Nondestructive optical technique for simultaneously measuring optical constants and thickness of thin films
Номер патента: US7463355B1
Опубликовано: 09-12-2008
Автор(ы): Emad Zawaideh
Принадлежит: Scientific Computing International
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 09-12-2008
Автор(ы): Emad Zawaideh
Принадлежит: Scientific Computing International
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials, and related procedure
Номер патента: EP1384973A3. Автор: Giuseppe Coppola,Pietro Ferraro,Nicola Sergio De,Mario Iodice. Владелец: Consiglio Nazionale delle Richerche CNR. Дата публикации: 2005-11-30.