一种船用舵机密封试验方法

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Test method and apparatus

Номер патента: EP4443257A1. Автор: Sha Ma,Daxin Luo. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Measurement system and testing method of testing a device under test

Номер патента: US20240142345A1. Автор: Paul Gareth Lloyd. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-05-02.

Automatic driving acceleration test method considering efficiency and coverage

Номер патента: US12072262B2. Автор: Bing Zhu,Jian Zhao,Peixing ZHANG,Yuhang SUN,Tianxin FAN. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2024-08-27.

Simulation test method, apparatus and system

Номер патента: EP4250023A1. Автор: Hongwei Kong,Wenjie Wang,Changhui Chen. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Simulation test method, apparatus, and system

Номер патента: US20230306159A1. Автор: Hongwei Kong,Wenjie Wang,Changhui Chen. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Sealing Performance Test Method, Apparatus, and Storage Medium

Номер патента: US20190360889A1. Автор: Jin Jiang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Self-driving vehicle test method, apparatus, and system

Номер патента: US20230399012A1. Автор: Hao Wu,Yi Jiang,Bende Yu,Liangzhuang ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-14.

Automatic driving acceleration test method considering efficiency and coverage

Номер патента: US20220412843A1. Автор: Bing Zhu,Jian Zhao,Peixing ZHANG,Yuhang SUN,Tianxin FAN. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2022-12-29.

Driving assistance algorithm testing method, electronic device and storage medium

Номер патента: US20240233396A1. Автор: Chieh Lee,Chin-Pin Kuo. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Test method and system

Номер патента: EP4379558A1. Автор: Yuanzhi LU,Chenchen CHANG,Canping CHEN,Baocheng CHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Hard disk device simulator, testing system using hard disk device simulators and testing method thereof

Номер патента: US11854577B2. Автор: Tian-Chao ZHANG. Владелец: Inventec Pudong Technology Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Ultrasonic inspection method, ultrasonic test method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US09423380B2. Автор: Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Soc-oriented concurrent test system for multiple clock domains and test method thereof

Номер патента: US20240220381A1. Автор: Guoliang Mao,Zhijie BAO. Владелец: Macrotest Semiconductor Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Interactive test method, device and system

Номер патента: US20200143151A1. Автор: Xiangxiang Zou,Bin Shen. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-07.

Interactive test method, device and system

Номер патента: US12039481B2. Автор: Xiangxiang Zou,Bin Shen. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Liveness test method and liveness test apparatus

Номер патента: US11776239B2. Автор: SeungJu HAN,Sungdo Choi,Byung Kwan KIM,Jong-sok KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-03.

Cell test method and cell test device

Номер патента: US20180061289A1. Автор: Bin Xiong,Chunhung HUANG,Yingchi WANG. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-01.

Usb slave device and power quality testing method thereof

Номер патента: US20240280616A1. Автор: Yung-Chieh Lin. Владелец: Nanning Fulian Fugui Precision Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

USB slave device and power quality testing method thereof

Номер патента: US12092667B2. Автор: Yung-Chieh Lin. Владелец: Nanning Fulian Fugui Precision Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

SOC-oriented concurrent test system for multiple clock domains and test method thereof

Номер патента: US12130718B2. Автор: Guoliang Mao,Zhijie BAO. Владелец: Macrotest Semiconductor Inc. Дата публикации: 2024-10-29.

Circuit testing method and circuit testing system

Номер патента: US09746509B2. Автор: Chunwei Wu,Woobong Lee. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Test method and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US20180329810A1. Автор: Shinichi Suzuki,Hideaki Yajima. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2018-11-15.

Test device and test method using the same

Номер патента: US09958475B2. Автор: Xuefeng LI,Guiyun Wang. Владелец: BOE Hebei Mobile Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

On-chip field testing methods and apparatus

Номер патента: US09836373B2. Автор: Rahul Gulati,Ratheesh Thekke Veetil,Pranav Murthy,Srinivas Kumar Vooka,Vishwanath S. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Test method and apparatus of communication chip, device and medium

Номер патента: US11927631B2. Автор: Yun Yang,Shanzhi CHEN,Guobin SU. Владелец: Morningcore Technology Co China. Дата публикации: 2024-03-12.

Liveness test method and liveness test apparatus

Номер патента: US20230401823A1. Автор: SeungJu HAN,Sungdo Choi,Byung Kwan KIM,Jong-sok KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-12-14.

Test method for control chip and related device

Номер патента: US11867758B2. Автор: Li Ding,Jun He,Zhan Ying,Jie Liu,Heng-Chia Chang,Chuanqi SHI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Circuit simulation test method and apparatus, device, and medium

Номер патента: US11846674B2. Автор: FENG Lin,Kang Zhao,Zengquan WU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-19.

Dual power-source communication testing apparatus and communication testing method thereof

Номер патента: US9529015B2. Автор: Will Wang. Владелец: Inventec Appliances Pudong Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Dual power-source communication testing apparatus and communication testing method thereof

Номер патента: US20130234751A1. Автор: Will Wang. Владелец: Inventec Appliances Pudong Corp. Дата публикации: 2013-09-12.

Wafer chip testing method and apparatus, electronic device and storage medium

Номер патента: US20230204664A1. Автор: Song Jin,Gangjiang Li,Youhui ZHANG. Владелец: Saimeite Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Test methods, tester, load board and test system

Номер патента: US11988710B2. Автор: Chia-Chi Hsu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-21.

Biometric recognition attack test methods, apparatuses, and devices

Номер патента: EP3940562A1. Автор: Wenting CHANG,Jianxu Zheng. Владелец: Alipay Hangzhou Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Test method, system, readable storage medium and electronic device for process control

Номер патента: US20210149782A1. Автор: Baodong SONG. Владелец: Inventec Pudong Technology Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

Monitored burn-in test system and monitored burn-in test method of microcomputers

Номер патента: EP1136832A2. Автор: Kazuyoshi Ajiro. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-09-26.

Integrated semiconductor circuit having scan flip-flops at predetermined intervals and testing method thereof

Номер патента: US5680406A. Автор: Yoshiyuki Nakamura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1997-10-21.

Test device and test method thereof

Номер патента: US11852680B1. Автор: Chih-Yuan Wen. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Testing method and device

Номер патента: US20210216421A1. Автор: Jie DANG. Владелец: Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-15.

Functional testing method and device for an electronic product

Номер патента: EP2223246A2. Автор: Marco Marcinno'. Владелец: CREA - Collaudi Elettronici Automatizzati Srl. Дата публикации: 2010-09-01.

Functional testing method and device for an electronic product

Номер патента: WO2009063414A2. Автор: Marco Marcinno'. Владелец: 2M Soft. Di Marco Marcinno'. Дата публикации: 2009-05-22.

Test system and test method for windshield wipers

Номер патента: US20220058810A1. Автор: Markus Koberstaedt. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2022-02-24.

Lidar-based unmanned vehicle testing method and apparatus

Номер патента: US20220043158A1. Автор: Pengcheng QIAN. Владелец: Suzhou Venti Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-10.

Layout testing method and wafer manufacturing method

Номер патента: US8356271B2. Автор: Daewook Kim,Yong Hee Park,Ji-Seong Doh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-01-15.

Lidar-based unmanned vehicle testing method and apparatus

Номер патента: US11994592B2. Автор: Pengcheng QIAN. Владелец: Venti Technologies Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Wafer testing method

Номер патента: US20210133948A1. Автор: Han-Yu Chuang,Chien-Yu Chen,Po-Han Peng. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

Mobile terminal testing device and mobile terminal testing method

Номер патента: US09984483B2. Автор: Kazunori Aoki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Testing method and testing system

Номер патента: CA2985145C. Автор: Fridolin Maibach,Matthias Hermle. Владелец: FINATEC HOLDING AG. Дата публикации: 2024-01-02.

Halo test method for an optical chip in an integrated circuit

Номер патента: US20200311375A1. Автор: Hua Wang,Zhiyong Zhang,Bin Luo,Kun Yu,Weiwei Deng,Haiying JI. Владелец: Sino IC Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Halo test method for an optical chip in an integrated circuit

Номер патента: US10977469B2. Автор: Hua Wang,Zhiyong Zhang,Bin Luo,Kun Yu,Weiwei Deng,Haiying JI. Владелец: Sino IC Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-13.

System on a chip comprising an I/O steering engine

Номер патента: US09588921B2. Автор: Mark Bradley Davis,David James Borland. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

System on a chip comprising an i/o steering engine

Номер патента: EP3259673A1. Автор: Mark Bradley Davis,David James Borland. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2017-12-27.

System on a chip comprising an i/o steering engine

Номер патента: WO2016133998A1. Автор: Mark Bradley Davis,David James Borland. Владелец: Amazon Technologies, Inc.. Дата публикации: 2016-08-25.

Memory test method

Номер патента: US20210019245A1. Автор: Chen-Lung Tsai,Gene Rosenthal. Владелец: One Test Systems. Дата публикации: 2021-01-21.

Test method for eye tracking algorithm

Номер патента: US20210132692A1. Автор: Yang Yu,FENG Lu,Kai Li. Владелец: Qingdao Research Institute Of Beihang University. Дата публикации: 2021-05-06.

Test method, system, medium and device for dual in-line memory module

Номер патента: US20210157508A1. Автор: Wei Huang,Lin Hou. Владелец: Inventec Pudong Technology Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Communication apparatus and test method thereof

Номер патента: US20210092620A1. Автор: Chia-Han Hsieh. Владелец: Pegatron Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Test method based on improved rest protocols and electronic device

Номер патента: US20220035731A1. Автор: Chien-Wu Yen. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-03.

Test method for eye tracking algorithm

Номер патента: US11204642B2. Автор: Yang Yu,FENG Lu,Kai Li. Владелец: Qingdao Research Institute Of Beihang University. Дата публикации: 2021-12-21.

Intelligent teaching and tutoring test method

Номер патента: US09530328B2. Автор: Chien Cheng Liu,Kuan Chen Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-12-27.

Communication apparatus and test method thereof

Номер патента: EP3798830A1. Автор: Chia-Han Hsieh. Владелец: Pegatron Corp. Дата публикации: 2021-03-31.

Test method and test system

Номер патента: EP4231302A1. Автор: Jia Wang,Weibing SHANG,Yuanyuan Sun. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-08-23.

Testing method and testing device

Номер патента: US12019529B2. Автор: Jun Liu,Nan Li,Dan SONG,Luting KONG,Songhe Lu,Xiaoxiong SONG. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-06-25.

Design and test method of test plan

Номер патента: US20200250057A1. Автор: Adisak Paepoot,Chin Huat Lim,Ming-Li Shiu,Narut Udomchoke. Владелец: Delta Electronics Thailand PCL. Дата публикации: 2020-08-06.

Memory test method

Номер патента: US20220138318A1. Автор: XIAOFENG Xu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-05-05.

Automatic test method and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20240061759A1. Автор: Chen Ma. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Log-based testing method, device, and computer system

Номер патента: CA3141546A1. Автор: XIAO Hu,Qian Sun,Mengliang HU. Владелец: 10353744 Canada Ltd. Дата публикации: 2022-06-09.

Testing method and testing system for human stress reaction, and computer-readable storage medium

Номер патента: US11751785B2. Автор: Qing Zhou,Quan Li,Bingbing Nie. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-09-12.

A test system and a test method for simulation of ddos attacks

Номер патента: EP4097938A1. Автор: Murat Huseyin CANDAN,Cenk OZUGUR. Владелец: Barikat Internet Guvenligi Bilisim Ticaret AS. Дата публикации: 2022-12-07.

Testing method and testing system for human stress reaction, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20200390380A1. Автор: Qing Zhou,Quan Li,Bingbing Nie. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-12-17.

Automatic test method and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US12111741B2. Автор: Chen Ma. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Testing method

Номер патента: US09495230B2. Автор: Keng-Shao Liu. Владелец: Accton Technology Corp. Дата публикации: 2016-11-15.

System testing method, electronic device, and computer program product

Номер патента: US20240232029A9. Автор: Ying Zhang,Chun Xi Kenny Chen,Ray Guangliang Lei,Kay Shan,Xinquan Fu. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-07-11.

Black-box fuzzing testing method and apparatus

Номер патента: US20240134781A1. Автор: HAO Yan,Huan Guo,Haitao Hu,Zhu FU,Zhenan TANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-25.

Mobile terminal h5 page applicatoin test device and test method, and computer terminal

Номер патента: EP4024218A1. Автор: Jiantao BAO. Владелец: Shenzhen Sekorm Component Network Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-06.

Rfc-directed differential testing method of certificate validation in ssl/tls implementations

Номер патента: US20190306193A1. Автор: CHU Chen,Cong TIAN,Zhenhua Duan. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2019-10-03.

Black-box fuzzing testing method and apparatus

Номер патента: US20240232059A9. Автор: HAO Yan,Huan Guo,Haitao Hu,Zhu FU,Zhenan TANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Built-In Self-Testing Method of a Near Field Communication Device

Номер патента: US20140349586A1. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: St Ericsson SA. Дата публикации: 2014-11-27.

Testing method and computer device and computer testing system using thereof

Номер патента: US20110231154A1. Автор: Te-Hsin Chen,Shih-Pen Chen. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2011-09-22.

PC interval timer test method

Номер патента: US6442710B1. Автор: Kuang-Shin Lin,Vam Chang,Xian-Hong Shen,Kingboard Ma. Владелец: Inventec Corp. Дата публикации: 2002-08-27.

Test method, information processing device, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20150058684A1. Автор: Shinsuke Teranishi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-02-26.

Intelligent driving test method with corner cases dynamically completed based on human feedback

Номер патента: US12013671B1. Автор: LIN Zhang,HONG Chen,Qiang MENG. Владелец: TONGJI UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-06-18.

Display panel and testing method thereof

Номер патента: US20220137732A1. Автор: Minlun LIU,Qibing DAI,Dan Lin. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Wireless human input device and transmission-quality test method

Номер патента: US20050037713A1. Автор: Chih Chen. Владелец: Behavior Technical Computer Corp. Дата публикации: 2005-02-17.

Wireless human input device and transmission-quality test method

Номер патента: US7133668B2. Автор: Chih Chiang Chen. Владелец: Behavior Technical Computer Corp. Дата публикации: 2006-11-07.

Test apparatus and test method

Номер патента: US20140188436A1. Автор: Takahiro Yamaguchi,Masahiro Ishida. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2014-07-03.

Curiosity-driven android app automatic testing method

Номер патента: US20240345942A1. Автор: XING Chen,Yingren Chen,Rirong SONG. Владелец: FUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-10-17.

Automatic test system and test method for computer, record medium, and program product

Номер патента: US09841826B2. Автор: Ming-Che Cheng,Yung-Pin Cheng. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2017-12-12.

Built-in self-testing method of a near field communication device

Номер патента: US09632896B2. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: Optis Circuit Technology LLC. Дата публикации: 2017-04-25.

Software test apparatus, software test method and computer readable medium thereof

Номер патента: US09454457B1. Автор: Kai-Yuan JAN. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2016-09-27.

Methods and systems for testing methods in a multi-tenant database environment

Номер патента: US8707264B2. Автор: Fiaz Hossain,Richard Unger. Владелец: Salesforce com Inc. Дата публикации: 2014-04-22.

Memory test method, storage medium and computer device

Номер патента: US11462287B2. Автор: Hao He,Bo Hu,Dan Lu,Guangteng Long. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-10-04.

Testing method and tester

Номер патента: US6263462B1. Автор: Nobuya Matsubara,Naoyuki Kagami,Akiro Hatano. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2001-07-17.

Test method, system and device based on excel file loading

Номер патента: EP4322010A1. Автор: Chu Liu,Yueyin Xie,Mang MO. Владелец: Shanghai Tosun Technology Ltd. Дата публикации: 2024-02-14.

Liveness test method and apparatus

Номер патента: US11783639B2. Автор: Chang Kyu Choi,Jungbae Kim,Byungin Yoo,Youngjun KWAK,JaeJoon HAN,Changkyo LEE,Jinwoo SON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-10.

Start test method, system, and recording medium

Номер патента: US20180157566A1. Автор: Tsuyoshi Hashimoto,Haruhiko Ueno,Atsushi Takami,Taku Komorida,Masato Fukumori. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Testing method and electronic device

Номер патента: US20170010643A1. Автор: Chi-Jung Wu,Chun-Yu Kuo. Владелец: Getac Technology Corp. Дата публикации: 2017-01-12.

Memory-testing methods for testing memory having error-correcting code

Номер патента: US20190378586A1. Автор: Lih-Wei Lin,Ju-Chieh Cheng,Tsung-Huan Tsai. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Production line test method, system and device for pcie switch product, and medium

Номер патента: US20210056061A1. Автор: Wenxing WEI. Владелец: Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-25.

Start test method, system, and recording medium

Номер патента: US10613953B2. Автор: Tsuyoshi Hashimoto,Haruhiko Ueno,Atsushi Takami,Taku Komorida,Masato Fukumori. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-04-07.

Test device and test method for testing electronic devices

Номер патента: US20130141128A1. Автор: Yi-Tsang Chen. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-06.

Vibratoin signal testing method, vibratoin signal testing device, storage medium, electronic device

Номер патента: US20240143082A1. Автор: JIN Xu. Владелец: AAC Acousitc Technologies Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

System testing method and system test kit

Номер патента: WO2018091090A1. Автор: Ceren SAHIN GEBIZLI,Duygu Metin. Владелец: Vestel Elektronik Sanayi Ve Ticaret A.S.. Дата публикации: 2018-05-24.

Data test method, electronic device and storage medium

Номер патента: US11971959B2. Автор: Cheng-Feng Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Program testing method and apparatus, computer device, and storage medium

Номер патента: US11983101B2. Автор: Jinhui Sun,Canhui HUANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Load test method and load test apparatus

Номер патента: US8296603B2. Автор: Noboru Matsumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-10-23.

System testing method and system test kit

Номер патента: US20210326228A1. Автор: Ceren SAHIN GEBIZLI,Duygu Metin. Владелец: Vestel Elektronik Sanayi ve Ticaret AS. Дата публикации: 2021-10-21.

Regression test method and apparatus, electronic device and storage medium

Номер патента: EP4180968A1. Автор: XIN Jin. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-17.

Test Method and Multi-Processor SOC Chip

Номер патента: US20240054059A1. Автор: HUI Zhang,Wentao Liu,Ruizhen WU,Xinwu SHEN. Владелец: Suzhou Wave Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Memory test method, memory test apparatus, device and storage medium

Номер патента: US11860748B2. Автор: XIAOFENG Xu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Code testing method and apparatus

Номер патента: US20230367701A1. Автор: Jianfei Zhang,Hongbing Zhao,Hailian ZHOU,Zhiquan ZHOU. Владелец: Alipay Hangzhou Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Memory test method, memory test apparatus, device and storage medium

Номер патента: US20230236942A1. Автор: XIAOFENG Xu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Biometric recognition attack test methods and devices

Номер патента: EP3940561A1. Автор: Wenting CHANG,Jianxu Zheng. Владелец: Alipay Hangzhou Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Code testing method, apparatus and device, and computer-readable storage medium

Номер патента: US11940902B2. Автор: Jie He,Nick Nianxiong Tan,Xuening JIANG. Владелец: Hangzhou Vango Technologies Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

System testing method and system test kit

Номер патента: EP3542275A1. Автор: Ceren SAHIN GEBIZLI,Duygu Metin. Владелец: Vestel Elektronik Sanayi ve Ticaret AS. Дата публикации: 2019-09-25.

Load test method and load test apparatus

Номер патента: US20090077421A1. Автор: Noboru Matsumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-03-19.

Model test method and apparatus

Номер патента: EP4386620A1. Автор: Yiqun WU,Xiaomeng CHAI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Load testing methods and systems with transaction variability and consistency

Номер патента: US20060168467A1. Автор: Joseph Marino,Russell Couturier. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2006-07-27.

Internal display port interface test method and device

Номер патента: US20110310252A1. Автор: Sunghoon Kim,Sungwon Kim,DongWon Park,Chongho Lee. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-22.

Coding test device and coding test method

Номер патента: US20230368696A1. Автор: Hyung Woo Lee,Hyung Woo Kim,Dae Sung Jang,Byoung Ho Lee,Dae Seok SHIN,Hyeon Ho LEE,Seong In KIM,Hoo Min LEE. Владелец: Ja In Lab Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Application testing method and apparatus, electronic device and storage medium

Номер патента: EP4224322A1. Автор: Cong TIAN,Yumin TANG. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Memory test systems and memory test methods

Номер патента: US11862278B2. Автор: Yang Wang,Hao He,Dan Lu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Display substrate, test method for the same and display device

Номер патента: US20240087492A1. Автор: Yong Qian,Guodong Liu,Peng Wu,Jideng ZHOU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Adaptive automated testing methods and systems

Номер патента: US11841790B2. Автор: Michael Mitchell,Peter MYRON. Владелец: T Mobile USA Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Circuit for testing a memory and test method thereof

Номер патента: US11886733B2. Автор: Cheng-Jer Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-30.

Automatic testing method and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4080371A1. Автор: Chen Ma. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-26.

Resonant testing system and resonant testing method

Номер патента: US11641462B2. Автор: Yu-Ruei LI. Владелец: Amtran Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-02.

Resonant testing system and resonant testing method

Номер патента: US20220103806A1. Автор: Yu-Ruei LI. Владелец: Amtran Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Random number generator and random number health test method thereof

Номер патента: US20140279813A1. Автор: IHOR VASYLTSOV. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-09-18.

Rotary seal testing apparatus

Номер патента: US12130225B2. Автор: Nathaniel Barrett Herse,Wesley Newhouse. Владелец: GM Cruise Holdings LLC. Дата публикации: 2024-10-29.

Mechanical Seal Testing

Номер патента: US20210190628A1. Автор: Ibrahim S. BuBshait,Nayif I. Khonaifer,Abdullah N. Khudhayr,Ahmad A. Mijhed. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2021-06-24.

Rotary seal testing apparatus

Номер патента: US20230366807A1. Автор: Nathaniel Barrett Herse,Wesley Newhouse. Владелец: Gm Cruise Holdings C/o Polsinelli Pc LLC. Дата публикации: 2023-11-16.

Control valve testing method

Номер патента: US09989438B2. Автор: Fei-Che Hung. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-06-05.

Automated road testing method

Номер патента: WO2021144611A1. Автор: Mohamed Hamed BEBARS. Владелец: Roads And Transport Authority. Дата публикации: 2021-07-22.

Conformance testing method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US11764871B2. Автор: Ting Yang,Shengping Li,Jianyu Zheng. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Test method, test apparatus and display device

Номер патента: US12051346B2. Автор: Seungho Park,Seyun KIM,Hyungwoo YIM,Kyung-Sik Joo,Huisu Kim,Hakmo Choi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Robotic cleaner and self testing method of the same

Номер патента: US09928459B2. Автор: Jihoon Sung,Siyong Kim,Yongju Kim,Hyungtae Yun. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-03-27.

Two-step anti-fraud vehicle insurance image collecting and quality testing method, system and device

Номер патента: US11887292B1. Автор: Chongning Na,Kai Ding,Jinni DONG,Jiaxi Yang. Владелец: Zhejiang Lab. Дата публикации: 2024-01-30.

Driver status monitor test method and test system

Номер патента: US20220072953A1. Автор: Yi-Cheng Chen,Chun-Yao Shih,Po-Hsiang Liao. Владелец: Automotive Research and Testing Center. Дата публикации: 2022-03-10.

Testing device and testing method for detecting stitching defect of panoramic camera

Номер патента: US20230164306A1. Автор: Chieh-Cheng Liao. Владелец: Aspeed Technology Inc. Дата публикации: 2023-05-25.

Visual approach-based aptitude testing method

Номер патента: US20210150929A1. Автор: Koichi Nishioka. Владелец: Jinsoken Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

Visual approach-based aptitude testing method

Номер патента: US20210118319A1. Автор: Koichi Nishioka. Владелец: Jinsoken Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Test coupon and test method

Номер патента: US20190257727A1. Автор: Marco Zanato,Paolo Marangon,Alessandro Fincato. Владелец: ZF Padova SRL. Дата публикации: 2019-08-22.

Accelerated life test method for speed reducer of industrial robot

Номер патента: US20230168148A1. Автор: Xu Han,Xin Gao,Jia Wang,Nan Ye,Shuyong Duan,Yourui Tao. Владелец: HEBEI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-06-01.

Accelerated life test method for speed reducer of industrial robot

Номер патента: US12111225B2. Автор: Xu Han,Xin Gao,Jia Wang,Nan Ye,Shuyong Duan,Yourui Tao. Владелец: HEBEI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-10-08.

Evaluation test method for flaking caused by hydrogen embrittlement in rolling bearing

Номер патента: US20220373429A1. Автор: Katsuaki Sasaki,Toru Yamaguchi. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

A vehicle noise, vibration and harshness (NVH) testing method and system

Номер патента: EP3631388A1. Автор: Edward SLEVIN. Владелец: Microface Ltd. Дата публикации: 2020-04-08.

Method for seal testing capacitive sensors

Номер патента: US20030019282A1. Автор: Wolfgang Cramer. Владелец: Conti Temic Microelectronic GmbH. Дата публикации: 2003-01-30.

High-speed sealing test device

Номер патента: ZA202304254B. Автор: WEI Wei,MENG Li,Jun Shi,Tao Wang,Xiaoya Chen,Liping Shi,Zhiqi Shi. Владелец: Wuhu Tech And Innovation Research Institute Ahut. Дата публикации: 2023-11-29.

Leak testing method

Номер патента: US9551626B2. Автор: Tetsuya Yamaguchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Leak testing method

Номер патента: US20150308918A1. Автор: Tetsuya Yamaguchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-10-29.

Test method, test apparatus, test system, and storage medium

Номер патента: US20240230451A9. Автор: Hongyu Zheng,Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Lens assembly testing method

Номер патента: US20150062566A1. Автор: Hung-Tsan Shen. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

Watertightness testing method and assembling device

Номер патента: CA3169713A1. Автор: Masataka Shimomura,Kohei Ikeda,Shozo Kishi,Yuito Komaru,Daichi Higasa. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Test method and test device for mode field diameter

Номер патента: US20220276123A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Test Method For Surface Figure of Large Convex Mirrors

Номер патента: US20100157314A1. Автор: Thomas Stewart Mckechnie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-06-24.

Optical fiber screening test method and optical fiber screening test apparatus

Номер патента: US09611124B2. Автор: Naritoshi Yamada. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Testing method and testing device

Номер патента: US20190310160A1. Автор: Satoshi Moriyama,Osamu Daikuhara. Владелец: Fujitsu Component Ltd. Дата публикации: 2019-10-10.

Engine test method, engine test device, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220050018A1. Автор: Masatoshi Ogawa,Takuma DEGAWA. Владелец: TRANSTRON INC. Дата публикации: 2022-02-17.

Optical fiber test method and optical fiber test equipment

Номер патента: US20240264034A1. Автор: Atsushi Nakamura,Tomokazu Oda,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Tire testing method, tire testing system, and program

Номер патента: EP4414681A1. Автор: Shinichi Matsumoto,Hiroshi Miyashita,Sigeru Matsumoto,Kazuhiro Murauchi,Shuichi Tokita. Владелец: Kokusai Keisokuki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Battery testing apparatus and testing method

Номер патента: EP4372360A1. Автор: Lixin Guo,Shaoteng Ren,Guolong LIAO. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Tire testing method and tire testing machine

Номер патента: US20140373613A1. Автор: Takehiko Wakazono. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2014-12-25.

Testing method and testing device

Номер патента: US10444115B1. Автор: Satoshi Moriyama,Osamu Daikuhara. Владелец: Fujitsu Component Ltd. Дата публикации: 2019-10-15.

Testing method for determining the rollover resistance of a vehicle

Номер патента: US20020103581A1. Автор: Edmund Donges. Владелец: Bayerische Motoren Werke AG. Дата публикации: 2002-08-01.

Test system and test method

Номер патента: US09964504B2. Автор: Barry Ward,Stephan Peter BROOKES. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2018-05-08.

Tire rolling resistance testing method and testing device

Номер патента: US09885637B2. Автор: Ken Miyazawa. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Airtight test apparatus and airtight test method using the same

Номер патента: US09835517B2. Автор: Yen-Pang Lee. Владелец: Pegatron Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Testing method by a spectroscopic photometry using three wavelengths of light and a device for said method

Номер патента: CA1215154A. Автор: Ryosaku Tagaya. Владелец: Eisai Co Ltd. Дата публикации: 1986-12-09.

Tire noise test method, vehicle and control device

Номер патента: US11938938B2. Автор: Ryosuke Mori. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Tire noise testing method, vehicle, and control device

Номер патента: EP3819609A1. Автор: Ryosuke Mori. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Tire noise test method, vehicle and control device

Номер патента: US20210179109A1. Автор: Ryosuke Mori. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Rolling element bearing condition testing method and apparatus

Номер патента: US5477730A. Автор: Duncan L. Carter. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-12-26.

Optical fiber testing method and optical fiber testing device

Номер патента: US20210381926A1. Автор: Atsushi Nakamura,Keiji Okamoto,Hiroyuki Oshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-12-09.

Test method of a semiconductor device and manufacturing method of a semiconductor device

Номер патента: US11885716B2. Автор: Hajime Sasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-01-30.

Pulse testing method and apparatus, testing device, and storage medium

Номер патента: US20210231525A1. Автор: Xiaojian Cao,Zhimin He,Yunpeng Xie,Haowen ZHANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2021-07-29.

Test method and test device for mode field diameter

Номер патента: US11906387B2. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Test Method and Test Device for Adapter

Номер патента: US20210033681A1. Автор: Chen Tian. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2021-02-04.

Test method and apparatus for adapter, and device and storage medium

Номер патента: EP3674719A1. Автор: Chen Tian. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2020-07-01.

Test method, test apparatus, test system, and storage medium

Номер патента: US20240133764A1. Автор: Hongyu Zheng,Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Test method, test apparatus, test system and storage medium

Номер патента: EP4382879A1. Автор: Hongyu Zheng,Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Corrosion-fatigue-coupled test method and device for steel bridge deck

Номер патента: US10996153B2. Автор: Xiaowei YE,Zhiwen Chen,Xin Qian,Yuliang He. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2021-05-04.

Hermiticity testing method

Номер патента: RU2252403C1. Автор: Мартин ЛЕМАНН. Владелец: Мартин ЛЕМАНН. Дата публикации: 2005-05-20.

Lens testing method and apparatus

Номер патента: CA1075891A. Автор: Willem Brouwer. Владелец: Coulter Systems Corp. Дата публикации: 1980-04-22.

Shock-absorption goalkeeper ice-hockey stick and shock test method thereof

Номер патента: CA3040700A1. Автор: Joseph Hsu. Владелец: Zhongshan Fuda Sports Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-23.

Lens testing method and apparatus

Номер патента: US4099877A. Автор: Willem Brouwer. Владелец: Coulter Information Systems Inc. Дата публикации: 1978-07-11.

Test bench and test method for vehicles with an electric motor

Номер патента: EP4266068A1. Автор: David GOMEZ VIA,Carlos FERNANDEZ TORRES,Fernando BERNAL ARGÜELLES. Владелец: SEAT SA. Дата публикации: 2023-10-25.

Egg testing method and system

Номер патента: RU2703304C2. Автор: Гавриель АДАР,Элиаху Шалом ХОФФМАН,Яир Ор АДАР. Владелец: Ливегг (2015) Лтд. Дата публикации: 2019-10-16.

Fluorescence test reagent, preparation method and protamine or heparin test method

Номер патента: NL2030741B1. Автор: LI Yue,Wang Min,Teng Shiyong,Huang Zhenzhen,Duan Bohui. Владелец: Univ Jilin. Дата публикации: 2023-08-07.

Cannabis potency testing method

Номер патента: US12044668B1. Автор: Michele Glinn,Gregoire P. Michaud,Todd W. Welch. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-23.

Test method for rheumatoid arthritis and kit for rheumatoid arthritis test

Номер патента: US09733243B2. Автор: Kensei Tsuzaka. Владелец: Kayteebio Co & Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Egg testing method and system

Номер патента: RU2703304C9. Автор: Гавриель АДАР,Элиаху Шалом ХОФФМАН,Яир Ор АДАР. Владелец: Ливегг (2015) Лтд. Дата публикации: 2020-02-06.

Alcohol test method and apparatus

Номер патента: US20240011972A1. Автор: Lijun Zhong,Lianghua SONG. Владелец: SHENZHEN EVERBEST MACHINERY INDUSTRY Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Group iii nitride wafers and fabrication method and testing method

Номер патента: US20150329361A1. Автор: Tadao Hashimoto. Владелец: Seoul Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-19.

Testing method and testing reagent

Номер патента: EP4397975A1. Автор: Masato Kurokawa,Yusuke Ueda,Daijiro Iwasawa,Haruta MOGAMI,Eiji Kondoh,Yuki TOMONO. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2024-07-10.

Blood sample testing method using taxis behavior of nematode

Номер патента: AU2021383373A9. Автор: Takaaki Hirotsu. Владелец: Hirotsu Bio Science Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Test method and system for cut-in voltage

Номер патента: US09696371B2. Автор: Ming Wang,Wenhui Xu,Xiaoqian LIAN,Yaojun LIN,Hanshun CHEN. Владелец: CSMC Technologies Fab2 Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Test method and kit

Номер патента: US20090186418A1. Автор: David M. Lachance. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-07-23.

Automatic testing method to be used by an IC testing system equipped with multiple testing sites

Номер патента: US20080133166A1. Автор: Angus Lai. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2008-06-05.

Cancer cell-specific antibody, anticancer drug and cancer testing method

Номер патента: CA2960466C. Автор: Yasuhiro Matsumura,Masahiro Yasunaga,Shingo Hanaoka,Shinji SAIJOU. Владелец: RIN Institute Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Group iii nitride wafers and fabrication method and testing method

Номер патента: EP2900850A1. Автор: Tadao Hashimoto. Владелец: SixPoint Materials Inc. Дата публикации: 2015-08-05.

Testing method and apparatus

Номер патента: US20230243824A1. Автор: Simon Jackson,Anas SATTAR,Christian Good,Wondwossen Abate. Владелец: Molendotech Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Ultrasonic testing method of threaded joint of pipes or tubes

Номер патента: EP2064540A1. Автор: Masaki Yamano,Shigeo Nagasaku,Ikuji Hoshino. Владелец: Vallourec Mannesmann Oil and Gas France SA. Дата публикации: 2009-06-03.

Belt tension force testing method and system for a mining belt conveyor

Номер патента: IES87523Y1. Автор: Lei Qiao,Zhining Jia,You Cui. Владелец: Hebei Petroleum Univ Of Technology. Дата публикации: 2024-08-28.

Belt tension force testing method and system for a mining belt conveyor

Номер патента: IE20240246U1. Автор: Lei Qiao,Zhining Jia,You Cui. Владелец: Hebei Petroleum Univ Of Technology. Дата публикации: 2024-08-28.

Testing method for ball mills

Номер патента: WO2005097327A1. Автор: John H Starkey. Владелец: Outokumpu Technology Oyj.. Дата публикации: 2005-10-20.

Snow accretion test method and snow accretion test device

Номер патента: EP4345403A1. Автор: Hiroyuki Enoki,Haruki SETO. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2024-04-03.

Test Method for Sound Wave Detection of Cup Bottom

Номер патента: US20150212047A1. Автор: Tzu-Chi Lin,Hsien-Jen LIN. Владелец: POWER SOURCE AND ASSOCIATES CORP. Дата публикации: 2015-07-30.

Full load test system of electrical power converter and the test method thereof

Номер патента: US11460516B2. Автор: Sheng-Hua Chen,Hung-Hsi Lin,Hsiao-Yu Hsu. Владелец: Ship and Ocean Industries R&D Center. Дата публикации: 2022-10-04.

High speed pass through test system and test method for electronic modules

Номер патента: US20030020505A1. Автор: Daniel Cram. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-30.

Test method of bioavailability and bioequivalence for xenobiotics using genetic profiling

Номер патента: US20100261219A1. Автор: Rodney J.Y. Ho,Dong-Chool Kim. Владелец: Ibiopharm Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-14.

Scan test method, integrated circuit, and scan test circuit

Номер патента: US20050097415A1. Автор: Hideki Hamada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2005-05-05.

Dice testing method

Номер патента: US20230366927A1. Автор: Min-Ju Tsai. Владелец: Tango Ai Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Test method for unit re-modification

Номер патента: US20080141191A1. Автор: Daniel Kao,Dyson Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-06-12.

Test method for unit re-modification

Номер патента: US20060041850A1. Автор: Daniel Kao,Dyson Chang. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2006-02-23.

Test method for unit re-modification

Номер патента: US7930671B2. Автор: Daniel Kao,Dyson Chang. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2011-04-19.

Test method for unit re-modification

Номер патента: US7503022B2. Автор: Daniel Kao,Dyson Chang. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2009-03-10.

Test method of semiconductor device and semiconductor test apparatus

Номер патента: US20140133254A1. Автор: Zhiliang Xia,Sung Hee Lee,Chiho Kim,Nara KIM,Dae Sin KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-05-15.

A test method

Номер патента: WO1993002357A1. Автор: John Yniol Hauser. Владелец: Sous Chef Ltd.. Дата публикации: 1993-02-04.

Testing method for ball mills

Номер патента: CA2561078A1. Автор: John H. Starkey. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-20.

Testing method for ball mills

Номер патента: EP1737575A1. Автор: John H Starkey. Владелец: Outokumpu Technology Oyj. Дата публикации: 2007-01-03.

Testing method for ball mills

Номер патента: AU2005230244A1. Автор: John H Starkey. Владелец: Outokumpu Technology Oyj. Дата публикации: 2005-10-20.

Self-test circuit and self-test method for comparator

Номер патента: US20190204385A1. Автор: Chih-Lung Chen,Shih-Hsiung Huang,Liang-Huan Lei. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2019-07-04.

Clock self-testing method and associated circuit

Номер патента: US11609271B2. Автор: Changxian Zhong. Владелец: Chengdu Monolithic Power Systems Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-21.

Event based test method for debugging timing related failures in integrated circuits

Номер патента: WO2004092753A1. Автор: Ankan Pramanick,Rochit Rajsuman,Siddharth Sawe. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2004-10-28.

Frequency converter testing method

Номер патента: LU506273B1. Автор: LEI XIN,Chao Zhang,Congcong ZHANG,Yao Zhang,Bei Zhou,Gang Guo,Pengcheng Liu,shuai Cong. Владелец: Huaneng Weifang Wind Power Generation Co ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Chip testing method and apparatus, and electronic equipment

Номер патента: US12044724B2. Автор: Hang Gao. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Test method for eliminating electrostatic charges

Номер патента: US10041995B2. Автор: Ming-Dou Ker,Che-Hao Chuang. Владелец: Amazing Microelectronic Corp. Дата публикации: 2018-08-07.

Accelerated weathering test method

Номер патента: US20050115931A1. Автор: Yasuhiro Shibata,Tetsurou Kajino,Rie Tomita,Masahiko Akahori,Minoru Umino,Harunori Gouji. Владелец: Nippon Paint Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-02.

Leakage testing structure and leakage testing method

Номер патента: US20240319267A1. Автор: Zeyong CHEN,Zhengliang Zhou. Владелец: Cansemi Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Test method and test device for identifying critical points of a circuit design in a post-silicon stage

Номер патента: US20240345157A1. Автор: Harry Hai Chen,Jeng-Yu Liao. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Durability test method, device and system of phase change material

Номер патента: US12117409B1. Автор: Feng Yu,Haibin Yang,Hongzhi Cui,Lele CAO,Xiangpeng Cao. Владелец: SHENZHEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-10-15.

Sample testing method and sample analyzer

Номер патента: US20240361329A1. Автор: Ziqian ZHANG,Gengwen CHEN. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Sample testing method and sample analyzer

Номер патента: US12038442B2. Автор: Ziqian ZHANG,Gengwen CHEN. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Device test method

Номер патента: US09891274B2. Автор: Masataka Hatta,Kazunari Ishii. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Test structures and testing methods for semiconductor devices

Номер патента: US09891273B2. Автор: Wensen Hung,Yung-Hsin Kuo,Po-Shi Yao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Asphalt foam collapse test methods and related apparatus

Номер патента: US09884964B2. Автор: Muhammed Emin KUTAY,Hande Isik Ozturk. Владелец: Michigan State University MSU. Дата публикации: 2018-02-06.

Test method and fixture for obtaining material properties under biaxial loading

Номер патента: US09435724B2. Автор: Michael L. Hand,William P. Keith,Russel J. Sanui. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-09-06.

Blade root coating test method

Номер патента: RU2498265C2. Автор: Ален БАССО,Лоран ДЮДОН,Анн-клер ПЕРРИО. Владелец: Снекма. Дата публикации: 2013-11-10.

Tone wheel testing apparatus and its test method

Номер патента: US20050012643A1. Автор: Masanori Tomioka. Владелец: Uchiyama Manufacturing Corp. Дата публикации: 2005-01-20.

Display panel and test method thereof, display apparatus

Номер патента: US20240215422A1. Автор: Pan Xu,Zhidong Yuan,Yongqian Li,Can Yuan. Владелец: Hefei BOE Joint Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Testing method of packaging process and packaging structure

Номер патента: US20190080971A1. Автор: Hung-Hsin Hsu,Shang-Yu Chang Chien,Nan-Chun Lin. Владелец: Powertech Technology Inc. Дата публикации: 2019-03-14.

Uniaxial compression rock mechanics testing machine and testing method for non-uniform axial loading

Номер патента: LU504094B1. Автор: Weijian Yu,Bao Pan. Владелец: Hunan Univ Of Science & Technology. Дата публикации: 2023-10-30.

Testing Method

Номер патента: US20230314387A1. Автор: Ping-Yen Chou,Po-Jui Su. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-05.

Interface, electronic device and test method

Номер патента: US20180233844A1. Автор: Cheng Yang. Владелец: K Tronics Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-16.

Ring oscillator and test method

Номер патента: US20230299752A1. Автор: Anping QIU,Chan Chen. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-21.

Flow path device, and testing device and testing method using same

Номер патента: US20220143614A1. Автор: Hiroshi Iwata. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-05-12.

Sample fixation mechanism for test with nano-probe, apparatus for test and sample test method

Номер патента: US20220381804A1. Автор: Jiabao CHEN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-12-01.

Rf testing method and testing system

Номер патента: US20240125849A1. Автор: Wen-Chih Chen,Po-Yen Tseng,Jung-Yin CHIEN,Pin-Lin HUANG. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Blood coagulation test reagent, and blood coagulation test method

Номер патента: US20230314454A1. Автор: Yuichi Kamikubo. Владелец: Thrombo Translational Research Lab Inc. Дата публикации: 2023-10-05.

Testing method and testing system

Номер патента: US20240161847A1. Автор: Bo Jung PENG. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Pad structure and testkey structure and testing method for semiconductor device

Номер патента: US11906577B2. Автор: Le Li,Jiwei He,Linzhi LU. Владелец: Wuhan Xinxin Semiconductor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Circuit board structure, binding test method and display device

Номер патента: US20190116662A1. Автор: Kun Li,Tao MA,Fengzhen LV. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-18.

Test apparatus, test method, and device interface

Номер патента: US8659750B2. Автор: Shin Masuda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2014-02-25.

Test method for testing the behavior of a wind farm in response to an underfrequency event

Номер патента: CA3055462C. Автор: Kai Busker,Wolfgang De Boer,Sönke ENGELKEN. Владелец: Wobben Properties GMBH. Дата публикации: 2023-10-03.

Electronic device and test method for electronic device

Номер патента: US20240133941A1. Автор: Chien-Tzu Chu,Chao-Chin Sung,Chueh-Yuan NIEN. Владелец: Carux Technology Pte Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Cycle test method

Номер патента: US20180348306A1. Автор: Johannes Frücht. Владелец: Eaton Intelligent Power Ltd. Дата публикации: 2018-12-06.

Synthetic resin material test method and synthetic resin material test apparatus

Номер патента: US20120325028A1. Автор: Akira Tanaka,Kaoru Yamaoka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-12-27.

Test method, test circuit, test circuit building-in device, and computer program

Номер патента: US20060259655A1. Автор: Yasuhiro Nozaki,Masanori Ushikubo. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2006-11-16.

Liquid processing module, liquid testing system and testing method

Номер патента: US11420199B2. Автор: Chih Chen Chang,Chen-An Sung,Kai-Sheng CHEN. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2022-08-23.

Semiconductor structure and testing method using the same

Номер патента: US20170328949A1. Автор: Chien-Kuo Wang,Wen-Jung Liao,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-11-16.

Test device and test method

Номер патента: US10991291B2. Автор: Yong Qiao,Xueguang HAO,Xinyin WU. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-27.

Testing method and testing apparatus

Номер патента: US20070091698A1. Автор: Takao Watanabe,Shigenobu Ishihara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-04-26.

Circuit test interface and test method thereof

Номер патента: US20130082718A1. Автор: Oliver Kiehl,Bret Dale. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2013-04-04.

Bladder cancer biomarker and test method using the same

Номер патента: US20130011867A1. Автор: Yi-Ting Chen,Jau-Song Yu,Yu-Sun Chang,Chien-Lun Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-01-10.

Test method for tolerance against the hot carrier effect

Номер патента: US20230068128A1. Автор: Xiaodong Luo,Yifei PAN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Reliability testing method

Номер патента: US20170074923A1. Автор: Liang-Chen Lin,Chia-Wei Tu,Shiang-Ruei SU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

Test apparatus, test method, and device interface

Номер патента: US20110279811A1. Автор: Shin Masuda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-11-17.

Electronic device and test method for electronic device

Номер патента: US20240230749A9. Автор: Chien-Tzu Chu,Chao-Chin Sung,Chueh-Yuan NIEN. Владелец: Carux Technology Pte Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Phototoxicity test method

Номер патента: US20140099662A1. Автор: Satoshi Ando,Koichi Saito. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-04-10.

Visual colorimetric test method of aminotriazole

Номер патента: NL2030438B1. Автор: YANG Ronghua,Qing Zhihe,Li Younan. Владелец: Univ Changsha Science & Tech. Дата публикации: 2023-07-10.

Wafer and test method thereof

Номер патента: US20100045319A1. Автор: Tzong-Yau Ku,Lin-Kai Bu,Ying-Lieh Chen,Chin-Tien Chang,Chien-Ru Chen. Владелец: Himax Technologies Ltd. Дата публикации: 2010-02-25.

Liquid processing module, liquid testing system and testing method

Номер патента: US20190291098A1. Автор: Chih Chen Chang,Chen-An Sung,Kai-Sheng CHEN. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Semiconductor device testing method and testing equipment

Номер патента: US20060061379A1. Автор: Kazuhiro Tashiro,Hitoshi Izuru. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-03-23.

Regenerative load apparatus and load test method

Номер патента: US20030062884A1. Автор: Tamihei Hiramatsu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-04-03.

Testing Methods for Determination of T2R Phenotype and Applications Thereof

Номер патента: US20220120735A1. Автор: Henry P. Barham. Владелец: Phenomune LLC. Дата публикации: 2022-04-21.

Sound isolation testing system and sound isolation testing method

Номер патента: US20230062688A1. Автор: Sz-Ting Chen,Fang-Kuei Han. Владелец: Pegatron Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Luminous flux test circuitry, test method and display panel

Номер патента: US20240230403A1. Автор: Wei Sun,Yifan SONG,Zhaohui MENG,Wenchao HAN. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Over-the-air test system and over-the-air test method

Номер патента: US20240210460A1. Автор: Benoit Derat. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-27.

Universal probe card and testing method

Номер патента: US20240310412A1. Автор: Chia-Wei Chen,Chung-Hsiung Ho,Ping-Jui Hsieh. Владелец: PanJit International Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Testing methods for determination of t2r phenotype and applications thereof

Номер патента: WO2022081729A1. Автор: Henry P. Barham. Владелец: Phenomune, LLC. Дата публикации: 2022-04-21.

Testing device and testing method thereof

Номер патента: US20240302428A1. Автор: Kuan-Cheng CHANG. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Sample fixation mechanism for test with nano-probe, apparatus for test and sample test method

Номер патента: US12099076B2. Автор: Jiabao CHEN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Test method of test system and test system

Номер патента: US20240345155A1. Автор: Kenichi Narikawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Integrated circuit and integrated circuit testing method

Номер патента: US20240329119A1. Автор: Tsung-Yen Tsai,Yu-Chen HSIEH,Jian-Ru LIN,Yung-Tai Chen,Yen-Wei Liu. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Ring oscillator and test method

Номер патента: US12113535B2. Автор: Anping QIU,Chan Chen. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-08.

Sound isolation testing system and sound isolation testing method

Номер патента: US12117335B2. Автор: Sz-Ting Chen,Fang-Kuei Han. Владелец: Pegatron Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Test device, test kit, and test method

Номер патента: AU2021426144A9. Автор: Masaaki Seki. Владелец: ICST CORP. Дата публикации: 2024-07-18.

Flexible screen tensile test device and flexible screen test method

Номер патента: US12130263B2. Автор: Feng Gao,Wenbing Zhang,Yuepeng Xing. Владелец: Suzhou China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Displacement test method for locomotive coupling

Номер патента: EP4459224A1. Автор: Qinghai Zhao,Jiyong Chen,Lizhu MI. Владелец: CRRC Datong Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Semiconductor wafer and multi-chip parallel testing method

Номер патента: US12066486B2. Автор: Chih-Chiang LAI. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Semiconductor test device and semiconductor test method

Номер патента: US09972404B2. Автор: Min Sik HAN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Semiconductor structure and testing method using the same

Номер патента: US09964587B2. Автор: Chien-Kuo Wang,Wen-Jung Liao,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Cascaded multilevel converter self-test system and self-test method for the same

Номер патента: US09906022B2. Автор: Yongli Xiao,Baoqi LIU,Zhihuai ZENG,Liying XUE. Владелец: Sungrow Power Supply Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Reactor, test apparatus, and test method

Номер патента: US09891174B2. Автор: Kui Hyun Kim,Sang Bum PARK,Joo Hee PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-13.

Addressable test circuit and test method for key parameters of transistors

Номер патента: US09817058B2. Автор: Weiwei Pan,Yongjun Zheng. Владелец: Semitronix Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Testing device and testing method thereof

Номер патента: US09742505B2. Автор: Heng-Iang Hsu,Yi-Chung Shen,Meng-Kai Su,Shu-Hua KAO,Shih-Hsiang HU,Daching CHEN. Владелец: ALIFECOM TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2017-08-22.

Apparatus for conditioning semiconductor chips and test method using the apparatus

Номер патента: US09599662B2. Автор: Klemens Reitinger. Владелец: ERS electronic GmbH. Дата публикации: 2017-03-21.

Test system, test method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12146910B2. Автор: Kazuhiko Nakahara. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Power switch wafer test method

Номер патента: US09541599B2. Автор: Shigeki Sato. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Battery pack thermistor test method

Номер патента: US09488535B2. Автор: Robert C Keeton. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2016-11-08.

Genetic testing method and testing apparatus

Номер патента: US09440235B2. Автор: Minoru Sano,Yoshiyuki Shoji,Masato Ishizawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Test method and test device for analysing a body fluid

Номер патента: US09439587B2. Автор: Karl Miltner,Robert Lorenz,Ulrich Porsch,Clemens Knapp. Владелец: Roche Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Test method and test arrangement

Номер патента: US09429616B2. Автор: Franz Hirler,Markus Zundel,Peter Nelle. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2016-08-30.

Test method for a method for passively obtaining target parameters

Номер патента: US7447112B2. Автор: Ulrich Steimel. Владелец: Atlas Elektronik GmbH. Дата публикации: 2008-11-04.

A sample channel signal calibrating method for impedance testing and an impedance testing method

Номер патента: EP2006692A2. Автор: Fei Li,Guijin Xu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-24.

Cannabis potency testing method

Номер патента: US11782040B1. Автор: Michele Glinn,Gregoire P. Michaud,Todd W. Welch. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-10.

Testing method and apparatus

Номер патента: GB2597832A. Автор: JACKSON Simon,SATTAR Anas,Good Christian,Abate Wondwossen. Владелец: Molendotech Ltd. Дата публикации: 2022-02-09.

Testing method of magnetic head by using inductance

Номер патента: US20090256557A1. Автор: Takahiro Mori,Hiroshi Kiyono. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2009-10-15.

Blood sample testing method using taxis behavior of nematode

Номер патента: AU2021383373A1. Автор: Takaaki Hirotsu. Владелец: Hirotsu Bio Science Inc. Дата публикации: 2023-06-15.

Non-destructive testing method and apparatus for spot welds

Номер патента: CA1161114A. Автор: Claude Doucelance,Bernard Bachet. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 1984-01-24.

Test method, transmitting apparatus, test apparatus and test system

Номер патента: EP3767845A1. Автор: Xubo ZHAO,Xiaopeng Li,Bo HAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-20.

Nondestructive fatigue test method for ferromagnetic construction materials

Номер патента: CA2325222C. Автор: Seiki Takahashi. Владелец: IWATE UNIVERSITY. Дата публикации: 2004-03-30.

Ultrasonic testing method for detecting flaws of balls for structural members and apparatus for said method

Номер патента: US5195372A. Автор: Keiji Kawasaki,Koji Fushimi. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 1993-03-23.

Wafer test method utilizing conductive interposer

Номер патента: US7057405B2. Автор: Han-Ping Pu. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-06.

Electricity storage device testing method and electricity storage device manufacturing method

Номер патента: US11011785B2. Автор: Kiwamu Kobayashi,Takeshi Goto. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-05-18.

Scratch abrasion tester and testing method

Номер патента: US10732084B2. Автор: Gang Hou. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-04.

Automatic test card for multi-blood group system and test method

Номер патента: AU2021229402A1. Автор: Hong Zhang,Yang Luo. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2022-08-18.

Hydraulic impedance test method

Номер патента: CA2013726A1. Автор: David W. Mellor,John W.A. Millar. Владелец: BP PLC. Дата публикации: 1990-10-04.

Bench test method for rating the corrosion inhibiting ability of an oleaginous fluid

Номер патента: US5278071A. Автор: Cheng-Chueh Kuo,David M. Marchand. Владелец: Ethyl Corp. Дата публикации: 1994-01-11.

Boundary scan test method and storage medium

Номер патента: US11933845B2. Автор: Shiyjun ZHAO,Puxia LIU,Qipan FU. Владелец: Shenzhen Pango Microsystems Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Test method, adjustment method, test system, and storage medium for alignment error

Номер патента: US11935797B2. Автор: Xiaodong Luo. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-03-19.

Dice testing method

Номер патента: US11921155B2. Автор: Min-Ju Tsai. Владелец: Tango Ai Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Sample analyzer, sample testing method, and glycated hemoglobin testing method

Номер патента: EP4249918A1. Автор: Qi Yu,Shaoqing DU,Ziling SUN. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Testing method and testing apparatus

Номер патента: US20180335467A1. Автор: Satoru Toyama,Tsuyoshi Amimoto,Ryuichi NISHIURA,Kota Mizuno,Ryota KURIYAMA,Fukutaro Kato. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-11-22.

Test method and dispensing device

Номер патента: US11879902B2. Автор: Isao Yamazaki,Takamichi Mori,Akihiro Nojima,Tetsuji Kawahara,Youichi ARUGA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-23.

Automatic testing method and automatic testing device employing the method

Номер патента: US11860612B2. Автор: Wei-Chen Lin,Duo Qiu,Ya-Nan Bian. Владелец: Fulian Precision Electronics Tianjin Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Pressure testing method and pressure tester

Номер патента: US20210301980A1. Автор: Yoshihiro Hori,Takayoshi Doi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-09-30.

Battery test system and battery test method

Номер патента: US20200072908A1. Автор: Zhu Feng,Shi Tan,Xiaoqing YU,Zhiwen Xiao. Владелец: Ningde Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2020-03-05.

Electronic device and vibration testing method thereof

Номер патента: US20120166112A1. Автор: Tsung-Jen Chuang,Shih-Fang Wong,Chung-Jen Wang,Li-Sheng Shu. Владелец: Futaihua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-28.

Test method for control chip and related device

Номер патента: US11862268B2. Автор: Li Ding,Jun He,Zhan Ying,Jie Liu,Heng-Chia Chang,Chuanqi SHI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Infectious disease test method

Номер патента: EP4317395A1. Автор: Hiroaki Takemori,Makoto Yasojima,Takuya Tomono,Fumi Daigo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

Range hood and testing method and testing apparatus therefor

Номер патента: EP4318000A1. Автор: Xueping Yan. Владелец: Foshan Shunde Midea Washing Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Ultrasonic Testing Sensor and Ultrasonic Testing Method

Номер патента: US20150053012A1. Автор: Yutaka Suzuki,Takeshi Kudo,Hiroaki Chiba. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-02-26.

Automatic testing method and automatic testing device employing the method

Номер патента: US20230315068A1. Автор: Wei-Chen Lin,Duo Qiu,Ya-Nan Bian. Владелец: Fulian Precision Electronics Tianjin Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Antenna test methods and apparatuses for mobile terminals

Номер патента: US20180183530A1. Автор: Jian Bai. Владелец: Huizhou TCL Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Charge current test method and device, and charge test system

Номер патента: US20230064748A1. Автор: Zhi Liu,Yuzhen Wang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Fault determination test method for systems including an electronic expansion valve and electronic controller

Номер патента: CA2034959A1. Автор: Ronald W. Okoren. Владелец: Wabco Standard Trane Inc. Дата публикации: 1991-10-21.

Chip test method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: US11978522B2. Автор: Cheng GU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-07.

Diagnostic testing method for a spectrometer

Номер патента: US20220163391A1. Автор: Sebastian Geisler,Ayrat Murtazin. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2022-05-26.

Testing method of multiband antenna

Номер патента: US20100045542A1. Автор: Lin-Ching Chen. Владелец: Arcadyan Technology Corp. Дата публикации: 2010-02-25.

Testing method for wastewater treatment facility

Номер патента: US11945739B2. Автор: Toshihisa GOHDA. Владелец: Gohda Water Treatment Technology Co Inc. Дата публикации: 2024-04-02.

Burn-in test method for a semiconductor chip and burn-in test apparatus therefor

Номер патента: US20020050813A1. Автор: Shigehisa Yamamoto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-02.

Aging Test Method and Aging Test System for Light Emitting Device

Номер патента: US20190195938A1. Автор: DONG Chen,Yinan LIANG,Chao Kong,Kening ZHENG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-27.

Testing method, testing device, and manufacturing method for laser diode

Номер патента: US20130236992A1. Автор: Kuo-Fong Tseng,Bing-Heng Lee. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-12.

Circular defect testing method for optical chip of integrated circuit

Номер патента: GB2590048A9. Автор: Wang Hua,Luo Bin,Zhang Zhiyong,YU Kun,Deng Weiwei,Ji Haiying. Владелец: Sino IC Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-31.

Radio frequency conduction test method and related apparatus

Номер патента: US20240036109A1. Автор: CHENG Jiang,Wei ZHAI. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Test method for eliminating electrostatic charges

Номер патента: US20160209463A1. Автор: Ming-Dou Ker,Che-Hao Chuang. Владелец: Amazing Microelectronic Corp. Дата публикации: 2016-07-21.

Test method and testing device for nozzles and nozzle

Номер патента: US20120263208A1. Автор: Juergen Speier. Владелец: Lechler GmbH. Дата публикации: 2012-10-18.

Coating bond test method and method of making a specimen for testing bond strength of a coating

Номер патента: US20170234784A1. Автор: Jinkyu CHOI,Rajiv A. Naik. Владелец: Sikorsky Aircraft Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

Accelerated test method and system

Номер патента: US7020570B2. Автор: Yen-Fu Liu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-28.

Charging current testing method and apparatus, and charging testing system

Номер патента: EP4160234A1. Автор: Zhi Liu,Yuzhen Wang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-05.

Test method and test device for integrated circuits

Номер патента: US20030155907A1. Автор: Johnson Hsu,Huan-Ping Su,San-Pen Lin,Chin-Hoe Tan,Auger Horng,Hsien-Ta Chiu. Владелец: UTAC Taiwan Corp. Дата публикации: 2003-08-21.

Test method and manufacturing method

Номер патента: US20230343652A1. Автор: Takeo Miura,Yasuaki Homma. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Signal testing device and signal testing method

Номер патента: US20210373069A1. Автор: Kuan-Wei Chen,Ting-Kai Wang,Chi-hsiang Hung,Yi-Shian Chen,Tzu-Yu Wei,Yi-Tang Chen. Владелец: Wiwynn Corp. Дата публикации: 2021-12-02.

Chip test method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: US20230282299A1. Автор: Cheng GU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Reliability testing method and apparatus

Номер патента: US20200088786A1. Автор: Liang-Chen Lin,Chia-Wei Tu,Shiang-Ruei SU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

Pressure testing method and pressure tester

Номер патента: US11788688B2. Автор: Yoshihiro Hori,Takayoshi Doi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Pressure testing method and pressure tester

Номер патента: US11879596B2. Автор: Yoshihiro Hori,Takayoshi Doi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2024-01-23.

Tuft gripping strength test method and apparatus for carpet primary backing mats

Номер патента: US20100050780A1. Автор: Lester Mickel Aseere. Владелец: JOHNS MANVILLE. Дата публикации: 2010-03-04.

Chip testing method and apparatus, and electronic equipment

Номер патента: US20220236322A1. Автор: Hang Gao. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-07-28.

Semiconductor testing method and testing apparatus

Номер патента: US20200209168A1. Автор: Kun Fan,En-Tsung Cho. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-02.

Non-destructive testing methods and apparatus

Номер патента: US20190317026A1. Автор: XIAO Hu,Liying Zhang,Chenzhong MU. Владелец: NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-10-17.

Test method

Номер патента: US12007437B2. Автор: Kenichi Ishii,Tomonori Mori,Atsushi Yoshida,Takashi SHIIGI. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Mobile phone-based biological testing method and apparatus

Номер патента: US20240003812A1. Автор: Feng Wang,Wenqing YAN,Xiang Zhan,Xingcan DAI. Владелец: Facon Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Memory device test method, apparatus, and system, medium, and electronic device

Номер патента: US11867755B2. Автор: YU Yu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Infectious disease test method

Номер патента: AU2021436402A1. Автор: Hiroaki Takemori,Makoto Yasojima,Takuya Tomono,Fumi Daigo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Infectious Disease Testing Method

Номер патента: US20240142350A1. Автор: Hiroaki Takemori,Makoto Yasojima,Takuya Tomono,Fumi Daigo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Cancer test method using metabolite list

Номер патента: US20240036052A1. Автор: Minoru Sakairi,Takashi Ishigaki,Mayumi Abe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Stress corrosion crack test method in alcohol environment

Номер патента: US20160363526A1. Автор: Kazuhiko Shiotani,Italu SAMUSAWA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2016-12-15.

Test method, manufacturing method, panel level package, and test apparatus

Номер патента: US20230343631A1. Автор: Takeo Miura,Yasuaki Homma. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Diagnostic testing method for a spectrometer

Номер патента: AU2021273542A1. Автор: Sebastian Geisler,Ayrat Murtazin. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2022-06-09.

Scan test method, integrated circuit, and scan test circuit

Номер патента: US7475306B2. Автор: Hideki Hamada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-01-06.

Method for producing micro-carrier and test method by using said micro-carrier

Номер патента: US20010041338A1. Автор: Rong-Seng Chang,Yu-Chan Chao. Владелец: Genemaster Lifescience Co Ltd. Дата публикации: 2001-11-15.

Testing device and testing method thereof

Номер патента: US20150097570A1. Автор: Heng-Iang Hsu,Yi-Chung Shen,Meng-Kai Su,Shu-Hua KAO,Shih-Hsiang HU,Daching CHEN. Владелец: ALIFECOM TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2015-04-09.

GPS OTA testing method and system

Номер патента: US9715018B2. Автор: Jian Bai. Владелец: Huizhou TCL Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-25.

Display device and testing method for display panel

Номер патента: US20190362662A1. Автор: Wei Chen. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Laser diode testing system and laser diode testing method

Номер патента: US12015239B2. Автор: Sheng-Hung Wang,Po-Hsiang Chang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

Accelerated test method and system

Номер патента: US20040260502A1. Автор: Yen-Fu Liu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-23.

Test method and manufacturing method

Номер патента: EP4184653A1. Автор: Toshihiko Kaneko. Владелец: Hirata Corp. Дата публикации: 2023-05-24.

Test method and manufacturing method

Номер патента: US20230194613A1. Автор: Toshihiko Kaneko. Владелец: Hirata Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Charge current test method and device, and charge test system

Номер патента: US12032034B2. Автор: Zhi Liu,Yuzhen Wang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Analyzing device, sensor testing device, testing method and computer-readable storage medium

Номер патента: US10295495B2. Автор: Shinjiro Sekimoto. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-05-21.

Test vessel, test strip, test kit, and test method

Номер патента: CA2675316A1. Автор: Noriko Katsumata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-06-04.

Surface defect test method and surface defect tester

Номер патента: US5898491A. Автор: Kazuya Tsukada,Izuo Horai,Takayuki Ishiguro. Владелец: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1999-04-27.

Reprogrammable built-in-self-test integrated circuit and test method for the same

Номер патента: US7673200B2. Автор: Hsun-Yao Jan,Ting-Han Su,Cheng-Fang Yang. Владелец: Asix Electronics Corp. Дата публикации: 2010-03-02.

Test method and article for estimating the concentration of free acid in liquid

Номер патента: CA1181333A. Автор: Jerry W. Mlinar,John J. Neumayer. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1985-01-22.

Test system and test method for testing the operability of test samples

Номер патента: CA2255916C. Автор: Thomas Hensler,Winfried Peter. Владелец: OMICRON Electronics GmbH. Дата публикации: 2003-12-16.

Optical nondestructive testing method and optical nondestructive testing apparatus

Номер патента: EP3193161A1. Автор: Jun Matsumoto,Naoki Matsumoto,Kouya Yoshida,Ryota Umezawa. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2017-07-19.

On-board simulation system for receiving marine AIS signals and testing method

Номер патента: GB2581112A. Автор: Sun Qiang,CHEN Difei,LU Yingnan. Владелец: SHANGHAI ADVANCED AVIONICS CO Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Circuit board testing method

Номер патента: US5977776A. Автор: Uwe Rothaug,Ralf Huth. Владелец: ATG Test Systems GmbH and Co KG. Дата публикации: 1999-11-02.

Test device and test method thereof

Номер патента: US11953537B2. Автор: Zhaoyang Xi. Владелец: Yungu Guan Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Workpiece testing method and workpiece testing system

Номер патента: CA3142587C. Автор: Ralph Hufschmied,Markus Sause,Florian Linscheid. Владелец: UNIVERSITAET AUGSBURG. Дата публикации: 2023-10-31.

Comparator testing circuit and testing method thereof

Номер патента: US20240110977A1. Автор: Cheng-Chih Wang,Chih-Ping Lu. Владелец: Nuvoton Technology Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Resistance test method using kelvin structure

Номер патента: US20210190843A1. Автор: Hao Wu,Bin Han,Xudong Li,Qiyi YANG. Владелец: Hua Hong Semiconductor Wuxi Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-24.

Lost circulation test method for expandable geopolymers

Номер патента: US11851606B2. Автор: Meng Lu,Weibin ZHA,Janine Shipman. Владелец: Cnps Usa Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Lost circulation test method for expandable geopolymers

Номер патента: WO2023076753A1. Автор: Meng Lu,Weibin ZHA,Janine Shipman. Владелец: Beijing Huamei, Inc.. Дата публикации: 2023-05-04.

Test instrument, test kit and test method

Номер патента: EP4289973A1. Автор: Masaaki Seki. Владелец: ICST CORP. Дата публикации: 2023-12-13.

Hydrogen breath analyzer and breath test method

Номер патента: EP3893748A1. Автор: Anastasia Rigas,Kalle Levon,Nabi Sertac Artan,Hao-Chun CHIANG,Edward AMOAKO. Владелец: Heteron Biotechnologies LLC. Дата публикации: 2021-10-20.

Fatigue limit testing method for specimens

Номер патента: US20230266217A1. Автор: Antoni LARA PÉREZ,Sergi PARAREDA ORIOL,Daniel CASELLAS PADRÓ. Владелец: FUNDACIÒ EURECAT. Дата публикации: 2023-08-24.

Access control device and testing method

Номер патента: US6938191B2. Автор: Keiji Sato,Noboru Morita,Toshiro Nakazuru,Shigeaki Okutani. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2005-08-30.

Test system and test method for aerobic biodegradability

Номер патента: EP4339611A1. Автор: Chao Li,Hanguang XUE,Changzheng FAN. Владелец: Nova Skantek Hunan Environ Energy Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-20.

Fatigue limit testing method for specimens

Номер патента: AU2021326287A1. Автор: Antoni LARA PÉREZ,Sergi PARAREDA ORIOL,Daniel CASELLAS PADRÓ. Владелец: FUNDACIÒ EURECAT. Дата публикации: 2023-03-09.

Test system, test method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20230400514A1. Автор: Kazuhiko Nakahara. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Emc test system and emc test method using lifi

Номер патента: US20210165031A1. Автор: Erik ARAOJO,Anthony MAGPANTAY. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-03.

Semiconductor base plate and test method thereof

Номер патента: US11821937B2. Автор: QIANG LI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-11-21.

A testing method with particle erosion firing for high velocities

Номер патента: EP3848696A1. Автор: Mustafa Fat H Akbostanci,Özgür B Rer,Hansu B Rol. Владелец: Aselsan Elektronik Sanayi ve Ticaret AS. Дата публикации: 2021-07-14.

Viral clearance test method

Номер патента: EP4317460A1. Автор: Hironobu Shirataki,Juergen Ebner. Владелец: Asahi Kasei Medical Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Testing machine and testing method

Номер патента: US11892499B2. Автор: YANG Xiong,Jian Hu,Kang LV. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-06.

SARS-CoV-2 (COVID-19) NEUTRALIZING ANTIBODY TEST KIT AND TEST METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20220214338A1. Автор: Tsu Min Huang,Err Cheng Chan. Владелец: Viralq Biomedical Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-07.

Test circuit and test method for display panels

Номер патента: US20200184866A1. Автор: Yu-Jen Chen. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-11.

Double cantilever beam-encoding lead screw combined sensing tensile test method and machine

Номер патента: US11513043B2. Автор: YANG LU,Shuying QU,Jianglong WU. Владелец: YANTAI UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-11-29.

Tension test method and test piece

Номер патента: EP3945302A1. Автор: Takashi Nakayama. Владелец: Shimadzu Techno Research Inc. Дата публикации: 2022-02-02.

Through-silicon via (tsv) test circuit, tsv test method and integrated circuits (ic) chip

Номер патента: US20210074680A1. Автор: You-Hsien Lin. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-03-11.

Electromobility charge test system and electromobility charge test method

Номер патента: US11807129B2. Автор: Kiriakos Athanasas,Anita Athanasas. Владелец: Comemso Immobilien & Co Kg GmbH. Дата публикации: 2023-11-07.

Marine steering arrangement

Номер патента: US3949696A. Автор: Tsuneo Awano,Isao Masuzawa,Kazutoshi Onishi. Владелец: Tokyo Keiki Co Ltd. Дата публикации: 1976-04-13.

Test method for a semiconductor memory

Номер патента: US20050232040A1. Автор: Jun AN. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-10-20.

High-speed reading test method using eye tracking

Номер патента: US20240249641A1. Автор: Se-Ho Park,Gyu-Jin Park. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-25.

Chip test method and apparatus, computer device, and readable storage medium thereof

Номер патента: US12033712B2. Автор: Yinchuan GU,Yadong Ye. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

LCD testing method

Номер патента: US20020063574A1. Автор: Jia-Shyong Cheng,Shing-Shiang Chang,Chia-Yu Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-30.

Test method for nonvolatile memory device

Номер патента: US20090287972A1. Автор: Jin Yong Seong,Wan Seob LEE. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-11-19.

Test method and apparatus for evaluating cognitive function decline

Номер патента: EP4272643A1. Автор: Yoo Hun Noh,Hai Rin Kim,Ju Hye Kim. Владелец: Emocog Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Test method and apparatus for evaluating cognitive function decline

Номер патента: US20230346297A1. Автор: Yoo Hun Noh,Hai Rin Kim,Ju Hye Kim. Владелец: Emocog Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Testing device for video processor and testing method thereof

Номер патента: WO2006049351A1. Автор: Hyun Sung Gu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2006-05-11.

Test method and device of data mischarging of display panel

Номер патента: US11270611B2. Автор: Guangxing XIAO. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-08.

System-level test method for flash memory

Номер патента: US20200273533A1. Автор: Yuegui He. Владелец: Amlogic Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Test method for a semiconductor memory

Номер патента: US7120071B2. Автор: Jun Kwon An. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-10-10.

Test method, computer apparatus, and computer-readable storage medium

Номер патента: US12112817B2. Автор: Biao SONG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-08.

Driver chip, driver board and test method thereof, and display device

Номер патента: US09810932B2. Автор: Zhiyong Wang,Zhengxin ZHANG,Shuai Xu. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Testing method, manufacturing method, and testing device of memory device

Номер патента: US09653182B1. Автор: Tatsuya Kishi,Masaru Toko,Keiji Hosotani,Hisanori Aikawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Camera module testing method

Номер патента: US20200186789A1. Автор: Shih-Chieh Hsu,Pei-Ming Chang,Wei-Lung Huang,Pao-Chung Chao. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2020-06-11.

Temperature-accelerated solid-state storage testing methods

Номер патента: US20230326541A1. Автор: Michael Rijo,Samuel Hudson,Robert Proulx. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2023-10-12.

Temperature-accelerated solid-state storage testing methods

Номер патента: US11842785B2. Автор: Michael Rijo,Samuel Hudson,Robert Proulx. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2023-12-12.

Accelerated test method for ferroelectric memory device

Номер патента: US20040041574A1. Автор: Atsushi Noma,Katsuki Nagahashi. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2004-03-04.

Image processing chip test method

Номер патента: US20210327318A1. Автор: Ching-Lan Yang,Zong-Da Huang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-10-21.

Memory device and test method thereof

Номер патента: US20090265592A1. Автор: Jih-Nung Lee,Hsiang-Huang Wu. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2009-10-22.

Array substrate and testing method thereof

Номер патента: US12062304B2. Автор: Zhidong Yuan,Yongqian Li,Can Yuan. Владелец: Hefei BOE Joint Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Test circuit, test method and audio codec for stereo microphones

Номер патента: US11368805B2. Автор: Yi-Cheng HUANG,Tsung-Li Yeh. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2022-06-21.

Memory device and test method of the same

Номер патента: US10269443B2. Автор: Chih-Wei Chang,Chun-Chi Yu,Shen-Kuo Huang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2019-04-23.

Semiconductor device testing memory cells and test method

Номер патента: US20100254196A1. Автор: Jung-Sik Kim,Joung-Wook Moon,Kwun-Soo Cheon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-10-07.

Memory, memory testing system, and memory testing method

Номер патента: EP4068289A1. Автор: Jia Wang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-10-05.

Memory test array and test method thereof

Номер патента: US20200312421A1. Автор: Hsiung-Shih CHANG,Yu-Cheng Liao,Meng-Hsueh TSAI. Владелец: Jiangsu Advanced Memory Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Semiconductor memory apparatus and testing method thereof

Номер патента: US20240282397A1. Автор: Shao-Ching Liao,Chien-Min Wu,Kuang-Chih Hsieh. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Magnetic disk device testing method and testing device

Номер патента: US20090231744A1. Автор: Katsuji Suzuki,Yuichiro Yamazaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-09-17.

Memory device and test method thereof

Номер патента: US20240221855A1. Автор: Hang-Ting Lue,Chih-Wei Hu,Teng Hao Yeh. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Test circuit, test method and audio codec for stereo microphones

Номер патента: US20210144501A1. Автор: Yi-Cheng HUANG,Tsung-Li Yeh. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-05-13.

Anti-fuse readout circuit, anti-fuse memory, and testing method

Номер патента: US12082402B2. Автор: Rumin JI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Multi-ecu simulation test method and apparatus, computer device, and storage medium

Номер патента: EP4459401A1. Автор: Xiaoxi ZHENG. Владелец: Beijing Co Wheels Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Test element group, array substrate, test device and test method

Номер патента: US09865517B2. Автор: Ying Liu,Tuo Sun,Hongwei TIAN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Test method for memory

Номер патента: US09548138B2. Автор: Tsung-Yi Chou,Shih-Fu Huang,Ying-Tsai Ting,Che-Chin Wu. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-17.

Test method and test apparatus for transparent display device

Номер патента: US09530337B2. Автор: Wang Hu,Zhigang Zhang,Xinli MA,Chunfang Zhang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Liquid crystal panel, and testing circuit and testing method thereof

Номер патента: US09483969B2. Автор: Jinjie WANG. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Test method for detecting deviations in geoobjects

Номер патента: RU2417447C2. Автор: Юлиус ПЕТРОЧИ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2011-04-27.

Functionality test method

Номер патента: US20070115020A1. Автор: Ralf Hagedorn,Joerg Middendorf. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2007-05-24.

Test method, computer apparatus, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230268020A1. Автор: Biao SONG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-08-24.

Adjustable camera module and assembly test method therefor

Номер патента: US20220046148A1. Автор: Zhen Huang,Zhenyu Chen,Xiaodi LIU. Владелец: Ningbo Sunny Opotech Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-10.

Memory chip test method and apparatus, medium, and device

Номер патента: US20230410929A1. Автор: Teng Shi,Yu Li,Beiyou ZHAO. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-21.

Chip test method and apparatus, computer device, and readable storage medium thereof

Номер патента: US20230317199A1. Автор: Yinchuan GU,Yadong Ye. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-05.

Adjustable camera module and assembly test method therefor

Номер патента: US11399122B2. Автор: Zhen Huang,Zhenyu Chen,Xiaodi LIU. Владелец: Ningbo Sunny Opotech Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-26.

Test method and apparatus for evaluating cognitive function decline

Номер патента: EP4272642A1. Автор: Yoo Hun Noh,Hai Rin Kim,Ju Hye Kim. Владелец: Emocog Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Test method and apparatus for evaluating cognitive function decline

Номер патента: US20230346298A1. Автор: Yoo Hun Noh,Hai Rin Kim,Ju Hye Kim. Владелец: Emocog Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Test method of mask for electron-beam exposure and method of electron-beam exposure

Номер патента: US20010054697A1. Автор: Hiroshi Yamashita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Image sticking test method and image sticking test device

Номер патента: US11893915B2. Автор: Zhe DU,Xun Liu,Dongfang Zhao,Shuang Guo,Zidong GUO. Владелец: Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Test method for self-refresh frequency of memory array and memory array test device

Номер патента: US20220270704A1. Автор: Tianchen LU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-08-25.

Memory test method and memory test apparatus

Номер патента: US11862276B2. Автор: Wei Huang,Chi-Shian WU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Memory chip testing method, computer device and medium

Номер патента: EP4099330A1. Автор: Jinghong Xu,Yuan-Chieh Lee. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-12-07.

Adjustable camera module and assembly test method therefor

Номер патента: EP3843373A1. Автор: Zhen Huang,Zhenyu Chen,Xiaodi LIU. Владелец: Ningbo Sunny Opotech Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-30.

Test method for display panel, and test device

Номер патента: US20180005556A1. Автор: Pan Xu,Guangcai Yuan,Yongqian Li,Dongxu HAN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-04.

Memory test method and memory test apparatus

Номер патента: US20230092554A1. Автор: Wei Huang,Chi-Shian WU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-03-23.

Memory testing method and related device

Номер патента: EP3933843A1. Автор: Li Ding,Heng-Chia Chang,Chuanqi SHI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Test method of liquid crystal display panel

Номер патента: US20120062263A1. Автор: Cheng-Chi Yen,Ju-Tien Cheng,Wei-Ting Lan. Владелец: Himax Display Inc. Дата публикации: 2012-03-15.

Testing method, testing system, and testing apparatus for semiconductor chip

Номер патента: US11929132B2. Автор: Cheng-Jer Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Non-volatile memory and testing method with yield improvement

Номер патента: US20200160933A1. Автор: Wein-Town Sun. Владелец: eMemory Technology Inc. Дата публикации: 2020-05-21.

Testing method, testing system, and testing apparatus for semiconductor chip

Номер патента: US20220399068A1. Автор: Cheng-Jer Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-12-15.

Image sticking test method and image sticking test device

Номер патента: US20220198973A1. Автор: Zhe DU,Xun Liu,Dongfang Zhao,Shuang Guo,Zidong GUO. Владелец: Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Fault injection test method and apparatus, and fault injection method

Номер патента: US20240231347A1. Автор: Sunyoung Park,Hoerae Kim,Jae Hyoung Jeong. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Non-invasive human neurocognitive performance capability testing method and system

Номер патента: US5295491A. Автор: Alan S. Gevins. Владелец: Sam Tech Inc. Дата публикации: 1994-03-22.

Disc drive testing device and test method

Номер патента: US8363525B1. Автор: Jun Liu,Rui-Qiang Wu,Ya-Guo Wang,Hong-Yan Liu. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-29.

Array substrate, testing method and display apparatus

Номер патента: US10777107B2. Автор: Ronglei DAI. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-15.

Integrated circuit with self-test device for an embedded non-volatile memory and related test method

Номер патента: US20040109370A1. Автор: Steffen Gappisch,Georg Farkas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-06-10.

Drive chip, drive board and test method therefor, and display device

Номер патента: EP3285250A1. Автор: Zhiyong Wang,Zhengxin ZHANG,Shuai Xu. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-21.

Burn-in circuit and burn-in test method

Номер патента: US5467356A. Автор: Yun-Ho Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1995-11-14.

Testing method and apparatus

Номер патента: US5131848A. Автор: Warren K. Adams. Владелец: Doron Precision Systems Inc. Дата публикации: 1992-07-21.

Testing method for array substrate

Номер патента: US20030030464A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2003-02-13.

Testing method and apparatus

Номер патента: CA2011938C. Автор: Warren K. Adams. Владелец: Doron Precision Systems Inc. Дата публикации: 1997-02-11.

Test method and test system

Номер патента: US11810639B2. Автор: Jinghong Xu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

Memory test methods and related devices

Номер патента: US11854642B2. Автор: Li Ding,Heng-Chia Chang,Chuanqi SHI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Respiratory function testing system and respiratory function testing method thereof

Номер патента: US11925454B2. Автор: Pei-Ling Hsu,Chia-Hung Chen,Chia-Chi Su,Hsiao-Pao Yen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-12.

Testing apparatus and testing method for lcd

Номер патента: US20110068816A1. Автор: Sangjig LEE,Young Man KWON. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-24.

Test method for ferroelectric memory

Номер патента: US20080013361A1. Автор: Tadashi Miyakawa,Daisaburo Takashima. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-01-17.

Noise-induced hearing loss susceptibility test method and test apparatus

Номер патента: EP3761873A1. Автор: Gary David Housley,Jennie M. E. Cederholm. Владелец: NEWSOUTH INNOVATIONS PTY LTD. Дата публикации: 2021-01-13.

Memory circuit and testing method thereof

Номер патента: US20190198133A1. Автор: Cheng-Chih Wang. Владелец: Nuvoton Technology Corp. Дата публикации: 2019-06-27.

Memory circuit and testing method thereof

Номер патента: US10679720B2. Автор: Cheng-Chih Wang. Владелец: Nuvoton Technology Corp. Дата публикации: 2020-06-09.

Sound testing system and sound testing method for embedded system

Номер патента: US20180184220A1. Автор: shi-jie Zhang,Shih-Chieh Hsu,Pei-Ming Chang,Wei-Lung Huang. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Noise-induced hearing loss susceptibility test method and test apparatus

Номер патента: US11850044B2. Автор: Gary David Housley,Jennie M. E. Cederholm. Владелец: NEWSOUTH INNOVATIONS PTY LTD. Дата публикации: 2023-12-26.

Electric actuator for a marine steering system

Номер патента: WO2024206408A1. Автор: Craig Hooker. Владелец: Schaeffler Group Usa, Inc.. Дата публикации: 2024-10-03.

Electric actuator for a marine steering system

Номер патента: US20240326972A1. Автор: Craig Hooker. Владелец: Schaeffler Technologies AG and Co KG. Дата публикации: 2024-10-03.

Worm gear actuator for a marine steering apparatus

Номер патента: US12017745B2. Автор: Noam Dean Davidson,Payton CHERNOFF,Brenden HENRIQUES. Владелец: Dometic Marine Canada Inc. Дата публикации: 2024-06-25.

Marine steering assembly

Номер патента: NZ533718A. Автор: Ian Johns. Владелец: Lewmar Ltd. Дата публикации: 2005-11-25.

Marine steering mechanism and associated actuating and locking device

Номер патента: CA1179209A. Автор: Gerald E. Kashmerick,Lawrence E. Zdanowicz. Владелец: Outboard Marine Corp. Дата публикации: 1984-12-11.

Hydraulic control package for a marine steering system

Номер патента: CA1193174A. Автор: Martin Rump. Владелец: Teleflex Inc. Дата публикации: 1985-09-10.

Marine steering system having dual hydraulic and electronic output

Номер патента: CA2353053C. Автор: Peter Doetsch. Владелец: JASTRAM ENGINEERING Ltd. Дата публикации: 2004-07-06.

A worm gear actuator for a marine steering apparatus

Номер патента: WO2021000055A1. Автор: Noam Dean Davidson,Payton CHERNOFF,Brenden HENRIQUES. Владелец: Marine Canada Acquisition Inc.. Дата публикации: 2021-01-07.

Electric actuator for a marine steering system

Номер патента: US20200283112A1. Автор: Richard Redfern,Noam Davidson,Mark DYCK,Kevin Stopp,Mehdi Sadaghdar. Владелец: Marine Canada Acquisition Inc. Дата публикации: 2020-09-10.

Electric actuator for a marine steering system

Номер патента: US20190061898A1. Автор: Richard Redfern,Noam Davidson,Mark DYCK,Kevin Stopp,Mehdi Sadaghdar. Владелец: Marine Canada Acquisition Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

Electric actuator for a marine steering system

Номер патента: EP3672868A1. Автор: Richard Redfern,Noam Davidson,Mark DYCK,Kevin Stopp,Mehdi Sadaghdar. Владелец: Marine Canada Acquisition Inc. Дата публикации: 2020-07-01.

Tiltable marine steering helm

Номер патента: US5136894A. Автор: Thomas G. Carter,Roger F. Olsen. Владелец: IMO Industries Inc. Дата публикации: 1992-08-11.

Improvements in control devices applicable to aircraft, marine steering-gear, and other apparatus

Номер патента: GB145890A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1920-07-05.

Oil pressure operated pump for marine steering gears

Номер патента: CA2427032C. Автор: Giorgio Gai. Владелец: Ultraflex SpA. Дата публикации: 2011-01-04.

Engine seal installing tool

Номер патента: US7131197B1. Автор: Andor B. Biro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-11-07.

An aircraft engine seal apparatus

Номер патента: WO2024083722A1. Автор: Ian Nagle. Владелец: J.B. Roche (Mfg) Limited. Дата публикации: 2024-04-25.

Turbine engine seal and method for repair thereof

Номер патента: US4449714A. Автор: John W. Meier. Владелец: Gulf and Western Industries Inc. Дата публикации: 1984-05-22.

Gas turbine engine seal structure

Номер патента: GB1299684A. Автор: . Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1972-12-13.

Manufacturing method and testing method for positive active material mixture

Номер патента: US20220255052A1. Автор: Takenori Ikeda. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-08-11.

Test method and system for PLC security defense device

Номер патента: US10356118B2. Автор: Zhiliang Wang,Lun Xie,Weize Li. Владелец: University of Science and Technology Beijing USTB. Дата публикации: 2019-07-16.

Barrier testing method

Номер патента: US09835023B2. Автор: Jorgen Hallundbaek,Ricardo Reves Vasques,Paul Hazel. Владелец: Welltec AS. Дата публикации: 2017-12-05.

3D display cross interference testing method and testing device thereof

Номер патента: US09641832B2. Автор: Xinshe Yin,Quanzhi HAN. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Semiconductor apparatus having TSV and testing method thereof

Номер патента: US09455190B2. Автор: Hyung Jun CHO. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Manufacturing method and testing method for positive active material mixture

Номер патента: US12062772B2. Автор: Takenori Ikeda. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Hla-b locus allele typing kit and test method thereof

Номер патента: AU2021205090A1. Автор: Jun He,Qiaocheng Qiu. Владелец: First Affiliated Hospital Of Soochow Univ. Дата публикации: 2022-02-17.

Image testing method of image pickup device and image testing apparatus using such method

Номер патента: US20120013747A1. Автор: Szu-Hao Lyu,Chien-Nan Yu. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2012-01-19.

Testing method, device and system based on softsim

Номер патента: US20230397022A1. Автор: Xiangxian ZHENG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-12-07.

Non-disruptive diagnostic and attack testing methods and systems

Номер патента: EP4413697A1. Автор: Matthew ANDRIANI. Владелец: Mazebolt Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Network test method

Номер патента: EP4456499A1. Автор: Ji Hoon Kim. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Noise-absorbing panels acoustic testing method

Номер патента: RU2671916C1. Автор: Олег Савельевич Кочетов. Владелец: Олег Савельевич Кочетов. Дата публикации: 2018-11-07.

Error rate test method and test system for testing a device under test

Номер патента: US20210266243A1. Автор: Meik Kottkamp,Niels Petrovic,Bledar Karajani. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-08-26.

Bandwidth testing method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20210399967A1. Автор: Lei Li,Wengang Wang,Zhichuan HE,Maocong ZHAO. Владелец: Suzhou Centec Communications Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-23.

Penetration test method

Номер патента: PH12017501188A1. Автор: Yukio Adachi,Shinichi Yamato,Naoaki Suemasa,Tsuyoshi Tanaka,Go Sakai. Владелец: Nitto Seiko Kk. Дата публикации: 2017-12-18.

Semiconductor device and test method for manufacturing same

Номер патента: US20040048402A1. Автор: Junya Ishii. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2004-03-11.

Bandwidth testing method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US12047267B2. Автор: Lei Li,Wengang Wang,Zhichuan HE,Maocong ZHAO. Владелец: Suzhou Centec Communications Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Non-Disruptive Diagnostic and Attack Testing Methods and Systems

Номер патента: US20230156032A1. Автор: Matthew ANDRIANI. Владелец: Mazebolt Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-05-18.

Testing methods and apparatus for wireless communications

Номер патента: US20060105747A1. Автор: James Lipsit. Владелец: Cingular Wireless II LLC. Дата публикации: 2006-05-18.

Statistical test method for objective verification of auditory steady-state responses (ASSR) in the frequency domain

Номер патента: US20050021264A1. Автор: Ekkehard Sturzebecher. Владелец: Oticon AS. Дата публикации: 2005-01-27.

Statistical test method for objective verifaction of auditory steady-state responses (ASSR) in the frequency domain

Номер патента: US20050143951A1. Автор: Ekkehard Sturzebecher. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-06-30.

Test method

Номер патента: US20060130564A1. Автор: Michael Massaro,Christine Kennedy,Douglas Eli,Thomas Morikis. Владелец: Unilever Home and Personal Care USA. Дата публикации: 2006-06-22.

Heterogeneous visual acuity chart and visual acuity testing method and device

Номер патента: US20220218194A1. Автор: Lan Wang,Yixiang YUAN. Владелец: QINGDAO UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-07-14.

MEMS micropump testing method and system

Номер патента: US12055137B2. Автор: Yi Chen,Yongwu Zhao,Xiaoyan Zhao,Yongguang Wang,Yongxin Guo,Da BIAN. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-06.

Throughput test method and apparatus

Номер патента: US09838293B2. Автор: Yu Wang. Владелец: Xian Zhongxing New Software Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Aircraft brake system testing methods

Номер патента: US09714019B2. Автор: Eric Cahill,Marc Georgin. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Sensitivity testing method and device and inspection apparatus for a GSM communication terminal

Номер патента: US09414324B2. Автор: Lingliang Meng. Владелец: Huizhou TCL Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Test method and test device

Номер патента: US20120002554A1. Автор: Hiroyuki Ishii,Mikio Iwamura. Владелец: NTT DOCOMO INC. Дата публикации: 2012-01-05.

Client roaming testing method

Номер патента: RU2703990C2. Автор: Джон ХАРРОД. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2019-10-23.

Mobile terminal test apparatus and mobile terminal test method

Номер патента: US20140092750A1. Автор: Kazunori Aoki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2014-04-03.

Testing method of semiconductor laser and laser testing device

Номер патента: US20100238426A1. Автор: Isao Baba,Makoto Sugiyama,Haruyoshi Ono. Владелец: Sumitomo Electric Device Innovations Inc. Дата публикации: 2010-09-23.

Testing device for cognitive ability of tupaia belangeri and testing method

Номер патента: US20240224939A9. Автор: Tianhao Bao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-11.

Testing device for cognitive ability of tupaia belangeri and testing method

Номер патента: US20240130329A1. Автор: Tianhao Bao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-25.

Testing apparatus and testing method for telephone apparatus

Номер патента: US20140072110A1. Автор: Hsin-Chun Lee,Pei-Lin Chen,Shou-Jung Chang,Chia-Chien Feng. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2014-03-13.

Brake device for elevator system and a test method thereof

Номер патента: US20210130126A1. Автор: Hua Zhou,Guosong Li,Zixu Zhang. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2021-05-06.

Stereo device testing method and stereo device testing system

Номер патента: US20150215718A1. Автор: Yung-Tai Pan. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2015-07-30.

Test system and test method

Номер патента: US20230224050A1. Автор: Brian Glover. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-07-13.

Chip testing structure and chip testing method

Номер патента: EP4407678A1. Автор: Xiaodi XUE. Владелец: Hygon Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Solar power generation system and test method

Номер патента: US20210351743A1. Автор: Lei-Ming Lee,Xin-Hung LIN. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2021-11-11.

Stereo device testing method and stereo device testing system

Номер патента: US9332365B2. Автор: Yung-Tai Pan. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2016-05-03.

Mobile terminal test apparatus and mobile terminal test method

Номер патента: US9538393B2. Автор: Kazunori Aoki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Mobile communication terminal test device and mobile communication terminal test method

Номер патента: US8724501B2. Автор: Junya Tanaka,Takuma Goto,Yasuyuki Matsuyama. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2014-05-13.

Simulation testing system for a mobile communication apparatus and simulation testing method thereof

Номер патента: US20110217931A1. Автор: Hao-Liang Zhou. Владелец: Inventec Appliances Corp. Дата публикации: 2011-09-08.

Reconfiguration record measurement test method and network side

Номер патента: US09755904B2. Автор: Wei Ma. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Mobile terminal test apparatus and mobile terminal test method

Номер патента: US09538393B2. Автор: Kazunori Aoki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Carrier aggregation testing method and apparatus for performing the same

Номер патента: US09350499B2. Автор: Pawel Matusz,Olivier Genoud. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2016-05-24.

Test method for an elevator system and a monitoring device for carrying out the test method

Номер патента: CA2844522C. Автор: David Michel,Martin Hess,Astrid Sonnenmoser. Владелец: INVENTIO AG. Дата публикации: 2018-09-11.

Testing method for optical communication module, and test device

Номер патента: US11323179B2. Автор: Xiuxiu YE. Владелец: Shanghai Liaoyun Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-03.

Diagnostic testing methods and apparatus for therapy devices

Номер патента: CA2259155C. Автор: Mark A. Christopherson,Shahram Malek,Todd Goblish,Johann J. Neisz. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 2002-04-09.

Pressure barrier testing method

Номер патента: EP2914809A2. Автор: Jorgen Hallundbaek,Ricardo Reves Vasques,Paul Hazel. Владелец: Welltec AS. Дата публикации: 2015-09-09.

Evaluation method for bisulfite reagent and genetic test method

Номер патента: US20240002954A1. Автор: Maiko WAKITA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Barrier testing method

Номер патента: RU2660704C2. Автор: Йерген ХАЛЛУНБЕК,Рикарду Ревис ВАСКИС,Пол ХЕЙЗЕЛ. Владелец: Веллтек А/С. Дата публикации: 2018-07-09.

Single ended dmt test method for determining dsl capability of cables

Номер патента: CA2363370C. Автор: Andre Rekai,Vladislav Narojnyi. Владелец: Exfo Inc. Дата публикации: 2010-09-14.

Dmt test method for determining adsl capability of cables

Номер патента: CA2297871C. Автор: Ronald Y. R. Liang,Robert Layton. Владелец: Consultronics Ltd. Дата публикации: 2004-12-28.

Well testing method

Номер патента: CA1117001A. Автор: Simon P. Noik. Владелец: Schlumberger Canada Ltd. Дата публикации: 1982-01-26.

A test method on the support substrate of a substrate of the "semiconductor on insulator" type

Номер патента: SG172762A1. Автор: Blanchard Chrystelle Lagahe. Владелец: Soitec Silicon On Insulator. Дата публикации: 2011-08-29.

A test method on the support substrate of a substrate of the "semiconductor on insulator" type

Номер патента: EP2382655A1. Автор: Chrystelle Lagahe Blanchard. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2011-11-02.

Test method for verification of an rsp process and active test system providing such a test method

Номер патента: WO2021058305A1. Автор: Shicheng Hu,Goce Talaganov,Vlad Bratu. Владелец: Sigos GmbH. Дата публикации: 2021-04-01.

A mental health test device and a test method thereof

Номер патента: ZA202305963B. Автор: Li Jie,ZHAO Zhiyu,GUO Lan,Tang Jundong,Gao Luyang,Shi Chenxi. Владелец: Univ North China Science & Technology. Дата публикации: 2024-01-31.

Visual test method, associated control module and system

Номер патента: US11800973B2. Автор: Laure Pichereau,Nathalie Guillemain. Владелец: Siview SAS. Дата публикации: 2023-10-31.

Penetration Test Method and System for Network Device

Номер патента: US20220377100A1. Автор: Meihua Xiao,Ri Ouyang,Zifan Song,Zhiliang Zhu. Владелец: East China Jiaotong University. Дата публикации: 2022-11-24.

Test method for verification of an RSP process and active test system providing such a test method

Номер патента: AU2020354339B2. Автор: Shicheng Hu,Goce Talaganov,Vlad Bratu. Владелец: Sigos GmbH. Дата публикации: 2023-04-06.

Hearing test method and apparatus

Номер патента: US8753287B2. Автор: Sang Ki Kang,Yang Su KIM,Kyoung Ho BANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-06-17.

Wireless electronic device testing method

Номер патента: US20120253748A1. Автор: shi-jie Zhang,Tsung-Wen Hsueh. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2012-10-04.

Testing method, device and system

Номер патента: US20180234309A1. Автор: Rui Li,Shuo WAN. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-08-16.

Test method and device for simulating customer series deployment environment

Номер патента: US11956128B2. Автор: BO LIU,YUAN Fan,Wanyan SHAO. Владелец: DBAPPSecurity Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Test method and device for simulating customer series deployment environment

Номер патента: US20230353459A1. Автор: BO LIU,YUAN Fan,Wanyan SHAO. Владелец: DBAPPSecurity Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Test system and test method for testing a broadband cellular network

Номер патента: US11843960B2. Автор: Goce Talaganov,Vlad Bratu,Gerald Wittmann. Владелец: Sigos GmbH. Дата публикации: 2023-12-12.

Billing testing method and billing device

Номер патента: EP2159960B1. Автор: Zhixian Xu,Deliang Zou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-17.

Multimedia device testing method

Номер патента: US20070226559A1. Автор: Pai-Chen Liu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2007-09-27.

Cartridge test device, cartridge component, and cartridge component test method

Номер патента: EP4082799A1. Автор: Haining Gu,Shan LUO. Владелец: Hangzhou Chipjet Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-02.

Test method for verification of an RSP process and active test system providing such a test method

Номер патента: AU2020354339A1. Автор: Shicheng Hu,Goce Talaganov,Vlad Bratu. Владелец: Sigos GmbH. Дата публикации: 2022-04-07.

Test method for verification of an rsp process and active test system providing such a test method

Номер патента: EP4035438A1. Автор: Shicheng Hu,Goce Talaganov,Vlad Bratu. Владелец: Sigos GmbH. Дата публикации: 2022-08-03.

3d display cross interference testing method and testing device thereof

Номер патента: US20150365663A1. Автор: Xinshe Yin,Quanzhi HAN. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-17.

Test method and apparatus

Номер патента: EP4159116A1. Автор: Qinggang WANG. Владелец: Beijing Jingdong Tuoxian Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-05.

Testing method for determining oral indicator

Номер патента: US11957506B2. Автор: Shinsuke Kataoka,Tsuguno YAMAGUCHI. Владелец: Lion Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Test device and test method for active noise reduction headphone

Номер патента: US9084060B2. Автор: YANG Hua,Song Liu,Jian Zhao. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2015-07-14.

Allergy testing method and apparatus

Номер патента: CA1306673C. Автор: Henry Fishman. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-08-25.

Test fixture for semiconductor packages and test method of using the same

Номер патента: US20030190826A1. Автор: Huan-Ping Su,Soon-Aik Lu. Владелец: UTAC Taiwan Corp. Дата публикации: 2003-10-09.

Hydrocarbon well test method

Номер патента: US4677849A. Автор: Joseph Ayoub,Dominique Bourdet. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 1987-07-07.

Radio link problem detection test method and test device

Номер патента: CA2749784C. Автор: Hiroyuki Ishii,Mikio Iwamura. Владелец: NTT DOCOMO INC. Дата публикации: 2014-04-01.

Breath analyzer and urea breath test method

Номер патента: WO2021021236A1. Автор: Anastasia Rigas,Kalle Levon,Hao-Chun CHIANG. Владелец: Heteron Biotechnologies, Llc. Дата публикации: 2021-02-04.

Isometric strength testing method and equipment for disability evaluation

Номер патента: CA1291569C. Автор: Thomas M. Curran. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-10-29.

Hearing test method and system, readable record medium and computer program product

Номер патента: US20160338622A1. Автор: Chin-Yang Chen. Владелец: Invictum Tech Inc. Дата публикации: 2016-11-24.

Hydraulic control package for a marine steering system

Номер патента: CA1218918A. Автор: Martin Rump. Владелец: Teleflex Inc. Дата публикации: 1987-03-10.

Improvements in or connected with Steering Engines.

Номер патента: GB190402039A. Автор: Robert Bruce Lang. Владелец: Individual. Дата публикации: 1904-12-01.

Improvements in Apparatus for Operating Steering Engines and like Gear from a Distance.

Номер патента: GB190513930A. Автор: Alexander Kelly,Christian Dethleff Birc Hansen. Владелец: Individual. Дата публикации: 1906-03-08.

Improvements in and relating to Hydraulic Controlling Gear for Steering Engines and the like.

Номер патента: GB189805112A. Автор: James Reid. Владелец: Individual. Дата публикации: 1899-03-02.

Improvements in the Steering Engines of Steam Ships.

Номер патента: GB189729063A. Автор: Philip Watts,Magnus Sandison. Владелец: Individual. Дата публикации: 1898-11-12.

Improved Means for Controlling Steering Engines from a Distance.

Номер патента: GB190013443A. Автор: James Patterson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1901-06-15.

Improvements in Steam Steering Engines.

Номер патента: GB190005289A. Автор: William Pepper. Владелец: Individual. Дата публикации: 1901-01-19.

Improvements in or relating to Controlling Valves of Steering Engines

Номер патента: GB190310894A. Автор: Walter Graham. Владелец: Individual. Дата публикации: 1903-06-25.

Improvements in the Starting Valves of Steam Steering-engines and the like.

Номер патента: GB190606163A. Автор: . Владелец: Davis & Co Ltd. Дата публикации: 1906-10-18.

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS USING THE SAME AND MULTI-BIT TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002491A1. Автор: . Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Test method of metals for unconvertible damage

Номер патента: RU2498272C1. Автор: Александр Евгеньевич Зорин. Владелец: Александр Евгеньевич Зорин. Дата публикации: 2013-11-10.

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH A PLURALITY OF MEMORY BANKS AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120002464A1. Автор: MAE Kenji. Владелец: ELPIDA MEMORY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Burn-in test method for integrated microcircuits

Номер патента: RU2554660C1. Автор: . Владелец: Максимов Владимир Алексеевич. Дата публикации: 2015-06-27.

Carrier-type pulsed eddy current testing method and device

Номер патента: CA3089622C. Автор: YUN Song,Xinjun WU. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-08-29.

Carrier-type pulsed eddy current testing method and device

Номер патента: CA3089622A1. Автор: YUN Song,Xinjun WU. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-01-17.

Test instrument for rotary type electronic components and test method for the same

Номер патента: MY131976A. Автор: Yoshiharu Abe,Eiichi Aso. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2007-09-28.

A test system and test method thereof

Номер патента: PH12015000345A1. Автор: Chang Tsung-Yao,CHANG Chih-Chieh,HUANG CHENG-CHANG,Hsu Yao-Te,Yao Chien-Chung. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2016-06-20.

Production string leak test method

Номер патента: RU2262580C1. Автор: А.В. Шарохин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "АЛ". Дата публикации: 2005-10-20.

Production string leak test method

Номер патента: RU2262581C1. Автор: А.В. Шарохин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "АЛ". Дата публикации: 2005-10-20.

Pre-testing method and apparatus for a weathering test

Номер патента: CA1255924A. Автор: Yasuo Yoshida,Tadashi Kakinuma,Yoshio Kishima,Hirofumi Kinugasa. Владелец: Iwasaki Denki KK. Дата публикации: 1989-06-20.

Leak testing method and apparatus for tubular members and packer means therefor

Номер патента: CA1055275A. Автор: Malvern M. Hasha. Владелец: Individual. Дата публикации: 1979-05-29.