一种用于芯片测试的电路板、芯片测试系统及方法
Номер патента: CN113466657A
Опубликовано: 01-10-2021
Автор(ы): 李辉
Принадлежит: Yangtze Memory Technologies Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 01-10-2021
Автор(ы): 李辉
Принадлежит: Yangtze Memory Technologies Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Chip testing board and chip testing method
Номер патента: US11846670B2. Автор: Zongzheng LU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-19.