一种差分电感式位移传感器及测量方法.

一种差分电感式位移传感器及测量方法

Номер патента: CN109974570B
Опубликовано: 27-10-2020
Автор(ы): 来聪, 邵志标, 郭一欣
Принадлежит: Xian Jiaotong University
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Length measurement method for conical workpiece based on dual displacement sensors

Номер патента: US12050097B2. Автор: Lei Yan,Tian Bai,Xiaosan Wang,Yinxiao MIAO,Fengju SUN,Qigang HUANG,Ruidong HUO,Yilin DAI,Junhong TIAN. Владелец: Beijing Aerospace Institute for Metrology and Measurement Technology. Дата публикации: 2024-07-30.

Displacement Sensor Arrangement for Determining the Position of a Body Moving Along a Movement Path in a Vehicle

Номер патента: US20240019271A1. Автор: Stefan Kuntz,Jonathan Haaf. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-01-18.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Electromagnetic type quasi-zero stiffness absolute displacement sensor

Номер патента: US20200141763A1. Автор: Yan Peng,Yi Yang,Yi Sun,Min Wang,Jun Luo,Yuanyuan Liu,Shaorong Xie,Huayan Pu,Jinglei ZHAO. Владелец: UNIVERSITY OF SHANGHAI FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2020-05-07.

Length measurement method for conical workpiece based on dual displacement sensors

Номер патента: US20240151514A1. Автор: Lei Yan,Tian Bai,Xiaosan Wang,Yinxiao MIAO,Fengju SUN,Qigang HUANG,Ruidong HUO,Yilin DAI,Junhong TIAN. Владелец: Beijing Aerospace Institute for Metrology and Measurement Technology. Дата публикации: 2024-05-09.

Antenna attitude measurement sensor and antenna attitude measurement method

Номер патента: US09945663B2. Автор: Shijie Bi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-04-17.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240280383A1. Автор: Hikaru Fujiwara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Measurement device and measurement method for measuring the thickness of a panel-shaped object

Номер патента: US09528811B2. Автор: Alfred Haselboeck,Thomas Denkmeier,Michael Auzinger. Владелец: Trumpf Maschinen Austria GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-12-27.

Fiber Bragg grating displacement sensor with positive and negative bidirectional measurement and free from vibration

Номер патента: US11796310B1. Автор: Li Xiong,Wanhuan Zhou,Yongxing Guo. Владелец: UNIVERSITY OF MACAU. Дата публикации: 2023-10-24.

Sensor module with a displacement sensor and a pressure sensor in a common housing

Номер патента: US09857274B2. Автор: Joachim Zapf,Bernd Hoffelder. Владелец: TE Connectivity Germany GmbH. Дата публикации: 2018-01-02.

Contact Displacement Sensor And Method For Contactless Distance Measurement

Номер патента: US20130088217A1. Автор: Kersten Grosse,Werner GRÖMMER. Владелец: Micro Epsilon Messtechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2013-04-11.

Wear measurement device and wear measurement method for tire

Номер патента: US12098972B2. Автор: Akihito Yamamoto,Yoshihiro Sudo,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Thickness measurement with inductive and optical displacement sensors

Номер патента: EP3857163A1. Автор: Sebastien Tixier,Michael Kon Yew Hughes,Tobias Nebel. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2021-08-04.

Thickness measurement with inductive and optical displacement sensors

Номер патента: CA3113260A1. Автор: Sebastien Tixier,Michael Kon Yew Hughes,Tobias Nebel. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2020-04-02.

Measurement device and measurement method for measuring the thickness of a panel-shaped object

Номер патента: US20150292853A1. Автор: Alfred Haselboeck,Thomas Denkmeier,Michael Auzinger. Владелец: Trumpf Maschinen Austria GmbH and Co KG. Дата публикации: 2015-10-15.

Method for calibration of measuring equipment and measuring equipment

Номер патента: EP2002202A1. Автор: Markku Mantyla,Jussi Graeffe,Tomi Tynkkynen. Владелец: METSO AUTOMATION OY. Дата публикации: 2008-12-17.

Displacement sensor for contactlessly measuring a relative position by means of a magnetic field sensor array on the basis of the hall effect

Номер патента: US09982988B2. Автор: Oliver Schaaf. Владелец: TE Connectivity Germany GmbH. Дата публикации: 2018-05-29.

Displacement sensor including a voltage converting unit that contains a resistor connected to a piezoelectric element

Номер патента: US09778765B2. Автор: Toru Ishii,Yasushi Yamamoto,Tsutomu Yonemitsu. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Wear measurement device and wear measurement method for tire

Номер патента: US20230016943A1. Автор: Akihito Yamamoto,Yoshihiro Sudo,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Displacement sensor

Номер патента: WO2010120042A2. Автор: Young Deok Kim,Beom Kyu Kim,Chul Sub Lee,Eul Chul Byeon. Владелец: Tyco Electronics AMP Korea Ltd.. Дата публикации: 2010-10-21.

Displacement sensor

Номер патента: EP2419695A2. Автор: Young Deok Kim,Beom Kyu Kim,Chul Sub Lee,Eul Chul Byeon. Владелец: Tyco Electronics AMP Korea Co Ltd. Дата публикации: 2012-02-22.

Straightness measuring system, displacement sensor correcting method and straightness measuring method

Номер патента: CN113446980A. Автор: 高娜,市原浩一. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-09-28.

ANTENNA ATTITUDE MEASUREMENT SENSOR AND ANTENNA ATTITUDE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150260513A1. Автор: Bi Shijie. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-17.

Total reflected extrinsic Fabry-Perot interferometric fiber optic sensor and the strain measurement methods

Номер патента: KR100324117B1. Автор: 최만용,김민수,권일범,문한규. Владелец: 정명세. Дата публикации: 2002-02-20.

Based on non-contact sensor and interior roundness measurement method and device that workpiece can bias

Номер патента: CN110470243A. Автор: 王笑一,董元文,刘建刚,卢继敏,邓四二,潘流平,徐元玲. Владелец: Guiyang Xintian OETECH Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-19.

optical frequency modulated fiber optic interferometric sensor and the strain measurement methods

Номер патента: KR100324118B1. Автор: 김민수,이왕주,권일범,김치엽. Владелец: 정명세. Дата публикации: 2002-02-20.

Sensor and external turbulence measuring method using the same

Номер патента: CN101278177A. Автор: 山本义典,坂部至,丹治久,屉冈英资. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2008-10-01.

Changing sensor and deformation quantity measuring method

Номер патента: CN108240799A. Автор: 植村英生,池田和树. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2018-07-03.

Sensor and external turbulence measuring method using the same

Номер патента: EP1939596A1. Автор: Yoshinori Yamamoto,Hisashi Tanji,Eisuke Sasaoka,Itaru Sakabe. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2008-07-02.

Strain sensor and strain amount measuring method

Номер патента: JP6740855B2. Автор: 英生植村,和樹池田,誠大木,大木　誠. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-08-19.

Antenna attitude measurement sensor and antenna attitude measurement method

Номер патента: EP2910896A4. Автор: Shijie Bi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-08-03.

Flow sensor and flow rate measurement method

Номер патента: RU2768159C2. Автор: Марк Томас ДЖОНСОН,Дан Антон ВАН ДЕН ЭНДЕ,Корнелис Петрус ХЕНДРИКС,Арьен ВАН ДЕР ХОРСТ,Ахим ХИЛЬГЕРС,Рональд Антони ХОВЕНКАМП. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2022-03-23.

Eddy current sensor and eddy current measurement method

Номер патента: EP2583092A1. Автор: Tatsuo Hiroshima,Naotaka Ide,Takanari Yamamoto. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2013-04-24.

Eddy current sensor and eddy current measurement method

Номер патента: WO2011158098A1. Автор: Tatsuo Hiroshima,Naotaka Ide,Takanari Yamamoto. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2011-12-22.

Ultrasonic displacement sensor and workpiece identification apparatus including the same

Номер патента: US20180297165A1. Автор: Yoshiki Ohno. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Displacement response measuring device and measuring method under impact environment

Номер патента: NL2033377B1. Автор: XU WEI,Yan Ming,SUN He,Wang Yuqi,HAN He,Liu Haichao,Sun Ziqiang,Jin Yingli,Ba Zhongcheng,Wu Zikun. Владелец: Univ Shenyang Technology. Дата публикации: 2023-11-16.

Displacement response measuring device and measuring method under impact environment

Номер патента: NL2033377A. Автор: XU WEI,Yan Ming,SUN He,Wang Yuqi,HAN He,Liu Haichao,Sun Ziqiang,Jin Yingli,Ba Zhongcheng,Wu Zikun. Владелец: Univ Shenyang Technology. Дата публикации: 2023-06-13.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20240200935A1. Автор: Chung-Lun Kuo,Chih-Hsiang Liu,Hsiang-Chun Wei,Chun-Wei Lo. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Attachment displacement sensor for measuring the change in length of a sample and measuring method which uses such a sensor

Номер патента: US20110088481A1. Автор: Norbert Dahlem,Jan Kuhnke. Владелец: BAYER MATERIALSCIENCE AG. Дата публикации: 2011-04-21.

Measuring method in real time mode of film thickness of coating not containing chrome on surface of strip steel

Номер патента: RU2498215C1. Автор: Чжичен ВАН,Чуньго ЛВ,Юнцян ЛУ. Владелец: Баошань Айрон Энд Стил Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-11-10.

Contact force measurement method, and contact force measurement device

Номер патента: RU2519589C1. Автор: Такамаса ФУДЗИСАВА,Мицуру ИКЕДА,Казутака МАЦУБАРА. Владелец: Рэйлвэй Текникал Рисёрч Инститьют. Дата публикации: 2014-06-20.

Measuring device, measurement station, production line and measuring method for measuring the distance projected in a preferred direction between a measurement plane and a measurement area

Номер патента: US20030061724A1. Автор: Lothar Mueller,Manfred Bodenmueller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2003-04-03.

Programmable optical displacement sensor and method of measuring shift with automatic correction of measurement error

Номер патента: RU2711244C2. Автор: Алексей Олегович Беляев,Олег Александрович Харьянов,Роман Николаевич Пономаренко,Аскер Муаедович Табухов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Севкаврентген-Д". Дата публикации: 2020-01-15.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

Snapshot type overlay error measuring device and measuring method

Номер патента: US11619883B2. Автор: Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-04-04.

Optical displacement measuring instrument, adjustment method and measuring method of optical displacement measuring instrument

Номер патента: US20180259319A1. Автор: Kentaro Tamura,Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-09-13.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20100228519A1. Автор: Yuki Oshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-09-09.

Shape Measurement System and Shape Measurement Method

Номер патента: US20180306573A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-10-25.

Measurement method, manufacturing method of device, and measurement system

Номер патента: US09972547B2. Автор: Koutarou Sho. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20210262987A1. Автор: Tong Wu,Satoshi Nomura,Takayuki Hatanaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-08-26.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US09704237B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Method and measuring device for measuring the distance of a surface, thickness and optical properties of an object

Номер патента: US09476707B2. Автор: Heimo Keranen. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2016-10-25.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20220375066A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

Spectral confocal measurement device and measurement method

Номер патента: EP4006483A1. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Non-contact shape sensor and device

Номер патента: US20090113993A1. Автор: Guil Bergman,John Elting. Владелец: Machine Concepts Inc. Дата публикации: 2009-05-07.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: US20070120079A1. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: E>C>H> WILL GmbH. Дата публикации: 2007-05-31.

Spectral confocal measurement device and measurement method thereof

Номер патента: US12085501B2. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: CA2540801A1. Автор: Olaf Boese,Lorenz Ring. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-14.

Non-contact shape sensor and device

Номер патента: WO2009061731A1. Автор: Guil Bergman,John Eiting. Владелец: Machine Concepts, Inc.. Дата публикации: 2009-05-14.

Method and measuring machine for determining dimensional properties of a measurement object

Номер патента: US09826201B2. Автор: Aksel Goehnermeier,Philipp Jester,Frank Widulle. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-11-21.

Profile gauge, measuring device equipped with the profile gauge, and measurement method

Номер патента: US09575483B2. Автор: Edgar WEPPELMANN,Juergen Kreschel. Владелец: Gleason Pfauter Maschinenfabrik GmbH. Дата публикации: 2017-02-21.

Optical displacement sensor and system including the same

Номер патента: US20180239003A1. Автор: Tomonori Kondo. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-08-23.

Micro-displacement measurement system having picometer scale resolution and measurement method

Номер патента: US20240151558A1. Автор: XIN Ran,Wei Zhou,Fangfang Liu,Xinyang Liu,Hongli Li,Haojie Xia. Владелец: Hefei University of Technology. Дата публикации: 2024-05-09.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US09664604B2. Автор: Yasushi Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Optical measurement method and apparatus for fuel cell components

Номер патента: US09618458B2. Автор: Stephen Couse,Tulin Akin. Владелец: Bloom Energy Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09541380B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-01-10.

Optical displacement sensor and system including the same

Номер патента: US10168422B2. Автор: Tomonori Kondo. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-01-01.

System and method for detecting and measuring mechanical deformations associated with a component of a vehicle braking system

Номер патента: WO2024201318A1. Автор: Andrea Casadio,Francesco CAMOZZI,Mauro SERPELLONI. Владелец: BREMBO S.p.A.. Дата публикации: 2024-10-03.

Position measurement system and position measurement method

Номер патента: US12025422B2. Автор: Haruki Mori,Junpei Yamaguchi,Masanobu TSUTSUI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Display panel, optical sensor, and measurement method

Номер патента: US09905198B2. Автор: Yu-Jung Huang,Wen-Chang Liao,Ting-Cheng Lin. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2018-02-27.

Contactless displacement sensor employing flexible photoelectric nanofilm

Номер патента: US12013224B2. Автор: He Zhang,LI Wang,Yuhui ZHOU. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-06-18.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240085355A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Displacement sensor, and displacement measurement system using displacement sensor

Номер патента: US20240019242A1. Автор: Kazuto Fukuda,Yoshie Takahashi,Takafumi Okuma. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Vertical-height gauge and measuring method

Номер патента: US20240302154A1. Автор: Chun Li,Xiaoyu Wang,Xiaole Wang. Владелец: Anhui Agricultural University AHAU. Дата публикации: 2024-09-12.

Metrology system and measurement method using the same

Номер патента: US09746310B2. Автор: Yu-Wei Chou,Yi-Hung Lin,Ying-Chieh Hung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Displacement sensor for force indicating caliper

Номер патента: US09417094B2. Автор: Ted Staton Cook,Bjorn E. B. Jansson. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

Endoscopic apparatus and measuring method

Номер патента: US09392230B2. Автор: Masayoshi Yokota. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-07-12.

Package structure and measurement method for the package structure

Номер патента: US20240263938A1. Автор: Kuei-Sung CHANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Apparatus for measuring the degree of vacuum of a multistage vacuum heat-insulating member, and measurement method using same

Номер патента: US9074958B2. Автор: Sung Seock Hwang,Jung Pil Han,Jong Kyon Jeong,Son Cheal Bang. Владелец: LG HAUSYS LTD. Дата публикации: 2015-07-07.

Dimension measurement device, dimension measurement method, and program

Номер патента: EP4403872A1. Автор: Toru Matsunobu,Masaki Fukuda. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Fiber optic system for detecting forces on and measuring deformation of an anthropomorphic test device

Номер патента: EP3743682A1. Автор: James Davis,Michael Scott Beebe,Ime Victor Ubom,Thomas Mathew VARA,Charles Joseph MCCARTHY,Mark John BURLEIGH,Robert LIPMYER. Владелец: Humanetics Innovative Solutions Inc. Дата публикации: 2020-12-02.

Fiber optic system for detecting forces on and measuring deformation of an anthropomorphic test device

Номер патента: WO2019147754A4. Автор: James Davis,Michael Scott Beebe,Ime Victor Ubom,Thomas Mathew VARA,Charles Joseph MCCARTHY,Mark John BURLEIGH,Robert LIPMYER. Владелец: Humanetics Innovative Solutions, inc.. Дата публикации: 2019-10-10.

Displacement sensor, spectral characteristic measuring apparatus, color measuring apparatus, planar measured object quality monitoring apparatus, displacement measuring method, spectral characteristic measuring method, and color measuring method

Номер патента: US09605949B2. Автор: Atsushi Tsujii,Kazufumi Nishida,Naomichi Chida. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09595107B2. Автор: Satoshi Nishimura. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Caliper sensor and method using mid-infrared interferometry

Номер патента: US09581433B2. Автор: Sebastien Tixier,Michael Kon Yew Hughes,Stephane Savard. Владелец: Honeywell ASCa Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Optical displacement sensor and distance measuring apparatus

Номер патента: WO2008071106A1. Автор: Yeung Ming Chow. Владелец: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Co. Ltd.. Дата публикации: 2008-06-19.

Displacement sensor, spectral characteristic measuring apparatus, color measuring apparatus, planar measured object quality monitoring apparatus, displacement measuring method, spectral characteristic measuring method, and color measuring method

Номер патента: US09488468B2. Автор: Atsushi Tsujii,Kazufumi Nishida,Naomichi Chida. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Displacement sensor, apparatus for detecting displacement, and method thereof

Номер патента: US09464881B2. Автор: Jong Kyoung Lee,Jin Yong Jeon,Jang Hyun Yoon,Yoo Sung Kim. Владелец: Silicon Works Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Induction type artery gage

Номер патента: US3661148A. Автор: Alexander Kolin. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 1972-05-09.

Electromagnetic induction type potentiometer for self-adaptive full stroke detection

Номер патента: EP4358102A1. Автор: Hongyong YU. Владелец: Shenzhen Guli Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-04-24.

Displacement sensor and camera module having the same

Номер патента: EP3443734A1. Автор: Samnyol Hong,Sungdu Kwon,Hyungjoo Kang,Salkmann JI. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2019-02-20.

Scanning electron microscope system, pattern measurement method using same, and scanning electron microscope

Номер патента: US09852881B2. Автор: Shinya Yamada,Maki Tanaka,Takuma Yamamoto,Chie Shishido. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Method and apparatus for forming a linear groove in a vehicle skin and measuring and recording residual wall thickness of the skin

Номер патента: CA2363844C. Автор: Mikihiro Ikawa. Владелец: Pearl Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2007-01-16.

Optical type displacement measuring apparatus

Номер патента: CA1293313C. Автор: Akira Hisakuni. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1991-12-17.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method, and film forming system and film forming method

Номер патента: US11939665B2. Автор: Naoyuki Suzuki,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,Tamaki Takeyama,Hiroaki Chihaya,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Method for measuring the amount of logs and measuring system for a cutting and splitting machine

Номер патента: EP3925740A1. Автор: Drago Pintar,Marko Polak,Robert HORVAT. Владелец: Uniforest doo. Дата публикации: 2021-12-22.

Method for optically scanning and measuring an environment using a 3D measurement device and near field communication

Номер патента: US12072450B2. Автор: Reinhard Becker,Martin Ossig,Andreas Ditte. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Method for determining measurement conditions of a roughness sensor, method for measuring a roughness of a workpiece surface, computer program product, and measuring device designed to perform the methods

Номер патента: US09982987B2. Автор: Philipp Mayinger. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2018-05-29.

Instrument for measurement force and measurement heads error monitoring

Номер патента: RU2687891C1. Автор: Руслан Владимирович Бородулин. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Радиосвязь" (АО "НПП "Радиосвязь"). Дата публикации: 2019-05-16.

Three-dimensional measuring system and measuring method with multiple measuring modes

Номер патента: CA3018886C. Автор: Jian Zhang,Wenbin Wang,Xiaobo ZHAO,Zi YE,Chongmao YE,Leijie HUANG,Xiaoping XIANG. Владелец: Shining 3D Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-27.

Carrier measurement device, carrier measurement method, and carrier management method

Номер патента: US20230384077A1. Автор: Hiroshi Takai,Ryosuke Kido,Takeshi Kuroiwa. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Laminate substrate measurement method, laminate substrate and measurement apparatus

Номер патента: US20180017484A1. Автор: Kenji Kasahara,Taketsugu Yamamoto,Taiki Yamamoto. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-18.

Measuring device, measuring system, and measuring method

Номер патента: US20210223029A1. Автор: Hideki Tonaka. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Position detection sensor and position detection device

Номер патента: US20230332930A1. Автор: Masamitsu Ito,Takeru Izumisawa,Hikaru MATSUURA. Владелец: Wacom Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-19.

Position detection sensor and position detection device

Номер патента: US11725963B2. Автор: Masamitsu Ito,Takeru Izumisawa,Hikaru MATSUURA. Владелец: Wacom Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-15.

Position detection sensor and position detection device

Номер патента: US20220291021A1. Автор: Masamitsu Ito,Takeru Izumisawa,Hikaru MATSUURA. Владелец: Wacom Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-15.

Pattern inspecting and measuring device and program

Номер патента: US09858659B2. Автор: Hiroyuki Shindo,Takuma Yamamoto,Takashi Hiroi,Fumihiko Fukunaga,Shinichi Shinoda,Yasutaka Toyoda,Tsuyoshi Minakawa,Takeyuki Yoshida,Taku Ninomiya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Inductive displacement sensor

Номер патента: RU2727321C1. Автор: Александр Алексеевич Семенов. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "ВОЕННАЯ АКАДЕМИЯ МАТЕРИАЛЬНО-ТЕХНИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ имени генерала армии А.В. Хрулева". Дата публикации: 2020-07-21.

Optical film thickness measurement method, film formation method, and semiconductor laser fabrication method

Номер патента: US5724145A. Автор: Takeo Kaneko,Katsumi Mori,Takayuki Kondo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 1998-03-03.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: EP4300194A3. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Measuring device, measuring mechanism, measuring system and measuring method

Номер патента: EP4303535A1. Автор: Peng Peng,Jianguo He,Zhixiang Peng,Zhouke WANG,Menglin FENG,Wenbin Guo. Владелец: Chengdu Alangtech Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Apparatus and method for calibrating laser displacement sensor for use with robot

Номер патента: US11820006B2. Автор: Yang Shu,Hao Gu,Jiafan Zhang. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-11-21.

Monitor wafer measuring method and measuring apparatus

Номер патента: US11862495B2. Автор: He Zhu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: EP4300194A2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-01-03.

Measurement assembly, measurement method and measurement system

Номер патента: EP4317908A1. Автор: Xiaofeng Hu,Qihuan LU,Zhenjie SUI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: CA3209372A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: US20240134294A1. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US11906466B2. Автор: Tong Wu,Satoshi Nomura,Takayuki Hatanaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Measurement method

Номер патента: US20240011754A1. Автор: Kazutoshi Iwata,Masakazu Umehara,Seiji Ishizu,Naoya Kishimoto,Taichi Urakami,Keito Horiba. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Method and measuring device for measuring the distance of a surface, thickness and optical properties of an object

Номер патента: EP2901102A1. Автор: Heimo Keranen. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2015-08-05.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20220277466A1. Автор: Taisuke Yamauchi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US12002230B2. Автор: Taisuke Yamauchi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Measurement device and measurement method, and program

Номер патента: US20230037640A1. Автор: Shinichi Furuya,Takanori Oku,Hayato NISHIOKA. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-02-09.

Vortex beam-excited precision grating displacement measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US11874475B2. Автор: TAO Yuan,HUI Wang,Tong Wang,Yalin Zhang,Guoyong Ye,Shaobo Jin,Xuling Liu. Владелец: Zhengzhou University of Light Industry. Дата публикации: 2024-01-16.

Grain flake measurement system and method, and grain flake collection, movement and measurement system

Номер патента: EP4300031A2. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Measurement assembly, measurement method, and measurement system

Номер патента: US20240085164A1. Автор: Xiaofeng Hu,Qihuan LU,Zhenjie SUI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: US12007702B2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Vortex beam-excited precision grating displacement measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20230359049A1. Автор: TAO Yuan,HUI Wang,Tong Wang,Yalin Zhang,Guoyong Ye,Shaobo Jin,Xuling Liu. Владелец: Zhengzhou University of Light Industry. Дата публикации: 2023-11-09.

Displacement sensor

Номер патента: US20240142218A1. Автор: Takayoshi Obata,Tomoki Ouchi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Handheld measuring device comprising a user interface responsive to changes in a displacement sensed by a displacement sensor

Номер патента: US09678701B2. Автор: Ted Staton Cook. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Railway wheel profile measurement method and device for implementation thereof

Номер патента: RU2740539C1. Автор: Сергей Алексеевич Бехер,Артем Антонович Попков,Антон Сергеевич Кочетков,Татьяна Викторовна Игумнова,Анатолий Анатольевич Больчанов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет путей сообщения" (СГУПС). Дата публикации: 2021-01-15.

Temperature-compensated laser measuring method and apparatus

Номер патента: US5650852A. Автор: William P. Chastain,Marc A. Garoutte,Eric J. Rogers. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 1997-07-22.

Alarming and measuring method for volume measuring apparatus

Номер патента: US20210396512A1. Автор: Shu-Ying Huang,Kuo-Chun WANG. Владелец: Champtek Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Dual-dial measurement device and measurement method for viewing angle measurement of optical component

Номер патента: US20230375438A1. Автор: Wei Wang,Yun Qi,Lihua Li,Yi QIU,Keqing LIU,Fuzhi Chen,Huasha Lan,Lisha Wu. Владелец: SOUTHWEST PETROLEUM UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-11-23.

Distributed continuous high-accuracy bidirectional displacement fiber-optic measurement system and measurement method thereof

Номер патента: US20230221195A1. Автор: Jui-Ting Lee. Владелец: Shingingway Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-13.

Surface property measuring system, surface property measuring method, polishing apparatus, and polishing method

Номер патента: US20240075580A1. Автор: Toshifumi Kimba,Kohei Ota,Kohei Ohshima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Alarming and measuring method for volume measuring apparatus

Номер патента: EP3926296A1. Автор: Shu-Ying Huang,Kuo-Chun WANG. Владелец: Champtek Inc. Дата публикации: 2021-12-22.

Heterodyne one-dimensional grating measuring device and measuring method thereof

Номер патента: US11860057B2. Автор: Wei Wang,Wenhao Li,Xuefeng Yao,Zhaowu LIU,Hongzhu YU,Rigalantu Ji. Владелец: Changchun Institute of Optics Fine Mechanics and Physics of CAS. Дата публикации: 2024-01-02.

Depth data measuring head, measurement device and measuring method

Номер патента: US11885613B2. Автор: Minjie Wang,Yushi LIANG. Владелец: Shanghai Percipio Technology Ltd. Дата публикации: 2024-01-30.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20190390947A1. Автор: Takeshi Kawabata,Kazuhiko Hidaka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Heterodyne two-dimensional grating measuring device and measuring method thereof

Номер патента: US20220228890A1. Автор: Wei Wang,Wenhao Li,Xuefeng Yao,Zhaowu LIU,Hongzhu YU,Rigalantu Ji. Владелец: Changchun Institute Of Optics Fine Mechanics And Physics Academy Of Sciences. Дата публикации: 2022-07-21.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US11948323B2. Автор: Guannan JIANG,Annan Shu,Weilin Zhuang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200041251A1. Автор: Hideo Takizawa,Teruaki Yamazaki,Ko GONDAIRA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Measuring device and measuring system

Номер патента: US20230251076A1. Автор: Tadao Senriuchi,Sadaharu Yoneda. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Depth data measuring head, computing device and measurement method

Номер патента: EP4328541A1. Автор: Minjie Wang,Yushi LIANG. Владелец: Shanghai Percipio Technology Ltd. Дата публикации: 2024-02-28.

Depth data measuring head, computing device and measurement method

Номер патента: US20240167811A1. Автор: Minjie Wang,Yushi LIANG. Владелец: Shanghai Percipio Technology Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US20230243646A1. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20240037770A1. Автор: Guannan JIANG,Annan Shu,Weilin Zhuang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Measurement method of surface shape and surface shape measurement device

Номер патента: US20230324168A1. Автор: Yoshiaki Kato,Yumiko Mori. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: EP4336141A1. Автор: Guannan JIANG,Annan Shu,Weilin Zhuang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-13.

Workpiece measurement method

Номер патента: US20190247970A1. Автор: Koji Kasai,Kazunari Ishii,Alexandra Florentina STANCU. Владелец: Makino Milling Machine Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Measurement method, measurement program, and measurement system

Номер патента: US20180269116A1. Автор: Manabu Takakuwa,Kenji Konomi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Wafer type measuring apparatus and magnetic flux density measuring method using the same

Номер патента: US20240151767A1. Автор: Youngsik Bang,Dongok AHN,Sanghyun SON,Sangmin HA,Yongjun SEO,Sujin CHAE,Jeongmo HWANG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Building inspection and measurement device

Номер патента: US20200182598A1. Автор: Gregory E. Lowitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-06-11.

Building inspection and measurement device

Номер патента: US20220307809A1. Автор: Gregory E. Lowitz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-29.

Optical Fiber Displacement Sensor Fixing Device

Номер патента: LU503908B1. Автор: Yimou Zhao. Владелец: Univ Harbin Eng. Дата публикации: 2023-10-16.

Combined Leveling and Measurement Tool for Piping Elements

Номер патента: US20230194231A1. Автор: Erwin Escobar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-22.

Frame for the detection and measurement of the longitudinal profile of the rail

Номер патента: NL2033290B1. Автор: Favaron Claudio. Владелец: Mecno Service S R L. Дата публикации: 2024-07-08.

Damper with displacement sensor for laundry appliance

Номер патента: US09816217B2. Автор: Andreas Pelczer,Thomas Peuker,Nicola Ius,Stefano De Paoli. Владелец: Electrolux Home Products Corp NV. Дата публикации: 2017-11-14.

Device and method for optically scanning and measuring an environment and a method of control

Номер патента: US09769463B2. Автор: Rolf Heidemann,Martin Ossig,Rasmus Debitsch,Gerrit HILLEBRAND,Johannes Buback. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09733066B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-08-15.

Object-forming machine, cross-section measurement apparatus, and cross-section measurement method

Номер патента: US10618220B2. Автор: Masato Kon,Gyokubu Cho,Hidemitsu Asano. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-04-14.

Measuring device, measuring method, and programs therefor

Номер патента: US10240976B2. Автор: Akira Oide,Atsushi Shoji,Hiroki Nagashima. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2019-03-26.

Measuring device, measuring method, and programs therefor

Номер патента: US20170097260A1. Автор: Akira Oide,Atsushi Shoji,Hiroki Nagashima. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-04-06.

Protective film thickness measuring method

Номер патента: US11892282B2. Автор: Kunimitsu Takahashi,Nobuyasu Kitahara,Hiroto Yoshida,Joel Koerwer,Kuo Wei Wu,Naoki Murazawa. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Material Volume Expansion Characteristic Measuring Device and Measuring Method Thereof

Номер патента: NL2036832A. Автор: Qiang Hongfu,Wang Zhejun. Владелец: Univ Rocket Force Eng. Дата публикации: 2024-03-01.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: GB2587099A. Автор: OZAKI Keita,Sakoda Naokazu. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2021-03-17.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20210356591A1. Автор: Tomotaka Takahashi,Ryusuke Kato. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Intelligent measurement method and system for flatness of dam foundation of hydropower station

Номер патента: LU505098B1. Автор: Shitao Wang,Weiwei AN,Jianlei Wang,Yikun Wei,Huayong Tang. Владелец: Huaneng Xinjiang Energy Dev Co Ltd Aoku Hydropower Branch. Дата публикации: 2024-03-14.

Online screen calibration and measuring method

Номер патента: WO2001033988A1. Автор: Lanier M. Davenport,Daryl G. Powell,Carol Espinosa. Владелец: International Gluv Corporation. Дата публикации: 2001-05-17.

Electromechanical displacement sensor

Номер патента: US20220049944A1. Автор: Yuri Toride,Tamer Elazhary. Владелец: Facebook Technologies LLC. Дата публикации: 2022-02-17.

Dual-optical displacement sensor alignment using knife edges

Номер патента: CA3120171C. Автор: Michael Kon Yew Hughes,Mayank KALRA,Tal Katz,Sudhir Thalore,Ian Charles BARON. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Dual-optical displacement sensor alignment using knife edges

Номер патента: CA3120171A1. Автор: Michael Kon Yew Hughes,Mayank KALRA,Tal Katz,Sudhir Thalore,Ian Charles BARON. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2021-12-05.

Electromechanical displacement sensor

Номер патента: EP4196742A1. Автор: Yuri Toride,Tamer Elazhary. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2023-06-21.

Electromechanical displacement sensor

Номер патента: WO2022035588A1. Автор: Yuri Toride,Tamer Elazhary. Владелец: Facebook Technologies, LLC. Дата публикации: 2022-02-17.

Layout and measuring tool

Номер патента: US20200282548A1. Автор: Richard M. Hummel,Steven Charles Cross. Владелец: Woodpeckers LLC. Дата публикации: 2020-09-10.

Auscultation and measuring device

Номер патента: WO2024206518A1. Автор: Valerie Yvonne HUDSON. Владелец: Hudson Valerie Yvonne. Дата публикации: 2024-10-03.

Device for acquisition and measurement of geometric data of at least one motif associated with a spectacle frame glass and associated method

Номер патента: US09726478B2. Автор: Jean-Jacques Videcoq. Владелец: Luneau Technology Operations SAS. Дата публикации: 2017-08-08.

Digital compensation for non-linearity in displacement sensors

Номер патента: US09435644B2. Автор: Masahiro Kamata. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Displacement sensor and its versions

Номер патента: RU2011165C1. Автор: Д.Г. Третьяков,А.В. Обидченко,Ю.М. Быков. Владелец: Третьяков Дмитрий Геннадьевич. Дата публикации: 1994-04-15.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US10722112B2. Автор: Kazutaka Suzuki,Yoshinori Matsui,Naotoshi Hakamata,Haruyoshi Toyoda,Munenori Takumi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-07-28.

Solder bump measuring method and apparatus

Номер патента: US5906309A. Автор: Mamoru Kobayashi,Hideaki Sasaki,Yutaka Hashimoto,Shinichi Kazui. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-05-25.

Sample structure measuring device and sample structure measuring method

Номер патента: US20220196543A1. Автор: Mayumi ODAIRA. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Soft collision grating scale and measuring method thereof

Номер патента: US20140173924A1. Автор: Mengliang Wu. Владелец: Guangdong Rational Precision Instrument Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-26.

Casing deformation amount measuring apparatus and casing deformation amount measuring method

Номер патента: US11840934B2. Автор: Hiroshi Igawa. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-12-12.

Casing deformation amount measuring apparatus and casing deformation amount measuring method

Номер патента: US20230052054A1. Автор: Hiroshi Igawa. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Optical displacement sensor

Номер патента: WO2022129893A3. Автор: Håkon Sagberg,Matthieu Lacolle. Владелец: Sensibel As. Дата публикации: 2022-08-04.

Optical displacement sensor

Номер патента: EP4260004A2. Автор: Håkon Sagberg,Matthieu Lacolle. Владелец: Sensibel As. Дата публикации: 2023-10-18.

Displacement sensor

Номер патента: US8107088B2. Автор: Hiroaki Takimasa,Takahiro Suga. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2012-01-31.

Displacement sensor

Номер патента: US20210310829A1. Автор: Kiwook Lee,Seongki BAEK,Sena JEONG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2021-10-07.

Capacitive displacement sensor system with interdigitated combs

Номер патента: US20230236039A1. Автор: Stephane Bouyat. Владелец: Thales SA. Дата публикации: 2023-07-27.

Induction linear displacement sensor

Номер патента: RU2605641C1. Автор: Павел Вадимович Гробов,Сергей Константинович Крупнов. Владелец: Открытое акционерное общество "Павловский машиностроительный завод ВОСХОД"-ОАО "ПМЗ ВОСХОД". Дата публикации: 2016-12-27.

A device for the checking and measurement of the journal bearing clearance on the rudder shaft of a rudder for water-borne craft

Номер патента: CA2560609C. Автор: Dieter Plappert,Mathias Kluge. Владелец: Becker Marine Systems GmbH and Co KG. Дата публикации: 2009-11-17.

Checking and measurement device for automobile chassis

Номер патента: US4165567A. Автор: Conny E. Olsson. Владелец: Bilskadecenter I Stockholm AB. Дата публикации: 1979-08-28.

Three-dimensional shape measurement device, robot system, and three-dimensional shape measurement method

Номер патента: US11118902B2. Автор: Kentaro Tsukamoto,Tomoki Harada. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-09-14.

Fluxgate current sensor and current measurement method

Номер патента: US20230408559A1. Автор: LIANG Liu,Wei Fu,Xinliang Tian,Zhouyang WAN,Yongliang DING,Baichi YAO,Chuncai YE. Владелец: Shenzhen Hangzhi Precision Electronics Co ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Iron core-annular array multi-ring magnetosensitive current sensor and current measurement method

Номер патента: EP4394397A1. Автор: Li Yao,HE Li,FENG Zhou,MIN Lei,WEI Liu,Xiong Li,Tao Xiao,Siyuan Liang,Kai Zhu,Xiaodong Yin,Kui Xiong,Jicheng YU,Changxi YUE,Dengyun LI,Chunguang LU,Zili XU. Владелец: State Grid Zhejiang Electric Power Co Marketing Service Center. Дата публикации: 2024-07-03.

Temperature sensor, temperature measuring device, and temperature measuring method

Номер патента: US11867458B2. Автор: Manabu NAKAGAWASAI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

PH SENSOR, PH MEASUREMENT METHOD, ION SENSOR, AND ION CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140311923A1. Автор: Takenaka Kazuma,Shintani Yukihiro. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-23.

pH sensor, pH measurement method, ion sensor, and ion concentration measurement method

Номер патента: US8809916B2. Автор: Kazuma Takenaka,Yukihiro Shintani. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2014-08-19.

PH Sensor, PH measurment method, ION sensor and ION concentration measurment method

Номер патента: EP2487486B1. Автор: Kazuma Takenaka,Yukihiro Shintani. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-18.

PH Sensor, PH measurement method, ION sensor and ION concentration measurement method

Номер патента: EP2487486B8. Автор: Kazuma Takenaka,Yukihiro Shintani. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-22.

Gas sensor and gas concentration measurement method

Номер патента: US20190383765A1. Автор: Taku Okamoto. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2019-12-19.

Gas sensor and gas concentration measuring method using the same

Номер патента: US10429338B2. Автор: Taku Okamoto,Yuki Nakayama,Noriko Hirata,Kosuke MONNA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2019-10-01.

EDDY CURRENT SENSOR AND EDDY CURRENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130076348A1. Автор: IDE Naotaka,Yamamoto Takanari,Hiroshima Tatsuo. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-03-28.

Gas sensor and gas concentration measuring method using the same

Номер патента: US20180059046A1. Автор: Taku Okamoto,Yuki Nakayama,Noriko Hirata,Kosuke MONNA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2018-03-01.

ION CONCENTRATION SENSOR AND ION CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170160325A1. Автор: TAMAI Yukio,Yamazaki Shinobu,EDO Yuki. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-08.

GAS SENSOR AND GAS CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200166475A1. Автор: MORI Nobuhiko,Kondo Yuichiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-28.

GAS SENSOR AND GAS CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190383765A1. Автор: OKAMOTO Taku. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-19.

OPTICAL SENSOR, IN PARTICULAR PRESSURE SENSOR AND CORRESPONDING OPTICAL MEASUREMENT METHOD.

Номер патента: FR2673713A1. Автор: PIERRE Guillaume,Tardy Andre,Jurczyszyn Michel. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 1992-09-11.

Solid-state spin magnetic sensor and magnetic field measurement method

Номер патента: CN113640715A. Автор: 杜江峰,朱云彬,荣星,靖克,谢一进. Владелец: University of Science and Technology of China USTC. Дата публикации: 2021-11-12.

Physical quantity sensor and physical quantity measuring method

Номер патента: EP2085789A3. Автор: Tatsuya Ueno. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2011-07-06.

OPTICAL SENSOR, IN PARTICULAR PRESSURE SENSOR AND CORRESPONDING OPTICAL MEASUREMENT METHOD.

Номер патента: FR2673713B1. Автор: PIERRE Guillaume,Tardy Andre,Jurczyszyn Michel. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 1993-06-25.

Ion concentration sensor and ion concentration measuring method

Номер патента: JP6307058B2. Автор: 信夫山崎,幸夫玉井,勇樹江戸. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2018-04-04.

Surface plasmon sensor and refractive index measurement method

Номер патента: WO2012102350A1. Автор: 松田豊稔,小田川裕之. Владелец: 独立行政法人国立高等専門学校機構. Дата публикации: 2012-08-02.

Magnetic sensor and its sensitivity measuring method

Номер патента: KR20090107546A. Автор: 마사야 야마시타,요 야마가타. Владелец: 아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2009-10-13.

Magnetic sensor and its sensitivity measuring method

Номер патента: KR101124025B1. Автор: 마사야 야마시타,요 야마가타. Владелец: 아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2012-03-27.

Eddy current sensor and eddy current measurement method

Номер патента: EP2583092B1. Автор: Tatsuo Hiroshima,Naotaka Ide,Takanari Yamamoto. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-03-04.

Gas concentration sensor, motor vehicle with gas concentration sensor and gas concentration measurement method

Номер патента: DE102010006576A1. Автор: Tobias 93049 Bernat,Armin 93057 Hollstein. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2011-08-04.

Ion sensor and ion concentration measurement method

Номер патента: EP3425381B1. Автор: Hiroshi Kawarada,Keisuke Igarashi,Yukihiro Shintani,Kotaro Ogawa,Masafumi Inaba,Takuro NARAMURA,Sukri Shaili Falina Binti MOHD. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Method of inspection of a differential-inductive sensor of excess pressure

Номер патента: RU2645799C1. Автор: Иван Дмитриевич Вельт,Светлана Анатольевна Полякова,Надежда Борисовна Резникова,Роман Вячеславович Тишкин. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский институт теплоэнергетического приборостроения" АО "НИИТеплоприбор". Дата публикации: 2018-02-28.

Ultrasonic measurement system and measurement method thereof

Номер патента: US09976885B2. Автор: Shuguang Zhang,Jinhui Huang,Xiongbing Kang. Владелец: AUDIOWELL ELECTRONICS (GUANGDONG) Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Partial pressure tool for real-time measurement and adjustment of pressure and viscosity and measurement method thereof

Номер патента: US11262283B2. Автор: Cheng Fu,Bin Huang,Xiaohui Li,Xinyu Hu,Weiwen Zhang,Chunjing Lu,Xiangdong Qi,Fajun ZHAO. Владелец: Chongqing University of Science and Technology. Дата публикации: 2022-03-01.

Partial pressure tool for real-time measurement and adjustment of pressure and viscosity and measurement method thereof

Номер патента: US20210025799A1. Автор: Cheng Fu,Bin Huang,Xiaohui Li,Xinyu Hu,Weiwen Zhang,Chunjing Lu,Xiangdong Qi,Fajun ZHAO. Владелец: Northeast Petroleum University. Дата публикации: 2021-01-28.

Fluid flow measuring device, valve device and measuring method

Номер патента: US20110314930A1. Автор: Hartmut Sauter,Hartmut Sohla,Moritz Kramer,Holger Christian Schönekess. Владелец: MAHLE International GmbH. Дата публикации: 2011-12-29.

Solar radiation characteristics measuring method by the multi-element sensor

Номер патента: RU2677075C1. Автор: Сергей Викторович Зуев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт мониторинга климатических и экологических систем Сибирского отделения Российской академии наук. Дата публикации: 2019-01-15.

Method of controlling mass fraction of uranium-235 isotope in gas phase of uranium hexafluoride and measuring system for implementation of the method

Номер патента: RU2256963C2. Автор: Д.В. Дорофеев,В.И. Рощупкин,В.В. Водолазских,В.И. Мазин,Ю.Б. Торгунаков,Б.М. Зимин,А.В. Абрамович,В.Е. Горохов,Ю.В. Жилейко,В.М. Илюхин,Н.Н. Сидоренко. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Сибирский химический комбинат" Министерства Российской Федерации по атомной энергии. Дата публикации: 2005-07-20.

Ambient air temperature measurement method

Номер патента: RU2661459C2. Автор: Рафкат Абдулхаевич Кантюков,Рашад Карибуллович Гимранов,Андрей Владимирович Воронин,Сергей Геннадьевич Тимофеев,Рашит Гимадетдинович Шарафиев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Газпром трансгаз Казань". Дата публикации: 2018-07-16.

Measurement system, analysis program and measurement method

Номер патента: US20240165604A1. Автор: Yutaka Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Electromagnetic wave in the shf devices slowing structures film local absorbers differential attenuation discrete measurement method with long-term interaction

Номер патента: RU2665357C1. Автор: Владимир Игоревич Роговин,Марина Анатольевна Носова,Дмитрий Николаевич Золотых. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Алмаз" (АО "НПП "Алмаз"). Дата публикации: 2018-08-29.

Quasi-distributed resistive sensor and method for measuring distributed parameters of physical quantities based thereon

Номер патента: RU2766991C2. Автор: Юрий Кириллович Евдокимов,Евгений Сергеевич Денисов,Илназ Данилович Шафигуллин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н. Туполева-КАИ" (КНИТУ-КАИ). Дата публикации: 2022-03-16.

Multiphase flowmeter and fluid film measurement method

Номер патента: RU2542587C2. Автор: Эндрю Бэйкер,Александр ЛЮПО,Себастьен КАДАЛЕН,Бенуа ФУРНЬЕ. Владелец: Прэд Рисерч Энд Дивелопмент Лимитед. Дата публикации: 2015-02-20.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330A. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-05-23.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330B1. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-06-28.

Digital fiber-optical displacement sensor

Номер патента: RU2674574C2. Автор: Георгий Иванович Леонович,Сергей Владимирович Олешкевич,Александр Федорович Крутов,Андрей Александрович Крутов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Современные технологии". Дата публикации: 2018-12-11.

Device with improved light source and detector for gravimeter and measuring method

Номер патента: RU2473102C2. Автор: Рокко Дифоджио. Владелец: Бейкер Хьюз Инкорпорейтед. Дата публикации: 2013-01-20.

Measurement method, measuring device, and measurement program

Номер патента: US12019009B2. Автор: Yuji Masuda,Konobu KIMURA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20060125495A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-15.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7009411B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-03-07.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20040256553A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-23.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20030020015A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-30.

Automatic measuring method and apparatus for measuring connecting lines

Номер патента: US20130066580A1. Автор: Chang-Yi Chen,Shih-Tung Lin,Chen-Yung Lin. Владелец: Taiwan Luxshare Precision Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Displacement sensor-combined electrostatic measurement potential sensor and operation method therefor

Номер патента: US20200400731A1. Автор: Jung Hyun Kim,Joo Hun Yun,Soo Yul JUNG. Владелец: Dong Il Tech Ltd. Дата публикации: 2020-12-24.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7321232B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-01-22.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Agricultural grain granulometer, system and method for collecting, moving and measuring grain granulometry

Номер патента: EP4300075A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Measurement method for non-destructive inspection, measurement device, non-destructive inspection method, information processing device of non-destructive inspection, and recording medium

Номер патента: US12044654B2. Автор: Hiroshi Morita,Yoshiyuki Hashimoto,Mitsuru Mimori,Katsunori Teshima,Motonori Takakura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-23.

Converter gas component soft measuring method based on gas heat value and flue gas components

Номер патента: MY192529A. Автор: Lin Ma,Hongming Wang,Yujie Wang,Yalan Ye,Xiang An,Yicui Wang. Владелец: Jiangsu Maritime Vocational Inst. Дата публикации: 2022-08-26.

Measurement structure, method of manufacturing same, and measuring method using same

Номер патента: US20140021353A1. Автор: Takashi Kondo,Seiji Kamba. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Measurement method and measurement device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test apparatus for coated metal material

Номер патента: US12066374B2. Автор: Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US20170218423A1. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US10619179B2. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-14.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US20160077073A1. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2016-03-17.

Body temperature measurement method and apparatus, robot and storage medium

Номер патента: EP4134210A1. Автор: Zhetao Xu. Владелец: Jingdong Technology Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

Plasma measurement method and plasma processing apparatus

Номер патента: US20240274417A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09915636B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-03-13.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09797719B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09719781B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Measuring apparatus, measuring method, and processing apparatus thereof that obtain displacement amount of an object using clock in synchronization with data request signal

Номер патента: US09488501B2. Автор: Yoshiyuki Okada,Takafumi Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

Displacement sensor

Номер патента: US7501835B2. Автор: Yutaka Nonomura,Motohiro Fujiyoshi,Hisayoshi Sugihara. Владелец: Toyota Central R&D Labs Inc. Дата публикации: 2009-03-10.

Displacement sensor

Номер патента: US20020145420A1. Автор: Masahiro Kimura,Kiyohiro Fukaya,Keiji Yasuda,Kouji Akashi. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2002-10-10.

Glucose dehydrogenase having modified electron transfer properties, and glucose measurement method

Номер патента: US20180340211A1. Автор: Seiichi Hara,Yosuke MASAKARI. Владелец: Kikkoman Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220218225A1. Автор: Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Measurement method for solar cell module

Номер патента: EP4191867A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-06-07.

Measurement method for photovoltaic module

Номер патента: US20230299716A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Infrared thermometer and forehead temperature correction and measurement method

Номер патента: US20230061946A1. Автор: Sean R. Jackson,Shengzhou YANG. Владелец: Shenzhen Youngme Information Communication System Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Groundwater level elevation measurement method, groundwater storage measurement system, and application

Номер патента: US12044610B1. Автор: XU Wang,Hongyue Sun. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-23.

Measurement method for characterization of a photodetector

Номер патента: US20240247977A1. Автор: Gerd Plechinger. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-07-25.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: US20240288313A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-08-29.

Magnetic sensor and magnetic sensor apparatus

Номер патента: US20010028246A1. Автор: Hiroshi Nakamura,Fusayoshi Aruga,Shogo Momose,Junichi Nakajyo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-10-11.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20240280628A1. Автор: Shigeru Nakajima,Takuma Hara,Tatsuya Ohguro,Katsura Miyashita,Yasuhisa OOMURO. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: EP4425134A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-09-04.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: FI20235241A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-08-29.

Measurement system for micro-mixing and measurement method thereof

Номер патента: US20240310289A1. Автор: ZHENG Li,Jie Chen,Chao Yang,Xin Feng,Weipeng Zhang,Yuanyuan Li,Minghui Xie,Zaisha MAO,Xiaoxia DUAN,Dingwang HUANG. Владелец: Nanjing Jiuzhang Chemical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Pretreatment method for nitrogen and oxygen isotope measurement with chemical conversion method and measurement method

Номер патента: AU2020312536A1. Автор: FANG Yang,Ning An,Wenjuan Ma,Runyu Zhang,Jianyang Guo,Fengchang Wu,Weiying FENG,Haiqing Liao,Rui CEN. Владелец: CHINESE RESEARCH ACADEMY OF ENVIRONMENTAL SCIENCES. Дата публикации: 2022-03-10.

Biomagnetic resonance device and measuring method therefor

Номер патента: US09921280B2. Автор: Yong-Ho Lee,Kiwoong Kim,Seong-Joo Lee,Kwon-Kyu Yu. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Equipment for logging and transmitting measured values of physical quantities, and measurement sensor for such equipment

Номер патента: US09632145B2. Автор: Jean-Paul Borlee. Владелец: Suez Environnement SAS. Дата публикации: 2017-04-25.

Refractive index distribution measuring method, refractive index distribution measuring apparatus, and method for manufacturing optical element

Номер патента: US09625350B2. Автор: Tomohiro Sugimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Filling capacity measurement method

Номер патента: RU2541148C1. Автор: Норио КАЦУЯМА,Хироси ЮАСА. Владелец: Джапан Тобакко Инк.. Дата публикации: 2015-02-10.

Measurement method, measurement device, and measurement program

Номер патента: US20150106045A1. Автор: Masahiro Morooka,Jusuke Shimura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-04-16.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

Oxytocin purifying method and measuring method and kit

Номер патента: US20240230684A9. Автор: Masaaki Kojima,Fumie AKUTSU. Владелец: Fujifilm Wako Pure Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring method and measuring station to determine the volume of liquid product contained in a disposable cartridge for smoking articles

Номер патента: EP3746751A1. Автор: Luca Federici,Gianpietro LAMBORGHINI. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2020-12-09.

Full-path circuit delay measurement device for field-programmable gate array (FPGA) and measurement method

Номер патента: US11762015B2. Автор: Yajun Ha,Weixiong JIANG. Владелец: ShanghaiTech University. Дата публикации: 2023-09-19.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220011167A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2022-01-13.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20190360867A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2019-11-28.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20230258504A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-17.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11733103B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-22.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11169031B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2021-11-09.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Dose measuring device for the measurement of a radiation dose and measurement method for determining the radiation dose applied during pasteurization and/or sterilization of particulate material

Номер патента: US20240004089A1. Автор: Georgios AKEPSIMAIDIS. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2024-01-04.

Cell cycle measuring method based on an electrochemical method

Номер патента: US09945841B2. Автор: Tae-hyung Kim,Jeong-Woo Choi,Kafi Md Abdul. Владелец: Industry University Cooperation Foundation of Sogang University. Дата публикации: 2018-04-17.

Measurement system, calibration and measurement method for bulk radiation wastes

Номер патента: US09841516B1. Автор: Ping-Ji Huang,Ming-Chen Yuan,Chin-Hsien Yeh,Wun-Jhih Huang. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2017-12-12.

Pressure sensor, measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09841336B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-12-12.

Lens power measurement device and measurement method

Номер патента: US09778136B2. Автор: Hiroaki Suzuki,Atsushi Kobayashi. Владелец: Menicon Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

High-precision Measuring Device for Pre-breakdown Current of Vacuum Chamber and Measuring Method

Номер патента: NL2026660B1. Автор: Yang Wei,WU Fangfang,Li Shimin,Du Zhaoqi,Zhang Chaohai. Владелец: Zhejiang Huadian Equipment Testing Inst Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-01.

Frequency characteristic measuring method at feed axis control unit

Номер патента: US20170292980A1. Автор: Masashi Miyaji,Takashi NORIHISA. Владелец: Okuma Corp. Дата публикации: 2017-10-12.

Image sensor and methods of fabricating and measuring image sensor

Номер патента: US20200251658A1. Автор: Minkyung Lee,Keewon Kim,Da Il EOM,Byeongtaek Bae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-08-06.

Measuring method of liquid mixture purity and apparatus for measuring liquid mixture purity

Номер патента: US20240077392A1. Автор: Kuo-Liang Yeh,Wen-Ting Huang,Jung-Kuei Peng,Ya-Ju Chang,Sheng-Tang Chang,Min-Wen WENG. Владелец: 3s Silicon Tech Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

Fabrication method of conductive fabric, multi-pressure sensor for fiber type and measuring method of multi-pressure

Номер патента: US20210156752A1. Автор: Seong Jin Jang,Jae Hoon Ko,Jee Young Lim,Seung Ju LIM. Владелец: Korea Institute of Industrial Technology KITECH. Дата публикации: 2021-05-27.

Granular-substance component measuring method and granular-substance component measuring instrument

Номер патента: EP4246128A1. Автор: Yasuhito Haijima,Shun YAMAUCHI. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: US20210344056A1. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Hydrogen-gas concentration sensor and hydrogen-gas concentration measuring device

Номер патента: US20100166614A1. Автор: Naoki Uchiyama,Tomomi Kanai. Владелец: Atsumitec Co Ltd. Дата публикации: 2010-07-01.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

System for improving the dynamic range and reducing measurement uncertainty in fibre optic distributed sensors and fibre optic distributed measurement equipment

Номер патента: US20120062875A1. Автор: Sonia Martin Lopez,Miguel Gonzalez Herraez,Juan Diego Ania Castañón,Pedro Corredera Guillén. Владелец: ENTIDAD PUBLICA EMPRESARIAL ADMINISTRADOR DE INFRAESTRUCTURAS FERROVIARIAS. Дата публикации: 2012-03-15.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US20170138853A1. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: EP3855551A1. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-07-28.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product for a stereoscopic display

Номер патента: US20140160469A1. Автор: Yu-Han Chen,Kuen Lee,Kuo-Chung Huang,Ching-Chiu Liao,Wen-Hui Chang,Hoang-Yan Lin,Lang-Chin Lin,Yi-Heng Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-06-12.

Electroexplosives, rf power safety margin measurement method

Номер патента: US4496901A. Автор: M. Nihat Yazar. Владелец: Minister of National Defence of Canada. Дата публикации: 1985-01-29.

Parallel AC measurement method

Номер патента: US20080258741A1. Автор: Wayne C. Goeke. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2008-10-23.

Optical measurement apparatus and optical measurement method for a liquid or molten material

Номер патента: US20090323071A1. Автор: Takayuki Shima,Michio Suzuki,Masahiro Susa,Junji Tominaga,Toshio Fukaya,Koichi Tsutsumi,Rie Endo,Masashi Kuwahara. Владелец: J A WOOLLAM JAPAN CORP. Дата публикации: 2009-12-31.

Measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US20070203654A1. Автор: Toshihide Ezoe. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Single-beam photothermal measurement apparatus and measurement method for absorptive defects

Номер патента: US12099002B2. Автор: QI Lu,Weiwei Wang,Shijie Liu,Jianda SHAO,Tianzhu Xu,Kaizao Ni,Yingjia Li. Владелец: Shanghai Hengyi Optics And Fine Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Measuring system and measuring method of antenna pattern based on near field to far field transformation

Номер патента: US20240329108A1. Автор: Chang-Fa Yang,Wen-Jiao Liao,Chang-Lun Liao,yuan-chang Hou,Bo-Cheng YOU,You-Hua Lin,Jiahn-Wei Lin,De-Xian Song,Tswen-Jiann Huang. Владелец: Chunghwa Telecom Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Charge amount measurement method and charge amount measurement system

Номер патента: US20240328984A1. Автор: Masaru Inoue,Noriaki Oyabu. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Measurement method using synchronization signal block, terminal device, and base station

Номер патента: US12069599B2. Автор: Lei Chen,Hong Wang,Bin Xu,Zonghui XIE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

TFT device for measuring contact resistance and measurement method for contact resistance

Номер патента: US09970978B1. Автор: Bo Sun,Xiaoling Zou. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Single-camera system for measuring a vehicle distance and measurement method thereof

Номер патента: US09964406B2. Автор: Songwei Lin,Gang LONG. Владелец: Protruly Vision Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09933404B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-04-03.

Dual gas sensor structure and measurement method

Номер патента: US09927412B2. Автор: Jukka Leppänen,Veli-Pekka Viitanen,Kaisa LEHMUS. Владелец: Vaisala Oy. Дата публикации: 2018-03-27.

Reticle transmittance measurement method, projection exposure method using the same, and projection exposure device

Номер патента: US09904170B2. Автор: Michihiro Murata,Yutaka Gomi. Владелец: Ablic Inc. Дата публикации: 2018-02-27.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09885693B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-02-06.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09880103B2. Автор: Karsten Hiltawsky,Hans-Ullrich Hansmann,Arne TRÖLLSCH,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-01-30.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US09857304B2. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Light wavelength measurement method and light wavelength measurement apparatus

Номер патента: US09846081B2. Автор: Tsuyoshi Konishi,Tomotaka Nagashima,Takema SATOH. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-12-19.

Reticle transmittance measurement method, and projection exposure method using the same

Номер патента: US09733567B2. Автор: Michihiro Murata,Yutaka Gomi. Владелец: Ablic Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Semiconductor device and measurement method

Номер патента: US09606007B2. Автор: Yosuke IWASA. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Interface between vital-signs sensors and patient monitor

Номер патента: US09599521B2. Автор: Moshe Yarden,Vladimir Gorovetz. Владелец: MEDISIM LTD. Дата публикации: 2017-03-21.

Mixed current sensor and method for fitting said sensor

Номер патента: US09341654B2. Автор: David Loglisci. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2016-05-17.

A solution for measurement of trehalase in urine and measurement method using this solution

Номер патента: EP4267966A1. Автор: Bülent BIDI,Abdullah Olgun. Владелец: ARGERON MEDIKAL ARASTIRMA SANAYI VE TICARET AS. Дата публикации: 2023-11-01.

A Solution for Measurement of Trehalase in Urine and Measurement Method Using this Solution

Номер патента: US20240102076A1. Автор: Bülent BIDI,Abdullah Olgun. Владелец: ARGERON MEDIKAL ARASTIRMA SANAYI VE TICARET AS. Дата публикации: 2024-03-28.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP4130738A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Vibration measurement system, vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20210029297A1. Автор: Kazuhito Murata,Masahiko Ohta,Gaku Nakano,Asuka ISHII. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

Power supply noise measuring circuit and power supply noise measuring method

Номер патента: US20080218195A1. Автор: Mikihiro Kajita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-11.

Measuring Method and Measuring Apparatus

Номер патента: US20190056347A1. Автор: Hisashi Kaneda,Ayano Nakatani. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-02-21.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11761812B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Fluid mechanical property measurement method and measurement device

Номер патента: US9518908B2. Автор: Keiji Sakai,Tomoki Ishiwata. Владелец: Foundation for the Promotion of Industrial Science. Дата публикации: 2016-12-13.

Capacitance type displacement detection apparatus

Номер патента: US20010038292A1. Автор: Kenichi Nakayama,Atsushi Tominaga,Toshihiro Hasegawa. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2001-11-08.

Systems and methods for switched multi-transducer pressure sensors and compensation thereof

Номер патента: US20190033154A1. Автор: Haig Norian,Joseph VanDeWeert. Владелец: Kulite Semiconductor Products Inc. Дата публикации: 2019-01-31.

Measurement system, measurement method, injector, and method for injecting biomolecule-containing solution into to-be-injected cell using same

Номер патента: US20240325648A1. Автор: HIROSHI Miyazaki,Toru Kitaguchi,Yuko Sakaguchi. Владелец: Daicel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Probe apparatus, and measurement method and measurement system of junction resistance of superconducting qubit

Номер патента: US20240329162A1. Автор: Fu Zhang,HUI Zhang,Yao Liu,Yongjie Zhao,Xiansheng JIN. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Fluid mechanical property measurement method and measurement device

Номер патента: US09518908B2. Автор: Keiji Sakai,Tomoki Ishiwata. Владелец: Foundation for the Promotion of Industrial Science. Дата публикации: 2016-12-13.

Measurement method, non-transitory computer-readable medium and measurement apparatus

Номер патента: US20200271708A1. Автор: Kazuhiko Kobayashi. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Scanning Probe Microscope and Measurement Method Using Same

Номер патента: US20140165237A1. Автор: Masahiro Watanabe,Toshihiko Nakata,Takehiro TACHIZAKI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-06-12.

Measuring method and measuring apparatus

Номер патента: US12072273B2. Автор: Takeshi Higuchi,Kasumi Okabe. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Multi-physical field measurement device for metal solidification process and housing thereof, and measurement method

Номер патента: US20230314349A1. Автор: Hui Xing,YANG Tang,Ya Zhang,Yue Wu,Qing Dong,Jiao Zhang,Baode Sun,Yanfeng HAN,Yongbing DAI,Chaopeng FU. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2023-10-05.

Structure for measuring gate misalignment and measuring method thereof

Номер патента: US20060231906A1. Автор: Young-Gun Ko,Ja-hum Ku. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-10-19.

Measurement device and measurement method

Номер патента: EP4428525A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Quantum receiver using square of homodyne detection for target detection of quantum radar and measurement method therefor

Номер патента: US12050263B2. Автор: SuYong LEE,Sangkyung Lee,Yonggi JO,Yongsup IHN,Zaeill KIM. Владелец: Agency for Defence Development. Дата публикации: 2024-07-30.

Ear model unit, artificial head, and measurement device and method using said ear model unit and artificial head

Номер патента: US09992594B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Displacement sensor and displacement detection method

Номер патента: US09772198B2. Автор: Tatsuo Ota,Tetsuya Shimizu,Shogo Terada,Hideki Kubo,Satoshi Hanaka. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US09709502B2. Автор: Tomohiro Endo,Kazuyuki Oguri,Takeshi Muranaka,Yasushi Kondo,Hidenobu Kawada. Владелец: FUJIREBIO INC. Дата публикации: 2017-07-18.

Online measuring assembly of the rheological properties of a drilling fluid and associated measuring method

Номер патента: US09638618B2. Автор: Eric Villard,Namic Klioua. Владелец: Geoservices Equipements SAS. Дата публикации: 2017-05-02.

Spatiotemporally resolved far-field pulse contrast measuring method and device

Номер патента: US09574946B2. Автор: Peng Yuan,Jing Wang,Guoqiang Xie,Dianyuan Fan,Jingui Ma,Yongzhi Wang,Liejia Qian. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2017-02-21.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240230899A9. Автор: Tomonari Yoshida. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20200286249A1. Автор: Hiroshi Ohno,Kiminori Toya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Quantitative impact control and measurement system

Номер патента: US20190242766A1. Автор: Hoon Ryu,Sungwook Yang,Eui-Sung Yoon,Hyeonjoo IM. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2019-08-08.

Measurement method of specimen liquid and specimen liquid sensor

Номер патента: US20180074017A1. Автор: Hiroshi Katta. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-03-15.

Method of manufacturing circuit pattern structure and measurement method

Номер патента: US20240170345A1. Автор: Chih-Cheng LEE,Yu-Kai Lin. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Desorbed gas amount testing device and measuring method

Номер патента: AU2023249688A1. Автор: Cheng Tao,Ming Fan,Wentao Zhang,Longfei LU,Yongqiang ZHAO,Lingjie YU,Zongquan HU,Qigui Jiang,Huasheng QI,Changbo ZHAI. Владелец: Sinopec Exploration and Production Research Institute. Дата публикации: 2024-10-10.

Volume measuring device and volume measuring method

Номер патента: US09976892B2. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Imagineering Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Probe system, mixed primary reference probe for an aircraft, associated aircraft and measuring method

Номер патента: US09927456B2. Автор: Jean-Pierre Schlotterbeck,Jacques Mandle,Bernard Ledain,Gilles Genevrier. Владелец: Thales SA. Дата публикации: 2018-03-27.

Multi-electrode conductive probe, manufacturing method of insulating trenches and measurement method using multi-electrode conductive probe

Номер патента: US09739802B2. Автор: Bernard HaoChih LIU,Chun-Chieh TIEN,Jui-Teng Cheng,Yu-Lun Cheng. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2017-08-22.

Load measuring apparatus and load measuring method

Номер патента: US09719869B2. Автор: Hideaki Tanaka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Ozone water concentration measurement apparatus and ozone water concentration measurement method

Номер патента: US09625405B2. Автор: Shigeo Sekiguchi,Kazutaka Murata,Yasuaki Einaga,Yuya Ishii,Ivandini TRIBIDASARIANGGRANINGRUM. Владелец: Nikka Micron Co Ltd . Дата публикации: 2017-04-18.

Gonio-spectroradiometer and measuring method thereof

Номер патента: US09587984B2. Автор: Dong-Hoon Lee,Seongchong Park,Chul-Woung Park,Seung-Nam PARK. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-03-07.

Standard light source having restriction portion for diffuse reflection and measurement method

Номер патента: US09377352B2. Автор: Kazuaki Ohkubo. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-28.

Electrostatic capacity sensor and measuring instrument

Номер патента: US20240206757A1. Автор: Jun Takagi,Tomoki Takahashi,Yoshie Kuramochi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Devices, systems and methods for detecting leaks and measuring usage

Номер патента: US12031687B2. Автор: Abraham Greenboim. Владелец: Iot Technologies Llc. Дата публикации: 2024-07-09.

Optical magnetic field sensor and optical magnetic field measurement apparatus using the same

Номер патента: WO2004072671A1. Автор: Young-soo Kim,Tae-Hyun Youn. Владелец: Lee, Hun-Su. Дата публикации: 2004-08-26.

Pore-space measurement method apparatus and system

Номер патента: US09613253B2. Автор: Chi Vinh LY,Graham Spence. Владелец: CGG SERVICES SAS. Дата публикации: 2017-04-04.

Data storage device measuring resonant frequency of a shock sensor by applying differential excitation and measuring oscillation

Номер патента: US09564162B1. Автор: Timothy A. Ferris,Jaesoo Byoun. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2017-02-07.

Surface plasmon resonance fluorescence measurement device and surface plasmon resonance fluorescence measurement method

Номер патента: US09464988B2. Автор: Yasuhiro Sando,Masataka Matsuo,Kenichi Miyata,Takahiro Mohri,Gou Yanagihara. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2016-10-11.

Capacitance measurement method and its application

Номер патента: RU2564516C2. Автор: Йоаким ЛАРССОН,Бо МАТТИАССОН,Мартин ХЕДСТРЕМ,Даг ЭРЛАНДССОН. Владелец: КапСензе ХБ. Дата публикации: 2015-10-10.

Fiber-optic current transformer based on nitrogen-vacancy (NV) centers in diamond, and measurement method

Номер патента: US11747370B2. Автор: Bowen Zhao,Shaochun Zhang. Владелец: Anhui Guosheng Quantum Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Measurement apparatus, measurement compensation system, measurement method and measurement compensation method

Номер патента: US20230010284A1. Автор: Xiang Li. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-01-12.

Optical displacement sensor and external force detecting device

Номер патента: US20050257627A1. Автор: Atsushi Kitamura,Shigeyuki Adachi,Sawa Tanabe. Владелец: Minebea Co Ltd. Дата публикации: 2005-11-24.

Particle measuring apparatus and particle measuring method

Номер патента: US09885649B2. Автор: Kenichi Otsuka,Masaki Hirano,Yuichi Kuroda. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Induction type broadband 3-component borehole magnetic measuring sensor and borehole electromagnetic tomography method using the same

Номер патента: US09746575B2. Автор: Tae Jong Lee,Myeong Jong Yi,Yoonho Song. Владелец: Korea Institute of Geoscience and Mineral Resources KIGAM. Дата публикации: 2017-08-29.

Fluid property sensor and fluid particle sensor

Номер патента: US20240151677A1. Автор: David Rutledge,Richard Hull,Chris HOLT,Arunkumar Sundaram,Patrick EMOKPAE,Richard HELFMANN,Terry GREENIAUS,Mohammad ABDOLRAZZAGHI,Brad HESSON,Kenny Xu. Владелец: Fluidinsight Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Calibration of and site selection for a WIM sensor and WIM sensor

Номер патента: US12130168B2. Автор: Biruk Hailesilassie. Владелец: KISTLER HOLDING AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Supplying-end module of induction type power supply system and voltage measurement method thereof

Номер патента: US09960639B2. Автор: Ming-Chiu TSAI,Chi-Che Chan. Владелец: Fu Da Tong Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Method of reducing measurement error of temperature with electric bridge and measuring axle of wheatstone-kapinos

Номер патента: RU2738198C1. Автор: Евгений Федорович Капинос. Владелец: Акционерное общество "Государственный космический научно-производственный центр им. М.В. Хруничева". Дата публикации: 2020-12-09.

Distance measuring method, and device for its implementation (versions)

Номер патента: RU2481554C2. Автор: Марат Хаджи-Муратович Абдуев,Аслан Хаджимуратович Абдуев,Имангазали Юнусович Нураев. Владелец: Имангазали Юнусович Нураев. Дата публикации: 2013-05-10.

Temperature measurement device, thermometer, temperature measurement method, and temperature attenuation measurement method

Номер патента: US20240068884A1. Автор: Takashi Nonaka,Takahiro Okabe,Shigenao Maruyama,Toshinori Nakajima,Masaya Higashi,Yasushi Hosokawa,Manabu Orito,Yuya Iseki,Takuma Kogawa,Yutaro Tabata,Tadashi Matsudate. Владелец: Semitec Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

A New Measuring Method of Elastic Modulus of Sn-Pb Alloy Solder Paste In Reflow Soldering Process

Номер патента: LU502851B1. Автор: Yongkun Wang,Guoguang ZHANG,Wenchao Tian,Fengjiang Yuan. Владелец: Univ Xidian. Дата публикации: 2024-03-28.

Management method, measuring method, measuring device, crystal oscillator sensor, and set

Номер патента: US20220326184A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-10-13.

Methods, systems and devices for earth electric field intensity indication and measurement

Номер патента: RU2584716C2. Автор: Эндрю Дэнис ХИББС. Владелец: Граундметрикс, Инк.. Дата публикации: 2016-05-20.

Spray distribution measuring device and measuring method

Номер патента: US6053037A. Автор: Osamu Matsumoto,Shinji Kojima. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2000-04-25.

Measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US20200183493A1. Автор: Hsuan-Yu Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-06-11.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US11906374B2. Автор: Tomoya Miyata. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Temperature Measuring Circuit and Measuring Method Thereof

Номер патента: US20200355561A1. Автор: Haibin Liu,Wenbo Liu,Guohui Hu,Pei QIAN,Luping Zhong,Xiantao ZHU,Zifeng LIANG,Shuanglin Guo,Wanxing Chen,Baolin ZHOU,Yanjun Peng. Владелец: Gree Wuhan Electric Appliances Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-12.

Turbidity sensor and method for measuring turbidity

Номер патента: US20190234873A1. Автор: Mike Riding,Craig Stracey. Владелец: Process Instruments UK Ltd. Дата публикации: 2019-08-01.

Air detection and measurement system for fluid injector

Номер патента: US20240230702A9. Автор: Michael Swantner,William BARONE,Christopher Capone,Jaroslaw Wlodarczyk,Charles Lang,Ronald Brown,Curtis Pastor. Владелец: Bayer HealthCare LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

Induction cooker temperature measuring method and device and readable storage medium

Номер патента: EP3693668A1. Автор: Wei Chen,Shuai Wang,Zhao Wang,Xiaohui Li,Shaohua HE. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Scanning probe microscope and measuring method by means of the same

Номер патента: US20050210966A1. Автор: Kazunori Ando,Masafumi Watanabe. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2005-09-29.

Devices, systems and methods for detecting leaks and measuring usage

Номер патента: US20240280430A1. Автор: Abraham Greenboim. Владелец: Iot Technologies Llc. Дата публикации: 2024-08-22.

Distance measurement method and apparatus, and distance measurement sensor and distance measurement sensing array

Номер патента: US12123978B2. Автор: Shuyu Lei. Владелец: Ningbo Abax Sensing Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Devices, systems and methods for detecting leaks and measuring usage

Номер патента: WO2024206701A1. Автор: Abraham Greenboim. Владелец: Iot Technologies Llc. Дата публикации: 2024-10-03.

Vibration-type measurement sensor and measuring system for measurement of density and/or percentage mass flow rate

Номер патента: RU2589506C2. Автор: Альфред РИДЕР,Эннио БИТТО,Петер ЧАБОЛЬД,Дитер МУНДШИН,Кристиан ЩУТЦЕ,Мартин АНКЛИН. Владелец: Эндресс+Хаузер Флоутек Аг. Дата публикации: 2016-07-10.

Substance in the tank level measuring method

Номер патента: RU2671936C1. Автор: Александр Сергеевич Совлуков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук. Дата публикации: 2018-11-07.

Range-measurement method of single-position radar of mobile radio signal sources on a road network

Номер патента: RU2703258C1. Автор: Валерий Владимирович Хуторцев. Владелец: Валерий Владимирович Хуторцев. Дата публикации: 2019-10-16.

Device for reminding and measuring level of substance inside container with substance

Номер патента: RU2730376C9. Автор: Яков БЕНТКОВСКИ. Владелец: Уотерио Лтд. Дата публикации: 2020-12-30.

Device for reminding and measuring level of substance inside container with substance

Номер патента: RU2730376C2. Автор: Яков БЕНТКОВСКИ. Владелец: Уотерио Лтд. Дата публикации: 2020-08-21.

Device for control and measurement of insulation resistance

Номер патента: RU2654917C1. Автор: Гурам Николаевич Ахобадзе. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук. Дата публикации: 2018-05-23.

Optical waveform measurement device and measurement method thereof, complex refractive index measurement device and measurement method thereof, and computer program recording medium containing the program

Номер патента: EP1640709A1. Автор: Shingo NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. SAITO,Masaru NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. IIDA,Masaaki NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. ASHIDA. Владелец: National Institute of Information and Communications Technology. Дата публикации: 2006-03-29.

Sonar method of detecting an object and measuring its parameters

Номер патента: RU2697937C1. Автор: Валерий Григорьевич Тимошенков,Игорь Валерьевич Спирин. Владелец: Акционерное Общество "Концерн "Океанприбор". Дата публикации: 2019-08-21.

Sensor head, calibration system and measurement system for reagent, such as dry powder

Номер патента: RU2449841C1. Автор: Скотт ЭЙЕРС,Дармендр ЛЕН,Адитиананд ГИРДАРИ. Владелец: Кидде Текнолоджиз, Инк.. Дата публикации: 2012-05-10.

Sensor head, calibration system and measurement system for reagent in form of dry powder

Номер патента: RU2424019C1. Автор: Скотт ЭЕРС,Брайен ПОУВЕЛЛ. Владелец: Кидде Текнолоджиз, Инк.. Дата публикации: 2011-07-20.

Device for creation and measurement of destructive load

Номер патента: RU2696070C1. Автор: Александр Львович Яблонев,Анна Михайловна Гусева,Никита Михайлович Жуков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный технический университет". Дата публикации: 2019-07-30.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20210341425A1. Автор: Hiroyasu Tanaka. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Measurement method, measuring device, and measurement program

Номер патента: EP3961186A1. Автор: Yuji Masuda,Konobu KIMURA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2022-03-02.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US11815489B2. Автор: Hiroyasu Tanaka. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Wafer measuring method and device, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20220327682A1. Автор: Sheng-Tsung Tsao. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-10-13.

Measuring device and measuring method for shaft-holding force of seal

Номер патента: US20240201047A1. Автор: Fan Zhang,Fei Guo,Xiaohong Jia,YiJie HUANG,Chong XIANG,Ganlin CHENG,Yajie WAN. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-06-20.

Odor measuring device and odor measuring method

Номер патента: US20240210355A1. Автор: Junji Oshita. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2024-06-27.

Reporting granularity and measurement period for positioning reference signal (prs) measurements

Номер патента: EP4290953A3. Автор: Alexandros Manolakos,Guttorm Ringstad Opshaug,Arash Mirbagheri. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-03-06.

Reporting granularity and measurement period for positioning reference signal (prs) measurements

Номер патента: EP4290953A2. Автор: Alexandros Manolakos,Guttorm Ringstad Opshaug,Arash Mirbagheri. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-12-13.

Reporting granularity and measurement period for positioning reference signal (prs) measurements

Номер патента: EP4150987A1. Автор: Alexandros Manolakos,Guttorm Ringstad Opshaug,Arash Mirbagheri. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-03-22.

Apparatus and method for measuring biomedical data and measurement strip

Номер патента: US20100305419A1. Автор: Byeong-Woo Bae,Sung-Dong Lee,Jin-kyeong Kim,Byung-Hoon Kho,Ji-Eon Ryu,Hyou-Arm Joung. Владелец: Infopia Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-02.

Speed measurement method, system, and apparatus of medium and low speed maglev train

Номер патента: US20240219417A1. Автор: Jing Shi,Jia Liu,Hui Yang,Ling Liu,Junfeng Cui,Yating FU,Zhongqi LI,Yanli Zhou,Shuaiqiang DONG. Владелец: CRSC Research and Design Institute Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and circuitry for controlling and measuring electrical parameters in a biological membrane

Номер патента: EP1410015B1. Автор: Albrecht Lepple-Wienhues. Владелец: Flyion GmbH. Дата публикации: 2007-01-24.

Medical device and oxygen concentration measurement method therefor

Номер патента: EP4425168A1. Автор: Zhiqiang Zheng,Jinglei Liu,Shiming AI,Lijin WU. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Method and circuitry for controlling and measuring electrical parameters in a biological membrane

Номер патента: WO2003003005A3. Автор: Albrecht Lepple-Wienhues. Владелец: Albrecht Lepple-Wienhues. Дата публикации: 2003-09-04.

Method and circuitry for controlling and measuring electrical parameters in a biological membrane

Номер патента: WO2003003005A2. Автор: Albrecht Lepple-Wienhues. Владелец: Flyion GmbH. Дата публикации: 2003-01-09.

Method and circuitry for controlling and measuring electrical parameters in a biological membrane

Номер патента: EP1410015A2. Автор: Albrecht Lepple-Wienhues. Владелец: Flyion GmbH. Дата публикации: 2004-04-21.

Sea surface temperature measurement method

Номер патента: AU2021106031A4. Автор: Bin Tian,Wenbo BO,Hao CHA,Dongli DENG,Mengda CUI. Владелец: Pla Naval Engineering Univ. Дата публикации: 2021-10-28.

Method of measuring hematocrit (HCT), and measurement device using the method

Номер патента: US09869654B2. Автор: Yi-Chen Chen,Chien-Hung Lai,Shu-Wei Yang,Yi-Lung Chen,Po-Hao Lin,Ya-Sian Lin,Shih-Jen Lu,Fang-Yi Jiang,Yu-Hsuan Tai. Владелец: BROADMASTER BIOTECH CORP. Дата публикации: 2018-01-16.

Dispenser and measuring cap device and method

Номер патента: US09828230B2. Автор: Muhammad Sami ISMAIL. Владелец: Capsforall, LLC. Дата публикации: 2017-11-28.

Scrolling measurement display ticker for test and measurement instruments

Номер патента: US09709605B2. Автор: Tyler B. NILES,James D. Alley. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Device for measuring flow rate, operating on principle of differentiated pressure, with reserve pressure sensors to detect failure of sensors and reduced efficiency

Номер патента: RU2594951C2. Автор: Фред С. СИТТЛЕР. Владелец: Росемоунт Инк.. Дата публикации: 2016-08-20.

Measurement system for medium flowing in pipelines, and measurement method of pressure difference inside flowing medium

Номер патента: RU2534718C2. Автор: Вивек Кумар,Мартин АНКЛИН. Владелец: Эндресс + Хаузер Флоутек Аг. Дата публикации: 2014-12-10.

Graduation and measurement of temperature in liquid melt using optical fibres

Номер патента: RU2339923C2. Автор: Ян КЮЙПЕРС,Марк СТРАТЕМАНС. Владелец: Хераеус Электро-Ните Интернациональ Н.В.. Дата публикации: 2008-11-27.

Grinding and measuring device with ground coffee dispenser

Номер патента: RU2745812C2. Автор: Джакомо АББЬЯТИ. Владелец: Группо Чимбали С.П.А.. Дата публикации: 2021-04-01.

Mechanical supporting device and measuring gage that contains it

Номер патента: RU2404492C2. Автор: Уве СКУЛЬТЕТИ-БЕТЦ,Улли ХОФФМАНН,Райнер КРАПФ,Кристоф ВИЛАНД,Михаэль МАЛЕР,Эвальд ШМИДТ. Владелец: Роберт Бош Гмбх. Дата публикации: 2010-11-20.

Doppler type ultrasonic flowmeter, method of operation and flow rate measuring method

Номер патента: CA2488036C. Автор: Michitsugu Mori,Yasushi Takeda. Владелец: Tokyo Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2011-08-09.

Method of, and apparatus for, testing and measuring blood clotting time

Номер патента: US5284624A. Автор: Holger Behnk. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-02-08.

Measuring device, measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US20090162879A1. Автор: Takahiro Nakaminami,Jin Muraoka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-06-25.

Branch ratio measuring device, branch ratio measuring method, and optical multiplexing/demultiplexing circuit manufacturing method

Номер патента: US20230324623A1. Автор: Hiroyuki Iida,Hidenobu HIROTA,Takui UEMATSU. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Force sensor and robot equipped with force sensor

Номер патента: US20240077372A1. Автор: Chihiro Nagura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

Phase noise measurement method and measurement system

Номер патента: US11874312B1. Автор: Andreas LÄGLER,Florian Ramian,Karolin Werthmueller. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-16.

Electrochemical measurement method, electrochemical measurement device and transducer

Номер патента: US11940440B2. Автор: Hiroyuki Hayashi,Ryota Kunikata,Atsushi Suda,Kosuke Ino,Kumi Inoue,Tomokazu Matsue. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2024-03-26.

Force sensor and robot equipped with force sensor

Номер патента: US11841287B2. Автор: Chihiro Nagura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Position measurement method, position measurement systems and marking

Номер патента: US20230400579A1. Автор: Nitish Kumar,Sascha Korl,Peer Schmidt,Kristian Morin,Michael HELMBERGER. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2023-12-14.

Measurement method and apparatus for positioning, and storage medium

Номер патента: US20230362867A1. Автор: REN Da,HUI Li,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Measuring method of scanning probe microscopy

Номер патента: US20160377651A1. Автор: Kazunori Harada,Tsukasa Nakai,Jun Hirota. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US20160061793A1. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2016-03-03.

pH or concentration measuring device and pH or concentration measuring method

Номер патента: US8815078B2. Автор: Akira Yamada,Michihiro Nakamura,Keiji Naruse,Satoshi Mohri. Владелец: Okayama University NUC. Дата публикации: 2014-08-26.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20200341034A1. Автор: Andrew Schaefer. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-10-29.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20210186345A1. Автор: Atsushi Ito,Kazunari Yoshifuji. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US10054574B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-08-21.

Measurement method for object to be measured and measurement device used thereof

Номер патента: US20150123001A1. Автор: Takashi Kondo,Makoto Hasegawa,Seiji Kamba,Nobuaki Shirai,Toshiki Okada. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-07.

Sample measuring method, cartridge, and sample measuring device

Номер патента: EP4212881A1. Автор: Yoshinori Nakamura,Kohei Oda,Hironori KATSUMI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Measurement devices and measurement methods for power consumption

Номер патента: US20130275064A1. Автор: Shih-An Yu,Min-Chun TSENG. Владелец: Accton Technology Corp. Дата публикации: 2013-10-17.

Field distribution measuring method and device

Номер патента: US6804617B2. Автор: Hitoshi Kitayoshi. Владелец: MINISTER FOR PUBLIC MANAGEMENT HOME AFFAIRS POSTS AND TELECOMMUNICATIONS. Дата публикации: 2004-10-12.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US11789079B2. Автор: Michael FEILEN. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-10-17.

Measuring equipment and measuring method for measuring electronic properties and optical properties

Номер патента: US20240027512A1. Автор: Ker-Yih Kao,Chien-Li Lin,Kuang-Ming FAN,Wang-Chih Tsai. Владелец: Innolux Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US11791182B2. Автор: Eiji Manabe,Hisanori Hizume,Shigeto Tsuruta,Yuji MIMURA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Scanning electron microscope (sem) measurement method and apparatus

Номер патента: US20240079206A1. Автор: Kihyun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Blood-viscosity measurement method

Номер патента: EP4083600A1. Автор: Eiji Tamura,Hideki Yamamoto,Kimito Kawamura,Hidenari Nishikura,Roberto PLASENZOTTI,Yusuke Negi,Takafumi YABUTA,Bruno Karl. PODESSER. Владелец: Asahi Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2022-11-02.

Measurement methods, measurement devices, and storage mediums

Номер патента: US20210325534A1. Автор: Koichi Tezuka,Koichi Iida,Kosuke YANAI,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Method and application for measuring the intracellular water transmembrane efflux rate, and measurement method and system for magnetic resonance imaging biomarker of glioma

Номер патента: US20230349997A1. Автор: Yingchao LIU,Ruiliang Bai,Guangxu Han,Yinhang Jia. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2023-11-02.

Method and application for measuring the intracellular water transmembrane efflux rate, and measurement method and system for magnetic resonance imaging biomarker of glioma

Номер патента: US11988734B2. Автор: Yingchao LIU,Ruiliang Bai,Guangxu Han,Yinhang Jia. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-05-21.

Gases mixing and measuring for a medical device

Номер патента: AU2022202127B2. Автор: Anthony James Newland,Andre VAN SCHALKWYK,Wenjie Robin LIANG,Rachael GLAVES,Winnie Yong JIANG-FOO. Владелец: Fisher and Paykel Healthcare Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Rotor dynamic balance measurement method based on high-precision clock sampling

Номер патента: ZA202402971B. Автор: Cheng Gong,Zhuang Ma,Zhaomin Jia,Yali Xue. Владелец: Univ Tangshan. Дата публикации: 2024-05-30.

Cartridge with lab on paper type sensors and a method of measurement with their use

Номер патента: WO2024112218A1. Автор: Kamil Zukowski,Michał Chudy,Artur Dybko,Katarzyna Tokarska,Ilona Grabowska-Jadach. Владелец: Politechnika Warszawska. Дата публикации: 2024-05-30.

Systems, sensors and methods for determining a concentration of an analyte

Номер патента: EP3847459A1. Автор: YANG Han,Jiarong Wu,Xiaoke Yi,Michael James COLLINS,Mitchell AUSTIN. Владелец: Ausmed Global Ltd. Дата публикации: 2021-07-14.

Sensor for wear measurement, method of making, and method of operating same

Номер патента: US20140103942A1. Автор: Iosif Izrailit,David L. Carnahan,Grant A. DREW,Richard R. Soelch. Владелец: NanoLab Inc. Дата публикации: 2014-04-17.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Method for determining the performance of a constant false alarm rate device of a sensor and associated devices and method

Номер патента: US20240203238A1. Автор: Vincent Corretja,Adrien Gilliot. Владелец: Thales SA. Дата публикации: 2024-06-20.

Viscoelasticity measurement method and viscoelasticity measurement device

Номер патента: US12098989B2. Автор: Shinsuke Miura,Tsutomu Odagiri,Taku Nakamoto. Владелец: A&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Microfluidic chip, temperature measurement method using the same, and analysis device using the same

Номер патента: US20240293810A1. Автор: LI YANG,Yue Li,Le Gu,Bolin FAN,Qiuxu WEI. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Tank liquid depth measurement method using a pressure sensor

Номер патента: US09494457B2. Автор: Ming-Hong Lin,Yu-Tao YU. Владелец: Cub Elecparts Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Flow meter system, and measuring method of amount of liquid in multiphase flow with large content of gaseous phase

Номер патента: RU2533318C2. Автор: Эндрю Бэйкер,Косан АЙАН. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2014-11-20.

Research installation for determination of dust in air and measuring module of quantitative content of solids in air

Номер патента: RU2749128C1. Автор: Олег Александрович Поваляев. Владелец: Индивидуальный Предприниматель Поваляев Олег Александрович. Дата публикации: 2021-06-04.

Probe to specifically determine the injectivity or productivity of a petroleum well and measuring method implementing said probe

Номер патента: US5372038A. Автор: Serge Nicoletis. Владелец: Francaise de Stockage Geologigue Geostock-Tour Aurore. Дата публикации: 1994-12-13.

Measuring device and measuring method for an injection molding machine for ascertaining a batch-specific characteristic number

Номер патента: US20110254183A1. Автор: Stephan Geise,Jens Ackermann,Paeivi Lehtonen,Patricia Maris-Haug,Guenter Haag,Philipp Liedl. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-10-20.

Electrostatic measuring system for inner wall of fluid pipeline and measuring method thereof

Номер патента: US10890611B2. Автор: Shi-Yuan Tong,Yu-Ting Huang,Mean-Jue Tung. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-01-12.

Level position measuring method and device

Номер патента: US5459933A. Автор: Takeshi Izumitani. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-10-24.

Biosensor and measuring apparatus using the same

Номер патента: US5320732A. Автор: Minoru Fukuda,Shiro Nankai,Mariko Kawaguri,Toshihiko Yoshioka,Haruhiro Tsutsumi. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1994-06-14.

Vehicle stress detecting and measuring method and stress detecting device using said method

Номер патента: US5569857A. Автор: Nagao Miyazaki. Владелец: Japan Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 1996-10-29.

Gas injection amount determining method in isotope gas analysis, and isotope gas analyzing and measuring method and apparatus

Номер патента: CA2541393C. Автор: Masaaki Mori,Masayuki Tani,Yasuhiro Kubo,Tamotsu Hamao,Yasushi Zasu. Владелец: Otsuka Pharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2011-05-10.

Particle-measuring system and particle-measuring method

Номер патента: US7511814B2. Автор: Hayashi Otsuki,Tsukasa Matsuda,Kyoko Ikeda. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-03-31.

Measurement Method, Measurement Device, Measurement System, And Measurement Program

Номер патента: US20230001967A1. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-01-05.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20240085348A1. Автор: Atsushi Yamada,TAKAHIRO Oishi,Sachio Iida,Takuya Ichihara,Toshiyuki Hiroi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Charge-to-mass ratio measurement system for electrostatic atomizing spray nozzle and measurement method therefor

Номер патента: EP3816640A1. Автор: Chen Gong,Mingxiong OU,Weidong Jia,Minmin WU,Huitao ZHOU. Владелец: Jiangsu University. Дата публикации: 2021-05-05.

High-precision dual-axis laser inclinometer based on wavefront homodyne interference and measuring method

Номер патента: US20230384090A1. Автор: Liang Yu,Pengcheng HU. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2023-11-30.

Reagent kit, measurement kit, and measurement method

Номер патента: US20210356474A1. Автор: Kazuhiro Nakamura,Ryo OUCHI,Takeru SHIGEMURA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Overlay measuring method

Номер патента: US20240060916A1. Автор: Minsu Kang,Woojin Jung,Wonjun YANG,Sangho Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-22.

Droplet information measuring method and apparatus therefor, film pattern forming method, device manufacturing method, droplet discharge apparatus, electro-optical apparatus, and electronic apparatus

Номер патента: US20060256147A1. Автор: Takashi Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2006-11-16.

Measurement device, detection device, and measurement method

Номер патента: EP4091540A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-23.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11881102B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-01-23.

Tft device for measuring contact resistance and measurement method for contact resistance

Номер патента: US20180120369A1. Автор: Bo Sun,Xiaoling Zou. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-03.

Tft device for measuring contact resistance and measurement method for contact resistance

Номер патента: US20170089973A1. Автор: Bo Sun,Xiaoling Zou. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-30.

TFT device for measuring contact resistance and measurement method for contact resistance

Номер патента: US9903904B2. Автор: Bo Sun,Xiaoling Zou. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Component concentration measurement device and component concentration measurement method

Номер патента: US11839468B2. Автор: Takuro Tajima,Masahito Nakamura,Michiko Seyama. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-12-12.

Measurement device and measurement method

Номер патента: EP4266036A1. Автор: Hideki Miyazaki,Tetsuya Kuwabara,Akira Yamamura,Yuko Murata. Владелец: National Research And Development Agency Japan Fisheries Research And Education Agency. Дата публикации: 2023-10-25.

Position measuring mechanism and measuring method of linear motion system

Номер патента: US11774521B2. Автор: Sergey Volkov,Mikhail Tiapkin,Gennady Tyapkin,Aleksandr Balkovoi,Oleg Tolstykh. Владелец: Hiwin Mikrosystem Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Sensor for measuring cam and tappet contact force of engine and measuring method

Номер патента: US11821800B2. Автор: Xinyu Zhang,Jie Guo,Shengwei Zhou,Guoan Jiang. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2023-11-21.

Spectral measurement apparatus and measurement method thereof

Номер патента: EP4361585A1. Автор: Zhenwei Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Pressure-controlled device for measuring a target strength of an underwater acoustic scatterer and measuring method using the same

Номер патента: LU500301B1. Автор: Jianfeng TONG,Xuefang WANG,Wenfei Lu,Minghua Xue,Zhongming Zhang. Владелец: Univ Shanghai Ocean. Дата публикации: 2021-12-20.

Sensor for measuring seating force of engine intake and exhaust valve and measuring method

Номер патента: US20230113870A1. Автор: Xinyu Zhang,Jie Guo,Shengwei Zhou,Guoan Jiang. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2023-04-13.

Broadband measurement system and measurement method for broadband property

Номер патента: US11843423B2. Автор: Han-Ti Chuang,wei-yang Chen,Ssu-Han Liu,Wan-Yu Chu. Владелец: TMY Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Measurement system, measurement device, and measurement method to detect a direction in which fluid flows

Номер патента: US11927463B2. Автор: Yutaka Yano,Makoto Saitoh,Eitaro MISUMI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Photo-thermo-acoustic mechanism-based power measurement apparatus and measurement method for terahertz wave at room temperature

Номер патента: US20230144262A1. Автор: Nan Zhang,Weiwei Liu,Lanjun GUO,Tingyuan WANG. Владелец: Nankai University. Дата публикации: 2023-05-11.

Full-path circuit delay measurement device for field-programmable gate array (fpga) and measurement method

Номер патента: US20230194602A1. Автор: Yajun Ha,Weixiong JIANG. Владелец: ShanghaiTech University. Дата публикации: 2023-06-22.

Assembly of sample vessel and measurement electronic unit

Номер патента: US20230176001A1. Автор: Florian PICHLER,Eike Wilhelm Kottkamp,Mattias Benedikt SCHUH. Владелец: Innome GmbH. Дата публикации: 2023-06-08.

Measuring device and measuring method

Номер патента: EP4283283A1. Автор: Atsushi Yamada,TAKAHIRO Oishi,Sachio Iida,Takuya Ichihara,Toshiyuki Hiroi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

Measuring device and measuring method

Номер патента: EP4245214A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Measuring method, measuring device, and measuring system

Номер патента: US20230266261A1. Автор: Takayuki Hatanaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Residual stress measuring method and system

Номер патента: US20080123079A1. Автор: Atsushi Baba,Tetsuya Matsui,Shohei Numata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2008-05-29.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US11356862B2. Автор: Takayuki Furuta,Seiji Hagiwara. Владелец: NTT DOCOMO INC. Дата публикации: 2022-06-07.

Droplet information measuring method and apparatus therefor, film pattern forming method, device manufacturing method, droplet discharge apparatus, electro-optical apparatus, and electronic apparatus

Номер патента: US20050030332A1. Автор: Takashi Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2005-02-10.

Droplet information measuring method and apparatus therefor, film pattern forming method, device manufacturing method, droplet discharge apparatus, electro-optical apparatus, and electronic apparatus

Номер патента: US20080014334A1. Автор: Takashi Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2008-01-17.

Contamination degree measurement apparatus and contamination degree measurement method

Номер патента: WO2008077015A2. Автор: Takashi Furusawa. Владелец: Johnsondiversey, Inc.. Дата публикации: 2008-06-26.

Field distribution measuring method and device

Номер патента: US20030109997A1. Автор: Hitoshi Kitayoshi. Владелец: MINISTER FOR PUBLIC MANAGEMENT HOME AFFAIRS POST AND TELECOMMUNICATIONS. Дата публикации: 2003-06-12.

Granular-substance component measuring method and granular-substance component measuring instrument

Номер патента: US20230296506A1. Автор: Yasuhito Haijima,Shun YAMAUCHI. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20210227399A1. Автор: Takayuki Furuta,Seiji Hagiwara. Владелец: NTT DOCOMO INC. Дата публикации: 2021-07-22.

Measuring method and measuring station to determine the volume of liquid product contained in a disposable cartridge for smoking articles

Номер патента: WO2019150316A8. Автор: Luca Federici,Gianpiero LAMBORGHINI. Владелец: G.D Società Per Azioni. Дата публикации: 2019-10-03.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240142363A1. Автор: Hiroyuki Katayama,Tomoyuki Taguchi,Yuki Miyauchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Measurement method and measurement system

Номер патента: EP4299714A1. Автор: Hiroyuki Katayama,Tomoyuki Taguchi,Yuki Miyauchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-01-03.

Measurement device and measurement method

Номер патента: WO2023148357A1. Автор: Walter Margulis. Владелец: Rise Research Institutes of Sweden AB. Дата публикации: 2023-08-10.

Measurement chip, measuring device and measuring method

Номер патента: WO2024111186A1. Автор: Keiji Tada,Takeshi KAWAJIRI,Syoichiro KAJI. Владелец: FURUNO ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2024-05-30.

Spring testing fixture and measuring assembly thereof

Номер патента: US20120312091A1. Автор: Jui-Pin Lin. Владелец: Cheng Uei Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-13.

Temperature sensor, wearable device comprising temperature sensor, core temperature measurement method using temperature sensor

Номер патента: EP4265176A1. Автор: Sung Jun Hong,Byung Jun Park,Min Suk Lee,Seung Rag Lee,Byung Yeun KIM. Владелец: OSONG MEDICAL INNOVATION FOUNDATION. Дата публикации: 2023-10-25.

Temperature sensor, wearable device comprising temperature sensor, core temperature measurement method using temperature sensor

Номер патента: US20230414108A1. Автор: Sung Jun Hong,Byung Jun Park,Min Suk Lee,Seung Rag Lee,Byung Yeun KIM. Владелец: OSONG MEDICAL INNOVATION FOUNDATION. Дата публикации: 2023-12-28.

Temperature measurement method of honeycomb formed body, and temperature measurement device

Номер патента: US20180257289A1. Автор: Takeshi Tokunaga. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Wire voltage measurement method and apparatus based on electric field sensor

Номер патента: US11774484B1. Автор: Xu Yin,Peng Li,Zhiming Wang,Bing Tian,Qiancheng Lv,Renze CHEN,Zejie Tan,Zhenheng Xu,Licheng Li,Shaoxiong Nie. Владелец: Digital Grid Research Inst China South Pwr Grid. Дата публикации: 2023-10-03.

Apparatus for the detection and measurement of particulates in molten metal

Номер патента: EP1354188A2. Автор: Gregory Kopansky,Richard F. Conti,William Mccauley. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2003-10-22.

Low-cost compact micro-displacement sensor

Номер патента: US20230304830A1. Автор: Che-Chih Tsao,Yi-Chun Tseng. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2023-09-28.

Apparatus for the detection and measurement of particulates in molten metal

Номер патента: WO2002023153A2. Автор: Gregory Kopansky,Richard F. Conti,William Mccauley. Владелец: HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V.. Дата публикации: 2002-03-21.

Method for detecting and measuring a layer deposited on a surface in contact with a liquid medium and detection and measuring sensor implementing the same

Номер патента: EP3710817A1. Автор: Marco Carminati,Andrea Turolla,Manuela ANTONELLI. Владелец: Fondazione Cassa Di Risparmio Delle Province Lombarde. Дата публикации: 2020-09-23.

Method and measuring device for measuring recycled fibre pulp

Номер патента: CA2649580A1. Автор: Heikki Kumpulainen,Jouko Niinimaeki,Lauri Loeytynoja,Ossi Laitinen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-01.

Method and measuring device for measuring recycled fibre pulp

Номер патента: EP2010902A1. Автор: Heikki Kumpulainen,Lauri Loytynoja,Jouko NIINIMÄKI,Ossi Laitinen. Владелец: METSO AUTOMATION OY. Дата публикации: 2009-01-07.

Test and measurement instrument having spectrogram with cursor time correlation

Номер патента: US20230221353A1. Автор: Gary J. Waldo,Alan Edward Wolke. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Test and measurement instrument and method of analyzing an input signal

Номер патента: US20210405091A1. Автор: Thomas Guenther. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-12-30.

Long-Term Benthic Incubation and Measuring System and Method

Номер патента: US20240230613A1. Автор: Jordon Beckler,Csaba Vaczo. Владелец: Florida Atlantic University. Дата публикации: 2024-07-11.

Test and measurement instrument that uses measurement preconditions for making measurements

Номер патента: US20240288474A1. Автор: Keith D. Rule,Byron T. Faber,David C. Vollum,Seamus L. Brokaw. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Method and system for inspecting and measuring installed one-sided fasteners in a structure

Номер патента: EP4425159A1. Автор: Nicholas C. REASONER. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-09-04.

Method and system for inspecting and measuring installed one-sided fasteners in a structure

Номер патента: US20240295508A1. Автор: Nicholas C. REASONER. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Wearable electronic apparatus, body temperature measurement method, and wearable electronic device

Номер патента: US20240315569A1. Автор: Yi Liu,Chenlong Li,Chao Yao,Lipeng QI. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Sensor for wear measurement, method of making, and method of operating same

Номер патента: US09797850B2. Автор: Iosif Izrailit,David L. Carnahan. Владелец: NanoLab Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Wavefront aberration measuring method, wavefront aberration measuring apparatus and optical element manufacturing method

Номер патента: US09557241B2. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Methods, systems and apparatuses for sensing and measuring the electric field within the earth

Номер патента: US09405032B2. Автор: Andrew D. Hibbs. Владелец: Groundmetrics Inc. Дата публикации: 2016-08-02.

Electromagnetic sensor and calibration thereof

Номер патента: RU2593677C2. Автор: Энтони Джозеф ПЕЙТОН,Улян ИНЬ,Стефен Джон ДИКИНСОН. Владелец: Дзе Юниверсити Оф Манчестер. Дата публикации: 2016-08-10.

Method and measuring device for determining specific parameters for gas properties

Номер патента: RU2690099C2. Автор: Филипп ПРЕТР. Владелец: Мемс Аг. Дата публикации: 2019-05-30.

Wide band angular displacement and velocity sensor and method

Номер патента: US3967178A. Автор: Harold D. Morris. Владелец: Systron Donner Corp. Дата публикации: 1976-06-29.

Method and device for vibration separation of drive and measuring transducers of vibration type assembled flow sensor

Номер патента: RU2573716C2. Автор: Грегори Трит ЛАНЕМ,Кристофер А. ВЕРБАХ. Владелец: Майкро Моушн, Инк.. Дата публикации: 2016-01-27.

Temperature measuring method and system for thin film solar cell process device

Номер патента: EP3444374A3. Автор: Zhang Mengshi. Владелец: Beijing Juntai Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-20.

No radical measuring method and apparatus

Номер патента: US5424216A. Автор: Hiroshi Hayakawa,Tetsuo Nagano,Kazuya Kikuchi,Tsuneaki Sugimoto,Yasunobu Hirata,Masaaki Hirobe,Sakae Higashidate. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 1995-06-13.

Pressure sensor and its application

Номер патента: US5902933A. Автор: Hideyuki Bingo,Yasushi Shimomoto,Kazuhisa Matsuda,Yoshitaka Sunagawa,Yoshihiro Umeuchi,Yasuhide Nishimuara,Nobuo Kakui,Tomonori Morimura,Takaji Nakamura. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 1999-05-11.

Optical-fiber-characteristic measuring device and optical-fiber-characteristic measuring method

Номер патента: US7948614B2. Автор: Kazuo Hotate,Zuyuan He,Kwang Yong Song. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2011-05-24.

Electron spin measurement device and measurement method

Номер патента: US20110193559A1. Автор: Kazuhiro Marumoto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-08-11.

Range measuring method, range measuring apparatus, non-contacted IC medium and range measuring system

Номер патента: US8149155B2. Автор: Takehiro Kawai. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2012-04-03.

Optical modulation apparatus and measurement method

Номер патента: US5091983A. Автор: Walter Lukosz. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-02-25.

Timing unit establishing time measuring method and measuring circuit

Номер патента: EP4160231A1. Автор: Minqiang PENG. Владелец: Sanechips Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-05.

Spectral measurement apparatus and measurement method utilizing Brillouin scattering

Номер патента: EP1959247A3. Автор: Yoshinori Yamamoto. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2009-04-29.

Optical displacement sensor and torque sensor employing relatively movable slit patterns

Номер патента: US5841132A. Автор: Steven John Horton,David Rees,Adrian Leslie Trace. Владелец: Lucas Industries Ltd. Дата публикации: 1998-11-24.

Immersion sensor, measuring arrangement and measuring method for monitoring aluminum electrolytic cells

Номер патента: CA2299962C. Автор: Paul Verstreken. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2007-01-23.

Measuring device and measuring method for continuous physical quantity

Номер патента: CA2767586C. Автор: Yushan Hao. Владелец: Baoding Sanchuan Electric Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-07.

Liquid complex dielectric constant sensor in a csrr structure and measurement method

Номер патента: NL2032421B1. Автор: Wang Chen,Liu Kai,Liu Xiaoming,Gan Lu,Zhang Dan,WANG Haiyang,WANG Jiajia,Zhu Chenghui. Владелец: Univ Anhui Normal. Дата публикации: 2024-01-23.

Non-contact torque measuring method

Номер патента: US20200240863A1. Автор: Kazuhiro Takahashi,Yuichi Ishii. Владелец: Eagle Industry Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-30.

Temperature Control Plate for Cold-chain Transportation and Measurement Method for Temperature Control Plate

Номер патента: US20230366616A1. Автор: Ruohan Yang,Yongheng WANG,Hanpo HUANG,Xin NEI. Владелец: Thero New Material Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Measurement method and measurement circuit for power parameter

Номер патента: MY186129A. Автор: Yue Tan,Xiaolong Zhong. Владелец: Schneider Electric Australia Pty Ltd. Дата публикации: 2021-06-24.

Light-attenuation-ratio measurement method and light-intensity measurement system

Номер патента: US20180238793A1. Автор: Hiroshi Kobayashi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-08-23.

Thermal-piezoresistive oscillator-based aerosol sensor and aerosol sensing method

Номер патента: US10705053B2. Автор: Sheng-Shian Li,Ting-Yuan Liu. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2020-07-07.

Measuring instrument and measuring system

Номер патента: US11219377B2. Автор: Yasuhiro Shirai. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2022-01-11.

Temperature measuring system and temperature measuring method

Номер патента: US20160238460A1. Автор: Fumio Takei,Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-08-18.

Particle measuring apparatus and measuring method using the same

Номер патента: US20120185211A1. Автор: Tae Soo Kim,Jong Gun Lee,In Duk Hwang,Chul Ho Yun,Yong Koo Lee,Seock Woo JANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-07-19.

Delay measurement system and measurement method

Номер патента: US20230258721A1. Автор: Chung-Chieh Yang,Chih-Chiang Chang,Yung-Chow Peng,Shang Hsien Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11761811B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Anti-human hemoglobin monoclonal antibody or antibody kit, insoluble carrier particle to which anti-human hemoglobin monoclonal antibody is immobilized, and measurement reagent and measurement method using same

Номер патента: AU2017275081B2. Автор: Yasuhiro Seki,Mitsuru Makinodan,Megumi Yui,Ryota Yasui,Chisa Sakanishi. Владелец: Eiken Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US11735402B2. Автор: Takashi Kubo,Kippei Sugita,Yuhei SHIMATSU. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-08-22.

Monolithic sensor arrangement, manufacturing method and measurement method

Номер патента: US11774389B2. Автор: Frederik Willem Maurits Vanhelmont,Hilco Suy,Nebojsa NENADOVIC,Hooman HABIBI. Владелец: Sciosense BV. Дата публикации: 2023-10-03.

Highly sensitive immunoassay reagent and measurement method

Номер патента: EP4317991A1. Автор: Shuhei MATSUSHITA. Владелец: LSI Medience Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

Measuring device and measuring method for continuous physical quantity

Номер патента: US20120109586A1. Автор: Yushan Hao. Владелец: Baoding Sanchuan Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-03.

Measuring method for an electrochemical energy storage device and measuring apparatus

Номер патента: US20140178720A1. Автор: Jens Meintschel,Claus-Rupert Hohenthanner,Denny Thiemig,Joerg KAISER,Michael Rentzsch. Владелец: Li Tec Battery GmbH. Дата публикации: 2014-06-26.

Blood-viscosity measurement method

Номер патента: US20230031399A1. Автор: Eiji Tamura,Hideki Yamamoto,Kimito Kawamura,Hidenari Nishikura,Roberto PLASENZOTTI,Yusuke Negi,Takafumi YABUTA,Bruno Karl. PODESSER. Владелец: Asahi Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

High-precision Measuring Device for Pre-breakdown Current of Vacuum Chamber and Measuring Method

Номер патента: NL2026660A. Автор: Yang Wei,WU Fangfang,Li Shimin,Du Zhaoqi,Zhang Chaohai. Владелец: Zhejiang Huadian Equipment Testing Inst Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-22.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US11894882B2. Автор: Luke Cirillo,Florian Ramian,Johannes Steffens,Torsten Schorr. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-06.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20180035225A1. Автор: Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-02-01.

Airborne microbial measurement apparatus and measurement method thereof

Номер патента: EP3111196A1. Автор: Akira Mizuno,Hachiro Yasuda,Kazunori Takashima,Chulwoo PARK,Sunghwa Lee,Hirofumi Kurita. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2017-01-04.

Temperature measuring circuit and measuring method thereof

Номер патента: EP3647749A1. Автор: Haibin Liu,Wenbo Liu,Guohui Hu,Pei QIAN,Luping Zhong,Xiantao ZHU,Zifeng LIANG,Shuanglin Guo,Wanxing Chen,Baolin ZHOU,Yanjun Peng. Владелец: Gree Wuhan Electric Appliances Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-06.

Measuring instrument and measuring system

Номер патента: US20190298189A1. Автор: Yasuhiro Shirai. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Thermal-piezoresistive oscillator-based aerosol sensor and aerosol sensing method

Номер патента: US20190227034A1. Автор: Sheng-Shian Li,Ting-Yuan Liu. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2019-07-25.

Measuring Arrangement And Measuring Process For Fluid Pressure Cylinders

Номер патента: US20100206061A1. Автор: Nicolai Tarasinski. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-08-19.

Measurement method and measurement device for brown adipose tissue

Номер патента: US10478122B2. Автор: Masayuki Saito,Takafumi Hamaoka,Shinsuke Nirengi,Takeshi Yoneshiro. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-11-19.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: US11978865B2. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Infrared transmissivity measurement method of quartz glass crucible

Номер патента: US20240183062A1. Автор: Hiroshi Kishi,Masanori Fukui,Ken Kitahara,Eriko Kitahara,Tomokazu Katano. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Airborne microbial measurement apparatus and measurement method thereof

Номер патента: US20170016811A1. Автор: Akira Mizuno,Hachiro Yasuda,Kazunori Takashima,Chulwoo PARK,Sunghwa Lee,Hirofumi Kurita. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2017-01-19.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20220406579A1. Автор: Takashi Kubo,Kippei Sugita,Yuhei SHIMATSU. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

Oxytocin purifying method and measuring method and kit

Номер патента: US20240133901A1. Автор: Masaaki Kojima,Fumie AKUTSU. Владелец: Fujifilm Wako Pure Chemical Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Measuring method of resistivity of a wafer

Номер патента: US20230040616A1. Автор: XING Wei,Minghao LI,Zhongying Xue. Владелец: Zing Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-02-09.

Position measurement device, speed measurement device, and position measurement method

Номер патента: EP4155780A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Yusuke Takahashi,Noriyasu Kato,Yohei Hattori,Naoto Seto,Tatsuya Oodake,Yoshiaki YAMASAKI. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-03-29.

Circuit module and measurement method

Номер патента: US20130049879A1. Автор: Hidemori Akagi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Systems and methods for placing an imaging tool in a test and measurement tool

Номер патента: EP3144688A3. Автор: Duncan Kearsley,Paul RINGSRUD,Clark Huber. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2017-06-21.

Simultaneously pumping and measuring density of aircraft fuel

Номер патента: US20210139159A1. Автор: Gerald P. Dyer,Charles E. Reuter. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2021-05-13.

Time-domain searching in a test and measurement instrument

Номер патента: US20120039374A1. Автор: Kenneth P. Dobyns. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2012-02-16.

Device and method for the detection and measurement of the physical-chemical features of materials in the form of sheets, films, fabrics, layers deposited on a support or the like

Номер патента: EP3066457A1. Автор: Claudio Salvador,Filippo Bonifacio,Frederico BIFFI GENTILI. Владелец: Advanced Microwave Engineering SRL. Дата публикации: 2016-09-14.

Optically-implemented analog mux accessory for a test and measurement instrument

Номер патента: WO2024108067A1. Автор: Scott T. Harrison,Daniel G. Knierim,Shane A. HAZZARD,Timothy E. Bieber. Владелец: TEKTRONIX, INC.. Дата публикации: 2024-05-23.

Logical control method and apparatus for evaporative cooling of inductive-type vibration device

Номер патента: GB2612678A. Автор: CHEN CHEN,XIA Shujie,Qin Yaming,Zhang Kuihua,Zhang Hongcai,Tian Kanli,Tian Zhenqiang. Владелец: Ets Solutions Beijing Ltd. Дата публикации: 2023-05-10.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Plant water content sensor and plant water content measuring method

Номер патента: US20230304952A1. Автор: Fusao Shimokawa,Fumiya INO. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2023-09-28.

Material friction test bench with laser displacement sensor

Номер патента: NL2031348B1. Автор: Li Peiran,Zeng Hanjie. Владелец: China Automotive Eng Res Inst. Дата публикации: 2023-10-03.

Device and method for the detection and measurement of the physical-chemical features of materials in the form of sheets, films, fabrics, layers deposited on a support or the like

Номер патента: WO2015068113A1. Автор: Claudio Salvador,Filippo Bonifacio. Владелец: ADVANCED MICROWAVE ENGINEERING S.R.L.. Дата публикации: 2015-05-14.

Tilt-Tolerant Displacement Sensor

Номер патента: US20200292355A1. Автор: Fabian Utermoehlen,Stefan Leidich,Dayo Oshinubi. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-09-17.

Rare anomaly triggering in a test and measurement instrument

Номер патента: US20140095098A1. Автор: Craig H. Nelson,Tyler B. NILES,James D. Alley. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2014-04-03.

Method for distinguishing, classifying and measuring soft and hard inclusions in liquid metal

Номер патента: US20120229154A1. Автор: Xiaodong Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-09-13.

Stand for a test and measurement instrument

Номер патента: US12055416B2. Автор: Chris A. Valentine,David M. Ediger,Prashanth Thota. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Parallel trigger model for test and measurement instruments

Номер патента: US20180259562A1. Автор: George J. Polly,Brian P. Frackelton. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2018-09-13.

Three Phase Analyser and Measurement System

Номер патента: CA2200645A1. Автор: Mark E. Coney,Darrell J. Krushelnicki. Владелец: Individual. Дата публикации: 1997-04-27.

Systems for detecting and measuring inclusions

Номер патента: US20020163347A1. Автор: Diran Apelian,Reinhold Ludwig,Sergey Makarov. Владелец: WORCESTER POLYTECHNIC INSTITUTE. Дата публикации: 2002-11-07.

Laser-Level and Measuring Device

Номер патента: US20240167816A1. Автор: Guillermo Manica Garcia. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-05-23.

Inductive linear displacement sensor

Номер патента: US12092492B2. Автор: Thilo Stopfer. Владелец: Schaeffler Technologies AG and Co KG. Дата публикации: 2024-09-17.

Method and measuring arrangement for determining the internal corrosion rate of steel structures

Номер патента: US12098995B2. Автор: Zoltan Lukacs,Laszlo Gubicza,Gabor Gubicza. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-24.

Method for exosomal biomarker detection by electric field-induced release and measurement

Номер патента: US09932635B2. Автор: Fang Wei,Wei Liao,David T. Wong. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2018-04-03.

Graphic actuation of test and measurement triggers

Номер патента: US09784765B2. Автор: Kathryn A. Engholm,Cecilia A. Case. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2017-10-10.

Method for distinguishing, classifying and measuring soft and hard inclusions in liquid metal

Номер патента: US09678051B2. Автор: Xiaodong Wang. Владелец: University of Chinese Academy of Sciences. Дата публикации: 2017-06-13.

In situ spacing-correcting heat pulse sensor and method for measuring sap flow or water flux

Номер патента: US09638558B2. Автор: Gang Liu,Robert Horton,Jianping Wang,Minmin Wen,Ruiqi Ren,BingCheng Si,Baoguo Li. Владелец: CHINA AGRICULTURAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-05-02.

Sensing cable with parallel spiral transmission line structure for distributed sensing and measuring of rock-soil mass deformation

Номер патента: US09618644B2. Автор: Xiong Li,Ming Li,Qing Li,Ge Shi,Renyuan Tong. Владелец: China Jiliang University. Дата публикации: 2017-04-11.

Storage and measurement container

Номер патента: US09574920B2. Автор: Linda Enns. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-02-21.

Estimation of direct arrival signals based on predicted direct arrival signals and measurements

Номер патента: US09513392B2. Автор: Stian Hegna. Владелец: PGS GEOPHYSICAL AS. Дата публикации: 2016-12-06.

Liquid containment and measurement apparatus and method

Номер патента: US09435677B1. Автор: David Soble,Scott Soble,Derek Grace,Brian L. Ashinger. Владелец: Diamond Shine Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Method and device for detecting and measuring oil or oil-product spills

Номер патента: RU2361236C2. Автор: Петер МЁЛЛЕР-ЕНСЕН. Владелец: Петер МЁЛЛЕР-ЕНСЕН. Дата публикации: 2009-07-10.

Vibration type measuring transducer for measuring flowing fluid media and measuring device

Номер патента: RU2344377C2. Автор: Эннио БИТТО,Хольгер БЕРНХАРД. Владелец: Эндресс+Хаузер Флоутек Аг. Дата публикации: 2009-01-20.

Method to monitor measurement device and measurement device

Номер патента: RU2502961C2. Автор: Оле КАУДАЛЬ,Христиан МАТТ,Гернот ЭНГСТЛЕР,Ганс ПОЛЬ. Владелец: Эндресс+Хаузер Флоутек Аг. Дата публикации: 2013-12-27.

Magnetic position measuring device using Hall elements as sensors and method for its operation

Номер патента: US5747995A. Автор: Alfons Spies. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 1998-05-05.

Inductive displacement sensor

Номер патента: US9677913B2. Автор: Timothy R. Jackson,Shiju WANG. Владелец: Microsemi Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Pulse period measurement method

Номер патента: US8400097B2. Автор: Kazumasa Takai. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2013-03-19.

Spectrum measuring apparatus and spectrum measuring method

Номер патента: US20200049561A1. Автор: Sang Kyu Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-02-13.

High-temperature, high-pressure, and low-velocity gas microtube viscosity measuring apparatus and measuring method thereof

Номер патента: US10712249B2. Автор: Wei Fang,Xin Fang,Weiqing AN,Xiang'an YUE,Wenhao TIAN,Xuegang FENG,Jirui ZOU. Владелец: China University of Petroleum Beijing. Дата публикации: 2020-07-14.

Quantum receiver using square of homodyne detection for target detection of quantum radar and measurement method therefor

Номер патента: US20230314606A1. Автор: SuYong LEE,Sangkyung Lee,Yonggi JO,Yongsup IHN,Zaeill KIM. Владелец: Agency for Defence Development. Дата публикации: 2023-10-05.

Adsorption inhibitor for hepcidin, method for inhibiting adsorption, reference standard, reagent, kit and measurement method

Номер патента: EP4279924A1. Автор: Takashi Takagaki,Tomokazu Itai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-22.

Interface between vital-signs sensors and patient monitor

Номер патента: US20150211944A1. Автор: Moshe Yarden,Vladimir Gorovetz. Владелец: MEDISIM LTD. Дата публикации: 2015-07-30.

Tire wear measuring apparatus using irregularity of tire acceleration signal and tire wear measuring method using same

Номер патента: US11813895B2. Автор: Min Tae Kim,Jong Hyup Lee,Da Sol Jeong,Ho Jong LEE,Sei Bum CHOI. Владелец: Hankook Tire and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Ultrasonic flow velocity measuring method

Номер патента: US20010037676A1. Автор: Hak Chang. Владелец: CHANG-MIN TECH Co Ltd. Дата публикации: 2001-11-08.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20170074790A1. Автор: Takashi Kondo,Seiji Kamba,Naoki Kawara,Takashi Shimzu. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

Multi-channel light measurement methods, systems, and apparatus having reduced signal-to-noise ratio

Номер патента: EP2841892A1. Автор: Frank Krufka. Владелец: Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Дата публикации: 2015-03-04.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240134045A1. Автор: Tomonari Yoshida. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Hepcidin adsorption inhibitor, method of inhibiting adsorption, standard product, reagent, kit, and measuring method

Номер патента: US20230358753A1. Автор: Takashi Takagaki,Tomokazu Itai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

Elements and compounds mixture detection and measuring system

Номер патента: WO2020068000A1. Автор: Wang Xiaoling,Yong WYE MENG,Kwong KAM CHOON. Владелец: Bttrigtical Pte Ltd. Дата публикации: 2020-04-02.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20220034714A1. Автор: Tomokazu Saito,Yuki Saito,Michitaka Okuta,Hisao Narita,Toshinaga Takeya,Jukiya Fukushi,Shou HARAKO. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-03.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US11971296B2. Автор: Tomokazu Saito,Yuki Saito,Michitaka Okuta,Hisao Narita,Toshinaga Takeya,Jukiya Fukushi,Shou HARAKO. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Measuring method and measuring apparatus

Номер патента: US20230194406A1. Автор: Takeshi Higuchi,Kasumi Okabe. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Ground reaction force plate apparatus and measurement system

Номер патента: GB2589138A. Автор: PATEL Amir,Fisher Callen,Teversham James,James Clark Liam. Владелец: University of Cape Town. Дата публикации: 2021-05-26.

Gyroscope and angle measurement method

Номер патента: EP3683544A1. Автор: Atsushi Tanaka,Seiichi Morimoto,Yuichiro Kamino,Kazunori Yoshioka,Takashi Mukaiyama,Ryotaro INOUE,Mikio KOZUMA,Utako Tanaka. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2020-07-22.

Gyroscope and angle measurement method

Номер патента: AU2018353571A1. Автор: Atsushi Tanaka,Seiichi Morimoto,Yuichiro Kamino,Kazunori Yoshioka,Takashi Mukaiyama,Ryotaro INOUE,Mikio KOZUMA,Utako Tanaka. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2020-04-23.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240127419A1. Автор: Satoru Tomita,Kota Makishi,Kazuyuki Endou. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Ozone water concentration measurement apparatus and ozone water concentration measurement method

Номер патента: US20150330929A1. Автор: Shigeo Sekiguchi,Kazutaka Murata,Yasuaki Einaga,Yuya Ishii,Ivandini TRIBIDASARIANGGRANINGRUM. Владелец: Nikka Micron Co Ltd . Дата публикации: 2015-11-19.

Dynamic Compensation Wind Measurement Lidar System And Wind Measurement Method Thereof

Номер патента: US20230251385A1. Автор: ZHI Li,Chen Deng,Hailong Zhu,Jianwei SHAO,Zengli XIAO. Владелец: Nanjing Movelaser Co ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Dynamic compensation wind measurement lidar system and wind measurement method thereof

Номер патента: US11821991B2. Автор: ZHI Li,Chen Deng,Hailong Zhu,Jianwei SHAO,Zengli XIAO. Владелец: Nanjing Movelaser Co ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Measurement system, measurement method, and computer program

Номер патента: US20240255480A1. Автор: Hisanori Matsumoto,Masuyoshi Yamada,Yasutaka Serizawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Thermal diffusion coefficient measuring device, and deep-body thermometer, deep-body temperature measuring device, and deep-body temperature measuring method using same

Номер патента: US11744469B2. Автор: Masahiko Ishida,Eiji Saitoh,Koichi Terashima,Akihiro Kirihara,Ryohto SAWADA,Ryo Iguchi,Yasuyuki Oikawa,Yuki SHIOMI. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2023-09-05.

Flux shaping pole pieces for a magnetic displacement sensor

Номер патента: EP1236021A2. Автор: John P. Dilger,Donald P. Pepperling,Nile K. Dielschneider. Владелец: Fisher Rosemount Systems Inc. Дата публикации: 2002-09-04.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Method and measurement system for determination and/or monitoring of measured medium flow rate via measuring tube

Номер патента: RU2478190C2. Автор: Андреас Бергер,Ахим ВИСТ,ЕНСЕН Финн БЛОХ,Рольф ЗОНДЕРКАМП. Владелец: Эндресс+Хаузер Флоутек Аг. Дата публикации: 2013-03-27.

Method and measuring system for ascertaining density of a fluid

Номер патента: RU2592043C2. Автор: ДЕЙК Коэн ВАН,Омар МОМЕНТЕ,Хайнерих ХАГЕНМЕЙЕР. Владелец: Эндресс + Хаузер Флоутек Аг. Дата публикации: 2016-07-20.

Method and measuring device for determining position and/or measuring position of measuring object relative detecting element

Номер патента: RU2460044C2. Автор: Владислав МЕДНИКОВ. Владелец: Микро-Эпсилон Месстехник Гмбх Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2012-08-27.

Fluorometric method of determining parametres of photosynthesis of photoautotrophs, device to this end and measuring chamber

Номер патента: RU2354958C2. Автор: Андрей Борисович Рубин,Сергей Иосифович Погосян,Дмитрий Николаевич Маторин,Юрий Валерьевич Казимирко,Галина Юрьевна Ризниченко. Владелец: ООО "Генная и клеточная терапия". Дата публикации: 2009-05-10.

Apparatus and method of measuring light absorption on a test sample and measuring to establish conformity on a reference sample

Номер патента: RU2728838C2. Автор: Томаш ПОЛ,Чунь-Хуньг КО,Уилльям Алэн МАРКС. Владелец: Меттлер-Толедо Гмбх. Дата публикации: 2020-07-31.

Method and measuring device according to differential pressure principle having zero-point calibration

Номер патента: RU2681669C1. Автор: Фридхельм КРЕМЕР,Михаэль ШЛЕГЕЛЬ. Владелец: С.К.И. Гмбх. Дата публикации: 2019-03-12.

Device for reminding and measuring level of substance inside container with substance

Номер патента: RU2771491C2. Автор: Яков БЕНТКОВСКИ. Владелец: Уотерио Лтд. Дата публикации: 2022-05-05.

Monitoring and measuring system for monitoring

Номер патента: RU2662726C1. Автор: Александр Александрович Шевченко,Валерий Алексеевич Липатников,Павел Игоревич Кузин,Иван Владимирович Земцев,Виталий Вячеславович Карганов. Владелец: федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия связи имени Маршала Советского Союза С.М. Буденного" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2018-07-30.

Sensor and system for continuous determination of sheet characteristics

Номер патента: US4991432A. Автор: John D. Goss,Paul J. Houghton,Lee M. Chase,Kent M. Norton. Владелец: Measurex Corp. Дата публикации: 1991-02-12.

Apparatus for detecting and measuring fluorescence emission

Номер патента: CA1065156A. Автор: Ulrich Schreiber,William Vidaver. Владелец: Individual. Дата публикации: 1979-10-30.

Measurement method for viable cell count, and culture medium

Номер патента: CA2771139C. Автор: Fumiaki Abe,Masamichi Muto,Tomoko Yaeshima. Владелец: Morinaga Milk Industry Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-05.

Measurement support system and measurement support method

Номер патента: EP1826693A1. Автор: Masanao Kawatahara,Akinori Kai,Toshikiko Harada. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2007-08-29.

Harmonic characteristic measuring method and harmonic characteristic measuring apparatus

Номер патента: US6114859A. Автор: Yoshifumi Minowa,Isao Koda,Shoji Nishimura,Yasuhiro Fuwa,Masakazu Tsukamoto,Yasuyuki Natsuda. Владелец: Chubu Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2000-09-05.

Temperature measurement device, temperature measurement method, and computer-readable non-transitory medium

Номер патента: US10775245B2. Автор: Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-09-15.

Apparatus for measuring axial force and frictional torque of threaded part and measuring method using the same

Номер патента: US10345172B1. Автор: Sung Fie Seok. Владелец: E-Cube System Inc. Дата публикации: 2019-07-09.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20230296991A1. Автор: Masakazu HAMASAKI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Optic measuring system, and measuring method of critical size of nanostructures on flat surface

Номер патента: RU2481555C1. Автор: Михаил Николаевич Рычагов,Максим Владимирович Рябко,Сергей Николаевич Коптяев. Владелец: Корпорация "САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС Ко., Лтд.". Дата публикации: 2013-05-10.

Method for measuring anchoring strength of liquid crystal and measurement system therefor

Номер патента: US20030150278A1. Автор: Hiroshi Yokoyama. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2003-08-14.

Blood sugar level measuring device and blood sugar level measuring method

Номер патента: US20150216482A1. Автор: Hideto Ishiguro,Hirokazu Kasahara,Kimitake Mizobe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Blood sugar level measuring device and blood sugar level measuring method

Номер патента: US09433385B2. Автор: Hideto Ishiguro,Hirokazu Kasahara,Kimitake Mizobe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Systems, devices, and methods for imaging and measurement

Номер патента: EP4392737A1. Автор: Desmond Hirson,Steven P. Meyer,Claudio IRRGANG. Владелец: Moleculight Inc. Дата публикации: 2024-07-03.

Surgical robot navigation and positioning system and measurement viewing angle multi-objective optimization method

Номер патента: US20240130806A1. Автор: Hongpeng Wang,Zhichao Song,Yanding QIN,Jianda HAN,Yugen YOU,Yiyang MENG. Владелец: Shenzhen Research Institute Of Nankai University. Дата публикации: 2024-04-25.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

User feature value measurement method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: US20240298973A1. Автор: Xun Zhang,Xiaoran SUN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring system and measuring method for analyzing knee joint motion trajectory during cycling

Номер патента: US09592423B2. Автор: Yu-Shin Chang,Po-Shin Li,Keh-Tao Liu,Sai-Wei Yang. Владелец: Global Action Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Pattern measuring apparatus, pattern measuring method, and computer-readable recording medium on which a pattern measuring program is recorded

Номер патента: US09521372B2. Автор: Yuji Takagi,Koichi Hamada,Hideyuki Kazumi,Yoshinori Momonoi,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240099059A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240243017A1. Автор: Satoru Tomita,Noriyuki Hirata. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Noise measuring device and noise measuring method using the same

Номер патента: US12039904B2. Автор: Tae-ho Kim,Eunsol SEO,Jun-young Ko,Yujin Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Noise measuring device and noise measuring method using the same

Номер патента: US20230054156A1. Автор: Tae-ho Kim,Eunsol SEO,Jun-young Ko,Yujin Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Quantum sensor network and measuring a single linear function of unknown parameters with a quantum sensor network while using the minimum amount of entanglement

Номер патента: US20240220835A1. Автор: Alexey Vyacheslavovich Gorshkov,Adam Ethan Ehrenberg,Jacob Allen Bringewatt. Владелец: US Department of Commerce. Дата публикации: 2024-07-04.

Medical diagnosis device and measurement method thereof

Номер патента: US09913625B2. Автор: Tomoaki Chono,Tomofumi Nishiura,Takahiro Kashiyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-03-13.

Performance measurement method for public relations, advertising and sales events

Номер патента: EP1412889A1. Автор: Lawrence Hotz. Владелец: Right Angle Research LLC. Дата публикации: 2004-04-28.

Performance measurement method for public relations, advertising and sales events

Номер патента: EP1412889A4. Автор: Lawrence Hotz. Владелец: Right Angle Research LLC. Дата публикации: 2005-07-20.

Performance measurement method for public relations, advertising and sales events

Номер патента: WO2002001471A1. Автор: Lawrence Hotz. Владелец: Right Angle Research LLC. Дата публикации: 2002-01-03.

Quantum sensor network and measuring multiple functions with a quantum sensor network

Номер патента: US20240185109A1. Автор: Alexey Vyacheslavovich Gorshkov,Pradeep NIROULA,Jacob BRINGEWATT,Przemyslaw BIENIAS,Igor BOETTCHER. Владелец: US Department of Commerce. Дата публикации: 2024-06-06.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Image forming device, gloss measuring method, and program

Номер патента: US20210325810A1. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-10-21.

On-machine real-time measurement method and system for full-closed loop five-axis computer numerical control (cnc) machine tool

Номер патента: US20240338004A1. Автор: Hang Gao,Yuwen SUN,Xiaolong Yin,Jinting XU. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2024-10-10.

On-machine real-time measurement method and system for full-closed loop five-axis computer numerical control (CNC) machine tool

Номер патента: US12117793B1. Автор: Hang Gao,Yuwen SUN,Xiaolong Yin,Jinting XU. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2024-10-15.

Apparatus and measurement method based on incident positions of emitted light

Номер патента: US09448520B2. Автор: Kunitoshi Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Method of checking core operation with core inspection and measuring devices

Номер патента: RU2508571C2. Автор: Майкл Д. ХЕЙБЕЛ,Майкл К. ПРИБЛ,Шеннон Л. КОННЕР,Патрик Дж. СЕБАСТИАНИ,Дэниел П. КИСТЛЕР. Владелец: ВЕСТИНГХАУС ЭЛЕКТРИК КОМПАНИ ЭлЭлСи. Дата публикации: 2014-02-27.

Pattern measuring method, pattern measuring apparatus, photo mask manufacturing method, semiconductor device manufacturing method, and computer program product

Номер патента: US20060039596A1. Автор: Takahiro Ikeda,SATOSHI Tanaka,Takeshi Ito,Hiroshi Motoki,Shigeki Nojima. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-23.

Quantum decoherence degree measurement method and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230244977A1. Автор: Chen Li,Xin Zhang,Rengang Li,Yaqian ZHAO,Jinzhe JIANG. Владелец: Suzhou Wave Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Method to use ultrafine particulate matter detection and measurement to control air supply system contaminant delivery to the aircraft cabin environment

Номер патента: US20170080374A1. Автор: Richard B. Fox,Paul Kurlak,Deanna P. Chase. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-03-23.

Multi-touch resistive touch-screen sensor and controller assembly

Номер патента: US09910553B2. Автор: William James McDermid. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-06.

Measuring method and measuring apparatus of blood vessel diameter of fundus image

Номер патента: US20240005545A1. Автор: Bin Xia,Juan Wang. Владелец: Shenzhen Sibionics Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11835867B2. Автор: Masakazu HAMASAKI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Eyewear for eliciting a blink response and measurement system thereof

Номер патента: WO2024102840A2. Автор: Michael Marshall,Joshua Miller,Suvagata Tripathi,Griff Altman,Marga Acevedo,Craig Drury,Mehran Jaberzadeh. Владелец: Hoya Optical Labs Of America, Inc.. Дата публикации: 2024-05-16.

A temperature set point adjusting and a temperature of an environment measuring system for a cooling system, a method of adjusting the temperature set point and measuring the temperature of an environment and a sensing assembly

Номер патента: WO2005052712A1. Автор: Marcos Guilherme Schwarz,Rogerio Romariz Ferreira. Владелец: Empresa Brasileira De Compressores S.A.- Embraco. Дата публикации: 2005-06-09.

Electronic device and method for selecting representation matrix and measurement matrix used for compressing data based on machine learning

Номер патента: US11095398B2. Автор: Yong Gu Lee,Eui Seok Hwang,Jun Ho Song. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-08-17.

Eyewear for eliciting a blink response and measurement system thereof

Номер патента: WO2024102840A3. Автор: Michael Marshall,Joshua Miller,Suvagata Tripathi,Griff ALTMANN,Marga Acevedo,Craig Drury,Mehran Jaberzadeh. Владелец: Hoya Optical Labs Of America, Inc.. Дата публикации: 2024-06-20.

A temperature set point adjusting and a temperature of an environment measuring system for a cooling system, a method of adjusting the temperature set point and measuring the temperature of an environment and a sensing assembly

Номер патента: EP1692581A1. Автор: Marcos Guilherme Schwarz,Rogerio Romariz Ferreira. Владелец: Whirlpool SA. Дата публикации: 2006-08-23.

Electronic device and method for selecting representation matrix and measurement matrix used for compressing data based on machine learning

Номер патента: US20210152277A1. Автор: Yong Gu Lee,Eui Seok Hwang,Jun Ho Song. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-05-20.

Apparatus and Method for Driving and Measuring a MEMS Mirror System

Номер патента: US20150316762A1. Автор: Joerg REITTERER,Franz Fidler,Christian Hambeck. Владелец: TriLite Technologies GmbH. Дата публикации: 2015-11-05.

Apparatus and method for driving and measuring a MEMS mirror system

Номер патента: US09810901B2. Автор: Joerg REITTERER,Franz Fidler,Christian Hambeck. Владелец: TriLite Technologies GmbH. Дата публикации: 2017-11-07.

Electric instrument music control device with magnetic displacement sensors

Номер патента: US09478206B2. Автор: David Wiley Beaty. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-25.

Multi-axis processing machine and rotation center measurement method of multi-axis processing machine

Номер патента: US20210325846A1. Автор: Michihisa KAWASAKI,Shoya YOKOTA,Munetaka AMBAI. Владелец: Sodick Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Systems and methods for assessing the severity of plaque and/or stenotic lesions using contrast distribution predictions and measurements

Номер патента: US12059288B2. Автор: Hyun Jin Kim,Charles A. Taylor,Leo Grady,Nan Xiao,Sethuraman Sankaran,Souma Sengupta. Владелец: HeartFlow Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Operations for re-discretisation and measurement of image size for coding and decoding multiresolution video

Номер патента: RU2420915C2. Автор: Гари Дж. САЛЛИВАН. Владелец: МАЙКРОСОФТ КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2011-06-10.

Control and measurement and control system for nuclear power plant

Номер патента: RU2716696C2. Автор: Валид АДДАД,Малик БУДУДА,Летиция ЖАКО. Владелец: Дженерал Электрик Текнолоджи Гмбх. Дата публикации: 2020-03-13.

Measurement signal circuit and measurement method thereof

Номер патента: US20210343206A1. Автор: Xiaoyu Huang. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Medical indicator measuring method and ultrasound diagnostic device therefor

Номер патента: US20230414202A1. Автор: Eun Gyu LEE,Chul Hee Yun. Владелец: Alpinion Medical Systems Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Method for measuring the frame wearing parameter and measuring device thereof

Номер патента: US11841555B2. Автор: Chia-Hui Han. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Terminal chip and measurement method therefor

Номер патента: EP4273722A1. Автор: Yu Liu,Gang Feng,Feifei YIN,Jianwei Jia. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Data quality measurement method based on a scatter plot

Номер патента: US20160284108A1. Автор: Mingxing Wang,Wenfei Fan,Xibei Jia. Владелец: Shenzhen Huaao Data Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-29.

Method for converting a measuring system of a first type to a second type and measuring system

Номер патента: US20240095004A1. Автор: Stefan Robl,Stefan Kempf. Владелец: Endress and Hauser Conducta GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-03-21.

Method and apparatus for detecting and measuring thickness of ice on aircraft

Номер патента: EP1336564A3. Автор: Raymond Vopat. Владелец: Lockheed Corp. Дата публикации: 2004-04-21.

Method and apparatus for detecting and measuring thickness of ice on aircraft

Номер патента: US20030169186A1. Автор: Raymond Vopat. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2003-09-11.

Softsensor analysis and measurement system to provide the output by new progress variables based on collected data from a sort of sensors

Номер патента: US20230171849A1. Автор: Dae Hwan Kim,Wontae Kim. Владелец: Mirae Cit Inc. Дата публикации: 2023-06-01.

Media usage monitoring and measurement system and method

Номер патента: US12040883B2. Автор: Jonathan S. Steuer,Christopher W. Otto. Владелец: Anonymous Media Research Holdings LLC. Дата публикации: 2024-07-16.

Machine tool, sensor module, and measuring method

Номер патента: EP2062686A1. Автор: Makoto Tanaka. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2009-05-27.

Systems, devices, and methods for imaging and measurement

Номер патента: CA3230185A1. Автор: Desmond Hirson,Steven P. Meyer,Claudio IRRGANG. Владелец: Moleculight Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Systems, devices, and methods for imaging and measurement

Номер патента: WO2023023852A1. Автор: Desmond Hirson,Steven P. Meyer,Claudio IRRGANG. Владелец: MolecuLight Inc.. Дата публикации: 2023-03-02.

Computer-readable recording medium storing measurement program, measurement method, and measurement apparatus

Номер патента: US20230385458A1. Автор: Masayoshi Shimizu,Kentaro Tsuji,Mayuko Kaneko. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Method and system for assessing and measuring emotional intensity to a stimulus

Номер патента: EP2695124A1. Автор: Matteo Sorci,Timothy Llewellynn. Владелец: NVISO SA. Дата публикации: 2014-02-12.

Delay measurement apparatus, delay measurement method and program

Номер патента: US20220366629A1. Автор: Takeshi Kuwahara,Shinya Tamaki,Yusuke URATA,Kenta Kawakami,Hiroki Iwasawa. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-11-17.

Terminal chip and measurement method thereof

Номер патента: US20230367913A1. Автор: Yu Liu,Gang Feng,Feifei YIN,Jianwei Jia. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Display device and blood pressure measurement method using the same

Номер патента: US20230414119A1. Автор: Chul Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Method for simulating a multilevel distributed information and measurement system for monitoring and managing a transport communication network

Номер патента: RU2731358C1. Автор: Александр Владимирович Боговик,Евгений Витальевич Сарафанников,Евгения Александровна Алисевич,Оксана Александровна Губская,Станислав Петрович Кривцов,Андрей Андреевич Привалов,Александр Викторович Мякотин,Людмила Ивановна Орлова. Владелец: Людмила Ивановна Орлова. Дата публикации: 2020-09-02.

Change inductance type contact lenses intraocular pressure sensor and its preparation based on microfluid electronics

Номер патента: CN110292351A. Автор: 陈良洲,安宏彬,王祥阳,戴江. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2019-10-01.

Electron beam measurement sensor and electron beam measurement method

Номер патента: JP4090303B2. Автор: 康成早田,洋也太田,義則中山,真人村木,真樹高桑,▲徳▼郎斉藤. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2008-05-28.

Additive for differentiation induction culture medium, and use thereof

Номер патента: AU2009315204A8. Автор: Yukio Kato,Koichiro Tsuji,Jin Chang Shao. Владелец: Hiroshima University NUC. Дата публикации: 2013-03-28.

Living body optical measurement apparatus, living body optical measurement method, and engagement member for mobile position sensor

Номер патента: US09883825B2. Автор: Takashi Ishizuka,Hirokazu Asaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-02-06.

Benzothiepine compounds as enhancer of cell differentiation induction factor

Номер патента: EP1105140A2. Автор: Takashi Sohda,Haruhiko Makino,Yukio Fujisawa,Masatoshi Hazama. Владелец: Takeda Chemical Industries Ltd. Дата публикации: 2001-06-13.

Benzothiepine compounds as enhancer of cell differentiation induction factor

Номер патента: WO2000009100A3. Автор: Takashi Sohda,Haruhiko Makino,Yukio Fujisawa,Masatoshi Hazama. Владелец: Masatoshi Hazama. Дата публикации: 2000-08-24.

Measurement method and apparatus, measurement configuration method and apparatus, terminal, and network side device

Номер патента: EP4404621A1. Автор: Xiaodong Yang,Yangyang Wang,Wei Bao,Xuanbing Liu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Measurement method of subcell photocurrents and their matching degree of a multi-junction photovoltaic cell

Номер патента: US20220311381A1. Автор: Jianrong Dong,Yurun SUN,Shuzhen YU,Ancheng WANG,Jiajing YIN. Владелец: Suzhou Institute of Nano Tech and Nano Bionics of CAS. Дата публикации: 2022-09-29.

Measurement method, measurement configuration method, and related communication apparatus

Номер патента: EP4408070A1. Автор: Hong Li,LI ZHANG,Jing HAN,Zhongyi SHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Lithography system, sensor and measuring method

Номер патента: EP1943662A1. Автор: Pieter Kruit,Marco Jan Jaco WIELAND,Erwin Slot,Tijs Frans Teepen,Stijn Willem Karel Herman Steenbrink. Владелец: Mapper Lithopraphy IP BV. Дата публикации: 2008-07-16.

Method for measuring inside dimensions of shoes and measuring tool therefor

Номер патента: US09700104B2. Автор: Xin Dong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Method of final differentiation induction

Номер патента: RU2530648C2. Автор: Томас А. МИЛЛЕР,Виктория М. РИЧОН,Х. Джуди ЧАО,В. Кевин КЕЛЛИ. Владелец: МЕРК ЭйчДиЭйСи Рисерч, ЛЛС. Дата публикации: 2014-10-10.

Channel state information measurement method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240243826A1. Автор: Qin MU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Vacuum pump and electromagnet unit used for vacuum pump comprising sensors and electromagnets connected to two sides of a circuit board

Номер патента: US12060885B2. Автор: Yongwei Shi. Владелец: Edwards Japan Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Plasma Measuring Method and Plasma Processing Apparatus

Номер патента: US20240290589A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Measurement method, user equipment, base station, and wireless communications system

Номер патента: US09756521B2. Автор: Jing HAN,Dengkun Xiao,Anjian Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Measurement method and measurement unit for delta-sigma type data converter

Номер патента: US09705528B2. Автор: Mitsutoshi Sugawara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Measurement method, terminal device, and network side device

Номер патента: EP4132071A1. Автор: Yumin Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Micro biosensor and measuring method thereof

Номер патента: US12097025B2. Автор: Chien-Chung Chen,Chun-Mu Huang,Chieh-Hsing Chen,Heng-Chia Chang,Chi-Hao Chen. Владелец: Bionime Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

RSSI Measurement Method, Network Device, and Terminal Device

Номер патента: US20190081714A1. Автор: Lei Huang,Jin Liu,Jun Luo,Zhengzheng XIANG,Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-14.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20190175034A1. Автор: Asao Hirano. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Pcr measuring method and measurement device

Номер патента: US20190352699A1. Автор: Yoshinobu Kohara,Masao Kamahori,Takahide Yokoi,Junko Tanaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

Cell measurement method, cell measurement configuration method and apparatus, device, and medium

Номер патента: US20240292295A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Network traffic marking and measurement methods and node

Номер патента: US11252266B2. Автор: Zhe Chen,Chuang WANG,Delei Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20220029718A1. Автор: Florian Ramian,Florian GERBL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-27.

Measurement method, measurement configuration method, and related communication apparatus

Номер патента: US20240267798A1. Автор: Hong Li,LI ZHANG,Jing HAN,Zhongyi SHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

System for optically detecting and measuring release agent on a print drum in an ink jet printer

Номер патента: US20080246796A1. Автор: Michael D. Borton. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2008-10-09.

System for optically detecting and measuring release agent on a print drum in an ink jet printer

Номер патента: EP1980398A3. Автор: Michael D. Borton. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2009-08-19.

Shear wave parameter measurement method and ultrasonic wave device

Номер патента: EP4437969A1. Автор: Sung Bae Park,Sun Yeob CHANG,Chul Hee Yun. Владелец: Alpinion Medical Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Measuring device for property of photovoltaic device and measuring method using the same

Номер патента: US09866171B2. Автор: Teng-Chun Wu,Yean-San Long,Min-An TSAI,Shu-Tsung Hsu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-01-09.

Voice coil motor displacement sensor and controller

Номер патента: US09661198B2. Автор: Michael Joehren,Christophe Marc Macours,Shawn William Scarlett. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2017-05-23.

Calf Stretcher and Measuring Device

Номер патента: US20230240930A1. Автор: Roger Stroh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-03.

Bio-signal measuring apparatus and bio-signal measuring method

Номер патента: US20190167144A1. Автор: Kak Namkoong,Myoung Hoon Jung,Yeol Ho Lee,Won Jong Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-06.

Photoemission electron microscopy and measuring method using the microscopy

Номер патента: US20050067566A1. Автор: Masami Taguchi,Takashi Ikuta,Takanori Koshikawa,Tsuneo Yasue,Ibuki Tanaka. Владелец: Ulvac PHI Inc. Дата публикации: 2005-03-31.

Rebot control method using non-contact displacement sensor and apparatus thereof

Номер патента: US20240227186A1. Автор: Seung Won Seo. Владелец: Gsf Solution Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Measurement method for steam valve and measurement device for steam valve

Номер патента: US20240344631A1. Автор: Kazuo Hirota,Fumiyuki Suzuki,Shingo Nishida,Masaki Hata. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Optical rotation measurement method and optical rotation measurement apparatus

Номер патента: US09713441B2. Автор: Akira Ikeda,Kazuhiro Nishida. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Channel state information reference resource indication and measurement method and device

Номер патента: US09655109B2. Автор: Ying Peng,Qiubin Gao,Hao Ni. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2017-05-16.

Induction type pulling faucet

Номер патента: US20240018759A1. Автор: Zhiyang Chen,Chunlu Yang. Владелец: Kaiping Aidier Sanitary Ware Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Electron microscope for magnetic field measurement and magnetic field measurement method

Номер патента: US20190295817A1. Автор: Akira Sugawara,Tetsuya Akashi,Toshiaki Tanigaki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-09-26.

Band measurement device, band measurement method and computer program

Номер патента: EP1838046A3. Автор: Yasuhiro Mizukoshi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2009-09-16.

Systems and methods for crop stabilization and measurement

Номер патента: US20240215483A1. Автор: Michael L. Rhodes,Noel W. Anderson,Eric M. Johnson,Kevin P. Cowles,Gurmukh H. Advani,Ali Haidous,Andrew M. Schefter. Владелец: Deere and Co. Дата публикации: 2024-07-04.

Refractive test card and measurement method therefor

Номер патента: US20240081635A1. Автор: Chun Ho Lau,Chun Put Lau. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-14.

Prioritized cell identification and measurement method

Номер патента: US09843956B2. Автор: Rui Huang,YANG Tang,Candy YIU. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Method and measuring system for the measurement and testing of a mobile-telephone device

Номер патента: US09629001B2. Автор: Adrian Schumacher,Andreas Michl. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-04-18.

Measuring method, pedestal and measuring system for determining biometric data of human feet

Номер патента: US09603552B2. Автор: Burghard Hoffmann,Ales Jurca,Alejandro Arrieta Alfaro,Udo Bürgel. Владелец: Vitronic Dr Ing Stein Bildverarbeitungssysteme GmbH. Дата публикации: 2017-03-28.

Induction type pulling faucet

Номер патента: US12139895B2. Автор: Zhiyang Chen,Chunlu Yang. Владелец: Kaiping Aidier Sanitary Ware Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Stator position measuring method and measuring device

Номер патента: US20070130753A1. Автор: Takao Taniguchi,Yoshihisa Yamada,Shingo Hashimoto,Takeshi Tomita,Shigeharu Ikeda. Владелец: Aisin AW Co Ltd. Дата публикации: 2007-06-14.

Method of recognizing proximity using proximity sensor and mobile terminal using the same

Номер патента: US8395105B2. Автор: Min Ho Song,Won Woo SEO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-03-12.

Bio-electrode, production method for bio-electrode, and measurement method for bio-signal

Номер патента: US20240293064A1. Автор: Osamu Watanabe,Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Motoaki Iwabuchi,Shiori Nonaka,Joe Ikeda. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Dynamic point-the-bit rotary steerable drilling tool and measuring method thereof

Номер патента: US09587440B2. Автор: Weiliang Wang,Yanfeng GENG,Zhidan Yan. Владелец: China University of Petroleum CUP. Дата публикации: 2017-03-07.

Terminal device, communication system and communication quality measurement method

Номер патента: US20200112904A1. Автор: Noriyuki Shimizu,Masaaki Yoshino,Hiroaki Asano,Hideki SHINGU,Tetsurou SATOU. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2020-04-09.

System and a Drill Bit for Drilling a Bore in a Bone and Measuring a Depth of the Bore during Surgery

Номер патента: US20210085340A1. Автор: Justus Baltus Laurensz SCHORNAGEL,Bart KÖLLING,Bas DE HARTOG. Владелец: Slam Ortho BV. Дата публикации: 2021-03-25.

Coupling device for shaft hoist ropes and measuring method implemented by means of said device

Номер патента: RU2523302C2. Автор: Чжэньцай ЧЖУ,Гохуа ЦАО,Гоань ЧЭНЬ,Цзяньцун ЦИНЬ,Хунцяо КАН,Чунцю ВАН,Жэньюань У,Юнгуан ЦАО,Цзюньхуэй У,Илэй ЛИ. Владелец: Дуннань Элевейтор Ко, Лтд. Дата публикации: 2014-07-20.

Cuff of measuring device for blood pressure assessment and measuring device for blood pressure assessment, provided with said cuff

Номер патента: RU2562851C2. Автор: Юкия САВАНОИ,Тисато УЕСАКА. Владелец: Омрон Хэлткэа Ко., Лтд.. Дата публикации: 2015-09-10.

Device for finding location of part inside body, measuring-warning device and measuring and representing module for device and method of generating signal on pressure in point of body

Номер патента: RU2297188C2. Автор: Тимотеус Йоан Мари ЛЕХНЕР,Тимотеус Йоан Мария ЛЕХНЕР. Владелец: МААС Андрианус Якобус Йоханнес. Дата публикации: 2007-04-20.

Measurement gap parameter configuration method, reference signal measurement method, and device

Номер патента: EP3972328A1. Автор: Nathan Edward Tenny,Bingzhao Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Image inspection apparatus and misalignment measurement method

Номер патента: US11700341B2. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-07-11.

Wireless communication device and signal measuring method

Номер патента: US09806788B2. Автор: Hiroki Mori. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Method of determining the temperature coefficient of resistance of thin conducting films using a four-probe measurement method

Номер патента: RU2703720C1. Автор: Иван Александрович Корж. Владелец: Акционерное общество "Омский научно-исследовательский институт приборостроения" (АО "ОНИИП"). Дата публикации: 2019-10-22.

Priority method of identification and measurement of cells

Номер патента: RU2649309C1. Автор: Жуй ХУАН,Ян ТАН,Кэнди ИУ. Владелец: ИНТЕЛ АйПи КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2018-04-02.

Reduced vibration cooling device having pneumatically-driven GM type displacer

Номер патента: GB2362205A. Автор: Ralph Cady Longsworth. Владелец: Intermagnetics General Corp. Дата публикации: 2001-11-14.

Antenna Measurement Method and Terminal

Номер патента: US20200028566A1. Автор: Hsingyu Lung,Yanzong ZHONG,Shengchang SHANGGUAN,Chaodi SONG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Antenna Measurement Method and Terminal

Номер патента: US20190115968A1. Автор: Hsingyu Lung,Yanzong ZHONG,Shengchang SHANGGUAN,Chaodi SONG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-18.

Measurement method and apparatus, measurement configuration method and apparatus, terminal, and network-side device

Номер патента: US20240224104A1. Автор: Xiaodong Yang,Yangyang Wang,Wei Bao,Xuanbing Liu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Physiological parameter measurement method, and electronic device

Номер патента: EP4241664A1. Автор: Xi Huang,Lian WU,Lingzhi QIU,Jiahui PENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Methods and apparatus for time synchronization and measurement of power distribution systems

Номер патента: EP2540017A1. Автор: James Douglass Deloach, JR.. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2013-01-02.

Methods and apparatus for time synchronization and measurement of power distribution systems

Номер патента: WO2011103597A1. Автор: James Douglass Deloach, JR.. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2011-08-25.

Cutting elements comprising sensors, earth-boring tools having such sensors, and associated methods

Номер патента: WO2012174032A2. Автор: Eric C. Sullivan,Tu Tien Trinh,Xiaomin "chris" CHENG. Владелец: BAKER HUGHES INCORPORATED. Дата публикации: 2012-12-20.

Methods implementing a configuration of drx and measurement in a ue and an enodeb equipment

Номер патента: EP2737744A1. Автор: Tao Yang,Pingping Wen,Jialin Zou,Chongxian Zhong. Владелец: Alcatel Lucent SAS. Дата публикации: 2014-06-04.

Method to use ultrafine particulate matter detection and measurement to control air supply system contaminant delivery to the aircraft cabin environment

Номер патента: US09884281B2. Автор: Richard B. Fox,Paul Kurlak,Deanna P. Chase. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-02-06.

Cutting elements comprising sensors, earth-boring tools having such sensors, and associated methods

Номер патента: US09739093B2. Автор: Eric C. Sullivan,Tu Tien Trinh,Xiaomin C. Cheng. Владелец: Baker Hughes Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Test and measurement device, system, and method for providing synchronized measurement views

Номер патента: US09699446B2. Автор: Xinyu Zhu,Michael S. Overton,Barry A. Mckibben,Kevin T. Ivers,Laurent A. Melling, Jr.. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Ground station of geostationary spacecraft control and measurement system control system

Номер патента: RU2731822C1. Автор: Анатолий Александрович Алексеев,Владимир Леонидович Быстрицкий,Дмитрий Николаевич Нагорных,Евгений Сергеевич Овчинников,Иван Игоревич Рузяков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2020-09-08.

Isolation apparatus and measuring transducer with an isolation apparatus

Номер патента: RU2763744C1. Автор: Вольфганг КНАБ. Владелец: Сименс Энерджи Глобал Гмбх Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2021-12-30.

Excitation response measurement method, electrical impedance tomography method, and storage medium

Номер патента: US20230320608A1. Автор: Xin Zhang,Zhichao Lin,Mingtao GUAN. Владелец: Beijing Huarui Boshi Medical Imaging Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Measurement gap determination method, measurement method, related device, and storage medium

Номер патента: US20230403593A1. Автор: Wei Hong. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-14.

Cerebral blood flow measurement method and measurement device

Номер патента: EP3701861A1. Автор: Shinya Kato,Takeo Ozaki,Kenji YOSHITANI,Mariko EZAKA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-09-02.

Cerebral blood flow measurement method and measurement device

Номер патента: US20200305731A1. Автор: Shinya Kato,Takeo Ozaki,Kenji YOSHITANI,Mariko EZAKA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-01.

Method for measuring inside dimensions of shoes and measuring tool therefor

Номер патента: US20160302531A1. Автор: Xin Dong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-20.

Channel measurement method and apparatus, lbt failure reporting method and apparatus, and device

Номер патента: EP4247098A1. Автор: Jinhua Liu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Measurement method, user equipment, network side device, and measurement apparatus

Номер патента: US20180184317A1. Автор: QIANG LI,Juan Zheng,Lei GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US20230413093A1. Автор: Zhonghuang Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Measurement method and apparatus

Номер патента: EP4280658A1. Автор: Zhonghuang Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Cell measurement method and apparatus, and device and storage medium

Номер патента: EP4054235A1. Автор: Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2022-09-07.

Measurement method, device, and system

Номер патента: US11792669B2. Автор: Jian Zhang,Wei Quan,Jinhua MIAO,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US11812230B2. Автор: Ryo Matsuda. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: EP4064727A3. Автор: Ryo Matsuda. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Measurement Method and Measurement Apparatus

Номер патента: US20220312137A1. Автор: Ryo Matsuda. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Methods and devices for switching between measurement gap and measurement gap-less reception of positioning reference signals

Номер патента: EP4381747A1. Автор: Tao Tao,Ryan Keating,Hyun-Su Cha. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-06-12.

Goods extraction device, depth measurement method, warehouse robot, and warehouse system

Номер патента: AU2021304124C1. Автор: Ying Zhao,Huixiang Li. Владелец: Hai Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Methods and devices for switching between measurement gap and measurement gap-less reception of positioning reference signals

Номер патента: US20240334228A1. Автор: Tao Tao,Ryan Keating,Hyun-Su Cha. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-10-03.

Method and apparatus for detecting and measuring for Home Node-Bs

Номер патента: US09686707B2. Автор: Paul Marinier,Diana Pani,Sylvie Gomes. Владелец: InterDigital Patent Holdings Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Methods and devices for cell measurement and measurement control

Номер патента: US09681369B2. Автор: Shukun Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Methods and apparatus for transmitting and measuring reference signal

Номер патента: RU2715741C1. Автор: Цяньси ЛУ,Цзяньфэн ВАН,Чжань ЧЖАН,Хуайсун ХУ. Владелец: Телефонактиеболагет Лм Эрикссон (Пабл). Дата публикации: 2020-03-03.

Non-contact measuring method and apparatus in pediatrics

Номер патента: CA2830889C. Автор: SHI Yin. Владелец: Image Technology Inc China. Дата публикации: 2018-07-31.

Measuring method, measuring device, and computer program

Номер патента: GB2459814A. Автор: Hideaki Miyazaki,Masanobu Morinaga,Sumiyo Okada,Noriyuki Fukuyama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-11-11.

Automatic external defibrillator, front-end measuring system and measuring method thereof

Номер патента: EP3017844A1. Автор: Qi Wang,Ning SHEN,Jian CEN,Dabing CHEN,Chuanlin LI. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-11.

Lateral and continuous measurement method for soil parameters in soft soil field

Номер патента: US11332904B2. Автор: Long Yu,QING Yang,Yunrui HAN. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2022-05-17.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20190306046A1. Автор: Yoshitaka Kihara,Takahiro KASAGI,Custodio Jean-Elaine GARCIA,Yuichi TSUIKI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Csi measurement method and apparatus

Номер патента: EP4044448A1. Автор: YE Wu,Xiaoyan Bi. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-17.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US10855571B2. Автор: Yoshitaka Kihara,Takahiro KASAGI,Custodio Jean-Elaine GARCIA,Yuichi TSUIKI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2020-12-01.

Reference Signal Measurement Method and Device

Номер патента: US20220191754A1. Автор: Jian Wang,Haibo Xu,Chuting YAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-16.

Network traffic marking and measurement methods and node

Номер патента: US20200259934A1. Автор: Zhe Chen,Chuang WANG,Delei Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-13.

Measurement method, sending method, and related device

Номер патента: EP4216460A1. Автор: Yu Yang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Communication apparatus, wave quality measuring system, wave quality measuring method and program

Номер патента: EP2063556A3. Автор: Hidenaru Tanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2013-05-22.

Method for labeling and measuring network traffic, and node

Номер патента: EP3675436A1. Автор: Zhe Chen,Chuang WANG,Delei Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-01.

A human body composition monitoring and measuring apparatus of a glass platform with film coating electrodes

Номер патента: EP1582147A1. Автор: Yan Liu,Yueqiu Rm. B303 Res. Institute of Tsinghua LI. Владелец: Shenzhen Healthcare Electric Technology Co Ltd. Дата публикации: 2005-10-05.

Human body composition monitoring and measuring apparatus of a glass platform with film coating electrodes

Номер патента: US20060155208A1. Автор: Yan Liu,Yuegiu Li. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-07-13.

Electrocardiographic measurement method and electrocardiographic measurement device

Номер патента: US20190307342A1. Автор: Yoshihiro Mikami. Владелец: Simplex Quantum Inc. Дата публикации: 2019-10-10.

Introducer sheath having a displacement sensor

Номер патента: AU2021362650A9. Автор: Casey HEBERT. Владелец: Becton Dickinson and Co. Дата публикации: 2024-03-21.

Introducer sheath having a displacement sensor

Номер патента: AU2021362650A1. Автор: Casey HEBERT. Владелец: Becton Dickinson and Co. Дата публикации: 2023-05-04.

Introducer sheath having a displacement sensor

Номер патента: EP4225415A1. Автор: Casey HEBERT. Владелец: Becton Dickinson and Co. Дата публикации: 2023-08-16.

Induction-type brake-alarming triggering device with self-adaptive structure

Номер патента: EP4397580A1. Автор: Hsu Tau-Jeng,Hsu Shuo-Yen,Hsu Shuo-Chih. Владелец: Meizhou Frii Lens Electronic Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Systems and methods for tuning and measuring a device under test using machine learning

Номер патента: US20240235669A1. Автор: KAN Tan,John J. Pickerd,Heike Tritschler,Evan Douglas Smith,Williams Fabricio Flores Yepez. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Cell detection, synchronization and measurement on unlicensed spectrum

Номер патента: EP3192197A1. Автор: Aris Papasakellariou,Boon Loong Ng,Thomas David NOVLAN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-19.

Intraocular pressure sensor and method for manufacturing same

Номер патента: US20140243646A1. Автор: Chang Kun Park,Byung Joo Kang,Ji Sung Jo. Владелец: FOUNDATION OF SOONGSIL UNIVERSITY INDUSTRY COOPERATION. Дата публикации: 2014-08-28.

Synchronization signal blocks for inter-integrated backhaul access (IAB) discovery and measurements

Номер патента: US12075377B2. Автор: QIAN LI,Geng Wu,Lili WEI. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Pedal system for a motor vehicle comprising a displacement sensor

Номер патента: US20040025622A1. Автор: Konrad Slanec,Uwe Neumann-Henneberg,Gilbert Sammut,Gregory Joslin. Владелец: Methode Electronics Malta Ltd. Дата публикации: 2004-02-12.

Static induction type thyristor

Номер патента: US5001535A. Автор: Tadahiro Ohmi,Jun-ichi Nishizawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-03-19.

Method of territorial placement of mobile command and measurement receive-transmit stations

Номер патента: RU2647166C2. Автор: Борис Васильевич Беляев,Владимир Владимирович Типаев,Николай Федорович Аверкиев,Пётр Александрович Проценко,Вячеслав Викторович Салов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное военное образовательное учреждение высшего образования "Военно-космическая академия имени А.Ф.Можайского" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2018-03-15.

Bio-information measuring apparatus and bio-information measuring method

Номер патента: EP3552539A1. Автор: Yong Joo KWON,Jae Min Kang,Sang Yun PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-10-16.

Measurement method, manufacturing method, measurement apparatus of surface-emitting laser, and non-transitory storage medium storing measurement program of surface-emitting laser

Номер патента: US20220115840A1. Автор: Ryosuke Kubota. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Non-invasive blood glucose measuring device and measuring method using the same

Номер патента: US20170156645A1. Автор: Yen-Hsien Lee,Hong-Dun Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-06-08.

PCR measuring method and measurement device

Номер патента: US11884973B2. Автор: Yoshinobu Kohara,Masao Kamahori,Takahide Yokoi,Junko Tanaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-01-30.

Femoral neck measuring method and system based on optical localization, device and medium.

Номер патента: US20230157845A1. Автор: Jun Hu,Guijie Zhu,Jiacheng LIU,Zhifeng Hao,Jiaqi ZHU,Zhun FAN,Weibo Ning,Jiazi LIU,Hongjiang Chen. Владелец: Shantou University. Дата публикации: 2023-05-25.

Quality measuring device, quality measuring method, and quality measuring program

Номер патента: US11743164B2. Автор: Atsushi Takada,Naoyuki TANJI,Kyoko Yamagoe. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-08-29.

Terminal and reception power measurement method

Номер патента: US11882063B2. Автор: Takashi Tamura,Hidetoshi Suzuki,Masayuki Hoshino,Akihiko Nishio,Hidenori Matsuo. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2024-01-23.

Terminal and measurement method

Номер патента: US11930553B2. Автор: Hiroki Harada,Takuma TAKADA,Naoki Fujimura. Владелец: NTT DOCOMO INC. Дата публикации: 2024-03-12.

Electrocardiogram measurement apparatus and electrocardiogram measurement method

Номер патента: US20180289273A1. Автор: Masahiro Kubo,Katsumi Abe,Takeshi Akagawa,Ersin Altintas,Yuji Ohno,Tetsuri Ariyama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2018-10-11.

Pcr measuring method and measurement device

Номер патента: US20240102088A1. Автор: Yoshinobu Kohara,Masao Kamahori,Takahide Yokoi,Junko Tanaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Delay measurement device, delay measurement method, and program

Номер патента: US20240129215A1. Автор: Ken Takahashi,Hiroki Mori,Kazuma KAMIENOO,Rena OMACHI. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Proximity measurement method and apparatus for device to device communication in mobile communication system

Номер патента: US9635535B2. Автор: Jung Mo Moon,Dae Ik Kim,Jee Hyeon Na,Woo Goo Park. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-04-25.

Proximity measurement method and apparatus for device to device communication in mobile communication system

Номер патента: US20140160965A1. Автор: Jung Mo Moon,Dae Ik Kim,Jee Hyeon Na,Woo Goo Park. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2014-06-12.

Terminal and measurement method

Номер патента: US20230300650A1. Автор: Yuichi Kakishima,Takuma TAKADA. Владелец: NTT DOCOMO INC. Дата публикации: 2023-09-21.

Terminal and reception power measurement method

Номер патента: US20240113819A1. Автор: Takashi Tamura,Hidetoshi Suzuki,Masayuki Hoshino,Akihiko Nishio,Hidenori Matsuo. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2024-04-04.

Optical sensor and methods of initialising and calibrating an optical sensor

Номер патента: GB2624182A. Автор: Lyngsnes Randeberg Lise. Владелец: Nordiq Products AS. Дата публикации: 2024-05-15.

Network latency measurement method and apparatus for low latency immersive service

Номер патента: US20230269156A1. Автор: Tae Yeon Kim,Seung Woo Hong,Ho Yong Ryu. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-08-24.

Adjusting and measuring method and system for a photovoltaic power plant

Номер патента: US20240178790A1. Автор: Mohamed Amhal,Hervé BUTTIN. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2024-05-30.

Method for Measuring Pentosidine and Measurement Kit

Номер патента: US20220396822A1. Автор: Takuya Sato,Atsushi Ichiyanagi,Kazuya Marushima,Yi Hsin Chen,Yasuko Araki,Dian Kartikasari LIANTO. Владелец: Kikkoman Corp. Дата публикации: 2022-12-15.

Method for measuring pentosidine and measurement kit

Номер патента: EP4023754A1. Автор: Takuya Sato,Atsushi Ichiyanagi,Kazuya Marushima,Yi Hsin Chen,Yasuko Araki,Dian Kartikasari LIANTO. Владелец: Kikkoman Corp. Дата публикации: 2022-07-06.

Measurement Method and Electron Microscope

Номер патента: US20190088447A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-03-21.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240150815A1. Автор: Tomoyuki Taguchi,Yuki Miyauchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Measurement method and measurement system

Номер патента: EP4299713A1. Автор: Tomoyuki Taguchi,Yuki Miyauchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-01-03.

Measurement device and measurement method for flickering perception threshold

Номер патента: US20120169997A1. Автор: Nobuyoshi Harada,Sunao Iwaki,Kouichi Sutani. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2012-07-05.

Large-scale characteristic parameter measurement method and apparatus, and node and storage medium

Номер патента: EP4274140A1. Автор: Yijian Chen,Zhaohua Lu,Guanghui Yu,Shujuan Zhang,Xinquan YE. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-11-08.

Measurement control apparatus and measurement control method

Номер патента: CA3131857A1. Автор: Yuki Hashimoto,Nobuaki Matsuura,Kei KUWABARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Measurement control apparatus and measurement control method

Номер патента: AU2020231570B2. Автор: Yuki Hashimoto,Nobuaki Matsuura,Kei KUWABARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Measurement control apparatus and measurement control method

Номер патента: AU2020231570A1. Автор: Yuki Hashimoto,Nobuaki Matsuura,Kei KUWABARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-10-07.

Dynamic scheduling restriction and measurement scheme for l1/l2 inter-cell mobility

Номер патента: WO2024168665A1. Автор: Hong He,YANG Tang,Dawei Zhang,Jie Cui,Qiming Li,Yuexia Song,Naveen Kumar R PALLE VENKATA. Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2024-08-22.

Automatic tool setting system and method based on spectral confocal displacement sensor

Номер патента: US12011795B2. Автор: MING Chen,Xianghui Huang,Qinglong AN,Weiwei MING,Xiaojiang CAI,Ruhao ZHOU. Владелец: Shanghai Institute Of Aerospace Control Technology. Дата публикации: 2024-06-18.

An apparatus configurated to and a process to photoacousticall image and measure a structure at the human eye fundus

Номер патента: EP2994038A1. Автор: Andreas W. Dreher. Владелец: Ophthametrics Ag. Дата публикации: 2016-03-16.

Motion based search and measurement periodicity

Номер патента: US09294974B2. Автор: Jianxiong Shi,Navid Damji,Longda Xing,Madhusudan CHAUDHARY,Sree Ram Kodali,Jinghua LING,Shivesh MAKHARIA,Sai Sravan Bharadwaj Karri. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2016-03-22.

Sensor and actuator for autonomously detecting resistivity derivatives of wellbore fluids and closing fluid path

Номер патента: US20240035370A1. Автор: Jinhua CAO,Ishwar Patil,Hector Jesus Elizondo,Ritesh Dharmendra Panchal,Paul J JONES. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Sensor and actuator for autonomously detecting wellbore fluids and closing fluid path

Номер патента: WO2023177448A1. Автор: Jinhua CAO,Hector Jesus Elizondo,Ritesh Dharmendra Panchal. Владелец: Halliburton Energy Services, Inc.. Дата публикации: 2023-09-21.

Sensor and actuator for autonomously detecting resistivity derivatives of wellbore fluids and closing fluid path

Номер патента: WO2024026157A1. Автор: Jinhua CAO,Paul J. JONES,Ishwar Patil,Hector Jesus Elizondo,Ritesh Dharmendra Panchal. Владелец: Halliburton Energy Services, Inc.. Дата публикации: 2024-02-01.

Sensor and actuator for autonomously detecting wellbore fluids and closing fluid path

Номер патента: US20230296014A1. Автор: Jinhua CAO,Hector Jesus Elizondo,Ritesh Dharmendra Panchal. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2023-09-21.

Lithography system, sensor and measuring method

Номер патента: USRE49602E1. Автор: Pieter Kruit,Marco Jan-Jaco Wieland,Stijn Willem Herman Karel Steenbrink,Erwin Slot,Tijs Frans Teepen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-08-08.

Sensor and actuator for autonomously detecting wellbore fluids and closing fluid path

Номер патента: AU2022447568A1. Автор: Jinhua CAO,Hector Jesus Elizondo,Ritesh Dharmendra Panchal. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Reference signal measurement method, resource indication method, and apparatus

Номер патента: EP4030816A1. Автор: Peng Guan,Xi Zhang,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-20.

Reference signal measurement method, resource indication method, and apparatus

Номер патента: US20220256379A1. Автор: Peng Guan,Xi Zhang,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Rss measurement method, apparatus and system

Номер патента: EP4224197A1. Автор: LI ZHANG,Jing HAN,Jiantao XUE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

CSI measurement method and apparatus

Номер патента: US12016048B2. Автор: YE Wu,Xiaoyan Bi. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Biological measurement device, biological measurement method, and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US20230301536A1. Автор: Hitoshi Tominaga,Hiroto Yanagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Pulse wave velocity measuring device and pulse wave velocity measurement method

Номер патента: US09445731B2. Автор: Osamu Nishimura,Michiko Hara,Takehiko Suzuki,Hideaki Fukuzawa,Yoshihiko Fuji. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Method for monitoring the dosage of ballast and measuring and controlling apparatus for dosed unloading and distribution of ballast on a railway track

Номер патента: RU2755610C1. Автор: Вячеслав Петрович Сычев,Петр Вячеславович Сычев,Петр Николаевич Кулешов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Вагонпутьмашпроект". Дата публикации: 2021-09-17.

Measuring steady rest for support and measurement of central zones of workpiece, grinding machine with such measuring steady rests, as well as method of support and measurement of billet central zones

Номер патента: RU2702186C2. Автор: Эрвин ЮНКЕР. Владелец: Эрвин Юнкер Машиненфабрик Гмбх. Дата публикации: 2019-10-04.

Method and system for drilled well development and measurement

Номер патента: RU2570688C2. Автор: Кристоф ШВАНЦ,Улли ВИДЕНМАНН. Владелец: Бауэр Шпециальтифбау ГмбХ. Дата публикации: 2015-12-10.

Induction-type wind electric generator

Номер патента: RU2528428C2. Автор: Александр Михайлович Литвиненко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2014-09-20.

Prioritized cell identification and measurement method

Номер патента: CA2945207C. Автор: Rui Huang,YANG Tang,Candy YIU. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2020-12-29.

Method of, and measuring tube and measuring probe for, measuring fluid pressure in a sealed bore hole

Номер патента: CA1261176A. Автор: Kalman Kovari,Jakob Koppel. Владелец: DER INDUSTRIEORIENTIERTEN FORSCHUNG AN DEN SCHWEIZERISCHEN HOCHSCHULEN und WEITEREN INSTITUTIONEN Gesell zur Forderung. Дата публикации: 1989-09-26.

Method for determining a communication path of millimeter wave signal, measurement device and measurement controller using the same

Номер патента: US11342985B2. Автор: Kwo-Jyr Wong. Владелец: Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-24.

Номер патента: RU2449243C2. Автор: Дмитрий Викторович Локтев,Дмитрий Валерьевич Зиновьев,Дмитрий Викторович Локтев (RU),Дмитрий Валерьевич Зиновьев (RU). Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Микродатчик". Дата публикации: 2012-04-27.

Drilling pressure measurement method

Номер патента: RU2271447C2. Автор: Василий Прокопьевич Чупров,Альберт Амирзянович Шакиров,Альберт Амирз нович Шакиров. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственная фирма "ВНИИГИС-Забойные телеметрические системы" (ООО НПФ "ВНИИГИС-ЗТС"). Дата публикации: 2006-03-10.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Frequency angular-displacement sensor and measuring device for it

Номер патента: RU2401461C2. Автор: Петр Тихонович Харитонов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пензенская государственная технологическая академия". Дата публикации: 2010-10-10.

Insulation resistance measurement method and device therefor

Номер патента: RU2585965C1. Автор: Вячеслав Иванович Лачин,Кирилл Юрьевич Соломенцев,Куок Уи Нгуен,Игорь Геннадиевич Балабан. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) имени М.И. Платова". Дата публикации: 2016-06-10.

Water flow velocity measurement method and device

Номер патента: RU2533751C1. Автор: Игорь Евгеньевич Зайцев,Александр Александрович Гришин,Руслан Витальевич Стороженко. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Метеоприбор". Дата публикации: 2014-11-20.

Induction linear displacement sensor

Номер патента: RU2589945C1. Автор: Николай Владимирович Росков,Алексей Владимирович Кривдин,Александр Анатольевич Варюхов. Владелец: Открытое акционерное общество "Павловский машиностроительный завод ВОСХОД"- ОАО "ПМЗ ВОСХОД". Дата публикации: 2016-07-10.

Applicator array and measuring device for temperature changes of biological object's internal tissues by simultaneous noninvasive measurement of radiance temperature at various depths

Номер патента: RU2510236C2. Автор: Сергей Георгиевич Веснин. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Фирма Рэс". Дата публикации: 2014-03-27.

Measurement method for detecting a mechanical force acting on an object, and measuring device having a fibre-optic sensor unit

Номер патента: AU2023264255A1. Автор: Kai SCHICKER,Rainer Klemm,Thomas Grob. Владелец: Hitachi Rail Gts Deutschland GmbH. Дата публикации: 2024-11-14.

Measurement method for flatness deviation

Номер патента: RU2362119C1. Автор: Анатолий Гаврилович Астафьев,Сергей Николаевич Пидгурский,Владимир Николаевич Зюзиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственная корпорация "Иркут" (ОАО "Корпорация "Иркут"). Дата публикации: 2009-07-20.

Номер патента: RU2392626C1. Автор: Дмитрий Павлович Лукьянов,Юрий Владимирович Филатов,Михаил Михайлович Шевелько,Сергей Юрьевич Шевченко,Александр Николаевич Перегудов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ". Дата публикации: 2010-06-20.

Номер патента: RU2414717C1. Автор: Александр Михайлович Шилов,Игорь Владимирович Щепихин,Юрий Михайлович Прокопьев,Виталий Юрьевич Прокопьев. Владелец: Федеральное агентство по образованию Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Новосибирский государственный университет (НГУ). Дата публикации: 2011-03-20.

Method and apparatus for obtaining spatial information and measuring the dielectric constant of an object

Номер патента: US20120001628A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR IMPROVED EDGE TRIGGERING IN A TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT

Номер патента: US20120001657A1. Автор: SULLIVAN Stevens K.,BEALE Terrance R.,VEITH Kristie L.. Владелец: TEKTRONIX, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.