Manufacturing method of semiconductor device
Номер патента: US20170358489A1
Опубликовано: 14-12-2017
Автор(ы): Hironori Ochi, Katsuhiko Hotta, Kenichi Shoji, Kiyoshi Maeshima, Kotaro Horikoshi, Toshiyuki Takahashi
Принадлежит: Renesas Electronics Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 14-12-2017
Автор(ы): Hironori Ochi, Katsuhiko Hotta, Kenichi Shoji, Kiyoshi Maeshima, Kotaro Horikoshi, Toshiyuki Takahashi
Принадлежит: Renesas Electronics Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method of manufacturing a semiconductor device
Номер патента: US20180190656A1. Автор: Chun-Yuan Wu,Yu-Chieh Lin,Shih-Fang Tzou,Li-Wei Feng,Ying-Chiao Wang,Chien-Ting Ho,Tsung-Ying Tsai. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-05.