Probe for Scanning Probe Microscope and Binary State Scanning Probe Microscope Including the Same
Номер патента: US20220308086A1
Опубликовано: 29-09-2022
Автор(ы): Kim Gwangmook, Shim Wooyoung
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-09-2022
Автор(ы): Kim Gwangmook, Shim Wooyoung
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Probe for Scanning Probe Microscope and Binary State Scanning Probe Microscope Including the Same
Номер патента: US20220308086A1. Автор: Wooyoung Shim,GwangMook KIM. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2022-09-29.