Номер патента: US20160154312A1. Автор: Tsutomu Ogihara,Jun Hatakeyama,Daisuke Kori. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-02.

Positive resist compostion and pattern forming method using the same

Номер патента: EP1975717A2. Автор: Kazuyoshi Mizutani,Shuji Hirano. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-10-01.

Polymer and positive resist composition

Номер патента: US20180024430A1. Автор: Manabu Hoshino. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2018-01-25.

Positive Resist Composition and Method of Forming Resist Pattern

Номер патента: US20080241747A1. Автор: Tomoyuki Ando,Kiyoshi Ishikawa,Takuma Hojo. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

Resist compositions with polymers having 2-cyano acrylic monomer

Номер патента: US20040072099A1. Автор: Wenjie Li,Pushkara Varanasi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-15.

Chemical amplification, positive resist compositions

Номер патента: US20010033994A1. Автор: Jun Watanabe,Akihiro Seki,Youichi Ohsawa,Takanobu Takeda. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2001-10-25.

Resist compositions with polymers having 2-cyano acrylic monomer

Номер патента: EP1405140A1. Автор: Pushkara Rao Varanasi,Wenjie Li. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2004-04-07.

Carboxyl-containing plasticizers in dry film photopolymerizable compositions

Номер патента: CA2081931A1. Автор: Richard Thomas Mayes. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-05-02.

Increasing adhesion of dry-film photopolymerizable compositions to carriers

Номер патента: CA2081965A1. Автор: Richard Thomas Mayes. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-05-02.

Negative resists with high thermal stability comprising end capped polybenzoxazole and bisazide

Номер патента: US5486447A. Автор: Erwin Schmidt,Albert Hammerschmidt,Eberhard Kuhn. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1996-01-23.

Chemically amplified positive resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20140255833A1. Автор: Hiroyuki Yasuda,Katsuya Takemura,Shohei Tagami. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-11.

Chemical amplifying type positive resist composition and sulfonium salt

Номер патента: SG166668A1. Автор: Akira Kamabuchi,Yasunori Uetani,Kenji Oohashi. Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 2010-12-29.

Pattern forming process and shrink agent

Номер патента: US09927708B2. Автор: Kazuhiro Katayama,Jun Hatakeyama,Masayoshi Sagehashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Monomer, polymer, positive resist composition, and patterning process

Номер патента: US09829792B2. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Chemically amplified photoresist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20100330497A1. Автор: Takashi Hiraoka,Koji Ichikawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-30.

Onium salt, chemically amplified resist composition, and patterning process

Номер патента: US20240103364A1. Автор: Kenji Yamada,Masahiro Fukushima,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Negative resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230076505A1. Автор: Jun Hatakeyama,Hiroki Nonaka,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Method of designing an exposure mask, exposure method, pattern forming method and device manufacturing method

Номер патента: EP1642171B1. Автор: Takako Yamaguchi,Yasuhisa Inao. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-15.

Pattern Measuring Method, Pattern Measuring Tool and Computer Readable Medium

Номер патента: US20190378679A1. Автор: Makoto Suzuki,Shunsuke Mizutani,Uki Ikeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240192591A1. Автор: Jun Hatakeyama,Takayuki Fujiwara. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Pattern Forming Process

Номер патента: US20080113302A1. Автор: Masanobu Takashima,Hiromi Ishikawa,Yuji Shimoyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-05-15.

Pattern forming method

Номер патента: US09891526B2. Автор: Toru Kimura,Yoshio Takimoto,Kazunori Takanashi,Shunsuke Kurita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Pattern forming process and shrink agent

Номер патента: US20160124313A1. Автор: Kazuhiro Katayama,Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Kenji Funatsu. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-05.

Photosensitive resin composition, laminate, and pattern forming process

Номер патента: US12055853B2. Автор: Michihiro Sugo,Kumiko Hayashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Pre-wet liquid, resist film forming method, pattern forming method, and kit

Номер патента: US20220197137A1. Автор: Satomi Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240118610A1. Автор: Jun Hatakeyama,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Negative resist composition and patterning process

Номер патента: US20140051025A1. Автор: Satoshi Watanabe,Akinobu Tanaka,Daisuke Domon,Keiichi Masunaga. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-20.

Resist Material, Resist Composition, Patterning Process, And Monomer

Номер патента: US20240361690A1. Автор: Kazuhiro Katayama,Jun Hatakeyama,Tomomi Watanabe,Yutaro OTOMO. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Polyester film as support for dry film resist

Номер патента: US20020197496A1. Автор: Koji Kubo,Kei Mizutani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-26.

Polyester film as support for dry film resist

Номер патента: EP1266923B1. Автор: Kei Teijin DuPont Films Japan Limited MIZUTANI,Koji Teijin DuPont Films Japan Limited KUBO. Владелец: Teijin Ltd. Дата публикации: 2009-12-30.

Lamination of dry-film photoresist for forming a conformable solder mask on a printed circuit board

Номер патента: WO1995031885A1. Автор: Amedeo Candore. Владелец: Amedeo Candore. Дата публикации: 1995-11-23.

Photosensitive dry film and process for producing printed wiring board using the same

Номер патента: US09891523B2. Автор: Shoji Minegishi,Nobuhito Ito,Daichi Okamoto. Владелец: Taiyo Ink Mfg Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Photoprinting process and apparatus for exposing paste-consistency photopolymers

Номер патента: US4424089A. Автор: Donald F. Sullivan. Владелец: Sullivan Donald F. Дата публикации: 1984-01-03.

Pattern forming method

Номер патента: EP2413194A2. Автор: Hideaki Tsubaki,Shinichi Kanna. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-02-01.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20220179312A1. Автор: Toru Tsuchihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-06-09.

Photosensitive resin composition, laminate, and pattern forming process

Номер патента: US20200209751A1. Автор: Michihiro Sugo,Kumiko Hayashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-02.

Manufacturing method of printed circuit board using dry film resist

Номер патента: US20020116815A1. Автор: Jang Kim,Jun Choi,Kook Han. Владелец: KOLON INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2002-08-29.

Process and apparatus for recovering and reusing resist composition

Номер патента: US5084483A. Автор: Kiyoto Mori,Tsugio Saito,Shiro Shimauchi,Asaaki Yamashita. Владелец: Kanto Chemical Co Inc. Дата публикации: 1992-01-28.

Method of developing radiation sensitive negative resists

Номер патента: US4665009A. Автор: Robert G. Brault. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1987-05-12.

Pattern forming method for forming a pattern

Номер патента: US10317797B2. Автор: Takehiro Seshimo,Kenichi Oyama,Hidetami Yaegashi,Yoshitaka Komuro,Katsumi Ohmori. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-06-11.

Pattern forming apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20190278186A1. Автор: Hironobu Fujishima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-09-12.

Method of high-density pattern forming

Номер патента: US20220344157A1. Автор: Chen En Wu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-10-27.

Exposure pattern forming method and exposure pattern

Номер патента: US20050204330A1. Автор: Kazuhisa Ogawa,Hidetoshi Ohnuma. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-09-15.

Exposure pattern forming method and exposure pattern

Номер патента: US20050174557A1. Автор: Kazuhisa Ogawa,Hidetoshi Ohnuma. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-08-11.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US12072627B2. Автор: Takayuki Fujiwara,Masaki Ohashi,Kenichi Oikawa,Tomohiro Kobayashi,Shinya Yamashita,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US12117728B2. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Patterns forming method

Номер патента: US09929019B2. Автор: Kuo-Yao Chou. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09846360B2. Автор: Jun Hatakeyama,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Pattern forming method using resist underlayer film

Номер патента: US09793131B2. Автор: Shigeo Kimura,Hiroto Ogata,Yuki Usui,Tomoya Ohashi. Владелец: Nissan Chemical Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Dry-developing photosensitive dry film resist

Номер патента: CA1154287A. Автор: Joseph E. Gervay,Abraham B. Cohen. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 1983-09-27.

Resist composition, method of forming resist pattern, polymeric compound, and compound

Номер патента: US20190163057A1. Автор: Masatoshi Arai,Takuya Ikeda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-30.

Photo-curable resin composition and photo-curable dry film using the same

Номер патента: US09971242B2. Автор: Kyoko Soga,Satoshi Asai,Hideto Kato. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Photo-curable resin composition and photo-curable dry film using the same

Номер патента: TW201713709A. Автор: 加藤英人,淺井聡,曽我恭子. Владелец: 信越化學工業股份有限公司. Дата публикации: 2017-04-16.

Positive resist composition and pattern forming process

Номер патента: US10012902B2. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-03.

Chemically amplified resist material and resist pattern-forming method

Номер патента: US09989849B2. Автор: Tomoki Nagai,Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Chemically amplified resist composition

Номер патента: GB2446687A. Автор: Takayuki Miyagawa,Yoshiyuki Takata,Kunishige Edamatsu. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-20.

Polymers and chemically amplified positive resist compositions

Номер патента: US5844057A. Автор: Osamu Watanabe,Toshinobu Ishihara,Yoshihumi Takeda,Junji Tsuchiya. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 1998-12-01.

Polyhydric compound and chemically amplified resist composition containing the same

Номер патента: US8071270B2. Автор: Ichiki Takemoto,Nobuo Ando. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-06.

Amine compound, chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20240184200A1. Автор: Masahiro Fukushima,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Onium salt, chemically amplified resist composition, and patterning process

Номер патента: US20240176236A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20240192596A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima,Naoki Ishibashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Polyhydric compound and chemically amplified resist composition containing the same

Номер патента: US20090220886A1. Автор: Ichiki Takemoto,Nobuo Ando. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-03.

Sulfonium salt, chemically amplified resist composition, and patterning process

Номер патента: US09645491B2. Автор: Takayuki Fujiwara,Masaki Ohashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Onium salt compound, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US09665002B2. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Pattern forming process

Номер патента: US09658532B2. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Photosensitive resin composition, photosensitive dry film, and pattern forming process

Номер патента: EP3640289A1. Автор: Hitoshi Maruyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-22.

Method for manufacturing conductive pattern forming member

Номер патента: US20170363956A1. Автор: Tomotaka Kawano,Tsukuru Mizuguchi. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2017-12-21.

Curable composition, pattern forming method, pattern, and method for manufacturing device

Номер патента: US20170190820A1. Автор: Hirotaka Kitagawa,Yuichiro Goto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-07-06.

Negative resist composition

Номер патента: EP4130877A1. Автор: Tomohiro Nakayama,Tetsuo Akasaka,Takuma Aoki,Taku MIYAZAWA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20190258168A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Michihiro Shirakawa,Tadashi OOMATSU. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Resist composition, resist pattern forming method, compound, and acid generator

Номер патента: US20240210825A1. Автор: Tatsuya Fujii,KhanhTin NGUYEN,Mari MURATA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US11822245B2. Автор: Jun Hatakeyama,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Sulfonium salt, resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240176238A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi,Yuki Suda,Tatsuya Yamahira. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Dry film developer for an aperture card printer

Номер патента: US4794224A. Автор: Semyon Spektor,Michael Veprinsky,Michael H. Ranger. Владелец: NCR Corp. Дата публикации: 1988-12-27.

Composition for pattern formation, pattern-forming method, and block copolymer

Номер патента: US09738746B2. Автор: Tomoki Nagai,Hiroyuki Komatsu,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Use of desiccant to control edge fusion in dry film photoresist

Номер патента: CA1287248C. Автор: Donald Joseph Roach. Владелец: HERCULES LLC. Дата публикации: 1991-08-06.

Pattern-forming method and composition

Номер патента: US20190235386A1. Автор: Masafumi Hori,Hiroyuki Komatsu,Tomohiro Oda,Takehiko Naruoka,Hitoshi Osaki. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-08-01.

Resist composition, method of forming resist pattern, compound, and resin

Номер патента: US20220206385A1. Автор: Takuya Ikeda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Female connector, male connector assembled to the same, and electric/electronic apparatus using them

Номер патента: US20110039427A1. Автор: Masanori Mizoguchi. Владелец: Asahi Denka Kenkyusho Co Ltd. Дата публикации: 2011-02-17.

Cooling Apparatus, and Electric-Electronic Equipment with the Cooling Apparatus

Номер патента: KR100939992B1. Автор: 고성수. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2010-02-03.

Polyimide film and electric/electronic equipment bases with the use thereof

Номер патента: US6350844B1. Автор: Kazuhiro Ono,Kiyokazu Akahori,Hidehito Nishimura. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2002-02-26.

Nonflammable electric/electronic part having superior contact stability

Номер патента: US20050236262A1. Автор: Yoshiaki Taguchi,Hitoshi Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-27.

Copper alloy material for electric/electronic parts

Номер патента: US20110005644A1. Автор: Tatsuhiko Eguchi,Ryosuke Matsuo,Kuniteru Mihara. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-13.

Room temperature curable organopolysiloxane composition for protecting electric/electronic parts

Номер патента: US20190177487A1. Автор: Masayuki Onishi,Harumi Kodama. Владелец: Dow Toray Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-13.

Room temperature curable organopolysiloxane composition for protecting electric/electronic parts

Номер патента: EP3500629A1. Автор: Masayuki Onishi,Harumi Kodama. Владелец: Dow Corning Toray Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-26.

Pattern forming process and shrink agent

Номер патента: US09632415B2. Автор: Kazuhiro Katayama,Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Masayoshi Sagehashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Concave/convex pattern forming method and information recording medium manufacturing method

Номер патента: US20070199920A1. Автор: Minoru Fujita,Mitsuru Takai,Akimasa Kaizu. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2007-08-30.

Photosensitive resin composition and dry film photoresist containing the same

Номер патента: US10545403B2. Автор: Kuen-Yuan Hwang,An-Pang Tu,Gai-Chi Chen,Yun-Chung Wu. Владелец: Chang Chun Plastics Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-28.

Decision-making method and system based on external environment multimode information perception

Номер патента: LU503957B1. Автор: Yongchang Zhang,Lifang Gu. Владелец: Hebei Wangxin Tech Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Asymmetric correction circuit with negative resistance

Номер патента: US8674743B1. Автор: BO Wang,Qiang Tang. Владелец: Marvell International Ltd. Дата публикации: 2014-03-18.

Image forming process control apparatus, image forming apparatus, image forming process control method and program

Номер патента: US20070211941A1. Автор: Yuusuke Suzuki. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2007-09-13.

A memory unit using negative resistance element

Номер патента: GB975952A. Автор: . Владелец: KOGYOGIJUTSUIN CHO. Дата публикации: 1964-11-25.

Negative resistance diode storage circuits

Номер патента: GB984222A. Автор: Gerald Horace Perry,Eric William Shallow. Владелец: National Research Development Corp UK. Дата публикации: 1965-02-24.

Variable breakdown storage cell with negative resistance operating characteristic

Номер патента: US3660822A. Автор: Richard L Moore,Evan E Davidson. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1972-05-02.

Pattern forming method

Номер патента: EP4332677A1. Автор: Seiichiro Tachibana,Takeru Watanabe,Daisuke Kori,Takashi Sawamura. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Pattern Forming Method

Номер патента: US20240103365A1. Автор: Seiichiro Tachibana,Takeru Watanabe,Daisuke Kori,Takashi Sawamura. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Pattern forming body

Номер патента: US20050031973A1. Автор: Hironori Kobayashi,Kaori Yamashita. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2005-02-10.

Pattern forming method, mold and data processing method

Номер патента: US8722535B2. Автор: Masafumi Asano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-05-13.

Dye compound, ink, and resist composition for color filter

Номер патента: US20160238756A1. Автор: Takeshi Miyazaki,Takeshi Sekiguchi,Shosei Mori,Taichi Shintou. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-08-18.

Dye compound, ink, and resist composition for color filter

Номер патента: WO2015046618A1. Автор: Takeshi Miyazaki,Takeshi Sekiguchi,Shosei Mori,Taichi Shintou. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2015-04-02.

Method and computing system for designing a sheet-metal-forming process

Номер патента: US20140358268A1. Автор: Matthias Pietsch,Waldemar Kubli,Silke Wagner. Владелец: AUTOFORM ENGINEERING GMBH. Дата публикации: 2014-12-04.

Slip-resistant compositions with optical wear indication

Номер патента: US20240150591A1. Автор: Steven W. Hicks. Владелец: Cavana Holdings LLC. Дата публикации: 2024-05-09.

Film-making using style transfer

Номер патента: US20240221787A1. Автор: Robert Salem Abraham. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-04.

Voltage-stable negative resistance device

Номер патента: US3576572A. Автор: Norman Braslau. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1971-04-27.

Slip-resistant compositions with optical wear indication

Номер патента: WO2024097401A1. Автор: Steven W. Hicks. Владелец: Cavana Holdings, LLC. Дата публикации: 2024-05-10.

High adhesion resistive composition

Номер патента: EP3942578A1. Автор: Ponnusamy Palanisamy,Andrew SCHUSTER. Владелец: Ferro Corp. Дата публикации: 2022-01-26.

Etching pattern forming method in semiconductor manufacturing process

Номер патента: US12094719B2. Автор: Seung Hyun Lee,Su Jin Lee,Seung Hun Lee,Gi Hong Kim. Владелец: Youngchang Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Dye compound, ink, and resist composition for color filter

Номер патента: US09910196B2. Автор: Takeshi Miyazaki,Takeshi Sekiguchi,Shosei Mori,Taichi Shintou. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Negative resistance device using complementary fet's

Номер патента: CA1077622A. Автор: Iwao Teramoto,Susumu Koike,Gota Kano. Владелец: Matsushita Electronics Corp. Дата публикации: 1980-05-13.

A process and apparatus for removing radioactive material from water

Номер патента: GB2554878A. Автор: Williams Rebecca,Stephen Porter James,Lam Darren,Hirst Aaron. Владелец: NSG ENVIRONMENTAL Ltd. Дата публикации: 2018-04-18.

Patterning process and resist composition

Номер патента: US20140051026A1. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Masayoshi Sagehashi,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-20.

Pattern forming method

Номер патента: US20150079794A1. Автор: Hiroki Tanaka,Naoko Kihara,Ryosuke Yamamoto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-03-19.

Phenol mixture, epoxy resin, epoxy resin composition, cured product, and electrical/electronic component

Номер патента: US20240217907A1. Автор: Kazumasa Ota. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Metallic plate material for electric/electronic instrument and electric/electronic instrument using same

Номер патента: MY129211A. Автор: Osamu Kato. Владелец: Furukawa Sky Aluminum Corp. Дата публикации: 2007-03-30.

Material for an electrical/electronic part and electrical/electronic part

Номер патента: US20100323217A1. Автор: Takayori Ito,Akira Tachibana,Chikahito Sugahara. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-23.

Metallic plate material for electric/electronic instrument and electric/electronic instrument using same

Номер патента: TW561076B. Автор: Osamu Kato. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2003-11-11.

Phenol mixture, epoxy resin, epoxy resin composition, cured product, and electrical/electronic component

Номер патента: EP4375309A1. Автор: Kazumasa Ota. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2024-05-29.

PRIMER COMPOSITION, ADHERING METHOD, AND ELECTRIC/ELECTRONIC PART

Номер патента: US20180105720A1. Автор: Yoshida Hiroaki,Yoshida Shin,Yamazaki Ryosuke. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-19.

Epoxy resin composition, cured product, and electric/electronic parts

Номер патента: KR20220052900A. Автор: 가즈마사 오타. Владелец: 미쯔비시 케미컬 주식회사. Дата публикации: 2022-04-28.

Curable compositions and electric/electronic parts

Номер патента: US6943216B2. Автор: Kenichi Fukuda,Mikio Shiono. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2005-09-13.

Heat-curable fluoropolyether-based adhesive composition and electric/electronic component

Номер патента: US20180371300A1. Автор: Hidenori Koshikawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-27.

Insulated wire, coil, and electric/electronic equipments

Номер патента: US20210005346A1. Автор: Satoshi Saito,Daisuke Muto,Keiichi Tomizawa. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Epoxy resin production method, epoxy resin composition, cured product, and electric/electronic component

Номер патента: US20240247095A1. Автор: Wataru Urano. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Epoxy resin production method, epoxy resin composition, cured product, and electric/electronic component

Номер патента: EP4414401A1. Автор: Wataru Urano. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

Wholly aromatic liquid crystal polyester resin, molded article, and electrical/electronic component

Номер патента: EP3480240B1. Автор: Gosuke Washino. Владелец: Eneos Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Insulated electrical wire, motor coil and electrical/electronic apparatus

Номер патента: TW201802831A. Автор: 藤原大,大矢真,武藤大介. Владелец: 古河電磁線股份有限公司. Дата публикации: 2018-01-16.

Insulated electrical wire, coil, and electrical/electronic appliance

Номер патента: EP3950784A4. Автор: Hideo Fukuda,Keiichi Tomizawa,Natsuko HARA. Владелец: Essex Furukawa Magnet Wire Japan Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-21.

Room-temperature-curable silicone composition and electric/electronic apparatus

Номер патента: US20200002535A1. Автор: Jong-Ok LIM. Владелец: Dow Silicones Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

INSULATED WIRE, COIL, AND ELECTRIC/ELECTRONIC EQUIPMENTS

Номер патента: US20210005346A1. Автор: Saito Satoshi,Muto Daisuke,TOMIZAWA Keiichi. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-07.

THERMOSETTING RESIN COMPOSITION, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ELECTRICAL/ELECTRONIC COMPONENT

Номер патента: US20170025374A1. Автор: NITANAI Yuya,FUJIWARA Masakazu,SATAKE Yu. Владелец: KYOCERA CORPORATION. Дата публикации: 2017-01-26.

INSULATED WIRE, AND ELECTRIC/ELECTRONIC EQUIPMENTS, MOTOR AND TRANSFORMER USING THE SAME

Номер патента: US20160055940A1. Автор: Oya Makoto,Muto Daisuke,TOMIZAWA Keiichi. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-25.

THERMALLY CONDUCTIVE SILICONE COMPOSITION AND ELECTRICAL/ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20170081578A1. Автор: KODAMA Harumi,ONISHI Masayuki,KATO Tomoko. Владелец: DOW CORNING TORAY CO., LTD.. Дата публикации: 2017-03-23.

ROOM TEMPERATURE CURABLE ORGANOPOLYSILOXANE COMPOSITION AND ELECTRIC/ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20210095125A1. Автор: Swier Steven,Horstman John B.,HENNING Jody J.,JANSMA Vennesa O.. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-01.

MOISTURE CURABLE ORGANOPOLYSILOXANE COMPOSITION AND ELECTRIC/ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20210238444A1. Автор: Swier Steven,Horstman John B.,DINGMAN David R.. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-05.

SELF-FUSING INSULATED WIRE, COIL AND ELECTRICAL/ELECTRONIC EQUIPMENT

Номер патента: US20180254120A1. Автор: Saito Takeshi,FUKUDA Hideo. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-06.

PASTE COMPOSITION, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ELECTRICAL/ELECTRONIC COMPONENT

Номер патента: US20200279792A1. Автор: NITANAI Yuya,FUJIWARA Masakazu. Владелец: KYOCERA CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-03.

MULTILAYER INSULATED WIRE, COIL, AND ELECTRICAL/ELECTRONIC EQUIPMENT

Номер патента: US20160307664A1. Автор: AOI Tsuneo,OBIKA Ryosuke. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-20.

INSULATED WIRE, COIL, AND ELECTRICAL/ELECTRONIC EQUIPMENT, AND METHOD OF PREVENTING CRACKING OF INSULATED WIRE

Номер патента: US20160322126A1. Автор: Oya Makoto,Ikeda Keisuke. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-03.

ENAMEL RESIN-INSULATING LAMINATE, INSULATED WIRE USING THE SAME AND ELECTRIC/ELECTRONIC EQUIPMENT

Номер патента: US20150325333A1. Автор: Oya Makoto,Muto Daisuke,TOMIZAWA Keiichi. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-12.

THERMOSETTING RESIN COMPOSITION, CURED PRODUCT THEREOF, AND ELECTRIC/ELECTRONIC COMPONENT

Номер патента: US20160326420A1. Автор: Ishiuchi Ryujin,ITAMI Shotaro,FUJITA Hidekazu. Владелец: SHOWA DENKO K.K.. Дата публикации: 2016-11-10.

HEAT-CURABLE FLUOROPOLYETHER-BASED ADHESIVE COMPOSITION AND ELECTRIC/ELECTRONIC COMPONENT

Номер патента: US20180371300A1. Автор: KOSHIKAWA Hidenori. Владелец: SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD.. Дата публикации: 2018-12-27.

Package substrate, module using the same, and electric / electronic device

Номер патента: JP5581933B2. Автор: 充広 花邉. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-09-03.

Insulated wires and electrical / electronic equipment

Номер патента: JP6005153B2. Автор: 大介 武藤,秀雄 福田,佳祐 池田,恵一 冨澤,武藤 大介. Владелец: Furukawa Magnet Wire Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-12.

Polyarylene sulfide resin composition and electrical / electronic device parts

Номер патента: JP4502476B2. Автор: 豊 坪倉,友良 村上,繁正 鈴木,智 木ノ内. Владелец: Idemitsu Kosan Co Ltd. Дата публикации: 2010-07-14.

Thermosetting fluoropolyether adhesive composition and electrical / electronic components

Номер патента: JP6801638B2. Автор: 英紀 越川. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-16.

Epoxy resin composition, cured product, and electrical/electronic component

Номер патента: CN111527120A. Автор: 太田员正. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2020-08-11.

Paste composition, semiconductor device, and electrical/electronic component

Номер патента: EP3712904A4. Автор: Masakazu Fujiwara,Yuya NITANAI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-08-25.

Room-temperature-curable polyorganosiloxane composition and electric/electronic device

Номер патента: EP3088471A1. Автор: Takeshi Sunaga,Isao Iida. Владелец: MOMENTIVE PERFORMANCE MATERIALS JAPAN LLC. Дата публикации: 2016-11-02.

Heatsink and Electric-Electronic device having the Heatsink

Номер патента: KR101098877B1. Автор: 주동욱,정동수. Владелец: 주식회사 영일프레시젼. Дата публикации: 2011-12-26.

Primer composition, bonding method, and electric/electronic component

Номер патента: EP3275955A4. Автор: Hiroaki Yoshida,Shin Yoshida,Ryosuke Yamazaki. Владелец: Dow Corning Toray Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-01.

Thermosetting resin composition, cured product thereof, and electric/electronic component

Номер патента: EP3101042A4. Автор: Ryujin Ishiuchi,Shotaro Itami,Hidekazu Fujita. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2017-08-16.

Primer composition, bonding method, and electric/electronic component

Номер патента: EP3275955A1. Автор: Hiroaki Yoshida,Shin Yoshida,Ryosuke Yamazaki. Владелец: Dow Corning Toray Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-31.

Separator and electrical/electronic components using the same

Номер патента: US20090029262A1. Автор: Shinji Naruse. Владелец: DuPont Teijin Advanced Papers Japan Ltd. Дата публикации: 2009-01-29.

Wholly aromatic liquid crystal polyester resin, molded article, and electrical/electronic component

Номер патента: EP3480240A4. Автор: Gosuke Washino. Владелец: JXTG Nippon Oil and Energy Corp. Дата публикации: 2020-02-26.

Insulated wire, coil and electrical/electronic device

Номер патента: WO2017150625A1. Автор: 秀雄 福田,佳祐 池田,斎藤 豪. Владелец: 古河マグネットワイヤ株式会社. Дата публикации: 2017-09-08.

Insulated wire, coil, and electric/electronic device

Номер патента: CN112020751B. Автор: 友松功,斋藤豪,八本智子. Владелец: Essex Guhe Electromagnetic Wire Japan Co ltd. Дата публикации: 2021-11-19.

Room-temperature-curable silicone composition and electric/electronic apparatus

Номер патента: EP3583155A4. Автор: Jong-Ok LIM. Владелец: Dow Silicones Corp. Дата публикации: 2021-01-06.

Flat-type insulated wire, coil, and electric/electronic equipment

Номер патента: TW201539491A. Автор: Hideo Fukuda,Tsuneo Aoi,Dai Fujiwara. Владелец: Furukawa Magnet Wire Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-16.

Insulated wire, coil, and electric/electronic device

Номер патента: CN112020532A. Автор: 福田秀雄,原奈摘子,富泽惠一. Владелец: Furukawa Magnet Wire Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-01.

Flat-type insulated wire, coil, and electric/electronic equipment

Номер патента: EP3118859B1. Автор: Hideo Fukuda,Tsuneo Aoi,Dai Fujiwara. Владелец: Essex Furukawa Magnet Wire Japan Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-24.

Reactor device and electric / electronic equipment

Номер патента: JP6502173B2. Автор: 利男 高橋,隆夫 水嶋,直孝 片瀬,高橋 利男,水嶋 隆夫. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-17.

Vapor barrier and electric/electronic equipments

Номер патента: KR101989631B1. Автор: 유헤이 다나카,도시오 신타니,유키오 아리미츠. Владелец: 닛토덴코 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-06-14.

Insulated wires, motor coils and electrical / electronic equipment

Номер патента: JPWO2017142036A1. Автор: 大介 武藤,真 大矢,大 藤原,武藤 大介. Владелец: Furukawa Magnet Wire Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-06.

Insulated wire, coil and electrical/electronic device

Номер патента: EP3389060A1. Автор: Makoto Oya. Владелец: Furukawa Magnet Wire Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-17.

Insulated wire and electrical/electronic device

Номер патента: EP2927911B1. Автор: Daisuke Muto,Hideo Fukuda,Keiichi Tomizawa,Keisuke Ikeda. Владелец: Furukawa Magnet Wire Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-09.

Multilayer insulated wire, coil and electrical/electronic equipment

Номер патента: EP3089170B1. Автор: Tsuneo Aoi,Ryosuke Obika. Владелец: Essex Furukawa Magnet Wire Japan Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-02.

Flat rectangular insulated wires, coils and electrical / electronic equipment

Номер патента: JP6373358B2. Автор: 恒夫 青井,秀雄 福田,大 藤原. Владелец: Furukawa Magnet Wire Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-15.

Insulated wire, coil, and electric/electronic device

Номер патента: CN114051644A. Автор: 富泽惠一,池田佳祐,山元爱弓. Владелец: Essex Guhe Electromagnetic Wire Japan Co ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Flat-type insulated wire, coil, and electric/electronic equipment

Номер патента: EP3118859A1. Автор: Hideo Fukuda,Tsuneo Aoi,Dai Fujiwara. Владелец: Furukawa Magnet Wire Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-18.

Insulated wire, coil and electrical/electronic device

Номер патента: EP3514803A4. Автор: Hideo Fukuda,Isao Tomomatsu,Satoko Yamoto. Владелец: Furukawa Magnet Wire Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-15.

Room-temperature-curable silicone composition and electric/electronic apparatus

Номер патента: WO2018151450A1. Автор: Jong-Ok LIM. Владелец: Dow Silicones Corporation. Дата публикации: 2018-08-23.

Wholly aromatic liquid crystal polyester resin, molded article, and electrical/electronic component

Номер патента: TW201819459A. Автор: Gosuke Washino. Владелец: Jxtg Nippon Oil & Energy Corp. Дата публикации: 2018-06-01.

Wireless power receiving device and electrical-electronic device driving method using wireless power.

Номер патента: WO2015152590A1. Автор: 이재용. Владелец: 이재용. Дата публикации: 2015-10-08.

Thermosetting resin composition and electrical/electronic component which contains cured product of same

Номер патента: EP4032922A4. Автор: Yusuke Harada. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2023-12-13.

Thermosetting resin composition, semiconductor device and electrical/electronic component

Номер патента: US20230411335A1. Автор: Masakazu Fujiwara,Yuya NITANAI,Yu SATAKE. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Paste composition, semiconductor device, and electrical/electronic component

Номер патента: US11859112B2. Автор: Masakazu Fujiwara,Yuya NITANAI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Moisture curable organopolysiloxane composition and electric/electronic apparatus

Номер патента: EP3802717A4. Автор: Steven Swier,John B. Horstman,David R. DINGMAN. Владелец: Dow Silicones Corp. Дата публикации: 2022-03-16.

Thermosetting resin composition, semiconductor device, and electrical/electronic component

Номер патента: US11784153B2. Автор: Masakazu Fujiwara,Yuya NITANAI,Yu SATAKE. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Fluoropolyether-based curable composition and cured product, and electric/electronic component

Номер патента: EP4365235A1. Автор: Kenichi Fukuda,Ryuto Hayashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Room-temperature-curable silicone composition and electric/electronic apparatus

Номер патента: EP3583155B1. Автор: Jong-Ok LIM. Владелец: Dow Silicones Corp. Дата публикации: 2024-05-08.

Thermosetting resin composition and electrical/electronic component which contains cured product of same

Номер патента: EP4032922A1. Автор: Yusuke Harada. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-07-27.

Moisture curable organopolysiloxane composition and electric/electronic apparatus

Номер патента: EP3802717A1. Автор: Steven Swier,John B. Horstman,David R. DINGMAN. Владелец: Dow Silicones Corp. Дата публикации: 2021-04-14.

Copper alloy sheets for electrical/electronic part

Номер патента: US09631260B2. Автор: Ryoichi Ozaki,Yosuke Miwa,Yasuhiro Aruga. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

POLYESTER RESIN COMPOSITION FOR ELECTRICAL/ELECTRONIC PART-SEALING MATERIAL, SEALED PRODUCT, AND PRODUCTION METHOD THEREOF

Номер патента: US20130338318A1. Автор: Sakai Junko,Shiga Kenji. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-19.

ROOM TEMPERATURE CURABLE ORGANOPOLYSILOXANE COMPOSITION FOR PROTECTING ELECTRIC/ELECTRONIC PARTS

Номер патента: US20190177487A1. Автор: KODAMA Harumi,ONISHI Masayuki. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-13.

Component carrier for electrical/electronic parts for attachment in a motor vehicle door lock

Номер патента: US20190194984A1. Автор: Sascha Maciolowski. Владелец: Kiekert AG. Дата публикации: 2019-06-27.

A CURABLE ORGANOPOLYSILOXANE COMPOSITION AND A PROTECTANT OR ADHESIVE COMPOSITION OF ELECTRIC/ELECTRONIC PARTS

Номер патента: US20200347229A1. Автор: ONISHI Masayuki,Fujisawa Toyohiko. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

Component carrier for electrical/electronic parts for attachment in a motor-vehicle door lock

Номер патента: EP3510845A1. Автор: Sascha Maciolowski. Владелец: Kiekert AG. Дата публикации: 2019-07-17.

Method for producing copper alloy material for electric / electronic parts

Номер патента: JP4913902B2. Автор: 立彦 江口,邦照 三原,亮佑 松尾. Владелец: THE FURUKAW ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-04-11.

Copper alloy sheets for electrical/electronic part

Номер патента: CN101899587B. Автор: 有贺康博,尾崎良一,三轮洋介. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2012-07-04.

Process for producing copper alloy sheets for electrical/electronic part

Номер патента: EP2045344B1. Автор: Ryoichi Ozaki,Yasuhiro Aruga,Yosuke MIWA. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2012-05-23.

Copper alloy sheets for electrical/electronic part

Номер патента: US20090311128A1. Автор: Ryoichi Ozaki,Yosuke Miwa,Yasuhiro Aruga. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2009-12-17.

Method for producing copper alloy material for electric / electronic parts

Номер патента: JPWO2010016429A1. Автор: 立彦 江口,邦照 三原,亮佑 松尾. Владелец: THE FURUKAW ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-19.

Room temperature curable organopolysiloxane composition for protecting electric/electronic parts

Номер патента: EP3500629B1. Автор: Masayuki Onishi,Harumi Kodama. Владелец: Dow Toray Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-31.

Applicator for applying dry film solder mask on a board

Номер патента: SG50503A1. Автор: Jose L Correa,Robert C Stumpf,Charles L Farnum. Владелец: Morton Int Inc. Дата публикации: 1998-07-20.

Applicator and method for applying dry film solder mask on a board

Номер патента: AU626633B2. Автор: Jose L. Correa,Robert C. Stumpf,Charles L. Farnum. Владелец: Morton International LLC. Дата публикации: 1992-08-06.

Film making method (versions) and film produced using such method (versions)

Номер патента: RU2278033C2. Автор: ВИНТЕР Хюго ДЕ,Жан УИЛЛЕМС. Владелец: Ректисель. Дата публикации: 2006-06-20.

Method for determining the proper progress of a superplastic forming process

Номер патента: US5870304A. Автор: Ken K. Yasui. Владелец: McDonnell Douglas Corp. Дата публикации: 1999-02-09.

Efficient and stable accurate coating process and device for flexible perovskite solar cells

Номер патента: LU506713B1. Автор: Yingguo YANG. Владелец: Univ Fudan. Дата публикации: 2024-10-01.

Image forming process and image forming apparatus and ink set therefor

Номер патента: EP1610955A1. Автор: Hiroshi Adachi,Juichi Furukawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2006-01-04.

Image forming process and image forming apparatus

Номер патента: US20020175986A1. Автор: Akio Miyamoto. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2002-11-28.

Metal pattern forming method

Номер патента: US20070218695A1. Автор: Shinya Momose,Kazushige Hakeda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-09-20.

Tuning Range Enhancement by Negative Resistance

Номер патента: US20220085759A1. Автор: Ahmed Mahmoud,Mustafa ÖZEN,Ufuk Özdemir,Peter Caputa. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2022-03-17.

Process and apparatus for forming images

Номер патента: US20020088538A1. Автор: Kenji Suzuki,Yoshinari Yasui,Hiroshi Ochiai,Toru Nagata,Hiroshi Miyamura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-11.

Method for selective etching using dry film photoresist

Номер патента: US09960081B1. Автор: Lianjun Liu,Ruben B. Montez,Colin Bryant Stevens. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2018-05-01.

Spin forming process and apparatus for manufacturing articles by spin forming

Номер патента: US09597721B2. Автор: Omer Music,Julian M. Allwood. Владелец: CAMBRIDGE ENTERPRISE LTD. Дата публикации: 2017-03-21.

Water soluble mask formation by dry film lamination

Номер патента: US09583375B2. Автор: AJAY Kumar,James S. Papanu,Wei-Sheng Lei,Brad Eaton. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Lightproof and heat-resistant composition

Номер патента: RU2351621C2. Автор: Вероник БОССЕННЕК,Тьерри ШАРБОННО. Владелец: Родианил. Дата публикации: 2009-04-10.

Fire-resistant composition and wood impregnation method

Номер патента: RU2565686C2. Автор: Киммо СААРИ. Владелец: ЭфПи ВУД ОЙ. Дата публикации: 2015-10-20.

Applicator for applying dry film solder mask on a board

Номер патента: CA1301953C. Автор: Jose L. Correa,Robert C. Stumpf,Charles L. Farnum. Владелец: Morton International LLC. Дата публикации: 1992-05-26.

Negative resistance element composed of a semiconductor element

Номер патента: US4023196A. Автор: Shoei Kataoka,Hiroshi Tateno. Владелец: Agency of Industrial Science and Technology. Дата публикации: 1977-05-10.

Fastening member with loops and process and machine for producing it

Номер патента: WO1998023181A1. Автор: Luis Parellada. Владелец: Velcro Industries, B.V.. Дата публикации: 1998-06-04.

Roll forming process with heat source locations for forming a metal article

Номер патента: WO2024163158A1. Автор: Vincent Millioto. Владелец: Martinrea International US Inc.. Дата публикации: 2024-08-08.

Very narrowband and wideband negative resistance amplifiers with a tuneable center frequency using a coupler

Номер патента: US12052002B2. Автор: Alfred Ira Grayzel,Ashok Gorwara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-30.

Generator with element having negative resistance

Номер патента: RU2486660C1. Автор: Тосихико ОУТИ,Риота СЕКИГУТИ. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2013-06-27.

Bending fatigue-resistant composite cable

Номер патента: RU2749526C1. Автор: Хьертур ЭРЛЕНДССОН. Владелец: Хэмпиджан Хф.. Дата публикации: 2021-06-11.

Negative Resistance Amplifier

Номер патента: GB1182336A. Автор: . Владелец: International Standard Electric Corp. Дата публикации: 1970-02-25.

Dry film and manufacturing method of dry film

Номер патента: US20110059304A1. Автор: Yoshitaka USHIYAMA. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-03-10.

Dry film resist and printed circuit board producing method

Номер патента: US20030232193A1. Автор: Masayuki Iwasaki. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2003-12-18.

Cmos negative resistance/q enhancement method and apparatus

Номер патента: WO2006014692A3. Автор: Yannis Tsividis,Nebojsa Stanic. Владелец: Nebojsa Stanic. Дата публикации: 2006-03-16.

Improved fire resistant composite pole

Номер патента: CA3147296A1. Автор: Robert PAULIN. Владелец: Valmont Industries Inc. Дата публикации: 2021-03-25.

Flame-resistant composite member

Номер патента: US09707742B2. Автор: Kunio Nagasaki,Yusuke Sugino,Yusuke Nakayama,Kohei Doi,Takafumi Hida,Keisuke Hirano. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Single- or multiple-part protective cover for traction drives

Номер патента: US4878467A. Автор: Konrad Schmidt. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-11-07.

BICMOS monolithic microwave oscillator using negative resistance cell

Номер патента: US5578970A. Автор: Thai M. Nguyen,David E. Bien. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 1996-11-26.

System for wet application of a dry film to a panel

Номер патента: US5372670A. Автор: John M. Griffin,Curtis L. Miller,Michael J. Cummings. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1994-12-13.

Improvements in or relating to electric negative resistances

Номер патента: GB368770A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1932-02-29.

A multilayer film for dry film resist

Номер патента: WO2009084929A2. Автор: Gi Sang SONG. Владелец: KOLON INDUSTRIES, INC.. Дата публикации: 2009-07-09.

Tuning range enhancement by negative resistance

Номер патента: EP3918709A1. Автор: Ahmed Mahmoud,Mustafa ÖZEN,Ufuk Özdemir,Peter Caputa. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2021-12-08.

Tuning range enhancement by negative resistance

Номер патента: WO2020156647A1. Автор: Ahmed Mahmoud,Mustafa ÖZEN,Ufuk Özdemir,Peter Caputa. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 2020-08-06.

Water soluble mask formation by dry film lamination

Номер патента: US20150294892A1. Автор: AJAY Kumar,James S. Papanu,Wei-Sheng Lei,Brad Eaton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-10-15.

Conveyorized vacuum applicator and method of applying a dry film to a printed circuit board

Номер патента: SG83814A1. Автор: Osvaldo Novello,Charles R Keil. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2001-10-16.

A multilayer film for dry film resist

Номер патента: WO2009084929A3. Автор: Gi Sang SONG. Владелец: Gi Sang SONG. Дата публикации: 2009-08-20.

Very narrowband and wideband negative resistance amplifiers with a tuneable center frequency

Номер патента: US11863131B1. Автор: Alfred Ira Grayzel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-02.

Negative resistance generator, load including negative resistance and load of amplifier

Номер патента: US20150214936A1. Автор: Hsuan-Yi Su. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2015-07-30.

Method and device for producing a dry film

Номер патента: US20240162408A1. Автор: Sven Schopf,Sebastian Reuber,Ludger Bußwinkel,Roland Schmidt-Lobach. Владелец: VOLKSWAGEN AG. Дата публикации: 2024-05-16.

Method and device for producing a dry film

Номер патента: CA3218978A1. Автор: Sven Schopf,Sebastian Reuber,Ludger Bußwinkel,Roland Schmidt-Lobach. Владелец: VOLKSWAGEN AG. Дата публикации: 2024-05-11.

Water soluble mask formation by dry film lamination

Номер патента: WO2015160555A1. Автор: AJAY Kumar,James S. Papanu,Wei-Sheng Lei,Brad Eaton. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2015-10-22.

Conveyorized vacuum applicator and method of applying a dry film resist to a printed circuit board

Номер патента: US20030051790A1. Автор: Osvaldo Novello,Charles KEIL. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2003-03-20.

Water resistant compositions containing a heterocyclic compound and an alkoxysilane

Номер патента: EP2838502A2. Автор: Nghi Van Nguyen,Catherine Chiou,Grégory Shmuylovich. Владелец: LOreal SA. Дата публикации: 2015-02-25.

Pattern forming method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20220084833A1. Автор: Hironobu Sato,Yoshihiro Naka. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Conductive pattern forming ink, conductive pattern, and wiring substrate

Номер патента: US20090146113A1. Автор: Noboru Uehara,Toshiyuki Kobayashi,Sachiko Endo,Naoyuki Toyoda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Tire including a pattern forming area with a unit pattern

Номер патента: US12036822B2. Автор: Hee Sung Jang. Владелец: Hankook Tire and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Pattern forming method, semiconductor device manufacturing apparatus and storage medium

Номер патента: US20090176374A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-07-09.

Chemical resistant composite support pad mold and method of manufacturing the support pad

Номер патента: US20170136663A1. Автор: Paul Kirby Reber. Владелец: Great Plains Coatings Inc. Дата публикации: 2017-05-18.

Circuit pattern forming device and circuit pattern forming method

Номер патента: US20060288932A1. Автор: Nobuhito Yamaguchi,Takashi Mori,Masao Furukawa,Seiichi Kamiya,Yuji Tsuruoka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2006-12-28.

Tire including a pattern forming area with a unit pattern

Номер патента: US20230202242A1. Автор: Hee Sung Jang. Владелец: Hankook Tire and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Resin substrate having metal film pattern formed thereon

Номер патента: US20140178571A1. Автор: Hideyuki Yamada,Kouichi Kugimiya,Kazuhisa Tsujimoto,Akimitsu Bamba. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-06-26.

Stain-resist compositions

Номер патента: EP1730346A1. Автор: Yanhui Sun. Владелец: Invista Technologies SARL Switzerland. Дата публикации: 2006-12-13.

Stain-resist compositions

Номер патента: CA2559192A1. Автор: Yanhui Sun. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-06.

Corrosion resistant dry film lubricants

Номер патента: EP4180507A1. Автор: Vijay V. Pujar,Marc E. Gage,Blair A. Smith,Steven Poteet. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2023-05-17.

1,3-propanediol soil resist compositions

Номер патента: EP2449166A2. Автор: Joyce Monson Materniak,Edward Patrick Carey. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2012-05-09.

Propanediol soil resist compositions

Номер патента: WO2011008508A2. Автор: Joyce Monson Materniak,Edward Patrick Carey. Владелец: E. I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY. Дата публикации: 2011-01-20.

Conductive pattern forming ink, conductive pattern, and wiring substrate

Номер патента: US20090148679A1. Автор: Naoyuki Toyoda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Conductive pattern forming ink, conductive pattern, and wiring substrate

Номер патента: US20090145639A1. Автор: Naoyuki Toyoda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Tarnish resistant compositions and methods of using same

Номер патента: WO2006002408A1. Автор: Scott M. Croce. Владелец: Steridyne Laboratories, Inc.. Дата публикации: 2006-01-05.

Cut-resistant composite yarn structure

Номер патента: EP4424890A2. Автор: Jing Xu,Rui Luo. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-09-04.

Puncture resistant composite

Номер патента: EP1937470A1. Автор: Yunzhang Wang,Thomas E. Mabe. Владелец: Milliken and Co. Дата публикации: 2008-07-02.

Resistive composition

Номер патента: US09805839B2. Автор: Hiroshi Mashima,Yukari MOROFUJI. Владелец: Shoei Chemical Inc . Дата публикации: 2017-10-31.

Dry film solder mask composite laminate materials

Номер патента: US09545011B2. Автор: Jing Zhang,Joseph Kuczynski,Jason T. Wertz,Sarah K. Czaplewski. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Temperature sensor attachment member treated with dry film lubricant

Номер патента: US09410468B2. Автор: Masamichi Ito,Takuma Nomura,Wakako Kinose. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Foam plastic sheet forming process and foam plastic sheet with hair-like piles

Номер патента: US3809734A. Автор: T Watanabe. Владелец: Individual. Дата публикации: 1974-05-07.

A bimodal film making hdpe composition a process for the production thereof and films prepared thereof

Номер патента: IL138733A. Автор: . Владелец: Borealis Tech Oy. Дата публикации: 2006-12-10.

Negative resistance microwave power generator

Номер патента: GB1514840A. Автор: . Владелец: Thomson CSF SA. Дата публикации: 1978-06-21.

Silicone resin bonded dry film lubricants

Номер патента: CA2365550C. Автор: Subhash K. Naik,Michael J. Barber,James M. Klotz. Владелец: Rolls Royce Corp. Дата публикации: 2005-07-05.

Negative resistance compensated transformer

Номер патента: CA1225125A. Автор: Philip L. Dillon. Владелец: Reliance Electric Co. Дата публикации: 1987-08-04.

Negative resistance oscillator

Номер патента: US3858123A. Автор: T Ohta,S Makino. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 1974-12-31.

Dry film lubricants

Номер патента: US5262074A. Автор: Frank Erickson,David L. Folkins. Владелец: International Lubricants Inc. Дата публикации: 1993-11-16.

Silicone resin bonded dry film lubricants

Номер патента: WO2000053702A1. Автор: Subhash K. Naik,Michael J. Barber,James M. Klotz. Владелец: Allison Engine Company, Inc.. Дата публикации: 2000-09-14.

Improvements in and relating to negative-resistance circuit arrangements

Номер патента: GB1049711A. Автор: . Владелец: Philips Electronic and Associated Industries Ltd. Дата публикации: 1966-11-30.

Four-terminal, negative-resistance amplifying circuit

Номер патента: GB993850A. Автор: . Владелец: JOJI HAMASKI. Дата публикации: 1965-06-02.

Cmos negative resistance/q enhancement method and apparatus

Номер патента: WO2006014692A2. Автор: Yannis Tsividis,Nebojsa Stanic. Владелец: The Trustees Of Columbia University In The City Ofnew York. Дата публикации: 2006-02-09.

Compressive forming processes for enhancing collapse resistance in metallic tubular products

Номер патента: US20180229289A1. Автор: Peter W. Moore,Bisen LIN. Владелец: United States Steel Corp. Дата публикации: 2018-08-16.

Flash cell and forming process thereof

Номер патента: US20170141200A1. Автор: Jianjun Yang,Yuan-Hsiang Chang,Chih-Chien Chang,Shen-De Wang,Aaron Chen. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-05-18.

Impact resistant composite article

Номер патента: EP2501542A1. Автор: Bryan Benedict Sauer,Jeffrey Alan Hanks. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2012-09-26.

Photo-curable resin composition, photo-curable dry film, cured product and printed circuit board

Номер патента: CN104516201A. Автор: 槙田昇平. Владелец: Taiyo Ink Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-15.

Epoxy resin, epoxy resin composition, cured product and electrical / electronic parts

Номер патента: JP6772680B2. Автор: 員正 太田. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2020-10-21.

Epoxy resin composition, method for producing electric / electronic element, and electric / electronic element

Номер патента: JP4926616B2. Автор: 聡▲英▼ 猪狩. Владелец: Somar Corp. Дата публикации: 2012-05-09.

PACKAGE SUBSTRATE, MODULE AND ELECTRIC/ELECTRONIC DEVICES USING THE SAME

Номер патента: US20120068322A1. Автор: Hanabe Mitsuhiro. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-03-22.

Foam members and electrical / electronic devices

Номер патента: JP5684775B2. Автор: 誠 齋藤,泰之 徳永,秀樹 長津,齋藤 誠,徳永 泰之,長津 秀樹. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2015-03-18.

Curable polyorganosiloxane composition and electric/electronic apparatus

Номер патента: JP2018058951A. Автор: Kazuhisa Ono,和久 小野. Владелец: Momentive Performance Materials Inc. Дата публикации: 2018-04-12.

Curable polyorganosiloxane composition and electrical / electronic equipment

Номер патента: JP6762189B2. Автор: 和久 小野. Владелец: MOMENTIVE PERFORMANCE MATERIALS JAPAN LLC. Дата публикации: 2020-09-30.

Heat-resistance protection film, its manufacture method and electric electronic element

Номер патента: CN1325696C. Автор: 菅原章,成枝宏人,尾崎太一. Владелец: Dowa Mining Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-11.

Epoxy resins, compositions, cured products, and electrical / electronic components

Номер патента: JP6439612B2. Автор: 員正 太田. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2018-12-19.

Heat-resistance protection film, its manufacture method and electric electronic element

Номер патента: CN1368562A. Автор: 菅原章,成枝宏人,尾崎太一. Владелец: Japan Olin Stretched Copper Corp. Дата публикации: 2002-09-11.

Electrical / electronic parts

Номер патента: JP4379019B2. Автор: 貞紀 熊澤,裕千 大目. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2009-12-09.

Method for producing high dielectric constant resin molded product for electric / electronic parts

Номер патента: JP2602257B2. Автор: 昇 梅本. Владелец: エヌティエヌ 株式会社. Дата публикации: 1997-04-23.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003590A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Apparatus For Inspecting Defect Of Pattern Formed On Semiconductor Device

Номер патента: US20120002861A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM USING THE SAME AND PATTERN FORMING METHOD

Номер патента: US20120003586A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERNS FORMED ON A SUBSTRATE

Номер патента: US20120002860A1. Автор: Sakai Kaoru,Shibuya Hisae,Maeda Shunji,Nishiyama Hidetoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Negative-resistance device

Номер патента: RU2060582C1. Автор: Вадим Георгиевич Прокопенко. Владелец: Вадим Георгиевич Прокопенко. Дата публикации: 1996-05-20.

Negative-resistance device

Номер патента: RU2105408C1. Автор: Вадим Георгиевич Прокопенко. Владелец: Вадим Георгиевич Прокопенко. Дата публикации: 1998-02-20.

Dry-film negative photoresist having amidized styrene-maleic anhydride binder material

Номер патента: CA1049828A. Автор: Carl J. Berg. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1979-03-06.