• Главная
  • Positive type resist composition and resist pattern formation method using same

Positive type resist composition and resist pattern formation method using same

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Positive photosensitive resin composition and cured film forming method using the same

Номер патента: US09964848B2. Автор: Satoshi Takita. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Pattern formation material, pattern formation method, and exposure mask fabrication method

Номер патента: US20040058279A1. Автор: Masamitsu Itoh,Takehiro Kondoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2004-03-25.

Pattern formation method and apparatus

Номер патента: US6358673B1. Автор: Hideo Namatsu. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2002-03-19.

Positive Resist Composition, Method For Resist Pattern Formation and Compound

Номер патента: US20080145784A1. Автор: Daiju Shiono,Hideo Hada,Taku Hirayama. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2008-06-19.

Positive resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US8105747B2. Автор: Yasuhiro Yoshii,Hiroaki Shimizu,Yoshiyuki Utsumi,Kyoko Ohshita. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-31.

Undercoating layer material for lithography and wiring forming method using the same

Номер патента: US20050112383A1. Автор: Takeshi Tanaka,Yoshio Hagiwara. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2005-05-26.

Molding composition and method, and molded article

Номер патента: EP1943287A2. Автор: Qiwei Lu,Michael O'Brien,Michael Vallance. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2008-07-16.

Positive resist composition for electron beam, x-ray or euv and pattern forming method using the same

Номер патента: US20090246685A1. Автор: Katsuhiro Yamashita. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-10-01.

Composition and process for ultra-fine pattern formation

Номер патента: US4401745A. Автор: Hisashi Nakane,Wataru Kanai,Minoru Tsuda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1983-08-30.

Resist composition for electron beam, x-ray, or euv, and pattern-forming method using the same

Номер патента: EP2020616A2. Автор: Katsuhiro Yamashita,Yasutomo Kawanishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-02-04.

Barrier film material and pattern formation method using the same

Номер патента: US20080193883A1. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-08-14.

Pattern forming method using resist underlayer film

Номер патента: US09793131B2. Автор: Shigeo Kimura,Hiroto Ogata,Yuki Usui,Tomoya Ohashi. Владелец: Nissan Chemical Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Chemically amplified positive-type photosensitive resin composition

Номер патента: US20160291469A1. Автор: Shota Katayama,Aya Momozawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-06.

Chemically amplified photoresist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20100330497A1. Автор: Takashi Hiraoka,Koji Ichikawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-30.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09846360B2. Автор: Jun Hatakeyama,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Polymer, resist composition and patterning process

Номер патента: US20020115821A1. Автор: Tsunehiro Nishi,Takeshi Kinsho. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-22.

Polymer, resist composition and patterning process

Номер патента: US20010026904A1. Автор: Jun Hatakeyama,Tsunehiro Nishi,Koji Hasegawa,Takeshi Kinsho,Takeru Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2001-10-04.

Resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US10534263B2. Автор: Tsuyoshi Nakamura,Kazuishi Tanno,Junyeob Lee. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-14.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US11822241B2. Автор: Koji Ichikawa,Katsuhiro Komuro,Takashi Nakakoji. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20180180997A1. Автор: Tsuyoshi Nakamura,Kazuishi Tanno,Junyeob Lee. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240192591A1. Автор: Jun Hatakeyama,Takayuki Fujiwara. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Rinsing liquid for lithography and pattern forming method using same

Номер патента: US20160109805A1. Автор: Go Noya,Yuriko Matsuura,Sara TSUYUKI. Владелец: AZ Electronic Materials Luxembourg SARL. Дата публикации: 2016-04-21.

Composition for resist patterning and method for forming pattern using same

Номер патента: US20170219927A1. Автор: Tatsuro Nagahara,Kazuma Yamamoto. Владелец: AZ Electronic Materials Luxembourg SARL. Дата публикации: 2017-08-03.

Chemical amplifying type positive resist composition and sulfonium salt

Номер патента: SG166668A1. Автор: Akira Kamabuchi,Yasunori Uetani,Kenji Oohashi. Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 2010-12-29.

Composition And Method For Lithography Patterning

Номер патента: US20160238933A1. Автор: Ching-Yu Chang,Yu-Chung Su. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-08-18.

Resist composition, resist pattern forming method, compound, and acid generator

Номер патента: US20240210825A1. Автор: Tatsuya Fujii,KhanhTin NGUYEN,Mari MURATA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Chemical amplification type positive resist compositions and sulfonium salts

Номер патента: US20020006582A1. Автор: Yasunori Uetani,Hiroki Inoue. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2002-01-17.

Positive resist composition and pattern forming method using the resist composition

Номер патента: EP1693705B1. Автор: Yasutomo Kawanishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-01-22.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09958777B2. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Method of pattern formation and method of producing polysilane resin precursor

Номер патента: US20180181002A1. Автор: Kazuya Someya,Kunihiro Noda,Hiroki Chisaka,Dai Shiota. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US20170369616A1. Автор: Jun Hatakeyama,Takayuki Fujiwara,Masaki Ohashi,Masahiro Fukushima,Kazuya HONDA. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-28.

Positive resist composition and method for resist pattern formation

Номер патента: US20090042129A1. Автор: Masaru Takeshita. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2009-02-12.

Positive Resist Composition and Method for Resist Pattern Formation

Номер патента: US20080268375A1. Автор: Satoshi Yamada,Ryotaro Hayashi,Makiko Irie. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2008-10-30.

Positive-working resist composition and method for resist pattern formation

Номер патента: WO2006082740A1. Автор: Masaru Takeshita. Владелец: TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD.. Дата публикации: 2006-08-10.

Positive-working resist composition

Номер патента: US20020102492A1. Автор: Hideo Hada,Takeshi Iwai,Satoshi Fujimura. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-01.

Chemically amplified resist composition and method for manufacturing resist film using the same

Номер патента: EP4204901A1. Автор: Rui Zhang,Hiroshi Hitokawa,Tomohide Katayama. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2023-07-05.

Positive type radiation-sensitive resist composition

Номер патента: CA2078830A1. Автор: Hirotoshi Nakanishi,Yasunori Uetani,Hiroshi Moriuma. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 1993-05-02.

Resist pattern swelling material, and method for patterning using same

Номер патента: CN1802606A. Автор: 小泽美和,野崎耕司,并木崇久,今纯一,矢野映. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-07-12.

Resist pattern swelling material, and method for patterning using same

Номер патента: US20080274431A1. Автор: Takahisa Namiki,Ei Yano,Koji Nozaki,Junichi Kon,Miwa Kozawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-11-06.

Resist pattern swelling material, and method for patterning using same

Номер патента: EP2397901A1. Автор: Takahisa Namiki,Ei Yano,Koji Nozaki,Junichi Kon,Miwa Kozawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-12-21.

AQUEOUS SOLUTION FOR RESIST PATTERN COATING AND PATTERN FORMING METHODS USING THE SAME

Номер патента: US20190243249A1. Автор: Sakamoto Rikimaru,NISHITA Tokio. Владелец: NISSAN CHEMICAL CORPORATION. Дата публикации: 2019-08-08.

Resist composition for electron beam, X-ray, or EUV, and pattern-forming method using the same

Номер патента: US8084183B2. Автор: Katsuhiro Yamashita,Yasutomo Kawanishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2011-12-27.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20230266666A1. Автор: Koji Ichikawa,Katsuhiro Komuro,Saki Kato. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US12072627B2. Автор: Takayuki Fujiwara,Masaki Ohashi,Kenichi Oikawa,Tomohiro Kobayashi,Shinya Yamashita,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Free-standing silicon oxide membranes and methods of making and using same

Номер патента: US09945030B2. Автор: Christopher C. Striemer,Jon-Paul DesOrmeaux. Владелец: SIMPORE Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Process for resist pattern formation using positive electrodeposition photoresist compositions

Номер патента: US5702872A. Автор: Naozumi Iwasawa,Genji Imai,Tsuguo Yamaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 1997-12-30.

Positive Resist Composition and Method of Forming Resist Pattern

Номер патента: US20080241747A1. Автор: Tomoyuki Ando,Kiyoshi Ishikawa,Takuma Hojo. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

Pattern formation method and pattern formation apparatus

Номер патента: US20140213058A1. Автор: Eiji Yoneda,Kentaro Matsunaga,Nobuhiro Komine. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-07-31.

Pattern formation method and pattern formation apparatus

Номер патента: US9260300B2. Автор: Eiji Yoneda,Kentaro Matsunaga,Nobuhiro Komine. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-02-16.

Pattern formation method

Номер патента: US6429143B1. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-06.

Pattern formation method

Номер патента: US20020076937A1. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Pattern formation method

Номер патента: US20020142251A1. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-03.

Positive-type photosensitive resin composition, and insulating film and OLED formed using the same

Номер патента: US09921476B2. Автор: Se Hyung Park,Byoung Kee Kim. Владелец: KOLON INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2018-03-20.

Silicon-containing film, resin composition, and pattern formation method

Номер патента: US8791020B2. Автор: Yoshikazu Yamaguchi,Masato Tanaka,Yukio Nishimura,Takashi Mori. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-07-29.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20130244176A1. Автор: Naoto Motoike. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-19.

Pattern formation method and semiconductor device

Номер патента: US20150227045A1. Автор: Takehiro Kondoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Direct positive type silver halide photographic material comprising a mixture of dyes

Номер патента: US5547828A. Автор: Takanori Hioki,Toyohisa Oya,Shingo Nishiyama. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1996-08-20.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20060223010A1. Автор: Takayuki Tsuji,Daisuke Shimizu,Tomoki Nagai,Kentarou Harada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-05.

Pattern formation method

Номер патента: US20040224525A1. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2004-11-11.

Pattern formation method

Номер патента: US20040259008A1. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2004-12-23.

Positive resist composition and pattern formation method using the same

Номер патента: US20050064329A1. Автор: Hyou Takahashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-24.

Chemical amplification-type resist composition and production process thereof

Номер патента: US7294450B2. Автор: Shinji Tarutani. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2007-11-13.

Positive resist composition and positive resist base material using the same

Номер патента: US6649322B2. Автор: Hiroto Yukawa,Satoshi Kumon. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2003-11-18.

Pattern formation method and replica template

Номер патента: US20240201582A1. Автор: Ryo Kobayashi. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Positive resist composition and patterning process

Номер патента: US20140045122A1. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-13.

Pattern formation method and photosensitive hard mask

Номер патента: US20230019943A1. Автор: Kazuki Yamada,Ryuichi Asako,Hajime Nakabayashi,Tomohito Yamaji. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Resist pattern-forming method and substrate-treating method

Номер патента: US20200218161A1. Автор: Ryuichi Serizawa,Tomoaki Seko,Nozomi SATOU,Yuusuke OOTSUBO,Tomoya TAJI,Souta NISHIMURA. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Pattern formation material and pattern formation method

Номер патента: US20020037471A1. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago,Shinji Kishimura,Masamitsu Shirai,Masahiro Tsunooka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-03-28.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09869931B2. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: IL174569A. Автор: . Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2010-11-30.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: IL174569A0. Автор: . Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-08-20.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US20030175617A1. Автор: Yoshinori Hirano,Hideto Kato,Toshihiko Fujii,Hiromasa Yamaguchi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2003-09-18.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US6866982B2. Автор: Yoshinori Hirano,Hideto Kato,Toshihiko Fujii,Hiromasa Yamaguchi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-15.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240272550A1. Автор: Masaki Ohashi,Seiichiro Tachibana,Shun Kikuchi,Ryunosuke HANDA. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20140147790A1. Автор: Tomohiro Oikawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

Method of trimming resist pattern

Номер патента: US20160097979A1. Автор: Ryoji Watanabe,Yoichi Hori,Rikita Tsunoda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-07.

Resist patterning method, latent resist image forming device, and resist material

Номер патента: US20170097570A1. Автор: Seiichi Tagawa. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-04-06.

Method of forming resist pattern

Номер патента: US09846364B2. Автор: Tomoyuki Hirano,Takayoshi Mori,Junichi Tsuchiya. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Chemical amplification type resist composition

Номер патента: US6830871B2. Автор: Kazuyoshi Mizutani,Shinichi Kanna,Tomoya Sasaki. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-12-14.

Positive resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20090068588A1. Автор: Isao Hirano,Yohei Kinoshita. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-12.

Gap filling composition and pattern forming method using composition containing polymer

Номер патента: US20200319556A1. Автор: Tatsuro Nagahara,Xiaowei Wang. Владелец: AZ Electronic Materials SARL. Дата публикации: 2020-10-08.

Direct positive type silver halide photosensitive material

Номер патента: US4395483A. Автор: Yoshiaki Suzuki,Terumi Matsuda,Shigenori Moriuchi,Shoji Ishiguro. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1983-07-26.

Heat-dissipating resin composition, cured product thereof, and method of using same

Номер патента: US20200181393A1. Автор: Kohichiro Kawate. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2020-06-11.

Methods and apparatus for forming resist pattern using EUV light with electric field

Номер патента: US11754925B2. Автор: Bu Geun KI. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2023-09-12.

Methods and apparatus for forming resist pattern using euv light with electric field

Номер патента: US20220244646A1. Автор: Bu Geun KI. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2022-08-04.

Forming device for pouch-type secondary battery case and forming method using same

Номер патента: EP4410517A1. Автор: Tai Joon Seo,Lae Seo Park,Hui Gyun NAM. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Battery case sealing device and battery case sealing method using same

Номер патента: EP4434730A1. Автор: Do Jae Kim. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Secondary battery manufacturing apparatus and secondary battery manufacturing method using same

Номер патента: EP4120411A1. Автор: Jin Yong Lee,Hae Ho Hwang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-01-18.

Fuel cell system and control method using same

Номер патента: EP4184622A3. Автор: Sung Kyung Choi,Jong Bo Won. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Pouch forming device and pouch forming method using same

Номер патента: EP4438266A1. Автор: Ik Joon KIM,Eung Hyun LEE. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Gel electrolyte composition and method of manufacturing gel electrolyte using same

Номер патента: US20200381779A1. Автор: Eun Ji KWON,Gwang Seok OH,Samuel Seo. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US11820735B2. Автор: Koji Ichikawa,Yukako ANRYU. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Organic layer polishing composition and method for polishing using same

Номер патента: US20240084171A1. Автор: Jae Hyun Kim,Jong Dai Park,Hee Suk Kim,Jae Hong Yoo,Goo Hwa LEE. Владелец: Dongjin Semichem Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Fuel compositions comprising an amorphane or a stereoisomer thereof and methods of making and using same

Номер патента: EP2288675A1. Автор: Jason A. Ryder. Владелец: Amyris Biotechnologies Inc. Дата публикации: 2011-03-02.

Etching composition for metal nitride layer and etching method using the same

Номер патента: US12031077B2. Автор: Hyeon Woo PARK,Myung Ho Lee,Myung Geun Song,Seok Hyeon NAM. Владелец: ENF Technology CO Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Compositions and methods using same for deposition of silicon-containing film

Номер патента: EP3802913A1. Автор: Madhukar B. Rao,Robert G. Ridgeway,Raymond N. Vrtis. Владелец: Versum Materials US LLC. Дата публикации: 2021-04-14.

Compositions and methods using same for deposition of silicon-containing film

Номер патента: WO2019241183A1. Автор: Madhukar B. Rao,Robert G. Ridgeway,Raymond N. Vrtis. Владелец: Versum Materials US, LLC. Дата публикации: 2019-12-19.

Composition and kit for prevention or treatment of arthritis, and method using the same

Номер патента: WO2015182953A1. Автор: Eunwha CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2015-12-03.

Composition and kit for prevention or treatment of arthritis, and method using the same

Номер патента: US20170224772A1. Автор: Eun wha CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-10.

Tarnish resistant compositions and methods of using same

Номер патента: WO2006002408A1. Автор: Scott M. Croce. Владелец: Steridyne Laboratories, Inc.. Дата публикации: 2006-01-05.

Fire-resistant composition and wood impregnation method

Номер патента: RU2565686C2. Автор: Киммо СААРИ. Владелец: ЭфПи ВУД ОЙ. Дата публикации: 2015-10-20.

Pouch cell deformation inspection device and deformation inspection method using same

Номер патента: EP4439776A1. Автор: In Jae Jang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Copper-zinc alloy electroplating bath and method of plating using same

Номер патента: US20120003498A1. Автор: Yukiko Wada. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2012-01-05.

AQUEOUS SOLUTION FOR RESIST PATTERN COATING AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20190243251A1. Автор: Sakamoto Rikimaru,NISHITA Tokio. Владелец: NISSAN CHEMICAL CORPORATION. Дата публикации: 2019-08-08.

HEATING PASTE COMPOSITION, AND SHEET HEATING ELEMENT, HEATING ROLLER, HEATING UNIT AND HEATING MODULE USING SAME

Номер патента: US20170064774A1. Автор: KIM Yoonjin,CHO Jinwoo. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-02.

Chemically amplified negative resist composition and patterning process

Номер патента: US20140329183A1. Автор: Satoshi Watanabe,Daisuke Domon,Keiichi Masunaga. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-06.

Salt, acid generator, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20230305395A1. Автор: Koji Ichikawa,Masahiko Shimada. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Salt, acid generator, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20230305391A1. Автор: Koji Ichikawa,Masahiko Shimada. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Salt, acid generator, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20230305392A1. Автор: Koji Ichikawa,Masahiko Shimada. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20190285984A1. Автор: Tsuyoshi Nakamura,Kazuishi Tanno,Eun Sol JO. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-19.

Salt, acid generator, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20240279166A1. Автор: Koji Ichikawa,Shohei Terahigashi. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Compound, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20240255846A1. Автор: Koji Ichikawa,Masahiko Shimada. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20220179315A1. Автор: Yasuo Someya,Takaaki Kaiho,Minoru ADEGAWA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-09.

Resist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20240248403A1. Автор: Shuichi Ishii,Tetsuya Matsushita,Junichi Miyakawa,Koshi ONISHI. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Positive type photosensitive siloxane composition

Номер патента: SG11201806330UA. Автор: Toshiaki Nonaka,Megumi Takahashi,Daishi Yokoyama,Motoki Misumi. Владелец: Az Electronic Mat Luxembourg Sarl. Дата публикации: 2018-09-27.

Compound, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20240248402A1. Автор: Koji Ichikawa,Masahiko Shimada. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Resist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20240337937A1. Автор: Shuichi Ishii,Hiroki Kato,Tetsuo FUJINAMI. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Positive type photosensitive siloxane composition

Номер патента: US20190064660A1. Автор: Toshiaki Nonaka,Megumi Takahashi,Daishi Yokoyama,Motoki Misumi. Владелец: AZ Electronic Materials Luxembourg SARL. Дата публикации: 2019-02-28.

Pattern formation method, block copolymer, and pattern formation material

Номер патента: US20210040345A1. Автор: Koji Asakawa,Shinobu Sugimura,Norikatsu Sasao,Tomoaki Sawabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Pattern formation method, block copolymer, and pattern formation material

Номер патента: US20190169461A1. Автор: Koji Asakawa,Shinobu Sugimura,Norikatsu Sasao,Tomoaki Sawabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US12099298B2. Автор: Masaru Takeshita,Kazufumi Sato,Masahito YAHAGI. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Photoresist compositions and pattern formation methods

Номер патента: US11880135B2. Автор: Mitsuru Haga,Shugaku Kushida,Kunio Kainuma. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2024-01-23.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US10534264B2. Автор: Tsuyoshi Nakamura,Kazuishi Tanno,Junyeob Lee. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-14.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US20180224742A1. Автор: Tsuyoshi Nakamura,Kazuishi Tanno,Junyeob Lee. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-09.

Pattern formation material and pattern formation method

Номер патента: US20180265616A1. Автор: Koji Asakawa,Naoko Kihara,Shinobu Sugimura,Norikatsu Sasao,Tomoaki Sawabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Method of forming resist pattern, resist composition and method of producing the same

Номер патента: US11754926B2. Автор: Eiichi Shimura. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Positive resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20240160102A1. Автор: Manabu Hoshino. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Positive-type photosensitive siloxane composition

Номер патента: US20150291749A1. Автор: Toshiaki Nonaka,Yuji Tashiro,Takashi Fuke,Daishi Tokoyama. Владелец: AZ Electronic Materials Luxembourg SARL. Дата публикации: 2015-10-15.

Resist composition, resist pattern forming method, and polymer

Номер патента: US20240295814A1. Автор: Tomotaka Yamada,Takuya Uehara,Keiichi IBATA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Onium salt, resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230400766A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-14.

Composition for forming fine resist pattern and pattern forming method using same

Номер патента: US20180329301A1. Автор: Xiaowei Wang. Владелец: AZ Electronic Materials Luxembourg SARL. Дата публикации: 2018-11-15.

Radiation sensitive composition and resist pattern forming method

Номер патента: EP3667419A1. Автор: Hisashi Nakagawa,Yusuke Asano,Shinya Minegishi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-06-17.

Resist composition, method of forming resist pattern, polymeric compound, and compound

Номер патента: US20190163057A1. Автор: Masatoshi Arai,Takuya Ikeda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-30.

Resist composition, method of forming resist pattern, compound, and resin

Номер патента: US20220206385A1. Автор: Takuya Ikeda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Resist composition, method of forming resist pattern, compound, and resin

Номер патента: US12111574B2. Автор: Takuya Ikeda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US12117728B2. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Resist composition, method of forming resist pattern, and polymeric compound

Номер патента: US09890233B2. Автор: Tomoyuki Hirano,Yuta Iwasawa,Kotaro Endo,Miki Shinomiya. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Resist composition, method of forming resist pattern, polymeric compound, compound

Номер патента: US09778567B2. Автор: Masatoshi Arai,Yoshiyuki Utsumi. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Polymer, resist composition and patterning process

Номер патента: US20030120009A1. Автор: Tsunehiro Nishi,Mutsuo Nakashima,Tomohiro Kabayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-06-26.

Polymer, resist composition and patterning process

Номер патента: US20020115807A1. Автор: Tsunehiro Nishi,Tomohiro Kobayashi,Mutsuo Nakashima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-22.

Polymer, resist composition and patterning process

Номер патента: US20010031424A1. Автор: Jun Hatakeyama,Tsunehiro Nishi,Koji Hasegawa,Takeshi Kinsho,Takeru Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2001-10-18.

Thermosetting resin composition and prepreg, laminate and printed circuit board using same

Номер патента: US12122904B2. Автор: Yongjing XU,Zengbiao HUANG,Huayong FAN. Владелец: Shengyi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09921479B2. Автор: Kenji Yamada,Satoshi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Monomer, polymer, positive resist composition, and patterning process

Номер патента: US09829792B2. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20190391487A1. Автор: Koji Ichikawa,Yukako ANRYU. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-26.

Positive-type photosensitive resin composition, and insulating film and oled formed using the same

Номер патента: WO2013048069A9. Автор: Se Hyung Park,Byoung Kee Kim. Владелец: KOLON INDUSTRIES, INC.. Дата публикации: 2013-09-19.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US11977330B2. Автор: Yasuo Someya,Takaaki Kaiho,Minoru ADEGAWA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Pattern formation method, block copolymer, and pattern formation material

Номер патента: US11161999B2. Автор: Koji Asakawa,Shinobu Sugimura,Norikatsu Sasao,Tomoaki Sawabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-11-02.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20210181634A1. Автор: Masatoshi Arai,Takashi Nagamine,Junichi Miyakawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US20230205084A1. Автор: Masatoshi Arai,Makoto Sakata,Takatoshi INARI. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Positive resist composition and patterning process

Номер патента: US20210003917A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US20170115565A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-27.

Chemically Amplified Resist Composition and Patterning Process

Номер патента: US20180136558A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-17.

Polymer, chemically amplified positive resist composition and patterning process

Номер патента: US09810983B2. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Masayoshi Sagehashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20210026243A1. Автор: Jiro Yokoya,Tsuyoshi Nakamura. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-28.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20210181632A1. Автор: Yasuo Someya,Takaaki Kaiho,Minoru ADEGAWA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Resist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20230107966A1. Автор: Yasuo Someya,Takaaki Kaiho,Minoru ADEGAWA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-06.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US11747726B2. Автор: Tatsuya Fujii,Yuki FUKUMURA,Yoichi Hori. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20210181633A1. Автор: Masatoshi Arai,Takashi Nagamine,Junichi Miyakawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20180284612A1. Автор: Junichi Tsuchiya,Kotaro Endo,Masafumi FUJISAKI. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-04.

Polymer, chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US12032289B2. Автор: Masahiro Fukushima,Emiko Ono,Masayoshi Sagehashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Compound, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US9562122B2. Автор: Satoshi Yamamoto,Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20210286261A1. Автор: Satoshi Yamaguchi,Koji Ichikawa,Yukako ANRYU. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-16.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US11693313B2. Автор: Takahiro Kojima,Masahito YAHAGI. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-04.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: US20230273519A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Compound, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US11822244B2. Автор: Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA,Takuya Nakagawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Compound, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US11815813B2. Автор: Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA,Takuya Nakagawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20200159119A1. Автор: Tatsuya Fujii,Yuki FUKUMURA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20190384174A1. Автор: Masatoshi Arai,Takaya Maehashi,Koshi ONISHI. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-19.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US11703757B2. Автор: Hirokuni Saito,Daichi Takaki,Makoto Sakata. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20200174369A1. Автор: Yasuhiro Yoshii,Takahiro Kojima,Masahito YAHAGI,Yoichi Hori. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-04.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US11934099B2. Автор: Yosuke Suzuki,Yoichi Hori. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US11754922B2. Автор: Masatoshi Arai,KhanhTin NGUYEN. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US11947257B2. Автор: Satoshi Yamaguchi,Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20200409264A1. Автор: Hirokuni Saito,Daichi Takaki,Makoto Sakata. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-31.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20200409259A1. Автор: Hirokuni Saito,Daichi Takaki,Makoto Sakata. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-31.

Resist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20180067394A1. Автор: Tatsuya Fujii,Tomotaka Yamada,Yuki FUKUMURA,Takashi KAMIZONO. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-08.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20210405531A1. Автор: Yosuke Suzuki,Yoichi Hori. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-30.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230288800A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Method for forming a 3d pattern structure on a 3d substrate and device having color resists pattern

Номер патента: US20170192356A1. Автор: Ming-An Hsu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-06.

Method for forming a resist pattern

Номер патента: US20240219834A1. Автор: Tokio Nishita,Takahiro Kishioka,Shun KUBODERA. Владелец: Nissan Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Photoresist compositions and pattern formation methods

Номер патента: US11940730B2. Автор: Mingqi Li,Mitsuru Haga. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2024-03-26.

Polyimide resin and positive-type photosensitive resin comprising the same

Номер патента: US20220244640A1. Автор: Jiyeon SUNG,Minyoung Lim,Hyunsoon LIM. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2022-08-04.

Pattern formation method

Номер патента: US9040429B2. Автор: Hirokazu Kato,Ayako KAWANISHI. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-05-26.

Semiconductor device manufacturing method using metal silicide reaction after ion implantation in silicon wiring

Номер патента: US20020098683A1. Автор: Tamihide Yasumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2002-07-25.

Pattern formation method and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US11735431B2. Автор: Yusuke KASAHARA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Joining material and joining method using same

Номер патента: US20190118257A1. Автор: Satoru Kurita,Tatsuro HORI,Keiichi Endoh,Hiromasa Miyoshi. Владелец: Dowa Electronics Materials Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-25.

Positive type image-forming material and planographic printing plate precursor

Номер патента: EP1236569B1. Автор: Tomotaka Tsuchimura,Ippei Nakamura,Akio Oda. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-05-31.

Positive type image-forming material and planographic printing plate precursor

Номер патента: EP1236569A3. Автор: Tomotaka Tsuchimura,Ippei Nakamura,Akio Oda. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2003-03-12.

Onium Salt, Resist Composition, And Patterning Process

Номер патента: US20240036466A1. Автор: Kazuhiro Katayama,Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Onium salt, resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240310723A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Onium salt, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US20240361688A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Onium salt, chemically amplified positive resist composition, and resist pattern forming process

Номер патента: US20240337927A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US20200249571A1. Автор: Takayuki Fujiwara,Masaki Ohashi,Kenichi Oikawa,Tomohiro Kobayashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20240231226A1. Автор: Koji Ichikawa,Shohei Terahigashi,Haruka Homma. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Composition and method for manufacturing device using same

Номер патента: US20200048191A1. Автор: Yusuke Suga,Satoshi Enomoto. Владелец: Toyo Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-13.

Salt, acid generator, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20240272548A1. Автор: Koji Ichikawa,Shohei Terahigashi. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US12013636B2. Автор: Koji Ichikawa,Masahiko Shimada. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Carboxylate, quencher, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US12060316B2. Автор: Koji Ichikawa,Katsuhiro Komuro. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Onium salt, chemically amplified positive resist composition, and resist pattern forming process

Номер патента: EP4446812A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Structure of evaporation field, and seawater-concentrating method using same

Номер патента: GB2624500A. Автор: Sik Park Guy. Владелец: Syzoa Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Inverter system capable of detecting output ground fault and output ground fault detection method using same

Номер патента: US12038486B2. Автор: Chun-Suk Yang,Chengde XU. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Onium salt, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US20200102271A1. Автор: Masaki Ohashi,Yuki Suka,Kazuya HONDA,Yuki Kera. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-02.

Onium Salt, Resist Composition, And Patterning Process

Номер патента: US20240184199A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Curable poly(RTIL)-based mixed-matrix membranes and methods using same

Номер патента: US11745147B2. Автор: Richard D. Noble,Douglas L. Gin,Collin Andrew Dunn,Zoban Singh. Владелец: University of Colorado. Дата публикации: 2023-09-05.

Onium Salt, Resist Composition, And Patterning Process

Номер патента: US20240176237A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Onium Salt, Acid Diffusion Inhibitor, Resist Composition, And Patterning Process

Номер патента: US20240103367A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Pattern quality management chart, pattern quality management method, and pattern formation method

Номер патента: US20160195599A1. Автор: Takeichi Tatsuta. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-07-07.

Electrical signal transmission cable system and method of using same

Номер патента: US20200161022A1. Автор: Douglas W. SCHROEDER,Daniel W. Celander. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-05-21.

Electrical signal transmission cable system and method of using same

Номер патента: US20210335522A1. Автор: Douglas W Schroeder,Daniel W Celander. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-28.

Imaging device for producing high resolution images using subpixel shifts and method of using same

Номер патента: US09955072B2. Автор: Scott McCloskey,Nianyi Li. Владелец: HAND HELD PRODUCTS INC. Дата публикации: 2018-04-24.

Negative resist composition and method of resist pattern formation

Номер патента: WO2007032181A1. Автор: Jun Iwashita,Ayako Kusaka. Владелец: TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD.. Дата публикации: 2007-03-22.

Negative resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230116747A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Onium salt, chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20220127225A1. Автор: Takayuki Fujiwara,Satoshi Watanabe,Kousuke Ohyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-28.

Resist composition and method for forming pattern

Номер патента: US9354517B2. Автор: Yoshihiro Nakata,Junichi Kon. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-05-31.

Low-refractive index resin composition for tpp nano 3d printing and photonic wire bonding method using same

Номер патента: EP4414395A1. Автор: Jung Hyun Oh,Eun Jeong Hahm. Владелец: Luvantix Adm Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Device for recommending location in building by using fingerprint of access point, and method using same

Номер патента: US09888349B2. Автор: Min-Soeng KIM. Владелец: SK Planet Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Self-foaming hot melt adhesive compositions and methods of making and using same

Номер патента: US09884333B2. Автор: William C. Stumphauzer. Владелец: Foammatick LLC. Дата публикации: 2018-02-06.

Electron microscope device and imaging method using same

Номер патента: US09824853B2. Автор: Kenji Nakahira,Maki Tanaka,Mitsutoshi Kobayashi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Adiponectin glycopeptides and compositions and methods of use thereof

Номер патента: US20240209029A1. Автор: Yu Wang,Aimin Xu,Yiwei Zhang,Xuechen Li,Yuanxin Li,Hongxiang Wu. Владелец: University of Hong Kong HKU. Дата публикации: 2024-06-27.

Communication System Including a Confidence Level for a Contact Type and Method of Using Same

Номер патента: US20160364482A9. Автор: James Dean Midtun,Tom Quan. Владелец: MITEL NETWORKS CORP. Дата публикации: 2016-12-15.

Sulfonium salt, resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240302740A1. Автор: Jun Hatakeyama,Takayuki Fujiwara,Yuki Suda,Tatsuya Yamahira. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US11899363B2. Автор: Koji Ichikawa,Katsuhiro Komuro. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US11840503B2. Автор: Koji Ichikawa,Katsuhiro Komuro. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-12.

Onium salt compound, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US09989847B2. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-05.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09958776B2. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09897914B2. Автор: Jun Hatakeyama,Masaki Ohashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20240004289A1. Автор: Koji Ichikawa,Katsuhiro Komuro. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US11820736B2. Автор: Koji Ichikawa,Katsuhiro Komuro. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20200004143A1. Автор: Junichi Tsuchiya,Masafumi FUJISAKI. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-02.

Salt, acid generator, resin, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20240142872A1. Автор: Koji Ichikawa,Shohei Terahigashi. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Substrate processing composition and substrate processing method using the same

Номер патента: US20230375937A1. Автор: Suyeon JO,Jinseok YANG,Junghwan HAH. Владелец: SK Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US20240219830A1. Автор: Koji Ichikawa,Shohei Terahigashi,Haruka Homma. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Compositions and methods for in vivo delivery of polynucleotide-based therapeutics

Номер патента: WO2001080897A3. Автор: Jukka Hartikka,Loretta Sukhu. Владелец: Loretta Sukhu. Дата публикации: 2002-04-25.

Compositions and methods for treating retinal degradation

Номер патента: US20240269140A1. Автор: Jayakrishna Ambati,Benjamin Fowler,Kameshwari AMBATI. Владелец: University of Kentucky Research Foundation. Дата публикации: 2024-08-15.

Compositions and methods for treating retinal degradation

Номер патента: US12097201B2. Автор: Jayakrishna Ambati,Benjamin Fowler,Kameshwari AMBATI. Владелец: University of Kentucky Research Foundation. Дата публикации: 2024-09-24.

Positive type light-sensitive composition

Номер патента: US5212042A. Автор: Akira Umehara,Fumiaki Shinozaki,Sadao Ishige. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1993-05-18.

Rgb-d imaging system and method using ultrasonic depth sensing

Номер патента: US20170195655A1. Автор: WEI Ren,Jiebin XIE,Guyue ZHOU. Владелец: SZ DJI Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-06.

Negative resist composition and formation of resist pattern

Номер патента: JPH11311860A. Автор: 耕司 野崎,映 矢野,Ei Yano,Koji Nozaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1999-11-09.

Curable composition, and cured coating film, article, and coating film forming method using said composition

Номер патента: EP4310150A1. Автор: Toshifumi Kuboyama. Владелец: ThreeBond Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-24.

Recombinant cho cell, construction method therefor, and detection system and method using same

Номер патента: EP4230732A1. Автор: YING Wang,HONG Chen,Zhushi Li. Владелец: Chengdu Unovel Biopharma Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Flow path device, and testing device and testing method using same

Номер патента: US20220143614A1. Автор: Hiroshi Iwata. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-05-12.

SnoRNA, compositions and uses

Номер патента: US09951332B2. Автор: Jean-Rene Martin. Владелец: Ninovax SAS. Дата публикации: 2018-04-24.

Photochemical composition and use thereof for producing ch4 from co2 and/or co

Номер патента: US20190224659A1. Автор: Marc Robert,Julien BONIN. Владелец: Universite Paris Diderot Paris 7. Дата публикации: 2019-07-25.

Composition and method for controlling heat generation within organism, and use

Номер патента: US20230391843A1. Автор: Qian Wang,Zhinan Yin,Hengwen Yang. Владелец: Guangdong Jiantebo Biotechnology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Composition and method for controlling heat generation within organism, and use

Номер патента: EP4248998A1. Автор: Qian Wang,Zhinan Yin,Hengwen Yang. Владелец: Guangdong Jiantebo Biotechnology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Rna interactome capturing protocol and antiviral composition discovered using same

Номер патента: EP4239083A2. Автор: Young-Suk Lee,V. Narry KIM,Sungyul LEE. Владелец: INSTITUTE FOR BASIC SCIENCE. Дата публикации: 2023-09-06.

Rna interactome capturing protocol and antiviral composition discovered using same

Номер патента: US20230407373A1. Автор: Young-Suk Lee,V. Narry KIM,Sungyul LEE. Владелец: INSTITUTE FOR BASIC SCIENCE. Дата публикации: 2023-12-21.

Compositions and methods for isolating target nucleic acids

Номер патента: AU2022200072B2. Автор: Ankur Shah. Владелец: Gen Probe Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Compositions and methods for regulating SAS1R

Номер патента: US09803012B2. Автор: Arabinda Mandal,John C. Herr,Monika Sachdev. Владелец: UNIVERSITY OF VIRGINIA PATENT FOUNDATION. Дата публикации: 2017-10-31.

Tissue staining composition and tissue staining method using same

Номер патента: US11846576B2. Автор: Kwang Il Kim,Woo Hyun JI,Seong Il CHO. Владелец: SAMSUNG LIFE PUBLIC WELFARE FOUNDATION. Дата публикации: 2023-12-19.

Tissue staining composition and tissue staining method using same

Номер патента: US20210215579A1. Автор: Kwang Il Kim,Woo Hyun JI,Seong Il CHO. Владелец: SAMSUNG LIFE PUBLIC WELFARE FOUNDATION. Дата публикации: 2021-07-15.

Resist developer and resist pattern formation method using same

Номер патента: US20030203316A1. Автор: Kazuyuki Nitta. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2003-10-30.

Radiation-sensitive negative-type resist composition for pattern formation and pattern formation method

Номер патента: WO2004023213A1. Автор: Kentaro Tada,Nobuji Sakai. Владелец: TOYO GOSEI CO., LTD.. Дата публикации: 2004-03-18.

Positive-Type Resist Composition

Номер патента: US20140134542A1. Автор: Yoshiharu Terui,Takashi Mori,Haruhiko Komoriya. Владелец: Central Glass Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-15.

Resist pattern formation method and resist composition

Номер патента: US09740105B2. Автор: Shinichi Hidesaka,Yoichi Hori,Takeaki Shiroki. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Chemically amplified negative resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: EP4443240A2. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Chemically amplified negative resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: EP4443240A3. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Chemically amplified negative resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: US20240337935A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Chemically amplified positive resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: EP4443239A2. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Chemically amplified positive resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: EP4443239A3. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Chemically amplified positive resist composition and resist pattern forming process

Номер патента: US20240337939A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Pattern formation method

Номер патента: EP1688797A3. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-16.

Pattern formation method

Номер патента: US20080193882A1. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-08-14.

Pattern formation method

Номер патента: US20110189616A1. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-08-04.

Positive resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US7338744B2. Автор: Hideaki Tsubaki,Shinji Tarutani. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-03-04.

Barrier film material and pattern formation method using the same

Номер патента: EP1788440A2. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-05-23.

Pattern formation method, control device, and semiconductor device manufacture method

Номер патента: US20160259240A1. Автор: Hideaki Sakurai,Shingo Kanamitsu,Keiko Morishita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-08.

Resist Composition and Resist Pattern Forming Method

Номер патента: US20200201176A1. Автор: Seiji Nagahara,Gousuke Shiraishi,Congque DINH. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Pattern formation with negative type resist

Номер патента: US4442199A. Автор: Teruo Fujimoto,Kimio Shibayama,Kingo Itaya. Владелец: Toyo Soda Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1984-04-10.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20210191262A1. Автор: Yasuhiro Yoshii,Yosuke Suzuki,Takahiro Kojima,Yoichi Hori,Mari MURATA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-24.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device using same

Номер патента: US20170146908A1. Автор: Keita Kato,Michihiro Shirakawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-05-25.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20160062236A1. Автор: Tomoyuki Hirano,Naoki Yamashita,Yoshitaka Komuro. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-03.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20210405527A1. Автор: Tasuku Matsumiya,Yosuke Suzuki,Yuta Iwasawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-30.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20220206384A1. Автор: Takuya Ikeda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Pattern formation method and pattern formation material

Номер патента: US20190084829A1. Автор: Koji Asakawa,Naoko Kihara,Shinobu Sugimura,Norikatsu Sasao,Tomoaki Sawabe,Seekei Lee. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-03-21.

Resist patterning process

Номер патента: US20030108819A1. Автор: Satoshi Watanabe,Tomohiro Kobayashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2003-06-12.

Resist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20240302743A1. Автор: Tomoyuki Hirano,Koji Yonemura,Yusuke Nakagawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Pattern formation method and pattern formation material

Номер патента: US20190086803A1. Автор: Koji Asakawa,Naoko Kihara,Shinobu Sugimura,Norikatsu Sasao,Tomoaki Sawabe,Seekei Lee. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-03-21.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US12111573B2. Автор: Takuya Ikeda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Resist pattern formation method

Номер патента: US11796919B2. Автор: Seiichi Tagawa. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2023-10-24.

Resist pattern formation method

Номер патента: EP3809206A1. Автор: Seiichi Tagawa. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2021-04-21.

Rinse solution for pattern formation and pattern forming process

Номер патента: US09798242B2. Автор: Tsutomu Ogihara,Jun Hatakeyama,Daisuke Kori. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Lightproof and heat-resistant composition

Номер патента: RU2351621C2. Автор: Вероник БОССЕННЕК,Тьерри ШАРБОННО. Владелец: Родианил. Дата публикации: 2009-04-10.

Positive photoresist composition and resist pattern formation

Номер патента: WO2005029184A2. Автор: Toshiki Okui,Yasuo Masuda. Владелец: TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD.. Дата публикации: 2005-03-31.

Composition for resist lower layer film formation and method for pattern formation

Номер патента: EP2087404A1. Автор: Yousuke Konno,Nakaatsu Yoshimura. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2009-08-12.

Resist top-coat composition and patterning process

Номер патента: US20150234274A1. Автор: Jun Hatakeyama,Hyun-Woo Kim. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-20.

Pattern formation method

Номер патента: US8268535B2. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2012-09-18.

Near field exposure mask, method of forming resist pattern using the mask, and method of producing device

Номер патента: US7968256B2. Автор: Toshiki Ito,Natsuhiko Mizutani,Akira Terao. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-28.

Pattern formation method

Номер патента: US9134605B2. Автор: Hironobu Sato. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-09-15.

Conductive pattern formation method and conductive pattern formation device

Номер патента: US10440831B2. Автор: Sayaka Morita,Keita Saito,Midori Shimomura,Dai SUWAMA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-10-08.

Pattern exposing method using phase shift and mask used therefor

Номер патента: US5364716A. Автор: Kenji Nakagawa,Masao Kanazawa,Tamae Haruki,Yasuko Tabata. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1994-11-15.

Pattern formation method

Номер патента: US7029827B2. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-18.

Direct positive-type multi-layer light-sensitive material

Номер патента: US3854953A. Автор: H Ueda,A Sato,K Shiba,H Amano. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1974-12-17.

Rinse solution for pattern formation and pattern forming process

Номер патента: US20160154312A1. Автор: Tsutomu Ogihara,Jun Hatakeyama,Daisuke Kori. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-02.

Method for forming resist pattern

Номер патента: US20150044617A1. Автор: Kiyoshi Ishikawa,Mai Sugawara. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-12.

Planographic printing plate precursor, method of producing same, and printing method using same

Номер патента: US20170197400A1. Автор: Koji Wariishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-07-13.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240310725A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Chemically amplified positive-type photosensitive resin composition for thick film

Номер патента: US09977328B2. Автор: Yuta Yamamoto,Yasushi Kuroiwa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Resist pattern-forming method, and radiation-sensitive composition and production method thereof

Номер патента: US20200333707A1. Автор: Ken Maruyama,Miki TAMADA,Sousuke OOSAWA. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Non-halogenated, self-extinguishing resin compositions and methods for producing same

Номер патента: EP4396285A1. Автор: Roger Neil CALDWELL,Mark C. GATMAN. Владелец: Trinseo Europe GmbH. Дата публикации: 2024-07-10.

Non-halogenated, self-extinguishing resin compositions and methods for producing same

Номер патента: US20240352246A1. Автор: Roger Neil CALDWELL,Mark C. GATMAN. Владелец: Trinseo Europe GmbH. Дата публикации: 2024-10-24.

Molecular resist composition and patterning process

Номер патента: US20240345480A1. Автор: Masaki Ohashi,Seiichiro Tachibana,Shun Kikuchi,Ryunosuke HANDA. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Rubber composition and tyre made using same

Номер патента: RU2573479C1. Автор: Кодзи МАСАКИ,Тэцуо АМАМОТО. Владелец: Бриджстоун Корпорейшн. Дата публикации: 2016-01-20.

Semiconductor manufacturing apparatus and pattern formation method

Номер патента: EP1531362A3. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-25.

Pattern formation material and pattern formation method

Номер патента: US11378885B2. Автор: Koji Asakawa,Naoko Kihara,Shinobu Sugimura,Norikatsu Sasao,Tomoaki Sawabe,Seekei Lee. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-07-05.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US12050402B2. Автор: Takayuki Fujiwara,Masaki Ohashi,Kenichi Oikawa,Tomohiro Kobayashi,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Positive resist composition and patterning process

Номер патента: US20150212416A1. Автор: Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-30.

Pattern forming method using contrast enhanced material

Номер патента: US4849323A. Автор: Kazufumi Ogawa,Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-18.

Self-Cleaning, Dirt Pick-Up Resistant Compositions for Roof Coatings

Номер патента: US20230399522A1. Автор: Zhiyong Zhu,Thomas Tepe. Владелец: Henry Co LLC. Дата публикации: 2023-12-14.

Self-Cleaning, Dirt Pick-Up Resistant Compositions for Roof Coatings

Номер патента: US20200339759A1. Автор: Zhiyong Zhuo,Thomas Tepe. Владелец: Henry Co LLC. Дата публикации: 2020-10-29.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240329529A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Two-component paint composition and multilayer coating formation method using same

Номер патента: RU2669610C2. Автор: ТакеСи ЦУНОДА. Владелец: БАСФ Коатингс ГмбХ. Дата публикации: 2018-10-12.

Method of forming resist pattern and negative tone-development resist composition

Номер патента: US8790868B2. Автор: Hiroaki Shimizu,Hideto Nito. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-29.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US20230367211A1. Автор: Masaki Ohashi,Seiichiro Tachibana,Shun Kikuchi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20230418157A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Polymer compound for medical use and composition and device using same

Номер патента: US20170137548A1. Автор: Naoyuki Amaya,Masaru Tanaka,Atsushi Nagasawa,Toshiaki Takaoka. Владелец: Yamagata University NUC. Дата публикации: 2017-05-18.

Resin compositions and methods for making and using same

Номер патента: US20160115315A1. Автор: Clay E. Ringold,Cornel Hagiopol,David F. Townsend,James W. Johnston. Владелец: Georgia Pacific Chemicals LLC. Дата публикации: 2016-04-28.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240310727A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

High-density keeping-alive box for fish and transport method using same

Номер патента: US12089570B2. Автор: Qi Wang,Jinfeng Wang,Jing Xie,Jun MEI,Yuting Ding,Fatong JIA. Владелец: SHANGHAI OCEAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-09-17.

Onium salt monomer, polymer, chemically amplified resist composition and patterning process

Номер патента: US20240329527A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Resist Material, Resist Composition, And Patterning Process

Номер патента: US20240361691A1. Автор: Jun Hatakeyama,Tomohiro Kobayashi,Tomomi Watanabe,Yutaro OTOMO. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Positive type planographic printing plate precursor and method of producing planographic printing plate

Номер патента: US20190176459A1. Автор: Atsuyasu Nozaki,Yuichi Yasuhara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Pattern formation method and a method for manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US8118585B2. Автор: Masayuki Hatano,Suigen Kyoh,Tetsuro Nakasugi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-02-21.

Thermoplastic Resin Composition and Molded Product Using Same

Номер патента: US20210261727A1. Автор: Keehae Kwon,In-Chol Kim. Владелец: Lotte Chemical Corp. Дата публикации: 2021-08-26.

Elastomer composition and sealing material comprising same

Номер патента: US20230174763A1. Автор: TAKAO Ito,Hiroaki Yasuda,Takehiro Hamamura,Ryohei Takeda. Владелец: Mitsubishi Cable Industries Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US20210048748A1. Автор: Jun Hatakeyama,Takayuki Fujiwara. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-18.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US11822240B2. Автор: Yasuhiro Yoshii,Yosuke Suzuki,Takahiro Kojima,Yoichi Hori,Mari MURATA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Positive resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US20060194148A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Shinji Tarutani. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-31.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240160101A1. Автор: Jun Hatakeyama,Yuki Suda,Tatsuya Yamahira. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230251572A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US12072628B2. Автор: Jun Hatakeyama,Tomomi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Artificial Marble Composition and Artificial Marble Using Same

Номер патента: US20220289961A1. Автор: Wooyoung Choi,Jong Chul Park,Doo Kyo Jeong. Владелец: Lotte Chemical Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Method for producing a high resolution resist pattern on a semiconductor wafer

Номер патента: US20080292996A1. Автор: Thomas Wallow,Uzodinma Okoroanyanwu. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2008-11-27.

Positive resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US8349534B2. Автор: Hiroaki Shimizu,Tsuyoshi Kurosawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-08.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US8795947B2. Автор: Tomoyuki Hirano,Tsuyoshi Kurosawa,Kotaro Endo,Makiko Irie. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-05.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US9012125B2. Автор: Daiju Shiono,Masatoshi Arai,Shinji Kumada,Satoshi Maemori. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-21.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US9023577B2. Автор: Masaru Takeshita,Jiro Yokoya,Hirokuni Saito,Tsuyoshi Nakamura. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-05.

Resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US8652753B2. Автор: Satoshi Yamaguchi,Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-18.

Resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US8741543B2. Автор: Satoshi Yamaguchi,Yuki Suzuki,Koji Ichikawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-03.

Resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US8859182B2. Автор: Koji Ichikawa,Akira Kamabuchi,Takahiro YASUE. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-14.

Resist composition and method for producing resist pattern

Номер патента: US9176379B2. Автор: Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA,Takahiro YASUE. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-03.

Photomask manufacturing method using charged beam writing apparatus

Номер патента: US20080213677A1. Автор: Masato Saito. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-09-04.

Substrate coating resist composition and method for manufacturing resist pattern

Номер патента: WO2023222740A1. Автор: Masahiko Kubo,Tetsumasa TAKAICHI. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2023-11-23.

Resist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20230408917A1. Автор: Masatoshi Arai,Yoshitaka Komuro,Takatoshi INARI. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20220179306A1. Автор: Masatoshi Arai,Masahito YAHAGI,Rin ODASHIMA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-09.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US11835857B2. Автор: Tasuku Matsumiya,Yosuke Suzuki,Yuta Iwasawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20130224658A1. Автор: Yoshitaka Komuro,Toshiaki HATO. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-29.

Resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20190361343A1. Автор: Masatoshi Arai,Yoshitaka Komuro,Koshi ONISHI,KhanhTin NGUYEN. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Resist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20240036468A1. Автор: Tomoyuki Hirano,Yuzo Yoshida,Yusuke Nakagawa,Shinichi Kohno,Fumitake Hirayama. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US20210397086A1. Автор: Yosuke Suzuki,Tsuyoshi Nakamura,Junyeob Lee. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-23.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US20240118619A1. Автор: Tomotaka Yamada,Keiichi IBATA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Negative-tone resist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20230314945A1. Автор: Masaru Takeshita,Tomotaka Yamada,Keiichi IBATA. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Positive resist composition and patterning process

Номер патента: US20160147149A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-26.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230359119A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20230305393A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Surface modifier composition and adhesion method

Номер патента: US20200308460A1. Автор: Tetsunori SOGA. Владелец: ThreeBond Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Surface modifier composition and bonding method

Номер патента: EP3693416A1. Автор: Tetsunori SOGA. Владелец: ThreeBond Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Mask pattern and method for forming resist pattern using mask pattern thereof

Номер патента: US20040025139A1. Автор: Shinji Kobayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Mask pattern and method for forming resist pattern using mask pattern thereof

Номер патента: US20060141372A1. Автор: Shinji Kobayashi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2006-06-29.

Positive-type photosensitive resin composition

Номер патента: PH12018501573A1. Автор: Tadamitsu Nakamura,Daisaku Matsukawa. Владелец: Hitachi Chemical DuPont Microsystems Ltd. Дата публикации: 2019-04-15.

Salicylic acid compositions and uses thereof

Номер патента: AU2023224336A1. Автор: Olivier Potterat,Bruno Schnyder,Philippe Meuwly. Владелец: Pharmalp Sa. Дата публикации: 2024-07-25.

Compositions and kits including dehydrated stinging capsules and methods of producing and using same

Номер патента: WO2006048865A3. Автор: Tamar Lotan. Владелец: NanoCyte Inc. Дата публикации: 2006-08-03.

COMPOSITION AND KIT FOR PREVENTION OR TREATMENT OF ARTHRITIS, AND METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20170224772A1. Автор: CHOI Eun wha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2017-08-10.

Plant regeneration medium composition and plant regeneration method using same

Номер патента: US20230180670A1. Автор: Tae Yoon Kim,Sang Hyo Lee,Seung Yop Lee,Han Bok SEO. Владелец: Wellspring Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Plant regeneration medium composition and plant regeneration method using same

Номер патента: US20220142056A1. Автор: Tae Yoon Kim,Sang Hyo Lee,Seung Yop Lee,Han Bok SEO. Владелец: Wellspring Corp. Дата публикации: 2022-05-12.

Plant regeneration medium composition and plant regeneration method using same

Номер патента: CA3131771A1. Автор: Tae Yoon Kim,Sang Hyo Lee,Seung Yop Lee,Han Bok SEO. Владелец: Wellspring Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Plant regeneration medium composition and plant regeneration method using same

Номер патента: AU2020233515A1. Автор: Tae Yoon Kim,Sang Hyo Lee,Seung Yop Lee,Han Bok SEO. Владелец: Wellspring Corp. Дата публикации: 2021-09-30.

Plant regeneration medium composition and plant regeneration method using the same

Номер патента: US12052956B2. Автор: Tae Yoon Kim,Sang Hyo Lee,Seung Yop Lee,Han Bok SEO. Владелец: Wellspring Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Wellsite hardfacing with distributed hard phase and method of using same

Номер патента: US09909395B2. Автор: YING Wang,Jiinjen Albert Sue. Владелец: National Oilwell DHT LP. Дата публикации: 2018-03-06.

Primer set, composition and kit for detecting vaccinia virus and analysis method using same

Номер патента: EP4428254A1. Автор: Sung Jin Kim,Heon Sik CHOI,Ji Eun Hong. Владелец: KOLON INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2024-09-11.

Positive-type display device using guest-host type mixture of liquid crystals and dyes

Номер патента: US4291949A. Автор: Masanobu Wada,Tatsuo Uchida,Toru Teshima. Владелец: Stanley Electric Co Ltd. Дата публикации: 1981-09-29.

Precipitant composition for dna extraction and dna extraction method using same

Номер патента: EP4424825A1. Автор: Min Hee Kim,Jang Hyuk Ahn,Seon Min JEON,Anudari MUNKHJARGAL. Владелец: Fore Front Test. Дата публикации: 2024-09-04.

Laser apparatus using optical fibers for stable laser welding, and laser welding method using same

Номер патента: US20230264300A1. Автор: Swook Hann. Владелец: Korea Photonics Technology Institute. Дата публикации: 2023-08-24.

Three-dimensional scanner and scanning method using same

Номер патента: US12102465B2. Автор: Hyunsoo Park,Heungsik SIM. Владелец: DOF Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Smart robot apparatus and dynamic service providing method using same

Номер патента: US09840006B2. Автор: Jong Cheol Kim,Hyun-Ho Kim. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

All-in-one kit for on-site molecular diagnosis and molecular diagnosis method using same

Номер патента: EP4015080A1. Автор: Sejin KIM,Byung Hwan Lee,Junkyu SONG. Владелец: Philmedi Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-22.

Scalp type diagnostic system on basis of scalp state information, and scalp improving method using same

Номер патента: US20240203589A1. Автор: Dong Soon Park,Jeong Il JEONG. Владелец: Aram Huvis Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Scalp type diagnostic system on basis of scalp state information, and scalp improving method using same

Номер патента: EP4427665A1. Автор: Dongsoon PARK,Jeongil JEONG. Владелец: Aramhuvis Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Polishing pad, and polishing method using same

Номер патента: EP3858546A1. Автор: Shota HISHIDA,Toru Kamada,Kyosuke Tenko,Daisuke Yasui,Hideharu HASE. Владелец: Fujimi Inc. Дата публикации: 2021-08-04.

Glycosyltransferase variant, and method of preparing steviol glycosides using same

Номер патента: EP4455278A1. Автор: Jeongmin Kim,Eunsoo Choi,Junho Moon,Hyeokjin KO. Владелец: Samyang Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Dust-removing cleaning agent and cleaning method using same

Номер патента: EP2807243A1. Автор: Masashi Norimoto,Namiko Ikegaya,Saki HIURA. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2014-12-03.

Touchless water dispensing control system for water supply device and water dispensing control method using same

Номер патента: US20220119241A1. Автор: Seok Eun CHANG. Владелец: Youngone Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Trivalent chromium plating solution and chromium plating method using same

Номер патента: EP3819404A1. Автор: Masao Hori,Madoka NAKAGAMI,Yuto Morikawa. Владелец: JCU Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Muscle model for learning and education method using same

Номер патента: US20130196303A1. Автор: Shuhei Takasu,Hideharu Kitada,Yoshihiko Tanabe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-08-01.

Cassette and embedding method using same

Номер патента: EP4413348A1. Автор: Ying Xie,Xufeng Yu,Jue CHEN,Zhongqiu LI. Владелец: LEICA BIOSYSTEMS NUSSLOCH GMBH. Дата публикации: 2024-08-14.

Light field display, adjusted pixel rendering method therefor, and vision correction system and method using same

Номер патента: US20200125168A1. Автор: Daniel Gotsch. Владелец: Evolution Optiks Ltd. Дата публикации: 2020-04-23.

Irradiation apparatus and irradiation method using same

Номер патента: EP4410364A1. Автор: Tae Hyun Kim,Hak Soo Kim,Dong Ho Shin,Young Kyung Lim,Se Byeong Lee,Jong Hwi Jeong. Владелец: NATIONAL CANCER CENTER. Дата публикации: 2024-08-07.

Base oil composition for use in oil-base drilling mud compositions, and methods of producing same

Номер патента: CA3005062C. Автор: Matthew SCALLEY. Владелец: Recover Energy Services Inc. Дата публикации: 2024-05-14.

Foliar Nutritional Composition and Method for Using Same

Номер патента: US20210317050A1. Автор: Timothy Lee Mann,Richard A Tuck. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-14.

Light field display, adjusted pixel rendering method therefor, and vision correction system and method using same

Номер патента: US20200225748A1. Автор: Daniel Gotsch. Владелец: Evolution Optiks Ltd. Дата публикации: 2020-07-16.

Bio-pen structure for improving mixing homogeneity, and bio-printing mehod using same

Номер патента: EP4446093A1. Автор: Amitava Bhattacharyya,Insup Noh. Владелец: Matrixcell Bio Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Plant growth regulating composition and methods for making and using same

Номер патента: US09968088B2. Автор: Greg Johnson,Kevin FORNEY,Phil WIKELEY. Владелец: Fine Agrochemicals Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Compositions and methods for reverse transcriptase-polymerase chain reaction (RT-PCR)

Номер патента: US09873901B2. Автор: Ayoub Rashtchian,Jun Lee. Владелец: Life Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Compositions and methods for the depletion of cells

Номер патента: US20240207428A1. Автор: Andrew Nixon,Dwight MORROW,Adam HARTIGAN. Владелец: Magenta Therapeutics Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Antibody compositions and optimization methods

Номер патента: WO2023196658A3. Автор: Peter S. Kim,Brian Lance Hie,Varun SHANKER. Владелец: Cz Biohub Sf, Llc. Дата публикации: 2024-05-16.

Nano-sized particles, processes of making, compositions and uses thereof

Номер патента: US20120225006A1. Автор: Stephen O'Brien,Ming Yin. Владелец: Columbia University in the City of New York. Дата публикации: 2012-09-06.

Catalyst compositions and processes for making and using same

Номер патента: WO2024177775A1. Автор: Yi Du,Xiaoying Bao,Bradley D. Wooler. Владелец: ExxonMobil Technology and Engineering Company. Дата публикации: 2024-08-29.

Supramolecular polypeptide compositions and methods of making and using the same

Номер патента: WO2020223730A1. Автор: Joel Collier,Nicole VOTAW. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2020-11-05.

Compositions and methods for differentiation of human pluripotent stem cells into desired cell types

Номер патента: US12098392B2. Автор: Minoru S. H. Ko. Владелец: Elixirgen Scientific Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Cd 122 binding agents and method of using same

Номер патента: WO2024102760A3. Автор: Chris Haines,Martin Edward DAHL,Stephen PARMLEY,Robert Morse,Eric Hare. Владелец: ANAPTYSBIO, INC.. Дата публикации: 2024-08-08.

Compositions and methods to treat cancer with CpG rich DNA and cupredoxins

Номер патента: US09969781B2. Автор: Ananda Chakrabarty,Tapas Das Gupta. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-15.

Compositions and methods useful for removing tablet coatings

Номер патента: RU2676474C2. Автор: Весна ПОТОЧНИК,Томас АЛЬТМАНН. Владелец: Эколаб Инк.. Дата публикации: 2018-12-29.

Compositions and methods of use of het, a novel modulator of estrogen action

Номер патента: WO2001063292A3. Автор: Steffi Oesterreich,Suzanne A W Fuqua,Adrian V Lee,C Kent Osborne. Владелец: C Kent Osborne. Дата публикации: 2002-03-28.

System for obtaining reliability data using multi-angle scanning, and method using same

Номер патента: EP4193959A1. Автор: Dong Hoon Lee,Dong Hwa Kang. Владелец: Medit Corp. Дата публикации: 2023-06-14.

Compositions and methods for regulating sas1r

Номер патента: WO2010054187A3. Автор: Arabinda Mandal,John C. Herr,Monika Sachdev. Владелец: UNIVERSITY OF VIRGINIA PATENT FOUNDATION. Дата публикации: 2010-10-14.

Sprayable fire-resistant composition and production method therefor

Номер патента: AU2021377556A1. Автор: Kiyoyuki Komatsubara,Yuto Suzuki. Владелец: Shinagawa Refractories Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-15.

Sprayable fire-resistant composition and production method therefor

Номер патента: AU2021377556B2. Автор: Kiyoyuki Komatsubara,Yuto Suzuki. Владелец: Shinagawa Refractories Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Bz glaze painting pigment composition and painting method using same

Номер патента: RU2721015C2. Автор: Ли ЧЖАН. Владелец: Ли ЧЖАН. Дата публикации: 2020-05-15.

Glycosyltransferase and steviol glucoside preparation method using same

Номер патента: EP4269573A1. Автор: Jeong Min Kim,Eunsoo Choi,Jun-Ho Moon,Hyeok-Jin KO. Владелец: Samyang Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Stem cell priming composition and primed stem cell

Номер патента: AU2021410513A1. Автор: Sun Uk Song,Si Na Kim. Владелец: SCM Lifescience Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Compositions and methods using toll-like receptors and unc93b

Номер патента: WO2008103966A3. Автор: Hidde L Ploegh,You-Me Kim,Melanie M Brikmann. Владелец: Melanie M Brikmann. Дата публикации: 2008-11-27.

Composition and method for inhibiting expression of protein lpa(apo(a))

Номер патента: AU2023210010A1. Автор: Pengcheng Patrick Shao,Dongxu Shu,Shiwei Xia. Владелец: Shanghai Argo Biopharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Stabilized reagent compositions, systems and methods using the same

Номер патента: US20240198326A1. Автор: Dorian Cauceglia. Владелец: Watts Regulator Co. Дата публикации: 2024-06-20.

Stabilized reagent compositions, systems and methods using the same

Номер патента: US12064758B2. Автор: Dorian Cauceglia. Владелец: Watts Regulator Co. Дата публикации: 2024-08-20.

Viral rna extracting composition and viral rna extracting method

Номер патента: US20200165598A1. Автор: Ki Beom Park,Yeon Soo Han,Yong Hun Jo. Владелец: INDUSTRY FOUNDATION OF CHONNAM NATIONAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-05-28.

Islet cell manufacturing compositions and methods of use

Номер патента: US20240294501A1. Автор: Felicia J. Pagliuca,Austin Thiel,Jihad Yasin,Evrett Thompson. Владелец: Vertex Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Compositions and methods for inhibiting hmgb1 expression

Номер патента: EP3883581A1. Автор: Marc Abrams,JiHye PARK,Girish CHOPDA. Владелец: Dicerna Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2021-09-29.

Compositions and methods for non-invasive detection and treatment of hypoxic cells in vivo

Номер патента: EP2877212A2. Автор: Robert Griffin,Nathan A. KOONCE. Владелец: University of Arkansas. Дата публикации: 2015-06-03.

Stem cell priming composition and primed stem cell

Номер патента: AU2021410513A9. Автор: Sun Uk Song,Si Na Kim. Владелец: SCM Lifescience Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Composition and system for flocculating or settling solids from liquids and methods for using same

Номер патента: US09944547B2. Автор: Gerald HANNA,Alberto Valdes. Владелец: Clearflow Group Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Wellsite hardfacing with distributed hard phase and method of using same

Номер патента: CA2999273C. Автор: YING Wang,Jiinjen Albert Sue. Владелец: National Oilwell DHT LP. Дата публикации: 2019-06-04.

Aqueous ink composition and printing method using same

Номер патента: EP1038929B1. Автор: William A. c/o Seiko Epson Corporation Marritt. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2003-07-09.

Benzodiazepinone compounds and methods of treatment using same

Номер патента: US20120232067A1. Автор: Gary D. Glick,Alexander Ross Hurd,Chad Alan Van Huis. Владелец: University of Michigan. Дата публикации: 2012-09-13.

Compositions and Methods for MYC Messenger RNA Inhibitors

Номер патента: US20200208151A1. Автор: Eric Wickstrom,Yuan-yuan JIN. Владелец: Bound Therapeutics LLC. Дата публикации: 2020-07-02.

Flower thinning composition and flower thinning method using same

Номер патента: NZ767092A. Автор: In Kook Chang. Владелец: In Kook Chang. Дата публикации: 2024-05-31.

Compositions useful as antibiofilm or antimicrobial agents and methods using same

Номер патента: US09956319B2. Автор: Rabih O. Darouiche,Mohammad David Mansouri. Владелец: Baylor College of Medicine. Дата публикации: 2018-05-01.

Compositions and Methods Using Same for Treating Neurodegenerative Disorders

Номер патента: US20070231405A1. Автор: Meir Gorban. Владелец: Future Products Management SA. Дата публикации: 2007-10-04.

Compositions and methods using same for treating neurodegenerative disorders

Номер патента: CA2566518A1. Автор: Meir Gorban. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-15.

Compositions and methods using same for treating neurodegenerative disorders

Номер патента: EP1755625A1. Автор: Meir Gorban. Владелец: Future Products Management SA. Дата публикации: 2007-02-28.

Compositions Useful for Treating Herpes Simplex Keratitis, and Methods Using Same

Номер патента: US20210023089A1. Автор: Jane E. Clifford,Oleg Alekseev,Stephen R. Jennings. Владелец: DREXEL UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-01-28.

Compositions Useful for Treating Herpes Simplex Keratitis, and Methods Using Same

Номер патента: US20180008609A1. Автор: Jane E. Clifford,Oleg Alekseev,Stephen R. Jennings. Владелец: DREXEL UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-01-11.

Compositions Useful for Treating Herpes Simplex Keratitis, and Methods Using Same

Номер патента: US20170056410A1. Автор: Jane E. Clifford,Oleg Alekseev,Stephen R. Jennings. Владелец: DREXEL UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-03-02.

Compositions suitable for use on sensitive skin and methods using same

Номер патента: WO2024150157A1. Автор: Neena Tierney,Simarna Kaur. Владелец: Johnson & Johnson Consumer Inc.. Дата публикации: 2024-07-18.

Wash resistant compositions containing aminosilicone

Номер патента: WO2013085577A2. Автор: Allwyn Colaco,Bing C. Mei,Xiaolan Wei. Владелец: AVON PRODUCTS, INC.. Дата публикации: 2013-06-13.

Storage composite, and storage tank and permeable storage tank using same

Номер патента: SG191775A1. Автор: Seiichiro Takai. Владелец: Totetu Mfg Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-30.

Turret unwind and splicing unit and method of using same

Номер патента: WO2024064033A3. Автор: Donald R. Dodelin,Sean P. Follen. Владелец: CURT G. JOA, INC.. Дата публикации: 2024-05-10.

Non-toxic plga compositions and methods of making and using same

Номер патента: WO2024151625A1. Автор: Barath RAMASUBRAMANIAN,Doug SOBEL. Владелец: GEORGETOWN UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-07-18.

Wine storage device and wine extraction method using same

Номер патента: US20240124291A1. Автор: Hwayun Choi,Kichu Hong,Ja Yoen Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-04-18.

Wine storage device and wine dispensing method using same

Номер патента: US20240067513A1. Автор: Hwayun Choi,Kichu Hong,Ja Yoen Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-02-29.

Wine storage device and wine extraction method using same

Номер патента: EP4265562A1. Автор: Hwayun Choi,Kichu Hong,Ja Yoen Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2023-10-25.

Thermal disinfection device and disinfection method using same

Номер патента: US20220184244A1. Автор: Patrick ASSOUAD. Владелец: Spectronix Inc. Дата публикации: 2022-06-16.

Enhanced d vitamin nutraceutical compositions and methods for making and used same

Номер патента: US20220184100A1. Автор: Mark Vorderbruggen. Владелец: Mm Plant Co LLC. Дата публикации: 2022-06-16.

Soldering apparatus and soldering method using same

Номер патента: US20240293893A1. Автор: Ming Sun,Wenrong ZHUANG,Jingquan LU. Владелец: Hcp Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Moist snuff compositions and methods of making and using same

Номер патента: US09801409B1. Автор: Jerry Wayne Smith. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-31.

Positive-type non-return valve

Номер патента: CA2103068C. Автор: Robert F. Dray. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-11-02.

Compositions and methods for treating alzheimer's disease

Номер патента: US20220347136A1. Автор: Henry W. Querfurth. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-11-03.

Hair care compositions and methods of making and using same

Номер патента: US11766391B2. Автор: Francisco J. Linares. Владелец: Hsp Technologies LLC. Дата публикации: 2023-09-26.

Stain-resist compositions

Номер патента: EP1730346A1. Автор: Yanhui Sun. Владелец: Invista Technologies SARL Switzerland. Дата публикации: 2006-12-13.

Stain-resist compositions

Номер патента: CA2559192A1. Автор: Yanhui Sun. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-06.

Compositions and methods for treating Alzheimer's disease

Номер патента: US12083086B2. Автор: Henry W. Querfurth. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-10.

Submucosal lifting compositions and methods of same

Номер патента: US12016976B2. Автор: Patrick Lee,Ethan Krokonko,Robert G. Whalen,Amy A. CAMERON,Erica A. WARD. Владелец: GI Supply Inc. Дата публикации: 2024-06-25.

Submucosal lifting compositions and methods of same

Номер патента: WO2021262395A1. Автор: Patrick Lee,Ethan Krokonko,Robert G. Whalen,Amy A. CAMERON,Erica A. WARD. Владелец: Gi Supply. Дата публикации: 2021-12-30.

Edible paste and composition and method of preparation

Номер патента: ZA202109912B. Автор: Steven Lawrence. Владелец: C Paste Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Compositions and methods useful for ameliorating age related maladies

Номер патента: RU2600893C2. Автор: Эбенезер САТЬЯРАДЖ. Владелец: НЕСТЕК С.А.. Дата публикации: 2016-10-27.

Line-pattern formation method and line-pattern formation apparatus

Номер патента: SG140557A1. Автор: Naoki Ozawa,Hiroyuki Urabe,Ayano Yamashita,Emiko Nakasato. Владелец: Carl Mfg Co. Дата публикации: 2008-03-28.

Pro-Lycopene rich composition and methods of using same

Номер патента: AU2021267954A1. Автор: Tanya Sedlov,Oleg Braverman,Tal Offer,Etgar Levy-Nissenbaum. Владелец: Lycored Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Compositions and methods using a combination of oleuropein and magnesium

Номер патента: AU2022225057A1. Автор: Jerome FEIGE,Umberto DE MARCHI,Pascal STUELSATZ. Владелец: Nestle SA. Дата публикации: 2023-07-20.

Compositions and methods useful in avidity therapy

Номер патента: US20030064413A1. Автор: Pere Santamaria. Владелец: University Technologies International Inc. Дата публикации: 2003-04-03.

Sterilization Method Using Plasma

Номер патента: US20240252701A1. Автор: Paolo Seri,Gabriele NERETTI,Carlo Angelo BORGHI. Владелец: Universita di Bologna. Дата публикации: 2024-08-01.

Meat aging composition using mulberry and meat aging method using the same

Номер патента: US20130129906A1. Автор: Jeong Gu Oh. Владелец: Daso Food Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-23.

Phenylethylidenehydrazine dimers and methods of using same

Номер патента: AU2022416318A1. Автор: Mark A. Ashwell,Magid Abraham,Steve Stahl. Владелец: Neurawell Therapeutics. Дата публикации: 2024-07-04.

Cosmetic compositions for skin health and methods of using same

Номер патента: AU2018266546B2. Автор: Sean Farmer,Ken Alibek,Sharmistha MAZUMDER. Владелец: Locus IP Co LLC. Дата публикации: 2024-06-13.

Positive resist composition for electron beam, X-ray or EUV and pattern forming method using the same

Номер патента: JP5155803B2. Автор: 克宏 山下. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-03-06.

Acidulant composition, and food, refreshing drink, ph modifier, and sourness masking method using the same

Номер патента: JP2017093428A. Автор: 彰文 植村,Akifumi Uemura. Владелец: Wakan Ltd. Дата публикации: 2017-06-01.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003590A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

STAMPER, METHOD OF MANUFACTURING THE STAMPER, AND MAGNETIC RECORDING MEDIUM MANUFACTURING METHOD USING THE STAMPER

Номер патента: US20120000885A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

PHARMACEUTICAL COMPOSITIONS AND METHODS FOR INDUCTION AND ENHANCEMENT OF APOPTOSIS IN TUMOR CELLS

Номер патента: US20120004182A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MULTILAYER BODY, POLARIZATION PLATE USING SAME, AND IMAGE DISPLAY

Номер патента: US20120002397A1. Автор: . Владелец: Dai Nippon Printing Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

COMPOSITIONS AND METHODS FOR DETECTING MUTATIONS IN JAK2 NUCLEIC ACID

Номер патента: US20120003653A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DIVIDING WALL DISTILLATION COLUMNS FOR PRODUCTION OF HIGH-PURITY 2-ETHYLHEXANOL AND FRACTIONATION METHOD USING SAME

Номер патента: US20120004473A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Composition and method for dust suppression wetting agent

Номер патента: US20120000361A1. Автор: Weatherman Greg,Cash Marcia. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Biomarkers for Inflammatory Bowel Disease and Methods Using the Same

Номер патента: US20120003158A1. Автор: Alexander Danny,SHUSTER Jeffrey,KORZENIK Joshua,ZELLA Garrett. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LATERAL VENTRICLE CELL COMPOSITIONS AND USE FOR TREATING NEURAL DEGENERATIVE DISEASES

Номер патента: US20120003190A1. Автор: Yamoah Ebenezer N.,Wei Dongguang. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Compositions and Methods for Treating S. Pneumoniae Infection

Номер патента: US20120003203A1. Автор: Mizrachi-Nebenzahl Yaffa,Dagan Ron. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COMPOSITIONS AND METHODS FOR MODULATING VASCULAR DEVELOPMENT

Номер патента: US20120003208A1. Автор: Ye Weilan,Parker,Schmidt Maike,Filvaroff Ellen,IV Leon H.,Hongo Jo-Anne S.. Владелец: Genentech, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

Compositions and Methods to Treat Bone Related Disorders

Номер патента: US20120003219A1. Автор: LU Chris,HU Shou-Ih,KNEISSEL Michaela,HALLEUX Christine. Владелец: NOVARTIS AG. Дата публикации: 2012-01-05.

Novel composition and methods for the treatment of psoriasis

Номер патента: US20120003246A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CERAMIC/STRUCTURAL PROTEIN COMPOSITES AND METHOD OF PREPARATION THEREOF

Номер патента: US20120003280A1. Автор: Wei Mei,Qu Haibo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COMPOSITIONS AND METHODS OF DELIVERY OF PHARMACOLOGICAL AGENTS

Номер патента: US20120004177A1. Автор: Trieu Vuong,Desai Neil P.,Soon-Shiong Patrick. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COMPOSITIONS AND PRODUCTS CONTAINING S-EQUOL, AND METHODS FOR THEIR MAKING

Номер патента: US20120004189A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ADHESIVE COMPOSITION AND OPTICAL MEMBER USING THE SAME

Номер патента: US20120004369A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Taxane Compounds, Compositions And Methods

Номер патента: US20120004429A1. Автор: JR. Raymond P.,Warrell,Thottathil John K.. Владелец: Genta Incorporated. Дата публикации: 2012-01-05.

REMOVING TOOL AND METHOD USING SAME

Номер патента: US20120000048A1. Автор: ZHANG Yong-Gang,CHEN Kuan-Hung,WANG LI-JUAN. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ATTACHING STRUCTURE AND ELECTRONIC DEVICE USING SAME

Номер патента: US20120000907A1. Автор: . Владелец: FIH (HONG KONG) LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.