Method and apparatus for IC 3D lead inspection having color shadowing
Номер патента: US09626752B2
Опубликовано: 18-04-2017
Автор(ы): Kexiang Ken Ding, Walter James Frandsen, Jr.
Принадлежит: Delta Design Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 18-04-2017
Автор(ы): Kexiang Ken Ding, Walter James Frandsen, Jr.
Принадлежит: Delta Design Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method and apparatus for preparing samples for microscopic examination with checking of coverslipping quality of the samples
Номер патента: GB201301446D0. Автор: . Владелец: LEICA BIOSYSTEMS NUSSLOCH GMBH. Дата публикации: 2013-03-13.