A tool strip mark generator capable of measuring the force applied and a method of measuring the force applied using the same
Номер патента: KR102222992B1
Опубликовано: 05-03-2021
Автор(ы): 고재모, 김경미, 김진표, 박남규, 서영일, 이상윤, 이제현, 임동아, 주은아
Принадлежит: 대한민국
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 05-03-2021
Автор(ы): 고재모, 김경미, 김진표, 박남규, 서영일, 이상윤, 이제현, 임동아, 주은아
Принадлежит: 대한민국
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Colorimetric sensor for detecting nickel ion using silver nano prism etching, a method for producing the same, and a colorimetric detection method of a nickel ion using the same
Номер патента: US20200249173A1. Автор: Yeon Hee Lee,Sujin Yoon,Kang Bong LEE,Yun Sik NAM. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2020-08-06.