Measurement probe apparatus for a probe microscope, measurement cell and scanning probe microscope
Номер патента: WO2009012765A3
Опубликовано: 07-05-2009
Автор(ы): Detlef Knebel, Kathryn Anne Poole, Torsten Jaehnke, Torsten Mueller
Принадлежит: Detlef Knebel, Jpk Instruments Ag, Kathryn Anne Poole, Torsten Jaehnke, Torsten Mueller
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 07-05-2009
Автор(ы): Detlef Knebel, Kathryn Anne Poole, Torsten Jaehnke, Torsten Mueller
Принадлежит: Detlef Knebel, Jpk Instruments Ag, Kathryn Anne Poole, Torsten Jaehnke, Torsten Mueller
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Heating system for a measurement cell
Номер патента: US20170350851A1. Автор: Werner Sauerbrey,Josef HINDINGER. Владелец: Exias Medical GmbH. Дата публикации: 2017-12-07.