Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device
Номер патента: US09696266B2
Опубликовано: 04-07-2017
Автор(ы): Toshiyasu Suyama
Принадлежит: Hamamatsu Photonics KK
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 04-07-2017
Автор(ы): Toshiyasu Suyama
Принадлежит: Hamamatsu Photonics KK
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
FOREIGN BODY INSPECTING METHOD, INSPECTING DEVICE, FILM ROLL, AND METHOD OF MANUFACTURING FILM ROLL
Номер патента: US20200348242A1. Автор: WATANABE Mitsuru. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.