Scanning probe microscope having nanotome .

Scanning probe microscope having nanotome

Номер патента: RU2427846C1
Опубликовано: 27-08-2011
Автор(ы): Антон Евгеньевич Ефимов, Ара Аршавирович Абрамян, Владимир Александрович Солодовников, Вячеслав Иванович Беклемышев, Дмитрий Юрьевич Соколов
Принадлежит: Закрытое акционерное общество "Институт прикладной нанотехнологии", СИБ Лэборетрис Лимитед, Фонд Сальваторе Мауджери Клиника Труда и Реабилитации
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Modular scanning probe microscope head

Номер патента: US11474127B2. Автор: Eva Y. ANDREI,Guohong LI,Angela Coe. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 2022-10-18.

Modular scanning probe microscope head

Номер патента: US20210349127A1. Автор: Eva Y. ANDREI,Guohong LI,Angela Coe. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 2021-11-11.

Holder for probe microscope, probe microscope and specimen measurement method

Номер патента: US20150192604A1. Автор: Tsuyoshi Yamamoto,Hideaki Koizumi,Seiji Heike,Tomihiro Hashizume,Akira Nambu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-07-09.

Specimen support and scanning probe microscope

Номер патента: US09746494B2. Автор: Teruo Fujii,Shuhei Nishida. Владелец: Foundation for the Promotion of Industrial Science. Дата публикации: 2017-08-29.

Scanning probe microscope and sample holder therefor

Номер патента: US20170343580A1. Автор: Hideaki Koizumi,Tomihiro Hashizume,Akira Nambu,Sanato NAGATA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-11-30.

Scanning probe microscopy and method of measurement by the same

Номер патента: US20050189490A1. Автор: Kazunori Ando,Amiko Nihei. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2005-09-01.

SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH A DEVICE FOR ACTING ON A PROBE AND A SPECIMEN

Номер патента: US20190219609A1. Автор: ALEKSEEV Alexander Mihaylovich,VOLKOV Aleksey Dmitrievich,SOKOLOV Dmitry Yurjevich,EFIMOV Anton Evgenievich. Владелец: Chastnoe Uchrezhdenie "Nazarbayev University Research and Innovation System". Дата публикации: 2019-07-18.

Scanning probing microscope, combined with device for modifying surface of object

Номер патента: RU2282257C1. Автор: Мюллер Мартин,Надежда Борисовна Мацко,Антон Евгеньевич Ефимов,Сергей Алексеевич Саунин,Дмитрий Юрьевич Соколов. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2006-08-20.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE HOLDER THEREFOR

Номер патента: US20170343580A1. Автор: Nambu Akira,HASHIZUME Tomihiro,NAGATA Sanato,Koizumi Hideaki. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2017-11-30.

Specimen support and scanning probe microscope

Номер патента: EP3115790A1. Автор: Teruo Fujii,Shuhei Nishida. Владелец: Foundation for the Promotion of Industrial Science. Дата публикации: 2017-01-11.

Scanning probe microscope with a reduced Q-factor

Номер патента: US09897626B2. Автор: Hamed Sadeghian Marnani,Maarten Hubertus VAN ES,Femke Chantal TABAK. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-02-20.

Scanning-type Probe Microscope

Номер патента: US20110307979A1. Автор: Hideo Nakajima,Kanji Kobayashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-12-15.

Scanning probe microscope and measuring method by means of the same

Номер патента: US20050210966A1. Автор: Kazunori Ando,Masafumi Watanabe. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2005-09-29.

Scanning probe microscope and measuring method using same

Номер патента: US09423416B2. Автор: Tsuyoshi Yamamoto,Hideaki Koizumi,Seiji Heike,Tomihiro Hashizume,Akira Nambu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Scanning probe microscope and sample observation method using same

Номер патента: US09417262B2. Автор: Shuichi Baba,Toshihiko Nakata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-16.

Scanning probe microscope

Номер патента: US09482690B2. Автор: Nobuaki Sakai,Yoshitsugu Uekusa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Scanning-type probe microscope

Номер патента: US8181267B2. Автор: Hideo Nakajima,Kanji Kobayashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2012-05-15.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20150135374A1. Автор: Nobuaki Sakai,Yoshitsugu Uekusa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-05-14.

Scanning probe microscopy device and method of scanning a surface of a material layer

Номер патента: WO2024177504A1. Автор: Augustinus Josephus Helena Maria Rijnders,Emiel Daniël RUTGERS,Dominic POST. Владелец: Demcon Tsst B.V.. Дата публикации: 2024-08-29.

Scanning probe microscopy device and method of scanning a surface of a material layer

Номер патента: NL2034222B1. Автор: Josephus Helena Maria Rijnders Augustinus,Post Dominic,Daniël Rutgers Emiel. Владелец: Demcon Tsst B V. Дата публикации: 2024-09-05.

Scanning probe nanotomograph with optical analysis module

Номер патента: RU2645437C1. Автор: Игорь Руфаилович Набиев,Константин Евгеньевич Мочалов,Антон Евгеньевич Ефимов,Дмитрий Юрьевич Соколов. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ" (НИЯУ МИФИ). Дата публикации: 2018-02-21.

Flowing liquid mesh for scanning probe microscopy

Номер патента: RU2645884C1. Автор: Александр Владимирович Оленин,Игорь Владимирович Яминский,Всеволод Сергеевич Соснин,Ассель Иосифовна Ахметова,Дмитрий Игоревич Яминский,Георгий Борисович Мешков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное предприятие "Центр перспективных технологий". Дата публикации: 2018-02-28.

Method of and arrangement for mapping structural features on a surface of a sample by scanning probe microscopy

Номер патента: WO2020162744A1. Автор: Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nearfield Instruments B.V.. Дата публикации: 2020-08-13.

Method of and arrangement for mapping structural features on a surface of a sample by scanning probe microscopy

Номер патента: EP3921654A1. Автор: Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nearfield Instruments BV. Дата публикации: 2021-12-15.

Scanning probe microscopy system for mapping nanostructures on a surface of a sample and metrology frame therefore

Номер патента: WO2017010880A1. Автор: William Edward CROWCOMBE,Stefan Kuiper. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2017-01-19.

Scanning probe microscopy system for mapping nanostructures on a surface of a sample and metrology frame therefore

Номер патента: EP3322993A1. Автор: William Edward CROWCOMBE,Stefan Kuiper. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-05-23.

Frequency comb feedback control for scanning probe microscopy

Номер патента: US20210302466A1. Автор: Mark J. Hagmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-30.

Frequency comb feedback control for scanning probe microscopy

Номер патента: WO2019241805A1. Автор: Mark J. Hagmann. Владелец: Hagmann Mark J. Дата публикации: 2019-12-19.

Flow liquid cell for scanning probe microscopy

Номер патента: RU2638365C1. Автор: Александр Владимирович Оленин,Игорь Владимирович Яминский,Всеволод Сергеевич Соснин,Ассель Иосифовна Ахметова,Дмитрий Игоревич Яминский,Георгий Борисович Мешков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное предприятие "Центр перспективных технологий". Дата публикации: 2017-12-13.

Method of measuring feature with probe microscope

Номер патента: EP4296690A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2023-12-27.

Method of measuring feature with probe microscope

Номер патента: WO2023247654A1. Автор: Andrew Humphris,John Patrick HOLE,Xinyue Chen,Jamie Hobbs. Владелец: Infinitesima Limited. Дата публикации: 2023-12-28.

Multiple plate tip or sample scanning reconfigurable scanning probe microscope with transparent interfacing of far-field optical microscopes

Номер патента: IL145136A0. Автор: Aaron Lewis,Hesham Taha,Anatoly Komissar,Alexander Ratner. Владелец: . Дата публикации: 2002-06-30.

SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCAN HEAD AND METHOD

Номер патента: US20220057430A1. Автор: Sadeghian Marnani Hamed,HERFST Roelof Willem. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

Low Drift Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20150074859A1. Автор: Mittel Henry,Ruiter Anthonius G.. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-12.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20160356810A1. Автор: ANDO Kazunori. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-08.

Scanning probe microscope

Номер патента: KR19980081247A. Автор: 도미타에이스케. Владелец: 세이코인스트루먼트가부시키가이샤. Дата публикации: 1998-11-25.

Scanning probe microscope

Номер патента: EP0871006A1. Автор: Eisuke Tomita. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1998-10-14.

Low drift scanning probe microscope

Номер патента: KR101807186B1. Автор: 안토니우스 지. 루이터,헨리 미텔. Владелец: 브루커 나노, 인코퍼레이션.. Дата публикации: 2017-12-08.

Low drift scanning probe microscope

Номер патента: EP2548033A4. Автор: Anthonius G Ruiter,Henry Mittel. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2014-12-31.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20240126061A1. Автор: Tomihiro Hashizume,Masanari Koguchi,Teruo Kohashi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-04-18.

Scanning probe microscope

Номер патента: US9678104B2. Автор: Hiroyoshi Yamamoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Method for detecting near-field optical response for scanning probe microscope

Номер патента: RU2695027C2. Автор: Евгений Владимирович Кузнецов,Сергей Владимирович Тимофеев,Андрей Викторович Быков,Вячеслав Викторович Поляков,Владимир Валерьевич Котов,Артем Викторович Шелаев,Людмила Петровна Прилепская,Дмитрий Всеволодович Казанцев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ". Дата публикации: 2019-07-18.

Scanning probe microscope and measurement range adjusting method for scanning probe microscope

Номер патента: US09921241B2. Автор: Masatsugu Shigeno,Yoshiteru Shikakura. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Imaging a Gap Between Sample and Probe of a Scanning Probe Microscope in a Substantially Horizontal Side View

Номер патента: US20180143221A1. Автор: Markus Brandner,Daniel Koller,Alberto Gomez-Casado. Владелец: ANTON PAAR GMBH. Дата публикации: 2018-05-24.

Scanned probe microscope without interference or geometric constraint for single or multiple probe operation in air or liquid

Номер патента: US20120137395A1. Автор: David Lewis,Aaron Lewis,Michael Kokotov,Anatoly Komissar,Galina Fish,Sofia Kokotov,Rima Dekhter,Oleg Fedosyeyev. Владелец: Nanonics Imaging Ltd. Дата публикации: 2012-05-31.

A scanned probe microscope without interference or geometric constraint for single or multiple probe operation in air or liquid

Номер патента: WO2010101765A1. Автор: David Lewis,Aaron Lewis,Michael Kokotov,Anatoly Komissar,Galina Fish,Sofia Kokotov,Rima Dekhter,Oleg Fedosyeyev. Владелец: NANONICS IMAGING LTD.. Дата публикации: 2010-09-10.

Scanning probing microscope combined with optical microscope

Номер патента: RU2244332C2. Автор: А.В. Беляев,В.А. Быков,С.А. Саунин,ев А.В. Бел,Л.Г. Фюрст. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2005-01-10.

Scanning probe microscope

Номер патента: US09689893B2. Автор: Kazunori Ando. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Scanning Probe Microscope having Improved Optical Access

Номер патента: US20100306884A1. Автор: James Robert Massie. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2010-12-02.

Method and Device for Examining a Sample with a Probe Microscope

Номер патента: US20110302676A1. Автор: Detlef Knebel,Jacob Kerssemakers. Владелец: Jpk Instruments Ag. Дата публикации: 2011-12-08.

Method for providing a probe device for scanning probe microscopy

Номер патента: US11480588B2. Автор: Bernd Irmer. Владелец: Nanotools GmbH. Дата публикации: 2022-10-25.

Method for providing a probe device for scanning probe microscopy

Номер патента: US20200341028A1. Автор: Bernd Irmer. Владелец: Nanotools GmbH. Дата публикации: 2020-10-29.

Probe replacing method for scanning probe microscope

Номер патента: EP1662246A1. Автор: Yukio Kenbo,Takafumi Morimoto,Shigeru Miwa,Toru Kurenuma,Ken Murayama,Takashi Furutani,Yuuichi Kunitomo,Takenori B101 Apurikottokandatsu HIROKI,Yoshiyuki A-201 Centralestate NAGANO,Hiroaki 2-2-26 Inayoshihigashi YANAGIMOTO,Hiroshi C-1401 2607-8 Shimoinayoshi KURODA. Владелец: Hitachi Construction Machinery FineTech Co Ltd. Дата публикации: 2006-05-31.

Method for providing a probe device for scanning probe microscopy

Номер патента: US20210318351A9. Автор: Bernd Irmer. Владелец: Nanotools GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Measuring device for a scanning probe microscope, scanning probe microscope and method for operating the scanning probe microscope

Номер патента: US10539591B2. Автор: Detlef Knebel,Torsten Jähnke,Jonas Hiller. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2020-01-21.

System and method for autonomous scanning probe microscopy with in-situ tip conditioning

Номер патента: US11320455B2. Автор: Robert Wolkow,Mohammad RASHIDI. Владелец: Quantum Silicon Inc. Дата публикации: 2022-05-03.

Method of imaging a surface using a scanning probe microscope and corresponding system using the method

Номер патента: EP4049041A1. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2022-08-31.

Scanning probe microscope providing unobstructed top down and bottom up views

Номер патента: US5854487A. Автор: Michael Kirk,Thai Nguyen,David Braunstein,Quoc Ly. Владелец: Park Scientific Instruments. Дата публикации: 1998-12-29.

Method for error correction in scanning probe microscopy

Номер патента: WO2018031174A3. Автор: HAO Zhang,Xiaoguang Zhang,Yunmei Chen,Xianqi LI,An-Ping Li. Владелец: UNIVERSITY OF FLORIDA RESEARCH FOUNDATION, INC.. Дата публикации: 2018-04-05.

Method for error correction in scanning probe microscopy

Номер патента: US20190369138A1. Автор: HAO Zhang,Xiaoguang Zhang,Yunmei Chen,Xianqi LI,An-Ping Li. Владелец: University of Florida Research Foundation Inc. Дата публикации: 2019-12-05.

Method for error correction in scanning probe microscopy

Номер патента: WO2018031174A2. Автор: HAO Zhang,Xiaoguang Zhang,Yunmei Chen,Xianqi LI,An-Ping Li. Владелец: UNIVERSITY OF FLORIDA RESEARCH FOUNDATION, INC.. Дата публикации: 2018-02-15.

Method of imaging a surface using a scanning probe microscope and corresponding system using the method

Номер патента: WO2021079157A1. Автор: Andrew Humphris. Владелец: Infinitesima Limited. Дата публикации: 2021-04-29.

Scanning probe microscope

Номер патента: US7997124B2. Автор: Kazutoshi Watanabe,Yoshiteru Shikakura. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2011-08-16.

Scanning probe microscope and analysis method

Номер патента: US20210055326A1. Автор: Hiroshi Arai,Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-02-25.

Systems and methods for utilizing scanning probe shape characterization

Номер патента: WO2008079349A9. Автор: Hao-Chih Liu,Rohit Jain,Tianming Bao,Dahlen A Gregory. Владелец: Dahlen A Gregory. Дата публикации: 2008-10-16.

Systems and methods for utilizing scanning probe shape characterization

Номер патента: WO2008079349A2. Автор: Hao-Chih Liu,Rohit Jain,Tianming Bao,Dahlen A. Gregory. Владелец: Veeco Metrology Inc.. Дата публикации: 2008-07-03.

Scanning Probe Microscope and Measurement Range Adjusting Method for Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20160291053A1. Автор: Masatsugu Shigeno,Yoshiteru Shikakura. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-10-06.

Imaging a gap between sample and probe of a scanning probe microscope in substantially horizontal side view

Номер патента: EP3324194A1. Автор: Markus Brandner,Daniel Koller,Alberto Gomez-Casado. Владелец: ANTON PAAR GMBH. Дата публикации: 2018-05-23.

Scanning probe microscope and setting method thereof

Номер патента: US20210293849A1. Автор: Masatsugu Shigeno,Hiroyoshi Yamamoto,Yoshiteru Shikakura,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Scanning probe microscope and setting method thereof

Номер патента: US11391755B2. Автор: Masatsugu Shigeno,Hiroyoshi Yamamoto,Yoshiteru Shikakura,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2022-07-19.

Software synchronization of multiple scanning probes

Номер патента: US20060032296A1. Автор: Casey Hare,Andrew Erickson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-16.

Software synchronization of multiple scanning probes

Номер патента: EP1520292A4. Автор: Casey Patrick Hare,Andrew Norman Erickson. Владелец: Multiprobe Inc. Дата публикации: 2008-05-21.

Software synchronization of multiple scanning probes

Номер патента: EP1520292A2. Автор: Casey Patrick Hare,Andrew Norman Erickson. Владелец: Multiprobe Inc. Дата публикации: 2005-04-06.

Software synchronization of multiple scanning probes

Номер патента: US7444857B2. Автор: Casey Patrick Hare,Andrew Norman Erickson. Владелец: Multiprobe Inc. Дата публикации: 2008-11-04.

Deconvolving tip artifacts using multiple scanning probes

Номер патента: WO2006102478A3. Автор: Casey Patrick Hare,Andrew Norman Erickson. Владелец: Multiprobe Inc. Дата публикации: 2007-10-11.

Method and apparatus for adaptive tracking using a scanning probe microscope

Номер патента: US20140283227A1. Автор: Johannes Kindt,Judith Mosley. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2014-09-18.

Method and apparatus of tuning a scanning probe microscope

Номер патента: US20150204902A1. Автор: LIN Huang,Shuiqing Hu,Chanmin Su,Paul Silva,Bede Pittenger. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2015-07-23.

System and method for autonomous scanning probe microscopy with in-situ tip conditioning

Номер патента: CA3092157A1. Автор: Robert Wolkow,Mohammad RASHIDI. Владелец: Quantum Silicon Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

System and method for autonomous scanning probe microscopy with in-situ tip conditioning

Номер патента: US20220155339A1. Автор: Robert Wolkow,Mohammad RASHIDI. Владелец: Quantum Silicon Inc. Дата публикации: 2022-05-19.

System and method for autonomous scanning probe microscopy with in-situ tip conditioning

Номер патента: US20210373045A1. Автор: Robert Wolkow,Mohammad RASHIDI. Владелец: Quantum Silicon Inc. Дата публикации: 2021-12-02.

System and method for autonomous scanning probe microscopy with in-situ tip conditioning

Номер патента: WO2019178681A1. Автор: Robert Wolkow,Mohammad RASHIDI. Владелец: Quantum Silicon Inc.. Дата публикации: 2019-09-26.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20190324053A1. Автор: Hiroshi Arai,Hideo Nakajima,Eiji Iida,Yuichiro Ikeda,Kenji Yamasaki,Masato Hirade,Kazuma Watanabe,Keita FUJINO. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-10-24.

Method of performing surface measurements on a surface of a sample, and scanning probe microscopy system therefore

Номер патента: EP3365689A1. Автор: Aliasghar Keyvani Janbahan,Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-08-29.

Method of performing surface measurements on a surface of a sample, and scanning probe microscopy system therefore

Номер патента: WO2017069622A1. Автор: Hamed Sadeghian Marnani,Janbahan KEYVANI. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2017-04-27.

Scanning Probe Microscope, Sample Observation Processing System, and Electric Characteristic Evaluation Device

Номер патента: US20240168052A1. Автор: Shuichi Takeuchi,Yoshiteru Shikakura,Toru AISO. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Full information acquisition in scanning probe microscopy and spectroscopy

Номер патента: US09612257B1. Автор: Stephen Jesse,Sergei V. Kalinin,Alex Belianinov,Suhas Somnath. Владелец: UT Battelle LLC. Дата публикации: 2017-04-04.

Method of and system for refurbishing a probe for use in a scanning probe microscopy device, and a computer program product for performing said method

Номер патента: US20240288468A1. Автор: Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nearfield Instruments BV. Дата публикации: 2024-08-29.

Probe microscope setup method

Номер патента: US8205487B2. Автор: LIN Huang,Alan F. Rice. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2012-06-26.

Tracking qualification and self-optimizing probe microscope and method

Номер патента: WO2007022013A2. Автор: LIN Huang,Alan F. Rice. Владелец: VEECO INSTRUMENTS INC.. Дата публикации: 2007-02-22.

Scanning probe system with multiple probes

Номер патента: US09939460B2. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2018-04-10.

Method of performing surface measurements on a surface of a sample, and scanning probe microscopy system therefore

Номер патента: US10697998B2. Автор: Aliasghar Keyvani Janbahan,Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2020-06-30.

System and method of performing scanning probe microscopy on a substrate surface

Номер патента: US11320457B2. Автор: Roelof Willem HERFST,Anton Adriaan Bijnagte,Jan Jacobus Benjamin BIEMOND,Klara Maturova. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2022-05-03.

Scanning probe with digitized pulsed-force mode operation and real-time evaluation

Номер патента: US7129486B2. Автор: Othmar Marti,Peter Spizig,Detlef Sanchen,Joachim Koenen,Jörg FÖRSTNER. Владелец: Witec Wissenschaftliche Instrumente Und Technologie Gmbh. Дата публикации: 2006-10-31.

Scanning Probe System with Multiple Probes

Номер патента: US20170356931A1. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2017-12-14.

Element analyzing method with a scanning type probe microscope and super short high voltage pulse applying method using the element analyzing method

Номер патента: US5898176A. Автор: Yuzo Mori,Masao Sakamoto. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 1999-04-27.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20190293680A1. Автор: Hiroshi Arai. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Tweezer system for scanning probe microscope, scanning probe microscope apparatus, and dust removal method

Номер патента: JP5039944B2. Автор: 正敏安武. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-10-03.

Tweezers system for scanning probe microscope, scanning probe microscope apparatus and method of removing dust

Номер патента: US20090188011A1. Автор: Masatoshi Yasutake. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2009-07-23.

Non-local scanning probes for scanning probe microscopy

Номер патента: US10739378B2. Автор: John Wright,Daniel Vincent Esposito,Glen O'Neil,Han-Wen Kuo,Anna E. Dorfi. Владелец: Columbia University in the City of New York. Дата публикации: 2020-08-11.

Vertically mounted sample stage for microscopy and scanning probe microscope using the sample stage

Номер патента: US20140182020A1. Автор: Hwan-soo Suh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-06-26.

Sample vessel retention for an inverted microscope with a scanning probe microscope

Номер патента: EP3314271B1. Автор: Charles Meyer,Shuiqing Hu,James Shaw,Chanmin Su. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2022-02-09.

SCANNING HEAD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20190056429A1. Автор: Gao Hongjun,Huan Qing,Wu Zebin. Владелец: INSTITUTE OF PHYSICS, CHINESE ACADEMY OF SCIENCES. Дата публикации: 2019-02-21.

Scanning probe microscope scanning head

Номер патента: JP6713512B2. Автор: チンホワン，,ゾービンウー，,ホンジュンガオ，. Владелец: インスティテュートオブフィジックス，チャイニーズアカデミーオブサイエンシーズ. Дата публикации: 2020-06-24.

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH A SAMPLE HOLDER FED WITH ELECTROMAGNETIC WAVE SIGNALS

Номер патента: US20220074968A1. Автор: Farina Marco. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-10.

VERTICALLY MOUNTED SAMPLE STAGE FOR MICROSCOPY AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAMPLE STAGE

Номер патента: US20140182020A1. Автор: Suh Hwan-soo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-06-26.

Sample vessel retention structure for scanning probe microscope

Номер патента: US20180188286A1. Автор: Charles Meyer,Shuiqing Hu,James Shaw,Chanmin Su. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2018-07-05.

SAMPLE VESSEL RETENTION STRUCTURE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20190212361A1. Автор: Su Chanmin,Hu Shuiqing,Shaw James,Meyer Charles. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-11.

WIDE-FIELD SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH AN APPARATUS FOR MODIFYING AN OBJECT

Номер патента: US20190219610A1. Автор: ALEKSEEV Alexander Mihaylovich,VOLKOV Aleksey Dmitrievich,SOKOLOV Dmitry Yurjevich,EFIMOV Anton Evgenievich. Владелец: Chastnoe Uchrezhdenie "Nazarbayev University Research and Innovation System". Дата публикации: 2019-07-18.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20190293680A1. Автор: Arai Hiroshi. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-26.

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH A REDUCED Q-FACTOR

Номер патента: US20170307655A1. Автор: Sadeghian Marnani Hamed,TABAK Femke Chantal,VAN ES Maarten Hubertus. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-26.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND CANTILEVER MOVING METHOD

Номер патента: US20190317124A1. Автор: IIDA Eiji. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-17.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND LIGHT INTENSITY ADJUSTING METHOD

Номер патента: US20190331711A1. Автор: Ikeda Yuichiro,Arai Hiroshi,WATANABE Kazuma,HIRADE Masato,YAMASAKI Kenji,FUJINO Keita,IIDA Eiji,NAKAJIMA Hideo. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-31.

SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH A DEVICE FOR MODIFYING THE SURFACE OF AN OBJECT

Номер патента: US20170350921A1. Автор: Alekseev Alexander,Sokolov Dmitry Yuryevich,Volkov Aleksey Dmitriyevich,Efimov Anton Evgeniyevich. Владелец: PRIVATE INSTITUTION "NAZARBAYEV UNIVERSITY RESEARCH AND INNOVATION SYSTEM". Дата публикации: 2017-12-07.

Scanning probe microscope combined with a device for modification of the object surface

Номер патента: EP2482080A1. Автор: Anton Evgenievich Efimov,Dmitry Yurievich Sokolov,Nadezda Matsko,Ferdinand Hofer. Владелец: Sokolov Dmitry Juryevich. Дата публикации: 2012-08-01.

Scanning probe microscope

Номер патента: WO2016063407A1. Автор: 池田　雄一郎. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2016-04-28.

Scanning probe microscope narrow and small experiment chamber environment atmosphere accurate control device

Номер патента: CN111257596B. Автор: 江亮,吴渊,钱林茂,陈宇山,郝盼. Владелец: Southwest Jiaotong University. Дата публикации: 2021-09-14.

Scanning probe microscope combined with a device for modifying the surface of an object

Номер патента: US10054613B2. Автор: Alexander Alekseev,Aleksey Dmitriyevich Volkov,Dmitry Yuryevich Sokolov,Anton Evgeniyevich Efimov. Владелец: Private Institution Nazarbayev University Research And Innovation System. Дата публикации: 2018-08-21.

Sample vessel retention for scanning probe microscope

Номер патента: WO2016209673A1. Автор: Charles Meyer,Shuiqing Hu,James Shaw,Chanmin Su. Владелец: Bruker Nano, Inc.. Дата публикации: 2016-12-29.

Scanning probe microscope narrow and small experiment chamber environment atmosphere accurate control device

Номер патента: CN111257596A. Автор: 江亮,吴渊,钱林茂,陈宇山,郝盼. Владелец: Southwest Jiaotong University. Дата публикации: 2020-06-09.

Scanning probe microscope and measuring method using same

Номер патента: WO2014033844A1. Автор: 誠嗣平家,富博橋詰,山本　剛,英南部,小泉　英明. Владелец: 株式会社日立製作所. Дата публикации: 2014-03-06.

Scanning probe microscope and cantilever moving method

Номер патента: US10794931B2. Автор: Eiji Iida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-10-06.

Optical detection system for micromechanical cantilevers, especially in scanning probe microscopes

Номер патента: US20090184242A1. Автор: Lukas E. Howald. Владелец: Nanosurf AG. Дата публикации: 2009-07-23.

Quasi-in-situ scanning probe microscope (QIS-SPM) with an automatically operated reaction chamber and method of operation

Номер патента: DE102010015966B4. Автор: Franz Fischer,Violetta Olszowka,Markus Hund,Heinz Krejtschi. Владелец: Markus Hund. Дата публикации: 2014-01-30.

Apparatus and method for detecting distortion in data obtained using scanning probe microscope

Номер патента: KR101255458B1. Автор: 정정주,한철수. Владелец: 한양대학교 산학협력단. Дата публикации: 2013-04-17.

Cantilever excitation device and scanning probe microscope

Номер патента: WO2011016256A1. Автор: 剛士福間,雅淺川. Владелец: 国立大学法人金沢大学. Дата публикации: 2011-02-10.

Scanning probe microscope

Номер патента: WO2017208412A1. Автор: 浩新井. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2017-12-07.

Scanning probe microscope with a reduced q-factor

Номер патента: EP3204779B1. Автор: Hamed Sadeghian Marnani,Maarten Hubertus VAN ES,Femke Chantal TABAK. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-09-26.

Scanning probe atomic-force microscope having nanocomposite radiating element doped with quantum dots and magnetic nanoparticles having core-shell structure

Номер патента: RU2615052C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Николай Владимирович Вишняков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2017-04-03.

Probe assembly for scanning probe microscope

Номер патента: RU2459214C2. Автор: Эндрю ХАМФРИС,Дэвид КАТТО. Владелец: Инфинитесима Лтд. Дата публикации: 2012-08-20.

High-speed scanning probe microscope

Номер патента: US20110289636A1. Автор: Michel Despont,Abu Sebastian,Harish Bhaskaran. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-11-24.

Method and device for controlling a scanning probe microscope

Номер патента: US20140338073A1. Автор: Marija PLODINEC,Marko Loparic,Roderick Yh Lim. Владелец: UNIVERSITAET BASEL. Дата публикации: 2014-11-13.

Scanning probe microscope with multizonde sensor operation device

Номер патента: RU2695517C2. Автор: Евгений Владимирович Кузнецов,Андрей Викторович Быков,Вячеслав Викторович Поляков,Владимир Валерьевич Котов,Людмила Петровна Прилепская. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ". Дата публикации: 2019-07-23.

Scanning probe microscope and method of operating the same

Номер патента: US20070018097A1. Автор: Hideo Kojima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2007-01-25.

Scanning probe microscope and method of operating the same

Номер патента: US7748052B2. Автор: Hideo Kojima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2010-06-29.

Measuring Device for a Scanning Probe Microscope and Method for Scanning Probe Microscopy of a Measurement Sample by Means of a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20200400715A1. Автор: Detlef Knebel,Tilo Jankowski,Frederik Büchau. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2020-12-24.

Scanning probe microscope probe and manufacturing method therefor, scanning probe microscope and using method therefor, needle-like body and manufacturing method therefor, electronic device and manufacturing method therefor, charge density wave quantum phase microscope, and charge density wave quantum interferometer

Номер патента: US20070272855A1. Автор: Katsuhiko Inagaki,Masayuki Ido,Satoshi Tanda,Hiroyuki Ohkawa,Takeshi Toshima,Munehiro Nishida,Migaku Oda,Naoki Momono. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2007-11-29.

Method for providing a probe for a probe-microscopic analysis of a test sample in a probe microscope and arrangement with a probe microscope

Номер патента: US20090300807A1. Автор: Torsten Muller,Detlef Knebel,Torsten Jähnke,Kathryn Poole. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-12-03.

Method for providing a probe for a probe-microscopic analysis of a test sample in a probe microscope and arrangement with a probe microscope

Номер патента: US7971266B2. Автор: Torsten Muller,Detlef Knebel,Torsten Jähnke,Kathryn Poole. Владелец: Jpk Instruments Ag. Дата публикации: 2011-06-28.

Arrangement Having a Measuring Apparatus for a Scanning Probe Microscope, Scanning Probe Microscope, and Method for Operating

Номер патента: US20220244287A1. Автор: Torsten Jähnke,Frederik BÜCHAU-VENDER,Marian SCHÜCKER. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2022-08-04.

Compound microscope with scanning probe microscope and optical microscope combined, control device of the same, control method and control program, and storage medium

Номер патента: US20150047080A1. Автор: Shuichi Ito,Akira Yagi,Nobuaki Sakai,Yoshitsugu Uekusa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-02-12.

Front-wing cantilever for the conductive probe of electrical scanning probe microscopes

Номер патента: US20060214678A1. Автор: Mao-Nan Chang. Владелец: Grell Farms LLC. Дата публикации: 2006-09-28.

Device of mechanical displacement for scanning probe microscope

Номер патента: RU2629538C2. Автор: Евгений Владимирович Кузнецов,Сергей Владимирович Тимофеев,Андрей Викторович Быков,Артем Викторович Шелаев,Дмитрий Иванович Виноградов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ". Дата публикации: 2017-08-29.

Method of production, method of inspection, and method of use of scanning probe microscope probe

Номер патента: US20040173744A1. Автор: Ryuji Shimazaki,Nobuaki Takazawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2004-09-09.

Cantilever, scanning probe microscope, and measurement method using scanning probe microscope

Номер патента: US11733264B2. Автор: Tomonori Saeki,Takenori Hirose,Kaifeng ZHANG. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Scanning probe microscope

Номер патента: RU2461839C1. Автор: Дмитрий Александрович Усанов,Александр Владимирович Скрипаль,Александр Григорьевич Лаптев,Александр Александрович Лаптев. Владелец: ООО "Лапик". Дата публикации: 2012-09-20.

Methods and devices for extending a time period until changing a measuring tip of a scanning probe microscope

Номер патента: US20240272198A1. Автор: Rainer Becker,Christof Baur,Gabriel Baralia,Hans Hermann Pieper,Kinga Kornilov. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-15.

Scanning probe microscope

Номер патента: US5496999A. Автор: John D. Alexander,Michael D. Kirk,Sung-Il Park,Sang-il Park,Ian R. Smith,Frederick I. Linker,Peter R. Swift. Владелец: Individual. Дата публикации: 1996-03-05.

Scanning Probe Microscope and Measurement Method Using Same

Номер патента: US20140165237A1. Автор: Masahiro Watanabe,Toshihiko Nakata,Takehiro TACHIZAKI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-06-12.

Method and apparatus of operating a scanning probe microscope

Номер патента: US09810713B2. Автор: Yan Hu,Jian Shi,Ji Ma,Shuiqing Hu,Chanmin Su. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2017-11-07.

Probe for scanning probe microscope and method for producing the same, and scanning probe microscope including the probe and molecular processing method using the scanning probe microscope

Номер патента: CA2392004C. Автор: Tetsuo Yukimasa,Tohru Nakagawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2005-11-29.

Jumping probe microscope

Номер патента: US5415027A. Автор: Virgil B. Elings,John A. Gurley. Владелец: Digital Instruments Inc. Дата публикации: 1995-05-16.

Scanning probe microscope, molecular processing method using the scanning probe microscope and DNA base arrangement detecting method

Номер патента: US5363697A. Автор: Tohru Nakagawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1994-11-15.

Automatic Landing Method and Apparatus for Scanning Probe Microscope Using the Same

Номер патента: US20090293160A1. Автор: Cheolsu Han,Haiwon Lee,Chung Choo Chung. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-11-26.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20150059025A1. Автор: Kazunori Harada,Hideo Shinomiya,Moto Yabuki,Jun Hirota. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-02-26.

Automatic landing method and apparatus for scanning probe microscope using the same

Номер патента: EP2153198A2. Автор: Cheolsu Han,Haiwon Lee,Chung-Choo Chung. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2010-02-17.

Automatic landing method and apparatus for scanning probe microscope using the same

Номер патента: US7891016B2. Автор: Cheolsu Han,Haiwon Lee,Chung Choo Chung. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2011-02-15.

Automatic landing method and apparatus for scanning probe microscope using the same

Номер патента: WO2008147120A2. Автор: Cheolsu Han,Haiwon Lee,Chung-Choo Chung. Владелец: IUCF-HYU (Industry-University Cooperation Foundation Hanyang University). Дата публикации: 2008-12-04.

Method and apparatus for avoiding damage when analysing a sample surface with a scanning probe microscope

Номер патента: US09995764B2. Автор: Christof Baur,Hans Hermann Pieper,Rainer Fettig. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2018-06-12.

Scanning probe microscope

Номер патента: US09410983B2. Автор: Kazunori Harada,Hideo Shinomiya,Moto Yabuki,Jun Hirota. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-09.

Automatic landing method and apparatus for scanning probe microscope using the same

Номер патента: WO2008147120A3. Автор: Cheolsu Han,Haiwon Lee,Chung-Choo Chung. Владелец: Chung-Choo Chung. Дата публикации: 2009-01-29.

Scanning probe microscope and scanning probe microscopy

Номер патента: US09453856B2. Автор: Nobuaki Sakai. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-09-27.

A stress cell for a scanning probe microscope

Номер патента: WO1996027894A1. Автор: Tianwei Jing. Владелец: Molecular Imaging Corporation. Дата публикации: 1996-09-12.

Adaptive mode scanning probe microscope

Номер патента: US09557347B2. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2017-01-31.

Scanning probe microscope combined with sample surface modification device

Номер патента: RU2653190C1. Автор: Константин Евгеньевич Мочалов,Антон Евгеньевич Ефимов,Дмитрий Юрьевич Соколов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "СНОТРА". Дата публикации: 2018-05-07.

Scanning probe microscope capable of suppressing probe vibration caused by feedback control

Номер патента: US5543614A. Автор: Mitsugu Sakai,Hirofumi Miyamoto,Nobuaki Sakai,Mitsumori Hayashida. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1996-08-06.

Method for characterization of a sample surface by using scanning electron microscope and scanning probe microscope

Номер патента: WO2017186198A1. Автор: Jan NEUMAN,Zdenek NOVACEK,Michal PAVERA. Владелец: Nenovision S.R.O.. Дата публикации: 2017-11-02.

Fixing Mechanism Actuatable Without a Tool and Which Fixes a Measuring Probe in a Detachable Manner for a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20170067935A1. Автор: Alberto Gomez-Casado,Norbert Rath. Владелец: ANTON PAAR GMBH. Дата публикации: 2017-03-09.

Method and device for controlling a scanning probe microscope

Номер патента: EP2791688A1. Автор: Marija PLODINEC,Marko Loparic,Roderick Yh Lim. Владелец: UNIVERSITAET BASEL. Дата публикации: 2014-10-22.

Multifunctional scanning probe microscope

Номер патента: RU2498321C2. Автор: Андрей Быков,Владимир Котов,Виктор Быков. Владелец: НТ-МДТ Сервис и Ложистик Лтд.. Дата публикации: 2013-11-10.

Measuring device for a scanning probe microscope and method for scanning probe microscopy of a measurement sample by means of a scanning probe microscope

Номер патента: US11156632B2. Автор: Detlef Knebel,Tilo Jankowski,Frederik Büchau. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2021-10-26.

Scanning probe microscope and control method thereof

Номер патента: US09977049B2. Автор: Nobuaki Sakai. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Scanning probe sensor with a ferromagnetic fluid

Номер патента: US09568496B1. Автор: Bernd W. Gotsmann,Fabian Menges,Pio Peter Niraj Niramalraj. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Scanning probe microscope and method of alignment, focusing, and measurement

Номер патента: WO2023150264A1. Автор: William Morrison,Padraic O'Reilly,Derek NOWAK. Владелец: Molecular Vista, Inc.. Дата публикации: 2023-08-10.

Scanning probe microscope and scanning method

Номер патента: US7874016B2. Автор: Takeshi Umemoto,Norio Ookubo. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2011-01-18.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US09583299B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Universal, microfabricated probe for scanning probe microscopes

Номер патента: US5166520A. Автор: Craig Prater,Thomas B. Albrecht. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 1992-11-24.

Scanning probe microscopy cantilever holder and scanning probe microscope using the cantilever holder

Номер патента: US20060043290A1. Автор: Masatsugu Shigeno,Masato Iyoki. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2006-03-02.

Probe for Scanning Probe Microscope and Binary State Scanning Probe Microscope Including the Same

Номер патента: US20220308086A1. Автор: Wooyoung Shim,GwangMook KIM. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2022-09-29.

Probe for scanning probe microscope and binary state scanning probe microscope including the same

Номер патента: US11860188B2. Автор: Wooyoung Shim,GwangMook KIM. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2024-01-02.

Wear-less operation of a material surface with a scanning probe microscope

Номер патента: US09977050B2. Автор: Urs T. Duerig,Armin W. Knoll,Bernd W. Gotsmann,Mark Alfred Lantz. Владелец: Swisslitho AG. Дата публикации: 2018-05-22.

Metrological scanning probe microscope

Номер патента: US09804193B2. Автор: Roger Proksch,Jason Cleveland,Aleksander Labuda,Deron Walters. Владелец: Oxford Instruments Asylum Research Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Photothermal actuation of a probe for scanning probe microscopy

Номер патента: US09410982B2. Автор: Bin Zhao,Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2016-08-09.

Probe system and method for receiving a probe of a scanning probe microscope

Номер патента: GB2555987A. Автор: Baur Christof,Weber Matthias,Baralia Gabriel,Ruhm Sylvio,Pohl Christoph,Harnath Björn. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2018-05-16.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20050120781A1. Автор: Shinichi Kitamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2005-06-09.

Method of analyzing surface of sample using scanning probe microscope and scanning probe microscope therefor

Номер патента: US20160169938A1. Автор: Sungjun PARK,Jaemin Ahn,Dongjin Yun,Seongheon Kim,Youngnam Kwon,Woonjung Paek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-06-16.

Scanning probe microscope and method for resonance-enhanced detection using a range of modulation frequencies

Номер патента: AU2020407601A1. Автор: Thomas R. Albrecht,William Morrison,Sung I. Park,Derek NOWAK,Josh Gioja. Владелец: Molecular Vista Inc. Дата публикации: 2022-07-14.

Scanning probe microscope and active damping drive control device

Номер патента: US20090276924A1. Автор: Toshio Ando. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2009-11-05.

Harmonic Correcting Controller for a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20110191917A1. Автор: David Yves Abramovitch. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2011-08-04.

Scanning probe microscope and method for resonance-enhanced detection using a range of modulation frequencies

Номер патента: US11846653B2. Автор: Thomas R. Albrecht,William Morrison,Sung I. Park,Derek NOWAK,Josh Gioja. Владелец: Molecular Vista Inc. Дата публикации: 2023-12-19.

Scanning probe microscope and method for resonance-enhanced detection using a range of modulation frequencies

Номер патента: EP4078190A1. Автор: Thomas R. Albrecht,William Morrison,Sung I. Park,Derek NOWAK,Josh Gioja. Владелец: Molecular Vista Inc. Дата публикации: 2022-10-26.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20010030286A1. Автор: Akira Egawa,Tatsuya Miyatani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-10-18.

Scanning probe microscope and optical axis adjustment method in scanning probe microscope

Номер патента: US20210302465A1. Автор: Kenji Yamasaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-09-30.

Scanning probe microscope and optical axis adjustment method in scanning probe microscope

Номер патента: US11162974B2. Автор: Kenji Yamasaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-11-02.

Probe microscope with probe movement from heating

Номер патента: US09599636B2. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2017-03-21.

Variable temperature scanning probe microscope based on a peltier device

Номер патента: US5654546A. Автор: Stuart M. Lindsay. Владелец: Molecular Imaging Corp. Дата публикации: 1997-08-05.

Scanning probe microscope

Номер патента: WO2004005844A3. Автор: Mervyn John Miles,Andrew David Laver Humphris,Jamie Kayne Hobbs. Владелец: Jamie Kayne Hobbs. Дата публикации: 2005-03-24.

Hybrid control system for scanning probe microscopes

Номер патента: US5805448A. Автор: Tianwei Jing,Stuart M. Lindsay. Владелец: Molecular Imaging Corp. Дата публикации: 1998-09-08.

Scanning probe microscope and method for examining a surface with a high aspect ratio

Номер патента: US20170102407A1. Автор: Christof Baur,Klaus Edinger. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2017-04-13.

Methods and devices for extending a time period until changing a measuring tip of a scanning probe microscope

Номер патента: US11977097B2. Автор: Rainer Becker,Christof Baur,Gabriel Baralia,Hans Hermann Pieper,Kinga Kornilov. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-05-07.

Scanning probe microscope having a cantilever used therein

Номер патента: US5537863A. Автор: Shunji Watanabe,Toru Fujii,Takamitsu Fujiu,Tatsushi Nomura,Yoshinori Sango. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1996-07-23.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20140298548A1. Автор: Masahiro Watanabe,Takafumi Morimoto,Shuichi Baba,Toshihiko Nakata,Toru Kurenuma,Satoshi Sekino,Yukio Kembo,Manabu Edamura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-10-02.

Scanning probe microscope and scanning probe microscope optical axis adjustment method

Номер патента: US20220018873A1. Автор: Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-01-20.

Scanning probe microscope and scanning probe microscope optical axis adjustment method

Номер патента: US11519936B2. Автор: Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-12-06.

Scratch repairing processing method and scanning probe microscope (SPM) used therefor

Номер патента: US7285792B2. Автор: Naoya Watanabe,Osamu Takaoka. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-10-23.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20180259552A1. Автор: Kanji Kobayashi,Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-09-13.

Scanning probe microscope

Номер патента: US09645170B2. Автор: Masatsugu Shigeno. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Scanning probe microscope

Номер патента: US11320456B2. Автор: Hidemi Shigekawa. Владелец: Gtheranostics Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-03.

Method for Measuring the Force of Interaction in a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20100132078A1. Автор: Storrs Hoen. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2010-05-27.

Sample Carriage for Scanning Probe Microscope

Номер патента: CA2107048A1. Автор: David William Abraham,James Micheal Hammond,Martin Allen Klos,Kenneth Gilbert Roessler,Robert Marshall Stowell,Hemantha Kumar Wickramasinghe. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1994-05-10.

Method and Device of Using a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20180106830A1. Автор: Georg Ernest Fantner,Jonathan David Adams,Adrian Pascal Nievergelt. Владелец: Ecole Polytechnique Federale de Lausanne EPFL. Дата публикации: 2018-04-19.

Scanning probe microscope

Номер патента: EP3742151A1. Автор: Hidemi Shigekawa. Владелец: Gtheranostics Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-25.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20210011052A1. Автор: Hidemi Shigekawa. Владелец: Gtheranostics Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-14.

Scanning probe microscope

Номер патента: US5440121A. Автор: Nobutaka Nakamura,Masatoshi Yasutake. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1995-08-08.

Scanning probe optical microscope using a solid immersion lens

Номер патента: US5939709A. Автор: Virgil B. Elings,Lucien P. Ghislain. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-08-17.

Large stage system for scanning probe microscopes and other instruments

Номер патента: US5672816A. Автор: Michael D. Kirk,Sang-il Park,Ian R. Smith. Владелец: Park Scientific Instruments. Дата публикации: 1997-09-30.

Scanning probe microscope

Номер патента: CA2070359C. Автор: Hiroshi Matsuda,Yoshihiro Yanagisawa,Toshihiko Takeda,Ken Eguchi,Hisaaki Kawade. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1999-09-21.

Probe cassette for holding a probe in storage for use in a scanning probe microscope

Номер патента: US11709181B2. Автор: Roelof Willem HERFST,Anton Adriaan Bijnagte,Lukas Kramer. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2023-07-25.

Probe cassette for holding a probe in storage for use in a scanning probe microscope

Номер патента: EP4055393A1. Автор: Roelof Willem HERFST,Anton Adriaan Bijnagte,Lukas Kramer. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2022-09-14.

Probe cassette for holding a probe in storage for use in a scanning probe microscope

Номер патента: US20220390486A1. Автор: Roelof Willem HERFST,Anton Adriaan Bijnagte,Lukas Kramer. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2022-12-08.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20080223122A1. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroshi Kuroda,Takafumi Morimoto,Shuichi Baba,Toshihiko Nakata,Toru Kurenuma,Yukio Kembo,Manabu Edamura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-09-18.

Scanning probe microscope (spm) tip

Номер патента: WO2021233817A3. Автор: Belén SANZ SANZ,Manuel ESPINOSA RODRÍGUEZ. Владелец: Next-Tip, S.L.. Дата публикации: 2022-01-13.

Scanning probe microscope (spm) tip

Номер патента: US20230204625A1. Автор: Belén SANZ SANZ,Manuel ESPINOSA RODRÍGUEZ. Владелец: Next Tip SL. Дата публикации: 2023-06-29.

Scanning probe microscope

Номер патента: US9689892B2. Автор: Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

PMN translator and linearization system in scanning probe microscope

Номер патента: US5200617A. Автор: John B. Hayes,Jamshid Jahanmir,Eric M. Frey. Владелец: Wyko Corp. Дата публикации: 1993-04-06.

Scanning probe microscope

Номер патента: US8011230B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroshi Kuroda,Takafumi Morimoto,Shuichi Baba,Toshihiko Nakata,Toru Kurenuma,Yukio Kembo,Manabu Edamura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2011-09-06.

Scanning probe microscope and scanning probe microscopy

Номер патента: US20160025770A1. Автор: Nobuaki Sakai. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-01-28.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20190234992A1. Автор: Toshihiro Ueno,Shinya Kudo,Yoshiteru Shikakura,Masayuki Iwasa. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-08-01.

Method and apparatus for avoiding damage when analysing a sample surface with a scanning probe microscope

Номер патента: US20170261532A1. Автор: Christof Baur,Hans Hermann Pieper,Rainer Fettig. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2017-09-14.

Two-section cantilever spring mounted system for scanning probe microscopy

Номер патента: GB2398633A. Автор: Jacob Nissim Israelachvili. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-08-25.

Probe shape evaluation method for a scanning probe microscope

Номер патента: US8621660B2. Автор: Masafumi Watanabe,Hiroumi Momota. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-12-31.

Probe shape evaluation method for a scanning probe microscope

Номер патента: US20130180019A1. Автор: Masafumi Watanabe,Hiroumi Momota. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-07-11.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20180088148A1. Автор: Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

Scratch repairing processing method and scanning probe microscope (SPM) used therefor

Номер патента: US20050205805A1. Автор: Naoya Watanabe,Osamu Takaoka. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2005-09-22.

Tips and substrates for scanning probe microscopy

Номер патента: WO1997010901A1. Автор: Tianwei Jing,Stuart M. Lindsay,Yuri L. Lyubchencko. Владелец: Molecular Imaging Corporation. Дата публикации: 1997-03-27.

Probe for scanning probe microscopy and method of its manufacturing (embodiments)

Номер патента: RU2660418C1. Автор: Сергей Владимирович Макаров,Иван Сергеевич Мухин,Иван Сергеевич Синев,Антон Кириллович Самусев,Филипп Эдуардович Комиссаренко. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики" (Университет ИТМО). Дата публикации: 2018-07-06.

Scanning probe of nuclear power microscope with the separated television controlled nanocomposite radiating element alloyed with quantum dots and magnetic nanoparticles of the nucleus-shell structure

Номер патента: RU2681258C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2019-03-05.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US9773634B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20090133168A1. Автор: Toshio Ando,Takayuki Uchihashi,Mitsuru Sakashita. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2009-05-21.

Metrological Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20160169937A1. Автор: Roger Proksch,Jason Cleveland,Aleksander Labuda,Deron Walters. Владелец: Oxford Instruments Asylum Research Inc. Дата публикации: 2016-06-16.

Metrological scanning probe microscope

Номер патента: USRE49997E1. Автор: Roger Proksch,Jason Cleveland,Aleksander Labuda,Deron Walters. Владелец: Oxford Instruments Asylum Research Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Metrological Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20190324054A1. Автор: Roger Proksch,Jason Cleveland,Aleksander Labuda,Deron Walters. Владелец: Oxford Instruments Asylum Research Inc. Дата публикации: 2019-10-24.

Scanning probe microscope and measurement method using the same

Номер патента: US20170269123A1. Автор: Tsukasa Nakai,Haruko Akutsu,Jun Hirota. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-09-21.

Metrological Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20180128853A1. Автор: Roger Proksch,Jason Cleveland,Aleksander Labuda,Deron Walters. Владелец: Oxford Instruments Asylum Research Inc. Дата публикации: 2018-05-10.

Scanning probe of atomic-force microscope with separated remote-controlled nanocomposite emitting element doped with quantum dots, upconverting and magnetic nanoparticles of core-shell structure

Номер патента: RU2724987C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Николай Владимирович Вишняков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков,Сергей Игоревич Гусев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина". Дата публикации: 2020-06-29.

Scanning probe of atomic-force microscope with separable telecontrol nanocomposite emitting element based on upconverting and magnetic nanoparticles of core-shell structure

Номер патента: RU2716849C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина". Дата публикации: 2020-03-17.

High throughput scanning probe microscopy device

Номер патента: WO2014003547A1. Автор: Niek Rijnveld,Teunis Cornelis Van Den Dool,Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2014-01-03.

High throughput scanning probe microscopy device

Номер патента: EP2867682A1. Автор: Niek Rijnveld,Teunis Cornelis Van Den Dool,Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2015-05-06.

Scanning probe of atomic-force microscope with separable remote-controlled nanocomposite emitting element doped with quantum dots, upconverting and magnetic nanoparticles of core-shell structure

Номер патента: RU2723899C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Николай Владимирович Вишняков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков,Сергей Игоревич Гусев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф.Уткина". Дата публикации: 2020-06-18.

Scanning probe system

Номер патента: US20220390484A1. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2022-12-08.

Scanning probe system

Номер патента: EP4070118A1. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2022-10-12.

Apparatus and method for a scanning probe microscope

Номер патента: US11796563B2. Автор: Ulrich Matejka,Christof Baur. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-10-24.

A method and apparatus for aligning a probe for scanning probe microscopy to the tip of a pointed sample

Номер патента: EP3671224A1. Автор: Mr. Kristof Paredis,Mr. Jonathan Op de Beeck,Mrs. Claudia Fleischmann,Mr. Wilfried Vandervorst. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2020-06-24.

A method and apparatus for aligning a probe for scanning probe microscopy to the tip of a pointed sample

Номер патента: WO2020126136A1. Автор: Wilfried Vandervorst,Kristof Paredis,Claudia Fleischmann,Jonathan Op de Beeck. Владелец: IMEC VZW. Дата публикации: 2020-06-25.

Optical scanning probe and apparatus for generating three-dimensional data using the same

Номер патента: US09879984B2. Автор: Soon Yong Park,Kyung Shik Roh,Shin Kim,Suk June Yoon,Ji Min Kim,No San Kwak. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-30.

Displacement detection mechanism and scanning probe microscope using the same

Номер патента: US8869311B2. Автор: Ryusuke HIROSE. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2014-10-21.

Sample stage for scanning probe microscope head

Номер патента: US5530253A. Автор: Takao Yasue,Tadashi Nishioka. Владелец: Renesas Semiconductor Engineering Corp. Дата публикации: 1996-06-25.

Data correction method, computer program for causing computer to perform data correction method, image processor, and scanning probe microscope

Номер патента: US20190294905A1. Автор: Kenji Yamasaki,Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Data acquisition and control apparatus for scanning probe systems

Номер патента: WO1996035943A1. Автор: Gerd Karl Binnig,Walter Häberle,Anton Josef Scheich. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 1996-11-14.

Scanning probe microscope and how it works

Номер патента: KR20210034672A. Автор: 얀 야코부스 벤야민 비에몬드,루카스 크라머,야스퍼 빈터스. Владелец: 네덜란제 오르가니자티에 포오르 토에게파스트-나투우르베텐샤펠리즈크 온데르조에크 테엔오. Дата публикации: 2021-03-30.

Data display processing device, data display processing method and control program for scanning probe microscope

Номер патента: US20170322234A1. Автор: Hiroshi Arai,Masahiro Ohta. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-11-09.

Scanning probe microscopy system for mapping high aspect ratio nanostructures on a surface of a sample

Номер патента: EP3322995A1. Автор: William Edward CROWCOMBE,Stefan Kuiper. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-05-23.

Method for Producing a Probe Suitable for Scanning Probe Microscopy

Номер патента: US20200278379A1. Автор: Thomas Hantschel,Thijs Boehme. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2020-09-03.

Scanning probe having micro-tip, method and apparatus for manufacturing the same

Номер патента: US20200103438A1. Автор: Wei Li,zhen-dong Zhu,Si-Tian Gao. Владелец: National Institute of Metrology. Дата публикации: 2020-04-02.

Method and Apparatus for Aligning a Probe for Scanning Probe Microscopy to the Tip of a Pointed Sample

Номер патента: US20220065895A1. Автор: Wilfried Vandervorst,Kristof Paredis,Claudia Fleischmann,Jonathan Op de Beeck. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2022-03-03.

Coupled multiscale positioning of arrays of parallel, independently actuated and simultaneously driven modular scanning probe microscopes for high-throughput, in-line, nanoscale measurement of flexible, large area, and roll-to-roll processes

Номер патента: US10649003B2. Автор: Michael A. Cullinan,Liam Glazer Connolly. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 2020-05-12.

Coupled multiscale positioning of arrays of parallel, independently actuated and simultaneously driven modular scanning probe microscopes for high-throughput, in-line, nanoscale measurement of flexible, large area, and roll-to-roll processes

Номер патента: US20180348254A1. Автор: Michael A. Cullinan,Liam Glazer Connolly. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 2018-12-06.

Method of and scanning probe microscopy system for measuring a topography of a side wall of a structure on a surface of a substrate

Номер патента: WO2024005635A1. Автор: Jakob van de Laar,Hamed Sadeghian Marnani,Arseniy KALININ,Niranjan SAIKUMAR. Владелец: Nearfield Instruments B.V.. Дата публикации: 2024-01-04.

Method of and scanning probe microscopy system for measuring a topography of a side wall of a structure on a surface of a substrate

Номер патента: NL2032315B1. Автор: Sadeghian Marnani Hamed,Van De Laar Jakob,Kalinin Arseniy,Saikumar Niranjan. Владелец: Nearfield Instr B V. Дата публикации: 2024-01-16.

Scanning probe of atomic-force microscope with detachable remote-controlled nanocomposite radiating element doped with upconverting and magnetic nanoparticles of core-shell structure

Номер патента: RU2716861C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина". Дата публикации: 2020-03-17.

Scanning probe instrument

Номер патента: US20020005482A1. Автор: Yukihiro Sato,Ryuichi Matsuzaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-17.

Substrate for examining a biological sample by scanning probe nanotomography and a method for production thereof

Номер патента: RU2740872C1. Автор: Антон Евгеньевич Ефимов,Игорь Иванович Агапов,Ольга Игоревна Агапова,Мария Михайловна Боброва,Любовь Александровна Сафонова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный медицинский исследовательский центр трансплантологии и искусственных органов имени академика В.И. Шумакова" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБУ "НМИЦ ТИО им. ак. В.И. Шумакова" Минздрава России). Дата публикации: 2021-01-21.

Cantilever for scanning probe microscopy

Номер патента: US20020152804A1. Автор: Kenji Sato,Akitoshi Toda,Masashi Kitazawa,Koichi Shiotani. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2002-10-24.

Method of modifying a surface of a sample, and a scanning probe microscopy system

Номер патента: EP3538902A1. Автор: Aliasghar Keyvani Janbahan,Klara Maturova,Hamed Sadeghian Marnani,Mehmet Selman TAMER. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2019-09-18.

Scanning probe instrument

Номер патента: US6661006B2. Автор: Yukihiro Sato,Ryuichi Matsuzaki. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2003-12-09.

Scanning probe system with two prove drivers

Номер патента: US20180164342A1. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2018-06-14.

Method of modifying a surface of a sample, and a scanning probe microscopy system

Номер патента: WO2018088901A1. Автор: Aliasghar Keyvani Janbahan,Klara Maturova,Hamed Sadeghian Marnani,Mehmet Selman TAMER. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-05-17.

Method of monitoring at least one of an overlay or an alignment between layers of a semiconductor substrate, scanning probe microscopy system and computer program

Номер патента: US20230184807A1. Автор: Paul Zabbal,Daniele Piras,Chung Bin CHUANG. Владелец: Nearfield Instruments BV. Дата публикации: 2023-06-15.

Method and apparatus for magnetic force control of a scanning probe

Номер патента: US5925818A. Автор: Jason Cleveland,Paul Hansma,William Ducker. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 1999-07-20.

Scanning probe system

Номер патента: WO2021111114A1. Автор: Andrew Humphris. Владелец: Infinitesima Limited. Дата публикации: 2021-06-10.

Apparatus and method for atomic force probing/SEM nano-probing/scanning probe microscopy and collimated ion milling

Номер патента: US09470712B1. Автор: Terence L. Kane,Jochonia N. Nxumalo,Matthew F. Stanton,Robert P. Marsin. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-10-18.

Scanning probe system

Номер патента: US11959936B2. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2024-04-16.

Method, system and computer program for performing acoustic scanning probe microscopy

Номер патента: US20240219421A1. Автор: Paul Louis Maria Joseph van Neer,Daniele Piras,Benoit André Jacques Quesson,Maarten Hubertus VAN ES,Laurent Fillinger. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2024-07-04.

Method, system and computer program for performing acoustic scanning probe microscopy

Номер патента: EP4143584A1. Автор: Paul Louis Maria Joseph van Neer,Daniele Piras,Benoit André Jacques Quesson,Maarten Hubertus VAN ES,Laurent Fillinger. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2023-03-08.

Hard tip for scanning probe microscopy and method of its production

Номер патента: WO2012060782A1. Автор: Jan Soltys,Karol FRÖHLICH,Kristina Husekova,Goran Karapetrov,Vladmir Cambel,Alexander ŠΑΤΚΑ. Владелец: Elektrotechnicky Ustav Sav. Дата публикации: 2012-05-10.

Method, system and computer program for performing acoustic scanning probe microscopy.

Номер патента: WO2021221499A1. Автор: Paul Louis Maria Joseph van Neer,Daniele Piras,Benoit André Jacques Quesson,Maarten Hubertus VAN ES,Laurent Fillinger. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO. Дата публикации: 2021-11-04.

Method of determining dimensions of features of a subsurface topography, scanning probe microscopy system and computer program

Номер патента: US12123895B2. Автор: Paul Zabbal. Владелец: Nearfield Instruments BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Scanning probe lithography methods utilizing an enclosed sinusoidal pattern

Номер патента: US09911574B2. Автор: Wei Cai,Nan Yao. Владелец: PRINCETON UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-03-06.

Scanning probe microscopy probe and method for scanning probe contact printing

Номер патента: US20040227075A1. Автор: Chang Liu,Xuefeng Wang,David Bullen,Jun Zou. Владелец: University of Illinois. Дата публикации: 2004-11-18.

Scanning probe microscopy system, and method for mounting and demounting a probe therein

Номер патента: EP3327447A1. Автор: Anton Adriaan Bijnagte,Albert Dekker,Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-05-30.

Scanning probe microscopy probe and method for scanning probe contact printing

Номер патента: EP1629507A2. Автор: Chang Liu,Chad Mirkin,Xuefeng Wang,Hua Zhang,David Bullen,Jun Zou. Владелец: University of Illinois. Дата публикации: 2006-03-01.

Scanning probe apparatus with in-situ measurement probe tip cleaning capability

Номер патента: US20080223118A1. Автор: LIN Zhou,Dmitriy Shneyder. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-09-18.

Scanning probe microscopy system for and method of mapping nanostructures on the surface of a sample

Номер патента: US20200116754A1. Автор: Rik Kruidhof,Evert Nieuwkoop,Albert Dekker,Hamed Sadeghian Marnani,Geerten Frans Ijsbrand Kramer,Aukje Arianne Annette Kastelijn,Peter Martijn Toet,Martinus Cornelius Johannes Maria VAN RIEL. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2020-04-16.

Scanning probe microscopy system for and method of mapping nanostructures on the surface of a sample

Номер патента: EP3625576A1. Автор: Rik Kruidhof,Evert Nieuwkoop,Albert Dekker,Hamed Sadeghian Marnani,Geerten Frans Ijsbrand Kramer,Aukje Arianne Annette Kastelijn,Peter Martijn Toet,Marinus Cornelius Johannes Maria van Riel. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2020-03-25.

Scanning probe microscopy system for and method of mapping nanostructures on the surface of a sample

Номер патента: WO2018212645A1. Автор: Rik Kruidhof,Evert Nieuwkoop,Albert Dekker,Hamed Sadeghian Marnani,Geerten Frans Ijsbrand Kramer,Aukje Arianne Annette Kastelijn,Peter Martijn Toet,Marinus Cornelius Johannes Maria van Riel. Владелец: Xnederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno. Дата публикации: 2018-11-22.

Scanning probe microscopy system for and method of mapping nanostructures on the surface of a sample

Номер патента: WO2018212645A8. Автор: Rik Kruidhof,Evert Nieuwkoop,Albert Dekker,Hamed Sadeghian Marnani,Geerten Frans Ijsbrand Kramer,Aukje Arianne Annette Kastelijn,Peter Martijn Toet,Martinus Cornelius Johannes Maria VAN RIEL. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-12-20.

Z-position motion stage for use in a scanning probe microscopy system, scan head and method of manufacturing

Номер патента: EP3692378A1. Автор: Albert Dekker,Aukje Arianne Annette Kastelijn,Martinus Cornelius Johannes Maria VAN RIEL. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2020-08-12.

Scanning probe microscopy system for mapping high aspect ratio nanostructures on a surface of a sample

Номер патента: US20180210008A1. Автор: William Edward CROWCOMBE,Stefan Kuiper. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-07-26.

Working method using scanning probe

Номер патента: US7442925B2. Автор: Kazutoshi Watanabe,Masatoshi Yasutake,Naoya Watanabe,Atsushi Uemoto,Osamu Takaoka,Yoshiteru Shikakura,Takuya Nakaue. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-10-28.

Scanning Probe and Electron Microscope Probes and Their Manufacture

Номер патента: US20180045755A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2018-02-15.

Scanning probe and electron microscope probes and their manufacture

Номер патента: EP3497453A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2019-06-19.

Scanning probe and electron microscope probes and their manufacture

Номер патента: WO2018031602A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek, LLC. Дата публикации: 2018-02-15.

Scanning Probe and Electron Microscope Probes and Their Manufacture

Номер патента: US20180328960A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2018-11-15.

Method of calibrating in a scanning probe microscopy system an optical microscope, calibration structure and scanning probe microscopy device

Номер патента: US20240210442A1. Автор: Hamed Sadeghian Marnani,Taras PISKUNOV,Erik Tabak. Владелец: Nearfield Instruments BV. Дата публикации: 2024-06-27.

Probe, method of manufacturing a probe and scanning probe microscopy system

Номер патента: WO2019088833A1. Автор: Roelof Willem HERFST,Anton Adriaan Bijnagte,Jan Jacobus Benjamin BIEMOND,Albert Dekker. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2019-05-09.

Probe, method of manufacturing a probe and scanning probe microscopy system

Номер патента: US20230160924A1. Автор: Roelof Willem HERFST,Anton Adriaan Bijnagte,Jan Jacobus Benjamin BIEMOND,Albert Dekker. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2023-05-25.

Probe, method of manufacturing a probe and scanning probe microscopy system

Номер патента: EP3704495A1. Автор: Roelof Willem HERFST,Anton Adriaan Bijnagte,Jan Jacobus Benjamin BIEMOND,Albert Dekker. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2020-09-09.

Scanning probe based lithographic alignment

Номер патента: EP1377881A2. Автор: Yong Chen. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 2004-01-07.

Active dither balancing of a motion stage for scanning probe microscopy

Номер патента: WO2023055236A1. Автор: Massoud Hemmasian ETTEFAGH,Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nearfield Instruments B.V.. Дата публикации: 2023-04-06.

Measuring method of scanning probe microscopy

Номер патента: US20160377651A1. Автор: Kazunori Harada,Tsukasa Nakai,Jun Hirota. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Scanning probe system

Номер патента: US20200011893A1. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2020-01-09.

High range and resolution scanning probe and methods

Номер патента: US20190094268A1. Автор: Charles R. SIDES. Владелец: Advanced Measurement Technology Inc. Дата публикации: 2019-03-28.

Method for Producing a Substrate Comprising Multiple Tips for Scanning Probe Microscopy

Номер патента: US20240175896A1. Автор: Thomas Hantschel,XiuMei Xu. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2024-05-30.

Arrangement for and method of determining cantilever deflection in a scanning probe microscopy system.

Номер патента: NL2026823B1. Автор: Sadeghian Marnani Hamed,Henri Louis Makles Kevin,Kalinin Arseniy. Владелец: Nearfield Instr B V. Дата публикации: 2022-06-24.

Arrangement for and method of determining cantilever deflection in a scanning probe microscopy system

Номер патента: US20230393169A1. Автор: Hamed Sadeghian Marnani,Arseniy KALININ,Kevin Henri Louis MAKLES. Владелец: Nearfield Instruments BV. Дата публикации: 2023-12-07.

Heterodyne scanning probe microscopy method and scanning probe microscopy system

Номер патента: EP3742178A8. Автор: Marcus Johannes VAN DER LANS,Paul Louis Maria Joseph van Neer,Daniele Piras,Hamed Sadeghian Marnani,Kodai HATAKEYAMA,Maarten Hubertus VAN ES,Sri Ram Shankar RAJADURAI. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2021-02-24.

Heterodyne scanning probe microscopy method and system

Номер патента: US11940416B2. Автор: Paul Louis Maria Joseph van Neer,Hamed Sadeghian Marnani,Maarten Hubertus VAN ES,Rutger Meijer Timmerman Thijssen. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2024-03-26.

Scanning probe microscopy system and method of operating such a system

Номер патента: WO2023121467A1. Автор: Jakob van de Laar,Ruud RUIZENAAR,Hamed Sadeghian Marnani,Arseniy KALININ. Владелец: Nearfield Instruments B.V.. Дата публикации: 2023-06-29.

Heterodyne scanning probe microscopy method and system

Номер патента: EP3443339A1. Автор: Paul Louis Maria Joseph van Neer,Hamed Sadeghian Marnani,Maarten Hubertus VAN ES,Rutger Meijer Timmerman Thijssen. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2019-02-20.

Scanned probe mounting design

Номер патента: US20200363450A1. Автор: Andrew Norman Erickson,Kyle Alfred HOFSTATTER. Владелец: Angstrom Sciences Inc. Дата публикации: 2020-11-19.

Fiducial marker design, fiducial marker, scanning probe microscopy device and method of calibrating a position of a probe tip

Номер патента: US20240210443A1. Автор: Hamed Sadeghian Marnani,Arseniy KALININ. Владелец: Nearfield Instruments BV. Дата публикации: 2024-06-27.

Scanned probe mounting design

Номер патента: WO2020232001A1. Автор: Andrew Norman Erickson,Kyle Alfred HOFSTATTER. Владелец: Angstrom Science, Inc.. Дата публикации: 2020-11-19.

Characterizing dimensions of structures via scanning probe microscopy

Номер патента: US9347897B2. Автор: Vladimir A Ukraintsev,Duncan M Rogers. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-05-24.

Optical probe microscope having a fiber optic tip that receives both a dither motion and a scanning motion, for nondestructive metrology of large sample surfaces

Номер патента: US5811796A. Автор: Jay Kenneth Trautman,Herschel Maclyn Marchman. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 1998-09-22.

Self-packing three-arm thermal scanning probe for micro-nano manufacturing

Номер патента: US20240002220A1. Автор: Huan Hu,Renwei MAO. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-01-04.

High range and resolution scanning probe and methods

Номер патента: WO2017147395A1. Автор: Charles R. SIDES. Владелец: Advanced Measurement Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-31.

System for scanning probe microscopy applications and method for obtaining said system

Номер патента: EP3623821A1. Автор: Yves Huttel,Lidia MARTÍNEZ ORELLANA. Владелец: Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC. Дата публикации: 2020-03-18.

Self-packing three-arm thermal scanning probe for micro-nano manufacturing

Номер патента: US11970392B2. Автор: Huan Hu,Renwei MAO. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-04-30.

A method for producing a substrate comprising multiple tips for scanning probe microscopy

Номер патента: EP4379397A1. Автор: Thomas Hantschel,XiuMei Xu. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2024-06-05.

System for scanning probe microscopy applications and method for obtaining said system

Номер патента: US20210318352A1. Автор: Yves Huttel,Lidia MARTÍNEZ ORELLANA. Владелец: Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC. Дата публикации: 2021-10-14.

Calibration of magnetic force for scanning hall probe microscopes

Номер патента: SG86393A1. Автор: Josef Hug Hans,Jahannes Antonius Van S Petrus. Владелец: Triple O Microscopy GmbH. Дата публикации: 2002-02-19.

Probe for the probe microscope which uses transparent substrates, the probe microscope and the method for manufacturing the probe

Номер патента: RU2321084C2. Автор: Даи КОБАЯСИ,Хидеки КАВАКАЦУ. Владелец: Джапан Сайенс Энд Текнолоджи Эйдженси. Дата публикации: 2008-03-27.

Probe microscope and measuring method using probe microscope

Номер патента: US20070285078A1. Автор: Takao Kusaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2007-12-13.

Interferometer for measuring linear displacements of scanner of probe microscope

Номер патента: RU2587686C1. Автор: Андрей Петрович Кузнецов,Константин Леонидович Губский,Татьяна Вадимовна Казиева. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ" (НИЯУ МИФИ). Дата публикации: 2016-06-20.

Alignment assembly for aligning a spring element with a laser beam in a probe microscope

Номер патента: US5423514A. Автор: Hiroyoshi Yamamoto,Shigeru Wakiyama,Masatoshi Yasutake. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1995-06-13.

Probe microscope

Номер патента: US20100199393A1. Автор: Kazuhiko Kawasaki,Satoshi Koga,Yoshimasa Suzuki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2010-08-05.

Lighting system for multi-probe microscope

Номер патента: EP4363867A1. Автор: Christopher Price,Andrew Humphris,John Patrick HOLE. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2024-05-08.

Head limiting movement range of laser spot and atomic force microscope having the same

Номер патента: US9645168B2. Автор: Sang-il Park,Sang Han Chung,Dongryul Kim,Byoung Woon Ahn. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Head Limiting Movement Range Of Laser Spot And Atomic Force Microscope Having The Same

Номер патента: US20160187373A1. Автор: Sang Han Chung,Dongryul Kim,Byoung Woon Ahn,Sang-II Park. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2016-06-30.

Measuring device for a scanning probe microscope, scanning probe microscope and method for scanning probe microscopic determination of one or more test samples with a scanning probe microscope

Номер патента: DE102018130349A1. Автор: Detlef Knebel,Torsten Jähnke,Jonas Hiller. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2019-06-06.

Measuring Device for a Scanning Probe Microscope and Method for Scanning Probe Microscopic Examination of a Measurement Sample with a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20210190818A1. Автор: Dobler Wolfgang,Nitsche Danilo,Büchau-Vender Frederik. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-24.

Scanning mechanism and scanning probe microscope

Номер патента: US09519005B2. Автор: Nobuaki Sakai. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Control device for scanning probe microscope and scanning probe microscope

Номер патента: JPWO2020021698A1. Автор: 浩新井,雄一郎池田,池田　雄一郎,秀郎中島,一馬渡辺,賢治山▲崎▼,雅人平出,敬太藤野. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Scanning Probe Microscope and Measurement Range Adjusting Method for Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20160291053A1. Автор: Shigeno Masatsugu,Shikakura Yoshiteru. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2016-10-06.

Scanning probe microscope fine-movement mechanism and scanning probe microscope using same

Номер патента: US7614288B2. Автор: Masatsugu Shigeno,Masato Iyoki. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2009-11-10.

Fine movement mechanism for scanning probe microscope and scanning probe microscope using the same

Номер патента: JP5111102B2. Автор: 誠人伊與木,雅次繁野. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-12-26.

Method and apparatus of tuning a scanning probe microscope

Номер патента: EP2776851B1. Автор: LIN Huang,Shuiqing Hu,Chanmin Su,Paul Silva,Bede Pittenger. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2024-06-19.

Scanning probe microscope

Номер патента: GB202400968D0. Автор: . Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2024-03-13.

Scanning probe microscope having support stage incorporating a kinematic flexure arrangement

Номер патента: KR101699111B1. Автор: 칼 마셜. Владелец: 브루커 나노, 인코퍼레이션.. Дата публикации: 2017-01-24.

SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH OPTICAL MICROSCOPE

Номер патента: RU2002121274A. Автор: Леонид Георгиевич Фюрст,Сергей Алексеевич Саунин,Виктор Александрович Быков,ев Алексей Владимирович Бел,Алексей Владимирович Беляев. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2004-03-20.

How to fix the probe position of the scanning probe microscope

Номер патента: JP3057228B2. Автор: 啓司伊藤,資勝潮田,洋一上原. Владелец: 東北大学長. Дата публикации: 2000-06-26.

Probe replacing method for scanning probe microscope

Номер патента: KR100841031B1. Автор: 히로시 구로다,겐 무라야마,유키오 겐보,유이치 구니토모,다케노리 히로키,요시유키 나가노,다카후미 모리모토,도루 구레누마,히로아키 야나기모토,시게루 미와,다카시 후루타니. Владелец: 히다치 겡키 파인테크 가부시키가이샤. Дата публикации: 2008-06-24.

Probe control method for scanning probe microscope

Номер патента: US20080087820A1. Автор: Hiroaki Yanagimoto,Yuichi Kunitomo,Takafumi Morimoto,Toru Kurenuma,Satoshi Sekino,Yukio Kembo. Владелец: Yukio Kembo. Дата публикации: 2008-04-17.

Probe mounting system for a scanning probe microscope

Номер патента: GB201117138D0. Автор: . Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2011-11-16.

Scanning mechanism and scanning probe microscope

Номер патента: WO2013150624A1. Автор: 酒井　信明. Владелец: オリンパス株式会社. Дата публикации: 2013-10-10.

Fixation method for position of probe of scanning probe microscope

Номер патента: JPH11281655A. Автор: Yoichi Uehara,Keiji Ito,啓司伊藤,資勝潮田,洋一上原,Shisho Shioda. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 1999-10-15.

Probe replacing method for scanning probe microscope

Номер патента: WO2005010502A1. Автор: Yukio Kenbo,Hiroshi Kuroda,Hiroaki Yanagimoto,Yoshiyuki Nagano,Takafumi Morimoto,Shigeru Miwa,Toru Kurenuma,Ken Murayama,Takenori Hiroki,Takashi Furutani,Yuuichi Kunitomo. Владелец: Hitachi Kenki Finetech Co., Ltd.. Дата публикации: 2005-02-03.

Pump probe measuring device, and scanning probe microscope apparatus using the device

Номер патента: EP2090880A1. Автор: Osamu Takeuchi,Hidemi Shigekawa. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2009-08-19.

Scanning probe microscope and scanning method using the same

Номер патента: US20190293681A1. Автор: Masatsugu Shigeno,Kazutoshi Watanabe,Hiroyoshi Yamamoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Semi-auto scanning probe microscopy scanning

Номер патента: US09586817B2. Автор: Huiwen Liu,Peter Gunderson. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2017-03-07.

Method And Apparatus Of Tuning A Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20130125269A1. Автор: LIN Huang,Shuiqing Hu,Chanmin Su,Paul Silva,Bede Pittenger. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2013-05-16.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20200003800A1. Автор: OHTA Masahiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2020-01-02.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20210055326A1. Автор: Arai Hiroshi,HIRADE Masato. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

APPARATUS AND METHOD FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20220146548A1. Автор: Baur Christof,Matejka Ulrich. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-12.

Method and Apparatus of Tuning a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20160109477A1. Автор: Su Chanmin,Silva Paul,Huang Lin,Pittenger Bede,Hu Shuiqing. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-21.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20180106832A1. Автор: Kanji Kobayashi,Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-04-19.

METHOD AND APPARATUS FOR EXAMINING A MEASURING TIP OF A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20200141972A1. Автор: Bauer Markus,Baur Christof,Kornilov Kinga. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-07.

Method and apparatus for adaptive tracking using a scanning probe microscope

Номер патента: US20140283227A1. Автор: Johannes Kindt,Judith Mosley. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2014-09-18.

METHOD AND APPARATUS OF TUNING A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20150204902A1. Автор: Su Chanmin,Silva Paul,Huang Lin,Pittenger Bede,Hu Shuiqing. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

Multiple integrated tips scanning probe microscope

Номер патента: US20200191827A1. Автор: Kwame Amponsah. Владелец: XALLENT Inc. Дата публикации: 2020-06-18.

Multiple Integrated Tips Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20160252545A1. Автор: Amponsah Kwame. Владелец: Xallent, LLC. Дата публикации: 2016-09-01.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SETTING METHOD THEREOF

Номер патента: US20210293849A1. Автор: Higa Kunihito,YAMAMOTO Hiroyoshi,Shigeno Masatsugu,Shikakura Yoshiteru. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-23.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE IMAGE CORRECTION METHOD

Номер патента: US20190277882A1. Автор: HIRADE Masato. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-12.

METHOD AND SYSTEM FOR DIAGNOSING MALIGNANT MELANOMA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20190361046A1. Автор: Huang Yan,Lee Wonseok,KIM Youngmin,JO Seong Jin,Kim Byung Jun,YOON Dae Sung,Choi Tae Hyun,KIM Jungah,Choi Eunjung,Shim Jung Hee,Lee Gyudo,HUR Woojune,JEON Byoung Jun,WUFUER Maierdanjiang,PARK Gee Ho. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-28.

Data processing device for scanning probe microscope

Номер патента: US20190383855A1. Автор: Kenji Yamasaki,Akinori KOGURE. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-19.

Method and apparatus for inspecting the measuring tip of a scanning probe microscope

Номер патента: KR102327590B1. Автор: 킨가 코르닐로프,크리스토프 바우르,마르쿠스 바우에르. Владелец: 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하. Дата публикации: 2021-11-17.

Scanning probe microscope and measuring method using the same

Номер патента: JP4441523B2. Автор: ▲ひゅん▼ 承申,泳杜金,容 ▲そく▼ 金,▲尚▼ 一朴. Владелец: ピーエスアイエー株式会社. Дата публикации: 2010-03-31.

Process for producing a magnetic force image and scanning probe microscope

Номер патента: DE69828758T2. Автор: Shinichi Hidaka Kitamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2005-07-07.

Scanning probe microscope and rotation table module

Номер патента: KR102091965B1. Автор: 김현태,최수봉. Владелец: 인천대학교 산학협력단. Дата публикации: 2020-03-20.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP2952327B2. Автор: 明井上,昭彦本間,毅梅基. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1999-09-27.

Scanning probe microscope provided with a programmable logic

Номер патента: EP1952120B1. Автор: Peter Spizig,Gerhard Volswinkler,Joachim Koenen. Владелец: Witec Wissenschaftliche Instrumente Und Technologie Gmbh. Дата публикации: 2018-07-11.

Method and device for controlling a scanning probe microscope

Номер патента: WO2014090971A1. Автор: Roderick Lim,Marija PLODINEC,Marko Loparic,Pascal OEHLER,Leon CAMENZIND. Владелец: Universitat Basel. Дата публикации: 2014-06-19.

Data processing device for scanning probe microscope

Номер патента: JPWO2017221423A1. Автор: 賢治山崎,亮雅小暮. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-10-25.

Multi-integrated tip scanning probe microscope

Номер патента: CN111413519A. Автор: 夸梅·安蓬萨. Владелец: XALLENT Inc. Дата публикации: 2020-07-14.

Scanning probe microscope control system

Номер патента: US7435955B2. Автор: Paul E. West. Владелец: West Paul E. Дата публикации: 2008-10-14.

Method and device for controlling a scanning probe microscope

Номер патента: US9500670B2. Автор: Roderick Lim,Marija PLODINEC,Marko Loparic,Pascal OEHLER,Leon CAMENZIND. Владелец: UNIVERSITAET BASEL. Дата публикации: 2016-11-22.

Scanning probe microscope

Номер патента: WO2018155563A1. Автор: 大田　昌弘. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2018-08-30.

Model-based fusion of scanning probe microscopic images for detection and identification of molecular structures

Номер патента: AU2003301375A1. Автор: Andrew Berlin,Mineo Yamakawa,Selena Chan,Narayan Sundararajan,Eric Hannah,Horst Haussecker. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-05-04.

Method for operating a measurement system containing a scanning probe microscope, and measurement system

Номер патента: CN101395676A. Автор: 托尔斯滕·扬克,米夏埃尔·哈格蒂. Владелец: Jpk Instruments Ag. Дата публикации: 2009-03-25.

Scanning probe microscope and sample observing method using this and semiconductor device production method

Номер патента: WO2004074816A1. Автор: Masahiro Watanabe,Takeshi Arai,Shuichi Baba,Toshihiko Nakata. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2004-09-02.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP4873081B2. Автор: 武史伊藤. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2012-02-08.

Scanning probe microscope system

Номер патента: WO2006103937A1. Автор: Masakazu Aono,Akira Saito,Yuji Kuwahara,Jyunpei Maruyama,Ken Manabe. Владелец: RIKEN. Дата публикации: 2006-10-05.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP2966189B2. Автор: 邦裕酒井,勝則畑中,悦朗貴志,雅彦宮本,清瀧本,一佐哲河出,秀行河岸,泰文佐藤. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1999-10-25.

Method of producing magnetic force image and scanning probe microscope

Номер патента: EP0924529A1. Автор: Shinichi Kitamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1999-06-23.

Scanning probe microscope and its optical-displacement detecting device

Номер патента: JPH10206148A. Автор: Takeshi Murayama,Hiroshi Kuroda,健村山,浩史黒田,Yoshiaki Shimomura,義昭下村. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 1998-08-07.

Large stage system for scanning probe microscopes and other instruments

Номер патента: WO1993025928A1. Автор: Michael D. Kirk,Sang-il Park,Ian R. Smith,Ronald H. Arima. Владелец: Park Scientific Instruments Corporation. Дата публикации: 1993-12-23.

Iterative feedback tuning in a scanning probe microscope

Номер патента: EP2215637A1. Автор: Krister Svensson,Paul Bengtsson. Владелец: NANOFACTORY INSTRUMENTS AB. Дата публикации: 2010-08-11.

Scanning probe microscope, and specimen used in same

Номер патента: WO2023021867A1. Автор: 正浩渡辺,丈師廣瀬,開鋒張. Владелец: 株式会社日立ハイテク. Дата публикации: 2023-02-23.

Vibration distortion removal for scanning probe microscopes

Номер патента: US6178813B1. Автор: Donald E. Wortman,John D. Bruno,John L. Bradshaw,Romel D. Gomez. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 2001-01-30.

Scanning probe microscope and sample measurement method using same

Номер патента: WO2015133014A1. Автор: 中田　俊彦,馬塲　修一. Владелец: 株式会社日立製作所. Дата публикации: 2015-09-11.

Scanning probe microscope, information processing method, and program

Номер патента: WO2023053527A1. Автор: 智陽中野,浩新井,秀郎中島,志穂森口. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2023-04-06.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3325258B2. Автор: 純男保坂,肇小柳. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-09-17.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20070290130A1. Автор: Yoshiteru Shikakura,Kazutoshi Wantanabe. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-12-20.

Environmental scanning probe microscope

Номер патента: US20040083799A1. Автор: Stephen Markakis,Peter Lippire. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2004-05-06.

A method for detecting near-field optical response for a scanning probe microscope

Номер патента: RU2017128877A. Автор: Евгений Владимирович Кузнецов,Сергей Владимирович Тимофеев,Андрей Викторович Быков,Вячеслав Викторович Поляков,Владимир Валерьевич Котов,Артем Викторович Шелаев,Людмила Петровна Прилепская,Дмитрий Всеволодович Казанцев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ". Дата публикации: 2019-02-20.

Elementary analysis method by scanning probe microscope and ultra-short pulse high-voltage application method used for said method

Номер патента: WO1996020406A1. Автор: Yuzo Mori,Masao Sakamoto. Владелец: Research Development Corporation Of Japan. Дата публикации: 1996-07-04.

Method for operating a measurement system containing a scanning probe microscope and measurement system

Номер патента: KR101344415B1. Автор: 토르스텐 얀케,미하엘 하게르티. Владелец: 제이피케이 인스트루먼츠 아게. Дата публикации: 2014-01-28.

Method for operating a measurement system containing a scanning probe microscope, and measurement system

Номер патента: WO2007076828A1. Автор: Torsten Jähnke,Michael Haggerty. Владелец: Jpk Instruments Ag. Дата публикации: 2007-07-12.

Model-based fusion of scanning probe microscopic images for detection and identification of molecular structures

Номер патента: US7606403B2. Автор: Narayanan Sundararajan,Mineo Yamakawa,Andrew A. Berlin,Selena Chan,Eric Hannah,Horst Haussecker. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2009-10-20.

Method and device for controlling a scanning probe microscope

Номер патента: EP2932277B1. Автор: Roderick Lim,Marija PLODINEC,Marko Loparic,Pascal OEHLER,Leon CAMENZIND. Владелец: UNIVERSITAET BASEL. Дата публикации: 2024-04-03.

Method of producing a biological sample for analysis by scanning probe nanotomography

Номер патента: RU2769836C2. Автор: Антон Евгеньевич Ефимов,Игорь Иванович Агапов,Ольга Игоревна Агапова,Мария Михайловна Боброва,Любовь Александровна Сафонова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный медицинский исследовательский центр трансплантологии и искусственных органов имени академика В.И. Шумакова" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБУ "НМИЦ ТИО им. ак. В.И. Шумакова" Минздрава России). Дата публикации: 2022-04-06.

Method and apparatus for calibrating a scanning probe

Номер патента: WO2017149274A1. Автор: John Charles Ould. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2017-09-08.

Measuring scanning probe for scanning a surface to be measured

Номер патента: WO2007117138A1. Автор: Edwin Johannes Cornelis Bos,Gerardus Johannes Burger. Владелец: Technische Universiteit Eindhoven. Дата публикации: 2007-10-18.

A scanning probe

Номер патента: EP4399477A1. Автор: Stephen Edward Lummes,Jamie John Buckingham,Mark James Andrew HOLMES. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-07-17.

Optical scanning probe

Номер патента: US09696146B2. Автор: Frank Thys,Patrick BLANCKAERT,Raf NYSEN,Geert VANDENHOUDT. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2017-07-04.

Hand-held scanning probe and optical scanning system

Номер патента: US20240027331A1. Автор: feng-yu Chang,Meng-Tsan Tsai,Bo-Huei Huang. Владелец: Opxion Technology Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring scanning probe for scanning a surface to be measured

Номер патента: EP2018512A1. Автор: Edwin Johannes Cornelis Bos,Gerardus Johannes Burger. Владелец: Eindhoven Technical University. Дата публикации: 2009-01-28.

Microscope having three-dimensional imaging capability and three-dimensional microscopic imaging method

Номер патента: US20190250385A1. Автор: Qi Xin,HAO WANG,Chaoyu YANG,Qingyuan Zhu,Guoqiang Bi,Pak-Ming Lau,Lufeng Ding,Qianru Yang,Dasheng Bi. Владелец: University of Science and Technology of China USTC. Дата публикации: 2019-08-15.

Scanning probe microscope for optical spectrometry

Номер патента: RU2616854C2. Автор: Евгений Владимирович Кузнецов,Сергей Владимирович Тимофеев,Андрей Викторович Быков,Сергей Анатольевич Фастов,Артем Викторович Шелаев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ". Дата публикации: 2017-04-18.

Method for imaging a feature using a scanning probe microscope

Номер патента: US09869696B2. Автор: Andrew Norman Erickson,Stephen Bradley Ippolito,Sean Zumwalt. Владелец: FEI EFA Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

A method for determining the shape of a sample tip for atom probe tomography using a scanning probe microscope and scanning probe microscope for performing said method

Номер патента: EP3537161B1. Автор: Wilfried Vandervorst,Kristof Paredis,Claudia Fleischmann. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2022-10-19.

Measuring Device for a Scanning Probe Microscope, Scanning Probe Microscope and Method for Scanning Probe Microscopic Determination of One or More Test Samples with a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20190170789A1. Автор: Knebel Detlef,HILLER Jonas,Jähnke Torsten. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-06.

Thermally stable, drift resistant probe for a scanning probe microscope and method of manufacture

Номер патента: EP3662297A1. Автор: Deepkishore MUKHOPADHYAY,Jeffrey K. Wong. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2020-06-10.

Scanning Probe Microscope and Position Adjustment Method for Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20210102971A1. Автор: Keita FUJINO. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-04-08.

Scanning probe microscope having cantilever attached to driving member

Номер патента: US6018991A. Автор: Katsushi Nakano. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2000-02-01.

Methods of fabricating structures for characterizing tip shape of scanning probe microscope probes and structures fabricated thereby

Номер патента: US7210330B2. Автор: Ami Chand,Nihat Okulan. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2007-05-01.

Measuring Device for a Scanning Probe Microscope and Method for Scanning Probe Microscopy of a Measurement Sample by Means of a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20200400715A1. Автор: Knebel Detlef,Jankowski Tilo,Büchau Frederik. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

Scanning mechanism and scanning probe microscope

Номер патента: US09625491B2. Автор: Nobuaki Sakai,Yoshitsugu Uekusa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR INCREASING A SCAN SPEED OF A SCANNING PROBE MICROSCOPE IN THE STEP-IN SCAN MODE

Номер патента: US20190250185A1. Автор: Baur Christof. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-15.

Method for increasing scanning speed of scanning probe microscope in scanning probe microscope and step-in scanning mode

Номер патента: KR20190053266A. Автор: 크리스토프 바우르. Владелец: 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하. Дата публикации: 2019-05-17.

Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20090158828A1. Автор: Masahiro Watanabe,Takafumi Morimoto,Shuichi Baba,Toshihiko Nakata,Toru Kurenuma,Satoshi Sekino,Yukio Kembo,Manabu Edamura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-06-25.

Scanning probe microscope

Номер патента: US8342008B2. Автор: Masahiro Watanabe,Takafumi Morimoto,Shuichi Baba,Toshihiko Nakata,Toru Kurenuma,Satoshi Sekino,Yukio Kembo,Manabu Edamura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-01-01.

Composite microscope combining scanning probe microscope and optical microscope; control device, control method, and control program therefor; and recording medium

Номер патента: EP2843422A4. Автор: Shuichi Ito,Akira Yagi,Nobuaki Sakai,Yoshitsugu Uekusa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-05-13.

Probe for Scanning Probe Microscope and Binary State Scanning Probe Microscope Including the Same

Номер патента: US20220308086A1. Автор: Shim Wooyoung,Kim Gwangmook. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

Near Field Scanning Probe Microscope, Probe for Scanning Probe Microscope, and Sample Observation Method

Номер патента: US20180372776A1. Автор: Zhang Kaifeng,Taniguchi Shinichi. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

Near Field Scanning Probe Microscope, Probe for Scanning Probe Microscope, and Sample Observation Method

Номер патента: US20190346480A1. Автор: Zhang Kaifeng,Taniguchi Shinichi. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

Fixture for sensor unit of scanning measurement probe, sensor unit of scanning measurement probe, scanning probe microscope and method to install and remove sensor unit of scanning measurement probe

Номер патента: RU2572287C2. Автор: Йорг РИХЕН. Владелец: Спекс Сёрфейс Нано Анализис Гмбх. Дата публикации: 2016-01-10.

Scanning probe microscope head design

Номер патента: EP3172579A1. Автор: Andrew Norman Erickson,Kyle Alfred HOFSTATTER,Stephen Bradley Ippolito. Владелец: Angstrom Sciences Inc. Дата публикации: 2017-05-31.

Scanning probe microscope head design

Номер патента: US09797922B2. Автор: Andrew Norman Erickson,Stephen Bradley Ippolito. Владелец: Angstrom Sciences Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD IN SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20210263068A1. Автор: YAMASAKI Kenji. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

Processing apparatus using a scanning probe microscope, and recording and reproducing apparatus using a scanning probe microscope

Номер патента: KR100526217B1. Автор: 에이스케 도미타. Владелец: 에스아이아이 나노 테크놀로지 가부시키가이샤. Дата публикации: 2006-01-12.

Processing apparatus using a scanning probe microscope, and recording and reproducing apparatus using a scanning probe microscope

Номер патента: KR19980081248A. Автор: 도미타에이스케. Владелец: 세이코인스트루먼트가부시키가이샤. Дата публикации: 1998-11-25.

Cantilever for scanning probe microscope and scanning probe microscope equipped with it

Номер патента: US8601608B2. Автор: Koji Suzuki,Kenichi Maruyama,Masato Iyoki. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-12-03.

Fine movement mechanism for scanning probe microscope and scanning probe microscope

Номер патента: JP4546108B2. Автор: 和俊渡辺,誠人伊與木,昭彦日高. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2010-09-15.

Scanning probe microscope and driving control device for scanning probe microscope

Номер патента: WO2021044934A1. Автор: 隼人山下,阿部　真之,直紀折口. Владелец: 国立大学法人大阪大学. Дата публикации: 2021-03-11.

Scanning probe microscope and specimen observation method and semiconductor device manufacturing method using said scanning probe microscope

Номер патента: US20060219900A1. Автор: Masahiro Watanabe,Toshihiko Nakata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-10-05.

Scanning probe microscope and optical axis adjustment method in scanning probe microscope

Номер патента: US11346856B2. Автор: Kenji Yamasaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-05-31.

Thermally Stable, Drift Resistant Probe for a Scanning Probe Microscope and Method of Manufacture

Номер патента: US20200241038A1. Автор: Deepkishore MUKHOPADHYAY,Jeffrey K. Wong. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2020-07-30.

Scanning probe microscope and optical axis adjustment method in scanning probe microscope

Номер патента: US20210263068A1. Автор: Kenji Yamasaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-08-26.

Cantilever, scanning probe microscope, and measurement method using scanning probe microscope

Номер патента: EP4006557A4. Автор: Tomonori Saeki,Takenori Hirose,Kaifeng ZHANG. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-08-23.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20170059609A1. Автор: WATANABE Masafumi,Hasegawa Shoichi,Ueno Toshihiro,ITO Susumu. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-02.

METHOD OF ANALYZING SURFACE OF SAMPLE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE THEREFOR

Номер патента: US20160169938A1. Автор: Park Sungjun,Kwon Youngnam,Paek Woonjung,Kim Seongheon,Ahn Jaemin,Yun Dongjin. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-16.

Scanning probe microscope, molecular processing method using the scanning probe microscope and DNA base arrangement detecting method

Номер патента: EP0511662B1. Автор: Tohru Avant-Heights Suite 301 Nakagawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1996-07-10.

Scanning probe microscope, molecular processing method using the scanning probe microscope and DNA base arrangement detecting method

Номер патента: EP0511662A1. Автор: Tohru Avant-Heights Suite 301 Nakagawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1992-11-04.

PROBE FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR ITS MANUFACTURE

Номер патента: RU2006101285A. Автор: Хидеки КАВАКАЦУ,Дай КОБАЯСИ,Дай КОБАЯСИ (JP),Хидеки КАВАКАЦУ (JP). Владелец: Джапан Сайенс Энд Текнолоджи Эйдженси (Jp). Дата публикации: 2006-06-27.

Cantilever chip for scanning probe microscope

Номер патента: US5367165A. Автор: Akitoshi Toda,Katsuhiro Matsuyama. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1994-11-22.

A fixing mechanism which is actuatable without a tool and which fixes a measuring probe in a detachable manner, for a scanning probe microscope

Номер патента: GB201614129D0. Автор: . Владелец: ANTON PAAR GMBH. Дата публикации: 2016-10-05.

Method and apparatus of operating a scanning probe microscope

Номер патента: MY177892A. Автор: Yan Hu,Jian Shi,Ji Ma,Shuiqing Hu,Chanmin Su. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2020-09-24.

Front-wing cantilever for the conductive probe of electrical scanning probe microscopes

Номер патента: TW200634310A. Автор: Mao-Nan Zhang. Владелец: Nat Applied Res Laboratories. Дата публикации: 2006-10-01.

Method and apparatus of operating a scanning probe microscope

Номер патента: US09588136B2. Автор: Yan Hu,Shuiqing Hu,Chanmin Su. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2017-03-07.

Measurement probe apparatus for a probe microscope, measurement cell and scanning probe microscope

Номер патента: WO2009012765A3. Автор: Torsten Mueller,Torsten Jaehnke,Kathryn Anne Poole,Detlef Knebel. Владелец: Jpk Instruments Ag. Дата публикации: 2009-05-07.

Method of fabricating probe of scanning probe microscope having field effect transistor channel structure utilizing self-aligned fabrication

Номер патента: KR100468849B1. Автор: 박홍식,신현정,정주환. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2005-01-29.

Probe of scanning probe microscope having a field effect transistor channel and Fabrication method thereof

Номер патента: KR100635546B1. Автор: 이상훈,임근배,문원규. Владелец: 학교법인 포항공과대학교. Дата публикации: 2006-10-17.

Scanning probe microscopy, method of producing the probe, and molecular processing method using the scanning probe microscope

Номер патента: US6730905B2. Автор: Tetsuo Yukimasa,Tohru Nakagawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-04.

Scanning probe-based lithography method

Номер патента: US8387160B2. Автор: Robert D. Miller,Craig Jon Hawker,Michel Despont,Urs T. Duerig,James L. Hedrick,Bernd W. Gotsmann,Jane E. Frommer. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-02-26.

Scanning probe-based lithography method

Номер патента: US20110020533A1. Автор: Robert D. Miller,Craig Jon Hawker,Michel Despont,Urs T. Duerig,James L. Hedrick,Bernd W. Gotsmann,Jane E. Frommer. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Scanning probe microscope and scanning probe microscopy

Номер патента: US20160025770A1. Автор: Nobuaki Sakai. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-01-28.

Scanning probe microscope and probe scanning method thereof

Номер патента: CN113155080A. Автор: 繁野雅次,渡边和俊,山本浩令. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-07-23.

Probe, scanning probe microscope using the probe, and recording / reproducing apparatus using the probe

Номер патента: JP3192887B2. Автор: 康弘島田,勉池田,岳彦川崎. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2001-07-30.

Probe scanning mechanism and scanning probe microscope using the same

Номер патента: JP3577141B2. Автор: 敏夫安藤,美明林. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2004-10-13.

Scanning probe microscope assembly and method for making confocal, spectrophotometric, near-field, and scanning probe measurements and associated images

Номер патента: US6515277B1. Автор: Vic B. Kley. Владелец: General Nanotechnology LLC. Дата публикации: 2003-02-04.

Scanning probe microscope assembly and method for making confocal, spectrophotometric, near-field, and scanning probe measurements and associated images

Номер патента: US6369379B1. Автор: Vic B. Kley. Владелец: General Nanotechnology LLC. Дата публикации: 2002-04-09.

Automatic tip approach method and apparatus for scanning probe microscope

Номер патента: CA2098040C. Автор: Yves Martin,Martin Allen Klos,Kenneth Gilbert Roessler,Robert Marshall Stowell,James Michael Hammond. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2000-02-15.

COMPOUND MICROSCOPE WITH SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OPTICAL MICROSCOPE COMBINED, CONTROL DEVICE OF THE SAME, CONTROL METHOD AND CONTROL PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20150047080A1. Автор: SAKAI Nobuaki,UEKUSA Yoshitsugu,Ito Shuichi,YAGI Akira. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2015-02-12.

Microscopic system equipt with an electron microscope and a scanning probe microscope

Номер патента: US6242737B1. Автор: Hideaki Ohnishi,Yukihito Kondo,Kunio Takayanagi. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2001-06-05.

Scanning probe microscope, method for measuring band structure of substance by using the microscope, and microscopic spectroscopy

Номер патента: WO2002023159A1. Автор: Koji Maeda,Akira Hida. Владелец: Center For Advanced Science And Technology Incubation,Ltd.. Дата публикации: 2002-03-21.

Scanning probe microscope, method for measuring band structure of substance by using the microscope, and microscopic spectroscopy

Номер патента: AU2001286215A1. Автор: Koji Maeda,Akira Hida. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-03-26.

MULTIFUNCTIONAL SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2011127707A. Автор: Андрей Быков,Владимир Котов,Виктор Быков. Владелец: НТ-МДТ Сервис и Ложистик Лтд.. Дата публикации: 2013-03-20.

ADAPTIVE SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2013137810A. Автор: Эндрю ХАМФРИС. Владелец: Инфинитесима Лимитед. Дата публикации: 2015-03-10.

Automatic landing method and apparatus for scanning probe microscope using the same

Номер патента: EP2153198A4. Автор: Cheolsu Han,Haiwon Lee,Chung-Choo Chung. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2011-11-09.

Automatic landing method and apparatus for scanning probe microscope using the same

Номер патента: EP2153198B1. Автор: Cheolsu Han,Haiwon Lee,Chung-Choo Chung. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2017-02-08.

CONDUCTIVE PROBE, ELECTRICAL PROPERTY EVALUATING SYSTEM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, CONDUCTIVE PROBE MANUFACTURING METHOD, AND ELECTRICAL PROPERTY MEASURING METHOD

Номер патента: US20180074093A1. Автор: Harada Kazunori. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2018-03-15.

PROBE SYSTEM AND METHOD FOR RECEIVING A PROBE OF A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20180095108A1. Автор: Baur Christof,Weber Matthias,Baralia Gabriel,Ruhm Sylvio,Pohl Christoph,Harnath Björn. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

METHOD OF PREPARING SAMPLE SURFACE, METHOD OF ANALYZING SAMPLE SURFACE, FIELD-ENHANCED OXIDATION PROBE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE INCLUDING FIELD-ENHANCED OXIDATION PROBE

Номер патента: US20190128824A1. Автор: MORI Keiichiro,HASHIMOTO Kaori,HIDE Chie. Владелец: SUMCO CORPORATION. Дата публикации: 2019-05-02.

PROBE AND MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20210278437A1. Автор: Saitoh Masumi,KOIKE Mitsuo,LEE See KEI. Владелец: Kioxia Corporation. Дата публикации: 2021-09-09.

Optical probe, optical probe manufacturing method, and scanning probe microscope

Номер патента: JP3706868B2. Автор: 宏村松,隆平賀,典孝山本,正道藤平,哲郎守谷,章裕三戸. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2005-10-19.

Method of preparing sample surface, method of analyzing sample surface, field-enhanced oxidation probe, and scanning probe microscope including field-enhanced oxidation probe

Номер патента: US10895538B2. Автор: Keiichiro Mori,Kaori HASHIMOTO,Chie HIDE. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2021-01-19.

Scanning probe microscope for imaging sample surface; has feedback loop to generate drive signal for controlling probe and imaging device that uses probe signal, drive signal and relation between two signals

Номер патента: DE19956725A1. Автор: Seiji Yumoto,Norio Ookubo. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-06-15.

Probe tip used in a scanning probe microscope and method of manufacturing the probe

Номер патента: JP4688892B2. Автор: 永根朴,僖玉張. Владелец: 株式会社エムツウーエヌ. Дата публикации: 2011-05-25.

Probe, probe manufacturing method, and scanning probe microscope

Номер патента: JP2903211B2. Автор: 徳男千葉,宏村松,典孝山本,邦雄中島. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1999-06-07.

Method of manufacturing probe tip and probe for use in scanning probe microscope

Номер патента: KR100766407B1. Автор: 박영근,장희옥. Владелец: (주)엠투엔. Дата публикации: 2007-10-12.

Probes for use in scanning probe microscopes and methods of fabricating such probes

Номер патента: WO2006002153A1. Автор: Ami Chand,Nihat Okulan. Владелец: VEECO INSTRUMENTS, INC.. Дата публикации: 2006-01-05.

Scanning probe microscope and surface image correction method

Номер патента: US10564183B2. Автор: Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-02-18.

Processing method using probe of scanning probe microscope

Номер патента: US20050263700A1. Автор: Shigeru Wakiyama,Masatoshi Yasutake,Osamu Takaoka,Maoya Watanabe. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2005-12-01.

Nano tweezers and scanning probe microscope having the same

Номер патента: WO2006054771A1. Автор: Takashi Konno,Gen Hashiguchi,Maho Hosogi. Владелец: AOI ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2006-05-26.

Nano tweezers and scanning probe microscope having the same

Номер патента: JPWO2006054771A1. Автор: 原橋口,隆今野,橋口　原,真保細木. Владелец: Aoi Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2008-06-05.

Nano tweezers and scanning probe microscope having the same

Номер патента: CN101061059B. Автор: 桥口原,细木真保,今野隆. Владелец: Aoi Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2012-08-29.

Nano tweezers and scanning probe microscope having the same

Номер патента: CN101061059A. Автор: 桥口原,细木真保,今野隆. Владелец: Aoi Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2007-10-24.

Scanning probe microscope and surface image correction method

Номер патента: US20190277882A1. Автор: Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Closed loop controller and method for fast scanning probe microscopy

Номер патента: US09523707B2. Автор: Jian Shi,Ji Ma,Chanmin Su,Craig Prater. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2016-12-20.

Iridium Tip, Gas Field Ion Source, Focused Ion Beam Apparatus, Electron Source, Electron Microscope, Electron Beam Applied Analysis Apparatus, Ion-Electron Multi-Beam Apparatus, Scanning Probe Microscope, and Mask Repair Apparatus

Номер патента: US20150047079A1. Автор: SUGIYAMA Yasuhiko,OBA Hiroshi,AITA Kazuo,ARAMAKI Fumio,KOZAKAI Tomokazu,MATSUDA Osamu,YASAKA Anto. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2015-02-12.

Iridium Tip, Gas Field Ion Source, Focused Ion Beam Apparatus, Electron Source, Electron Microscope, Electron Beam Applied Analysis Apparatus, Ion-Electron Multi-Beam Apparatus, Scanning Probe Microscope, and Mask Repair Apparatus

Номер патента: US20170148603A1. Автор: SUGIYAMA Yasuhiko,OBA Hiroshi,AITA Kazuo,ARAMAKI Fumio,KOZAKAI Tomokazu,MATSUDA Osamu,YASAKA Anto. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-25.

Sample positioning device, particularly for scanning probe microscope, particularly atomic force microscope, comprises sampling table and two sample table drives, where one sample table drive has plunger coil arrangement

Номер патента: DE102008020982A1. Автор: Helmut Wolff. Владелец: Bundesministerium fuer Wirtschaft und Technologie. Дата публикации: 2009-10-29.

Probe head scanning probe microscope including the same

Номер патента: US20130111635A1. Автор: In-Su Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-05-02.

PROBE SHAPE EVALUATION METHOD FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20130180019A1. Автор: WATANABE Masafumi,Momota Hiroumi. Владелец: SII NANOTECHNOLOGY INC.. Дата публикации: 2013-07-11.

SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20160011230A1. Автор: SAKAI Nobuaki. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2016-01-14.

SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20150020243A1. Автор: SAKAI Nobuaki. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2015-01-15.

Fixing Mechanism Actuatable Without a Tool and Which Fixes a Measuring Probe in a Detachable Manner for a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20170067935A1. Автор: Gomez-Casado Alberto,Rath Norbert. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-09.

Imaging a Gap Between Sample and Probe of a Scanning Probe Microscope in a Substantially Horizontal Side View

Номер патента: US20180143221A1. Автор: Koller Daniel,Gomez-Casado Alberto,BRANDNER Markus. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-24.

SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20150153385A1. Автор: SAKAI Nobuaki,UEKUSA Yoshitsugu. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2015-06-04.

Probe device for scanning probe microscopes and method of manufacture thereof

Номер патента: US20170184631A1. Автор: Jeremy Goeckeritz,Ami Chand. Владелец: Applied Nanostructures Inc. Дата публикации: 2017-06-29.

Dual-Probe Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20140283228A1. Автор: Su Chanmin. Владелец: Bruker Nano, Inc.. Дата публикации: 2014-09-18.

Thermally Stable, Drift Resistant Probe for a Scanning Probe Microscope and Method of Manufacture

Номер патента: US20200241038A1. Автор: Mukhopadhyay Deepkishore,Wong Jeffrey K.. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

Dual-Probe Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20160274143A1. Автор: Su Chanmin. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-22.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE CONTACT DETECTION METHOD

Номер патента: US20170285067A1. Автор: WATANABE Kazutoshi,WATANABE Masafumi,YAMAMOTO Hiroyoshi,Chinone Kazuo,Shigeno Masatsugu. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2017-10-05.

Scanning Probe Microscope and Scanning Method Thereof

Номер патента: US20180284151A1. Автор: WATANABE Kazutoshi,YAMAMOTO Hiroyoshi,Shigeno Masatsugu. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2018-10-04.

Method for fabricating a scanning probe microscope probe

Номер патента: US6656369B2. Автор: Mahadevaiyer Krishnan,James G. Ryan,Mark E. Lagus,Kevin S. Petrarca,Richard P. Volant. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-12-02.

Device for Assembling Nano Material on Probe Tips and Scanning Probe Microscope Employed Therefor

Номер патента: KR100597067B1. Автор: 한창수,이은숙,류성훈. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2006-07-07.

Method of fabricating probe for scanning probe microscope

Номер патента: US7119332B2. Автор: Songcheol Hong,Euisik Yoon,Il-Joo Cho,Eun-Chul Park. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2006-10-10.

Micro cantilever probe for scanning probe microscope and manufacturing method thereof

Номер патента: CN111413520A. Автор: 苏全民,王卫杰. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2020-07-14.

Swing type multi-mode combined probe testing device applied to scanning probe microscope

Номер патента: CN113109593B. Автор: 江亮,解国新,钱林茂,徐文镔,和枫. Владелец: Southwest Jiaotong University. Дата публикации: 2021-11-02.

Scanning probe microscope and scanning method thereof

Номер патента: EP3382404A2. Автор: Masatsugu Shigeno,Kazutoshi Watanabe,Hiroyoshi Yamamoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-10-03.

Probe assembly for a scanning probe microscope

Номер патента: US20100186132A1. Автор: Andrew Humphris,David Catto. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2010-07-22.

Method for fabricating a scanning probe microscope probe

Номер патента: US20030132191A1. Автор: Mahadevaiyer Krishnan,JAMES Ryan,Richard Volant,Kevin Petrarca,Mark Lagus. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-07-17.

Probe for scanning probe microscope

Номер патента: JP4688400B2. Автор: 正敏安武,達哉足立,孝皆藤. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2011-05-25.

Probe assembly for a scanning probe microscope

Номер патента: WO2011121348A1. Автор: Andrew Humphris. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2011-10-06.

Method of fabricating a probe of a scanning probe microscope (SPM) having a field-effect transistor channel

Номер патента: US20030107058A1. Автор: Young Kuk,Geunbae Lim,Hyunjung Shin,Yukeun Pak,Jong Jeon. Владелец: Jeon Jong Up. Дата публикации: 2003-06-12.

Vibration-type cantilever holder and scanning probe microscope

Номер патента: US7605368B2. Автор: Masatsugu Shigeno,Masato Iyoki. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2009-10-20.

Scanning probe microscope and scanning method thereof

Номер патента: EP3382404A3. Автор: Masatsugu Shigeno,Kazutoshi Watanabe,Hiroyoshi Yamamoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-11-14.

Scanning probe microscope and method to detect proximity of its probes

Номер патента: RU2526295C2. Автор: Кацухито НИСИМУРА,Йоити КАВАКАМИ,Мицуру ФУНАТО,Акио КАНЕТА,Цунеаки ХАСИМОТО. Владелец: Киото Юниверсити. Дата публикации: 2014-08-20.

Scanning probe microscope using a surface drive actuator to position the scanning tip

Номер патента: US7372025B2. Автор: Storrs T. Hoen,John M. Neil. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2008-05-13.

Scanning probe microscope with automatic probe replacement function

Номер патента: US20080149829A1. Автор: Yong Seok Kim,Sang-il Park,Hyeong Chan Jo,Hong Jae Lim,Seung Jun Shin,Joon Hui Kim. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2008-06-26.

Probe array for a scanning probe microscope

Номер патента: DE59708187D1. Автор: Dr Voelcker. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2002-10-17.

Scanning probe microscope and scanning method

Номер патента: US7456400B2. Автор: Akira Inoue,Masatsugu Shigeno,Yoshiharu Shirakawabe,Naoya Watanabe,Amiko Nihei,Osamu Matsuzawa. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2008-11-25.

Probe for scanning probe microscope and method for manufacturing it

Номер патента: RU2320034C2. Автор: Хидеки КАВАКАЦУ,Дай КОБАЯСИ. Владелец: Джапан Сайенс Энд Текнолоджи Эйдженси. Дата публикации: 2008-03-20.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR DETECTING PROXIMITY OF ITS PROBES

Номер патента: RU2012102057A. Автор: Кацухито НИСИМУРА,Йоити КАВАКАМИ,Мицуру ФУНАТО,Акио КАНЕТА,Цунеаки ХАСИМОТО. Владелец: Киото Юниверсити. Дата публикации: 2013-07-27.

A method for driving a scanning probe microscope at elevated scan frequencies

Номер патента: EP2428804A1. Автор: Friedrich Esch,Carlo Dri,Giovanni COMELLI,Cristina Africh,Alessio Spessot. Владелец: Consiglio Nazionale delle Richerche CNR. Дата публикации: 2012-03-14.

Method for examining a test sample using a scanning probe microscope, measurement system and a measuring probe system

Номер патента: US8381311B2. Автор: Torsten Jähnke. Владелец: Jpk Instruments Ag. Дата публикации: 2013-02-19.

Sample surface preparation method, sample surface analysis method, electric field-assisted oxidation probe, and scanning probe microscope equipped with the same

Номер патента: KR102146352B1. Автор: 케이이치로 모리,카오리 하시모토,치에 히데. Владелец: 가부시키가이샤 사무코. Дата публикации: 2020-08-20.

Front-wing cantilever for the conductive probe of electrical scanning probe microscopes

Номер патента: EP1610345A1. Автор: Mao-Nan Chang. Владелец: NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES. Дата публикации: 2005-12-28.

Resonant probe driving arrangement and a scanning probe microscope including such an arrangement

Номер патента: US20030137216A1. Автор: Mervyn Miles,Andrew Humphris,Javier Tamayo De Miguel. Владелец: University of Bristol. Дата публикации: 2003-07-24.

Probe with torsion lever structure, and scanning probe microscope and record/reproducing apparatus utilizing the same

Номер патента: EP0703429A3. Автор: Yasuhiro Shimada,Tsutomu Ikeda,Takehiko Kawasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1996-10-16.

SCREEN MEASURING SENSOR UNIT MOUNTING, SCANNING MEASURING SENSOR SENSOR UNIT, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR INSTALLING AND REMOVING THE SCANNER SENSOR UNIT

Номер патента: RU2012109611A. Автор: Йорг РИХЕН. Владелец: Спекс Сёрфейс Нано Анализис Гмбх. Дата публикации: 2013-11-27.

Method and apparatus of scanning a sample using a scanning probe microscope

Номер патента: KR101324598B1. Автор: 엘. 미닌니 폴. Владелец: 비코 인스트루먼츠 인코포레이티드. Дата публикации: 2013-11-01.

Dual-probe scanning probe microscope

Номер патента: US9291639B2. Автор: Chanmin Su. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2016-03-22.

Low-temperature multi-parameter scanning probe microscope capable of automatically switching probes in situ

Номер патента: CN112379130A. Автор: 杜江峰,程光磊,王浩远,黄成园,蔡方煦. Владелец: University of Science and Technology of China USTC. Дата публикации: 2021-02-19.

Method for scanning objects by means of scanning probing microscope

Номер патента: RU2282902C2. Автор: Леонид Георгиевич Фюрст,Сергей Алексеевич Саунин,Дмитрий Юрьевич Соколов,Виктор Александрович Быков,ев Алексей Владимирович Бел,Алексей Владимирович Беляев. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2006-08-27.

Scanning probe microscope and probe contact detection method thereof

Номер патента: CN107238733B. Автор: 繁野雅次,渡边将史,渡边和俊,山本浩令,茅根一夫. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2020-07-03.

Scanning probe microscope with detector probe

Номер патента: DE4344499C2. Автор: Frank Saurenbach,Hans-Achim Fuss. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 1998-09-10.

Scanning tip and process for its production and use, particularly for a scanning probe microscope

Номер патента: US20010050342A1. Автор: Urs Staufer,Terunobu Akiyama,Lukas Howald,Loris Scandella. Владелец: Nanosurf AG. Дата публикации: 2001-12-13.

Scanning probe microscope with probe integrated in an optical system

Номер патента: US6545263B2. Автор: Torsten Antrack,Ralph Lange,Martin Voelcker. Владелец: Carl Zeiss Jena GmbH. Дата публикации: 2003-04-08.

Probe, manufacturing method therefor and scanning probe microscope

Номер патента: CA2200992A1. Автор: Norio Chiba,Hiroshi Muramatsu,Kunio Nakajima,Noritaka Yamamoto. Владелец: Noritaka Yamamoto. Дата публикации: 1997-10-09.

Thermally stable, drift resistant probe for a scanning probe microscope and method of manufacture

Номер патента: EP3662297A4. Автор: Deepkishore MUKHOPADHYAY,Jeffrey K. Wong. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2021-04-28.

Multiprobe cantilever for scanning probe microscope

Номер патента: RU2124251C1. Автор: В.А. Быков,А.Н. Гологанов. Владелец: Закрытое акционерное общество "Силикон-МДТ". Дата публикации: 1998-12-27.

Scanning probe of atomic force microscopy with nanocomposite radiating element, doped with quantum dots and magnetic nanoparticles of core-shell structure

Номер патента: RU2615708C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Николай Владимирович Вишняков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2017-04-07.

Scanning probe microscope and scanning method thereof

Номер патента: CN108663010B. Автор: 繁野雅次,渡边和俊,山本浩令. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-10-26.

Scanning tip production process for scanning probe microscope, involves exposing material such as photosensitive resist applied on carrier, through a mask of specific shape at certain angle

Номер патента: DE10027060A1. Автор: Lukas Dr Howald,Loris Dr Scandella,Urs Dr Staufer,Terunobu Dr Akiyama. Владелец: Nanosurf AG. Дата публикации: 2001-12-20.

Scanning mechanism and scanning probe microscope

Номер патента: WO2014024685A1. Автор: 酒井　信明,良嗣植草. Владелец: オリンパス株式会社. Дата публикации: 2014-02-13.

METHOD FOR SCANNING OBJECTS USING A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2004133656A. Автор: Леонид Георгиевич Фюрст,Сергей Алексеевич Саунин,Дмитрий Юрьевич Соколов,Виктор Александрович Быков,Алексей Владимирович Беляев,Виктор Александрович Быков (RU),Сергей Алексеевич Саунин (RU),Дмитрий Юрьевич Соколов (RU),Леонид Георгиевич Фюрст (RU),ев Алексей Владимирович Бел (RU). Владелец: Зао "Нт-Мдт" (Ru). Дата публикации: 2006-04-27.

Scanning stage for scanning probe microscope

Номер патента: US20070114441A1. Автор: Yoshihiro Ue. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2007-05-24.

Scanning probe having thinfilm type actuator and atomic force microscope having the scanning probe

Номер патента: KR100318771B1. Автор: 김상국,김유광. Владелец: 대우전자주식회사. Дата публикации: 2001-12-28.

Sensors for scanning probe microscopy, method for three-dimensional measurement and method for manufacturing such sensors

Номер патента: WO2011038470A4. Автор: Vladimir Stavrov. Владелец: Amg Technology Ltd.. Дата публикации: 2011-06-23.

Scanning probe-based lithography method

Номер патента: US7862858B2. Автор: Robert D. Miller,Craig Jon Hawker,Michel Despont,Urs T. Duerig,James L. Hedrick,Bernd W. Gotsmann,Jane E. Frommer. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-01-04.

Miniaturized cantilever probe for scanning probe microscopy and fabrication thereof

Номер патента: US09709597B2. Автор: Chanmin Su,Weijie Wang. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2017-07-18.

Probes, apparatuses and methods for use in scanning probe microscopy

Номер патента: WO2024057299A1. Автор: John Birkbeck,Jiewen XIAO,Shahal Ilani,Alon INBAR. Владелец: Yeda Research and Development Co. Ltd.. Дата публикации: 2024-03-21.

Scanning probe microscope with compact scanner

Номер патента: US20120278957A1. Автор: Johannes Kindt,Nghi Phan,Jeff Markakis,Carl Masser. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2012-11-01.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20130145507A1. Автор: Watanabe Masahiro,Nakata Toshihiko,Inoue Takashi,HIROOKA Motoyuki,HIDAKA Kishio. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-06.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20130205454A1. Автор: Masahiro Watanabe,Takafumi Morimoto,Shuichi Baba,Toshihiko Nakata,Toru Kurenuma,Satoshi Sekino,Yukio Kembo,Manabu Edamura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-08-08.

Scanning Probe Microscope and Surface Shape Measuring Method Using Same

Номер патента: US20130212749A1. Автор: Watanabe Masahiro,Nakata Toshihiko,Tachizaki Takehiro. Владелец: HITACHI LTD.. Дата публикации: 2013-08-15.

ADAPTIVE MODE SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20140026263A1. Автор: Humphris Andrew. Владелец: Infinitesima Limited. Дата публикации: 2014-01-23.

Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20140059724A1. Автор: Momota Hiroumi,Iyoki Masato,Nosaka Naokatsu,Kuwahara Junji. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2014-02-27.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20210011052A1. Автор: SHIGEKAWA Hidemi. Владелец: GTHERANOSTICS CO., LTD.. Дата публикации: 2021-01-14.

SCANNING PROBE MICROSCOPE HEAD DESIGN

Номер патента: US20160025771A1. Автор: Erickson Andrew Norman,Ippolito Stephen Bradley,Hofstatter Kyle Alfred. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-28.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LOCAL ELECTRICAL POTENTIAL FIELDS

Номер патента: US20180024161A1. Автор: WAGNER Christian,Tautz Frank Stefan,Temirov Ruslan,Green Matthew Felix Blishen. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-25.

HIGH MAGNETIC FIELD SCANNING PROBE MICROSCOPE EMPLOYING LIQUID HELIUM-FREE ROOM-TEMPERATURE BORE SUPERCONDUCTING MAGNET

Номер патента: US20190025339A1. Автор: Shen Jian,Zhang Shuai,HUANG Di,WU Shiwei,ZHOU Shengyu,YIN Lifeng,GAO Chunlei,SUN Zeyuan. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-01-24.

APPARATUS AND METHOD FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20200025796A1. Автор: Baur Christof,Matejka Ulrich. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-23.

SCANNING PROBE MICROSCOPE COMPRISING AN ISOTHERMAL ACTUATOR

Номер патента: US20150047078A1. Автор: Sarkar Niladri,Lee Geoffrey,Strathearn Duncan Wesley. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

SIGNAL DETECTION CIRCUIT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20160047841A1. Автор: Fukuma Takeshi,MIYATA Kazuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-18.

SCANNER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20200049733A1. Автор: Abe Masayuki,YAMASHITA Hayato. Владелец: OSAKA UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-02-13.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20150059025A1. Автор: Yabuki Moto,Hirota Jun,Shinomiya Hideo,Harada Kazunori. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2015-02-26.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20190064211A1. Автор: Cleveland Jason,Walters Deron,Zhang Haigang,Grigg David A.. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH IMPROVED FEATURE LOCATION CAPABILITIES

Номер патента: US20150082498A1. Автор: Meyer Charles. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-19.

Scanning Probe Microscope and Measurement Method Using Same

Номер патента: US20140165237A1. Автор: Watanabe Masahiro,Nakata Toshihiko,Tachizaki Takehiro. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2014-06-12.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20180088148A1. Автор: HIRADE Masato. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-03-29.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR EXAMINING A SURFACE WITH A HIGH ASPECT RATIO

Номер патента: US20170102407A1. Автор: Edinger Klaus,Baur Christof. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-13.

Method and Device of Using a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20180106830A1. Автор: Fantner Georg Ernest,Adams Jonathan David,Nievergelt Adrian Pascal. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-19.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20150135374A1. Автор: SAKAI Nobuaki,UEKUSA Yoshitsugu. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-14.

Metrological Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20180128853A1. Автор: Proksch Roger,Cleveland Jason,Labuda Aleksander,Walters Deron. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20170131324A1. Автор: HIRADE Masato. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-05-11.

MULTIPLE INTEGRATED TIPS SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20190128919A1. Автор: Amponsah Kwame. Владелец: Xallent, LLC. Дата публикации: 2019-05-02.

Method and Apparatus of Operating a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20180136251A1. Автор: Su Chanmin,Hu Shuiqing,Shi Jian,Ma Ji,Hu Yan. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-17.

Scanning probe microscope and control method thereof

Номер патента: US20140223613A1. Автор: Nobuaki Sakai. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2014-08-07.

Method and Apparatus of Operating a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20140223615A1. Автор: Su Chanmin,Hu Shuiqing,Shi Jian,Ma Ji,Hu Yan. Владелец: Bruker Nano, Inc.. Дата публикации: 2014-08-07.

METHODS AND DEVICES FOR EXTENDING A TIME PERIOD UNTIL CHANGING A MEASURING TIP OF A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20220291255A1. Автор: Baur Christof,Pieper Hans Hermann,Baralia Gabriel,Becker Rainer,Kornilov Kinga. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20200141970A1. Автор: Gray David,Humphris Andrew. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-07.

Metrological Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20160169937A1. Автор: Proksch Roger,Cleveland Jason,Labuda Aleksander,Walters Deron. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-16.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING SAME

Номер патента: US20150177275A1. Автор: Yamamoto Tsuyoshi,Nambu Akira,HASHIZUME Tomihiro,Koizumi Hideaki,Heike Seiji. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20180172726A1. Автор: NAGAI Masamichi. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-21.

SCANNING PROBE MICROSCOPE USING SENSOR MOLECULES TO IMPROVE PHOTO-INDUCED FORCE ON SAMPLES

Номер патента: US20210208181A1. Автор: Albrecht Thomas R.,Park Sung I.,Lee Eun Seong,NOWAK Derek,JAHNG Junghoon. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-08.

Method and Apparatus of Operating a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20140283229A1. Автор: Su Chanmin,Hu Shuiqing,Hu Yan. Владелец: Bruker Nano, Inc.. Дата публикации: 2014-09-18.

SCANNING PROBE MICROSCOPE HEAD DESIGN

Номер патента: US20160202288A1. Автор: Erickson Andrew Norman,Ippolito Stephen Bradley. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-14.

Method and Apparatus of Operating a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20200191826A1. Автор: Su Chanmin,Hu Shuiqing,Hu Yan. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-18.

Scanning probe microscope

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20160216293A1. Автор: SAKAI Nobuaki. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2016-07-28.

METHOD FOR IMAGING A FEATURE USING A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20160231353A1. Автор: Erickson Andrew Norman,Ippolito Stephen Bradley,Zumwalt Sean. Владелец: DCG SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2016-08-11.

SCANNING PROBE MICROSCOPE PROBER EMPLOYING SELF-SENSING CANTILEVER

Номер патента: US20160245843A1. Автор: AMANO Yoshiyuki,SHIODA Ryu. Владелец: WAFER INTEGRATION INC.. Дата публикации: 2016-08-25.

CANTILEVER ATTACHMENT FITTING AND SCANNING PROBE MICROSCOPE PROVIDED THEREWITH

Номер патента: US20160245844A1. Автор: KOKAWA Ryohei. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2016-08-25.

Method and Apparatus of Operating a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20170242052A1. Автор: Su Chanmin,Hu Shuiqing,Hu Yan. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-24.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20190234992A1. Автор: KUDO Shinya,IWASA Masayuki,Shikakura Yoshiteru,Ueno Toshihiro. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-01.

PHOTODETECTOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20210278435A1. Автор: Zalevsky Zeev,CHELLY Avraham,KARSENTY Avi. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-09.

Method and device for controlling a scanning probe microscope

Номер патента: US20140338073A1. Автор: Marija PLODINEC,Marko Loparic,Roderick Yh Lim. Владелец: UNIVERSITAET BASEL. Дата публикации: 2014-11-13.

Method and Apparatus of Operating a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20160258979A1. Автор: Su Chanmin,Hu Shuiqing,Shi Jian,Ma Ji,Hu Yan. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-08.

A SCANNING PROBE MICROSCOPE AND A METHOD FOR OPERATING THEREOF

Номер патента: US20210311090A1. Автор: Winters Jasper,BIEMOND Jan Jacobus Benjamin,KRAMER Lukas. Владелец: . Дата публикации: 2021-10-07.

MULTIPLE INTEGRATED TIPS SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH PRE-ALIGNMENT COMPONENTS

Номер патента: US20190250186A1. Автор: Amponsah Kwame. Владелец: Xallent, LLC. Дата публикации: 2019-08-15.

METHOD AND APPARATUS FOR AVOIDING DAMAGE WHEN ANALYSING A SAMPLE SURFACE WITH A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20170261532A1. Автор: Baur Christof,Pieper Hans Hermann,Fettig Rainer. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-14.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20180259552A1. Автор: KOBAYASHI Kanji,HIRADE Masato. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-09-13.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20150276797A1. Автор: Shigeno Masatsugu. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-01.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20170269123A1. Автор: NAKAI Tsukasa,Hirota Jun,AKUTSU Haruko. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2017-09-21.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20160282383A1. Автор: YAMAMOTO Hiroyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-29.

METHOD FOR CALIBRATING AND IMAGING USING MULTI-TIP SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20180275165A1. Автор: JAIN Rohit,Riley Anton,Zumwalt Sean Dale,Fine Jordan. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2018-09-27.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME

Номер патента: US20140380532A1. Автор: Kim Young-Hwan,KIM Sung-ha,PARK Wan-Sung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-12-25.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20180299480A1. Автор: OHTA Masahiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-10-18.

Method and Apparatus of Operating a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20160313367A1. Автор: Yan Hu,Shuiqing Hu,Chanmin Su. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2016-10-27.

Data display processing device, data display processing method and control program for scanning probe microscope

Номер патента: US20170322234A1. Автор: Hiroshi Arai,Masahiro Ohta. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-11-09.

METHODS AND DEVICES FOR EXTENDING A TIME PERIOD UNTIL CHANGING A MEASURING TIP OF A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20190317126A1. Автор: Baur Christof,Pieper Hans Hermann,Baralia Gabriel,Becker Rainer,Kornilov Kinga. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-17.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20190324053A1. Автор: Ikeda Yuichiro,Arai Hiroshi,WATANABE Kazuma,HIRADE Masato,YAMASAKI Kenji,FUJINO Keita,IIDA Eiji,NAKAJIMA Hideo. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-24.

Metrological Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20190324054A1. Автор: Proksch Roger,Cleveland Jason,Labuda Aleksander,Walters Deron. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-24.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20170350920A1. Автор: Ikeda Yuichiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-12-07.

COUPLED MULTISCALE POSITIONING OF ARRAYS OF PARALLEL, INDEPENDENTLY ACTUATED AND SIMULTANEOUSLY DRIVEN MODULAR SCANNING PROBE MICROSCOPES FOR HIGH-THROUGHPUT, IN-LINE, NANOSCALE MEASUREMENT OF FLEXIBLE, LARGE AREA, AND ROLL-TO-ROLL PROCESSES

Номер патента: US20180348254A1. Автор: Cullinan Michael A.,Connolly Liam Glazer. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20200341027A1. Автор: HIRADE Masato. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-29.

METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20150369838A1. Автор: PLODINEC Marija,LOPARIC Marko,LIM Roderick,OEHLER Pascal,CAMENZIND Leon. Владелец: Universitat Basel. Дата публикации: 2015-12-24.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING SAME

Номер патента: US20150377922A1. Автор: Nakata Toshihiko,Baba Shuichi. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3563247B2. Автор: 隆白井,健村山,高史森本,浩史黒田,陽正小野里. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2004-09-08.

Fine movement device and scanning probe microscope

Номер патента: JP4607754B2. Автор: 貴昭天草. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2011-01-05.

Cantilever array, method of manufacturing the array, and scanning probe microscope, sliding device of guide and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, and laser doppler interferometer with specimen light excitation function, using the array, and cantilever

Номер патента: KR100783341B1. Автор: 히데끼 가와가쯔. Владелец: 도꾸리쯔교세이호징 가가꾸 기쥬쯔 신꼬 기꼬. Дата публикации: 2007-12-07.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP4432806B2. Автор: 昌弘大田. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2010-03-17.

Method and apparatus of operating a scanning probe microscope

Номер патента: CN102439462B. Автор: 胡水清,胡焰,苏全民. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2015-07-22.

Method and apparatus of operating a scanning probe microscope

Номер патента: KR101823954B1. Автор: 얀 후,슈이큉 후,찬민 수. Владелец: 브루커 나노, 인코퍼레이션.. Дата публикации: 2018-01-31.

Scanning probe microscope being able to measure samples having overhang structure

Номер патента: KR100761059B1. Автор: 김용석,박상일,김지태,이정록,정상한,신현승,황의철. Владелец: 파크시스템스 주식회사. Дата публикации: 2007-09-21.

Optical axis adjustment auxiliary device for scanning probe microscope

Номер патента: JP3967482B2. Автор: 浩史黒田. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2007-08-29.

Methods utilizing scanning probe microscope tips and products therefor or produced thereby

Номер патента: CN1314578C. Автор: 查德·A·米尔金,理查德·皮纳,升瀚·洪. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2007-05-09.

Scanner for scanning probe microscope

Номер патента: KR101151136B1. Автор: 박은주,이동연,심재술. Владелец: 영남대학교 산학협력단. Дата публикации: 2012-06-01.

Scanning probe microscope and operation method

Номер патента: US20040093935A1. Автор: Kazutoshi Watanabe,Kazunori Ando,Takehiro Yamaoka,Yoshiharu Shirakawabe. Владелец: Yoshiharu Shirakawabe. Дата публикации: 2004-05-20.

Scanning probe microscope and method for examining a sample surface

Номер патента: DE102016214658B4. Автор: Christof Baur,Klaus Edinger,Gabriel Baralia. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2020-10-08.

Wear-free treatment of a material surface with a scanning probe microscope

Номер патента: DE112010004305T5. Автор: Urs T. Duerig,Armin W. Knoll,Bernd W. Gotsmann,Mark A. Lantz. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-10-04.

Scanning probe microscope

Номер патента: EP0449221B1. Автор: Takao Okada,Akira Yagi,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Tsugiko Takase. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 1997-01-02.

Scanning probe microscope and its operation method

Номер патента: JP4190936B2. Автор: 和俊渡辺,和徳安藤,武博山岡,喜春白川部. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-12-03.

Scanning probe microscope and signal processing device

Номер патента: DE69730670T2. Автор: Takafumi Niihari-Gun Morimoto,Ken Tsuchiura-Shi Murayama,Sumio Nishitama-Gun Husaka. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2005-09-22.

Resonance method for determining the spring constant of scanning probe microscope arms using MEMS actuators

Номер патента: DE102007032866A1. Автор: Richard K. Loveland Workmann,Storrs T. Loveland Hoen. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2008-01-31.

MEASURING DEVICE IN A SCAN PROBE MICROSCOPE

Номер патента: DE4124871A1. Автор: Akitoshi Toda,Tsugiko Takase,Hirofumi Miyamoto,Hiroshi Kajimura. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 1992-01-30.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3497734B2. Автор: 美明林,修一伊東. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2004-02-16.

Scanning probe microscope

Номер патента: KR100873436B1. Автор: 마사히로 오타. Владелец: 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼. Дата публикации: 2008-12-11.

Methods utilizing scanning probe microscope tips and products therefor or produced method thereby

Номер патента: CN1341274A. Автор: 查德·A·米尔金,理查德·皮纳,升瀚·洪. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2002-03-20.

Active damping of high speed scanning probe microscope components

Номер патента: KR101440450B1. Автор: 로저 프록쉬. Владелец: 아실럼 리서치 코포레이션. Дата публикации: 2014-09-17.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3179380B2. Автор: 正敏安武,毅梅基,順紘佐藤. Владелец: セイコーインスツルメンツ株式会社. Дата публикации: 2001-06-25.

Scanning probe microscope, and sample observing method and method of manufacturing device by using the same

Номер патента: JP2003202284A. Автор: Masahiro Watanabe,正浩渡辺,Toshihiko Nakada,俊彦中田. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-07-18.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3511361B2. Автор: 宏村松,英介冨田. Владелец: セイコーインスツルメンツ株式会社. Дата публикации: 2004-03-29.

Scanning probe microscope capable of measuring samples having overhang structure

Номер патента: US20080078932A1. Автор: Jung-Rok Lee,Yong-Seok Kim,Jitae Kim,Sang-il Park,Sang Han Chung,Hyun-Seung Shin,Euichul Hwang. Владелец: PSIA Co Ltd. Дата публикации: 2008-04-03.

Monolithic high aspect ratio nano-sized scanning probe microscope (SPM) tips formed by nanowire growth

Номер патента: JP5044825B2. Автор: コーエン、ガイ、エム,ハーマン、ヘンドリック、エフ. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-10-10.

Method and apparatus of operating a scanning probe microscope

Номер патента: US20100122385A1. Автор: Yan Hu,Shuiqing Hu,Chanmin Su. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2010-05-13.

Scanning probe microscope suitable for observing the sidewalls of steps in a specimen and measuring the tilt angle of the sidewalls

Номер патента: US6246054B1. Автор: Akitoshi Toda,Shuzo Mishima. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2001-06-12.

Hybrid control system for scanning probe microscopes

Номер патента: WO1996028837A1. Автор: Tianwei Jing,Stuart M. Lindsay. Владелец: Molecular Imaging Corporation. Дата публикации: 1996-09-19.

Calibration apparatus and method for scanning probe microscope

Номер патента: KR100667217B1. Автор: 김재현,이학주,한승우,조기호,안현균,오충석,허신. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2007-01-12.

Scanning probe microscope

Номер патента: KR100961571B1. Автор: 머빈 죤 마일즈,앤드류 데이비드 레이버 험프리스,제이미 케인 홉스. Владелец: 더 유니버시티 오브 브리스톨. Дата публикации: 2010-06-04.

Scanning probe microscope, semiconductor distortion sensor for use therein and manufacturing process for manufacture thereof

Номер патента: EP0802394A1. Автор: Hiroshi Takahashi,Nobuhiro Shimizu,Yoshiharu Shirakawabe. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1997-10-22.

Nanoneedl tip for scanning probe microscope, apparatus and method for fabricating the same

Номер патента: KR100473791B1. Автор: 오범환,정기영,박병천,엄태봉,송원영. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2005-03-08.

Enhanced scanning probe microscope

Номер патента: US6674074B2. Автор: Peter V. Schwartz. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2004-01-06.

Scanning Probe Microscope

Номер патента: EP1055901B1. Автор: Osamu Saito,Hideho Hisada,Shinichiro Watanabe,Shinya Saito,Koji Akutsu,Tatsuya Miyajima,Yoshihito Narita,Susumu Teruyama,Motoichi Kanagawa Academy of Science&Tech. Ohtsu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2003-07-23.

Excitation cantilever holder and scanning probe microscope

Номер патента: JP4688643B2. Автор: 誠人伊與木,雅次繁野. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2011-05-25.

Cantilever holder and scanning probe microscope

Номер патента: US7375322B2. Автор: Masatsugu Shigeno,Itaru Kitajima. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-05-20.

Measurement method for characteristics of a near-surface magnetic field using a scanning probe microscope

Номер патента: AU2002219736A1. Автор: Alexandre Mihailovich Alexeev,Victor Alexandrovich Bykov,Valeri Nikolaevich Riabokon,Serguei Alekseevich Saounine. Владелец: ZAKRYTOE AKTSIONERNOE OBSCHESTVO "NT-MDT". Дата публикации: 2002-06-24.

Cantilever chip for a scanning probe microscope and manufacturing process

Номер патента: DE4214400C2. Автор: Akitoshi Toda. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2001-08-09.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP5252389B2. Автор: 敏夫安藤,貴之内橋,隼人山下. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2013-07-31.

Methods utilizing scanning probe microscope tips and products therefor or produced thereby

Номер патента: KR100809785B1. Автор: 홍성훈,채드 에이. 미킨,리차드 피너. Владелец: 노쓰웨스턴 유니버시티. Дата публикации: 2008-03-04.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPWO2007072706A1. Автор: 敏夫安藤,貴之内橋,隼人山下,安藤　敏夫. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2009-05-28.

Scanning probe microscope

Номер патента: US7391022B2. Автор: Masahiro Ohta. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2008-06-24.

Cantilever array, method of manufacturing the array, and scanning probe microscope, sliding device of guide and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, and laser doppler interferometer with specimen light excitation function, using the array, and cantilever

Номер патента: WO2002103328A1. Автор: Hideki Kawakatsu. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2002-12-27.

Cantilever array, method for fabricating the same, scanning probe microscope, sliding apparatus of guiding and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, laser doppler interferometer having optically exciting function for exciting sample, each using the same, and method for exciting cantilevers

Номер патента: US20060231757A1. Автор: Hideki Kawakatsu. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2006-10-19.

Scanning probe microscope

Номер патента: EP0746857A1. Автор: Jeong Ho Lee,John D. Alexander,Michael D. Kirk,Sung-Il Park,Sang-il Park,David M. Parish,Ian R. Smith,Frederick I. Linker,Peter R. Swift,Rebecca S. Howland. Владелец: Park Scientific Instruments Corp. Дата публикации: 1996-12-11.

Scanning probe microscope prober using self-detecting cantilever

Номер патента: JP5453664B1. Автор: 佳之天野,隆塩田. Владелец: Wafer Integration. Дата публикации: 2014-03-26.

Method and apparatus of operating a scanning probe microscope

Номер патента: KR101697993B1. Автор: 얀 후,슈이큉 후,찬민 수. Владелец: 브루커 나노, 인코퍼레이션.. Дата публикации: 2017-01-19.

Apparatus and method for a scanning probe microscope

Номер патента: TWI675206B. Автор: 尤瑞奇馬泰卡,克里斯多福包爾. Владелец: 德商卡爾蔡司Ｓｍｔ有限公司. Дата публикации: 2019-10-21.

Scanning probe microscope

Номер патента: US6435015B1. Автор: Hiroyoshi Yamamoto. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-08-20.

Scanning probe microscope equipment

Номер патента: JPH10506457A. Автор: ヴィクタービークレイ. Владелец: ジェネラルナノテクノロジーエルエルシー. Дата публикации: 1998-06-23.

Cantilever array, method of manufacturing the array, and scanning probe microscope, sliding device of guide and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, and laser Doppler interferometer with specimen light excitation function, using the array and cantilever

Номер патента: EP1775568A2. Автор: Hideki Kawakatsu. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2007-04-18.

Light source unit, analyzer unit, detection unit and method for a scanning probe microscope

Номер патента: DE102017205442A1. Автор: Daniel Geiger,Othmar Marti,Matthias Roos,Hannah Lauer. Владелец: Universitaet Ulm. Дата публикации: 2018-05-03.

Signal detection circuit and scanning probe microscope

Номер патента: EP2980590A1. Автор: Takeshi Fukuma,Kazuki MIYATA. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2016-02-03.

Scanning probe microscope and sample observation method using the same

Номер патента: JP5292128B2. Автор: 正浩渡辺,貴志夫日高,俊彦中田,隆史井上,誠岡井,誠之廣岡. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-09-18.

Scanning probe microscope

Номер патента: DE69823413T2. Автор: Shinichi Hidaka Saitama Kitamura,Takashi Kunitachi Tokyo Sueyoshi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2004-09-09.

Scanning probe microscope

Номер патента: US6740876B2. Автор: Akira Egawa,Kunio Nakajima,Tatsuya Miyatani. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2004-05-25.

Signal detection circuit and scanning probe microscope

Номер патента: US9535088B2. Автор: Takeshi Fukuma,Kazuki MIYATA. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2017-01-03.

Methods utilizing scanning probe microscope tips

Номер патента: EP1157407B1. Автор: Chad A. Mirkin,Richard Piner,Seunghum Hong. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2010-11-17.

Scanning probe microscope

Номер патента: EP0890820A1. Автор: Shinichi Kitamura,Takashi Sueyoshi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1999-01-13.

Apparatus for machining, recording, and reproducing, using scanning probe microscope

Номер патента: TW369603B. Автор: Eisuke Tomita. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 1999-09-11.

Scanning probe microscope

Номер патента: CN113155080B. Автор: 繁野雅次,渡边和俊,山本浩令. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-03-10.

Height calibration of scanning probe microscope actuators

Номер патента: WO2005057587A1. Автор: Kamal Youcef-Toumi,Osamah M. El Rifai. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2005-06-23.

Scanning probe microscope with compact scanner

Номер патента: CN103562732A. Автор: 恩吉·方,约翰尼斯·金特,杰夫·马卡基斯,卡尔·马瑟. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2014-02-05.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPH1123588A. Автор: Shinichi Kitamura,Takashi Sueyoshi,孝末吉,北村真一. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1999-01-29.

Micro structure, cantilever, scanning probe microscope and a method of measuring deformation quantity for the fine structure

Номер патента: CN1877277A. Автор: 太田尚城,桑岛哲哉. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2006-12-13.

Scanner and scanning probe microscope

Номер патента: JP6846056B2. Автор: 真之阿部,隼人山下,阿部　真之. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2021-03-24.

Cantilever array, method of manufacturing the array, and scanning probe microscope, sliding device of guide and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, and laser doppler interferometer with specimen light excitation function, using the array, and cantilever

Номер патента: KR100723849B1. Автор: 가와가쯔히데끼. Владелец: 도꾸리쯔교세이호징 가가꾸 기쥬쯔 신꼬 기꼬. Дата публикации: 2007-05-31.

Scanning probe microscope and sample observation method using the same

Номер патента: JP5667968B2. Автор: 正浩渡辺,貴志夫日高,俊彦中田,隆史井上,誠之廣岡,渡辺　正浩,井上　隆史,中田　俊彦,日高　貴志夫. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-02-12.

Material micro/nano scale magnetocaloric signal detection method based on scanning probe microscope

Номер патента: CN110646640B. Автор: 李润伟,王保敏,杨华礼,罗帆. Владелец: Ningbo Institute of Material Technology and Engineering of CAS. Дата публикации: 2022-04-05.

Integrated microcolumn and scanning probe microscope arrays

Номер патента: WO2000067290A2. Автор: Ho-Seob Kim,Lawrence P. Muray,T. H. Philip Chang. Владелец: Etec Systems, Inc.. Дата публикации: 2000-11-09.

Scanning probe microscope and method for operating the same

Номер патента: EP2041546B1. Автор: Dominik Ziegler,Andreas Christian Stemmer,Jörg Rychen. Владелец: Specs Zurich GmbH. Дата публикации: 2017-12-27.

Improved scanning probe microscope

Номер патента: EP1377794B1. Автор: Jae-Wan 302-404 Sungwon Apartment HONG,Joon-Hyung 1225-1902 Hanyang Mokryun Apt. KWON,Sang-Il 102-603 Dongbu Centreville PARK. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2013-08-14.

Systems for assessing and enhancing the performance of scanning probe microscopes by quantifying and enforcing symmetries and periodicities in two dimensions

Номер патента: US8196216B2. Автор: Peter Moeck. Владелец: Oregon State Board of Higher Education. Дата публикации: 2012-06-05.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP4111867B2. Автор: 田中勝広. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-07-02.

SCANNING PROBE MICROSCOPE FOR OPTICAL SPECTROMETRY

Номер патента: RU2015141511A. Автор: Евгений Владимирович Кузнецов,Сергей Владимирович Тимофеев,Андрей Викторович Быков,Сергей Анатольевич Фастов,Артем Викторович Шелаев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ". Дата публикации: 2017-04-07.

Scanning probe microscope with the stage unit

Номер патента: US6184533B1. Автор: Hiroshi Kuroda,Takashi Shirai,Takafumi Morimoto,Ken Murayama,Harumasa Onozato. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2001-02-06.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPH1078440A. Автор: Shinichirou Aizaki,紳一郎合▲崎▼. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1998-03-24.

Scanning probe microscope used in fluids

Номер патента: JP3249130B2. Автор: リンゼー，スチュアート・エム,ジング，ティアンウェイ. Владелец: モレキュラー・イメージング・コーポレーション. Дата публикации: 2002-01-21.

Scanning probe microscope

Номер патента: WO2011040065A1. Автор: 啓文山田,松重　和美,圭小林,義浩細川,啓介西. Владелец: 国立大学法人京都大学. Дата публикации: 2011-04-07.

Intergrated microcolumn and scanning probe microscope arrays

Номер патента: IL140735A0. Автор: . Владелец: Etec Systems Inc. Дата публикации: 2002-02-10.

Force scanning probe microscope

Номер патента: US20050081610A1. Автор: Doug Gotthard,Jens Struckmeier,Ben Ohler. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-21.

Scanning probe microscope with fine adjustment device

Номер патента: DE69826406D1. Автор: Hiroshi Kuroda,Takashi Shirai,Takafumi Morimoto,Ken Murayama,Harumasa Onozato. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2004-10-28.

Scanning probe microscope

Номер патента: US7026607B2. Автор: Masatsugu Shigeno,Itaru Kitajima. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2006-04-11.

Scanning probe microscope with current controlled actuator

Номер патента: WO2010069085A1. Автор: Jörg Rychen. Владелец: Specs Zurich GmbH. Дата публикации: 2010-06-24.

MECHANICAL MOVEMENT DEVICE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2015142454A. Автор: Евгений Владимирович Кузнецов,Сергей Владимирович Тимофеев,Андрей Викторович Быков,Артем Викторович Шелаев,Дмитрий Иванович Виноградов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ". Дата публикации: 2017-04-11.

Scanning probe microscope and surface shape measuring method using same

Номер патента: US8656509B2. Автор: Masahiro Watanabe,Toshihiko Nakata,Takehiro TACHIZAKI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-02-18.

Multiprobe and scanning probe microscope

Номер патента: US6469293B1. Автор: Hiroshi Takahashi,Tadashi Arai,Nobuhiro Shimizu,Yoshiharu Shirakawabe,Chiaki Yasumuro. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-10-22.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP5283089B2. Автор: 剛士福間,泰仁植田. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2013-09-04.

Scanning probe microscope

Номер патента: HK1052743A1. Автор: Kazuhisa Sueoka,Koichi Mukasa,Makoto Sawamura,Hirotaka Hosoi,Naoki Kamo. Владелец: Univ Hokkaido. Дата публикации: 2003-09-26.

Scanning probe microscope

Номер патента: EP2392930B1. Автор: Yasumasa Ueda,Takeshi Fukuma. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2018-01-03.

Scanning probe microscope sample carriage mechanism

Номер патента: JP2625636B2. Автор: ジェームズ・マイケル・ハモンド,デビッド・ウイリアム・エイブラハム,マーティン・アレン・クロス,ケネス・ギルバート・ロッスラー,ロバート・マーシャル・ストウェル,ヘマンサ・クマー・ウィクラマシンジェ. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1997-07-02.

Moving stage equipment and scanning probe microscope provided with the moving stage equipment

Номер патента: JPH11108658A. Автор: Takeshi Murayama,Takashi Morimoto,Hiroshi Kuroda,Takashi Shirai,隆白井,健村山,高史森本,浩史黒田,陽正小野里,Akimasa Onozato. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 1999-04-23.

Scanning probe microscope

Номер патента: CA2070359A1. Автор: Hiroshi Matsuda,Yoshihiro Yanagisawa,Toshihiko Takeda,Ken Eguchi,Hisaaki Kawade. Владелец: Hisaaki Kawade. Дата публикации: 1992-12-06.

Method for imaging features using a scanning probe microscope

Номер патента: JP6309697B2. Автор: アンドリュー・ノーマン・エリクソン,ステファン・ブラッドレイ・イポリト,ショーン・ズムウォルト. Владелец: エフイーアイイーエフエーインコーポレーテッド. Дата публикации: 2018-04-11.

Circular cylinder type piezoelectric actuator and piezoelectric element and scanning probe microscope using those

Номер патента: US8058780B2. Автор: Masato Iyoki. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2011-11-15.

Scanning probing microscope with compact scanner

Номер патента: RU2571449C2. Автор: Нги ФАН,Джефф МАРКАКИС,Йоханнес КИНДТ,Карл МАССЕР. Владелец: Брукер Нано, Инк.. Дата публикации: 2015-12-20.

Method and apparatus of operating a scanning probe microscope

Номер патента: CN104991089A. Автор: 胡水清,胡焰,苏全民. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2015-10-21.

Automatic tip approach method and apparatus for scanning probe microscope

Номер патента: EP0574234B1. Автор: Yves Martin,Martin Allen Klos,Kenneth Gilbert Roessler,Robert Marshall Stowell,James Michael Hammond. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1997-05-14.

Cantilever for scanning probe microscope and method for producing the same

Номер патента: JP3053456B2. Автор: 泰二長田,亮太田,明敏戸田,悦夫篠原,美知雄高山,かおる田所,喜光榎本. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 2000-06-19.

Delay time modulation femtosecond time-resolved scanning probe microscope apparatus

Номер патента: EP1460410A1. Автор: Osamu Takeuchi,Mikio Yamashita,Hidemi Shigekawa,Ryuji Morita. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2004-09-22.

Scanning probe microscope

Номер патента: WO2016189575A1. Автор: 正道永井. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2016-12-01.

Method for measuring a piezoelectric response by means of a scanning probe microscope

Номер патента: WO2010022521A1. Автор: Jörg Rychen. Владелец: Specs Zurich GmbH. Дата публикации: 2010-03-04.

Methods utilizing scanning probe microscope tips and products therefor or produced thereby

Номер патента: CA2358215A1. Автор: Chad A. Mirkin,Richard Piner,Seunghum Hong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-07-13.

Cantilever, cantilever system, scanning probe microscope, mass sensor apparatus, viscoelasticity measuring instrument, manipulation apparatus, displacement determination method of cantilever, vibration method of cantilever and deformation method of cantilever

Номер патента: US20100107284A1. Автор: Masatsugu Shigeno,Kazutoshi Watanabe,Naoya Watanabe,Masato Iyoki. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2010-04-29.

Monolithic high aspect ratio nano-size scanning probe microscope (SPM) tip formed by nanowire growth

Номер патента: CN101438355A. Автор: G·M·科昂,H·F·哈曼. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-05-20.

Scanning probe microscope and surface shape measuring method using same

Номер патента: WO2012035826A1. Автор: 渡辺　正浩,中田　俊彦,武弘立▲崎▼. Владелец: 株式会社日立製作所. Дата публикации: 2012-03-22.

Scanning probe microscope and cantilever drive device

Номер патента: EP1898204B1. Автор: Toshio National University Corp. ANDO,Takayuki National University Corp. UCHIHASHI,Noriyuki National University Corp. KODERA,Hayato National University Corp. YAMASHITA. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2018-09-12.

Scanning probe microscope and method for inspecting a sample surface

Номер патента: DE102016214658A1. Автор: Christof Baur,Klaus Edinger,Gabriel Baralia. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2018-02-08.

scanning probe microscope

Номер патента: DE60003973T2. Автор: Yoshihito Hachioji-shi Narita,Hideho Hachioji-shi Hisada,Tatsuya Hachioji-shi Miyajima,Osamu Hachioji-shi Saito,Shinichiro Hachioji-shi Watanabe,Shinya Hachioji-shi Saito,Koji Hachioji-shi Akutsu,Susumu Hachioji-shi Teruyama,Motoichi Kawasaki-shi Ohtsu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2004-05-27.

Scanning probe microscope and a method for operating thereof

Номер патента: US11402404B2. Автор: Jan Jacobus Benjamin BIEMOND,Jasper WINTERS,Lukas Kramer. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2022-08-02.

Scanning probe microscope

Номер патента: KR100904390B1. Автор: 마사히로 오타. Владелец: 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼. Дата публикации: 2009-06-26.

Table unit for positioning a sample and scanning probe microscope with such a table

Номер патента: DE69837831T2. Автор: Ken Tsuchiura-Shi Murayama,Takashi Tsukuba-shi Shirai,Takafumi Kashiwa-shi Morimoto,Hiroshi Tsuchiura-shi Kuroda,Harumasa Ohme-shi Onozato. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2008-01-31.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPH10239329A. Автор: Shinichi Kitamura,Takashi Sueyoshi,孝末吉,真一北村. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1998-09-11.

Scanning probe microscope using sensor molecules to improve photo-induced force on samples

Номер патента: US11150267B2. Автор: Thomas R. Albrecht,Eun Seong Lee,Sung I. Park,Derek NOWAK,Junghoon JAHNG. Владелец: Molecular Vista Inc. Дата публикации: 2021-10-19.

Method and apparatus of operating a scanning probe microscope

Номер патента: EP2507642B1. Автор: Yan Hu,Jian Shi,Ji Ma,Shuiqing Hu,Chanmin Su. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2021-02-24.

Scanning Probe Microscope with Independent Force Control and Displacement Measurements

Номер патента: US20100192267A1. Автор: Jennifer Hay,Warren C. Oliver,John Swindernan,Karmit Parks. Владелец: Nanomechanics Inc. Дата публикации: 2010-07-29.

Actuating and sensing device for scanning probe microscopes

Номер патента: CN100338687C. Автор: T·阿基亚马. Владелец: Institut de Microtechnique-Universite de Neuchatel (IMT). Дата публикации: 2007-09-19.

Method for imaging a feature using a scanning probe microscope

Номер патента: TWI708947B. Автор: 安德魯諾曼艾瑞克森,史蒂芬布萊德利伊波利多,西恩陸馬瓦特. Владелец: 美商ＦｅｉＥｆａ股份有限公司. Дата публикации: 2020-11-01.

Multifunctional Scanning Probe Microscope

Номер патента: EP2219036B1. Автор: Andrey Bykov,Vladimir Kotov,Viktor Bykov. Владелец: NT MDT Service and Logistics Ltd. Дата публикации: 2014-03-12.

Noncontact scanning probe microscope

Номер патента: WO2009130832A1. Автор: 小椋俊彦. Владелец: 独立行政法人産業技術総合研究所. Дата публикации: 2009-10-29.

Micromotion device and scanning probe microscope

Номер патента: US7481099B2. Автор: Takaaki Amakusa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-01-27.

Monolithic high aspect ratio nano-size scanning probe microscope (spm) tip formed by nanowire growth

Номер патента: CA2642875A1. Автор: Guy M. Cohen,Hendrik F. Hamann. Владелец: Hendrik F. Hamann. Дата публикации: 2008-05-08.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPH10300761A. Автор: Takeshi Murayama,Takashi Morimoto,Hiroshi Kuroda,Takashi Shirai,隆白井,健村山,高史森本,浩史黒田,陽正小野里,Akimasa Onozato. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 1998-11-13.

Vertically aligned nanostructure scanning probe microscope tips

Номер патента: US7151256B2. Автор: Michael A. Guillorn,Anatoli V. Melechko,Bojan Ilic,Vladimir I. Merkulov,Douglas H. Lowndes,Michael L. Simpson. Владелец: UT Battelle LLC. Дата публикации: 2006-12-19.

How to use a scanning probe microscope

Номер патента: JP3417721B2. Автор: 直西岡,孝夫安江. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-06-16.

Scanning probe microscope and program

Номер патента: WO2023053522A1. Автор: 智陽中野,浩新井,秀郎中島,志穂森口. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2023-04-06.

Scanning probe microscope

Номер патента: US10254307B2. Автор: Kanji Kobayashi,Masato Hirade. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-04-09.

Method of operating scanning probe microscope

Номер патента: US6596992B2. Автор: Kazutoshi Watanabe,Kazunori Ando,Takehiro Yamaoka,Yoshiteru Shikakura,Masaki Tsuchihashi. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2003-07-22.

Actuation and detection device for scanning probe microscope

Номер патента: JP3953958B2. Автор: 照伸秋山. Владелец: アンスティテュ・ドゥ・ミクロテクニック・ドゥ・リュニベルシテ・ドゥ・ヌーシャテル. Дата публикации: 2007-08-08.

Scanning probe microscope

Номер патента: HK1052743B. Автор: 武笠幸一,末岡和久,加茂直樹,細井浩貴,澤村誠. Владелец: 北海道大學. Дата публикации: 2006-07-14.

Nanotweezer and scanning probe microscope equipped with nanotweezer

Номер патента: US7849515B2. Автор: Takashi Konno,Gen Hashiguchi,Maho Hosogi. Владелец: Aoi Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-07.

Scanning probe microscope arm with an electromagnetic sensor

Номер патента: DE102012214181A1. Автор: Jens Hofrichter,Folkert Horst,Felix Holzner,Philip Paul. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-02-14.

Nested piezoelectric tube driven multi-dimensional and detachable piezoelectric motor and scanning probe microscope

Номер патента: CN106597025A. Автор: 陆轻铀. Владелец: Hefei Institutes of Physical Science of CAS. Дата публикации: 2017-04-26.

Methods utilizing scanning probe microscope tips and products therefor or produced thereby

Номер патента: EP1157407A4. Автор: Chad A Mirkin,Richard Piner,Seunghum Hong. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2003-01-29.

Surface treatment device using scanning probe microscope

Номер патента: WO2012033131A1. Автор: 太岩田. Владелец: 国立大学法人静岡大学. Дата публикации: 2012-03-15.

Scanning probe microscope and method of control error correction

Номер патента: EP0596494A2. Автор: Yukio Honda,Atsushi Kikugawa,Sumio Hosaka,Hajime Koyanagi,Kiyosi Nagasawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1994-05-11.

Semiconductor strain sensor, manufacturing method thereof, and scanning probe microscope

Номер патента: JP3700910B2. Автор: 進市原,寛高橋,喜春白川部,信宏清水,デスポントミッシェル. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-09-28.

Monolithic high aspect ratio nano-size scanning probe microscope (spm) tip formed by nanowire growth

Номер патента: US20090293162A1. Автор: Guy M. Cohen,Hendrik F. Harmann. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-11-26.

Method and system for measuring single cell mechanics using a modified scanning probe microscope

Номер патента: US20090263850A1. Автор: Valentyn Liulevych,Gang-yu Liu. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2009-10-22.

Scanning probe microscope and method of observing sample using the same

Номер патента: EP2267428A4. Автор: Toshiaki Morita,Takashi Inoue,Kishio Hidaka,Masahiro Watanabe,Makoto Okai,Toshihiko Nakata,Motoyuki Hirooka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-03-27.

A scanning probe microscope and a method for operating thereof

Номер патента: WO2020032800A1. Автор: Jan Jacobus Benjamin BIEMOND,Jasper WINTERS,Lukas Kramer. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO. Дата публикации: 2020-02-13.

Delay time modulation femtosecond time-resolved scanning probe microscope apparatus

Номер патента: WO2003046519A1. Автор: Osamu Takeuchi,Mikio Yamashita,Hidemi Shigekawa,Ryuji Morita. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2003-06-05.

Scanning probe microscope and molecular structure change observation method

Номер патента: JP4448493B2. Автор: 敏夫安藤,美明林. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2010-04-07.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPWO2007072621A1. Автор: 敏夫安藤,貴之内橋,安藤　敏夫,満坂下. Владелец: Kanazawa University NUC. Дата публикации: 2009-05-28.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP2005531781A. Автор: マイルズ，マーヴィン・ジョン,ハンフリス，アンドリュー・デイヴィッド・レイヴァー,ホッブズ，ジェイミー・ケイン. Владелец: ユニバーシティ・オブ・ブリストル. Дата публикации: 2005-10-20.

Scanning probe microscope apparatus

Номер патента: US20090261249A1. Автор: Shuhei Nishida,Hideki Kawakatsu,Dai Kobayashi. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2009-10-22.

Scanning probe microscope system

Номер патента: WO2006004064A1. Автор: Tatsuya Hattori,Pu Qian. Владелец: HONDA MOTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2006-01-12.

Scanning probe microscope and method

Номер патента: US20060027739A1. Автор: John Graham,Oden Warren,Peter Norton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-09.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20070012095A1. Автор: Katsuyuki Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2007-01-18.

Enhanced scanning probe microscope

Номер патента: US20030005755A1. Автор: Peter Schwartz. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2003-01-09.

Vibration-type cantilever holder and scanning probe microscope

Номер патента: CN1963451B. Автор: 繁野雅次,伊与木诚人. Владелец: SEIKO NANOTECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2012-05-30.

Vibration-type cantilever holder and scanning probe microscope

Номер патента: KR101263033B1. Автор: 마사츠구 시게노,마사토 이요키. Владелец: 에스아이아이 나노 테크놀로지 가부시키가이샤. Дата публикации: 2013-06-24.

Scanning probe microscope

Номер патента: US20030010099A1. Автор: Kazuhisa Sueoka,Koichi Mukasa,Makoto Sawamura,Hirotaka Hosoi,Naoki Kamo. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2003-01-16.

Scanning probe microscope and method of processing signals in the same

Номер патента: US20020178802A1. Автор: Norio Ookubo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-05.

Methods utilizing scanning probe microscope tips and products therefor or produced thereby

Номер патента: US8247032B2. Автор: Chad A. Mirkin,Seunghun Hong,Richard Piner. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2012-08-21.

Scanning probe microscope and method of observing sample using the same

Номер патента: US8407811B2. Автор: Takashi Inoue,Kishio Hidaka,Masahiro Watanabe,Makoto Okai,Toshihiko Nakata,Motoyuki Hirooka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-03-26.

Cantilever attachment fitting and scanning probe microscope provided therewith

Номер патента: US20160245844A1. Автор: Ryohei Kokawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-08-25.

Automated landing method of a scanning probe microscopy system and scanning probe microscopy system using the same

Номер патента: US20240110939A1. Автор: Jianfei Yang,Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nearfield Instruments BV. Дата публикации: 2024-04-04.

Scanning probe microscope and method for resonance-enhanced detection using a range of modulation frequencies

Номер патента: EP4078190A4. Автор: Thomas R. Albrecht,William Morrison,Sung I. Park,Derek NOWAK,Josh Gioja. Владелец: Molecular Vista Inc. Дата публикации: 2023-12-27.

Automated landing method of a scanning probe microscopy system and scanning probe microscopy system using the same

Номер патента: WO2022173294A1. Автор: Jianfei Yang,Hamed Sadeghian Marnani. Владелец: Nearfield Instruments B.V.. Дата публикации: 2022-08-18.

Scanning probe microscope assembly and method for making spectrophotometric near-field optical and scanning measurements

Номер патента: US6265711B1. Автор: Victor B. Kley. Владелец: General Nanotechnology LLC. Дата публикации: 2001-07-24.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPH0820246B2. Автор: 千秋佐藤,喜代三越石,貞夫重富,周三三島,つぎ子高瀬. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 1996-03-04.

Scanning probe microscope

Номер патента: EP0640829A2. Автор: Tsugiko Takase,Shuzo Mishima,Chiaki Sato,Kiyozo Koshiishi,Sadao Shigetomi. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1995-03-01.

Scanning probe microscope

Номер патента: EP0640829B1. Автор: Tsugiko Takase,Shuzo Mishima,Chiaki Sato,Kiyozo Koshiishi,Sadao Shigetomi. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2004-11-17.

Multiscale patterning of a sample with apparatus having both thermo-optical lithography capability and thermal scanning probe lithography capability

Номер патента: US09921486B2. Автор: Felix Holzner,Urs T Duerig,Stefan Fringes,Armin W Knoll. Владелец: Swisslitho AG. Дата публикации: 2018-03-20.

Varifocal lens, optical scanning probe including the varifocal lens, and medical apparatus including the optical scanning probe

Номер патента: US09880381B2. Автор: Eun-sung Lee,Woon-bae Kim,Seung-Wan Lee,Min-seog Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-30.

Multiscale patterning of a sample with apparatus having both thermo-optical lithography capability and thermal scanning probe lithography capability

Номер патента: GB2521417A. Автор: Felix Holzner,Urs T Duerig,Stefan Fringes,Armin W Knoll. Владелец: Swisslitho AG. Дата публикации: 2015-06-24.

Optical scanning probe with multiple outputs

Номер патента: CA1101713A. Автор: Martin Shenker. Владелец: Farrand Optical Co Inc. Дата публикации: 1981-05-26.

Method for super-resolution evaluation of microscope images illuminated in a structured manner and microscope having structured illumination

Номер патента: US12094081B2. Автор: Ingo Kleppe,Yauheni Novikau. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2024-09-17.

Microscope having switchable illumination in at least two spectral regions, and apparatus for illumination switchover

Номер патента: US20030030898A1. Автор: Manfred Bartel,Jasna Roeth. Владелец: Leica Microsystems Wetzlar GmbH. Дата публикации: 2003-02-13.

Surgical microscope having assistant's device

Номер патента: US20230355346A1. Автор: Jin He,Lei Du,Jianyue LI,Chengjie ZHU,JiIong WANG. Владелец: Zumax Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Microscope optical system and digital microscope having the same

Номер патента: US20090059386A1. Автор: Chen-Cheng Liao. Владелец: Asia Optical Co Inc. Дата публикации: 2009-03-05.

Microscope optical system and digital microscope having the same

Номер патента: US7599122B2. Автор: Chen-Cheng Liao. Владелец: Asia Optical Co Inc. Дата публикации: 2009-10-06.

Microscope having a device for correlating the diaphragm of a condenser with the objective currently in use

Номер патента: US20050213207A1. Автор: Manfred Gilbert,Jasna Roeth. Владелец: Leica Microsystems Wetzlar GmbH. Дата публикации: 2005-09-29.

Polarizing microscope having bertrand lens

Номер патента: US3572885A. Автор: Walter Klein,Gunter Reinheimer. Владелец: Ernst Leitz Wetzlar GmbH. Дата публикации: 1971-03-30.

Optical fiber scanning probe

Номер патента: EP2359176A1. Автор: Bernardus H. W. Hendriks. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2011-08-24.

Memory device injecting charge using probe of scanning probe microscope

Номер патента: KR101910278B1. Автор: 김상우,김성수,김태호,김태윤,최승,이강혁,팔코니 크리스티안. Владелец: 성균관대학교산학협력단. Дата публикации: 2018-10-19.

DATA CORRECTION METHOD, COMPUTER PROGRAM FOR CAUSING COMPUTER TO PERFORM DATA CORRECTION METHOD, IMAGE PROCESSOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20190294905A1. Автор: HIRADE Masato,YAMASAKI Kenji. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-26.

Lithography Method Using Scanning Probe Microscope

Номер патента: KR102083308B1. Автор: 신채호. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2020-04-23.

Lithography Method Using Scanning Probe Microscope

Номер патента: KR20190133369A. Автор: 신채호. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2019-12-03.

Repairing defects on photomasks using a charged particle beam and topographical data from a scanning probe microscope

Номер патента: US20040121069A1. Автор: Gerald Smith,Christian Musil,David Ferranti,Valery Ray. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2004-06-24.

Method for improving scanning probe microscope imaging by inverse filtering

Номер патента: US7683567B2. Автор: Daniel Y Abramovitch. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2010-03-23.

Nano-lithography apparatus and method in scanning probe microscope

Номер патента: KR100872464B1. Автор: 이해원,이태규,정정주,한철수,권광민. Владелец: 한양대학교 산학협력단. Дата публикации: 2008-12-05.

Using scanning probe microscope topographic data to repair photomask defect using charged particle beams

Номер патента: WO2004015496A2. Автор: Gerald Smith,Valery Ray,Christian R. Musil,David C. Ferranti. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2004-02-19.

Securing device for brain scan probes

Номер патента: US5891100A. Автор: Wolfgang Fleckenstein. Владелец: Fleckenstein; Wolfgang. Дата публикации: 1999-04-06.

Two dimensional forward scanning probe

Номер патента: EP3082564A1. Автор: Jack Auld,Xiaoyu Yu,Lingfeng Yu. Владелец: NOVARTIS AG. Дата публикации: 2016-10-26.

Two dimensional forward scanning probe

Номер патента: WO2015094773A1. Автор: Jack Auld,Xiaoyu Yu,Lingfeng Yu. Владелец: NOVARTIS AG. Дата публикации: 2015-06-25.

Electron exposure device and method and electronic characteristics evaluation device using scanning probe

Номер патента: US20030107007A1. Автор: Masayoshi Ishibashi,Seiji Heike,Tomihiro Hashizume. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-06-12.

Optical coherence tomography scanning probe

Номер патента: EP4014859A1. Автор: Chi Shen CHANG,De Yi Chiou,Kai-Hsiang Chen. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2022-06-22.

Power supply for electron gun and electron microscope having the same

Номер патента: US20100252734A1. Автор: Jong-Hyun Kim,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-07.

Power supply for electron gun and electron microscope having the same

Номер патента: WO2009054605A4. Автор: Jong-Hyun Kim,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: Byung-Chul Jeon. Дата публикации: 2009-06-11.

Gas field ion microscopes having multiple operation modes

Номер патента: US8455840B2. Автор: Lawrence Scipioni. Владелец: Carl Zeiss Microscopy LLC. Дата публикации: 2013-06-04.

Apparatus for keeping scanning probe of scanning probe microscope

Номер патента: KR100820128B1. Автор: 이해원,정정주,한철수. Владелец: 한양대학교 산학협력단. Дата публикации: 2008-04-07.

Method for measuring surface relief by means of scanning probe type microscope

Номер патента: RU2175761C2. Автор: Р.В. Лапшин. Владелец: Государственный научно-исследовательский институт физических проблем им. Ф.В. Лукина. Дата публикации: 2001-11-10.

Cantilever for scanning probe microscope

Номер патента: RU2124780C1. Автор: В.А. Быков,А.Н. Гологанов. Владелец: Закрытое акционерное общество "Силикон-МДТ". Дата публикации: 1999-01-10.

SPARSE SAMPLING AND RECONSTRUCTION FOR ELECTRON AND SCANNING PROBE MICROSCOPE IMAGING

Номер патента: US20150069233A1. Автор: Anderson Hyrum,Helms Jovana,Wheeler Jason W.,Larson Kurt W.. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-12.

Process of formation of cantilever of scanning probing microscope

Номер патента: RU2121657C1. Автор: В.А. Быков,А.Н. Гологанов,Денис Владимирович Шабратов (н/н). Владелец: ЗАО "Силикон-МДТ". Дата публикации: 1998-11-10.

Test structure for calibration of scanning probing microscope

Номер патента: RU2121131C1. Автор: В.А. Быков,А.Н. Гологанов. Владелец: Закрытое акционерное общество"Силикон-МДТ". Дата публикации: 1998-10-27.

Method for determining nucleotide sequence of nucleic acid molecule by utilizing scanning probe microscope

Номер патента: US20060286573A1. Автор: Kazuhiro Takada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2006-12-21.

Xy scanner in scanning probe microscope and method of driving the same

Номер патента: KR100523031B1. Автор: 박상일,김준휘. Владелец: 피에스아이에이 주식회사. Дата публикации: 2005-10-20.

Testing structure for calibration of scanning probing microscope

Номер патента: RU2121656C1. Автор: В.А. Быков,А.Н. Гологанов,Денис Владимирович Шабратов (н/н). Владелец: Закрытое акционерное общество "Силикон-МДТ". Дата публикации: 1998-11-10.

METHOD FOR TESTING SYSTEM OF METALLOGRAPHIC ANALYSIS BASED ON A SCANNING PROBE PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2012135946A. Автор: Виктор Александрович Быков,Александр Борисович Цыганов,Вера Константиновна Адамчук,Борис Владимирович Сеньковский,Павел Геннадьевич Ульянов,Дмитрий Юрьевич Усачев. Владелец: Закрытое акционерное общество "Инструменты нанотехнологии". Дата публикации: 2014-02-27.

Calibrating master for profilometres and scanning probe microscopes

Номер патента: RU2386989C2. Автор: Игорь Владимирович Яминский,Дмитрий Игоревич Яминский. Владелец: ООО "Старт инноваций". Дата публикации: 2010-04-20.

Scanning probe microscope for biological applications

Номер патента: RU2472165C2. Автор: Андрей Викторович Быков,Виктор Александрович Быков,Валерий Николаевич Рябоконь. Владелец: ЗАО "Нанотехнология МДТ". Дата публикации: 2013-01-10.

Scanning probe microscope combined with device for measuring mass and dissipative properties

Номер патента: RU2407021C2. Автор: Андрей Викторович Быков,Артем Викторович Шелаев,Андрей Викторович Быков (RU),Артем Викторович Шелаев (RU). Владелец: Закрытое акционерное общество "Нанотехнология-МДТ". Дата публикации: 2010-12-20.

Method for measuring surface of object in scanning probe microscope mode

Номер патента: RU2597959C1. Автор: Антон Евгеньевич Ефимов,Дмитрий Юрьевич Соколов,Игорь Иванович Агапов,Ольга Игоревна Агапова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Федеральный научный центр трансплантологии и искусственных органов имени академика В.И. Шумакова" Министерства здравоохранения Российской Федерации. Дата публикации: 2016-09-20.

Method of object surface scanning using scanning probe microscope

Номер патента: RU2538416C1. Автор: Сергей Антонович Чижик,Андрей Леонидович Худолей,Татьяна Анатольевна Кузнецова. Владелец: Государственное Научное Учреждение "Институт Тепло- И Массообмена Имени А.В. Лыкова Национальной Академии Наук Беларуси". Дата публикации: 2015-01-10.

Method of preparation and measurement of surface of large-sized object with scanning probe microscope

Номер патента: RU2494407C2. Автор: Дмитрий Юрьевич Соколов. Владелец: Закрытое акционерное общество "Инструменты нанотехнологии". Дата публикации: 2013-09-27.

Scanning probe microscope with an equivalent of scanner

Номер патента: RU2249264C1. Автор: А.В. Беляев,В.А. Быков,С.А. Саунин,В.В. Жижимонтов,ев А.В. Бел (RU),В.В. Жижимонтов (RU),В.А. Быков (RU),С.А. Саунин (RU). Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2005-03-27.

Scanning probe microscope with multiple-probe sensor operating device

Номер патента: RU2538412C1. Автор: Андрей Викторович Быков,Виктор Александрович Быков. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "Нанотехнология Мдт". Дата публикации: 2015-01-10.

Scanning probe microscope combined with device of object surface modification

Номер патента: RU2572522C2. Автор: Надежда Борисовна Мацко,Антон Евгеньевич Ефимов,Дмитрий Юрьевич Соколов,Фердинанд Хофер. Владелец: Грац Центре фор Электрон Микроскопи (ЦФЕ). Дата публикации: 2016-01-20.

Scanning probe microscope combined with optical microscope

Номер патента: RU2488126C2. Автор: Андрей Викторович Быков,Виктор Александрович Быков,Александр Олегович Голубок,Владимир Валерьевич Котов,Иван Дмитриевич Сапожников. Владелец: ООО "Нанотехнология-СПб". Дата публикации: 2013-07-20.

Scanning probe microscope, combined with device for cutting thin layers of object

Номер патента: RU2287129C2. Автор: Леонид Георгиевич Фюрст,Антон Евгеньевич Ефимов,Сергей Алексеевич Саунин,Виктор Александрович Быков. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2006-11-10.

Method of adjusting scanning probe microscope and scanning probe microscope for realsing said method

Номер патента: RU2382389C2. Автор: Игорь Владимирович Яминский,Евгений Александрович Меньшиков,Дмитрий Юрьевич Гаврилко,Леонид Николаевич Рашкович,Александр Александрович Чернов,Олег Аркадьевич Шустин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное предприятие "Центр перспективных технологий". Дата публикации: 2010-02-20.

Method of composite cantilever production for scanning probe microscope

Номер патента: RU2340963C2. Автор: Андрей Борисович Шубин,Ольга Вениаминовна Сафронова,Антон Леонидович Рабухин,Азат Р шидович Ибрагимов,Азат Ряшидович Ибрагимов. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2008-12-10.

Scanning probe microscope with electrochemical cell

Номер патента: RU2248600C1. Автор: В.А. Быков,А.И. Данилов,Д.А. Козодаев,С.А. Саунин,Д.Ю. Соколов. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2005-03-20.

Scanning probe microscope combined with device for modifying surface of object

Номер патента: RU2389032C2. Автор: Мюллер Мартин,Надежда Борисовна Мацко,Антон Евгеньевич Ефимов. Владелец: Антон Евгеньевич Ефимов. Дата публикации: 2010-05-10.

Scanning probe microscope combined with spacecraft

Номер патента: RU2514083C2. Автор: Дмитрий Юрьевич Соколов,Ирина Николаевна Соколова. Владелец: Дмитрий Юрьевич Соколов. Дата публикации: 2014-04-27.

Method of leading probe to sample for scanning probe microscope

Номер патента: RU2497134C2. Автор: Иван Михайлович Маловичко. Владелец: Закрытое акционерное общество "Инструменты нанотехнологии". Дата публикации: 2013-10-27.

Scanning probe microscope for investigation of bulk objects

Номер патента: RU2515731C2. Автор: Андрей Борисович Шубин,Андрей Викторович Быков,Виктор Александрович Быков,Владимир Валерьевич Котов. Владелец: Закрытое акционерное общество "Нанотех-Актив". Дата публикации: 2014-05-20.

Device for preserving temperature of object for scanning probing microscopes

Номер патента: RU2244948C1. Автор: В.А. Быков,С.А. Саунин,Д.Ю. Соколов,С.И. Божко,А.М. Ионов. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2005-01-20.

Method of testing system of metallographic analysis based on scanning probe microscope

Номер патента: RU2522721C2. Автор: Виктор Александрович Быков,Александр Борисович Цыганов,Вера Константиновна Адамчук,Борис Владимирович Сеньковский,Павел Геннадьевич Ульянов,Дмитрий Юрьевич Усачев. Владелец: Закрытое акционерное общество "Инструменты нанотехнологии". Дата публикации: 2014-07-20.

Test structure for graduating scanning probe microscopes

Номер патента: RU2402021C1. Автор: Иван Иванович Бобринецкий,Владимир Кириллович Неволин,Валерий Николаевич Суханов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии имени Д.И.Менделеева" (ФГУП "ВНИИМ им Д.И.Менделеева"). Дата публикации: 2010-10-20.

Method of scanning on scanning probe microscope and forming image of surface

Номер патента: RU2462726C2. Автор: Сергей Антонович Чижик,Андрей Леонидович Худолей. Владелец: Государственное Научное Учреждение "Институт Тепло- И Массообмена Имени А.В. Лыкова Национальной Академии Наук Беларуси". Дата публикации: 2012-09-27.

Method for detecting toxic proteins by means of scanning probe microscope investigation

Номер патента: RU2267787C2. Автор: Михаил Петрович Кирпичников,Виктор Александрович Быков,Александр Григорьевич Тоневицкий,Игорь Иванович Агапов,Михаил Михайлович Мойсенович,Наталь Валерьевна Малюченко,Наталья Валерьевна Малюченко,Михаил Николаевич Савватеев. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2006-01-10.

Test structure for graduating scanning probing microscope

Номер патента: RU2244254C2. Автор: В.А. Быков,С.А. Саунин,Д.А. Евплов,Г.А. Емельченко,В.М. Масалов,Б.К. Медведев,В.В. Редченко. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2005-01-10.

Test structure for estimation of curvature radius of scanning probe microscopy cantilever needle-point

Номер патента: RU2335735C1. Автор: Алексей Николаевич Белов,Сергей Александрович Гаврилов,Игорь Юрьевич Орлов,Алексей Александрович Тихомиров,ков Василий Иванович Шев,Василий Иванович Шевяков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский государственный институт электронной техники (технический университет). Дата публикации: 2008-10-10.

Method for controlled opening of biopsy forceps in endoscopic ultrasonic diagnosis of peripheral pulmonary growths with end location of scanning probe

Номер патента: RU2591634C1. Автор: Андрей Владимирович Важенин,Константин Иванович Кулаев,Константин Сергеевич Зуйков,Ильдар Махмутович Юсупов. Владелец: Государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Уральский государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ГБОУ ВПО ЮУГМУ Минздрава России). Дата публикации: 2016-07-20.

Apparatus and method of performing scanning probe microscopy

Номер патента: SG179397A1. Автор: ZHANG YING,Ping Ng Boon,Wei Kok Shaw,Chai Soh Yeng. Владелец: Univ Nanyang Tech. Дата публикации: 2012-04-27.

Scanning probe for operation in ocean

Номер патента: RU2445229C1. Автор: Том Анатольевич Дозоров,Виктор Яковлевич Серых,Алексей Владимирович Смирнов. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт океанологии им. П.П. Ширшова РАН. Дата публикации: 2012-03-20.

Cantilever module for scanning probe microscope, cantilever holder for scanning probe microscope including the same, and scanning probe microscope

Номер патента: JP5014174B2. Автор: 誠人伊與木,雅次繁野,直哉渡邉. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-08-29.

Scanning probe microscope probe and scanning probe microscope

Номер патента: JP5306015B2. Автор: 知信中山,宏実倉持,誠司樋口,嘉昭中田. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2013-10-02.

MOUNT FOR A SCANNING PROBE SENSOR PACKAGE, SCANNING PROBE SENSOR PACKAGE, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MOUNTING OR DISMOUNTING A SCANNING PROBE SENSOR PACKAGE

Номер патента: US20120324608A1. Автор: Rychen Joerg. Владелец: SPECS Surface Nano Analysis GmbH. Дата публикации: 2012-12-20.

Scanning mechanism for scanning probe microscope and scanning probe microscope

Номер патента: JP4162508B2. Автор: 誠人伊與木. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-10-08.

Probe scanning control device, scanning probe microscope using the scanning control device, probe scanning control method, and measurement method using the scanning control method

Номер патента: JP4497665B2. Автор: 淳一関. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-07-07.

Scanning probe microscope and unit used for scanning probe microscope

Номер патента: JP3333111B2. Автор: 千秋佐藤,喜代三越石,貞夫重富,周三三島,つぎ子高瀬. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 2002-10-07.

Scanning probe microscope, measuring range adjusting method of scanning probe microscope, and measuring range adjusting program

Номер патента: JP6706519B2. Автор: 雅次繁野,良晃鹿倉. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2020-06-10.

METHOD FOR ADJUSTING A SCANNING PROBE MICROSCOPE AND A SCANNING PROBE MICROSCOPE FOR ITS IMPLEMENTATION

Номер патента: RU2008116296A. Автор: Игорь Владимирович Яминский,Евгений Александрович Меньшиков,Дмитрий Юрьевич Гаврилко,Леонид Николаевич Рашкович,Александр Александрович Чернов,Олег Аркадьевич Шустин,Игорь Владимирович Яминский (RU),Евгений Александрович Меньшиков (RU),Дмитрий Юрьевич Гаврилко (RU),Леонид Николаевич Рашкович (RU),Александр Александрович Чернов (RU),Олег Аркадьевич Шустин (RU). Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное предприятие "Центр перспективных технологий" (RU). Дата публикации: 2009-11-10.

Scanning probe microscope and scanning probe microscope system as well as methods for examining a test object surface

Номер патента: DE102020126414B3. Автор: Gaoliang Dai. Владелец: Bundesministerium fuer Wirtschaft und Energie. Дата публикации: 2021-12-09.

SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH OPTICAL MICROSCOPE

Номер патента: RU2009128001A. Автор: Андрей Викторович Быков,Виктор Александрович Быков,Александр Олегович Голубок,Владимир Валерьевич Котов,Иван Дмитриевич Сапожников,Виктор Александрович Быков (RU),Александр Олегович Голубок (RU),Владимир Валерьевич Котов (RU),Иван Дмитриевич Сапожников (RU),Андрей Викторович Быков (RU). Владелец: ООО "Нанотехнология-СПб" (RU). Дата публикации: 2011-01-27.

Scanning probe microscope image display method and scanning probe microscope

Номер патента: JP4111837B2. Автор: 圭一中本. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-07-02.

Device for fixing a measuring probe for a raster scanning probe microscope

Номер патента: AU2002339335A1. Автор: Olaf Sunwoldt,Heiko Haschke. Владелец: Jpk Instruments Ag. Дата публикации: 2003-04-07.

METHOD FOR SCANNING THE SURFACE OF AN OBJECT USING A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2013137955A. Автор: Сергей Антонович Чижик,Андрей Леонидович Худолей,Татьяна Анатольевна Кузнецова. Владелец: Государственное Научное Учреждение "Институт Тепло- И Массообмена Имени А.В. Лыкова Национальной Академии Наук Беларуси". Дата публикации: 2015-02-20.

Method for forming through hole of light propagation body probe and scanning probe microscope having through hole forming means

Номер патента: JP3366929B2. Автор: 徳男千葉,宏村松,龍明安宅. Владелец: 科学技術庁長官官房会計課長. Дата публикации: 2003-01-14.

PROCESSES FOR SURFACE MEASUREMENT AND MODIFICATION BY SCANNING PROBE MICROSCOPY FUNCTIONING IN CONTINUOUS CURVILINEAR MODE, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DEVICE PERMITTING THEIR IMPLEMENTATION OF SAID METHODS

Номер патента: US20130047302A1. Автор: Noel Olivier,Mazeran Pierre-Emmanuel,Nasrallah Hussein. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-21.

SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH OBJECT SURFACE MODIFICATION DEVICE

Номер патента: RU2008130494A. Автор: Мюллер Мартин,Надежда Борисовна Мацко,Антон Евгеньевич Ефимов,Антон Евгеньевич Ефимов (RU),Мюллер Мартин (CH),Надежда Борисовна Мацко (AT). Владелец: Соколов Дмитрий Юрьевич (RU). Дата публикации: 2010-02-10.

CALIBRATION STANDARD FOR PROFILOMETERS AND SCANNING PROBE MICROSCOPES

Номер патента: RU2013130176A. Автор: Александр Владимирович Оленин,Игорь Владимирович Яминский,Дмитрий Игоревич Яминский,Георгий Борисович Мешков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное предприятие "Центр перспективных технологий". Дата публикации: 2015-01-10.

SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH OBJECT SURFACE MODIFICATION DEVICE

Номер патента: RU2012102492A. Автор: Надежда Борисовна Мацко,Антон Евгеньевич Ефимов,Дмитрий Юрьевич Соколов,Фердинанд Хофер. Владелец: Фердинанд Хофер. Дата публикации: 2014-03-27.

SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH THE OBJECT THIN LAYER CUTTING DEVICE

Номер патента: RU2004128898A. Автор: Леонид Георгиевич Фюрст,Антон Евгеньевич Ефимов,Сергей Алексеевич Саунин,Виктор Александрович Быков,Виктор Александрович Быков (RU),Сергей Алексеевич Саунин (RU),Антон Евгеньевич Ефимов (RU),Леонид Георгиевич Фюрст (RU). Владелец: Зао "Нт-Мдт" (Ru). Дата публикации: 2006-03-10.

SCANNING PROBE MICROSCOPE FOR BIOLOGICAL APPLICATIONS

Номер патента: RU2008142258A. Автор: Андрей Викторович Быков,Виктор Александрович Быков,Валерий Николаевич Рябоконь,Виктор Александрович Быков (RU),Андрей Викторович Быков (RU),Валерий Николаевич Рябоконь (RU). Владелец: ЗАО "Нанотехнология МДТ" (RU). Дата публикации: 2010-05-10.

Improved scanned probe microscope

Номер патента: GB201001160D0. Автор: . Владелец: MONTAGU POLLOCK HUBERT M. Дата публикации: 2010-03-10.

Enhanced scanning probe microscope

Номер патента: AU2002244219A1. Автор: Peter V. Schwartz. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2002-09-19.

Actuating and sensing device for scanning probe microscopes

Номер патента: AU2002252913A1. Автор: Terunobu Akiyama. Владелец: Institut de Microtechnique-Universite de Neuchatel (IMT). Дата публикации: 2002-11-25.

Method and device for analysing a sample by means of a raster scanning probe microscope

Номер патента: AU2002339336A1. Автор: Jörn KAMPS. Владелец: Jpk Instruments Ag. Дата публикации: 2003-04-07.

Microdamper and sensor, actuator and probe having the microdamper, and scanning probe microscope, machining device and information processor having the probe

Номер патента: JPH10247118A. Автор: Susumu Yasuda,Takayuki Yagi,進安田,隆行八木. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1998-09-14.

Combining system of super-resolution confocal optical microscope and scanning probe microscope

Номер патента: CN102809672A. Автор: 张雪洁,袁景和,于建强,方晓红. Владелец: Institute of Chemistry CAS. Дата публикации: 2012-12-05.

Observing microscope for scanning probe microscope equipment

Номер патента: CN1379262A. Автор: 徐文东,干福熹. Владелец: Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS. Дата публикации: 2002-11-13.

Scanning probing microscope combined with inverted optical microscope

Номер патента: AU2002306431A1. Автор: Viktor Alexandrovich Bykov,Alexei Vladimirovich Belyaev,Leonid Georgievich Fyurst,Sergei Alexeevich Saunin,Vladimir Vadimovich Zhizhimontov. Владелец: ZAKRYTOE AKTSIONERNOE OBSCHESTVO "NT-MDT". Дата публикации: 2002-12-03.

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR DETECTING PROXIMITY OF PROBES THEREOF

Номер патента: US20120124706A1. Автор: Nishimura Katsuhito,Kawakami Yoichi,Funato Mitsuru,Kaneta Akio,Hashimoto Tsuneaki. Владелец: KYOTO UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-05-17.

SCANNED PROBE MICROSCOPE WITHOUT INTERFERENCE OR GEOMETRIC CONSTRAINT FOR SINGLE OR MULTIPLE PROBE OPERATION IN AIR OR LIQUID

Номер патента: US20120137395A1. Автор: . Владелец: NANONICS IMAGING LTD.. Дата публикации: 2012-05-31.

PROBE ASSEMBLY FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20130014296A1. Автор: Humphris Andrew. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2013-01-10.

METHOD FOR CONNECTING A PROBE TO A SAMPLE FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2011149318A. Автор: Иван Михайлович Маловичко. Владелец: Закрытое акционерное общество "Инструменты нанотехнологии". Дата публикации: 2013-06-10.

METHOD FOR SCANNING ON A SCANNING PROBE MICROSCOPE AND FORMING A SURFACE IMAGE

Номер патента: RU2010141753A. Автор: Сергей Антонович Чижик,Андрей Леонидович Худолей,Сергей Антонович Чижик (BY),Андрей Леонидович Худолей (BY). Владелец: Государственное научное учреждение "Институт тепло- и массообмена имени А.В. Лыкова Национальной академии наук Беларуси" (BY). Дата публикации: 2012-04-20.

Probe frame for modular scanning probe microscope

Номер патента: CN104155479A. Автор: 刘冲,陈莉,刘军山,李克洪. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2014-11-19.

Multi-probe contour-type sensor for scanning probing microscope

Номер патента: RU2244256C1. Автор: В.А. Быков,С.А. Саунин,М.Е. Алексеев. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2005-01-10.

Multi-probe console type sensor for scanning probe microscope

Номер патента: RU2249263C1. Автор: В.А. Быков,С.А. Саунин,Г.М. Михайлов,В.В. Аристов,Вольфганг Барт,Томас Дебски. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2005-03-27.

Creating a probe for a scanning probe microscope

Номер патента: JP4858924B2. Автор: 正敏安武,達哉足立,孝皆藤. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-01-18.

Resonant probe driving arrangement and a scanning probe microscope including such an arrangement

Номер патента: GB0009902D0. Автор: . Владелец: University of Bristol. Дата публикации: 2000-06-07.

Setting method of probe pressing force of scanning probe microscope

Номер патента: JP4098921B2. Автор: 高史森本,浩史黒田. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2008-06-11.

Driving device for scan probe microscopic probe

Номер патента: CN1588558A. Автор: 陈东敏,薛其坤,王恩哥,白雪冬,梁学锦. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2005-03-02.

OPTICAL PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2011126624A. Автор: Евгений Владимирович Кузнецов,Виктор Александрович Быков. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "Нанотехнология Мдт". Дата публикации: 2013-01-10.

Multiple-probe sensor of contour type for scanning probe microscope

Номер патента: RU2592048C2. Автор: Андрей Викторович Быков,Виктор Александрович Быков. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "Нанотехнология Мдт". Дата публикации: 2016-07-20.

Conducting probe carrier for scanning probe microscopes

Номер патента: RU2208845C1. Автор: В.А. Быков,С.А. Саунин,Д.Ю. Соколов,Б.К. Медведев. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2003-07-20.

Scanning probe microscope and fluorescent molecular probe

Номер патента: JPH10267946A. Автор: 昭人石田,Akito Ishida. Владелец: Kagaku Gijutsu Shinko Jigyodan. Дата публикации: 1998-10-09.

Hoisting device for scanning probe sensitivity of probe microscope in liquid

Номер патента: CN201111298Y. Автор: 王彦杰. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-09-03.

Probe based on piezo-ceramic pipe for scanning probe microscope

Номер патента: RU2300150C1. Автор: Виктор Александрович Быков,Александр Олегович Голубок,Иван Дмитриевич Сапожников. Владелец: ЗАО "Нанотехнология-МДТ". Дата публикации: 2007-05-27.

METHOD FOR DRIVING A SCANNING PROBE MICROSCOPE AT ELEVATED SCAN FREQUENCIES

Номер патента: US20120066799A1. Автор: . Владелец: CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE. Дата публикации: 2012-03-15.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20120030845A1. Автор: Fukuma Takeshi,Ueda Yasumasa. Владелец: . Дата публикации: 2012-02-02.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20120102601A1. Автор: . Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2012-04-26.

CANTILEVER EXCITATION DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20120192320A1. Автор: Fukuma Takeshi,Asakawa Hitoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-07-26.

Scanning Probe Microscope and Method of Observing Sample Using the Same

Номер патента: US20120204297A1. Автор: . Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2012-08-09.

METHODS UTILIZING SCANNING PROBE MICROSCOPE TIPS AND PRODUCTS THEREFOR OR PRODUCED THEREBY

Номер патента: US20120295029A1. Автор: Hong Seunghun,Mirkin Chad A.,Piner Richard. Владелец: . Дата публикации: 2012-11-22.

CONTROL SYSTEM FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: US20130042375A1. Автор: Humphris Andrew,Catto David. Владелец: INFINITESIMA LTD. Дата публикации: 2013-02-14.

Active Damping of High Speed Scanning Probe Microscope Components

Номер патента: US20130061356A1. Автор: Proksch Roger. Владелец: Asylum Research Corporation. Дата публикации: 2013-03-07.

METHOD OF DETERMINING A SPRING CONSTANT OF A CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE METHOD

Номер патента: US20130061357A1. Автор: WATANABE Masafumi,Momota Hiroumi. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-07.

Cantilever of Scanning Probe Microscope and Method for Manufacturing the Same, Method for Inspecting Thermal Assist Type Magnetic Head Device and its Apparatus

Номер патента: US20130097739A1. Автор: Watanabe Masahiro,Nakata Toshihiko,Zhang Kaifeng,Hirose Takenori,Nakagomi Tsuneo,Honma Shinji,Tokutomi Teruaki,Tatizaki Takehiro. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-18.

Scanning Probe Microscope, Aligning Method, Recording Medium and Aligning System using the same

Номер патента: KR101529607B1. Автор: 박병천,박창준,한철수,안상정,조복래,박인용. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2015-06-19.

Scanning probe microscope and operation method thereof

Номер патента: JP5232681B2. Автор: 真一北村. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2013-07-10.

Information processing apparatus using scanning probe microscope, information processing method and surface matching method

Номер патента: JP2981788B2. Автор: 俊彦宮崎,昌宏多川,宏松田,健江口,俊彦武田,一佐哲河出,芳浩柳沢. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1999-11-22.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP4165368B2. Автор: 武史伊藤. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2008-10-15.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3058724B2. Автор: 浩子佐々木. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 2000-07-04.

CALIBRATION STANDARD FOR PROFILOMETERS AND SCANNING PROBE MICROSCOPES

Номер патента: RU2013130175A. Автор: Игорь Владимирович Яминский,Дмитрий Игоревич Яминский,Георгий Борисович Мешков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное предприятие "Центр перспективных технологий". Дата публикации: 2015-01-10.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3188024B2. Автор: 宏梶村. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 2001-07-16.

Measuring method of scanning probe microscope

Номер патента: JP4131806B2. Автор: 行雄見坊,健村山,浩史黒田,透槫沼. Владелец: 日立建機ファインテック株式会社. Дата публикации: 2008-08-13.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3989704B2. Автор: 寛高橋,和徳安藤,武博山岡,喜春白川部. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-10-10.

Scanning probe microscope and its measuring method

Номер патента: JP3497913B2. Автор: 浩史黒田. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2004-02-16.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3713695B2. Автор: 秀郎中島. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-11-09.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP4931640B2. Автор: 寛高橋,尚範濱尾. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2012-05-16.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPH10153602A. Автор: Naoko Hisada,菜穂子久田. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1998-06-09.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP4064856B2. Автор: 誠人伊與木,真行岩佐. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-03-19.

Modularized scanning probe microscope

Номер патента: CN100495109C. Автор: 徐文东,赵虹霞. Владелец: Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS. Дата публикации: 2009-06-03.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPH11133038A. Автор: Akihiko Honma,正敏安武,Masatoshi Yasutake,昭彦本間. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1999-05-21.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3230604B2. Автор: 修一伊東. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 2001-11-19.

Scanning probe microscope equipment

Номер патента: JP3131517B2. Автор: 久乃島津,明八木,裕史宮本. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 2001-02-05.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3879496B2. Автор: 武史伊藤,秀郎中島. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2007-02-14.

Cantilever for scanning probe microscope and its manufacturing method

Номер патента: JP2005172456A. Автор: 豊三原,Yutaka Mihara,Gen Hashiguchi,原橋口,Fumikazu Ohira,文和大平,真保細木,Masayasu Hosoki. Владелец: Aoi Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-30.

Optical axis adjustment mechanism of scanning probe microscope

Номер патента: JP3830662B2. Автор: 健村山,高史森本,浩史黒田. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2006-10-04.

Scanning probe microscope and its measuring method

Номер патента: JP3118108B2. Автор: 光山本. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2000-12-18.

Method for stereoscopic display of scanning probe microscope

Номер патента: JPH1019904A. Автор: Masao Matsuda,隆雄丸井,Takao Marui,良平粉川,Ryohei Konakawa,政夫松田. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1998-01-23.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPH1194861A. Автор: Hideki Nagaoka,秀樹長岡. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1999-04-09.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPH1026627A. Автор: Hiroyuki Sugimura,博之杉村,Nobuyuki Nakagiri,伸行中桐,Takuma Yamamoto,▲琢▼磨山本. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1998-01-27.

Scanning probe microscope

Номер патента: JP3022648B2. Автор: 孝夫岡田,和広守田. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 2000-03-21.

METHOD FOR DETERMINING THE DEGREE OF METAL STRUCTURE VIOLATION USING A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2012141314A. Автор: Александр Борисович Цыганов,Вера Константиновна Адамчук,Борис Владимирович Сеньковский,Павел Геннадьевич Ульянов,Дмитрий Юрьевич Усачев,Сергей Вячеславович Пушко,Кирилл Сергеевич Балиж,Александр Мстиславович Добротворский. Владелец: Закрытое акционерное общество "Инструменты нанотехнологии". Дата публикации: 2014-04-10.

Номер патента: RU2335033C1. Автор: Лариса Александровна Иванова,Надежда Константиновна Матвеева,Алексей Никифорович Шокин. Владелец: ФГУП "Научно-исследовательский институт физических проблем им. Ф.В. Лукина". Дата публикации: 2008-09-27.

Номер патента: RU2562164C1. Автор: Станислав Рафаелевич Абульханов,Николай Львович Казанский,Роман Васильевич Скиданов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт систем обработки изображений Российской академии наук (ИСОИ РАН). Дата публикации: 2015-09-10.

Номер патента: RU2008147807A. Автор: Андрей Викторович Быков,Артем Викторович Шелаев,Андрей Викторович Быков (RU),Артем Викторович Шелаев (RU). Владелец: Закрытое акционерное общество "Нанотехнология-МДТ" (RU). Дата публикации: 2010-06-10.

Номер патента: RU2014107269A. Автор: Станислав Рафаелевич Абульханов,Николай Львович Казанский,Роман Васильевич Скиданов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт систем обработки изображений Российской академии наук (ИСОИ РАН). Дата публикации: 2015-08-27.

Calibration standard for profile meters and scanning probe microscopes

Номер патента: RU2538024C1. Автор: Александр Владимирович Оленин,Игорь Владимирович Яминский,Дмитрий Игоревич Яминский,Георгий Борисович Мешков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное предприятие "Центр перспективных технологий". Дата публикации: 2015-01-10.

Scanning probe microscope

Номер патента: JPH1010140A. Автор: Takeshi Murayama,Sumio Hosaka,Takashi Morimoto,Hiroshi Kuroda,健村山,高史森本,浩史黒田,純男保坂. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-01-16.

Test structure for assessment of radius of curvature of needle edge of cantilever of scanning probing microscope

Номер патента: RU2511025C1. Автор: Алексей Николаевич Белов,Сергей Александрович Гаврилов,Алексей Алексеевич Дронов,Василий Иванович Шевяков. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МИЭТ" (Национальный исследовательский университет МИЭТ). Дата публикации: 2014-04-10.

Номер патента: RU2010126742A. Автор: Андрей Борисович Шубин,Андрей Викторович Быков,Виктор Александрович Быков,Владимир Валерьевич Котов,Виктор Александрович Быков (RU),Владимир Валерьевич Котов (RU),Андрей Викторович Быков (RU),Андрей Борисович Шубин (RU). Владелец: ЗАО "Нанотех-Актив" (RU). Дата публикации: 2012-01-10.

Номер патента: RU2004126114A. Автор: Андрей Борисович Шубин,Ольга Вениаминовна Сафронова,Антон Леонидович Рабухин,Азат Ряшидович Ибрагимов,Ольга Вениаминовна Сафронова (RU),Андрей Борисович Шубин (RU),Антон Леонидович Рабухин (RU),Азат Р шидович Ибрагимов (RU). Владелец: Зао "Нт-Мдт" (Ru). Дата публикации: 2006-02-27.

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2009145989A. Автор: Андрей Викторович Быков,Виктор Александрович Быков,Семен Аркадьевич Шикин,Виктор Александрович Быков (RU),Андрей Викторович Быков (RU),Семен Аркадьевич Шикин (RU). Владелец: Закрытое акционерное общество "Нанотехнология МДТ" (RU). Дата публикации: 2011-06-20.

Test object for calibration of raster electron and scanning probe microscopes

Номер патента: RU2325619C2. Автор: Юрий Алексеевич Новиков,Евгений Сергеевич Горнев,Павел Андреевич Тодуа,Юрий Иванович Плотников,Александр Васильевич Раков,Чеслав Петрович Волк,Юрий Васильевич Озерин. Владелец: Павел Андреевич Тодуа. Дата публикации: 2008-05-27.

Номер патента: RU2563339C1. Автор: Сергей Степанович Гоц,Александр Борисович Петров,Рауф Загидович Бахтизин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Башкирский государственный университет". Дата публикации: 2015-09-20.

RESONANT DEVICE BASED ON A QUARTZ RESONATOR FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE

Номер патента: RU2004126115A. Автор: Сергей Алексеевич Саунин,Виктор Александрович Быков,Игорь Валерьевич Душкин,Виктор Александрович Быков (RU),Сергей Алексеевич Саунин (RU),Игорь Валерьевич Душкин (RU). Владелец: Зао "Нт-Мдт" (Ru). Дата публикации: 2006-02-27.

Cryogenic scanning probing microscope

Номер патента: RU2271583C1. Автор: Сергей Алексеевич Саунин,Дмитрий Юрьевич Соколов,Виктор Александрович Быков,Сергей Иванович Божко. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2006-03-10.

Scanning probe microscope having nanotome

Вам могут быть интересны следующие патенты

Главная

Проекты и услуги

Контакты