• Главная
  • 半导体测试结构及半导体钝化层的质量测试方法

半导体测试结构及半导体钝化层的质量测试方法

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Semiconductor test structure and method for forming the same

Номер патента: US20190139841A1. Автор: Anthony K. Stamper,Patrick S. Spinney,Jeffrey C. Stamm. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2019-05-09.

Semiconductor testing structure and method for forming same

Номер патента: US11984370B2. Автор: Xiangyu WANG,Haibo Chen. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-14.

Semiconductor testing structure and method for forming same

Номер патента: US20230008265A1. Автор: Xiangyu WANG,Haibo Chen. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-01-12.

Semiconductor test structure and forming method therefor

Номер патента: EP4138126A1. Автор: Xiangyu WANG,Haibo Chen. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-02-22.

Systems and methods of testing memory devices

Номер патента: US12020996B2. Автор: Chia-En HUANG,Meng-Han LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Systems and methods of testing memory devices

Номер патента: US20240312850A1. Автор: Chia-En HUANG,Meng-Han LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Semiconductor structure and method of fabricating the same

Номер патента: US11735487B2. Автор: Ming-Fa Chen,Hsien-Wei Chen,Ying-Ju Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-08-22.

Chip testing structure and chip testing method

Номер патента: EP4407678A1. Автор: Xiaodi XUE. Владелец: Hygon Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Test structure and method of manufacturing structure including the same

Номер патента: US09831139B2. Автор: Shaofeng Ding,Jeong Hoon Ahn,Junjung Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-11-28.

Semiconductor Test Structures

Номер патента: US20130076385A1. Автор: Chin-Hsiang Lin,Chih-Jen WU,Chen-Ming Huang,An-Chun Tu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-03-28.

Test structure and test method thereof

Номер патента: US20240274479A1. Автор: Chih-Chuan Yang,Lien-Jung Hung,Jing-Yi Lin,Kuo-Hsiu Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Manufacturing method and measurement method of semiconductor structure, and semiconductor structure

Номер патента: US20220352040A1. Автор: Fangfang Wang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-11-03.

Semiconductor test structure for MOSFET noise testing

Номер патента: US09685386B2. Автор: XIAODONG He. Владелец: CSME TECHNOLOGIES FAB1 Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

Semiconductor Test Structure For Mosfet Noise Testing

Номер патента: US20150221568A1. Автор: XIAODONG He. Владелец: CSME TECHNOLOGIES FAB1 Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Method of producing semiconductor elements using a test structure

Номер патента: WO2004057672A1. Автор: Paul L. C. Simon,Aalt M. Van De Pol. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2004-07-08.

Leakage testing structure and leakage testing method

Номер патента: US20240319267A1. Автор: Zeyong CHEN,Zhengliang Zhou. Владелец: Cansemi Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Semiconductor testing devices

Номер патента: US09728624B2. Автор: Josephine B. Chang,Isaac Lauer,Jeffrey W. Sleight,Tenko Yamashita. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Test structure and methods of forming the same

Номер патента: US20230369146A1. Автор: Chih Ting Yeh,Wen Han Hung,Yen-Ning CHEN,Mao-Chia WANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Test structures and models for estimating the yield impact of dishing and/or voids

Номер патента: EP1430533A2. Автор: Dennis J. Ciplickas,Brian E. Stine,Yanwen Fei. Владелец: PDF Solutions Inc. Дата публикации: 2004-06-23.

Test structures and models for estimating the yield impact of dishing and/or voids

Номер патента: WO2003028412A3. Автор: Dennis J Ciplickas,Brian E Stine,Yanwen Fei. Владелец: Yanwen Fei. Дата публикации: 2003-11-13.

Method of manufacturing integrated circuits

Номер патента: WO1988002182A1. Автор: Michael Geoffrey Pitt. Владелец: The General Electric Company, P.L.C.. Дата публикации: 1988-03-24.

Material test structure

Номер патента: US09645102B2. Автор: Jong Won Lee,Gianpaolo Spadini,Fabio Pellizzer,Innocenzo Tortorelli,Christina Papagianni. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Method of manufacturing non-photosensitive polyimide passivation layer

Номер патента: US20130130504A1. Автор: Xiaobo Guo. Владелец: Shanghai Hua Hong NEC Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-23.

Structures and devices including germanium-tin films and methods of forming same

Номер патента: US09793115B2. Автор: John Tolle. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2017-10-17.

Semiconductor layout structure and semiconductor test structure

Номер патента: US20230326811A1. Автор: Ning Li,Xiangyu WANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Semiconductor wafer and method of probe testing

Номер патента: US20180190552A1. Автор: Michael J. Seddon,Heng Chen Lee. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2018-07-05.

Semiconductor test apparatus and semiconductor test method

Номер патента: US20220244292A1. Автор: Takaya Noguchi,Yoshiyuki Ueda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-08-04.

Semiconductor test apparatus and semiconductor test method

Номер патента: US12007414B2. Автор: Takaya Noguchi,Yoshiyuki Ueda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Semiconductor test apparatus and semiconductor test method

Номер патента: US20240219426A1. Автор: Takaya Noguchi,Yoshiyuki Ueda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Structure and method for testing strip width of scribing slot

Номер патента: US09778577B2. Автор: Wei Huang. Владелец: CSMC Technologies Fab2 Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Semiconductor layout structure and semiconductor test structure

Номер патента: EP4283674A1. Автор: Ning Li,Xiangyu WANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-11-29.

Semiconductor test sample and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240055271A1. Автор: Rui Ding. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-15.

Semiconductor test apparatus

Номер патента: US7199574B2. Автор: Takashi Naito. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2007-04-03.

Semiconductor test apparatus

Номер патента: US20050077891A1. Автор: Takashi Naito. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2005-04-14.

Pid test structure and semiconductor test structure

Номер патента: US20210351090A1. Автор: ChihCheng LIU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-11-11.

Test structure for testing via resistance and method

Номер патента: US20180182677A1. Автор: Farkas M. Csaszar. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-06-28.

Bond structures and the methods of forming the same

Номер патента: US09893028B2. Автор: Chen-Hua Yu,Wen-Chih Chiou,Ming-Fa Chen,Yi-Hsiu Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Injection device, semiconductor testing system and its testing method

Номер патента: US20220349939A1. Автор: Wen-Yuan Hsu,Bo-Lung Chen. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2022-11-03.

Injection device, semiconductor testing system and its testing method

Номер патента: US20210003550A1. Автор: Wen-Yuan Hsu,Bo-Lung Chen. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2021-01-07.

Injection device, semiconductor testing system and its testing method

Номер патента: US11656275B2. Автор: Wen-Yuan Hsu,Bo-Lung Chen. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2023-05-23.

Board exchange mechanism for semiconductor test system

Номер патента: US5747994A. Автор: Kazunari Suga. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 1998-05-05.

Semiconductor testing method and testing apparatus

Номер патента: US20200209168A1. Автор: Kun Fan,En-Tsung Cho. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-02.

Semiconductor test apparatus having pogo pins coated with conduction films

Номер патента: US09915681B2. Автор: Taehwan Kim,Sunghoon Jang,Byungho Choi,Minsuk Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-13.

Test structure and test method for online detection of metal via open circuit

Номер патента: US11906572B2. Автор: Qing Zhang,Zhigang Yang,Shumiao Sun. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Broken line repair method of tft substrate

Номер патента: US20180088365A1. Автор: He Zhao,Kecheng Xie. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-29.

Systems and methods of testing memory devices

Номер патента: US12107022B2. Автор: Chia-En HUANG,Meng-Han LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Method of forming a temporary test structure for device fabrication

Номер патента: US09735071B2. Автор: Charles L. Arvin,Gary W. Maier,Brian Michael Erwin. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Jig for semiconductor test

Номер патента: US20120299613A1. Автор: Masaaki Ikegami,Naoto KAGUCHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2012-11-29.

Method of forming a temporary test structure for device fabrication

Номер патента: US09899280B2. Автор: Charles L. Arvin,Gary W. Maier,Brian Michael Erwin. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Structure and method for in-line defect non-contact tests

Номер патента: US09721854B2. Автор: Ping-Chuan Wang,Hanyi Ding,Kai D. Feng,Zhijian Yang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Test Structures for Post-Passivation Interconnect

Номер патента: US20140151698A1. Автор: Jie Chen,Hsien-Wei Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-06-05.

Method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US12094762B2. Автор: Jeong Hwan Kim,Dong Hun Lee,Jung Shik JANG,Mi Seong PARK,Won Geun CHOI. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Memory, semiconductor structure, and manufacturing method thereof

Номер патента: US20230301056A1. Автор: Runping WU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-21.

Method of forming package structure

Номер патента: US20240347506A1. Автор: Wen-Chih Chiou,Ebin Liao,Yi-Hsiu Chen,Hong-Ye Shih,Jia-Ling Ko. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11769689B2. Автор: Jeong Hwan Kim,Dong Hun Lee,Jung Shik JANG,Mi Seong PARK,Won Geun CHOI. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20230395424A1. Автор: Jeong Hwan Kim,Dong Hun Lee,Jung Shik JANG,Mi Seong PARK,Won Geun CHOI. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Passivation layer for semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US7642203B2. Автор: Seung Hyun Kim. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2010-01-05.

Passivation layer for semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20070148987A1. Автор: Seung Hyun Kim. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2007-06-28.

Method of forming a spin-on-passivation layer

Номер патента: TW517308B. Автор: Pei-Ren Jeng. Владелец: Macronix Int Co Ltd. Дата публикации: 2003-01-11.

METHOD OF MANUFACTURING NON-PHOTOSENSITIVE POLYIMIDE PASSIVATION LAYER

Номер патента: US20130130504A1. Автор: Guo Xiaobo. Владелец: SHANGHAI HUA HONG NEC ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-05-23.

Method for preparing semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US12048138B2. Автор: Tao Liu,Jun Xia,Penghui Xu,Sen Li,Qiang Wan,Kangshu ZHAN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Method of forming semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20230163025A1. Автор: TING Li,Hou-Hong Chou. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-05-25.

Method of preparing semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20230328969A1. Автор: Xun Yan. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Memory, semiconductor structure and formation method thereof

Номер патента: US20230320060A1. Автор: Deyuan Xiao,GuangSu SHAO,Xingsong SU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-05.

Semiconductor structure and manufacturing method thereof

Номер патента: US20230268180A1. Автор: Ning Li,Xiangyu WANG,Shuhao Zhang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-08-24.

Method of manufacturing semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US11917806B2. Автор: Xiaoling Wang,Hai-Han Hung. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-27.

Device over patterned buried porous layer of semiconductor material

Номер патента: US20240006524A1. Автор: Qizhi Liu,Mark D. Levy,Jeonghyun Hwang. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Semiconductor structure and manufacturing method thereof

Номер патента: US20230068654A1. Автор: XIANG Liu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Preparation method for semiconductor structure, and semiconductor structure

Номер патента: EP4221481A1. Автор: Xiaoling Wang,Gongyi WU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-08-02.

Method of manufacturing semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20230420293A1. Автор: Ying Song,Zhaopei CUI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-28.

Method of manufacturing semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US12029026B2. Автор: Xiaoling Wang,Hai-Han Hung. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Semiconductor structure and manufacturing method thereof

Номер патента: US20230164972A1. Автор: Tao Liu,Jun Xia,Penghui Xu,Sen Li,Qiang Wan,Kangshu ZHAN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-05-25.

SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING A CAPACITOR STRUCTURE AND A THIN FILM RESISTOR AND A METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20200235087A1. Автор: DING Shaofeng. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-23.

Structures and devices including germanium-tin films and methods of forming same

Номер патента: US20160314967A1. Автор: John Tolle. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2016-10-27.

Collector grid, electrode structures and interrconnect structures for photovoltaic arrays and methods of manufacture

Номер патента: US20090111206A1. Автор: Daniel Luch. Владелец: Daniel Luch. Дата публикации: 2009-04-30.

Structures and devices including germanium-tin films and methods of forming same

Номер патента: TWI751158B. Автор: 約翰 托勒. Владелец: 荷蘭商Asm智慧財產控股公司. Дата публикации: 2022-01-01.

Structures and devices including germanium-tin films and methods of forming same

Номер патента: TW201821657A. Автор: 約翰 托勒. Владелец: Asm智慧財產控股公司. Дата публикации: 2018-06-16.

Chip package structure and electronic apparatus

Номер патента: EP4362086A1. Автор: Nan Zhao,Shanghsuan CHIANG,Wenxu XIE,Pinhui LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Semiconductor testing structures and semiconductor testing apparatus

Номер патента: US09823271B2. Автор: Nan Li,Lilung Lai,Ling Zhu. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Semiconductor test structure and method for manufacturing same

Номер патента: US20230290696A1. Автор: Rui Ding. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-14.

Passive component structure and manufacturing method thereof

Номер патента: US09761555B2. Автор: Hsin Kuan,Yen-Shih Ho,Chia-Sheng Lin,Bai-Yao Lou,Yu-Wen Hu,Jiun-Yen LAI. Владелец: XinTec Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

Semiconductor passivation deposition process for interfacial adhesion

Номер патента: US20020050629A1. Автор: Krishna Seshan,M. Dass,Geoffrey Bakker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-02.

Semiconductor structure and method of forming the same

Номер патента: US20180277354A1. Автор: Feng-Yi Chang,Ming-Feng Kuo,Fu-Che Lee. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-27.

Test socket and test board for wafer level semiconductor testing

Номер патента: US20090079461A1. Автор: Ming-Hsun Sung,Shih-Ming Chen,Sheng-Feng Lu,Chien-Pang Lin. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-26.

Method of manufacturing pixel structure and pixel structure

Номер патента: US20170033132A1. Автор: Wu-Liu Tsai,Pei-Lin Huang,Kun-Lung HUANG. Владелец: E Ink Holdings Inc. Дата публикации: 2017-02-02.

Semiconductor structure and method of forming the same

Номер патента: US09768132B2. Автор: Yung-Fa LEE,Ling Mei LIN,Chun Li WU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Method of manufacturing pixel structure and pixel structure

Номер патента: US09679926B2. Автор: Wu-Liu Tsai,Pei-Lin Huang,Kun-Lung HUANG. Владелец: E Ink Holdings Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Connector structure and method of forming same

Номер патента: US09646943B1. Автор: Chen-Shien Chen,Mirng-Ji Lii,Sheng-Yu Wu,Chita Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

High-efficiency solar cell structures and methods of manufacture

Номер патента: EP4350782A3. Автор: Denis De Ceuster,Oliver Schultz-Wittmann. Владелец: Tetrasun Inc. Дата публикации: 2024-07-10.

Semiconductor structure and method of forming the same

Номер патента: US20200032413A1. Автор: Feng-Yi Chang,Ming-Feng Kuo,Fu-Che Lee. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-30.

Bump structure and method of manufacturing bump structure

Номер патента: US20240258252A1. Автор: Ching-Yu Chang,Ming-Da Cheng,Ming-Hui Weng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Semiconductor device and method of manufacturing the semiconductor device

Номер патента: US20240274593A1. Автор: Seokho KIM,Sumin Park,Joohee Jang,Seongmin Son,Kyuha Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

High-efficiency solar cell structures and methods of manufacture

Номер патента: EP4350783A3. Автор: Denis De Ceuster,Oliver Schultz-Wittmann. Владелец: Tetrasun Inc. Дата публикации: 2024-07-10.

High-efficiency solar cell structures and methods of manufacture

Номер патента: EP4350784A3. Автор: Denis De Ceuster,Oliver Schultz-Wittmann. Владелец: Tetrasun Inc. Дата публикации: 2024-07-10.

Semiconductor testing socket

Номер патента: US20240302408A1. Автор: Long Zhang,Jinrong Chen,Chunli Zhuo. Владелец: Antares Advanced Test Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Heat-resistant adhesive sheet for semiconductor testing

Номер патента: US09963622B2. Автор: Gosuke Nakajima,Tomoya TSUKUI. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Semiconductor structure and method of forming

Номер патента: US09793230B1. Автор: Chen-Hua Yu,Hung-Jui Kuo,Yu-Hsiang Hu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Manufacturing method of a pixel structure

Номер патента: US09685470B2. Автор: Sikun HAO. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

High-efficiency solar cell structures and methods of manufacture

Номер патента: US09666732B2. Автор: Oliver Schultz-Wittmann,Denis Deceuster. Владелец: Tetrasun Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Semiconductor test device and system and test method using the same

Номер патента: US20230408574A1. Автор: Sungyeol KIM,Meehyun Lim,Hyungjung Yong,Jinyeong Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-12-21.

Semiconductor test device and system and test method using the same

Номер патента: US11782085B2. Автор: Sungyeol KIM,Meehyun Lim,Hyungjung Yong,Jinyeong Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-10.

Semiconductor testing device and semiconductor testing method

Номер патента: US20050133786A1. Автор: Kenichi Oi,Hirotaka Jiten. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-06-23.

Memory array test structure and method of forming the same

Номер патента: US20240194234A1. Автор: Sai-Hooi Yeong,Chi On Chui,Meng-Han LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Semiconductor device, semiconductor testing device, and semiconductor device testing method

Номер патента: US11927622B2. Автор: Masashi Tokunaga. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Semiconductor test device and method for fabricating the same

Номер патента: US20140239300A1. Автор: Mi-Na Choi,Ji-Chul Kim,Se-Ran Bae,Eun-seok Cho,Hee-Jung Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-08-28.

Semiconductor chip and method of processing a semiconductor chip

Номер патента: US20160204075A1. Автор: Bernhard Weidgans,Dietrich Bonart,Martina DEBIE,Ludger Borucki. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2016-07-14.

Semiconductor chip and method of processing a semiconductor chip

Номер патента: US10134697B2. Автор: Bernhard Weidgans,Dietrich Bonart,Martina DEBIE,Ludger Borucki. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-11-20.

Method of manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US20170084665A1. Автор: Byung-Kyu Park,Shawn Michael O'rourke,Frank Caris,Brian Rees. Владелец: dpiX LLC. Дата публикации: 2017-03-23.

Semiconductor bio-sensors and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20120270350A1. Автор: Chia-Huan CHANG,Shih-Chin Lien,Ming-Tung Lee. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-25.

Semiconductor device package and method of manufacturing the same

Номер патента: US20190363064A1. Автор: Wen-Long Lu. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

Light emitting diode structure and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240363823A1. Автор: Wing Cheung CHONG. Владелец: Raysolve Optoelectronics Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Structure of gan-based transistor and method of fabricating the same

Номер патента: US20180342598A1. Автор: Heng-Yuan Lee,Kan-Hsueh Tsai. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-11-29.

Substrate having electrical interconnection structures and fabrication method thereof

Номер патента: US09903024B2. Автор: Po-Yi Wu,Chun-Hung Lu. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Light emitting diode structure and method for manufacturing the same

Номер патента: US12142717B2. Автор: Wing Cheung CHONG. Владелец: Raysolve Optoelectronics Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Corrosion method of passivation layer of silicon wafer

Номер патента: US09812334B2. Автор: Qiliang Sun. Владелец: CSMC Technologies Fab1 Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Method of chip packaging

Номер патента: US09761486B2. Автор: Han-Wei Yang,Chen-Chung Lai,Gwo-Chyuan KUO. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Method of fabricating a wafer level package

Номер патента: US09704790B1. Автор: Tieh-Chiang Wu,Shing-Yih Shih. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-11.

Test structures and method of forming an according test structure

Номер патента: US09673115B2. Автор: Hans-Peter Moll,Stefan Richter,Dieter Lipp. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Substrate structure and fabrication method thereof

Номер патента: US09605337B2. Автор: I-Chung Hsu,Kuo-Shu Hsu,Changqing Gao,Ting-Hsiang Lee,Guowei Zeng. Владелец: TPK Touch Solutions Xiamen Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

A manufacturing method of a thin film transistor and pixel unit thereof

Номер патента: US20150349098A1. Автор: Peng Wei,Xiaojun Yu,Zihong Liu. Владелец: Shenzhen Royole Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-03.

Liquid crystal display device and method of fabricating the same

Номер патента: US20080143909A1. Автор: Jung Il Lee,Seung Kwang Roh. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2008-06-19.

Fdsoi device structure and preparation method thereof

Номер патента: US20220093799A1. Автор: Nan Li,Zhonghua Li,Jianghua LENG,Tianpeng Guan,Runling Li. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Fdsoi device structure and preparation method thereof

Номер патента: US20230126031A1. Автор: Nan Li,Zhonghua Li,Jianghua LENG,Tianpeng Guan,Runling Li. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Method of forming bump pad structure having buffer pattern

Номер патента: US20150235974A1. Автор: Hyun-Suk Chun,Soo-Jae PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-08-20.

Method of forming a passivation layer

Номер патента: US20190131259A1. Автор: QIN Yuan,Jun Liu. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2019-05-02.

Miniature field plate t-gate and method of fabricating the same

Номер патента: WO2020214227A9. Автор: Jeong-Sun Moon,Joel C. Wong,Robert M. GRABAR,Michael T. ANTCLIFFE. Владелец: HRL LABORATORIES, LLC. Дата публикации: 2020-12-17.

Miniature field plate t-gate and method of fabricating the same

Номер патента: EP3948955A2. Автор: Jeong-Sun Moon,Joel C. Wong,Robert M. GRABAR,Michael T. ANTCLIFFE. Владелец: HRL LABORATORIES LLC. Дата публикации: 2022-02-09.

Fabricating method of a pixel structure

Номер патента: US20070099354A1. Автор: Meng-Yi Hung,Ming-Hung Shih. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2007-05-03.

Passivation Layers For Semiconductor Devices

Номер патента: US20240243184A1. Автор: Ching-Hua Lee,Cheng-Yi Peng,Song-Bor Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Method of making layout design to eliminate process antenna effect

Номер патента: US5514623A. Автор: Joe Ko,Bill Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 1996-05-07.

Semiconductor copper metallization structure and related methods

Номер патента: US20180166407A1. Автор: Yusheng Lin. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2018-06-14.

Optoelectronic device and method of fabricating the same

Номер патента: US8890275B2. Автор: Wen-Ching Hsu,Miin-Jang Chen,Hsin-Jui Chen. Владелец: Sino American Silicon Products Inc. Дата публикации: 2014-11-18.

Miniature field plate T-gate and method of fabricating the same

Номер патента: US11764271B2. Автор: Jeong-Sun Moon,Joel C. Wong,Robert M. GRABAR,Michael T. ANTCLIFFE. Владелец: HRL LABORATORIES LLC. Дата публикации: 2023-09-19.

Manufacturing method of array substrate, array substrate and liquid crystal display panel

Номер патента: US11372291B2. Автор: Chunhui Yang. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-28.

Manufacturing method of image sensing device

Номер патента: US11107856B2. Автор: Peng Sun,Sheng Hu,Xilong Wang. Владелец: Wuhan Xinxin Semiconductor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-31.

Display device and method of manufacturing the same

Номер патента: US12074264B2. Автор: Dae Hyun Kim,Je Won YOO,Bek Hyun LIM,Hyun Min Cho,Keun Kyu SONG,Sung Chan Jo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Method of forming a passivation layer of a semiconductor device

Номер патента: US20070161254A1. Автор: Tae Young Lee. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-12.

Semiconductor Device and Method of Protecting Passivation Layer in a Solder Bump Process

Номер патента: US20100200985A1. Автор: Qing Zhang,Yaojian Lin,Haijing Cao. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2010-08-12.

Method of fabricating back-illuminated imaging sensors

Номер патента: US20100032783A1. Автор: Pradyumna Kumar Swain,Mahalingam Bhaskaran,Peter Alan Pal Levine. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-02-11.

Method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20210327849A1. Автор: Yi Liu,Yonghui Gao,Guohai ZHANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-10-21.

Bump structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20240290737A1. Автор: Wen-Sung Hsu,Nai-wei LIU,Pei-Haw Tsao,Hung-Pin Tsai. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Semiconductor Device and Method of Protecting Passivation Layer in a Solder Bump Process

Номер патента: US20120211881A9. Автор: Qing Zhang,Yaojian Lin,Haijing Cao. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2012-08-23.

Bump structure and fabrication method thereof

Номер патента: EP4421807A1. Автор: Wen-Sung Hsu,Nai-wei LIU,Pei-Haw Tsao,Hung-Pin Tsai. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-08-28.

Organic light emitting display device and method of fabricating the same

Номер патента: US09978997B2. Автор: Sunghun Kim,Miso Kim,JunYoung KWON. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Array substrate and method of fabricating the same

Номер патента: US09923068B2. Автор: Joon-Young Yang. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Semiconductor structure and manufacturing method thereof

Номер патента: US09780251B2. Автор: Tsang-Yu Liu,Yen-Shih Ho,Wei-Luen Suen,Po-Han Lee,Wei-Ming Chien. Владелец: XinTec Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

Method of fabricating thin film transistor

Номер патента: US20110294267A1. Автор: Sung-Chul Kim,Ji-Su Ahn. Владелец: Samsung Mobile Display Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-01.

Passivation layer for semiconductor device packaging

Номер патента: US20120208321A1. Автор: David Keating Foote,James Donald Getty. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2012-08-16.

Thin film transistor array panel and method of manufacturing the panel

Номер патента: US9455278B2. Автор: Hyun Kim,Seung-Ha Choi,Eun Hye PARK,Sho Yeon KIM,Byung Hwan CHU. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Thin film transistor array panel and method of manufacturing the panel

Номер патента: US9287297B2. Автор: Hyun Kim,Seung-Ha Choi,Eun Hye PARK,Sho Yeon KIM,Byung Hwan CHU. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-15.

Method of forming a bond pad

Номер патента: WO2005024902A3. Автор: Thomas S Roche,Paule C Aschieri. Владелец: Paule C Aschieri. Дата публикации: 2005-07-28.

Method of forming a bond pad

Номер патента: WO2005024902A2. Автор: Thomas S. Roche,Paule C. Aschieri. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2005-03-17.

Power device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240096944A1. Автор: Boram Kim,Junhyuk Park,Sunkyu Hwang,Jongseob Kim,Joonyong Kim,Jaejoon Oh,Injun Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-21.

Wafer structure, chip structure and bumping process

Номер патента: US20060097392A1. Автор: Shyh-Ing Wu. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2006-05-11.

Semiconductor copper metallization structure and related methods

Номер патента: US20180061791A1. Автор: Yusheng Lin. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2018-03-01.

Self-heating test structure

Номер патента: US20180331099A1. Автор: Fei Zhou. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-11-15.

Pixel structure of display panel and method of fabricating the same

Номер патента: US20130082265A1. Автор: Meng-Chi Liou. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2013-04-04.

Thin film transistor array panel and method of manufacturing the panel

Номер патента: US20160181284A1. Автор: Hyun Kim,Seung-Ha Choi,Eun Hye PARK,Sho Yeon KIM,Byung Hwan CHU. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-23.

Thin film transistor array panel and method of manufacturing the panel

Номер патента: US20150200209A1. Автор: Hyun Kim,Seung-Ha Choi,Eun Hye PARK,Sho Yeon KIM,Byung Hwan CHU. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-16.

Optoelectronic device and method of fabricating the same

Номер патента: US20120199935A1. Автор: Wen-Ching Hsu,Miin-Jang Chen,Hsin-Jui Chen. Владелец: Sino American Silicon Products Inc. Дата публикации: 2012-08-09.

Apparatus and method of manufacture for an imager equipped with a cross-talk barrier

Номер патента: US20070187722A1. Автор: Bedabrata Pain. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2007-08-16.

Method of enhanced selectivity of hard mask using plasma treatments

Номер патента: US20190043723A1. Автор: Hui Sun,Hailong Zhou,Chain Lee,Jonathan Sungehul KIM,Yangchung LEE. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2019-02-07.

Array substrate and method of fabricating the same

Номер патента: US20130277673A1. Автор: Hyun-Sik Seo,Jong-Uk Bae,Chang-Il Ryoo. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-24.

Array substrate and method of fabricating the same

Номер патента: US20140120659A1. Автор: Hyun-Sik Seo,Jong-Uk Bae,Chang-Il Ryoo. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-01.

Fabrication method of active device array substrate

Номер патента: US20080032235A1. Автор: Chia-Ming Chang. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2008-02-07.

Method of manufacturing display panel and the display panel

Номер патента: US20210335826A1. Автор: Huafei XIE. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Thin film transistor and method of manufacturing the same

Номер патента: US20110129968A1. Автор: Jae-Bum Park. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-06-02.

Rework method of array substrate for display device and array substrate formed by the method

Номер патента: US09983451B2. Автор: Jiwon Kang,Donggeun Lim,KiTaeg Shin,ChelHee Jo. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Method of forming post-passivation interconnect structure

Номер патента: US09953891B2. Автор: Ming-Che Ho,Chung-Shi Liu,Zheng-Yi Lim,Yi-Wen WU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Semiconductor copper metallization structure and related methods

Номер патента: US09905522B1. Автор: Yusheng Lin. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2018-02-27.

Method of manufacturing array substrate, display substrate, and display device

Номер патента: US09865629B2. Автор: Hee Cheol Kim,Hyun Sic CHOI,Seung Jin Choi. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Manufacturing method of array substrate, array substrate and display device

Номер патента: US09859304B2. Автор: Jing NIU,Fangzhen Zhang,Shuang Sun. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

All-wavelength (VIS-LWIR) transparent electrical contacts and interconnects and methods of making them

Номер патента: US09812595B1. Автор: Kyung-Ah Son. Владелец: HRL LABORATORIES LLC. Дата публикации: 2017-11-07.

Array substrate, display device and manufacturing method of array substrate

Номер патента: US09799642B2. Автор: Yan Wei,CHAO Xu,Heecheol KIM,Chunfang Zhang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Manufacturing method of liquid crystal display

Номер патента: US09696602B2. Автор: Tae Ho Kim,Ji Young Jeong,Young Woon KHO,Yu Jun Kim,Kwang Bae PARK,Jong Kyun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US12142587B2. Автор: Jinho PARK,Jeong Hoon Ahn,Chin Kim,Yongseung Bang,Jiyeon Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-11-12.

Thin film transistor substrate and method of manufacturing the same

Номер патента: US09660099B2. Автор: Hyung-Jun Kim,Seok-Hwan Bang,Ji-Man Lim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Fabricating method of pixel structure

Номер патента: US20130011976A1. Автор: Meng-Chi Liou. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2013-01-10.

Fabricating method of pixel structure

Номер патента: US8404528B2. Автор: Meng-Chi Liou. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2013-03-26.

Semiconductor package and method of manufacturing the same

Номер патента: US20160329247A1. Автор: Tsung-Ding Wang,Bo-I Lee,Jung Wei Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-11-10.

Pixel structure and method for fabricating the same

Номер патента: US8305508B2. Автор: Hsiang-Lin Lin. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2012-11-06.

Ball placement structure and preparation process thereof

Номер патента: US20220223556A1. Автор: Yan Mei. Владелец: Chipmore Technology Corp Ltd. Дата публикации: 2022-07-14.

Power device and method of manufacturing the same

Номер патента: US12040391B2. Автор: Junhyuk Park,Sunkyu Hwang,Jongseob Kim,Joonyong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-16.

Method of separating semiconductor dies

Номер патента: WO2007117805A2. Автор: Trung Tri Doan,Chen-Fu Chu,Hao-Chun Cheng,Feng-Hsu Fan,Fu-Hsien Wang. Владелец: Semileds Corporation. Дата публикации: 2007-10-18.

Method of vacuum packaging a semiconductor device assembly

Номер патента: US20030052403A1. Автор: Ting Ang,Sang Loong,Shyue-Fong Quek,Duay Ong. Владелец: Chartered Semiconductor Manufacturing Pte Ltd. Дата публикации: 2003-03-20.

Array substrate for liquid crystal display device and method of fabricating the same

Номер патента: US7989242B2. Автор: Gee-Sung Chae,Byung-Geol Kim,Jae-Seok Heo,Woong-Gi Jun. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-02.

Pad structure and manufacturing method thereof in semiconductor device

Номер патента: US10840198B2. Автор: Ming-Chyi Liu,Hung-Shu Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-11-17.

Method of manufacturing light emitting panel, light emitting panel, and display device

Номер патента: US11430818B2. Автор: Zhiwei Tan. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-30.

Power device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240258419A1. Автор: Junhyuk Park,Sunkyu Hwang,Jongseob Kim,Joonyong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Display device and method of fabricating display device

Номер патента: US20240234398A1. Автор: Dong Jun Lee,Ki Su JIN,Gil Tae KANG,Yun Su GU. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Method of forming junction of semiconductor device

Номер патента: US20090111233A1. Автор: Dong Ho Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-04-30.

[method of fabricating a thin film transistor array panelsubstrate]

Номер патента: US20040191968A1. Автор: Ko-Chin Yang. Владелец: Quanta Display Inc. Дата публикации: 2004-09-30.

Pixel Structure and Method for Fabricating the Same

Номер патента: US20100193827A1. Автор: Hsiang-Lin Lin. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2010-08-05.

Semiconductor device structures and printed circuit boards comprising semiconductor devices

Номер патента: US20130228922A1. Автор: Mark E. Tuttle. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2013-09-05.

Method of forming a thin film transistor liquid crystal display

Номер патента: US20040131976A1. Автор: Chu-Wei Hsu. Владелец: Quanta Display Inc. Дата публикации: 2004-07-08.

Method of fabricating a device having a passivating layer

Номер патента: EP4430934A1. Автор: Charles Masamed MARCUS,Asbjørn Cennet Cliff DRACHMANN. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2024-09-18.

Semiconductor package and method of manufacturing the semiconductor package

Номер патента: US20240347510A1. Автор: Unbyoung Kang,Byeongchan KIM,Jumyong Park,Jeongil Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-17.

Display device and method of fabricating the same

Номер патента: US12125836B2. Автор: Hyung Jun Kim,Jun Hyung LIM,Eok Su Kim,Kyung Jin JEON,Yun Yong NAM,So Young Koo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Semiconductor structure and method for preparing same, memory, and electronic device

Номер патента: US20240290678A1. Автор: Ming Zeng. Владелец: Beijing Superstring Academy of Memory Technology. Дата публикации: 2024-08-29.

Semiconductor package and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240321744A1. Автор: Jiyoung Park,Yeongkwon Ko,Sera Lee,Hosin SONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-26.

Display apparatus and method of manufacturing the same

Номер патента: US09991240B2. Автор: Changyong JEONG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-05.

Organic light emitting diode display device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09818969B2. Автор: Sun Park,Chun Gi YOU,Kyung Hoon Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Array substrate and method of repairing broken lines therefor

Номер патента: US09651840B1. Автор: SHAN Li. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Array substrate and method of repairing broken lines therefor

Номер патента: US09632377B2. Автор: SHAN Li. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Manufacturing method of TFT substrate structure

Номер патента: US09553115B1. Автор: Xiaowen LV. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Cooling system of a semiconductor testing device

Номер патента: US6089463A. Автор: Hajime Hiroi. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2000-07-18.

Bump structure and method for bonding to a semi-conductor device

Номер патента: CA2075462A1. Автор: George Erdos. Владелец: Gennum Corp. Дата публикации: 1993-07-28.

Method of manufacturing semiconductor devices and corresponding semiconductor device

Номер патента: US20220238473A1. Автор: Michele DERAI,Dario Vitello. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2022-07-28.

Fabrication method of image sensing device

Номер патента: US20080096303A1. Автор: Ming-I Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2008-04-24.

Method of making high-voltage bipolar/CMOS/DMOS (BCD) devices

Номер патента: US20030068844A1. Автор: Luc Ouellet,Stephane Martel,Sebastien Michel,Yan Riopel. Владелец: Dalsa Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-04-10.

Method of fabricating passivation

Номер патента: US20070152304A1. Автор: Yong Keon Choi. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2007-07-05.

Group III nitride device and method of fabricating a Group III nitride-based device

Номер патента: US12087830B2. Автор: John Twynam,Albert Birner,Helmut Brech. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-09-10.

Method of manufacturing solar cell electrode

Номер патента: EP2976309A1. Автор: Norihiko Takeda. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2016-01-27.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240334691A1. Автор: Ki Hong Lee. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Array substrate and method of fabricating the same

Номер патента: US09966393B2. Автор: Jin-Su Kim,Sung-Jin UM,Jin-Hyung Jung. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Oxide thin film transistor and method of fabricating the same

Номер патента: US09941410B2. Автор: JongUk BAE. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Display panel and method of manufacturing the same

Номер патента: US09910330B2. Автор: Koichi Sugitani,Hoon Kang,Chul-Won PARK,Jin-Ho Ju. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Liquid crystal display and method of manufacturing the same

Номер патента: US09880411B2. Автор: Suk Won Jung,Seung Mi Seo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Method of IGZO and ZnO TFT fabrication with PECVD SiO2 passivation

Номер патента: US09871124B2. Автор: Soo Young Choi,YAN Ye,Jrjyan Jerry Chen,Dong-Kil Yim. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

Crack-tolerant photovoltaic cell structure and fabrication method

Номер патента: US09705013B2. Автор: Ning Li,Katherine L. Saenger,Bahman Hekmatshoartabari. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Low-stress passivation layer

Номер патента: US20240312885A1. Автор: Hsiang-Ku Shen,Dian-Hau Chen,Chun-Li Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Method of making bond pad

Номер патента: US20140322908A1. Автор: Shih-Chieh Chang,Chiang-Ming Chuang,Chun Che HUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-10-30.

Method of making bond pad

Номер патента: US9252109B2. Автор: Shih-Chieh Chang,Chiang-Ming Chuang,Chun Che HUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-02-02.

Back end of the line metal structure and method

Номер патента: US20210118796A1. Автор: Dirk Breuer,Oliver M. Witnik,Carla Byloos,Holger S. Schuehrer. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2021-04-22.

Electronic device package and method of manufacturing the same

Номер патента: US12094772B2. Автор: wei-wei Liu,Huei-Siang WONG. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Solar cells and methods of fabrication thereof

Номер патента: US09960287B2. Автор: Matthew Young,Douglas Arthur Hutchings,Seth Daniel Shumate,Scott Little,Hafeezuddin Mohammed. Владелец: Picasolar Inc. Дата публикации: 2018-05-01.

Thin fan-out multi-chip stacked package structure and manufacturing method thereof

Номер патента: US09716080B1. Автор: Chia-Wei Chang,Yong-Cheng Chuang. Владелец: Powertech Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Display substrate including direct contact part and method of fabricating the same

Номер патента: US09704890B2. Автор: Young-Joo Choi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Semiconductor device and manufacturing method of the same

Номер патента: US09589969B1. Автор: Yu-Wei Chang,Chui-Ya Peng,Austin Hsu,Kung-Wei Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Integrated circuit inductor structure and non-destructive etch depth measurement

Номер патента: US20020057176A1. Автор: Carl BJÖRMANDER,Ted Johansson,Hans Norström. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-16.

Methods of fabricating a multianalyte detection device and devices thereof

Номер патента: US20240319135A1. Автор: Narendra Kumar,Kenneth S. Burch,Michael GEIWITZ,Matthew CATALANO. Владелец: Boston College. Дата публикации: 2024-09-26.

Organic light emitting diode packaging method and packaging structure and device having the same

Номер патента: US09960384B2. Автор: Chun-Jan Wang,Chengyuan Luo. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Semiconductor device and method of manufacture

Номер патента: US09842815B2. Автор: Chen-Hua Yu,Chung-Shi Liu,Hao-Yi Tsai,Tin-Hao Kuo. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Display device and method of fabricating the same

Номер патента: US09698168B2. Автор: Duk-Sung Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Thin film transistor array panel and method of manufacturing the same

Номер патента: US09627548B2. Автор: Dong Hee Lee,Gwang Min CHA,Sang Woo Sohn,Sang Won SHIN,Hyun Ju KANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Organic light emitting device and method of fabricating the same

Номер патента: US09583546B2. Автор: Myungseop Kim,SungJin Hong,Joongsun Yoon,Younghoon Shin. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Array substrate and method of repairing broken lines for the array substrate

Номер патента: US09568793B2. Автор: SHAN Li. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Fuel cell structures and assemblies with channeled current collectors and method of making the same

Номер патента: EP1759388A2. Автор: Ray R. Eshraghi. Владелец: Microcell Corp. Дата публикации: 2007-03-07.

Fuel cell structures and assemblies with channeled current collectors and method of making the same

Номер патента: WO2005119670A2. Автор: Ray R. Eshraghi. Владелец: Microcell Corporation. Дата публикации: 2005-12-15.

Fuel cell structures and assemblies with channeled current collectors and method of making the same

Номер патента: WO2005119670A3. Автор: Ray R Eshraghi. Владелец: Ray R Eshraghi. Дата публикации: 2008-09-18.

Emitter tip structure and field emission device comprising same, and method of making same

Номер патента: WO1994020975A1. Автор: Gary W. Jones. Владелец: Fed Corporation. Дата публикации: 1994-09-15.

Fuel cell structures and assemblies with channeled current collectors and method of making the same

Номер патента: EP1759388A4. Автор: Ray R Eshraghi. Владелец: Microcell Corp. Дата публикации: 2011-11-09.

Conformal metallization process for the fabrication of semiconductor laser devices

Номер патента: US20130163631A1. Автор: Jia-Sheng Huang,Phong Thai. Владелец: Emcore Corp. Дата публикации: 2013-06-27.

ZIF connector and semiconductor-testing apparatus using the same

Номер патента: US20050142918A1. Автор: Akihiko Otsu,Keiichi Azuma. Владелец: JST Mfg Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-30.

Aqueous aluminum batteries and methods of making same

Номер патента: US12015149B2. Автор: Qing Zhao,Lynden A. Archer. Владелец: CORNELL UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-06-18.

Method of and apparatus for forming three-dimensional structures

Номер патента: WO2003095707A3. Автор: Gang Zhang,Adam L Cohen. Владелец: Memgen Corp. Дата публикации: 2005-08-18.

Component Carrier and Method of Manufacturing the Same

Номер патента: US20200296842A1. Автор: Thomas KRISTL,Ewald Moitzi. Владелец: AT&S Austria Technologie und Systemtechnik AG. Дата публикации: 2020-09-17.

Semiconductor test device and method of operating the same

Номер патента: US09720034B2. Автор: Suk Hyun JUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-01.

Circuit board for semiconductor testing and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240264219A1. Автор: Shih-Ching Chen,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Internal guardband for semiconductor testing

Номер патента: US20020026610A1. Автор: Todd Merritt. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2002-02-28.

Mosfet drive circuit, programmable power supply and semiconductor test apparatus

Номер патента: WO2005124377A1. Автор: Nobuhiro Sato. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2005-12-29.

Driver circuit for semiconductor test system

Номер патента: US5699001A. Автор: Masakazu Ando,Toshiaki Awaji. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 1997-12-16.

Method of manufacturing display apparatus

Номер патента: US20240324280A1. Автор: Hyuneok Shin,Sukyoung YANG,Dongmin LEE,Joonyong Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

BAW resonator having lateral energy confinement and methods of fabrication thereof

Номер патента: US09735755B2. Автор: Gernot Fattinger,Alireza Tajic. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Surface acoustic wave filter wafer-level packaging structure and method

Номер патента: WO2024105604A1. Автор: Guojun WENG. Владелец: Shenzhen Newsonic Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-05-23.

Organic light emitting diode display device and method of fabricating the same

Номер патента: EP4387422A1. Автор: Ho-Jin Kim,Ji-Yeon Park. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Organic light emitting diode display device and method of fabricating the same

Номер патента: US20240206233A1. Автор: Ho-Jin Kim,Ji-Yeon Park. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Method of fabricating organic field effect transistor

Номер патента: US20060128056A1. Автор: Seong Kim,Jung Lee,Tae Zyung. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2006-06-15.

Fabrication method of film bulk acoustic resonator (FBAR) filter device

Номер патента: US12068733B2. Автор: Jian Wang,Jie Zou,Gongbin Tang. Владелец: Shenzhen Newsonic Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Circuit substrate structure and method for manufacturing thereof

Номер патента: US09791753B2. Автор: Chi-Ming Wu,Ta-Nien Luan,Ming-Sheng Chiang,Chen-Lung Lo,Chen-Yuan Sung. Владелец: E Ink Holdings Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Input sensing panel, display device having the same, and method of manufacturing the display device

Номер патента: US12112006B2. Автор: Woongsik Kim,Jin-Su Byun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Manufacturing method of OLED panel and OLED panel

Номер патента: US12022686B2. Автор: Xingyu Zhou. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Display device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240224643A1. Автор: Jeehoon Kim,Donghan Kang,Seungsok SON,Shinhyuk Yang,Sunggwon MOON. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Self test structure for interconnect and logic element testing in programmable devices

Номер патента: US20070011539A1. Автор: Danish Syed,Vishal Srivastava. Владелец: STMICROELECTRONICS PVT LTD. Дата публикации: 2007-01-11.

Manufacturing method of substrate structure, substrate structure and metal component

Номер патента: US09790609B2. Автор: Babak Radi,Shih-Hong Chen,Tzu-Wen Chuang,Chun-Lin Chen. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2017-10-17.

Electro acoustic filter component and method of manufacturing to reduce influence of chipping

Номер патента: US20220255531A1. Автор: Thomas Kauschke. Владелец: RF360 Europe GmbH. Дата публикации: 2022-08-11.

Display device and method of repairing the same

Номер патента: US20240334757A1. Автор: Jongbum CHOI,Jaehyun Lee,Seul-ki Kim,WooGeun LEE,Seungrae Kim,Yeeun KANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

In-circuit test structure for printed circuit board

Номер патента: US09835684B2. Автор: Jinchai (Ivy) QIN,Bing Al. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Display device and method of making display device

Номер патента: US20090256474A1. Автор: Dong-Won Lee,Jung-Soo Rhee,Joon-Chul Goh,Song-Mi Hong,Jianpu Wang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-10-15.

3d-object identification and quality assessment

Номер патента: EP4276775A1. Автор: Stefan Rink,Gideon May,Reinder Alexander Lambertus Koelstra,Yueting Liu,Jonathan van der Spek. Владелец: Am Flow Holding BV. Дата публикации: 2023-11-15.

Tail trim assembly of exhaust pipe for vehicle and method of manufacturing the same

Номер патента: US20140041225A1. Автор: Jaewoo Park,Wonsuk LEE. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2014-02-13.

Integrated circuit with self-test device for an embedded non-volatile memory and related test method

Номер патента: US20040109370A1. Автор: Steffen Gappisch,Georg Farkas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-06-10.

A method for surveying a structure and a process for defining an optimum method of surveying said structure

Номер патента: WO2020230001A1. Автор: Simona MANCINI. Владелец: Sacertis S.R.L.. Дата публикации: 2020-11-19.

A method for surveying a structure and a process for defining an optimum method of surveying said structure

Номер патента: EP3966524A1. Автор: Simona MANCINI. Владелец: Sacertis Srl. Дата публикации: 2022-03-16.

A method for surveying a structure and a process for defining an optimum method of surveying said structure

Номер патента: US20220221369A1. Автор: Simona MANCINI. Владелец: Sacertis Srl. Дата публикации: 2022-07-14.

Disaster tolerance test method, method of payment, device, medium and service equipment

Номер патента: CN110209556A. Автор: 陈玉英. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-06.

PROPERTIES, BUILDING STRUCTURES, AND SECURITIES WEALTH-BUILDING STRATEGY GAME AND METHOD OF PLAY

Номер патента: US20200261788A1. Автор: Hammer David. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-20.

A method for surveying a structure and a process for defining an optimum method of surveying said structure

Номер патента: EP3966524B1. Автор: Simona MANCINI. Владелец: Sacertis Srl. Дата публикации: 2023-08-02.

Temperature control method and apparatus and test method and apparatus of semiconductor devices

Номер патента: US20070296434A1. Автор: Hiroshi Yamada,Takashi Morimoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-12-27.

Test method and circuit of semiconductor memory device

Номер патента: KR940008725B1. Автор: 조성범,소진호,이화준,김우섭. Владелец: 김광호. Дата публикации: 1994-09-26.

Picture quality testing apparatus and method of display device

Номер патента: KR102142654B1. Автор: 이지혜,정연경,백관용. Владелец: 현대모비스 주식회사. Дата публикации: 2020-08-07.

Test method of semiconductor device and semiconductor test apparatus

Номер патента: US20140133254A1. Автор: Zhiliang Xia,Sung Hee Lee,Chiho Kim,Nara KIM,Dae Sin KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-05-15.

Semiconductor test device and semiconductor test method

Номер патента: US09972404B2. Автор: Min Sik HAN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Semiconductor test method, semiconductor test apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20110055645A1. Автор: Atsushi Inoue,Tsunehiro Sato. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Semiconductor test device and method of driving the same

Номер патента: US20230133368A1. Автор: Nack Hyun KIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

Semiconductor testing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20240295599A1. Автор: Takuya Yoshimura,Noritsugu NOMURA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Semiconductor test system during burn-in process

Номер патента: US09779837B1. Автор: Tae Yong Lee,Geun Ho Choi,Myung Kyun KWAK. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

Semiconductor test apparatus and test method for semiconductor device

Номер патента: US20100237893A1. Автор: Norifumi Kobayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2010-09-23.

Test structures and testing methods for semiconductor devices

Номер патента: US09891273B2. Автор: Wensen Hung,Yung-Hsin Kuo,Po-Shi Yao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Multi-die interface for semiconductor testing and method of manufacturing same

Номер патента: US09933479B2. Автор: Hai Dau,Christine BUI,Lim Hooi Weng,Kothandan Shanmugam. Владелец: Spire Manufacturing Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Event based test method for debugging timing related failures in integrated circuits

Номер патента: WO2004092753A1. Автор: Ankan Pramanick,Rochit Rajsuman,Siddharth Sawe. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2004-10-28.

Multiply apparatus for semiconductor test pattern signal

Номер патента: EP2212889A1. Автор: Kyung-Hun Chang,Se-Kyung Oh. Владелец: INTERNATIONAL TRADING AND Tech CO Ltd. Дата публикации: 2010-08-04.

Multiply apparatus for semiconductor test partern signal

Номер патента: WO2009054651A1. Автор: Kyung-Hun Chang,Se-Kyung Oh. Владелец: International Trading & Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2009-04-30.

Semiconductor testing fixture and fabrication method thereof

Номер патента: US20160124019A1. Автор: Lei Shi. Владелец: Nantong Fujitsu Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-05.

Semiconductor test device

Номер патента: US20050030069A1. Автор: Katsumi Isobe. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2005-02-10.

Semiconductor test device

Номер патента: US20100001754A1. Автор: Toru Ibane. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-01-07.

Semiconductor testing system

Номер патента: US20080189585A1. Автор: Mitsuhisa Sato. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2008-08-07.

Semiconductor test device

Номер патента: US20090079450A1. Автор: Udo Hartmann,Frank Pietzschmann. Владелец: Qimonda AG. Дата публикации: 2009-03-26.

Systems and methods of testing memory devices

Номер патента: US12079152B2. Автор: Chia-En HUANG,Meng-Han LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Graphene sensors and a method of manufacture

Номер патента: WO2023148149A1. Автор: Robert Wallis,Liam Mcdonnell. Владелец: PARAGRAF LIMITED. Дата публикации: 2023-08-10.

Semiconductor test structure having a laser defined current carrying structure

Номер патента: US6553661B2. Автор: James Forster,Lester Wilson,Richard W. Arnold. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2003-04-29.

Testing methods of a semiconductor integrated incorporating a high-frequency receiving circuit and a demodulation circuit

Номер патента: US7693223B2. Автор: Shinya Kishigami. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2010-04-06.

Calibration data transmission apparatus and method for semiconductor test equipment

Номер патента: US5629880A. Автор: Toshiyuki Negishi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 1997-05-13.

Semiconductor testing equipment and semiconductor testing method

Номер патента: US20080094096A1. Автор: Satoshi Kishimoto,Tomohiko Kanemitsu. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-04-24.

Injection device, semiconductor testing system and its testing method

Номер патента: US20230045244A1. Автор: Wen-Yuan Hsu,Bo-Lung Chen. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Semiconductor test device including temperature control module and method of driving the same

Номер патента: US11927623B2. Автор: Nack Hyun KIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Photonic devices and pics including sacrificial testing structures and method of making the same

Номер патента: WO2004017474A3. Автор: Liyou Yang,Haiyan An. Владелец: Haiyan An. Дата публикации: 2004-06-03.

Photonic devices and pics including sacrificial testing structures and method of making the same

Номер патента: EP1540722A2. Автор: Liyou Yang,Haiyan An. Владелец: Sarnoff Corp. Дата публикации: 2005-06-15.

Photonic devices and pics including sacrificial testing structures and method of making the same

Номер патента: WO2004017474A2. Автор: Liyou Yang,Haiyan An. Владелец: Sarnoff Corporation. Дата публикации: 2004-02-26.

Method of quality control and quality control apparatus

Номер патента: EP4242629A1. Автор: Hajimu KAWAKAMI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-09-13.

Semiconductor test device and method, and data analysis device

Номер патента: US20170082682A1. Автор: Soon-Young Lee,Sang-Woo Pae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-23.

Semiconductor testing apparatus

Номер патента: US20020043979A1. Автор: Nobuaki Takeuchi. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-04-18.

Semiconductor test system

Номер патента: US20060083084A1. Автор: Kozo Okamoto,Tomomi Yano,Takumi Morimoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-04-20.

Semiconductor testing apparatus for wafer probing testing and final packaged IC testing

Номер патента: US11835574B2. Автор: Shun-Bon Ho. Владелец: Test21 Taiwan Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Techniques to perform semiconductor testing

Номер патента: US20230258716A1. Автор: Debendra Das Sharma,Gerald Pasdast,Lakshmipriya Seshan,Swadesh CHOUDHARY,Narasimha LANKA,Zuogo Wu. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Semiconductor test system during burn-in process

Номер патента: US20170263335A1. Автор: Tae Yong Lee,Geun Ho Choi,Myung Kyun KWAK. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-09-14.

Silicide capacitive micro electromechanical structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20230116389A1. Автор: Chun-Chieh Lin,Di-Bao Wang. Владелец: Taiwan Asia Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Placing wells in a hydrocarbon field based on seismic attributes and quality indicators

Номер патента: US11754734B2. Автор: Abdullah Alwusaibie,Ali Almahozi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-09-12.

Semiconductor testing equipment

Номер патента: US6163875A. Автор: Noriyuki Suzuki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2000-12-19.

Semiconductor test apparatus capable of inducing reduction of power consumption

Номер патента: US20230420068A1. Автор: Yong Hyun Kim,Hyo Sang Jo,Jae Hoon Joo,Wan Soon PARK. Владелец: YIK Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Semiconductor test head apparatus using field programmable gate array

Номер патента: US20100102843A1. Автор: Kyunghun Chang,Sekyung Oh,Chulki Jang,Mangil Kang. Владелец: IT&T. Дата публикации: 2010-04-29.

Semiconductor testing fixture and fabrication method thereof

Номер патента: US20160124020A1. Автор: Lei Shi. Владелец: Nantong Fujitsu Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-05.

Testing probe and semiconductor testing fixture, and fabrication methods thereof

Номер патента: US20160124016A1. Автор: Lei Shi. Владелец: Nantong Fujitsu Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-05.

Semiconductor test apparatus and semiconductor test method

Номер патента: US20220128616A1. Автор: Masaki Ueno,Kinya Yamashita,Yasushi Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-04-28.

Testing probe and semiconductor testing fixture, and fabrication methods thereof

Номер патента: US20160124017A1. Автор: Lei Shi. Владелец: Nantong Fujitsu Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-05.

Graphene sensors and a method of manufacture

Номер патента: GB2615341A. Автор: Wallis Robert,McDonnell Liam. Владелец: Paragraf Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Printing rubber blanket and manufacturing method of the same

Номер патента: US20200398601A1. Автор: Ryuta Tanaka,Masakuni Kawaguchi. Владелец: Kinyosha Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-24.

Touch panel and method of manufacturing a touch panel

Номер патента: US09933896B2. Автор: Fang Fang,Lichun Yang,Ching-Shan Lin,Yuh-Wen Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-04-03.

Liquid crystal display and method of manufacturing the same

Номер патента: US09915844B2. Автор: Dong Wook Kim,Jean Ho SONG,Ock Soo Son,Eun Je Jang,Do Hyun JUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-13.

Method of increasing MEMS enclosure pressure using outgassing material

Номер патента: US09731963B2. Автор: Joseph Seeger,Martin Lim,Jongwoo Shin,Cerina Zhang. Владелец: InvenSense Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Unit for continuous production of foamed granulated plastic and method of its production

Номер патента: RU2573472C2. Автор: Филип НИЗИНГ. Владелец: Зульцер Хемтех Аг. Дата публикации: 2016-01-20.

Installation and method of manufacturing paper rolls

Номер патента: RU2679050C2. Автор: Фабио ПЕРИНИ. Владелец: ФУТУРА С.п.а.. Дата публикации: 2019-02-05.

Modular multiplexing interface assembly for reducing semiconductor testing index time

Номер патента: US20170168111A1. Автор: Howard H. ROBERTS, Jr.. Владелец: Celerint LLC. Дата публикации: 2017-06-15.

Modular multiplexing interface assembly for reducing semiconductor testing index time

Номер патента: MY183095A. Автор: Jr Howard H Roberts. Владелец: Celerint LLC. Дата публикации: 2021-02-13.

Methods and systems for semiconductor testing using a testing scenario language

Номер патента: EP2008228A2. Автор: Gil Balog. Владелец: OptimalTest Ltd. Дата публикации: 2008-12-31.

Rule set for semiconductor testing

Номер патента: WO2007113805A8. Автор: Gil Balog. Владелец: OptimalTest Ltd. Дата публикации: 2014-12-04.

Semiconductor test apparatus using fpga and memory control method for semiconductor test

Номер патента: US20240003964A1. Автор: Wan Soon PARK. Владелец: YIK Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

High voltage semiconductor test system with multiple sites for use with a pick and place handler

Номер патента: US20220341989A1. Автор: Wei Jue Lim,Wenshui Zhang. Владелец: Silicon Laboratories Inc. Дата публикации: 2022-10-27.

Ground testing method and apparatus

Номер патента: WO2007111685A3. Автор: Charles A Gaston,Vaughn G Silar Jr. Владелец: Magicground Technology Llc. Дата публикации: 2007-12-06.

Ground testing method and apparatus

Номер патента: WO2007111685A2. Автор: Charles A. Gaston,Vaughn G. Silar, Jr.. Владелец: Magicground Technology, Llc. Дата публикации: 2007-10-04.

Methods of side passivation of adhesive rolls

Номер патента: NZ756778B2. Автор: Slobodan Mitrovic. Владелец: Biologische Insel Lothar Moll Gmbh & Co Kg. Дата публикации: 2021-06-29.

Liquid crystal display device and manufacturing method of the liquid crystal display device

Номер патента: US20090141229A1. Автор: Hajime Nakao. Владелец: Epson Imaging Devices Corp. Дата публикации: 2009-06-04.

Manufacturing method of transflective LCD and transflective LCD thereof

Номер патента: US20060033868A1. Автор: Jun-ho Song,Yong-Ho Yang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-02-16.

Manufacturing method of microneedle biosensor

Номер патента: US20240215915A1. Автор: Jun Young Ahn,Eun Hee Jang. Владелец: Albiti Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Parametric measurement unit/device power supply for semiconductor test system

Номер патента: US5059889A. Автор: Dale A. Heaton. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1991-10-22.

Ultrasound cutter and method of ultrasound cutting

Номер патента: RU2404047C2. Автор: Норио ТАНАКА. Владелец: Нихон Сориоку Кикаи Ко., Лтд.. Дата публикации: 2010-11-20.

Methods and systems for semiconductor testing using reference dice

Номер патента: US20090119048A1. Автор: Gil Balog. Владелец: OptimalTest Ltd. Дата публикации: 2009-05-07.

Methods of side passivation of adhesive rolls

Номер патента: NZ756778A. Автор: Slobodan Mitrovic. Владелец: Biologische Insel Lothar Moll Gmbh & Co Kg. Дата публикации: 2021-03-26.

Artificial sputum, method of producing an artificial sputum

Номер патента: EP3714897A1. Автор: Markus. BEUTLER,Lubov. DELAMOTTE. Владелец: Imlred GmbH. Дата публикации: 2020-09-30.

A method of preparation of highly pure vildagliptin

Номер патента: WO2010022690A3. Автор: Tomas Chvojka,Ales Halama,Bozena Kafkova. Владелец: Zentiva, K.S.. Дата публикации: 2010-11-11.

Non-destructive testing method

Номер патента: US20230114974A1. Автор: Parthasarathy IYENGAR,George Daniel MONKS. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Non-destructive testing methods for examining aircraft structures

Номер патента: EP4163627A1. Автор: Parthasarathy IYENGAR,George Daniel MONKS. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2023-04-12.

New structural and decorative material and method

Номер патента: US20020189772A1. Автор: Eric Knight. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-19.

Diazo-resin, photoresist composition and method of preparing same

Номер патента: US20160334704A1. Автор: Jianguo Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-17.

Semiconductor test system including a novel driver/load circuit

Номер патента: US5521493A. Автор: Thomas W. Persons. Владелец: Megatest Corp. Дата публикации: 1996-05-28.

Circuit board for semiconductor test

Номер патента: US11852679B2. Автор: Shih-Ching Chen,Jun-Liang Lai,Shung-Bo Lin,Ta-Cheng Liao,Yu-Chih HSIAO,Kun-Han Hsieh. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Fluid injector and method of manufacturing the same

Номер патента: US20060284932A1. Автор: Hung-Sheng Hu,Wei-Lin Chen,Chung-Cheng Chou,Tsung-Ping Hsu,In-Yao Lee,ShangShi Wu. Владелец: BenQ Corp. Дата публикации: 2006-12-21.

Methods of improving the yield and/or quality of aquatic or marine animals

Номер патента: EP2178802A2. Автор: David Drahos,Matt Tatarko. Владелец: Novozymes Biologicals Inc. Дата публикации: 2010-04-28.

Methods of improving the yield and/or quality of aquatic or marine animals

Номер патента: WO2008127933A2. Автор: David Drahos,Matt Tatarko. Владелец: NOVOZYMES BIOLOGICALS, INC.. Дата публикации: 2008-10-23.

Method of maintaining the stability and quality of frozen desserts

Номер патента: US20080124448A1. Автор: James T.C. YUAN,Amit Vohra. Владелец: American Air Liquide Inc. Дата публикации: 2008-05-29.

Liquid crystal display pixel structure and manufacture method thereof

Номер патента: US09632368B2. Автор: Feng Zhao,Chungyi CHIU. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Method of producing polymer article

Номер патента: RU2710339C2. Автор: Йохан РОБРЕХТ. Владелец: Кейрё Пэкэджинг Са. Дата публикации: 2019-12-25.

Method of preparing aqueous dispersions, emulsion polymers and use thereof

Номер патента: RU2435788C2. Автор: Херве Адам,Фабио ТРЕЦЦИ. Владелец: Родиа Операсьон. Дата публикации: 2011-12-10.

Calibration and quality control reagents for use with immunoassays for antibodies

Номер патента: WO2021217178A1. Автор: Izak Bahar. Владелец: SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS INC.. Дата публикации: 2021-10-28.

Method of controlling biological and environmental factors in agricultural facilities

Номер патента: US20240035694A1. Автор: Paul Ruiz,Travis Olson,Josh Oelker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-01.

Method of curing reinforced concrete

Номер патента: US12091367B2. Автор: Abdulaziz Al-Negheimish,Abdulrahman Alhozaimy,Raja Rizwan Hussain. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-09-17.

Low temperature cure photoimageable dielectric compositions and methods of their use

Номер патента: US11988963B2. Автор: Yasumasa Akatsuka,Daniel J Nawrocki,Katie Han. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-05-21.

Semiconductor test system with one tester and one prober, and test method thereof

Номер патента: TW200411799A. Автор: li-sheng Xiao. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2004-07-01.

Collector grid, electrode structures and interrconnect structures for photovoltaic arrays and methods of manufacture

Номер патента: US20120031462A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-02-09.

Steam quality testing arrangement and method of testing thereof

Номер патента: CN103940809B. Автор: 王少杰,冯永奇,冯勇建. Владелец: XIAMEN FUXIN MICROELECTRONICS TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-04.

Structure and Process for the Formation of TSVs

Номер патента: US20120001334A1. Автор: Kuo Chen-Cheng,Ching Kai-Ming,Chen-Shien Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF STACKING FLEXIBLE SUBSTRATE

Номер патента: US20120000602A1. Автор: KIM Yong Hae,PARK Dong Jin,Suh Kyung Soo,KIM Gi Heon,KIM Chul Am. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2012-01-05.

Structure of LCD Panel and Method of Manufacturing the Same

Номер патента: US20120002156A1. Автор: Yi Hung Meng,Hung Tsai Chu. Владелец: AU OPTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEMS AND METHODS OF DETERMINING PATIENT PHYSIOLOGICAL PARAMETERS FROM AN IMAGING PROCEDURE

Номер патента: US20120004561A1. Автор: John Kalafut F.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS OF TREATING DEGENERATIVE BONE CONDITIONS

Номер патента: US20120004594A1. Автор: Howe James,Schulz Olaf,Swaim Rick,Huber Bryan,Batts Joel,Harness David,Belaney Ryan. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING CRYSTALLINE SILICON SOLAR CELLS USING EPITAXIAL DEPOSITION

Номер патента: US20120000511A1. Автор: . Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC EL DISPLAY PANEL AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001186A1. Автор: ONO Shinya,KONDOH Tetsuro. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of Manufacturing Vertical Pin Diodes

Номер патента: US20120001305A1. Автор: Peroni Marco,Pantellini Alessio. Владелец: SELEX SISTEMI INTEGRATI S.P.A.. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Package and Method of Forming Similar Structure for Top and Bottom Bonding Pads

Номер патента: US20120001326A1. Автор: . Владелец: STATS CHIPPAC, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DISPLAY SUBSTRATE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND DISPLAY PANEL HAVING THE SAME

Номер патента: US20120003796A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Methods and compositions for improving the developmental ability and quality of pre-implantation embryos

Номер патента: NZ512361A. Автор: Jeremy Gilbert Elliot Thompson. Владелец: AGRES Ltd. Дата публикации: 2003-11-28.

METHOD OF REDUCING EROSION OF A METAL CAP LAYER DURING VIA PATTERNING IN SEMICONDUCTOR DEVICES

Номер патента: US20120003832A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

NUCLEOTIDE SEQUENCES ENCODING GSH1 POLYPEPTIDES AND METHODS OF USE

Номер патента: US20120004114A1. Автор: . Владелец: E. I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY AND PIONEER HI-BRED INTERNATIONAL. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of Stabilizing a Scorpion for Storage and Distribution in a Novelty Drink Form

Номер патента: US20120003370A1. Автор: Turner Kenneth. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of manufacture of heat-insulating material

Номер патента: RU2323191C2. Автор: . Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ЭКТ". Дата публикации: 2008-04-27.

Method of forming universal set of reinforced cups for shafts

Номер патента: RU2178111C1. Автор: И.Я. Пинус. Владелец: Пинус Иосиф Яковлевич. Дата публикации: 2002-01-10.

Method of producing spring and production line to this end

Номер патента: RU2478015C1. Автор: Олег Иванович Шаврин. Владелец: Олег Иванович Шаврин. Дата публикации: 2013-03-27.

Multi-Layer Compressible Foam Sheet and Method of Making the Same

Номер патента: US20120000384A1. Автор: Vest Ryan W.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF PRODUCING ALKYLBENZENE AND CATALYST USED THEREFOR

Номер патента: US20120000819A1. Автор: MATSUSHITA Koichi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METABOLIC BIOMARKERS FOR OVARIAN CANCER AND METHODS OF USE THEREOF

Номер патента: US20120004854A1. Автор: Gray Alexander,Guan Wei,Fernandez Facundo M.,McDonald John,Zhou Manshui. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Ester Gels, Methods of Manufacture, and Uses Thereof

Номер патента: US20120003165A1. Автор: . Владелец: Jeen International Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

CRYSTALLINE CERIUM OXIDE AND PREPARATION METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120000137A1. Автор: CHOI Sang-Soon,CHO Seung-Beom,HA Hyun-Chul,KWAK Ick-Soon,CHO Jun-Yeon. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOVOLTAIC MODULE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000506A1. Автор: Kim Dong-Jin,KANG Ku-Hyun,NAM Yuk-Hyun,Lee Jung-Eun. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000518A1. Автор: Tokioka Hidetada,ORITA Tae,YAMARIN Hiroya. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

MEMORY CELL THAT EMPLOYS A SELECTIVELY FABRICATED CARBON NANO-TUBE REVERSIBLE RESISTANCE-SWITCHING ELEMENT AND METHODS OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001150A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND LAMP

Номер патента: US20120001220A1. Автор: . Владелец: SHOWA DENKO K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF FABRICATING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR MODULE AND ELECTRONIC SYSTEM INCLUDING THE SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001272A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD OF ILLUMINATING INTERFEROMETRIC MODULATORS USING BACKLIGHTING

Номер патента: US20120001962A1. Автор: Tung Ming-Hau,Chui Clarence. Владелец: QUALCOMM MEMS Technologies, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND CONTROL METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120002457A1. Автор: KANDA Kazushige. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS USING THE SAME AND MULTI-BIT TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002491A1. Автор: . Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

DIGITAL BROADCASTING SYSTEM AND METHOD OF PROCESSING DATA IN DIGITAL BROADCASTING SYSTEM

Номер патента: US20120002748A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF AND ARRANGEMENT FOR LINKING IMAGE COORDINATES TO COORDINATES OF REFERENCE MODEL

Номер патента: US20120002840A1. Автор: van Dam Peter Michael,Linnenbank Andreas Christianus. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Nanostructured Mn-Al Permanent Magnets And Methods of Producing Same

Номер патента: US20120003114A1. Автор: Zeng Qi,Baker Ian. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

NEW METHODS OF TREATING DRY EYE SYNDROME

Номер патента: US20120003296A1. Автор: Shantha Totada R.,Shantha Erica Maya,Shantha Jessica Gowramma. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MANUFACTURING METHOD OF ENERGY STORAGE DEVICE

Номер патента: US20120003383A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Antistatic laminate, optical film, polarizing plate, image display device and production method of antistatic laminate

Номер патента: US20120003467A1. Автор: . Владелец: FUJI FILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

POROUS CLUSTERS OF SILVER POWDER COMPRISING ZIRCONIUM OXIDE FOR USE IN GAS DIFFUSION ELECTRODES, AND METHODS OF PRODUCTION THEREOF

Номер патента: US20120003549A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MAKING A FUEL CELL DEVICE

Номер патента: US20120003570A1. Автор: Devoe Alan,Devoe Lambert. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MAKING A FUEL CELL DEVICE

Номер патента: US20120003571A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SINGLE LAYER PHOTORECEPTOR AND METHODS OF USING THE SAME

Номер патента: US20120003578A1. Автор: HEUFT Matthew A.,Klenkler Richard A.,McGuire Gregory. Владелец: XEROX CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

CANCER BIOMARKERS AND METHODS OF USE THEREOF

Номер патента: US20120003639A1. Автор: KERLIKOWSKE KARLA,TLSTY THEA D.,GAUTHIER MONA L.,BERMAN HAL K.,BREMER TROY,MOLINARO ANNETTE M.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HIGH RESOLUTION COMPLEX STRUCTURE AND ALLOSTERIC EFFECTS OF LOW MOLECULAR WEIGHT ACTIVATORS ON THE PROTEIN KINASE PDK1

Номер патента: US20120003668A1. Автор: . Владелец: UNIVERSITAET DES SAARLANDES. Дата публикации: 2012-01-05.

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003795A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Methods of manufacturing semiconductor devices with Si and SiGe epitaxial layers

Номер патента: US20120003799A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE

Номер патента: US20120003812A1. Автор: Sasaki Makoto,NISHIGUCHI Taro,HARADA Shin,Okita Kyoko,Namikawa Yasuo. Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120003828A1. Автор: Chang Sung-Il,Choe Byeong-In,KANG Changseok. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Methods of Forming Nonvolatile Memory Devices Using Nonselective and Selective Etching Techniques to Define Vertically Stacked Word Lines

Номер патента: US20120003831A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Methods of Treating an Overweight or Obese Subject

Номер патента: US20120004162A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

BIGLYCAN MUTANTS AND RELATED THERAPEUTICS AND METHODS OF USE

Номер патента: US20120004178A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PDK INHIBITOR COMPOUNDS AND METHODS OF USE THEREOF

Номер патента: US20120004284A1. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF FLORIDA RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2012-01-05.

LONG-ACTING VETERINARY POLYPEPTIDES AND METHODS OF PRODUCING AND ADMINISTERING SAME

Номер патента: US20120004286A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

VIOLET LASER EXCITABLE DYES AND THEIR METHOD OF USE

Номер патента: US20120004397A1. Автор: . Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

CANNULA LINED WITH TISSUE IN-GROWTH MATERIAL AND METHOD OF USING THE SAME

Номер патента: US20120004496A1. Автор: . Владелец: CIRCULITE, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

STEERABLE SURGICAL SNARE AND METHOD OF USE

Номер патента: US20120004647A1. Автор: Cowley Collin George. Владелец: The University of Utah. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS FOR AND A METHOD OF DETERMINING SURFACE CHARACTERISTICS

Номер патента: US20120004888A1. Автор: . Владелец: Taylor Hobson Limited. Дата публикации: 2012-01-05.

SUPPORT PLATFORM AND METHOD OF CONSTRUCTION THEREOF

Номер патента: US20120000020A1. Автор: Newton John Reginald. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF STERILIZING AN ORTHOPAEDIC IMPLANT

Номер патента: US20120000058A1. Автор: Vogel David,LAMBERT Richard,MCLEAN Terry. Владелец: Smith & Nephew, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF CONTINUOUSLY PRODUCING ELECTRONIC FILM COMPONENTS

Номер патента: US20120000065A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DETONATOR CARTRIDGE AND METHODS OF USE

Номер патента: US20120000387A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Metal pallet and method of making same

Номер патента: US20120000401A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Systems and Methods for the Collection, Retention, and Redistribution of Rainwater and Methods of Construction of the Same

Номер патента: US20120000546A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SPUTTERING TARGET ASSEMBLY AND METHOD OF MAKING SAME

Номер патента: US20120000594A1. Автор: Ivanov Eugene Y.,Theado Erich. Владелец: TOSOH SMD, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Roll Assembly for a Fiber-Web Machine and Method of Attenuating Vibration of a Fiber-Web Machine Roll

Номер патента: US20120000623A1. Автор: Jorkama Marko. Владелец: METSO PAPER, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

BLOWOUT PREVENTER MONITORING SYSTEM AND METHOD OF USING SAME

Номер патента: US20120000646A1. Автор: . Владелец: NATIONAL OILWELL VARCO, L.P.. Дата публикации: 2012-01-05.

BLOWOUT PREVENTERS AND METHODS OF USE

Номер патента: US20120000647A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Waterproof Structure and Electronic Equipment

Номер патента: US20120000687A1. Автор: . Владелец: Casio Hitachi Mobile Communications Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

SHIELDED CABLE CONNECTING STRUCTURE AND SHIELDED CABLE CONNECTING METHOD

Номер патента: US20120000692A1. Автор: Tsuchiya Kazuhiko. Владелец: Yazaki Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SOL-GEL MONOLITHIC COLUMN WITH OPTICAL WINDOW AND METHOD OF MAKING

Номер патента: US20120000850A1. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH FLORIDA. Дата публикации: 2012-01-05.

PRODUCE WEIGHING SCALE WITH A CAMERA AND METHODS OF OPERATING A PRODUCE WEIGHING SCALE HAVING A CAMERA

Номер патента: US20120000976A1. Автор: Rollyson Stephen,Ehrhardt Dale. Владелец: NCR Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ADJUSTMENT DEVICE AND METHOD OF USING

Номер патента: US20120001053A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of Electron Diffraction Tomography

Номер патента: US20120001068A1. Автор: . Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

Antireflective Coatings for Via Fill and Photolithography Applications and Methods of Preparation Thereof

Номер патента: US20120001135A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

RRAM structure and method of making the same

Номер патента: US20120001141A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CMOS Image Sensor Including PNP Triple Layer And Method Of Fabricating The CMOS Image Sensor

Номер патента: US20120001241A1. Автор: Park Won-je. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS OF FORMING NANOSCALE FLOATING GATE

Номер патента: US20120001248A1. Автор: Sandhu Gurtej S.,Ramaswamy D.V. Nirmal. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

ETCHANTS AND METHODS OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICES USING THE SAME

Номер патента: US20120001264A1. Автор: YANG Jun-Kyu,Kim Hong-Suk,Hwang Ki-Hyun,Ahn Jae-Young,Lim Hun-Hyeong,KIM Jin-Gyun. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

GATE STRUCTURES AND METHOD OF FABRICATING SAME

Номер патента: US20120001266A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRODE STRUCTURE, METHOD OF FABRICATING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE ELECTRODE STRUCTURE

Номер патента: US20120001267A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SOLID-STATE IMAGE SENSOR

Номер патента: US20120001291A1. Автор: Kokumai Kazuo. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING A DRESSING

Номер патента: US20120001366A1. Автор: . Владелец: BOEHRINGER TECHNOLOGIES, L.P.. Дата публикации: 2012-01-05.

FLAT PANEL DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001534A1. Автор: KIM Tae-Woong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PIEZORESISTIVE DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND PIEZORESISTIVE-TYPE TOUCH PANEL HAVING THE SAME

Номер патента: US20120001870A1. Автор: LEE Kang Won,Lee Seung Seob. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

INKJET RECORDING APPARATUS AND CONTROL METHOD OF THE INKJET RECORDING APPARATUS

Номер патента: US20120001971A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

TAIL THE MOTION METHOD OF GENERATING SIMULATED STROBE MOTION VIDEOS AND PICTURES USING IMAGE CLONING

Номер патента: US20120002112A1. Автор: . Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.