• Главная
  • Optical measuring system for thicknesses of thin and thick films and 3D surface profile using a polarized pixel array

Optical measuring system for thicknesses of thin and thick films and 3D surface profile using a polarized pixel array

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Thin films and surface topography measurement using polarization resolved interferometry

Номер патента: US11761753B2. Автор: Boris V. Kamenev. Владелец: Svarog LLC. Дата публикации: 2023-09-19.

Optical measuring probe and method for optically measuring inner diameters

Номер патента: US09841273B2. Автор: Peter Riegger,Pawel Drabarek,Gerald Franz. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-12-12.

System and method for optically measuring a structure

Номер патента: US5880838A. Автор: Demetri Psaltis,David Marx. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 1999-03-09.

Device For Optically Measuring An Object

Номер патента: US20190078870A1. Автор: Thomas Engel,Martin Koerdel. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2019-03-14.

Optical measurement system

Номер патента: US20240035801A1. Автор: Chien-sheng Liu,Wen-Yu Shih. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2024-02-01.

Apparatus and method for optically measuring by interferometry the thickness of an object

Номер патента: EP2366092A1. Автор: Leonardo Gwin Roberto Phillips. Владелец: Marposs Spa. Дата публикации: 2011-09-21.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240241041A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240230312A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: GB2607866A. Автор: christopher reynolds James. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2022-12-21.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: EP4348165A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Method for three-dimensionally, optically measuring measuring objects

Номер патента: US20020149778A1. Автор: Jochen Straehle. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-17.

Method for three-dimensionally, optically measuring measuring objects

Номер патента: US6724483B2. Автор: Jochen Straehle. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2004-04-20.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: EP4348166A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Optical measuring method, and optical measuring system

Номер патента: EP4431888A1. Автор: Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Optical measurement system and optical measurement method

Номер патента: EP4404004A1. Автор: Tsutomu Mizuguchi,Hiroyuki Sano,Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Probe and method for optical measurement

Номер патента: EP4425241A2. Автор: Jerald A. Hull. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-09-04.

Optical measurement system and optical measurement method

Номер патента: US20240045375A1. Автор: Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Optical measurement system and optical measurement method

Номер патента: EP4269938A1. Автор: Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-01.

Displacement measuring system and machining system comprising the same

Номер патента: US09869540B1. Автор: Wei-Hung Su,Kuo-Kai HUNG,Chun-Neng Chan,Hui-Hung LIN,Lu-Yu Wang. Владелец: Noporvis Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Method, system, and apparatus for optical measurement

Номер патента: US11754390B2. Автор: Jerald A. Hull. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-09-12.

Sensor system for determining a thickness of a material body

Номер патента: US20240240934A1. Автор: Amina ALAOUI,Loic Jean-François AUTRET,Jeremy Anthony Philippe GRUEL. Владелец: Cargill Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Partial coherence range sensor pen connected to the source/detector by a polarizing fiber

Номер патента: WO2020159957A1. Автор: David B. Kay. Владелец: Quality Vision International Inc.. Дата публикации: 2020-08-06.

Partial coherence range sensor pen connected to the source/detector by a polarizing fiber

Номер патента: US20200240766A1. Автор: David B. Kay. Владелец: Quality Vision International Inc. Дата публикации: 2020-07-30.

Method for optical measurement

Номер патента: GB2587042A. Автор: Finkeldey Markus. Владелец: Klingelnberg GmbH. Дата публикации: 2021-03-17.

Optical Measuring Apparatuses

Номер патента: US20120105859A1. Автор: Kwang Soo Kim,Chang Hoon Choi,Tae Joong Kim,Young Heo,Byung Seon CHUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-05-03.

Remote probe for optical measuring machine

Номер патента: US20170307352A1. Автор: David B. Kay. Владелец: Quality Vision International Inc. Дата публикации: 2017-10-26.

Optical method for nondestructive measurement of the thickness of a hollow container

Номер патента: EP4443103A1. Автор: Enrico VANNACCI,Alexandro Maximiliano FABBRONI. Владелец: Vetreria Etrusca Srl. Дата публикации: 2024-10-09.

System for measuring film thickness

Номер патента: US4956558A. Автор: Timothy J. Peters,Charles R. Batishko,Leslie J. Kirihara,Donald E. Rasmussen. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 1990-09-11.

System and Method for Controlling Thickness of Coating

Номер патента: US20180161812A1. Автор: Jin Seok Kim,Haseung SEONG,Moo Woong Choi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-06-14.

Method and system for real-time in-process measurement of coating thickness

Номер патента: US09863758B2. Автор: Vivek Komaragiri,Greg FRISBY. Владелец: Sensory Analytics LLC. Дата публикации: 2018-01-09.

Coating thickness measurement system and method of measuring a coating thickness

Номер патента: US6052191A. Автор: Thomas H. Brayden, Jr.,Thomas D. Winters, Jr.. Владелец: Northrop Grumman Corp. Дата публикации: 2000-04-18.

Sensor system, method and use for determining a thickness of a material body

Номер патента: EP4341640A1. Автор: Amina ALAOUI,Loic Jean-François AUTRET,Jeremy Anthony Philippe GRUEL. Владелец: Cargill Inc. Дата публикации: 2024-03-27.

Method and system for real-time in-process measurement of coating thickness

Номер патента: CA2908964C. Автор: Vivek Komaragiri,Greg FRISBY. Владелец: Sensory Analytics LLC. Дата публикации: 2018-11-20.

METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING THE THICKNESS OF ULTRA-WIDE OPTICAL FILMS IN-SITU

Номер патента: FI20096065A0. Автор: Jarkko Antila. Владелец: Valtion Teknillinen. Дата публикации: 2009-10-15.

Optical measuring apparatus

Номер патента: US09423241B2. Автор: Shinji Fukuda,Ryoichi Imaizumi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Optical measurement apparatus and method of measuring an axial length

Номер патента: US20240271922A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Optical measurement device

Номер патента: US20240210167A1. Автор: Takumi Hayashi,Ryoichi Imaizumi,Kohei Narumiya. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Correction device and correction method for optical measuring apparatus

Номер патента: US09958263B2. Автор: Ichiro Taniguchi,Ryoichi Imaizumi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US09441950B2. Автор: Daisuke Tomita,Kentaro Osawa,Masaki MUKO. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Optical measuring device

Номер патента: US09772178B2. Автор: Hiroyuki Minemura,Yumiko Anzai,Kentaro Osawa. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Laser machining system and method for machining a workpiece using a laser beam

Номер патента: US20200055141A1. Автор: Bert Schurmann. Владелец: Precitec GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-02-20.

Optical measuring apparatus

Номер патента: US09658054B2. Автор: Koichi Watanabe,Daisuke Tomita,Kentaro Osawa. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Method for optically measuring the weld penetration depth

Номер патента: CA3036985C. Автор: Matthias STREBEL. Владелец: Precitec GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-10-19.

Optical measuring instrument

Номер патента: US20090303068A1. Автор: Masanori Arai,Tatsuya Nagahama,Gyokubu Cho. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2009-12-10.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12111146B2. Автор: Kunikazu Taguchi,Suguru Irie. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: US20220026197A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2022-01-27.

Optical measuring device and method for measuring an optical element

Номер патента: US11774322B2. Автор: Michael DAHL. Владелец: Moeller Wedel Optical GmbH. Дата публикации: 2023-10-03.

Optical measurement method and apparatus for fuel cell components

Номер патента: US09618458B2. Автор: Stephen Couse,Tulin Akin. Владелец: Bloom Energy Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Method, measuring arrangement and apparatus for optically measuring by interferometry the thickness of an object

Номер патента: EP2366093A1. Автор: Francesco Ziprani. Владелец: Marposs Spa. Дата публикации: 2011-09-21.

Method for calibration of an optical measurement system and optical measurement system

Номер патента: EP4139628A1. Автор: Ping Liu,Maarten Jozef Jansen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-03-01.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: US20240215819A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: EP4348171A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Optical measurement system

Номер патента: US20210149337A1. Автор: Chung-Lun Kuo,Chih-Hsiang Liu,Chia-Hung Cho,Hsiang-Chun Wei,Chun-Wei Lo. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-05-20.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: EP3853553A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2021-07-28.

Method and apparatus for remote detection and thickness measurement of solid or liquid layer

Номер патента: WO1995020771A1. Автор: Robert E. Gagnon. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 1995-08-03.

Thin film optical measurement system and method with calibrating ellipsometer

Номер патента: US5798837A. Автор: Jon Opsal,Jeffrey T. Fanton,David E. Aspnes. Владелец: Therma Wave Inc. Дата публикации: 1998-08-25.

Method and system for non-destructive metrology of thin layers

Номер патента: US11906451B2. Автор: Wei Ti Lee,Mark Klare,Cornel BOZDOG,Alok Vaid,Heath A. Pois. Владелец: Nova Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Optical measuring apparatus, optical measuring method, and optical measurement processing program

Номер патента: US7948642B2. Автор: Masanobu Kataoka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Single wavelength ellipsometry for measuring the thickness of thin films on multilayer substrates

Номер патента: WO2004076969A1. Автор: Shankar Krishnan. Владелец: KLA-TENCOR TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2004-09-10.

Optical measurement device

Номер патента: US09995624B2. Автор: Naoki Fujiwara,Masayuki Hayakawa,Kenichi Matoba,Hisayasu MORINO,Jun Takashima,Mariko MARUKAWA. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Geometric phase in-line scanning holography system for transmissive object

Номер патента: US20230297027A1. Автор: Tae Geun Kim. Владелец: Cubixel Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Method and system for contactless dimensional measurement of articles

Номер патента: US09546860B2. Автор: Timur Kelin,Cyril Valadon. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-01-17.

Method of measuring thickness of long sheet material and thickness measuring system

Номер патента: CA3020509C. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-06-15.

Optical measurement stability control system

Номер патента: US20200132541A1. Автор: Chia-Ching Lin,Wen-Hsien Su,Chun-Ming Wen. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-04-30.

Optical measurement apparatuses for use with a cutting apparatus

Номер патента: WO2023214147A1. Автор: Wei Guan,Lucy Margaret COLLINSON,Martin Leonard JONES. Владелец: The Francis Crick Institute Limited. Дата публикации: 2023-11-09.

Optical measurement system

Номер патента: EP2539669A1. Автор: Fabrice Calame. Владелец: TESA SARL. Дата публикации: 2013-01-02.

Optical measurement system

Номер патента: US20120300222A1. Автор: Fabrice Calame. Владелец: TESA SARL. Дата публикации: 2012-11-29.

Method and system for pupil retro illumination using sample arm of oct interferometer

Номер патента: US20230414098A1. Автор: Richard J. Copland. Владелец: AMO DEVELOPMENT LLC. Дата публикации: 2023-12-28.

Optical measuring device and method

Номер патента: US09603518B2. Автор: Chun-Nan Lin,Kuo-Jen Wang. Владелец: Crystalvue Medical Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

System and methods for optically measuring dielectric thickness in semiconductor devices

Номер патента: US6166819A. Автор: Rainer Florian Schnabel. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2000-12-26.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20180010962A1. Автор: Yoshihiro Kanetani,Yuta Suzuki,Tomonori Kondo. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-01-11.

Optical measurement apparatuses for use with a cutting apparatus

Номер патента: GB2618378A. Автор: Guan Wei,Margaret Collinson Lucy,Leonard Jones Martin. Владелец: Francis Crick Institute Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Apparatus and Method for 3D Surface Inspection

Номер патента: US20180195971A1. Автор: Fan Wang,Pengli Zhang. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-12.

Method and system for optical distance and angle measurement

Номер патента: EP1540274A1. Автор: Steven David Martinez. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2005-06-15.

Method and device for optically measuring a thread

Номер патента: US20240183653A1. Автор: Michael Hofer,Frank d'Hone,Christian Holländer. Владелец: SMS group GmbH. Дата публикации: 2024-06-06.

Optical measuring machine and measuring method

Номер патента: US20230324169A1. Автор: Paolo Maioli,Stefano ANDREINI,Erica MASINI. Владелец: VICI & C SpA. Дата публикации: 2023-10-12.

Method and apparatus for measuring the composition and other properties of thin films

Номер патента: EP1257806A4. Автор: Peter A Rosenthal,Sylvie Charpenay,Victor A Yakovlev. Владелец: MKS Instruments Inc. Дата публикации: 2009-07-15.

Method and system for non-destructive metrology of thin layers

Номер патента: US12066391B2. Автор: Wei Ti Lee,Heath Pois,Mark Klare,Cornel BOZDOG. Владелец: Nova Measuring Instruments Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Method and system for pupil retro illumination using sample arm of OCT interferometer

Номер патента: US11751763B2. Автор: Richard J. Copland. Владелец: AMO DEVELOPMENT LLC. Дата публикации: 2023-09-12.

In-situ thickness and refractive index monitoring and control system for thin film deposition

Номер патента: WO2002029358A1. Автор: Jian Zhang,Jing Pan. Владелец: Opnetics Corporation. Дата публикации: 2002-04-11.

Apparatus and method for thickness detection

Номер патента: US20110176149A1. Автор: John Faber Sjogren. Владелец: Spirit AeroSystems Inc. Дата публикации: 2011-07-21.

Wear detection systems for overhead conveyor systems

Номер патента: US09683918B2. Автор: Dennis L. Mayer,Matthew R. Allen. Владелец: Toyota Motor Engineering and Manufacturing North America Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Optical measurement method and measurement system for determining 3D coordinates on a measurement object surface

Номер патента: US09683837B2. Автор: Knut Siercks. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2017-06-20.

Deployment mechanism for optical measurement system

Номер патента: US09784564B2. Автор: Edward T. Polidor,Frederick D. SCHWAB. Владелец: Quality Vision International Inc. Дата публикации: 2017-10-10.

Optical measuring system with filter unit for extracting electromagnetic radiation

Номер патента: US09618328B2. Автор: Knut Siercks,Jürg Hinderling. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-04-11.

Optical Measurement Device Calibration

Номер патента: US20130158929A1. Автор: Ehud Chatow,Nathan Moroney,Kok-Wei Koh. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2013-06-20.

Long base inclinometer with optical measurement

Номер патента: US09995579B2. Автор: Frederick Boudin. Владелец: Universite de Montpellier I. Дата публикации: 2018-06-12.

Method for identifying measuring points in an optical measuring system

Номер патента: US20040027589A1. Автор: Timothy Clarke,Xinchi Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-12.

Method for identifying measuring points in an optical measuring system

Номер патента: AU2001283752A1. Автор: Xinchi Wang,Timothy Alan Clarke. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2002-03-26.

Optical measuring device

Номер патента: US11659269B2. Автор: Tobias Feldengut,Markus Ritter,Kilian Neumaier,Stephan Rieger,Lionel Martz,Erich Michler. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2023-05-23.

Power tool with optical measurement device

Номер патента: US09810524B2. Автор: Brian Todd Reese,Cody Lyle Mayer. Владелец: Sears Brands LLC. Дата публикации: 2017-11-07.

Measurement system for optical measurement

Номер патента: US20220155445A1. Автор: Thomas Wisspeintner,Lars TOBESCHAT,Christoph GRUEBER. Владелец: Micro Epsilon Optronic GmbH. Дата публикации: 2022-05-19.

Multiple axis multipoint non-contact measurement system

Номер патента: US20070210240A1. Автор: Leonard Metcalfe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-13.

Deployment mechanism for optical measurement system

Номер патента: WO2016099815A1. Автор: Edward T. Polidor,Frederick D. SCHWAB. Владелец: QUALITY VISION INTERNATIONAL, INC.. Дата публикации: 2016-06-23.

Deployment mechanism for optical measurement system

Номер патента: EP3234682A1. Автор: Edward T. Polidor,Frederick D. SCHWAB. Владелец: Quality Vision Int Inc. Дата публикации: 2017-10-25.

Electro-optical measuring system using precision light translator

Номер патента: US4168126A. Автор: Norman G. Altman,J. Rodney Worden. Владелец: Altman Associates Inc. Дата публикации: 1979-09-18.

Beam converter in optical measuring instrument

Номер патента: US4637680A. Автор: Hiroyoshi Hamada,Yoshiharu Kuwabara. Владелец: Mitutoyo Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1987-01-20.

Individual toe measuring system

Номер патента: CA1188885A. Автор: Melvin H. Lill. Владелец: FMC Corp. Дата публикации: 1985-06-18.

Optical measuring method

Номер патента: US5608817A. Автор: Naoji Yamaoka,Koji Oda. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 1997-03-04.

Individual toe measuring system

Номер патента: US4500201A. Автор: Melvin H. Lill. Владелец: FMC Corp. Дата публикации: 1985-02-19.

Optical measurement method and system for determining 3D coordinates of a measured object surface

Номер патента: EP2527784A1. Автор: Knut Siercks. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2012-11-28.

System for controlling thickness of electrode

Номер патента: US20240243244A1. Автор: Han Nah Song,Chan Bum Park. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

System for measuring the thickness of a layer of rubber for a tyre

Номер патента: CN105393078A. Автор: D·马丁,T·勒杜,G·米肖,P·梅纳劳德. Владелец: Conception et Developpement Michelin SA. Дата публикации: 2016-03-09.

SYSTEM FOR MEASURING THE THICKNESS OF A LINER LAYER OF A TIRE

Номер патента: US20160161243A1. Автор: Martin Denis,LEDOUX THOMAS,MENEROUD Patrick,MICHAUD Grégory. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-09.

SYSTEM FOR MEASURING THE THICKNESS OF A LINER LAYER OF A TIRE

Номер патента: US20160169657A1. Автор: Martin Denis,LEDOUX THOMAS,MENEROUD Patrick. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-16.

SYSTEM FOR MEASURING THE THICKNESS OF A GUM LAYER OF A TIRE

Номер патента: FR3007517A1. Автор: DENIS MARTIN,Thomas Ledoux. Владелец: Compagnie Generale des Etablissements Michelin SCA. Дата публикации: 2014-12-26.

SYSTEM FOR MEASURING THE THICKNESS OF A GUM LAYER OF A TIRE

Номер патента: FR3009075B1. Автор: DENIS MARTIN,Patrick Meneroud,Thomas Ledoux. Владелец: Compagnie Generale des Etablissements Michelin SCA. Дата публикации: 2016-09-09.

SYSTEM FOR MEASURING THE THICKNESS OF A GUM LAYER OF A TIRE

Номер патента: FR3009076A1. Автор: Thomas Ledoux. Владелец: Compagnie Generale des Etablissements Michelin SCA. Дата публикации: 2015-01-30.

System for measuring the thickness of a liner layer of a tyre

Номер патента: CA2918183C. Автор: DENIS MARTIN,Patrick Meneroud,Thomas Ledoux. Владелец: Compagnie Generale des Etablissements Michelin SCA. Дата публикации: 2020-12-29.

Method and system for determining a thickness of an elongate or extended structure

Номер патента: EP3732437B1. Автор: Thomas Vogt,Keith VINE,Stefan Joshua MILEWCZYK. Владелец: Guided Ultrasonics Ltd. Дата публикации: 2022-08-17.

Optical measurement system for articles with varying surface reflectivity

Номер патента: US5625446A. Автор: Kenneth J. Bedard. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 1997-04-29.

Contactless system for measuring centricity and diameter

Номер патента: CA2481453C. Автор: Urs Peter Studer. Владелец: Zumbach Electronic AG. Дата публикации: 2011-06-07.

Method and system for measurement of coke drum deformation

Номер патента: EP4229395A1. Автор: Robert J. Clark,John C. BUCKLEY. Владелец: Amec Foster Wheeler USA Corp. Дата публикации: 2023-08-23.

Estimation of source-detector separation in an optical measurement system

Номер патента: US20240197185A1. Автор: Ryan Field,Katherine Perdue,Hamid Dehghani. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-06-20.

Surface profile measuring apparatus

Номер патента: GB1513611A. Автор: . Владелец: Bendix Corp. Дата публикации: 1978-06-07.

Angle resolved reflectometry for thick films and high aspect ratio structures

Номер патента: US20240280484A1. Автор: David Y. Wang,Kevin Peterlinz. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Angle resolved reflectometry for thick films and high aspect ratio structures

Номер патента: WO2024173035A1. Автор: David Y. Wang,Kevin Peterlinz. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-08-22.

Imaging processing system and 3d model generation method

Номер патента: US20230288622A1. Автор: Hisako Sugano,Yoichi Hirota,Hisayuki Tateno. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Methods and systems for semiconductor structure thickness measurement

Номер патента: US20210295496A1. Автор: Olmez Fatih. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US20190011351A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-10.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US10788412B2. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-29.

System and method for optical measurements in a rotary machine

Номер патента: EP3816574A1. Автор: Kurt Kramer Schleif,Andrew David Ellis. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2021-05-05.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Method and system for optimizing optical inspection of patterned structures

Номер патента: US09904993B2. Автор: Boaz Brill. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Measurement system for measuring trees

Номер патента: RU2652482C2. Автор: Джон Лайл ВИАН,Джошуа ПШИБЫЛЬКО. Владелец: Зе Боинг Компани. Дата публикации: 2018-04-26.

Method and device for measuring the thickness of thin layers over large-area surfaces to be measured

Номер патента: US20110271750A1. Автор: HELMUT Fischer. Владелец: Helmut Fischer GmbH and Co. Дата публикации: 2011-11-10.

Optical measurement apparatus and method of manufacturing the same

Номер патента: US09952394B2. Автор: James Reynolds,Simon Meadowcroft,Robin Taylor. Владелец: Lein Applied Diagnostics Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Optical measuring apparatus and method of stereoscopic display device

Номер патента: US09441953B2. Автор: Jae Hong Kim,Kyong Ho Lim,Dong Gyou Lee. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US09746322B2. Автор: Dorian Cretin. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Disturbance detection using a passively terminated fiber optic sensor

Номер патента: US09400167B2. Автор: Edward Tapanes. Владелец: FIBERSONICS Inc. Дата публикации: 2016-07-26.

Systems and methods for optical measurement for in-situ surgical applications

Номер патента: US09351643B2. Автор: Alexey Sharonov. Владелец: COVIDIEN LP. Дата публикации: 2016-05-31.

Flexible optical measuring device

Номер патента: US20190120661A1. Автор: Chun-Li Chang,Tai-Shan Liao,Chi-Hung Huang,Shih-Jie Chou. Владелец: NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES. Дата публикации: 2019-04-25.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20230273017A1. Автор: Masahiro Hato,Seiichi OHMORI,Tomohiko Shiota. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Crack and thickness detecting apparatus

Номер патента: US20150027227A1. Автор: Takayuki Masada. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2015-01-29.

Optical intensity method to measure the thickness of coatings deposited on substrates

Номер патента: US20210025693A1. Автор: Ryan C. Smith,Roman Y. Korotkov,Gunter E. MOELLER. Владелец: Arkema Inc. Дата публикации: 2021-01-28.

Surface profile measurement system

Номер патента: US20180348116A1. Автор: John Howard Keightley,Adriano Goncalves Cunha. Владелец: 3DM Devices Inc. Дата публикации: 2018-12-06.

Optical monitoring system for coating processes

Номер патента: US09679793B2. Автор: Alfons Zoller,Christopher Schmitt,Michael Boos,Werner Klug,Hans Dirk Wolf. Владелец: LEYBOLD OPTICS GMBH. Дата публикации: 2017-06-13.

Crack and thickness detecting apparatus

Номер патента: US09453820B2. Автор: Takayuki Masada. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2016-09-27.

Optical testing apparatus and method of testing optical measuring instrument

Номер патента: US11762072B2. Автор: Takao Sakurai,Toshihiro Sugawara. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Optical phase measurement system and method

Номер патента: US11946875B2. Автор: Gilad Barak,Dror Shafir,Shahar Gov,Yanir HAINICK. Владелец: Nova Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

Method and apparatus for optically measuring by interferometry the thickness of an object

Номер патента: US20130045663A1. Автор: Domenico Malpezzi,Dino Galletti. Владелец: Marposs Spa. Дата публикации: 2013-02-21.

Method and apparatus for optically measuring by interferometry the thickness of an object

Номер патента: EP2571655A1. Автор: Domenico Malpezzi,Dino Galletti. Владелец: Marposs Spa. Дата публикации: 2013-03-27.

Measuring system and measuring method for a road construction machine

Номер патента: US09891036B2. Автор: Achim Eul. Владелец: JOSEPH VOEGELE AG. Дата публикации: 2018-02-13.

Method and system for measurement using a telescopic gauge

Номер патента: US09719766B2. Автор: Robert William Tait,Juntao Wu,Chun Zhan,Maxine Marie Gibeau,John Brandon Laflen. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-08-01.

Method and system for digital circuit scan testing

Номер патента: US09465072B2. Автор: Tom Waayers. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2016-10-11.

Method and system for gathering seismic data

Номер патента: RU2418307C2. Автор: Жюльен МЁНЬЕ. Владелец: Сгг Сервиз. Дата публикации: 2011-05-10.

Optical measuring system for measuring optical polarization properties of a sample

Номер патента: US09683929B2. Автор: Martin Ostermeyer. Владелец: ANTON PAAR GMBH. Дата публикации: 2017-06-20.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240201072A1. Автор: Hiroshi Ono,Masayuki Tanaka,Kohei Noda,Moritsugu Sakamoto. Владелец: Opt Gate Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Method and system for improving optical measurements on small targets

Номер патента: US20170089842A1. Автор: Danny Grossman,Guy SELICKTER. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2017-03-30.

Method and system for improving optical measurements on small targets

Номер патента: US09927370B2. Автор: Danny Grossman,Guy SELICKTER. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Method and system for improving optical measurements on small targets

Номер патента: US09476837B2. Автор: Danny Grossman,Guy SELICKTER. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Optical measurement system and optical measurement method

Номер патента: WO2024106517A1. Автор: Peter Seitz. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2024-05-23.

System for inspecting surfaces of an optical wave using a gradient density filter

Номер патента: US20230296813A1. Автор: Francois Henault,Alain SPANG. Владелец: Observatoire de la Cote Dazur. Дата публикации: 2023-09-21.

System for inspecting surfaces of an optical wave using a graduated density filter

Номер патента: US11754449B2. Автор: Francois Henault,Alain SPANG. Владелец: Observatoire de la Cote Dazur. Дата публикации: 2023-09-12.

In-situ gas-measuring system for gas reactors with critical environments

Номер патента: US09915605B2. Автор: Patrick SCHMIDT-KAEDING. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-03-13.

Despeckling in optical measurement systems

Номер патента: US12111207B2. Автор: Mark A. Arbore,David S Gere,Matthew A Terrel,Thomas C Greening,Alexander F Sugarbaker,Jason S Pelc. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-10-08.

Optical measurement system for detecting turbine blade lockup

Номер патента: US09803492B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Clifford Hatcher, JR.. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Systems and methods for optical measuring of properties of samples using polarized optical beams

Номер патента: WO2024003884A1. Автор: Eyal Cohen,Shimon Yalov,Shahar PAZ,Misha MATUSOVSKY. Владелец: Nova Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Methods and devices for calibrating and/or monitoring optical measurement devices

Номер патента: EP4372366A3. Автор: David Opalsky,Byron J. Knight,George T. Walker,Norbert Hagen. Владелец: Gen Probe Inc. Дата публикации: 2024-07-24.

Referenced and stabilized optical measurement system

Номер патента: US09772226B2. Автор: Andrew Weeks Kueny,John Douglas Corless,Mark Anthony Meloni. Владелец: Verity Instruments Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Optical measuring system and optical measuring method

Номер патента: EP1708612A1. Автор: Christoph Hauger,Peter Reimer. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-10-11.

Optical measuring system and method for optically measuring an object in a three-dimensional manner

Номер патента: US20160296304A1. Автор: Mark Weber,Georg Wiora,Lukas Wewer. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2016-10-13.

Optical measurement device and liquid chromatograph system

Номер патента: US20240241062A1. Автор: Takuya YONEKURA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

System for determining an ensemble characteristic of a particle-laden flow

Номер патента: US20190383716A1. Автор: Rudolf J. Schick,Kyle M. Bade,Chad Sipperley. Владелец: Spraying Systems Co. Дата публикации: 2019-12-19.

Communication between an optical measuring device and two measuring cells accommodated therein

Номер патента: US20230341333A1. Автор: Martin Ostermeyer. Владелец: ANTON PAAR OPTOTEC GMBH. Дата публикации: 2023-10-26.

High throughput optical measurement system

Номер патента: WO2024141777A1. Автор: Ohad Cohen,Daniel EKELTCHIK,Slava MACHNOVSKY,Yosi Bar On. Владелец: NOVA LTD.. Дата публикации: 2024-07-04.

Polarization mode dispersion measuring method and polarization mode dispersion measuring system

Номер патента: US20020158189A1. Автор: Shirou Yamaguchi. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2002-10-31.

Method and system for improved optical analyte measurements

Номер патента: US20240252070A1. Автор: Bernd Limburg,Alexander Steck,Max Berg,Fredrik Hailer. Владелец: Roche Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Apparatus and method for synchronizing high-speed optical measurements made over a range of wavelengths

Номер патента: US20020101580A1. Автор: William Manning,Michael Minneman. Владелец: DBM Optics Inc. Дата публикации: 2002-08-01.

Measuring system and method for measuring light sources

Номер патента: US20230244070A1. Автор: Frank Münchow,Stephanie Grabher,Martin Finger. Владелец: Instrument Systems GmbH. Дата публикации: 2023-08-03.

Optical measuring system based on raman scattering

Номер патента: WO2017018916A1. Автор: Henric Ostmark,Markus Nordberg. Владелец: TOTALFORSVARETS FORSKNINGSINSTITUT. Дата публикации: 2017-02-02.

Cleaning system for probe unit

Номер патента: EP4405662A1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Gunnar Alfheim,Alexander NICOLAISEN. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2024-07-31.

Cleaning system for probe unit

Номер патента: US20240353314A1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Gunnar Alfheim,Alexander Nikolaisen. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2024-10-24.

Optical measuring system and gas detecting method

Номер патента: US09377359B1. Автор: Urs Boegli,Andreas Wittmann,Marc-Oliver Zufferey,Kai Hassler. Владелец: AXETRIS AG. Дата публикации: 2016-06-28.

Optical measurement system with multiple launch sites

Номер патента: EP4249894A3. Автор: Mark A. Arbore,Matthew A. Terrel,Thomas C. Greening,Yongming Tu,Jason S. Pelc,Lucia GAN. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2023-10-04.

Optical Measurement System with Multiple Launch Sites

Номер патента: US20230324286A1. Автор: Mark A. Arbore,Matthew A. Terrel,Thomas C. Greening,Yongming Tu,Jason S. Pelc,Lucia GAN. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Multi-fiber connector fiber-optic measurement device and method

Номер патента: US20200379177A1. Автор: Katsushi Ota,Toshikazu Yamamoto. Владелец: Yokogawa Test and Measurement Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Optical environmental oscillation detecting system and optical measuring method using the same

Номер патента: US11829013B2. Автор: Che Wen Chiang. Владелец: Interface Optoelectronics Wuxi Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Optical measurement system with multiple launch sites

Номер патента: EP4249894A2. Автор: Mark A. Arbore,Matthew A. Terrel,Thomas C. Greening,Yongming Tu,Jason S. Pelc,Lucia GAN. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2023-09-27.

Optical environmental oscillation detecting system and optical measuring method using the same

Номер патента: US20220229319A1. Автор: Che Wen Chiang. Владелец: Interface Optoelectronics Wuxi Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-21.

Information processing device, information processing method, program, and optical measurement system

Номер патента: US20230120382A1. Автор: Naoki Ide,Tomoyuki Umetsu. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Processing system for lidar measurements

Номер патента: US20230273320A1. Автор: Angus Pacala,Marvin SHU. Владелец: Ouster Inc. Дата публикации: 2023-08-31.

Element for optical measurement system

Номер патента: AU2022422718A2. Автор: Benoit Georges Gérard Merchez. Владелец: DIAGDEV. Дата публикации: 2024-06-27.

Element for optical measurement system

Номер патента: AU2022422718A1. Автор: Benoit Georges Gérard Merchez. Владелец: DIAGDEV. Дата публикации: 2024-06-20.

Optical measuring device

Номер патента: RU2446731C2. Автор: Сипке ВАДМАН. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2012-04-10.

Optical measuring device for vehicle and appropriate vehicle

Номер патента: RU2600495C2. Автор: Герд РАЙМЕ. Владелец: Герд РАЙМЕ. Дата публикации: 2016-10-20.

Method for non-invasive optical measurement of flowing blood properties

Номер патента: RU2703894C2. Автор: Вера ГЕРМАНН. Владелец: Нирлус Энджиниринг Аг. Дата публикации: 2019-10-22.

Optical fiber array and optical measurement device

Номер патента: US10830956B2. Автор: Kosuke Fujii. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2020-11-10.

Optical fiber array and optical measurement device

Номер патента: US20200073057A1. Автор: Kosuke Fujii. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2020-03-05.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-05.

Systems and methods for optical measurement of cross-wind

Номер патента: US12038507B1. Автор: Brett Bagwell. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2024-07-16.

Optical measurements of stress in thin film materials

Номер патента: WO1996023205A1. Автор: Keith A. Nelson,John A. Rogers. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 1996-08-01.

Optical measuring head and method of manufacturing optical measuring head

Номер патента: US20020067479A1. Автор: Pentti NIEMELÄ,Janne Suhonen,Juha Sumen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-06.

Reducing measurement variation related to optical measure of sample material

Номер патента: US09851306B2. Автор: Ville Laitala. Владелец: WALLAC OY. Дата публикации: 2017-12-26.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US09541489B2. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Systems and methods for optical measurement

Номер патента: US7349086B2. Автор: Joung-Wei Liou,Chih-Ming Ke,Szu-An Wu,Jacky Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2008-03-25.

Optical measurement device

Номер патента: US20210223096A1. Автор: Jong Woo Park,Eu Gene Kim,Dae Youn CHO,Young Tae Choi,Ji Ho Moon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Optical measurement device

Номер патента: US11448550B2. Автор: Jong Woo Park,Eu Gene Kim,Dae Youn CHO,Young Tae Choi,Ji Ho Moon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-20.

Measuring arrangement for optically measuring milk during milking

Номер патента: US20210239671A1. Автор: Olaf Suhr,Adib Matty. Владелец: GEA FARM TECHNOLOGIES GMBH. Дата публикации: 2021-08-05.

Optical measuring method, and optical measuring device

Номер патента: EP4414687A1. Автор: Go Yamada. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Test strip fixation device for optical measurements of an analyte

Номер патента: ZA202213492B. Автор: Bernd Limburg,Max Berg,Fredrik Hailer,Christian Melchinger. Владелец: Hoffmann La Roche. Дата публикации: 2023-08-30.

Measurement object holder, living body holder, and optical measurement instrument

Номер патента: US20120017842A1. Автор: Yukio Yamada,Takeshi Kimura,Hitoshi Shimizu. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-01-26.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US8502984B2. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-06.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20120019831A1. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-26.

Bias voltage generation in an optical measurement system

Номер патента: US12085789B2. Автор: Sebastian SORGENFREI,Ryan Field,Bruno Do Valle,Jacob Dahle,Rong Jin,Alex Borisevich. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-09-10.

ADAS calibration system for calibrating at least one headlamp of a vehicle

Номер патента: US12123801B2. Автор: Andrea Cantadori. Владелец: MAHLE International GmbH. Дата публикации: 2024-10-22.

Optical measuring device

Номер патента: US12066381B2. Автор: Frédéric Fischer,Johann Witte,Ralf Marbach. Владелец: CLAAS SELBSTFAHRENDE ERNTEMASCHINEN GMBH. Дата публикации: 2024-08-20.

Optical measurement device and a method for an optical measurement

Номер патента: US09538927B2. Автор: Visit Thaveeprungsriporn,Md. Irwan bin Md. Kassim. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Despeckling in Optical Measurement Systems

Номер патента: US20240102856A1. Автор: Mark A. Arbore,Matthew A. Terrel,Thomas C. Greening,David S. Gere,Alexander F. Sugarbaker,Jason S. Pelc. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Optical measurement method and system and optical device manufacturing system

Номер патента: US11841288B2. Автор: Shunyi TAN. Владелец: Shanghai Intelight Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-12.

A method and a device for bending compensation in intensity-based fibre-optical measuring systems

Номер патента: EP1212595A1. Автор: Nevio Vidovic,Svante Höjer,Martin Krantz. Владелец: Samba Sensors Ab. Дата публикации: 2002-06-12.

Optical measurement system and sample optical property management method

Номер патента: US20060000885A1. Автор: Toru Kobayashi,Koji Watanabe,Naoki Sagisaka,Masao Nakamuro. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2006-01-05.

Despeckling in optical measurement systems

Номер патента: EP4343374A1. Автор: Mark A. Arbore,Matthew A. Terrel,Thomas C. Greening,David S. Gere,Alexander F. Sugarbaker,Jason S. Pelc. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-03-27.

Integrated measurement system

Номер патента: US11994374B2. Автор: Shimon Yalov,Moshe VANHOTSKER,Elad DOTAN,Valery Deich,Roi RINGEL,Beni SHULMAN,Yosi Bar On,Shahar Bassan. Владелец: Nova Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Visual fault detection for optical measurements

Номер патента: EP1468264A1. Автор: Josef Beller,Joachim Peerlings. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-10-20.

Automatic optical measurement method

Номер патента: EP1305602A2. Автор: Naoki Inamoto,Yoshimi Sawamura,Shinji Fujimura,Kunikazu Taguchi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2003-05-02.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP4130738A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Optical measuring method and optical measuring apparatus

Номер патента: US12025427B2. Автор: Peter Fritz,Konrad Klein,Anders ADAMSON. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Characterization system for evaluating characteristics of display device

Номер патента: US20200021788A1. Автор: Hidefumi Yoshida. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2020-01-16.

Reference control for optical measurement of nucleated red blood cells of a blood sample

Номер патента: EP1668353A4. Автор: Yi Li,Nery Ortiz,Carole J Young,Santiago Galvez. Владелец: Beckman Coulter Inc. Дата публикации: 2008-11-26.

Reference control for optical measurement of nucleated red blood cells of a blood sample

Номер патента: EP1668353A1. Автор: Yi Li,Nery Ortiz,Carole J. Young,Santiago Galvez. Владелец: Beckman Coulter Inc. Дата публикации: 2006-06-14.

A device and system for monitoring the quality of water in swimming-pools

Номер патента: US20210293043A1. Автор: Alex RACHMAN,Shay Peretz,Ben Lewis. Владелец: Maytronics Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Optical measuring device

Номер патента: US20220291118A1. Автор: Kazutaka Hara,Tomohiro Taniguchi,Atsuko Kawakita. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Digital optical measurement of particle populations using reduced magnification

Номер патента: US20050046841A1. Автор: Guenadi Rabinski,Frederick King,Serge LeBlanc. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-03-03.

Devices, systems, and methods for calibrating an optical measurement device

Номер патента: US12078531B2. Автор: Michael Henninger,Ryan Field,Isai Olvera,Han Yong Ban. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-09-03.

Fiber optic measurement device

Номер патента: US20230175970A1. Автор: Raghavendra SAI,V V Lakshmana Swamy. Владелец: INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY MADRAS. Дата публикации: 2023-06-08.

An optical measurement instrument

Номер патента: WO2011042602A1. Автор: Markku Ojala,Jyrki Laitinen,Christer Isaksson,Tommi Elo. Владелец: WALLAC OY. Дата публикации: 2011-04-14.

Optical measuring device

Номер патента: US12078589B2. Автор: Kazutaka Hara,Tomohiro Taniguchi,Atsuko Kawakita. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Method for arranging an optical measurement device

Номер патента: WO2024156637A1. Автор: Michael Hanke,Felix Schmidt,Henning ZIMMERMANN. Владелец: trinamiX GmbH. Дата публикации: 2024-08-02.

Optical measuring device

Номер патента: US09651429B2. Автор: Peter Johan Harmsma,Mirvais Yousefi. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2017-05-16.

Optical measuring apparatus and method for the analysis of samples contained in liquid drops

Номер патента: US09488579B2. Автор: Torleif Ove Bjornson,Thomas Geiges. Владелец: TECAN TRADING AG. Дата публикации: 2016-11-08.

Apparatus and method for making optical measurements of samples

Номер патента: US09442009B2. Автор: Fernando F. Kielhorn,David B. Ward. Владелец: Denovix Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Optical measurement system for detecting luminescence or fluorescence signals

Номер патента: CA2249908C. Автор: Martin Bechem,Wolfgang Paffhausen. Владелец: Bayer AG. Дата публикации: 2007-05-29.

Optical property measurement system and method

Номер патента: US4159874A. Автор: Fred P. Lodzinski,Leonard R. Dearth. Владелец: Nekoosa Papers Inc. Дата публикации: 1979-07-03.

Method and device for measuring system

Номер патента: US20050230606A1. Автор: Nevio Vidovic,Svante Höjer,Thorleif Josefsson,Martin Krantz. Владелец: Samba Sensors Ab. Дата публикации: 2005-10-20.

Optical measurement system and method of measuring a distance or speed of an object

Номер патента: US20230350033A1. Автор: Hubert Halbritter. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2023-11-02.

Optical measurement apparatus and optical measurement system

Номер патента: US8842285B2. Автор: Kazuhiro Gono. Владелец: OLYMPUS MEDICAL SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2014-09-23.

Methods and devices for calibrating and/or monitoring optical measurement devices

Номер патента: EP4372366A2. Автор: David Opalsky,Byron J. Knight,George T. Walker,Norbert Hagen. Владелец: Gen Probe Inc. Дата публикации: 2024-05-22.

Optical measurement system

Номер патента: WO2024132969A1. Автор: Stuart J Russell. Владелец: Sintela Limited. Дата публикации: 2024-06-27.

Lighting assembly and method for providing measuring light and optical measuring device

Номер патента: US20240201076A1. Автор: Heimo Keranen. Владелец: LMI Technologies Inc. Дата публикации: 2024-06-20.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20230136517A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Method for improving optical measurement of gas concentration

Номер патента: EP1789773A1. Автор: Paul Wilkins,Samuli Laukkanen. Владелец: Vaisala Oy. Дата публикации: 2007-05-30.

A body module for an optical measurement instrument

Номер патента: WO2010084243A1. Автор: Jyrki Laitinen. Владелец: WALLAC OY. Дата публикации: 2010-07-29.

Method and system for determining a radiation dose from polarized signals

Номер патента: US20240230928A1. Автор: Louis Archambault,Luc Beaulieu,Émily Cloutier. Владелец: UNIVERSITE LAVAL. Дата публикации: 2024-07-11.

Methods and systems for material property profiling of thin films

Номер патента: US20190148248A1. Автор: Bulent M. Basol,Jalal Ashjaee,Abhijeet Joshi. Владелец: Active Layer Parametrics Inc. Дата публикации: 2019-05-16.

Method and system for determining a radiation dose from polarized signals

Номер патента: CA3217679A1. Автор: Louis Archambault,Luc Beaulieu,Émily Cloutier. Владелец: UNIVERSITE LAVAL. Дата публикации: 2022-11-10.

Method for measuring optical constants of thin film of fluorine-containing organosilicon compound

Номер патента: US12105018B2. Автор: Takashi Uchida. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Microchip-type optical measuring apparatus and optical position adjusting method thereof

Номер патента: US09915935B2. Автор: Yosuke Muraki,Fumitaka OTSUKA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Device for the optical measurement of the distance from a reflecting or scattering target object

Номер патента: US09791566B2. Автор: Andreas Winter,Torsten Gogolla,Petra Eyrich. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2017-10-17.

Optical measurement method and device

Номер патента: US09739993B2. Автор: Louis Philippe Braitbart,Gabriel Y. Sirat. Владелец: Bioaxial SAS. Дата публикации: 2017-08-22.

Epoxy molded gas cell for optical measurement and method of forming

Номер патента: US09448159B2. Автор: Hans Göran Evald MARTIN. Владелец: SENSEAIR AB. Дата публикации: 2016-09-20.

System for measuring polarimetric spectrum and other properties of a sample

Номер патента: US20020008874A1. Автор: Haiming Wang,Mehrdad Nikoonahad,Adam Norton,Shing Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-24.

Optical measurement system for spectral analysis

Номер патента: CA1168891A. Автор: Torgny Brogardh,Christer Ovren,Morgan Adolfsson,Sture Goransson. Владелец: ASEA AB. Дата публикации: 1984-06-12.

Method and system for optical measurement via a resonator having a non-uniform phase profile

Номер патента: US20040156085A1. Автор: Bryan Clark,Andrei Brunfeld. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-08-12.

Photodetector Calibration of an Optical Measurement System

Номер патента: US20240099587A1. Автор: Sebastian SORGENFREI,Husam Katnani,Ryan Field,Isai Olvera,Bruno Do Valle,Jacob Dahle. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-03-28.

Optical measuring system and method for measuring a distance or a speed of an object

Номер патента: US20230333249A1. Автор: Hubert Halbritter. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2023-10-19.

Optical measurement system

Номер патента: US10444159B2. Автор: Shoichi Kanayama,Motoji Haragashira,Tomohiro Takase,Isao Nawata. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2019-10-15.

Maintaining consistent photodetector sensitivity in an optical measurement system

Номер патента: US11819311B2. Автор: Sebastian SORGENFREI,Ryan Field,Bruno Do Valle,Jacob Dahle,Rong Jin. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2023-11-21.

Optical measuring system and method comprising the same

Номер патента: US20200072751A1. Автор: Manfred Jagiella,Ralf Bernhard. Владелец: Endress and Hauser Conducta GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-03-05.

Optical detection apparatus and optical measurement system

Номер патента: US20130100434A1. Автор: Chao-Ming Chen. Владелец: Lite On IT Corp. Дата публикации: 2013-04-25.

Colorimeter optical measurement interference mitigation

Номер патента: WO2024011064A1. Автор: Nelson E. Dervaes,Russell Paul GORHAM. Владелец: Hach Company. Дата публикации: 2024-01-11.

Optical measurement system

Номер патента: US20150355089A1. Автор: Shoichi Kanayama,Motoji Haragashira,Tomohiro Takase,lsao NAWATA. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2015-12-10.

Maintaining Consistent Photodetector Sensitivity in an Optical Measurement System

Номер патента: US20240032798A1. Автор: Sebastian SORGENFREI,Ryan Field,Bruno Do Valle,Jacob Dahle,Rong Jin. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-02-01.

Colorimeter optical measurement interference mitigation

Номер патента: US20240011896A1. Автор: Nelson E. Dervaes,Russell Paul GORHAM. Владелец: Hach Co. Дата публикации: 2024-01-11.

Optical measuring system

Номер патента: US20240192127A1. Автор: Andreas Bayer,Thilo Kratschmer,Joachim Bolle. Владелец: Endress and Hauser Conducta GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-13.

Compact multi-band optical measuring unit

Номер патента: US11598667B2. Автор: Christian Mueller,Christian Leirer,Ulrich STEEGMÜLLER. Владелец: OSRAM OLED GmbH. Дата публикации: 2023-03-07.

Optical measuring device, optical measuring method, data processing device, and program

Номер патента: US20230033014A1. Автор: Satoshi Masuda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-02-02.

Lighting assembly and method for providing measuring light and optical measuring device

Номер патента: CA3211793A1. Автор: Heimo Keranen. Владелец: LMI Technologies Inc. Дата публикации: 2022-10-27.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP3872479A1. Автор: Naoki Iwata,Teruo Takeshita,Tomokazu MATSUMURA,Fusanori KONDO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-09-01.

Optical measuring device

Номер патента: US20240264075A1. Автор: Arne TRÖLLSCH,Jonas LÖLSBERG,Andreas Flammiger,Günter Wahlbrink,Jörn Sunkel,Raulin Edgar BATCHADJI. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2024-08-08.

Methods and systems for characterization of polarization-dependent loss or gain in optical links and components

Номер патента: EP4418569A1. Автор: Gang He. Владелец: Exfo Inc. Дата публикации: 2024-08-21.

Optical measuring device

Номер патента: US7911610B2. Автор: Fujio Inoue,Masahiro Takebe,Naoji Moriya,Yukihisa Wada,Shinichiro Totoki,Kenji Takubo,Yuzo Nagumo,Naofumi Sakauchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-03-22.

Optical measuring device and method

Номер патента: US20240288558A1. Автор: Reiner Windisch. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-08-29.

Optical path system for quantum communication and quantum communication method

Номер патента: US12068790B2. Автор: Gui-Lu Long,Liu-Guo Yin,Ruo-Yang Qi,Hao-Ran Zhang. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-20.

Method for calibrating an optical measurement set-up

Номер патента: US20200202572A1. Автор: Bernhard Wieneke. Владелец: LaVision GmbH. Дата публикации: 2020-06-25.

Device for the Optical Measurement of a Printed Sheet and Method for Operating the Device

Номер патента: US20080115601A1. Автор: Christopher Berti,Hans Engler. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2008-05-22.

Methods and systems for characterization of polarization-dependent loss or gain in optical links and components

Номер патента: US20240283531A1. Автор: Gang He. Владелец: Exfo Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240280435A1. Автор: Seung Woo Lee,Jin Woo Ahn,Tae Joong Kim,Seung Ryeol Lee,Myung Jun Lee,Ye Eun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-22.

Color gas sensor module comprising optical measurement device

Номер патента: US20240272084A1. Автор: Young Gyun Kim,Sung Hoon Ahn. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2024-08-15.

Method of analyzing strain of thin film by using stc method

Номер патента: US20210372869A1. Автор: Wonjae Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-12-02.

Optoelectronic sensor system for monitoring a windshield of a vehicle

Номер патента: WO2024149722A3. Автор: Donald Peyrot,Vit Kadubec. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2024-08-22.

Test element and test system for examining a body fluid

Номер патента: US09883828B2. Автор: Hans List,Hans-Peter Haar. Владелец: Roche Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2018-02-06.

Device and method for optical measurement of a target

Номер патента: US09772228B2. Автор: Jarkko Antila,Jussi Tenhunen. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2017-09-26.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: US09766174B2. Автор: Gakuji Hashimoto,Suguru Dowaki,Shingo Imanishi,Shunpei Suzuki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Optical polarization shift measuring system

Номер патента: US09717444B2. Автор: Seva Brodsky,Leonid Pasichnyk,Mark Bosin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-01.

Optical measurement device and vehicle

Номер патента: US09568358B2. Автор: Tadashi Nakamura,Shigeaki Imai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Methods and devices for the optical measurement of temperature with luminescent materials

Номер патента: US4708494A. Автор: Marcos Kleinerman. Владелец: Individual. Дата публикации: 1987-11-24.

System for on-line measurement of color, opacity and reflectance of a translucent moving web

Номер патента: CA2040456C. Автор: Khaim Lisnyansky,Martin Allen Hubbe. Владелец: International Paper Co. Дата публикации: 1996-04-23.

Method of using a reference control composition for measurement of nucleated red blood cells

Номер патента: WO2005043113A3. Автор: Yi Li,Jing Li,Sandra Socarras,Nery Ortiz. Владелец: Beckman Coulter Inc. Дата публикации: 2006-10-05.

Optical measuring system based on raman scattering

Номер патента: US20180217066A1. Автор: Henric Oestmark,Markus Nordberg. Владелец: TotalFoersvarets Forskningsinstitut FOI. Дата публикации: 2018-08-02.

Method and system for optical measurements

Номер патента: US20160091436A1. Автор: BoXiu CAI,Yi Huang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2016-03-31.

Method and system for optical measurements

Номер патента: US9645096B2. Автор: BoXiu CAI,Yi Huang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Maintaining Consistent Photodetector Sensitivity in an Optical Measurement System

Номер патента: US20220397453A1. Автор: Alex Borisevich. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2022-12-15.

Dual photo-acoustic and resistivity measurement system

Номер патента: EP1869430A2. Автор: R. Gregory Wolf. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2007-12-26.

Optical measurement device, optical measurement method, and scanning microscope

Номер патента: US20200217716A1. Автор: Kentaro Imoto,Makoto ISHIKAKE. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Optical measuring system based on raman scattering

Номер патента: EP3325948A1. Автор: Henric Ostmark,Markus Nordberg. Владелец: TotalFoersvarets Forskningsinstitut FOI. Дата публикации: 2018-05-30.

Method and system for improved optical analyte measurements

Номер патента: CA3230524A1. Автор: Bernd Limburg,Alexander Steck,Max Berg,Fredrik Hailer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-04-27.

Optical measurement system

Номер патента: GB2625596A. Автор: J Russell Stuart. Владелец: Sintela Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

A system for monitoring occupancy and activity in a space

Номер патента: WO2019199919A1. Автор: Marijan Kostrun,Anant Aggarwal,Richard C. Garner. Владелец: OSRAM GMBH. Дата публикации: 2019-10-17.

Cleaning of a fluid path system for hyperpolarization of a pharmaceutical product

Номер патента: EP3935400A1. Автор: Jan Ardenkjaer-Larsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2022-01-12.

Housing for an Optical Measurement Device and Method for Producing a Housing

Номер патента: US20090257060A1. Автор: Olav Birlem. Владелец: Oerlikon Textile GmbH and Co KG. Дата публикации: 2009-10-15.

Housing for an optical measurement device and method for producing a housing

Номер патента: US7843569B2. Автор: Olav Birlem. Владелец: Oerlikon Textile GmbH and Co KG. Дата публикации: 2010-11-30.

Cleaning of a fluid path system for hyperpolarization of a pharmaceutical product

Номер патента: WO2020178310A1. Автор: Jan Ardenkjaer-Larsen. Владелец: DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET. Дата публикации: 2020-09-10.

Apparatus for positioning a cuvette in an optical beam path of an optical measuring instrument

Номер патента: US8092763B2. Автор: Peter Scheffler,Andreas Bombach. Владелец: Eppendorf SE. Дата публикации: 2012-01-10.

Optical measurement device

Номер патента: EP4321853A1. Автор: Toshikazu Nagashima. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-02-14.

Apparatus for positioning a cuvette in an optical beam path of an optical measuring instrument

Номер патента: US20090237655A1. Автор: Peter Scheffler,Andreas Bombach. Владелец: Eppendorf SE. Дата публикации: 2009-09-24.

Optical measuring device

Номер патента: US20090251695A1. Автор: Fujio Inoue,Masahiro Takebe,Naoji Moriya,Yukihisa Wada,Shinichiro Totoki,Kenji Takubo,Yuzo Nagumo,Naofumi Sakauchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2009-10-08.

Optical measuring assembly and gas sensor comprising same

Номер патента: US12078591B2. Автор: Farhang Ghasemi Afshar. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2024-09-03.

Solid-state imaging device, electronic device, and distance measurement system

Номер патента: US20240363651A1. Автор: Yusuke Sato,Masahiro Tsukamoto,Kanae Ohi. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Controlling polarity in an active balancing system for a battery

Номер патента: US09667073B2. Автор: Jian-Yi Wu. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US09500520B2. Автор: Kazuaki Ohkubo,Hisashi Shiraiwa. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Targeting device for electro-optical measuring apparatuses

Номер патента: US09482531B2. Автор: Frank Schroeder,Canpolat Orman. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2016-11-01.

Optical measuring methods and system

Номер патента: US09417180B2. Автор: Dong-Min Seo,Jang-Ik Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-08-16.

Method and system for controlling resonance within a resonator-enhanced optical system

Номер патента: US6717707B2. Автор: Bryan Clark. Владелец: Beyond3 Inc. Дата публикации: 2004-04-06.

Optical measuring head and method of manufacturing optical measuring head

Номер патента: EP1197743A3. Автор: Pentti NIEMELÄ,Janne Suhonen,Juha Sumen. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2002-09-04.

Method and apparatus for single camera optical measurements

Номер патента: US11898875B2. Автор: Leonid Valerianovich EDELMAN. Владелец: Topcon Positioning Systems Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

Method for polarizing a terahertz electromagnetic wave using a polarizer

Номер патента: US20140029086A1. Автор: Yuka Yamada,Akihiro Sakai,Kohei Takahashi,Tsutomu Kanno. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-01-30.

Optical spectra reconstruction based on optical measurements of downhole fluids

Номер патента: US20240085341A1. Автор: Zhonghuan CHEN,Bin Dal. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP4123292A1. Автор: Naoki Iwata,Teruo Takeshita,Tomokazu MATSUMURA,Fusanori KONDO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-01-25.

Method and device for tuning optical measurements on continuously mixed reactors

Номер патента: US20190154567A1. Автор: DAVID Frank,Konrad Herzog. Владелец: Aquila Biolabs GmbH. Дата публикации: 2019-05-23.

Optical spectra reconstruction based on optical measurements of downhole fluids

Номер патента: WO2024054219A1. Автор: Bin Dai,Zhonghuan CHEN. Владелец: Halliburton Energy Services, Inc.. Дата публикации: 2024-03-14.

Optical measurement device

Номер патента: GB2620312A. Автор: Goto Hiroki,Suzuki Naoki,Yamauchi Takanori,NISHIOKA Junya. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-01-03.

Cleaning system for probe unit

Номер патента: CA3232430A1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Gunnar Alfheim,Alexander Nikolaisen. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2023-03-30.

Apparatus for performing optical measurements on dye baths

Номер патента: WO2015155795A1. Автор: Mario Scatizzi. Владелец: Tecnorama S.R.L.. Дата публикации: 2015-10-15.

Compositions for Use in Optical Measurement Technology Applications

Номер патента: US20240174871A1. Автор: Max Bruno LIESE,Friedrich August SCHLOTT. Владелец: F2mb Engineering Ug. Дата публикации: 2024-05-30.

Method and system for determining shale rock maturity using microwaves

Номер патента: US20230279739A1. Автор: Jose Oliverio Alvarez,David Joseph JACOBI. Владелец: Aramco Services Co. Дата публикации: 2023-09-07.

Optical measuring device and electronic device including the same

Номер патента: US10624541B2. Автор: Seung Jun Lee,Dong Ho Kim,Eui Seok Shin,Woo Chang Lee,Jung Mok Bae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-04-21.

Optical measuring device and electronic device including the same

Номер патента: US10307063B2. Автор: Seung Jun Lee,Dong Ho Kim,Eui Seok Shin,Woo Chang Lee,Jung Mok Bae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-04.

Apparatus for the calibration of optical measuring instruments

Номер патента: US20160327481A1. Автор: Severin Wimmer. Владелец: BYK Gardner USA Inc. Дата публикации: 2016-11-10.

FLEXIBLE FABRIC BASED TRANSISTORS FOR ELECTROMECHANICAL SENSING ON 2D and 3D CURVED SURFACES

Номер патента: US20240255363A1. Автор: George Sun. Владелец: Nextiles Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and system for terahertz radiation detection and characterization

Номер патента: US20210325250A1. Автор: Tsuneyuki Ozaki,Xin Chai. Владелец: Institut National de La Recherche Scientifique INRS. Дата публикации: 2021-10-21.

Electrostatic deceleration system for flow cytometer

Номер патента: WO1999044036A1. Автор: Carleton C. Stewart,John N. Cardott,Larry D. Duckett. Владелец: BECTON, DICKINSON AND COMPANY. Дата публикации: 1999-09-02.

Detecting a boundary layer using a machine learning algorithm

Номер патента: US20240353251A1. Автор: Ralf Reimelt,Alexey Malinovskiy. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2024-10-24.

Apparatus for the calibration of optical measuring instruments

Номер патента: US09506860B1. Автор: Severin Wimmer. Владелец: BYK Gardner USA Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Automatic travel system for work vehicles

Номер патента: US12035647B2. Автор: Shogo Fujimoto. Владелец: Yanmar Power Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Method and system for automatic conduction of a process failure mode and effect analysis for a factory

Номер патента: US20190250599A1. Автор: Kai Höfig,Stefan Rothbauer,Daniel Ratiu. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2019-08-15.

System for determining personal protective equipment recommendations based on prioritized data

Номер патента: US09881266B2. Автор: Raymond W. MORRIS,Louis A. Zircher, IV. Владелец: Ansell Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Methods and systems for calculating free energy differences using a modified bond stretch potential

Номер патента: US20150178442A1. Автор: Robert Abel,Lingle Wang. Владелец: Schroedinger Inc. Дата публикации: 2015-06-25.

Systems and methods for processing product information using a machine-learning model

Номер патента: US20240289823A1. Автор: Anbang Wu. Владелец: Shopify Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Systems and methods for processing product information using a machine-learning model

Номер патента: WO2024178485A1. Автор: Anbang Wu. Владелец: Shopify Inc.. Дата публикации: 2024-09-06.

Methods and systems for modeling a replication topology

Номер патента: US09411820B2. Автор: Sandeep Nair,Jerry Speyer,Raj Punuru. Владелец: Citigroup Technology Inc. Дата публикации: 2016-08-09.

Method and system for providing personalized menu page in wireless internet

Номер патента: WO2005066831A1. Автор: Jeong Hwan Ko,Sung Hoon Chun. Владелец: Widerthan Co., Ltd.. Дата публикации: 2005-07-21.

System for printing social expression cards

Номер патента: US5751590A. Автор: Thomas G. Cannon,Daniel L. DeHart,Eric M. Krug. Владелец: Onkor Ltd. Дата публикации: 1998-05-12.

Methods and systems for providing product information to a user

Номер патента: US20080091552A1. Автор: Eric F. Aas. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2008-04-17.

Methods and systems for processing write requests in a storage system

Номер патента: US11803329B2. Автор: Rohit Singh,SushilKumar Gangadharan,Douglas P. Doucette. Владелец: NetApp Inc. Дата публикации: 2023-10-31.

System for determining personal protective equipment recommendations based on prioritized data

Номер патента: US20150032488A1. Автор: Raymond W. MORRIS,Louis A. Zircher, IV. Владелец: Ansell Ltd. Дата публикации: 2015-01-29.

System for determining personal protective equipment recommendations based on prioritized data

Номер патента: US20180165614A1. Автор: Raymond W. MORRIS,Louis A. Zircher, IV. Владелец: Ansell Ltd. Дата публикации: 2018-06-14.

Method and system for providing encoded communication between users of a network

Номер патента: US20210034818A1. Автор: Florian Hofmann,Garrit Schaap. Владелец: MyBlix Software GmbH. Дата публикации: 2021-02-04.

Method and system for chat function development, terminal and computer readable storage medium

Номер патента: WO2020057265A1. Автор: PENG Zheng. Владелец: Beijing Elex Technology Co., Ltd. Дата публикации: 2020-03-26.

Methods and Systems For Calculating Free Energy Differences Using A Modified Bond Stretch Potential

Номер патента: US20230260601A1. Автор: Robert Abel,Lingle Wang. Владелец: Schroedinger LLC. Дата публикации: 2023-08-17.

Methods and systems for calculating free energy diffenernces using a modified bond stretch potential

Номер патента: EP3087515A1. Автор: Robert Abel,Lingle Wang. Владелец: Schroedinger Inc. Дата публикации: 2016-11-02.

Methods and systems for calculating free energy diffenernces using a modified bond stretch potential

Номер патента: WO2015099637A1. Автор: Robert Abel,Lingle Wang. Владелец: SCHRODINGER, INC.. Дата публикации: 2015-07-02.

METHOD AND SYSTEM FOR COMPENSATING THE THICKNESS OF AN ORGAN

Номер патента: FR2803069B1. Автор: FRANCOIS Nicolas,Serge Muller,Jean Lienard,Elisabeth Soubelet,Andreas Rick. Владелец: GE Medical Systems SCS. Дата публикации: 2002-12-13.

METHOD AND SYSTEM FOR COMPENSATING THE THICKNESS OF AN ORGAN

Номер патента: FR2803069A1. Автор: FRANCOIS Nicolas,Serge Muller,Jean Lienard,Elisabeth Soubelet,Andreas Rick. Владелец: GE Medical Systems SCS. Дата публикации: 2001-06-29.

SET AND SYSTEM FOR ADJUSTING THE THICKNESS OF COATED MATERIAL

Номер патента: SE8503725D0. Автор: R Sharma,C E Kan. Владелец: Impact Systems Inc. Дата публикации: 1985-08-07.

System for connecting the edge areas of thin-walled bodies

Номер патента: US4408787A. Автор: Gunter Petz. Владелец: Individual. Дата публикации: 1983-10-11.

Integrated processing system for forming an insulating layer of thin film transistor liquid crystal display

Номер патента: US6660666B1. Автор: Frank Lin. Владелец: Toppoly Optoelectronics Corp. Дата публикации: 2003-12-09.

Maintaining consistent photodetector sensitivity in an optical measurement system

Номер патента: US12059262B2. Автор: Ryan Field,Bruno Do Valle. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-08-13.

Chemically amplified positive-type photosensitive resin composition for thick-film application

Номер патента: US09448478B2. Автор: Makiko Irie,Yuta Yamamoto,Aya Momozawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Microelectro mechanical system for magneto-optic data storage apparatus

Номер патента: US20050194515A1. Автор: Yi Sun,Han-Ping Shieh,Wensyang Hsu. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2005-09-08.

Systems and methods for noise removal in an optical measurement system

Номер патента: US12059270B2. Автор: Julian Kates-Harbeck,Viktoria Rojkova. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-08-13.

Production method for thick film metal electrode and production method for thick film resist

Номер патента: US20120238090A1. Автор: Kenji Suzuki. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2012-09-20.

2d and 3d switchable display device

Номер патента: US20110273635A1. Автор: Po-Wei Wu,Yu-June Wu,Ming-Fang Chien. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2011-11-10.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: WO2003075099A3. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: David Scheiner. Дата публикации: 2004-03-18.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: WO2003075099A8. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: David Scheiner. Дата публикации: 2005-02-17.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: EP1576422A2. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2005-09-21.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: WO2003075099A2. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.. Дата публикации: 2003-09-12.

Optical Measuring System And Method

Номер патента: US20190311165A1. Автор: Tobias Held,Nils Haverkamp,Dominik Seitz. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2019-10-10.

Optical measurement device and the method using therof

Номер патента: US20170061648A1. Автор: Yi-Ou WANG,Hao-Ting Hung,Ding-Chia KAO,Kuan-Hsien LIU,You-Hung Tsai,Po Hung Huang. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

Electronic chip-based tagging system for identifying closely proximate thin and flat items

Номер патента: US09582688B1. Автор: Maryann Gruda,Ziye “Jay” Qian. Владелец: Pharmaseq Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Polarization conversion systems for stereoscopic projection

Номер патента: US09927691B2. Автор: Michael G. Robinson,Gary D. Sharp,Miller H. Schuck. Владелец: RealD Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Imaging system having a polarization element

Номер патента: US09778556B2. Автор: Qingpeng Xie,Vladislav NIKITIN,Nikolay Petrov,Maxim KHROMOV. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Polarization conversion systems for stereoscopic projection

Номер патента: US09594298B2. Автор: Michael G. Robinson,Gary D. Sharp,Miller H. Schuck. Владелец: RealD Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Method and system for determining placental volume

Номер патента: US09504442B2. Автор: Harvey Kliman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-11-29.

Stacked image sensor with polarization sensing pixel array

Номер патента: EP4150673A1. Автор: Andrew Matthew Bardagjy,Manoj Bikumandla,John Enders Robertson. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2023-03-22.

Stacked image sensor with polarization sensing pixel array

Номер патента: WO2021231112A1. Автор: Andrew Matthew Bardagjy,Manoj Bikumandla,John Enders Robertson. Владелец: Facebook Technologies, LLC. Дата публикации: 2021-11-18.

Method for manufacturing polarizing plate using mask film and polarizing plate manufactured by same

Номер патента: US20210268754A1. Автор: Kyun Il Rah,Byung Sun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-09-02.

Systems and methods for optically measuring oscillating micro kinetics

Номер патента: US20230274445A1. Автор: Savan R. DEVANI,Derrick Mo,Juan Beron. Владелец: Biotrillion Inc. Дата публикации: 2023-08-31.

Polarization scrambler using a retardance element

Номер патента: US12007631B2. Автор: Luis Andre Neves Paiva FERNANDES,Joshua Philipson,Christopher Russell Wagner. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2024-06-11.

Method and system for cwdm mux/demux designs for silicon photonics interposers

Номер патента: EP3864776A1. Автор: Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2021-08-18.

All-optical polarization rotation switch using a loop configuration

Номер патента: EP1769281A1. Автор: Shigeki Fujitsu Limited WATANABE,Rainer Fujitsu Limited Hainberger. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-04-04.

Optical system for hologram display

Номер патента: US20240192515A1. Автор: Hyun Eui KIM. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2024-06-13.

Polarizing film and display device having the polarizing film

Номер патента: US09897734B2. Автор: Hongqing Cui,Guowei Zha,Kaineng Yang. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Inline scanning holography system for phosphor and transmitter

Номер патента: US12147193B2. Автор: Tae Geun Kim. Владелец: Cubixel Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Method and system for integrated power combiners

Номер патента: US09417466B2. Автор: Jeremy Witzens,Attila Mekis,Adithyaram Narasimha. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2016-08-16.

Non-invasive optical measurement system and method for neural decoding

Номер патента: US20190336001A1. Автор: Jamu Alford,Roarke Horstmeyer,Haojiang Zhou,Yuecheng Shen,Haowen Ruan. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2019-11-07.

After deposition method of thinning film to reduce pinhole defects

Номер патента: US7132316B2. Автор: Colin J. Brodsky,Wai-Kin Li,Steven A. SCHEER. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-11-07.

After deposition method of thinning film to reduce pinhole defects

Номер патента: US20070037325A1. Автор: Wai-Kin Li,Steven Scheer,Colin Brodsky. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-02-15.

After deposition method of thinning film to reduce pinhole defects

Номер патента: US20060148265A1. Автор: Steven Scheer,Colin Brodsky,Wai-Kin Lin. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-07-06.

Color light combining system for optical projector

Номер патента: EP2153268A1. Автор: David M. Snively,Simon Magarill. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2010-02-17.

Color light combining system for optical projector

Номер патента: WO2008144207A1. Автор: David M. Snively,Simon Magarill. Владелец: 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY. Дата публикации: 2008-11-27.

Light source of 3d printer, and 3d printer

Номер патента: US20230384488A1. Автор: Shenghai LU. Владелец: Shenzhen Anycubic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Method and system for eliminating polarization dependence for 45 degree incidence mux/demux designs

Номер патента: EP3695255A1. Автор: John Andrew Guckenberger,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2020-08-19.

Function drawing in polar plan using a calculator

Номер патента: SG144919A1. Автор: Cyrille de Brébisson. Владелец: Hewlett Packard Development Co. Дата публикации: 2008-08-28.

Pixel array and fabrication thereof

Номер патента: US8917364B2. Автор: Hsiao-hsien Chen. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-23.

Pixel array and fabrication thereof

Номер патента: US20130114011A1. Автор: Hsiao-hsien Chen. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-09.

Method and apparatus for compensating optical disks for effects of thin films

Номер патента: WO2002025649A2. Автор: Brian S. Medower,David L. Blankenbeckler. Владелец: Dataplay, Inc.. Дата публикации: 2002-03-28.

Photosensitive insulating paste and thick film multi-layer circuit substrate

Номер патента: US20020035194A1. Автор: Shizuharu Watanabe,Hiromichi Kawakami,Makoto Tose. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2002-03-21.

Photosensitive insulating paste and thick film multi-layer circuit substrate

Номер патента: US6602946B2. Автор: Shizuharu Watanabe,Hiromichi Kawakami,Makoto Tose. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2003-08-05.

Method and Apparatus for Providing Predetermined Slice Thicknesses of Deli Products

Номер патента: US20150086967A1. Автор: Thomas Joseph Majcher. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-03-26.

System and method for providing a visual indicator of field surface profile

Номер патента: EP4033875A1. Автор: Surya Saket Dasika. Владелец: CNH Industrial Belgium NV. Дата публикации: 2022-08-03.

Line thinning method and system for grayscale image

Номер патента: US20070104386A1. Автор: Yeong-Taeg Kim,Surapong Lertrattanapanich. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-05-10.

Methods and systems for generating physical activity sets for a human subject

Номер патента: US12073296B2. Автор: Kenneth Neumann. Владелец: KPN Innovations LLC. Дата публикации: 2024-08-27.

Method for measuring anchoring strength of liquid crystal and measurement system therefor

Номер патента: US20030150278A1. Автор: Hiroshi Yokoyama. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2003-08-14.

Methods, devices, and systems for augmented reality

Номер патента: US20240302671A1. Автор: Yu Ji,Changxi Zheng,Jinwei Ye. Владелец: Tencent America LLC. Дата публикации: 2024-09-12.

Angular performance of apochromatic Pancharatnam berry phase components using a C-plate

Номер патента: US12078806B2. Автор: Lu Lu,Wai Sze Tiffany Lam. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2024-09-03.

Method and system for stabilization of a laser beam for an entangled photon source

Номер патента: EP4407367A1. Автор: Sebastian Philipp Neumann,Lukas BULLA. Владелец: Quantum Industries GmbH. Дата публикации: 2024-07-31.

Methods, devices, and systems for augmented reality

Номер патента: WO2024186329A1. Автор: Yu Ji,Changxi Zheng,Jinwei Ye. Владелец: Tencent America LLC. Дата публикации: 2024-09-12.

Method and system for stabilization of a laser beam for an entangled photon source

Номер патента: WO2024156853A1. Автор: Sebastian Philipp Neumann,Lukas BULLA. Владелец: Quantum Industries GmbH. Дата публикации: 2024-08-02.

Method and apparatus for dual exposure settings using a pixel array

Номер патента: US09986171B2. Автор: Tae-ho Kim,Young-Kwon Yoon,Moon-Soo Kim,Hwa-Young Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-29.

Chemically amplified positive-type photosensitive resin composition for thick film

Номер патента: US09977328B2. Автор: Yuta Yamamoto,Yasushi Kuroiwa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Illumination system for an EUV projection lithographic projection exposure apparatus

Номер патента: US09851641B2. Автор: Michael Patra. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2017-12-26.

Optical measurement of a component having structural features present at opposite sides

Номер патента: US09774828B2. Автор: Norbert Heilmann. Владелец: ASM Assembly Systems GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-09-26.

Centralized administration method for operating system of thin client and method thereof

Номер патента: US09740503B2. Автор: Zhi Nan Guo. Владелец: Inventec Pudong Technology Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Measurement system and measurement method for measuring video processing quality

Номер патента: US09723302B2. Автор: Chun Guan TAY,Rajashekar DURAI. Владелец: Rohde & Schwarz Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Method and system for robotic surface coverage

Номер патента: US09701020B1. Автор: Ali Ebrahimi Afrouzi. Владелец: Bobsweep Inc. Дата публикации: 2017-07-11.

Transparent display using a polarizing beam splitter

Номер патента: US09448427B1. Автор: Ram Pattikonda,Shariq Hamid. Владелец: PH TECHNICAL LABS LLC. Дата публикации: 2016-09-20.

Thick film multilayer reflector with tailored layer thickness profile

Номер патента: US7385763B2. Автор: Timothy J. Nevitt,Andrew J. Ouderkirk. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2008-06-10.

Method and system for eyebox expansion in display systems

Номер патента: US11750780B1. Автор: Chulwoo Oh,Bo QU,Haiwei Chen,Suchit Shah,Kibyung Seong,Seokchan Hong. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

On-demand heart rate estimation based on optical measurements

Номер патента: EP3478166A1. Автор: Robert Adams,Sefa Demirtas,Jeffrey G. Bernstein,Jason D. King,Tony Joseph AKL. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2019-05-08.

Method and setup for performing a series of optical measurements with a 2d imaging system

Номер патента: EP4147224A1. Автор: Ruud Martin Jozef Bouten. Владелец: Admesy BV. Дата публикации: 2023-03-15.

Method and setup for performing a series of optical measurements with a 2d imaging system

Номер патента: US20230245294A1. Автор: Ruud Martin Jozef Bouten. Владелец: Admesy BV. Дата публикации: 2023-08-03.

Method and setup for performing a series of optical measurements with a 2d imaging system

Номер патента: WO2021224126A1. Автор: Ruud Martin Jozef Bouten. Владелец: Admesy B.V.. Дата публикации: 2021-11-11.

Method and pixel array for detecting motion information

Номер патента: US12033331B2. Автор: Han-Chang Lin,Shih-Feng Chen,Shu-Sian Yang. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

Method And System For Eliminating Polarization Dependence For 45 Degree Incidence MUX/DEMUX Designs

Номер патента: US20200092025A1. Автор: John Andrew Guckenberger,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2020-03-19.

Holographic display system for a motor vehicle

Номер патента: US20220350140A1. Автор: Thomas A. Seder,Kai-Han Chang. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2022-11-03.

System for the polar position of a telescope

Номер патента: EP2206009A1. Автор: Claudio Lopresti. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-07-14.

Four-dimensional crane rail measurement systems

Номер патента: US20240265550A1. Автор: Michael Falk,Sagar Deshpande,Zhengwei Davis Zhang,Nathan Plooster. Владелец: Falk PLI Engineering and Surveying Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Picture-reproducing arrangement using a picture tube, and method of manufacturing same

Номер патента: US4822143A. Автор: Rolf Zondler. Владелец: Nokia Graetz GmbH. Дата публикации: 1989-04-18.

Pixel sensor using a dual pixel array

Номер патента: US20240298097A1. Автор: Andrew Matthew Bardagjy,Minhua Liang,Guangxun Liao. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2024-09-05.

Imaging system having media stack component measuring system

Номер патента: US20040057738A1. Автор: Jeffrey Weaver,Phillip Luque,David Luman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-25.

Pixel sensor using a dual pixel array

Номер патента: EP4425560A1. Автор: Andrew Matthew Bardagjy,Minhua Liang,Guangxun Liao. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2024-09-04.

Methods and system for time of arrival control using available speed authority

Номер патента: EP2342706A1. Автор: Joel Kenneth Klooster,Keith Douglas Wichman. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2011-07-13.

Methods and system for time of arrival control using available speed authority

Номер патента: WO2010062478A1. Автор: Joel Kenneth Klooster,Keith Douglas Wichman. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2010-06-03.

Methods and system for time of arrival control using available speed authority

Номер патента: CA2946551A1. Автор: Joel Kenneth Klooster,Keith Douglas Wichman. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2010-06-03.

Method and system for measuring normalized compactness of urban 3D spatial form

Номер патента: AU2021103699A4. Автор: Hong Ye,Han Yan,Xinyue Hu,Guoqin ZHANG. Владелец: Institute of Urban Environment of CAS. Дата публикации: 2021-08-19.

Method and system for a polarization immune wavelength division multiplexing demultiplexer

Номер патента: US09577780B2. Автор: Brian Welch. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2017-02-21.

Method for controlling the sheet resistance of thin film resistors

Номер патента: US20020117470A1. Автор: Michael Lammert. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-29.

A method and a system for single-pixel imaging

Номер патента: CA3217630A1. Автор: Tsuneyuki Ozaki,Jinyang LIANG,Patrick KILCULLEN. Владелец: Institut National de La Recherche Scientifique INRS. Дата публикации: 2024-04-24.

Method and system for single-pixel imaging

Номер патента: US20240236460A9. Автор: Tsuneyuki Ozaki,Jinyang LIANG,Patrick KILCULLEN. Владелец: Institut National de La Recherche Scientifique INRS. Дата публикации: 2024-07-11.

Membrane anode system for electrolytic zinc-nickel alloy deposition

Номер патента: EP4219801A1. Автор: Thomas FREESE,Steven LEONHARD. Владелец: Atotech Deutschland GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-08-02.

Method and system for determining the sid and the thickness of a patient in a radiographic system

Номер патента: WO2018184705A1. Автор: Rainer Nebosis,Michael Ted CIONA. Владелец: AGFA HEALTHCARE. Дата публикации: 2018-10-11.

Method and system for finish cutting bone cavities

Номер патента: EP1009307A1. Автор: Alind Sahay,Zhenghao Yeh. Владелец: Integrated Surgical Systems Inc. Дата публикации: 2000-06-21.

System for determining forces at the feet

Номер патента: EP3661417A2. Автор: Panayiotis Philimis. Владелец: CyRIC Cyprus Research And Innovation Center Ltd. Дата публикации: 2020-06-10.

System for determining forces at the feet

Номер патента: AU2018309358A1. Автор: Panayiotis Philimis. Владелец: Cy R I C Cyprus Res And Innovation Center Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

System for determining forces at the feet

Номер патента: WO2019025572A2. Автор: Panayiotis Philimis. Владелец: CY.R.I.C Cyprus Research and Innovation Center Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Support system for filing computer paper

Номер патента: CA1093923A. Автор: Karl Leber. Владелец: Individual. Дата публикации: 1981-01-20.

System for determining forces at the feet

Номер патента: US11771341B2. Автор: Panayiotis Philimis. Владелец: CyRIC Cyprus Research And Innovation Center Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

Method and system for cutting cores with a laser

Номер патента: WO2004060601A1. Автор: Steven J. Wojcik,Nathan C. Harris. Владелец: KIMBERLY-CLARK WORLDWIDE, INC.. Дата публикации: 2004-07-22.

System for determining forces at the feet

Номер патента: AU2018309358B2. Автор: Panayiotis Philimis. Владелец: Cy R I C Cyprus Res And Innovation Center Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Method and system for cutting cores with a laser

Номер патента: EP1578555A1. Автор: Steven J. Wojcik,Nathan C. Harris. Владелец: Kimberly Clark Corp. Дата публикации: 2005-09-28.

Method and system for single-pixel imaging

Номер патента: US20240137634A1. Автор: Tsuneyuki Ozaki,Jinyang LIANG,Patrick KILCULLEN. Владелец: Institut National de La Recherche Scientifique INRS. Дата публикации: 2024-04-25.

System for controlling strip thickness in rolling mills

Номер патента: US5495735A. Автор: Yoichi Nishimura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1996-03-05.

Dendrite thickness control system for growing silicon ribbon

Номер патента: WO2000046430A3. Автор: John R Easoz,Barry Munshower. Владелец: Ebara Solar Inc. Дата публикации: 2002-01-03.

Dendrite thickness control system for growing silicon ribbon

Номер патента: EP1196646A2. Автор: Barry Munshower,John R. Easoz. Владелец: Ebara Solar Inc. Дата публикации: 2002-04-17.

Dendrite thickness control system for growing silicon ribbon

Номер патента: EP1196646B1. Автор: Barry Munshower,John R. Easoz. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2007-08-15.

Drone System for Measurement of Thickness of Crack

Номер патента: KR101983726B1. Автор: 김재홍,이관희,윤경섭,류지훈,노태호,전세원,손창섭. Владелец: 경남도립거창대학산학협력단. Дата публикации: 2019-05-30.

Injection moulding machine - for expanded shoe soles with electromechanical system for controlling density/thickness of so

Номер патента: FR2198826A1. Автор: Germain Remmery. Владелец: ACEC SA. Дата публикации: 1974-04-05.

Method and system for determining a thickness of a layer

Номер патента: US6472237B1. Автор: Karl Mautz,Larry Frisa. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2002-10-29.

Methods of driving laser diodes, optical wavelength sweeping apparatus, and optical measurement systems

Номер патента: US09948061B2. Автор: Denis Donlagic,Matej Njegovec. Владелец: Univerza v Mariboru. Дата публикации: 2018-04-17.

Maintaining consistent photodetector sensitivity in an optical measurement system

Номер патента: US12097010B2. Автор: Sebastian SORGENFREI,Ryan Field,Bruno Do Valle,Jacob Dahle,Rong Jin. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-09-24.

Optical measuring system

Номер патента: US09993157B2. Автор: Yoshihiro Inoue,Yoshinori Masuda,Akihiro Ishikawa,Satoru Kohno,Takashi Amita,Haruhide Udagawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

3d screen with modular polarized pixels

Номер патента: US20100231700A1. Автор: Brian Wong,Bassam D. Jalbout. Владелец: LSI Industries Inc. Дата публикации: 2010-09-16.

Integrated detector assemblies for a wearable module of an optical measurement system

Номер патента: US11771362B2. Автор: Scott Jeremy Seidman,Ryan Field,Isai Olvera,Jennifer Rines. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2023-10-03.

Method and system for use in non-invasive optical measurements of blood parameters

Номер патента: EP1628564A1. Автор: Ilya Fine,Alexander Finarov. Владелец: Orsense Ltd. Дата публикации: 2006-03-01.

Method and system for polarization modem dispersion compensation

Номер патента: AU2006275007B2. Автор: Erich Gottwald. Владелец: Xieon Networks SARL. Дата публикации: 2011-06-16.

Method and system for polarization modem dispersion compensation

Номер патента: US7983567B2. Автор: Erich Gottwald. Владелец: Nokia Siemens Networks GmbH and Co KG. Дата публикации: 2011-07-19.

Method and system for polarization mode dispersion compensation

Номер патента: US20090142071A1. Автор: Erich Gottwald. Владелец: Nokia Siemens Networks GmbH and Co KG. Дата публикации: 2009-06-04.

Method and system for polarization modem dispersion compensation

Номер патента: CA2617537A1. Автор: Erich Gottwald. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-02-08.

Method and system for polarization modem dispersion compensation

Номер патента: AU2006275007A1. Автор: Erich Gottwald. Владелец: Nokia Siemens Networks GmbH and Co KG. Дата публикации: 2007-02-08.

Method and system for polar code coding

Номер патента: US20200252084A1. Автор: JIN Xu,Jun Xu,Mengzhu CHEN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2020-08-06.

Production of thin silicone films

Номер патента: US20170157807A1. Автор: Andreas Koellnberger,Alfred Schwinghammer. Владелец: Wacker Chemie AG. Дата публикации: 2017-06-08.

Production of thin silicone films

Номер патента: US20150315347A1. Автор: Andreas Koellnberger,Alfred Schwinghammer. Владелец: Wacker Chemie AG. Дата публикации: 2015-11-05.

Method and system for polar code coding

Номер патента: US20230231577A1. Автор: JIN Xu,Jun Xu,Mengzhu CHEN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Production of thin silicone films

Номер патента: US09950453B2. Автор: Andreas Koellnberger,Alfred Schwinghammer. Владелец: Wacker Chemie AG. Дата публикации: 2018-04-24.

Method and system for sensorless brushless dc motor control with predictive switch timing

Номер патента: US20080101776A1. Автор: Anthonius Bakker,Navdeep Singh Dhanjal. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2008-05-01.

Glasing having block of thin layers acting on solar radiation

Номер патента: RU2436744C2. Автор: Сильвэн БЕЛЛИО. Владелец: СЭН-ГОБЭН ГЛАСС ФРАНС. Дата публикации: 2011-12-20.

2D and 3D display device

Номер патента: EP1542477A3. Автор: Seung-ho Nam,Gee-young Sung,Byoung-So Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-01-23.

Image sensor with shared microlens and polarization pixel

Номер патента: US20210175270A1. Автор: Peng Lin,Guansong Liu,Chin Poh Pang,Boyang Zhang. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2021-06-10.

2d and 3d display device

Номер патента: US20070206134A1. Автор: Seung-ho Nam,Gee-young Sung,Byoung-So Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-09-06.

Methods for thick films thermoelectric device fabrication

Номер патента: US20150132473A1. Автор: Ronald R. Petkie. Владелец: BERKEN ENERGY LLC. Дата публикации: 2015-05-14.

Precision resistance network, especially for thick-film hybrid circuits

Номер патента: US4772867A. Автор: Bela Rosner. Владелец: Brown Boveri und Cie AG Germany. Дата публикации: 1988-09-20.

Wet Method for the Production of Thin Films

Номер патента: US20160285079A1. Автор: Jean-Paul Pirard,Benoit Heinrichs,Cedric Calberg,Dimitri LIQUET,David ESKENAZI,Carlos PAEZ,Christelle ALIÉ. Владелец: PRAYON SA. Дата публикации: 2016-09-29.

Wet Method for the Production of Thin Films

Номер патента: US20160254526A1. Автор: Jean-Paul Pirard,Benoit Heinrichs,Cedric Calberg,Dimitri LIQUET,David ESKENAZI,Carlos PAEZ,Christelle ALIÉ. Владелец: PRAYON SA. Дата публикации: 2016-09-01.

Systems for electroencephalography and methods for use and manufacture of the same

Номер патента: WO2024011174A3. Автор: Giorgio Bonmassar. Владелец: The General Hospital Corporation. Дата публикации: 2024-06-27.

Optical measuring device for cardiovascular diagnostics

Номер патента: EP3429464A1. Автор: Evgeni Poliakov,Lars Lading,Russell Gruhlke,David Boettcher Baek,Khurshid Alam. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2019-01-23.

Reset method, reset device, and reset system and pixel array using the same

Номер патента: US20210392281A1. Автор: Shuyu Lei. Владелец: Ningbo Abax Sensing Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-16.

Non abrasive, thin glass shaping methods, systems for performing such methods, and thin glass produced by such methods

Номер патента: US12103891B2. Автор: Jeffrey Richard Kuhn. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-01.

High reliability thick film surface mount fuse assembly

Номер патента: US5453726A. Автор: Jeffrey D. Montgomery. Владелец: AEM Holdings Inc. Дата публикации: 1995-09-26.

Method of making a bi-metal screen for thick film fabrication

Номер патента: US4033831A. Автор: Joseph J. Bakewell. Владелец: Dynamics Research Corp. Дата публикации: 1977-07-05.

Low haze fluoropolymer film and method of making

Номер патента: WO2021258083A3. Автор: Attila Molnar,Anja Techel,John Thomas Slagter,David V. Tsu. Владелец: The Mackinac Technology Company,. Дата публикации: 2022-07-21.

Low haze fluoropolymer film and method of making

Номер патента: WO2021258083A2. Автор: Attila Molnar,Anja Techel,John Thomas Slagter,David V. Tsu. Владелец: The Mackinac Technology Company,. Дата публикации: 2021-12-23.

Method for manufacturing polymer and flow-type reaction system for manufacturing polymer

Номер патента: US12024573B2. Автор: Hideki Matsumoto,Kenji Wada,Kei HARADA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Low haze fluoropolymer film and method of making

Номер патента: WO2021258083A9. Автор: Attila Molnar,Anja Techel,John Thomas Slagter,David V. Tsu. Владелец: The Mackinac Technology Company,. Дата публикации: 2024-07-18.

Optical measurement of biological tissue

Номер патента: EP4388074A1. Автор: Niek Rijnveld,Grzegorz Gruca,Kevin Bielawski,Ramkumar RAGHURAMAN,Jakob PYSZKOWSKI,Matthias HAALSTRA,Kyle JUEDES. Владелец: Optics11 BV. Дата публикации: 2024-06-26.

Polarizing system receiving compatible polarizing system for blind mate connector assembly

Номер патента: US20030077946A1. Автор: Jerry Wu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-04-24.

Device for optical measurement

Номер патента: EP3538177A1. Автор: Annalisa Delnevo. Владелец: Allmed Medical Care Holdings Ltd. Дата публикации: 2019-09-18.

Device for optical measurement

Номер патента: WO2018087664A1. Автор: Annalisa Delnevo. Владелец: ALLMED MEDICAL CARE HOLDINGS LIMITED. Дата публикации: 2018-05-17.

Method for biasing columns of a pixel array and associated device

Номер патента: US20190238779A1. Автор: Nicolas Moeneclaey. Владелец: STMicroelectronics Grenoble 2 SAS. Дата публикации: 2019-08-01.

Methods and systems for blind detection with polar code

Номер патента: WO2018028509A1. Автор: Wuxian Shi,Yiqun Ge. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2018-02-15.

Covering sheath, and an optical measuring device to use said sheath with

Номер патента: WO2007061309A2. Автор: Keshen Rohinder Mathura. Владелец: Intellectual Property Mvm B.V.. Дата публикации: 2007-05-31.

Method and system for equalizing PMD using incremental delay switching

Номер патента: WO1997050185A3. Автор: Andrew Niall Robinson,John Fee. Владелец: MCI Communications Corp. Дата публикации: 1998-03-19.

Preparation method of thin plate or ultra-thin plate of tungsten copper alloy with high copper content

Номер патента: LU506460B1. Автор: Xiran Wang. Владелец: Univ Henan Science & Tech. Дата публикации: 2024-08-26.

Method for segmenting a part comprising a plurality of thin elements separated by interstices

Номер патента: US20240300131A1. Автор: Jean-Baptiste Mottin,Romain COURANT. Владелец: AddUp SAS. Дата публикации: 2024-09-12.

Methods and systems for controlling an electric motor

Номер патента: US09923505B2. Автор: Yilcan Guzelgunler. Владелец: Regal Beloit America Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Method of surface profile correction using gas cluster ion beam

Номер патента: US09875947B2. Автор: Noel Russell,Soo Doo Chae,Vincent Gizzo,Joshua LaRose,Nicholas Joy. Владелец: TEL Epion Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Aluminum nitride-compatible thick-film binder glass and thick-film paste composition

Номер патента: US5637261A. Автор: Douglas M. Mattox. Владелец: University of Missouri System. Дата публикации: 1997-06-10.

Method and system for guiding a spinning missile

Номер патента: GB1398443A. Автор: . Владелец: AIRBUS GROUP SAS. Дата публикации: 1975-06-18.

Fuse for thick film device

Номер патента: CA1191178A. Автор: Yakov Belopolsky. Владелец: Northern Telecom Ltd. Дата публикации: 1985-07-30.

Integrated thick film electrostatic writing head

Номер патента: US4977416A. Автор: George Fellingham,Andreas Bibl. Владелец: Rastergraphics Inc. Дата публикации: 1990-12-11.

Method of adding fine line conductive/resistive patterns to a thick film microcircuit

Номер патента: US4508754A. Автор: William E. Stepan. Владелец: GTE Automatic Electric Inc. Дата публикации: 1985-04-02.

Thick-film resistor paste and thick-film resistor

Номер патента: US20060043345A1. Автор: Hirobumi Tanaka,Katsuhiko Igarashi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2006-03-02.

Non-invasive measurement system and method for measuring the concentration of an optically-active substance

Номер патента: EP1824377A2. Автор: Dale E. Winther. Владелец: Q Step Technologies Inc. Дата публикации: 2007-08-29.

Non-invasive measurement system and method for measuring the concentration of an optically-active substance

Номер патента: EP1824377A4. Автор: Dale E Winther. Владелец: Q Step Technologies Inc. Дата публикации: 2009-09-09.

Non-invasive measurement system and method for measuring the concentration of an optically-active substance

Номер патента: WO2006052634A2. Автор: Dale E. Winther. Владелец: Q Step Technologies, Inc.. Дата публикации: 2006-05-18.

Extrusion-based additive manufacturing: method, 3d printing system and 3d part

Номер патента: WO2022214577A1. Автор: Kevin Hendrik Jozef VOSS. Владелец: Bond High Performance 3D Technology B.V.. Дата публикации: 2022-10-13.

Highly dispersible carbon nanospheres in a polar solvent and methods for making same

Номер патента: US20090082474A1. Автор: Bing Zhou,Cheng Zhang. Владелец: Headwaters Technology Innovation Llc. Дата публикации: 2009-03-26.

Method and system for the synthesis of biodiesel

Номер патента: EP3277658A1. Автор: Jan Gasiorek. Владелец: Biotim Spolka Z Ograniczona Odpowiedzialnoscia. Дата публикации: 2018-02-07.

Method and system for the synthesis of biodiesel

Номер патента: WO2016159802A1. Автор: Jan Gasiorek. Владелец: Biotim Spolka Z Ograniczona Odpowiedzialnoscia. Дата публикации: 2016-10-06.

Method of vacuum-tight closure of thin beryllium windows and x-ray tube provided with such a window

Номер патента: US3617788A. Автор: Pieter Van Der Werf,Jan Goorissen. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1971-11-02.

Air in line measurement system for infusion pumps

Номер патента: WO2024220079A1. Автор: Frank Cai. Владелец: CAREFUSION 303, INC.. Дата публикации: 2024-10-24.

Extrusion-based additive manufacturing: method, 3d printing system and 3d part

Номер патента: US20240351291A1. Автор: Kevin Hendrik Jozef VOSS. Владелец: Demcon Newco 9 BV. Дата публикации: 2024-10-24.

Method and system for producing an interior trim component

Номер патента: WO2004005027A1. Автор: Li Zhao,John C. Bauer,Xiaohang Song. Владелец: KEY SAFETY SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2004-01-15.

Broadcast transmitter, broadcast receiver and 3D video data processing method thereof

Номер патента: US09578302B2. Автор: Jong Yeul Suh. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-02-21.

Method and apparatus for measuring the thickness of compressed objects

Номер патента: CA2391133C. Автор: Jiwei Yang,Gordon Mawdsley,Martin Yaffe. Владелец: Sunnybrook Health Sciences Centre. Дата публикации: 2011-02-15.

Method and structure for thick layer transfer using a linear accelerator

Номер патента: WO2008058131A2. Автор: Albert Lamm,Francois J. Henley,Babak Adibi. Владелец: Silicon Genesis Corporation. Дата публикации: 2008-05-15.

Insertion layer for thick film electroluminescent displays

Номер патента: CA2434335C. Автор: WU LI,Yonghao Xin,Michael R. Westcott. Владелец: iFire IP Corp. Дата публикации: 2012-01-03.

Measurement probe and bio-optical measurement system with contact detection

Номер патента: US10682043B2. Автор: Koji Matsumoto. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-06-16.

Method and system for polar code coding

Номер патента: US11831334B2. Автор: JIN Xu,Jun Xu,Mengzhu CHEN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

System for optically measuring a subcutaneous implantation depth of an implant

Номер патента: WO2023208323A1. Автор: Jerome Garnier,Pascal Doguet,Arnaud RUEFF. Владелец: Synergia Medical. Дата публикации: 2023-11-02.

System for optically measuring a subcutaneous implantation depth of an implant

Номер патента: EP4288141A1. Автор: Jerome Garnier,Pascal Doguet,Arnaud RUEFF. Владелец: Synergia Medical SA. Дата публикации: 2023-12-13.

Spine measurement system and method therefor

Номер патента: US11871996B2. Автор: Erik Herrmann,Scott Clegg. Владелец: ORTHOSENSOR INC. Дата публикации: 2024-01-16.

Spine measurement system and method therefor

Номер патента: US20240099780A1. Автор: Erik Herrmann,Scott Clegg. Владелец: ORTHOSENSOR INC. Дата публикации: 2024-03-28.

Reliable deposition of thin parylene

Номер патента: US20170113246A1. Автор: Wei Wang,Yu-Chong Tai,Dongyang Kang. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2017-04-27.

Method and system for controlling polarization mode dispersion

Номер патента: EP1269661A1. Автор: Tiejun Xia,David G. Way. Владелец: MCI Worldcom Inc. Дата публикации: 2003-01-02.

Method and system for controlling polarization mode dispersion

Номер патента: WO2001065733A9. Автор: David G Way,Tiejun Xia. Владелец: MCI Worldcom Inc. Дата публикации: 2003-01-16.

Method and system for controlling polarization mode dispersion

Номер патента: EP1269661A4. Автор: David G Way,Tiejun Xia. Владелец: MCI Worldcom Inc. Дата публикации: 2004-05-19.

Method and system for controlling polarization mode dispersion

Номер патента: WO2001065733A1. Автор: Tiejun Xia,David G. Way. Владелец: Mci Worldcom, Inc.. Дата публикации: 2001-09-07.

Autocapture system for implantable pacemaker

Номер патента: AU5731694A. Автор: Brian M. Mann,John W. Poore,Stuart W. Buchanan,Jonathan A Kleks,Raymond J Wilson. Владелец: Siemens Pacesetter Inc. Дата публикации: 1994-06-22.

Method of manufacturing thick-film electrode

Номер патента: US20140196781A1. Автор: Kazutaka Ozawa,Kazushige Ito. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2014-07-17.

Reliable deposition of thin parylene

Номер патента: EP3371266A1. Автор: Wei Wang,Yu-Chong Tai,Dongyang Kang. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2018-09-12.

Surface profile adjustment using gas cluster ion beam processing

Номер патента: US20130075366A1. Автор: John J. Hautala. Владелец: TEL Epion Inc. Дата публикации: 2013-03-28.

Interface unit, measurement system and a method in an interface unit

Номер патента: EP2637556A1. Автор: Magnus Samuelsson. Владелец: St Jude Medical Systems Ab. Дата публикации: 2013-09-18.

Projection displaying apparatus, image projecting system, and optical system for projection displaying apparatus

Номер патента: US20050083489A1. Автор: Ryuji Suzuki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-21.

High throughput system for precision composite panel processing

Номер патента: US20240198457A1. Автор: Sia Nguan Eugene TAN,Song Tao LI. Владелец: Jlk Technology Pte Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Surface profile for semiconductor region

Номер патента: US09831314B2. Автор: Chao-Hsuing Chen,Ling-Sung Wang,Chi-Yen Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Actuator displacement measurement system in electronic hydraulic system of construction equipment

Номер патента: US09506225B2. Автор: Ji-Yun Kim. Владелец: VOLVO CONSTRUCTION EQUIPMENT AB. Дата публикации: 2016-11-29.

Optical measuring method and system for tool position

Номер патента: TW201002469A. Автор: Wang-Lin Liu,Kuo-Yu Chien,Pei-Yuan Tsai,Chi-Jen Tu,Chao-Chi Liu. Владелец: Prec Machinery Res & Dev Ct. Дата публикации: 2010-01-16.

Integrated processing system for forming an insulating layer of thin film transistor liquid crystal display

Номер патента: TW554473B. Автор: Frank Lin. Владелец: Toppoly Optoelectronics Corp. Дата публикации: 2003-09-21.

THICKNESS MEASURING SYSTEM FOR MEASURING A THICKNESS OF A PLATE-SHAPED MEMBER

Номер патента: US20130141737A1. Автор: YANG XIN. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-06.

Method and system for quality-based power control in cellular communications systems

Номер патента: CA2537143A1. Автор: Fredrik Gunnarsson,Fredrik Gustafsson,Jonas Blom. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-09-02.

Method and system for automatically controlling thickness of optical resist

Номер патента: CN102122116A. Автор: 罗大杰,乔辉. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2011-07-13.

System for detecting the thickness of the sea ice at the polar region

Номер патента: CN201476779U. Автор: 孙波,郭井学. Владелец: POLAR RESEARCH INSTITUTE OF CHINA. Дата публикации: 2010-05-19.

Optical acquisition system for measuring wall thickness of bottle blank

Номер патента: CN210321622U. Автор: 黄嘉兴,宁文斌. Владелец: Guangzhou Xunzhi Machinery Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-04-14.

2D QUALITY ENHANCER IN POLARIZED 3D SYSTEMS FOR 2D-3D CO-EXISTENCE

Номер патента: US20120002279A1. Автор: Jain Sunil K.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Fitting for Thick-Walled Pipes and Method for Its Production

Номер патента: US20120001414A1. Автор: . Владелец: VIEGA GMBH & CO. KG. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of Regenerating a Polishing Pad Using a Polishing Pad Sub Plate

Номер патента: US20120003903A1. Автор: SUZUKI Eisuke,SUZUKI Tatsutoshi. Владелец: Toho Engineering. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and System for Determining Projections in Non-Central Catadioptric Optical Systems

Номер патента: US20120002304A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Methods and Systems for Image Data Processing

Номер патента: US20120002875A1. Автор: . Владелец: Luminex Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Methods and Systems for Image Data Processing

Номер патента: US20120002882A1. Автор: . Владелец: Luminex Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASUREMENT INSTRUMENT WITH DATA TRANSMISSION

Номер патента: US20120002960A1. Автор: . Владелец: WALLAC OY. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR REPAIRING FLAT PANEL DISPLAY

Номер патента: US20120002155A1. Автор: . Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL FILM AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR

Номер патента: US20120004360A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

UNIT PIXEL ARRAY OF AN IMAGE SENSOR

Номер патента: US20120001289A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

WATER REPELLENT FILM AND COMPONENT FOR VEHICLE INCLUDING THE FILM

Номер патента: US20120003427A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003590A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

INTEGRATED GEARBOX AND ROTARY FEEDTHROUGH SYSTEM FOR A VACUUM CHAMBER STRUCTURE

Номер патента: US20120000426A1. Автор: . Владелец: PRIMESTAR SOLAR, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

EASY ADHESION POLYAMIDE FILM AND PRODUCTION METHOD THEREFOR

Номер патента: US20120003440A1. Автор: Okuzu Takayoshi,Kuwata Hideki. Владелец: UNITIKA LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM FOR DELIVERING TREATMENT AGENTS

Номер патента: US20120004493A1. Автор: Tunnell,Hedger Troy S.,Robnett Bobby Alan,JR. Carlton L.,Wilson James A.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

BODY MODULE FOR AN OPTICAL MEASUREMENT INSTRUMENT

Номер патента: US20120001089A1. Автор: . Владелец: WALLAC OY. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND SPECIMEN DISCRIMINATING AND DISPENSING APPARATUS

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Takahashi Toru,Tsukii Ken,Xu Jie. Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR ULTRASOUND DATA PROCESSING

Номер патента: US20120004545A1. Автор: Ziv-Ari Morris,Sokulin Alexander,KEMPINSKI ARCADY. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

BLOOD PRESSURE MONITOR AND PULSE OXIMETER SYSTEM FOR ANIMAL RESEARCH

Номер патента: US20120004517A1. Автор: . Владелец: STARR LIFE SCIENCES CORP.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and System for Excursion Monitoring in Optical Lithography Processes in Micro Device Fabrication

Номер патента: US20120004758A1. Автор: . Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and System for Calculating and Reporting Slump in Delivery Vehicles

Номер патента: US20120004790A1. Автор: . Владелец: VERIFI LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

NON INTERRUPTING ON-LINE WATER DISTRIBUTION PRESSURE MONITORING SYSTEM FOR COMPRESSION TYPE WET AND DRY BARREL FIRE HYDRANTS

Номер патента: US20120004866A1. Автор: Plouffe Don,Nissen Rick. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ONE-TRANSISTOR PIXEL ARRAY WITH CASCODED COLUMN CIRCUIT

Номер патента: US20120001236A1. Автор: Fife Keith. Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

TWO-TRANSISTOR PIXEL ARRAY

Номер патента: US20120001237A1. Автор: MILGREW Mark,Johnson Kim,Fife Keith. Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Method And Apparatus For Measuring The Thickness Of A Metal Layer Provided On A Metal Object

Номер патента: US20120001624A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

FLEXIBLE MATERIAL FLOORING MITER DEVICE AND SYSTEM FOR FLEXIBLE MATERIAL FLOORING INSTALLATION

Номер патента: US20120000160A1. Автор: Herbert Robert R.,Foster Ernest D.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEPARATION SYSTEM FOR WASTE FOUNDRY SAND BINDER USING ULTRASONIC WAVES

Номер патента: US20120000997A1. Автор: . Владелец: HYUNDAI MOTOR COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

FILMS AND MEMBRANES FOR ACOUSTIC SIGNAL CONVERTER

Номер патента: US20120002833A1. Автор: VIRUS Frank,Mussig Bernhard,Metzler Kerstin. Владелец: TESA SE. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR TREATING PHOTOAGED TISSUE

Номер патента: US20120004549A1. Автор: . Владелец: GUIDED THERAPY SYSTEMS, L.L.C.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR ALIGNMENT OF INTEGRATED CIRCUITS

Номер патента: US20120001340A1. Автор: . Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

Method, Apparatus and System for Determining the Presence of a User at a Device Such as a Gaming Machine

Номер патента: US20120004029A1. Автор: Morrow James W.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Improvements in and relating to Apparatus for Optically Measuring Strains.

Номер патента: GB191006904A. Автор: James Blacklock Henderson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1911-05-11.

Technique measuring thickness of metal film

Номер патента: RU2221989C2. Автор: В.А. Комоцкий. Владелец: Российский университет дружбы народов. Дата публикации: 2004-01-20.